ＵＴレベル３

二次試験のポイント（Ｃ1 Ｃ2）

問

次の文は，残留エコーについて述べたものである。

［Ａ］〜［Ｄ］に適する数値を解答群からそれぞれ一つJIS Z 2305 によるＵＴレベル３の二次試験は，ＵＴ試

選び記号で答えよ。（Ｃ１問題）

験方法の基礎知識（Ｃ1）30 問以上，ＵＴ試験方法の適用

両 面 平 行 な 厚 さ 180 mm の 減 衰 の 少 な い 試 験 体 をやコード及び規格に関する知識（Ｃ2）20 問以上が四者択

2Z20N で探傷すると，パルス繰返し周波数によっては，一形式で行われる。さらにＵＴの作業手順書の作成（Ｃ3）

残留エコーが探傷図形上に現れることがある。パルス繰の併せて３種類の課題が出題される。

返し周波数が 500 Hz のとき，測定範囲 250 mm の目盛板

本稿では，2003 年秋期に行われたＣ１，Ｃ２試験のうち，上に現れる残留エコーの位置を推定してみる。

特に正答率の低かった問題と類似した問題を超音波探傷（1） 送信パルスと次の送信パルスの時間間隔 t は次の試験問題集 2002 から抽出し，ポイントを解説する。

ようになる。

問t＝ [Ａ］ × 10−3(s)次の文は，超音波の音場特性について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。（Ｃ１問題）（2） この時間間隔 t を音速を 5900 m/s としビーム路(a) 一辺が D の正方形の振動子の指向性は，その直径が程 W(mm)に換算すると次のようになる。

D の円形の振動子の指向性に等しい。
(b) 探触子の指向性を表すのに指向角が使用される。振W＝ [Ｂ］（mm）（3） このビーム路程 W の範囲に，試験体の底面エコー動子の直径を D，試験体中の波長を λ とし，指向角が何回現われるかを計算すると，［Ｃ］回となる。の単位を度で表せば，第 1 零ふく射角 θ 0 を表すと（4）

きにはθ0 ≒ 70･D/λ となり，エコー高さが−6 dB として探傷図形上に現われる場合，そのビーム路程は［Ｄ］なる角度θW を表すときには θW ≒ 29･D/λ となる。

mm となる。

(c) 音軸上に小さいきずがあるときのエコー高さの距離(［Ｃ] ＋ 1）回目の底面エコーが残留エコーと[解答群］

特性は，振動子の音軸上の音圧の距離特性の自乗に比[A］ (a) 1.00(b) 2.00(c) 5.00(d) 10.0

例する。

[B］ (a) 2950(b) 5900(c) 11800(d) 29500(d) 指向係数の式は，近距離音場において成立する。

[C］ (a) 16(b) 32(c) 48(d) 64

正答[D］ (a) 10(b) 20(c) 30(d) 40(c)振動子の指向性は波長と振動子の面積の関数で表さ正答

れ，距離の関数ではない。第 1 零ふく射角θ0 ≒ 70･λ/D，‑6 dB となるθW ≒ 29･λ/D である。

[A](b) , [B](b) ，[C](b) ，[D](d)パルス繰返し周波数 PRF ＝ 500 Hz のとき，送信パルスの時間間隔 t は，パルス繰返し周波数(PRF)とから

次の文は，広帯域探触子を使用した場合の特徴を同

t ＝1/PRF ＝1/500 (Hz)＝0.002(s)＝2.00 × 10−3(s)じ公称周波数の狭帯域探触子と比較して述べたものであ

表示器上でのビーム路程は反射源までの片道距離で表る。正しいものを一つ選び記号で答えよ。（Ｃ１問題）

示されるので，この t 時間に超音波が伝搬する距離は，(a) 超音波パルスの持続時間は長くなる。

W＝C(mm/s)×t(s)/2＝5.9×106×2×10−3/2＝5900(mm)(b) 林状エコーが発生しやすい。

この間に 180 ㎜の底面エコーが現れる回数は， W/ℓ(c) 近距離分解能が向上する。

5900/180 ＝ 32.7777 であるから 32 回の底面エコーが送(d) 方位分解能が向上する。

信パルスと次の送信パルスの間に存在する。33 回目の底正答

面エコーは次の送信パルスから測って，W1 ＝180×(32＋問(c)

