JULY 13-14, 2009 The 39th Symposium on Reliability and Maintainability

組織委員（五十音順・敬称略）
吉信

東京海洋大学教授

忠正

電気通信大学名誉教授【委伸行

パナソニックモバイルコミュニケーションズ㈱ 品質管理センター
品質評価グループ 評価解析チーム 主任品質技師
楠本化成㈱ エタック事業部 顧問
日本CMO㈱ 社長付
宇宙航空研究開発機構 研究開発本部
構造・機構グループ 耐環境構造セクション 研究員㈱村田製作所 品質保証部 自動車・新規事業信頼性技術課
兼 品質企画戦略課 担当部長
関西電力㈱ 企画室品質管理グループ チーフマネジャー㈱リコー 品質本部 信頼性技術室 室長
三菱重工業㈱ 原子力事業本部 原子力技術センター
原子力技術部 部長代理㈱日立製作所 品質保証本部 ＱＡセンタ 主任技師
富士通㈱ 品質保証本部 品質保証推進統括部 リーダー
ソニー㈱ 半導体事業本部 品質信頼性部門 信頼性技術部 担当部長
アイシン精機㈱ 解析・制御技術部 部長㈱デンソー 本社 品質管理部 第１品質監査室 主任部員
電気通信大学 教授 大学院情報システム学研究科㈱ルネサステクノロジ 品質保証統括部
汎用デバイス品質保証部 信頼性技術グループ グループマネージャ

員】 荒木

井原 惇行
岩間 英雄
岡田 孝雄
岡田誠一

尾畑 義雄
門田靖
鎌田 信也
上久保 忠正関清伸
佐々木 健二
佐藤 廣幸
田中 克幸
田中 健次
手塚
泉

海洋工学部

中條
二川

【委 員 長】 佐藤【副委員長】 木村

海事システム工学科

聡清

仁田 周一
布谷 貞夫
藤本 直伸
藤本
堀籠
益田
宮村
向殿
村上良一
教夫
昭彦
鐵夫
政男
孝森川 明彦
山悟
山田 雄愛
若井 一顕
【顧

参加申込方法問】 佐々木 正文
塩見弘
額田 啓三
真壁肇
三根久

首
東京三菱銀行
都専大前 みずほ銀行
九段下 高
神保町
交差点
交差点 速
文具店
交差点
靖国通り
九段下駅
神保町駅
駿河台下
岩波
6A6A1交差点
城南
FUJIYA
交ホール
信用金庫
り 九番
すずらん通りさくら通り
そ 段
三井住友銀行日 中
九 な 郵
本 華中一神保町
段 銀 便
教学ツ 小学館
交番会 行 局
育校橋
A8 白館
会
山館 雉
通
共立女子学園子
り 学士会館
橋通り

参加費（税込）一 般 …………………………………………………………………………………39,900 円
日科技連賛助会員（後援・協賛団体会員） ………………………………………37,800 円
学 生（学生割引） ……………………………………………………………………5,250 円
共同執筆者（発表１件につきお一人）………………………………………………18,900 円
2009 年度 RDT 研究会 ･R-Map 実践研究会 ･SQiP 研究会会員………………18,900 円
JCRE 登録者 …………………………………………………………………………18,900 円

参加申込先

シンポジウム内容に関する問合せ先

財団法人日本科学技術連盟
セミナー受付グループ

財団法人日本科学技術連盟
教育推進部第3課 信頼性担当〒166-0003 東京都杉並区高円寺南 1-2-1
TEL：03-5378-1217 FAX：03-5378-1220
e-mail：regist@juse.or.jp
日科技連ホームページ：http://www.juse.or.jp

