「環境調和型で持続発展可能な省エネルギー・創エネルギーのための材料とシステム研究拠点」
2023 年度 名古屋大学未来材料・システム研究所
共同利用・共同研究公募要項
1.共同利用・共同研究の趣旨と公募内容
名古屋大学未来材料・システム研究所（以下「本研究所」という。
）は、学内唯一の理工学系附置研究所であるエコトピア科学研究所を改組し、2015 年 10 月 1 日に設置されました。本研究所は、新しい材料・システムの研究に取り組み、環境調和型持続可能社会の実現に寄与することを目的としています。
2016 年度より 6 年間、共同利用・共同研究拠点として、文部科学省から認定された「革新的省エネルギーのための材料とシステム研究拠点」は、革新的省エネルギー（エネルギーの創出・変換、蓄積、伝送、消費の高度化・超効率化）を実現するために、先端的な材料･デバイス等の要素技術に関する基礎研究から社会実装のためのシステム技術までを一貫して俯瞰し、これを学内外・国内外の研究者の共同利用・共同研究によって推進してきました。
また、2022 年度より 6 年間、共同利用・共同研究拠点として新たに文部科学省から認定された「環境調和型で持続発展可能な省エネルギー・創エネルギーのための材料とシステム研究拠点」
は、環境調和型で持続発展可能な省エネルギー・創エネルギー技術（エネルギー変換、蓄エネルギー、エネルギー伝送およびエネルギー消費の高度化・超効率化）の開発を実現するために、先端的な材料･デバイス等の要素技術に関する基礎研究から社会実装のためのシステム技術の開発までを一貫して俯瞰し、これを学内外・国内外の研究者の共同利用・共同研究によって推進します。
この拠点活動の一環として、本学以外の機関に所属する教員又は研究者と本研究所の教員とが協力して行う、環境調和型で持続発展可能な省エネルギー・創エネルギー技術の開発共同利用・共同研究(※)を公募します。
※共同利用・共同研究
本研究所の教員及び本学以外の機関に所属する教員又は研究者を含む研究チーム（研究チームは「２．申請資格者」を参照）が、本研究所の施設、設備、データ等を利用して共同で行う研究

2.申請資格者
研究代表者
次のいずれかに該当する者（本学の教員を除く。
）とします。
① 国、公、私立大学の教員、研究機関の研究者、又はこれらに準ずる研究者② その他研究所長が特に適当と認めた者研究分担者
次のいずれかに該当する者とします。
① 国、公、私立大学の教員、研究機関の研究者、又はこれらに準ずる研究者② 技術職員、大学院生③ その他研究所長が特に適当と認めた者

3. 申請額及び採択件数
申請上限額： 20 万円
経費の使用は、本研究所内で共同利用・共同研究を遂行するために必要とする旅費、消耗品（共同利用・共同研究に直接必要としない文具品等を除く）、本研究所設備の使用料金（学内料金）等、共同利用研究に関連したものに限ります。
採択予定件数： 100 件程度

4.研究期間研究期間は、採択日から 2024 年 2 月 29 日(木)までとします。同一の研究課題での継続申請は、初回の申請を含めて３回以内までです。
なお，2022 年度より当研究所は新しい拠点「環境調和型で持続発展可能な省エネルギー・創エネルギーのための材料とシステム研究拠点」として認定更新したことに伴い、2022 年度の採択課題はすべて新規課題とする取り扱いをいたしましたので、継続回数の起算は 2022 年度からとなります。

5.申請方法① 同一の研究者が研究代表者として申請できる件数は１件（課題）のみです。
② 共同利用・共同研究を希望する場合、研究代表者は、共同利用・共同研究課題、研究内容、経費等について事前に本研究所の担当教員と十分な打合せをしてください。共同利用・共同研究を実施するに当たり、本研究所から補助する経費（1 共同利用・共同研究課題につき年間20 万円以内を予定）は、次のとおりです。
本研究所内で共同利用・共同研究を遂行するために必要とする旅費、消耗品（共同利用・共同研究に直接必要としない文具品等を除きます。
）購入のための経費と本研究所設備の使用料金（学内料金）③ 共同利用・共同研究を実施するに当たっては、本研究所の設備（別紙資料「主な設備一覧」参照）を利用することができます。なお、利用を希望する場合は、本研究所の担当教員と事前に打合せをしてください（設備の管理者にもあらかじめご相談ください。
）。
④ 共同利用・共同研究の申請に当たっては、別添「名古屋大学未来材料・システム研究所共同利用・共同研究申請書」（別紙様式１）をＥメール（MS-Word 文書）で「12. 提出先」へ提出してください。
⑤ 申請書の書式ファイルは本研究所のホームページからダウンロードできます。次の URL をご覧ください。
ダウンロードページ：https://www.imass.nagoya-u.ac.jp/joint/⑥ 英語による申請も可能です。
⑦ 共同利用・共同研究に参加する大学院生は、学生教育研究災害障害保険への加入をお願いします。

