A PROPOS DE NANOWORLD®
La Nanotechnologie est notre spécialité. La précision, notre tradition.

POINTPROBE®

ULTRA -SHORT CANTILEVERS• sonde SPM/AFM la plus utilisée et la plus connue aumonde• disponible avec
différentes formes depointe• leviers extrêmement courts conçus pour l’imagerie AFM à hautevitesse• 3 versions avec de très hautes fréquences de résonance (1.2 MHz- 5 MHz) et de grandes constantes de force pour des applications
dynamiques dans l’air•3 versions avec des fréquencesde résonance élevées et de faibles
constantes de force (0.15 N/m - 0.6N/m) pour des applications en milieu
liquide principalement•pointe en carbone de haute densité/
carbone de type diamant (HDC/DLC)
résistante à l’usure•rayon de courbure de la pointe 		
typiquement < 10 nm

PYREX-NITRIDE PROBES

ARROW™

• sonde SPM/AFM en silicium pour des images à très
haute résolution• structures d’alignement sur
la face arrière du support
de préhension• rayon de courbure de lapointe typiquement < 8 nm,
garanti < 12 nm• leviers et pointes en nitrurede silicium• sonde SPM/AFM conçue
pour diverses applications
en mode contact ou enmode dynamique• pointes pyramidales
affinées par oxydation• rayon de courbure de la pointe typiquement < 10 nm• disponible avec des leviers triangulaires ou
rectangulaires• également disponible en version sans pointe•positionnement optimal grâceà l’excellente reproductibilité del’emplacement de la pointe sur lelevier•pointe à trois faces définies par devéritables plans cristallins•forme de pointe spécifiquepermettant d’obtenir des images très
symétriques• pointe située tout à l’extrémité du levier• rayon de courbure de la pointe typiquement < 10 nm,
garanti < 15 nm• également disponible avec de hautes fréquences de résonance(jusqu’à 2 MHz) pour l’imagerie AFM à haute vitessePOINTPROBE®
SONDES AFM EN SILICIUM
Sonde SPM/AFM de haute qualité la plus utilisée et laplus connue au mondePointe Pointprobe® (standard)
La pointe standard Pointprobe® a la forme d’une pyramide à base polygonale. Son
demi-angle d’ouverture macroscopique est compris entre 20° et 25° suivant l’axe dulevier, entre 25° et 30° perpendiculairement au levier et est virtuellement nul en son
sommet. La pointe Pointprobe® mesure entre 10 µm et 15 µm de haut et présente unrayon de courbure typiquement plus petit que 8 nm (garanti plus petit que 12 nm).
Pointe Pointprobe

Généralités• sonde SPM et AFM pour imagerie à très haute résolution• adaptée à tous les microscopes SPM et AFM commercialisés• levier et pointe sont intégrés à un support en silicium monocristallin• conception monolithique comprenant le support, le levier et la pointe®

.

Caractéristiques des matériaux• silicium monocristallin hautement dopé (resistivité 0.01 - 0.025 Ohm cm)• pas de contraintes internes et des leviers parfaitement droits• silicium inerte chimiquement pour des applications en milieu liquide ou en celluleélectrochimique
Pointprobe® Vue de côté
face arrière du levier
face avant
du levierLa section trapézoïdale du levier permetde bénéficier d’une face arrière qui est
30% plus large que dans le cas d’unlevier de section rectangulaire (pour laversion NCH) ce qui facilite et accélère
l’alignement du faisceau laser.
De plus, comme la surface pour placer etréfléchir le faisceau laser est plus importante, la valeur de puissance réfléchie est
plus élevée.

Levier• levier rectangulaire à section trapézoïdale
• importante surface de réflexion sur la face arrière facilitant l’alignement du faisceaulaser (voir croquis à gauche)• largeur réduite du côté de la pointe diminuant l’atténuation de la vibration du levier(damping)
Support de préhension• levier intégré à un support en silicium• dimensions du support parfaitement reproductibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• structures d’alignement sur la face arrière du support permettant un remplacement dela sonde sans réajustements majeurs du faisceau laser (en combinaison avec un chipd’alignement)
Quantités disponibles• boîtes comprenant 10, 20 ou 50 sondes• wafer entier comprenant de 380 à 388 sondes

Pointe SuperSharpSilicon™ (SSS)
Afin d’obtenir une meilleure résolution lors de mesures de microrugosités et de nanostructures, nous avons développé un procédé de fabrication d’avant-garde nous permettant
d’obtenir un rayon de courbure inférieur à 2 nm. Avec ces pointes, nous avons repoussé
encore un peu plus les limites de la technologie.

