第 56 回Ｘ線分析討論会－プログラム－主催（公社）日本分析化学会 X 線分析研究懇談会

共催

大阪市立大学協賛

アワーズテック（株），エキシルム（株），クロスレイテクノロジー（株），（株）アグネ技術センター，（株）テクノエーピー，（株）リガク，（株）島津製作所，仁木工芸（株）
，日本電子
（株）
，神津精機（株），（株）カワノラボ（順不同）

期日2020 年（令和 2 年）10 月 28 日（水）・29 日（木）会場

オンライン開催

討論主題

Ｘ線分析による材料解析とその応用展開
Ｘ線イメージングおよび顕微分析
Ｘ線検出器開発と新規分析法への展開
表面分析
Ｘ線吸収分光法と電子分光（XAFS、EELS）

第１日

10 月 28 日（水）開会挨拶（9:25～9:30）
依頼講演 1（9:30～10:10）
I1-1

ミューオンによる非破壊元素・同位体分析の進展（阪大院理）佐藤朗

休憩（10:10～10:30）
第１セッション（10:30～11:30）
O1-1A

ランタノイド元素の L 端蛍光収量 XAFS（東北大多元研）篠田弘造

O1-2A

非破壊オンサイト蛍光 X 線分析による宗像沖ノ島出土の国宝古代ガラス製品の起源推定（1 電機大工，2 東理大理，3 筑波大人文，4 宗像大社文化局）○阿部善也 1,2，村串まどか 3，中井泉 2，福嶋真貴子 4

O1-3A

蛍光 X 線分析による液体試料中ウランのスクリーニング法（1 量研，2 東邦大理）○吉井裕
1，高田由美 1，高村晃大 1,2，上床哲明 1,2，酒井康弘 2

O1-4A

試料中の有機物を考慮した FPM 定量および非破壊分析手法の検討（1（株）堀場テクノサー
ビス，2（株）堀場製作所）〇小野田麻由 1，大澤澄人 2，磯瑛司 1，中田靖 1，駒谷慎太郎 1― i ―休憩（11:30～11:50）
企業セッション（11:50～12:20）
C1-1

アワーズテック株式会社

C1-2

エキシルム株式会社C1-3

株式会社島津製作所

昼食（12:20～13:20）
依頼講演 2（13:20～14:00）
I1-2

3 次元元素イメージングシステムの開発（東北大院工）松山成男

休憩（14:00～14:20）
第 2 セッション（学生賞対象）（14:20～15:20）
O1-5BS

放射光 X 線吸収端差分イメージング法の開発と絵画分析への応用（1 東京藝大，2 電機大工，3 東理大理，4 大原美術館，5 高輝度光科学研究センター,）〇堀口明日馨 1，阿部善也
2,3，塚本貴之 4，孝岡睦子 4，星野真人 5，上杉健太朗 5，八木直人 5，塚田全彦 1，中井泉 3

O1-6BS

水溶液中における金属元素の溶出過程の高速元素イメージングと腐食生成物の解析（阪市大院工）○園田将太，松山嗣史，辻幸一

O1-7BS

液体金属の蛍光 X 線分析におけるスペクトル解析（1 早大基幹理工，2 芝浦工大工）○山竹玲奈 1，椎木政人 1，小林由央 1，鈴木進補 1，正木匡彦 2

O1-8BS

偏光依存 XAFS 測定のための角度可変転換電子収量測定装置の開発と応用（広島大院先進理工系科学）○吉本陽佳，STELLHORN, Jens R.，駒口健治，早川慎二郎

O1-9BS

CO2 還元を目指した金属硫化物光アノードの調製（1 阪市大院工，2 阪市大人工光合成研究センター）○田中いつき 1，東正信 2，田辺哲朗 2，吉田朋子 2

O1-10BS 透過法による自立型ポリエチレン薄膜の軟 X 線吸収測定と sp3 炭素の質量吸収係数の決定（兵県大院工）○松本侑也，村松康司

休憩（15:20～15:40）
第 3 セッション（学生賞対象）（15:40～16:40）
O1-11BS 全視野型斜入射蛍光 X 線イメージング装置の開発と分析特性の評価（阪市大院工）〇尾関凌太，松山嗣史，辻幸一
O1-12BS 蛍光 X 線法および X 線回折法による油山山麓周辺の砂鉄の特性評価（福岡大理）○石掛雄大，市川慎太郎，栗崎敏― ii ―

