SuperKEKBに向けた電子・陽電子入射器
Linac用ビーム位置モニターの読み出しシステム開発	
2013/8/5	  	  一宮亮、諏訪田剛、佐藤政則、宮原 房史、古川和朗	  (KEK)	  	第10回日本加速器学会年会	

1	

はじめに	
• なぜ、KEK電子陽電子Linac用新BPM読み出しシステムを開発したか？	  
• SuperKEKBには、e-­‐:20mm	  mrad(5nC),	  e+:	  10mm	  mrad(4nC)の低エミッタンスビームを供給すべし。[仕様]	  • そのためには、ビーム光学上0.1mm以内に加速管をアライメントする必要がある。	  
• 安定してBeam	  Based	  Alignment(BBA)するためには、目標とするアライメント精度よりも一桁高いBPM位置分解能が求められる。	  
• しかしながら、現行のオシロスコープ読み出し方式では通常50μm(最大25μm)の位置分解能しかない。	  
どうする？	  BPM読み出しシステムを新しく作ろう！	  
第10回日本加速器学会年会	

2	狭帯域バンドパスフィルタ(BPF)方式とは？	
• BPMからの短パルス（広帯域）からエネルギーの高い周波数成分だけを取り出し、バースト状の時間的に長い信号へ変換する方式。	  
• 周波数が下がるため(10GSa/s→250MSa/s)高分解能(8bit→16bit)のADCで長時間サンプリング出来るためS/N、分解能が上がる。	
BPMからの信号の周波数成分	  fc=300MHzのBPFを通した例	  ~60	  ns	時間領域におけるBPM信号	  時間幅 Δt=1~2	  ns	第10回日本加速器学会年会	

3	• 制約条件	  狭帯域BPFの設計	

– BPMからのエネルギーの高い周波数領域を通過域とする。	  
• fc=300MHz	  – SuperKEKBでは96ns間隔で2バンチ入射を行う。	  
• バースト長は96nsより短くなければならない。(帯域幅への下限)	  • 波形特性に優れたBesselフィルタとする。	  
– ADCはfs=250MHzを選定したため、折り返し雑音を避けるため、第三ナイキスト窓(250MHz~375MHz)にスペクトルを納めること。(帯域幅への上限)	  Power	   50MHz	  (dBm)	 (folded	  signal)	  300MHz	  (signal)	  BPF	  Spectrum	Folding	  125	  (Nyquist)	

250	   300	 375	
500	
625	
第10回日本加速器学会年会	(fs)	  Frequency (MHz)	
4	

狭帯域BPFの設計(cont’d)	
• 最終設計仕様	  – fc=300MHz	  • 1st:	  	  2次Bessel特性ヘリカルコイルBW=34MHz	  • 2nd:	  3次Bessel特性ヘリカルコイルBW=28MHz	  時間軸応答(<96nsを満足)	  周波数軸応答(両端で45dB以上の減衰)	  ~60	  ns	

第10回日本加速器学会年会	

5	䇭䇭䈗ᵈᗧ䋺ᧄข⺑䈲ᯏ⢻㒢ቯ 㪭㪼㫉㪅㪉䈪䈜䇯䋨㪘㪆㪛䊂䊷䉺෼㍳േ૞䈱䉂᦭ല䇮ᓟಣℂ䋨䊂䊷䉺ಣℂ෸䈶㪚㪘㪣Ṷ▚ಣℂ䋩ήല䂓᭎䇭䇭ⷐᧄ䊝䉳䊠䊷䊦䈲䇮䋵䋰䌈䌺Ფ䈮䋹䋰䌮䌳㑆㓒䈱䋲䈧䈱䊎䊷䊛ାภ䉕ᬌᵄ䊶䌁䋯䌄ᄌ឵䈚Ṷ▚ಣℂ䉕ⴕ䈉䊝䉳䊠䊷䊦䈪䈜䇯䋨䌖䌍䌅䋲᏷䊝䉳䊠䊷䊦䋩䋴䌣䌨䋨䌘䋫䋬䌘䋭䋬䌙䋫䋬䌙䋭䋩䈱䊌䊦䉴ାภ䉕䌂䌐䌆䋨䋳䋰䋰䌍䌈䌺䋩䊶䌁䌔䌔䊶䌒䌆䌁䌍䌐䈪ᬌᵄ䈚䈢ାภ䉕䇮䋵䋰䌈䌺Ფ䈮䌁䋯䌄ᄌ឵䋨䋲䋵䋰䌍䌈䌺䊶䋱䋶䌢䌩䌴䋩ᓟ䋱䋰䋲䋴㪮㪆䌣䌨䉕䊜䊝䊥䈮଻ሽ䊶Ṷ▚ಣℂ䉕ⴕ䈇䌖䌍䌅䌢䌵䌳䈮಴ജ䈚䉁䈜䇯䉁䈢ᩞᱜାภ಴ജᯏ⢻䈮䈩䊎䊷䊛ᬌ಴ㇱ䉕฽䉄䈢ᩞᱜ䈏น⢻䈪䈜䇯ౝㇱ䌆䌐䌇䌁䋨䌓䌰䌡䌲䌴䌡䌮㪄䋶䋩䈱䊒䊨䉫䊤䊛䈲䊗䊷䊄਄䈱䌊䋭䌔䌁䌇䉮䊈䉪䉺෸䈶䌖䌍䌅䌢䌵䌳䉋䉍ኾ↪䌆䌌䌁䌓䌈䌒䌏䌍䈻䈱䌕䌰䌤䌡䌴䌥䈏น⢻䈪䈜䇯䊶Ṷ▚ಣℂ಴ജ䇭䇭䇭㽲䊎䊷䊛૏⟎䇼㱘䌭䇽䇭䇭㽳㔚⩄㊂䇼䌮䌣䇽