Pointe SuperSharpSiliconTM (SSS)

Caractéristiques de la pointe
La hauteur de la pointe est comprise entre 10 µm et 15 µm et le rayon de courbure typique d’une pointe SuperSharpSilicon™ est d’environ 2 nm. Nous garantissons un rayonde courbure inférieur à 5 nm (rendement garanti: 80%). Le demi-angle d’ouverture est
plus petit que 10° sur les derniers 200 nm de la pointe.

Pointe High Aspect Ratio (AR5/AR5T)
Pour des mesures sur des échantillons avec des parois avoisinant 90°, par exemple des mesuresde tranchées profondes ou d’autres applications semiconducteurs, nous proposons deux types depointes High Aspect Ratio présentant des faces quasiment verticales. Ces pointes ont une hauteur
totale comprise entre 10 µm et 15 µm qui permet de réaliser des mesures sur des échantillons
présentant un relief important. Les derniers microns de la pointe ont la particularité d’être
symétriques dans l’axe du levier ainsi que perpendiculairement à celui-ci. Le rayon de courbure
typique est d’environ 10 nm (garanti plus petit que 15 nm).
Pointe High Aspect Ratio (AR5)Pointe AR5T avec compensationd’inclinaison

Caractéristiques de la pointe
La partie à haut rapport d’aspect de la pointe AR5/AR5T mesure plus de 2 µm de hauteur etprésente un rapport d’aspect de l’ordre de 7:1 (rapport d’aspect minimum de 5:1 garanti). Ainsi, ledemi-angle d’ouverture de la partie à haut rapport d’aspect est typiquement plus petit que 5°. La
pointe de la version AR5T présente une partie à haut rapport d’aspect inclinée de 13° par rapport
à l’axe central de la pointe. Cette particularité permet de compenser l’inclinaison de la tête dumicroscope afin d’obtenir des images parfaitement symétriques.

Pointes Diamond Coated (DT) et Conductive Diamond Coated (CDT)

Pour les applications SPM et AFM impliquant des forces importantes entre la pointe et l’échantillon,
nous recommandons l’utilisation de notre sonde Diamond Coated Tip (DT). Parmi les applications
typiques de cette pointe, on retrouve les mesures de force, les mesures des propriétés élastiques, lesmesures d’usure ainsi que la nanostructuration. La version Conductive Diamond Coated Tip (CDT)
propose un revêtement conducteur non passivé.

Pointe Diamond Coated (DT, CDT)

Caractéristiques de la pointe et du revêtement
La pointe est recouverte d’une couche de véritable diamant et bénéficie ainsi de la dureté inégaléede ce matériau. La pointe mesure entre 10 µm et 15 µm de haut et l’épaisseur du revêtement dediamant est d’environ 100 nm. Le rayon de courbure macroscopique de la pointe est de l’ordrede 100 nm à 200 nm, mais la pointe présente très souvent une nano-rugosité d’environ 10 nm. La
version CDT bénéficie d’une conductivité de l’ordre de 0.003 - 0.005 Ohm cm.

.

