Ｍレベル

一次専門試験問題のポイント

問

ひずみゲージを被測定物に接着する場合測定環境の温度範国がどの程度であればシアノアクリレート系
JIS Z 2305 による資格試験のひずみ測定（ＳＭ）部門
レベル１技術者の新規一次試験は一般問題と専門問題か接着剤が使用できるか。次のうちから使用できる温度範国を選び記号で答えよ。

ら構成されている。また，この部門のレベル１技術者は(a) －50℃～＋50℃「上級技術者の指導あるいは文書による指示で電気抵抗(b) －196℃～＋100℃ひずみ測定法の作業が一貫して行なえる能力」が要求さ(c) －250℃～＋250℃れている。このため，専門試験問題は電気抵抗ひずみ測(d) －270℃～＋500℃定を実施する上で必要な知識についての問題である。
ここでは，特にこの専門問題として出題されているも正答 (b)のと類似の例題により，解答に当たってのポイントを解説する。

シアノアクリレート系接着剤は硬化時間が短く扱いも簡単なので，ひずみゲージの接着に広く使用されている。
この接着剤は－196℃の液体窒素中でも使用可能である。

一次専門試験問題例と解説

しかし，高温の場合は 100℃程度が限度とされている。
したがって，ここでは(b)が正答である。

問

なお，測定環境の温度が 100℃以上になるような場合単軸ひずみゲージの模式图が下に示してある。この图について次の記述から正しいものを一つ選び記号で答えよ。

はより高温に適した接着剤を使わなければならない。このため，ひずみ測定を実施するに当たっては，この他の接着剤に関する知識も必要になり，これについての問題も出題されるので，参考書「ひずみ測定Ⅰ」などで各種の接着剤についても学んでおいてもらいたい。
問(a) （ィ）は金属はくで構成されている受感部の長さでゲージ長になる。
(b) （ロ）はゲージリードで，この線の抵抗変化からひずみが求められる。
(c) （ハ）は受感部の幅で，横感度係数はゲージ長とこの幅の比になる。
(d) （ニ）はゲージ受感部で，ひずみにより抵抗が変屋外で長時間のひずみ測定をする場合にはコーティング剤を使用しなければならない。このコーティング剤の使用目的に該当するものを次のうちから一つ選び記号で答えよ。
(a) 接着剤の接着力の向上(b) リード線接続部分の固定(c) ひずみゲージの防湿(d) 接着部分絶縁抵抗の増加化する部分である。
正答 (c)
正答 (d)

最近のひずみゲージはある程度耐湿性のあるものにな（ィ）はゲージベースの長さで，ゲージ長は（ニ）のっている。しかし，屋外での長時間にわたる測定ではゲ受感部の長さになる。
（ロ）のゲージリードはリード線へージベースや接着部分が吸湿し，安定な測定をする上での接続部分で，この抵抗はひずみの測定に直接関係しな悪影響を及ぼす。コーティング剤はこのような場合の防い。
（ハ）は受感部の幅ではなくゲージベースの幅である。

湿処理に使用される。したがって，この問では (c) が正

また，横感度係数はひずみゲージの長さと幅の比ではな答になる。

く，長さ方向のゲージ率に対する横感度の比として定義

また，実際にひずみ測定をする場合には吸湿による悪されている。
（ニ）の部分はひずみゲージの受感部で，こ影響や吸湿防止用各種コーティング剤の特徴などの知識

こが伸縮を受けると電気抵抗が変化する。電気抵抗ひずも重要であり，これに関する問題も出題される。このたみ測定法はこの抵抗変化からひずみを求める方法である。

め，参考書「ひずみ測定Ⅰ」などでこれらの知識についしたがって，ここでは (d) が正答になる。ても学んでおいてもらいたい。

問

ゲージ率 2.00 のひずみゲージの抵抗が 0.2 ％変化したとしたらうちから選びになり，(d) が正答になる。

このときのひずみはいくらか。次の問記号で答えよ。

ゲージ率が 2.02 のひずみゲージを用いて設定ゲ(a) 1000×10－６(b) 2000×10－６ージ率が 2.00 のデータロガーによりひずみを測定した(c) 5000×10－６(d) 4000×10－６

