ＲＴレベル１

一次一般試験問題のポイント（ｂ）同一半価層を有する単色Ｘ線のエネルギ－（ｃ）Ｘ線スペクトルの最大エネルギ－

ＲＴレベル１の一次試験については，54 巻 1 号に一般（ｄ）管電圧の実効値問題及び専門問題を，55 巻 2 号に一般問題を取り上げて解説を行った。今回は最近の一次試験の一般問題で比較的に正答率の低い問題を選んで解説を行い，受験者の参考にしたい。

正答［Ｅ］（ｂ）

Ｘ線には単一波長の単色Ｘ線と，幅広い波長域を有する白色Ｘ線があり，後者が透過試験に用いられている。

一般問題は 40 問出題され，四者択一形式により正しい白色Ｘ線の幅広いエネルギ－範囲を取扱い易いように表もの，又は誤っているものを選ぶ形式と，一つの文章問示するものが，実効エネルギ－であり，半価層が等しい

題のなかに複数問が設けられて，それぞれに四者択一の単色Ｘ線のエネルギ－で表すことになっている。Ｘ線ス解答が示されている形式がある。専門問題と供に 70％以ペクトルの平均エネルギ－や最大エネルギ－ではない。

上の正答で合格となる。
問４
問１

放射線のうち非電荷の放射線を一つ選び，記号で答えよ。［Ａ］（ａ）α 線 （ｂ）β 線 （ｃ）Ｘ線 （ｄ）重陽子線

次の文は，Ｘ線の性質について述べたものである。

［Ｆ］及び［Ｇ］に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。
Ｘ線透過写真の像質に大きな影響を与えるのが［Ｆ］である。線質を定量的に表すには半価層及び［Ｇ］が用

正答（ｃ）
非電荷という単語に戸惑ったようで，解答がばらつき，重陽子線にマ－クした者が意外に多かった。α 線と重陽いられる。
［解答群］［Ｆ］（ａ）線質と線量強度（ｃ）線質と光電子子線は＋の電荷を，β 線は－の電荷を帯びており，非電荷はＸ線である。

［Ｇ］（ａ）視野の大きさ
（ｃ）線量

問２

それぞれ一つ選び，記号で答えよ。
192（ｄ）線質と直接線（ｂ）焦点寸法（ｄ）実効エネルギ－

放射線透過試験に用いられる次の核種の半減期について［Ｂ］～［Ｄ］に入れる適正な数値を解答群から60（ｂ）線質と散乱線Ｃｏの半減期は［Ｂ］，169Ｙｂの半減期は［Ｃ］，Ｉｒの半減期は［Ｄ］である。

正答［Ｆ］（ｂ），［Ｇ］（ｄ）

Ｘ線透過写真の像質に大きな影響を与えるものは，きずの像のコントラストと明瞭度である。前者に関係する
因子はフィルム・コントラスト，線質，撮影配置，散乱［解答群］

線の大小であり，後者に関係する因子は撮影配置と焦点［Ｂ］（ａ）74 日（ｂ）5.3 年（ｃ）32 日（ｄ）33 年

寸法である。したがって，［Ｆ］の線質と組合わせるもの［Ｃ］（ａ）74 日（ｂ）5.3 年（ｃ）32 日（ｄ）33 年

は（ｂ）の散乱線である。
［Ｇ］については，線質の表示［Ｄ］（ａ）74 日（ｂ）5.3 年（ｃ）32 日（ｄ）33 年

方法であるから，半価層の値と（ｄ）の実効エネルギ－であるが，何故か（ｂ），（ｃ）にマークした者がかなり正答［Ｂ］（ｂ），［Ｃ］（ｃ），［Ｄ］（ａ）

いた。

放射線透過試験に用いられるガンマ線源としては，出題の３核種が主なものであるが，これに 137Ｃｓを加えて，

問５半減期，エネルギ－，適用される鋼板厚さの範囲などのを解答群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。

数値を記憶しておくと良い。

次の文の［Ｈ］～［Ｋ］に入れるべき適切な語句

試験体に対する放射線の照射方向は，検出すべききずによって生ずる放射線の［Ｈ］の差を，最も容易に［Ｉ］

次の文は，白色Ｘ線の実効エネルギ－について述方向とすることが原則である。また，溶接部が試験対象べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

