NDT フラッシュ Vol.67 No.4 1/4

ＲＴレベル２

一般・専門試験のポイント

最近出題された一般試験と専門試験の問題のうち，正したがって，正答は（ａ）である。
問2

次の文中の［Ａ］及び［Ｂ］に入れる適切な数値

答率の低かった問題と類似した例題により各試験のポイを解答群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。

ントを解説する。問 1 から問 3 が一般試験の問題と，問輝度が 8 000 cd/m2 の観察器を使い，濃度 3.0 の透過写4 と問 5 が専門試験の問題と類似した例題である。
なお，過去の試験問題に基づいた同様のポイントを解説した NDT フラッシュが日本非破壊検査協会のホームページで公開されている。参考にしてほしい。

真を観察する場合，透過写真を透過した光（透過光）の輝度（L）は［Ａ］cd/m2 となる｡
透過光以外の光が透過光の 1.1 倍あったと仮定すれば，見掛けの透過写真のコントラスト（ΔDa）は透過光以外の光がないときの［Ｂ］％になる。

問 1

次の文は，金属箔増感紙について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）増感紙の増感効果は，コンプトン効果等により発生する二次電子によって生じる。

［解答群］［Ａ］（ａ）8 （ｂ）80 （ｃ）8 000 （ｄ）80 000［Ｂ］（ａ）23 （ｂ）32 （ｃ）48（ｄ）65（ｂ）増感紙を使用する場合，X 線フィルムの後面よりも前面の厚さを必ず大きくする。

正答［Ａ］（ａ），［Ｂ］（ｃ）（ｃ）X 線フィルムの前面の増感紙は散乱線低減効果だ

入射光の輝度（L0）と透過光の輝度（L）により，透過け，後面の増感紙は増感効果だけである。

写真の濃度（D）は，log10（L0／L）で定義される。濃度（ｄ）一般に，軟 X 線装置を使用する場合は，増感紙をが 3.0 では，L は L0 の 1／1 000 であるから，8 000 cd/m2使用しない方が透過写真のコントラスト（ΔD）
は大きくなる。

／1 000＝8 cd/m2 となる。
透過写真の観察におけるΔDa は，ΔD／（1＋n’）で表される。ΔD は透過写真のコントラスト，n’は透過光以正答（ａ）外の強さ（Ls）と透過光の強さ（L）の比（Ls／L）であ

金属箔増感紙は，増感効果と散乱線低減効果がある。

る。したがって，ΔDa／ΔD は，1／（1＋n’）となり，n’増感効果は，金属箔への入射放射線と金属箔とのコンが 1.1 であるから 1／2.1＝0.48 から 48%が得られる。

プトン効果等による相互作用により発生した二次電子にしたがって，［Ａ］の正答は（ａ），［Ｂ］の正答は（ｃ）よって生じる。

である。

試験体への入射放射線は，コンプトン効果等による相互作用により散乱線を発生させる。散乱線の線質は軟ら

問3「放射線透過試験Ⅱ問題集 2017」資料のＸ線フィ

かくなるため，金属箔で低減される。試験体を透過したルムの特性曲線を利用して，次の文中の［Ｃ］及び［Ｄ］

透過線も金属箔で若干低減されるが，増感効果によってに入れる最も適切な数値を，解答群からそれぞれ一つ選十分補われる。金属箔増感紙を使用した場合は，使用しび，記号で答えよ。

ない場合の 2～3 倍の増感率を示す。

母材の厚さ 13.0 mm，余盛高さ 3.0 mm の鋼板の突合せ

X 線フィルムの前面と後面に同じ厚さのものを用いる

溶接継手を焦点とフィルム間の距離 80 cm，管電圧 180

場合が多いが，後面のものを厚くする場合もある。前面

kV，管電流 4 mA，露出時間 2 分の条件で，X 線フィルと後面の何れのものも，増感効果と散乱線低減効果があム IX100 と増感紙 Pb0.03 mm の組合せを用いて撮影したる。

結果，試験部の最高濃度が 1.5 の透過写真が得られた。

ΔD は，1／（1＋n）に比例する。n（散乱比）は，Is／Ib で表される。Is は散乱線の線量率，Ib は透過線の線量試験部の最高濃度を 2.5 にするためには，露出時間を［Ｃ］にする。

率である。金属箔増感紙を使用しない場合は，散乱線低露出時間を短縮して試験部の最高濃度を 2.5 にするた減効果が期待できないため，金属箔増感紙を使用した場

めに，焦点とフィルム間の距離を 60 cm，管電流を 12 mA合より Is は多くなり，n が大きくなる。このため，相対に変えれば，露出時間は［Ｄ］となる。ただし，他の条的にΔD は小さくなる。

