PERRY JOHNSON LABORATORY
ACCREDITATION, INC.

Certificate of Accreditation
Perry Johnson Laboratory Accreditation, Inc. has assessed the Laboratory of:

Fischer Instruments K.K. Quality Control Department
1-9-16 Shinmei Soka-shi, Saitama 340-0012(Hereinafter called the Organization) and hereby declares that Organization is accredited
in accordance with the recognized International Standard:

ISO/IEC17025:2017
This accreditation demonstrates technical competence for a defined scope and theoperation of a laboratory quality management system(as outlined by the joint ISO-ILAC-IAF Communiqué dated April 2017):

Mechanical Calibration(As detailed in the supplement)
Accreditation claims for such testing and/or calibration services shall only be made from addresses referenced within thiscertificate. This Accreditation is granted subject to the system rules governing the Accreditation referred to above, and theOrganization hereby covenants with the Accreditation body’s duty to observe and comply with the said rules.

For PJLA:

Tracy Szerszen
President
Perry Johnson Laboratory
Accreditation, Inc. (PJLA)
755 W. Big Beaver, Suite 1325
Troy, Michigan 48084

Initial Accreditation Date:

Issue Date:Expiration Date:

October 19, 2023

October 19, 2023

January 31, 2026

Accreditation No.:

Certificate No.:

117435

L23-754

The validity of this certificate is maintained through ongoing assessments based on acontinuous accreditation cycle. The validity of this certificate should beconfirmed through the PJLA website: www.pjlabs.com

Page 1 of 2

Certificate of Accreditation: Supplement
Fischer Instruments K.K. Quality Control Department
1-9-16 Shinmei Soka-shi, Saitama 340-0012
Contact Name: Hiroki Hoshino Phone: 048-929-3455

Accreditation is granted to the facility to perform the following calibrations:
Mechanical
MEASURED INSTRUMENT,QUANTITY OR GAUGERANGE OR NOMINAL DEVICESIZE AS APPROPRIATE

Magnetic induction
coating thickness gauge F

9.4 μm to 836 μm

Amplitude sensitive eddy
current coating thickness
gauge FCALIBRATION AND
MEASUREMENTCAPABILITY EXPRESSEDAS AN UNCERTAINTY (±)

9.4 μm72.8 μm
836 μm
1 000 μm to 8 000 μm
1 000 μm
4 000 μm

0.086 μm/μm + 0.81 μm
0.019 μm/μm + 1.4 μm
0.013 μm/μm + 11 μm

8 000 μm0.0011 μm/μm + 8.5 μm

11 μm to 836 μm
11 μm
72.8 μm
836 μm
1 000 μm to 3 000 μm
1 000 μm
1 500 μm
3 000 μm0.00142 μm/μm + 1.4 μm
0.0014 μm/μm + 1.9 μm

0.079 μm/μm + 0.87 μm
0.019 μm/μm + 1.4 μm
0.013 μm/μm + 11 μm
0.00077 μm/μm + 0.77 μm
0.00097 μm/μm + 1.5 μm
0.0022 μm/μm + 6.6 μm

CALIBRATION EQUIPMENT
AND REFERENCE
STANDARDS USEDSOP for Calibration of Coating
Thickness Gauge (SRVOP001)
On the basis of:
ISO 2178
Film_SAS_tactile_CH-STD2021/2022/2023 series
Block gage
Comparative reference standard_SAS_Dualscope_FMP40
SOP for Calibration of Coating
Thickness Gauge (SRVOP001)
On the basis of:
ISO 2360
Film_SAS_tactile_CH-STD2021/2022/2023 series
Block gage
Comparative reference standard_SAS_Dualscope_FMP40

1.

The CMC (Calibration and Measurement Capability) stated for calibrations included on this scope ofaccreditation represents the smallest measurement uncertainty attainable by the laboratory when performinga more or less routine calibration of a nearly ideal device under nearly ideal conditions. It is typically
expressed at a confidence level of 95 % using a coverage factor k (usually equal to 2). The actual
measurement uncertainty associated with a specific calibration performed by the laboratory will typicallybe larger than the CMC for the same calibration since capability and performance of the device being
calibrated and the conditions related to the calibration may reasonably be expected to deviate from ideal tosome degree.

2.

The laboratories range of calibration capability for all disciplines for which they are accredited is theinterval from the smallest calibrated standard to the largest calibrated standard used in performing thecalibration. The low end of this range must be an attainable value for which the laboratory has or has accessto the standard referenced. Verification of an indicated value of zero in the absence of a standard iscommon practice in the procedure for many calibrations but by its definition it does not constitutecalibration of zero capacity.