TEL：03-5378-9850 FAX：03-5378-9842
e-mail：re-group@juse.or.jp

毎日新聞社
竹橋駅

丸紅

日本教育会館 東京都千代田区一ツ橋2-6-2
道案内専用電話：03‐3230‐2833●東京メトロ半蔵門線「神保町」駅下車 ………………（A1出口）徒歩約3分●地下鉄都営三田線「神保町」駅下車 …………………（A8出口）徒歩約5分●東京メトロ東西線「竹橋」駅下車 …………（北の丸公園側出口）徒歩約5分●JR総武線「水道橋」駅下車 …………………………（西口出口）徒歩15分

参加者名（ふりがな）

後

援： 日本信頼性学会

協

賛： (社)情報処理学会(社)電子情報通信学会(社)電気学会(社)日本品質管理学会(社)計測自動制御学会(社)自動車技術会(社)日本機械学会(社)日本航空宇宙学会(社)応用物理学会

IEEE Reliability Society Japan Chapter

特別講演「信頼性と安全性の接点」「地震予知の現状と社会の安全」−現在の太陽の異常も含めて−所属事業所・部課・役職・E-mail所属･役職：

参加区分□一般□会員（No.
□共同執筆者□学生）□研究会会員(社)日本自動車部品工業会(社)日本航空技術協会

1971年に開始した当シンポジウムは、いろいろな分野の信頼性・保全性に携わるエンジニア、マネージャー、研究者の方々にご参加いただき、研究発表、事例発表、討論などを行うとともに、基調講演、特別講演、チュートリ
アルセッション、展示コーナーなど、多彩な人的交流と情報交換の場を提供することを主眼として開催しており、国内外から高い評価を得ております。
今回のシンポジウムは、「信頼性と安全性の接点」をテーマに、例年通り開催いたします。
今日の激動する世界経済下にあって，なお一層のこと安心・安全が求められています。アイテムの安心感と安全性には，多くの要因が関係しますが，とりわけアイテムが故障しない性質，いつでも使用できる状況，そして問題が生じないことが必要条件になります。すなわち，広い意味での信頼性と安全性との両立が必要です。ますます複雑化するアイテムにおいて，これを実現させるために，幅広い議論を通して，信頼性と安全性との共通点と相違点との理解を深めていきます。
貴社の信頼性活動を一層発展させるためにも、是非ともご参加ください！

基調講演

FAX：03-5378-1220※参加区分を必ずご記入ください。

催：財団法人日本科学技術連盟

参加のおすすめ

第39回 信頼性・保全性シンポジウム 参加申込書
者

主(財)日本電子部品信頼性センター

キリトリ線

加場：日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）(順不同) (社)日本オペレーションズ・リサーチ学会

首都高速1b会

http://www.juse.or.jp/

NTTコミュニ
ケーションズ※参加費は、当日欠席されてもお返しいたしかねますので、ご了承ください。
※参加者以外、報文集は配付いたしません。また、報文集のみの頒布はいたしませんので、ご了承ください。

記入不要

7月13日(月)〜14日(火)2009年

防衛大学校 名誉教授
日本科学技術連盟 参与
元 日東電工㈱ 技師長
東京工業大学 名誉教授
京都大学 名誉教授

会場案内「参加申込書」に必要事項をご記入の上、下記宛に FAX ･ 郵送にてお申し込みください。
また、ホームページから「参加申込書」をダウンロードし、E-mail でお申し込みも可能です。
「開催通知」「参加券」「請求書」は、開催 1ヶ月前からご送付いたします。参加費は、請求書発行後 2ヶ月以内に、請求書に記載してある銀行口座へお振り込みください。

●参第参加者募集のご案内 ３
９
テーマ：信頼性と安全性の接点
回㈱東芝 品質統括本部 品質推進室 参事
NECエレクトロニクス㈱ 生産本部 テスト評価技術部
シニアプロフェッショナル
サレジオ工業高等専門学校 教授（東京農工大学 名誉教授）㈱小松製作所 開発本部 主幹
三菱電機㈱ 鎌倉製作所 宇宙システム部
宇宙部品エンジニアリング課 課長㈱IHI 航空宇宙事業本部 技師長
東京商船大学 名誉教授
帝京科学大学 客員教授 生命環境学部 環境科学科
中央大学 教授 理工学部 経営システム工学科
明治大学 教授 理工学部 情報科学科㈱日本航空インターナショナル 整備本部 品質保証部
副部長／品質マネジメント室長
JSR㈱ 製品・品質保証部長
富士ゼロックス㈱ R&D企画管理部 マネジャー
名城大学大学院 客員教授
第一工業大学 教授 情報電子システム工学科

