JSNDI デジタル超音波探傷器による二次試験結果に行き詰まった場合に備え，探傷器取扱い補助資料を提について供した。
それでも小さなトラブルは幾つかあったが，これらは2010 年春期の JIS Z 2305 に基づく超音波探傷試験技術

アナログ探傷器のときでも発生していたことで，デジタ者の二次試験は，新規受験者が使用する探傷器は全てデル探傷器に起因するトラブルは生じなかった。これには，

ジタル超音波探傷器によって行われた。アナログ探傷器

デジタル化に向けての綿密な準備を実施してきたこととからデジタル探傷器への移行に際し，JSNDI では慎重，併せて，教育Ｕ専門委員会の努力，JSNDI 各支部の事前かつ十分な時間をかけて準備してきたところである。試講習会，探傷器メーカ及び社内教育に携わった関係各位

験・問題管理委員会Ｕ部会では，2000 年頃からデジタルの尽力に感謝する次第である。

探傷器による実技試験実施の検討を開始し，2005 年からまた，受験者も日常の検査作業にデジタル探傷器を使本格的な JSNDI 仕様のデジタル探傷器開発に取り組んで用しているほか，携帯電話をはじめとし，各種電気機器きた。そして，その前段階として，JSNDI が試験会場にのコントローラなど，日常的にデジタル機器に慣れ親し持込んでも良いと認定したデジタル探傷器の「持込受験」

んでいるのも，スムーズにデジタル探傷器を使いこなせ制度を 2003 年から実施し，これらの準備期間を経て，今た一因と考えている。

期から JSNDI デジタル探傷器又は持込みデジタル探傷器いずれかでの受験となった。

当初，アナログ探傷器からデジタル探傷器への移行については，関係各位より種々のご意見を頂いていた。しかし，デジタルだからといって特に異なるものではない。

１．2010 年春期試験の結果
春期の試験は，JSNDI の講習会，各支部主催の講習会

むしろデジタルの方が数々の支援機能を有し，探傷時の操作性は極めて向上している。

及び地域団体等が実施した講習会における教育関係者並びに受験者の精力的なデジタル探傷器への取組みが功を奏し，レベル１及びレベル２の二次試験合格率は，アナログ探傷器中心の 2009 年秋期よりも上回る結果となった。
春期二次試験結果は，次のようにまとめることができる。
１）レベル１及びレベル２ともに，アナログ探傷器による受験(09 年秋期)の合格率よりも高かった。
２）JSNDI デジタル探傷器２機種（Ｇタイプ及びＲタイプ）の機種別合格率はほとんど同じで，機種による差異

図１

Ｇタイプデジタル探傷器の初期画面は認められなかった。
３）Ｇタイプ探傷器使用会場（千歳，大阪，名古屋）及びＲタイプ探傷器使用会場（福岡，広島，東京）の各地区試験会場において，JSNDI デジタル探傷器によるトラブルは皆無であった。
４）持込デジタル探傷器受験者と JSNDI デジタル探傷器を使用した受験者の合格率を比較すると，持込受験者の方が若干高目であったが，JSNDI デジタル探傷器の取扱いの普及とともに差異はなくなるものと思われる。
２．試験委員会Ｕ部会としての対応試験を実施する側としては，あらゆるトラブルを想定し，対応策を講じていた。各試験会場には受験者が操作

図２

Ｒタイプデジタル探傷器の初期画面

図１にＧタイプの初期画面（電源を入れて，立ち上がった直後の画面）を，図２にＲタイプの初期画面を示す。

探触子の保持方法に関する注意点は，この NDT フラッシュで幾度も述べてきた。

見た目は両者の初期画面及びキーパッドの配置，ダイ探触子に対する安定した荷重のかけ方と，探傷中（計ヤルと矢印キーなどの相違点はある。しかし，測定範囲，測作業中）にキー操作やデータ記録の度に探触子を左右音速，感度調整，周波数，ゼロ点調整（パルス位置），ゲの手で持替えるのは厳禁である。これを正しく実行できートなどアナログ探傷器の前面に配置されていた基本的れば，大きく合格圏に近づくことができる。

な調整項目のキーは JSNDI デジタル探傷器の初期画面及３）斜角探傷の準備として，はじめに入射点，測定範囲び前面パネルに全て配置される仕様とした。の調整，STB 屈折角の測定を行うが，これらの作業中にＧタイプとＲタイプには，ダイヤルと矢印キ－の違いは探触子の保持に両手を用いるのが原則である。このとはあるが，垂直探傷試験及び斜角探傷試験を実施するにき，どちらか一方の手を探触子保持のメインの手とし，際し，超音波探傷の原理と各種調整項目を正しく理解し反対の手は探触子が偏った前後走査にならないよう探触ておけば，十分に対応できる仕様とした。

