NDT フラッシュ Vol.62 No.4

ＰＴレベル３1/4二次Ｃ２（適用）試験のポイントがって，この場合のきず検出性の低下はほとんどないと考えられる。（ｄ）のブラックライト強度を 600µW/cm２

JIS Z 2305 による資格試験について，今回は，PT レベ（6W/m２）で観察した場合は，微細きずについては検出

ル 3 の二次試験 C2 （規格，仕様を含む関連する工業分性の低下が考えられるが，比較的大きなきずは検出可能野における PT の適用）について，正答率の低い問題にである。したがって，これらの検出性を比較すると，（ａ）類似した問題例のポイントを解説する。PT レベル 3 のの場合が，最も検出性の低下が大きいと考えられる。

C2 問題については，これまでに，本欄の Vol.53，10 月号に C1，C2 について，また，Vol.57，11 月号及び Vol.60，1 月号に C2 について解説を掲載している。これらと合わ

問２次の文のうち，自然乳化について述べているものを一つ選び記号で答えよ。

せて参考にしてほしい。
（ａ）水洗性浸透液が空気中の湿分を吸収し，乳化する
問１

次の探傷操作のうち，きず検出性が最も低下するものを一つ選び記号で答えよ。

こと。
（ｂ）油ベース乳化剤に少量の水分が混入した場合に粘度が上昇すること。

（ａ）試験体（アルミニウム合金製）表面の酸化スケー（ｃ）後乳化性浸透液が変化を生じ，乳化剤を加えなくルを除去するため，サンドブラストを行い，その後 10µm 程度のエッチングを行なった。ても部分的に乳化すること。
（ｄ）機械的撹拌（かくはん）を行わなくても界面活性（ｂ）浸透時間の規定が 5 分間であるのに対し，4 分間剤の濃度が高い場合に水と油が接触するとその界と短縮した。

面で乳化が起こること。

（ｃ）気温 3 ℃の状態で浸透時間を規定時間の 2 倍とし正答た。
（ｄ）蛍光浸透探傷において，試験面でのブラックライトの強度を 600µW/cm で実施した。
２（ｄ）（浸透探傷試験Ⅲ3.1.3 項 参照）

乳化とは油性の浸透液と水のようにお互いに相溶性を持たない液体のうち，一方が細かい粒子となり他方に分散した状態になることをいう。一般に界面活性剤の作用正答（ａ）（浸透探傷試験Ⅲ2.3.2 項 参照）と機械的撹拌を必要とするが，界面活性剤の濃度が高いきず検出性に影響する因子としては，探傷手順，探傷場合等，撹拌を行わなくても水と油が接触するとその界剤の種類と特性，検出対称となるきずの種類，試験体形面で自然に乳化が起こることを自然乳化といっている。

状（特に表面粗さ），探傷環境及び観察条件等が考えられしたがって，（ｄ）が正答となる。（ａ）の水洗性浸透液る。これらの因子がどの程度きず検出に対して影響するが空気中の湿分を吸収した場合，浸透液は多少の水分はかを考えることが必要である。
（ａ）のサンドブラスト処溶解することができ，浸透液の粘度が上昇する。これは理を行ったアルミニウム製試験体に対してのエッチング可溶化現象という。浸透液が空気中の湿分を吸収するこ

量は製品の用途，また，検出きずの種類によっても異なとはあるが，乳化するほどの水分を吸収することはない。ってくるが，一般的には数十 µm とされている。テキス（ｂ）は可溶化現象のことをいっている。後乳化性浸透トにもアルミ焼き割れ対比試験体について，エッチング液は基本が油性溶剤であり，変化することはなく，また，量ときず指示模様の検出例が示されているが，10µm 程乳化剤を加えなければ乳化することもないので，（ｃ）は度のエッチング量ではきずはほとんど検出されていない。

