NANOWORLD® SPM AND AFM PROBES
納米技術是我們的領域。精度是我們的傳統。
創造是我們的關鍵工具。 因此，我們位於瑞士，歐洲最強大、最創造性的地區之一。通過應用我們的知識和我們高
精確度的探針，我們的顧客在使用掃描探針顯微鏡(SPM)時和特別在使用原子力顯微鏡(AFM)時能得到最好的結果

POINTPROBE®

ULTRA -SHORT CANTILEVERS• 全球使用最廣泛，最知名的SPM和AFM探針• 專為高速AFM系統而設計的超短懸臂梁• 用於高分辨掃描成像的硅SPM、AFM探針• 適用於空氣中的動態模式應用的3種具有很高共振頻率（1.2 MHz-5 MHz）和高力常數的類型• 支撐芯片背面的對准槽• 主要用於液體中的3種具有高共振
頻率和低力常數（0.15 N / m-0.6N / m）的類型• 探針半徑通常<8 nm，保証<12 nm• 可用不同探針形狀

• 耐磨的高密度碳/類金剛石碳
（HDC / DLC）探針• 探針半徑通常<10 nm

PYREX-NITRIDE

ARROW™

• 氮化硅懸臂梁和探針•通過最大化的探針視界來優化
定位• 設計用於接觸模式下或動態模式下的各種成像
應用• 由實際晶面定義的三面探針• 特殊的探針形狀導致非常對稱的掃描• 氧化物打磨的金字塔
探針• 在懸臂梁的最末端有探針• 探針半徑通常 < 10 nm• 可以提供三角形或長方形懸臂梁• 也可以提供無探針的類型< 15 nm• 探針半徑通常< 10 nm, 保証• 可提供共振頻率高達2 MHz的高速版本

POINTPROBE®
SILICON AFM PROBES

全世界使用最寬闊的、名譽最好的、質量高的SPM、AFM探針
Pointprobe® 探針 (標准)標准Pointprobe® 探針的形狀是多邊棱錐體的。
探針的宏觀半錐角沿著懸臂軸為 20°至25°﹔從側面看為25°至30°﹔在探針的最末端部事實上為零度 。
Pointprobe® 探針高度為10 – 15 μm, 針尖半徑典型地比8 nm 好(比保証的12 nm小)概況
• 用於高分辨掃描成像的SPM、AFM探針

Pointprobe® 探針• 適合於所有著名商業SPM和AFM系統• 單晶硅支架支撐著懸臂和探針• 支架、懸臂、針尖等的單塊設計
概況

Pointprobe® 側視圖

detector side
tip side

懸臂的梯形橫截面以及因此較寬的30％（例如NCH）懸臂檢測器側面可以使激光調整更加輕鬆快捷。另外，由於僅存在更多的空間來放置和反射
激光束，因此可以獲得更高的SUM
信號。

材料特點
• 高度摻雜單晶硅 (電阻率為0.01 - 0.025 Ohm•cm)• 沒有內部壓力，並帶完全挺直的懸臂• 可以用於液體或者電化學細胞的化學惰性硅懸臂梁• 梯形截面的長方形懸臂梁• 廣闊的探測邊面為了激光束的簡單調整• 小的針尖邊面寬度減少阻尼支架• 懸臂跟硅支架成一體
• 支架的規格可復制的(3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• 硅支架背上的調節凹槽與定標芯片協辦、保証探針更換時不需要激光束的較大重復調整
包裝規格• 裝10、20、50個掃描探針的小包裝• 裝380至388個掃描探針（看產品種類）的整個圓片包裝SuperSharpSilicon™ 探針 (SSS)

為了改善微粗糙度和納米結構的分辨，我們研制了先進的探針制造過程﹔通過這種制造過程可以再一步改善針尖的尖銳度，甚至包括探針半徑為2 nm的那麼小的。
通過這些AFM探針我們使技術領域再一步寬大。

SuperSharpSiliconTM 探針 (SSS)

探針特點
探針高度為10 -15 μm SuperSharpSilicon™的典型半徑大概為2 nm。
我們保証探針半徑小於5 nm (保証成功率：80%)。在探針的最末200 nm半錐角小於10°。

高深寬比探針 (AR5/AR5T)

