Vol.３１ No.2，２０１２

116
センターニュース

分析機器解説シリーズ（116）◆多機能性と使いやすさを追求したX線回折装置：〜SmartLabシステムの紹介〜 ………………………………………………………… P1
株式会社リガク

X線研究所

西郷真理

◆お知らせ ……………………………………………………………………………………………… P8

分析機器解説シリーズ（116）

多機能性と使いやすさを追求した X 線回折装置：〜 SmartLab システムの紹介〜

株式会社リガク

1

X線研究所

西郷真理

ダンス機能に凝集することにより、従来困難であった光学系はじめにの自動調整から測定条件の設定・実行までをサポートしてい

X線回折装置は、非破壊で固体（場合によっては液体も）る。の内部構造や物性を調べる分析装置として、古くから研究、産業分野で利用されている。一方で、X線回折法のデータか
2 SmartLabの特長(3)ら、試料に関する様々な情報が得られることは、専門家の間でなければあまり知られておらず、一方で測定や解析において、知識と経験が必要になる場合も少なくない。研究分野

3 オプション・アタッチメント
においては、特殊環境下、および微小部、微量試料の測定要求が高まっており、また、品質管理においては、測定の自動化、多試料の一括測定も必要となってきている。粉末(1)あるいは薄膜(2)のX線測定技術や解析の基本原理については、過4 解析ソフトウェア
1 はじめに
この度中央分析センターに導入された全自動水平型多目的X

去のセンターニュースに詳細に解説されている。本稿では、
線回折装置"SmartLab"（写真1）を紹介する。

5
2

おわりに

写真 1

SmartLabの特長

SmartLabは、X線回折分析に関する専門的知識がなくて6 DLTMA法による測定も、専門家レベルの高度な分析を行いたいという要求にこたえたX線回折装置である。リガクが60年間蓄積した分析
オプション・アタッチメント

3

ノウハウを、ハードウェアとソフトウェアを融合させたガイ

7
4"SmartLab" の概観(3)2.1 SmartLabの"多機能性"
一般的に用いられるX線回折装置の光学系は、大別すると図1に示す、集中法光学系と平行ビーム光学系に分けられる(4)。日本語では、"集中法"と呼ぶのが一般的であるが、厳密動的粘弾性分析（DMA）
解析ソフトウェア（1）

分析機器解説シリーズ（116）には"対称反射型疑似集中法"(Bragg-Brentano：BB)と呼ばCBOれる。この光学系は、分解能と回折強度のバランスがよい光)**+,-学系であり、粉末試料の定性・定量分析などに主に使用される。一方、平行ビーム光学系（Parallel Beam : PB）は、試料表面の形状や光学系の幾何学的な制限を受けないこと&'(#X $%#!"#

から、凸凹試料や薄膜試料の測定、残留応力測定、コリメーターを利用した測定などに主に使用される。入射ビームを平行化する方法として、X線源からの発散ビームを、直接、極細スリットや平行ソーラースリットなどを用いてビームの./*+,-一部を切り出すという方法が考えられるが、X線の強度が極写真2 SmartLabの装置構成端に低くなり、充分な強度データが得られない場合も多い。
そこで、登場したのが、人工格子放物面多層膜ミラー(5)であ

