ＥＴレベル1 一次一般試験問題のポイント比例する。
(c) コイル周囲の透磁率に反比例し，コイル巻数の2乗に比JIS Z 2305 非破壊試験技術者，ETレベル1の新規一次試験については渦流探傷試験Ⅰの記述範囲内から出題されるものとしているが，試験の結果を見てみると受験者の理解不足や誤解によると思われる，正答率の低い問題が見受けられる。今回は一般問題の中で以前の試験結果より相対的に正答率の低い問題と類似の例題を選んで解説する。一般
問題は渦流探傷試験の原理，各探傷方法の特徴や操作手順例する。
(d) コイル周囲の透磁率およびコイル巻数の2乗に比例する。
正答 (d)
ここでいうコイルのインダクタンスとは自己インダクタンスのことである。

等の問題が出題される。問題は正しいもの又は誤っているものを四者択一で選ぶ形式であり40問以上が出題される。
70％以上の正答で合格となる。

問１ 周波数が 50Hz のとき角周波数［rad/sec］はおよそいくらとなるか。次の中から正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
(a) 3.14

図２に示すようにコイルに電流を流すと磁束Φが発生する(b) 6.328(c) 15.8 (d) 314

正答 (d)
図１に正弦波交流の波形を示すが時間とともに電圧の大きさと向きが変わる。

がこのとき⊿t 時間内に⊿I だけ変化すると磁束も⊿Φだけ変化する。ここで磁束Φがすべてコイルと鎖交するわけではないのでコイル形状に依存する係数をαとしてコイル両端の起電力 V を求めると

ｖ(t)＝Ｖm sinωt

V ＝−α・N･⊿Φ／⊿ｔ ・・・・・・・・・・・・・・ （３）ここで真空の透磁率をμ０，コイルの巻数をNとすると，磁束Φは Φ＝μ0αNI と表せる。これを式（３）に代入して整理すると

V ＝−μ0α2N ２・⊿I/⊿ｔ＝−L ・⊿I/⊿ｔ ・・・・・・・・・・・・・・・・・ （４）この波形を式で示し、電圧をv（ｔ）とすると

ｖ(t)＝Vm・sinωt ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ （１）

ここで L をインダクタンスといい，単位は H である。

L＝μ0α2N ２ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ （５）と表される。
ｖ(t)は正弦関数に従って周期的に大きさとそとなる。インダクタンスL は コイル周囲の透磁率およびコの方向が変化している。

イル巻数の2乗に比例する事がわかる。
以下に実習で使用す式(１)の中のωを｢角周波数｣といい周期Tあるいは周波数る渦流探傷器に使用するコイル形状に近いものを同一形状

ｆを用いて以下の式で表される。

で巻数のみ変化させた場合のインダクタンスを表にしたの

ω＝（2π）/T＝2･πｆ［rad/sec］ ・・・・（２）

で参考にされたい。

ここにｆは試験周波数であり数値を代入して計算すると
ω≒2×3.14×50 から ω≒314 となる。

巻数

コイル幅

直径L（μH）

5051026

問２ 次の文はコイルのインダクタンスについて述べたも100510104のである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

200510415(a) コイル周囲の透磁率と，コイルの巻数の2乗に反比例する。
(b) コイル周囲の透磁率に比例し，コイルの巻数の2乗に反これより巻数の2乗に比例してインダクタンスが変化している事が理解できる。

問３ 図の正規化インピーダンス平面の０点において，試験る。また，コイル方式の違いで見てみると，単一方式＞標周波数が高くなったときの，正規化インピーダンスの変化

準比較方式＞自己比較方式の順で環境温度の変化に対するの方向は次のうちどれか。正しいものを一つ選び記号で答

出力変動は少なくなる。したがって相互誘導形で自己比較えよ。

方式を組み合わせた（ｄ）が最も温度変化に安定な試験コ(a) A

ωL/ωL0イルである。

A(b) B０点

D

問５ ブリッジの役割について，次の中から正しいものを一(c) C
B(d) D
C

つ選び記号で答えよ。
(a) 試験コイルのインピーダンスの変化を検出する。

（ R‑R0 ）/ωL0(b) 試験コイルのインピーダンスの変化を大きくする。

図3 正規化されたインピーダンス平面(c) 試験コイルのインピーダンスの変化を小さくする。
(d) 試験コイルのインピーダンスの変化を安定化する。

正答 (c)

