NANOWORLD® SPM AND AFM PROBES
A nanotecnologia é o nosso campo. A precisão é a nossa tradição.

POINTPROBE®

ULTRA -SHORT CANTILEVERS• a sonda de SPM/AFM mais utilizada da e maisconhecida no mundo• cantilivers ultracurtos destinados a High-Speed AFM• sonda de SPM/AFM de silício para visualizações dealta resolução

• três tipos com ultra alta frequência de ressonância (1.2 MHz - 5MHz) e altas constantes de força para aplicações de modo
dinâmico ao ar• ranhuras de alinhamento
na parte posterior do chip
portador• três tipos com alta frequência deressonância e baixas constantes
de força (0.15 N/m - 0.6 N/m)principalmente para aplicações emlíquido• raio típico da ponta < 8nm, garantido < 12 nm•p onta High Density Carbon/
Diamond Like Carbon (HDC/DLC)
resistente ao desgaste• disponível com pontas deformas diferentes
				

PYREX-NITRIDE• raio típico da ponta< 10 nm

ARROW™

• cantilevers e pontas denitreto de silício•posicionamento optimizado atravésde visibilidade máxima da ponta• destinado a várias
aplicações de vizualização
em modo de contacto ou
modo dinâmico•p onta com três faces definidas
pelos planos reais de cristal• pontas piramidais, afiadas
através de oxidação
• raio típico da ponta < 10 nm• disponível com cantilevers triangulares ou
rectangulares• disponível também em variante sem ponta•a forma especial da ponta permite
fazer varreduras muito simêtricas• ponta no extremo do cantilever• raio típico da ponta < 10 nm, garantido < 15 nm• disponível também em variante com alta velocidade com
frequência ressonante até 2 MHzPOINTPROBE®
SILICON AFM PROBES

Sonda de SPM e AFM de alta qualidade mais utilizada
e mais conhecida no todo mundo

Ponta Pointprobe® (Estandarte)
A ponta Pointprobe® (Standarte) tem forma de pirâmide com base poligonal. O seu ângulo semicónico macroscópico é de 20° a 25° visto ao longo do eixo do cantilever, 25° a
30° visto lateralmente e practicamente zero na extremidade da ponta. A ponta Pointprobe® tem altura de 10 - 15 µm con raio típico menor de 8 nm (garantido menor de 12 nm).
Geral
• Sondas de SPM e AFM para vizualizações de muito alta resolução
• compatíveis com todos as conhecidas SPMs e AFMs
• o cantilever e a ponta são suportados por um chip portador de silício monocristalino• modelo monolítico do chip portador, do cantilever e da ponta

Pointprobe® Ponta.

Características do material• silício monocristalino altamente dopado (resistência 0.01 – 0.025 Ohm cm)• sem tensão intrínseca e cantilevers absolutamente rectos• silício quimicamente inerte para aplicação em fluídos ou células electroquímicas
Pointprobe Vista lateral®

detector side
tip sideA secção transversal de forma trapezoidal
do cantilever e por conseguinte lado
do detector do cantilever 30% mais
amplo (por exemplo NCH) resulta em
ajustamento do láser mais fácil e rápido.
Adicionalmente, uma vez que existe
mais espaço para posicionar e reflectir ofeixe do láser, um sinal SUM mais alto éconseguido.

Cantilever• cantilever rectangular com secção transversal de forma trapezoidal• a parte do lado do detector é larga para facilitar o ajuste do feixe do láser. (ver desenho esquerdo)• a largura do lado da ponta é pequena o que reduz a amplitude das vibrações
Chip portador• o cantilever está integrado num chip portador de silício• as dimensões do chip portador são muito reprodutíveis (3.4 mm x 1,6 mm x 0.3 mm)• com ranhuras de alinhamento na parte posterior do chip portador de silício que
utilizadas em conjunto com o chip de alihnamento facilitam a substituição das sondas
sem necessidade de reajustes significativos do feixe do láser
Dimensões dos contentores• contentores de 10, 20 ou 50 sondas de AFM• wafer completo com 380 sondas de AFM (até 388 sondas de AFM dependente do
produto)

