③整理_RunLog_2301Ar_230213.xlsx1_RunLog

2301Ar

40Ar17+ 95MeV/u AVF_18G max 1pnA

Run Summary Sheet : CAMAC & LabView
Att
Fname

start

stopHeader

実験前23/01/27
bef無し
実験中：Beam調整時
23/01/27
ZnSスポット調整Cap
1 5:07:00
Cap01_ZnS Zscn
2 5:17:00
Cap02_WobR20-38 scn
3 5:46:00
Cap03_Gaf01_R20,30,40
MaxBeam
Gaf:: EBT3 □85x85mm @ Ysld
Gaf焼き

Ender / LogNote
Elapsepg.
LogNote: E5exp(10)_123
4
5
6

5:35:00

6:30:00

plhv01-12
3
4
5
66:56:54
6:58:51
7:00:50
7:02:56
7:05:14
7:06:43

p.101
p.88

p.89

p.89

7:10:00

scnEDic： ExpR 確認
scnEDic01_202301270723
7:23:00

2Trig

Wob AuF Kap IC1 PL1 ED

p.89

50uΦ500 2 1 0 30 2 1 0 1

RRCout = max430 enA (Ar+17 1pnA max)
IC2[A]
2.5-8A
3, 30, 30sec
30, 30, 20sec
120sec120sec
50sec
60sec

6:57:46 plhv01-01 500,100um 800,800V
6:59:40 plhv01-02 900,900V
7:01:49 plhv01-03 1000,1000V
7:04:12 plhv01-04 1100,1100V
7:06:06 plhv01-05 1200,1200V
7:07:25 plhv01-06 1300,1300V

回路調整

3

イオン源= HyperAtt組合せ、18Gと異なる！

mpg
mpg
mpg

Wob R=20,30,40
Wob R=38,25,15
Au 73.0u(Ar用) R=0
Au 112.5u R=0
Au 73.0u R=38(Ar 95設定)
Au 73u, R=38 出口コリ□35(new)PL HV： 利用「前」100 10 5

PL2
IC2 Air1 Air2
SSD

p.88

Att vs IC2@Air2Gaf

コメント

145 2000 1 0 0 0
1 1 1 0 1
1 2 1 0 1××0u

IC2@Xclmt〇500 0u

PL2@Air2〇〇var

IC2@Air2
PL2@IC2下流

1 2 1 0 1
1 2 1 0 0
1 2 1 0 1

PL=1.5kcps 2 2 1 0 1 PorS(0) R38 73.0 〇0:00:52 PL1=500u(2212交換ママ) PL2=100u(2212交換ママ EJ-208)
0:00:49 今回からIC1も+400V(IC2と同じ)
0:00:59
0:01:16
0:00:52
0:00:42（決定） HV PL1= 1100V, PL2= HV掛っていない？->光漏れだった（決定） Thr PL1= -308mV, PL1peak= 600～700mV, PL1low = -2000mV
IC1～IC2= 8.8-8A 1 0 1 0 1〇 〇 〇30s/点 x 53点 ：Ar-set -> 53点end
8:00:00

0:37:00 (決定) ExpR= 3515um <- 前回2212Ar 3575um より 60umも低い！？

scnAtt： IC1 vs PL1
scnAtt01_202301270808
8:08:00 8:25:00 Step = 1/2, /4, /5, /8, /10
scnAtt01- camac run 無し

