NDT フラッシュ Vol.67 No.11 1/4

ＲＴレベル３照ください)。

二次パートＤ・Ｅ試験問題のポイント(ａ)1.2(ｂ)1.6(ｃ)2.2(ｄ)3.1

近年に出題された二次パート D・E 試験問題のうち，正答率の低かった問題と類似した例題により各パートのポイントを解説する。問 1～3 はパート D，問 4 はパートE の試験問題と類似した例題である。
なお，過去にも試験問題に基づいた同様のポイントを解説した NDT フラッシュが日本非破壊検査協会のホームページで公開されている。参考にしてほしい。
問1

単色の γ 線を放射する放射性同位元素(RI)の線源について，ある日のある時刻，線源と測定器間の距離を 200 cm として照射線量率を測定した。14 日後の同正答(ａ)cm として照射線量率を測定したところ，前回と全く等しい値を得た。この RI の半減期(T )として正しいもの

図 1 及び図 2 の配置で同一条件により撮影しているこを一つ選び，記号で答えよ。
(ａ)約 75 日(ｂ)約 119 日

図2

図1

時刻に同じ線源を用い，線源と測定器間の距離を 192とから，共通条件として管電圧 A kV，管電流 C mA，露(ｃ)約 150 日(ｄ)約 192 日

出時間 t min 及び焦点フィルム間距離 600 mm を考えれば，
図 1 及び図 2 における P 点の露出量 E1 及び E2 は，式(2)正答(ｂ)及び式(3)で与えられる。

照射線量率は放射能の強さに比例するため，RI の放射能の減衰の式に距離の補正を行った式(1)が成り立つ。
   
 

 e

(1)

ここで，

 

 ・ ・・  ・ ・・(2)  ・ ・・ 

(3)

ここで，

N14：14 日後の距離 192 cm での放射能の強さ

k1 ：透過線の線質に対する X 線フィルム

N0：ある日の距離 200 cm での放射能の強さの感度係数k1′：散乱線の線質に対する X 線フィル

λ：崩壊定数t：経過日数(14 日)

ムの感度係数

題意より，N14 と N0 は等しい。また，λ は ln2/T である。

I1：フィルム上の透過線量率

これらと，t に 14 日を代入し整理して T について計算すI1′：フィルム上の散乱線量率

ると，118.9 日となる。したがって，正答は(ｂ)である。

k0：X 線フィルムの特性曲線作成時のX 線の線質に対する感度係数問2

図 1 は散乱線を無視できるほど少なくするために，式(3)を式(2)で除せば，式(4)となる。

絞りの直径を小さくし，試験体を放射口に密着した撮影配置を示す。図 2 は透過試験を実施する時の通常の撮影配置を示す。

  ・1 

 ・

(4)n は，X 線フィルムの感度係数を考慮して散乱線量率

図 1 及び図 2 の配置で同一条件により撮影して得らI1′と透過線量率 I1 との比で定義されることから，式(4)れた透過写真の濃度を図 1 の配置の場合に 1.00，図 2の右辺第 2 項が n に相当する。このため，式(4)は式(5)の配置の場合に 1.87 であった。図 2 における透過線量と書き表せる。

に対する散乱線量の比すなわち散乱比(n)として正しいものを一つ選び，記号で答えよ。なお，X 線フィルムの特性曲線は，IX100+Pb0.03 を用いよ(参考書を参


1(5)

透過写真の濃度が D1 及び D2 である場合，それぞれの-1-

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濃度に対応する露出量は，X 線フィルムの特性曲線からE1 及び E2 として求めることができる。題意より濃度D1(1.00)，濃度 D2(1.87)に対応する露出量 E1 は 35 秒と，E2 は 77 秒と IX100+Pb0.03 の X 線フィルムの特性曲線か|⊿*+, |  -. ・! ・"# ・$ ・%

-(8)|⊿*+, |  -. ・! ・"# ・$ ・%

-(9)

&'

題意より，γ1 = γ2，σ1 = σ2，n1 = n2 であるため，式(8)ら読み取ることができる。これらの値を式(5)により計算
すると 1.2 となる。したがって，正答は(ａ)である。

