ＲＴレベル３二次Ｃ2（適用）試験のポイントれぞれ規定され，さらに鋳鋼品及びアルミニウム鋳物についても規定されている。RT 関連の主要な JIS 規格につ2004 年 7 月号の本欄に RT レベル 3 の二次試験について紹介した。二次試験としては RT に関するレベル 3 のいては，JIS の番号とタイトルをしっかりと把握しておく必要がある。

知識（C1）30 問以上，関連する工業分野における RT のきずの分類において適用する試験視野は溶接継手につ適用（C2）20 問以上を四者択一形式で，試験時間 2 時間

いては，正方形又は矩形であり，鋳鋼品では円形であるで行い，さらに関連する工業分野における RT 手順書のので，［Ａ］は（ｄ）が正答である。帯形透過度計は，以作成（C3）を記述式で 1 時間行う。

前は帯状透過度計と呼ばれて JIS Z 3108 に規定されてい2008 年 2 月号の本欄では C1（基礎）のみについて，最たが，2008 年春期の試験からアルミニウム溶接継手につ近の出題傾向と数題の類題を取り上げて解説を行った。

いては，JIS Z 3105 の 2003 年版が適用されて，3108 は今回は C2（適用）について同様に，出題傾向と多少正答3105 の附属書 2 に変わっているので，［Ｂ］は（ｃ）が率の低かった数題の類題を取り上げて解説を行い，受験正答である。なお，3050 は“パイプライン溶接部の非破者の参考に供したい。

壊試験方法”である。回折像はステンレス鋼の溶接継手の透過写真に発生することがある異常像の一つであり，［Ｃ］の正答は（ｂ）である。なお，3861 は“溶接部の１．関連する工業分野におけるＲＴの適用（C2）
最近の試験では，次の項目で 25 問が出題された。
(a)JIS Z 3104 によるきずの像の分類

7 問(b)RT 関係 JIS 規格と用語

3 問

放射線透過試験の技術検定における試験方法及び判定基準”である。

(c)撮影対象物と最適なＸ線装置の選択

1 問問２(d)増感紙の取扱い

1 問

スケッチしたものである。JIS Z 3104:1995 に基づいて(e)JIS Z 3105 の階調計の選択

3 問

きずの分類を行う場合，次の文の［Ｄ］～［Ｊ］に入れ(f)散乱線の低減方法

4 問

る適切な数値を解答群からそれぞれ一つ選び記号で答え(g)JIS Z 3104 の撮影配置

6 問よ。

下図は鋼溶接継手のＸ線透過写真に現れたきずを

合計 25 問
問１単位mm

次の語句と関係の深い JIS 規格をそれぞれ一つ選び記号で答えよ。
試験視野の直径 70mm-------------------------- ［Ａ］
帯形透過度計 A010------------------------------ ［Ｂ］
回折像 ----------------------------------------------- ［Ｃ］

試験視野実線 10×10
破線 10×20［解答群］［Ａ］（ａ）JIS Z 3104:1995 （ｂ）JIS Z 3106:2001

この溶接継手は母材の厚さが 30.0mm であり，余盛は（ｃ）JIS Z 3861:1979 （ｄ）JIS G 0581:1999

両面にあり，その高さは測定していない。なお，JIS Z［Ｂ］（ａ）JIS Z 3050:1995 （ｂ）JIS Z 3104:1995

3104:1995 附属書 4 表 3～附属書 4 表 6 を別紙 3（省略）（ｃ）JIS Z 3105:2003 （ｄ）JIS Z 3106:2001に示す。Ａの部分の第 1 種のきずはきず点数が［Ｄ］点［Ｃ］（ａ）JIS Z 3104:1995 （ｂ）JIS Z 3106:2001

で［Ｅ］類，Ｂの部分の第 1 種のきずはきず点数が［Ｆ］（ｃ）JIS Z 3107:1993 （ｄ）JIS Z 3861:1979

点で［Ｇ］類である。ＣとＤのスラグ巻込みは，第 2 種のきずとして取り扱い，第 2 種のきず長さは［Ｈ］mm［Ａ］ （ｄ），［Ｂ］ （ｃ），［Ｃ］ （ｂ）となり，［Ｉ］類と分類される。第 1 種の試験視野の中に放射線透過試験方法の JIS 規格は，溶接継手について第 2 種のきずが混在していないため，総合分類は［Ｊ］