子と試験片を軽く支える程度とする。探傷器がデジタルかつて，アナログ探傷器での受験終了後に会場で小耳になってもこの基本操作は変わりない。に挟んだ話であるが，「右上のダイヤルを 125 に合わせて，受験者の中には STB 屈折角の測定の過程で，STB-A1２番目のダイヤルを 5900 にしたのに底面エコーが出なの向きを左右逆にする時間を惜しむため，最初からかった」という内容であった。

STB-A1 の R100 の舟形を右側（屈折角測定の目盛が見えこれは測定範囲設定レンジの数値単位がメーカによっる方向）に配置する人がいる。この場合，入射点測定とて異なるためで，単に操作の順番を記憶しただけで垂直屈折角測定では探触子の持手(メインの手)が逆となり，探傷の原理と操作の意味を考えないで試験に臨んだゆえ測定に手間取るばかりでなく誤差の要因ともなる。に生じたトラブルである。

４）レベル２のエコー高さ区分線(DAC)の作成では，デデジタル探傷器の調整には，各調整項目について数値

ジタル探傷器の採用に伴い，RB-41No.２試験片によるエを選択又は直接入力するか，ダイヤルや矢印キーで所定

コー高さ区分線の作成は従来の４点から JIS Z 3060 に基の数値を決定する。目的に応じて具体的に測定範囲は幾づいた６点作成となった。デジタル探傷器では DAC 作らか，音速を何 m にするか，ゼロ点調整をどのように行成機能の使用が可能で，その分，溶接部の探傷に取組むうかなどを設定するので，探傷器調整の基本操作を理解時間が増えたことが，前回よりも合格率が上昇した要因し，明確にそれぞれの項目の数値をインプットする必要の一つとして考えられる。

がある。アナログ探傷器以上に超音波探傷装置の原理原則と機能を理解した操作が求められる。

しかしながら，区分線の作成作業においても，その作成順序に問題点が見られた。通常は，ビーム路程の短い横穴の位置から順に区分線を作成するのが基本である。

３．受験者及び指導者に望むこと

この場合，何度か試験片の向きを変更や裏返す作業が伴

春期二次試験のデジタル探傷器試験を終えて，受験者う。この時間を節約するために，片面から探傷可能な横及び指導者の方々に考慮して頂きたい幾つかの問題点も穴を優先するために，探傷の順序はビーム路程順になら浮き彫りにされた。これらの項目について以下に記すのず，探触子の方向も保持する手も左右まちまちとなる。

で今後の参考として頂きたい。

その結果，作成した区分線の傾きが大きく乱れるケース

１）デジタル超音波探傷器において，垂直探傷試験で測や測定ポイントの間違いも起こして，再作成を余儀なく

定範囲を 125mm とする場合，音速 5,900m/ｓでゼロ点調された事例が何件か見られた。時間節約も大切であるが，整を行えば不完全で精度も悪いが概略の垂直探傷試験は基本に則った手順の教育を指導者の方にお願いしたい。

可能である。しかし，正しい調整方法は，STB-A1 の板
厚 25.0mm の多重エコーB1 と Bn にゲートを掛け，2 点間2010 年秋期の二次試験で使用するデジタル探傷器はの距離の差（B1 と B２ならば 25.0mm，B1 と B３ならばＧタイプ，Ｒタイプの使用地区は春期と逆になる。また，

50.0mm）が実寸法と一致するように音速調整した後，ゼ二次再試験受験者に限り春期に使用したタイプでの受験ロ点調整を行うのが基本である。

が可能である。JSNDI からの試験に関する最新情報を入２）レベル１，レベル２に共通することであるが，垂直手し，試験に臨んで頂きたい。

ＭＴレベル３

二次Ｃ２(適用)試験のポイントの管理について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

NDT フラッシュではこれまで 2004 年，2008 年に MTレベル３のＣ２ 試験のポイントを解説してきた。
その後，JIS Z 2320-1～3:2007 の制定に伴い，参考書“磁(a) 極間式磁化器の日常点検時には，探傷作業者の安全確保のため，絶縁抵抗を測定しなくてはならない。その値は 10MΩ 以上が必要である。

