IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法
株式会社 e・オータマ 佐藤智典

2024 年 9 月 11 日

目次
1

2

3

4

5

6

概要

1

概要
1.1 背景 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

1
1

試験機器
2.1 コンビネーション・ウェーブ・ジェネレータ (CWG)
2.1.1 CWG の基本的な特性 . . . . . . . . .
2.1.2 出力波形のパラメータ . . . . . . . . .
2.2 電源線用 CDN . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3 相互接続線用 CDN . . . . . . . . . . . . . .
2.4 屋外対称通信線用 CDN . . . . . . . . . . . .

3
3
3
4
4
5
7

校正
3.1 使用機器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2 CWG の校正 . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.3 電源線用 CDN の校正 . . . . . . . . . . . . .
3.4 非対称相互接続線用 CDN の校正 . . . . . . .
3.5 対称相互接続線用 CDN の校正 . . . . . . . .
3.6 屋外対称通信線用 CDN の校正 . . . . . . . .

8
8
8
9
9
9
10

試験
4.1 共通事項 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2 電源ポートへの印加 . . . . . . . . . . . . . .
4.3 非シールド相互接続ポートへの印加 . . . . . .
4.4 非シールド屋外対称通信ポートへの印加 . . . .
4.5 シールド線への印加 . . . . . . . . . . . . . .

11
11
11
12
12
12

補足
5.1 ケーブルの余長の処理 . . . . . . . . . . . . .
5.2 サージ防護デバイスの影響 . . . . . . . . . . .
5.3 試験レベルの例 — IEC 61000-6-2:2016 . . .
5.4 雷インパルスとの比較 . . . . . . . . . . . . .
5.5 関連規格 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

13
13
13
13
14
15

参考資料

15

IEC 61000-4-5 は電源系統上での開閉や雷の影響に伴って電源線やその他の長いケーブル上に生じる
ようなサージ†1 に対するイミュニティの評価のための試験法を定めた規格の 1 つで、電子機器の評価のために広く用いられている。
本稿では、この規格の本稿の執筆の時点での最新版である IEC 61000-4-5:2014[1] について解説する。
なお、本稿は規格の内容全てをカバーするものではなく、また正確であるとも限らないので、規格についての正確な情報は規格そのもの [1] を参照していただきたい。

1.1

背景

電源線やその他の長いケーブル上には、この規格の §4 で述べられているように、例えば次のような事象に伴うサージ、すなわち過渡的な過電圧や過電流が発生することがある:• 電源系統のスイッチングに伴う過渡現象 (開閉サージ)– 例えばコンデンサ・バンク†2 の開閉のような、主電源系での開閉に伴う妨害– 配電系統上での開閉動作 (図 2)†3 や負荷変動†1 この試験は「雷サージ」試験と呼ばれることもあるが、この規格ではそのような表現は用いられていない。§1.1で触れるよ
うにこの規格は雷以外に起因するサージもカバーすることが意
図されており、その一方、直接的な雷撃によって生じるような激しいサージ (§5.4) はカバーされていないので、その表現は誤解を招きやすいかも知れない。
†2 伝統的には負荷の多くが誘導性で電流の位相が遅れて力率が低下することから、力率の改善のために電源系統にコンデン
サ (図 1) を接続することがある。このようなコンデンサは電源
系統の負荷状況に応じて通電状態のままで接続されたり切り離されたりし、その際に顕著なサージを発生することがある。
†3 高圧気中開閉装置の動作のビデオは例えば https://www.
youtube.com/watch?app=desktop&v=9GeXkussHfw にある。

1

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や雲の内部での、あるいは近傍の物体への雷撃

Photo by ThaliaTraianou, licensed under CC BY-SA 4.0

図 3: 雲間放電の例
図 1: 高圧電力系のコンデンサ・バンクの例– 設備の接地系の共通接地経路に結合する、近傍の対地放電からの雷大地電流
特にそれが屋外を引かれる場合、機器に接続される低圧電力線や通信線が直撃雷を受ける可能性もあるが、一般にはそのような事象の発生確率は低く、またそのような雷撃に伴って発生するサージは非常に激しく、†6 、一般の電子/電気機器をそのようなサージに耐えるようにすることは実際的とは言い難い。
このため、この規格では直接的な雷撃によって生
じる過電圧や過電流の影響ではなく、開閉サージや雷からの誘導に伴う事象の影響が評価の中心となる。†7

Photo by Buryka, licensed under CC BY-SA 3.0

図 2: 高圧開閉装置の例

この規格はこのような事象の模擬を意図したもの
で、この事象を模擬するサージを試験発生器で発生– 例えばトランジスタやサイリスタのようさせて試験対象のケーブルに注入することによってなスイッチング素子に関係する共振回路

試験を行なう。この試験では、通常、交流電源線と、– 例えば地絡や接地系へのアーク放電故障

電話線などの長い、かつ/もしくは屋外を引かれる
ケーブルが対象となる。

のような、電源系の様々な障害やその回復†6 直撃雷の影響の評価には、例えば 200 kA のインパルス電流 (§5.4) が用いられる。
†7 現代的な雷保護†8 が行なわれた建屋内で使用される一般的な機器はこの試験法を参照した一般/製品群/製品 EMC 規格への適合だけで雷の影響に対する妥当なイミュニティを達成できるかも知れない。だが、例えば少なくとも一部のユニットが屋外に設置される、あるいは通信ケーブルなどの相互接続線が屋外に引かれる道路照明灯などの屋外照明、監視カメラ、空調機のようなものは雷の影響 (被雷システムの設計/施工が適切に行な
われていない場合は機器の外殻への直撃雷の可能性などを含めて) に曝されやすくなり、雷からの妥当な水準の保護のために追加の考慮が必要となることが予期される。また、高い可用性が求められるシステムについても、雷の影響 (一時的な機能喪失や損傷など) を受ける可能性の低減のために追加の考慮が必要となることが予期される。
†8 現代的な雷保護は雷撃による火災や建屋の損傷のような直接的な被害の防止 (外部雷保護) のみでなく施設内の電気設備の保護 (内部雷保護) も対象としている。勿論、施設の内部雷保護が施設内の機器の保護のために充分なものであるとは限らず、また全ての施設でそのような内部雷保護が行なわれているわけでもないので、施設や機器によっては追加での保護が必要となるかも知れない。