表1 評価目的と構成部品の組み合わせ例る。この光学素子を用いて光学系を構築することで、高効率

測定目的

粉末定性

微小領域

膜厚/密度

極薄膜評価で単色化・平行化したビームが得られる。SmartLabでは、

測定手法

2θ/θ

微小部反射率

ｲﾝﾌﾟﾚｰﾝ

CBO

集中法

平行ビーム 平行ビーム 平行ビーム

入射光学素子ｿｰﾗ-ｽﾘｯﾄ

微小部測定
光学系ﾕﾆｯﾄ

ｿｰﾗ-ｽﾘｯﾄ

ｲﾝﾌﾟﾚｰﾝ
平行ｽﾘｯﾄ

受光光学素子ｿｰﾗ-ｽﾘｯﾄ

平行ｽﾘｯﾄｱﾅﾗｲｻﾞｰ

ｿｰﾗ-ｽﾘｯﾄ

ｲﾝﾌﾟﾚｰﾝ
平行ｽﾘｯﾄその他

ｸﾞﾗﾌｧｲﾄﾓﾉｸﾛﾒｰﾀ

選択スリットの交換だけで、集中法と、多層膜ミラーを使用した平行ビーム法（図2）の切り替えが簡単にできる"クロスビームオプティクス"（Cross Beam Optics : CBO）シス
テムを採用しているため、様々な分析ニーズに対応できるようになっている。
123
X#$,-'()*%&'()*&+'()*

X#$45'()*
6789:9;< =>./0./0

ｲﾝﾌﾟﾚｰﾝﾕﾆｯﾄ

2.2 SmartLabの"使いやすさ"2.2.1 SmartLab Guidance!"

図1!"

集中法光学系（左図）と平行ビーム光学系（右図）

多機能性を一つの装置に持たせることは非常に便利な反面、装置を使いこなすためには、沢山ある機能をすべて理解する必要があることや、部品交換の手間がかかるなど、必ずしも使いやすい装置とは言い切れない。SmartLabでは、この相反する性質を両立させるために、制御ソフトとして"SmartLab Guidance"を搭載している。SmartLabGuidanceでは、光学系調整、試料位置調整、自動測定プロ

図2

放物面多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系

X 線回折 装 置は、基 本 的にX 線 源 部、ゴ ニオ（ 試 料 台部）、計数部から成る。写真2に示すように、SmartLabでは、X線源に一番近い場所にCBOユニットがあり、平行ビーム利用の際には、入射光学系素子部にライン‐ポイント変換素子や結晶モノクロメータなどを組み合わせて使うことができる。受光光学素子部は、平行スリットアナライザーや結晶アナライザなどが使用可能で、その他、必要に応じてグラファイトモノクロメータなどの受光光学素子も追加できるようになっている。表１に示したように、これらを組み合わせることによって、粉末試料の評価、微小領域の測定、薄膜の膜厚/膜密度評価など、さまざまな測定に対応できる。

グラムの一連の流れをひとまとまりにしているものをパッケージ（図3）と呼び、様々な測定目的に応じて多数用意されている。SmartLabではさらに、ソフトウェアとハードウェアが連携して構成部品の認識を行うことにより、実際に交換した部品が指定された条件と一致しているかどうかのチェックを行い（図4）、間違いを未然に防ぐ機能も用意されている。このようにSmartLabには交換部品の選択から測定まで全て装置に任せることができるガイダンスシステムが搭載されている。そこに登録されている交換部品の情報や、予備測定を含めた試料測定の手順には、リガクが長年培ってきた分析のノウハウが集約されている。また、防X線カバーを含む装置全体も、試料や光学系部品の交換が楽にできるよう試料台の高さやドアの形状に配慮し、使いやすさを最優先に設計している。

（2）

分析機器解説シリーズ（116）2.2.3 光学系管理・自動調整機能
Ｘ線を用いて測定を行う場合、最初に光学系調整を行い、光学原点を求める必要がある。使用される光学系によって、光学原点を決めるための軸の種類や数が異なるため、!"#$%&'

SmartLabでは、光学系ごとにオフセット（機械原点と光学原点の差）や軸の位置を保存しており、いつでも呼び出せるよう光学系管理データベースで管理している。また、一から光学系調整を行う場合でも、線源の高さ（Ts軸）、入射ビームの方向（θs軸）、多層膜ミラーの角度（Ｍ軸）、入射スリットの高さ（Zs軸）、受光スリットの高さ（Zd軸）、2θの原点（2θ軸又はθd軸）など多くの調整軸（図!"#$%()*+,-./0127）があるにも関わらず、10〜15分程度で自動調整が可能なため、いつでも最高の状態で測定ができるといった利点もある。