6.申請期限2023 年 1 月 13 日（金）期限厳守

7.審査① 共同利用・共同研究の採否は、共同利用・共同研究委員会の審議を経て、研究所長が決定します。
② 審査にあたり、共同利用・共同研究委員会は必要に応じて研究代表者に申請課題の内容についてお伺いすることがあります。
③ 審査結果については、2023 年 4 月中に、研究代表者あてに連絡します。採択された共同利用・共同研究課題については、ホームページに掲載（共同利用・共同研究課題名、研究代表者名、研究代表者所属機関）しますので、予めご了承願います。

8.共同利用・共同研究報告書
提出していただいた共同利用・共同研究報告書については、本研究所の HP にまとめて公表します。
また、採択された共同利用・共同研究課題については、計画や研究成果を本研究所主催の研究会等で発表していただくことがあります。
① 「名古屋大学未来材料・システム研究所共同利用・共同研究報告書」（別紙様式 2-1,2-2 以下「研究報告書」という。
）を締切日（④参照）までに「12. 提出先」へ MS-Word 文書で提出してください。
② 研究報告書の作成にあたっては、ワープロ等を使用して作成し、別紙様式 2-1 はＡ４サイ
ズ 1 頁に、別紙様式 2-2 は図表等を含めてＡ４サイズ 2 頁になるようにしてください。
③ 共同利用・共同研究の成果について論文を発表する場合（口頭発表を含む。
）は、当該論文の謝辞（acknowledgements）の欄に本研究所の共同利用・共同研究による旨を付記してください。参考として、次の例文を挙げておきます。
- This work was carried out by the joint usage / research program of the Institute of Materials andSystems for Sustainability(IMaSS), Nagoya University.
- 本研究は、名古屋大学未来材料・システム研究所における共同利用・共同研究として実施された。また、公表された論文の電子版を「12. 提出先」へメールで提出してください。
なお、電子版がない場合は、その印刷物又はコピー１部を「12.提出先」へ送付してください。
④ 研究報告書の提出期限は、2024 年 3 月 1 日（金）とします。なお、継続申請であっても当該年度分を必ず提出してください。
⑤ 研究報告書が提出されない場合は、翌年度の申請は受理しませんので、ご注意ください。
⑥ 報告書の書式ファイルは本研究所のホームページからダウンロードできます。
次の URL をご覧ください。
報告書：https://www.imass.nagoya-u.ac.jp/joint/

9.共同利用・共同研究によって生じた知的財産権の取扱い
共同利用・共同研究の実施により生じた知的財産権の取扱いは、名古屋大学共同研究規程を準用します。

学術研究・産学官連携推進本部ホームページ： http://www.aip.nagoya-u.ac.jp/index.html

10.宿泊施設
共同利用・共同研究実施のため宿泊を必要とする方は、本学の宿泊施設を利用することができます。その場合、本研究所の担当教員又は研究協力部研究事業課にお申し込みください。

11.その他
共同利用・共同研究の成果については、隔年で開催される本研究所が主催する「持続性社会のための材料とシステムに関する国際会議 International Conference on Materials and Systems
for Sustainability(ICMaSS) 」において、発表することを推奨します。また学術雑誌等への成果発表を推奨します。なお、次回の ICMaSS は 2023 年 11 月頃開催を予定しております。

12.提出先・問い合わせ先〒464-8601 愛知県名古屋市千種区不老町
国立大学法人東海国立大学機構 名古屋大学
教学事務部門研究協力部研究事業課（研究所事務部内サテライト）
TEL:052-789-4508
E-Mail：k-kyoten@adm.nagoya-u.ac.jp

別紙
主な設備一覧
【成膜装置】
設備（設備群）名仕様設置場所

連絡先

学内料金(円/時間)

8元マグネトロンスパッタ
装置

2インチカソード8本
試料サイズ30 mm角
RF電源 500 W 2台
基板加熱：600℃
1 kV Arイオンエッチング機構
試料交換室に8サンプルバンク可

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,400

8元MBE装置

蒸着源：4cc蒸着源4個、2cc蒸着源2個
試料サイズ30 mm角
先端技術共同研究施設
高圧電源3台
基板加熱：1000℃
1kV Arイオンエッチング機構
25 kV RHEED表面観察機能

