NDT フラッシュ Vol.68 No.2 1/2

ＲＴレベル２

一般・専門試験のポイント

近年に出題された一般試験と専門試験の問題のうち，正答率の低かった問題と類似した例題により各試験のポイントを解説する。問 1~3 が一般試験の問題に，問 4 と問 5 が専門試験の問題に類似した例題である。
なお，過去の試験問題に基づいて同様のポイントを解説した NDT フラッシュが日本非破壊検査協会のホームページで公開されているので参考にしてほしい。
問1

次の文は，散乱線を含まない X 線の減弱曲線について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）散乱線を含まない単色 X 線の減弱曲線は，凸の曲図1散乱線を含まない単色 X 線の減弱曲線の例

図2

散乱線を含まない白色 X 線の減弱曲線の例線となる。
（ｂ）散乱線を含まない単色 X 線の減弱曲線は，凹の曲線となる。
（ｃ）散乱線を含まない白色 X 線の減弱曲線は，凸の曲線となる。
（ｄ）散乱線を含まない白色 X 線の減弱曲線は，凹の曲線となる。
正答（ｄ）
散乱線を含まない単色 X 線の減弱曲線の例を図 1 に示す。減弱係数 μ は吸収体の厚さ T に依存せず，一定値であるため，減弱曲線は直線となる。
散乱線を含まない白色 X 線の減弱曲線の例を図 2 に示す。T の小さい範囲では減弱曲線の曲り方が急であるが，T が大きくなるにつれて曲がり方が緩やかになり，最後は直線に近くなる。すなわち，白色 X 線は最初のうちはμ の大きい X 線を多く含んでいるため，減弱曲線の勾配は急であるが，T が増えるにつれて，逐次 μ の大きい X線の部分が吸収され，μ の小さい X 線の割合が多くなる
しい。

ため，減弱曲線の曲がり方が緩やかになる。そして，ある程度の T を透過した X 線は，μ の値が一定値に近づく

濃度 1.50 の透過写真を明るさ L1.50 の観察器で観察し，ため減弱曲線も直線に近づく。このように，散乱線を含次に濃度 2.80 の透過写真を観察する場合，L1.50 の明るさまない白色 X 線の減弱曲線は，下向きに凸の曲線となる。

では観察しにくいので，観察器の明るさが L2.80 になるよ

したがって，正答は（ｄ）である。

うに明るくして観察した。
この場合，⊿Dmin が変わらないようにするには，明る問 2

次の文中の括弧に入れる最も適切な数値を一つ選さ L2.80 は L1.50 の［］倍にする必要がある。

（ａ）2（ｃ）10び，記号で答えよ。
透過写真を観察する場合，透過写真からの透過光の強さ L が同じであれば，識別限界コントラスト⊿Dmin は等-1-（ｂ）5（ｄ）20

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正答（ｄ）
透過写真の濃度 D は，式(1)で定義される。
= log

問4

「帯形透過度計 A010」と関係の深い JIS 規格を一つ選び，記号で答えよ。

(1)（ａ）JIS Z 3104：1995

ここで，L0：入射光の強さ（ｂ）JIS Z 3105：2003

L ：透過光の強さ（ｃ）JIS Z 3107：1993（ｄ）JIS G 0581：1999

題意から⊿Dmin が変わらないようにするためには，観察器の明るさを L1.50 から L2.80 に明るくし，L0 を強くして両者の L を等しくする必要がある。

正答（ｂ）「帯形透過度計A010」は，帯形透過度計のA形であり，このことから，式(2)と式(3)の関係が成り立つ。
1.50 = log.

2.80 = log.

直径0.10 mmのアルミニウム線を9本等間隔に配置した(2)透過度計である。JIS Z 2306：2015「放射線透過試験用透(3)過度計」で規定されている。

式(3)から式(2)を減じ，変形すると式(4)が成り立つ。
.

log.

= 1.30JIS Z 3104：1995「鋼溶接継手の放射線透過試験方法」(4)

では，円周溶接継手の撮影に帯形透過度計のF形及びS形式(4)から L2.80／L1.50 を求めるには式(5)を計算すればの使用が規定されているが，A形の使用は規定されていない。

よい。
.
.

= 10 .

