放射能測定法シリーズ 8

NaI（Tl）シンチレーションスペクトロメータ
機 器 分 析 法昭 和 4 9 年

文 部 科 学 省
科学技術・学術政策局
原子力安全課防災環境対策室

放射線審議会測定部会の委員及び専門委員
委員（部会長）斎

藤信

東京大学理学部

池 田 長 生

東京教育大学理学部

伊 沢 正 実

放射線医学総合研究所

井 上 弥次郎

電子技術総合研究所

川 城

専 門 委 員房巌

国立衛生試験所

浜 田 達

理化学研究所浜 田 政 彦国立がんセンター

阿 部 史 朗放射線医学総合研究所

石 川 友 清日本原子力研究所

浦久保 五 郎国立衛生試験所

岡 野 眞 治理化学研究所

笠 井蔦

日本原子力研究所

葛 城 幸 雄気象研究所

小 林 宏 信農業技術研究所

塩 崎愈

海上保安庁水路部

団 野 略 文鹿児島大学農学部

敦 賀 花 人束海区水産研究所

山 県

登国立公衆衛生院

本分析法の作成にあたっては、上記委員のほか下記の方々の協力を得た。

木 下

睦

動力炉・核燃料開発事業団

河 田

燕

電子技術総合研究所

田 中 栄

放射線医学総合研究所長 沢 規矩夫

動力炉・核燃料開発事業団

橋 本 達 也

日本原子力発電珠式会社（敬称略・五十音順）

次

第l葦 序

論

1

第 2 葦 用語の説明

2

第 3 葦 機器の選定と設置条件

4

3．1 検 出 器

43．2 しヤへい体

53．3 電子回路

63．4 機器の設置上の注意

7

第 4 章 試料容器と標準試料

94．1 試料容器

94．2 エネルギー校正用繚源

10

4．3 標準試料10

第 5 葦 機器の調整および使用法

135，l エネルギー校正曲線

135．2 高圧電源電圧（印加電圧）の設定

135．3 比例増幅器の利得の調整

135．4 マルチチャネル波高分析器（PHA）の調整

14

5．5 ピークチャネル値の求め方

14＝‥＝＝＝＝‥

第 6 牽 性能および試験法

16

6．1 直 線 性

16

軋2 エネルギー分鰻能16

6．3 バックグラウンド

17

6．4 計数率依存性

18

6．5 安 定 性

18

6．6

19

ルーチンチェック

20

第 7 章 計数効率とその求め方

20

7．1 計数効審とγ計数効率
7，2

光電ピーク面積の求め方…………………………………………………

7．3 r計数効審の求め方 ……・・‥‥‥……‥・‥＝…………，・■…‥………＝＝…

20
22

7．4 規格化される容器忙対する3インチ径X3インチNaI（Tl）シ∵ソテレーション検出器の計数効審 ………………………‥・・・……■

27

7．5 KC威試薬綻よる光電ピークγ計数効率の求め方 ………‥・………＝＝●●…‥

27

窮 8 章 単一核種の波高分布曲線と定性定量分析法
8．1 単一核種の波高分布曲線
8．2

核種の同定

…………………………………………………………………

8∴i 島叩こ∴主三三fミ ‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥…‥・‥‥‥‥‥‥‥…‥‥‥＝‥

第 9 牽 混在核種の分離定量法

9．1 連続分布差し引き法
9．2 連立方程式法
第10葦 記録及び報告
10．1 測定上の記録

10．2 報告様式
附 表 原子力発電所よカ環境へ放出される可能性のある核種

附図1 核種別の波高分布曲線 ‥……‥‥‥………‥‥‥
附図2 土壌，海底堆積物の波高分布曲繍の一例

333・t

第1葦 序環境試料中忙は，天然の放射性核種，核実験忙伴うフォール7ウトおよび原子力施設から排出される放射性核種などが含まれている。これら放射性核種の環境中における挙動を調査し，放射能レベルを把瞳する忙はその濃匿，種類を知る必要がある。しかし環境試料中の放射性核種の濃匿は試料の種類，採取時期，採取場所および採取方法夜ど忙よって異なってくる。
本マニュアルは環境中に含まれる放射性核種の種類およぴその演匿をNaI（Tl）シンチレーショ
ンスべクトロメータを用ぃて分析測定する機器分析法忙ついて主として地方自治体などが行う放射能調査の標準測定K供するため忙作成したものである。

最近，NaI（Tl）シンチレーション検出器忙比べてエネルギー分解能の非常に優れたGe（Li）
半導体検出器が一般忙普及してきたが，NaI（Tl）シンチレーション検出器は測定効率が優れてお力，また大量の試料の測定が可能であるとぃう点で単一または教核種が存在する試料の分析測定法として有効な方法である。

本マニュ7ルで，試料は未処理のものぜたは乾燥，灰化などの前処理を完了したものを対象として
おぉ，得られたデータの解析法として，標準試料との比戟忙よる方法，連続分布差し引き法および連立方程式法を採用している。試料中忙含まれる教核種までの分析測定と，教10ピコキューリの放射能の検出を一応の目標としている。
なお，たとえば微量のコバルトー

60から同時陀放射する2本のr線（1．17，1．33MeV）を利用して，r−−γ同時計測を行いバックグラウンドを消去して検出限界を高めるよう夜特殊な計測法
忙ついては，本マニュ7ルから除外した。

−1−

第2葦 用 語 の 説 明
本マニュ7ルで用いられる用語のうち，特忙重要なものおよぴこのマニュ7ルで限定的忙用いられるものなど忙ついて，以下忙簡単な説明を行う。
1．エネルギー校正曲線 光電ピークのピークチャネル値とγ線エネルギーとの関係を示す曲線をいう。

2．エネルギー分解能 放射線のエネルギーに対する検出系の分解能力で，通常分離した光電ピー
クの半値幅とど−クチャネル値との比（努）で表示される。
3．エネルギー鎖域 波高分布曲線において目的忙従って限定したエネルギー範囲をいう。

4．r線放出率 腺源から単位時間に放出されるr線の数をいレ㍉これは壊変率r線放出比を乗じたものに相当する。
5．寄与鎮域 目的核種以外の核種の主領域に相当するエネルギー領域をいう。
6．光電ピーク r線が検出体と作用してその全エネルギーを検出器内で失うこと忙よって生じるピークで，一般に正規分布で近似できる。
7．光電ピークγ計数効率8．光電ピーク計数効率

9．光電ピーク面積

光電ピークに含まれる計数率と対応するr繚の放出率との比をいう。
光電ピーク忙含まれる計数率と線源の壊変率との比をいう。

光電ピークにおける計数値の総和をいう。

10．自然計数（率） 測定試料またはブランク試料などをおかない状態で測定される計数（率）をいう。（バックグラウンドの項参照）
11．・主領域

目的核種の主要ピークに対応するエネルギー領域をいう。

12．積分直線性 波高値対エネルギー校正曲線の直線性をいぃ，（△E／Eγ）x100（卑）で表示する。ここで△Eは直線からのずれ，Erは最大エネルギーである。
13！− 総計数（グロスr計数） 測定しようとするγ繚の全エネルギー範囲忙含まれる計数の総和￣をいう。

14．総計数効率
15．総計教室

ある核種忙ついての総計数率と線源の壊変率との比をいう。

全エネルギー範囲に含まれる計数率の総和をいう。

16．総r計数効審

特定のr線忙対する総計数率とγ繚の放出峯との比をいう。

17．チャネル幅 波高分布曲線忙おける1チャンノネルに相当するエネルギーをレ1う。
18・バックグラウ／ドブランク試料を置ぃた状態で測定される計数（率）をいう。

19．半値幅 光電ピークの高さの半分における全幅をし1う。
20・ピークチャネル

ピークの中心に最も近いチャネル番号をぃう。

21・ピークチャネル値 光電ピー

クの中心に相当するチャネル値をいう。

−2−

22．微分直線性 チャネルあた少に相当するエネルギ帖・幅の一様性を意味し，千均チャネル暗からの偏差の相対値（飾）で表示する。
23．標準試料 測定試料と同一形状，同…組成の試料陀測定の対象とする核種を既知量加え，均一陀分布させたものをいう。
24．ライブタイム 装置の不感時間を除いた正味の測定時間をいう。

ー3−

第3章 機器の選定と設置条件
NaI（Tl）シンチレーションスべクトロメークの構成は使用日的などによって若干異るが，通常NaI（Tl）シンチレーション検出器，しゃへい体，電子回路（前置増幅器，比例増幅器，高圧電源
およぴマルチチャネル波高分析器）などから構成される。

子管
㌔デ
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−▲■−一し一電子計算機■￣￣「￣￣￣￣￣￣￣￣
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l

＿＿」

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L＿＿＿＿1
1

I

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I

.‑1

第3．1図 代表的なシンチレーションスペクトロメータの構成図

3．1 検出器
NaI（Tl）シソチレ，ション検出器は大別して，NaI（Tl）シソチレ，ク，光電子増倍習，磁気しゃへい，前置増幅器，検出器ケースよカ構成される0（前置増巾器が含まれてい夜いものもある。）
3．1．1 NaI（Tl）シンチレーク：JIS Z 4321および Z 4322 忙規定されたものまたはこれと同等以上の性能を有するもので，とく忙エネルギー固有分解能が良好で（JIS分類記号：等級A），自然計数率の低いもの（JIS分類記号：L）が好せしぃ。
NaI（Tl）シソチレー

程変の円柱形のものがよく用いられるが，このマニュアルでは直径長さとも76．3mm（3インチ）のものを標準として用いることをたてまえとする。
とく忙微量の放射能の分析測定を必要とする場合忙は，自然計数率を低渡させるためにNaI（Tl）シンチレークの窓材は低カリウムガラスまたは石英ガラスを，NaI（Tl）シ∵／チレークのケースは銅またはステンレス鋼を用いたものがよい。

3．1．2 光電子増倍管：端窓形光電子増倍管で，光電面感匿の良好なものを使用する。とく忙微量の放射能の分析測定を必要とする場合忙は，入射窓の部分忙低カリウムガラスまたは石英ガラスを用いたものがよぃ。

−4−

3．1．3 滋気シールド：光電子増倍菅は外書腫場，地磁気の影響をうけヤすわので，ミューメタル
などの導滋養の高い材料で光電子増倍菅をしやへいする必要がある0

3．1．4 前置増幅器：通常，検出器内把とカつけられ，検出器からの信号を比例増幅器せで同軸ケ
ーブルで伝送するに必要なインピーダンス変換を行うととも躍信号対雑音比（S／N比）を向上して彙外来電気雑音の妨害を華沸させることを主目的とする03．1．5 検出器ケースその他：上記3．1．1から3．1．4までを組合せた検出器部は，完全忙しゃ光す
ると共に放射能で汚染されない構造とするため，ステンレス鋼または銅などの適当なケース忙収納する。

試料からβ線が直接NaI（Tl）シソチレーク忙入射するおそれがある場合忙は，プラスチッ

クをどの低原子番号の物質でβ横のしヤへいを行をう。

3．2 しゃへい体
天然ぜたは人工放射性物質のγ線や宇宙諒（秋成分）をしヤへわして，自然計数率を低沸させる
ため托，検出器と試料容器をしゃへわ体内陀収納する￠

3．2，1 しゃへぃ材料：しゃへぃ材料托は主として銘または鉄が用いられる。鉛はラジウムを含む
ことがあゃ，その娘核種のラジウム岬E（ビスマスー210）のβ繚の制動放射綻よって約0．5

MeV以下の自然係数が増加することがある。また最近の鉄材はコバルトー60で汚染してぃる

は放射能汚染の少ないものを吟味して使用する必要がある。

3．2．2 しヤへい材料の厚さ：…般陀鉛で5〜10cm，鉄で10〜20cm程匿の厚さが用いられ，これ以上厚さを増してもあまカ効果はない○鉄を鱒轟忘Q臣Aむ宗の卜頂．︷q巧Aむ芸頂門．1

ものがあるので，材料として

0 0 01

用いた場合のしゃへいの厚さ5と自然計数率の関係の一例を
第3．2図托示した。

10

15

20em

鉄の厚み

第3．2図 鉄を用ぃた場合のしゃへいの厚さと自然言†数率の関係

3．2．3 しゃへい体の内張力：

繚源から放射されたr繚はしゃへ仏体の壁でこ才ニ／プトン数乱されて検出器陀入射することがある

ため，高いエネルギーのr線試料を測定したとき，第3．3図の実態綻示すどとく低エネルギー部の計数寒が増加することがある。この影響はしゃへ擁材料の原子番号が大きい程少ないので，主−5−

