分析機器 年表
1. ラボ用分析機器
1.1 電気化学分析装置
1.2 熱分析装置及び熱測定装置
1.3 光分析装置
1.4 クロマトグラフ及び分離分析装置
1.5 電磁気分析装置
2. プロセス用分析機器
3. 環境用分析機器
4. 医用分析機器
5. その他の機器

分析機器 年表
1. 年表作成作業部会（2）滴定装置及び導電率計

年表の作成に当たっては、下記のメンバーが担当した。

［1.2］熱分析装置及び熱測定装置 ................................... 10

主（1）熱分析装置

査：後藤良三（東亜ディーケーケー）
石井義男（イーアールシー）
大野慎介（三菱化学アナリテック）

（2）熱測定装置及びその他の装置［1.3］光分析装置 ........................................................................ 16

片岡俊哉（東ソー）

（1）吸光分光分析装置

小森亨一（島津製作所）

（2）発光分光分析装置

篠田正紀（富士電機システムズ）

（3）炎光及び原子吸光分析装置

杉沢寿志（日本電子）

（4）その他の光分析装置

高橋貞幸（リガク）

［1.4］クロマトグラフ及び分離分析装置 .................. 38田口（1）ガスクロマトグラフ

正（日本インスツルメンツ）

時永大三（日立ハイテクノロジーズ）

（2）液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置

長谷川勝二（日本分光）

（3）そ の他のクロマトグラフ，電気泳動装置，

濱田尚樹（島津製作所）

遠心分離機等古川良知（京都電子工業）

（4）周辺装置

松岡広和（アジレント・テクノロジー）

［1.5］電磁気分析装置 .............................................................. 62

松田耕一郎（堀場製作所）

（1）電子顕微鏡松本博司（堀場製作所）

（2）MS，NMR，ESR

矢辺良平（日立ハイテクノロジーズ）（3）X 線分析装置（XRD，XRF，XMA，EPMA 等）（4）表面分析装置（AES，XPS，ESCA，SIMS 等）

2. 年表の表記法
年表の記載事項は次のような順序及び基準に従っている。
年［2］プロセス用分析機器（携帯用及び保安用測定装置を含む）..................... 92（1）水及び水溶液用分析装置

号：原則として製品の発売時期を示す。ただし，同年代の枠内の記述は順不同。

機種：製品の名称又は形式を示す。

形

名：（

特徴等：
〔

）内に製品の形名を示す。
〕内に特徴，測定対象，輸入品の区分等を示す。
会社名：原則として，分析機器工業会の会員名／販売業者名／製造業者名の順で示している。
ただし当工業会会員で製造及び販売をして（2）ガス用分析装置（3）固体及び非水用分析装置（4）携帯用及び保安用分析機器［3］環境用分析機器 ..................................................................... 108（1）水質汚濁分析装置（2）ガス及び粉塵分析装置（3）自動車排ガス分析装置（4）関連機器［4］医用分析機器 ......................................................................... 124

いる場合には，一つの社名だけを記載して（1）生化学自動分析装置いる。なお現在では当該会社名が存在して（2）電解質及びガス分析装置

いない場合，判明しているものについては（3）血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置

当時の会社名を用いることにした。

3. 年表の表題及び機種分類［1］ラボ用分析機器 ......................................................................... 2［1.1］電気化学分析装置 ......................................................... 2（1）電位差，電流及び電量式測定装置（4）その他の医用分析装置［5］その他の機器 ......................................................................... 142（1）微粒子測定装置（2）物性測定装置（3）附属装置（4）その他の装置

電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置

滴

定

装

置

及

び

導

電

率

計

電気化学分析装置
概説

この年表はラボ用分析機器の電気化学分析装置についてまとめたもので，電位差，電流及び電量式測定装置と滴定装置及び導電率計に分類している。
1927 年（昭和 2 年）日本でポーラログラフが産声をあげた。現在使われている pH 計，導電率計，滴定装置などの原形ともいえるべき分析機器が商品化されたのが，それからおよそ 25 年後であったということを考えると，いかに時代に先駆けて商品化されたかが分かる。これらの装置は 70 年以上たった現在からみれば，性能及び機能面で不十分なものかも知れないが，当時としては画期的なものであったに違いない。
日本で機器分析が始まったともいえるこの時期には，水素ガス電極 pH 計やキンヒドロン電極 pH 計も商品化された。
電気化学分析装置は，他の手法を用いた分析機器に比べると商品化された時期が早く，とりわけ pH 計は，まさに分析機器の草分けといっても過言ではなかろう。
その後 20 数年間は，ガラス電極式 pH 計の輸入以外特筆すべきことはなかったが，1940 年代の後半から 1950 年代の前半にかけて，現在使われている pH 計，ポーラログラフ，導電率計，滴定装置，カールフィッシャー水分計のもととなった分析機器が商品化され，発展してきている。
電気化学分析装置の進歩も，新素材の開発とエレクトロニクス及びコンピュータ技術の進歩に負うところが大きい。1960
年代の後半から 1970 年代の前半にかけて商品化されたイオン濃度計や隔膜電極式ガス濃度計などは，新素材の開発によって始めて商品となり得たものである。
エレクトロニクス及びコンピュータ技術の進歩も，もとをただせば 1950 年代後半以降急速に進んだ新素材の開発により，電子材料が飛躍的に種類及び性能面で進歩したことによっている。電子材料の進歩が，電気化学分析装置を真空管から半導体式に，アナログ指示からデジタル指示へ，そして手動操作から自動操作へと変えていったのは，分析機器全般に共通したことでもある。
1970 年代の後半から 1980 年代の前半にかけて，高度経済発展を背景に，マイクロプロセッサを組み込んだ使いやすい新製品が市場に出回った。
1990 年代になっても基本技術はほとんど変わらず，他の分析機器同様 PC を使用した自動化やデータ処理などが付加されるようになってきた。また，ISO や GLP ／ GMP の対応についても特に後半からの流れとなっている。
発表された新製品数の年代の推移を見ると，他の手法を用いた分析計に比べて，そのピークが年代の早い方に寄っている。
このことは基本技術が成熟していることを物語っているのであろう。
2000 年からのほぼ 10 年間は，安定した測定技術をもとに，表示器のカラー化やタッチパネル及びモバイルを含めた小型化，規格に沿ったデータ処理などインターフェイスを充実させた製品が増えている。
2009 年頃から，関心の高い太陽電池，燃料電池，バッテリーなど代替エネルギー開発や関連分野に対応した製品が，電気
化学分析装置においても商品化され始めていることが伺える。

電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置1926 年
昭1

1927・水素ガス電極 pH 計（HI-100）：島津製作所
1927・ポーラログラフ：柳本製作所
1929・キンヒドロン電極 pH 計：島津製作所

1930 年
昭5
1932・アンチモン電極 pH 計：島津製作所

1935 年
昭 101935・pH 計（ガラス電極式）〔輸入品〕：ベックマン・コールター
1937・pH メータ（G 型）〔輸入品〕：ベックマン・コールター

2

滴

定

装

置

及

び

導

電

率

計

電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置

滴

定

装

置

及

び

導

電

率

計
1940 年
昭 151945 年
昭 20
1947・卓上ガラス電極 pH 計：電気化学計器
1948・pH 計〔輸入品〕：メトローム・シバタ／メトローム
1949・交流増幅式卓上用ガラス電極 pH 計（DG）：電気化学計器
1949・ガラス電極 pH 計（G）
〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／ベッ
クマン社
1950・ガラス電極式 pH メータ（N）［偏位法，卓上形］：堀場製作所
1950・直流ポーラログラフ〔バッテリー加電式〕：柳本製作所
1951・Na 系ガラス pH 電極（HG-1000）：東興化学研究所
1951・卓上形ガラス電極 pH 計（HM-3）：東亜電波工業
1951・pH メータ（M）〔研究室用標準形，平衡形（ミニチュア）〕：
堀場製作所
1951・pH メータ（H）〔可搬形，AC 電源〕：堀場製作所
1952・ガラス電極 pH 計（GU-1）：島津製作所
1952・磁気水銀陰極電解装置〔鉄鋼試料前処理用〕：東京光電
1952・pH メータ（P）〔精密級，零位法〕：堀場製作所
1953・ペン記録式ポーラログラフ（RP-1）：島津製作所
1954・Li 系ガラス pH 電極：東興化学研究所
1954・携帯形ガラス電極 pH 計（DM-1）：東亜電波工業
1954・ポーラログラフ（E504 型）〔輸入品〕：メトローム・シバ
タ／メトローム
1954・pH メータ（D）〔携帯用，零位法，電池電源〕：堀場製作所
1955・自動定電位電解装置（VE-3）：柳本製作所
1955・pH メータ（S）〔携帯用，直読成，電池電源〕：堀場製作所
1957・pH メータ（M-3）
〔研究室用，不平衡形，直流直結形，ドリフト自動校正〕：堀場製作所
1958・卓上用 pH 計（MG-1）〔直示式〕：電気化学計器

1960・高周波ポーラログラフ（PF-500）：柳本製作所
1961・ポータブル形 pH 計（DM-1A）〔ソリッドステート〕：東亜電波工業
1961・デジタル pH 計（HM-8）：東亜電波工業
1961・クーロメータ（CC-1）：柳本製作所
1961・交流ポーラログラフ（POL-2 A）〔仁木式〕：横河電機
1961・pH メータ（M-4）
〔研究室用，バイブレーテングリード形（交流交換形）〕：堀場製作所
1962・ガラス電極式ナトリウムイオン濃度計（SM-4）：堀場製作所
1963・直流ポーラログラフ（POL-11）〔ツェナーダイオード加電式〕：横河電機
1963・自記呼吸酸素測定装置（PO-1）：柳本製作所
1963・pH メータ（UP-1）〔超精密級，零位法〕：堀場製作所
1964・卓上型 pH 計（KPH）〔パラメトリック発振増幅器，ソリッ
ドステート〕：横河電機
1964・卓上形溶存酸素計〔ポーラログラフ式〕：京都電子工業

1950・ダイヤル式液体オーム計：電気化学計器

1950 年
昭 25

1951・高周波滴定装置（IK-1）：東亜電波工業

1952・卓上形水質計（DS-1）〔交流 2 極法〕：堀場製作所
1952・カールフィッシャー水分測定器（EE）：堀場製作所
1952・pH タイトレータ（T）：堀場製作所
1954・自動滴定装置〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／ベックマン社

1955・電気伝導度測定装置（MY-3）：柳本製作所

1955 年
昭 30

1957・携帯形電導度計（CM-3M）：東亜電波工業
1958・携帯用水質計（RK）：電気化学計器
1958・電位差滴定装置（ポテンショグラフ，E336 型）〔記録計付〕：メトローム・シバタ／メトローム
1960 年
昭 35

1962・カールフィッシャー水分滴定装置（MK-S）〔電気的終点
検出，手動〕：京都電子工業
1963・純水測定用導電率計：電気化学計器
1963・自動滴定装置（HS-l）〔スタット機能付〕：東亜電波工業
1963・記録式自動滴定装置（ART- Ⅱ）：平間理化研究所

3電気化学分析装置
1965 年
昭 40

1970 年
昭 45

電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置
1965・pH 計（MG-3）〔ソリッドステート〕：電気化学計器
1965・pH メータ（F-5）
〔不平衡形，直流直結形ドリフト自動校
正〕：堀場製作所
1965・pH メータ（M-5）
〔研究室，MOS 形直流直結形〕：堀場製作所

滴 定 装 置 及 び 導 電 率 計
1965・滴加制御式滴定記録装置（RAT-1）〔断続滴加式〕：平沼産業

1966・分光光度滴定記録装置（MAT-1）〔自動光度滴定〕：平沼産業
1966・自動サイクル滴定記録装置（CAT-1）〔自動サイクル，12
検体〕：平沼産業
1967・方形波ポーラログラフ（POL-51）：横河電機
1967・卓上形溶液導電率計（CM-01）：京都電子工業
1967・カールフィッシャー水分滴定装置（MK-SS）〔電磁弁式，
自動終点停止〕：京都電子工業
1967・電位差滴定装置（PT-01）〔電気的終点検出，手動〕：京都電子工業
1967・電量滴定記録装置（FAT-1）：平沼産業
1967・デジタル微量水分測定装置（AQ-1）〔カールフィッシャー，
電量式〕：平沼産業
1968・卓上用デジタル pH 計（HG-1）：電気化学計器
1968・平間式記録式自動滴定装置〔電位差，光度，伝導度滴定〕：
1968・Na アマルガム濃度計（A-1）
〔ソーダ工業用，電極電位式〕：
平間理化研究所
1968・電位差自動滴定装置（AT-05）〔電動ビュレット，終点自堀場製作所
動停止〕：京都電子工業
1968・電位差自動滴定装置（ポテンショグラフ，E536 型）：メ
トローム・シバタ
1969・滴加制御式滴定記録装置（RAT-11）〔トランジスタ制御
方式〕：平沼産業
1970・イオン濃度計（IM-1A）〔汎用〕：東亜電波工業
1970・精密形 pH スタッ卜（PS-11）：平沼産業
1970・シアンイオン濃度計（CN-1A）〔イオン電極式〕：東亜電 1970・温度滴定装置（TMT-1A）：東亜電波工業
1970・ルーチンタイトレータ（HIT-1）〔滴定液管理不要，電量
波工業
1970・隔膜ガルバニ電池式可搬形 DO メータ（DOM-1）：堀場
式〕：平沼産業製作所
1971・カールフィッシャー水分滴定装置（MK-A）〔電動ビュ
レット，デジタル表示〕：京都電子工業
1972・イオンメータ（N-7 ION）：堀場製作所
1972・伝導度滴定記録装置（RAT-11S+CD-11）：平沼産業
1972・超精密形デジタル pH 計（HM-15A）〔0.0001pH の分解能〕： 1972・全窒素分析計（MCTS-10）〔接触還元，電量滴定，輸入品〕：
東亜電波工業
アステック
1972・フィルムパッケージ用酸素透過率計〔輸入品〕：日製産 1972・全ハロゲン分析計（MCTS-20）〔酸化分解，電量滴定，輸業／ Modern Control 社
入品〕：アステック
1972・pH メータ（M-7）
〔研究室用，全半導体増巾器〕：堀場製 1972・全硫黄分析計（MCTS-30）〔酸化分解，電量滴定，輸入品〕
：
作所
アステック
1972・pH メータ（F-7）
〔MOS 形直流直結形〕：堀場製作所
1972・全有機ハロゲン分析計（DX-20）〔酸化分解，電量滴定，
輸入品〕：アステック
1972・自動果汁分析装置（HIT-IF）〔電量滴定による酸度測定，屈折率による糖度測定〕：平沼産業
1972・自動水分測定装置（AQV-5）〔カールフィッシャー水分測定装置（電量滴定法）〕：平沼産業
1974・窒素蛋白自動分析装置〔ケルダール法，食品分析用，輸入品〕：日製産業／ Foss Electric 社
1974・全窒素分析装置（TN-01）〔接触還元，電量滴定〕：三菱化
成1974・カールフィッシャークーロメトリー水分計（MK-H）〔可搬形〕：京都電子工業
1974・デジタルタイトレータ（DT-1）：平沼産業

4電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置

滴

定

装

置

及

び

導

電

率

計

1976・イオン濃度計（TI-101）：東興化学研究所
1977・pH メータ（F-7A，D）〔デジタル表示形〕：堀場製作所
1978・pH メータ（H-7）
〔可搬形，超薄形指示計採用〕：堀場製作所
1978・固体化 pH ガラス電極〔内部液が必要でなく，100℃以上の溶液の pH 測定が可能〕：堀場製作所

1976・卓上用デシタル導電率計（AO-5）：電気化学計器

1984・ニューサイクリックボルタンメトリックアナライザー（VMA-010）：柳本製作所

1984・白動水分測定装置（AQV-5）〔カールフィッシャー水分測定装置，電量滴定法〕：平沼産業
1984・微量硫黄分析計（システム 701）
〔酸化分解，電気伝導度，
輸入品〕：アステック
1984・卓上型自動滴定装置（TIC-31）：電気化学計器
1984・鋼中硫黄分析装置（TS-20）〔高周波加熱炉，電量滴定〕：
三菱化成
1984・カールフィッシャー水分計（DL18 型）〔ドリフト補正機
能搭載，新カールフィッシャー試薬に対応〕：メトラー・
トレド
1984・全自動滴定装置（ALT-100）〔試料採取～洗浄排液まで全
自動〕：平沼産業

1975 年
昭 50

1978・微量硫黄分析装置（TN-02S）〔酸化分解，電量滴定〕：三菱化成
1978・精密電量滴定装置（PC-01）：三菱化成
1978・自動滴定装置（タイトロプロセッサー，E636 型）〔滴加量
自動制御方式〕：メトローム・シバタ
1979・食塩濃度計（TS-7）〔ナトリウム電極式食品塩分計（ガラ 1979・レポーティングタイトレータ（COMTITE-7）〔マイコンス電極）〕：東興化学研究所
搭載〕：平沼産業
1979・学習機能付滴定装置〔マイクロプロセッサ化，輸入品〕：
シイベル機械／メトラー社
1979・自動滴定装置（タイトレータ，DL40 型）〔ラーン滴定モード搭載，平衡滴定モードを採用〕：メトラー・トレド
1979・多検体全自動滴定装置（ART-4 CSP）：平間理化研究所
1980・汎用形水分測定装置（AQ-101）〔1 室形 KF 式水分計〕：平 1980 年
沼産業
昭 55
1981・pH シリーズ pH 計〔マイクロプロセッサ化・自動校正式， 1981・カールフィッシャー微量水分測定装置（CA-10 型）〔可搬輸入品〕：ベックマン・コールター／ベックマン
形〕：三菱化成
1981・ガラス電極式食塩濃度計（SH-7）：堀場製作所
1981・カールフィッシャー微量水分測定装置（E652）〔輸入品〕：
1981・イオン選択性アナライザー（PW-9415）〔CPU 内蔵，CRT
メトローム・シバタ／メトローム社
付，輸入品〕：東亜電波工業／フイリップス
1982・イオン電極式カルシウム硬度計（IS-7CA）：堀場製作所
1982・自動滴定装置（ART-3）〔マイコン型 CRT 付〕：平間理化
1982・生コンクリー卜用塩分濃度計（SALT-9）〔塩素イオン電研究所
1982・全有機ハロゲン分析装置（TOX-10）〔酸化分解，電量滴極式〕：東興化学研究所
1982・NMR 用 pH 電極（6029-10C）〔NMR 管に直接電極を挿入
定〕：三菱化成し測定が可能，極細径 P3 の電極〕：堀場製作所

5電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置1985 年
昭 60

1990 年平2

6

滴 定 装 置 及 び 導 電 率 計
1985・純水用抵抗率計（AQ-6）：電気化学計器
1985・自動滴定装置（コンパクトタイトレータ，DL20 型）〔ダイナミック滴定モード搭載〕：メトラー・トレド

1986・生コンクリート中塩分濃度計（U-7CI）：堀場製作所
1987・塩分濃度計（PCL-1）：電気化学計器
1987・自動滴定装置（データベースタイトレータ，DL20 シリー
1987・カード式コンパクト pH メータ（C-1）
〔フラット形電極〕：
ズ）〔35 種のデータベースを搭載〕：メトラー・トレド
1987・セラミックス中窒素分析装置（FX-3）〔滴定法〕：柳本製
堀場製作所
作所
1988・カード式コンパクト塩分計（C-12）〔フラット形電極〕： 1988・カード式コンパクト導電率計（C-172）〔フラット形電極〕
：
堀場製作所
堀場製作所
1989・カード式コンパクトイオン計〔カリウム，ナトリウム， 1989・自動滴定装置（テイトリーノ）〔省スペースタイプのコン
硝酸用，フラット形電極〕：堀場製作所
ピュータ制御方式〕：メトローム・シバタ
1989・自動滴定装置（マルチタスクタイトレータ，DL70 型）〔ビュレッ卜駆動部を 4 台まで本体に内蔵可能〕：メト
ラー・トレド1989・自動滴定装置（COM-900）〔マルチタイトステーション
形〕：平沼産業
1989・卓上用導電率計（DS-10）〔卓上用で本体・電極共防滴構
造（フィールド向け）〕：堀場製作所
1989・カールフィッシャー水分測定装置（ティトリーノ）〔省ス
ペースタイプのコンピュータ制御方式，輸入品〕：メト
ローム・シバタ／メトローム社
1990・pH 浸透圧計（HOSM-1）〔氷結式浸透圧計と pH 計の複合 1990・酸度計（AT-100）〔希釈電導率法〕：東亜電波工業
1990・pH・導電率計用サンプラー（FS-10）〔多検体自動測定〕：機〕：東亜電波工業
1990・スティック型 pH メータ（B-111 ／ 112）
〔スティックタイ
堀場製作所
1990・オゾンカウンター（ZC-15A）〔電量滴定法〕：平沼産業
プ，平面センサ〕：堀場製作所
1990・携帯用導電率計（ES-10）〔携帯用で本体・電極共防滴構
造（フィールド向け）〕：堀場製作所
1991・pH メータ（V シリーズ）〔音声出力採用〕：東亜電波工業 1991・白動電位差滴定装置（AT-410）〔4 チャンネル同時並行滴1991・オゾン計（OZ-20，30）〔電極式携帯用オゾン計〕：東亜電
定可能〕：京都電子工業
1991・スティック型導電率計（B173）〔スティックタイプ，導電波工業
1991・ビタミン C 計（VC-100）〔クーロメトリを利用〕：東亜電
率計〕：堀場製作所
1991・全自動水分測定システム（AQL-224）〔全自動化，潤滑油
波工業
1991・過酢酸カウンター（PA-20）〔電量滴定法〕：平沼産業
用〕：平沼産業
1991・過酸化水素カウンター（HP-35A）〔電量滴定法〕：平沼産 1991・自動水分測定システム（AQS-720）〔自動化，固体試料用〕：
業
平沼産業
1991・水分計（CA-20 型）〔携帯型 KF 電量水分計〕：三菱化成
1992・マルチチャンネルイオンメーター（IOL-40 型）〔4 種のイ 1992・表面塩分濃度計（SSM-11P）〔橋梁等の表面塩分測定器（電オンを同時測定〕：電気化学計器導率）〕：東亜電波工業
1992・pH 終点設定タイトレータ（DL12 型）〔中和滴定専用モデル〕：メトラー・トレド
1993・コードレス pH メータ（F-20）〔コードレス型 pH 計〕：堀 1993・自動滴定装置（COM-980）〔マルチタスクタイトレーショ
場製作所
ン方式〕：平沼産業
1993・ミクロ滴定システム（GT-07 型）〔100 μ L の滴定ビュレッ
卜〕：三菱化成
1993・自動滴定装置（マルチタスクタイトレータ，DL70 シリー
ズ）〔ダイナミックラーン滴定モード搭載〕：メトラー・
トレド
1994・ISFETpH メータ（Φ 100 ／ 110）
〔イオン選択性 FET 採用〕：ベックマン・コールター
1994・ス テ ィ ッ ク タ イ プ 防 水 型 pH メ ー タ（B-211 ／ 212）〔ス
ティックタイプ，防水型〕：堀場製作所

電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置

滴 定 装 置 及 び 導 電 率 計
1995・自動滴定装置（COM-550）〔GLP 対応機能〕：平沼産業
1995 年
1995・自動滴定装置（メモリーカードタイトレータ，DL50 シ
平7
リーズ）〔メモリーバックアップに PC カードを使用〕：
メトラー・トレド
1995・自動滴定装置（751）〔メモリーカード付タイトレータ，
輸入品〕：メトローム・シバタ／メトローム社
1996・pH 標準液検査用 pH 計（PHL-90 型）〔pH 標準液検査用， 1996・電位差自動滴定装置（AT-400WIN）〔Windows95 を利用
分解能 0.0001pH〕：電気化学計器
したマルチタスクタイトレータ〕：京都電子工業
1996・堅牢型 pH 電極（9610-10D）〔堅牢で割れにくい電極〕：堀場製作所
1996・ポータブル溶存酸素計（MO128）〔ポーラログラフ方式〕：
メトラー・トレド
1997・Quattro シリーズ卓上型 pH 計（MP220，225，230，235） 1997・微量水分計（CA-07 型）〔電量・容量同時分析計〕：三菱〔スロープ % 表示機能付き〕：メトラー・トレド
化成
1997・Quattro シリーズ卓上型導電率計（MC226）〔セル定数入力不要〕：メトラー・トレド
1998・pH 計（G シリーズ）〔メモリ搭載センサ式，GLP ／ GMP 1998・カールフィッシャー水分計（DL30 シリーズ）〔ラーン滴対応〕：東亜電波工業
定モード搭載〕：メトラー・トレド
1998・塩素硫黄分析装置（TOX-100ND 型）〔塩素・硫黄・窒素 1998・CM 計（G シリーズ）〔メモリ搭載センサ式，GLP ／ GMP
切替え測定〕：三菱化成
対応〕：東亜電波工業
1998・ハンディ塩分計（SAL-1）〔だれでも簡単，迅速に高精度測定〕：島津製作所
1998・ハンディ糖度計（AMY-1）〔だれでも簡単，迅速に高精度測定〕：島津製作所
1998・ハンディデジタル pH 計（WAT-1）〔だれでも簡単，迅速に高精度測定〕：島津製作所
1999・モデル 900 走査型電気化学顕微鏡〔界面近傍の化学的な 1999・Quattro シリーズ卓上型 pH ／導電率計（MPC227）〔pH
変化を高解像度で観察〕：ビー・エー・エスと導電率を同時測定可能〕：メトラー・トレド
1999・pHメータ（Φ260 ／ 360）
〔GLP ／ GMP対応高性能〕：ベッ 1999・ハンディデジタル酸度計（SOU-1）〔だれでも簡単，迅速
クマン・コールターに高精度測定〕：島津製作所
1999・ポータブル ISFET 計（MI129）〔半導体電極採用〕：メト 1999・電位差自動滴定装置（AT-510）〔メモリカード，アプリ
ラー・トレドケーションカード，pH 温度補償カードなどの PC カード
1999・Quattro シリーズ卓上型 pH ／ ISFET 計（MI229）〔スローが利用できるタイトレータ〕：京都電子工業
1999・カールフィッシャー水分計（MKC-510N）〔1 液性及び 2 液
プ % 表示機能付き〕：メトラー・トレド
1999・ヒスタミン計（HM-505 型）〔水産物およびその加工品中性カールフィシャー試薬が使えるクーロメトリー水分のヒスタミンを測定する〕：セントラル科学計〕：京都電子工業

7電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置2000 年平 128

滴 定 装 置 及 び 導 電 率 計
2000・有効塩素カウンター（CL-15）〔電量滴定法〕：平沼産業
2000・自動滴定装置（COM-2000）〔10.4 インチカラー液晶表示〕：
平沼産業
2000・微量水分測定装置（AQ-200）〔コンパクトサイズ〕：平沼
産業
2001・微量水分測定装置（AQ-2000）〔電量・容量 2 チャンネル切換〕：平沼産業
2001・自動水分測定装置（AQV-2000）〔電量・容量 2 チャンネ
ル切換〕：平沼産業
2001・自動滴定装置（COM-2500）〔最大 6 種類のマルチ測定〕：
平沼産業
2001・自動滴定装置（COM-1500）〔スマートメディア使用〕：平沼産業
2002・ドジーノ／ドージングユニット（電位差自動滴定装置 ,カールフィッシャー水分計用）（800 ／ 807）
〔新方式省ス
ペース小型電動ビュレット，輸入品〕：メトロームジャ
パン／メトローム社（スイス）
2002・電位差自動滴定装置 タイトランドシリーズ（809808888）〔カラー液晶タッチパネルで快適操作，輸入品〕：メトロー
ムジャパン／メトローム社（スイス）
2002・交換ユニット（電位差自動滴定装置 , カールフィッシャー
水分計用）
（806）
〔IC チップを搭載した試薬ユニット，輸入品〕：メトロームジャパン／メトローム社（スイス）
2003・卓上用 pH メータ（F-50 シリーズ）〔カラー，ナビゲーショ 2003・自動水分測定装置（KF-21）〔試薬の給排液機能付きの一ン，データ出力搭載〕：堀場製作所
体コンパクト〕：三菱化学アナリテック
2003・ハンディタイプpHメータ（D-50シリーズ）〔ナビゲーショ 2003・卓上型電気伝導率計（DS シリーズ）〔カラー，ナビゲー
ン，マルチ測定〕：堀場製作所
ション，データ出力搭載〕：堀場製作所
2003・ハンディタイプ溶存酸素系（OM-51）〔ナビゲーション， 2003・ハンディタイプ電気伝導率計（ES-51）〔ナビゲーション，
データ出力〕：堀場製作所
データ出力〕：堀場製作所
2003・カールフィッシャー水分計（容量式）（MKA-610）〔大型
LCD，タッチパネル採用 2 チャンネル同時滴定可能〕：
京都電子工業
2003・カールフィッシャー水分計（電量式）（MKC-610）〔大型
LCD，タッチパネル採用 2 チャンネル同時滴定〕：京都電子工業
2004・コロイド粒子電荷量計（Model CAS）
〔精密定量ポンプを内蔵し，持ち運びが簡便，輸入品〕：日本ルフト／ AFG
Analytic GmbH

電気化学分析装置
電 位 差， 電 流 及 び 電 量 式 測 定 装 置

滴 定 装 置 及 び 導 電 率 計
2005・塩分計（misoCOM）〔食品塩分測定機〕：平沼産業
2005・酸度計（sunCOM）〔食品酸度測定機〕：平沼産業
2005・塩分・酸度計（umeCOM）〔食品塩分・酸度測定機〕：平沼産業
2006・Handy SPR（PS-0111）〔電気化学 SPR 測定〕：ビー・エー・ 2006・i- トロード電極／ i- コネクト（854）〔IC チップ搭載電極／
エス／ NTT アドバンステクノロジ
専用電極ケーブル，輸入品〕：メトロームジャパン／メ
トローム社（スイス）
2006・温度滴定装置タイトロサーモ（859）〔溶液の温度変化を正確に検出して測定，輸入品〕：メトロームジャパン／
メトローム社（スイス）
2006・微量水分測定装置（CA-200）〔2 チャネル同時測定，USB
メモリ〕：三菱化学アナリテック
2006・多検体自動滴定装置（855）〔滴定装置とサンプルチェン
ジャーが一体化，輸入品〕：メトロームジャパン／メト
ローム社（スイス）
2007・自動水分測定システム（AQS-2320）〔試薬自動交換機能付き〕：平沼産業
2007・自動水分測定システム（AQL-2320）〔試薬自動交換機能付き〕：平沼産業
2008・卓上型ポテンショ／ガルバノスタット（R600）〔ASTM規格 2008・塩分濃度計（CLD-100）〔電量滴定法〕：平沼産業〔極少デッドスペースビュ
準拠，輸入品〕：ビー・エー・エス／ Gamry Instruments, 2008・自 動 滴 定 装 置（COM-1700）
レットシリンダ機構〕：平沼産業
Inc2009・インピーダンスアナライザー（ZENNIUM）〔シミュレー 2009・水分測定装置（AQ-2200）〔一室電解セルを標準構成に採ション機能搭載，輸入品〕：ビー・エー・エス／ Zahner
用〕：平沼産業
2009・天秤付多検体自動滴定装置（864）〔サンプルチェンジャー
elektrik GmbH And Co.,KG
2009・太陽電池評価システム（CIMPS）〔エネルギー変換効率と電子天秤が一体化，輸入品〕：メトロームジャパン／の 定 量 分 析， 輸 入 品 〕： ビ ー・ エ ー・ エ ス ／ Zahner
メトローム社（スイス）
elektrik GmbH And Co.,KG
2009・バイポテンショスタット（モデル 2323）〔アナログ機と同等の価格帯でデジタル制御が可能〕：ビー・エー・エス／エー・エル・エス
2009・卓上型ポテンショ／ガルバノスタット（R3000）〔ASTM
規 格 準 拠， 輸 入 品 〕： ビ ー・ エ ー・ エ ス ／ Gamry
Instruments, Inc2005 年
平 17

9

熱

分

析

装

置

熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置

熱分析装置及び熱測定装置
概説

商品としての装置化は1951年に始まっている。1957年に自動記録式熱分析装置が出現している。今では全く当たり前となった自動記録が当時としては画期的な技術の進歩の時代であった。その後も次々と新しい装置が開発されている。
熱分析として関心の強かったのが DTA の定量化のための装置である。この装置化が 1963 年の示差走査型熱分析装置（輸入品〉として実現されている。
この頃までの装置は，概して試料量が数 100mg ～数 g 必要としているが，試料量を少なくし再現性・分解能を向上させ，検出感度の優れた装置化が 1964 年になされている。
これ以後多目的な測定を可能とする各種の装置が開発された。
1971 年に熱測定として他の手段と異なるレーザーフラッシュ法による熱定数測定装置が商品化された。
1978 年から装置にマイコンが組み込まれデータ処理の向上がなされた。また 1983 年の熱応力測定装置など高度な知的機能が必要な装置の商品化もされている。
1990 年代には，試料搬送の自動化が進む一方，既存の熱分析技法に他の分析技術を融合する同時測定型装置が商品化され始めた。またコンピュータ技術の進歩を背景に，非直線の高度な温度制御を要するアプリケーションが相次いで開発され装置化されている。
2000 年代には，各種装置において，温度制御の向上，高感度化，高分解能化，アプリケーションの拡張等の測定性能の向上を図った装置が盛んに開発され，また，1990 年代後半から引き続き異種装置との複合同時測定装置が商品化されている。
複合装置の一例として，2005 年に光イオン化質量分析装置と TG-DTA との複合装置が商品化された。
熱

分

析

装

置

熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置1950 年
昭 25

1951・燃研式断熱熱量計〔計量法適応〕：島津製作所

1955 年
昭 30
1957・自動記録式熱分析装置（サーモフレックス〕：理学電機
1958・自記示差熱分析装置（DT-1A）：島津製作所
1960 年
昭 35

1960・自記サーマノバランス〔電磁力自動平衡法〕：島津製作所
1960・有機物用簡易形（卓上形）示差熱分析装置（DT-10）：島津製作所
1961・自動微分サーマノバランス〔同時記録法〕：島津製作所
1962・示差熱分析装置（DT-2A）〔電子管式〕：島津製作所
1963・示差走査形熱分析装置（DSC-1B）〔輸入品〕：日製産業／
パーキン・エルマー
1964・ガス捕集式自記サーマノバランス：島津製作所
1964・卓上型熱分析装置：理学電機
1964・熱分析計〔輸入品〕：アムコ／デュポン
1964・高温 TG-DTG-DTA 装置〔輸入品〕：シイベル機械／メト
ラー
1964・示 差 熱 天 秤（TG-DTG-DTA）（TA1）〔 高 温 1600 ℃〕： メ
トラー・トレド
1964・フォトペーストグラフ（ART-P-1）〔でんぷん特性用〕：
平間理化研究所

1965 年
昭 40

1963・入力補償示差走査熱量測定装置（モデル DSC1）〔入力補 償 DSC， 輸 入 品 〕： パ ー キ ン エ ル マ ー ジ ャ パ ン ／PerkinElmer Inc.
1964・熱伝導率測定装置（TC-01）〔ホットワイヤー法採用〕：京都電子工業

1965・自動熱量計（CA-1）：島津製作所
1966・自動融点測定装置（FP-62）〔輸入品〕：シイベル機械／メ
トラー
1966・自動融点測定装置（FP1 型）〔光透過方式による，自動融点測定装置〕：メトラー・トレド
1966・高感度カロリメーター：アムコ／スウェーデン LKB

10熱分析装置及び熱測定装置
熱

分

析

装

置

1968・ミクロ熱分析装置（DT-20 A）：島津製作所
1969・示差走査熱量計（DSC-20）〔入力補償形〕：島津製作所

熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置
1968・断熱型高温熱計量〔RT ～ 900℃〕：真空理工
1969・等温壁高温熱計量〔1500℃以上での高温熱計量〕：真空理工1971・示差熱分析装置（DSC）（TA2000）〔熱流速型 DSC 装置〕： 1971・レーザフラッシュ法熱定数測定装置：真空理工
メトラー・トレド
1972・熱分析用機械的測定装置（TMA-20）：島津製作所
1972・熱測定複合装置（PP5 型サーモシステム）〔顕微鏡用加熱ステージ，自動融点，滴点，軟化点測定装置〕：メトラー・
トレド
1973・高速示差熱天秤〔赤外線イメージ炉を採用〕：真空理工
1973・落 下 法 高 温 熱 容 量 測 定 装 置（DRC-3000）〔500 ℃ ～1973・高速熱膨張計〔赤外線イメージ炉を採用〕：真空理工
1500℃〕：真空理工
1974・熱分析－ガスクロマトグラフ同時測定装置（EGS-20）： 1974・熱伝導率測定装置（TC-21）〔直読式〕：京都電子工業
島津製作所
1974・熱分析用引火点測定付加装置（FP-20）：島津製作所
1976・定常法熱流計法熱伝導率計：真空理工
1976・光化学反応熱熱量計（SSC 550）：セイコー電子工業
1976・定速昇温法熱拡散率測定装置（ALFA-1500）〔円柱状固体・粉末，高粘性液体試料対応〕：真空理工
1976・自動融点測定装置（FP61 型）〔1 検体測定用の簡易型〕：
メトラー・トレド
1977・自然発火試験装置（SIT-1）：島津製作所

1970 年
昭 45

1975 年
昭 50

1977・熱応力測定装置（TSA-30）〔定速荷重，定速変位，周期荷重〕：島津製作所
1978・示差走査熱量計（SSC 560 u）〔マイクロコンピュータ採用〕：セイコー電子工業
1978・示差熱天秤（TG-DTG-DSC）（TA2000C）〔高温（1200℃）
示差熱（DSC）天秤〕：メトラー・トレド
1979・示差熱熱重量同時測定装置（SSC 560 G ／ GII）
〔水平差動型〕：セイコー電子工業
1980・高速熱量天秤（TGCC-7000）〔熱天秤と伝導形熱量計の同 1980・高温用熱伝導率測定装置（TC-51）：京都電子工業
1980 年
昭 55
時測定装置〕：真空理工
1980・TA3000C 熱分析システム（DSC，TG，TMA）〔解析ソフ
トを搭載したコントロールプロセッサ使用〕：メトラー・
トレド
1982・顕微 DSC（FP 80 ／ 84）〔輸入品〕：シイベル機械／メト 1982・キューリーポイントパイロライザ（JHP-3）：日本分析工ラー
業
1982・熱測定複合装置（FP800 型サーモシステム）〔温度コント
ローラにマイクロプロセッサを使用した熱測定装置〕：
メトラー・トレド
1983・熱 応 力・ 歪 測 定 装 置（TMA ／ SS 10）〔マイクロコン
ピュータ化〕：セイコー電子工業
1984・熱分析装置（40 シリーズ）〔4 チャンネル同時処理〕：島津 1984・光交流法薄膜用熱定数測定装置〔1986 年日本発明振興協製作所
会発明大賞受賞〕：真空理工
1984・フォトペーストグラフ（ART-3PP-1）〔でんぷん特性用〕：
平間理化研究所
1985・cpu 内蔵新型熱分析装置（TAS-100 シリーズ）：理学電機
1985 年
昭 60
1986・断熱示差走査型微小熱量計・真空理工
1986・薄膜熱変形測定装置：真空理工
1986・レーザ熱膨張計：真空理工
1986・光交流法比熱測定装置〔新技術開発事業団よりの開発受
1986・熱量分析・自動反応装置（CONTALAB）
〔輸入品〕
：コー
託〕：真空理工1986・自動融点測定装置（FP62 型）〔1 検体測定用の簡易型，プ
ディックス／コントラバス
リンター用出力を装備〕：メトラー・トレド
1987・反応熱量計（RC1）〔安全性評価，プロセス開発用の反応熱量計〕：メトラー・トレド
1987・熱分析装置（システム 001 シリーズ）〔マウス操作によるマルチタスクシステムを採用〕：マック・サイエンス11熱分析装置及び熱測定装置

1990 年
平2

12

熱
分
析
装
置
熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置
1988・ス タ ン ド ア ロ ン 型 熱 分 析 装 置（DSC-50，TGA-50， 1988・光化学反応熱熱量計（PDC 150）：セイコー電子工業
DTA-50）：島津製作所
1988・熱量分析装置（TSC-500）〔輸入品〕：コーディックス／シスタグ
1988・TA400 熱分析システム（DSC，TG，TMA）〔コンピュー
タとのオンライン接続〕：メトラー・トレド
1988・差動型超高温示差熱天秤（TG-DTA2200）〔1700℃まで測定〕：マック・サイエンス
1988・超高温熱膨張計（TD5200）〔1700℃まで測定〕：マック・
サイエンス
1988・高温示差走査熱量計（DSC3300）〔1500℃まで測定〕：マッ
ク・サイエンス
1989・ダイナミック熱機械分析計 Dynamic TMA（DY-TMA 1989・紫外線照射装置（UV9300）：マック・サイエンス
8350）〔試料の収縮速度に応答して試料の温度をコント
ロール〕：理学電機
1989・高圧示差熱天秤（TG-DTA2500 シリーズ）〔最大：250kg／ cm2〕：マック・サイエンス
1989・粘弾性解析ソフトウエア：マック・サイエンス
1990・動的粘弾性測定装置（DMS200）〔張力自動制御方式〕：セ 1990・非接触温度センサー（HT-440）〔非接触で高速，高精度のイコーインスツルメンツ
温度測定〕：堀場製作所
1990・熱重量分析計（ダイナミックモード TGA）
〔コントロール
昇温レート TGA〕
：ティーエイインスツルメントジャパン
1990・示差熱天秤／ガスクロマトグラフィ質量分析計（TGDTA ／ GC-MS）〔TG-DTA と GC-MS と の 同 時 測 定 〕：
理学電機
1990・超 高 温 TG ／ DTA（TAG24）〔2400 ℃ TG ／ DTA〕
〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
1990・大試料天秤：マック・サイエンス
1990・白動冷却示差走査熱量計：マック・サイエンス
1990・示差熱天秤・質量同時測定装置（TG-DTA ／ MS システ
ム）〔輸入品〕：マック・サイエンス／英国 VG 社
1990・超高温示差熱分析装置（DTA8000 シリーズ）〔3000℃まで測定〕：マック・サイエンス
1991・ロボット TG ／ DTA（SSC5200 RTG220）〔ロボット機構 1991・熱測定装置（FP900 型サーモシステム）〔温度校正機能を付き TG ／ DTA システム〕：セイコーインスツルメンツ
装備〕：メトラー・トレド
1991・カルベ式熱量計（C80D）〔混合撹拌反応から高圧測定まで〕〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
1991・動的粘弾性測定装置（SDM5600 シリーズ）〔フーリエ変換型検出〕：セイコーインスツルメンツ
1992・示差走査熱量計（モジュレイテッド DSC）
〔温度モジュレ
イション DSC〕：ティーエイインスツルメントジャパン
1992・超高感度 DSC（Micro-DSC）〔食品タンパク分野の DSC 専用機〕〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
1992・熱電半導体評価装置（EMF-1）〔試料の熱電能と電気抵抗を 1 回の昇温過程測定〕：理学電機
1992・拡張型熱機械的分析装置（TMA ／ SS150）〔大変位計測及び自動測長型〕：セイコーインスツルメンツ
1992・誘電率測定装置（DES100）〔フーリエ変換型誘電率測定〕：
セイコーインスツルメンツ
1992・超高温膨張計（TD5200）〔2300℃まで測定〕：マック・サ
イエンス
1992・熱分析データ処理システム（TAPS1000S）〔Sun Microsystems 社 SPARC station 採用〕：マック・サイエンス
1993・暑熱指標計（WBGT-101）〔ISO7243 に規定された WBGT 1993・鼓膜体温計（IT-500M）〔放射温度計を応用し，体温を高値のポータブル測定器〕：京都電子工業
速測定〕：堀場製作所
1993・ア メ ニ テ ィ メ ー タ（AM-101）〔ISO7730 に 規 定 さ れ た 1993・交流法熱伝導率測定装置（MP- λ 300）
〔試料の固相からPMV 値のポータブル測定器〕：京都電子工業
液相までの熱伝導率の測定〕：理学電機

熱分析装置及び熱測定装置
熱
分
析
装
置
熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置
1993・TA8000 熱分析システム（DSC，TG，TMA）〔マルチタ 1993・熱刺激電流測定装置（TSC ／ RMA）
〔緩和挙動の超感度スクステーション採用〕：メトラー・トレド
電流計測〕〔輸入品〕：理学電機／ Solomat 社
1993・STARe 熱分析システム（DSC，TG，TMA）〔TGA850，
シングルモードDTA搭載の示差熱天秤追加〕：メトラー・
トレド
1993・熱分析ワークステーション（TA-50WS）〔MS-Windowsによるオペレーション・システム〕：島津製作所
1993・熱 機 械 的 分 析 装 置 大 容 量 TG オ プ シ ョ ン（TMA ／SS120，150）〔TMA 変位制御式大容量 TG〕：セイコーイ
ンスツルメンツ
1993・ダイナミック熱天秤 DynamicTG（DY-TG8150）〔試料温度変化に対応した分解能の良い質量変化を測定〕：理学
電機
1993・熱分析装置（WS002 シリーズ）：マック・サイエンス
1993・示差熱天秤（TG-DTA2000 S シリーズ）〔デルタ（Δ）型
示差熱天秤採用（副支点を有する天秤）〕：マック・サイ
エンス
1993・TG ／ GC ／ MS 用インターフェース（GSS238 ガス補集器）
〔補集管吸引切り替え式〕：セイコーインスツルメン
ツ／ジーエルサイエンス
1993・高圧示差走査熱量計（DSC3500）〔最大：10kg ／ cm2〕：
マック・サイエンス
1994・自動ボンベ熱量計（CA-4PJ）〔単位表示ジュールの熱量 1994・ロボット熱膨張計（DLY9000-ROBOT シリーズ）〔全自動計〕：島津製作所
無人運転〕：真空理工
1994・フォトビジュアル（DSC-50V）〔試料の状態観察ができる 1994・熱電能測定措置（ZEM-1 シリーズ）〔熱電素子のゼーベッ
熱分析装置〕：島津製作所
ク係数評価装置〕：真空理工
1994・熱分析ステーション（SSC5300）〔UNIX，ネットワーク 1994・高温マルチ検出器熱量計（MHTC）〔ドロップ式，DSC 式
型マルチタスク制御〕：セイコーインスツルメンツ
比熱測定〕〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
1994・超高温示差方式熱機械分析装置（TMA4200S）〔1700℃ま 1994・全自動冷却ユニット（ACU シリーズ）：マック・サイエ
で測定〕：マック・サイエンスンス
1995・高感度熱分析装置（600 シリーズ）〔研究所開発向け高感 1995・高圧熱量計（RADEX-solo）〔400℃ 200 気圧高圧熱量計〕 1995 年
平7度型熱分析装置〕：島津製作所〔輸入品〕：理学電機／ SYSTAG 社
1995・熱分析システム（EXSTAR6000 シリーズ）〔仕様拡張可 1995・ハンディ放射温度計（IT-530）〔－ 30℃～ 400℃のワイド
変型熱分析システム〕：セイコーインスツルメンツ
な温度範囲を瞬時に高精度測定（士 1%）〕：堀場製作所
1995・熱 分 析 デ ー タ 処 理 シ ス テ ム（TAPS2000S）〔Windows 1995・微量核酸熱変性解析システム（DU600 ／ 7000）〔325ul セ
NT による熱分析ソフトウエアー採用〕：マック・サイ
ル 6 個による Tm 温度解析〕：ベックマン・コールター
エンス
1996・熱分析ステーション（EXSTAR6000PC ステーション）〔Windows NT，ネットワーク型マルチタスク制御〕：セ
イコーインスツルメンツ
1996・高感度 DSC（DSC6100）〔自動昇降温型高感度 DSC〕：セ 1996・自然発火試験測定装置（SIT-2）〔温度精度測定範囲拡大
イコーインスツルメンツ
型〕：島津製作所
1996・多機能動的粘膜性測定装置（DMS6100）〔静的・動的測定
兼用，合成波制御解析，変位フィードバック検出〕：セ
イコーインスツルメンツ
1996・マルチ型高圧 TG-DTA，DSC：マック・サイエンス
1996・高圧熱重量測定装置（MSB-TG）〔高温高圧熱分析装置，
輸入品〕：日本ベル／ Rubotherm
1997・熱分析装置 60 シリーズ〔高性能熱分析装置〕：島津製作 1997・熱 分 析 自 動 試 料 交 換 装 置（ASC7000S）〔 最 大 126 試 料，所
全自動測定〕：マック・サイエンス
1997・雰囲気制御型 TMA，DMA（TMA ／ SS6100，DMS6100） 1997・高温型動的粘弾性測定装置（DMS6300）〔800℃迄の動的〔湿度走査，膨潤測定〕：セイコーインスツルメンツ
粘弾性測定〕：セイコーインスツルメンツ
1997・X 線回折－示差熱分析同時測定装置（XRD-DTA）〔高感
度の DTA と高精度の X 線回折同時測定〕：理学電機
1997・1600 ℃ 高 温 DSC（LABSYS シ リ ー ズ ）〔1600 ℃ ま で のDSC，DTA 測定〕〔輪入品〕：理学電機／ SETARAM 社

13熱分析装置及び熱測定装置

2000 年
平 122005 年
平 17

14

熱
分
析
装
置
熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置
1997・2400℃超高温熱分析装置（SETSYS シリーズ）〔卓上型
2400℃熱分析〕〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
1998・オート DSC〔オートサンプラを内蔵した熱分析装置〕： 1998・反応熱量計（SC1 SC4）
〔化学反応のプロセス測定用〕〔輸
島津製作所
入品〕：理学電機／ SYSTAG 社
1998・ホットディスク法熱物性測定装置（TPA-501）〔面熱源に 1998・加速速度熱量計（ARC）〔危険予測の断熱式熱量計〕〔輸入
よる熱伝導率，熱拡散率，比熱の測定〕：京都電子工業品〕：理学電機／ ADL 社
1998・レ ー ザ フ ラ ッ シ ュ 法 熱 拡 散 率 測 定 装 置（LFA-501） 1998・自動圧力追従式断熱熱量計（APTAC）〔ARC の上位機種〕〔JISR1611-1997 に準拠した高精度な熱拡散率測定装置〕：〔輸入品〕：理学電機／ ADL 社
1998・反応熱量計（SC1 SC4）
〔化学反応のプロセス測定用〕〔輸
京都電子工業
1998・示差走査熱量計（DSC6200 オーバルセンサー）〔高分解能入品〕：理学電機／ SYSTAG 社〔危険予測の断熱式熱量計〕〔輸入（分解能 0.167）高感度（感度 4.04）〕：セイコーインスツル 1998・加速速度熱量計（ARC）
品〕：理学電機／ ADL 社
メンツ
1998・昇温速度変換ソフト（Highway TA）〔昇温速度変換シ 1998・自動圧力追従式断熱熱量計（APTAC）〔ARC の上位機種〕
ミュレーション〕：セイコーインスツルメンツ〔輸入品〕：理学電機／ ADL 社
1998・熱重量分析計（モジュレイテッド TGA）
〔温度モジュレ
イション TGA〕：ティーエイインスツルメントジャパン
1998・マイクロサーマルアナライザー〔極微少領域熱分析〕：
ティーエイインスツルメントジャパン
1998・高 圧 熱 重 量 測 定 装 置（FMS-TG）〔 磁 気 浮 遊 天 秤 使 用，
100 気圧迄測定〕：日本ベル
1999・記 録 機 能 付 HACCP 対 応 非 接 触 温 度 計（IT-550）〔HAC
CP 対応機能を備え防水化対応〕：堀場製作所
1999・IC センサー高感度熱量計（SETLINE）〔ポータブル式熱量計〕〔輸入品〕：理学電機／ SETARAM 社
2000・示差操作熱量測定装置（DSC822e）〔輸入品〕：メトラー・ 2000・顕微鏡用冷却加熱ステージ（10002L）〔マニピュレータ機
トレド
能付，汎用ステージ〕：ジャパンハイテック
2000・レーザーフラッシュ法熱物性測定装置（LFA-502）〔熱拡
散率・熱伝導率を世界最高レベルで測定〕：京都電子工業
2001・熱機械分析装置（TMA-60 シリーズ）〔温度や荷重に対す 2001・ボンブ式カロリーメーター（C5000）〔全自動熱量計（PCる材料の機械的特性を評価〕：島津製作所
制御），輸入品〕：イカジャパン／ IKA
2001・熱流計（HFM-201）〔熱流が簡易に測定可能〕：京都電子工業
2001・多点熱流計（HFM-215）〔最大 12 点の熱流測定〕：京都電子工業
2001・熱中症指標計（WBGT-103・WBGT-113）〔熱中症の危険度を予想する簡便な指標計〕：京都電子工業
2002・高圧示差操作熱量測定装置（HP DSC827e）〔最大 7Mpa 2002・ボンブ式カロリーメーター（C2000）〔全自動熱量計（イソの加圧下での測定が可能，輸入品〕：メトラー・トレド
ペリボリック式），輸入品〕：イカジャパン／ IKA
2002・示差 - 熱重量測定装置（SDT Q600）〔重量変化とヒートフ 2002・動的粘弾性測定装置（DMA ／ STDA861e）〔サンプルのローを同時測定，輸入品〕：ティー・エイ・インスツル
脱着が容易なクランプホルダ採用，輸入品〕：メトラー・
メント・ジャパン
トレド
2002・動的粘弾性測定装置（DMA Q800）〔複合材料のような硬い材料に最適，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン
2003・熱機械測定装置（TMA Q400）〔加重の制御等が自動化さ 2003・顕微鏡用大型試料冷却加熱ステージ 電圧印加端子付れ操作が簡易化，輸入品〕：ティー・エイ・インスツル（10013L）〔液晶等の電圧印加に最適〕：ジャパンハイテック
メント・ジャパン
2004・熱機械測定装置（TMA ／ SDTA841e）〔ナノメートルレ
ベルの分解能，輸入品〕：メトラー・トレド
2004・自動ボンベ熱量計（CA-4AJ）〔簡単操作，計量法規定のボンベ型熱量計〕：島津製作所
2005・示差操作熱量測定装置（DSC823e）〔ランダムパルス型温度変調 DSC に対応，輸入品〕：メトラー・トレド
2005・昇温脱離ガス光イオン化質量分析装置（TPD type R
photo）〔光イオン化法による高精度質量分析装置〕：リガク

熱分析装置及び熱測定装置
熱
分
析
装
置
2006・示差走査熱量計（DSC Q2000）〔セルの補正を行う技術を搭載，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャ
パン2006・熱重量測定装置（TGA Q5000IR ／ SA）〔安定したベース
ライン，超高感度，輸入品〕：ティー・エイ・インスツ
ルメント・ジャパン
2007・示差操作熱量測定装置（DSC1）〔拡張性にすぐれたモ
ジュールシステム，輸入品〕：メトラー・トレド
2007・熱分析装置（DSC7020）〔信号処理最適化による高感度化〕：エスアイアイ ･ ナノテクノロジー

熱 測 定 装 置 及 び そ の 他 の 装 置
2006・液体比熱計（SHA-500）〔測定困難な液体の比熱が数分で測定可能〕：京都電子工業

2007・ボンブ式カロリーメーター（C200）〔熱量計（コンパクト型），輸入品〕：イカジャパン／ IKA
2007・マイクロカロリメータ（微小熱量測定装置）（TAMⅢ）〔最大 4 台までのカロリメータを同時測定，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン
2007・示差走査熱量計（Nano DSC）
〔高精度の生体高分子用カロリメータ，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン
2007・等温滴定熱量計（Nano ITC）
〔生体試料の分子相互作用
研究用カロリメータ，輸入品〕：ティー・エイ・インス
ツルメント・ジャパン
2007・顕微鏡用冷却加熱せん断ステージ（CSS450C）〔「ずり」の流動観察に最適〕：ジャパンハイテック
2008・熱重量測定装置（TGA ／ DSC1）〔試料位置の影響を防ぐ 2008・蒸発吸着測定装置（VTI-SA）〔高精度の有機溶媒蒸気吸パラレルガイド方式，輸入品〕：メトラー・トレド
着測定，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャ
2008・低 温 TDS 分 析 装 置（L-TDS-20K）〔 冷 却 加 熱 機 構 付 加，パン輸入品〕：電子科学
2009・TEA アナライザー（TEA800）〔ニトロソ化合物が測定で 2009・自動融点測定装置（MP50，MP70，MP90）〔簡単操作，
きる，輸入品〕：日本サーモ／英国 CSi 社
録画可能，高い信頼性，輸入品〕：メトラー・トレド

15

光

分

概

説

析

装

置

光分析に使われる装置は，多岐にわたるため，1）吸光分光分析装置，2）発光分光分析装置，3）原子吸光分析装置（炎光光度計を含む），4）その他の光分析装置に分けて年表を作成した。このうち赤外分光光度計，発光分光分析装置，原子吸光分
析装置については概略を記す。
赤外分光光度計1950 年に，初めて赤外分光光度計（分散形）が東京大学に輸入されて以来，数年間は外国製品が主流となり，分子構造の研究等に利用された。1954 年に NaCl プリズムを用いた分散形の国産品が開発された。1950 年代の後半になると簡易形プリ
ズム装置が，1960 年代に回折格子形装置が，市販され広く普及するに至った。
1970 年代に高速走査，高エネルギー利用，高分解などの特徴を持つフーリエ変換形赤外分光光度計（FTIR）が輸入され，1974 年には国産品が開発された。FTIR は，1980 年代のコンピュータ技術の進歩と共に小形化・高度化が図られ，1990 年代には分散形に代わって市場を独占した。
1980 年代の後半から FTIR の性能特徴を活かした GC ／ FTIR，TA ／ FTIR 等の複合装置，赤外顕微鏡，データ検索シス
テム等の付属品が次々と開発され用途範囲も拡大の一途を辿った。また，1970 年代後半に近赤外領域で生じる吸収を数学的に分離・解析する近赤外分光光度計が輸入され，1980 年代後半に汎用化，普及し，現在に至っている。
赤外分光光度計の 1990 年代の動きとして，赤外分光光度計と顕微鏡とを組み合わせ，試料の微小部位を分析する手法（顕微赤外法）が実用の段階に至った。2000 年代に入るとマルチチャンネル検出器を搭載した装置も登場し，スペクトルを瞬時に測定することのできる顕微赤外イメージングとして，表面異物の分析などに汎用されるようになった。
発光分光分析装置
エレクトロニクスの進歩，スパーク電源や大形分光器の開発が基礎となった光電測光直読式の装置が 1950 年代に輸入され，やや遅れて国産品も開発されたことにより直読式の発光分光分析装置は目覚しい発展を遂げた。その後，分析方法の整備と共に金属・非金属分析に欠かせない装置として JIS に多く採用された。
吸

光

分

光

分

析

装

置

発

光

分

光

分

析

装

置

1930 年
昭51934・ガラス分光写真器（GCD）：島津製作所
1935 年
昭 101940 年
昭 15
1944・赤外分光光度計（モデル 12）〔世界初の IR，輸入品〕：パー
キンエルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1945 年
昭 20

1945・水晶プリズム分光写真器（QF-60）〔軽金属定量分光分析の始まり〕：島津製作所
1947・分光光度計 Cary Ⅱ型：バリアン
1949・光電式可視・紫外分光光度計（DU）〔輸入品〕：コロンビ
ヤ貿易／ベックマン社
1949・光電比色計（ANA-2）：東京光電1950 年
昭 25

1950・赤外分光光度計〔輸入品〕：ベアード社
1950・光電光度計（EPO-A）：日立製作所
1952・光電式分光光度計（QB-50）〔光電子増倍管使用〕：島津製
作所

16

光

分

析

装

置

1970 年代になると誘導結合プラズマ（ICP）を用いた発光分光分析装置が輪入された。ICP 発光分光分析装置は，溶液中の金属を迅速，高感度に多元素同時分析できる特徴から，公害・環境分析分野で特に威力を発揮した。国内各社は，1980 年代の前半に前後して製品開発に着手し，1990 年代には大形，汎用タイプ等の分析用途に応じた様々な ICP 発光分光分析装置を市販し今日に至っている。
1990 年代には，さらに高度の分析要求に対応するために高周波プラズマ質量分析計（ICP-MS）が開発された（ICP-MS については質量分析装置の章を参照）。
2000 年代には，高分解能，高感度，コンパクト設計，といった特長を持った ICP 発光分析装置が相次いで開発された。
2000 年代後半には原子蛍光法を用いた水銀計が開発され，低沸点化合物の完全自動分析装置が市販された。
原子吸光分析装置
1950 年代半ばに海外で製品化が発表され，国内各社も製品化に関心が高まり，分光光度計の付属装置として市販された。
しかし，高感度化の要望が高まり，1960 年代後半に原子吸光光度計と炎光光度計の機能を兼ね備えた普及形装置が開発された。またこの年代に環境汚染が大きな社会問題に発展し，分析法の整備と共に，国策である公害防止法に対応できる様々な機種が市販され飛躍的に普及した。その後，環境規制値の見直しによる検出感度の向上が要求され，微量化・低濃度に対応する装置として，1970 年代の半ばに黒鉛炉，金属等を原子化部に用いるフレームレス原子吸光装置が海外で開発され，後半には，国内各社も製品化した。また，この時期，分析値の信頼性向上の要望に対して，装置の様々な改良がなされ，分析条件の自動化，重水素ランプ，ゼーマン効果，自己反転等の原理を利用したバックグラウンド補正機能が搭載されユーザオ
リエンテッドな装置に変貌した。さらに，溶液状態では感度不足の元素に対して，ガス化・蒸気化によって検出する方法が装置化された。
2000 年代は，安定した測定技術をもとに，測光系の自動切換え，同時バックグラウンド補正，自動温度プログラム作成機
能など自動化機能が増えてきている。また検出下限を向上させるため振動センサーの採用などの工夫が見られる。
一方，還元気化方式，加熱気化方式を用いた水銀専用原子吸光装置においては前処理部と測定部の完全自動化，ダブルア
マルガム法など，使用用途に適した装置が開発された。
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ

の

他

の

光

分

析

装

置
1930 年
昭51935 年
昭 101940 年
昭 151945 年
昭 20

1949・光電式旋光分散計〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／ルドル
フ社
1949・赤外線水分計〔KN 式，近赤外領域の吸収，フィルター
使用〕：日本冶金化学
1950・光電濁度計（ANA-14）〔日本写真学会指定〕：東京光電
1950・平間式光電比色計（Ⅱ）：平間理化研究所

1950 年
昭 25

1952・炎光光度計（ANA-10）〔ガラス製アトマイザー使用〕：東
京光電

17

光

分

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
1952・分光光度計〔輸入品〕：ヤマト科学／ベックマン社

発

光

分

光

分

析

装

置

1953・光電式発光分光分析装置〔アルミニウム分析用光電式〕：
島津製作所
1954・赤外分光光度計（DS-101）〔NaCl プリズム使用〕：日本分
光工業
1954・赤外顕微鏡（モデル 85）〔世界初の赤外顕微鏡，輸入品〕：
パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1955 年
昭 301960 年
昭 35

1956・赤外分光光度計（EPI-2）〔72°プリズム使用〕：日立製作所
1957・赤外分光光度計（DS-301）〔ダブルモノクロ・トリプルパ
ス〕：日本分光工業
1958・赤外分光光度計（IR-S）〔簡易形〕：日本分光工業

1957・平面回折格子大形分光写真器（GE-340）：島津製作所

1960・赤外分光光度計（DS-401G）〔プリズム・回折格子使用〕： 1960・発光分光分析装置（GV-200）〔真空形光電式，鋼中 P，S
日本分光工業の分析〕：島津製作所
1961・可視紫外分光光度計（UV-1）〔回折格子使用〕：日本分光工業
1961・遠赤外分光光度計（DS-510G）〔回折格子使用〕：日本分光工業
1961・遠赤外分光光度計（FIS-1）：日立製作所
1962・紫外・可視分光光度計（139）〔回折格子使用〕：日立製作所

1961・1.5M ワ ズ ワ ー ズ 型 発 光 分 光 写 真 器（JS-1）〔 回 折 格 子，
1.5M 分光写真〕：日本ジャーレル・アッシュ

1962・1.5M 光電測光式コンパクトアトムカウンタ（CAC）〔多元素同時測光〕：日本ジャーレル・アッシュ
1963・カントレコーダ用電子計算機（カンタック 501）：島津製作所

1964・真空紫外分光光度計（VUV-1）：日本分光工業
1964・マルチパーパス自記分光光度計（MPS-50）〔エンドオン
形光電子増倍管〕：島津製作所
1965 年
昭 40

1965・赤外分光光度計（IR-27G）〔回折格子使用，2 ～ 25μm 連続測定〕：島津製作所
1965・分光蛍光光度計（MRF-2）：日立製作所
1965・紫外可視分光光度計（EPS3T）〔輸入品〕：パーキンエル
マージャパン／ PerkinElmer Inc.

1966・マ ル チ コ ン バ ー チ ブ ル 分 光 光 度 計（DOUBLE-40）〔モ
ジュラー式〕：島津製作所

1967・紫外可視分光光度計（124）〔普及形ダブルビーム自記分
光，Abs リニア〕：日立製作所
1967・平間式分光光電光度計（6）：平間理化研究所

1968・二波長分光光度計（356）〔二波長汎用形〕：日立製作所

18

1967・2M バキュームアトムカウンタ（2MVAC）〔真空型多元素同時〕：日本ジャーレル・アッシュ
1967・3.4M エバート分光写真器（JE-70）〔大型分光写真器〕：日
本ジャーレル・アッシュ
1967・光電測光式発光分光分析装置（D-70，雷虹）〔多元素同時〕：
日本ジャーレル・アッシュ
1968・レーザーマイクロプローブ（JLM-01）〔発光分光〕：日本
電子
1968・1M エバート分光写真器（M-1）：日本ジャーレル・アッシュ

光
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ

の

他

の

光

分

析

装

分

析

装

置

置

1956・光散乱光度計：島津製作所

1955 年
昭 30

1957・へーズメータ（P φ iC-H-Z）〔固体の濁度測定〕：三菱化成
1958・平間式光電比色計（Ⅳ）
〔携帯用〕：平間理化研究所
1960・原子吸光分光光度計（AA-2）：バリアン

1960・自動旋光計〔輸入品〕：アムコ／ベンディックス社
1960・液体シンチレーションスペクトロメーター〔3H，14C 微量分析，輸入品〕：アムコ／パッカード社
1961・原子吸光分光光度計（モデル 214）
〔ダブルビーム方式， 1961・自記旋光分散計（AP-l）：日本分光工業
輸入品〕：パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer
Inc.

