⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S1
招 待 講 演11 月 24 日（水） 13：05 〜 14：45
大ホール

S1-1
電子顕微鏡が先導する材料科学
ー ミクロ〜マクロをつなぐ顕微学の未来 ー

Materials Science Guided by State-of-the-art Electron Microscopy
Future perspectives of a role of microscopy to bridge the gap
between ‘micro’ and ‘macro’
阿部 英司
東大工

E. AbeSchool of Engineering, University of Tokyo
材料中の原子配列を直接観察できる電子顕微鏡法は、他手法では解析困難な対象に対してしばしば唯一無二の機会を与えてくれる。材料科学を成す柱の一つは、マクロな材料特性を支配するミクロ状態（組織，格子欠陥等々）の特徴を理解することにある。最新の電子顕微鏡を駆使して容易にミクロスケールの組織・構造に接する我々は、常に「葉を見て森を見ず」とならぬよう心がけねばならない。
近年、世界的な注目を集めるに至った高強度 LPSO 型 Mg 合金には、Mg 本来の hcp 構造とは異なる新奇な長周期構造（シンクロ型 LPSO 構造）が形成されている。それゆえ、発見当初は LPSO
構造特有の原子配列に起因して高強度が実現していると考えられたが、実際には LPSO 構造を形成しただけでは合金は強化されない。LPSO 構造相を含む Mg 合金に高温加工を施し、合金中に高密
度のキンク変形領域を導入（図１）することによって初めて高強度が発現する。従来、異方性が強い結晶固体の格子回転を伴うキンク変形は、強度劣化の原因とされることはあっても、材料強化に寄与し得るとは考えられていなかった。LPSO 型 Mg 合金がキンク強化されることは、予想外の発見であった。添加元素量を抑えた希薄 LPSO 型 Mg 合金系では、LPSO 構造の構造ユニットである
添加元素が濃化した積層欠陥（SESF）が hcp-Mg マトリクス中にまばらに、かつ無秩序に配列する層状構造が形成される。最近、このように無秩序かつ疎な層状構造においてもキンク変形が生じ、高強度が発現するという興味深い事実が判明しつつある。
双晶と同様の格子回転型の変形であるにもかかわらず、なぜキンクがミクロな破壊起点を与えず、材料強化に有効となり得るのであろうか。我々は、キンク変形の微視的理解のためには回位（disclination）1-3)（図２）が鍵であると考えている。結晶固体における回位の有無は、1970 年代に集中的に議論されたことがあったが、結晶変形は転位（dislocation）による解釈でほぼ事足りてしま
うこともあり、回位の議論がそれ以上深まることは無かった。講演では、回位に着目したキンク変形組織の解析を中心に、層状構造を持つ Mg 合金のミクロ構造の特徴を述べる。
（1）A. Romanov, Dislocation in solids 9 (1992)（2）石田洋一, 日本結晶学会誌 18 (1976) 383.
（3）北野保行, 電子顕微鏡 25 (1990) 2.

図１ 層状構造型 Mg 合金のキンク変形組織

図２ Volterra による転位・回位の分類

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S3
基 調 講 演11 月 24 日（水） 16：30 〜 17：30
大ホール

