コンデンサ温度特性評価システム（誘電特性評価システム）
AMQ

CAT.NO.99516-Y1911

温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメーターを自動収録
効率よくデータ収集する為の多チャネル化に加え、環境試験装置と計測･評価システムの連動により、自動化を実現した「コンデンサ温度特性評価システム」。

小型超低温恒温器との接続例

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エレクトロケミカルマイグレーション評価システム AMI
エレクトロケミカルマイグレーションによる寿命評価、絶縁抵抗評価を効率的かつ容易にし、低電圧試験から高電圧試験まで幅広い分野にて提案■ 評価対象●●●

プリント基板全般
絶縁材料

半導体材料

コンデンサ絶縁劣化試験システム

AMI-C

高温、高温高湿下でコンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することが出来ます。

恒温（恒湿）器との接続例■ 評価対象
●

コンデンサ

環境試験器

恒温器 プラチナスJシリーズ
プラチナスシリーズは、環境試験器のスタンダードモデルとして、その信頼性と性能はもちろん、操作性、安全性そして地球環境に対して理想的な環境試験器の新環境基準を追求しています。
型式

温度範囲

内容量（L）

PU−40 〜＋100℃ 120、225、408、800

PG−70 〜＋100℃

306、800

小型超低温恒温器 ミニサブゼロ
超低温域（−75℃／− 85℃）から高温域（＋100℃／＋180 ℃）の幅広い温度範囲を実現するミニサブゼ
ロ。遠隔監視や操作も可能になりました。

ヒーター付複層ガラスで、霜付を防止する観測窓は約 36％サイズ拡大し、視認性アップを実現しました。
型式

温度範囲

MC-712−75〜＋100℃

MC-812−85〜＋180℃

内容量（L）
642

特長『本装置は、コンデンサや各種材料が持つ「静電容量（C）」、「損失係数（D）」、「インピーダンス（Z）」を任意の温度環境下において評価することができるシステムです。
』

最大 64チャネルまでの自動測定
温度環境下において静電容量（C）、損失係数（D）、インピーダンス（Z）の多チャネル測定が行えます。チャネル構成は標準で 8チャネルを備え、最大 64チャネルまで増設できます。

小型超低温恒温器との接続例

測定結果をリアルタイムに確認できるグラフ機能
収録したデータは多彩なグラフ機能により、温度･周波数･時間に対する各電気特性値および変化率をリアルタイムに確認いただけます。

さまざまな試験モードから選択
試験モードは温度特性試験をはじめ定値運転試験、周波数特性試験から選択できます。

接続用治具：SMD部品専用治具（オプション）

用途● コンデンサ全般●

静電容量（C）●

損失係数（D）●

インピーダンス（Z）の温度特性

●

周波数特性

● 各種電子材料●

3プリント基板

●

フラックス

●

絶縁材料（樹脂、フィルムなど）●

各種誘電体材料（チタン、セラミック、タンタル、アルミ電解など）〈温度特性評価試験〉
40ステップまでの温 度変化と同期させ、特性データを自動的に収録することができます。
〈定値運転試験〉温度環境下で、特性の時間的変化を計測し、自動でデータ収録しが可能。
〈周波数特性評価試験〉
温度環境下で、周波数を変化させながら各周波数における特性データを自動収録します。
温度特性評価試験･定値運転試験と併用した試験を行うことができます。

特長
試験サンプルに適合した多種多様な治具をご用意（オプション）
SMD部品専用治具の他、サンプル形状に合わせたディスクリート専用治具をご提案いたします。

SMD部品専用治具（オプション）

システムブロック図
システムラック②無停電電源①システムコントローラー
Windows® OS

環境試験装置（別売）③ RS-232C

パラレルI/O

RS-485

RS-485コンバーター④⑧スキャナーユニット
最大64ch最小 8ch⑤ 計測ケーブル⑥
中継ユニット⑩
RS-485通信（オプション）⑦
試料取付治具（オプション）

LCRメーター（オプション）⑨ 絶縁抵抗計① システムコントローラー
システム管理用パソコンとモニター。試験条件登録、稼働状況の確認、データ処理。
② 無停電電源
システムコントローラーのバックアップ用電源。
③ RS-232C
システムコントローラーから環境試験装置の温度制御、モニターを行います。