†4• 雷に関連する過渡現象– 接地回路を通して流れることで、あるいは外部回路のインピーダンスを通して流れることで電圧を発生する高電流を注入する、外部回路への直撃雷†5– 建物の外部や内部の導体に電圧や電流を誘導させる間接雷、すなわち雲のあいだ†4 雷やそれに伴うサージ、またそれに対する保護については[2][3] などを参照。
†5 高い位置を架空で敷設される送電線では直撃雷を受ける可能性も高くなるが、通常、電源導体への直撃雷の可能性は架空地線によって低減されている。架空地線による遮蔽の失敗により、あるいはフラッシュオーバーや逆フラッシュオーバーの発生によって高圧電力線に雷電圧が侵入する可能性は残るだろうが、低圧系へのサージの伝播は限定的なものとなることが予期される。

2

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このようなサージの波形や大きさは多様で、振動1性のものとなることや複数のサージが連続的に発生

0.9

する†9 こともあるが、この規格では数 kV、数 kA

0.8

†10

0.7

までの単方向の、単発的なサージが用いられる。

2 kV 1 kA
1.8

0.9

1.6

0.8

1.4

0.7

0.6

1.2

0.6

0.5

1

0.5

0.8

0.4

0.6

0.3

0.2

0.4

0.2

0.1

0.2

0.1

ÿÿÿÿÿÿ

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

試験機器

2

ÿÿÿÿÿÿ

0.4
0.3

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

2.1

コンビネーション・ウェーブ・ジェネ
レータ (CWG)

ÿ

ÿ

0

0

こ の 規 格 で は 、一 部 の 例 外 (下 記) を 除 き 、

20

40
60
Time (µs)

80

0
100

0

図 4: 1.2/50 µs — 8/20 µs 試験波形

1.2/50 µs — 8/20 µs と称される、開放回路電圧
波形の波頭長 (front time) が 1.2 µs で持続時間(duration) が 50 µs、短絡回路電流波形の波頭長がこの CWG を屋外対称通信線用 CDN (§2.4) と8 µs で持続時間が 20 µs の単方向のパルス (図 4)†11

組み合わせて用いる場合、出力の 40 Ω は 15 Ω でを発生する試験発生器が用いられる。

置き換えられる。

この発生器の実効出力インピーダンス (開放回路

1

電圧のピーク値と短絡回路電流のピーク値の比) は0.9

2 Ω であり、例えば試験レベルが 4 kV の場合の短0.8

絡回路電流のピーク値は 2 kA ±10 % となる。

0.7

2 kV 50 A
1.8

45

1.6

40

1.4

35

0.6

1.2

30

0.5

1

25

0.8

20

0.6

15

ÿÿÿÿÿÿ

ÿÿÿ

ÿ

開放回路電圧波形と短絡回路電流波形のいずれも、

ÿÿ

ピーク値の 30 % を超えないアンダーシュートが許ÿÿÿÿÿÿÿÿ

0.4

容される。

0.3

ÿ

ÿ

ÿ

ÿ

電話線のような屋外に引かれる対称通信線の試験

0.2

0.4

10

では、10/700 µs — 5/320 µs と称される、開放回

0.1

0.2

5

ÿ

ÿ

0

路電圧波形の波頭長が 10 µs で持続時間が 700 µs、

0

短絡回路電流波形の波頭長が 5 µs で持続時間が

200

400
600
Time (µs)

800

0
1000

0

図 5: 10/700 µs — 5/320 µs 試験波形

320 µs のパルス (図 5) を発生する試験発生器が用いられる。
この発生器の実効出力インピーダンスは 40 Ω で、これらの試験発生器は開放回路電圧波形と短絡回

例えば試験レベルが 2 kV の場合の短絡回路電流の路電流波形の要求を同時に満足する (同じ設定のまピーク値は 50 A ±10 % となる。

まで、出力を開放とした時は開放回路電圧波形の、短絡した時は短絡回路電流波形の要求を満足する)
もので、コンビネーション・ウェーブ・ジェネレー
タ (CWG) と呼ばれる。†12†9 雷撃は複数の放電を伴うことが多く、放電電流は小さいも電源のライン間への印加などへの対応のため、のの長時間持続する放電を伴うこともある。例えば DO-160G§22[4] , MIL-STD-461G CS117[6] は、振動性のものを含むサー
ジ波形、多重ストローク、また多重バーストを含む様々な形の雷誘導トランジェントに対する評価を含む。
†10 振動性のサージに対するイミュニティの評価は IEC 610004-12 (§5.5) で扱われている。また、雷撃やそれに伴うサージに対する評価は、雷保護デバイスのように雷撃やそれに伴うサージを扱う能力が重要なものに対する規格、ある種の電力設備のよ
うに雷撃の影響に曝されることが予期されるものに対する規格、また航空機 (飛行中にしばしば雷撃を受けることが想定され、それでも安全に飛行を継続できることが求められる) のように雷撃の影響への非常に高い耐性が求められるものに対する規格 [5] などで見られる (§5.4)。
†11 規格の Annex E で示されているような二重指数波形としてモデル化される。

CWG の出力はフローティングとなっている。

2.1.1

CWG の基本的な特性

1.2/50 µs — 8/20 µs の試験発生器 (CWG)に対する要求事項はこの規格の §6.2.2 で、また†12 これにより、電圧サージと電流サージの双方で試験する、あるいは試験対象の特性によってそれらを使い分けることなしに試験を行なえるようになっている。

3

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10/700 µs — 5/320 µs の試験発生器に対する要10.9

求事項はこの規格の Annex A で規定されている

極性

正、負

位相角

AC 電源電圧の位相角を基

U / Upeak(表 1, §2.1.2)。

準として 0〜360◦ の範囲

0.5
Tw

0.3

で、±10◦ の許容幅で設定

ईഇ̅可能なこと (1.2/50 µs —08/20 µs の CWG のみ)

T
Tf

繰り返し速度

1 回/分以上

開放回路ピーク電圧

0.5 kV から必要な試験レ

波形ベルまでで調整可能なこ

1.2/50 µs

波頭長 Tfと (表 2 も参照)

(8/20 µs)

サージ電圧波形

図610/700 µs

出力電圧設定許容差±10 %(5/320 µs)