である場合，放射線の照射方向は，試験体を透過する厚問３

白色Ｘ線の実効エネルギ－は［Ｅ］である。
（ａ）Ｘ線スペクトルの平均エネルギ－さが［Ｊ］になる［Ｋ］方向とする。
［解答群］

［Ｈ］
（ａ）減弱 （ｂ）厚さ （ｃ）線質 （ｄ）線量いれば，特に問題はないと思われるが，解答結果ではマ［Ｉ］（ａ）測定できる（ｂ）濃度が得られる－クが分散しており，よく理解していない者がいると考（ｄ）向上可能なえられるので，もう一度しっかり確認しておいて欲しい。

（ｃ）検出できる［Ｊ］（ａ）効率的（ｂ）４５度（ｃ）最小（ｄ）最大問７［Ｋ］（ａ）肉厚（ｂ）角度について述べたものである。正しいものを一つ選び，記（ｄ）面状号で答えよ。［Ｐ］（ｃ）横割れ次の文は，放射線透過試験におけるＮＤＴ指示書（ａ）ＮＤＴ指示書は，ＮＤＴ仕様書の中に呼び込まれ正答る形で使用される。

［Ｈ］（ａ），［Ｉ］（ｃ），［Ｊ］（ｃ），（ｂ）ＮＤＴ指示書は，ＮＤＴ手順書の中に呼び込まれ［Ｋ］（ａ）る形で使用される。

試験体に対する放射線の照射方向は，きずの検出の可否に対して重要な問題である。きずの存在によって生じ（ｃ）ＮＤＴ指示書は，現場での作業に使用される。

るフィルム上の濃度差は，放射線の減弱の差によって生（ｄ）ＮＤＴ指示書は，溶接継手の種類が多くても，１回だけ作成して使用される。

ずる。したがって，きずの検出を目的とする場合は，きずによる減弱の差が大きくなる方向から放射線を照射する必要がある。溶接部を撮影する場合の放射線の照射方

正答［Ｐ］（ｃ）

向は，試験体を透過する厚さが最小になる肉厚方向とす

ＲＴレベル１の技術者にとって，一番身近かな文書でるのが原則である。
［Ｊ］において（ｄ）の最大に，［Ｋ］あるＮＤＴ指示書についての問題である。
（ａ），（ｂ）ににおいて（ｂ）の角度や（ｄ）の面状にマ－クした者がマ－クをつけた者が少なくないので注意して欲しい。

少なくなかった。
問８
問６

次の文は，透過写真の濃度と特性曲線について述

次の文は，個人の被ばく線量測定用に用いられている測定器について述べたものである。正しいものを一べたものである。
［Ｌ］～［Ｏ］に適する語句を解答群かつ選び，記号で答えよ。［Ｑ］

らそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。

（ａ）個人の被ばく線量の測定には測定値が直読できるガラス線量計が主に使われている。

写真濃度Ｄは，透過写真の［Ｌ］の程度をあらわすも（ｂ）フィルムバッジは，比較的長時間の積算線量の測のである。

定ができるが使用時の温度，湿度により潜像退行濃度を表わす式は［Ｍ］で定義される。ただし，入射があるので注意を要する。

光の強さをＬ0，透過光の強さをＬとする。
Ｘ線フィルムの特性曲線は，［Ｎ］を縦軸に取り，横軸（ｃ）ポケット線量計は，衝撃に強く，湿度や温度にも影響されないのでよく利用されている。に［Ｏ］を取ったものである。

（ｄ）熱ルミネッセンス線量計は，放射線を受けると安［解答群］［Ｌ］（ａ）白さ（ｃ）色合い［Ｍ］（ａ）log10(L0/L)（ｃ）log10(L/L0)［Ｎ］（ａ）露出量（ｃ）管電圧値［Ｏ］（ａ）露出量（ｃ）管電圧値（ｂ）黒さ

定な蛍光中心を作り，これに紫外線を当てると橙（ｄ）鮮明さ色の蛍光を発する。

（ｂ）loge(L/L0)（ｄ）log10(L0×L)（ｂ）フィルム濃度

正答［Ｑ］（ｂ）

個人被ばく線量計は放射線管理用の測定器として重要（ｄ）管電流値なものである。ガラス線量計，フィルムバッジ，ポケッ（ｂ）フィルム濃度

ト線量計，熱ルミネッセンス線量計等の代表的な測定器（ｄ）管電流値について，原理，長所，短所をしっかりと理解しておくことが大切である。従来はフィルムバッジが主流であっ正答［Ｌ］（ｂ），［Ｍ］（ａ），［Ｎ］（ｂ），