全体の仕様(まとめ)	
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4チャンネル	  (X+,	  X-­‐,	  Y+,	  䊶䌁䋯䌄ᄌ឵ㇱ
Y-­‐)	  入力	  (SMA).	   䋴䌣䌨䉰䊮䊒䊦䉺䉟䊚䊮䉫䋲䋵䋰䌍䌈䌺䋨ౝㇱ䋩㩷䋻䌍䌃䋱䋰䌅䌐䋱䋹䋵䋨䉥䊮䉶䊚⵾䋩䊂䉞䊧䉟ᯏ⢻᦭䉍䌁䌄䌃䌁䌄䋹䋴䋶䋷䋭䋲䋵䋰䋨䉝䊅䊂䊋⵾䋩䇭䋱䋶䌢䌩䌴䇭䋲䋵䋰䌍䌓䌐䌓BPF:	  ヘリカルフィルタx2,	  fc=300MHz,	  バ
ンド幅:	  34MHz、	  28MHz.	  
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A/D:	  250MS/s,	  16bit	  (AD9467-­‐250),	  -­‐1.25V	  ~	  +1.25V,	  1024word/ch.	  
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パルス毎のゲイン切り換えをするための半導体減衰器ｘ２.	  
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•••䉻䊑䊦䊊䉟䊃䌖䌍䌅䋲᏷䊝䉳䊠䊷䊦䌁䋳䋲䊶䌄䋳䋲䇭᜛ᒛ䉴䊷䊌䊋䉟䉱䊥䋯᜛ᒛ㕖․ᮭ䇭䊂䊷䉺䉝䉪䉶䉴᷹ቯ⚳ੌഀㄟ䉂ᯏ⢻᦭䉍䊶䌖䌍䌅᷹ቯ⚳ੌ䌉䌒䌑䉅䈚䈒䈲⚳ੌ䊐䊤䉫䊶⴫␜䋨䌌䌅䌄䋩 䌖䌍䌅䌁䋯䌄䌔䌒䌉䌇㪚㪘㪣䌆䌐䌇䌁䌁䌌䌁䌒䌍䌁䋯䌄㩷䌏䌖䌅䌒✛䋺䌖䌍䌅㪹㫌㫊䉝䉪䉶䉴✛䋺㪫㪩㪠㪞᦭ല㩷ᯍ䋺㪘㪆㪛䊶Ṷ▚ಣℂਛ✛䋺䌔䌒䌉䌇ᬌ಴✛䋺㪚㪘㪣᦭ല䇭ᯍ䋺㪚㪘㪣േ૞ਛ✛䋺㪝㪧㪞㪘ᱜᏱ䇭⿒䋺㪝㪧㪞㪘䊑䊷䊃䉣䊤䊷⿒䋺ౝㇱ㔚Ḯ⇣Ᏹ䈭䈬⿒䋺䌁䋯䌄䊧䊮䉳䉥䊷䊋䇮䌁䌄䌃䉣䊤䊷䇭㬍䋴䌣䌨䊶䌅䌅䌐䌒䌏䌍䉻䉟䊅䊚䉾䉪䉭䉟䊮䊐䉜䉪䉺䊷଻ሽ䇭䋻䊥䉶䉾䊃ᓟ䊨䊷䊄

