NDT フラッシュ Vol.65,No.02

ＵＴレベル１

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実技試験のポイント

2015 年秋期の実技試験より JIS Z 2305: 2013 に即した実技試験が行われている。UT レベル 1 の実技試験では，

表2

UT レベル 1 の二次試験内容

No.

課 題
垂直探傷試験（角材）1

試験体が従来の 2 体から 3 体に増え，また記録項目なども若干増加する。実技試験の評点も JIS Z 2305 の 8.2.4
及び附属書 D に準じて行われるので従来とは少し異なる。

2

今回は，これら変更点を主体に解説を行う。
1. JIS Z 2305: 2013 附属書 D の概要

3

表 1 に JIS Z 2305: 2013 附属書 D に示すレベル 1 の実技試験の評点－配分（％）のガイダンスを示す。2015年秋期の実技試験よりこのガイダンスにより実技試験が，評価されることとなった。従来は，きず検出及び検出部のきずの評価をすることが主体となっていたが，今後は表 1 に示すように装置の調整や感度の調整，試験体番号の記録や探傷器調整後の設定値などの記録も採点の対象

4概 要
大 き さ 約 60 ×60mm，厚さ 110mm程度の角材を 垂直探傷する。
垂直探傷試験
厚さ 20～30mm，大（板材）きさ約 120×120mmの鋼板の試験 体 を垂直探傷する。
斜角探傷試験
STB-A2( φ 4 × 4mm)（平板溶接部）
でエコー高さ 区分線を作成し，厚さ 18mm程度の試験体（平板溶接部，大きさ：120×200mm 程度）の溶接部を斜角探傷する。
データ整理と答案 探傷装置の調度，探傷作成（ﾏｰｸｼｰﾄ作成） データを整理 し 実技試験答案用紙（マークシート）を作成する。

時間
15分

15分

30分

40分となる。表 1 は，各部門共通の項目として記載されているので具体的には，超音波探傷試験に即した項目として，面的な位置及び深さ位置を測定する。探傷器の測定範囲

従来の記録項目に追加されて記録することが要求されては，事前の角材の探傷時に調整してあるので，そのままいる。

でよいが，探傷感度は指定されている感度に調整をする必要がある。きずは複数あり，最大エコー高さが得られ

表 1 レベル 1 の実技試験のための配分(%)のガイダンス

た位置で，NDT 指示書で指定されている角を基準にして内容配分(%)
項目 1：NDT 機器の知識
10a) システムコントロール及び機能点検b) 調整の検証
10
項目 2：NDT 方法の適用
5a) 外観の試験を含む試験体の準備b) NDT 機器の調整
15c) NDT の実施
10d) NDT 後の手順
5
項目 3：不連続部の検出及び報告20a) 報告の義務のある不連続部の検出b) 特性評価（種類，位置，方向，見掛寸法）15c) NDT 報告書の作成
10総合評点100

平面的な位置を測定する。また，きずの深さ位置を表示

2. UT レベル 1 実技試験の内容
UT レベル 1 の実技試験の内容は，表 2 に示すとおりである。
角材の垂直探傷と平板溶接部の斜角探傷は，従来と同様であるが，新たに板材の垂直探傷が，追加となった。
板材は，厚さが 20～30mm のもので大きさは約 120×120mm のものであり，きずが内在する。STB-N1 試験片を用いて指定された探傷感度で探傷を行い，きずの平器上に表示されたビーム路程で読み取る。
試験時間は，角材の垂直探傷が 15 分（従来と同じ），板材の垂直探傷が 15 分，平板溶接部の斜角探傷が 30 分（従来と同じ）で，データ整理の時間は試験体が 1 体増えたため従来の 30 分から 40 分に増加した。
3. JIS Z 2305: 2013 による変更内容(1) 実技試験の評価方法
従来のレベル 1 の実技試験は，試験体 2 体での探傷結果の評価で総合 80%以上の得点が得られれば合格となっていたが，JIS Z 2305: 2013 による認証では試験体 3体で，各試験体の評価をそれぞれ 70%以上得なければ合格とならない。このため，合格点は 70%と下がったが，総合的に判断すればやや厳しくなっていると考えられる。
また，レベル 1 の実技にも試験体毎に報告の義務のあるきず（マンダトリ）が定められており，このきずが検出できなければ，その試験体における項目 3 の不連続部の検出及び報告に関する得点が得られないのでこのきずは必ず検出することが必要である。マンダトリのきずは

