ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)株式会社 e・オータマ

佐藤智典

2023 年 1 月 31 日

目次

1

はじめに

1

はじめに

1

本稿では、ISO 11452 シリーズで定められた車載

2

共通事項 (ISO 11452-1)
2.1 電源 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.1 低圧 DC 電源 . . . . . . . . . . . . .
2.1.2 高圧 DC 電源 (ISO 11452-1:2015) . .
2.2 AN, AMN, AAN . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.1 AN (LV-AN) . . . . . . . . . . . . .
2.2.2 HV-AN . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.3 AMN . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.4 AAN . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3 ロード・シミュレータ . . . . . . . . . . . . .
2.4 テスト・ハーネス . . . . . . . . . . . . . . .
2.5 DUT の動作 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6 試験信号の品質 . . . . . . . . . . . . . . . .
2.7 試験信号の変調 . . . . . . . . . . . . . . . .
2.8 ドウェル・タイム . . . . . . . . . . . . . . .
2.9 周波数掃引ステップ . . . . . . . . . . . . . .
2.10 FPSC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.10.1 ISO 11452-1:2005 . . . . . . . . . . .
2.10.2 ISO 11452-1/A1:2008, ISO 114521:2015 . . . . . . . . . . . . . . . . .

2
2
2
2
3
3
5
5
5
6
7
7
7
7
8
8
8
9

機器のイミュニティ試験の方法のうち、ISO 11452-

32[1] で定められた ALSE 法の概要を述べる。
この試験法は車両外の放射源からの高周波電磁界の車載機器への影響の評価を意図した試験法の 1 つ
で、電波暗室 (ALSE) 内で評価対象の装置 (DUT)
やそのハーネスに向けてアンテナから電磁界を照射する、ある意味で最も素直な形のものである。この規格は 80 MHz〜18 GHz の周波数範囲をカバーし、しばしばより低い周波数範囲をカバーする ISO 11452
シリーズの他の規格、例えば ISO 11452-4 と組み合わせて用いられる。
この規格の本稿の執筆の時点での最新版は

ISO 11452-2:2019 (ed. 3) であるが、ISO 11452-

9

2:2004 (ed. 2) が ECE R10.06[3][4] での参照を含ISO 11452-2
93.1 参照規格 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
93.2 試験手続き . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
103.3 試験場所 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10
3.3.1 ALSE . . . . . . . . . . . . . . . . .
10
3.3.2 グランド・プレーン . . . . . . . . . .
11
3.4 電界強度の校正 . . . . . . . . . . . . . . . .
11
3.5 試験 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11
3.5.1 試験対象システムの基本的なセットアップ 11
3.5.2 HV 電源に接続されるシステムのセット
アップ (ISO 11452-2:2019) . . . . . .
14
3.5.3 試験の実施 . . . . . . . . . . . . . . .
15
3.6 テスト・プラン . . . . . . . . . . . . . . . .
17
3.7 試験レベルの例 . . . . . . . . . . . . . . . .
17

4

補足
4.1 関連規格 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

17
17

5

参考資料

18

めてしばしば用いられていることから、本稿では

ISO 11452-2:2004 (ed. 2) にも触れている。
なお、本稿はこれらの規格の内容全てをカバーするものではなく、また正確であるとも限らない。規格についての正確な情報は該当する規格そのもの [1]を参照されたい。

ALSE と放射アンテナ (200 MHz〜2.5 GHz) の例

1

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

共通事項 (ISO 11452-1)

2

バッテリの電圧の維持のためにバッテリと並列に電源装置を接続することもある†3 だろうが、この場

ISO 11452 シリーズの他の規格と共通する事項の合はリップルの確認も必要となるであろう。また、

多くは ISO 11452-1[2] での規定が参照される。

電源装置はそのような使い方に対応していない (異この章では、ISO 11452-1:2005(+A1:2008)、及び

常動作や損傷の危険がある) ことも多いため、接続

ISO 11452-1:2015 の概要を述べる。

の前に電源装置がその使い方に対応していることを確認すべきである。また、バッテリの使用上の条件†4や充電状態となっている時の水素ガスの発生にも注

電源

2.1

意が必要となるかも知れない。

電源に対する主な要求事項を以下の章で、またテ電源装置を用いる場合、電源装置が試験で印加さスト・プランで電源電圧が指定されていない場合のれる妨害の影響を受けないようにするため、電源装

電源電圧を表 1に示す。

置はシールド・ルームの外に置き、シールド・ルー

充電電源以外の高圧 (HV) DC†1 電源については

ムへの引き込みの箇所で適切にフィルタする (通常

この規格上の規定はなく、テスト・プランで規定すはシールド・ルームの壁に取り付けられた貫通フィることが必要となる。

ルタを通す) ことも必要となりそうである。

2.1.1

低圧 DC 電源

2.1.2

低圧 (LV) DC†1 電源は以下の条件を満たさなけ

高圧 DC 電源 (ISO 11452-1:2015)

高圧 (HV) DC†1 電源の特性はテスト・プランでればならない:規定する。
実際の使用に際して車両上の HV バッテリに接続• 内部インピーダンスは 0〜400 Hz で < 0.01 Ω;

される HV DC 電源ラインには試験に際しても車両• 無負荷から最大負荷 (突入電流を含む) で電圧の HV バッテリを接続すべきである。あるいは、そが 1 V を超えて変動せず、100 µs 以内に最大の代わりとなる適切な電源装置 (充電器や回生型の変動の 63 % を回復する;

インバータに接続した場合のように充電状態となる場合がある、すなわち負荷側から電源への電流の逆• リップル電圧は 0.2 VP−P を超えず、その周波流を生じる場合があるならばそれに対応したもの)

数は 400 Hz を超えない。

を用いることもできる。

この電源としては通常は車両用のバッテリ (典型

充電用 DC 電源ライン (実際の使用で急速充電器

的には 12 V 鉛蓄電池) を用いることができる。バッに接続されるような) には充電器かそれに相当する

テリがリップルを発生することはないが、インピー電源装置から給電することができるだろう。

ダンスや電圧変動については定期的な確認が必要と外部の HV 電源装置は貫通フィルタを介して接続

なるかも知れない。また、バッテリと負荷との接続

しなければならない。

は太く短いワイヤで行なうべきであり、バッテリのHV 電源では発火や火傷などの事故の可能性に加電圧は試験前と試験後に確認すべきである。

†3 インピーダンスなどの条件を満足できるのであればバッテリなしで電源装置のみを用いることもできるかも知れない。だが、電源装置そのものの特性、また電源装置は離れた位置 (場合によってはシールド・ルームの外) に置いて比較的長いワイヤやフィルタを介して接続することになるであろうことを考えると、電源装置を単体で用いるのは難しそうである。電源装置の端子の位置でその特性を満足すれば規格の文面上の要求は満足すると言えるかも知れないものの、その場合も長いワイヤやフィルタを介して接続すればその実効的な特性は著しく損なわれ、電源のインピーダンスを低く抑えることが無意味となりそうである。
†4 特に、充電電流がそのバッテリの上限 (急速充電に対応していない鉛蓄電池では典型的にはバッテリ容量の値の 1/10 の電流) を超えないように、また過充電としないように (鉛蓄電池
はフロート充電が可能であるが、バッテリの充電終止電圧よりも高い電圧を印加すると満充電となった後も充電が継続し、過充電状態となる) に注意が必要となるかも知れない。