1960 年
昭 35

1962・原子吸光分光光度計（RA-l）：日立製作所

1965・原子吸光分光分析装置（AA-1 型）〔0.5M モノクロ，光源
変調方式〕：日本ジャーレル・アッシュ
1965・原子吸光分光分析装置（AA-70 ／ 72）〔小型 AA〕：日本
ジャーレル・アッシュ
1965・原子吸光分光分析装置（AA-80）〔小型 AA〕：日本ジャーレル・アッシュ
1965・原子吸光分光光度計（AA-100）〔シングルビーム，輸入品〕：バリアンインスツルメンツ

1964・円二色性測定装置（ORD ／ CD）〔可視紫外領域〕：日本
分光工業
1964・濾紙電気泳動用デンシトメーター（R-10-535）〔パターン
を積分値として算出〕：東京光電
1965・ポータブル濁度計（PC-01）〔透過光方式〕：京都電子工業
1965・デジタル旋光計（DIP-S）：日本分光工業

1965 年
昭 40

1966・積分球式極微濁度計（P φ iC-HU-T）：三菱化成
1966・赤外線分析計（LIA-2）〔NDIR 法卓上形〕：堀場製作所
1966・多チャンネル自動吸光度計〔輸入品〕：アムコ／ギル
フォード社
1967・自動光散乱光度計（4000，50）〔高分子分子量測定，輸入品〕：アムコ／フィカ社

1968・原子吸光／フレーム分光光度計（MAF）〔多元素同時， 1968・電子線衝撃けい光分光光度計（EIF-1）：日本分光工業
1968・レーザーラマン分光光度計（JRS-01A）：日本電子
BKG 補正〕：島津製作所

1969・エピタキシャル層膜厚測定器（ITL-2）〔分光干渉法〕：日本分光工業
1969・偏光けい光光度計（FOM-1）〔高分子配向測定〕：日本分
光工業

19

光

分

1970 年
昭 45

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
1970・ストップトフロー分光光度計（RA シリーズ）〔反応速度
解析，反応メカニズムへの応用，フォトダイオードアレ
イ方式〕：大塚電子
1970・ダブルビーム分光光度計（UV-200）〔平坦なベースライ
ン，高速スキャン〕：島津製作所
1970・平間式分光光電光度計（6B）：平間理化研究所
1971・鋼中の P，Si，Mn 自動吸光光度分析装置〔鉄鋼化学分析の自動化〕：藤原製作所

発
光
分
光
分
析
装
置
1970・重窒素測定装置（NIA-1）〔トレーサー 15N と 14N の同位体
比測定〕：日本分光工業

1971・発光分光分析装置（高速度発光装置付）：島津製作所

1972・フーリエ変換赤外分光光度計（FTS-14）〔干渉形，輸入品〕：日本バイオ・ラッドラボラトリーズ（デジラボ）／
日本分光工業
1972・デジタル分光光度計（6C）：平間理化研究所

1975 年
昭 50

20

1973・近赤外偏光干渉分光装置（072）：日立製作所
1974・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-03F）：日本電子
1974・発光分析装置〔パルス分布測定法，鋼中 A1 の形態別分
1974・システム光度計（701）〔多波長光度計，直接測光〕：日立
析〕：島津製作所
1974・レーザーラマン分光光度計（JRS-400D）：日本電子製作所
1975・フーリエ変換赤外分光光度計〔真空形，輸入品〕：日本
バイオ・ラッドラボラトリーズ
1976・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-10T）〔半導体膜厚測 1976・高周波プラズマ発光分光分析装置（ICAP-1）〔シングル定〕：日本電子型〕：日本ジャーレル・アッシュ
1976・フーリエ変換赤外分光光度計〔輸入品〕：日製産業／ニ
コレー社
1977・フーリエ変換赤外分光装置（NIC-7199）〔0.08cm－1分解能， 1977・ICP 発光分析装置（ICPQ-100）：島津製作所
輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1977・13CO2 アナライザー（EX-130）〔トレーサー 13C と 12C の同 1977・多元素同時分析装置（プラズマアトムコンプ）〔輸入品〕：
位体比測定〕：日本分光工業
日本ジャーレル・アッシュ
1977・自記分光光度計（340）〔CPU 搭載〕：日立製作所
1977・高次導函数吸光分光分析装置（VO-1）〔光学的に高次微分〕：柳本製作所
1977・近赤外多成分分析計（インフラライザー 2.5A）〔干渉フィ
ルター式，輸入品〕：ブラン・ルーベ
1977・オートサンプリングシステム（ASS-1）〔多検体自動比色分析〕：平間理化研究所
1977・自記分光光度計〔CPU 搭載，輸入品〕：バリアン
1978・光音響分光計（φ AS400）〔輸入品〕：三菱化成／ EDT 社 1978・ICP 発光分光分析装置（ICP5000）〔輸入品〕：パーキンエ
1978・GC-IR システム（IR-GCS10）：日本電子
ルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1979・GC ／ FT-IR〔輸入品〕：日本バイオ・ラッドラボラトリー 1979・高周波プラズマ発光分光分析装置（ICAP-50 ／ 500）
〔シズ
ングル型〕：日本ジャーレル・アッシュ
1979・マイクロフロー分光光度計（CL-720）〔電子冷熱サンプル
シッパー内蔵〕：島津製作所
1979・近赤外多成分分析計（インフラライザー 400）
〔デジタル
制御式，輸入品〕：ブラン・ルーベ
1979・フーリエ変換赤外分光装置（MX-1）〔小型化，輸入品〕：
ニコレー・ジャパン

光

分

析

装

置

炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置
そ の 他 の 光 分 析 装 置
1970・微量水銀測定装置（AMD シリーズ）：日本ジャーレル・ 1970・けい光寿命測定装置（FL-10）〔位相差法〕：日本分光工業 1970 年
1970・自記分光蛍光光度計（RF-501，502）〔スペクトル補正付〕： 昭 45アッシュ
島津製作所

1971・カーボンロッドアトマイザー（CRA-61）〔原子吸光用付
属品，輸入品〕：バリアン
1971・2 チャンネル原子吸光分光分析装置（AA-8200 ／ 8500）〔2
チャンネル，自動 BKG ／内標準法〕：日本ジャーレル・
アッシュ
1972・微量ヒ素測定装置（ASD）〔水素還元し AA 測定〕：日本
ジャーレル・アッシュ
1972・微量水銀分析装置（ANA-K 80）〔検知感度 0.01ng〕：東京
光電
1972・フレームレス・アトマイザー（FLA-l）〔原子吸光用付属装置〕：日本ジャーレル・アッシュ
1972・原子吸光分光分析装置（AA-780 ／ 781）
〔マルチパス〕：
日本ジャーレル・アッシュ

1971・磁気旋光分散計（MOE-7）〔電磁石によるファラデー効果
測定〕：日本分光工業
1971・平間式光電比色計（2 C）：平間理化研究所
1971・平間式光電比色計（4 C）〔携帯用〕：平間理化研究所
1972・二波長クロマトスキャナ（CS-900）〔二波長方式散乱補正機能〕：島津製作所
1972・透湿度測定装置（IRD-2 C）〔フィルム，パッケージの水
分透過率，輸入品〕：日製産業／ Modern Controls 社

1974・水銀分析計（501）〔光源磁場印加方式ゼーマン〕：日立製
作所
1975・原子吸光分光光度計（SAS725）〔同時 BKG 補正〕：セイ
コー電子工業

1975 年
昭 50
1976・低角光散乱光度計（LS-601）〔分子量測定〕：大塚電子

1977・原子吸光分光光度計（A06）：セイコー電子工業
1977・原子吸光分光光度計（170）〔試料磁場印加方式〕：日立製
作所
1977・原子吸光／フレーム分光光度計（AA-640）〔2 周波数同時
測光〕：島津製作所
1977・自記分光光度計（Cary219）〔CPU 搭載〕：バリアンテク
ノロジーズジャパンリミテッド
1977・原子吸光分光分析装置（AA-825 ／ 835 ／ 845 ／ 855）
〔自動計測〕：日本ジャーレル・アッシュ
1977・原子吸光分光光度計（モデル 5000）〔輸入品〕：パーキン
エルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1978・原子吸光分光光度計（AA-575 ABQ）
〔ダブルビーム，輸入品〕：バリアン
1979・水素化物発生装置（HYD-l，2）〔NaBH4 溶液使用，連続分析〕：日本ジャーレル・アッシュ

1977・レーザーラマン分光光度計（JRS-400T）〔三重分散トリプ
ル分解能 0.2cm-1〕：日本電子1979・金属中 C・S 分析装置（EMIA-1100）〔ガスモジュレーショ
ン式 NDIR 法〕：堀場製作所

21

光

分

1980 年
昭 55

22

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
1980・自記分光光度計（UV-240）〔サーマルグラフィックプリン 1980・マルチ高周波プラズマ発光分光分析装置（ICAP-750 ／タ内蔵，CPU 制御〕：島津製作所
750V）〔常圧／真空型マルチ測光〕：日本ジャーレル・アッ1980・大型 10M スペクトログラフ（660）〔焦点距離 10M〕：日立
シュ
製作所
1980・分光光度計（HP8450A）〔ダイオードアレイ検出器，輸入品〕：横河電機／ HP 社
1980・フーリエ変換赤外分光装置（MX-ECO）〔半導体ウエーハ
検査専用装置，ケプストラム法，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1980・フーリエ変換赤外分光光度計〔シリコン単結晶中の C，Oの定量，輸入品〕：日本バイオ・ラッドラボラトリーズ
1981・フーリエ変換赤外分光装置（System 6000）〔キャピラリ 1981・ICP 発光分光分析装置（JY48P）〔多元素同時分析形，輸GC ／ FT-IR，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
入品〕：セイコー電子工業
1981・フーリエ変換赤外分光装置（System 8000）〔真空排気型， 1981・ICP 発 光 分 光 分 析 装 置（UOP-l）〔波長変調法を用いた
輸入品〕：ニコレー・ジャパン
BKG 補正〕：京都光研
1981・フーリエ変換赤外分光装置（MX-S）〔超小型の一体型， 1981・ICP 発光分光分析装置（UOP-2）〔多元素同時，逐次測定〕：
輸入品〕：ニコレー・ジャパン
京都光研
1981・二波長／ダブルビーム自記分光光度計（UV-3000）〔二波 1981・ICP 発光分析装置（ICAP-575）〔シーケンシャルタイプ〕：
長スキャン〕：島津製作所
日本ジャーレル・アッシュ
1981・瞬間マルチ測光システム（MCPD-100）〔自記分光光度計，
オプティカルファイバー〕：大塚電子
1981・GC ／ FT-IR〔Capillary Column，輸入品〕：日本バイオ・ラッドラボラトリーズ
1981・近赤外多成分分析計（インフラライザー 400D ／ I）
〔液体
用，輸入品〕：ブラン・ルーベ
1982・フーリエ変換赤外分光装置（System 60SX）〔遠赤外～近 1982・ICP 発光分光分析装置（SPS1100）〔多元素シーケンシャ
赤外まで対応，オート・ビームスプリッタ・チェンジャ，ル形〕：セイコー電子工業
1982・ICP 発光分光分析装置（Plasma100）〔シーケンシャルタ
輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1982・フーリエ変換赤外分光装置（System 5DX ／ 20DX）〔普イプ〕：横河電機〔シーケン
及型 FT-IR の製品系列化，輸入品〕：ニコレー・ジャパ 1982・高周波プラズマ発光分光分析装置（ICAP-575）
シャル型，マルチフレーズ〕：日本ジャーレル・アッシュン
1982・フーリエ変換赤外分光光度計（FT ／ IR-3）〔デスクトップ〕：日本分光工業
1982・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-100）〔2 光源 2 検知器
18 ビット AD〕：日本電子
1982・ダブルビーム分光光度計（150-20）〔CRT 搭載，対話形〕：
日立製作所
1982・近赤外分析計（インフラライザー）〔汎用普及型近赤外分
析計，輸入品〕：ビーエルテック
1983・近赤外多成分分析計（インフラライザー 500）
〔スキャン
タイプ，輸入品〕：ブラン・ルーベ
1983・分光光度計（HP8451）〔190 ～ 820nm 0.lsec 高速スキャン，
輸入品〕：横河電機／ HP 社
1983・赤外分光光度計（270）〔レシオ法〕：日立製作所
1983・フーリエ変換赤外分光装置（20SX）〔中型，輸入品〕：ニ
コレー・ジャパン
1983・フーリエ変換赤外分光装置（ECO-DX）〔半導体ウエーハ
検査専用装置，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1984・紫外可視分光光度計（DU シリーズ）〔50μl で計測可，輸入品〕：ベックマン・コールター
1984・フーリエ変換赤外分光光度計赤外顕微鏡〔輸入品〕：日
本バイオ・ラッドラボラトリーズ
1984・フーリエ変換赤外分光光度計（FTS-80）〔小形コンピュー
タ使用，輸入品〕：日本バイオ・ラッドラボラトリーズ
1984・フ ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 分 析 装 置（ モ デ ル 1700）〔汎用型 FTIR， 輸 入 品 〕： パ ー キ ン エ ル マ ー ジ ャ パ ン ／PerkinElmer Inc.

光
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

1981・原子吸光分光光度計（Zeeman ／ 5000）〔交流ゼーマン補
正，輸入品〕：パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer
Inc.

分

析

装

置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
1980・近赤外円二色性分散計（J-200D）〔波長範囲 0.9 ～ 2μm〕： 1980 年
昭 55
日本分光工業

1981・フローインジェクション分析装置（FIA05）〔輸入品〕：
日本ゼネラル／ティケータ

1982・原子吸光分光光度計（AA-975）〔全自動ダブルビーム， 1982・レーザーラマン分光光度計（RS-MA041）〔マイクロアナ輪入品〕：バリアンインスツルメンツ
リシスユニット採用〕：日本電子
1982・全自動炎光光度計（750）〔Na，K，Cl 同時分析〕：日立製 1982・高速自動旋光計（SEPA-200）〔偏光面振動光学零位法〕：
作所
堀場製作所
1982・原子吸光光度計（VIDEO シリーズ）〔S-H 式，輸入品〕： 1982・二波長クロマトスキャナ（CS-930）〔マイコン内蔵，TLC
横河電機／ IL 社
や電気泳動に使用〕：島津製作所
1982・原子吸光分光分析装置（AA-860）〔内蔵型コンピュータ
制御〕：日本ジャーレル・アッシュ

1983・原子吸光／フレーム分光光度計（AA-680）〔分析条件の自動最適化〕：島津製作所

1983・フローインジェクション用比色計（PP-5）：平間理化研
究所

1984・時間分解蛍光分光光度計（NAES-1100）〔マルチ ATC 方式〕：堀場製作所

23

光

分

1985 年
昭 60

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
1985・紫 外 可 視 分 光 光 度 計（UV-160）〔 高 速 走 査 3600nm ／ 1985・核融合プラズマ診断用分光器〔JT-60 周辺プラズマ空間min〕：島津製作所
分解測定〕：日立製作所
1985・フーリエ変換赤外分光顕微鏡システム（IR-PLAN）〔本格的なカセグレン・レンズを使用した顕微鏡，輸入品〕：
ニコレー・ジャパン
1986・フーリエ変換赤外分光装置（System 5DXC ／ 5SXC ／20DXC ／ 20SXC）〔独自のディスクトップ型 CPU の開発，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1986・フーリエ変換赤外分光装置（ECO-8S）〔半導体ウエーハ
検査専用装置〕：ニコレー・ジャパン
1986・顕微赤外ユニット（IR-MAU110）：日本電子
1986・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-3500）〔中型汎用機〕：
日本電子

1986・グロー放電発光分析装置（GDLS-5017）〔深さ方向への表
面分析〕：島津製作所
1986・ICP 発光分光分析装置（SPS1200 シリーズ）〔多元素シー
ケンシャル形〕：セイコー電子工業
1986・ICP 発光分析装置（P-5200）〔たて型大形分光器〕：日立製
作所
1986・マルチ／シーケンシャル高周波プラズマ発光分光分析装
置（ICAP-755）〔マルチ・シーケンシャル複合機〕：日本
ジャーレル・アッシュ
1987・ICP 発光分光分析装置（SPS7000）〔卓上形〕：セイコー電子工業
1987・発光分析装置（ARL-3460 カントメータ）〔Hi-Rep 電源，
W 電極，輸入品〕：住商エレクトロニクス／ ARL 社

1987・フーリエ変換赤外分光光度計（FIRIS 100，25ZST）〔コー
ナーキューブ〕：富士電機
1987・フーリエ変換赤外分光装置（8220）〔エンジンオイル管理
用，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1987・自記分光光度計（U-3210）〔RT，FD 搭載，日立分析機器
用簡易言語プログラム搭載〕：日立製作所
1987・ダブルビーム分光度計（U-2000）〔CRT（日本語表示）搭
載，プリンタ内蔵〕：日立製作所
1987・フーリエ変換赤外分光光度計（FT-300）〔メカニカル駆動
新干渉計採用，高分解能（0.5cm-1）汎用 PC 使用〕：堀場製作所
1987・赤外線放射測定ユニット（IR-IRR200）〔常温近傍の分光放射率測定〕：日本電子
1987・自記分光光度計（U-3210）〔RT，F D 搭載，日立分析機
器用簡易言語プログラム搭載〕：日立製作所
1987・ダブルビーム分光度計（U-2000）〔CRT（日本語表示）搭
載，プリンタ内蔵〕：日立製作所
1987・フーリエ変換赤外分光光度計（FT-300）〔メカニカル駆動
新干渉計採用，高分解能（0.5cm-1）汎用 PC 使用〕：堀場製作所
1987・赤外線放射測定ユニット（IR-IRR200）〔常温近傍の分光放射率測定〕：日本電子1988・フーリエ変換赤外／ラマン分光装置（System 800）
〔オー 1988・ICP 発光分光分析装置（ARL-3410）〔ローパワーミニトー
トアライメント，ダイナミックアライメント，輸入品〕：
チ，輸入品〕：住商エレクトロニクス／ ARL 社
1988・サーマルベーパライザー装置（UTHV-l）〔ICP 用，強度
ニコレー・ジャパン
1988・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-5500）〔往復サンプリを波長と時間で分解〕：京都光研
1988・マイクロプレートリーダー（M-Vmax）〔96 ウェルシーケ
ング法〕：日本電子
1988・マイクロプレートリーダー（M-Vmax）〔高速（5 秒／ 96
ンシャル照射，高速（5 秒／ 96 ウェル）
，カイネティック，ウエル），カイネティック，輸入品〕：和光純薬工業
輸入品〕：和光純薬工業／米モレキュラーデバイス社
1988・フーリエ変換赤外分光光度計（Micro FTIR-100）〔顕微専用〕：日本分光工業
1988・分析ソフト付分光光度計（DR ／ 3000）〔輸入品〕：セントラル科学／ハック社
1988・フーリエ変換赤外分光光度計（FTS-7）〔簡易形，輸入品〕：
日本バイオ・ラッドラボラトリーズ
1989・高次導関数吸光分光分析装置（UO-1000H）〔自動車排ガ 1989・ICP 用超音波ネブライザー（USN）〔ICP 分析の感度向上，
ス中 HCHO〕：柳本製作所
輸入品〕：住商エレクトロニクス／ ARL 社
1989・多波長分光光度計（クロマスコープ）〔高速走査（0.1sec）， 1989・発光分析装置（PDA-5017）〔時間分解測定法，極微量元
直接光学系〕：システムインスツルメント素〕：島津製作所
1989・フーリエ変換赤外分光光度計（FT-530）〔顕微専用〕：堀 1989・遠赤外線分光放射計（JIR-E500）〔分光放射率専用測定場製作所
器〕：日本電子24

光
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置
1985・原子吸光分光光度計（SAS760）〔SR 方式 BKG 補正〕：セイコー電子工業
1985・原子吸光分光分析装置（AA-880）〔外付け PC 制御自動分
析〕：日本ジャーレル・アッシュ

分

析

装

置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
1985・蛍光分光光度計（F-3000）〔無収差凹面回折格子使用〕： 1985 年
昭 60
日立製作所
1985・酸・糖度分析装置〔導電率法／光屈折法，柑橘類測定〕：
堀場製作所
1985・セラミックス中 O・N 同時分析装置（EMGA-2800）〔NDIR／ TCD 法〕：堀場製作所

1987・原子吸光分光光度計（Z-9000）〔汎用形多元素同時分析〕： 1987・二波長フライングスポットスキャナ（CS-9000）
〔光束を
日立製作所
走査〕：島津製作所
1987・原 子 吸 光 分 光 光 度 計（Spectr AA-40 ZEEMAN）〔 交 流 1987・トレンチ深さ測定装置（HT-16M）〔紫外干渉分光法〕：日
ゼーマン，輸入品〕：バリアンインスツルメンツ
本分光工業
1987・カー効果測定装置（K-250）〔専用機〕：日本分光工業

1988・原子吸光分光分析装置（GBC 900）：京都光研
1988・原子吸光分光分析装置（A-SPEC205）：理学電機工業
1988・原子吸光分光分析装置（AA-880 Ⅱ）：日本ジャーレル・
アッシュ

1989・サクションフロー濃縮装置（SC-100）〔AA の連続分析と大幅な感度上昇〕：日本ジャーレル・アッシュ

1989・全自動 C・S 同時分析装置（EMIA-720）〔熱分解抽出 -NDIR法〕：堀場製作所
1989・蛍光寿命測定用 N2- 色素レーザ（NDL-100）〔発振周波数
1KHz〕：堀場製作所
1989・フーリエ変換ラマン分光システム（JRS-FT5500）〔FT- 近赤外ラマン装置〕：日本電子

25

光

分

1990 年
平2

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
1989・GC ／ FT-IR〔凍結濃縮測光方式〕：日本バイオ・ラッド
ラボラトリーズ
1989・近赤外多成分分析計（インフラライザー 600）
〔オンライ
ン，プロセス用，干渉フィルター式，輸入品〕
：ブラン・
ルーベ
1989・自動車ガラス用可視光線透過率測定器（GTR-7P）〔運輸省認定〕：光明理化学工業
1989・フーリエ変換赤外分光光度計（FT-200）〔新開発回転干渉計採用〕：堀場製作所
1989・自記分光光度計（U-4000）〔積分球付大型試料室標準装備〕：日立製作所
1990・分光光度計（UV-1200）〔A3 サイズで 11kg，小型軽量で 1990・ICP 発 光 分 光 分 析 装 置， 多 元 素 シ ー ケ ン シ ャ ル 型
バイリンガル表示〕：島津製作所（SPS1500）〔ソリッドステート RF 電源と 32 ビットパソ
1990・フーリエ変換赤外分光光度計（FTIR-8000 シリーズ）〔最コン搭載〕：セイコーインスツルメンツ
適の干渉状態を保つアライメント状態を搭載〕：島津製 1990・シーケンシャル型 ICP 発光分光分析装置（4 次光採用）：
バリアンテクノロジーズジャパンリミテッド
作所
1990・軽油識別剤分析装置（RF-1000S）〔クマリン分析専用機〕：
島津製作所
1990・ダイオードアレイ紫外可視分光解析システム（DU7000
シリーズ）〔マルチ瞬間測光システム〕：ベックマン・コー
ルター
1990・紫外可視・近赤外分光光度計（Cary 5）〔外部コンピュータ制御〕：バリアンテクノロジーズジャパンリミテッド

1991・フ ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 顕 微 鏡 シ ス テ ム（NIC-PLAN） 1991・ICP 発 光 分 光 分 析 装 置， 多 元 素 シ ー ケ ン シ ャ ル 型〔ATR カセグレン・レンズを搭載，輸入品〕：ニコレー・（SPS4000）〔縦型真空 2 分光器〕：セイコーインスツルメ
ジャパン
ンツ
1991・赤外顕微鏡（MICRO-20）〔試料とアパーチャを同時観察できる ATOS 方式〕：日本分光
1991・顕微フーリエ変換赤外分光光度計（Janssen）〔顕微専用機〕：日本分光
1991・フーリエ変換方式近赤外分析計〔インフラプルーバー〕：
ブラン・ルーベ
1991・顕微専用フーリエ変換赤外分光光度計（FT-520）〔回転干渉計採用の顕微専用機，マスキング可能な顕微 ATR 搭載〕：堀場製作所
1991・近赤外分析計（インフラプライム）〔オンライン型近赤外分析装置，輸入品〕：ビーエルテック
1992・紫外可視・近赤外分光光度計（V-500 シリーズ）〔シング 1992・2 チャンネルシーケンシャル高周波プラズマ発光分光分
ルモノクロ近赤外モデル，ダブルモノクロ紫外可視等を析装置（ICAP-88）〔2 チャンネル・シーケンシャル型〕：
シリーズ化〕：日本分光
日本ジャーレル・アッシュ
1992・紫外可視分光解析システム（DU600 シリーズ）〔紫外可視 1992・CID ／高周波プラズマ発光分光分析装置（IRIS）〔CID 素分光光度計〕：ベックマン・コールター
子検出器，多元素同時，リアルタイム BKG 測定〕：日本
1992・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-7000）〔汎用 FT-IR〕：
ジャーレル・アッシュ
1992・ICP 発光分光分析装置（Optima3000）〔CCD 検出器搭載，
日本電子
1992・顕微赤外ユニット（IR-MAU200）〔シースルースリット
輸入品〕：パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer
搭載〕：日本電子Inc.
1992・フーリエ変換赤外分光光度計（FT-210）〔サンプルシャトルによるダブルビーム効果実現，オートアライメント採用〕：堀場製作所
1992・音響光学分光方式（AOTS）近赤外分析計〔インフラプラ
イムオンライン用，ラボ用〕：ブラン・ルーベ

26

光

分

析

炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
1989・分光エリプソメータ（PME）〔シングルモノクロ〕：日本
分光工業

1990・原子吸光光度計（SAS 7500）〔トロイダルミラー採用，自動希釈，濃縮〕：セイコーインスツルメンツ
1990・還元気化水銀測定装置（マーキュリー RA-2）〔開放送気方式採用〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1990・原子吸光分光分析装置（AA-890）〔D2 ／ S-H 法デュアル
バックグラウンド補正〕：日本ジャーレル・アッシュ

1990・レーザーラマン分光光度計（NR-1800）〔60cm トリプルモ
ノクロ高分解能，フルオートラマンシステム〕：日本分
光工業
1990・顕微二波長分光蛍光測定装置（CAM-230）〔細胞内の各種
イオン溶度変化を測定する顕微測定システム〕：日本分
光工業
1990・円二色性分散計（J-720，725）〔広い測定波長領域（165 ～1100nm）をもつ円二色性分散計〕：日本分光工業
1990・全微量窒素分析計（ANTEK7000N）〔燃焼酸化・化学発光検出法による微量全窒素測定，輸入品〕：アステック／米国 PAC 社
1990・全微量硫黄分析計（ANTEK7000S）〔燃焼酸化・紫外蛍光検出法による微量全硫黄測定，輸入品〕：アステック／米国 PAC 社
1990・全微量窒素・硫黄同時分析計（ANTEK7000NS）〔1 回の試料注入で全窒素と硫黄を同時に測定，輸入品〕：アス
テック／米国 PAC 社
1991・細胞内イオン測定装置〔蛍光プローブを用いて細胞内の各種イオン濃度の変化を測定するシステム〕：日本分光
1991・分光蛍光光度計（F-4500）〔超高速スキャン（30,000nm ／min），3 次元蛍光測定〕：日立製作所

1991・原 子 吸 光 分 光 光 度 計（AA-6500AutoAA シ ス テ ム ）〔フ
レーム／ファーネス分析がワンタッチ自動切換可〕：島津製作所
1991・原子吸光光度計（Z8000 シリーズ）〔タンデムタイプ原子吸光光度計〕：日立製作所

1992・原子吸光分光分析装置（AA-11）〔小型化，PC 分析，自動分析〕：日本ジャーレル・アッシュ

装置1990 年
平2

1992・高速自動施光計（SEPA-300）〔高速応答（5°／秒），高感度（0.0005º）測定を実現〕：堀場製作所

27

光

分

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
1993・フーリエ変換赤外分光装置（Magna 550 ／ 750）
〔オート 1993・シーケンシャル形高周波プラズマ発光分析装置（ICPSアライメント／ダイナミックアライメントを搭載〕：ニ
1000IV）〔オールソリッドステード高周波電源〕：島津製
コレー・ジャパン
作所
1993・フーリエ変換赤外分光装置（Magna 850）
〔2CH A ／ D 1993・シ ー ケ ン シ ャ ル 形 高 周 波 プ ラ ズ マ 発 光 分 析 装 置
変換器搭載，ステップスキャン FT-IR，輸入品〕：ニコ（ICPS-8000）〔高分解能機能〕：島津製作所
1993・ICP発光分光分析（Optima 3000）〔SCD（CCD）マルチチャ
レー・ジャパン
1993・フーリエ変換ラマン分光装置（Raman 950）
〔総てのミンネル検出器採用〕：パーキンエルマージャパン〔高周波ラーを金コーティング，Ge 検出器搭載〕：ニコレー・ジャ 1993・高周波グロー放電発光分析装置（System 3860）
スパッタリング方式で，絶縁被膜の迅速分析を実現〕：
パン
1993・フーリエ変換赤外分光光度計 Herschel シリーズ（FT ／理学電機工業〔AES と MS と
IR-200，300，500，700，800）〔Windows 対応ソフト搭載〕： 1993・ICP 発光／ ICP 質量分析装置（POEMS）の複合機〕：日本ジャーレル・アッシュ
日本分光
1993・フ ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 光 度 計（JIR-WINSPEC50）〔Windows 対応小形 FT-IR〕：日本電子
1994・フーリエ変換ラマン顕微鏡システム（Micro-One）〔カセ 1994・ICP 発光分析装置（P-4000）〔40MHz トランジスタ高周波
グレン・レンズを使用，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
電源〕：日立製作所
1994・ディジタル旋光計（DIP-1000）〔最小表示角度 0.0002°〕： 1994・CID ／高周波プラズマ発光分光分析装置（IRIS AP）
〔CID
日本分光
検出器，アキシャルプラズマ〕：日本ジャーレル・アッシュ

1995 年
平7

1995・赤外時間分解測光装置（TRIR-1000）〔分散型超高速（最高時間分解 50 ナノ秒）〕：日本分光
1995・バリデーション機能付 FT-IR（FT-700）〔装置性能を自動的に検証する機能を新装備〕：堀場製作所

1995・発光分析装置（PDA-5500）〔パルス強度分布処理機能を標準装備〕：島津製作所
1995・CID ／ 高 周 波 プ ラ ズ マ 発 光 分 光 分 析 装 置（IRIS
Advantage ICAP）〔CID 検出器，アキシャルプラズマ〕：
日本ジャーレル・アッシュ
1995・発光分析装置（PDA-6000）〔焦点距離 1200mm の分解能をもつ分光器〕：島津製作所
1996・フーリエ変換赤外分光光度計（FT ／ IR-410，420，430） 1996・ICP 発 光 分 光 分 析 装 置， 多 元 素 シ ー ケ ン シ ャ ル 型〔クラス最高の S ／ N〕：日本分光（SPS1700H）〔超高感度分光器〕：セイコーインスツルメ
1996・フーリエ変換赤外分光装置（Protege 460）
〔可動鏡にダンツ〔BPSG
イナミックアライメント機能を搭載，輸入品〕：ニコレー・ 1996・薄膜評価用グロー放電発光分析装置（GDS 3870）
や各種金属薄膜，強誘電体薄膜の深さ方向分析が可能〕：
ジャパン
1996・顕微赤外ユニット（IR-MAU300）〔フル CPU コントロー
理学電機工業ル〕：日本電子1996・フーリエ変換赤外分光装置（ECO-1000）〔半導体ウエーハ分析装置，オートセンタリングノッチ検出，輸入品〕：
ニコレー・ジャパン

1997・紫 外 可 視 フ ォ ト ダ イ オ ー ド ア レ ー 分 光 光 度 計（Multi
Spec-1500）〔フォトダイオードアレイ検出器で超高速ス
キャン〕：島津製作所
1997・フーリエ変換赤外分光装置（Magna ESP シリーズ 560 ／
760 ／ 860）
〔レファレンス検出器，アクセサリー自動認
識機構，ESP 機能，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1997・フーリエ変換赤外分光光度計（FT ／ IR-600シリーズ）〔干渉計，試料室検知器部の全光路を真空にできるオプション〕：日本分光
1997・多目的紫外可視分光光度計（DU500 シリーズ）〔多目的紫外可視分光光度計〕：ベックマン・コールター
1997・フーリエ変換赤外分光光度計（Herschel シリーズ（FT ／IR-400 シリーズ）〔小型・高 S ／ N，統合化ソフトウェア
対応〕：日本分光

28

1997・シ ー ケ ン シ ャ ル 形 高 周 波 プ ラ ズ マ 発 光 分 析 装 置（ICPS-7500）〔省スペース，高性能〕：島津製作所
1997・ライスアナライザ（RQ1）〔米の成分を非破壊測定し食味を予測〕：島津製作所

光

分

析

炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
1993・二波長フライングスポットスキャニングデンシトメータ（CS-9300PC）〔多目的デンシトメータ〕：島津製作所
1993・分光エリプソメータ（M-150）〔独自の偏光変調方式を用いた高速波長スキャン測定〕：日本分光
1993・分光エリプソメータ（M-220）〔240nm 紫外領域まで波長範囲を拡張〕：日本分光

1994・液晶表示装置用蛍光管中水銀量測定装置（マーキュリー／ TM-2）〔管内の有効水銀，不活性水銀，ディスペンサー
への残留水銀など分別定量可能〕：理学電機工業／日本
インスツルメンツ

1994・分光蛍光光度計（RF-5300PC）〔S ／ N 比 150 以上の高感
度〕：島津製作所
1994・マ イ ク ロ プ レ ー ト リ ー ダ ー（M-SPmax250）〔Low UV（250nm）測定可能，グレーティング分光器内蔵，輸入品〕：
和光純薬工業
1994・ディジタル旋光計（DIP-1000）〔最小表示角度 0.0002°〕：
日本分光

装

置

1995 年
平7

1996・野外携行型高機能水銀測定装置（マーキュリースニッ 1996・顕微ラマン分光システム（JRS-System シリーズ）〔イー
ファ／ PM-2）〔バッテリー駆動，多機能で遠隔操作可能，
ジーオペレーション高機能ラマン〕：日本電子
1996・マイクロプレートリーダー（スペクトライメージ）〔384軽量〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1996・原子吸光光度計（Z5000 シリーズ）〔低波長元素の感度向穴プレート測定可，輸入品〕：和光純薬工業
1996・蛍 光 バ イ オ イ メ ー ジ ア ナ ラ イ ザ ー（FMBIO Ⅱ Multi上〕：日立製作所
1996・蛍光灯中の水銀量測定装置（マーキュリー TM-2A）〔蛍
View）〔バイオ用〕：宝酒造〔ストロボ検出器，
光灯管内水銀の短時間定量測定〕：理学電機工業／日本 1996・蛍光光度計システム（PTI シリーズ）
CCD 検出器，蛍光寿命，比蛍光測定〕：大塚電子
インスツルメンツ
1996・原 子 吸 光 分 光 分 析 装 置（SOLAAR969 ／ 898 シ リ ー ズ 1996・レーザーラマン分光光度計（NRS-2000）〔コンフォーカル（Unicam））〔全自動，D2 ／ AC ゼーマン法バッググラウ
イメージ付，CCD 検知器専用フルオートシステム〕：日
ンド補正〕：日本ジャーレル・アッシュ
本分光
1996・分 光 蛍 光 光 度 計（FP-750）〔水のラマンピークでS ／N300 以上〕：日本分光
1996・フーリエ変換赤外ラマン分光光度計（RFT-800）〔FT ラ
マン分光光度計〕：日本分光
1997・原子吸光分光光度計（AA-6200）〔高性能で小形の原子吸 1997・UV ／ VIS 表面・界面分光測定装置（SIS-50）〔エバネッ
光光度計〕：島津製作所
セント波により物質の表面のスペクトル情報を得る〕：
1997・シーケンシャル原子吸光分光光度計（AA-220FS）〔試料
システムインスツルメンツ〔自動偏光解消測定専用装置〕：
多元素連続測定〕：バリアンテクノロジーズジャパンリ 1997・分光蛍光光度計（FP-715）
日本分光
ミテッド
1997・デ ィ ジ タ ル 旋 光 計（P-1000 シ リ ー ズ ）〔 ハ ロ ゲ ン，Na，
Na+Mg の各ランプモデルをシリーズ化〕：日本分光
1997・蛍光・吸光マイクロプレートリーダー（スペクトラフル
オ）〔蛍光・吸光測定可，輸入品〕：和光純薬工業
1997・ライスアナライザ（RQ1）〔米の成分を非破壊測定し食味を予測〕：島津製作所
1997・分光蛍光光度計（F-2500）〔S ／ N 比 450 以上の高感度〕：
日立製作所

29

光

分

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
1997・フーリエ変換赤外分光光度計（JIR-WINSPEC100）〔Windows
対応小形 FT-IR〕：日本電子
1997・フーリエ変換赤外分光装置（Avatar 360）
〔ダイナミック
アライメント機能，ESP 機能標準搭載，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1997・PyroFT-IR ポリマー識別装置〔高品位リサイクル用ポリマー識別装置，熱分解赤外分光法〕：ニコレー・ジャパ
ン
1997・フーリエ変換赤外分光装置（ECO-RS）〔半導体ウエーハ
分析装置，研究者向けの小型装置，輸入品〕：ニコレー・
ジャパン
1997・分光光度計（U-1500）〔レシオビーム方式，簡単操作〕：
日立製作所
1997・ガス分析専用 FTIR（FT-730G）〔長光路ガスセルを搭載した高感度ガス分析専用 FTIR〕：堀場製作所
1997・シーケンシャル原子吸光分光光度計（AA-220FS）〔試料
多元素連続測定〕：バリアンテクノロジーズジャパンリ
ミテッド
1998・小型マルチチャンネル分光計（FASTEVERT シリーズ） 1998・シ ー ケ ン シ ャ ル 形 高 周 波 プ ラ ズ マ 発 光 分 析 装 置〔紫外から近赤外の広い波長域のマルチ測光〕：相馬光学（ICPS-7000）〔低アルゴンガス消費 ICP-AES〕：島津製作
1998・フーリエ変換赤外顕微鏡システム（Continu μm）
〔in所
〔薄膜評価
finity 光学系 DIC 機能，X 型アパーチャ，可視／赤外同 1998・グロー放電発光分光分析装置（GDLS-9955）
用〕：島津製作所
時観測機能，輸入品〕：ニコレー・ジャパン
1998・赤外顕微鏡（IRT-30）〔フルオート PC コントロール赤外 1998・ICP 発 光 分 光 分 析 装 置， 多 元 素 シ ー ケ ン シ ャ ル 型顕微鏡〕：日本分光（SPS3000）〔縦型 60cm 分光器，密閉パージ方式〕：セイ
1998・フーリエ変換赤外分光装置（ECO-12J）〔半導体ウエーハ
コーインスツルメンツ〔汎用性の高い ICP
検査装置，300mm ウエーハ対応〕：ニコレー・ジャパン 1998・卓上型 ICP 発光分析装置（ICPS-7000）
1998・自記分光光度計（U-3010）〔微小光学系採用，Windows 対発光分析装置〕：島津製作所
1998・マルチ型 ICP 発光分光分析装置〔73 元素を 35 秒で測定〕：
応〕：日立製作所
1998・マルチパーパス分光光度計（MPS-2400）〔けん濁液／生バリアンテクノロジーズジャパンリミテッド
1998・多元素マルチ・シーケンシャル複合型 ICP 発光分光装置
体試料の測定に有効〕：島津製作所
1998・赤外顕微鏡（AIM-8800）〔微小分析からマクロ分析まで（FLAM MODULA）〔 ハ ロ ゲ ン 元 素 120nm ～ 160nm 領
測定可能〕：島津製作所
域測定可能，輸入品〕：理学電機／スペクトロ・ドイツ
1998・紫外可視分光光度計（UVmini-1240）〔小型ながら機能は 1998・HPLC 用化学発光窒素検出器（ANTEK8060）〔燃焼酸化・
満載〕：島津製作所
化学発光検出法による HPLC 検出器，輸入品〕：アステッ
1998・UV ／ VIS 表面 ･ 界面分光測定装置（SIS-50）〔光機能 ･ 光ク／米国 PAC 社
励起状態のスペクトル測定が可能〕：システム・インス
ツルメンツ
1998・光導波路型表面プラズモンセンサ（S-SPR-6000）〔プラズ
モン共鳴バッチ測定等が可能〕：システム・インスツル
メンツ
1999・薬物識別装置（FAI-6000D）〔コンパクト，可搬型で簡単 1999・可搬型発光分析装置（PORT-500）〔現場への持ち運び可操作を実現〕：島津製作所
能な材料検査装置〕：島津製作所
1999・22CCD 高感度・迅速 ICP 発光分析装置（CIROS）〔ハロゲ
ン元素 120nm ～ 160nm 領域測定可能，輸入品〕：理学電機／スペクトロ・ドイツ
1999・全 自 動 超薄 膜 計 測 シス テ ム（UT-300）〔1nm の超薄膜，
多層膜の膜厚測定〕：堀場製作所

30

光
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ

の

他

の

光

分

析

装

分

析

装

置

置

1998・蛍 光 偏 光 度 測 定 シ ス テ ム（Full-Range BEACON2000）〔輸入品〕：宝酒造
1998・全硫黄分析装置（TS-100 型）〔酸化分解・紫外蛍光法〕：
三菱化成
1998・全硫黄分析装置（TS-100ND型）〔酸化分解・NS同時分析〕：
三菱化成
1998・蛍光・発光・吸光マイクロプレートリーダー（スペクトラフルオ プラス）〔蛍光・化学発光・吸光測定可，輸入品〕：和光純薬工業
1998・円二色性分光計（202 型シリーズ）〔タンパク質，キラル化合物の構造研究に最適，輸入品〕：島津製作所／
AVIV

1999・原子吸光分光光度計（AA-6650）〔高級機なみの性能であ 1999・円二色性分散計（J-820）〔4 チャンネル同時データ取得
りながら低価格を実現〕：島津製作所
可〕：日本分光
1999・汎用全自動水銀分析装置（マーキュリー SP-3D（E））
〔ナ 1999・円二色性分散計（J-805）〔波長と紫外領域に限定した簡易
フサ等の世界基準測定用〕：理学電機工業／日本インス
モデル〕：日本分光
1999・レーザーラマン分光光度計（NRS-1000）〔シングルモノク
ツルメンツ
1999・原子吸光分光分析装置（SOLAAR Mシリーズ（Unicam））
ロ・リジェクションフィルタのシステム〕：日本分光〔蛍光〔全自動，デュアルアトマイザ，D2 ／ AC ゼーマン〕： 1999・蛍光偏光マイクロプレートリーダー（ポラリオン）
偏光測定可，輸入品〕：和光純薬工業
日本ジャーレル・アッシュ
1999・R-2000 ラマンテスター（ミニチュアラマンシステム）〔ミ
ニチュアラマン，輸入品〕：ジャスコインタナショナル／ Ocean Optics，Inc 社
1999・光ファイバー測定システム〔化学反応漕の反応状態や洗浄液の濃度などの連続監視が可能〕：島津製作所

31

光

分

2000 年
平 12

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
2000・分光光度計（大型）（U-4100 液体試料測定システム）〔広い
波長範囲と測定レンジ〕：日立ハイテクノロジーズ
2000・フーリエ変換赤外分光光度計（VIR-9500）〔ポータブル
フーリエ変換赤外分光光度計〕：日本分光

発
光
分
光
分
析
装
置
2000・顕微レーザラマン分析装置（LabRAM シリーズ）〔物質の構造解析などに〕：堀場製作所
2000・超高感度 ICP 発光分光分析装置（ULTIMA-2）〔高分解能
分光器を内蔵〕：堀場製作所

2001・紫外可視分光光度計（UV-1700 PharmaSpec）〔バリデー
ション機能９項目を標準装備〕：島津製作所

2001・ツインシーケンシャル型高周波プラズマ発光分析装置（ICPS-8100）〔世界最高クラスの分解能で，高感度測定を実現〕：島津製作所
2001・FT-IR ガス分析計（FG-100）〔コンパクトサイズ設置・移動が簡単〕：堀場製作所
2002・フーリエ変換赤外分光光度計（IRprestige-21）〔高感度・ 2002・マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置（GD高精度，拡張性・操作性を向上〕：島津製作所
OES)（JY-5000RF）〔ナノ薄膜の膜厚 + 元素分析を測定〕：
2002・分光光度計（小型）（U-1800）〔大型画面，PC 制御も可能〕：
堀場製作所
2002・FPD 用薄膜計（FF-1000）〔膜厚や光学定数を高速，高精
日立ハイテクノロジーズ
2002・分光光度計（中型）（U-2800）〔欧州薬局方対応〕：日立ハ
度測定〕：堀場製作所
イテクノロジーズ
2002・1μL 分 光 光 度 計 NanoDrop 1000（ND-1000）〔試料量
1μL セル不要の光度計，輸入品〕：エル・エム・エス／
NanoDrop Technologies, Inc.
2002・赤外分光光度型（OPAS-1）〔開路型大気成分濃度測定用分光計〕：日本分光
2002・顕微紫外可視近赤外分光光度計（MSV-370，MSV-350 シ
リーズ）〔顕微紫外可視近赤外分光光度計〕：日本分光

2003・旋光計（AUTOPOL5）〔旋光度の高精度測定，輸入品〕： 2003・クロノス Dio（AB-2550）〔マルチカラーアッセイ対応，
シ ス テ ム ズ エ ン ジ ニ ア リ ン グ ／ Rudolph Research
CO2 制御可能〕：アトー
2003・シーケンシャルプラズマ発光分析装置（ICPS-7510）〔分
Analytical
解能と広波長領域を両立，軸・横方向対応〕：島津製作所

2004・紫 外 可 視 近 赤 外 分 光 光 度 計（SolidSpec-3700 ／
3700DUV）〔大型試料も非破壊で測定〕：島津製作所
2004・フーリエ変換赤外分光装置（Nicolet 6700 FT-IR）〔光源
輝度の高出力化と高精度制御，輸入品〕：サーモフィッ
シャーサイエンティフィック

32

2004・発光分析装置（PDA-7000 シリーズ）〔窒素高感度分析対応，精度，安定性が向上〕：島津製作所

光
炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

2002・原子吸光分光光度計（AA-6300）〔測光系の自動切り替えで常に最適条件で測定〕：島津製作所
2002・原子吸光分析装置（ZEEnit 650P）〔可変式交流ゼーマン
BKG 補正機能搭載ファーネス専用原子吸光分析，輸入品〕：アナリティクイエナジャパン／ Analytik Jena AG

2004・原子吸光分析装置（Z-2000 シリーズ）〔同時バックグラウ
ンド補正〕：日立ハイテクノロジーズ
2004・水銀計（RA-3420）〔前処理を完全自動化した還元気化水
銀測定装置〕：日本インスツルメンツ

分

析

装

置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
2000・SFG 分光計測システム（SFG-200 ）〔表面・界面の分子構 2000 年
平 12造の解析〕：東京インスツルメンツ
2000・生物発光測定器（ATP-3010）〔ATP の微量測定に最適〕：
アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・吸 光 マ イ ク ロ プ レ ー ト リ ー ダ ー（SUNRISE）〔初の
E-Pack 構造スタンドアロンリーダー，輸入品〕：和光純
薬工業／ TECAN
2000・顕微レーザラマン分光装置（Nicolet Almega）〔自動光軸調整，自動較正機能，輸入品〕：サーモフィッシャーサ
イエンティフィック
2000・レーザラマン分光光度計（NRS-1000）〔レーザラマン分光
光度計〕：日本分光
2000・走査型近接場顕微分光システム（NFS-200 シリーズ）〔走査型近接場顕微分光システム〕：日本分光
2000・SEM ラマン分光分析装置（SEM-SCA）〔走査電子顕微鏡とラマン分光分析装置の複合機，輸入品〕：レニショー／レニショー PLC
2001・分光蛍光光度計（FP-6200，FP-6300 シリーズ）〔分光蛍光光度計〕：日本分光
2001・微量硫黄分析装置（TS-100V）〔紫外蛍光法，高感度，縦型炉（液体用）硫黄分析計〕：三菱化学アナリテック
2002・PIR 赤外用光ファイバープローブ（PIR ファイバー）〔4 ～18μm 帯でハイスループット，輸入品〕：システムズエ
ンジニアリング／ ART PHOTONICS
2002・医 薬 品 探 索 用 HTS シ ス テ ム（HTS250）〔超微量高速μTAS スクリーニングシステム，輸入品〕：和光純薬工業／ Caliper
2002・全自動高速電気泳動装置（LabChip90）〔電気泳動，検出，解析用μTAS 全自動装置，輸入品〕：和光純薬工業／
Caliper
2002・SIA（シーケンシャル）分析システム（FIAlab 3500）〔試料分析時だけ反応試薬を使用する，輸入品〕：三和通商／ FIAlab
2002・紫外蛍光式硫黄分析装置（SLFA-UV21）〔30ppb から高濃度までの硫黄濃度範囲を分析〕：堀場製作所
2002・顕微ラマン分光分析装置（inVia シリーズ）〔フレキシブルフルオートシステム，輸入品〕：レニショー／レニ
ショー PLC
2003・マイクロプレートリーダー（Ultra Evolution FLT）
〔蛍
光寿命測定対応プレートリーダー，輸入品〕：和光純薬
工業／ TECAN
2003・３次元顕微レーザーラマン分光装置（Nanofinder Ⓡ30 ）〔高空間分解能・高感度・3D イメージ可能〕：東京インスツルメンツ
2003・グロー放電発光分析装置（GDA750）〔ナノからミクロンまでの，迅速深さ方向分析が可能，輸入品〕：リガク／
Spectruma 社
2003・レーザラマン分光光度計（RMP-210）〔ポータブル型ラマン分光装置〕：日本分光
2003・エリプソメータ（M-550）〔水平置きエリプソメータ〕：日
本分光
2004・絶対反射測定装置（STAR GEM）
〔双楕円面鏡〕：システ
ムズエンジニアリング／トラス
2004・医薬品探索用 HTS システム（LabChip3000）〔超微量高速μTAS スクリーニングシステム，輸入品〕：和光純薬工業／ Caliper

33

光

分

2005 年
平 17

34

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
2004・フーリエ変換赤外分光装置（Nicolet 380 FT-IR）〔小型，
ハイスループット光学系，輸入品〕：サーモフィッシャー
サイエンティフィック
2004・傾斜スライサー（HK-1）〔厚さ数 10μにフィルムのスライスが可能〕：ジャスコエンジニアリング
2004・垂直スライサー（HS-1）〔フィルムや樹脂の数 10μの切片の作成可能〕：ジャスコエンジニアリング
2004・紫外可視近赤外分光光度計（UV-3600）〔世界最高レベルの低ノイズで近赤外域測定〕：島津製作所
2004・フ ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 光 度 計（FT ／ IR-4000，FT ／IR-6000 シリーズ）〔フーリエ変換赤外分光光度計〕：日本分光
2004・レーザラマン分光光度計（NRS-3000）〔レーザラマン分光
光度計〕：日本分光
2004・赤外顕微鏡（IRT-3000）〔赤外顕微鏡〕：日本分光
2005・紫外可視近赤外分光光度計（V-7000 シリーズ）〔紫外可視 2005・1μL 蛍 光 光 度 計 NanoDrop 3300（ND-3300）〔試料量
近赤外分光光度計〕：日本分光
1μL セル不要の蛍光度計，輸入品〕：エル・エム・エス／ NanoDrop Technologies, Inc.
2005・マルチ形 ICP 発光分析装置（ICPE-9000）〔多元素を短時
間に，簡単操作で分析〕：島津製作所
2005・分光蛍光光度計（F-7000）〔超高速，高感度測定〕：日立
ハイテクノロジーズ
2006・ポータブル近赤外分光計（XL3000）〔液体試料の定量測 2006・ICP 発光分光分析装置（iCAP 6000 シリーズ）〔マルチ
定，輸入品〕：システムズエンジニアリング／ SPECACICP の常識を覆すコンパクト設計，輸入品〕：サーモ
2006・角度可変スライサー（HW-1）〔HK-1，HS-1 両方の機能をフィッシャーサイエンティフィック
2006・セルグラフ（AB-3000B）〔細胞に優しいリアルタイムセ
持つ〕：ジャスコエンジニアリング
2006・ガスクロマトグラフ赤外検出器（DiscovIR-GC）〔Directルイメージング〕：アトー
deposition 方式 GC 専用 FT-IR，輸入品〕：テクノフリー
ト／ Spectra Analysis, Inc.
2006・分光光度計（小型）（U-1900）〔オートバリデーション機
能〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・分光光度計（中型）（U-2900）〔大型カラーディスプレイ搭載〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・紫外可視近赤外分光光度計（V-600 シリーズ）〔紫外可視
近赤外分光光度計〕：日本分光
2007・多角分解赤外分光システム（MAIRS 自動分析装置）〔仮 2007・PL 発光量子効率測定装置（QEMS-2000）〔UV LED 光源
想光による薄膜の面内・面外配向解析〕：サーモフィッ
で励起〕：システムズエンジニアリング
2007・ルミフルスペクトロキャプチャー（AB-1850）〔冷却 CCD
シャーサイエンティフィック
2007・8 チャンネル 1μL 分光光度計 NanoDrop 8000（ND-8000）
カメラ使用，全波長同時の短時間測定〕：アトー（HM シリー〔多検体 ･ 試料量 1μL セル不要の光度計，輸入品〕：エル・ 2007・全光束測定システム（ハーフムーン方式）
ズ）〔固体発光素子向けに半積分球を採用した装置〕：大エム・エス／ NanoDrop Technologies, Inc.
2007・紫外可視分光光度計（UV-1800）〔基本性能および USB メ
塚電子
2007・Ez －キャプチャー（AE-9150）〔パソコン制御，自動露光，モリによる操作性向上〕：島津製作所
2007・MagHoldIR〔微量サンプルで薄膜測定が可能〕：ジャス
画像解析ソフト〕：アトー
2007・水銀計（PE-1000）〔低沸点化合物等の試料中水銀を完全
コエンジニアリング
2007・分光光度計（中型）（U-3900 ／ 3900H）〔低迷光化〕：日立
自動分析〕：日本インスツルメンツ
ハイテクノロジーズ
2007・液体クロマトグラフ赤外検出器（DiscovIR-LC）〔Directdeposition 方式 LC 専用 FT-IR，輸入品〕：テクノフリー
ト／ Spectra Analysis, Inc.
2007・赤外顕微鏡（IRT-5000）〔赤外顕微鏡〕：日本分光
2007・赤外顕微鏡（IRT-7000）〔マルチチャンネル赤外顕微鏡〕：
日本分光
2008・フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1）〔異物分析や 2008・ICP 発光分光分析装置（SPS3100HVUV）〔ハロゲン測定
医薬品原料の受入出荷検査を支援〕：島津製作所を可能にした ICP-OES〕：エスアイアイ ･ ナノテクノロ
ジー光炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

分

析

装

置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
2004・蛍光相関分光システム（FCS コンパクト）〔1 分子レベルでの分子間相互作用の計測実現〕：和光純薬工業／浜松
ホトニクス

2005・原子吸光分析装置（contrAA® 300）
〔フレーム専用キセ 2005・フレキシブルマイクロプレートリーダー（Infinite M200） 2005 年
ノン連続光源原子吸光分析，輸入品〕：アナリティクイ〔ダブルモノクロメーター搭載で低ノイズ測定，輸入品〕： 平 17
エナジャパン／ Analytik Jena AG
和光純薬工業／ TECAN
2005・原子吸光分 析 装 置（ZEEnit 700P）〔可変式交流ゼーマ
ン BKG 補正機能搭載フレーム／ファーネス両用原子
吸光分析，輸入品〕：アナリティクイエナジャパン／
Analytik Jena AG
2006・原子吸光／原子蛍光 水銀分析装置（mercur）〔原子吸 2006・旋光計（P-2000 シリーズ）〔旋光計〕：日本分光
光法／原子蛍光法両用超微量レベル水銀測定，輸入品〕：
アナリティクイエナジャパン／ Analytik Jena AG

2007・原子吸光分析装置（Z-2010 シリーズ）〔自動温度プログラ
ム作成機能〕：日立ハイテクノロジーズ
2007・原子吸光分析装置（contrAA® 700）
〔フレーム／ファーネス両用キセノン連続光源原子吸光分析，輸入品〕：ア
ナリティクイエナジャパン／ Analytik Jena AG

2007・分光ポラリメーター（Poxi-spectraTM）〔高感度・高性能な分光偏光測定装置〕：東京インスツルメンツ
2007・顕微ラマン分光分析装置（StreamLine）〔従来の 100 倍以
上高速なラマンイメージングシステム，輸入品〕：レニ
ショー／レニショー PLC

2008・フ レ キ シ ブ ル マ イ ク ロ プ レ ー ト リ ー ダ ー（Infinite
M1000）〔高精度ダブルモノクロメーター４モード測定，
輸入品〕：和光純薬工業／ TECAN

35

光

分

析

装

置

吸
光
分
光
分
析
装
置
発
光
分
光
分
析
装
置
2008・フーリエ変換赤外分光装置（Nicolet iS10 FT-IR）〔アド 2008・誘導結合プラズマ発光分析装置（Quantima）〔シーケンシャバンスト ATR 補正，多成分同時検索機能，輸入品〕：サー
ルながらコンパクト，輸入品〕：伯東／ GBC Scientific
モフィッシャーサイエンティフィック
Equipment PTY LTD
2008・顕微赤外イメージング装置（Nicolet iN10MX）〔室温検出 2008・フェリオス (PHELIOS)（AB-2350）〔マイクロプレート方器，分光計一体型イメージング装置，輸入品〕：サーモ式発光計測装置〕：アトー
2008・プラズマ発光分析エンドポイントモニター（EV-140C）
フィッシャーサイエンティフィック
2008・原 子 吸 光 分 析 装 置（XplorAA）〔 軽 量・ 省 ス ペ ー ス で〔大型凹面収差補正回折格子搭載〕：堀場製作所
測 定 結 果 を 携 帯 化， 輸 入 品 〕： 伯 東 ／ GBC Scientific
Equipment PTY LTD
2008・フーリエ変換赤外分光計（MB3000）〔アライメント不要，
輸入品〕：テクノフリート／ ABB Analytical
2008・微量アンモニアガスモニタ（CG-1000）〔超高感度 0.1ppb
リアルタイム測定〕：堀場製作所
2008・スペクトロメーターシステム（SEC2000）〔光電気化学測
定に最適設計〕：ビー・エー・エス／エー・エル・エス
2008・二酸化炭素 安定同位体比アナライザー（G1101-i）〔波長スキャン -CRDS，輸入品〕：三洋貿易／ Picarro
2008・水 安定同位体比アナライザー（L1102-ib）〔波長スキャン
-CRDS，輸入品〕：三洋貿易／ Picarro
2009・ライフサイエンス分光光度計（BioSpec-nano）〔1-2mL の 2009・ルミネッセンサー Octa（AB-2270）〔チューブ方式発光計
微量試料で核酸の簡易定量〕：島津製作所
測装置〕：アトー
2009・フーリエ変換近赤外分光計（MB3600）〔アライメント不 2009・水銀計（RA-3000FG ＋）〔原子蛍光法による高感度水銀測要，輸入品〕：テクノフリート／ ABB Analytical
定装置〕：日本インスツルメンツ
2009・瞬間マルチ測光システム（MCPD-9800）〔広ダイナミック 2009・量子効率測定システム（QE-1000）〔発光効率を競う材料
レンジ，低迷光で新登場〕：大塚電子
評価を量子効率測定から〕：大塚電子
2009・モジュール式分光器システム（JAZ）〔無人遠隔操作分光 2009・分光蛍光光度計（F-2700）〔スタンドアロンでも PC 制御
システム，輸入品〕：ビー・エー・エス／ Ocean Optics,
でも使用可能〕：日立ハイテクノロジーズ
Inc.
2009・1μL 分 光 光 度 計 NanoDrop 2000（ND-2000）〔試料量
1μL セル不要の光度計，輸入品〕：エル・エム・エス／
Thermo Fisher Scientific2009・1μL 分 光 光 度 計 NanoDrop 2000c（ND-2000c）〔試料量
1μL セル不要セル測定装備の光度計，輸入品〕：エル・エム・エス／ Thermo Fisher Scientific2009・MagCELL〔磁力で窓板を保持，取扱が簡単な組立セル〕：
ジャスコエンジニアリング

36

光

分

析

炎 光 及 び 原 子 吸 光 分 析 装 置

そ の 他 の 光 分 析 装 置
2008・高精度吸光プレートリーダー（Infinite 200 NanoQuant）〔2μL で 1ng ／μL までの核酸濃度検出，輸入品〕：和光
純薬工業／ TECAN
2008・３次元顕微レーザーラマン分光装置（Nanofinder ⓇFLEX ）〔高性能・小型・ローコストな 3D 顕微ラマン〕：東京イ
ンスツルメンツ
2008・レーザラマン分光装置（DXR シリーズ）〔自動較正・光軸調整，自動最適化機能，輸入品〕：サーモフィッシャー
サイエンティフィック
2008・テラヘルツ分光装置（TR-1000）〔遠赤外～ミリ波をカバーするテラヘルツ分光〕：大塚電子
2008・高感度分光放射輝度計（HS-1000）〔平板表示器の輝度，応答速度を測定可能〕：大塚電子

2009・原子吸光分光光度計（AA-7000 シリーズ）〔光学系の改良で世界トップクラスの検出性能〕：島津製作所
2009・水銀計（RA-3321A）〔検液の自動分取可能な還元気化水銀計〕：日本インスツルメンツ

2009・透過色測定専用器（TZ6000）〔試験管での測定可能〕：日
本電色工業
2009・モジュラー回転型旋光計（MCP500）〔最先端オプトメカ
ニカル機構採用，輸入品〕：アントンパール・ジャパン／ Anton Paar
2009・レーザーラマン分光光度計（NRS-5000，NRS-7000 シリー
ズ）〔レーザーラマン分光光度計〕：日本分光

装

置

37

クロマトグラフ及び分離分析装置
概説

クロマトグラフィーの起源は 20 世紀初頭に遡るが，マーチンらの分配クロマトグラフィーの提唱の実証であるガスクロ
マトグラフ（GC）が具体化したのは 1953 年とおそい。我が国での本格的普及はその 4 年後に始まるが，それはちょうど石油化学の勃興期に当り GC は大躍進を遂げた。農薬汚染，大気汚染，悪臭等の多発した公害問題の影響も見逃せない。
Fused silica capillary columm の登場によって GC の分離能力は飛躍的に向上し，より精密な組成分析や不純物分析が可能となった。また，1990 年代の後半からのガス制御の電子化は精度や操作性の向上に大きく貢献した。
分析機器の性能を拡張・付加する複合分析装置は GC から始まったといってよい。GC-MS はその最初にしてかつこれまで最高の成功を収め，MS 検出器での超高感度分析と相まって様々な分野で分析手法のスタンダードとして定着した。クロマ
トグラフィーの始祖である液体クロマトグラフィーの装置化は 1958 年 Spackman，Stein と Moore らのアミノ酸分析装置の開発に始まる。その後アミノ酸自動分析装置，ゲル浸透クロマトグラフ，自動液体クロマトグラフなどの混沌とした時代があり，いずれも分析に長時間を要するが故の自動化への模索の色彩があった。しかし，1969 年 J.J.Kirkaland が表面多孔性の充填剤を発表し，米国デュポン社の開発により，高圧ポンプを用いる高性能液体クロマトグラフ（HPLC）が誕生した。これが多様な商品として開花し，GC を上回る HPLC 時代を形成した理由の大きいものは，医薬品分析の発展並びにライフサイ
エンスの興隆を挙げなければなるまい。そして相互作用として遺伝子工学等ニューバイオテクノロジーの著しい進歩を促進したのは実に HPLC であることは歴史に特筆すべきであろう。さらに高圧での分析が行えるカラムと装置による高速分析への進化やキャピリラリーカラムによる微量分析への進化，これらを MS 検出器と接続した LC-MS の普及は著しいものがある。
超臨界流体クロマトグラフ（SFC）は実は 1960 年代後半に研究報告としては現れていたのであるが，本格化したのはそれ

ガ

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置

1945 年
昭 201950 年
昭 251955 年
昭 301960 年
昭 35

38

1955・ガスクロマトグラフ（モデル154）〔世界初のGC，輸入品〕：
パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1956・GC 用熱伝導度検出器（TCD）：島津製作所
1956・ガスクロマトグラフ：島津製作所
1957・ガスクロマトグラフ（GC-1A）〔量産商品〕：島津製作所
1958・ガスクロマトグラフ（KGL-1）：日立製作所
1958・アミノ酸分析計〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／ベックマ
1958・ガスクロマトグラフ（GC-2A）〔デュアルカラム，デュア
ン社
ル流路〕：島津製作所
1959・GC 用水素炎イオン化検出器（FID）：島津製作所
1959・アミノ酸分析用液体クロマトグラフ（LCS-1000）〔輸入
1959・昇温ガスクロマトグラフ（GCG-500）：柳本製作所
品〕：バリアンインスツルメンツ
1959・ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ（ モ デ ル 154-C）〔キャピラリーカ ラ ム GC， 輸 入 品 〕： パ ー キ ン エ ル マ ー ジ ャ パ ン ／PerkinElmer Inc.
1960・プロセスガスクロマトグラフ（GCP-A）：島津製作所
1960・自動液体クロマトグラフ（KLF-1）〔分画方式〕：日立製
1960・ガスクロマトグラフ（GCG-1）〔水素炎イオン化検出器
作所
GC〕：柳本製作所
1961・液体クロマト用紫外線吸収計〔クロマトモニター，輸入品〕：アムコ／ LKB
1961・アミノ酸分析計〔輸入品〕：アムコ／テクニコン

クロマトグラフ及び分離分析装置

から 20 年を経てからである。背景にはヨーロッパにおける，食品やフレーバーの無公害な超臨界流体抽出（SFE）プラントの進歩やアメリカでの GC の発展系としての SFC があった。また，有害有機溶媒を使用しない，地球環境にマイルドな装置としての研究の発展もある。
電気泳動装置の歴史は長いがその大きい展開はまとまった需要の出現，つまりバイオテクノロジーの発展と産業化，医療の大衆化と機械化に依存するところが大きい。
1980 年代後半のキャピラリー電気泳動の出現はその高分離能とミセル動電クロマトグラフィーによる対象試料の拡大で一躍注目をあびた。2000 年以降は DNA,RNA 分析用に微小試料に対応するためマイクロチップ化も進められた。
機器分析のデータ処理の機械化は GC のクロマトグラフの数値化から始まった。当初はペンレコーダに装置する機械式のものから出発し，電気式のものに変わった。コンピュータへの接続も試みられたが特例にすぎなかった。しかしマイクロプ
ロセッサの普及によって安価でありながら高度の機能をもつ装置が出現し，「データ処理装置」の域を超え，逆に分析装置の仕様・形態を一変させ，さらにラボオートメーションのコアとなった。分析機器の歴史に一大エポックを記すものといっても過言ではない。その後の PC の普及により，ハードウェア製品としての「データ処理装置」からソフトウェア製品としての「データ処理システム」へと，主役交代が進んできている。
クロマトグラフィーの分野においても，医薬品の世界的な標準化のための GLP，GMP 規制，品質保証の ISO9000，環境
管理の ISO14000，食品分析における HACCP など世界のグローバル化に伴い，分析値の信頼性向上とともに，公開できる分析の経過と結果の文書化，バリデーションが必要となり，装置ならびにソフトの対応が進められた。なお GC-MS，LC-MSなどハイフォネーテッドなシステムについては質量分析装置等の項も参照して頂きたい。

その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周

辺

装

置
1945 年
昭 20

1948・チゼリウス装置（HTA）：日立製作所
1949・分析用超遠心機械（E，L 形）〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／スピンコ社
1950 年
昭 25

1954・分離用超遠心機（40P）〔40,000rpm〕：日製産業／日立工機1955 年
昭 30

1957・分析用超遠心機（UCA-1）：日製産業／日立工機

1960 年
昭 35

39

クロマトグラフ及び分離分析装置

1965 年
昭 40

1970 年
昭 45

40

ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1962・ガスクロマトグラフ（KGL-2A）〔Golay カラム，FID〕： 1962・アミノ酸自動分析装置（LC-1）〔1 セル 2 波長同時測定〕：
日立製作所
柳本製作所
1962・アミノ酸分析装置（KLA-2）：日立製作所
1963・ガスクロマトグラフ（GC-1C）〔多機能 GC，3 検出器，自動分取〕：島津製作所
1963・分取ガスクロマトグラフ（GC-10A）：島津製作所
1964・GC 用エレクトロンキャプチャ検出器（ECD）：島津製作 1964・ゲル濾過クロマトグラフ（GPC-100）〔分子量測定，輸入
所品〕：アムコ／ウオーターズ
1964・反応熱検出式液体クロマトグラフ（JLC-2A）：日本電子
1964・アミノ酸分析装置（KLA-3）〔分取用大容量カラム〕：日立製作所
1965・ガスクロマトグラフ（JGC-920）〔FID，TCD，ECD，MCS，
MTCD，ArID〕：日本電子
1965・GC 用フレームサーミオニック検出器（FTD）：島津製作所
1965・ガスクロマトグラフ（GC-3A，-4A）〔小形単機能化〕：島津製作所
1966・ガスクロマトグラフ（TCD，FID，FPD，ECD 採用，輸 1966・液体クロマト用示差屈折計（R-400）〔クロマトモニター，入品〕：アムコ／マイクロテック社
輸入品〕：アムコ／ウオーターズ
1966・高速液体クロマトグラフ（ALC-100）〔輸入品〕：アムコ／ウオーターズ
1966・高速液体クロマトグラフ（LC-4000）〔シリンジポンプ式，
輸入品〕：バリアンインスツルメンツ
1966・ゲルパーミエーションクロマ卜グラフ〔GPC 装置〕：島津製作所
1966・アミノ酸分析装置（AA-400）〔高圧下カラム接合機構〕：
柴田科学器械工業
1966・高速液体クロマトグラフ〔輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1966・液体クロマトグラフ（JLC-2BC）〔UV ／ VIS，アミノ酸・
核酸用〕：日本電子
1967・LPG 分析装置：島津，日立，柳本，東洋科学産業他
1967・汎用液体クロマトグラフ（034）〔流動方式〕：日立製作所
1967・HPLC 用示差屈折計（R401）〔輸入品〕：日本ミリポア／
ウオーターズ1968・全自動アミノ酸分析装置（JLC-5AH）〔微量検出ポンプ，
オートサンプラー〕：日本電子1968・GPC 用充填剤（スタイラジェル）〔輸入品〕：日本ミリポ
ア／ウオーターズ
1969・GC 用オートサンプラー（7670）〔輸入品〕：YHP ／ HP 社
1969・ガスクロマトグラフ（GC-5A）〔オールガラス化流路〕：
島津製作所
1970・差圧式ガス透過率測定装置（GTR-10）〔高分子膜用，GC 1970・耐薬品性液体クロマトグラフ：日立製作所
法〕：柳本製作所
1971・GC 用フレームホトメトリック検出器（FPD）：島津製作 1971・タンパク質一次構造自動解析装置（JAS-47K）〔エドマン
所分解法〕：日本電子
1971・アルコールメータ（AL-71F）〔FID，記録式飲酒検知器〕： 1971・LC 用クーロメトリックモニタ（630 型）：日立製作所
1971・アミノ酸分析装置（KLA-5）〔迅速 2 時間分析〕：日立製作
柳本製作所
1971・ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ（JGC-20K）〔FID，TCD，ECD，所
FTD，FPD〕：日本電子
1971・ダブルオーブンガスクロマトグラフ（073 型）：日立製作所
1972・高速液体クロマトグラフ（830）〔輸入品〕：島津製作所／
デュポン
1972・高速液体クロマトグラフ（LC-1）：島津製作所
1972・HPLC 用示差屈折計（K-545，555，565）：エルマ CR
1972・高速 GPC 装置（HLC-801）〔高速 GPC 装置〕：東ソー
1972・HPLC 用ポンプ（FLC-1）：日本分光工業

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周

辺

装

置

1965 年
昭 40

1968・イ ン テ グ レ ー タ（3370A）〔 実 用 機， 輸 入 品 〕：YHP ／HP 社

1969・GC 用キューリーポイント
解装置〕：日本分析工業

パイロライザ（JHP-2）〔熱分

1970・分析用データ処理システム（クロマトパック 640）
〔ミニ
コン，GC 用，輸入品〕：島津製作所／ IBM1970 年
昭 45

1971・薄層クロマト自動検出装置（TFG-10）：ダイアヤトロン
1971・TLC ／ FID Ana1yzer（イアトロスキャン TH-10）〔無発
色・直接検出可〕：ヤトロン

1972・細管式等速電気泳動分析装置（IP-1A）〔電位勾配検出器〕：島津製作所

41

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

1973・非メタン炭化水素計（HCM-3A）：島津製作所
1973・オートサンプラー付ガスクロマトグラフ（GC-6A ／ AOC-6）：島津製作所

1975 年
昭 50

1974・ガスクロマトグラフ（5830A）〔データ処理機能内蔵，輸入品〕：YHP ／ HP 社
1974・GC 用ホール電気伝導度検出器〔窒素，硫黄，ハロゲン検出，輸入品〕：アステック／ Tracor
1974・ヘリウムイオン化検出器付自動ガスクロマトグラフ（AG-100H）：柳本製作所
1974・ガラスキャピラリーカラム：日立製作所
1975・超小形ガスクロマトグラフ（GC-mini 1）〔超小型，キャピラリカラム〕：島津製作所
1975・キ ャ ピ ラ リ ー カ ラ ム（G-SCOT）〔Support Co-ated
Tubular Column〕：ガスクロ工業
1975・スチームクロマトグラフ（701SSC-1）〔スチームガスキャリヤー方式〕：大倉理研
1976・ガスクロマトグラフ（350）〔保温スプリッタ付キャピラ
リーカラム専用 GC〕：ガスクロ工業