ところ 1200×10であった。この場合の真のひずみを次のうちから選び記号で答えよ。

正答 (a)－６(b) 1212×10－６(c) 1188×10－６(d) 1002×10－６(a) 1440×10電気抵抗ひずみ測定法はひずみとひずみゲージの抵抗変化が比例することを利用している。抵抗Ｒ，ゲージ率

Ｋ のひずみゲージがひずみ ε によって抵抗が△ Ｒ 変化

正答 (c)
一般に，ひずみゲージのゲージ率を正確に 2.00 に造るしたとすると，次のような関係になる。

ε＝（△Ｒ／Ｒ）／Ｋのは難しく多少異なっているので，ゲージ率を 2.00 に設

ここでは，△ Ｒ ／ Ｒ ＝0.2 ％＝0.002 である。したがって，これとＫの値を上の式に代入すると，ε＝0.002／2.00＝0.001＝1000×10定したデータロガーで測定されたひずみの値は補正して真の値を求める必要がある。
データロガーのゲージ率を Ｋ ｍ ，使用したひずみゲー－６ジのゲージ率をＫｇ，測定されたひずみを εｍとすると，となり，(a) が正答になる。

この場合の真のひずみεは次の式で求められる。
問

抵抗 120ΩのひずみゲージＧにより下图のようなを組みＧＧアクチブゲージ法のブリッジ回路間の抵抗を測定した。ところがード線が断線していた。このときののうちから選びε＝（Ｋｍ／Ｋｇ）εｍＧ

この式に設問で与えられた値を代入すると，ε＝（2.00／2.02）×1200×10－６＝1188×10－６

Ｇ のリの抵抗値を次になり，(c)が正答になる。

記号で答えよ。
問

1000×10の校正値が 20 mm の高さになるよう設定した記録器で動ひずみの波形を記録した。この波形の側の高さが 12.5 mm のところのひずみを次のうちから選び記号で答えよ。

(a) 625×10－６(b) 875×10－６(c) 1015×10－６(d) 1250×10－６正答 (a)(a) 90Ω(b) 120Ω(c) 240Ω(d) 360Ω

動ひずみ測定では，記録器で記録した波形とあらかじ
め与えられたひずみ校正値との比較によりひずみを求め正答(d)リード線の断線などでブリッジ回路の初期平衡がとれない場合のチェック方法についての問であるが，この４ている。すなわち，記録器上のｈ０ の高さがひずみ校正値ε ０ になるように設定した場合， ｈ なる波形高さのところでのひずみεは次のようになる。

枚のひずみゲージの抵抗をＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，ブリッε＝（ｈ／ｈ０）ε０

ジ回路ＡＢ間の抵抗をＲとすると，正常に回路が組まれしたがって，ｈ＝ 12.5 mm でのひずみはこの式より，ている場合には（Ｒ１＋Ｒ３＋Ｒ４）とＲ２を並列に接続しε＝（12.5／20）×1000×10－６＝ 625×10－６た回路の合成抵抗になるので，となり，(a) が正答になる。

１／Ｒ＝１／（Ｒ１＋Ｒ３＋Ｒ４）＋１／Ｒ２の関係になる。しかし，設問のようにＧ ２ のリード線がなお，非破壊検査誌 VOl.55. NO.8 のＮＤＴフラッシュ

断線しているとここには電流が流れない。このため，欄では，ＳＭレベル１新規一次試験の概要などが紹介さ

Ｒ＝Ｒ１＋Ｒ３＋Ｒ４＝120＋120＋120＝360Ω

れているので，これも併せて参考にしてもらいたい。

ＵＴレベル２

実技試験のポイント

ば底面エコーを容易に得ることができる。しかし，試験で求められているのは“計測と結果”である。正し

ＵＴレベル２実技試験のポイントについては既に，2003 年の「非破壊検査」Vol.52,№7 に掲載しており，い結果を得るには安定度の高い探触子保持方法が要求される。

当協会のホームページ“資格試験”の“NDT フラッシ
ュ”のコーナーにて閲覧が可能である。
試験の課題は表１に示すとおりで，前回紹介したときと変化はない。実技試験は決められた時間内で効率良く，かつ精度の高いデータ取得能力を試される。そのために，レベル２の試験であっても装置の取扱いや探触子の保持方法，探触子走査など探傷の基本に忠実(a)良い保持方法
図１(b)不安定な保持

