標準計測法 12 二刷

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p. 25 最終行

電離箱線量計が表示する値と水吸収線量標準

p. 44 式 3.7

D ( d max , A) 

p. 44 最終行

ステップ 1 は，日本の線量標準機関においてユーザのリファレンス線量計に与えられる ND,w の不確かさである。

p. 45 表 3

以下の通り修正されました。（印刷して、旧版の上に貼り付けてください。）

p. 45 表の下

D ( d c , A)
TMR ( d c , A)

追加、変更、修正箇所

電離箱線量計が表示する値と水吸収標準
D ( d max , A)  100 

D ( d c , A)
TMR ( d c , A)

ステップ 1 は，標準校正機関におけるユーザの基準電離箱線量計のND,w 校正の不確かさである。

高エネルギー光子線の校正における不確かさの評価を表 3.4 に示高エネルギー光子線の校正における不確かさの評価を表 3.4 に示す。基準電離箱線量計の校正が二次線量標準機関の 60Co で行われたす。基準電離箱線量計の校正が二次標準機関の 60Co で行われたとき，

1

標準計測法 12 二刷追加、変更、修正箇所

とき，Dw,Q の標準不確かさは 1.4 %と見積もられる。リファレンス電Dw,Q の標準不確かさは，計算による kQ の不確かさを合成して約 1.5 %離箱線量計の校正が一次線量標準機関で行われたとしても，計算にと評価される。もし，基準電離箱線量計の校正が一次線量標準機関でよる kQ の不確かさが優位なので Dw,Q の全不確かさの見積は 1.4 %で行われたとしても，計算による kQ の不確かさが優位なので Dw,Q の全変わらない。

不確かさの減少は期待できない。もし，ユーザビームにおける kQ が一次線量標準機関で測定されるなら，kQ の不確かさは約 1.2 %に減少できる。

p. 62 表 4.4

以下の通り修正されました。（印刷して、旧版の上に貼り付けてください。）

2標準計測法 12 二刷

p. 62 表下から 3行目追加、変更、修正箇所

表 4.4 に基準線質を 60Coγ線とした場合の校正深での水吸収線量評

表 4.4 に基準線質を 60Coγ線とした場合の校正深での水吸収線量評価の標準不確かさを示す。この表は，円筒形電離箱および平行平板形価の標準不確かさを示す。この表は，円筒形電離箱および平行平板形電離箱について，それぞれ R50 ≥ 4 g cm-2 および R50 ≥ 1 g cm-2 のエネル

電離箱について，それぞれ R50 ≥ 4 g cm-2 および R50 ≥ 1 g cm-2 のエネル

ギーに対する値である。固体ファントムを使用した場合はこれより大ギーに対する値である。固体ファントムを使用した場合はこれより大きくなる。

きくなる。なお，ここでは一次線量標準機関における二次標準器の水ユーザビーム Qcross による相互校正で平行平板形電離箱の水吸収線量校正定数 N D, W, Qcross を決定した場合，最終的な校正深水吸収線量の合成標準不確かさは 1.7 %から 1.4 %に縮小する。詳しくは第 7 章「フィールド線量計の相互校正」を参照されたい。

吸収線量校正定数値付けの不確かさを 0.39 ％、二次線量標準機関における水吸収線量校正定数値付けの不確かさを 0.4 %とした。
線質変換係数を計算ではなく実測により値付けた場合，水吸収線量の合成標準不確かさは小さくなると考えられる。仮に測定で値付けされた線質変換係数の標準不確かさが 0.8 % であった場合，電子線の水吸収線量の校正標準不確かさは 2.1 % から 1. 5% に縮小することとなる。
ユーザビーム Qcross による相互校正で平行平板形電離箱の水吸収線
量校正定数 N D, W, Qcross を求めた場合，最終的な校正深水吸収線量の合成
標準不確かさは 2.1 %から 1.4 %に縮小する。詳しくは第 7 章「フィールド線量計の相互校正」を参照されたい。

p. 70 8 行目

IBA PPC40

Exradin P11

p. 77 下から 4 行

前壁厚 0.104 g cm-2 を校正深に含め，SW ファントムの厚さを 1.24 cm

前壁厚は 0.00104 g cm-2 であるため，その壁厚は無視できるものとす

目とする。

る。

p. 79 下から 4 行

NACP-02

Exradin A10

p. 80 枠下 1 行目

線量最大深 dmax は，PDD より 1.32 cm である。

線量最大深 dmax は，PDD より 2.1 cm である。

p. 80 枠下 2 行目

校正深 dc =1.32 cm における校正深 dc=2.1 cm におけるp. 92 表 5.4

以下の通り修正されました。（印刷して、旧版の上に貼り付けてください。）

目3標準計測法 12 二刷

追加、変更、修正箇所

p. 92 表から上へ

円筒形電離箱を用いた場合は 2.0 %，平行平板形電離箱の場合は円筒形電離箱を用いた場合は 2.0 %，平行平板形電離箱の場合は 2.3 %2 行目2.4 %である。線質変換係数 kQ の計算に関係する物理量の不確かさのである。線質変換係数 kQ の計算に関係する物理量の不確かさの詳細は