10ps	  ステップのADクロック(250MHz)ディレイ(EP195)	  	  校正信号発生装置	  䊶ᩞᱜ಴ജ䋴䌣䌨㩷䌂䌐䌆㩷䌒䌆䊡䊆䉾䊃䋨ਃశ␠⵾䋩䇭䋻⹦⚦䈲೎ㅜ઀᭽ᦠෳᾖ౉ജ䋱䌾䋴䌣䌨䈱䈇䈝䉏䈎䈮䌒䌆䋳䋰䋰㪤㪟䌺ᄌ⺞಴ജ
50Hz	  トリガ入力	  䊶䌆䌌䌁䌓䌈䌒䌏䌍䌆䌐䌇䌁䊒䊨䉫䊤䊛↪㩷䇭䌊䋭䌔䌁䌇䇮䌖䌍䌅䌢䌵䌳⚻↱䈪䉝䉾䊒䊂䊷䊃น⢻䊶૶↪㔚Ḯ䋨䌖䌍䌅䋩㩷䋫䋵䌖䋶䌁એౝ㩷䋫䋱䋲䌖ᧂ૶↪
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全体のブロックダイアグラム	䊶䌆䌌䌁䌓䌈䌒䌏䌍䊶૶↪㔚Ḯ䋨䌖䌍䌅䋩䌆䌐䌇䌁䊒䊨䉫䊤䊛↪㩷䇭䌊䋭䌔䌁䌇䇮䌖䌍䌅䌢䌵䌳⚻↱䈪䉝䉾䊒䊂䊷䊃น⢻㩷䋫䋵䌖㩷䋫䋱䋲䌖㩷䋭䋱䋲䌖䂓ో૕䊑䊨䉾䉪࿑
Overview	䋶䌁એౝᧂ૶↪
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BPF回路	
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Gain:	  32.5dB(実測で確認）	  Max	  Output:	  +12dBm	  (2.5Vpp)	  䋱䋸䌋䋱䋲ဳ㩷䋲䊌䊦䉴ኻᔕ䌂䌐䌍ାภಣℂ࿁〝

1ns	Ak.(pre)	   Ak.(post)	  0-­‐31.5dB	 0-­‐31.5dB	
第10回日本加速器学会年会	

7	䉰䊮䊒䊦ᢙ✚ว♖ᐲ䋱䋰䋲䋴䌗㬍䋴䌣䌨䇭䋻䋵䋰㪟㫑Ფ㫧䋰䋮䋲䋦㩷䌯䌦䇭䌆䋮䌓䇭䊶Ṷ▚ಣℂ䇭䌆䌐䌇䌁䋨䌓䌰䌡䌲䌴䌡䌮㪄䋶䋻䌘䌩䌬䌩䌮䌸⵾䋩㽲䋲ਸ਼ᐔဋ䇭㽳ᄙ㗄ᑼṶ▚䇭䇭䋻䋳䋲䌢䌩䌴ᶋേዊᢙὐ䊶䌖䌍䌅಴ജ䊂䊷䉺䊶䌖䌍䌅᷹ቯ⚳ੌ•

校正信号パルスの動作	㽲䋲ਸ਼ᐔဋ䇭㽳ᄙ㗄ᑼṶ▚䇭㽴䌁䋯䌄ᄌ឵䊂䊷䉺䇭䋻䋵䋰㪟㫑Ფ䌉䌒䌑䉅䈚䈒䈲⚳ੌ䊐䊤䉫䊶⴫␜䋨䌌䌅䌄䋩 䌖䌍䌅䌁䋯䌄䌔䌒䌉䌇㪚㪘㪣䌆䌐䌇䌁䌁䌌䌁䌒䌍䌁䋯䌄㩷䌏䌖䌅䌒✛䋺䌖䌍䌅㪹㫌㫊䉝䉪䉶䉴✛䋺㪫㪩㪠㪞᦭ല㩷ᯍ䋺㪘㪆㪛䊶Ṷ▚ಣℂਛ✛䋺䌔䌒䌉䌇ᬌ಴✛䋺㪚㪘㪣᦭ല䇭ᯍ䋺㪚㪘㪣േ૞ਛ✛䋺㪝㪧㪞㪘ᱜᏱ䇭⿒䋺㪝㪧㪞㪘䊑䊷䊃䉣䊤䊷⿒䋺ౝㇱ㔚Ḯ⇣Ᏹ䈭䈬⿒䋺䌁䋯䌄䊧䊮䉳䉥䊷䊋䇮䌁䌄䌃䉣䊤䊷䇭㬍䋴䌣䌨

