NDT フラッシュ Vol.72 No.11

ＭＴレベル１

1/4【72 巻 11 月号掲載記事に関する訂正】3/4 ページ「ET レベル 1
一般・専門試験のポイント」記事において、問 1 の解説文に誤りがありました。お詫びして訂正いたします。（2023 年 11 月 28 日）
なお、訂正箇所は赤字記載してあります。5 頁 6 頁につきましては修正済みの記事となります。

一般試験のポイント
正答（ｂ）

JIS Z 2305:2013 に基づく資格試験について，MT-1 及び透磁率μが大きいほど，磁束を通しやすく磁化されや限定資格（MY-1，ME-1）の新規一次試験に関して，これすい。磁気的に軟らかい鋼ほど透磁率が高く磁化されやまで本欄では 2011 年(Vol.60，10 月)以降，2022 年(Vol.71，すいので，飽和磁束密度になるのに必要な磁界の強さは10 月)まで，ミスを犯しやすい問題の類題を例にとりポ小さくなる。したがって（ａ）は誤り，（ｂ）は正しい。

イントを解説した。今号では限定資格を含め，レベル 1

また炭素量が多いほど飽和磁束密度に達するまでに必要に共通する一般試験の類題を主にポイントを解説する。

な磁界の強さは大きくなり（ｃ）は誤りである。鉄鋼材料の磁化曲線は炭素量，合金成分，熱処理状態，冷間加

問 1 次の文は，反磁界の大きさについて述べたものであ工度などにより変化するため（ｄ）は誤りである。

る。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）試験体の形状によらず，与えた磁界の大きさによって決まる。
（ｂ）試験体の直径 D によって決まり，D が大きいほど大きくなる。

問 3 次の文は，表皮効果に関係する内容について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）交流磁化は試験体表面のきずの検出に用いられる。
（ｂ）表皮効果が生じるため，非磁性体の試験体でも探（ｃ）試験体の長さ L によって決まり，L が大きいほど大きくなる。

傷できる。
（ｃ）表皮効果のため電流は試験体表面に集中して流れ（ｄ）試験体の長さ L と直径 D の比 L/D が小さい方が正答るが，磁束は試験体内部では徐々に増加する。

大きくなる。

（ｄ）表皮効果は，磁気探傷には影響を全く与えない。

（ｄ）

正答

（ａ）

コイルの中に試験体を置いて磁化した場合，試験体の交流を用いて磁化した場合，表皮効果により磁束は試両端に磁極を生じ反磁界が発生する。反磁界の大きさは，験体表面に集中して流れ，内部では急激に減少する。そ試験体の磁化されている部分の長さ L と直径 D との寸法のため磁気探傷試験では，交流は試験体表面のきずの検比（L/D）によって決まり，この比が大きくなると反磁界出を目的に用いられる。非磁性体でも表皮効果は生じるの強さは小さくなり，比が小さくなると反磁界は大きくが，もちろん磁気探傷はできない。正答は（ａ）である。

なる。試験体の直径 D 又は長さ L の大きさだけでは反磁界の大きさは決まらない。したがって（ｂ）（ｃ）は誤り問 4 次の文は，磁気回路に関係する内容について述べたで，（ｄ）が正しい。試験体の形状が球や立方体に近いもものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。のでは反磁界は大きくなり，棒状で長いものほど小さく（ａ）磁気回路では，電気回路の電流に相当するものがなる。試験体の形状が同じ場合，与える磁界の強さが大磁束 Φ (Wb)，起電力に相当するものが起磁力 F

きいほど反磁界も大きくなるため（ａ）は誤りである。

(A) そして電気抵抗に相当するものが磁気抵抗 R(A/Wb)である。

問 2 次の文は，鉄鋼材料の磁気特性について述べたもの（ ｂ ） 磁 束 Φ (Wb) ， 起 磁 力 F (A) 及 び 磁 気 抵 抗 R(A/Wb)の関係は，Φ＝FR で表される。

である。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）透磁率μが大きくなるほど，磁束を通しにくくな（ｃ）磁気抵抗は，試験体の断面積と導電率の積に反比る。
（ｂ）磁気的に軟らかい鋼ほど，飽和磁束密度になるま例し，磁気回路の長さに比例する。
（ｄ）磁気回路の長さが等しければ，起磁力を大きくすでに必要な磁界の強さは小さくなる。

