ISSN

1884－1627

機器センターたより No.９
No.９
自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター

【表紙の写真】
１：核磁気共鳴（NMR）装置13

２：ナノテクノロジープラットフォーム24３：単結晶X線回折装置
5４：電子分光装置
５：X線溶液散乱装置

目次

機器センターたより No.９
No.８
分子科学研究所 機器センター
■目
■目 次
次
1
１．巻頭言
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ １
１．巻頭言・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
2
２．構成員
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ２２．構成員・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
4
３．所有設備一覧
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ４
３．所有設備一覧・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
6
４．施設マップ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ６
４．施設マップ・・
５．事業紹介５．事業紹介大学連携研究設備ネットワーク・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・８
8
大学連携研究設備ネットワーク
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
ナノテクノロジープラットフォーム・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 10
ナノテクノロジープラットフォーム
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
10

６．センターの利用方法
６．センターの利用方法
設備利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 12
設備利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
12
大学連携研究設備ネットワーク利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 23
大学連携研究設備ネットワーク利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
21
液体ヘリウム利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 26
液体ヘリウム利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
24
液体窒素利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 28
液体窒素利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
26
小型貸出機器利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 30
小型貸出機器利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
28
サンプル準備室利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 32
サンプル準備室利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
30
施設利用者控室・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 33
施設利用者控室
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
31

７．所有設備紹介
７．所有設備紹介
電子スピン共鳴（ESR）装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 34
電子スピン共鳴（ESR）装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
32
SQUID 型磁化測定装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 3634型磁化測定装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
単結晶 X 線回折装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 3836
線回折装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
粉末 X 線回折装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 40
38
線回折装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
Ｘ線溶液散乱装置
39
X 線溶液散乱装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 41
電子分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
42
電子分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 44
電子顕微鏡
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
46
電子顕微鏡・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 48
熱分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
49
熱分析装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 51
マトリックス支援レーザー脱離イオン化 - 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）・・
・・
51
・ 52
有機微量元素分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
52
有機微量元素分析装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 53
蛍光 X 線分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 5453
線分析装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
核磁気共鳴（NMR）装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 55
54
核磁気共鳴（NMR）装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
ピコ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
58
ピコ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 58
ナノ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
60
ナノ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 60
蛍光分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
62
蛍光分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 62
円二色性分散計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
64
円二色性分散計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 64
可視紫外分光光度計
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
65
可視紫外分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 65
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 66
66
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
顕微ラマン分光装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
67
顕微ラマン分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 67

目次
超伝導磁石付希釈冷凍機・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 68
超伝導磁石付希釈冷凍機
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
低温冷媒の供給設備・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 69
低温冷媒の供給設備
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・

８．交流
所外利用者アンケート報告・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 71
所外利用者アンケート報告
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
所内利用者アンケート報告・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 77
所内利用者アンケート報告
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
一般公開 2015 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 80
９．研究紹介「新しい機能性を有するナノ磁性材料の探索」・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 80
９．研究紹介岐阜大学 工学部
機能材料工学科
教授 嶋 睦宏82「銅水酸化物を舞台にした新規磁性物質の探索」
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・「円二色性顕微鏡による物質の局所的な光学活性の研究」
・・・・・・・・・・・・・・・・
名古屋市立大学大学院 システム自然科学研究科
教授 藤田 渉84
分子科学研究所 メゾスコピック計測研究センター
助教 成島 哲也87
「硫化銅ナノ粒子の近赤外局在表面プラズモンの三次光学非線形性」
・・・・・・・・・・

10．共同利用採択課題一覧

名古屋工業大学大学院

物質工学専攻准教授

濱中泰

平成28年度分・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
88「オキソ架橋ルテニウム二核錯体における異なる
3 つの酸化状態の構造ならびに電子状態」
・・ 91

11．設備利用状況

生命・錯体分子科学研究領域

錯体物性研究部門

准教授

正岡

重行

平成28年度分・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 94
10．共同利用採択課題一覧
平成 27 年度分 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 95
12．研究報告一覧
平成28年度分・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 95
11．設備利用状況
平成 27 年度分
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 101
104
13．編集委員

12．研究報告一覧
平成 27 年度分 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 102

13．編集後記・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 108

１．巻頭言巻頭言機器センター長 解良
解良 聡
機器センター長「機器センターたより」第９号をお届けしま「機器センターたより」第8号をお届けしま

幅軽減されることになりました。そこで今年度報と機器情報がシステム運用されることによす。機器センターは、i）所内研究者の研究遂す。本年4月よりセンター長を拝命いたしましは機器センターの特色である低温単結晶構造解り、効率的な広報を通じた潜在ユーザーの発掘

行上で不可欠な共通基盤的機器の整備、特色のた。組織運営に携わることが初めてでもあり、

析装置（CCD-3 装置）の更新を決定し、二元が狙え、機器センターのみならず全国の共同利ある先端機器の高度化あるいは汎用化の推進、
またセンター業務が後述のように多岐に渡って検出器、４軸ゴニオメータ、ソフトウェアの導用機関各所において、今後ますますの利用拡大

ii）全国の共同利用研究推進のための各種共同
おりますので、（執筆4月10日現在）自身の中入作業を進めております。
と大きな成果があがることを期待したいと思い利用事業の代表機関としての事業運営、の２つ
ではまだまだ茫洋とした日々を過ごしておりま

一方、分子研における先端機器開発は、所内ます。

の大きなミッションを基軸としております。
すが、微力ながらも機器センターの発展ならび研究者の去就に左右されがちですが、最近では今年度の機器センターの運用ですが、皆様か

後者については「たより」の該当ページをごにコミュニティの拡大に尽力する所存ですの

機器センターの特徴である寒剤を潤沢に活用しらアンケートで貴重なご意見をいただいている

参照ください。前者は人事流動性の極めて高いで、今後ともご協力のほどよろしくお願いいた

た、希釈冷凍機や電子スピン共鳴装置の開発がように、老朽化した汎用機器の更新と既存機器

分子研において、汎用性の高い機器を一定量維します。

あげられます。昨年度末、分子研の特徴かつ強の拡張が多数求められています。予算措置も厳持することなどで効果的に質の高い研究環境を
機器センターの目的は、「分子科学分野及びみである低温磁性分野を強化推進する目的で、しい状況ではありますが、技術職員の専門性を構築することに繋がります。そのため所内利用
関連分野の研究に必要な汎用性の高い装置及びESR 装置（E680）のオプションとして、任意生かしつつセンターの機能を拡張できる方策を者には利便性を図りつつ相応の維持費負担をお機器を集中的に管理するとともに、分子科学研

波形発信器 AWG を導入することができまし模索したいと思います。そんな中、昨年度発生

願いしています。しかし法人化後、大型機器導究所内外の共同利用に供することを目的とすた。これにより測定感度の向上が実現し、パルした重篤な故障により透過型電子顕微鏡JEM-

入は難しくなり、機器センターにおいても多くる」とあります。この本務に加え、平成19年度

ス ESR 測定を積極的に活用することで新たな3100FEFは利用停止が決定されました。今後の機器について老朽化が極めて深刻な状況となから始まった全国の大学機器の相互利用を目的

測定手法の確立や、スピン制御を応用した技術
は新分野拡張や技術職員の増員も視野に入れつり、維持管理もままならない時代に入りました。
とする「大学連携研究設備ネットワーク」事業の確立等が狙えます。また時間分解蛍光分光測つ、迅速かつ戦略的に機能強化を目指して進め

利用者アンケートに貴重なご意見をいただいての幹事機関・事務局を務め、機器センターが実定の開発を目指して、新たに蛍光寿命測定用モていきたいと思います。また利用者の皆様においるように、老朽化した汎用機器の更新と既存
質的な運用を行っています。民間を含めた全国

ジュール、及び検出器を購入し、既存のピコ秒
かれましては先のネットワーク情報をご活用い機器の拡張を求める声が多数寄せられていまの研究者が広く利用できる全国共用ネットワー

レーザー光源を利用した蛍光寿命測定システム
ただき、他機関の共有設備の利用も積極的にごす。
しかし限られた予算では如何ともしがたく、
クシステムの構築と整備を推進しておりますの構築を開始しました。今後、こうした限られ検討いただければと思います。

何がしかの方策を真摯に検討する必要がありま（詳しくはhttp://chem-eqnet.ims.ac.jp）。さた予算を有効に活用し、戦略的に機器導入計画
機器センターの技術職員は主として汎用機器す。そんな中、山手地区の920MHz 核磁気共らに平成24年度から始まった「文部科学省ナノを進めるために、所内検討会を立ち上げ議論しを扱うため、他部署に比べて開発要素が少ない

鳴装置の利用終了を決定し、今春に停止措置を
テクノロジープラットフォーム」事業においているところです。皆様には毎年アンケート等のは否めません。また潤沢な資金も伴わない状行
い ま し た。 ま た 熱 分 析 装 置（TGA2950、て、分子研は分子・物質合成プラットフォーム

を通じて、貴重なご意見をいただいております。
況下では、前を見続けることが困難な状況に陥DSC2920、SDT2960）は故障のため利用停止の代表機関と実施機関を務めており、平成27年

老朽化した汎用機器の更新と既存機器の拡張がり、ともすると日々のルーチン作業に終始する

中で、現在復旧の目処はたっておりません。後度からは機器センターが統括して行っておりま

多数求められ、選択が多岐に渡る中での判断は事態に至りかねないことは想像に難くありませ

述の大学連携研究設備ネットワークでは関連装す（詳しくはhttp://mms-platform.com）。事

難しいところではありますが、貴重なご意見をん。今回このような職位について初めて考えさ置が他大学等に登録・紹介されておりますので、業融合のおかげで、より多くの先端機器が利用十分に検討して、更新機器の序列化などを検討せられることがあり、私自身も日々勉強させてそれらの活用をご検討いただければと思いま可能となりました。前センター長（横山教授）

します。
いただいております。分子研設立時からの明確す。また山手地区のヘリウム液化器に劣化故障には引き続き上記業務に関しての指揮をとってセンター職員の移動等により若干の動きがあな「鼎」の理念を踏まえつつ、微力ながらもが発生し、オーバーホールが必要な事態に見舞いただき機器センターと密な連携関係を築いてりますが、アクティビティを維持しつつ共同利
個々の職員が気持ちよく職務に専念できるようわれました。
液化器の機械寿命が近づいており、いきます。まだ煩雑さが解消されていない点が用を通じて我が国の活性化に資すべく精進して様々な働きかけを行いたいと思います。今後と今後の中長期計画を検討するうえで困難が予想見受けられますが、我が国における資産の有効

まいりたいと思いますので、ご協力のほど、よもご指導ご鞭撻をよろしくお願いいたします。

されます。暗い話題が先行しましたが、特に大活用と社会貢献を目的とした全国規模の共有設

ろしくお願い致します。

型
NMR 装置停止により、年間の保守費用が大備運用システムとして機能します。ユーザー情機器センターたより

1２．構成員

構成員
２．構成員
機器センター長（併任）

構成員

解良
教授（併任）

光分子科学研究領域

教授

明大寺

研究棟

216

機器センター長（併任）
横山

研究員

聡

利彦

物質分子科学研究領域
教授
明大寺
解良
聡
光分子科学研究領域
教授

研究棟
明大寺320 研究棟

216

SEM、FIB横山利彦

4 号館
SEM 研究棟
明大寺

320

教授（併任）
中尾聡

物質分子科学研究領域 山
教授手

マネージャー 大原三佳
研究員

ナノテクノロジープラットフォーム、大学連携研究設備ネットワーク

明大寺

研究棟

コーディネーター 野田

ナノテクノロジープラットフォーム
中尾
聡
SEM、FIB

明大寺

研究棟
325 4 号館
山 手

SEM

大学連携研究設備ネットワーク、
ナノテクノロジープラットフォーム、
マネージャー 東 マネージャー
陽介
明大寺
研究棟
325 研究棟
大原三佳
明大寺
ナノテクノロジープラットフォーム
大学連携研究設備ネットワーク

322

技術職員

研究棟

325

班長

大学連携研究設備ネットワーク、
高山敬史
寒剤（明大寺地区）、希釈冷凍機
明大寺
極低温棟
103 研究棟
東陽介
明大寺
マネージャー
ナノテクノロジープラットフォーム

325

主任

水川
哲徳
技術職員

寒剤（山手地区）、質量分析等

主任

岡野
班長芳則

微小結晶用X線回折装置、
明大寺
南実験棟
111 極低温棟 103高山 敬史
寒剤（明大寺地区）、希釈冷凍機
明大寺
大学連携研究設備ネットワーク

主任

上田
主任 正

レーザー、分光光度計等
明大寺
水川
哲徳
寒剤（山手地区）、質量分析等

南実験棟
101 4 号館
山 手

主任

牧田
主任誠二

微小結晶用X線回折装置、元素分析、質量分析、NMR等
山 手
岡野
芳則
大学連携研究設備ネットワーク

4 号館
401 南実験棟 111
明大寺

主任

藤原
主任基靖

ESR、SQUID、X線回折装置等
上田正
レーザー、分光光度計等明大寺

南実験棟
101 南実験棟 101
明大寺

特任専門員

一平

コーディネーター 野田 一平

ナノテクノロジープラットフォーム

山

手

主任

牧田 誠二

元素分析、質量分析、NMR等

松尾友紀子
主任

SEM、FIB藤原
基靖

明大寺
ESR、SQUID、X線回折装置等

松尾友紀子

SEM、FIB

322

明大寺

4 号館

204

山 手

4 号館

204

401

南実験棟
101 南実験棟 101
明大寺

特任専門員

2

機器センターたより

明大寺

南実験棟 101２．構成員

技術支援員
伊木志成子

ESR、SQUID

明大寺

南実験棟 101

長尾 春代

NMR、熱分析

山 手

4 号館

兵藤由美子

総務、施設利用対応等

明大寺

南実験棟 101

太田 明代

大学連携研究設備ネットワーク

明大寺

研究棟

324

横田 光代

ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺

研究棟

312

船木 弓子

ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺

研究棟

312

遠山

ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺

研究棟

312

401

事務支援員

遊

機器センターたより

3３．所有設備一覧

所有設備一覧
所内 所内専用設備
所内
所内専用設備

分類名／型式
分類名／型式① 電子スピン共鳴（ESR）装置① 電子スピン共鳴（ESR）装置
Bruker EMX Plus
Bruker EMX Plus
Bruker E500
Bruker E500
Bruker E680
Bruker E680
② SQUID 型磁化測定装置② SQUID 型磁化測定装置
Quantum Design MPMS-7
Quantum Design MPMS-XL7③ 単結晶 X 線回折装置③ 単結晶 X 線回折装置
Rigaku MERCURY CCD-1･R-AXIS Ⅳ
Rigaku MERCURY CCD-2
微小結晶 /Rigaku MERCURY CCD-3④ 粉末 X 線回折装置④ 粉末 X 線回折装置
Rigaku RINT-UltimaIII⑤ X 線溶液散乱測定装置⑤ X 線溶液散乱測定装置
Rigaku NANO-Viewer⑥ 電子分光装置⑥ 電子分光装置
機能性材料バンド構造顕微分析システム
機能性材料バンド構造顕微分析システム
Omicron EA-125

設置場所
設置場所

担当者
担当者

極低温棟 002
極低温棟 002
極低温棟 001
極低温棟 001
極低温棟 001
極低温棟 001

藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木

極低温棟 006
極低温棟 006
極低温棟 006
極低温棟 006

藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木
藤原・伊木

南実験棟 B04
南実験棟 B04
南実験棟 B04
南実験棟 B04
南実験棟 B04
南実験棟 B04

藤原
藤原
藤原
藤原
岡野
岡野

山手 3 号館 1 階 X 線回折測定室
山手 3 号館 1 階 X 線回折測定室藤原藤原

南実験棟 B14
南実験棟 B14秋山
秋山

実験棟 216
実験棟 216
実験棟 215
実験棟 215

山根
山根
酒井
酒井

山手 4105
号館 404
南実験棟

牧田
上田

南実験棟 105上田⑦ 電子顕微鏡⑦ 電子顕微鏡
電界放出型走査電子顕微鏡（SEM）/JEOL JSM-6700F（1） 山手 4 号館 103
中尾
山手 4 号館 103
中尾
低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）/Hitachi SU6600 実験棟 B09
中尾・酒井
低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）/Hitachi SU6600
実験棟 B09
中尾・酒井
集束イオンビーム加工機（FIB）/JEOL JEM-9310FIB（P） 山手 4 号館 103
中尾
山手 4 号館 103
中尾⑧ 熱分析装置⑧ 熱分析装置
MicroCal VP-DSC
山手 4 号館 101
水川・長尾
MicroCal VP-DSC
山手 4 号館 101
牧田・長尾
山手 4 号館 101
水川・長尾
MicroCal iTC200
MicroCal iTC200
山手 4 号館 101
牧田・長尾⑨ マトリックス支援レーザー脱離イオン化- 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）
TA Instruments TGA2950/SDT2960/DSC2920
極低温棟 010
藤原
Applied Biosystems Voyager DE-STR
山手 4 号館 403
水川⑨ マトリックス支援レーザー脱離イオン化 - 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）⑩ 有機微量元素分析装置
山手
4 号館
403
牧田
所内 J-SCIENCE LAB MICRO CORDER JM10
山手
4 号館
404
水川
⑩ 蛍光
有機微量元素分析装置⑪
X 線分析装置
所内

JEOL JSX-3400RII⑪ 蛍光 X 線分析装置
JEOL JSX-3400RII

4

機器センターたより

３．所有設備一覧○○○○○⑫⑫ 核磁気共鳴（NMR）装置
核磁気共鳴（NMR）装置
Bruker AVANCE800
Bruker AVANCE600
Bruker AVANCE800
JEOL JNM-ECA600
Bruker AVANCE600
所内 JEOL JNM-ECS400⑬ ピコ秒レーザー

