Rev.20100126
2010 年 1 月 26 日
JSNDI 仕様デジタル超音波探傷器の基本操作仕様について
社団法人 日本非破壊検査協会

JSNDI 仕様デジタル超音波探傷器の基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）を別紙により公表致します。
①公表する基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）は次の 2 機種です。
・ＪＳＮＤＩ Ｇタイプ（Rev.20100126G）
・ＪＳＮＤＩ Ｒタイプ（Rev.20100126R）②基本操作仕様は、ソフト改修等により公表内容が変わることがありますので、必ず最新版をホームページよりダウンロードして下さい。
③基本操作仕様の旧版を利用したために不利益を被った場合、当協会では責任を負いかねますのでご注意下さい。
以上Rev.20100126G

超音波探傷器調整手順（Ｇタイプ）

図１初期画面Ｇタイプの共通項目○初期画面は，測定範囲が１００ｍｍで音速は３２３０ｍ／ｓである。ゲート１の起点は２０ｍｍで幅が２０ｍｍ，ゲート２は起点は６０ｍｍで幅が２０ｍｍ，ゲート高さはそれぞれ１０％になっている。
○向かって右ダイヤルは右側の項目（測定範囲，音速など）を，左ダイヤルは感度を変えるために使用する。
○表示器内の下や横の項目を使用可能にするには，下の項目はを，右側の項目はキーを押し，右ダイヤルを回して数値を変更することができる。
キーをもう一度押すと「微」の文字が数値の前に表示されて，数値を細かく変更させる事ができる。
（例：音速の３２３０ｍ／ｓの前にある文字）○ゲイン調整は，左ダイヤルを回すことで変更できる。ゲインの変化量を変えるにはキーを一回押すごとに，０．５→０．１→０．０→１２→６→２→１→０．５のように変更できる。
○途中で操作が分からなくなった場合，キーを押すと図１の初期画面になる。

１．垂直探傷試験(1)ゲートの調整①初期画面では，図１のように，ゲート１（赤色）とゲート２（緑色）が表示されている。
ゲート１とゲート２の切替えは表示器のゲート１，２の表示がある下のキーを押す。
図２

ゲートの調整Rev.20100126G②図２に示す，起点１表示横のキーを押し，起点１を白抜きに反転させる。もう一度キーを押すと数値の前に“微”の文字が表示され，右ダイヤルを回して数値を細かく変化させることができる。
③ゲート高さや幅を変えるには，表示されている箇所のキーを押し，文字が反転しているのを確かめてから，右ダイヤルを回して変更する。
(2)測定範囲を１２５ｍｍにする調整方法の一例①

キーか表示器の基本の下のキーを押し，測定範囲，音速，ゼロ点調整ができる表示にする。
（図３）②測定範囲の横のを押し，右ダイヤルで，測定範囲を１２５ｍｍにする。次に，ゲート１をＢ１エコーにかかるように，ゲート２をＢ２エコーにかかるように移動させる。
③Ｂ２エコーの高さを８０％として，音速の横のキーを２回押し，右ダイヤルで音速を変えて，Ｂ１，Ｂ2 のビーム

図３ 測定範囲調整

路程差が２５．０ｍｍになるように調整する。
（Ｗ１：２５．８ｍｍとＷ２：５０．８ｍｍ）④Ｂ１エコーの高さを８０％として，０点調整の横のキーを押し，右ダイヤルでＢ１（Ｗ１）を２５．０ｍｍにする。
(3)探傷感度の調整
左ダイヤルを回すことで感度の調整ができる。
図４のように測定したいエコーにゲート１をかけるとビーム路程（Ｗ１：８４．９）エコー高さ（ｈ１：８０）とその図４ エコー高さの調整と読みとりときのエコー高さのデシベル値（３４．５ｄＢ）が表示される。
２．斜角探傷試験(1)測定範囲を１２５ｍｍに調整し，エコー高さ区分線（ＤＡＣ）を作成する方法の一例①測定範囲を２５０ｍｍにする。
②ゲート１をＲ１００ｍｍのエコー付近に，ゲート２をＲ１００の繰返しエコーにかかるように設定する。
③ＳＴＢ－Ａ１のＲ１００ｍｍからの最大エコー高さを検出する。
④Ｒ１００ｍｍの繰返しエコーの高さを４０％程度にして，Ｒ１００の１回目のエコーと２回目のエコーの差を１００．０ｍｍに最も近づくようにし，次に，Ｒ１００ｍｍのエコー高さを８０％として，０点調整の表示横のキーを押して，

