一般財団法人日本規格協会
JIS 確認の申出に係る審議について

日本産業規格（以下、JIS という。
）は、産業標準化法に基づき、JIS を制定又は確認若しくは改正した日から少なくとも 5 年を経過するまでに見直す必要があります。多数の JISがあることから効率的な運用のために、毎年度一括して JIS 見直しを行うこととしております。JIS の見直しの流れ及び産業標準作成委員会の審議方法は、別添 1 をご参照ください。
今回のご審議は、別添 1 の（３）JIS 確認の申出に係る審議です。
前回の電子分野産業標準作成委員会（2021 年 12 月 17 日議決）でご承認いただいた、2022年度に見直し期限を迎える電子分野の JIS のうち 2022 年度中の公示予定を「確認」とする
JIS について、JSA ウェブサイトに JIS 作成予定一覧表の公表を掲載し、利害関係者の意向を確認したところ、利害関係者からのご意見等はありませんでした。
この結果を踏まえて、別添 2 に、2022 年度中の公示予定を「確認」とする JIS 及び作成審議経過等を作成いたしましたので、これらの JIS を「確認」としてよろしいか最終のご審議をお願いいたします。
委員会において議決された場合には、産業標準化法第 16 条において準用する同法第 14条第 1 項の規定に基づき、主務大臣に申出いたします。
なお、字句等編集上の修正については、産業標準作成委員会事務局に一任いただきますようお願いいたします。
注記

JIS 法令上、別添 2 別紙 2 の３．②JIS 作成予定一覧表の公表、③利害関係者の産業標準作成委員会への参加の確保及び④異議申立ての機会の確保は、主務大臣に対して申出を行うまでの過程において行うこととしております。審議中又は審議後に意見等があった場合で、議決結果の変更又は意見等を採用しない場合は、再度、産業標準作成委員会にお諮りいたします。

1

別添1

JISの⾒直しに関する審議（１）JIS⾒直しの流れ
3⽉以降

6⽉

8⽉

8⽉

9⽉

廃止の申出JIS

審査
METI

JSA
産業標準作成委員会

JSA

METI

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廃止の公示
JIS

審査・METI
部会報告
JISC

METI

2022年
6⽉上旬〜7⽉上旬

確認の公示
JIS

確認の申出
JIS

METI／
JISC

廃止の申出
JISに係る審議

確認の申出JISに係る審議

2⽉下旬

JSA

JSA
産業標準作成委員会

公示予定が廃止の場合

JSA

公示予定が確認の場合

JSA
産業標準作成委員会

2022年
1⽉下旬〜2⽉中旬

12⽉下旬

案作成予定一覧表の公 表 （ 確 認 ・ 廃 止 ）JIS
異議申立て受付の開始（確認・廃止）
意見受付の開始（廃止）JSA

11⽉下旬〜
12⽉中旬

見直しの審議JIS

JSA

10⽉〜11⽉中旬

見直し対象 JISの公示予定 を精 査
（ METI，利害関係者との 調整 ）自身の WG又は素案作成団体へのJSA
見直し 調査2021年6⽉中旬〜
9⽉下旬

METI

1

（２）JIS⾒直しの審議について
⽬的︓

次年度に5年⾒直し期限を迎えるJISについて、「改正」、「確認」⼜は「廃⽌」のいずれにするかの⾒直し⽅針を決定します。

１．利害関係者の意⾒を確認するため、JSAが⾒直し対象のJISを抽出し、調査します。
※※

⾒直し対象は、次年度に5年⾒直し期限を迎えるJISです。
技術的動向、対応国際規格や引用規格の改正・廃⽌などを背景に、JISを改正する必要があるのか、確認でよいのか、⼜は廃⽌するかなどを調査します。

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2

（２）JIS⾒直しの審議について（続き）
２．JSAが調査結果に基づき、それぞれのJISについて「改正」、「確認」⼜は「廃⽌」のいずれにするかの案（以下、JIS⾒直し案という。）を理由とともに作成します。
その際には、必要に応じて、JSA自身のWG⼜は素案作成団体に事実確認を⾏います。
その後、産業標準作成委員会にお諮りします。
※

当該JISが次に該当し、次年度までに「改正」⼜は「廃⽌」の公⽰を予定している場合は、JIS⾒直し案を「改正」⼜は「廃⽌」とします。
※ 当該JISが次に該当し、これから改正⼜は廃⽌に着⼿するため、次年度までに「改正」若しくは「廃⽌」の公⽰ができない場合、⼜は次に該当しない場合は， JIS⾒直し案を「確認」とします。
改正又は廃止が必要な要因
市場実態又は技術動向に合わせ、最適な技術内容とすべく、規定内容の変更が必要
社会的要因で規定内容の変更が必要（環境問題など）
対応国際規格の改正又は廃止があり、規定内容の変更が必要
対応すべき国際規格が新たに制定され、それに整合することが必要
引用規格の改正及び/又は廃止があり、規定内容の変更が必要
引用すべきJISが新たに制定された整合すべき（参照している）法規の改正及び/又は廃止があり、規定内容の変更が必要
整合すべき（参照している）すべき法規が新たに制定された技術の陳腐化・利用の縮小等、JISの廃止が妥当
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3

