【64フラッシュ巻 6 号掲載記事に関する訂正】２０１５年６月に掲載した記事「「MT レベル２ 一次専門試験のポイント」記
NDT
Vol.64,No.06 1/4
事において問 2 の正答及び解説文に誤りがありました。お詫びして訂正いたします。なお，訂正個所は３頁目に記載してあります。５頁目，６頁目は修正済みの記事です。

ＵＴレベル２

指示書作成問題のポイントあるので，はじめに NDT 手順書をざっと見てどこにどのような内容が記載しているかを確認して，UT レベル 2 の二次試験では，実技試験の他に NDT 指示書の作成問題がある。これは与えられた NDT 手順書問題を解答する際に関連する部分を詳細に読むことが必要である。

を元に作業指示書を作成する問題で，UT では四者択一(9) 内容によっては（例えば探傷器の増幅直線性など）問題となっている。今回はこの指示書作成問題にスポッ記憶していないと解答できないものがあり，一般

トを当てて解説する。

的な内容はある程度(6)に示した規格を確認して記憶しておく必要がある。

1. UT-2 NDT 指示書作成問題試験の概要

JIS Z 3060 増幅直線性：±3%(1) 問題は 15 問あり，NDT 手順書を確認して NDT 指不感帯：5Z10×10：15mm，2Z14×14：25mm

示書を作成する問題である。
(2) NDT 指示書の作成の種類は，下記のように数種類あり，受験時の班によってどの種類が割り当てら時間軸直線性：±1%
JIS G 0801 増幅直線性：正の最大偏差と負の最大偏差の和が 6%以下れるかは分からない。
①鋼板溶接部斜角探傷

JIS G 0587 増幅直線性：±3%②建築鉄骨溶接部斜角探傷

時間軸直線性：±1%③鋼板垂直探傷④鍛鋼品垂直探傷(3) ①，②の溶接部の問題では板厚や開先形状が，③2. 各種製品に対するポイント(1) 溶接部の鋼板では板厚が，④の鍛鋼品では材質や形状が，①溶接部の形状（突合せ継手，角継手）によって探それぞれ変わるので試験対象材に応じて解答しな傷方法を定める。片面両側，両面片側，あるいはければならない。

両面両側(4) 指示書の範囲は以下のような項目であり，基本的②板厚と探傷範囲によってビーム路程を計算し，使には NDT 手順書の指示に基づいて指示書を作成用する最大のビーム路程によって探触子の周波数，することとなる。

屈折角を選択する。

①適用範囲③5MHz の探触子の場合は 10×10，2MHz の探触子

②適用規格，基準の場合は 14×14 又は 20×20 とする。2MHz の③試験技術者

10×10 は適当でない。

④探傷装置に関する内容
⑤探傷部位
⑥探傷方法

④使用する探触子（屈折角）はこの他 STB 音速比によって選択する。
⑤使用する材料が熱加工制御圧延鋼板【TMCP 鋼板】⑦きずの評価，合否判定

で，音響異方性が懸念される場合は STB 音速比の⑧記録，報告測定を行う必要がある。

(5) 問題は四者択一問題であるので，解答欄に記載してある項目から正しいものを一つ選ぶ。
(6) それぞれの品種に応じた規格に適応して探傷を指⑥増幅直線性や不感帯などの探触子性能は使用する探触子の種類によって適切な値を選択する。
⑦接触媒質は NDT 手順書を確認する。

示することになるが，それぞれの規格に特有な規⑧探傷方法はエコー高さ区分線を作成し，使用する定などは事前に規格を確認しておく必要がある。

屈折角により探傷感度を H 線，あるいは M 線に溶接部・・・JIS Z 3060設定する。（70 度：H 線，65 度：M 線）

鋼板・・・・JIS G 0801

⑨きずの指示長さは L 線を超える長さで測定する。

鍛鋼品・・・JIS G 0587

2MHz の探触子を用いた場合は，最大エコー高さ(7) 試験時間は 30 分である。の 1/2 を超える範囲の，探触子の移動距離で測定(8) 基本的には NDT 手順書をよく読めば分かる内容でを行う。

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2/4⑩きずの評価・分類は記載されている表で行う。板面積当たりの個数，密集度，きずの占積率の 4 種

