DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

航空用機器の EMC — DO-160G の概要
Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電株式会社 e・オータマ 佐藤智典

2020 年 11 月 30 日

目次

1

概要

1

概要

1

RTCA DO-160G[1] は RTCA†1 が発行した航空2

雷誘導トランジェント・サセプティビリティ
2.1 機器のカテゴリ . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2 基本的なセットアップ . . . . . . . . . . . . .
2.3 ピン注入試験 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.1 校正 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.1.1 直接注入法 . . . . . . . . .
2.3.1.2 ケーブル誘導法 . . . . . . .
2.3.1.3 グランド注入法 . . . . . . .
2.3.2 試験 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.4 ケーブル・バンドル試験 . . . . . . . . . . . .
2.4.1 ケーブル誘導試験 . . . . . . . . . . .
2.4.1.1 検証 . . . . . . . . . . . . .
2.4.1.2 試験 . . . . . . . . . . . . .
2.4.2 グランド注入試験 . . . . . . . . . . .
2.4.2.1 検証 . . . . . . . . . . . . .
2.4.2.2 試験 . . . . . . . . . . . . .
2.5 補足 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.5.1 波形のレベルの測定 . . . . . . . . . .
2.5.2 試験電流波形の比較 . . . . . . . . . .

2
2
2
4
4
5
5
6
6
7
8
8
8
14
14
14
15
15
16

機搭載機器の環境条件や試験法を定める文書である。

3

静電気放電 (ESD)
3.1 ESD 発生器 . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2 試験 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

16
17
17

4

参考資料

18

RTCA は主に航空機や関連機器の製造業者や関連機関などが加盟する非営利団体であり、FAA (米国連邦航空局) の支援を受けており、また FAA の諮問機関の 1 つとなってはいるものの、それが発行した文書が直接法的な効力を持つわけではない。だが、FAA が基準として DO-160G を受け入れる [4] 、国土交通省航空局の「装備品等型式及び仕様承認に係る一般方針」[5] で DO-160 が参照されるなど、これは航空機搭載機器に対する基準として広く用いられている。
また、RTCA は欧州で同様の活動を行なっている EUROCAE†2 と連携しており、EUROCAE ED-

14G は DO-160G と整合している。
本稿ではこの DO-160G の要求事項のうち、22 章の雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び25 章の静電気放電の影響の要求について解説する。
なお、本稿はその内容全てをカバーするものではなく、また正確であるとも限らないので、正確な情報は当該の規格そのもの [1] や関連する公式な文書を参照されたい。

†1 旧称 Radio Technical Commission for Aeronautics;
https://www.rtca.org/†2 European Organisation for Civil Aviation Equipment;
https://www.eurocae.net/

1

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

響も顕著となる†4 と想定され、このような場合は波雷誘導トランジェント・サセプ

2形セット B、D、F、H、及び K が適用される。

ティビリティ

標準的な試験法や試験レベルとの相違がある場

DO-160G の 22 章で述べられている雷誘導トラ

合、ピンやケーブル・バンドルによって異なる試験

ンジェント・サセプティビリティの要求は、雷の間法や試験レベルを適用する場合などはカテゴリ指接的な影響によって配線上に生じるトランジェント

定では “Z” で示す。この場合、耐環境性評価記録(過渡妨害) の影響の評価を意図している。

(environmental qualification form) †5 、及び/もし
くは耐環境性評価記録報告書 (environmental qual-

ピン注入試験とケーブル・バンドル試験の 2 つの試験があり、ピン注入試験 (§2.3) は主に耐損傷性

ification report) に、またおそらくは試験計画書にの評価を、またケーブル・バンドル試験 (§2.4) は主も、具体的な試験法や試験レベルを示すことが必要に機器の機能への影響 (誤動作の起こしにくさ) のとなるだろう。

評価を意図している。
雷の直接的な影響は DO-160G の 23 章で別途カ

2.2

バーされ、この試験では考慮されない。†3

基本的なセットアップ

EUT はこのシリーズの Part 1[6] の「基本的なこの試験で用いられるトランジェントは 23 章のセットアップ」で述べたようにセットアップする。

試験で用いられるもののように激烈なものではないが、それでも人の感電による傷害や死をもたらす可EUT はグランド・プレーン上に置く。EUT とグ

能性が、また絶縁の破壊や部品の破裂などに伴う事

ランド・プレーンとの接続には EUT の設計や設置指示に含まれているもののみを用いる。

故を引き起こす可能性が考えられるレベルのものと製造業者がそのように指示している場合、EUT

なるため、事故の防止のための適切な配慮が必要とは衝撃・振動アイソレータ (例えば防振ゴム) が組みなる。

込まれた取付台†6 に固定し、取付台に接続ストラップが含まれていればそれをグランド・プレーンに接

2.1

機器のカテゴリ

続する。取付台に含まれていない接続ストラップを試験セットアップで用いてはならない。

適用する試験波形セットと試験レベルは図 1のよ

EUT の接地のための接地端子がある場合、設置

うな 6 文字のカテゴリ指定で表現される。

指示書で指定された長さ、あるいはその指定がない

適用する試験波形は、想定される主な結合メカニ
ズムとケーブルがシールドされているかどうかかならば 30 cm 程度の接地線でグランド・プレーン

ら、また試験レベルは想定される設置環境から決定に接続する。

される。

ケーブル・バンドル試験では、相互接続線、ケー

機器やケーブルが機体の金属で覆われた部分に設

ブル・バンドル (線の束)、RF 伝送線路は該当する

置される場合は開口の影響が支配的となるものと想設置図に従う。ケーブルは航空機への設置の際と同定され、波形セット A、C、E、G 及び J が適用さ様の形で束ね、航空機への設置を代表するものとしれる。

てより高い位置が指定されない限り、ケーブル・バ

これに対して、機器やケーブルがカーボン・ファンドルの下端がグランド・プレーンから最小 50 mm

イバ複合材のような高抵抗率の部分の内側に設置さとなるようにする。これと異なる指定がない限り相れる場合は開口の影響に加えて機体の電気抵抗の影互接続線の長さは 3.3 m 以上とする。また、実際†4 雷に伴う電流が機体を流れた時、期待の部分間に顕著な電位差が生じることが予期される。
†5 環境試験がどのように行なわれたかを示すもので、DO-160Gの Appendix A で述べられている。
†6 航空機搭載機器は、保守を容易にするために、ラックに防振ゴムなどで固定された取付台 (トレー) に固定されることも多く、また他の機器への配線が取付台に備えられたコネクタを介して接続されることも多い。このような場合、取付台が機器のEMC に影響する可能性が予期されるため、実際の設置で使用する取付台を含めて試験することが適切と考えられる。