様々な原因で対向電極間のチャンネルゲインのずれが生まれ、ビーム位置の誤ったずれ（ドリフト）の原因となる。これを補正するために校正信号を用いる。	  
• 䊶ᩞᱜ಴ജ
ビームを打たない50Hzサイクルとイベントシステム(MRF,	  EVR)から通知された時、本機䋴䌣䌨㩷䌂䌐䌆㩷䌒䌆䊡䊆䉾䊃䋨ਃశ␠⵾䋩䇭䋻⹦⚦䈲೎ㅜ઀᭽ᦠෳᾖ౉ജ䋱䌾䋴䌣䌨䈱䈇䈝䉏䈎䈮䌒䌆䋳䋰䋰㪤㪟䌺ᄌ⺞಴ജの校正信号発生器はBPF回路に校正信号を送り、それがBPMの1電極(X+)に送られる。	  
䊶䌅䌅䌐䌒䌏䌍䉻䉟䊅䊚䉾䉪䉭䉟䊮䊐䉜䉪䉺䊷଻ሽ䇭䋻䊥䉶䉾䊃ᓟ䊨䊷䊄䌆䌐䌇䌁䊒䊨䉫䊤䊛↪㩷䇭䌊䋭䌔䌁䌇䇮䌖䌍䌅䌢䌵䌳⚻↱䈪䉝䉾䊒䊂䊷䊃น⢻• 䊶䌆䌌䌁䌓䌈䌒䌏䌍
隣接する2つの対向電極(Y+,	  Y-­‐)には誘導電荷が発生し、これを疑似パルスとして処理䊶૶↪㔚Ḯ䋨䌖䌍䌅䋩 㩷䋫䋵䌖䋶䌁એౝし、ゲイン比を求める。	  
㩷䋫䋱䋲䌖
ᧂ૶↪
㩷䋭䋱䋲䌖䂓ో૕䊑䊨䉾䉪࿑䋰䋮䋵䌁એౝ㪚㪟㪈 䇭ାภᬌ಴ㇱ㩿ਃశ␠⵾䋩㪛㫀㪽㪽㪘㪤㪧㪉㪌㪇㪤㪟㫑䍙䍻䍪䍽䍷䇭㪈㪍㪹㫀㫋㪘㪛㪚䇭䇭㪙㪧㪝㪂㪪㪮㪂㪘㪫㪫㪂㪘㪤㪧㪚㪟㪉 䇭䇭䇭䇭䇭䇭䇭㩿ห਄䋩㪰㪂㪯㪄㩷㩷㪝㪠㪆㪝㪦䇭㪈㪍㪹㫀㫋㪘㪛㪚䇭㪈㪍㪹㫀㫋㪘㪛㪚㪚㪟㪋 䇭䇭䇭䇭䇭䇭䇭㩿ห਄䋩䇭㪈㪍㪹㫀㫋㪘㪛㪚㩷㩷㪝㪠㪆㪝㪦㩷㩷㪛㪜㪣㪘㪰㪘㪊㪉㪹㫌㫊䇭㩷㪤㪘㪠㪥㩷㪝㪧㪞㪘㩷㩷㩷㩷㪪㫇㪸㫉㫋㪸㫅㪄㪍㪠㪩㪨㪁㪛㪫㪘㪚㪢㩷㪜㪜㪧㪩㪦㪤㩷㩷㪝㪠㪆㪝㪦㩷㩷㪛㪜㪣㪘㪰㩷㪦㪪㪚㩷㪉㪌㪇㪤㪟㫑㩷㩷㩷㩷㩷㩷㩷㩷㪘㪛㪚㪣㪢㪉㪇㪇䌾㪉㪌㪇㪤㪟㫑㪡㪄㪫㪘㪞㩷㪝㫃㪸㫊㪿㩷㪩㪦㪤㩷㔚Ḯㇱ㩷㩷㪛㪚㪆㪛㪚㩷㩷㪩㪜㪞㪅㪫㪩㪠㪞㩿㪥㪠㪤㪀 㩷㩷㪠㪥 䃁㩷㩷㩷㪌㪇㪟㫑㩷㪦㪬㪫 䃁