広帯域探触子は波数が 1〜1.5 波程度のパルスで，時間＝1)−5900＝40mm の位置に現れる。
この類似問題は，問題集に数題掲載されている。

（距離）分解能がよい。また，広い周波数成分を有しており，減衰材でも低い周波数成分が伝搬するため林状エ

問

次の文は，鋼管の超音波探傷について述べたものでコーの発生は少ない。しかし，波長が長いために指向角ある。正しいものを一つ選び記号で答えよ。（Ｃ２問題）が鈍くなるので方位分解能は低下する。

(a) UOE 鋼管の溶接部に発生するきずには，割れ，溶込み不良，ブローホール，タングステン巻込みがある。

(b) 電気抵抗溶接鋼管を製造するときの溶接に際して，加熱が過度になるとコールドウェルドと呼ばれる虫食する。
(b) エコー高さ区分線は６dB ずつ異なる線を引き，区分い状態の微小酸化物が残存したきずを生じやすい。

線により区分された領域をⅠ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅳと指定する。

(c) 配管工事における円周継手現場溶接部の超音波探傷(c) 厚さ６㎜以上のフェライト系及びオーステナイト系試験において，V 開先裏波溶接部を探傷する場合，ビ鋼の完全溶込み溶接部を，パルス反射法を用いた基本ード中心から 0.5 スキップの位置を左右走査し，エコ表示の超音波探傷器を用いた探傷試験について規定しーの立上がり位置から溶込み不良か妨害エコーかを見ている。

分ける。

(d) 平板突合せ溶接部，Ｔ継手溶接部，角継手溶接部，(d) 長手継手溶接部の周方向からの斜角探傷において，円周継手及び探傷面に曲率のある長手継手溶接部の超管厚の中央に存在するきずからのエコーのビーム路程
は，0.5 スキップと 1.0 スキップの丁度 1/2 の位置に音波探傷試験について規定している。
正答

現われる。
正答

(c)

JIS Z 3060‑2002 では，対象材厚とビーム路程から(c)RB‑41 又は STB‑A2 を使用する。区分線で区切られた領域

UOE 鋼管は一般にサブマージアーク溶接にて製造されはⅠ〜Ⅳである。日本建築学会規準では H 線＋6 dB 以上る。コールドウエルドは加熱が不足した場合に生じる。の領域をⅤとしているので混同しないこと。JIS Z 3060

管厚の中央にあるきずでも，長手方向溶接部の探傷では，は適用範囲において対象材質をフェライト系鋼としてい管厚対外径比によりビーム路程にずれが生じる。

る。本規格の付属書２〜付属書６までに(d)の各継手形状

詳しい解説は NDI 参考書「各種製品及び溶接構造物のに対する規定がある。

超音波探傷試験」の鋼管の項に記述されている。
問

ＵＴレベル３のＣ１及びＣ２問題は，そのほとんどが JS

次の規格名称に対応する記号番号を解答群からそれぞれ一つ選び記号で答えよ。

（Ｃ２問題）［Ａ］超音波パルス反射法による厚さ測定方法(a) JIS Z 2345(b) JIS Z 2350(c) JIS Z 2354

［Ｂ］舶用鍛鋼品に対する超音波探傷検査規格(b) JIS Z 0584(c) JIS G 0587(b) JIS G 0582

(c) JIS G 0584b)

超音波探傷装置と試験片の問題b) 超音波探傷の規格の問題
Ｃ１問題の基礎問題では毎回，計算問題が出題される。

(d) JIS G 0587
［Ａ］(d)

a) 超音波探傷の基礎の問題

a) 各種製品の超音波探傷試験［Ｃ］鋼管の超音波探傷検査方法

正答

Ｃ２問題の出題範囲は以下の構成による。

Ｃ２問題(d) JFSS I3(a) JIS Z 3070

類似または一部変形された問題が出題される。Ｃ １ 及びＣ１問題(d) JIS Z 2355(a) JIS G 0565

ＮＤＩ発行の「超音波探傷試験問題集 2002」を基にして，［Ｂ］(d)［Ｃ］(b)

DGS 線図や減衰係数に関する問題，きずの反射率に関す

本問題に関する資料は，レベルⅢ参考書巻末の海外及る問題などである。これら計算問題は毎回，正答率が低び国内の超音波探傷規格一覧にある。レベル３資格者といのが特徴である。紙面スペースの関係上ここでの解説

