２０２０ 第３０回 ＲＣＪ信頼性シンポジウム（“EOS/ESD/EMCシンポジウム”、“電⼦デバイス・電⼦部品の信頼性シンポジウム”）
⽇時︓ 2020年11⽉17⽇（⽕）〜11⽉18⽇（⽔）

開催場所︓⼤⽥区産業プラザ

⽇時

11⽉18⽇（⽔）
EOS/ESD/EMC
シンポジウム４階コンベンションホール
（10:00〜11:50）「イミュニティ-2」（2 件）（11:00〜12:00）
招待講演（1 件）（12:00〜13:00）
休憩

会場
午前
昼

11⽉17⽇（⽕）
EOS/ESD/EMC
シンポジウム４階コンベンションホール
(10:20〜11:50)「イオナイザー、資材、対策」（3件）(11:50〜12:00)
表彰式（12:00〜13:00）
休憩

EOS/ESD/EMC
電⼦デバイス・電⼦部品のシンポジウム
信頼性シンポジウム（13:00〜14:30）（13:00〜13:30）
午後 前半
招待講演（2 件）「デバイスの信頼性」（1件）（13:30〜17:00）（14:45〜16:00）＋信頼性セミナー「デバイス及びテスト」（3 件）
午後 後半「パワー半導体と最新LSIの信頼性」（16:10〜17:00）「イミュニティ-1」（2 件）（10:00〜17:00）（2階⼩展⽰ホール）（10:00〜17:00）（2階⼩展⽰ホール）
展⽰会 ESD関連装置の展⽰及びESD対策技術ワークショップ ESD関連装置の展⽰及びESD対策技術ワークショップ
主催 ⼀般財団法⼈ ⽇本電⼦部品信頼性センター
協
賛 ⼀般社団法⼈ 電⼦情報技術産業協会 ⼀般社団法⼈ ⽇本電機⼯業会
⼀般社団法⼈ 電⼦情報通信学会(順不同) ⼀般社団法⼈ ⽇本電気計測器⼯業会 ⼀般財団法⼈ ⽇本規格協会
⼀般社団法⼈ 電気学会
（予定） ⼀般社団法⼈ ⽇本電⼦回路⼯業会
⼀般財団法⼈ ⽇本科学技術連盟 静電気学会
⼀般財団法⼈ 光産業技術振興協会
⽇本信頼性学会 IDEMA JAPAN

公益社団法⼈ ⽇本磁気学会
SPE ⽇本⽀部

⼀般社団法⼈ 情報通信ネットワーク産業協会

シ ン ポ ジ ウ ム の概要
RCJ信頼性シンポジウムは、電⼦部品、電⼦デバイス、電⼦機器等の設計・開発技術者、信頼性技術者、⽣産技術者を対象に、信頼性及びESDという共通のテーマで論⽂発表・討論しあい、より進歩した信頼性向上技術、ESD障害対策技術等の分野での発展に寄与することを狙いとしています。本シンポジウムは、静電気関連問題を中⼼に扱う”EOS/ESD/EMCシンポジウム”、及び電⼦デバイス・電⼦部品の信頼性問題を中⼼に扱う”電⼦デバイス・電⼦部品の信頼性シンポジウム”からなっており、今年で30回⽬を迎えました。
今年は、新型コロナの影響を考え、海外からの招待講演は取りやめ、国内のみの講演に集約しました。また、コロナ対策として、会場を⼀つにし、密を回避します。また、シンポジウム会場での聴講が困難な⼈向けに、後⽇ビデオ配信も考えています。
同会場２階の⼩展⽰場では、静電気（ESD）対策⽤資材、計測・評価試験装置及び故障解析技術サービス等をテーマとした“信頼性・ESD対策技術展⽰会”及びESD対策技術ワークショップを同時開催します。
⽇頃、この⽅⾯でご活躍の皆様の多数のご参加をお待ちしております。
＜コロナ対策の概要＞
1．シンポジウム会場は、⼀つの会場（定員400名）とし、100名以下の聴講者に制限します。
2．マスク、消毒⽤アルコール、使い捨ておしぼりをご⽤意いたします。
3．会場は出⼊⼝扉を解放し常時換気を⾏います。
4．テーブル等什器はアルコールによる殺菌をいたします。
5．シンポジウム会場、ロビー等ではマスクの着⽤をお願いします。
6．発熱など体調のすぐれない⽅は聴講をお断りすることがありますのであしからずご了承ください（検温計をご⽤意いたします）。

