NDT フラッシュ Vol.63,No.11

ＰＴ・ＰＤレベル 1

1/4

一般試験のポイント

正答（ｂ）

試験準備には，手順書（指示書）の準備から探傷機材
PT･PD レベル 1 の新規一次一般試験問題については，これまで何回か本欄で解説を行ってきた。
今回は，さらに基本的に理解してほしい問題及び説明の足りなかった例題について解説する。の準備，試験環境の整備及び探傷面の調整等がある。前処理とは，溶剤等を用いて試験体表面を清浄にし，試験体表面に浸透液がぬれて，かつ，きずの中に浸透液が浸透するようにすることである。前処理と試験準備とは分けて考えられている。したがって，（ａ）は誤っている。

問１

次の文で，誤っているものを一つ選び記号で答えよ。（PT）（ａ）浸透液の適用方法には，はけ塗り法，スプレ法，浸漬法などがある。

（ｂ）は試験面の準備のことを言っており，正しい。
試験体を温めることは試験準備に入るが，題意の試験面の準備ではなく試験環境の準備と考えられる。したがって，（ｃ）は誤っている。目視によりきずを検出するこ（ｂ）後乳化性浸透探傷試験は，過洗浄になりやすい。とは，目視検査であり，浸透探傷試験とは分けられてい（ｃ）染色浸透探傷試験は，白いバックグラウンドがでる。したがって，（ｄ）も誤っている。

きないときず検出能力が劣る。
（ｄ）水洗性蛍光浸透探傷試験は，水洗性染色浸透探傷試験よりきず指示模様の識別性が高い。

問３

次の文のうち，誤っているものを一つ選び記号で答えよ。（PT・PD）（ａ）浸透処理では，浸透液の塗布の範囲と最小浸透時正答（ｂ）

浸透液の適用方法には，一般に，はけ塗り法，スプレ間を必ず守ることに注意が必要である。
（ｂ）塗布した浸透液が乾燥しかけた場合は，もう一度法，浸漬法などが用いられている。その他に，注ぎかけ浸透液を塗布してもよい。

法や静電塗布法も覚えておく必要がある。したがって（ｃ）浸透液をエアゾール缶を用いて塗布する場合は，（ａ）は正しい。後乳化性浸透探傷試験は，油性浸透液ノズルをなるべく試験面に近づけて塗布するようを用い，乳化処理により水洗浄する方法であり，最も過にした方がよい。

洗浄になりにくい方法である。したがって，（ｂ）は誤っ（ｄ）エアゾール缶を用いて浸透液を溶接部に塗布するている。染色浸透探傷試験は，赤色の浸透液と白い現像

場合には，なるべく広い範囲に浸透液を塗布する剤のバックグラウンドとの色のコントラストにより指示ようにしなければならない。

模様を識別する方法である。したがって，（ｃ）は正しい。
蛍光浸透探傷試験は光の強さで，染色浸透探傷試験は色正答（ｄ）のコントラストで指示模様を識別する。目に対する感受浸透処理では，試験範囲全体に浸透液を塗布すること

性は光の方が色より遙かに高く，指示模様の識別性が高と最小浸透時間を守らなければ，正確なきずの検出はでくなる。したがって，（ｄ）も正しい。

きなくなる。したがって，（ａ）は正しい。一般に浸透液が乾燥するようなことはほとんどないが，環境条件によ

問２

試験準備のうち試験面の準備として，次の文のうち正しいものを一つ選び記号で答えよ。（PT・PD）って，乾燥しかけた場合は，もう一度浸透液を塗布するのがよい。したがって（ｂ）は正しい。

（ａ）前処理を行わなくてもそのままで浸透液が浸透す浸透液をエアゾール缶を用いて塗布する場合は，ノズるように，試験体表面を整えることである。

ルを試験面から離すと浸透液の噴霧範囲が広がり余分な（ｂ）前処理が有機溶剤を使う程度で十分となるように，ところに浸透液が塗布される恐れがある。そのため，で表面の汚れを落とすか表面の粗さを整えることできるだけ近づけて塗布することが望ましい。したがって，ある。

