地球環境研究,Vol.12(2010)

SEM-EDX による珪酸塩鉱物の定量化学分析
川

野

良

信＊

管

野

稔

洋＊

三

浦

亜由美＊

キーワード：走査型電子顕微鏡､ エネルギー分散型Ｘ線分析装置､ 珪酸塩鉱物

１. はじめにれたとしても､ その強度がどれほどの元素含有量に相当しているのかがわからなければ化学成分の定量はできな

走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope；い｡ 立正大学ではオープンリサーチセンターの整備機器

以下 SEM と略) とそれに付属するエネルギー分散型Ｘのひとつとして平成21年度にカーボン蒸着装置 (日立製

線分析装置 (Energy Dispersive X-ray Detector；以下

作所製 E-1010､ 図２) を導入し､ さらに標準試料とし

EDX と略) は SEM-EDX と呼ばれ､ 多くの大学や研究て鉱物スタンダードも購入し､ SEM-EDX による未知機関に普及している教育・研究装置のひとつである｡ 近試料の定量化学分析が可能となった｡ 他研究機関では珪

年､ 装置の進歩とともに分析精度が向上し､ 加えて使用

酸塩鉱物や火山ガラスの定量化学分析に SEM-EDX を方法も容易になったことから大学院生や学部学生の利用

使用する場合が増えており (武蔵野, 1986；藤野・板谷,も増えている｡ 立正大学地球環境科学部に設置されてい1992；Yokoyama et al.1993；木村, 1994；平山・福岡,

る SEM-EDX (図１) は､ 今まで砂粒・鉱物・宇宙塵

1999；赤坂ほか, 1988；和田ほか, 2003；佐野, 2003)､などの鏡下観察やスタンダードレス定量化学分析に用い本学部でも鉱物､ 火山ガラスおよび宇宙塵の定量化学分られてきたが､ 珪酸塩鉱物の定量化学分析は行っていな析を目的として検討を進めている｡

かった｡ その理由の一つは､ SEM-EDX で分析する試

本論では立正大学地球環境科学部環境システム学科に料の前処理として用いられるイオンスパッターが金属蒸設置されている SEM-EDX (SEM は日立製作所製 S-

着専用だったためである｡ 金属蒸着は砂粒や花粉､ 微化

3500N､ EDX は HORIBA 社製 EMAX-7000) を使用

石などの SEM を用いた形態観察には適するものの､ 特した珪酸塩鉱物の定量化学分析方法について報告する｡

定の金属で表面を覆ってしまうため試料のＸ線強度に影

なお､ 付録として SEM-EDX の利用者を想定した使用響を与え､ 正確な定量化学分析を行うことができない｡

マニュアルを示した｡

二つ目の理由は定量化学分析に必要な標準試料が整備されていなかったことである｡ 未知試料のＸ線強度が得ら

図１ Scanning Electron Microscope (日立製作所製 S3500N) - Energy Dispersive X-ray Detector(HORIBA 社製 EMAX-7000) 装置の構成＊

図２

イオンスパッター (日立製作所製 E-1010) の構成

Ａ；イオンスパッター本体､ Ｂ；カーボン蒸着装置

立正大学地球環境科学部

99SEM-EDX による珪酸塩鉱物の定量化学分析 (川野・管野・三浦)

基本的には SEM 部と EDX 部はそれぞれが独立した

２. SEM-EDX および標準試料

オペレーションシステムによって制御されているので､

２. １ SEM-EDX の概要

たとえば SEM 像の観察だけを行うのであれば､ EDX

環境システム学科に設置されている測定装置は､ 走査部の電源を投入する必要はない｡ ただし､ それぞれの機型電子顕微鏡 (SEM 部) とエネルギー分散型Ｘ線分析

能を融合させるために互いのコンピュータはイーサーネッ

装置 (EDX 部) から構成される (図１)｡

トで接続されており､ 撮影された SEM 像を共有するこ

SEM については､ 鏡体最上部にタングステンヘアピとができる｡

ンフィラメント用いた電子銃室があり､ 鏡体には４段階

イオンスパッター (日立製作所製 E-1010) は本体との手動切り替え方式の可動絞りを備えている｡ 観察は偏カーボン蒸着ユニット (図２) およびローターリーポン