なしゃへい材料が鉄の場合には，その内面に3rm程匿の鉛を内張力すると軽渡する（第3．3図点線）。また，この釣の内張少は約0．5MeV以下の自然計数審を低渡させる効果もある。
一方，しゃへいの最も内側の物
質が鉛などの高原子番号のものを使用した場合には，内側の物質とr線との相互作用によって放出される特性Ⅹ線が検出器に入射するため，低エネルギー部綻ピークを繍
森
高生ずることがある。このエネルギ

ーは鉛の場合約80KeV（K特性
Ⅹ線）である。これを除去するには鉛の内面托さら柁1．5汀m程変のチ ャ ネ ルステンレススチールを内張力する

第3．3園 鉛の内張托よる効果

か，または約i，釣棚れのカドミウム，さら控銅を塀沢内張力するのがよしつ。

3．2．4 しゃへい装置の構造：しゃへい装置の設計托あたって留意すべき点は∴イ．試料容器の出入が容易をこと。P．放射能汚染を起こしケこくゎこと。ハ．放射基準マIjネリビーカー

能汚染の除去が容易なこと。
ニ．外部からの放射線がケーフ
Na‡（で1）シソチレーク

ル貫通穴などを通して直接検出器忙入射しないこと，など
鉛シールドである。第3．4図忙しゃへい装置の一例を示す。

ケーブル穴

3．3 電子回路
3．3．1 前置増幅器：3．1検出

窮3．4図 しゃへい装置

器の項参照。

3・3・2 比例増幅器：前置増幅器からの信号をマルチチャネル波高分析器（以下PHAという）の入プブ陀必要な扱高値および鼓形に変換することを目的とし，増幅かよび波形整形の機能を宥する。

比例増幅器はPHÅ陀内臓されている域合もあるが，別を比例増幅器を硬用する場合綻は，その−6−出力信号の波高値，極性（正負），波形（立上わ時間，滅零時間，単極性か双極性か）などがP
HAの入力に十分適合することが必要である。
3．3．3 高圧電源：十分高い安定監と電流容量を有する出力電圧可変の高圧電源で，安定度は電源
電圧の変動士10飾忙対し，士0．05飾以下のものが好ましい0測定系の総合利得の微調整が必要であるので，比例増幅器の利得と高圧電源のいずれか1つは少なくとも微細調整が可能でなければなら覆い。

3．3．4 PHAおよぴデータ読取か装置：市販のPHA忙は，基本的な波高分析機能の他，いくつかの補助的機能を有するのが普通であるが，これらのうち最小限次のような機能を有するものが望まれる。
（1）スペクトルのCRT表示
モ2j メモリーチャネルのサブグループへの分割（3）スペクトルデータのサブグループ問の移動（4）：コンプリメソト（補数）変換
ミ5ラ ブリセットタイマ

そのほか，次のような機能が附加されていれば，分析忙際して非常陀便利である。
（1）ライブタイム，（2）クロックタイムの経時表示，（3）任意のチャンネル領域の計数値の積分，（4）ス
ペクトルのストリヅビング操作，く5）スペクトルの合成操作。

孜お，苗販のPHAには，マルチスケーラの機能がついているものが多いが，これはパルスの時間分布などを測定するもので，このマニュ7ルにおいて用いられることはをい。
データ読みとか装置㌍は，hろいろのものがあるが最小限テジタルプリンタ（パラレル式ラインプリンタ，シリ了ル式プリンタなど）は備える必要がある。そのほか，
椅）磁気テープ記録装置（4う紙テープ穿（l）チャートレコーダ（記録言ナ）（2きⅩYプロッタ
孔機

夜どがあればデータの解析，整理が能率的佐行なえる。特に計算機忙よってデータの解析を行なう場合陀は磁気テ←プ記録装置または紙テープ穿孔鱒は不可欠である0
これらは∴その機能，使用法と特徴を熟知し，データ処理の方法，データの保存，機器の保守
かよび任所性などを考慮しで晩発に選定する必要がある。1つの測定忙必要なチャネル数は200〜400穫魔が過当である。

3．4 機器の設置上の注意
検狛器を収納したしゃへレ1体かよび電子回路はなるべく湿度贋化が少なく，かつ湿度の低い場所
托設潰し惹ければならない。

−7」−

検出器は磁場の影響をうけヤすいので，トランス，モータなど強い碇界を発生す為装置と隣接しないよう托する。また，検出器および電子回路装置へ電気的雑音の混入を防止するため，パルス性の電気雑音を発生する装置（整流子塑モータ，バイプレータ，リレーなどを用いた機器）忙隣
接して設置することを避けるとともに，できればそれらと電源配線を共用することも避けること。
バッククラウントずの変動を防止するため，しヤへい装置の近く綻強い放射線源を置か惹いように注意すること0

なお㍉しゃへい装置の設置佗あたっては，床荷重陀留意すること。

−8−

第4葦 試料容器と標準試料4．1 試料容器
試料容器は，種々の材質，形状，寸法のものが考えられるが，このマニュ7ル忙おいては，以下忙示す寸法の基準マリネリ ピーカ，基準ビーカおよび円形ろ紙を用いることをたてまえとし，
これらの容器などに規定量の試料を充萌した場合の計数効率などのデータを第7章の7・3−7・7

図に示す。ただし放射能標準試料を用いて計数効率を求める場合忙は，かならずしもこれらの基準
容器を使用しなくてもよい。
4．1．1基準マリネリ ピーカ（塩．ビ製）規定容量1，700ml（単位mm）

第4．1図 基準マリネリピーカ

4．1．2 基準ピーカ（スチロール製） 規定容量100，200，300ml（単位mm）
第4．2囲 碁準ピーカ−9−

4．1．3 円形ろ「紙 直径7cm 東洋ろ紙ノ怒2

4．2 エネルギー校正用綾瀬1）
エネルギー校正用繚源としては必ずしも放射能の値が既知である必要はなく，市販の経済を適宜希釈して使用することが出来る0なお，エネルギー校正を行なう際，あまカ計数率が高いとチャネ
ルシフトをおこすことがあタ，また逆陀ぁまタ計数率が低いと統計変動が大きわばかちでなく，計測に要する時間も長くなるのでエネルギー校正用緑源の量は核種綻よって異なるが〜0−1βCi程変に調製する。形状は水溶液としてアンプルなど紆封入してもよいが，ブラスチック坂上綻溶液を清下し乾燥したのちラッカーで固定し彙更托プラスチック薄板でおおったものが便利である。第4．
1表陀エネルギー校正陀適当と思われる核種を示した。

第4．1表 エネルギー校正用核種

r線エネルギー（MeV）

核 種
＝4

半減期

ce−＝Ipro．133551（1r0．3201

王2NこI

0．511

137cs

0．661630年

5ヰMI−

0，8348

3 03日

60COOO

1．1732l．3325207B壱

0．5696

1，063424Na

1．36852．754

14．97時間＝Y

0．89801．8361104日

0．0801他

28 5日
2 7．8日1．2746

2．58年

5．26年
1．7697

30．2年

4．3 標準試料
標準試料とは放射能標準溶液の一定量を測定サンプルと同一形状，同一組成の試料陀希釈または均一忙混合したもので，通常次のような手脛で調製する。

1）種々の核種のエネルギ…校正用繚源が日本アイソトープ協会など佗おいて製作頒布され
てレ1る。

−10−

4．3．1放射能標準溶液2）の一定量をメスピペットを用いてとカ，これを標準溶液と同一の化学的形状（担体の化学形，濃定かよび酸濃度など）の担体溶液陀て希釈し，〜0．01／上C盲／ふl程変の希薄標準溶液を作る。この希薄溶液の保存陀あたってはポリエチレン容器をさけ，共棲三角
フラスコなどガラス容器を使用する。

4．3．2 測定試料と同一形状，同一組成の物質（放射能汚染の出来るだけ少ないもの）を準備し，これを4．1綻示す試料容器綻規定容量だけ充填する。もし測定試料と同一組成の物質が入手出来ない時は，次のような代用品を用いてもよい。

（l）海水，雨水などの水溶液状のもの……放射能標準溶液と同一の化学的性状（連体の化学形，
濃匿および酸濃度をど）①水溶液（2）海底土，スラッジ‥・…リン酸二水素ナトリウム（結晶水を含む）（3）魚肉かよび動物肉（乾物）・…・・4アミノー3ニトロートルエン（4）乾固海水……食 塩（5）魚骨などの灰……リソ酸カルシウムをお，校正に用いた試料容器を完全に除染出来をh場合があるので，標準試料容器は測定試料
容器と別躍準備することが望ましい0波高分布曲線の連続部分は試料の組成忙よってかなカ顕著陀影響をうけるのに対して，光電ピ
ーク部の強度はあまカ変イヒしをい。したがって連立方程式法ヤ最小二乗法佗よってデータの解析を行なう場合陀は，標準試料の組成に最大限の任意をはらう必要がある。一方，光電ピーク強度のみに着目する連続分布差し引き法によってデータの解析を行なう場合陀は，標準試料の組成に関してそれほど厳密綻考える必要は惹く，蔭エネルギー領域以外では，水溶液状の標準試料を用いて校正を行なっておけば，その他の形状の試料についても，実用上，このデータを適用出来る場合が多い（7葦参照）。

4．3．3 第7葦で述べるように計数効率測定の際，母材3）にもとづくバックグラウンド計数を差し引く必要がある。そのため母材を充萌し容器を計数効輩測定と同一の条件で計数し，母材佗もとづくバックグラウンド計数をあらかじめ求めておく。

2）種々の核種の放射能標準溶液が工業技術院電子技術総合研究所，日本7イソトープ協会，

IAEA，英国ラジオケミカルセンターなど托おいて製作，頒布されておタ，これらは日本
アイソトーブ協会を通じて入手出来る。また電子技術総合研究所では，依頼試験という形で種々の核種の放射能の価ずけに応じてくる。
3）標準試料調製の際メて〕ぃる測定式料と同一形状，同∴凝成の放身派巨汚染の出来るだけ少をい物質をいう。

−11−

4．3．4 これらの母材綻一義量の希薄標準溶液を次托のペる要領で添加する。（0．02≠上C宜 程鑑が適当）くl）溶液状のもの：希薄標準溶液2mlをメスピペットを用いて正確にと少，これを試料容器中の溶液に滴下したのち，ガラス樟でよく擾絆する￠（2）粉末状のもの（乾燥土，乾固海水）：バックグラウンド測定終了後，母材を容器からと少出し，その一部（〜100‡Ⅵ1）をシャーレ陀とカわける。次忙希薄標準液2mlをメスピペットを用いて正確托とカ，これをシャーレ申の試料托少量づつ滴下したのち，赤外線電球を用わて乾燥させる。乾燥後乳鉢中でかるくくだき，これを残カの母材とバット中でせんべんなくまぜた
のち試料容器中陀再び充萌する。

（3）スラ，ジ状のもの：バックグラウンド測定終了後．母材をバグト柁あけ，これ終希薄標準溶

液2mlを滴下し，これを充分陀こねあわせた後再び試料容器陀充萌する○輔 フィルターペーパ状試料：規定寸法のろ紙を大型シャーレ（直経10em程鼓のもの）の上忙

おき，これに希薄標準溶液0．5mlを少しづっ∴均一にひろがるよう陀滴下したのち，乾漁する。
乾燥後アルミ箔でつつむ0をお，対象とする核種が揮発性である場合托は，乾燥陀際して温家をあげ表わよう控注意す
る必要がある。特陀ルテニウム，7ン′チモン，ヨウ素，セシウム，水銀などの核種については
適当を沈殿剤（例えばKIに対してAgNO3）の使用およぴデシケーク内での乾燥などの処置が必要な場合が多い。

−12−

第5葦 機器の調整卦よび使用法
5．1 エネルギー校正曲線

B A
300

第5．1図はPHAのチャネル番号と例で，この曲線をエネルギー校正曲線という。これはエネルギーの異なるr線源を用いて波高分布曲線を測定し，
光電ピークのピークチャネル（後述）250︵Aむ出︶−紺ミせH

r線のエネルギーの関係を示す図の一

200
150

とそのγ線エネルギーの関係をプロッ
トして滑らかな曲線で結んだものであ

0 200 400 弧）80010001別l脚Aる。

0 郭 100 l那 須） 蟄） 創O B

良好な装置ではエネルギー校正曲線

チャネル番号

はほほ直線（5．1図の点線）で近似さ

第5．1図 エネルギー校正曲線れる。1チャネルあたカの平均エネル
ギー幅をチャネル幅とレ＝ハ，チャネル幅はふつう10〜20KeVで使用されることが多い。

5．2 高圧電源電圧（印加電圧）の設定
光電子増倍管への加電圧は光電子増倍菅の利得忙関係し，増幅器の利得ととも忙チャネル幅を決定する。通常700〜1，200Vの範囲の適当な値忙設定して用いられる。

