2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

05 電気

廃止

C2138

電気絶縁材料－比誘電率及び誘 Electrical insulating materials電正接の測定方法
Methods for the determination of
the relative permittivity anddielectric dissipation factor

この規格は、固体絶縁物の比誘電率、誘電正接を、15Hz～
300MHzの周波数範囲で測定する方法について規定するものであり、IEC 60250:1969を対応国際規格として、2007年制定された。近年、デジタル計測技術の発展などによって、測定可能周波数がより低い周波数まで伸びたこと、全周波数領域においてより高い確度の測定が可能になったことなど、測定装置の技術的進歩に伴って、特に測定周波数が高い領域（1MHz～300MHz）において高い確度で測定を実施するためには、高周波数領域での特有の測定手順を標準化する必要性が生じてきた。一方、低い周波数領域では、測定可能周波数の下限領域が伸びて、0.1HZまで高い確度の測定が可能となってきた。
このようなことを背景にして、特に高い周波数領域での測定における特別な測定手順を盛り込んで規定するため、対応国際規格
であるIEC 60250は廃止され、測定周波数を低周波領域（0.1 Hz～10 MHz）と高周波領域（1 MHz～300 MHz)とに分けて、それぞれの周波数領域での測定方法について、新たにIEC 62631-2-1:2018及びIEC 62631-2-2:2022が制定された。
我が国においても、固体絶縁材料の基本的な特性の一つである
比誘電率及び誘電正接の測定方法に関して国際規格との整合性を図るとともに、最近の技術の実態に即し、測定器の性能や機能の向上に対応するため、新たに二つの周波数領域における測定方法を別々に規定したJISを制定し、この規格を廃止する。

-

一般社団法人電気学会 2024年1月
のWG

JSA

06 電子

廃止

C4556

工業用電子カウンタ

これから廃止に着手し，来年度中に廃止公示予定であるため。 【廃止する理由】工業用電子カウンタ機器としては、IEC 61010を利用するのが一般的であるため。

-

一般社団法人日本電気 制御機器工業会のWG

Electronic counter for industrialuse12024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

06 電子

廃止

C5070

表面実装技術－表面実装部品(Ｓ Surface mounting technology－
ＭＤ）の輸送及び保管条件－指針 Part 2: Transportation andstorage conditions of surface
mounting devices (SMD) －Application guide

この規格は、IEC 61760-2を対応国際規格とするJISである。IEC IEC 61760-2:2007
61760-2の主要な規定である、表面実装部品の輸送、保管時の環境条件の分類、環境パラメータ及びその厳しさなどの規定が、社会環境の変化に合わせて全面的に改訂され2021年に発行された。JISとしても規格としての取り込みを予定してるが、これを機会に、IEC 61760-2の整合規格であることを明確にするため規格番号をJIS C 61760-2に改めて制定を申請する予定である。JIS C
61760-2の制定と同時に、この規格は廃止とする。

JSA

07 情報

廃止

C5750-1

ディペンダビリティ マネジメント－ Dependability management - Part IEC 60300シリーズに対応するJISであるC5750シリーズのうち、 IEC 60300-1
第１部：ディペンダビリティ マネジメ 1: Dependability management
主要5規格が現在IECで改訂及び作成作業中である。C5750シ
ントシステムsystemリーズの規格番号を対応国際規格に合わせてC60300としたいという強い要望を委員会から受けた。最上位規格IEC 60300-1に対応するC5750-1の規格番号をC60300-1にして、続く4規格もC60300シリーズとすることが、日本における総合信頼性（ディペン
ダビリティ）JISの普及にも役立つことから、この規格を廃止し、新たにC60300-1として制定する。

2

IDT

一般社団法人電子情報 技術産業協会のWG

IDT

一般財団法人日本規格 2024年4月
協会のWG

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

07 情報

廃止

C5750-2

ディペンダビリティ マネジメント－ Dependability management - Part JIS C 5750-2:2010（IEC 60300-2:2004）は、ディペンダビリティ
IEC 60300-2:2004
第２部：ディペンダビリティ マネジメ 2: Guidelines for dependability（総合信頼性）マネジメントシステム規格であるJIS C 5750-1:2010
ントのための指針
management（IEC 60300-1:2003）を補助し、適用の指針及び方法を提供する規格である。2014年、これらの対応国際規格は統廃合され、IEC
60300-2は既に廃止されている。また、統合後のIEC 603001-1
は、最近の市場の実態などを踏まえて2023年に改訂されることから、JIS C 5750-1がIEC 60300-1:2023の一致規格として改正されるため、それと同時にこの規格は廃止する。