†3 [10] によると、航空機は平均で 1000 飛行時間に 1 回程度被雷し、2013 年には 54,900 件程の雷関連の事象が発生している。雷は稀な事象ではなく、従って航空機は飛行中に雷撃を受けても安全が損なわれないことが求められる。機体の外部に取り付けられる設備は雷の影響を直接受ける可能性があり、従ってその影響の考慮が必要となるが、多くの電子機器は金属の機体で保護されており、そのようなものでは雷に伴う間接的な影響が主な懸念となる。

2
अĉਈਉ


̅คअĉਈਉ

ఆąਈਉ

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

B 3 G 4 L 3ఆą ਈਉఆ༅

ਈਉఆ༅

ఆ༅

ଅఈ

3/3

A

ԉ̅ഇЅ

B

ԉ̅ȆȆഇЅ

Zईଅคअఆ༅ਈਉ

4/1

5A/5A

 ̅คअĉਈਉఆ༅
ఆ༅ 

ഇЅ
ԉ̅

ȆȆ

ਈਉఆ༅


̅ค

अĉ

1

2

3

4 5A 6

C
D
E
F
G
H
J
K
Z

ईଅคअఆ༅ਈਉ

 अĉਈਉఆ༅
ଅఈ

ఆ༅
L

༄คअ

M༄

Z

ईଅคअఆ༅ਈਉ

ਈਉ
1

Ȉ༄ଈЇࠅ

2ਇฅ༄ଈЇࠅ

3༄ଈЇࠅ

4, 5̅؉ࠇЇࠅZคਈਉ

図 1: 雷誘導トランジェント — カテゴリ指定

3

ਈਉఆ༅
1

2

3

4 5A 6

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電の設置で非常に長いケーブルが使われるとしても、

2.3.1

試験でのケーブル長は 15 m 以下とすることが推奨

校正

試 験 法 に 応 じ て §2.3.1.1〜§2.3.1.3、ま た図 3される。

〜図 5のような構成で、出力 (スイッチとして示し

機器の仕様でこれと異なる指定がない限り、EUTている) を開放とした状態での開放電圧波形とレベと LISN (このシリーズの Part 1[6] 参照) のあいだルが要求 (表 2) を満たすようにトランジェント発の電源リード (また、ローカル接地でない場合の電生器を設定し、その時の電圧波形のパラメータと源リターン線) の長さは 1 m 以下とする。ローカ

レベル、及び発生器の設定を記録する。

ル接地 (1 m 以下の導体での機体への接続) の場合、

さらに、その設定のままで、出力を短絡とした状

該当する設置図面などに従って電源リターン線をグ態で電流のレベルが要求を満たし、また短絡電流波

ランド・プレーンに直接接地して良い。

形の全体的な形状が維持されていることを確認し、電源リードと電源リターン線が通常は他の配線とその時の電流波形のパラメータとレベルを記録する。

束ねられる場合は分ける必要がある箇所まで束ねた

この測定は、試験で使用するそれぞれの試験波形ままとし、その他の場合は EUT の近くで他の配線とレベル、また双方の極性について行なう。

の束から分けて別に引く。

開放電圧波形と異なり、短絡電流波形の形状は許アンテナ・ケーブルは、ケーブルの特性インピー

容幅に入らなくても良いが、その波形にできる限りダンスと等しい負荷、あるいは実際のアンテナの特

近付いものとなるべきである。

性を模擬するシールドされた疑似空中線で終端して二重指数波形 (電流波形 1、及び 5A) について良い。

は、規定よりも短い立ち上がり時間、あるいは長い
持続時間の短絡電流波形は許容できる。持続時間が2.3

規定値 −20 % よりも短い場合、その時間での電流

ピン注入試験

のレベルが規定されたピーク電流の 50 % となるよ

ピン注入試験では、主に雷からの誘導に伴うト

うに試験レベルを上げることが推奨される。また、ランジェントを受けた時の耐損傷性の評価のために立ち上がり時間が規定値 +20 % よりも遅い場合、EUT の端子にトランジェントを印加する。

その時間で規定されたピーク電流に達するように試験レベルを上げることが推奨される (図 2)。

試験法としては• 直接注入法• ケーブル誘導法• グランド注入法
100 %の 3 つが示されており、直接注入法は信号や電源のピンの、ケーブル誘導法やグランド注入法は電源のਇค؆ԉ‫܇‬/̆ഇ؆ԉԉ

ピンの試験のための使用が意図されている。
適用する試験波形は想定される主な結合メカニズ

50 %ਇค؆ԉԉ

ムから、また試験レベルは想定される設置環境から決定される。(表 1, 表 2)。

A (開口結合)3/3, 4/1

B (開口及び抵抗結合)

3/3, 5A/5A

0

表 1: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 — 波形
セット

±20%

試験波形
69 µs

波形セット

6.4 µs̆ഇ؆ԉ‫܇‬

図 2: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 — 電流波形による試験レベルの補正 (電流波形 1)

4

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

波形 3 / 3

波形 4 / 1

Voc (V) / Isc (A)波形 5A / 5A

Voc (V) / Isc (A)Voc (V) / Isc (A)
100 %

100 %

100 %

Current Waveform 5Aÿÿÿÿÿÿÿ ÿÿÿÿÿ ÿ

Current Waveform 1

50 %

50 %

50 %
0

1

2

3

4

5

Voltage Waveform 5A±20%

120 µs

±20%

0

69 µs

レベル

0

6.4 µsVoltage Waveform 3
Current Waveform 3

40 µs

Voltage Waveform 4

f = 1 MHz (±20 %)1

100 / 450 / 1050 / 502

250 / 10125 / 25

125 / 1253

600 / 24

300 / 60

300 / 300

41500 / 60

750 / 150

750 / 750

53200 / 128

1600 / 320

1600 / 1600

振幅の許容差は +10 %, −0 %表 2: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 — 発生器の設定

2.3.1.1

直接注入法


؉‫܅‬図 3のように、トランジェント発生器の出力を適切なパワー・ブロッキング・デバイスを介して接続؇ԇ؅する。
パワーブロッキング・デバイスは、試験対象のピ؉ആ