S3
Nanoscale Crystal Cartography and Scanning Electron Diffraction
P.A. Midgley
Department of Materials Science and Metallurgy, University of Cambridge, 27 Charles Babbage
Road, Cambridge, CB3 0FS, UK.
Over the past decade or so there has been some remarkable advances in transmission electron
microscopy, not just with the advent of aberration correctors and monochromators but also new directelectron cameras and super-fast and efficient detectors. Moreover, there has been a rapid rise inassociated computational power with new software available to enable fast analysis of very large data
sets. Over this time there has been a renewed interest in quantitative crystallographic mapping, or‘crystal cartography’, using the (scanning) transmission electron microscope, (S)TEM. Theseadvances have led to a convergence of interest between the electron imaging and diffraction
communities, both of whom are now acquiring large multi-dimensional data sets composed ofdiffraction patterns acquired at every real space pixel within the scan.
For crystallographic mapping at the nanoscale, a near diffraction-limited (almost parallel) beam isused to form ‘spot’ patterns which extend out in reciprocal space, with a resolution beyond 0.1nm-1,
but are formed with (real space) probes typically 3-4nm in diameter. This type of mapping is often
called ‘scanning electron diffraction’, or SED and is ideal for nanoscale crystallography. Of course,
improved real space resolution (<0.1nm) can be achieved with highly convergent (aberrationcorrected) beams but the resulting overlap of convergent beam discs seen in the diffraction patterns
lends itself more to ptychography (imaging) than crystallography (diffraction).
A series of diffraction patterns recorded by SED may be used to determine relative changes to thegeometry of individual patterns across the region of interest and those changes used to determine
crystal orientations and strain. Spatial variations in diffracted intensity can be used to form ‘virtual’dark field (VDF) images whose interpretation, to a good approximation, can be based on the
traditional column approximation used in conventional DF imaging.
In this paper we will show how SED may be used to provide nanoscale crystallographic information
not readily obtained using other techniques. In particular we will highlight how fast acquisition of
SED patterns (ca. a few ms) allows for the study of highly beam-sensitive materials, such as lowdimensional and pharmaceutical crystals, and semi-crystalline polymers. Examples will also behighlighted that show how SED may be used to identify complex metallic phases, to determineorientation relationships in alloys, and be combined with electron tomography to investigate
crystallography in 3D.
I will also look to the future, with a brief discussion of how SED may develop further using the new
CMOS-based cameras with new scan geometries and data acquisition strategies, and the increasingly
important use of machine learning and automation.

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S4
トモグラフィーと関連技術の最前線

材料科学の展開
11 月 25 日（木） 9：00 〜 10：30
大ホール

S4-1
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S5
トモグラフィーと関連技術の最前線

生命科学の展開
11 月 25 日（木） 10：45 〜 12：15
大ホール

S5-1
SEM 電顕ボリューム解析で観る組織・細胞・オルガネラ
そこから見えてくるもの
太田 啓介
久留米大学医学部先端イメージング研究センター

Volumetric analysis of cells and tissues revealed byserial slice scanning electron microscopy
Keisuke Ohta
Kurume Univ. Sch. Med.
走査電子顕微鏡（SEM）をもちいたボリューム解析は、分解能こそ透過型電子顕微鏡（TEM）を用いた単粒子解析法や電子線トモグラフィー法に劣るものの、生命が形作る組織・細胞・オルガネ
ラの詳細な三次元構造を可視化することができる。もちろん、このような組織レベルの三次元構造の解析は古くから連続切片を TEM で観察することで実現されていたが、要求される技術レベルは高く、安定してデータを得ることは困難であった。ボリューム解析に SEM を用いることの最大のメリットは、データ取得が TEM 連続切片法に比べて格段に安定したことにあり、手法によっては目的とするボリュームデータをほぼ自動で得る事ができる。
SEM を用いた電顕ボリューム解析には主に FIB-SEM tomography 法、Serial block face SEM 法、
Array tomography 法の３つの方法が知られており、いずれも 2000 年代なかばに確立してきた技術である。いずれの技術も試料には TEM 観察などで一般的な樹脂包埋標本を用いるが、TEM は異なり試料の表面、もしくはそこから得られた切片を基板に貼り付けたものから直接組織像を得るのが特徴である。試料を少しずつ削りながら、または基板上の連続切片を SEM で連続的に観察すること
で、パラパラ漫画のようなボリュームデータを得るわけである。
これらの方法で見えてきたものは、前述の通り細胞組織の三次元構造である。一言で言えばそれだけであるが、この領域の三次元構造は今まで簡単に観察することができなかった、いわゆるメソ
スケール構造である。その目的は神経系の構築を理解する Connectmics であったり、細胞間の関係
性、オルガネラ間の相互作用であったりと様々であるが、実際に三次元化すると、２次元像からでは想像できなかった多くの特徴を見いだせることも頻繁に経験する。
一方で、生物学の分野では、微細な構造が見えるだけでは議論が難しいものも多く、細胞や構造の同定が必要になってきた。これに対応する電子顕微鏡技術が光学顕微鏡との相関観察である。近年様々な可視化技術との間でマルチモーダルな相関観察研究が進んでいるが、correlative lightelectron microscopy(CLEM)すなわち光学顕微鏡と電子顕微鏡との相関観察は古くから様々な方法が開発されてきた。
TEM を用いた CLEM はボリューム解析と同様技術的に困難なものも多かったが、SEM ボリューム解析の基本となるブロック表面や切片の観察技術はこの CLEM の難易度をも大きく低下させ、新しく簡便な CLEM 法が次々と報告されている。例えば免疫染色によく用いられるア
クリル系樹脂を用いて連続切片 TEM 観察するのは困難であったが、切片を基板上に貼り付ける
SEM 観察では極めて安定して、光顕での免疫染色と詳細な電顕観察が実現できる。また、この方法
は光学顕微鏡の広い範囲で観察される特徴を高い分解能で再観察できるため、形態科学の弱点の一つである by chance 的な要素を補完する技術となる。
SEM ボリューム解析は 2004 年の Denk 等によって報告された Serial block face SEM 法に端を発し、日々技術も高まって来たが、今後は同じ技術を用いる SEM ベースの CLEM 技術との融合を進めることで機能と相関した生命現象の側面を観る技術として進展していくことが期待される。