（2020.10.29）
本内容は今後変更になる可能性があります。RCJ ホームページ（http://www.rcj.or.jp）で随時ご確認願います。

- 1 -第30回 EOS/ESD/EMCシンポジウム プログラム
開催⽇︓ ２０２０年１１⽉１７⽇（⽕） １０︓２０〜１７︓００
会 場︓ ４階コンベンションホール
（10:20~10:25） 「開会の挨拶」（⼀財）⽇本電⼦部品信頼性センター（10:25~10:35） 「今年度のEOS/ESD/EMCシンポジウムについて」

鈴⽊ 輝夫（(株) ソシオネクスト）

セッション名︓「イオナイザー、資材、対策」
司会︓徳永 英晃(パナソニック(株))（10:35~11:00） 30E-01 「絶縁体の接触帯電による表⾯電位について」
宮本 佳明（阪和電⼦⼯業(株)）近年機器組⽴の⾃動化により、静電誘導を受け帯電したデバイスがツールなどから放電し、破壊する現象が多くなっている。帯電した物質の表⾯電位推移については現状不透明の部分が多い。
今回は表⾯電位をリアルタイム、かつ複数点同時測定できる静電気可視化モニタを利⽤し、絶縁体を様々な形で故意的に接触帯電させ、その際の表⾯電位を測定、実験し報告する。

（11:00~11:25） 30E-02 「多変量解析を⽤いた⾼圧スプレー洗浄時の静電気発⽣の要因分析」
福岡 靖晃1, 原⽥ 翔太1, ⽇⽐ 信利１, 綿貫 裕太1, 森 ⻯雄1，瀬川 ⼤司2,⼩林 義典2, 宮地 計⼆2, 清家 善之1 （1愛知⼯業⼤学, 2旭サナック(株)）半導体製造プロセスにおける⾼圧スプレー洗浄では、⽐抵抗地の⾼い純⽔をスプレーするため静電気障害(ESD)が⽣じることが問題となっている。従来、その対策⽅法として純⽔に炭酸ガスを注⼊したり、アンモニア⽔素⽔を⽤いてESDを対策しているが、これは純⽔に不純物を混⼊させるといった課題がある。
これまでに我々はファラデーケージを⽤いて静電気の発⽣電荷を測定してきた。しかし静電気の主の発⽣要因は
まだ掴めていない。今回、これと同時に純⽔の⽔温・圧⼒・⽐抵抗値などの複数の要因を計測し、多変量解析によりESDの発⽣原因について検討した。

（11:25~11:50） 30E-03 「⼈⼯知能に基づいた除電特性適応イオナイザ」○
⾦ 天海1)、⾦⽥ 優希1)、久保 勝也1)、⾼橋 克幸1)､2)、⾼⽊ 浩⼀1)､2)、
⼭⼝ 晋⼀1)､3）、永⽥ 秀海3)（1)岩⼿⼤学理⼯学部、2)岩⼿⼤学次世代アグリイノベーションセンター、
3)
シシド静電気株式会社）
本稿では，交流コロナ放電イオナイザにおける除電特性変化に起因した除電速度の悪化を防⽌するために，
⼈⼯知能による除電特性学習を備えた除電特性適応イオナイザを提案する．提案イオナイザの⼈⼯知能は，除電対象物電位およびイオナイザ電極への印加電圧デューティの情報をもとに除電対象物の電位変化量を予測する．提案イオナイザは，⼈⼯知能の予測結果に基づき印加電圧デューティを制御する．実験の結果，提案イオナイザは，定電圧制御によるイオナイザと⽐較して65.1%-91.7%，PID制御によるイオナイザと⽐較して約59.4%の除電時間を短縮した．また，提案イオナイザへの印加電圧パルスのピークを制限することによりイオナイザの持つ除電特性を変化させる実験を⾏ったところ，新しい除電特性に対して⼈⼯知能が速やかに適応し，従来法よりも早い除電速度を維持することができた．

