エレクトロケミカルマイグレーション評価システム（イオンマイグレーション評価システム）

絶縁抵抗／漏れ電流測定装置

AMI−U

CAT.NO.08523-U2309

エレクトロケミカルマイグレーションの解析や評価、絶縁抵抗の評価をより正確に、より効率的に、そして容易に。
電子機器の微細化、高密度化そして省電力化に向けた回路の高電圧化に伴い重要性が高まるエレクトロケミカルマイグレーション評価、絶縁評価。
これらの評価を、より高精度に効率よく連続し行うことができるシステム「エレクトロケミカルマイグレーション評価システム」
環境試験と計測･評価の融合を実現しました。

1

電子機器市場の信頼性評価におけるエスペック計測製品
TDDB評価試験 ウェハー評価

TDDB評価試験 ウェハー評価
半導体パラメトリック試験

AMM-TDDB-W

AMM-TDDB-W
AMM-W

封し材料／サブストレート基板／絶縁材料／はんだ材料／多層基板

絶縁抵抗評価試験

半導体パラメトリック試験 AMM-C
バーンイン試験
RBC RBS RBM MBI

絶縁抵抗評価試験

AMI

TDDB評価試験 パッケージ評価

AMM-TDDB-C AMI（エレクトロケミカルマイグレーション）（エレクトロケミカルマイグレーション）

AMI

導体抵抗評価試験（接合信頼性試験） AMR

バーンイン試験
RBC RBS RBM MBI
エレクトロマイグレーション評価試験 AEM
逆バイアス試験（パワーデバイス）

HTRB HTGB H3TRB AMI

パワーサイクル試験（パワーデバイス） RBS-PST
導体抵抗評価試験（接合信頼性試験） AMR

PCメーカー／携帯電話メーカー／車載メーカー／通信機器メーカー

絶縁抵抗評価試験（エレクトロケミカルマイグレーション）

AMI

導体抵抗評価試験（接合信頼性試験）AMR

コンデンサ／インダクタ／抵抗／センサー

導体抵抗評価試験（接合信頼性試験） AMR
漏れ電流測定評価試験

AMI

コンデンサ温度特性評価試験
インダクタ評価試験
センサーバーンイン

AMQ
AEM
RBS

2エレクトロケミカルマイグレーション評価

CAF

エレクトロケミカルマイグレーションのメカニズム
エレクトロケミカルマイグレーション現象(ECM)とは、陰極から陽極へ金属堆積物（金属酸化物のデンドライト）が発生し成長することです。プリント基板の表面と内部の両方で起こる可能性があります。
エレクトロニクスにおいてはこのような現象によって電極が短絡を起こし、電子デバイスの断続的または完全な故障を引き起こします。
＜ 基板表面 ＞＜ 基板層間 ＞
CAF

陽極
（＋）

陰極
（−）

M＋

正極からメタルイオンが析出

陰極（−）

デンドライト

吸湿と電圧により発生

吸湿と電圧により発生

陰極（−）

CAFは、基板内部のガラス繊維などに沿って、析出する金属あるいは酸化物が陽極金属から伸びる繊維状のものです。

陽極（＋）

陰極
（−）

試験方法と連動可能な環境試験装置
M＋（一例）
吸湿と電圧により発生■ エレクトロケミカルマイグレーションは、温湿度吸湿と電圧環境下でサンプルに電圧印加することで発生により発生します。
■ さまざまな環境条件の中でサンプルの寿命評価が可能です。

絶縁抵抗値
計測

電圧印加

CAF
ガラス繊維と樹脂の界面デンドライト

正極からメタルイオンが析出CAF
ガラス繊維と樹脂の界面デンドライトとは、湿度環境下において導体間に電圧が印加されている場合に、一方の金属電極から他方の金属電極に金属イオンが移行し、金属または化合物が析出したものです。
陽極（＋）

陽極（＋）

85℃
85%

主な対応製品
恒温恒湿器 プラチナスJシリーズ
小型環境試験器（恒温恒湿器）
高度加速寿命試験装置 HAST CHAMBER

AMI

3(Example)

