NDT フラッシュ Vol.66,No.09 1/4

１．JIS Z 2305

2017 年春期資格試験結果

2017 年春期資格試験の結果が発表された。新規試験結果の合格率は，レベル 1 が 42.7%，レベル 2 が 27.8%，レベル 3が 14.1%であった。なお，レベル 3 基礎試験では申請者数 596 件，合格率 13.8%であった。
各表の合格率は［合格者数／（申請者数－欠席者数）］で算出した値である。新規試験結果（レベル 3 基礎試験結果を除く）を表１に示す。

表１ JIS

新規試験結果レベル２ ＊1

レベル１ *1
ＮＤＴ方法

レベル３ ＊1

略称
申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 %放射線透過試験

RT542143.8667

15024.5169

3119.9

超音波探傷試験

UT637

227

39.1

1,711351

22.16125710.5超音波厚さ測定

UM

181

6639.5磁気探傷試験

MT

169

5936.2

1,18528925.6

極間法磁気探傷検査

MY551834.61393024.4

通電法磁気探傷検査

ME

100.0

浸透探傷試験

PT

294

147

53.9

1,55448233.6

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

107

60

58.8

394

143

40.1

渦電流探傷試験ET

33618.8

326

80

26.1

451228.6

ひずみゲージ試験

ST

261250.0833847.5

6

4

66.7

1,557

616

42.7

6,059

1,563

27.8

1,263

160

14.1

合計

―

―
183

2214.2―――248

3414.6―

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数―：該当資格なし２．NDIS 0604，NDIS 0605

2017 年春期資格試験結果

2012 年春期より資格試験が開始され，今回の NDIS 0604（赤外線サーモグラフィ試験）と NDIS 0605（漏れ試験）の申請件数は 59 件となった。合格率は，レベル 1 が 78.6%，レベル 2 が 45.2%であった。
各表の合格率は［合格者数／（申請者数－欠席者数）］で算出した値である。新規試験結果を表２に示す。

表２

NDIS

新規試験結果レベル 1＊１
NDT 方法レベル 2＊1

レベル 3

略称
申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 %赤外線サーモグラフィ試験

TT5360.07342.9―漏れ試験

LT11888.9361645.7―

161178.6

431945.2―合計

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数―：該当資格なし

NDT フラッシュ Vol.67 No.09 2/4

非破壊試験技術者資格登録件数（2017 年 4 月 1 日現在）
2017 年 4 月時点での資格登録件数を表１にまとめた。JIS Z 2305 に加えて，赤外線サーモグラフィ試験(NDIS 0604)と漏れ試験(NDIS 0605)による認証登録が 2012 年から始まっており，集計の結果，資格登録件数は，JIS Z 2305 資格と NDIS
資格の総数で 91,497 件となった。NDT 方法別比率を図１に示す。また，2009 年以降の JIS Z 2305 による資格登録件数の推移を図２に，NDIS 0604 及び NDIS 0605 による資格登録件数の推移を図３に示す。資格登録者の内訳は，従来と同様に
おおよそレベル 1 が 20%，レベル 2 が 70%，レベル 3 が 10%である。資格登録件数は，JIS Z 2305 の認証制度開始時点と比較して現在は約 1.5 倍となっている。

