【64 巻 9 号掲載記事に関する訂正】2/4 ページ「非破壊試験技術者資格登録件数（2015 年4 月 1 日現在）
」記事において表 1 及び文中の資格登録総件数に誤りがありました。お詫び
NDT フラッシュ Vol.64,No.09

1/4して訂正致します。
（2015 年 9 月 7 日）
なお訂正箇所は本記事の２頁目に記載してあります。３頁目は修正済みの記事です。

１．JIS Z 2305

2015 年春期資格試験結果

2015 年春期資格試験の結果が発表された。新規試験結果（再試験を含む）の合格率は，レベル 1 が 43.2%，レベル 2が 31.8%，レベル 3 が 14.5%であった。なお，レベル 3 基礎試験では申請者数 611 件，合格率 21.2%であった。再認証試
験結果は，レベル 1 が 57.4%，レベル 2 が 62.4%，レベル 3 が 69.3%であった。受験申請数は，新規試験，再試験，再認証試験を合わせて計 14,934 件であった。
各表の合格率は［合格者数／（申請者数－欠席者数）］で算出した値である。新規試験結果（レベル 3 基礎試験結果を除く）を表１に，再認証試験結果を表２に示す。
表１NDT 方法

略称JIS 新規試験結果（再試験を含む）

レベル 1＊1

レベル 2＊1

レベル3＊1

申 請者 数 合 格 者 数 合 格率 % 申 請 者 数 合 格 者数 合格 率 % 申 請 者数 合格 者 数 合 格 率 %放射 線 透 過 試験

RT692641.3710

18728.5

1834728.7

超音 波 探 傷 試験

UT649

29848.8

178447628.8544

275.6

超音 波 厚 さ 測定

UM2078342.6

磁粉 探 傷 試 験MT185

4625.61383

30423.8

1622618.2

極間 法 磁 粉 探傷 検 査

MY671727.4

1251916.7

通電 法 磁 粉 探傷 検 査

ME7114.3―

コイ ル 法 磁 粉探 傷 検 査

MC5120.0―

浸透 探 傷 試 験

PT

336

137

42.4

1472

604

44.5

3516.4

溶剤 除 去 性 浸透 探 傷 検査

PD

10255

56.1

430

164

40.1

水洗 性 浸 透 探傷 検 査

PW00

渦流 探 傷 試 験ET57

23－44.2

358

80

24.0

61

1527.8

ひず み 測 定

SM261250.0

97

38

40.0

12555.6

1,710

699

43.2

6,359

1,872

31.8

1,201

155

14.5

合

計―

―
―
――
239
―

――

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数
表２NDT 方法

略称JIS 再認証試験結果

レベル 1

レベル 2

レベル 3

＊2

申請 者 数 合 格 者 数 合 格 率 % 申 請 者 数 合 格者 数 合格 率 % 申 請 者 数 合 格 者 数 合 格 率 %放 射線 透 過 試 験RT161280.0

391

205

57.4

1128074.8

超 音波 探 傷 試 験UT392

16144.4

121456548.6

273

15259.6

超 音波 厚 さ 測 定

UM1408161.8

磁 粉探 傷 試 験MT11777.8726

36552.71872.0

極 間法 磁 粉 探 傷検 査

MY542141.2301553.6

通 電法 磁 粉 探 傷検 査ME11654.6―

コ イル 法 磁 粉 探 傷検 査MC200.0―

浸 透探 傷 試 験PT

533572.91360

1,05281.96483.1

溶 剤除 去 性 浸 透探 傷 検 査

PD

141

10983.919412972.9

水 洗性 浸 透 探 傷検 査PW

43100.0渦 流探 傷 試 験ET5480.0

298

162

56.6

353191.2

ひ ずみ 測 定

SM44100.0814557.0

13969.2

833

443

57.4

4,294

2,538

62.4

537

354

69.3

合計

―

―
26―
―
―
78―

――

注＊2：レベル 3 クレジット申請は除く

２．NDIS 0604,NDIS 0605

2015 年春期資格試験結果

2013 年春期よりレベル 2 の試験が開始され，NDIS 0604（赤外線サーモグラフィ試験）と NDIS 0605（漏れ試験）の申請件数は計 94 件となった。合格率は，レベル 1 が 64.7%，レベル 2 が 67.3%であった。新規試験結果を表３に示す。
表３ NDIS 新規試験結果
レベル 1＊3