短絡回路ピーク電流

ピーク電圧設定に依存

サージ電流波形

図7

短絡回路電流許容差±10 %

Tf = 1.67 × T= 1.2 µs ± 30 %Tf = 1.67 × T= 10 µs ± 30 %持続時間 Td

Td = Tw= 50 µs ± 20 %Td = Tw= 700 µs ± 20 %図 6: 開放回路電圧波形のパラメータ

短絡回路電流波形の波頭長 Tf は 10 % から 90 %までの時間 Tr の 1.25 倍†15 、持続時間 Td は 8/20 µs

表 1: 試験発生器 (CWG) の基本的な特性のパルスではパルス幅 Tw の 1.18 倍†16 、5/320 µsのパルスではパルス幅 Tw と等しいものと定義されレベルている。†14開放回路試験電圧 (kV)
ライン間

ライン — 接地間

1

—

0.5

2

0.5

1

3

1

2

電源線用 CDN (結合/減結合回路網) は CWG

4

2

4

(§2.1) が発生したサージを試験対象の電源導体に

X

特殊

特殊

注入するための結合回路網とサージの電源入力側

2.2

表 2: 試験レベル

電源線用 CDNへの伝播を防ぐ減結合回路網から成り、その原理を
図 8 〜図 10 に、またその波形のパラメータの規定
を 表 3に示す。

2.1.2

出力波形のパラメータ
して規約原点から電圧波形が 50 % を横切って低下するまでの時間である波尾長 (time to half-value) が用いられていたが、この版ではこれはパルス幅 Tw から求められる持続時間 (duration)
Td に置き換えられた。8/20 µs†16 以外の、Tf ≪ Tw となる
波形ではこの規格ではそれらの波形については単純に持続時間
Td = Tw と規定されている。この持続時間の値は IEC 610004-5:2005 までで用いられていた波尾長に近い値となるだろうが、それらが一致するというわけではない。
†15 1/(0.9 − 0.1) = 1.25 であり、従ってこれは電流波形が10 % を横切るポイントと 90 % を横切るポイントを結んだ直線
が 0 % のラインと交わる点 (規約原点) と 100 % のラインと交わる点のあいだの時間となる IEC 61000-4-5:2005 における波頭長の値と一致する (図 7)。
†16 規格には 1.18 という係数は経験的なデータから導かれたとあり、この持続時間が波形のどの部分の時間なのかは示されていないが、この係数はモデル化された電流波形 (図 4) での波尾長のパルス幅に対する比率と概ね一致する。従って、この持続時間の値は IEC 61000-4-5:2005 までで用いられていた波尾長に近い値となるだろうが、それらが一致するというわけではない。

CWG の出力での開放回路電圧波形のパラメー
タを図 6に、また短絡回路電流波形のパラメータを図 7に示す。
開放回路電圧波形の波頭長 (front time) Tf は30 % から 90 % までの時間 T の 1.67 倍†13 、持続時間 (duration) Td はパルス幅 Tw と等しいものと定義されている。†14†13 1/(0.9 − 0.3) ≃ 1.67 であり、従ってこれは電圧波形が30 % を横切るポイントと 90 % を横切るポイントを結んだ直線
が 0 % のラインと交わる点 (規約原点) と 100 % のラインと交わる点のあいだの時間となる IEC 61000-4-5:2005 における波頭長の値と一致する (図 6)。
†14 IEC 61000-4-5:2005 ではパルスの長さを示すパラメータと4

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

I / Ipeak

1
0.9

CWG
2̀

(1.2/50 µs )

0.5

CDN

ईഇ̅
0.1
0

18 µF

Tw
L

AC/DC
power port N
Tr
Tf
波頭長 Tf

持続時間 Td

1.2/50 µs(8/20 µs)

Tf = 1.25 × Tr
= 8 µs ± 20 %Td = 1.18 × Tw
= 20 µs ± 20 %10/700 µs

Tf = 1.25 × Tr

Td = Tw(5/320 µs)

EUT

N portPE波形= 5 µs ± 20 %LPE

図 8: 電源用 CDN の原理 (単相電源用; ライン間への
注入)

CWG

= 320 µs ± 20 %2̀

(1.2/50 µs )図 7: 短絡回路電流波形のパラメータ

この CDN は 1.2/50 µs — 8/20 µs の CWG

CDN(§2.1) と共に用いられ、ライン間への印加は 18 µF

9 µF 10 ̀のコンデンサを介して (CWG の出力に適切な 18 µFのコンデンサが入っている場合は追加のコンデンサや抵抗なしで)、従って CWG と同様に 2 Ω のイン
ピーダンスで行なわれ、CDN の EUT ポートでの

L

電圧波形や電流波形は CWG の出力と同様のものとなる。ライン — 接地間への印加は 9 µF のコン

AC/DCpower port N

デンサ (CWG の出力に適切な 18 µF のコンデンサ

PE

L

EUT

N portPEが入っている場合は 18 µF のコンデンサ) と 10 Ωの抵抗を直列としたものを介して行なわれ、出力イ

図 9: 電源用 CDN の原理 (単相電源用; ライン — 接地間への注入)

ンピーダンスが 2 Ω ではなく 12 Ω となることから
短絡回路電流波形のピーク値が小さくなり、また短絡回路電流波形の波高値や持続時間も CWG の出力パラメータの規定を図 12、図 13、表 5 に示す。これやライン間への印加の場合とは大きく異なるものとらの CDN は、1.2/50 µs — 8/20 µs の CWG (§2.1)

なる。

と組み合わせて、非シールド相互接続線にサージをCDN の電流定格†17 が大きい場合、出力波形のパ注入するために用いられる。

ラメータの一部についてより大きな偏差が許容され非シールド非対称相互接続線用の CDN (図 11)

る (表 3)。

は試験対象の非対称相互接続線のそれぞれのラインと接地のあいだに、また任意のラインとラインのあ2.3

相互接続線用 CDN

いだに、40 Ω の抵抗と結合デバイス (CD) を介してサージを印加するものとなる。

非シールド非対称相互接続線用の CDN の原理と一 方 、非 シ ー ル ド 対 称 相 互 接 続 線 用 の CDN

波形のパラメータの規定を図 11、表 4 に、また非(図 12) は印加対象のケーブルにコモン・モードで (すシールド対称相互接続線用の CDN の原理と波形のなわち全てのラインに一括で) サージを印加するも†17 試験では EUT の電流定格に対する要求を満たす CDN がのとなる。その結合抵抗 Rc はそれらの並列抵抗が必要となる (§4.2) ので、これは試験での使用が想定される EUTの電流定格と読み替えても良いかも知れない。