光電子増倍菅の利得は印加電圧の微少な変化によって大きく変化し，印加電圧100Vの変化忙対し約2倍変化する。また印加電圧はエネルギー分解能K多少関係することがあゎ，あまカ低い印
加電圧では分解能が悪くをることがある。

5．3 比例増幅器の利得の調整
増幅器の利得は高圧電源電圧ととも陀チャネル幅を決定するので，測定しようとするエネルギー範囲がPHAの有効範囲に入るよう調整する。増幅器を高い利得で使用する場合は外部電気雑音の影響を受ける可能性が増加するので，注意を要するo

PHA忙内臓されていない別の増幅器を使用する場合には，増幅器の出力の波高値，極性（正負），信号波形（立上少時間，減衰時間，単極性か双極性か）などがPHAの入力に十分適合するように調整すること。

−13−

5．4 PHAの調整

5．4，1ゼロ点調整1）：エネルギー校正曲線を代表する直線がエネルギー軸を切る点（第5．1図のP点）を決めるもので，ふつう，P点をゼロエネルギーに調整するのが便利であるが，装置によっては不可能な場合がある05．4．2 下限ディスクリミネ一夕l）：実際に分析されるエネルギー範囲の下限を決めるもので，このレベル以下の信号パルスはメモリーされない。これKよって電気的雑音ヤ不必要夜低エネルギ

ギーr線を除去することができる。

5．4．3 上限ディスクリミネ一夕：実際に分析されるエネルギー範囲の上限を決めるもので，このレベル以上の信号パルスはメモリーされない。

5．4・4 その他：市販のPHAにはいくつかの機能を有するものが多い。これらはPHAのマニュ
アルK従って，その機能および使用法を熟知する必要がある。
5．5 ピークチャネル値の求め方
波高分布曲線において，光電ピークの中心に相当するチャネル値をピークチャネル値という。ピークチャネル値を求めるにはいくつかの方法があるが，ここでは一つの光電ピークが他のピークか

ら明瞭に分離して存在するときK適用できる比戟的簡単な図形的方法を述べる。
5．5．1 光電ピークが独立して存在し，または平担夜スペクトルに重畳しているとき，第5．2図の如くピークの部分を正方眼紙にプロットして滑らかな曲線で結ぶ。つぎに何本かの横線を引き，この曲線との交点AA，
BB】……とする。これらの線分AA−，
BB−…‥・の中点Ao，Bo・・・…を求め，これらを結ぶ直線を作る。この直線
チャネル番号はピークの頂点近くでは垂直になる。
この垂直部分忙相当するチャネル値

第5．2図 平担なスペクトル忙重畳しいる場合

をピークチャネル値とする。ふつう

0．1チャネルの精度でよみとることができる。

1）ゼロ点調整と下限ディスクリミネ一夕は∴装置忙よってその表現方法および内容が逆のも
のがある。

−14−

5．5．2 光電ピ㌧−クが傾斜した連続ス
ペクトルに重畳しているとき，あらかじめ傾斜した連続スペクトルの部分を差し引いてピーク部分のみの云ベクトルを正方眼紙陀プロットし．
前述の方法を用いるか∴または第5．

3図の如く連続スペクトルにほぼ平行な何本かの瀕分AA−，BB−・…‥を作り．，5．5．1の場合と同様捉ピーク
チャ ネル番号

チャネル置を求める。

第5．3国 領科した連続スペクトル㌍重畳している場合ー15−

第6葦 性能および試験法
6．1 直綽性
直線性とは，エネルギー校正曲線忙おけるエネルギーとチャネルとの関係の直線性をぃい，積分
直線性と微分直線性がある。

いい，（dE／Eγ）xlO O飾であらわす。
ここでErは最大チャネルに相当するエネルギーdEは直線からの最大のずれに相当するエネー ≠‖ 上﹁一骨＋H

積分直雛はエネルギー校正曲線の直雛をルギーである（第6．1図参照）。200チャネ

ル程匿のPHAを用いた場合，積分直線性は0．2努以下であれば良好である。

チャ ネル番号

微分直線性とは，チャネルあた力作相当する
エネルギー幅の一様性を意味し平均チャネル幅

第6．1図 積分直線性

からの偏差の相対値（珍）であらわす。通常1〜2帝以内であることが望ましい。

直線性を劣化させる原因には次の2つがある。高エネルギー部でフィットさせた直線が原点を通るように調整した場合，実際のエネルギー校正曲線はエネルギー軸の約15eVを通る、「
6．1．1 NaI（Tl）シンチレークの発光効奉のエネルギー依存性：NaI（Tl）シソテレ一夕の発光効率が低エネルギーで変化するために積分直線性は第6．1区匿示すことく約0．2MeV以下で劣化する。しかしこの非直雛による誤差は小さいので，とく忙精密を要しない場合或いは低エ

ネルギー側を問題としない場合は，全体のエネルギー校正曲線を代表する直線で近似しても差しつかえない。

6，1．2 電子回路の直線性：増幅器，PHAなどの電子回路の直線性が悪い場合がある。これは一般に高い波高値で飽和する傾向が多いので，6．1．1とは容易に区別される。もしこのような傾向がみられれば，ただち佐修理する必要がある。

6．2 エネルギー分解能
エネルギー分解能（以下単作分解能という）は分離した光電ピークの半値幅1）（高さがピークの

1）ピークチャネルP忙対して半値偏PqA．BhPが同−でない場合がある。特gc低エネノヰー側の半値幅が大きい場合が多レもこれは試料中の自己吸収，散乱など忙よることがあるのでこの測定忙は点線源を用レ強か，B−Pの半値半幅を2倍して半値幅とすることが性能試験のとき忙は望ましい。

−16−

半分K等しい点忙おける全幅）の相対値（飾）であらわす。

たとえば，第6．2図の場合
B−A

×100序で分解能＝＋P与えられる0
分解能は一般にr線のエネルギーの関数で，

A P B
チ ャ ネル番号

佗ほエネルギーの平方根忙逆比例する。ふつう
セシウムー137の0．662MeVr繚に対し

第6．2図 分解能の求め方

7〜10診である。

エネルギー分解能の劣化の原因忙は，NaI（Tl）シ∵／チレークの劣化（割れまたは，吸湿忙よる変質），光学的結合の不完全，結合用シリコングリスの流出および光電子増倍管の劣化をどがある。

6．3 バックグラウンド

線源を除いて／ミックグラウンドの波高分布曲線を測定し，問題とするエネルギー範囲における総計数率，ピークの有無を調べる。パ，クグラウンドの波高分布曲線の例を第6．3図忙示す。
通常，下記のエネルギー附近にピークを生じヤすい0

0．08MeV：しヤへい材料（鉛）からの特性Ⅹ線
0．51MeV宇宙線に起因する陽電子の消滅忙ともなうr線
0．61，1．13，1．76MeV：ラドンー222壊変生成物

1．46MeV：光電子増倍習，ⅣaI（Tl）シソチレークの窓など陀含まれるカリウムー40
2．61MeV：タリウムー208（トリウムーC′′）
バックグラウンドの総計数率は同一のしゃへい条件のときNaI（Tl）シンチレークの体積忙ほぼ比例し，鉛8cm相当の良好をしゃへいを行なぃ20KeV〜3MeV相当のパルスを測定したときの総計数率はNaI（Tl）シソチレーク1適当カ2．5cpm程匿以下である0

バックグラウンドは試料物質の存在忙も多少影響されるので，バックグラウンドの測定忙は規定の試料容器忙放射能を含まない試料物質（たとえば純水）を入れて測定するのがよい0

ノミツクダラウンドの変化は重要で，とく忙しヤへいが不完全な場合には，周辺の放射線源の移動忙も注意しなければならない。

ー17−

6．4 計数率依存性■一高い計数蜜で測定し

−

l

検出器

たとき，波高分布曲顧

104

Nal（Tl）3′￠×3′

しゃぺハ率が変化することがある0
この計数審依存性は標準繚源など比密約強い

樹

轟103

放射能を測定するとき

作間題と浸る0102

この計数率依存性は
光電子増倍習の一時的50

疲労佗原因するものと，

150

100

200

250

300

350

チ ャ ネル番号
増幅器その他の電子回路托原因するものがあ

第6，3図 バックグラウンドの波高分布曲線（例）る。前者は一般陀光電
子増倍習の印加電圧が高い場合に起カヤすい0このような場合忙は印加電圧を下げ，増幅器の利得を増大する。ふつう総計数率1，000eps程定まで扱高分布曲線陀変化が認められなければ良好である。

6．5 安定性
測定機器の性能が時間の経過とともに変わる場合が参る。一般柁測定機器は電子回路のウオーミ

ングアップに必要な数分ないし数十分後躍安定することが多いから，スイッチ投入後数十分を経てから使用するのがよい。長時間測定托際しては温変佗よる変動が大きいので，なるべく室温の変化をさけるようにする。

特性の変動には，主として2つの現象があゃ，それはエネルギー校正曲線陀おけるゼロ点移動とチャネル幅の変化である。ゼロ点移動はpHAの性能陀原因することが多く，良好夜PliAでは殆んど無視できる。

一方，チャネル幅の変化はNaI（Tl）シソテレ一夕の温匿変化の他，光電子増倍笥2ミ前置増幅器，比例増幅器，PHAなどの電子回路の利得の変化佗起因する。これらの変化が測定装置の性能
仕様をこ示されている許容範囲内托あることを確認しておく必要がある。

2）光芯子増倍督の疲労たどにより利得教化が起ることがあ．り，このような場合忙は光電子増倍管の印加電圧を下けかつ強い放射能の測定を長時間行なうことも避けた方が良い。

−18−

6．6 ルーーテンチェック
これまでにのべた性能の試験は，特に異常のあったときの他3〜4ケ月毎忙定期的に行なう必要があるが，ルーチンの測定㌢こおぃては毎日試料測定の前後に下記の芋膳陀従って簡易なチェックと調整を行なうのがよい。

6．6．lスイッチを投入した場合陀は，30分以上ウオーミングアップを行なう3）。
6．6．2 代表的な2つのエネルギーの線源4）を用ぃて測定し波高分布曲線を求め，これよ少エネル
ギー校正曲線のチャネル隔とゼロ点を決定し，これが正常であるように調整する。（実際には2つの線源のピークチャネルがそれぞれ一定の饉常なるよう托すれば良い）
6．6．3 バックグラウンドを30分以上測定し，ピークおよび総計教率陀異常のないことを確かめる用

6，6．4 試料の測定を行なう。
6．6．5 その日の試料の測定が終了した後6．6．3を繰う返す0

6．6．6 6．6．2の測定を繰少返し，エネルギー校正曲線が，変化していないことを確認する。

3）数日以上測定を中止し貴い限カ，高圧電源は切らないことが望ぜしい04）繚源紅はナトリウムー22（半派斯2．58年，消滅放射線0．511MeV，r線1，2746
MeV）が便利である。

−19−

第7葦 計数効率とその求め方
7．1 計数効率とr計数効率
7．1．1 計数効率

計数効率とは，着目したチャネル領域の計数審（ノミックグラウンドを差引いたもの）と綻源の壊変率恥（dps）との比である0計数として全扱高分布曲線に対応するチャネノレ領域の計数Noをとった場合と特定の光電ピーク面積K対応する計数Npをとった場合とが実用上重要でそれぞれグロス計数翠どTO，亡TPと呼ぷ。
すなわち

L

eTO＝

not

（ト1）

………………………

eTP＝」虫」………………………

（7−2）

no L

である。ここで，tは測定時間（秒）を示す。
7．1．2 r計数効率

r計数効率とは，着目したチャネル領域K含まれる特定のr線による計数率とそのγ線の放出奉との比である。全波高分布曲線に対応するチャネル領域の計数NGをとった場合と特定の光電ピーク面積に対応する計数Npをとった場合が実用上重要でそれぞれ総r計数効率どrGおよび
光電ピークr計数効率Erpと呼ぷ0

すをわち，

ero＝

NG
常o a宜t……………………

（7−3）…………・………‥

（7−4）

Np
erp＝

耽o a五tである。ここでtは測定時間（秒），a五は着目したr線の放出比を示す。

7．2 光電ピーク面積の求め方
光電ピーク面積の定義には，いろいろの考え方があ．りt）更灯光電ピーク面積の決定忙ついても種々の方法が考案されているが，本マニュ7ルでは，連続分布差し引き法2）を採用することとする。
この方法による光電ピーク面積の決定の手順は次の通力である。
7．2．1 ピークチォネルを読みとる。