S5-2
卓上低真空走査型電顕で生体物質の局在を可視化する
新たな金ナノ粒子標識法の開発
澤口 朗
宮崎大学・医In situ strategy for biomedical target localization under low-vacuum SEM
via nanogold nucleation and secondary growth.
Akira Sawaguchi
Faculty of Med., Univ. of Miyazaki
わたくしども共同研究グループでは本開発に先行し、光学顕微鏡用の切片に帯電防止処理を加えず観察することができる低真空走査電子顕微鏡の特性を活かしながら、生体を構成する組織や細胞を立体的に捉える「厚切り切片観察法」を確立しました（参考文献 1）。これを応用した本開発において、医学・生物学研究で標的とするタンパク質や遺伝子の発現部位を電子顕微鏡レベルで高精細に可視化する新たな手法を確立しました（参考文献 2）。
これまで常法とされている包埋後標識法は、金ナノ粒子を結合させた抗体の調製に始まり、樹脂に包埋した観察対象から超薄切片を作製して抗体標識を完了するまでに、長い時間と熟練の技を要しました。今回、新たに開発された方法は、光学顕微鏡で汎用されるパラフィン切片や凍結切片を使用し、酵素抗体法でジアミノベンジジン（DAB）標識を施した後、0.01%塩化金酸水溶液で 10 分間処理することで DAB 標識部位に限局して金ナノ粒子が形成（平均粒子径＝6 nm）され、続いて37℃で 12 時間、高湿度に保つことで金ナノ粒子が成長（平均粒子径＝47 nm）して可視化される画期的なアプローチとなります。金ナノ粒子の形成が pH に依存することや、粒子径の成長が形成された金ナノ粒子の集合と融合に基づくこと、粒子表面加工によって粒子径の成長が促進／抑制されること等々、Material Science にも通じる端緒を得ることにも成功しました。
本研究では 15 年前に DAB 標識された切片上で金ナノ粒子が形成・成長することも証明されており、保管庫にストックされた光顕標本を電顕レベルで再検証する応用に加え、CLEM（Correlative
Light and Electron Microscopy）免疫電顕標識や in situ hybridization 電顕標識の実例も獲得されています。光学顕微鏡と電子顕微鏡の隔たりを埋める低真空走査電子顕微鏡の特性を活かした本法が医学・生物学研究に幅広く応用されることで、生体組織や細胞を構成する構造と機能の相関を解き明かす研究が加速・進展されるものと期待を寄せながら、新たな金ナノ粒子標識法の詳細をご紹介します。
参考文献：1. Sci Rep 8: 7479 (2018)
参考文献：2. Communications Biology 4:710（2021）