山手山手
4 号館
102
加藤
5 号館
牧田・長尾
実験棟 119西村
山手 4 号館 102
谷中
山手 5 号館 予備測定室 水川・長尾
実験棟 119西村
山手 4 号館 408
水川・長尾
山手 5 号館 予備測定室 牧田・長尾

山手 4 号館 408
牧田・長尾
Spectra-Physics, Quantronix Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS 実験棟 B08
上田⑬ ピコ秒レーザー⑭ ナノ秒レーザー
実験棟 B08上田
エキシマー励起色素レーザー /Coherent, Lambda Physik Compex Pro 110, LPD3002 レーザー棟 103
山中⑭ ナノ秒レーザー
Nd:YAG 励起 OPO レーザー /Spectra-Physics, Lambda Physik GCR-250, Scanmate OPPO レーザー棟 102
山中
エキシマー励起色素レーザー/Coherent, Lambda Physik Compex Pro 110, LPD3002 レーザー棟 103
山中
フッ素系エキシマーレーザー /Lambda Physik Compex 110F レーザー棟 105
山中
Nd:YAG 励起 OPO レーザー /Spectra-Physics, Lambda Physik GCR-250, Scanmate OPPO レーザー棟 102
山中⑮ 蛍光分光光度計
フッ素系エキシマーレーザー /Lambda Physik Compex 110F レーザー棟 105
山中
HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
南実験棟 105上田⑮ 蛍光分光光度計⑯ 円二色性分散計
南実験棟 105上田
JASCO J-720WI
山手 4 号館 101
水川⑯ 円二色性分散計⑰ 可視紫外分光光度計
山手 4 号館 101
牧田
Hitachi U-3500
南実験棟 105上田⑰ 可視紫外分光光度計⑱ フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
南実験棟 105
上田
Bruker IFS 66v/S
南実験棟 105
賣市⑱ フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計⑲ 顕微ラマン分光装置
Bruker IFS 66v/S
南実験棟 105
賣市
RENISHAW inVia Reflex
南実験棟 105
賣市⑲ 顕微ラマン分光装置⑳ 超伝導磁石付希釈冷凍機
RENISHAW inVia Reﬂex
南実験棟 105
賣市
所内 Oxford Kelvinox 400
極低温棟 004
高山⑳ 超伝導磁石付希釈冷凍機㉑ 低温冷媒の供給設備
所内 Oxford Kelvinox 400
極低温棟 004
高山
所内 明大寺地区極低温施設㉑ 低温冷媒の供給設備
ヘリウム液化システム
極低温棟 104
高山
所内 明大寺地区極低温施設
液体ヘリウム自動供給装置
極低温棟 105高山
ヘリウム液化システム
極低温棟 104
高山
液体ヘリウム貯槽
極低温棟 105
高山
液体ヘリウム自動供給装置
極低温棟 105高山
液体窒素自動供給装置
化学試料棟前渡り廊下
高山
液体ヘリウム貯槽
極低温棟 105
高山
ヘリウム回収ライン
各実験室
高山
液体窒素自動供給装置
高山
化学試料棟前渡り廊下
所内 山手地区極低温施設
ヘリウム回収ライン
各実験室
高山
全自動ヘリウム液化機
山手４号館
水川
所内

所内

山手地区極低温施設
液体ヘリウム貯槽
全自動ヘリウム液化機
液体窒素貯槽
液体ヘリウム貯槽
液体窒素自動供給装置
液体窒素貯槽ヘリウム回収ライン

山手４号館
山手４号館
山手４号館

山手４号館
山手４号館
209
山手４号館
各実験室

水川
水川
水川

水川
水川
水川
水川

液体窒素自動供給装置

山手４号館 209

水川

ヘリウム回収ライン

各実験室

水川

※設備のある場所については、次ページの施設マップをご参照ください。①～㉑が対応しています。
※設備のある場所については、次ページの施設マップをご参照ください。 ①〜㉑が対応しています。
機器センターたより

5４．施設マップ
施設マップ

䛆䚷᫂኱ᑎᆅ༊䚷䛇【 明大寺地区 】

タഛ䛾䛒䜛ᘓ≀設備のある建物
ᐇ㦂Ჷ
実験棟

Ώ䜚ᗯୗ
渡り廊下

◊✲Ჷ
研究棟

ṇ㠃⋞㛵
正面玄関

ụ
池

㻺
N
Ᏺ⾨ᡤ
守衛所
䠄㆙ഛဨᐊ䠅
（警備員室）

ṇ㛛
正門

䠘㻞㻌㝵䠚
＜2 階＞
䚷䚷䐤㟁Ꮚศග⿦⨨⑥電子分光装置

㣗ᇽ䞉⏕༠
食堂・生協

䠘㻝㻌㝵䠚
＜1 階＞
䚷䚷䞡ᾮయ䝦䝸䜴䝮䚸ᾮయ❅⣲㉑液体ヘリウム、液体窒素

䠘ᆅ㝵䠚
＜地階＞
䚷䚷䐥㉮ᰝ㟁Ꮚ㢧ᚤ㙾䠄㻿㻱㻹䠅⑦走査電子顕微鏡（SEM）
䚷䚷䐫䝢䝁⛊䝺䞊䝄䞊⑬ピコ秒レーザー䠘ᆅ㝵䠚
＜地階＞䚷䚷䐟㟁Ꮚ䝇䝢䞁ඹ㬆䠄㻱㻿㻾䠅⿦⨨①電子スピン共鳴（ESR）装置
䚷䚷䐠㻿㻽㼁㻵㻰ᆺ☢໬ᐃ⿦⨨②SQUID型磁化測定装置
䚷䚷䐦⇕ศᯒ⿦⨨⑳希釈冷凍機䚷䚷䚷䚷㻌㼀㻭㻌㻵㼚㼟㼠㼞㼡㼙㼑㼚㼠㼟䚷䚷䐲ᕼ㔘෭෾ᶵ

極低温棟

䠘㻝㻌㝵䠚
＜1 階＞
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑫核磁気共鳴（NMR）装置

䠄ᅗ᭩㤋䠅
（図書館）

஦ົ
事務
䝉䞁䝍䞊Ჷ
センター棟
㻔ィ⟬⛉Ꮫ◊✲(計算科学研究㻌㻌㻌㻌㻌㻌䝉䞁䝍䞊Ჷ㻕
センター棟)

ụ池ᶵჾ䝉䞁䝍䞊᪋タ஦ົᐊ䠄㻟㝵㻟㻝㻞ᐊ䠅

◊✲Ჷ
研究棟

＜1 階＞
⑪蛍光X線分析装置
䠘㻝㻌㝵䠚⑮蛍光分光光度計䚷䚷䐩⺯ග㼄⥺ศᯒ⿦⨨⑰可視紫外分光光度計
䚷䚷䐭⺯ගศගගᗘィ⑱フーリエ変換䚷䚷䐯ྍど⣸እศගගᗘィ
赤外（FTIR）分光光度計
䚷䚷䐰䝣䞊䝸䜶ኚ᥮⑲顕微ラマン分光装置
䚷䚷䚷㻌㉥እ䠄㻲㼀㻵㻾䠅ศගගᗘィ䚷䚷䐱㢧ᚤ䝷䝬䞁ศග⿦⨨＜地階＞③単結晶X線回折装置
䠘ᆅ㝵䠚
⑤X線溶液散乱測定装置
䚷䚷䐡༢⤖ᬗ㼄⥺ᅇᢡ⿦⨨䚷䚷䐣㼄⥺⁐ᾮᩓ஘ ᐃ⿦⨨

6

機器センターたより䠄⿦⨨（装置
㻌㻌㛤ⓎᲷ䠅
開発棟）

䝺䞊䝄
レーザ
㻌㻌㻌䞊Ჷ
ー棟

南実験棟

ᶵჾ䝉䞁䝍䞊
機器センターᢏ⾡⫋ဨᐊ
施設事務室䠄㻝㝵㻝㻜㻝ᐊ䠅
技術職員室（1階101室）

໬ᏛヨᩱᲷ๓
化学試料棟前䚷䚷䚷㻌Ώ䜚ᗯୗ
渡り廊下
䠘㻞㻌㝵䠚
＜2 階＞
䚷䚷䞡ᾮయ❅⣲
㉑液体窒素

実験棟

ṇ㠃⋞㛵
正面玄関

᥍ᐊ
控室
䠄㻞㝵㻞㻜㻞ᐊ䠅
（2階202室）

䠘㻝㻌㝵䠚
＜1 階＞

䠄໬Ꮫ
（化学
⑭ナノ秒レーザー㻌㻌ヨᩱᲷ䠅
試料棟） 䚷䚷䐬䝘䝜⛊䝺䞊䝄䞊䠄ᴟ➃⣸እග
（極端紫外光㻌㻌㻌㻌㻌㻌㻌㻌ᐇ㦂Ჷ䠅
実験棟）

ᮾ㛛
東門
᥍ᐊ
控室
䠄㻝㝵㻝㻝㻟ᐊ䠅
（1階113室）

４．施設マップ【䛆䚷ᒣᡭᆅ༊䚷䛇
山手地区 】
㻟ྕ㤋
3号館

䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑫核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻥㻞㻜
JNM-ECA600
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻢㻜㻜

㻠ྕ㤋
4号館
㻡ྕ㤋
5号館

NIBB
IBBP
センター

㻡ྕ㤋
5号館

控室
（1階）

䠘㻞㻌㝵䠚
＜2
階＞
䚷䚷䞡ᾮయ䝦䝸䜴䝮䚸ᾮయ❅⣲㉑液体ヘリウム、液体窒素
䠘㻝㻌㝵䠚
＜1
階＞
䚷䚷䐥㉮ᰝ㟁Ꮚ㢧ᚤ㙾䠄㻿㻱㻹䠅⑦走査電子顕微鏡（SEM）
䚷䚷䐥㞟᮰䜲䜸䞁䝡䞊䝮ຍᕤᶵ䠄㻲㻵㻮䠅⑦集束イオンビーム加工機（FIB）
䚷䚷䐦⇕ศᯒ⿦⨨⑧熱分析装置䚷䚷䚷䚷㻌㻹㼕㼏㼞㼛㻯㼍㼘㻌㼂㻼㻙㻰㻿㻯
MicroCal VP-DSC
䚷䚷䚷䚷㻌㻹㼕㼏㼞㼛㻯㼍㼘㻌㼕㼀㻯㻞㻜㻜
MicroCal iTC200
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑫核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䚷䚷㻌㻭㼂㻭㻺㻯㻱㻤㻜㻜
AVANCE800
䚷䚷䐮෇஧Ⰽᛶศᩓィ⑯円二色性分散計

㻠ྕ㤋
4号館

ṇ㛛
正門
㻟ྕ㤋
3号館
䠘㻝㻌㝵䠚
＜1
階＞
䚷䚷䐢⢊ᮎ㼄⥺ᅇᢡ⿦⨨④粉末X線回折装置

䠘㻠㻌㝵䠚
＜4
階＞
䚷䚷䐧㉁㔞ศᯒィ⑨質量分析計䚷䚷䐨ඖ⣲ศᯒ⿦⨨⑩元素分析装置
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑫核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻠㻜㻜
JNM-ECA400

⋞㛵
玄関

䠄㻞ྕ㤋䠅
（2号館）

㻞ྕ㤋
2号館

䠄㻝ྕ㤋䠅
（1号館）

ᮾ㛛
東門

⋞㛵
玄関

Ᏺ⾨ᡤ
守衛所

【䛆䚷᫂኱ᑎ䠉ᒣᡭ䝬䝑䝥䚷䛇
明大寺－山手マップ 】

1㻝

ᕝ
எ川
乙

ᮾ岡
東
ᒸ崎
ᓮ駅
㥐
䝃䞊䜽䝹㻷
サークルK

୕ᓥ䝻䝑䝆
三島ロッジ

ṇ㛛
正門
㻠㻤㻟
483

㻺
N

ᒸᓮ䝁䞁䝣䜯
岡崎コンファ
䝺䞁䝇䝉䞁䝍䞊
レンスセンター

᫂኱ᑎᆅ༊
明大寺地区

ᮾ㛛
東門

ᒣᡭᆅ༊
山手地区
᫂኱ᑎ䝻䝑䝆
明大寺ロッジ
ṇ㛛
正門
䝻䞊䝋䞁
ローソン

ᮾ㛛
東門

㊥㞳䠖⣙㻌㻤㻜㻜㻌㼙
距離：約
800 m

機器センターたより

7５．事業紹介

大学連携研究設備ネットワーク
1.
概要
１．概要
大学連携研究設備ネットワークは、全国72の国の大学連携研究設備ネットワークは、全国 72
国立大学と分子科学研究所（以下、参画機関）
立大学と分子科学研究所（以下、参画大学）の所有

大学連携研究設備
ネットワークの所有する研究設備を相互に利用することで設する研究設備を相互に利用することで設備の有効備の有効活用をはかり、同時に新たな共同研究を
活用をはかり、同時に新たな共同研究を促すこと
促すことを目的とした事業です。国立大学は12を目的とした事業です。国立大学は 12 の地域に全国に張り巡らされたネットワークの地域に分けられ、拠点校に地域事務局が、分分けられ、拠点校に地域事務局が、分子科学研究所
子科学研究所に全国事務局が設置されています。
に全国事務局が設置されています。
前身は平成 1919 年度から開始された年度から開始された「化学系研「化学系研究究設備有効活用ネットワーク」で、“他大学の設備を使いに行く”、“サンプルを送って測定しても国立大学等の研究設備を有効活用

らう”という利用形態に馴染みやすい化学系分野という利用形態に馴染みやすい化学系分野で各大で各大学の教職員や機器分析センター等が中心と学の教職員や機器分析センター等が中心となってなってスタートしました。
その後、
22 年度より、スタートしました。その後、
平成平成
22 年度より、•対象分野を化学系に限定しない•

公私立大学や企業等からの利用も可能とする

図・1・大学連携研究設備ネットワーク
図1 大学連携研究設備ネットワークなどの変更を加え、「大学連携研究設備ネットワーク」（以下、「設備ネットワーク」）と改称して現などの変更を加え、「大学連携研究設備ネットワーク」（以下、「設備ネットワーク」）と改称して在に至っています。
現在に至っています。
2.
予約・課金システム
２．予約・課金システム
インターネットを利用した予約・課金システムを構築されて、全国の参画機関から相互利用に供さ
インターネットを利用した予約・課金システムを構築されて、全国の参画大学から相互利用に供された設備が登録されています。このシステムの管理・運用は全国事務局が行っています。利用者はWeb ブラウザを使ってシステムにアクセスし、図 2 のフローに従って設備を利用することができます。
2.
1 利用者登録
２．１
利用者登録
研究室登録を申請すると、研究室責任者のアカウント（ID・パスワード）が発行されます。研究室責任者がシステムにログインし、所属メンバーを登録することで、各利用者のアカウントが発行され利用可能となります。
2.
2 利用形態
２．２
利用形態
利用者自らが測定を行う「相互利用」、利用者の依頼により設備管理者が行う「依頼測定」の 2 つ
利用者自らが測定を行う「相互利用」、利用者の依頼により設備管理者が行う「依頼測定」の2つの利用形態があります。

図・2・設備利用のフロー
図 2 設備利用のフロー
8

機器センターたより

５．事業紹介
２．３

利用料金

２．３
利用料金
設備ごとに料金体系が設定されています。参画大学間の利用料金は、四半期毎に大学単位で相殺処
設備ごとに料金体系が設定されています。参画機関間の利用料金は、四半期毎に機関単位で相殺処理が行われ、各大学が使用した料金（支払い）と提供した設備の料金（収入）の差額のみを地域事務理が行われ、各機関が使用した料金（支払い）と提供した設備の料金（収入）の差額のみを地域事務局とやり取りします。その後の機関内の取扱い、および学内利用の利用料金の取扱いは、所属機関の局とやり取りします。その後の機関内の取扱い、および機関内利用の利用料金の取扱いは、所属機関担当部門にお問い合わせ下さい。
の担当部門にお問い合わせ下さい。
※

公私立大・民間企業等の方※ 設備ネットワークへの改称後、参画大学以外の公私立大・民間企業等からの参加も可能となりまし
公私立大・民間企業等の方
設備ネットワークへの改称後、参画機関以外の公私立大・民間企業等からの参加も可能となりました。これは予約・課金システムへの利用者登録を可能としたもので、既存の参画機関とは異なり、以た。これは予約・課金システムへの利用者登録を可能としたもので、既存の参画機関とは異なり、以下のような制限があります。
下のような制限があります。
•

設備の提供や登録はできない•

利用できない設備もある（参画機関の判断による）• 利用料金の相殺処理は行われないので、直接機関間で処理を行う
利用希望される設備がある場合は、まず提供機関・設備管理者に直接お問い合わせ願います。なお利用希望される設備がある場合は、まず提供機関・設備管理者に直接お問い合わせ願います。なお大学・企業全体としての登録が難しい場合は、学部・研究所単位等でも受け付けておりますので、下大学・企業全体としての登録が難しい場合は、学部・研究所単位等でも受け付けておりますので、下記お問い合わせまでご連絡ください。
記お問い合わせまでご連絡ください。
３．登録設備
3. 平成19年5月、登録機器119台で予約システムを稼働開始しましたが、平成28年6月現在、紹介のみ
登録設備
平成 19 年 5 月、登録設備 119 台で予約システムを稼働開始しましたが、平成 29 年 6 月現在、紹介の設備（下記参照）を含めると1500台以上が登録されています。
のみの設備（下記参照）を含めると1700 台以上が登録されています。
平成23年度より、文部科学省の設備サポートセンター事業が開始され、学内設備を全学的に利用で
平成 23 年度より、文部科学省の設備サポートセンター事業が開始され、学内設備を全学的に利用きる体制を整えるにあたり、設備ネットワークの予約・課金システムを利用される例が多く、設備のできる体制を整えるにあたり、設備ネットワークの予約・課金システムを利用される例が多く、設備登録台数も年々増加しています。また平成28年度より、全国の国立大学の協力のもと、紹介のみの設の登録台数も年々増加しています。また平成
28 年度より、全国の国立大学の協力のもと、紹介のみ
備が登録されました。これらは当システムでの運用はされないものの外部公開されている設備で、全の設備が登録されました。
これらは当システムでの運用はされないものの外部公開されている設備で、国の研究者に広く紹介する目的で登録されたものです。設備ネットワークホームページの「設備一全国の研究者に広く紹介する目的で登録されたものです。設備ネットワークホームページの「設備一覧」ページからこれらの設備も検索でき、利用したい場合には記載の連絡先にお問い合わせ下さい。
覧」ページからこれらの設備も検索でき、利用したい場合には記載の連絡先にお問い合わせ下さい。
化学系でスタートした為、登録設備は化学関係が多いですが、最近では生物、農学、医学等の分野
化学系でスタートした為、登録設備は化学関係が多いですが、最近では生物、農学、医学等の分野からも登録があります。一度当ホームページをご覧いただければと思います。
からも登録があります。一度当ホームページをご覧いただければと思います。
４．お問い合わせ先
4.