JSA

06 電子

廃止

C5940

光伝送用半導体レーザ通則

General rules of laser diodes forfiber optic transmission

MOD

一般財団法人日本規格 2023年7月
協会のWG

この規格は，光源として使用する光伝送用半導体レーザ（電子回路内蔵形を除く。）の用 IEC 60747-5:1992
MOD
語，分類，最大定格，性能などの一般的共通事項について規定するものである。対応国
Semiconductor
devices
際規格は，IEC 60747-5（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits- Part 5: Optoelectronic devices：1992年制定，1995年修正2版発行）である。なお，IEC - Discrete devices and60747-5の一部として包含されていた半導体レーザについては，2006年にIEC 60747-5-4 integrated circuits （Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers：2006 Part 5: Optoelectronic
年制定，2022年改訂）に移行している。また，JIS C 5940に関連するJISとしてJIS C 5944
devices,IEC 60747（光伝送用半導体レーザモジュール通則）が制定されており，対応国際規格はIEC 62007-5:1992/AMENDMEN-1（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 1:
Specification template for essential ratings and characteristics；1997年制定、2015年改訂） T 1:1994 Amendment 1
である。
- Semiconductor
JIS C 5940（JIS C 5944も同様）では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついdevices - Discreteても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が規定されている（JIS C 5944では数値は推奨値となってい devices and integratedる）。しかし，IEC 60747-5-4ではJISとは異なり，定格及び性能について規定すべき事項だ circuits - Part 5:
けを規定し個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験については規定 Optoelectronicが無い（IEC 62007-1も同様）。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，個々に規定す
devices, IEC 60747
べき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テンプレートは最小限の共通事
項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ご -5:1992/AMENDMENとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたこ T 2:1995 Amendment 2とによるものである。このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混 - Semiconductor
乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，半導体
devices - Discrete
レーザと半導体レーザモジュールは共通事項が多いことから，JIS C 5940と関連したJIS C
5944の両JISの内容を包含した１つの規格とすることで規格利用者の利便性向上を図り， devices and integrated
IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプ circuits - Part 5:レート）における新たな規格（JIS C 5955-4）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5940を Optoelectronic devices
廃止する。

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

32024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

06 電子

廃止

C5941

光伝送用半導体レーザ測定方法 Measuring methods of laser diodes この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザ（電子回路内蔵型を除く。ただ IEC 60747-5:1992
MOD
し、必要に応じモニタ用フォトダイオードを含む。）の測定方法を規定しているものである。
for fiber optic transmission
Semiconductor
devices
この規格の対応国際規格はIEC 60747-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devices
and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが，この中にあった半導体 - Discrete devices andintegrated circuits レーザの測定方法について、基本特性測定方法についてはIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers 2006 Part 5: Optoelectronic
年制定 2022年改訂）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方
devices,IEC 60747
法を集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic systemapplications - Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）に包含された。IEC -5:1992/AMENDMEN
62007-2では光伝送用半導体レーザ、光伝送用半導体レーザモジュール、光伝送用発光 T 1:1994 Amendment 1
ダイオード及び光伝送用フォトダイオードを、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏 - Semiconductor
めて規定している。IEC 62007-2制定の際に半導体レーザの基本特性測定方法はIEC
devices - Discrete
60747-5に残され、2006年にIEC 60747-5-4に置き換えられた。このため、IEC規格では
IEC 60747-5-4に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に規定されている測定 devices and integrated
circuits - Part 5:
方法を共に参照する必要がある。
また，JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5941（光伝送用半導体
Optoelectronic
レーザ測定方法）に加え、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）、JIS
devices, IEC 60747
C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）及びJIS C 5991（光伝送用フォトダイオード測-5:1992/AMENDMEN定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱 T 2:1995 Amendment 2
を避けるとともに１つのJISとすることで利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5941、JIS - Semiconductor
C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たに
devices - Discrete
JIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5941は廃止とする。
devices and integrated
circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