測量側面角進於90°的樣品時，比如測量深槽或者別的半導體應用，我們提出兩種不同的高縱橫比探針，可以成像幾乎豎式的側壁。
這種針尖的總共高度為10 - 15 μm，就可以測量波紋形的樣品。在探針的最末千分尺有高深寬比部分， 這個部分如果從側面看或者從沿著懸臂軸看是對稱的。探針半徑典型地為10 nm (小於保証的15 nm)。
高深寬比探針 (AR5)探針特點
AR5 / AR5T探針的高深寬比部分大於2 μm，深寬比典型地為7:1 (保証最低深寬比為5:1)。
因此，高深寬比部分的半錐角典型小於5°。 另外，從中心軸看 AR5T 版的高深寬比部分
傾斜度為13°，因此可以達到完全對稱的成像。

傾斜補償 AR5T
高深寬比探針 (AR5T)

金剛石涂層探針 (DT), 導電金剛石涂層探針 (CDT)

為那些要求探針和樣品的硬性接觸的SPM、AFM應用，我們推薦我公司的金剛石涂層探針(DT)。
摩擦力測量、樣品彈性性能的測量以及磨損測量或納米結構測量等作為典型的應用。導電金剛石涂層探針（CDT）還可提供導電的非鈍化涂層。

金剛石涂層探針 (DT, CDT)

探針、涂層特點在懸臂梁的探針表面帶真實多晶金剛石涂層 ——具有無與倫比的金剛石硬度。探針高度
為10 - 15 μm，金剛石層厚度為 100 nm。 探針的宏觀半徑為100 - 200 nm，不過探針經常有10 nm大的納米表面粗糙度。如果用 CDT ，導電率為 0.003 - 0.005 Ohm•cm。

可供涂層鋁反射涂層• 在懸臂梁背面上加30 nm厚的鋁涂層• 由2.5系數改善激光束的反射率• 預防懸臂裡的光線干涉

硬磁性的+軟磁性的涂層• 硬磁性的涂層：在探針部上加鈷合金涂層• 軟磁性的涂層：在探針部上加軟磁性的涂層 (矯頑磁力大概為0.75 Oe，頑磁大概為225 emu/cm³)• 探針是永久磁化的金剛石涂層

PtIr5 涂層黃金涂層 (如有需要即可提供)•懸臂梁末端的100 nm厚的多晶金剛石涂層

•在掃描探針兩側面上帶25 nm厚的•在懸臂梁背面上帶70 nm厚的鉻/金涂層•無與倫比的探針硬度•應力補償、耐磨的•CDT的電阻<10 kOhm

鉻/鉑銥5層•探測器側面的涂層由系數2提高激光
束的反射率•可以做電氣測量

•在探針兩側面上帶70 nm厚的鉻/金涂層ARROW™
SILICON AFM PROBES

通過針尖視界的最大化可以優化地定位

概況• 用於高分辨掃描成像的SPM、AFM探針• 適合於所有著名商業SPM和AFM系統• 單晶硅支架支撐著懸臂梁和探針•支撐芯片、懸臂梁和探針的單塊設計材料特點• 高度摻雜單晶硅 (電阻率為0.01 - 0.025 Ohm•cm)• 沒有內部壓力，並帶完全挺直的懸臂梁• 可以用於液體或者電化學細胞的化學惰性硅

ArrowTM 頂視懸臂梁• 長方形懸臂梁具有梯形的自由端• 由於 Arrow™形狀，興趣區的定位很容易
• 探針與懸臂梁端中間有一致距離• 梯形截面、檢測器側面較寬，便於激光調整• 寬廣背面的梯形截面，為了簡單地調整激光
ArrowTM 前視支架• 支架的規格可復制的(3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• 支架的刻蝕角落避免支架和樣品中間的接觸Tilt 13°探針• 探針高度為10 - 15 µm，曲率半徑典型< 10 nm (保証< 15 nm)• 探針的宏觀半錐角- 沿著懸臂軸為30°至35°- 從側面看為20°至25°包裝規格• 裝 10、20、50個AFM探針的小包裝• 裝380個AFM探針的整個圓片包裝

可供涂層反射涂層• 在懸臂梁的探測器側面上帶30 nm
厚的鋁反射涂層
• 由系數2.5提高激光束的反射率• 預防懸臂裡的光線干涉當探針傾斜安裝在AFM探頭時，特殊的探針形狀會導致x和y方向的掃描圖
像極為對稱。

PtIr5 涂層• 在探針兩側面上帶25 nm厚的鉑銥5涂層
• 應力補償、耐磨的• 探測器側面的涂層由系數2提高激光束的反射率• 可以做電氣測量• 如有需要即可提供其他標准SPM、AFM探針的涂層A R R O W ™ 超 高 频 扫 描 探 针 (UHF)A R R O W ™ 无 探 针 悬 臂 梁 和 悬 臂 阵 列 (TL)

