九州大学

中央分析センター【表面観察装置】

SEM(JSM-IT800)

SEM(SU8000)

SEM(SU6600）

SEM(JSM-6701F)

TEM(H-7650)

SPM(AFM100Plus)

SEM(SU3500)

SEM(JSM-IT700HR)

SPM(DimensionIcon) LSM(OLS4500)【構造解析装置】

Raman(HR Evolution) Raman(ARAMIS)NMR(ECZ400) NMR(ECZ500) XRD(SmartLab) XRD(SmartLabSE)【表面状態解析装置】

CT(SKYSCAN1272)

CT(SKYSCAN1172)

FT/IR-6800【物性測定装置】
XPS(AXIS-ULTRA)

TG-DTA/DSC

TG-DTA(STA300)

Ellipsometer(AutoSE)

Particle size analyzer【元素分析装置】

XRF(ZSX PrimusⅣ/RX9)

XGT9000

XRF(EDX-7000)

ICPMS(Agilent7900) ICPMS(Agilent7700x)

2024
CENTER OF ADVANCED INSTRUMENTAL ANALYSISKYUSHU UNIVERSITY

目 次

中央分析センターの趣旨と概要 -----------------------------1
案内図----------------------------------------------------2
測定室案内 -----------------------------------------------4
共同利用機器リスト（管理部局別）--------------------------6
機器紹介（伊都キャンパス）-------------------------------12
機器紹介（筑紫キャンパス）-------------------------------23
装置利用の手引き ----------------------------------------28
関係委員及び職員 ----------------------------------------33
センター規則等 ------------------------------------------36

中央分析センターの趣旨と概要●センターの目的
科学技術の発展にともない、分析や構造解析に用いる各種機器分析装置や、特殊な研究用試料作製のための大型装置が欠かせなくなってきています。これらの装置はその性能が高度化するにつれて年々大型となり、各講座の予算で購入できる枠をはるかに超えるとともに維持運転も容易ではありません。そこで、共同利用装置として集中設置し、専従技術者を置いて有効に利用することが望まれます。また、近年では境界領域の研究が盛んに行われるようになり、共同利用の必要性はより一層強まっています。
本センターは、このような状況に鑑み、自然科学系分野の研究教育上必要な試料、あるいは物質の分析および特殊研究試料作製を行うための学内共同利用施設として、昭和 57 年 4 月 1 日に設置されました。
本センターは、下記の業務を行うことを目的とし、本学における高度の研究および教育態勢の一層の充実のために、逐年その機能を充実、強化していく予定です。
(1) 大型高性能の分析装置および測定装置を集中設置し、専従技術者の保守運転のもとにそれらの効率的共同利用をはかる。(共同利用)(2) 依頼に応じた迅速かつ確実な分析および測定を行い、データを提供する。(分析サービス)(3)

高度な分析および試料の作製に関する研究と指導、教育を行う。(研究および教育)●センターの概要
現在、センター管理の所管装置が 50 装置、部局管理登録装置として 94 装置が学内外の共同利用に供されています。センター（筑紫地区）には、X 線光電子分光分析装置、Ｘ線回折装置、透過電子顕微鏡など状態解析機器を中心に整備され、分室（伊都地区）には、多様な走査電子顕微鏡群、NMR、ICP 質量分析装置、各種分光分析装置が設置されています。今後、さらに各種の装置を整備充実する予定です。
また、センター報告、センター案内、センターニュースなどの発行や関連図書の整備によって利用者への情報を提供して共同利用の円滑化を促すとともに、高度な分析や試料作製法に関する講演会あるいは講習会を随時開
催しています。

●センターの事業
(1)

(2)
(3)

(4)

(5)

分析装置および試料作製装置などの共同利用
当センターでは、センター所管および各部局から登録された分析装置や試料作製装置などの利用依頼に応じています。利用方法については 27 ページを御覧下さい。
分析および試料作製などの相談分析および試料作製などに関する質問や相談に応じる窓口を開設しています。
講習会、講演会、研究会などの開催
学内、学外の講師を迎え、分析化学、機器分析、試料作製などに関連した諸問題について講習会、講演会、研究会などを随時開催しています。
図書、スライドなどの閲覧および貸出
分析化学、機器分析に関する便覧、データ集、分析化学教育スライドなどを常備し、閲覧および貸出に応じています。
センターニュース、センター報告、センター案内の発行
センターニュースは年 2 回発行し、新規の分析装置および試料作製装置などの紹介のほか、 センターの事業についての最新の情報を掲載しています。
センター報告は、年 1 回発行し、機器分析の進歩に関する総説やセンター利用者などによる研究成果を掲載しています。
センター案内は適宜発行し、センター所管および登録機器やその利用方法などセンターの全般的な運営に関する事項を掲載しています。

●センターの配置と建物
センターの建物（面積 1,340m2、3 階建）は、筑紫地区の大学院総合理工学研究院 C 棟の南西側にあり、24 室から構成されています。また伊都地区（分室）は、ウエスト 3 号館工学系研究教育棟Ⅲ(伊都地区、面積 393m2）
内にあり、15 室から構成されています。

- 1 -

案内図

【筑紫キャンパス】○JR 鹿児島本線・・・「大野城駅」下車 徒歩５分
○西鉄大牟田線・・・「白木原駅」下車 徒歩１５分○九州自動車道・・・太宰府インターから１０分- 2 -【伊都キャンパス】○JR 筑肥線・・・「九大学研都市駅」下車→昭和バス「九大工学部前」行きに乗車（約２０分）○博多駅 A 停留所から直行バス・・・西鉄バス（急行）「九大伊都キャンパス（工学部前）」行きに乗車（約５０分）

中央分析センター伊都分室

中央分析センターは筑紫キャンパスと伊都キャンパスに設置されています。目的にあった装置をご都合の良いキャンパスで使用することが可能です。

【中央分析センター】〒816-8580 春日市春日公園 6-1
TEL： 092-583-7870（ダイヤルイン）
FAX： 092-593-8421
ホームページアドレス【中央分析センター伊都分室】〒819-0395 福岡市西区元岡 744 番地
TEL： 092-802-2857（ダイヤルイン）
FAX： 092-802-2858

http://bunseki.kyushu-u.ac.jp/bunseki/- 3 -中央分析センター（筑紫キャンパス）測定室案内
1階

SEM 室

2階

3階

- 4 -

中央分析センター（伊都キャンパス）測定室案内（ウエスト３号館 工学系研究教育棟Ⅲ）

2階

1階

- 5 -

【共同利用機器リスト（管理部局別）】
管理部局
中央分析
センター

設置
地区
伊都

装置名
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
電子線後方散乱結晶方位解析装置(Velocity)
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR)
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500)
全自動水平型多目的Ｘ線回折装置(SmartLab)
デスクトップＸ線回折装置(MiniFlex600-C)
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置(EDX-7000)
微小部 X 線分析装置(XGT-9000)
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
高分解能卓上型マイクロ CT システム(SKYSCAN1272)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-4700)
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
顕微レーザーラマン分光装置(LabRAM ARAMIS)
顕微レーザーラマン分光測定装置(LabRAM HR Evolution)
自動薄膜計測装置(Auto SE)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ500)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7500c)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7700x)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7900)
示差熱熱重量同時測定装置(TG/DTA7300)
高感度示差走査熱分析装置(X-DSC7000)
高温型示差走査熱分析装置(DSC6300)
示差熱熱重量同時測定装置(NEXTA STA300)
高温型示差走査熱量計(DSC404F1)
走査型プローブ顕微鏡(Dimension FastScan)
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
3Ｄ測定レーザー顕微鏡(OLS4500)
フラットミリング装置(IM-3000)
イオンミリング装置(E-3500)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
イオンスパッタ(MC1000)
カーボンコータ(SC-701C)
オスミウムコータ（HPC-1SW）

設置場所
W3-105
W3-103

装置担当者
（内線）
渡辺
(90-2857)
材工･大上助教(90-2948)

W3-102
W3-101
W3-102W3-202W3-202W3-203W3-203W3-104
W3-104W3-205
W3-206
W3-205
W3-207
W3-207
W3-206
W3-110渡辺(90-2857)

W3-110

応化･清水准教授(90-2867)

W3-106
W3-106
W3-106
W3-201W3-201W3-201W3-201W3-201W3-204W3-204W3-201
W3-103W3-103W3-101,105
W3-102
W3-102
W3-102,105

- 6 -

渡辺
(90-2857)

材工･大上助教(90-2948)
渡辺(90-2857)

学内(※1)
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）

学外
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）

23,0003,900

28,0007,600

18,0001,100(※2)
9,300
9,500
8,300
15,000
8,800
5,700
5,200
34,00046,000
6,100
5,700
12,00021,000
7,800
6,600
6,500

3,700
560(※2)
2,100
2,400
2,000
3,000
2,000
3,200
2,200
2,700
4,600
920
1,100
3,600
5,800
12,0001,300
1,400

25,00012,000(※2)
12,00020,00010,00017,000
9,500
6,100
21,00056,00055,000
6,100
5,800
13,00033,00024,0007,900
8,800

13,0002,400(※2)
4,000
17,000
3,400
5,500
2,600
4,600
5,200
6,500
7,100
920
1,300
5,500
14,00017,0002,600－

13,0001,900

15,000－8,400
12,00012,00015,00015,00015,000－－17,0004,500
13,000
－
－
1,400
3,000
2,700
3,100

4,300
6,500
5,800
2,400
2,400
2,400
1,800
6,800
3,100
7,700
2,500
1,500
1,500
930
1,900
2,100
3,200

8,400
12,00027,00019,00019,00019,000－－20,00019,00014,000
－
－
1,400
3,100
2,700
3,100

4,600
9,600
9,600
4,000
4,000
4,000
2,400
9,300
5,100
11,000
3,300
2,100
2,100
930
2,000
2,300
3,600

管理部局
中央分析
センター

工学
研究院

設置
地区
筑紫

伊都

装置名

設置場所

電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA-8900)
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
電界放出型走査型電子顕微鏡(JSM-IT800SHL)
透過型電子顕微鏡(H-7650)
X 線回折装置(SmartLabSE)
波長分散型蛍光 X 線分析装置(ZSX PrimusⅣ/RX9)
卓上型触針式プロファイリングシステム(DektakXT-E)
ゼータ電位･粒径測定システム(ELSZneo)
ICP発光分光分析装置Perkin Elmer Avio220Max(ICP発光)
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
X 線光電子分光分析装置(AXIS165)
赤外分光分析装置(FTIR4200 & IRT5000)
走査型プローブ顕微鏡(AFM100Plus)

中分-102
中分-102
中分-201
中分-104
中分-202

ショットキー走査電子顕微鏡（SU5000）

W4-121-3

電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE）

EN41-105

オールインワン蛍光顕微鏡(BZ-X800)

W3-609フローサイトメーター(CytoFLEX S)

W1-D909

レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)

W3-114近赤外蛍光分光装置(NanoLOG-EXT)

W3-612

原子吸光分光光度計(AA-7000)

W3-512磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)

CE61-102

差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)

W2-1001

攪拌混合造粒機バーチカルグラニュレータ
整粒・微粉砕ラボシステム
卓上型混練機
卓上型テストコーター ミニラボ
UV-Vis-NIR 分光光度計
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
ガス吸着装置触媒活性表面測定システム

W4-306
W4-710

中分-201
中分-306
中分-307
中分-306
中分-307
中分-103
中分-306
中分-201

ｺﾗﾎﾞｽﾍﾟｰｽ 204

装置担当者
（内線）

三浦助教
(93-7214)

田中(將)教授(90-2950)
森川(龍)助教(90-2952)
岸村准教授(90-2851)
森准教授(90-2849)佐々木助教(90-2833)
白木准教授(90-2841)
若林准教授(90-2809)
河江准教授(90-3521)
小宮助教(90-3431)
井上教授(90-2757)

W4-710W3-115
W3-112

- 7 -

藤ヶ谷教授
(90-2842)

学内(※1)
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）
－
1,400
－
2,500
5,500
3,300
－
1,800
－
2,900
5,000
4,400
3,900
2,600
4,200
3,700
3,600
5,400
－
1,700
－
1,600
23,000
－
－
4,300
8,400
4,500

学外
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）
－
3,900
－
3,700
9,400
8,400
－
1,800
－
5,100
9,000
9,100
5,900
4,400
6,300
6,200
4,900
7,700
－
1,700
－
1,600
28,000－－4,600
14,000
8,000

－

3,500

－

5,100

－

2,000

－

－

－

660

－

1,300

－

2,500

－

－

5,000/時間

2,300

5,000/時間

2,300

－

1,100

－

－

－

6,400

－

－

－

550

－

550

－

2,900

－

2,900

－
6,500
28,000
8,300
－
－
－
－

3,500
3,200
3,700
3,200
610
2,300
410
400

－
6,900
32,000
9,000
－
－
－
－

3,800
3,600
4,600
3,700
－
－
－
－

学内
管理部局

工学
研究院

人間環境
学研究院

農学
研究院
(※3)

設置
地区

伊都

伊都

伊都

装置名

マイクロ構造観察電子顕微鏡システム
超高分解能走査電子顕微鏡
CCD マルチ ICP 発光分光分析装置
電子状態測定システム
ゼータ電位／粒径測定システム
高速レーザーラマン顕微鏡
中赤外・遠赤外吸収測定装置

設置場所

W3-114
W3-116
W3-607
W3-113

超高速 HPLC 分離・分子構造分析システム

W3-113,114

MALDI-TOF MS 質量分析装置
小角 X 線散乱装置
単結晶 X 線解析装置
透過型電子顕微鏡システム
走査型プローブ顕微鏡 SPM9600
ウルトラミクロトーム EM UC7
3 次元 SEM 画像測定解析システム VE-8800

W3-114マイクロカロリメーター PEAQ-ITC

W3-113万能試験機(UH-2000kNXR)
万能試験機(UH-500kNX)
大型構造物試験機
振動台
汎用アクチュエータ
高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF)
高速液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS-8050)
ﾚｰｻﾞｰｲｵﾝ化飛行時間質量分析装置(AXIMA-Performance)
ガスクロマトグラフ(GC-2014AFsc)
誘導結合プラズマ発行分光分析計(5800 ICP-OES)
共焦点・超解像顕微鏡 TCS SP8 STED
セルソーター Sony SH800
次世代シーケンサー

装置担当者
（内線）

藤ヶ谷教授
(90-2842)

W3-115
W3-112
W3-113W3-116
W3-114

ｲｰｽﾄｿﾞｰﾝ構
造実験棟

永井助教
(90-2831)
小山准教授(90-5223)
松尾准教授(90-5225)

W5-305aW5-305a

赤坂技術職員(90-4801)

W5-305b

松永技術職員(90-4801)

W5-305c
W5-307bW5-307aMiSeq

W5-310核磁気共鳴装置(JNM-ECS400)

W5-115- 8 -奥川技術職員(90-4801)
田宮技術職員（90-4801）
鹿児嶋技術職員(90-4801)

学外

分析依頼料金

利用料金

分析依頼料金

利用料金

（円/件）

（円/時間）（円/件）（円/時間）

－
－
－
－
－
－
－

3,000
1,600
2,800
2,800
1,100
2,000
690

－
－
－
－
－
－
－

－
－
－
－
－
－
－

－

1,900

－

－

－
－
－
－
－
－
－

2,300
990
870
890
1,200
1,600
1,100

－
－
－
－
－
－
－

－
－
－
－
－
－
－

－

2,200

－

－

－
－
－
－
－
11,000
8,400
2,400
3,000
1,400
－
－

2,400
1,800
15,00011,00011,000
1,300
1,600
1,200
460
4,600
1,600(※5)
1,800(※4)

－
－
－
－
－
11,000
8,400
2,400
3,000
1,900
－
－

3,100
2,400
19,00014,00015,000
1,300
1,600
1,200
460
6,000
－
4,700(※4)－

260(※6)

－

－

5,600

1,300

5,600

1,300

管理部局

設置
地区

農学
研究院
(※3)