（ｃ）も正しい。

（ｃ）試験体を温め，浸透液を適用することである。
（ｄ）目視によりきずを事前に検出し，浸透探傷試験の適用範囲を整えることである。

溶接部の試験範囲は溶着金属部と熱影響部であり，そこ以外には浸透液を塗布する必要はない。広い範囲に塗布することは経済的にも除去の作業性にもよい影響を与えない。したがって，（ｄ）は誤っている。

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問４2/4

次の文は，溶接部の浸透探傷試験における除去処理について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。（PT・PD）（ａ）溶剤除去性蛍光浸透探傷試験の除去処理は，表面に浸透液の色が若干残る程度に拭きとるのがよい。
（ｂ）溶剤除去性浸透探傷試験の除去処理の程度は，染色浸透液でも蛍光浸透液でも，ウエスについた浸透液の色の程度を見て判断する。

正答

（ａ）

乳化処理とは，油性浸透液に乳化剤を適用し，これを水洗可能な状態にすることをいう。したがって，（ａ）は正しい。乳化処理をはけ塗り法で行うと乳化剤と浸透液が均一に混じり合わず適用不可とされている。したがって，（ｂ）は誤っている。
乳化時間は試験体表面の余剰浸透液にのみ乳化剤が混じり合う時間は一般的に 2 分程度であり，長くても短く（ｃ）除去処理を過度に行った場合や除去不足の場合のてもよくない。したがって，（ｃ）も誤っている。乳化時

いずれの場合も指示模様とバックグラウンドとの間とは，乳化処理を始めてから洗浄を開始するまでの時コントラストが低くなる。

間をいう。したがって（ｄ）も誤っている。

（ｄ）溶剤除去性浸透探傷試験と速乾式現像法を組み合わせた場合は，除去処理の後に乾燥処理を行わなければならない。

問６

次の文は，浸透探傷試験の現像法について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（PT・PD）

正答（ｃ）（ａ）蛍光浸透探傷試験には，適用できない現像法があ

溶剤除去性蛍光浸透探傷試験の除去処理は，試験体表面にブラックライトを照射し，浸透液の蛍光がなくなるる。
（ｂ）染色浸透探傷試験には，乾式現像法は適用できな程度に拭きとるのがよく，（ａ）は誤っている。染色浸透探傷試験では，ウエスについた浸透液の色が薄いピンクい。
（ｃ）速乾式現像法は，染色浸透探傷試験に適している色になる程度に除去するが，蛍光浸透探傷試験は試験体表面の蛍光の程度を見て判断する。したがって，（ｂ）はが，蛍光浸透探傷試験には適さない。
（ｄ）乾式現像法は速乾式現像法より，現像時間が経過誤っている。

すると指示模様が拡大したりにじんだりする。

除去処理を過度に行った場合は指示模様が薄くなり，除去不足の場合はバックグラウンドが高くなり，いずれの場合も指示模様とバックグラウンドとのコントラストが低くなる。したがって，（ｃ）は正しい。

正答

（ｂ）

現像方法は一般に，速乾式現像法，乾式現像法，湿式現像法及び無現像法の 4 つに分けられる。蛍光浸透探傷

溶剤除去性浸透探傷試験（速乾式現像法）の場合，除試験では，全ての現像法が適用可能である。したがって去処理の後の乾燥は自然乾燥で十分であり，特別な乾燥（ａ）は誤っている。染色浸透探傷試験では，前問でも処理を必要としない。したがって，（ｄ）も誤っている。