LV DC 電源は一般に感電の危険がないとみなすことができるが、短絡に伴う発火や火傷などの事故の可能性は考えられ、短絡の防止に注意を払うとともに、短絡時のリスクの低減のための処置 (例えばバッテリの直近への適切な定格のヒューズの取り付
け†2 など) を講じることが望ましいだろう。
†1 この規格では直流電源は 60 V 以上の場合に HV (高圧)、
それを下回る場合に LV (低圧) として扱われる。
†2 ワイヤに見合った溶断電流の適切なヒューズが取り付けられていれば短絡時もワイヤの被覆の溶融や発火が生じる前にヒューズが切れて電流が遮断される。

2

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

規格ISO 11452-1:2005(+A1:2008)
ISO 11452-1:2015

低圧 (LV) DC 電源

充電電源

12 V 系

24 V 系

48 V 系

DCAC

13.5 ± 0.5 V

27 ± 1 V———

13 ± 1 V

26 ± 2 V—

UN ± 10 %%UN +10−15 % , fN ± 1 %UN : 公称電圧、fN : 公称周波数

表 1: 電源電圧

えて感電に伴う直接的な危害のリスクも高まり、絶AP

縁の維持 (適切な絶縁材の使用、電圧に応じた沿面距離の維持など) や接近の防止 (例えば端子などの危険な箇所への接近を防ぐための適切なガードの使

C2

1 k̀

R2

用など) にも相当の注意が必要となりそうである。
B

2.2

AN, AMN, AAN

ISO 11452-1:2015 では試験に際して電源などのイ
ンピーダンスを管理するためのデバイスとして表 2

0.1 µF

5 µH
ฆଅ


B

AN

C2

R2

AN (LV-AN)
HV-AN

1 µF
0.1 µF—1 MΩ

図 1: LV-AN, HV-AN の原理に示すものが規定されている。
100

ISO 11452-1:2005(+A1:2008) はこのうち AN

90(LV-AN) のみを含む。

80
70

置き、その金属の筐体はグランド・プレーンとのあ60| Z | (Ω)∠Z (°)

これらのデバイスはグランド・プレーン上に直接いだの直流抵抗が 2.5 mΩ 以下となるようにグラン

50
40

ド・プレーンに接続する。また、これらのデバイス

30の測定ポートは全て 50 Ω の終端器 (AN 内蔵のも20の、あるいは外付けの同軸終端器) で終端する。

10
0
−10
100 kHz

2.2.1

AN (LV-AN)

1 MHz

Frequency

10 MHz

100 MHz

図 2: 5 µH/50 Ω AN のインピーダンス ZPB (測定ポー
トを 50 Ω で終端、端子 A–B を短絡した状態での計算値)

12 V や 24 V などの LV DC 電源に使用する AN(HV-AN との区別のために LV-AN と表記することもある) は、5 µH/50 Ω AN、あるいは単に 5 µH

AN を 1 台だけ用いて給電線 (バッテリのプラ

AN と呼ばれるもので、図 1に示すような構成の、ス側への接続; LV+) のみを AN を介して接続

測定ポートを 50 Ω で終端した時に図 2に示すようし、電源リターン線 (バッテリのマイナス側へなインピーダンス特性を示すものである。

の接続; LV−) はグランド・プレーンを介して接続する (図 3)†6

AN は実際の設置に際しての電源リターン線 (バッ
テリのマイナス側に戻すための接続; LV−) の長さ• 遠隔での接地 — 電源リターン線が 200 mm よりも長い場合に応じて次のような形で用いられる:AN を 2 台用いて給電線 (LV+) と電源リター• ローカルでの接地 — 電源リターン線が 200 mm
以下の場合†5ン線 (LV−) の双方を AN を介して接続する(図 4)†5 小形のコンポーネントの配線でしばしば行なわれているよ†6 電源のマイナス側が車体に接地されるものと仮定しており、電源のプラス側が接地される場合はそのように読み替える。

うに、電源リターンをワイヤで戻す代わりにコンポーネントの近くで車体に落とすような場合。

3

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

電源線用 AN, AMN

LV DC 電源線

AN (LV-AN; 5 µH / 50 Ω) — ISO 11452-1 B.2.1 (図 1)

HV DC 電源線

HV-AN (5 µH / 50 Ω) — ISO 11452-1 B.2.2 (図 1)†

AC 充電ライン

AMN (50 µH / 50 Ω) — CISPR 16-1-2 (図 6)†
信号/制御/通信線用 AAN

対称信号/制御ポート

ISO 11452-1 B.4.1 (図 8)†

電源線上の PLC

ISO 11452-1 B.4.2 (図 9)†

コントロール・パイロット上の PLC

ISO 11452-1 B.4.3 (図 10)†† ISO 11452-1:2005(+A1:2008) には含まれない

表 2: AN, AMN, AAN (ISO 11452-1:2015)
EUT

EUT ଇ༄̆‫܅‬(༅ईࠅЅ)ഇ؉ഇ

؉ฆഇ

؉‫܇‬ഇง̅ AN  ค؇̆༇
ĉఅଇ༄̆ഇ

؉ฆ̆‫܅‬؉ฆअ༇Ȉ

図 3: ローカルでの接地
EUT

EUT ଇ༄̆‫܅‬(༅ईࠅЅ)ഇ؉ഇ

؉ฆഇ

؉‫܇‬ഇง̅ 
AN ×2  ค؇̆༇
ĉఅଇ༄̆ഇ

؉ฆ̆‫܅‬؉ฆअ༇Ȉ

図 4: 遠隔での接地

低圧電源のマイナス側の線は、ローカルでの接地ればならず、またテスト・プランで指定しなければ(電源のマイナス側に AN を用いない; 図 3) の場合ならない。

は勿論、遠隔での接地 (電源のマイナス側にも AN

AN は電源のインピーダンスを管理する役割を持を用いる; 図 4) の場合にもその電源側でグランド・つが、そのインピーダンスは 100 MHz までしかプレーンに接続する。

規定されておらず、それよりも高い周波数ではイン

少なくとも ISO 11452-2:2019 では AN とロード・

ピーダンスは不明となる。このインピーダンスの違シミュレータのあいだの配線はできる限り短くなけ

いが試験の結果に影響を与えるかも知れないが、そ4ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)の影響は §2.3 で述べるような方法で低減できるか

HV 
ĉఅ

2.2.2

HV-AN

も知れない。

HV-AN

HV DC 電源に用いられる HV-AN は LV DC 電源に用いられる LV-AN と基本回路 (図 1) やイン
ピーダンス (図 2) の規定は同様だが、図 1 に示すĉఅ

ように、電源入力側の定数として異なる値が示され؉‫܅‬༅ఆ‫܉‬ഈ؉

ている。†7

HV-AN とテスト・ハーネスのあいだには、必要に応じて適切なインピーダンス整合回路網を入れることができる。HV DC 電源線はしばしばシールド
̆ई‫܉‬ĉఅ‫܉‬ą

されるため、HV-AN はケーブルのシールドを適切

図 5: HV ケーブルの HV-AN への接続の例 — ケーブ
ルのシールドをケーブル・グランドの金属のフィンガーなどを介してシールド・ケースに 360◦ 接続するに終端できるような構造となっているか、あるいはそのようなシールド・ケースに入れて使用されることが多い (図 5)。