40 Ω となるように選択され、ライン数を n とすると5

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

電圧波形

18 µF (ライン間)
電流定格

9 µF + 10 Ω (ライン—接地間)

ピーク電圧

波頭長

持続時間

ピーク電圧

波頭長

Voc

Tf = 1.67 × T

Td = Tw

Voc

Tf = 1.67 × T< 16 Aµs
50 µs+10−10 µs設定−10 %µs
50 µs+10−25 µs16 A ≤, < 32 Aµs
50 µs+10−15 µs設定−10 %µs
50 µs+10−30 µs32 A ≤, < 63 Aµs
50 µs+10−20 µs+10 µs
50 µs−25 µsµs
50 µs+10−30 µs

設定 ± 10 %1.2 µs ± 30 %63 A ≤, < 125 A
125 A ≤, < 200 A

+10 %
+10 %

+10 %
設定−15 %
+10 %設定−20 %
+10 %設定−25 %

1.2 µs ± 30 %持続時間

Td = Twµs
50 µs+10−35 µsµs
50 µs+10−40 µsµs
50 µs+10−45 µs

電流波形

18 µF (ライン間)
電流定格
全て

9 µF + 10 Ω (ライン—接地間)

ピーク電流

波頭長

持続時間

ピーク電流

波頭長

持続時間

Isc

Tf = 1.25 × Tr

Td = 1.18 × Tw

Isc

Tf = 1.25 × Tr

Td = 1.04 × Tw

Voc /2 Ω ± 10 %8 µs ± 20 %20 µs ± 20 %Voc /12 Ω ± 10 %2.5 µs ± 30 %25 µs ± 30 %表 3: 電源線用 CDN の出力波形の規定

路や信号への影響が大きく、一般に高速

CWG
2̀

な信号には適さない†19– 電源線用 CDN などと比較して静電容量が小さく、これがサージ波形に影響すること

CDN

については結合デバイスとしてコンデン

9 µF 10 ̀

18 µFがあり、非対称相互接続線用 CDN (表 4)
サを用いた場合と GDT (ガス放電管) を用いた場合とで波形の規定が異なっている

L1

L2

L2

L3

L3

N

N

PE

PE

• GDT (ガス放電管)†20

EUT port

AC/DC power port

– 低い試験レベルでの使用の制限はない
L1– 静電容量や漏れ電流は非常に小さく、印加
対象のライン上の信号への影響は小さい– そのデバイスの放電開始電圧は印加対象のライン上の最大電圧よりも高い必要が

図 10: 電源用 CDN の原理 (3 相 4 線電源用; ライン間、
及びライン — 接地間への注入)

ある– そのデバイスのインパルス放電開始電圧
は試験レベルよりもかなり低いべきで、そ40 Ω×n、例えば 4 ラインの場合は 40 Ω×4 = 160 Ω†18の場合も印加される波形への影響に注意となる。

した方が良いかも知れない

結合デバイス (CD) は印加対象のラインの絶縁を– 電源などに使用する場合、その条件で続維持しながらサージを結合させる役割を持ち、その流 (サージの印加の後も電流が流れ続ける

要求を満たす任意のデバイスを使用できる。

現象) を生じないことの確認も必要となる

主な結合デバイスの基本的な特徴や注意事項は:かも知れない• コンデンサ• クランピング・デバイス (ダイオードやバリスタ)– 通常、0.5 µF のコンデンサが使用される– 静電容量が大きいことから印加対象の回†19 図 13 はコンデンサを用いているが、ノーマル・モード・
チョークを用いてコンデンサの信号への影響を抑えることで高速信号に対応している。
†20 ガス・アレスタ、あるいは単にアレスタとも呼ばれる。

†18 IEC 61000-4-5:2005 では最大 250 Ω となっていた。

6

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法– そのデバイスの静電容量や漏れ電流が印CWG2̀(1.2/50 µs )加対象のライン上の信号に悪影響を与えることもある– そのデバイスのクランプ電圧は印加対象

CDNのライン上の最大電圧よりも高い必要がある– そのデバイスのクランプ電圧は試験レベ
ルよりもかなり低いべきで、その場合もAE port

EUT port

印加される波形はクランプ電圧の分だけ低下するであろうことに注意すべきかも
知れない
CWG
2̀

(1.2/50 µs )図 13: 高速対称相互接続線用 CDN の原理
CD 40 ̀CDN

2.4

屋外対称通信線用 CDN

電話線のような非シールド屋外対称通信線用のための CDN の原理を図 14 に、またその波形のAE

パラメータの規定を 表 6 に示す。この CDN は

EUT

10/700 µs — 5/320 µs の CWG (§2.1) と共に用いられ、CWG の出力の 15 Ω の抵抗と CDN の各

図 11: 非対称相互接続線用 CDN の原理

ラインの 25 Ω の抵抗と適切な結合デバイスを介して印加対象のケーブルにコモン・モードでサージを印加するものとなる。

CWG
2̀

(1.2/50 µs )

CWG
15 ̀

(10/700 µs )