誤った表現を述べている。

（ｂ）の浸透時間を 5 分から 4 分に短縮した場合は，微細な密着したきずの検出は困難になることが想定される

問３

航空機エンジンの保守検査におけるタービンブレが，浸透時間の設定はある程度余裕をもって設定されるードの浸透探傷試験をしなければならない。次の条件ことが普通であり，検出性はそれほど低下しないと考えが提示されている場合，最も適した試験方法を次の中られる。（ｃ）の気温が 3 ℃の状態での浸透時間についから一つ選び記号で答えよ。ては，JIS Z 2343-6「10℃より低い温度での浸透探傷試験」
で常温の 2 倍とすることが望ましいとされている。した条件(1)検査対象物は形状が複雑である。
(2)精密鋳造品で表面がやや粗い。

NDT フラッシュ Vol.62 No.4

2/4(3)疲労割れが考えられる。

ある。（ｄ）の ASTM E-1417 は浸透探傷試験の実技に関（ａ）水洗性染色浸透探傷試験

速乾式現像法

する規格である。外国規格については ASTM 規格の他に（ｂ）水洗性蛍光浸透探傷試験

乾式現像法

ISO 規格や EN 規格等がある。これらの関連規格につい（ｃ）溶剤除去性蛍光浸透探傷試験

乾式現像法ても覚えておく必要がある。

（ｄ）後乳化性蛍光浸透探傷試験（油ベース乳化剤）
乾式現像法

問５

次の文は，疎水性汚染物の除去について述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。
正答（ｂ）（浸透探傷試験Ⅱ9.2 項 参照）（ａ）動・植物油及び鉱物油はアルカリ性洗浄剤で処理すれば鹸化（けんか）が起こり，比較的容易に除探傷方法の選定に当たっては，まず第一に検出すべき去できる。

きずの種類を想定する必要がある。問題の条件に疲労割れとあること，また，検査対象が航空機エンジンの保守（ｂ）潤滑油が摩擦熱などにより表面に焼き付いている検査ということから微細きずを対象とした検査方法を選場合は，通常の脱脂方法だけでは，除去が困難な定する必要がある。このことから，探傷方法は後乳化性場合が多い。

蛍光浸透探傷試験が考えられるが，題意から試験体は形（ｃ）泥，粘土類の汚れは水や温水などにより容易に除状が複雑で表面がやや粗いため，油ベース乳化剤の適用去することができる。固着して落ちにくい場合は，は困難と考えられる。そのため次善の方法として水洗性水溶性界面活性剤を加えた水溶液とか高温高圧蒸蛍光浸透探傷試験が考えられる。現像方法としては形状気洗浄を用いるとよい。

が均一なもので適用が可能であれば，速乾式現像法が最（ｄ）油性インク，塗料などの汚れは除去が難しい場合も検出感度がよいとされているが，題意から速乾式現像が多い。ペイントリムーバや溶剤による脱脂又は法の適用は困難と考えられる。また，選択肢にもその組アルカリ洗浄などを組み合わせて使用すると効果み合わせがないため，（ｂ）の水洗性蛍光浸透探傷試験・がある。

乾式現像法が最も適した探傷方法と考えられる。ここで，後乳化性蛍光浸透探傷試験（水ベース乳化剤）であれば，複雑形状な試験体にも適用可能であることを覚えておいてほしい。

正答（ａ）（浸透探傷試験Ⅲ2.1.1 項 参照）

疎水性汚染物の代表的なものとして，有機物質では鉱物油（石油製品），動・植物油及び混成油が挙げられる。
（ａ）の鹸化とは油成分のエステルがアルカリの作用に

問４

次の規格のうち，浸透探傷試験に関係しない規格を一つ選び記号で答えよ。

より加水分解されてアルコールと脂肪酸塩のアルカリ塩になる反応をいう。動・植物油は通常アルカリ性洗浄剤で処理すれば鹸化が起こるが，鉱物油はアルカリ性洗浄（ａ）JIS Z 2323