ฆଅ

CISPR 25:2021[6] や ECE R10.06[3][4] と異なり
L1

AMN

1 µF

L2
0.1 µF

2.2.3

1 µF

れている。

50 µH

1 k̀

L2

DC 電源ラインにも HV-AN を用いるように規定さ0.1 µFための DC-charging-AN の規定はなく、充電用の

L1

50 µH

1 k̀

ISO 11452-1:2015 では充電用の DC 電源ラインのPE

AMN (図 6) は商用電源に接続される一般の電気PE

図 6: AMN (50 µH / 50 Ω) の原理 — 単相電源用機器の電源ポート伝導エミッション測定で良く用いられるものと同様の 50 µH / 50 Ω のものであり、

70

AC 充電器の試験で交流電源ラインに用いられる。

60
50
40

AAN

| Z | (Ω)∠Z (°)

2.2.4

AAN は充電時に車両外に接続される通信ポート

3020に用いられることがある。

10

電源線上の PLC 用の AAN (図 9) は AMN や HV-0

AN などと並列に接続することを意図しており、コ−10150 kHz

モン・モード・インピーダンスを制御する機能を持

1 MHz

Frequency

10 MHz30 MHz

図 7: AMN (50 µH / 50 Ω) のインピーダンス†7 インピーダンス Z
PB は端子 A–B を (従って C2 を) 短絡
した状態で規定されているため、C2 の容量の違い (また、C2 があるかどうか) の影響を受けない。だが、C2 の 150 kHz におけるインピーダンスは 1 µF では約 1 Ω、0.1 µF では約 10 Ω
で、実際の使用時には C2 = 0.1 µF の HV-AN の端子 P–B
側から見たインピーダンスは電源入力側のインピーダンスの影
響を有意に受けることが予期される。HV-AN の入力側の貫通フィルタを通して電源を接続すればこの影響はある程度緩和されるだろう。

たない†8 が、その他の AAN (図 8, 図 10) は 150 Ωのコモン・モード・インピーダンスを与えるようになっている。
†8 PLC の信号は AMN などを通過できず、この AAN は信号を通すため代替の経路を提供する。

5

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)ą؉

Ĉȅจ

A

C

B

D
38 mH
4.7 µF

Zcatの筐体に入れられている場合にはそれをグランド・プレーンに接続する。
グランド・プレーン上の適切な位置に置かれてテスト・ハーネスを終端するロード・シミュレータとは別の周辺装置が DUT (被試験装置; EUT と呼ば200 ̀

れることもある) の動作や監視のために必要となることもあるだろうが、そのような周辺装置は適切

38 mH

なロード・シミュレータを介して接続することがで
きる。
ฆଅ

ロード・シミュレータの先に他の周辺機器を接続

Zcat : LCL が所定の値となるように平衡度を調整する場合、ロード・シミュレータがその先の周辺機

図 8: AAN (対称信号/制御ポート) の原理 — 2 線 (1 対)用器とのあいだに適切な減結合を与えていれば、その接続するケーブルやその引き回しが試験の結果にあą؉

Ĉȅจ

先に接続される装置、それらの配置、またそれらを
HV-AN, AMN, or
DC-charging-AN

まり影響しないようになるであろう。
そのような周辺装置をシールド・ルームの外に置
く場合、導体をシールド・ルームの壁の貫通穴 (貫

C

B

D

通スリーブ) を通して引き出すとシールド・ルーム
AEAのシールド性が損なわれるため、光ファイバで接続する、シールド・ルームの壁に位置に取り付けられ

2.5 k̀ 4.7 nF

た貫通フィルタを介して接続する、ケーブルを引き

図 9: AAN (電源線上の PLC) の原理

出した先の部屋もシールド・ルームとするなどの対

100 µHAE

39 ̀
2.2 nF計はą؉

39 ̀

(100 ̀)ISO 11452-1:2015 ではロード・シミュレータの設

270 ̀

Ĉȅจ

B

応が必要となるかも知れない。

C
2.2 nFA• DUT に接続される I/O の負荷のタイプ (実際の、あるいは模擬された)• DUT に接続されるそれぞれの I/O のコモン・
モード・インピーダンス、及び/もしくはディD

ファレンシャル・モード・インピーダンス
図 10: AAN (コントロール・パイロット上の PLC) の原理• 内部配線とレイアウトに特に留意しなければならないと規定されており、
ロード・シミュレータの設計の例も参考として示さ

対称通信線用の AAN (図 8) の Zcat は、LCLれている。†9(longitudinal conversion loss; 不平衡減衰量) を実

電源のインピーダンスの管理はある程度は AN な際の使用時に接続される装置とケーブルに合わせる

どで行なうこともできるものの、AN のインピーダように調整する。

ンス (図 2) は 100 MHz までしか規定されておら

2.3

ず、一般にそれよりも高い周波数でのインピーダン

ロード・シミュレータ

スは不明となる。設計や実装を慎重に行なったロー試験に際して、テスト・ハーネスは適切なロード・ド・シミュレータを用い、ISO 11452-1:2015 のローシミュレータで終端する。このロード・シミュレー

ド・シミュレータの設計の例などで示されているよ

タはグランド・プレーン上に直接置き、それが金属†9 ロード・シミュレータについては [7] で解説している。

6

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

うに DUT への電源もロード・シミュレータを介し囲でリニアリティを維持していることも重要となるて給電するようにすれば、より高い周波数までのイだろう。

ンピーダンスを AN の特性に頼らずに管理することが可能となるだろう。

2.7
2.4

試験信号の変調

ISO 11452-1:2015 では以下の変調が規定されてテスト・ハーネス

いる (図 11):

テスト・ハーネスやその接続は実車を代表するも• 無変調 (CW)のであるべきで、特にシールドされたハーネスの構

一定振幅の、単一周波数の高周波 (連続波)造と接続は実車を代表するものでなければならない。
またハーネスは適用する試験法の要求を満たす長さ• 振幅変調 (AM)でなければならない。

AM 放送のような音声周波で振幅変調された送信を模擬する、変調周波数 1 kHz、変調度 80 %2.5

DUT の動作の振幅変調

イミュニティ試験に際しては、評価の対象となる• パルス変調 1 (PM 1, PM)

機能を動作させ、妨害の印加中や印加後にそれらのGSM の TDMA (時分割多元接続) の送信を模機能が正しく機能するかどうかを確認することが必

擬する、ton = 577 µs、周期 = 4 600 µs (繰り要となる。

返し周波数 約 217 Hz、デューティー 1/8) の妨害の印加中にもボタンやタッチパネルなどが正

間欠的な出力しく機能するかどうかの確認が必要な場合は試験中• パルス変調 2 (PM 2)にボタンやタッチパネルなどの操作を行なうことも必要となるだろうが、このような操作を人の手で直レーダー・パルスを模擬する ton = 3 µs、周期接行なうことはできず、テスト・プランで要求され= 3 333 µs (繰り返し周波数 300 Hz、デューる操作を電磁特性への影響が最小限となるようなアティー 約 1/1000) の間欠的な出力

クチュエータ (例えば押しボタンを押すためのプラ(ISO 11452-1:2005(+A1:2008) には含まれない)

スチックのブロック、プラスチック・チューブで接続された空圧アクチュエータのような) を用いて行それぞれの変調は以下の周波数範囲での使用が想なうことが必要となるだろう。