向コイルを用いて電子ビームを試料上に走査しながら行

プから構成される｡ 本体の放電方式はダイオード放電で､い､ SEM 画像として３nm の高分解能を有する｡ 電子

金属蒸着用の直径63mm のリング状電極が取り付けらビームが照射された試料は二次電子を発生し､ それを二れている｡ 鉱物の定量化学分析ではカーボン蒸着ユニッ

次電子検出器 (ロビンソン検出器) で検出したのち電気トを用いて､ カーボンを蒸着する場合が普通である｡ カー

信号に変換・増幅させる｡ この信号量の強弱を基にしてボンの膜厚 (A nm) はイオン源と試料表面との距離

SEM 像が得られる｡ 試料室は電子の散乱や吸収の影響(X mm) に よ っ て 変 化 す る ｡ 両 者 の 関 係 は ､ A ＝を軽減するため観察中は高真空が保たれている｡ しかし､(80/X)２×12 によって定められており､ 本研究ではカー

絶縁性試料を観察することがしばしばあるため､ 本装置

ボン膜厚を30nm に調整して測定を行った｡ なお､ カーには低真空モードも用意されている｡ なお､ 高真空で絶ボン蒸着のイオン源には不純物を取り除くために､ 事前縁性試料を観察する際には試料面にカーボン蒸着を行うに焼き出しを行ったシャープペンシルの替芯 (三菱社製などの前処理が必要である｡ 試料の絶縁性が大きくなる

Uni シャープ替芯0.5×60 B) を用いている｡と､ 照射電子によって試料が帯電し､ SEM 像の観察が

２. ２

標準試料

困難になるので､ その際は再蒸着を施すようにしている｡

標 準 試 料 は Astimex Scientific 社 か ら 購 入 し た

SEM 部には本体とそれに付属するデスクトップコン

MINM25-53および IPALMAS 鉱物スタンダードを用

ピュータが付属し､ Windows95をオペレーションシス

いた｡ MINM25-53は直径25mm の金属ベースに53種類

テムとして操作が行われている｡ キーボードから明るさの鉱物スタンダードが埋め込まれている仕様になっていやコントラスト､ 倍率やフォーカスを操作する以外に､る｡ ただし､ この MINM25-53にはファラデーカップが付属するロータリーノブユニットによっても作業するこ含まれていないため､ 補足的な鉱物とファラデーカップとができる｡

を個別に選択できる同社製の IPALMAS 鉱物スタンダー

EDX は SEM の試料室に挿入される Si 検出器とコンドを用いている｡ 実際の分析に際しては MINM25-53にピュータ部からなる｡ 35°のＸ線の取り出し角を有する

ファラデーカップをカーボンテープで固定し､ 未知試料

Si 検出器は常に低温に保つ必要があり､ デュワーに液と同じ試料台に載せて使用している｡ 未知試料測定前に体窒素を補給して冷却している｡ 通常の SEM 像観察時は数種類の鉱物スタンダードを定量分析して､ 機器の安には検出器は試料室の外に引き上げられており､ EDX

定性を確認している｡ 本論で使用した元素ごとの標準試使用時にはハンドルを回して試料室内に挿入して測定試料に近づけ､ 特性Ｘ線エネルギーを検出する｡ Si 検出
器のプリアンプはパルスド

オプチカル

フィードバック方式で､ Ｂ〜Ｕまでの元素が検出可能である｡ 検出さ

表１

定量化学分析に用いた鉱物スタンダード

Elements

Standard Mineral

Chemical FormulaNa

JadeiteNaAlSi２O６

Mg

Periclase

MgO

れた特性Ｘ線エネルギー強度は EMAX-7000のデスクトッ

Al

AlbiteNaAlSi３O８

プコンピュータのモニター画面に表示され､ 目的に応じSi

QuartzSiO２て処理することができる｡ 分析データは電子ファイルとK

Sanidine

KAlSi３O８

して保存するとともに解析結果をプリンターから出力すCa

Diopside

MgCaSi２O６

Ti

RutileTiO２

Mn

Rhodonite

MnSiO３Fe

Magnetite

Fe３O４

ることもできる｡ また､ EDX 使用時に試料表面の照射電流を測定するためにμμ電流計 (HORIBA 製作所製
MA-10) が SEM の試料ステージに接続されている｡

100

地球環境研究,Vol.12(2010)