S5-3
クライオ電子顕微鏡による生物試料の 3 次元構造解析の最先端研究
重松 秀樹
理化学研究所 放射光科学研究センター

Cutting-edge research on 3D structural analysis of biological specimens byelectron cryo-microscopy
H. Shigematsu
RIKEN SPring-8 Center
クライオ電子顕微鏡による生体分子の構造解析は、単電子検出型の検出器の登場とそれまでの画像解析技術の進展が相まって、急速に発展を遂げています。近年、単粒子解析と言われる手法での到達分解能が、X 線結晶構造解析に近づくにつれ結晶化が困難な生物試料を中心にその利用が盛んになっています。この流れは、2017 年のノーベル化学賞が 3 人のクライオ電子顕微鏡の研究者に与えられるという結果につながります。「溶液中での生体分子の高分解能構造決定のためのクライオ
電子顕微鏡の開発」に対する授与ですが、現状では単粒子解析という手法の開発と言える状況です。
単粒子解析は、X 線結晶構造解析と比較すると、「溶液中」と「結晶中」という対比と、「高分解能」という共通点があげられます。溶液状態の生体高分子を結晶という形で構造を揃えた上で解析する
X 線結晶構造解析に対して、単粒子解析では、結晶化しにくい試料、すなわち構造が安定な一状態を取りにくい、複数状態の平衡にあるような試料に対する構造解析が期待されます。動的構造解析
あるいは構造多型の解像といった X 線結晶構造解析では難しい構造解析が期待されています。
クライオ電子顕微鏡単粒子解析における高分解能化は、「分解能革命」と題されたレビュー記事[1]が 2014 年にサイエンス誌に掲載されるほど、大きなそして待ち望まれた変化と言えます。このレビューで紹介された成果の一つに、TRPV1 イオンチャネルの構造解析があります[2, 3]。Yifan Chengと David Julius の共同研究は、その後も重要な TRP チャネルの構造を数多く発表しますが、直近にセル誌に掲載された論文[4]では、TRPV1 の構造多型を 3 つのデータから 26 の高分解能構造として報告しています。他方、高分解能構造という観点では、より高速な検出器の開発、モノクロメータ
ーや ColdFEG といった技術の導入が相まって、炭素ベースの生体分子においては、原子分解能と言える 1.2 オングストロームが達成されるに至っています[5, 6]。
本講演では、これら単粒子解析の近年までの発展をご紹介するとともに、現在の開発の中心になりつつあるトモグラフィーに関しても最先端の研究事情をご紹介します。
[1] Kühlbrandt W. Biochemistry. The resolution revolution. Science. 2014 Mar 28;343(6178):1443-4. doi:
10.1126/science.1251652. PMID: 24675944.
[2] Cao E, et al., TRPV1 structures in distinct conformations reveal activation mechanisms. Nature. 2013 Dec
5;504(7478):113-8. doi: 10.1038/nature12823. PMID: 24305161; PMCID: PMC4023639.
[3] Liao M, et al., Structure of the TRPV1 ion channel determined by electron cryo-microscopy. Nature. 2013
Dec 5;504(7478):107-12. doi: 10.1038/nature12822. PMID: 24305160; PMCID: PMC4078027.
[4] Zhang K, et al., Structural snapshots of TRPV1 reveal mechanism of polymodal functionality. Cell. 2021
Sep 30;184(20):5138-5150.e12. doi: 10.1016/j.cell.2021.08.012. Epub 2021 Sep 7. PMID: 34496225; PMCID:
PMC8488022.
[5] Nakane T,et al.. Single-particle cryo-EM at atomic resolution. Nature. 2020 Nov;587(7832):152-156. doi:
10.1038/s41586-020-2829-0. Epub 2020 Oct 21. PMID: 33087931; PMCID: PMC7611073.
[6] Yip KM, et al., Atomic-resolution protein structure determination by cryo-EM. Nature. 2020
Nov;587(7832):157-161. doi: 10.1038/s41586-020-2833-4. Epub 2020 Oct 21. PMID: 33087927.

