光赤天連SPICAタスクフォース (STF)
報告長尾 透 (愛媛大学)
光赤天連 SPICAタスクフォース

光赤天連シンポジウム： 光赤外将来計画“報告書の最終取りまとめと長期戦略への布石”
15 September 2015, 国立天文台三鷹

光赤天連 SPICAタスクフォース (STF)
第１期 SPICAタスクフォース (2008年11月〜)
市川隆 (東北大, 委員長), 今西昌俊 (NAOJ),
泉浦秀行 (NAOJ), 川良公明 (東京大),河野孝太郎 (東京大), 斎藤智樹 (愛媛大→東京大→NAOJ),
高見道弘 (ASIAA), 田村元秀 (NAOJ→東京大),山下卓也 (NAOJ), 渡辺潤一 (NAOJ)

第２期 SPICAタスクフォース (2014年10月〜)
小山佑世 (宇宙研→NAOJ, 幹事), 竹内努 (名古屋大),長尾透 (愛媛大, 委員長), 野村英子 (東京工業大),
本田充彦 (神奈川大), 松尾太郎 (京都大),松田有一 (NAOJ), 宮田隆志 (東京大)2	

第２期光赤天連 STF の任務
望遠鏡口径など主要な仕様や搭載する観測装置にまで踏み込み、２０２０年代後半に我が国のコミュニティが取り組むべきサイエンスに照らし、SPICA の果たすべき役割と装置仕様策定に関して、コミュニティの視点からSPICAチームの活動を支援すること。

More speciﬁc tasks:
これまで “Plan-A/B” SPICA が検討してきた科学目標の重要性・独自性をレビューした上で、それらが口径2.5m 級の (Plan-D) SPICA によっても実現可能かどうかを検討すること。また今後の観測計画の具体化や装置仕様確定に向けて、更に検討が必要な事項や重要な留意点について洗い出して勧告すること。
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第２期 STF 報告書
平成 27 年 6 月 29 日コンパイル版

今年3月の任期満了後も活動内容のとりまとめの文書作成作業を行った
最終報告書は7月末に完成(30ページ弱)第 2 期光赤天連 SPICA タスクフォース最終報告書―新生 SPICA(プラン D) に向けたコミュニティからの提言―

第 2 期光赤天連 SPICA タスクフォース(活動期間: 平成 26 年 10 月〜平成 27 年 3 月)

光赤天連運営委員会に提出
 SPICAチームに答申
 Gopira web に掲載
 Gopira MLへも展開

平成 27 年 3 月 31 日

SPICAが掲げてきた科学目的と意義
銀河形成と惑星系形成：
多様で豊かな宇宙を生んだ二大過程の解明
銀河成長・物質進化過程の解明~ ダストに隠された銀河成長最盛期~ 星生成と物質進化の相互作用
星・惑星系の形成過程の解明~ ガスの精密定量による惑星形成シナリオ検証~ 惑星形成における水と氷の役割~ 惑星系の外縁天体の起源
最高感度の冷却宇宙赤外線天文台の実現
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SPICA仕様変更 (Plan A, B  Plan D)
口径縮小 (3.0-3.5m  ~2.5m) と温度変更 (6K  8K)~ 感度および空間分解能は低下~ 230μmより短波長側では温度変更の影響は無視できる~ 口径縮小に伴い視野は拡大  撮像サーベイ能力は向上

SAFARI のフーリエ分光  グレーティング~ 遠赤外ブラインド面分光サーベイは無し~ ただしターゲット分光の感度は向上~ 遠赤外線撮像モードを別途追加

SMI に multi-slit 面分光モードと撮像機能の追加~ R = 50 @ 17‒36μm  R~20 PAH mapper から変更

SMI に高分散分光観測機能を追加する可能性~ R = 20,000 ‒ 30,000 @ 12‒18μm

トランジット分光専用分光器の追加の可能性~ R = 100 ‒ 300 @ 5‒20μm (optional, TBD)
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宇宙における星形成率密度

ダストに隠された銀河成長最盛期“Cosmic high noon”

Goto+10

TotalULIRG
LIRG

Hopkins+06

星形成率密度の進化(可視光銀河サーベイの成果)

銀河成長ピークの時代では星形成は塵に覆われていた→ 銀河成長のピークは z~1-3→ 何が起きていたのか不明
7	遠方天体「探査」から「物理」へ
AKARI

撮像サーベイ

Total
ULIRG
LIRG

測分光観

Goto+10

Spitzer

SPICA

Herschel

Tommasin+10

STFコメント: SPICAによる遠方銀河の観測戦略
Casey+12

輝線診断による物理化学状態の調査
塵に覆われた部分の解明

SMI 広域撮像観測でz > 3 でも LIRG を個々に検出できる ~10 deg2 級のMIR 広域撮像探査はSPICA の独壇場
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原始惑星系円盤のガス質量測定
ALMAは ~1 AU スケールでの構造を分解。
JWSTは ~10 AU 以内の有機物を研究。

