第 1.1 版

１４． カード試験方法
近接型 IC カードの評価として、ISO/IEC 10373-6 にて規定される近接型 ICカードの試験方法を規定するとともに、本実装規約にて規定されるリーダライタ特性等を考慮した近接型 IC カードの試験方法を規定する。
また、試験に必要な互換性検証機も合わせて規定する。
１４．１ 試験環境
別途指定がないかぎり、試験環境は「表１４．１−１件とする。
表１４．１−１
項目
温度
湿度

試験環境

条件
23±3℃
相対湿度 40％〜60％−267−

試験環境」に示す条

第 1.1 版

１４．２ 試験装置
近接型 IC カードの動作を確認するための試験治具と回路を定める。試験治具には以下が含まれる。
（a） 互換性検証機
・ 校正用コイル
・ 試験用 PCD・ 参照 PICC（b） 測定機器
・ デジタルサンプリングオシロスコープ
また本実装規約の想定する利用形態を想定し、リーダライタのアンテナ形状の小さい試験用 PCD−S を互換性検証機として規定する｡−268−

第 1.1 版

１４．２．１ 校正用コイル（１） 基本仕様（a） 校正用コイルの寸法
校正用コイルは、ISO/IEC 7810 の ID1 で定められた寸法の実効面積を備えたカードで、その外周に沿って、1 ターンのコイルを含む。
校正用コイルの外形を「図１４．２−１ 外形図」に示す。

ISO/IEC 7810のID1外形

72mm×42mmコイル
1T

図１４．２−１

外形図

接続端子（b） 校正用コイルの厚さと材質
校正用コイルの厚さは 0.76mm±10％とする。
材質は絶縁体とする。

−269−

第 1.1 版（c） コイル特性
校正用コイルのコイルは 1 ターンとする。
コイルの外形寸法は 72mm×42mm、四隅の角の半径は 5mm とし、その誤差範囲は±2％とする。
（備考：磁界を感知するコイル内側の面積は、3000mm2 である。）
コイルは印刷配線で作られ、銅箔の厚さは 35μm とする。
トラック幅は 500μm±20％とする。
接続端子のパッドは 1.5mm×1.5mm が望ましい。
（備考：13.56MHz において標準インダクタンスは 200nH、標準抵抗値は0.25Ωである。）
コイルに誘起する開放電圧を測定するときに使用するオシロスコープのプ
ローブは、高インピーダンス（1MΩ以上、14pf 以下）入力のものを用いなければならない。
校正用コイルとその引き出し端子部との共振周波数は、60MHz 以上でなければならない。
開放電圧から磁界強度に変換する係数は、0.32V（rmS）／A/m（rmS）を用いる。
［ピーク･ツー･ピーク電圧では 900mV（p-p）／A/m（rmS）に等しい］（備考：校正用コイルの端子信号を測定するときは、コイルの負荷にならないように、高インピーダンスのプローブを用いて測定しなければならない。）−270−

第 1.1 版（２） 拡張仕様
磁界分布を考慮するため基本仕様で規定した校正用コイルとコイル面積の異なる校正用コイル−S、校正用コイル−L の 2 種類の校正用コイルを規定する｡（a） 校正用コイルの寸法
校正用コイルの外形を「図１４．２−２ 外形図」に示す。
校正用コイル−S と校正用コイル−Ｌは ISO/IEC 7810 で決められた寸法の実効面積を備えたカードで、その外周に沿って、1 ターンのコイルを含む。

ISO/IEC 7810のID1外形

校正用コイル1T

図１４．２−２

接続端子

外形図（b） 校正用コイルの厚さと材質
校正用コイルの厚さは 0.76mm±10％とする。
材質は絶縁体とする。

−271−

第 1.1 版（c） コイル特性
校正用コイルの特性を「表１４．２−１校正用コイル特性」に示す。

表１４．２−１
項目
コイル外形
コイル面積
磁界への換算パターン幅
パターン間隔パターン材質
パターン厚み巻数
インダクタンス（at 13.56MHz）
抵抗値（at 13.56MHz）

校正用コイル特性

校正用コイル−S
66.6mm±2％×31mm±2％
角部 R8.5mm±2％
2003mm2
1A/m（rmS）=214.4mV(rmS)
0.5mm±20％0.5mm±20％
銅箔
35μm
1 ターン