粉探傷試験Ⅰ～Ⅲ”も改訂された。今回はこれらの改訂後(b) 極間式磁化器の磁化能力又は経年変化を調べる目的の MT レベル３のＣ２ 問題について，最近の正答率の低で全磁束を測定する。一般に，購入時の定格値に対しい問題に類似した問題例のポイントを解説する。なお，±10％の範囲で管理されている。全磁束は適切な大きＣ２ は規格，仕様を含む関連する工業分野における MTさの鋼板と標準交流電流計で測定できる。の適用に関する専門知識について問われる。

(c) 極間式磁化器の吸引力（リフティング・パワー）は定期点検として測定されるが，JIS Z 2320-3:2007 では

問 1

次の文は，磁粉に関して述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

44N 以上であることが要求されている。
(d) 極間式磁化器の性能点検において JIS Z 2320-3:2007(a) 磁粉はなるべく長い時間，空間中や液中に分散・浮では，規定された鋼板上での両磁極間中央における試遊していることが望ましい。きず部への吸着性をよく験面に平行な磁界の強さを規定している。テスラメー

し，きず磁粉模様と試験面とのコントラストをよくす

タによる測定ができないときは，A 形標準試験片が明るためには，磁粉は試験面への沈降ができるだけ遅いりょうに検出されることで代用することができる。

方がよい。
(b) 磁粉の素材として金属系と酸化物系がある。主に乾正答（ｃ）

式磁粉として使用されている金属系は，酸化物系より磁化器の定期点検において，JIS Z 2320-3:2007 では両透磁率が高いので，弱い磁界の中でも磁化されやすい。

磁極間中央磁界の強さとして 2,000A/m(実効値)以上を規(c) 磁粉の性能を調べる方法として，永久磁石に付着す定している。これはテスラメータで測定する必要があり，る磁粉毛の長さを測定する方法があるが，この長さはＡ形標準試験片での磁界の強さの確認は適当ではない。

金属系よりも酸化物系の方が長くなる。

この測定が困難な場合には，代わりにリフティング・パ(d) 加熱加工後の素材に対して非蛍光磁粉を用いる場合，ワーを測定し 44N 以上であることとしている。定期点検

白色磁粉を適用するのがよい。これは識別性の要素のには一般に，絶縁抵抗計による絶縁抵抗の測定（1MΩ 以

うち，明度コントラストにより判読性を高めている。

上），400×400×9t(mm)以上の SS400 相当の鋼板，さぐりコイル及び標準交流電圧計による全磁束の測定（初期値，正答（ｃ）定格値の 90％以上）等がある。

乾式磁粉は材料に主として電解鉄粉など金属系強磁性

現在，磁化器は大形（標準，磁極間内のり:140mm，磁体粉末を使用し，湿式磁粉では Fe3O4 などの酸化物系強極の大きさ:□25mm，全磁束：0.7mWb 以上），小形（軽磁性体粉末を主に使用している。これは透磁率，粒度及量，内のり:110mm，磁極:20mm,全磁束:0.5mWb 以上）で，び色調等を考慮して選定されている。金属系は透磁率が重量は約 2～4Kg，磁化電流は閉磁路で 2～6A，AC100V高いので，内部きずなど弱い磁界に対しても磁化され吸の 2 種類が多用されている。両者とも JIS Z 2320-1:2007

着されやすい。磁粉はなるべく分散媒中に分散・浮遊しに示された試験範囲内では，規定された磁界の強さ以上沈降が遅い方が，排液時に余分な磁粉を流出除去しやすを示す。リフティング・パワーの測定は管理の一方法でく，コントラストのよい磁粉模様が得られる。磁粉の性あるが，探傷性能そのものの評価ではないことに注意。

能を調べる方法のうち，磁粉毛による方法では透磁率の影響で酸化物系よりも金属系の方が長くなる。また，非蛍光磁粉では明度コントラストや色相コントラストにより判読性を高めている。したがって正答は(c)である。

問3次の文は JIS Z 2320-1:2007 におけるプロッド法の磁化電流値に関する規定について述べたものである。
誤っているものを一つ選び，記号で答えよ。
(a) 工程確認方式及び標準試験片確認方式の二つが規定

問 2

次の文は，極間式磁化器の日常点検，定期点検等されている。

(b) 工程確認方式では，磁化電流の実効値Ｉ(A)は，試験(d) JIS Z 2320-1:2007 において，工程確認方式に従って探体表面に平行な磁界の強さをＨｃ(A/m)，電極間隔をｄ