表２

鉱物スタンダードの化学分析値

Quartzwt％

Rutilewt％

Albitewt％

Jadeitewt％

Periclasewt％

Diopside
wt％

Sanidinewt％

Rhodonite
wt％

Magnetite
wt％

O

53.26

40.06

48.76

41.98

39.69

44.30

46.28

37.81

27.67

Si

46.74

32.03

29.33

25.88

30.23

22.09

10.34

16.09

0.05

9.93

0.03

0.71

0.04

0.14

Ti

59.94

Al

0.05

Fe
Mn
Mg

60.31

Ca

0.09

1.21

Na

8.60

10.57

K

0.18

Total

100.00100.00100.00

3.86

0.04

31.03

11.23

1.64

18.39

3.46

72.19

2.23
10.05

99.89

100.00

99.98

98.86

99.92

99.86

料を表１に､ 各標準試料の化学成分を表２にそれぞれ示SEM 像をよく観察し､ 表面の状態や均質性について注す｡

意を払う必要がある｡ 加速電圧はあまり大きくしてしま
うと試料表面を損傷してしまうことが知られているため

３. 定量条件(高橋, 2004)､ 17kV に固定して使用している｡ 例えば､ガラス中のアルカリ元素である Na＋イオンや K＋イオン

定量化学分析を行うには､ 同じ測定条件で標準試料とは､ 加速電圧が高くなるにつれ､ また電流密度が大きく

未知試料のＸ線強度を測定しなくてはならない｡ すなわ

なるにつれ､ Ｘ線強度が小さくなる (日本表面科学会編,

ち､ 元素濃度が判明しているＸ線強度と未知試料のそれ

1998)｡ 一般に SEM は電子プローブマイクロアナライを比較することによって､ 未知試料中の元素濃度を求め

ザー (Electron probe X-ray micro analyzer；EPMA)るのである｡ 標準試料､ 未知試料共に測定前にはファラと比較して､ 照射電流が一桁小さく試料に与える損傷はデーカップで照射電流を0.2nA に調整する｡ この標準試少ない｡ 前述の分析領域について一定の照射電流下で加料と未知試料の相対強度はそのまま濃度を表してはおら

速電圧を15〜20kV まで変化させて得られるＸ線強度をず､ 補正が必要となる｡ 補正方法には古くから Bence

検討した結果､ 17kV が最も安定した値が得られたため

and Albee 法や ZAF 法などが使用されてきたが､ コン

この値を採用した｡ 同様に加速電圧を固定し､ 照射電流

ピュータの演算処理能力の向上に伴いより複雑なφを変化させた結果0.2nA が最も安定した値が得られた｡(ρz) 法が用いられる場合が増えてきた (中井, 2005)｡

さらに SEM の可動絞りについて検討すると､ ３段階やこのφ (ρz) 法は試料の密度 (ρ) と深さ (z) による４段階まで絞り込んだ場合､ 鋭敏な SEM 像が得られる

質量厚さ (ρz) に対するＸ線の発生関数φ (ρz) に基ものの試料表面の照射電流は減衰され0.2nA まであげる

づ く 方 法 で あ る (Packwood and Brown, 1981) ｡

ことができなかった｡ 逆に可動絞りを１段階まで開けた

EMAX-7000には､ ZAF 法､ スタンダードレス ZAF 法､場合は鮮鋭な SEM 像が得られず､ 分析領域の観察が困

φ (ρz) 法､ スタンダードレスφ (ρz) 法の４つが用表３意されているが､ 今回は相対強度の補正方法としてφ

定量化学分析における測定条件(ρz) 法を採用した｡ なお､ 各元素のピーク分離はオー

加速電圧17.0 kV

バーラップファクター法を用いた｡

照射電流

0.2 nA

分析領域

10μm×７μm

本学部の EDX は SEM 上で観察している視野範囲について定量分析が行われる｡ 今回設定した分析領域は10μm×７μm の長方形をなしており､ Ｘ線定量化学分

W.D.

15 mm

X 線取り出し角度

35.0°

SEM の可動絞り

２

析もこの範囲について行われる｡ SEM の能力としては

カーボン膜厚30 nm

さらに極小部分の分析も可能であるが､ 得られるＸ線強

ピーク分離

オーバーラップファクター法

度が少なくなり安定した分析ができないと懸念があるこ

定量補正法

φ (ρz) 法とから､ この領域に定めた｡ よって､ 分析に際してはW.D.；ワーキングディスタンス

101

SEM-EDX による珪酸塩鉱物の定量化学分析 (川野・管野・三浦)難であった｡ そこで､ 可動絞りを２段階として検討した

TiO２や Na２O の含有量が少ないため､ それらの元素はところ良好な SEM 像が得られ､ 安定した照射電流を確定量することができなかった｡ 標準偏差は SiO２ で0.94認できたため､ 照射電流0.2nA､ 可動絞り２段階と設定であるが､ MnO､ CaO､ Fe２O３はそれぞれ0.40､ 0.09､とした｡ 本論で決定した測定条件を表３に示す｡

0.29といずれも小さい値を示す｡ しかし､ 含有量が0.3
wt％以下である MgO､ Al２ O３ ､ K２ O に関しては相対標準偏差が大きく､ 特に Al２O３では169％に達している｡

４. 測定結果および考察

推奨値との差は全ての元素について0.5wt％以下となっ本装置を使った珪酸塩鉱物の正確度や再現性を検討すているが､ 前述の含有量が0.3wt％以下の元素では相対るために､ 標準試料として使用しなかった MINM25-53