ー20−

7．2．2 ピークの半値偏を求める。この半値幅（r）は適当な単色r点線源を用いて6．2に示す方法であらかじめエネルギーと半値幅との関係を求めて得られた値を用いる。半値幅はエネルギー，

チャネル数のいずれかで表わされる。
7・2・3第7・1図に示すようにピークチャネルpを中心として左右忙∠＝3X（与）チャネルずつとカ（aおよぴb点），このa，b両チャネルの間の各チャネルの計数値N五の総和P（カウント）を求める。
すなわち

P＋／
P＝ ∫

N五 …………………………

（7−5）

五＝p−J

7．2．4 a点忙おける計数値Naおよぴ
b点忙おける計数値Nbを読みとカ次の計算を行なう。

Q＝（Na・Nb）（‥与）……
‥‥・・‥……・‥…・（7−6）

7．2・5 ピーク面積Np（カウント）は
Np＝ユニ旦・・・・…‥

0．980

（7−7）

として与えられる。
なお，他のピークやコンプトンエッジなどの妨害によβ，ピークチャネル
第7．1図 光電ピーク面積の求め方を中心として左如∠＝3X（与）だ

けとることが困難な場合忙は，Jとして適宜のチャネル数をとカ，上記と同一の手順でP−Qを求め，この値をJ／（r／2）によって決まる補正因子（第7．1表）で割少，ピーク面積Npを求めるq1） このマニュ7ルでは単一核種の定量と混在核種の定量とを練一的Kと少あつかう必要から
光電ピークのベースとなる連続分布部分（第7．2図斜線部分）をとカのぞいた残少の部分をピーク面積と定義することとする。しかし，この他にべ−スとなる斜線部分を含めて光電ピーク面積ということが多いので注意が必要である。

2） この方法の代表的なもの忙コベル法がある。

−21−

第7．1表 補 正 因 子
Jベル／／2） 補正因子 ／ペJソ2） 補正因子

0，5

0．048

1．6

0．685

0．6

0．082

1．8

0．775

0．7

0．125

2，0

0．850

0，8

0．162

2．2

0．910

0．9

0．218

2．4

0．935

1．0

0．285

2．6

0．960

1．2

0．420

2．8

0．970

1．4

0．555

3．0

0．980

第7．2図 光電ピークと連続分布部分

7．3 r計数効率の求め方
7．3．1 標準試料の光電ピークr計数効審の決定
まず4．3に述べた方法で標準試料を調製し，測定試料と同一条件で測定を行なう0測定時間は核種や放射能の強さKもよるが，1，000秒が適当である。次に全領域の積分値NGおよび特定の光電ピーク領域の計数値Npを7．2（て記述した方法で決定する0このよう忙して得られたNp

よ少標準試料の壊変率机（dps）および着目したr線の放出比a壱を用いて，（7−4）式忙
したがって，光電ピークγ計数効率erpを算出する0入射エネルギーとγ計数効率との関係を求めるの忙適した核種忙は次のよう夜ものがある0−22一

第7．2表 入射エネルギーとγ計数効輩との関係を求めるのに適した核種

r線のエネルギー（MeV）

核種

半滅期

r縁故出比（帝）＝1ce

0．14 5 4

4 8

3 3．1日203Hg

0．2 7 91

7 7

4 6．9日

51cr

0．3 2 01

198Au

0．41189 5

7Be

0．4 7 7 4

10．3

5 3．6日

137cs

0．6 616

8 6

30 年

51Mn

0．8 3 4 8

10 0

3 03 日65

zn

1．115 44 9

2 4 5 日10K

1．4 6 0（1．782T／sec／gKCl）

22Na

0．511018 0

1．2 7 4 5

10 0

88Y

60

24

co

Na

9．8

0．89 80

9 2

1．83 61

10 0

1．17 3 2

10 0

1．3 3−2 5

10 0

1．3 6 8 5

10 0

2，7 539

10 0

2 7．8【］
2．7日

1．25XlO9年
2．58年

104 日

5．26年

14．97時間

なお，これらの核種のうち，ナトリウムー22，イットリウムー88，コバルトー60およぴ

ナトリウムー24は複数本のr線をカスケードに放出する。この場合着目するr線が光電吸収をおこしても，もう1本のr線が，シソチレーク中で同時に相互作用をおこすとサム効果によって光電ピークに対応するチャネルよカ高いチャネルに計数が記録されることになる。したがってこのサム効果によって見かけの光電ピーク面積は減少することになるので，淑少分を補正する必要がある0例えばA，B二本のr線をカスケード佗放出し，それぞれの放出比が100帝の場合，γ線Aに対する光電ピークr計数効峯（eγp）Aは次の式で与えられる0（erp）A＝（Np）A

れot〔1−（ero）B〕

……………

（7−8）

ここで（Np）AはT線A￠て対応する光電ピーク面積，（ET（〕）BはT線VC対する総丁計数効
率である0

−23−

︵囁︶
0
1

繍羞慧和恵ご︻ql∴∴間更1．0

エネルギー（MeV）
第7・3図 NaI（Tl）シンチレーション検出器のr計数効率

ー24−

0
L

志鱒零聖ヤ二㌻こふ妄

10

エネルギー （MeV）

第7．4図 NaI（Tl）シンチレーション検出器のγ計数効率

崗零料右Jヘーゝ担架t⊥

爪V

エネルギー （Mev）

第7．5図 NaI（Tl）シ′こ／チレーション検出器のγ計数効率（円形ろ紙）−25−

︵噂︶0ローX
1

6
4

1

11

2
0
8

dこ噂±繋差蒜菜

亡U

dト山仲人女邑在梶媒−d志岬±誓言蒜菜

1．0

0．1

4

エネルギー（MeV）

2
第7．6図 水溶液と乾燥土壌の場合の光電ピークr計数効率の差

0

㍗L︒・1

︵噂︶聾由芯∴﹁軍港t句壁∈E爪．N．．．．．
暮 ．． ‥．．．‥
l．0

エネルギー（MeV）

第7・7図 2・5mA＿1忙よる吸収

−26−

10．0

7．4 規格化された容器に対する3インチ径×3インチNaI（Tl）シンチレー
ション検出器の計数効率
計数効率の校正は標準試料を用いて7．3の手順陀従って行なうことが望ましいが，適当な放射能標準溶液を入手出来帥時は第7．3，7・4，7・5図に示すデータを用いて計数効率を求めてもよい乞）ただし，試料容器は4．1忙示す規格化されたものを用い，これを所定位置において，3インチ径×3インチのシンチレーション検出器で測定す

NaI（Tl）

ることをたてまえとする。
なお，これらのデータはフィルタ

光電子増倍管ペーノて状試料㊨場合をのぞいて水溶液状の試料忙対するものであるが，比重1．5程度の乾燥土壌試料に
第7．8図 検出器の構造の一例

対してもこの値は大幅には変わらない。一例として，マリネリ ピーカ

中の水試料に対する効率と乾燥土壌試料に対する効率の差を第7．6図忙示す。また，検出器の構造によっては第7．8図忙示すように，マリネリビーカの底を結晶上端に密着出来なレ1ことがある。この場合には若干の効率の低下が認められる。たとえば知IrT浮かび上がった場合効率の低下
は全エネルギー領域にわたって約4飾である07．5 ⅩCl試薬による光電ピークr計数効率の求め方
種々の事情で規格化された容器を用いられない場合，しかも適当な放射能標準溶液を入手出来ない時は，市販のKCl試薬を用いて次のような芋版で計数効率の決定を行なっても一応実用となる結果が得られる。

7．5．1 よく乾燥した市販KCl試薬100gを試料容器に入れ，これに水を加え規定容量とする0

よく横枠して完全佐溶解したことを確かめる。

3） このデータは基準マリネリビーカーとNaI（Tl）シ∵／チレークの間K検出器ケースが介在しない場合の測定結果で，検出器ケースが介在する場合忙は検出器ケースの材料忙よるr
線の吸収を考慮する必要がある。一例として2．5m可亨のアルミニウムケース忙よる吸収実測
値を第7．7図に示す。

−27−

7．5．2 7．3に述べた方法で，カリウムー40に対する計数効率を求める。KCl試薬1gあた少のr線放出率は1．782r／seeである。この場合計数時間は4，000秒位が適当である07．5．3 ビーカなどによる小容量試料忙ついては，第7．4図，マリネリビーカ忙ついては第7・3図のデータからカリウムー40のr線（1．460MeV）忙対する効率を読みとれここで実測
忙よ少得た値とグラフから読み取った値の倍率を求める0 この倍率を第7．4囲または第7．3図に示す値に乗ずる。
なお，KCl試薬はかならずしも水忙溶解しなくてもよく，そのままみかけの規定容量だけ容器に充萌して，その重量から換算して効率を求めてもよい。

ー28−

第8章 単一核種の波高分曲線と定性定量分析法
8．1 単一核種の波高分布曲線
r線がNaI（Tl）シンチレークに入射すると光電効果，コンプトン散乱，電子対生成の3つの作用でr線エネルギーの全部または一部がNaI（Tl）シソチレークに与えられる。この場合
波高分布曲線には，これら3つの作用によって吸収されたエネルギースペクトルが表われる。単一核種の場合でもその核種から放出されるr線が一種類かまたは数種類かによカ，またr線エネルギ
ーの違いによって異なる。次にこれらの作用忙もとづく波高分布曲線の基本的な事項忙ついてのべる。
8．1．1 光電ピーク

光電効果は入射したr線が軌道電子にそのエネルギーを与えて軌道から追い出し，全てのエネ
ルギーを失う現象である。たとえばセシウム

ー137の単一エネル
ギーのr線（0．662

MeV）がNaI（Tl）
シソチレークに入射し樹轟㍍

た場合，光電効果によ
カ入射r線エネルギー（Er）の全部を失うこと忙よって光電ピーク（Pp）が現われる（第臥1図）。この光電ピ
0．5ークは入射r線のエネ

エネルギー（MeV）
ルギーに対応するので
波高分布曲線測定の最第8．1図 セシウムー137の波高分布曲線

も重要なものの一つである。また光電ピークの形は近似的に正規分布として扱うことが出来る。
8．1．2 コンプトン散乱による連続分布

r線が自由電子または軌道電子と衝突してエネルギーの一部を与え，r線は初めと異なった方向へ散乱される現象がコンプトン散乱である。第8．1図に示すような単一r線エネルギーでみるー29−

と，コンプトン散乱によってr線エネルギー￠ト一部が与えられるため，コンプトン連続分布が現われる。コンプトン散乱によってNaI（Tl）シソテレ一夕に与えたエネルギーの最大値（Eo）
は次式で与えられる。

Eo＝

2Er2

0■51十2Er（MeV）……………………

（8−1）

Ec点に対応する波高分布曲線の点をコンプトン端とレ＝ハ，このコンプトン端はしばしば光電
ピークと間違われることがある。第8・1図のPBSのピークは後方散乱によって生ずるピークであり，このピークの高さは測定試料としヤへぃ体内壁との距離，しゃへしつ体の材質によって大きく変る。このピークも光電ピークと間違われやすい。

8．1．3 電子対生成にともなうピーク
原子核の近傍を通る1．02MeV以上のr線は原子核の電場によって陰陽一対繍∴轟十帆の電子を作少全エネルギーを失う現象が電子対生成である。
また，NaI（Tl）シソチレーク内で電子対生成が起ったとき，生成した陽電子は消滅し，2本の0．511MeV消滅放射線を反対方向に放出する。この2本ともNaI（Tl）シソチレークから逃げだ

エネルギー（MeV）

す場合は，入射r線エネルギーをErと第8．2図 電子対生成をともなう波高分布曲線

するとEr−1．02MeVの2光子エスケ
ーブピーク P2が現われる。

ー1本の消滅放射線が逃げ出す場合はEr−0．511MeVの1光子エスケーブピークヤ1が現れる。r線がNaI（Tl）シソチレーク以外の周囲の物質中で電子対生成を行なった場合，また陽電子放出核種の場合には消滅放射線による0．511MeVのビータが現われる。（第8．2図）
8．1．4 KX線エスケープピーク

一般にr線やⅩ線がNaI（Tl）シンチレーク忙入射するとヨウ素原子のK電子と光電効果を起す確率が高い。この時，結晶表面近くで発生したⅠ−KX線（28KeV）が逃げ出し，Ⅰ−KX
線エスケープピークが現われる。（第8．3園）KX線エスケープピークは，入射r線等が光電効

