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車載機器の EMC 試験の準備—ロード ・シミュレータ、テスト・ハーネスなどの準備—株式会社 e・オータマ

佐藤智典

2018 年 3 月 19 日

目次ことに気付かなかった場合、あるいは気付いていても再試験は不要と安易に判断してその結果を最終的

1

概要

1

2

機材の準備
2.1 ロード ・シミュレータ . . . . . . . . . . .
2.1.1 ロード・シミュレータに必要な/望まれる特性 . . . . . . . . . . . .
2.1.2 ロード ・シミュレータの設計のガ
イド . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2 周辺機器 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3 テスト・ハーネス . . . . . . . . . . . . .
2.4 その他のケーブル . . . . . . . . . . . . .

11問題となる可能性も考えられる。†12行なうためには、試験を意図したように行なうため

参考資料

73な評価結果とした場合、場合によっては後日大きなこのような問題のリスクを下げ、試験を効果的にに何が必要となるかを理解し 、適切な準備を行なう

3567ことが必要となるだろう。

11452[1][5][6] シ リ ー ズ やの 試 験の た め の ロ ード ・シ ミュ

本 稿 で は 、ISOCISPR 25[2][7]レ ータやテスト・ハーネスなど の準備についてのガ イドを示す。なお、それぞれの規格の正確な要求

1は、それぞれの規格 [1][2][3] を参照されたい。

概要
車載機器の EMC 試験では、試験で使用するロード・シミュレータやテスト・ハーネスが試験の結果に大きな影響を与える [5][7] 。従って、EMC 試験を適切に実施するためには、ロード・シミュレータや2機材の準備

2.1

ロード ・シミュレータ

ISO 11452[1][5][6] シリーズや CISPR 25[2][7] の大部分の試験では、試験対象装置 (DUT) のハーネ
スはロード・シミュレータで終端することが基本とその他の周辺機器、テスト・ハーネスなどの準備を適切に行なうことが必要となる。
このような準備が不足していたことに試験を始めなる。

ようとした時に、あるいは始めた後で気付いた場合、その準備ができるまで試験を中断することが必要と

ロード・シミュレータの役割の 1 つは DUT を意なる、あるいは規格やテスト・プランから外れた、図した状態で動作させることである。だが、ロード・あるいは適切なものとは言い難い形での試験となるシミュレータのその他の特性が試験の結果に (そしことで妥協して試験を続行することになるかも知れて試験の有効性に ) 大きな影響を与える可能性があない。また、それが規格やテスト・プランから外れるにも関わらず、その点は規格でも強調されておらた、あるいは適切なものとは言い難いものとなるこず、しばしば見過ごされているように見受けられる。とに気付かないまま試験を終えるという状況も考えられる。
このような状況での試験はその有効性に問題を含むものとなる可能性があり、結局は適切な準備を行†1 例えば 、規格の規定に従っていない形での試験の結果に基づいて規格への適合を主張したということで紛争となるかも知れない。あるいは 、試験を適切に行なっていれば検出できたであろう問題に気付かずに出荷し 、フィールド で実際に問題を起こすかも知れない。

なった後に改めて再試験を行なうという判断となるかも知れない。だが、このような状況となっている

1

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2.1.1

ロード ・シミュレータに必要な/望まれるれが重要であるということがあまり認識されて特性いない傾向があり、ロード・シミュレータの準備に際して考慮されていないことが多い。

ロード・シミュレータは、一般に次のような特性だが、ロード・シミュレータを DUT 側から見たを持つものが必要となる:

コモン・モード・インピーダンス (テスト・ハー• エミッション試験に際して、過剰なノイズを発生しないことダンス) は多くの試験の試験結果に大きな非常ロード ・シミュレータは DUT と同じ 空間にに大きな影響を与える。例えば 、ISO 11452-4