第10回日本加速器学会年会	ᩣ ࠺ࠫ࠹࠶ࠢࠬ⎇ⓥᚲ㪛㪊㪉㪹㫌㫊㩷㩷㪝㪠㪆㪝㪦㩷㩷㪛㪜㪣㪘㪰㪚㪟㪊 䇭䇭䇭䇭䇭䇭䇭㩿ห਄䋩㩷㩷ᩞᱜାภ಴ജㇱcal.	  pulsar(300MHz)	
㩷㩿ਃశ␠⵾䋩䇭㪊㪇㪇㪤㪟㫑㪭㪤㪜㪹㫌㫊㩷㩷㪛㪜㪣㪘㪰㪯㪂㪰㪄㪪㪬㪙㩷㪝㪧㪞㪘㩿㪪㫇㪸㫉㫋㪸㫅㪄㪍㪀㩷㫏㪋㪺㪿㩷㪂㪌㪭㪂㪈㪉㪭㪄㪈㪉㪭㩷㩷㪇㪭8	䋱䋸䌋䋱䋲ဳ㩷䋲䊌䊦䉴ኻᔕ䌂䌐䌍ାภಣℂ࿁〝BPF回路基板(サブボード)	
Ch3	

Ch4	Anal	  dAnalogue	  frontend	  netnorogue	  fPower/control	  to	  main	  board	

Analogue	  frontend	  d	  Analogue	  frontenCh2	0M	

Ch1	

Calibrator	

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9	

メインボード(ADC,	  FPGA)	

From	  sub-­‐board	

Main	  FPGA	AD	4	  FPGAs	  as	  FIFOs	

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10	

最初のADCデータ	
• 校正パルスを疑似ビーム信号としてADCデータ取得。	  
BPM(18K12)

AD

ADC"ch.(1LSB=0.038mV)

(2012/2/7,")

60000"
50000"

1.8V
40000"
CH1"
30000"
20000"
10000"
0"200"

100ns
220"

240"

260"

280"

300" x"4ns•	  よく見ると、周期的に高さの等しいノイズが乗っている。	  	  •ビットパターン	  •正常 :	  1000_0000_0000_XXXX	  •異常:	  	  1000_0101_0101_XXXX	  •	  デジタル的な誤動作の可能性大。→調査	  第10回日本加速器学会年会	

11	解決策	• 最終的に、ADCが動作中に入力端子側にノイズを出していて、自分自身を不安定にしている事が判明。	  
1. ADCの差動入力端子前に22pFのキャパシタ挿入（後に20Ω+2pF+20Ω直列のスナバ回路に改良)で、解決。	  
2. 入力タイミングがずれたため、ADCとFIFO間のディレイを0.2ns追加。	  	  22pF	  capacitor	  		  ＊SLACでも別な高速ADCで似た現象を観測していると後で判明。	
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12	パルサーによる模擬ダブルパルス試験	
• 1kVパルサ出力をスプリッタで2分割し、ビームジッタの無いBPM中心を通過するビームを模擬した。	  
• より現実のビーム条件に近づけるため、98ns(実測,20m)の同軸ケーブルで遅延させてダブルパルスにして試験した。	  
• この条件で、50イベント、パルサ試験を行った。	  
– Ak.	  Pre:8dB,	  Post:0dB,	  40dB+	  Addioonal:	  20dB	  20m	  1:2	  １ｋV	  Pulsar	

40dB	  Ak.	  

可変	  Ak.x2	  1:2	  1:2	  ０−７０ｄB	  ０−１１ｄB	  Pulse	  Gen.	

BPM	  Readout	  (Pre:8dB	  Post:0dB)	  位置分解能	

1st	

2nd	ch1,	  2(X)	

12.2	  μm	13.6	  μm	

ch3,	  4(Y)	

9.5	  μm	

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13	ビームテスト	
• KEK電子・陽電子入射器の３Ｔ熱電子銃からビームを出し、すぐ下流のBPMからの信号を、テストパルス同様に分割してBPM試験信号とした。	  
• トリガ信号はEVR(MRF)より与えた。	  
20m	  1:2	  sp34-­‐4-­‐1	  (X+)	  sp34-­‐4-­‐3	  (X-­‐)	  EVR	  (3sub)	