して少なくとも，超音波探傷試験に関係する主な規格のは難しいので省略したが，例題と解法は超音波探傷試験

タイトルと規格番号，規格の特徴程度は理解しておくこ

問題集に記述されているので参考とされたい。とが必要であろう。この種の問題は海外の規格も含めて，なお，JIS Z 2305 に基づく二次試験の出題傾向は，各類似・変形問題がよく出題されている。

分野から広く出題されている。また，同一問題が連続し問次の文は，JIS Z 3060 の規定について述べたものでて出題される傾向には無いようで，直近の過去問題重視ある。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。（Ｃ ２の勉強法は必ずしも良策ではない。関連参考書をよく理問題）解し，問題集を万遍なく解くことが合格の正攻法と言え(a) エコー高さ区分線は RB‑41 又は STB‑A2 を用いて作成よう。

ＲＴレベル 2一次試験のポイント
問

JIS Z 2305 による RT レベル 2 の一次試験は，UT 部門（a）識別限界コントラストはフィルムと増感紙の組合のレベル 2 の一次試験と同様に，一般試験の問題数 40問以上と，専門問題の問題数 20 問以上と規定されてい次の文のうち正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
わせが変わっても変わらない。

（b）線径がある値より小さい場合は，識別限界コント
ラストは，線径が小さいほど小さい。

る。
2004 年の春期試験では一般試験 40 問，専門試験 30 問（c）線径が 0.5mm 程度以上の場合は，識別限界コントでいずれも四者択一形式であり，試験時間は 2 時間であラストは，一定の値となる。
（d）同一線径に対する識別限界コントラストの値は，る。
2004 年春期試験の新規試験及び再試験の結果から，出濃度が高いほど小さい。

題問題を内容別に紹介し，正答率の低い問題に類似した正解は（c）である。正答率は約 2 割弱で，（b）につ問題例のポイントを解説し，受験者の参考に供するもの

けた者が約 5 割いたが，この文章の最後の小さいは，である。

大きいの誤りである。
1．ＲＴレベル 2

新規試験問題（一般試験）

一般試験の 40 問は次のとおりであった。なお，ここで問次の文の［D］に入れる適切な数値を一つ選び，記号で答えよ。の 1 問とは，問題の数ではなく，解答欄の数である。

露出時間のみを変化させて撮影した濃度 1.80 と 2.40 の（a）放射線の性質に関するもの

2 枚の透過写真を同一の観察条件で観察した。このとき，（b）感光材料，写真処理，濃度に関するもの

いずれの観察においても透過光以外の光の強さは濃度（c）透過写真のコントラスト，識別限界コントラストに1.80 の透過写真を透過した光の強さの半分であった。濃度 D とフィルムコントラストγとは，濃度 0.50〜3.50関するもの（d）透過写真の観察に関するものの範囲で正比例の関係にあるものとすれば，濃度 1.80（e）露出条件，露出量の変動，フィルムに到達する線量における透過度計の線に対する見掛けの透過写真のコントラストは，濃度 2.40 において同一直径の線に対する見の計算（f）NDT 技術者の役割に関するもの

掛けの透過写真のコントラストの［D］倍である。

（g）放射線の管理に関するもの（a）1.5（b）2.2（c）3.7（d）4.3

合計 40 問
なお，計算問題は 40 問中の約２割であった。

正解は（a）である。正答率は約 4 割で，（b）に約 3割，（c）に約 2 割の解答があった。
「放射線透過試験問

次の文の［A］〜［C］に適切なものを解答群からそ問題集」1999 の 208 頁の解説を読んで良く理解してほし

れぞれ一つ選び，記号で答えよ。

い。計算問題の正答率はこの問題の約 4 割が最低で，平鉄の減弱係数に寄与する相互作用は，Ⅹ線のエネルギー均では約 6 割弱であった。問題集を良く勉強すればよいが 104eV では，［A］が大部分を占め，106eV では［B］と思われる。

が大部分であり，108eV では［C］がほとんどである。
解答群［A］〜［C］（a）光電効果による吸収係数（b）電子対生成による吸収係数（c）トムソン散乱による散乱係数（d）コンプトン散乱による散乱係数