レベル 2＊3

レベル 3NDT 方法

略称

赤外線サーモグラフィ試験

TT

161173.3

20738.9―

漏れ試験

LT20

1157.9383081.1―

362264.7

583767.3―

合計

申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 % 申請者 数 合格者数 合格率 %

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と 二次のみ（新規,再試験）の合計数

NDT フラッシュ Vol.64 No.09 2/4

非破壊試験技術者資格登録件数（2015 年 4 月 1 日現在）（総数・表１ 訂正 2015 年 9 月 7 日）
2015 年 4 月時点での資格登録件数を表１にまとめた。JIS Z 2305 に加えて，赤外線サーモグラフィ試験(NDIS 0604)と漏れ試験(NDIS 0605)による認証登録が，2012 年から始まっている。集計の結果，資格登録件数は，JIS Z 2305 資格と NDIS
資格の総数で 89,345 件 90,084 件となった。NDT 方法別比率を図１に示す。また，2009 年以降の JIS Z 2305 による資格登録件数の推移を図２に，NDIS 0604 及び NDIS 0605 による資格登録件数の推移を図３に示す。資格登録者の内訳は，従来と同様におおよそレベル 1 が 20%，レベル 2 が 70%，レベル 3 が 10%である。資格登録件数は，JIS Z 2305 の認証制度開始時点と比較して現在は約 1.5 倍となっている。

JIS Z 2305

表１NDIS

非破壊試験技術者資格登録件数

単位：件ＮＤＴ方法

略称

放射線透過試験

RT

498

6,245

2,002

8,745

超音波探傷試験UT

6,156

15,495

3,148

24,799超音波厚さ 測定UM

3,098--

磁粉探傷試験

MT826

極間法磁粉探傷検査

MY817

-

1,521

通電法磁粉探傷検査

ME129

--

129

ｺｲﾙ法 磁 粉 探 傷 検 査

MC

64-

-

64

浸透探傷試験

PT

2,464

21,931

1,368

25,763

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

2,548

4,159-

6,707

水洗性浸透探傷検査

PW

50-

-50

渦流探傷試験

ET

271

3,999617

4,887

ひずみ測定

SM

211

1,284

278

1,773

赤 外 線 ｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨ試 験TT

187

38-

225

漏れ 試験

LT

126

110-

236

17,44564,598

総計ﾚﾍﾞﾙ1

ﾚﾍﾞﾙ2

ﾚﾍﾞﾙ3

10,633704

計3,098628

8,041

12,08790,084

図１

ＮＤＴ方法別比率―：該当資格なし

図２JIS Z 2305 資格登録件数推移

図３

NDIS 資格（NDIS 0604,NDIS 0605）登録件数推移

NDT フラッシュ Vol.64 No.09 2/4

非破壊試験技術者資格登録件数（2015 年 4 月 1 日現在）
2015 年 4 月時点での資格登録件数を表１にまとめた。JIS Z 2305 に加えて，赤外線サーモグラフィ試験(NDIS 0604)と漏れ試験(NDIS 0605)による認証登録が，2012 年から始まっている。集計の結果，資格登録件数は，JIS Z 2305 資格と NDIS
資格の総数で 90,084 件となった。NDT 方法別比率を図１に示す。また，2009 年以降の JIS Z 2305 による資格登録件数の推移を図２に，NDIS 0604 及び NDIS 0605 による資格登録件数の推移を図３に示す。資格登録者の内訳は，従来と同様におおよそレベル 1 が 20%，レベル 2 が 70%，レベル 3 が 10%である。資格登録件数は，JIS Z 2305 の認証制度開始時点と比較して現在は約 1.5 倍となっている。

JIS Z 2305

表１NDIS

非破壊試験技術者資格登録件数

単位：件

Ｎ Ｄ Ｔ方 法

略称

放射線透過試験

RT

498

6,245

2,002

8,745

超音波探傷試験UT

6,156

15,495

3,148

24,799超 音 波 厚さ 測 定UM3,098--

磁粉探傷試験

MT826

極間法磁粉探傷検査

MY817-

1,521

通電法磁粉探傷検査

ME129--129

ｺｲﾙ法 磁 粉 探 傷 検 査

MC64--64

浸透探傷試験

PT

2,464

21,931

1,36825,763

溶剤除去性浸透探傷検査

PD2,5484,159-

6,707

水洗性浸透探傷検査

PW50--50

渦流探傷試験

ET271

3,999617

4,887

ひ ず み測 定

SM211

1,2842781,773

赤 外 線 ｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨ試 験TT18738-

225

漏れ試験

LT126

110-

236

17,44564,598

総計

ﾚﾍﾞﾙ1

ﾚﾍﾞﾙ2

ﾚﾍﾞﾙ3

10,633
704

計

3,098
628

8,041

12,08790,084

図１

ＮＤＴ方法別比率―：該当資格なし

図２

JIS Z 2305 資格登録件数推移

図３

NDIS 資格（NDIS 0604,NDIS 0605）登録件数推移

N D T フ ラ ッ シ ュ V ol . 6 4 , N o. 9

3/4

ＭＴレベル１ 一般・専門問題のポイント

正答 （ｃ）
基本的な計算問題である。電流値Iは次式で表される。

JIS Z 2305に基づく資格試験について，本欄ではVol.