ると磁界の強さは弱くなる。

（ｃ）炭素量が多い鋼ほど，飽和磁束密度になるまでに必要な磁界の強さは小さくなる。

正答

(ａ)

（ｄ） 強磁性体である鉄鋼材料の磁化曲線は，化学組成，磁気回路では，電気回路の電流に相当するものが磁束熱処理に関係なく，ほぼ同じ形状である。

Φ (Wb)，起電力に相当するものが起磁力 F (A)，電気抵

NDT フラッシュ Vol.72 No.112/4抗に相当するものが磁気抵抗 R (A/Wb) 又は(H-1)であり，た場合，A2-7/50 の方が小さな磁界の強さで磁模

F＝ΦR で表される。磁気抵抗 R は試験体の断面積と透磁様が検出される。

率の積に反比例し，磁気回路の長さに比例する。磁気回（ｄ）試験面に貼り付けた A1-15/50 の標準試験片（円形）路の長さが等しければ，起磁力を大きくすると磁束も大に明瞭な磁粉模様が現れた場合，その位置での磁界きくなり磁界の強さは大きくなる。正答は（ａ）である。の方向及びおおよその磁界の強さがわかる。

問 5 次の文は，磁気探傷試験に使用する各種装置類の安全について述べたものである。正しいものを一つ選び記

正答 （ｄ）
A 型標準試験片は，試験面における磁界の方向や磁界号で答えよ。の強さの確認のために使用する。また，総合性能試験や（ａ）降圧変圧器式磁化電源は，二次側出力として高電試験条件の設定・確認，検査液の性能点検にも使用され圧大電流が得られるため，通電中に電極部分に触るなど，非常に有用である。各々の種類のＡ型標準試験れてはならない。

片で，磁粉模様が明瞭に見える磁界の強さは，試験片の（ｂ）プロッド電極は感電の恐れが高いので，磁化電源

材質と“人工きずの深さ／試験片の板厚”の分数比によの形式によらず，必ず絶縁性手袋を使用して操作って異なるが，この人工きずの深さと検出される実際のしなければならない。

きずの大きさ（深さ）とは直接の関係はない。しかし未（ｃ）携帯形極間式磁化器は，感電防止のため電気回路だに（ａ）を正しいと考えている人がいる。また，A1 類の絶縁抵抗を定期的に点検しなければならない。と A2 類では，A1 類の材質の方が透磁率が高く，同じ分（ｄ）紫外線 LED を使用した紫外線照射装置は，人体に数比であれば A1 類の方が小さな磁界の強さで磁粉模様害の少ない 365 nm 付近の波長の紫外線しか照射が検出される。A2 類は圧延のままで磁気異方性があるたされないので直接に光源をのぞいても問題ない。

め，人工きずは直線形のものしかない。また，同じ材質で同じ分数比のＡ型標準試験片は，板厚が異なってもほ正答(ｃ)

降圧変圧器式磁気探傷装置は各種の磁化方法に対応でぼ同じ磁界の強さで明瞭な磁粉模様が検出される。正答は（ｄ）である。

き，現場でも多く実用されている。200 V 又は 100 V の交流を一次側入力とし，変圧器(トランス)により降圧し

問 7 次は，きず部からの漏洩磁束密度に影響を及ぼす因

二次側出力として低電圧の大電流を得ることができる。

子を示したものである。正しいものを一つ選び記号で答

一般に 2000 A 程度の電流でも二次側出力は 30 V 以下

えよ。の低電圧であり，直接触れても感電することはない。ま（ａ）磁粉の適用時間

たプロッド法も通常，降圧変圧器式磁化電源を使用して（ｂ）試験体の大きさ磁化するので，プロッドに触れても感電しないが，スパ（ｃ）試験体中の磁束密度ーク発生時には注意が必要であり，（ａ）（ｂ）は誤りで（ｄ）通電時間ある。LED による紫外線照射装置は，人体に害が少ない
UV-A 領域しか照射されないが，直接，光源を見ること

正答（ｃ）は避けなければならない。極間式磁化器は 100 V の電源

きず部からの漏洩磁束密度の大きさは，きずが深いほに接続しているため漏電は危険なので，絶縁抵抗によるど，きず形状が円形状よりも線状に近いほど，きずの位点検が必要である。正答は（ｃ）である。

置が表面に近いほど，きずの長手方向に対する磁束の方向が 90°に近くなるほど，試験体中の磁束密度が増加す

問 6 次の文は，Ａ型標準試験片について述べたものであるほど大きくなる。磁粉の適用時間，試験体の大きさ，る。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