1977・ガソリン分析計（BC-1A）：島津製作所
1977・ガソリン分析計（763 形）：日立製作所
1977・ガソリンアナライザ（G1005）：柳本製作所

1978・ガスクロマトグラフ（GC-7A ／ GC-RIA）〔コンピュータ
制御，データ処理〕：島津製作所
1978・自動臭気分析装置（AOA-1A）〔自動分析計〕：島津製作所
1978・ガスクロマトグラフ（COS-GC）〔IC カード，分析及び運
転条件自動設定可〕：島津製作所
1978・ガスクロマトグラフ（G-180）〔非放射線形 ECD 搭載〕
：柳
本製作所

42

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1972・HPLC 用紫外検出器（UV-250）：日本分光工業
1972・レシプロ式高速液体クロマトグラフ（634）：日立製作所
1972・HPLC 用ポリマーゲル（3010）：日立製作所
1973・分取液体クロマトグラフ（LC-07，-08）：日本分析工業
1973・高速液体クロマトグラフ（L-1001，1002，1100）〔シリン
ジ形無脈流ポンプ〕：柳本製作所
1973・HPLC 用紫外分光検出器（UVIDEC-100）〔波長可変式〕：
日本分光工業
1973・逆相クロマト用充填剤（μBondapak C18）
〔輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1974・液体クロマトグラフ（L-1030）〔レシプロ型プランジャー式ポンプ〕：柳本製作所
1974・新オンフローインジェクター（U6K ユニバーサルイン
ジェクター）〔輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1974・デュアルプランジャー高速液体クロマトグラフ（635）：
日立製作所
1975・HPLC 用蛍光分光検出器（FP-100）：日本分光工業
1975・示差屈折検出器（RI-2 型）〔GPC，分取 LC 用の検出器〕：
日本分析工業

1976・高速液体クロマトグラフ（1084B）〔データ処理機能内蔵，輸入品〕：YHP ／ HP 社
1976・高速液体クロマトグラフ（TRIROTAR）〔3ヘッドポンプ，
低圧混合グラジエン卜〕：日本分光工業
1976・ミクロ高速液体クロマトグラフ（FAMILIC-100）〔プラス
チックマイクロカラム〕：日本分光工業
1976・分取 HPLC システム（S-500）〔輸入品〕：日本ミリポア／
ウオーターズ
1976・イオンクロマトグラフ（M-10，14）
〔輸入品〕
：安部商事
／ Dionex
1976・HPLC 用示差屈折率検出器（SE-11）〔RI 検出器〕：昭和電
工1976・小形ルーチン分析用高速液体クロマトグラフ（633）：日立製作所
1976・HPLC 用オートサンプラー（KMT-60-206）〔高圧下，60
検体，微量試料〕：協和精密
1977・LC 用ボルタンメトリー検出器（VMD-101）：柳本製作所
1977・高速液体クロマトグラフ（1081B）〔マイクロプロセッサ
内蔵，輸入品〕：YHP ／ HP 社
1977・全自動分取形高速液体クロマトグラフ（HLC-827）〔全自動分取〕：東ソー
1977・高温高速 GPC 装置（HLC-811）〔高温高速 GPC〕：東ソー
1977・グアニジン化合物分析システム（G-520）〔専用 LC〕：日本分光工業
1977・高速アミノ酸分析計（835）〔マイコン内蔵，5μm 樹脂〕：
日立製作所
1978・反 応 型 高 速 液 体 ク ロ マ ト グ ラ フ（HLC-805）〔コンポ
LC〕：東ソー
1978・胆汁酸分析システム〔固定化酵素カラム式，専用 LC〕：
日本分光工業クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周

辺

装

置

1974・分析用データ処理システム（クロマトパック C-1A）〔マ
イコン，小形専用〕：島津製作所
1974・分析用データ処理システム（クロマトパック C-4A）〔複
数台 GC 用〕：島津製作所
1974・インテグレータ（3380A）〔マイクロプロセッサ内蔵，レ
ポーティング式，輸入品〕：YHP ／ HP 社
1975・インテリジェントインテグレータ（500A）〔マイコン搭載自動データ処理装置〕：システムインスツルメンツ

1975 年
昭 50

1976・インテグレータ（3385A）〔自動注入装置連動，輸入品〕：
YHP ／ HP 社
1976・クロマトデータ処理装置（834）〔グラフィックプリンタ付〕：日立製作所

1977・インテリジェント・インテグレータ（5000A）〔10 ヶ分野
ファイル，不揮発メモリ保存〕：システムインスツルメ
ンツ1978・自動血球洗浄遠心機（MC-300）：日立製作所
1978・分析用データ処理システム（クロマトパック C-R1A）〔プ
1978・薄層板遠心クロマト（クロマトトロン 7924-T）〔輸入品〕：
リンタ，プロッタ内蔵〕：島津製作所
1978・HPLC データ処理機（データモジュール）〔輸入品〕：日ジャスコインターナショナル／ハリソン社
本ミリポア／ウオーターズ
1978・GPC 用光散乱高度計（LS-8）〔低角度レーザ方式〕：東ソー
1978・シリンジローディング・サンプルインジェクター（7120型）〔任意のサンプル量をシリンジで注入，輸入品〕：ケ
ムコ／ RHEODYNE 社

43

クロマトグラフ及び分離分析装置

1980 年
昭 55

44

ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1978・溶存ガス分離導入分析装置（DGA-MU）〔GC 法によるガス分析〕：ガスクロ工業
1979・金属中 O・N・H 同時分析装置（EMGA-1300）〔熱分解， 1979・全自動高温高速 GPC（1500）〔輸入品〕：日本ミリポア／
GC-TCD 法〕：堀場製作所
ウオーターズ1979・ガスクロマトグラフ（663）〔マイコン内蔵，データ処理 1979・新 HPLC 用カラム（ラジアルコンプレッションカラム）
内蔵〕：日立製作所〔輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1979・高速液体クロマトグラフ（638）〔マイコン，グラジエン
ト機能，データ処理機能〕：日立製作所
1980・フューズドシリカキャピラリーカラム：ガスクロ工業
1980・糖分析用 HPLC（シュガーアナライザー）〔輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1981・ガスクロマトグラフ（GC-9A）〔ホストコンピュータとの 1981・サプレッサ付イオンクロマトアナライザー（IC100）：横ネットワーク可能〕：島津製作所
河電機
1981・全自動ヘッドスペース濃縮導入装置〔GC 用〕：ガスクロ 1981・全自動高速液体クロマトグラフ（LC-4A）〔マイコン搭工業
載〕：島津製作所
1981・コールドトラップシステム〔キャピラリーカラムのクラ 1981・LC 用多極式ボルタンメトリー検出器（VMD-501）：柳本
イオフォーカッシング装置〕：ガスクロ工業
製作所
1981・GC 用光イオン化検出器（PID）：日立製作所
1981・HPLC 用赤外分光検出器（HPIR-100）〔波長可変形〕：日本分光工業
1981・LC 用蛍光モニター（RF-530）〔分光式 LC 用検出器〕：島津製作所
1981・全自動液体クロマトグラフ（JLC-200A）〔VIS，FL〕：日本電子
1981・高速液体クロマトグラフ（655）〔自動脈流補正付〕：日立製作所
1981・RI（高感度示差屈折）検出器〔発光ダイオード使用，輪入品〕：ケムコ／ Dr. KNAUER 社
1982・GC 用光イオン化検出器（PID）：島津製作所
1982・ミクロボアカラム高速液体クロマトグラフ（LC-5A）〔ミ
1982・ヘッドスペース分析システム（HSS-1A）〔トリハロメタクロボア内径 1mm〕：島津製作所
1982・HPLC 用示差屈折計（ERC-7510）：エルマ CR
ン分析システム〕：島津製作所
1982・化学結合型フューズドシリカキャピラリーカラム〔液相 1982・全自動カテコールアミン分析計（HLC-825CA）〔全自動固定化〕：ガスクロ工業
化専用 LC〕：東ソー
1982・高速イオンクロマトグラフ（HLC-601）〔ノンサプレッサ
方式一体型〕：東ソー
1982・生体モノアミン分析装置（L-3200V）〔専用 LC〕：柳本製作所
1982・タンパク質一次構造自動解析装置（JAS-570K）〔マイコ
ンコントロール化〕：日本電子
1982・HPLC 用瞬間マルチ測光システム（MCPD-350）〔3 次元解析〕：大塚電子1982・イ オ ン ク ロ マ ト グ ラ フ（ イ オ ン ク ロ マ ト ア ナ ラ イ ザ
IC100）〔イオン交換チューブ型サプレッサ式〕：横河電機
1982・糖分析システム（2000 シリーズ）〔イオン交換樹脂と電気化学検出器の組み合せによる（HPAE-PAD 法）糖質分析
装置，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
1983・HPLC 用 UV ／ VIS スペクトル検出器（1040A）〔ダイオー
ドアレイ方式，輸入品〕：横河電機／ HP 社
1983・高速液体クロマトグラフ（1090A）〔低拡散全自動液クロ，
輸入品〕：横河電機／ HP 社
1984・自動測定システムイオンクロマトアナライザー（IC500）：
横河電機
1984・汎用形高速液体クロマトグラフ（LC-6A）〔完全モジュー
ルタイプ〕：島津製作所
1984・HPLC 用水素炎イオン化検出器（945 型）〔ディスクベルト式気化，輸入品〕：アステック／トレイコ社
1984・GPC 用レーザ光散乱検出器（DAWNF）〔同時マルチアン
グル測定，輸入品〕：アステック／ワイヤット社

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

1979・細管式等速電気泳動装置（IP-2A）〔前段プレカラム方式
採用〕：島津製作所

周

辺

装

置

1979・イ ン テ グ レ ー タ（3388A）〔BASIC， 輸 入 品 〕：YHP ／HP 社
1979・ケムコスラリー充填機（124 型）〔HPLC 用カラムを容易に充填，製造可能〕：ケムコ

1980・インテリジェントインテグレータ（7000A）〔複数クロマト記憶，プログラマブル〕：システムインスツルメンツ
1981・HPLC 用オンライン脱気装置（デガッサー ERC-3310）〔膜利用〕：エルマ CR

1980 年
昭 55

1982・ワークステーション（720）〔ワークステーションの導入，輸入品〕：日本ミリポア／ウォーターズ
1982・分 析 用 デ ー タ 処 理 シ ス テ ム（ ク ロ マ ト パ ッ ク C-R2A）〔BASIC 機能内蔵〕：島津製作所
1982・小形クロマトデータ処理装置（833）〔再計算機能付〕：日
立製作所

1984・卓上型分離用超遠心機（TL-100）〔輸入品〕：ベックマン・ 1984・分析用データ処理システム（クロマトパック C-R3A）〔複コールター
数波形記憶可〕：島津製作所
1984・インテグレータ（クロマトコーダ 11）〔レコーダ感覚でだ
れもが使いこなせる。〕：システムインスツルメンツ

45

クロマトグラフ及び分離分析装置
1985 年
昭 60

ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
1985・GC 用ヘッドスペースサンプラー（19395A）〔揮発成分測定，輸入品〕：横河電機／ HP 社
1985・GC 用表面電離検出器（SID）：島津製作所

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1985・液体クロマトグラフ（JLC-300）〔マルチパーパス方式，
対話方式〕：日本電子1985・HPLC 用カラム恒温槽（SSC-3502C，-3512C）〔空冷式電子冷却素子〕：センシュー科学
1985・高速液体クロマトグラフ（CCP&8000 シリーズ）〔コン
ポーネント型コンピュータ制御ポンプ採用〕：東ソー

1986・GC 用 FT-IR 検出器（5965A）〔輸入品〕：横河電機／ HP
社
1986・ガスクロマトグラフ（GC-15 ／ 16A）
〔CRT 表示システム
GC，BASIC〕：島津製作所

1986・一体形液体クロマトグラフ（1090M）〔ワークステーショ
ン装備，輸入品〕：横河電機／ HP 社
1986・HPLC 用示差屈折計（ERC-7511）〔光学式オートゼロ〕：
エルマ CR
1986・超高温 GPC〔200℃以上〕：ガスクロ工業
1986・高速カウンターカレントクロマトグラフ（HCC-1A）：島津製作所
1986・高速アミノ酸分析計（L-8500）〔3μm 粒径樹脂採用〕：日立製作所
1986・インテリジェント HPLC システム（800 シリーズ）〔全ユ
ニット CPU 内蔵〕：日本分光工業
1986・オンラインイオンクロマトグラフ（8000 型）〔輸入品〕：
安部商事／ DIONEX
1986・グラジエントイオンクロマトグラフ（4000 シリーズ）〔輸入品〕：安部商事／ DIONEX
1986・自動形高速分取液体クロマトグラフ（SSC-6300 型）〔カラ
ム内径 30mm〕：センシュー科学
1986・HPLC 用光電導度検出器（965 形）〔紫外線酸化，輸入品〕：
アステック／トレイコ社
1987・LC 用プログラム式蛍光検出器（1046A）〔波長スキャニン
グ可，輸入品〕：横河電機／ HP 社
1987・分取液体クロマトグラフ（LC-8A）〔分析と分取可〕：島津製作所
1987・バイオコンパチブル液体クロマトグラフ（LC-7A）〔Ti 材
使用〕：島津製作所
1987・HPLC 用超音波検出器（UD-1）：昭和電工
1987・高速液体クロマトグラフ（L-6000）〔高圧・低圧グラジエ
ント選択可能〕：日立製作所
1987・インテリジェントポンプ（L-6200 形）：日立製作所
1987・イナートポンプ（L-6010 形）：日立製作所
1987・イオンクロマトグラフ（690）〔輸入品〕：メトローム・シ
バタ／メトローム社
1987・CAPCELL PAK AG〔シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：
資生堂
1988・超高温 GPC（VHT-7000）〔250℃〕：センシュー科学
1988・GPC 用示差屈折／粘度計（200）〔ホイストンブリッヂタ
イプ，輸入品〕：アステック／ディスコテック
1988・HPLC 用レーザ質量検出器（LLSD）〔輸入品〕：アステッ
ク／バレックス社
1988・液体クロマトグラフ（LC100）〔モジュラー形〕：横河電機
1988・液体クロマトグラフ（LC100）〔HP 社との共同開発のワー
クステーション付〕：横河電機
1989・分取用液体クロマトグラフ（C.I.G カラムシステム）：草野科学器械製作所

1987・シンナー計（PG-02）〔専用器，警察庁採用〕：柳本製作所
1987・マイクロセンサガス分析計（M-200）〔シリコン微細加工
技術応用〕：川鉄商事／日本タイラン

1988・等圧式ガス透過率測定装置〔等圧式 GC 法〕：ガスクロ工業

1989・GC 用原子発光検出器（5921A）〔輸入品〕：横河電機／
HP 社
1989・キューリーポント P&T サンプラ（JHS-100 型）〔プラス
チック・電子部品からのガス分析〕：日本分析工業

46

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等
1985・分離用小形超遠心機（CS-120）〔12 万 rpm〕：日製産業／
日立工機
1985・超臨界流体抽出・クロマト装置（SUPER-100）：日本分
光工業

1986・キャピラリー超臨界流体クロマトグラフ（M-501）〔輪入品〕：安部商事／ LEE Scientific 社

周辺装
置1985・LA システム（PLAN-310）〔GC ／ LC 用データ処理装置 1985 年
昭 60
24 台まで可〕：島津製作所
1985・インテグレータ（クロマトステーション）〔日本語 UNIX
集中管理報告，光伝送〕：システムインスツルメンツ
1985・サンプルインジェクター（EIE-005）〔接液部チタン製〕：
センシュー科学
1985・D-2000 形データ処理装置：日立製作所
1986・ワークステーション（PICO-TAG）〔新プレラベルアミノ
酸分析用，輸入品〕：日本ミリポア／ウオーターズ
1986・分析用データ処理システム（クロマトパック C-R4A）〔熱
転写プリンタプロッタ内蔵〕：島津製作所
1986・試料前処理 LA ロボットシステム〔GC，LC 用〕：島津製作所
1986・フラクションコレクター（ssc-6320）〔自動 16 バルブ，8
ピークまで可〕：センシュー科学
1986・液クロ用オートサンプラー（Model 23）〔簡単操作〕：シ
ステムインスツルメンツ

1987・巨大 DNA フラグメント分離用電気泳動システム（ジー 1987・分析用データ処理システム（クロマトパック C-R5A）
〔IC
ンライン）
〔輸入品〕：ベックマン・コールター
カード採用〕：島津製作所
1987・調製用液体等電点電気泳動装置（ロトフォア）〔輸入品〕： 1987・検出器用フィルタ（シグナルクリーナ SC70）〔ディジタ
日本バイオラッドラボラトリー
ルフィルター無歪ローパース〕：システムインスツルメ
ンツ1987・ポリマーコート型充填剤（カプセルパック）〔シリカゲル
表面にシリコンポリマーを被覆〕：資生堂
1987・超高圧自動ロータリーバルブ（EIE028）〔フラクションコ
レクター切替用〕：センシュー科学
1987・LC 用 PC ワークステーション（D6000）：日立製作所

1988・巨大 DNA 分離用電気泳動装置（CHEF-DR）〔輸入品〕： 1988・HPLC 用オンライン脱気装置（デガッサー ERC-3322）：
日本バイオラッドラボラトリー
エルマ CR
1988・分取超臨界流体抽出・クロマト装置（SUPER-200）〔分取 1988・クロマトグラムデータ処理装置（ラブチャート 80 ／ 180）対応〕：日本分光工業〔インクジェッ卜普通紙記録，IBM PC ／ AT 準拠〕：シ
1988・超臨界流体クロマトグラフ（SFC 200A）〔輸入品〕：島津
ステムインスツルメンツ
1988・D-2500 形データ処理装置：日立製作所
製作所／ SUPREX
1988・生産用連続超遠心機（CP-40Y）〔4 万 rpm〕：日立製作所
1989・超臨界流体クロマトグラフ（JSF-8800）〔セミミクロカラム式〕：日本電子
1989・全自動キャピラリー電気泳動システム（P ／ ACE System
2000）〔輸入品〕：ベックマン・コールター
1989・高速キャピラリー電気泳動装置（HPE-100）〔輸入品〕：
日本バイオラッドラボラトリー
1989・多機能超遠心機（Optima L&XL）〔コンピュータ最適自動化，輸入品〕：ベックマン・コールター

47

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

1990 年
平2

1991・ガスクロマトグラフ（G-5000 形）：日立製作所

1992・キャピラリガスクロマトグラフ（GC-14B シリーズ）〔省スペース〕：島津製作所
1992・エレクトロンキャプチャ検出器（ECD-17）：島津製作所
1992・炎光光度検出器（FPD-17）：島津製作所
1992・フレームサーミオニック検出器（FTD-17）：島津製作所
1992・気体試料濃縮装置（GAS-30 型）〔キャピラリーガスクロ
マトグラフ用〕：電気化学計器

1994・ガスクロマトグラフ（HP GCD システム）〔EID 付ガス
クロマト，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／
HP 社1995 年
平7

48

1995・ガスクロマトグラフ（HP6890 シリーズ）〔全自動分析シ
ステム，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／
HP 社
1995・水素炎イオン化検出器（FID-17）：島津製作所

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1990・イオンクロマトグラフ（IC7000）〔高感度・分析ユニット方式採用〕：横河電機
1990・CAPCELL PAK SG〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
1991・高速液体クロマトグラフ（LC-10A シリーズ）〔光ファイ
バーデジタルコミュニケーション〕：島津製作所
1991・マイクロボアイオンクロマトグラフ〔マイクロボア対応，
輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
1991・（HPLC システム 900 シリーズ）〔小型・軽量 HPLC シス
テム，小型システム〕：日本分光
1991・Ceramosphere Chiral RU-1〔光学分割カラム〕：資生堂
1992・イオン交換膜式電気透析型サプレッサー〔輸入品〕：日
本ダイオネクス／ダイオネクス社
1992・有機溶媒対応分離カラム〔有機溶媒中陰／陽イオン分析，
輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
1992・UMA〔微量分析／分取用 HPLC システム，輸入品〕：エーエムアール／マイクロム・バイオリソウシス社
1992・CAPCELL PAK UG〔高純度シリカ基材 HPLC 用カラム
各種官能基有り〕：資生堂
1993・セミミクロカラム高速液体クロマトグラフ（ナノスペー
ス）〔高感度・微量分析ができるセミミクロ HPLC〕：資生堂
1993・高速液体クロマトグラフ（HLC-8120GPC）〔一体型 GPC
専用装置〕：東ソー
1993・旋光度検出器（OR-990）〔Hg-Xe ランプを使用した HPLC
用高感度検出器〕：日本分光
1993・イオンクロマトグラフ（シアン／塩化シアン測定装置
CN7000）〔イオンクロマト式，専用シアン濃度計〕：横河アナリティカルシステムズ
1993・イオンクロマトグラフ（IC7000 シリーズⅡ）〔電気透析型
サプレッサー〕：横河アナリティカルシステムズ
1993・NANOSPACE（SI-1）〔セミミクロカラム HPLC〕：資生
堂
1994・パーソナルイオンアナライザ（PIA-1000）〔ポータブルタ
イプのイオン分析装置〕：島津製作所
1994・高 速 液 体 ク ロ マ ト グ ラ フ（L-7000 シ リ ー ズ ）〔GLP ／
GMP 対応〕：日立製作所
1994・CAPCELL PAK MF〔生体試料分析用カラム〕：資生堂

1995・ハンディクロマトグラフ（HC-2001）〔高性能デュアルポ
ンプ，検出器，カラムオーブン一体型でコンパクト設計〕：
旭テクネイオン
1995・高 速 液 体 ク ロ マ ト グ ラ フ ィ シ ス テ ム（System Gold
Nouveau）〔分析／セミ分取用，輸入品〕：ベックマン・コー
ルター
1995・微量ハロゲン硫黄分析装置（YS-10）〔有機物中のハロゲ
ン，硫黄を一斉分析できる自動装置〕：柳本製作所
1995・液体クロマトグラフ（HP1100 シリーズ）〔GLP ／ GMP
対応，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／ HP社
1995・恒温 GPC 測定装置（GPC-900）〔ポンプ・検出器の恒温化によるベースラインの安定化〕：日本分光クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等
1990・キャピラリー電気泳動システム（CE-800）〔手動型キャピ
ラリー電気泳動システム，UV 検出器使用〕：日本分光
1990・クロス分別クロマ卜 CFCT-150B〔TREF と SEC をオンライン化〕：三菱化学／三菱化成
1991・マルチチャンネルキャピラリー電気泳動装置（CAPI-3000）〔フォトダイオードアレイ方式〕：大塚電子

1992・分子間相互作用解析システム（Optima XL-A）〔高分子間の相互作用を自動解析，輸入品〕：ベックマン・コールター
1992・レーザ誘導蛍光ディテクタ（P ／ ACE）
〔キャピラリー
電気泳動用，輸入品〕：ベックマン・コールター

周

辺

装

置
1990 年
平2

1992・LC ／ GPCデータ処理及びシステム制御装置用（SC-8020）〔タッチパネル式〕：東ソー
1992・パージ & トラップ濃縮導入装置（LSC-2000）〔水中の揮
発性有機化合物測定，輸入品〕：ジーエルサイエンス／
Tekmar 社

1993・全自動キャピラリー電気泳動システム（CE-900）〔オート 1993・クロマト周辺装置（前処理装置 HP7686）〔GC，GC ／ MS
サンプラ，UV，FP，DOA 検出器が使用可〕：日本分光
用，サンプル自動前処理装置，輸入品〕：横河アナリティ
1993・全自動キャピラリー電気泳動（P ／ ACE System 5000）
カルシステムズ／ HP 社
〔イ
〔フォトダイオードアレイ検出器付，輸入品〕： ベック 1993・クロマトグラムデータ処理装置（ラブチャート180Ⅱ）
ンクジェット P ／ P による普通紙記録，IBM PC ／ A T
マン・コールター
1993・電気泳動分析装置（3 次元キャピラリー電気泳動システ
準拠〕：システムインスツルメンツ〔シリコン
ムG1600A）〔自動補正機構式加圧注入システム，輸入品〕： 1993・シリコンウェハーアナライザー（SWA-256）
ウェハーの形伏を変えずに表面の微量有機化合物を測
横河アナリティカルシステムズ／ HP 社
定〕：ジーエルサイエンス

1994・超臨界流体応用システム（SCF-201）：日本分光

1994・サンプル前処理自動中和装置（SP-10）〔強酸・強アルカ
リ中の微量陰／陽イオン分析前処理装置，輸入品〕：日
本ダイオネクス／ダイオネクス社
1994・クロマトシステム，マネージャ（Lachrom）〔WindowsNTを採用〕：日立製作所
1994・クロマトグラムデータ処理ソフト（SIC480）〔Windows
対応，DOS ／ V 用，日本語クロマトデータ処理ソフト〕：
システムインスツルメンツ
1994・クロマトグラムデータ処理ソフトウエア（SIC480 Ⅱデー
タステーション）〔画面のガイドにより楽々簡単操作〕：
システム・インスツルメンツ
1995・TLC，電気泳動定量定性装置用（スキャナー 3）〔輸入品〕： 1995・高速溶媒抽出装置（ASE-200）〔固体前処理装置，輸入品〕： 1995 年
平7
英弘精機／スイス・カマグ社製
日本ダイオネクス／ダイオネクス社
1995・ハイパフォーマンス遠心分離システム（Avanti HP-25） 1995・大気濃縮装置（Entech 7000）〔輸入品〕：横河アナリティ〔高速の分離技術，輸入品〕：ベックマン・コールター
カルシステムズ／ Entech 社
1995・プロテインシーケンサー（PCS：プロテインケミストリ 1995・液クロ用オートサンプラー（Model 33）〔簡単操作〕：シシステム HP241）〔N 末端，C 末端プロティンシーケン
ステムインスツルメンツ〔大気中の揮発性有機化
サー，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／ HP 1995・大気濃縮導入装置（AUTOCan）
合物を測定，輸入品〕：ジーエルサイエンス／ Tekmar
社
社

49クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

1996・高速ガスクロマトグラフ（Flash-GC）〔従来に比べて 5 ～30 倍速く分析，ピッツ・コン金賞受賞〕：日本サーモエ
レクトロン
1996・G-3500 形ガスクロマトグラフ：日立製作所

1997・キャピラリガスクロマトグラフ（GC-17A シリーズ）〔流量制御部を電子化〕：島津製作所
1997・ガスクロマトグラフ（HP4890）〔汎用型・高性能ガスク
ロマトグラフ，輸入品〕：横河アナリティカルシステム
ズ／ HP 社50

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1995・全自動アミノ酸分析装置（JLC-500）高速分析ワンボック
スタイプ Windows OS 採用：日本電子
1995・PL-GPC210〔高温／超高温用GPCシステム，輸入品〕：エーエムアール／ポリマー・ラボラトリー社
1995・Ceramosphere Chiral RU-2〔光学分割カラム〕：資生堂
1996・高速液体クロマトグラフ（ギガプレップ）〔パイロットスケール全自動分取 HPLC システム〕：資生堂
1996・イオン分析計（IA-100）〔データ処理装置一体形〕：東亜電波工業
1996・マジック 2002〔超微量分析／分取用 HPLC システム，輸入品〕：エーエムアール／マイクロム・バイオリソウシ
ス社
1996・イオンクロマトグラフ（MICシリーズ）〔高感度分析対応，輸入品〕：メトローム・シバタ／メトローム杜1996・フラッシュシステム〔大量迅速分取システム，輸入品〕：
和光純薬工業／バイオテージ社
1996・CAPCELL PAK SCX〔イオン交換カラム〕：資生堂
1997・高速アミノ酸分析（L-8800 形）〔低拡散反応カラムを採用〕：日立製作所

1998・ガスクロマトグラフ（マイクロ GC）〔小型軽量，迅速分
析（2 分）可〕：横河アナリティカルシステムズ
1998・G-7000 形ガスクロマトグラフ：日立製作所

1998・デュアル検出器（T60A）〔精度検出器，光散乱検出器，一体型〕：旭テクネイオン
1998・HPLC システム（1500 シリーズ）〔PC 制御，バリデーショ
ン対応〕：日本分光
1998・円二色性 HPLC 用検出器（CD-995）：日本分光
1998・SUCREBEAD Ⅰ〔糖分析用カラム〕：資生堂
1998・Chiral CD-Ph〔光学分割カラム〕：資生堂

1999・キャピラリガスクロマトグラフ（GC-1700）〔オートイン
ジェクタを標準装置〕：島津製作所
1999・ガスクロマトグラフ（HP6850 シリーズ）〔小型，シンプ
ル，高性能，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／ Agilent 社

1999・ハンディイオンクロマトグラフ（IC-200）〔高性能デュア
ルポンプ，電気伝導度検出器，カラムオーブン一体型でコンパクト設計〕：旭テクネイオン
1999・イオンクロマトグラフ（HIC-SP）〔ppb レベルの超高感度
イオン分析に対応〕：島津製作所
1999・高 速 GPC 装 置（HLC-8121GPC ／ HT）〔高速立上3時間の高温 GPC 専用装置（180℃）〕：東ソー
1999・高速液体クロマトグラフ LC-VP 溶出試験システム〔簡単に，しかも精度よくを実現〕：島津製作所
1999・データ管理ソフトウェア CLASS-Agent〔 種々の測定結果を管理するためのツール〕：島津製作所

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周

辺

装

置

1996・TLC・電気泳動撮影装置（ヒプロスター 3）〔輸入品〕：英 1996・パージ & トラップ装置（VOC-100 型）〔水中の揮発性有機
弘精機／スイス・カマグ社
化合物を測定〕：電気化学計器
1996・ハイパフォーマンス遠心分離システム（Avanti HP-30I） 1996・YMC-Pack Pro C18〔バリデーション対応 HPLC 用カラ〔超高速冷却遠心機，輸入品〕：ベックマン・コールターム（官能基 C18）〕：ワイエムシイ

1997・大容量ハイパフォーマンス遠心分離システム（AvantiHP-30I）〔輸入品〕：ベックマン・コールター
1997・キ ャ ピ ラ リ ー 電 気 泳 動 シ ス テ ム（P ／ ACE System
MDQ）〔96 穴プレート対応，輸入品〕：ベックマン・コー
ルター

1997・窒素ガス発生装置（N2 SUPPLIER model 10 ／ 20）〔メン
ブラン膜により大気中窒素を取り出す。LC ／ MS 用〕：
システムインスツルメンツ
1997・大口径分取カラム（ガウスプレップ）〔可動栓式大口径分
取カラム〕：資生堂
1997・LC 用処理及びシステム制御プログラム（LC-8020）〔パソコン対応〕：東ソー
1997・GC 用オートサンプラー〔COMBI PAL，輸入品〕：エー
エムアール／ CTC Analytics 社
1997・LC 用多機能オートサンプラー〔LC PAL，輸入品〕：エーエムアール／ CTC Analytics 社
1998・卓上型超遠心機（Optima MAX）
〔卓上型で大量処理が 1998・溶離液ジェネレーター（EG-40）〔溶離液調製装置，輸入
可，輸入品〕：ベックマン・コールター
品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
1998・マ ル チ キ ャ ピ ラ リ ー DNA 解 析 シ ス テ ム（CEQ2000） 1998・ガスクロマトグラフ高速化ユニット（EZ-Flash）〔分析時〔DNA シーケンシグ用，輸入品〕：ベックマン・コールター
間が 5 ～ 30 倍で速くできるアタッチメント〕：日本サーモエレクトロン
1998・GPC 専用データ解析プログラム GPC-8020〔パソコン対応〕：東ソー
1998・ガ ス ク ロ 周 辺 装 置 加 熱 脱 着 導 入 シ ス テ ム（TDS-4 ／TDS-2CIS-4）〔GC，GC ／ MS の前処理装置，輸入品〕：
横河アナリティカルシステムズ／ゲステル社
1998・エバポレイティブ光散乱検出器〔PL-ELS1000，輸入品〕：
エーエムアール／ポリマー・ラボラトリー社
1998・レーザー光散乱検出器〔PD2000 シリーズ，輸入品〕：エーエムアール／プレシジョン・デテクター社
1998・発生ガス濃縮導入装置（MSTD-258）〔内装材料，建材等から発生する有機化合物を測定〕：ジーエルサイエンス
1998・冷凍試料粉砕装置（JFC-300 型）〔プラスチックの微粒化装置〕：日本分析工業
1999・におい識別装置（FF-l）〔におい成分の直接測定が可〕： 1999・トリプル検出器（TDA300）〔屈折・粘度・光散乱検出器
島津製作所
一体，ポリマー分析用〕：旭テクネイオン
1999・油中ガス自動分析部（TG-4900）〔変圧器油中溶存ガスの 1999・クロマトグラムデータ処理ソフト（SIC480II）〔Windows
測定可能〕：日立製作所
対応，DOS ／ V 用，日本語クロマトデータ処理ソフト〕：
1999・超臨界二酸化炭素用送液システム（ペルチェ冷却式）
システムインスツルメンツ
1999・クロマトグラフ用データ処理装置 C-R8A〔充実したデー（SCF-Get）：日本分光
1999・超臨界流体用自動圧力調整弁（SCF-Bpg）：日本分光
タ処理機能をコンパクトに凝縮〕：島津製作所
1999・小型酸素ガス発生機（オキシミニ）〔パルス流制御式圧力
スイング吸着法（PF-PSA：特許）による〕：ジーエルサ
イエンス

51

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ2000 年
平 12

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

2000・キャピラリガスクロマトグラフ（GC-2010 シリーズ）〔高い信頼性と簡単操作，高速分析にも対応〕：島津製作所
2000・キューリーポント P&T サンプラ（JTD-505 型）〔電子部品
からのガス分析，CR 中の大気評価〕：日本分析工業

2001・ガスクロマトグラフ（Agilent 6890N）〔ネットワーク対
応，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2001・マイクロガスクロマトグラフ（Agilent 3000）〔電子制御（EPC）搭載，LAN 対応，輸入品〕：アジレント・テクノ
ロジー
2001・8 インチ ウエハ用アウトガス捕集装置（SW-8400 型）〔8インチ ウエハからのアウトガス評価用〕：日本分析工業
2001・微量ガス分析計（TGA-201）〔電子クーラー，自動濃縮機
構，オートサンプラー〕：ジェイ・サイエンス・ラボ

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
1999・糖分析システム〔高アルカリ下でのイオン分離と，金属電極による電気化学検出法（AMD）を採用〕：東亜電波工業
1999・高速 GPC 装置（HLC-8220GPC）〔セミミクロ対応の GPC
装置〕：東ソー
1999・アミノ酸直接分析システム（AAA- ダイレクト，DXa-500）〔電気化学検出器を用い，アミノ酸，中性糖及びアミノ酸を分析する〕：日本ダイオネクス
1999・LC 用示差屈折率検出器（HP1100 シリーズ）〔安定性・再現性改善，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／
Agilent 社
1999・LC 用ダイオードアレイ式紫外・可視分光光度計（HP8453）〔スペクトル瞬時測定，輸入品〕：横河アナリティカルシ
ステムズ：／ Agilent 社
1999・コンパクトイオンクロマトグラフ（761）〔Windows 対応，
完全 PC コントロールタイプ，輸入品〕：メトローム・シ
バタ／メトローム社
1999・CAPCELL PAK MG〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
1999・NANOSPACE（SI-2）〔セミミクロカラム HPLC〕：資生堂
2000・電場充填キャピラリーカラム 内径 0.075mm φ（Type-C）〔カラムに検出用セル窓を設けた，検出セルとカラムの一体型〕：ケムコ
2000・高速液体クロマトグラフ（LC-2010 シリーズ）〔試料処理能力の向上，自動化で生産性向上〕：島津製作所

2001・HPLC 用微少流量送液ポンプ（MP680）〔高精度連続送液可能なダブルピストンポンプ〕：ジーエルサイエンス
2001・HPLC 用ハイスループットオートサンプラ（SIL-HT）〔試
料のクロスコンタミネーションを大幅低減〕：島津製作所
2001・遺伝子解析装置（SNPsi）〔SSTEC 法を採用した遺伝子解析装置〕：ジーエルサイエンス
2001・CAPCELL PAK ACR〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
2001・高速液体クロマトグラフ（Summit）〔輸入品〕：日本ダイ
オネクス／ダイオネクス社

2002・医療用ガス分析計（GC202）〔改正薬事法に準拠した専用 2002・ナノインジェクター（NI-01）〔約 20nL 注入容量を正確に機〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
システム導入でき，カラムを直接接続可能〕：ケムコ
2002・鋼中水素測定装置（JTF-20A）〔高精度昇温管状炉，オー 2002・HPLC 用微少流量送液ポンプ（グラジェント機能付き）
トサンプラー，温度 ･ 時間 ･H2 量変化グラフ〕：ジェイ・（MP681）〔1 台でグラジェント送液可能なピストンポン
サイエンス・ラボプ〕：ジーエルサイエンス52

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

2001・マイクロチップ電気泳動装置（MCE-2010）〔新しい全自動電気泳動プラットフォーム〕：島津製作所

周辺装
置
1999・YMC-Pack Pro C 8〔バリデーション対応 HPLC 用カラム（官能基 C 8）〕：ワイエムシイ
1999・YMC-Pack Pro C 4〔バリデーション対応 HPLC 用カラム（官能基 C 4）〕：ワイエムシイ
1999・レーザー蛍光検出器（ZetaLIF 2000）〔蛍光検出器の 100～ 10000 倍の高感度，輸入品〕：三和通商／ Picometric

2000・ダイオキシン類クリーンアップ用 LC-VP 前処理システ 2000 年
平 12
ム〔前処理の利便性と省力化を実現〕：島津製作所
2000・ヘッドスペースサンプラー（Agilent 7694）〔EPC 対応，
輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2000・水素発生器（OPGU-7000）〔純水の電気分解により高純度
水素ガスを発生〕：堀場エステック
2000・環境水用半自動固相抽出システム（WAS697）〔サイフォ
ン管を利用した半自動化システム〕：ジーエルサイエンス
2000・ガスクロマトグラフ用ワークステーション（Gcsolution）〔豊富な機能が簡単操作で使用可能〕：島津製作所
2000・気化光散乱検出器（ELSD2000）〔デュアルモード測定，
輸入品〕：Systech ／ Alltech Associates Inc.
2000・遠心液液分配クロマトグラフ（CPC80 ／ 240 ／ 1400）〔カ
ラム不使用で分取〕：システム・インスツルメンツ
2000・クロマトグラフィーマネジメントシステム（Chromeleon）〔サーバークライアント方式，輸入品〕：日本ダイオネク
ス／ダイオネクス社
2001・洗浄バリデーション支援システム（Co-Sense for CV）〔洗浄バリデーション作業を自動化〕：島津製作所
2001・発生ガス濃縮導入装置（MSTD258）〔どのような形状の試料でも発生ガスを測定〕：ジーエルサイエンス
2001・生体試料分析システム（Co-Sense for BA）〔試料の前処理が不要な生体試料分析システム〕：島津製作所
2001・クロマトグラムデータ処理装置（クロマトコーダ 21）〔高速且つ静粛に普通紙に印刷可能〕：システム・インスツ
ルメンツ
2001・自動試料燃焼装置（AQF-100）〔燃焼吸収から IC 測定まで全自動〕：三菱化学アナリテック
2001・液クロ用オートサンプラー（Model09，KSP ／ KMT-100V）〔09 ～低価格 ･ 簡単操作，100V～高精度〕：システム・
インスツルメンツ
2002・自動濃縮装置（Entech 7100A）〔有害大気汚染物質から硫黄化合物など香気成分濃縮まで対象拡張，輸入品〕：
西川計測／ ENTECH 社（アメリカ）
2002・固相抽出 96 ウェルマイクロプレート（Oasis μElution プ
レート）〔低拡散固相抽出デバイス，輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ

53

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
2002・ガスクロマトグラフ（GC7000）〔ローコスト汎用 GC〕： 2002・高 速 液 体 ク ロ マ ト グ ラ フ（L-2000 シ リ ー ズ（LaChrom
ジェイ・サイエンス・ラボ
Elite））〔フロントアクセス，省スペース〕：日立ハイテ
クノロジーズ2002・クロマトデータステーション（EZChrom Elite）〔操作フ
ローガイドによるナビゲーション機能〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・HPLC 分取システム（PLC561）〔多機能，多用途に対応した自動分取システム〕：ジーエルサイエンス
2002・クロマトデータステーション（D-2000 Elite）〔USB 簡易接続〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・CAPCELL PAK AQ〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
2002・イオンクロマトグラフ（ICS-90）〔コンパクト，一体型
IC，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2003・液化炭酸中油分測定システム（GAL-201 ／ 202）
〔自動濃 2003・HPLC 用紫外可視検出器（UV702）〔キャピラリーチュー
縮機構，オートサンプラー〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
ブフローセルを採用〕：ジーエルサイエンス
2003・オンライン水中 VOC 測定装置（JVM-103）〔水中 VOC の 2003・高速液体クロマトグラフ用ワークステーション（LCsolution）
オンライン測定専用機〕：ジェイ・サイエンス・ラボ〔クロマトグラフ製品の操作体系を共通化〕：島津製作所
2003・フラクションコレクター（CHF122SB）〔幅広い用途に対応の高機能タイプ〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2003・HPLC 用光ファイバー紫外可視検出器（MU701）〔光ファ
イバー UV セルを採用〕：ジーエルサイエンス
2003・HPLC 用電気化学検出器（ED703）〔電解セルにダイヤモ
ンド電極を使用〕：ジーエルサイエンス
2003・旋光度検出器（キラライザー）〔HPLC で光学活性物質を高感度検出，輸入品〕：システムズエンジニアリング／
IBZ MESSTECHNIK GMBH
2003・CAPCELL PAK DD〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
2003・イオンクロマトグラフ（ICS-1000，1500，2000）〔コンパクト，一体型 IC，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオ
ネクス社
2003・ポストカラムモジュール（PCM-510）〔ポストカラム法に準拠，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社

2004・フラッドパネル用アウトガス捕集装置（FP-9000 型）〔液晶ディスプレイからのアウトガス評価用〕：日本分析工業
2004・自動燃料ガス分析計（GC2011）〔燃料ガス分析専用機〕：
ジェイ・サイエンス・ラボ
2004・ガスクロマトグラフ（GC-2014）〔高機能・高性能で拡張性にも優れる〕：島津製作所
2004・キューリーポント自動熱分解装置（JPS-700 型）〔40 試料の自動分析に対応〕：日本分析工業

542004・超高速液体クロマトグラフ（ACQUITY UPLC）〔高速・
高感度・高分離能 LC，輸入品〕：日本ウォーターズ／
ウォーターズ
2004・分取用 LC システム（K-Prep シリーズ）〔ユーザーの要望に合わせたカスタマイズが可能〕：ワイエムシィ
2004・バイオ LC システム（Bio-Prep シリーズ）〔ユーザーの要
望に合わせたカスタマイズが可能〕：ワイエムシィ
2004・高速液体クロマトグラフ（Prominence（LC-20A シリーズ））〔分析業務に革新的な変化をもたらす〕：島津製作所

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周

辺

装

置

2003・HPLC 用微少流量送液ポンプ（MP710，MP710i）〔高精度
連続送液可能なダブルピストンポンプ〕：ジーエルサイ
エンス
2003・HPLC 用微少流量送液ポンプ（グラジェント機能付き）（MP711，MP711i）〔1 台でグラジェント送液可能なピストンポンプ〕：ジーエルサイエンス
2003・GCxGC システム（KT2006）〔高分離，高感度，高選択性，
輸入品〕：ゲステル／ ZOEX 社
2003・マルチインジェクター／マルチインサートユニット（OPTIC3，DTD ／ DMI）
〔液体試料と固体試料揮発成分が導入できる，輸入品〕：ジーエルサイエンス／
ATAS GL International B.V.
2003・HPLC 用キャリヤー溶媒回収装置（SR671）〔試料成分を含まない溶離液を回収リサイクル〕：ジーエルサイエンス
2003・熱分解装置／水素添加装置（GPY201 ／ GPY-201H）〔熱
分解生成物に水素添加〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2003・パージ＆トラップ濃縮導入装置（AQUA PT5000J）〔精度管理のための新機能を搭載，輸入品〕：ジーエルサイ
エンス／ TELEDYNE-Tekmar 社
2003・GC ／ MS 香気分析データベースソフトウェア（Aroma
Office）〔香気成分の定性を飛躍的に効率化を実現〕：西川計測
2003・高速液体クロマトグラフ用カラム（OBD 分取カラム）〔OBD 分取テクノロジー，輸入品〕：日本ウォーターズ
／ウォーターズ
2003・パージ＆トラップ濃縮導入装置（Model 4660 P&T）
〔ノ
ンクライオ方式，輸入品〕：金陵電機／ OI Analytical
2003・パルスド炎光光度検出器（Model 5380 PFPD）〔硫黄化合
物，リン化合物に高選択性検出器，輸入品〕：金陵電機／ OI Analytical
2003・リージェントフリーコントローラ（RFC-30）〔スタンド
アロンタイプ溶離液生成装置，輸入品〕：日本ダイオネ
クス／ダイオネクス社
2004・ヘッドスペースサンプラー（Agilent G1888）〔不活性化
ライン標準搭載，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2004・デコンボリューション・レポーティング・ソフトウェア（DRS）〔スクリーニングに最適，輸入品〕：アジレント・
テクノロジー
2004・高速液体クロマトグラフ用カラム（ACQUITY UPLC
BEH カラム）〔粒子径 1.7μm ハイブリッドパーティクル，
輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ
2004・可動栓式分取カラム（DAU シリーズ）〔自己充填にて使用，コストパフォーマンスに優れる〕：ワイエムシィ

55

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
2004・ガスクロマト質量分析計（1200GC ／ MS ／ MS）〔食品
中残留農薬分析に最適，輸入品〕：バリアン・テクノロジー
ズ・ジャパン・リミテッド／バリアン

2005 年
平 1756

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
2004・CAPCELL PAK MG Ⅱ〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂
2004・NANOSPACE オートサンプラー Z〔超音波洗浄機搭載
オートサンプラー〕：資生堂
2004・高速液体クロマトグラフ（Agilent HPLC-Chip ／ MS）〔Chip テクノロジーを採用した Nano-LC，輸入品〕：ア
ジレント・テクノロジー
2004・CAPCELL PAK MG Ⅲ〔高純度シリカ基材 HPLC 用逆相カラム〕：資生堂

2005・12 インチ ウエハ用アウトガス捕集装置（SW-12400 型） 2005・高速アミノ酸分析計（L-8900）〔高感度，高速分析，タッ〔12 インチ ウエハからのアウトガス評価用〕：日本分析
チパネル簡易操作〕：日立ハイテクノロジーズ
2005・フォトダイオードアレイ検出器（L-2455）〔高感度／高波工業
2005・ガスクロマトグラフ（GAS1000）〔システム GC 専用機〕：
長分解能〕：日立ハイテクノロジーズ
2005・蛍光検出器（L-2485）〔高感度〕：日立ハイテクノロジーズ
ジェイ・サイエンス・ラボ
2005・キューリーポントインジェクター（JCI-22 型）〔固体，ガ 2005・HPLC 用 パ ル ス ア ン ペ ロ メ ト リ ッ ク 電 気 化 学 検 出 器
ス体試料を直接 GC に導入〕：日本分析工業（ED703 pulse）〔汎用からミクロ LC に対応した ECD〕：
ジーエルサイエンス
2005・HPLC カラム（ZIC-HILIC）〔ヒリックモード，輸入品〕：
クロマニックテクノロジーズ／ SeQuant
2005・SPE カートリッジ（ZIC-HILIC SPE）
〔ヒリックモード，
輸入品〕：クロマニックテクノロジーズ／ SeQuant
2005・荷電化粒子検出器 コロナ〔高感度汎用型検出器，輸入品〕：エル・エム・エス／ ESA a Dionex Company,
MA, USA
2005・高速液体クロマトグラフシステム（X-LC）〔超高速液体クロマトグラフシステム〕：日本分光
2005・高速液体クロマトグラフ（UltiMate3000）〔輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2005・イオンクロマトグラフ（ICS-3000）〔輸入品〕：日本ダイ
オネクス／ダイオネクス社
2006・医療用ガス分析計（GC202A）〔改正薬事法に準拠した自 2006・HPLC カラム（ZirChrom）〔輸入品〕：クロマニックテク
動専用機〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
ノロジーズ／ ZirChrom
2006・nanoLC（NanoFrontier nLC）
〔高い再現性による安定送液〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・高温 LC オーブン（Selerity Polaratherm Series9000）〔温度を自由自在に操れる LC オーブン，輸入品〕：ゲステ
ル／ Selerity Technologies
2006・超高速液体クロマトグラフ（Prominence UFLC）〔超高
速と分析精度・信頼性を両立〕：島津製作所
2006・超高速液体クロマトグラフ（LaChromUltra）〔操作性，
メンテナンス性を極めた超高速 LC〕：日立ハイテクノロ
ジーズ
2006・高速液体クロマトグラフ（Agilent 1200Series HPLC）〔高
速・高分離を実現した汎用型 HPLC，輸入品〕：アジレ
ント・テクノロジー

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周辺装
置
2004・HPLC 用送液ポンプ（K- シリーズ）〔脈流が少なく高精度な送液が可能〕：ワイエムシィ
2004・ピコフローモニター（PF-04）〔ピコリットル，ナノリッ
トル，マイクロリットルの流量をリアルタイムで測定可能〕：ケムコ
2004・キャピラリ・フロー・テクノロジー（CFT）〔ガス流量及び流路を自由自在に電子制御する技術，輸入品〕：アジ
レント・テクノロジー
2004・GC ／ MS精度管理・相対定量ソフトウェア（NAGINATA）〔データベースによる同定・定量分析が可能〕：西川計測
2004・溶離液ジェネレータ用超純水製造装置（ICW-2000）〔輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2005・デ ー タ 解 析 ソ フ ト ウ ェ ア（LC ／ GC ／ MS Powerd） 2005 年
平 17〔データ解析が容易〕：西川計測
2005・View Prep Station（GC 分取装置）（VPS278）〔分取成分の凝縮が目視できる分取装置〕：ジーエルサイエンス
2005・スニッフィングポート（GC 臭い嗅ぎ装置）（OP275）〔高沸点成分の凝縮を抑えた GC 臭い嗅ぎ装置〕：ジーエルサイエンス
2005・Olfactory Port & Voice（音声認識臭い嗅ぎシステム）（OPV277）〔音声認識システムを付属する臭い嗅ぎ装置〕：ジーエルサイエンス
2005・高速液体クロマトグラフ用カラム（XBridge カラム）〔エ
チレン架橋型ハイブリッドパーティクル，輸入品〕：日
本ウォーターズ／ウォーターズ
2005・プロテオミクス研究支援ソフトウェア（SOLPHI（ ソルフィ））〔タンパク質解析の情報を一元管理〕：島津製作所
2005・試料前処理ユニット（SPU-300）〔濃縮モジュール，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2005・大容量バイアルセレクタ（LVS-300）〔大容量オートサン
プラー，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2005・オートサンプラー（AS）〔輸入品〕：日本ダイオネクス／
ダイオネクス社
2006・残 留 農 薬 ク リ ー ン ア ッ プ GPC シ ス テ ム（G-Prep GPC
8100）〔GPCクリーンアップによる試料前処理装置〕：ジー
エルサイエンス
2006・マルチインジェクターシステム（Optic3 ／ LINEX）〔ラ
イナーを自動交換できる GC インジェクター，輸入品〕：
ジーエルサイエンス／ ATAS GL International B.V.
2006・ナノフロースプリッター〔ナノカラムに対応した微少流量調節器〕：ジーエルサイエンス
2006・高純度サンプルバイアル（LCMS 品質証明バイアル）〔LC／ MS による品質管理，輸入品〕：日本ウォーターズ／
ウォーターズ2006・気化光散乱検出器（ELSD3300）〔多言語対応，輸入品〕：
Systech ／ Alltech Associates Inc.
2006・プロテインシーケンサ（PPSQ-31A ／ 33A）
〔高感度なタンパク質アミノ酸配列決定に最適〕：島津製作所
2006・高速液体クロマトグラフ用カラム（ACQUITY UPLCHSS カラム）〔ハイストレングスシリカパーティクル，
輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ
2006・大 量 処 理 型 BioMEMS DNA シ ー ケ ン サ（DeNOVA5000HT）〔世界最高の処理能力の長鎖型サンガー CE〕：
島津製作所
2006・超高速 LC 用カラム（YMC-UltraHT シリーズ）〔超高速
LC に対応した 2um 充填剤カラム〕：ワイエムシィ

57

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ
2007・ガスクロマトグラフ（Agilent 7890A）〔第５世代 EPC 搭
載，CFT 機能，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2007・ガスクロマトグラフ（YX7000）〔タッチパネルによる簡単操作〕：ヤナコ計測
2007・マルチディメンジョナル GC ／ GCMS システム（MDGC／ GCMS-2010）〔多成分試料中の極微量成分の分離性能向上〕：島津製作所

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
2007・プロフェッショナル IC（850）〔IC チップ搭載で装置の自己管理能力アップ，輸入品〕：メトロームジャパン／メ
トローム社（スイス）
2007・脱気装置（305UP，310SP，310SF）〔最適脱気，自己診断，
GMP ／ GLP 対応〕：イーアールシー
2007・HPLC カラム（Sunrise C18-SAC）〔シラノール基を活用した逆相〕：クロマニックテクノロジーズ
2007・糖分析計（SU-300）〔簡易糖分析計〕：東亜ディーケーケー
2007・ナノフロー高速液体クロマトグラフ（Prominence nano）〔超微量生体成分の解析精度を向上〕：島津製作所
2007・CAPCELL PAK CR〔C18 と SCX を混合して充填〕：資生堂
2007・高速液体クロマトグラフ（Agilent 1120 Compact LC）〔基
本性能に優れた低価格汎用型 HPLC，輸入品〕：アジレ
ント・テクノロジー

2008・全イオウ測定装置（GTS-201）〔触媒還元炉，オートサン 2008・HPLC カラム TCI Dual（TCI Dual ODS-CX10TCI Dual
プラー〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
ODS-CX20TCI Dual ODS-AX10TCI Dual ODS-AX20）
2008・濃縮ガスクロマトグラフ（GAS-054）〔液体窒素を使った〔ODS+ イオン交換固定相〕：東京化成工業〔極
自動濃縮機構，オートサンプラー〕：ジェイ・サイエンス・ 2008・超高速液体クロマトグラフ（Prominence UFLCXR）
微量化合物の確実な高速分離で生産性向上〕：島津製作
ラボ
2008・ガスクロマトグラフ（GC7100）〔デジタル温度制御，デ所
2008・HPLC カ ラ ム TCI Pack ODS Tough（TCI Pack ODS
ジタル表示〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
Tough）〔高耐久性 ODS 固定相〕：東京化成工業
2008・HPLC カ ラ ム TCI Chiral（TCI Chiral MB-STCI Chiral
BP-STCI Chiral CH-S）〔ポリマレイミド合成高分子型固定相〕：東京化成工業
2008・HPLC カラム（Sunniest C18，RP-AQUA）〔エンドキャッ
ピング型逆相カラム〕：クロマニックテクノロジーズ
2008・リサイクル HPLC システム〔リサイクル分離手法による高分離能システム〕：ジーエルサイエンス
2008・HPLC 用リサイクルポンプ（PU712R）〔リサイクル機能を搭載した送液ポンプ〕：ジーエルサイエンス
2008・高速液体クロマトグラフ（eAlliance）〔ネットワーク構築
対応に最適な LAN 対応 LC，輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ
2008・HPLC 用レーザー励起蛍光検出器（LIF726）〔レーザー光源を使用した蛍光検出器〕：ジーエルサイエンス
2008・IF〔高純度シリカ基材 HPLC 用カラム〕：資生堂
2008・PROTEONAVI〔タンパク質分析用カラム〕：資生堂
2008・SUCREBEAD Ⅱ〔糖分析用カラム〕：資生堂
2008・PC HILIC〔HILIC カラム〕：資生堂
2008・イオンクロマトグラフ（ICS-900）〔輸入品〕：日本ダイオ
ネクス／ダイオネクス社
2009・ガスクロマトグラフ（Agilent 7820A）〔ルーチン分析に 2009・ハイスピードセパレーションHPLCシステム（LC800）〔カ
最適な GC，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
ラム性能を最大限に引き出すファースト LC〕：ジーエル
2009・ガスクロマトグラフ（GC Labostage）〔デジタル流量制
サイエンス
2009・リサイクル分取 HPLC（LC-Next 型）〔小型・高機能化リ
御，タッチパネル操作〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2009・ガスクロマトグラフィ（PR2100）〔高感度 FID 検出器をサイクル分取 HPLC〕：日本分析工業
採用，輸入品〕：アルファ・モス・ジャパン／アルファ・ 2009・荷 電 化 粒 子 検 出 器 CoronaUltra〔UHPLC 対 応 高 感 度
汎用型検出器，輸入品〕：エル・エム・エス／ ESA a
モス社
2009・キャピラリガスクロマトグラフ（GC-2010 Plus）〔世界最Dionex Company, MA, USA
高クラスの検出器感度を実現〕：島津製作所

58

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等
2007・DNA ／ RNA 分 析 用 マ イ ク ロ チ ッ プ 電 気 泳 動 装 置（MCE-202 "MultiNA"（マルチナ））〔アガロースゲル電気泳動を完全自動化〕：島津製作所
2007・E －グラフ（AE-9000）〔パソコン制御，画像のリアルタ
イム表示〕：アトー周辺装
置2007・固相加圧送液装置／アクアローダーツイン（SPL698T）〔1 台で 2 台分を処理する送液ポンプ〕：ジーエルサイエ
ンス
2007・MSD 用 直 接 導 入 プ ロ ー ブ（SIM DIP）
〔AgilentMSD 用
直接導入プローブ，輸入品〕：ゲステル／ SIM 社
2007・ダイナミックヘッドスペース（GERSTEL DHS）
〔自動化，ショートパス，高感度，輸入品〕：ゲステル／ゲス
テル社
2007・全自動キャニスター濃縮導入システム／ AERO タワー
システム（ASC-2100）〔ランニングコストを低減した濃縮導入装置〕：ジーエルサイエンス
2007・GC 用ワークステーション（YW7000）〔GC クロマトグラ
ムの最適処理化〕：ヤナコ計測
2007・紫外可視吸光光度検出器（VWD）〔水素ランプ，タング
ステンランプのデュアルランプ方式，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2007・溶離液ジェネレータ用超純水製造装置（ICW-3000）〔輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2007・カラム恒温槽（TC）〔輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイ
オネクス社
2008・原子発光検出器（JAS 2390AA）〔冷却水循環装置の長寿命，輸入品〕：西川計測／ JAS 社（ドイツ）
2008・微量フッ素測定装置（AQF-100F）〔PFOS，PFOA 等のスクリーニングが可能〕：三菱化学アナリテック
2008・高耐久性セミ分取カラム（YMC-Actus シリーズ）〔可動
栓カラムの技術を応用した高耐久性カラム〕：ワイエム
シィ
2008・キャリブレーションソフトウェア（MassWorks）〔四重極
MS から精密質量スペクトルを算出，輸入品〕：ゲステ
ル／ Cerno Bioscience 社
2008・試料濃縮装置（EVA Ⅳ）〔試料自動濃縮装置，溶媒自動回収，輸入品〕：三和通商／ LC-Tech
2008・全自動 GPC 前処理装置（GPC-ULTRA）〔試料を GPC 前
処理後オンライン濃縮，輸入品〕：三和通商／ LC-Tech
2008・HPLC 用イオン交換カラム（YMC-BioPro SP ／ QA）〔蛋
白，ペプチド分離に有用で高分離，高回収率〕：ワイエ
ムシィ
2008・Low Thermal Mass（LTM）〔カラム直接加熱方式，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2008・分散型固相抽出キット（DisQuE サンプル前処理キット）〔残留農薬スクリーニングキット，輸入品〕：日本ウォー
ターズ／ウォーターズ
2008・1 次 元 2 次 元 切 替 GC-MS（GERSTEL 1D2D）〔1 次 元 と 2
次元 GCMS を簡単切替可能〕：ゲステル／ゲステル社

2009・ネイティブン（NATIVEN）（AE-6760）〔電気泳動を利用 2009・オートサンプラー（7693A）〔サンプル前処理機能が追加，した蛋白質分取装置〕：アトー
輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2009・フラッシュクロマトグラフィーシステム（Reveleris） 2009・超高純度水素ガス発生装置（NM シリーズ）〔GC のキャ〔UV&ELSD 機能の付加，輸入品〕：Systech ／ Alltech
リアガスに使用可能，輸入品〕：西川計測／ Schmidln 社
Associates Inc.
（スイス）
2009・キャピラリー電気泳動（Agilent 7100CE）〔高感度キャピ 2009・高耐久性分取用充填剤（YMC-Exphere シリーズ）〔機械
ラリー電気泳動，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
強度，耐酸性に優れる〕：ワイエムシィ

59

クロマトグラフ及び分離分析装置
ガ

60

ス

ク

ロ

マ

ト

グ

ラ

フ

液体クロマトグラフ及び関連専用分析装置
2009・高速液体クロマトグラフ（Agilent 1290 Infinity LC）〔超
高速・高分離を実現した汎用型 HPLC，輸入品〕：アジ
レント・テクノロジー
2009・イオンクロマトグラフ（ICS-1100，1600，2100）〔溶離液
自動生成，溶離液の再生利用，電気的サンプル処理機能，
輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社

クロマトグラフ及び分離分析装置
その他のクロマトグラフ，電気泳動装置，遠心分離機等

周辺装
置2009・液体クロマトグラフ用 FID 検出器（LC-FID）〔液体クロマトグラフ用新検出器，輸入品〕：日本サーモ／英国
CSi 社
2009・HPLC 用高性能カラム（YMC-Triart C18）
〔非常に良好な
ピーク形状が得られる〕：ワイエムシィ
2009・ク ロ マ ト グ ラ ム デ ー タ 処 理 ソ フ ト ウ エ ア（SIC
μ7DataStation）〔超小型･超低価格で独立2チャンネル〕：
システム・インスツルメンツ
2009・オートサンプラー（AS-DV）〔輸入品〕：日本ダイオネク
ス／ダイオネクス社

61電磁気分析装置
概

説

電子顕微鏡
透過電子顕微鏡（TEM）は，1936 年に，ビッカース・AEI 社によって，加速電圧 20kV，分解能 1μm で初めて商品化された。1942 年には，50kV，5nm で国産化もされている。
1940 年代の海外製品は，3 段結像系で 100kV が主流になりつつあったが，国内では，50kV で 2 段（対物・投影）であった。1950 年代になると，国産品も 100kV から 300kV と高圧化され，1nm の高分解能になった。
1960 年代には，電気・電子材料が急速に進歩し，操作性が一段と向上し，超高圧 TEM（1000kV，1nm）が発表された。
1970 年代になると，世界最高加速電圧 TEM（3000kV）を完成させた。さらに TEM に走査像観察装置とエネルギー分散型 X 線分光器を付けた分析電子顕微鏡（AEM）が現れた。これがその後一般化して，今日では，200kV，300kV，400kV の AEM が拡く普及し，分解能も 0.14nm 以下に達した。
一般化した分析電子顕微鏡は，1990 年代に入り，分析能力を向上させるためにフィールドエミッション電子銃を搭載し，高輝度化が進むと共に，
HAADF（高角度散乱暗視野法），EELS（電子エネルギー損失分光）等が普及していった。
21 世紀を迎え，収差補正レンズが実用化されたことにより，大きく性能向上が進んだ。2009 年には，分解能 0.8Å（0.08nm）の収差補正レンズを搭載した電子顕微鏡が上市され，収差補正の時代へ入ってきた。また，画像解析技術の進歩により，三次元構築（3D）や，タンパクの構造解
析などのアプリケーションが普及してきた。
走査電子顕微鏡（SEM）は，1966 年に分解能 50nm で商品化された。
1970 年代になると，SEM に波長分散型 X 線分光器，光学顕微鏡，反射電子検出器を組込んだ分析 SEM が現れた。また，SEM 像のコントラス
トや輝度の自動化，そしてオートフォーカスが組込まれた SEM が商品化された。電界放射型電子銃を採用した FE-SEM では 3nm の分解能が得られた。
1980 年代になると，FE-SEM の分解能が 2nm に改良され，かつ安定化したことから，半導体，新素材開発分野へ急速に導入されてきた。そして強励磁対物レンズと FE 電子銃を組合せたインレンズ方式の FE-SEM が現われ 0.7nm の分解能を達成した。
また，SEM は IC 製造にも利用され，故障解析用のストロボ SEM，電子ビームテスタ，走査イオン顕微鏡と発展してきている。
大型ウェハ（6" ～ 8"）が全面観察できる SEM，ウェハレジストパターン測長 SEM，断面形状観察 SEM，3 次元測長 SEM 等の半導体関連 SEMが開発された。
そして，Åオーダーの 3 次元計測が可能な走査型トンネル顕微鏡が現れた。
1990 年代の汎用の SEM においては，近年の画像メモリーの低価格化と，画像処理技術の進展によって，フィルタリングによる S ／ N の改善と電子線の走査速度にとらわれない CRT 表示の TV スキャン化が標準的な機能となった。さらに，パーソナルコンピュータの普及は，SEM ／TEM への PC 搭載をうながし，これによって，画像の大容量記憶，ネットワーク化が容易になるとともに，ほとんどの操作がマウスで可能となってきている。
2000 年代に入り，対物レンズの強励磁化等により分解能が一層向上し，分解能 0.4nm を達成した。さらに，収差補正技術の導入等により，低加速電圧下での分解能向上がしており，低加速（1kV）でサブナノメートル（0.9nm）の高分解能 SEM も登場している。また，大気圧下で，光学顕微鏡と同一視野の像が観察できる SEM も開発されており，生体試料への応用が期待される。
MS，NMR，ESR• MS（質量分析計）
1951 年発表された質量分析計（MS）は，
ガス試料の同位対比定量分析を目的としたもので EI（Electron Ionization）イオン源によるものであった。
1963 年になって初めて有機試料のための加熱形間接試料導入法や直接試料導入法が開発された。この有機化合物分析用の MS は，当時世界に類を見ない画期的なものと評価を受け日本の MS が世界へ進出する端緒になった。GC-MS が各メーカーから発表されたのは 1970 年前後であるが，ヘリウムセパレータには種々の提案がなされ，いわゆる最終的な形のガラス一段ジェットタイプに落ち着くまでに 5 年以上の歳月を要している。
これまでの単収束セクター形に加えて，二重収束形や四重極形が使用され出したのもこの頃であり，イオン化法についても，化学イオン化法（CI），
負イオン法，フィールドイオン化法などが提案され，測定できる試料の範囲が格段に広がった。
1979 年に発表された LC と MS の結合には，サーモスプレー，API（大気圧イオン化），ESI（エレクトロスプレー），FAB-SIMS 法が用いられている。LC-MS によって難揮発性，熱に不安定な化合物の分離・質量分析がオンラインで接続され応用範囲がますます広がっている。また MS について特筆すべきは，1985 年以降の新しい MS ／ MS，レーザーイオン化，TOF-MS，ICP-MS 等新しい MS 領域の測定手法が拡大されたことであろう。
特に MS 装置の大型化と共に分解能・質量範囲が拡大し MS ／ MS も組合せ精密質量の測定が可能となり，蛋白を含む生体高分子などの構造解析への応用も拡大した。
一方，無機 MS においても汎用装置が出現し，小型の QMS 装置が導入され，MS 測定法がより一般的に広がると同時に，MS の性能向上と測定法の改良が応用分野を拡大していった。1995 年以降はダイオキシン汚染問題がクローズアップされ，更に数々の環境問題が生じて，検出感度の更なる向上や安定性向上等の要求に答えて装置は改良され，20 世紀末には fg オーダーの観測も可能となった。前処理方法の開発と共に GCMS と LC-MS の双方の威力を発揮することにより，生活に密着した環境問題を通して，分析機器が社会の問題に対応できることが認識されるようになった。
21 世紀に入り，質量分析計はその活躍の場を，創薬，環境分析，食品分析へと広げていき，極めて大きな市場を創生してきた。MALDI-TOF
MS によるたんぱく質のイオン化の研究による 2002 年の田中耕一氏（島津製作所）のノーベル賞受賞は，これを象徴したものである。技術的には，様々なタイプのタンデム型の分析計が次々と導入され，分析力を向上させている。加えて，新たなタイプのイオン光学系やイオン源も考案されている。中でも，小型高分解能という特徴を持つ電場型フーリエ変換質量分析計や，大気圧下で直接試料をイオン化できるイオン源の登場等，
従来の常識を覆す装置が登場してきている。このような新規技術の導入により，更なる市場の拡大が期待される。
• NMR（核磁気共鳴装置）
1952 年，米国から輸入された核磁気共鳴装置（NMR）は 30MHz，電磁石方式，ワイドバンド形で主に無機分析を対象としていた。国産機の発売は 1956 年以降で，32MHz から，40MHz，60MHz と有機試料分析用に高分解能化が図られた。1963 年前後に出揃った 60MHzNMR は，電磁石
を永久磁石に変えて，CW 形としては一時代を築くことになる。特に 1971 年に完成した超小型 60MHz 永久磁石形 NMR は輸出が国内向けより多くなり，世界的にも評価を得た。100MHz クラスまでは，電磁石であったが，200MHz 以上となると超伝導磁石が使用され，1977 年：200MHz，1980 年：400MHz，1982 年：500MHz，1988 年：600MHz と超伝導化が一気に進行した。FT 技術とコンピュータの発達で，いわゆる FT-NMR
が現れるのは 1971 年以降となる。
この間に 1970 年には CP ／ MAS 法による固体高分解能 NMR 法が開発されて固体物質の測定も可能になり，1973 年には NMR イメージ法が発62電磁気分析装置