JIS Z 2305

表１ 非破壊試験技術者資格登録件数

NDIS

単位：件

ＮＤＴ方法

略称

放射線透過試験

RT

550

6,325

2,039

8,914

超音波探傷試験UT

5,979

15,714

3,079

24,772

超音波厚さ測定UM

3,012--

磁気探傷試験

MT

917

10,896極間法磁気探傷検査

MY739

891

通電法磁気探傷検査

ME99

コイル法磁気探傷検査

MC53

浸透探傷試験

PT

溶剤除去性浸透探傷検査
水洗性浸透探傷検査
渦電流探傷試験

ﾚﾍﾞﾙ1

ﾚﾍﾞﾙ2

ﾚﾍﾞﾙ3

計

3,012
685

12,498
1,630

-

-

2,621

21,384

1,505

25,510

PD

2,377

5,325

36-

-

7,702

PWET

298

3,918

650

4,866

ひずみゲージ試験

ST217

1,209

291

1,717

赤外線サーモグラフィ試験

TT22957漏れ試験

LT21219017,339

65,909

総計9953368,24928640291,497

図１ ＮＤＴ方法別比率―：該当資格なし

図２ JIS Z 2305 資格登録件数推移

図３

NDIS 資格（NDIS 0604,NDIS 0605）登録件数推移

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ＥＴレベル２

一般・専門試験のポイントは比透磁率である。したがって，（ｄ）は不正解である。
比透磁率には，初透磁率に対する初比透磁率 μ ri 及び最大JIS Z 2305：2013 非破壊試験－技術者の資格及び認証透磁率に対する最大比透磁率 μrm があり，
『渦電流探傷試－に基づく ET レベル 2 の新規一次試験は『渦電流探傷験Ⅱ』P-44 表 3.3.1「各種強磁性材料の比透磁率」に示試験Ⅱ』の記述範囲内から出題される。試験の結果を見されているが，炭素鋼の比透磁率は数百～数千程度を示ると受験者の理解不足や誤解によると思われる正答率のす。したがって，正答は（ｂ）となる。

低い問題が見受けられる。本稿では，最近行われた試験のうち正答率の低かった問題に類似した例題により解答のポイントを解説する。

問２

次の文は，金属の抵抗率について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）電気抵抗は抵抗率に反比例する。

問１

次の文は，強磁性体の透磁率又は比透磁率につい（ｂ）抵抗率の単位は［Ω/m］である。て述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答（ｃ）抵抗率の逆数を比抵抗率という。

えよ。

（ｄ）抵抗率は物質定数であり形状によって変化しない。

（ａ）透磁率 μ は磁束密度 B と磁界の強さ H との比，正答（ｄ）

導体の抵抗 Ｒは，導体の長さ l に比例し，また断面積H / B で与えられる。
（ｂ）炭素鋼での比透磁率は数百～数千程度を示す。

S に反比例する。比例定数を ρ とすると，これらの関係（ｃ）マイナーループによる透磁率を微分透磁率という。

は，次式で示される。

（ｄ）初磁化曲線上で磁界が極めて小さい場合の透磁率を比透磁率という。
正答（ｂ）

ここで，R：抵抗[Ω]，ρ：抵抗率［Ωm］，l：導体の長強磁性体の磁気的性質は，試験体に外部より印加したさ［m］，S：導体の断面積［m2］である。電気抵抗 R は磁界の強さ H と試験体の磁束密度 B（単位面積を通る磁抵抗率 ρ に比例するため，（ａ）は不正解である。抵抗率束の数）との関係を示す磁化曲線で表わされ，B＝μH での単位は［Ωm］であり，（ｂ）は不正解である。抵抗率示され，（ａ）は不正解である。の逆数は導電率 σ［S/m］であり，（ｃ）も不正解である。
抵抗率は物質定数であり形状によって変化しない。したがって，正答は（ｄ）となる。
問３

次の文は，コイルのインピーダンスに影響を与える因子と，それによる現象について述べたものである。
正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）試験コイルに発生する磁束はコイルの巻数と形状によって決まり，コイルに挿入される試験体の形状には影響されない。
図1

初磁化曲線上の各種透磁率（ｂ）非磁性の試験体の導電率が大きくなると，試験体

図 1 は，試験体の初磁化曲線上の各種透磁率を示したで発生した渦電流による磁束が大きくなるためコものであり，曲線上のある点で磁界を小さく増減させるイルの磁束が増加する。と，小さなループ（マイナーループ）を描く。このとき（ｃ）試験体の透磁率が大きくなると，試験体の磁束がのループの傾き（ΔB / ΔH）を増分透磁率 μ Δ という。初増加するためコイルのインピーダンスは小さくな磁化曲線上の微小領域における接線の傾き（dB / dH）をる。

微分透磁率 μd という。したがって，（ｃ）は不正解であ（ｄ）非磁性の試験体に対するコイルの充填率が小さくる。初磁化曲線の立ち上がりにおける曲線の傾きを初透なると，電磁気的な結合度が下がるため，試験コ磁率 μi という。また，透磁率 μ は，μ＝μ0 μ r で示される。