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,800

3元マグネトロンスパッタ
装置
島津製作所 HSR-522

4インチカソード3本，RF電源500 W 2台
先端技術共同研究施設
逆スパッタ機構，基盤回転，シャッター開閉機構による多層膜成長可能

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp1,300

連絡先

学内料金(円/時間)【微細加工・プロセス装置】
設備（設備群）名仕様

設置場所

電子線露光装置
日本電子 JBX6300FS

加速電圧：25/50/100kV
最小ビーム径：2nm
ビーム電流：100pA-2nA
重ね合わせ精度：±9nm
最大試料サイズ：8inchφ

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

3,100

マスクアライナキャノン PLA-501(S)

厚さ0.7μm以下の不定形試料に対応 先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

800

ECRイオンガン：入江工研社製RGB114
マイクロ波入力150 W，加速電圧600
先端技術共同研究施設
ECR-SIMSエッチング装置 V，イオン照射径30mm
SIMS検出器：PFEIFFER社製 EDP400
分析質量1-512 amu
試料角度調整，回転機構付き

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

900

イオン注入装置
加速電圧：5-200kV
日新電機 NH-20SR-WMH 注入電流1 µA～100 µA

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,500

光源：1041 nm, 550 fs, 10 µJ (IMRAµjewel D-1000)
高調波発生ユニット：40% @520 nm,5% @347 nm(加工ステーション)
フェムト秒レーザー加工分 最大試料寸法：100 mm x 100 mm
加工スポット：3.5 µmφ
析システム(分析ステーション)
輝創 UFL-Hybrid
時間分解蛍光・磁気分析(光干渉断層撮影ステーション)
撮影エリア：10 mm x 10 mm x 1.6mm
深さ分解能：7 µ

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,900

電気炉
光洋リンドバーグ
MODEL272-2

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,700

温度範囲：400-1100℃

別紙
急速加熱処理装置
温度範囲：400～1200℃
AG Associates Heatpulse
昇温速度：200℃/sec
610

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,200

連絡先

学内料金(円/時間)【電子顕微鏡及び関連装置】
設備（設備群）名仕様

設置場所

反応科学超高圧
走査透過電子顕微鏡
JEM 1000K RS

TEM点分解能：0.15nm以下
STEM機能プローブ径：1nm
加速電圧： 1000kV, 800kV, 600kV,400kV
超高圧電子顕微鏡施設
0.1気圧までの各種ガス環境下でのその場観察
EELSによる元素分析機能
3D観察

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

2,600

高分解能電子状態計測
走査透過型電子顕微鏡
JEM-ARM200F(Cold)(収差補正電子顕微鏡)

TEM点分解能：0.19nmSTEM機能プローブ径：有＜60pm
照射レンズ系に収差補正機能を搭載
超高圧電子顕微鏡施設
加速電圧： 200,80kV0
冷電界放出電子銃
TEM, STEM, EDS, EELS
電子線ホログラフィー

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

1,100

電界放出走査透過電子顕微鏡
EM-10000BU(収差補正電子顕微鏡)

TEM点分解能：0.11nm
STEM機能プローブ径：有＜70pm
照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載
加速電圧： 200,80kV
電界放出電子銃
TEM, STEM, EDS, EELS
電子線ホログラフィー

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

1,100

高分解能透過型電子顕微鏡システム
JEM-2100F-HK

TEM点分解能：0.2nm
STEM機能加速電圧： 200kV
電界放出電子銃
TEM, STEM, EDS

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

700

TEM点分解能：0.25nm
透過電子顕微鏡システム
STEM機能有JEM-2100plus
プローブ径：3.0nm

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

600

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

900

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

1,600超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

1,200

電子分光走査透過電子顕微鏡
JEM2100M

TEM点分解能：0.23nm
STEM機能有
プローブ径：1.0nm
加速電圧：200kV
EELS, 波長分散X線分光器
カソードルミネッセンス(CL)100K-1000Kの温度範囲で計測可

高速加工観察分析装置
MI-4000L(FIB-SEM)

加速電圧：30kV (FIB, SEM)
マイクロサンプリング機能
FE-SEM、EDS およびEDSD機能

加速電圧： 40kV
集束イオンビーム加工機
マイクロサンプリング
FB-2100(FIB)
CAD機能

別紙

アルゴンイオン研磨装置
PIPSⅡ

イオン銃：低エネルギー集束電極ペニングイオン銃 2式
イオンエネルギー：100eV～8keV
試料サイズ：3mm
試料回転：1～6rpmまで可変
XY切り替え範囲：±0.5mm
試料観察：双眼顕微鏡、デジタル
ズームマイクロスコープ
冷却ステージ：液体窒素(保持時間6～7時間)
試料冷却：-120℃まで冷却可能