佐藤 吉信 氏E-mail：芳野

東京海洋大学教授
組織委員会委員長

赳夫 氏

電気通信大学名誉教授

所属･役職：
参加区分□一般□会員（No.
□共同執筆者□学生）□研究会会員

チュートリアルセッション

E-mail：1.「MEMSの信頼性」●連絡担当者（お申込み受理後「開催通知」「参加券・請求書」等をお送りする方）
会社名

事業所

所属・役職

担当者〒所在地

電MEMSの信頼性

三浦 英生 氏（東北大学大学院 教授）

2.「製品安全の重要性と最近の動向」

話（独）製品評価技術基盤機構（NITE）の活動と最近の動向について 長田敏 氏（（独）製品評価技術基盤機構）

E-mailＦＡＸ

製品の安全と安心について

後援･協賛団体の名称

会員番号

改正消費生活用製品安全法において義務づけられたこと（誤使用・点検制度）に対しての取り組み 山口 憲一 氏（譁ノーリツ）

1．一
参加費
︵税込︶

般

39,900円

×名円

37,800円

×名円

5,250円×名円

18,900円

×名円

5．2009年度RDT研究会･R-Map実践研究会･SQiP研究会会員

18,900円

×名円

6．JCRE登録者（登録No.

18,900円

×名円

2．日科技連賛助会員（後援・協賛団体会員）
3．学生（学生割引）

4．共同執筆者（発表報文No.

））※お支払いにつきましては、お申込み受理後、請求書と開催通知を併せてお送りいたしますので、請求書発行後2ヵ月以内にお支払いください。
※ご記入いただきました企業・組織及び個人情報に関しましては、参加申込受付処理ならびに日科技連からの事業情報のご送付のために使用させていただきます。

宮村 鐵夫 氏（中央大学教授）

3. 日科技連「R-Map実践研究会」の活動から
R-Map手法を活用したPS-PTA手法の開発と実践

巻島 文夫 氏（日立アプライアンス譁）

2008年度 R-Map実践研究会
R-Mapによる開発段階からの安全構造設計〈製品安全寿命の立証方法の提案〉 菊池 敏郎 氏（第1分科会／東芝テ）ック譁

事故調査におけるR-Map活用事例

久本 誠一 氏（（独）製品評価技術基盤機構）

信
頼性・保全性シンポジウム第39回 信頼性・保全性シンポジウム
【テーマ：

信

頼性と安全

2009年7月13日(月)〜14日(火) 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）【受付】エレベータホール前 9:00〜11:00

性プログラムの接点】●一般発表：41 件、チュートリアル講演：11 件 合計：52 件●発表時間：持ち時間は 1 件につき 30 分（発表 20 分、質疑応答 10 分）
《敬称略》

会

月

9:35-10:20

基調講演：「信頼性と安全性の接点」 佐藤 吉信

東京海洋大学教授・組織委員会委員長【推奨報文賞】（所属は受賞時のものです）◆輸送における振動衝撃を再現する試験技術の構築㈱村田製作所 岡本 朗
◆TCADおよびPCM（プロセス・コンパクト・モデル）によるトランジスタ特性ばらつき低減㈱東芝セミコンダクター社◆鉛フリーSnめっきにおける外部応力型ウィスカ／ノジュールの解析
ソニー㈱ 水口 由紀子 他

