OCTOBER 2006

JFEテクノリサーチ株式会社

No.9

強度（arb.）

25000
20000
15000
10000
5000
0400

500 600

700800900 1000

波長（nm）

図2 「チコ」クレーター付近のスペクトル
写真1 マウイ島ハレアカラ山頂（標高3055m）

写真2

画像分光望遠鏡ALIS

図1

観測データから合成した月面画像

画像分光望遠鏡（ALIS）で月面を観測
このたび大阪大学の佐伯和人助

衛星搭載光源も経時変化がある上、 に作製されたもので、分光波長範囲教授の研究グループと共同で画像

衛星打ち上げ時の重量的負荷が大は400〜1700nm、250,000点を30分分光望遠鏡ALIS（Advanced Lunar

きくなるという問題があります。

程度で測定できます。

Imaging Spectrometer）を開発しまし

本研究では、光学センサの分光

図1は、昨年の8月にハワイのマウた。ALISには当社のイメージング分

感度較正に、太陽を標準光源、月をイ島ハレアカラ山頂（標高3055m）で光技術が活用されています。現在、標準被写体として使えるシステムを月面を観測して得られた250,000箇

このALISを使用して、地球・惑星観構築することにより、この問題の解決所のスペクトルデータをもとにカラー測衛星に搭載された光学センサのを図ろうとしています。具体的には、合成した月面画像です。

分光感度較正を行えるシステムの構

太陽と月と衛星の位置関係によって現在、研究は地上で行われている築を最終目標とする研究が行われて変化する月面の各点の分光輝度を段階ですが、これまでに得られたデーいます。

正確に計算するために、ALISを用いタは2007年度に打上げが予定され宇宙空間において光学センサのて現在建設中の国際宇宙ステーショている日本の月探査機セレーネの実

感度は、放射線による劣化などで数ンから可視・近赤外光における月面験計画に活用されています。

％〜数十％低下すると言われています。 の分光放射輝度を長期間連続測ALISが宇宙ステーションに搭載さこのため、現在は地球上の分光輝定し、月の測光モデルを構築することれる日が一日も早く来ることを期待し度が既知の場所の測定や、衛星搭を計画しています。ています。

載の標準光源などで補正・較正が今回開発したALISは、地上から行われています。
しかし、地球上の月面の数十万箇所の分光放射輝場所の利用は大気の影響を受け、度を色々な条件下で測定するため

お問合せ先：計測システム事業部

市川文彦

f-ichikawa@jfe-tec.co.jp

Imaging Spectrograph
Bとした場合の画像で、図3は他の3つの見えない光で観る（4） 図1のA〜Gの各錠剤に対応して、スペクトルが少しずつ異なっていることが分かります。 主成分を使った場合です。7つの錠剤に〜錠剤を観る〜
f-ichikawa@jfe-tec.co.jp
前回と同じ波長帯の900-1700nmの近それぞれ特有の色がついて表示され、Bと近赤外光で観る錠剤

市川文彦

計測システム事業部

Cが同じ錠剤であり、他は互いに異なった前回と同じように、イメージング分光器から得られたデータを処理してRGBを計算し、 錠剤であることが分かります。このような違赤外光を使って、今回は錠剤を観るとどうカラー画像化してみます。今回は主成分使われいは、錠剤の薬効成分だけでなく、なるかをお話しします。