果をかこす場所が検出体表面のときに現われやすいので，ほぼ0．1MeV以下の低いr牌エネル
ギーの場合に考慮する必要がある。しかし，環境試料の測定に際しては，0．1MeV以下のr繚−30−を測定の対象とすることは少な

いのでKX線エスケープピークを考慮する必要はあまゎない。
以上のものの組合わされたも的な波高分布曲線である。実際

繍東電のが単一エネルギーr線の基本の核種はいくつかの㌢線が同時
または独立に放出される場合がある。
8．1．5 サムピーク

ErいEr2 の2本の㌻線が01

同時花村aエ（Tl）シソチレー

エネルギー（MeV）

クに入射すると，このスペクト
ルには，Erl十Er2に対応する

第8．3図 IKX線エスケープ

同時サムピークが現われる。

実際にはコバルトー60のような2本のカスケード㌻線を放出する核種に顕著に現われる（第8・4区lう0

一般に顧源とNaI（Tl）シ∵／チレーダとの距離が近いはどサムピークは大きくなる。

陽電子と同時陀r線を放出する核種におぃては陽電子の消威の際放出するr線（0．511MeV）繍轟おエネルギー（MeV）

エネルギー（MeV）
第8．4図 カスケード㌻線同時サムピーク

第8．5図 消滅放射線同時サムピーク

ー31−

と他のr線との同時サムピークが現われる。（第8・5図）
線源が繋いときには一種類のr線しか放出しないときでもPHAの分解時間内に偶然に同時に2本の放射線が入射すると2Erのところ忙サムピークが現われる。
このピークは偶然サムピークという。

8．1．6 制動放射

r線の他にβ線を放出している。

2

このβ線が測定試料自体やNaI

5

煙毒高萩雫

測定試料中の核種は多くの場合

1

川（Tl）シソチレークの金属ケース
或いはβ線カット用吸収体などと相互作用をし，制動放射線を放出する。この場合の波高分布曲線はゼロから入射電子のエネルギーま20 40 60 80 100 120

での連続スペクトルとして現われ

波 高値る。（第8．6図）
第8．6図

r線放出率が少ないβ線放出核

制動放射線による波高分布曲線

種の波高分布曲線は第8．7図のようになる。

制動放射をおこす確審は入射電子のエネルギーと吸収物質のZが大きい程大であーる。

一般に制動放射スペクト
ルが顕著に現われるのはβ線のエネルギーが1MeV以上の場合である。

エネルギー（MeV）

第8．7図 制動放射の波高分布曲線−32−

8．2 核種の同定
測定試料中に含まれる未知核種の同定は次の手順にしたがって行なう。ただし，長半減期核種の場合には信頼変は悪くなるが，r線エネルギーのみから同定を行なっている。
8．2．1 エネルギー範囲の設定測定するエネルギー範囲を決定する。一般に核分裂生成核種を対象とする場合は全チャネルを

2MeVに，ウラン，トリウム系列などの天然の核種を含む場合は3MeVをカバーできるようにPHAのゲインを5．3に従って調整する。
8．2．2 エネルギー校正曲線
こ忘芸︶

5．1に従って4点以上の点がとれる
よう忙エネルギー校正用線源を用いて8．2．3 エネルギーの決定＼

測定試料を明確に光電ピークが判別

1∴竹上ヽ≠⁚Hヽlノ

図エネルギー校正曲線を求める。（第8．8

できるまで測定する。光電ピークのピークチャネル値を5．5に従って決め，
ピークチャネル値からエネルギー較正チャ ネル番号

曲線を用ぃて光電ピークのエネルギー

Erを正確に読みとカエネルギーを決第8．8図 エネルギー校正曲線定する。
光電ピーク以外のピーク

でもエネルギーが明らかな出来る。たとえば同時サム
ピークなどである。

8．2．4 半減期の決定

隠盛業ご∵ノ聖畔粟ものは同定に用いることが半減期の決定は試料の波高分布曲線を適当な時間間

T

隔で2回以上測定する。こ

％

3T

2Tヶ盲

の場合チャネル幅，試料の時

測定位置夜どの測定条件は間第8．9図 半減期の決定

同一にして行なう。測定した波高分布曲線の光電ピー

−33−

％

ク計数審を経過時間に対して片対数方眼紙忙プロットして減衰曲線を求める。半減期は光電ビー
タ計数寒が％になる時間で決める。
8．2．5 核種の推定

核種の推定は決定したエネルギーおよび半減期が鵬致する核種をアイソトーブ衷，r線表1）ぁ
るいは波高分布曲線のカタログをどと照合して決定する。

この㌻稼のエネルギー半或期から未知核種を決定する方法では，試料中に含まれる核種の波高分布曲線が単純であわ，かつ半減期が数日程皮と比戟的短い場合，容易である。

8．3 核種の定量
試料中に含まれる核種が脚種類の場合陀は，光電ピークr計数効率から求める他陀，崩壊率既知の標準試料の波高分布曲線との比較によっても定量することができる。
8．3．1 バックグラウンド波高分布曲線の測定と差し引き

あらかじめ空の試料容器に放射能が含まれていない物質（たとえば純水）を入れ，測定資料と同州条件で波高分布曲線を測定しバックグラウンドの波高分布曲頗とする。試料の波高分布曲線の各チャネルについてバックグラウンド波高分布曲線の対応チャネルの計数率値を差し引く。この場合，バックグラウンド汲高分布曲線をPHAの減算モードで岬定時間測定した後，試料を加算モードで同じ時間測定すると，バックグラウンド計数峯は差し引かれ正味の試料の波高分布曲線が得られる。
同一種敷の試料を数多く測定するときにはPHAのメモリーを2分割にし前半（ケ妄）メモリー

グループにはバックグラウンドの波高分布曲線を減算モードで一定時間測定し記憶させておき，
後半り盲）メモリ】グルー

プ把このバックグラウンドを移す。試料を測定する毎忙前半メモリー

グループからバックグラウンドの波高分布曲線を後半メモリ】グループに呼び出し試料の測定智

行をえば正味の試料の波高分布曲線が得られる。このバックグラウンドの波高分布曲線は引き続
きW共通して用いることが出来る。
なお試料の測定時間は前に測定したバックグラウンドと同一か，またはどちらかの時間に換算

1）C・M・Lederer，J．M．Hollander，Ⅰ．Perlman：ttTable ofIsotopesP
6th Ed．（】96ボ）（tlohn Willy ＆Sonslnぐ．）

M．＾．Wakat：一tN＝ぐ1earl〕ilta Tables

vol．3Nり．5−6（1971）（Academic Press）
M．．，．Martin，P．11．Biiぐhert Toft：■tNuぐ1ear Data Tabl（lSVbl．8，No．1ニ2（1970）（Aeademie Press）−34−

できるものでなければなら凌い。（6．3参照）

もし別にバックグラウンドの波高分布曲線が必要なときには測定時間を5×104 秒程ま測定し各チャネルの計数寒を求めておく。

8．3．2 光電ピーク㌻計数効率から求める誘法（＝ 試料の調製

測定資料は一定の容器に均…に入れる。もし試料が植物の乾燥物のようなものをら出来るだ

け圧縮するか．ミキサーで砕いて入れる。試料の厚さは標準試料と同一厚になるようにする。
測定試料は測定時間以外は標準試料と同一条件で測定する。
（2）試料の波高分布曲線の測定

試料に含まれる核種のr線エネルギーによってエネルギー範囲をゼロよカ1MeV〜3MbVにをるように設定する。ライブタイムで測定時間を設定して測定する。試料の測定時間は試料中に含まれる核種の濃皮によって異をるが．天然レベルのものは1×10ヰ 〜5×10ヰ 砂の測定時間が必賓である。
く3き 光電ピーク語数率

光電ピーク計数率は第8．10図に示すようにピーク値の％における全幅（半値幅）の2倍
また綾3倍の範囲内に入る各チャネルの計数峯の合計として求める（7．2参照）。この場合光電ピークは正規分布として近似できるのでこの範囲の計数値はピークの全面積に対してそれぞれ98かよぴ100多となる。このはか正規分布の底の部分を差引いて面積を求める場合があおこの場合は窮7．1表の如く85かよび98渇とをる

棚 核種濃度
正味の光電ピーク計数寒

核種濃度を決定する。

樹轟㍍

から次式忙よって試料中の第8．10醤 光電ピーク詔数審

ー35−

．Np

・÷（〃Ci／em3または〃Ci／g）…・（8−2）
3・7×104 erpai・t V

C ＝l

C ：試料中の核種の放射能鮭
Np：光電ピーク面積に対応する計数
erp‥同一エネルギーの光電ピークr計数効率

ai：r線の放出比（9．4表を参照）
t ：測定時間（秒）Ⅴ ：測定試料の容量（e汀㌔）または重量（g）
8．3．3 標準試料の波高分布曲線との比較によ少求める方法
測定試料中に含まれる核種と同一核種の崩壊率既知の標準溶液があるとき忙は∴それを用いて測定試料と同一形状の標準試料を作成し．その標準試料の波高分布曲線と試料の波高分布曲線とを比較することによって核種東亜を求めることができる。
（1）標準試料の波高分布曲線4．3にしたがって試料中の核種と同一核種の崩壊率既知の標準溶液を適当忙希釈し測定試料と同一形状の標準試料を作る。2）8．3．1と同様にして測定を行ない、波高分布曲線の光電ピーク計数率を求める。
（2）試料の波高分布曲線

標準試料と同一条件で試料の測定を行なレ1標準試料の波高分布曲線の光電ピーク領域と同一領域で光電ピーク計数率または総計教室を求める。
（3）核種療変

試料中の核種濃度は次式から求める。

Ps ・（no）std・（pCi／印㌔またはPCi／g）……・・
Ps tdd1

C ＝C＝試料中の核種濃度（n。）std＝標準試料の全放射能（fLCi）

Pstd＝標準試料の光電ピーク計数率または総計数率

Ps＝試料の光電ピーク計数率または総計数率

Ⅴ＝測定試料の容量（e扁）または重量（g）

4）放射能は1げ￣2〜10￣3 〃Ciが適当である。

−36−

（8−3）

第 9 章 混在核種の分離定量法
試料中に含まれる混在核種の分離定量法忙は核種が既知の場合と未知の場合があゎ．未知の場合は最初にそれぞれの核種の推定を行なわ夜ければならなぃ。
NaI（でl）シンチレーションスベタトロメータによって得られる波高分布曲線は試料中に含まれる核種のそれぞれのr線スペクトルの合成である。一方それぞれのスペクトルにおぃて核種を代表する特徴は光電ピークでそのエネルギーが第1の指標とをる。
したがって試料忙含まれる混在核種の分離定量が可能な場合．次の三つに大別することが出来る。

川試料中に含まれる主な核種が1をゎし2核種に限定され．波高分布曲線に明確なピークが存在
し．容易に核種の同定を行ない得る場合。

ほ）試料中忙含まれる核種が数核種であゎ．それぞれ料互いに同程度の量が含まれ．核種があらかじめ推定されている場合。

（3）核種の半減期が比較的短く（lか月程度）．波高分布曲線中忙明確なピークが認められる場合。
一般に混在核種の定量法として連続分布差し引き法，連立方程式法．スペクトルストリッビング法

備考1）．最小二乗法 備考2），などがあるが，このマニュアルでは連続分覇差し引き法，連立美春
式法について解説する。
備考1） スペクトルストリヅビング法

この方法は測定した波高分布曲線から，これ忙含まれる核種の波高分布曲線恕逐次差し引き．その差し引き量をそれぞれ定量していく方法である。この場合．高いエネルギーのr線は常に低h瓢分に寄与するので．エネルギーの高い㌢線を放出する核種から差し引きを行覆わ夜ければならない。この方法は他の方法に比して客観性に乏しいが．混在誤差は少覆わ。しかし．この方法では数多くの核種のスペクトルデータが必要であるとともに，

かな少の経験を必要とする。せた一般陀．高いチャネル部分の計数は少ないので．統計誤差が大きく低わチャネルに影響する。このため高いチャネルの積分計算（ぜたは部分加算）
恕行なうことが望ましい。

備考2） 最′J、二乗法
この方法はスペクトルストリッビング荘∴連立方程式法を各チャネルの数値全部を用ぃ

もっとも誤差が少なくなる答を得る方法で実際行なう忙は電子計算機忙よらなければ怒ら孜い。

9．1 連立分布差し引き法
連続分布差し引き法は波高分布曲線中に存在する明確なピークに着目し零その面積から定量を行′−37−

なう方法で．あらかじめ着目した光電ピークのエネルギーを8．2によって決定し。核種の同定を行なってかかをければ恵らなレ㌔

一般陀ピーク領域ほ正規分布で代表される光電ピークと他の核種怒らぴによカ高いエネルギーのr轟からのスペクトル寄与から成っている。したがって，定量を行孜うピーク領域からスペクトル
寄与を連続分布として差し引き，目的の光電ピークを求めるのがこの方法である。