件は変わらないものとする。

NDT フラッシュ Vol.67 No.4 2/4

正答［Ｅ］（ｂ），［Ｆ］（ｂ），［Ｇ］（ｃ），［Ｈ］（ｃ）［解答群］［Ｃ］（ａ）1 分 51 秒（ｂ）2 分 35 秒

JIS Z 3104 の（L1＋L2）は，A 級では L2 の 6 倍以上，B（ｃ）3 分 41 秒（ｄ）4 分 25 秒

級では L2 の 7 倍以上を満足しなければならない。点焦点［Ｄ］（ａ）20 秒 （ｂ）41 秒 （ｃ）50 秒 （ｄ）54 秒を使用した場合に撮影されたきず像の寸法が実際の寸法のそれぞれ 1.20（6／5）倍以上及び 1.17（7／6）倍以上に拡大されないように規定されている。

正答［Ｃ］（ｃ），［Ｄ］（ｂ）
IX100＋Pb0.03 のＸ線フィルムの特性曲線から，濃度加えて同 JIS では，（L1＋L2）は，A 級では L2 の 2f／d1.5 の露出量は 56 秒，濃度 2.5 の露出量は 103 秒と読み倍以上，B 級では L2 の 3f／d 倍以上も満足しなければな取れる。試験部の最高濃度を 1.5 から 2.5 にするためにらない。σ は，それぞれ 0.95 以上及び 0.98 以上になるよは，最高濃度が 1.5 での露出時間 2 分に 103 秒／56 秒（1.84）

うに規定されている。同 JIS の主要な規定内容の理解がを乗ずれば 3.68 分（3 分 41 秒）が求まる。

求められている。

上述の解答から，試験部の最高濃度を 1.5 から 2.5 にするためには，1.84 倍の露出量を必要とする。焦点とフしたがって，［Ｅ］の正答は（ｂ），［Ｆ］の正答は（ｂ），［Ｇ］の正答は（ｃ），［Ｈ］の正答は（ｃ）である。

ィルム間の距離を 80 cm から 60 cm に，管電流を 4 mAから 12 mA に変えたことにより，露出量は，（80 cm／602問5

次の文中の［Ｉ］に入れる適切な数値を一つ選び，cm） ×（12 mA／4 m A）で計算した 5.33 倍となる。こ記号で答えよ。のため，最高濃度が 1.5 での露出時間 2 分に 1.84／5.33

外径 114.3 mm，肉厚 8.6 mm，余盛は片面だけにあっを乗ずれば 0.69 分（41 秒）が求まる。てその高さが最高 2.0 mm の鋼管の円周溶接部の撮影を，したがって，［Ｃ］の正答は（ｃ），［Ｄ］の正答は（ｂ）

二重壁片面撮影方法によって行う場合，試験部の焦点側表面とフィルム間の距離（L2）は 14.0 mm であった。焦である。

点寸法（f）が 3.0 mm の装置を使用して，JIS Z 3104 : 1995
問4

次の文中の［Ｅ］から［Ｈ］に適する数値を解答の P1 級の規定を満足する撮影を行うためには，焦点と群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。

フィルム間の距離（L1＋L2）を少なくとも［Ｉ］mm 以JIS Z 3104 : 1995 の鋼板の突合せ溶接継手の撮影にお上にしなければならない。なお，この場合の識別されないて，焦点とフィルム間の距離（L1＋L2）は，試験部のければならない線径（d）は 0.32 mm である。

焦点側表面とフィルム間の距離（L2）の m 倍以上とすることが規定されている。m の値は，A 級では［Ｅ］又は［解答群］［Ｆ］のいずれか大きい値，B 級では，［Ｇ］又は［Ｈ］［Ｉ］（ａ）125（ｂ）131（ｃ）225（ｄ）450のいずれか大きい値とする。ここで，f は焦点寸法，d は透過度計の識別最小線径の規定値である。

正答（ｂ）［Ｅ］及び［Ｇ］は，きず像の寸法が実際のきずの寸

JIS Z 3104 の（L1＋L2）は，L2 の m 倍以上が必要であ法の，それぞれ 1.20 倍以上及び 1.17 倍以上に拡大される。m は，f／d で与えられるため，14.0 mm×3.0／0.32ないように規定されている。