内容
校正用コイル−L
83.6mm±2％×52mm±2％
角部 R5mm±2％4326mm2
1A/m（rmS）=463.1mV（rmS）
同左
同左
同左
同左
同左

校正用コイル（基本仕様）
72mm±2％×42mm±2％
角部 R5mm±2％3003mm2
1A/m（rmS）=320mV（rmS）
同左
同左
同左
同左
同左

−−

200nH

−−

0.25Ω

（３） 参考なし。

−272−

第 1.1 版

１４．２．２ 試験用 PCD（１） 基本仕様
負荷変調を測定する試験用治具は、直径 150mm の試験用 PCD アンテナと平行に配置した 2 つのセンスコイルから構成されている。その回路図を「図１４．２−３ 負荷変調測定回路」に示す。これらのセンスコイルは、互いに信号の位相が逆になるように配線されている。50Ωの可変抵抗器は、近接型 ICカードや他の磁気結合製品が存在しない状態において、両者のセンスコイルの平衡をとるために中間に配置されている。プローブのキャパシタンスは 14pf以下とする｡
近接型ICカード
PICC

センスコイルa220Ω
Ω220
Ω
56
50Ω

sense coil a

ツイストペア線の長さ
short twisted pair100mm以下

PCD
試験用
Antenna

PCD
アンテナ

220Ω
Ω
220
toosilloscopeprobe
オシロスコープへ
capacitance< 14pFsense coil b

センスコイルb

図１４．２−３

負荷変調測定回路−273−

第 1.1 版（a） 試験用 PCD アンテナ
試験用 PCD アンテナは直径 150mm で、その構造は「（d） 試験用 PCDアンテナ」の寸法図に従わなければならない。
アンテナの同調回路の調整手順を「（e） 試験用 PCD アンテナ調整」に示す。
（b） センスコイル
センスコイルの寸法は、100mm×70mm で、その構造は「（f）イル」の寸法図に従わなければならない。

センスコ（c） 試験用 PCD の構造
センスコイルと試験用 PCD アンテナは、平行かつセンスコイルとアンテナコイルとの中心軸が一致するようにする。このとき、「図１４．２−４ 試験用 PCD アセンブリ」に示すように、実効導体面の間隔を 37.5mm にするように組み立てる。

37.5mm

37.5mmコイル面

被測定カード

校正用コイル

センスコイル a

試験用PCDアンテナ

図１４．２−４

センスコイル b

試験用 PCD アセンブリ−274−

第 1.1 版（d） 試験用 PCD アンテナ（ア） アンテナとインピーダンス整合回路の配置図面
試験用 PCD アンテナの構造を「図１４．２−５ 試験用 PCD アンテナ配置図（表面パターン）」および「図１４．２−６ 試験用 PCD アンテナ配置図（裏面パターン）」に示す。

170
インピーダンス整合回路

グランド補正コイル
170

アンテナコイル

150

表面側
単位：mm
（実寸ではない）（備考：
アンテナトラックの幅は1.8mmとする。
パターンはインピーダンス整合回路から開始され 45°ごとに交叉させる。
印刷配線版：材質 -FR4、厚さ-1.6mm 、銅箔35μm-両面）
図１４．２−５

試験用 PCD アンテナ配置図（表面パターン）−275−

第 1.1 版

裏面側
図１４．２−６

試験用 PCD アンテナ配置図（裏面パターン）−276−

第 1.1 版（イ） インピーダンス整合回路
アンテナインピーダンスは、「図１４．２−７ インピーダンス整合回路」「表１４．２−２ 部品表」に示す整合回路によって信号発生器の出力インピーダンス（50Ω）に整合させる。
キャパシタ C1、C2 と C3、C4 は固定値であるり入力インピーダンスの位相は、可変キャパシタ C5 によって調整する。
（備考：最大電圧と最大電力が、使用する部品の仕様内に収まるようにすること｡）
50Ω
50 Ω
ドライバ