この方法による定量は∴標準試料恕用ぃ凌いで光電ピークのみに着目する場合は9．l．1にしたがって．せた試料と同一形状の標準試料がある場合忙は9．1．2陀よって行なう。
9．1．1 光電ピーク㌻計数効寒から求める方法

光電ピーク㌢計数効率を用ぃて定量を行をう場合はあらかじめ光電ピーク㌢計数効率Erpを7．3にしたがって求め、目的核種の核デー・タから定量に用いる光電ピークのr碩エネルギーの放出此（ai）を調べておく。

目的核種の定量は次の宇摩けこよって行なう。
（1）PHAの全チャネル（100〜400チ†不ル）告2〜3MeVになるようにゲインを5．3にしたがって調整する。この際．出来るだけ10KeV／チャネル忙調整する。

ほ）試料を1．000〜10，000秒間測定しその結果を第9．1図の如く片対数グラフ用紙にプロットする。

︵増皿轟音︶桑オナか＼童羞
チャネル番号

第9．1図 試料の波高分布曲線

毒3）グラフには第9．1表にをらって測定条件を記載する。

−38−

第9．1表測 定 条 件

タ 番 号

デ ー

測

日

定

測定開始時刻

測

時

定

間

料

試

名

試料採取日時

測

定

容

試

料

重

試

料

容

積

試

料

形

状

測

定

位

置

検

器

体

出

蓼lH

！

チ

ネ

ャ

ル 幅

ゼロエネルギーのチャネル

ま た はゼロチャ ネルのエネルギーデ ー

タ 処 理 方 法 連続分布差し引き

連 立 方 程 式（4）目的核種の代表となる光電ピークのピークチャネルを n。とし，n。を中心として左右に半
値幅の2倍または3倍の範囲（±／）の両端のチャネルを n。−J．no十／とする。
（7．2参照）（5）iチャネルの計数値Niにつぃてn。一／チャネルからno十ノチャネルまでの総和Pを求
める。

no十J

（9−1）

P＝
．

（6）n。−／−1チャネルおよぴ no十／十lチャネルの計数値をそれぞれ N。．Nbとし，Qを次式によって求める。

ー39−

（9−2）Q ＝（N。＋Nb）（ヱ＋＋）‥・・‥‥・・・‥‥…‥‥‥（7）ピーク面積Npは次式によって求める。
P−Q

Np＝

（9−3）

・‥‥‥‥・‥‥‥・・‥・‥‥‥‥‥・‥‥‥

Fは補正因子（第7．1表参照）

J （8）誤差は次式によって求める。
d Np＝

1′㌻丁盲

（9−4）

（9）以上の計算を行をい．測定結果は第9．2表の如く記載する。

第9．2表

軋

定

結

果

測 定 試 料標 準 試 料Pn。＋Jno ￣ J

F（2ヱ ／r）
Q

NsA＝

NsT＝

差 dNsA＝

dNsT＝

Np
誤

ピークチャネル値（ェネノLギー）

測

定

（

間 tsA＝

時

MeV）

（

tsT＝

光電 ピーク 計数効率 eTP＝
標 準 試 料 の 放 射能

DsT＝㈹ 試料放射能DもAは
DもA＝

（9−5）

NsA l −・ ● −・・・・・一一・・・・・・・・・・・・・・・−・・−・ ●tsA erP ai

で求める。

一40−

MeV）

誤差 ADもAは．AD′sA＝DbA・

dNsA

（9−6）

で求める。

NsA：試料のどーク面積

tsA：試料の測定時間

erp：光電ピークr計数効審 ai：γ線の放出比9．1．2 標準試料の波高分布曲線との比較によカ求める方法
数量既知の標準試料を用意し，次の手順によカ試料中の混在核種の分離定量を行なう。
（1）試料中に含まれる核種について標準試料を4．3にしたがって調製する。

（2）PHAの全チャネル（100〜400チャネル）を2〜3MeVになるようにゲインを5．3
忙したがって調整する。この際出来るだけ10KeV／チャネルに調整する。
（3）試料を測定し．その結果を第9．1図の如く片対数グラフ用紙にプロットする。

（4）標準試料を100〜1，000秒間測定し．その結果を（3）と同様第9．2図の如く片対数グラフ
用紙にプロットする。

︵増皿轟萩︶Jlせ十≠＼轟高
チャネル番号

第9．2図 標準試料の波高分布曲線（5）それぞれのグラフには第9．1表忙ならって測定条件を記載する。
（6）（3）の波高分布曲線に含すれるピーク中，（4）の標準試料と一致する代表的な光電ピークを選び，そのピークチャネルをn。とし．n。を中心として左右に半値幅の2倍せたは3倍の範囲（±J）の両端のチャネル番号を n。−／．n。十／とする。（7．2参照）（7）各チャネルの計数値Niの総和Pを n。−ノチャネルからn。十lチャネルまで求める。
（9−1式参照）（8）n。−／−1チャネルおよぴn。＋J十1チャネルの計数値をそれぞれN。．Nbとし（9−2）
式によってQを求める。

−41−

（9）ピーク面積Npは（9−3）式忙よって求める。
㈹ 誤差は（9−4）式によって求める。
掴 以上の計算を試料と標準試料について行ない測定結果は第9．2表の如く記載する。

個 試料放射能DsA は

DsA ＝DsT●

NsA

tsA

tsT
NsT

・− ‥‥‥‥‥‥・・・‥‥・・‥‥・（9− 7）

で求める。

誤差 ADsAは．ADsA＝DsA・22ぐ慧）十倍）………・（9−8）

で求める。

DsT：標準試料の放射能

NsA：試料のピーク面積

NsT：標準試料のピーク面積

tsA：試料の測定時間

tsT：標準試料の測定時間
9．1．3 測定結果の表示と注意事項
測定結果は∴同定した核種，同定忙用いたr線エネルギー．放射能．誤差および効峯の決定法

を第9．3表の如く表示する。

試料の波高分布曲線に明確なピークが存在する場合は．それぞれ忙ついて該当核種を定量することが出来、そして数本のエネルギーの異なるr線を放出する核種については，それぞれ独立したピークを用ぃた定量結果が一致しなければならをい。

それらの結果が計数誤差の3倍を考慮してもー致しなしつ場合は．この方法を用いてはならない。
試料の測定時間は放射能強度に応じて10，000〜100，000秒間測定することが望せしい。

第9．3表

核

種

測

r線エネルギー 放 射 能

定

結

果

差

誤

効率の決定法

DsA

dDsA

∈rp

DsA

dDsA

標準試料

9．2 連立方程式法
連立方程式による混在核種の定量法は既知の核種を用いてそれぞれの核種の主領域を定め．その主領域に含まれる他核種の寄与を連立方程式を用いて解き．目的核種を分離定量する方法である。
この方法を用いて定量を行なう場合，次の条件が満たされなければならない。

ー42−

糾 試料中に含まれる核種がすべて明確にわかっていること。
（2）試料中に含まれる核種について試料と同…型状の標準試料が用意されていること。

（3）試料を測定する場合の測定条件は標準試料を測定したときと測定時間を除き同…測定条件が保証されていること。

上記の乗降のいずれかが満たされていないか．不充分と思われる場合は．9．2．2の方法によって全計数率値を測定し結果のチェックを行なうか，9．1の方法によって主な核種についてクロス
チェックを行夜う必要がある。また（3）の条件については主としてチャネル幅の変動の割合が0．5
喀以下であることが要求されるので，Na工（Tl）シソチレークの温度変化蓉1℃以下に保つ必
要がをる。

連立方程式法は核種の数が多くをるにしたがって複雑にをる。核種が2パー3核種の場合は比較的簡単であるが，4核種以上の場合は逆マトリックスを用いて行うのが便利である。この際特に注意することはチャネル幅を5．1にもとづいて0．5釘以下の精度で調整する。もし調整が不充分であった勿来調整の場合はチャネル領域を9．2．3によって校正しなければならない。
イ 2核種（Ⅰ−131，Cs−137）を含む試料の例

よう素−1畠1とセシウムー137の標準スペクトル（第9．3図）から雪主領域1）を選び出
レ㍉クグラウンド計数値を差し引いた主領域の計数値をNIトNos．csとし．Cs領域におけるⅠの寄与計数値をNlOs，Ⅰ領域に卦けるCsの寄与計数値をNoslとする。
次にそれぞれの主領域に対する寄与領域の比率を次式忙より求める。
NI．Cs／NI．1：＝RI．Cs ………・・………‥（9−9）
N（〕S．1／Ncs．csニR（〕s．l・…‥‥‥・…‥‥‥‥（9−10）

試料を標準試料と同一条件で測定し、試料計数値からバックグラウンド計数値を差し引いた

総計数をヨウ素−131・セシウムー137の各領域について求め−Ns．1、Ns．osとする。

ヨウ素−131．セシウムー137のみに￡る主領域の計数値NいNcsを次の二連一次方程式
よカ求める。
Ⅳs．工＝Nl＋Ncs・Rcs．Ⅰ‥……・…‥‥‥ （9−11）

Ns．cs＝Ncs十NI．RI．Cs……・・……・…

（9−12）

求めるNl．Ncsは次の行列式となる。

1） この場合寄与領域は他の核種が劇種類であるので一領域を選べばよい。

−43−

Ns．I Rcs．1
NI＝

Ns．cs l……………………‥（9−13）………・‥‥‥‥‥‥‥‥（9−14）

1 Rcs．I
RI．Cs ll Ns．I
RI．Cs Ns．os

Ncs＝
1

RI．Os

Ros．I
l

これよ少

Nl

Ncs＝

Ns．Ⅰ−Rcs．Ⅰ・Ns．cs………………

（9−15）………………

（9−16）

1￣恥s．Ⅰ・RI．Cs

Ns．cs−Rl．Cs・Ns＿1
1−Rcs．Ⅰ・Rl．Csとなカ．NトNos と光電ピーク計数効塞から，それぞれの核種の放射能が得られる04核種（ト131Cs−137．B。−140およぴK−40）を含む試料の例

ロ

各々の領域における計数値よカバックグラウンド計数値を差し引き次の方程式の組合せを作る。
（ト131）

Ns．Ⅰ＝NI＋NB。・RB。．Ⅰ十Ncs●Rcs．Ⅰ十叱・RKI…‥・・・（9−17）（Ba−La−140）Ns．B。＝NI・Rl．B。＋NB。＋Ncs・Rcs．B。＋NK・Ik．B。…・・・（9−18）（Cs−137） Ns．cs＝NI・Rl．Cs＋NBa・RBa．Cs＋Ncs＋NK・RK．Cs・・・・（9−19）（K−40）

Ns．K＝Nl・RI．K＋NBJRB。K項叱s・Rcs K十NK ……‥（9−20）

ここでRはそれぞれ主領域に対する寄与領域の比率で標準試料によってあらかじめ求めておく。

例えば．第9．3（3）図に示すバリウムーランタンー140の例にならって数値を入れると（Ⅰ−131主領域）
Ns．Ⅰ＝1．000NI十0．826NB。＋0．339Nc3十0347叫く …………‥（9−21）（Ba−140主領域）
Ns．B。＝0．O18NI十1・000NBa＋0．194Ncs＋0・229Nk ………・
（9−22）（Cs−137主領域）
Ns．cs＝0・066Nl十0・248NBa十1・000Ncs＋0・306NK………・（9−23）（K−40主領域）

Ns武＝0・000NI十0・125NBa十0・000Ncs＋1・000NK…………‥（9−24）

ー44−

となる。

この連立方程式を解くため忙2）上記の係数のマトリックスAについて逆マトリックスAを作
る。

1．000
仇018

0．826
1．000

0．339 0347
0．194

0．229

A＝

‥‥‥・‥・‥‥‥‥‥

0．066

0．248

1．000

0．306

0．000

0．125

0．000

1．000

1．0271−0．0057−0．7852
1．0789−0．1958−0．1167−0．2074−0．1816

1．0564−026020．02591．0227A＝‥‥‥‥‥−0．0666
0．0007

岬仇1745叩0．1349（9−25）（9−26）

この逆マトリックスから次式が作られる。
NI＝1・027Ns．It O・785Ns．Ba−0・196Ⅳs．cs−0・117Ns．K・…‥‥‥（9−27）
Ntl。＝（川06Ns．Ⅰ十LO79Ns．l．l．．0．207Nバ．（＼−U・182Ns人‥‥‥‥（9−28）
Ncs＝＝＝・叩0067Ns．Ⅰ−0・175Ns．B。十1・056Ns．0＄WO・260Ns．K……‥（9−29）
NK＝−0・001Ns．王−0・135Ns．Ba＋0・026Ns．cs＋1・023Ns．K……‥（9−30）