お問い合わせ先•

ホームページ⇒

https://chem-eqnet.ims.ac.jp

•

全国事務局

⇒

大学共同利用機関法人
自然科学研究機構 分子科学研究所
大学連携研究設備ネットワーク全国事務局
大学連携研究設備ネットワーク事務局〒444-8585 岡崎市明大寺町字西郷中38〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中
TEL：0564-55-7490
FAX：0564-55-7448 38
TEL：0564-55-7490
E -m a il： e q ne t- i n q @iFAX：0564-55-7448
m s .a c.j p
E-mail：eqnet-inq@ims.ac.jp

機器センターたより

9

５．事業紹介

ナノテクノロジープラットフォーム
１．概要
１.
1 ナノテクノロジープラットフォーム
１．１
ナノテクノロジープラットフォーム
平成
24 年度から開始された「文部科学平成24年度から開始された「文部科学省
省ナノテクノロジープラットフォーム事
ナノテクノロジープラットフォーム事業」
業」は、ナノテクノロジーに関する最先端
は、ナノテクノロジーに関する最先端の研の研究設備とその活用のノウハウを有する究設備とその活用のノウハウを有する機関
機関が緊密に連携して、全国的な設備の共が緊密に連携して、全国的な設備の共用体用体制を共同で構築するものです。ナノテ
制を共同で構築するものです。ナノテクノ
クノロジー関連科学技術において基本とな
ロジー関連科学技術において基本となる3る
3 つのプラットフォーム（微細構造解析、つのプラットフォーム（微細構造解析、微微細加工、分子・物質合成）から構成され
細加工、分子・物質合成）から構成されてており、分子科学研究所は、分子・物質合
おり、分子科学研究所は、分子・物質合成
成プラットフォームの代表機関・実施機関
プラットフォームの代表機関・実施機関ととして参加しています。
して参加しています。

図・1・ナノテクノロジープラットフォーム参画機関
図１

ナノテクノロジープラットフォーム参画機関

１.
2 分子・物質合成プラットフォーム
１．２
分子・物質合成プラットフォーム
分子・物質合成プラットフォームは、全国
11 の実施機関が最先端の研究設備と合成・評価計測の
分子・物質合成プラットフォームは、全国11の実施機関が最先端の研究設備と合成・評価計測のノノウハウを提供しています。支援内容は非常に多岐に渡り、物理・化学・バイオの分野を網羅していウハウを提供しています。支援内容は非常に多岐に渡り、物理・化学・バイオの分野を網羅していまます。実施機関それぞれの強みのある分野を持ち、「ものづくり・合成」から「分析・評価」まで総す。実施機関それぞれの強みのある分野を持ち、「ものづくり・合成」から「分析・評価」まで総合
合的な支援に対応しています。ユーザーも大学・高専・公的研究機関だけでなく、大企業から中小企的な支援に対応しています。ユーザーも大学・高専・公的研究機関だけでなく、大企業から中小企業業まで幅広くの方に利用されています。
まで幅広くの方に利用されています。
２.
支援内容
２．支援内容「ものづくり・合成」支援では、ナノ材料・カーボン材料・薄膜の作製、無機・有機化学合成、「ものづくり・合成」支援では、ナノ材料・カーボン材料・薄膜の作製、無機・有機化学合成、
DNA
増幅や細胞培養などを行うことができます。
DNA増幅や細胞培養などを行うことができます。
「分析・評価」支援では、【試料観察】電子顕微鏡（TEM、SEM）、走査プローブ顕微鏡（SPM）、「分析・評価」支援では、【試料観察】電子顕微鏡（TEM、SEM）、走査プローブ顕微鏡
光学顕微鏡、【表面分析】光電子分光装置（XPS、UPS）、電子プローブマイクロアナライザー（EPMA）、（SPM）、光学顕微鏡、【表面分析】光電子分光装置（XPS、UPS）、電子プローブマイクロアナ【構造解析】X
線回折装置（XRD）、核磁気共鳴装置（NMR）、【分析】分光光度計、質量分析装置、
ライザー（EPMA）、【構造解析】X線回折装置（XRD）、核磁気共鳴装置（NMR）、【分析】クロマト装置、【物性測定】超伝導量子干渉計（SQUID）、電子スピン共鳴装置（ESR）、熱分析（TG、
分光光度計、質量分析装置、クロマト装置、【物性測定】超伝導量子干渉計（SQUID）、電子スピ
DSC）、【バイオ評価】DNA シーケンサー、レーザースキャナー、表面プラズモン解析装置、リアル
ン共鳴装置（ESR）、熱分析（TG、DSC）、【バイオ評価】DNAシーケンサー、レーザースキャ
タイム
PCR、チップ電気泳動など、幅広い設備を取り揃えています。
ナー、表面プラズモン解析装置、リアルタイムPCR、チップ電気泳動など、幅広い設備を取り揃えて分子科学研究所では、機器センター所外公開設備に加え、放射光施設 UVSOR を用いた X 線磁気います。
円二色性（XMCD）、走査型透過軟 X 線顕微鏡（STXM）の他では実施できない支援、太陽電池・有分子科学研究所では、機器センター所外公開設備に加え、放射光施設UVSORを用いたX線磁気円機
FET・金属錯体などの設計・合成・評価を行う機能性分子システム創製支援も行っています。詳
二色性（XMCD）、走査型透過軟X線顕微鏡（STXM）の他では実施できない支援、太陽電池・有機
細は、ホームページ（http://nanoims.ims.ac.jp/ims/）をご覧下さい。
FET・金属錯体などの設計・合成・評価を行う機能性分子システム創製支援も行っています。詳細は、ホームページ（http://nanoims.ims.ac.jp/ims/）をご覧下さい。

10

機器センターたより

５．事業紹介３.

利用形態

ユーザー自身が測定を行う「機器利用」、
３．利用形態
ユーザーから持ち込まれた試料を実施機関
ユーザー自身が測定を行う「機器利の技術支援者が測定する「技術代行」、実用」、ユーザーから持ち込まれた試料を実験から考察までの一連の支援を行う「共同施機関の技術支援者が測定する「技術代研究」、
研究のアドバイスを行う「技術相談」
行」、実験から考察までの一連の支援を行を設けています。これまでの利用実績から、
う「共同研究」、研究のアドバイスを行う
本プラットフォームの特徴として、「共同「技術相談」を設けています。これまでの研究」での利用が多いことが挙げられます。
利用実績から、本プラットフォームの特徴
これは、物質・材料の研究開発では、単なとして、「共同研究」での利用が多いこと
る設備の利用に留まらず、実施機関の教員が挙げられます。これは、物質・材料の研や技術支援者とのデータ解析や議論といっ究開発では、単なる設備の利用に留まら

図２ 機能性材料バンド構造顕微分析システム
機能性材料バンド構造顕微分析システム
図・2

た連携・協力が必要不可欠であることを意ず、実施機関の教員や技術支援者とのデー
味し、利用者からも継続的に利用されていタ解析や議論といった連携・協力が必要不ます。利用料金体系は、各機関で異なりま可欠であることを意味し、利用者からもすが、5000 円 / 日（大学）、10000 円 / 日（企継続的に利用されています。利用料金体
業）程度の料金で機器利用が可能となって系は、各機関で異なりますが、5000円/日
います（分子科学研究所は大学等の非営利（大学）、10000円/日（企業）程度の料金
団体の利用は無料）。また長期的な研究・で機器利用が可能となっています（分子科
開発に対して利用料金の負担が少なくなる学研究所は大学等の非営利団体の利用は無ように、期間を四半期や半年に定めた共同料）。また長期的な研究・開発に対して利研究型の設定や、月間・年間利用向けの料
用料金の負担が少なくなるように、期間を

図３ X
X線溶液散乱計測システム
図・3
線溶液散乱計測システム

金設定も用意している機関もあります。
四半期や半年に定めた共同研究型の設定
や、月間・年間利用向けの料金設定も用意
４.
お問い合わせ先している機関もあります。
• ナノテクノロジープラットフォーム
ホームページ ⇒４．お問い合わせ先

http://nanonet.mext.go.jp• 分子・物質合成プラットフォーム
ホームページ
ホームページ ⇒⇒ http://mms-platform.com
http://nanonet.mext.go.jp• 分子科学研究所

分子・物質合成プラットフォーム

ホームページ
ホームページ ⇒⇒ http://nanoims.ims.ac.jp/ims/
http://mms-platform.com
事務室⇒

自然科学研究機構

分子科学研究所

ホームページ⇒ 機器センター（ナノプラット）事務室
http://nanoims.ims.ac.jp/ims/

事務室444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38⇒ 〒自然科学研究機構
分子科学研究所
ナノプラット事務室
機器センター（ナノプラット）事務室
TEL：0564-55-7337
FAX：0564-55-7448
岡崎市明大寺町字西郷中38
E-mail：nano-office@ims.ac.jp
担当：中川 信代E -m a il： n a n o - o ﬃce @i m s .a c.j p

機器センターたより

11６．センターの利用方法

設備利用方法
設備利用方法１.
概要
１．概要
機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、それら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
れら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
２.
申込資格・支援内容
２．申込資格・支援内容
以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を利用することができます。
• 国立・公立大学法人（高等専門学校を含む）• 私立大学法人（〃）• 国・公立研究所（独立行政法人を含む）等• 所長が上記研究者と同等の研究能力を有すると認められた者• 民間企業
不正防止のための確認として、申請には以下の誓約が必須となります。詳細はホームページにてご設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用で確認ください。
きる内容は設備によって異なります。
データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。

提案代表者ならびに本提案における利用者全員は、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム事業」

利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
における共用設備の利用等にあたり、実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。
①「研究活動における不正行為への対応等に関するガイドライン」

研究所スタッフと実験・測定について検討します。
平成 26 年８月 26 日文部科学大臣決定

・②「大学共同利用機関法人自然科学研究機構研究活動上の不正行為を防止するための基本方針」
・
３．初めて利用される方

平成 20 年２月 28 日制定③「大学共同利用機関法人自然科学研究機構における研究活動上の不正行為への対応に関する規程」
当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内・容、利用希望日等をお問い合わせください。

平成 20 年２月 28 日

自機規程第 74 号

を理解し、これらのガイドライン・方針・規程、自身が所属する機関の規則、関連する法令などを遵守し、研究活動における特定不正行為（捏造、改ざん、盗用）、及びそれ以外の不正行為（不適切なオーサーシッ≪技術的な問い合わせ先≫

プ、二重投稿等）を行いません。また、実施に当たって、万一の傷害等の保障に関しては、申請者と申請者の所属機関においてすべての責任が負えることを誓約します。

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の 4 種類があります。ただし、利用で備担当者等から返信いたします。
きる内容は設備によって異なります。
• 協力研究・ データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。
４．利用方法• 施設利用・ 利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく• 技術代行・ 実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。
ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。
• 技術相談・ 研究所スタッフと実験・測定について検討します。

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機器センターたより６．センターの利用方法
４．１

所外利用者の利用方法（手順）３. 初めて利用される方⑴ 申請
当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内容、各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。
利用希望日等をお問い合わせください。
申請期間は以下の通りです。
≪技術的な問い合わせ先≫
TEL：0564-55-7470
利用期間

E-mail：ic-pub@ims.ac.jp
申込締切
採択通知メール

利用開始日

通年（4/1 〜翌 3/31）
前年度 12 月
前年度 3 月下旬
上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設
前期（4/1 〜 9/30）「採択通知書」発行後
備担当者等から返信いたします。
後期（10/1 〜翌 3/31）
当年度 6 月
9 月下旬
４.

利用方法

半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく
け付けます。ただし、この場合、採否通知メール送信は、前期利用：4月中旬以降、後期利
ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。
用：10月中旬以降で、かつ申請から約2週間後となります。
⑵ 採否の決定
採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択通知書を郵送いたします。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。
⑶ 来所計画各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）
事務室に連絡してください。
⑷ 設備予約
各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
⑸ 宿泊予約
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される
時は、ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。
⑹ 事務手続き
大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。
⑺ 来所⑻ 成果報告等の提出
年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。

機器センターたより

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６．センターの利用方法
４．１

所外利用者の利用方法（手順）

設備利用方法
（1）
・申請

１．概要
各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。

機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、そ申請期間は以下の通りです。

れら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させ•・通常申請ていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
利用期間
申込締切
採否通知メール
利用開始日
通年（4/1 ～翌 3/31）
２．申込資格・支援内容
前期（4/1 ～ 9/30）

前年度 12 月

前年度 3 月下旬「採択通知書」発行後（利用期間明記）

後期（10/1 ～翌 3/31）
当年度 6 月9 月下旬
以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を利用することができます。
•・随時申請・ 半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受け付けます。
ただし、この場合、採否通知メール送信は、申請から約 2 週間後となります。

（2）
・採否の決定採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択となりましたら「採択通知書」を郵送いたします。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。

設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用できる内容は設備によって異なります。
（3）
・来所計画
データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。
各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）事務室に利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
連絡してください。
実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。

研究所スタッフと実験・測定について検討します。
（4）
・設備予約
３．初めて利用される方各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内
容、利用希望日等をお問い合わせください。
（5）
・宿泊予約
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される時は、ロッ≪技術的な問い合わせ先≫
ジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。

（6）
・旅費手続き上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。

備担当者等から返信いたします。
（7）・来所
４．利用方法

所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく（8）・成果報告等の提出ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。
年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。

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機器センターたより６．センターの利用方法
４．
２ 所外利用者（大学・官公庁）の利用方法（詳細）４．１
所外利用者の利用方法（手順）
（1）
・申請
⑴ 申請

共同利用申請システム（https://imsapply.ims.ac.jp/apply/）よりアカウントを取得してください。

各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。
申請期間は以下の通りです。

設備によって申請メニューが異なります。設備に対応した申請メニューを選択してください。
申請メニュー

利用期間
申込締切
採択通知メール• 協力研究（ナノテクノロジープラットフォーム）

利用開始日

通年（4/1〜翌 3/31）• 機器センター施設利用（ナノテクノロジープラットフォーム）
前年度 12 月
前年度 3 月下旬
前期（4/1 〜 9/30）「採択通知書」発行後

申請完了後、登録アドレスに「登録完了メール」が届きます。添付されている「共同利用研究申込承諾
後期（10/1 〜翌 3/31）
当年度 6 月
9 月下旬
書」にご記入の上、送付願います。承諾書が届いて正式な申請となります。
放射線を発生する単結晶 X 線回折装置、粉末 X 線回折装置、X 線溶液散乱測定装置、蛍光 X 線分析装置を利用する方は、承諾書と併せて「放射線業務従事承認書」を送付願います。
半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受け付けます。ただし、この場合、採否通知メール送信は、前期利用：4月中旬以降、後期利用：10月中旬以降で、かつ申請から約2週間後となります。
※半期毎（前期：4/1～ 9/30、後期：10/1 ～翌 3/31）の申請は、随時申請としても受け付けておりますが、通年（4/1 ～翌 3/31）の申請は、通常申請として前年度 12 月の締め切りとなります。

⑵ 採否の決定≪承諾書送付先≫自然科学研究機構

岡崎統合事務センター

国際研究協力課共同利用係

採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択通知書を郵送いたします。
〒 444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中
38※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。
TEL：0564-55-7133

・E-mail：r7133@orion.ac.jp⑶ 来所計画各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）
事務室に連絡してください。
⑷ 設備予約
各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
⑸ 宿泊予約
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される
時は、ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。
アカウントを作成し⑹ 事務手続き
ログイン

大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。
⑺ 来所⑻ 成果報告等の提出いずれかを選択
各設備に対応する申請メニューを選択

年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。
共同利用申請システム（Web 申請）

機器センターたより

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６．センターの利用方法（2）
・採否の決定設備利用方法

採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択となりましたら「採択通知書」を郵送いたします。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。

１．概要

機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、そ
（3）
・来所計画
れら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成してください。下記フォーム（1 人 1 フォーム）
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させをご記入の上、機器センター（ナノプラット）事務室までメールにてご連絡ください。
ていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
[ 提案代表者 ]２．申込資格・支援内容[ 課題番号 ]以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を利用することができます。
【来所者 A】[ 氏名 ][ ふりがな ][ 所属 ][ 職名 ][ 来所日程 ]平成[ 旅費必要の有無 ]

年

月

有

日

～

平成

年

月

日（

泊

日）

無

[ 航空機利用の有無 ]有
無設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用で[ 宿泊状況 ]三島ロッジ
ホテル
きる内容は設備によって異なります。
[ ロッジネットワークアカウント]
必要
不必要
データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。

利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。

※学部学生の来所は、指導教員の同行が必要です。

実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。

※大学院生、および学部学生は、（財）日本国際教育支援協会「学生教育研究災害損害保険」および「学研究所スタッフと実験・測定について検討します。

研災付帯賠償責任保険」または同等以上の保険への加入が必要となります。
※「放射線業務従事承認書」が未提出の方は、来所 2 週間前までに送付願います。

３．初めて利用される方当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内≪送付先≫・・・自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター（ナノプラット）事務室