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S6
企画セッション
FIB 技術の国際標準化・自動化と顕微鏡化

11 月 25 日（木） 9：00 〜 10：30
中ホール

S6-1
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S6-2
FIB-SEM 技術の観察装置としての可能性
物質・材料研究機構

原 徹
電子顕微鏡解析ステーション

FIB-SEM as a tool for microstructure analysis
T. HaraElectron Microscopy Analysis Station, National Institute for Materials Science
1. 背 景電子顕微鏡を用いて材料の観察や分析を行う際の集束イオンビーム(FIB)装置の利用目的として
は，TEM 用薄膜試料の作製であることが多い。その目的だけなら FIB 単体機でも達成できるが，SEM と複合させることで従来にないさまざまな観察・分析手法を追加して，新たな材料組織情報の取得が可能になる。本発表では観察装置としての FIB-SEM 複合機の応用例をいくつか示し，今後
FIB をさらに有効に活用するための可能性を考えたい。
2. 組織解析への FIB の応用例
FIB を組織観察に応用するケースとして主要なものは，1) FIB を加工装置として利用する，2)FIBを観察や分析のための励起源（一次ビーム）として利用する，の 2 種類がある。どちらの場合でも，SEM 単体機にはない機
能や観察手段を実現するものである。
1) FIB を加工装置として利用する
i) FIB によって表面の酸化膜や加工層などを除去したり不要な凹凸を除去したりすることで，真空中でフラットかつ清浄な表面を現出させる。酸化膜や加工変質層を除去することで，よりクリアな EBSD パターンや低加速電圧での SEM像が取得でき，組織に関する情報の量が増大する（図 1）。 図 1.FIB で酸化膜を除去して SEM 観察
さらに，FIB でフラットにした面では，表面の凹凸によるト することで情報量が増大する（耐熱鋼）。
ポグラフィックなコントラストではない，マテリアルコン
トラストによる SEM 二次電子像が観察可能である。
ii) FIB-SEM を用いたシリアルセクショニング観察によって，三次元的組織観察を行うことが可能となる。i)と同様の，平滑な面の形成と低加速電圧での SEM 観察の繰り返しである。TEM 観察試料を FIB で作製することが目的の場合でも，その TEM サンプル周囲の 3 次元組織情報を取得しておくことが重要な情報になる場合がある。
2) FIB を観察・分析のための励起源として利用する
i) SIM(Scanning Ion Microscope)として，イオンビーム
励起の二次電子像や二次イオン像の観察が行える。
特に FIB-SEM では，多彩なコントラストの SEM 像に加えて，SIM によりさらに同時に別の情報を得ることが可能になる。
ii) SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry)を FIB-SEM
でも利用可能にする試みが行われている。従来 SEM
での分析は EDS や WDS といった X 線分光によるもののみであったが，SIMS が十分に取得可能であれ 図 2. 同 一 視 野 の ， (a)SEM-SE 像 (b)EBSD
ば，SEM での軽元素の高感度分析実現への期待が高 （IPF+IQ）マップ (c) SIM（二次イオン）像 (d) SIM(二次電子）像。 SIM で異なる情報が得られる。（Ni
くなってくる。
基合金，長田，未発表）。
3. おわりにFIB-SEM の観察装置としての利用法は，イオン源の多様化や分析装置の進展により，適用範囲が大きく拡がっており，今後は SEM-FIB(FIB を搭載した SEM)として，観察・分析機能を主体とする複合機が広く使われるようになる可能性がある。また， FIB-SEM で TEM 用試料を作製する目的においても，あらかじめ FIB-SEM を観察装置として積極的に活用して，より多くの組織情報を得ておくことで，より正確な組織解析に結びつくことが期待できる。

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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S7
企画セッション
その場観察・環境制御の最前線

11 月 25 日（木） 10：45 〜 12：15
中ホール

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[1] A. Hashimoto, Y. Han, H. Akimoto, R. Hozumi, M. Takeguchi,
Microscopy (in press).
[2] A. Hashimoto, H. Akimoto, M. Takeguchi, AMTC Letters 6 (2019)108.
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[3] S. Shoji, X. Peng, S. Ueda, Y. Yamamoto, T. Tokunaga, S. Arai, A.
Hashimoto, N. Tsubaki, M. Miyauchi, T. Fujita, H. Abe, Chemical
Science 10 (2019) 3701.

Aberration corrector Heater control PC
Pressure gauge P.S.
Electron energy loss
spectroscope

Heater P.S.
Valve piezo P.S.