SuperSharpSilicon™ Tip (SSS)
Para melhor resolução das micro-rugosidades e nanoestruturas temos elaborado um
processo eficaz de fabricação de pontas que melhora a sua acuidade com raio da ponta
até 2 nm. Com estas pontas de AFM temos chegado até os limites tecnológicos.
Características da ponta
A altura da ponta é de 10 -15 µm, o raio típico de SuperSharpSilicon™ é aprox. 2 nm.
Garantimos um raio menor de 5 nm (éxito garantido: 80%). O ângulo semicónico é menorde 10° nos últimos 200 nm da ponta.

Ponta SuperSharpSilicon™ (SSS)Ponta High Aspect Ratio (AR5/AR5T)

Ponta High Aspect Ratio (AR5)Para medição de amostras com ângulos laterais cerca de 90°, por ex. medições de concavida- desprofundas ou outras aplicações semicondutoras oferecemos dois tipos diferentes de pontas que
permitem a visualização de superficies laterais quase verticais. Estas pontas têm altura total de
10 - 15 µm, que permite medições de amostras com muitas rugosidades. Nos últimos micrómetros
as pontas mostram uma parte com alto coeficiente de comprimen- to que é simêtrica quando vista
lateralmente ou ao longo do eixo do cantilever. O raio da ponta típico é de 10 nm (raio garantido
menor de 15 nm).
Características da ponta
A parte com coeficiente alto de comprimento da ponta AR5 / AR5T é maior de 2 µm e mostra
coeficiente típico de comprimento de 7:1 (o coeficiente mínimo garantido é de 5:1). Porconsequência, o ângulo semicónico da parte com coeficiente alto de comprimento é típicamente
menor de 5°. Para obter uma imagem simêtrica em concavidades profundas a ponta deve ser
perpendicular à amostra. Por esta razão para compensar a inclinação de 13° utilizada nas AFM
comerciais, a parte com coeficiente alto de comprimento da ponta AR5T está inclinada 13°
relativamente ao eixo central da ponta.

com inclinação compensada AR5T
Ponta High Aspect Ratio (AR5T)

Ponta com Revestimento de Diamante (DT), Ponta com Revestimento de
Diamante Conductivo (CDT)

Para as aplicações SPM e AFM que exigem contacto duro entre a sonda e a amostra
recomendamos a nossa ponta Diamond Coated (DT). As suas aplicações mais típicas são: asmedições da força de fricção, da elasticidade das amostras, assim como medições do desgaste ou
da nanoestruturação. A ponta Conductive Diamond Coated (CDT) oferece também revestimento
conductor não passivado.
Ponta com revestimento de diamante (DT, CDT)

Características da ponta e do revestimento
Revestimento de diamante policristalino verdadeiro do lado da ponta proporciona a dureza
insuperável do diamante. A altura da ponta é de 10 - 15 µm, a espessura da camada de diamanteé aprox. 100 nm. O raio macroscópico da ponta é entre 100 - 200 nm, mas muitas vezes a ponta
mostra nano-rugosidades de aprox.10 nm.
No caso de CDT a conductividade é entre 0.003 - 0.005 Ohm cm.

.

REVESTIMENTOS DISPONÍVEIS
Revestimento Reflexivo de Alumínio• revestimento de alumínio de espessura de 30 nm no lado
do detector do cantilever• aumenta a reflectância do feixe do láser com factor 2.5• prevê a interferência da luz no cantilever

Revestimento de Diamane• revestimento de diamante
policristalino com espessura de
100 nm do lado da ponta docantilever• a dureza da ponta é insuperável• • resistência<10 kOhm no casode CDT

Revestimento magnético duro/revestimento magnético macio• Revestimento magnético duro/revestimento magnético macio• revestimento magnético macio: revestimento magnético macio dolado da ponta (coercibilidade aprox. 0.75 Oe, magnetização
remanescente aprox. 225 emu/cm³)• magnetização permanente da ponta