恒温恒湿器

エレクトロケミカルマイグレーション評価
AMIによる測定結果
高温高湿条件下での絶縁劣化グラフ（基板表面）
1.00E＋13

サンプル A
サンプル B
サンプル C

1.00E＋12

絶縁低下後、再び高抵抗値に復帰ほぼ一定で変化なし

抵抗値（Ω）

1.00E＋11
1.00E＋10
1.00E＋09
1.00E＋08

1.00E＋06

急激に絶縁抵抗値1MΩ以下に低下

瞬間的に発生する
エレクトロケミカルマイグレーションを検出

1.00E＋07

100

112

132

152

172

192

212

232

252

272

292

312

332

352

372

試験時間（hr）
計測条件

試験条件温湿度条件 ：40℃、90％rh
ストレス電圧：ＤＣ50Ｖ
測定電圧：ＤＣ50Ｖ
測定間隔：0.5h※Excel（表計算ソフト）
でデータ処理したものです。

ワイブル解析（オプション）
寿命評価グラフ（同一サンプル、同一電圧）
赤線だけ傾きが大きく異なる↓
温湿度条件120℃／85%rhでは厳しい環境であることがわかる

寿命の信頼性解析に使うワイブルプロットです。
AMIにはワイブルプロット作成の支援ツールが備わっており、寿命解析の手助けをします。

4

特長
瞬時のマイグレーションを見逃さない細かい挙動も正確に捉えます
低電圧から高電圧領域の試験が可能

収納スペースシステム管理用パソコン
無停電電源
起動スイッチ

中継ユニット・左右側面に設置可能。
（写真は右側面）
計測ケーブルを中継ユニットから取り外し可能。

キーボードテーブル・未使用時には収納可能

中継ユニット収納部

モバイル機器等の低電圧から車載用の高電圧デバイスの評価まで、用途･目的に合わせて、ストレス定電圧 100Vの他、オプションで 300V･500Vの電圧仕様をライン アップして いま す。 カスタム 対 応 で1000V･2500Vもご提供致します。
100V仕様 （印加なし、DC1〜100V）
300V仕様 （印加なし、DC1〜300V）500V仕様 （印加なし、DC1〜 500V）
カスタム対応1000V仕様（印加なし、DC50 ～DC1000V）
2500V仕様（印加なし、DC50 ～DC2500V）

最大 300chを制御

NEW最大 300chの試験が可能です。
モジュールごとに独立制御が可能で、制御chは5chか25chからご選択いただきます。

システムラック● 抵抗値計測
常時監視で、瞬時の 通常測定間隔
通常測定間隔マイグレーション現象を検出

測定間隔 1分
リーク電流しきい値
（Ω） 1
2

3

4

5

6

計測点

5

独自設計のリーク電流検出回路
エスペックのリーク検出回路で各チャネルを常時モニタリングします。
あらかじめ設定されたしきい値を下回ると、リークを検出し、設定した間隔でサンプルの抵抗値を記録します。

恒温恒湿器

AMI

特長(Example)

Insulation resistancemeasurement

エスペックの環境試験器との連動で、操作性と安全性が向上
Voltageapplication

作業性･定期交換時の効率UP
中継ユニットを設置することにより容易に計測ケーブルの取り付け、取り外しが可能です。
中継ユニットはラック前面や左右側面に設置可能で、設置環境に合わせてお使いいただけます。

AMI

85℃
85%

Temperature & Humidity Chamber
マイナス側

高精度測定を実現
マイナス側には同軸ケーブルを採用し微小ノイズの影響を抑え、より高精度な測定を実現しています。材質は、耐熱、耐湿、耐電圧に優れたテフロン被覆を採用しており、より高負荷な環境下にもご使用できます。

プラス側
中継ユニット計測ケーブル NEW

各 5chコネクターを採用

環境試験器 4台をリアルタイムモニター（通信方法 Ethernet方式） NEW
最大 4台までの環境試験器と接続して試験が可能です。環境試験器と連動することで、抵抗値･電圧値に加えテストエリア内の温度･湿度をAMI側でモニタリングすることができます。モニタリング情報は、測定結果ファイルに記録します。

小型環境試験器との接続例

試験器の連動による温湿度遅延制御
温湿度安定時間を設定することで、サンプ
ルに十分な吸湿を行い、試験開始できます。

異常検知による安全設計
試験中に環境試験器の異常が発生した場合、AMIが 試験中断処理に移行します。
サンプルへのストレス電圧の遮断や異常検知までの測定データを保管します。
異常解消後、試験再開できます。