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おおむね検出しやすいきずが該当している。

傷，板材の垂直探傷，平板溶接部の斜角探傷の順に実施

従来は基本的にきずの探傷結果（きずの位置，きずのされる。それぞれの試験体での試験は区切られていて，大きさ・長さ，きずの評価）が採点の対象となっていた

例えば板材の垂直探傷時に角材の探傷を行うことはできが，2015 年秋期からは，次項に示す調整時点での値などない。角材の垂直探傷の次は板材の垂直探傷であるが，が，表 1 に示した得点の配点ガイダンスに基づいて新たこの場合測定範囲は同じであるので，測定範囲の調整をに採点対象となる。このため，試験体番号の記入や斜角し直す必要はなく，そのままの調度で探傷が可能である。

探触子の入射点位置の記録などを忘れないようにしてお

ただし，探傷感度は指示されたように板材の場合くことが必要となる。

STB-N1 を用いて調整を行う必要がある。垂直探傷で測(2) 採点項目について定範囲の調整，０（ゼロ）点の調整を行った時点で音速表 3 に実技試験の採点項目を示した。0（ゼロ）点の値及び 0 点の値（μs の値）を記録しておかなければな

値は小数点以下 2 桁まで記録するが，入射点や STB 屈らない。また，板材の探傷における探傷感度を調整した

折角及び探傷感度は小数点以下 1 桁まで記録する。

時点で，探傷感度のデシベル値を記録しておく必要があ

従来に比べ記録項目が増えているので，その都度記録る。さらには，探傷を始める前に試験体の番号，探触子をしておかないと探傷に熱中してしまうと忘れてしまい，番号，探傷器名などを忘れないよう記入しておくこともデータ整理の時間になって記録されていないことに気が大事である。

付いたりするので，こまめに記録することを勧める。

板材の垂直探傷の次は，平板溶接部の斜角探傷である。
この平板溶接部は従来から用いられている平板の仮想溶表3

UT レベル 1 実技試験の項目接部で，溶接ビードを削除した状態のもので，溶接部のNo.
1

項 目
探傷器名

中心部にけがき線がありこのけがき線を基準線として探2

探触子製造
番号
0 点の値

34音速値

5

試験体番号

6

入射点

7STB 屈折角8

探傷感度9きずの情報

内
容
探傷器 の右上に表示されている探傷器名を記入する。
探触子の製造番号を記入する。
垂直，斜角それぞれの番号
探傷器 の時間軸を調整した時点での，0 点の値を記入する。
小数点以下 2 桁まで記入する。
探傷器 の時間軸を調整した時点での，音速値を記入する。
試験体の表示されている記号，番号を記入する。
斜角探触子の入射点を測定した時点での，入射点の値を記入する。
斜角探傷で，屈折角を測定した時点での，STB 屈折角を記入する。
探傷感度を調整 した時点でのゲインの値を記録する。
きずの位置，深さ位置，きず指示長さ，エコー高さ，きずの領域の表示記号などは従来通り記録する。

傷を行う。垂直から斜角探傷となるため斜角探触子に取り換えた上で，測定範囲の調整，０点の調整を再度行う。
この時点で垂直探傷と同様に０点位置の値，音速値を記録しておく必要がある。斜角探傷でも垂直探傷と同様に探傷器名，探触子番号，試験体番号を記録する。また斜角探傷では探触子入射点の位置，STB 屈折角，STB-A2
φ4×4 で調整した場合の探傷感度をゲイン値で記録する。この後 STB-A2 試験片によりエコー高さ区分線を作成し，指定された探傷感度により斜角探傷を行い，結果を記録する。探傷の要領については NDT 指示書をよく読み，指示されたとおりに行うことが必要である。
斜角探傷で注意することは，測定範囲を調整する際，2 点調整機能を使用して行った場合，必要なエコーにきちんとゲートが掛かっていることが必要で，ゲートの長さがあまりに長く，ノイズや目的でないエコーに掛かっていることで測定範囲の調整が思った値にできていない場合がある。斜角探傷ではきずの位置（X 方向，基準線からの距離，深さ位置）及びきず指示長さの測定が重要となる。