1:2	  BPM	  Readout	  (Pre:8dB	  Post:0dB)	  TTL/NIM	

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14	ビームテスト(cont’d)	
2013June19 @3-2 run1 X

2013June19 @3-2 run1 Y
nameh1454035

nameh2Entries

300

Mean

192.5

RMS

9.146

Underflow

0Overflow

0306050

Entries300

Mean-7.778

RMS

13.22

Underflow

0Overflow

040253020152010105050

100

150200

250

300

350

0-150-100

第10回日本加速器学会年会	

-50

050

100

150

15	ビームテスト(cont’d)	
• ビームのバンチあたりの電荷量が0.3nCの時	  – Ak.	  Pre:8dB,	  Post:0dB,	  40dB+	  Addioonal:	  20dB、300イベント	  位置分解能	

1st	

2nd	ch1,	  2(X)	

11.9	  μm	14.4	  μm	

ch3,	  4(Y)	

9.8	  μm	• ビームのバンチあたりの電荷量を0.45nCに増やすと	  – Ak.	  Pre:8dB,	  Post:0dB,	  40dB+	  Addioonal:	  20dB、100イベント	  位置分解能	

1st	

2nd	ch1,	  2(X)	

5.7	  μm	8.2	  μm	

ch3,	  4(Y)	