伊都

総合理工
学研究院

筑紫

応用力学
研究所

筑紫

装置名
走査型電子顕微鏡システム(SU3500)
デジタルマイクロスコープ(VHX-6000)
凍結切片作製装置(CryoStar NX70)
回転式ミクロトーム(HistoCore AUTOCUT R)
X 線回折計(Rigaku RINT2200)
蛍光 X 線分析装置(Rigaku ZSX-miniX)

W5-311
総理工
C-107
高速流動棟

レーザーラマン分光装置(Nanofinder 30)

GIC 実験室 5

重イオン照射システム
放射性物質対応型強磁性材料ナノクラスター
評価システム(JEM-ARM200CF)筑紫

W5-116
W5-307c

宇宙空間模擬装置

病院

先導物質
化学
研究所

設置場所

デジタルマイクロスコープ(VHX-900F)
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR)
オスミウムコータ(Tennant20)
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-ECA600)
固体高分解能核磁気共鳴装置(JEOL JNM-ECA400)
電子共鳴装置(JEOL JES-FA200)
超伝導核磁気共鳴装置(JNM-ECZ400)

山口技術職員(90-4801)
鶴田技術専門員(90-4801)
永長教授(93-7525)
山本教授(93-7585)
吾郷教授(93-8852)

応力研研究棟118・119
ｱｲｿﾄｰﾌﾟ総合ｾﾝﾀｰ病院地区
実験室
電子顕微鏡室渡邉准教授(93-7717)

先導研
南-109

田中(雄)技術職員

NMR
解析棟
先導研
南-401
先導研
南-107

固体核磁気共鳴装置(ECA 800)
固液共用核磁気共鳴装置(JNM-ECX400) 液体･ガス測定

装置担当者
（内線）

先導研
北-107

(93-8898)
出田技術職員(93-8898)

出田技術職員(93-8898)

固液共用核磁気共鳴装置(JNM-ECX400) 固体測定
二重収束質量分析計(JMS-700)
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
質量分析計(JMS-S3000)
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分析装置(JMS-T100CS)
超強力単結晶構造解析システム(FR-E+)
二波長線源型高分解能単結晶 X 線構造解析装置
高輝度広角 X 線回折システム薄膜解析部(RINT-TTRⅢ)
高輝度広角 X 線回折システム熱量同時評価部(SmartLab)
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR)

先導研
南-215

今村技術職員(93-8898)

先導研
南-401
先導研
北-421

田中(雄)技術職員

先導研
北-205

- 9 -

(93-8898)

松本技術職員(93-8898)

学内
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）
5,300
1,400
5,000
1,100
－
300
－
210
－
7,100/件－
21,000/件

学外
分析依頼料金
利用料金（円/件）（円/時間）
5,300
1,400
5,000
1,100
－
950
－
700
－
7,100/件－
21,000/件

－

550

－

1,100

－

8,500/件－

8,500/件

234,000－

234,000－

211,000－

395,000－

890
4,500/時間
3,500
7,900
23,000－2,400
3,100/件－－

1,100
6,400/時間
3,900
7,900
23,000－4,000
3,400/件－－

4,500

1,900/件

4,500

1,900/件

2,300

－

3,500

－

－

46,000(2,600) (※8)2,000(690) (※8)
11,000(1,300) (※8)
4,600

3,100

－

3,600

－

3,200

－

3,200

－

42,00030,00020,00028,00034,000

－
6,200
－
－
－

134,000
33,00024,00042,00085,000

－
7,600
－
－
－

39,000(2,200) (※8)1,600(540) (※8)
7,900
(1,000) (※8)
4,600

2,200
－
－

2,600
－
－
－

管理部局
先導物質
化学
研究所

設置
地区
伊都

装置名

設置場所

超高感度測定用 NMR 装置(AVANCEⅢ 600)

CE41-107

高分解能二重収束質量分析装置(JMS-700)

CE41-110

飛行時間型質量分析計(JSM-T100CS)

五島助教(90-6225)

二光子共焦点レーザー顕微鏡(Carl Zeiss LSM 510 Meta NLO)

CE41-112

大路ﾃｸﾆｶﾙｽﾀｯﾌ（90-6214）

シリコン検出器製造装置

W1-E-801

東城准教授(90-4053)

X 線光電子分光分析装置 (ULVAC-PHI APEX ESCA)

生体防御
医学
研究所

谷准教授
（90-6224）
岡崎技術補佐員（90-6219）

CE41-110

マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
質量分析装置(Bruker Autoflex Ⅱ)

先端素粒
子物理研
究センタ
ー
比較社会
文化
研究院

装置担当者
（内線）

学内

学外

分析依頼料金

利用料金

分析依頼料金

利用料金

（円/件）

（円/時間）（円/件）（円/時間）

－

850

－

850

4,700

－

8,500

－

－

370

－

370

－

400

－

400

23,000940

23,000940

11,000650

11,000650－

5,200(※7)－

5,200(※7)

105,000－

105,000－

118,000
94,000－－125,000
94,000－－99,000－265,000

－

－

2,200

－

2,200

3,500/時間

3,500(※9)

5,500/時間

3,500(※9)

1,500/時間－

3,500/時間

－

－
－

1,800
3,000

－
－

1,800
4,000

－

3,000

－

4,000

－

300

－

－

－
－

4,000/件
780/件－－

4,000/件
780/件

伊都

伊都

フィールドエミッション電子プローブマイクロ
アナライザ(JXA-8530F)
高分解能重元素質量分析システム
レーザーアブレーション ICP-MS

E1-C-723
E1-C-107-3

軽元素同位体分析システム(MAT 253)

E1-C-717

デスクトップＸ線回折装置(MiniFlex600)

E1-C-701

病院
高性能透過型電子顕微鏡(FEI Polara)

汎用透過型電子顕微鏡(FEI Tecnai20)
FACSVerse フローサイトメーター
細胞単離解析システム(FACSMelody)
細胞単離解析システム(FACSMelody): Yellow-Green レー
ザー搭載型
凍結切片作製装置

クリオスタット CM3050S

生体防御医学研究所別館高性能 TEM 室
生体防御医学研究所別館汎用 TEM 室

生体防御医
学研究所

Chromium コントローラー
回折装置 バイオアナライザー- 10 -

中野講師(90-5656)
仙田准教授(90-5653)
桑原教授(90-5654)
林講師(90-5655)

鵜川技術職員(91-6798)

市川技術職員(91-6798)
木庭技術職員(91-6798)

学内
管理部局

生体防御
医学
研究所

設置
地区

装置名

設置場所

装置担当者
（内線）

分類

病院
S1

S2
次世代シーケンサー(NovaSeq 6000)

生体防御医
学研究所
技術支援室

吉村ﾃｸﾆｶﾙｽﾀｯﾌ(91-6798)

S4

SP

学外

分析依頼料金

利用料金

分析依頼料金

利用料金

（円/件）

（円/時間）（円/件）（円/時間）

100 塩基

661,000

656,000/件

694,000

689,000/件

200 塩基

828,000

823,000/件

862,000

857,000/件

300 塩基

895,000

890,000/件

928,000

924,000/件

100 塩基

1,230,000

1,225,000/件

1,263,000

1,258,000/件

200 塩基1,523,000

1,518,000/件

1,556,000

1,551,000/件

300 塩基1,623,000

1,618,000/件

1,656,000

1,652,000/件

200 塩基2,180,000

2,175,000/件

2,213,000

2,208,000/件

300 塩基2,426,000

2,422,000/件

2,460,000

2,455,000/件

100 塩基

368,000

363,000/件

401,000

396,000/件

200 塩基

477,000

472,000/件

510,000

505,000/件

300 塩基

518,000

514,000/件

552,000

547,000/件

500 塩基

719,000

715,000/件

753,000

748,000/件(※1) 中央分析センターが管理部局となっている設備については、試料の分析等の依頼者が九州・山口地区機器・分析ネットワークの構成機関に所属する者である場合は、本学が管理する経費から支出される場合の利用料とすることができる。
(※2) SEM（SU6600）料金に EBSD を使用した時間分を加算する。
(※3) 技術補助が必要な場合は、1 時間当たり 3,900 円を加算する。
(※4) ソーティングチップを使用する場合は、1 枚当たり 3,000 円を加算する。
(※5) チャンバーを使用する場合は、1 個当たり 880 円を加算する。
(※6) ライブラリ調整時に各種消耗品を使用する場合は、以下に定める額を加算する。
・ライブラリ調整試薬：1 回当たり 6,200 円
・ライブラリ調整オプション試薬：1 回当たり 770 円
・クオリティチェック試薬：1 回当たり 4,000 円(※7) 機器の操作説明が必要な場合は、1 時間当たり 3,300 円を加算する。
(※8) （ ）内の額に使用する時間数を乗じたものを加算する。
(※9) 学外利用者の場合、準備料として 1 回当たり 5,500 円を加算する。

- 11 -

【機器紹介（伊都キャンパス）】
1） 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000）
導入年： 2010 年（株式会社日立ハイテク）

試料最表面の高倍率の構造観察が可能。Top, Upper, Lower
検出器を搭載し、観察目的に応じた信号情報を得ることができる。リターディング機能を搭載しているので、極表面のコントラストも観察可能。STEM 検出器、半導体反射電子検出器を装備。導電性の無い試料も適切な極低加速電圧を選択す
ると、無蒸着で観察可能。鉄系試料等の磁性体は導入不可。
EDX 付属。
[二次電子像分解能] 1.0nm (加速電圧 15kV、WD=4mm),
2.0nm (加速電圧 1kV、WD=1.5mm、標準モード), 1.4nm (照射電圧 1kV、WD=1.5mm、リターディングモード)[電子銃] 冷陰極電界放出形電子銃

2） 低真空分析走査電子顕微鏡（SU6600）
導入年： 2010 年 （株式会社日立ハイテク）
ショットキーエミッション形電子銃を採用し、最大プローブ電流は 200nA。低真空観察機構付属。アウトレンズ仕様であるため、鉄系サンプルも導入可能。付属装置として EDX(エネルギー分散型 X 線分析装置)、WDX（波長分散型 X 線分析装置）、EBSD（電子線後方散乱回折装置）、CL（カソード
ルミネッセンス分光装置）を搭載し、試料の多様な情報を得ることができる。
[二次電子分解能] 1.2nm (30kV), 3.0nm (1kV)[反射電子分解能] 3.0nm (30kV)
2023 年 3 月に EBSD を Velocity 検出器に更新し、短時間で測定データが得られるようになった。
（カメラ：CMOS、測定スピード：最大 4500 ポイント/秒、カメラ解像度：640×640）

3） 低真空高感度走査電子顕微鏡 （SU3500）
導入年： 2015 年（株式会社日立ハイテク）
試料表面を観察する装置である。操作性に優れている。
[分解能] 3nm (30 kV)[加速電圧] 0.3～30kV[試料サイズﾞ] 130mm 径まで全領域観察可能[電子銃] プリセンタード W ヘアピンフィラメント
非導電性試料の観察には導電処理して高真空で観察、前処理せずに低真空観察、あるいは低加速高真空観察が選択できる。土壌、岩石、植物、食品等も低真空観察で簡単に画像が得られる。カメラナビゲーション機能を搭載しており、予め撮影したサンプル画像上でクリックすると、ステージが自動で動くので、多数のサンプルを試料台にセットし、観察することができる。エネルギー分散型Ｘ線分析装置を付属しており、試料の観察と同時に組成元素分析が可能。
- 12 -

4） 走査電子顕微鏡（JSM-IT700HR）
導入年： 2021 年 （日本電子株式会社）
バルク試料の広い範囲（数 cm）から微小領域（数 nm）までの形態情報及び分析結果をより短時間で得られる高輝度走査電子顕微鏡である。低真空機能及び X 線分析装置（EDS）搭載。ステージナビゲー
ションシステムで容易に目的の観察場所を決めることができる。
モンタージュ撮影も可能。
[最高分解能] 1nm （加速電圧 20 kV） 3 nm（加速電圧 1.0 kV）[電子銃] インレンズショットキー電界放出電子銃[加速電圧] 0.5 kV～30 kV[照射電流] 数 pA～300 nA5） 大気圧走査電子顕微鏡 （AeroSurf1500）
導入年： 2016 年 （株式会社日立ハイテク）
含水試料もそのまま大気圧下で観察が可能であるが、観察倍率は 2000 倍程度。低真空から大気（数 Pa～105Pa）の
幅広い圧力下で観察できる。低真空モードでは EDX 分析が可能。隔膜と試料を接近させて観察する際に、接近しすぎると隔膜が破損してしまうので、利用にあたっては注意が必要。
[最大試料サイズ] 55mmΦ、 [最大試料厚さ] 10ｍｍ
液体試料の導入量は 5μL 以下。

6） 全自動水平型多目的 X 線回折装置
導入年： 2012 年（株式会社リガク）

SmartLab GuidanceTM ソフトウェアで、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定可能。試料水平保持方式であるため、粉末試料の脱落がなく、薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができる。高速 1 次元 X 線検出器を搭載しているので、高係数率・高エネルギー・低ノイズのデータが取得できる。粉末測定、簡易薄膜測定、微小部測定に対応している。Ｘ線解析ソフト（PDXL）及び ICDD
(International Center for Diffraction Data) データベース付属。
[最大定格出力]

45 kV-60 mA[検出器] 高速 1 次元検出器、SC 検出器- 13 -

7） デスクトップ X 線回折装置（MiniFlex600-C）
導入年： 2019 年(株式会社リガク)

卓上型の粉末 X 線回折専用装置である。
[最大定格出力] 600W (40kV-15mA)[検出器] 高速 1 次元検出器
高速・高強度の測定が可能。縦型ゴニオメーター搭載。
測定時は、粉末試料の脱落に注意する必要がある。
装置詳細に関しては、センターニュース 139 号参照。

8） エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置(EDX-7000)
導入年： 2015 年 （株式会社島津製作所）
非破壊で試料の組成分析ができる。試料観察カメラ付属。
[測定範囲] Na～U

液体窒素レス検出器搭載[試料サイズ] 最大 300mm 径、100mm 高さ[照射面積] 1, 3, 5, 10mmΦ（4 種自動交換）[測定雰囲気] 大気、He, 真空が選択可能。
下面照射型。ターレットユニットを付属しているので、連続測定が可能。 粉末、バルク、液体などガス以外のサンプルの測定に対応している。

9) 微小部Ｘ線分析顕微鏡（XGT9000)
導入年：2021 年 （株式会社堀場製作所）
試料の光学像から測定位置を指定して透過Ｘ線像、蛍光Ｘ線像（マッピング）及び蛍光Ｘ線スペクトルを同時に測定・分析する装置である。検出可能元素： C～Am（但し、軽元素の検出は全真空が必要）。2024 年 4 月、バージョンアップによりヒートマップ表示可能。
[空間分解能] 搭載キャピラリー： poly 15 um, poly 100 um, mono
1.2 mm[X 線管電圧] 15 kV, 30 kV, 50 kV[X 線管電流] 最大 1 mA

[最大測定エリア] 100mm×100mm[最大試料サイズ]300mm×250mm×80mm- 14 -

10) 高分解能 3 次元 X 線 CT システム（SKYSCAN1172）
導入年： 2014 年 （ブルカージャパン株式会社）
測定対象物を回転させながら、X 線透過データを連続して収集し、再構成のデータ処理を行なうと対象物の容積内の全体にわたる内部構造情報を含んだデータに変換することができる。
[X 線源] 密閉型マイクロフォーカス X 線源 (出力 80kV)[検出器] 11Mp CCD 検出器（4000×2670 pixel）[最高ピクセル分解能] <800nm (注：サイズの制限有)[搭載可能最大サンプルサイズ] 70mmH, Φ50mm（サイズは求めるピクセル分解能や X 線透過率に依存）