Revestimento de PtIr5• camada de 25 nm de platina-irídio5 dos dois
lados da sonda• compensa a tensão e resiste ao desgaste• o revestimento na parte do detector aumenta
a reflectância do feixe do láser com factor 2• permite medições eléctricas

Revestimento de Ouro (a pedido)• revestimentoreflectivode 70 nm deourona parte do detector do cantilever• revestimento de 70 nm de ouro das
duas partes da sonda

ARROW™
SILICON AFM PROBES

Posicionamento optimizado devido a visibilidade máxima
da pontaGeral• sonda de SPM/AFM para visualizações de alta resolução
• compatível com todos os conhecidos SPMs e AFMs comerciais• o cantilever e a ponta são suportados por um chip portador de silício monocristalino• o modelo do chip portador, do cantilever e da ponta é monolítico
Características do Material• silício monocristalino, altamente dopado (resistência 0.01 - 0.025 Ohm cm)• sem tensão intrínseca, com cantilevers absolutamente rectos• silício quimicamente inerte para aplicação em fluidos ou células eletroquímicas.

ArrowTM Vista Superior

Cantilever• cantilever rectangular com extremidade livre de forma triangular• fácil posicionamiento da ponta na zona de interesse devido a forma Arrow™
• distância constante entre a ponta e a extremidade do cantilever• s ecção transversal de forma trapezoidal com parte posterior ampla para facilitar o ajuste
do láser
Chip portador• as dimensões do chip portador são muito reprodutíveis (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• os cantos chanfrados do chip portador evitam o contacto entre o chip e a amostra

ArrowTM Vista Frontal

Tilt 13°Ponta• altura da ponta 10 - 15 µm e raio da curva típico < 10 nm (garantido < 15 nm)• ângulos semicónicos macroscópicos- de 30° a 35°, vistos ao longo do eixo do cantilever- de 20° a 25°, vista lateral
Dimensões dos Contentores• contentores pequenos de 10, 20 ó 50 sondas de varredura• wafer completo com mínimo de 380 sondas de varredura

REVESTIMENTOS DISPONÍVEIS

A forma especial da ponta permite- fazer
varreduras muito simêtricas na direcção
x e y quando a sonda está inclinada por
ser montada na cabeça de AFM.

Revestimento Reflexivo• revestimento de alumínio deespessura de 30 nm no lado do
detector do cantilever• aumenta a reflectância do feixe doláser com factor 2.5• prevê a interferência da luz nocantilever

Revestimento PtIr5• camada de 25 nm de platina-irídio5 dos dois
lados da sonda• compensa a tensão e resiste ao desgaste• o revestimento na parte do detector aumenta
a reflectância do feixe do láser com factor 2• permite medições elétricas• Outros revestimentos estão disponíveis a pedido

A R R O W ™ Ultra High Frequency Scanning Probes (UHF)A R R O W ™ Tipless Cantilevers and Cantilever Arrays (TL)

Arrow™ UHF

Arrow™ UHF 3D-Vista

As sondas NanoWorld Arrow™ UHF têm cantilever com capacidade de ressonar com
frequência até 2 MHz. Estas sondas combinam sensibilidade excepcional com capacidadede varredura de alta velocidade. Assim como todas as sondas da série Arrow™, as sondas
Arrow™ UHF são fabricadas de silício monolítico altamente dopado para dissipar a carga
estática. São quimicamente inertes e oferecem um Q-factor altamente mecânico para altasensibilidade.
As sondas de NanoWorld Arrow™ UHF têm cantilever com comprimento de 35 μm com
ponta tetraédrica cuja altura é de 3 μm e o raio de curva menor de 10 nm.
A forma única da Arrow™ permite posicionamento fácil da ponta na zona de interesse.
O revestimento reflexivo (alumínio e ouro) no lado do detector do cantilever aumenta areflectância do feixe do láser com factor 2.5 e prevê a interferência da luz no cantilever.