特別講演：「地震予知の現状と社会の安全−現在の太陽の異常も含めて−」12:25-12:30
12:30-13:45

事務連絡：日科技連事務局
昼食休憩（展示コーナー（第三会議室）は12:00〜17:00まで開催しておりますので、お時間のある時に是非お立ち寄りください）
司会者司会者
A会場（第一会議室） 8階801〜804
B会場（第二会議室） 8階805〜806［300席］（補佐）［168席］（補佐）【Session 1】故障解析【Session 3】MEMSの信頼性
二Ｎ門リ【Tutorial Session 1】MEMSの信頼性
航空機の信頼性管理における破面解析／化学分析事例
川Ｅ田コ
Ｃー
13:45-13:50 チュートリアルセッションの趣旨説明
1-1
5-1
エ清㈱リコー 門田 靖 靖㈱日本航空インターナショナル 高木 晴之︵レ︵
13:50-15:00 MEMSの信頼性
積層セラミックコンデンサの外部電極への機械的ストレスの評価法
岡ク
手田 ト T1-1
塚
1-2
5-2︵ロ東北大学大学院 教授 三浦 英生 ︶㈱村田製作所 酒井 俊彦 孝 ニ︶ク
15:00-15:15 質疑応答
クラッチディスクかしめ部の故障解析による設計手法の確立
︶ス
1-3
5-3
アイシン精機㈱ 熊岡 剛

発表時間
Session

14:15-14:45

HALTと三要素FMEAを組み合わせた未然防止型信頼性マネジメントの提案

LSIプロセス診断法によるMEMSデバイスの評価試行

1-4

15:45-16:15
Session

休憩（展示コーナー（第三会議室）は12:00〜17:00まで開催しておりますので、お時間のある時に是非お立ち寄りください）【Session 2】信頼性試験【Session 4】FMEA・FTA
益帝
微小結露試験方法および試験装置の開発「品質問題」を無くす設計と設計審査
田京
4-1
2-1
昭科
エスペック㈱ 田中 浩和 彦 学︵大ライフセーフエンド設計をにらんだFTAの考察
微小結露試験装置を使用したマイグレーション不具合に関する電圧及び結露量加速性評価 田 学
4-22-2
中㈱村田製作所 岡本 朗 ︵克FTA作成支援ツールの開発
ACCELERATED LIFE TEST OF HALOGEN LAMP CONSIDERTING︶︶QUALITATIVE DEGRADATION CHARACTERISTICS4-3
2-3
Reliability Technology Center Sang-Woo, Yu

16:15-16:45

16:45-17:15

17:15-17:45

3-1

益田 昭彦

Reliability Estimation for Current Sensor using Accelerated Life Test
17:45-18:15

2-4Session
9:30-10:00

Korea Electronics Technology Institute

パナソニックモバイルコミュニケーションズ㈱ 中川 彬

7-2㈱ルネサステクノロジ 田中 政樹
パッケージの気密信頼性評価技術

10:30-11:00

7-3

三菱電機㈱

衣川

矢部 一博

勝佐ソ々ニ
木ー
健二︵門田︶

㈱デンソー

本田 陽広

安信経営工学研究所

柴田 義文

ジヤトコ㈱

平岡 洋二

西鎌三
田菱信重
也工
︵業藤本︵良︶︶月

11:30-12:30
Session12:30-13:00

１４
13:00-13:30

日−電気通信大学

田中 健次

9:35-10:20 （独）製品評価技術基盤機構（NITE）の活動と最近の動向について（独）製品評価技術基盤機構

長田

田電
中気健通
次信
大学

13:20-13:55
三菱電機コントロールソフトウェア㈱松岡 敏成

13:55-14:30︵火︶

14:30-15:00
Session
15:00-15:30

15:30-16:00

故障データベースに基づく製品の寿命特性の推定
16:00-16:30

9-3

電子通信大学

栗原 裕太

㈱IHI

呉宏

堯

㈱IHI

森初男

［出展会社］

全日本空輸㈱黒木 英昭

航空機整備におけるヒューマンエラー削減の取り組みについて
6-2㈱日本航空インターナショナル

渋江 尚夫

衛星開発におけるシステム安全管理活動の紹介
6-3

三菱電機㈱

関西電力㈱

【Tutorial Session 4】最新信頼性・安全性解析（展示企業の発表）
Relex Reliability Studio 信頼性工学ソリューション
T4-1 OPUS10 稼働率／スペアパーツ最適化ソリューション
テックサポートマネジメント㈲