11） 高分解能卓上型マイクロ CT システム（SKYSCAN1272）
導入年： 2021 年 （ブルカージャパン株式会社）
既設 SKYSCAN1172 の上位機種[X 線源] 密閉型マイクロフォーカス X 線源 (出力 100kV)[検出器] 16Mp CMOS 検出器（4096×4096 pixel）[最高ピクセル分解能] <450nm (注：サイズの制限有)[搭載可能最大サンプルサイズ] 70mmH, Φ75mm（サイズは求めるピクセル分解能や X 線透過率に依存）

12) フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
導入年：1997 年（日本分光株式会社）

分子の振動及び回転状態は、赤外領域の電磁波を吸収することによって励起されるので、これを利用して赤外スペクトルから分子の振動および回転に関する情報を得ることができる。
試料の構造解析、定性分析に利用される。粉末試料は一般的には KBｒ錠剤とし、透過法で測定する。真空対応仕様であるので、短時間で CO2 や水蒸気を除去することが可能。
[測定範囲] 7800～350cm-1[最高分解] 0.25cm-1[波数正確さ] ±0.01 cm-1 以内（理論値）[付属品] 反射装置、多重反射 ATR、一点反射 ATR、拡散反射装置、高感度反射測定装置- 15 -

13)

フーリエ変換赤外分光光度計（FT/IR-4700）
導入年： 2021 年 （日本分光株式会社）
ルーチン分析に適した汎用装置であるが、性能・機能は研究・開発にも使用できるパフォーマンスを持つ。
但し、雰囲気制御はできない（大気のみの測定）。
既設装置の FT/IR-620 の付属品（ATR 等）が使用できる。
[測定波数範囲] 7800～350cm-1[最高分解] 0.4cm-1[S/N 比] 35000：1

14) マルチチャンネル赤外顕微鏡（IRT-7200）/本体部 FT/IR-6800
導入年：2015 年（日本分光株式会社）

赤外分析におけるイメージング測定は、試料の化学的な構造を可視化し解析する上で必要不可欠である。顕微 IR として使用する際は、単素子検出器（MCT）と 16 チャンネルリニ
アアレイ検出器が搭載されているので、用途に応じて使い分けができる。リニアアレイ検出器と高速自動ステージにより従来機に比較して、測定時間が大幅に短縮されている。
本体部の FT/IR-6800 は単独で利用可能。
[測定波数範囲] 7800～350cm-1[S/N 比] 55000：1[最高分解] 0.07cm-1[付属品] 一点反射 ATR、高感度反射測定装置、拡散反射装置

本体部にも MCT 検出器を搭載しているので、高感度の測定が可能である。MCT 検出器使用時は検出器を液体窒素で冷却する必要がある。

15) 顕微レーザーラマン分光装置（LabRAM ARAMIS）
導入年：2010 年（株式会社堀場製作所）

試料から散乱されるラマン散乱光を検出することで、試料の分子構造同定や物性を評価する装置。
[波長範囲] 200～1600 nm[分光器焦点距離] 460 mm[レーザー] 532 nm, 633nm, 785 nm[検出器] CCD（200～1000nm）, InGaAs（850～1600nm）
レーザー、グレーティング、減光フィルタすべて自動切換- 16 -

16) 顕微レーザーラマン分光測定装置（LabRAM HR Evolution）
導入年： 2021 年 （株式会社堀場製作所）
既設 15）の上位機種[波長範囲] 200～2100nm[スペクトル分解能] 0.2 cm-1 以下[分光器焦点距離] 800 mm[レーザー] 532 nm, 633nm, 785 nm[検出器] 空冷ペルチェ CCD 1024 ×256 ピクセル

17) 自動薄膜計測装置（Auto SE）
導入年：2013 年（株式会社堀場製作所）

分光エリプソメトリとは、サンプル表面での反射による偏光状態の変化を測定し、薄膜の膜厚や屈折率、消衰係数を
非破壊、非接触で求める分析手法である。本装置は、簡単な操作で 1nm～15um の膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能、CCD カメラによる測定スポット
位置の確認が可能、8 種類のマイクロスポット搭載で100um 以下の微小領域の測定に対応という特徴を持つ。
[測定方式] 液晶変調方式[光源] ハロゲンランプ及び青色 LED [波長範囲] 450nm-1000nm[分光器] 迷光を最小に抑えた小型スぺクトログラフ（分解能：3nm 以下） [入射角度] 70 度固定[スポットサイズ] 500um×500um 等 7 種類

- 17 -

18) 超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400)
導入年：2016 年 (日本電子株式会社)
NMR とは、Nuclear Magnetic Resonance （核磁気共鳴）の略で、原子
核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで、物質の分子構造を原子レベルで解析するための装置である。
多核測定、温度可変測定等に対応している。オートサンプルチェンジ
ャー付属。使用できる試料管はΦ519) 超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ500)
導入年：2019 年 (日本電子株式会社)
溶液試料について核磁気共鳴吸収を高分解能で測定する（使用周波数 495MHz:1H）。最新のデジタル技術と高周波技術で開発された装置であるため、従来装置に比べて安定した高精度、高感度の測定が可能である。DOSY 法など最新のアプリケーションに対応している。
Delta データ処理ソフトはフリーダウンロードが可能（JEOL
RESONANCE ホームページ参照）。利用する際は指定の講習会を受講する必要がある。

20) 誘導結合プラズマ質量分析装置 （Agilent7500c）
導入年：2003 年 （アジレントテクノロジー株式会社）
誘導結合プラズマ（Inductively coupled plasma; ICP)をイオン化源にし、四重極マスフィルタを質量分析選択部に用いた溶液試料の超微量元素分析装置である（Li～U, ppb～ppt レベル）。多原子イオン干渉低減システム（H2 モード、He モード）付属。サンプルに浮遊物、沈殿がないこと。HF の導入不可。サンプル起因のトラブル回避のため、予約時にサンプル情報の提出が必要。

- 18 -

21) 誘導結合プラズマ質量分析装置（Agilent7700x）
導入年：2011 年 （アジレントテクノロジー株式会社）
Agilent7500c の上位機種。感度が 1 桁程度上がっている。
高エネルギーHe コリジョン技術により、より効果的な多原子
イオン干渉除去機能を有す。特に多原子イオン干渉を受けやすい Cr, Fe, As, Se 等で DL(検出限界)や BEC(バックグラ
ンドﾞ相当濃度)の低減が可能。サンプルに浮遊物、沈殿がないこと。HF の導入不可。 2023 年 10 月制御ソフトの更新を実施し、より操作性が向上している。

22) 誘導結合プラズマ質量分析装置（Agilent7900）
導入年：2021 年 （アジレントテクノロジー株式会社）
Agilent7700x の上位機種。マトリックス耐性、ダイナミックレン
ジ、S/N 比が前モデルと比較して 10 倍程度向上している。
ソフトウェアが一新され、操作性が向上している。 ノーマル
モードの他に、H2 モード、He モードに対応している。
試料調製に関しては、既設 2 機種と同様に注意が必要。
浮遊物がないこと。フッ酸は使用不可。
予約時に必ずサンプル情報の提出が必要。

23) 熱分析システム（EXSTAR7000)
導入年：2012 年(株式会社日立ハイテクサイエンス)

高温型示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA7300)、高感度
示差走査熱量計(X-DSC7000)、高温型示差走査熱量計（DSC6300）で構成される。 測定温度範囲は TG/DTA 7300,
DSC6300 は室温～1300℃ (注：アルミ容器は 550℃まで)、
X-DSC7000 は-80～500℃である。 パージガスは窒素、アルゴン、air から選択できる。

X-DSC7000

DSC6300

TG/DTA7300- 19 -

24) 示差熱熱重量同時測定装置（NEXTA STA300）
導入年：2022 年(株式会社日立ハイテクサイエンス)

ベースラインドリフトが 10 ug 以下であり、ベースライン安定性にすぐれている。DSC 機能を搭載しているので、TG と同時に DSC データも得ることができる。パージガスは、窒素、アルゴン、空気に対応している。
[天秤方式] デジタル水平差動型[温度範囲] 室温～1300℃[TG ドリフト/TG 安定性/TG 再現性] <10 ug[温度精度] +/- 0.07℃[温度確度]+/- 0.2℃

25）高温型示差走査熱量計 （DSC404F1）
導入年： 2024 年 (ネッチ・ジャパン株式会社)
ダブルファーネス型の高温 DSC である。
[加熱炉]
・Pt 加熱炉（室温～1500℃、常用は 1200℃）
・SiC 加熱炉（室温～1550℃、常用は 1200℃）[測定雰囲気] Ar, N2, Air
真空置換も可能。
比熱容量の測定にも対応している。
試料の分解温度より 50℃程度以下での測定に限定。

26） 走査型プローブ顕微鏡(Dimension FastScan)
導入年：2010 年（ブルカージャパン株式会社）

FasｔScan 専用機として使用。
[X-Y scan range] 35um×35um [Z range] ≧3um
[サンプル搭載可能サイズﾞ] Φ210mm H15mm
分解能やフォースコントロールを損なうことなく、非常に高速なイメージング
スピードを達成。チップスキャン方式を採用により大口径から小さなサイズ
までサンプルの大きさ・重量に制限されない。サンプル上で測定箇所を探す
ときは 125Hz 以上の高速測定が可能で、数秒で 1 イメージが取得可能。

- 20 -

27） 大型サンプル対応微細表面形状測定システム(DimensionIcon)
導入年：2021 年
26）の上位機種（ブルカージャパン株式会社）[X-Y scan range] 90um×90um [Z range] ≧10um[サンプル搭載可能サイズﾞ] Φ210mm H15mm
コントローラが Nanoscope5 から Nanoscope6 になり S/N 等が向上。
大型試料測定、高分解能、操作性、多機能、拡張性のすべてのニーズに合致し、超低ノイズ・低ドリフトのクローズドループスキャナー搭載。
PeakForce Tapping 技術に よりワン プッ シュオペレーションを可能に した
ScanAsyst 機能付属。
一般的なプローブは各種用意している。（利用料金に含まれる）

28） 3D 測定レーザー顕微鏡（OLS4500）
導入年：2011 年 （株式会社島津製作所）
共焦点光学系を採用し、試料表面の微細形状を非破壊、大気中で観察・計測する高精細顕微鏡である。接触式粗さ計と互換性を持つ粗さモードを搭載している。
[光源]405nm 半導体レーザー [総合倍率]108～17,280 倍[平面分解能] 0.12μm[Z 方向表示分解能] 1nm[最大試料高さ]100mm[試料ステージ] 100mm×100mm（電動）29）フラットミリング装置（IM-3000）, イオンミリング装置（E-3500）
導入年：2010 年（株式会社日立ハイテク）

イオンビームミリング法は、イオン銃から放出されたままの、
直径約 1mm 程度のブロードイオンビームによって、試料表面の原子を表面からはじき出す現象（スパッタリング）を用いて、試料表面の研磨傷の除去や多層膜の断面試料作成を行う技術である。走査電子顕微鏡用の前処理装置として用いる。

【IM-3000】

短時間で広範囲（Φ5mm）を均一に加工することができる。

[最大ミリングレート（参考値）] Si で約 4μm/h (照射角-60°偏心-4mm)[最大試料サイズ] Φ50mm×H25mm【E-3500】 イオンガンは 3 電極方式のペニング形を採用、歪のない平滑な断面作成が可能。
[最大ミリングレート（参考値）] 約 100μm/h[最大試料サイズ] 20mm(W)×12mm(D)×5mm(H)- 21 -

30) イオンコーティング装置（JFC1600）
導入年：2007 年 （日本電子株式会社）
走査電子顕微鏡の前処理装置として、非導電性試料のPt コーティングを短時間で行うことができる。
[スパッタリング方式] マグネトロン型 [使用圧力] 20Pa 以下[ターゲット] Pt[試料台] 直径 64mm31） イオンスパッタ (MC1000)
導入年：2015 年 （株式会社日立ハイテク）
走査電子顕微鏡の前処理装置として、非導電性試料のPt コーティングを短時間で行うことができる。
[スパッタリング方式] マグネトロン型[ターゲット] Pt[コーティングレート最大値)] 15nm/min[試料サイズﾞ] 最大試料径 Φ60mm

最大試料高さ 20mm32) カーボンコータ（SC-701C）
導入年：2010 年 （サンユー電子株式会社）
電子顕微鏡における試料作成用に低真空状態で導電性カーボン膜
をコーティングする装置である。低真空領域における蒸着方法のため試料表面への回り込みも良く、ムラの少ないコーティングが可能。
[カーボンホルダ] カートリッジタイプ[蒸着方法] アーク放電（フラッシュ式）[コーティングﾞ回数] 1～19 回 (任意設定)[コーティング時間] 0.3 秒/回 (１フラッシュ = 約 3nm)

33) オスミウムコータ（HPC-1SW）
導入年：2010 年 （株式会社真空デバイス）
走査電子顕微鏡で観察する試料のチャージ防止に使用する。ホローカソード試料台を採用し、DC700V 以下の低電圧放電でコー
ティングを行うため試料ダメージが少なく、サンプルの形状を問わずに極めて薄いコーティングで導電性を与えることができる。
オスミウム粒子は金や白金のように結晶化による粒子成長がな
く、超高倍率観察にも適している。
[試料室サイズ] 内径 120mm, 深さ 90mm
[アノードﾞ] Φ110mm[カソード] ホローカソード、内径 105mm, 深さ 37mm[処理可能試料サイズ] Φ100mm, 40mmH- 22 -

【機器紹介（筑紫キャンパス）】
1. 電界放出形走査電子顕微鏡（日本電子 JSM-6701F） [2007 年導入、2019 年伊都分室から移設]
多層膜や超微粒子等の微細構造を容易に観察することができる。冷陰極電界放出形電子銃採用。 2 種(SEI,LEI)の二次電子検出器、半導体反射電子検出器を搭載しているので、目的に応じて選択可能。鉄系試料は導入不可。エネルギー分散型Ｘ線分析装置付属（検出元素 B～U）。
[二次電子像分解能] 1 nm (15 kV), 2 nm (1 kV)

2. 電界放出形走査電子顕微鏡（日本電子 JSM-IT800） [2021 年導入]
物質・材料開発研究において必須な形態・表面観察、組成分析について、既定の観察位置へのステージの自動移動、加速電圧 ON/OFF や検出器選択の全自動制
御、フォーカス、非点補正、倍率設定等の自動制御が可能。インレンズショットキーPlus 電界放出形電子銃、スーパーハイブリッドレンズ、上方ハイブリッド検出器を搭載した高分解能観察・高速元素分析仕様。中間 PC、リモー
トデスクトップ、Netop を用いたシステムにより遠隔操作が可能。
[二次電子像分解能] 0.5 nm (15 kV), 0.7 nm (1 kV), 0.9 nm (0.5 kV)[元素分析条件における分解能] 3.0 nm (加速電圧 5kV、作動距離 10mm、照射電流 5nA)

3. 電子線 3 次元粗さ解析装置（エリオニクス ERA8900） [2008 年導入、2020 年伊都分室から移設]
走査電子顕微鏡に 4 台の二次電子検出器が装備されているため、極微な凹凸やうねりのある試料を容易に観察することができる。また検出器に入る二次電子信号量を定量的に捉え、試料の X,Y の傾斜角度を計算し、3 次元形状を測定し、表面粗さ等の計測を行うことができる。2010 年にEDX システムを導入したので元素分析が可能。
[二次電子分解能] 3.5 nm [電子銃] ﾌﾟﾘｾﾝﾀｰﾄﾞﾀﾝｸﾞｽﾃﾝ[加速電圧] 0.3～35 kV [試料サイズ] Φ125×H10 mm（最大径）, Φ50×H30 mm（最大厚）, Φ10×H10 mm[3 次元測定系] Z 方向分解能 1 nm [ﾋﾞｰﾑ走査] デジタル走査, [測定方向] X 方向、Y 方向[測長] X,Y 方向の距離、Z 方向の距離 [傾斜角度解析機能] 等高線、面積率、山数、粒度、表面積、鳥瞰図、JIS 規格粗さﾊﾟﾗﾒｰﾀ

