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3	rǙưǖƿƎ9×Ñ#ėƣéĚ728,rƳƩƺƽ,ưǖƿľõr4#*?/5/,)5,/3D,7AEEF8

7G8,r ƣƀƠÌ;,ƣƀƠÌ;HI/&%5%,)5,/3D,7AEEF8
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O$LU*33%,GL)0%,)5,/3D,AESSO$LU*33%,GL)0%,)5,/3D,AESSX)::,@EYŨX)::,@EYŨ
V2W-OǖƯƺƽiŚƉĜÐŽơƃǒƧǋǘ!ćæ'ťChromospheric	  Lyman-­‐Alpha	  Spectro-­‐Polarimeter	
NASAの観測ロケットを用いた日米共同ミッション。	  
日本・米国・スペイン・ノルウェー・フランスの国際共同研究。	  	  目的：	  太陽の遷移層〜彩層上部から放たれるライマンα線を世界で初めて偏光分光観測 し、	  1. ライマンα線における	  Atomic	  polarizaKon	  （散乱偏光）を初めて検出する。	  
2. ライマンα線における	  Hanle	  eﬀect	  （ハンレ効果）を初めて検出する。	  
3. 太陽の遷移層〜彩層上部の磁場を直接測定する。	  
8	CLASP	  =	  世界初のライマンα線用・偏光分光装置	  ＋ モニタ光学系	
TelescopePrimary Mirror

Secondary Mirror

Slitjaw
OpticsSlitjaw Off-axis parabora
Camera camera mirror

Spherical
Constant-Line-Space Spectrograph
Grating
CameraChannel 1
Spectrograph
Reflecte

Slitd UV

Aperture “Cold Mirror” Transmitted
Heat
Stop
Visible light Absorber
Coating

Rotating
Waveplate

Channel 2

Polarimeter

Telescope

PolarizationAnalyzer

Polarimeter• 回転1/2波長板と反射型偏光板によるCassegrain
Measurements Stokes-­‐I,	  Stokes I, Q
Q, ,	  U U	  の測定。	  
Apertureø277.4 mm
Simultaneous measurement ofCapability• 分光された＋1次光と－1次光の両方を使い、	  orthogonal polarizations
Eff. Focal Length2614 mm (F/9.42)- Rotating 1/2 waveplate
直交２成分の直線偏光を同時測定。	  
PrimaryMirror
ø290 mm (clear aperture), F/3.54
OpticsTypeSecondary Mirror

ø119.4 mm

Visible Light
Rejection“Cold Mirror” coating on primarymirror- Polarization analyzer x 2è	  偏光測定精度:	  0.1	  %;	  波長分解能:	  0.01	  nm;	  空間分解能:	  1.45”	  （スリット幅）	  Spectrograph
Spectrograph Type

Inverse Wadsworth mounting

Grating Type

Spherical constant-line-spacewith 3600 mm-1 groove density9	

0.1%	  の偏光測定精度達成のための工夫	
TelescopePrimary Mirror

Secondary Mirror

Slitjaw
OpticsSlitjaw Off-axis parabora
Camera camera mirror

Spherical
Constant-Line-Space Spectrograph
Grating
CameraChannel 1
Spectrograph
Reflecte

Slitd UV

Aperture “Cold Mirror” Transmitted
Heat
Stop
Visible light Absorber
Coating

1.

2.

Rotating
Waveplate

Channel 2

Polarimeter

Telescope

PolarizationAnalyzer

Polarimeter

フォトンノイズ起因の擬似偏光の抑制：	  Cassegrain
Measurements
Stokes I, Q, U
Apertureø277.4 mm
Simultaneous measurement ofCapability
高いスループットの為に、反射型の光学素子を用い（波長板は除く）、各素子の役目
orthogonal polarizations
Eff. Focal Length2614 mm (F/9.42)- Rotating 1/2 waveplate
PrimaryMirror
ø290 mm (clear aperture), F/3.54
Opticsに特化した高効率コーティングを施した。	  
- Polarization analyzer x 2
TypeSecondary Mirror

ø119.4 mm

Visible Light
Rejection“Cold Mirror” coating on primarymirror

Spectrograph

ライマンα光以外の光による擬似偏光の抑制：	  Spectrograph Type
Inverse Wadsworth mounting
Spherical constant-line-space
Grating Type
太陽からの強烈な可視光を主鏡に施した反射型狭帯域フィルターコーティングで除去。	  
with 3600 mm groove density-13.
4.