（２）JIS⾒直しの審議について（続き）
３．産業標準作成委員会でJIS⾒直し案をご審議いただきます。
※ JIS⾒直し案の資料については、 JSAで事実確認を⾏っております。
※ 対応国際規格などの改廃状況は、資料2別添2の参照⽂書（JSA調査結果）に記載しております。
※ ご承認いただいたJIS⾒直しのうち、公⽰予定が「確認」及び「廃⽌」のJISは、JIS作成予定一覧表としてJSAホームページに掲載します。
（利害関係者に対する産業標準作成委員会への参加の機会の確保及び異議申⽴ての機会の確保のため）

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4

（３）JIS確認の申出に係る審議
⽬的︓利害関係者の意向を適切に反映するためのプロセスを経て、主務大臣にJISの確認の申出をしてよいかどうかを決定します。

１．確認のJIS作成予定一覧表の公表によって、利害関係者の意向を確認した後、JSAが日本産業規格作成審議経過報告書（確認）を作成します。
※

当該報告書では、確認の申出を⾏う対象JIS、確認する理由、認定機関としてのプロセスの結果（JIS⾒直しの審議〜確認のJIS作成予定一覧表の公表の結果）を⽰しております。

２．産業標準作成委員会で日本産業規格作成審議経過報告書（確認）に基づき、ご審議いただきます。
※

JIS⾒直しの審議の結果から変更がある場合は、JSAからその旨産業標準作成委員会にご報告いたします。

３． 産業標準作成委員会で承認されたJISは、JSAから主務大臣へJISの確認の申出を⾏います。

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5

別添 2

日本産業規格作成審議経過報告書（確認）１．確認の申出を行う日本産業規格
JIS C 5101-20 電子機器用固定コンデンサ―第２０部：品種別通則：表面実装用固定メタラ
イズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 外 56 件（別紙 1 のとおり）

２．確認の申出を行う日本産業規格に係る主務大臣
経済産業大臣専管

３．確認の理由
別紙 1 の日本産業規格は、産業標準化法第 17 条の規定による見直し期限を 2022 年度に迎えるものであるが、認定産業標準作成機関として、関係各方面の意見を調査し検討した結果、現行の日本産業規格がなお適正であると認められることから、確認すべきものとして申出する。

４．確認の申出を行う日本産業規格の作成及び審議に関する事項(1) 認定産業標準作成機関名；一般財団法人日本規格協会（JSA）(2) 法令上の区分；
産業標準化法第 16 条において準用する同法第 14 条第 1 項に基づく申出(3) 産業標準作成委員会名；
電子分野産業標準作成委員会(4) 産業標準作成委員会の委員構成表及び開催状況；
別紙 2 に記載のとおり。
(5) 作成審議経過
別紙 2 に記載のとおり。

以上

別紙 1
確認の申出を行う日本産業規格
No.
1

規格番号
C5101-20

2

C5101-23

3

C5101-23-1

4C5101-24

5C5101-25

6C5101-26-1

7C5101-8

8C5101-9910C5160-1
C5381-2211C5402-11-8

12C5402-12-6

13C5402-1-3

14C5402-13-2

15C5402-1-4

16C5402-14-7

17C5402-15-8

18C5402-16-2

19C5402-16-20

20C5402-16-4

21C5402-16-5

22C5402-16-7

規格名称
電子機器用固定コンデンサ―第２０部：品種別通則：表面実装用固定メ
タライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第２３部：品種別通則：表面実装用固定メ
タライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第２３－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデ
ンサ 評価水準ＥＺ
電子機器用固定コンデンサ―第２４部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第２５部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第２６－１部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ 評価水準ＥＺ
電子機器用固定コンデンサ―第８部：品種別通則：固定磁器コンデンサ
種類１
電子機器用固定コンデンサ―第９部：品種別通則：固定磁器コンデンサ
種類２
電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第１部：品目別通則
低圧サージ防護デバイス―第２２部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の選定及び適用基準
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－８部：耐候性試験―試験
１１ｈ：砂じん電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－６部：はんだ付け試験―
試験１２ｆ：自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－３部：一般検査―試験１
ｃ：電気的接触長
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－２部：機械的動作試験―
試験１３ｂ：挿入力及び引抜力
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－４部：一般検査―試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－７部：封止（気密性）試
験―試験１４ｇ：噴射水
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－８部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｈ：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－２部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｂ：リストリクテッドエントリ
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－２０部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｔ：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－４部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｄ：引張強度（圧着接続）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－５部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｅ：ゲージ保持力（弾性コンタクト）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形