的な差が大きくなる傾向にある｡ ケルスート閃石は中の鉱物スタンダードについて繰り返し定量化学分析を

SiO２､ MgO､ Al２O３､ Fe２O３､ CaO と多数の元素に富行った｡ 分析した鉱物は､ 測定した９元素すべてについむ鉱物である｡ ９元素すべてについて標準偏差は0.30以て検討できるように､ バスタム石 (Bustamite (Mn,下であった｡ 含有量が１wt％以下の元素は MnO のみ

Ca) SiO３)､ ケルスート閃石 (Kaersutite Ca２Na (Mg,であり､ 標準偏差は0.06と小さいが､ 相対標準偏差は32

Fe)４TiSi６Al２O22 (OH)２)､ ざくろ石 (Garnet Mg３Al２％と大きくなっている｡ 推奨値との差は CaO が0.77wt

Si３O12)､ 黒雲母 (Biotite K (Mg, Fe)３AlSi３O10(OH)２)％と最大となるが､ 他の元素は0.50wt％以下となっての４つを選んだ｡ 測定結果を表４に示す｡ バスタム石はいる｡ 相対標準偏差が大きい MnO でも差は0.01wt％とSiO２ ､ MnO､ CaO､ Fe２ O３ に富んでおり､ 特に MnOなっており比較的小さい｡ ざくろ石は SiO２､ Al２O３､の分析精度を確認するために選択した｡ この鉱物は

Fe２O３､ MgO に富み､ Na２O､ K２O に乏しい鉱物であ

表４鉱物スタンダードの分析結果

Bustamite (Mn, Ca) SiO３

Kaersutite Ca２Na (Mg, Fe)４TiSi６Al２O22 (OH)２

Average(N＝5)

Stdev.
(σ)

RSD
(％)

Recom.
value

Diff.
(wt％)

Average(N＝5)

Stdev.
(σ)

RSD
(％)

Recom.
value

Diff.
(wt％)

47.81

0.94

1.96

48.05

−0.24

40.14

0.25

0.62

40.09

0.05

TiO２

n.d.

−.−

−.−

−.−

−.−

5.18

0.09

1.74

5.04

0.14

Al２O３

0.07

0.12

168.51

0.04

0.03

12.82

0.12

0.95

12.36

0.46

Fe２O３

8.36

0.29

3.49

8.13

0.23

11.74

0.10

0.85

12.23

−0.49

MnO

24.69

0.40

1.61

24.31

0.38

0.17

0.06

31.64

0.18

−0.01

MgO

0.24

0.09

38.84

0.22

0.02

13.04

0.23

1.75

12.55

0.49

CaO

18.64

0.09

0.48

18.97

−0.33

10.79

0.13

1.22

11.56

−0.77

Na２O

n.d.

−.−

−.−

0.05

−.−

2.45

0.14

5.67

2.44

0.01

K２O

0.04

0.03

84.05

0.06

−0.02

1.04

0.06

5.65

1.17

−0.13

Total

99.86

SiO２ (wt％)

99.83

97.37

Garnet Mg３Al２Si３O12

97.62
Biotite K (Mg, Fe)３AlSi３O10 (OH)２

Average(N＝5)

Stdev.
(σ)

RSD
(％)

Recom.
value

Diff.
(wt％)

Average(N＝5)

Stdev.
(σ)

RSD
(％)

Recom.
value

Diff.
(wt％)

SiO２ (wt％)

41.29

0.08

0.20

41.45

−0.16

38.52

0.21

0.54

38.72

−0.20

TiO２

1.27

0.02

1.82

1.16

0.11

1.80

0.14

7.87

1.77

0.03

Al２O３

21.43

0.16

0.73

21.32

0.11

15.63

0.06

0.40

15.13

0.50

Fe２O３

11.70

0.16

1.35

11.15

0.55

9.95

0.16

1.60

10.72

−0.77

MnO

0.33

0.08

25.27

0.27

0.06

0.07

0.05

76.96

0.04

0.03

MgO

19.44

0.20

1.04

19.33

0.11

19.91

0.15

0.77

19.52

0.39

CaO

4.42

0.06

1.29

4.65

−0.23

0.22

0.04

19.74

0.1

0.12

Na２O

n.d.

−.−

−.−

−.−

−.−

0.09

0.12

129.4

−.−

−.−

K２O

0.01

0.01

100.00

−.−

−.−

9.85

0.09

0.89

9.91

−0.06

Total

99.89

99.33

96.05

95.91

Stdev；標準偏差､ RSD；相対標準偏差､ Recom. value；推奨値､ Diff；推奨値との差.