REVÊTEMENTS DISPONIBLESRevêtement réfléchissant en aluminium• couche réfléchissante en aluminium de 30 nmd’épaisseur déposée sur la face arrière du levier• augmente la réflexion du faisceau laser d’un facteur
2.5• empêche la lumière d’interférer à l’intérieur du levierRevêtement diamant• couche de diamant polycristallinde 100 nm d’épaisseur déposée
sur la face avant du levier(pointe comprise)• dureté inégalée de la pointe• résistance <10 kOhm pour CDTRevêtements magnétiques durs + doux
• revêtement magnétique dur: couche composée d’un alliage à basede cobalt déposée sur la face avant du levier (pointe comprise)• revêtement magnétique doux: couche magnétique douce déposée
sur la face avant du levier (pointe comprise) (coercivité approx.
0.75 Oe, aimantation rémanante approx. 225 emu/cm³)• magnétisation permanente de la pointeRevêtement conducteur (PtIr5)• couche de platine-iridium5 de 25 nm d’épaisseurdéposée sur les deux faces de la sonde• contraintes internes compensées et pointe résistante à l’usure• la couche déposée sur la face arrière du levier
augmente la réflexion du faisceau laser d’unfacteur 2• permet des mesures électriquesRevêtement en or (sur demande)• couche réfléchissante en or de 70
nm d’épaisseur déposée sur la facearrière du levier• couche d’or de 70 nm d’épaisseurdéposée sur les deux faces de lasondeARROW™
SONDES AFM EN SILICIUM

Positionnement optimal grâce à l’excellente reproductibilité del’emplacement de la pointe sur le levier
Généralités• sonde SPM et AFM pour imagerie à haute résolution• adaptée à tous les microscopes SPM et AFM commercialisés• levier et pointe sont intégrés à un support en silicium monocristallin• conception monolithique comprenant le support, le levier et la pointe
Caractéristiques des matériaux• silicium monocristallin hautement dopé (resistivité 0.01 - 0.025 Ohm cm)• pas de contraintes internes et des leviers parfaitement droits• s ilicium inerte chimiquement pour des applications en milieu liquide ou en cellule 		électrochimique

.

Arrow

TM

Vue du dessus

Levier• levier rectangulaire se terminant en forme de triangle• positionnement aisé de la pointe sur la surface d’intérêt grâce à la forme Arrow™
• excellente reproductibilité de la distance entre la pointe et l’extrémité du levier• s ection trapézoïdale avec une large face arrière pour un alignement facilité du faisceau
laser
ArrowTM Vue de face

Support de préhension• dimensions du support parfaitement reproductibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• coins rognés afin d’éviter tout contact entre le support et l’échantillon

Inclinaison 1
3°

Pointe• h auteur de la pointe comprise entre 10 µm et 15 µm et rayon de courbure typiquement< 10 nm (garanti < 15 nm)• demi-angles d’ouverture macroscopiques- entre 30° et 35° suivant l’axe du levier- entre 20° et 25° perpendiculairement au levier
Quantités disponibles• boîtes comprenant 10, 20 ou 50 sondes• wafer entier comprenant de 380 à 388 sondesREVÊTEMENTS DISPONIBLES

La forme spécifique de la pointe permetd’obtenir des images très symétriques en
X et Y lorsque la sonde est inclinée en raison de son montage dans le microscope.

Revêtement réfléchissant en aluminium• couche réfléchissante en aluminium de
30 nm d’épaisseur déposée sur la facearrière du levier• augmente la réflexion du faisceau laserd’un facteur 2.5• empêche la lumière d’interférer àl’intérieur du levierRevêtement conducteur (PtIr5)• couche de platine-iridium5 de 25 nm d’épaisseurdéposée sur les deux faces de la sonde• contraintes internes compensées et pointerésistante à l’usure• la couche déposée sur la face arrière dulevier augmente la réflexion du faisceau laserd’un facteur 2• permet des mesures électriques• D’autres revêtements sont disponibles sur demande.

Sondes A R R O W ™ Ultra High Frequency (UHF)
Leviers et réseaux multi-leviers A R R O W ™ TipLess (TL)

Sondes Arrow™ UHF

Arrow™ UHF Vue 3DLes sondes NanoWorld Arrow™ UHF disposent d’un levier avec une fréquence derésonance allant jusqu’à 2 MHz. Ces sondes combinent une sensibilité remarquable etune capacité à balayer à haute vitesse. Comme toutes les sondes de la série Arrow™, lessondes Arrow™ UHF sont de conception monolithique et sont fabriquées à partir de silicium
monocristallin hautement dopé afin de dissiper les charges électrostatiques. Elles sontaussi chimiquement inertes et offrent un facteur de qualité mécanique élevé pour une hautesensibilité.
Les sondes Arrow™ UHF disposent d’un levier triangulaire de 35 μm de long et d’une pointe
tétraédrique d’une hauteur de 3 μm et avec un rayon de courbure inférieur à 10 nm.
La forme unique du levier Arrow™ permet un positionnement aisé de la pointe sur la surfaced’intérêt.

