NDT フラッシュ Vol.72 No.10 1/4

ＲＴレベル１

一般・専門試験のポイント

問２

放射線透過試験において蛍光増感紙を用いるのは，Ｘ線が物質を透過する際に発生する［近年出題された一般試験と専門試験のうち，正答率の］による増感効果を利用するためである。空欄に入れる最も適切な語低かった問題の類題によって各試験のポイントを解説す句を一つ選び，記号で答えよ。

る。

（ａ）一次 X 線と蛍光（ｂ）二次電子と蛍光（ｃ）散乱線と蛍光（ｄ）蛍光なお，同様のポイントを解説した過去の NDT フラッシュを日本非破壊検査協会のホームページに公開しているので参考にしてほしい。

正答（ｄ）

増感紙は，①金属増感紙，②金属蛍光増感紙，③蛍光一般試験の類題増感紙に大別される。各増感紙の構造と特徴を次に示す。

問１①

次の文は，照射線量の単位について述べたもので金属増感紙ある。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

台紙に金属箔を貼付したもので，放射線によって金（ａ）照射線量の単位は，電子・ボルト（eV）で表す。

属箔から発生する二次電子による増感効果を利用した（ｂ）照射線量の単位は，クーロン毎キログラム（C/kg）でものである。金属箔による散乱線低減効果がある。
②表す。

金属蛍光増感紙（ｃ）照射線量の単位は，物質1 kg当たり1ジュール（J）の上述①の金属箔の表面に蛍光物質を塗布したもので，蛍光物質による蛍光作用により，上述①の数十から数エネルギーを吸収したとき，1グレイ（Gy）で表す。

百倍の増感効果がある。同時に，金属箔による散乱線（ｄ）照射線量の単位は，生体に与える影響を考慮し，低減効果を併せもつ。

シーベルト（Sv）で表す。
③
正答

蛍光増感紙
台紙に蛍光物質を塗布したもので，放射線によって（ｂ）

放射線に関する主な単位を表 1 にまとめて説明する。

蛍光物質から発生する蛍光による増感効果を利用したしたがって，正答は（ｂ）である。

ものである。散乱線低減効果はないが，増感効果は一番大きい。

表1用語

放射能

照射線量吸収線量

線量当量

放射線に関する主な単位

単位説

明

したがって，正答は（ｄ）である。

ベクレル

放射性物質が 1 秒間あたり（Bq）に壊変する原子の個数

問３

クーロン毎

1 kg の空気中に放射線を照ものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

キログラム

射したとき，電離作用で（ａ）光電効果とは，X 線光子が原子の軌道電子に全エ（C/kg）

1 C の電荷を生じる線量ネルギーを与えて，自らはエネルギーを失い消滅物質 1 kg あたり 1 J のエネする現象である。

グレイ（Gy）
シーベルト（Sv）

エネル

電子・ボルトギー（eV）

ルギーを吸収したときの線量次の文は，Ｘ線と物質の相互作用について述べた（ｂ）可干渉性散乱（レイリー散乱，トムソン散乱）は，X 線の回折現象とは関係がない。

生体に与える影響（生物学（ｃ）コンプトン散乱とは，X 線光子が原子の軌道電子的効果比率）を考慮した吸と衝突してこれを原子の外に飛び出させ，自らは収線量運動の向きを変える現象であり，散乱する X 線の電荷（e）をもつ粒子を 1 V

波長は入射 X 線の波長より短くなる。の電圧で加速したとき，粒子の得る運動エネルギー（ｄ）電子対生成とは，X 線光子が原子核の影響を受け一対の陰電子と陽電子になる現象であり，5 MeV程度のエネルギーの X 線では起こらない。

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正答

正答

（ａ）

X 線と物質との相互作用について表 2 にまとめて説明（ａ）

図 1 にγ線源の相違による鋼での透過厚さの目安を示す。透過厚さが 125 mm 程度では 60Co が，75 mm 程度でする。
したがって，正答は（ａ）である。