図５ 測定範囲２５０ｍｍ

右ダイヤルを使用して第１回目のエコーを１００．０ｍｍに調整する。
（図５参照）⑤次に，ている。

キーを押すとＤＡＣモードに入る。ＤＡＣ初期画面では，ＤＡＣの下はオフになっRev.20100126G
ＤＡＣ表示の横のキーを押し，ダイヤルを回して，表示を“作成”にする。
（図６参照）⑥ＳＴＢ－Ａ２の０．５Ｓのエコーを８０％～１００％に調整する。
⑦起点１の右横のキーを押し，目的のエコー（０．５Ｓのエコー）にゲート１がかかるように移動させる。
⑧この状態で，キーを押すと０．５Ｓまでの線が引ける。順次１．０Ｓ，１．５Ｓからのエコーを検出し，それぞれのエコーにゲートを合わせ，キーを押すと線が描ける。

⑨１.５Ｓが作成されたらＤＡＣに画面を移し，ＤＡＣ表示下の作成を右ダイヤルで完成に変える。
基準画面に戻り，測定範囲を１２５ｍｍにする。

図７ 測定範囲を１２５ｍｍに変更

図６ ２５０ｍｍでのＤＡＣ作成(2)区分線の変更と削除起点１表示横ののキーを押し，消したいポイントのところにゲートを合わせ，ポイント数の横キーを押し，ダイヤルを向こうに回すと選択ポイント削除？のメッセージが表示される。
キーを押すとそのポイントが削除される。

図８ ＤＡＣの削除ダイヤルを手前に回すと全ポイント削除？が表示され，間違えた場合は，ＤＡＣ横のキーを押すとすべての線が消去される。

キーを押して次にポイント数の横の最初の消去のところに戻る。又は，キーを押すことでキーを押すと元に戻る。

(3)斜角探傷作業準備
図９に示す，斜角の表示のある下のキーを押すと，板厚，屈折角の入力を行うことができる。屈折角を入力すると，探触子きず距離，きずの深さが表示される。
屈折角，入射点，板厚は，その表示されている右横のキーを押し，右ダイヤルで変更ができる。

図９ 各条件入力画面

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超音波探傷器調整手順（Ｒタイプ）

図１ 初期画面Ｒタイプの共通項目○初期画面は，測定範囲が１００ｍｍで音速は３２３０ｍ／ｓである。ゲート１の起点は２０ｍｍで幅が２０ｍｍ，ゲート２の起点は６０ｍｍで幅が２０ｍｍ，ゲート高さはそれぞれ１０％になっている。
○キーパッドに表示されている測定範囲，音速，ゼロ点調整，ゲイン，ゲートなどはその下のキーを押せばそれぞれのモードになる。
○数値入力する場合は，それぞれのキーを２回押すと数値の部分が反転し入力可能となる。
間違った場合は，キーを押す。

○キーは現在の動作を終了し，確定する。

○～

キーは一つ前の状況に戻すことができる。

は表示器に表示された項目を操作するときに使用する。

○上下の矢印は大きく変化し，左右の矢印は小さく変化する。
○エコー高さ区分線（ＤＡＣ）作成時は左右の矢印は横軸方向，上下の矢印は縦軸方向の移動になる。
○途中で操作が分からなくなった場合，基本と表示している下の面になる。

キーを押すと図１の初期画

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１．垂直探傷試験(1)ゲートの調整①初期画面は，ゲート１（黄色）とゲート２（紫）が表示されており，キーを押すとゲート１が，キーを押すとゲート２を調整することができる。
②ゲートの高さや位置を変えるには，キーを押すと各項目が表示され，ゲート起点はゲート幅はを，高さはを，を押して図２ ゲートの調整