図3 パッケージ測定

図６ 光学系管理データベース

1

はじめに!"#$%&RS1

IS!sRS2
ATT!d

図４ 部品交換メッセージ

2TsM
Zs

(3)
'(SmartLabの特長

Zd

図7 調整軸2.2.2 試料水平ゴニオメータ
Ｘ線回折法で対象とされるサンプルは、粉末、バルク、液体、薄膜など形状は様々である。薄膜試料は年々大型化が進み、現在では8インチウェーハなども当たり前のように測定される。また、粉末試料でも整形しづらいサンプルや、高温測定などのIn-situ測定も頻繁に行われるようになっている。
そのような背景の中、試料を置くだけですむ試料水平保持方法は、試料を鉛直に保持する方法と比較して、固定や自重による試料自身への負荷が少ないこと、試料脱落の不安がなくなることなど、非常に優れていると言える（図5）。
$%()

$%&'

$%*+,-./

3

オプション・アタッチメント

３.1 ソーラースリット
多層膜ミラーからの平行ビームと平行スリットアナライザー（ParallelSlit Analyzer : PSA）を組み合わせること
4 解析ソフトウェア

によって、試料表面の凹凸の影響を受けることなく、正確で再現性の高いデータを得ることができる。このPSAは、薄い金属板を等間隔に積み重ねたもので、ビームと金属箔を5 おわりに平行に配置することで、平行ビーム法使用時の分解能を決める。実はこの素子は、90°回転して配置することもでき（図8）、アンブレラ効果によるピークの非対称性を低減するためのソーラースリットとしても利用できる（図9）。金6

DLTMA法による測定

属箔の間隔が狭いほど、その効果は大きいがその分、Ｘ線強度も低下するため、適切な素子を選ぶことが重要である。
!"#

図5 試料保持方法の違い

SmartLab7

動的粘弾性分析（DMA）

8

DSC，TGA，TMA及び（3）

分析機器解説シリーズ（116）
試料からの散乱Ｘ線を検知する素子として、SmartLab
ではその検出感度の良さ、ノイズレベルの低さ、及び取扱の容易さの観点から、主にＳＣが用いられている。この検出器は、低い方では0.1counts/secから、高い方では数え落とし補正を行うことにより70万counts/secまで計数で90°!"
図8

きる。一方、半導体素子を用いた１次元検出器D/teX Ultra

平行スリットアナライザーとソーラースリット

は、試料測定時間の大幅短縮・高強度の回折Ｘ線データの収集に優れており、多量の試料測定、その場観察（In-situ）測定および微量試料・微小部測定に適した検出器と言える。

Intensity !a.u."

18000
16000

図11に、０次元検出器(SC)および１次元検出器（D/teX14000

Ultra）を用いた、集中法光学系での測定の模式図を示した。図11(a)は従来通りの0次元検出器を用い、集中法光学

12000

系で行う測定の模式図である。受光部に幅0.1ｍｍ程度のス10000リットを用い、高分解能測定を実現している。見方を変えれ8000

ば、0次元検出器の広い素子面の一部だけしか使っていない6000ことになる。これに対し、図11(b)では、多連装された検出4000素子の各々が、少しずつ回折条件の異なる信号を同時に計2000数することを表している。この効果のため、図11(a),(b)そ0れぞれの装置構成で2θ/θ測定を行うと、図11(b)の構成7であれば、素子の分だけ計数を行ったと同じ効果があるのソーラースリットの効果（強度を規格化して表示）のである（図12）。この測定モードを「TDI (Time Delay