挨拶

第29回ＲＣＪ信頼性シンポジウム優秀論⽂賞等表彰式 （11:50~12:00）
⽊村 忠正 （電気通信⼤学名誉教授 ＲＣＪ信頼性シンポジウム運営委員⻑）⽊村 忠正 （電気通信⼤学名誉教授 ＲＣＪ信頼性シンポジウム運営委員⻑）＜優秀論⽂賞＞「フラットパネルディスプレー製造中の純⽔スプレー洗浄における静電気障害の対策」
福岡 靖晃1，⽇⽐野 慎也1，⼤野 雄⽮1, 森 ⻯雄1，瀬川 ⼤司2，⼩林 義典2，宮地 計⼆2，
清家 善之1（1愛知⼯業⼤学，2旭サナック㈱）＜奨励賞＞「超⾼感度紫外線カメラを⽤いた静電気放電現象の観察」
⼤津 孝佳1, 永尾 優磨1, ﾊﾞｯﾄﾄﾙｶﾞﾀﾞﾜｰﾌｰ1, 平沢 朋幹1, 佐藤 ⿓之介1,⻑⾕川 孝美2, ⼤沢 隆⼆3（沼津⼯業⾼等専⾨学校1，㈱ブルービジョン2, ㈱精⼯技研3）
休憩（12:00~13:00）- 2 -セッション名︓招待講演-1（13:00~13:30）

招 待

司会︓

鈴⽊ 輝夫（(株) ソシオネクスト）

2019 RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム優秀論⽂「Clarification and Countermeasures of Electrostatic Discharge in HighPressure Spray Cleaning During Flat-Panel Display Manufacturing」
Yoshiyuki Seike1, Yasuaki Fukuoka1, Tatsuo Mori1, Taishi Segawa2,
Yoshinori Kobayashi2, Keiji Miyachi2(1Aichi Institute of Technology, 2Asahi Sunac Corporation)
High-pressure spray cleaning during the manufacture of flat panel displays has the
problem of electrostatic discharge (ESD). In this study, the factors of static electricity
generated from highpressure spray were clarified. Further, a counter voltage was applied
to the nozzle, and the water was heated to reduce the charges.

セッション名︓招待講演-2（13:30~14:30）

司会︓ ⼩⼭ 明（ソニーセミコンダクタソリューションズ(株)）招 待 「⾃動⾞⽤電気/電⼦システム機能安全規格（ISO 26262）における半導体ESDの取扱い」
塩野 登（RCJ）
⾃動⾞⽤E/Eシステムの機能安全規格ISO 26262は、⾃動安全⾞の開発に伴い注⽬されている。機能安全指標を⽰すASIL（⾃動⾞⽤安全度⽔準）の評価では、システムを構成する電⼦部品・半導体の故障率を基に評価する。この部品レベルでの故障率算出の際のESDの取り扱い、また、システムレベルでのESDの取り扱いについて解説する。