・・E-mail：nano-office@ims.ac.jp

容、利用希望日等をお問い合わせください。
・〒 444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38
TEL：0564-55-7337≪技術的な問い合わせ先≫（4）・設備の予約
各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設備担当者等から返信いたします。

※大学連携研究設備ネットワーク予約システム（http://chem-eqnet.ims.ac.jp）を利用する場合は、アカウントが必要となります（『大学連携研究設備ネットワーク利用方法』を参照）。

４．利用方法

所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく
ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。

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機器センターたより６．センターの利用方法
４．１ 所外利用者の利用方法（手順）
（5）
・宿泊予約
⑴宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される時は、ロッ
申請
ジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。周辺ホテルは、各自各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。
でご予約ください。
申請期間は以下の通りです。

※利用登録の際、『関係研究室』は・ [ 機器センター施設利用（「施設利用申込書」申請者）] を選択して
ください。
利用期間

申込締切

採択通知メール

利用開始日

通年（4/1 〜翌 3/31）※ロッジの鍵の受け取りは、宿泊初日の11：00 ～ 15：30 です。到着が 15：30 以降または土日祝日に
前年度 12 月
前年度 3 月下旬
前期（4/1〜 9/30）「採択通知書」発行後なる場合は、事前に機器センター（ナノプラット）事務室へご相談ください。

後期（10/1 〜翌 3/31） 15：00、チェックアウトは
当年度 6 月
9 月下旬
※ロッジのチェックインは
9：30
です。
（6）
・旅費手続き半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受採択された金額の範囲内において自然科学研究機構旅費支給規程により旅費を支給いたします。下記書
け付けます。ただし、この場合、採否通知メール送信は、前期利用：4月中旬以降、後期利類のうち、必要なものを機器センター（ナノプラット）事務室まで提出してください。事務処理円滑化の用：10月中旬以降で、かつ申請から約2週間後となります。
ため、早期提出をお願いします。また、日程等変更が生じた場合は速やかにお知らせください。

⑵旅費は来所後に支払い手続きを行い、登録いただいた銀行口座に振り込みいたします。口座登録の手続
採否の決定

きは約 1 週間、振り込みまでの所要日数は手続き後、約 1 ヶ月かかります。

採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択通知書を郵送いたします。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。

下記書類は、ホームページからダウンロードできます。

提出書類提出が必要な方⑶ 来所計画
銀行振込口座登録依頼書
旅費請求される方各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）（新規・変更があるごと、電子メールにて提出）
事務室に連絡してください。
旅費請求される大学院生の方（来所ごと、2 週間前
大学院生派遣依頼書までに提出）⑷ 設備予約
学部学生等の派遣について旅費申請される学部学生の方（来所ごと、2 週間前
各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
までに提出）
航空機利用の領収書（原本）⑸ 宿泊予約

航空機利用の方※航空機金額確認のため、領収書または領収金額を、事前にご連絡頂けます様、お願い致します。
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される※お二人以上で購入した場合、購入内容のわかるもの
搭乗券（往・復分半券 原本）を添付して下さい。
時は、ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。

旅費請求される方全員※提出日の日付は、来所後の日付（平日）を記載⑹ 事務手続きしてください。
大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。
出張報告書≪送付先≫・・ 自然科学研究機構

⑺ 来所

・

〒 444-8585

分子科学研究所

機器センター（ナノプラット）事務室

愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38

・

TEL：0564-55-7337 ・E-mail：nano-office@ims.ac.jp⑻ 成果報告等の提出

年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。

機器センターたより

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６．センターの利用方法（7）
・来所

設備利用方法• 来所当日、守衛所で身分証明書を提示後、ネームプレートの交付を受け着用してください。

• 施設利用者控室に置かれている来所記録簿に、来所計画を記入してください。
１．概要• ロッジを予約された方は、宿泊初日 11：00・ ～・ 15：30 までの間に、国際研究協力課共同利用
機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、そ係（事務センター棟 3 階）に来訪し、ロッジの鍵の受け取りと宿泊料金の支払いを済ませてれら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
ください。ロッジチェックアウト後、鍵は返却ボックスへお返しください。
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させ• 旅費申請に必要な書類の提出がある方は、機器センター（ナノプラット）事務室（南実験棟 1ていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
階 S101 号室）までお越しください。
• 時間外（平日 8：30・～・17：30 以外）に山手地区を利用される方は、設備担当者または機器セ
２．申込資格・支援内容
ンター（ナノプラット）事務室に申し出てください。
•・設備利用終了後は、各設備に置かれている使用ノート等に必要事項を記入の上、必ず設備担以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を当者に測定が終了した旨を報告してください。
利用することができます。

（8）
・成果報告等の提出
年度末に文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成していただくこととなっております。
年度末が近付きましたら、申請代表者の方へご連絡させていただきます。なお、協力研究で申請の場合は、所内担当教員へ確認の上、連絡いたします。

設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用で※成果公開を見合わせる必要がある場合は、成果公開を猶予することが可能です。事前に公開猶予とす

きる内容は設備によって異なります。
る理由を機器センター（ナノプラット）事務室へご連絡ください。なお、猶予期間は 2 年間です。公
データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。
開猶予でも利用報告書等は提出して頂きます。提出は頂きますが、公開となるのは、公開猶予終了後利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
となりますので、ご承知おきください。
実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。
研究所スタッフと実験・測定について検討します。
３．初めて利用される方当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内
容、利用希望日等をお問い合わせください。
≪技術的な問い合わせ先≫

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設備担当者等から返信いたします。
４．利用方法
所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく
ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。

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機器センターたより６．センターの利用方法
４．３
４．１ 所外利用者（民間企業）の利用方法（詳細）
所外利用者の利用方法（手順）
（1）
・ 申請

⑴ 申請

民間企業の方は、「機器センター装置利用申請書」を送付願います。各書類のダウンロードおよび利用

各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。
申請期間は以下の通りです。

手順は、ホームページ（http://nanoims.ims.ac.jp/ims/utilization_02.html）にてご確認ください。

申請には、成果公開型と成果非公開型の 2 種類があります。いずれも有償利用となります。設備使用料は、
機器センター（ナノプラット）事務室までお問い合わせください。

利用期間

申込締切

採択通知メール

利用開始日•・ 成果公開型
通年（4/1〜翌 3/31）

前年度 12 月
前年度 3 月下旬
（研究目的と実施計画を
A4 縦 1 枚（2 ページ）を申請書に添付していただきます。
）
前期（4/1〜 9/30）「採択通知書」発行後•・ 成果非公開型
後期（10/1〜翌 3/31）

当年度 6 月

9 月下旬

放射線を発生する単結晶 X 線回折装置、粉末 X 線回折装置、X 線溶液散乱測定装置、蛍光 X 線分析装

半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受置を利用する方は、「放射線業務従事承認書」を送付願います。

け付けます。ただし、この場合、採否通知メール送信は、前期利用：4月中旬以降、後期利用：10月中旬以降で、かつ申請から約2週間後となります。

※半期毎（前期：4/1 ～ 9/30、後期：10/1 ～翌 3/31）の申請は、随時申請としても受け付けておりますが、通年（4/1 ～翌 3/31）の申請は、通常申請として前年度 12 月の締め切りとなります。

⑵※採択後、実際に利用できるまで手続きに採否の決定
2 ヶ月ほど要しますので予めご了承ください。

採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択通知書を郵送いたします。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。

≪送付先≫・・ 自然科学研究機構
・〒 444-8585

分子科学研究所

機器センター（ナノプラット）事務室

愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38

・⑶ 来所計画TEL：0564-55-7337 ・E-mail：nano-office@ims.ac.jp

各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）
事務室に連絡してください。
（2）
・採否の決定採否通知は、登録メールへご連絡の上、「採択通知書」を郵送いたします。

⑷ 設備予約※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。

各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。

（3）
・来所計画
⑸ 宿泊予約各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成してください。下記フォーム（1 人 1 フォーム）
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望されるをご記入の上、機器センター（ナノプラット）事務室までメールにてご連絡ください。

時は、ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。

[ 提案代表者 ][ 課題番号 ]⑹ 事務手続き

大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。
【来所者
A】[ 氏名 ][ ふりがな ]⑺ 来所[ 所属 ][ 職名 ]⑻ 成果報告等の提出[ 来所日程 ]平成 年 月 日 ～ 平成 年 月 日（ 泊 日）
[年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。
旅費必要の有無 ]有
無[ 航空機利用の有無 ]有無機器センターたより

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６．センターの利用方法[ 宿泊状況 ]

三島ロッジ

ホテル

設備利用方法[ ロッジネットワークアカウント ]

必要

不必要

※「放射線業務従事承認書」が未提出の方は、来所 2 週間前までに送付願います。

１．概要

機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、そ≪送付先≫・
自然科学研究機構 分子科学研究所 機器センター（ナノプラット）事務室
・〒 444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38
れら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
・
TEL：0564-55-7337 ・E-mail：nano-office@ims.ac.jp
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
＜重要＞有償利用について
設備使用料は前納した上でご利用をお願い致します。

２．申込資格・支援内容
来所日程と時間について各設備担当者と打合せの上、利用開始日の 2 カ月前までに、「有償利用実施計
画書」と「略歴書」（来所者全員分）を、共同利用係までご提出ください。その後、弊所より請求書を郵
以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を送しますので、指定期日までに納付をお願い致します。なお、装置利用前の納入が難しい場合は後納も可
利用することができます。
能ですので、事前に共同利用係までご相談ください。
※有償利用実施計画書は利用の都度、ご提出ください。
※既納の使用料はやむを得ない事由に該当する場合を除き、返納致しかねますのでご留意ください。
※日時の変更に伴う、使用料の追加が発生した場合は、すみやかに共同利用係までご連絡をお願い致します。

設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用で提出書類きる内容は設備によって異なります。

提出が必要な方

データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。
有償利用実施計画書
利用の都度
略歴書

利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
来所者全員（フォームはありません。個人ごとにお名前、実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。
経歴等をご記入ください。）
研究所スタッフと実験・測定について検討します。

≪計画書・略歴書送付先≫・ 自然科学研究機構・岡崎統合事務センター・国際研究協力課共同利用係

３．初めて利用される方・〒 444-8585

愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38

・ 当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内
TEL：0564-55-7133 ・E-mail：r7133@orion.ac.jp

容、利用希望日等をお問い合わせください。
（4）・設備の予約≪技術的な問い合わせ先≫各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
※大学連携研究設備ネットワーク予約システム（http://chem-eqnet.ims.ac.jp）を利用する場合は、ア

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設カウントが必要となります（『大学連携研究設備ネットワーク利用方法』を参照）。成果非公開型の場

備担当者等から返信いたします。
合は、機器センター（ナノプラット）事務室までお問い合わせください。

４．利用方法（5）
・宿泊予約
所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく
宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される時は、ロッ

ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。

ジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。周辺ホテルは、各自でご予約ください。

1220

機器センターたより６．センターの利用方法
４．１
所外利用者の利用方法（手順）※利用登録の際、『関係研究室』は・ [ 機器センター施設利用（「施設利用申込書」申請者）] を選択して
ください。
⑴ 申請

※ロッジの鍵の受け取りは、宿泊初日の 11：00 ～ 15：30 です。到着が 15：30 以降または土日祝日に各所属する団体（大学・官公庁もしくは民間企業）に対応した申請を行ってください。
申請期間は以下の通りです。

なる場合は、事前に機器センター（ナノプラット）事務室へご相談ください。
※ロッジのチェックインは 15：00、チェックアウトは 9：30 です。

利用期間
（6）
・旅費手続き
通年（4/1 〜翌 3/31）

申込締切

民間企業の方は、旅費の手続きはありません。
前年度 12 月

前期（4/1 〜 9/30）

後期（10/1 〜翌 3/31）

当年度 6 月

採択通知メール
前年度 3 月下旬

利用開始日
「採択通知書」発行後

9 月下旬

（7）
・来所
•・来所当日、守衛所で身分証明書を提示後、ネームプレートの交付を受け着用してください。
半期利用（前期利用・後期利用）については、上表の通常申請とは別に、随時申請も受• 施設利用者控室に置かれている来所記録簿に、来所計画を記入してください。
け付けます。ただし、この場合、採否通知メール送信は、前期利用：4月中旬以降、後期利• ロッジを予約された方は、宿泊初日 11：00・ ～・ 15：30 までの間に、国際研究協力課共同利用
用：10月中旬以降で、かつ申請から約2週間後となります。
係（事務センター棟 3 階）に来訪し、ロッジの鍵の受け取りと宿泊料金の支払いを済ませてください。ロッジチェックアウト後、鍵は返却ボックスへお返しください。
⑵ 採否の決定• 時間外（平日 8：30・～・17：30 以外）に山手地区を利用される方は、設備担当者または機器セ
採否通知は、登録メールへご連絡の上、採択通知書を郵送いたします。
ンター（ナノプラット）事務室に申し出てください。
※採否通知メールは審査結果の通知であり、「採択通知書」が発行されるまで利用はできません。
• 利用終了後は、各設備に置かれている使用ノート等に必要事項を記入の上、必ず設備担当者に測定が終了した旨を報告してください。
⑶ 来所計画（8）・成果報告等の提出
各設備担当者と事前に十分打ち合わせて来所計画を作成し、機器センター（ナノプラット）
事務室に連絡してください。

成果公開型の場合は、年度末に文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成していただくこととなっております。年度末が近付きましたら、申請代表者の方へご連絡させていただきます。

⑷ 設備予約※成果公開を見合わせる必要がある場合は、成果公開を猶予することが可能です。事前に公開猶予とす
各設備の予約方法に従ってください。詳細は各設備担当者までお問い合わせください。
る理由を機器センター（ナノプラット）事務室へご連絡ください。なお、猶予期間は 2 年間です。公開猶予でも利用報告書等は提出して頂きます。提出は頂きますが、公開するのは公開猶予後となりま⑸ 宿泊予約

すので、ご承知おきください。

宿泊を伴う場合は、共同利用研究者宿泊施設を利用できます。宿泊施設の利用を希望される
時は、ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でご予約を行ってください。
⑹ 事務手続き
大学・官公庁の方は、旅費を支給することができます。必要な手続きを行ってください。
⑺ 来所⑻ 成果報告等の提出
年度末に、文部科学省提出の「利用報告書」と「業績リスト」を作成し提出してください。

機器センターたより

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21

６．センターの利用方法
５．お問い合わせ先

設備利用方法• 技術的なお問い合わせ⇒

自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター
TEL：・0564-55-7470

１．概要

E-mail：ic-pub@ims.ac.jp
機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、それら設備をナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて提供しております（一部設備は除く）。
• 申請・利用についてのお問い合わせ ⇒ 自然科学研究機構 分子科学研究所
所外利用者の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させ機器センター（ナノプラット）事務室ていただきます。また、共同利用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
〒 444-8585

愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38

TEL：0564-55-7337

２．申込資格・支援内容

FAX：0564-55-7448

E-mail：nano-office@ims.ac.jp
以下に所属する研究者（ただし、大学院博士課程後期在学中の者を含む）が、当センターの設備を• 各種案内、書類ダウンロード
利用することができます。

⇒

ナノテクノロジープラットフォーム
分子・物質合成プラットフォームホームページ
http://nanoims.ims.ac.jp/ims/⇒

機器センターホームページ
http://ic.ims.ac.jp・

設備の利用には、協力研究、施設利用、技術代行、技術相談の4種類があります。ただし、利用できる内容は設備によって異なります。
データ解析や学術的な議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行います。
利用者が設備を自ら操作、データ解析や学術的議論は利用者が独自に行います。
実験・測定を研究所スタッフに依頼して行います。
研究所スタッフと実験・測定について検討します。
３．初めて利用される方当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内
容、利用希望日等をお問い合わせください。
≪技術的な問い合わせ先≫

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設備担当者等から返信いたします。
４．利用方法
所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。利用については各設備担当者までお問い合わせく
ださい。所外利用者は所外利用者の利用方法を参照してください。

12
22

機器センターたより６．センターの利用方法

大学連携研究設備ネットワーク利用方法
１.
概要
１．概要
機器センターの設備は、大学連携研究設備ネットワーク（以下、設備ネットワーク）に登録されて機器センターの設備は、大学連携研究設備ネットワーク（以下、設備ネットワーク）に登録されており、予約も設備ネットワークの予約システムを通じて行っていただいております。ここでは、機器
おり、予約も設備ネットワークの予約システムを通じて行っていただいております。ここでは、機器センターの設備利用を前提とした利用方法について説明します。
（設備ネットワークの概要は、『事業センターの設備利用を前提とした利用方法について説明します。（設備ネットワークの概要は、『事紹介：大学連携研究設備ネットワーク』を参照。
）
業紹介：大学連携研究設備ネットワーク』を参照。）
２.
利用方法
２．利用方法２．１
２．１ ホームページ
ホームページ
設備ネットワークのホームページ（図1）は設備ネットワークのホームページ（図1）は以下の通りです。ここから予約システムにログ
以下の通りです。ここから予約システムにログインします。
インします。
http://chem-eqnet.ims.ac.jp/
http://chem-eqnet.ims.ac.jp/

２．２
２．２ アカウントアカウント
予約システムを利用するためにはアカウント
予約システムを利用するためにはアカウントが必要です。所属機関でアカウントを作成してが必要です。所属機関でアカウントを作成していただく場合や機器センターでアカウントを発

図・1・設備ネットワークホームページ
図1
設備ネットワークホームページ

いただく場合や機器センターでアカウントを発行する場合などがございますので、アカウント
行する場合などがございますので、アカウントをお持ちでない場合は問いをお持ちでない場合は、お問い合わせフォーム
合わせフォーム（図2）よりお問い合わせ願（図2）より問い合わせ願います。
います。
２．３
２．３ 利用の流れ
利用の流れ