ンに現れる電圧、すなわち試験時に用いられる電源の電圧や EUT の信号ピンに現れる電圧を阻止しな

がら試験で印加されるトランジェントを通過させられるようなもので、典型的には、




†7

• 波形 3 — コンデンサćआȆȅ ༏༏

• 波形 4、及び 5 — 無極性トランジェント・サ

図 3: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (直接注入法) — 校正セットアップ

プレッサ (バリスタなど) †8を用いることができる。

2.3.1.2†7 コンデンサは、試験対象のピンに現れることが予期される電圧を確実に阻止できる絶縁性能、印加されるトランジェント
を通過させられる静電容量の、そのトランジェントに耐えられるであろうものを選択する。波形 3 のトランジェント発生器の実効出力インピーダンス (開放回路電圧と短絡回路電流の大きさの比率) は 25 Ω であるが、0.1 µF のコンデンサで 1 MHz で
1.6 Ω (25 Ω の 6.4 %) 程度、0.33 µF のコンデンサで 1 MHz
で 0.5 Ω (25 Ω の 2 %) 程度のリアクタンスとなり、例えばこの程度の容量のクラス Y2 のコンデンサが適当かも知れない。
†8 このトランジェント・サプレッサは、電源電圧を阻止し、かつ印加されるトランジェントをできる限りそのまま通過させられるように、電源電圧のピークで導通しないものでなければな
らず、かつ印加されるトランジェントの電圧よりも充分に低い電圧で導通することが望ましい。だが、電源電圧が高く、試験レベ
ルが低い場合は特に、所望の波形の達成はかなり困難かも知れない。

ケーブル誘導法

図 4のように、電源リードに結合用変圧器を取り付け、トランジェント発生器の出力を結合用変圧器
を介して結合させられるようにする。
電源の出力には、印加されたトランジェントの経路となるバイパス回路として、適切な特性のコンデ

5DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

ンサを並列に接続する。†9†10

 



 


؇ԇ؅؇ԇ؅؉‫܅‬؉ฆ )(؉ആ

ഇЅԇअ‫܅‬؅؉ฆ
؅ഈ


؅ഈ




ഇงअ‫܅‬؅
(ACࠅЅ)ഇงअ‫܅‬؅( ࠅЅ)図 5: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (電源ピン、
グランド注入法) — 校正セットアップ

図 4: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (電源ピン、
ケーブル誘導法) — 校正セットアップ

1. 試験法に応じて図 6〜図 8のような構成で、試験対象のピンと電圧の校正が行なわれたポイン
グランド注入法

2.3.1.3

トを短いワイヤ (5 cm 以内) で接続する。

図 5のように、出力をフローティングとした電源

実際の設置でシグナル・グランドが機器の外側のグランド線に割り込むような形でトランジェント

で接地される場合、試験でも接地する。†11

発生器を接続することで、電源ラインにトランジェ

2. EUT の電源を入れる。

ントを重畳させる。
電源の出力には、印加されたトランジェントの

通常は周辺機器は接続せず、従って EUT は完経路となるバイパス回路として、ケーブル誘導法

全な動作状態とはならないかも知れないが、こ(§2.3.1.2) と同様に適切な特性のコンデンサを接続

れは差し支えない。

する。

但し、ポートの状態 (例えばデジタル出力ポー

この試験法では、ケーブル誘導法 (§2.3.1.2, 図 4)

トがハイとローのいずれとなっているか) が試と異なり、試験時には EUT の電源電流もそのまま験の結果に影響することが予期されるような場

トランジェント発生器を通過することに注意が必要

合、試験の結果が厳しくなるであろう状態で、である。

あるいはそれぞれの状態での試験を考慮すべきかも知れず、試験時にそのような状態とするた
めには特別なソフトウェアが必要となるかも知

2.3.2

試験

れない。

それぞれのピンに以下のようにトランジェントを

3. 校正 (§2.3.1) で同定された設定で、1 分以下の印加し、損傷を生じないことを確認する:

間隔で、トランジェントを 10 回印加する。

4. さらに、トランジェントの極性を逆にして、同†9 例えば 1600 A の電流波形 5A を流した時にコンデンサの様に試験を行なう。

両端に現れる電圧を充分に抑えようとすると 10 000 µF 程度以上のコンデンサ (これでもコンデンサの両端に ±20 V 程度の電圧が現れるかも知れない) が必要となるかも知れないが、電源がAC の場合はこのような大容量のコンデンサを用いることはできない。従って、このようなトランジェントに対してはコンデ
ンサと並列に接続したトランジェント・サプレッサをトランジェ
ントの主な経路として用いることになりそうである。トランジェ
ント・サプレッサについては †8も参照。
†10 適切なバイパス回路を入れた場合でも電源に相当の電流が流れ込む可能性が予期され、これが問題となる可能性がある場
合、電源の出力へのインダクタやフィルタの追加などの考慮も必要となるかも知れない。

†11 例えばそのポートがフォト・カプラなどで絶縁されているような場合、フローティングの状態ではトランジェントに問題なく耐え、だがそのポートの片側のピンを接地した状態でもう一方のピンにトランジェントを印加した場合はフォト・カプラが焼損するかも知れない。従って、このようなポートをフローティ
ングの状態のみで試験したのではトランジェントへの耐性を適切に評価できそうにない。状況によっては、機器の外側で接地されるかも知れないピンを接地した状態と接地しない状態の双方での試験を考慮する価値もあるかも知れない。

6

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

試験中の電圧や電流の波形が校正時と異なるのはへの電源に見合ったコンデンサやトランジェント・

異常ではないが、試験中は電圧と電流の波形に予期

サプレッサ (バリスタなど) の追加を考慮しても良しない変化が生じないかどうかを監視し、そのよういだろう。

な変化が見られた場合は適切な対応を行なう。†12

AC 電源にトランジェントを印加する場合、AC保護と動作に関して同一の回路設計の 4 つ以上の電源波形のピークに同期させるべきである。

回路のグループは、各グループについて 3 つの代表

的なピンを試験すれば良い。



試験電圧波形が校正での開放電圧波形の許容差内
؉‫܅‬にあるならば、複数のピンを同時に試験しても良い。
導体の遠端と機体のあいだのリモート・ロード・؇ԇ؅≤ 5 cmEUT