JSA

06 電子

廃止

C5944

光伝送用半導体レーザモジュー
ル通則

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

General rules of laser diodemodules for fiber optic
transmission

この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザモジュールの用語，最大定格， IEC 62007-1:1999
性能などの一般的共通事項について規定したものである。対応国際規格は，IEC 62007-1
Semiconductor（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 1:
Specification template for essential ratings and characteristics；1997年制定、2015年改訂） optoelectronic devicesである。JIS C 5944に関連するJISとしてJIS C 5940（光伝送用半導体レーザ通則）が制定さ for fibre optic system
れており，対応国際規格は，IEC 60747-5（Semiconductor devices, Discrete devices and applications - Part 1:
integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices：1992年制定，1995年修正2版発行）
Specification templateである。なお，IEC 60747-5の一部として包含されていた半導体レーザについては，2006
for essential ratings
年にIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic devices and characteristics
Semiconductor lasers：2006年制定，2022年改訂）に移行している。
JIS C 5944（JIS C 5940も同様）では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が推奨値として示されている（JIS C 5940では示されている数
値の範囲は規定となっている）。しかし，IEC 62007-1ではJISとは異なり，定格及び性能について規定すべき事項だけを規定し個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験については規定が無い（IEC 60747-5-4も同様）。これは光伝送用部品に関する
IEC規格が，個々に規定すべき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テン
プレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，半導体レーザモジュールと半導体レーザは共通事項が多いことから，JIS C 5944と関連したJIS C 5940の両JISの内容を包含した１つの規格とすることで規格利用者の利便性向上を図り，IEC規格と整合した性能
標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 5955-4）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5944を廃止する。

4MOD

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止
JSA

06 電子

廃止

規格番号
C5945

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）
光伝送用半導体レーザモジュー
ル測定方法

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

Measuring methods of laser diode この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザモジュール（光ファイバ IEC 62007-2:1996
MOD
ピグテイル又は光ファイバ接続用のレセプタクルをもち、必要に応じモニタ用フォ Semiconductor
modules for fiber optic
トダイオード、電子冷却素子、温度センサ、光アイソレータなどの簡単な素子を optoelectronic devices
transmission
内蔵するものである。）の測定方法を規定している。この規格の対応国際規格
for fibre optic system
IEC 62007-2 （Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic systemapplications - Part 2: Measuring methods）はIEC 60747-5:1992（Semiconductor applications - Part 2:
Measuring methods
devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

devices）の中で光伝送用に特化した測定方法を抽出して規定したもので1997年に制定され、光伝送用半導体レーザモジュール以外に，光伝送用半導体レーザ，光伝送用発光ダイオード及び光伝送用フォトダイオードを、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて記載している。半導体レーザ及び半導体レー
ザモジュールの基本特性測定方法はIEC 62007-2制定の際にIEC 60747-5に残され、2006年にIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 4:
Optoelectronic devices - Semiconductor lasers）に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC 60747-5-4に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。
また、JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）に加え、JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）及びJIS C 5991
（光伝送用フォトダイオード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱を避けるとともに１つのJISとすることで利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5945、JIS C 5941、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5945は廃止とする。

JSA

06 電子

廃止

C5950

光伝送用発光ダイオード通則

この規格は、光源として使用する光伝送用発光ダイオード（電子回路内蔵形を IEC 60747-1:1983
General rules of light emittingMOD
diodes for fiber optic transmission 除く）の用語，記号，分類，最大定格，性能などの一般的共通事項について規 Semiconductor devices 定したものである。この規格の対応国際規格はIEC 60747-5:1992+AMD1:1994 Discrete devices - Part 1:（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5:
General IEC 60747
Optoelectronic devices）であるが，IEC 60747-5の一部として包含されていた光 -1:1983/AMENDMENT
伝送用発光ダイオードは1997年に他の光伝送用半導体部品とともに光伝送用
1:1991 Amendment 1 半導体部品に特化したIEC 62007-1（Semiconductor optoelectronic devices for
Semiconductor devices fibre optic system applications - Part 1: Specification template for essential
Discrete devices andratings and characteristics）に定格及び性能が包含された。
JIS C 5950では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目 integrated circuits - Partが規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条 1: General, IEC 60747
件として与えるべき数値の範囲が規定されている。一方，IEC 62007-1では，JIS -5:1992 Semiconductor
C 5950とは異なり，光伝送用発光ダイオードの定格と性能について規定すべき devices - Discrete
事項だけを規定し，個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試 devices and integrated
験については規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，個々に規 circuits - Part 5:
定すべき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テンプレートは最 Optoelectronic devices,
小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに IEC 60747
異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規 -5:1992/AMENDMENT
定するという体系に変わってきたことによるものである。
1:1994 Amendment 1 このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避け
Semiconductor devices るために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，IEC規格
Discrete devices andと整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 5955-5）を制定する。これに伴い重複する integrated circuits - Part
5: Optoelectronic devices
JIS C 5950を廃止する。