分析技術を応用して、7つの錠剤のスペクている糖衣や生地の分光特性によるもの

可視光で見る錠剤

トルから複数の主成分を抽出し、各ピクセと思われます。

図1は風邪薬など市販されている錠剤

ルのスペクトルデータから主成分の大きさ

このような技術の応用としては、錠剤なから白い色をした7個を選び、通常のデジを求めRGBの値とします。主成分分析はどの製造工程での異材検査が考えられます。

タルカメラで撮影した画像です。7個のうち多くのデータからその群の特徴量
（主成分）

1

2個は同じ種類の薬で、他は全て異なります。 を複数個抽出する統計的手法で、対象物0.8形と色が同じ4つは区別がつきません。

うことができます。図2は抽出した主成分か錠剤の分光反射率

ら3つを選び、その大きさをそれぞれR、G、900-1700nmの近赤外C

光に感度のあるイメージ
ング分光器を用いて、7つその結果を示しますが、0.6ABCDEF
G0.4F0.2A0900

Dの錠剤の分光スペクトルを測定してみます。図4に反射率

形の異なるものは容易に区別がつきますが、 の特徴付けを数値計算により自動的に行BEG

図1 デジタルカメラ画像

1100

1300

1500

1700

波長（nm）

図2 近赤外で観た画像1 図3 近赤外で観た画像2

図4 錠剤の分光反射率

Analysis Using Ionization

イオンで量る（4）〜極微量を量るICP質量分析〜とで、Ar（プラズマガス）に由来する分子イています。そのひとつに、レーザ光を試料にオンの生成を抑制するCool Plasma法が実照射し生成した微粒子をICP-MSで測定用化され、対象元素全てについて、概ねする技術（LA-ICP-MS）があります。図は、1ppt（1兆個中の1個）レベルで検出できる鉄鋼標準試料NIST1765と高純度鉄を分ようになりました。当社で長年培った高度な析し得られたスペクトルです。LA-ICP-MS

物質は高温状態において遊離原子となり、 溶液化技術と組み合わせることで、シリコと高感度での絶対感度は0.1pg（ 10 -13g）

熱励起やイオン化といった現象が起こります。 ンなど様々な素材の純度や表面汚染の評あり、基板上指定部品などの局所微量分

このようにして生成したイオンを質量分析価に利用され、製品の歩留り向上や信頼析にも応用できるようになりました。

することで、元素の定性や定量を行うこと性向上に貢献しています。

このように、ICPをイオン化源とした質量分ができます。

各種材料の局所分析

析は、極微量成分分析において不可欠な分析・評価事業部

望月 正、岩瀬 和哉
mochizuki@jfe-tec.co.jp
k-iwase@jfe-tec.co.jp

また、Arガスに高周波誘導電場をかけ高純度金属やセラミックスなどの固体試たとき生成する安定な高温のプラズマ、す料の分析においては、試料を溶液化するなわち誘導結合プラズマ（ICP）中では、ほことなく直接分析する手法が実用化されン化されます。このイオンを質量分析する
ICP-MS が開発され、極微量分析に不表