を式(9)で除して式(10)になる。
⊿./01

問3

&'⊿./01

厚い板状の鋳鋼品を透過したX線の減弱係数が2.0

"# ・%"# ・%

(10)

cm-1のとき，直径0.60 mmのブローホール(球状のきず)

題意より，式(10)の⊿Dmin1 に 0.050 を，μp1 に 2.0 cm-1が識別限界であった。きずが同一位置にあるものとすを，d1 に 0.060 cm を，⊿Dmin2 に 0.060 を，d2 に 0.050 cm

れば，直径0.50 mmのブローホールを識別するためには，を代入し，μp2 について求めると，2.88 cm-1 となる。した

管電圧を変えて減弱係数を幾ら以上にする必要がある

がって，正答は(ｄ)である。問では減弱係数の単位はか。最も近いものを一つ選び，記号で答えよ。

cm-1(1/cm)であるのに対し，直径の単位は mm で与えられ

ただし，直径0.50 mm及び0.60 mmのブローホールにている。単位を統一して計算する点に注意をしてもらい対する識別限界コントラスト⊿Dminはそれぞれ0.060及たい。

び0.050とする。また，濃度，散乱比及び撮影配置など
問4の他の撮影条件はすべて変化しないものとする。

である。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

なお，焦点寸法の影響は無視できるほど小さいものとする。
(ａ)2.2 cm-1

次の文は，日本工業規格(JIS)について述べたもの(ａ)JIS Z 3104：1995のきずの像の分類方法では，試験視(ｂ)2.4 cm-1(ｃ)2.6 cm-1

野の大きさ(直径)70 mmのものを使うように規定さ(ｄ)2.9 cm-1

れている。
正答(ｄ)

(ｂ)JIS Z 3105：2003での像質の種類B級では，母材の厚直径 d のブローホールに対する透過写真のコントラス

さ100 mmまで階調計の使用が規定されている。

ト⊿D は，式(6)で与えられる。
⊿ 

. ・!・"# ・$・%&'(ｃ)JIS Z 3106：2001ではX線の回折像について分類の対象としないことが規定されている。
(6)(ｄ)JIS G 0581：1999では母材の厚さ50 mmまで階調計のここで，使用が規定されている。
γ ：フィルムコントラスト
μp ：X 線フィルムの感度係数を考慮した正答(ｃ)

X 線の減弱係数

JIS Z 3104：1995のきずの像の分類方法では，試験視野

σ ：焦点寸法及び撮影の幾何学的条件にの大きさは，母材の厚さに応じて，10×10 mm，10×20 mm

よる補正係数又は10×30 mmの正方形又は長方形のものを使うように

n ：散乱比規定されている。円形のものを使うように規定されてい直径 d のブローホールが識別できるためには式(7)の関るのは，JIS G 0581：1999であるため，(ａ)は誤りである。

係が成立しなければならない。
|⊿| ≧ |⊿*+, |JIS Z 3105：2003での像質の種類B級では，母材の厚さ(7)50 mm以下まで階調計の使用が規定されているため，(ｂ)ここで，減弱係数が μp1 及び μp2 のとき識別限界となるは誤りである。

ブローホールの直径をそれぞれ d1 及び d2 とすると，直JIS G 0581：1999では階調計の使用が規定されていな

径が d1 及び d2 のブローホールに対しては式(7)においていため，(ｄ)は誤りである。

等号が成立つことになる。直径が d1 及び d2 のブローホ

JIS Z 3106：2001ではX線の回折像について分類の対象ールに対する識別限界コントラストをそれぞれ⊿Dmin1としないことが規定されているため，正答は(ｃ)である。

及び⊿Dmin2 とすれば，式(8)及び式(9)の関係が同時に成主要JISの規定内容について理解が求められている。各自立する。

工夫して規定内容について理解してもらいたい。

-2-

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ＭＴレベル３

二次パートＦ試験問題のポイントして挙げられている。
「適用範囲」は仕様書に示された試
験体はどのようなものであり，どのような目的で，いつ2015 年秋期より JIS Z 2305:2013 による資格試験が開どのようにして磁気探傷試験をするかを記載する。
「 引用始された。これまで NDT フラッシュでは JIS Z 2305:2001

規格」には，JIS 規格だけでなく，社内基準など手順書による資格試験について， MT レベル 3 の C１C２C３試験内で使用・引用するものを記載する必要がある。