表され無侵襲で生体物質の内部を NMR 的に観測が可能となった。この NMR イメージ法は後年急激な勢いで開発が進み，人体用の医用機器として広く市場に行き渡ることとなる。
FT-NMR 法の理論展開が進むと同時にコンピュータの普及と進歩により，1975 年二次元 NMR 法が発表されると SCM の高磁場化と相俟って，NMR で得られる情報の量と種類が急激に拡大し，有機化合物の構造解析には不可欠な方法となり装置の機能や性能の改良と自動化の推進により，あらゆる化学の領域で使用されるように成っていった。
更に，1987 年以降には多次元 NMR 法が開発され，蛋白質の構造解析にも威力を発揮することとなる。1990 年以降は超伝導材料の開発により1995 年には 750MHz，1998 年には 800MHz が開発され，依然高磁場化による高性能化が進行しつつある。併せて，コンピュータ技術と性能の急激な進歩により，大容量のデータの高速処理と装置の自動化が更に進行した。1990 年代に入って，注目を集めてきたバイオ分野に対して，蛋白質のみでなく幅広い分野での利用が進んだ。
2000 年代に入ると，高周波 RF 系へ全面的にデジタル技術が導入され，以降，分光計は小型化へと開発の方向性が転換した。一方で，高磁場化の流れも進み，2003年には世界最高磁場である930MHzNMR装置が国内で開発されるも，技術的制約により，高磁場化には限界が見えつつある。
その限界を突破し，高感度化を達成するために，検出器のプローブヘッドを極低温に冷やし熱雑音を減らす技術が開発された。
• ESR（電子スピン共鳴装置）
同じ磁気共鳴として NMR とほぼ同じ時期に手法開発されたが，海外からの輸入と国産共に製品化はやや後の 1957 年である。
ESR は信号の解析が簡単でないことから主に物理分野で使用されたが，1967 年国産の汎用型装置ができ，次第に応用分野を広げていった。
1970 年代後半になって，マイクロ波源がクライストロンから固体発振器に代わり，装置としての安定性も向上していった。
1980 年代に入ると，生体物質や代謝物などの活性酸素ラジカルに対する挙動を測定する方法が提案された。この手法はこの後，種々の生体ラジカル反応を伴う測定対象に応用され，物理分野とは別の ESR の応用分野を広げた。この方法は 1990 年代後半に至り，生体内の反応や活性の評価のため，ラジカルの分布や移動を測定する ESR イメージなどの技術に継承される。
1990 年代に入り，従来の研究志向の大型機とは別に，ラジカル測定による生体系免疫関連の用途の為，小型で簡易型の ESR が開発された。また，
1990年代後半には，100GHz前後の高磁場ESRや，
FT-ESR等も試作されているが，応用分野を含め未だ定まっていない。今後の動向が注目される。
X 線分析装置
1943年に日本のX線装置の歴史が始まる。1949年輸入品であるが自動記録式X線回折装置（国産品は1954年〉が出現する。今では当たり前となった自動記録が当時としては画期的な技術の進歩の時代であった。その後も次々と新しい装置が開発された。
1965 年迄に開発された主な装置には，微少焦点 X 線発生装置がある。技術的には真空管からトランジスタ全盛の時代になっていた。
1970 年代には，装置のトランジスタ化（半導体化）とともに種々な用途を目的とした装置が出現した。この頃が X 線分析にとっては分析法として最も進歩したときである。従って最も機種が多く現われた。
1980 年頃より，パソコンと組み合わせ，多機能な装置の制御やデータ処理が行われるようになり，より広い分野の研究開発や品質管理などに利用されるようになった。なお，1981 年文部省の高エネルギー物理学研究所において SOR ができてから，その新しい強力な X 線による新しい分析法が出来てきた。その一つが 1987 年の SOR 用蛍光 X 線分析装置である。
また，1988 年頃より，半導体産業での蛍光 X 線分析装置の利用が多くなり，装置の機能もマッピング機能，多元素同時で高速測定，微小領域分析など種々な用途を目的とした装置が出現した。その一例は，ウェハ表面の汚染を分析する全反射蛍光 X 線分析装置である。
1992 年に入ると，最大 200 × 200 × 40mm の試料分析可能の電子線マイクロアナライザ（EPMA）が出現。1993 年には SEM 像をリアルタイム
で観察する EPMA，1994 年にはネットワークによりリモートコントロール EPMA が出現した。
1995 年代に入るとパーソナルコンピュータの普及により，シリコンウェハの口径も 250mm と大口径化し，X 線回折装置（XRD），蛍光 X 線分
析装置（XRF），EPMA などの装置も半導体製造工程に対応できる機能をもったものが出現。
1996，1997，1998 年になると新しい技術（分析法，光学系，検出器など）による薄膜評価用 X 線回折装置，薄膜評価用蛍光 X 線分析装置，イメー
ジングプレート搭載迅速単結晶 X 線構造解析装置が出現した。
1997 年には粒子の自動抽出・連続自動分析・ケミカルタイプの自動判定のできる EPMA が出現した。
1990 年代後半から，電子部品検査や食品中の異物検査等を目的とした，試料内部を高分解能で透視観察する X 線透視装置及び X 線 CT 装置が開発されたが，2000 年代も引き続き，様々な性能を有する多くの装置が開発され，広く使用されている。
2000 年，2001 年には，微小焦点で高輝度化，超高輝度化された回転対陰極型 X 線発生装置が X 線回折装置の X 線源として開発された。
回転対陰極型 X 線発生装置は，それまでは，強力 X 線源としてパワーの増大が図られてきたが，2000 年代に入り，測定試料の微小化に伴って，高輝度 X 線源の需要が高まり，高出力型から高輝度型へと変化してきている。
この分野で最も大きなインパクトを与えたのは，2006 年に施行されたヨーロッパ連合の RoHS 指令である。これによって，規制物質の検査目
的で新たに蛍光 X 線分析装置市場が創出され，特に中国市場が拡大した。技術的には，X 線のエネルギー分散分析に用いられてきた検出器が液体窒素冷却タイプから，電子冷却タイプの SDD 型に移行し，使い勝手が向上し用途が拡大した。さらに，X 線源の改良も引き続き行われており，輝度向上による高感度化，測定時間の短縮，検出限界の引き下げにつながっている。
また，X 線集光素子（キャピラリー，多層膜ミラー等）技術の発展に伴い，X 線ビーム線束の微小化及び高輝度化が図られ，微小部の分析を効率よく短時間で行うことができる装置が作られるようになった。
表面分析装置オージェ電子分光分析装置（AES）は，電子銃内蔵の円筒鏡型分析器（CMA）のものが，1971 年に輸入された。
その後，高輝度エミッター LaB 6 ，ビーム強度変調法の採用により局所表面分析が可能になった。
1985 年には，空圧駆動ファラデーカップにより，定量精度の向上に貢献した。さらに，コンピュータ制御により，無人測定，広域イメージ分析，
画像処理の高速化，データ処理，フォーカス調整，非点補正の自動化等，大幅な操作の簡素化がなされた。
1990 年代には電界放射型電子銃の採用により更なる局所表面分析が可能になった。さらに，静電半球型分光器（HSA）によりエネルギー分解能の向上が図られた。
2000 年代に入り，電界放射型電子銃と静電半球型分光器（HSA）の普及が進んだことにより，光電子分光装置が得意としていた化学結合状態の分析がオージェ電子分光分析装置でも実用化された。また，チャージニュートライザの普及により，大変困難であった絶縁物分析が比較的容易に行える様になった。
光電子分光装置については，1971 年に初めて輸入され，また国産化もされている。当初，固体の表面分析装置として，開発されたが，次第に
AES，SIMS，ISS，XPS の複合化がみられた。
1980 年代になると，位置分解能の向上により，分析領域の微小領域化が進んだ。さらに，画像処理が付加された ESCA も現れてきた。
1990 年代には，新技術としての全反射 XPS の登場により，最表面に対する検出感度の向上が計られた。

63

電磁気分析装置
1940 年
昭 15

電
子
顕
微
鏡
1940・透過電子顕微鏡（HU-1）：日立製作所
1941・電子回折装置：島津製作所
1942・透過電子顕微鏡（HU-2）〔50kV，5nm〕：日立製作所

MS，NMR，ESR

1945 年
昭 20
1947・電子顕微鏡（SM-1A）：島津製作所

1949・透過電子顕微鏡（JEM-1）〔50kV，倒立型〕：日本電子1950 年
昭 25

1951・透過電子顕微鏡（JEM-4A）〔50kV，電子回折〕：日本電子
1951・透過電子顕微鏡（HS-2）〔50kV，普及型〕：日立製作所

1953・透過電子顕微鏡（HU-9）〔100kV，3nm〕：日立製作所
1953・電子顕微鏡（SUM-80）〔80kV，5nm〕：明石製作所
1954・透過電子顕微鏡（300kV TEM）
〔300kV，バンデグラフ
昇圧〕：日立製作所
1954・200kV 超高圧電子顕微鏡〔5nm〕：島津製作所
1954・電子顕微鏡（SUM-60）〔60kV，3nm〕：明石製作所
1954・電子顕微鏡（TR-50A）〔50kV，5nm）：明石製作所
1955 年
昭 30

1955・透過電子顕微鏡（JEM-T1）〔50kV，中型機〕：日本電子
1955・透過電子顕微鏡（HU-10）〔100kV，無電撃電子銃ダブル
コンデンサー〕：日立製作所
1956・透 過 電 子 顕 微 鏡（JEM-5G）〔100kV，1nm， 万 能 型，10万倍〕：日本電子

1958・透過電子顕微鏡（HS-6）〔50kV，全電子レンズの永久磁
石励磁〕：日立製作所
1958・300kV 超高圧電子顕微鏡（SMH-3）〔2nm〕：島津製作所

1960 年
昭 35

1960・透過電子顕微鏡（JEM-6A）〔100kV，0.8nm）：日本電子

1951・質量分析計（RMA-1）日立製作所

1952・核磁気共鳴装置（WL9）〔広幅 NMR〕：バリアンインスツ
ルメンツリミテッド
1953・質量分析計（CEC 社 103A）〔輸入品〕：コロンビヤ貿易
1953・核磁気共鳴装置（HR-30）〔高分解能 NMR〕：バリアンイ
ンスツルメンツリミテッド
1954・質量分析計（RMS-1）〔ガス分析用，小形〕：日立製作所
1954・質量分析計（RMD-1）〔重水素測定専用〕：日立製作所

1956・核磁気共鳴装置（JNM-1）〔32MHz CW NMR〕：日本電子
1957・質量分析計（RMI-1）〔同位体比測定用〕：日立製作所
1957・核磁気共鳴装置（JES-1）：日本電子
1958・ウラン測定用質量分析計〔ウラン同位体比測定用，表面
電離型〕：日立製作所

1959・質量分析計（RMU-5B）：日立製作所
1960・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-3H-40）〔40MHz， 高 分 解 能NMR）：日本電子

1961・電子顕微鏡（TRS-60A）〔50kV，1.5nm 高性能高圧安定化 1961・核磁気共鳴装置（RMU-3）：日立製作所
1961・電子スピン共鳴装置（JES-3B）〔100KHz〕：日本電子回路採用〕：明石製作所
1962・透 過 電 子 顕 微 鏡（HU-11A）〔125kV， 試 料 観 察 多 様 化， 1962・質量分析計（RMU-5G）〔超高真空極微量岩石地質年代測試料傾斜 TV 式〕：日立製作所
定用〕：日立製作所
1962・電子顕微鏡（TRS-80）〔80kV，1nm〕：明石製作所
1962・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-3H-60）〔60MHz， 高 分 解 能
NMR〕：日本電子
1962・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-C-60）〔 コ ン パ ク ト 型，60MHz，
高分解能 NMR〕：日本電子
1963・透過電子顕微鏡（JEM-SS30）〔30kV 小型スーパースコー 1963・質量分析装置（JMS-01）〔マッタオホ型二重収束，無機分プ〕：日本電子析用〕：日本電子
1963・質量分析計（RMU-6A）〔有機化合物分析用〕：日立製作所
1963・電子スピン共鳴装置（JES-P-10）〔分光計電磁石一体型〕：
日本電子

64

電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

表

面

分

析

装

置
1940 年
昭 151943・一つ窓式 X 線発生装置：島津製作所
1945 年
昭 20
1948・X 線回折装置〔ラボ用シェア世界トップ，汎用～特定使用まで幅広いラインナップ，輸入品〕：スペクトリス㈱パナリティカル事業部／自社（オランダ）
1949・細管式 X 線発生装置：島津製作所
1949・自記式 X 線回折装置〔輸入品〕：コロンビヤ貿易／ノレルコ
1950・X 線回折装置（SX-50 形）：島津製作所

1952・回転対陰極形 X 線発生装置（ロータフレックス）：理学
電機
1953・回転対陰極 X 線発生装置〔西山式〕：島津製作所
1953・蛍光 X 線分析装置（モデル 72000）〔ロジューム X 線管使用した工業用〕：住商商事
1954・自動記録式 X 線回折装置（ガイガーフレックス）：理学
電機
1954・走査型蛍光 X 線分析装置（K-3）
〔回折装置附属形〕：理学
電機
1954・2 段レンズ式微小焦点 X 線回折装置〔焦点：1 ～ 10μm〕：
島津製作所
1955・X 線応力測定装置（ストレンフレックス）：理学電機1950 年
昭 251955 年
昭 30

1957・エーレンベルグ形微小焦点 X 線発生装置（MDX-1）：島津製作所
1958・NaI（Tℓ）シンチレータ：堀場製作所
1958・X 線マイクロアナライザ（MS85）〔輸入品〕：トムソンジャパン／ CAMECA 社
1958・ポールフィギュア測定装置：島津製作所
1960・X 線マイクロアナライザ（TRA-25）：明石製作所
1960・100kV 自動蛍光 X 線分析装置〔輸入品〕：コロンビヤ貿
易／ノレルコ
1961・多元素同時分析形蛍光 X 線分析装置〔12 元素同時〕：島津製作所
1962・X 線マイクロアナライザ（JXA-3）〔X 線像，反射電子像，吸収電子像表示〕：日本電子1960 年
昭 35

1963・多元素同時分析形蛍光 X 線分析装置（VXQ）〔湾曲結晶 9
元素同時初〕：島津製作所

65

電磁気分析装置
電1965 年
昭 40

子

顕

微

鏡

MS，NMR，ESR
1963・核磁気共鳴装置（H-60）〔永久磁石方式，60MHz〕：日立
製作所
1963・パルス核磁気共鳴装置：日本ブルカー
1963・電子スピン共鳴装置（JES-3BX）〔テーブル型分光計〕：
日本電子
1963・ガスクロマトグラフ質量分析計（モデル RMU-6D）〔輸入品〕：パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1964・透過電子顕微鏡（JEM-7）〔100kV，電磁軸合せと電磁非 1964・質量分析計（RMU-7HR）〔二重収束型〕：日立製作所
1964・核磁気共鳴装置（HR-220）〔超伝導 CW NMR〕：バリアン
点補正〕：日本電子
1964・透 過 電 子 顕 微 鏡（HU-500）〔500kV，10 段 分 割 加 速 管，
インスツルメンツリミテッド
1964・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-4H-100）〔100MHz， 高 分 解 能
CW 昇圧〕：日立製作所
1964・500kV 超高圧電子顕微鏡（SMH-5A）〔0.69nm〕：島津製NMR〕：日本電子作所
1965・質量分析計（RMU-6D）〔ガスクロマトグラフ直結型〕：
日立製作所
1966・超高圧電子顕微鏡（JEM-1000）〔1000kV〕：日本電子
1966・質量分析装置（JMS-01S）〔マッタオホ型二重収束，有機
1966・透過電子顕微鏡（HU-200）〔200kV，汎用機最高加速電化合物分析用〕：日本電子
1966・核磁気共鳴装置（R-20）〔永久磁石方式，60MHz，ロック圧〕：日立製作所
1966・走査電子顕微鏡（JSM-1）〔50kV〕：日本電子
オン付〕：日立製作所

1967・透過電子顕微鏡（JEM-200）〔200kV〕：日本電子1967・NAG-500 マスフィルター〔四重極型〕：日電アネルバ
1967・核磁気共鳴装置（JNM-MH60）〔超小型 NMR ミニマー，
60MHz〕：日本電子1967・電子スピン共鳴装置（JES-ME 1X ／ 2X ／ 3X）：日本電子
1968・透過電子顕微鏡（JEM-100B）〔100kV，0.2nm分子像撮影〕： 1968・質量分析計（RMH-1）〔大型二重収束型〕：日立製作所
1968・核磁気共鳴装置（R20A）〔永久磁石方式，60MHz〕：日立
日本電子製作所
1968・FT NMR 用付属品（FT-100）：バリアンインスツルメン
ツリミテッド1969・透過電子顕微鏡（HU-1000）〔1000kV，30 段分割加速管〕： 1969・質量分析装置（JMS-06）〔GC-MS〕：日本電子1969・質量分析装置（JMS-05 RB）〔同位体比測定用〕：日本電
日立製作所
1969・走査電子顕微鏡（HSM-2）：日立製作所
子
1969・質量分析計（RMU-6K）〔金属蒸気分析用〕：日立製作所
1969・フーリエ変換核磁気共鳴装置：日本ブルカー
1970 年
昭 45

1970・透過電子顕微鏡（HU-12）〔125kV，0.3nm，倍率ズーム方式〕：日立製作所
1970・透過電子顕微鏡（HU-3000）〔3000kV〕：日立製作所
1970・電子顕微鏡（S-500）〔100kV，0.3nm，S ゾーンレンズ〕：
明石製作所
1970・走査電子顕微鏡（JSM-S1）〔4 ～ 10kV，回路 IC 化〕：日本
電子
1970・走査電子顕微鏡（SSM-2）〔小形 SEM〕：日立製作所

1970・LKB ガスクロマトグラフ質量分析計（LKB-9000）〔ジェッ
ト式ヘリウムセパレータ使用〕：島津製作所
1970・核磁気共鳴装置（R-20B）〔永久磁石方式，60MHz〕：日立製作所
1970・核磁気共鳴装置（JNM-PS-100）〔オールソリッドステー
ト，100MHz〕：日本電子1970・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-MH-100）〔 超 小 型 100MHz
NMR〕：日本電子
1971・残留ガス分析装置（RGA-750 形）：日本分光工業
1971・核磁気共鳴装置（R-24）〔永久磁石方式，小型 NMR〕：日立製作所
1971・核 磁 気 共 鳴 装 置（R-22）〔 永 久 磁 石 方 式，90MHz FTNMR〕：日立製作所
1971・核 磁 気 共 鳴 装 置（JNM-PFT-100）〔JNM-MFT-100〕〔FTNMR，100MHz〕：日本電子66電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

表

面

分

析

装

置

1964・ARL X 線マイクロアナライザ（EMX）：島津製作所
1964・走査型蛍光 X 線分析装置（IKF-3）〔現場用，測定制御プ
ログラム内蔵〕：理学電機工業

1965・単結晶自動 X 線回折装置（AFC）〔cpu 導入〕：理学電機
1965・X 線回折装置（JDX-5A）：日本電子
1966・半導体 X 線検出器（SL）〔リチウムドリフトシリコン形〕：
堀場製作所
1966・半導体放射線検出器（SB）〔シリコンサーフェースバリア
形〕：堀場製作所
1966・発光 X 線分析装置（JPX-3）〔平板結晶分光器使用〕：日本
電子
1966・X 線回折装置（VD-l）〔ゴニオメータとレコーダの連動〕：
島津製作所
1966・アルミニウム電解浴比管理用蛍光 X 線分析装置〔蛍光・回折併用〕：理学電機工業
1967・高真空形微小焦点 X 線発生装置（HIVAX）〔イオンポンプの採用〕：島津製作所
1967・X 線マイクロアナライザ（TRA-60）：明石製作所

1965 年
昭 40

1968・半導体γ線検出器（HGC，HGP シリーズ）〔リチウムドリフトゲルマニウム形検出器〕：堀場製作所
1968・多元素同時型蛍光 X 線分析装置（サイマルティックス I型）〔多元素同時〕：理学電機工業
1969・計算機制御全自動蛍光 X 線分析装置（CSX）：理学電機工業
1969・エネルギー分散形 X 線分析装置（EDAX Model 505）：
日本フィリップス
1969・高温 X 線回折 -DTA 同時測定装置：理学電機
1969・超軟 X 線分析装置：理学電機工業
1970・回転対陰型極X線発生装置（JRX-12VA）〔メカニカルシー
1970 年
昭 45
ルの採用〕：日本電子1970・X 線応力測定装置（SMX-50）〔計数管方式〕：島津製作所
1970・X 線マイクロアナライザ（EMX-SM）〔SEM と一体化〕：
島津製作所
1970・RI 励起式携帯型蛍光 X 線分析装置（ポータリックス）：
理学電機工業
1970・多元素同時型蛍光 X 線分析装置（サイマルティックス IV型）〔試料前処理 ASP 付〕：理学電機工業
1971・EDAX EXAM-2〔エネルギー分散形〕：日本フィリップ 1971・イオンマイクロアナライザ（IMA-1）〔表面分析用〕：日ス
立製作所
1971・オージェ電子分光分析装置 AES（Model 540）
〔電子銃内
蔵円筒鏡型分析器）〔輸入品〕：アルバック・ファイ
1971・ESCA（5950A）〔X-ray モノクロメータ使用，輸入品〕：
YHP ／ HP67

電磁気分析装置
電

子

顕

微

鏡

1972・超高圧透過電子顕微鏡（HU-1000）〔3MV 電顕〕：日立製
作所
1972・走査電子顕微鏡（JSM-50A）〔10nm〕：日本電子
1972・走査電子顕微鏡（HFS-2）〔FE-SEM〕：日立製作所
1972・走査電子顕微鏡（HFS -2）〔FE-SEM 1 号機〕：日立製作所
1972・走査電子顕微鏡（HHS-2R）〔10nm〕：日立製作所
1972・走査電子顕微鏡（ASM-ST）〔観察像の自動化〕：島津製作所
1972・走査電子顕微鏡（MSM-2）〔卓上形〕：明石製作所

MS，NMR，ESR
1971・超伝導核磁気共鳴装置：日本ブルカー
1972・質量分析装置（JMS-D100）〔化学イオン源採用，GC ／MS〕：日本電子
1972・ガスクロマトグラフ質量分析計（NAG-600）〔四重極型〕：
日電アネルバ1972・質量分析計（RM-50）〔ガスクロマトグラフ直結型，小形〕：
日立製作所
1972・質量分析計（RM-50（TG））
〔熱分析装置（TG）直結型〕：
日立製作所
1972・核磁気共鳴装置（R-24A）〔永久磁石方式，60MHz〕：日立製作所
1972・核磁気共鳴装置（R-22FT）〔永久磁石方式，90MHz FTNMR〕：日立製作所
1972・核磁気共鳴装置（CFT-20）〔炭素核専用 FTNMR〕：バリ
アンインスツルメンツリミテッド
1972・電子スピン共鳴装置（JES-PE 1X ／ 2X ／ 3X）〔テーブル
型 ESR〕：日本電子
1973・質量分析装置（JMS-Q10）〔四重極型 GC ／ MS〕：日本電子
1973・四 重 極 型 ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ 質 量 分 析 計（GC ／MS3100S 形）：日本分光工業
1973・核磁気共鳴装置（JNM-PMX60）〔永久磁石方式，H 核磁気共鳴装置〕：日本電子

1973・透過電子顕微鏡（JEM-100C）〔100kV〕：日本電子
1973・透過電子顕微鏡（JEM-500D（UHR））〔500kV，極低温超高分解能〕：日本電子
1973・透過電子顕微鏡（HU-12A）〔125kV，走査像観察装置附属 X 線分析機能〕：日立製作所
1973・走査電子顕微鏡（ASM-SX）〔分析 SEM〕：島津製作所
1973・走査電子顕微鏡（MRS-2）〔卓上型 TV 方式〕：明石製作所
1974・透過電子顕微鏡（JEM-100S）〔100kV，ダブル CL〕：日本 1974・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-9000A）〔IC-GC電子／ MS〕：島津製作所
1974・走査電子顕微鏡（JFSM-30）：日本電子
1974・質量分析装置（HP5985A）〔輸入品〕：YHP
1974・走査電子顕微鏡（SMS-1）〔25kV，10nm，高性能卓上形〕： 1974・核磁気共鳴装置（JNM-FX60）〔FT 専用高分解能 NMR，
明石製作所
60MHz〕：日本電子1975 年
昭 50

1975・透過電子顕微鏡（H-500）〔125kV，スポットスキャン・
TEM 附属〕：日立製作所
1975・透過電子顕微鏡（H-700）〔200kV，6 段加速〕：日立製作所
1975・走査電子顕微鏡（S-550 ／ 560）
〔6nm〕：日立製作所
1975・走査電子顕微鏡（S-500）〔6nm〕：日立製作所
1976・透 過 電 子 顕 微 鏡（JEM-100 CX）〔100kV， ク リ ー ン バキューム〕：日本電子
1976・透過電子顕微鏡（EM400）〔100kV，0.5nm，PROM べースデジタル倍率制御〕〔輸入品〕：日本フィリップス
1976・走査電子顕微鏡（S-310）〔小形 FE-SEM〕：日立製作所
1976・走査電子顕微鏡（S-310）〔テーブルトップ FE-SEM〕：日立製作所
1977・走 査 電 子 顕 微 鏡（JSM-25）〔オートフォーカス汎用
SEM〕：日本電子
1977・走査電子顕微鏡（S-450 ／ 430 ／ 410）
〔高分解能汎用小形SEM〕：日立製作所
1977・透 過 電 子 顕 微 鏡（JEM-200 CX）〔200kV， 装 置 の 高 さ
2.64m〕：日本電子

1975・核磁気共鳴装置（JNM-FX 100）
〔100MHz FT-NMR 専用機，QD 方式〕：日本電子
1975・核磁気共鳴装置（R-24B）〔60MHz，1H 三重共鳴付属〕：
日立製作所
1975・核磁気共鳴装置（R-42）〔FT-NMR，C ／ H 標準〕：日立製作所
1976・GC 質量分析装置（HP5990A）〔卓上型，自動チューニン
グ機能搭載，輸入品〕：YHP
1976・質量分析装置（JMS-D300）：日本電子
1976・電子スピン共鳴装置（JES-FE 1X ／ 3X）〔固体発振器採用〕：日本電子1977・質量分析計（M-60）：日立製作所
1977・UF6 同位体分析装置〔四重極型〕：日電アネルバ
1977・核磁気共鳴装置（XL-200）〔データ採取，データ処理用〕：
バリアンインスツルメンツリミテッド

1978・質量分析計（M-70）〔マイクロコンピュータ内蔵，ガスク
ロマトグラフ直結型，小形〕：日立製作所
1978・核磁気共鳴装置（R-600）〔小型 FT-NMR〕：日立製作所
1978・核磁気共鳴装置（JNM-FX90Q）〔オムニプロープの採用，90MHz FT-NMR〕：日本電子68電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

1972・エネルギー分散型半導体検出器（EDAX ECON）〔軽元素
分析が可能〕：日本フィリップス
1972・単結晶 4 軸型 X 線解析装置（P1）：ニコレー・ジャパン
1972・X 線マイクロアナライザ〔EDX 法採用，輸入品〕：堀場
製作所／ケベックス
1972・X 線マイクロアナライザ（JCXA-50A）〔cpu コントロー
ルシステム〕：日本電子

1973・走査型蛍光 X 線分析装置（3064）〔マイクロコンピュータ制御の採用〕：理学電機工業
1973・蛍光 X 線硫黄分析計（サルファー X3570）〔小型 X 線管の採用〕：理学電機工業

表
面
分
析
装
置
1971・電子エネルギーアナライザー（ESCA-1）〔軟 X 線励起法，
0 ～ 2000eV 領域〕：日本分光工業
1972・走査型オージェ電子分光分析装置 SAM（Model 545）
〔走査型，輸入品〕：アルバック・ファイ
1972・ESCA ／ AES 分析装置（Model 548）
〔Double Pass 法採用〕：アルバック・ファイ

1973・イオンマイクロアナライザ（IMS-300）〔投影形 2 次イオ
ン質量分析計／輸入品〕：コロンビヤ貿易／ CAMECA社

1974・X 線マイクロアナライザー（JRXA-50）〔放射性物質分析 1974・オージェ走査顕微鏡（JAMP-3）〔シリンドリカルミラー用〕：日本電子型アナライザ〕：日本電子
1974・ED 蛍光 X 線分析装置（ED 0810）〔輸入品〕：理学電機工 1974・走査型マイクロプローブオージェスペクトロメータ
業／ケベックス（EMAS-I）〔超高真空対応走査型〕：日電アネルバ
1974・微小部 X 線回折装置（マイクロディフラクトメータ）： 1974・X 線光電子分析装置（ESCA-650）〔輸入品〕：島津製作所
理学電機
／デュポン
1974・X 線 - 比熱同時測定装置（X・SH-2000）〔X 線回折 - 比熱分
析同時測定装置〕：真空理工
1975・走 査 型 オ ー ジ ェ 電 子 分 光 分 析 装 置 SAM（Model 590） 1975 年
昭 50〔LaB6 サブミクロンの SAM〕
〔輸入品〕
：アルバック・ファ
イ
1975・光電子分光装置（JESCA-2）〔シリンドリカルミラー型アナライザ採用，分解能 0.8eV〕：日本電子
1976・炭素分析装置付蛍光 X 線分析装置（3064）：理学電機工業
1976・X 線マイクロアナライザ（EMAX-1000）〔堀場 Si（Li）検出器を使用〕：堀場製作所

1976・ESCA ／ SAM 分析装置（Model 550）
：アルバック・ファ
イ1977・エネルギー分散形 X 線分析装置（EMAX-8000）〔SEM と一体化〕：堀場製作所

1977・超高真空 2 次イオン質量分析装置（A-DIDA 3000）：アルバック・ファイ

1978・放射能遮蔽形 X 線マイクロアナライザ：島津製作所
1978・X 線マイクロアナライザ（JCXA-733）〔スーパープローブ，ミニレンズ採用〕：日本電子1978・超強力 X 線発生装置（RU-1500）〔90kW〕：理学電機
1978・微小焦点 X 線発生装置（JMX-S2）〔歯科用〕：日本電子1978・走 査 型 オ ー ジ ェ 電 子 分 光 分 析 装 置 SAM（Model 595）
〔25nm のビーム径〕〔輸入品〕：アルバック・ファイ
1978・イオンマイクロアナライザ（IMS-3F）〔超高真空質量分
解能〕：コロンビヤ貿易／ CAMECA 社

69電磁気分析装置
電1980 年
昭 55

子

顕

微

鏡

MS，NMR，ESR

1979・透 過 電 子 顕 微 鏡（H-600）〔100kV， ト ー タ ル 分 析 電 顕， 1979・ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ 質 量 分 析 計（GCMS-6020）〔コン
LaB6 電子銃〕：日立製作所
ピュータコントロールによる GC-MS〕：島津製作所
1979・透過電子顕微鏡（H-600）〔マイコン搭載分析電顕〕：日立 1979・小形高速液体クロマトグラフ質量分析計（LC ／ MS100
製作所形）：日本分光工業
1979・走査電子顕微鏡（JSM-IC25S）〔IC 観察用 SEM〕：日本電 1979・質量分析計（M-80）〔化学イオン化，電界離脱イオン源搭
子載〕：日立製作所
1979・走査電子顕微鏡（DS-130）〔3nm，デュアルステージ方 1979・核磁気共鳴装置（JNM-FX200）〔超伝導磁石 200MHz FT式〕：明石製作所
NMR〕：日本電子
1979・走査透過電子顕微鏡（EM400T ／ ST）〔100kV，0.35nm，
ツインレンズタイプ〕〔輸入品〕：日本フィリップス
1980・電子顕微鏡（LEM-2000）〔電子顕微鏡と光学顕微鏡を一 1980・核磁気共鳴装置（R-90H）〔FT-NMR，CPU 自動分解能調
体化〕：明石製作所
整〕：日立製作所
1980・核磁気共鳴装置（JNM-FX400）〔400MHz FT-NMR〕：日本電子
1980・核磁気共鳴装置（JNM-FX270）〔270MHz FT-NMR〕：日本電子
1981・透過電子顕微鏡（JEM-1200EX）〔120kV，3 群 6 段結像レ 1981・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS 9100-DF）〔磁場
ンズ系の採用〕：日本電子先行型〕：島津製作所
1981・透 過 電 子 顕 微 鏡（H-1250S）〔1250kV，0.16nm，6.5 × 10 1981・核磁気共鳴装置（R-250H）〔250MHz，超伝導 NMR〕：日
Pa〕：日立製作所
立製作所
1981・走査電子顕微鏡（S-800）〔2nm，汎用 FE-SEM〕：日立製 1981・核磁気共鳴装置（JNM-GX400）〔400MHz FT-NMR，オー
作所
ル CPU コントロール〕：日本電子
1981・走査電子顕微鏡ウェット・セム（WS-300）〔水分等を含む試料の直接観察〕：明石製作所
1981・走査電子顕微鏡（SIGMA-I）〔ダブルディテクション方式〕：明石製作所

1982・透過電子顕微鏡（JEM-ARM 1000）〔1000kV，原子直視 1982・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP1000）〔小型，
超高圧電顕〕：日本電子
高性能〕：島津製作所
1982・透過電子顕微鏡（H-800）〔5 段結像系，像無回転拡大〕： 1982・キューリーポイントパイロライザー（JHP-3 型）〔GC-MS
日立製作所
用熱分解装置〕：バリアンインスツルメンツリミテッド
1982・走査電子顕微鏡（JSM-840）〔分解能汎用分析 SEM〕：日 1982・核磁気共鳴装置（JNM-GX 500 ／ 270）
〔FT-NMR，CPU
本電子
コントロール化〕：日本電子
1982・電子ビーム測長機（JEPAS-1000）〔集積回路専用測長機，4 インチウェハ〕：日本電子
1983・走査透過電子顕微鏡（H-1250ST）〔1250kV，電界放出型 1983・質量分析装置（JMS-HX100）〔有機高分解能装置〕：日本
電子銃搭載可能〕：日立製作所
電子
1983・透過電子顕微鏡（H-600FE）〔100kV，電界放出型電子銃 1983・ICP 質量分析計（ELAN250）〔誘導結合プラズマ方式，輸使用〕：日立製作所
入品〕：パーキンエルマージャパン／ PerkinElmer Inc.
1983・電子顕微鏡（EM-002A）〔画期的な低収差対物レンズ〕：
明石製作所
1983・走査電子顕微鏡（JSM-IC 845 ／ 848）
〔IC 専用 SEM，9 インチ〕：日本電子
1983・走査電子顕微鏡（S-570）〔汎用 SEM，3.5nm〕：日立製作所
1983・走 査 電 子 顕 微 鏡（S-530 ／ 570）
〔オートフォーカス付SEM〕：日立製作所
1983・走査透過分析電子顕微鏡（EM 420 STEM）〔120kV，総合分析電子顕微鏡〕〔輸入品〕：日本フィリップス
1983・膜厚・組成同時分析装置（3613）〔6 インチウェーハ対応〕：
理学電機工業
1984・透過電子顕微鏡（JEM-2000EX）〔200kV〕：日本電子1984・SIMS 6300：アルバック・ファイ
1984・透過電子顕微鏡（JEM-2000FX）〔200kV，極微小プロー 1984・質 量 分 析 装 置（JSM-DX303）〔 高 速 ス キ ャ ン，GC ／ブ照射系採用〕：日本電子
MS〕：日本電子70

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
1978・ケイ光 X 線微小部膜厚計（SFT-155）セイコー電子工業
1978・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDAX PV9100）〔定性・定量分析〕：日本フィリップス
1979・可搬式蛍光 X 線分析装置（ポータスペック，米国製）： 1979・走査型オージェ電子分光分析装置 SAM（AQM-808）〔low
理学電機工業cost〕：アルバック・ファイ
1979・走査型蛍光 X 線分析装置（3080）〔感度倍増，炭素分析機
能搭載〕：理学電機工業
1979・エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDAX PV9500）〔定性・定量分析〕：日本フィリップス

1980・自動 X 線マイクロプローブ（EXM-7000）〔横置型分光器の採用〕：エリオニクス
1980・蛍光 X 線分析装置（JSX60 P1 ～ 3）：日本電子1980・X 線光電子分析装置（ESCA-750）〔阻止電場形アナライ
ザー採用〕：島津製作所

1980 年
昭 55

1981・ケイ光 X 線微小部膜厚計（SFT-158）〔プリント基板用〕： 1981・イオンマイクロアナライザ（IMA-2RI）〔放射線シールド
セイコー電子工業
型〕：日立製作所
1981・蛍光 X 線分析装置（MESA-1100）〔エネルギー分散形〕：
堀場製作所
1981・絶縁油中全塩素・全硫黄同時分析装置（MESA-200）〔エ
ネルギー分散形〕：堀場製作所
1981・エネルギー分散形 X 線分析装置（EMAX-2000）〔定量分
析用〕：堀場製作所
1981・自動 X 線マイクロプローブ（EXM-9000）〔4ch（最大）自動
XMA〕：エリオニクス
1981・全自動 X 線回折装置（JDX-10PA）〔パソコンによる全自動化システム〕：日本電子
1982・電子線マイクロアナライザ（EPM-810）〔MPU によるソ
フトウェア制御〕：島津製作所
1982・X 線マイクロアナライザ（JCMA-733）〔ステージ・マッピング〕：日本電子
1982・X 線マイクロアナライザ（CAMEBAX Micro-beam）：ト
ムソンジャパン／ CAMECA 社

1983・ケイ光 X 線微小部膜厚計（SFT-157）〔CCD 採用〕：セイ 1983・複 合 表 面 分 析 装 置（ASIX-1000）〔AES，SIMS，ISS，
コー電子工業
XPS を標準化〕：島津製作所
1983・シリコンウエハ PSG 分析装置（MESA-1200 シリーズ）〔エ 1983・微小領域 ESCA（Model 5400）〔視野制限法〕：アルバック・
ネルギー分散形〕：堀場製作所
ファイ1983・自動 X 線回折装置（NEW-RAD シリーズ）〔マルチ CPU式〕：理学電機
1983・膜厚・組成同時分析装置（3613）〔6 インチウェハ対応〕：
理学電機工業

1984・波長分散 PIXE 装置（WDX-PIXE）：島津製作所
1984・電子線マイクロアナライザ用高速マッピング装置 H 形〔リアルタイムマッピング〕：島津製作所

1984・ESCA（Model 5000LS）〔大形試料が分析可能〕
：アルバッ
ク・ファイ

71

電磁気分析装置

1985 年
昭 60

電
子
顕
微
鏡
MS，NMR，ESR
1984・透過電子顕微鏡（JEM-4000EX）〔400kV〕：日本電子1984・質量検出器（HP 5970B）〔汎用型 GC，輸入品〕：YHP
1984・断面測定装置（PMS-1）〔凹凸形状を定量計測〕：エリオ
ニクス
1984・走査電子顕微鏡（S-806）〔IC 専用 FE-SEM，6 インチウェ
ハ全面傾斜〕：日立製作所
1984・半導体用走査電子顕微鏡（S-6000）〔IC 専用高精度寸法測長 FE-SEM〕：日立製作所
1984・測長機（MEA-3000）〔インラインタイプ〕：明石製作所
1984・電子ビームテスター（EBT-1000）〔非接触形IC検査装置〕：
明石製作所
1985・透過電子顕微鏡（H-7000）〔像無回転拡大と像任意回転〕： 1985・質量分析装置（JMS-HX 110）
〔高質量型〕：日本電子1985・質量分析装置（JMS-H X110 ／ HX 110）
〔高性能タンデム
日立製作所
1985・透過電子顕微鏡（H-9000）〔300kV，コンパクト〕：日立
MS〕：日本電子
1985・レーザマイクロプローブマスアナライザー（LAMMA-1000）
製作所
1985・走査電子顕微鏡（JSM-T330）〔フルオート分析 SEM〕
：日
〔輸入品〕：日電アネルバ／ライポトルト社
1985・GC ／ MS システム（HP 5988A）〔高性能 GC，輸入品〕：
本電子
1985・電子ビーム測長機（JEPAS-1200）〔20nm，6 インチウェ
横河電機／ HP
1985・ADVANCE DATA SYSTEM〔NMR 処理用コンピューハ〕：日本電子1985・走査電子顕微鏡（DS-130C）〔コニカル対物レンズ〕：明石タ〕：バリアンインスツルメンツリミテッド
製作所
1985・走査電子顕微鏡（S-900）〔電界放出電子銃，インレンズ
方式対物レンズ〕：日立製作所
1985・電子線表面形態解析装置（ESA-3000）〔三次元の形状計測〕：エリオニクス
1986・透過電子顕微鏡（JEM-2000FXV）〔200kV，超高真空電 1986・高分解能ハイブリッド MS-MS（VG ZAB-2SEQ），〔輸入子顕微鏡〕：日本電子品〕：ジャスコインタナショナル／ VG 社
1986・透過電子顕微鏡（JEM-2000SCM）〔200kV，超伝導レン 1986・質量分析計（M-80B）〔液体クロマトグラフ直結型，大型ズ〕：日本電子二重収束型〕：日立製作所
1986・透過電子顕微鏡（JEM-4000FX）〔400kV，超微小プロー 1986・核磁気共鳴装置（JNM-EX 90）〔90MHz FT-NMR〕：日本
ブ照射系〕：日本電子
電子
1986・電子顕微鏡（EM-002B）〔200kV の分析 TEM〕：明石製作 1986・電子スピン共鳴装置（ESP 300）
〔CPU コントロール化〕：
所
日本ブルカー
1986・情報集中透過型電子顕微鏡（CW10 ／ 12）〔100 ／ 120kV，メニュー方式〕〔輸入品〕：日本フィリップス
1986・走査電子顕微鏡（S-900）〔インレンズ形 Å-SEM〕：日立製
作所
1986・電子ビーム測長機（JEPAS-1200F）〔低加速フィールドエ
ミッション銃付〕：日本電子
1986・電子ビーム測長機（JEPAS-1200Z）〔ゴニオステージ付〕：
日本電子

1987・透過電子顕微鏡（JEM-4000 SFX）
〔400kV，極低温電顕〕：
日本電子
1987・情報集中透過電子顕微鏡（CM 30）〔300kV，0.2nm，走査像機能を内蔵〕〔輸入品〕：日本フィリップス
1987・走査電子顕微鏡（JSM-890）〔高輝度電界放射電子銃〕：日本電子
1987・電子ビームテスタ（S-8000）〔熱 FE 電子銃，半導体用電子ビームテスタ〕：日立製作所
1987・走 査 電 子 顕 微 鏡（S-2000）〔普及タイプのコンパクト
SEM〕：日立製作所
1987・走査電子顕微鏡（S-2100）〔自動化機能，ルーチン SEM〕：
日立製作所
1987・走査電子顕微鏡（S-2500）〔3.5nm（2.5nm-LaB6）〕：日立製
作所

72

1987・質量分析装置（FAB LC ／ MS）〔液体クロマトグラフ質量分析計〕：日本電子
1987・LC-MS-MS 装置（VG70-4F）〔輸入品〕：ジャスコインタ
ナショナル／ VG 社
1987・ICP 質量分析装置（PMS 100）
〔RF ジェネレーター一体型，ICP 質量分析装置〕：横河電機
1987・質量分析計（M-2000）〔分解能オートチューン内蔵〕：日立製作所
1987・ICP 質量分析装置（SPQ 6100）〔ICP 質量分析装置〕：セイコー電子工業
1987・核磁気共鳴装置（R-1500）〔60MHz FT-NMR〕：日立製作所
1987・フーリエ変換電子スピン共鳴装置〔FT-EPR〕：日本ブルカー

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
1984・走査型蛍光 X 線分析装置（3070）〔CPU 自動演算処理付〕： 1984・表面分析装置（AC-1）〔大気中の光電子分光が可能〕：理理学電機工業研計器
1984・微物分析装置（EXM-3500）〔EDS 専用 XMA（X 線マイク
ロアナライザー）〕：エリオニクス

1985・蛍光 X 線磁気ディスク膜厚計（3710A）〔3 層膜測定機能〕： 1985・マイクロオージェシムス（AAS-5050）〔6" ウェハが分析
理学電機工業可能〕：日電アネルバ
1985・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDAX PV9900）〔X 線
カラーマッピング・画像処理搭載〕：日本フィリップス

1985 年
昭 60

1986・CsI（Tℓ）シンチレータ〔高エネルギγ線検出用〕：堀場 1986・走査型オージェ電子分光分析装置SAM（Model 4300）〔球製作所
型セクター分光器〕〔輸入品〕：アルバック・ファイ
1986・高性能カソードルミネッセンス専用装置（CLA-1000）： 1986・オージェマイクロプローブ（JAMP 30）〔EDS，SIMS な
島津製作所
ど装着可能〕：日本電子
1986・X 線マイクロアナライザ（JXA-8600）：日本電子
1986・ESCA（Model 5400 MC）〔Al モノクロ線源採用〕：アル
1986・X 線マイクロアナライザ（CAMEBAX SX 50）〔輸入品〕：
バック・ファイ
1986・複合表面分析装置（ASIX-1000S）〔液体ヘリウム温度近トムソンジャパン／ CAMECA 社
1986・電子線マイクロアナライザ（EPMA-8705Q）〔パーソナル傍（10K）での分析〕：島津製作所
1986・イオンマイクロアナライザ（IMS-4F）〔投影形，走査形 2コンピュータによる全自動化〕：島津製作所
1986・画像解析 EPMA（SIPS-EPMA）：島津製作所
次イオン質量分析計〕：トムソンジャパン／ CAMECA 社
1986・ケイ光 X 線微小部膜厚計（SFT-7000）〔ニューメリカル 1986・SIMS 6500〔スパイラル掃引法〕：アルバック・ファイ
1986・イオンマイクロアナライザ（IMA-3）〔液体金属イオン源
フィルター法の採用〕：セイコー電子工業
1986・元素分析システム（EMAX-3000）〔エネルギー分散形マッ搭載〕：日立製作所
1986・大気中光電子分光装置（AC-1）〔大気中で光電子分光〕：
ピング画像処理実現〕：堀場製作所
1986・原油・重油中 Ni ／ V・Fe 分析装置（MESA-710）〔エネ
理研計器
ルギー分散形〕：堀場製作所
1986・走査型蛍光 X 線分析装置（3370，3371）〔オーダ分析機能，オンラインファンダメンタルパラメータ法ソフトウェア〕：理学電機工業
1987・卓上型ケイ光 X 線分析計（SEA 2001）：セイコー電子工 1987・走査型トンネル顕微鏡（Nano Scope Ⅰ）〔走査型トンネ業
ル顕微鏡初の商品化，輸入品〕：東陽テクニカ
1987・波長分散 SOR 蛍光 X 線装置（SOR-XRF ／ WDX）
〔集光形分光器〕：島津製作所
1987・全自動 X 線回折装置（RINT シリーズ）〔自動セッティング，ネットワークシステム内蔵〕：理学電機
1987・全反射蛍光 X 線分析装置（TREX 600）：テクノス
1987・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDAX PV9800）：日本
フィリップス
1987・単結晶 X 線構造解析ソフトウェア（TEXSAN）：理学電機

73

電磁気分析装置

1990 年
平2

74

電
子
顕
微
鏡
MS，NMR，ESR
1987・電界放射形走査電子顕微鏡（DS-130F）〔サーマル FE〕： 1987・電子スピン共鳴装置（JES-RE 1X ／ 2X ／ 3X）〔JES-RE
明石ビームテクノロジー
シリーズ，マイコン内蔵〕：日本電子
1987・走査電子顕微鏡（ABT-55）〔オートシーケンスオペレーション〕：明石ビームテクノロジー
1987・半導体用三次元微細形状測定装置（TOP-5000）〔ウェハ
表面の観察から形状測定〕：明石ビームテクノロジー
1987・電子線三次元粗さ測定機（ERA-3000）〔各種の評価項目を演算表示〕：エリオニクス
1988・透過電子顕微鏡（UHV-H-9000）〔超高真空試料室（～10-8 Pa）， 1988・液体クロマトグラフ質量分析計（LCMS-QP1000）〔小型
表面科学研究用〕：日立製作所
汎用 LC ／ MS〕：島津製作所
1988・透過電子顕微鏡（H-8000）〔200kV，高分解能高精度分析 1988・レーザーイオン化質量分析計（LAMS-50K）〔飛行時間型電顕〕：日立製作所
質量分析計〕：島津製作所
1988・走査電子顕微鏡（JSM-6400）〔画像処理システム〕：日本 1988・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP2000）〔小型
電子卓上型〕：島津製作所
1988・ULSI 高精度外観寸法評価装置（S-7000）〔6 インチウェハ， 1988・質量分析装置（JMS-SX102）〔高質量高感度型〕：日本電高精度測長〕：日立製作所
子
1988・走査電子顕微鏡（S-4000）〔1.5nm，画像メモリ搭載し， 1988・核 磁 気 共 鳴 装 置（R-1100，R-1200）〔RS-NMR 専 用 機 〕：
静止像表示〕：日立製作所
日立製作所
1988・走査電子顕微鏡（S-2500CX）〔大形試料（200mm），大角 1988・超伝導核磁気共鳴装置（AM 600）
〔600 MHz NMR 装置〕：
度傾斜（± 60°）〕：日立製作所
日本ブルカー
1988・磁 区 解 析 200kV SEM（MDA-200）〔200kV，300mm × 1988・TOF 型 SIMS 装 置（TRIFT-I）〔TRIFT 型 TOF 装 置［ 輸300mm の大試料〕：島津製作所
入品］〕：アルバック・ファイ
1988・半導体用インライン測長機（MEA-4000）〔サーマル FE， 1988・ICP-MS（PMS200）〔操作性，高感度化〕：横河電機
ツーカセッ卜方式〕：明石ビームテクノロジー
1988・走査型トンネル顕微鏡（SAM 3100）〔汎用型 STM〕：セイコー電子工業
1989・透過電子顕微鏡（JEM-2010）〔200kV，0.2nm，最小ビー 1989・TOF 型 SIMS 装置（PHI-7000）〔SALI 応用［輸入品］〕：ア
ム径 1nm〕：日本電子
ルバック・ファイ1989・透過電子顕微鏡（HF-2000）〔200kV，電界放出型電子銃 1989・バイオマス（VG BIO-Q）〔多価イオン化法を採用〕：ジャ採用〕：日立製作所
スコインタナショナル
1989・走査形トンネル顕微鏡（JSTM-4000XV）〔超高真空型〕： 1989・M-1000 形 LC ／ MS 分析計〔日立独自の APCI を採用〕：
日本電子
日立製作所
1989・走査電子顕微鏡（S-2400）〔静止画像方式の多機能汎用
SEM〕：日立製作所
1989・凹凸 SEM 走査電子顕微鏡（ESA-2000）〔凹凸プロファイ
ル測定 SEM〕：エリオニクス
1989・走査電子顕微鏡（S-2700）〔CRT 対話方式〕：日立製作所
1989・走査電子顕微鏡（ABT-32）〔自動化によるシンプル操作〕：
明石ビームテクノロジー
1989・走査イオン顕微鏡（SIM 8300）〔ミクロ断面加工，観察〕：
セイコー電子工業
1990・透過電子顕微鏡（JEM-3010）〔加速電圧 300kv〕：日本電 1990・二重収束質量分析装置（Auto Spec）〔EBE 光学系，輪入子品〕：ジャスコインタナショナル
1990・透過電子顕微鏡（JEM-1210）〔チップオン試料ホルダ， 1990・ICP 質量分析装置（SPQ 8000）〔ターボ分子ポンプ採用，32bitCPU 制御〕：日本電子
省スペース型〕：セイコーインスツルメンツ
1990・走査電子顕微鏡（JSM-6000F シリーズ）〔コニカル FE 電 1990・ICP-MS（PMS2000）〔Ωレンズによる軸ずらし方式〕：横子銃採用デジタル FESEM〕：日本電子
河電機
1990・超高真空走査形トンネル顕微鏡（JSTM-4000VT）：日本 1990・MIP-MS 元素分析装置（P-7000）〔マイクロ波プラズマ採電子用質量分析装置〕：日立製作所
1990・トンネル顕微鏡（V-3000）〔FE-SEM 付 STM〕
：日立製作所
1990・電子線三次元粗さ解析装置（ERA-8000）〔3D 測定 SEM〕：
エリオニクス1990・走査電子顕微鏡（XL シリーズ）〔PC コントロール・フ
ルデジタル，輸入品〕：フィリップスエレクトロンオプ
ティックス
1991・走査電子顕微鏡（ABT-60）〔コンピュータコントロール 1991・マイクロ波プラズマ質量分析計（P-7000）〔マイクロ波プシステム採用〕：トプコン
ラズマ採用〕：日立製作所

電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

表

面

分

析

装

置

1988・ケイ光 X 線微小部膜厚計〔半導体検出器の採用〕：セイ 1988・モノクロメーター付回転ターゲット XPS（XPS-7000）：
コー電子工業
理学電機工業
1988・Si ウェハ表面汚染分析装置（TREX 610）
〔全反射法の採 1988・X 線電子分析装置（ESCA-1000）〔微小領域で大形試料可用〕：テクノス
能〕：島津製作所
1988・超 LSI 用微小部応力・不純物分析装置（MESA-7000）：
堀場製作所
1988・微小部 X 線回折装置（MDS-Ⅰ シリーズ）：マック・サイ
エンス
1988・X 線回折装置（3 ～ 18kW）（MXP シリーズ）〔全自動調整広角ゴニオメータ自動可変スリット採用〕：マック・サ
イエンス
1988・迅速 X 線回折装置（蛋白用）（DIP1000 ／ 2000 シリーズ）〔円盤型イメージング・プレート採用〕：マック・サイエ
ンス

1989・全反射蛍光 X 線分析装置，System 3721 ／ 3725，X 線の 1989・走査型トンネル顕微鏡（SAM 3000）〔大気中用 STM〕：
全反射を利用した高感度タイプ：理学電機工業
セイコーインスツルメンツ
1989・時分割 X 線イメージングシステム，R-AXIS，繰り返し 1989・走査型プローブ顕微鏡（NanoScope Ⅱ）〔原子間力顕微鏡
使用可能な IP 使用装置：理学電機
初の商品化，輸入品〕：東陽テクニカ
1989・単結晶 X 線回折装置（4 軸）（MXC シリーズ）：マック・ 1989・中性粒子質量分析装置（INA-3）〔中性粒子をポストイオ
サイエンスン化〕：日製産業
1989・大型板状蛍光 X 線分析装置（3272）〔最大 400mm φ対応， 1989・オージェマイクロプローブ（JAMP-7100E），〔コンピュー
マッピング機能〕：理学電機工業
タによる分析機能の自動化〕：日本電子
1989・飛行時間形二次イオン質量分析計（TOF-SIMS Ⅲ）〔ドイ
ツ Münster 大学ベニングホーベンが最初に販売した製品，輸入品〕：カメカインスツルメンツ／トムソンジャ
パン

1990・高純度シリコン X 線検出器（Xerophy）〔保管時，液体窒 1990・イオンマイクロアナライザ（IMA-3000）〔トリプルイオ
素が不要〕：堀場製作所
ン源（O2，Cs，Ga）高感度，高分解能〕：日立製作所
1990・全反射蛍光 X 線分析装置（System 3726）〔回転対陰極，
ハイブリットモノクロメータ採用，半導体デバイス用ク
リーンルーム対応〕：理学電機工業
1990・超小角 X 線散乱装置（USAXS）〔数 1000Åからミクロン
オーダの密度ゆらぎ測定〕：理学電機
1990・三次元観察 X 線マイクロアナライザー（ERAX-8000）〔3D
測定+XMA（X線マイクロアナライザー）〕：エリオニクス
1990・全自動 X 線応力測定装置〔水蒸気パイプ等の大型試料の応力の測定・解析・分布図作成まで全て連続・自動〕：マッ
ク・サイエンス
1990・単結晶構造解析ソフト（CRYSTAN-GM）：マック・サイエンス
1991・蛍光 X 線硫黄分析計（サルファ-X 3670TA）〔JIS2541 に 1991・走査型原子間力顕微鏡（SPI3600 シリーズ）〔多機能型走準拠，小型 X 線管利用〕：理学電機工業
査型プローブ顕微鏡〕：セイコーインスツルメンツ

1990 年
平275

電磁気分析装置
電子
顕微鏡
1991・半導体専用電子ビーム測長機（ABT-2060）〔EWS（エン
ジニアリングワークステーション採用の 6 インチウェー
ハ対応機〕：トプコン
1991・ウェーハ異物観察分析装置（SAI 9800）〔8" ウェーハ上異物の簡易座標リンケージと元素分析機能〕：セイコーイ
ンスツルメンツ
1991・透過電子顕微鏡（JEM-1010）〔コンパクトな 100kV，汎用形〕：日本電子1991・走査電子顕微鏡（JSM-5200LV ／ 5400LV）〔低真空観察機能内蔵 SEM〕：日本電子
1991・CD-SEM（S-6180）〔8" 対応の CD-SEM）：日立製作所
1991・環境制御型電子顕微鏡（ESEM-20）〔1000Pa 以上の超低真空での 2 次電子検出，輸入品〕：ニコンインステック／エレクトロスキャン社
1991・走 査 電 子 顕 微 鏡（S-5000 ／ S-5000H）〔 最 高 分 解 能 FESEM のフル TV 表示化〕：日立製作所

MS，NMR，ESR
1991・FT NMR 装置（JNM-A500）〔多チャンネル RF 研究用多次元 NMR 対応〕：日本電子
1991・MS 用キューリーポイント熱分解装置（JD-800 型）〔熱分
解〜加熱導入装置〕：日本分析工業

1992・半導体専用電子ビーム測長機（MI-2080）〔8 インチウェー 1992・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP5000）〔小型，
ハ対応機，設置面積を最小化〕：トプコン高感度〕：島津製作所
1992・走査電子顕微鏡（DS-700 ／ DS-701）〔2 つの試料装置，高 1992・レーザイオン化飛行時間型質量分析装置（MALDIシリー
分解能デジタル SEM シリーズ〕：トプコン
ズ）〔輸入品〕：島津製作所／ KRATOS 社
1992・走査電子顕微鏡（JSM-6000F）〔新設計の強励磁低収差対 1992・高分解能質量分析計（M-4100）〔分解能（～ 60,000）〕：日
物レンズ採用〕：日本電子立製作所
1992・走査イオン電子顕微鏡（SMI8400SE）〔FIB，SEM デュア 1992・フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
ルビーム装置〕：セイコーインスツルメンツ（MA-200）〔永久磁石を使用〕：日機装
1992・フィールドエミッション電子線三次元粗さ解析装置 1992・M-1200H 形 LC ／ MS システム〔斬新なデザイン，コン（ERA-8000FE）〔フィールドエミッション 3D 測定 SEM〕：
パクト〕：日立製作所
エリオニクス
1992・CD-SEM（S-6200H，S-6280H）〔分解能 6nm at 1kV〕
：日立製作所
1992・サブミクロン立体構造分解装置（HM-2000）ミラクルアイ）〔高加速電圧で内部構造までも解析可能〕：日立製作所
1992・FIB 装置（FB-4080 ／ 2000）〔8 インチフルウェーハ用と小形試料用〕：日立製作所
1992・超高真空走査形トンネル顕微鏡（JSTM-4500VT）〔試料処理室に拡張性〕：日本電子
1992・走査形トンネル顕微鏡（JSTM-4100S）〔汎用形（大気圧）
STM，ドリフトフリーステージ搭載〕：日本電子
1992・高分解能・汎用型走査型プローブ顕微鏡（MultiMode）〔小型・高分解能・広い汎用性がある，輸入品〕：日本ビーコ
1993・走 査 電 子 顕 微 鏡（SM-500 ／ SM-510）〔CPU 制 御 の 汎 用 1993・電子スピン共鳴装置（ES-10）〔小型・卓上型，コンピュー
SEM シリーズ〕：トプコン
タ内蔵した ESR〕：日機装
1993・透過電子顕微鏡（JEM-3000F）〔300kV，FE 電子銃搭載〕： 1993・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP5000 シリー
日本電子ズ）〔卓上型〕：島津製作所
1993・透過電子顕微鏡（JEM-2010F）〔200kV，FE 電子銃搭載〕： 1993・飛行時間質量分析装置（Tof Spec）〔MALD イオン化，輸
日本電子入品〕：ジャスコインタナショナル／ VG 社
1993・走査電子顕微鏡（JSM-5800）〔大形試料室と 5 軸のコン 1993・ガスクロマトグラフ質量分析計（M-7200）〔3 次元四重極
ピュータ制御ステージ搭載〕：日本電子型質量分析計〕：日立製作所
1993・サブミクロン立体構造解析装置（HM-2000）〔8インチウェ 1993・GC ／質量分析装置（GC ／ MS，HP5972A）〔多機能化，
ハ対応高加速電圧二次電子観察装置：200kV〕：日立製
HP 製品，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ
作所76

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
1991・卓上型蛍光 X 線分析装置（SEA2010）〔高スループット 1991・オージェ電子分光分析装置（Model 670）
〔フィールドエ
型〕：セイコーインスツルメンツ
ミッション式電子銃採用（ビーム径 15nm），輸入品〕：
1991・ハンディ放射線測定器（PA-100）〔CsI シンチレータとホアルバック・ファイ
1991・走 査 型 プ ロ ー ブ 顕 微 鏡（NanoScope Ⅲ ）〔タッピングトダイオードを使用〕：堀場製作所
1991・蛍光 X 線硫黄分析計（SLFA-1000 シリーズ）〔卓上型，簡AFM を開発，輸入品〕：東陽テクニカ
1991・X 線光電子分光分析装置（ESCA 300）
〔高エネルギー分
単操作〕：堀場製作所
1991・蛍光 X 線分析装置（RIX3000）〔デュアルターゲット X 線
解能 ESCA，輸入品〕：セイコーインスツルメンツ／
管，10 結晶交換機，マルチタスクソフトウェア搭載〕：
SCIENTA 社）
1991・光電子分光装置（JPS-9000）〔汎用ルーチン分析に適した
理学電機工業
1991・10インチ用トポグラフイメージングシステム（XRT-300）
XPS 専用機〕：日本電子〔最大 10 インチ直径ウェハのトポグラフ撮影可能，TV
カメラで撮像可能〕：理学電機
1991・電子ブローブマイクロアナライザ（JXA-8800）〔EWS のマルチウインドウによるグラフィカルユーザーインターフェース〕：日本電子
1991・X線回折装置（JDX-3530）〔EWSコントロール〕：日本電子
1991・超 強 力 X 線 発 生 装 置（60kW）（M60X）〔60kW（60kV，1000mA〕：マック・サイエンス
1991・ワイゼンベルグ型迅速 X 線回折装置（DIP3000 シリーズ）〔湾曲型イメージング・プレート採用〕：マック・サイエ
ンス
1991・全自動単結晶カット面検査装置（MAP シリーズ）：マッ
ク・サイエンス
1992・シーケンシャル形蛍光X線分析装置（SXF-1200BF）〔ファ 1992・二次イオン質量分析計（IMS 5F）〔コンピュータによる
ンダメンタルパラメータ法データ処理搭載〕：島津製作
デジタルコントロール SIMS，輸入品〕：カメカインス
所
ツルメンツ
1992・卓上型蛍光 X 線元素分析装置（MESA-500）〔元素分析用， 1992・2 次イオン質量分析装置（SMIS4000）〔正負イオンのデュ
小型蛍光 X 線〕：堀場製作所
アルイオンビームによる簡易操作，輸入品〕：セイコー
1992・電子線マイクロアナライザ（EPMA-2000）〔最大 200 ×
インスツルメンツ／ ATOMIKA 社
200 × 40mm の試料分析可能〕：島津製作所
1992・コンバインマクロアナライザ（JXA-8900）〔WDS ／ EDS
コンバイン形 EPMA〕：日本電子
1992・エネルギー分散型コンパクト検出器（EDAX CDU）
〔保
管時，液体窒素が不要〕：日本フィリップス
1992・Kappa型4軸ゴニオメータ（カッパー・ミニ・シリーズ）〔高精度で，測角範囲が広い上部開放型高速 4 軸ゴニオメー
タ〕：マック・サイエンス
1992・二次元画像処理ソフト（MAC-DENZO）マック・サイエ
ンス
1992・高周波型強力 X 線発生装置（SRA シリーズ（3 ～ 18kW）〔完全非接触回転機構付回転対陰極（SRA）採用〕：マック・サイエンス
1992・蛍光 X 線分析装置〔ppm レベルの測定も可能な，高速高性能分析装置，輸入品〕：スペクトリス㈱パナリティカ
ル事業部／自社（オランダ）
1993・高純度シリコン X 線検出器（Super Xerophy）〔軽元素の 1993・雰囲気制御走査型トンネル顕微鏡（WET-901）〔制御雰囲
X 線から検出できる特殊窓使用〕：堀場製作所
気中での AFM 観察が可能〕：島津製作所
1993・X 線元素分析装置（EMAX-5770）〔31 元素高速・同時・ 1993・オージェマイクロプローブ（JAMP-7800）HSA によるエ
積算型マッピング〕：堀場製作所
ネルギー分解能の向上：日本電子
1993・全反射蛍光 X 線分析装置（System 3700）〔3 ビームモノク
ロメータ採用により軽元素から重元素までの分析可能〕：
理学電機工業
1993・電子線マイクロアナライザ（EPMA-1400，1500，2300）〔SEM 像をリアルタイムで観察〕：島津製作所
1993・蛍光 X 線分析装置（JSX-3200）〔エネルギー分散形，C ～U〕：日本電子77電磁気分析装置
電子
顕微鏡
1993・走査イオン電子顕微鏡（SMI8800SE）〔8" ウェーハ用デュ
アルビーム装置〕：セイコーインスツルメンツ

1995 年
平7

78

MS，NMR，ESR
1993・GC ／ MS 用周辺装置（ヘッドスペースサンプラ HP7694）〔GC ／ MS 用前処理装置，HP 製品，輸入品〕：横河アナ
リティカルシステムズ
1993・NMR 装置（JNM-MY60）〔プロトン専用 PC ベース 60MHz
永久磁石型 -CW-NMR〕：日本電子
1993・ハイブリット質量分析計（JMS-SX102AQQ）〔二重収束 +
四重極のハイブリットタンデムシステム〕：日本電子
1993・ICP 発光／ ICP 質量分析装置（POEMS）〔AES と MS との複合機，プレスクリーニング〕：日本ジャーレル・アッシュ
1993・電子スピン共鳴装置（JES-TE200 ／ 300）
〔デジタルマイクロ波ユニットによる自動測定対応〕：日本電子
1994・ウェーハ観察用 SEM（SDI4000）〔8" ウェーハ欠陥観察用 1994・ハイブリッド MS ／ MS 装置（Auto Spec-Tof）〔oa-Tof 付
高分解能 SEM・EDS〕：セイコーインスツルメンツ
属，輸入品〕：ジャスコインタナショナル
1994・電 界 放 出 型 超 高 分 解 能 分 析 電 子 顕 微 鏡（EM-002BF） 1994・ICP-MS（HP4500）〔ベンチトップ型，オートチューニン〔0.3nm の微小領域での元素分析〕：トプコン
グを開発，第 29 回機械振興協会会長賞受賞〕：横河アナ
1994・半導体検査用走査電子顕微鏡（LS-780）〔LSI の表面観察・
リティカルシステムズ
1994・卓上形 QMS（JMS-AM Ⅱシリーズ）〔高感度ベンチトッ
検査用，低加速電圧 1kV で分解能 4nm〕：トプコン
1994・半 導 体 専 用 電 子 ビ ー ム 測 長 機（MI-3080）〔低加速電圧
プ四重極 GC ／ MS〕： 日本電子
1994・FT NMR 装 置（JNM-LA シ リ ー ズ ）〔 汎 用 CPU を 搭 載，800V で分解能 5nm，測長再現性 5nm〕：トプコン
1994・走査電子顕微鏡（SM-501 ／ SM-511）〔光顕像をカラーモ
自動測定に対応〕：日本電子
1994・高分解能 ICP-MS（JMS-PLASMAX 2）〔逆配置二重収束
ニタにデジタル表示〕：トプコン
1994・環境制御型電子顕微鏡（ESEM-2700）〔環境 SEM 初の国光学系による高分解能 ICP-MS〕：日本電子
1994・高性能二重収束質量分析計（JMS-700）〔コンピュータフ産化〕：ニコンインステック
1994・CD-SEM（S-8000 シリーズ）〔分解能 5nm at 800v 全自動
ルオート制御〕：日本電子測定〕：日立製作所
1994・走査形トンネル顕微鏡（JSTM-4200D ／ A ／ S）
〔ヘッド
交換タイプの汎用 SPM〕
（STM ／ AFM）：日本電子
1994・超高真空走査形トンネル顕微鏡（JAFM-4500XT）〔3 室構
成の小形 UHV-AFM〕：日本電子
1994・フィールドエミッション走査電子顕微鏡（JSM-6320F）〔セミインレンズ形対物レンズを採用〕：日本電子
1994・走査イオン顕微鏡（SMI9800）〔8" ウェーハ用高分解能
FIB〕：セイコーインスツルメンツ
1995・走査電子顕微鏡（SM-520）〔中型 SEM に FE 電子鏡を搭 1995・TOF 型 SIMS 装置（TRIFT- Ⅱ）〔In（インジウム）パルス載〕：トプコン
イオン銃，低速イオン銃搭載，輸入品〕：アルバック・ファ
1995・超高圧透過電子顕微鏡（H-3000）〔超高圧電顕〕：日立製
イ1995・ICP 質量分析装置（SPQ 9000）〔Q ディフレクター採用，
作所
1995・走査電子顕微鏡（S-3200N ／ H）
〔GUIによるマウス走査〕：
メンテナンスフリーイオンレンズ〕：セイコーインスツ
日立製作所
ルメンツ
1995・透過電子顕微鏡（JEM-1220）〔高コントラスト対物レン 1995・フリーラジカルモニタ（JES-FR30）〔活性酸素測定専用
ズ，GUI 環境とマウス操作〕：日本電子装置〕：日本電子
1995・大型試料用走査型プローブ顕微鏡（汎用型）（Dimension 1995・質量分析計（JMS-600）〔イージーオペレーションシステ
3100）〔大型試料用の代用的汎用機，輸入品〕：日本ビームによるルーチン分析用 MS〕：日本電子コ電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