剤では鹸化が起こらず除去が難しい。したがって，（ａ）（ｂ）JIS Z 2343-1

は誤っている。
（ｂ）は正しく，潤滑油が焼き付いている（ｃ）JIS Z 3104

場合は特殊な除去剤を用いるか，機械的な方法で除去し（ｄ）ASTM E-1417

なければならない。泥，粘土類の汚れは疎水性無機質に分類され，比較的容易に除去できるものであり，（ｃ）は正答（ｃ）（非破壊検査ガイドブック 参照）正しい。疎水性無機質にはその他に金属酸化物があり，レベル 3 技術者としては，浸透探傷試験のみならず，これは化学的には除去することが難しい。油性インク，他の探傷方法に関する規格名称も覚えておく必要がある。

塗料などは除去が難しい場合が多く，（ｄ）も正しい｡（ａ）の JIS Z 2323 は磁粉探傷試験及び浸透探傷試験の観察条件に関する規格である。
（ｂ）の JIS Z 2343 は浸透以上，これまでに出題された問題の類似の問題を参考探傷試験に関する規格であり，パート 1 から 6 まで制定に解説してきた。紙面の都合上多くの問題は解説できなされている。
（ｃ）の JIS Z 3104 は放射線透過試験（鋼溶いが，これからレベル 3 の資格を取得しようとされる方接継手）に関する規格であり，試験問題にもよく出題さは，本解説を参考にして参考書，問題集等の内容をよくれている規格なので，ある程度内容も覚えておく必要が学習して欲しい。

NDT フラッシュ Vol.62 No.4

ＥＴレベル３

3/4

二次Ｃ2(適用)試験のポイント

高いほどきず信号の位相差が大きくなる。したがって，正答は（ａ）となる。

JIS Z 2305:2001 非破壊試験‐技術者の資格及び認証‐に基づく ET レベル 3 の二次試験 C2（適用）は渦電流探問３

次の文は，試験体の表面性状が渦電流試験に与え傷試験の適用と実際に関する問題が出題される。参考書

る影響について述べたものである。正しいものを一つとして，JSNDI 発行の『渦流探傷試験Ⅲ』に記述してい選び記号で答えよ。

る第 8～11 章が該当する。本稿では，最近行われた C2（ａ）機械加工による周期的な凹凸は，上置コイルの探試験のうち，正答率の低かった問題に類似した例題によ傷においてリフトオフが減少する方向にインピーりポイントを解説する。

ダンスが変化する。
（ｂ）機械加工による周期的な凹凸の影響を少なくする

問 1

鋼管の貫通コイルによる渦電流探傷試験において，ために，リフトオフを大きくすると検出感度が向内面と外面きずの位相差が最大となる f / fc はいくつか。但し f は試験周波数，fc は特性周波数を示す。次上する。
（ｃ）金属の表面処理として，ショットピーニングを行の中から正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）5（ｂ）15（ｃ）50（ｄ）150

うと表面硬度が増すが，電気抵抗は減少する。
（ｄ）探傷試験の前処理として，ショットピーニングを行うときず検出力が向上する。

正答（ｄ）

特性周波数 fc は試験体の寸法（外径，肉厚）と材質が決まると定まる値である。問題を解くにあたって先ず考

正答

（ｄ）

試験体の表面に生じた機械加工による周期的な凹凸は，えることは，鋼管の内外面に発生したきずによる信号の探傷信号としてコイルのインピーダンス平面においてリ位相が変わる要因であり，渦電流の表皮効果による浸透フトオフ（試験コイルと試験体との相対的な位置）線上深さと位相の遅れである。このうち，渦電流の位相 θ はで変化するが，リフトオフが減少する方向とは限らず（ａ）

 = −

次式で示される。

は不正解である。リフトオフを大きくするときず検出感
ఠఓఙଶ

度は減少するため（ｂ）も不正解である。金属の表面処
x・・・・・①
理としてショットブラストを行うと加工硬化により表面

ただし，ω＝2πf：角周波数，x：導体表面からの距離であ硬度が増し，疲労強度と電気抵抗も増加するので，（ｃ）る。したがって，試験体の寸法と材質が決まれば，試験は不正解である。探傷試験の前処理として，ショットピ