たが，最近では蛍光ガラス線量計の使用が多くなってい［Ｏ］（ａ）

る。

フィルム濃度の定義及びフィルムの特性曲線を知って

ＭＴレベル３

二次試験

Ｃ３問題のポイント

最終製品検査６．探傷装置

MT レベル 3 の二次試験は C1，C2 ，C3 の三つに分かれている。最近の数回の試験の合格率は残念ながら芳しくなく，特に C3 の手順書作成問題でその傾向は著しい。
2007 年に長年親しまれてきた JIS G 0565 が廃止され，JIS使用装置は，対象とするきずの検出に対して適正な性能を有するものを使用すること。
７．磁化方法

磁化方法は，対象とするきずの検出に対して適正な方法を選定すること。
８．合否判定基準Z 2320（以下，新 JIS）が発行された。これに対応し参考割れによる磁粉模様があってはならない。

書「磁粉探傷試験Ⅰ」，「Ⅱ」に続き「Ⅲ」「問題集」が改

歯底・歯筋及び内孔面に長さ 2mm 以上の線状磁粉模訂され学習の要に供されているが,レベル 3 の合格率の様があってはならない。

低迷については，新 JIS，参考書等の内容の周知の遅れや理解不足などが影響しているように思われる。

以下に，JIS Z 2320-1 工程確認方式に基づくＮＤＴ手順

2009 年秋期では C3 の出題形式が見直され，受験者の書作成問題の解答例を示す。なお，一部の内容は省略し，負担を軽減するため参考資料として新 JIS を貸与し，解特に注意しなければならない項目には解説を加えた。

答の作成に必要な事項が参照できる形が検討されている。
今回は，最近の C3 の出題傾向を考慮して，新 JIS に従った手順書例について注意点・ポイントなどを解説する。

ＮＤＴ手順書作成問題解答例
１．適用範囲なお，磁粉探傷試験手順書に記載すべき項目については，

この手順書は，○○株式会社○○工場において製造さ以前の本欄（2005 年，54 巻 8 号）に詳述されている。

れるピニオンギア（部品番号：○○-○○）の最終製品検査における磁粉探傷試験に適用する。
２．準拠規格手順書作成の問題例（抜粋）図に示すピニオンギア（外径 84mm，内径 30mm，歯JIS Z 2320-1:2007

非破壊試験-磁粉探傷試験-第 1 部:
一般通則

幅 40mm，材質：S35C，ギア部加工後に高周波焼入れ，
内孔面研磨加工，ピニオンギア数 50 個）の製造時の最終JIS Z 2320-2:2007

非破壊試験-磁粉探傷試験-第 2 部:
検出媒体

製品検査について，次に示すＮＤＴ仕様書に基づいて，磁粉探傷試験ＮＤＴ手順書を作成せよ。

JIS Z 2320-3:2007

非破壊試験-磁粉探傷試験-第 3 部:装置

３．試験技術者
探傷は JIS Z 2305:2001 に規定する MT レベル１以上，合否判定はレベル２以上の技術者が行う。
４．探傷装置（１）一般事項
探傷機器はすべて，管理基準○○により管理され，定期的に点検・校正されたものを使用する。

ピニオンギアのＮＤＴ仕様書例

また JIS Z 2320-3:2007 の要求に合致していること。

「ピニオンギアの製造時検査仕様書」（２）磁化装置

１．検査対象物の名称
ピニオンギア（材質：S35C，高周波焼入れ）
JIS Z 2320-1:2007

４．試験技術者

通電時間

非破壊試験-磁粉探傷試験-第 1 部:一般通則
JIS Z 2305:2001 に規定する，MT レベ
ル 2 またはレベル 1 技術者
５．試験実施時期
ギア部切削加工，高周波焼入れ，内孔面研磨加工後の，定置式磁化装置：直流（脈流，単相半波整流），交流とも最大磁化電流 1500A（実効値）以上，最大50 個

２．検査対象数
３．準拠規格①②10 秒以上

極間式磁化器：交流，起磁力 1200A(実効値)以上，磁極間内のり

140mm（３）紫外線照射灯
波長 315～400nm、装置のフィルタ面から 400mmの距離において 10W/m2 以上の紫外線強度を有すである。磁化電流値は附属書 A を参考に，探傷有効範ること。