アンテナコイル
impedance
インピーダンスmatching
整合回路

C2RextR
C1Z＝ 50Z=50ΩΩ

C3 C4 C5Rant
Lant
Lant

図１４．２−７

インピーダンス整合回路

表１４．２−２値
C1C2C3C4C5Rext

398.218033
2〜275×4.7（並列）

−277−

部品表
単位
pF
pF
pF
pF
pF
Ω

第 1.1 版（e） 試験用 PCD アンテナ調整
アンテナのインピーダンスをドライブ回路のそれに合わるために、位相調整の手順を以下に示す 2 つのステップで行う。試験時はステップ 2 の調整後、信号発生器に試験用 PCD を直接接続すること｡
ステップ 1：
高精度の 50Ω抵抗（例：50ΩBNC 終端抵抗）を、信号発生器の出力とアンテナコネクタとの接地線間に挿入する。2 現象オシロスコープの一方のプロー
ブを信号発生器の出力に、他方をその直列抵抗と並列に接続する。オシロスコープの画面を XY モードにして、リサージュ軌跡を描かせる。信号発生器の設定は、以下の通りとする。
波形：正弦波周波数：13.56MHz
振幅：2−5V
抵抗に並列に接続したプローブは、小量の浮遊容量（Cprobe ）を持つ。
出力コネクタに並列に校正用キャパシタ（Ccal ）を付けて、プローブのキャパシタ（Cprobe ）を Ccal＝Cprobe になるよう補正する。次に、出力を 2 つ目の高精密抵抗 50Ω（±1％）で終端する。プローブの浮遊容量が補正されていれば、リサージュ波形は、完全に閉じる。
「図１４．２−８ 調整方法 ステップ 1」に調整方法を示す。

−278−

第 1.1 版

closed 閉じた波形
figure:Phi= 0angle
50Ωに相当correspondingする角度
to 50Ω

Phi=0

オシロスコープ
OscilloscopeSignal
信号発生器
Generatoryx

R = 50 Ω
13.56 MHz参照
reference:

Ccal = Cprobe

50 ΩΩ

校正用抵抗
calibratio
resistor50Ω
50C probe

図１４．２−８

調整方法

ステップ 1（備考：付近の磁界によって電圧を発生させないように、プローブの接地線は密着して這わせなければならない。）−279−

第 1.1 版

ステップ 2：ステップ 1 の定数を用い、ステップ 2 では整合回路をアンテナ出力に接続する。アンテナ基板上の可変キャパシタ C5 を調整して、位相 0 に合わせる。
調整方法を「図１４．２−９ 調整方法 ステップ 2」に示す。

閉じた波形
closed figure:Phi= 0
Phi=0angle
50Ωに相当correspondingする角度ΩOscilloscope

オシロスコープ

Signal
信号発生器
yR = 50 Ω
13.56 MHzx
Antennacoil
アンテナコイル参照
reference:50ΩCcal=C

probe

インピーダ
impedance
50 matchingΩ ンス
network
整合回路

C5 Phase
位相校正

C probe

図１４．２−９

調整方法

−280−

ステップ 2

第 1.1 版（f） センスコイル（ア） センスコイル構造
センスコイル構造を「図１４．２−１０センスコイル配置図」に示す。

170170

センスコイルa
センスコイルbconnections
接続端子

Sense coil a

100100170
170

Sense coil b

R10R=107070

単位：mm（実寸ではない）（備考：プリント基板材質：FR4、厚さ：1.6mm、銅箔厚さ：35μm
コイル幅：0.5mm±20％、コイル寸法は外形寸法とする｡）

図１４．２−１０

センスコイル配置図−281−

第 1.1 版（イ） センスコイル組み立て
センスコイルの組み立て図を「図１４．２−１１ センスコイルの組み立て図」に示す。この組み立てられた状態が試験用 PCD である。
connections
接続端子

試験用
PCDアンテナ
PCD Antenna

13.56ＭＨz
13,56MHz
センスコイル

Sense Coil PCBs

図１４．２−１１

センスコイルの組み立て図−282−

第 1.1 版（２） 拡張仕様（ア） インピーダンス整合回路
インピーダンス整合回路を「図１４．２−１２ インピーダンス整合回路」
および「表１４．２−３ 部品表」に示す｡
本回路は、基本仕様に対し調整用コンデンサ C6 を追加したもので、インピーダンス調整をより正確に行うために使用する｡

550Ω
W
ド0drive
ライバ
r

アンテナコイル
impedance
インピーダンス
matching
整合回路
networ
kC

2Rext
ex

C1Z=5 50
Z＝ W ΩC6t

L
ant
Ｌan

図１４．２−１２

インピーダンス整合回路

表１４．２−３値
C1C2C3C4C5C6Rext

RRant
an

C3 C4 C5398.2180332〜272〜275×4.7（並列）

−283−

部品表
単位pF
pF
pF
pF
pF
pF
Ω

第 1.1 版（イ） 試験用 PCD アンテナ調整① オシロスコープによる調整
基本仕様にて規定される調整方法に対し、ステップ 2 においてコンデンサC5、C6 にて位相調整を行う｡② ネットワークアナライザによる調整
試験用 PCD をネットワークアナライザに接続し、S11 測定にてインピーダンスを測定する｡試験用 PCD アンテナのインピーダンスが周波数 13.56MHzにてインピーダンス 50Ω±1％（誘導成分または容量成分は 0Ω）となるように調整する｡（３） 参考なし。