問題のポイントを解説し，Vol.65 No.2(2016)には 2013 年

項目 2：NDT 技術者

改正 JIS 規格によるパート D，E，F 試験問題について解項目 3：機材及び装置（略）説した。その後，磁粉探傷試験に関わる JIS Z 2320-1～3

小項目として「主要な NDT 装置」，「補助装置」が記が 2017 年に改正され，これを受けて参考書・問題集等も載されている。管理状態，装置仕様，使用すべき補助装2018 年改訂版として発行された。今回はパート F 試験問

置・器具・機材等の仕様を記載する。

題で出題される手順書作成問題について解説する。

ここでは，次のことに留意する必要がある。
・試験に使用する機材及び装置が点検・校正されて管理パート F 試験については JIS Z 2305:2013 の附属書 Dされ，かつその有効期限内のものであるということ。

「D.2 レベル 3 の手順書作成試験における配分」の表 D.2

・仕様：機材及び装置の各々についての要求される性能に，内容と点数配分のガイダンスが示されている。表 D.2

その他，記載すべき項目に示された各項目について，参照規格に従った，手順書

装置や機材は，特別な装置や自社使用の専用装置，自に記載すべき事項及び内容が問われる。これまでは，試動装置等は除き，基本的な汎用装置であればどのような験時に受験者に参照規格として 2007 年版 JIS（ 以下旧 JISものを想定しても良く，適用しようとする磁化方法に最という。）が貸与されていたが，今後は JIS Z 2320-1:2017

適な装置を選定する。ただし，装置の能力や磁化性能を（以下新 JIS という。）が貸与されることになろう。以前

考慮すると，電流については，交流・直流の別，電流のの本欄にあるように，事前に JIS 規格を読んでいないと整流波形，波高値・実効値・平均値（測定方法）の区別思われる人も多く見かける。会場で試験問題を読んで内等が必要であり，必ず記載する。同じ電流値でも波形及容を理解し，更に JIS 規格を読んでこれを適用した試験

び測定方法が違うと磁化能力は全く異なることを理解し方法・手順を検討し手順書の内容に反映することは，限ておく必要がある。

（略）

られた時間内ではかなり困難である。事前に JIS 規格及＜記載が必要な内容の例＞

び表 D.2 をよく読んで，表 D.2 の項目に該当する内容が①試験機材及び装置等の管理JIS 規格のどの箇条に該当しているかを確認し理解・検②磁化装置｛仕様；最大電流及び電流の種類（整流波討しておくことが大切である。試験では，初めに問題及形，波高値・実効値等の測定方法を含む）｝

び解答用紙を一読し，与えられた条件及び試験体に適切

極間式磁化器では，励磁電源（AC，DC）及び電圧，な磁化方法，磁化条件，装置類を検討し構想をまとめる

磁極間内のり，全磁束等必要がある。
手順書は仕様書に示された内容に基づき，各項目，特に試験方法及び試験条件の選定，その内容の記載にあた③プロッド電極，ケーブル，コイル，電流貫通棒・磁束貫通棒，継鉄棒など磁化の補助具④紫外線照射灯（仕様，装置としての必要条件）って，新 JIS を含め十分理解しているかどうかが問われ⑤検出媒体（磁粉の種類，濃度及び分散媒）る。以下，MT レベル 3 の手順書作成問題における注意⑥磁粉散布器具点について，表 D.2 の項目項目に従って解説する。
なお，
（略）
項目

⑦対比試験片（必要に応じ標準試験片）

で示した項目の内容の詳細は，前掲の Vol.65 No.2(2016)⑧必要な場合：の解説を参照して欲しい。また，手順書及び各項目の記

探傷装置，補助具，その他の機材について，適切に区

磁気測定器，架台，暗幕など

載内容の考え方については，「磁気探傷試験Ⅲ」2018 年

分けして記載する。

版に詳しく記述されているので参照されたい。

項目 4：試験体（及び試験範囲）：試験体（及び試験範囲）（略）

項目 5：NDT の実施
項目 1：一般「適用範囲」，「文書管理」，「引用規格」等が小項目と「使用される NDT 技法」「， 必要であれば機器の調整」，「NDT の実施」，「不連続部の特性評価」など，手順書とNDT フラッシュ Vol.67 No.11 4/4