JIS Z 3105：2003「アルミニウム溶接継手の放射線透過(5)

試験方法」では，円周溶接継手の撮影に帯形透過度計の式(5)を計算すると 19.95 となる。したがって，正答はA形の使用が規定されている。

（ｄ）である。

JIS Z 3107：1993「チタン溶接部放射線透過試験方法」
では，円周溶接継手の撮影に帯形透過度計のT形の使用

問3が規定されているが，A形の使用は規定されていない。

次の文中の括弧に入れる最も適切な数値を一つ選び，記号で答えよ。

JIS G 0581：1999「鋳鋼品の放射線透過試験方法」では，帯形透過度計の使用は規定されていない。

母材の厚さ 13.0 mm，余盛高さ 3.0 mm の鋼板の突合せしたがって，正答は（ｂ）である。

溶接継手を焦点とフィルム間の距離 80 cm，管電圧 180kV，管電流 4 mA，露出時間 2 分の条件で，X 線フィル

問 5 「P 形」と関係の深い JIS 規格を一つ選び，記号でム IX100 と増感紙 Pb0.03 mm の組合せを用いて撮影した

答えよ。

結果，試験部の最高濃度が 1.5 の透過写真が得られた。

（ａ）JIS Z 3106：2001

試験部の最高濃度を 2.5 にするためには，露出時間を［（ｂ）JIS G 0581：1999］にする必要がある。

（ｃ）JIS Z 4560：1991（ａ）1 分 51 秒（ｂ）2 分 35 秒（ｃ）3 分 36 秒（ｄ）4 分 25 秒（ｄ）JIS Z 4615：2007
正答（ｃ）

正答（ｃ）

「P形」は，操作者が持ち運びできるようにした携帯「放射線透過試験Ⅱ問題集2017」P.156のIX100＋Pb0.03

式工業用γ線装置の種類として，JIS Z 4560：1991「工業のＸ線フィルムの特性曲線から，濃度1.5の露出量は58用γ線装置」で規定されている。

秒，濃度2.5の露出量は105秒と読み取れる。試験部の最JIS Z 3106：2001「ステンレス鋼溶接継手の放射線透過高濃度を1.5から2.5にするためには，最高濃度が1.5での試験方法」，JIS G 0581：1999及びJIS Z 4615：2007「工露出時間2分に105/58秒（1.81）を乗ずれば3.62分（3分36

業用X線装置の実効焦点寸法測定方法」では，「P形」と秒）が求まる。したがって，正答は（ｃ）である。

いう語句は規定していない。
したがって，正答は（ｃ）である。

-2-

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ＬＴレベル１

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実技試験のポイント③発泡液の塗布：発泡液を検査面に塗布する。
オイラを逆さまにしてノズルをできるだけ試験面に近付けて静かに発泡液を塗布する。

漏れ試験には種々の方法があるが，実技試験ではその中から代表的な，発泡漏れ試験，圧力変化による漏れ試④観察：見落としがないよう検査面を片側から順

験，ヘリウム漏れ試験の三つの試験が実施されている。に，観察する。

NDT 指示書に基づき試験を実施し，実施結果を報告書形＊漏れが大きい場合，塗布した瞬間に液が飛ばされるので見落さないようにする。

式の解答用紙に記載する。それぞれの試験時間は各 30分で，合格基準はそれぞれについて 70 %以上である。

⑤記録：記録用紙に発泡している箇所を赤鉛筆で印をした後，位置を（X，Y）座標で記載する。

次に各試験の概要とポイントを説明する。

＊数値や符号（±）を間違えないようにする。

１．発泡漏れ試験：NDT 指示書に従い，平板の貫通きずを発泡漏れ試験で検出し，記録書を作成する。
１）試験方法：発泡漏れ試験-発泡液塗布法（加圧法）２）試験体：200×300 mm の SUS304 平板
３）試験条件：差圧 3×10 kPa，２．圧力変化漏れ試験：加圧法と差圧法の 2 種類を実施する。
２．１

圧力変化漏れ試験（加圧法）

NDT 指示書に従い，試験体に孔径が既知の 3 種類の圧力保持時間は指示された時間，漏れ素子の孔径と圧力変化量のグラフを作成する。次観察は試験体表面で 500 lx 以上に試験対象の漏れ素子についても圧力変化量を計測し，４）試験機材：コンプレッサ，加圧箱，オイラ，圧力作成したグラフから漏れ孔径を求める。
１）試験方法：圧力変化漏れ試験（加圧法）計，照度計他

２）試験体：5 L のタンク＋漏れ素子
３）試験条件：試験圧力 0.050 MPa±0.002 MPa，加圧時間 10 秒，平衡時間 0 秒，検出時間 5 秒，排気時間 10 秒
４）試験装置：