Arrow™ UHF Vue 3D Plan rapproché

Le revêtement réfléchissant (aluminium ou or) sur la face arrière du levier augmente laréflexion du faisceau laser d’un facteur 2.5 et empêche la lumière d’interférer à l’intérieurdu levier.

Sondes Arrow™ TL (TipLess Cantilevers: Leviers sans pointe pour desapplications particulières)Les sondes SPM/AFM Arrow™ TL ont des leviers dépourvus de pointe et sont disponibles
soit avec un seul levier soit avec un réseau multi-leviers de 2 ou 8 leviers rectangulaires seterminant en forme de triangle.
ArrowTM UHF

Toutes les versions de la série Arrow™ TL sont disponibles sur demande avec un revêtement
en or sur le côté du levier qui fait face à l’échantillon.
Caractéristiques du levier
Fréquence de Résonance

6 kHz

Constante de Force

0.03 N/mLongueur

500 µmLargeur (partie rectangulaire)

100 µmEpaisseur

1.0 µmDistance entre les leviers (pour TL2 et TL8)

250 μmArrow™ TL1
Levier sans pointe, version à unseul levier par sonde

Arrow™ TL2
Réseau multi-leviers sans pointe,version à 2 leviers par sonde

Arrow™ TL8
Réseau multi-leviers sans pointe, version
à 8 leviers par sonde

SONDES AFM À LEVIERS ULTRA COURTS (USC)
Sondes destinées à l’imagerie AFM à haute vitesse

Généralités
Les sondes Ultra-Short Cantilevers (USC) pour microscopie AFM à haute vitesse (HS-AFM)
associent des leviers très petits fabriqués dans un matériau similaire au quartz dont lesfréquences de résonance sont très élevées (jusqu’à 5 MHz) à une pointe très fine et résistanteà l’usure réalisée en carbone de haute densité/carbone de type diamant (HDC/DLC).

Levier USC Vue 3D• spécialement conçues pour des applications d’imagerie à haute vitesse• ne peuvent pas être utilisées avec tous les microscopes SPM et AFM disponibles sur lemarché en raison des dimensions réduites des leviers (voir page suivante)• levier et pointe sont intégrés à un support en silicium monocristallin• pas de contraintes internes et des leviers parfaitement droits
Levier• levier rectangulaire avec coins arrondis à son extrémité
• levier fabriqué dans un matériau similaire au quartz

Support de préhension USC Vue
3D

Pointe USC Vue de face

Support de préhension• dimensions du support parfaitement reproductibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• coins rognés et abaissés afin d’éviter tout contact entre le support et l’échantillon• structures d’alignement sur la face arrière du support permettant un remplacement dela sonde sans réajustements majeurs du faisceau laser (en combinaison avec un chipd’alignement)
Pointe• pointe réalisée par nanotools® en carbone de haute densité/carbone de type diamant(HDC/DLC)• hauteur de la pointe typiquement de 2.5 μm et rayon de courbure typiquement < 10 nm• rapport d’aspect typiquement de 5:1 et angle de compensation de tilt de 8°
Quantités disponibles• boîtes comprenant 10 sondesREVÊTEMENTS DISPONIBLESPointe USC Détail

Revêtement réfléchissant en or• couche réfléchissante en or de 20/30 nm d’épaisseur déposée sur les deux faces de lasonde• augmente la réflexion du faisceau laser• pointe non couverte d’orDans le but de couvrir une gamme étendue d’applications utilisant l’imagerie AFM à hautevitesse, six versions différentes de Ultra-Short Cantilevers (USC) ont été développées :trois versions avec des fréquences de résonance très élevées (1.2 MHz - 5 MHz) et desconstantes de force élevées dédiées principalement à des applications dynamiques dansl’air et trois versions avec des fréquences de résonance élevées et de faibles constantes deforce (0.15 N/m - 0.6 N/m) dédiées principalement à des applications en milieu liquide.
USC-F5-k30 Vue 3DSondes USC conçues principalement pour des applications dynamiques dans l’air• fréquence de résonance de 1.2 MHz et supérieure• constante de force de 3.0 N/m et supérieure• conçues principalement pour des applications en mode dynamique dans l’air mais
peuvent également être utilisées pour d’autres applications.