- 23 -

4. 透過型電子顕微鏡（株式会社日立ハイテクノロジーズ H-7650）[2005 年導入、2017 年医学研究院より移管]
無機微粒子、薄片試料、有機-無機複合材料等の観察が可能な透過型電子顕微鏡 （加速電圧：100 kV、分解能：0.20 nm）。デジタル
CCD カメラ搭載であり、PC 操作でイメージ観察・操作できる。蛍光板
上でディフラクション 観察はできるが、撮影はできない。

5. X 線回折装置（株式会社リガク SmartLabSE） [2018 年導入、2021 年高温アタッチメント導入]
高速 1 次元 X 線検出器を搭載しており、短時間で高強度の測定ができ、粉末、薄膜、ペレット等の結晶相の同定が可能。ソフトウェア「SmartLab Studio Ⅱ」により、最適な光学系ユニットの選択や測定条件を自動的に設定可能。
10 試料自動交換機により、複数の試料を自動で連続測定できる。汎用雰囲気セパレーターを使用することで不活性雰囲気でも測定可能。モノクロメーターを使用することで、バックグラウンドがより低減された回折パターンを得ることもできる。
2 台の高温アタッチメント（多目的試料高温装置～1500℃（常用 1300℃）、赤外線加熱高温装置 Reactor X～1000℃）により、ガスフローによる雰囲気制御下での高温 in-situ 測定可能。

6 波長分散型蛍光 X 線分析装置（株式会社リガク ZSX PrimusⅣ/RX9） [2021 年導入]
波長分散型蛍光 X 線分析装置（WDX）では粉末ならびにバルク等の各種材料・物質を、前処理なしかつ非破壊で迅速に組成分析でき、材料全体の組成を簡便に知ることができる。真空条件で、ホウ素(B)からキュリウム(Cm)までの粉末、バルク、液体、オイル等の組成分析が可能。
試料保護膜不要の上面照射方式により、高精度分析が可能。最大定格出力 4kW の Rh ターゲットと波長分散方式により、重金属元素と共存する微量軽元素・ハロゲンの多成分同時定量分析が可能。スタンダードレス分析
SQX（多層薄膜分析対応）により簡便に定量可能であるが、標準試料を用いて検量線を作成することでより正確に定量可能。視野制限 0.5mmφのポイント(点)・ライン(線)・エリア(面)分析（マッピング分析）が可能（500 万画
素の試料観察用 CCD カメラ内臓）。
- 24 -

7. 卓上型触針式プロファイリングシステム（ブルカージャパン株式会社 DektakXT-E）[2022 年導入]
薄膜の厚さ、応力、および表面の粗さと形状を計測でき、正確度、繰り返し性、再現性が極めて高く、幅広い用途に対応できる。ナノオーダーでの表面計測が可能。
触圧範囲：0.03～15mg
スキャン長：55mm
最大試料サイズ：100mm×100mm×50mm
高さ測定範囲（最大）：1mm
高さ分解能：0.1nm（6.5µm 測定レンジ選択時）

8 ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム （大塚電子 ELSZneo） [2021 年導入]
希薄系から濃厚系の高精度な粒子径、コロイド微粒子の分散・凝集を制御するのに必要なゼータ電位の測定が可能。pH タイトレータ付属。
粒径分布： 0.6 nm～10 µm（動的光散乱）（表示範囲は 0.1～106 nm）
光源：半導体レーザー（粒子径用、ゼータ電位用）
検出器：高感度 APD
測定試料の濃度範囲： 0.001～40％（ゼータ電位）0.1ppm～40％（粒子径）
溶媒：水あるいは有機溶媒
試料温度：0～90℃
pH 滴定範囲：pH1～pH13（測定モードは滴定モード、添加剤モード、循環モード）

9. ICP 発光分光分析装置（Perkin Elmer Avio 220 Max） [2021 導入]
誘導結合高周波プラズマ（inductively coupled plasma）発光分光分析法では、プラズマ状態のアルゴンの雰囲気中に試料を置いて、試料中の成分元素を励起して発光させ、その光の波長を分光してスペクトルを得る。光の波長から元素の定性分析、光の強度から定量分析を行う。
アルゴンガス消費量：アルゴンプラズマガス最小 8L/min
検出器：CCD 検出器
起動時間：装置起動後１０分程度で分析開始可能
光学系：縦型デュアルビューオプティカルシステム、ダブルモノクロメーター
波長範囲：165 nm ～ 900 nm

分解能：0.009 nm at 200 nm、 0.027 nm at 700nm- 25 -

10.超高感度示差走査熱量計（セイコーインスツルメンツ DSC6100） [1998 年導入]
試料と基準物質との温度差を測定して熱の出入りを観測する。超高感度であるため生体高分子（蛋白質、DNA、生体膜など）の相転移やゾル-ゲ
ル転移といった極めて微量な潜熱を伴う転移を観測するのに有効。
測定温度範囲：-150℃～500℃
熱流計測方式：熱流束型
感

度：0.2μW

昇降温プログラム速度：0.01～20℃/min
最大試料量：密封容器 70 µl
試料容器： 〈密封型〉Ag（15 µl、70 µl）、Al（15 µl、 70 µl）、SUS（15 µl、70 µl） 〈簡易密封型〉Al（15 µl）

11. 高感度示差走査熱量計(エスアイアイ・ナノテクノロジー DSC6220)[2004 年導入]

金属、無機化合物、セラミックスなどの試料では転移に伴う吸・発熱量が比較的大きいためこちらの高感度 DSC を使用する。
測定温度範囲：－150℃～725℃
熱流計測方式：熱流束型
感

度：1.6 µW

昇降温プログラム速度：0.01～100℃/min
最大試料量：密封容器 15 µl、オープン型容器 45 µl
試料容器： 〈密封型〉Ag 15 µl、Al 15 µl〈オープン型〉Al (φ5.2 mm, h2.5 mm)

12. X 線光電子分光分析装置（島津/KRATOS 製作所社 AXIS-165）[1996 年導入、2015 年グレードアップ]
物質に単色 X 線を照射し、X 線
によって励起されて物質表面から放出される光電子のエネルギーを分光分析する。金属、絶縁物、有機物等あらゆる固体表面の元
素分析に適用出来る。シャープなシグナルが得られるため化学状態(特に酸化数)の推定に威力を発揮する（この点でＡＥＳよりも優れる）。測定は超高真空環境で行われる。試料は試料ホルダー（直径 15 mm）にカーボンテープを使ってを固定する。粉末も可能である。X 線銃はデュアルアノード（MgKαと AlKα）と単色化 X 線源（AlKα）の 2
種類を搭載している。MgKαの半値幅約 0.7 eV、AlKα（モノクロメーター使用で）の半値幅 0.2～0.3 eV。最小分析径は 15 µmφであるが、通常は 0.7×0.3 mm2 の分析面積で測定する。1wt.%程度の元素濃度であれば- 26 -

測定可能。試料の局所領域をねらって測定することはＡＥＳよりも劣る。試料のチャージアップを抑えるための中和銃が付いている。従って絶縁物も測定可能（ＡＥＳよりも優れた点）。測定対象元素は 3Li～92U。
180°球面鏡アナライザー搭載。必要に応じてイオンエッチングが可能。深さ方向の分析、イメージング測定が出来る。各種データ処理機能（元素の帰属、定量分析、波形分離など）も用意されている。

13. 赤外分光光度計（日本分光 FT/IR-4200 and IRT-5000(赤外顕微鏡)） [2012 年導入]
赤外分光光度計は赤外光領域のエネルギーをもつ分子振
動・格子振動に関する情報を得て物質に含まれる分子の構
造推定に利用される。IR スペクトル変化の追跡による構造変化、材料評価、異物分析などに役立つ。本装置は、従来からの装置（上記）よりも感度が 3 倍向上しており、短時間でスペ
クトルの収集が可能である。
FT/IR-4200：測定周波数範囲：7800～350 cm-1。分解能（最大）：0.5 cm-1（1, 2, 4 cm-1 に可変可能）。通常の IR スペクトルと全反射法（ATR 法）測定が可能。ATR 測定では表面から 2～3 µm の深さまでの情報が得られる。
IRT-5000（赤外顕微鏡）：測定周波数範囲：7800～650 cm-1。最小測定領域：3 µm×3 µm。対物レンズ：10, 16,
32 倍選択可。アパーチャーサイズ：10～200 µm 角。反射/透過測定、自動２次元マッピング測定が可能。

14. 環境制御型走査型プローブ顕微鏡システム（日立ハイテク AFM100Plus） [2023 年導入]
表面形状観察モードとして AFM 機能（コンタクトモード）とDFM 機能（ノンコンタクトモード）を有し、電気物性測定、機械物性測定が可能。サンプリングポイントごとに探針退避し、高アスペクト試料や柔らかいゲル粒子に対してサンプ
ルダメージの軽減した測定が可能。波長 830nm の SLD（スーパールミネッセンスダイオード）を光源とし、光てこ方式
でレーザー変位を検出。各測定モードに対応したマルチホ
ルダの他、カンチレバー交換がワンタッチで可能なプリマ
ウントホルダを所有。最大試料サイズは、φ35mm 以上、
厚み 10mm。コロイドプローブ作製のためのサンプリングス
テーションを利用可能。
電気物性：C-AFM（電流）、SSRM（拡がり抵抗）、KFM（表面電位）、EFM（静電気力）、PRM（圧電応答）
機械物性：LM-FFM（横振動摩擦）VE-AFM（粘弾性）、アドヒージョン、フォースカーブマッピング- 27 -

装置利用の手引き●申込みと利用
共同利用機器リストより利用目的に応じて選択の上、次の要領で申込みと利用を行って下さい。
装置はセンターが管理する「所管装置」と、研究室が所有し共同利用機器として中央分析センターに登録された「部局管理装置」があります。
(1) 装置の利用方法としては、担当オペレーターに依頼する場合と、利用責任者の側で装置を利用する場合の二つの方法があります。この各々の場合では装置利用経費が異なりますので、装置利用
経費表をご覧下さい。
(2) 利用予約はウェブサイト上の予約システムから行って下さい。
(3) 利用の許可は、センター長または伊都分室長が行います。但し、次の各号のいずれかに該当する
場合は、利用が認められない場合もありますので、ご留意下さい。
・利用申込書の記載が不備の場合・試料がオペレーターまたは装置に害を及ぼすおそれのあるもの
・試料の準備処理が不十分で、装置にかけるのが不適当と判断されるもの
・測定が異常に長時間に及ぶもの
・その他センター長（伊都分室長）が不適当と認めたもの(4) 利用当日
・依頼分析の場合は、担当オペレーターに試料を渡し、測定終了時に測定室に行き、担当
オペレーターから測定結果を直接受け取って下さい。
・利用責任者の側で装置を利用する場合は、装置管理者の指示に従って装置を利用し、装置利用
後は利用記録などに必要事項を記入して下さい。
(5) 装置利用後は、ウェブサイトの「利用申込書提出」ページよりファイルで提出して下さい。
（感染拡大防止の観点から当分の間）(6) 利用責任者の提出した試料が不可抗力によって損害を受けたときは、センターは、その生じた損害を賠償しませんのでご了承下さい。

謝辞ならびに論文別刷の寄贈について
中央分析センターの機器を利用して行った研究の成果を学会誌等に発表される場合には、論文にその旨ご記載していただくと共に（文例下記）、その論文の別刷 1 部を当センターにご寄贈いただくようお願いします。
文例（実験の項または論文末尾に記入）○ (本研究における)○○○の測定(分析)には、九州大学中央分析センターの○○○(装置）をを利用した。
○ The measurement of ○○○ was madeThe ○○○ analysis was performed

using ○○○ at the Center of Advanced Instrumental

Analysis，Kyushu University．
○ We are indebted to Dr.(Mr.) ○○○，the Center of Advanced Instrumental
Analysis，Kyushu University forthe measurement of ○○○the ○○○ analysis.

- 28 -

中央分析センター伊都分室 利用申込書◆利用終了後に太線枠内を全てご記入の上ご提出ください。 （R3.6 改訂）
項

目

職

氏

名

印

所 属 部 局 ・部 門 ・講 座 等

連絡先(Tel)

利 用 責 任 者
利

用

下記該当
箇所に○

者

利用者の身分研

究

題教授 ・ 准教授 ・ 助教 ・ 技術職員 ・ 学部生 ・ 修士 ・ 博士 ・ 各種研究員 ・ その他

目

□所管装置
□部局管理装置

利 用 装 置 名
支払希望経費

授業料/自己収入 ・ 運営交付金 ・ 寄附金 ・ 間接経費 ・ 科学研究費・受託研究費 ・ 共同研究費 ・ その他経費（）

若手育成減額※

対象者はこちらに記入。助教及び研究員の場合は学位取得年：
支払経費名：
所管コード：

利

用

日

年

時

月

日
：
利用時間計

～

所管コード

サンプル件数：[]【依頼分析の場合は下記もご記入ください。】
爆発性の 有

無

毒性の

有

無

吸湿性の 有無刺激性の 有無腐食性の 有

無

悪臭の

無

試料名称等

試
料

試 料 の返 却

要

不要

有

件数

【ご注意】
（１）
所管装置とは中央分析センターが管理する装置です。提出時に必ず支払希望経費を選択し、所管コードを記入して下さい。
（２）
外部資金（寄附金を除く）での利用料金の支払いは２月分利用料までです。３月分利用料の支払いは、「授業料/自己収入・運営交付金・寄附金」に限定され、翌年度請求となります。
（３）
科研費の場合は、必要に応じて交付申請書提出時、機器使用料の項目を記入して下さい。
（４）
科学技術振興調整費による支払いはできませんので、ご注意下さい。
（５）
利用終了後に利用時間とサンプル件数をご記入の上(利用記録簿と同じ内容)、提出して下さい。
（６）
部局管理装置利用終了後は、利用者は装置責任者による押印・必要事項の記入を受け、提出して下さい。
（７）
部局管理装置担当者は利用者の利用終了後に、「利用承認印」と「測定及び利用」の欄の押印と必要事項の記入をお願いします。
※若手育成減額とは、学位取得後 5 年以内の助教及び研究員ならびに博士学生を若手とし、本人が獲得した競争的資金を使い、本人が所管装置を利用する場合に利用料を減額するものです（減額率：学内者 10％、学外の大学関係者 5％）【以下センター及び部局管理装置責任者記入】
処 理 日

年

月

（部局管理装置担当者は＊に押印・ご記入ください）

日

処理番号

利

用

承

認

印

装置管理者＊

センター長(伊都分室長)
測 定 及 び利 用 （装 置 責 任 者 記 入 ）

利 用 装 置 名＊
利用日・件数・時間 ＊Ａ ： 担当オペレーター
Ｂ ： 利用者自身

利用の種類＊
年

月

装置責任者氏名＊

日

件

時間
印

利 用 経 費

中央分析センター伊都分室 利用申込書 【学外用】◆利用終了後に太線枠内を全てご記入の上ご提出ください。 （R4.11 改訂）

項

目

職

氏

名

印

所属

連絡先(Tel)

利用責任者
利

用

者

利用目的

□所管装置
□部局管理装置

利用装置名年

利 用 日 時請求書送付先（住所・氏名）

月

日

：
利用時間計

～

サンプル件数：[]〒請求書送付先（メールアドレス）□ 初回□ 過去に利用実績あり

本学での利用について選択してください。

その他連絡事項

依頼分析の場合は下記もご記入ください。
爆発性の

有 無

毒性の

試

刺激性の

有 無

腐食性の 有 無料

試 料 の返 却

要

有 無

試料名称等

吸湿性の 有 無
悪臭の 有

不要

無

件数

測定条件等
【ご注意】
（１）
（２）
（３）
（４）
（５）

利用終了後に利用時間とサンプル件数をご記入の上（利用記録簿と同じ内容）、ご提出ください。
本学の利用が初回の場合は、可能であれば名刺もご提出ください。
部局管理装置利用終了後は、利用者は装置責任者による押印・必要事項の記入を受け、ご提出ください。
部局管理装置担当者は利用者の利用終了後に、「利用承認印」と「測定及び利用」の欄の押印と必要事項の記入をお願いします。
料金は月末締めで計算し、翌月に担当係より請求書が送付されます。都度請求をご希望の場合は、その旨お知らせください。

【以下センター及び登録装置責任者記入】
処 理 日

年

月

（部局管理装置担当者は*に押印・ご記入ください）
日

処理番号

利

用

承

認

印

装置管理者*

センター長(伊都分室長)
測 定 及 び利 用 （装 置 責 任 者 記 入 ）

利 用 装 置 名 *利用の種類*

利用日・件数・時間*

年

装置責任者氏名*

月日

Ａ：担当オペレーター
Ｂ：利用者自身
件

時間
印

利用経費
備考

中央分析センター筑紫地区 利用申込書 ( 学内利用 ）☆太枠内をご記入ください
職(修士、博士）

項 目

氏

名

印

連絡先
（電話/メールアドレス）

所属部局・学科・講座等
tel
mail
tel
mail

利用責任者
利用者
研究題目
試料の内容

腐食性の 有 ・ 無
毒性の 有 ・ 無
若手育成減額 ※ 支払経費名：（対象者のみ記載） 助教及び研究員の場合は学位取得年：
希望利用日時

No.