インピーダンス特性が規定されており、またその耐؉ฆ

電圧がトランジェント発生器の開放回路電圧に耐え

؉ฆ

༄̅

؉ആ

る (遠端負荷にトランジェントを印加した時に顕著な電流が流れない) ものである場合、図 6 のように

そのインピーダンスに相当する無誘導抵抗を挿入し

て試験することができる。波形 3 ではこの抵抗は

75 Ω 以下とする。この方法を用いる場合、対応すćआȆȅ ༏༏
 )る波形セット指定子 (§2.1) は Z とし、耐環境性評

図 6: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (直接注入法) — 試験セットアップ

価記録 (environmental qualification form) や試験報告書にリモート・ロード・インピーダンスとその耐電圧も記載する。



通電状態での電源ピンを直接注入法で試験する場

؇ԇ؅

合、図 6 のように、電源はトランジェント・ブロッ؉‫܅‬キング・デバイスを介して給電し、その電源ピンに≤ 5 cm

電圧の校正が行なわれたポイントから短いワイヤで

EUT
؉ฆ

接続する。トランジェント・ブロッキング・デバイ
؉ആ

スは印加されたトランジェントの電源側への漏れをഇЅԇअ‫܅‬؅؉ฆ

阻止しながら電源を通過させるもので、具体的にどのようなものを使用すべきかは規格では記載されて
؅ഈ

いないが、適切な特性のインダクタをこの目的で使用できる。†13ഇงअ‫܅‬؅

トランジェント・ブロッキング・デバイスは電源( ࠅЅ)をトランジェントからある程度保護するが、それだ

図 7: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (電源ピン、
ケーブル誘導法) — 試験セットアップ

けでは充分な保護を与えられないかも知れない。試験で印加されるトランジェントが電源に悪影響を与えることが懸念される場合、インダクタの電源の側†12 例えば、波形の途中での電圧の急落や電流の急上昇は絶縁破壊や降伏の発生を示唆する。このような場合、それがトラン
ジェント保護回路の正常な応答によるものでない場合、その後で機器が正常に動作したとしても、異常があったものと考えることが必要となるかも知れない。
†13 トランジェント・ブロッキング・デバイスは、印加されたトランジェントの一部が電源側に漏れて EUT 側に注入される
トランジェントのレベルが低下することを防ぐとともに、電源をトランジェントからある程度保護する。トランジェントの阻止の効果は、例えば校正ポイントにトランジェント・ブロッキン
グ・デバイスを接続してその電源側を接地した状態での電圧波形をトランジェント・ブロッキング・デバイスを接続していない
時の電圧波形と比較することなどで確認できるであろう。

2.4

ケーブル・バンドル試験

ケーブル・バンドル試験は、主に相互接続ケーブ
ル・バンドルが雷からの誘導に伴うトランジェントを受けた時の機器の機能への影響 (誤動作の起こし
にくさ) の評価を意図したものである。

7

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

形のパラメータが規定を満たすことも確認して

おくと良い。†16؉‫܅‬≤ 5 cm

3. 多重ストローク (表 5) や多重バースト (表 6) の؇ԇ؅

EUT

パラメータも確認する。

؉ฆ؉ആ

؉ฆ؇ԇ؅
؅ഈ
؉ആअ‫܅‬؅ఆąअ‫܅‬؅ࠆଆഇงअ‫܅‬؅( ࠅЅ)図 8: 雷誘導トランジェント — ピン注入試験 (電源ピン、
グランド注入法) — 試験セットアップ؉‫܅‬試験法としては、ケーブル誘導試験 (§2.4.1)†14 と

グランド注入試験 (§2.4.2) の 2 つが定められている。

2.4.1
2.4.1.1

図 9: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験(ケーブル誘導試験) — 発生器の検証のセットアップ

ケーブル誘導試験

2.4.1.2

検証

試験

基本的には、それぞれのコネクタからのバンドル

トランジェント発生器の検証は以下のように行の全てのワイヤを一括で試験する。

なう:

電源線がバンドルから分けて引かれる場合は、それは別に試験する。この場合、注入する電流は対応

1. 図 9のように接続する。

するピン注入試験の (波形 1 と 2 についてはピン注

校 正 ル ー プ は 、低 イ ン ピ ー ダ ン ス の 、入試験での波形 4/1 の) 短絡回路電流 (表 2) を超え

表 4〜表 6の よ う な 電 流 を 流 し た 時 に 過 熱る必要はない。

などの問題を生じないようなものとする。

ケーブルのシールドは通常はそのままの状態とす

2. それぞれの波形について、試験レベルが電圧る。シールドを除いた状態で試験する場合、ケーブ(VT ) で規定されている場合は校正ループを開ル・バンドル試験波形セットの波形セット指定子はいた状態で電圧モニタ・プローブで観測されたZ とし、試験レベル指定子は芯線に注入される実際電圧が、試験レベルが電流 (IT ) で規定されてのレベルを反映する。

いる場合は校正ループを閉じた状態で電流モ

単一ストローク試験を多重ストローク試験と組みニタ・プローブで観測された電流が試験レベル

合わせても良く、この場合、多重ストローク試験の(表 4〜表 6) となるように過渡妨害発生器を調第 1 ストロークの試験レベル (表 5) は単一ストロー

整してその波形を記録し、その波形のパラメー

クの試験レベル (表 4) で置き換える。

タが規定を満たすことを確認する。
波形 1、5A、及び 6 は試験レベルは電流 (IT )、対応する制限レベル (IL か VL ) †15 を発生でき

制限レベルは電圧 (VL ) で規定されており、波形 2、る必要はないが、制限レベルを発生できるので

3、及び 4 は試験レベルは電圧 (VT )、制限レベルはあればその設定での波形も記録し、またその波

電流 (IL ) で規定されている。

†14 ケーブル誘導試験は MIL-STD-461G の CS117[2][7] と類†16 制限レベルを発生でき、またその波形が要求を満たすことをここで確認しておけば、試験時に試験レベルよりも先に制限レベルに達した時、追加の確認なしでその設定で試験を行なえる場合がある。

似している。
†15 試験レベルが電圧 (V ) の場合は電流の制限レベル (I )T
Lが、試験レベルが電流 (IT ) の場合は電圧の制限レベル (VL ) が規定される。

8

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

トランジェント発生器の検証 (§2.4.1.1) では試験

周辺機器を模擬する場合、トランジェン

レベルとその波形のパラメータが許容範囲に入るこ

ト印加時のトランジェント防護素子の応とが確認されていなければならない。但し、試験時答などによって生じるかも知れない非線に観測された波形のピーク値とその他のパラメータ型な応答も適切に模擬する。