通電時間の長短は影響しない。正答は（ｃ）である。

（ａ）A1-15/50 の人工きずが検出されることで，15 μmよりも深いきずを検出できることが分かる。

以上の例題は，MT-1 及び MY-1，ME-1 に共通する一（ｂ）A1 も A2 も人工きずには直線形と円形がある。

般問題の例である。資格取得を目指す人は，本解説とと（ｃ）A1-7/50 と A2-7/50 の標準試験片を同時に試験しもに，参考書や問題集などを参考にして学習して欲しい。

NDT フラッシュ Vol.72 No.11

3/4

ＥＴレベル 1 一般・専門試験のポイント
問２
JIS Z 2305:2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」に基づく ET レベル 1 の一般・専門試験は，主に『渦電次の文は，周波数と表皮深さについて述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）周波数が 2 倍に上がった場合と，試験体の導電率

流探傷試験 I』から出題される。本稿では，最近行われたが 2 倍に上昇した場合の表皮深さは同じである。

試験のうち，正答率の低かった問題の類題により解答の（ｂ）周波数が 2 倍に上がると，表皮深さは約 1/4 になポイントを解説する。

る。
（ｃ）周波数が 2 倍に上がると，表皮深さは 1/2 になる。
（ｄ）周波数が 2 倍に上がっても，材料の導電率が変わ

一般試験の類題
問１

次は，鋼管の渦電流探傷検査方法に関する JIS にらなければ表皮深さは変わらない。

ついて示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

正答

（ａ）

（ａ）JIS G 0583

（ｂ）JIS H 0502

無限大の広さと厚さを持った平面状導体に，水平方向（ｃ）JIS H 3300（ｄ）JIS Z 2305に一様な交流磁界が加えられたときの深さ𝑑 (m)の渦電流密度𝐽(A/m2)は式(1)のように表される。

正答

（ａ）

𝐽 = 𝐽0 𝑒 −𝑑√𝜋𝑓𝜇𝜎

渦電流探傷試験に関係する JIS の例を表 1 に示す。したがって，正答は（ａ）となる。

(1)

ここで，𝐽 (A/m2)は導体表面の渦電流の電流密度，𝑓(Hz)0は交流磁界の周波数，𝜇(H/m)は導体の透磁率，𝜎(S/m)は導体の導電率である。表皮深さ𝛿 (m)とは𝐽が𝐽0 の1/𝑒とな

表1

渦電流探傷試験に関係する JIS の例

番号JIS G 0583
JIS H 0502
JIS H 0515
JIS H 3300

名称
鋼管の自動渦電流探傷検査方法

はおよそ 0.368 となる。ここで，式(1)の𝐽に𝐽0 /𝑒，𝑑に𝛿を代入し𝛿で整理すると式(2)が得られる。

銅及び銅合金管のか（渦）流探傷試験

𝐽0方法

𝑒= 𝐽0 𝑒 −𝛿√𝜋𝑓𝜇𝜎

チタン管の渦流探傷検査方法⟺𝛿=

銅及び銅合金の継目無管(JIS H 0502 を引用している)
アルミニウム及びアルミニウム合金のJIS H 8680-2

る深さ𝑑を指す。𝑒はネイピア数（約 2.718）であり，1/𝑒

陽極酸化皮膜厚さ試験方法―

1
√𝜋𝑓𝜇𝜎

(2)

式(2)から，周波数𝑓と導電率𝜎が表皮深さ𝛿に与える影響は同じであることがわかる。したがって，正答は（ａ）

第２部：渦電流式測定法となる。周波数が 2 倍になると表皮深さは1/√2になる。

JIS Z 2300

非破壊試験用語

よって（ｂ），（ｃ）及び（ｄ）は誤りである。

JIS Z 2305

非破壊試験技術者の資格及び認証

JIS Z 2315

過渦流探傷装置の総合性能の測定方法

問３

非破壊試験―渦電流試験―のである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

第１部：一般通則（ａ）二つのコイルを近づけるとその相互インダクタン

JIS Z 2316-1
JIS Z 2316-2
JIS Z 2316-3
JIS Z 2316-4

非破壊試験―渦電流試験―
第２部：渦電流試験器の特性及び検証
非破壊試験―渦電流試験―
第３部：プローブの特性及び検証
非破壊試験―渦電流試験―
第４部：システムの特性及び検証
非破壊試験―加工穴内径面自動検査装JIS Z 2324-4