−284−

第 1.1 版

１４．２．３ 試験用 PCD−S（１） 基本仕様なし。
（２） 拡張仕様（a） 試験用 PCD−S アンテナ
「表１４．２−４ 試験用 PCD−S アンテナ仕様」に試験用 PCD−S のアンテナ仕様を示す｡
表１４．２−４名称
アンテナコイルアンテナ基板

インピーダンス整合回路

試験用 PCD−S アンテナ仕様

内容コイル外径φ38±0.2ｍｍ0.5mm
パターン幅
パターン間隔 0.5mm
パターン厚さ 35μm
巻数3 ターン構造
プリント基板上の銅箔として形成
サイズ
120mm×100mm
t1.6mm
厚さ
FR4
材質
アンテナコイルと出力回路を 50Ωでインピーダンスマッチングをとる。

（b） 構造試験用 PCD−S の回路を「図１４．２−１３ 試験用 PCD−S 回路図」に、試験用 PCD−S の構造を「図１４．２−１４ 試験用 PCD−S 構造図」に、それぞれ示す｡
校正用コイルと試験用 PCD−S アンテナは、平行かつ校正用コイルと試験用 PCD−S アンテナコイルとの中心軸が一致するようにする。このとき、「図１４．２−１４ 試験用 PCD−S 構造図」に示すように、実効導体面の間隔を 15mm にするように組み立てる。
また、試験用 PCD−S と被測定カードとの間には 5mm のスペーサを配置し、スペーサ表面を試験用 PCD−S の基準面（距離 0mm）、試験用 PCD−S アン
テナ中心を中心位置として定義する｡−285−

第 1.1 版

オシロスコープへ校正用コイル

50Ωドライバアンテナ
コイル

インピーダンス整合回路
C3Z= 50Ω

C2RextC1 C4 C5 C6Rａｎｔ
Lａｎｔ

図１４．２−１３

試験用 PCD−S 回路図−286−

第 1.1 版

被測定カード外形中心
被測定カードズレ+X方向

校正用コイル基板外形ズレ+Y方向

試験用PCD−S
アンテナコイル

120mm

試験用PCD−S
アンテナコイル中心

校正用コイル100mm

被測定カード
5mm

15mm

校正用コイル

スペーサ

基準面（距離 0）試験用PCD−Sアンテナコイル
図１４．２−１４

試験用 PCD−S 構造図−287−

第 1.1 版（c） 校正（ア） アンテナ出力校正用コイルにて磁界強度(7)A/m±5％とする｡
校正用コイルの位置は距離 0mm、ズレなしとする｡（イ） 変調波形
校正用コイルにて変調波形を測定し、変調波形が規定の波形となるように変調波形を校正する。校正用コイルの位置は距離 0mm、ズレなしとする｡（３） 参考なし。

−288−

第 1.1 版

１４．２．４ デジタルサンプリングオシロスコープ（１） 基本仕様
デジタルサンプリングオシロスコープの性能は、標本化周波数が 100M サンプリング／秒以上で、その最大スケールの分解能を 8 ビット以上とする。オシロスコープは、数学的解析装置やコンピュータソフトウェアにより解析するために、テキストファイルで記録したデータを出力できるデジタル出力機能を備えていることが望ましい｡（２） 拡張仕様なし。
（３） 参考なし。