置かれ 、テスト・ハーネスに接続されるので、(BCI 法) では、ロード・シミュレータ側のコモロード・シミュレータが有意なノイズを発生しン・モード・インピーダンスが高ければ †2 少なた場合、それもある程度までは DUT からのノくとも低い周波数範囲では DUT 側に妨害がほイズと同様に観測されることになる。

とんど注入されず、結果として試験が非常に甘

一般にそのようなノイズを無視してその他のノいものとなってしまう可能性が高い [5] 。

ネスとグランド・プレーンのあいだのインピーイズのみを測定することは許容されないので、このような問題を避けるためには、ロード・シロード・シミュレータが発生するノイズのレベミュレータは、DUT を動作させるために必要ルが高い場合、DUT がエミッション限度を超な特性を持つだけではなく、イミュニティ試験えるようなノイズを出していないとしてもエでの妨害の印加やエミッション測定でのノイズミッション試験に不合格となる場合がある。の測定を妨げないようなインピーダンスを与えこのような問題を避けるためには、ロード・シるものとする必要があり、基本的には試験周波ミュレータからのノイズが適用するエミッショ数範囲の大部分で充分に低いインピーダンスをン限度よりも充分に低い (通常、6 dB 以上低持つことが望ましい。

い) ことが必要となる。

• ロード・シミュレータの先に他の機器が接続される場合、その先の機器や配線がロード・シミュ• イミュニティ試験に際して、試験で印加される妨害で損傷や誤動作を生じないこと

レータの DUT ポートのインピーダンスにあまり影響しないこと

同様に、イミュニティ試験に際してはロード ・シミュレータも試験で印加される妨害に曝されテスト・ハーネスの端に接続されたロード・シるため、イミュニティ試験に際してロード・シミュレータが電源に接続される、あるいはローミュレータが妨害の影響を受けることも珍しくド・シミュレータの先にさらに他の機器 (例えない。

ばコンピュータや計測器など ) が接続される場合も多い。

このような問題を避けるためには、ロード・シミュレータが試験で印加される妨害に余裕をロード・シミュレータの電源はその近くに置い持って耐えられるようにすることが必要となる。

た LISN (AN) を介して接続するのが基本であり、その場合、少なくとも低い周波数範囲†3にイミュニティ・レベルが試験レベルよりも低い

ついてはインピーダンスはある程度管理されたかも知れない機器、例えば一般の計測器やコン状態となる。

ピュータなどを試験室内 (DUT が置かれる電波暗室やシールド・ルームの中) に置くことやだが、一般にその他の機器のインピーダンスはテスト・ハーネスに直結することは、一般に推管理されておらず、またそれらの機器が試験室奨しない。

外に置かれて長いケーブルで接続されることも珍しくない。

• DUT から見たノーマル・モード、及びコモン・モード のインピーダンスを管理すること†2 例えばロード ・シミュレータがグランド ・プレーンに低インピーダンスで接続されていない場合や EMC 対策などの目的でポートにチョーク・コイルを入れている場合はこのような状態となることが予期される。
†3 LISN のインピーダンスは通常は 0.1〜100 MHz について管理されている。

デバイスのコモン・モード・インピーダンスはDUT の機能に関係しないことも多く、またそ2

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• できる限りノイズを発生しないように、また試験で印加される妨害の影響を受けないように設

このような場合、ロード・シミュレータの先に接続された機器やその配線、あるいはそれらの配置が DUT 側からロード・シミュレータを見計するたインピーダンスに影響を与え、結果的に試験– 通常は受動回路のみであれば問題とならの結果に大きな影響を与えるものとなる可能性ないがある。

– デジタル回路 (CPU など のクロックを用いたもの 、デジタル通信回路など ) やDC/DC コンバータはエミッションで問このような問題を避けるためには、ロード・シミュレータの DUT ポートのインピーダンスがロード・シミュレータの先の接続の状態の影響題となりやすく、イミュニティでも問題を受けないよう、ロード・シミュレータの DUTとなるかも知れない