SlitGrating Sizeø106 mm (clear aperture)

18.4 μm (1.45 arcsec)
装置起因の擬似偏光の抑制：	  Wavelength
Optimized for Lyα (121.567 nm)
Slit Length
5.1 mm (400 arcsec)
Camera Mirror
Off-axis parabola
スリットよりも上流は、対称な光学系（コーティングの一様性も含む）とした。	  
0.01 nm (spectral; RMS diameter)
Slit Width

Slitjaw Imaging SystemResolution

2.8 arcsec (spatial; RMS diameter)

Magnification
0.73
太陽の強度変動による擬似偏の抑制：	  Lyα (band-pass filter)
Spectrograph Cameras- Fold mirror with cold mirror coating
光学的に対称な２つのチャンネルを用いて直交２成分の直線偏光を同時測定する。
Optics- Off-axis parabola x 2Detector
512 x 512 CCD, 13μm pixel- Lyα filter x 2ExposureTime
0.3
sec (nominal)
また、1/2回転波長板を用いて解析する偏光状態を入れ替える。	  
Detector
512 x 512 CCD, 13μm pixel
Wavelength

Plate Scale

1.03 arcsec / pixel

Resolution

2.9 arcsec (spot RMS diameter)

FOV

527 arcsec x 527 arcsec

Plate Scale

0.0048 nm / pixel (spectral)
1.40 arcsec / pixel (spatial)

Field of View

121.567㼼1.23 nm (spectral)
400 arcsec (along slit)

10	

WV4Hb,G-1FG,ƣãŲƃ*fĄeƎŉéƊĢ•! #5"9ƝƟƚśŲā}Ɖ*fĄeƣĢƀƠƃƙƍŬŲ}ŬśŲgh
ŬŲ$*}ŬśŲ@ĐƣƚƇ*Ñŷęŭ%!!yǢǡz}ŶƞŬzǤ
ķƎ6JƉ:;3<=%>&?@>%ƣãŲƈŉéƣ
ĒƆƈŸƃŭżơƖƉƍ
~ƔăǢǠķŭ,2eñ:;3<=ğÐƹƩǘǄǚşşÐhã,º1Q*ÑǎǀƷǚã,ǅǚǍ,º1Q
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ǅǚǍśDnÝ,ƥƿǒƧƱǚ,SEE^ìć$*žƃ,*ƣƟ1ƀn*¥Ġ,WV4Hb,ƎǅǚǍǒƧǘ,G-1FG,ƣãŲƈ,ĒƆƃĢÐhªƎíùƹƩǘǄǚ0ƎƶƺƻƦǘƮŭ,şŠ高効率反射型偏光コーティング	  	  (Bridou	  et	  al.,	  2011)	
s偏光の反射率	p偏光の反射率	

反射率は、MgF2の約2.5倍を達成	  Polarizing	  Power	  (Rs-­‐Rp)	  /	  (Rs	  +	  Rp)	  は、99%を達成。	  
13	

@E+&h Ňƍ¥ƀ,DnXÜvYǇƦǔƷǚưǚƻƦǘƮ•! ǒƧǋǘ!*ƏăTE^ƣDnƀƠŷŬFě*ƎDnÝƏY^ö}žŶÖŹŬ$*ƎęSƊƌƠFě*ƎĖĈ0ƓƎĸ+ŌÂƣFČƊžƃŭ,5)'5,(*)+)