厚から算定して小数点以下の端数が出た場合は厳類の評価があるので，いずれで評価するのか NDTしい方に評価する。

手順書をよく読んで解答する。

⑪きずが隣接して 2 個以上ある場合は，きずときずの間隔が大きい方のきずの長さより短い場合は間隔を含め一つのきずとみなして評価の対象とする。

(3) 鍛鋼品①探触子は NDT 手順書に記載されている中から選ぶ。

(2) 鋼板②JIS G 0587 ではきずの大きさを DGS 線図によって①板厚によって使用する探触子を決定する。
（垂直探触子又は二振動子探触子）また，板厚によって探傷感度を選定する。（NDT 手順書による。）

推定することとなっている。
③このため探触子の周波数帯域の幅について規定しており，JIS G 0587 では探触子の周波数分析を行②材料の使用目的，重要度によって探傷箇所の選定

い，中心周波数を帯域幅で除した値を Q 値として，を行う。
（S 形，A 形，B 形，また一方向あるいはこの Q 値が 1.8～3.3 のものを使用するよう規定し縦横の線上など）ている。

探傷箇所の選定例として JIS G 0801-1993 では下

探触子の Q 値がいくらになるか理解しておかなく記のように記載されていたが 2008 年版では本文てはならない。に記載されていない。
検査
探傷箇所区分
縦・横 200mm ピッチ又A
は縦若しくは横 100mm
ピッチ線上
縦又は横 200mm ピッチ
Bの線上
周辺 50mm 以内又は開先線を中心とし両側C25mm 以内④Q 値の求め方を図 1 に示す。
適用例
ボイラ管板，同等の加工を行う圧力容器
一般圧力容器
貯槽など
帯域幅③四周部，開先加工部などの探傷は板厚によって探傷範囲が異なるので確認をして指示する。
図 1 周波数分析結果

鋼板四周辺又は開先予定線の走査幅(JIS G 0801-2008)
鋼板の厚さ(mm)60 以下
60 を超え 100 以下
100 を超えるもの

走査幅(mm)5075
100

Q 値 ＝ 中心周波数／帯域幅(2A)⑤探触子の走査ピッチは使用する探触子の振動子大きさに対して探傷洩れがないよう重複させて走査する必要がある。

④きずの指示長さは NDT 手順書に示す表により限界値を決める。
⑤きずの記録や評価については NDT 手順書をよく見て記述する。
⑥きずが隣接して 2 個以上ある場合のきず指示長さは，間隔が小さいきずの長さより短い場合は連続したきずとみなして間隔を含め一つのきずとして算定する。
⑦きずの評価についてはきずの長さ，重きずの単位⑥探傷感度の補正量は，探触子の周波数と振動子直径別の作成された図を用いて，試験体の外径により求める。
⑦きずの評価は DGS 線図を用いて行う。
⑧JIS G 0587 では評価するきずの大きさは DGS 線図による等価きず直径が 4mm 以上のものが対象となる。きずの分類によってこの大きさが異なるのでよく確認をして評価を行う。

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ＭＴレベル２

3/4

一般・専門試験のポイント
正答（ｂ），（ｃ）

JIS Z 2305 に基づく資格試験について，本欄では Vol.60,試験体中の磁束密度が小さいとき，すなわち与える磁No.04,No.06(2011)，Vol.62,No.06(2013)，Vol.63,No.06(2014)

界の強さが小さいときは，きず高さが低いとき（きず深に MT-2 及び MY-2 の新規一次試験に類似した例題の中さが浅いとき）には，きずからの漏洩磁束密度はほとんから，ミスしやすい問題を選んで注意点・ポイントなどど零になるので（ａ）は誤りである。また，きずからのを解説した。今回は MT-2 及び MY-2 に共通の，特に最漏洩磁束密度は試験体中の磁束密度が増加すると大きく近の正答率の低い問題の類題を例にとりポイントを解説なり，飽和磁束密度の 80％以上になると急激に増大するする。なお，専門問題には問題の末尾に（SP）と記した。