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S7-3
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In Situ SEM/TEM Observation of Negative Electrodes
for Future Secondary Batteries
T. Tsuda
Graduate School of Engineering, Osaka University ஧ḟ㟁ụࡣࣘࣅ࢟ࢱࢫ♫఍ࡸపⅣ⣲໬♫఍ࢆᨭ࠼ࡿ㔜せ࡞⵳㟁ࢹࣂ࢖ࢫ࡛࠶ࡾࠊࡑࡢ㐺⏝⠊ᅖࡣᗈࡀࡿ୍᪉࡛࠶ࡿࠋࡑࢀ࡟క࠸ࠊࡼࡾ㧗ᛶ⬟࡞஧ḟ㟁ụࡢⓏሙࡀᮇᚅࡉࢀ࡚࠸ࡿࠋ≉࡟ࠊ㟁ụࡢ㧗ᐜ㔞໬࡟ࡘ࠸࡚ࡣ⮬ື㌴ᴗ⏺࠿ࡽࡢࢽ࣮ࢬࡀ㧗ࡃࠊ⇚Ⅿ࡞◊✲㛤Ⓨ➇தࡀୡ⏺ⓗ࡟⧞ࡾᗈࡆࡽࢀ࡚
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Fig. 1. Schematic drawings and photographs of (a, b) the threein situ TEM ほᐹࢆ⏝࠸ࡿࡇ࡜ࡀከ࠸[2]ࠋ electrode cell, (c, d, f) the coin-type cell for in situ/operando SEM
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observation and (g) the window-less miniature cell for in situ TEM
observation. (e) SEM image of a cross-sectional view of the coinḟୡ௦㟁ụࡢ୰࡛㉳ࡇࡿ཯ᛂࢆ┤᥋ⓗtype cell depicted in Fig. 1d. (f) This coin-type cell is used for࡟ほᐹࡋࡓ⤖ᯝࡔࡅ࡛࡞ࡃࠊᚓࡽࢀࡓ᝟
obtaining the information on the variation in anode surface duringሗࢆ㟁ụᛶ⬟ࡢྥୖ࡟฼⏝ࡋࡓ౛࡟ࡘ
battery reactions.
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1. T. Tsuda and S. Kuwabata, Microscopy, 69, 183-195 (2020) and references therein.
2. C.-Y. Chen, T. Tsuda, Y. Oshima, and S. Kuwabata, Small Struct., 2, 2100018 (2021).

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S8
トモグラフィーと関連技術の最前線

装置・手法の開発
11 月 25 日（木） 13：45 〜 15：15
大ホール

S8-1
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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S9
トモグラフィーと関連技術の最前線

動的観察に向けて
11 月 25 日（木） 15：30 〜 17：00
大ホール

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Development of millisecond X-ray tomography using synchrotron radiation
W. YashiroA,B, W. VoegeliC, and H. KudoD
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DFaculty of Engineering, Information and Systems, Univ. Tsukuba㠀ྍ㏫࣭㠀ᖹ⾮⣔ࡢෆ㒊࡟ࡣᵝࠎ࡞ᮍ▱ࡢ㧗㏿⌧㇟ࡀᏑᅾࡍࡿ࡜⪃࠼ࡽࢀࡿࠋ
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[1] W. Yashiro et al, Appl. Phys. Express 10 (2017) 052501.
[2] W. Yashiro et al., Appl. Phys. Express 11 (2018) 122501.
[3] R. Mashita, W. Yashiro et al., J. Synchrotron Rad. 28 (2021) 322.
[4] W. Voegeli, W. Yashiro, et al., Optica 7 (2020) 514.

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S9-3
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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S10
企画セッション
調査報告／公開討論会

11 月 25 日（木） 13：45 〜 15：15
中ホール

S10-1
調査報告：海外に研究拠点を置いて活動する
日本人研究者・技術者の動向に関する将来展望
諸根 信弘 A, B, C
ケンブリッジ大学 A, 京都大学高等研究院 B, 認定 NPO 法人綜合画像研究支援 C

Investigation Research for the Japanese Scientist and Engineer based Overseas
N. Morone A, B, CA

B

MRC Toxicology Unit, University of Cambridge, Kyoto University Institute of Advanced Study,
C