表

面

分

析

装

置

1994・シーケンシャル形蛍光 X 線分析装置（XRF-1700）〔1mm 1994・二次イオン質量分析計（IMS 6F）〔深さ分解能改善，輸での局所分析が可能〕： 島津製作所
入品〕：カメカインスツルメンツ
1994・微小部蛍光 X 線分析装置（SEA5100）〔微小部分析用〕： 1994・飛行時間形二次イオン質量分析計（TOF-SIMS Ⅳ）〔表面
セイコーインスツルメンツ
汚染，有機物分析用 SIMS，輸入品〕：カメカインスツ
1994・ワイセン型 IP 回折装置（R-AXIS CS）〔IP 使用，自動読
ルメンツ
み取り，解析可能〕：理学電機
1994・多元素同時蛍光 X 線分析装置（サイマルティックス 10／ 11）〔装置の小型化，分析精度の向上，マルチタスク，
メンテナンス機能充実ソフト搭載〕：理学電機工業
1994・電子ブローブマイクロアナライザ（JXA-8800R ／ JXA8900R）〔ネットワークによるリモートコントロール，不規
則凹凸面のガイドネット機能による面分析〕：日本電子
1994・超小角 X 線散乱測定装置〔高分子材料の測定に最適〕：
マック・サイエンス
1994・微小部 X 線回折装置（MDS-Ⅲ）：マック・サイエンス
1994・X 線マイクロアナライザ（SX100）〔コンパクト，操作性向上〕：カメカインスツルメンツ
1994・波長分散型電子線マイクロアナライザ（SX-100）〔高精度
EPMA，輸入品〕：アメテック／ CAMECA

1995・走査型 X 線光電子分析装置（Quantum 2000）〔微小領域 1995・環境制御型走査型プローブ顕微鏡（SPM：SPA300HV） 1995 年
平710μm，輸入品〕：アルバック・ファイ〔試料室の雰囲気，試料温度コントロール〕：セイコーイ
1995・高精度蛍光 X 線硫黄分析計（SLFA-1000H シリーズ）〔精
ンスツルメンツ
1995・走査型近視野顕微鏡（SNOAM：SPA700）〔光ファイバー
度向上，低速度測定〕：堀場製作所
1995・X 線分析顕微鏡（XGT-2000）〔初の X 線分析顕微鏡〕：堀製カンチバー〕：セイコーインスツルメンツ
1995・走 査 型 X 線 光 電 子 分 析 装 置（Quantum2000）
〔走査型
場製作所
1995・X 線元素分析装置（EMAX-5770W）〔ウィンドウズ対応，
XPS，10mm 分析〕：アルバック・ファイ
1995・オージェマイクロプローブ（JAMP-7800F）〔電解放射電操作性を改善〕：堀場製作所
1995・蛍光 X 線硫黄分析計（サルファ -X 3671T）〔新型 X 線管子銃と電解磁界重畳形コンデンサレンズを搭載〕：日本と He パージ機能〕：理学電機工業
電子
1995・蛍光 X 線専用機（ミニ X 3677 ／ 78）〔非分散蛍光 X 線分
析装置〕：理学電機工業
1995・超強力 X 線発生装置（Supre-X1.5）〔60kV，1.5A，90kW〕：
理学電機
1995・高速 X 線回折装置（R-AXIS Ⅳ）〔低分子結晶，蛋白質結晶迅速測定〕：理学電機
1995・全反射蛍光 X 線分析装置（TXRF 3750）〔XY θ ステージ
で回折線除去機能実現，真空型カセット to カセットで分析効率向上〕：理学電機工業
1995・粉末 X 線回折データ処理ソフト（XPRESS）：マック・サイエンス
1995・エ ネ ル ギ ー 分 散 型 X 線 分 析 装 置（EDAX DX-PRIME）〔Windows 対応〕：日本フィリップス

79

電磁気分析装置
電

子

顕

微

鏡

MS，NMR，ESR

1996・高性能走査イオン電子顕微鏡（SMI9800SE）〔8" ウェーハ 1996・高周波プラズマ質量分析装置（ICPM-8500）〔卓上型 ICP用高分解能デュアルビーム装置〕：セイコーインスツル
MS〕：島津製作所
1996・GC ／ MS 用周辺装置（HP5973）GC ／ MS〔GC 用質量選
メンツ
1996・走 査 電 子 顕 微 鏡（SM-300）〔 パ ソ コ ン と SEM を 融 合，択検出器，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／
Windows® 対応〕：トプコン
HP 製
1996・透過電子顕微鏡（H-7500）〔PC 搭載 TEM〕日立製作所
1996・ICP-MS周辺装置（LSX100）〔UVレーザを用いたレーザー
1996・透過電子顕微鏡（JEM-4010）〔400kV，高分解能ゴニオ
アブレーションシステム〕：横河アナリティカルシステメータ〕：日本電子
ムズ
1996・透過電子顕微鏡（JEM-3000SFF）〔極低温試料ステージ〕： 1996・簡易 FT NMR 装置（JNM-MY60FT）〔PC ベースプロト
日本電子
ン専用 60MHz 永久磁石 FT-NMR〕：日本電子
1996・フィールドエミッション走査電子顕微鏡（JSM-6340F） 1996・FT NMR 装 置（JNM-AL シ リ ー ズ ）〔PC ベ ー ス SCM・
〔高精細な画像表示機能を持ったセミインレンズ〕：日本
FT NMR〕：日本電子
1996・FT NMR 装 置（JNM-ECP500 ／ 600）
〔 高 性 能 SCM-FT電子
1996・電子顕微鏡（HF-3000）〔300kvFE-TEM〕：日立製作所
NMR，高速，ネットワーク拡張性，FG 機能〕：日本電子
1996・マスクリペア装置（SIR 3000）〔0.25μm 世代対応，白黒
欠陥対応修正装置〕：セイコーインスツルメンツ

1997・半導体専用電子ビーム測長機（MI-4080）〔256MDRAM
対応，測長再現性 3nm〕：トプコン
1997・走査電子顕微鏡（S-3500 ／ S-4700）〔PC 搭載，SEM〕：日立製作所
1997・透過電子顕微鏡（JEM-ARM1250）〔理論分解能 0.1nm を実現〕：日本電子
1997・デュアルビーム検査装置（XL800 シリーズ）〔FE-SEM ／FIB 複合機〕：フィリップスエレクトロンオプティックス
1997・環 境 制 御 型 電 子 顕 微 鏡（XL30ESEM）〔PC 制 御 方 式 のSEM，輸入品〕：ニコンインステック／フィリップス社

1997・TOF 型 SIMS 装置（TRIFT-200）〔大口径（200mm）対応，
輸入品〕：アルバック・ファイ
1997・高速液体クロマトグラフ質量分析計（LCMS-QP8000 シ
リーズ）〔コンパクトボディー，簡単操作性実現〕：島津製作所
1997・ハ イ ブ リ ッ ド MS ／ MS 装 置（Q-Tof）〔API 四重極 -Tof
MS，輸入品〕：ジャスコインタナショナル
1997・液体クロマトグラフ質量分析計（M-8000）〔3 次元四重極型質量分析計〕：日立製作所
1997・ICP-MS 周 辺 装 置，ICP-MS 用 高 速 試 料 導 入 装 置（DSA100）〔高感度スクリーニング機能〕：横河アナリ
ティカルシステムズ
1997・小形 LC ／ MS システム（JMS-LCmate）〔ベンチトップ
二重収束 LC ／ MS〕：日本電子
1997・自動合成装置（JRS-ARM100）〔コンビナトリアルケミス
トリ支援ワークステーション〕：日本電子
1997・四重極 ICP 質量分析装置（PQ3，VG Elemental）〔デュア
ルイオンソース〕：日本ジャーレル・アッシュ
1997・グロー放電質量分析装置（VG9000，VG Elemental）〔%
から ppt まで〕：日本ジャーレル・アッシュ
1997・レーザアブレーションシステム（UV MicroProbe，VG
Elemental）〔10μm 局所分析〕：日本ジャーレル・アッシュ

1998・半導体専用電子ビーム測長機（MI-4120）〔0.18 ～ 0.15μm 1998・卓 上 型 飛 行 時 間 質 量 分 析 装 置（LCT）〔 卓 上 型 LC-Tof
プロセス，300mm ウェーハ対応〕：トプコン
MS，輸入品〕：ジャスコインタナショナル
1998・走査形トンネル顕微鏡（JSPM-4200）〔より汎用性を高め， 1998・四 重 極 型 質 量 分 析 装 置（API150EX，API2000，
自動化機能を取り入れたソフトウエア採用〕：日本電子
API3000）〔LC-MS，輸入品〕：宝酒造
1998・透過電子顕微鏡（JEM-2010FEF）〔インコラム形エネル 1998・ICP-MS 周辺装置，小型汎用レーザーアブレーションシ
ギーフィルタを用いた結像系〕：日本電子
ステム（LSX200）〔固体試料観察機能付，小型化〕：横河1998・透過電子顕微鏡（JEM-1230）〔液晶ディスプレイ，外部
アナリティカルシステムズ
1998・ICP-MS（HP4500Plus）〔リモートサポートサービス〕：横制御〕：日本電子
1998・超 薄 膜 評 価 装 置（HD-2000）〔200kVFE-STEM に よ る サ
河アナリティカルシステムズ
1998・ICP 質量分析装置（Platform-ICP）〔コリジョンセル採用，
ブナノ領域の高感度分析〕：日立製作所
1998・透過電子顕微鏡（Tecnai シリーズ）〔周辺機器を一体化し輸入品〕：丸文
たフルデジタル〕：フィリップスエレクトロンオプティックス

80電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
1995・X線反射率測定装置（GXR2）〔X線反射率測定，薄膜管理〕：
理学電機
1996・X 線回折装置（XRD-6000）〔Windows95 を採用した汎用 1996・オージェ電子分光分析装置（Model 680）
〔中和用低速イ
装置〕：島津製作所
オン銃採用，輸入品〕：アルバック・ファイ
1996・微小部蛍光 X 線分析装置（SEA 5200）〔大型試料対応〕： 1996・走査型プローブ顕微鏡（Nano Scope Ⅲ a）
〔完全デジタル
セイコーインスツルメンツ
制御，輸入品〕：東陽テクニカ
1996・卓上型蛍光 X 線分析装置（SEA 2100）〔C（炭素）～ U（ウ 1996・走査型プローブ顕微鏡（SPA360）：〔半導体異物欠陥装ラン）まで測定可能〕：セイコーインスツルメンツ
置検査機能付〕：セイコーインスツルメンツ
1996・半導体・異物・欠陥検査用（AFM：SPA 360）
〔超精密位
置決め機能付〕：セイコーインスツルメンツ
1996・200kV 高エネルギー X 線発生装置（HV200）〔WK α線の励起電圧 3 倍可能〕：理学電機
1996・薄膜評価用蛍光 X 線分析装置（Wafer ／ Disk Analyzer
3640）〔新型 X 線管，新型カセット to カセット，高感度，XY θステージで強誘電体薄膜に対応〕：理学電機工業
1996・全自動単結晶インゴット加工研削装置：マック・サイエ
ンス
1996・12 インチラングカメラ：マック・サイエンス
1996・全自動水晶両面カット面検査装置（MAP シリーズ）：マッ
ク・サイエンス
1997・蛍光 X 線硫黄分析計（SLFA-20T）〔多試料をセットでき 1997・二 次 イ オ ン 質 量 分 析 装 置（Model 6800）〔大口径試料る卓上型分析計〕：堀場製作所（200mm）対応，輸入品〕：アルバック・ファイ
1997・X 線元素分析装置（EMAX-7000）〔高精細電顕像取込〕： 1997・走査オージェ電子分光装置型ウェーハ欠陥分析装置
堀場製作所（SMART-200）〔 大 口 径 試 料（200mm）対 応， 輸 入 品 〕：
1997・デスクトップ型 X 線回折装置（MiniFlex）〔デスクトップ
アルバック・ファイ
1997・原子層モニター装置（TALIS-9700）〔半導体・誘電体薄型，ワゴン車搭載可能〕：理学電機
1997・小角広角 X 線回折装置（SWXD）〔多様な光学系選択可能
膜用〕：島津製作所
1997・X 線光電子分析装置（ESCA-3400）〔固体表面の元素分析，（小角・広角）〕：理学電機
1997・蛍光 X 線分析装置（RIX 3100）〔4kWX 線管採用，1mm φ
状態分析可能〕：島津製作所〔機能，性能，操作の微小部分析，Windows ソフトウェア搭載〕：理学電機 1997・走査型プローブ顕微鏡（SPM-9500J）
性向上〕：島津製作所
工業
1997・蛍光 X 線専用機（Compact X シリーズ）〔小型空冷 X 線管 1997・極低温 SNOAM（SPA 760）
〔超低温（5K）下で測定可能〕：
採用の同時型波長分散方式専用機〕：理学電機工業
セイコーインスツルメンツ
1997・蛍光 X 線分析装置（JSX-3220）エネルギー分散形，CCD 1997・電子プローブマイクロアナライザ用全自動粒子解析シス
カメラ：日本電子
テム粒子の自動抽出・連続自動分析・ケミカルタイプの1997・自動 X 線回折装置（MX-Labo）〔自動可変スリット付き縦自動判定を実現：日本電子
1997・走査型 X 線光電子分析装置（Quantum200）〔走査型 XPS，
型ゴニオメータ採用〕：マック・サイエンス
1997・21kW 超強力 X 線回折装置（M21X シリーズ）〔21kW 高出
200mm 対応〕：アルバック・ファイ
1997・X 線 光 電 子 分 析 装 置（Model 5800）〔 新 中 和 方 式（ 低 速
力連続運転〕：マック・サイエンス
1997・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDAX Phoenix）〔DSP
Ar+ イオン〕：アルバック・ファイ
1997・大型基板 AFM（AS-7B-L）〔大型液晶ガラス基板サイズに搭載〕：日本フィリップス
対応〕：タカノ
1997・FIB 加工観察装置（FB-4080）〔8" ウェーハ用，高電流密度ビーム高分解能 FIB〕：日立製作所
1998・走査型 X 線光電子分析装置（Quantum 2000）〔微小領域 1998・二次イオン質量分析計（IMS WF）〔IC デバイス製造工程
10μm，輸入品〕：アルバック・ファイ
用 SIMS，輸入品〕：カメカインスツルメンツ
1998・エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置（EDX700 ／ 800）
〔卓 1998・二次イオン質量分析計（NANOSIMS 50）〔ミクロンオー上型で最大 300mm 径の試料が分析可能〕：島津製作所
ダの微小領域専用の SIMS〕：カメカインスツルメンツ
1998・薄膜構造評価用 X 線回折装置（ATX-G）〔反射率，ロッキ 1998・卓上小型プローブ顕微鏡（Nanopics）〔小型，低価格，簡ングカーブ，in-plane 測定など多彩・多機能による評価〕：
単操作〕：セイコーインスツルメンツ
1998・2 次 イ オ ン 質 量 分 析 装 置（SIMS 4500）〔高深さ分解理学電機
1998・低分子用 X 線単結晶構造解析装置（R-AXIS，RAPID）〔ス
能 SIMS， 輸 入 品 〕： セ イ コ ー イ ン ス ツ ル メ ン ツ ／クリーレスワイセンベルグ法による高速測定，ダイナ
ATOMIKA 社
1998・光 電 子 分 光 装 置（JPS-9010）〔 広 域 マ ッ ピ ン グ XPS，
ミックレンジ 106 以上〕：理学電機
1998・全反射蛍光 X 線分析装置（TXRF 300）
〔300mm ウェハに
TRXPS が可能〕：日本電子〔高電流密度ビーム，高分
対応，FOUP やスルーザウォールなど半導体工場の各種 1998・FIB 加工観察装置（FB-2000）
解能 TEM，SEM，FIB 共用ホルダー〕：日立製作所
ニーズに対応〕：理学電機工業

81電磁気分析装置

2000 年
平 12

82

電
子
顕
微
鏡
1998・電子線三次元粗さ解析装置（ERA-8800）〔デジタル 3D 測
定 SEM〕：エリオニクス
1998・CD-SEM（S-9200）〔分解能 3nm at 800V〕：日立製作所

MS，NMR，ESR
1998・二 重 収 束 型 高 分 解 能 ICP 質 量 分 析 装 置（Axiom，VG
Elemental）〔高分解能，マルチコレクタ〕：日本ジャーレル・アッシュ
1998・電子スピン共鳴装置（JES-FA100／200／300）〔PC-Windows〕
化全自動システム：日本電子

1999・走査型電気化学顕微鏡（モデル 900）
〔界面近傍の化学的変化を高解像度で観察〕：ビー・エー・エス
1999・走査電子顕微鏡（スーパースキャン SS-550）〔走査電子顕微鏡では初めて WindowsNT を採用〕：島津製作所
1999・走査型プローブ顕微鏡（SPM-9500J2）〔20 種類以上の測定モードに対応可能〕：島津製作所
1999・走 査 イ オ ン 顕 微 鏡（SM2200）〔8" ウ ェ ー ハ 用 高 性 能FIB〕：セイコーインスツルメンツ
1999・ウ ェ ー ハ レ ビ ュ ー SEM〔 高 ス ル ー プ ッ ト レ ビ ュ ーSEM〕：セイコーインスツルメンツ
1999・半導体専用電子ビーム測長機（MI-5080）〔ギガビット時
代の 0.13 ～ 0.1μm，プロセス対応機〕：トプコン
1999・走査電子顕微鏡（SM-200）〔冷却水不要，省エネ・省資源志向のコンパクト PC-SEM〕：トプコン
1999・CD-SEM（S-9300）〔300mm ウェーハ対応 0.13μm プロセス〕：日立製作所

1999・ICP-MS 周 辺 装 置（Integrated Sample Introduction
System）〔高速試料導入，自動希釈等多機能試料導入装置〕：横河アナリティカルシステムズ
1999・P-5000 形 ICP 質量分析装置〔ICP と三次元四重極質量分析計を結合〕：日立製作所
1999・キャピラリー電気泳動質量分析計〔容易な MS スペクト
ル採取，輸入品〕：横河アナリティカルシステムズ／
Agilent 社
1999・卓上型飛行時間質量分析計（GCT）〔卓上型 GC-TOFMS，
輸入品〕：ジャスコインタナショナル／ Micromass 社
1999・四重極 ICP 質量分析装置（PQ ExCell，VG Elemental）〔イ
ンフィニティレンズ，マルチコレクタ〕：日本ジャーレル・アッシュ
1999・FT NMR 装置（JNM-ECP800）〔800MHz FT-NMR〕：日
本電子
1999・ICP 質量分析計（ELAN6100DRC）〔DRC（ダイナミック
リアクションセル）搭載，輸入品〕：パーキンエルマージャ
パン／ PerkinElmer Inc.

2000・走査電子顕微鏡（SUPERSCAN SSX-550）〔SEM と EDXの理想的なコンバインシステム〕：島津製作所
2000・フィールドエミッション走査顕微鏡（JSM-6500F）〔国内初のサーマル FE-SEM〕：日本電子
2000・小型デュアルビーム（FIB ／ SEM）装置（DB235）〔ラボ
用 2 インチステージの SEM 付 FIB 装置，輸入品〕：日本
エフイー・アイ／ FEI Company

2000・ICP-MS（Agilent 7500a，7500i，7500s）〔9 桁まで濃度範囲を拡大した卓上型〕：アジレント・テクノロジー／横河アナリティカルシステムズ
2000・イオン付着質量分析装置（L-240G-IA）〔ガス試料汎用型〕：
キヤノンアネルバテクニクス
2000・液体クロマトグラフ質量分析計（LCMS-2010）〔1 回の試料注入で最大 64 種類のデータを収集〕：島津製作所
2000・液体クロマトグラフ質量分析計用ワークステーション（LCMSsolution）〔豊富な機能が簡単操作で使用可能〕：
島津製作所
2000・レーザイオン化飛行時間型質量分析装置（AXIMA-CFR）〔プロテオーム解析を強力にサポート，輸入品〕：島津製作所／島津製作所 /Kratos

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
1998・多元素同時蛍光 X 線分析装置（サイマルティックス 12） 1998・二重収束型二次イオン質量分析計（NanoSIMS50）〔高二〔4kW X 線管採用，精度向上〕：理学電機工業
次元解像度型 SIMS，輸入品〕：アメテック／ CAMECA
1998・薄 膜 評 価 用 蛍 光 X 線 分 析 装 置（Wafer X 300）
〔300mm 1998・二重収束型二次イオン質量分析計（SC-Ultra）〔極浅領域
ウェハに対応，4kW X 線管採用，高精度，分析効率向上〕：
深さ方向分析・半導体向け型 SIMS，輸入品〕：アメテッ
理学電機工業ク／ CAMECA
1998・SR 光用（X 線表面分析装置）〔波長分散，エネルギー分散，
全反射，X 線回折等，多機能〕：理学電機工業
1998・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDAX Falcon）〔PC と
MCA を一体化〕：エダックス・ジャパン
1998・微小部蛍光 X 線分析装置（EDAX EAGLE）〔エネルギー分散型〕：エダックス・ジャパン
1998・低エネルギー電子線マイクロアナライザ（LEXFAB300）〔薄膜・ドーパント成分元素をモニタ，輸入品〕：アメテッ
ク／ CAMECA
1999・X 線回折－示差走査熱量同時測定装置（XRD-DSC）〔X 線 1999・走査オージェ電子分光装置型ウェーハ欠陥分析装置
回折と示差走査熱量の同時測定〕：理学電機（SMART-TOOL）〔大口径（300mm）対応，FIB イオン銃
1999・蛍光 X 線分析装置（ZSX シリーズ）〔0.5mm φの微小部分搭載，輸入品〕：アルバック・ファイ
1999・飛 行 時 間 形 二 次 イ オ ン 質 量 分 析 計（TOF-SIMS300）
析，マッピング機能装備〕：理学電機工業
1999・X 線回折装置（JDX-3532）〔PC コントロール〕：日本電子〔300mm ウェハーが導入出来るように本体全てを一新〕：
1999・マイクロフォーカス X 線 CT（SMX-225CT）〔CT 計算時
カメカインスツルメンツ
1999・二次イオン質量分析計（SC ULTRA）〔高深さ方向分解能
間の短縮，装置重量の軽量化〕：島津製作所
1999・マイクロフォーカス X 線透視装置（SMX-160E）〔世界最を追究したダイナミック SIMS〕：カメカインスツルメ
高レベルの高拡大率〕：島津製作所
ンツ
1999・可搬型蛍光 X 線分析計（SEA200）〔小型・軽量でどこへ 1999・ハードディスク検査用 X 線光電子分析装置（ESCA-3500）
でも持ち運びできる〕：セイコーインスツルメンツ〔ハードディスク検査専用の X 線光電子分析装置〕：島津
1999・卓上走査型蛍光 X 線分析装置（ZSX mini）〔空冷小型 X 線
製作所
1999・2 次イオン質量分析装置 SIMS4600（300mm 用高深さ分
管，波長分散式〕：理学電機工業
1999・卓上型エネルギ分散蛍光 X 線分析装置（Xepos）〔SDD 検解能 SIMS（ATOMIKA 社）〕：セイコーインスツルメン
出器，モノクロ励起，輸入品〕：理学電機工業／スぺク
ツ1999・大気中光電子分光装置（AC-2）〔CE マーキング対応〕：理トロ社
1999・2 次元迅速測定 X 線回折装置（RINT RAPID）〔IP 搭載迅
研計器
速微小部，微量試料測定〕：理学電機
1999・多目的 X 線回折装置（MultiFlex）〔試料水平ゴニオメー
タ搭載小型・省スペース〕：理学電機
1999・薄膜評価用 X 線回折装置（ATX）〔In-plain 光学系可能〕：
理学電機
1999・迅速測定単結晶構造解析装置（R-AXIS RAPID）：理学
電機
2000・エネルギー分散型X線分析装置（INCA）〔スペクトルマッ 2000・電子プローブマイクロアナライザ（JXA-8100 ／ 8200） 2000 年
平 12
ピング機能，輸入品〕：オックスフォード・インストゥ〔国内初の PC-EPMA〕：日本電子
ルメンツ／ oxford instruments
2000・波長分散型 X 線分析装置（INCA Wave）〔EDS と WDS を融合した分析を実現，輸入品〕：オックスフォード・イ
ンストゥルメンツ／ oxford instruments
2000・マイクロフォーカス X 線テレビ透視装置（SMX-160ET）〔全方位 X 線透視，観察部分の自動追従が可能〕：島津製作所
2000・エネルギー分散型 X 線分析装置（INCA Energy（E2H））〔スペクトルマッピングを高解像度化，輸入品〕：オック
スフォード・インストゥルメンツ／ oxford instruments
2000・シーケンシャル型蛍光 X 線分析装置（XRF-1800）〔実試料の形状に近い高精細なマッピングイメージ〕：島津製作所
2000・微小焦点高輝度回転対陰極型X線発生装置（MicroMaX007）〔テーブルトップ型高輝度回転対陰極 X 線発生装置〕：リガク
2000・エネルギー分散型 X 線分析装置（EMAX ENERGY）〔ナ
ビゲーション機能搭載 EDX〕：堀場製作所

83電磁気分析装置
電

子

顕

微

鏡

2001・ナノ解析電子顕微鏡（JEM-2500SE）〔半導体用 TEM ／STEM ／ SEM 複合機〕：日本電子
2001・フィールドエミッション走査顕微鏡（JSM-7400F）〔r フィ
ルター搭載 FE-SEM〕：日本電子

2002・走査電子顕微鏡（S-3600N）〔10 インチ径の大型試料に対応〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・高分解能電界放出型走査電子顕微鏡（S-4800）〔超高分解能セミインレンズ FE-SEM〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・走査電子顕微鏡（S-4300SE ／ N）
〔低真空モードを備えた FE-SEM〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・走査電子顕微鏡（JSM-6360 ／ 6460 シリーズ）〔汎用 PCSEM〕：日本電子
2002・SEM（Tiny-SEM 1540）〔永久磁石レンズ〕：テクネッ
クス工房
2002・集束イオンビーム加工観察装置（FB-2100）〔高速加工を実現〕：日立ハイテクノロジーズ

2003・ネオオスミウムコーター（NEOC）〔同心円上電極で放電
エリアを安定，均一コーティングが可能〕：メイワフォー
シス
2003・環境制御型走査型プローブ顕微鏡（ESCOPE）〔真空対応
型，輸入品〕：日本ビーコ
2003・フィールドエミッション電子顕微鏡（JEM-2100F）〔PC
搭載 FEG 汎用機〕：日本電子2003・フィールドエミッション電子顕微鏡（JEM-2200FS）〔PC
搭載 FEG Ωフィルタ機〕：日本電子2003・超薄膜評価装置（HD-2300）〔高分解能化〕：日立ハイテクノロジーズ
2003・透過電子顕微鏡（H-9500）〔PC 搭載，CCD カメラ標準搭載〕：日立ハイテクノロジーズ

84

MS，NMR，ESR

2001・ICP-MS（Agilent 7500c）〔国産初のコリジョンセル搭載〕：アジレント・テクノロジー／横河アナリティカルシステムズ
2001・ICP-MS 周辺装置（ICP-MS 用オートサンプラー（I-AS））〔半導体分析向け，超清浄試料分析用〕：アジレント・テ
クノロジー／横河アナリティカルシステムズ
2001・ICP-MS 周辺装置（GC-ICPMS トランスファーライン）〔世
界初の市販型トランスファーライン〕：アジレント・テ
クノロジー／横河アナリティカルシステムズ
2001・FT-NMR（JNM-ECA シリーズ）〔最新のデジタル技術と高周波技術を採用〕：日本電子
2001・液 体 ク ロ マ ト グ ラ フ 時 間 飛 行 型 質 量 分 析 計（JMST100LC）〔連続アベレージャ方式を世界ではじめて搭載〕：日本電子2001・核酸蛋白質分光光度計（BioSpec-mini）〔DNA，RNA を
微量で簡単に定量〕：島津製作所
2001・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP2010）〔環境ホルモン等極微量成分の分析に威力発揮〕：島津製作所
2001・ガスクロマトグラフ質量分析計用ワークステーション（GCMSsolution Ver2.0）〔豊富な機能が簡単操作で使用可能〕：島津製作所
2001・レ ー ザ イ オ ン 化 飛 行 時 間 型 質 量 分 析 装 置（AXIMALNR）〔femtomole オーダの高感度と 4000 の分解能，輸入品〕：島津製作所／島津製作所 /Kratos
2002・ダイオキシン類専用質量分析計（JMS-800D）〔極微量定
量が安定して測定可能〕：日本電子
2002・核磁気共鳴装置（LC-NMR）〔世界初 LC ／ NMR ／ MS，
輸入品〕：バリアン・テクノロジーズ・ジャパン・リミテッ
ド／バリアン
2002・ハイスループットゲルエクサイズプロセッサー（Xcise（エクサイズ））〔たんぱく質解析前処理の自動化を実現〕：
島津製作所
2002・レーザイオン化四重極イオントラップ - 飛行時間型質量分析装置（AXIMA-QIT）〔未知構造解析を強力にサポー
ト，輸入品〕：島津製作所／島津製作所 /Kratos
2002・ICP 質量分析装置（X シリーズ）〔ハイブリッドコリジョンセル搭載，輸入品〕：サーモフィッシャーサイエンティ
フィック
2002・LC- 四重極 MS ／ MS 質量分析装置（Quattro Pt）〔イオ
ントンネルコリジョンセル搭載，輸入品〕：ジャスコイ
ンタナショナル／ waters
2003・ICP-MS（Agilent 7500cs）〔半導体分析向けの超高感度コ
リジョンセル〕：アジレント・テクノロジー／横河アナ
リティカルシステムズ
2003・GCxGC-EI-TOFMS（Pegasus® 4D）〔GC と TOFMS を 組
み合わせた製品を初めて発売，GCxGC 対応質量分析装
置，輸入品〕：LECO ジャパン／ LECO Corporation
2003・FT-NMR（JNM-ECA930）〔 世 界 最 高 磁 場 930MHzNMRを完成〕：日本電子
2003・コ ー ル ド ス プ レ ー 搭 載 飛 行 時 間 型 質 量 分 析 計（JMST100CS）〔冷却型 ESI イオン源搭載〕：日本電子2003・ガスクロマトグラフ四重極型質量分析装置（JMS-K9）〔大型ターボを搭載した高性能型〕：日本電子2003・イオン付着質量分析装置（L-241G-IA）〔プロセスモニター用〕：キヤノンアネルバテクニクス

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
2000・蛍光 X 線硫黄分析計（SLFA-2800）〔低濃度から高濃度測定可能〕：堀場製作所
2001・マイクロフォーカス X 線透視装置（SMX-160E・VCT）〔1 2001・四 重 極 型 二 次 イ オ ン 質 量 分 析 計（SIMS4550）〔汎用型
台で CT と透視装置の機能を使い分け〕：島津製作所
SIMS，輸入品〕：アメテック／ CAMECA
2001・マイクロフォーカスX線CTシステム（SMX-160CTS）〔半 2001・X 線光電子分光装置（Theta Probe）〔同時角度分解機能
導体など小型電子部品検査用 X 線 CT〕：島津製作所による深さ方向分析，輸入品〕：サーモフィッシャーサ
2001・微小部領域高感度分析用電子線マイクロアナライザー
イエンティフィック〔簡単操作で短時（EPMA-1610）〔より微小部領域（サブミクロン）の分析 2001・走査型プローブ顕微鏡（SPM-9500J3）
間観察を実現〕：島津製作所に〕：島津製作所
2001・X 線回折装置（XRD-7000）〔自動車関連等大型試料もそのままセット〕：島津製作所
2001・超高輝度回転対陰極型 X 線発生装置（FR-E SuperBright）〔X 線源を微小化した超高輝度 X 線発生装置〕：リガク
2001・卓上型コンパクト蛍光 X 線分析装置（RaynyEDX-900）〔操作性向上，運転コスト半減〕：島津製作所
2001・全反射蛍光 X 線分析装置（TXRF-V300）〔VPD 前処理装置を組込んだ TXRF〕：リガク

2002・EDS ／ EBSD インテグレーションシステム（Pegasus） 2002・ESCA システム（モデル SAGEHR150）〔磁気ディスク，〔EDS ／ EBSD 同時分析，Chi-scan，輸入品〕：アメテッ
ヘッドの表面組成分析などに，輸入品〕：アステック／
ク／ EDAX Inc.
独国 SPECS 社
2002・SEM用粒子解析システム（INCA Feature）〔輸入品〕：オッ 2002・SNMS システム（モデル INA-X）〔試料の深さ方向組成
クスフォード・インストゥルメンツ／ oxford instruments
を高速分析する SNMS，輸入品〕：アステック／独国
2002・エネルギー分散型 X 線分析装置（EDS）（Genesis）〔スペ
SPECS 社
クトラルマッピングを標準化，輸入品〕：アメテック／
EDAX Inc.
2002・X 線分析顕微鏡（XGT-5000）〔測定時間短縮，見たい場
所をすぐ分析〕：堀場製作所
2002・エ ネ ル ギ ー 分 散 型 蛍 光 X 線 分 析 装 置（μEDX-1200 ／1300 ／ 1400）〔微小部領域の測定感度が大幅に向上〕：島津製作所
2002・有害元素蛍光 X 線検査装置（XGT-1000WR）〔高感度（カドミウム感度 2ppm）で検出可能〕：堀場製作所

2003・エ ネ ル ギ ー 分 散 型 微 小 部 蛍 光 X 線 分 析 装 置（Eagle3） 2003・走査型 X 線光電子分光分析装置（PHI Quantera SXM）
〔20um φスポット径で分析，輸入品〕：アメテック／〔最小分析径 9μm 以下〕：アルバック・ファイ
2003・フィールドエミッションオージェマイクロスコープ
EDAX Inc.
2003・X 線マイクロアナライザー（NORAN System SIX）
〔多
（JAMP-9500F）〔FE 電子銃・HAS（同心半球型アナライ
変量イメージ解析による自動相抽出，輸入品〕：サーモザ）の最高機種〕：日本電子2003・走査型オージェ電子分光分析装置（PHI 700）
〔高感度ナ
フィッシャーサイエンティフィック
2003・X 線 CT 装置（SMX-160GT・PCT-SV）〔斜め方向からのノ体積の元素分析〕：アルバック・ファイ
X 線 CT 画像を取得可能〕：島津製作所
2003・インライン用高速 X 線膜厚・密度測定装置（MFM65）〔パ
ターン認識機能付高速インライン薄膜測定装置〕：リガク
2003・蛍光 X 線分析装置（ZSX Primus）〔液体分析用隔壁採用〕：
リガク
2003・デジタル X 線検査装置（SMX-1000）〔斜め方向からもひ
ずみのない画像が得られる〕：島津製作所

85

電磁気分析装置
電子
顕微鏡
2003・プローブ顕微鏡 SIS 測定オプション（SIS 測定オプション）〔凹凸形状測定の精度向上〕：エスアイアイ ･ ナノテ
クノロジー
2003・DualBeam（FIB ／ SEM）測長装置（CLM）〔故障解析・測長自動化，輸入品〕：日本エフイー・アイ／ FEI Company

2004・透過電子顕微鏡（H-7650）〔高感度デジタル CCD カメラ
標準搭載〕：日立ハイテクノロジーズ
2004・電子顕微鏡（JEM-2100）〔PC 搭載 LaB6 汎用機〕：日本電子
2004・走査電子顕微鏡（S-3400N）〔低加速電圧像分解能を向上〕：日立ハイテクノロジーズ
2004・超高分解能走査電子顕微鏡（S-5500）〔SEM に於いて世界最高分解能を更新〕：日立ハイテクノロジーズ
2004・微小デバイス特性評価装置（N-6000）〔プローバを FESEM と組み合わせ〕：日立ハイテクノロジーズ

2005 年
平 17

2005・卓上顕微鏡 Miniscope（TM-1000）〔卓上サイズ，シンプ
ルな操作〕：日立ハイテクノロジーズ
2005・カーボンコーター（CADE）〔高純度カーボンファイバーをターゲットに採用〕：メイワフォーシス
2005・ダイヤモンドワイヤーソー（WELL）〔顕微鏡による位置
合わせ可能ダイヤモンドワイヤーソー，輸入品〕：メイ
ワフォーシス2005・走査電子顕微鏡（S-3400NX）〔SEM と元素分析機能を一体化〕：日立ハイテクノロジーズ
2005・親水化機能付きカーボンコーター（CADE-E）〔コーティ
ング前後にプラズマクリーニングが可能〕：メイワフォー
シス
2005・ソフトエッチング装置（SEDE）〔グロー放電プラズマを用いて親水化処理・表面改質が可能〕：メイワフォーシス
2005・イオンミリング装置（E-3500）〔試料断面のフラット加工を実現〕：日立ハイテクノロジーズ
2005・電子顕微鏡（SMI3000TB シリーズ）〔集束イオンビーム（FIB）と走査電子顕微鏡（FE-SEM）を複合させたトリプ
ルビーム装置〕：エスアイアイ ･ ナノテクノロジー
2005・収差補正透過型電子顕微鏡（Titan™ 80-300）〔サブオン
グストローム分解能，輸入品〕：日本エフイー・アイ／
FEI Company
2006・SEM（Tiny-SEM 510）
〔レンズ交換型 SEM〕：テクネッ
クス工房

86

MS，NMR，ESR
2003・リニアイオントラップ質量分析計（LTQ）〔リニアイオン
トラップ質量分析計，輸入品〕：サーモフィッシャーサ
イエンティフィック
2003・高速液体クロマトグラフ質量分析計用ワークステーション（LCMSsolution Ver.3）〔HPLC 用と操作体系を完全に統合〕：島津製作所
2003・GC ／ MS（Agilent 5973inert）〔不活性イオン源搭載，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2003・MALDI-TOFMS 用 前 処 理 装 置（ ケ ミ カ ル プ リ ン タ ー
CHIP-1000）〔たんぱく質解析を革新する前処理装置〕：
島津製作所
2003・GC- 四重極 MS ／ MS 質量分析装置（Quattro micro GC）〔GC用のMS ／ MS装置，輸入品〕：ジャスコインタナショ
ナル／ waters
2003・GCMS 用前処理装置（TDTS-2010）〔室内汚染物質測定に捕集管の加熱脱離を自動化〕：島津製作所
2003・MALDI プレート用スポッティング装置（AccuSpot）〔ハイスループットなプロテオーム解析を実現〕：島津製作所
2004・ICP-MS（Agilent 7500ce）〔環境分析向けの高感度コリ
ジョンセル〕：アジレント・テクノロジー／横河アナリ
ティカルシステムズ
2004・ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計（JMS-T100GC）〔高感度で精密質量測定可能なルーチン機〕：日本電子2004・極微量ガス分析装置（L-400G-GC）〔無機ガス中の ppb レ
ベルの不純物検出機〕：キヤノンアネルバテクニクス
2004・高速液体クロマトグラフ質量分析装置（LCMS-IT-TOF）〔高速，正負イオン同時，MSn 精密質量測定〕：島津製作所
2004・ハイブリッド MS ／ MS 質量分析装置（Q-Tof Premier）〔LC のハイブリッド MS に pDRE を搭載，輸入品〕：ジャスコインタナショナル／ waters
2005・四重極質量分析計（QMG700）〔125μs からの高速測定とモジュラーデザイン，輸入品〕：伯東／ Pfeiffer VaccumGmbH2005・パルス ESR 装置（JES-MQ シリーズ）〔日本初の商品機としてのパルス ESR 装置〕：日本電子2005・核磁気共鳴装置（VNMR システム）〔次世代の NMR コン
ソール，輸入品〕：バリアン・テクノロジーズ・ジャパン・リミテッド／バリアン
2005・GC ／ MS（Agilent 5975A）〔SIM ／ SCAN 同時データ取込機能，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2005・Orbitrap 質量分析計（LTQ Orbitrap）〔電場型フーリエ
変換質量分析計，輸入品〕：サーモフィッシャーサイエ
ンティフィック
2005・イオン付着質量分析装置（L-250G-IA）〔固体試料汎用型（迅速測定，GC 接続等）〕：キヤノンアネルバテクニクス
2005・GCMS 用前処理装置（TD-20）〔高い回収率，優れたメン
テナンス性〕：島津製作所
2005・卓 上 型 GC- 飛 行 時 間 型 質 量 分 析 装 置（GCT Premier）〔GC-TofMS に DRE を搭載，輸入品〕：ジャスコインタ
ナショナル／ waters
2005・二重収束質量分析装置（AutoSpec Premier）〔ダブル検出器を搭載可能，輸入品〕：ジャスコインタナショナル／ waters
2006・ガスクロマトグラフ質量分析計（GCMS-QP2010 Plus）〔感度 2.5 倍，前処理の省力化や分析効率を向上〕：島津製作所

電磁気分析装置
X

線

分

析

装

置

表

面

分

析

装

置

2004・EDS ／ WDSインテグレーションシステム（Neptune）〔新
方式：平行ビーム光学系の WDX を採用，輸入品〕：ア
メテック／ EDAX Inc.
2004・蛍光 X 線分析装置（Mini-Z）〔小型卓上の WDX 専用機〕：
リガク
2004・薄膜評価用試料水平型 X 線回折装置（SmartLab）〔薄膜
材料評価測定を自動化した X 線回折装置〕：リガク
2004・蛍光 X 線分析装置（ZSX Primus Ⅱ）〔散乱線 FP 法搭載〕：
リガク
2004・高精度薄膜解析装置（SuperLab）〔超高精度薄膜 X 線反射率測定装置〕：リガク
2004・X 線分析装置（SEA シリーズ）〔RoHS 対応有害物質測定システムを開発〕：エスアイアイ ･ ナノテクノロジー
2005・X 線ナノ CT スキャナ（2011）〔最高分解能 150nm の CT
スキャナ，輸入品〕：東陽テクニカ／ベルギー SkyScan
2005・エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置（EDX-720）〔従来比2 倍～ 4 倍の高感度を実現〕：島津製作所

2004・二 重 収 束 型 二 次 イ オ ン 質 量 分 析 計（IMS-7f）〔汎用型
SIMS，輸入品〕：アメテック／ CAMECA
2004・電子プローブマイクロアナライザ（JXA-8500F）〔FEG を搭載の EPMA〕：日本電子2004・飛行時間型二次イオン質量分析装置（PHI TRIFT Ⅳ）〔細束一次イオンビーム〕：アルバック・ファイ
2004・ナノサーチ顕微鏡（SFT-3500）〔超ワイドレンジ観察をス
ピーディに〕：島津製作所
2004・X 線光電子分光分析装置（PHI 06-C60）〔C60 スパッタイオン銃〕：アルバック・ファイ

2006・卓上型マイクロフォーカス X 線 CT システム（inspeXio（インスペクシオ））〔コンパクト，サンプル位置合せだ
けで CT 画像〕：島津製作所

2006・二重収束型二次イオン質量分析計（IMS-1280）〔高精度同位体比測定用 SIMS，輸入品〕：アメテック／ CAMECA

2005・大気中光電子分光装置（AC-3）〔エネルギー捜査範囲拡張〕：理研計器2005・走査型プローブ顕微鏡（SPM-9600）〔よりクリアで高品
位な画像〕：島津製作所

2005 年
平 1787

電磁気分析装置
電子
顕微鏡
2006・超 薄 膜 評 価 装 置（HD-2300A）〔分析精度と操作性が向上〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・超小型走査型プローブ顕微鏡（Caliber）〔マグカップサイ
ズで，試料サイズを選ばない，輸入品〕：日本ビーコ
2006・キ ャ リ ー ス コ ー プ（JCM-5700）〔 本 格 SEM が 移 動 可 能に〕：日本電子2006・超高分解能分析走査電子顕微鏡（SU-70）〔超高分解能観察と各種分析装置の両立〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・走査電子顕微鏡（S-3700N）〔300mm 径の大型試料の搭載可能〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・走査透過電子顕微鏡（HD-2700）〔球面収差補正機能を搭載〕：日立ハイテクノロジーズ
2006・磁場印加型プローブ顕微鏡（面内磁場印加ユニット付き
E-sweep）〔磁場の測定環境を提供〕：エスアイアイ ･ ナ
ノテクノロジー
2006・非接触式3次元表面形状測定装置（NT-9000シリーズ）〔光干渉を利用した非接触の 3 次元測定装置，輸入品〕：日
本ビーコ

MS，NMR，ESR
2006・レ ー ザ イ オ ン 化 飛 行 時 間 型 質 量 分 析 装 置（AXIMAR2
TOF（アキシマ
トフ・スクエアード））〔タンパク質の同定に威力を発揮〕：島津製作所
2006・四 重 極 - イ オ ン モ ビ リ テ ィ - 飛 行 時 間 質 量 分 析 装 置（SYNAPT HDMS）〔IMS を搭載した MS-IMS-MS，輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ
2006・NBSバイオマーカー探索システム〔バイオマーカー探索・同定の作業を短縮〕：島津製作所
2006・核磁気共鳴装置（400-MR）〔世界初低コスト，溶液専用
高性能汎用 NMR，輸入品〕：バリアン・テクノロジーズ・
ジャパン・リミテッド／バリアン
2006・飛行時間型 LC ／ MS（Agilent 6210 TOF LC ／ MS）〔高
精度と定量性を実現した TOF LC ／ MS，輸入品〕：
アジレント・テクノロジー
2006・LC ／ MS ／ MS（Agilent 6410 TripleQuad LC ／ MS）〔高
精度と定量性を実現した LC ／ MS ／ MS，輸入品〕：ア
ジレント・テクノロジー
2006・飛 行 時 間 型 LC ／ MS ／ MS（Agilent 6510 Q-TOF LC／ MS）〔高精度と定量性を実現した LC ／ MS ／ MS，
輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2007・低エネルギー電子顕微鏡（モデル FE-LEEM）〔5nm 分解 2007・GC ／ MS（Agilent 5975C）〔トリプルアクシスディテク
能もった次世代低エネルギー顕微鏡，輸入品〕：アステッ
タ（TAD），トレースイオン検出技術（TID），輸入品〕：
ク／独国 SPECS 社
アジレント・テクノロジー
2007・汎用型走査プローブ顕微鏡（Innova）〔小型ながら多くの 2007・タンデム四重極質量分析装置（Empower TQD）
〔CDS 制機能を有し，分解能も高い，輸入品〕：日本ビーコ
御のタンデム四重極質量分析装置，輸入品〕：日本ウォー
2007・電 界 放 出 形 透 過 電 子 顕 微 鏡（HF-3300）〔 次 世 代 FEターズ／ウォーターズ
2007・DART 搭載飛行時間質量分析計（JMS-T100TD）〔大気圧TEM〕：日立ハイテクノロジーズ
2007・フラットミリング装置（IM-3000）〔高ミリングレートを下でのダイレクト MS 測定が可能〕：日本電子2007・FT-NMR（JNM-ECS シリーズ）〔高性能かつ省スペース実現〕：日立ハイテクノロジーズ
2007・走査電子顕微鏡（SU-1500）〔小さくても高性能〕：日立ハ化を実現〕：日本電子2007・ICP-MS（Agilent 7500cx）〔He 単一モードの使いやすい
イテクノロジーズ
2007・FIB-SEM nanoDUE'T（NB5000）〔FIB と FE-SEM を 一
コリジョン〕：アジレント・テクノロジー／アジレント・体化〕：日立ハイテクノロジーズ
テクノロジー・インターナショナル
2007・低真空分析走査電子顕微鏡（SU6600）〔高分解能観察と 2007・ICP-MS 周辺装置（ICP-MS 用高マトリクス導入システム
低真空観察機能を両立〕：日立ハイテクノロジーズ（HMI））〔ICP-MS 分析で 2% マトリクス導入を可能〕：ア
2007・ダ ブ ル 収 差 補 正 透 過 電 子 顕 微 鏡（Titan™ Cubed）
ジレント・テクノロジー／アジレント・テクノロジー・〔TEM ／ STEM，輸入品〕：日本エフイー・アイ／ FEI
インターナショナル
2007・四重極 MS ／ MS-FTICRMS のハイブリッド型質量分析
Company
計（920-MS TQ FTMS）〔四重極 MS ／ MS と FTICRMSの複合，輸入品〕：ジャスコインタナショナル／ Varian
2007・マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
質 量 分 析 装 置（AXIMA Performance（Confidence，
Assurance））〔レーザの繰返しレートを大幅にアップ，輸入品〕：島津製作所／島津製作所 /Kratos
2008・フィールドエミッション走査顕微鏡（JSM-7600F）〔サー 2008・四重極質量分析計（QMG220）〔コンパクト設計ながら
マル電子銃搭載セミインレンズ FE-SEM〕：日本電子
2ms からの高速測定，輸入品〕：伯東／ Pfeiffer Vaccum
2008・超高分解能走査電子顕微鏡（SU8000）〔新たに開発したGmbH
2008・GC-EI ／ CI-TOFMS（TruTOF® HT）〔ハイスループッ
TOP 検出器搭載〕：日立ハイテクノロジーズ
2008・卓 上 走 査 顕 微 鏡（JCM-5000（NeoScope））〔高性能卓上ト分析対応質量分析装置，輸入品〕：LECO ジャパン／
SEM〕：日本電子
LECO Corporation
2008・極 高 分 解 能 走 査 型 電 子 顕 微 鏡（Magellan™） 2008・薄層クロマトグラフィー四重極型質量分析装置（JMS〔0.9nm@1kV， 輸 入 品 〕： 日 本 エ フ イ ー・ ア イ ／ FEI
Q1000TD）〔DART イオン源搭載の世界最速 TLCMS〕：
Company
日本電子
2008・ICP-MS 用気体試料導入装置（GCI）〔ガス交換器，標準
ガス発生器〕：ジェイ・サイエンス・ラボ／ジェイ・サ
イエンス・ラボ／住友精化

88

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
表
面
分
析
装
置
2006・ポ ー タ ブ ル 複 合 X 線 分 析 装 置（DF-01）〔 ポ ー タ ブ ル 2006・レーザアシスト型 3 次元アトムプローブ（LA-WATAP）
XRD，XRF 分析装置〕：理研計器〔高精度 3 次元アトムプローブ，輸入品〕：アメテック／
2006・X 線分析装置（SEA1200VX）〔高感度高計数率の検出器
CAMECA
2006・飛行時間型二次イオン質量分析装置（PHI TRIFT Ⅴ
Vortex を搭載〕：エスアイアイ ･ ナノテクノロジー
2006・エネルギー分散型 X 線分析装置（INCA x-Act）〔定性・
nanoTOF）〔自動 5 軸ステージ〕：アルバック・ファイ
定量分析を目的とした SDD，輸入品〕：オックスフォー 2006・走査型 X 線光電子分光分析装置（PHI 5000 VersaProbe）〔豊富なオプション〕：アルバック・ファイ
ド・インストゥルメンツ／ oxford instruments
2006・エ ネ ル ギ ー 分 散 型 X 線 分 析 装 置（INCA PentafetX3）〔30mm2 の検出器を標準化，輸入品〕：オックスフォード・
インストゥルメンツ／ oxford instruments
2006・エネルギー分散型 X 線分析装置（INCA Synergy）〔結晶
方位解析（EBSD）と EDS を融合，輸入品〕：オックス
フォード・インストゥルメンツ／ oxford instruments
2006・蛍光 X 線分析装置（ZSX400）〔最大直径 400mm の大型試料の分布が可能〕：リガク
2006・EBSD 検出器（Hikari）〔高速動作型 OIM 検出器，輸入品〕：
アメテック／ EDAX Inc.

2007・小型防水 X 線異物検出装置（SLDX-2055XAS）〔樹脂・骨 2007・X線光電子分光装置（K-Alpha）〔完全自動測定，自動調整，の検出感度と操作性を向上〕：島津製作所
輸入品〕：サーモフィッシャーサイエンティフィック
2007・マイクロフォーカス X 線透視装置（SMX-3000micro）〔1／ 10 ミリ以下の微小な気泡などの欠陥も検出〕：島津製
作所
2007・シリコンドリフト検出器（Apollo 40）〔高立体角を誇る
SDD 検出器，輸入品〕：アメテック／ EDAX Inc.
2007・蛍光 X 線分析装置（Supermini）〔小型卓上の WDX 汎用機〕：リガク2007・蛍光 X 線分析装置（EDXL300）〔偏光 2 次ターゲット採用の高精度 EDX〕：リガク
2007・全反射蛍光 X 線分析装置（NANOHUNTER）〔全反射方
式採用の超高感度 EDX〕：リガク
2007・実験動物用 3D マイクロ X 線 CT 装置（R_mCT）〔高速・
高分解能 IN-VIVO 3 次元 CT〕：リガク

2008・マ イ ク ロ フ ォ ー カ ス X 線 CT 装 置（"inspeXio"SMX- 2008・X 線光電子分光分析装置（PHI 5000 VersaProbe）〔ガス
225CT）〔外観カメラによる CT スキャン位置決め機能〕：
クラスターイオン銃〕：アルバック・ファイ
島津製作所
2008・デジタル X 線検査装置（SMX-2000）〔使いやすく多様な検査ニーズに的確に対応〕：島津製作所
2008・産業用 X 線透視検査装置（SMX-3500）〔使いやすく，自動車の大型部品も的確に検査〕：島津製作所
2008・蛍光 X 線分析装置（Simultix14）〔重軽元素用スキャンゴ
ニオを搭載可能〕：リガク
2008・蛍光 X 線分析装置（Primini Biofuel）〔小型卓上機で大型機並みの LLD を実現〕：リガク
2008・エネルギー分散型微小部蛍光 X 線分析装置（Orbis）〔マル
チビーム径デザイン，輸入品〕：アメテック／ EDAX Inc.

89

電磁気分析装置
電MS，NMR，ESR
2008・タンデム四重極質量分析装置（Xevo TQ MS）〔コリジョ
ントラップ型タンデム四重極 MS 装置，輸入品〕：日本
ウォーターズ／ウォーターズ
2008・液体クロマトグラフ質量分析計（LCMS-2020）〔従来比 5倍の測定速度，3 倍の検出感度向上〕：島津製作所
2008・サ イ ズ 排 除 ク ロ マ ト グ ラ フ ィ ー 質 量 分 析 装 置（SECAccuSpot-AXIMA システム）〔高分子材料中不純物等の分析時間を大幅短縮〕：島津製作所
2008・トリプル四重極 GC ／ MS（Agilent 7000A）〔超微量レベルの検出ニーズに対応，輸入品〕：アジレント・テクノ
ロジー
2008・LC ／ MS（Agilent 6100 SingleQuad LC ／ MS）〔小型，
高性能な汎用 LC ／ MS，輸入品〕：アジレント・テクノ
ロジー
2008・飛行時間型 LC ／ MS（Agilent 6220 TOF LC ／ MS）〔より高精度と定量性を実現した TOF LC ／ MS，輸入品〕：
アジレント・テクノロジー
2008・LC ／ MS ／ MS（Agilent 6460 TripleQuad LC ／ MS）〔より高精度と定量性を実現した LC ／ MS ／ MS，輸入品〕：
アジレント・テクノロジー
2008・飛 行 時 間 型 LC ／ MS ／ MS（Agilent 6530 Q-TOF LC／ MS）〔より高精度と定量性を実現した LC ／ MS ／MS，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2009・走 査 型プ ローブ 顕微 鏡（5500）〔特 許 技 術 MAC モ ー ド 2009・オンラインガス分析計（BELMass）〔コンパクト四重極を 備 え た 液 中 AFM， 輸 入 品 〕： 東 陽 テ ク ニ カ ／ 米 国
質量分析計〕：日本ベル2009・四 重 極 - イ オ ン モ ビ リ テ ィ - 飛 行 時 間 質 量 分 析 装 置
Agilent Technology Inc
2009・大型試料用走査型プローブ顕微鏡（Dimension Icon）〔大（SYNAPT G2 HDMS）〔衝突断面積と質量情報から化合型試料用の汎用機である Dimension 型の最上位機種，輸
物同定，輸入品〕：日本ウォーターズ／ウォーターズ
2009・マトリックス支援レーザー脱離イオン化四重極イオント
入品〕：日本ビーコ
2009・バイオマテリアル用走査型プローブ顕微鏡（Catalyst）
ラップ飛行時間型質量分析計（AXIMA Resonance）〔タ〔光学顕微鏡と一体型，輸入品〕：日本ビーコ
ンパク質糖鎖構造解析などをより高感度で〕：島津製作
2009・原子分解能電子顕微鏡（JEM-ARM200F）〔照射系収差補所
2009・ICP-MS（Agilent 7700x，7700s）〔世界最小のコンパクト
正装置を標準搭載の FEG 搭載 TEM〕：日本電子2009・共焦点顕微鏡（VCM）〔高分解能共焦点顕微鏡，輸入品〕：
型 ICP-MS〕：アジレント・テクノロジー／アジレント・
日本ビーコ
テクノロジー・インターナショナル
2009・大気圧走査電子顕微鏡（JASM-6200）〔大気圧下で SEM 2009・ガス質量分析計（LICA-MS400）〔一光子レーザーイオンと光顕を同一視野観察〕：日本電子化〕：トヤマ2009・走査プローブ顕微鏡（JSPM-5410）〔高速スキャン採用で高スループットを実現〕：日本電子

90

子

顕

微

鏡

電磁気分析装置
X
線
分
析
装
置
2008・エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置（EDX-GP システム）〔規制有害元素のスクリーニング分析を容易に〕：島津製
作所
2008・エネルギー分散型 X 線分析装置（X-Max）〔SDD で検出有効素子面積 80mm2 を達成，輸入品〕：オックスフォード・
インストゥルメンツ／ oxford instruments

2009・SEM 用 粒 子 解 析 シ ス テ ム（FeatureMax）〔粒子解析ス
ピードを高速化，輸入品〕：オックスフォード・インストゥ
ルメンツ／ oxford instruments
2009・電子線マイクロアナライザ（EPMA-1720 シリーズ）〔条件設定など熟練を要する作業を自動化〕：島津製作所

表

面

分

析

装

置

2009・走査型オージェ電子分光分析装置（PHI 700 Xi）〔高エネ
ルギー分解能モード〕：アルバック・ファイ
2009・光脱離分析装置（PSD-120vuv）〔光励起脱離質量分析計，
輸入品〕：電子科学

91

プロセス用分析機器
概説

この欄の年表には，プロセス用分析機器，携帯用分析機器及び保安用分析機器についてまとめている。各機種の特徴は次のとおりである。
［プロセス用分析機器］：プラントに接近した場所に設置されることが多く，連続又は間欠的に自動測定を行う機器
で，測定するプロセスから要求される諸条件や機能・性能を一般に備えている。この年表ではプロセス用分析機器
を，測定対象によって水溶液用，ガス用，非水溶液及び固体用に分類している。
［携帯用分析機器］：プロセスの現場に持ち込んで比較的短時間の測定を行う機器で，小型軽量のものが多い。
［保安用分析機器］：作業従事者やプラント周辺の人々の健康や人命に係わる現場雰囲気の管理用で，可燃性ガスの漏洩による爆発防止，毒性ガス漏洩による人体への危険防止のために，大気中に含まれるガス濃度を測定し，必要に応じて警報を発する機器である。
上記分析機器の変遷を産業・経済の動向の側面からながめると，機器の開発と産業とは密接な関係にあることがわかる。
1926 年（昭和元年）から 3，4 年の間に，化繊工業や化学肥料工業等では，海外からの技術や設備の導入が盛んとなり，工業用分析計の開発の兆しがいち早くみられた。溶液分析ではアンチモン式 pH 計と導電率計の先駆ともいうべき電気検塩計
が，ガス分析計では炭酸ガスとメタンガス分析計の工業用と銘打ったものが出現し，また鉱工業の保安機器として携帯用ガス分析計の専用器が実用化された。
1935 年（昭和 10 年）には軍需工業が興隆し，人工ゴム，石炭を原料とした液体燃料等の製造が国策としてとられた。しかし，敗戦で化学工業は壊滅状態になった。その後，復興の旗印のもとに塩ビ，ナイロン，化学肥料，電解工業等の産業が次々と発展した。この間のプロセス用分析計の使用はごく一部にすぎなかった。

水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置

ガ

ス

用

分

析

装

置

1926 年
昭1
1929・工業用炭酸ガス記録計（アクア CO2 レコーダ）〔吸収式〕：
島津製作所
1930 年
昭51930・アンチモン電極式 pH 計：島津製作所
1932・熱伝導度式煙道ガス計：北辰電機
1933・精密級 pH 用電位差計：横河電機

1935 年
昭 101936・電気検塩計〔電気伝導度式〕：横河電機
1937・電気伝導度式検塩計：北辰電機
1939・電気伝導度式硫黄濃度計：北辰電機

1940 年
昭 151940・工場用ガラス電極形自動調節 pH 計：横河電機

1935・燃焼式酸素計・水素計：北辰電機
1936・メタンガス分析計〔ガス熱伝導率式〕：島津製作所

1939・炭酸ガス分析計〔白金線ブリッジの熱伝導率式〕：島津製作所
1940・熱伝導ガス分析計（HC）：富士電機

1942・工業用 pH メーター（R 型）：ベックマン・コールター

1945 年
昭 20

1945・導電率式蒸留水純度計：電気化学計器
1947・液落下・導電率式ガス分析計（GS-1）：電気化学計器
1947・熱伝導度式水素計・炭酸ガス計：北辰電機
1948・熱伝導度式亜硫酸ガス計：北辰電機
1949・試料流入式連続比色分析装置（ANA-30）：東京光電1950 年
昭 25

1950・磁気風式酸素計：北辰電機
1950・音響式ガス分析計：横河電機
1951・工業用 pH 計（FG，RG）〔交流増幅式〕：電気化学計器
1951・プロセス pH 計〔振動容量式〕：北辰電機

92

プロセス用分析機器

1955 年（昭和 30 年）頃から，石炭から石油への転換と技術革新による新しい化学工業時代に突入し，1960 年代のコンビナー
トに代表される高度経済成長期には種々の分析機器が開発され，各工場に導入された。代表的なものにプロセス用のポーラ
ログラフ，粘度計，タイトレータ，磁気式酸素計，ガスクロマトグラフ等の自動分析装置がある。一方生産性の向上とともに，公害の問題がクローズアップしてきた。
1970 年に入り，石油中の硫黄濃度計が品質管理用として開発され，1973 年には苛性ソーダの製法が水銀法から隔膜法へ転換が決まり，種々の公害対策がとられ，工場の計装も変化してきた。また，X 線，β線，γ線等を用いた固体用分析機器，
例えばセメント成分計，抄紙用厚さ計，密度計等がオンライン用として次々に開発された。1975 年 11 月に，可燃性と毒性のガス漏洩検知器の設置が義務付けられ，コンビナートを中心に保安機器が一斉に設置された。
1980 年代に至り，エレクトロニクスの著しい発展により，分析機器の出力信号は，アナログからデジタル化へと移行し，また，マイクロプロセッサ化により，校正や保守性の改善されたもの，データ処理等の機能を装備したもの等が多くなり今日に至っている。
1990 年代に入って，イオンクロマトグラフ，FT-IR，FT-NIR，GC ／ MS など汎用の分析機器の小型化，ポータブル化が進み，プロセスや現場の特定物質のオンサイトでの分析が可能になり，オンラインでモニターしようとするプロセス用分析機器も普及し始めた。この測定対象としてはダイオキシンやその関連物質及び燃焼状態に関連した物質，健康に係わる微量化学物
質などに広がりをみせている。
またプロセス分析機器などはプロセスやシステム制御のネットワーク化が進んでいる。
2000 年代は大きな変化は見られないが，コンパクト化，多機能化，維持管理などのしやすさの方向への開発が益々進んでいる。ガス関係などでは赤外線の応用が主となっているが，レーザ光などの利用も製品化されている。また，ナノテクノロ
ジーに対する対応，新エネルギーシステムへの対応も徐々に開発されつつある。

固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器
1926 年
昭1

1931・光干渉式現場用ガス検定器：理研計器
1932・携帯用ガス分析計〔ガス冷却温度測定式〕：横河電機

1930 年
昭51935 年
昭 101938・熱伝導度式携帯形炭鉱ガス計：北辰電機
1939・光学式ガス検定器〔光干渉式〕：理研計器
1940 年
昭 151945 年
昭 20
1947・ガス検知管：光明理化学工業

1950 年
昭 25

93プロセス用分析機器

1955 年
昭 30

水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置
ガ
ス
用
分
析
装
置
1952・工業用 pH 指示計（K）平衡型：堀場製作所
1952・機械式ガス連続分析計（ラウターガス分析計 RA）：三鷹
1952・プロセス用フロート式比重変換器（FGT）：島津製作所
工業
1953・プロセスpH計（ER-153）〔チョッパーアンプ自動平衡式〕：
横河電機
1954・pH 自動制御記録装置：東亜電波工業
1954・磁気風式酸素分析装置（MO）：富士電機
1954・工業用 pH 自動指示記録装置：東亜電波工業
1955・水質計〔高周波導電率計〕：北辰電機
1955・硫安母液酸度測定器：堀場製作所
1955・工業用 pH 指示記録計（6AS，E-1R）〔自動多点切替〕：堀場製作所
1957・電磁濃度計（MC）：電気化学計器
1957・交流 2 極式水質計（CL）〔導電率計〕：堀場製作所

1960 年
昭 35

1965 年
昭 40

94

1957・赤外線ガス分析計（GA-1）〔NDIR，光学的零位法〕：堀場製作所
1957・自動平衡方式非分散赤外線分析計（IRP）：富士電機
1958・接触燃焼式可燃性ガス測定器（FM-I）：光明理化学工業
1958・プロセスガスクロマトグラフ（V231）：北辰電機
1959・残留塩素計（RCA）〔回転白金電極・ポーラログラフ式， 1959・非分散紫外・可視光式微量酸素分析計（PC-1）：堀場製
試薬形〕：横河電機
作所
1959・連続電量滴定式残留塩素計（CL）：電気化学計器
1960・連続電量滴定式アルカリ度計（CL）：電気化学計器
1960・ボイラー水用シリカ分析計（ASD-202）〔モリブデン青法，
比色法〕：堀場製作所
1960・完全自動プロセスタイトレータ：島津製作所
1960・プロセスポーラログラフ：島津製作所
1961・プロセス屈折計〔輸入品〕：アムコ／ウォーターズ社
1961・ガルバニ電池式微量酸素分析計（AE-301）：堀場製作所
1961・溶存酸素分析装置（OXBA-1）〔隔膜 - ガルバニ電池式〕： 1961・赤外線分析計（EIA-1）〔NDIR，偏位法式，防爆形〕：堀
堀場製作所
場製作所
1962・工業用 pH 計（K-2）
〔直流直線形方式〕：堀場製作所
1963・ソーダ工業用 TCD 法塩素中水素分析計（AHC-1）：堀場 1963・黄リン発光方式微量酸素計（TOA）：富士電機製作所
1963・自動アルカリ度滴定装置（ATLA-1）：堀場製作所
1963・透過光・散乱光比率方式濁度計（DAK）：横河電機
1964・Ar 中窒素分析装置（ANA-1）〔放電発光分光分析法〕：堀場製作所
1964・植物同化作用ガス測定装置（ASSA-1）〔NDIR 法〕：堀場製作所
1964・赤外線ガス分析計（LIA-1）〔研究室用〕：堀場製作所
1965・pH 計（K-5 シリーズ）〔純水用，高圧用，発酵槽用〕：堀場製作所
1965・プロセス pH 計（HPH-31）〔パラメトリック発振増幅式〕：
横河電機
1966・ヒドラジン分析計（HYBA-1）〔ポーラログラフ式〕：堀場 1966・赤外線ガス分析計（TIA-1）〔ロングセルによる高感度製作所
化〕：堀場製作所
1966・プロセス自動滴定装置〔AT-01〕：京都電子工業
1966・プロセス水分計（501）〔ピエゾセンサー式，輸入品〕：ア
1966・表面散乱式濁度計〔輸入品〕：セントラル科学／ハック
ムコ／デュポン社
1967・試薬式残留塩素計（アナクロール 17B3200）：北辰電機
1967・燃焼器具排ガス測定装置（COPA-1）〔NDIR 法〕：堀場製
1967・超音波洗浄装置付工業用 pH 計（GLE）：横河電機
作所
1967・プロセス用密度計（VD6）〔振動式〕：横河電機
1967・エチレンジクロライド用塩素ガス濃度計（CA-01）〔紫外吸収法〕：京都電子工業
1967・非分散赤外線分析計（ZAP）〔マスフローセンサ方式〕：
富士電機
1968・白液総アルカリ度分析装置（ATWA-1）：堀場製作所
1968・紫外線ガス分析計（UVA-1，-2）〔NDUV 法〕：堀場製作
1968・超音波洗浄付工業用 pH 計（K-5）：堀場製作所
所
1968・工業用 pH 計〔3FET，1IC 式〕：電気化学計器
1968・パルプ濃度計（F16C2386）：北辰電機
1968・プロセスタイトレータ（PTR-1）：平沼産業

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器
1952・γ，X 線用ポケット線量計（PD-100）〔直読式〕：理研計器

1955 年
昭 30

1957・プロセス用粘度計（VIS-1）〔磁歪振動片式〕：横河電機

1957・水質検知管：光明理化学工業
1957・pH メータポケット：ベックマン・コールター

1960・プロセス用粘度計〔輸入品〕：コーディックス／コント
ラバス

1960・真空法ガス検知器：光明理化学工業

1960 年
昭 35

1963・ポータブル形微量酸素分析計（MOM-1）〔ガルバニ電池
式〕：堀場製作所

1964・赤外線ガス分析計（LIA-1）〔研究室用〕：堀場製作所

1965 年
昭 40

1966・Sn メッキ付着量計〔蛍光 X 線結晶分光器付〕：理学電機工業

1967・プロセス用カールフィッシャー水分計（PK-01）：京都電子工業
1967・結晶分光機付浮遊選鉱用蛍光 X 線分析装置：理学電機工業

1968・Cr メッキ付着量計〔蛍光 X 線式，結晶分光器付〕：理学
電機工業

95

プロセス用分析機器
水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置
1968・プロセス用γ線密度計（8800）：横河電機
1968・工業用 pH 計（K-5）
〔直流直線形（MOS 形）全半導体形，
入力絶縁，超音波洗浄〕：堀場製作所
1969・プロセス液連続透過率計（NM-04）：京都電子工業
1969・本質安全防爆 pH 計（SHC-1）：電気化学計器
1969・旋光方式パルプ濃度計：横河電機
1970 年
昭 45