ので（ｂ）は正しい記述である。試験体中の磁束密度が同じ場合，同じ大きさのきずからの漏洩磁束密度は，磁問１次の文は，反磁界の強さについて述べたものであ

気的に硬い試験体の方が軟らかい試験体よりも透磁率がる。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

低いため，漏洩する磁束の量は多くなるので（ｃ）は誤（ａ）反磁界係数が大きいほど小さくなる。

りである正しい。なお，磁化している磁界の強さが同じ（ｂ）磁化電流値の大きさに比例する。

場合には，磁気的に硬い試験体は軟らかい試験体に比べ（ｃ）与える磁界の強さに比例する。

磁束密度が小さくなるので，同じ大きさのきずからの漏（ｄ）試験体の磁化の強さに比例する。

洩磁束密度は軟らかい試験体よりも小さくなる。また，きずからの漏洩磁束密度は，きずの高さが高くない範囲

正答

（ｄ）

有限長コイル中に試験体を置いて磁化した場合，試験体の両端に磁極を生じるため反磁界が発生する。反磁界

ではきずの高さにほぼ比例する。きずの高さが同じ場合には，きずの幅が増大するとともに漏洩磁束密度も増大するが比例関係はないので（ｄ）は誤りになる。

係数 N は，試験体の磁化されている部分の長さ L と直径D との寸法比 L／D によって決まり，材質には関係しな

問３

次は，試験体表面の磁界の強さが一定の場合，きい。反磁界係数 N が小さいほど，反磁界の強さは小さくずからの漏洩磁束密度に影響を及ぼす因子を示したもなるので（ａ）は誤りである。起磁力（磁化電流値×コのである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

イルの巻数）が大きくなると，コイル中央部の磁界の強（ａ）きずの大きささも大きくなり試験体は強く磁化する。反磁界の強さは（ｂ）磁化電流の種類

その試験体の磁化の強さ J に比例して大きくなるので，（ｃ）熱処理の有無（ｄ）は正しい。反磁界の強さは与える磁界の強さ，磁（ｄ）表面粗さ

化電流値に関連するが比例関係はないので（ｂ），（ｃ）
は誤りである。正答は（ｄ）である。

正答

（ｄ）

きずからの漏洩磁束密度に影響を与える因子として，
問２ 次の文は，きずからの漏洩磁束密度について述べた①材質，熱処理状態，冷間加工比などによる比透磁率，ものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

保磁力，飽和磁束密度などの試験体の磁気特性，②磁化（ａ）試験体中の磁束密度が非常に小さくても，きずが電流の種類・整流波形の違いによる表皮効果と試験体表あればきず付近の漏洩磁束密度は大きな値を示す。
（ｂ）飽和磁束密度の 80％以上の磁束密度になるよう層部における磁束分布，③きずの大きさ，形状や存在位置による磁束との交叉の程度などが考えられる。したがに磁化すると，漏洩磁束密度は急激に増大する。って，（ａ），（ｂ），（ｃ）は正しい。試験面の表面粗さは（ｃ）試験体中の磁束密度が同じ場合には，同じ大きさきず部以外からの漏洩磁束発生の要因となり，磁粉の適のきずからの漏洩磁束密度は，磁気的に軟らかい用や観察においての考慮が必要となるが，きずからの漏試験体の方が硬い試験体よりも小さくなる。

洩磁束密度には影響しないので（ｄ）は誤っている。な（ｄ）試験体中の磁束密度が同じ場合は，きずの高さがお，磁化方法は磁化において探傷に必要な磁界の方向と同じであれば，漏洩磁束密度はきずの幅に比例し強さを試験体に与える手段であって，きずからの漏洩磁て増大する。

束密度に直接に影響を与える因子ではない。

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問４ 次の文は，磁気回路について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）磁気回路において，起磁力 F，磁気抵抗 R 及び磁束Φとすると，F＝Φ・R の関係式が成り立つ。
（ｂ）起磁力 F は，電磁石の場合，コイルに流れる電流I とコイルの巻数 n の積に反比例する。
（ｃ）磁気抵抗 R は，磁気回路の断面積 S と透磁率 μ の積に比例し，磁気回路の長さ L に反比例する。

れ方は異なる。人工溝の深さと板厚との比が同じ場合，A1 は A2 より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れるので（ｃ），（ｄ）は誤りである。なお，A 形標準
試験片は，適用する磁粉の種類や濃度，適用の仕方により，試験面に作用する磁界の強さが同じであっても磁粉模様の現れ方は若干異なるので，事前に試験体を磁粉探傷するときと同じ磁粉の適用方法で実験し，磁粉模様を検出できる限界の磁界の強さを求めておく必要がある。