ICP−MS法（溶液法）の検出下限 注1）

元素（質量数）

検出下限（ppt）

Na（23）

0.18

可欠な分析法となっています。

Mg（24）

0.20

Al（27）

0.31

半導体材料の極微量分析

K（39）

0.17

ICP-MSの最大の特徴は、「高感度で定量性が高い」ということにあり、溶液中極Ca（40）

4.1
0.65

Mn（55）

0.61

Fe（56）

0.53

微量成分の定量が可能です。半導体製

Ni（58）

0.49

Cu（63）

0.27

造プロセスにおいてその汚染が問題となる

Zn（68）

2.1

Mo（98）

2.1

W（184）

0.44

元素の検出下限値を、表にまとめました。
近年、プラズマ温度（電位）を低下させるこ：高純度鉄：NIST1765

181

Ta（40ppm）

2000

1.2

Ti（48）
Cr（52）

います。

2500

イオン強度

とんどの元素が90％以上の高効率でイオ技術であり、様々な分析評価に利用されて

208

Pb（1.5ppm）

1500
204

1000

Pb（0.04ppm）

209

200

210

Bi500
0

注1: 検量線ブランク溶液を繰返し測定し得られた標準偏差の3倍2図180190

質量数（M/Z）
LA-ICP-MS法で得られた鉄鋼試料の質量スペクトル（図中のカッコ値は、NIST1765中の各同位体の含有率）

The Topics of Environment Research

環境調査トピックス（4） 環境アセスメント業務の内容

こでは、当社が受託した商業施設及び物流センター事業のアセスメントで実際に選

環境アセスメントには種々の手続きが定〜環境アセスメントについて〜定した評価項目（●）
を示しています。

鈴木光夫

められており、K市の例では、
方法書、準備書、mit-suzuki@jfe-tec.co.jp

評価書、事後調査報告書等を順次作成し環境影響の予測は、技術指針で定めるますが、これらは市民に縦覧し、専門家の基本事項に基づき、必要に応じて重点化

環境アセスメント（環境影響評価）
は、大委員会で審議し、説明会を開催し、意見または簡略化を行い、原則として定量的に規模な事業を行うときに、その事業の実施書に対し見解書を縦覧する等の多くのステッ行います。例として、前記の事例におけるが環境に与える影響について事前に十分プを踏まなければなりません。

建設機械の稼働による二酸化窒素の付環境技術事業部

環境アセスメントとはな調査、予測及び評価を行い、その結果を環境影響評価項目は参考項目等が広加濃度コンターを図に示します。バックグラ

公表して地域住民や自治体の意見を聴き、範囲に示されており、地域特性や事業特ウンド濃度と合計した将来濃度が環境基十分な環境保全の措置等を講ずることに性を勘案して必要な項目を選定します。

準等の環境保全目標に適合することを確より、環境汚染の発生を未然に防止する

K市の評価項目の一部を表に示しますが、認できます。

重要な手段となっています。

環境影響要因と組合せて選定します。こ環境アセスメントの制度化は昭和47年の閣議決定から始まり、平成11年に「環境度化が進められ、現在すべての都道府県及びほとんどの政令指定都市で独自の環境影響評価条例を整備しています。このほか、個別法に基づく環境アセスメントがあり、廃棄物の処理及び清掃に関する法律に基づく生活環境影響調査もその一つです。

工事中

環境影響要因
建設機
械の稼
働工事
用車
両の走
行大気質
●
動物（動物相、特筆すべき個体）
緑（緑の質）
緑（植栽土壌）緑（緑の量）
騒音●振動●
廃棄物（一般廃棄物）
廃棄物（産業廃棄物）
廃棄物（建設発生土）
景観
日照阻害
電波障害
風害
地域交通（交通混雑、交通安全）●

影響評価法」の施行により法制化されています。地方公共団体においても順次制0.20.2
表 環境影響要因と環境影響評価項目（抜粋）の関連表

環境影響評価項目

供用時
施設の供用施設の存在
建設
工事の影
響

緑の回
復・育成

●

施
設の存
在

施
設の供用

0.4

関連車
両の発生
集中

駐車場の利用

●

●

●

●
●

●

●

歩行者の発生
集中

設
備機器の稼
働

●
●
●
●

0.8 1.2

●
●

0.6

●
●

●
●

計画地（計画地内の記号は建設機械）
最大付加濃度地点（1.29ppb）

●
●
●
●
●

図
●

二酸化窒素の長期平均濃度予測結果（建設機械付加分）●

Evaluation of Fatigue Property
疲労に耐える応力を求めるため、一定応域内で使用される場合であり、ばね材はそ

疲労特性の評価について（1） 力の繰返しによる材料の破断寿命（破断の典型です。図1の既知のデータベースを仲継繰返し数）をプロットしたS-N（応力―繰返使用して、調査対象材がどういう特性を示

n-abe@jfe-tec.co.jp

し数）線図（図1）を各種の材料で求めてすかを評価することができます。この線図〜高サイクル疲労と低サイクル疲労〜
材料技術事業部

安部

7

疲労という言葉は、日常生活にも使われ、います。鉄鋼材料では10 回の繰返しでもを得るには、試験片の大きさにもよりますが、また事故原因に金属疲労という言葉も目破壊しない応力が疲労限とされています。

