NDT フラッシュ Vol.63,No.09

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１．JIS Z 2305 20142014 年春期資格試験結果
2014 年春期資格試験の結果が発表された。新規試験結果（再試験を含む）の合格率は，レベル 1 が 48.6%，レベル 2が 27.94%，レベル 3 が 15.9%であった。なお，レベル 3 基礎試験では申請者数 573 件，合格率 21.6%であった。再認証試
験結果は，レベル 1 が 67.4%，レベル 2 が 59.64%，レベル 3 が 67.3%であった。受験申請数は，新規試験，再試験，再認証試験を合わせて計 14,563 件であった。
各表の合格率は［合格者数／（申請者数－欠席者数）］で算出した値である。新規試験結果（レベル 3 基礎試験結果を除く）を表１に，再認証試験結果を表２に示す。
表１

JIS

新規試験結果（再試験を含む）

＊1
レベル1

NDT 方法略称

レベル2

レベル3

＊1

＊1

申請 者数 合格 者数 合 格率 % 申請 者数 合格 者数 合 格率 % 申 請者 数 合格 者数 合 格率 %放射 線透 過試 験RT642648.2

747

16023.2

181

3924.5

超音 波探 傷試 験UT

462

21049.3

1719

410

25.954457

11.9

超音 波厚 さ測 定

UM

211

109

58.0

磁粉 探傷 試験MT

155

5536.2

1406―
233

18.1

172

139.0

極間 法磁 粉探 傷検 査MY641728.3

160

2819.1

通電 法磁 粉探 傷検 査ME13650.0

コイ ル法 磁粉 探傷 検査

MC11100.0

浸透 探傷 試験

PT335

15749.74921.2

溶剤 除去 性浸 透探 傷検 査PD1075817.0――――1468―53139.6―

56.341915039.0254―

水洗 性浸 透探 傷検 査

PW0

渦流 探傷 試験ET

57021038.93668824.9619

ひず み測 定SM

211368.4

803145.611440.0

1,490

673

48.6

6,365

1,631

27.9

1,223

171

15.9

合計

―

―

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数
表２

JIS

再認証試験結果

レベル1

NDT 方法

略称RT

放射線透過試験

レベル2

レベル3

＊2

申請者数 合格者数 合格率 % 申請 者数 合格者数 合 格率 % 申請者数 合格者数 合格率 %99100.03811292

29283.0120

420

34.92857969.3

15758.43370.25381.5

超音波探傷試験

UT36718356.3

超音波厚さ測定UM1399070.3

磁粉探傷試験

MT

4375.0672

38060.2

極間法磁粉探傷検査

MY512043.5251466.7

通電法磁粉探傷検査

ME

4266.7―コイル法磁粉探傷検査

MC4375.0―

浸透探傷試験

PT

443179.51240

89675.9

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

164

13792.0186

11973.0

水洗性浸透探傷検査

PW

2150.0渦流探傷試験

ET

7457.1

24612153.5312793.1

ひずみ測定

SM

5250.0705074.6

211785.0

800

485

67.4

4,1122,292

59.6

573

366

67.3

合計

――
49―
――
67―――

注＊2：レベル 3 クレジット申請は除く

２．NDIS 0604/0605 20142014 年春期資格試験結果
2013 年春期よりレベル 2 の試験が開始され，NDIS 0604（赤外線サーモグラフィ試験）と NDIS 0605（漏れ試験）の申請件数は 136 件となった。合格率は，レベル 1 が 67.4%，レベル 2 が 52.7%であった。新規試験結果を表３に示す。
表３ NDIS 新規試験結果
レベル1NDT 方法

略称

赤外線サーモグラフィ試験

漏れ試験

合計

TTLT

レベル2＊1

レベル3＊1

申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 %

2428

1120

52.4
80.0

2955

1326

50.0
54.2

―5231

67.4

8439

52.7

―

―

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数

NDT フラッシュ Vol.63 No.09
No.
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非破壊試験技術者
非破壊試験技術者資格登録
資格登録件数（201
資格登録件
2014 年 4 月 1 日現在）
日現在）
2014 年 4 月
月時点での資格登録資格登録件数を表表１にまとめたまとめた。JISJIS Z 2305 に加えて，赤外線赤外線サーモグラフィサーモグラフィ試験((NDIS 0604)とと漏れ試験(NDIS
NDIS 06050605)によるよる認証登録が，，2012 年から始始まっている。
。集計の結果，，資格登録件数
資格登録件数は，JIS Z 2305 資格と NDIS
資格の総数でで 89,261 件となったとなった。NDT 方法別比率を図方法別
図１に示す。また
また，2009 年以降の年以降 JIS Z 2305 による資格登録件数
資格登録件数のの推移を図２にに，NDIS 0604 及び NDIS 0605 による資格登録
資格登録件数の推移
推移を図３に示示す。資格登録者
資格登録者の内訳は，，従来と同様ににおおよそレベル 1 が 20%，，レベル 2 が 70%，レベル70%
3 が 10%であるる。資格登録件
件数は，JISJIS Z 2305 の認証制度制度開始時点とと比較して現在現在は約 1.5 倍であるである。