55.5

66.52!!deg."
図9３.2 １次元検出器（6),（7）計数部として一般に用いられている計数装置は、シンチレーションカウンター（Scintillation Counter :SC）や比例計数管（Proportional Counter : PC）であるが、これらは位置分解能を持たないため0次元検出器（またはポイントで信号を積算できることになり、結果的に高速測定が行えるIntegration) モード」と呼ぶ。このメリットは、集中法光学系と配向性の弱い試料との組み合わせで有効であり、入射平行ビーム光学系や強配向組織を有する試料に対しての測定の場合にはメリットはかなり少ないものとなる。さらに、
図11(b)で明らかなように、迷光をさえぎる機構が作りにく
く、かつ蛍光Ｘ線のような指向性のない信号に対しても積算型検出器）と呼ばれる。一方、高速・高感度測定の実現のた
め、検出素子を１次元または２次元的に多連装した検出器も近年広く用いられるようになってきた。SmartLabで用いられる0次元検出器と１次元検出器を図10に示す。

(a)SC
図 11

(b)D/teX Ultra

０次元検出器と１次元検出器の回折測定原理

5e+005! SC! D/teX Ultra"# (cps)Intensity (cps)

4e+0053e+0052e+0051e+00528.0

図 10（4）

SmartLab に用いられている検出器

図１228.228.42!(deg)28.628.8

ＳＣと D/teX Ultra の回折線強度比較

分析機器解説シリーズ（116）
してしまう点に注意が必要である。この蛍光Ｘ線の対策としみに、白色部はカルサイトが主成分であった。て、D/teX Ultraでは、半導体素子のエネルギー分解能の良さを利用し、バックグランドの原因となる蛍光Ｘ線を低減させて、Ｐ/B比の向上したデータを可能とする、蛍光Ｘ線低減モードが備わっている（図13）。
! "#X$%&'!( )*+! "#X$%&'!( *+3e+004

Intensity (cps)"# (cps)

4e+0042e+0041e+004

図 160e+0002040

60
2!(deg)

図 13

蛇紋岩中の黒色部分の定性分析結果

３.4 アタッチメント

80

試料台部に置かれるものとして、①アタッチメントベース

蛍光Ｘ線低減モードの効果（試料台本体）、②アタッチメント（アタッチメントベース

３.3 微小部測定光学系ユニット"CBO-f "に取りつけるアタッチメント）、③試料厚調整板（測定試料微小部測定光学系ユニットCBO-f は、図14に示すようにの厚さを調整するためのスペーサ）、④試料板（試料ホル多層膜ミラーの後ろに取りつけることによって、Ｘ線管をラダーまたは試料を載せる板）がある。ここでは、②のアタッイン焦点からポイント焦点へ切り替えすることなく、微小領チメントの機能について示す。

域の測定が迅速に行うことのできるユニットである。多層膜ミラーを通した平行ビームを利用しているため、単色化および集光された高輝度Ｘ線により、高いS/N比の測定が可能となる。試料位置での集光サイズは約0.4ｍｍφで、スリットで絞ったのみの微小部光学系と比較して、数10倍の強度が得られる（図15）。

標準アタッチメント
移動軸のないアタッチメントである。反射率や粉末・バルク状の試料の測定に使用される。

(CBO­f )XY-20 アタッチメント
直交する 2 軸を用いて照射部位を調整するＸ軸、Ｙ軸をもつア図 14タッチメントである。微小領域の測定の際、測定位置調整に使用される。

微小部測定光学ユニット "CBO-f "2.0

RxRy アタッチメント"#$%&'()*+,

1.5

直交する 2 方向のあおりを調整する Rx 軸、Ry 軸をもつアタッチメントである。逆格子マップ

1.0

Intensity /cps

0.50CBO­-

150

測定、各種のインプレーン測定に使うと有効。

10050020

CCD./01$2345

図 15

Mullite - Al6Si2O1330

40502!/deg

60

70

80

RxRy＋φアタッチメント!0.4mm67$%&'()8

インプレーン測定には、インプ２つの微小部光学系の比較

レーンアームの他、試料面内回転機構のあるφアタッチメント
ベースおよび上記の RxRy アタ

また、このCBO-f に1次元検出器D/teX Ultraを組み合わせることで、鉱物種などを粉砕せずに短時間に同定することッチメントが必要となる。

ができる。図16は蛇紋岩を測定した例である。直径1mm以下の領域を測定した結果、黒色部には、クリソタイル、アンチゴライト、リザルダイトが含まれることが分かった。ちな