CDN

CD

CD

RC

RC

CDN

AE

AE

EUT

EUT

Rc = 25 Ω

図 14: 屋外対称通信線用 CDN の原理

Rc = 40 Ω × n

図 12: 対称相互接続線用 CDN の原理

7

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

開放回路電圧波形

CWG

結合

ピーク電圧

出力電圧

短絡回路電流波形

波頭長

持続時間

Tf = 1.67 × T

Td = Tw

±30 %

±30 %

±10 %

ピーク電流

波頭長

持続時間

Tf = 1.25 × Tr

Td = 1.18 × Tw

±20 %

±30 %

±30 %

ライン — 接地間

CD = 0.5 µF, R = 40 Ω

4 kV

4 kV

1.2 µs

38 µs

87 A

1.3 µs

13 µs

CD = GDT, R = 40 Ω

4 kV

4 kV

1.2 µs

42 µs

95 A

1.5 µs48 µs

CD = 0.5 µF, R = 40 Ω

4 kV

4 kV

1.2 µs

42 µs

87 A

1.3 µs

13 µs

CD = GDT, R = 40 Ω

4 kV

4 kV

1.2 µs

47 µs

95 A

1.5 µs

48 µs

ライン間

表 4: 非対称相互接続線用 CDN の出力波形の規定 (Table 8 より)開放回路電圧波形
ピーク電圧

CWG

結合

持続時間

Tf = 1.67 × T

Td = Tw

±10 %

±30 %

±30 %

2 kV

1.2 µs

45 µs

出力電圧

CD = 任意, R = 40 Ω

短絡回路電流波形

波頭長

2 kV

ピーク電流

波頭長

持続時間

Tf = 1.25 × Tr

Td = 1.18 × Tw

±20 %

±30 %

±30 %

48 A

1.5 µs

45 µs

表 5: 対称相互接続線用 CDN の出力波形の規定 (Table 10 より)
開放回路電圧波形
ピーク電圧

CWG

結合

持続時間

Tf = 1.67 × T

Td = Tw

±10 %

±30 %

±30 %

4 kV

8 µs

250 µs

出力電圧1 対, 27.5 Ω

†

4 kV

短絡回路電流波形

波頭長

ピーク電流

波頭長

持続時間

Tf = 1.25 × Tr

Td = 1.18 × Tw

±20 %

±30 %

±30 %

145 A

3.2 µs250 µs† 15 Ω + 25 Ω/2 = 27.5 Ω

表 6: 屋外対称通信線用 CDN の出力波形の規定 (Table A.4 より)• 電流プローブ、もしくは電流シャント

校正

3

測定対象のポイントから見たインピーダンスが校正は、以下のいずれか、あるいは双方について

0.1 Ω 以下となること;行なう:

電流プローブ (電流トランス) の場合、下側の• CWG 単体;

カットオフが 100 Hz (10/700 µs — 5/320 µsのサージの測定の場合は 10 Hz) よりも低い• CWG と CDN の組み合わせ。

こと。

CWG の出力と CDN の出力の双方で同時に波形の要求を満足する必要はなく、試験で EUT に妨害3.2を印加する位置で要求を満たせば良い。

CWG の校正• CWG はこの規格で規定された要求事項 (§2.1)

3.1

を満足すること

使用機器

CWG や CDN の校正では、測定するサージ電圧• CWG の出力経路に 18 µF の出力コンデンサ

やサージ電流に対応した、またその測定の目的に見が内蔵されていない場合、この測定は 18 µF

合った周波数特性を持つ以下の機器を用いる:のコンデンサを外付けして行なう• 位相角の確認は CDN の出力で、いずれか一方• オシロスコープの極性で、0◦ 、90◦ 、180◦ 、及び 270◦ の位相角

• 高圧差動プローブ

について行なう入力インピーダンスが 10 kΩ 以上であること

8IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

3.3• この測定の結果はその特定の CWG との組み

電源線用 CDN の校正

合わせに対してのみ有効となる• 電源線用 CDN (§2.2) の EUT ポートで測定された開放回路電圧波形や短絡回路電流波形はこCWGの規格の Table 4、5、6 の規定 (表 3) を満足
すること

2̀

(1.2/50 µs )†21

• CDN の電源入力ポートで測定された残留電圧

CDN
CD 40 ̀(電源の入力側へのサージの漏洩) が最大試験
電圧の 15 %、あるいは定格ピーク電圧の 2 倍ਉ‫܅‬അȅ

を超えないことAE

EUT• CDN の EUT ポートのサージを印加していな
いラインと接地とのあいだで測定された不要電
圧 (他のポートへのサージの漏洩) が最大試験
電圧の 15 % を超えないこと؉ആ or ؉ആ

• アンダーシュートの制限はない

図 15: 非対称相互接続線用 CDN の校正 — EUT 側のサージ電圧/サージ電流の測定 (ライン–PE)• この測定の結果はその特定の CWG との組み合わせに対してのみ有効となる

3.4

CWG

非対称相互接続線用 CDN の校正

2̀

(1.2/50 µs )• この規格の Table 7 (表 7) で示された項目を測定する。
この測定は、実際に試験で用いる構成で行なうਉ‫܅‬അȅべきである。



• 非対称相互接続線用 CDN (§2.3) の EUT ポー

CD 40 ̀

CDN

AE

EUT

トで測定された開放回路電圧波形や短絡回路電
流波形はこの規格の Table 8 の規定 (表 4) を満足すること。

図 16: 非対称相互接続線用 CDN の校正 — AE 側の残留電圧の測定 (ライン–PE)• AE (補助機器) ポートの残留電圧 (サージの漏洩) も測定/記録すべきであるが、これに対する限度は規定されていない。
この情報は、その CDN が与える減結合が試験3.5で使用する AE の保護のために充分かどうか

対称相互接続線用 CDN の校正• この規格の Table 9 (表 8) で示された項目を測(追加の保護が必要かどうか) を判断するため定する。

に用いることができる。

この測定は、実際に試験で用いる構成で行なうべきである。

†21 規格の Table 4 には、その値が理想的な試験発生器でのもので、発生器のパラメータが許容範囲に近い場合、その発生器と CDN の組み合わせは許容範囲を超える値を生じるかも知れない旨が記載されている。これは実際の発生器と CDN を組み合わせて測定した時の波形がこの範囲に入らなくても良いように読めるかも知れないが、規格の §6.3.2 には開放回路条件と短絡回路条件での波形の検証が必要である旨、またその結果が特定の発生器と CDN の組み合わせに対してのみ有効である旨が明記されている。

• 対称相互接続線用 CDN (§2.3) の EUT ポートで測定された開放回路電圧波形や短絡回路電流波形はこの規格の Table 10 の規定 (表 5) を満足すること。

9

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

結合

測定

AE 側

EUT 側

単一のライン—

単一のライン;

全ライン

サージ電圧

PE

ピーク電圧、波頭長、持続時間

PE に短絡EUT 側

単一のライン—

単一のライン;

全ライン

サージ電流

PE

ピーク電流、波頭長、持続時間

PE に短絡EUT 側

単一のライン—

単一のライン;

全ライン

サージ電圧

ライン

ピーク電圧、波頭長、持続時間

PE に短絡EUT 側

単一のライン—

単一のライン;