キーで変更することができる。
（図２参照）(2)測定範囲を１２５ｍｍに調整する方法の一例①

キーを押すと図３が表示される。

キーを押し，測定範囲を１２５ｍｍにする。
②次に，ゲート１をＢ１エコーに，ゲート２をＢ２エコーにかかるように移動させる。
③Ｂ２エコー高さを８０％として，５９００ｍ／ｓの横の次にキーを押し，図３ 測定範囲の画面キーを押し，キーを押し，Ｂ１とＢ２のビーム路程差が２５.０ｍｍになるように調整する。
（図４参照）（Ｂ１：２５．２ｍｍとＢ２：５０．２ｍｍ）④Ｂ１エコーの高さを８０％として，キーを押し，キーを押し，Ｂ１の値が２５．０ｍｍになるように調整する。
図４ 測定範囲の調整(3)探傷感度の調整
探傷感度の調整は，キーを押し，次にキーを押すことで調整ができる。
エコー高さの読取りは目的のエコーにゲートをかけると，表示器上部にエコー高さとビーム路程が表示され，下部にはゲイン値が表示される。
図５では，ゲート１とゲート２の値が表示されている。
（ Ｇ１：＞１００％ ２５．４ｍｍ
Ｇ２：８１％ ５０．４ｍｍ ）表示器下部にはそのときのゲイン値が表示されている。 （ゲイン：３６．６ｄＢ）

図５ ゲインとビーム路程の読取り

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２．斜角探傷試験(1)測定範囲を１２５ｍｍに調整し，エコー高さ区分線（ＤＡＣ）を作成する方法の一例①測定範囲を２５０ｍｍにする。
②音速を３２３０ｍ／ｓに設定する。
③ゲート１をＲ１００ｍｍのエコーに，ゲート２をＲ１００の繰返しエコーにかかるように設定する。
③ＳＴＢ－Ａ１のＲ１００ｍｍからの最大エコー高さを検出する。
④Ｒ１００ｍｍの繰返しエコーの高さを４０％程度にして，キーとキーを使用し，１回目のエコーと２回目のエコーとの差を１００．０ｍｍに最も図６ 測定範囲調整画面近づくようにする。
（図６参照）
次に，Ｒ１００ｍｍのエコー高さを８０％として，キーとキーを使用して第１回目のエコーを１００．０ｍｍに調整する。
⑤ＳＴＢ－Ａ２の０．５Ｓのエコーを８０％～１００％に調整する。
⑥キーを押して，ＤＡＣ作成モードに入る。作成モードでは作成，補正，削除が表示される。

⑦作成はキーを押して作成に入る。作成モードでは，×印が０ｍｍで８０％の位置に表示される。
（図７参照）⑧

キーを使用してエコーのピーク位置に×マークを合せ，キーを押すと０．５Ｓまでの区分線が描かれる。
⑨同様に１．０Ｓ，１．５Ｓの最大エコー高さを求め，キーを押して×マークをピークに合せ，キーを押す。
⑩間違えた場合は，キーを押すと一つ前に戻ること
図７ ＤＡＣ作成初期画面ができる。
⑪

キーを押すとＤＡＣが確定する。ポイントの消去は，キーを押す。

⑫すべてのＤＡＣを消去するには，ＤＡＣ作成画面で，削除の表示横のキーを押すとＬＭＨ線を削除してよろしいか［確定］はい［取消］いいえのメッセージが表示されるので，キーを押すと消去できる。
（図８参照）
図８ ２５０ｍｍでのＤＡＣ作成結果

Rev.20100126R⑬ＤＡＣが完成したら，の横のキーを押し，１２５ｍｍキーを押すと測定範囲が図９のように，１２５ｍｍになる。

（2）斜角探傷作業準備①

キーを押すと，板厚，屈折角，スキップ表示間隔を入力することができる。
②板厚の入力は

図９

測定範囲１２５ｍｍでのＤＡＣ作成

例

キーを，屈折角の入力は，キーを押し，キーで行う。

（図１０参照）③

キーを押して斜角探傷モードに入る。

斜角探傷モードに入ると図１０のように表示器上部にエコー高さ，ビーム路程，探触子きず距離，きずの深さが表示される。
ゲート１の値しか表示されないので注意する。

図１０ 斜角探傷条件の入力