周 辺マップ

上之山町

尾張東地方卸売市場西

あいちシンクロトロン光センター

至 高蔵寺駅

尾張東
地方卸売市場愛知県陶磁美術館

環状

知の拠点あいち愛知県立大
長久手キャンパス

あいち産業科学技術総合センター

中央自動車道愛知

東海環状自動車道

鉄道

線

あいち
シンクロトロン光センター

愛・地球博記念公園北口北

高蔵寺

中央本線

県営名古屋空港

丘陵線リニモ八草
インター北

陶磁資料館南駅

IC

藤が丘

名古屋
地下鉄
東山線

東部

愛・地球博記念公園北口

至 長久手

名神高速道路

愛・地球博
記念公園駅

八草
名古屋IC

八草
猿投グリーンロード

愛・地球博記念公園

八草駅

名古屋瀬戸道路
日進JCT

猿投グリーンロード

長久手IC

名古屋市の都心部から東へ約 20km 。

東部丘陵線リニモ

名古屋市
新豊田

名古屋東部丘陵地帯に位置し、愛知環状鉄道

東部丘陵線（リニモ）や東名高速道路・伊勢湾岸自動車道

東海環状自動車道とアクセスが良く、新東交通利便性に優れたエリアにあります。

名高速道

豊田市路

最寄り駅（陶磁資料館南）から徒歩 3 分と海東アクセスしやすい施設です。

線

幹新道

岡崎

岡崎市

東名

高速道路

東海

中部国際空港

道本線

豊橋市
豊橋鉄道

道路

● 名古屋（地下鉄東山線）→藤が丘（東部丘陵線リニモ）● 東名高速道路・名古屋 ICより東へ約 7km→陶磁資料館南（名古屋駅から約 50 分）● 東名高速道路・日進 JCT →名古屋瀬戸道路・長久手 ICより東へ約 3km● 岡崎・新豊田・高蔵寺（愛知環状鉄道）● 東海環状自動車道・豊田藤岡 IC→八草（東部丘陵線リニモ）→陶磁資料館南→猿投グリーンロード・八草 ICより西へ約 800m

お問い合わせ先公益財団法人 科学技術交流財団 あいちシンクロトロン光センター〒489-0965 愛知県瀬戸市南山口町250番3 「知の拠点あいち」内
TEL：0561- 76 - 8331 FAX：0561- 21-1652
URL：https://www.aichisr.jp E-Mail： aichisr@aichisr.jp

2023.04

公益財団法人 科学技術交流財団

はじ め にシン ク ロト ロ ン 光 と はあ いちシンクロトロン光 センター は 、次 世 代 の モノづくりに 不 可 欠 なナノレ ベ ル の 先 端 計 測 分 析

シンクロトロン光（ S y n c h r o t r o n R a d i a t i o n ）とは 、真 空 中をほぼ 光 速で施 設として、「 知 の 拠 点あいち」内 に設 置されました 。

直 進する電 子が強い磁 場によりその進 行 方 向を変えられた際に発 生する光の当 施 設 は 、愛 知 県 を はじ めとする 産 学 行 政 の 支 援 、協 力 の もと、企 業・大 学 に 広く活 用して 頂くことです。

ことを目的として、公 益 財 団 法 人 科 学 技 術 交 流 財 団 が 管 理 運 営を行っています。
「 光 」というと、太 陽 やL E Dから発 せられる目に見える光（ 可 視 光 線 ）だけをイメージしますが、広い意味では、すべての波長の電磁波を指すものであり、波長の施 設の 特 徴γ線と呼ばれています。
長短に応じて、電波、赤外線、可視光線、紫外線、X線、シンクロトロン光 は 、太 陽 光 の １ ０ ０ 万 倍とい わ れる非 常 に 明るい 光 により、短 時 間で 計 測 分 析ができます。非破壊・実使用環境下での計測分析、極微量でも計測が可能であり、あいちシンクロトロ

電磁波の波長とその名称ン光センターでは、幅広い産業分野で活用されています。

1031021010-210-310-410-5101nm-610-710-81010-1010-11-1210-1310線線

硬X線

軟紫外線

可視光線

赤外線

遠赤外X-91Åγ

あいちSRで利用可能な波長範囲

シンクロトロン光 の 特 徴
太陽光の100万倍の極めて明るい光

リニモ ・陶磁資料館南駅

1ミリ 波●あいち産業科学技術総合センター（愛知県が運営）の高度計測分析機器（電子顕微鏡等）との連携による運用●中小企業相談窓口を設置し、わかりやすい説明などきめ細かな対応