正答

は鋼，アルミニウム，ステンレス鋼，チタンについてそ類となる。

［Ｍ］母材の厚さが 38mm で，測定した余盛部の厚さが［解答群］

42mm の場合［Ｄ］（ａ）5（ｂ）7（ｃ）8（ｄ）10［Ｅ］（ａ）1（ｂ）2（ｃ）3（ｄ）4［Ｆ］（ａ）4（ｂ）8（ｃ）10（ｄ）12［解答群］［Ｇ］（ａ）1（ｂ）2（ｃ）3（ｄ）4［Ｋ］（ａ）10 形（ｂ）15 形（ｃ）20 形（ｄ）25 形［Ｈ］（ａ）3.5（ｂ）4.0（ｃ）7.0（ｄ）14.5［Ｌ］（ａ）10 形（ｂ）15 形（ｃ）20 形（ｄ）25 形［Ｉ］（ａ）1（ｂ）2（ｃ）3（ｄ）4［Ｍ］（ａ）10 形（ｂ）15 形（ｃ）20 形（ｄ）25 形［Ｊ］（ａ）1（ｂ）2（ｃ）3（ｄ）4（別紙）

正答

附属書 1

表 1

階調計の適用区分［Ｄ］ （ｄ），［Ｅ］ （ｂ），［Ｆ］ （ｄ），母材の厚さ mm

階調計の種類［Ｇ］ （ｂ），［Ｈ］ （ｂ），［Ｉ］ （ａ），

10 以下

10 形

［Ｊ］ （ｂ）

10 を超え 20 以下

15 形

JIS Z 3104:1995 に基づく鋼溶接継手のきずの像の分類

20 を超え 40 以下

20 形の問題はレベル 1，レベル 2 の一次試験でも出題されて40 を超え 50 以下

25 形

おり，基本的にはしっかり理解されており，当然正答率は高いので解説する必要はないが，母材の厚さに対応し正答［Ｋ］ （ａ），［Ｌ］ （ｂ），［Ｍ］ （ｃ）て試験視野と算定しないきずの寸法を選択して第 1 種の従来適用されていた JIS Z 3105:1993 では，階調計は 2

きず点数を求めて，附属書 4 の表 5 によって類を決定す

段形の D1 形～D4 形及び E2 形～E4 形，1 段形の F0 形，る。第 2 種のきずについては，きずときずとの間隔によG0 形が規定されおり，母材の厚さと余盛の高さによってって，独立のきずかきず群なのかの取扱いを判断してか使用する階調計を選択することになっていた。前述のよら，きず長さを決定して，附属書 4 の表 6 によって類をうに 2008 年の春期試験より同規格の 2003 年版を適用す決定する。ただし，きず長さからは 1 類になる場合でも，ることになって，階調計は１段形の 10 形～25 形が規定

きずの種類が融合不良又は溶込み不良の場合は 2 類とすされて，余盛の高さと無関係に母材の厚さにより上表にる規定がある。この問題ではきずの種類はスラグ巻込みよって，使用する階調計を選択することになった。と記載されており，二つのきずの間隔は 7.0mm で大きい方のきずの 4.0mm より大きいから，独立のきずであり，以上最近の試験に出題された問題の類題を紹介したが，きず長さは 4.0mm で母材の厚さ 30.0mm の 1/4 以下であＣ2 についてはレベル 2 の知識をしっかり理解しておれるから 1 類が正答である。しかし，きずの像の形と位置ば正答できるものと思われる。事実一部の問題以外は正が中央部にあるために溶込み不良と勝手に判断して 2 類答率も高く，解説も必要がないが，前述したように 2008にマークした答えも見受けられた。問題をよく見ること

年の春期試験から JIS Z 3105 が 2003 年版を適用することを改めて注意したい。になったが，「放射線透過試験問題集」の改訂が遅れているので，同規格の 2003 年版についての確認をお願いする。

問３

JIS Z 3105:2003 に従って放射線透過試験を行う

場合，アルミニウムの平板突合せ溶接継手が［Ｋ］～［Ｍ］のような母材の厚さと余盛部の厚さである場合，何形の階調計を用いればよいか，適するものを解答群よりそれぞれ一つ選び記号で答えよ。なお，JIS Z 3105:2003 における階調計の選択に必要となる階調計の適用区分を別紙に示す。
［Ｋ］測定が困難であったため余盛部の厚さを測定しなかったが，母材の厚さ 9mm で片面溶接の場合［Ｌ］母材の厚さが 12mm で，測定した余盛部の厚さが14mm の場合