＝131 mm となる。したがって，正答は（ｂ）である。

［Ｆ］及び［Ｈ］は，幾何学的補正係数（σ）の値が，鋼管の円周溶接継手の撮影において，（L1＋L2）の距離それぞれ 0.95 以上及び 0.98 以上になるように規定されは，m の値のみで規定されている。この条件は，d と透ている。

過計の針金の位置における見掛けの焦点寸法（d’）の比（d’／d）が 1.0 以下となり，幾何学的補正係数（σ）が0.8 以上となる。すなわち，透過写真のコントラストが［解答群］［Ｅ］（ａ）5（ｂ）6（ｃ）7（ｄ）880％まで低下することを許容している。これは，実際の［Ｆ］（ａ）f／d （ｂ）2f／d （ｃ）3f／d （ｄ）4f／d

撮影配置の設定には X 線発生装置の大きさ等の種々の制［Ｇ］（ａ）5限が加わることから，鋼板の突合せ溶接継手の撮影と比（ｂ）6（ｃ）7（ｄ）8［Ｈ］（ａ）f／d （ｂ）2f／d （ｃ）3f／d （ｄ）4f／d

較して，撮影配置に対する要求は緩和されている。鋼板の突合せ溶接継手の撮影配置は，問 4 に記載している。

NDT フラッシュ Vol.67 No.4 3/4

ＥＴレベル２

条件を設定後，いきなり試験体を探傷するのではなく探再認証(実技)試験のポイント傷条件を報告書に記入する。
2017 年春期の再認証(実技)試験より JIS Z 2305：2013

次に，試験体の探傷にあたって，手順書には試験体番に即した実技試験が行われている。ET レベル 2 の試験内号を示すマーク側より探傷することが記されている。し容としては，新規試験と同様に貫通，内挿及び上置プロ

たがって，受験者は，試験体に示されているマーク側をーブの実技試験と，NDT 指示書作成がある。

先頭に貫通プローブ内に挿入し，試験体の全長に渡って探傷する必要があり，試験体の両端に発生する端末信号

1.手順書の精読及び注意点も探傷チャートに入れる。探傷後にチャートからきずの実技試験にあたって，受験者は 30 分間で試験内容を記分類と試験体の合否判定を行う。

述した全ての手順書を精読する必要がある。レベル 2 のLpLe

実技試験では，試験周波数の計算を義務付けており，精La読の時間内で，貫通，内挿，上置プローブの試験周波数貫通プローブを計算する必要がある。試験周波数の計算式は，(1)式に試験体引抜き方向示す薄肉管の特性周波数より求める方法と，(2)式に示す渦電流の表皮深さより求める方法がある。
基準端(マーク側)ଶ

薄肉管の特性周波数

ୡ = గఙఓ௧(௕ିଶ௧)

(Hz)

=

図１ 最大振幅を示すきず位置の測定方法

ଵ

ඥగ௙ఓఙ

-(1)

/௖ = 
渦電流の表皮深さ+検出信号

図 1 に示すように，貫通プローブの試験では，探傷チ(m)(2)
ャート上で最大振幅を示したきずの位置測定が義務づけ

δ /ｔ＝ βられており，試験体の基準端となるマーク側からのきず

f：試験周波数（Hz） µ：透磁率（H/m）

位置 Lp を測定する。具体的な測定方法については，NDT

α や β の値は試験のたびに変更される。いずれの式に

3.内挿プローブの試験内容

σ：導電率（S/m）

t：肉厚（m）

b：外径（m）

フラッシュ Vol.65 No.7 を参考にするとよい。

おいても，渦電流探傷試験に用いられている計算式は全試験体は，黄銅管が用いられている。内挿プローブのて SI 単位系で示されており，長さの単位は m（メートル）

実技試験は探傷チャートを取る必要がない。貫通プロー

であり，受験者は特に試験体の肉厚や，外径などに注意

ブの試験と同様に，対比試験片により探傷条件を設定すする必要がある。

る。この場合，特に試験周波数（予め，試験周波数の計算で得られた値）の設定に注意する必要がある。探傷条

2.貫通プローブの試験内容
全ての実技試験時間は 20 分である。試験体は，ステン件を設定後，いきなり試験体を探傷するのではなく探傷条件を報告書に記入する。

レスの溶接鋼管が用いられている。製造ライン上での貫報告書の記入方法として，きず番号の位置付けが手順

通プローブの試験では，心出し装置が用いられているが，書に示されており，試験体番号を示すマーク側に近いき認証(実技)試験では心出し装置はない。したがって，受ずを 1 番のきずとしている。したがって，マークが無い