4センチ 波●使いやすい装置設計、材料の実使用環境を再現できる実験設備の充実

10極超短波

名称●エネルギー領域の異なる5本のXAFS（X線吸収微細構造）
ビームラインにより、ほぼすべての元素を対象とした測定が可能

5超短波●産業利用に適した利用メニュー（測定代行等）や柔軟な利用形態の提供（原則成果非公開、課題審査なし、年6回の申込機会の提供等）●産業界のニースが高い硬X線領域に対応

10短波

波長中波

●産業利用コーディネータによる利用相談、専任のビームライン技術者及び大学研究者による利用支援と技術支援

長波●常時安定したX線を供給するトップアップ運転

超長波

2.様々な利用形態の実現

1 μm

1m 1 cm 1mm

1km

1.モノづくりに対応できる仕様と設備指向性が高く、細く絞られ広がらない

赤外線から硬X線までの広い波長領域をカバー・短時間での測定が可能。

・物質内部を見通すことが可能。

・試料にあたったX線は回折を起こす。

・実験室の装置では不可能な僅かな変化

・材料内部の構造や含まれる元素、化学・回折パターンから結晶の構造や大きさや微小な構造の違いまで測定可能。

結合状態まで調べることが可能。

極めて明るいシンクロトロン光透過力が高い太陽光を決めることが可能。

回折が起きる・非破壊で内部の構造を見透す
・元素に特有の放射・吸収スペクトルで元素組成や太陽光の100万倍

あいち産業科学技術総合センター

1

回折パターン

化学結合状態を知る

あいちシンクロトロン光センター
迅速分析／微量元素分析「知の拠点あいち」全景

波長（nm）〜 結晶格子間隔

透過イメージング／元素分析

結晶回析／散乱これらの特徴により、最先端の科学研究や応用技術の分析・解析に用いることができ「夢の光」と呼ばれています。

2

設備概要

共 用ビー ムラ イン の 概 要

化学状態・局所構造分析

シンクロトロン光を発生する光源は、蓄積電子エネルギー168台の常伝導偏向電磁石（1.4T）と、5Tの超伝導偏向電磁石4台を設置しております。
これら超伝導偏向電磁石を用いることにより、硬X線まで発生させることが可能です。
また、フルエネ
ル ギ ー 入 射 の 可 能 なブ ースターシンクロトロンを 備え、トップアップ入射による一定電流運転を実現しています。
光源の性能

輝度(ph/s/mm2/mrad2/0.1%b.w.)

1.2GeV、蓄積電流300mA、周長72mの電子蓄積リングです。

10光エネルギー

SPring-8
15101410

AichiSR sb

AichiSR nb

1210SAGA-LSUVSOR-Ⅱ111010ブースター
シンクロトロン

蓄積リング

蓄積電子エネルギー：1.2GeV
周長：72m
自然エミッタンス：53nm・rad
蓄積電流：300mA

硬X線XAFS Ⅰ
BL5S1硬X線XAFS
蛍光X線（0.25〜0.056nm）

硬X線XAFS Ⅱ
BL11S2

硬X線XAFS
多機能型（0.25〜0.05nm）

軟X線XAFS・
光電子分光 Ⅰ
BL6N1

軟X線XAFS
光電子分光

軟X線XAFS・
光電子分光 Ⅱ
BL1N2

軟X線XAFS
超軟X線XAFS
光電子分光

0.15〜2.0keV

真空紫外・
軟X線分光
BL7U

軟X線XAFS
真空紫外分光光電子分光

30〜1000eV

131010電子エネルギー：50MeV -1.2GeV
周長：48m
自然エミッタンス：200nm･rad

測定手法

Photon Factory

Aichi

直線加速器［S -band］ 電子エネルギー：50MeV

ビームライン名

101210310410

光子エネルギー

105106

超伝導偏向電磁石（sb）
常伝導偏向電磁石（nb）

磁場強度：1.4T
常伝導偏向電磁石［8台］ 偏向角：39°
広角・小角X線散乱
BL8S3

磁場強度：5T
超伝導偏向電磁石［4台］ 偏向角：12°125〜22keV
0.5mm×0.5mm
5〜26keV

硬X線XAFSから得られる情報は、特定の元素の化学状態と局所構造（原子間距離と配位数）であり、金属、無機材料の分析に適する。

0.4mm×0.3mm
1.75〜6.0keV(0.7〜0.2nm)