5.1	  μm	とかなり改善された。ビームからの信号のS/Nが向上し、読み出し回路もより最適な点で動作したためと思われる。	  
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16	まとめと今後の予定	䋱䋸䌋䋱䋲ဳ䇭䋲䊌䊦䉴ኻᔕ䌂䌐䌍ାภಣℂ࿁〝䇭䋨㪭㪤㪜䋲᏷䋩䌒䌥䌶䋮䋱䋮䋰㩷䇭䋲䋰䋱䋳䋯䋱䋯䋱䋷䊂䉳䊁䉾䉪䉴⎇ⓥᚲ䇭䇭䈗ᵈᗧ䋺ᧄข⺑䈲ᯏ⢻㒢ቯ 㪭㪼㫉㪅㪉䈪䈜䇯䋨㪘㪆㪛䊂䊷䉺෼㍳േ૞䈱䉂᦭ല䇮ᓟಣℂ䋨䊂䊷䉺ಣℂ෸䈶㪚㪘㪣Ṷ▚ಣℂ䋩ήല䂓᭎䇭䇭ⷐᧄ䊝䉳䊠䊷䊦䈲䇮䋵䋰䌈䌺Ფ䈮䋹䋰䌮䌳㑆㓒䈱䋲䈧䈱䊎䊷䊛ାภ䉕ᬌᵄ䊶䌁䋯䌄ᄌ឵䈚Ṷ▚ಣℂ䉕ⴕ䈉䊝䉳䊠䊷䊦䈪䈜䇯䋨䌖䌍䌅䋲᏷䊝䉳䊠䊷䊦䋩䋴䌣䌨䋨䌘䋫䋬䌘䋭䋬䌙䋫䋬䌙䋭䋩䈱䊌䊦䉴ାภ䉕䌂䌐䌆䋨䋳䋰䋰䌍䌈䌺䋩䊶䌁䌔䌔䊶䌒䌆䌁䌍䌐䈪ᬌᵄ䈚䈢ାภ䉕䇮䋵䋰䌈䌺Ფ䈮䌁䋯䌄ᄌ឵䋨䋲䋵䋰䌍䌈䌺䊶䋱䋶䌢䌩䌴䋩ᓟ䋱䋰䋲䋴㪮㪆䌣䌨䉕䊜䊝䊥䈮଻ሽ䊶Ṷ▚ಣℂ䉕ⴕ䈇䌖䌍䌅䌢䌵䌳䈮಴ജ䈚䉁䈜䇯䉁䈢ᩞᱜାภ಴ജᯏ⢻䈮䈩䊎䊷䊛ᬌ಴ㇱ䉕฽䉄䈢ᩞᱜ䈏น⢻䈪䈜䇯ౝㇱ䌆䌐䌇䌁䋨䌓䌰䌡䌲䌴䌡䌮㪄䋶䋩䈱䊒䊨䉫䊤䊛䈲䊗䊷䊄਄䈱䌊䋭䌔䌁䌇䉮䊈䉪䉺෸䈶䌖䌍䌅䌢䌵䌳䉋䉍ኾ↪䌆䌌䌁䌓䌈䌒䌏䌍䈻䈱䌕䌰䌤䌡䌴䌥䈏น⢻䈪䈜䇯䊶Ṷ▚ಣℂ಴ജ䇭䇭䇭㽲䊎䊷䊛૏⟎䇼㱘䌭䇽䇭䇭㽳㔚⩄㊂䇼䌮䌣䇽• SuperKEKBへの要求を満たす、KEK電子・陽電子入射器用BPM読み出しシステムを新しく設計・開発した。	  
䂓઀䇭䇭᭽䊶৻⥸઀᭽䉻䊑䊦䊊䉟䊃䌖䌍䌅䋲᏷䊝䉳䊠䊷䊦䌁䋳䋲䊶䌄䋳䋲䇭᜛ᒛ䉴䊷䊌䊋䉟䉱䊥䋯᜛ᒛ㕖․ᮭ䇭䊂䊷䉺䉝䉪䉶䉴᷹ቯ⚳ੌഀㄟ䉂ᯏ⢻᦭䉍– 位置分解能は10	  μm以下	  – 96	  ns間隔での2バンチ入射に対応	  – ゲイン変動による計測位置のドリフトを補正するため、校正信号発生装置を用意	  䊶౉ജାภ䋱䋮᷹ቯାภ౉ജ䊧䊔䊦౉ജ䉟䊮䊏䊷䉻䊮䉴౉ജ䉮䊈䉪䉺
䋲䋮䊃䊥䉧
➅䉍㄰䈚
䊌䊦䉴᏷
䊌䊦䉴㔚࿶䊶䉺䉟䊚䊮䉫౉ജ䋬಴ജ䉟䊮䊏䊷䉻䊮䉴౉ജ䋬಴ജ䉮䊈䉪䉺䋳䋮ᄖㇱ䌁䋯䌄䉪䊨䉾䉪౉ജ䊧䊔䊦౉ജ๟ᵄᢙ౉ജ䉟䊮䊏䊷䉻䊮䉴౉ജ䉮䊈䉪䉺䊎䊷䊛ᬌ಴ାภ㩷㩷㩷䋴䌣䌨䋨䌘䋫䋬䌘䋭䋬䌙䋫䋬䌙䋭䋩㫧䋵䋰䌖એౝ䇭ᢙ䌮䌳䈱䊌䊦䉴ାภ䋵䋰㱅䌓䌍䌁䉮䊈䉪䉺䌁䋯䌄ᄌ឵䉴䉺䊷䊃ାภ㩷㩷㩷౉ജ䋱䋬಴ജ䋱䋨䊋䉾䊐䉜಴ജ䋩䋵䋰㪟㫑䋨䋲䋰䌭䌳䋩䋲䋰䌮䌳એ਄䌎䌉䌍䊧䊔䊦䇭┙䈤ਅ䈏䉍䉣䉾䉳䋵䋰㱅䌌䌅䌍䌏䉮䊈䉪䉺䊌䊈䊦䉴䉟䉾䉼䈮䉋䉍ౝㇱ䉪䊨䉾䉪䈫ಾᦧ䌒䌆ାภ䇭䋭䋱䋰䌤䌂䌭䌾䋫䋵䌤䌂䌭䋲䋰䋰㪤㪟䌺䌾䋲䋵䋰䌍䌈䌺䋵䋰㱅䌓䌍䌁䉮䊈䉪䉺䊶ାภᬌ಴ㇱ䌂䌐䌆䋱䋬䋲䌒䌆䌁䌍䌐䋱䋬䋲䋬䋳䌁䌔䌔䋱䋬䋲䋴䌣䌨㩷䌂䌐䌆㩷䌒䌆䊡䊆䉾䊃䋨ਃశ␠⵾䋩䇭䋻⹦⚦䈲೎ㅜ઀᭽ᦠෳᾖ䊓䊥䉦䊦䊐䉞䊦䉺䇭䌦䌃䋺䋳䋰䋰䌍䌈䌺䇭䌂䌗䋺䋳䋴䌍䌈䌺䊶䋲ᰴ䋬䋲䋸䌍䌈䌺䊶䋳ᰴ䋲䋰䌤䌂㩷㬍䋳䋰䋮䋵䌤䌂䌾䋳䋱䋮䋵䌤䌂䋨㪆䋰䋮䋵䌤䌂䋩㩷㬍䋲䊶䌁䋯䌄ᄌ឵ㇱ䉰䊮䊒䊦䉺䉟䊚䊮䉫䌁䌄䌃䌁䌄䌃Ꮕേ಴ജ䉝䊮䊒䊂䊷䉺▸࿐䉰䊮䊒䊦ᢙ✚ว♖ᐲ䋴䌣䌨䋲䋵䋰䌍䌈䌺䋨ౝㇱ䋩㩷䋻䌍䌃䋱䋰䌅䌐䋱䋹䋵䋨䉥䊮䉶䊚⵾䋩䊂䉞䊧䉟ᯏ⢻᦭䉍䌁䌄䋹䋴䋶䋷䋭䋲䋵䋰䋨䉝䊅䊂䊋⵾䋩䇭䋱䋶䌢䌩䌴䇭䋲䋵䋰䌍䌓䌐䌓䌁䌄䌌䋵䋵䋶䋲䋨䉝䊅䊂䊋⵾䋩䇭䋳䋮䋳䌇䌈䌺䋨䌁䌶䋺䋶䌤䌂䋩䋭䋱䋲䋵䋰䌭䌖䌾䋫䋱䋲䋵䋰䌭䌖䋱䋰䋲䋴䌗㬍䋴䌣䌨䇭䋻䋵䋰㪟㫑Ფ㫧䋰䋮䋲䋦㩷䌯䌦䇭䌆䋮䌓䇭䊶Ṷ▚ಣℂ䇭䌆䌐䌇䌁䋨䌓䌰䌡䌲䌴䌡䌮㪄䋶䋻䌘䌩䌬䌩䌮䌸⵾䋩㽲䋲ਸ਼ᐔဋ䇭㽳ᄙ㗄ᑼṶ▚䇭䇭䋻䋳䋲䌢䌩䌴ᶋേዊᢙὐ