詳細は付録 3 で述べる。

付録 3 で述べる。

p. 103 表 6.3

以下の通り修正されました。（印刷して、旧版の上に貼り付けてください。）

4標準計測法 12 二刷

p. 10918 行目

p. 112 5 行目から 7

線質変換係数であり，表 4.3 から得られる線質変換係数であり，表 3.3 から得られる。

削除

媒介変数 Qint を基準とした ・・・（続く 3 行）円筒形電離箱では同一の線質変換係数 kQ,Qint となる。

行目
p. 115 最下行の式
p. 116追加、変更、修正箇所

N D,fieldw, Qcross 

M Qrefcross N D,refw,Q0 kQrefcross ,Q0M

fieldQcross

0.966
 7.667  10212.60

N D,fieldw, Ocross 

M Qrefcross N D,refw,Q0 kQrefcross ,Q0

以下の通り追加されました。（印刷して、116 ページの空欄に貼り付けてください。
）

M

fieldQcross

0.966
 7.667  10212.60

5標準計測法 12 二刷

追加、変更、修正箇所

6標準計測法 12 二刷

p. 130 右 3 行目

3. おわりに追加、変更、修正箇所

7

3. おわりに本付録では産総研の 60Coγ線場での水吸収線量率一次標準の測定と不本付録では産総研の60Coγ線場での水吸収線量率一次標準の測定と確かさについて紹介した 4)。この水吸収線量標準については，国際度不確かさについて紹介した。この水吸収線量標準については，国際度量衡局(Bureau International des Poids et Mesures; BIPM)との二機関比較， 量衡局(Bureau International des Poids et Mesures; BIPM)との二機関比較，アジア太平洋計量計画(Asia Pacific Metrology Program; APMP)域内での アジア太平洋計量計画(Asia Pacific Metrology Program; APMP)域内での多国間比較を行なっている。これらの結果については
http://www.bipm.org/en/cipm-mra/で確認できるので，更に詳細な情報がp. 131 左参考文

献に必要な場合にはご参照いただきたい 5)。
4) Morishita Y, Kato M, Takata N, et al.: A standard for absorbed dose rate
to water in a 60Co field using a graphite calorimeter at the national
metrology
instituteofJapan,Radiat.
Prot.
Dosimetrydoi:10.1093/rpd/ncs235, 2012

多国間比較を行なっている。これらの結果については
http://www.bipm.org/en/cipm-mra/で確認できるので，更に詳細な情報が必要な場合にはご参照いただきたい。

5) Kessler C, Allisy-Roberts PJ, Morishita Y, et al.: Comparison of thestandards for absorbed dose to water of the NMIJ and the BIPM for 60Co
-ray beams, Metrologia 48, Tech. Suppl. 06008, 2011
を追加。
p. 142 右 3 行目

水吸収線量校正定数は電子線での相互校正

線質変換係数は高エネルギー電子線での相互校正

p. 143 左下から 8大野小野

p. 149 左 6 行目

削除

〔河内，齋藤，福村，金井，都丸〕

p. 188 左 23 行目

RTQA2、EBT2 および EBT3 はRTQA、EBT2 および EBT3 は

p. 244 左下から 10

水吸収線量は電離空洞内に生じた有限の大きさの電離空洞内に生じた

p. 245 左 14 行目

しかし，小型の電離箱線量計はしかし，小型の電離箱線量計ではp. 245 左 16 行目

照射野サイズに依存するノイズの影響を強く受けるため，照射野サイズに依存してノイズが変化するため，

p. 245 右下から 7

これによる電離箱の感度，つまり線質変換係数の変化はこれによる電離箱の感度すなわち，線質変換係数の変化は行目行目行目

標準計測法 12 二刷

p. 246 左本文に続

また表 A19.1 に示されるように，半導体検出器は 1 cm×1 cm 以下の極けて小照射野で応答が過大となる場合があるため注意が必要である。

追加、変更、修正箇所を挿入
p. 248 左 下 か ら

句点「．」を「。」に修正（3 か所）

11、9、6 行目文末
p. 248 右下から 5行目

CK

TPR20,10=0.64 と通常のリニアックの TPR20,10=0.68 の線質は，それぞれの基準条件における電離箱計測でほぼ等価な線質とみなすことがで, f ref
きる。さらに，0.62 ≤ CKTPR20,10 ≤ 0.66 であれば kQ,Q0 kQfmsr
は±0.3 %以msr ,Q

通 常 の リ ニ ア ッ ク で TPR20,10=0.68 で あ る 線 質 は ， CyberKnife のCK
TPR20,10=0.64 の線質とほぼ等価であり，0.62 ≤ CKTPR20,10 ≤ 0.66 であ, f refは±0.3 %以内の変化である 2,3,4)。
れば kQ,Q0 kQf msr
msr ,Q内の変化である 2,3,4)。
p. 249 左 下 か ら

検出器の設置位置に細心の注意を払う必要がある。

検出器の設置位置精度に細心の注意を払う必要がある。

13 行目
p. 250 表 A20.4 お
よび A20.5

次の通り修正されました。（印刷して、旧版の上に貼り付けてください。）

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標準計測法 12 二刷

追加、変更、修正箇所

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