ＨＡＣＣＰ原則２：ＣＣＰ設定
食品安全危害を防ぐ（除去／許容レベルまで低減）ための重要管理点（CCP）を設定する方法を理解する。

質問

質問の内容

Y/N

農畜水産物に対する病原微生物

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

N原材料由来で殆どが残存している。
※１次処理後の原料は管理可能。

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Y

洗浄・殺菌・温度管理等で除去又は許容範囲内でコントロールが可能。

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

N

この工程では、特に除去する作業工程がない。

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Y

万一、後工程で予防措置を取らなければ製品に残存してしまう可能性がある。

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？

Y

通常は、洗浄・殺菌・温度管理等の工程で管理している。
※導入していなければ工程の見直しが必要である。

判 断

CP

後工程で除去又は管理する。

結果

CCP判断図で確認【原料受入】生物

質問

質問の内容

Y/N

農畜水産物に対する抗生物質や農薬等

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①出荷制限指示書 ②休薬証明書③残留検査データ ④生産履歴…等Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

承認供給者プログラムで管理する。

判 断

結果

CCP判断図で確認【原料受入】化学

質問

質問の内容

Y/N

農畜水産物に対する金属片

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

N

収穫/屠殺/活〆の使用器具の破損による残留はP.R.Pで管理できない。

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Y

磁石、金属探知機、X線検出器等により除去することが可能。

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

N

この工程では、特に除去する作業工程がない。

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Y

万一、後工程で予防措置を取らなければ製品に残存してしまう可能性がある。

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？

Y

通常は、磁石、金属探知機、X線検出器等の除去工程を導入している。
※導入していなければ工程の見直しが必要である。

判 断

CP後工程で除去する。

結果

CCP判断図で確認【原料受入】物理

質問

質問の内容

Y/N

洗浄剤の残留と安全性

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①器具類の洗浄・殺菌プログラム①承認供給者プログラム(M.S.D.S)

Q2特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

一般衛生管理プログラムで管理する。

判 断

結果

CCP判断図で確認【洗浄】化学

質問

質問の内容

Y/N

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①器具類の洗浄・殺菌プログラム②品質劣化防止プログラム

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

一般衛生管理プログラムで管理する。

判 断

結果

下処理や加工に対する病原微生物

CCP判断図で確認【加工】生物

質問

質問の内容

Y/N

洗浄剤の残留と安全性

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①器具類の洗浄・殺菌プログラム①承認供給者プログラム(M.S.D.S)

Q2特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

一般衛生管理プログラムで管理する。

判 断

結

果

CCP判断図で確認【加工】化学

質問

質問の内容

Y/N

下処理や加工に対する金属片

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

N

加工工程で使用する器具の破損による残留はP.R.Pで管理できない。

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Y

磁石、金属探知機、X線検出器等により除去することが可能。

Q3工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

N

この工程では、特に除去する作業工程がない。

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Y

万一、後工程で予防措置を取らなければ製品に残存してしまう可能性がある。

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？

Y

通常は、磁石、金属探知機、X線検出器等の除去工程を導入している。
※導入していなければ工程の見直しが必要である。

判 断

CP

後工程で除去する。

結果

CCP判断図で確認【加工】物理質問

質問の内容

Y/N

原料に対する病原微生物

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

N

加熱調理工程は、P.R.Pでは管理されていない。

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Y

特定した病原菌を死滅させるために必要な時間と温度で加熱調理する。

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Y

加熱調理工程は、病原微生物を死滅させるために特に設計した工程である。

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CCP除去する為に特に設定した工程である。

判 断結

果

CCP判断図で確認【調理】生物

質問

質問の内容

Y/N

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①承認供給者プログラム（M.S.D.Sの入手）Q2特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

承認供給者プログラムで管理する。

判 断

結

果

包装資材に対する化学物質の溶出CCP判断図で確認【包装】化学

質問

質問の内容

Y/N

原料に対する金属片

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

N

金属探知工程はP.R.Pで管理できない。

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Y

磁石、金属探知機、X線検出器等により除去することが可能。

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

N

金属探知工程は、金属片を除去するために特に設計された工程である。

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CCP除去する為に特に設定した工程である。

判 断

結

果

CCP判断図で確認【金探】物理

質問

質問の内容

Y/N

Q1

この危害は、P.R.Pで管理されているか？

Y①品質劣化防止プログラム（冷蔵庫の温度管理）

Q2

特定された危害に対する予防措置はあるか？

Q3

工程は発生し得る危害を除去又は許容範囲まで低下させる様、特に設計されているか？

Q4

汚染は発生するか又は許容範囲以上に拡大するか？

Q5

後工程は危害を除去、あるいは許容範囲まで低下させることができるか？
CP

品質劣化防止プログラムで管理する。

判 断

結

果

製品に対する病原微生物（耐熱芽胞）

CCP判断図で全工程を確認【保管】