ＭＴレベル２

一次専門試験問題のポイント述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）塗膜の厚さは 100μm 程度が最も効果がある。

JIS Z 2305 に基づく資格試験について，昨年の本欄で（ｂ）塗膜の厚さが厚いほど識別性が向上するため，きは MT-2 及び MY-2 の新規一次試験の一般試験の類題をずの検出感度も向上する。

解説した。このとき，過去の出題に類似した例題の中か（ｃ）検査液に対してぬれ性のよいものを使用する。

ら，受験者の理解不足と思われる問題，ミスを犯しやす（ｄ）大形構造物の探傷など周りを暗くできない場合に，蛍光磁粉の識別性を向上させるために使用する。

い問題を選んで注意点・ポイントなどを解説した。今回も同様の視点から，専門試験問題についてポイントを紹介したい。以前，紹介したように，専門試験は四者択一により解答する形式である。

正答（ｃ）
コントラストペイントは，海外では湿式黒色磁粉での2007 年に JIS G 0565 が改訂され，新たに ISO 9934 を探傷には使用が一般的であるが，JIS 規格では新たに使取り込んだ JIS Z 2320 として発行された。これに伴い，用が認められている。塗膜の厚さは 50μm 以下が推奨さ

2007 年に参考書「磁粉探傷試験Ⅱ」（以下，MT-2 参考書）

れているが 20μm 程度以下でも識別性がよく，厚すぎるが改訂され，特に専門試験に該当する部分では追加されときずからの漏洩磁束による磁粉の吸着性が悪くなる。

た内容があり，今回は追加部分を中心に解説する。

また，検査液のぬれ性の悪いものはきず検出性に影響する。もちろん蛍光磁粉による探傷の場合には意味がない。

問 1次の文は，隣接電流法による溶接構造物の磁粉探傷試験について述べたものである。正しいものを一つ選

問3次の文は，対比試験片タイプ 1 について述べたもび記号で答えよ。のである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

（ａ）通電ケーブル（導電体）と平行方向のきずが検出（ａ）試験片は電流貫通法により永久磁化されている。

可能である。

（ｂ）検査液の適用方法の良し悪しを検討するために使（ｂ）平板の溶接部の探傷は可能であるが，ノズル溶接部や配管の分岐溶接部の探傷には不適当である。
（ｃ）規格の経験式から，試験体の磁気特性や寸法に関用される。
（ｃ）磁粉の形式試験を行うために使用する。
（ｄ）検査液（検出媒体）の評価を行うために使用する。

係なく，磁化電流値を決定することができる。
（ｄ）検査液の適用時期は一般に残留法が適用される。

正答（ｂ）
工程確認方式では，検査液や磁粉などの検出媒体の評

正答（ａ）

価に対比試験片タイプ 1 及び／又はタイプ 2 を使用する。

JIS Z 2320-1 の工程確認方式で新たに取り上げられたいずれも残留磁気を利用したもので，これらに決められ磁化方法に隣接電流法がある。従来の電流貫通法の応用た方法で検査液を適用し，タイプ 1 では研磨割れと応力とケーブルによるコイル法の 2 つの手法が紹介されてい腐食割れの磁粉模様の変化を，タイプ 2 では人工きずのる。規格には経験式が示されており，与えるべき磁界の長さの変化を目視又は写真等で評価する。これらの対比

強さ（低炭素鋼では 1Ｔの磁束密度を得るためには，お試験片は，検出媒体の評価のために磁粉などの製造業者

よそ 2,000 A/m。ただし工程確認方式では，磁化電流値やや販売業者が使用する場合（形式試験やバッチ試験など）磁界の強さ等は実効値で表す。）や試験体の寸法から磁化と，使用者が使用中の検出媒体の状態を試験する場合（使電流値を計算できる。また，この磁化方法を使用できる用期間中試験）に使用される。検査液の適用方法の良し

工程確認方式では残留法は認められていない。したがっ悪しの決定には使用できない。正答は（ｂ）である。て，正答は（ａ）である。MT-2 参考書の図を見て実際の磁化のイメージを養ってほしい。また，工程確認方式で