102地球環境研究,Vol.12(2010)

る｡ Na２O は含有量が少なく定量することができなかっし､ 本学部の SEM-EDX との比較検討を行う必要があた｡ K２O は検出できたものの標準偏差が極めて大きくる｡

なっている｡ この２元素を除いた他の元素では標準偏差は0.20未満である｡ ただし､ MnO は含有量が0.33wt％と低いため､ 相対標準偏差は25％と大きくなっている｡

５. おわりに

推奨値との差は Fe２ O３ が0.55wt％と最大を示すが､ 他

地球環境科学部環境システム学科に設置されているの元素では0.30wt％を下回っている｡ 黒雲母は SiO２､SEM-EDX を利用して珪酸塩鉱物の定量化学分析を行

Al２O３､ Fe２O３､ MgO､ K２O に富む鉱物であり､ 特にい､ 主成分元素の分析精度および再現性を検討した｡ そK２O の分析精度を確認するために選んだ｡ 標準偏差はの結果､ 含有量が１wt％を上回っている場合ほぼ満足

いずれの元素においても0.30を下回っている｡ ただし､できる結果が得られた｡ ただし､ 含有量が１wt％に満含有量の少ない MnO では標準偏差は0.05と小さいもの

たない元素の定量についてはバックグラウンド補正やピーの相対標準偏差が77％となっている｡ 同様に含有量がク分離の方法についてはさらに検討する必要があること

0.09wt％と小さい Na２O も､ 標準偏差は0.12と小さいもがわかった｡ また､ 鉱物スタンダードの不均質性などものの相対標準偏差は129％に達している｡ 推奨値との差検証する必要がある｡ 今後は､ 火山ガラスの定量化学分は Fe２ O３ で0.77wt％と最大を示し､ 次いで Al２ O３ で析なども含めた分析精度の向上を目指していく予定であ

0.50wt％､ MgO で0.39wt％と含有量の多い元素で大きる｡

くなる傾向が見られる｡ 黒雲母は合計値が推奨値よりもやや大きくなっているが､ 推奨値にない Na２ O が定量されていることと､ 黒雲母の不均質性が原因と考えられる｡
４種類の鉱物スタンダードを通して､ 定量値と推奨値との差が標準偏差よりも小さい元素は SiO２ と MnO のみであった｡ Na２O もこの傾向はあるが､ 定量できた鉱謝

辞

本装置は地球環境科学部環境システム学科の教育・研究機器のひとつである｡ 環境システム学科関係各位には日常的に機器の整備にご協力いただき､ カーボン蒸着装置の購入についてご許可いただいた｡ 日立ハイテクシステムの鈴木友浩氏にはSEM の保守・管理から使用方法について日頃よりご助言いた
だいている｡ HORIBA 製作所の今井正明氏には EMAX-7000

物がケルスート閃石だけなので明らかとはいえない｡ 他の操作方法についてご教示いただいた｡ 立正大学地球環境科学の元素はいずれも定量値と推奨値との差が､ 元素の含有部の青木かおり氏には､ 鉱物スタンダードの購入に際してご協

量にかかわらず標準偏差を上回っている｡ この理由とし力いただき､ 分析結果について建設的なご助言をいただいた｡ては､ １) SEM-EDX の安定性・再現性､ ２) 標準試

以上の方々に厚くお礼申し上げます｡

料とした鉱物スタンダードの不均質性､ ３) 定量分析した鉱物スタンダードの不均質性､ ４) 推奨値の正確性などに問題があると考えられる｡ SEM-EDX に関して､引用文献
赤坂正秀・榊原正幸・寺田省一・戸苅賢二・八木健三・石井次郎 (1988) エネルギー分散型 EPMA 法によるケイ酸塩鉱物

照射電流は極めて安定しているため､ その変動が安定性

定量分析の試み. 東海大学札幌教養部彙報, ８, 77−82.

や再現性に影響しているとは考え難い｡ むしろ､ Na２O

藤野光裕・板谷徹丸 (1992) ：エネルギー分散型 EPMA によや MgO などの軽元素 (低角側) でのバックグラウンド

る珪酸塩鉱物の定量分析−岡山理科大学分析センター

補正方法や各元素のピーク分離法などを再検討すべきであろう｡ ただし､ 含有量が１wt％を上回る元素については相対標準偏差も比較的小さく､ 再現性も認められることから実用に耐えると判断される｡ 一方､ 本研究で使用した鉱物スタンダードでは､ わずかに分析領域を移動すると定量値が変化するスタンダードも見いだされておEMAX-2200−. 岡山理大蒜山研報, 18, 43−58.
平山恭之・福岡正人 (1999) エネルギー分散型Ｘ線分析装置による造岩鉱物の定量分析. 広島大学総合科学部紀要理系編,
25, 45−54.
木村純一 (1994) エネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザー
による火山ガラスの定量化学分析. 福島大学理科報告, 54,
19−31.