管
理
部
局

年

月

装 置 名

2

電子線3次元粗さ解析装置（ERA8900）

3電界放射走査型電子顕微鏡（ＪＳＭ-6701Ｆ）

4

透過型電子顕微鏡（H-7650)

6
7
8

ー

9

X線回折装置(SmartLabSE)
超高感度示差走査熱量計（DSC6100）
高感度示差走査熱量計（DSC6220）
X線光電子分光分析装置(AXIS165)
赤外分光光度計(FTIR4200 and IRT5000)11波長分散型蛍光X線分析装置（ZSX PrimusIV)

12

卓上型触針式ﾌﾟﾛﾌｧｲﾘﾝｸﾞｼｽﾃﾑ(DEKTAK XT-

13

電界放射走査型電子顕微鏡（ＪＳＭ-IT800SHL）

14

ICP発光分光分析装置（Perkin Elmer Avoi220Ma

16

応
力
研

重イオン照射システム
放射性物質対応型強磁性材料ﾅﾉｸﾗｽﾀｰ評価ｼｽﾃﾑ

17 GIC

レーザーラマン分光装置(Nanofinder 30)

18

X線回折計(Rigaku RINT2200)

19
20

時まで

走査型プローブ顕微鏡(5500SPM)

10

15

時から

授業料/
使途特定
その他
寄付金
自己収入
自主 依頼 自主 依頼 自主 依頼 自主 依頼 自主 依頼 自主 依頼
測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定 測定

ゼータ電位・粒径測定システム(ELSZneo)

中
央
分
析
セ
ン
タ

日

爆発性の 有 ・ 無

科学研究費 共同研究費 受託研究費

15

刺激性の 有 ・ 無 吸湿性の 有 ・ 無所管コード：

総理
工

蛍光X線分析装置(Rigaku ZSX-miniX)
宇宙空間模擬装置
プロジェクトコード番号

財源コード番号（受託研究費・共同研究費・その他の場合）➡
(1) 「科学技術振興調整費」による支払いは出来ませんのでご注意下さい。
(2) 外部資金の場合、「財源コード番号」は会計処理に必要になりますので必ずご記入下さい。
(3)所管装置の利用料金のご請求は月末締めで行いますので、提出 時に必ず支払い予算種別をご記入下さい。外部資金（寄附金を除く）での利用料金の支払いは２月分利用料ま でです。３月分利用料は「運営費交付金・使途特定寄付金」に限定され、翌年度に請求されます※ 若手育成減額とは、学位取得後5年以内の助教及び研究員、並びに博士学生を若手とし、本人が獲得した競争的資金を使い、本人が機器を利用する場合には利用料を減額するものです。（減額率：学内者 10％、学外の大学関係者 ５％）
センター長利用承認
印 装置責任者確認印
印
利用件数（時間）

（

）

利用経費

装置管理者氏名印

中央分析センター筑紫地区 利用申込書
項

目

職

氏

名

印

所

（

学外利用

属

）
連絡先（℡/mail ）

℡
mail

利用責任者

℡
mail

利用者

研究題目
利用装置名

□ 中央分析センター棟内装置

希望利用日時年

請求書送付先月日時から□ 部局管理装置
時まで〒（住所・氏名）その他連絡事項名
試

称

含有元素あるいは化合物

料状

態 (気・液・固体)

特性 (融点・沸点等)

（

構造式

爆発性

有 ・ 無

毒性

有 ・ 無

吸湿性

有 ・ 無

刺激性

有 ・ 無

腐食性

有 ・ 無

悪臭

有 ・ 無

試料の返却
希

)

数量(件数

要

・

不要

・

その他

望 利 用 条 件

以下センター記入）
測 定 お よ び 利 用 （装置責任者記入）

利 用 期 日利 用 の 種 類

年月A

（ 担当オペレーター ）B（ 依 頼 者 ）装置管理者氏名
センター長利用承認

日

時から

時まで

利用件数(時間)件（

時間）

利 用 経 費円

印装置責任者確認印

印

備 考

関係委員及び職員
中央分析センター委員会委員(任期:令和 6 年 4 月 1 日～令和 8 年 3 月 31 日)
委員長 センター長

教 授

林

委員

教 授

藤ヶ谷 剛彦

工学研究院長教 授

山本 元司

総合理工学研究院長

教 授

谷本

理学研究院

教 授

水野 大介

教 授

大場 正昭

工学研究院

教 授

藤ヶ谷 剛彦

〃

教 授

中野 博昭

農学研究院

教 授

松井 利郎

教 授

平館 俊太郎

比較社会文化研究院

教 授

桑原 義博

医学研究院

教 授

國﨑 祐哉

歯学研究院

教 授

兼松

薬学研究院

教 授

濵瀬 健司

芸術工学研究院

教 授

須長 正治

システム情報科学研究院

教 授

興総合理工学研究院

教 授

永長 久寛

応用力学研究所

教 授

西澤 伸一

先導物質化学研究所

教 授

山内 美穂

工学部等事務部長

事務部長 三海 和広

筑紫地区事務部長

事務部長 井上伊都分室長- 33 -

潤一郎

潤

隆

雄司

淳

中央分析センター運営委員会委員(任期:令和 6 年 4 月 1 日～令和 8 年 3 月 31 日)
委員長 センター長

教 授

林

委員

教 授

藤ヶ谷 剛彦

理学研究院

教 授

大場 正昭

薬学研究院

教 授

濵瀬 健司

工学研究院

教 授

藤ヶ谷 剛彦システム情報科学研究院

准教授

佐道 泰造

総合理工学研究院

准教授

北篠

農学研究院

教 授

松井 利郎

医学研究院

教 授

國﨑 祐哉

先導物質化学研究所

准教授

小椎尾 謙

伊都分室長

潤一郎

元

中央分析センター伊都分室委員会委員(任期: 令和 6 年 4 月 1 日～令和 8 年 3 月 31 日)
委 員 長

分 室 長

教 授

藤ヶ谷 剛彦

工学研究院委員（環 境 都 市）

教 授

久場 隆広

（機 械 系）

准教授

北原 辰巳

（化 学 工 学）

准教授

田中

学

（応用化学・機能）

准教授

稲田

幹

（応用化学・分子）

准教授

高橋 幸奈

（地球資源システム工学）准教授

米津 幸太郎（材 料 工 学）准教授

谷ノ内 勇樹（航空宇宙工学）

教 授

高橋 厚史

（海洋システム工学）

教 授

安東

（エネルギー量子工学）准教授

稲垣 八穂広- 34 -

潤システム情報科学研究院委員

准教授

佐道 泰造

人間環境学研究院委員

准教授

小山 智幸

理学研究院委員

地球惑星科学部門

准教授

山内 敬明

生物科学部門講 師

楠見 健介

生命機能科学部門

教 授

松井 利郎

生命機能科学部門

教 授

中山 二郎

教 授

藤ヶ谷 剛彦

農学研究院委員

中央分析センター運営委員会工学研究院委員

中央分析センター職員
センター長

教 授

林 潤一郎

助 教

三浦 好典

事務補佐員 敷田 万理

中央分析センター伊都分室職員
分 室 長

教 授

藤ヶ谷 剛彦

学術研究員 渡辺 美登里
教務員

岩永 知奈

- 35 -

センター規則等●センター規則、利用規程
九州大学学内共同教育研究センター規則
平成２６年度九大規則第９２号
制定：平成２７年２月２４日
最終改正：令和６年３月２８日（令和５年度九大規則第３８号）（趣旨）
第１条 この規則は、九州大学学則（平成１６年度九大規則第１号。以下「学則」という。）第１３条第３項の規定に基づき、学内共同教育研究センター（以下「センター」という。）の内部組織その他必要な事項を定めるものとする。
（目的及び業務）第２条 各センターの目的及び業務は、別表１に定めるとおりとする。
（組織的な連携）第２条の２ 各センターは、学則第１３条第１項各号に掲げる機能を担う組織として、別表１に定める業務の実施に当たり、センターと最も関連する部局との組織的な連携体制の下で、センターの内部組織を編制するものとする。
２ 各センターの長（以下「センター長」という。）は、前項の規定に基づくセンターと最も関連する部局について、対象となる部局の長と協議の上、総長に推薦するものとする。
３ 総長は、前項の規定に基づき推薦されたセンターと最も関連する部局について、企画専門委員会の議を経て、センターと最も関連する部局を決定するものとする。この場合において、総長が必要と認める場合は、センターと最も関連する部局を変更することができる。
４ 各センターの最も関連する部局は、別表２のとおりとする。
（運営委員会等）
第３条 各センターに、運営委員会等を置く。
２ 運営委員会等は、センター長がつかさどる教育研究等に関する事項について審議し、及びセンター長の求めに応じ、意見を述べることができる。
３ 各運営委員会等の名称及び構成員は、別表３のとおりとする。
４ 前項の規定にかかわらず、別表２で定める最も関連する部局の長又は当該部局の長が指名する者を構成員に加えるものとする。ただし、前項の規定により、構成員として指定されている場合はこの限りでない。
第４条 運営委員会等に委員長を置き、原則として当該センター長をもって充てる。ただし、次に掲げる委員会にあっては、当該各号に定める者をもって充てる。
(1) 熱帯農学研究センター 委員の互選により選出された者(2) 韓国研究センター 国際を担当する理事(3) ＥＵセンター 国際を担当する理事
２ 委員長は、運営委員会等を主宰する。
第５条 運営委員会等は、委員の２分の１以上が出席しなければ、議事を開き、議決することができない。
２ 運営委員会等の議事は、出席した委員の過半数で決し、可否同数のときは、委員長の決するところによる。
３ 運営委員会等が必要と認めるときは、運営委員会等に委員以外の者の出席を求め、説明又は意見を聞くことができる。
４ 運営委員会等の委員に任期を付す場合の任期は、２年とし、再任されることができる。ただし、委員に欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
第６条 センターに、専門的事項を審議するため、必要に応じて、専門委員会等を置くことができる。
（協力教員）
第７条 センターに、別表１に定めるセンターの目的を達成するため、協力教員を置くことができる。
２ 協力教員は、九州大学（以下「本学」という。）の教員のうちから、センター長の申出に基づき、総長が任命する。
３ 協力教員の任期は、２年とし、再任されることができる。
（アドバイザー等）
第８条 センターに、センターの運営に関し指導・助言を求めるため、アドバイザー等を置くことができる。
２ アドバイザー等は、学内外の有識者のうちからセンター長が指名又は委嘱する者をもって充てる。
３ センターに、必要に応じ、アドバイザー等から組織されるアドバイザリー委員会等を置くことができる。
（実験生物環境制御センター）- 36 -

第９条 実験生物環境制御センターに、実験施設を置く。
２ 前項の実験施設の利用に関し必要な事項は、別に定める。
（アイソトープ統合安全管理センター）
第１０条 アイソトープ統合安全管理センター（以下この条及び次条において「センター」という。）に、次に掲げる実験施設等を置く。
(1) アイソトープ総合センター病院地区実験室(2) アイソトープ総合センター伊都地区実験室(3) 核燃料物質取扱施設
第１１条 前条の各実験施設等に、室長又は施設長を置く。
２ 室長及び施設長は、本学の教授及び准教授のうちからセンター長の推薦により、総長が任命する。
３ 室長及び施設長は、センター長を助け、当該実験施設の業務を掌理する。
４ 室長及び施設長の任期は、２年とし、再任されることができる。ただし、欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
（中央分析センター）
第１２条 中央分析センター（以下この条から１６条までにおいて「センター」という。）に、伊都分室を置く。
第１３条 前条の伊都分室に、室長を置く。
２ 室長は、本学の教授のうちからセンター長の推薦により、総長が任命する。
３ 室長は、センター長を助け、当該分室の業務を掌理する。
４ 室長の任期は、２年とし、再任されることができる。ただし、欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
第１４条 センター長は、センター以外の部局が管理する分析装置、測定装置及び試料作成装置等（以下「部局管理装置」という。）の有効利用を図るため、当該部局の長との協議の上、共同利用に供することが適当と認められる部局管理装置をセンターに登録し、大型高性能分析装置及び測定装置の共同利用に関する業務に利用することができる。
２ 前項の装置の登録に関し必要な事項は、センター委員会が別に定める。
第１５条 センターの利用を希望する者は、センター長の許可を得なければならない。
２ センター長は、別表１に定めるセンターの目的を妨げない範囲内で、他大学及び民間機関等に所属する研究者にセンターを利用させることができる。
３ センター長は、センターに登録された部局管理装置の利用を希望する者がいる場合は、当該装置を管理する部局の長との協議の上、当該利用の許可又は不許可を決定する。
４ 前項のほか、センターの利用に関し必要な事項は、別に定める。
第１６条 センター又は伊都分室における具体的事項を円滑に処理するため、それぞれ幹事若干人を置くことができる。
２ センター又は伊都分室の幹事は、それぞれ運営委員会又は伊都分室委員会の同意を得てセンター長が委嘱する。
（留学生センター）
第１７条 留学生センターに、外国人留学生等に対し日本語等の教育を行うため、次に掲げるコースを置く。
(1) 日本語研修コース(2) 日本語・日本文化研修コース(3) 日韓共同理工系学部留学生予備教育コース(4) 外国人短期留学コース
２ 前項のコースに関し必要な事項は、別に定める。
（医療系統合教育研究センター）
第１８条 医療系統合教育研究センター（以下この条において「センター」という。）に業務主任を置き、センターの教員のうちからセンター長が指名する。
２ 業務主任は、センター長の命を受け、センターの業務を整理する。
（超顕微解析研究センター）
第１９条 超顕微解析研究センター（以下この条から２３条までにおいて「センター」という。）に、主任を置く。
２ 主任は、本学の教員のうちから、センター長の推薦により、総長が任命する。
３ 主任は、センター長を助けてセンターの業務を整理する。
４ 主任の任期は、２年とし、再任されることができる。ただし、当該主任への就任時におけるセンター長の任期の終期を超えることはできない。
第２０条 委員長は、センターの運営の具体的、専門的事項に関し必要があると認めるときは、専門委員を置くことができる。