して最も重要な内容である。
特に「NDT の実施」（試験方法）の検討では，磁化方がある。
⑫観察方法（環境，方法，時期等）

法が指定されない場合，試験体の特性と検出すべききず具体的な観察方法，指示書に繋がる内容を記載する。に適切で実現可能な磁化方法の選定が必要である。先に試験面の分割や，磁化方法各々の観察の順序，一般検討した項目 1～4 の内容から，与えるべき磁界の強さ，的な観察条件，観察方法を含める場合もある。

磁界の方向及びきずの特性を考慮して一つ又は二つ以上⑬その他必要な指示事項：例の適切な磁化方法を含む具体的な試験方法を検討する。

(a)試験体の架台への設置，試験面の傾斜等による影響＜検討項目の例＞

を考慮した，検出媒体の適用に関する考慮事項及び・対象とする試験体又は試験範囲の大きさ，形状，安全に関わる事項

材質又は磁気特性，試験部位，数量，用途(b)プロッド法など直接に通電する方法に関する特記・対象とするきずの種類と大きさ

事項など各磁化方法における注意事項（スパークの対策・発生した場合のスパーク跡の処理方法等）

・試験の時期・使用可能な探傷装置

なお，磁化方法が指定された場合には，適切な専用冶

・対象とするきずの発生方向具の使用を含めた，その方法を使用した最適な試験条件＜記載すべき項目の例と注意＞の設定を考える必要がある。

①“検査性能の確認方式”は，新 JIS にはない(c)必要な場合，実施する「磁化の確認」の方法につ②前処理方法③磁化方法（複数ある場合，その適用の順）いて記載する。
また，この項目 5 では検出されたきずの大きさ及び特性④電流（種類，電流値，測定方法等）の評価方法（種類，応力方向との関係等）についても記JIS 改正により検査性能の確認方式はなくなり，試験載する。

片確認方式は工程確認方式に統合・一本化された。旧 JIS

項目 6：判定基準

では試験面の最小磁束密度は実効値で 1 T とし，与える

項目 7：NDT 後の手順（略）

磁界の強さは低合金鋼及び低炭素鋼では 2000 A/m が推後処理方法（具体的な脱磁方法等含む），きず位置のマ奨されていた。新 JIS では試験面の最小磁束密度は 1 Tーキングや試験体の分別及び処置等について記載する。

が望ましいとし，与える磁界の強さは比透磁率によって項目 8：NDT 報告書の作成決まるが，一般に低合金鋼及び低炭素鋼では 2000 A/m が

項目 9：全般的な表現（略）（略）必要と考えられるとしている。したがって，磁化曲線が分からない場合，これらの鋼種以外では，新 JIS 解説表

本解説を参考に，予め大型部材・構造物の溶接部や各1 (旧 JIS 表 8)を参考に，与えるべき磁界の強さを検討す種の機械部品などを想定して，表 D.2 に従った手順書をることになる。

書く練習をしておくことは有効な学習方法である。手順

電流の種類の選択及び電流値設定の考え方は重要である。

書の例として，2018 年版の「磁気探傷試験Ⅲ」，「磁気探⑤必要な場合：探傷有効範囲

傷試験Ⅱ」に詳細な説明と記載例があるので参考にしてただし，電流値や探傷有効範囲（試験範囲）について欲しい。また旧版参考書も参考として活用して頂きたい。

は，新 JIS に記載された内容を適用した具体的な数値を特に，普段，取り扱っていない装置を使用する手順書作記載する。

成を検討する場合，講習会などで経験したり，参考書や⑥必要な場合：プロッド間隔

他の参考となる規格等をよく読んで探傷操作をイメージ⑦探傷ピッチすることで各磁化手法の要点や注意すべき事項が理解で⑧プロッド（又は磁極）の配置き，手順書に記載する内容や範囲がより深まると思われ⑨磁化の時期（連続法，残留法の別）る。

⑩検出媒体の性能試験方法⑪検出媒体の適用方法（具体的な適用手段）
具体的な適用方法，指示書に繋がる具体的な内容を記載する。一般的な適用条件・手段も含める場合

以上，本解説及び前掲の解説記事が MT レベル 3 手順書作成問題学習の参考になることを期待します。