3. The presence of a superscript F means that the laboratory performs calibration of the indicated parameter atits fixed location. Example: Outside Micrometer F would mean that the laboratory performs this calibration
at its fixed location.
Issue: 10/2023

This supplement is in conjunction with certificate #L23-754

Page 2 of 2ペリージョンソン ラボラトリー
アクレディテーション インク

認定証

ペリージョンソン ラボラトリー アクレディテーション インクは、下記の試験所を審査しました。

株式会社フィッシャー･インストルメンツ
品質管理部〒340-0012 埼玉県草加市神明 1-9-16
ここに本組織が、以下の認知された国際規格に基づき、認定されたことを証します。

ISO/IEC 17025:2017
本認定により、以下の範囲及び試験所品質マネジメントシステムの運営における技術的能力を実証するものとします。(2017 年 4 月発行 ISO-ILAC-IAF 共同コミュニケに準ずる)

機械的校正(詳細は付属書に記述)
上記試験及び／又は校正サービスに対する認定資格は本認定証内で言及された住所のみを対象とする。本認定は、上記規格の認定を管理するシステム規定に従い授与され、組織はその規定を遵守し、認定機関の任務を尊重することをここに誓約する。

PJLA

初回認定日
2023 年 10 月 19 日
認定番号117435

発行日
2023 年 10 月 19 日

認定証有効期限2026 年 1 月 31 日

認定証番号L23-754___________________
トレーシー サーツェン
プレジデントPerry Johnson Laboratory
Accreditation, Inc. (PJLA)
755 W. Big Beaver Rd., Suite 1325
Troy, Michigan 48084

この認定証の有効性は、持続された認定に基づく継続審査を通して維持されています。
PJLA ウェブサイト (www.pjlabs.com)でご確認いただけます。

尚、本認定証は日本語翻訳版であり、英文の認定証を正式のものとする。

1/2 頁

認 定 証付 属 書株式会社フィッシャー･インストルメンツ
品質管理部〒340-0012 埼玉県草加市神明 1-9-16
星野 廣記 Tel: 048-929-3455
本認定を、上記組織の実施する下記校正について授与する。
機械的校正
校正を受けた計量機器
または計測器範囲または必要に応じて基準装置サイズ

電磁式膜厚測定器 F

9.4 ㎛ to 836 ㎛
9.4 ㎛
72.8 ㎛
836 ㎛1000 ㎛ to 8000 ㎛
1000 ㎛
4000 ㎛
8000 ㎛

渦電流式膜厚測定器 F

11 ㎛ to 836 ㎛
11 ㎛
72.8 ㎛
836 ㎛1000 ㎛ to 3000 ㎛
1000 ㎛
1500 ㎛
3000 ㎛

不確かさとして表現された校正測定能力(+/-)

0.086 ㎛/㎛ ＋ 0.81 ㎛
0.019 ㎛/㎛ ＋ 1.4 ㎛
0.013 ㎛/㎛ ＋ 11 ㎛
0.00142 ㎛/㎛ ＋ 1.4 ㎛
0.0014 ㎛/㎛ ＋ 1.9 ㎛0.0011 ㎛/㎛ ＋ 8.5 ㎛

0.079 ㎛/㎛ ＋ 0.87 ㎛
0.019 ㎛/㎛ ＋ 1.4 ㎛
0.013 ㎛/㎛ ＋ 11 ㎛
0.00077 ㎛/㎛ ＋ 0.77 ㎛
0.00097 ㎛/㎛ ＋ 1.5 ㎛
0.0022 ㎛/㎛ ＋ 6.6 ㎛使用された校正機器
および基準、規格ISO2178 に基づく作業手順書 膜厚計校正(SRVOP001)
フィルム_SAS_tactile_CHSTD-2021/2022/2023 シリーズ
ブロックゲージ
比較参照器_SAS_Dualscope_
FMP40
ISO2360 に基づく作業手順書 膜厚計校正(SRVOP001)
フィルム_SAS_tactile_CHSTD-2021/2022/2023 シリーズ
ブロックゲージ
比較参照器_SAS_Dualscope_
FMP40

1．

この認定範囲を含む校正に対して記載された CMC（校正測定能力）は、ほぼ理想的な条件下でほぼ理想的な機器をおおよそ定められた方法で校正している試験所であれば、達成しうる最小測定不確かさを表している。それは、包含係数 k=2 を用いて 95%の信頼水準で表される。校正されている機器の能力や性能及び校正に関連する条件は、適度にある程度理想から逸脱しうるので、試験所が行っている特定の校正に関する実際の測定不確かさは、通常同じ校正に対する CMC より大きい。

2.

校正を認定する場合、校正機関の校正能力の範囲は校正を実施する際に用いる参照標準、標準物質等の最小値から最大値に起因される。従って、校正範囲の最低下限は校正機関が入手できる最低到達可能値でなければならない。
標準がない場合、手順や方法によって校正された０（ゼロ）の値を検証することによって、“0 点は校正ではない”とする定義を除けば、校正方法は手順に起因する。ただし、この場合、0 点の校正が全くできないとする定義は成立しないこともある。

3.

上付き文字“F”は、試験所が固定された位置で示されたパラメータの校正を実行することを意味している。 (例：“Outside MicrometerF”は、試験所が固定された位置でこの校正を行うことを明確にしている。)

2023 年 10 月発行

本付属書は、認定証番号 L23-754 の認定証を補足するものである。

2/2 頁