は 192Ir が，25 mm 程度では 75Se が，10 mm 程度では 169Ybが使用に適している。

表2相互作用

Ｘ線と物質との相互作用説

したがって，正答は（ａ）である。

明X線光子が原子の軌道電子に全エネルギ

60Coーを与えて，自らはエネルギーを失い消光電効果滅する現象である。X線光子エネルギーが192

軌道電子の結合エネルギーより大きけれIr

ば，軌道電子は原子の外に放出される。
可干渉性散乱（レイリー散乱，トムソン散乱）

75

入射X線の光子エネルギーと同じ光子エSe

ネルギーのX線が放出されることから弾性散乱とも言われる。入射X線と散乱線の169Yb

波長が等しいため，別々の散乱体により散乱したX線は，互いに干渉しあう。結晶

050100150200

透過厚さ（mm）によるX線の回析現象は，この散乱線の干図1渉の結果である。

γ線源による鋼での透過厚さの目安

X線光子が原子の軌道電子と衝突してこコンプトれを原子の外に飛び出させ，自らは運動

問５

ン散乱の向きを変える現象であり，散乱するX線認証」では，レベル 1 認証申請者の NDT 経験を確認するの波長は入射X線の波長より長くなる。

者の記述のうち，正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

1.02 MeV以上のX線光子が原子核の近く（ａ）申請者（ｂ）雇用主を通過する際，消滅し，代わりに一対の陰（ｃ）認証機関

（ｄ）大学

電子対生成

JIS Z 2305：2013「非破壊試験技術者の資格及び電子と陽電子を生じる現象である。
正答

専門試験の類題（ｂ）

JIS Z 2305：2013 において，認証申請者は，「経験期間次の文は，鋼の放射線透過試験で使用するγ線源を証明する文書を，雇用主の確認を得て認証機関に提出について述べたものである。正しいものを一つ選び，記しなければならならない」と規定されていることから，

号で答えよ。

正答は（ｂ）である。

問４（ａ）透過厚さが 125 mm 程度のときは，60Co を使用するとよい。
（ｂ）透過厚さが 75 mm 程度のときには，75Se を使用するとよい。
（ｃ）透過厚さが 25 mm 程度のときには，169Yb を使用す

問６

JIS Z 2305：2013 は次の ISO 規格のどれを一部修正したものか。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）ISO 5580（ｂ）ISO 9712（ｃ）ISO 9935（ｄ）ISO 15549

るとよい。
（ｄ）透過厚さが 10 mm 程度のときには，192Ir を使用するとよい。

正答

（ｂ）

JIS Z 2305：2013 は，⾮破壊試験技術者の資格と認証について規定している ISO 9712：2012「Non-destructivetesting — Qualification and certification of NDT personnel」
を一部修正したものであることから，正答は（ｂ）である。

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ＰＴ・ＰＤレベル１3/4

一般試験のポイント
正答

PT 及び PD レベル１の一般試験について，正答率の低い最近の問題の類題について解説する。

（ｃ）

探傷剤には，浸透液，余剰浸透液除去剤，現像剤があるが，きずの内部にまで迅速かつ容易にしみこむ性質が正答率の低い項目は，ほぼ毎回同じである。すでに解必要なのは浸透液だけである。したがって，（ａ）は誤り説済みの問題がほとんどであることから，過去の本欄もである。浸透液の吸い出しはすべての現像剤に要求され参照することを強く推奨する。

るが，湿式と速乾式には浸透液の拡大の他にバックグラウンドの形成といった性質が要求される。したがって，次の文は，浸透探傷試験で検出可能なきずについ（ｂ）は誤りである。方法 C で用いられる余剰浸透液除て述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答去剤及び前処理等で油脂類の除去に使用されるのは一般えよ。に有機溶剤であり，（ｃ）は正しく（ｄ）は誤りである。

問１（ａ）どのような材料であっても表面に開口しているきずであれば必ず検出できる。
（ｂ）金属であれば表面に開口しているきずは必ず検出できるが，非金属材料の場合には検出できない。
（ｃ）ポーラス状の材料の場合は，表面に開口しているきずであっても検出は困難である。
（ｄ）導電性の材料であれば表面に開口しているきずは

正答

問３

次の項目は，浸透時間に影響を与える要因について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）試験室の湿度（ｂ）試験体の形状（ｃ）試験体の大きさ必ず検出できる。

（ｄ）予想されるきずの種類及び大きさ

（ｃ）

正答

（ｄ）

浸透探傷検査では，浸透液がきずに浸透する必要があ

浸透液が試験体の表面に適用され，きずの中に十分浸るため，きずは表面に開口していなければならない。一透するまで待つ必要があることから，浸透時間は浸透液方で，例えばポーラス状（多孔質）の場合は，きず以外がきずの中に浸透する速度に左右される。浸透する速度にも浸透液が浸透してしまい，余剰浸透液の洗浄又は除は，浸透液が接触する表面の性状及びきずの形状に依存去が困難となるため，きずの検出は困難となる。したがする。浸透そのものが阻害され検査が成立しなくなる結って，（ａ）は誤りで，正答は（ｃ）である。また，金属露といった極端な場合を除き，試験室の湿度は表面の性/非金属，導電性/非導電性の区別には影響を受けること状に影響を与えることはなく，（ａ）は誤りである。試験はなく，ポーラス状など，きずの検出ができなくなる場

体そのものの形状や大きさは浸透液の適用効率に関して合もあることから，（ｂ）及び（ｄ）は誤りである。

は影響があるが，きずへの浸透速度に影響はなく，（ｂ）（ｃ）は誤りである。浸透液適用後は，想定されるきず

問２

次の文は，探傷剤の性質について述べたものであの開口量や深さといった性状，すなわちきずの種類及びる。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