休憩（14:30~14:45）

セッション名︓ 「デバイス及びテスト」 司会︓⼩沢 忠史（(株)メガチップス）（14:45~15:10）

30E-04 「ESD試験・管理技術」

安藤 慎⼀郎（三菱電機株式会社 ⽣産技術センター）
半導体デバイスの耐電圧（耐圧）は，構造微細化が進むにつれて低下傾向にある。そのため、製品製造⼯程で発⽣する静電気放電（ESD : Electro Static Discharge）によりデバイスが損傷し、⼯程歩留りが低下することが懸念されている。
ESDから、デバイスを保護するためには、製品試作時に、実際に発⽣する可能性のあるESDを模擬した耐圧試験を実施し、その結果を基に、製品設計の変更や、製品製造⼯程の適切なESD管理を実施する必要がある。本報告では、製品試作時に発⽣するESDの発⽣メカニズムを推定し、耐圧試験⽅法を開発したので、その内容を報告する。

（15:10~15:35）

30E-05 「CDM試験時における電圧波形の測定」

澤⽥ 真典(1), ⼤沢 隆⼆(2) (阪和電⼦⼯業株式会社(1), 株式会社精⼯技研(2))
近年、電⼦機器組⽴の⼯程において、CDMによる不具合が多く占めている。半導体のCDMテスト時の放電
波形は、放電電流波形で確認できる。しかしながら、電圧波形については、確認する⼿法がない。
昨年、CDMの放電時の電圧波形の取得⽅法について検討を⾏ったが、取得された電圧波形が、正しいか不明であった。今回、CDMテスト時の電圧波形について追加調査を⾏い、ここに報告する。

（15:35~16:00）

30E-06 「⾞載LANのESD対策についての考察」
野添 研治、勝村 俊介、徳永 英晃、⼩林 恵治、井上 ⻯也（パナソニック株式会社）
⾞載 LAN 規 格の主流である CAN(Controller Area Network)トランシーバや先進⽀援システ ム（ADAS）等の普及により導⼊が加速される⾞載 Ethernet の PHY(物理層)チップの ESD 対策に関して動作原理や V-I 特性の異なる ESD 保護素⼦（TVS ダイオード、バリスタ、ESD サプレッサ）を⽤いた ESD 試験について⼤電流 TLP 試験機と⾼耐圧電流プローブを⽤いた測定結果を SEED 設計に反映させた結果について報告する。

休憩（16:00~16:10）- 3 -セッション名︓「イミュニティ-1」 司会︓ 澤⽥ 真典（阪和電⼦⼯業(株)）（16:10~16:35）

30E-07 「超⾼感度紫外線カメラによる剥離放電現象の観察」
⼤津 孝佳1，〇永尾 優磨1，ﾊﾞｯﾄﾄﾞﾙｶﾞﾀﾞﾜｰﾌｰ1，平沢 朋幹1,

佐藤 ⿓之介1，⻑⾕川 孝美2，⼤沢 隆⼆3（沼津⼯業⾼等専⾨学校1, (株)ブルービジョン2,(株)精⼯技研3）Society5.0社会では情報機器の⾼性能化と共に⾼信頼性化が求められる。そこで、電⼦機器の静電気耐⼒や低エネルギー放電現象の観察は、原因発⾒と対策技術の効果の確認の上で重要である。本研究では、超⾼感度紫外線カメラと光電界センサを⽤いて、剥離放電現象の観察を⾏い、⾦属板をGNDに繋いだ場合と繋いでいない場合の放電電圧の剥離速度依存性について観察を⾏った。GNDを繋いだ場合の⽅が粘着テープは帯電しにくいものの、⾦属板と剥離帯電した粘着テープとの推定放電電圧は剥離速度が速いほど⼤きくなる。また、残留する表⾯電位は剥離速度が早いほど⼩さくなることなどが明らかとなった。