り､ それらについては面分析を行い､ その均質性を検証

武蔵野 実 (1986) エネルギー分散型Ｘ線マイクロアナライザーする必要がある｡ その上で､ 鉱物スタンダードの定まっにおけるスペクトラム修正と定量分析. 京都教育大学紀要,

た一部分や粒子を常に標準物質として登録するなどの工29−44.

夫が求められている｡ さらには､ 他研究機関において本研究で使用した鉱物スタンダードの定量化学分析を実施

中井

泉 (2005) 蛍光Ｘ線分析の実際. 朝倉書店, 242p.

日本表面科学会編 (1998) 電子プローブマイクロアナライザー.

103

SEM-EDX による珪酸塩鉱物の定量化学分析 (川野・管野・三浦)

丸善, 221p.

和田恵治・向井正幸・武田

修 (2003) EPMA による黒曜石

Packwood, R.H. and Brown, J.D. (1981) A gaussian expres-

ガラスの主成分化学組成−遺跡出土黒曜石の産地特定：常呂sion to describe φ (ρz) curves for quantitative electron

川河口遺跡の例−. 北海道教育大学大雪山自然教育研究施設

probe microanalysis. X-ray Spectrometry, 10, 138-146.

研究報告, 37, 59−70.

佐野貴司 (2003) 走査型電子顕微鏡−エネルギー分散型分析装

Yokoyama, K., Matsubara, S., Saito, Y., Tiba, T. and Kato,

置を用いた鉱物および珪酸塩ガラス中の元素の定量−. 富士

A. (1993) Analyses of natural minerals by energy-

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高橋秀之 (2004) EPMA/SEM における試料損傷について.

Ser.C, 19, 115-126.

表面科学, 25, 224−231.

Quantitative Chemical Analyses of Silicate Minerals Using a ScanningElectron Microscope with Energy Dispersive X-ray Detector
KAWANO Yoshinobu*, KANNO Toshihiro*, MIURA Ayumi*＊

Faculty of Geo-environmental Science, Rissho University

Abstract:
This paper presents analytical procedures to determine major elements of silicate minerals, using
HITACHI scanning electron microscope (SEM：S-3500N) with HORIBA energy dispersive X-ray
detector (EDX：EMAX-7000) at Department of Environment System, Rissho University. The
analytical condition is that 17 keV accelerating voltage and 0.2 nA beam current of exposed electron beam, 35 degree take off angle of X-rays, 140 seconds acquisition live time. In the case of elements which are contained more than 1 wt％, their accuracies are almost acceptable. Hence major
element composition of silicate minerals determined by SEM-EDX at Rissho University has sufficient accuracies and precision for the practical analyses.

keywords: Scanning Electron Microscope, Energy Dispersive X-ray Detector, silicate minerals

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付

出器の薄膜が破れてしまう)｡ また､ 対物レンズを録

傷つける可能性があるため､ 試料ホルダーの高さにSEM-EDX 使用マニュアル
SEM の始動は十分注意する｡
９. 片手で軽くステージを押しながら､ 排気系コントロー
ルパネルの EVAC/AIR スイッチを EVAC にする｡

１. 冷却装置の電源を入れる｡
２. SEM 本体下部の EVAC POWER および DISPLAY

10. 数分後 HIGH ランプ (緑色) が点灯し (コンピュースイッチを入れる｡

タ画面上では vaccum バーが青になる)､ 像観察が３. 排気系コントロールパネルの EVAC/AIR スイッ可能になる｡

チを EVAC にする (通常は押された状態になっている)｡ WAIT ランプ (黄色) が消灯した後､ LOW

停

ランプ (赤色) から HIGH ランプ (緑色) に切り

１. 真空モードが低真空モードの場合は高真空モードに替わるまで待つ｡ 排気系の状態はコンピュータ画面からも確認できる｡
４. コンピュータ画面ではユーザー名が S3500と表示さ止切り替える｡
２. HIGH ランプ (緑色) が点灯するまで待つ (コンピュータ画面上では青)｡れ､ パスワードを尋ねてくるがブランクのまま