USC-F5-k30 Vue du dessus

Version

USC-F5-k30

USC-F2-k3

USC-F1.2-k7.3

Fréquence de Résonance

5.0 MHz

2.0 MHz

1.2 MHz

Constante de Force

30 N/m

3.0 N/m

7.3 N/mLongueur du levier

10 μm

10 μm

20 μm

Largeur du levier

5 μm

5 μm

10 μm

Epaisseur du levier

0.68 μm

0.28 μm

0.67 μm

Sondes USC conçues principalement pour des applications en milieu liquide
USC-F1.2-k0.15 Vue 3D

USC-F1.2-k0.15 Vue du dessus• fréquence de résonance de 1.5 MHz et inférieure• constante de force de 0.6 N/m et inférieure• conçues principalement pour des applications en milieu liquide mais peuvent égalementêtre utilisées pour des applications dans l’air (en fonction de l’application).
Version

USC-F1.5-k0.6

USC-F1.2-k0.15

USC-F0.3-k0.3

Fréquence de Résonance*

1.5 MHz

1.2 MHz

0.3 MHz

Constante de Force

0.6 N/m

0.15 N/m

0.3 N/mLongueur du levier

7 μm

7 μm

20 μm

Largeur du levier

3 μm

2 μm

10 μm

Epaisseur du levier

0.10 μm

0.08 μm0.19 μm* Valeurs dans l’air

Pour plus d’information sur les développements en cours relatifs aux sondes AFM pourl’imagerie AFM à haute vitesse et pour obtenir des exemples d’applications, nous vous
invitons à visiter le site: www.highspeedscanning.com

Limitations système: En raison de leur faible taille et de leur très haute
fréquence de résonance, les leviers USC ne peuvent pas être utilisés avec
tous les microscopes SPM et AFM disponibles sur le marché. Seuls lesmicroscopes qui disposent d‘un faisceau laser suffisamment petit et d‘uneélectronique capable de fonctionner à des hautes fréquences de résonancejusqu‘à 5MHz sont en mesure de fonctionner avec les leviers USC. Si vous
avez un doute quant à la possibilité d’utiliser ces leviers sur votre microscope
AFM, nous vous invitons à nous contacter ou à contacter le fabricant devotre AFM.

SONDES AFM EN NITRURE DE
SILICIUM
A la pointe de la précision et de la durabilité

Généralités• sonde SPM et AFM pour un large panel d’applications en mode contact ou dynamique• adaptée à presque tous les microscopes SPM et AFM commercialisés• leviers et pointes en nitrure de silicium• leviers intégrés à un support en verre pyrex• livraison sous forme de sondes séparées et indépendantes pour une manipulation facilitée
Pyrex-Nitride Probe, Plan rapprochéde la pointe

Caractéristiques des matériaux• nitrure de silicium à faibles contraintes internes pour des leviers peu courbés• excellente dureté pour une bonne résistance à l’usure et une durée de vie prolongée
Leviers• versions à leviers multiples avec à choix des leviers rectangulaires ou des leviers
triangulaires• v ersion à levier unique avec un levier triangulaire(compatible avec les modes PeakForce TappingTM et ScanAsyst®*)• revêtement réfléchissant en or sur la face arrière des leviers• contraintes internes compensées pour une courbure inférieure à 2°

Pyrex-Nitride Probe à leviers
multiples triangulaires, Modèle 3D

Support de préhension• support réalisé en verre pyrex (3.4 mm x 1.6 mm x 0.5 mm)• manipulation facilitée grâce à des sondes indépendantes
Pointe• pointe pyramidale affinée par oxydation• hauteur de la pointe de 3.5 μm et rayon de courbure typiquement < 10 nm• demi-angles d’ouverture macroscopiques de 35°

Pyrex-Nitride Probe à leviers
multiples rectangulaires,
Modèle 3D

Quantités disponibles• boîtes comprenant 20 ou 50 sondesREVÊTEMENTS DISPONIBLESRevêtement réfléchissant en or