図・2・お問い合わせフォーム
図2 問い合わせフォーム

（1）
⑴ 予約
予約
※利用者自身のアカウントで予約を行ってください。ただし、施設利用の場合は申請代表者が予約を行っ※利用者自身のアカウントで予約を行ってください。ただし、施設利用の場合は申請代表者が予てください。協力研究の場合は受け入れ研究室側で対応をお願いします。
（外部ユーザーを研究室メ約を行ってください。協力研究の場合は受け入れ研究室側で対応をお願いします。（外部ユー
ンバーとしてアカウントを発行するか、受け入れ研究室の対応者が予約を入れる。
）
ザーを研究室メンバーとしてアカウントを発行するか、受け入れ研究室の対応者が予約を入れる。）（a）・ 予約システムにログインし、利用する設備を [ 利用予約 ] － [ 設備一覧 ] から検索し、設備名をクリック（図 3）。
⒜ 予約システムにログインし、利用する設備を[利用予約]−[設備一覧]から検索し、設備名を（b）
・ 設備詳細画面の [ 相互利用予約 ] をクリック（図 4）。
クリック（図3）。

（c）・ 利用日時・予算区分（運営費交付金）を選択し、[ 予約確認 ] をクリック（図 5）。続いて確認画⒝ 設備詳細画面の[相互利用予約]をクリック（図4）。

面の［予約］をクリック。
⒞ 利用日時・予算区分（運営費交付金）を選択し、[予約確認]をクリック（図5）。続いて確認画面の［予約］をクリック。

機器センターたより

21
23

６．センターの利用方法
①

①
②

②

③
③

④
④
図3

設備検索

図・3・設備検索⑤⑤

図4 設備詳細画面
図・4・設備詳細画面⑥⑥⑦
図5 予約テーブル
図・5・予約テーブル

22
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機器センターたより⑦

６．センターの利用方法（2）⑵ 予約の確認、修正、取消
予約の確認、修正、取消[ 予約状況 ] で、予約状況の確認、（利用日時の変更等の）予約修正、予約の取消が出来ます（図。
［予約状況］で、予約状況の確認、（利用日時の変更等の）予約修正、予約の取消が出来ます（図 6）6）。
予約の修正では図予約の修正では図 55 のような画面で日時の再設定ができます。
のような画面で日時の再設定ができます。
「承認待ち」
・ ：設備管理者が予約を確認中です。
「承認待ち」：設備管理者が予約を確認中です。
「予約中」
・
「予約中」

：設備の利用が出来る状態です。
：設備の利用が出来る状態です。

図・6・予約状況
図6 予約状況
２．４

参考

２．４
参考
⑴ ＩＤ・パスワードの変更（1）・ＩＤ・パスワードの変更
ＩＤ、パスワードは、ログイン後、[ユーザー情報]から、随時変更出来ます。
ＩＤ、パスワードは、ログイン後、[ ユーザー情報 ] から、随時変更出来ます。
⑵ ＩＤ・パスワードを忘れた方へ（2）
・ＩＤ・パスワードを忘れた方へ
ＩＤ・パスワードを忘れてしまった場合は、トップページログイン部分の直下にある「ID・パス
ＩＤ・パスワードを忘れてしまった場合は、トップページログイン部分の直下にある「ID・パスワー
ワードを忘れた方」のリンクをクリックしてください（図7）。設定ページでメールアドレスと名前ドを忘れた方」のリンクをクリックしてください（図7）。設定ページでメールアドレスと名前を入を入力するとシステムからメールが届きます。IDはメールに記載されています。パスワードは再設
力するとシステムからメールが届きます。ID
はメールに記載されています。パスワードは再設定用
定用ページのURLが記載されています。記載ページにてパスワードの再設定をしてください。
ページの URL が記載されています。記載ページにてパスワードの再設定をしてください。

図7

トップページのログイン部分

図・7・トップページのログイン部分※

予約システムの操作の詳細はマニュアルをご覧ください。

※・ 予約システムの操作の詳細はマニュアルをご覧ください。
（マニュアルURL：http://chem-eqnet.ims.ac.jp/manuals/）（マニュアル URL：http://chem-eqnet.ims.ac.jp/manuals/）

機器センターたより

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６．センターの利用方法

液体ヘリウム利用方法
１.
概要
１．概要
現在、明大寺地区および山手地区のヘリウム液化機は順調に稼働しています。液体ヘリウム供給方法については以下の通りご案内します。
従来の利用方法を踏襲して、予め液体ヘリウム充填済みのベッセルを何台か用意させて頂き、ベッセルの持ち出し及び返却で液体ヘリウムをご利用頂くシステムの変更はございません。ただし、研究室所有の専用容器への供給はセルフ方式となりますので、ご了承ください。
以下では、現在行われている利用方法を中心に記しておきます。その他、利用規程や液体ヘリウム
取り扱い上の注意等につきましては、機器センターホームページ内の液体ヘリウム利用者のためのマニュアル（http://ic.ims.ac.jp/kiki/teion/He_user_manual2008.pdf）に詳しく書かれておりますので、ニュアル（ h t t p : / / i c . i m s . a c . j p / k i k i / t e i o n / H e ̲ u s e r ̲ m a n u a l 2 0 0 8 . p d f ） に詳しく書かれておご参照頂ければ幸いです。
りますので、ご参照頂ければ幸いです。
山手地区での液体ヘリウムご利用方法については、以下の「山手地区液体ヘリウム利用方法」をご参照ください。
２.
液体ヘリウム利用の前に
２．液体ヘリウム利用の前に• 液体ヘリウム使用者は、「液体ヘリウム利用者講習会」を受講し、液体ヘリウム利用者として登録すること。（必要があれば「液体ヘリウム利用者講習会」は随時行う）
録すること。（必要があれば「液体ヘリウム利用者講習会」は随時行う）• 実験室のヘリウム回収配管を利用する場合、早めに機器センターの寒剤担当者に連絡すること。
３.
明大寺地区液体ヘリウム利用方法
３．明大寺地区液体ヘリウム利用方法
３．１ 設置場所• 極低温棟 1 階 105 室
３．２ ベッセル持ち出し手順（1）⑴・所定の場所にあるベッセルを手前から順に持ち出す。
所定の場所にあるベッセルを手前から順に持ち出す。
え付けの「ベッセル持ち出し・返却入力用パソコン」の画面の「持出」にタッチする。
（2）⑵・・備
備え付けの「ベッセル持ち出し・返却入力用パソコン」の画面の「持出」にタッチする。
「確認」にタッチする。
（3）⑶・スキャナーでユーザーコードを読み取り、次に容器コードを読み取り、スキャナーでユーザーコードを読み取り、次に容器コードを読み取り、「確認」にタッチする。

（4）⑷・ベッセルを持ち出す。
ベッセルを持ち出す。
３．３ ベッセルの返却手順（1）⑴・ベッセルをロードセル中央に載せる。
ベッセルをロードセル中央に載せる。
「計量」にタッチ（2）⑵・パソコンの画面の「返却」にタッチし、スキャナーで容器コードを読み取り、パソコンの画面の「返却」にタッチし、スキャナーで容器コードを読み取り「、計量」にタッチする。
⑶ する。
表示内容を確認の上、「確認」にタッチして、ベッセルを返却場所に置き、回収配管につなぐ。
「確認」にタッチして、ベッセルを返却場所に置き、回収配管につなぐ。
（3）⑷・表示内容を確認の上、返却完了。

（4）・返却完了。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。

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26

機器センターたより６．センターの利用方法
４．山手地区液体ヘリウム利用方法
４.
山手地区液体ヘリウム利用方法
４．１
設置場所
４．１

設置場所

• 山手 4 号館 207 号室
４．２

ベッセル持ち出し手順

４．２
ベッセル持ち出し手順⑴ 所定の場所にあるベッセルを持ち出す。

（1）⑵・所定の場所にあるベッセルを持ち出す。
液体ヘリウム自動計量装置のコントローラー付属のスキャナーでユーザーコード及び容器コード（2）・液体ヘリウム自動計量装置のコントローラー付属のスキャナーでユーザーコード及び容器コードを読み取る。
⑶ を読み取る。
ベッセルをロードセルに載せる。

（3）⑷・ベッセルをロードセルに載せる。
「持出」ボタンを押し、ベッセルを持ち出す。
「持出」ボタンを押し、ベッセルを持ち出す。
（4）
・
４．３

ベッセルの返却手順

４．３
ベッセルの返却手順⑴ ベッセルをロードセル中央に載せる。

（1）⑵・ベッセルをロードセル中央に載せる。
スキャナーで、ユーザーコード及び容器コードを読み取る。
（2）⑶・スキャナーで、ユーザーコード及び容器コードを読み取る。
「返却」ランプが点滅するので、「現在量」の表示が安定したら「返却」ボタンを押す。
「現在量」の表示が安定したら「返却」ボタンを押す。
（3）・ 容器を返却場所に置き、回収配管につなぐ。
⑷「返却」ランプが点滅するので、（4）⑸・容器を返却場所に置き、回収配管につなぐ。
返却完了。
（5）・返却完了。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。
５．異常時
５.

異常時

異常時は、直ちに機器センター寒剤担当者（明大寺地区：内線：7471 または 4553、携帯：0904082-6162、山手地区：内線：5516、携帯：090-9025-1928）に連絡すること。
６．その他
６.

その他

• 供給可能時間は、充填済みの持ち出すベッセルがある場合は終日可能である。
• 研究室で所有するベッセルも上記方法で利用可能である。
• 使用期間の長期化は、貸し出し容器の不足が発生し液体ヘリウムの供給に支障が出るため、容器はなるべく早めに返却すること。
はなるべく早めに返却すること。
ℓ 以上残した状態で返却すること。
• 液体ヘリウムは必ず 5・ℓ・以上残した状態で返却すること。
• ヘリウムの回収ロスが直接供給価格に反映されるため、蒸発ガスの回収 100％を心がけること。
• 回収ガスに、なるべく空気を混入させないように十分注意すること。
• ベッセルへの空気混入は絶対に避けること。ℓ 当たり188円。
• 液体ヘリウム供給価格：平成 28 年度後期

1・ℓ・当たり 158 円。

機器センターたより

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27

６．センターの利用方法

液体窒素利用方法
液体窒素利用方法
１.

概要

液体窒素の汲み出しは、セルフサービス及び自動供給・自動計量です。液体窒素に関しては、大学
１．概要
で死亡事故もあり、ユーザーが液体窒素を安心して利用するためには、単に供給装置の利用講習だけ
液体窒素の汲み出しは、セルフサービス及び自動供給・自動計量です。液体窒素に関しては、大学
でなく液体窒素自体の安全教育も重要です。
で死亡事故もあり、ユーザーが液体窒素を安心して利用するためには、単に供給装置の利用講習だけ
明大寺地区液体窒素利用者のためのマニュアルは、機器センターホームページ（http://ic.ims.
でなく液体窒素自体の安全教育も重要です。
ac.jp/kiki/teion/N2_user_manual2011.pdf）にあります。当マニュアルには、分子研における液体窒
明大寺地区液体窒素利用者のためのマニュアルは、機器センターホームページ（http://ic.ims.ac.jp/
素汲み出しの手順だけでなく、液体窒素を取り扱う上での注意点や液体窒素容器の種類と使用方法に
kiki/teion/N2̲user̲manual2011.pdf）にあります。当マニュアルには、分子研における液体窒素汲みついても詳細に書かれておりますので、是非ご参照ください。
出しの手順だけでなく、液体窒素を取り扱う上での注意点や液体窒素容器の種類と使用方法について
なお、山手地区での汲み出し手順は明大寺地区と少し異なりますので、以下の「山手地区液体窒素も詳細に書かれておりますので、是非ご参照ください。
汲み出し手順」の項をご覧ください。
なお、山手地区での汲み出し手順は明大寺地区と少し異なりますので、以下の「山手地区液体窒素
以下では、要点を抜粋し、簡単に記しておきます。
汲み出し手順」の項をご覧ください。
以下では、要点を抜粋し、簡単に記しておきます。
２.

特に注意すべき点• 凍傷を防ぐ：保護眼鏡、革手袋を使用すること。
２．特に注意すべき点• 酸欠を防ぐ：実験室内の換気に注意すること。
• 爆発を防ぐ：容器を密封しないこと。
３.

液体窒素容器について• 容器には開放型と密封型があり、密封型を使用するときは取扱説明書をよく読んでおくことが必
３．液体窒素容器について要である。
• 容器を購入する場合、あらかじめ供給が可能な容器かどうかを寒剤担当者に確認すること。
要である。
• 容器は登録しなければ使用できない。登録した容器には容器バーコード（ベッセルバーコード）が発行される。
が発行される。
４.

液体窒素汲み出しの前に• 毎年年度初めに実施される「液体窒素利用者講習会」に参加申請し、受講する。この時受講でき
４．液体窒素汲み出しの前になかった人は後日、随時液体窒素利用者講習を実施するので寒剤担当者に連絡する。
• 受講修了者にはユーザーバーコードが発行される。
なかった人は後日、随時液体窒素利用者講習を実施するので寒剤担当者に連絡する。
５.

明大寺地区液体窒素汲み出し手順

５．１

汲み出し場所• 化学試料棟 2 階入り口の渡り廊下
５．明大寺地区液体窒素汲み出し手順• 極低温棟
105 室（大型容器充填専用）
５．１
汲み出し場所• UVSOR 棟地階（UVSOR 利用者専用）

26
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機器センターたより６．センターの利用方法
５．２
５．２ 手順手順（革手袋着用のこと）（1）⑴・容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。
容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。（革手袋着用のこと）（2）⑵・ベッセルバーコードとユーザーバーコードをバーコードリーダーで読み取る。
ベッセルバーコードとユーザーバーコードをバーコードリーダーで読み取る。
（3）⑶・操作画面上の「READY」にタッチすると充填が開始する。満量充填でも必要量充填でも可能。
操作画面上の「READY」にタッチすると充填が開始する。満量充填でも必要量充填でも可能。
（4）⑷・充填終了時、電子ブザーが鳴る。
充填終了時、電子ブザーが鳴る。
（5）⑸・容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
５．３
５．３ 注意注意
異常時は緊急閉止弁を閉め、直ちに緊急時連絡先（内線：7471
または 4553、携帯：090-4082異常時は緊急閉止弁を閉め、直ちに緊急時連絡先（内線：7471または4553、携帯：090-40826162）に連絡すること。
6162）に連絡すること。
５．４
５．４ その他
その他• 汲み出しの時間は、原則平日午前 9 時～午後 5 時までである。
• 無登録の所外研究者（液体窒素利用者講習会未受講者）が液体窒素の汲み出しを行う場合は、「液
体窒素利用者講習会」受講修了者立ち会いのもとで行うこと。
「液体窒素利用者講習会」受講修了者立ち会いのもとで行うこと。
• エレベーターに人と液体窒素容器とを同乗させてはいけない。
• 液体窒素供給価格：平成 28 年度後期

1・ℓ・当たり
64 円（明大寺地区）。
ℓ 当たり64円（明大寺地区）。

６.
山手地区液体窒素汲み出し手順
６．山手地区液体窒素汲み出し手順
６．１
６．１ 汲み出し場所
汲み出し場所• 山手 4 号館 2 階液体窒素供給室
６．２
６．２ 手順手順（革手袋着用のこと）（1）⑴・容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。
容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。（革手袋着用のこと）（2）⑵・容器バーコードとユーザーバーコードをコントローラー付属のバーコードリーダーで読み取る。
容器バーコードとユーザーバーコードをコントローラー付属のバーコードリーダーで読み取る。
（3）⑶・コントローラーの「開始」ボタンが点滅する。
コントローラーの「開始」ボタンが点滅する。
（4）
・ 「開始」ボタンを押すと充填が開始する。
⑷「開始」ボタンを押すと充填が開始する。
（5）⑸・充填途中で止めたいときは「停止」ボタンを押す。
充填途中で止めたいときは「停止」ボタンを押す。
（6）⑹・充填終了時、電子ブザーが鳴る。
充填終了時、電子ブザーが鳴る。
（7）⑺・容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
６．３
６．３ 注意注意
異常時は直ちに緊急時連絡先（内線：5516、携帯：090-9025-1928）に連絡すること。
異常時は直ちに緊急時連絡先（内線：5516、携帯：090-9025-1928）に連絡すること。
６．４
６．４ その他
その他• 汲み出しの時間は、原則午前 7 時～午後 7 時までである。
•「液体窒素取り扱い講習」を受けていない人は、汲み出すことはできない。
• エレベーターに人と液体窒素容器とを同乗させてはいけない。
• 液体窒素供給価格：平成 28 年度後期

1・ℓ・当たり
85 円（山手地区）。
ℓ 当たり85円（山手地区）。

機器センターたより

27
29

６．センターの利用方法

小型貸出機器利用方法
１.
概要
１．概要
小型貸出機器として、各種実験に利用できる汎用性の高いものを保有しています。共同利用機関であり流動性も高い分子科学研究所においては、一時的に使用できる機器を備えておくことは、無駄なあり流動性も高い分子科学研究所においては、一時的に使用できる機器を備えておくことは、無駄投資を防ぐ意味でも有用であるといえます。例えば、電源・ボックスカー・発振器・エレクトロメー
な投資を防ぐ意味でも有用であるといえます。例えば、共通性の高い機器として、電源・ボックス
ターなどの共通性の高い汎用機器から、光スペクトラムアナライザー・オシロスコープなどの高価なカー・発振器・エレクトロメーターなどがあり、また光スペクトラムアナライザー・オシロスコープ
機器も備えています。昨年度（H28
年度）、2.5・ GHz 広帯域オシロスコープなどを導入し、現在は 90などの高価なものも備えています。現在は88台を保有しておりますが、その約80％は貸出されている台を保有しております。所内の方のみの貸出とさせて頂いておりますが、所外の方でも施設利用や協状況です。所内の方のみの貸出とさせて頂いておりますが、所外の方でも施設利用や協力研究等の実力研究等の実験の際には、所内の方を通じて利用して頂くことは可能です。
験の際に、所内の方を通じて利用して頂くことは可能です。
なお、今年度（H29年度）より機器保管場所は、「南実験棟 3 階 S321」になりました。
保管場所は、H24年度より「南実験棟地下1階B10」になりました。
２.

