主催：公益社団法⼈ ⽇本顕微鏡学会

第 34 回(2024 年度) 電⼦顕微鏡⼤学 開講のお知らせ
1. 開催概要
電⼦顕微鏡⼤学は、電⼦顕微鏡の理論的背景、動作原理、計測・解析に必要不可⽋な知識について、各種顕微鏡法を専⾨とする講師陣が 2 ⽇間に渡り概説する集中講義です。1991 年に開講して以来、2 ⽇間で 10 数コマの講義に加え、基礎的内容を網羅した豊富なテキストや、講義後の Q&A集の作成などの改良を重ね、多くの⽅々に受講して頂きました。コロナ禍であった 2021/22 年はオンラインでの開催でしたが、集中して講義に参加する重要性から 2023 年より再び対⾯での開催となりました。電⼦顕微鏡の基礎原理は変わりませんが、顕微鏡本体や検出器などの周辺機器は⽬覚ましい発展をしています。そこで、より現代的な視点に⽴った講義が要求されることから、2024 年度より講義テーマ・講師陣およびテキストを刷新します。これまで、材料系を中⼼とした講義内容でしたが、新たな試みとして⽣物系であるクライオ電⼦顕微鏡に関する講義も開講します。電⼦顕微鏡をこれから使う予定の⽅、理論的基礎を学びたい⽅、新たな顕微鏡法に挑戦されたい⽅などに最適な講義です。多くの⽅々のご参加をお待ちしております。

２. 開催要領
2.1. 開催⽅法
・⽇時：2024 年 11 ⽉ 21 ⽇（⽊）、22 ⽇（⾦）
・場所：東京⼤学⼭上会館
・講義テキストの配布
・定員：70 名
2.2. 参加申込⽅法
・⽇本顕微鏡学会ホームページの「電⼦顕微鏡⼤学」ページよりお申込みください。
8 ⽉9日から参加申込みのためのページを開設します。
2.3. 受講料（暫定）会員・賛助会員(各団体 5 名まで)・連携学協会会員：30,000 円
⾮会員：60,000 円
学⽣会員・連携学協会会員：3,000 円
⾮会員：10,000 円▶⾮会員の場合，申込みと同時に⽇本顕微鏡学会への⼊会⼿続きをいただいた場合は，今年度末までの会員資格と，会員資格での受講として扱います。⼊会⼿続きは下記をご覧ください。⼊会・年会費案内 ‒ 公益社団法⼈ ⽇本顕微鏡学会
2.4. お問い合わせ
・申込みに関するお問い合わせ：
電⼦顕微鏡⼤学ヘルプデスク
FAX：03-5227-8632

E-mail： jsm-denken@conf.bunken.co.jp

・講習の内容等に関するお問い合わせ：第 34 回(2023 年度)電⼦顕微鏡⼤学実⾏委員⻑ ⽯川 亮（東京⼤学）
E-mail: ishikawa@sigma.t.u-tokyo.ac.jp

講
1.

透過電⼦顕微鏡のハードウェア

義内容

講師：⼤⻄ 市朗（⽇本電⼦）

本講義では、電⼦顕微鏡のハードウェアの構成要素である電⼦銃、照射レンズ系、結像レンズ系、偏向系/⾛査系、試料ホルダー、記録系、排気系、分析装置、収差補正系の動作原理とそれぞれの構成要素の種類と性能を説明します。本講義を通して受講者が⾃分の観察試料に対して、どのような装置が適切であるかの指針となることを期待いたします。
2.

電⼦回折法

講師：森川 ⼤輔（東北⼤学）

回折実験は結晶性試料を解析する上で必要不可⽋です。本講では、電⼦回折の基本から始めて、回折図形から分かる結晶学的情報の概要を⽰します。電⼦回折では多重散乱を考慮することが必須ですが、運動学的回折（⼀回散乱）と動⼒学的回折（多重散乱）の違いを消滅則や空間群決定を通して学びます。また、収束電⼦回折法や 4D-STEM 法についても概論します。
3.

明視野・暗視野法―回折コントラスト法―

講師：荒河 ⼀渡（島根⼤学）

⽐較的厚い試料を⽐較的低い倍率および分解能で広いエリアにわたって観察する場合には、回折コントラストを利⽤した明視野法・暗視野法が威⼒を発揮します。この⼿法は、試料に埋め込まれた析出物や⽋陥等の微細構造のみを浮き上がらせて結像する⽅法です。本講では、この⽅法の基本原理および実際の適⽤の仕⽅とその例を解説します。
4.

⾼分解能電⼦顕微鏡法

講師：⼭﨑 順（⼤阪⼤学）

本講義では、電⼦線が物質を透過する際に受ける位相変化を電顕像コントラストに変換する原理について説明し、それを応⽤して物質中の原⼦の並びを観察する⾼分解能電⼦顕微鏡法(HRTEM)について解説します。その応⽤範囲、注意点や限界などについても実例を挙げながら紹介します。
5.