ポートとその他のポートのあいだが適切に減結– アナログ 回路 (例えばセンサやオペアンプ回路) はイミュニティで問題となりやす合されていることが望ましい。

• ロード・シミュレータの先に他の機器が接続される場合、他の機器からの妨害の伝搬、あるいく、微小信号を扱う場合には特に慎重な設計が必要となるは他の機器への妨害の伝搬をできる限り抑制す– 同じ 回路でもグランド ・プレーンを持つプ リント板で作るよりもユニバーサル基ること
ロード・シミュレータ自身がエミッション測定に板上で組んだ方が問題となりやすい

悪影響を与えるようなノイズを発生せず、また– ノイズを発生する、あるいは妨害の影響を受ける可能性がある回路を用いる場合、イミュニティ試験で印加される妨害に耐えるとしても、その先の機器 (例えばコンピュータやフィルタとシールド を厳重に行なうこと計測器など ) から伝搬するノイズがエミッショが望ましい

ン測定の結果に悪影響を与え、あるいはイミュニティ試験に際して印加された妨害がその先の• DUT ポートのインピーダンスを管理する機器に伝搬して誤動作を引き起こすかも知れない。

– DUT ポートとグランド (ロード ・シミュレータのシールド・ケース) とのあいだに

このような問題を避けるためには、ロード・シミュレータが、その先の機器から伝搬するノイ適切な容量†4 のコンデンサを入れ 、DUTズ、あるいはそれらの機器に伝搬するかも知れポートのインピーダンスを低インピーダない妨害をできる限り減衰させることが望まンス状態として管理する

しい。
場合によっては、特にロード・シミュレータか– できる限り高い周波数まで安定したインピーダンスを与えられるように 、このコらのケーブルを試験室外に置いた敏感な周辺機ンデンサは、貫通コンデンサ (シールド ・器に接続するような場合には、ケーブルを試験ケースに直接取り付けることができ、そ室から引き出す箇所と周辺機器のあいだに追加の場合は最良の高周波特性を与える) 、あのフィルタを設けることが望ましい、あるいはるいはグランド ・プレーンを持つプ リン

周辺機器の誤動作の防止やノイズの侵入の抑制

ト板に実装した三端子コンデンサとするのためそれが不可欠となるかも知れない。

ことが望ましい– DUT ポート (コネクタ) からこのコンデ2.1.2ンサまでの距離はできる限り短くするこ

ロード ・シミュレータの設計のガイドとが望ましい

前項で述べたような特性の達成のため、ロード ・シミュレータの設計で以下のような点に留意するこ†4 このコンデン サの容量の例は ISO 11452-1:2015[1] やFMC1278[4] など で示されているが 、接続先の回路の特性に応じた調整が必要となるかも知れない。とを推奨する。

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– 必要な場合はそのコンデンサよりも内側に 直列 インピ ーダ ン スを 追加し ても良– ケーブルの適切なシールド はケーブルからのノイズの放射や妨害の拾い上げを抑い†5が 、コンデンサと DUT のあいだに

制し 、ロード・シミュレータやその先の機

直列インピーダンス (例えばフェライト・器からのノイズのエミッション測定への影コア) を追加すべきではない

響、またイミュニティ試験で印加される妨害のそれらの機器への影響を低減する– CAN については、DUT ポートの直近の†6小容量のコンデンサ に加えて 、図 1 や• その回路がシールドを必要とするかど うかに関わらず、ロード・シミュレータをシールド・ケースに入れる

図 2 で例示したように分割終端を行なうことが望ましい– テスト・ハーネスでシールド 線が用いられている場合、そのシールドはロード・シミュレータのシールド・ケースに直接接続– ロード ・シミュレータのシールド ・ケースは、DUT ポートに取り付けたコンデンサ、また必要に応じて他のポートに取り付することが望ましい

けたフィルタに良好なグランド を提供で

• DUT ポート以外のポート (例えば電源や他の機きる器と接続するためのポート ) を設ける場合、そ– ロード・シミュレータ内のコンデンサやフィれらのポートも出入り口の近くでフィルタする