置―
第４部：渦電流式検査装置の性能試験
方法

次の文は，相互インダクタンスについて述べたもスは小さくなる。
（ｂ）近接して配置した二つのコイルの一方に電流を流すと，他方に誘導起電力が発生するが，このとき相互インダクタンスが大きいほど，誘導起電力の絶対値は小さくなる。
（ｃ）二つのコイルの結合係数が大きくなると，相互インダクタンスは小さくなる。
（ｄ）二つのコイルを無限に離すと，相互インダクタンスはゼロとなる。

NDT フラッシュ Vol.72 No.11

正答

4/4

（ｄ）

た周波数成分の信号を通さない。

インダクタンスとはコイルの形状で決まる定数であり，誘導起電力の比例係数である。相互インダクタンスとは複数のコイル間で生じるインダクタンスである。

正答

（ｂ）

渦電流探傷器には試験体の搬送時によるガタによって生じる低周波の検出信号の変化や電気ノイズなどの高周

コイル 1 とコイル 2 の二つのコイルが近接していると波の信号を除去し，S/N を向上させるための周波数フィきを考える。コイル 1 に交流電流を流すとコイル 1 によルタが実装されている。信号の振幅により信号を通過あって発生しコイル 2 を鎖交する磁束𝜙21 によってコイル

るいは阻止をする回路をリジェクション回路という。し2 に誘導起電力𝑒2 が生じる。この現象を相互誘導と言い，たがって（ａ）は誤りである。ローパスフィルタは，低𝑒2 は式(3)で表される。

い周波数成分の信号を通し，高い周波数成分の信号は減𝑒2 = −𝑁2𝑑𝜙21𝑑𝑡(3)衰させるため正答は（ｂ）である。ハイパスフィルタは，高い周波数成分の信号を通すため（ｃ）は誤りである。

ここで，𝑁2 はコイル 2 の巻数，𝑡は時間を表す。𝑒2 はコ

バンドパスフィルタは，特定の周波数帯域(バンド)の信イル 1 に流した交流電流𝐼1 と誘導起電力の比例係数であ号を通すため，（ｄ）は誤りである。

る相互インダクタンス𝑀から式(4)で表される。
𝑒2 = −𝑀𝑑𝐼1𝑑𝑡(4)

式(3)，式(4)から式(5)が得られる。
𝑀=

𝑁2 𝜙21𝐼1問５

次の文は，上置プローブでの磁気的なシールドの効果を示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

(5)（ａ）一回の走査での探傷範囲が広がる。
（ｂ）試験体端部の影響を受けやすくなる。

𝑀にはコイルの巻数𝑁2 が含まれている。また𝜙21 と𝑀は比（ｃ）傾きによる検出信号への影響が小さくなる。

例関係にあり，かつ二つのコイルを無限に離すと𝜙21 は（ｄ）表皮深さが深くなる。

ゼロになるため，正答は（ｄ）である。逆に近づけると
𝜙21 は大きくなり，𝑀は大きくなるため（ａ）は誤りである。インダクタンスが大きいほど誘導起電力の絶対値は大きくなるため（ｂ）は誤りである。

正答

（ｃ）

図 1 に示すように，磁気シールドはコイルが巻かれたコアから発生する磁束をプローブ先端部に限定する役割

𝑀はコイル 1，2 の自己インダクタンス𝐿1 ，𝐿2 から式(6)で表される。

をもち，発生する渦電流も先端部に集中する。そのため
通常，±20°程度なら探傷に支障のないレベルまで傾きの𝑀 = 𝑘√𝐿1 𝐿2(6)

影響を抑制することができる。また磁束の生じる範囲をここで，𝑘は結合係数と呼び 0 から 1 の値を取る。また限定する効果があるため（ａ）及び（ｂ）は誤りである。

コイル 1，2 の距離が近いほど 1 に近づく。𝑘と𝑀は比例

表皮深さは試験体の電磁気的特性と試験周波数に依存し，関係にあるため（ｃ）は誤りである。

磁気シールドによって変化しないため，（ｄ）は誤りである。したがって，正答は（ｃ）となる。

専門試験の類題
問４

次の文は，渦電流探傷器が装備するフィルタについて述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）信号の振幅により信号を通過あるいは阻止をする磁気シールドなし回路である。
（ｂ）ローパスフィルタは高い周波数成分の信号を取り除く機能を持っている。
（ｃ）ハイパスフィルタは低い周波数成分の信号を通過させる機能を持っている。
（ｄ）バンドパスフィルタは二つの遮断周波数に挟まれ磁気シールドあり
図1