森向明殿治
政大男学
︵山田︵雄︶︶

康②楠本化成㈱③㈱東陽テクニカ④㈱日科技連出版社⑤㈱日本科学技術研修所⑥日本信頼性学会
［世話人］

奥出 邦夫

原良孝

HALT後進国 日本への警鐘㈱東陽テクニカ 川上 雅司

井楠原本
惇化行成
︵二川︶

楠本化成㈱

小林 吉一

楠本化成㈱

井原 惇行

信頼性評価の可視化技術
T4-4

松製
本品
浩評
二価技術
基盤機
構

【Session 11】ソフトウェアの信頼性
ソフトウェア製品評価に有効な連続的リスクアセスメント手法
11-1

11-2

㈱ニルソフトウェア 河合 一夫
電気自動車『i MiEV』のソフトウェア信頼性〜HILSを用いた分散制御システムのソフトウェア検証〜
三菱自動車工業㈱

徳永 哲智

佐東藤京
吉海信洋
︵大関学︶

【Session 12】信頼性手法
モンテカルロシミュレーションを用いた冗長システムのアンアベイラビリティ解析（その3）12-1東京海洋大学西干機

リスク評価による鉄道信号装置の改善手法の検討（独）製品評価技術基盤機構

日本CMO㈱宇宙航空研究開発機構

12-2

久本 誠一

岩間 英雄

角有司

山富士
悟ゼ︵ロ若ッ井ク︶ス

アイシン精機㈱橘敦之

鉄道総合研究所

岩田 浩司【Session 13】信頼性・安全性管理3
新聞報道による金融情報システム事故情報の分析と改善への活用
13-1

村日
上本航

電気通信大学坂東 幸一

新製品開発と技術アライアンスにおける意思決定メカニズムの研究
13-2

AMT（オートメイテッド・マニュアルトランスミッション）失速感フィーリングの定量化
10-3

密岡 洋介

10:00-15:00

6-1

事故調査におけるR-Map活用事例

休憩（展示コーナー（第三会議室）は10:00〜15:00まで開催しておりますので、お時間のある時に是非お立ち寄りください）【Session 9】ワイブルとデータ解析【Session 10】信頼性設計
藤Ｉ
信頼性の位置づけ-信頼性教育3パラメータワイブル分布のパラメータ推定における非正則性問題の回避に関する一考察
本Ｈ
Ｉ 10-1
9-1
良首都大学東京 長塚 豪己 一
︵堀
宇宙船設計支援システムの研究
赤池情報量基準を用いた定数打ち切りデータにおけるパラメータ変化時点の推定
籠10-2
9-2
防衛大学校 田村 信幸 ︶