1970・電磁濃度計（MB-31）〔変位法〕：電気化学計器
1970・プロセスタイトレータ（KTR）〔重量検出式〕：横河電機
1970・工業用イオン計（K-KION）〔イオン電極法〕：堀場製作所
1971・本質安全防爆導電率計（SWS）：電気化学計器
1971・防爆対応 2 線式 pH 伝送器：横河電機
1971・導電率計（ZED）〔上水測定用〕：富士電機

1972・残留塩素計（クロルトロール 17K1000）〔無試薬形，輸入品〕：北辰電機／ F&P 社
1972・本質安全防爆形 pH 計，ORP 計（K-5P）：堀場製作所
1973・海水残留塩素計（KPL）〔試薬形，冷却用海水用〕：横河電機
1973・微量ナトリウムモニタ（ASCA-1）〔イオン電極式〕：堀場製作所
1974・表面散乱式濁度計（W301）：北辰電機
1974・本質安全防爆型水質導電率計（W241）：北辰電機

1975 年
昭 50

96

ガ

ス

用

分

析

装

置

1970・接触燃焼式全可燃物分析計（M513）
〔輸入品〕
：北辰電機
／ MSA 社
1971・SO2 分析装置（ZBT）〔NDIR 法〕：富士電機
1971・熱伝導式塩素ガス分析計（643CR）：三鷹工業
1971・プロセスガス用熱量計（5120）：三鷹工業
1971・プロセス水分計（1000）〔アルミ／アルミナセンサー法，
輸入品〕：アムコ／パナメトリック社

1973・金属熱処理炉ガス分析装置（FUGA-321）〔NDIR 法〕：堀場製作所

1975・内部液無補給形電極式 pH（ORP）計（K-7）：堀場製作所
1975・現場携帯用 pH 計（phatrol 8011）〔デジタル式〕：横河電機
1975・アルカリ度測定装置（ZWJ，T）：富士電機
1975・残留塩素計（ZWM）：富士電機
1975・メッキ液濃度形〔小型 X 線管，非分散蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1976・プロセス用自動液体クロマトグラフ（KFP-1280）：協和
精密
1976・アルカリ濃度計（PA-01）〔炭酸ガス中和熱式〕：三菱化成
1976・残留オゾン計（8413）〔回転白金電極式〕：横河電機

1975・ジルコニア式酸素計（ZFK）〔直接挿入形〕：富士電機

1978・溶存酸素測定装置（ZXB，C，V）：富士電機
1978・汚泥濃度測定装置（ZXE，F，V）：富士電機

1978・ガス水分計（DC-26）〔静電容量式，表面処理プラント用〕：
京都電子工業

1976・磁気力式酸素分析計（ZAJ）〔マスフロー方式〕：富士電機
1976・赤外線ガス分析計（VIA-200）〔分析部，増巾部一体形〕：
堀場製作所
1977・非分散赤外線分析計（ZAL）〔シングルポイントチョッパ式〕：富士電機プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器

1969・石油色度計〔透過光方式〕：横河電機
1969・酸素欠乏・爆発ガス警報器（GX-1）〔酸素：ガルバニ電池
1969・プロセス用誘電率水分計（DC-01）：京都電子工業
式爆発ガス，接触燃焼式〕：理研計器
1969・B ／ M 計（BM-700）〔紙の坪量：β線，水分：赤外方式〕：
横河電機
1970・石油硫黄計（8810）〔透過 X 線方式〕：横河電機
1970・直読式ガス検知管：ガステック
1970・感光材料銀分析装置〔蛍光 X 線式〕：理学電機工業

1970 年
昭 45

1971・石油硫黄分析計（W121）〔X 線吸収式〕：北辰電機
1971・石油精製用沸点計（BPA-1）：電気化学計器
1971・セメント用ライムメータ〔RI 励起蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1971・セメント連続測定用 XEG〔4 成分測定，輸入品〕：理学電機／ GE 社
1971・プロセス水分計〔光学反射式，輸入品〕：アムコ／アナコン社
1971・セメントクリンカー用かさ比重計（8130）〔放射線式〕：
三鷹工業
1971・ターンメッキ付着計〔RI 蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1971・フローフレックス（RBC）〔蛍光 X 線式，セメントブレン
ディングシステム〕：理学電機工業
1972・オンライン硫黄濃度計〔X 線管励起法〕：理学電機工業
1972・γ線オンライン厚み計（SFT200）：セイコー電子工業
1973・Zn メッキ付着量計〔RI 蛍光 X 線方式〕：理学電機工業

1974・重油中硫黄分析装置（SLFA-200）〔蛍光 X 線分析法〕：堀場製作所

1975・Cr メッキ付着量計〔小型 X 線管，蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1975・磁気テープ膜厚計〔小型 X 線管，蛍光 X 線式〕：理学電機工業

1976・オンラインゴム厚み計（SFT280）〔X 線式〕：セイコー電子工業
1976・プロセス水分計（514）〔近赤外線吸収式，輸入品〕：三菱
化成／テレダインアナリティカル
1977・重油中硫黄，塩素分析装置（SLFA-500）〔蛍光 X 線分析
法〕：堀場製作所
1977・オンラインセラミックス厚み計（SFT135）〔X 線式〕：セイコー電子工業
1977・オンライン紙厚み計（SFT145）〔X 線式〕：セイコー電子
工業
1977・Zn メッキ付着量計〔小型 X 線管，蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1977・石炭灰分・いおうオンライン分析装置〔蛍光 X 線式〕：
理学電機工業
1978・燃料蒸発量測定装置（SHED-10）〔自動車燃料用〕：堀場製作所

1974・微量ガス漏洩検知機（GL-100）〔水素炎イオン化式，ポー
タブル型〕：理研計器
1974・ガス識別装置（DG-100+GL-100）〔分離カラム +FID 現場
用分析計〕：理研計器
1975・ポータブル毒性ガス検知機（EC-231）〔一酸化炭素測定電位電解式〕：理研計器

1975 年
昭 50

1976・漏洩ガス検知警報計（LELTER）〔接触式，燃焼式〕：横河電機

1977・ガス漏洩警報システム（URA-1000）〔赤外線式〕：光明理
化学工業
1977・個人暴露測定用時間加重平均濃度検知管：光明理化学工業
1977・塩素ガス漏洩検知器（17E1100）〔輸入品〕：北辰電機／
F&P 社
1977・超小型ポケッタブル酸素欠乏警報器（OX-80）〔ガルバニ電池式〕：理研計器

97

プロセス用分析機器
水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置1980 年
昭 55

1985 年
昭 60

ス

用

分

析

装

置

1979・塩素中水素分析装置（AHCA-2000）〔NDIR 法〕：堀場製作所
1979・磁気圧式酸素分析計（MPA-21）〔コンデンサマイクロホン式〕：堀場製作所
1979・塩化水素ガス分析装置（ZSVL，R）：富士電機
1979・赤外線ガス分析計（ZRL）〔2 成分同時測定〕：富士電機
1980・赤外線ガス分析装置（IR）〔サーミスタボロメータ式〕：
横河電機
1980・呼気速度測定装置（ZXH）〔プロセス用，酸素分圧測定〕：
富土電機

1980・パルプ濃度計（W201）〔ブレード式〕：北辰電機
1980・無試薬残留塩素計（ZXM）：富士電機
1980・プロセス用糖液固さ計（レオメータ，W101）：北辰電機
1980・プロセス用比色計（PP-4）：平間理化研究所
1980・シリカ分析装置（SLIA-1000）〔新形試薬計量方式，自動濁度補正機能内蔵〕：堀場製作所
1981・ウラニウム自動分析システム〔電位差滴定法〕：京都電子工業
1981・メッキ液コントローラ（PPC-1）：平間理化研究所
1982・連続モニター式溶存酸素計（340）〔輸入品〕：ジャスコイ 1982・ジルコニア酸素計（ZO21）〔直接挿入形〕：横河電機
1982・プロセス用ジルコニア式高温湿度計（FZQ）〔直接挿入
ンターナショナル／レックスノード社
1982・オンラインメッキ液分析装置〔エネルギー分散型〕：セ形〕：富士電機イコー電子工業
1982・下水用 pH 計：富士電機
1982・合金メッキ液濃度形〔自動点滴装置付，同時型蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1983・プルトニウム自動分析システム〔電量滴定法〕：京都電 1983・赤外線ガス分析計（ZAU）〔シングルビーム式〕：富士電子工業
機
1983・合金メッキ液濃度形〔フローセル，同時型蛍光 X 線式〕：
理学電機工業

1984・電磁誘導式導電率形（WACA-120）〔電磁誘導方式，酸・アルカリ・海水対応〕：堀場製作所
1984・溶存酸素形（WAXA-100 ／ 110）
〔ガルバニ電池方式，デイスポーザブル電極，下水道対応〕：堀場製作所
1984・交流 2 極法導電率形（WACA-110）〔交流 2 極法，超純水
測定対応〕：堀場製作所
1984・レンズ集光式濁度形（WATA-100）〔レンズ集光方式，透過散乱光法，校正板による校正法〕：堀場製作所
1985・プロセスイオンクロマト（J401）〔超微量イオン測定用〕： 1985・オンラインキャピラリーガスクロマトグラフ：ガスクロ
横河電機工業
1985・自動有効塩素濃度計（ACL-12）〔ヨウ素電量滴定法によ 1985・プロセスガスクロマト（SAG-600）〔TCD，FID 装着防爆る〕：平沼産業型〕：柳本製作所
1985・微量ナトリウムイオンモニター（ASCA-1000）〔火力発電
所向，貫流ボイラ対応〕：堀場製作所
1986・純水中シリカモニタ（SLMA-200）〔比色法〕：堀場製作所 1986・排ガス中水銀連続分析計（マーキュリー／ DM-1）〔気液接触による連続還元気化法採用〕：理学電機工業／日本
インスツルメンツ
1987・ビール用原麦汁エキス測定装置（SPR4115）〔音速式濃度 1987・特殊ガス分析器（GGC-01）〔定電位電解式検出器付 GC〕：
計〕：シーベル機械／アントンパール社
ガステック
1987・超純水モニタ（APWA-140）〔比抵抗，微粒子，TOC，温度〕：堀場製作所
1988・プロセス用示差屈折検出器（ERC-7562）〔高濃度対応〕： 1988・ガス分析用 FT-IR（8220）〔リアルタイム工業用ガス，火エルマ CR
災現場発生ガス分析装置〕：ニコレー・ジャパン
1989・pH 伝送器（EXA-PH）〔2 線式，自己診断機能〕：横河電機
1989・ORP 伝送器（OR200G）〔2 線式，センサ異常を測定中に自己診断する機能，マイコン〕：横河電機

98

ガ

1989・排ガス中水銀濃度計（HG-26）〔還元気化原子吸光度法による水銀連続濃度計〕：京都電子工業
1989・ジルコニア式酸素計（ZFTA）〔マイクロチップ形〕：富士電機

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置
携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器
1978・石油精製用蒸気圧計（DVP）：電気化学計器
1979・トランス油中溶存ガス分析装置〔真空脱気 -GC 法〕：ガス 1979・走行式ガス漏洩検査車（TF-42）〔検査車に FID 搭載ガス
クロ工業
埋設管の漏洩検査〕：理研計器
1979・プロセス用石油カロリ計（PC6）〔X 線吸収式〕：横河電機
1979・銀付着量測定装置（SFT902）〔X 線式，写真フィルム用〕：
セイコー電子工業
1980・オンラインメッキ厚み計（SFT230）〔X 線式〕：セイコー 1980・一酸化炭素検知警報機（CM-1A）〔定電位電解式〕：ガス
電子工業
テック
1980・シリコンウェハー用酸素，炭素濃度測定装置（MX-ELO） 1980・超小型ポケッタブル毒性ガス検知警報器（CO-80）〔定電〔FT-IR〕：ニコレー・ジャパン
位電解式〕：理研計器
1980・超小型ポケッタブル可燃性ガス検知警報器（GP-80）〔接触燃焼式〕：理研計器

1980 年
昭 55

1982・石油精製流動点計（PPA-1）：電気化学計器
1982・合金メッキ付着量計〔蛍光 X 線式〕：理学電機工業
1982・塩化ビニール塗膜厚計〔散乱 X 線式〕：理学電機工業

1983・半導体モニター〔スキャンニング分光計式，輸入品〕：ジャ 1983・ポータブル水銀測定装置（マーキュリー・スニッファー
スコインターナショナル／ FEP 社／ PM-2）〔資源探査，一般環境用〕：理学電機工業／日1983・セラミック基板グリンシート厚さ測定装置（SFT259）：
本インスツルメンツ
1983・超高感度ポータブル可燃性ガス検知器（SP-237H）〔熱線
セイコー電子工業
1983・合金化度計〔X 線回折式〕：理学電機工業
型半導体式〕：理研計器
1984・石油精製用引火点計（FPA-1）：電気化学計器
1984・ガス拡散式検知管：ガステック
1984・検知管式ガス測定器〔熱分解器付，フロンガス測定用〕：
ガステック
1984・作業環境用水銀ガスモニター（マーキュリー／ EM-1）〔警
報レベル任意設定可能〕：理学電機工業／日本インスツ
ルメンツ

1985 年
昭 60

1986・高速顕微膜厚計（MS-2000）〔光干渉式〕：大塚電子

1986・携帯用 pH 計（パーソナル pH）〔自動校正機能，μp 化〕：
横河電機

1987・オイル分析用 FT-IR（8210）〔潤骨油の自動成分分析用〕： 1987・携帯形オゾン検知警報機（GOZ-1A）〔定電位電解式〕：ガニコレー・ジャパン
ステック
1987・防爆型連続作業用有毒ガス検知器（GX-111）〔ガルバニ定電位電解式，接触燃料式，防爆型〕：理研計器
1988・ポータブル作業環境用水銀モニター（マーキュリー／
EMP-1）〔瞬時濃度と平均濃度表示〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1989・マルチセンサ搭載 B ／ M 計（BM 7000 XL）〔光沢度，平 1989・携帯水質用分光光度計（DR ／ 2000）〔分析ソフト付〕：セ
滑度等〕：横河電機
ントラル科学／ハック社
1989・MgO 付着量計〔蛍光 X 線吸収式〕：理学電機

99

プロセス用分析機器
水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置1990 年
平2

1990・シリカ自動測定装置（SLC-1600 型）〔超純水，純水中のシリカをモリブデン青吸光光度法で測定〕：電気化学計器
1990・自動水質監視装置（WM1000）〔水道給水末端の水質監視（水質 7 項目測定）〕：横河電機
1990・残留塩素計（RC400G）〔回転電極式，マイコン搭載による液切れ検知，ポーラログラム採取，測定異常検知〕：横河電機
1990・無試薬形遊離塩素計（FC400G）〔回転電極式，マイコン搭載によるポーラログラム採取，最適電位設定，測定異常検知〕：横河電機
1990・導電率伝送器（SC200G）〔2 線式伝送器，分極抑制のための印加周波数自動切換で高精度〕：横河電機

ガ
ス
用
分
析
装
置
1989・プロセス用振動式ガス密度測定装置（バイブロ DG8）：
横河電機
1989・プロセス用超低温光学露点計（MYCOSMO）：大阪酸素工業
1990・汎用ガス分析計（510 シリーズ）〔プロセス制御用高精度
ガス分析計〕：堀場製作所

1991・ヒドラジン計（EHY-10 型）〔ボイラ水中のヒドラジン濃 1991・赤外線ガス分析計（ZRF）〔3 成分同時測定〕：富士電機
度を測定，酸化還元電極法〕：電気化学計器㈱1991・プロセスタイトレーター（RTR シリーズ）〔滴定ベース，
多用途〕：平沼産業
1991・ドライフィルム現像液自動分析計（DFT-1 ／ DAC-1000）〔専用装置，分析 + 濃度制御〕：平沼産業
1991・工業用 pH 計（α -900）〔汚れやつまりによる性能劣化を改善，安定性向上〕：堀場製作所
1991・水用連続水銀分析計（マーキュリー／ AUTO RA-5）〔JIS法と簡易法切り替え可能〕：理学電機工業／日本インス
ツルメンツ
1991・pH 変換器（pH400G）〔自動洗浄，自動校正をシステム化〕：
横河電機
1992・連続滴定装置（ACT-100 型）〔滴定分析法をアレンジ，電 1992・ホルムアルデヒドガス分析計（FANAT シリーズ）〔化学
位差滴定が可能な溶液を連続滴定〕：電気化学計器
発光方式〕：ファームテック
1992・工業用 pH 計（K-10）〔屋外設置用自己診断，ワンタッチ 1992・半導体製造ガス監視システム（MAP シリーズ）〔FID 方校正等〕：堀場製作所
式〕：ファームテック
1992・工業用滴定装置（PTW-IA）〔ライン組込み型〕：東亜電 1992・赤外線ガス分析計（ZRH）〔シングルビーム式，2 成分測波工業
定〕：富士電機
1993・酸・鉄濃度計（DCM-101）〔専用成分分析計，密度・電気 1993・マイクロダイリューショントンネル（MIT シリーズ）〔稀伝導率法〕：京都電子工業
釈比最大 1000〕：ファームテック
1993・表面散乱型濁度計（TB400G）〔自動洗浄，自動校正のシ 1993・ジルコニア酸素計（ZRN）〔マルチチャンネル（9ch）型〕：
ステム化，全測定範囲をフリーレンジ対応可能〕：横河
富士電機
1993・防爆型ガス分析計（EIA-31）〔赤外線式，プロセス用途，
電機
1993・電磁導電率伝送器（ISC200G）〔全測定レンジを 1 本のセ防爆タイプ〕：堀場製作所〔診断機能搭載，
ンサで測定，濃度演算用マトリックス設定機能〕：横河 1993・プロセスガスクロマトグラフ（GC1000）
ラボ分析のオンライン化，ガスクロのネットワーク化を電機実現〕：横河電機
1993・蛍光管中水銀量測定装置（マーキュリー／ TM-1）〔管中水銀の短時間定量測定〕：理学電機工業／日本インスツ
ルメンツ
1994・プロセス密度計（DAP-21）〔振動式密度測定方式，イン 1994・低温光学式露点計（HYCOSMO Ⅱ）〔飽和点方式，露点
ライン連続密度計〕：京都電子工業
判定〕：大阪酸素工業
1994・シリカ分析装置（SLIA-2000）〔5 分間の高速測定〕：堀場 1994・PPB 酸素分析計（MK5 ／ Z）
〔ガルバニ電池式酸素分析
製作所
計，感度 0.5PPB〕：大阪酸素工業
1994・溶存酸素計（DO400G）〔膜やぶれ検知機能とフロートホルダの採用，洗浄方式のシステム化〕：横河電機
1994・水道水用自動測定装置（MW-20 型）〔水道水中の pH，濁度，色度，残留塩素，導電率，温度，圧力を測定〕
：電
気化学計器

100

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器

1990・光干渉式膜厚計（SOT-1000）〔非金属酸化膜膜厚測定用〕：
1990 年
平2
セイコーインスツルメンツ
1990・オンラインメッキ膜厚計（SPM 9500）〔インプロセスモニター〕：セイコーインスツルメンツ
1990・金属セラミックス中水素分析装置〔高精度の水素分析計〕：堀場製作所
1990・全自動炭素硫黄分析装置（EMIA-72X）〔全自動化〕：堀場製作所
1990・炭素硫黄分析装置（EMIA-820 ／ 810）
〔燃焼コントロー
ルによる高精度分析オートクリーナ等によりメンテナン
ス性の向上〕：堀場製作所
1990・炭素硫黄分析装置（EMIA-820 ／ 810W）〔ウインドウズ化による操作性向上〕：堀場製作所
1991・複屈折位相差測定装置（RETS シリーズ）〔リタデーショ 1991・ハンディ導電率計（HEC-110 型）〔導電率，抵抗率，温度ンの波長分散評価〕：大塚電子を測定〕：電気化学計器
1991・オンライン BO 計〔X 線回折式〕：理学電機工業
1991・ハンディ DO 計（HDO-110 型）〔DO，飽和率，酸素ガス，
温度を測定〕：電気化学計器

1992・オンライン塗装膜厚計〔蛍光 X 線，散乱線式〕：理学電機工業

1992・TEOS 検出器（GD-S8DG）〔熱分解イオン化式〕：理研計器
1992・ポータブル FID 検知器（GL-92）〔Hz 貯蔵合金を用いたもの〕：理研計器

1993・ポータブル純水用電気伝導率計（CM-14PW）〔純水専用のポータブル型〕：東亜電波工業

101

プロセス用分析機器

1995 年
平7

水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置
1994・上水専用オートアナライザー：プランルーペ
1995・自動水質管理装置（WM500）〔簡易型〕：横河電機

ガ

ス

用

分

析

装

置

1996・トリハロメタン計（ZYT）〔藤原反応による蛍光定量式〕：
富士電機
1996・汚泥濃度計（SS-100）〔自動洗浄，自動校正〕：堀場制作
所
1996・2 入力式導電率変換器（DC400）〔2 入力導電率の比較・演算機能〕：横河電機
1996・電磁導電率変換器（ISC402G）〔導電率（濃度），温度の 2
出力で HACCP 対応〕：横河電機

1996・防爆形水分計（MAH-P）〔防爆基準 Exd [ia] Ⅱ B+H2T4 に合格〕：島津製作所
1996・プロセスモニター用質量分析装置〔半導体製造プロセス
用，ガス分圧モニター〕：日本エム・ケー・エス
1996・施設園芸用，CO2 コントローラミニ（ZFW）〔小型，可動部レス〕：富士電機
1996・蛍光管中水銀量測定装置（マーキュリー／ TM-2A）〔管
中水銀の分別短時間定量測定〕：理学電機工業／日本イ
ンスツルメンツ
1997・ビールアナライザー（DRA-510B）〔ビール専用の成分分 1997・水晶発振式水分計（5900UHP）〔感度 5PPB，輸入品〕：大析計，密度・屈折法〕：京都電子工業
阪酸素工業／米国製
1997・高感度濁度計（ZYU）〔レーザ光散乱式〕：富士電機
1997・工業用ガス分析装置（IGA シリーズ）：大塚電子
1997・給水水質モニタ（ZYQ）〔色・濁り測定〕：富士電機
1997・ガスボリューム測定装置（GVA-500）〔炭酸飲料のガスボ
1997・水質安全モニター（ZYN）〔毒物監視〕：富士電機
リューム，エアーコンテント，酸素濃度測定〕：京都電1997・凝集センサ（ZYP）〔上水凝集・沈殿処理用〕：富士電機子工業
1997・MLSS 計（SS400）〔パルス点灯方式と透過光を直角散乱 1997・ポータブル CP 計（ZFX）〔CO2，温度測定による CP 演算〕：
光比較方式により，全レンジを 1 センサで測定，外光の富士電機
1997・半導体工場向けクリーンルームガスモニター（CM500
影響受けず〕：横河電機
1997・高感度計濁度計（TB500G）〔透過散乱方式，加圧脱泡に形）〔高感度（0.01μg ／ m3）アンモニア濃度連続測定監
よる低濁度測定システム〕：横河電機
視装置〕：横河電機
1997・ガス分析専用 FT-IR（FT-730G）〔長光路ガスセル搭載で，高感度ガス分析を実現〕：堀場製作所
1997・ガス密度計（GD400，410，420）〔多重発振モード，円筒
振動式，密度，比重，濃度，熱量の測定〕：横河電機
1998・分散プロセス観察装置（タービスキャンオンライン）〔輸 1998・赤外線式 PFC ガス分析計（UMT-6P）〔4 種の PFC ガスを入品〕：英弘精機／フランス，フォーマルアクション社
連続モニター，輸入品〕：大阪酸素工業／ドイツ製
1998・電磁濃度計（MDM-300 型）〔インテリジェント型，導電率・ 1998・多光子イオン化，FT-ICR 質量分析計（LEMPI）〔芳香族
濃度・温度の関係を面のデータで持つ，2 線式〕：電気
炭化水素の高速測定〕：日機装
1998・有機ハロゲン分析装置（TOX-100 ／ DXN）
〔ダイオキシ
化学計器
1998・全鉄計（TIF-10 型）〔ボイラ水中の全鉄を測定，FIA 吸光
ン代替指標測定〕：三菱化成
光度法〕：電気化学計器
1998・ヒドラジンモニタ（HYBA-2000）〔長寿命ポーラロセンサ〕：堀場製作所
1998・溶存酸素分析装置（OXBA-2000）〔キャリアガス不要のガ
ルバニセンサ方式〕：堀場製作所
1998・高感度濁度計（ZYV）〔卓上形〕：富士電機
1999・レーザ式粒子カウンタ（WP402G）〔加圧脱泡方式，微少 1999・排ガス中水銀連続分析計（マーキュリー／ DM-5）〔固体流量サンプリング，31 台までの測定監視システム〕：横還元法採用〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
河電機2000 年
平 12102

2000・オンライン全窒素・全りん計（TNP-4100）〔シンプルな構成で安定して稼動，維持管理が容易〕：島津製作所
2000・微量ナトリウムイオンモニタ（ASCA-2000）〔イオン交換樹脂の性能を管理〕：堀場製作所

2000・マ ル チ ウ ェ ー ブ プ ロ セ ス フ ォ ト メ ー タ（PIR3502，
PUV3402）〔光ファイバセル及び多重反射型セル搭載，
輸入品〕：ABB
2000・固 定 発 生 源 監 視 用 窒 素 酸 化 物・ 酸 素 測 定 装 置（NOA-3030）〔コジェネレーション施設の排ガス監視に最適〕：島津製作所
2000・シングルビーム式赤外線ガス分析計（ZRJ）〔排ガス中の4 成分ガス濃度測定〕：富士電機システムズ
2001・簡易水質測定器 パックテスト（WAK-）〔安全性向上〕： 2001・ダブルビーム式赤外線ガス分析計（ZKJ）〔排ガス中の 5
共立理化学研究所
成分低濃度ガス測定〕：富士電機システムズ

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置
1995・プロセス用フーリエ変換赤外分光分析計（FIR1000）〔耐震性，耐環境性およびオンライン多項目同時連続測定実
現〕：横河電機
1996・蛍光 X 線膜厚計（SFT 3000S）〔MS-Windows 採用〕：セ
イコーインスツルメンツ
1996・フーリエ変換近赤外分光分析計（NR500 型）〔新開発干渉系を採用した耐環境性・安定性の改善〕：横河電機

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器
1995・食品用ポータブル pH 計（HM-17-MX）〔金属酸化物をセ 1995 年
平7ンサとした pH 計〕：東亜電波工業
1995・ポータブルガス分析計（PG）〔高精度で 5 成分まで測定可
能〕：堀場製作所
1996・ポータブル pH 計（MP 120，125，130）〔スロープ % 表示機能付き〕：メトラー・トレド
1996・ポータブル導電率計（MC 126）
〔セル定数の入力不要〕：
メトラー・トレド
1996・野外携行型高機能水銀測定装置（マーキュリー・スニッ
ファー／ PM-2）〔小型，軽量，高感度〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ

1997・プロセス KF 水分計〔KF 吸光光度法〕：三菱化学／三菱
化成
1997・高感度プロセス硫黄計（HSCA-20 型）〔石油製品中の硫黄分濃度測定，蛍光 X 線分析〕：電気化学計器

1997・ハンディ残留塩素計（HRC-110 型）〔無試薬で飲料水中の塩素測定，ポーラログラフ法〕：電気化学計器
1997・減菌装置監視システム（EOM シリーズ）〔NDIR 方式〕：
ファームテック
1997・完全防水型 pH メータ（D-20）〔ハンディ pH メータ〕：堀場製作所
1997・ポータブル GC ／ MS（HAPSITE）〔輪入品〕：ライボル
ト／米国インフィコン杜1998・蛍光 X 線膜厚計（SFT 9000）〔レーザーフォーカス機能採用〕：セイコーインスツルメンツ
1998・酸糖度計（NH-2000）〔柑橘類の酸糖度を自動測定〕：堀場
製作所

1998・ダイオキシン対応ポータブルガス分析計（PG-222）〔燃焼管理専用，小型，軽量，高精度〕：堀場製作所
1998・ポータブルヘットスペースサンプラー〔水中，土中のVOC 分析用アクセサリ〕：ライボルト
1998・作業環境用水銀ガスモニター（マーキュリー／ EM-4）〔瞬時濃度と平均濃度表示，試料ガス除湿機構付〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1998・船舶用ポータブル HC 測定器（RI-415）〔NDIR〕：理研計器

1999・ハードディスクインライン膜厚計（SFT 300）
〔超小型， 1999・フーリエ変換近赤外分光装置（Avatar 360N）〔超小型近高スループット膜厚計〕：セイコーインスツルメンツ
赤外 FT-IR）：ニコレー・ジャパン
1999・フリーライム測定装置〔セメントクリンカー中の CaO 量測定装置〕：理学電機
1999・反射分光膜厚計（FE-3000）〔豊富な解析法で多層膜厚を迅速簡単に評価〕：大塚電子
2000 年
平 12

103

プロセス用分析機器
水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置
2001・残留塩素測定器（ATD･ATE シリーズ）〔残留塩素測定のDPD 法を簡便化〕：アドバンテック東洋／東洋製作所

2003・モジュラー・プラットフォーム・コンポーネント（MPC
シリーズ）〔集積型流体システム，輸入品〕：日本スウェー
ジロック FST ／スウェージロック社

2004・単項目水質計 デジタルパックテスト（DPM-）〔ハン
ディタイプの水質計〕：共立理化学研究所

2005 年
平 17

2006・プロセス分析用流路選択システム（SSV シリーズ）〔コン
パクトなモジュールに DBB 機能搭載，輸入品〕：日本ス
ウェージロック FST ／スウェージロック社
2006・多項目水質計 デジタルパックテスト・マルチ（DPMMT）〔多機能・多項目水質計〕：共立理化学研究所
2006・多項目水質計 ラムダー 9000（L-9000）〔多機能・多項目
水質計〕：共立理化学研究所

104

ガ
ス
用
分
析
装
置
2001・直接挿入形ジルコニア式酸素分析装置（ZSB）〔産業用ボ
イラや燃焼炉排ガスの酸素濃度測定〕：富士電機システムズ
2002・多成分ガス分析計（ACF-NT）〔FTIR 技術を搭載した排ガス分析計，輸入品〕：ABB
2002・磁気力式酸素計（ZKG）〔補助ガス不要のダンベル式酸素計〕：富士電機システムズ
2002・ハーシェ型ガルバニ電池式 PPT 酸素分析計（MX1-A，
MX1-S）〔世界最小検出感度 20ppt（MX1-A）〕：日本エア・
リキード ジャパン・エア・ガシズ社／日本エア・リキー
ド
2002・燃焼器具排ガス測定装置（COPA-3000）〔排ガス中 CO ／CO2 ／ O2 を連続測定〕：堀場製作所
2002・ジルコニア酸素計（NZ-1000）〔サンプリング装置が不要〕：堀場製作所
2003・シングルビーム式赤外線ガス分析計（ZRH3 ／ 4）
〔2 成分
測定のコンパクトタイプ〕：富士電機システムズ
2003・ダブルビーム式赤外線ガス分析計（ZRC6）〔組み込み用，
表示部無し〕：富士電機システムズ
2003・熱伝導式ガス分析計（ZAF-3）〔H2，He，Ar ガス濃度測定，
大型液晶画面〕：富士電機システムズ
2003・残留ガス分析計（MICROPOLE System）〔世界最小クラスの四重極分析計〕：堀場エステック
2003・レーザー式ガス分析計（LS25）〔レーザー式分析モジュー
ルを搭載した統合ステム，輸入品〕：ABB
2003・マ ル チ ガ ス 分 析 装 置（VA-3000）〔CO や CO2，NOx や
CH4 など 1 台で測定〕：堀場製作所
2004・超音波式ガスモジュール（US-100-5V）〔2 種のクリーンガ
スを測定〕：第一熱研2004・煙道排ガス分析装置（ENDA-5000 シリーズ）〔ネットワーク（LAN）接続対応〕：堀場製作所
2004・ハーシェ型ガルバニ電池式微量酸素分析計（MXN ／ S）
〔校正ガスボンベ不要，蒸留水補給自動〕：日本エア・リ
キード ジャパン・エア・ガシズ社／日本エア・リキー
ド
2004・超音波式ポータブル酸素計（US-IX）〔酸素発生装置等の高濃度酸素測定〕：第一熱研2004・熱処理炉用赤外線分析装置（ZSC）〔金属熱処理炉用に特化した製品〕：富士電機システムズ
2004・微量ガス分析装置（AP-370 シリーズ）〔ppm から ppb オー
ダーまで計測〕：堀場製作所
2005・コンパクトタイプガス分析計（ZSVF）〔可搬型でサンプ
リング装置を備えた 5 成分計〕：富士電機システムズ
2005・エチレン分析計（VFCL-200）〔エチレン濃度を連続測定可能〕：アナテック・ヤナコ
2005・赤外線式 VOC ガス測定器（ZSX）〔赤外線方式の VOC ガ
ス濃度測定〕：富士電機システムズ
2005・工業用ガス分析装置（IG-1000）〔広い濃度範囲，多種ガ
ス成分を直接測定〕：大塚電子
2006・コンパクトタイプ赤外線ガス分析計（ZSVS）〔可搬型で 4
成分測定可能〕：富士電機システムズ

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器

2002・燃料油中微量硫黄分測定装置（PGC2007）〔燃料油中のppm レベルの硫黄分の総量オンライン測定，輸入品〕：
ABB
2002・高速型プロセスガスクロマトグラフ（PGC2009）〔ガソリ
ンの蒸留点分析を数分で実施，輸入品〕：ABB

2005 年
平 17

2006・卓上型分光エリプソメータ（FE-5000S）〔低価格帯で実現した分光エリプソメータ〕：大塚電子

2006・VOC モニタ（GVC-1000）〔室内環境 VOC 濃度をリアルタイムに計測〕：ガステック

105

プロセス用分析機器
水 及 び 水 溶 液 用 分 析 装 置
2006・有機物分解装置（WA-UVR）〔紫外線照射型の有機物分解装置〕：共立理化学研究所

ガ

ス

用

分

析

装

置

2007・プロセスガスクロマトグラフ（PGC2000 シリーズ）〔キャ
リアガスの電子式圧力制御，輸入品〕：ABB
2007・熱処理炉用赤外線分析計（ZFG）〔熱処理炉専用の CO，
CO2，CH4 ガス分析計〕：富士電機システムズ
2007・シングルビーム形赤外線分析計（ZRE）〔シングルビームで 5 成分測定可能〕：富士電機システムズ
2007・直接挿入形レーザー方式ガス分析計（ZSS）〔国産初のレーザー方式，2009 年 SICE 新製品賞受賞〕：富士電機システムズ
2007・ガス充填所向け自動分析 ･ 品質管理システム（JPOFAS）〔ガス充填所のガス分析を大幅に自動化〕：日本エア・リ
キード ジャパン・エア・ガシズ社／日本エア・リキー
ド2007・超音波式ガス濃度計（US-ⅡT）〔従来品より高精度を目指し開発〕：第一熱研2008・電極式アンモニア計（NH4D）〔イオン電極直接測定法， 2008・現場設置型プロセスガスクロマトグラフ（PGC1000）〔現輸入品〕：東亜ディーケーケー／ HACH
場に直接設置が可能，輸入品〕：ABB
2008・紫外線油循環率計（NUVOM-2a）〔紫外線油循環率計〕： 2008・ジルコニア酸素分析計（ZKM，ZFK8）〔センサ素子の交
日本分光換可能形〕：富士電機システムズ
2008・残留ガス分析計（MICROPOLE System）〔操作性向上の新モデル〕：堀場エステック
2009・パックテスト鉛セット（SPK-Pb）〔鉛測定用簡易水質測 2009・プロセスガスクロマトグラフ（PGC2000 シリーズ）〔誘電定器〕：共立理化学研究所
体バリアイオン化検出器搭載，輸入品〕：ABB
2009・オンラインイオンクロマトグラフ，高速液体クロマトグ 2009・プロセスガスクロマトグラフ（PGC2000 シリーズ）〔光イ
ラフ（Integral）〔リアルタイムモニタリング，輸入品〕：
オン化検出器搭載，輸入品〕：ABB
2009・プロセスガスクロマトグラフ（PGC5000 シリーズ）〔マル
日本ダイオネクス／ダイオネクス社
チオーブンガスクロ，輸入品〕：ABB
2009・全炭化水素連続測定装置（THC-201）〔タッチパネル操作，
デジタル表示〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2009・耐圧防爆形ジルコニア酸素計（ZKME）〔耐圧防爆規格（TIIS，NEPSI）認証品〕：富士電機システムズ
2009・ベンチトップガスモニター（OmniStar ／ ThemoStar）〔省スペース・軽量設計の大気圧導入型マス，輸入品〕：
伯東／ Pfeiffer Vaccum GmbH
2009・酸素計（SGM5T）〔10 のマイナス 24 乗 ppmO2 まで測定，輸入品〕：日本サーモ／ドイツ ZIROX 社
2009・防爆型ガス分析計（EL3060）〔3 測定方式を統合化し防爆化，輸入品〕：ABB

106

プロセス用分析機器
固 体 及 び 非 水 用 分 析 装 置

携 帯 用 及 び 保 安 用 分 析 機 器

2007・高速リタデーション測定装置（RE-1000）〔低リタデー
ション測定をインラインで実現〕：大塚電子

2008・Sievers TOC センサー（CheckPoint）〔バッテリー駆動式の TOC センサー，輸入品〕：セントラル科学／ GEAI 社
2008・装着形酸素・一酸化炭素検知警報器（GOC-100）〔大きな警報音（98db 以上）で騒音環境でも安心〕：ガステック

2009・拡散式硫化水素測定器（GHS-8AT）〔硫化水素濃度の無人・連続モニタリングが可能〕：ガステック
2009・水素収集式鋼管腐食モニター（HydroSteel）〔鋼管の劣化を測定，輸入品〕：日本サーモ／英国イオンサイエンス社107環境用分析機器
概説

環境用分析機器は「大気汚染分析装置」，「水質汚濁分析装置」，「自動車排ガス分析装置」，「その他」に分類される。公害・
環境問題の発生と対策の歴史の中で環境保全活動における研究開発，発生源の監視と制御，改善効果の評価などのツールとして大きな役割を果たしてきた。
大気汚染分析装置
1960 年代の「四日市ぜんそく」で顕在化した大気汚染問題は，SO2 計，NOx 計，CO 計等の測定器の開発を促した。1970～ 1980 年代は分析装置の高度化，普及が図られ，1990 年代には新たに有害大気汚染物質の規制がなされ，分析装置にも新たな対応が必要な時代となった。
環境大気用分析計としては 1960 年代に大気汚染防止法による環境基準の常時監視測定器として，SO2 計（溶液導電率法），
NOx 計（ザルツマン試薬による吸光光度法），Ox 計（中性よう化カリウム溶液による吸光光度法），CO 計（非分散型赤外線吸収法），SPM 計（光散乱法）が公定法として定められた。1981 年に SPM 計に質量濃度との相関が得られやすいβ線吸収法等が追加され，1996 年には，国際的に測定データの交換・対策の検討を行う必要性が増大したために，メンテナンス性にすぐれ，諸外国で広く使用されている乾式測定法（SO2 計（紫外線蛍光法），NOx 計（化学発光法），Ox 計（紫外線吸収法など））が追加された。2009 年には SPM のなかでも直径が 2.5 マイクロメートル以下の PM2.5 の環境基準が告示され，測定方法は「濾過捕集による質量濃度測定方法又はこの方法によって測定された質量濃度と等価な値が得られると認められる自動測定機による方法」と定められた。
発生源用分析計としては 1962 年にばい煙の排出規制等に関する法律が制定され，固定発生源の SO2，煤塵規制に対応した測定器が設置された。1970 年代以降は NOx 計が普及し，HCl 計，HF 計，NH3 計等も商品化された。1990 年に厚生省が廃棄物処理に係るダイオキシン類発生防止等ガイドラインを公示し，1997 年に新ガイドラインとしてまとめられた。ダイオキシン類をリアルタイムに連続分析することを目的として，廃棄物処理施設の CO，O2，温度を測定・制御する事で，ダイオキ
シン類の発生を押さえようとするものである。2004 年には，大気汚染防止法が一部改正され，光化学反応や物理反応等を経て，光化学オキシダントや浮遊粒子状物質（以下 SPM）二次粒子生成に寄与するトルエン，キシレン，酢酸エチルなどの揮発性有機化合物（以下 VOC）の排出量を抑制するための法規制と自主取り組みによる VOC 削減対策が 2006 年から始まり，
水素炎イオン化形分析計又は触媒酸化 - 非分散形赤外分析計による VOC 濃度測定法が公定法として定められた。VOC の定義から除外する物質（大気汚染防止法施行令第2条の2）の測定方式は，水素炎イオン化検出器を用いたガスクロマトグラフ法，
電子捕獲検出器を用いたガスクロマトグラフ法あるいは質量分析計を用いたガスクロマトグラフ法にて行うと定められた。
水質汚濁分析装置
1958 年に旧水質二法が制定され，1970 年に水質汚濁防止法として見直された。これにより公共用水域における水質の常

水

質

汚

濁

分

析

装

置

ガ

ス

及

び

粉

塵

分

析

装

置

1955 年
昭 30
1957・労研ろ紙式塵あい計：柴田科学器械工業

1960 年
昭 35

1960・大気中 SO2 計（F-340）〔溶液導電率法〕：紀本電子工業
1962・プロセスポーラログラフ（SAP-2）〔公害測定用〕：柳本製作所
1963・大気中窒素酸化物測定装置（GP-1）〔ザルツマン比色法〕：
電気化学計器1963・光散乱式デジタル粉塵計（S-634）：柴田科学器械工業
1963・煙道排ガス用 SO2 ガス濃度計（GS-4）〔溶液導電率法〕：
電気化学計器1964・大気汚染監視用 CO 分析計（APMA-1）〔NDIR 法〕：堀場製作所
1964・大気中 SO2 測定装置（GR-1）〔溶液導電率法〕：電気化学
計器
1964・デジタル粉塵計（A）〔大気用，光散乱光量積分式〕：柴田科学器械工業108

環境用分析機器

時監視のために自動化のニーズが高まり，水質自動監視装置が実用化された。測定項目は水温，pH，ORP，DO，濁度，電気伝導率，アンモニア，フッ化物イオン，ナトリウムイオン等であり，約 310 ヶ所に設置された。
1978 年に閉鎖性水域への水質総量規制が設けられ，その後対象が拡大された。総量規制の指標は COD が指定されたが，有機性汚濁物質の測定器として換算値を用いる UV 計や TOC 計も使用可能となり，種類，性能，コスト面において大幅な改善がなされた。1982 年の窒素，燐の環境基準の設定や 1984 年の湖沼水質保全特別措置法により，全りん計，全窒素計の開発が進行し，1990 年代に入り第 5 次～第 6 次の総量規制で，全国の主要閉鎖性海域における水質環境が改善された。また，
将来は増え続けることが予測される有害規制物質の計測に備えて，物質を特定しない段階での水環境への影響を把握し，生物応答（バイオアッセイ）を利用して早期に異常現象を捉える排出管理手法などの方策も研究されている。
近年では新たな測定対象物質（有害化学物質，環境ホルモン等）を対象として，いわゆるラボ用分析機器（GC ／ MS，
ICP，ICP ／ MS，LC ／ MS 等）が環境用分析機器として使用され，その境界線がなくなってきた。
自動車排ガス分析装置
1960 年頃，米国カリフォルニア州で発生した光化学スモッグ問題がきっかけとなり，自動車排出ガスの有害物質低減の観点から排出ガス計測が必要とされるようになった。これに伴い，日本でも 1964 年，国産初の NDIR 方式 CO 計・HC 計が製品化された。その後，規制対象が「排出濃度」から「排出重量」へ移り，サンプリングシステムとして定容量試料採取装置（CVS）
が開発・実用化された。さらに，それに続く規制要件の変化，すなわち，規制値の強化・規制成分の追加・排出ガス計測運
転モードの設定などに対応して，THC 計（水素炎イオン化法），NOx 計（化学発光法），シャーシダイナモメータ等など，その後の排ガス計測の基礎となる機器類が実用化された。1980 年代にはディーゼル車に対する規制が強化され，NOx と並んで粒子状物質（PM）の計測が必要となり，PM 計測用の CVS 希釈トンネルシステムが実用化された。
1990 年，米国環境保護庁（EPA）が大気浄化法を改訂したことにより，自動車排出ガスに関しても，「超低濃度エミッション車（SULEV）」に向けた段階的な排出低減を求める大幅な規制強化がなされた。これを受け，従来の排ガス分析装置・サンプリングシステムを低濃度計測用に高感度化・最適化した SULEV 専用の排ガス計測システムが開発され，各地域で導入されるようになった。一方，地球温暖化問題に関連して CO2 排出削減要求が高まり，燃費のよいディーゼル車が注目されるようになった。期を同じくして，各地域でディーゼル車の NOx と PM 規制が強化され，それらを同時に低減するための燃焼改善や排ガス後処理の研究用としても排ガス計測のニーズが高まった。このような理由もあり，規制で定められた以外の手法による排ガス分析装置，たとえば FTIR 法多成分同時連続測定装置なども実用化・使用されるようになった。また，エンジン試験の効率化のため，排出ガス分析計を含むオートメーションシステムも重要視されるようになった。さらに，2000 年
代になると，まったく新しい動きとして，自動車排出ガス中の粒子状物質を「排出重量」ではなく「排出個数」で規制する考え方がヨーロッパで採用された。これは，微粒子の健康影響に対する懸念に基づくものである。この新しい概念に対しては，
自動車粒子数計測装置が 2007 年に開発・実用化されている。

自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

関

連

機

器
1955 年
昭 301960 年
昭 35

1964・エ ン ジ ン 試 験 用 自 動 車 排 気 ガ ス 測 定 装 置（MEXA-1）〔NDIR 法・研究室用〕：堀場製作所

109

環境用分析機器
水

質

汚

濁

分

析

装

置

1965 年
昭 40

1967・TOC 自動測定装置〔NDIR 法〕：島津製作所
1968・油分濃度測定装置（OCMA-11）〔溶媒抽出 -NDIR 法〕：堀場製作所

1970 年
昭 45

1969・BOD メータ（BOD-1 形）〔JIS 希釈法 - ガルバニ電池式〕：
堀場製作所
1969・自動 BOD 測定装置（BODA-1）〔空気曝気 - ガルバニ電池
式〕：堀場製作所
1969・COD 自動測定装置（COD-3）：柳本製作所
1970・簡易 COD 計：セントラル科学
1970・イオン電極式河川塩分濃度記録装置（SAR-6）：東亜電波工業
1970・河川水質監視装置（WARA-1）〔5 項目，ブイ形検出部〕：
堀場製作所
1970・水質自動監視装置（WPM-1000）：柳本製作所
1970・水質公害測定車：柳本製作所
1970・自動フッ素イオン測定装置（FLIA-81）〔イオン電極式〕：
堀場製作所

1971・メッキ排水用シアンモニタ〔イオン電極式〕：東亜電波工業
1971・全有機炭素測定装置（TOC-11）〔NDIR 法〕：電気化学計器
1971・自動 COD 測定装置（CODA-1）〔硫酸酸性 KMnO4 法〕：堀場製作所
1971・水銀濃度計（HG-1）〔フレームレス原子吸光法〕：平沼産
業

110

ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
1964・煙道排ガス中 SO2 測定装置（ESDA-1）〔NDIR 法〕：堀場製作所
1964・トンネル用 CO 分析装置（APTA-1）〔NDIR 法〕：堀場製作所
1964・大気汚染監視用CO2 濃度測定装置（APMA-P）〔NDIR法〕：
堀場製作所
1965・大気汚染測定装置（GR-3）〔SO2 + Dust〕： 電気化学計器
1965・煤塵量自動連続測定装置（9211）〔JIS Z 8808 の自動化〕：
三鷹工業
1965・デジタル粉塵計（P-1）
〔作業環境用，携帯形〕：柴田科学
器械工業
1966・テープ式ガス検知計（GT-1）：電気化学計器
1966・亜硫酸ガス分析装置〔NDIR 法〕：島津製作所
1966・トンネル内監視用 CO 濃度測定装置（APTA-1）〔NDIR法〕：堀場製作所
1966・煙道排ガス測定装置（EN-21 シリーズ）〔CO，CO2，SO2，
NDIR〕：堀場製作所
1967・大気中アルデヒド計〔アセチルアセトン比色法〕：電気
化学計器
1968・大気中フッ素化合物自動計測器（HF-02）〔連続比色測定法〕：京都電子工業

1969・大気用 CO 測定器（URA-2）〔NDIR 法〕：島津製作所
1969・大気中 HF 計（GN-2）〔イオン電極式〕：電気化学計器

1970・大気汚染監視用 NOx 分析装置（APNA-1）〔CLD 法〕：堀場製作所
1970・大気中塩素自動計測器（CL-05）〔連続比色測定法〕：京都
電子工業
1970・大気中硫黄化合物自動計測器（SL-02）〔ブロム連続電量滴定法〕：京都電子工業
1970・大気中塩化水素自動計測器（HL-08）〔連続比色測定法〕：
京都電子工業
1970・オキシダント自動記録計〔吸光光度法〕：電気化学計器
1970・排ガス NOx 計（NX-21）〔酸素加圧 UV 法〕：電気化学計器
1970・煙道排ガス中 SO2 分析装置（ESDA-200）〔NDIR 法，廉価
タイプ〕：堀場製作所
1970・硫化水素モニタ（FP-200）〔試験紙光電光度式〕：理研計器
1971・大気汚染監視用 HC 分析装置（APHA-1）〔FID 法〕：堀場製作所
1971・大気汚染望遠検知装置（COSPEC）〔太陽光吸光法，輸入品〕：日本分光工業／バリンジャー
1971・減圧型化学発光式 NOx 計（ECL-7）柳本製作所
1971・全炭化水素計（HCM-1A）〔FID，公害測定車搭載〕：島津製作所

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

関

連

機

器

1965・赤外線ガス分析計（AIA-1）〔自動車排ガス専用機〕：堀場製作所
1965・自動車排気ガス測定装置（MEXA-12）〔高性能タイプ〕：
堀場製作所

1965 年
昭 40

1966・接触燃焼式自動車排気ガス測定装置（EX-1）：光明理化
学工業
1966・自 動 車 用 空 燃 比 計（MEXA-50 シ リ ー ズ ）〔CO，CO2 計
NDIR 法〕：堀場製作所

1968・自 動 車 排 気 ガ ス THC 測 定 装 置（MEXA-11）〔高温型
FID〕：堀場製作所
1968・自動車整備用 CO アナライザ（MEXA-200）〔可搬形〕：堀場製作所
1968・自動車排ガス NO 測定装置（MEXA-60 シリーズ）〔NDIR法〕：堀場製作所
1968・白動車排ガスNO，NO2 測定装置（MEXA-16）〔NDUV法〕：
堀場製作所
1968・自動車排ガス重量濃度測定装置（MEXA-70+VDS-07）：
堀場製作所
1969・自動車排ガス測定装置（エキゾースト CO-6S）〔接触燃焼式〕：柳本製作所
1969・自動車排ガス再循環率測定装置（MEXA-EGR）：堀場製
作所
1970・自動車整備用一酸化炭素測定器（CO テスタ）
〔運輸省認 1970・自動車排ガス定容量試料採取装置（CVS-701）〔定容量試定〕：島津製作所
料採取〕：堀場製作所
1970・CLD 法 NOx 計搭載自動車排気ガス測定装置（MEXA-77）
堀場製作所

1970 年
昭 45

1971・自動車排ガス多成分測定装置（MEXA-300 シリーズ）〔自動車整備用〕：堀場製作所
1971・自 動 車 排 ガ ス 用 化 学 発 光 式 窒 素 酸 化 物 測 定 装 置（CLM-201）島津製作所

111

環境用分析機器

1975 年
昭 50

112

水
質
汚
濁
分
析
装
置
ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
1971・シアンイオンモニター（CYIA-81）〔イオン電極方式〕： 1971・煙道ガス用 SO2 計（8230）〔赤外線方式，コンデンサーマ
堀場製作所
イクロホン式〕：横河電機
1972・油膜検知器（8330）〔反射光式〕：横河電機
1972・臭気分析システム〔GC 法，悪臭防止法で商品化〕：島津1972・油分濃度測定器（OCMA-100）〔溶媒抽出 -NDIR 法，卓上製作所
1972・大気中オゾン計（GLX）〔化学発光法〕：電気化学計器形〕：堀場製作所
1972・自動油分濃度測定装置（OCMA-22）〔溶媒抽出 -NDIR 法， 1972・大気中オゾン濃度計（OX-21）〔化学発光法〕：京都電子工自動化〕：堀場製作所
業
1972・自動シアンイオン分析装置（CYIA-12）〔比色法〕：堀場 1972・煙 道 排 ガ ス 中 NOx 分 析 装 置（ENDA-C201）〔CLD 法 〕：製作所
堀場製作所
1972・自動残留塩素分析装置（COLA-12）〔o- トリジン比色法〕： 1972・大気汚染観測車（APMS）：堀場製作所
堀場製作所
1972・自動クロムイオン分析装置（CRIA-12）〔ジフェニールカ
ルバジド比色法〕：堀場製作所
1972・自動フェノール分析装置（FELA-12）〔4- アミノアンチピ
リン比色法〕：堀場製作所
1972・有機炭素水質汚濁測定装置（TOC-524）〔アンプル中酸化法，輸入品〕：日本分光工業／ O.I.C
1972・自動 TOD 測定装置（TOD-225）〔燃料電池式〕：湯浅アイ
オニクス
1972・全シアン連続モニタ（TCN MS）〔全シアン，イオン電極式〕：東亜電波工業
1972・河川水質自動監視装置（WARA-31）〔建設省仕様，6 成分測定〕：堀場製作所
1972・連続水質自動監視装置（WA-100）〔9 項目測定〕：島津製作所
1972・水質モニター装置（WARA-22）〔5 項目・定置形タイプ〕：
堀場製作所
1973・6 価クロムモニタ（CRM-1A）〔吸光光度式〕：東亜電波工 1973・差量法非メタン・全炭化水素・CO 測定装置（AG-200）：
業
柳本製作所
1973・自動 COD 測定装置（CODA-22）〔アルカリ性 KMnO4 法〕： 1973・フッ素自動測定装置（SAE-2111）〔イオン電極式〕：柳本
堀場製作所
製作所
1973・自動 TOC 測定装置（TOCA-1）〔NDIR・連続試料注入方 1973・大気中 NOx 計（GLN）〔化学発光法〕：電気化学計器
1973・大気中 CO 計（GIA）〔NDIR 法〕：電気化学計器式〕：堀場製作所
1973・非メタン炭化水素計（HCM-3A）：島津製作所
1973・煙道ガス用 NOx 計（8240）〔赤外線式，コンデンサーマ
イクロホン式〕：横河電機
1973・化学発光式煙道排ガス窒素酸化物測定装置（NOA-301）：
島津製作所
1973・化学発光式アンモニア測定装置（NHA-303）：島津製作所
1973・煙道排ガス中 NOx 分析装置（ENOA-200）〔NDIR 法〕
：堀場製作所
1973・排ガス中窒素酸化物濃度計（NX-21）〔化学発光法〕：京都
電子工業
1974・自動 TOD 測定装置（TOD-1248）〔ジルコニア式〕：湯浅 1974・煙道排ガス中 CO 分析装置（ECMA-200）〔NDIR 法〕：堀アイオニクス場製作所
1974・自動 TOD ／ TOC 測定装置（TOD ／ TOC-1270）：湯浅 1974・排ガス中塩化水素濃度計（HL-26）〔イオン電極式〕：京都
アイオニクス電子工業
1974・水銀分析装置（マーキュリー／ SP）〔加熱気化 - 全アマル 1974・排ガス中フッ素化合物濃度計（HF-26）〔イオン電極式〕：
ガム法〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
京都電子工業
1975・水質チェッカ（U-7）
〔5 項目測定，携帯用〕：堀場製作所
1975・雨水成分自動測定装置（RW-100）：電気化学計器
1975・簡易迅速水質分析システム（ボルガ 110）
〔携帯用重金属 1975・煤塵濃度計（AP-705）〔ダクト用，光散乱式〕：柴田科学
等測定〕：京都第一科学
器械工業
1975・シアンイオンモニター（CYIA-82）〔蒸留・イオン電極法〕： 1975・煙道排ガス多成分分析装置（ENDA シリーズ）
〔磁気式，
堀場製作所
NDIR 法〕：堀場製作所
1975・排ガス中アンモニア濃度計（NH-26）〔イオン電極式〕：京都電子工業

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

関

連

機

器

1973・自 動 車 排 ガ ス 重 量 濃 度 測 定 装 置（MEXA-2000 +CVS-31）：堀場製作所
1973・自動車排ガス CO ／ HC 測定器（ZFA，ZFB，ZFC）：富士電機

1974・自動車排気ガス（He）測定器（RI-760，RI-761）〔NDIR 式〕
： 1974・コンポジットサンプラー〔流量比例式〕：横河電機
1974・公害計測器検定用標準ガス発生装置（SGGS）：エステッ
理研計器
1974・自 動 車 排 気 ガ ス（CO-HC）測 定 器（RI-730）〔NDIR 式 〕：ク
1974・毛細管式流量混合法標準ガス発生装置（SGGV-12, 14）：
理研計器
エステック
1975 年
昭 50

113

環境用分析機器
水

質

汚

濁

分

析

装

置

ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
1975・排ガス中硫黄化合物濃度計（TRS-1A）〔ヨウ素連続電量滴定法〕：京都電子工業

1976・油 分 濃 度 測 定 装 置（ オ イ ル -20A）〔 四 塩 化 炭 素 抽 出，
NDIR〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1977・排水用 pH モニタ（PH100）〔投込み型センサ〕：横河電機 1977・SO2，NOx，CO ガス分析装置（ZBY）〔NDIR 法〕：富士電機
1978・海水用 COD 自動測定装置（COD-82）：電気化学計器
1978・有機汚濁物質濃度測定装置（UVOC-1）〔UV 法〕：堀場製作所

1980 年
昭 55

1985 年
昭 60

1990 年
平2

114

1978・ビル管理用室内 CO2 測定装置（APBA-200）〔NDIR 法〕：
堀場製作所
1978・気中水銀自動測定装置（マーキュリー／ AM）〔アマルガ
ム捕集 - 冷原子吸光法〕：理学電機工業／日本インスツル
メンツ
1978・煙 道 排 ガ ス 測 定 装 置（EN-800 シ リ ー ズ ）〔SO2，NOx，CO，CO2，NDIR，O2，ダンベル球式〕：堀場製作所
1979・大気中フッ素化合物自動計測器（HF-18）〔イオン電極式〕：京都電子工業
1979・大気中塩化水素自動計測器（HL-18）〔イオン電極式〕：京都電子工業

1979・多検体 COD 分析装置（COD-101）〔JIS 法の自動化〕：京都電子工業
1979・有機性汚濁物質濃度測定装置（OPSA-100）〔回転セル長変調式〕：堀場製作所
1979・アンモニア態窒素自動分析計（WPA-101N）：京都電子工業
1979・ハイドロ燐自動分析計（WPA-101P）：京都電子工業
1979・次亜塩素酸濃度計（NM-101）：京都電子工業
1980・COD 自動計測器（COD-35）：電気化学計器
1980・大気中全自動連続水銀分析装置：東京光電
1980・微量窒素分析装置（TN-7）：柳本製作所
1980・大気汚染監視用 CO 分析装置（APMA-300）〔ガスモジュ
1980・紫外線式有機汚濁監視装置（UVM-401）〔フィルタ校正
レーション式，NDIR〕：堀場製作所
式〕：島津製作所
1981・汚濁負荷量演算器（ALM-20 シリーズ）：堀場製作所
1981・焼却炉排ガス中塩化水素分析装置（ENCA-800）〔イオン
1981・紫外線有機汚濁計（ZXS）〔UV 計〕：富士電機
電極式〕：堀場製作所
1981・COD 自動測定装置（CODA-111 ／ 112）
〔水質総量規制対 1981・煙道排ガス中 NH3 分析装置（ENHA-C800）〔CLD 法〕：堀応〕：堀場製作所
場製作所
1982・アンモニウムイオン測定装置（AMNA-101）〔隔膜式イオ 1982・大気汚染監視用 SO2 分析装置（APSA-300）〔紫外線法〕：
ン電極式〕：堀場製作所
堀場製作所
1982・富栄養計（HC-1000）〔アンモニア性窒素，亜硝酸性窒素， 1982・煙道ガス用 SO2 計（IR21）〔赤外線式〕：横河電機
硝酸性窒素およびリン酸について測定可能（富栄養化成分）〕：セントラル科学
1983・BOD 迅速測定装置（BOD-1000）〔バイオセンサ方式 30 分 1983・燃焼排ガス用ポータブル NOx 分析計（NOA-305）：島津
測定〕：セントラル科学／日新電機製作所
1983・還元気化水銀測定装置（マーキュリー／ RA-1）〔開放送気方式〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1984・全りん自動測定装置（PHS-301）〔モリブデン青吸光光度 1984・大気汚染監視用オキシダント分析装置（APOA-300）〔紫法〕：柳本製作所
外線法〕：堀場製作所
1984・水用連続水銀分析装置（マーキュリー／オート RA）：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1985・全窒素白動測定装置（TN-201）〔紫外線吸光光度法〕：柳 1985・大気汚染監視用ダスト分析装置（APDA-300）
〔β線吸収
本製作所
法〕：堀場製作所
1986・水質用化学分析装置（TRAACS-800）〔ダブルビーム光学系，輸入品〕：ブラン・ルーベ社
1987・自動全りん測定装置付（TOPA-100）〔モリブデン青吸光 1987・作業環境用水銀ガスモニタ（マーキュリー／ EMP-1）〔携光度法〕：堀場製作所
帯形〕：理学電機工業／日本インスツルメンツ
1987・自動全窒素測定装置（TONA-100）〔紫外線吸光光度法〕：
堀場製作所

1990・水質監視用紫外線吸光度自動計測器（UVM-402）〔水質総量規制用〕：島津製作所

1990・大気汚染監視用分析装置（AP-360 シリーズ）〔クロスモ
ジュレーション技術による高精度分析〕：堀場製作所

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

1976・自動車排気ガス測定装置（MEXA-5000 シリーズ）〔完成
車テスト用〕：堀場製作所
1977・自動車排ガス用 CO・HC テスタ（AU-7）：横河電機
1977・自動車排気ガス測定装置（MEXA-8000 シリーズ）〔多機
能・多機種〕：堀場製作所
1978・自動車排気ガス測定装置（MEXA-1120）〔単成分機〕：堀
場製作所

関

連

機

器

1976・コンポジットサンプラ（COSS-10 シリーズ）〔等分割マルチスリット式〕：堀場製作所
1977・オキシダント計校正用オゾン発生機（OZGU-75）エステック

1979・ジーゼル車排ガス中粒子測定装置（DLT 形シリーズ）：
堀場製作所
1979・自動車排ガス測定装置（MEXA-119）〔ガスモデュレー
ション式〕：堀場製作所

1980 年
昭 55

1981・自 動 車 排 ガ ス 中 ホ ル ム ア ル デ ヒ ド 自 動 分 析 装 置（AG-1000）〔FID 法〕：柳本製作所

1982・高純度水素発生機（OPGU-500）〔固体高分子膜利用〕：エステック

1984・自動車排ガスモーダルマス解析システム（MART-1000）： 1984・DC シャーシダイナモメータシステム（RLSX-1010）
〔DC
堀場製作所
方式シャーシダイナモ〕：堀場製作所

1985・防じんマスク性能試験装置（AP-6300）〔原子力発電所用〕：柴田科学器械工業

1985 年
昭 60

1986・自動車排気ガステストシステム（VEST-9000）〔エンジン
性能測定用〕：堀場製作所

1988・自動車排気ガス測定装置（MEXA-9000 シリーズ）〔コン
ピュータ化〕：堀場製作所
1990 年
平2

115

環境用分析機器
水
質
汚
濁
分
析
装
置
1990・全有機体炭素計（TOC-5000 全自動測定システム）〔全自動分析が可能〕：島津製作所
1990・積分球式濁度計〔フローセル型自動化システム〕：三菱
化学／三菱化成
1990・還元気化水銀測定装置（マーキュリー／ RA-2）〔関放送
気方式，RS-232C 付〕：理学電機工業／日本インスツル
メンツ
1991・水銀測定装置（HG-200）〔試薬自動分注器，マイコン搭載〕：平沼産業
1991・水用連続水銀分析計（マーキュリー／オート RA-5）〔JIS法と簡易法の切換可〕：理学電機工業／日本インスツル
メンツ

1995 年
平7

116

ガ

ス

及

び

粉

塵

分

析

装

置

1991・赤外線ガス分析装置（ZSP）〔3 成分同時測定〕：富士電機

1992・燃料排ガス用 NOx，O2 測定装置（NOA-7000）〔常圧形化
学発光法の NOx 計と，ジルコニア法による O2 計を一体化したポータブルガス分析計〕：島津製作所
1992・高精度 CO2 計（VIA-510R）〔クロスモジュレーション技
術によるゼロソフト，高精度分析計〕：堀場製作所
1992・試験紙光電光度式高感度毒性ガスモニタ（FP-250）〔試験
紙光電光度式（AsH3，PH3，SiH4，CoCl2）〕：理研計器
1993・全有機体炭素計（TOC-5000 固体試料 TOC 測定システム） 1993・赤外線ガス濃度測定装置（CGT-7000）〔2 成分の赤外線分〔土壌，汚泥，堆積物などの固体試料中の TOC 測定が可析計とジルコニア O<sub>2</sub> 計，サンプリング部
能〕：島津製作所を一体化したポータブルガス分析計〕：島津製作所
1993・自動 COD 測定装置（CODA-211 ／ 212）
〔負荷量演算器を 1993・屋内 CO2 測定装置（APBA-250）〔屋内の CO2 濃度監視用
組合わせて排水の総量規制に適合〕：堀場製作所の小型軽量の分析計〕：堀場製作所
1993・色度・濁度計（COL-11 型）〔上水中の色度と濁度を測定，吸光光度法〕：電気化学計器
1994・全自動 COD 測定装置（COD-1500）〔ラボ用全自動形〕： 1994・環境大気測定用一酸化炭素計（URAD-1000）〔振動や汚れ平沼産業に強いガス相関法〕：島津製作所
1994・油分濃度計（OCMA-300）〔水中の油分を自動分析するコ 1994・赤外線式二酸化いおう測定装置（SOA-7000）〔低濃度のンパクトな自動油分濃度計〕：堀場製作所
レンジを持つポータブル形 SO2 計：島津製作所
1994・TN-TP 同時分析計：ブラン・ルーベ
1994・船舶用ポータブルNOx ／ O2 分析装置（EXSA-240CL）〔軽量かつコンパクトな NOx ／ O2 計〕：堀場製作所
1994・煙道排ガス分析装置（ENDA-600 シリーズ）〔5 成分を高精度測定するドリフトフリーの赤外分析計〕：堀場製作所
1994・大気汚染監視用分析装置（AP-360 シリーズ）〔省スペー
ス高精度で日常維持管理が容易〕：堀場製作所
1995・TOC 分析計（810 型）〔湿式酸化，ガス透過膜併用導電率 1995・環境大気測定用二酸化硫黄計（FLAD-1000）〔ドライ方
検出方法，輸入品〕：セントラル科学／シーバス社 ☆
式〕：島津製作所
1995・オンライン TOC 計（TOC-4000）〔680℃触媒燃焼法によ 1995・環境大気測定用オゾン計（UVAD-1000）〔ドライ方式〕：
る高機能オンライン TOC 計〕：島津製作所
島津製作所
1995・全 自 動 過 マ ン ガ ン 酸 カ リ ウ ム 消 費 量 測 定 シ ス テ ム 1995・煙道排ガス窒素酸化物・酸素測定装置（NOA-308Dx）〔化（KMN-132）〔ラボ用全自動形〕（計量サンプリング～測学発光法により高感度 0-10ppm 測定も可能〕：島津製作定）：平沼産業所
1995・水質自動監視装置（WARA-25）〔5 項目を自動測定・電極の汚れによる誤差が少ない〕：堀場製作所
1995・自動全窒素・全りん測定装置（TPNA-200）〔全窒素，全りんを同時連続測定，全自動〕：堀場製作所
1995・自動全窒素測定装置（TONA-200）〔紫外線分解・UV 法〕：
堀場製作所
1995・自動全りん測定装置（TOPA-200）〔紫外線分解・モリブ
デン青法〕：堀場製作所
1995・アンモニア性窒素自動測定装置（AN1000）〔短時間分析，高精度なオンラインイオンクロマトグラフシステム〕：
横河電機
1996・環境大気測定用窒素酸化物計（CLAD-1000）〔ドライ方式〕：島津製作所

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

関

連

機

器

1991・自動車排気ガス分析用 FT-IR（Rega7000）〔リアルタイム
ガス分析装置〕：ニコレー・ジャパン

1993・ロボットドライバー（ADS-1000）〔試験用自動車自動運
転ロボット〕：堀場製作所

1994・FTIR 方式エンジン排ガス分析装置（MEXA-4000FT シ
リーズ）〔FTIR 方式を採用したエンジン排ガス測定装
置〕：堀場製作所
1994・高速応答形自動車排ガス分析装置（MEXA-1300FRI）〔高速応答形〕：堀場製作所

1995・エ ン ジ ン 排 ガ ス 測 定 装 置（MEXA-7000 シ リ ー ズ ） 1995・プラスチック材質判別器（PLID-2）〔近赤外式プラスチッ〔Windows NT，ネットワーク対応，省スペース〕：堀場
ク材質判定装置〕：東亜電波工業
製作所