şŢ

主鏡に施すコーティングの一様性	
•

主鏡は回転波長板の上流にあるため、主鏡で擬似偏光が生じた場合、太陽起因の偏光なのか、装置起因の偏光なのか区別がつかない。	  
そこで、反射率ムラ起因の擬似偏光を十分に小さく抑える必要がある	  è 擬似偏光が偏光測定精度と比べ２桁小さい、一様なコーティングが施せた。	  

15	

1/2	  波長板の開発	
•

厚みの異なる２枚のMgF2板を、遅延軸を直交するように張り合わせたもの。厚み差が遅延量を決める。	
2π ( ne − no ) ( d1 − d2 )遅延量	 δ =λUVSORを用いた測定で決定した。	  
これにより、厚み差を 14.51	  um	  とすること
で、1/2波長板となる。	  
Principal	  axis	

principal	  axis	

ne	  −	  no	  =	  0.004189	  ±	  0.000039	  at	  121.57	  nm	  (Ishikawa	  et	  al.	  2013,	  Applied	  OpKcs)	
16	

CLASPの偏光測定能力	

Error	  bar	  :	  1σ	  • ５分間のフライトで得られる全データを用いることで、
2σ	  =	  0.1	  %	  の偏光測定精度を達成することが出来る。	  
17	

"-246ƎÐhƼǚƷǛ];:9,W;:ǜŶƞƞơƠò\[•! f%$M/$c,&%c)3*0e,ƊÄįƀƠ
żƊƉŝò\}ǛC>CǜŬ,&ŸĝǛD>ǜŬ¤ĝǛE>ǜƣ,Ě÷ƚƠżƊŷ1°Ơŭ•!

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CLASPŝĭ_žÙŖŇƲƴƻǍĭ_žÙŖŇL%čƭǓƥƶǒǍ%•! ŕĭlôĂƜŴƍĠĈƎĎå}ŇŖƊ¿¹êZÒŖƊƎĈƣ,ŷ`Ų7ƫǇƶƺƽĈý8ŭ,śā}7RSEEt&8ƉÿàžƈĘŭ!!BàêƍƏĠĈƀƠƄźƉ%*fČƎƉƠƲƴƻǍƊƀƠŭ,*fº·Ɖĥ¡ƀƔŸĎå}ƚŬ
ƂƎ Ɗĥ¡ŅƏōhƀƠŭ,ĖĈ•! oXřĉǌƺƲǑǘƍƚĽƉ½ĶŸƠŬċǙŻá]ƣƇŬoXĮŅƌǋƨǘƽƲƴƻǍŭ,ƬǁǋƻƦƺƭǋƨǘƽL%čƧǘǄǚ%!!%ĎVƌĥ¡¿½ƣŎžŬ,|³ƊǖƺƾƏÙƉŬŇƊƏîThŭ,ęƌĥ¡Ə½ĶƓƎ,ǖƺƾ ûƎƴƽǕƴǓǓǚǇƚ³ǄǁÛƉŬ,¿¹êĺƒƎ,ŹƌŲŔh½ĶŭThŁƍƘƲǍAƉĒųŭ,ŠŞ

CLASP 軸外し放物面鏡	  インバーホルダーの試作品	

キネマティックマウント:	  低膨張インバー	  底板とロッドは一体物で、鏡とは接着固定。	  
ロッド両端のストレスリリーフも板バネ状で、	  機械的遊びの全くない静定支持構造。	
21	ƖƊƙ•! "-246ƏŬçƉ3ƙƈǒƧǋǘ!ćƎ
$*2*ĜÐƣĒųŭ,•! "-246ƉƏŬEžƃìć$*ƼǚƷǛ];:9,W;:ǜƊǃǘǕ:¶àĦƣãŲŬľõrrŁǛǈǒƵǋQ,R,S,ŗYǜ
Ǝò\ƣìğÐƀƠżƊƣëžƈŲƠŭ,•! "-246,ƏŬAES`z©ƎƅŻƣhŭ,•! "-246,ƍƝƆƈrò\ƎìÐhŷ
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