（ｄ）起磁力 F は，磁界の強さ H を 磁気回路の長さ L で除したものに等しい。

問６

次の文は，疑似模様のうち材質境界指示について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答え
正答（ａ）

磁気回路において，起磁力 F(A)は磁界の強さ H(A/m)

よ。（SP）（ａ）一般に材質境界指示は，脱磁後に再試験すれば現と磁気回路の長さ L(m)の積に等しい。磁気抵抗を R，磁束を Φ とすると，F＝Φ・R が成り立つので（ａ）の記れない。
（ｂ）鍛造やプレス加工などで，断面形状が大きく変化述は正しい。極間法やコイル法の場合，起磁力はコイルに流れる電流 I(A)とコイルの巻数 n の積に比例するのでしている境界部に生じる。
（ｃ）材質境界指示の磁粉模様は太くてぼやけていたり，（ｂ）は誤りである。また磁気抵抗 R は磁気回路の断面積 S と透磁率 μ の積に反比例し，磁気回路の長さ L に比鮮明に現われたり様々な場合がある。
（ｄ）溶接部の溶接金属と母材との境界などで，形状が例するので（ｃ）は誤りである。起磁力 F は磁界の強さ不連続な場合に生じる。

H と磁気回路の長さ L の積に等しいので（ｄ）は誤りである。数式化して整理しておくとより理解しやすい。

正答

（ｃ）

材質境界指示は溶接部の溶接金属と母材との境界，冷次の文は，JIS Z 2320-1 に規定された A 形標準試

間加工や熱処理がなされて，組織が大きく異なっている験片について述べたものである。正しいものを一つ選部分の境界，又は鍛造品や圧延品のメタルフロー部などび記号で答えよ。に，透磁率の不連続によって生じる磁粉模様である。な問５（ａ）探傷有効範囲の設定や確認に使用できる。

お，回転軸の段部やボルトのネジ部など断面積や断面形（ｂ）A 形標準試験片は，探傷装置の総合性能点検には状が急激に変化している所には，断面急変指示が現れや使用できない。
（ｃ）A2 は A1 より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れる。

すく，（ｂ），（ｄ）はこれについて述べているので誤りである。材質境界指示は透磁率の不連続が原因で発生するので，（ｃ）のようにその組織変化の状態により磁粉模様（ｄ）A 形標準試験片は，その人工溝の深さと板厚とのは太くてぼやけたり鮮明に現れたりする。これは磁界の比が同じであれば，その種類や板厚に関係なく，強さを小さくするか，検査液濃度を下げれば現れにくい

磁粉模様の現れ方は同じである。

が，脱磁後に再試験しても再び現れるので（ａ）は誤りである。

正答

（ａ）

A 形標準試験片は連続法でのみ使用することができ，以上，以前に解説した例題の類題も見られるが，それ探傷有効範囲の設定や確認，実施する探傷試験の総合性だけ受験者にとって理解し難い問題と思われる。

能試験の評価，装置・磁粉・検査液の点検，試験面に作『磁粉探傷試験Ⅱ』や『磁粉探傷試験問題集』，講習会へ用している磁界の強さと方向の確認，試験操作の適否のの参加，以前の本欄の解説記事などを参考によく学習し，確認，磁化電流値の設定などに用いる。したがって（ａ）

より理解を深めて頂きたい。また，磁粉探傷試験の JISは正しく（ｂ）は誤っている。A 形標準試験片は人工溝規格である JIS Z 2320 の内容についても，『磁粉探傷試験の深さと板厚との比，及びその種類により磁粉模様の現Ⅱ』に記載程度の内容は理解しておいて欲しい。

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ＭＴレベル２5/4

一般・専門試験のポイント
正答（ｂ）、（ｃ）

JIS Z 2305 に基づく資格試験について，本欄では Vol.60,

試験体中の磁束密度が小さいとき，すなわち与える磁No.04,No.06(2011)，Vol.62,No.06(2013)，Vol.63,No.06(2014)

界の強さが小さいときは，きず高さが低いとき（きず深に MT-2 及び MY-2 の新規一次試験に類似した例題の中さが浅いとき）には，きずからの漏洩磁束密度はほとんから，ミスしやすい問題を選んで注意点・ポイントなどど零になるので（ａ）は誤りである。また，きずからのを解説した。今回は MT-2 及び MY-2 に共通の，特に最漏洩磁束密度は試験体中の磁束密度が増加すると大きく近の正答率の低い問題の類題を例にとりポイントを解説なり，飽和磁束密度の 80％以上になると急激に増大するする。なお，専門問題には問題の末尾に（SP）と記した。