約1週間程度必要です。次回は、亀裂伸にします。プラント、鋼構造物等の損傷原一方、部分的に材料の降伏点に近いひ展と疲労寿命評価についてお話しします。

因は80%が疲労、20％が腐食等とされてずみが発生するような場合には、材料に一います。材料そのものが原因で損傷したと定ひずみを繰返し与えた場合に対する亀いう事例は思いのほか少ないものです。
こ裂発生繰返し数Ni、あるいは破断繰返し
線図（図2）を求めます。この場合、ひずみ疲労とは（定義）量が大きく、材料の降伏点前後であること変動する荷重が材料に負荷され続けるから、破断寿命が短いので低サイクル疲とき、材料に生じる応力の絶対値が静的労と呼ばれています。この低サイクル疲労

引張の降伏点以下でも材料の損傷、亀裂の場合その破断寿命を良くするには材料の伸展、破壊へと進展する現象を疲労との延性改善が効果的です。

いいます。疲労は金属材料ばかりかゴムな又、
S-N線図において104回以上の高寿どの高分子材料にも生じます。

命側は高サイクル疲労と呼ばれており、
そ高サイクル疲労と低サイクル疲労の特長の疲労強度は材料の強度に比例して大き疲労設計は繰返し応力によることが多く、くなります。高サイクル疲労は一般に弾性3

応力振幅MPa数Nfをプロットしたε-N（ひずみ―繰返し数）なことを紹介します。

300
200
100105

図1

ひずみ振幅

こでは、疲労特性の評価について基礎的

400

106
繰返し数107S-N（応力―破断繰返し数）線図の模式図

10-210-3103

104105
繰返し数106

図2 ε-N（ひずみ−破断繰返し数）線図の模式図

Patent Search Lead Business Strategy

特許調査が企業活動の明暗を決する時代を迎えて（4）う特徴があります。

社からの再委託で⑥商標出願動向調査、受託調査における特殊な調査⑦重点8分野SDIなどを納入してきました。

〜特許調査の事例〜

前述のテーマ技術に関する動向調査

それぞれ、調査手法や解析手法が異なり、の場合には、PATOLISやNRI等の特許デー報告形式も多様です。その他、発明協会

タベースのほか、商 標データベースや、の特許流通支援チャートや、特許流通デー

JDreamⅡ等の一般文献データベース、タベース作成も手掛けました。又、大学発Web情報、商品カタログ、新聞記事等も情の発明の評価も一部ですが行っています。

報ソースとして使用します。特許調査ではこれらの仕事を通し、幅広い調査手法と豊特許調査の事例を紹介します。

あまり使用しませんが、企業調査では会社富な解析結果の表示手法を培っています。

主な受託先

四季報やベンチャー企業年鑑、知的財産事業部

鴨志田友男

kamoshida@jfe-tec.co.jp
本シリーズの最後に、過去に受託した

これまで当社は主として特許庁、発明協中小企業主体の全国の産業会、独立行政法人等の官公庁と財団等支援センター情報などを使用から特許調査の業務を受託しています。

して調査することもあります。

6

民間企業向けは、官公庁案件を共同受受託を通して培う調査手法

5

注した会社からの再委託がほぼ90％を占と高い解析能力

4

めます。

件数

平成12年以降、受託先と内受託した調査の種類容を拡大してきました。例えば、本シリーズ1回目で、特許調査の目的を図に示すように、特許庁の①①特許権取得、②抵触侵害検討、③特特許出願技術動向調査を初め、許侵害監視、④研究開発方針策定の4つ②標準技術集、③大分野別に大別しましたが、受託調査では①と④が出願動向調査（機械）、④技大半を占め、中でも④に属する「テーマ技術水準資料の収集、⑤中小企術に関する動向調査」の比率が高いとい