Pyrex-Nitride Probe à levier uniquetriangulaire pour modes PeakForceTappingTM et ScanAsyst®*,Modèle 3DRevêtement en or• couche réfléchissante en or de 70 nm• couche d’or de 35 nm d’épaisseur sur led’épaisseur déposée sur la face arrière descôté du levier qui fait face à l’échantillon
leviers améliorant la réflexion du faisceau
laser

Leviers Pyrex-Nitride Probes TRiangulaires (PNP-TR)
Leviers Pyrex-Nitride Probes rectangulaires Diving Board (PNP-DB)
Levier Pyrex-Nitride Probes TRiangulaire Simple (PNP-TRS)

Leviers TRiangulaires (PNP-TR)• leviers de forme triangulaire• configuration à leviers multiples• couche réflective d’or déposée sur laface arrière des leviers• disponible avec une couche d’or
déposée sur les deux faces de la sonde

Levier #
Forme

1

2

Leviers rectangulaires Diving
Board (PNP-DB)

Levier TRiangulaire Simple(PNP-TRS)• leviers de forme rectangulaire• configuration à leviers multiples• couche réflective d’or déposée sur laface arrière des leviers• levier de forme triangulaire• couche réflective d’or déposée sur laface arrière du levier• conçue pour les modes PeakForceTappingTM et ScanAsyst® Mode*

Levier #Triangulaire• configuration à levier unique

Forme

1

2

Rectangulaire

Levier #1

Forme

Triangulaire

Fréquence deRésonance

67 kHz

17 kHzFréquence deRésonance

67 kHz

17 kHzFréquence deRésonance

67 kHzConstante de Force

0.32 N/m

0.08 N/m

Constante de Force

0.48 N/m

0.06 N/m

Constante de Force

0.32 N/mLongueur du levier

100 µm200 µmLongueur du levier

100 µm200 µmLongueur du levier

100 µm2 x 13.5 µm 2 x 28 µm

Largeur du levier

40 µm

40 µm

Largeur du levier2 x 13.5 µm

Epaisseur du levier

600 nm

600 nmEpaisseur du levier

600 nmLargeur du levier
Epaisseur du levier

600 nm

600 nmLeviers Pyrex-Nitride Probes
TRiangulaires sans pointe
TipLess (PNP-TR-TL)• les sondes Pyrex-Nitride
triangulaires sont aussi disponibles
en version sans pointe• couche réflective d’or déposée
sur la face arrière des leviers• disponible avec une couche d’or
déposée sur les deux faces de lasonde

Pyrex-Nitride Probe à leviers
triangulaires sans pointe

Pyrex-Nitride Probe, Plan
rapproché d’un levier triangulairesans pointe, levier long

Pyrex-Nitride Probe, Plan
rapproché d’un levier triangulairesans pointe, levier court*PeakForce TappingTM et ScanAsyst® sont des marques déposées de Bruker Corp.

T A B L EA U D E S É L E C T I O N R A P I D E

Mode Contact

Application

Mode Contact

Revêtement
Face avantRevêtement
Face arrière

Forme de la pointe

FréquencedeRésonance

ConstantedeForce

Levier: Longueur x
Largeur x Epaisseur

Arrow CONT---

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

CONT

-

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Arrow CONTR-

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

27 kHz1.6 N/m

450 x 55 x 4 μm

CONTR

-

ZEILR

-

Arrow CONTPt

PtIr5

Pointprobe

PtIr5

Mode Contact orTappingMode

CONTSC-CONTSCR-

Réfléchissant (Al)-Réfléchissant(Au)

Cantilever 1

PNP-TR-Au(leviers triangulaires)

Cantilever 1

PNP-DB(leviers rectangulaires)

Cantilever 1

Cantilever 2
Au

Au

Cantilever 2-

Cantilever 2

Arrow NC-

Arrow NCR--

Réfléchissant (Al)

NCHR
Mode NonArrow NCPt
Contact / TappingNCHPt
Mode(hautes fréquences) SSS-NCH

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Pointprobe®

25 kHz0.2 N/m

225 x 48 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.48 N/m 100 x 40 x 0.5 μm