- 37 -

第２１条 センターの設備等の使用を希望する者は、センター長の許可を得なければならない。
第２２条 前条のほか、センターの設備等の使用に関し必要な事項は、別に定める。
第２３条 センターの施設及び設備の維持管理並びに予算の経理その他センターの管理は、工学研究院において行う。
２ センターの管理運営の円滑な実施に資するため、工学研究院長は、前項の管理に関し必要があると認めるときは、適宜センター長と協議することができる。
（西部地区自然災害資料センター）
第２４条 西部地区自然災害資料センター（以下この条から２６条までにおいて「センター」という。）に、主任を置く。
２ 主任は、本学の専任の准教授、講師又は助教のうちからセンター長の推薦により、総長が任命する。
３ 主任は、資料の整理・検索等センターの業務を処理する。
第２５条 委員長は、センターの運営及び研究の具体的、専門的事項に関し必要があると認めるときは、特別委員を置くことができる。
第２６条 センターの利用を希望する者は、運営委員会の定めるところにより、センター長の許可を得なければならない。
（大学文書館）第２７条 文書館（以下この条から３１条までにおいて「文書館」という。）に、次に掲げる室を置く。
法人文書資料室
大学史資料室
史料情報室
第２８条 前条に規定する室に、それぞれ室長を置く。
２ 室長は、本学の教職員のうちから、センター長が任命する。
３ 室長は、当該室の業務を掌理する。
第２９条 第２７条に規定する室に、室員として教員及び事務職員を置くことができる。
２ 室員は、室長の命を受け、大学文書館の業務を処理する。
第３０条 文書館に、別表１に定める文書館の目的を達成するため、次に掲げる兼任の職員を置く。
(1) 本学の教員のうちから、センター長の推薦により総長が任命する者(2) 総務部総務課長
２ 前項第１号に規定する兼任の職員の任期は、２年とし、再任されることができる。
第３１条 文書館が所蔵する資料の利用に関し必要な事項は、総長が別に定める。
（アドミッションセンター）第３２条 アドミッションセンターの職員は、本学の教授のうちから、センター長の推薦により総長が任命する者をもって充てる。
（加速器・ビーム応用科学センター）第３３条 加速器・ビーム応用科学センターに、次の施設を置く。
(1) ＦＦＡＧ加速器施設(2) ガンマ線照射施設（キャンパスライフ・健康支援センター）
第３４条 次に掲げる地区にキャンパスライフ・健康支援センターの分室を置く。
(1) 伊都地区センターゾーン(2) 伊都地区ウエストゾーン(3) 病院地区(4) 筑紫地区(5) 大橋地区（事務）第３５条 センターに関する事務は、別表４に定める事務組織において処理する。
（雑則）
第３６条 この規則に定めるもののほか、各センターの組織及び運営に関し必要な事項は、各運営委員会等の議を経て、各センター長が定める。
附 則
１ この規則は、平成２７年４月１日から施行する。
２ この規則施行の際現に次項に掲げる廃止前の規則（以下「旧規則」という。）の規定に基づき、運営委員会等相当の委員又は協力教員その他の役職に任命されている者は、この規則の相当規定に基づき任命されたものとみなし、その任期については、旧規則により在任した期間を控除した期間とする。
３ 次に掲げる規則は、廃止する。
(1) 九州大学生物環境利用推進センター規則（平成２２年度九大規則第１４３号）- 38 -

(2) 九州大学熱帯農学研究センター規則（平成１６年度九大規則第３２号）(3) 九州大学アイソトープ総合センター規則（平成１６年度九大規則第３４号）(4) 九州大学中央分析センター規則（平成１６年度九大規則第３５号）(5) 九州大学留学生センター規則（平成１６年度九大規則第３６号）(6) 九州大学総合研究博物館規則（平成１６年度九大規則第３７号）(7) 九州大学システムＬＳＩ研究センター規則（平成１６年度九大規則第３８号）(8) 九州大学国際宇宙天気科学・教育センター規則（平成２３年度九大規則第９１号）(9) 九州大学韓国研究センター規則（平成１６年度九大規則第４０号）(10) 九州大学医療系統合教育研究センター規則（平成１６年度九大規則第４１号）(11) 九州大学超伝導システム科学研究センター規則（平成１６年度九大規則第４３号）(12) 九州大学感性融合デザインセンター規則（平成１６年度九大規則第４４号）(13) 九州大学産学連携センター規則（平成１６年度九大規則第４５号）(14) 九州大学超顕微解析研究センター規則（平成２５年度九大規則第９１号）(15) 九州大学環境安全センター規則（平成１６年度九大規則第４７号）(16) 九州大学西部地区自然災害資料センター規則（平成１６年度九大規則第４８号）(17) 九州大学大学文書館規則（平成１６年度九大規則第２０１号）(18) 九州大学ロバート・ファン／アントレプレナーシップ・センター規則（平成２２年度九大規則第４８号）(19) 九州大学アドミッションセンター規則（平成１６年度九大規則第５４号）(20) 九州大学水素エネルギー国際研究センター規則（平成１６年度九大規則第５５号）(21) 九州大学未来化学創造センター規則（平成１６年度九大規則第１９８号）(22) 九州大学バイオアーキテクチャーセンター規則（平成１６年度九大規則第１９９号）(23) 九州大学鉄鋼リサーチセンター規則（平成１６年度九大規則第２００号）(24) 九州大学低温センター規則（平成１７年度九大規則第４３号）(25) 九州大学加速器・ビーム応用科学センター規則（平成１８年度九大規則第４５号）(26) 九州大学稲盛フロンティア研究センター規則（平成１９年度九大規則第３０号）(27) 九州大学炭素資源国際教育研究センター規則（平成１９年度九大規則第７０号）(28) 九州大学シンクロトロン光利用研究センター規則（平成２１年度九大規則第１６号）(29) 九州大学先端融合医療創成センター規則（平成２１年度九大規則第１７号）(30) 九州大学極限プラズマ研究連携センター規則（平成２１年度九大規則第３８号）(31) 九州大学有体物管理センター規則（平成２１年度九大規則第６４号）(32) 九州大学分子システム科学センター規則（平成２２年度九大規則第３号）(33) 九州大学日本エジプト科学技術連携センター規則（平成２２年度九大規則第１４号）(34) 九州大学プラズマナノ界面工学センター規則（平成２２年度九大規則第３１号）(35) 九州大学先端医療イノベーションセンター規則（平成２２年度九大規則第３２号）(36) 九州大学ＥＵセンター規則（平成２２年度九大規則第４９号）(37) 九州大学環境発達医学研究センター規則（平成２２年度九大規則第７６号）(38) 九州大学ユヌス＆椎木ソーシャル・ビジネス研究センター規則（平成２３年度九大規則第３９号）(39) 九州大学バイオメカニクス研究センター規則（平成２３年度九大規則第６９号）(40) 九州大学次世代燃料電池産学連携研究センター規則（平成２３年度九大規則第７３号）(41) 九州大学科学技術イノベーション政策教育研究センター規則（平成２３年度九大規則第１０４号）(42) 九州大学先端素粒子物理研究センター規則（平成２４年度九大規則第１２号）(43) 九州大学グリーンアジア国際リーダー教育センター規則（平成２４年度九大規則第３１号）(44) 九州大学分子システムデバイス国際リーダー教育センター規則（平成２４年度九大規則第３８号）(45) 九州大学オルガネラホメオスタシス研究センター規則（平成２４年度九大規則第４３号）(46) 九州大学水素材料先端科学研究センター規則（平成２４年度九大規則第６０号）(47) 九州大学アジア埋蔵文化財研究センター規則（平成２４年度九大規則第６２号）(48) 九州大学エネルギー基盤技術国際教育研究センター規則（平成２４年度九大規則第６３号）(49) 九州大学キャンパスライフ・健康支援センター規則（平成２４年度九大規則第６４号）(50) 九州大学味覚・嗅覚センサ研究開発センター規則（平成２５年度九大規則第４２号）(51) 九州大学持続可能な社会のための決断科学センター規則（平成２５年度九大規則第４８号）(52) 九州大学アジア太平洋未来研究センター規則（平成２５年度九大規則第７９号）(53) 九州大学サイバーセキュリティセンター規則（平成２６年度九大規則第６１号）
附 則（平成２７年度九大規則第３号）
この規則は、平成２７年６月１日から施行する。
附 則（平成２７年度九大規則第２０号）- 39 -

この規則は、平成２７年１１月１日から施行する。
附 則（平成２７年度九大規則第２７号）
この規則は、平成２８年２月１日から施行する。
附 則（平成２７年度九大規則第４３号）
この規則は、平成２８年４月１日から施行する。
附 則（平成２８年度九大規則第１号）
この規則は、平成２８年５月１日から施行する。
附 則（平成２８年度九大規則第５号）
この規則は、平成２８年６月１日から施行する。
附 則（平成２８年度九大規則第２３号）
この規則は、平成２８年１０月１日から施行する。
附 則（平成２８年度九大規則第７０号）
この規則は、平成２９年１月１日から施行する。
附 則（平成２８年度九大規則第９７号）
この規則は、平成２９年４月１日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第２号）
この規則は、平成２９年６月１日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第１１号）
この規則は、平成２９年１０月１日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第４１号）
この規則は、平成３０年１月１日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第４９号）
この規則は、平成３０年１月２４日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第６６号）
この規則は、平成３０年４月１日から施行する。
附 則（平成２９年度九大規則第８１号）
この規則は、平成３０年４月１日から施行する。
附 則（平成３０年度九大規則第１３号）
この規則は、平成３０年７月１日から施行し、平成３０年４月１日から適用する。
附 則（平成３０年度九大規則第１９号）
この規則は、平成３０年８月２日から施行する。ただし、別表１、別表２及び別表３の味覚・嗅覚センサ研究開発センターに係る改正規定は、平成３０年１１月１日から施行する。
附 則（平成３０年度九大規則第２３号）
この規則は、平成３０年１０月１日から施行する。
附 則（平成３０年度九大規則第４５号）
この規則は、平成３０年１２月１日から施行する。
附 則（平成３０年度九大規則第６７号）
この規則は、平成３１年４月１日から施行する。
附 則（令和元年度九大規則第５号）
この規則は、令和元年１０月１日から施行する。
附 則（令和元年度九大規則第２０号）
この規則は、令和元年１１月１日から施行する。
附 則（令和元年度九大規則第２８号）
この規則は、令和２年４月１日から施行する。
附 則（令和２年度九大規則第１号）
この規則は、令和２年７月１日から施行する。
附 則（令和２年度九大規則第４９号）
この規則は、令和３年４月１日から施行する。

附 則（令和３年度九大規則第４号）
この規則は、令和３年５月１日から施行する。
附 則（令和３年度九大規則第３７号）
この規則は、令和３年７月３０日から施行する。
附 則（令和３年度九大規則第７９号）
この規則は、令和４年４月１日から施行する。
附 則（令和４年度九大規則第２号）
この規則は、令和４年５月１日から施行する。
- 40 -

附 則（令和４年度九大規則第１１号）
この規則は、令和４年９月１日から施行する。
附 則（令和４年度九大規則第３１号）
この規則は、令和５年４月１日から施行する。
附 則（令和５年度九大規則第７号）
この規則は、令和５年１０月１日から施行する。
附 則（令和５年度九大規則第３８号）
この規則は、令和６年４月１日から施行する。
別表１（１）主に教育又は研究活動を支援（学則第１３条第１項第１号関係）
センター名
目的
業務
中央分析センター
本学において教育研究に従 (1) 大型高性能分析装置及び測定装置の共同利用に事する者のために教育研究 関すること。
上必要な分析及び試料作成 (2) 各種分析及び測定を行い、データを提供するこ等を行うことにより、本学の と。
教育研究の進展に資するこ (3) 大型試料作成装置による研究用特殊試料の作成と。
を行うこと。
(4) 各種分析、測定及び試料作成に関する教育研究及び広報に関すること。
別表２
センターの機能
センター名
最も関連する部局
主に教育又は研 中央分析センタ 総合理工学研究院
究活動を支援ー
工学研究院
先導物質化学研究所
別表３
センター名運営委員会等の名称 運営委員会等の構成員
中央分析センターセンター委員会(1) センター長及び伊都分室の室長(2) 副センター長を置いた場合は、その副センター長(3) 工学研究院長及び総合理工学研究院長(4) 理学研究院、工学研究院及び農学研究院の教授のうちから選ばれた者 各２人(5) 比較社会文化研究院、医学研究院、歯学研究院、薬学研
究院、芸術工学研究院、システム情報科学研究院、総合理工学研究院、応用力学研究所及び先導物質化学研究所の教授のうちから選ばれた者 各１人(6) 工学部等事務部長及び筑紫地区事務部長
別表４
センター名
担当する事務組織
中央分析センター
筑紫地区事務部及び工学部等事務部- 41 -

九州大学中央分析センター利用規程
平成１８年度九大規程第５６号
制定：平成１９年４月１日
最終改正：令和６年３月２１日(令和５年度九大規程第７２号)（趣旨）
第１条この規程は、九州大学学内共同教育研究センター規則（平成２６年度九大規則第９２号）第１５条第４項の規定に基づき、中央分析センター（以下「センター」という。）の利用に関し必要な事項を定めるものとする。
（利用の手続）第２条センターの設備の使用を希望する者及び試料の分析等の依頼を希望する者は、所定の申込書によりセンター長に申請し、その許可を得なければならない。
（液体窒素の使用）第３条センターが供給する液体窒素を使用できる者は、次の各号のいずれかに該当するものとする。
(1) 九州大学（以下「本学」という。）の教職員(2) 本学の学生であって、液体窒素の使用について指導教員の承認を得ているもの(3) その他センター長が特に必要と認めた者（液体窒素の供給）第４条液体窒素を使用しようとする者は、センターにて自ら液体窒素の供給を受けるものとする。
（液体窒素の供給時間）
第５条液体窒素の供給は、月曜日から金曜日（休日を除く。）の午前９時から午後５時までに行う。
（設備の使用者の義務）
第６条設備の使用者（以下「使用者」という。）は、センターの利用心得及び職員の指示に従い、善良なる管理者の注意をもって設備を使用しなければならない。
２ 液体窒素を使用する者は、前項のほか、関係法令及び本学の諸規則等を遵守し、適正に使用しなければならない。
（損害賠償）
第７条使用者が、その責めに帰すべき事由により、施設の設備、備品等を滅失、破損又は汚損したときは、
これを原状に回復し、又はその損害を賠償しなければならない。
（利用料）
第８条使用者及び試料の分析等の依頼者は、設備の利用に要する利用料を納付するものとし、その額は別表のとおりとする。
２ 液体窒素の利用料は、１リットルあたり１００円とする。
３ 第２項に規定する利用料は、経費の振替又は九州大学が指定する口座への振込により、所定の期日までに支払わなければならない。
４ 前３項の規定にかかわらず、総長が特に必要と認めるときは、利用料の全部又は一部を免除することができる。
５ 既納の利用料は、原則として返還しない。
（雑則）
第９条この規程に定めるもののほか、センターの利用等に関し必要な事項は、センター長が別に定める。
附則
この規程は、平成１９年４月１日から施行する。
附則（平成１９年度九大規程第４９号）
この規程は、平成２０年４月１日から施行する。
附則（平成２０年度九大規程第１０６号）
この規程は、平成２１年４月１日から施行する。
附則（平成２１年度九大規程第７号）
この規程は、平成２１年６月１日から施行する。
附則（平成２１年度九大規程第２２号）
この規程は、平成２１年７月１日から施行する。
附則（平成２１年度九大規程第３７号）
この規程は、平成２１年９月１日から施行する。
附則（平成２１年度九大規程第６６号）
この規程は、平成２１年１１月１日から施行する。
附則（平成２１年度九大規程第１０２号）
この規程は、平成２２年４月１日から施行する。