ルタのグランド への接続は 、このシール
ド ・ケースに高周波的に確実に行なう– このフィルタは、ロード・シミュレータ内の回路が発生したノイズがケーブルを介して漏洩してエミッション測定で問題と– 三端子コンデンサやフィルタのグランドをプリント板のグランド・プレーンに接続なるリスクを 、またイミュニティ試験でしている場合、グランド・プレーンとシー印加された妨害がケーブルを介してロールド ・ケースをしっかりと接続する

ド・シミュレータ内に侵入してロード・シ– シールド ・ケースの表面は良好な導電性を持つ金属面が露出した状態†7とし 、また底面に足を付けず、試験に際してグラミュレータの誤動作を引き起こすリスクを低減する– このフィルタは、他の機器からの、あるいンド ・プレーンと直接導通させられるよは他の機器への妨害の伝搬も低減する

うにする– 内部の回路がノイズを発生する、あるいは妨害の影響を受ける可能性が考えられ• 他の機器に接続するためのポートを設ける場
合、それらのポートの接続にシールド・ケーブ

る場合、シールド にできる限り開口を設

ルを用いる

けないようにし 、必要に応じて EMI ガス– ケーブルのシールド を適切に終端できるコネクタを用いるか、あるいは EMI 用のケットや銅テープなど を用いてシールドの隙間を塞ぐ

ケーブル・グランド (gland) やクランプを• ロード・シミュレータは試験の結果に有意な影響を与える可能性があるので、何らかの形で管理し 、また変更を加えた時にはその記録を取る

用い、ケーブルがロード・シミュレータに入る箇所でそのシールドをシールド・ケースに全周で接続することが望ましい

ことが望ましい†5 追加の直列インピーダンスは減結合を改善し 、その先の回路や配線の DUT ポート側への影響を低減するだろう。その先をロード・シミュレータから引き出して長いケーブルを接続するような場合にはこの減結合が重要となるかも知れず、DUT ポートと他のポートとのあいだが充分に減結合されていれば他のポートの先の状態がロード・シミュレータの DUT ポートのインピーダンスに影響を与えにくくなる。ロード ・シミュレータでインピーダンスの管理や減結合が適切に行なわれていない場合の影響の例については [7] で述べた。
†6 CAN については 、ISO 11452-1:2015[1] では 10 pF 、
FMC1278[4] では 470 pF という値が示されている。

ロード・シミュレータの設計のイメージを図 1 や図 2 に示す。ロード・シミュレータの設計については ISO 11452-1:2015[1] や Ford FMC1278[4] でも述べられている。
†7 例えば無塗装の銅など 。アルミニウムを用いる場合はアルマイトを行なわないこと。

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+12V

100n

GND

CAN

GNDC CAN

10p10p

60 x2

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DUTA

DUT

AE (

60 x210p+5V

AE (CAN

10p+12V

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D

4.7n

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+5V

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D

1n to 100n

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I/O

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1n to 100n

1n to 100n

1n to 100nÿ(ÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿ(ÿ(ÿ(ÿ(ÿ(ÿÿ(ÿ((ÿ(1n to 100nÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿÿ

図 1: ロード ・シミュレータの設計イメージ (受動回路のみ)

2.2

図 2: ロード・シミュレータの設計イメージ (能動回路を含む)周辺機器タを行なうことで 、そのような機器が試
験に悪影響を与える可能性を低減できる

しばしば 、DUT の制御や監視などのために、他• DUT の制御や監視などのために DUT に通常の機器、例えば計測器、コンピュータ、ECU などは存在しない線を接続することは避ける†9を DUT に接続することが必要となる。
このような機器の接続が必要な場合、以下のよう– まず、そのような接続をなくすことができないかを考えることが望ましいにすることが望ましい。