周波数 f が高いほど，試験体の内面と外面きずの信号位ーニングを行うと表面に付着した酸化膜スケールが除去相差は大きくなり，正答は（ｄ）となる。

されきず検出力が向上する。正答は（ｄ）となる。

問２

貫通コイルによる渦電流探傷試験において，試験

問４

次の文は，上置コイル法における試験周波数の選体の材質が同一の場合，内面と外面きずによる信号の定について述べたものである。次の中から正しいもの位相差が最大となるのはどの組み合わせか。次の中かを一つ選び記号で答えよ。

ら正しいものを一つ選び記号で答えよ。

（ａ）インピーダンス曲線上で，ひざ頭（Knee Point）に（ａ）肉厚大，試験周波数高相当する周波数を選ぶことにより，きずによるイ（ｂ）肉厚大，試験周波数低ンピーダンス変化とリフトオフ信号との分離角が（ｃ）肉厚小，試験周波数高大きくなり適性となる。

（ｄ）肉厚小，試験周波数

低（ｂ）試験体がアルミニウム合金から銅に変わったとき，同じ渦電流の表皮深さを保つためには周波数を上正答（ａ）げて試験する。

問１と類似問題であり試験体の材質が同一の場合，①（ｃ）渦電流の浸透深さは試験周波数 f に反比例するの式に示すように導体表面からの距離（肉厚）が大きいほで，下層部のきずに対しては表面きずの場合よりどきず信号の位相差が大きくなる。また，試験周波数がも試験周波数を低くする。

NDT フラッシュ Vol.62 No.4
No.

4/4

（ｄ）多層構造
多層構造の下層部材
下層部材の探傷では低周波渦電流探傷
低周波渦電流探傷問５５

次の文は，貫通コイル法法による鋼管のの渦電流探傷
渦電流探傷法を適用適用するが，プローブのプローブの外径外径は考慮する必要する必要

試験の疑似指示試験 疑似指示とその確認方法
確認方法について述述べてある｡

がないがない。

正しいものを一正一つ選び記号でで答えよ。
（ａ）外来電気ノイズによる（ａ）
ノイズによる疑似指示
疑似指示は再現性再現性がないこがないこ

正答とから再試験再試験にて確認することができる
することができる｡
することができる（ａ）

渦電流の浸透深浸透深さ δ は次式次式で示されるされる。

（ｂ）試験体送り（ｂ）
り装置の心合わせわせ不良に起因起因する疑似指
疑似指 示は再現性再現性がないことからがないことから他の試験方法試験方法により確確・・・・・・・・・・②認する｡②式で示すようにすように浸透深浸透深さを一定に保保つには周波数
周波数 f（ｃ）磁気飽和不足（ｃ）磁気飽和不足に起因するする疑似指示は試験体中央試験体中央ででと導電率 σ のの積を一定に保保つ必要があるがある。
（ｂ）に示すよ示すよ

大きく生じる
じる。このとき
このとき磁化電流を増大増大させて再再う に ， 例 え ば ア ル ミ ニ ウ ム 合 金 （ 2014 ） の 導 電 率 は試験を行うう｡

772.6×10 （S/mS/m）であり，銅銅の導電率はは 5.8×10 （S/mS/m）（ｄ）材質的不均質（ｄ）材質的不均質，残留応力
残留応力による疑似指示
疑似指示は一般ににである。試験体
試験体がアルミニウムがアルミニウム合金からから銅に変わったとわったと大きな指示指示が得られるのでられるので，目視とのとの対応が容易
容易