17 kHz0.06 N/m 200 x 40 x 0.5 μm

Arrow™

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

Pointprobe®

330 kHz125 x 30 x 4 μm

Arrow™

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

AR5-NCHR

Pointe en nitrure desilicium moulée

Pointprobe
PtIr5

PtIr5

-

®

Arrow™
Pointprobe-®

Réfléchissant
(Au)

NCH

Mode Non-Contact / TappingMode

Pointprobe

Pointprobe

PNP-TR(leviers triangulaires)®

Arrow™
Réfléchissant(Al)

CONTPtMode Contact(levier court)

Mode Contact /TappingMode

Type

®

-

AR5T-NCHR(avec compensationd‘inclinaison)

Réfléchissant(Al)

42 N/mSuperSharpSilicon™
Haut Rapport d’Aspect(5:1)

330 kHz125 x 30 x 4 μm

Haut Rapport d’Aspect (10:1)

AR10-NCHR
Diamant

Réfléchissant (Al)Diamant

400 kHz

80 N/m

125 x 30 x 4 μm

NCST

-

-

Pointprobe®

160 kHz

7.4 N/m

150 x 27 x 2.8 μm

NCSTR

-

Réfléchissant (Al)Pointprobe®

NCL

-

-

NCLR

-

Réfléchissant (Al)

NCLPt

PtIr5

Ptlr5

SSS-NCL--

SuperSharpSilicon™

190 kHz

48 N/m225 x 38 x 7 μm

AR5-NCLR-

Réfléchissant (Al)Haut Rapport d’Aspect (5:1)

DT-NCLR

Diamant

Réfléchissant (Al)Diamant

SEIHR-

Réfléchissant (Al)Pointprobe®

130 kHz

15 N/m225 x 33 x 5 μm

SSS-SEIH--

SuperSharpSilicon™

DT-NCHR
CDT-NCHR
Mode NonContact /Soft-TappingMode

Mode NonContact / TappingMode (levier long)

Pointprobe®

CDT-NCLR
Mode NonContact / TappingMode (Seiko
Mode NonContact)

Pointprobe®

Arrow™

Pyrex-Nitride Probes

Ultra-Short Cantilevers

T A B L EA U D E S É L E C T I O N R A P I D EApplication

TypeRevêtement
Face avantRevêtement
Face arrière

Forme de lapointeFréquencedeRésonance

ConstantedeForce

Levier: Longueur x
Largeur x Epaisseur

Mode Contact

USC-F1.5-k0.6

Au(pointe noncouverte)Réfléchissant(Au)

Pointe déposéeparfaisceaud’électrons(EBD)

1.5 MHz

0.6 N/m

7 x 3 x 0.10 μm

1.2 MHz0.15 N/m

7 x 2 x 0.08 μm

0.3 MHz

0.3 N/m

20 x 10 x 0.19 μm

Pointe déposéeparfaisceaud’électrons(EBD)

5.0 MHz

30 N/m20 x 5 x 0.68 μm

2.0 MHz

3.0 N/m

10 x 5 x 0.28 μm

1.2 MHz

7.3 N/m

20 x 10 x 0.67 μm

Arrow™

jusqu‘à2.0
MHz-

35 x 42 x 0.7 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

Microscopie AFM à hautevitesseUSC-F1.2-k0.15
USC-F0.3-k0.3
Mode NonContact /TappingMode

USC-F5-k30

Au(pointe noncouverte)

USC-F2-k3

Réfléchissant(Au)

USC-F1.2-k7.3
Arrow UHF

Réfléchissant(Al)

Arrow UHF-AuD

Réfléchissant(Au)

PeakForce TapPNP-TRS
pingTM /ScanAsyst® Mode-

Réfléchissant(Al)

Nitruro desiliciopiramidal

Arrow FM--

Arrow™

FM
Mode Modulation de Force

Pointprobe

Arrow FMR-

Diamant

Réfléchissant(Al)

Diamant

105 kHz

6.2 N/m

225 x 28 x 3 μm

75 kHz2.8 N/m

240 x 35 x 3 μm

Applications particulières

Pointprobe

Arrow EFM

PtIr5

PtIr5

Arrow™

EFM

PtIr5

PtIr5

Pointprobe®

Mode Force
Magnétique

MFMR

Magnétique Réfléchissant
dur
(Al)