④ スキャナーユニット
標準8チャネルの静電容量（C）、損失係数（D）、インピーダンス（Z）を計測ケーブル先端で測定します。8チャネル毎の増設で1ユニット最大64チャネルまで増設できます。
⑤ 計測ケーブル
環境試験装置内の試料または治具と接続するテフロン製同軸ケーブル。
⑥ 中継ユニット
環境試験機内の試料または治具からの計測ケーブルを接続します。
中継ユニットを設置することにより接続を容易にしました。
⑦ 試料取付治具（オプション）
SMD部品用、ディスクリート用にワンタッチで取り付け可能な治具。
⑧ LCRメータ
静電容量（C）、損失係数（D）、インピーダンス（Z）を測定。
⑨ 絶縁抵抗計（オプション）
絶縁抵抗測定を行うことができます。
⑩ RS-485（オプション）
システムコントローラと環境試験装置間の通信プロトコルです。
環境試験装置のオプションからRS-485通信を選択できます。

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試験の流れメインモニター画面

・装置の設定温度とモニタ温度の表示します。
・各チャネル毎の測定結果を表示します。
・試験の進行状況を確認できます。

試験条件の設定「LCRメータ測定条件」「測定レベル」「周波数特性」「スケジュール※1「」絶縁抵抗測定※1」の試験条件を設定。
設定した条件は、ファイル形式として保存できます。

※1 オプション対応定値運転試験※2

温度特性試験※2
・試験モードで温度特性試験を選択します。
・温度設定モードで「ステップ設定」「、任意設定」を選択できます。

･ ステップ設定・試験モードで定値運転試験を選択します。

･ 任意設定※2 DCバイアスは測定時のみとなります。常時DCバイアスが必要な場合はご相談ください。

試験開始
・試験開始後、設定した条件下において自動でパラメータ測定を行います。
・試験の進行状況および試験結果をリアルタイムで確認できます。

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試験項目･測定項目と条件･データ処理
試験項目

測定項目と条件データ収録とグラフ表示※

・ 測定方法交流 4 端子対測定
温度特性試験
・測定パラメータ
静電容量（C）、損失係数（D）、インピーダンス（Z）（温度に対する特性変化）
・ 測定周波数
測定範囲：２０Hz～1MHz

各温度に対する測定値の変化を収録。
X軸：温度
Y軸：測定項目から選択可能

・ 温度
定値運転試験		（時間に対する特性変化）
・ 補正機能時間に対する測定値の変化を収録。
X軸：時間
Y軸：測定項目から選択可能

温度範囲：－４０℃～＋１８０℃※別売の環境試験装置の仕様に依存します。
OPEN/SHORT補正の使用有無を設定できます。

※ 収録するデータは、リアルタイムにグラフや一覧表で測定結果を確認することができます。グラフの表示単位は 8チャネルとし、表示チャネルを任意に選択できます。

グラフ表示

データ表示

「時間･温度･周波数」対「測定項目」のグラフを表示できます。
表示は絶対値と変化率を選択できます。

測定したデータを表示します。
画面の表示データをCSV形式へ変更可能です。

仕様
型式

AMQ

測定項目

静電容量（C）、損失係数（D）、インピーダンス（Z）、抵抗（Rs, Rp）※、インダクタ（Ls, Lp)※

試験項目

・ 温度特性評価試験（温度に対する変化）
・ 定値運転試験（試験時間に対する変化）
・ 周波数特性評価試験（周波数に対する変化）

チャネル構成標準 8チャネル、8チャネル単位の増設で最大 64チャネル

測定方法

交流 4 端子対測定（計測ケーブル先端）

測定範囲

・ 測定周波数 ： 20Hz〜1MHz
・ 静電容量（C）： 50pF〜5mF・ 損失係数（D）： 0.0001〜 9.9999
・ インピーダンス（Z）：10mΩ〜100MΩ

計測制御

測定器

LCRメーター（キーサイトテクノロジー社製）

測定レンジ

AUTO、10Ω、100Ω、300Ω、1kΩ、3kΩ、10kΩ、30kΩ、100kΩから選択

DCバイアス±0 〜±40V

測定間隔

最小1分〜1500 分（定値運転時）

温度ステップ数

40ステップ開始／終了温度とステップ間隔を指定するモードと任意の温度を入力するモードから選択

周波数ステップ数

最大50ステップ（任意の値指定可能）

補正

ショート補正、オープン補正

環境試験装置制御

RS-485 機能付き環境試験装置の温度、計測に同期させた温度データ取り込みが可能

計測ケーブル

テフロン製同軸ケーブル（特性インピーダンス（Z）50Ω、95pF／m）

外法

W530×H1832×D800 mm（突起部を除く）

電源設備

電源AC100V ±10％ 1φ 50／60Hz 15A※ 測定するデータは、試料および試験条件に依存します。

● 型式
AMQ -□-C
チャネル数● オプション
●絶縁抵抗測定機能●

槽内温度モニター機能●

SMD 部品専用治具●

ディスクリート専用治具
サンプルに応じた治具を作成

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