全ライン

サージ電流

ライン

ピーク電流、波頭長、持続時間

PE に短絡AE 側
残留電圧

単一のライン—

各ライン—PE;

開放

PE

ピーク電圧

EUT 側
開放
短絡
開放
短絡
開放

表 7: 非対称相互接続線用 CDN の校正プロセスの要約 (Table 7 より)

結合

測定

AE 側

EUT 側

EUT 側

コモン・モード;

全ライン一括接続;

全ライン

開放;

サージ電圧

全ライン—PE

ピーク電圧、波頭長、持続時間

PE に短絡

全ライン一
括接続

EUT 側

コモン・モード;

全ライン一括接続;

全ライン

全ライン

サージ電流

全ライン—PE

ピーク電流、波頭長、持続時間

PE に短絡PE に接続AE 側

コモン・モード;

全ライン一括接続;

開放

開放

残留電圧

全ライン—PE

ピーク電圧

表 8: 対称相互接続線用 CDN の校正プロセスの要約 (Table 9 より)

3.6

CWG
2̀

(1.2/50 µs )屋外対称通信線用 CDN の校正• この規格の Table A.3 (表 9) で示された項目を
測定する。
CDN

この測定は、実際に試験で用いる構成で行なうRCਉ‫܅‬അȅべきである。



• 校正はペア毎に行なう。

CD

AE

EUT

• EUT ポートの開放回路電圧波形と短絡回路電
流波形のピーク値、波頭長、及び持続時間はこの規格の Table A.4 の規定 (表 6) を満足すること。

• AE ポートの残留電圧 (サージの漏洩) も測定/記録すべきであるが、これに対する限度は規定されていない。

؉ആ or ؉ആ

• この測定の結果はその特定の CWG との組み

図 17: 対称相互接続線用 CDN の校正 — EUT 側のサー
ジ電圧/サージ電流の測定 (ライン–PE)

合わせに対してのみ有効となる

10

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

結合

測定

EUT 側

コモン・モード;

サージ電圧

1 対—PE

AE 側

EUT 側

対となるラインを一括接続;

全ライン

開放;

ピーク電圧、波頭長、持続時間

PE に短絡

対となるラ
インを一括
接続

EUT 側

コモン・モード;

サージ電流

1 対—PE

対となるラインを一括接続;

全ライン

対となるラ

ピーク電流、波頭長、持続時間

PE に短絡イン双方をPE に接続AE 側

コモン・モード;

対となるラインを一括接続;

残留電圧

1 対—PE

ピーク電圧

開放

開放

表 9: 屋外対称通信線用 CDN の校正プロセスの要約 (Table A.3 より)• インパルスの印加の間隔は 1 分以下とする。

CWG
15 ̀

(10/700 µs )より短い間隔での試験を行なっても良いが、短い間隔での試験で不合格となり、1 分毎での試
験で合格となる場合、1 分毎での試験を優先す

CDN

る。†23

RC

ਉ‫܅‬അȅ

• CDN と EUT のあいだのケーブルの長さは 2 m

CDAE以下とする。

EUT• シールド線の試験に際してはグランド・プレーンが必要となることを除き、試験時の EUT や周辺機器の配置に関する規定 (例えばグランド・プレーンに関する要求や機器を置く高さの規定のような) はない。
試験は、例えば IEC 61000-4-4 と同様のセット؉ആ or ؉ആ

アップで行なうことができる。

図 18: 屋外対称通信線用 CDN の校正 — EUT 側のサー
ジ電圧/サージ電流の測定 (ライン–PE)

4.2

4

試験

4.1

共通事項

電源ポートへの印加• 1.2/50 µs — 8/20 µs の CWG (§2.1) と EUTの電流定格に対する要求に適合する電源線用(§2.2) を用い、ライン間には 18 µF を介して、• 試験に先立ち、試験システムが正常に機能してライン — 接地間には 9 µF + 10 Ω を介していること (少なくとも CDN の出力にサージが印加する。

出ること) を確認すべき。

• 規定された試験レベルまでの全ての試験レベル†23 例えばサージ保護のためにバリスタが入れられている場合、サージを印加するとバリスタはサージを吸収して熱くなる。通常、バリスタの大きさは単発的なサージに伴う温度上昇が許容範囲内となるように設計されるであろうが、サージを短い間隔で印加すると温度が異常に上昇して単発的なサージでは生じない
筈の焼損に至ることがある。最大の試験レベルは 1 分毎に、低い試験レベルはより短い間隔で印加する†24 ような中間的な対応を行なうこともできるかも知れない。
†24 最大の試験レベルで 1 分毎の印加に耐えるのであれば、その 1/2 の試験レベルでは 30 秒毎、1/4 の試験レベルでは 15 秒
毎の印加には充分に耐えられると思われる。

(表 2) で、例えば試験レベルが 2 kV であれば
0.5 kV、1 kV、及び 2 kV で試験する。†22• それぞれの条件について正、負それぞれ 5 回づ
つの印加を行なう。
†22 IEC 61000-4-5:2005 では、二次保護の試験では最悪条件の一次保護の降伏電圧 (レットスルー・レベル) のすぐ下で試験することも求められている (§5.2)。

11

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法• 二重絶縁の機器については、製品群/製品規格

4.4

で他の規定がない限り、ライン – 接地間のサージの印加は不要となる。†25

非シールド屋外対称通信ポートへの
印加• 電話線などの非シールド屋外対称通信ポートは• 交流電源の場合は電源波形の 0◦ 、90◦ 、180◦ 、

10/700 µs — 5/320 µs の CWG (§2.1) と屋外

及び 270◦ に同期させて、それぞれの条件につ対称通信線用 CDN (§2.4) を用いて試験する。

いて正、負それぞれ 5 回づつの印加を行なう。

• サージはコモン・モードで、すなわちそのポー

例えば N が接地されている場合の N と PE のトの全ての導体と接地のあいだに一括で印加

あいだのように電圧が印加されていない箇所のする。

試験では位相角の同期は不要で、任意のタイミ• 常に指定された一次保護デバイス†26 とともに

ングで正、負それぞれ 5 回づつの印加を行なえば良い。

用いることが意図されたポートは一次保護デバ
イスとともに試験する。

4.3

非シールド相互接続ポートへの印加

4.5• 屋外対称通信線以外の非シールド相互接続ポーシールド線への印加

トは 1.2/50 µs — 8/20 µs の CWG (§2.1) と• この試験法は両端が接地されたシールド線にの適切な相互接続線用 CDN (§2.3) を用いて試験み適用され、シールドが接地されない、あるいする。