Arrow™ UHF

NanoWorld Arrow™ UHF 探針的懸臂梁能夠以 2 MHz之內的頻率諧振。這些探針兼具出色的靈敏度和快速掃描能力。對於Arrow™系列的所有探針，Arrow™UHF探針均由高度摻雜以消散靜電荷的單片硅制成。它具有化學惰性，並提供高機械Q因子，可實現高靈敏度。
Arrow™ UHF 三維視圖Arrow™UHF探針具有35μm長的三角形懸臂梁和四面體探針，其高度為3μm，曲率半徑小於10 nm。
獨特的Arrow™形狀可讓探針輕鬆地定位在感興趣區域上。
懸臂梁探測器側面的反射涂層（鋁或金）由系數2.5提高激光束的反射率並預防了懸臂裡的光線干涉。

Arrow™ UHF 放大的三維視圖Arrow™ TL (特殊應用的無探針懸臂梁)

Arrow™TL的SPM和AFM探針具有無探針懸臂梁，可提供1個懸臂梁或懸臂梁陣列，懸臂陣列由2個或8個帶有三角形自由端的長方形懸臂梁組成。
所有類型的Arrow™TL系列都可選配鍍金涂層懸臂梁的面向樣品側。
ArrowTM UHF懸臂梁數據
共振頻率

6 kHz

力常数

0.03 N/m

長度

500 µm寬度 (長方形部分)

100 µm厚度

1.0 µm瀝青 (如果是TL2和TL8)

250 μmArrow™ TL1
無探針懸臂梁單懸臂梁的硅支架

Arrow™ TL2
無探針懸臂梁陣列、
單晶硅支架上的兩個懸臂梁

Arrow™ TL8
無探針懸臂梁陣列、
單晶硅支架上的八個懸臂梁快速AFM的超短懸臂梁ULTRA-SHORT CANTILEVERS (USC)概況
適用於高速AFM系統（HS-AFM）的NanoWorld超短懸臂梁（USC）結合了由石英狀材料制成的非常小的懸臂梁。其設計用於在高達5 MHz的頻率下產生共振，並且具有非常尖銳且耐磨的高密度碳/類金剛石碳（HDC / DLC）探針。

USC懸臂梁的三維視圖•專為高速掃描應用而設計•由於尺寸小，不能用於所有商用SPM和AFM系統（請參閱下一頁）•單晶硅支架支撐懸臂梁和探針•無內在應力、絕對直懸臂梁懸臂梁• 在自由端具有圓角的長方形懸臂梁•懸臂梁由類石英材料制成

USC支架的三維視圖支架•支架的規格課復制的（3.4mmx 1.6mmx 0.3mm）•支架的刻蝕角落避免支架和樣品中間的接觸• 硅支架背面的對准凹槽與對准芯片一起確保更換樣品，而無需大幅度重新調整激
光束探針• nanotools® 高密度碳/類金剛石碳 (HDC/DLC) 探針• 探針高度典型為 2.5 μm、 曲率半徑典型 < 10 nm• 探針深寬比典型為 5:1、 傾斜補償 為8°
包裝規格• 裝10個AFM探針的包裝

USC探針的正面視圖可供涂層
USC探針細節黃金反射涂層•探針兩側均具有20/30 nm厚的金反射涂層•增強激光束的反射率•無涂層探針為了涵蓋使用高速AFM的各種可能的應用，我們已經開發了六種不同類型的超短懸臂梁（USC）：三種類型具有非常高的共振頻率（1.2 MHz – 5 MHz）、高力常數，主要用於空氣中的動態模式應用。我們還開發了三種具有高共振頻率和低力常數（0.15 N / m-0.6 N / m）的類型，主要用於液體應用。

主要用於空氣中的動態模式應用的USC超短懸臂梁USC-F5-k30 懸臂梁的三維視圖

USC-F5-k30 懸臂梁的頂視圖• 共振頻率為1.2 MHz 及更高• 剛度為3.0 N / m及更高
• 專為空氣中的非接觸模式應用而設計的，但也可以用於其他應用类型