定されているが、試験で実際に適用すべき変調はこの試験法を参照した規格で、あるいはテスト・プラ

例えば DUT の電磁妨害への反応の監視や信号ンで規定されるだろる:の注入のために DUT から導体を引き出したいと思うこともあるかも知れないが、そのような導体は• CW: 15 Hz〜18 GHz

DUT の電磁妨害に対する挙動に影響を与える可能• AM: 10 kHz〜800 MHz性があり、好ましくない。そのような接続は光ファ
イバや高抵抗リードを用いることで悪影響なしに、• PM 1: 800 MHz〜1.2 GHz, 1.4〜2.7 GHz

あるいは最小限の影響で行なうことができるかも知(ISO 11452-1:2005(+A1:2008) では 800 MHz〜
18 GHz)れない。

2.6• PM 2: 1.2〜1.4 GHz, 2.7〜18 GHz

試験信号の品質(ISO 11452-1:2005(+A1:2008) には含まれない)

電力増幅器の出力の 5 次までの高調波歪みは最大の試験レベルで基本波の −12 dB 以下 (1 GHz 以
上では −6 dB 以下) でなければならない。
電力増幅器やその出力の測定手段 (通常は方向性
結合器とパワーメータ) が試験で使用する振幅の範7

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

1 ms

t period = 4600 µs

t period = 3333 µs

t on = 577 µs

t on = 3 µs

2
1
0

−1

f = 1 kHz, 80 %
−2

CW (

ഇఆ)

AM (̆ฅअਈ)PM, PM 1 (अਈ)PM 2 (अਈ)図 11: 変調2.8

ドウェル・タイム

リニア
ステップ

対数
ステップ

15 Hz〜100 Hz†

10 Hz

10 %

†

100 Hz10 %1 kHz〜10 kHz†

1 kHz

10 %

10 kHz〜100 kHz

10 kHz10 %100 kHz〜1 MHz

100 kHz

10 %

周波数帯

試験に際しては、それぞれの周波数の妨害をある時間づつ印加し、DUT†10 の挙動を確認する。こ

100 Hz〜1 kHzの時間 (ドウェル・タイム、滞在時間) の最小値はISO 11452-1 では 1 秒以上と規定されているが、実際の時間はそれぞれの周波数の妨害に対する DUTの応答を確実に確認できるように DUT の特性や動作条件に応じて決め、テスト・プランで規定することが必要となるだろう。

DUT が間欠的に動く機能を持つ場合 (例えば通信やセンサの読み込みを 30 秒毎に行なっている場
合のような) や反応に遅れがある場合 (例えばセン

1 MHz〜10 MHz

1 MHz

10 %

10 MHz〜200 MHz

5 MHz

5%

200 MHz〜400 MHz
400 MHz〜1 GHz

10 MHz20 MHz5%2%

1 GHz〜18 GHz

40 MHz2%† ISO 11452-1:2005(+A1:2008) には含まれない

サ入力が時定数 10 秒のフィルタに通されている場合

表 3: 周波数掃引ステップ (ISO 11452-1:2015)のような) には、ドウェル・タイムをかなり長くする
ことが必要となるかも知れない。これは試験時間を2.10

長くするので、特に予備試験の段階では、動作周期を短くし、あるいは応答時間を短くした試験用のサFPSC

ISO 11452-1 ではイミュニティ評価に関連してンプルを用意することが助けとなるかも知れない。

FPSC (functional performance status classification) と呼ばれる枠組みを定めている。

2.9

FPSC は試験厳しさレベルとその妨害の性能への周波数掃引ステップ

影響に関する区分との組み合わせとなるが、性能へ試験に際しては、必要な周波数範囲内で周波数をの影響に関する区分は規格の版によって相違がある。

変えながら、それぞれの周波数の妨害を印加する。

この枠組みを用いる場合、それぞれの試験につい周波数の変え方には一定の周波数間隔で上げていくてどの試験レベルでどの機能が Class A〜E、ある方法 (リニア・ステップ) と一定の比率で上げていいは Status I〜IV のいずれを満足する必要がある

く方法 (対数ステップ) があり、最大のステップ幅

か、また Class A〜E や Status I〜IV がそれぞれは表 3の通りとなる。

の機能が具体的にどのような状態となることを意味

試験で適用すべき掃引の方法 (リニアか対数か)するのかを試験に先立って規定することが必要となやステップ幅はテスト・プランで規定することが必るだろう。†11

要となるだろう。

どの機能がどの判定基準に適合しなければならな†11 ここで示されているものは「設計通り」や「正常動作」などの表現を含んでいるが、この枠組みに従って判定を行なうた
めには少なくとも何が「設計通り」や「正常動作」なのかを明確にすることが必要となるだろう。

†10 device under test (被試験装置)。EUT (equipment undertest) と呼ばれることもある。

8

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

いかは、適用する規格、そのコンポーネントの機能

2.10.2

ISO 11452-1/A1:2008, ISO 11452-

や用途、そしてコンポーネントの製造業者や納入先

1:2015の判断などに依存する。一般には、安全に関係する

ISO 11452-1:2005+A1:2008 や ISO 11452-1:2015

機能についてはどの試験レベルでも危険側の誤動作

では性能への影響に関する区分は function perfor-は許容されないであろうが、高い試験レベルでの安

mance status と呼ばれており、これは次のようなものとなる:

全側の誤動作は許容されるかも知れない。また、安全に関係しない機能については、機能の劣化や、場• Status I: 試験中、及び試験後、機能が設計通合によっては機能の完全な喪失さえ許容されるかもりに動作する。

知れない。
試験に際しては、評価が必要な機能、動作条件、• Status II: 試験中は機能が設計通りに動作しな
いが、試験後は自動的に正常動作に戻る。

具体的な判定基準などを事前に同定し、テスト・プ
ランに記載するとともに、例えば監視機器、信号源、試験用プログラムなどが必要であればその準備を行• Status III: 試験中は機能が設計通りに動作せなうべきである。安全に関係する機能については、ず、妨害が止められた後での DUT のオフ/オ

特に慎重な検討と準備が必要である。

ンやイグニション・スイッチの操作のような運転手や乗客の簡単な関与なしでは正常動作に戻らない。

2.10.1

ISO 11452-1:2005• Status IV: 試験中は機能が設計通りに動作せISO 11452-1:2005 では性能への影響に関する区

ず、例えばバッテリや給電線を外して再接続す

分は functional status classification と呼ばれておるようなより広範な関与なしでは正常動作に戻り、これは次のようなものとなる:らない。試験の結果として、機能が恒久的な損傷を被ってはならない。

• Class A: 妨害の印加中とその後、デバイスやシステムのすべての機能が設計通りに動作する。

• Class B: 妨害の印加中、デバイスやシステムのすべての機能が設計通りに動作する。だが、その 1 つ以上が規定された許容幅を超えても良い。

3

ISO 11452-2

3.1

参照規格

妨害が止められた後、すべての機能は自動的に

ISO 11452-2[1] は ISO 11452 シリーズの他の規格

通常の限界内に戻る。メモリ機能は Class A のと共通するような事項 (§2) について ISO 11452-1[2]ままでなければならない。

を参照しており、ISO 11452-2 のそれぞれの版でのISO 11452-1 への参照は次のようになっている:• Class C: 妨害の印加中、デバイスやシステムの1 つ以上の機能が設計通りに動作しないが、妨• ISO 11452-2:2004 — ISO 11452-1 (日付なし)