2mm×1mm（8.3〜0.6nm）

1mm×1mm

軟X線XAFSは、半導体や軽金属、元素としては、硫黄、リン、シリコン、アルミニウム、マグネシウムの分析に適する。超軟X線XAFSは、酸素、炭素、リチウムなどの軽い元素の分析に適する。
光電子分光から得られる情報は、結合エネルギーや、バンド構造などの化学状態であり、半導体、磁性材料、超伝導材料の分析、機能発現機構の解明などに利用。

（40〜1.24nm）

0.15mm×0.07mm

光エネルギー

超伝導偏向電磁石

硬X線XAFS Ⅱ
BL11S2研究利用分野

結晶構造・薄膜構造分析

X線トポグラフィ・X線CT
BL8S2
真空紫外・軟X線分光
BL7U

常伝導偏向電磁石

ビームサイズ（幅×高さ）

ビームライン名

測定手法

粉末Ｘ線回折BL5S2

粉末Ｘ線回折薄膜X線回折
BL8S1

X線反射率
薄膜表面X線回折（0.13 , 0.09 , 0.055nm）

単結晶X線回折（0.18 , 0.11 , 0.07nm）

7〜20keV

9.15 , 14.37 , 22.7keV
0.8mm×2.0mm
7 , 11 , 16keV

単結晶X線回折（名古屋大学）（0.18〜0.062nm）

0.5mm×0.5mm

薄膜X線回折BL8S1

企業専用（デンソー）
BL11S3ビームサイズ（幅×高さ）

BL2S1

0.1mm×0.1mm

研究利用分野

粉末X線回折から得られる情報から、結晶構造の同定・定量を行い、セラミックス、触媒、錯体、薬剤などに利用。

X線反射率から得られる情報は、薄膜の膜厚、表面界面の凹凸、密度であり、電子デバイス薄膜、コーティングなどに利用。

タンパク質や化合物の単結晶（粉末）の構造解析に利用。低温窒素ガス吹き付け装置や高圧セルを使った極限条件の測定に対応。

分散状態・高次構造分析
軟X線XAFS・光電子分光 Ⅰ
BL6N1

粉末Ｘ線回折BL5S2

硬X線XAFS Ⅰ
BL5S1

BL2S13

企業専用（デンソー）
BL2S3

広角・小角
Ｘ線散乱
BL8S3

測定手法

光エネルギー
ビームサイズ（幅×高さ）8.2 ,13.5keV
広角・小角X線散乱（0.15 , 0.092nm）

1mm×0.5mm

研究利用分野小角X線散乱から得られる情報は、ナノ粒子のサイズや形状、分散状態、高次構造などであり、広角散乱（X線回折）と合わせて、繊維の結晶／非結晶構造、ゴム・樹脂、有機フィルムなどに利用。

X線イメージング

単結晶X線回折（名古屋大学）

軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ
BL1N2

ビームライン名

アンジュレータ

光エネルギー
ビームライン名

測定手法

X線トポグラフィ
X線CT
BL8S2

X線トポグラフィ
X線CT

ビームサイズ（幅×高さ）

7〜24keV（0.18〜0.05nm）

40mm×8mm

研究利用分野Ｘ線トポグラフィによるSiCやGaNなどの単結晶の欠陥観察評価や試料を回転させながら繰り返し測定するＸ線コンピュータトモグラフィ（Ｘ線ＣＴ）測定が可能。
機器を設置することで、シンクロトロン光を活用した構造物の微細加工（ＬＩＧＡ）も可能。

4

各 ビー ムラ イン の 仕 様

化学状態・局所構造分析

1

硬Ｘ線ＸＡＦＳ Ⅰ
BL5S1

硬X線領域のX線吸収微細構造分光（XAFS）測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析します。