探触子の保持方法

図１は STB-A1 に垂直探触子を適用して底面の多重であるか否かで合否が決定すると言える。
今回はこの基本操作について重点的に解説を加える

エコーを出している図である。(a)の写真は探触子を親が，内容の一部には超音波探傷の入門コースやレベル

指と中指で軽く挟むように保持し，かつ A1 試験片に１クラスの基本的なことに立ち返っての記述となる部

指と手の腹を接触させて探触子を固定させている。さ分があることをご容赦願いたい。

らに，人差し指は探触子の中央部から荷重を真下に加表１えている。この持ち方は余剰の接触媒質を素早く排出試験項目と時間

試験項目

時間(1) レベル１へのＮＤＴ指示書の作成

３０分(2)実技試験①板材の垂直探傷試験

１５分②Ｔ継手溶接部の斜角探５０分

傷試験(3)答案作成①データ整理，エコー高できるので，エコーが安定するのに数秒を要しない。
これに対して，(b)の写真は，手が油で汚れないように STB 試験片から手を浮かした状態で探触子を挟み込み，人差し指は伸ばした状態で探触子に荷重をかけている。この場合，荷重点が探触子の縁にあるため，力は斜め方向から加わることで，接触媒質の膜厚が微３０分

さ区分線の転写と答案の作成※(1)の後に実技試験内容確認を１０分程度行う。
1. ＮＤＴ指示書の作成
JIS Z 2305 では，レベル２はレベル１技術者に対する指示書作成能力が求められている。

妙に変化してエコー高さが変動する。その結果，感度調整作業に時間を要することになる。
探触子保持方法の適否は，探傷効率や探傷精度に大きく影響する。
(2)探傷器の調整
ここでの重要ポイントは，探傷装置のつまみ調整とデータ記録の度に探触子を持ち替えないことである。

指示書の作成で対象となるのは，圧力容器や建築構造

悪い例として，利き手で探触子を保持し，利き手で物の溶接部の探傷である。あらかじめ手順書が与えらつまみを操作する，そして利き手で記録する。その度れており，該当する規格の必要項目も示されている。に探触子を反対の手に持ち替える行為を目にする。

この手順書に基づいて指示書問題を解答するが，各問これでは探触子に対する加重ポイントがずれて，エ題は４者択一形式である。各規格で規定されている数コー高さが低下する。その度に最大エコー位置を探し値を暗記する必要はないが，レベル２を目指す者であ出す探触子走査のやり直しで苦戦を強いられる。

れば，JIS G 0801，JIS Z 3060，日本建築学会規準なしたがって探傷の安定性を高めるには，探傷の始まどに一通り目を通しておくことを望むものである。

りからデータ記録までの連続作業で，左右の手の作業

2. 実技試験分担を決めておくことが必要である。微妙な探触子走

2.1 垂直探傷試験

査が必要なときは記録側のサブの手を添えて，両手で(1) 探触子の保持探触子走査をするのが基本である。この場合もメイン

実技試験の最大のポイントは探触子の保持方法にある。試験材に接触媒質を塗布し，探触子を接触させれの手は写真(a)の形を保持することである。
(3) 探傷の手順を整理する

垂直探傷試験は JIS G 0801 に基づく板材の探傷が課されるが，試験材の表面は粗いため，STB-N1 の感度に伝達損失分の感度を加える補正をする必要がある。

際よく良好な精度でデータを取得することが出来る。
2.2 斜角探傷試験
板厚 25 ㎜のＴ継手溶接部の探傷が課題である。

感度補正したうえで，探傷に臨むわけであるが，概ね(1)エコー高さ区分線の作成

２個ある欠陥をエコー高さに応じて軽欠陥（○），中欠

RB-41 No.2 を用いて測定範囲 200 ㎜の条件でエコー陥（△）及び重欠陥（×）に分類する。それぞれの欠高さ区分線を作成し，溶接部の探傷を行う。

陥は最大エコー高さを示す探触子位置は試験体左上を

ここでのポイントは，エコー高さ区分線の作成であ原点とした座標軸で計測すると共に，エコー高さ(％)