問4は磁界の強さの確認に A 形標準試験片は使用できないこの内容について述べたものである。誤っているものを一とに注意が必要である。

つ選び記号で答えよ。

次の文は，指示書に記載される項目のうち，観察（ａ）磁粉模様の確認方法に関する具体的な記述が含ま
問 2

次の文はコントラストペイントの取扱いについてれていなければならない。

（ｂ）暗所での眼の順応に関する具体的な記述が含まれていなければならない。

（ｃ）絶縁抵抗点検（ｄ）探傷装置の総合性能試験（ｃ）明るさや観察位置など，観察環境に関する具体的な記述が含まれていなければならない。

正答（ｄ）（ｄ）きず磁粉模様の合否判定後の，きずの処置方法に日常及び定期点検に関する問題も不得意な人が多い。

関する具体的な記述が含まれていなければならな

特に探傷装置の点検は，保全部門や専門業者に依頼するい。

場合が多く，実際に目にする機会がない人には理解しにくいのかもしれないが，MT-2 参考書をよく読み理解して正答（ｄ）おいて欲しい。日常点検では装置の総合性能試験（点検）指示書には各探傷工程の順にしたがって，実施する操により，決められた試験条件が維持されていることを点作や注意事項を具体的に示さなければならない。観察で検確認する必要がある。その他の事項は定期点検で実施

は，観察する時期，目の暗やみへの慣れ，環境の暗さとする項目である。なお定期点検においても総合性能試験

明るさ，視線の角度と照明の位置，足場位置の配慮，きを実施して，装置の各機能が正常に作動しているかどうず磁粉模様と疑似模様との判別と確認方法などの記載がか点検する必要がある。

必要である。観察の内容には，合否判定基準は含まれない。ただしレベル１には，指示書に示された合否判定基

問7

次の文は，機械部品の探傷に用いる降圧変圧器式準に従った磁粉模様の記録と分類までが認められている。

磁化電源について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

問5

次の文は，JIS Z 2320-1 に基づいて試験体表面の磁界の強さを求める方法について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）ホール素子を用いたテスラメータにより，試験体表面の水平方向成分の磁束密度を測定する。
（ｂ）磁針により，試験体表面の垂直方向の磁界の強さを測定する。

（ａ）連続法のみに使用できる。
（ｂ）出力側が高電圧となるため，試験体に接触したときは感電に注意が必要である。
（ｃ）シリコン整流子などで整流し，直流磁化が可能なものが多い。
（ｄ）交流を整流して脈流にするため，整流方式が違ってもきずの検出力はすべて同じになる。

（ｃ）磁束計を用いて，試験体表面の水平方向の磁界の強さを測定する。
（ｄ）簡易磁気検出器を用いて，試験体表面の水平方向の磁束密度を測定する。

正答（ｃ）
降圧変圧器式磁化電源は，各種の磁化電流が選択でき，連続法も残留法も使用できる最も有用な磁化装置である。
整流方式により単相半波整流から三相全波整流までが可

正答（ａ）
JIS Z 2320-1 の工程確認方式では，試験体表面の磁界の能で，これにより内部きずなどのきずの検出性も変化する。二次側は数 10V 程度以下の低電圧となっている。

強さを求める方法として，ホール素子を用いて試験体表面の水平方向成分の磁束密度を，表面直近で表面からの紙面の都合で全ての類題を紹介・解説することはでき

距離を変えて数点を測定し，その距離と空間の磁束密度ないが，ここで取り上げた JIS Z 2320-1～3 に関する例題の関係線図を表面まで外挿して表面の磁界の強さを求めの類題以外にも，各種試験体への磁化方法の適用，探傷る（推定する）としている。正答は（ａ）である。に関わる各種機器・装置，磁粉等の検出媒体，各種試験体及び工程で発生するきず，指示書の内容などに関する問 6

次は，磁粉探傷試験に使用される探傷装置の日常問題についても理解不足が目立つ。これから資格取得を点検に適用される項目について示したものである。正し目指す人は，講習会への参加，本欄や以前の解説などをいものを一つ選び記号で答えよ。

参考に，より理解を深めて学習して欲しい。また，JIS Z（ａ）電気回路の点検

2320 の内容についても，MT-2 参考書に記述されている（ｂ）脈流及び交流電流計の点検程度の内容は理解しておいてもらいたい。