金 属 材 料 評 価 センター

最新装置を拡充し、金属材料のさまざまな評価を可能に！
付加価値の高いものづくりを実現するためには、用いる材料に関する各種特性の把握と活用が不可欠です。
当センターでは、従来から保有する基本的な金属材料評価装置類の他、電界放出形電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）や反射菊池線回折装置（EBSD）などの最新の評価装置を活用し、新製品の開発や製品トラブル原因の究明などを経験豊富な研究員が強力にサポートします。

金属材料評価センター概要

さまざまな材料評価で皆様のものづくりを強力にサポートします！
古くからものづくりの材料とされてきた金属材料は、他の材料にはない優れた特性を有しているため、現代社会においてもなお、主要な材料として位置づけられています。
また、今日では、ものづくりのために特別に造り込まれた金属材料を用いることも珍しくありません。
したがって、ユーザーのニーズを的確に捉えた付加価値の高いものづくりを実現するためには、高度な加工・組み立て技術だ
けでなく、用いる材料の特性や状態の的確な把握と活用が重要となっています。

この他にも様々な機器を設置しています。詳細につきましては、お問い合わせください。

スパーク放電発光分光分析装置■ 主な使用目的
材料の主要成分の定量分析■ 主な仕様島津製作所製 PDA-7000● 試料条件：
φ14 mm以上のフラット面

大阪産業技術研究所では、従来から保有する基本的な金属材料評価装置類に加えて最新の機器を拡充し、様々な材料評価でものづくりをサポートする「金属材料評価センター」を設置しました。
本センターでは、専門知識を有する経験豊富な研究員が各種の金属材料評価装置を活用し、皆様のものづくりを強力にサポートします。
また、いくつかの機器については、皆様ご自身で試験・分析等を実施することができる体制を整えました。

ICP発光分光分析装置■ 材料主要成分、あるいは微量成分に関する定性、定量分析■ 材料の結晶構造同定■ 材料、あるいは製品の残留応力測定■ 主な使用目的
材料の特殊成分の定量分析■ 材料の硬さの評価
この他にも様々な目的で金属材料に関する評価・解析を行うことができます。詳細につきましては、お気軽にご相談ください。

■ 主な仕様◆ SIIﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰ製 SPS3520UV◆ ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｨｯｸ製
iCAP6300● 固体試料量：数 g〜● 溶液試料濃度：数 ppm〜

■ 材料、あるいは製品の強度などの評価

走査電子顕微鏡■ 主な使用目的● 材料微細組織観察● 破断面観察ご利用料金について■ 主な仕様日本電子製 JSM6610■ 別紙のご利用料金表をご参照ください。

原子吸光分析装置（フレーム／ファーネス）■ 主な使用目的
材料中の炭素、硫黄の定量分析● 2次電子像分解能：
3 nm（30 kV）、8 nm（3 kV）● 試料サイズ：〜φ200 mm×80 mm(H)● ステージ稼動範囲：125 mm(X)、100 mm(Y)X線応力測定装置■ 主な仕様リガク製 AutoMATE● 最大出力：2 kW● 照射X線径：
φ0.15 mm〜φ 4mm● 試料サイズ：〜φ320 mm×215 mm(H)、〜20 kg■ 主な仕様アナリティクイエナ製
ZEEnit700P● 固体試料量：数 g〜● 溶液試料濃度：・数 ppm〜（フレーム）
・数 ppb〜（ファーネス）X線回折装置■ 主な使用目的
材料の主要成分の定性分析■ 主な使用目的
材料結晶構造の同定■ 主な仕様リガク製 ZSX PrimusⅣ● 対象元素範囲：9F〜92U● 試料サイズ：
最大φ40 mm×30 mm(H)● 分析径：
φ0.5 mm〜φ30 mm■ 主な仕様リガク製 SmartLab

電界放出形電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）● 最大出力：9 kW● X線プローブ最小径：400 μm● 広角測定、薄膜測定、小角散乱、微小部測定が可能

反射菊池線回折装置（EBSD）■ 主な使用目的
局所定性・定量分析■ 主な使用目的
微細組織結晶方位分布の同定■ 主な仕様日本電子製 JXA-8530F■ 主な仕様TSL製 OIM7.1● 空間分解能：100 nm以下
● 測定時間：0.01 sec/point● 分析範囲：φ20 mm● 分析元素範囲：4Be〜92U● 最小プローブ径：40 nm（10 kV、0.01 μA）● 試料サイズ：● 高精度ひずみ解析ソフト付〜100 mm×100 mm×50 mm(H)マイクロビッカース硬さ試験機■ 主な使用目的
材料、あるいは製品の表面近傍の非破壊残留応力測定、残留オーステナイト測定■ 主な使用目的
材料の微量成分の定量分析■ 主な仕様
LECO製 CS844● 固体試料量：数 g〜