（16:35~17:00）

30E-08 「⽔素センサの静電気放電特性評価」
望⽉ 孔⼆, 〇中島 翔太, 林 渓⾳, 佐藤 優⽃,⼤津 孝佳（沼津⼯業⾼等専⾨学校）
⽔素は次の時代を⽀える重要なエネルギーとして注⽬を集めている。特に⽔素⾃動⾞の普及はすぐそこまで迫っている。⽔素⾃動⾞は⽔素と酸素によりエネルギーを⽣み出すが、この時、⾼電圧を発⽣する。よって⽔素セン
サは⾼電圧中で動作しなければならないのでセンサの静電気放電特性の評価は重要である。本研究では静電
気中での⽔素検知に着⽬し⽔素センサの静電気放電特性の評価を⾏った。その結果、ESDガンにより⾼電圧を印加した際は、抵抗が増加しセンサの感度低下が発⽣することが明らかとなった。また、SPICEシミュレーションにより抵抗で⽣じるジュール熱がセンサを破壊することが分かった。

開催⽇︓ ２０２０年１１⽉１８⽇（⽔）

１０︓００〜１２︓００

会 場︓ ４階コンベンションホール
セッション名︓「イミュニティ-2」 司会︓ 佐⼟原 秀樹（東京電⼦交易(株)）（10:00~10:25） 30E-09 「運動を伴う帯電／放電事象について」
本⽥ 昌實（(株) インパルス物理研究所）
電⼦機器の稼動現場やデバイス製造／取り扱い現場で起こる放電事象（ESD）は、帯電物体／被放電
物体間に必ずと⾔って良いほど（相対）運動を伴っている事が多く、これら双⽅が静⽌状態で放電に⾄るケースは⾮常に少ない。しかしながら、放電関連の教科書や解説書では、放電電極（間隙）部は⼀定固定を前提としており、実際の状況と異なる。ここでは、EMCの観点から運動を伴う帯電／放電事象について、実験データを基に検討したので報告する。

（10:25~10:50） 30E-10 「放電電流による電磁波ノイズと距離による波形変化の計測」
早⽥ 裕（プローブテック）
放電電流は⽴ち上がりの早い波形であるため、電磁波ノイズを発⽣する。この電磁波ノイズは測定時の誤差要因となったり、基板を通して接続されたデバイスにESD破壊を引き起こしたりする。本報告では、⼈体放電を放電源とし、発⽣した電磁波ノイズをモノポールアンテナで検出し、電流波形とノイズ波形を⽐較検討した。放電源からの距離によるノイズ波形の変化を分析し、近傍ではインパルス状のファーストピークのある波形であったものが、遠⽅になるに従いピークが減衰しな
めらかな振動波形に変わっていくことが観察された。

休憩（10:50~11:00）
セッション名︓招待講演-3 司会︓ 奥島 基嗣 （ルネサスエレクトロニクス(株)）（11:00~12:00） 招 待 「基板ﾓｼﾞｭｰﾙﾚﾍﾞﾙの静電気対策”委員会の2019年度活動結果と2020年度の活動⽅針」
福⽥ 保裕（ESD コンサルタント）
2017年度に発⾜した、RCJ“基板ﾓｼﾞｭｰﾙﾚﾍﾞﾙの静電気対策”委員会は、2017年度に世の中における基板ﾓｼﾞｭｰﾙﾚﾍﾞﾙの静電気現象の概要に関する⽂献調査、2018年度に電源OFF状態の取り扱いにおける基板ﾓｼﾞｭｰﾙﾚﾍﾞﾙの静電気現象分析、対策整理を⽬的として活動、研究調査報告書にまとめた。さらに2019年度と2020年度は電源ON状態における基板ﾓｼﾞｭｰﾙﾚﾍﾞﾙの静電気現象分析、対策を公開⽂献を前提にした研究調査を⽬標とし、今回はその活動の⼀端を報告する。