Arrow™ UHF 3D-Vista de perto

Arrow™ TL (Tipless Cantilevers for Special Applications)
As sondas de Arrow™ TL SPM e AFM têm cantilevers sem pontas e são disponíveis com 1
cantilever ou em conjunto de 2 ou 8 cantilevers rectangulares com extremidade livre deforma triangular.

Arrow UHF
TM

Para todos os tipos da série Arrow™ TL existe a opção com revestimento de ouro sobre aparte frontal da amostra do cantlever.
Propriedades do Cantilever
Frequência de Ressonância

6 kHz

Constante de Força

0.03 N/m

Comprimento

500 µmLargura (parte rectangular))

100 µmEspessura

1.0 µmAltura (no caso de TL2 e TL8)

250 μmArrow™ TL1
Cantilever sem ponta, cantileverúnico sobre um chip portador desilício monocristalino

Arrow™ TL2
Conjunto de cantilevers sem
pontas, 2 cantilevers sobre chip
portador de silício monocristalino

Arrow™ TL8
Conjunto de cantilevers sem pontas,
8 cantilevers sobre chip portador desilício monocristalino

ULTRA -SHORT CANTILEVERS (USC)para High-Speed AFM

Geral
Os cantilevers NanoWorld Ultra-Short (USC) para High-Speed AFM (HS-AFM) combinam
cantilevers muito pequenos fabricados de material semelhante a quarço que são destinados
a ressonar com frequências até 5 MHz e uma ponta de High Density
Carbon/Diamond Like Carbon (HDC/DLC) de grande acuidade e resistência ao desgaste.

USC Cantilever 3D Vista• destinados a aplicações de varredura de alta velocidade• não podem ser utilizados nas todas as sondas de SPMs e AFMs comerciais por causa dasdimensões pequenas dos cantilevers (ver página seguinte)• o cantilever e a ponta são suportados por um chip portador de silício monocristalino• sem tensão intrínseca e cantilevers absolutamente rectos
Cantilever• cantilever rectangular com cantos arredondados na extremidade livre• cantilever fabricado de material semelhante a quarço

USC Support Chip 3D Vista

Chip portador• as dimensões do chip portador são muito reprodutíveis (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• os cantos polidos e inclinados do chip portador evitam o contacto entre o chip e a amostra• ranhuras de alinhamento na parte posterior do chip portador de silício utilizadas em
conjunto com o chip de alinhamento facilitam a substituição das sondas, sem necessidadede reajustes significativos do feixe do láser
Ponta• Ponta nanotools® High Density Carbon/Diamond Like Carbon (HDC/DLC)• altura da ponta típica 2.5 μm e raio da curva típica < 10 nm• coeficiente de comprimento da ponta é de 5:1 e inclinação compensada de 8°

USC Tip Vista Frontal

Dimesões dos contentores• contentores de 10 sondas de AFM

REVESTIMENTOS DISPONÍVEISUSC Caracteristicas da Ponta

Revestimento Reflexivo de Ouro
• revestimento reflexivo de ouro espesso de 20/30 nm nas duas partes da sonda• melhora a reflectância do feixe do láser• a ponta fica sem revestimento

Para garantir várias aplicações possíveis de High-Speed AFM são desenvolvidos seistipos diferentes de Ultra-Short Cantilevers (USC): três tipos com muito altas frequências
ressonantes (1.2 MHz – 5 MHz) e altas constantes de força para aplicações de modo
dinâmico ao ar e três tipos com altas frequências ressonantes e baixas constantes de força(0.15 N/m - 0.6 N/m) especialmente para aplicações de modo dinâmico em líquido.
USC-F5-k30 Cantilever
3D Vista

USC principalmente para aplicações de modo dinâmico ao ar• frequência ressonante de 1.2 MHz e superior• dureza de 3.0 N/m superior• destinado principalmente a aplicações de modo de não contacto ao ar mas pode serutilizado para outras aplicações