超高圧電子顕微鏡施設

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp

200

その他 試料作製装置群

切断、機械研磨、化学研磨、FIB用サ
ンプル加工等、無機材料系試料作製 超高圧電子顕微鏡施設のための各種装置群

超高圧電子顕微鏡施設
hvem*@*nagoya-microscopy.jp200

電界放射型分析走査電子顕微鏡
日本電子 JSM-6330F

線源：冷陰極電界放射型電子銃
加速電圧：0.5～30kV
倍率：10～500,000

研究所共同館Ⅱ１Ｆ共通機器室

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

1,500

エネルギー分散型X線分
析装置付走査型電子顕微鏡
日立ハイテクノロジーズ
S3000NSEMEDXⅢTypeN1
SEI像分解能：3.0nm@ 25kVCOMPO像分解能：4.0nm
加速電圧：0.3～30kV

共同教育研究施設第3実
験棟

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

1,500

研究所共同館Ⅱ１Ｆ
共通機器室

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

900

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,000

連絡先

学内料金
(円/時間)

薄膜X線回折装置
RIGAKU ATX-G

Cu Kα線 18kW 多層膜ミラー，Geモ
ノクロメーター付き測定モード：θ－2θスキャン，ロッキ
先端技術共同研究施設
ングカーブ，逆格子面マッピング，膜面内φスキャン，φ－2θχスキャンなど

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,100

X線回折装置 試料水平型、加熱ステージ
RIGAKU RINT2500TTR

Cu Kα線 18kW, 試料水平型
研究所共同館Ⅱ１Ｆ
測定モード：θ －2θ，θs/θd連動
共通機器室
スキャン，θs，θd単独スキャンなど

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

1,000

原子間力顕微鏡
Bruker AXS
Dimension3100

スキャン領域：XY方向 約90μm，Z方
向 約6μm
試料サイズ：最大150 mmφ－12mmt
先端技術共同研究施設
測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，
表面電位顕微鏡，電流像，リソグラ
フィー

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

1,000(1)交番磁界勾配型磁力計：感度10^8emu，20kOe(2)振動試料型磁力計：感度10^ＩＢ電子情報館・岩田研
磁気特性評価システム群 5emu，15kOe(3)トルク磁力計：2×10^-3erg，15kOe(4)磁気光学スペクトロメータ：2×10^3deg，16kOe

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp(1)1,100(2) 900(3) 800(4) 900

加速電圧200kV
透過電子顕微鏡システム
点分解能0.19nm
日本電子 JEM-2010F
STEM機能走査型電子顕微鏡日本電子 JSM-6301F

線源：冷陰極電界放射型電子銃
加速電圧：0.5～30kV
超高圧電子顕微鏡施設
倍率：10～500,000
エネルギー分散型分光器による組成分析可能【分析・計測装置】
設備（設備群）名仕様

設置場所

別紙
X線光電子分光装置
VG ESCALAB250

Mg/Alツインアノード
AlモノクロX線源
Arスパッタ銃
角度分解測定用マニュピレータ
最大試料サイズ：20mmφ

先端技術共同研究施設

微細加工プラットフォーム事務局
info*@*nanofab.engg.nagoya-u.ac.jp

2,200

X線光電子分光装置
島津製作所 ESCA-3300
型

φ100μｍの微小部分分析可能
Ｘ線銃：Mg／Alツインアノード
出力最大450Ｗ（15ｋＶ－30ｍＡ）
エッチングイオン銃研究所共同館Ⅱ１Ｆ
共通機器室

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

2,000

イメージングXPSマイクロプローブ
サーモフィッシャー
ESCALAB 250Xi

UPS, XPS両光電子分光計測が可能
XPS計測時：Mg, Al ツインアノード利用可研究所共同館Ⅱ１Ｆ
最高エネルギー分解能：0.5eV程度＠ 共通機器室
Alkα
最高空間分解能：20μm

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

2,500

誘導結合プラズマ発光分
光分析装置
セイコーインスツルメンツ
SPS7800

シーケンシャル型
波長範囲 175～800nm
最大出力 1.2kW
オートサンプラーなし

研究所共同館Ⅱ１Ｆ
共通機器室

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

3,000

CHNコーダーヤナコ分析工業

自己積分法式（デュアルピストンポンプ使用）
研究所共同館Ⅱ１Ｆ
絶対誤差 ±0.3％以内
共通機器室
オートサンプラーあり

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

2,500

共通機器管理室
shared.equip*@*imass.nagoyau.ac.jp

500

１成分レーザドップラー流
速計測装置
TSI 1D-PDPA/FSA3500P

共同教育研究施設第3実
験棟（注）募集研究テーマを実施するに当たっては、本研究所の設備（主な設備名は上記のとおり）を利用することができます。
なお、利用を希望する場合は、本研究所の担当教員と十分な打合せをしてください。
メール送信の際は@前後の*を除いてください。