- 4 -第30回 電⼦デバイス・電⼦部品の信頼性シンポジウム プログラム
開催⽇︓ ２０２０年１１⽉１８⽇(⽔) １3︓００〜１7︓0０
会 場︓

４階コンベンションホール

セッション名︓ 「デバイスの信頼性」 司会︓ 塩野 登 （RCJ）（13:00~13:30） 30S-01 「不揮発性メモリ４社における信頼性評価⽐較〜JESD219AのSDカードへの適⽤事例〜」
⻑野 真⼈、⼩関 健哲、出⼝ 泰、加藤 且宏、今井 康雄（沖エンジニアリング株式会社）
NAND Flashを使⽤したメモリモジュール（SSD、eMMC、SDカード、USBメモリ、CF、etc）の普及は著しく、⾼い信頼性が要求される⾞載、産業機器に於いても普及が加速している。信頼性が要求される機器に於いては採⽤前の評価試験は⾮常に重要であり、より効果的な試験が求められている。
本発表では、最適評価への取り組みとして、4社のSDカードの事例を紹介する。SDカードのエンデュランス評価(書換え耐久試験）に於いて、SSDの規格であるJESD219A(*)をSDカードへ適⽤し、SDカードへの⾼い負荷（書込みストレス）を与え、エンデュランスの加速試験として効果的であることが確認できた。
効果的な評価により、装置の要求に応じた最適なSDカードを選択、SDカードを採⽤した装置の、より信頼性の⾼い運⽤が可能になる。
(*)JESD219A
SSDエンデュランス試験（書き換え耐久試験）の条件を定義しているJEDECの規格。
エンタープライズレベルのワークロード（SSDへの書き換え負荷）が定義されている。

信頼性セミナー︓ 「パワー半導体と最新LSIの信頼性」
司会︓ 塩野 登 （RCJ）(13:30~13:45) 「故障物理委員会活動状況」(13:45~14:30) 「パワー半導体（SiC）の故障物理と信頼性評価」(14:30~15:15) 「デバイス/回路のばらつきと信頼性」

⽊村 忠正（故障物理委員会委員⻑
電気通信⼤学）⽊村 忠正（故障物理委員会委員⻑
電気通信⼤学）堤 利幸 （明治⼤学）（15:15~15:30） 休憩
司会︓ ⽊村 忠正（故障物理委員会委員⻑、電気通信⼤学）（15:30~16:15）「FinFET LSIの信頼性（BTI、TDDB、HCIを中⼼に）」塩野 登 （RCJ）（16:15~17:00） 「市場におけるLSIの初期故障の位置づけとワイブル解析」

横川 慎⼆ （電気通信⼤学）（注︓ テーマ名等プログラムが変更される場合があります）＜要旨＞
現在半導体分野でのホットな話題は、新材料を⽤いたパワー半導体及び⾞載⽤や IoT 向けの最新半導体の信頼性及び信頼性保証⽅法です。RCJ 故障物理委員会では、次世代パワー半導体の動向と LSI 信頼性問題を取り上げ、調査研究をしています。
本セミナーは、これらの調査活動成果を中⼼に報告するものです。
パワー半導体では、実⽤化が先⾏している SiC 技術を取り上げ、最新 LSI 技術では、FinFET 信頼性、ばらつきと信頼性の問
題、さらに、信頼性保証⽅法として、初期故障に着⽬したフィールドでの初期故障低減⽅法について報告します。
本セミナーでは、現在LSI信頼性の分野で問題となっているホットな話題を取り上げています。半導体デバイス信頼性に携わっている⽅は勿論その他の分野に携わっている⽅々のご参加をお勧めします。

- 5 -信頼性・ESD 対策技術展示会（無料）（静電気障害対策技術及び ESD 故障解析技術を扱う専⾨の展⽰会）
静電気の影響を受けやすい電⼦デバイス・部品、電⼦機器などを扱う信頼性技術者、設計技術者、品質技術者の⽅々を対象に、より進歩した静電気障害対策技術 、静電気測定技術、故障解析技術を扱う専⾨の展⽰会です。この分野の専⾨メーカが展⽰しますので、最新の技術情報収集のためにも是⾮お⽴ち寄り下さい。