が該当する許容範囲に入るならば、事前の検証は不2. 図 10に示すように、妨害の注入を行なうバン要となる。

ドルの EUT から 5〜15 cm の位置 (コネクタ
試験対象となるそれぞれのバンドルに対する試験のバックシェルの長さが 15 cm 以上ある場合

は次のように行なう:などはそのできる限り近く) に電流モニタ変圧器 (電流プローブ) を、電流モニタ変圧器から

1. EUT は §2.2で述べたように、また図 10に例示

5〜50 cm の位置に注入変圧器を取り付ける。

するようにセットアップし、電源を入れて完全に動作させる。

3. トランジェント発生器を所定のトランジェントを発生させるように設定し、オシロスコープで• LISN が 10 kHz よりも上で自己共振する†17 場合、図 11で示すように、AC 電観測された電圧か電流が先に制限レベル (IL かVL ) に達しない限り、試験レベル (VT か IT )源の場合は各電源導体と接地のあいだにに達するまでトランジェント発生器の振幅を増

10 µF の、DC 電源の場合は電源導体間に28 000 µF 以上†18 のコンデンサを接続す加させる。

る (図 11)。†19

試験レベル (VT か IT ) よりも前に制限レベル

使用するコンデンサは、電源に見合った、(IL か VL ) に達した場合、試験波形に応じて、試験の際に受けるかも知れないトランジェ• 電流波形 1

ントに耐えられるものを選択すべきであ

その検証に際しての電圧波形の立ち上がる。例えば AC 電源の場合、クラス X1

り時間が波形 1 の規定よりも短く、かつか X2 の 10 µF のコンデンサが適当かも

持続時間が波形 2 の規定よりも長かった知れない。

ならばその試験は許容できる。

安定化電源から給電する場合は特に、電さもなくば電圧波形 2 での試験を実施し、源の保護のために LISN と電源のあいだ

対応する波形セット指定子は Z とする。

に保護 (例えばインダクタやトランジェン• 電圧波形 2

ト・サプレッサ) を追加することも考慮し検証に際して電流波形 1 の発生が確認さた方が良いかも知れない。

• EUT から見た周辺機器のインピーダンス

れていたならばその試験は許容できる。

は電圧や電流の分布に、従って試験の結さもなくば電流波形 1 での試験を実施し、果に直接影響するため、実際の使用にお対応する波形セット指定子は Z とする。

けるインピーダンスを適切に代表するよ• 電圧波形 3

うにする。

その試験は許容できる。

†17 5 µH LISN は、入力段のコンデンサが 1 µF (CISPR 25• 電圧波形 4や ISO 11452-*[9] で用いられるもの) の場合は約 70 kHz、入力段のコンデンサが 2 µF (CISPR 16-1-2 で規定された 50 Ω
/ 5 µH + 1 Ω V-network での最小値) の場合は約 50 kHz で共振を生じる。
†18 直流安定化電源の出力に大容量のコンデンサを接続すると制御が不安定になったり損傷を生じたりする場合もあるため、使用する電源がそのコンデンサの接続で問題を起こさないかどうかを事前に確認した方が良いだろう。
†19 電源を切った後もコンデンサに相当のレベルの電荷が残ることがあるので、感電やその他の事故の防止のため、適切な配慮を講じるべきである。10 µF の場合はコンデンサと並列に 100 kΩ
程度以下のブリーダー抵抗を接続すれば数秒以内に安全な電圧に低下するであろうが、28 000 µF の場合は 1 kΩ の抵抗を並列に接続したとしても安全な電圧まで低下するまでに 1 分前後の時間を要するかも知れない。

検証に際しての電流波形の立ち上がり時
間と持続時間が電圧波形のそれよりも長かったならばその試験は許容できる。
さもなくば電流波形 5A での試験を実施し、対応する波形セット指定子は Z とする。

• 電流波形 5A
検証に際しての電圧波形の立ち上がり時
間が波形 5 のそれよりも短いが波形 4 の9

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

波形セット

試験タイプ

試験波形番号 †C (シールドなし、開口結合)

単一ストローク (表 4)2, 3

D (シールドなし、開口および抵抗結合)

単一ストローク (表 4)2, 3, 4E (シールドあり、開口結合)

単一ストローク (表 4)

1, 3

F (シールドあり、開口および抵抗結合)

単一ストローク (表 4)3, 5A

G (シールドなし、開口結合)

単一ストローク (表 4)2, 3

多重ストローク (表 5)2, 3単一ストローク (表 4)2, 3, 4

多重ストローク (表 5)

2, 3, 4

単一ストローク (表 4)

1, 3

多重ストローク (表 5)

1, 3

単一ストローク (表 4)

3, 5A

多重ストローク (表 5)

3, 5A

L

多重バースト (表 6)

3M

多重バースト (表 6)6

H (シールドなし、開口および抵抗結合)
J (シールドあり、開口結合)
K (シールドあり、開口および抵抗結合)† 波形 2, 3, 4 は電圧、その他は電流表 3: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 — 試験要求؇ԇ؅؅؉‫܅‬

ਆ

༈
Ѕ

؇ค̆ഇഇ



ԉ Ȃ

≥

750

̅ค̅
ਈ༇̆इ̆ଅࠅЅ̆‫܅‬ค̆‫܅‬̆‫܅‬ഇ̆‫܅‬ਇଅࠅЅ̆ଅԉ 30 cm ਇฅ

100

EUTఆąअ‫܅‬؅

50

ฆ

5
0

؉

0

50150؉ആअ‫܅‬؅؉ฆഇ
̆‫ࠅ܅‬Ѕ̆‫܅‬คࠅЅ؉ฆЅआคഇ؉

50
؉ฆ

ԉ

‫܉‬అ؉̅

ഇਇ؅
LISN

DC: ≥ 28000 µF
AC: 10 µF

図 10: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 (ケーブル誘導試験) — 試験セットアップの例

10

11

Voltage Waveform 2

1

21600 / 3200

1600 / 32005

振幅の許容差は +20 %, −0 %750 / 1500

750 / 1500

3300 / 600

125 / 250

450 / 100

Voltage Waveform 2

Current Waveform 1

300 / 600

≤ 100 ns3

(MIL-STD-461G: ≤ 340 ns)

50 / 100±20%

125 / 250

≤ 100 ns1

≤ 1 min0

50 %(MIL-STD-461G: ≤ 340 ns)

