ＲＴレベル３二次Ｃ２（適用）試験のポイント分において写真濃度は下の表に示す範囲を満足しなければならない。

2009 年 2 月の本欄に RT レベル 3 の二次 C2（適用）試

質

最低濃度

最高濃度

験について紹介した。RT レベル 3 二次試験は RT に関す

A 級［Ｄ］以上4.0以下

るレベル 3 の知識（C1）30 問，関連する工業分野におけ

B 級［Ｅ］以上4.0以下

P1 級［Ｆ］以上4.0以下

試験問題の出題範囲や内容については，前回で紹介しP2 級［Ｇ］以上4.0以下たものと基本的には変わっていないが，今回は最近の試

F 級［Ｈ］以上4.0以下

る RT の適用（C2）25 問を四者択一形式で，試験時間 2時間で行っている。

像

験結果から正答率が多少低い問題を数問取り上げて，ポイントを解説し，受験者の参考に供したい。
問１

［解答群］
［Ｄ］(a) 1.0(b) 1.3(c) 1.5(d) 1.8

次の［Ａ］～［Ｃ］の特徴を持つ X 線フィルムの［Ｅ］(a) 1.0(b) 1.3(c) 1.5(d) 1.8

種類を解答群からそれぞれ一つ選び記号で答えよ。

［Ｆ］(a) 1.0(b) 1.3(c) 1.5(d) 1.8［Ｇ］(a) 1.0(b) 1.3(c) 1.5(d) 1.8［Ｈ］(a) 1.0(b) 1.3(c) 1.5(d) 1.8（ア）X 線やγ線による鋼溶接部，鋳鋼品などの検査に標準的に使用される。［Ａ］（イ）最も低感度で，解像力が非常に優れている。ファ

正答［Ｄ］（ｂ）,［Ｅ］（ｄ）,［Ｆ］（ａ）,

インセラミックス，電子部品などの微細なきずの検出に適す。［Ｂ］［Ｇ］（ａ）,［Ｈ］（ａ）
透過写真の写真濃度はきずの像の識別の可否において（ウ）解像力が優れており，軽金属鋳造品，軽金属溶接大きな因子の一つであり，JIS Z 3104:1995 をはじめ他の部，電子部品，鋼溶接部などの精密試験に使用され放射線透過試験の JIS 規格において，透過写真の必要条る。［Ｃ］

件の一つとして規定されている。したがって，各像質における試験部のきずの像以外の部分における最低濃度及［解答群］

び最高濃度の値は，しっかり記憶しておかなければなら［Ａ］(a)IX25(b)IX50,IX80(c)IX100(d)IX150［Ｂ］(a)IX25(b)IX50,IX80(c)IX100(d)IX150［Ｃ］(a)IX25(b)IX50,IX80(c)IX100(d)IX150ない。
問３

次の文は，Ⅹ線装置について述べたものである。
正しいものを一つ選び記号で答えよ。［Ⅰ］正答［Ａ］（ｃ）,［Ｂ］（ａ），［Ｃ］（ｂ）

放射線透過試験に使用される工業用 X 線フィルムはノ(a)母材の厚さが 100mm の鋼板の突合せ溶接継手の透過ースクリン形として 6 種類が市販されているが，感度及写真の撮影には，携帯式 X 線装置の使用が便利である。

び解像力に特徴があって，検査目的に合致したものを選(b)母材の厚さが 100mm のアルミニウム鋳物の透過写真択する必要がある。感度の最も低い IX25 が最も解像力の撮影には，高エネルギーX 線装置の使用が望ましい。

が高く，精密試験に適しており，IX50,IX80 がそれに続(c)母材の厚さが 5.0mm の鋼板の突合せ溶接継手の透過く。IX100 は現在一般的に使用されており，IX150 は感写真の撮影には，軟 X 線装置を使用する必要がある。