リアルタイムモニター（温度･湿度）

校正サービスエスペックでは、環境試験器を含めた評価システムの校正にお応えいたします。

リアルタイムモニター（電圧値･抵抗値）

6

エスペックのエレクトロケミカルマイグレーション評価システムが世界で選ばれている理由

スキャナ方式の高精度測定およびマイグレーション瞬間検出回路によるハイブリッド計測
スキャナ方式による高精度測定とは？
■国際標準対応の計測器（150ch/式）
はすべてのサンプルを測定する事で各チャネル間の測定値のばらつきを抑えます。
計測器にはNPLC（Number of PowerLine Cycle)の機能が備わっており、一次側の電源ノイズによる影響を抑えることで、より高精度な測定ができます。
マイグレーション瞬間検出回路とは？
■ 計 測 器で 捉 えきれ ない瞬 時 のマイグ
レーションに対しては、各チャネルごとに検出回路を搭載しています。
（検出速度は100μs未満）

初期のマイグレーションは、ショート現象でデンドライトが焼き切れ元の抵抗値に復帰します。これを見逃さないために、エスペックの瞬間検出回路で常時監視をおこなっています。
※マイグレーションは、数 10 時間かけて徐々に発生します。   （IPC規格：測定間隔 20 分以内）

サンプルに応じた試験電圧
基板絶縁評価（試験規格

IPC-TM-650

コンデンサ絶縁評価

2.6.3.3)（試験規格

AEC-Q200）

ストレス印加電圧：30VDC
測定電圧：15VDC（0V放電1分 → 電圧チャージ60秒 → 測定）

ストレス印加電圧：50VDC
測定電圧：100VDC（電圧チャージ60秒 → 測定）
測定ポイント（チャージ後）
100V
50V

測定前ウェイト：0分

チャージ時間（測定電圧100V）
60秒
測定後ウェイト：0分

0V

30V
測定ポイント（チャージ後）15V

チャージ時間（測定電圧15V）
60秒

0V
測定前ウェイト：1分

オシロスコープで取得した実際の出力制御波形
100V

オシロスコープで取得した実際の出力制御波形

30V
15V

50V

0V0V
立ち上がり波形7

測定後ウェイト：1分

立ち下がり波形

測定前波形

測定後波形

エスペックのエレクトロケミカルマイグレーション評価システムが世界で選ばれている理由

環境試験器メーカーとして、試験規格に適合した恒温槽や治具、試験基板の提供
・ 恒温槽の扉の閉め忘れや異常時は、電圧印加を中断し、サンプルへの結露、絶縁破壊を防ぎます。
・ IPC-TM650（セクション 2.5）などグローバルスタンダードに従った試験が可能です。
IPC-B24 くし型基板と専用ラックをオプションでご用意しています。

IPCテスト基板ラック

IPC-B24 基板

HAST用 引き出し治具

カードエッジタイプ

簡単自己診断が可能です
定期的なメンテナンス用として付属の抵抗器を用いて自己診断試験が可能です。
診断内容：
チャンバー通信
計測器通信
インターフェース
電圧出力
リーク検出回路 など

サービス拠点の充実

世界 50の国と地域で、お客様をサポートします。
■日本国内サービス拠点（15 拠点）
8

試験準備

条件登録
試験時間、測定間隔、測定電圧、ストレス印加電圧、各種リミット値など試験条件を設定しファイルに保存可能。

試験設定
試験モジュールの選択、保存するデータファイル名、連動するチャンバーの設定、テキストデータ出力の有無、リークタッチ挙動モードの有無、コメント記入等が可能。