は片端のみで接地される場合はシールドされて使用する結合デバイス (CD) は試験対象のポーいない相互接続線 (§4.3) と同様に試験する。

ト上の信号や電源を考慮して適切なものを選択• 試験対象のポートとその先のデバイスまでのする。

あいだのケーブルの長さは、20 m (推奨)、も
しくは製造業者が実際の設置で使用される組み• 非シールド対称相互接続ポートには対称相互接
続線用 CDN (図 12, 図 13, 表 5) を用いてコモ立て済みのケーブルを用意している場合はそのン・モードで、すなわちそのポートの全ての導10 m よりも長い最短のものとする。このケー体と接地のあいだに一括で印加する。

ブルの余長は非誘導的に束ねるかバイファラ巻
きとし (§5.1)、絶縁台の上に置く。

非シールド非対称相互接続ポートには非対称相互接続線用 CDN (図 11, 表 4) を用いてそれぞ製造業者がケーブルの最大長を 10 m 以下と規れのライン–接地間やライン–ライン間に印加す定している場合、そのケーブルの試験は不要である。†27

る。但し、製品群/製品規格でライン–ライン間の試験が規定されていることは稀である。

• EUT やそれと接続されたその他の機器は適切な絶縁台で床面から絶縁する。

• EUT、またその試験対象ポート以外の全ての接続 (それらのポートに接続された機器) を適†25 だが、その機器が二重絶縁であっても、実際の使用に際してその金属の筐体が接地されることがある、機能接地がある、それに接続された周辺機器が接地に接続されることがあるなど、その機器をライン – 接地間のサージに影響されやすくする要因があるかも知れない。例えば商用電源と電話回線 (古典的なメタルの加入者線) に接続される家庭用の電話機やその他の通信機器は商用電源と電話回線のあいだに生じるサージによる被害を受けやす
く、しばしばバイパス・アレスタによる保護が行なわれている。
規格の規定は別として、想定される使用状況、またその影響を考慮し、必要であれば規格上は不要となるとしてもそれを試験で確認することも考えると良いかも知れない。IEC 61000-4-5:2005
では二重絶縁機器は接地がある機器と同様に、だが接地接続を追加接続せずに試験するように、そして他に生じ得る接地への経路がない場合にはライン – 接地間の試験は不要と規定されている。

切な絶縁変圧器か減結合回路網で接地から分離
し、試験対象ポートに接続されたケーブルの末
端 (そのポートに接続された機器) は接地する。

†26 外付けの避雷器 (アレスタ) など。電話線 (加入者線) の場
合、建屋への引き込み部の近くで保安器に通される筈である。
†27 この試験法を参照している規格でこれと異なる規定 (例えば、シールドの有無に関わらず、信号線は 30 m を超える、あるいは建屋から出る場合にのみこの試験の対象となるような) があるかも知れない。

12

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

接地から分離された機器に保護接地がある場

ケーブルを束ねる場合、簡単には、例えばケーブ†28

合、保護接地は接地しない。

ルを中央付近で半分に折り返した上で、そのペアを保ったままで必要な長さに折り返して束ねるように• EUT が金属の筐体を持つ場合、その筐体と接地すれば良いかも知れない (図 20)。†33のあいだにサージを印加する (図 19)。†29†30†31

平面でのバイファラ巻きの例は図 21のようなもの

試験対象のポートに接続されたケーブルの末端で、ケーブルを折り返した上で螺旋状に巻いて作るは接地されているので、これによってそのケーことができる。

ブルを通して EUT にサージが注入されることになる。

サージ防護デバイスの影響

5.2

EUT の筐体が金属でない場合、サージはシー
ルドの EUT 側の端とのあいだに印加する。†32

バリスタのようなサージ防護デバイスはサージ波形を規定された電圧でクリップするような応答を
示す。

5

補足

5.1

ケーブルの余長の処理

これに対して、GDT (ガス放電管) に代表される
ようなスイッチング・タイプのサージ防護デバイス
は、印加された電圧が降伏電圧 (放電開始電圧) を超えると急速に導通し、電圧を非常に低く抑えるよシールド線への印加 (§4.5) に際しては長いケーブ

うな応答を示す (図 22)。

ルを使用するため、余長の適切な処理が必要となる。

このタイプのサージ防護デバイスは降伏電圧より

規格ではケーブルは非誘導的に束ねるかバイファも低いサージに対しては保護を与えず、このため降ラ巻きとするように述べられている。その具体的な

伏電圧を超えるサージよりも降伏電圧よりもやや低方法は述べられていないが、インダクタンスを抑えいサージの方が後続の回路への影響が大きくなるこ

るためにはケーブルを流れる電流が発生する磁界がとがある。

相殺されるようにすれば良く、このためにはケーブ
ルの逆方向となる部分を互いに密着させてそれらが従って、そのようなサージ防護デバイスが用いら発生する磁界が相殺されるように、またケーブルがれている場合、IEC 61000-4-5:2005 で言及されていループを作る場合はそのループからの磁界が逆方向るように、降伏電圧よりも僅かに低い電圧のサージのループで相殺されるようにすれば良い。

での評価を行なう価値があるかも知れない。

†28 絶縁変圧器を用いずに保護接地を切り離す場合、感電の危険を生じないように注意すべきであろう。
†29 規格では概ねこのように述べられているが、実際には、例
えば EUT が金属の筐体を持つがその筐体がケーブルのシール
ドや接地に接続されていない場合のように、サージを筐体に印加したのでは実際にサージを受けた時の影響を模擬できず、適切に試験を行なうためには実際にサージを受けた時の影響を想定
して印加方法を工夫することが必要となることがあるかも知れない。ケーブルのシールドと金属の筐体が接続されているとしても筐体のどの位置にサージ発生器を接続するかによって試験の結果が有意に変わる可能性も考えられるが、ケーブルのシー
ルドが EUT や周辺機器の保護接地と低インピーダンスで接続されているならば EUT と周辺機器の保護接地端子のあいだにサージを印加するのが簡単で、また実際にサージを受けた時のサージ電流の経路を良く模擬できそうである。
†30 この試験法では筐体にサージが直接現れる可能性があることに注意。
†31 その筐体は試験対称のケーブルのシールドを通して接地されている筈ではあるものの、この試験では EUT の筐体とグランド・プレーンのあいだにサージを印加することになるため、安全上の適切な配慮が必要となりそうである。
†32 実際の使用状況においてサージが EUT と周辺機器の接地のあいだに生じることが予期されるかも知れず、その状況はEUT の保護接地端子にサージを印加することでより良く模擬できるかも知れない。