USC-F5-k30

USC-F2-k3

USC-F1.2-k7.3

共振頻率

5.0 MHz

2.0 MHz

1.2 MHz力常數

30 N/m

3.0 N/m

7.3 N/m

懸臂梁長度

10 μm

10 μm

20 μm

懸臂梁寬度

5 μm

5 μm

10 μm

懸臂梁厚度0.68 μm

0.28 μm

0.67 μm

主要用於液體中的應用的USC超短懸臂梁• 共振頻率為1.5 MHz及更低• 剛度為0.6 N/m及更低• 專為液體中的應用而設計的，但也可以應用於空氣中 (取決於應用特點)
USC-F1.2-k0.15 懸臂梁的三維視圖類型

USC-F1.5-k0.6

USC-F1.2-k0.15

USC-F0.3-k0.3

共振頻率

1.5 MHz

1.2 MHz

0.3 MHz力常數

0.6 N/m

0.15 N/m

0.3 N/m

懸臂梁長度

7 μm

7 μm

20 μm

懸臂梁寬度

3 μm

2 μm

10 μm

懸臂梁厚度

0.10 μm

0.08 μm0.19 μm* 空氣中的數值

USC-F1.2-k0.15 懸臂梁的頂視圖有關我們正在開發的用於高速AFM系統的AFM探針的更多信息以及有關應用示例，請訪問： www.highspeedscanning.com

系統限制：由於懸臂梁尺寸小且共振頻率很高，USC樣品目
前無法在所有市場上銷售的SPM和AFM系統使用。隻有具有
足夠小的激光光斑的AFM系統和能夠處理高達5 MHz的高共振頻率的電子設備才能與USC一起使用。如果不確定這些探
針是否可以在您的AFM懸臂梁上使用，請與我們或您的AFM
系統制造商聯系。

PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
在清晰度和耐久性方面具有最高水平概況• 用於接觸式、動態式的寬范圍應用的SPM、AFM探針• 適合於所有著名商業SPM和AFM系統• 氮化硅懸臂和探針• 耐熱Pyrex派熱克斯玻璃做的支架支撐著懸臂• 我們把支架一個一個地分開配送，以便易於操作
Pyrex-Nitride AFM探針放大圖Pyrex-Nitride
三角懸臂梁的三維草圖材料特點• 用低應力氮化硅為了懸臂最低的彎曲• 完好的硬度導致耐久性和延長的使用期
懸臂梁• 長方形懸臂梁或三角形懸臂設計• 單個懸臂梁版本帶有一個三角形懸臂(與PeakForce TappingTM及ScanAsyst® 模式兼容)• 在懸臂背面上帶反射鉻/金涂層• 應力補償的、彎曲在2°下
支架• 耐熱Pyrex派熱克斯玻璃做的支架 (3.4 mm x 1.6 mm x 0.5 mm)• 單一支架易於操作
探針• 氧化削尖的角錐狀的探針針尖• 針尖高度為 3.5 μm，探針曲率半徑典型< 10 nm• 探針的宏觀半錐角35°包裝• 裝 20、50個掃描探針的小包裝• 我们把支架一个一个地分开配送，以便易于操作

Pyrex-Nitride
長方形（潛水板）懸臂梁的三
維草圖

可供涂層
金涂層

Pyrex-Nitride
三角形單懸臂
適用於PeakForce TappingTM和ScanAsyst®模式的三維草圖• 懸臂梁檢測器側面的70 nm厚金反射涂
層可增強激光束的反射率•懸臂梁的探針側（正面）上可選的35 nm厚金涂層PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
T r i a n g u l a r C a n t i l e v e r s (PNP-TR)
Diving Board Shaped Cantilevers (PNP-DB)
Single Triangular Cantilever (PNP-TRS)

Triangular Cantilevers (PNPTR) 三角懸臂梁

Diving Board Cantilevers(PNP-DB) 潛水板懸臂梁• 三角形懸臂梁• 多懸臂梁設計• 懸臂探測器側的金反射涂層• 可供兩側均鍍金的探針• 長方形潛水板懸臂梁• 多懸臂梁設計• 懸臂探測器側的金反射涂層

Single Triangular Cantilever(PNP-TRS) 單三角懸臂梁• 單三角懸臂梁•每個支架具有一個懸臂梁•懸臂梁檢測器側面的金反射涂層• 專為PeakForce TappingTM以及ScanAsyst® 模式而設計的*懸臂梁
形状