−289−

第 1.1 版

１４．３ 試験方法
１４．３．１ 試験用 PCD による試験
１４．３．１．１ 機能試験
（１） 基本仕様
この試験では、リーダライタの定める動作磁界領域において、近接型 ICカードの負荷変調信号の振幅を測定する。
（a） 試験方法
ステップ 1：「図１４．２−３ 負荷変調測定回路」に示す負荷変調の試験回路と「図１４．２−４ 試験用 PCD アセンブリ」に示す試験用 PCD を用いる。
試験用 PCD アンテナに流す電流を調整し、校正用コイルで磁界の強さを設定する。「図１４．２−３ 負荷変調測定回路」に示す負荷変調試験の出力にデジタルサンプリングオシロスコープに接続する。50Ω可変抵抗を調整して非変調時の搬送波信号の電圧を最少にする。この信号はセンスコイルの 1 つを短絡した場合の信号より、少なくとも 40dB 低いこと。
（備考：負荷変調されたサブキャリア（fc）の波形を、100M/S のサンプリング、8 ビット分解能、適切な振幅に設定されたデジタルサンプリングオシロスコープで測定する。）
ステップ 2：
被測定カードの位置に被試験用の近接型 IC カードを、センスコイル a の中心に一致させて挿入する。要求される磁界強度となるように試験用 PCD アン
テナの電流を再調整する｡
少なくとも 2 サイクル分の副搬送波信号 fc をデジタルサンプリングオシロ
スコープで記録し、そのデータをコンピュ―タソフトウエアで解析する。
ちょうど 2 サイクル分の副搬送波信号を切り取り、コンピュ―タソフトウエ
アを使ってフーリエ変換する。実際の波形を純粋な正弦波と見なして、離散型フーリエ変換を行わなければならない。過渡現象の影響を少なくするために、変調されていないサブキャリアのサイクルは除かなければならない。
上下側帯波の周波数（fc+fS）と（fc-fS）の振幅値は、「１０．１．２ 負荷変調方式」に規定した値を超えていなければならない。
近接型 IC カードへの信号、負荷変調の応答を確認するため「１２． 衝突防止」にて規定される REQA または REQB を試験用 PCD より送出する｡−290−

第 1.1 版（b） 測定項目
近接型 IC カードの発生する応答信号の、上下側帯波の周波数（fc+fS）と（fc-fS）の振幅値を測定する。
（２） 拡張仕様
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
（a） 試験方法
被試験カードを 2 枚重ね合わせた条件にて試験を行う｡（ア） 近接型 IC カード同士を 2 枚重ねる場合
近接型 IC カード同士を重ねた状態で試験用 PCD にセットし、REQ 信号を試験用 PCD より送出する｡近接型 IC カードからの変調信号を校正用コイルに接続したオシロスコープにて確認する｡2 枚の近接型 IC カードからの応答が衝突する場合は、衝突防止処理を行い衝突のない状態で測定を行う｡（イ） 近接型 IC カードと参照 PICC を重ねる場合
近接型 IC カードを「１５．２．１ 参照 PICC」にて規定する電力伝送試
験用の参照 PICC（3 種類）と重ねた状態で試験用 PCD にセットし、REQ 信号を試験用 PCD より送出する｡近接型 IC カードからの変調信号を校正コイルに接続したオシロスコープにて確認する｡（b） 測定項目
近接型 IC カードの発生する応答信号の、上下側帯波の周波数（fc+fS）と（fc-fS）の振幅値を測定する。
（３） 参考なし。

−291−

第 1.1 版

１４．３．１．２ 最低動作磁界試験
近接型 IC カードの最低動作磁界を測定する｡（１） 基本仕様（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードから応答が発生する最低動作磁界を測定する｡（b） 規定最低動作磁界が「８．２動作磁界」を満足すること｡（２） 拡張仕様
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の拡張仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードから応答が発生する最低動作磁界を測定する｡（b） 規定最低動作磁界が「８．２動作磁界」を満足すること｡（３） 参考なし−292−

第 1.1 版

１４．３．１．３ 最大動作磁界試験
近接型 IC カードの最大動作磁界を測定する｡（１） 基本仕様（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードから応答が発生する最大動作磁界を測定する｡（b） 規定最大動作磁界が「８．２動作磁界」を満足すること｡（２） 拡張仕様
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の拡張仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードから応答が発生する最大動作磁界を測定する｡（b） 規定最大動作磁界が「８．２動作磁界」を満足すること｡（３） 参考なし−293−