• 用途に合った機器をあらかじめ用意する∗ DUT が通信機能を持つ場合、内部状態を通信で監視できるような試験用• そのような機器の接続はロード・シミュレータを介して行なうのモード を追加することで追加の接– ロード ・シミュレータとして望ましい特ることが可能となる場合があるかも続なしで DUT の内部状態を監視す知れない性を持たないかも知れない機器をテスト・ハーネスに直結しない†8∗ 必要に応じて適当なインジケータを追加し 、状態の監視を非接触で行な– そのような機器はロード・シミュレータを介して接続し 、ロード・シミュレータでイ†9 これに関して、ISO 11452-2 や ISO 11452-4[1] は、「干渉への DUT の反応のモニタのための機器への接続は、光ファイバ、あるいは高抵抗リード を用いて行なえるかも知れない。他のタイプのリード を使用できるかも知れないが 、影響を最小限とするために極度の注意が必要となる。そのようなリード の配置、長さ、そして位置は慎重に文書化しなければならない。モニタ用の機器と DUT のいかなる電気的接続も DUT の誤動作を引き起こすかも知れない。そのような影響を防ぐ ためには極度の注意を払わなければならない。」のように述べている。

ンピーダンスの管理やある程度のフィル†8 特に、グランド ・プレーンの外に、さらには試験室の外に置いた周辺機器に適切なロード・シミュレータを介さずに接続した場合、接続した周辺機器、その周辺機器までの配線、周辺機器の電源など の接続、それら全ての配置が試験の結果に大きな影響を与えるようになる可能性がある。このような状況では再現性のある試験はほとんど 不可能となるだろう。

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えるようにできる場合があるかも知果に非常に非常に大きな影響を与える [5][7] ので、適れない切なものを用意することが必要である。

– 接続が必要な場合、光ファイバを使用することが望ましい• 適切な長さのテスト・ハーネスを用意する– 試験によって複数の長さのハーネスが必要となるのが普通であるので 、それぞれ– ど うしても電気的な接続が必要な場合、高抵抗のリード 線を用いればそのリード 線の長さのものを用意するの試験への影響を低減できるズを発生せず、またイミュニティ試験で印加さ– 場合によっては、同じ試験を DUT の向きを変えて試験を行なう際にもハーネス長れる妨害に耐えることがわかっているのでないを変えることが必要となるかも知れない

限り、そのような機器を試験室内に置くことは– 短いハーネスを使用すべき時に長いハーネスを折り畳んで用いてはならない• エミッション試験に悪影響を与えるようなノイ避ける– ハーネスの作成を試験時にその場で行な– そのような機器はエミッション試験で大きな問題となるレベルのノイズを発生すうことも可能な場合、ハーネスの作成のために必要な部材 (コネクタ、ワイヤ、工る可能性がある具など ) も用意しておくことが望ましい– 一般の計測器やコンピュータは車載機器のイミュニティ試験で予期されるよりもかなり穏やかな環境での使用のみが意図• テスト・ハーネスの線の種類や加工などは実際に使用するハーネスを代表するものとするされていることも多く、イミュニティ試験– 特に 、シールド の有無、シールド の端末処理、線の撚り合わせの有無に注意する

で印加される妨害に耐えられない可能性がある– そのような機器に妨害を与えた時、その影• DUT の操作が必要な場合、適切な準備を行なう• 例えば対策の効果の確認を行なおうとしている
場合のように試験の再現性が重要な場合、同じテスト・ハーネスを用いることが望ましい– 例えば 妨害を受けている状態でのスイッ– ハーネスの長さや加工の僅かな違いが測

響は気付きにくい形で出る可能性もある

チ操作やその他の機械的な入力への反応

定結果の違いを引き起こす可能性もあるを確認することが必要となる場合がある

ので、再現性が非常に重要な場合には、単– イミュニティ試験中にそのような操作を行なう場合、妨害の影響を受けない、まに同じように作ったものというだけでなた妨害に悪影響を与えない形でその操作– また、ハーネスの束ね方の違いが測定結果の違いを引き起こす可能性もあるので、く、同一の個体を用いることが望ましいを行なうことが必要となる– これは 、例えば遠隔で制御されるプラスチックの空圧アクチュエータ (場合によっ再現性が非常に重要な場合には 、ハーネてはバルーンのようなもの) を用いて行な形状をできる限り保つようにすることがうことができるかも知れない