コイルの傾きに対する磁気シールドの効果

NDT フラッシュ Vol.72 No.11

3/4

ＥＴレベル 1 一般・専門試験のポイント
問２
JIS Z 2305:2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」に基づく ET レベル 1 の一般・専門試験は，主に『渦電次の文は，周波数と表皮深さについて述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）周波数が 2 倍に上がった場合と，試験体の導電率流探傷試験 I』から出題される。本稿では，最近行われたが 2 倍に上昇した場合の表皮深さは同じである。

試験のうち，正答率の低かった問題の類題により解答の（ｂ）周波数が 2 倍に上がると，表皮深さは約 1/4 になポイントを解説する。

る。
（ｃ）周波数が 2 倍に上がると，表皮深さは 1/2 になる。
（ｄ）周波数が 2 倍に上がっても，材料の導電率が変わ

一般試験の類題
問１

次は，鋼管の渦電流探傷検査方法に関する JIS にらなければ表皮深さは変わらない。

ついて示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

正答（ａ）（ａ）JIS G 0583

（ｂ）JIS H 0502

無限大の広さと厚さを持った平面状導体に，水平方向（ｃ）JIS H 3300（ｄ）JIS Z 2305に一様な交流磁界が加えられたときの深さ𝑑 (m)の渦電流密度𝐽(A/m2)は式(1)のように表される。

正答

（ａ）

𝐽 = 𝐽0 𝑒 −𝑑√𝜋𝑓𝜇𝜎

渦電流探傷試験に関係する JIS の例を表 1 に示す。したがって，正答は（ａ）となる。

(1)

ここで，𝐽 (A/m2)は導体表面の渦電流の電流密度，𝑓(Hz)0は交流磁界の周波数，𝜇(H/m)は導体の透磁率，𝜎(S/m)は導体の導電率である。表皮深さ𝛿 (m)とは𝐽が𝐽0 の1/𝑒とな

表1

渦電流探傷試験に関係する JIS の例

番号JIS G 0583
JIS H 0502
JIS H 0515
JIS H 3300

名称
鋼管の自動渦電流探傷検査方法

はおよそ 0.368 となる。ここで，式(1)の𝐽に𝐽0 /𝑒，𝑑に𝛿を代入し𝛿で整理すると式(2)が得られる。

銅及び銅合金管のか（渦）流探傷試験

𝐽0方法

𝑒= 𝐽0 𝑒 −𝛿√𝜋𝑓𝜇𝜎

チタン管の渦流探傷検査方法⟺𝛿=

銅及び銅合金の継目無管(JIS H 0502 を引用している)
アルミニウム及びアルミニウム合金

JIS H 8680-2

る深さ𝑑を指す。𝑒はネイピア数（約 2.718）であり，1/𝑒の陽極酸化皮膜厚さ試験方法―

1√𝜋𝑓𝜇𝜎(2)式(2)から，周波数𝑓と導電率𝜎が表皮深さ𝛿に与える影響は同じであることがわかる。したがって，正答は（ａ）

第２部：渦電流式測定法となる。周波数が 2 倍になると表皮深さは1/√2になる。

JIS Z 2300

非破壊試験用語

よって（ｂ），（ｃ）及び（ｄ）は誤りである。

JIS Z 2305

非破壊試験技術者の資格及び認証

JIS Z 2315

渦流探傷装置の総合性能の測定方法

問３

非破壊試験―渦電流試験―のである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

第１部：一般通則（ａ）二つのコイルを近づけるとその相互インダクタン

JIS Z 2316-1
JIS Z 2316-2
JIS Z 2316-3
JIS Z 2316-4

非破壊試験―渦電流試験―
第２部：渦電流試験器の特性及び検証
非破壊試験―渦電流試験―
第３部：プローブの特性及び検証
非破壊試験―渦電流試験―
第４部：システムの特性及び検証
非破壊試験―加工穴内径面自動検査