5

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由

JSA

06 電子

廃止

C5951

光伝送用発光ダイオード測定方法 Measuring methods of lightemitting diodes for fiber optic
transmission

JSA

06 電子

廃止

C5952-4

光伝送用能動部品―パッケージ Fibre optic active components and 対応国際規格が廃止されているため。
及びインタフェース標準―第４部： devices - Package and interface
ＰＮコネクタ付１×９ピンプラスチッ standards - Part 4: PN 1x9 plastic
ク光ファイバ光トランシーバ
optical fibre transceivers

対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

この規格は、光源として使用する光伝送用発光ダイオード（電子回路内蔵型を IEC 60747-5:1992
MOD除く。）の測定方法を規定している。この規格の対応国際規格はIEC 60747
Semiconductor devices-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part - Discrete devices and5: Optoelectronic devices）であるが，この中にあった光伝送用発光ダイオードの
integrated circuits 測定方法について、基本特性測定方法はIEC 60747-5-6（Semiconductor
devices - Part 5-6: Optoelctronic devices - Light emitting diodes 2016年制定 Part 5: Optoelectronic
2021年改訂）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定 devices,IEC 60747
方法を集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for fibre-5:1992/AMENDMEN
optic system applications - Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改 T 1:1994 Amendment 1
訂）に包含された。IEC 62007-2では、光伝送用発光ダイオード以外に、光伝送 - Semiconductor
用半導体レーザ、光伝送用半導体レーザモジュール及び光伝送用フォトダイ
devices - Discrete
オードを、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて規定している。IEC
62007-2制定の際に発光ダイオードの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残さ devices and integrated
circuits - Part 5:
れ、2016年にIEC 60747-5-6に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC
60747-5-6に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に規定されてい Optoelectronic devices
る測定方法を共に参照する必要がある。
また，JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）に加え、JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）及びJIS C 5991
（光伝送用フォトダイオード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱を避けるとともに１つのJISとすることで利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5941、JIS C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5951は廃止とする。

6

-

-

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

無2022年12月

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

06 電子

廃止

C5952-7

光伝送用能動部品－パッケージ Fibre optic active components and この規格は、LCコネクタ付10ピンSFF形光トランシーバの物理イン IEC 62148-7:2003
及びインタフェース標準－第７部： devices - Package and interface ターフェース仕様について規定したものである。10ピンSFF形光ト
ＬＣコネクタ付１０ピンＳＦＦ形光トラ standards - Part 7: SFF LC 10- ランシーバに関するJISには、ほかにこの規格群のパート2及びンシーバ
pin transceivers
パート9があり、JIS C 5952-2の対応国際規格であるIEC 62148-2
が2010年に、JIS C 5952-7の対応国際規格（IEC 62148-7:2003
Fibre optic active components and devices - Package andinterface standards - Part 7: SFF LC 10-pin transceivers）及びJIS C 5952-9の対応国際規格（IEC 62148-9:2003 Fibre optic
active components and devices-Package and interface standardsPart 9 : SFF MU duplex 10-pin transceivers）を包含して改訂し、同時にIEC 62148-7及びIEC 62148-9は廃止された。このため、
現状10ピンSFF光トランシーバ関連のJISとIEC規格との規格構成を合わせるために、国内においても、JIS C 5952-7及びJIS C
5952-9をJIS C 5952-2に纏める形で改正することとなった。またこれに伴い，この規格及びJIS C 5952-9は廃止する必要がある。