SPICAはHDを用いたガス質量を測定し、水蒸気と水の研究も行う。
Rpberge+10, Casassus+13
Bergin+13

Herschel/PACSでのHD輝線の観測による円盤ガス質量の測定(現在までで唯一の例)

原始惑星円盤のガス質量測定には、光学的に薄く化学過程や構造に依存しない HD 輝線が良い指標だが、TW Hya でしか観測がされていない。
SPICA/SAFARI では Herschel に比べて Plan D でも7倍程度は感度が向上 → Taurus の原始惑星円盤でもHD 検出が可能。また、ガス冷却率の測定に必要な [OI]63μmもTaurus で半数は検出が可能。
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原始惑星系円盤の H2O ice

Smith+94

原始惑星円盤に大量に存在すると予想される
H2O の直接観測は重要。
H2O ice の 43, 62μm
でのバンド放射は熱史に敏感であるが、これまで未開拓の研究分野。
SPICAでは波長カバレッジの広さと冷却望遠鏡の感度により、H2O ice の系統的観測研究が初めて可能になる。
Plan D でも感度面での制約は厳しくない。

10Kで凝縮させた氷を徐々に温度を上げた場合のスペクトル形状のモデル予測。

140Kで凝縮させた氷の温度を冷却した場合のスペクトル形状のモデル予測。

※ 最も強い 44μm feature は Spitzer,Herschel, JWST でカバーされない波長域にあり、ISO 以降 SPICA が唯一のアプローチ

SMI 高分散分光観測 (HRS)
原始惑星系円盤
原始惑星系円盤からのwith Spitzer
輝線の速度幅: 10‒20 km/s
 R > 15,000 が必要
原始惑星系円盤におけるガスの散逸~ H2 S(2)12μm とS(1)17μm の輝線輪郭
原始惑星系円盤のH2O スノーラインの測定~ 直接撮像はALMAでも17.8μm H2O
無理  17.8μm H2O~ R < 10,000 では無理、R > 20,000 が必要
原始惑星系円盤の C/O 比と系外惑星大気との関係~ 12‒18μm の複数輝線の輪郭から C/O 比の空間分布を導出して系外惑星大気の C/O と比較 hot Jupiter の起源に制限

Pontoppidan+1012	

SPICAによるトランジット分光

惑星探査：
Kepler は暗い target を観測  特徴付けが困難
TESS, PLATO が明るい惑星を2020年代に探査

惑星の特徴付け：HST, Spitzer は hot Jupiter を分光観測
JWST, SPICA が暗い惑星へ  地球型惑星も？

SPICAによるトランジット分光: 装置仕様への要求
TESS と PLATO により見つかる
ハビタブルゾーン内の地球型惑星をトランジット分光で特徴付けたい！
H2O水蒸気、メタン、アンモニア、オゾン等 habitability に関係する分子の feature を捉えたい 5 ‒ 20 μm をカバーすべき
JWST がこの波長帯を観測するには複数の装置で計4回のトランジットを観測する必要あり 高い系統誤差
 スーパーアースより重い星が対象
SPICA では 5 ‒ 20 μm を一度に観測できる専用分光装置を搭載すべき
トランジット分光の際は地上光赤外測光同時観測で精度を向上させるべき
系統誤差を避けるため PFS のサンプリング数を十分に高くするべき 波長分解能を高くしすぎるとかえって不利なので慎重な検討が必要

STFによるSPICAサイエンス検討報告: まとめ
Plan A/B 想定の科学目標の多くは Plan D でも達成可能~ z=1-3 では z=0.5 毎に50天体以上で輝線診断を遂行。
~ 近傍銀河を空間分解してガス・ダスト・星の進化関係を数十天体に対して調査可能。
~ 星・惑星形成分野については、原始惑星系円盤中の木星質量相当のガス質量測定などSPICAの独壇場。
広視野化 & MIR 高分散分光 & トランジット分光により
SPICA は極めて独自性の高い魅力的計画となる (注意点あり)~ 遠方銀河サイエンスは輝線診断だけでなく撮像サーベイも検討し、銀河進化の全体像に迫るプログラムの立案を~ 原始惑星系円盤の高分散分光 (R > 20,000) でSPICAにしかできないサイエンスを実現 (波長範囲に注意)~ JWSTでも困難なハビタブルゾーン内の地球型惑星の特徴付けをSPICAトランジット分光で (装置仕様に注意)