USC-F5-k30 Cantilever
Vista Superior

USC-F1.2-k0.15 Cantilever
3D Vista

USC-F1.2-k0.15 Cantilever
Vista Superior

Tipo

USC-F5-k30

USC-F2-k3

USC-F1.2-k7.3

Frequência Ressonante

5.0 MHz

2.0 MHz

1.2 MHz

Constante de Força

30 N/m

3.0 N/m

7.3 N/mComprimento do cantilever

10 μm

10 μm

20 μm

Largura do cantilever

5 μm

5 μm

10 μm

Espessura

0.68 μm

0.28 μm

0.67 μm

USC para aplicações em líquido• frequência ressonante de 1.5 MHz e inferior• dureza de 0.6 N/m e inferior• destinado principalmente a aplicações em líquido mas pode ser utilizado noutras
aplicações ao ar (dependente da aplicação)Type

USC-F1.5-k0.6

USC-F1.2-k0.15

USC-F0.3-k0.3

Frequência RessonanteConstante de Força

1.5 MHz

1.2 MHz

0.3 MHz

0.6 N/m

0.15 N/m

0.3 N/mComprimento do cantilever
Largura do cantilever

7 μm

7 μm

20 μm

3 μm

2 μm

10 μm

Espessura

0.10 μm

0.08 μm0.19 μm* Valores ao ar

Para mais informações sobre desenvolvimentos atuais das sondas AFM para High-Speed
AFM e exemplos de aplicações, visite: www.highspeedscanning.com

Limitações do Sistema: devido às dimensões pequenas
do cantilever e das muito altas frequências ressonantes
as sondas USC não podem ser utilizadas actualmente
em todas as SPMs e AFMs comerciais. Só as AFMs com
mancha do láser pequena e eletrónica com capacidadede suportar altas frequências de ressonância até 5 MHz
podem funcionar com as sondas USC. Em caso de dúvida
quanto ao facto de estas sondas serem utilizadas com assuas AFM, contacte-nos ou o seu fabricante de AFM.

PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
O nível mais alto de acuidade e durabilidadeGeral• sondas de SPM e AFM para uma ampla gama de aplicações em modo de contacto emodo dinâmico
• compatível com todos os conhecidos SPMs e AFMs comerciais• cantilevers e pontas de nitreto de silício• os cantilevers são suportados por um chip portador fabricado de vidro boro-silicato• são entregues como chips portadores únicos para facilitar o manuseamento
Sonda de Pyrex-Nitride AFM- Vistade perto

Cantilevers triangulares de PyrexNitride Desenho em 3D

Características do Material• nitreto de silício com baixa tensão para minimizar a flexão do cantilever• dureza excelente que proporciona resistência a desgaste e uma vida prolongada
Cantilevers• modelo com cantilevers rectangulares ou cantilevers triangulares em cada chip• variante com cantilever único triangular(compatível com os modos PeakForceTappingTM e ScanAsyst®)• revestimento reflexivo de ouro do lado do detector dos cantilevers• compensa a tensão com inclinação menos de 2°
Chip Portador• chips portadores fabricados de vidro boro-silicato (3.4 mm x 1.6 mm x 0.5 mm)• manuseamento fácil devido aos chips portadores únicos
Pontas• pontas piramidais afiadas através de oxidação
• altura da ponta 3.5 µm e raio típico da curvatura da ponta < 10 nm• ângulos semicónicos macroscópicos 35°

Cantilevers Rectangulares de PyrexNitride (Diving Board ) Desenho
em 3D

Dimensões dos contentores• contentores de 20 ou 50 sondas de AFM

REVESTIMENTOS DISPONÍVEIS
Revestimento de Ouro

Cantilevers únicos triangulares
de Pyrex-Nitride para modos
PeakForceTappingTM e
ScanAsyst® Desenho em 3D• o revestimento reflexivo de ouro de espessura de 70 nm no lado do detector
dos cantilevers aumenta a reflectância do feixe do láser• revestimento opcional de ouro de espessura de 35 nm na parte da ponta(parte frontal) dos cantilevers

PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
Cantilevers Triangulares (PNP-TR)
Diving Board Shaped Cantilevers (PNP-DB)
Cantilever Triangular Único (PNP-TRS)

Cantilevers Triangulares (PNP-TR)• cantilevers de forma triangular• modelo com vários cantilevers• revestimento de ouro reflexivo no lado
do detector dos cantilevers• disponíveis com revestimento de ouro
nas duas partes da sonda

Cantilever #
Forma

1

2
Triangular

Diving Board Cantilevers(PNP-DB)

Cantilever Triangualr Único
(PNP-TRS)• cantilevers rectangulares de forma
diving board• modelo com vários cantilevers• revestimento de ouro no lado do
detector dos cantilevers• cantilever único de forma triangular

Cantilever #Cantilever #

1

Forma

2

Rectangular• um cantilever por chip• revestimento de ouro reflexivo nolado do detector do cantilever• destinado a modo
PeakForceTappingTM e modo
ScanAsyst® Mode*
1

Forma

TriangularResonância
Frequência

67 kHz

17 kHzResonância
Frequência

67 kHz

17 kHzResonância
Frequência

67 kHzConstante de Força

0.32 N/m

0.08 N/m

Constante de Força

0.48 N/m

0.06 N/m

Constante de Força

0.32 N/m

100 µm200 µmComprimento

100 µm200 µmComprimento

Largura

40 µm

40 µm

Largura2 x 13.5 µm

Espessura

600 nm

600 nmEspessura

600 nmComprimento
LarguraEspessura2 x 13.5 µm 2 x 28 µm
600 nm

600 nm

100 µmPNP Sem ponta (PNP-TR-TL)• as sondas triangulares PyrexNitride são disponíveis também
em variante sem ponta• revestimento de ouro reflexivo nolado do detector dos cantilevers• disponíveis com revestimento deouro nas duas partes da sonda

Pyrex-Nitride AFM Probe
Triangular Tipless Cantilevers

Pyrex-Nitride AFM Probe
Triangular Tipless imagem
aumentada do Cantilever comprido

Pyrex-Nitride AFM Probe
Triangular Tipless imagem
aumentada do Cantilever curto*PeakForceTappingTM e ScanAsyst® são marcas comerciais registadas de Bruker Corp.

T A B E L A D E S E L E C Ç Ã O R Á P I DA

Modo de Contacto

Alpicação

Modo de Contacto

Tipo

Revestimento
Parte frontal

Revestimento
Forma da ponta
Parte posterior

Arrow CONT

--

-

CONT

-

Arrow CONTR

-

CONTR

-

ZEILR

-

Arrow CONTPt

PtIr5

Modo de não contacto/ contacto intermitente

PNP-DB(cantilevers
triangulares)

Reflex (Al)

PtIr5

Cantilever 1-

Reflex (Al)-

Reflex(Cr/Au)Cantilever 2
Cantilever 1

Cr/Au

Cr/Au

Cantilever 2
Cantilever 1-

Cantilever 2

Arrow NCR--

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

Pointprobe®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

27 kHz1.6 N/m

450 x 55 x 4 μm

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Pointprobe®

25 kHz0.2 N/m

225 x 48 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m

100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m

200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.32 N/m

100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m

200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.48 N/m

100 x 40 x 0.5 μm

17 kHz0.06 N/m

200 x 40 x 0.5 μm

Arrow NCPt

Fabricado de nitretode silício modelado

Arrow™
Pointprobe-

Reflex (Al)NCHR

Modo de não contacto / Contacto Intermitente

450 x 45 x 2 μm

Reflex(Cr/Au)

NCH

PtIr5

PtIr5

®

Arrow™
Pointprobe

NCHPt

®

Arrow™

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

Pointprobe®

SSS-NCH-

AR5-NCHR-

AR5T-NCHR (inclinação
compensada)-

42 N/mSuperSharpSilicon™
High Aspect Ratio (5:1)

330 kHz125 x 30 x 4 μm

Reflex (Al)AR10-NCHR
DT-NCHR

0.2 N/m®

-Arrow NC

Modo de nãocontacto/
Contacto
Intermitente (altafrequência)