⾛査透過電⼦顕微鏡法

講師：⽯川 亮（東京⼤学）

本講義では、代表的な STEM 結像法である環状暗視野法, 明視野法, 微分位相コントラスト法の結像原理や実践的な⽤法、最新の STEM 機に必要不可⽋な収差補正装置の原理および調整法について概説します。これらを基に、より実践的な応⽤研究例についても紹介します。
6.

X 線エネルギー分散型分光法

講師：渡辺万三志（東北⼤学/Lehigh University）

X 線エネルギー分散型分光法 (XEDS)は、 局所組織に対応した元素分析を⾏う⽅法の⼀つとして，SEM や TEM で利⽤されています。本講義では、TEM での X 線分析に関して、X 線の発⽣とその検出⽅法，元素同定を⾏う定性分析および組成分析を⾏う定量分析について説明します。また、近年、劇的に改善された空間分解能や検出限界に関しても紹介します。
7.

電⼦エネルギー損失分光

講師：治⽥ 充貴（京都⼤学）

電⼦エネルギー損失分光法(EELS)は元素・電⼦状態分析が可能な局所分光法です。本講義では、測定原理や電⼦励起における理論、またスペクトルの解釈法について解説を⾏います。また、実際の計測法についても紹介し、実験において必要とされる知識について紹介します。
8.

電⼦線ホログラフィー

講師：村上 恭和（九州⼤学）

電⼦線ホログラフィーは、電⼦波の振幅と位相の両⽅を決定できる技術です。特に位相は、観察対象の電場や磁場に関わる情報を与えることから、本技術は物理、化学、材料⼯学など様々な分野で活⽤されています。本講義では、電⼦線ホログラフィーに関わる学理と技術を解説すると共に、その応⽤事例を紹介します。
9.

電⼦線トモグラフィー法

講師：波多 聰（九州⼤学）

TEM や STEM による三次元観察法の⼀つとして、電⼦線トモグラフィーは⽣物系試料だけでなく材料系試料にも⽤いられています。本講義では、材料系、特に結晶性の試料の電⼦線トモグラフィー観察を想定し、最低限知っておくべき原理等の基本的事柄や、三次元画像の出来を左右する観察のポイントを、応⽤事例とともに紹介します。
10.

その場観察電⼦顕微鏡法：⽵⼝ 雅樹（物質・材料研究機構）

エネルギー材料を中⼼として実際の使⽤環境における材料の構造や組成変化のナノ・原⼦レベルでのメカニズム解明が重要視されるようになりました。今や各種その場観察試料ホルダー等が市販され、その場観察電⼦顕微鏡研究が急速に普及しています。本講義ではその場観察電⼦顕微鏡の基礎や注意点等をいくつかの代表的な観察技法を紹介しながら解説します。
11.

クライオ電⼦顕微鏡法：横⼭ 武司（東北⼤学）

クライオ電⼦顕微鏡は、溶液中の試料を急速凍結し⾮晶質の氷に閉じ込め、透過型電⼦顕微鏡を⽤いて直接観察する⼿法です。
取得されたタンパク質など⽣体⾼分⼦の粒⼦像を画像処理により、三次元再構成することで、⾼分解能⽴体構造を取得することが可能です。本講義では、クライオ電⼦顕微鏡の基礎から観察や解析の流れ、構造解析の実際を紹介します。
12.

⾛査電⼦顕微鏡の基本と応⽤―取得信号の特徴と利⽤法―

講師：⼤南祐介（⽇⽴ハイテク）

⾛査電⼦顕微鏡は、透過電⼦顕微鏡と⽐較して試料調製と操作が平易であることから表⾯観察の道具として普及しています．
加速電圧などの⼀次ビーム条件の違いによる取得信号の違い、⼆次電⼦検出器や X 線検出器など様々な検出器による取得信号の違い、試料近傍の真空度や試料調製による取得画像情報の違いなど、主に装置ハードウェアによる取得信号の特徴とそれら利⽤法を紹介します。
13.

FIB による試料加⼯：加藤 丈晴（ファインセラミックスセンター）

透過型電⼦顕微鏡を活⽤するためには、観察すべき領域を適切に薄⽚化することが必要です。近年、局所領域をピンポイントで薄⽚試料に仕上げることができる集束イオンビーム(FIB)技術は、多くの材料で活⽤されています。本講義では、FIB 装置の基本構成と機能を紹介した後に、薄⽚試料作製のための具体的な操作と、いくつかの FIB 加⼯事例を説明します。
（講義の順番はこの通りではない可能性があります。ご了承ください。）