３. コンピュータを正常終了させる｡[OK] をクリックする｡ 自動的に HITACHI S3500

４. DISPLAY､ EVAC POWER スイッチをオフにすのソフトが立ち上がる｡
５. 画面下部に真空度の表示が出て､ 右下の vaccum バーる｡
５. １時間ほど待って､ 冷却装置の電源を切る｡

が赤 (低真空) →緑→青 (高真空) と変化する｡ これは上記の排気系コントロールパネルと連動していSEM 像の観察る｡

１. 排気系コントロールパネルの HIGH ランプ (緑色)が点灯していることを確認する (コンピュータ画面

試料交換
１. 測定終了後､ 照射電流を完全に下げる (最初に使う
ときはこの作業は不要)｡

上では高真空モード (青) であることを確認する)｡
２. ツールバーの HV をクリックして加速電圧を印加する｡ 強い電圧を印加する時はフィラメントを０に

２. 加速電圧が ON になっている場合は､ コンピューして､ 徐々に上げていく｡ 画面上で､ ブライトネス

タ画面上部のツールバーの HV をクリックし､ 加が最大になった数値からマイナス５くらい下げる｡

速電圧を OFF にする (最初に使うときは不要)｡
３. 二次電子検出器 (ロビンソン検出器) やＸ線検出器が挿入されている場合は､ 試料室から引き出す (引き上げる)｡

３. ツールバーから検出器を選択する｡ BSE２の場合は二次電子検出器 (ロビンソン検出器) を試料室に挿入する｡
４. ツールバーから観察モード､ ビーム電流を設定する｡

４. 排気系コントロールパネルの EVAC/AIR スイッ
チを AIR にする (１分ほどで鏡体に空気が入る)｡
５. 試料ステージの各つまみを試料交換位置に合わせ､ステージをゆっくりと引き出す｡
６. 試料室の中はＸ線検出器を保護するために必要以上明るくしてはならない｡ 十分に注意して作業すること｡

定量分析
１. デュワーに液体窒素が入っているか確認する｡ 入っていないまま EMAX の電源を入れるとＸ線検出器が壊れることがあるので十分に注意する｡
２. ハンドルを回して､ Si 検出器を下げる (目盛りが45mm で止まる)｡

７. 試料ホルダーを取り扱う際は手袋を着用する｡ 試料

３. マイクロマイクロアンペア (μμ) 計の MODE を

ホルダーはステージに完全に収まるよう奥まで押し[OFF] から [MEAS.] に､ POLARITY を [-込む｡ また､ 試料ホルダーがステージの金属部に接(マイナス)] に､ RANGE を [×10-10] にする｡

触していないかよく確認する｡
８. 試料交換後､ ステージを試料室にゆっくりと挿入する (急激に押し込むと試料室内が加圧され､ Ｘ線検４. コンピュータ画面の [設定] から [電子ビーム] を選択する｡
５. フィラメント電流を上げて SEM 像を出す｡

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SEM-EDX による珪酸塩鉱物の定量化学分析 (川野・管野・三浦)

６. [調整] から [オートスティグマ]､ [オートフォー

４. [補正法] は [φ (ρz)] を選択する｡

カスコース]､ [オートフォーカスファイン] を実行

５. スタンダードの [濃度] には原子比を入力する｡

し､ SEM 像を調整する｡

６. [BG 点設定] で [BG 点計算] をクリックする｡

７. 鉱物スタンダードの標準試料のファラデーカップを
SEM の視野中心にもってくる｡ フォーカッシング
を慎重に行う｡

７. [登録] をクリックする｡
８. スペクトル処理結果が表示されるので､ 元素を選ん
で [スタンダード登録] をクリックする｡ 名前をつ

８. 視野全体がカップの中に含まれるまで拡大を続ける｡

けて保存する｡ 上書きをする場合､ 新しい定量値で９. マイクロマイクロアンペア (μμ) 計で照射電流が古い値が置き換えられるので､ 必要のない元素は選0.2nA になるようにフィラメント電流を調整する｡
10. 測定する試料の SEM 像を出し､ フォーカッシング
を慎重に行う｡
11. 視野を×12k (縮尺目盛りが2.5μm になる) まで

択せずにおいた方が良い｡
９. [リファレンス登録] をクリックする｡ これはピー
ク分離に使用することができる｡
10. [終了] をクリックする｡

拡大する｡＜EMAX7000＞

イオンスパッター (E-1010) の使い方

12. EMAX の電源ユニットおよびコンピュータを ON

１. イ オ ン ス パ ッ タ ー 本 体 の [MAIN VALVE] をにする｡
13. コマンドラインの [測定] → [クリア] → [測定開始] を選択する｡ 測定時間は140秒である｡
14. 元素のスペクトルを観察し､ 解析したい元素が表示されていない場合はその元素名を打ち込む｡ 例えば､
Ti のピークを確認したい場合､ [Ti]､ [  (エン[CLOSE] から [OPEN] にまわす｡
２. 金属蒸着用チャンバーを外し､ カーボン蒸着用チャンバーを取り付ける｡
３. カーボン蒸着用チャンバーのフックを解除し､ 上部を外す｡
４. ピンセットを使ってカーボン蒸着用のイオン源を慎ター)]､ [ (エンター)] とすると表示される｡