述べたように，白いバックグラウンドが必要であり，乾式現像法は適用できない。したがって，（ｂ）は正しい。

問５

次の文は，乳化処理（油ベース）について述べた

蛍光浸透探傷試験は蛍光を観察するため，現像剤塗膜はものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

薄くする必要がある。速乾式現像法は適用操作により塗（PT）膜の厚さを変えることが可能であり，蛍光浸透探傷試験（ａ）乳化処理とは，油性浸透液に乳化剤を適用し，こにも適用可能である。したがって，（ｃ）は誤っている。

れを水洗可能な状態にする処理をいう。

乾式現像法はきず部の浸透液にのみ付着して指示模様を（ｂ）乳化処理をはけ塗り法で行う場合は，何回もくり形成するものであり，現像時間が経過してもほとんど指返して行わない方がよい。
（ｃ）乳化処理を完全に行うには，乳化時間は長い方が示模様が拡大したりにじんだりすることはない。したがって，（ｄ）も誤っている。

よい。一般には 3 分以上とする。
（ｄ）乳化時間とは，乳化処理を始めてから洗浄を終了するまでの時間をいう。

以上これまで出題されてきた問題の傾向を基に PT･PD レベル 1 に関する問題を解説してきた。本解説及び前回までの解説を参考にして，学習してほしい。

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ＥＴレベル１
レベル１3/4は不正解不正解である。
。試験体の材質材質（µ ，σ）がが同一で，周波周波一般・専門試験
専門試験のポイントのポイント数がが 2 倍になったになった場合は表皮深
表皮深さは 1/√2となりとなり，（ｂ））
JIS Z 2305:2001 非破壊試験－技術者の非破壊試験の資格及び認証
認証－は不正解不正解であり，，同様に，（ｃ）（ｃ）も不正解であるである。式(1)(1)に基づく ET レベル 1 の新規一次試験
新規一次試験はは『渦電流探傷試
流探傷試

より周波数をより2 倍にしたときと倍 にしたときと，導電率がが 2 倍となったなった験Ⅰ』の記述範囲内記述範囲内から出題出題されるものとしているがされるものとしているがされるものとしているが，場合の表皮深さは場合さは同じであり，，正答は（ａ））となる。

試験の結果をを見てみると受験者受験者の理解不足
理解不足や誤解によるによると思われる正答率正答率の低い問題問題が見受けられるけられる。本稿では
では，

問３３

次の図は，，移相器を 0°にに設定したときしたときの渦電流探
渦電流探

最近行われた
われた試験のうち正答率正答率の低かった
かった問題を，類似，類似

傷器の表示画面傷器 表示画面を示したものである
したものである。移相器
移相器を反時計反時計した例題によりポイントをによりポイントをによりポイントを解説する。

方向に方向 135°回転回転させたときのときの X-Y 成分出力
出力はどうなるはどうなるか。正しいものをかしいものを一つ選び記号
び記号で答えよ
えよ。

問１

次の図
図は，周波数可変周波数可変型の交流定電圧電源定電圧電源 E ににインダクタンス L を接続したものである
したものである。電源の周波数したものである
周波数が 16 kHz のとき，回路にに流れる電流
電流 I は 1 A であったであった。
電源の周波数周波数を 32 kHz にしたとき，回路に流れる電流
回路
れる電流
図2はいくらかはいくらか。正しいものをしいものを一つ選び記号記号で答えよ。
えよ。
（ａ） 4 A（ａ）X=2.8（ａ）
Vp-pp ，Y=2.8
Y=2.8 Vp
Vp-p ，X と Y は同位相
は（ｂ） 2 A（ｂ）X=2.8（ｂ）
Vp-p
p ，Y=2.8
Y=2.8 Vp
Vp-p ，X と Y は逆位相
は（ｃ） 0.5 A（ｃ）X=2.0（ｃ）
Vp-pp ，Y=2.0 Vp
Vp-p ，X と Y は同位相は（ｄ） 0.25 A（ｄ）X=2.0（ｄ）
Vp-pp ，Y=2.0 Vp
Vp-p ，X と Y は逆位相は
図1