害が止められた後、すべての機能は自動的に通• ISO 11452-2:2019 — ISO 11452-1:2015

常の限界内に戻る。

ISO 11452-2:2004 は ISO 11452-1 を日付なしで• Class D: 妨害の印加中、デバイスやシステムの参照しているため規定上は ISO 11452-1 の最新版が1 つ以上の機能が設計通りに動作せず、妨害が参照されることになるだろうが、ISO 11452-2:2004

止められ、デバイスやシステムが単純な「オペはしばしば ISO 11452-1:2005(+A1:2008) と組み

レータ/使用」アクションによってリセットさ合わせて用いられている。また、ECE R10.06[3][4]れるまで、通常の限界内に戻らない。

は• Class E: 妨害の印加中とその後、デバイスやISO

11452-2:2004と と も に ISO

11452-

1:2005+A1:2008 を参照している。

システムの 1 つ以上の機能が設計通りに動作せISO 11452-1 の版の試験の実施への影響は限定的

ず、デバイスやシステムの修理か交換なしではではあるものの、いずれの版を適用する場合もテス

正しい動作に戻らない。

ト・プランには適用する ISO 11452-2 と ISO 11452-1の双方の版を明記すると良いだろう。

9ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)るだろう。†14 †15

試験手続き

3.2

この試験は、試験台の上に DUT とハーネスを配

この試験法では単なるシールド・ルームでは壁など置し、指定された周波数範囲で周波数掃引を行ないでの電磁波の反射が試験に著しい悪影響を与えるこながら指定されたレベルの電磁界を照射することでとから、ALSE (absorber-lined shielded enclosure)行なう。

と呼ばれる、壁と天井を電波吸収体で覆ったシール
ド・ルームが用いられる (図 12)。

照射する電磁界のレベルは等方性電界プローブをこの規格では ALSE の性能に関する要求もない基準としアンテナへの進行波電力を制御パラメータ

が、ALSE の設計上の目標は試験領域内での反射波とした置換法で設定し、これは、による影響が直接波によるものよりも 10 dB 以上• DUT などを配置しない状態での電界強度の校低くなるようにすることであり、これは反射減衰量

正 (§3.4)が 6 dB 以上の電波吸収体を用いることで達成できるかも知れない。

• DUT などを配置しての試験の実施 (§3.5)

通常は床面には電波吸収体は置かないが、の 2 つの段階を含む。

ISO 11452-2:2019 では床に厚さ 25 mm 以下の平らなフェライト・タイルがあることが許容される。

この規格は 80 MHz〜18 GHz の周波数範囲をカが、これは試験法を定めているだけであ

通常は問題とならないであろうが、高い出力の放り、実際に試験を行なう周波数範囲や試験の実施の射を行なう場合は電波吸収体の許容電力にも注意がために必要となるその他の様々な事項はこの規格を必要となるかも知れない。†16

†12

バーする

参照した規格で、及び/もしくはテスト・プランで؉ఆЅ̅༄

規定することになる。

̆‫܅‬(ԉ:ฅ ≤ 7:1)



(ISO 11452-2:2019)

基本的には 400 MHz 以下では垂直偏波のみ、≤ 30 cm

400 MHz 以上では垂直偏波と水平偏波で試験し、電界強度の校正もそれに応じてそれぞれの偏波で行なう。
≥2≥ 1.5 m(ISO 11452-2:2004)

3.3

m≥ 0.5 m

≥1

m

試験場所
900 ±100 mm

3.3.1≥ 0.25 m

ALSE

試験で発生する電磁界の施設外の漏洩を抑えるた
め、試験を実施する周波数範囲で適切なシールド性能を持つシールド・ルームが必要となる。この規格
ではシールド・ルームのシールド性能に関する要求

図 12: ALSE の概観はないが、例えば日本国内では 40 dB 以上のシールド性能を持つことが、また設備外への電磁波の漏洩が微弱無線の要求†13 を満足することが必要とな†14 平成十八年総務省告示第百七十三号 (電波法施行規則第六条第一項第一号の規定に基づく総務大臣が別に告示する試験設備), https://www.tele.soumu.go.jp/horei/law honbun/
72aa7939.html†15 ケーブルを ALSE 外に引き出したい場合は §2.3 で述べたような対応が必要となりそうである。
†16 例えば発生させられる放射電磁界の強度が最大 100 V/mとすると、それを電波吸収体に直接照射した場合でも損失は30 W/m2 以下で、このレベルであればそれほど心配する必要はなさそうである。だが、例えば 600 V/m の連続波を電波吸収体に照射したとすると、約 1 kW/m2 の損失を、従ってそれに応じた発熱を生じることになる。

†12 低い周波数ではアンテナでの照射による試験は適当でなくなるため、この規格では周波数の下限を 80 MHz までに限定している。低い周波数では電磁界の機器への影響はハーネスへの電磁界の結合によるものが主となる傾向があるため、低い周波数範囲
ではハーネスに妨害を注入する方法での試験、特に ISO 11452-4(ハーネス励起法、特に BCI 法) が良く用いられる。
†13 322 MHz〜10 GHz では距離 3 m での電界強度が35 µV/m 以下

10

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

3.3.2• 放射アンテナは試験の際と同じ位置に、すグランド・プレーン

なわち電界プローブの正面、電界プローブ

この試験は非導電性の試験台の上にグランド・プのフェーズ・センターの位置から 1000 ±

レーンとして厚さ 0.5 mm 以上の銅、黄銅、あるい

10 mm の水平距離、かつグランド・プレー

は亜鉛めっき鋼の板を敷き、その上に試験対象となンから 100 ± 10 mm の高さにアンテナのるシステムを配置して行なう。グランド・プレーン

基準点を合わせて置く。

の面の高さは 900 ± 100 mm とする。

放射アンテナとしてはしばしばダブル・

このグランド・プレーンは 300 mm 以下の間隔で

リッジド・ウェーブガイド・ホーンが用い取り付けた接地ストラップで、シールド・ルームのられ、この種の形状のアンテナでは基準

壁か床に直流抵抗が 2.5 mΩ 以下となるように接続点は開口面の中央となる。

する。少なくとも ISO 11452-2:2019 では接地ストラップの長さと幅の比率は 7:1 以下でなければなら他のタイプのアンテナを用いることもでない (図 12)。

き、対数周期アンテナ (LPDA) の場合はアンテナの先端、バイコニカル・アンテナ

グランド・プレーンの最小の大きさは 2000 ×の場合はアンテナの中央が基準点となる。

1000 mm で、試験対象システムの大きさに応じてさらに大きい実際に必要な大きさのものを用いる。

2. ISO 11452-1 で規定された最大周波数ステップ

一般に、グランド・プレーンは試験対象システム(表 3) よりも大きくない周波数ステップのそれ(テスト・ハーネスや周辺装置などを含む) 全体を全ぞれの周波数で、等方性電界プローブで測定さ周に 100 mm 以上の余裕を持って配置できるようれた電界強度 (等方性電界プローブの 3 軸の測な大きさが必要となる。但し、グランド・プレーン

定結果の RMS 値) が所定の値となるように信上に置かれたロード・シミュレータ (§2.3) の先に他号発生器の出力を調整し、その時の進行波電力の装置が接続される場合、ロード・シミュレータでと反射波電力†17 を記録する。