囲は JIS Z 2320-1:2007 に基づいて決定する。

（４）テスラメータ
0.01mT が測定できる感度を有すること。
（５）その他の器具

電流値が，例示された経験式，理論式等で求められな

電流貫通棒

φ20×300mm

い場合は，測定により磁化の確認が必要である。なお磁束貫通棒

20×20×190mm

磁化方法は実現可能で，試験面に適切な方向と強さの解説）探傷に際し，どのような機能・性能を有する機磁界が与えられ、かつ経済性も考慮して選定する。

器装置が必要かを考慮して記述する。磁化装置では，例題では，試験体が S35C なので電流値は H=2000A/m

最大磁化電流，表示値，波形などは重要である。

で計算したが,材質によっては B-H 曲線から磁束密度1T に対応する H を読み取って算出する必要がある。

５．試験の時期
高周波焼入れ，内孔面研磨加工後の最終製品検査

１０．検査液の適用
小形オイラーを使用し，連続法にて適用する。

６．試験範囲解説）工程確認方式は連続法しかないことに留意する。

対象部品全面の全方向のきずを対象とする。

１１．観察

７．前処理
表面の汚れ，油脂類は白灯油で洗浄，除去する。

試験面における紫外線強度は 10W/m2 以上であること。

８．検出媒体（磁粉及び検査液）
検出媒体の特性は JIS Z 2320-2:2007 に合致すること。
（１）磁粉蛍光，湿式，平均粒子径（２）分散媒

白灯油を使用する。

（３）検査液濃度0.5（４）検査液の性能確認

暗室内の明るさは 20Lx 以下であること。

約 5μｍ

磁粉模様が検出された場合には，きずによる磁粉模様か疑似模様かを確認する。
きずによる磁粉模様の場合には，割れによる磁粉模様か，その他の磁粉模様かを確認する。

g/L
試験に先立ち，タイプ 1

対比試験片を用いて検査液の性能を確認すること。

解説）必要により検出及び評価の対象となるきずの大きさを明示する。磁粉模様の分類に関しても記述する。

解説）以上は，対象とするきずの種類や大きさ，磁化１２．記録

条件，試験体の表面状態（使用状況）・性質等を考慮し１３．合否判定基準省略て決定する。工程確認方式では，検出媒体は必ず JIS Z

割れによる磁粉模様及び長さ 2mm 以上の線状磁粉模

2320-2 の要求に合致している必要がある。

様があってはならない。

９．磁化条件解説）仕様書で基準が明確でない場合，試験体の使用(１) 磁化方法

条件等を考慮し，検出すべき最小のきずの長さを示す。

工程確認方式による電流貫通法及び磁束貫通法

１４．後処理省略（２）探傷条件
歯筋方向のきず：電流貫通法，直流（脈流，単相以上，新 JIS の工程確認方式を主に，MT レベル 3 の半波整流） 520A（実効値）

手順書に関する必要最小限の要点について紹介した。紙

円周方向のきず：磁束貫通法，起磁力交流面の関係で例題を取り上げられないが，他の磁化方法を1200A(実効値)，交流極間式磁化器及び適用する場合や，標準試験片確認方式による手順書につ磁束貫通棒使用いても新 JIS の内容を確認し，書けるようにして欲しい。

通電時間：10 秒以上とする。

（３）磁化の確認

本解説を参考に，新 JIS の理解を深め，各確認方式別に，磁化方法，磁化条件，確認手段，検出媒体・装置な

磁束貫通法では，テスラメータで試験体の表面磁界のどの選定・設定について整理するとよい。また各磁化方強さを測定し 2000A/m 以上であることを確認する。

法に関する知識や試験体への適用等についても復習して解説）始めに，工程確認方式か標準試験片確認方式かおく必要がある。これからレベル 3 の二次試験を目指すを宣言する。次に検出すべききずに対して，適用する人は，「磁粉探傷試験Ⅲ」はもちろん各レベルの参考書，磁化方法，電流の種類，磁化電流値（実効値）を示す。

及び「磁粉探傷試験問題集」，JIS Z 2320-1～3，以前の本磁化方法によっては，探傷ピッチ，電極間隔等も必要

欄の解説等を熟読して学習し，臨んで欲しい。