正答（ｃ））

正答（ｄ）

電源 E の負荷
負荷インピーダンス
インピーダンス Z に相当相当するものはイン
するものはインY

ダクタンス L によるリアクタンス ωL であり，2πf・であり・L でY軸出力力示される。したがって
したがって，周波数周波数が 2 倍となったとなった場合はリ
場合はリ
アクタンス ω
ωL も 2 倍となとなる。電源電圧 E が一定のためのため，

+135°
X

オームの法則法則により電流 I は 1/2 の 0.5A となり，正答
正答は

時
時間
t

2.0Vp
2.0Vp-p（ｃ）となるとなる。

11.4V

問２

次の文
文は，励磁周波数周波数と表皮深さについてさについて述べた述べたものである
ものである。正しいものをしいものを一つ選び記号記号で答えよえよ。
X軸出力力（ａ）周波数
周波数を 2 倍の場合
場合と，試験体のの導電率が 2 倍倍の+場合のの表皮深さは同同じである。
時間 t（ｂ）周波数
周波数を 2 倍にする
すると，表皮深さはさは約 1/4 になるになる。
（ｃ）周波数周波数を 1/2 倍にする
すると，表皮深さはさは 2 倍になるになる。

2.0Vp-p2.0Vp（ｄ）周波数周波数を変えても，，材料の導電率導電率が変わらなけれなけれ
図 3 探傷器の表示画面
探傷器 表示画面と X-Y 成分出力の関係
成分出力ば表皮深表皮深さは変わらないわらない。
図 3 は，移相器移相器を反時計方向反時計方向に 135°回転させたときのさせたときの正答表示画面と表示画面 X-Y 成分出力の関係
成分出力 関係を示したものである
したものである。き（ａ））

渦電流の表皮深
表皮深さ δ は次次式で示されるされる。
ଵඥగ௙ఓఙ

 ・・・・・・(1)・・・・・・

f：励磁周波数
励磁周波数，µ：：透磁率，σ：：導電率
励磁周波数
励磁周波数が変われば表皮深表皮深さ δ も変わるので，も（（ｄ）ｄ）

ず信号
信号の絶対値 E は 2.8Vp-p でありであり，X-Y 軸成
成分出力は，，
Ex ＝ E・・cos135°＝－2.0
2.0 (Vp(Vp-p)
Ey ＝ E・・sin135°＝ 2.0 ((Vp-p)となり，Xとなり軸と Y 軸は逆位相ととなる。したがって
したがって，正答正答は（ｄ（ｄ）となる。
。

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問４4/4

次の図
図は，鋼管用のの渦電流探傷装置渦電流探傷装置の構成図であ構成図であ図 6 は自己比較方式
自己比較方式の貫通プローブのプローブのコイル
コイルと検出信検出信る。図中①①と②で示されるブロックにされるブロックに当てはまるもの
されるブロックに てはまるもの

号のの関係を示したものであるしたものである。
。検出信号は，，コイル中ををの適切な組組み合わせとしてわせとして，正しいものをしいものを一つ選び選び記

試験体が移動する試験体するに伴い，きずときずと 2 個のコイルのコイルの相対位相対位号で答えよ
えよ。

置によりにより各コイルのインピーダンスコイルのインピーダンスコイルのインピーダンスが変化しし，インピーインピーダンスの差が電圧ダンス電圧として現れるれる。探傷速度をを V ，コイルコイルの間隔間隔を g とした場合，検出信号とした検出信号の＋側のピークのピーク点と－－側のピークのピーク点までのまでの時間 T は g/V で示されるされる。従って，，きず信号の基本的きず基本的な周波数成分
周波数成分 f は V/2g となり，となり 正答はは（ｄ）となる。また（ｄまた，内挿プローブにおいてもプローブにおいても同様なこプローブにおいてもなこ
コイル間隔 gとが言える。とがき
きずコイル