9試験開始〜解析

試験開始
試験開始

試験開始

試験中

各セルをクリック

各セルをクリック・試験の進行状況をリアルタイム
で表記

試験中
試験中
・試験停止、中断、再開、延長が各セルをクリック

各データを
・試験の進行状況をリアルタイム
・試験の進行状況をリアルタイム
可能
クリック

で表記

で表記

可能

可能

・試験停止、中断、再開、延長が・試験停止、中断、再開、延長が各データをクリック

各セルをクリ
各セルをクリック ック

各セルをクリック

各データをクリック

各データを各データをクリック
クリック

各データをクリック

グラフ表示

試験終了
試験の結果データは、CSV

データ表示

ファイルとデータ処理ソフト

試験終了
試験終了
専用のファイルで保存可能試験の結果データは、CSV試験の結果データは、CSV

ファイルとデータ処理ソフトファイルとデータ処理ソフト専用のファイルで保存可能専用のファイルで保存可能

試験時間延長NEW

試験中に試験時間の延長が可能です。

ワイブル解析・統 計 処 理ソフトにより試 験
データのワイブル解析が可能

ワイブル解析
ワイブル解析
・正規確率プロットや対数確率・統 計処 理ソフトにより試・統験計 処 理ソフトにより試 験
プロッ
ト表示可能
データのワイブル解析が可能
データのワイブル解析が可能

・正規確率プロットや対数確率・正規確率プロットや対数確率プロット表示可能

プロット表示可能

ワイブル解析

10

システム構成図

RS-232C

無停電電源
Ethernet
システムコントローラー

Ethernet

HUB
パラレルI/O

中継ユニット

計測器

テストサンプル

高耐圧微小電流用
スキャナユニット
●

●

●

●

計測器用スキャナー基板
電圧モニター基板
ストレス／測定印加用
電源基板
リークタッチ検出回路

システムラック

環境試験器 ( 別売 )仕様
タイプ

ストレス定電圧 300V仕様（オプション）

ストレス定電圧100V仕様

チャネル構成25ch〜300ch／ラック
5ch／25ch

ソフト※1

Windows OS

ストレス電源部

チャネル制御ストレス電圧
最小設定分解能ストレス定電圧 500V仕様（オプション）

DC 0V

DC1.0 〜100Ｖ

DC 0V

0.1Ｖ（ 1.0 〜100Ｖ、測定電圧と独立設定可能）

印加電圧精度DC1.0 〜300Ｖ

DC 0V

0.1Ｖ
（ 1〜200Ｖ設定時）
1.0V（ 200V〜300V設定時）

DC1.0 〜500Ｖ

0.1Ｖ（ 1〜200Ｖ設定時）
1.0V（ 200V〜500V設定時）±（設定値の 0.7%＋300mV）

測定機能

2.0×105 〜1.0×1013（100V印加時） 6.0×105 〜3.0×1013（300V印加時） 1.0×106 〜5.0×1013（500V印加時）
抵抗測定範囲（Ω）
2.0×103 〜1.0×1011（ 1V印加時） 2.0×103 〜1.0×1011（ 1V印加時） 2.0×103 〜1.0×1011（ 1V印加時）
測定精度
測定電圧

10TΩ±30%（ 100V印加時）
DC 1.0 〜100V (0.1Vステップ）

DC 1.0 〜300V（ 1.0 〜200V：0.1Vステップ）（ 200 〜300V：1.0Vステップ）
常時計測ケーブル＋側耐熱単線ケーブル−側同軸ケーブル（シールド構造）種類

リークタッチ検出速度

被覆材質

DC 1.0 〜500V（ 1.0 〜200V：0.1Vステップ）（ 200 〜500V：1.0Vステップ）

100μsec未満で検出

テフロン（耐熱＋150℃）

長さ

スキャナーユニット − 中継ユニット間 ： 2.5m
中継ユニットから先： 1.5m

中継ユニット

25ch／1ユニット＋側：メタルコネクター −側：角型同軸コネクター

計測器

25ch〜150ch 1台
175ch〜300ch 2台

付属品

通信ケーブル（Ethernet）、セットアップCD、取扱説明書（1式）、メンテナンス用（10MΩ）抵抗ボックス、保証書

外法※2

W530×H1750×D1040mm

電源設備

AC 100V

1φ 15A※1 Windows OSバージョンの変更に伴い、（ソフトの）動作環境は変更される場合があります。現在対応可能なOSバージョンは確認してください。
※ 2 突起部は含みません。

11型式AMI ̶̶U̶
制御チャネル5 ： 5チャネル制御
25 ： 25チャネル制御
チャネル数025 ： 25チャネル
050 ： 50チャネル
075 ： 75チャネル
100 ： 100チャネル
125 ： 125チャネル
150 ： 150チャネル