正答 （a）

正規化インピーダンスは，コイルそのもののインピーダ

渦流探傷は試験体とコイル間の電磁気的な結合の変化をンスを表わすものでなく，コイルのインピーダンス変化を検出するシステムである。ここで注目するのはコイルのイコイル巻き線抵抗の影響や試験周波数の影響を除去した

ンピーダンスは専用の測定器で測定できるが,渦電流探傷コイルの正規化リアクタンスと正規化抵抗で表したもの

では試験体にある程度の大きさの渦電流を発生させなけれである。

ばならないことと，絶対値を測定するのではなく変化を検正規化インピーダンスで曲線が原点に近づくことは充填出することである。一般にインピーダンスを直接検出する率が大きくなる事を意味する。試験周波数が高くなると表ことは困難でコイルに電流を通じインピーダンスを電圧な皮効果により，試験体表面近傍に発生する渦電流は増加し，いし電流に置き換えて検出する。ここでブリッジを使用す渦電流による反発磁界も増加する。この反発磁界の作用をるとブリッジ回路の特性からインピーダンスの変化した変受ける試験コイルの磁束は減少し，結果として充填率が大化分そのものを検出することができ，かなり大きな電圧できくなったのと等価に見る事ができる。これよりインピー試験コイルを駆動してもその後に設置する交流アンプの飽ダンス平面上の動作点はＣ方向に変化することになる。

和を防ぐことができる。図4のブリッジ回路で駆動電圧 E0およびE1で表すと下の式 （６）及び（７）になる。

問４ 温度変化による出力の変動が最も小さいと期待され

E0=Em・sin（ωt+θ0） ・・・・・・・・・・・・・・・ （６）る試験コイルは次のうちどれか正しいものを一つ選び記号

E1=Em・sin（ωt+θ1） ・・・・・・・・・・・・・・・ （７）で答えよ。

ただし，θ0＝0度 θ1＝180度とすると，E0＋E1＝0となり，(a) 標準比較方式自己誘導形コイル

ブリッジの出力は，平衡時には駆動電圧の大きさにかかわ(b) 自己比較方式自己誘導形コイル

らずゼロになることがわかる。

(c) 単一方式自己誘導形コイル(d) 自己比較方式相互誘導形コイル
正答（ｄ）
渦流探傷に使用されるコイルの形式はいくつかあるが適用条件によってどの形式のコイルを選択するかによってより精度の高い探傷をすることが可能となる。ここで各形式

図4 ブリッジ回路のコイルの特徴を見てみると,まず大きく分けて渦電流を以上これまで出題されてきた問題の傾向を基にETレベル発生させるメカニズムから相互誘導形と自己誘導形に分け１に関する一般問題を解説してきた。これからレベル１のられる。相互誘導形と自己誘導形を比較すると励磁コイル

受験を志す方は，本解説を参考にして参考書，実技参考書，と検出コイルが分離できる相互誘導形のほうが環境温度の問題集等の内容をよく学習し，一次試験に合格できるよう変化に対して安定な試験の出来る利点があるといわれてい努力される事を期待するものである。

非破壊試験技術者有資格者数（2006 年 4 月 1 日現在）
JIS Z 2305 による資格認証が発足して３年が経過し，新認証システムも定着してきたと考えられる。今回 2005 年秋の試験合格者の 2006 年 4 月登録分を含めた有資格者数をまとめた。NDIS 0601 資格の保有者数，JIS Z 2305 資格の保有者数及びその合計数を表１に示す。JIS Z 2305 有資格者数は，新規試験の合格者と NDIS 0601 資格からの移行試験の合格者の両方を含む。また，この 7 年間の非破壊試験資格保有者数の推移を図１に示す。2003 年以降については NDIS 資格者と JIS 資格者とを分けて表示した。全般的に有資格者数は微増の傾向を示しているが，特に 2004 年から 2005 年に掛けては 4,300 名強の増加となっている。有資格者の割合はおおよそレベル１が２割，レベル２が７割，レベル３が１割であり，従来と大きな変化はない。また，JIS Z 2305 による資格者数は全体の約 38%であり，ほぼ順調に増加している。