14 kHzArrow™

Pointprobe

Modo de Contacto CONTSC(cantilever curto)
CONTSCR

Modo de Contacto
PNP-TR-Au/ Contacto(cantilevers
Intermitente
triangulares)

Cantilever Length x
Width x Thickness

Pointprobe

CONTPtPNP-TR(cantilevers
triangulares)

Frequência Constante
Ressonânte de ForçaHigh Aspect Ratio(10:1)
Diamante

Reflex (Al)Diamante

NCST

-

-

Pointprobe®

NCSTR

-

Reflex (Al)Pointprobe

NCL

-

-

NCLR

-

Reflex (Al)

NCLPt

PtIr5

Ptlr5

SSS-NCL--

SuperSharpSilicon™

AR5-NCLR-

Reflex (Al)High Aspect Ratio (5:1)

DT-NCLR

Diamante

Reflex (Al)Diamante

SEIHR-

Reflex (Al)Pointprobe®

SSS-SEIH--

400 kHz

80 N/m

125 x 30 x 4 μm

160 kHz

7.4 N/m

150 x 27 x 2.8 μm

190 kHz

48 N/m225 x 38 x 7 μm

130 kHz

15 N/m225 x 33 x 5 μm

CDT-NCHR
Modo de nãocontacto /Contacto Intermitende Suave

Modo de nãocontacto /Contacto
Intermitende(cantilevercomprido)®

Pointprobe®

CDT-NCLR
Modo de nãocontacto /Contacto Intermitende (modo denão contacto de
Seiko)

SuperSharpSilicon™

Pointprobe®

Arrow™

Pyrex-Nitride

Ultra-Short Cantilevers

T A B E L A D E S E L E C Ç Ã O R Á P I DA
Alpicação

Tipo

Revestimento
Parte frontal

Revestimento
Parteposterior

Forma daponta

Frequência
RessonânteConstantede Força

Cantilever Length x
Width x Thickness

Contact Mode

USC-F1.5-k0.6

Au(tip remains
uncoated)

Reflex (Au)Electron Beam
Deposited(EBD) spike

1.5 MHz

0.6 N/m

7 x 3 x 0.10 μm

1.2 MHz0.15 N/m

7 x 2 x 0.08 μm

0.3 MHz

0.3 N/m

20 x 10 x 0.19 μm

5.0 MHz

30 N/m20 x 5 x 0.68 μm

2.0 MHz

3.0 N/m

10 x 5 x 0.28 μm

1.2 MHz

7.3 N/m

20 x 10 x 0.67 μm

Arrow™

up to 2.0MHz-

35 x 42 x 0.7 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

High-Speed AFM

USC-F1.2-k0.15
USC-F0.3-k0.3
Modo de nãocontacto /Contacto
Intermitente

PeakForce
TappingTM /ScanAsyst®
Mode

USC-F5-k30

Au(tip remains
uncoated)

USC-F2-k3

Reflex (Au)USC-F1.2-k7.3
Arrow UHF

Reflex (Al)Arrow UHF-AuD

Reflex (Au)PNP-TRS-

Reflex (Al)Pyramidal
silicon nitride

Arrow FM--

Arrow™

FM
Modo deModulação
de Força

Electron Beam
Deposited(EBD) spike

Pointprobe

Arrow FMR-

Reflex (Al)FMR

75 kHz2.8 N/mArrow™
Pointprobe

DT-FMR

240 x 35 x 3 μm®

Diamante

Reflex (Al)Diamante

225 x 28 x 3 μm
240 x 35 x 3 μm
225 x 28 x 3 μm®

105 kHz

6.2 N/m

225 x 28 x 3 μm

75 kHz2.8 N/m

240 x 35 x 3 μm

Special Applications

CDT-FMR
Microscopia
de Força
Eletrostática

Arrow EFM

PtIr5

PtIr5

Arrow™

EFM

PtIr5

PtIr5

Pointprobe

Microscopia
de Força
Magnética

MFMR

Duro
magnéticoReflex (Al)Macio
magnéticoReflex (Al)