図１

発泡漏れ試験の装置例

５）試験手順（＊は注意事項等）①試験準備：加圧箱に試験板をセットし，クラン

図２

圧力変化法（加圧法）の装置例

５）試験手順（＊は注意事項等）

プで固定する。

①試験前作業：配管，計器類の表示を確認する。

＊加圧箱にパッキンシールを敷き，その上に試②漏れ素子を取り付け，逃がし弁を閉，遮断弁及験板を置き，固定枠をクランプで固定する。

び開放弁を開にし，圧力調整弁で指定された試＊加圧箱に木片を置き，試験体をやや斜めになるように固定する。
＊スポットライトを点灯させ試験面の照度を500 lx 以上とする。
②加圧：加圧箱のコックが閉じた状態で昇圧弁を験圧力に正確に合わせる。
③加圧時間の経過後に遮断弁を閉にし，検査開始圧力を読む。検出時間の経過後に検査終了圧力を読む。最初に孔径が既知の 3 種類の漏れ素子について実施し，孔径と圧力変化量の関係をグ開き，指定された圧力に加圧する。次に，加圧ラフにする。

箱のコックを開き，再度指定された圧力に調整＊圧力は 0.001 MPa まで読む。

する。

④試験対象の漏れ素子も，同様に計測し，作成しNDT フラッシュ Vol.68 No.2

２．２4/4たグラフから漏れ素子の孔径を求める。

分フルスケール（既設設定値）⑩応答時間

圧力変化漏れ試験（差圧法）

リークと見なす閾値Pa･m3/s

試験体（170 mL タンク＋漏れ素子）の圧力変化量を測定し，基準漏れ量のグラフから，漏れ素子の漏れ量⑪⑫ヘリウムボンベ 2 次側圧 0.02～0.06 MPa４）試験機材：①リークディテクタを計算する。

ローラ１）試験方法：圧力変化漏れ試験（差圧法）

吹き付プローブ２）試験体：0.2 L のタンク，漏れ素子 3 種類

1.0×10-7③ヘリウムガスボンベ②共通コント④減圧弁⑤５）試験手順（＊は注意事項等）

３）試験条件：試験圧力 0.100 MPa（100 kPa），ヘリウムガスを流す場合の基本的操作，ヘリウム試験時間 20 秒，平衡時間 5 秒

リークディテクタの基本操作などは，資料で把握

検出時間 5 秒，排気時間 5 秒しておく。

４）試験装置：①初期状態を確認する（リークディテクタ，共通コントローラ，ヘリウムガスボンベと吹き付けプローブ）。
②共通コントローラの画面で受験番号を登録する。
③吹き付けプローブから出るヘリウムガス流量を指定された値になるよう調整する。
④試験体を装着する。
＊試験体は，治具でしっかりと固定する。

図３⑤リークディテクタ装置単体のバックグランドを圧力変化法（差圧法）の装置例記録する。

５）試験手順試験前作業：チェック項目の部位を確認後，試験⑥試験体の A および B ポート（それぞれ 3 か所）機の設定を実施し，試験前点検欄に「OK」を記入。の対象部について試験を実施する。

試験：①試験体の漏れ素子を取り付け，圧力調整＊マスク材は十分に密着させないと，近くに大弁を開にして調整し，指定の試験圧に合わせる。

きな漏れ箇所があれば，リーク見なし閾値よ②指定された時間を設定し，試験機の「START」り高くなる場合があるので，注意する。
⑦漏れ試験の記録は，記録用紙に機器の点検結果，ボタンを押し，計測結果を待つ。
③3 種の漏れ素子の測定が終了したら，与えられ試験条件等必要事項及び測定したリーク量などたグラフに各素子のデータをプロットしたグラを記入する。

フから，試験体の漏れ素子の漏れ量を求める。

＊試験条件，リーク量などは単位や桁数に注意する。

④指示に従い後処理をする。

⑧試験が完了したら，試験体を取り外し，すべて３．ヘリウム漏れ試験試験体に対し，NDT 指示書に従いヘリウム漏れ試験を初期状態に戻す。

を実施し，漏れの有無と漏れ量を記録する。
１）試験方法：ヘリウム漏れ試験-真空吹き付け法
２）試験体と試験範囲：図４に示すような試験体の A及び B ポート（各ポートには 3 か所の検査部）の合計 6 か所
３）試験条件：項目及び条件の一例を次に示す。
①温度

②気圧

③サーチガス

き付け量 0.15±0.05 L/min
体バックグランド基準値④サーチガス吹

⑤機種名

⑥装置単

1.0×10-8 Pa･m3/s

以下⑦リーク量指数部上限 －4（既設設定値）⑧リ

ーク量指数部下限 －11⑨時間軸スケール 12

図4

ヘリウム漏れ試験の試験体及び吹き付けプローブ例

以上