図4（ａ）①交流電源
交流電源

②脱磁装置
脱磁装置

（ｂ）①発振器
発振器

②脱磁装置
脱磁装置

（ｃ）①直流電源
直流電源

②遅延回路
遅延回路

（ｄ）①脱磁装置
脱磁装置

②交流電源
交流電源

探探傷速度
V
試験体

正答（ｃ））
検出
出信号

時間 t

図 4 においてにおいて，①のブロックの①のブロックの出力はは直流磁気飽和直流磁気飽和コイルに接続されておりされており直流電源直流電源が正解であるである。②のブロ②のブロ
T =g/Vックは渦電流探傷器
渦電流探傷器からのからの信号を入力としとし，出力はマーはマーキング装置にに接続されておりされており遅延回路がが正解である。
である。し

図 6 コイルの間隔と検出信号
コイルのと検出信号の関係
関係たがって，正答正答は（ｃ）となるとなる。なお，，渦電流探傷シス
渦電流探傷システムや渦電流探傷器本体
渦電流探傷器本体のの代表的な回路構成図
回路構成図は，『『渦流渦流問６６

自己比較方式の内挿プローブによる自己比較方式
プローブによる渦電流探傷
プローブによる 渦電流探傷

探傷試験Ⅰ』』の p.44 や p.45
p. に記載されされており，資格取資格取試験にて検出されるきず
試験
されるきず信号
信号の周波数はは，一般的にコにコ得を目指す人人は理解しておくしておく必要があるがある。

イル間隔と検査イル
検査速度により決決まる。次はは，検査速度がが問５べたものである。正しいものをべたものである
しいものを一つ選び記号記号で答えよえよ。

増すことによるきず増 ことによるきず信号のの周波数の変化
変化について述述次の図
図は，自己誘導形自己比較方式
自己誘導形自己比較方式の貫通プロー
自己誘導形自己比較方式
プロー

ブを用いた非鉄非鉄管の渦電流探傷
渦電流探傷におけるにおける緒元を示してた
してた（ａ）変わらない（ａ） わらない （ｂ）高くなる
くなるものである。
。この場合，得得られるきず信号
信号の周波数周波数 f を（ｄ）他の条件に（ｄ）に依存するためするため，わからないわからない。

（ｃ）低くなる（ｃ）

示す式はどれになるかはどれになるか。次次の中から正しいものをしいものを一つ一つ選び記号で答えよえよ。

正答
コイル幅幅 L

問 5 と類似問題
類似問題であり，コイルのコイルの間隔 g を一定としたをとした

コイ
イル間隔 g場合に，検査速度
場合査速度を V とするときずとするときず信号の基本的基本的な周波周波試験体外径 OD

きず探傷速度 V
試験体（ｂ）

数成分 f は V/2g で示される。従。従って，きず信号
信号の周波数周波数成分 f は検査速度
速度 V に比例し，，検査速度が増増すことによすことにより高高くなり，正答正答は（ｂ）となるとなる。

図5以上，最近行われた以上われた試験のうちのうち正答率の低低かった問題
問題（ａ）f ≒ OOD／2L（ｂ） ≒ 2g／（ｂ）f／Vを，，類似した例題
例題によりポイントをによりポイントを解説したした。類似した
した（ｃ）f ≒ 22L／OD（ｄ） ≒ V／（ｄ）f／2g問題は繰り返し出題
問題出題されておりされており，ET レベル 1 の資格取得
資格取得
を目指目指す人は，本稿本稿に限らず近年近年の関連記事関連記事も一読する
する正答）
（ｄ）

ことを奨めます。
ことを。

――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――――【63 巻 10 号掲載記事
号掲載記事に関関する訂正】先月掲載した「ＵＴ
先月掲載「ＵＴレベル 1 専門試験のポイント専門試験のポイント」記事においてにおいて図 3-1 に誤りがありました
りがありました。
。
協会 HP の「NDT
NDT フラッシュコーナー」内
フラッシュコーナー
Vol.63,No.10 に正正しい図面での記事記事を掲載しております
しております。お詫詫びして訂正致します
します。