Cantilevers
sem pontas(cantilevers
triangulares)

S-MFMR
Arrow TL1

1 cantilever--

Arrow TL1-Au

1 cantilever

Ti/Au

-

Arrow TL2

Conjunto de 2 cantilevers--

Arrow TL2-Au

Conjunto de 2 cantilevers

Ti/Au

-

Arrow TL8

Conjunto de 8 cantilevers--

Arrow TL8-Au

Conjunto de 8 cantilevers

Ti/Au

-

PNP-TR-TL

cantilevers
triangulares-

PNP-TR-TL-Au

cantilevers
triangulares

Cantilever 1
Cantilever 2
Cantilever 1
Cantilever 2

Ti/Au

Reflex (Au)

225 x 28 x 3 μm®

Pointprobe®

75 kHz2.8 N/mTipless silicon

6 kHz

0.03 N/m 500 x 100 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

Tipless silicon
nitride225 x 28 x 3 μm

Para obter mais informações, por favor visite o nosso sítio web www.nanoworld.com. Todos od dados podem ser alterados. NanoWorld® e Pointprobe® são marcas comerciais registadas de NanoWorld
AG. PeakForceTappingTM e ScanAsyst® são marcas comerciais registadas de Bruker Corp.

POINTPROBE®

Sobre NanoWorld
A nanotecnologia é o nosso campo. A precisão é a nossa tradição.
A inovação é o nosso instrumento.
Por isso estamos alocados na Suiça,
uma das áreas mais poderosas e mais inovadoras de Europa.
Com os nossos conhecimentos e a alta precisão das sondas de SPM e AFM,
osnossos clientes podem conseguir os melhores resultados em Microscopia de
Varredura por Sonda (SPM) e em Microscopia de Força Atômica (AFM).

ARROW™

A grande variedade de formas de ponta, de constantes, de frequências
ressonantes e de revestimentos faz a sonda mais apropriada para a sua
pesquisa assim como para aplicações industriais.
As sondas Pointprobe® Silicon AFM são as sondas de AFM mais utilizadas emais conhecidas no mundo e tornaram-se as sondas estandartes em muitos
laboratórios. As sondas de AFM da série Pointprobe® são disponÍveis em
diferentes variantes de cantilever e formas de ponta.
As sondas de AFM da série Arrow™ têm uma forma única da ponta que permite
posicionamento fácil da ponta na zona de interesse. A versão Arrow™ UHF é
destinada a varredura de alta velocidade com frequência ressonante até 2 MHz.

ULTRA -SHORTCANTILEVERS

Com a série Ultra-Short Cantilevers NanoWorld oferece todo o espectro desondas de AFM para High-Speed AFM. Elas são destinadas a frequência
ressonante até 5 MHz e têm ponta de High Density Carbon/Diamond Like
Carbon (HDC/DLC) com grande resistência ao desgaste. Três variantes
diferentes principalmente para aplicações ao ar e três variantes diferentes
principalmente para aplicações em lÍquido são disponÍveis actualmente.
As sondas PNP Silicon Nitride AFM são disponÍveis em variante com cantilevers
múltiplos de forma triangular, em variante com cantilever único assim como em
variante com cantilevers múltiplos de forma rectangular. Têm ponta de forma
piramidal de nitreto de silÍcio com raio da curva menor de 10nm. Cantilevers
triangulares de nitreto de silÍcio em variante sem ponta com revestimento de ouro
do lado detector ou dos dois lados dos cantilevers são disponíveis também.

PYREX-NITRIDE

NanoWorld AG
Sede
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel
Suiça

Telefone: +41 325 521 515
Faxe: +41 325 521 516
e-mail: info@nanoworld.com
web: www.nanoworld.com