業等先行技術調査、また、他

3
調査名称
特許技術動向調査
標準技術集
商標出願動向調査
技術水準資料の収集
重点8分野出願動向調査
大分野別出願動向調査
中小企業等先行調査

図21
H14 H15H12 H13
年度

H16 H170

主な特許調査の納入実績（JFE-TEC）

お問い 合わせ 先【営業本部】東福 山

京

TEL:03-3510-3251 FAX:03-3510-3469
salesmarketing@jfe-tec.co.jp
名古屋 TEL:052-561-8630 FAX:052-561-3374
nagoyasales@jfe-tec.co.jp
大 阪 TEL:06-6459-1093 FAX:06-6459-1099
osakasales@jfe-tec.co.jp
阪 神 TEL:0798-66-2033 FAX:0798-66-2161【分析・評価事業部】
LSIから埋蔵文化財にいたる、広範囲の分野における高精度な分析・試験・評価
千 葉 TEL:043-262-2313 FAX:043-262-2199
chiba-com@jfe-tec.co.jp
京 浜 TEL:044-322-6208 FAX:044-322-6528
keihin-com@jfe-tec.co.jp
知 多 TEL:0569-24-2880 FAX:0569-24-2990
chita-com@jfe-tec.co.jp
阪 神 TEL:0798-66-2033 FAX:0798-66-2161
hanshin-com@jfe-tec.co.jp
倉 敷 TEL:086-447-4621 FAX:086-447-4618
kurashiki-com@jfe-tec.co.jp

TEL:084-945-4137 FAX:084-945-3989
fukuyama-com@jfe-tec.co.jp【環境技術事業部】
kankyoeigyobu@jfe-tec.co.jp
環境と省エネルギーに関するあらゆる測定、分析、評価、コンサルタント
千 葉 TEL:043-264-5212 FAX:043-264-5212
京 浜 TEL:044-322-6200 FAX:044-322-6528
福 山 TEL:084-946-6960 FAX:084-946-6966
東 京 TEL:03-3217-2177 FAX:03-3217-2169
埼 玉 TEL:048-854-7928 FAX:048-854-7928
横 浜 TEL:045-506-1096 FAX:045-506-1096
新 潟 TEL:025-275-1101 FAX:025-270-7209
静 岡 TEL:0543-37-0250 FAX:0543-37-0251
福 岡 TEL:092-643-6890 FAX:092-643-6891

京 浜 TEL:044-322-6189 FAX:044-322-6528
名古屋 TEL:052-561-8630 FAX:052-561-3374【計測システム事業部】
isales@jfe-tec.co.jp
分光器関連、画像検査関連、商品の開発販売、各種分野の計測診断
千 葉 TEL:043-262-2014 FAX:043-262-2665
京 浜 TEL:044-322-6273 FAX:044-322-6529【知的財産事業部】
pat@jfe-tec.co.jp
知的財産の発掘・権利化、特許調査・出願支援、係争等のサポート
東 京 TEL:03-3510-3355 FAX:03-3510-3471【材料技術事業部】【技術情報事業部】

material@jfe-tec.co.jp
各種材料、製品、構造物の研究開発サポート、損傷解析、最適利用技術の提言
千 葉 TEL:043-262-2186 FAX:043-262-2986

joho@jfe-tec.co.jp
各種技術動向・情報調査、ISO等のマネジメント支援、翻訳・WEB製作、数値解析
京 浜 TEL:044-322-6429 FAX:044-322-6520

くわしくは、当社ホームページでhttp: // www.jf e -te c.co.jp◆このパンフレットの送付中止、宛名変更は jfe-tec-news@jfe-tec.co.jp へご連絡ください
正治
JFE-TEC News〈 2 0 0 6 〉 発行人／実川
発行所／JFEテクノリサーチ㈱ 技術情報事業部

No.9
2006年10月発行〒103-0027 東京都中央区日本橋2−１−10（ 柳屋ビル）
Tel: 03 - 3510 - 3425

4© JFE Techno-Research Corporation 2006
印刷所／大日本印刷株式会社