顕第 58 巻微鏡

第3号

2023 年目次■巻 頭 言昌章

87

治郎

88

産業界を支える FIB-SEM 技術 ………………………………………………………………………………… 永富隆清

89

FIB-SEM による転位組織の三次元観察 ……………………………………………………………………… 山﨑重人

90

FIB-SEM 技術を用いた TEM 試料作製と 3 次元再構成 …………………………………………………… 加藤丈晴

95

優，大川登志郎，鈴木直久

100

電子顕微鏡試料作製の自動化…………………………………………………………………………………… 大西毅

106

健治，森川大輔111

恭明，小路武彦，菱川善隆

117

繭子・太田啓介・豊岡公徳

123

量子電子顕微鏡とは何か………………………………………………………………………………………… 岡本洋

128■ Microscopy Editor’s Choice より …………………………………………………………………………………………………

132「見るから測るへ」電子顕微鏡技術の進化 …………………………………………………………………… 杉山■追 悼 文山田英智先生を偲んで…………………………………………………………………………………………… 臼倉■ 特集： FIB-SEM 技術の最前線

プラズマイオン源を用いた FIB および大電流条件下での加工アーティファクト
……………………………………………………………………………… 兒玉■解説
ナノ電子プローブによる局所構造解析………………………………………………………… 津田■講座
蛍光共鳴エネルギー移動（FRET）現象を利用した高感度 in situ hybridization………………………………… 石塚

匠，Narantsog Choijookhuu，柴田■ 最近の研究と技術
補助治具を用いた SEM 観察用準超薄連続切片の作製手法………………………………………… 若崎眞由美・武田-神谷紀子・佐藤■ 会議報告日本顕微鏡学会第 79 回学術講演会

開催報告 ……………………………………………………………… 荒河一渡

133

IMC20 の総括と今後の方向 …………………………………………………………………………………… 幾原雄一

135

通夫，三宮工137

IMC20 サテライトシンポジウム @ 福岡を開催して ………………………………………………………… 金子賢治

139

■ 編集後記 ……………………………………………………………………………………………………………… 永富隆清140IMC20 報告：学術講演と会議運営を振り返って …………………………………………… 川崎「顕微鏡」に関するご意見は下記発行所へお寄せ下さい．
ホームページ

http://www.microscopy.or.jp

E-mail address

jsm-post@microscopy.or.jp

表紙説明：FIB-SEM 複合装置を用いたシリアルセク
シ ョ ニ ン グ 法 に よ る EuBa2Cu3Oy(EuBCO) 超 電 導 層の 3 次元再構成結果．マトリックスである c 軸配向
EuBCO 粒子と結晶方位が異なる EuBCO 異方粒子はCuO 粒子を起点に形成され，超電導層の成長に伴い粒成長している．p. 98 参照．

KENBIKYO
Vol. 58, No. 32023

CONTENTS■ Foreword
Advances in Electron Microscope Technology from Observation to Measurement …………………… Masaaki Sugiyama

87■ In Memoriam
In memory of Prof. Eichi Yamada ………………………………………………………………………………… Jiro Usukura

88■ Feature Articles: F orefront of FIB-SEM Technology
FIB-SEM Technology Supporting Industry ……………………………………………………………… Takaharu Nagatomi

89

Three-Dimensional Observation of Dislocation Structure by FIB-SEM ………………………………… Shigeto Yamasaki

90

TEM Specimen Preparation and 3D Reconstruction Using Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy Techniques…………………………………………………………………………………………………………… Takeharu Kato95

Characteristic of Plasma FIB and Suppression Method for Ion-Beam Induced Artifacts under High-Current Milling……………………………………………………………………… Yu Kodama, Toshiro Okawa and Naohisa Suzuki

100

Automation of Electron Microscope Sample Preparation ………………………………………………… Tsuyoshi Onishi

106■ ReviewLocal structure analysis using nano-electron probe ………………………………… Kenji Tsuda and Daisuke Morikawa

111■ Lecture
A Highly Sensitive Detection System for in situ Hybridization Using Fluorescence Resonance Energy Transfer (FRET)
Phenomenon……………… Takumi Ishizuka, Narantsog Choijookhuu, Yasuaki Shibata, Takehiko Koji and Yoshitaka Hishikawa

117

Effective Tool for Wrinkle Less Serial and Large Semi-Thin Sections…………………… Mayumi Wakazaki, Noriko Takeda-Kamiya, Mayuko Sato, Keisuke Ohta and Kiminori Toyooka

123

What Is Quantum Electron Microscopy? …………………………………………………………………… Hiroshi Okamoto

128■ From Microscopy: Editor’s Choice Articles …………………………………………………………………………………

132■ Conference Report
Report on the 79th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy ……………………………… Kazuto Arakawa

133

Summary of IMC20 and future direction ……………………………………………………………………… Yuichi Ikuhara

135

Review of 20th International Microscopy Congress (IMC20) ………………… Michio Kawasaki and Takumi Sannomiya

137

IMC20 Satellite Symposium @ Fukuoka …………………………………………………………………………Kenji Kaneko

139■ Staff Commentary …………………………………………………………………………………………… Takaharu Nagatomi

140