験者は対比試験片や試験体に示されている上側マークを管端側から試験体にプローブを挿入し，プローブを引き必ず確認し，プローブ内にセットする必要がある。上側抜きながら探傷する必要がある。まず，試験体にきずがマークを無視すると，きず検出力 SN 比と，設定感度に何個存在するか，最初に確認する必要がある。試験体を影響がでる。最初に，対比試験片により探傷条件を設定一定速度で探傷し，探傷器の表示画面よりきずの総数をする。この場合，特に試験周波数（予め，試験周波数の把握する。内挿プローブの試験では，検出したきず信号計算で得られた値）の設定に注意する必要がある。探傷の位相角 θ を読み取り，きず発生位置の分類（内/外面識別）と，手順書に示されている校正曲線から減肉率を読

NDT フラッシュ Vol.67 No.4 4/4

み取る必要がある。きず位置の分類は，0°≦θ＜135°は無に印を付ける。印が無い場合は，未検査と見なは外面，θ＝135°は貫通，135°＜θ≦180°は内面に分類される。

する。探傷後に減肉率から試験体の合否判定を行う。

(2) きずの存在が認められたファスナに対し，再度，探傷し，探傷器の画面からきず信号の Y 軸（縦軸）成分の最大値を 0.1 目盛単位で読み取り，報告書に記L
Lp入する。各ファスナホールに存在するきずは 1 個のLb
テープ貼付位置

試験体

ポジションマーク
引抜き方向みとは限らない。ファスナホールに 1 個のきず信号が検出された場合，きずが検出されたファスナホー

Y

基準端(マーク側)

内挿プローブ

ル番号中のａ欄に記録する。

X(3) 一つのファスナホールに複数のきず信号が検出され検出信号た場合，きずが検出された順にそれぞれａ及びｂの
図 2 最大減肉率を示すきず位置の測定方法欄に順次記録する。
図 2 に示すように，内挿プローブの試験においても，探傷後にきずの分類と試験体の合否判定を行う。

最大減肉率を示したきずの位置測定が義務づけられており，試験体の基準端となるマーク側からのきず位置 Lpを測定する。具体的な測定方法については，NDT フラッシュ Vol.65 No.7 を参考にするとよい。

5.指示書作成問題の注意点
指示書作成問題については，基となる手順書が与えられ，解答用紙は全文記述式となっている。試験時間は 30分であり，貫通，内挿及び上置の 3 種類があり，いずれ4.上置プローブの試験内容か一つが出題される。いずれの問題においても，試験体試験体は，アルミニウム合金板に加工したファスナホール部が用いられている。の材質や寸法により，試験周波数や試験速度が決定される点を頭に置いて回答すればよい。以下，指示書作成の貫通プローブの試験と同様に，対比試験片により探傷注意点を示す条件を設定する。この場合，特に試験周波数（予め，試(1) 検査技術者

験周波数の計算で得られた値）の設定に注意する必要が

JIS Z 2305:2013 において資格レベルが明記されてある。探傷条件を設定後，いきなり試験体を探傷するのおり，レベル 1 技術者は，資格証明書に明記されたではなく探傷条件を試験報告書に記入する。

力量の範囲で，指示書に従って NDT が実施できる。

対比試験片により探傷条件を設定後，試験体を探傷すしたがって，指示書はレベル 1 技術者が作業するこるが,試験体はファスナホール番号が指定されており，試とを前提に作成する必要があり，検査技術者は，JIS験体の基準端が手前になるように配置し，左上を 1 番とZ 2305 に基づく渦電流探傷試験レベル 1 以上の有資し右下を 8 番とする。

格者でなければならない。

12時(2) 試験条件及び試験手順
プローブ

指示書では，具体的に記入することが求められており，探傷試験の内容を具体的に文書化する必要がある。

9時

3時(3) 分類JIS Z 2305:2013 において，レベル 2 技術者は適用

ファスナ6時される規格，コード，仕様書及び手順書に従って結図 3 プローブの走査方向果を解釈し，評価することができる。したがって，検査面に対し上置プローブを垂直に立てた状態で，各探傷結果において良否判定ができる。これに対し，ファスナのヘッドに沿って周回させ探傷する。このとき，レベル 1 技術者は使用する NDT 方法若しくは技法プローブを周回させる方向は，図 3 に示すようにファスの選択又は NDT 結果の解釈について責任を負ってナを上から見て 3 時方向を基準に反時計方向とする。

はならない。したがって，マーキングされた試験体(1) ファスナホール番号順に探傷し，きずの有無を確認とされない試験体に分けるとか，きず信号レベルに後，試験報告書に記録する。きずが存在しない場合より分けるのみである。