- 42 -

附則（平成２２年度九大規程第２１号）
この規程は、平成２２年７月１日から施行する。
附則（平成２２年度九大規程第２５号）
この規程は、平成２２年８月１日から施行する。
附則（平成２２年度九大規程第６２号）
この規程は、平成２２年１０月１日から施行する。
附則（平成２２年度九大規程第１０１号）
この規程は、平成２２年１２月１日から施行する。
附則（平成２２年度九大規程第１１７号）
この規程は、平成２３年１月１６日から施行する。
附則（平成２２年度九大規程第１９１号）
この規程は、平成２３年４月１日から施行する。
附則（平成２３年度九大規程第１５号）
この規程は、平成２３年６月１日から施行する。
附則（平成２３年度九大規程第２５号）
この規程は、平成２３年８月１日から施行する。
附則（平成２３年度九大規程第７７号）
この規程は、平成２３年１２月１日から施行する。
附則（平成２３年度九大規程第１０９号）
この規程は、平成２４年４月１日から施行する。
附則（平成２４年度九大規程第６７号）
この規程は、平成２５年３月１日から施行する。
附則（平成２５年度九大規程第４号）
この規程は、平成２５年５月１日から施行する。
附則（平成２５年度九大規程第５５号）
この規程は、平成２５年１２月１日から施行する。
附則（平成２５年度九大規程第１２５号）
この規程は、平成２６年４月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第１号）
この規程は、平成２６年５月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第５号）
この規程は、平成２６年６月１６日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第９号）
この規程は、平成２６年８月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第６３号）
この規程は、平成２６年１２月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第８８号）
この規程は、平成２７年２月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第９５号）
この規程は、平成２７年４月１日から施行する。
附則（平成２６年度九大規程第１１４号）
この規程は、平成２７年４月１日から施行する。
附則（平成２７年度九大規程第１号）
この規程は、平成２７年４月２７日から施行する。
附則（平成２７年度九大規程第３３号）
この規程は、平成２７年１１月１日から施行する。
附則（平成２７年度九大規程第５５号）
この規程は、平成２８年１月１８日から施行する。
附則（平成２７年度九大規程第６６号）
この規程は、平成２８年２月２６日から施行する。
附則（平成２７年度九大規程第９９号）
この規程は、平成２８年３月３１日から施行する。
附則（平成２８年度九大規程第５号）
この規程は、平成２８年６月１日から施行する。
附則（平成２８年度九大規程第６２号）
この規程は、平成２９年１月１日から施行する。

- 43 -

附則（平成２８年度九大規程第１２３号）
この規程は、平成２９年４月１日から施行する。
附則（平成２９年度九大規程第５号）
この規程は、平成２９年５月１日から施行する。
附則（平成２９年度九大規程第１７号）
この規程は、平成２９年７月１日から施行する。
附則（平成２９年度九大規程第１９号）
この規程は、平成２９年７月４日から施行する。
附則（平成２９年度九大規程第５４号）
この規程は、平成２９年１１月２４日から施行する。
附則（平成２９年度九大規程第５７号）
この規程は、平成２９年１２月１９日から施行する。
附則（平成３０年度九大規程第６号）
この規程は、平成３０年６月１日から施行する。
附則（平成３０年度九大規程第２９号）
この規程は、平成３０年９月１２日から施行する。
附則（平成３０年度九大規程第７２号）
この規程は、平成３０年１１月２２日から施行する。
附則（平成３０年度九大規程第１０５号）
この規程は、平成３１年３月１日から施行する。
附則（平成３１年度九大規程第２号）
この規程は、令和元年５月１日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第１１号）
この規程は、令和元年７月１日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第４０号）
この規程は、令和元年９月３日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第８２号）
この規程は、令和元年１０月１日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第１０５号）
この規程は、令和２年１月１日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第１３０号）
この規程は、令和２年４月１日から施行する。
附則（令和２年度九大規程第２３号）
この規程は、令和２年９月１６日から施行する。
附則（令和２年度九大規程第３３号）
この規程は、令和２年１２月３日から施行する。
附則（令和元年度九大規程第７４号）
この規程は、令和３年４月１日から施行する。
附則（令和３年度九大規程第８４号）
この規程は、令和３年１０月１日から施行する。
附則（令和３年度九大規程第１０３号）
この規程は、令和４年３月７日から施行する。
附則（令和４年度九大規程第８号）
この規程は、令和４年６月１日から施行する。
附則（令和４年度九大規程第２０号）
この規程は、令和４年８月１日から施行する。
附則（令和４年度九大規程第３０号）
この規程は、令和４年１０月１日から施行する。
附則（令和４年度九大規程第３９号）
この規程は、令和４年１２月２０日から施行する。
附則（令和４年度九大規程第７１号）
この規程は、令和５年４月１日から施行する。
附則（令和５年度九大規程第１１号）
この規程は、令和５年６月２６日から施行する。
附則（令和５年度九大規程第５６号）
この規程は、令和６年１月３１日から施行する。

- 44 -

附則（令和５年度九大規程第７２号）
この規程は、令和６年４月１日から施行する。
別表（第８条第１項関係）
１．１件当たりの利用料を設定する設備
管理部局
総合理工
学研究院
先導物質
化学研究
所
生体防御
医学研究
所

設備の設
置場所

設

備

利用料（円／件）
本学が管理する経費
左記以外の経費からから支出される場合支出される場合
（ ※ ）
７，１００
７，１００
２１，０００２１，０００
８，５００
８，５００

名

筑紫地区

Ｘ線回折計(RINT2200)
蛍光Ｘ線分析装置(ZSX-mini)
レーザーラマン分光装置(Nanofinder 30)

筑紫地区

電子スピン共鳴装置(JES-FA200)

病院地区

次世代シーケンサー（ NovaSeq6000 ）

１，９００
S1

１，９００

100 塩基200 塩基300 塩基100 塩基200 塩基300 塩基200 塩基300 塩基100 塩基200 塩基300 塩基500 塩基

６５６，０００
６８９，０００
８２３，０００
８５７，０００
８９０，０００
９２４，０００
S2
１，２２５，０００ １，２５８，０００
１，５１８，０００ １，５５１，０００
１，６１８，０００ １，６５２，０００
S4
２，１７５，０００ ２，２０８，０００
２，４２２，０００ ２，４５５，０００
SP
３６３，０００
３９６，０００
４７２，０００
５０５，０００
５１４，０００
５４７，０００
７１５，０００
７４８，０００
Chromium コントローラー
４，０００
４，０００
回折装置 バイオアナライザー
７８０
７８０（※）中央分析センターが管理部局となっている設備については、試料の分析等の依頼者が九州 ・山口地区機器 ・分
析ネットワークの構成機関に所属する者である場合は、本学が管理する経費から支出される場合の利用料とすることができる 。

２．１時間当たりの利用料を設定する設備

管理部局

中央分析
センター

設備の設
置場所
筑紫地区

伊都地区

設

備

名

超高感度示差走査熱量計( DSC6100 )高感度示差走査熱量計( DSC6220 )
環境制御型走査型プローブ顕微鏡 ( Agilent5500 )フーリエ変換赤外分光光度計 ( FIR4200&IRT5000 )電界放出型走査電子顕微鏡（ JSM-6701F)
Ｘ線回折装置（ SmartLabSE）
透過型電子顕微鏡（ H-7650 ）
電子線３次元粗さ解析装置( ERA8900 )電界放出型走査型電子顕微鏡(JSM-IT800SHL)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(SU8000)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
フラットミリング装置(IM-3000)
イオンミリング装置(E-3500)
カーボンコータ(SC-701C)
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
3D 測定レーザー顕微鏡（OLS4500）
全自動水平型多目的 X 線回折装置（ SmartLab）- 45 -

利用料（円／時間）
本学が管理す左記以外の経る経費から支費から支出さ出される場合
れる場合
（※１）
１，７００
１，７００
１，６００
１，６００
２，４００
２，６００
４，３００
４，６００
２，５００
３，７００
２，９００
５，１００
１，８００
１，８００
１，４００
３，９００
３，３００
８，４００
４，３００
４，６００
９３０
９３０
９２０
９２０
５，８００
１４，０００
３，９００
７，６００
３，７００
１３，０００
１，５００
２，１００
１，５００
２，１００
２，１００
２，３００
３，１００
５，１００
６，５００
９，６００
２，５００
３，３００
３，０００
５，５００

工学研究
院

総合理工
学研究院
農学研究
院

伊都地区

熱分析装置（ EXSTAR7000 ）
自動薄膜計測装置（ Auto SE-UK）
高分解能 3 次元 X 線 CT システム（ SKYSCAN1172 ）エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置（EDX-7000）
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
低真空高感度走査電子顕微鏡( SU3500 )イオンスパッタ（ MC1000 )
オスミウムコータ（ HPC-1SW)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400S)
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500)
デスクトップＸ線回折装置（ MiniFlex600-C )フーリエ変換赤外分光光度計 （ FT/IR-4700 )高分解能卓上型マイクロ CT システム(SKYSCAN1272)
示差熱熱重量同時測定装置(NEXTA STA300)
高温型示差走査熱量計(DSC404)
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)
原子吸光分光光度計(AA-7000)
UV-Vis-NIR 分光光度計
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
近赤外蛍光分光装置(NanoLOG-EXT)
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
ショットキー走査電子顕微鏡(SU5000)
攪拌混合造粒機バーチカルグラニュレータ
整粒・微粉砕ラボシステム
卓上型テストコーター ミニラボ
卓上型混練機
オールインワン蛍光顕微鏡( BZ-X800 )フローサイトメーター（ CytoFLEX S）
ガス吸着装置
小角 X 線散乱装置
単結晶 X 線解析装置
CCD マルチ ICP 発光分光分析装置
ゼータ電位／粒径測定システム
マイクロ構造観察電子顕微鏡システム
高速レーザーラマン顕微鏡
触媒活性表面測定システム
中赤外・遠赤外吸収測定装置
超 高 速 HPLC 分離・分子構造分析システ ム
超高分解能走査電子顕微鏡
電子状態測定システム
透過型電子顕微鏡システム
MALDI-TOF MS 質量分析装置

筑紫地区

宇宙空間模擬装置

伊都地区
（※２）

高速液体クロマトグラフ質量分析計 ( LCMS-IT-TOF)
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置 ( AXIMA-Performance )セルアナライザー Sony EC800
セルソーター Sony SH800（※３）
共焦点・超解像顕微鏡 TCS SP8 STED（※４）
次世代シーケンサー MiSeq（※５）
高速液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS-8050)
ガスクロマトグラフ（ GC-2014AFsc）
顕微蛍光セルマニピュレーター（IX73-NK2-vario）（※４）（※６）
核磁気共鳴装置（ JNM-ECS400 ）走査型電子顕微鏡システム( SU3500 )デジタルマイクロスコープ（ VHX-6000 ）凍結切片作製装置( CryoStar NX70 )- 46 -

２，４００
１，３００
２，７００
３，２００
３，６００
１，９００
２，１００
１，９００
３，２００
１，４００
２，０００
２，０００
１，１００
４，６００
１，８００
６，８００
５５０
２，９００
６，４００
６１０
２，３００
２，０００
１，１００
２，３００
３，５００
３，５００
３，２００
３，２００
３，７００
６６０
２，５００
４ １０
９ ９ ０
８ ７ ０
２，８００
１，１００
３，０００
２，０００
４００
６９０
１，９００
１，６００
２，８００
８９０
２，３００

４，０００
２，６００
６，５００
４，６００
５，５００

５５０

１，１００

１，３００
１，２００
１，９００
１，８００
１，６００
２６０
１，６００
４６０
２００
１，３００
１，４００
１，１００
３００

１，３００
１，２００
２，７００
４，７００

４，０００
２，０００
３，６００
３，４００
２，６００
１，３００
７，１００
２，４００
９，３００
５５０
２，９００
１，９００
２，３００

５，１００
３，８００
３，６００
３，７００
４，６００
１，３００

１，６００
４６０
２００
１，３００
１，４００
１，１００
９５０

先導物質化 筑紫地区
学研究所
伊都地区

回転式ミクロトーム ( HistoCore AUTOCUT R)
誘導結合プラズマ発光分光分析計(Agilent5800 ICP-OES)
核磁気共鳴装置（ECA 800）

２１０
４，６００
２，２００

７００
６，０００
２，２００

二波長線源型高分解能単結晶X線構造解析装置

６，２００

７，６００

走査電子顕微鏡( JSM-IT700HR )

２，４００

４，０００

超高感度測定用ＮＭＲ装置（AVANCE Ⅲ 600）

８５０

８５０

飛行時間型質量分析計（ JSM‒T100CS ）

３７０

３７０

マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置) (ULVAC-PHI APEX ESCA)
X( 線光電子分光分析装置

４００

４００

９４０

９４０

二光子共焦点レーザー顕微鏡 (Carl Zeiss LSM 510 Meta NLO)
先端素粒子 伊都地区
物理研究セ
ンター
生体防御
病院地区
医学研究
所

比較社会
伊都地区
文化研究
院
人間環境学 伊都地区
研究院

６５０

６５０

シリコン検出器製造装置 （※７）

５，２００

５，２００

高性能透過型電子顕微鏡 FEI Tecnai Polara （※８）（※）
凍結切片作製装置
クリオスタット

３，５００

３，５００

FACSVerse フローサイトメーター

１，８００

１，８００

細胞単離解析システム( FACSMelody )

３，０００

４，０００

デスクトップＸ線回折装置 MiniFlex600

２，２００

２，２００

万能試験機（ UH-2000kNXR )

２，４００

３，１００

万能試験機（ UH-500kNX )

３００

１，８００

２，４００

大型構造物試験機

１５，０００

１９，０００振動台

１１，０００

１４，０００

汎用アクチュエータ

１１，０００

１５，０００

備考（※1）中央分析センターが管理部局となっている設備については、試料の分析等の依頼者が九州・山口地区機器・分析ネットワークの構成機関に所属する者である場合は、本学が管理する経費から支出される場合の利用料とすることができる 。
（※2）技術補助が必要な場合は、1 時間当たり 3,900 円を加算する。
（※3）ソーティングチップを使用する場合は、1 枚当たり 3,000 円を加算する。
（※4）チャンバーを使用する場合は、1 個当たり 880 円を加算する。
（※5）ライブラリ調整時に各種消耗品を使用する場合は、以下に定める額を加算する。
・ライブラリ調整試薬：1 回当たり 6,200 円
・ライブラリ調整オプション試薬：1 回当たり 770 円
・クオリティチェック試薬：1 回当たり 4,000 円（※6）削除（※7）機器の操作説明が必要な場合は、1 時間当たり 3,300 円を加算する。
（※8）学外利用者の場合、準備料として 1 回当たり 5,500 円を加算する。
３．次の設備を使用する試料の分析等を依頼する場合
管理部局
中央分析
センター

設備の設
置場所
筑紫地区
伊都地区

設

備

名

X 線光電子分光分析装置(AXIS-165)
電界放出型走査電子顕微鏡(JSM-IT800HL)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(SU8000)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
カーボンコータ(SC-701C)
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
3D 測定レーザー顕微鏡(OLS4500)
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)- 47 -

利用料（円／件）
本学が管理する経費
左記以外の経費からから支出される場合支出される場合（※１）
２３，０００２８，０００
５，５００
９，４００
８，４００
８，４００
１，４００
１，４００
６，１００
６，１００
２１，０００３３，０００２３，０００２８，０００
１８，０００２５，０００２，７００
２，７００
１７，０００２０，０００
１２，０００
１２，０００
１３，０００
１４，０００
１５，０００
１７，０００

