③整理_RunLog_2301Kr_230211.xlsx1_RunLog

2301Kr

84Kr31+ 70MeV/u AVF_18G max 1pnA

Run Summary Sheet : CAMAC & LabView
AttFnamestart

bef-

実験前無し
実験中：Beam調整時

23/01/30
CapstopHeader

5:03:00

mpg

Spot確認Wob動作確認
本番用Spot確認

MaxBeam123456

Gaf:: EBT3 □85x85mm @ Ysld

p.114

Att vs IC2@Air2
Au無 R=20,30,40(見えない) : C135パラメータでAu無 R=15,25,36212345IC2[A]1.6-8

Wob AuF Kap IC1 PL1 ED

PL2IC2 Air1 Air2SSD

0 3 0 1 1
同上0 2 0 1 050uΦ50145 200FC5A1= enA
×0u

IC2@Xclmt

PL1=PL2= 1.3kcps 2 2 0 0 2 PorS(0) R36 45.8 〇
0:01:09 PL1=100u(EJ212 new 2301Arでchk済)
0:01:23 PL2=100u(EJ208 old ；2212Kr終了時に測り忘れたので)
0:01:11 PL2 EJ208は、もうダメ, 次回交換要
0:01:05
0:00:58（決定） HV PL1=1000V（決定） Thr PL1= -309mV(ring 20mV), PL1peak= -800±50mV
PL1low = 4000mV(～1/2peak)〇100 0u

PL2@Air2p.115〇 〇 〇IC1～IC2= 1.2-7A 1 1 0 0 0
0:38:00 (決定) ExpR= 1050um（前回）2212Kr 1070um より 20um 浅い30s x 41点 0～850uを間引いた <-- ギリギリだった 余裕を持って深くまで用意が必要
8:16:00
0:30:00〇〇var

IC2@Air2
PL2@IC2下流〇〇〇0u

PL1=3kcps 2 2 0 0 1 PorS(0) R36 45.8 〇
0:01:11 PL1=100u(EJ212 new 2301Arでchk済)
0:00:38 PL2=無し
0:00:55 PL1 PH少し下がり、太くなった
0:00:58
0:00:43〇100 0u

PL2@Air2〇〇

SSD@Air260sec毎 Beamx1/100 にして
30sec
60sec
40sec
40sec

p.115
6:33:42 plhv01-01 100u(new)-100u(EJ208old) 800,800V
6:35:34 plhv01-02 900,900V
6:37:31 plhv01-03 1000,1000V
6:39:12 plhv01-04 1100,1100V
6:40:41 plhv01-05 1200,1200V
p.115
回路調整
6:30:00
6:32:33
6:34:11
6:36:20
6:38:07
6:39:43

scnEDic： ExpR 確認

0 4 0 0 0
1 4 0 0 0

同上 R変化は、弱くして長時間照射で調整する！

Au 45.8u(Kr用) R=0
Au 112.5u R=0
Au 45.8u, R=36
Au 45.8u, R=36 出口コリ□35(new)6:50:00
scnEDic01_202301300655
6:55:00
scnEDic02_202301300746
7:46:00

Trig

×

5:40:00

PL HV： 利用「前」plhv01-3

測定省略

Gaf焼き
Gaf

100 10 5

p.114

Cap01_ZnS Zslide
Cap02_WobR36
Cap03_R36Au45
Cap04_Gaf01 R20,30,40
Cap05_Gaf02 R15,25,36

5:11:00
5:51:00
6:01:00

コメント

イオン源= 18G

ZnSスポット調整
1234
5Ender / LogNote
Elapsepg.
LogNote: E5exp(10)_0 4 0 0 0

手動で 900～9600の間で落ちた
30s x 61点 -> 5４点まで

7:33:00

scnAtt： IC1 vs PL1
scnAtt01_202301300828
8:28:00
scnAtt011 8:29:14～
27 8:51:45

p.116
8:52:00 Step = 1/2, /4, /6, /8, /10

0:24:00

8:29:47 scanAtt001 Mul 2000

0:00:33

8:52:14 scanAtt027 Mul 800000

0:00:29

IC1= 1.2-7A PL1=4M 1 1 0 0 0 ～1 3 0 0 3
(決定) PL[cps]= 3.426E+13 * IC1[A], 実測/予想= 0.86〇〇

scnEDssd：無し 時間切れ
23/01/30
23/01/30
23/01/31

8:52

ビーム調整終了

10:05(R04-4,-5)利用スタート
5:35
利用終了
利用者・切替 の合間に測定

PL HV： 利用「後(1)」plhv11-1234
5

6:39:57
6:42:56
6:43:57
6:45:45
6:47:07

p.116
p.124

6:41:08 plhv11-01 PL1=100u nomi 800V
6:43:34 plhv11-02 900V
6:44:52 plhv11-03 1000V
6:46:43 plhv11-04 1100V
6:47:50 plhv11-05 1200V

scnEDssd：ED厚calib, 300mm2 SSD テスト
scnEDssd11_202301310717
p.124
7:17:00 7:55:00 30s x 52点：Kr用 EDthcal パラメータscnEDssd111 7:17:34 7:18:01 scanED001 0.0 um～52 7:54:56 7:55:24 scanED052 957.0 um
scnEDssd12_202301310812
p.124
8:12:00 8:33:00 30s x 43点： Test1-set 300mm2
scnEDssd121 8:13:10 8:13:38 scanED001 0.0 um～
時間ないので途中#28でstop
28 8:33:00 8:33:28 scanED028 805.6 um
scnEDssd13_202301310853
p.125
8:53:00 9:00:00 30s x 43点： Test2-set 300mm2
scnEDssd131 8:53:16 8:53:39 scanED001 0.0 um～
よりまびいた。時間ないので途中#10でstop
10 8:59:49 9:00:16 scanED010 1000.4 um
23/01/31

9:00

合間測定 終了

23/01/31
23/02/01

10:15
8:40

(ML05-2)利用スタート
利用終了

PL HV： 利用「後(2)」plhv12-1
2

23/02/01
aft無し

7:26:34
7:35:41
8:40

PL 30K, Sor 500 cps, Trig=AND
２連ｘ２：コリΦ5 遮光 AyMy 2.5um
0:00:27 20-700, 150-300um : Ar,Kr-set

HV(uA): 20(1.83) 120(1.77), 90(5.17), 140(3.39)
0:00:28 SA(Att) x100x9(0), x20x6(0)、x20x10(0), x20x10(8)同上
0:21:00 ４連：コリΦ10 遮光 AyMy 2.5um

30-30, 50-300um : Test1-set
0:00:28 Sel# 26-263C,26-263E,22-021A,22-6450

HV(uA): 20V(2.05), 20(1.91不安定), 40(7.45), 110(4.05)
0:00:28 SA(Att): x50x7(0), x100x9(0), x50x10(0), x20x8(0),同上
0:07:00 ４連：コリΦ10 遮光 AyMy 2.5um

50-50, 50-50um : Test2-set
0:00:23 Sel# 20-249B, 21-488C, 21-488D, 21-090D

HV(uA): 40(?), 40(?), 40(?), 40(?)
0:00:27 SA(Att): x20x6(0), x20x7(0), x20x7(0), x20x7(0)p.116ML05 利用中で、その終わりころの測定

p.126

7:27:42 plhv12-01 1000V 35kcps
7:36:46 plhv12-02 1000V 3kcps
MT終了0:01:08
0:01:05

加速器E測定： タマキ、小山
23/01/30
以上。

8:54:00

E(Kr) = 69.59 MeV/u

2 1 0 0 1 PandS

0:38:00

p.122

ビーム調整後に測定

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