I＝2πrH

60,No.10(2011年)，Vol.61,No.03(2012年)，Vol.62,No.10(201

ここで，I:電流値(A)，r:半径(m)，H:磁界の強さ(A/m)

3年)，Vol.63,No.10(2014年)に，MT-1及び限定資格（MY-1，

この式に，r=d/2=0.03/2=0.015(m)，H=3200(A/m)を代入す

ME-1）の新規一次試験の類似問題の中から，ミスを犯しる。I＝2πrH＝2π×0.015×3200＝301(A)やすい問題を選んで注意点・ポイントなどを解説した。今したがって，最も近い（ｃ）が正答である。この問題の類号ではレベル1の新規一次試験について，共通する一般問題として，電流を与えたときの磁界の強さを問う形式もあ

題及び専門問題の中から，最近の正答率の低い問題の類題るので，基本となる式をよく理解しておいて欲しい。

を解説する。なお，限定資格の専門問題には末尾に（MESP）のように記した（ただしMT-1は全てが対象）。

問３ 次の文は，各磁化方法とその特徴について述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

問１ 次の文は，反磁界について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）反磁界が発生すると，外部磁界に加えて反磁界も作用するため，試験体はより強く磁化される。
（ｂ）試験体の長さLと直径Dの比（L/D）が大きくなると，反磁界は小さくなる。
（ｃ）反磁界の大きさは試験体の寸法比によって変わらない。

（ａ）軸通電法は試験体の軸方向に直接電流を流して磁化する方法で，電流と平行な方向のきずが最も検出しやすい。
（ｂ）プロッド法は試験体の局部に二個の電極を当てて電流を流して磁化する方法で，形状の複雑なものにも適用できる。
（ｃ）コイル法は試験体をコイルの中に入れコイルに電流を流して磁化する方法で，コイル軸に直交する方向（ｄ）反磁界の生じた磁極の周辺は磁界の強さが強いので，中央部よりもきずが検出しやすい。
正答 （ｂ）のきずが最も検出しやすい。
（ｄ）電流貫通法は試験体の穴などに通した導体に電流を流して磁化する方法で，管やリング状の試験体などコイルの中に試験体を置いて磁化した場合，試験体の両端に磁極が生じ反磁界が発生する。反磁界の大きさは，試の円周方向のきずの検出に適している。
正答 （ｄ）

験体の磁化されている部分の長さLと直径Dとの寸法比

磁粉探傷試験における基本的な磁化方法は，『磁粉探傷（L/D）によって決まり，この比が大きくなると反磁界の試験Ⅰ』表1.1に示されている。MT-1受験者だけでなく，強さは小さくなる。したがって，（ｂ）は正しく（ｃ）は他の２つの限定資格を受験する人にも基本的な事項である

誤っている。反磁界の向きは外部磁界(コイルによる磁界)ので，『磁粉探傷試験Ⅰ』をよく読み，できれば実技演習の向きと逆向きであるため，試験体の有効磁界の強さ（中などで経験して理解しておいて欲しい。設問では，（ａ）

央部の磁界の強さ）は小さくなるので（ａ）は誤りである。

（ｂ）（ｃ）は正しく，（ｄ）はきずの検出される方向が反磁界の生じた磁極の周辺は有効磁界の強さが弱くなり，誤っており，試験体(貫通棒)の軸に平行な方向のきずが正中央部よりもきずが検出しにくいので（ｄ）も誤りである。

しい。

問２ 次は，外径30mm，内径15mmの円筒形試験体の外表面

問４ 次の文は，コイル法で探傷する際に使用するサイリを3200A/mに磁化する場合の磁化電流値を示したものでスタ制御ワンパルス通電式の磁粉探傷装置について述べある。最も近い値を選び記号で答えよ。ただし，磁化電たものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