１７５：１７５チャネル
２００：２００チャネル
２２５：２２５チャネル
２５０：２５０チャネル
２７５：２７５チャネル
３００：３００チャネル

オプション
オプション名詳細

装置購入後の装備

システム表示言語 英語/中国語（簡体字･繁体字） 英文／中文（簡体字）／中文（繁体字）より選択

×

電流値表示への変更※標準仕様の抵抗値表示はできなくなります

抵抗値を電流値として表示します。

×電源電圧･ AC120V±10%単相 12.5A･ AC220V±10%単相 6.9A
･ AC230V±10%単相 6.6A CE･ AC240V±10%単相 6.3A
※ダウントランス（単相、複巻品）を使用。

×AMI ̶

̶U̶

制御チャネル5 ： 5チャネル制御1.5m／３ｍ／５ｍ
計測ケーブル（25 ch）
25 ： 25チャネル制御計測ケーブルはプラス側･マイナス側をセットで提供します。
ご要望に応じて単品でのご購入や部品ごとの販売も可能です。
チャネル数
スキャナユニット／中継ユニット間ケー025 ：ブル
25チャネル 4m／4.5ｍ（標準装備 2.5m）
050 ： 50チャネル くし型基板IPC-B-24 の専用ラックです。
テスト基板ラック タイプA
075 ： 75チャネル *100V耐圧品
100 ： 100チャネル
125 ： 125チャネル TM-650に規定されているIPC-B-24に準拠した基板です。
くし型基板 IPC-B-24
150 ： 150チャネル *100V耐圧品
１７５：１７５チャネル 基板を固定する治具を各種取り揃えております。
ボードフォルダー治具
２００：２００チャネル （ネジ−ネジ式、ネジ−はんだ式、はんだ−はんだ式）
２２５：２２５チャネル
データ処理ソフト（統計処理機能付）
２５０：２５０チャネル 標準の統計処理ソフトに、ワイブル解析機能が追加されます。
２７５：２７５チャネル サンプルの電圧、電流、抵抗など運転状況をWebブラウザーでLAN対応試験管理システムソフト（CD-ROM）
３００：３００チャネル モニターできます。

〇
×〇
〇
〇
×〇

RS-485通信機能通信ポートのコネクターを追加装備します。

×

非常停止スイッチ

機器の運転を緊急停止するスイッチです。

×

AMI - □-□-□

AMI ̶̶U̶

輸出仕様（英語OS･乾燥剤･輸出金具）乾燥剤（シリカゲルなど）で保護します。
制御チャンネル（スタンダードモデル）
制御チャネル
チャネル増設チャネルの増設（25ch単位で最大 300chまで）が可能です。
5 ： 5チャンネル制御
5 ： 5チャネル制御
25 ： 25チャンネル制御
25 ： 25チャネル制御
スキャナボックスおよび計測器追加
チャネル増設数が合計175ch以上になる場合に必要となります。
各種データ
（出荷時）

計測器の校正成績書、証明書、トレーサビリティ体系図
モデル
チャネル数
S : スタンダードモデル
025 ： 25チャネル
装置本体の試験検査報告書、試験データ、校正成績書、
P : オポジットポラリティモデル
トレーサビリティ証明書、トレーサビリティ体系図050 ： 50チャネル
075 ： 75チャネル
チャンネル数
100 ： 100チャネル
025 ： 25チャンネル
125 ： 125チャネル
050 ： 50チャンネル
150 ： 150チャネル
075 ： 75チャンネル
100 ： 100チャンネル
125 ： 125チャンネル
150 ： 150チャンネル

計測ケーブル

くし形基板

IPC-B24

テスト基板ラックタイプA

ボードフォルダー治具×〇〇×

ネジ−ネジ式12

絶縁評価事例※一部、カスタム対応となります。

エスペックでは、評価装置だけでなく、各種対応治具をご用意しています。
【評価応用１】 コンデンサ絶縁評価試験
車載用電子部品規格

AEC-Q-200 の対象であるコンデンサ絶縁劣化特性の評価が可能です。

コンデンサ絶縁評価

HAST（高度加速寿命試験器）とコンデンサ専用治具

コンデンサ絶縁評価
環境ス
トレス（高温高湿／高温）

HAST（高度加速寿命試験器）とコンデンサ専用治具

環境ストレス（高温高湿／高温）
コンデンサ
コンデンサ絶縁評価

HAST（高度加速寿命試験器）とコンデンサ専用治具

MLCC
コンデンサ
環境ストレス（高温高湿／高温）
MLCC
プリント基板プリント基板
コンデンサ
MLCC
プリント基板【評価応用 2 】 コモン仕様絶縁評価試験
サンプルが片側共通接続の場合の絶縁評価が可能です。