る。1/4Ｓ，2/5Ｓ，3/4Ｓ，5/4Ｓの 4 ポイントについと欠陥深さを求める。さらに，重欠陥（×）についてて，区分線を合計６本描く（図２）。デジタル探傷器のは，最大エコー高さを >100%と記録し，欠陥の両端場合は，エコー高さ区分線の自動作成機能を使用しての位置及び欠陥指示長さを記録する。この場合，指示よい。

長さは欠陥の長く伸びている方向（Ｘ又はＹ）だけのアナログ機とデジタル機共に，それぞれのスキップ計測でよく，短い方の方向は計測する必要がない。

点における探触子位置(ｙ )，ビーム路程(ｗ )の数値は探垂直探傷試験の手順をまとめると次の手順となる。

触子の屈折角 70 度を標準として，その概数を把握し①測定範囲を 125 ㎜に調整する。ておけば，区分線の作成時間を大幅に短縮することが② STB-N1 の 健 全 部 Ｂ １ を 所 定 の 高 さ （ 例 と し てでき，溶接試験体の探傷に時間的な余裕が生まれる。

BG:80%）に合わせてゲイン値(a)を読み取る。ここで，

1/4Ｓ

3/4 Ｓ

5/4 Ｓ

①

③

④

①と②の作業は STB-N1 健全部を用いて連続的に行ってもよい。

②③試験体の所定の位置（試験体右下に表示された白丸の範囲内）のＢ １ を②と同じエコー高さに調整し，そのゲイン値(b)を読み取る。

2/5 Ｓ

図２

エコー高さ区分線作成時の探触子配置

RB-41 試験体の探触子位置とビーム路程(b)dB－(a)dB が面粗さによる伝達損失量である。

①の位置

1/4Ｓの ｙ＝34 ㎜，ｗ ＝36 ㎜④STB-N1 の基準穴（φ5.6）を 50％に調整する。

②の位置

2/5Ｓの ｙ＝55 ㎜，ｗ ＝58 ㎜

この探傷感度設定操作が最も重要なポイントである。

③の位置

3/4Ｓの ｙ＝103 ㎜， ｗ＝110 ㎜

所定のエコー高さに調整するには，最大エコー高さを④の位置

5/4Ｓの ｙ＝172 ㎜， ｗ＝183 ㎜

確実に求めなければならない。標準きずのエコー高さを 80％前後で最大エコー高さを示す探触子位置をＸ方向とＹ方向の走査で探し出す。この位置が決まって，しっかりと探触子を固定してから最後にエコー高さを(2)斜角探触子の走査方法
次に直射及び一回反射の走査範囲を決定する。ここでは，測定した探触子の屈折角から，ｙ＝25t×tanθ，50％に調整する。

直射の探傷範囲⑤試験体の探傷は④で求めた基準感度に③で計測した一回反射の探傷範囲

ｙ ＝2×25t×tanθ

伝達損失分を感度補正量として上乗せして探傷感度とで求める。卓上に準備されているチョークで試験体にする。

マークする。探傷は，接近限界から探触子の入射点が⑥試験体の探傷は試験体全面をＸ方向及びＹ方向に走直射の走査ラインを超える範囲までを前後走査する。

査し，欠陥の分布状況を把握することから始まる。探さらに 5 ㎜程度のピッチでジグザグ走査を交えた左右傷面をランダムに走査していると欠陥の位置や分布の走査で試験体を探傷する。

状況を把握するのに時間を要してしまう。

一回反射の走査範囲では距離による減衰が大きいた⑦測定は２個の欠陥について行う。軽欠陥や中欠陥にめ，JIS Z 3060 に規定された探傷を行うには探傷感度

ついては深さ，原点からのＸ，Ｙ距離及びエコー高さを 12dB 高めなければきずの検出が困難となる。

を測定する。重欠陥については長さを測定するが，こ検出したきずの測定は，垂直探傷の項と同様に，探れらの測定においても，前述した基本操作による探触触子の持ち替えをしないように，探傷と測定の手順を子の保持，探傷器のつまみ操作を実施すれば測定を手マスターしておくことが大切である。