2．ＲＴレベル 2

新規試験問題（専門試験）

専門試験の 30 問の内容は次のとおりであった。
（a）RT 関係の JIS 規格と用語に関するもの（b）JIS Z 3104：1995 附属書 1 に関するもの

正解は［A］が（a），［B］が（d），［C］が（b）である（c）JIS Z 3104：1995 附属書 2 に関するもの

が，正答率は［A］が約 4 割強，［B］が約 4 割弱，［C］（d）JIS G 0581：1999 に関するものは（d）に付けた者がかなりいた。

（e）フィルムの特性曲線と露出線図による計算

（f）JIS Z 3104：1995 によるきずの像の分類に関する（g）JIS G 0581：1999

することになった。しかし，作業現場の状況から，焦点−フィルム間距離を 465mm 以下にする必要がある。透ものによるきずの像の分類に関す

過写真の像質として JIS Z 3104：1995 の A 級が要求されている場合，少なくとも［Ｋ］枚以上の撮影を必要とるもの
合計30 問する。ただし，使用するⅩ線装置の焦点寸法は，2.0mmであり，透過度計−フィルム間距離は 17mm に設定でき（e）の問題以外はすべて RT 関係の JIS 規格からの問題る。

であり，解答に必要な各規格の表は，問題の末尾に添付

なお，JIS Z 3104 附属書 1 の表 1〜表 6 を巻末に示す。

されている。

（a）9問

次の文の［E］〜［J］に適する語句を，解答群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。

（b）11（c）13（d）15

正解は（d）であるが，正答率は約 4 割であり，（c）を選んだ者が同数近くいた。
（Ll＋L2）が 465mm 以下で

JIS Z 3104：1995 附属書 2 に従って，管の円周溶接L2 が 17mm であるから Ll は 448mm 以下である。試験部の放射線透過試験を行う場合，試験部の有効長さを示部の有効長さ L3 は，像質が A 級の場合，Ll の 1／2 以下

す記号の配置は，次の点に注意する必要がある。

でなければならないから 224mm 以下となる。したがっ内部線源撮影方法（分割撮影，Ll＜内半径），［E］撮影方法では，［F］側表面に置くことが原則である。二重て，撮影枚数は 3,210mm を 224mm で除した値 14.3 から 15 枚となる。

壁両面撮影方法の線源側試験部の場合も，試験部の［G］側表面に置くことが原則である。また，内部線源撮影方

きずの像の分類については，正答率が鋼溶接継手の場法（分割撮影，Ll＞内半径）及び［H］撮影方法の場合合が平均で約 8 割，鋳鋼品の場合が約 6 割であった。

は，試験部の［Ⅰ］側表面に置くことが原則である。こ鋳鋼品のきずの像の分類については，「放射線透過試験のことの理由は［J］ためである。

Ⅰ」及び「放射線透過試験問題集」では，JIS G 0581：

1984 で記述されているが，出題は 1999 版になっている。
用語が溶接継手のきずの像の分類と整合されて変わって解答群［E］（a）内部フィルム（c）二重壁両面［F］（a）線源（c）濃度計［G］（a）線源（c）濃度計［H］（a）内部フィルム（c）二重壁両面［Ⅰ］（a）線源（c）濃度計（b）二重壁片面（d）ダブルフィルム（b）フィルム

今回は 2004 年春期の一次試験について解説したが，（d）フィルム観察器

類似問題であり，同様な問題が次回以降で出題されると（b）フィルムは限らない。また，出題内容も 2004 年春期の例を挙げ（d）フィルム観察器

たが，必ずしも同様になるとも限らない。なお，本解説（b）二重壁片面については，問合わせには応じられないので，悪しから（d）ダブルフィルムず了承願いたい。

（b）フィルム（d）フィルム観察器［Ｊ］（a）未試験部を無くす （b）作業能率を向上させる（c）フィルムきずを防止する（d）放射線防護の正解は，［E］が（a），［F］が（a），［G］が（a），［H］が（b），［Ⅰ］が（b），［J］が（a）である。
［E］では(b)を［H］では(a)を選んだ者が多かった。
問

いるが，分類のやり方は基本的に同じと考えて良い。

次の文の［Ｋ］に最も適切な値を一つ選び，記号で答えよ。
溶接線の長さ 3,210mm，母材の厚さ 14.0mm，両面に余盛がある平板突合せ溶接継手の放射線透過試験を実施