図 17

アタッチメントベースとアタッチメント（5）3 オプション・アタッチメント
分析機器解説シリーズ（116）(-3 3 1)

(1 3 9)(1 3 5)(1 3 6)20(1 3 0)(1 (11 6)
3 1)10100(1 3 3)200

(0 2 5)(1 1 5)(-1 1 6)

は、粉末Ｘ線回折データを、同じプラットホームで行えるよ
5 おわりに(-1 1 3)(0 2 3)(-1 1 4)(0(0204)
6)(1 1 4)

測定の自動化、および高速化が進むにつれて、得られたデータを迅速に解析するソフトウェアも必要となる。ここで"#$%&(1 1 0)(-1 1 1)解析ソフトウェア(0 0 2)

41100
1000
900
800
700
600
500400300

うにした「統合粉末Ｘ線解析ソフトウェア"PDXL"」と薄膜

4000
2000

8

DSC，TGA，TMA及びDMAによる測定結果の比較
図 18"PDXL" と "GlobalFit" のスタートアップ画面

結論
9 統合粉末Ｘ線解析ソフトウェア
４.１
PDXL(8)4050'#$%&(0 0 10)動的粘弾性分析（DMA）

302!(deg)(0 0 8)722000
20000
18000
16000
14000
12000
10000
8000
6000

(0 0 6)

6射率解析)」（図18）の機能について紹介する。
DLTMA法による測定

0(0 0 4)

解析するための「薄膜総合解析ソフトウェア"GlobalFit"(反(0 0 2)の膜厚、膜密度、表面または界面のラフネスなどの膜構造を010

図 1920302!(deg)4050

無配向試料および強配向試料（Muscovite）のハイブリッドサーチマッチ結果

4.1.1 ピーク処理の自動化

4.1.３ リートベルト解析

粉末Ｘ線回折データの解析は、そのほとんどが回折ピーク「リートベルト解析」というと難しい印象を受けるかもしの位置・強度・幅などを基にして行われる。従来の解析ソフ

れないが、PDXLを使用すれば、誰でも簡単にリートベルト

トウェアでは、回折ピーク情報を得るために、平滑化、バッ解析を行うことができる。リートベルト解析の目的は、結晶クグラウンド除去、ピーク分離などの前処理が、ユーザーの構造解析（精密化）だけではない。精度の高い格子定数解析

手によって行われていた。PDXLは測定データを読み込むとや同定された結晶相の定量値を得ることができる。

同時に、ユーザーの手を要することなく、全パターンのピー結晶相の同定後、リートベルト解析に必要なのは、結晶相クプロファイルフィッティングを行い、ピークリストを瞬時に割り当てられた各物質の結晶構造パラメータである。結に作成する。ユーザーの手を煩わさないだけでなく、ピーク晶構造パラメータはいくつかの手段でPDXLに入力するこ情報の人為的なばらつきがないというメリットがある。とができるが、最も簡単な方法は、各物質に対してCIF（結晶情報ファイル）を読み込むことである。ICSD（無機結晶4.1.2 結晶相の同定構造データベース）を同じPCにインストールしていれば、粉末Ｘ線回折データを用いた解析の中で、結晶相の同定は結晶相の同定の際、結晶構造パラメータは自動的にICSDか最もよく利用される目的の1つである。サーチマッチと呼ばら読み込まれる。また、日本結晶学会の無機結晶構造デーれる手法を用いて、PDF-2(粉末回折データベース)などのタベース（http://www.crsj.jp/database.html）やCODデータベースから、試料に含まれる物質を検索する。PDXL（http://www.crystallography.net/archives/2011/