MOD

一般財団法人光産業技 2023年12月
術振興協会のWG

JSA

06 電子

廃止

C5952-8

光伝送用能動部品－パッケージ Fibre optic active components and この規格は、LCコネクタ付20ピンSFF形光トランシーバの物理イン IEC 62148-8:2003
及びインタフェース標準－第８部： devices - Package and interface ターフェース仕様について規定したものである。20ピンSFF形光ト
ＬＣコネクタ付２０ピンＳＦＦ形光トラ standards - Part 8: SFF LC 20- ランシーバに関するJISには、ほかにこの規格群のパート8及びンシーバ
pin transceivers
パート10があり、JIS C 5952-3の対応国際規格であるIEC 62148-3が2010年に、JIS C 5952-8の対応国際規格（IEC 62148-8:2003 Fibre optic active components and devices - Package
and interface standards - Part 8: SFF LC 20-pin transceivers）及びJIS C 5952-10の対応国際規格（IEC 62148-10:2003 Fibre
optic active components and devices-Package and interface
standards-Part 10 : SFF MU duplex 20-pin transceivers）を包含して改訂し、同時にIEC 62148-8及びIEC 62148-10は廃止された。このため、現状20ピンSFF光トランシーバ関連のJISとIEC規格との規格構成を合わせるために、国内においても、JIS C 5952-8
及びJIS C 5952-10をJIS C 5952-3に纏める形で改正することとなった。またこれに伴い，この規格及びJIS C 5952-10は廃止する必要がある。

MOD

一般財団法人光産業技 2023年12月
術振興協会のWG

7

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

06 電子

廃止

C5952-9

光伝送用能動部品－パッケージ Fibre optic active components and この規格は、MU2心コネクタ付10ピンSFF形光トランシーバの物理 IEC 62148-9:2003
及びインタフェース標準－第９部： devices - Package and interface インターフェース仕様について規定したものである。
ＭＵ（Ｆ１４形）コネクタ付１０ピンＳＦ standards - Part 9: SFF MU
JIS C 5952-2の対応国際規格であるIEC 62148-2の2010年に、Ｆ形光トランシーバ
duplex 10-pin transceivers
JIS C 5952-7の対応国際規格（IEC 62148-7:2003 Fibre optic
active components and devices - Package and interface
standards - Part 7: SFF LC 10-pin transceivers）及びJIS C 5952-9の対応国際規格（IEC 62148-9:2003 Fibre optic active
components and devices-Package and interface standards-Part
9 : SFF MU duplex 10-pin transceivers）を包含して改訂し、同時にIEC 62148-7及びIEC 62148-9は廃止された。このため、現状10ピンSFF光トランシーバ関連のJISとIEC規格との規格構成を合わせるために、国内においても、JIS C 5952-7及びJIS C 5952-9
をJIS C 5952-2に纏める形で改正することとなった。またこれに伴い，この規格及びJIS C 5952-7は廃止する必要がある。

MOD

一般財団法人光産業技 2023年12月
術振興協会のWG

JSA

06 電子

廃止

C5952-10

光伝送用能動部品－パッケージ
及びインタフェース標準－第１０
部：ＭＵ（Ｆ１４形）コネクタ付２０ピ
ンＳＦＦ形光トランシーバ

MOD

一般財団法人光産業技 2023年12月
術振興協会のWG

Fibre optic active components and この規格は、MU2心コネクタ付20ピンSFF形光トランシーバの物理 IEC 62148-10:2003
devices - Package and interface インターフェース仕様について規定したものである。20ピンSFF形
standards - Part 10: SFF MU
光トランシーバに関するJISには、ほかにこの規格群のパート8及
duplex 20-pin transceivers
びパート10があり、JIS C 5952-3の対応国際規格であるIEC
62148-3が2010年に、JIS C 5952-8の対応国際規格（IEC 62148-8:2003 Fibre optic active components and devices - Package
and interface standards - Part 8: SFF LC 20-pin transceivers）及びJIS C 5952-10の対応国際規格（IEC 62148-10:2003 Fibre
optic active components and devices-Package and interface
standards-Part 10 : SFF MU duplex 20-pin transceivers）を包含して改訂し、同時にIEC 62148-8及びIEC 62148-10は廃止された。このため、現状20ピンSFF光トランシーバ関連のJISとIEC規格との規格構成を合わせるために、国内においても、JIS C 5952-8
及びJIS C 5952-10をJIS C 5952-3に纏める形で改正することとなった。またこれに伴い，この規格及びJIS C 5952-8は廃止する必要がある。

8

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由

JSA

06 電子

廃止

C5953-6

光伝送用能動部品―性能標準― Fibre optic active components and 対応国際規格が廃止されているため。
第６部：６５０ｎｍ，２５０Ｍｂｉｔ/ｓプラ devices - Package and interface
スチック光ファイバ伝送用光トラン standards - Part 6: ATM-PON
シーバ
transceivers