適切に減結合されている (RF 境界が作られている)

3. この校正は、無変調†18 で、また試験で使用する

限りはロード・シミュレータから先の配置やケーブ

偏波に応じて垂直偏波と水平偏波で実施する。

ルの引き回しは重要ではなく、そのような装置は顕4. 必要な場合、電力増幅器の出力の信号の品質が著な悪影響なしにグランド・プレーンの外に置ける要求 (§2.6) を満たすこと、また試験系のリニと考えられる。

アリティが維持されていることの確認も実施す

3.4

る。†27

電界強度の校正

電界強度の校正は次のように行なうことができる:

1. 図 13 と図 14 に図示するように、• 基準となる等方性電界プローブを、グラン

3.5

試験

3.5.1

試験対象システムの基本的なセットアップ

LV 系のみを含む試験対象システムの配置の例

ド・プレーンの前縁から 100 ± 10 mm のを図 15 と図 16 に示す。

水平距離、グランド・プレーンから 150 ±放射アンテナは対応する校正の際と同じ位置に、

10 mm の高さ、かつすなわちテスト・ハーネスをグランド・プレーンの– < 1 GHz — 試験に際してテスト・

前縁と平行に引く位置から 1000 ± 10 mm の距離、ハーネスをグランド・プレーンの前縁と平行に引く 1500 mm の区間の中央†17 反射波電力は制御などには使用されないが、それを記録することが、また要求があればテスト・レポートに記載することが定められている。また、方向性結合器から先に異常 (例えば同軸ケーブルやアンテナの断線、コネクタの接触不良のような) があ
れば反射波電力が大きくなることが予期されるので、校正と試験に際して反射波電力にも注意を払うことは有用であろう。
†18 OEM (自動車メーカー) 規格などでは一部の試験について変調状態での校正が許容されている、あるいはそれが必要となることもある。†28 も参照。

– > 1 GHz — 試験に際して DUT が置かれる位置の正面の位置にフェーズ・センターを合わせるよ
うに、望ましくはプローブのいずれかの軸を電界の偏波面に合わせて置く。

11

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

༄

ఆ

Ѕ

̅

؉

E/O
ਈਉ؆คअ༄༇

Pfor PrefଇԆ؉ԇ

150

±10
1000

 


±10

≥

±10
ą

100 ±10

100

00
20

≥ 10

900 ±10000ԆЅഇЅ؅

؉ȅࠅฅ؅

༄̅؇ԇ؅

図 13: ISO 11452-2 校正セットアップの例 (≤ 1 GHz)

༄

ఆ

Ѕ

̅

؉

ਈਉ؆ DUT ༄༇ଇԆ؉ԇ

150

E/O

±10

Pfor Pref

 


00
≥2

±10

1000

±10

100 ±10

100

0

ą

≥ 10

ԆЅഇЅ؅

؉ȅࠅฅ؅

༄̅؇ԇ؅

900 ±10000

図 14: ISO 11452-2 校正セットアップの例 (≥ 1 GHz)

グランド・プレーンから 100 ± 10 mm の高さにア

前縁から 200 ± 10 mm に合わせる。DUT のどのンテナの基準点を合わせて置く。

面をアンテナに向けて試験するかはテスト・プラン
で規定すべきである。

DUT は通常は厚さ 50 ± 5 mm の低誘電率

DUT の筐体は、それが実際の設置に際して車体(εr ≤ 1.4)†19 の絶縁台の上に置く。但し、ISO 11452-に接続される場合は短いワイヤでグランド・プレー

2:2019 ではテスト・プランでこれと異なる配置を規ンに接続する。

定できる。

DUT に接続されたテスト・ハーネスは厚さ 50 ±DUT のアンテナ側の面はグランド・プレーンの5 mm の低誘電率 (εr ≤ 1.4) の絶縁台の上に置き、†19 密な材料は誘電率が高いため、発泡材 (例えば発泡ポリス

1500 ± 75 mm がグランド・プレーンの前縁からチレン) が用いられる。

12

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

ఆ

̅
Ѕ

༄

؉

DUT

ଇ༄̆‫܅‬50 mm ̅ค༇

(༅ईࠅЅ)ഇง̅(ISO 11452-2:2004)̆ଅࠅЅ 50 mm ̅ค༇

(̀r ≤ 1.4)

(ISO 11452-2:2019)≥ 101145 00
2-2:

E/O

(ISO

10

2019




0
50

00

1145

04)

AN

00



≥ 10







1000

100

900 ±100
50 ±5

ฆ

؉

±




Pfor Pref

75

1

2-2:20

0±

20

±10

≥

0
20

0

±10

ԆЅഇЅ؅

؉ȅࠅฅ؅

100 ±10

≥ 10

(ISO

)

ԉ
≤ 2000༄̅؇ԇ؅(ISO 11452-2:2004)+300

1700 −0(ISO 11452-2:2019)

≥ 20

00

(ISO
11

452-

2:20
04)

図 15: ISO 11452-2 試験セットアップの例 (≤ 1 GHz)

ఆ

̅
Ѕ

༄

؉

DUT

ଇ༄̆‫܅‬50 mm ̅ค༇

(༅ईࠅЅ)(ISO 11452-2:2004)ഇง̅̆ଅࠅЅ 50 mm ̅ค༇

(̀r ≤ 1.4)

(ISO 11452-2:2019)≥ 10452- 00
2:

E/O

(ISO
11

2019

1145

5

00

00

0±

±7

1000

15

2-2:2004)

Pfor Pref

20




≥ 10

(ISO

10

)



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900 ±100
50 ±5

AN

؉
≥ 10

≥2

100 ±10

00

100

±10

ԆЅഇЅ؅

؉ȅࠅฅ؅

༄̅؇ԇ؅

ԉ
≤ 2000(ISO 11452-2:2004)+300

1700 −0(ISO 11452-2:2019)≥ 20(ISO 00
1145

2-2:2004)

図 16: ISO 11452-2 試験セットアップの例 (≥ 1 GHz)

100 ± 10 mm の距離で前縁と平行となるように引

ンシャル・モード・インピーダンスなどに留意して

いてロード・シミュレータ (§2.3) に接続する。

設計されたものでなければならない (§2.3)。

少なくとも ISO 11452-2:2019 では DUT やロー

このセットアップ全体は、1 GHz 以下の試験ではグド・シミュレータに接続されるハーネスの詳細な配

ランド・プレーンの前縁と平行に引かれる 1500 mm

置はテスト・プランで規定する。

の区間の中央が、1 GHz 以上の試験では DUT が送

また、少なくとも ISO 11452-2:2019 では (また、信アンテナの正面の位置となるように配置する。†20

ISO 11452-2:2004 でも ISO 11452-1:2015 を参照する場合は) 使用するロード・シミュレータはコモン・†20 これは、一般に低い周波数ではハーネスへの結合が支配的と考えられるが周波数が高くなると DUT への直接の影響の寄与が高くなるとともに使用されるアンテナの指向性が鋭くなる