2

レベル

0

6.4 µs

50 %

69 µs

100 %

6.4 µsCurrent Waveform 1

4

±20%

5

1

2

3

4

5

Voltage Waveform 3
Current Waveform 3

6

73200 / 640

1500 / 300

600 / 120

250 / 50

100 / 208

f = 1 MHz, 10 MHz (±20 %)

0

50 %

100 %

9

0

50 %

100 %

100 %

Voltage Waveform 4

Current Waveform 1

50 / 100

101600 / 3200

750 / 1500

300 / 600

125 / 250

050 %Voltage Waveform 4

Current
Waveform 5A

波形 4 / 5A

VL (V) / IT (A)

±20%

100 %

69 µs

波形 4 / 1

6.4 µsVT (V) / IL (A)50 / 150

750 / 2000

300 / 1000

125 / 400

1600 / 5000

6.4 µs波形 3 / 3

69 µs

VT (V) / IL (A)

40 µs

波形 2 / 1

69 µs

VT (V) / IL (A)±20%

波形 2 / 1

120 µsÿ ÿÿÿÿÿ ÿÿÿÿÿÿÿVL (V) / IT (A)DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

表 4: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 — 単一ストローク試験の試験レベルと制限レベル

125 / 125

62.5 / 62.5

300 / 300

150 / 150

750 / 750

375 / 375

1600 / 1600

800 / 800

第 1 ストローク

後続ストローク

第 1 ストローク

後続ストローク

第 1 ストローク

後続ストローク

第 1 ストローク

後続ストローク

0≤ 100 ns

375 / 375

750 / 750

150 / 150

300 / 300

62.5 / 62.5

125 / 125

25 / 25

50 / 50

Voltage Waveform 2

800 / 800

1600 / 1600

(MIL-STD-461G: ≤ 340 ns)±20%

表 5: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 — 多重ストローク試験の試験レベルと制限レベル
1

2

10200 ms

ଇ1

≤ 5 min≤ 1.5 s3༅ഇ

13

Ȃ 10

振幅の許容差は第 1 ストロークは +20 %, −0 %、後続ストロークは +50 %, −0 %525 / 25

後続ストローク≤ 100 ns

50 / 50(MIL-STD-461G: ≤ 340 ns)

第 1 ストローク

レベル

Voltage Waveform 2

50 %Current Waveform 1



12

4

3

2

1

0

6.4 µs

50 %

69 µs

100 %

6.4 µsCurrent Waveform 1

±20%

1

2

3

4

5

Voltage Waveform 3
Current Waveform 3

Voltage Waveform 4

Current Waveform 1

75 / 150
375 / 750
187.5 / 375
800 / 1600
400 / 800

1500 / 300
750 / 150
3200 / 640
1600 / 320

14

150 / 300

31.25 / 62.5

62.5 / 125

12.5 / 25

25 / 50300 / 60

0

50 %

100 %

6.4 µs

600 / 120

125 / 25

250 / 50

50 / 10100 / 20

f = 1 MHz, 10 MHz (±20 %)

0

50 %

100 %

波形 4 / 1

±20%

100 %

69 µs

VT (V) / IL (A)

69 µs

波形 3 / 3

波形 4 / 5A

0

50 %

100 %

Voltage Waveform 4

Current
Waveform 5A

VL (V) / IT (A)25 / 80

50 / 160

10 / 30

20 / 60

320 / 1000

640 / 2000

150 / 400

300 / 800

60 / 200

120 / 400

6.4 µsVT (V) / IL (A)

40 µs

波形 2 / 1

69 µs

VT (V) / IL (A)±20%

波形 2 / 1

120 µsÿ ÿÿÿÿÿ ÿÿÿÿÿÿÿVL (V) / IT (A)DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

波形 3

波形 6

VT (V) / IL (A)VL (V) / IT (A)100 %ÿÿÿÿÿÿÿ ÿÿÿÿÿ ÿ

100 %

50 %

1

0

2

3

4

50 %

5

0.25 µs

0

レベル

4 µs

Voltage Waveform 3
Current Waveform 3

1

60 / 1

100 / 52

150 / 2.5

250 / 12.5

3360 / 6600 / 30

4900 / 151500 / 75

51920 / 32

3200 / 160±20%

Current Waveform 6

振幅の許容差は +20 %, −0 %≥ 5 min3s

50 1000 ̀s

1

2

1

2

3

19

20

3

1

2

3

19

20

1

2

3

19

20

30 300 ms

表 6: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 — 多重バースト試験の試験レベルと制限レベル• 電流波形 6

それよりも短くないならばその試験は許容できる。

トランジェント発生器の開放回路電圧とさもなくば電圧波形 4 での試験を実施し、短絡回路電流の比率が 15 Ω 未満であれ対応する波形セット指定子は Z とする。

ばその試験は許容できる。

機体の設計や配線の引き回しによってはさもなくば波形 3 多重バースト試験を行波形 5B (波形 5A と似ているが、立ち上なう。†20

がり時間が 50 µs ± 20 %、持続時間が500 µs ± 20 % となる) のようなより長い†20 電流波形 6 は低インピーダンスのケーブル・バンドルの多重バースト試験のみに適用される (図 1, 表 6)。電流での試験レ
ベル IT よりも先に電圧の制限レベル VL に達したならば、おそらくそのケーブル・バンドルは低インピーダンスとは言い難いだろう。

持続時間のトランジェントでの試験も考慮すべきかも知れない。

13

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

グランド注入試験

2.4.2

DC؉ฆ‫܅̆܉‬グランド注入試験は単一ストローク試験と多重ス

LISN

トローク試験に適用可能で、波形 4 と 5A についてEUT

推奨され、波形 1 と 2 にも適用できる。

LISN≥ 28 000 µF

2.4.2.1
DC؉ฆ̆‫܅‬検証

図 12のように接続し、ケーブル誘導試験での波形

LISNの検証 (§2.4.1.1) と同様に波形の検証を行なう。
EUT≥ 28 000 µF

AC؉ฆ‫܅̆܉‬؉‫܅‬

LISN
10 µF

؉ആअ‫܅‬؅؇ԇ؅

EUT
LISN

10 µF

AC؉ฆ̆‫܅‬
ࠆଆ
LISN
10 µF

図 12: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試
験 (グランド注入試験) — 発生器の検証のセットアップ