第 1.1 版

１４．３．１．４ 最大印加磁界試験
近接型 IC カードの最大印加磁界を測定する｡（１） 基本仕様なし。
（２） 拡張仕様（a） 試験方法（ア） カード 1 枚の場合
近接型 IC カード 1 枚を試験用 PCD の被測定カードの位置に取り付け「８．
２ 動作磁界」で規定される最大印加磁界を印加する｡
磁界印加後、「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードの機能確認を行う｡（イ） カードを 2 枚重ね合わせた試験
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
① 近接型 IC カード同士を 2 枚重ねる場合
近接型 IC カード 2 枚重ねた状態で試験用 PCD の被測定カードの位置に取り付け「８．２ 動作磁界」で規定される最大印加磁界を印加する｡
磁界印加後、「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードの機能確認を行う｡② 近接型 IC カードと参照 PICC を重ねる場合
近接型 IC カード 1 枚と、「１５．２．１ 参照 PICC」で規定される電力伝送試験用の参照 PICC1 枚とを重ねた状態で試験用 PCD の被測定カードの位置に取り付け、「８．２ 動作磁界」で規定される最大印加磁界を印加する｡磁界印加後、「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードの機能確認を行う｡（b） 規定磁界印加後、近接型 IC カードが正常に機能すること｡（３） 参考なし−294−

第 1.1 版

１４．３．１．５ 信号受信試験
近接型 IC カードの信号受信機能を試験する｡（１） 基本仕様なし。
（２） 拡張仕様（a） 試験方法
試験用 PCD からの変調信号を「９．１．２ 変調方式」または「９．２．
２ 変調方式」で規定される変調波形に調整する｡「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードからの応答を測定する｡（b） 規定「８．２ 動作磁界」の範囲において「９．１．２ 変調方式」または「９．
２．２ 変調方式」で規定される変調波形にて近接型 IC カードから応答が発生すること｡（３） 参考なし。

−295−

第 1.1 版

１４．３．１．６ 負荷変調試験
近接型 IC カードの負荷変調の大きさを測定する｡（１） 基本仕様（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の基本仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードからの応答を測定する｡（b） 規定「１０．１．２ 負荷変調方式」または「１０．２．２規定を満足すること｡

負荷変調方式」の（２） 拡張仕様
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
（a） 試験方法「１４．３．１．１ 機能試験」の拡張仕様にて規定される試験方法にて、近接型 IC カードからの応答を測定する｡（b） 規定「１０．１．２ 負荷変調方式」または「１０．２．２規定を満足すること｡（３） 参考なし−296−負荷変調方式」の

第 1.1 版

１４．３．１．７ 参照 PICC との重ね合わせ試験（１） 基本仕様なし。
（２） 拡張仕様
本試験項目は２枚運用を前提としたカードのみに適用する。
近接型 IC カードが「１５．２．１ 参照 PICC」で規定される参照 PICCに与える影響を測定する｡（a） 電力伝送試験（ア） 試験用 PCD による試験① 試験方法
「１５．２．１ 参照 PICC 」の拡張仕様で規定される電力伝送試験用参照
PICC の抵抗Ｒ３にジャンパＪ１を接続し、電力伝送試験用参照 PICC 同士を重ねた状態で試験用 PCD の被測定カードの位置に取り付け、電力伝送試験用
参照 PICC のＲ３の両端の電圧が 6.8V となるように試験用 PCD の出力を調整する｡
次に、1 枚の電力伝送試験用参照 PICC に近接型 IC カードを重ねた状態で試
験用 PCD の被測定カードの位置に取り付け、電力伝送試験用参照 PICC の受信電力を測定する｡（イ） 規定参照 PICC の受信電圧が 6.8V 以上であること｡（３） 参考なし。

−297−

第 1.1 版

１４．３．２ 試験用 PCD−S による試験
１４．３．２．１ 機能試験
（１） 基本仕様なし。
（２） 拡張仕様なし。
（３） 参考試験用 PCD−S で近接型 IC カードが動作することを確認する。
（a） 試験方法
被測定カードを試験用 PCD−S にセットし、「１２． 衝突防止」で規定される REQA または REQB を試験用 PCD−S より送出する｡近接型 IC カードからの変調信号を、校正用コイルに接続したオシロスコープにて確認する｡
カード 1 枚およびカード 2 枚を重ねた場合について、それぞれ試験を行う｡2枚重ね時は、被測定カード同士、および被測定カードに「１５．２．１ 参照PICC」にて規定される電力伝送試験用参照 PICC を重ねた場合ついて測定すること｡（b） 測定項目
試験用 PCD−S の動作範囲にて近接型 IC カードからの変調信号を確認する｡
・ 試験用 PCD−S 動作範囲
距離：0〜5mm
ズレ：φ5mm（c） 規定試験用 PCD−S の動作範囲にて近接型 IC カードからの変調信号があること｡−298−