1995 年
平7

117

環境用分析機器
水2000 年
平 12

118

質

汚

濁

分

析

装

置

ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
1996・環境大気測定用浮遊粒子計（BRAD-1000）〔半永久寿命の14C を採用したβ線吸収法〕：島津製作所
1996・煙道排ガス多成分ガス濃度測定装置（NSA-308）〔新しい
レシ方式赤外線分析計により，最大 5 成分を l 台で計測〕：
島津製作所
1996・大気中二酸化硫黄測定装置（GFS-152 型）〔乾式，紫外線蛍光方式〕：電気化学計器
1996・大気中窒素酸化物測定装置（GLN-154 型）〔乾式，化学発光法〕：電気化学計器
1996・大気中オゾン測定装置（GUX-153 型）〔乾式，紫外線吸収法〕：電気化学計器
1996・大気中 HAPs 測定装置（APPA-365）〔有害大気汚染物質を 10 分間隔で測定〕：堀場製作所
1996・野外携行型高機能水銀測定装置（マーキュリースニッ
ファ／ PM-2）〔軽量，遠隔操作可能により気球に吊り下げ測定可能〕：理学電機工業
1997・ヒ素分析計〔ポーラロ法による自動連続分析計〕：柳本 1997・廃棄物焼却炉向ダイオキシン類発生防止対策用排ガス中
製作所
CO，O2 測定装置（COA-3030）〔廃棄物処理法施行規制お1997・全窒素自動測定装置（TNC-200 型）〔接触熱分解・化学発
よび新ガイドラインに完全対応の焼却炉向専用機〕：島光法による無試薬測定〕：電気化学計器
津製作所
1997・オープンパス差動吸収分光式多成分計（Model 2000）〔ミラーの反射を利用し 15 成分以上を同時測定：日本サーモエレクトロン
1997・ダイオキシン対応，煙道排ガス測定装置（ENDA-625）〔ダ
イオキシン対応，燃焼管理専用分析装置〕：堀場製作所
1998・オンライン水質分析計（4100 シリーズ）〔TOC ／ TN 同 1998・環境大気自動採取装置（GAS-2B 型）〔揮発性有機化合物
時分析計〕：島津製作所
類の自動採取〕：電気化学計器
1998・アンモニア性窒素メーター（MT-1型）（特許出願中）〔クー 1998・浮遊粒子状物質自動測定器（Model FH62-c14）〔フィル
ロメトリー式アンモニア性窒素メータ〕：セントラル科
ターテープ捕集式測定器，60 分完全連続吸引方式〕：日学
本サーモエレクトロン
1998・水銀測定装置（HG-300）〔少試料量，グラフィック液晶表 1998・ダイオキシン対策用 CO ／ O2 分析装置（ZSQ）〔ダイオキ示〕：平沼産業
シン排出規制対応〕：富士電機
1998・硝酸性窒素・亜硝酸性窒素濃度計（ANA-320 N）〔ナフチ 1998・有機ハロゲン分析装置（TOX-100 ／ DXN）
〔ダイオキシルエチレンジアミン吸光光度法セミオート，ポータブ
ン代替指標の測定〕：三菱化学／三菱化成
1998・ダイオキシン前駆体分析計（GDX-2000 型）〔ダイオキシル〕：東京光電
1998・全 窒 素・ 全 リ ン 自 動 測 定 装 置（NP1000）〔キャピラリンの前駆体である有機塩素化合物用オンライン分析計，
FIA 方式，少量試薬と少量廃液，N.P 同時測定のシステ
ガスクロマトグラフ〕：電気化学計器
1998・排ガス中塩化水素測定装置（GNC-25H 型）〔高感度型，ごム〕：横河電機み焼却場などの排ガス中 HCl を測定〕：電気化学計器
1999・多 項 目 水 質 測 定 器（U-20）〔13 項 目，GPS 対 応， 水 深 1999・赤外線ガス分析装置（ZSU）〔5 成分同時測定〕：富士電機
1999・CO ／ O2 ガス分析計（GCO-20 型）〔ダイオキシン対策の100m 対応〕：堀場製作所
1999・全有機炭素測定装置（TOC-2000）〔光触媒酸化チタン酸
CO 測定，定電位電解法〕：電気化学計器
1999・ニオイ識別装置〔半導体式センサを用いたパターン認識化法，輸入品〕：平沼産業／オーストラリア SGE 社
1999・汎用全自動水銀分析装置（マーキュリー／ SP-3D（E））：
によるニオイ識別〕：新コスモス電機
理学電機工業／日本インスツルメンツ
2000・全自動 COD 測定装置（COD-1500Win）〔Windows 対応〕： 2000・水銀計（WA-4）〔ダブルアマルガム方式による気中水銀
平沼産業測定装置〕：日本インスツルメンツ
2000・全 自 動 過 マ ン ガ ン 酸 カ リ ウ ム 消 費 量 測 定 シ ス テ ム 2000・ポータブル VOC 分析計（MS-200）〔測定時間 10 秒，ppb（KMn-132Win）〔Windows 対応〕：平沼産業
オーダー実現〕：堀場製作所
2000・ラボ用全有機体炭素計（TOC-V シリーズ）〔TN 測定など，
様々なニーズに対応〕：島津製作所
2000・マルチ水質モニタリングシステム（U-20 ／ W-20）〔河川から海洋まで水質検査・調査可能〕：堀場製作所
2001・水質イオンアナライザ（WIS-2000）〔フローインジェク 2001・大気汚染監視用 SPM 濃度計測装置（APDA-361）〔PM2.5
ション分析法〕：平沼産業
を含む全ての SPM を測定〕：堀場製作所
2001・自動全窒素・全りん測定装置（TPNA-300）〔低ランニン
グコストコンパクトサイズ〕：堀場製作所

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

関

連

機

器

1997・自動車排気ガス分析用 FIT-IR（Magna Rega）〔リアルタ
イムガス分析装置〕：ニコレー・ジャパン
1997・マイクロトンネル（MDLT-1300 シリーズ）〔省スペース化流量制御による部分希釈方式〕：堀場製作所
1997・ヘ リ ウ ム ト レ ー ス 法 エ ン ジ ン 排 ガ ス 流 量 計（HTFM-1000）〔流速変化の激しいガス流体の流量測定を実現〕：堀場製作所

1997・携帯形ガス採取装置（GSP-250FT）〔流量センサ付携帯形
ガス採取装置〕：ガステック
1997・ポリマ識別装置（Pyro FT-IR）〔ポリマの種類を識別，リサイクル用〕：ニコレー・ジャパン

1999・自動車排気ガス測定器（ZKE）〔4 成分〕：富士電機

1999・前処理セット（CFP-8000）小形・軽量，ポータブルタイ
プのガスサンプリングユニット〕：島津製作所

2000・自動運転システム（ADS-7000）〔シャシダイナモ上での自動運転システム〕：堀場製作所
2000・48 インチシャシダイナモメータ（ECDM-48）〔4WD および 2WD 用〕：堀場製作所
2000・連続 PM 測定装置（MEXA-1220PM）：堀場製作所
2000・直挿形空燃比計（MEXA-700 λ）：堀場製作所
2000・セクタ方式 MS 法水素計（MSHA-1000）：堀場製作所

2000・人体検知センサ（IS シリーズ）〔人体センサを内蔵照明リモコン〕：堀場製作所
2000・放射線モニタ（PA-300Radi（ラディ））〔軽量，コンパク
ト放射線測定器〕：堀場製作所
2000・非接触放射温度計（IT-550）〔非接触温度計測，データ出力装備，防滴構造〕：堀場製作所

2000 年
平 12

2001・自動車排ガス測定器（MEXA-324L）〔バックライト表示，
デジタル入出力端子装備〕：堀場製作所

119

環境用分析機器

2005 年
平 17

水
質
汚
濁
分
析
装
置
2002・水銀測定装置（HG-310）〔検出下限値 1ppt〕：平沼産業
2002・全窒素全りん COD 測定装置（NPW-150）〔N，P，COD3
項目一括測定〕：東亜ディーケーケー

ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
2002・微小粒子上物質測定装置（FPM-222）〔PM2.5 測定器〕：
東亜ディーケーケー
2002・微小粒子上物質測定装置（FPM-223）〔PM2.5 測定器〕：
東亜ディーケーケー

2003・多項目イオンアナライザ（MIS-2000）〔気泡分節式連続流れ分析法（SFA 法），輸入品〕：平沼産業／アストリアパ
シフィック社
2003・オンライン全有機対炭素・全窒素計（4110 シリーズ）〔保守性，操作性の向上〕：島津製作所
2003・ポータブル水質計（WA 1）〔上水試験方法準拠した濁度計〕：日本電色工業
2004・全有機炭素測定装置（TOC-2000SI ／ SH）〔酸性曝気による IC 除去処理，輸入品〕：平沼産業／オーストラリア
SGE 社
2004・全りん・全窒素測定装置（MIS-1500）〔気泡分節式連続流れ分析法（SFA 法），輸入品〕：平沼産業／アストリアパ
シフィック社
2004・Sievers TOC 計（900 シリーズ）〔ラボ，ポータブル，オ
ンライン用の 3 タイプ，輸入品〕：セントラル科学／
GEAI 社
2004・加熱気化水銀測定装置（HG-2500）〔加熱気化法〕：平沼産
業
2004・ハンディタイプ残留塩素計（CL − 51）〔温泉水を測定可能〕：堀場製作所
2005・ダイオキシンバイオセンサ（DXS-600）〔KinExA による検出方式採用〕：京都電子工業

2003・トリクレンモニター（JTM-101）〔大気中 VOC のオンラ
イン測定専用機〕：ジェイ・サイエンス・ラボ

2006・オンライン TOC 計（TOC-3000）〔光触媒酸化チタン酸化法〕：平沼産業
2006・吸着性有機ハロゲン分析装置（AOX-200）〔自動カラムイ
ンジェクター付の AOX 分析計〕：三菱化学アナリテッ
ク
2006・TOC 計 ／ TOC・TN 分 析 装 置（multi N ／ C® 2100S）〔全有機体炭素／全窒素 全自動同時分析装置，VITA
技術搭載，輸入品〕：アナリティクイエナジャパン／
Analytik Jena AG
2006・TOC 計 ／ TOC・TN 分 析 装 置（multi N ／ C® 3100）〔全有機体炭素／全窒素 全自動同時分析装置，VITA
技術搭載，輸入品〕：アナリティクイエナジャパン／
Analytik Jena AG
2006・TOC 計（multi N ／ C® UV HS）〔UV 湿 式 酸 化 法（UV
／過硫酸）TOC 計，輸入品〕：アナリティクイエナジャ
パン／ Analytik Jena AG

120

2004・煙道排ガス用 CO，O2 分析装置（ZSW）〔小形サイズ排ガス分析装置〕：富士電機システムズ
2004・水銀計（MS-D1 ／ DM-6B）〔還元溶液不要の水銀化学形
態別連続測定装置〕：日本インスツルメンツ

2005・揮発性有機化合物測定装置（GHT-261）〔トータル VOC
測定器（FID）〕：東亜ディーケーケー
2005・揮発性有機化合物測定装置（GIV-200）〔トータル VOC 測定器（NDIR）〕：東亜ディーケーケー
2005・ポータブル VOC 分析計（FV-250）〔持ち運び便利な可搬
形〕：堀場製作所
2005・加熱型 VOC モニタ（EHF-770V）〔環境省仕様〕：アナテッ
ク・ヤナコ
2005・FID 形（水素炎イオン化形）VOC 分析計（VMS-1000F）〔小型・軽量，簡単操作で VOC 濃度を測定〕：島津製作所
2005・排ガス水銀濃度計（HG-37）〔固体還元式と紫外吸光度測定の組み合わせ〕：京都電子工業

環境用分析機器
自 動 車 排 ガ ス 分 析 装 置
2002・車載型排ガス計測システム（OBS-1000）〔排ガス質量を車両上でリアルタイム測定〕：堀場製作所
2002・台上モード運転装置（VSET-1000）〔シャシダイナモ上規
制モード走行システム〕：堀場製作所
2002・超微量 PM 分析装置（MEXA-1370PM）〔粒子状物質を超
微量域まで測定〕：堀場製作所
2002・光透過式スモークメータ（MEXA-130）：堀場製作所
2002・触媒評価装置（SIGU-1000）：堀場製作所

関連機
器
2002・2 次元放射温度計（アイスクエア（ii-1064））〔カメラの画像を見ながら温度分布を計測〕：堀場製作所
2002・遠隔異常監視システム（RK2000）〔安価で短時間に遠隔モニタリングを構築可能〕：島津製作所
2002・Na（Tl）シンチレータ〔径 31 インチ（約 80cm），重さ 0.5
トン成長開発に成功〕：堀場製作所
2002・水中ダイオキシン類サンプリング装置（FS-90-KF）〔装置
を環境水に浮かべ直接採水が可能〕：アドバンテック東洋／東洋濾紙

2003・自動車排気ガスアナライザ（ALTAS-210L）〔液晶バックライトディスプレイ〕：ヤナコ計測
2003・計測自動化システム（stars）〔自動車計測の自動化システム〕：堀場製作所

2004・ポータブル VOC 分析装置（XG-100V）〔現場で高精度に
VOC を測定〕：新コスモス電機
2004・自動ガス採取装置（GSP-300FT-2）〔各種固体捕集管から検知管まで吸引可能です〕：ガステック

2005・ダ イ オ キ シ ン 分 析 用 自 動 前 処 理 装 置（SPD-600） 2005 年
平 17〔DXS-600 用前処理装置，3 検体同時処理〕：京都電子工業

2006・VOC 簡易測定システム（VOC-1）：光明理化学工業

121

環境用分析機器
水
質
汚
濁
分
析
装
置
ガ ス 及 び 粉 塵 分 析 装 置
2006・TOC 計／ TOC・TN 分析装置（multi N ／ C® pharmaHS）〔 全 有 機 体 炭 素 ／ 全 窒 素 全 自 動 同 時 分 析 装 置，VITA 技術搭載，輸入品〕：アナリティクイエナジャパ
ン／ Analytik Jena AG
2007・自動 COD 測定装置（COD-1200）〔12 検体設置形〕：平沼 2007・煙道排ガス用コンパクト形ガス分析装置（ZSK）〔ロッカ
産業
寸法を削減し，前面メンテを可能〕：富士電機システム
2007・水銀測定装置（HG-400）〔検出下限値 0.5ppt〕：平沼産業
ズ
2008・活性汚泥酸素利用速度測定器（Strathtox）〔活性汚泥の酸 2008・温室効果ガスモニター（G1301）〔波長スキャン -CRDS，
素利用速度を簡単・迅速に測定，輸入品〕：セントラル
輸入品〕：三洋貿易／ Picarro
2008・煙道排ガス分析装置（ZSU-2 シリーズ）〔データ表示部に科学／ Strathkelvin Instruments 社
2008・携帯型呼吸速度測定器（Bioscope）〔活性汚泥の酸素利
高輝度液晶ユニットを採用，ミドルサイズロッカ標準
用速度を現場で迅速測定，輸入品〕：セントラル科学／化〕：富士電機システムズ
2008・煙道排ガス分析装置（ZSU-3 シリーズ）〔低レンジ測定対
Strathkelvin Instruments 社
2008・Sievers TOC 計（InnovOx）〔超臨界水酸化方式でサンプ
応（50ppm レンジ）〕：富士電機システムズ〔前面保守可能，ル性状を選ばない，輸入品〕：セントラル科学／ GEAI 2008・煙道排ガス分析装置（ZSU-4 シリーズ）
ロッカ寸法削減〕：富士電機システムズ社
2008・吸光度式 COD Mn 測定セット（同左）〔試薬・廃液の量はJIS 法の 20 分の 1〕：セントラル科学
2008・マルチ水質チェッカ（U-50 シリーズ）〔11 項目測定の持ち運びタイプ〕：堀場製作所
2009・バイオセンサ式迅速BOD測定器（QuickBOD α1000）〔短 2009・酸素計（SGM7）〔0.1ppm まで測定可能，輸入品〕：日本サー
時間測定でかつ公定法との高い相関性あり〕：セントラ
モ／ドイツ ZIROX 社
2009・環境大気用総水銀モニター（UT-3000）〔大気中の総水銀
ル科学を高感度連続測定可能，輸入品〕：日本サーモ／ドイツ
Mercury Instruments 社
2009・自動ハロゲン・硫黄分析システム（HSU-35 ／ SQ-10 ／THA-24）〔有機／無機兼用ハロゲン・硫黄分析システム〕：アナテック・ヤナコ
2009・排ガス用 CO 濃度計（CO-38）〔焼却炉より排出される一酸化炭素濃度測定用〕：京都電子工業

122

環境用分析機器
自

動

車

排

ガ

ス

分

析

装

置

2007・光透過式黒煙測定器オパシメータ（ALTAS-5100D）〔測定部・表示部一体化によるスピーディ測定〕：ヤナコ計
測2008・オパシメータ（DEX-200）：光明理化学工業

関

連

機

器

2008・カウンタ付気体採取器（GV-110S）〔吸引回数を自動でカ
ウント，見やすい表示〕：ガステック

2009・放射線モニタ（PA-1000Radi（ラディ））〔手のひらサイズの放射線測定器〕：堀場製作所

123

医 用 分 析 機 器
概説

医用分析機器の生い立ちには他の分析機器と大きく異なる点がある。一般には分光光度計や電子顕微鏡など一般の分析機器においては，その物が開発されて初めてその分析がなしえたという事情があるが，医用分析機器においては，その開発は概ね自動化，省力化が目的であった点である。つまり，検体の生化学分析，生化学検査は汎用分光光度計を用いて行われていた現場において，人為的な過誤の防止，省力などを狙って自動化が計画されたのである。
自動分析装置の誕生には L. T. Skeggs のフロー方式の発明（1954 年）と，それに続く商品化（米国テクニコン社 1957 年）が関連したと言ってよい。実際には，これ以前にも自動分析装置の考案や製品化はいくらかあったようだが，広く使われるようになったのはこのフロー方式が最初であった。はじめは一時に 1 項目しか分析できないので，一台の装置で午前と午後で異なった項目を測定するなどして高価な装置の効率向上を図ることが試みられたが，1968 年にもなると 12 項目同時測定の装置が現われた。数種のディスクリート方式の装置が発表されたのもこの頃である。
1970 年頃はこれらディスクリートを加えて多項目化されてきた自動分析装置の普及期と言えるであろう。自動分析装置
全般としては，多項目化と，微量化がこの時代の特徴である。次は，1975 年前後にみられる実用期である。自動分析装置
はさらに多項目化，微量化されるとともに，当時ようやく実用化されてきたマイクロコンピュータが導入され，使いやすい
自動装置にと変わる第一歩となった。シークェンシャルシングルラインマルチ方式による小回りの利く装置はマイクロコン
ピュータの助けなくして実現しなかったであろう。また，従来のフロー方式，ディスクリート方式に加えて，遠心方式と，バッ
グ方式，又は，その後のハードな試薬内蔵容器による方式を含めてパック方式と呼んでよい方式もこの頃世に現われた。
1970 年代末となるとさらに多項目化が進んだ。また，マイクロコンピュータの発達も著しく自動分析装置としても頭の柔らかいものが作れるようになったり，ディスプレイとして CRT が用いられるようになった。自動分析装置の大型と小型への 2 極化が進んだのはこの頃である。1980 年にはシングルライン・ランダムアクセス全反応過程測光方式が開発され，小病院はもとより，大病院にも使える小回りの利く有用な装置が発売された。大型の装置は 35 項目同時で，しかも 300 検体／時

生

化

学

自

動

分

析

装

置

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置1950 年
昭 25
1953・H 型電気泳動拡散装置〔電気泳動装置のさきがけ，輸入品〕：ベックマン・コールター
1955 年
昭 301960 年
昭 35

1961・オートアナライザー（AA-1）〔湿式自動分析，輸入品〕：
アムコ／テクニコン社
1963・血液 pH ガス分圧計（MHG-1）〔pH，PO2，PCO2〕：堀場製作所
1963・超精密級 pH メータ（UP-1）〔分解能± 0.001pH〕：堀場製作所
1963・自記呼吸酸素測定装置（PO-1）：柳本製作所
1964・炭酸ガス分析計（MCD-1）〔NDIR 法，呼気中 CO2 測定〕：堀場製作所
1964・一酸化炭素分析計（MCM-1 形）〔NDIR 法，呼気中 CO 測定〕：堀場製作所

1965 年
昭 40124

医 用 分 析 機 器の多量処理ができるようになった。一方，ドライケミストリと俗に呼ばれるフィルム技術を利用したもの数種，パック方式のもの数種が市場に出回り，誰でも操作できる装置として緊急検査などに重宝がられている。
電解質の分析には従来炎光光度計が用いられていたが，イオン選択性電極が開発され次第に広く用いられるようになり，
殊に，自動分析装置に組み込む場合にはほとんどこれが使用されている。
血液学関係では，自動血球計数装置が 1959 年に，さらに，全自動血球計数装置が 1970 年に輸入され，以後開発された国産品に次第に移っていった。また，血液像自動分類装置は通産省委託研究で 1980 年に開発され，以後改良されて血液の塗抹，染色までを含んだ全自動装置まで開発されている。
このほか，免疫血清検査装置，電気泳動装置，フローサイトメータ，セルソータ，尿分析装置，血液ガス分析装置，専用
液体クロマトグラフなどもある。
この様に医療分野以外で開発された新技術（工学，化学）が医用分析機器に積極的に採用，利用されてきた。一般検診，病気疾患の早期発見，治療効果の確認に要求されるものが，医用分析機器であることを考えれば，当然である。1990 年以降は
使用検体量の超微量化，反応処理の高速化などに一つの大きな特徴がみられる。
1990 年代にはそれまでには無かった薬事法を主体とする法規の大々的な変更があった。例えば，医用分析機器は原則として法的な承認を不要とされた。また公的文書の全ての提出先や審査は東京の厚生省であったが，都道府県や審査センターなどの外部に移った。
また永年検討されてきた，医療用具の公正競争規約が出来あがり，1999 年から医用分析機器にも適用されることとなった。
2000 年代に入ると医療機器の分野でも国際整合をめざす動きが活発化し，それに対応すべく 2005 年には改正薬事法が施行となり，薬事法上の名称も医療用具から医療機器へと変更された。また，世界的な医療費削減の傾向が一層強まり，検査全体の高効率化のためのトータルソリューション提供を目指した企業間の買収・提携が相次ぎ，さらに検体検査装置の分野
でも生化学自動分析装置と免疫装置との統合などが進み，consolidation が 2000 年代のキーワードとなった。

血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置

そ

の

他

の

医

用

分

析

装

置
1950 年
昭 251955 年
昭 30

1959・自動血球計数装置（モデル A）〔輸入品〕：日科機，アムコ／コールター社
1961・液体シンチレーションスペクトロメータ（LSM-2）：堀場
製作所

1960 年
昭 35

1965 年
昭 40125

医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
1968・ディスクリート式自動分析装置（500 形）〔2ch，フレキシ
ブルタイプ〕：日立製作所
1968・ディスクリート式自動分析装置（400 形）〔6ch，60 検体／時〕：日立製作所
1968・DSA-560 型自動分析計〔臨床検査用〕：ベックマン・コー
ルター
1969・グルコース分析計〔電極方式〕：ベックマン・コールター
1969・多チャンネル自動生化学分析装置（300）〔輸入品〕：アムコ／ヴィッカース杜1970 年
昭 45

1975 年
昭 50

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置
1968・DSA-560 型自動分析計〔世界初の臨床検査用自動分析装
置〕：ベックマン・コールター
1968・400 形日立自動分析装置〔国産第一号のディスクリート
形自動分析装置 6ch，60 検体／時〕：日立製作所
1968・500 形日立自動分析装置〔2ch，フレキシブルタイプ自動分析装置〕：日立製作所
1969・臨床検査用クロライドカウンタ（CL-1）〔電量式〕：平沼産業
1969・グルコース分析計〔電極方式グルコース分析計〕：ベックマン・コールター

1970・自動分析装置（日立 400 形）〔ディスクリート方式，60 検体／時，同時 6 項目測定可能〕：日立製作所
1971・臨床検査自動化学分析装置（XM-610）：電気化学計器
1971・自動生化学分析装置（ACA- Ⅲ）〔4 項目測定〕：オリンパ
ス光学工業
1971・自動化学分析装置（LAC-060）〔6 項目測定〕：東芝
1971・迅速簡易型血液分析装置（RaBA-3010）〔直読式〕：京都第一科学
1972・温度勾配バイオ・フォトレコーダー（TN-112M）〔微生物
多検体の増殖開線を描く〕：アドバンテック東洋
1972・生化学自動分析装置（JCA-10K）〔10 項目，60 検体／ H〕：
日本電子
1972・ドライケミストリー式尿自動分析システム（オーション
アナライザー）：京都第一科学
1972・完全自動多項目分析装置（SMAC）〔コンピュータ制御による生化学分析装置，輸入品〕：バイエル社
1973・生 化 学 自 動 分 析 装 置（JCA-6KR）〔 マ ル チ チ ャ ン ネ ル，
レートアッセイ法〕：日本電子
1974・自動生化学分析装置（ACA 201）
〔2 ～ 6 項目，マルチチャ
ンネル〕：オリンパス光学工業
1974・自動生化学分析装置（UCA）〔レートアッセイ法〕：オリンパス光学工業
1974・生化学自動分析装置（JCA-N12）〔12 項目，回転反応，直接測光〕：日本電子
1974・自動分析装置（日立 716 形）〔2 波長測光，マイコン搭載，
凹面回折格子多波長光度計導入〕：日立製作所
1975・臨床検査用 Ca ／ Mg カウンタ（CM-212）〔光度滴定によりカルシウム及びマグネシウムの 2 成分測定〕：平沼産
業
1976・尿自動分析装置（678）〔ウェットケミストリー方式〕：日立製作所
1976・自動分析装置（706D）〔シークェンシャルシングルライン
マルチ式〕：日立製作所
1976・迅速簡易型血液分析装置（RaBA-SUPER）〔マイコン搭載〕：京都第一科学
1976・尿検査自動処理機（KID-301）〔3 項目，750 検体／時〕：
和光純薬工業
1977・生化学自動分析装置（JCA-S I6）〔6 項目任意選択可〕：日 1977・電解質分析装置（セラ 100）
〔血液，尿中 Na，K〕：堀場製
本電子
作所
1977・自動生化学分析装置（TBA-360）〔2 項目測定〕：東芝
1977・高速生化学自動分析装置（ACA 6000）〔24ch，240 テス
ト／ H〕：オリンパス光学工業
1977・免疫化学分析装置（I.C.S.）〔血漿蛋白定量装置〕：ベック
マン・コールター
1978・生化学自動分析装置（JCA-MS 24）〔24 項目，超微量マル 1978・クリニカルイオンメータ（CIM-101）〔フロースルー型
チサンプラー〕：日本電子
Na，K 電極，全血対応〕：島津製作所

126

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置

1969・多項目血液検査装置（SMA 4A ／ 7A）〔フロー方式による血球計数装置，輸入品〕：バイエル社

そ

の

他

の

医

用

分

析

装

置

1969・中性脂肪測定装置（MGM-2010）〔簡易型，散乱光測定〕：京都第一科学

1970・全自動多項目血球計数装置（モデル S）〔7 項目測定，輸入品〕：日科機／コールター社

1972・自動赤血球沈降測定装置（チェックマン）：京都第一科
学1970 年
昭 45

1972・簡易血糖測定器（アイトーン）〔反射率測定式〕：京都第一科学
1972・臨床検査用濃度計（HAD-1）〔オートゼロ式〕：平沼産業

1973・多項目血液検査装置（へマログ 8）〔血小板を含む血奬 8
項目の自動分析装置，輸入品〕：バイエル社

1975・自動細胞解析分取装置（EPICS Ⅳ）：ベックマン・コー
ルター1975 年
昭 50

1976・自動偏光解消測定装置（SFP-3-1）〔蛍光式免疫反応分析〕：
日本分光工業
1976・完全自動血液像自動分析装置（へマログ D）〔シースフ
ロー方式による白血球自動分析装置，輸入品〕：バイエ
ル社

1977・デンシ卜・フォトメータ（HAD-201）〔デンシトメータに
フォトメータの機能が追加〕：平沼産業

1978・マイクロプレート用吸光測定装置（マルチスキャン）〔干
渉フィルター方式の光度計，マイクロプレート測定，輸入品〕：大日本製薬

1978・138Xe 導入による局所脳血流量測定装置〔輸入品〕：日製
産業／ノボ社
1978・自動血球洗浄遠心機（MC-300）：日製産業／日立工機

127

医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置
1978・ASTRA 4 及び ASTRA 8 型〔臨床検査界に大センセー
ション〕：ベックマン・コールター
1978・自動電気泳動装置（AES）：オリンパス光学工業
1979・自動生化学分析装置（CL-12）〔試薬保冷庫付〕：島津製作 1979・全血全自動電解質分析装置（NAKL-1）：東亜電波工業
1979・血液，尿中クロライドメータ（CL-10）〔電量滴定法〕：京所
1979・自動生化学分析装置（TBA-880）〔CRT 対話式〕：東芝
都電子工業
1979・自動 PSP（腎機能）検査装置（PSP AUTO）〔無希釈測定〕：京都第一科学1980 年
昭 55

1985 年
昭 60

128

1980・多項目自動生化学分析装置（CL-30）〔30 項目，300 検体〕： 1980・電解質分析装置（セラ 300）
〔血液，尿中 Na，K，Cl〕：堀
島津製作所
場製作所
1980・バッグ方式自動分析装置（DIASPAT LC-M1）：島津製作所
1980・自動電気泳動装置（AES200）〔50 検体／ H〕：オリンパス
光学工業
1980・自動分析装置（日立 705 形）〔シングルラインランダムア
クセス全反応過程測光方式〕：日立製作所
1980・生化学自動分析装置（JCA-VS700）〔自由割込・任意選択可〕：日本電子
1981・自動生化学分析装置（AU500）〔ランダムアクセス，高濃 1981・血糖分析計〔バイオセンサ〕：富士電機：光明理化
度試薬使用，ディスポキュペット〕：オリンパス光学工 1981・赤外線式呼気中アルコール測定器（DPA-1）
学工業
業
1981・自動生化学分析装置（TBA-580）〔緊急検査用〕：東芝
1981・超高速生化学自動分析装置（ACA8000）〔32ch，300 テス
ト／Ｈ〕：オリンパス光学工業
1981・システムE4A〔電極方式による電解質測定〕：ベックマン・コールター
1982・自動分析装置（日立 736 形）〔全反応過程測光方式を採用，
300 検体／時，最大同時 32 項目で，最大 9600 テスト／時〕：
日立製作所
1982・生化学自動分析装置（JCA-VX 1000）〔30 項目，250 テス
ト／ H〕：日本電子
1983・自動生化学分析装置（TBA-80S）〔35 項目，300 検体／ H〕：
東芝

1984・自動電気泳動装置（AES600）〔100検体／ H，分画モニター
付〕：オリンパス光学工業
1984・自動生化学分析装置（TBA-480）〔200 テスト／時〕：東芝
医用システム1984・多層フィルム式ドライケミストリー（富士ドライケム
1000）〔全血用〕：富士写真フイルム
1985・超高速生化学自動分析装置（AU 5000）〔34ch，300 テス
ト／ H〕：オリンパス光学工業
1985・自動電気泳動装置（AES300）〔50 検体／ H，分画モニター
付〕：オリンパス光学工業
1986・自動生化学分析装置（CL-700）〔測光系移動型〕：島津製作所
1986・生化学分析装置（CL-760）〔固定化酵素，化学発光式〕：
島津製作所

1984・電解分析装置（セラ 301A）〔オートサンプラー付 Na，K〕：
堀場製作所
1984・全自動血液ガス分析装置（JBA-3）：常光
1984・麻酔器用酸素濃度計（DK-100）：光明理化学工業

1986・電解質測定用ドライケミストリー（富士ドライケム 800）
〔Na，K，Cl 同時測定〕：富土写真フイルム
1986・超微量生化学自動分析装置（CHEM 1）〔カプセルケミス
トリーテクノロジーを用いランダムアクセス分析を可能にした分析装置，輸入品〕：バイエル社

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
そ の 他 の 医 用 分 析 装 置
1978・マイクロプレート用蛍光測定装置（フルオロスキャン）〔マイクロプレートを測定できる干渉フィルター方式の蛍光測定機，輸入品〕：大日本製薬
1979・EIA マイクロプレート光度計（MTP-12）：日製産業／コ 1979・医用質量分析計（R-MC）〔四重極形〕：島津製作所
1979・ATP 測定装置（CELLTESTER 1030）〔バイオルミネッロナ電気
1979・自動細胞解析分取装置（EPICS Ⅴ）：ベックマン・コー
センス反応利用〕：三菱化成
1979・レーザーネフェロメーター（ZD-801）〔㈱ゼネラル製，免ルター
疫比ろう法〕：和光純薬工業
1979・コンピューティングデンシトメータ（HAD-301）〔コン
ピュータ制御方式光学系移動方式により小形化〕：平沼
産業
1980・血液像自動分類装置（806 形）〔通産省委託研究〕：日立製 1980・自動浸透圧測定装置（OM-6010）〔超過冷却方式測定〕： 1980 年
昭 55
作所
京都第一科学
1980・自動酵素免疫反応測定装置（EIMAX 形）：富士レビオ／
日本分光
1980・自動グルコース測定装置（GA-1110）〔バイオセンサ〕：京都第一科学

1981・グリコヘモグロビン自動分画測定装置（AUTO A1C）
〔HPLC 式〕：京都第一科学
1981・TSH，EIA 用自動測定装置（AUTO FP-1）〔先天性代謝異常〕：富土レビオ／日本分光

1982・血糖動態監視装置（グルコースモニター）〔GOD 法〕：京 1982・サイトフローメータ（FCM-1）〔シースフロー技術利用〕：
都第一科学
日本分光工業
1982・総合血液学検査装置（THMS H6000 型）〔血球計数・白血 1982・セルソーター（FCS-1）〔シースフロー技術利用〕：日本分
球分類を同時に行う自動分析装置，輸入品〕：バイエル光工業
社
1983・自動血沈計（ERS-50）：電気化学計器
1983・自動生体細胞識別分取装置（セルソータ CS-20）〔5 千個／
1983・全自動グリコヘモグロビン分析装置（HLC-723 GHb〔5 分秒）：昭和電工
画，8 分〕）：東ソー
1983・血液凝固測定装置（レーザーコアグロメーター LC-101）〔レーザー使用ピークレート比ろう法〕：和光純薬工業
1983・自動細胞解析分取装置（EPICS C）：ベックマン・コー
ルター
1984・尿比重計（ユリペット）〔ハンディータイプ，試料吸排シ 1984・自動輸血検査装置（PK 7100）オリンパス光学工業
リンジ内蔵〕：和光純薬工業

1985・エンドキシン測定装置トキシノメーター（ET-201）〔エン
ドキシンの専用測定機〕：和光純薬

1985 年
昭 60

1986・血液像自動分類装置（8200）〔全自動前処理付〕：日立製 1986・MP スペクトロメータ（BEM-250 ／ 80）〔31P による生体作所
用 NMR〕：大塚電子
1986・自動酵素免疫分析装置（PK 300）：オリンパス光学工業
1986・接着性細胞用機能解析，細胞選別装置（ACAS470）：日
1986・マイクロプレート用蛍光測定装置（フルオロスキャン）
科機〔干渉フィルター方式，輸入品〕：大日本製薬

129

医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
1986・超微量生化学自動分析装置（CHEM1）〔カプセルケミス
トリーテクノロジー採用，ランダムアクセス分析可能，輸入品〕：バイエルメディカル／バイエル社

1990 年
平2130

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置

1987・自動生化学分析装置（TBA-60R）〔600 検体／ H〕：東芝
1987・自 動 生 化 学 分 析 装 置（TBA-20R ／ 30R）
〔400 テ ス ト，
640 テスト／時（電極付）〕：東芝医用システム
1987・自動分析装置（日立 7150 形）〔スタンドアロン機，同時分析項目 32，600 テスト／時の処理能力〕：日立製作所
1987・ARRAY プロテインシステム〔全自動血奬測定システム〕：ベックマン・コールター
1988・生化学自動分析装置（JCA-RX 40）〔36 項目，4800 テスト 1988・血液ガス電解質分析装置（8700）〔ガス，電解質同時分析〕：／ H〕：日本電子
日立製作所
1988・多項目自動測定ドライケミストリー（富士ドライケム
5000）〔同時処理型〕：富士写真フイルム
1988・自動生化学分析装置（CX-3）〔CO2 測定〕：東芝
1988・自動生化学分析装置（TBA-M シリーズ）〔最大 10,500 テ
スト／時〕：東芝医用システム
1988・自動生化学分析装置（AUS10）〔32 項目，400 テスト／時，
高濃度／一般試薬併用可〕：オリンパス光学工業
1989・生 化 学 自 動 分 析 装 置（JCA-RS 1100 ／ 1200）〔32 項 目，
300 ／ 600 テスト／ H〕：日本電子
1989・尿検査装置（プレテスター RM-405）〔試験紙ベルト移動
方式〕：和光純薬工業
1989・自動分析装置（日立 7170 形）〔同時最大 86 項目，最大 800
テスト／時，試薬ピペッティング方式では最大の処理の能力〕：日立製作所
1989・検体検査自動化システム〔遠心分離・検体分注・検体保存までを自動化したシステム〕：日立製作所
1990・自動電気泳動装置（AES620）〔高速処理（150 検体／時）〕：
オリンパス光学
1990・自 動 尿 沈 渣 分 析 装 置（UA-1000）〔Imaging Flow
Cytometry により尿中の粒子をデジタル画像として検出し，自動素分類を行う〕：シスメックス
1990・全自動生化学分析装置（CL7200，7300）〔デュアルシング
ルマルチ方式採用 600 ／ 1200 テスト／時〕：島津製作所
1990・生 化 学 自 動 分 析 装 置（JCA-RS1100BAR ／ 1200BAR）：
日本電子
1990・尿自動分析装置（ZD-501）〔4 頃目 850 検体／時〕：和光純
薬工業
1991・自動生化学分析装置（AU5200）〔スーパーマルチ，大量，
高速処理，32 項目 330 検体／時〕：オリンパス光学
1991・自動生化学分析装置（AU800）〔高速 2 × 2 ブロックラン
ダムアクセス 32 項目 1600 テスト／時〕：オリンパス光学
1991・自動生化学分析装置（AU560）〔反応容器，セレクティブ
ディスポのインテリジェント制御，32 項目 400 テスト／時〕：オリンパス光学
1992・自動生化学分析装置（TBA-80FR シリーズ）〔933 テスト／時（電極付）世界初の 4.5 秒サイクル実現〕：東芝医用システム社
1992・生 化 学 自 動 分 析 装 置（JCA-HR2100 ／ 2200 ／ 2300 ／
2400）：日本電子医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
1986・全自動免疫分析装置（EL-1000）〔ラテックス免疫凝集反
応積分球濁度法〕：協和メデックス
1986・自動細胞解析分取装置（EPICS PROFILE）：ベックマン・コールター
1986・全自動グリコヘモグロビン分析計（HLC-723GHb Ⅱ）〔5
分画 5 分測定〕：東ソー

そ

の

他

の

医

用

分

析

装

置

1987・Ca アナライザ（CAM-100）〔細胞内遊離 Ca の蛍光測定〕：
日本分光工業
1987・細胞内 Ca イオン濃度測定装置（FC-100，-200）〔イオン分布等〕：三菱化成
1987・高速フロー電気細胞融合装置（CET-200）：日本分光工業

1988・血球カウンタ（LC-114）〔電気抵抗検出法〕：堀場製作所
1988・細胞内カルシウム解析装置（FC-200）〔神経細胞内カルシ
1988・全自動エンザイムイムノアッセイ装置（AIA-1200）〔フル
ウム濃度変化解析〕：三菱化成
1988・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ET-208）〔エ
ランダムアクセス対応〕：東ソー
1988・自動酵素免疫分析装置（PK 310）
〔8 項目，60 テスト／ H〕：
ンドトキシン測定の簡易型〕：和光純薬
オリンパス光学工業
1988・尿比重計（ユリペット - Ⅱ D）
〔デジタル方式〕：和光純薬
工業

1989・全自動VMA ／ HVA分析専用機（HLC-726VMA）〔VMA・
HVA・クレアチニン同時分析〕：東ソー
1989・全 自 動 血 球 計 数 装 置（STKS）〔全自動白血球5分類とVCS 理論応用〕：ベックマン・コールター

1990・Hematology System（HS- シリーズ）〔白血球 5 分類付き
全自動血球計数装置，全自動網赤血球測定装置と塗抹標
本作製装置をコンベヤーシステムによりつないだ〕：シスメックス
1990・診断用カテコールアミン分析計（HLC-725CA）〔3 分画同時測定専用機〕：東ソー
1990・全自動グリコヘモグロビン分析計（HLC-723GHb Ⅲ）〔5
分画 3.5 分測定，全血対応オンライン不安定型除去〕：東ソー
1990・EPICS ELITE〔自動細胞解析分取装置〕：ベックマン・
コールター
1991・マイクロプレート用発光測定装置（ルミノスキャン）〔輸入品〕：大日本製薬／ Labsystems 社
1991・全自動血球計数装置（MAXM）〔中型全自動白血球 5 分
類〕：ベックマン・コールター

1990・LTP 解析装置〔神経細胞の長期増強現象の解析〕：三菱
化学／三菱化成
1990・総 DNA 測定用／イムノリガンドアッセイ用システム（スレッシュホールドシステム）〔並列型光活性電位セン
サー，輸入品〕：和光純薬工業

1992・血 中 エ ン ド ト キ シ ン 測 定 装 置（ ト キ シ ノ メ ー タ
MT-251）：和光純薬工業
1992・ルミパルス 1200〔全自動化学発光酵素免疫測定システム〕：富士レビオ／杉原製作所

1992・無侵襲酸素モニタ（OM-100A）〔脳内酸素の情報を無侵襲測定〕：島津製作所
1992・全自動ペプチドシーケンサ（PPSQ-21）〔全自動タンパク
質分析〕：島津製作所
1992・ページェントトランステーション（PS-5000）〔透析液供
給・温度・圧力など物理計測を組み合わせた装置〕：東亜電波工業

1990 年
平2

1991・医用分光光度計（CL-770）〔コンパクト設計，簡便ルーチ
ン，分析用分光光度計〕：島津製作所
1991・透析液溶解供給装置（B-20，BHI）〔電気電導率でコント
ロール式〕：東亜電波工業

131医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置
1993・全自動尿分析装置（スーパーオーションアナライザーⅡ 1993・電極法高速電解質測定装置（島津クリニカルイオンメー
SA-4230）〔すべてのステージを自動化〕：京都第一科学
タ CIM-300 形）〔180 検体／時〕：島津製作所
1993・自 動 尿 分 析 装 置（ ミ ニ オ ー シ ョ ン ア ナ ラ イ ザ ー
MA-4240）〔小型セミオートタイプ，データ管理機能搭載〕：京都第一科学
1993・ドライ ELA（ID1000）〔EIA 装置〕：東亜電波工業
1993・全自動発光免疫測定装置（JLA-FS150）：日本電子
1993・小型多項目ドライケミストリー（富士ドライケム 3000）〔60 テスト／ H，自動点着〕：富士写真フイルム

1995 年
平7

1994・自動酵素免疫装置（OLYDAS-120）〔ランダムアクセス，
多項目高速処理，10 項目，120 テスト／時〕：オリンパ
ス光学
1994・便潜血測定用装置（前処理ステーション MA-701）〔600 検体／時の処理〕：和光純薬工業
1994・尿検査装置（プレテスター RM-505）〔携帯用：データ保存用フロッピーディスク，バッテリー内蔵〕：和光純薬
工業
1995・自動生化学分析装置（AU600）〔48 項目，800 テスト／時，
検疫微量化（150μl）〕：オリンパス光学
1995・自動電気泳動装置（AES320）〔オプション「診断支援プ
ログラム」）：オリンパス光学
1995・自動 PSP 検査装置（ピーエスピーオート PSP-3120）〔二波長同時測定方式〕：京都第一科学
1995・全 自 動 尿 中 有 形 成 分 分 析 装 置（UF-100）〔Flow
Cytometry により尿中有形成分を全自動にて定量分析〕：
シスメックス

1996・自動生化学分析装置（AU1000）〔32 項目，1600 テスト／時，検体微量化（150μl）〕：オリンパス光学
1996・自動尿分析装置（マイクロオーション MA-4260）〔最大 10
項目の尿定性検査〕：京都第一科学
1996・自動生化学分析装置（CL-8000）〔リアルタイムランダム
アクセス 400 テスト／時〕：島津製作所
1996・尿自動分析装置（日立 6700 ／ 6800 形）〔ダイレクトサン
プリング方式，ニューラルネットによる自動分類を実現〕：日立製作所
1996・全自動ドライケミストリー（富士ドライケムオート 5）〔540 テスト／時，電解質同時測定〕：富士写真フイルム
1996・全自動キャピラリー電気泳動装置（Paragoncze 2000）〔臨床検査用キャピラリー電気泳動システム〕：ベックマ
ン・コールター1996・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM8 ／ BM12）〔スーパーシングルマルチタイプ，高速処理，反応液量 80μlの超微量化〕：日本電子

1997・自動電気泳動装置（AES630）〔血清血への自動分注，オ
プション「搬送ライン接続」〕：オリンパス光学
1997・全自動尿分析装置（スーパーオーションアナライザー
SA-4250）〔300 検体／時〕：京都第一科学
1997・生化学自動分析装置〔メンテナンスフリー完全自動生化
学分析装置〕：ベックマン・コールター

132医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
1993・全自動グルコアルブミン測定装置（ハイオートジーエイ
エー GAA-2000）〔HPLC カラム法採用〕：京都第一科学
1993・全自動血球計数装置（SE-9000）〔幼若白血球検出能力を向上させる IMI チャンネルを搭載〕：シスメックス
1993・自動血液凝固分析装置（ユアグレックス 700）
〔リアルタ
イムランダムアクセス〕：島津製作所
1993・全自動 1.5AG 分析計（HLC-727AG）専用機：東ソー
1993・自動細胞解析分取装置（EPICS XL）〔デジタル・フローサイトメーター〕：ベックマン・コールター
1994・全自動グリコヘモグロビン測定装置（ハイオートエーワ
ンシー HA-8140）〔不安定成分を除去し，安定型のみを分析〕：京都第一科学
1994・全自動グリコヘモグロビン測定装置（ハイオートエーワ
ンシー HA-8131）〔特異的に分離分析，高速液体クロマ
トグラフィ（HPLC）法〕：京都第一科学

そ の 他 の 医 用 分 析 装 置
1993・輸血用血液検査（PK7200）〔最大 24 項目 240 検体／時処理〕：オリンパス光学
1993・自動浸透圧測定装置（オズモスタット OM-6040）〔小型セ
ミオートタイプ，データ管理機能搭載〕：京都第一科学
1993・C 端末フラグメント分取装置（CTFF-1）〔タンパク質 C
端末部分の自動分取〕：島津製作所
1993・動物細胞培養装置（MACCS-10）〔接着系動物細胞の高密度培養〕：島津製作所
1993・ATP 測定装置（AF-100）〔化学発光を使った ATP の測定装置〕：東亜電波工業
1994・自動アミノ酸分析計（ALC-1000）〔ルーチン向け，蛍光測光方式〕：島津製作所
1994・DNA シーケンサー（DSQ-1000）〔1 度に多数の遺伝子が解読可〕：島津製作所
1994・マイクロマニピュレータ（MMS-77）〔全自動〕：島津製作所
1994・自動細胞分析装置（Cyto ACE-300）〔コンパクトなフロー
サイトメータ〕：日本分光
1995・全自動便潜血免疫分析装置（JIA-HB200）：日本電子

1995・全自動グルコース測定装置（グルコースオート アンドス
1995 年平7
タット GA-1160）〔キャップピアス式サンプリング機構〕：
京都第一科学
1995・全自動グルコース測定装置（グルコースオート アンドス
タット GA-1150）〔全血検体に対応，小型デスクトップタイプ〕：京都第一科学
1995・全自動血球計数装置（SF-3000）〔半導体レーザーを用いた白血球 5 分類を実現〕：シスメックス
1995・自動血球計数装置（LC-240A1（国内販売名 FLC-204A））〔最少のサンプル量で，全血から 8 項目測定〕：堀場製作所
1995・全自動マイクロプレート EIA 装置（AP-960）〔マイクロプレートEIA法検体分注から測定迄全自動〕：協和メデックス
1996・全自動グリコヘモグロビン測定装置（ハイオートエーワ 1996・骨塩定量測定装置（ヒールスキャン DX2000）〔二重エネ
ンシー HA-8150）〔ヘモグロビン Alc を 1.9 分で高速分画，
ルギー X 線吸収法（DXA 法）〕：京都第一科学
1996・2 次元分光画像システム（SD-200）〔ヒトの 24 本の染色体
全血検体対応〕：京都第一科学
1996・全自動グリコヘモグロビン測定装置（HLC-723GHb V）
を蛍光組織で染め分ける〕：島津製作所
1996・ポータブル ATP テスター（AF-50 ／ 70）〔現場用 ATP 測〔安定型，不安定型 Alc カラム分離〕：東ソー
1996・血 中 エ ン ド ト キ シ ン 測 定 装 置（ ト キ シ ノ メ ー タ ー
定装置〕：東亜電波工業
MT-358）〔データ処理機能内蔵，スタンドアローン〕： 1996・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ET-301BL）〔合成基質法対応可，高感度化〕：和光純薬工業
和光純薬工業
1996・全自動エンザイムイムノアッセイ装置（AIA-21）〔自動検体希釈機能〕：東ソー
1996・ルミパルス 〔
f 全自動化学発光酵素免疫測定システム，
120 テスト／時〕：富士レビオ／オリンパス光学
1996・自動血球計数装置（GEN ＊ S）
〔全自動 CBC 白血球 5 分類，網赤血球分析装置（VCS 三次元表示，Accugating
Technology，Intellikitics Technologh 搭載，RCS〕：ベッ
クマン・コールター
1996・免疫反応自動分析装置（Bayer Immunol）〔オイルテクノ
ロジーによる免疫反応自動分析装置，輸入品〕：バイエ
ルメディカル／バイエル社
1997・臨床化学自動分析装置（スポットケム SP-4420）〔ドライ 1997・簡易血中乳酸測定器（ラクテート・プロ LT-1710）〔超小試験片採用，血液生化学検査最大 12 項目〕：京都第一科型カードサイズ〕：京都第一科学
1997・無侵襲酸素モニタ（OM-200）〔脳内酸素の情報を無侵襲学
1997・全自動便中ヒトヘモグロビン分析装置（HM-JACK）〔便
測定〕：島津製作所
1997・血液直接 PCR 試薬〔ヒト血液中の DNA を直接増幅でき
潜血定量ラテックス凝集反応〕：協和メディック
る試薬〕：島津製作所

133

医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
1997・自動生化学分析装置（TBA-200FR）〔2,000 テスト／時（電極付）2 項目独立セミランダム方式〕：東芝医用システム
社
1997・自動分析装置（日立 7600）〔2 種類のタイプの異なる分析
部を組み合わせるモジュールアッセンブリ方式を採用〕：
日立製作所
1997・尿検査装置（プレスター RM-605）〔白血球対応高速処置〕：
和光純薬工業
1997・全自動便中ヒトヘモグロビン分析装置（HM-JACK）〔便
潜血定量ラテックス凝集反応〕：協和メデックス
1997・総合血液学検査装置（アドヴィア 120）
〔血球計数・白血球分類・網赤血球測定自動分析装置，輸入品〕：バイエ
ル社
1998・自動生化学分析装置（AU400）〔多項目，ランダムアクセ
ス，48 項 目，400 テ ス ト ／ 時， 検 液 微 量 化（150μl）〕：
オリンパス光学
1998・自動生化学分析装置（AU640）〔多項目，高速ランダムア
ク セ ス，48 項 目，800 テ ス ト ／ 時， 検 液 量（150μl）〕：
オリンパス光学
1998・自動蛍光免疫測定装置（スポットケムバイダス SV-5010）〔蛍光酵素免疫測定法（ELFA 法）採用〕：京都第一科学
1998・自動尿分析装置（オーションジェット AJ-4270）〔尿定性
10 項目と色調を 450 検体／時〕：京都第一科学
1998・検体前処理システム〔パッケージ化で省スペース化〕：
日立製作所
1998・尿自動分析装置（ZD-601）〔5 項目，1500 検体／時〕：和光純薬工業
1998・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM2250）〔検体処理速度 2250 テスト／時，反応液量 60μl〕：日本電子
1998・自動細胞解析分取装置（EPICS ALTRA）〔高精度，高感度で高速の細胞分取を可能にした新世代セルソーター〕：
ベックマン・コールター

2000 年
平 12134

1999・自動生化学分析装置（AU2700）〔多項目，高速ランダム
アクセス，大量処理 48 項目，1600 テスト／時〕：オリン
パス光学
1999・全自動尿検査装置（プレスター RM-700）〔卓上型，全自動〕：和光純薬工業
1999・自 動 分 析 装 置「BioMajesty」（JCA-BM1250 ／ 1650 ／2250）〔「BioMajesty」ファミリーワールドワイド統一
バージョン化〕：日本電子
1999・自動生化学分析装置（AU5400）〔ピペティングマルチのユニット接続による高速大量処理，最大 95 項目，4800
テスト／時，検液量 120μl〕：オリンパス光学
1999・生化学自動分析装置（LiBASys）〔早期肝ガンマーカのAFP L3% を全自動測定〕：島津製作所
2000・感染症専用自動分析装置（JCA-BM9010）〔感染症関連項目分析可能〕：日本電子
2000・自動溶血機構付自動分析装置（JCA-BM9030）〔血糖とHbA1c の同時分析可能〕：日本電子
2000・臨 床 化 学 自 動 分 析 装 置（TBA-120FR）〔 最 大 100 項 目，
1200 テスト／時〕：東芝メディカルシステムズ

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
1997・総合血液学検査装置（アドヴィア 120）
〔血球計数・白血球分類・網赤血球測定自動分析装置，輸入品〕：バイエ
ルメデイカル／バイエル社

そ

の

他

の

医

用

分

析

装

置

1998・糖 尿 病 検 査 項 目 分 析 装 置（DM-JACK）〔 グ ル コ ー ス， 1998・DNA シーケンサ（DSQ-2000L）〔1 度に多数の遺伝子が解
HbAlc，1.5AG 3 項目同時分析〕：協和メディック
読可〕：島津製作所
1998・小型血糖測定器（グルコカード GT-1640）〔自己測定用 30 1998・遺伝子前処理分注装置（AmpRep）〔血液中の DNA を直秒／検体〕：京都第一科学
接増幅〕：島津製作所
1998・小型血糖測定器（グルコカード GT-1650）〔30 秒／検体〕： 1998・エンドトキシン測定装置，全自動トキシノメーター
京都第一科学（ET-auto3000）〔全自動測定機器〕：和光純薬工業
1998・自動血球計数装置（ベガ LC-140）〔染色試薬を用いて，白血球の 5 分類を行う〕：堀場製作所
1998・自動血球計数装置（ベガ 141）
〔網赤血球の測定に蛍光染
色試薬を使用〕：堀場製作所
1998・自動血球計数装置（ミクロス LC-151）〔白血球 3 分類機では唯一のキャップピアス方式を採用〕：堀場製作所
1998・自動血球計数 CRP 測定装置（国内販売名 FL-270CRP）〔全血球から CRP を定量する方式を開発，血球計数と同時測定〕：堀場製作所
1998・血小板凝集能測定装置（ET-800）〔比濁法，8 チャンネル
独立測定〕：東京光電
1998・化学発光酵素免疫装置（SPHERELIGHT-180）〔高速処理（12 項目，180 テスト／時）リードタイム短縮（20 分）〕：オリンパス光学
1998・全自動カテコールアミン分析計（HLC-725CA Ⅱ）〔血漿／尿感度自動調節〕：東ソー
1998・自動細胞解析分析装置（EPICS ALTRA）〔高感度・高精度で高速の分取可能〕：ベックマン・コールター
1999・全自動血球計数装置（XE-2100）〔血球計数装置による有 1999・全自動浸透圧測定装置（オズモステーション OM-6050）
核赤血球の定量を実現，ネットワーク対応機能搭載〕：〔USC（超過冷却）方式による氷点下降法〕：京都第一科
シスメックス学
1999・全自動エンザイムイムノアッセイ装置（AIA-600 Ⅱ）〔反 1999・全自動便潜血免疫分析装置（JIA-HB2010）〔金コロイド
応時間 10 分〕：東ソー
比色法による次世代便潜血免疫分析装置〕：日本電子
1999・血球計数装置（LC-152）〔複数の動物種を測定〕：堀場製 1999・DNA 増幅装置（TaKaRa PCR Thermal Cycler）〔熱測定
作所
装置及びその他の装置〕：宝酒造

2000・アダムス A1c（HA-8160）〔カラムでレイバイル A1c 分画を分離〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2000・アダムスマスター（DM-3310）〔グルコース，HbA1c の同時測定が可能〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2000・スポットケム EZ（SP-4430）〔小型遠心機内蔵〕：アーク
レイ／アークレイファクトリー

2000・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ET-2000） 2000 年
平 12〔比濁法を含む局方三法でエンドトキシン測定〕：和光純
薬工業
2000・バイオアナライザ（Agilent2100 Bioanalyzer）〔世界初マ
イクロチップ型電気泳動，輸入品〕：アジレント・テク
ノロジー

135

医 用 分 析 機 器
生 化 学 自 動 分 析 装 置
2000・オーションマスター（UM-3410）〔全自動尿成分定量分析装置〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2000・日立自動分析装置（7080 形）〔信頼性の継承，先端機能と高い操作性の搭載〕：日立ハイテクノロジーズ
2000・ポケットケム UA（PU-4210）〔小型尿分析装置〕：アーク
レイ／アークレイファクトリー

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置

2001・臨床化学自動分析装置（Accute）〔最大 48 項目，800 テス
ト／時〕：東芝メディカルシステムズ
2001・日立自動分析装置（7180 形）〔操作上での使いやすさを追求〕：日立ハイテクノロジーズ

2001・スポットケム EL（SE-1520）〔多様な検体に対応〕：アー
クレイ／アークレイファクトリー

2002・臨床化学自動分析装置（TBA-c8000）〔最大 1200 テスト／時，免疫オプション可〕：東芝メディカルシステムズ
2002・日立自動分析装置（7700 形）〔モジュールアッセンブリ方式で免疫装置を統合〕：日立ハイテクノロジーズ
2002・尿自動分析装置プレテスター（RM-6050）〔キャタピラ搬送方式で尿試験紙自動測定〕：和光純薬工業

2003・小型便潜血分析装置（QUICK RUN）
〔小型 A4 サイズ装置で便潜血，尿蛋白測定〕：和光純薬工業
2003・富士ドライケム（7000 シリーズ）〔全自動多検体処理ドラ
イケミストリー〕：富士フイルム
2003・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM6010）〔800 テスト／時，微量分析，省スペース化〕：日本電子2003・日立自動分析装置（7180 形（サンプルプローブ詰まり検知機能（オプション）付））〔検体サンプリングの信頼性向
上〕：日立ハイテクノロジーズ
2003・日立自動分析装置（9000 シリーズ）〔機器と試薬のトータ
ルサポート〕：日立ハイテクノロジーズ

2004・自動溶血機構付自動分析装置（JCA-BM9020）〔血糖と 2004・スポットケム SG（SG-1220）〔微量で測定可能，小型，輸HbA1c の同時分析可能〕：日本電子
入品〕：アークレイ／ラジオメーター
2004・日立自動分析装置（LABOSPECT 008）
〔多検体多項目分析業務効率化と質向上に貢献〕：日立ハイテクノロジー
ズ
2004・日立自動分析装置（LABOSPECT 003）
〔コンパクトボ
ディに機能集約した小型マルチ〕：日立ハイテクノロジー
ズ
2004・オーション IQ（IQ-5210）〔全自動尿中有形成分分析装置，
輸入品〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2004・ディスクリート方式臨床化学自動分析装置（ビトロス
5，1FS）〔ドライとウェットの融合，輸入品〕：オーソ・
クリニカル・ダイアグノスティックス／ Ortho-Clinical
Diagnostics, Inc136

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
そ の 他 の 医 用 分 析 装 置
2000・スポットケム IM（SI-3510）〔小型，パック試薬〕：アーク 2000・DNA マイクロアレイスキャナ（G2565AA）〔高感度，高レイ／アークレイファクトリー
解像度，高データ安定性，輸入品〕：アジレント・テク
2000・自動テオフィリン測定装置（LT-110）〔全血測定を可能，
ノロジー
2000・Resolver（Resolver）〔server client 型の大規模アレイ解
検体前処理が必要なし〕：堀場製作所
2000・スポットケム BC（SB-1410）〔簡便な操作性，微量血測定〕：
析ソフト，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
アークレイ／ベックマン・コールター
2000・自動 CRP 測定装置（LT-120CRP）〕：堀場製作所
2000・自動血球計数装置（LC-5000）〔白血球 5 分類の測定可能〕：
堀場製作所
2001・メディセーフ ez（MS-ER1）〔採血から測定までの一体型血糖測定システム〕：テルモ
2001・全自動免疫血清検査システム（LPIA-NV7）〔最短 5 分間で測定結果を出力〕：三菱化学メディエンス／旭国際テクネイオン
2002・ポケットケム BA（PA-4130）〔メンテナンス性向上，温 2002・マルチチャンネル酸素モニタ（OMM-2001 シリーズ）〔無度補正〕：アークレイ／アークレイファクトリー
侵襲で脳機能計測しリアルタイムマッピング〕：島津製
2002・自動血球計数 CRP 測定装置（LC-175CRP）〔白血球 3 分類
作所
2002・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ミニ）〔透析
CRP 定量測定の全 19 項目同時測定〕：堀場製作所
2002・メディセーフ ez ボイス（MS-ERV1）〔音声機能付き一体液検査専用比濁法エンドトキシン試験〕：和光純薬工業
2002・カタログ DNA マイクロアレイ（G2507A 他）〔Ink-jet 技
型血糖測定システム〕：テルモ
2002・LiBASys（LiBASys）〔新規肝癌マーカー AFP-L3 の全自術で cDNA クローンをスポット，輸入品〕：アジレント・動分析〕：和光純薬工業／島津製作所
テクノロジー
2002・Luminator（Luminator）〔stand alone 型の大規模アレイ
解析ソフト，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
2003・アダムスグルコース（GA-1170）〔測定時間の短縮，ヘマ 2003・ケミカルプリンタ（CHIP-1000）〔pL レベルの超微量分注
トクリット補正精度の向上〕：アークレイ／アークレイ
MALDI-TOF MS 用前処理装置〕：島津製作所
2003・発 現 プ ロ テ オ ー ム 解 析 用 安 定 同 位 体 標 識 キ ッ ト
ファクトリー
2003・全自動マイクロプレート化学発光分析装置（AP-96c）〔省（13CNBS Isotope Labeling Kit）
〔タンパク質を網羅的解
スペース設計の全自動分析装置〕：協和メデックス／草析用試薬キット〕：島津製作所
野科学
2003・小型電極式グルコース分析装置（アントセンスⅡ）〔酵素
電極式血糖計〕：堀場製作所
2003・アダムスグルコース（GA-1151）〔小型で多様な検体に対応〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2003・血 中 エ ン ド ト キ シ ン 測 定 装 置 ト キ シ ノ メ ー タ ー（MT-5500）〔比濁時間分析法エンドトキシン試験装置〕：
和光純薬工業
2003・メディセーフミニ（MS-GR102）〔操作が簡単で使いやすい〕：テルモ
2003・自動血球計数装置（LC-141SPS）〕：堀場製作所
2004・スポットケム CL（SB-1420）〔簡便な操作性，微量血測定〕： 2004・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ET-5000）
アークレイ／日本光電〔比濁法を含む局方三法でエンドトキシン測定〕：和光純
2004・スポットケムCL（SB-1430）〔白血球の5分類が可能〕：アー
薬工業
2004・近赤外光イメージング装置（NIRStation）〔より広範囲で
クレイ／日本光電
2004・小型電極式グルコース分析装置（アントセンスⅢ）〔一滴
高精度な脳機能計測〕：島津製作所
2004・無細胞タンパク質合成試薬キット（Transdirect insect（5μL）全血のままで検査〕：堀場製作所
2004・自動血球計数 CRP 測定装置（LC-178CRP）〔血球計数とcell）〔タンパク質を網羅的解析用試薬キット〕：島津製CRP 濃度を測定〕：堀場製作所
作所
2004・免疫発光測定装置（ビトロス ECiQ）〔全自動化学発光免 2004・Whole human DNA マイクロアレイ（G4112A）〔1 アレイ
疫測定システム，輸入品〕：オーソ・クリニカル・ダイにヒト全遺伝子のプローブを搭載，輸入品〕：アジレント・
アグノスティックス／ Ortho-Clinical Diagnostics, Inc
テクノロジー
2004・血 液 型 分 析 装 置（ オ ー ソ オ ー ト ビ ュ ー （Innova）） 2004・ALP（G3001A）〔マイクロチップ型電気泳動による自動〔タッチスクリーン等，簡易操作輸血検査機器，輸入分析，輸入品〕：アジレント・テクノロジー〔発現解析ソフトのゴール
品〕：オーソ・クリニカル・ダイアグノスティックス／ 2004・GeneSpring GX（G1745AA）
デンスタンダード，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
Ortho-Clinical Diagnostics, Inc137

医 用 分 析 機 器
生2005 年
平 17

化

学

自

動

分

析

装

置

2005・オーションイレブン（AE-4020）〔自動尿分析装置 セミ
オートタイプ〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2005・自 動 分 析 装 置「BioMajesty」（JCA-BM8060，BM8040，
BM8020）〔スーパーマルチ，50ul 超微量分析〕：日本電子
2005・ポケットケム UA（PU-4010）〔小型尿分析装置〕：アーク
レイ／アークレイファクトリー
2005・便潜血分析装置（FOBITWAKO）〔迅速，簡便，多機能で信頼できる結果を提供〕：和光純薬工業／ヒロセ電子
システム
2005・乾式臨床化学分析装置（ビトロス 350）
〔コンパクト型ドライケミストリー自動分析機，輸入品〕：オーソ・ク
リ ニ カ ル・ ダ イ ア グ ノ ス テ ィ ッ ク ス ／ Ortho-Clinical
Diagnostics, Inc
2006・臨床化学自動分析装置（TBA-c16000）〔最大 1800 テスト／時，免疫オプション可〕：東芝メディカルシステムズ
2006・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM6050）〔1200 テスト／時，50ul 超微量分析〕：日本電子2006・オーションマックス（AX-4030）〔全自動尿分析装置〕：
アークレイ／アークレイファクトリー

2007・自 動 分 析 装 置「BioMajesty」（JCA-BM9130）〔血糖とHbA1c の同時分析，超微量化〕：日本電子2007・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM8030）〔スーパーマルチ，50ul 超微量分析〕：日本電子2007・生化学自動分析装置（AU680）〔超微量分析による低ラン
ニングコスト〕：ベックマン・コールター・バイオメディ
カル／ベックマン・コールター・三島
2007・富士ドライケム（4000 シリーズ）〔小型全自動ドライケミ
ストリー〕：富士フイルム

2008・生化学自動分析装置（AU480）〔高機能・低ランニングコ
スト・省スペース〕：ベックマン・コールター・バイオ
メディカル／ベックマン・コールター・三島

138

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置

2005・移動式免疫発光測定装置（パスファースト）〔全血を用いた高感度免疫 POC 装置〕：三菱化学メディエンス／プレシジョン・システム・サイエンス
2005・エムシーファン（HR300）〔血液流動性を数値化〕：アー
クレイ／アルファテクノ
2005・ルミパルス Presto Ⅱ〔最大 240 テスト／時間の検体処理能力〕：富士レビオ／アロカ

そ の 他 の 医 用 分 析 装 置
2004・DNA マイクロアレイスキャナ（G2565BA）〔5 桁のダイナ
ミックレンジで発現解析，輸入品〕：アジレント・テク
ノロジー
2005・自動輸血検査装置（PK7300）〔大量処理・データーの高 2005 年
平 17信頼性〕：ベックマン・コールター・バイオメディカル／ベックマン・コールター・三島
2005・Ampdirect Plus〔DNA 精製を不要とする PCR 用試薬〕：
島津製作所

2006・アダムス A1c（HA-8170）〔省メンテナンス性〕：アークレ 2006・近赤外光脳機能イメージング装置（FOIRE-3000）〔近赤イ／アークレイファクトリー
外光を利用して脳活動の非浸襲イメージングが可能〕：
2006・スポットケム IM（SI-3511）〔小型，省メンテナンス〕
：アー
島津製作所
2006・ノロウイルス検出試薬キット〔糞便から直接ノロウイル
クレイ／アークレイファクトリー
2006・血球計数装置（LC-660Microsemi）〔赤血球，白血球数な
ス遺伝子を増幅検出〕：島津製作所
2006・マルチパック DNA マイクロアレイ（G4110F）〔1 スライ
ど 18 項目を計測〕：堀場製作所
2006・スポットケムバイダス（SV-5020）〔蛍光酵素免疫測定法，
ドに複数のアレイを搭載し低コスト，輸入品〕：アジレ
輸入品〕：アークレイ／シスメックスビオメリュー
ント・テクノロジー
2006・全自動臨床検査システム（STACIA）〔7 種の測定方法が可能なインテグレート装置〕：三菱化学メディエンス／旭国際テクネイオン
2007・スポットケム D-Conceept D-00（SD-9810）〔拡張性，簡 2007・オズモステーション（OM-6060）〔自動浸透圧測定装置〕：
便な操作〕：アークレイ／アークレイファクトリー
アークレイ／アークレイファクトリー
2007・スポットケム D-Conceept D-01（SD-3810）〔拡張性，簡 2007・タ ン パ ク 質 の N 末 端 配 列 解 析 キ ッ ト（OFRinder-NB
便な操作〕：アークレイ／アークレイファクトリー
Mass Sequencing Kit）
〔タンパク質を網羅的解析用試薬
2007・スポットケム D-Conceept D-02（SD-4810）〔拡張性，簡キット〕：島津製作所
2007・リアルタイム PCR（MX3000 ／ 3005P）〔次世代型リアル
便な操作〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2007・血球計数装置（MYTHIC 18（J））
〔小型化，検体量 9.8μL，
タイム PCR，輸入品〕：アジレント・テクノロジー
試薬消費を少量化，，輸入品〕：エイアンドティー／オル
フェ社（Orphée, フランス）
2007・サンク HbA1c〔酵素法，全血測定可能〕：アークレイ／
アークレイファクトリー
2007・自動血球計数装置（Pentra DX 120 LC-6011）〔1 時間に120 検体と高速処理〕：堀場製作所
2007・免疫分析装置（SphereLight Wako）〔高機能簡便な全自動化学発光酵素免疫分析〕：和光純薬工業／アロカ
2008・全自動血液凝固分析装置（CG101）〔100 テスト／時，測 2008・血糖自己測定（SMBG）機器（ブリーズ 2）〔10 センサーを定項目による処理速度低下なし〕：エイアンドティー
1 枚のディスクにパック，輸入品〕：バイエル薬品／バ
2008・スポットケム D-Conceept D-03（SD-4820）〔拡張性，簡イエル
2008・ダ コ Autostainer Link 48（AS480）〔LAN 機 能 搭 載・
便な操作〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2008・スポットケム IL（SL-4720）〔イムノクロマト法での機器
LIS 接続可能，輸入品〕：ダコ・ジャパン〔携判定による客観的な評価が可能〕：アークレイ／アーク 2008・簡易型エンドトキシン測定システム（Endosafe-PTS）
帯型マイクロ流路エンドトキシン測定，輸入品〕：和光
レイファクトリー2008・自動血球計数 CRP 測定装置（Microsemi LC-667CRP）〔白純薬工業／ Charles River
血球 3 分類を含む血算 18 項目＋ CRP 濃度を計測〕：堀場 2008・バナリストエース〔微量全血（約 4μL）で CRP の測定が可能，測定チップ内で自動的に血漿分離から測定までを製作所
2008・全 自 動 血 液 凝 固 分 析 装 置（COAGTRON-180）〔多彩行う〕：三和化学研究所／ウシオ電機〔ヒ
な 測 定 モ ー ド を 搭 載， 輸 入 品 〕： 協 和 メ デ ッ ク ス ／ 2008・SurePrint G3 マイクロアレイシリーズ（G4447A）
ト CGH を解像度 2.1kbp で解析可能，輸入品〕：アジレン
TrinityBiotech
ト・テクノロジー