1懸臂梁#

2三角形

21形状

三角形

67 kHz

17 kHz

共振頻率

67 kHz

17 kHz

共振頻率

67 kHz力常數0.32 N/m

0.08 N/m

力常數

0.48 N/m

0.06 N/m

力常數

0.32 N/m

長度

100 µm200 µm

長度

100 µm200 µm

長度

100 µm2 x 13.5 µm 2 x 28 µm

寬度

40 µm

40 µm

寬度

2 x 13.5 µm

厚度

600 nm

600 nm

厚度

600 nm

厚度

600 nm

600 nm

長方形

懸臂梁#

共振頻率

寬度形状

1PNP無探針(PNP-TR-TL)• 三角形Pyrex-Nitride探針也
有無探針版本• 懸臂探測器側的金反射涂層• 探針兩側均鍍金Pyrex-Nitride AFM探針
三角無探針懸臂梁

Pyrex-Nitride AFM探針
放大的三角無探針長懸臂梁

Pyrex-Nitride AFM探針
放大的三角無探針短懸臂梁*PeakForce TappingTM及ScanAsyst® 是Bruker Corp的注冊商標.

快速選擇列表
應用接觸模式接觸模式類型

涂層探針/正面

涂層
探測器側面

探針形狀

共振頻率

力常數

懸臂梁長度 x
寬度 x 厚度

Arrow CONT---

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

CONT-

Pointprobe®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Arrow CONTR-

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

CONTR

-

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

ZEILR-

27 kHz1.6 N/m

450 x 55 x 4 μm

Arrow CONTPt

PtIr5

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

Pointprobe®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Pointprobe®

25 kHz0.2 N/m

225 x 48 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.48 N/m 100 x 40 x 0.5 μm

17 kHz0.06 N/m 200 x 40 x 0.5 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

Arrow™

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

Pointprobe®

330 kHz125 x 30 x 4 μm

Arrow™

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

反射 (铝)

Pointprobe

PtIr5

CONTPt接觸模式/輕敲模式

接觸模式(短懸臂梁)

接觸模式或輕敲模式

CONTSC-CONTSCR-

反射 (铝)-反射(铬/金)PNP-TR(三角懸臂梁)

懸臂梁 1

PNP-TR-Au(三角懸臂梁)

懸臂梁 1

PNP-DB(长方懸臂梁

懸臂梁 1

懸臂梁 2

懸臂梁 2

铬/金-

懸臂梁 2

Arrow NC-

铬/金金字塔形氮化硅反射(铬/金)-NCH
Arrow NCR

反射 (鋁)

NCHR
Arrow NCPt
非接觸模式/輕敲模式(高頻)

PtIr5

PtIr5

NCHPt

Pointprobe

SSS-NCH-

AR5-NCHR-AR5T-NCHR (補償彎曲)-

非接触模式 /轻敲模式®

®

42 N/mSuperSharpSilicon™
高深寬比(5:1)

330 kHz

反射 (鋁)

125 x 30 x 4 μm

高深寬比(10:1)

AR10-NCHR
DT-NCHR

Arrow™
Pointprobe

-

®

金刚石

反射 (鋁)

金刚石

NCST

-

-

Pointprobe®

NCSTR

-

反射 (鋁)

Pointprobe®

NCL

-

-

NCLR

-

反射 (鋁)

NCLPt

PtIr5

Ptlr5

SSS-NCL--

SuperSharpSilicon™

AR5-NCLR-

反射 (鋁)

高深寬比 (5:1)

金刚石

反射 (鋁)金刚石

SEIHR-反射 (鋁)Pointprobe®

SSS-SEIH--

400 kHz

80 N/m

125 x 30 x 4 μm

160 kHz

7.4 N/m

150 x 27 x 2.8 μm

190 kHz

48 N/m225 x 38 x 7 μm

130 kHz

15 N/m225 x 33 x 5 μm

CDT-NCHR
非接觸/柔性輕敲模式

非接觸/輕敲模式(長懸臂梁)DT-NCLR

Pointprobe®

CDT-NCLR

非接觸/ 輕敲模式(Seiko非接觸模式)SuperSharpSilicon™

Pointprobe®

Arrow™

Pyrex-Nitride

Ultra-Short Cantilevers

快速選擇列表應用

快速AFM

接觸模式類型

涂層探針/正面

涂層
探測器側面

探針形狀

共振頻率

力常數

懸臂梁長度 x
寬度 x 厚度

USC-F1.5-k0.6

金(無涂層探針)反射 (金)電子束沉積
(EBD) 穗1.5 MHz

0.6 N/m

7 x 3 x 0.10 μm

USC-F1.2-k0.15

1.2 MHz0.15 N/m7 x 2 x 0.08 μm

USC-F0.3-k0.3

0.3 MHz

0.3 N/m

20 x 10 x 0.19 μm

5.0 MHz

30 N/m20 x 5 x 0.68 μm

2.0 MHz

3.0 N/m

10 x 5 x 0.28 μm

1.2 MHz

7.3 N/m

20 x 10 x 0.67 μm

金(無涂層探針)