p.90

scnEDssd：SSD calib用 (1回目) ２山問題
scnEDssd01_202301270843
ゴミp.90
8:43:00 8:50:00 30s * 32点：Ar_E較正param
scnEDssd011 8:44:08 8:44:31 scanED001 0.0 um～
途中でヤメ ADC OVFしてた
9 8:49:55 8:50:23 scanED009 1372.8 um
scnEDssd02_202301270851
Gain OK だが、時間切れで途中まで p.91
8:51:00 8:59:00 30s * 32点：Ar_E較正param
scnEDssd021 8:52:11 8:52:39 scanED001 0.0 um～
9 8:58:03 8:58:31 scanED009 1372.8 um
23/01/27
9:00
ビーム調整終了
10:10
解析終了
23/01/27
10:20(ML05-1)利用スタート
p.91
23/01/28
8:30
利用終了
8:50
片付け終了 E6->E5 扉open
23/01/28
10:45(R04-3)利用スタート
23/01/28
20:55
利用終了
21:35
片付け終了
利用終了後
23/01/28
p.100
PL HV： 利用「後1」plhv111 21:48:21 21:49:11 plhv11-01 500u,100u-Kr 800,800V
2 21:50:24 21:51:06 plhv11-02 900,900V
3 21:51:44 21:52:36 plhv11-03 1000,1000V
4 21:53:08 21:54:08 plhv11-04 1100,1100V
5 21:54:49 21:56:33 plhv11-05 1200,1200V
6 21:57:12 21:58:19 plhv11-06 1300,1300V
p.101
scnEDic： ExpR 「再」 確認
scnEDic11_202301282217
30s/点 x 34点 ：0-3300um間引いた -> 26点end
22:17:00 22:36:00
scnEDic13_202301282308
同上
23:08:00 23:31:00
scnEDic14_202301282340
同上
23:40:00 0:01:00
23/01/29
p.102
PL HV： 利用「後2」plhv121 0:08:42 0:09:26 plhv12 aft scnEDic PL2 nashi 800V
2 0:09:55 0:10:40 plhv12-02 900V
3 0:11:11 0:11:56 plhv12-03 1000V
4 0:12:30 0:13:36 plhv12-04 1100V
5 0:14:05 0:15:00 plhv12-05 1200V
6 0:15:32 0:16:26 plhv12-06 1300V

scnEDssd： (2回目) ２山問題、SSDテスト300mm2
scnEDssd11_202301290127
C,Ar-set でp.102
1:27:00 2:45:00 300s * 19点：Ar_E較正タメ
scnEDssd111 1:27:12 1:32:08 scanED001 0.0 um～sA2 SAmp Out不安定 HVcur変化はない
15 2:40:25 2:45:23 scanED015 3204.2 um
scnEDssd12_202301290259
p.102
2:59:00 3:26:00 30s * 153点： C,Ar-set で ED厚さcal
scnEDssd121 2:59:38 3:00:00 scanED001 0.0 um～
ゴミ paramにダブリあり #37でend
37 3:26:16 3:26:43 scanED037 586.2 um
scnEDssd13_202301290356
p.103
3:56:00 5:35:00 30s * 134点： C,Ar-set で ED厚さcal
scnEDssd131 3:56:55 3:57:23 scanED001 0.0 um～134 5:34:59 5:35:27 scanED134 3353.0 um
scnEDssd14_202301290627
Ar,Kr-set でp.104
6:27:00 6:51:00 30s * 32点： ２山問題
scnEDssd14-

1 1 0 0 0 ～0:17:00 Hyperなのでstep異なる
1 2 1 0 1
(決定) PL[cps]= 1.370E+14 * IC1[A], 実測/予想=0.72
PL 17K, Sor 600cps, Trig=AND 2 1 1 0 1 PandS〇〇〇〇〇0u

〇〇〇〇〇

var

73.0 〇〇

500 0u〇〇〇〇73.0 〇〇

500 0u〇〇〇SSD@Air2コリΦ7(new) +AlMy2.5u ： Shp= 0.5µ
0:07:00 sA12: 50-2000um B12: 2000-2000um C,Ar-set

HV(uA) 20(1.73) 400(3.18) 400(6.64) 400(3.96)
0:00:23 SA(Att) x100x5(0) x50x6(0) x50x8(8) x20x8(0)0:00:28 Gain調整