O1-13BS 酸化グラフェンを利用した海水中微量ウランの蛍光 X 線分析（1 量研，2 東邦大理）○高村晃大 1,2，上床哲明 2，高田由美 1，酒井康弘 2，吉井裕 1
O1-14BS 全反射蛍光 X 線分析法を用いた紙片分析のための簡易試料調製法（阪市大院工）〇山口浩
輝，松山嗣史，辻幸一
O1-15BS 放射光軟 X 線吸収分光法と第一原理計算によるナノダイヤモンドの表面構造解析（2）；クラスター内部の欠陥構造解析（兵県大院工）○前田樹，村松康司
O1-16BS 酸化グラフェンテンプレートによるナノメートルサイズ酸化ガリウム光触媒の作製（1 阪市大院工，2 阪市大人工光合成研究センター）〇園田健太 1，山本宗昭 2，田邊哲朗 2，吉田朋子
2

休憩（16:40～17:00）
第 15 回浅田榮一賞選考結果報告・授賞式（17:00～17:10）
特別講演―浅田賞受賞講演（17:10～17:50）
S1-1

蛍光 X 線分析法による微少量土器試料の高精度産地同定（福岡大理）市川慎太郎

第2日

10 月 29 日（木）依頼講演 3（9:30～10:10）
I2-3

EELS を用いたガラスの配位数および原子振動の計測（東大生産技術研）溝口照康

休憩（10:10～10:30）
第 4 セッション（学生賞対象）（10:30～11:30）
O2-17BS 酸化ガリウムの表面改質/欠陥導入による光触媒活性向上（1 阪市大院工，2 堺化学工業（株），3 阪市大人工光合成研究センター）〇青木知美 1，伊藤良太 1，園田健太 1，赤柄誠人
1，小澤晃代 2，山本宗昭 3，田辺哲朗 3，吉田朋子 3

O2-18BS 蛍光 X 線分析法による都市域造成土壌および自然土壌の主要・微量元素濃度調査（1 麻布大院環境保健，2 麻布大生命環境）〇近藤風太 1，中野和彦 2，伊藤彰英 2
O2-19BS 軟 X 線吸収分光法と第一原理計算による砂糖(スクロース)の構造解析（1 兵県大院工，2 兵県大院環境人間）〇前江杏香 1，村松康司 1，今津有稀 2，坂本薫 2，森井沙衣子 2
O2-20BS in situ XAFS 分析による様々な水素分圧下における Pt ナノ粒子表面上の吸着水素の定量（1 京大人環，2ESICB）〇藤田正海 1，土屋直紀 1，山本旭 1,2，吉田寿雄 1,2― iii ―O2-21BS 酸化ガリウム光触媒上に担持された銀ナノ粒子の in-situ XAFS 測定（1 阪市大院工，2 阪市大人工光合成研究センター，3 名大 SR，4AichiSR）○北嶋乃樹 1，山本宗昭 2，陰地宏 3，須田耕平 3，塚田千恵 4，柴田佳孝 4，神岡武文 4，永見哲夫 4，田辺哲朗 2，吉田朋子 2
O2-22BS 全電子収量軟 X 線吸収分光法を用いた大気環境集塵試料の直接定性・定量分析技術（兵県大院工）○元川卓也，村松康司