大きさに依存することになる。したがって正答は（ｄ）（ａ）すべての探傷剤は，きずの内部に迅速かつ容易にである。

しみこむ性質が要求されている。
（ｂ）乾式・湿式・速乾式の各現像剤に要求される性質

問４

次の文は，乾式現像法について述べたものである。

は，いずれもきず内部に浸透している浸透液の吸正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

出しと拡大だけである。

（ａ）比重の大きい白色の微粉末が用いられる。

（ｃ）方法Ｃ（余剰浸透液除去剤として有機溶剤を使用（ｂ）きずに現像剤が盛り上がって付着するため，近接する方法）で余剰浸透液を除去するために使用すして存在する微細な割れの指示模様を分離して識る探傷剤は，一般に有機溶剤である。
（ｄ）試験準備や前処理で油脂類の除去に使用する洗浄剤は，一般に界面活性剤である。

別することが困難である。
（ｃ）白色微粉末の現像剤がきず開口部にだけ付着し，試験体表面色とコントラストの大きな白色の指示

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後処理模様が形成される。
（ｄ）乾式現像剤以外の現像剤を用いる場合に比べ，大（ｂ）試験準備→前処理→浸透液の適用→余剰浸透液の除去→現像剤の適用→観察→後処理

きなきずの場合には，指示模様が脱落する場合がある。

（ｃ）試験準備→前処理→浸透液の適用→洗浄→乾燥(熱（ｄ）（ｄ）試験準備→前処理→浸透液の適用→洗浄→現像剤

風循環式)→現像剤の適用→観察正答の適用→乾燥(熱風循環式)→観察

乾式現像剤は，きずからしみだしてきた浸透液にだけ付着し，それ以外の表面にはほとんど付着しないよう，非常に軽量の微粉末が用いられる。比重も軽くなければ正答（ｂ）ならず，（ａ）は誤りである。また，乾式以外の手法では方法Ｃ以外では，余剰浸透液の除去に水を用いること対象物の表面全体に現像剤が付着していることから，時から工程のどこかに乾燥が必須となる。一方，方法Ｃで間の経過とともに浸透液がにじんでゆくが，乾式の場合は，揮発性を有する有機溶剤を用いることから，必ずしは，にじむ先に現像剤はわずかしか存在しないため，あも熱風循環式乾燥炉を用いるような乾燥は必要ではない。

まり広がることはなく，近接した指示を分離して識別ししたがって，（ｂ）は正しく，（ａ）（ｃ）（ｄ）は誤りでやすいことから（ｂ）は誤りである。表面への現像剤のある。

付着はわずかで，それだけでは色による識別は困難である。したがって（ｃ）は誤りである。他の試験体表面全問７

次の項目は鋳造品に発生するきずについて述べた体をおおう現像とは異なり，現像剤は浸透液によって表ものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

面に付着しているため，とくに大きなきずの場合，脱落（ａ）ラップしやすい。したがって（ｄ）が正答である。

（ｂ）融合不良（ｃ）シーム問５

次の項目は，浸透探傷試験で最も検出が困難なき（ｄ）ミクロポロシティずの形状について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）表面開口幅は狭いが，内部にいくにしたがって空洞が広がっているきず。

正答

（ｄ）

ラップ及びシームは圧延品に，融合不良は溶接品に，それぞれ発生するが，鋳造品には発生しない。したがっ（ｂ）表面開口幅が広く，深さの浅いきず。て，（ａ）（ｂ）（ｃ）は誤りである。鋳造は，加熱により（ｃ）表面開口幅が狭く，深さの深いきず。

溶けた金属を型に流し込み，温度の低下と共に凝固させ（ｄ）表面開口幅が狭く，試験体を貫通しているきず。

る手法であり，その際に発生する恐れのある細かな空孔がミクロポロシティであり，正答は（ｄ）である。

正答

（ｂ）

表面の開口幅が狭くても浸透液はきずの中に入りこむ

冒頭でも言及したが，以前のフラッシュにて解説したが，開口幅が広いときずの中に入り込んだ浸透液は容易

類題のいくつかは正答率が低いままである。フラッシュに洗浄・除去されてしまう。特に深さが浅い場合はそののバックナンバーは協会のホームページに記載されてい傾向が顕著で，きずの中に浸透液が残らず，検出は困難

るので，再度見直しし，同じような誤りを繰り返さないとなる。したがって正答は（ｂ）で，（ａ）（ｃ）（ｄ）はでほしい。

誤りである。
問６

次の文は，タイプⅠ方法Ｃフォームａ（蛍光，有機溶剤，乾式）で探傷を行う場合の試験手順を示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）試験準備→前処理→浸透液の適用→余剰浸透液の除去→乾燥(熱風循環式)→現像剤の適用→観察→