片側共通接続コモン用治具片側共通接続コモン用治具サンプル
サンプル

片側共通接続V

スキャナ回路chごとに･ 保護抵抗
スキャナ回路･ リーク検知
chごとに･ 保護抵抗･ リーク検知V

コモン用治具

サンプル

A
A
chごとに

V

スキャナ回路･ 保護抵抗･ リーク検知A
パワーデバイス逆バイアス試験
TOパッケージ対応治具（TO-220/247(3Ｐ)兼用）【評価応用 3 】 逆バイアス試験（HTRB：High Temperature Reverse
Bias Test)
パワーデバイス逆バイアス試験

TOパッケージ対応治具（TO-220/247(3Ｐ)兼用）

パワーデバイスの高電圧耐性評価が可能です。
Drain
パワーデバイスは、エネルギーの効率面から高電圧耐性や広範囲での温度環境下での信頼性評価が必要です。
Gate

Gate
パワーデバイス逆バイアス試験
Vds
Vds
Gate

画像 未13Vds

Drain

Source TOパッケージ対応治具（TO-220/247(3Ｐ)兼用）

SourceDrain

Sourceカスタム事例
エレクトロケミカルマイグレーション評価システム ストレス定電圧 1000V／2500V仕様
高電圧仕様
チャネル構成25ch〜150ch／ラック

チャネル制御5ch／25ch

測定電圧DC50～ 1000V／DC50～ 2500V ＊ 2500V以上はご相談ください。
（50～ 200V：0.1Vステップ、200 ～ 2500V：1Vステップ）
1× 105 〜 1 × 1013 Ω以上(100V印加時)
1×106 〜1×1014 Ω以上（1000V印加時）
2.5 × 106 〜 2.5 × 1014 Ω以上(2500V印加時)

抵抗測定範囲

抵抗測定精度
ストレス電圧制御機能

10ＴΩ抵抗器において1000Ｖ印加時の測定抵抗値精度：±４％ ※1（電流真値 100pAに対し、96pA～104pAで測定可能）
10ＴΩ抵抗器において 2500Ｖ印加時の測定抵抗値精度：±４％ ※1（電流真値 250pAに対し240pA～260pAで測定可能）
100V毎 1秒ウェイトのステップ上昇（下図1参照）

計測器

1台

外法

キャビネット ： W530×H1750×D1040mm
中継ユニット ： W500×H1705×D600mm（50ch／1ユニット）※1 中継ユニットからの計測ケーブル（2ｍ）先端の値です。ケーブル延長オプションを選択した場合、保証値が異なることがあります。
［測定条件］ 外囲温度
：常温（23℃±５℃）
		
外囲湿度：60％rh以下		
測定モード：Long		測定レンジ
：Auto		測定電圧［Ｖ］：1000		アベレージング回数［回］ ：4		
チャージ時間［sec.］
：60

安全設計
● 感電防止表示灯（高電圧印加中）● オーバーシュート防止

ストレス電圧の上昇時に、100V毎に1秒の● ストレス電圧（図 1）
電圧上昇

電圧下降

ウェイトを入れて上昇制御をいます。
電圧［Ｖ］

レーおよびノイズ防止回路を内蔵。

電圧［Ｖ］● 高電圧用中継ユニットにはストレス電源側リ● 感電防止サンプルのストレス電源側（プラス電圧）にも個別チャネル毎にリレーを追加。試験を行っ

経過時間［sec］

経過時間［sec］ていない状態、また個別チャネルの試験終了時は確実に電圧を遮断します。
● 作業者の感電防止のため、試験終了時，装置カバーの取り外し時や、またチャンバーの扉開時は、速やかに安全電圧まで落とします。

14https://www.espec.co.jp/

本社

530-8550 大阪市北区天神橋 3-5-6● エスペック製品や技術に関するお問い合わせは

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Tel: 06-6358-4753
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Tel : 077-551-2275
Tel : 072-834-1323
Tel : 078-950-1771
Tel : 082-832-8065
Tel : 092-471-0932

Fax : 022-218-1894
Fax : 028-667-8738
Fax : 029-854-7785
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