利用方法

小型貸出機器については、機器センター HP（http://ic.ims.ac.jp/）から「所有設備一覧」を開いて
２．利用方法頂き、下に送って頂き「所内専用」のところの「小型機器利用の手続きについては、小型貸出機→・ 機器リスト・利用方法はこちら」をご参照ください。機器の利用状況表も見ることができます。
器専用の利用・予約システム
機器の利用の際は、メール、またはお電話にて以下の内容のご連絡をお願いいたします。
http://haruka.ims.ac.jp/kogata/yoyaku/
kogatayoyaku.htm から、クリック操●・電子メール送り先： ueda@ims.ac.jp
作で簡単に行えるようになっています
Subject： ｢小型貸出機器の利用｣ とご記入ください。
（図1参照）。画面の内容に従って進ん--- ＜送信事項（記入例：コピー＆ペーストしてお使いください）＞ --で頂ければ、機器の予約や利用の手続
機器名：5-101・ロックイン増幅器・SRS・SR830
き、検索閲覧ができます。既に利用、あ利用者氏名：機器・千太
利用者所属：○×・Ｇ
るいは予約されている機器の場合であっ利用者メールアドレス：kiki@ims.ac.jpても、同様に手続きをして頂ければ、利利用開始日：平成 29 年 4 月 3 日
用して頂けるよう当センターで出来る限
返却予定日：継続使用を希望
り日程調整をさせて頂きます。貸出期間----------------------------------------------については、原則2週間とさせて頂いて●・お電話の場合：担当 上田：内線・7226

までご連絡ください。

いますので、返却予定日を設定される方既に利用されている機器の場合であっても、ご連絡頂ければ出来る限り日程調整をさせて頂きます。
は利用開始日から2週間以内の日を入力
貸出期間については、原則
2 週間とさせて頂いていますので、返却予定日を設定される方は利用開始
してください。返却予定日が決まってい日から2 週間以内の日としてください。返却予定日が決まっていない場合は ｢継続使用を希望｣ としない場合は、｢継続使用を希望｣と設定して頂ければ、次の利用希望が入るまで継続してご利用頂けます。但し、利用期間が2 週間以上経過して頂ければ新たな予約が入るまで継続している場合、次の利用希望が入った時点で出来る限り速やかに返却して頂くようお願いいたします。
てご利用頂けます。但し、利用期間が2返却の際も、メール、またはお電話にて以下の内容のご連絡をお願いいたします。
週間以上経過している場合に、新たな予約が入った時点で、出来る限り速やかに返却して頂くようお願いしております。
返却の際も、同ページから返却手続きを行うことができます。また、本予約シス

28
30

機器センターたより

図１

利用・予約・返却方法の手順

６．センターの利用方法
テムをご利用頂くほかに、お電話やメール、或いは直接声を掛けてご連絡頂いても構いません。な●・電子メール送り先： ueda@ims.ac.jp
Subject： ｢小型貸出機器の返却｣ とご記入ください。
お、利用の際の機器の持ち出し、及び返却は、利用者ご自身でお願いします。参考までに、小型貸出--- ＜送信事項（記入例：コピー＆ペーストしてお使いください）＞ --機器のリスト（機器名別）を表1に示します。詳細は、http://haruka.ims.ac.jp/kogata/silist/kogatacl.
機器名：5-101・ロックイン増幅器・SRS・SR830
html をご参照ください。
利用者氏名：機器・千太
お気軽に、ご利用ください。
利用者所属：○×・Ｇ
利用者メールアドレス：kiki@ims.ac.jp
返却年月日：平成 29 年 4 月 28 日----------------------------------------------表１●・お電話の場合：担当

小型貸出機器（88台）

上田：内線・7226

機器名

機器名別リストまでご連絡ください。

台数

機器名

台数

ロックイン増幅器
5
標準ハロゲンランプ
1
なお、利用の際の機器の持ち出し、及び返却は、お手数ですが利用者ご自身でお願いします。参考
ボックスカー積分器
22 1 に示します。
波長較正用水銀ランプ
1までに、小型貸出機器のリスト（機器名別）を表
広帯域前置増幅器
お気軽に、ご利用ください。
高速電流増幅器
ユニバーサルカウンター

表1

4

デジタルフォトメーター

11

パルスウェーブメーター

1

1

光スペクトラムアナライザー

1

小型貸出機器（90 台）機器名別リスト

関数信号発信器
機器名
ファンクションジェネレーター
ロックイン増幅器
ファンクションシンセサイザー
ボックスカー積分器
Synthesized Sweeper
広帯域前置増幅器

1
デジタルオシロスコープ
台数
機器名1
オシロスコープ用高圧プローブ
5
標準ハロゲンランプ
1
直流定電圧／定電流電源
22 波長較正用水銀ランプ
2 出力直流定電圧電源
4 1 デジタルフォトメーター

4
台数
1
1
51
11

任意波形発生器
高速電流増幅器

直流安定化電源
1 1 パルスウェーブメーター

1

ユニバーサルカウンター
デジタルディレイジェネレーター
関数信号発信器
デジタルマルチメーター

1 6 光スペクトラムアナライザー
高圧安定化電源
1 4 デジタルオシロスコープ
X-Y-t 記録計1
10
26

ファンクションジェネレーター
デジタルボルトメーター
ファンクションシンセサイザー
シングルモノクロメーター
シンセサイズドスイーパー
水銀ランプ
任意波形発生器

キセノンランプ
デジタルディレイジェネレーター

1

オシロスコープ用高圧プローブ
データロガー
1
直流定電圧／定電流電源
1
時間軸較正器1
2 出力直流定電圧電源
C.F. ディスクリミネーター
1 1 直流安定化電源
1

1
1
5
1
1
11

フラックスゲート型磁力計
6 1 高圧安定化電源

110

重水素ランプ
デジタルマルチメーター

ライトチョッパー
4 1 X-Y-t
記録計12

デジタルボルトメーター
分光光度計波長較正用ランプセット
シングルモノクロメーター

1 1 データロガー

1

1

時間軸較正器

1

水銀ランプ

1

C.F. ディスクリミネーター

1

キセノンランプ

1

フラックスゲート型磁力計

1重水素ランプ1

ライトチョッパー

1

分光光度計波長較正用ランプセット

1

機器センターたより

29
31

６．センターの利用方法

サンプル準備室利用方法
１.
概要
１．概要
機器センター設備の利用時、測定可能な状態での試料持ち込みを推奨しますが、来所後に試料調整や準備が必要な場合、サンプル準備室（明大寺地区・極低温棟
201 号室）をご利用いただけます。
や準備が必要な場合、サンプル準備室（明大寺地区・極低温棟201号室）をご利用いただけます。
２.
利用方法
２．利用方法• 利用の都度、ノートに記入をお願いします。
• 予約制ではありませんが、利用予約が必要な場合は、担当者までご連絡ください。
• 長時間場所を離れる場合や、危険物等がある場合は、付箋等で分かるようにしてください。
• 整理整頓を心がけてください。
• 廃液処理は各自で行ってください。
２．１ 設置設備・Pa、[TS15/25、φ6
接続 ]TS15/25、φ6・mm 管）• 真空ライン（自作、[ 真空度 ]（RP）～
3・Pa、
（DP）～
10－４
Pa、
（DP）
〜10 Pa、［接続］mm管）• 真空型グローブボックス（UNICO・UN－12L、自動内圧調整器・酸素濃度計・露点計付き）
寸法（mm）：メインボックス 1200 × 650 × 600、パスボックス 250 × 250 × 350
寸法（mm）：メインボックス1200×650×600、パスボックス250×250×350
立ち上げ時（一般窒素）：酸素濃度 1ppm 以下、露点－30℃
立ち上げ時（一般窒素）：酸素濃度1ppm以下、露点-30℃※グローブボックス内に天秤等を設置希望の場合は、事前にご連絡ください。
• 上皿天秤（島津・UW620H）• 分析天秤（メトラートレド・XS205DU）• 実体顕微鏡（ニコン・SMZ745T）• 超音波洗浄機（アズワン US－1R）• 定温恒温乾燥機（EYELA・NDO－400）• ドラフトチャンバー（Yamato・KFC2180）

真空ライン
真空ライン

30
32

機器センターたより

真空型グローブボックス
真空型グローブボックス

６．センターの利用方法

施設利用者控室
１.
概要
１．概要
施設利用者の方のために、施設利用者控室を用意してあります。明大寺地区では、極低温棟
明大寺地区における機器センターの設備は、極低温棟と南実験棟にほぼ集約されています。 2 階
202施設利用者控室を、極低温棟2階202号室、および南実験棟1階113室に設けております。会議机やホ号室および南実験棟 1 階 113 号室に、山手地区では、山手 5 号館 1 階にあります。会議机やホワ
イトボード、個人用机も用意してありますので、打ち合わせや測定の合間の休息にご利用ください。
ワイトボード、個人用机も用意しておりますので、打ち合わせや測定の合間の休息にご利用くださ
また共用パソコンもご利用いただけます。なおパソコン持込みの場合、ネットワーク接続に必要なアい。また共用パソコンもご利用いただけます。なおパソコン持込みの場合、ネットワーク接続に必要
カウントも発行可能です。ネットワーク利用上の注意に従ってご利用ください。
なアカウントも発行可能です。ネットワーク利用上の注意に従ってご利用ください。
当センターの施設利用者の方であれば、どなたでもご利用いただけますが、利用の際は、設備担当
当センターの施設利用者の方であれば、どなたでもご利用いただけますが、利用の際は、設備担当
者、あるいは機器センター事務室まで声をかけていただき、来所記録簿へのご記入をお願いします。
者、あるいは機器センター事務室（研究棟3階312号室）まで声をかけてください。
お気軽に、ご利用くださいませ。
お気軽に、ご利用くださいませ。

明大寺・極低温棟 2 階 202 号室
極低温棟２階 202 室

明大寺・南実験棟 1 階 113 号室

南実験棟１階 113 室

山手・5 号館 1 階

機器センターたより

31
33

７．所有設備紹介

電子スピン共鳴（ESR）装置
電子スピン共鳴（ESR）装置
概要
電子スピン共鳴（ESR）装置は、不対電子（電子スピン）をプローブとした分光装置である。静磁
電子スピン共鳴（ESR）装置は、不対電子（電子スピン）をプローブとした分光装置である。静磁場中に置かれた電子スピンのエネルギー準位は分裂し、一定のマイクロ波を加えながら静磁場を掃引場中に置かれた電子スピンのエネルギー準位は分裂し、一定のマイクロ波を加えながら静磁場を掃引すると、
このエネルギー差に相当する磁場で共鳴が起こる。この共鳴磁場や吸収強度などの観測から、
このエネルギー差に相当する磁場で共鳴が起こる。この共鳴磁場や吸収強度などの観測から、
電子スピンを持つ原子や分子の量、構造、電子状態などに関する情報が得られる。ESR
装置は、有電子スピンを持つ原子や分子の量、構造、電子状態などに関する情報が得られる。ESR 装置は、有機ラジカルや遷移金属などを含む物質の物性研究の他にも、放射線や酸化などにより不対電子が生じ
機ラジカルや遷移金属などを含む物質の物性研究の他にも、放射線や酸化などにより不対電子が生じた岩石や食品の評価、触媒や重合反応などのプロセス追跡にも利用される。
設備紹介（EMX Plus、E500）担当）藤原 基靖、伊木
基靖・伊木志成子
担当）藤原志成子

メーカー：Bruker

メーカー：Bruker
メーカー：Bruker

型

型
型

式：EMX・Plus
式：EMX Plus

式：E500式：E500

導入年度：平成 17 年度

導入年度：平成 10
10 年度
年度
導入年度：平成（主な仕様）
周波数周波数（主な仕様）（主な仕様）
周波数
周波数

マグネット
マグネット
共振器
共振器

温度可変
温度可変

オプション
オプション

32
34

X-band（～ 9.4・GHz）
GHz）

－5・mT
～1.45
1.45・T
mT 〜
T
高感度（Q ～ 9000）
高感度（Q 〜 9000）
デュアルモード
デュアルモード
光透過
光透過（ESR900）3.8 ～ 300・K（ESR900）3.8 〜 300 K（ER4131VT）
・100 ～ 300・K[LN ]（ER4131VT）100〜 300 K［LN22］
・
RT ～ 500・K[Air]RT〜 500 K［Air］
テスラメーターテスラメーター
ゴニオメーター
ゴニオメーター
光照射
光照射

機器センターたより

共振器
共振器
温度可変
温度可変

周波数
周波数
温度可変
温度可変
（共通部）
（共通部）
マグネット
マグネット

オプション
オプション

X-band（～ 9.4・GHz）
GHz）

二重矩形、光透過、ENDOR
二重矩形、光透過、ENDOR（ESR900）3.8～ 300・K（ESR900）
3.8〜300K（ESR910）1.5～ 4・K（ESR910）
1.5〜300
K（ER4131VT）100～
300・K[LN2]（ER4131VT）100〜300
K［LN ］
Q-band（～ 34・GHz）
GHz）
5 ～ 300・K（CF935）
4 〜 300 K（CF935）－ 5・mT
1.45・T
mT 〜～
1.45
T

テスラメーターテスラメーター
ゴニオメーター、光照射
ゴニオメーター、光照射2

７．所有設備紹介
特徴
特徴

測定方法

• ・EMX では、磁場・シグナル強度ともに 24bit• ・粉 末、液体の場合は、石英管（X-band：外

対応で高解像度測定が可能。
応で高解像度測定が可能。
•・・・E500 で は、CW-ENDOR 測 定（LHe お よ び
LN
LN22）が可能。また X-band に加え Q-band での高分解能測定も可能。
高分解能測定も可能。

径φ 4・mm、長さ250・mm、Q-band：外径φ径φ4mm、長さ250
φ22・mm、長さ 100・mm）に試料を封入。
mm、長さ100mm）に試料を封入。
• ・単 結晶の場合は、少量のアピエゾン N グリースで石英棒に固定。
で石英棒に固定。

• ・X-band では、高感度、デュアルモード（許容・禁制遷移の観測）、二重矩形（定量・g 値較
容・禁制遷移の観測）、二重矩形（定量・g値
正）、光透過の各種共振器を、測定に応じて較正）、光透過の各種共振器を、測定に応じ選択でき、温度可変測定にも対応。
て選択でき、温度可変測定にも対応。

備考
毎月マシンタイム調整にて、翌月の予約を決定している。当月 1 日より、空いているマシン
タイムは随時予約解禁。

設備紹介（E680）
設備紹介（E680）

任意波形発生器が設置されました。

担当）藤原
志成子
担当）藤原基靖、伊木
基靖・伊木志成子
特徴
マグネット
mT 〜 1.45 T
パルス測定が可能。時間平均を観測している
オプション
ゴニオメーター
cw 測定に対して、パルス測定ではスピンダイ
テスラメーター

ナミックスを直接観測できる。ENDOR
ENDOR 用 RF アンプ 測定や
ELDOR 測定（X-、Q-band）にも対応しており、ナノ秒波長可変レーザー
核スピンや電子スピンの緩和時間などのダイナ
ミクスの直接測定や、電子スピン間の相互作用特徴の強さから距離情報も得られる。任意波形発生器（AWG）により、照射するマイクロ波の周のパルス測定が可能。時間平均を観測してい波数・振幅・位相を自由に制御でき、広帯域・る cw 測定に対して、パルス測定ではスピンダ
メーカー：Bruker
メーカー：Bruker

選択的励起が可能。またナノ秒波長可変レーイナミックスを直接観測できる。ENDOR 測定

型
型

式：E680式：E680

ザーの導入により時間分解測定（X-、Q-band）

導入年度：平成
導入年度：平成 10
10 年度
年度

も可能。
も対応しており、核スピンや電子スピンの緩和（主な仕様）（主な仕様）
周波数
周波数

時間などのダイナミクスの直接測定や、電子ス

温度可変

マグネット
温度可変
マグネット
周波数
温度可変
周波数
マグネット
オプション

温度可変

W-band（～ 94・GHz）
GHz）

3.8 ～ 300・K［cw、pluse］
超伝導マグネット
3.8 〜 300 K（6・T スプリット型）
超伝導マグネット
掃引コイル（700・mT）（6
T スプリット型）
X-band（～9.4・GHz）
Q-band（～34・GHz）
掃引コイル（700 mT）

4 ～ 300・K（CF935）
GHz）－5・mT ～ 1.45・T［cw、pluse］
AWG（任意波形発生器）
ゴニオメーター GHz）
テスラメーター［pluse］
ENDOR 用 RF アンプ
4 〜 300 K（CF935）
ナノ秒波長可変レーザー

測定方法
ピン間の相互作用の強さから距離情報も得られ
石 英 管（X-band： 外 径 φ 4・ mm、Q-band：
る。またナノ秒波長可変レーザーの導入により
外 径 φ 1.6・ mm、W-band： 外 径 φ 0.9mm、 長
さ 100・mm）に試料を封入。
測定方法
備考

φ0.9 mm）に試利用は、「高周波・高磁場およびパルス ESR料を封入。
の使用経験があること」が条件。
備考
利用は、「高周波・高磁場およびパルス ESRの使用経験があること」が条件。

機器センターたより

33
35

７．所有設備紹介

SQUID型磁化測定装置
SQUID
型磁化測定装置概要
磁場または温度を変えながら磁化測定を行い、物質の磁気特性を調べる装置である。微少な磁化変磁場または温度を変えながら磁化測定を行い、物質の磁気特性を調べる装置である。微少な磁化変化を検出できるよう
SQUID（超伝導量子干渉素子）を用いている。有機磁性体の研究、超伝導体の化を検出できるようSQUID（超伝導量子干渉素子）を用いている。有機磁性体の研究、超伝導体の新素材研究や記録媒体の評価など、磁気物性や材料工学などの広い研究分野で利用されている。
新素材研究や記録媒体の評価など、磁気物性や材料工学などの広い研究分野で利用されている。
設備紹介（MPMS-7、MPMS-XL7）
設備紹介（MPMS 7、MPMS XL7）担当）藤原 基靖、伊木 志成子担当）藤原 基靖・伊木志成子