得られたNI，NBa▼Nos，♪取はそれぞれヨウ素−131，バリウムー137．カリウムー40
のみの主領域の計数値Niである。
あらかじめこの領域についての光電ピーク計数効審だでPをそれぞれのi核種につわて求め
i核種の放射能Diを
DiニNi／（eTt・・t）‥l・‥・・・・・・‥‥‥‥・・・・‥‥

ぐ9−31）

t：計数時間（秒）で求める。
連立方程式によって得られた放射能は予想されない核種が含まれる場合は大幅の誤差を伴うことがあるが．不明核種が存在しない場合には原則的忙いかなるエネルギー領域を選定しても得られた結果が】鼓する。（後述）

2） 連立方程式を解くには、あらかじめ各係数についで逆マトリックスを作ってかくと便利
であゎ，逆マトリックスを作らない4元以上の式の場合には大変な労力がいる。逆マトリックスは計算機（ミニコン′ピューター位で10元式位まで容易に行なえる）を用いて作ることができる。

−45−

0．3朗511＿0．6：済

Ⅹ−Ray

0

軸0

斑）0

1000

1200

波高値
主領域

寄与領域

第9．3（1）図 ヨウ素−131の標準スペクトル−46−

BaKよ・Ray

0．6612

Ⅸ

2

0

1000

200
‖√∴＿＿‥「トー
寄与領域

主舘磯

第9．3（2）園 セシウム 13 7の標準スペクトル

−47−

1オ）0

波 高値

繋￠．ご皇国Ⅹ一Ray

0．029r

（1．000）世2

稲忘＼二﹂uトー≠い＼≠∴＼！l

−A00ー

2．52

A03蒲礫ゝÅヽ丁＼丁
搬）

10（泊

1加

1400

1のO

l…」
寄与領域

（0．229）

l伽

却00

2200
波高値

2一灯0

21弛0

瀬戸∽︵A︶固

ll鴎
●

●

．■

l■

●

●

●

川

世
■I

2

錨
㌫

−料u−

辻二寸卜！料コ3満席ゝ∴ヽ

1l
●

丁＼丁

l u

！

u

口

0

200 t 409

1600

800

1000

1200

1400

1600

1800

2000

2200

Cs−137
寄与領域㌻L計140

寄与領域

ピ竺二∵」
主領域

寄与領域

波高値

2400 2600

9．2．1 連立方程式による混在核種の定量法（‖ 5．3忙したがってチャネルあた少の平均エネルギー幅を10KeVに調整する。
（2）測定試料ならびにあらかじめ推定される核種の標準試料を測定する。測定時間は測定試料につぃては1，000′−10，000秒間を標準とし，必要に応じてその10倍程直の時間をとり，標準試料については主領域の計数誤差が1喀（10，000カウント以上）以下となるように選ぷ。
（3）得られた波高分布曲線は．第9．4図の如く書き．軋定条件に関する内容を図中に入れる。

︵増皿霜夜︶竜骨ヽ十≠＼超志第9．4図

波高分布 曲 線

瑚 推定される核種の主領域を定め．このチャネル領域を第9．4図のA．B．C．D．E‥‥‥の如く示す0それぞれの核種につりてのチャネル（エネルギー）領域は．窮9，4表を参考とし
て定める。

−50−

第9．4表 連立方程式による混在核種の分離定量法に利用されるエネルギー領域の例

核 種

7Iie
22Na
24Na

5 3．61日

エネルギーJ範域

主なr線エネルギー（MeV）と放出比（帝）

半減期

（MeV）

0．39−0．53

0．4774（10．3）

2．5 8年 （0・5110（180））1・2745（100）14．97時間

1．21−1．35

1．3685（100）．2．7539（100）40K

1．25×109年

42K

12．52時間

1．27−1．45

1．460（11）1．39−1．53
1．43−1．61

0．3129（0．2），1．5247（18）46sc

8 3．9 日0・8892（100）．1．211（100）．2．04：Sum 0．81−0．95

51cr

2 7．8 日0．3210（9．8）

027−0．37

54Mn

3 0 3 日0．8348（100）0．75−0．89

57（〕0

2 7 0 日59Fe

4 5．1日60c。

5．2 6年

65zn

2 4 5 日 †0・511（3・4）ト1．1154（49）76As

26．4時間86Rb

18．6 6 日

1．0788（8．8）

0．99−1．17

85sr

64．0日

0．5140（100）0．43−0．57

88Y

10 4 日0．0144（8．4），0．1219（87）．0．1363（11）0．07−0．19

0．1424（0．85）．、0．1922（2．8），0．3348（0．7）
1．03−1．17

1．0993（56．5）．1．2916（43．2）
125−1．39
1．1732（100）．1．3325（100）．2．50：Sum
1．03−1．17

0．5591（44．6），0．657（6．3）．1．2162（3．4）
0．49−0．63

1．4394（0．26），1．79（0．32）．2，0966（0．6）†0・511（1・4）ト0・8980（92）．1・8361（100）0月3−0β72．74：Sum

95zr

6 5 日

0．7242（43）．0．7567（54．6）

0．69−0．83

95Nb

3 5 日

0．7658（99）0．69−0．83

0．0406（6．3）．0．1405（95）．0．1811（7．6）
99M。

0．09−0．19

6 6．0時間

0．3817（0．Ol）．0．7397（14）．0．922：Sum
103Ⅰもu3 9．8 日0．0398（0．07），0．4971（90），0．6103（5．6）
0．43−0．57

106Rh

3 0 秒

0．51180（20．5）．0．61620（0．81），0．62180
0．43−0．57（9．76）−51−

主なr線エネルギー（MeV）と放出比（喀）核 種 半 減 期

エネルギー領域（MeV）

P．6027（98），0．645（8）．0．7228（14）0．9683（1．72）．1．0451（1．由4）．1．3255（1．47）

124sb

1．59−1．81

6 0．9 日1．3683（2．45）．1．45（2），1．6910（45．7）
2．0912（5．2）．2．294：Sum

0．0353（0），0．1764（7．2）．0．4279（30．4），

125sb

2．0年

0．37−0．49

0．4634（10．7），0．6006（18．1）．0．6359（11．5）
0．0802（2．6）．0．2843（5．4）．0．3645（82），131Ⅰ

8．0 8 日0．31−0．41

0．637（6．8），0．723（1．6）
0．3753（1．5），0．5692（14）．0．5631（8）．
134〔】s

2．0 7年

0．73−0．87

1．1677（1．9），1．3650（3．4）

1370s

3 0年

0．66160（86）0．59−0．73

0．0532（1．95），0．0810（36）．0．2763（7．5）．

133Ba

7．2年

0．3027（19．6），0．3559（67）．0．3837（9．4），
0．436：Sum

0．030（11）．0．1627（6）．0．3049（6），140Ba

0．43−0．57

12．8 日0．4238（5），0．4376（5）．0．5373（34）141（〕e3 3．1日14−4ce2 8 5 日0．1454（48）0．09−0．19

0．0336（0．15）．0．0409（0．5）．0．0534（0．09）．
0．09→0．19

0．0801（1．54），0．1335（10．8）
0．0911（30）．0．1967（0．1），0．2754（1．5），

147Nd

11．06 日0．45−0．59

0．4398（1．9）．0．5310（15）．0。6859（1）
198Au

203Hg

2．697 日4 6．9 日0．4118（95），0．6759（1）．1．0877（0．2）
0．35−0．49
0．2791（77）−52−

0．21−0．35

0．31−

（5）試料の測定結果の数値は．バックグラウンド計数値を差し引き。第9．5表の如く示す。

第9．5表

測

チ ャ ネ ル領域

定

結

果

計 数 値

誤

差

（6）推定される核種については．主領域の計数値を1とし．他の寄与領域の割合を算出する。
（7）推定される核種につぃて，お互いの寄与係数を第9．6表の如く示す。
（8）（7）の逆マトリックスを第9．7表の如く示す。

第9．6表 寄 与 計 数

第9．7表 第9．6表の逆マトリックス（9）試料の各領域の計数値と第9・7表の逆マトリックス係数k言を用いてt試料中に含まれる核種の主領域の計数値を算出する。i核種の主領域の計数値は各主領域jの計数置をNj とし・ヱkijNjで求めるoJ㈹ 主領域の計数効率をそれぞれの核種について第9．8表の如く示す。

ー53−

第9．8表 主領域の計数効率

核 種

主領域

計 数 効 率aA

￡でP（a）b

B

己でP（b）e

C

eでP（e）

■

■

●

●

■

■

●

●

●

●

1■

●

●

●

●
●

●

●

●

●
●

●

掴 計数値の誤差計算法，チャネル嶺域の計数値をNとすれば．1′亙として記載する。

絹 枝種aの主領域の計数値NaはtNaニk諒Å・NA十k詭・NB十k云6・No十k瓦5・恥十…………

（9−32）

で求める

縛 計数誤差 dNaをま
dNa＝

k左ふ2（Nl十BA）十k左右2（N B十BB）十…………‥（9−33）

で求める。

！転●，！毎−：i核種のチャネル領域におけるバックグラウンド計数値を含む計
数値

軋，BB3）：i核種のチャネル領域におけるパックグラウンド計数偲8ヰ 核種aの放射能 払は，DaニN乱／（だTP（a）・t）・‥‥…‥‥・…・…・‥‥‥‥‥‥‥‥・（9−34）

誤差dDaは，±dNa／（gTP（a）・t）で求める。
9．2．2 連立方程式法における全計数率チェック

連立方程式法によって求めた推定核種の量は，推定核種以外の不明核種が存在しない場合にはチャネル領域をどのよう把選んでも，標準試料の合成スペクトルと鵬致する。したがって，連立

3）バックグラウンドと試料の測定時間は同じであること。

−54−

方程式法によって求めた推定核種の量に相当する標準試料の全エネルギ・一領域の積算値をそれぞれ求めた推定核種の量について加え合わせたものは，試料の波高分布曲線の全エネルギー領域の積算値と一致しなければならない。この両数値の差が計数誤差の3倍を超える場合は，この方法
忙よって求めた数値を採用してはいけない。これを連立方程式法における全計数率チェックという。このチェックは，次の手順によって行う。

（1）推定核種の標準試料につぃての波高分布曲線の全計数率値Nゝiを求める。
（2）標準試料の放射能を叫（〟Ci）とし，単位放射能（FLCi）当bの全計数率値NTiを

NTi＝N Ti／D i………・・・・………‥（9−35）

で求める。
（3）9・2・1によって得られた試料中に含まれる推定核種の放射能を Diとする。

（4）試料中に含まれる推定核種の全計数審値NTは

Nで＝ぞNTi巧……………・（9−36）で求める。

（5）計数誤差dNT4）はJNl、￣こギ（NTi・dNi／Ni′・Di）2 l（6）試料の全計数率値Nlを求める。
（7）N TとN Tの差が計数誤差の3倍を超える場合は，このチェックが不合格となる。
9．2．3 チャネル領域の校正法

一般にr線スペクトルを表現する方法として，チャネル番号を検出体内で吸収されたエネルギ
ー換算して表わす。これはお互いの結果を比戟する場合に便利である。r線スペクトロメータによって得られたこれらの測定結果は測定器の保守，取扱い，周細温度頂どによカ同一試料の繰り返し測定を行っても必ずしも一致した結果が期待できなぃし，また，他の測定機器によって得られた結果と比較する場合も，それぞれの測定器の特性（基準点，直線性），測定条件（チャネル幅，測定時間）が異なるため問題があゎ，これを統一するのがチャネル領域の校正である。
特忙連立方程式法によって核種の定量を行う場合には，チャネル領域の厳密な校正が必要である。
次にこの校正法を示す。

試料を測定し，この結果得られた波高分布曲線またはこれと同条件で測定した標準試料の波高4）ここで，dNT≫・dN，rrー55−

分布曲線から既知の㌻線エネルギーのピーークチャネル値を5．5の方法忙よって求める。これらの値から2点用い，その中間または近傍領域について内挿または外挿によってチャネル番号とエネ
ルギーの関係を求める。5．1によって得られたチャネルとr線エネルギーの関係が非直線の場合