JSA

06 電子

廃止

C5990

光伝送用フォトダイオード通則

General rules of photodiodes forfiber optic transmission

対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度
-

-

この規格は、光伝送用フォトダイオード（電子回路内蔵形を除く。）の用語，記 IEC 60747-5:1992
MOD
号，分類，最大定格，性能などの一般的共通事項について規定したものであSemiconductor devices
る。この規格の対応国際規格は，IEC 60747-5:1992+AMD1:1994- Discrete devices and（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5:
integrated circuits Optoelectronic devices）であるが，1997年にIEC 60747-5の一部として包含されていた光伝送用フォトダイオードは他の光伝送用半導体部品とともに光伝送用 Part 5: Optoelectronic
半導体部品に特化したIEC 62007-1（Semiconductor optoelectronic devices for devices,IEC 60747
fibre optic system applications - Part 1: Specification template for essential-5:1992/AMENDMEN
ratings and characteristics）に定格と性能とが包含された。
T 1:1994 Amendment 1
JIS C 5990では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目 - Semiconductorが規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条
devices - Discrete
件として与えるべき数値の範囲が推奨値として示されている。しかし，IEC 62007-1では，JIS C 5990とは異なり，光伝送用フォトダイオードの定格と性能について devices and integrated
規定すべき事項だけを規定し，個々の数値については規定せず，環境試験及 circuits - Part 5:
び耐久性試験については規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格 Optoelectronic devices
が，個々に規定すべき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テン
プレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験
も応用ごとに異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 5955-6）を制定する。これに伴い重複する
JIS C 5990を廃止する。

9

無2022年12月

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止
JSA

06 電子

廃止

規格番号
C5991

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

光伝送用フォトダイオード測定方 Measuring methods of photodiodes この規格は、光伝送用フォトダイオード（電子回路内蔵形を除く。）の測定方法 IEC 60747-5:1992
MODについて規定している。この規格の対応国際規格IEC 60747-5:1992
法
for fiber optic transmission
Semiconductor devices（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5:- Discrete devices andOptoelectronic devices）であるが、この中にあった光伝送用フォトダイオードの測
integrated circuits 定方法について、基本特性測定方法はIEC 60747-5-7（Semiconductor devices- Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors 2016年 Part 5: Optoelectronic
制定）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方法を devices,IEC 60747
集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic-5:1992/AMENDMEN
system applications - Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）に T 1:1994 Amendment 1
包含された。IEC 62007-2では、光伝送用フォトダイオード以外に光伝送用半導 - Semiconductor
体レーザ，光伝送用半導体レーザモジュール及び光伝送用発光ダイオードを、
devices - Discrete
発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて記載している。IEC 62007-2制
定の際に光伝送用フォトダイオードの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残さ devices and integrated
れ，2006年にIEC 60747-5はIEC 60747-5-6に置き換えられた。このため、IEC circuits - Part 5:
規格ではIEC 60747-5-7に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に Optoelectronic devices

一般財団法人光産業技 2024年4月
術振興協会のWG規定されている測定方法を共に参照する必要がある。
また、JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5991（光伝送用フォトダイオード測定方法）に加え，JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）、及びJIS C
5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じており，規格利用者の混乱を避けるとともに１つの規格とすることで利便性を向上させるため，現行規格
JIS C 5941、JIS C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJISC 5991は廃止とする。

JSA

06 電子

廃止

C60068-2-77

環境試験方法－電気・電子－表 Environmental testing－Part 2面実装部品（SMD）の本体強度及 -77：Tests－Test 77：Body
び耐衝撃性試験方法
strength and impact shock

この規格の対応国際規格である“IEC 60068-2-77”が“IEC 60068 IEC 60068-2-77:1999 IDT-2-21”へ統合されたため、JISにおいても“JIS C 60068-2-77”を“JIS C 60068-2-21”へ統合する改正を行い、この規格を廃止とする。