京都大学

T4-3

宮村 鐵夫

R-Mapによる開発段階からの安全構造設計〈製品安全寿命の立証方法の提案〉
2008年度 R-Map実践研究会 第1分科会（東芝テック㈱） 菊池 敏郎

T3-3

14:00-14:30

健治

HALT試験の故障モードと解析事例
中央大学

T3-2

林

展示会場（第三会議室）
8階807〜808

宮中
村 央 〈1日目〉
鐵大夫学
12:00-17:00︵仁田〈2日目〉︶

統合的設計管理手法の研究（その1）-多目的トレードオフ設計とリスク管理の統合-

T4-2

敏

10:50-11:20 改正消費生活用製品安全法において義務づけられたこと（誤使用・点検T2-3制度）に対しての取り組み㈱ノーリツ 山口 憲一
7-4
韓国電子部品研究所 Byung Jin, Ma
11:20-11:30 総合質疑
昼食休憩（展示コーナー（第三会議室）は10:00〜15:00まで開催しておりますので、お時間のある時に是非お立ち寄りください）【Session 8】半導体の信頼性2【Tutorial Session 3】日科技連「R-Map実践研究会」の活動から
手ル
半導体プロセス制御幅のTCAD／PCM（プロセス・コンパクト・モデル）による適正化
12:30-12:45 日科技連『R-Map実践研究会』の活動
塚ネ
サ8-1
−ス
東芝インフォメーションシステムズ㈱ 江口 英孝 泉
R-Map実践研究会統括主査 松本 浩二︵テフラッシュメモリのデータリテンション特性における書込み／消去条件依存性
12:45-13:20 R-Map手法を活用したPS-PTA手法の開発と実践
荒ク
木ノ8-2
T3-1
㈱東芝 船津 剛 ︶ ロ
日立アプライアンス㈱ 巻島 文夫
ジ8-3トピー工業㈱
配管系のフロー供給維持のための故障対策検討支援システムの開発【Session 6】信頼性・安全性管理2
安全と安心を作り込む戦略的高信頼性組織への挑戦〜航空会社の整備技術部門における高信頼性戦略の現状〜

製品の安全と安心について

T2-2

認定評価における初期故障率の検証
13:30-14:00【Session 5】信頼性・安全性管理1
鋼トラス橋斜材の補修・補強・予防保全およびリダンダンシーに関する2，3の検討

統合的設計管理手法の研究（その2）-片持ち梁問題による多目的トレードオフ設計法の解説-

高輝度白色LEDの信頼性向上

11:00-11:30

司会者［108席］（補佐）

707室

6-4

干機

【Tutorial Session 2】製品安全の重要性と最近の動向
9:30- 9:35 チュートリアルセッションの趣旨説明

10:20-10:50

岩田 浩司 他

水力発電の溢水低減に向けた取り組み
東京海洋大学

T2-1

木下 浩三 他

①テックサポートマネジメント㈲4-4Je Min, Kim

半導体の各静電破壊試験方法の市場相関性の検討
10:00-10:30

沖エンジニアリング㈱C会場（新会議室） 7階

5-4

FF式石油温風暖房機の安全解析（その3）【Session 7】半導体の信頼性1
BGA実装の信頼性と問題点
7-1【奨励報文賞】◆鉄道信号装置のアベイラビリティを観点とした評価法の検討
譛鉄道総合技術研究所◆自動車産業におけるリコールリスクのマネジメント
中央大学 大矢 真平 他

芳野 赳夫（電気通信大学 名誉教授）

15:15-15:45

帝京科学大学表彰報文

表彰報文：発表報文の中から参加者の投票をもとに選出されます。
報文は、①創意性、②実用性、③完結性、④利用価値、⑤普遍性、⑥発表方法、⑦発表データの利用度の各項で評価されます。なお、2008年度の受賞報文は次のとおりです。

10:45-10:55

日

７

2008年度（第38回）R&MS推奨報文賞・奨励報文賞

10:55-12:25

14:45-15:15︵月︶

サレジオ工業高等専門学校教授・組織委員会委員〕

2008年度（第38回）R&MS推奨報文賞・奨励報文賞 表彰式
賞状・副賞の授与 ：佐藤 吉信 東京海洋大学教授・組織委員会委員長
選考理由について：木村 忠正 電気通信大学教授・報文小委員会委員長
休憩

13:45-14:15

１３

第一会議室〔総合司会：仁田 周一

主催者挨拶：譛日本科学技術連盟役員

10:20-10:45

７

場：A会場

9:30- 9:35

13-3

中央大学

神津壮

Research on the Safety Improvement Method for the company's RAMS
management business and public infranstructure
POSCON Myung-Seon Ryou

孝空︵イ尾ン畑ター︶ナショナル

㈱デンソー
田中 克幸
楠本化成㈱
井原 惇行
NECエレクトロニクス㈱二川 清