比較社会
文化研究
院

伊都地区

工学研究
院

伊都地区

農学研究
院

伊都地区

応用力学
研究所

筑紫地区

先導物質
化学研究
所

筑紫地区

病院地区

熱分析装置（ EXSTAR7000 ）
自動薄膜計測装置（ Auto SE-UK）
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置（EDX-7000）
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
超伝導核磁気共鳴吸収装置 (JNM-ECX500)
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
イオンスパッタ（ MC1000 )
オスミウムコータ（ HPC-1SW)
超伝導核磁気共鳴吸収装置 (JNM-ECZ400S)
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500)
デスクトップＸ線回折装置(MiniFlex600-C)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-4700)
高分解能卓上型マイクロ CT システム(SKYSCAN1272)
高分解能重元素質量分析システム
フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ( JXA-8530 Ｆ)
レーザーアブレーション ICP-MS
軽元素同位体分析システム ( MAT 253 )レーザーラマン分光光度計 (NRS-3100KK)（※２）
攪拌混合造粒機バーチカルグラニュレータ
整粒・微粉砕ラボシステム
卓上型テストコーター ミニラボ
卓上型混練機高速液体クロマトグラフ質量分析計 ( LCMS-IT-TOF)
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-Performance)
高速液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS-8050)
ガスクロマトグラフ（ GC-2014AFsc）
核磁気共鳴装置（ JNM-ECS400 ）走査型電子顕微鏡システム( SU3500 )デジタルマイクロスコープ（ VHX-6000 ）誘プラズマ発光分光分析計(Agilent 5800 ICP-OES )重イオン照射システム
放射性物質対応型強磁性材料ナノクラスター評価システム（JEM-ARM200CF）
飛行時型質量分析計(JMS-T100CS)
二重収束質量分析計(JMS-700)
固体超伝導核磁気共鳴装置 (JNM-ECA400)
超伝導核磁気共鳴装置(JNM-ECA600)
電子スピン共鳴装置(JES-FA200)
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
質量分析装置（ JMS-S3000 ）超強力単結晶構造解析システム（ FR-E+）
高輝度広角 X 線回折システム薄膜解析部（RINT-TTR III）
高輝度広角 X 線回折システム熱量同時評価部（SmartLab）
高分解能小角散乱装置（ NANOSTAR ）超伝導核磁気共鳴装置(JNM-ECZ400)
デジタルマイクロスコープ（VHX-900F）
核磁気共鳴装置（ECA 800）（※３）
二波長線源型高分解能単結晶 X 線構造解析装置
固液共用核磁気共鳴装置( JNM-ECX400)（ ※３）

液体・ガス測定
固体測定

走査電子顕微鏡 (JSM-IT700HR)
（ ※２）
伊都地区

超高感度測定用ＮＭＲ装置（AVANCE Ⅲ- 48 -

600）

１５，０００６，６００
３４，０００５，７００
１２，０００
１３，０００
９，３００
３，０００
３，１００
６，５００
８，３００
８，８００
５，７００
４６，０００
１１８，０００

１９，０００７，９００
５６，０００６，１００
１３，０００
１５，０００
１２，０００３，１００
３，１００
８ ，８００１０，０００９，５００
５，８００
５５，０００
１２５，０００

１０５，０００

１０５，０００

９４，０００９９，０００５，０００
１１，０００６，５００
８，３００
２８，０００
１１，０００９４，０００
２６５，０００
５，０００
１１，０００６，９００
９，０００
３２，００ ０
１１，０００

２，４００

２，４００

８，４００
３，０００
５，６００
５，３００
５，０００
１，４００
２３４，０００

８，４００
３，０００
５，６００
５，３００
５，０００
１，９００
２３４，０００

２１１，０００

３９５，０００

３，２００
４，６００
２３，０００
７，９００
４，５００

３，２００
４，６００
２３，０００
７，９００
４，５００

３，１００

３，６００

４２，０００２０，０００２８，０００３４，０００２，３００
８９０
３９，０００（ ２，２００）
３０，０００

１３４，０００
２４，０００４２，０００８５，０００３，５００
１，１００
４６，０００（ ２，６００）
３３，０００

１，６００（ ５４０）
７，９００（ １，０００）

２，０００（ ６９０）
１１，０００（ １，３００）

４，５００

６ ，４００

７，０００

７，０００

高分解能二重収束質量分析装置（JMS-700）
４，７００
８，５００
飛行時間型質量分析計（JSM‒T100CS）
１，９００
１，９００
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
１，６００
１，６００
質量分析装置(Bruker Autoflex Ⅱ)
X 線光電子分光分析装置 ( ULVAC-PHI APEX ESCA )２３，０００２３，０００
二光子共焦点レーザー顕微鏡
１１，０００
１１，０００(Carl Zeiss LSM 510 Meta NLO)
生体防御
病院地区 次世代シーケン サー
S1 100 塩基
６６１，０００
６９４，０００
医学研究（ NovaSeq6000 ）200 塩基
８２８，０００
８６２，０００所
300 塩基
８９５，０００
９２８，０００S2 100 塩基
１，２３０，０００ １，２６３，０００200 塩基１，５２３，０００ １，５５６，０００300 塩基
１，６２３，０００ １，６５６，０００
S4 200 塩基
２，１８０，０００ ２，２１３，０００300 塩基２，４２６，０００ ２，４６０，０００
SP 100 塩基
３６８，０００
４０１，０００200 塩基
４７７，０００
５１０，０００300 塩基
５１８，０００
５５２，０００500 塩基
７１９，０００
７５３，０００
高性能透過型電子顕微鏡 FEI Tecnai Polara（※２）
３，５００
５，５００
汎用透過型電子顕微鏡 FEI Tecnai20（※２）
１，５００
３，５００
（※1）中央分析センターが管理部局となっている設備については、試料の分析等の依頼者が九州 ・山口地区機器 ・分析ネットワークの構成機関に所属する者である場合は、本学が管理する経費から支出される場合の利用料とすることができる 。
（※2）1 時間当たりの利用料（※3）（ ）内の額に使用する時間数を乗じた額を加算する。

- 49 -

中央分析センター防災心得（平成２年６月３０日 中央分析センター運営委員会決定）
中央分析センター（以下「センター」という。
）に所属する者並びにセンターにおいて実験あるいは測定を行う者（学生及び研究生を含む。
）は、センター建物内において次の事項を遵守しなければならない。
１．一般的心得（１）入退出時には、事務室前の名標板の自己の名札を点検し、センター建物内での在・不在を明示しておくこと。
（２）退出時及び長時間不在にする場合には、電源スイッチを切り、ガス及び水道の元栓を締める等の処置を行い、戸締りと火気の安全を確認すること。
（３）平日午後５時以後（土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日）にセンター建物内に在室する者は、センター責任者並びに利用責任者の承認を得た上で、別記様式の「時間外在室届」を同日午後３時（土曜日、休日の場合は前日の提出期限時刻）までにセンター事務室に提出すること。ただし、止むを得ない理由のために定刻までに責任者の承認が得られない場合には、承認が得られ次第できるだけ速やかに警務員に直接提出すること。
（４）時間外在室中に実験室、研究室を一時不在にする場合には、出入口扉に行き先を明示し、施錠すること。
（５）消火器具、消火栓、火災報知機、非常電話、避難器具の設置場所を確認しておくと共に、これらの操作法についても熟知しておくこと。
（６）特に指定された場所以外では喫煙しないこと。また、指定された場所における吸い殻、マッチ等の火気の後始末を確実に行うこと。
（７）センター建物内においては、事故発生時に迅速に避難ができるような適切な服装と履物を着用すること。
２．研究実験従事者の心得（１）研究実験における事故防止並びに、建物の効率的使用を図るため、常に実験台上、研究室内外の整理及び整頓に努めること。
（２）大量の有機溶媒等の引火性物質、劇毒物や爆発性物質等の危険薬品、揮発性の悪臭物質、刺激性物質等を使用する場合には、前以てセンター職員の承認を得た上で使用すること。また、同室者にもその使用を周知させること。
（３）危険物質あるいは有害物質を取り扱う実験においては使用に先立って、次項に示すような想定される事
故の対策及び処置を検討し、必要な薬品、器具等を準備しておくこと。
（イ）引火性物質に対する消火方法。
（ロ）劇毒物に対する除害・洗浄方法。
（ハ）揮発性の悪臭および刺激性物質に対する洗気・除害方法。
（４）危険薬品等は、適切な危険物保管専用容器を用意してその中に安全に保管し、使用する場合には実験に必要な量だけを取り出すこと。
（５）揮発性の悪臭物質あるいは刺激性物質を発生する実験においては、次の事項を遵守すること。
（イ）ドラフト設備内で行ない、密閉型実験装置を使用すること。
（ロ）実験装置から排出される悪臭又は刺激性物質は適切な洗気・除害装置を通して実験装置外に導くこと。
- 50 -

（６）有害物質を含む有機および無機実験廃液は、九州大学排出水および廃棄物処理規則・細則に従って逐次処理すること。大量の実験廃液を実験室内に貯溜しないこと。
（７）危険を伴う実験を行なう場合には二人以上で行なうこと。
（８）終夜無人運転を行なう場合には、実験室出入り口扉にその旨を表示し、連絡先（電話番号）、運転中の装置及びその実験内容を併記すること。
（９）高圧ガス容器を使用または保管する場合には、転倒を防ぐ適切な措置を講じること。
（１０）実験用電気配線には、使用電力に充分耐える性能の電線を使用し、必要な場合には過電流防止のためのブレーカーをつけること。
（１１）放射性同位体元素等を使用する場合には、九州大学放射線障害予防規則等の関連規則を順守すること。
（１２）危険薬品を取り扱う実験に際しては、上記（1）～（11）項の注意事項に加えて次の事項を遵守すること。
（イ）実験中は必ず防災眼鏡を着用すること。
（ロ）金属ナトリウム、カリウム、有機金属化合物等の禁注水性試薬は、使用後必ず適切な専用容器に安全に保管すること。
（ハ）引火性の低沸点物質の取扱い並びに冷蔵庫等の密閉室中での保存には特別の注意を払い、防災に努めること。
（ニ）ドラフト設備内でのガス栓、水道管、及び電気配線の腐食に対する保守に不断の注意を払うこと。
（１３）高電圧、高電流、高圧、高温度、極低温等を伴う装置、レーザー光源、重量物等を取り扱う実験、大型実験装置の組み立て及び工作作業等を行う場合には、上記（1）～（11）項の注意事項に加えて、次の事項を遵守すること。
（イ）大型実験装置の組み立て、重量物を取り扱う場合等には、安全靴とヘルメットを着用し、安全に留意すること。
（ロ）水銀灯、レーザー光源等の強力な光線を取り扱う実験においては、遮光眼鏡を着用すること。
３．実 施
この心得は、平成２年６月３０日から実施する。

- 51 -

別記： 時間外在室様式

中央分析センター時間外在室届センター責任者 氏名・職

印

氏名・職

印

利用責任者

連 絡 先

電話番号（

－

）
・内線（

）

所 属
在室者氏名

所属・身分

内線（

在 室 年 月 日・時 間
月

日（

曜日）

時

分

月

日（

曜日）

時

分

～

）

装 置 名

室 名

注 意：
１．平日午後 5 時以降（土、日曜日、祝祭日等の休日は終日）にセンター建物内に在室する者は、センター責任者及び利用責任者の承認を得た上で、「時間外在室届」を午後 3 時（休日の場合は前日の提出期限時刻）までにセンター事務室に提出すること。
２．事務室備え付けの時間外在室ノートに必要事項を記入し、部屋の鍵を借り受けること。鍵は時間外在室終了後、所定の場所に返却すること。
３．止むを得ない理由のために定刻までに責任者の承認が得られない場合には、承認を取り次第できるだけ速やかに警備員に直接提出すること。
４．時間外在室中は、利用責任者が使用室及び装置の管理の責任を負うこと。
５．センター責任者が不在の場合には、助教授、講師、助手が代わって時間外在室の要否を判断し、承認印を捺印すること。
以上- 52 -

中央分析センター伊都分室防災心得（平成 2 年 10 月 25 日 中央分析センター工学分室委員会決定）
中央分析センター（伊都分室）（以下「伊都分室」という。
）に所属する者並びに伊都分室を利用する者（学生及び研究生を含む）は、伊都分室測定室において次の事項を遵守しなければならない。
1． 一般的心得(1) 機器使用時は、測定室出入口扉の札で在・不在を明示しておくこと。
(2) 退出時及び長時間不在にする場合には、所定の電源スイッチを切り、戸締まりと火気の安全を確認すること。
(3) 平日午後 5 時以後（土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日）に伊都分室測定室に在室する者は、伊都分室責任者
並びに利用責任者の承認を得た上で、別記様式の「時間外在室届」を同日午後 3 時（土曜日、日曜日、祝祭日の場合は前日の提出期限時刻）までに伊都分室事務室に提出すること。
(4) 時間外在室中に測定室を一時不在にする場合には、必ず施錠すること。
(5) 消火器具、消火栓、火災報知器、非常電話、避難器具の設置場所を確認しておくと共に、これらの操作法についても熟知しておくこと。
(6) 測定室内（廊下も含める）では絶対に喫煙しないこと。
(7) 伊都分室測定室内においては、事故発生時に迅速な避難ができるように安全な履物を着用すること。
2． 機器利用者の心得(1) 機器利用における事故防止並びに測定室の効率的使用を図るため、常に実験台上、測定室内外の整理及び整頓に努めること。
(2) 引火性物質、劇毒物や爆発性物質等の危険薬品、揮発性の悪臭物質、刺激性物質等を使用せざるを得ない場合には、前もって伊都分室職員の承認を得た上で使用すること。また、同室者にもその使用を周知させること。
(3) 揮発性の悪臭物質あるいは刺激性物質を発生する可能性のある試料の測定は避けること。また、やむを得ずそのよ
うな試料を測定室内において使用する場合は、悪臭物質あるいは刺激性物質が室内に漏れ出さない状態に保つこと。
(4) 危険物質あるいは有害物質を取り扱う実験においては、使用に先立って次項に示すような想定される事故の対策及び処置を検討し、必要な薬品、器具等を準備しておくこと。
① 引火性物質に対する消火法。
② 劇毒物に対する除害・洗浄法。
③ 揮発性の悪臭及び刺激性物質に対する洗気・除害方法。
(5) 測定室内に持ち込む危険薬品等は必要最低限にし、測定終了後は直ちに持ち帰ること。
(6) 有害物質を含む有機及び無機廃液は、必ず持ち帰って処理すること。
(7) 時間外測定並びに無人運転を行う場合には、測定室出入口扉にその旨を表示し、「時間外在室届」を提出すること（別記「時間外在室届」提出の際の注意事項参照）。
(8) 高圧ガス容器を使用又は保管する場合には、転倒を防ぐ適切な措置を講じること。
(9) 実験用電気配線には、使用電力に充分耐える性能の電線を使用し、必要な場合には漏電防止のためのブレーカを付けること。
(10) 国際規制物資を使用する場合には、伊都分室職員に連絡し、必要な指示を受けること。
(11) 危険薬品を取り扱う実験に際しては、上記(1)～(10)項の注意事項に加えて、次の事項を遵守すること。
① 測定中は必ず防災眼鏡を着用すること。
② 金属ナトリウム、カリウム、有機金属化合物等の禁注水性試薬は、使用後必ず適切な専用容器に安全に保管すること。
③ 引火性の低沸点物質の取扱い並びに冷蔵庫等の密閉室中での保存には特別の注意を払い、防災に努めること。
④ ドラフト設備内でのガス栓、水道管、及び電気配線の腐食に対する保守に不断の注意を払うこと。
(12) 高電圧、高電流、高圧、高温度、極低温等を伴う装置、レーザー光源、重量物等を取り扱う実験、大型実験装置の組み立て及び工作作業等を行う場合には、上記(1)～(11)項の注意事項に加えて、次の事項を遵守すること。
① 大型実験装置の組み立て、重量物を取り扱う場合等には、安全靴とヘルメットを着用し、安全に留意すること。
② 水銀灯、レーザー光源等の強力な光線を取り扱う実験においては、遮光眼鏡を着用すること。
3． 実 施この心得は、平成 2 年 10 月 25 日から実施する。
※「時間外在室届」提出上の注意① 平日午後 5 時以後（土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日）に伊都分室測定室に在室する者は、伊都分室責任者
並びに利用責任者の承認を得た上で、同日午後 5 時（土曜日、日曜日、祝祭日の場合は前日の提出期限時刻）までに伊都分室事務室に提出すること。
② 時間外在室届提出の際に測定室の鍵を借り受けること。なお、鍵は翌日の午前 11 時までに返却すること。
③ 時間外在室中は、利用責任者が使用室及び装置の管理の責任を負うこと。
④ 緊急時の連絡先は、夜間連絡が可能な電話番号（自宅等）を記入すること。

53