4

軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ
BL1N2

軟Ｘ線 領 域 の 吸 収 端 近 傍 のＸ線 吸 収 微 細 構 造
分光（XAFS）測定を行い、材料中の原子の化学結合状態や局所構造を解析します。

利用分野：チタン〜ビスマス

利用分野：ホウ素〜アルミニウム、カルシウム〜クリプトン［利用（分野）の例］金属材料、無機材料、触媒、セラミックス、メッキなど［利用（分野）の例］軽金属、半導体材料、電池、生体医療材料など

測定方法

硬X線XAFS｛透過法・蛍光収量法・転換電子収量法｝，蛍光X線分析

測定方法

軟X線XAFS・真空紫外分光｛全電子収量法・蛍光収量法｝

主な装 備

・支燃性 ・可燃性排ガスダクト（実使用環境下測定） ・高温用フローセル（透過/蛍光）・斜入射XAFS用ステージ ・2次元マッピング（空間分解能20μm）
・転換電子収量用チャンバ（蛍光収量と同時測定可能）

主な装 備

・サンプルバンク（最高21検体） ・トランスファーベッセル
・全電子収量,部分蛍光収量同時測定可能

硬Ｘ線ＸＡＦＳ Ⅱ
BL11S2

硬X線領域のX線吸収微細構造分光（XAFS）測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析します。

エネルギー範囲としては、

5K吸収端でB（ホウ素）〜Al（アルミニウム）▲

L 3 吸収 端で C s（ セシウム ）〜 B（i ビスマス ）を対 象にXAFS測定が可能▲

K吸収 端でT（i チタン ）〜 M o（ モリブデン ）

▲

2▲

エネルギー
範囲としては、

L 3 吸収端でCa（カルシウム）〜Kr（クリプトン）を対象にXAFS測定が可能

真空紫外・軟X線分光
BL7U

真空紫外から軟X線領域で吸収分光および価電子帯の光電子分光を用いて、無機・有機材料、特に燃料電池や磁性材料の化学状態・電子状態の分析を行い、磁性体・超伝導体（薄膜）材料などの原子間結合の様式および伝導・磁気状態を詳細に解析します。

利用分野：チタン〜ビスマス

利用分野：固体材料中の原子の化学結合状態・電子状態リチウム〜ネオン（M吸収端ではインジウムまで）［利用（分野）の例］金属材料、無機材料、触媒、セラミックス、メッキなど［利用（分野）の例］リチウム2次電池、炭素材料など

測定方法

硬X線XAFS｛透過法・蛍光収量法・転換電子収量法｝，蛍光X線分析

測定方法

軟X線XAFS・真空紫外分光｛全電子収量法・蛍光収量法｝,光電子分光

主な装 備

・クライオスタット[10K〜RT、（透過/蛍光）10K〜400K] ・高温用フローセル
・支燃性,可燃性排ガスダクト（実使用環境下測定） ・斜入射XAFS用ステージ
・2次元マッピング（空間分解能20μm） ・転換電子収量用チャンバ（蛍光収量と同時測定可能）

主な装 備

・トランスファーベッセル

軟X線XAFS・光電子分光 Ⅰ
BL6N1

軟Ｘ線 領 域 のＸ線 吸 収 微 細 構 造 分 光（ X A F S ）測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析します。