• パルサーによる試験、電子ビームを用いた試験を行い、最終的に十分に10	  μm以下となる位置分解能を確認した。	  
• 今後、量産準備版の設計・製造を進め特性の改善を行うとともに、最終的な動作検証を行う。	  
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– 3BPM法による、実ビーム信号での評価	  䊶䌖䌍䌅᷹ቯ⚳ੌ䌉䌒䌑䉅䈚䈒䈲⚳ੌ䊐䊤䉫䊶⴫␜䋨䌌䌅䌄䋩✛䋺䌖䌍䌅㪹㫌㫊䉝䉪䉶䉴✛䋺㪫㪩㪠㪞᦭ല㩷ᯍ䋺㪘㪆㪛䊶Ṷ▚ಣℂਛ✛䋺䌔䌒䌉䌇ᬌ಴✛䋺㪚㪘㪣᦭ല䇭ᯍ䋺㪚㪘㪣േ૞ਛ✛䋺㪝㪧㪞㪘ᱜᏱ䇭⿒䋺㪝㪧㪞㪘䊑䊷䊃䉣䊤䊷⿒䋺ౝㇱ㔚Ḯ⇣Ᏹ䈭䈬⿒䋺䌁䋯䌄䊧䊮䉳䉥䊷䊋䇮䌁䌄䌃䉣䊤䊷䇭㬍䋴䌣䌨䌖䌍䌅䌁䋯䌄䌔䌒䌉䌇㪚㪘㪣䌆䌐䌇䌁䌁䌌䌁䌒䌍䌁䋯䌄㩷䌏䌖䌅䌒• EPICS	  IOC(デバイスサポート)を実装する。	  
• 2014年夏期シャットダウン時にインストール予定。	  
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第10回日本加速器学会年会	䂓ో૕䊑䊨䉾䉪࿑㪚㪟㪈 䇭ାภᬌ಴ㇱ㩿ਃశ␠⵾䋩䇭䇭㪙㪧㪝㪂㪪㪮㪂㪘㪫㪫㪂㪘㪤㪧㪚㪟㪉㪛㫀㪽㪽㪘㪤㪧㪉㪌㪇㪤㪟㫑䍙䍻䍪䍽䍷䇭㪈㪍㪹㫀㫋㪘㪛㪚㪪㪬㪙㩷㪝㪧㪞㪘㩿㪪㫇㪸㫉㫋㪸㫅㪄㪍㪀㩷㫏㪋㪺㪿㩷㩷㪝㪠㪆㪝㪦17	㪭㪤㪜㪹㫌㫊㪛㪊㪉㪹㫌㫊㩷㩷㪛㪜㪣㪘㪰㪘㪊㪉㪹㫌㫊