度は高いが粗粒子であるため厚い試験体などで微細なき(d)母材の厚さが 5.0mm のアルミニウム平板突合せ溶接ずの検出を必要としない場合に使用される。

継手の透過写真の撮影には，軟 X 線装置の使用が望ましい。

問２次の文の［Ｄ］～［Ｈ］に入れる適切な値を解答群からそれぞれ一つ選び記号で答えよ。

正答［Ｉ］（ｄ）

放射線透過試験においては撮影を行う試験体に対してJIS Z 3104:1995 では，試験部できずの像以外の部適切な放射線装置を選択することが重要である。母材の厚さが 100mm の鋼板の突合せ溶接継手の撮影には，高問５エネルギーX 線装置が必要で，一般に 300ｋV 以下の携次の文は焦点寸法について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。［Ｎ］

帯式 X 線装置では困難である。アルミニウムは鋼と比べて透過しやすく，母材の厚さが 100mm であっても携帯式 X 線装置で撮影ができる。軟 X 線装置は 20mm 程度以(a) X 線装置に表示されている焦点寸法は，ターゲット上の X 線が発生する部分の寸法である。

下のアルミニウム溶接継手の撮影において有効な X 線装(b) 実効焦点寸法とは，照射野の中央からターゲット上置である。母材厚さが同じ 5.0mm であっても鋼板の溶の X 線が発生する部分を望んだときの寸法の焦点寸法

接継手の撮影は軟 X 線装置ではなく，携帯式 X 線装置がである。
(c) X 線装置の実効焦点寸法及び形状は，使用管電圧によ使用される。って変化しない。
問４

次の文中の［Ｊ］～［Ｍ］に入る適当な語句を解答群からそれぞれ一つ選び記号で答えよ。
散乱線を除くために有効な方法は，放射口の大きさ(d) 細長い X 線フィルムは，X 線管軸に平行に配置するのが良い。
正答［Ｎ］（ｂ）を［Ｊ］にすることによって［Ｋ］を制限し，鉛箔増X 線装置の焦点寸法についての問題である。焦点寸法

感紙を使用して［Ｌ］及び後方散乱線を少なくするのについては実焦点寸法及び実効焦点寸法があるが，通常がよい。照射室の床及び壁などのコンクリートからのX 線装置に表示されているのは，X 線管軸に対し垂直方散乱線を除くには，［Ｍ］あるいは鉄板をカセットの後向に見たときの実効焦点寸法であり，(b)の文で示されたろに置く。

通りである。焦点寸法は，望む方向によって異なり，ターゲット面に垂直方向から望んだ寸法が実焦点寸法である。照射野内の各点から望む焦点寸法は，すべて異なる［解答群］［Ｊ］(a) 特大(b) 大(c) 中(d) 小ので，照射野の中央から望む焦点寸法を実効焦点寸法と［Ｋ］(a) エネルギー(b) 照射野している。また，実効焦点寸法及び形状はピンホール法(c) 管電圧(d) 管電流などにより測定するが，管電圧によって変化するので(c)(b) 横方向散乱線の文は誤りである。(d)の文のように X 線フィルムを配置(d) 漏洩散乱線

すると，フィルムの左右両端で焦点寸法が大きく変わる(b) ベークライト板

ために，厳密に言えば，きずの像のボケに影響が生じる(d) 鉛板ことになる。しかし，X 線フィルムを X 線管軸に対して［Ｌ］(a) 前方散乱線(c) 環境散乱線［Ｍ］(a) アルミニウム板(c) アクリル板

直角方向に長手方向が来るように配置すると，フィルム正答［Ｊ］（ｄ）,［Ｋ］（ｂ）,［Ｌ］（ａ）,の左右両端でほぼ同様なきずの像が得られることになる。

［Ｍ］（ｄ）
透過写真の像質の向上に関係の深い散乱線の除去につ以上最近の試験に出題された問題の類題を紹介したが，いての問題である。試験部の大きさに合わせて適切な大C2 についてはレベル 2 の知識をしっかり理解しておればきさの照射野が得られるような絞り板などを装置の放射正答できるもので，正答率もかなり高い。今回は取り上口に取り付けて，照射野の大きさを制限する。鉛箔増感げなかったが，JIS 規格に出てくる用語の問題，きずの紙には試験体から発生した前方散乱線及びフィルムの後像の分類の問題などについては，冒頭に上げた 2009 年 2