23C5402-17-324C5402-19-3

25

C5630-26

26
27
28C5914
C5916
C5954-3

2930

C5962
C5964-4-10031
32

C5964-5
C5964-6-100

33

C5965-3-31

34
35
36C5981
C60063
C60068-2-77

37

C60068-3-13

38

C6122-10-4

39

C6122-4-3

40

C61300-2-1

41C61300-2-15

42

C61300-2-21

43

C61300-2-26

44

C61300-2-545C61300-2-9

46C61300-3-11

47

C61300-3-24

48

C61300-3-27

49

C61300-3-32

測定
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－３部：ケーブルクランプ
試験―試験１７ｃ：ケーブルクランプ強度（ケーブルの引張り）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１９－３部：耐化学薬品試験―
試験１９ｃ：耐液性
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２６部：マイクロトレンチ構造及びマイクロニードル構造の寸法，形状表示及び計測法
光サーキュレータ通則
光伝送用分散補償器通則
光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第３部：単心直列伝送リンク用
光送・受信モジュール
光ファイバコネクタ通則
光ファイバコネクタかん合標準―第４－１００部：ＳＣ形光ファイバコ
ネクタ類―ＳＣ－ＰＣ簡易レセプタクル（Ｆ１６形）
光ファイバコネクタかん合標準―第５部：ＭＴコネクタ類（Ｆ１２形）
光ファイバコネクタかん合標準―第６－１００部：ＭＵ形光ファイバコ
ネクタ類―ＭＵ－ＰＣ簡易レセプタクル（Ｆ１７形）
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―光ファイバコネクタ光学互
換標準―第３－３１部：シングルモード光ファイバ用１列多心角形ポリフェニレンスルフィド（ＰＰＳ）８度斜めＰＣ端面フェルールの接続部
パラメータ
Ｆ１２形多心光ファイバコネクタ（ＭＴコネクタ）
抵抗器及びコンデンサの標準数列
環境試験方法―電気・電子―表面実装部品（ＳＭＤ）の本体強度及び耐衝撃性試験方法
環境試験方法―電気・電子―第３－１３部：支援文書及び指針―はんだ付け
光増幅器―測定方法―第１０－４部：マルチチャネルパラメータ―光ス
ペクトラムアナライザを用いた補間法
光増幅器―測定方法―第４－３部：過渡パラメータ―パワー制御単一チ
ャネル光増幅器のパワーパラメータ測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１部：正弦波振動試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１５部：結合部ねじり試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－２１部：混合温湿度サイクル試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－２６部：塩水噴霧試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－５部：光ファイバクランプ強度試験（ねじり）光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－９部：衝撃試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－１１部：結合力及び離脱力測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２４部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置
精度測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２７部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３２部：光受動部品の偏波モード分散測定

50

C61300-3-34

51

C61300-3-36

52

C61300-3-43

53

C61300-3-7

54
55
56
57

C6183-2
C6704
C6835
C6842

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３４部：ランダム接続時の挿入損失
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３６部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－４３部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－７部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
光スペクトラムアナライザ―第２部：校正方法
人工水晶
石英系シングルモード光ファイバ素線
光ファイバ偏波モード分散試験方法

別紙 2
１．産業標準作成委員会の委員構成表
１．１ 電子分野産業標準作成委員会

（委員長）
（委員）

（関係者）
（事務局）

氏名
平本 俊郎
藤井 哲郎
山田 誠
山口 大輔
内藤 恵美子
河村
松井
石井
諏訪
渋谷
後藤
中川
山本
清水真紀子
隆
紀彦
正樹
隆
博幸
梓
久義
祐貴

所属
東京大学
東京都市大学
大阪府立大学
総務省国際戦略局通信規格課
公益社団法人日本消費生活アドバイザー・コンサルタント・相談員協会
主婦連合会
日本電信電話株式会社
日本放送協会KOA株 式 会 社
株式会社白山経済産業省産業技術環境局国際電気標準課
一般財団法人日本規格協会
一般財団法人日本規格協会
一般財団法人日本規格協会

２．委員会開催状況
開催年月日
2021年 12月 17日

委員会区分
産業標準作成委員会

出席者数又は回答者数（名）10/102022年 2月 XX日 (予 定 )産業標準作成委員会〇 /10

３．作成審議経過①産業標準案作成対象テーマの審議（JIS 見直しの審議）；
2021 年 12 月 17 日 産業標準作成委員会議決②JIS 作成予定一覧表の公表；
2021 年 12 月 24 日～申出予定日（2022 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載③利害関係者の産業標準作成委員会への参加の確保；
2021 年 12 月 24 日～申出予定日（2022 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載④異議申立ての機会の確保；
2021 年 12 月 24 日～申出予定日（2022 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載⑤産業標準案の作成及び審議（確認の申出に係る審議）；
2022 年 2 月 XX 日（予定） 産業標準作成委員会議決⑥議事録及び委員会資料の公開；
2022 年 2 月 XX 日（予定） JSA ウェブサイト掲載
４．利害関係者の産業標準作成委員会への参加に関する内容
参加： 無
５．異議申立てに関する内容及び結果

種別
中立者

使用者

生産者
－

異議申立ての有無：

無