ので（ｂ）は正しい記述である。試験体中の磁束密度が同じ場合，同じ大きさのきずからの漏洩磁束密度は，磁問１次の文は，反磁界の強さについて述べたものであ

気的に硬い試験体の方が軟らかい試験体よりも透磁率がる。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

低いため，漏洩する磁束の量は多くなるので（ｃ）は正（ａ）反磁界係数が大きいほど小さくなる。

しい。なお，磁化している磁界の強さが同じ場合には，（ｂ）磁化電流値の大きさに比例する。

磁気的に硬い試験体は軟らかい試験体に比べ磁束密度が（ｃ）与える磁界の強さに比例する。

小さくなるので，同じ大きさのきずからの漏洩磁束密度（ｄ）試験体の磁化の強さに比例する。

は軟らかい試験体よりも小さくなる。また，きずからの漏洩磁束密度は，きずの高さが高くない範囲ではきずの正答（ｄ）

有限長コイル中に試験体を置いて磁化した場合，試験体の両端に磁極を生じるため反磁界が発生する。反磁界高さにほぼ比例する。きずの高さが同じ場合には， きずの幅が増大するとともに漏洩磁束密度も増大するが比例関係はないので（ｄ）は誤りになる。

係数 N は，試験体の磁化されている部分の長さ L と直径D との寸法比 L／D によって決まり，材質には関係しな

問３

次は，試験体表面の磁界の強さが一定の場合，きい。反磁界係数 N が小さいほど，反磁界の強さは小さくずからの漏洩磁束密度に影響を及ぼす因子を示したもなるので（ａ）は誤りである。起磁力（磁化電流値×コのである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

イルの巻数）が大きくなると，コイル中央部の磁界の強（ａ）きずの大きささも大きくなり試験体は強く磁化する。反磁界の強さは（ｂ）磁化電流の種類

その試験体の磁化の強さ J に比例して大きくなるので，（ｃ）熱処理の有無（ｄ）は正しい。反磁界の強さは与える磁界の強さ，磁（ｄ）表面粗さ化電流値に関連するが比例関係はないので（ｂ），（ｃ）
は誤りである。正答は（ｄ）である。

正答

（ｄ）

きずからの漏洩磁束密度に影響を与える因子として，問２ 次の文は，きずからの漏洩磁束密度について述べたものである。正しいものを選び記号で答えよ。
（ａ）試験体中の磁束密度が非常に小さくても，きずがあればきず付近の漏洩磁束密度は大きな値を示す。
（ｂ）飽和磁束密度の 80％以上の磁束密度になるよう①材質，熱処理状態，冷間加工比などによる比透磁率，保磁力，飽和磁束密度などの試験体の磁気特性，②磁化電流の種類・整流波形の違いによる表皮効果と試験体表層部における磁束分布，③きずの大きさ，形状や存在位置による磁束との交叉の程度などが考えられる。したがに磁化すると，漏洩磁束密度は急激に増大する。って，（ａ），（ｂ），（ｃ）は正しい。試験面の表面粗さは（ｃ）試験体中の磁束密度が同じ場合には，同じ大きさきず部以外からの漏洩磁束発生の要因となり，磁粉の適のきずからの漏洩磁束密度は，磁気的に軟らかい用や観察においての考慮が必要となるが，きずからの漏試験体の方が硬い試験体よりも小さくなる。

洩磁束密度には影響しないので（ｄ）は誤っている。な（ｄ）試験体中の磁束密度が同じ場合は，きずの高さがお，磁化方法は磁化において探傷に必要な磁界の方向と同じであれば，漏洩磁束密度はきずの幅に比例し強さを試験体に与える手段であって，きずからの漏洩磁て増大する。

束密度に直接に影響を与える因子ではない。

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問４ 次の文は，磁気回路について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）磁気回路において，起磁力 F，磁気抵抗 R 及び磁束Φとすると，F＝Φ・R の関係式が成り立つ。
（ｂ）起磁力 F は，電磁石の場合，コイルに流れる電流I とコイルの巻数 n の積に反比例する。
（ｃ）磁気抵抗 R は，磁気回路の断面積 S と透磁率 μ の積に比例し，磁気回路の長さ L に反比例する。