き，同じ浸透深浸透深さを保つためにはつためには周波数周波数を下げる必要必要がに得られるられる｡

あり（ｂ）はは不正解であるである。また，②式式で示すようにすように渦電流の浸透深浸透深さは周波数のの平方根に反比例反比例しておりしており（ｃ）

正答（ａ）は不正解であるである。低周波渦電流探傷法
低周波渦電流探傷法においてにおいて，プロー
プロー

疑似指示とはきずに疑似指示とはきずによらないよらない指示を示し，，得られた指指

ブの外径は渦電流渦電流の浸透深浸透深さと端末効果
端末効果を考慮して選定して選定示のの確認方法としてはとしては再試験あるいはあるいは目視，，磁粉探傷，，する必要があるがある。試験周波数
試験周波数が同じでもプローブ
じでもプローブ径が径が大浸透探傷等の方法
浸透探傷等 方法が用いられるいられる。
（ｂ）の試験体送
試験体送り装置装置

きければ，よりより深い位置にあるにある下層割れをれを検出でき（ｄ）の心合
心合わせ不良にに起因する疑似指示
疑似指示は，試験体試験体の同じ位位は不正解であるである。

置にに発生することがすることが多く再現性再現性があり，送りり装置を修正
修正

上置コイルによるコイルによる渦電流探傷試験
渦電流探傷試験ではでは，リフトオフリフトオフ信し再試験再試験すると消消え，（ｂ）はは不正解であるである。（ｃ）の磁磁号との識別性
識別性ときずに対するインピーダンスするインピーダンス変化の大するインピーダンスの大き気飽和不足に起因
気飽和不足 起因する疑似指示
疑似指示は，試験体のの全面に大ききさを考慮してして周波数を設定設定する必要があるがある。図 1 に周波な雑音指示
雑音指示が現れれ，磁気飽和装置磁気飽和装置の励磁電流励磁電流を増加し再再数の異なるインピーダンスなるインピーダンスなるインピーダンス曲線例を示したした。インピーダ
インピーダ試験すると消え，試験，（ｃ）は不正解不正解である。
（ｄ）の材質的（ｄ） 材質的ンス曲線上でで抵抗成分の変化変化が最小で，，リアクタンスリアクタンス成

不均質，残留応力
不均質 残留応力による疑似指示
疑似指示は一般に大大きな指示がが分の変化が最大最大になる部分部分（図中 P 点近傍）をひざ点近傍
ひざ頭得られるがられるが，目視では判定できず目視できず，（ｄ）は不正解不正解である。
。

（Knee Pint））と呼ばれているばれている。材料の特性特性がこのひざひざ頭（ａ）の外来電気（ａ） 外来電気ノイズによるノイズによる疑似指示は，，再試験を行行にあると，導電率変化
導電率変化によるコイルのリアクタンスによるコイルのリアクタンス変化によるコイルのリアクタンスっても再現性がないことからってもがないことから，，正答は（ａ）（ａ）となる。

が大きく，リフトオフリフトオフ信号信号との分離角（（θ）も大きく探傷
きく探傷試験に適しているしている。材料のの特性をこのひざをこのひざ頭に位置させ位置させ

最近の最近 ET レベル 3 の C2 試験試験に関する問題
問題は，『渦流るような試験周波数試験周波数を適正試験周波数適正試験周波数とと言う。正答はは（ａ）

探傷試験Ⅲ』の探傷試験の範囲で『渦流探傷試験問題集
渦流探傷試験問題集 2002』ののとなる。

類似問題から出題
類似問題出題されているされている。レベル 3 の資格取得
資格取得を目
目
指す
す人は，まず渦電流探傷試験
渦電流探傷試験
渦電流探傷試験の基本事象をを充分に理解理解
し，，適用についてはレベルについてはレベル 2 のの知識をしっかりをしっかり理解するする必要がある。また必要
また，渦電流探傷試験
渦電流探傷試験に関するする JIS 規格にについては一部改正
ついては一部改正されておりされており，新規格についてもについても確認ししておく必要があるておくがある。受験者のの健闘を祈ります
ります。

a) 100 kHz
図１b) 1MHz1M

周波数とインピーダンスとインピーダンス曲線例とインピーダンス