利用分野：シリコン〜クロム、ルビジウム〜プラセオジム［利用（分野）の例］半導体材料、電池、生体医療材料など

K吸収端でLi（リチウム）〜Ne（ネオン）▲

L 3 吸収 端で C s（ セシウム）〜Bi（ビスマス）を対 象にX A F S測定が可能

エネルギー範囲としては、▲

K吸収端でTi（チタン）〜 Cd（カドミウム）

▲

3▲

エネルギー
範囲としては、

L 3 吸収端でSi（シリコン）〜Cu（銅）を対象にXAFS測定が可能

結晶構造・薄膜構造分析

6粉末Ｘ線回折
BL5S2

粉末状結晶あるいは多結晶を試料にして、Ｘ線回折測定を行うことで、結晶性材料の構造や粒径サイズを評価します。

利用分野：セラミックス、電池材料、建築材料

測定方法

軟X線XAFS｛全電子収量法・蛍光収量法・転換電子収量法｝,光電子分光

主な装 備

・試料加熱マニュピュレーター（電子衝撃） ・トランスファーベッセル
・試料準備チャンバー（イオンスパッター、LEED）
・転換電子収量,部分蛍光収量同時測定可能

5▲ ▲

エネルギー
範囲としては、K吸収端でSi（シリコン）〜 Cr（ クロム）

［利用（分野）の例］セラミックス、薬剤、電池材料、触媒、建築材料、半導体デバイスなどの結晶構造

測定方法

粉末X線回折主な装 備

・高低温窒素ガス吹付装置(-150℃〜650℃) ・センタリングシステム
・サンプルオートチェンジャー ・ガス導入セル

L3 吸収端でRb（ルビジウム）〜Pr（プラセオジム）を対象にXAFS測定が可能

6

ご 利 用 に つ いて

7

薄膜X線回折BL8S1

多軸ゴニオメーターを備え、薄膜材料を試料にして、Out of plane、In-planeのX線回折測定を行うことで、薄膜の結晶性評価や結晶構造を解析します。
また、X線反射率測定を行うことで多層膜構造を評価します。

利用分野：薄膜・多層薄膜の表面や膜境界面の凹凸、膜密度●産業利用コーディネータによる相談・支援●大 学 研 究 者による支 援
高度な実験やデータの解析に関しては、大学から派遣される支援研究者がアドバイス等を行います。

測定方法

X線反射率，薄膜・表面X線回折・散乱専門の産業利用コーディネータが施設利用や実験に関する相談を随時受け付けし、利用者の要望に対して適切な測定手法を提案・指導します。

主な装 備

・2次元半導体検出器(PILATUS 100K) ・シンチレーションカウンタ
・微小領域応力測定 ・高次光カット用結晶分光器●ビームライン技 術 者による実 験サポート●中小 企 業 相 談 窓口の設 置

実験機器の調整や操作のサポートなど、測定の支援について、専任のビームライン技術者が対応しますので、初心者の方も安心してお使いいただけます。

中小企業の方の窓口を設置し、わかりやすい説明などきめ細かな対応を心がけ、中小企業のご利用を支援します。

［利用（分野）の例］電子材料、有機・無機多層膜など

8

1 ．施 設の支 援 体 制

単結晶X線回折 （名古屋大学）
BL2S1

タンパク質や合成化合物などの結晶構造解析を行います。

利用分野：タンパク質・有機分子・低分子の構造解析［利用（分野）の例］タンパク質、核酸、天然化合物、合成化合物など

測定方法

単結晶（粉末）X線回折測定

主な装 備

・ハイブリッドピクセル２次元検出器［ Pilatus-1M（DECTRIS Ltd）］
・XYZステージ付き高精度高速回転軸ゴニオ ・低温窒素ガス吹付け装置（-180℃ 〜室温）
・高圧セル
（ダイアモンドアンビルセル）
搭載可能 ・傾斜軸ツール利用可能

2 ．通 常 利 用について❶利用相談

産業利用コーディネータによる利用の手続き、実験内容や技術支援に関する相談を随時受け付けております
ので、お気軽にお問い合わせください。

❷利用申込

申込みはあいちシンクロトロン光センターHP（https://www.aichisr.jp）のWEB申込みシステムからお申込みください。

●定期利用申込

分散状態・高次構造分析

9

広角・小角X線散乱
BL8S3

最大カメラ長６.4ｍに設置可能な二次元検出器を備え、各種ナノ材料を試料にして、広角から小角までの広い領域の散乱X線を測定することで、ナノ粒子サイズや高次階層構造を評価します。

［利用（分野）の例］繊維、ゴム、フィラーなどの構造、粒度分布、分散の計測など

小角・広角X散乱

主な装 備

・2次元半導体検出器（PILATUS 2M） ・イメージングプレート（R-AXIS IV++）・フラットパネル ・カメラ長（0.2，0.45，1.1，2.2，4.0，６.4m）
・自動サンプルチェンジャー ・冷却加熱ステージ（Linkam） ・斜入射用サンプルステージ❸利用決定❹利用前手続X線イメージング