4. 実技試験におけるポイント
UT レベル 1 の実技試験は，はじめに説明会場で実技試

JIS Z 2305: 2013 による新規試験の実技試験が 2015

験実施の手順等の説明を受けたのち，実技試験要領を示

年秋期からスタートしたが，慣れない点もあると思われした NDT 指示書を読んで，実技試験の内容を確認する。

るので本資料を参考にしてとまどうことのないように準実技試験は，実技試験会場に移動した後，角材の垂直探備していただきたい。受験生の健闘を期待したい。

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ＭＴレベル３

二次パート F 試験のポイント（１）項目 1：一般
「適用範囲」，「文書管理」，「引用規格」及び「補足情2015 年秋期より JIS Z 2305:2013 による資格試験が開報」が小項目として挙げられている。仕様書に示された始された。これまで NDT フラッシュでは JIS Z 2305:2001

試験体はどのようなものであり，どのような目的で，いによる資格試験について，Vol.61 No.7，No.11(2012)，つどのようにして試験するかを記載する。また規格等は，Vol.62 No.2(2013), Vol.63 No.2(2014),Vol.64 No.2(2015)に，原則として，最新の規格を使用する。使用する規格には，MT レベル 3 の C１ C２C３ 試験のポイントを解説した。こ各 JIS 規格だけでなく，外国規格や社内基準など，手順れらの試験は改定 JIS 規格ではそれぞれパート D，E，F書内で使用・引用するものを記載する必要がある。に改称された。今号ではパート F 試験で出題される手順（２）項目 2：NDT 技術者

書作成にあたり，各項目のポイント・注意等を解説する。

試験を実施する試験技術者の要件について記載する。
（３）項目 3：機材及び装置

1．レベル 3

二次試験の概要

パート D，E 試験の内容は訓練シラバスに基づくが，小項目として「主要な NDT 装置」、「補助装置」が記載されている。管理状態，装置仕様，使用すべき補助装

従来の C１ C２ 試験と大きな変更はない。パート F 試験は置・器具・機材等の仕様を記載する。

従来の C３ 試験と同様に手順書作成問題であるが，改定すなわち，次のことに留意する必要がある。

JIS 規格の附属書 D「D.2 レベル 3 の手順書作成試験にお・試験に使用する機材及び装置が管理されているものでける配分」に表 D.2 があり，内容と点数配分のガイダンあるということスが示されている。従って試験はこれに準拠して実施さ・仕様：機材及び装置の各々についての要求される性能れる。次項に，MT-3 パート F における表 D.2 の各項目

他に記載すべき項目と内容の考え方について解説する。

・検出媒体に関する情報・探傷に使用する補助具，又は器具

2．パート F 試験の解答のポイント
試験の基本的な内容は従来と変わらない。ただし，前
述のように，記載すべき項目は表 D.2 に示されている。
各項目の内容として，参照規格に従った，手順書に記載

・検出媒体の性能確認に用いる対比試験片・磁化の確認に必要であれば磁気計測器・安全及び試験条件確保のため探傷時に必要と思われる
冶具等すべき事項及び内容が問われ，試験時には参照規格として受験者に JIS Z 2320-1:2007（以下 JIS 規格という。）が＜記載が必要な内容の例＞貸与される。これまでもこの紙面で記載しているが，事①試験機材及び装置等の管理

前に JIS 規格を読んでいないと思われる人もいまだに見②磁化装置｛仕様；最大磁化電流及び電流の種類（波かける。その場で試験問題を読んで内容を理解し，更にJIS 規格を読んでこれを適用した試験方法・手順を検討
し手順書の内容にまで反映することは，限られた時間で高値・実効値等の表示方法を含む）｝③プロッド電極，ケーブル，コイル，電流貫通棒・磁束貫通棒，継鉄棒など補助具はかなり困難であるので，事前に JIS 規格及び表 D.2 を④ブラックライト（仕様，装置としての必要条件）

よく読んで各項目についての記載部分及びその内容を理⑤検出媒体（磁粉の種類，濃度及び分散媒）解・検討しておくことが大切である。

⑥磁粉散布器具

手順書は仕様書に示された内容に基づき，必要な項目と内容を探傷作業に合わせ順序だてて記載する必要があ⑦対比試験片（必要に応じ標準試験片）⑧必要な場合：磁気測定器，架台，暗幕など