方の物質から発生する後方散乱線を低減する効果がある。

月号を参照して欲しい。

カセットの背面にコンクリートの床や壁があるような場
合は，コンクリートからの後方散乱線がカセット中のフィルムに入って，透過写真のコントラストの低下に影響することが考えられるので，カセットの背面に鉛板または鉄板を置いて撮影を行う。

ＳＭレベル３二次Ｃ１（基礎）試験のポイント

Ｎ ＝αｔ（σ 1－σ 2 ）ここで，αは光弾性定数，ｔ は試験片の厚さである。

ひずみ測定（SM）レベル 3 の二次 C１ 試験ではレベルα が 0.1mm／N，ｔが 2mm の図のような円孔のある帯板3 の技術者に必要な基礎知識を問う問題が出題される。

試験片の引張試験をした。孔から十分離れた箇所でのま た ， す で に 非 破 壊 検 査 誌 Vol.53,No.12(2004) 及 び

公称応力 σ が 10.0 MPa のときに孔縁の点Ａで 6.5 次

Vol.57,No.7(2008)において出題されたものと類似の問題の等色線しま次数が観察された。この点における応力例の解説がされているので参考にされたい。

集中係数を次のうちから選び，記号で答えよ。

現在，ひずみの測定に電気抵抗ひずみ測定法が広く適用されている。この方法は高感度で微小ひずみの測定には非常に有効である。しかし，被測定物表面の局所的な測定で，柔軟材料の大ひずみや広い範囲のひずみあるいは応力の分布を直接求めるのには適していない。このよ
うな場合には，電気抵抗ひずみ測定法以外のひずみあるいは応力の測定法を適用しなければならない。このため，レベル 3 の技術者にはこれらの測定法に関する知識が必要になる。この観点から，今回はひずみあるいは応力の各種測定法に関する問題例を取り上げ，解答に当たって(a) 3.25(b) 3.50(c) 4.15(d) 5.05のポイントを解説する。
正答
問１

光弾性実験法で観察される等色線しま模様だけでは，一般に各主応力を求めることができない。以下の（ａ）

自由境界である孔縁の点Ａでは接線方向の主応力 σ1のみが存在する。すなわち σ2 =０であるから記述は主応力が容易に求められる場合について述べた

σ1－ σ2 =σ1 =Ｎ/αｔものである。正しい記述を一つ選び，記号で答えよ。

= 6.5/(0.1×2)=32.5N/mm2=32.5MPa(a) 自由境界では等色線しま次数が主ひずみと線形関係になっている。
(b) 自由境界では法線方向の主ひずみだけが存在している。になる。
一方，A 点での応力集中係数は σ1 /σ で表される。
したがって，この点の応力集中係数は 32.5/10=3.25 になり，(a)が正答になる。なお，光弾性実験法は複雑な形状(c) 自由境界では接線方向の主応力だけが存在している。の自由境界でも応力分布が容易に求められ，とくに応力(d) 自由境界では等色線しま次数が主応力と非線形にな集中箇所の判定や応力集中係数を求めるのには有効な手っている。
正答（ｃ）法であることを知っておいてもらいたい。
問３

光学的な測定法として投影あるいは印刷された格

光弾性実験法で観察される等色線のしま模様は主応力

子線と基準格子を重ねたときに生じる干渉じまから変差に関係している。すなわち，この模様は主応力の差を位あるいはひずみ分布を求める方法がある。この記述現しているので，この模様だけでは直接個々の主応力をに該当する方法を次のうちから選び，記号で答えよ。