イルのインピーダンス変化は小さくなる。

-7

ここで，μ0 は真空中の透磁率で 4π×10 [H/m]であり，μr正答（ｄ）

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この問題を解くにあたって，『渦電流探傷試験Ⅱ』P-61

高い周波数を使用するのが一般的である。

4.5「コイルのインピーダンスに影響を与える因子」を参（ｂ）試験体の外表面における支持板等の雑音を消去す考とすればよい。試験コイルに発生する磁束は，コイルる場合は，周波数に関係なく位相を 180°回転させの巻数や形状によって決まるが，さらに，コイルに挿入た交流を加え，出力を調整する。

される試験体の形状や材質により影響される。したがっ（ｃ）試験体の内表面に起因する雑音を消去する場合は，て，（ａ）は不正解である。コイルに非磁性の試験体を挿基準の周波数とそれよりも 1/2～1/4 程度低い周波入し，試験体の導電率 σ が大きくなると，試験体で発生数を使用するのが一般的である。

した渦電流による磁束が大きくなるためコイルの磁束は（ｄ）試験体の外表面における支持板等の雑音を消去す減少する。したがって，（ｂ）は不正解である。試験体のる場合は，基準の周波数とそれよりも 1/2～1/4 程

透磁率 μ が大きくなると，試験体の磁束が増加するため度低い周波数を使用するのが一般的である。

コイルのインピーダンスは大きくなる。したがって，
（ ｃ）

正答

（ｄ）は不正解である。非磁性の試験体に対するコイルの充填

この問題を解くにあたって，『 渦電流探傷試験Ⅱ』P-102

率 η が小さくなると，電磁気的な結合度が下がるため，6.6.2「多重周波数を用いた渦電流探傷装置」を参考とす

試験コイルのインピーダンス変化は小さくなる。したがればよい。多重周波数渦電流探傷器は，渦電流の表皮深って，正答は（ｄ）となる。

さの違いから不要信号の消去を行うものであり，内挿プローブを用いた場合，試験体の外表面における支持板等

次は，探傷器の直交出力電圧成分 Ex と Ey ときの雑音を消去する場合は，基準の周波数とそれよりも 1/2ず信号の位相角 θ との間の関係について示したもの～1/4 程度低い周波数を用いる為，（ａ）と（ｂ）は不正である。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

解である。試験体の内表面に起因する雑音を消去する場

問４

合は，基準の周波数とそれよりも 2～4 倍程度高い周波数

Y（ａ）θ ＝ Ex / Eyを使用するので，（ｃ）は不正解である。したがって，正（ｂ）θ ＝ Ey / Ex-1（ｃ）θ ＝ tan （Ex / Ey）

X

答は（ｄ）となる。
Eyθ（ｄ）θ ＝ tan -1（Ey / Ex）

問６

次の文は，日本工業規格（JIS）について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
Ex

図2
正答

（ａ）JIS Z 2300 は，非破壊試験用語の規格であり，渦表示画面のきず信号（ｄ）電流探傷試験に関連しない。
（ｂ）JIS Z 2316 は，渦電流探傷試験に関連する規格で一般的な渦電流探傷器の表示画面は，試験コイルのイはない。

ンピーダンス変化が，図 2 に示すベクトル軌跡として観（ｃ）JIS H 0502 は，銅及び銅合金管の渦電流探傷試験測することができる。この表示画面は，直交する出力電方法に関する規格であり，製品の要求事項を規定

圧成分 Ex と Ey より成立っており，伝熱管の保守検査した規格である。

では，直交出力電圧成分を 2 ペンレコーダーなどにより（ｄ）伝熱管の保守検査に関する JIS 規格はない。

同時に記録を取り，チャート波形よりきず信号の位相角正答

θ = tan-1（Ey / Ex）を計算によって求めている。したがって正答は（ｄ）となる。

（ｄ）

JIS Z 2300 は非破壊試験用語の規格であり，渦電流探傷試験に関連した用語も含まれており，（ａ）は不正解である。JIS Z 2316 は渦電流探傷試験に関連する規格であ

次の文は, 内挿プローブを使用し，2 重周波数のり，（ｂ）は不正解である。JIS H 0502 では，試験方法が渦電流探傷装置を使用する場合の試験周波数の設定に規定されているが，製品の要求事項は規定しておらず，ついて述べたものである。正しいものを一つ選び記号（ｃ）は不正解である。現在のところ，伝熱管の保守検で答えよ。

査に関する規格はない。したがって，正答は（ｄ）とな

問５（ａ）試験体の外表面における支持板等の雑音を消去する場合は，基準の周波数とそれよりも 2～4 倍程度る。