波長分散型蛍光X線分析装置

主な評価目的■ 材料微細組織の観察・同定

炭素・硫黄分析装置

材料試験機■ 主な使用目的
材料の局所硬さ評価■ 主な使用目的
材料、あるいは製品の強度評価■ 主な仕様ミツトヨ製 HM-220D■ 主な仕様島津製作所製 UH-500KNI● 試験力：0.490 mN〜19.61 N● 試験体サイズ：
・奥行き〜160 mm
・高さ〜72 mm
・質量〜3 kg
● くぼみ対角線長さ自動測定可能● 最大試験力：500 kN● 試験速度制御：変位速度、荷重速度、ひずみ速度● 負荷形態：
引張、圧縮、曲げ、せん断

ご利用案内まずはお電話かウェブサイトでご相談ください
和泉センター 総合受付

電話

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０７２５−５１−２５２５

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ご利用までの流れ
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実施方法等の詳細をお打ち合せします。

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依頼試験

受託研究

課題、サンプル、試験内容、装置、評価内容等についてお伺いし、試験等の方法や実施日を決めます。

共同研究（来所での相談が不要の場合）

注意事項■ まずは、お電話かウェブサイトでご相談ください。
■ 装置のご利用は、事前予約の上、来所して下さい。
■ 依頼試験・装置使用の料金は、料金表をご参照ください。
■ 受託研究の料金は、お打ち合わせの上、決定します。

【 はじめて研究所を利用される方へ 】

和泉センターへの交通アクセス

NN
阪和自動車道

近畿自動車道（右折不可）

阪和自動車道電 話
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U R L

0725-51-2525（総合受付）※ 受付時間 平日 9：00 〜 12：15
13：00 〜 17：30
0725-51-2509
https://orist.jp/

2019年10月1日現在

依 頼 試 験スパーク放電発光分光分析
A303

１試料 ５成分¥8,000１成分増すごとに￥660¥5,100１成分増すごとに￥5,100¥8,100１成分増すごとに￥8,100¥6,300１成分増すごとに￥2,600

炭素、硫黄定量分析
A320

１試料 １成分

ICP発光分光分析（定量）A316

１試料 １成分

波長分散蛍光X線分析（元素指定）
A304

１試料 １成分

波長分散蛍光X線分析（全定性）F 〜 U
A305

１試料

¥13,000

X線回折（測定）A310

１測定¥6,700

X線回折（定性）A311

１測定¥12,700

金属組織写真撮影G415

１試料 １枚

¥5,200

１枚増すごとに￥2,200¥26,600

１項目増すごとに￥3,400

走査電子顕微鏡写真撮影
G403

１試験 １枚 １項目

電界放出形電子プローブマイクロアナリシス
G421

１試料 １項目¥33,600

１項目（測定）増すごとに￥4,100
１項目（条件）増すごとに￥2,100

X線残留応力測定
G204

１測定¥10,500

X線残留応力測定（特殊）
G205

１測定

¥16,200

ロックウェル硬さ試験
G305

１試験

¥3,100G306

１試験 １０箇所（分布）¥4,300

１０箇所増すごとに￥4,300

ビッカース硬さ試験（9.807 N以下）
G312

１試験

¥4,300G313

１試験 １０箇所（分布）¥7,500

１０箇所増すごとに￥7,500

ブリネル硬さ試験
G307

１試験¥3,000引張（一般）
G101

１試料¥4,400
この他にもご利用いただける依頼試験がございます。詳細につきましては、ご相談ください。

2019年10月1日現在

装 置 使 用倒立型金属顕微鏡撮影システム

A7210¥2,100

１時間当たり走査電子顕微鏡

A9219¥12,600

半日当たり

A9246

¥46,400

半日当たり

A9247

¥77,600

１日当たり

A9246

¥46,400

半日当たり

A9247

¥77,600

１日当たり

A9249

¥1,500

データ解析１時間当たり

X線応力測定装置

A7214¥5,500

１時間当たりX線応力測定装置（高出力）

A7215¥6,000

１時間当たりロックウェル硬さ試験機

A9225¥2,200

１時間当たりマイクロビッカース硬さ試験機

A7304¥3,500

１時間当たりブリネル硬さ試験機

A3004¥2,400

１時間当たり500ｋN油圧材料試験機

A7212¥4,100

１時間当たり電界放出形電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）

反射菊池線回折装置（EBSD）

この他にもご利用いただける装置がございます。詳細につきましては、ご相談ください。