10

一般社団法人電子情報 技術産業協会のWG

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

05 電気

廃止

C60695-6-30

環境試験方法－電気・電子－火 Fire hazard testing - Part 6:
この規格と引用関係にあったC60695-6-30の発煙濃度試験方法 IEC 60695-6-30:1996 IDT
災危険，火災のもつ潜在的・偶発 Guidance and test methods on the がC3612（600V耐燃性ポリエチレン絶縁電線）の改正によって、的危険の試験方法－火災に遭っ assessment of obscuration hazard C3612の附属書A（発煙濃度試験方法）に規定され、この規格をた電気製品からの煙による光の不 of vision caused by smoke opacity 引用していた他の電線・ケーブル規格についてもC3612を引用す
透過度に起因する視界のさえぎり from electrotechnical products
る改正が行われた。また、この規格を引用していたC60695-6-1の評価に関する指針及び試験方 involved in fires - Section 30:
は、同時改正によって、この規格との引用関係が解消されるた法：小規模静的試験方法－煙によ Small scale static method め、この規格を廃止する。なお、対応国際規格は、既に廃止される光の不透過度測定－試験装置 Determination of smoke opacity ている。の記述-- Description of the apparatus

一般財団法人日本規格 協会のWG

JSA

05 電気

廃止

C60695-6-31

環境試験方法－電気・電子－耐 Environmental testing 火性試験－煙による光の不透過 Electrotechnical products - Fire度の測定－小規模静的試験方法 hazard testing - Smoke－材料
obscuration - Small scale static
method - Materials

一般財団法人日本規格 協会のWG

この規格に規定されていた発煙濃度試験方法がC3612（600V耐 IEC 60695-6-31:1999 IDT
燃性ポリエチレン絶縁電線）の改正によって、C3612の附属書A（発煙濃度試験方法）に規定され、この規格を引用していた他の電線・ケーブル規格についてもC3612を引用する改正が行われた。また、この規格を引用していたC60695-6-1は、同時改正によって、この規格との引用関係が解消されるため、この規格を廃止する。なお、対応国際規格は、既に廃止されている。

11

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止

規格番号

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）

廃止する理由対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度

JSA

07 情報

廃止

X4163

フォント情報交換 第３部 グリフ
形状表現

Information technology－Font
information interchange Part 3 :Glyph shape representation

これから廃止に着手し，来年度中に廃止公示予定であるため。 【廃止する理由】関連規格が廃止されており、この規格の必要性がなくなったため。

JSA

07 情報

廃止

X5092

CMS利用電子署名 (CAdES) の長期署名プロファイル

Long term signature profiles for
CMS advanced electronic
signatures (CAdES)

JIS X 5092:2008が元となった国際規格ISO 14533-1が、関連する規格としてJIS X 5093:2008が元となったISO 14533-2が発行されている。ISO 14533-1及びISO 14533-2は、欧州規格との整合化のため、改訂が行われており、JIS X 5092:2008及びJIS X
5093:2008も同様に改定が必要となっている。一方、ISO 14533シ
リーズとしてISO 14533-3が発行されているが、対応するJISがない
ことから、そのJISの制定も望まれている。
今回、JIS X 5092:2008 の内容を更新するとともに、国際規格とJIS との関連性を明確化するために、規格番号を国際規格に合わ
せて、JIS X 14533-1 として新たに制定し、JIS X 5092:2008 を廃
止する。

12

-

一般社団法人ビジネス機 械・情報システム産業協会のWG

一般財団法人日本情報 2024年4月
経済社会推進協会のWG

2024年9月13日現在
産業標準 制定／
認定機関 作成委員会
改正／
廃止
JSA

07 情報

廃止

規格番号
X5093

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行JISの英文名（廃止の場合は，現行JISの名称）
称）
XML署名利用電子署名（XAdES） Long term signature profiles forの 長期署名プロファイル
XML advanced electronic
signatures (XAdES)

廃止する理由JIS X 5093:2008が元となった国際規格ISO 14533-2が、関連する規格としてJIS X 5092:2008が元となったISO 14533-1が発行されている。ISO 14533-1及びISO 14533-2は、欧州規格との整合化のため、改訂が行われており、JIS X 5092:2008及びJIS X
5093:2008も同様に改定が必要となっている。一方、ISO 14533シ
リーズにISO 14533-3が発行されているが、対応するJISがないことから、そのJISの制定も望まれている。
今回、JIS X 5093:2008 の内容を更新するとともに、国際規格とJIS との関連性を明確化するために、規格番号を国際規格に合わ
せて、JIS X 14533-2 として新たに制定し、JIS X 5093:2008 を廃
止する。

13

対応する国際規格番号 対応する国
際規格との JIS素案作成委員会（WG） 作成開始
及び名称
予定
対応の程度
一般財団法人日本情報 2024年4月
経済社会推進協会のWG