流は直流で電流貫通棒の直径は10mmとし，その中心軸は（ａ）磁化電流の出力端子を接地してはならない。

試験体の軸と一致しているものとする。

（ｂ）交流の半波長のみを整流したパルス状の大電流を使（ａ）75A（ｂ）150A（ｃ）300A（ｄ）600A用する。
（ｃ）通電時間が長く取れるので連続法にも残留法にも使N D T フ ラ ッ シ ュ V ol . 6 4 , N o. 94/4用できる。
（ｄ）出力電圧が高く大電流が流れているため，コイルや電流回路には直接触れることはできない。
正答 （ｃ）（ｄ）検査部位の鋼板の板厚によって変化しない。
正答 （ｄ）
極間法の探傷有効範囲については『磁粉探傷試験Ⅰ』
5.1.1に詳しく説明されている。探傷有効範囲の大きさは，サイリスタ制御ワンパルス通電式磁粉探傷装置は，残留対象となるきずの種類と大きさや，検査液の流速，磁化器法の探傷で実用されている装置で，特にコイル法で多用さの磁極間距離により変化するので，（ａ）（ｂ）（ｃ）はれている。一般に200Vの交流を一次側入力とし，交流の誤っている。携帯形交流極間式磁化器では，交流の表皮効

半波長のみを整流したパルス状の大電流を使用しており，果により鋼板の板厚の影響を受けないので，探傷有効範囲（ｂ）は正しい。通電時間は1/100秒以下と短く残留法にの大きさは変化しない。したがって（ｄ）が正しい。

のみ使用できるので，（ｃ）は誤りである。一般に，二次側出力も一次側と同じ高電圧なので，（ａ）（ｄ）の内容を守る必要がある。（ａ）（ｄ）は正しい。

問７ 次の文は，タンク溶接部の保守検査で，磁粉探傷試験を行う際の磁極の配置について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。（MY-SP）

問５ 次の文は，円柱状の小形機械部品の保守検査におけるコイル法による残留法について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）コイルの中に部品3個を直列に並べ，交流で磁化する。

（ａ）縦割れに対しては，磁極を結ぶ線と溶接ビードが平行となる一方向のみ磁極を配置した。
（ｂ）応力腐食割れに対しては，磁極を結ぶ線と溶接ビードが直交する一方向のみ磁極を配置した。
（ｃ）疲労割れに対しては，磁極を結ぶ線と溶接ビードが（ｂ）コイルの中央部に部品1個を置き，交流で磁化する。

直交する方向と平行な方向の二方向に磁極を配置し（ｃ）コイルの中に部品3個を直列に並べ，直流で磁化すた。

る。
（ｄ）コイルの中央部に部品3個を並列に並べ，直流で磁化する。
正答 （ｃ）
コイル法では常に反磁界の対策を考慮しておく必要があ（ｄ）横割れに対しては，磁化器が溶接ビードをまたぐように配置した。
正答 （ｃ）
溶接部の保守検査における磁粉探傷試験では，主として疲労割れや応力腐食割れが対象となる。試験部位にかかるる。設問でL/Dを大きくする目的で，Lを大きくするため応力方向がわからないときは全方向のきずが対象となるたには部品を直列に繋げる。また，Dを小さくするためには，め，互いに直交する2方向から磁化する必要があるので，部品を並列にせず，磁化電流には交流を使用する。ただし，（ｂ）は誤っており，（ｃ）は正しい。縦割れは溶接線に残留法の場合には交流は使えないので直流を使用する。ま平行な割れであるため，磁極を結ぶ線と溶接ビードが直交た，コイル中の磁界の強さは中央部が大きい。これらを考するように配置する必要があり，（ａ）は誤っている。同慮すると，（ｃ）が正しい記述になる。連続法の場合であ様に横割れは溶接線に直交する割れであるため，磁極を結れば，（ａ）が正しい記述となる。（ｂ）（ｄ）は先のぶ線を溶接ビードに平行に配置するので，（ｄ）は誤りでL/Dが小さくなる理由から誤りである。

ある。

問６ 次の文は，溶接構造物を携帯形交流極間式磁化器で以上に解説した例題は，MT-1及び，ME，MYに概ね共磁粉探傷試験を行う際の探傷有効範囲の大きさについて通する問題の例である。多くの例題を取り上げられないが，述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

限定資格の人も各磁化方法の特徴，A形標準試験片，装置，（MY-SP）

各種のきずなどについてもよく理解しておいて欲しい。

（ａ）対象となるきずの種類と大きさによって変化しない。

（2015年秋期よりMC-1の新規試験は廃止されました。）（ｂ）検査液の流速によって変化しない。
（ｃ）磁化器の磁極間距離が変わっても変化しない。