Integrated Imaging Research Support (IIRS)
パネリスト

前日本学術振興会ロンドン研究連絡センター長 上野信雄
研究環境のグローバル化が加速している。EU-UK の自然科学分野では、EMBO や MRC (UKRI)を中心とした研究交流と共同研究の推進規模が拡大され、最先端の研究実験施設を共有化できるように、若手トレーニングプログラムや研究グラントが整備され始めている。このような知をめぐる厳しい国際競争の潮流のなかで、日本が世界をリードする（世界の為に一役を担う）ためには、日本国内研究拠点の高い研究水準の維持と併せて、グローバル化に対応できる日本人研究者が国内外で活躍できるようなシステムを整えることが課題である。本調査研究(一般財団法人新技術振興渡辺記念会・調査研究助成事業)に際して、
綜合画像研究支援(認定特定非営利活動法人)では、日本顕微鏡学会生体解析分科会と連携して、「海外に研究拠点を置いて活動する日本人研究者・技術者の動向」に関する無記名式アンケートを実施した。在英日本人研究者に対しては、独立行政法人 JSPS-London JBUK を利用した。以下に詳述する 2 点を中心に、日本の学術・科学技術の国際性・学際性を持続・発展させるために、必要な要素を考えてみたい。
（１）海外に研究拠点を構築しようとする「日本人研究者の人材像」
平成を経て令和の日本の研究環境のなかには、先進諸国の中でも卓越したレベルにある研究拠点が存在し、海外で学ぶ必要はないと考える大学院生、ポスドクが大半となり、海外に向かう日本人研究者数は激減してしまった。こうした現状が、日本の研究レベルにおいて良いことなのか、良くないことなのか、評価は分かれるところであろう。ただし唯一、確かなのは、研究者のグローバル化においては逆行していることである。こうした状況にありながら、その一方で、現代日本の恵まれた研究環境にあっても、あえて海外で学ぶ
日本人研究者は存在する。彼らは、なぜ海外に拠点をおいて研究生活を送るのか、そのような研究者に必要とされる要素は何か？今後の日本人研究者のグローバル化に欠かせないと考えられる。
（２）海外の研究拠点で推進される「真のグローバル化」
現在、産官学をあげた「グローバル化に対応できる人材の育成・確保」の方策のお陰で、外国人留学
生及び外国人研究者の受入れと併せて、日本から海外への日本人留学生と日本人研究者の派遣に関する制度が拡充されている。国際学会への参加・渡航助成や国際共同研究の推進に対する制度も用意されている。実際の科学研究ばかりでなく、現地の文化、伝統、生活全般に触れることも、国際的な人材育成の面では大切な要素である。知の創出と人材育成の拠点となるべき高等研究機関に対して、現在から将来に向けてグローバル化に対応できる研究拠点には何が必要なのか？誰に対しても機会は平等にあり、多様性が認められることに、グローバル化に対応できる人材育成のヒントが含まれていると考えられる。

S10-2
公開討論会；生体大規模 3 次元データ解析における情報系研究者との共同ニーズと人材育成
太田 啓介 1・北原 卓弥 2・馬水 信弥 2,3 ・森 裕子 2
1. 久留米大学医学部 2. (株)システムインフロンティア 3.九州工業大学

Collaborative needs and human resource development with informatics
researchers in biomedical large-scale 3D data analysis
Keisuke Ohta
Kurume Univ. Sch. Med.
研究環境は社会的にもまた研究装置としても日々大きく変化し、研究者個人に求められる能力も変容している。顕微鏡分野においてはデジタル化やカメラの高速度化に伴って、そこから得られるデータは大規模化の一途をたどっている。したがって、研究者はこのような大きなデータを用いて解析を進めていくことになり、そのためには情報スキルが必須な要素となりつつあると考えられる。
しかし、生物分野の研究をしている著者自身を省みても情報スキルの教育は十分ではなかったと感じているし、現在も、巨大なデータの扱いに苦慮しているのが実態である。そこで、他の多くの生物系研究者は情報系技術をどのように利用しているのか?またその必要性をどの程度感じているのか？何らかの困難さを感じているのか？等の実態を明らかにする目的で、新技術振興渡辺記念会の支援をうけ生物学特に形態科学を行う研究者における情報系研究者との共同ニーズの調査を実施してきた。昨年度の顕微鏡シンポジウムにおいても概要をお話し、参加者にアンケートをお願いしたところ、その結果をみても、多くの研究者がこれらの必要性を強く感じていることが明らかとなってきた。ただ、このアンケートは研究者側からのデマンドを明らかにしたに過ぎない。そこで、今回、これらの結果を受けて、情報系の立場からどのようにこの結果を捉えるのか？実際に技術系企業に務めている方々と情報を共有し、公開討論という形で議論を行うことで、そのニーズと現実の認識のズレや問題点を検討したい。