は3点を用い，二次式によって求めることが望ましい。
一般式としては，第9．5図の如く得られた波高分布曲線からピークチャネル値Pl，P2，P3‥…・Piを求め，そのエネルギー，チャネル番号をそれぞれEl，E2，E3……Ei，nl，n2

n3 …… niとする。また求めるエネルギ・一領域を〔EL，En〕，チャネルを〔nL，nn〕とする。

今エネルギー領域の下限ELおよび上限EnがE2，E3 間にあった場合には，内挿法によって次式によってnl」，n。を求めることができる。

E2＝kn2＋dn●●＿38）
E3＝kn3＋dn●ー
＿39）
一40）

Enニknn＋』n・・
一41）

樹轟十畔

軋＝k叱十両●●すなわち（9→38），（9−39）式よカk，』nを求め（9−40），（9−4りにk，dnを代入すること
第9．5図 波高分布曲線によって得られる。
せた，二次式で行う場合には，

El＝knミ＋kfnl十An…………‥（9−42）

E，＝kn㌔十k′n2十An…………‥（9−43）

E，＝knち＋k′n，十An…………‥ （9−44）
せたは，E2 ＝1m22十k′n2十dn…………‥（9−45）

E，＝kn32＋k′n，十An…………・・（9−46）

E4 ＝knヰ2十k′n4十dn…………‥（9−47）のいずれかによってk，k′，dnを求め
EI，＝knLF十k′nL十An…………‥（9−48）

En＝knn2＋klnn十An…………‥ （9−49）にk，k（・Anを代入してnL・nnを求める0−56−

このエネルギー領域の計数値を求める方法で軋nLを切力上げたチャネルnI二から，n。を切力捨てたチャネルnnまでの積算値にnL，nnの端数の計数値を加えなければなら帥。端数の計数値はそれぞれ切
わ上げ，切b捨てたチャネ｝し数の補数値（0・1を切り捨てた場合0・1沌AnL・Annとし，nL／，nn′，nLLl

nnllの計数値NL′，Nnl，Nl！pl，Nn′十1とすれば次式によb端数の計数値が求められる。
ヱnL′N＝NL′×dnL＋ n

NLll−NL′

×dnゴー‡Nト÷Nこ嶋1

L

愕N＝Nn′×dnN十（NJ十1−NJ）×dn品×÷−かバーナ咄＋1

これを∑：二：Nに加算すれば，
ELよカEnのエネルギー領域間の計NLニl

数値が得られる。すなわち∴

Nは，

堵N＝∑nL′N十帯N十∑ニか

nL

となる。

このように校正されたチャネル領域は，
r線エネルギーで表わされた場合，標準試料を含め多くの試料につlハて共通して使用することができる。

′

nLll

A nL nL
nL4）括弧内はマイナス忙なる場合もある。

ー57−

n

l

n

＋

n

n

……（9−52）

記録お よ び報告

第10章
10．1 測定上の記録

測定に際しては，次の項目についてそれぞれ記録しておく必要がある。

1．測定装置（増巾器，高圧電源，波高分析器など）
製造社名，型式，全チャネル数，記憶容量，データ一読み取タカ式など。
2．NaI（Tl）検出器
製造社名，シソチレークー（寸法，JISまたは型式），光電子増倍管（型式，寸法），前置
増幅器，しゃへい体（厚さ，寸法，材質）
3．測定条件

試料番号，測定年月日，試科名，試料形状，試料重量または容量，試料容器，測定開始時刻，
測定時間，測定位置，高圧印加電圧，増幅度（ゲイン），ノミルス波型，使用チャネル，チャネル
幅，データー処理方法などである。

10．2 報告様式
報告様式の一例を次に挙げる。

ー58−

r線スベクト ロメトリー忙よる核種分析結果

波高 分析装置検出

し ゃ へ い 体

器

NaI（Tl） tt￠×

昭和

年

月

日

分解能 痴

JIS

捜当機関名
m厚

材 質
Ⅴ

設
定

塾

社製

増 幅 度 COARSE

主任担当者

FI．NE
KeV／chチ ャ ネ ル幅

担 当 者

eh

置

試料名

測 定

採 取
年月日

お よ び
2） 試料の形状

供試量

r線エネ
ルギー

測 定 年月日 領 域

処 理 法

光電ピーク
のチャネル

放射能濃度

データー

領

生または上

解析法

域

pCi／kg

荘1）採 取2）雪ぎ浣思量：試料の物性，供した試料の部位および未処理，風乾，灰化処翫どの別を記入すること0
3）検 出 核 種：核種の同定の具体的な手法を備考欄に記入すること0

備考

附表 原子力発電所よぅ環境へ放出される可能性のある核種
1．海水中に放出される可能性の2．空気中に放出される可能性の

ある核種

ある核種

核 種

半減期

生 成

核 種

半減期

生 成

3H

12．2 6年

A

3H

12．26年A

51C,,,

2 7．8日C

41Ar

1．83時間

A

54Mn

303日

C

85Kr

10．76年F

5 9 F,

4 5 日

C

85mm
Kr

4．4時間

F

58 C,,

71．3日

C

87Kr

7 6 分

F

60c。

5．26年

C

88Kr

2．8時間

F

65zn

245日

C

89sr

5 2 日

F

8 9 Sr

5 2 日

F

90sr

28．1年

F

90 Srr

28．1年

F

131Ⅰ

8．0 5日F

9 9 Tc

2．12×105年

F

133Ⅰ

21時間

F

131Ⅰ

8．0 5日

F

1351

6．7時間

F

134cs

2．07年

F．A

133Ⅹe

5．27日

F

137cs

3 0 年

F

135Ⅹe

9．2時間

F

135mm

15．6分

F

138Ⅹe

17 分

F

134cs

2．07年

F．A

137cs

3 0 年

F

A：A CTIVATIONⅩe

C：CORRO SION
F：FIS SION−60−く1）ペリリウムー7

2

」J1

ニ
5

肯く 軒一
2

（2）ナトリウムー22103
50 200 400 600 帥010001200
波 高 値

0 か0 400 （耕） 舗l㈱12（氾1勧￠16001舗：玖）0 怒00 24朕）釦
波 高 値（3） ナトリウム1−24

0 200 棚 鎚0 紺01㈱ほ0014α）l醐1弼2開0；空0024（拇

波 高 値

ー61−

（4） カリ ウ ムー 40

ヽ
ヽ
ヽ
ヽ

■

トー甑L鋸09y）1盈cl佃1・5β−）1．強＼牒弼104仏OCa

l

世

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1

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3

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ニ犯0 400 q）0 800 1㈱1餌〕1柵 16（泊18咲）幻00 2却0 2畑 2鋤）
波 高 値（5） カリ ウ ムー 420 オ）0 劇0＋櫛0 800 1抑1加14）01㈱1弧）鋤JO：慧00 錐0
波 高 値（6）スカンノウムー 46
88圧i

■一
■−t l
＼ノ

I

−（4＋） β鼎）β−100節減
轟6
Tc

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（SumO．脚＋1．1）
×10
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l

0 加 亜O q弛 躯）10（カ12住）l購1翻〕1紬0 ；畑山 2釦b 2朋）
波 高 値

−62−

（副 マ／ガン／… 54（7）クロムー 51

司 0錠i5ーー

0 2〔田 畑（耕）8α）1（咲）1加14（氾1躯）

0 200 400 （耕） 醐 l（拙1加

波 高 値

波 高 値

（10） コバルトーー57（9）鉄− 59
1．098
0．191
1』労
2
■一

ヽ

l l

l

1 1

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3 10
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1

1佃nl

0 加 400 鋤〕 鎚氾1∝出1200

0 200 400 ㈱ 800l00012∝）14（氾

扱 高 値

波 高 値

ー63−

桐 コバルトー60

鋤 亜 鉛一−65

薯

！

刑

消滅放射線

′ l l ′ ヽ ′ 1 ＿」 「 ー， l，■rヽ」＿ 1 ーー
1

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．濾5榊 欝至芸感一346 むセー 0
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波 高 値

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200 400 600 80010001200

波 高 値

拍 ヒ 素−76

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0 加 柵 舗 湘 1㈹ ルビジウム仙86⊥20lの012∞14粥16押1郷 餌 …200 鋤2髄

波 高 値

0 卸 400 ㈱ 弧）1昭）1却
波 高 値

−64−

拍 スr ロ／チウムーー85㈹ イ ットリウムー 88

「

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l

L835

2．E魂窟も45 0＋8 srO

2

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仙l 但905＋L835）

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十㈹1

l

0謝4伽柑）柵1㈱は001400180018師2蜘0芸伽2400
波 高 値

0 加 榔 鰍）鋤10∝）1加
波 高 値

住専 モリブデンーー99

桐ジルコニウム十ニオブー95■t

0 200 400 珊 瑚10001郵
政高値

訓 400 600 800 l㈱ 1灘
波高値

一65−

r19）ノしテーーウム103

⊃

フ

4

伽（57m〕

5

2

3

5.

2 2

0

鰍） 亜0 00 狛）l〔灯）1加波 高 値

eα ルテウム＋ロノウム 106

H 一卜‡‡ 十−■ ′h￣ 圭l用川

0 200 400 ㈱ 柵l（郁1加14（拍1∽018α）帥 2a氾24002騨
波 高 低位1）了ンチキンー124

2

105
5

撃
2

童

104
5

2

103

U 2拙）1冊−）r柑）800l（根ノ1鎖∫）14醐l姐）1打※〕公租〕現出 飢（ガ2㈱

爽 ．持

脚66−

値

ヨ ウ 素−131eカ アンチモンー125

13l
1く邑紘dう

10

波 高 値

波 高 値

鋳 セシウム一里37

伽 セシウム榊134

臼眉
5

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波 高値
波 高 燵

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u H i l0 説）4彿 碍）圭珊1㈱1鋤断りバリウム ㍉140

餌 バリウムー133
133Ba（て2う

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土壌および海底堆積物の波高分布曲線の一例

附図2

附図2 土壌および海底堆積物の波高分布曲線の一例（l）土壌の波高分布曲線（例）＞
芸年月日 47年2月1日 氏名＿宅

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チャネル番号200

器童基準マリネリピーカ

考文部科学省放射能測定法シリーズ
1．全ベータ放射能測定法

昭和51年 9月（2訂）2．放射性ストロンチウム分析法

昭和58年12月（3訂）3．放射性セシウム分析法

昭和51年 9月（1訂）4．放射性ヨウ素分析法

平成 8年 3月（2訂）5．放射牲コバルト分析法

平成 2年 2月（1訂）6．NaI（TI）シンチレーションスベタトロメータ機器分析法

昭和49年1月

7．ゲルマニウム半導体検出器によるガンマ線スぺクトロメトリー
平成 4年 8月（3訂）8．放射性ジルコニウム分析法

昭和51年 9月

9．トリチウム分析法

平成14年 7月（2訂）10．放射性ルテニウム分析法

平成 8年 3月（1訂）11．放射性セリウム分析法

昭和52年10月

12．プルトニウム分析法

平成 2年11月（l訂）13．ゲルマニウム半導体検出器等を用いる機器分析のための試料の前処理法

昭和57年 7月
14．ウラン分析法

平成14年 7月（2訂）15．緊急時における放射性ヨウ素測定法

平成14年 7月（1訂）16．環境試料採取法

昭和58年12月

17．連続モニタによる環境γ線測定法

平成 8年 3月（1訂）18．熱ルミネセンス線量計を用いた環境γ線量測定法

平成 2年 2月（l訂）19．ラジウム分析法

平成 2年 2月

20．空間γ線スペクトル測定法

平成 2年 2月

21．アメリシウム分析法

平成 2年11月

22．プルトニウム・アメリシウム逐次分析法

平成 2年11月

23．液体シンチレーションカウンタによる放射性核種分析法

平成 8年 3月（1訂）24．緊急時におけるガンマ線スベタトロメトリーのための試料前処理法
平成 4年 8月
25．放射性炭素分析法

平成 5年 9月

26．ヨウ素−129分析法

平成 8年 3月

27．蛍光ガラス線量計を用いた環境γ線量測定法

平成14年 7月

28．環境試料中プルトニウム迅速分析法

平成14年 7月

NaI（Tl）シンチレーションスベタトロメータ機器分析法

昭和49年1月
制定
昭和52年11月1日 第1刷 発行
平成15年 8月29日 第8刷 発行
発

行

所

財団法人 日 本 分 析 セ ン タ ー〒263−0002 千葉県千葉市稲毛区山王町295−3
電話（043）423−5325（代表）（043）424−8663（直通）F A ‡（043）423−4071