JIS Z 2305

表１ 非破壊試験技術者資格登録件数
非破壊試験技術者資格登録

NDIS

単位：件単位

ＮＤＴ
ＮＤＴ方法

略称

放射線透過試験

RT

481

6,239

2,000

8,720

超音波探傷試験

UT

6,275

15,502

3,168

24,945超音波厚
超音波厚さ測定UM

3,082--

磁粉探傷試験

MT

769

10,566極間法磁粉探傷検査

MY863

670

通電法磁粉探傷検査

ME127

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査
法磁粉探傷検査

MC70--

浸透探傷試験

PT

2,326

21,5501,303

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

2,653

3,975

水洗性浸透探傷検査

PW

54

渦流探傷試験

ET250

4,006

598

4,854

ひずみ測定
測定

SM213

1,311

279

1,803

赤外線ｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨ試験

TT159

21

漏れ試験
試験

LT92

51

17,41463,891

総計

ﾚﾍﾞﾙ
ﾚﾍﾞﾙ1

ﾚﾍﾞﾙ2

ﾚﾍﾞﾙ3

計

3,082
608

1,533
127
70
25,1796,628--

11,943

54

180

7,956

143
89,261

図１

ＮＤＴ方法別比率
方法別比率―：該当資格
該当資格なし２
図２

JIS Z 2305 資格登録件数推移

図３ NDIS 資格（NDIS
NDIS 0604,NDIS 06050605）登録件数推移
登録件数推移NDT フラッシュ Vol.63,No.09

ＲＴレベル１

3/4

正答

一般・専門試験のポイント

［Ｄ］

（ｄ）

各種の放射線についての本性をしっかりと理解していRT レベル 1 の一次試験については，Vol.54, No.1(2005)

れば，簡単な問題なので，（ａ）や（ｂ）と間違えないよと Vol.62, No.9(2013)に一般試験及び専門試験を，Vol.55,う注意すべきである。α 線はヘリウムの原子核の流れでNo.2(2006), Vol.58, No.11(2008), Vol.60, No.9(2011)に一般あり，β 線は電子の流れであり，中性子線は文字どおり試験を，Vol.55, No.12(2006), Vol.59, No.1(2010), Vol.61,中性子の流れである。α 線は正の電荷を持ち，β 線は負No.2(2012) に専門試験をそれぞれ取り上げて解説を行の電荷を持つが，X 線，γ 線は電荷を持たない放射線（電った。今回は最近の一次試験の一般及び専門試験問題で磁波）である。もう一度しっかりと確認して欲しい。

比較的，正答率の低い問題の類題を選んで解説を行い，問３受験者の参考に供したい。

［次の文は、線量率について述べたものである。
Ｅ］から［Ｈ］に入れる適切な数値を解答群からそれぞれ一つ選び、記号で答えよ。

問１ 放射線透過試験に用いられる次のγ線源のエネルギ（MeV）について，適切なものを解答群からそれぞれX 線焦点から 1m 離れた点での線量率を 1 としたとき，一つ選び，記号で答えよ。

80cm と 60cm 離 れ た 点 で の 線 量 率 は ， そ れ ぞ れ の
60［Ａ］ Co のエネルギ
169

［Ｂ］
192

［Ｃ］

［Ａ

［Ｂ

［Ｃ］倍及び［Ｆ］倍である。また逆に 1.2m，Yb のエネルギ

1.4m 離れれば、それぞれの［Ir のエネルギ倍となる。

Ｇ］倍及び［Ｈ］

［解答群］

［解答群］
［Ｅ］（ａ）1.17, 1.33（ｂ）0.31, 0.47

［Ｅ］（ａ）1.56 （ｂ）1.67 （ｃ）2（ｄ）2.78（ｃ）0.06, 0.11, 0.18（ｄ）2.34, 2.66

［Ｆ］（ａ）1.56 （ｂ）1.67 （ｃ）2（ｄ）2.78］（ａ）1.17, 1.33（ｂ）0.31, 0.47

［Ｇ］（ａ）0.51 （ｂ）0.69 （ｃ）0.71 （ｄ）0.83（ｃ）0.06, 0.11, 0.18（ｄ）2.34, 2.66

［Ｈ］（ａ）0.51 （ｂ）0.69 （ｃ）0.71 （ｄ）0.83］（ａ）1.17, 1.33（ｂ）0.31, 0.47（ｃ）0.66, 0.11, 0.18（ｄ）2.34, 2.66