表１

非破壊試験技術者有資格者数

単位：人
NDIS 0601

ＮＤＴ方法

JIS Z 2305

総合計

略称
１種

２種

3種

ﾚﾍﾞﾙ１

ﾚﾍﾞﾙ２

ﾚﾍﾞﾙ３

１種
ﾚﾍﾞﾙ１

２種
ﾚﾍﾞﾙ２

3種
ﾚﾍﾞﾙ３

計

放射線透過試験

RT

255

3,305

1,016

149

2,090

744

404

5,395

1,760

7,559

超音波探傷試験

UT

3,587

5,946

1,611

2,870

5,660

1,201

6,457

11,606

2,812

20,875

超音波厚さ測定

UM

734―

―

925―

―

1,659――

1,659

磁粉探傷試験

MT―

4,781

191

95

3,472

246

958,2534378,785

極間法磁粉探傷検査

MY

729

120―

424

154

―

1,153

274―1,427

通電法磁粉探傷検査

ME

151

―

―

52―

―

203

―

―

203

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC

96―

―

60―

―

156

―

―

156

浸透探傷試験

PT―

8,304

319

335

6,857

328

335

15,161647

16,143

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

2,283

452

―

1,353

822

―

3,636

1,274―

4,910

水洗性浸透探傷検査

PW

171

―

―

44―

―

215

――

215

渦流探傷試験

ET

82

1,765

215

57

1,289

177

139

3,054

392

3,585

ひずみ測定

SM

160

599

126

123

459

101

283

1,058

227

1,568

8,248

25,272

3,478

6,487

20,8032,797

14,73546,075

6,275

67,085

合計−：該当資格者なし

80000

67,085 人

70000
登録者数（人）60000

3種
レベル３2種
レベル２1種
レベル１50000
40000
30000
20000
10000
01999
1999
12000
2000
22001
2001
32002
2002
4年

図１20032003
2004
5 20046 20052005
7度

非破壊試験有資格者数の推移

レベル２資格通常移行状況
2003 年春期より JIS Z 2305 による非破壊試験資格認証試験が開始された。それまで行っていた NDIS 0601 による認定の資格を有していた資格者は，通常移行試験を受験して JIS Z 2305 の資格に移行を行ってきた。
9 月号の本誌でレベル 3 の通常移行状況について報告

4 回目合格
3 回目合格失効
1 回目合格した。今回同様にレベル 2 の移行状況について，通常移行対象者がどの程度移行を行っているか，それぞれの移行試験のチャンス，4 回の受験での移行状況について報告する。
2003 年春期試験から 2005 年秋期試験までに 6 回の通常移行が実施されており，その間に 4 回の通常移行の受験機会を完了している有効期限の資格を対象とした。

2 回目合格図1

レベル 2 資格への通常移行率（有効期限：2004 年 3 月 31 日）（例：有効期限 2005 年 3 月 31 日の場合，①2004 年春期，②2004 年秋期，③2005 年春期，④2005 年秋期の 4回の受験機会を完了している。）
なお，当初から JIS Z 2305 資格を取得し，再認証試験の 4 回の受験機会を完了している資格は，存在しないた
め今回の調査対象からは外した。
また，4 回目の受験機会に受験申請をしなかった者に4 回目合格失効

3 回目合格

1 回目合格ついても再認証の意志なしと見なし通常移行率の対象から外した。
2 回目合格図 1 に 2004 年 3 月末有効期限の技術者の，通常移行試験の結果を示している。図 1 は 1 回目の試験で半数弱図2の人が合格し，移行している。引き続き 2 回目，3 回目（有効期限：2004 年 9 月 30 日）

レベル 2 資格への通常移行率と受験され徐々に割合は少なくなっているが，4 回目の試験までにほとんどの人が合格し移行しているのが分かる。図 2 に 2004 年 9 月末有効期限の技術者，図 3 に 2005
年 3 月末有効期限の技術者の移行試験状況を示す。それ
ぞれ多少の違いはあるが，2 回目までの試験で 75％の人
4 回目合格が移行を済ませ，4 回の通常移行で対象者の 95％超えの人が JIS Z 2305 資格への移行を済ませていることが分か失効

3 回目合格

1 回目合格る。
日常の業務を遂行しながら，資格試験を受験し，資格2 回目合格を継続してゆくのは並たいていの努力では補えないが，これらの試験を乗り越えて，その時期における技術を理図3

解することによって，この資格は更に有効な資格として（有効期限：2005 年 3 月 31 日）社会に認められるものとなると考えられる。
NDIS 0601 の 2 種資格者の人は，このように 4 回の受験機会の結果で見れば，95%を超える人が移行し，資格を継続している。

レベル 2 資格への通常移行率