求めることはできない。しかし，自由境界では法線方向(a) コースティックス法の主応力はなく，接線方向の主応力だけが存在している(b) モアレ法

ので，この自由境界では等色線しま模様のみで接線方向(c) ホログラフィ法の主応力が容易に求められる。したがって(c)の記述が正(d) スペックル法

答になる。
正答
問２

光弾性実験法の等色線しま模様のしま次数 N は主応力差 （σ1－σ2 ） と次式のような関係になる。

（ｂ）

ひずみや応力の測定にはいろいろな光学的方法が利用されている。この問で述べられているような，二枚の格子を重ねたときに生じる干渉じまが変位あるいはひずみに関係していることを利用する方法をモアレ法と言っている。したがって，ここでは(b)が正答である。この他のされた寸法よりε＝1500×10-6×（80／200）＝600×10-6になり，これがひずみ感度になるので(d)が正答になる。

コーステイックス法，ホログラフィ法，スペックル法も光学的な測定法で，実際に応用されているので，これらの方法の原理や特徴も知っておいてもらいたい。

問６

鋼構造物などの溶接箇所には残留応力が生じる。

このような残留応力の各種の測定法に関する次の記述
で正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

問４

次の応力塗料法に関する記述で正しいものを一つ(a) 音弾性法は弾性波の速度が応力に依存する現象に基づいた方法である。

選び，記号で答えよ。
(a) 塗料のぜい性が高いとひずみ感度が悪くなる。
(b) 塗料のき裂は圧縮ひずみで生じる。
(c) 塗料のき裂から主応力と主方向がわかる。
(d) 塗料のき裂は主応力の和に関係している。

(b) 磁気ひずみ法は強磁性材料表面の磁粉分布を観察する方法である。
(c) バルクハウゼンノイズ法は音響ノイズにより応力を求める方法である。
(d) Ｘ線応力測定法はＸ線の干渉変化を利用した方法で正答ある。

（ｃ）

応力塗料法ではひずみ感度のよいぜい性の高い塗料を部材表面に塗布し，この塗料が引張を受けたときに生じ正答（ａ）たき裂を観察している。このき裂は主応力の和に関係しここで述べられているのはいずれも残留応力を測定たものではなく，部材表面の主応力線に一致して生じる。

する方法であるが，音弾性法は弾性波の速度が応力に依このため，主応力のみでなく主方向もわかる。したがっ存することを利用した方法である。磁気ひずみ法は磁気て，この問では(c)が正答になる。

ひずみ効果を利用した方法で，磁粉分布を観察する方法ではない。バルクハウゼンノイズ法は音響ではなく，磁応力塗料法でひずみを測定するには使用した塗料気的なノイズで応力を測定する方法である。また，Ｘ線のひずみ感度を知る必要がある。これには，図のよう応力測定法はＸ線の干渉変化ではなく，回折を利用したな片持はりの検定試験で自由端に荷重をかけ，試験片方法である。したがって，正しい記述は(a)である。

問５

表面に塗布された塗料にき裂を生じさせる最小のひずみからひずみ感度を求めている。この試験で固定端表-6問７下に示す測定法はいずれも残留応力の測定ができ面のひずみが 1500×10 のときに，図のＫの位置まできる方法である。このうちで非破壊的でない方法を一つ裂が生じていた。この塗料のひずみ感度を次のうちか選び，記号で答えよ。
(a) Ｘ線応力測定法

ら選び，記号で答えよ。

(b) 電気抵抗ひずみ測定法(c) バルクハウゼンノイズ法(d) 磁気ひずみ法
正答(a) 1200×10(c) 800×10-6-6(b) 1000×10(d) 600×10-6-6（ｂ）

電気抵抗ひずみ測定法でも残留応力の測定は可能である。しかし，残留応力のある箇所に孔などをあけたときの応力解放で生じるひずみから，この応力を推定するの正答（ｄ）

この検定試験では，はり表面のひずみが固定端で最大，自由端で零になるように直線的に変化する。このことか
ら，Ｋの位置のひずみが塗料にき裂を生じさせる最小のひずみになる。この位置のひずみをεとすると，図に示で非破壊的な測定法とは言えない。この他はすべて非破壊的な方法であるので，ここでは(b)が正答である。