SA(Att) x100x5(0) x50x6(8) x50x8(16) x20x8(0)0:08:00
0:00:28
0:00:28

PL= 1.1kcps 2 2 1 0 1 PorS(0) R38
0:00:50 PL1=500u PL2=100u(EJ-212 に交換) Krの準備 光漏れ直した
0:00:42 500u ダメージ 少しあり PH 下がった
0:00:52
0:01:00
0:01:44
0:01:07 その後、PL2はトル Kr用の新品なので
IC1～IC2= 7.4-8A 1 0 1 0 1〇
再現性check -> OK
0:19:00
EDを曲げた-> 変化ない！？ AL～33um 厚くなるはずなのに
0:23:00
PLを曲げた-> 変化ない！？ PL～8.7um 厚くなるはずなのに
0:21:00
PL= 1kcps 2 2 1 0 1 PorS(0) R38
0:00:44 PL1=500u PL2無し
0:00:45 500u ダメージ 少し幅広になった
0:00:45
0:01:06
0:00:55
0:00:54
PL 30K, Sor 1.2k cps, Trig=AND 2 1 0 0 1 PandS 〇コリΦ7(new) +AlMy2.5u ： Shp= 0.5µ
1:18:00 sA12: 50-2000um B12: 2000-2000um C,Ar-set

HV(uA) 20(1.76) 400(3.17) 400(6.91) 400(4.16)
0:04:56 SA(Att) x100x8(0) x20x8(0) x20x8(2) x20x8(0)0:04:58

同上
0:27:00
0:00:22
0:00:27

同上
1:39:00
0:00:28
0:00:28コリΦ5(new) +AlMy2.5u ： Shp= 0.5µ0:24:00 sA12: 20-700um B12: 150-300um Ar,Kr-set

HV(uA) 20(1.82) 120(1.73) 90低めBL不安定(5.23) 140(3.45)

1 / 2 ページ〇var

var

IC2@Air2

SSD@Air2

③整理_RunLog_2301Ar_230213.xlsx1_RunLog

2301Ar

40Ar17+ 95MeV/u AVF_18G max 1pnA

Run Summary Sheet : CAMAC & LabView
Fname
1start6:28:02

stop Header
6:28:29 scanED001

0.0 umAtt
100 10 5 3 2Ender / LogNote
Elapsepg.
コメント
0:00:27 SA(Att) x200x12(0) x50x6(2) x100x7(0) x50x10(0)～32 6:50:45 6:51:13 scanED032 3599.6 um
0:00:28
scnEDssd15_202301290736
Test1-set 300mm2
p.104
300mm2用 ４連ハウジング(new)で
7:36:00 7:50:00 30s * 19点
0:14:00 コリΦ10+AlMy2.5u ： Shp= 0.5µscnEDssd15s12,34: 30-50, 300-500um
300-500umはダメ <- SAmp Uni,Bip を繋いでいた
1 7:37:04 7:37:32 scanED001 0.0 um
0:00:28 Sel# 26-263E,22-021A,B494,28-228C～HV(uA) 20(1.90) 40(4.02) 110BL不安定(5.04) 150(3.75)
19 7:50:17 7:50:45 scanED019 3400.6 um
0:00:28 SA(Att) x200x8(0) x200x6(0) x100x7(0) x1kx10(0)PH低い
scnEDssd16_202301290812
Test2-set 300mm2p.105
8:12:00 8:27:00 30s * 19点
0:15:00 同上でscnEDssd16s12,34: 50-300, 300-500um
300-500umはダメ <- SAmp Uni,Bip を繋いでいた
1 8:13:07 8:13:35 scanED001 0.0 um
0:00:28 Sel# 4173-1,22-645B,B951,28-239C～HV(uA) 100(1.91) 110(2.35) 110(6.01) 150(3.76)
19 8:26:59 8:27:28 scanED019 3400.6 um
0:00:29 SA(Att) x200x8(4,16) x200x6(2,16) x100x7(0) x1kx10(0)p.106
IC1～IC2= 4-8A 1 0 1 0 1
scnEDic： ExpR 「再々」 確認
scnEDic15GM_202301290838
30s/点 x 34点 ：0-3300um間引いた -> 26点end
PL1撤去で ExpR変化
8:38:00 8:58:00 時間切れ、Peakまで届かなかった
0:20:00
23/01/29
aft無し

8:58

MT終了

加速器E測定： タマキ、小山
23/01/27
23/01/29
以上。

10:10:00
9:06:00

E(Ar) = 93.208 MeV/u
E(Ar) = 93.150 MeV/u

p.92
p.106

MT開始前に測定
MT終了後に測定

2 / 2 ページTrig

Wob AuF Kap IC1 PL1 ED

PL2IC2 Air1 Air2〇

IC2@Air2〇〇〇〇var