EUT

図 11: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試
験 — コンデンサの接続

2.4.2.2

試験

基本的にはケーブル誘導試験 (§2.4.1.2) の場合と同様に、だが図 13に例示するように、以下のように

4. 単一ストローク試験では、トランジェントを 1セットアップする:

分以下の間隔で 10 回以上印加する (表 4)。
多重ストローク試験では、多重ストローク (第• EUT はグランド・プレーン上に、だがグラン

1 ストロークと 13 回の後続ストロークで 1 セッド・プレーンから絶縁して配置する:ト) を少なくとも 10 回、5 分よりも長くない間– EUT はグランド・プレーン上に、だが隔で印加する (表 5)。†21

EUT の筐体 (あるいは取付台) が導電性の多重バースト試験では、少なくとも 5 分間、3場合は非導電性の台やシートの上に置く;

秒毎に過渡妨害のバースト (20 回のストローク– EUT や取付台とグランド・プレーンのあを 3 回で 1 セット) を印加する (表 6)。

いだの接地線を切り離す;

5. 過渡妨害の極性を変えて同様の作業を繰り返す。

– ローカル接地の場合、電源リターン線は
グランド・プレーンではなく EUT の接地ポイントに接続する。

†21 雷はしばしば 10〜100 ms 程度の休止を挟んでの 2〜30 回程度の後続雷撃を伴う (図 19)。後続雷撃の波頭長 (立ち上がり時間) も第 1 雷撃のそれよりもかなり短くなる†22 が、この試験では同じ形状の、だがピーク値の低いパルスの列が用いられている。雷撃は数 100 ms 持続するテール電流を伴うこともあり、これが運ぶ多くの電荷が被害をもたらす可能性もあるが、これはこの試験では模擬されていない。
†22 例えば IEC 62305 では、第 1 正極性雷撃は波頭長 10 µs、
波尾長 350 µs、後続雷撃は波頭長 0.25 µs、波尾長 100 µs というパラメータが示されている。

• 必要に応じて複数の電流モニタ変圧器を用い、ケーブル・バンドル全ての電流を測定できるようにする。

• トランジェント発生器の出力線を、EUT の筐体とグランド・プレーンのあいだに妨害を印加するように接続する。

14

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電


؅

ਆ

༈

Ѕ

؇ค̆ഇഇ
ԉ Ȃ

50

≥7

؉‫܅‬̆‫܅‬ഇȅ؉؇ԇ؅
EUT

ฆ

؉



؉ആअ‫܅‬؅؉ฆഇ
̆‫ࠅ܅‬Ѕ)

؉ฆ
ԉ

‫܉‬అ؉̅

50

ഇਇ؅
LISN

DC: ≥ 28000 µF
AC: 10 µF

図 13: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試験 (グランド注入試験) — 試験セットアップの例• それと同じポイントに電圧プローブを接続する。


ई̆ค

̆ฅ

このように接続した状態で EUT の電源を入れて動作させ、ケーブル誘導試験 (§2.4.1.2) の場合と同様に試験を行なう。

2.5

補足

2.5.1

波形のレベルの測定
図 14: 雷誘導トランジェント — 過渡妨害の振幅の測定

波形のレベル (ピーク) の測定では短いスパイクや高周波のノイズは無視する (図 14)。この測定は、電流の測定では電流モニタ変圧器 (電流プローブ)

オシロスコープの自動測定の機能を用いずに、不必が必要となるが、この電流モニタ変圧器は測定する要なノイズやオーバーシュートによって高い値を測電流波形に応じて適切な周波数範囲で平坦な応答を定しないように注意しながらカーソルを用いて手で持つものでなければならない。

行なうべきである。†23†23 ピーク値を自動で測定した場合、あるいはカーソルを手で合わせる際にオーバーシュートやノイズに影響されて高い位置にカーソルを合わせた場合、振幅が高く測定され、試験が有意に甘くなる可能性が予期される。DO-160G の User’s Guide
Appendix 22 にはいくつかの波形に対する振幅の測定の例も示されている。

15

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

例えば、電流波形 5A の場合は下側のカットオフ

ケーブル・バンドル単一ストローク試験、電周波数が 20 Hz 程度以下、上側のカットオフ周波

流波形 5A、試験レベル 5 の試験波形 (表 4)

数が 200 kHz 程度以上の、また電流波形 6 の場合• DO-160G の 23 章で述べられている、雷の直は下側のカットオフ周波数が 500 Hz 程度以下、上接的な影響に対する試験のうち、高電流物理損

側のカットオフ周波数が 5 MHz 程度以上の電流モ

傷試験のコンポーネント A (第 1 帰還雷撃) のニタ変圧器が必要となりそうである (図 15, 図 16)。

試験波形

電流モニタ変圧器に流れる電流が大きいため、電• IEC 61000-4-5[8] の 8/20 µs 2 kA 短絡電流

流モニタ変圧器の電流容量や飽和限界などの特性にも注意が必要となる。

波形

1の電流波形を対比したものを図 18に示す。
5

0.8

4

0.6

fc high = 50 kHz

Current waveform 5A, 5 kA

Current (kA)3

0.4

fc low = 100 Hz

0.2

2

1
Current waveform 1, 3.2 kA

fc low = 20 Hz, fc high = 200 kHz

Current waveform 3, 0.64 kVA

0

0
0

20

40

60

100
120
80
Time (µs)

140

160

180

200
−1

図 15: 雷誘導トランジェント — 電流波形 5A の測定への電流モニタ変圧器の周波数応答の影響

0

50

100

150

200

Time (µs)

図 17: 雷誘導トランジェント — ケーブル・バンドル試
験 単一ストローク試験電流波形 (試験レベル 5) の比較

1
200

0.8

150

Current (kA)

0.6

fc high = 1 MHz

0.4

DO−160G section 23, High Current Test Waveform, Component A
100

fc low = 5 kHz

0.2

50

fc low = 500 Hz, fc high = 5 MHz
IEC 61000−4−5 8/20 µs 2 kA

0
0

1

2

3

4

5
Time (µs)

6

7

8

9

10

DO−160G section 22, Current waveform 5A, 5 kA0

図 16: 雷誘導トランジェント — 電流波形 6 の測定への電流モニタ変圧器の周波数応答の影響

2.5.2

0

100

200

300

Time (µs)