10

X線トポグラフィ・X線CT
BL8S2❺利用時手続結晶性材料の結晶欠陥の観察・評価の他に、X線CT観察により物質内部の微細な3次元構造を評価します。

❻利用［実験］［利用（分野）の例］パワー半導体デバイス、LEDの結晶品質の評価、樹脂中のボイドなど

7

X線トポグラフィ，X線CT，X線照射

主な装 備

・X線用CMOSカメラ（浜ホトC12849-101U）
・可視光用CMOSカメラ（浜ホトC13440-20CU） ・フラットパネル（浜ホトC97287K-10）
・回折用精密多軸ゴニオ ・白色X線用白金ミラー

第2期

第3期

第4期

第5期

第6期

［4月末］

［7月］

［9月］

［11月］

［12月末］

対象期間

5月

6月・7月

8月・9月

10月・11月

12月・1月

2月・3月

申込期間

前期

後期

［4月］

［9月］

対象期間

5月〜9月

10月〜翌年3月

各期の申込日程の詳細は、HPをご覧いただくか、センターまでお問い合わせください。

利用シフト数の決定は、原則先着順で行います。センターで利用日の調整を行った後、決定し、申込者へ
注）利用承認書の発行後のキャンセルはできません。
利用承認書を送付します。
放射線業務従事者登録申請書兼放射線業務従事者承認書の提出が必要です。
※年度の初回利用時には、放射線業務従事者登録が必要となります。

受付にて、入退室カード及び個人放射線測定バッジをお受け取りください。

準備 ビームラインの機器調整、試料調製ビームライン技術者との実験の打ち合せ、実験試料の準備、機器の調整確認（ビームライン技術者が実施）を行います。

利用分野：結晶欠陥の観察・評価、３次元内部観察

測定方法

第1期
［4月］

●長期利用申込

利用分野：複合材料、長周期材料

測定方法

申込期間

実験 試料を測 定機器の操作のサポートなど専任のビームライン技術者が必要な測定支援を行います。

❼利用後手続実験終了後、利用報告書を提出していただきます。

❽利用料支払い請求書を発行します。
請求書に基づく利用料をお支払いいただきます。

❾成果報告書の提出〈公共等利用〉

利用後50日以内に成果報告書を提出していただきます。

83 ．測 定代 行について
測定代行は、利用者から預かった試料をセンターのスタッフが代行して測定するサービスです。
試料をセンターに送付あるいは持参することで測定代行を利用できます。

● 測 定手 法
硬Ｘ線XAFS：ＢＬ５Ｓ１、BL11Ｓ2
粉末Ｘ線回折：ＢＬ５Ｓ２● 軟Ｘ線ＸＡＦ
Ｓ：ＢＬ１Ｎ２、BL6N 1、BL7 U●●

表面X線回折・反射率：ＢＬ８Ｓ１
広角・小角X 線散乱：ＢＬ８Ｓ３● 単結晶X線回折：BL2 S1● X線トポグラフィ
・X線CT：BL8 S2●●● 利 用の 詳 細❶ 利用相談

測定代行相談フォームによる利用相談を受け付けております。Web申込みシステムからお送りください。
実施内容確認書（測定手法、測定試料、利用時間等を記載）を送付します。

❷ 利用申込

申込みはあいちシンクロトロン光センターHP（https://www.aichisr.jp）のWEB申込みシステムからお申込みください。

❸ 利用決定当センターから利用承認書を送付します。

❹ 試料提供試料を当センターへ送付又は持参いただきます。

❺ 測定代行実施

専任ビームライン技術者による測定代行を実施し、データを取得します。

❻ 測定データ送付

測定データ、実施報告書（電子媒体に収納）及び試料を送付します。

❼ 利用料支払い請求書を発行します。
請求書に基づく利用料をお支払いいただきます。

❽成果報告書の提出〈公共等利用〉

利用後50日以内に成果報告書を提出していただきます。

お問い合わせ窓口 公益財団法人 科学技術交流財団 あいちシンクロトロン光センター
利用に関すること

TEL：0561-76-8330

測定代行に関すること

産業利用コーディネータ（相談・利用申込等）

中小企業相談窓口
センター全般に関すること

9

産業利用コーディネータ（相談・利用申込等）

TEL：0561-76-8330

E-Mail：aichisr@aichisr.jp
E-Mail：daiko@aichisr.jp

中小企業相談担当

TEL：0561-76-8330

E-Mail：aichisr@aichisr.jp

管理課

TEL：0561-76-8331

E-Mail：kanri@aichisr.jp