れ方は異なる。人工溝の深さと板厚との比が同じ場合，A1 は A2 より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れるので（ｃ），（ｄ）は誤りである。なお，A 形標準試験片は，適用する磁粉の種類や濃度，適用の仕方により，試験面に作用する磁界の強さが同じであっても磁粉模様の現れ方は若干異なるので，事前に試験体を磁粉探傷するときと同じ磁粉の適用方法で実験し，磁粉模様を検出できる限界の磁界の強さを求めておく必要がある。

（ｄ）起磁力 F は，磁界の強さ H を 磁気回路の長さ L で除したものに等しい。

問６

次の文は，疑似模様のうち材質境界指示について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答え
正答（ａ）

磁気回路において，起磁力 F(A)は磁界の強さ H(A/m)

よ。（SP）（ａ）一般に材質境界指示は，脱磁後に再試験すれば現と磁気回路の長さ L(m)の積に等しい。磁気抵抗を R，磁束を Φ とすると，F＝Φ・R が成り立つので（ａ）の記れない。
（ｂ）鍛造やプレス加工などで，断面形状が大きく変化述は正しい。極間法やコイル法の場合，起磁力はコイルに流れる電流 I(A)とコイルの巻数 n の積に比例するのでしている境界部に生じる。
（ｃ）材質境界指示の磁粉模様は太くてぼやけていたり，（ｂ）は誤りである。また磁気抵抗 R は磁気回路の断面積 S と透磁率 μ の積に反比例し，磁気回路の長さ L に比鮮明に現われたり様々な場合がある。
（ｄ）溶接部の溶接金属と母材との境界などで，形状が例するので（ｃ）は誤りである。起磁力 F は磁界の強さ不連続な場合に生じる。

H と磁気回路の長さ L の積に等しいので（ｄ）は誤りである。数式化して整理しておくとより理解しやすい。

正答

（ｃ）

材質境界指示は溶接部の溶接金属と母材との境界，冷次の文は，JIS Z 2320-1 に規定された A 形標準試

間加工や熱処理がなされて，組織が大きく異なっている験片について述べたものである。正しいものを一つ選部分の境界，又は鍛造品や圧延品のメタルフロー部などび記号で答えよ。に，透磁率の不連続によって生じる磁粉模様である。な問５（ａ）探傷有効範囲の設定や確認に使用できる。

お，回転軸の段部やボルトのネジ部など断面積や断面形（ｂ）A 形標準試験片は，探傷装置の総合性能点検には状が急激に変化している所には，断面急変指示が現れや使用できない。
（ｃ）A2 は A1 より小さな有効磁界の強さで明瞭な磁粉模様が現れる。

すく，（ｂ），（ｄ）はこれについて述べているので誤りである。材質境界指示は透磁率の不連続が原因で発生するので，（ｃ）のようにその組織変化の状態により磁粉模様（ｄ）A 形標準試験片は，その人工溝の深さと板厚とのは太くてぼやけたり鮮明に現れたりする。これは磁界の比が同じであれば，その種類や板厚に関係なく，強さを小さくするか，検査液濃度を下げれば現れにくい磁粉模様の現れ方は同じである。

が，脱磁後に再試験しても再び現れるので（ａ）は誤りである。

正答

（ａ）

A 形標準試験片は連続法でのみ使用することができ，探傷有効範囲の設定や確認，実施する探傷試験の総合性

以上，以前に解説した例題の類題も見られるが，それだけ受験者にとって理解し難い問題と思われる。

能試験の評価，装置・磁粉・検査液の点検，試験面に作『磁粉探傷試験Ⅱ』や『磁粉探傷試験問題集』，講習会用している磁界の強さと方向の確認，試験操作の適否のへの参加，以前の本欄の解説記事などを参考によく学習確認，磁化電流値の設定などに用いる。したがって（ａ）し，より理解を深めて頂きたい。また，磁粉探傷試験のは正しく（ｂ）は誤っている。A 形標準試験片は人工溝

JIS 規格である JIS Z 2320 の内容についても，『磁粉探傷の深さと板厚との比，及びその種類により磁粉模様の現試験Ⅱ』に記載程度の内容は理解しておいて欲しい。