トランスバース検出可能になりました。

メーカー：Quantum・Design
メーカー：Quantum Design

メーカー：Quantum・Design
メーカー：Quantum
Design型

型

式：MPMS-7

式：MPMS-XL7

導入年度：平成7 年度
導入年度：平成7年度

導入年度：平成 14 年度
導入年度：平成14年度（主な仕様）（主な仕様）（主な仕様）
温度範囲
温度範囲

温度範囲

400 K
1.91.9～〜400・K
300〜
800 （オーブン使用時）
K（オーブン使用時）
300～ 800・K

超伝導磁石
超伝導磁石

7T
7・T
（液体窒素ジャケット付）（液体窒素ジャケット付）
トランスポ
スタンダード、RSO
トランスポ スタンダード、RSOートート
サンプルスペースオーブン
オプション
オプション

サンプルスペースオーブン
マグネットリセット
マグネットリセット
垂直・水平サンプルローテータ

垂直・水平サンプルローテータ
トランスバース検出
トランスバース検出（MPMS-7、-XL7
共用オプション）光照射用ロッド
共用オプシ
共用 オ プ シ 光照射用ロッド
ョン
圧力セル用ロッド
ョン34
36

圧力セル用ロッド

機器センターたより

1.91.9
～〜
400・K
400 K
7・T
7T

超伝導磁石
超伝導磁石
ト
ラ ン ス ポ スタンダード
スタンダード
トランスポ
ート
ート
オプション
オプション

AC 測定
AC 測定
（周波数：0.1・Hz ～ 1・kHz）（周波数：0.1 Hz 〜 1 kHz）
（交流磁場：～ 6・G）
（交流磁場：〜 6 G）
超低磁場
超低磁場
マグネットリセット
マグネットリセット
電気抵抗測定用ロッド
電気抵抗測定用ロッド
外部機器制御ソフト（EDC）
外部機器制御ソフト（EDC）

７．所有設備紹介
特徴
特徴

備考

• ・測定はシーケンス（測定プログラム）に従っ• ・マシンタイムの切り替えは、午前 10 時。

て自動的に行われる。
て自動的に行われる。
• ・4.2・ KK以下において時間制限なく温度保持で以下において時間制限なく温度保持でき、4.2・Kき、4.2 K を挟んで滑らかな温度変化が可能。
を挟んで滑らかな温度変化が可能。

• ・毎月マシンタイム調整にて、翌月の予約を決定している。当月 1 日より、空いているマシ
ンタイムは随時予約解禁。

• ・光照射や圧力下における磁化測定が可能。
• ・MPMS-7 では、オーブン使用時、800K までの高温測定が可能。トランスバース検出シス
での高温測定が可能。トランスバース検出シ
テムにより、横磁化（磁場と直交した磁化）
ステムにより、横磁化（磁場と直交した磁化）の測定が可能。
の測定が可能。
• ・MPMS-XL7 では、AC 測定により、緩和時
間等・スピンのダイナミックスを調べること
間等・スピンのダイナミックスを調べることが可能。また超低磁場オプションおよびマグが可能。また超低磁場オプションおよびマグ
ネットリセットにより、サンプル中心におけ
ネットリセットにより、サンプル中心における残留磁場をる残留磁場を 50・
50 mG
mG 以下に抑えた低残留磁以下に抑えた低残留磁
場中での測定が可能。
（図
場中での測定が可能。
（図 1、21、2 参照）
参照）
・ EDC
EDC により、電流源とナノボルトメーター
により、電流源とナノボルトメーターを用いた電気抵抗測定など、外部機器の制御を用いた電気抵抗測定など、外部機器の制御・・
データ取込が可能。
データ取込が可能。
図・1 磁場勾配プロファイル
図１ 磁場勾配プロファイル

測定
測定• ・ス トロー（外径φ6mm）の中央にサンプル
φ6mm）の中央にサンプルをを固定。サンプル形状等により、カプセルや固定。
サンプル形状等により、カプセルやラッラップ、アルミホイルなどを利用。上記以外
プ、アルミホイルなどを利用。上記以外に必に必要なものは、各自で用意すること。オー
要なものは、各自で用意すること。オーブン
ブン利用時は、ガラス管（外径φ3mm以下）
利用時は、ガラス管（外径
φ3mm
以下）に
にサンプルを固定し、銅線でロッドに吊す。
サンプルを固定し、銅線でロッドに吊す。
• ・サンプル交換は、300・K
K で行うこと。
で行うこと。
• ・終 了時に LHe トランスファーを行い、満タンにすること。
（MPMS-7 の週末利用者は、）
LN
LN22 トランスファーも行うこと。
トランスファーも行うこと。
）• ・He レベルは、超伝導磁石を冷却するために40%以上に保持する必要がある。特に高磁40%以上に保持する必要がある。特に高磁場場をかける場合は、Heレベルに注意するこをかける場合は、Heレベルに注意すること。
と。
He
Level
He・Level
50 〜 100 %50 ～ 100・%
40 〜 50 %40 ～ 50・%
40 % 以下
40・% 以下

使用可能な最大磁場
使用可能な最大磁場
7T
7・T
1T
1・T
実験不可
実験不可

図・2 磁化の磁場依存姓
磁化の磁場依存性
図２

機器センターたより

35
37

７．所有設備紹介

単結晶X線回折装置
単結晶
X 線回折装置概要
単結晶試料に X 線を入射すると、結晶構造を反映した回折点が得られる。この回折点の位置およ線を入射すると、結晶構造を反映した回折点が得られる。この回折点の位置および強度から、結晶構造解析が行われる。構造解析により、原子の三次元座標（立体構造）や原子間距
び強度から、結晶構造解析が行われる。構造解析により、原子の三次元座標（立体構造）や原子間距
離・結合距離、三次元の電子密度などの情報が得られる。
数十～数百 μm
mmサイズの単結晶試料が作成出来れば、3サイズの単結晶試料が作成出来れば、3時間程度で測定〜解析が行える。
時間程度で測定～解析が行える。
数十〜数百
設備紹介（MERCURY CCD-1・R-AXIS Ⅳ、MERCURY CCD-2）

解析ソフト追加しました！

担当）藤原 基靖担当）藤原 基靖

※ ・R-AXIS は故障中。現在のところ、修理・更新予定はありません。
新予定はありません。
測定方法
測定方法
• マウント・0.1 〜～ 0.5
0.5・mmmm 角の単結晶を、ビットに取り角の単結晶を、ビットに取り0.1付けたガラス棒の先端、またはマグネット台付けたガラス棒の先端、またはマグネット台
座付サンプルループに、接着剤・ワセリン等
座付サンプルループに、接着剤・ワセリン等で固定。
（ゴニオヘッドは、ビット用とマグで固定。
（ゴニオヘッドは、ビット用とマグネット用があり、CCD-1、-2、-3 で共用可能）

メーカー：Rigaku
型

式：MERCURY・CCD-1・R-AXIS・Ⅳ、
式：MERCURY
Ⅳ、

MERCURY・CCD-2
MERCURY
導入年度：平成 8 年度
（主な仕様）
X
X線源
線源

回転対陰極型、Mo
回転対陰極型、Mo
50・kV・100・mA（5・kW）
50 kV・100 mA（5 kW）（CCD1、CCD-2 共通）
コリメータ
コリメータ
カメラ長
カメラ長

ゴニオメータゴニオメータ
検出器
検出器
温度可変
温度可変
ソフトウェア
ソフトウェアφ
0.3、0.5、1.0・mm
φ0.3、0.5、1.0mm
35mm、55mm、75mm
35mm、55mm、75mm
AFC-7 型χサークル

Mercury・CCD
Mercury CCD
100 ～ 400・K
100 〜 400 K
測定 :・Crystal・Clear
測定：Crystal Clear
解析 :・Crystal・Structure
解析：Crystal Structure
データ処理：CrysAlis（CCD-2 にも導入しました）• X 線の立上げ・停止
・手順書に沿って、使用の度に X
X 線の立上げ・
線の立上げ・
手順書に沿って、使用の度に停止を行うこと。
停止を行うこと。
• 温度可変測定
・PSA を起動させ、1を起動させ、1 時間程度おいてから、コ
時間程度おいてから、コ
PSA
ンプレッサーを起動して冷却を始める。最低
ンプレッサーを起動して冷却を始める。最低
温 100
100・ K まで、約 2 時間かかる。CCD-1 は温
ボ タ ン 一 つ で 自 動 停 止。CCD-2 は 冷 却 水、手動停止が必要。
手動停止が必要。

36
38

機器センターたより

７．所有設備紹介
設備紹介（微小結晶設備紹介（微小結晶 /MERCURY/MERCURY CCD-3）
CCD 3）

担当）岡野 芳則
芳則担当）岡野
• 低温測定ガス吹き付け型の冷却装置で、到達温度は、ガス吹き付け型の冷却装置で、到達温度は、N2
ガスモードで
24・
N2 ガスモードでガスモードで100 100・K、He
K、
He ガスモードで24 K（実分、HeK（。到達時間は、
実 測 ）。 到 達 時
測）
N2間
では、N
240 分、
He240
で 150
分か
2 で
で 150 分かかる。運転モードの切り替えは、
かる。運転モードの切り替えは、He から N2 に
え可
能の場合
だ が、
He か ら N2 に は 迅 速 に 切 りN替は迅速に切り替え可能だが、He2 からHe の場合は、冷凍機を一旦室温にN2 からは、冷凍機を一旦室温に戻す必要がある。
戻す必要がある。
N
Heガスはボンベからの供給で、2ガスはPSA、PSA、He ガスはボンベからの供N2 ガスはHe
ボンベは稼働中でも交換可能。He
ガス使
給で、He 所内利用は実費が必要。
ボンベは稼働中でも交換可能。He
用の場合、メーカー：Rigaku
メーカー：Rigaku
型
型

式：MERCURY・CCD-3
式：MERCURY

ガス使用の場合、所内利用は実費が必要。
測定方法

導入年度：平成
導入年度：平成 14
14 年度
年度

測定方法

（主な仕様）（主な仕様）
XX線源
線源

• 0.1
マウント
〜 0.2 mm 角以下の単結晶を、マグネット台

コリメータ
コリメータ
ゴニオメータゴニオメータ
検出器
検出器
温度可変
温度可変

ソフトウェア
ソフトウェア

回転対陰極型、Mo
回転対陰極型、Mo・ 座付サンプルループに、
0.1 ～ 0.2・ mm 角以下の単結晶を、マグネッ
ワセリン等で固定す50kV・16mA（0.8・kW）
50 kV・16 mA（0.8 kW）

ト台座付サンプルループに、ワセリン等で固る。

コンフォーカルミラー使用
コンフォーカルミラー使用
φ
0.3・mm
φ0.3
mm

定する。

AFC-8 型・1/4
1/4χサークル
χサークル

Mercury・CCD
Mercury CCD・100・K ～室温・100 K 〜室温（N2 ガス :・PSA より供給）（N2 ガス：PSA より供給）
・24 ～ 100・K
・24 〜 100 K（He ガ ス ボ ン ベ：1 本 /8
（He ガスボンベ：1 本 /8
時間）
時間）
測定 :・Crystal・Clear
測定：Crystal Clear
解析 :・Crystal・Structure
解析：Crystal Structure特徴

その他
ケンブリッジ結晶構造データーベース（CSD）• 高輝度 X 線
特徴

その他が利用可能。ID
・Password 等、詳細は担当者ま・ 光学系にコンフォーカルミラーを用いておケンブリッジ結晶構造データーベース（CSD）
で。

り、CCD-1、-2に比べ、約 10 倍の高輝度 X
光学系にコンフォーカルミラーを用いており、が利用可能。ID・Password 等、詳細は担当者

線ビームが得られ、測定が難しかった微小結
CCD-1、-2 に比べ、約 10 倍の高輝度 X 線ビームまで。

晶でも測定が可能。ビーム径はφ0.1 ～ 0.2・が得られ、測定が難しかった微小結晶でも測※今年度、二次元半導体検出器、４軸ゴニオメ

mmで、コリメータはバックグラウンド低減定が可能。ビーム径は
φ0.1 〜 0.2 mm で、コリーター、ソフトウェアの更新を予定しています。

のためビーム径よりやや大きめの0.3・ mm の
メータはバックグラウンド低減のためビーム現仕様での利用は今年度末までになりますのでものが取り付けてある。
径よりやや大きめの 0.3 mm のものが取り付

ご注意ください。

けてある。

機器センターたより

37
39

７．所有設備紹介

粉末X線回折装置
粉末 X 線回折装置
概要
主な利用法は定性分析（同
粉末試料に X 線を照射し、回折された X 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析（同定）である。既知試料の回折パターン（PDF：Powder・Diﬀraction
Diffraction・File）と照合することで測定試料
File）と照合することで測定試料定）である。既知試料の回折パターン（PDF：Powderの同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サの同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サ
イズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構
イズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構
造解析も可能である。
設備紹介（RINT-Ultima Ⅲ）
設備紹介（RINT UltimaⅢ）担当）藤原 基靖担当）藤原 基靖
制御 PC
ソフトウェア
制御 PC
ソフトウェア

Windows7
小角散乱試料台
PDXL（
基（40
本、〜
定300
性、
リー
低温試料台
K）
ト
ベ ル ト、PDF-2）、NanoWindows7
SolverPDXL（基本、
定性、
リートベル

特徴
• ・CBO ユニットにより、集中法、平行ビーム法、
特徴
小角散乱光学系の切り替えが可能• 小角散乱光学系の切り替えが可能
・平行ビーム法により、試料成形の難しい試料でも、容易に測定可能メーカー：Rigaku
型

式：RINT-Ultima Ⅲ

導入年度：平成 17 年度（主な仕様）
X
X線源
線源
光学系
光学系
ゴニオメータゴニオメータ

検出器
検出器
オプション
オプション

求めることが可能（1 ～ 50・nm）
求めることが可能（1 〜 50 nm）
測定方法

Cu
Cu管球
管球
40・kV・40・mA（2・kW）
40 kV・40 mA（2 kW）
集中法、平行ビーム法、小集中法、平行ビーム法、小
角散乱
角散乱
θ
s/・θd
連動、
θ s/
θd 連動、θ
単独、θdd単独
単独
θ ss 単独、θ
－3 ～ +154・deg.（2θ）
deg.（2θ）

シンチレーションカウンタ
シンチレーションカウンタ
モノクロメーター
モノクロメーター
高分解能 PSA
高分解能 PSA
回転試料台
回転試料台
キャピラリ回転試料台
キャピラリ回転試料台
小角散乱試料台
低温試料台（40 ～ 300・K）

38
40• でも、容易に測定可能
・小角散乱測定により、ナノ粒子の粒径分布を機器センターたより• 試料準備
測定方法
ガラス板やキャピラリ等に試料を充填ガラス板やキャピラリ等に試料を充填

７．所有設備紹介

Ｘ線溶液散乱装置
概要
概要
サブナノ～サブミクロンにわたる広い空間スケールを扱う本装置は、多階層からなる分子システム
サブナノ〜サブミクロンにわたる広い空間スケールを扱う本装置は、多階層からなる分子システム（生体高分子やソフトマター）の研究に貢献する。共同研究にとどまらず、Ｘ線溶液散乱実験に関心（生体高分子やソフトマター）の研究に貢献する。共同研究にとどまらず、Ｘ線溶液散乱実験に関心のある研究者・学生への指導、実験計画段階での相談、放射光ビームラインへの橋渡し、課題申請書のある研究者・学生への指導、実験計画段階での相談、放射光ビームラインへの橋渡し、課題申請書の作成、などについて可能な限り支援をしている。
の作成、などについて可能な限り支援をしている。
設備紹介（Rigaku NANO-Viewer）
設備紹介（Rigaku NANO Viewer）

担当）秋山 修志担当）秋山 修志

Ｘ線溶液散乱について溶液状の試料を光軸上に設置してＸ線を照射
液液状の試料を光軸上に設置してＸ線を照射し、散乱されたＸ線の強度や角度分布を２次元検出器で記録する。均一なタンパク質溶液試料の場合、結晶性（配向性）試料とは違って散乱
像は等方的になる。したがって、散乱原点を中心に円環平均すると散乱角度（Q）に依存した心に円環平均すると散乱角度（Q ）に依存したメーカー：Rigaku
メーカー：Rigaku
型
式：Nano-Viewer
導入年度：平成
導入年度：平成 25
25 年度
年度（主な仕様）（主な仕様）

Ｘ線
1.5418・Å
Ｘ線
1.5418Å
検出器
PILATUS・200K
検出器
PILATUS 200K
試料／検出器距離 100・～・1000・mm
試料／検出器距離 100 〜 1000 mm
Ｑレンジ（Å-1）
0.0063・～・1.703・Å
Ｑ レンジ（Å ） 0.0063 〜 1.703 Åd・（Å）
3.7・～・994・Å
d（Å）
3.7 〜 994 Å
試料体積
26・µL
試料体積
26
試料温度
4μL
～ 100℃
試料温度

散乱Ｘ線強度 I（Q）が得られる。タンパク質
I（Q ）が得られる。タンパク質溶液からの散乱強度、溶媒のみからの散乱強度、これらを個別に記録して差分を取ると、溶質（タンパク質分子）の散乱曲線が得られる。この散乱曲線には構造情報が含まれており、ギニエ解析による回転半径や原点散乱強度の評価、間接析による回転半径や原点散乱強度の評価、間接
フーリエ変換による動径分布距離解析、低分解
フーリエ変換による動径分布距離解析、低分解
能像（分子形状）の推定、既知の結晶構造との能像（分子形状）の推定、既知の結晶構造との比較、などを通してタンパク質分子の大きさや比較、などを通してタンパク質分子の大きさや形状を見積もることができる。
形状を見積もることができる。