モード・インピーダンス、及び/もしくはディファレ

13ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

3.5.2

HV 電源に接続されるシステムのセットアッ

導体は卓上のグランド・プレーンと AMN

プ (ISO 11452-2:2019)の PE 端子に接続する†23 (図 17)。

ISO 11452-2:2019 ではシールドされた電源システ– 充電用の DC 電源ラインは他の HV 電源

ムから給電される装置に対する試験の方法が追加さラインと同様に HV-AN を介して接続すれており、これは電気自動車のインバータや充電シる。†24

ステムのように HV (高圧) 電源†1 (例えば DC 300• AN、HV-AN、AMN の測定ポートは全て 50 Ω〜500 V 程度のバッテリのような) に接続されるシの終端器 (AN などに内蔵のもの、あるいは外ステムの試験に用いることができる。†21 このような付けの同軸終端器) で終端する。

システムは充電のために DC や AC の電源にも接続• テスト・プランでこれと異なる規定がない限り、されることもある。

DUT はグランド・プレーン上に直接置き、直こ の よ う な シ ス テ ム の 試 験 セット アップ の 例

接もしくは規定されたインピーダンスを介してを図 17 と図 18 に示す。

グランド・プレーンに接続する。

基本的な事項は §3.5.1 と共通であり、追加とな

バッテリ充電器はグランド・プレーンに接続る主な事項は:する。

• HV 電源ラインは HV-AN (§2.2.2) を介して接続する。必要な場合、実際の使用状況でのコモ• LV 系のハーネスをグランド・プレーンの前縁

ン・モードやディファレンシャル・モードのイの最も近くに、HV 系のハーネスをその隣に引ンピーダンスを模擬するためのインピーダンス

いた配置での試験に加え、テスト・プランでこ

整合回路網を HV-AN と DUT のあいだに接れと異なる規定がない限り、その逆に HV 系

続することもできる。

のハーネスをグランド・プレーンの前縁の最も近くに、LV 系のハーネスをその隣に引いた配HV 電源のハーネスがシールドされている場

置での試験も行なう。

合、そのシールドは HV-AN のシールド・ボッ
クスに適切に接続する。ケーブルのシールドとテスト・プランでこれと異なる規定がない限り、

シールド・ボックスのあいだの接続、またシー

充電用電源のハーネスはグランド・プレーンのルド・ボックスとグランド・プレーンとのあい

前縁から最も遠くに引く。

だの接続は測定結果に有意な影響を与える可能• グランド・プレーンの前縁の最も近くに引く性があり、実際の使用での状況を模擬するためハーネスのグランド・プレーンの前縁からの距に意図的に別の形とする場合以外は高周波的に離は 100 ± 10 mm とする。

良好な接続を行なうべきである。†22• LV 系、HV 系、及び充電用電源のハーネスの• バッテリ充電器の試験では、間隔はそれぞれ 100+100
mm とする。
−0– 充電用の AC 電源ラインは床のグランド・mm、• LV 系と HV 系のハーネス長は 1700 +300
−0

プレーン上に置かれた AMN (§2.2.3) をそれらのハーネスのグランド・プレーンの前縁介して接続し、充電器の PE (保護接地)と平行な部分の長さは 1500 ± 75 mm とする。
これは充電用電源のハーネスには適用しない。

傾向があり、高い周波数ではアンテナをハーネスの中央に向けて置いたのでは適切な試験を行なえなくなる可能性が高まるためである。アンテナを DUT の正面に置いた場合はハーネスの大部分がアンテナの照射範囲から外れる可能性が高いが、1 GHz以上の周波数ではハーネスは DUT から 10 cm 程度までの部分がアンテナの視野に入っていれば充分と考えられる。
†21 ECE R10.06[2][4] は ISO 11451-2:2004 を参照しているが、これと同様の規定を含む。
†22 ケーブルのシールドのシールド・ボックスへの接続は、例えば HV-AN のシールド・ボックスに取り付けられた EMC 用のケーブル・グランド (cable gland) を用いてケーブルのシールドを全周でシールド・ボックスに接続することで行なえる (図 5)。
いわゆる「ピッグ・テール」接続は一般に許容できない。

• シールドされたハーネスの構造とコネクタ終端
は車両での使用を代表するものでなければならず、これはテスト・プランで規定しければならない。
†23 AMN の PE 端子への接続は通常は充電器の電源コードを
AMN のアウトレットに挿すだけで行なえる筈である。
†24 CISPR 25:2021[6] や ECE R10.06[3][4] と異なり充電用の DC 電源ラインに DC-charging-AN を用いるという規定はない。

14

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)ԆЅ()DUT (ą؉؅)؇̆༇

HV-AN
≥ 10

()

+1

lin

0±

20

00

0 −0 +1
10 100 −0
10
0±
10

HV

؉

0
50

5 1000 ±10±7100 ±1000eఈ 

10




AC

ฆ

00

100 ±10

1

LV

50 ±5

ԉ: 1700 +300
−0

LV ఇ HV ఇĉ༇ਈਉ

LV-AN
AMN
AC



ฅ༇
HV

図 17: オンボード AC 充電器の試験セットアップの例• モータが含まれる場合、

3.5.3

試験の実施

指定された周波数範囲で、また ISO 11452-1 で規– DUT とモータのあいだのケーブル長は定された最大周波数ステップ (表 3) よりも大きくな

1000 mm 以下とする。
– モータ (電動機) は別のグランド・プレー

い指定された周波数ステップで周波数掃引を行ないンに置いても良い†25 が、テスト・プラン

ながら、それぞれの周波数で放射アンテナへの進行

でグランド・プレーン間の接続の構成を

波電力が指定された電界強度を発生させるために必規定しなければならない。

要な値となるように信号発生器の出力を調整し、指定された変調 (§2.7) の電磁界を指定されたドウェ– モータは非導電性の取付台上に取り付け、

ル・タイム (§2.8) のあいだ出力させ、DUT への影

そのハウジングをグランド・プレーンに響を確認する。

接続する。†26

電界強度 Etest の発生のために必要な進行波電力– 負荷機械模擬装置を使用する場合、DUT

Ptest は校正 (§3.4) で得られた進行波電力 Pcal とそと負荷機械模擬装置のあいだの接続の条の時の電界強度 Ecal とから、

件、また必要な接地の条件をテスト・プラ(ンで規定する。

Ptest = Pcal

Etest
Ecal

)2

として算出できる。†27†25 強度や振動などの理由のため、グランド・プレーンを分離することが望ましい、あるいは必要となるかも知れない。
†26 特に大型のモータでは固定部が相当の力や振動を受けるかも知れず、固定にかなりの注意が必要となるかも知れない。

†27 この電力の換算は試験系のリニアリティが維持されていることを前提としている。この規格ではリニアリティの確認に関

15

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)ȅ༇Ȉ̆ഇईଅ
ఈ̈ਆІࠈ༇̆ഇ‫܆‬ค̆‫܆܅‬คईଅ

(‫܉‬అ؉̅؅ଅ)̆‫܅‬< 1000
DUTԆЅ()

10

0±
20

≥ 10

0±
10

00




()

10
0±

20

HV-AN

1000

00

+1

HV
LV

ఈ 

0±0
15

75 1000 ±10

50 ±5

؉ฆ
LV-AN

100 ±10

0 −0
10
0±
10

10

±10

100 ±10

10ԉ: 1700 +300
−0
LV ఇ HV ఇĉ༇ਈਉ



HV

図 18: モータを含むシステムの試験セットアップの例

試験では発生させる妨害に変調 (§2.7) を掛けることが多いが、進行波電力 Ptest は無変調での値とPM 2 (§2.7) の場合、出力レベルの調整を無変調(連続波) で行なうと DUT に極度に過大な電力を照して定義されているため、射して誤った誤動作を引き起こす可能性がある (また、電力増幅器がその出力での連続波の出力に対応• 出力レベルの調整を無変調で行なった後、ピー