では、「ハイブリッドサーチマッチ」というサーチマッチをRigaku/）などの無償のデータベースも利用可能である。

採用している。この手法は、データベースに登録されている結晶構造パラメータを読み込んだ後は、「精密化」ボタンデータと測定データとの一致度を見るだけでなく、格子定をクリックするだけでリートベルト解析が実行される。従来数、配向度などに許容幅を持たせてデータベースに登録されのリートベルト解析は、精密化を行う前に、格子定数、ピーているデータを変化させた後、測定データとの一致度を見る

クプロファイルパラメータ、バックグラウンド関数、配向パ手法を取っている。そのため、従来のサーチマッチでは不得ラメータなどの初期値を設定する必要があったが、PDXLで意だった固溶体や配向の強い試料（図19）などの同定にもは、定性が終了した段階で既に見積もられている。そのた威力を発揮する。

め、結晶構造パラメータを読み込むだけで、リートベルト解
析を直ちに実行することが可能である（図20）。

（6）

分析機器解説シリーズ（116）
較を行うためには、全ての測定データを同じ条件で解析する必要があるが、PDXLの「パッケージ解析」の機能を用いれば、試料間の比較を簡単に行うことができる（図22）。
パッケージ解析とは、データの解析からレポートの作成、解析結果の保存までを、複数のデータに対して一括して行う処理のことである。

図 20

リートベルト解析実行中のウィンドウ

4.1.4 結果のレポート
前述のとおり、１つの粉末Ｘ線回折データから、試料に関する様々な情報が得られる。PDXLでは、得られた解析結果

図 22

パッケージ解析よる４試料の解析結果例（定量値）をまとめて閲覧できる「解析結果ウィンドウ」が用意されている。解析ウィンドウでは、各種パラメータの値を確認できるほか、値を視覚的にグラフ化することが可能である。
解析結果をレポートとして出力するために、PDXLはMicrosoft Wordのマクロ機能を使用している。PDXLには工場出荷時にいくつかのテンプレートが用意されており、ユーザーが選択したテンプレートに従って、レポートが自動で作成される。テンプレートは、ユーザーがカスタマイズすることも可能である（図21）。

４.2 薄膜総合解析ソフトウェア GlobalFit(9)デバイス特性は、薄膜の膜厚、膜密度などといった膜構造パラメータに依存している場合が多くあり、これらのパラメータを定量的に評価することが重要である。これらを評価する方法として、X線反射率法（XRR）がある。
この手法は、試料に対し前処理がいらない、非破壊検査である、標準試料を必要としない、可視光に不透明な試料にも適用できる、多層膜解析ができるなど、他の手法にはない特長を持つ。具体的には、測定で得られたX線反射率プロファ
イルと、膜構造モデルに基づいて計算されるプロファイルを比較し、膜構造モデルにおける膜厚や（電子）密度、界面粗さなどをパラメータとして、測定データと計算データの残差が最小になるよう（最小二乗法）に各パラメータの最適値を求め、薄膜の積層構造を確定する。元になる膜構造モデルが真の構造に近い場合は、ほぼ自動で最適な膜構造パラメータを求めることができる。しかし、図23の解析イメージに示すように、膜構造パラメータの初期値が真の値と大きく異なる場合は、最小二乗法では最適解を得ることは容易ではな
く、材料の特性や測定・解析のノウハウに基づいて膜構造モデルの再構築をトライ＆エラーで行う必要があり、時間と経験を要した。また、膜構造が多層になればパラメータ数も増加するため、さらに解析は困難になる。そのため、近年目覚ましく多様化、複雑化する薄膜材料に対し、簡便な手順で解析を行うことは重要な課題のひとつであった。それに対し、
GlobalFit(反射率解析)では最小二乗法以外に、さらに2つ