USC-F5-k30
非接觸模式/
輕敲模式

PeakForce
TappingTM /ScanAsyst® 模式

反射 (金)USC-F2-k3
USC-F1.2-k7.3
Arrow UHF反射 (鋁)

Arrow UHF-AuD

反射 (金)

Arrow™

小于
2.0 MHz

67 kHzPNP-TRS-

反射 (鋁)

金字塔形氮化硅

Arrow FM--

Arrow™

FM
力調制模式

電子束沉積
(EBD) 穗Pointprobe

Arrow FMR-反射(鋁)FMR

0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm
240 x 35 x 3 μm®

75 kHz2.8 N/m

225 x 28 x 3 μm

Arrow™

240 x 35 x 3 μm

Pointprobe®

225 x 28 x 3 μm

金刚石

反射 (鋁)

金刚石

Arrow EFM

PtIr5

PtIr5

Arrow™

EFM

PtIr5

PtIr5

Pointprobe

MFMR

硬磁性反射(鋁)S-MFMR

軟磁性反射(鋁)DT-FMR

35 x 42 x 0.7 μm

105 kHz

6.2 N/m

225 x 28 x 3 μm

75 kHz2.8 N/m

240 x 35 x 3 μm

CDT-FMR

特殊应用

靜電力顯微鏡磁力顯微鏡

無探針懸臂梁Arrow TL1

1 懸臂梁--Arrow TL1-Au

1 懸臂梁

鈦/金-

Arrow TL22个懸臂梁--

Arrow TL2-Au

2个懸臂梁

鈦/金-

Arrow TL88个懸臂梁--

Arrow TL8-Au

8个懸臂梁

鈦/金-

PNP-TR-TL

三角懸臂梁

懸臂梁 1

Pointprobe®

75 kHz2.8 N/m

無探針硅

6 kHz

0.03 N/m 500 x 100 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm-懸臂梁 2

PNP-TR-TL-Au

三角懸臂梁

懸臂梁 1
懸臂梁 2

金反射 (金)225 x 28 x 3 μm®

無探針氮化硅

225 x 28 x 3 μm

有關更多信息請參閱我們的網站 www.nanoworld.com。所有數據可能隨時更改。NanoWorld® 及Pointprobe®是NanoWorld AG注冊的商標。PeakForce TappingTM及ScanAsyst®是Bruker Corp. 注冊的商標。

POINTPROBE®

關於NanoWorld
納米技術是我們的領域。精度是我們的傳統。
創造是我們的關鍵工具。
因此，我們位於瑞士，歐洲最強大、最創造性的地區之一。
通過應用我們的知識和我們高精確度的 SPM及AFM探針，我們的顧客在使用掃描探針顯微鏡(SPM)和原子力顯微鏡(AFM)時能得到最好的結果。

ARROW™

我們提供廣發范圍的探針形狀、彈簧常數、共振頻率和涂層，讓您在研究當中具有最適合的樣品和工業應用。
Pointprobe®硅AFM探針是全球使用最廣泛、最知名的AFM探針，並已成為許多實驗室的標准探針。Pointprobe®系列的AFM探針有許多不同的懸臂版本和探針形狀。
Arrow™系列的AFM探針具有獨特的探針形狀，可輕鬆將探針定位在感興趣區域上。 Arrow™UHF版本設計用於共振頻率小於2 MHz的高速掃描。

ULTRA -SHORTCANTILEVERS

借助超短懸臂梁 Ultra-Short Cantilevers 系列，NanoWorld現在提供了用
於高速AFM的全系列AFM探針。其設計可在小於5 MHz的頻率上產生
共振，並具有由高密度碳/類金剛石碳（HDC / DLC）制成的非常耐磨的探針。當前有三種主要用於空氣中的不同版本，和三種主要用於液體中的不同版本。
PNP氮化硅AFM探針具有多個三角形懸臂，單個三角形懸臂以及多個長方形懸臂的版本。它們具有金字塔形的氮化硅探針，其曲率半徑小於10 nm。還提供無探針的三角形氮化硅懸臂梁，在探測器側或懸臂梁的兩側均鍍有金。 的AFM探针有许多不同的悬臂版本和探针形状。

PYREX-NITRIDE

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