していることが必要となる†28 ) ため、その変調波形

クのレベルを変えないように変調を掛けるに対応した PEP (peak envelope power) パワー・セ• アベレージ・パワー・センサを用いている場合、ンサの使用が不可欠となるかも知れない。

変調波形から求めた換算係数を用いて電力の換

基本的には周波数掃引は ISO 11452-1 で規定され算を行ない、変調を掛けたままで出力レベルのた最大周波数ステップ (表 3) よりも大きくない指定

調整を行なう (ISO 11452-1:2015 §C.4.2 参照)

された周波数ステップで行なうが、DUT の感受性

• 所定の変調を掛けた時も無変調の時と同じ値を得られる PEP (peak envelope power) パワー・の閾値が試験レベルに非常に近そうな場合、最小のセンサを用い、変調を掛けたままで出力レベル†28 この規格では校正は無変調で行なうので、いずれにしても電力増幅器はその出力での連続波の出力に対応していることが必要となる。だが、OEM 規格などではこの規格をベースとしながらも、PM 2 での高い電界強度 (例えば 300 V/m や 600 V/m)での試験、いわゆるレーダー・パルス試験についてはパルス出力での校正を許容していることがあり、そのような場合、その電界強度の発生のために必要となる高い出力を連続的に出力できる
電力増幅器の代わりにパルス出力にのみ対応した電力増幅器を用いての対応が可能となる。

感受性閾値を見付けるためにその周波数範囲で周波の調整を行なうのいずれかの対応が必要となりそうである。
する要求はないものの、校正 (§3.4) の際にリニアリティを確認するのは良い考えと思われる。

16

ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

数ステップを小さくすべきである。

3.7

試験を実施したい周波数が校正が行なわれた周波試験レベルの例

試験レベルの例を 図 19 に示す。

数と異なる場合、例えば校正の際の周波数ステップよりも小さい周波数ステップでの試験を行ないたい場

1000

合の対応に関する記載はないが、ISO 11452-4:2020

600V/m − applicable to selected componentsには補間に伴う誤差が 0.5 dB 以下であれば校正さField strength (V/m)

300

れた周波数のあいだの補間が許容される旨の記載があり、この試験でも同様にしても良いかも知れない。

3.6

テスト・プラン

300V/m RADAR pulse tests
Modulation: PM2

100

EMC−CS−2020JLR v1.2 RI114 Level 2
Modulation: CW, AM and 18 Hz/28 ms PM

EMC−CS−2020JLR v1.2 RI114 Level 1

Modulation: CW and PM130
ECE R10
Modulation: AM (≤ 800 MHz) / PM1 (≥ 800 MHz)

試験に先立って試験の実施のために必要な全ての情報を記載したテスト・プランを作成する。

10

100 MHz

これには少なくとも以下の事項を含めることが必300

Frequency

1 GHz

44000
GHz

図 19: 試験レベルの例 (ECE R10.06[3][4] と Jaguar Land
Rover EMC-CS-2010JLR v1.2[8] )要となるだろう:• 試験セットアップ (使用する DUT、ロード・シ
ミュレータ、その他の周辺機器の一覧とその配置、DUT の向きなどを含む)• DUT の動作モード• DUT の合格基準

4

補足

4.1

関連規格

ISO 11452-2 と同様の事象の評価を意図した、ま• 試験周波数範囲、またそれぞれの周波数範囲にた ISO 11452-2 と同様に DUT とハーネスに電磁界対する以下のものを含む試験条件:を照射する方法に基づく別の試験法として、ALSE– 試験厳しさレベル (電界強度)

ではなくリバブレーション・チャンバーを用いるも– 変調 (§2.7)のが ISO 11452-11†29 で述べられている。
近年は例えば車内での携帯電話の使用のような– ドウェル・タイム (それぞれの周波数の妨害を印加する時間; §2.8)

近傍での無線送信の影響も懸念となっているが、– 周波数掃引ステップ (§2.9)

ISO 11452-2 や ISO 11452-11 はこのような現象の模擬にはあまり適していない。このため、そのよ• DUT の監視の条件

うな近傍での無線送信の影響の模擬を意図した試験法として ISO 11452-9†30 が別に発行されている。

• DUT の近くでのテスト・ハーネスの詳細な引ISO 11452-2 や ISO 11452-11 のような DUT とき回し

ハーネスに電磁界を照射する方法での試験は低い周• アンテナの位置

波数に対する試験にもあまり適しておらず、低い周• テスト・レポートの内容

波数範囲の電磁波の影響の評価のためにはハーネス

また、標準的な試験方法からの逸脱やその他の特4†31 が良く用いられている。ISO 11452-4 で述べらに妨害を注入することによる試験、特に ISO 11452別な指示があれば、それらも全て記載する。
†29 ISO 11452-11, Road vehicles – Component test methods for electrical disturbances by narrowband radiated electromagnetic energy – Reverberation chamber†30 ISO 11452-11, Road vehicles – Component test methods for electrical disturbances by narrowband radiated electromagnetic energy – Portable transmitters†31 ISO 11452-11, Road vehicles – Component test methods for electrical disturbances by narrowband radiated electromagnetic energy – Harness excitation methods

合格基準は、FPSC (§2.10) の枠組みに従い、それぞれの機能に対する Class A〜E、あるいは Status I〜IV の定義と、それぞれの試験厳しさレベルでそれぞれの機能が Class A〜E、あるいは Status I〜

IV のいずれとなることが許容されるかのマトリックスとして規定できるかも知れない。

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ISO 11452-2 の概要 — 車載機器のイミュニティ試験 (ALSE 法)

れている BCI 法は 400 MHz までの周波数範囲をカバーし、しばしば 200 MHz や 400 MHz あたり
を区切りとして ISO 11452-4 と ISO 11452-2 の切り替えが行なわれている。
これらの規格を含め、ISO 11452 シリーズの規格については [5] で簡単に解説している。

5

参考資料

[1] ISO 11452-2, Road vehicles — Component test
methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 2:
Absorber-lined shielded enclosure[2] ISO 11452-1, Road vehicles — Component test
methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Generalprinciples and terminology[3] ECE Regulation No. 10 Revision 6, Uniform
provisions concerning the approval of vehicles
with regard to electromagnetic compatibility,
United Nations, 2019https://www.unece.org/trans/main/wp29/wp29regs120.html[4] ECE Regulation No. 10.06 の概要, 株式会社 e・
オータマ, 2014–2021,
https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[5] ISO 11452 シリーズの概要, 株式会社 e・オータ
マ, 2014–2020,
https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[6] CISPR 25 の概要 — 車載機器のエミッションの評価, 株式会社 e・オータマ, 2016–2023,
https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[7] 車載機器の EMC 試験の準備 — ロード ・シミュ
レータ、テスト・ハーネスなどの準備, 株式会社e・オータマ, 2018,https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[8] EMC-CS-2010JLR v1.2, Electromagnetic Compatibility Specification For Electrical/Electronic
Components and Subsystems, Jaguar Land
Rover, 2012,
http://emc.jaguarlandrover.com.edgesuite.net/
docs/requirements.htm

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