図 21

解析結果レポートの例の最適化法を取り入れ、できるだけ効率的に最適な膜構造パラメータが得られるように工夫している。第1の方法は、

4.1.5 パッケージ解析
材料開発の現場などでは、条件を変えて合成した試料の定性・定量の結果を比較したいなどの要求がある。試料間の比「拡張フーリエ解析」である。反射率曲線に現れる振動構造は、その周期や振幅、減衰の程度から各層の構造パラメータの情報を含んでいる。拡張フーリエ解析では、この振動構造を解析することにより、初期値がずれて最小二乗法が機能し（7）分析機器解説シリーズ（116）ない場合でも、最適な解に到達できる道筋を与えてくれる。
しかし、複雑な膜構造の場合、拡張フーリエ解析でも不十分なことがある。その場合は、第2の方法である「グローバルフィット（=GlobalFit）」を用いて解析を行う。グローバルフィットでは、各構造パラメータを、想定される比較的広い範囲で大域的な解の探索を行い、最も残差の少ない解の近傍を見つける。その後、最小二乗法によってさらに解の精密化を進めることができる。このように、2つの最適化法を取り入れたことにより、従来経験や勘に頼っていた複雑な膜構造の解析を効率的に行うことが可能となった。

4

解析ソフトウェア5

おわりに

今回は、多様な分析ニーズに対応可能なX線回折装置として、SmartLabシステムの一部を紹介させていただいたが、6 DLTMA法による測定
このシステムを通して、X線回折法の測定や解析を身近なものとして感じていただき、多くの情報を得て、様々な分野で活用していただければ幸いである。

7

動的粘弾性分析（DMA）

参考文献（1） 小柳和夫・松尾正之：九州大学中央分析センターニュース， 27 (2008), 1-6!"#!"#67897:;<=>;?
@A'(),%.

（2） 稲葉克彦：九州大学中央分析センターニュース,
30
DSC，TGA，TMA及びBCD?E>
FG1HI
JKL?M)DNO:P$%&'()
12345

1HI

（4） 粉末X線解析の実際

12345

*+#

図 23結 朝倉書店
9 集］:

第2版

中井泉／泉富士夫［編論（5） 原田仁平：日本結晶学会誌, 45 (2003), 306-313*+#（6） 小 林 信 太 郎 , 稲 葉 克 彦：リガ クジ ャ ー ナ ル ，4 2 (1)GlobalFit(YZ[*+PST,UD:VWX

DMAによる測定結果の比較(2011), 1-6（3） リガクジャーナル，36(2) (2005), 39-40$%&'()

QRI/08(2011), 9-14

反射率解析のイメージ（7） リガクジャーナル，39(1) (2008), 41-42（8） リガクジャーナル，40(1) (2009), 36-40（9） リガクジャーナル，40(2) (2009), 33-34

お 知 ら せ（1）中央分析センター（筑紫キャンパス）関係
オージェ電子分光分析装置の測定・解析用ソフトウエアのバージョンアップを行いました。主な更新内容は次の通りです；①これまでに見つかったバグの除去、②測定時間が表示されるようになった、③試料台の傾きの設定値がボタンで切り替え可能になった。
（2）中央分析センター伊都分室（伊都キャンパス）関係
以下の装置が新設されました。熱分析装置の詳細に関しては次号で解説します。
①

全自動水平型多目的 X 線回折装置（SmartLab）（株式会社リガク製）②

熱分析装置（EXSTAR7000）（ｴｽｱｲｱｲﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰ株式会社製）
・高感度示差走査熱量計

X-DSC7000

・高温型示差走査熱量計

DSC6300

・示差熱熱重量同時測定装置

TG/DTA7300

九州大学中央分析センターニュース
九州大学中央分析センター（筑紫地区）

九州大学中央分析センター伊都分室（伊都地区）〒816-8580 福岡県春日市春日公園6丁目1番地
TEL 092-583-7870／FAX 092-593-8421〒819-0395 福岡市西区元岡744番地
TEL 092-802-2857／FAX 092-802-2858

ホームページアドレス（8）

第116号 平成24年4月10日発行

http://www.bunseki.cstm.kyushu-u.ac.jp