望ましい

スをしっかりと束ね 、次の試験までその– 試験時に人が試験室内で操作することやDUT の近くに置いたロボットに操作を行• 規格によってはテスト・プランで規定された別の長さのハーネスを用いることが許容される場
合もあるが、標準的でない長さのハーネスを用なわせるようなことは一般に許容できないいる場合、その試験への影響を考慮することが2.3

望ましい

テスト ・ハーネス試験で使用するテスト・ハーネス (DUT とロー各規格で必要となるテスト・ハーネスの長さを 表 1に一覧で示した。

ド ・シミュレータのあいだのハーネス) も試験の結6e-OHTAMA, LTD.
より詳しい情報や、それぞれの試験での機器 (特周辺機器を試験室 (電波暗室やシールド・ルーム)に DUT 、ロード・シミュレータ、及びテスト・ハーの外に置いた場合の機器の接続のイメージを 図 3 にネス) の配置の例は、参考資料[1]〜[7]示す。†10を参照していただきたい。

2.4

3その他のケーブル

参考資料[1] ISO 11452 series, Road vehicles – Component
test methods for electrical disturbances bynarrowband radiated electromagnetic energy

ロード・シミュレータとその他の周辺機器のあいだを接続するケーブルも、試験時の配置を考慮して• ISO 11452-1:2005, General and definitions, ISO, 2005

適切なものを用意することが必要となる。

• 用途に合った 、適切な長さのケーブルを用意する• ISO 11452-1:2015, General principles
and terminology• ISO11452-2:2004,
Absorber-lined
shielded enclosure, ISO 2004

– 必要な長さは試験時の配置や試験室の状況などによって異なるが 、周辺機器を試• ISO 11452-3:2001, Transverse electromagnetic mode (TEM) cell, ISO, 2001

験室の外に置く場合、かなり長いものが必要となる• ISO 11452-4:2005, Bulk current injection(BCI), ISO, 2005

– ロード・シミュレータで適切にインピーダンスの管理と減結合が行なわれていればこのケーブルやその配置の試験への影響• ISO 11452-4:2011, Harness excitation
methodsは限定的なものとなることが期待される• ISO 11452-5:2002, Stripline, ISO, 2002

ので、一般に、テスト・ハーネスのような• ISO 11452-7:2003 + A1:2013, Direct
radio frequency (RF) power injection

厳格な管理は不要で 、試験によって異な• ISO 11452-8:2015, Immunity to magnetic
fields

るものを用いても良いだろう• ケーブルを試験室外まで引き出す場合、その引き出し方の考慮も必要• ISO 11452-9:2012, Portable transmitters• ISO 11452-10:2009, Immunity to conducted disturbances in the extended audio
frequency range– 同軸ケーブルは試験室の壁面の貫通同軸コネクタを経由して引き出すことができ• ISO 11452-11:2010, Reverberation chamber

るかも知れないが、その場合、試験室の内側と外側の 2 本のケーブルが必要となる[2] CISPR 25 ed. 2 (2002), ed. 3 (2008) & ed. 4(2016), Vehicles, boats and internal combustion engines – Radio disturbance characteristics – Limits and methods of measurement
for the protection of on-board receivers, IEC,2002, 2008 & 2016

– 貫通同軸コネクタを経由できないケーブ
ルを試験室の外に引き出す場合は壁面の貫通スリーブ (シールド・ルームの壁を貫通するパイプ ) を通すことが多いが、コネクタが大きいと貫通スリーブに通らない[3] ISO 7637-2 ed. 2 (2004) & ed. 3 (2011),
Road vehicles — Electrical disturbances fromconduction and coupling — Part 2: Electricaltransient conduction along supply lines only