225 x 28 x 3 μm

225 x 28 x 3 μm

Pointprobe®

75 kHz2.8 N/m

225 x 28 x 3 μm

Levier en
silicium sanspointe6 kHz

0.03 N/m 500 x 100 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

Magnétique Réfléchissant
doux
(Al)

Arrow TL1

1 levier--

Arrow TL1-Au

1 levier

Au-

Arrow TL2

Réseau de 2 leviers--

Arrow TL2-Au

Réseau de 2 leviers

Au-

Arrow TL8

Réseau de 2 leviers--

Arrow TL8-Au

Réseau de 2 leviers

Au-

PNP-TR-TL

Leviers
triangulaires

Levier 1-

Leviers
triangulaires

Levier 1

PNP-TR-TL-Au

225 x 28 x 3 μm
240 x 35 x 3 μm®

Mode ForceElectrostatiqueLeviers sanspointe2.8 N/mArrow™

CDT-FMRS-MFMR

75 kHzRéfléchissant
(Al)

FMR
DT-FMR

240 x 35 x 3 μm®

Levier 2

Levier 2

Au

Réfléchissant(Au)

Levier en
nitrure desilicium sanspointePour plus d’information nous vous invitons à visiter notre site internet à l’adresse www.nanoworld.com. Toutes les valeurs sont susceptibles de changer sans préavis. NanoWorld® et Pointprobe® sont desmarques déposées de NanoWorld AG. PeakForce TappingTM et ScanAsyst® sont des marques déposées de Bruker Corp.

POINTPROBE®

A propos de NanoWorldLa Nanotechnologie est notre spécialité. La précision, notre tradition.
L’innovation est notre raison de vivre.
C’est pourquoi nous nous sentons particulièrement bien en Suisse,
une des régions les plus prospères et innovantes d’Europe.
Grâce à nos connaissances et à la haute précision de nos sondes, nos clients sontà même d’obtenir les meilleurs résultats en microscopie à sonde à balayage(Scanning Probe Microscopy : SPM) et plus particulièrement en microscopie àforce atomique (Atomic Force Microscopy : AFM).

ARROW™

La très large variété de formes de pointes, de constantes de force, de fréquencesde résonance et de revêtements que nous proposons vous permet de disposerde la sonde la plus appropriée pour vos recherches ainsi que pour vos
applications industrielles.
Les sondes AFM en silicium Pointprobe® sont les sondes les plus utilisées et lesplus connues au monde et sont devenues les pointes de référence dansbeaucoup de laboratoires. Les sondes AFM de la série Pointprobe® sontdisponibles dans de nombreuses versions de leviers et formes de pointes.

ULTRA -SHORTCANTILEVERS

Les sondes AFM de la série Arrow™ bénéficient d’une forme de pointe unique qui
permet un positionnement aisé de la pointe sur la surface d’intérêt. La version
Arrow™ UHF est conçue pour la microscopie AFM à haute vitesse avec une
fréquence de résonance jusqu’à 2 MHz.
Avec la série Ultra-Short Cantilevers, NanoWorld offre maintenant une large
gamme de sondes AFM pour l’imagerie AFM à haute vitesse. Leurs leviers sontdimensionnés pour vibrer à des fréquences jusqu’à 5 MHz et elles disposent
d’une pointe très résistante à l’usure réalisée en carbone de haute densité/
carbone de type diamant (HDC/DLC). Trois versions dédiées principalement
à des applications dynamiques dans l’air ainsi que trois versions dédiéesprincipalement à des applications en milieu liquide sont disponibles.

PYREX-NITRIDEPROBESLes sondes AFM Pyrex-Nitride Probes sont disponibles dans des versions à leviers
multiples triangulaires ou rectangulaires ainsi qu’en une version à levier
triangulaire unique. Elles disposent d’une pointe pyramidale en nitrure desilicium avec un rayon de courbure inférieur à 10 nm. Une version à leviers
triangulaires sans pointe est également disponible avec un revêtement en or sur
la face arrière des leviers ou sur les deux faces de la sonde.

NanoWorld AG
Siège social
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel
Switzerland

Téléphone: +41 325 521 515
Téléfax: +41 325 521 516
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