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S11
企画セッション
In-situ 観察に向けた
Cryo 技術の国内最新情報

11 月 25 日（木） 15：30 〜 17：00
中ホール

S11-1
クライオ電子顕微鏡を用いた In Situ 観察の生物学、医学への応用
寛子 B, 加藤 貴之 B, 青山 一弘 C,D, 光岡 薫 D,
仁田 亮 A
神大医 A, 阪大蛋白研 B, 阪大超高圧 C, サーモフィッシャーサイエンティフィック D

今崎

剛 A, 吉川

知志 A, 髙﨑Applications of in situ cryo electron microscopy in biology and medicine
T. ImasakiA, S. KikkawaA, and R. NittaA
A
Kobe University Graduate school of Medicine, BOsaka University Institute for Protein Research,
COsaka university Research Center for Ultra-High-Voltage Electron Microscopy, DThermo
Fisher Scientific

クライオ電子顕微鏡トモグラフィー法は、細胞、組織、そして蛋白質のような生体試料の構造を、生理的条件に近い状態で観察出来る非常に強力な手法の一つである。近年、検出器の高性能化や解析手法の向上により、電子線が透過する薄い試料に関しては、微小管やアクチン、リボソーム等細胞内の分子の構造が識別出来る分解能で解析が可能となってきた。しかし実際に良いデータを撮ろうとなると、細胞のような試料は高分解能で観察するには巨大であり、観察したい領域をピンポイ
ントで見つけ出すのは非常に難しく、また試料によっては電子線が透過しないほど厚いなど様々な問題が存在する。このように In Situ 観察において試料調製や測定箇所の選定、さらにはサンプルの厚みをどうするか？というのは非常に頭が痛い問題であるが、良いデータを撮るためにはこれらの問題解決が必須である。本発表では、我々が現場の視点で、これらの問題について細胞培養法の検討、クライオ光電子相関顕微鏡 (cryo-CLEM) や FIB-SEM の導入などを通して我々がどのように対処しようとしているのかについて紹介する。

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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

ポスター発表1 階 交流ホール

ポスター紹介セッション
11 月 26 日（金） 9：00 〜 10：20
大ホール

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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S13
招 待 講 演11 月 26 日（金） 10：30 〜 12：10
大ホール

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Three-dimensional ultrastructural analysis:
Past forty years to the exciting tomorrow
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⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S14
若手セッション

材料系 Ⅰ

11 月 26 日（金） 13：30 〜 14：45
大ホール

S14-1

S14-2

S14-3

S14-4

S14-5

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S15
若手セッション

材料系 Ⅱ

11 月 26 日（金） 14：55 〜 15：55
大ホール

S15-2

S15-2

S15-3

S15-4

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S16
若手セッション

材料系 Ⅲ

11 月 26 日（金） 16：05 〜 17：05
大ホール

S16-1

S16-2

S16-3

S16-4

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S17
若手セッション

生物系

11 月 26 日（金） 13：30 〜 14：45
中ホール

S17-1

S17-2

S17-3

S17-4

S17-5

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

S18
若手セッション

装置・手法系

11 月 26 日（金） 14：55 〜 15：55
中ホール

S18-1

S18-2

S18-3

S18-4

⽇本顕微鏡学会 第 64 回シンポジウム

ランチョン
11 月 25 日（木） 12：30 〜 13：30
大ホール

カールツァイス株式会社

中ホール

株式会社東陽テクニカ

11 月 26 日（金） 12：20 〜 13：20
大ホール

株式会社メルビルೖຌ‫ݨ‬ඏ‫ָں‬ճ ୊յεϱϛζΤϞ
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12:20 - 13:20

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