重にセットする｡ その際､ 試料表面とイオン源の距

15. 測定終了後､ [ファイル] → [保存] を選択し､ 名

離は50mm になるよう試料台を調節する｡ 距離50

前をつけてスペクトルを保存する｡ 必要であればホルダーを作る｡
16. [分析] → [定量] を選ぶ｡
17. [ピーク分離法] は [オーバーラップファクター法]
を選択する｡
18. [定量補正法] は [スタンダードφ (ρz) を選択する｡
19. 化学式は [化学式１] を選択し､ 酸化物の形式にする｡
20. [BG 点設定] をクリックして､ [BG 点計算] をク

mm でのカーボンの膜厚はおよそ30nm である｡
５. チャンバーの上部を取り付け､ フックで固定する｡
６. [MAIN VALVE] を [OPEN] から [CLOSE]にまわす｡
７. [POWER] を [ON] にする｡
８. 真空計が７Pa (0.05Torr) よりも低くなるまで待つ｡
９. カーボン蒸着ユニットの [SUPPLY] を [ON] にする｡
10. [CURRENT ADJUST] のつまみをまわして､ 20A

リックする｡ その後 [終了] をクリックする｡にする｡ 真空度が低下した場合､ しばらく電流を上

21. [実行] をクリックすると結果が表示される｡ ここげるのを止めて､ 真空度が上がってから徐々に電流で [印字] をクリックするとプリンターに出力される｡
22. [終了] をクリックして､ 次の分析を行う｡

を上げていく｡
11. 電流を上げると同時にイオン源が発光し､ 蒸着が始まる｡ 20A でしばらく待つとイオン源が切れ､ 発
光が止まる｡

EMAX7000によるスタンダードの登録12. [CURRENT ADJUST] をまわして､ ０に戻す｡

１. 定量分析の方法に基づいて､ 鉱物スタンダードの標

13. カーボン蒸着ユニットの [SUPPLY] を [OFF]

準試料のＸ線強度をとる｡にする｡

２. [分析] → [スタンダード登録] を選択する｡

14. チャンバー内が冷却するまで15分ほど待つ｡

３. [単位] は [質量濃度] を選択する｡

15. [POWER] を [OFF] にして､ 真空を破る｡

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地球環境研究,Vol.12(2010)

16. チャンバーを外して､ 試料を取り出す｡

５. チャンバーの上部を取り付け､ フックで固定する｡

17. カーボン蒸着用のチャンバーやチャンバー底面はヘ

６. [MAIN VALVE] を [OPEN] から [CLOSE]

キ酸を用いて洗浄する｡ エタノールやアセトンでも良いが､ 発火の危険性があるので使用を避ける｡
18. 金属蒸着用のチャンバーを取り付け､ [POWER]
を [ON] にする｡
19. 真空になったら､ [MAIN VALVE] を [OPEN]
から [CLOSE] にまわす｡
20. [POWER] を [OFF] にして､ 終了する｡にまわす｡
７. [POWER] を [ON] にする｡
８. 真空計が７Pa (0.05Torr) 程度でよい｡
９. カーボン蒸着ユニットの [SUPPLY] を [ON] にする｡
10. [CURRENT ADJUST] のつまみをまわして､ 15Aにする｡ 電流は３分後に自動で切れる｡
11. [CURRENT ADJUST] をまわして､ ０に戻す｡

イオンスパッター (E-1010) によるカーボンイオン源の
焼き出し
イオン源の不純物を取り除くために予め焼き出しを行

12. カーボン蒸着ユニットの [SUPPLY] を [OFF]にする｡
13. チャンバー内が冷却するまで15分ほど待つ｡

う必要がある｡ 以下にその方法を説明する｡

14. [POWER] を [OFF] にして､ 真空を破る｡

１. イ オ ン ス パ ッ タ ー 本 体 の [MAIN VALVE] を

16. チャンバーを外して､ 焼き出したイオン源をピンセッ[CLOSE] から [OPEN] にまわす｡
２. 金属蒸着用チャンバーを外し､ カーボン蒸着用チャンバーを取り付ける｡
３. カーボン蒸着用チャンバーのフックを解除し､ 上部を外す｡
４. カーボン蒸着用のイオン源をセットする｡ 一度に３トを使って慎重に取り出す｡
17. 金属蒸着用のチャンバーを取り付け､ [POWER]
を [ON] にする｡
18. 真空になったら､ [MAIN VALVE] を [OPEN]
から [CLOSE] にまわす｡
19. [POWER] を [OFF] にして､ 終了する｡

本の焼き出しができる｡

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