JIS Z 2324-4

装置―
第４部：渦電流式検査装置の性能試験
方法

次の文は，相互インダクタンスについて述べたもスは小さくなる。
（ｂ）近接して配置した二つのコイルの一方に電流を流すと，他方に誘導起電力が発生するが，このとき相互インダクタンスが大きいほど，誘導起電力の絶対値は小さくなる。
（ｃ）二つのコイルの結合係数が大きくなると，相互インダクタンスは小さくなる。
（ｄ）二つのコイルを無限に離すと，相互インダクタンスはゼロとなる。

NDT フラッシュ Vol.72 No.11

正答4/4（ｄ）

た周波数成分の信号を通さない。

インダクタンスとはコイルの形状で決まる定数であり，誘導起電力の比例係数である。相互インダクタンスとは複数のコイル間で生じるインダクタンスである。

正答（ｂ）

渦電流探傷器には試験体の搬送時によるガタによって生じる低周波の検出信号の変化や電気ノイズなどの高周

コイル 1 とコイル 2 の二つのコイルが近接していると波の信号を除去し，S/N を向上させるための周波数フィきを考える。コイル 1 に交流電流を流すとコイル 1 によルタが実装されている。信号の振幅により信号を通過あって発生しコイル 2 を鎖交する磁束𝜙21 によってコイルるいは阻止をする回路をリジェクション回路という。し2 に誘導起電力𝑒2 が生じる。この現象を相互誘導と言い，たがって（ａ）は誤りである。ローパスフィルタは，低𝑒2 は式(3)で表される。

い周波数成分の信号を通し，高い周波数成分の信号は減𝑒2 = −𝑁2𝑑𝜙21𝑑𝑡(3)衰させるため正答は（ｂ）である。ハイパスフィルタは，高い周波数成分の信号を通すため（ｃ）は誤りである。

ここで，𝑁2 はコイル 2 の巻数，𝑡は時間を表す。𝑒2 はコ

バンドパスフィルタは，特定の周波数帯域(バンド)の信

イル 1 に流した交流電流𝐼1 と誘導起電力の比例係数であ号を通すため，（ｄ）は誤りである。

る相互インダクタンス𝑀から式(4)で表される。
𝑒2 = −𝑀

𝑑𝐼1𝑑𝑡(4)式(3)，式(4)から式(5)が得られる。
𝑀=

𝑁2 𝜙21𝐼1

問５

次の文は，上置プローブでの磁気的なシールドの効果を示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

(5)（ａ）一回の走査での探傷範囲が広がる。
（ｂ）試験体端部の影響を受けやすくなる。

𝑀にはコイルの巻数𝑁2 が含まれている。また𝜙21 と𝑀は比（ｃ）傾きによる検出信号への影響が小さくなる。

例関係にあり，かつ二つのコイルを無限に離すと𝜙21 は（ｄ）表皮深さが深くなる。

ゼロになるため，正答は（ｄ）である。逆に近づけると𝜙21 は大きくなり，𝑀は大きくなるため（ａ）は誤りである。インダクタンスが大きいほど誘導起電力の絶対値は大きくなるため（ｂ）は誤りである。

正答（ｃ）

図 1 に示すように，磁気シールドはコイルが巻かれたコアから発生する磁束をプローブ先端部に限定する役割

𝑀はコイル 1，2 の自己インダクタンス𝐿1 ，𝐿2 から式(6)で表される。

をもち，発生する渦電流も先端部に集中する。そのため
通常，±20°程度なら探傷に支障のないレベルまで傾きの𝑀 = 𝑘√𝐿1 𝐿2(6)

影響を抑制することができる。また磁束の生じる範囲をここで，𝑘は結合係数と呼び 0 から 1 の値を取る。また限定する効果があるため（ａ）及び（ｂ）は誤りである。

コイル 1，2 の距離が近いほど 1 に近づく。𝑘と𝑀は比例

表皮深さは試験体の電磁気的特性と試験周波数に依存し，関係にあるため（ｃ）は誤りである。

磁気シールドによって変化しないため，（ｄ）は誤りである。したがって，正答は（ｃ）となる。

専門試験の類題
問４

次の文は，渦電流探傷器が装備するフィルタについて述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）信号の振幅により信号を通過あるいは阻止をする磁気シールドなし回路である。
（ｂ）ローパスフィルタは高い周波数成分の信号を取り除く機能を持っている。
（ｃ）ハイパスフィルタは低い周波数成分の信号を通過させる機能を持っている。
（ｄ）バンドパスフィルタは二つの遮断周波数に挟まれ磁気シールドあり
図1

コイルの傾きに対する磁気シールドの効果