図 18: 雷誘導トランジェント — 他の試験の試験電流波
形との比較

試験電流波形の比較

3

参考のため、ケーブル・バンドル試験での単一ス
トローク試験電流波形 (試験レベル 5) を比較したも静電気放電 (ESD)
DO-160G の 25 章で述べられている静電気放電のを図 17に、また(ESD) の影響に関する要求は、機器の使用に際して受けるかも知れない人体からの ESD の機器の動作• ここで述べた試験の中で最も電流が大きい、への影響の評価を意図している。

16

400

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電• ESD は通常の運用や保守に際してアクセスで

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きる箇所に印加する。
؉І (230؅)

印加箇所の検討には、操作部やキーボードの任意の導電性や非導電性のポイント、また人が触れるその他の任意のポイント、例えばスイッチ、ノブ、ボタン、表示器、LED、継ぎ目、スロッ

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ト、グリル、コネクタのシェル、その他のアク

10 100 ms

セス可能な領域を含める。

2 300 ms

図 19: 多重ストローク試験 (表 5) で模擬される多重雷のイメージ選択された印加箇所で放電が生じない場合、例
えば印加箇所として選択された継ぎ目やスロッ

3.1

トに沿った複数の点で、あるいは印加箇所とし

ESD 発生器試験は IEC 61000-4-2て選択されたボタンの全周で放電を試みるな[5][8]や MIL-STD-461

ど、その周辺で放電箇所を探す。

[2][7]

で用いられるものと同様の 150 pF / 330 Ω の ESD• 先端の丸い気中放電用の電極を用い、ESD 発発生器を用いて行なう (図 20)。

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生器を ±(15 000 V +10−0 % ) のパルスを発生させられることが校正で確認された設定とし、選択330 ̀

 ±15 kV

150 pFਉȆȆRԆ؉

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されたそれぞれの印加箇所にプラスで 10 回、マイナスで 10 回の印加を行なう。

Cそれぞれの放電は、EUT から離れた位置で放電スイッチを閉じた後に、電極が印加箇所に触れるか放電が発生するまで、人の手の接近と同程度の速度 (0.3 m/s 程度)†25 で印加箇所に電Ԇ؉

極を近付けることで発生させる。
放電の印加に際して、ESD 発生器は放電を印加する面に対して垂直とする。放電リターン・
ケーブルはグランド・プレーンに接続し、EUT

図 20: ESD 発生器の原理やその配線から 0.2 m 以上離す。

• この規格では ESD の印加の前後の除電につい%
ESD 発生器はピークが ±(15 000 V +10−0 % ) のパルスを発生させられること†24 を校正で確認し、そのての言及はないが、印加箇所に電荷が残る可際の設定を記録する。

能性がある場合、放電と放電のあいだに、例えば、1 MΩ の抵抗の付いた除電用のリードかブ
ラシ、あるいはイオナイザ†26 を用いて、ある

3.2

試験

いは単に電荷が消散するのに必要な時間だけ待つことで、印加箇所に残った電荷を除去するこ試験は次のように行なう:とが必要となるかも知れない。

• EUT はこのシリーズの Part 1[6] の「基本的なセットアップ」で述べたように、また 図 21に例示するようにセットアップし、電源を入れて†25 IEC 61000-4-2:2008[5][8] では電極が EUT に当たるまでできる限り早く、MIL-STD-461G[2][7] では 0.3 m/s よりも遅い速度で近付けるように規定されており、この規定はそれらとは相違している。なお、それらの規格ではこの試験法は非導電性の箇所に対してのみ適用される (導電性の箇所は接触放電で試験する) のに対して、この規格では導電性か非導電性かに関わらずこの方法 (気中放電) が用いられる。
†26 イオナイザの効果は除電したい箇所にどれだけのイオンが到達するかに依存し、イオナイザの能力、配置、試験対象品の構造などによっては除電に相当の時間を要する場合もある。

動作させる。

EUT の試験モードは、該当する場合、EUT の全ての通常の動作モードを働かせるように選択されたソフトウェアを含まなければならない。
†24 同様の ESD 発生器を用いる多くの規格と異なり、放電電流波形ではなく電圧波形の確認が必要となる。

17

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電

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図 21: 静電気放電試験のセットアップの例

4

参考資料

[5] IEC 61000-4-2:2008, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test

[1] RTCA DO-160G, Environmental Conditions
and Test Procedures for Airborne Equipment,
RTCA, Inc., 2010[6] 航空用機器の EMC — DO-160G の概要, 株式会社 e・オータマ 佐藤, 2020,[2] MIL-STD-461G, Requirements for the Control
of Electromagnetic Interference Characteristics
of Subsystems and Equipment, Department of
Defense, 2015

https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html• Part 1: 無線周波サセプティビリティ、及び
エミッション[3] FAA Advisory Circulars AC 21-16G, RTCA
Document DO-160 versions D, E and F, “Environmental Conditions and Test Procedures for
Airborne Equipment”,• Part 2: 電圧スパイク、音声周波伝導サセプ
ティビリティ、及び誘導信号サセプティビリ
ティhttps://www.faa.gov/documentLibrary/media/Advisory Circular/AC 21-16G.pdf[7] 軍需機器の EMC — MIL-STD-461G の概要, 株
式会社 e・オータマ 佐藤, 2020,[4] 装備品等型式及び仕様承認に係る一般方針, 平成 17 年 4 月 26 日制定, 平成 23 年 6 月 30 日一部
改正 (国空機第 282 号), 国土交通省航空局安全部
航空機安全課長https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html• Part 1: 主なエミッション要求 (CE101,
CE102, RE101, RE102)

http://www.mlit.go.jp/notice/noticedata/pdf/201107/00005485.pdf• Part 2: 主なサセプティビリティ要求 (CS101,
CS109, CS114, CS115, CS116, CS118,
RS101, RS103)

18

DO-160G の概要 — Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビリティ、及び静電気放電• Part 3: 雷誘導トランジェント、及び過渡電磁界へのサセプティビリティ(CS117, RS105)• Part 4: 無 線 機 器 特 有 の 試 験 (CE106,
RE103, CS103, CS104, CS105)[8] IEC 61000-4 シリーズ イミュニティ試験規格の概要, 株式会社 e・オータマ 佐藤, 2018,https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[9] ISO 11452 シリーズの概要, 株式会社 e・オータ
マ 佐藤, 2016,
https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html[10] Avionics Indirect Lightning, Jay Patel (HV
TECHNOLOGIES, Inc.), 2016,
http://site.ieee.org/rockrivervalley/files/2016/03/DO160-S22-Presentation.pdf

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