期⽇︓ 2020 年 11 ⽉ 17 ⽇（⽕）〜11 ⽉ 18 ⽇（⽔）︓ 10:00〜17:00
会場︓ ⼤⽥区産業プラザ（東京 蒲⽥）、2 階⼩展⽰場
主催︓ NPO 法⼈ ESD 協会、（⼀財）⽇本電⼦部品信頼性センター
同時開催︓ ESD 対策技術ワークショップ（無料）
同会場内特設会場にて（プログラムの詳細︓RCJ ウエブ（http://rcj.or.jp/exhibition）参照）

出展社名
株式会社いけうち〒108-0022 東京都港区海岸3-9-15 LOOP-X 14階
TEL：03-6400-1973 E-mail：dryfog@kirinoikeuchi.co.jp
URL：http://dryfog.kirinoikeuchi.co.jp

株式会社ウエストワン〒105-0001東京都港区虎ノ門5-13-1虎ノ門 40MTビル7階
TEL：03-4530-9885, E-mail:info@west-1.co.jp
URL: http://www.westone.jp

株式会社エイチエーエー光学〒141-0031 東京都品川区西五反田3-15-6 7F
TEL：090-9134-4737, E-mail: mizorogi@haa-op.com
URL: https://www.haa-op.com

OKIエンジニアリング〒179-0084 東京都練馬区氷川台3-20-16
TEL：03-5920-2366, E-mail:oeg-dsales-g@oki.com
URL: http://www.oeg.co.jp

春⽇電機株式会社〒212-0032 神奈川県川崎市幸区新川崎２番４号
TEL: 044-580-3511, E-mail: info@ekasuga.co.jp
URL: http://www.ekasuga.co.jp

クレハエクストロン株式会社〒143-0016 東京都大田区大森北1-23-1 NETビル5階
TEL：03-3764-2511,
E-mail: daisuke-satoh@kureha-extron.co.jp
URL : http://www.kreha-extron.co.jp

シシド静電気株式会社〒145-0065 東京都大田区東雪谷1-3-3
TEL：03-3727-0161
E-mail: info@shishido-esd.co.jp
URL：http://www.shishido-esd.co.jp

テク･トライアングル〒299-4111 千葉県茂原市萱場776-58
TEL: 0475-36-7037
E-mail: suzuki.tech-triangle@chiba.email.ne.jp
URL: http://www.tech-triangle.jp

DESCO JAPAN株式会社〒289-1115千葉県八街市八街ほ661-1
Tel: 043-309-4470、E-Mail：Yuta.Takahashi@Desco.com
URL: http://www.descoasia.co.jp/

東京電⼦交易株式会社〒190-0023 東京都立川市柴崎町5-16-30
TEL: 042-548-8011, E-mail: sadohara@tet.co.jp
URL: http://www.tet.co.jp

トレック・ジャパン株式会社〒190-0022 東京都立川市錦町1-6-6 岩崎錦町ビル7階
TEL: 042-512-8990（代表）, E-mail:aej-trek@aei.com
URL: http://www.trekj.com

阪和電⼦⼯業株式会社〒649-6272 和歌山県和歌山市大垣内689-3
TEL: 073-477-4435, E-mail: y-yata@hanwa-ei.co.jp
URL: http://www.hanwa-ei.co.jp

ミドリ安全株式会社〒150-8455 東京都渋谷区広尾5丁目4番3号
TEL: 03-3442-8244, FAX: 03-3444-4508
URL: http://www.midori-esd.jp（⼀財）⽇本電⼦部品信頼性センター（RCJ）〒111-0043 東京都台東区駒形2-5-6 カミナガビル3階
TEL: 03-5830-7601, E-mail: info@rcj.or.jp
URL: http://www.rcj.or.jp/★詳細は別途案内状をご覧下さい。（RCJ ホームページ（http://www.rcj.or.jp）にも掲載しています）。