傷を実施した場合には，使用期間中試験として JIS Z(m)とすると， Ｉ ＝ 2.5Ｈｃ ｄ の式を用いて計算するこ

2320-2:2007 のタイプ１又はタイプ 2 対比試験片を使用とを規定している。ここで，この式はｄが 200mm 以し，検査液の性能を確認しなければならない。

下の場合に適用する。
(c) 工程確認方式においては，低合金鋼および低炭素鋼に対する磁化電流値の設定に際しては試験体近傍の最小磁束密度が１Ｔとなるように規定している。

正答（ａ）

検査液の分散性が悪いかどうかの確認は，検査液濃度の測定時に沈殿管で沈降状態を確認するとよい。検査液(d) 標準試験片確認方式において連続法で磁化電流を求濃度は沈殿量から検量線により読み取る。タイプ 1 及びめる場合は，Ｂ形標準試験片を用いて試験体に作用し2 対比試験片では濃度を測定することはできない。Ａ形ている磁界の強さを確認するように規定している。

及びＢ形試験片は性能点検，総合性能点検に使用できる。
工程確認方式ではタイプ 1 又は 2 対比試験片を用いた使

正答

（ｄ）

(d)以外は JIS のとおりである。標準試験片確認方式で用期間中試験として作業前及び必要により使用中での性能確認が必要であり，手順書等への記載も必要である。

は，対象となる試験体に A 形標準試験片を貼り磁化の確認を行う。工程確認方式では，8.3.2 磁化の確認の項で磁問 5

次の文は，鋳鋼品の磁粉探傷試験における磁化に化条件を細かく規定しているが，標準試験片確認方式でついて述べたものである。正しいものを一つ選び記号

は，磁化条件を 9.5.3 磁化の項で A 形標準試験片もしくで答えよ。

は C 形標準試験片又はテスラメータを用いて磁界の方向(a) 探傷の対象は全表面又は形状的に応力が集中する箇及び強さを確認するとなっている。標準試験片方式で探所・きずの多発が予想される部位，構造溶接部の表面傷有効範囲や磁化電流値を具体的に決定するには，工程開口きずである。

確認方式の考え方を利用すればよい。例えば，極間法の場合，磁極間内のりの長さを直径とする内接円の外縁部(b) 比較的大きな鋳鋼品の磁化には，一般に極間法を用いる。に標準試験片を貼り，明りょうな磁粉模様が確認できれ(c) コイル法の場合，形状が複雑な鋳鋼品に対しては継ば，探傷有効範囲が分かり，探傷ピッチは容易に決定で鉄棒が適切に設置できないため，コイル内に試験体をきる。コイル法の場合も同様に，工程確認方式で使用さ挿入する方法よりも，試験体の孔などにケーブルを巻れるコイル法の計算式を利用して磁化電流値を計算し，く方法を用いるとよい。

試験体の端部に標準試験片を貼り，その磁化電流値で磁粉模様が確認できればよい。このような方法を用いれば，(d) プロッド法の場合，試験面の形状・大きさに応じて，プロッド間隔は 50～300mm を採用するとよい。

標準試験片確認方式で満足する磁化条件を確認できる。
正答
問 4

次の文は，検査液の性能点検について述べたもの（ｃ）

鋳鋼品では表層部のきずも予想されるため，特別な場である。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

合を除き極間法のみを用いることはなく，大形部品では(a) 検査液濃度は，作業前の日常点検で確認する必要がプロッド法やコイル法が，中，小形部品では軸通電法，ある。この濃度はタイプ 2 対比試験片を使用して容易電流貫通法，コイル法などが用いられる。プロッド法はに測定することができる。

このような試験体の探傷に最適な方法であるが，プロッ(b) 検査液を循環使用する場合，磁粉が磁化されて分散ド間隔は試験面の形状や大きさに応じて 50～200mm を性が悪くなり，沈降速度が速くなる可能性がある。こ採用し，間隔に応じた大きさの磁化電流値にする。多くの確認には，検査液濃度の測定時に沈殿管で沈降状態の受験者は極間法以外の磁化方法，磁化電源装置及びそを観察するとよい。

れら機材等の管理は未経験の人も多いようなので，講習(c) 検査液の性能点検では，JIS Z 2320-1:2007 に規定され会などを通じて経験を積み，より理解を深めて欲しい。

たＢ形対比試験片の上にＡ形標準試験片を貼付して探これからレベル３の資格を取得しようとする人は，本傷し，磁粉模様を観察して調べる方法がある。

解説や以前の解説を参考に，十分に学習して頂きたい。