かも知れない– ケーブルを介しての妨害の漏洩や侵入を低減するため、シールド ・ケーブルを用い、ケーブルが壁を抜ける箇所でケーブルのシールド を壁面に接続できるようにしておくことが望ましい†10 ケーブルを試験室外に引き出した場合、そのケーブルを介して妨害が漏洩するようになる。だが 、ケーブルを引き出した
先の部屋 (図 3 では仮に「観測室」とした) がシールド されていれば 、それが問題を起こすリスクは限定的なものとなるだろう。

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規格

ハーネス長ISO 11452-2:2004≤ 2000 mm (1500 ± 75 mm をグランド ・プレーンの縁と平行に引く)

ISO 11452-3:2001

試験法と TEM セルの寸法による

ISO 11452-3:2016

試験法と TEM セルの寸法による

ISO 11452-4:2005

1000 ± 100 mm†aISO 11452-4:2011 閉ループ法以外

1700+300mm†a−0ISO 11452-4:2011 閉ループ法

1000+200mm†a−0ISO 11452-5:2002

ストリップライン内に 1 m 以上引く

ISO 11452-7:2003

印加箇所まで : ≤ 150 mm (≤ 120 mm が望ましい)ISO 11452-8:2007

規定なし

ISO 11452-8:2015

規定なし

ISO 11452-9:2012

1700+300mm†a−0CISPR 25:2002 電圧法

電源: 200+200mm 、電源以外: ≤ 2 m−0CISPR 25:2002 電流プローブ法

1500 ± 75 mm†aCISPR 25:2002 ALSE 法≤ 2000 mm (1500 ± 75 mm をグランド ・プレーンの縁と平行に引く)

CISPR 25:2008 電圧法

電源: 200+200mm 、電源以外: ≤ 2 m−0CISPR 25:2008 電流プローブ法

1700+300mm†a−0CISPR 25:2008 ALSE 法≤ 2000 mm†a (1500 ± 75 mm をグランド ・プレーンの縁と平行に引く)

CISPR 25:2016 電圧法

電源: 200+200mm 、電源以外: ≤ 2 m−0CISPR 25:2016 電流プローブ法

1700+300mm†a−0CISPR 25:2016 ALSE 法≤ 2000 mm†a (1500 ± 75 mm をグランド ・プレーンの縁と平行に引く)

ISO 7637-2 Pulse 3

電源: 500 ± 100 mm 、電源以外: 規定なし

ISO 7637-2 Pulse 3 以外

規定なし

ISO 7637-2 エミッション

電源: 200 ± 50 mm †b 、電源以外: 規定なし

†a テスト・プランで別の長さが規定されない場合†b DUT と LISN のあいだはこの距離だが 、途中にスイッチやプローブを接続するため、おそらくその場での加工が必要

表 1: テスト・ハーネスの長さ[4] FMC1278, Electromagnetic Compatibility[8] ISO 7637-2 & ISO 7637-3 の概要, 株式会社Specification
For
Electrical/Electronice・オータマ 佐藤, 2017
Components and Subsystems, Ford Motor
http://www.e-ohtama.jp/Company, 2015,
http://www.fordemc.com/docs/requirements.htm[5] ISO 11452 シ リ ー ズ の 概 要 — 前 編:
ECE R10.05 に関係する規格, 株式会社 e・オータマ 佐藤, 2014–2016
http://www.e-ohtama.jp/[6] ISO 11452 シリーズの概要 — 後編: その他の試験法 (ISO 11452-4:2011, -7, -8, -9, -10, -11),
株式会社 e・オータマ 佐藤, 2014–2016
http://www.e-ohtama.jp/[7] CISPR 25 の概要, 株式会社 e・オータマ 佐藤,
2016
http://www.e-ohtama.jp/
8e-OHTAMA, LTD.

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図 3: 試験時の機器の接続の例

9DUTÿÿ