り，レベル 3 技術者を目指す者として，各項目，特に試験方法及び試験条件の選定，その内容の記載にあたって例えば，試験体が大きい場合など，試験面を分割した十分理解しているかどうかが問われる。この手順書の情場合でも常に最適な試験条件が得られるような装置，器報を元に，レベル 2 技術者が指示書を作成できるかも考具などを検討し設定する。このとき試験者の安全性も考慮しておく必要がある。以下，MT レベル 3 における表

慮し，必要であれば架台なども設定する。また，屋外やD.2 の各項目の内容について解説する。

工場内などでは可搬式の暗幕なども有効である。

NDT フラッシュ Vol.64,No.02 4/4（４）項目 4：試験体材質・熱処理状況・形状・寸法・個数など試験体に関する情報及び検出対象とするきずについて記載する。
（５）項目 5：NDT の実施「使用される NDT 技法」，
「必要であれば機器の調整」，「NDT の実施」，「不連続部の特性評価」など，手順書と⑫観察方法（環境，方法，時期等）⑬その他必要な指示事項：例(a)試験体の架台への設置，試験面の傾斜等による影響を考慮した，検出媒体の適用に関する考慮事項
及び安全に関わる事項(b)プロッド法など直接に通電する方法に関する特して最も重要な内容である。

記事項など各磁化方法における注意事項（スパー

内容の検討にあたっては以下を考慮する必要がある。

クの対策・発生した場合のスパーク跡の処理方法

・対象とするきずを検出するのに適切な検査性能であり等）実施可能であること

手順書を作成する際には，標準試験片確認方式と工程・磁化の確認が適切であること

確認方式の両方式が混在しないように注意するとともに，・試験体の損傷等への配慮実施する試験の検査性能の確認方式の宣言を忘れないよ

・作業者の安全への配慮うにする。

・検査の効率・コスト

なお，磁化方法が指定された場合には，その方法を使用した最適な条件の設定を考える必要がある。

特に「NDT の実施」（試験方法）の検討では，磁化方法が指定されない場合，試験体の特性と検出すべききず

また，この項目 5 では検出されたきずの大きさ及び特性の評価方法についても記載する。に合わせた適切な磁化方法の選定が必要である。先に検討した項目 1～4 の内容を検討し，一つ又は二つ以上の適切な磁化方法を含む具体的な試験方法を検討する。

（６）項目 6：判定基準
この試験体に許容されるきずの大きさ及び特性及び不＜検討項目の例＞

合格となるきずの大きさ及び特性について記載する。

・対象とする試験体又は試験範囲の大きさ，形状，（７）項目 7：NDT 後の手順

試験部位，数量，用途・対象とするきずの種類と大きさ・試験の時期・使用可能な探傷装置後処理，分別及び不適合品の処置等について記載する。
（８）項目 8：NDT 報告書の作成報告書に記載すべき項目について記載する。
（９）項目 9：全般的な表現手順書としての全般的な表現について問われる。例え＜記載すべき項目の例＞

ば，分かりやすく必要事項について述べているか，仕様①検査性能の確認方式

書に示された試験体について理解して手順書を記述して②前処理方法

いるかなど MT レベル 3 技術者としての技術センスが問

③磁化方法

われる。

④磁化電流（種類，磁化電流値，表示方法等）⑤必要な場合；探傷有効範囲
ただし，磁化電流値や探傷有効範囲（試験範囲）につ

本解説を参考に，予め溶接部や各種の機械部品などを想定して，各磁化方法を用いた，表 D.2 に従った手順書

いては，JIS 規格に記載された内容を適用した具体的なを書く練習をしておくことも学習として有効である。

数値を記載する。

手順書のフォーマットとして，参考書に以下の記載例が⑥必要な場合；プロッド間隔あるので参考にして欲しい。

⑦探傷ピッチ

・『磁粉探傷試験Ⅲ』6 章

手順書の作成⑧プロッド（又は磁極）の配置，必要な場合磁化する

・『磁粉探傷試験Ⅱ』8 章

仕様書，手順書及び指示書際の位置⑨磁粉の適用時期（連続法，残留法の別）

以上，本解説が MT レベル 3 学習の参考になれば幸い⑩検出媒体の性能試験方法である。また Vol.64 No.2(2015)には，C3 問題に関して詳⑪検出媒体の適用方法（具体的な適用手段と方法）

述されているので併せて参考にして頂きたい。