- 6 -＜参加要領＞
テキスト

参加区分（開催日）① 11月17日､11月18日:（2日間）② 11月17日:（1日間）③ 11月18日:（1日間）

申 込 先：
申込締切：
申込方法：

振込銀行
口座名：

場所、
定員

RCJ信頼性シンポジウム発表論文集（電子デバイス・電子部品の信頼性シンポジ
ウム、EOS/ESD/EMCシンポジウム）（注：両方のシンポジウム、各種セミナーの
聴講可能）

100名

参加費（消費税を含む）（円）RCJ会員、ESDC
協賛団体会員
非会員
大田区民

２５,０００３２,０００

１７,０００２２,０００

１７,０００２２,０００〒111-0043 東京都台東区駒形2-5-6 カミナガビル3F TEL：03-5830-7601、FAX：03-5830-7602（一財）日本電子部品信頼性センター 総務部
E-mail： sato@rcj.or.jp
11月12日（木）「参加申込書」を上記あて送付すると共に、「参加費」を現金書留又は銀行振込でご送金下さい。銀行振込の手数料は、申込者負担です。銀行振込の場合は、振込内容（振込予定日（分かる場合：貴社の都合に合わせて結構です）、金額、振込人名義）を参加申込書に明記して下さい。
なお、請求書及び領収書の発行を致しますので、必要な場合はその旨申込書にご記入下さい。
参加申込者には、参加券を送付致します。シンポジウム発表論文集やセミナーテキストは当日配
布します。
三菱UFJ銀行、日本橋中央支店、普通預金口座 0084373
名義：（一財）日本電子部品信頼性センター
きりとり線

・FAXの場合は切り取らずこの用紙のままご送付下さい。

参加申込書
区分欄に上記表の①、②、③の参加区分を必ず記入して下さい。
会 社 名
所 在 地
〒

*受理番号

区分

ＴＥＬ
氏 名

会員又は否に○印を付けて下さい
RCJ賛助会員
協賛団体会員ESDC資格保有者
大田区民

否

所 属 ・ E-mail所属：
E-mail：所属：
E-mail：所属：
E-mail：所属：
E-mail：

ご記入して下さい。
●支払方法
現金書留／銀行振込●振込予定日
月日 ●振込金額●振込人名義円*受理番号欄には、記入しないで下さい- 7 -備考（請求書、領収書の要否（該当箇所に○を付けて下さい））
請求書
要
不要
領収書
要
不要

◆会場ご案内

会場： 大田区産業プラザ： ４階コンベンションホール、２階小展示場〒144-0035 東京都大田区南蒲田１－２０－２０
交通： 京浜急行線・空港線/京急蒲田駅より徒歩約２分(品川・横浜・羽田空港よりの所要時間各約１０数分)
ＪＲ京浜東北線/蒲田駅より徒歩約１２分◆宿泊施設のご案内
遠方からお越しの方で宿泊が必要な場合下記のホテルに直接連絡してご利用下さい。
（１） グランパークホテル パネックス東京
ＴＥＬ： ０３－５７０３－１１１１〒144-0052 東京都大田区蒲田5-9-19（２） 東横イン 蒲田東口
ＴＥＬ： ０３－３７３６－１０４５〒144-0052 東京都大田区蒲田5-18-4（３） 相鉄フレッサイン東京蒲田 ＴＥＬ： ０３－５７１４－０３０３〒144-0052 東京都大田区蒲田5-19-12
注）（１）、（２）、（３）とも、ＪＲ蒲田駅東口徒歩２～３分程度（４） アパホテル京急蒲田駅前 ＴＥＬ： ０３－５７１３－３９３９〒144-0052 東京都大田区蒲田4-18-24（５） 東急ステイ蒲田 ＴＥＬ： ０３－５７１４－１０９０〒144-0052 東京都大田区蒲田4-23-1（６） チサンイン蒲田 ＴＥＬ： ０３－６７１５－７３１１〒144-0052 東京都大田区蒲田4-23-13
注）（４）、（５）、（６）とも、京急蒲田西口徒歩２～３分程度- 8 -