正答［ Ｅ ］（ａ）， ［ Ｆ ］（ｄ），［ Ｇ ］（ｂ）， ［ Ｈ ］（ａ）

［ Ｃ ］（ｂ）

X 線の線量率は距離の二乗に反比例することは，だれわが国における放射線透過試験において，使用されるもが知っているはずであるのに，意外と間違えやすいよ

γ線源としては，ここに挙げられた 3 種類であり，このうである。落ち着いて考えて欲しい。
［ Ｅ ］は 1／0.8２

γ 線源についてエネルギ，半減期及び適用できる鋼板厚= 1.56 であり，［ Ｆ ］は 1／0.6２= 2.78 である。また，さについては記憶しておいて欲しい。残念ながら各線源［ Ｈ ］は 1／1.4２= 0.51
［ Ｇ ］は 1／1.2２= 0.69 であり、ともかなり解答がばらついていたが，細かい数値は別にである。

正答［ Ａ ］（ａ），［ Ｂ ］（ｃ），しても，強弱の順番ぐらいは頭に入れておいて欲しい。
問４
問２

次の文は，放射線について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

［Ｄ］（ａ）α 線は電子の流れである。
（ｂ）β 線はヘリウムの原子核の流れである。

次の文は，透過写真の像質について述べたものである。誤っているものを一つ選び，記号で答えよ。
［Ｉ］（ａ）適正な濃度で撮影すれば，透過写真の像質は改善する。

（ｃ）中性子線は陽子線・重陽子線の流れである。

（ｂ）散乱線を低減すれば，透過写真の像質は改善する。

（ｄ）X 線，γ 線は電荷を持たない放射線である。

（ｃ）感度の高い X 線フィルムを用いれば，透過写真の像質は改善する。

NDT フラッシュ Vol.63,No.09

4/4（ｄ）適正な線質で撮影すれば，透過写真の像質は改善

問６

次の文は，管理区域設定のための実効線量について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号でする。

答えよ。
正答

［Ｉ］

［Ｋ］

（ｃ）

透過写真の像質は，きずの像のコントラストの大小と（ａ）管理区域を設定するためには外部放射線による実明瞭度によって左右される。透過写真の濃度は，像質に効線量が空気中の放射性物質による実効線量との関係する大きな因子の一つであり，規格で規定されてい合計で 1 月間に 1.3 ミリシーベルトを超える恐れる濃度範囲に収めることが必要であり（ａ）は正しい。のある区域を管理区域として標識によって明示し散乱線を低減すれば，きずの像のコントラストは増加しなければならない。

（ｂ）も正しい。適正な線質で撮影すれば，きずの像の（ｂ）管理区域を設定するためには外部放射線による実コントラストは良好な値が得られ（ｄ）も正しい。しか効線量が空気中の放射性物質による実効線量とのし，感度の高い X 線フィルムは低感度の X 線フィルムと合計で 3 月間に 1.3 ミリシーベルトを超える恐れ

比べて粒子が粗く，きずの像の明瞭度は低下するため，のある区域を管理区域として標識によって明示し透過写真の像質の改善にはならない。したがって，（ｃ）なければならない。

が正答となる。
「感度の高い」の意味を微細なきずが検出（ｃ）管理区域を設定するためには外部放射線による実できると勘違いしたとしたら間違いである。

効線量が空気中の放射性物質による実効線量との合計で 1 月間に 1.0 ミリシーベルトを超える恐れ

問５

次の文は，サーベイメータの特性について記したのある区域を管理区域として標識によって明示しものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
［Ｊ］

なければならない。
（ｄ）管理区域を設定するためには外部放射線による実効線量が空気中の放射性物質による実効線量との（ａ）電離箱式サーベイメータは線質依存性があまりよ

合計で 3 月間に 1.0 ミリシーベルトを超える恐れ

くないが，感度が高いので散乱線の測定に適してのある区域を管理区域として標識によって明示しいる。

なければならない。

（ｂ）シンチレーションサーベイメータは線質依存性が非常によいため，あらゆるエネルギに対して正しい線量の測定が可能である。

正答

［Ｋ］

（ｂ）

放射線管理は放射線を取扱う業務では避けて通れない（ｃ）電離箱式サーベイメータは固体の電離を利用し，問題であり，電離放射線障害防止規則などの関係法令の電離エネルギが 3eV と低いので入射線のエネルギ重要な数値は正確に覚えておく必要がある。管理区域の分解能が高い。

設定は最重要なものであり，（ａ）や（ｃ），（ｄ）とする（ｄ）電離箱式サーベイメータは線質依存性が良いのでのは間違いである。

散乱線の測定に適している。
以上，今回は最近の RT レベル 1 の一次試験問題で，正答

［Ｊ］

（ｄ）

放射線を安全に取扱うためには，正しい放射線管理を行うための適切な放射線測定器の選択が不可欠である。
各種のサーベイメータについて，それぞれの特徴を理解しておくことが大切である。（ａ）は GM 管式サーベイメータについてのものである。（ｂ）は電離箱式サーベイメータについて述べたものである。（ｃ）は半導体式サーベイメータの特徴を示している。

解答にばらつきが多かった問題の類題について，注意すべき点について述べたが，冒頭に挙げた過去の資料にも眼を通しておいて欲しい。