139医 用 分 析 機 器
生

化

学

自

動

分

析

装

置

2009・ディスクリート方式臨床化学自動分析装置（ビトロス5600）〔免疫生化学の統合ソリューション，輸入品〕：オーソ・ ク リ ニ カ ル・ ダ イ ア グ ノ ス テ ィ ッ ク ス ／ OrthoClinical Diagnostics, Inc
2009・日立自動分析装置（7180 形（HbA1c 測定機能（オプション）付））〔HbA1c の自動測定を実現〕：日立ハイテクノロ
ジーズ
2009・臨床化学自動分析装置（TBA-c4000）〔最大 206 項目，800
テスト／時〕：東芝メディカルシステムズ
2009・自動分析装置「BioMajesty」（JCA-BM6070）〔2400 テスト／時（含む ISE），60ul 超微量分析〕：日本電子

140

電 解 質 及 び ガ ス 分 析 装 置

医 用 分 析 機 器
血液学関係測定装置及び酵素免疫分析装置
2008・アダムス A1c（HA-8180）〔測定時間 48 秒／検体〕：アー
クレイ／アークレイファクトリー
2008・全自動蛍光免疫測定装置（μTASWako i30）
〔μTAS 方式迅速，微量，高感度免疫測定〕：和光純薬工業
2009・免疫発光測定装置（ビトロス 3600）〔全自動化学発光免疫測定システム，輸入品〕：オーソ・クリニカル・ダイア
グノスティックス／ Ortho-Clinical Diagnostics, Inc
2009・ポケットケム BA（PA-4140）〔本体の軽量化〕：アークレイ／アークレイファクトリー
2009・メディセーフフィット（MS-FR201B）〔人間工学から生まれたフィットカーブ〕：テルモ
2009・メディセーフフィットプロ（MS-FKP01）〔糖尿病関連データをバーコードで一元管理〕：テルモ

そ

の

他

の

医

用

分

析

装

置

2009・i-densy（IS-5310）〔全自動，全血測定〕：アークレイ／アー
クレイファクトリー
2009・ダコ Artisan Link（AR210）〔LAN 機能搭載・LIS 接続
可能，輸入品〕：ダコ・ジャパン
2009・エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ET-6000）〔局方，USP，EP 対応エンドトキシン測定〕：和光純薬
工業
2009・全自動エンドトキシン測定装置トキシノメーター（ETauto5000）〔比濁法比色法全自動エンドトキシン試験装置〕：和光純薬工業
2009・SureSelect Target Enrichment System Human
Whole Exon kit（G3360A 他）〔ヒトの全エキソン領域を取り出し可能，輸入品〕：アジレント・テクノロジー

141

そ の 他 の 機 器
概説

この分類に入る主要なものとしては，粒度分布・粒子比表面積等を測定する微粒子測定装置，磁化率・密度・粘弾性等を測定する物性測定装置，各種分析装置の附属装置，ラボオートメーション機器等がある。
微粒子測定装置の発展は，ひとつには，金属，ファインセラミックス，高分子等の各種の材料として，微粒子が広く用いられるようになり，微粒子の特性をより正確に測定し，管理することが必要になってきたことによる。粒度分布測定では，
1970 年頃より遠心沈降式とコールター式（電気抵抗測定式）のものが実用化され，ひとつの主流として，0.01μm 領域までの測定に用いられてきた。1985 年頃からは，レーザ光回折・散乱式及び光子相関法式の粒度分布測定装置も実用化され，これ等もひとつの主流をなしてきた，回折・散乱式は 0.03μm ～ 100μm 程度まで，光子相関法式は nm 領域までの測定に用いられている。
一方，超 LSI 製造技術の進歩とともに，それに用いる超純水・薬液及び空気・ガス中の極微量の微粒子の計測・管理が大きな問題となってきた。1975 年頃からレーザ散乱式の，主として輸入品の微粒子カウンターが 0.5μm 程度までの微粒子の検出・測定に用いられ始めた。超 LSI のデザイン・ルールの微細化とともに，1985 年頃からは 0.2μm 級の国産品も実用され始め，高精度化を重ねて現在では 0.05μm 級のものも用いられている。また，1990 年代には，ミクロ，マクロ両方向に測

微

粒

子

測

定

装

置

物

性

測

定

装

置

1917 年
大61950 年
昭 25

1950・自動粒度測定器（2 形）〔沈降天秤式〕：島津製作所

1950・磁化率測定装置〔天秤法〕：島津製作所

1953・微粒子測定装置（コールターカウンターモデル A 型）
〔コールターカウンター発売開始〕：ベックマン・コール
ター1955 年
昭 30

1955・粉体比表面積測定装置：島津製作所

1957・自動指示式比表面積測定装置：島津製作所
1958・微量融点測定装置（MP-S1）〔熱板式〕：柳本製作所
1960 年
昭 35

1960・研究室用粘度計〔輸入品〕：コーディックス／コントラバス社

1962・粒度分布自動測定装置（RS-11）〔比重天秤式〕：島津製作所

1965 年
昭 40

1966・平間微粒子記録測定装置〔液体用〕：平間理化研究所
1967・篩分け式粒度分布測定装置：島津製作所

142

1962・自動記録式磁化率測定装置〔ファラデー法〕：島津製作所
1963・蒸気圧式オスモメータ（301，302）〔分子量測定，輸入品〕：
アムコ／メクロラブ社
1964・メンブレン式オスモメータ（501，503）〔分子量測定〕：アムコ／メクロラブ社
1965・振動式液体密度（比重）計〔輸入品〕：シイベル機械／アントンパール社
1965・軟化点測定装置（AMP シリーズ）〔樹脂等測定用〕：柳本製作所
1966・自動融点測定装置（FP-62）〔輸入品〕：シイベル機械／メ
トラー社

そ の 他 の 機 器

定範囲が拡がり性能が向上している。
物性測定装置は磁化率・密度・粘弾性等の測定から工業用サーモグラフィーに至るまで多岐にわたり，いずれも，輸入品，国産品ともに市場の要求に応じて，高性能化がはかられてきている。1980年は半導体技術の進歩とともに，カソード・ルミネッ
センス測定装置，線幅測定装置，過渡容量測定による半導体中不純物測定装置，半導体材料や IC 関連の物性測定装置が次々に実用化された。
1990 年代には，各産業分野のハイテクノロジー化と地球環境保全の要求を受けて，非接触膜厚計，フィルムや結晶高分子の物性試験機，マッピングや画像処理，有害物質の溶出試験，イムノアッセイなど，一層多岐にわたる物性測定装置が開発された。また1984年頃から，分析操作の自動化要求の流れに沿って，ラボオートメーション用ロボットが出始めた。これらは，分析機器やパーソナルコンピュータの進歩と相まって急速な発展をとげ自動反応装置や自動評価装置が実用化されると共に共通の OS で操作性が格段に向上した。
2000 年代には，自動化・高性能化ではそれまで流れを引き継ぎながら，新たに，ナノテクノロジーの進展に伴って，関連分析機器が開発された。ナノ粒子径測定装置はその代表である。ほかにも試料の微量化，微細化に対応する天びんなどの物
性評価装置が開発されている。なお，ナノ粒子径測定装置では，新しい原理に基づく製品が開発されており，分析機器の技
術開発史という観点からも特筆できることがらである。

附属
装置
1917・X 線分析装置用管球〔世界トップシェア，超寿命と安定性に定評あり，輸入品〕：スペクトリス㈱パナリティカ
ル事業部／自社（オランダ）

そ

の

他

の

装

置
1917 年
大61950 年
昭 251955 年
昭 30

1956・ハンドピストンビュレット（274型）〔手動のビュレット〕：
メトローム・シバタ

1960・オートアナライザー（１型）〔世界で最初の自動化学分析装置日本上陸〕：ビーエルテック／ビーエルテック（旧日本テクニコン）

1964・窒素自動分析装置〔DUMAS 法の自動化，輸入品〕：安部商事／コールマン社
1965・CHN コーダ（MT-1）〔C，H，N 分析〕：柳本製作所

1960 年
昭 35

1965 年
昭 40

1966・CN コーダ（MT-500）〔C，N 分析〕：柳本製作所

143

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

1970 年
昭 45

物
性
測
定
装
1970・流動電位測定装置（SP-10A）：島津製作所

置

1971・浮遊粒子粒度分布測定用カスケードインパクタ（CI シ 1971・工業用サーモグラフィー装置（JTG-IA）日本電子
リーズ）島津製作所
1972・遠心沈降式粒度分布測定装置（CP-50）〔遠心機組込形〕： 1972・メカニカルスペクトロメータ（RMS）〔輸入品〕：ジャス
島津製作所
コインタナショナル／レオメトリック社
1973・全自動密度測定装置：ヤマト科学

1974・粒度分布測定装置（コールター TA2 型）〔電気抵抗法〕：
ベックマン・コールター
1975・工業用サーモグラフィー装置（JTG-1B ／ JBL）：日本電子

1975 年
昭 50

1976・双子型高精度密度測定装置〔双子振動子使用〕：イーエ
スディラボラトリ／日本合成ゴム
1976・自動密度比重計（DA-101B）：京都電子工業
1977・自然発火試験装置（SIT-1）：島津製作所
1977・澱粉物性測定機（フォトペーストグラフ）〔加熱，透過光方式〕：平間理化研究所

1979・微粒子解析装置（SA-MID）〔動的顕微鏡法〕：島津製作所
1980 年
昭 55

1979・精密回転式粘度計（ロスビスコ RV 型）英弘精機

1980・遠心沈降式粒度分布測定装置（SA-CPA-20）〔マイコン化〕：島津製作所

1982・キューリーポイントパイロライザー（JHP-3）
：日本分析
工業

1985 年
昭 60

144

1983・粒度分布測定装置（コールター N4 型）〔サブミクロン粒
子アナライザー〕：ベックマン・コールター
1984・遠心沈降式粒度分布測定装置（SA-CP3）〔遠心運動誤差補正〕：島津製作所
1985・微粒子カウンター〔超純水用〕：富士電機
1985・ダイナミック光散乱光度計（DLS-700）〔粒径，分子量測定〕：大塚電子1985・コロイド粒子自動測定装置（SDI）：電気化学計器
1986・粒度分布測定装置（コールターマルチサイザー型）〔電気抵抗法〕：ベックマン・コールター
1986・自動粒度分布測定装置（CAPA-700）〔0.01μm 粒度分布〕：
堀場製作所
1986・超純水中パーティクルカウンター（PLCA-120）〔レーザ光散乱法〕：堀場製作所
1987・レーザーゼータ電位計（ELS-800）〔ゼータ電位・粒径測定（電気泳動光散乱法）〕：大塚電子
1987・粒度分布測定装置（SALD-1000）〔レーザ回折式〕：島津製作所
1987・粉体，固体用高精度自動体積計（VM-100）〔He 気相置換法〕：エステック

1984・工業用サーモグラフィー装置（JTG-3000 シリーズ）：日本電子
1985・超精密形 DO ／ O2 ／温度メータ（UD-1）〔タテ形撹拌付
電極〕：セントラル科学

1986・高性能カソードルミネッセンス専用装置（CLA-1000）：
島津製作所
1986・薄膜熱変形測定装置：真空理工

1987・粘弾性測定装置〔輸入品〕：コーディックス／コントラバス社
1987・粘弾性測定装置〔輸入品〕：コーディックス／レオテック
1987・共焦点レーザ走査蛍光顕微鏡〔輸入品〕：日本バイオラッドボラトリーズそ の 他 の 機 器
附属装置1970・X 線分析用半自動微粉砕装置（HSM-SF）〔輸入品〕：MK
ストルアス／ Herzog 社

そ
の
他
の
装
置
1970・土壌，泥土中硫化物測定セット（ヘドロテック -S）〔検知管式〕：ガステック
1970・オートアナライザー（２型）〔オートアナライザー１型後継機器〕：ビーエルテック／ビーエルテック（旧日本テ
クニコン）1970 年
昭 45

1973・滴定用自動ビュレット（マルチドジマット E415 型）〔滴定ユニット交換方式の電動ビュレット，輸入品〕：メト
ロームシバタ1975・校正用ガス調整装置（PD-1）〔浸透拡散管，拡散管式〕：
ガステック
1975・X 線分析用半自動ガラスビード作製装置（HAG-12）〔輸入品〕：MK ストルアス／ Herzog 社

1975 年
昭 50

1977・パルス核磁気共鳴装置（PR103）〔輸入品〕：アステック

1978・自動油脂安定性試験装置（617）〔食用油脂の安定試験用，
輸入品〕：メトローム・シバタ／メトローム社
1979・固体油脂計（SFC-900）〔パルス NMR 式，輸入品〕：アス
テック
1980・迅速試料湿式分解装置（QD-01）〔マイクロ波利用〕：三菱
化成

1980 年
昭 55
1981・フローインジェクション分析装置（FIA05）〔輸入品〕：
日本ゼネラル／ティケータ
1982・電子式水分計（EB-280MOC）〔セラミックヒータ採用〕：
島津製作所
1982・DNA シンセサイザー〔DNA 合成装置，輸入品〕：和光純
薬工業／バッケム社

1984・ラボオートメーション用ロボット（ZYMATE100）〔輸入品〕：日製産業／ ZYMARK 社
1985・X 線分析用半自動ガラスビード作製装置（HAG-AUT） 1985・土壌用陽イオン交換容量測定装置：藤原製作所〔輸入品〕：MK ストルアス／ Herzog 社

1985 年
昭 60

1986・ラボオートメーション用ロボット（Biomek1000）〔光学
測定用，輸入品〕：ベックマン
1986・バイオアナライザシステム（BAS-1）：電気化学計器
1986・オートアナライザー（TRAACS）〔海水の栄養塩測定装置，輸入品〕：ビーエルテック
1987・ぺルチエ型半導体検出器〔電子冷却式検出器，輸入品〕： 1987・水分・油分計（ADC-80 ／ FAT）
〔乾燥-自動抽出，輸入品〕：
川鉄商事／ KEVEX 社
アステック
1987・湿式分解装置（MDS-810）〔マイクロウェーブ，密閉分解， 1987・ラボオートメーション用ロボット（Lab，ROBOT2）〔量輸入品〕：アステック産型〕：イーエスディラボラトリ
1987・水質／土壌／食品分析器〔輸入品〕：セントラル科学／
ハック社

145

そ の 他 の 機 器

1990 年
平2

146

微
粒
子
測
定
装
置
1987・粒径分析システム（LPA-3000 ／ 3100）〔レーザ動的光散乱法〕：大塚電子
1988・粒度分布測定装置（LA-500）〔レーザ光回折式〕：堀場製作所
1988・粒度分布測定装置（SALD-1100）〔レーザ回折式 0.1μm〕：
島津製作所
1989・遠 心 沈 降 式 粒 度 分 布 測 定 装 置（SA-CP4L）〔遠心力
12,000G〕：島津製作所
1989・超純水パーティクルカウンター（PLCA-310）〔レーザ散
乱光法，0.1µm〕：堀場製作所
1989・液体パーティクルカウンター（PLCA-520）〔レーザ散乱光法〕：堀場製作所
1989・粒度分布測定装置（コールターデルタ 440）
〔ゼータ電位測定装置〕：ベックマン・コールター
1990・遠 心 沈 降 式 粒 度 分 布 測 定 装 置（SA-CP4）〔最大遠心力12200G，測定範囲 0.01 ～ 500μm〕：島津製作所
1990・粒度分布測定装置（コールター LS シリーズ）〔レーザー
回折・散乱法〕：ベックマン・コールター
1990・粒度分布測定装置（LA-700）〔測定範囲 0.04 ～ 262μm に拡大〕：堀場製作所

物

性

測

定

装

置

1988・粘弾性スペクトロメータ（SDM5500）〔マルチタスク処理方式〕：セイコー電子工業
1988・線幅測定装置（LPM）〔レーザ走査型，輸入品〕
：セイコー
電子工業
1989・半導体中不純物測定装置（DA-1500）〔過渡容量分光法〕：
堀場製作所
1989・工業用サーモグラフィー装置（JTG-400 シリーズ）：日本
電子
1989・ディファレンシャル粘度計（100 型）〔ホイストンブリッジ式，輸入品〕：アステック
1989・密度比重計（DA-300）〔恒温機能（4 ～ 90℃）内蔵 4 桁精度／± 1 × 10 - 4g ／ cm3 再現性〕：京都電子工業
1990・精密回転式粘度計（ビスコテスター VT500 型）：英弘精
機
1990・細孔分布測定装置（ポアサイザ 9320）〔外部コントロールを容易にした普及型〕：島津製作所
1990・自動蒸気吸着量測定装置（BELSORP18）〔定容量法で吸着等温線を自動測定〕：日本ベル1990・密度 比重 計（DA-310）〔 恒温機 能（4 ～ 70℃）内蔵± 1 ×
10 - 5g ／ cm3 再現性〕：京都電子工業
1991・レーザー回折式粒度分布測定装置（SALD-2000）〔測定範 1991・高分子フィルムダイナミックス解析装置（DYNA-100）
囲 0.03 ～ 280μm〕：島津製作所〔構造ファクター（相関長）測定，結晶高分子の定性化〕：
大塚電子
1991・乾式自動密度計（アキュビック 1330）〔ガス置換法，高精度測定〕：島津製作所
1991・動 的 粘 弾 性 測 定 装 置（SDM5600 シ リ ー ズ，DMS110，
120，210）〔フーリエ変換型検出〕：セイコーインスツル
メンツ
1991・高圧ガス吸着量測定装置（BELSORP-HP）〔10kg ／ cm2
迄のガス吸収等温線を自動測定〕：日本ベル
1991・高温用動的弾性率測定装置（DES-11）〔RT ～ 1500℃ のヤング率，剛性率，ポアッソン比等〕：京都電子工業
1991・高圧吸着量測定装置（BELSORP-HP）〔定容量型高圧吸着装置〕：日本ベル
1992・粘度粒弾性測定装置（レオストレス RS50，SR100 型）： 1992・自動表面積測定装置（GEMINI2360）〔動的定圧法を用い
堀場製作所
た多点法〕：島津製作所
1992・粒度分布測定装置（LA-910）〔測定範囲 0.02 ～ 100μm に 1992・誘電率測定装置（DES100）〔フーリエ変換型誘電率測定〕：
拡大〕：堀場製作所
セイコーインスツルメンツ
1992・赤外線応力画像システム（JTG-8000）：日本電子
1993・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-2000A）〔測定範 1993・テクスチャー・アナライザー（TAXT2）〔小型精密圧縮
囲 0.03 ～ 700μm〕：島津製作所
引張試験機〔輸入品〕：英弘精機／イギリス・SMS 社
1993・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-3000）〔測定範囲 1993・電子分析天びん（AEG-SM）〔感度 0.01mg〕：島津製作所
1993・上皿式ミクロ電子天びん（AEM-5200）〔全電子式高分解
0.1 ～ 2000μm〕：島津製作所
能〕：島津製作所
1993・ロ ー ド セ ル 式 電 子 は か り（EL-H，EL-120H）〔EL-H は12000 分の 1 の高分解能，EL-120H は 10mg の最小読み取り〕：島津製作所
1993・半導体ウエハ用電子天びん（TFT-200）〔非接触で膜厚，エッチング量測定〕：島津製作所
1993・ミクロ電子天ビン（AEM-5200）〔5.2g ／ 1μg の高感度ミ
クロ電子天びん〕：島津製作所
1993・引っ張り試験機（MASTER シリーズ）〔フィルム用〕：三
菱化学／三菱化成
1993・粉体抵抗測定システム（MCP-PD41 型）〔任意圧力下での抵抗率測定〕：三菱化学／三菱化成

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ

の

他

の

装

置

1988・マイクロウエーブプロセッサー（H2500）〔病理・電顕用検査装置，輸入品〕：日本バイオラッドラボラトリーズ

1989・土壌挿入式水分計：藤原製作所
1989・純水用全有機体炭素計（TOC-5000）〔燃焼式〕：島津製作所
1989・ポータブル密度比重計（DA-110）〔乾電池駆動のハンディタイプ〕：京都電子工業

1990 年
平2

1991・酸性雨自動採取器（AR- Ⅱ）〔簡便・安価な自動採取器〕： 1991・中形電子天びん（EB-W，KW）〔校正用分銅内蔵，周囲
堀場製作所
温度及び重力加速度補正可〕：島津製作所
1991・ロボット TG ／ DTA（SSC5200RTG220）〔ロボット機構付き〕：セイコーインスツルメンツ
1991・ペプチド合成装置〔マルチピン方式，輸入品〕：和光純
薬工業／コセルコミモトープ
1991・オートアナライザー（AACS）〔汎用普及型連続流れ分析装置〕：ビーエルテック

1993・水素ガス発生装置（75 シリーズ）〔パラジュウムメンブレンを使用したセル，99.99999% 以上の純度を実現〕：ワッ
トマン・ジャパン

1992・拡張型熱機械的分析装置（TMA ／ SS150）〔大変位計測及び自動測定型〕：セイコーインスツルメンツ
1992・前処理 ･ 自動化システム装置（前処理 ･ 自動化システム
装置）〔イージーオーダーメイドで提供します〕：システ
ム・インスツルメンツ
1993・マッピングシステム（MCP-S620 型）〔薄膜の膜厚分布〕：
三菱化学／三菱化成

147

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

1994・パーティクルアナライザ（PT1000）〔大気圧マイクロ波
誘導プラズマにより微粒子 1 個ずつの元素組成を分析す
る〕：横河電機1995 年
平7

物
性
測
定
装
置
1993・密度比重測定装置（DS-400）〔振動式，自動流路切換〕：
平沼産業
1994・精密回転式粘度計（ビスコテスター VT550 型）：英弘精機
1994・屈 折 計（RA-510）〔 恒 温 機 能（15 ～ 40 ℃）内 蔵 ± 2 ×
10 - 5nD 再現性，測定 1.32 ～ 1.58nD〕：京都電子工業

1995・フロー式粒子像分析装置（FPIA-1000）：シスメックス
1995・流動電位測定装置（ZP-20）〔流動電位によるゼータ電位
1995・比表面積・細胞分布測定装置（コールター SA シリーズ）：
測定〕：島津製作所
1995・自動表面積測定装置（GEMINI2375）〔吸脱着等温線測定
ベックマン・コールター
機能，細孔分布解析機能付〕：島津製作所
1995・極微小表面積測定装置（BELSORP-TCV）〔温度補償型定容量法〕：日本ベル
1996・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-2000J）〔測定範 1996・押出成形試験機（ポリラボシステム）〔輸入品〕：英弘精
囲 0.03 ～ 700μm Windows95 対応〕：島津製作所
機／ドイツハーケ社
1996・粒度分布測定装置（LA-920）〔測定範囲 0.2 ～ 200μm に 1996・粘度粘弾性測定装置（レオストレス RS75，RS150 型）：
拡大〕：堀場製作所
英弘精機
1996・溶出試験モニター（DM-3000）〔フォトダイオードアレイ
方式（6 分岐）（薬剤溶出試験，溶液吸光度変化追跡）〕：大塚電子
1996・自動ポロシメータ（オートポア 9240Win）〔Windows 対応〕：島津製作所
1996・多機能動的粘弾性測定装置（DMS6100）〔静的動的兼用，合成波制御解析，変位フィードバック検出〕：セイコー
インスツルメンツ
1997・レーザー回折式粒度分布測定装置（SALD-200V）〔高性 1997・溶剤安定性評価装置（タービスキャンド MA2000）〔輸入
能・低価格・省スペース 測定範囲 0.5 ～ 100μm）島津製品〕：英弘精機／フランス，フォーマルアクション社
1997・粘弾性アナライザー（VE 型）〔振動チューブフロー式特作所
1997・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-3000S）〔測定範
殊レオメータ〕：ジャスコインタナショナル
1997・高温型動的粘弾性測定装置（DMS6300）〔800℃動的粘弾
囲 0.08 ～ 3000μm〕：島津製作所
性測定〕：セイコーインスツルメンツ

1998・レーザー回折式粒度分布測定装置（SALD-2100）〔測定範 1998・相対粘度計（Y501）〔2 つのキャピラリーカラムを応用し
囲 0.03 ～ 1000μm，Windows 対応〕：島津製作所
ポリマーの相対粘度を測定する〕：旭テクネイオン
1998・レーザー回折式粒度分布測定装置（SALD-200V ER）〔高 1998・押出成形試験機（ポリドライブ）〔輸入品〕：英弘精機／
性能・低価格・省スペース，測定範囲 0.25 ～ 350μm，
ドイツハーケ社
1998・自動接触角測定装置（OCA20）〔輸入品〕：英弘精機／ドWindows 95 ／ 98 対応〕：島津製作所
1998・超音波式 粒度分布・ゼータ電位測定装置（DT-1200）〔最イツデータフィジックス社〔半導体式，輸入品〕：英弘
高 50vol% 濃度の試料を希釈せず測定可能，輸入品〕：日 1998・においセンサー（NST3320）
精機／ NST 社
本ルフト／ Dispersion Technology, Inc.
1998・自動比表面積／細孔分布測定装置（トライスター 3000）〔3 ポートまで独立同時測定，低比表面積測定にも対応〕：
島津製作所
1998・抵抗率計（ハイレスタシリーズ）〔1013 Ωの高抵抗測定〕：
三菱化学／三菱化成
1998・屈 折 計（RA-500）〔 恒 温 機 能（15 ～ 70 ℃）内 蔵 ± 1 ×
10 - 4nD 再現性，測定 1.32 ～ 1.7nD〕：京都電子工業
1998・ブ リ ッ ク ス 計（RA-410）〔 ± 0.01% 再 現 性， 測 定 0 ～85%Brix・0 ～ 76%HFCS42・0 ～ 80%HFCS55〕： 京 都
電子工業

148

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ

の

他

の

装

置

1994・特定計量器（EB-VW，KVW シリーズ）〔新計量法に対応
した電子天びん〕：島津製作所
1994・自動表面積所（SA-6200）〔BET 法による粉体長面積測定
装置〕：堀場製作所
1994・Nd:YAG レーザーアブレーションシステム（LUV266）〔初の市販 UV レーザーアブレーションシステム，輸入品〕：
イー・エス・アイ・ジャパン／旧マーチャンテック社（現イーエスアイ社）
1995・比重測定装置（SGM-300P）〔自動的に比重測定〕：島津製 1995 年
平7
作所
1995・上ざら電子天びん（BL シリーズ）〔低価格，精密天びんと同じ電磁式を採用〕：島津製作所
1995・自動反応装置（LABMAX）〔研究室用自動反応装置〕：メ
トラー・トレド
1996・自動身長体重計（AHW-3A）〔新計量法に対応した身長体
重計〕：島津製作所
1996・Nd:YAG レーザーアブレーションシステム（LUV266）〔フ
ラットクレーター実現，輸入品〕：イー・エス・アイ・ジャ
パン／旧マーチャンテック社（現イーエスアイ社）
1996・オンラインモニター（ダイアモン TNTP）〔全窒素・全リ
ンオンラインモニター装置，輸入品〕：ビーエルテック

1998・データキャプチャー
（DU600 ／ 700）
〔Windows95 PCデー
タ転送ソフトウェア〕：ベックマン・コールター

1997・パーツカウンタ（個数天びん）（BL-PC シリーズ）〔電磁式を採用した，高精度高速応答パーツカウンタ〕：島津製作所
1997・電子上ざら天びん（BX ／ BW シリーズ）〔時計機能内蔵，ISO9000・GLP・GMP システム構築に最適〕：島津製作所
1997・分析天びん（AW ／ AX ／ AY シリーズ）〔フルディジタル制御により，高い安定性を実現〕：島津製作所
1997・ガスボリューム計（GVA-500）〔手動測定を全自動化した飲料ボトルのガス測定〕：京都電子工業
1998・吸 入 製 剤 標 準 試 験 装 置（ACI ／ MSLI）〔USP ／ EP 準
拠 の 標 準 試 験 装 置， 輸 入 品 〕： 日 本 ル フ ト ／ Copley
Scientific Inc.

149

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

1999・高感度濁度・粒子径測定装置（LATS-1）〔濁度と粒子径分布を同時に 24 時間連続測定〕：島津製作所
1999・動的光散乱式粒径分布測定装置（LB-500）〔3nm ～ 6μmの広い粒子径範囲を測定〕：堀場製作所

2000 年
平 12

2000・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-7000）〔幅広い粒
子径範囲を連続的に測定〕：島津製作所

2001・濃厚系粒径アナライザー（FPAR-1000）〔光散乱法で濃厚
系ナノ粒子径測定を対象〕：大塚電子
2001・パーティクルアナライザ（DP-10000）〔微粒子の組成と粒子径，個数を計測〕：堀場製作所

150

物
性
測
定
装
置
1998・2 成分吸着量測定装置（BELSORP-BG）〔２成分同時吸着量測定装置〕：日本ベル
1999・密度比重計（DA-505）〔自動粘度補正機能内蔵，SD：1 ×
10 - 5g ／ cm3 再現性〕：京都電子工業
1999・高感度磁気イメー ジイングシステム（SQUID：SFI2000）〔極低温での高感度磁気測定〕：セイコーインスツルメン
ツ1999・密度比重計（DA-520）〔自動粘度補正機能内蔵，SD：1 ×
10 - 6g ／ cm3 再現性〕：京都電子工業
1999・触媒反応装置（BEL-REA）〔小型触媒反応装置〕：日本ベ
ル
1999・高圧ガス吸着量測定装置（MSB-AD-H）〔高圧重量法吸着装置，輸入品〕：日本ベル／ Rubotherm

2001・高分子膜水分収着量／伝導度同時測定装置（MSB-AD-VFC）〔PEFC プロトン電導膜分析装置〕：日本ベル2001・粘度・レオロジー測定装置（R ／ S レオメータ CPS 型・
CC 型）〔簡便・短時間でのレオロジー測定が可能，輸入品〕：日本 S.T. ジョンソン商会／ブルックフィールド社
2001・自動比表面積／細孔分布測定装置（BELSORP-mini Ⅱ）〔次世代型死容積連続測定定容量型吸着装置〕：日本ベル2001・金属分散度測定装置（BEL-METAL-3）〔3 検体金属分散度測定装置〕：日本ベル2001・ポータブル密度比重計（DA-130）〔サンプリングの容易な新機構採用〕：京都電子工業

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

2001・全自動微粉砕装置（HP-MS）〔試料共洗い，水洗い，冷却機構付き，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ
HERZOG 社
2001・全自動微粉砕装置（HP-MA）〔モジュラータイプ，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
2001・全自動微粉砕・プレス装置（HP-MP）〔安価，コンパクト
でラボの省力に最適，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
2001・全自動プレス装置（HP-PS）〔共プレス，ダブル計量，マイラーフィルム被服機構付き，輸入品〕：ハルツォク・ジャ
パン／ドイツ HERZOG 社
2001・全自動プレス装置（HP-PA）〔モジュラータイプ，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社

そ

の

他

の

装

置

1999・全自動油脂安定性試験装置（743）〔Windows 対応の食用
油脂安定試験用，輸入品〕：メトローム・シバタ／メトロー
ム社
1999・ディスク遠心式 粒度分布測定装置（DC シリーズ）〔驚異の分解能，輸入品〕：日本ルフト／ CPS InstrumentsInc.
1999・Nd:YAG レーザーアブレーションシステム（LUV213）〔213nm レーザーアブレーション，輸入品〕：イー・エス・アイ・ジャパン／旧マーチャンテック社（現イーエスア
イ社）
1999・エキシマ・レーザーアブレーションシステム（LUV193）〔193nm エキシマレーザーアブレーション，輸入品〕：
イー・エス・アイ・ジャパン／旧マーチャンテック社（現イーエスアイ社）
2000・電気透析純水製造装置（PWE-500）〔イオン交換樹脂を連 2000 年
平 12続再生〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・蒸留水製造装置（GS-2000）〔イオン交換水の直接採水が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・滴下・分注用特殊ニードル（ノズル）（マルチノズル（MN）
シリーズ）〔精緻のクオリティを追求した滴下・分注用
特殊ノズル〕：武蔵エンジニアリング
2000・蒸留水製造装置（GS-5000）〔約 5L ／ h で蒸留水を精製〕：
アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・ロードセル式電子台はかり（LDS シリーズ）〔流通現場向けに高精度で使いやすさを追求〕：島津製作所
2000・顕微鏡電気泳動法式 ゼータ電位測定装置（Model 502）
〔低価格で簡便に測定可能〕：日本ルフト
2000・分散安定性分析装置（LUMiFuge シリーズ）〔最高 8 検体の分離挙動を同時に測定可能，輸入品〕：日本ルフト／
L.U.M.GmbH
2000・蒸留水製造装置（GSH-2000）〔蒸留水を高純度イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・蒸留水製造装置（GSH-5000）〔蒸留水を高純度イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2000・流動電位方式 ゼータ電位測定装置（Zeta CAD）
〔繊維，
フィルター，平板試料の測定が可能，輸入品〕：日本ルフト／ CAD Instrument Inc.
2000・炭素・硫黄分析装置（EMIA-V シリーズ）〔鉄鋼，非鉄金
属中の炭素・硫黄を分析〕：堀場製作所
2000・酸度計（CAM-500）〔短時間で果汁の酸度を繰返して測定可能〕：京都電子工業
2001・蒸留水製造装置（GSR-5000）〔蒸留の前処理に RO 膜を採用〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2001・水分・脂肪分測定装置（SmartTrac）〔マイクロ波乾燥と核磁気共鳴装置で測定，輸入品〕：アステック／米国
CEM 社
2001・Nd:YAG レ ー ザ ー ア ブ レ ー シ ョ ン シ ス テ ム（UP213，
UP266）〔最も普及している深UV機，輸入品〕：イー・エス・アイ・ジャパン／旧ニューウエーブリサーチ社（現イーエスアイ社）
2001・蒸留水製造装置（GSR-2000）〔前処理に RO 膜を採用〕：
アドバンテック東洋／東洋製作所
2001・水槽水直結型超純水装置（Direct-Q）〔水道水から 1 台で超純水を精製，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポアコー
ポレーション151

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

2002・ファイバー光学動的光散乱光度計（FDLS-3000）〔高出力
レーザを塔載した動的光散乱光度計〕：大塚電子

物

性

測

定

装

置

2002・ロードセル式パーソナル電子はかり（EL シリーズ）〔最速 1 秒の高速応答性を実現〕：島津製作所
2002・電磁力平衡式精密電子台はかり（BX ／ BW-K シリーズ）〔WINDOWS 直結可能，ISO ／ GLP ／ GMP 対応〕：島津製作所
2002・分子間相互作用解析装置（D-300）〔QCM-D 法を用いた質量と構造同時リアルタイム解析，輸入品〕：メイワフォー
シス
2002・高分解能型電子上皿天びん（UW ／ UX シリーズ）〔最速
0.7 秒の高速応答実現，温度変化にも強い〕：島津製作所
2002・小型部品・製品評価用卓上試験機（EZ Graph シリーズ）〔コンパクトながら高剛性・高精度〕：島津製作所

2003・触媒分析装置（BELCAT）〔TCD型化学吸着量測定装置〕：
日本ベル
2003・高速引張試験機（ハイドロショット HITS-T10）〔高速で衝撃に対する特性試験〕：島津製作所
2003・電気音響法高濃度ゼータ電位測定装置（ZetaProbe）〔高濃度ゼータ電位測定，輸入品〕：日本ベル／ Colloidal
Dynamics
2003・セミミクロ分析天びん（AUW-D シリーズ）〔安定性・信頼性を究極レベルまで高めた〕：島津製作所

152

そ の 他 の 機 器
附属
装置2001・鉄鋼用自動研磨装置（HB3000）〔銑鉄から鋼迄，全鋼種のディスク試料に対応，輸入品〕：ハルツォク・ジャパ
ン／ドイツ HERZOG 社

そ
の
他
の
装
置
2001・高精度微量滴下・分注用ロータリーポンプ（MT-410）〔エ
ア不要，気泡発生なくチューブ送液可能〕：武蔵エンジ
ニアリング
2001・化学合成装置（Discover）〔マイクロ波によって短時間で合成，輸入品〕：アステック／米国 CEM 社
2001・Milli-Q 水 製 造 装 置（Milli-Q Gradient ／ Element ／Academic ／ Synthesis ／ Biocel）〔アプリケーション毎に装置がラインナップ，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポアコーポレーション
2001・純水装置（Elix UV 3 ／ 5 ／ 10）〔RO+EDI に加え，殺菌用 UV を搭載，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポアコー
ポレーション
2001・動的液体浸透性測定装置（PDA シリーズ）〔紙・インク
の品質評価及びプロセスの最適化，輸入品〕：日本ルフト／ emtec electronic GmbH
2002・全自動計量・粉砕・縮分装置（HP-WCSA）〔大容量試料 2002・ステンレス貯蔵タンク（SOT シリーズ）〔1-10L まで幅広から代表試料の作成，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン
い貯蔵容量ラインナップ〕：武蔵エンジニアリング
2002・遺 伝 子 導 入 シ ス テ ム（Nucleofector）〔高効率高生存率／ドイツ HERZOG 社
2002・非鉄用全自動切削装置（HN-FF）〔伸銅からハイシリコンの電気パルス遺伝子導入，輸入品〕：和光純薬工業／
アルミ迄，異なる品種の非鉄材料に対応，輸入品〕：ハ
AMAXA
2002・逆浸透純水製造装置（GSP-501）〔各種精製水製造装置のルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
2002・分析システムコントロール PC（プレップマスターソフト
前処理装置に最適〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
ウェアー）〔複雑な自動分析システムを無人で制御，輸 2002・エキシマ・レーザーアブレーションシステム（UP193HE）〔193nm エキシマレーザーアブレーション，輸入品〕：
入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
イー・エス・アイ・ジャパン／旧ニューウエーブリサー
チ社（現イーエスアイ社）
2002・逆浸透純水製造装置（PWR-501）〔精製 RO 水を高純度イ
オン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2002・逆浸透純水製造装置（PWR-1601）〔RO 水をさらに高純度
イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製
作所
2002・逆浸透純水製造装置（GSP-1601）〔各種精製水製造装置の前処理装置に最適〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2002・炭素 ･ 窒素同時定量装置（JM1000CN）〔CN 独立 2 検出器
搭載〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2002・蒸留水製造装置（RFD250RA）〔蒸留の前処理に RO 膜を採用〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2002・オートアナライザー（SWAAT）〔汎用普及型連続流れ分
析装置〕：ビーエルテック
2002・SPM モニタ（CS-150）〔半導体製造洗浄工程の SPM 溶液
濃度モニタ〕：堀場製作所
2002・密度標準液〔液中秤量法による JCSS 認定密度標準液〕：
京都電子工業
2002・高速溶媒抽出装置（ASE-100）〔ワンショットタイプ，輸入品〕：日本ダイオネクス／ダイオネクス社
2003・超高温サーキュレーター（HT30-M1+Cu）〔最大 +350℃ 2003・ティシュー・テック VIP5 ジュニア（VIP-5-Jr）〔密閉式
までの温度制御，輸入品〕：ユラボジャパン／ユラボ・
自動固定包埋装置〕：サクラファインテックジャパン／
ラボテクニック社
サクラ精機
2003・高速流下抽出装置（SE-100）〔短時間で高速溶媒抽出が可 2003・水銀計（TM-3A）〔蛍光管中の水銀量測定装置〕：日本イ
能〕：三菱化学アナリテック
ンスツルメンツ
2003・鉄鋼用半自動切削装置（HPF）〔切削チップの寿命が 5000 2003・酸素・窒素・水素分析装置（TCH600 型）〔ON 計に IR の
ミリング以上，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイ
水素検出器を搭載，輸入品〕：LECO ジャパン／ LECO
ツ HERZOG 社
Corporation
2003・鉄鋼用自動研磨装置（HB-4000）〔研磨面のコンタミ除去， 2003・ガラス製オートクレーブ（ミニクレーブ）〔少量ガラス耐
輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
圧容器，輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・グラス・
ウスター社

153

そ の 他 の 機 器
微

154

粒

子

測

定

装

置

物
性
測
定
装
置
2003・スタビンガー粘度計（SVM3000）〔新しい測定原理による
絶対粘度，動粘度，密度の測定，輸入品〕：アントンパール・ジャパン／ Anton Paar
2003・高 速 パ ン ク チ ャ ー 衝 撃 試 験 機（ ハ イ ド ロ シ ョ ッ ト
HITS-P10）〔最大時速 72km で衝撃特性試験が可能〕：島津製作所
2003・分析天びん（AUW ／ AUX ／ AUY シリーズ）〔信頼性，応答性，使いやすさを向上〕：島津製作所
2003・オートグラフ（精密万能試験機）用自動伸び計（SIE-560／ 560S）〔小ストロークから大ストロークまで高精度測定〕：島津製作所
2003・レオメータ（MCR301）〔コンパクトタイプの高性能機，
輸入品〕：アントンパール・ジャパン／ Anton Paar
2003・高精度蒸気吸着量測定装置（BELSORP-aqua3）〔3 検体定容量型蒸気吸着量測定装置〕：日本ベル2003・微小強度評価試験機（マイクロオートグラフ MST-I）〔微
小な変位・試験力の高精度制御・計測が可能〕：島津製作所

そ の 他 の 機 器
附属
装置2003・小型窒素ガス発生装置（Model02B ／ 05B）
〔ELSD，コロナ検出器に，理化学実験室に〕：システム・インスツル
メンツ

そ
の
他
の
装
置
2003・少量ガラス製オートクレーブ（ティニクレーブ）〔10ml，
20ml の微量，輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・グラス・ウスター社
2003・蒸留水製造装置（RFD240NA）〔JIS 種別 A4 のイオン交換
水の直接採水が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2003・送風定温乾燥器（DRM･DRX･DRS シリーズ）〔加熱空気を送風，循環し均一な加熱が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2003・定温乾燥器（DRN･DRD･DRA シリーズ）〔自然対流式のスタンダード乾燥器〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2003・ティシュー・テック クライオ 3（CRYO3）〔凍結組織切片作製装置，輸入品〕：サクラファインテックジャパン／サクラファインテック USA
2003・超微量滴下用高精度ノズル（FN シリーズ）〔極細最小内径Φ 0.02mm のマイクロ滴下〕：武蔵エンジニアリング
2003・蒸留水製造装置（RFD342NA･343NA）〔約 5L ／ h で蒸留
水を精製〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2003・Nd:YAG レ ー ザ ー ア ブ レ ー シ ョ ン シ ス テ ム（UP266MACRO）〔固体のバルク分析に最適，輸入品〕：
イー・エス・アイ・ジャパン／旧ニューウエーブリサー
チ社（現イーエスアイ社）
2003・有機微量元素分析装置（JM10（CHN））〔燃焼温度変更可能炉搭載，CHN 独立 3 検出器搭載〕：ジェイ・サイエ
ンス・ラボ
2003・ティシュー・テック TECプラスシステム（TEC-P-S-JO）〔パラフィン包埋ブロック作製装置〕：サクラファイン
テックジャパン／サクラ精機
2003・ティシュー・テック TEC プラス ディスペンシング・
コンソール（TEC-P-DC-JO）〔パラフィン包埋ブロック作
製装置〕：サクラファインテックジャパン／サクラ精機
2003・ティシュー・テック TEC プラス クライオ・コンソール（TEC-P-CC-JO）〔パラフィン包埋ブロック作製装置〕：
サクラファインテックジャパン／サクラ精機
2003・におい識別装置（FF-2A）〔においの質の表示を初めて絶対座標で表現〕：島津製作所
2003・ティシュー・テック クライオ 3DM（CRYODM3）〔凍結組織切片作製装置 オゾン処理・自動薄切機能付き，
輸入品〕：サクラファインテックジャパン／サクラファ
インテック USA
2003・ティシュー・テック クライオ 3D（CRYOD3）〔凍結組
織切片作製装置 オゾン処理機能付き，輸入品〕：サ
クラファインテックジャパン／サクラファインテック
USA
2003・低温灰化装置（プラズマアッシャー）（JPA300）〔大口径
チャンバー，オートチューニング〕：ジェイ・サイエンス・
ラボ
2003・純 水 製 造 装 置（Elix UV 20 ／ 35 ／ 70 ／ 100）
〔ラボ用
RO+EDI 方式で大量使用に対応，輸入品〕：日本ミリポ
ア／ミリポアコーポレーション
2003・サイト・テック セントリフュ―ジ（CF-12D）〔細胞塗
抹標本作製装置〕：サクラファインテックジャパン／サクラ精機
2003・圧密・せん断方式 粉粒体流動性測定装置（ShearScan
TS12）〔JP ／ ASTMの標準試験法で，全自動測定が可能，
輸入品〕：日本ルフト／ Sci-Tec Inc.

155

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

2004・レーザ回折式粒度分布測定装置（SALD-2200）〔有機溶媒を用いた測定に対応〕：島津製作所
2004・レーザ回折／散乱式粒子径分布測定装置（LA-950）〔ナノ
粒子からミリ単位の粉末を測定〕：堀場製作所

2005 年
平 17

156

物

性

測

定

装

置

2004・誘電率測定装置（ADMS01）〔簡単操作で誰にでも正確に安定測定が可能〕：エーイーティー
2004・小型圧縮引張試験機（テクスチャーアナライザー LFRATA ・QTS-25）〔多彩なテストプローブとアクセサリー
が適用可能，輸入品〕：日本 S.T. ジョンソン商会／ブルックフィールド社

2005・ゼータ電位・粒径測定システム（ELSZ-2）〔光散乱法で， 2005・分離膜欠陥構造解析装置（Porometer nano）〔ナノ貫通孔希薄から濃厚溶液まで測定可能〕：大塚電子分析装置〕：日本ベル2005・疲労 ･ 耐久試験機（「エアサーボ」ADT-A シリーズ）〔生体材料等をクリーンな環境で試験〕：島津製作所
2005・分子間相互作用解析装置（E4）〔QCM-D 法を用いた質量と構造同時リアルタイム解析 4 チャンネルモデル，輸入品〕：メイワフォーシス
2005・固体酸化物型燃料電池評価／劣化試験装置（BEL-SOFC）〔SOFC 電気化学測定装置〕：日本ベル2005・磁気浮上式ストレス制御レオメータ（AR-G2）〔磁気浮上方式ベアリングテクノロジー搭載，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ
の
他
の
装
置
2003・サーマルマネキン（THM-117S）〔着衣評価，環境評価の
温熱ダミー〕：京都電子工業
2003・高機能分注器（ジーニアス）〔高粘度対応，輸入品〕：ユ
ラボジャパン／ビットラボ社
2004・半自動微粉砕装置（HP-M100）〔安価，コンパクトでラボ 2004・蒸留水製造装置（RFD240HA）〔蒸留水を高純度イオン交の省力に最適，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイ
換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2004・硫黄分析計（S マイクロコーダー）（JMS10）〔NDIR 検出
ツ HERZOG 社
2004・全自動ガラスビード作成装置（HAG-HF）〔完全無人化，器搭載〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2004・蒸留水製造装置（RFD342HA･343HA）〔蒸留水を高純度
輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製
作所
2004・フェムト秒レーザー用ビームデリバリシステム（UPXP）〔フェムト秒レーザー用光学系と試料セル，輸入品〕：
イー・エス・アイ・ジャパン／旧ニューウエーブリサー
チ社（現イーエスアイ社）
2004・酸素分析計（O マイクロコーダー）（JMO10）〔NDIR 検出器搭載〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2004・電子式水分計（MOC-120H）〔大型ひょう量皿で高精度な測定が可能〕：島津製作所
2004・蒸留水製造装置（RFD250NB）〔超純水，蒸留水，イオン
交換水の採水が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2004・リアルタイム細胞計測システム（RT-CES）〔非標識リアルタイム細胞増殖／形態変化計測，輸入品〕：和光純薬
工業／ ACEA
2004・逆浸透純水製造装置（RFP542HA）〔RO 水をさらに高純度イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2004・土壌用自動ろ過装置（SF-370）〔一番面倒なろ過を自動化〕：システム・インスツルメンツ
2004・清酒メータ（DA-105）〔酒類のアルコール濃度を容易に測定〕：京都電子工業
2005・高低温サーキュレーター（FP50-HE）〔高性能・高機能， 2005・蒸留水製造装置（RFD240RA）〔蒸留の前処理に RO 膜を 2005 年
平 17輸入品〕：ユラボジャパン／ユラボ・ラボテクニック社
採用〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2005・高温サーキュレーター（SE-12）〔高温での高精度を実現， 2005・蒸留水製造装置（RFD250RB）〔RO 膜を採用，蒸留水，輸入品〕：ユラボジャパン／ユラボ・ラボテクニック社
超純水の採水が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作
2005・全自動大容量微粉砕装置（HP-M1500）〔1.5kg の試料を一所〔各種精製水製造装置
度に微粉砕，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ 2005・逆浸透純水製造装置（RFP702AA）の前処理装置に最適〕：アドバンテック東洋／東洋製作
HERZOG 社
2005・卓上ガラスビード作成装置（HAG-M-HF）〔るつぼ改鋳頻所〔RO 水をさらに高純度の低減と再現性の向上，輸入品〕：ハルツォク・ジャ 2005・逆浸透純水製造装置（RFP742HA）
度イオン交換樹脂で処理〕：アドバンテック東洋／東洋
パン／ドイツ HERZOG 社
2005・鉄鋼用手動切断装置（HCM）〔ボンブ試料の 2 段切断，輸製作所
2005・電気透析純水製造装置（RFP843RA）〔イオン交換樹脂を入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイツ HERZOG 社
2005・精密切断装置（MICRACUT）〔テーブル移動式切断装置，
連続再生〕：アドバンテック東洋／東洋製作所〔蒸留の前処理に
試料送り速度はデジタル制御，輸入品〕：ハルツォク・ジャ 2005・蒸留水製造装置（RFD342RA･343RA）
RO 膜を採用〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
パン／トルコ METKON 社
2005・自動研削／研磨装置（DEGIPREP）〔試料研磨のパラメー 2005・高速度ビデオカメラ（HyperVision HPV-1）〔100 万コマ
タを登録可能，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／トル／秒の超高速撮影を実現〕：島津製作所
2005・Nd:YAG レーザーアブレーションシステム（UP193SS）
コ METKON 社〔193nm Nd:YAG レーザーアブレーション，輸入品〕：
イー・エス・アイ・ジャパン／旧ニューウエーブリサー
チ社（現イーエスアイ社）
2005・ティシュー・テック プリズマ（DRS-Prisma-JOD（乾燥槽））〔自動染色装置〕：サクラファインテックジャパン／サクラ精機157

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

物

性

測

定

装

置

2006・カルニュー屈折計（KPR-2000）〔屈折率精度を 4 割向上〕：
島津製作所
2006・高精度比表面積・細孔分布測定装置（BELSORP-max）〔0.1Torr センサー搭載〕：日本ベル2006・ヘーズメーター（NDH5000）〔白色 LED 採用〕：日本電色工業
2006・ストレス制御型レオメータ（AR2000ex）〔応力制御と歪制御の両立が可能，輸入品〕：ティー・エイ・インスツ
ルメント・ジャパン158

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ
の
他
の
装
置
2005・ティシュー・テック プリズマ（DRS-Prisma-JOS（乾燥槽 + 加温槽））〔自動染色装置〕：サクラファインテック
ジャパン／サクラ精機
2005・三次元計測 X 線 CT 装置（TDM1000-IS）〔幅広い分野に活躍する高分解能 X 線 CT 装置〕：ヤマト科学
2005・逆浸透純水製造装置（RFP502AA）〔各種精製水製造装置の前処理装置に最適〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2005・ホルムアルデヒド簡易分析セット（MDS-100）〔測定現場
で分析結果が得られる〕：ガステック
2005・ペプチド自動合成装置（Liberty）〔マイクロ波によるカップリングで短時間で合成，輸入品〕：アステック／米国
CEM 社
2005・デジタル画像解析方式 粒度分布測定装置（FPA）〔1μmの精度で粒度分布と形状を解析可能，輸入品〕：日本ルフト／ Anatec AS
2005・電気透析純水製造装置（RFP343RB）〔イオン交換樹脂を連続再生〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2005・電気透析純水製造装置（RFP543RA）〔イオン交換樹脂を連続再生〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2005・全窒素分析装置（JM3000N）〔燃焼法（改良デュマ法），大容量試料，開閉炉搭載〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2006・高機能温度制御装置（LH85）〔- 40℃～ +250℃まで 1 液で 2006・イオンクロマトグラフィー専用ディスポーザブルメンブ
制御，輸入品〕：ユラボジャパン／ユラボ・ラボテクニッ
レンフィルターユニット（13HP020CN･13HP045CN）〔イ
ク社
オンクロマトグラフィー分析用に最適〕：アドバンテッ
2006・半自動ガラスビード作成装置（HAG-S）〔連続的にガラス
ク東洋／東洋濾紙〔ワンタッチ式
ビードの作成，輸入品〕：ハルツォク・ジャパン／ドイ 2006・ガラス製オートクレーブ（ポリクレーブ）
容器オープン，輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・グ
ツ HERZOG 社
2006・鉄鋼用全自動切削装置（HS-FF2000）〔切粉回収機構付き，ラス・ウスター社〔純水を入れるだけ
2 つのミリングヘッダー搭載，輸入品〕：ハルツォク・ジャ 2006・卓上型超純水装置（Simplicity UV）
で超純水を精製，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポアコー
パン／ドイツ HERZOG 社
ポレーション
2006・リアルタイム細胞計測システム（RT-CES CIM）
〔非標識
リアルタイム細胞浸潤／細胞遊走計測，輸入品〕：和光
純薬工業／ ACEA
2006・顕微鏡試料前処理装置（TENSEC）〔電子顕微鏡や光学顕微鏡用試料の表面を 10 秒という短時間で処理〕：堀場製作所
2006・水槽水直結型超純水装置（Direct-Q UV）〔世界初スライドロック方式カートリッジ交換，輸入品〕：日本ミリポ
ア／ミリポアコーポレーション
2006・全自動高速分注装置（PIPETMASTER）〔96 連ヘッド搭
載による全自動高速分注〕：武蔵エンジニアリング
2006・遺伝子導入システム（Nucleofector 96-well Shuttle）〔高効率高生存率ハイスループット遺伝子導入，輸入品〕：
和光純薬工業／ AMAXA
2006・冷 却 水 循 環 装 置（TBG020AA･045AB･120AB･120SB･1
20SB･240AB･400AA）〔密閉系外部装置用冷却水循環装置〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2006・ラボキューブ（LDS ／ LCA，他）〔研究設備と科学機器の融合を実現した新コンセプト製品〕：ヤマト科学
2006・Milli-Q 水製造装置（Milli-Q Advantage）〔1 台で複数のア
プリケーションに対応，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポアコーポレーション
2006・回 転 ド ラ ム・ 画 像 解 析 方 式 粉 体 流 動 性 測 定 装 置（Revolution）〔なだれ現象の解析から動的流動性を測定，輸入品〕：日本ルフト／ Mercury Scientific Inc.

159

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

物

性

測

定

装

置

2007・貫通細孔分布解析装置（Porometer 3G）〔自動バブルポ
イントおよび細孔分布測定装置，輸入品〕：日本ベル／Xonics2007・精密万能試験機（オートグラフ AG-X シリーズ）〔世界最高の性能と使いやすさを両立〕：島津製作所
2007・電子上皿天びん（"Amidia" アミディア（TX ／ TXB シ
リーズ））〔高機能・低価格で操作性・使い勝手が良好〕：
島津製作所
2007・音叉式分析天びん（HTR-220）〔音叉センサ搭載〕：新光電子

2008・浄水用微粒子カウンター（N7000PTC）〔微粒子数／濁度／色度同時測定〕：日本電色工業
2008・シングルナノ粒子径測定装置（IG-1000）〔画期的な粒子
径測定技術「IG 法」を採用〕：島津製作所
2008・ナノパーティクル測定装置（q-nano）〔ナノポアフィル
ターを用いた粒子計測，輸入品〕：メイワフォーシス

160

2008・多成分吸着量測定装置（BELSORP-VC）〔複数成分同時吸着量測定装置〕：日本ベル2008・ガ ス 吸 着 量 測 定 装 置（BP-1）〔パルス吸着後昇温脱離（TPD）が可能〕：大倉理研
2008・歪制御型レオメータ（ARES-G2）〔材料開発用回転レオ
メータ，輸入品〕：ティー・エイ・インスツルメント・ジャ
パン2008・振 動 式 デ ジ タ ル 密 度 計（DMA5000M）〔世界最高精度の密度測定，輸入品〕：アントンパール・ジャパン／
Anton Paar

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ
の
他
の
装
置
2006・薄膜機械的特性評価システム（G200）〔ISO14577-1，2，
3 完 全 準 拠， 輸 入 品 〕： 東 陽 テ ク ニ カ ／ 米 国 Agilent
Technology Inc
2006・元素分析装置（multi EA® 3100）〔炭素 ･ 窒素 ･ 硫黄 ･ 塩
素分析，液体，固体，ガス，LPG などの試料に装置 1台で対応，輸入品〕：アナリティクイエナジャパン／
Analytik Jena AG
2006・元素分析装置（multi EA® 2000）〔炭素 ･ 硫黄 ･ 塩素分析，
ダブルファーネスで試料完全燃焼，輸入品〕：アナリティ
クイエナジャパン／ Analytik Jena AG
2006・屈折標準液（屈折率標準液）〔国内で初めての屈折計用標準液〕：京都電子工業
2007・回転リングディスク電極装置（RRDE-3A）〔電極を高精 2007・耐酸性オートクレーブ（イナートクレーブ）〔抜群の安全度に回転させる装置〕：ビー・エー・エス／エー・エル・
性，輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・グラス・ウスター
エス社
2007・鉄鋼用全自動切断切削装置（HS-CF）〔全鋼種，異形状対 2007・実験小動物用 PET 装置（Clairvivo PET（クレビボ ペッ
応，完全自動試料調製装置，輸入品〕：ハルツォク・ジャ
ト））〔高感度，高解像度，短時間計測〕：島津製作所
2007・記録管理システム構築支援ツール（源藏）〔研究開発の情
パン／ドイツ HERZOG 社
2007・切断装置（SERVOCUT-A300）〔テーブル移動式切断装報管理と知的資産の効果的共有〕：島津製作所〔LaB6 電子銃搭載ツイ
置，手動切断機能も搭載，輸入品〕：ハルツォク・ジャ 2007・集束イオンビーム装置（JIB-4500）
ンカラム FIB〕：日本電子
パン／トルコ METKON 社
2007・試料埋め込み装置（METAPRESS）〔中間ラム使用で一 2007・超純水製造装置（RFU400 シリーズ）〔水道直結式など 20
度に 2 個の試料を作成可能，輸入品〕：ハルツォク・ジャ
機種をラインナップ〕：アドバンテック東洋／東洋製作
パン／トルコ METKON 社
所
2007・セルスタンド（CS-3A）〔多機能ファラデーケージ〕：ビー・ 2007・マイクロチップ式 微量サンプル粘度計（VROC）〔最小
エー・エス／エー・エル・エス
50μl で広いせん断速度で測定可能，輸入品〕：日本ルフ2007・パイロットプラント（CR15-K）〔容易なメンテナンス，
ト／ RheoSence Inc.
〔燃料電池用メタノール
輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・グラス・ウスター 2007・メタノール濃度計（MCM-600）の濃度を微量で測定〕：京都電子工業
社
2008・高機能温度制御装置（マグナム 91）〔- 80℃～ +170℃まで 2008・業務用高精度アルコール測定器（YAL-803J）〔NDIR 法に
1 液で制御，輸入品〕：ユラボジャパン／ユラボ・ラボ
よる高精度測定〕：ヤナコ計測
2008・試料燃焼前処理装置（JM500）〔プログラム昇温型炉搭
テクニック社2008・水分気化装置サンプルチェンジャー（VA-236S）〔市販バ載〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
イアルビン，最適気化温度決定〕：三菱化学アナリテッ 2008・テ ィ シ ュ ー・ テ ッ ク エ ク ス プ レ ス エ ッ ク ス 120（Xpress x120）〔連続迅速自動固定包埋装置〕：サクラファ
ク
2008・少量パイロットプラント（ミニパイロット）〔小型，容易インテックジャパン／サクラ精機〔1 台
なメンテナンス，輸入品〕：ユラボジャパン／ブッヒ・ 2008・水槽水直結型 Milli-Q 水製造装置（Milli-Q Integral）
で純水と Milli-Q 水を採水，輸入品〕：日本ミリポア／ミグラス・ウスター社
2008・LC ／ MS 専 用 窒 素 ガ ス 発 生 装 置（Model24F，20EC，
リポアコーポレーション〔パラフィンブロッ
30EC）〔LC ／ MS 用として国内ベストセラー！〕：シス 2008・ヒスト・テック クーリエ（REI-20）
ク冷却装置〕：サクラファインテックジャパン
テム・インスツルメンツ
2008・クリーン器具乾燥器（DRU600CA）〔クラス 10,000 の雰囲
気下で乾燥が可能〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2008・蛋白質測定装置（Sprint）〔色素結合法による直接蛋白質
定量法，輸入品〕：アステック／米国 CEM 社
2008・ヒスト・テック ピノ（PINO-600）〔凍結ブロック作製装置〕：サクラファインテックジャパン
2008・ティシュー・テック グラス ジー 2（Glas g2-JO）〔自動ガラス封入装置〕：サクラファインテックジャパン／
サクラ精機
2008・三 次 元 計 測 X 線 CT 装 置（TDM1000-FC）〔TDM シ リ ーズの操作性を追求した普及型〕：ヤマト科学
2008・高速度ビデオカメラ（HyperVision HPV-2）〔複数台のカメラで超高速同期撮影〕：島津製作所
2008・エキシマ・レーザーアブレーションシステム（UP193FX）〔短パルス幅の小型エキシマ機，輸入品〕：イー・エス・
アイ・ジャパン／イーエスアイ社

161

そ の 他 の 機 器
微

粒

子

測

定

装

置

2009・ナノ粒子解析装置（SZ-100）〔ナノ物質の大きさや表面の電荷を計測〕：堀場製作所

162

物

性

測

定

装

置

2009・電磁力式疲労・耐久試験機（サーボパルサEMTシリーズ）〔クリーンな環境下での試験を実現〕：島津製作所
2009・ハンドヘルド密度計（DMA35）〔ハンディータイプで高機能，輸入品〕：アントンパール・ジャパン／ Anton
Paar
2009・高精度電子台はかり（FJ-300K）〔ひょう量 300kg ／最小
表示 1g〕：新光電子
2009・屈折計（RA-600 シリーズ）〔A4 サイズの小型恒温槽内蔵
高精度屈折計〕：京都電子工業
2009・ホ ッ ト デ ィ ス ク 法 熱 物 性 測 定 装 置（TPS1500・
TPS2500S）〔熱伝導率が簡単に高精度で測定可能〕：京都電子工業

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ
の
他
の
装
置
2008・超純水製造装置（RFU600 シリーズ）〔高機能卓上型で 8機種をラインナップ〕：アドバンテック東洋／東洋製作所
2008・ティシュー・テック VIP6（VIP6-JO）〔密閉式自動固定
包埋装置〕：サクラファインテックジャパン／サクラ精機
2008・ティシュー・テック VIP6（VIP6-JO-P（ピーシーⅡ付））〔密閉式自動固定包埋装置〕：サクラファインテックジャパン／サクラ精機
2008・全炭素 ･ 窒素同時分析装置（JM3000CN）〔燃焼法（改良デュマ法），大容量試料，開閉炉搭載，小型オートサン
プラー〕：ジェイ・サイエンス・ラボ
2008・高速・広範囲コーティングバルブ（CV-10）〔高速・広範囲に均一で飛散無き薄膜塗布可能〕：武蔵エンジニアリ
ング2008・滴 下・ 分 注 用 容 器（PSY シ リ ー ズ ）〔 世 界 初 !! UV 完 全
シャットアウト〕：武蔵エンジニアリング
2008・中・高粘度対応 非接触高速飛滴システム（AeroJet）〔既
存の分注機器を凌駕する高速分注システム〕：武蔵エン
ジニアリング2008・低粘度対応 非接触高速飛滴システム（CyberJet）〔手作
業分注の煩わしさを一気に解消〕：武蔵エンジニアリン
グ2008・PC 制御画像認識付 卓上型分注滴下装置（350PC）〔分注・
滴下位置ズレを画像認識で自動補正〕：武蔵エンジニア
リング
2008・マイクロウェーブ試料分解装置（TOPwave®）〔全容器
対応非接触型（光学式）温度･圧力モニター搭載，輸入品〕：
アナリティクイエナジャパン／ Analytik Jena AG
2008・高速溶媒抽出装置（ASE-150，350）〔輸入品〕：日本ダイ
オネクス／ダイオネクス社
2009・純水製造装置（Elix Advantage 3 ／ 5 ／ 10 ／ 15）〔純水装
置でも POD を採用，輸入品〕：日本ミリポア／ミリポア
コーポレーション2009・高光沢グロスチェッカ（IG-410）〔1 秒で“輝き”を数字で提供〕：堀場製作所
2009・凍結粉砕機（クライオミル）〔液体窒素容器から直接，冷媒が供給できる，輸入品〕：レッチェ／レッチェ（独）2009・電磁式ふるい振とう機（AS450 control）〔Φ 400-450㎜の試験ふるいが掛けられる，輸入品〕：レッチェ／レッチェ（独）2009・エアジェットシーブ（AS200 jet）
〔乾式で 10μm ＜の分級が可能，輸入品〕：レッチェ／レッチェ（独）2009・シリンジポンプ 2ch（モデル 100e）〔ユーザビリティに優れる〕：ビー・エー・エス／エー・エル・エス
2009・γ線滅菌済みディスポーザブルメンブレンフィルターユ
ニット（25SS020RS･25SS045RS）〔γ線による滅菌済み〕：
アドバンテック東洋／東洋濾紙
2009・クリプトスポリジウムサンプリングシステム／サンプリ
ングユニット（FSC-037･37YS3HAAN）〔濾過濃縮と保管サンプルの省スペース化〕：アドバンテック東洋／東洋
濾紙
2009・完 全 P C 制 御 コ ン パ ク ト 分 注 シ ス テ ム（ 4 連 式
PIPETMASTER）〔4 連式ヘッドにより分注処理能力 4倍〕：武蔵エンジニアリング

163

そ の 他 の 機 器
微

164

粒

子

測

定

装

置

物

性

測

定

装

置

そ の 他 の 機 器
附

属

装

置

そ
の
他
の
装
置
2009・大容量対応 容積計量式高精度吐出システム（MPP-3）〔粘度変化する液剤の大容量精密吐出に最適〕：武蔵エンジ
ニアリング2009・マ イ ク ロ ア レ イ 試 薬 ス ポ ッ テ ィ ン グ シ ス テ ム（JETSPOTTER）〔多種類試薬を非接触高速滴下可能〕：
武蔵エンジニアリング
2009・バ イ オ チ ッ プ 製 造 ス ポ ッ テ ィ ン グ シ ス テ ム（SPOTMASTER）〔多種試薬のスポッティングに最適〕：
武蔵エンジニアリング
2009・μ-TAS 送液ポンプ〔Min0.1μL ／ min の定量送液ポンプ〕：武蔵エンジニアリング
2009・酸素濃度調整器（SGM5EL）〔1 〜 1000ppm の酸素を製造，輸入品〕：日本サーモ／ドイツ ZIROX 社
2009・ボーリング坑用ガスモニター（GasClam）〔地中のメタン，CO2，水深等が測定できる，輸入品〕：日本サーモ／英国イオンサイエンス社
2009・燃料電池酸素濃度可視化装置（FC-O2 モニタ）
〔酸素の消費状況をリアルタイムで可視化〕：島津製作所
2009・実験小動物用光イメージング装置（Clairvivo OPT（クレビボ オプト））〔同一個体の経時的な変化を生きたまま高感度に計測〕：島津製作所
2009・フ ェ ム ト 秒 レ ー ザ ー ア ブ レ ー シ ョ ン シ ス テ ム（UPFEMTO）〔初の一体型フェムト秒レーザーアブレーションシステム，輸入品〕：イー・エス・アイ・ジャパン／イー
エスアイ社
2009・高性能プラスチック容器（メスフラスコ 10）〔DIN 規格の高精度，輸入品〕：ユラボジャパン／ビットラボ社
2009・高性能プラスチック容器（遮光性メスフラスコ）〔高精度・遮光性，輸入品〕：ユラボジャパン／ビットラボ社
2009・オンラインモニター（モニター V 型 シアン）〔蒸留装置
内蔵型オンラインモニター〕：ビーエルテック
2009・溶出試験器（ST-600）〔高精度ガラス部品の採用で良好な再現性を実現〕：京都電子工業
2009・自動固相抽出装置（AutoTrace）〔6 連型，輸入品〕：日本
ダイオネクス／ダイオネクス社

165