5.3

試験レベルの例 — IEC 61000-62:2016• 信号/制御ポート: ライン—接地: ±1 kV
30 m よりも長い、あるいは建屋の外に出るラインに接続されるポートのみに適用。

• 入出力 DC 電源ポート: ライン—接地: ±1 kV、
ライン—ライン: ±0.5 kV

30 m よりも長い、あるいは建屋の外に出るラインに接続されるポートのみに適用; 電池や再充電のためには機器から切り離さなければなら†33 この方法では 2 回目以降の折り返しは管理されておらず、その束ねは最良のものとはならないだろう。だが、少なくともその束は逆方向となる部分が入り混じった、また折り返しによって生じるループも様々な方向を向いたものが入り混じったものとなり、簡単な作業で比較的低インピーダンスの束ねを得ることはできそうである。

13

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

20 m  (༄ԉ‫)܆‬18 µF
ąԈࠅЅ

AE

EUT

CWG
図 19: シールド線へのサージの印加

し、それが規定されていない場合はこの試験レ(1) ̅ȅȆ༈

ベルで DC 電源ポートで試験する。
(2) ༄

༅ԉȆ༈• 入出力 AC 電源ポート: ライン—接地: ±2 kV、ライン—ライン: ±1 kV(3) ‫܆‬雷インパルスとの比較

5.4

図 20: 簡単な束ね方の例

雷撃に伴う電流の模擬には、しばしば 200 kA に達するような振幅の 10/350 µs のインパルス電流が用いられる (図 23)。
200

150
200 kA

図 21: バイファラ巻きの例

2  



ÿ

ÿ

ÿ

100
ÿ

ÿ

ÿ

4   
40 kA Class I SPD 4 
2 kA 8/20 µs 
200
400
ÿÿ ÿ

U

40 kA Class II SPD
50؉༄؉‫܅‬
0
0


600

ÿ ÿÿ

図 23: 雷インパルス電流との比較

また、雷撃に伴う過電圧への耐性の評価では、しばしば 100 kV から 1 MV のオーダーの振幅のイtンパルス電圧が用いられる。

図 22: GDT の応答のイメージ

このような電圧と電流を同時に発生させることはない二次電池への接続が意図された入力ポート困難であり、目的に応じてインパルス電圧とインパには適用しない。

ルス電流が使い分けられている。このような高レベ

市販の試験機器 (例えば CDN) が存在しない

ルのインパルス電流やインパルス電圧での試験のた

電源電圧の場合は試験は不要。

めにはかなり大型の試験設備、例えば図 24のようなものが必要となる。

AC/DC 電源アダプタとともに用いることが意図された DC 入力ポートを持つ機器は製造業者が規定した AC/DC 電源アダプタの入力で試験

14

IEC 61000-4-5 の概要 — サージ試験の方法

雷からの誘導によってケーブル上に生じるような過渡妨害の影響を模擬するもので、振動性の波形、多重ストローク、多重バーストを含む多様な波形が用いられる。

• DO-160G §23.4.1[5] — 高圧着雷試験
直撃雷の影響を模擬するもので、100 kV から

1 MV のオーダーの振幅のインパルス電圧が用いられる。

• DO-160G §23.4.2[5] — 高電流物理損傷試験
雷撃に伴う電流の影響を模擬するもので、最大で 200 kA に達するような振幅のインパルス電流が用いられる。

6(Photo by Darkking3, licensed under CC BY 3.0)

参考資料

図 24: 高電圧インパルス試験システムの例 — 手前のタワーが発生器、奥のタワーが高圧分圧器

5.5[1] IEC 61000-4-5:2014, Electromagnetic compatibility (EMC) — Part 4-5: Testing and measurement techniques — Surge immunity test

関連規格[2] 雷保護と接地マニュアル: IT 社会のアキレス腱,ピーター ハッセ, ヨハネス ウィジンガー, 加藤 幸
二郎 訳, 2003, ISBN: 4501110902• IEC 61000-4-12 — リング・ウェーブ
電源系統上での開閉や雷の影響などによって生[3] 最新の雷サージ防護システム設計 (JIS 使い方シリーズ), 黒沢 秀行, 木島 均 他, 2006, ISBN:4542303977

じることがある振動性の過電圧の影響を模擬する。

• IEC 61000-4-18 — 減衰振動波[4] 航空用機器の EMC — RTCA DO-160G の概要— Part 3: 雷誘導トランジェント・サセプティビ
リティ、及び静電気放電, 株式会社 e・オータマ,
佐藤, 2020,

中圧や高圧の開閉装置の開閉に伴って生じるよ
うな激しい振動波形のバーストの影響を模擬する。

https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html

電源系統上での開閉や雷の影響などによって生[5] 航空用機器の EMC — RTCA DO-160G の概要— Part 4: 雷の直接的な影響, 株式会社 e・オー
タマ, 佐藤, 2020,

じることがある単方向のパルス性の磁界の影

https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html

響を模擬するもので、IEC 61000-4-5 と同様の

[6] 軍需機器の EMC — MIL-STD-461G の概要 —Part 3: 雷誘導トランジェント、及び過渡電磁界へのサセプティビリティ (CS117, RS105), 株式
会社 e・オータマ, 佐藤, 2021,• IEC 61000-4-9 — インパルス磁界8/20 µs の波形が用いられる。
• IEC 61000-4-10 — 減衰振動波磁界

https://www.emc-ohtama.jp/emc/reference.html

中圧や高圧の開閉装置の開閉に伴って生じるよ
うな減衰振動波に伴う磁界の影響を模擬するもので、IEC 61000-4-18 と同様の減衰振動波が用いられる。

c 2024⃝• DO-160G §22[4] , MIL-STD-461G CS117[6] —e-OHTAMA, LTD.

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雷誘導トランジェント

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