休憩（11:30～11:50）
企業セッション（11:50～12:20）
C2-1

日本電子株式会社

C2-2

クロスレイテクノロジー株式会社

C2-3

株式会社カワノラボ

昼食（12:20～13:20）
依頼講演 4（13:20～14:00）
I2-4

Ｘ線光電子分光法の現状と課題（東北大マイクロシステム融合研究開発センター）高桑雄二

休憩（14:00～14:20）
第 5 セッション（14:20～15:20）
O2-23A

バナジウム酸化物薄膜デバイスの電圧印加中の XAFS 測定（兵県大）○和達大樹，Zhang
Yujun，堀田育志，根元亮一

O2-24A

特殊鋼製鋼スラグ組成が金属化学状態に及ぼす影響（東北大多元研）○篠田弘造，助永壮平

O2-25A

放射光を用いたピンホール型二次元蛍光イメージング XAFS 法の開発（JAEA）○谷田肇，岡本芳浩

O2-26A

摩擦面における官能基の NEXAFS 分析（1（株）豊田中研，2（株）トヨタ自動車，3 名工大）○高橋直子 1，磯村典武 1，小坂悟 1，木本康司 1，森広行 1，大森俊英 1，青山隆之 1，佐野敏成 2，糸魚川文広 3

休憩（15:20～15:40）
第 6 セッション（15:40～16:40）
O2-27B

イオン液体における軟 X 線吸収スペクトルと分子構造との相関（兵県大院工）○村松康司，
若井宏樹，柿部剛史

O2-28B

放射光蛍光Ⅹ線分析における選択励起の問題点（京大院工）河合潤― iv ―

O2-29B

共焦線蛍光 X 線分析による層構造試料への応用分析（1（株）堀場テクノサービス，2 阪市大院工）○中野ひとみ 1，園田将太 2，松山嗣史 2，駒谷慎太郎 1，辻幸一 2

O2-30A

蛍光 X 線による液体試料の P,Ca の精密分析（1 クロスレイテクノロジー（株），2 千葉大院理，3（株）テクノブリッジ）〇松本晴晶 1，川口浩 1，沼子千弥 2，谷口一雄 3

O2-31A光ビームプラットフォーム・ラウンドロビン実験 －AichiSR での実施結果（３）－（1AichiSR，2 立命館大 SR）○上原康 1，杉山陽栄 1，野本豊和 1，須田耕平 1，太田俊明 2，
渡辺義夫 1，竹田美和 1

休憩（16:40～17:00）
第 7 セッション（17:00～17:40）
O2-32B

種々の測定条件下での過塩素酸類の時間分解 X 線光電子スペクトル（龍谷大先端理工）岡本竜也，岡崎大地，近岡拓哉，青木龍誠，〇藤原学

O2-33A

原子状水素による表面洗浄法の in situ 評価（1 兵県大高度研，2 兵県大院工）新部正人 1，部
家彰 2

O2-34A

グラフェンを利用したバルク絶縁体の分析（1 兵県大高度研，2 兵県大院理，3 兵県大院工，4JASRI，5 兵県工業技術センター，6 マツダ（株））○鈴木哲 1，春山雄一 1，山口明啓 1，山本知樹 2，義積拓野 2，藤井綾香 2，中嶋誠二 3，淵脇八雲 3，藤澤浩訓 3，大河内拓雄 4，石原マリ 5，住田弘祐 6

学生賞発表・表彰（17:40～18:00）
閉会（18:00）
登録費

一般（会員）2,500 円，一般（非会員）3,000 円，学生 1,000 円

照会先〒558-8585 大阪府大阪市住吉区杉本 3-3-138
大阪市立大学 人工光合成研究センター 吉田朋子
Tel/FAX：06-6605-3627，E-mail：tyoshida@osaka-cu.ac.jp〒558-8585 大阪府大阪市住吉区杉本 3-3-138
大阪市立大学大学院工学研究科内（公社）日本分析化学会 X 線分析研究懇談会
Tel/FAX：06-6605-3080― v ―第 56 回Ｘ線分析討論会 実行委員会
委員長
吉田朋子
副委員長 谷田 肇 （JAEA）
委員
中西康次（兵庫県立大学）委員
永井宏樹（アワーズテック）
委員
田中亮平（京都大学委員
松山嗣史（大阪市立大学）委員山本宗昭（大阪市立大学）

最新の情報はＸ線分析研究懇談会ホームページ http://www.a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp/xbun/ 及び第 56 回
Ｘ線分析討論会ホームページ https://xbun.jsac.jp/conference/no56.html をご覧ください― vi ―