4 〜 100℃

機器センターたより

39
41

７．所有設備紹介

小角カメラ表
小角カメラ表ンを記録することもできる。各スリットのピンンを記録することもできる。各スリットのピン
ホール径、ビームストッパー径、試料と検出器
ホール径、ビームストッパー径、試料と検出器の距離などを変化させて、試料に最適な小角カの距離などを変化させて、試料に最適な小角カメラを選ぶ。上表のように、現状では A
A〜～K
K
メラを選ぶ。上表のように、現状ではで区別される 12
12 段階の小角カメラで運用して段階の小角カメラで運用してで区別されるいる。それ以外の小角カメラ設定については管いる。それ以外の小角カメラ設定については管理者と要相談。
理者と要相談。

BSA 標準散乱
標準散乱
BSA
標準試料として用いられる牛血清アルブミン（BSA）の散乱パターンを
A ～ K の小角カメ
標準試料として用いられる牛血清アルブミン
検出器はDECTRIS社のPILATUS・
200K
を
検出器は
DECTRIS社のPILATUS200Kを採ラで記録した（上図）。3mg/mlの試料濃度で（BSA）の散乱パターンを
A〜K
の小角カメ

採用している。
検出器を平行移動させることで、用している。検出器を平行移動させることで、

30min 積算を基本とし、広角測定（A,・B）と極ラで記録した（上図）。3mg/ml の試料濃度でモジュール間の継ぎ目のない散乱・回折パター

小角測定（K）では10・ mg/ml で 60・ min の積
30min
積算を基本とし、広角測定（A，B）と40
42

機器センターたより

７．所有設備紹介
算としている。図中の散乱曲線は試料濃度と露極小角測定（K）では 10 mg/ml で 60 min の

iMSaxsの周囲には生化学実験を行うためのiMSaxsの周囲には生化学実験を行うための

光時間に対して規格化されているが、ビーム強積算としている。図中の散乱曲線は試料濃度と機器類が整備されており、タンパク質をはじめ機器類が整備されており、タンパク質をはじ度に対しては規格化されていない。小角カメラ
露光時間に対して規格化されているが、ビームとする生体高分子試料の調製や評価ができる。
めとする生体高分子試料の調製や評価がで設定がA から K となるにつれ、測定可能領域強度に対しては規格化されていない。小角カメ

主
な 機主器
しと
てしは、
微量
分分
光光光
き る。
なと
機器
て は、
微量
光度
度計

は広角（高分解能）側から小角（低分解能）側
ラ設定が A から K となるにつれ、測定可能領（NanoPhotometer・子秤（N a n o Ph o to me teP330,・
r P3Implen）
3 0 , Im p、l e電
n）
、天
電子

へとシフトしていき、同時に入射ビーム強度が域は広角（高分解能）側から小角（低分解能）（CP3202S,・CP224S,・Sartorius）
計（LAQUA・天秤（C P3 2 0 2 S , C P2 2 4 S , S、pH
a r torius）、pH

弱くなるために信号強度が弱くなっていく。
側へとシフトしていき、同時に入射ビーム強度

F-73,・HORIBA）
HORIBA）、高速液体クロ計（LAQUA 、高速液体クロマトグラフィーが弱くなるために信号強度が弱くなっていく。

（AKTA
－フ
FPLC,・GE）、動的光散乱（DynaPro・マトグラ
ィ ー（AKTA− FPLC, GE）、 動

セルと試料ホルダ

Titan,・
Wyatt）、 卓 上Titan,
ク リ ーWyatt）
ンベン
チ（Clean・的光散乱（DynaPro、卓上クリ

セルと試料ホルダ

Booth・
BB-100,・ AS・ ONE）
浄 機、
ーンベンチ（Clean
Booth、 超 音 波
AS洗ONE）（1510J-MT,・ BRANSON）、 微
量透析シス
テム
BRANSON）、微量（Bio-Tech,・COSMO・BIO）などがある。
透析システム（Bio-Tech, COSMO BIO）など
がある。
URL:・

溶液試料には専用セルとセルホルダが準備さ

http://bms.ims.ac.jp/AkiyamaG/imsaxs.html
URL：れている。標準セルの容量は26 マイクロリッ
溶液試料には専用セルとセルホルダが準備され

http://bms.ims.ac.jp/AkiyamaG/imsaxs.html

トルである。試料体積のより小さいセルでも測ている。標準セルの容量は 26 マイクロリット
定可能だが、その場合は管理者と事前に相談のルである。試料体積のより小さいセルでも測定こと。試料温度は
4 ～ 100℃の範囲で制御可能可能だが、その場合は管理者と事前に相談のこである。個体試料（フィルム、
ファイバーなど）と。試料温度は 4 〜 100℃の範囲で制御可能でについても専用の試料ホルダを用いて測定できある。個体試料（フィルム、ファイバーなど）
る（温調はなし）。
についても専用の試料ホルダを用いて測定できる（温調はなし）。
試料準備室
試料準備室

機器センターたより

41
43

７．所有設備紹介

電子分光装置
概要
機能性材料バンド構造分析システムは、角度分解紫外光電子分光法（ARUPS:・
Angle-Resolved・
Ul機能性材料バンド構造分析システムは、角度分解紫外光電子分光法（ARUPS:
Angle-Resolved
traviolet・ Photoelectron・Spectroscopy）を用い、固体・薄膜試料の価電子バンド構造を決定することUltraviolet
Photoelectron
Spectroscopy）を用い、固体・薄膜試料の価電子バンド構造を決定するこができる装置である。希ガス共鳴線による外部光電効果で機能性材料から放出された電子（光電子）とができる装置である。希ガス共鳴線による外部光電効果で機能性材料から放出された電子（光電のエネルギー分布と放出角度分布を計測することでバンド構造が得られ、これにより機能性材料の電子）のエネルギー分布と放出角度分布を計測することでバンド構造が得られ、これにより機能性材料
子機能（例えば、最も基本的なイオン化エネルギーや仕事関数、伝導電荷の有効質量やスピン軌道相の電子機能（例えば、最も基本的なイオン化エネルギーや仕事関数、伝導電荷の有効質量やスピン軌互作用など）を調べることが出来る。
道相互作用など）を調べることが出来る。
X
線光電子分光（XPS:・X-ray・Photoelectron・Spectroscopy）
・装置は、超高真空中で試料に X 線を照
X線光電子分光(XPS:
X-ray Photoelectron Spectroscopy) 装置は、超高真空中で試料にX線を照射
射し、放出される電子（光電子）を検出する装置である。放出される光電子は、対象となる原子の内し、放出される電子（光電子）を検出する装置である。放出される光電子は、対象となる原子の内殻殻電子に起因するものであり、そのエネルギーは元素ごとに定まることから、エネルギー値を知るこ電子に起因するものであり、そのエネルギーは元素ごとに定まることから、エネルギー値を知ることとで定性分析を行うことができる。原子の置かれている環境（化学状態）によって電子状態が変わる
で定性分析を行うことができる。原子の置かれている環境（化学状態）によって電子状態が変わるこ
ことからピーク位置が僅かにシフトすることを利用して、化学構造解析を行うことができることからとからピーク位置が僅かにシフトすることを利用して、化学構造解析を行うことができることから
ESCA・（Electron・Spectroscopy・for・Chemical・Analysis）とも呼ばれる。
ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)とも呼ばれる。
設備紹介（ARUPS）
設備紹介（ARUPS）

担当）山根宏之、田中清尚、解良聡、小杉信博
担当）山根宏之、田中清尚、解良聡、小杉信博
エネルギー分 He・ Iα線を用いた金基板のフェエ ネ ル ギ ー 分 ルミ端の半値幅は，9・meVHe Iα 線を用いた金基板の
解能
程度
解能

フェルミ端の半値幅は，9（温度：8.6・K、パスエネルギー：
meV 程 度（ 温 度：8.6 K、
2・eV、入射スリット：200・µm）

Entrance・Slit （1）・ 0.1・mm
パスエネルギー：2eV、入（2）・ 0.2・mm
射スリット：200μm）
Entrance Slit （3）⑴・ 0.3・mm
0.1 mm（4）⑵・ 0.5・mm
0.2 mm（5）⑶・ 0.8・mm
0.3 mm（6）⑷・ 1.5・mm
0.5 mm

メーカー：VG Scienta
メーカー：VG・Scienta
型
式：DA30型
式：DA30

導入年度：平成26年度
導入年度：平成26 年度（主な仕様）（主な仕様）
電子分光器
電子分光器

紫外光源
紫外光源

静電半球型
200mm
mm
電子レ
静電半球型
200・
電子レン
ンズ（ディフレクター搭載）
ズ（ディフレクター搭載）

マイクロ波放電方式
マイクロ波放電方式
He I, He II 共鳴線単色化機構
He・I,・He・II 共鳴線単色化機構
・He Iα = 21.218 eV
・He・Iα・・=・21.218・eV
・He IIα = 40.814 eV
・He・IIα =・40.814・eV（7）⑸・ 2.5・mm
0.8 mm（8）⑹・ 4.0・mm
1.5 mm
真空度
装備機器
真空度
装備機器
制御系

-9
6×
Pamm
以下
⑺ 102.5

低速電子線回折（LEED）⑻ 4.0 mm
Ar6 イオンスパッタガン
× 10-9Pa 以下

各種加熱機構（通電・電子衝
低速電子線回折（LEED）
撃・セラミックヒーター）
Ar イオンスパッタガン

OS:・Windows・ 8，実験データ
各種加熱機構（通電・電子
は、バイナリー形式やテキス
衝撃・セラミックヒーター）
トファイル形式など。専用解析ソフトを提供可能。

42
44

機器センターたより

各種加熱機構（通電・電子衝
析ソフトを提供可能。

Wslit）200 m で行った。角度積分
スリット幅（と Wslit の組み合わせによって、より高分解能な撃・セラミックヒーター）

モードでは5 分程度の測定時間で十分な SN 比測定が可能である。

OS: Windows 8，実験データのデータが得られた。Fermi-Dirac 分布関数を用

は、バイナリー形式やテキス①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微いたフェルミエッジのフィッティング解析よりトファイル形式など。専用解小試料の二次元波数空間マッピングが可能②

エネルギー分解能は 9.4 meVと見積った。 E pass
７．所有設備紹介

析ソフトを提供可能。
広い温度領域（8-400ケルビン）における電子と Wslit の組み合わせによって、より高分解能な特徴
状態測定が可能③低速電子線回折法による二制御系
OS：Windows 8，実験デー①一般的な静電半球型電子分析器では困難な特徴
次元結晶構造を決定することが可能④様々な
タは、バイナリー形式やテキ測定が可能である。
（E pass）2 eV,
EWslit）200 μmで行
b・=・0・eVHOPG(T =スリット幅（
298 K)った。角度積分モードでは5分程度の測定時間k②広い温度領域（8-400ケルビン）における電小試料の二次元波数空間マッピングが可能②
パッタ機構、
電子衝撃加熱機構、通電加熱機構）解析ソフ
トを提供可能。
子状態測定が可能・③低速電子線回折法による広い温度領域（8-400ケルビン）における電子を搭載などが挙げられ、
様々な分野の機能性材

Dirac分布関数を用いたフェルミエッジのフィッ
E =・0.5・eV

制御系
特徴

微小試料の二次元波数空間マッピングが可能・①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微試料形態の表面処理が可能な機器（Ar イオンス
ストファイル形式など。専用

x

ky

kx

b・

ティング解析よりエネルギー分解能は9.4 meVk

二次元結晶構造を決定することが可能・④様々状態測定が可能③低速電子線回折法による二料の電子状態評価に対応可能な実験装置となっyと見積った。
HOPG (T =E298
K)W slit の組み合わせによっpass とな試料形態の表面処理が可能な機器（Arイオ
次元結晶構造を決定することが可能
④様々な
特徴
ている。

て、より高分解能な測定が可能である。
kx

試料形態の表面処理が可能な機器（Ar イオンス
ンスパッタ機構、電子衝撃加熱機構、通電加熱①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微パッタ機構、
電子衝撃加熱機構、通電加熱機構）機構）を搭載・などが挙げられ、様々な分野の測定例
小試料の二次元波数空間マッピングが可能②
を搭載
様々な分野の機能性材
機能性材料の電子状態評価に対応可能な実験装
広い温度領域（8-400ケルビン）における電子
HeI などが挙げられ、
ARPES: polycrystalline
Au @ T = 8.6 K
Intensity / arb. units

料の電子状態評価に対応可能な実験装置となっ置となっている。
状態測定が可能 ③低速電子線回折法による二(a)ている。
次元結晶構造を決定することが可能 ④様々な
測定例
試料形態の表面処理が可能な機器（Arイオン測定例
スパッタ機構、電子衝撃加熱機構、通電加熱機構）を搭載などが挙げられ、様々な分野の機HeI ARPES:
polycrystalline Au @ T = 8.6 K

Intensity/ arb. units
Intensity/ arb. units

10
8
6
4
2
0
能性材料の電子状態評価に対応可能な実験装置(a)Binding Energy / eVとなっている。

Intensity / arb. units

Experiment= 2 eVE
測定例 Wpassslit = 200 m

図1

10

8

0.05

(b)
Fermi-Dirac
distribution function
Etot = 9.4 meV

6

4Binding Energy / eV0

Binding Energy / eV

2

-0.05

0

(b)

HExperimente I による A u 板の AFermi-Dirac
R UPS スペクトル。
distribution function

Epass = 2 eV(a) 価電子帯全域，(b)フェルミ準位近傍
E = 9.4 meV
W= 200 mtotslit

図 1 に Auの He I ARUPS
スペクトルを示す。
0.05
0
-0.05

Energy / eV （ E ）2 eV,
測定は、温度 8.6BindingK, パスエネルギー
pass

板の ARUPS
図図1 1・・・
H・Hee・Iαによる
I による AAu
u 板の
A R UPS スペクトル。
スペクトル。
（a）・価電子帯全域，（b）・フェルミ準位近傍(a) 価電子帯全域，(b) フェルミ準位近傍

図 1 に Au の He・ Iα・ ARUPS ス ペ ク ト ル を
図1に
Au の温度He I8.6・K,・パスエネルギー
ARUPS スペクトルを示す。
示す。
測定は、（Epass）
測定は、温度 8.6 K, パスエネルギー（ E pass）2 eV,）200・µm で行った。角
2・eV,・スリット幅（W
slit

kx

Binding Energy(Eb / eV)kykEy b・=・1.0・eV
ky

kx
kx

図 2・・・・He・ Iαによる HOPG のkyARUPS スペクトルkx（kx 〜 1.7・Å － 1）
図 2 イメージとディラック点近傍
He I による HOPG の ARUPS
スペクトルにおける等エネルギー面マッピング。 1

イメージとディラック点近傍（ kx ~ 1.7 Å ）にky

おける等エネルギー面マッピング。
ky
Binding
Energy
本装置の大きな特徴として、DA30
アナライ(Eb / eV)kx
ザーのディフレクター機能を用いることで、

ARUPS スペクトルの 2 次元波数空間（kx,・ ky）
図 本装置の大きな特徴として、DA30
2 He I による HOPG の ARUPS スペクトル
アナライ
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げ1kx ~ 1.7）にイメージとディラック点近傍（
ザーのディフレクター機能を用いることで、k Åのみ）。
られる（※・一般的なアナライザーはx

おける等エネルギー面マッピング。
ARUPS
スペクトルの 2 次元波数空間（ kx, k y）
図 2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げの He・ Iα ARUPS・ イメージを示す。HOPG やられる（※ 一般的なアナライザーは kx の み）。
グラフェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディアナライ
図本装置の大きな特徴として、DA30
2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
ラックコーン）を示すことが知られている。本ザーのディフレクター機能を用いることで、
図2He HeIαによるHOPGのARUPSスペクトルイメのI ARUPS
イメージを示す。HOPG やグラ装置を用いることで、このような電子状態を高−1）におけージとディラック点近傍（kx 〜 1.7 Åkx, k y）
ARUPS
スペクトルの 2 次元波数空間（
フェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディラ
精度かつ容易に得ることが可能である。
る等エネルギー面マッピング。
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げ
ックコーン）を示すことが知られている。本装られる（※
一般的なアナライザーは kx の み）。
置を用いることで、このような電子状態を高精
図2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
度かつ容易に得ることが可能である。
本装置の大きな特徴として、DA30 アナラの He I ARUPS イメージを示す。HOPG やグラ
イザーのディフレクター機能を用いることで、フェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディラ
ARUPS スペクトルの 2 次元波数空間（kx , ky）
ックコーン）を示すことが知られている。本装マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げ
置を用いることで、このような電子状態を高精られる（※ 一般的なアナライザーは kx のみ）。
度かつ容易に得ることが可能である。
図 2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）の He Iα ARUPS イメージを示す。HOPG やグ

度積分モードでは 5 分程度の測定時間で十分なラフェンでは、π 電子系が円錐状の分散（ディSN 比のデータが得られた。Fermi-Dirac 分布

ラックコーン）を示すことが知られている。本

図1 He IαによるAu板のARUPSスペクトル。
関数を用いたフェルミエッジのフィッティン
⒜ 価電子帯全域，⒝ フェルミ準位近傍

グ解析よりエネルギー分解能は 9.4・ meV と見装置を用いることで、このような電子状態を高精度かつ容易に得ることが可能である。

とHWの組み合わせによって、積った。E
図 1 に Apassuのe slitI α
ARUPSスペクトルをより高分解能な測定が可能である。
示す。測定は、温度8.6 K, パスエネルギー

機器センターたより

43
45

７．所有設備紹介
設備紹介（XPS）

担当）酒井 雅弘
雅弘
担当）酒井
制御系
装備機器

OS:
Windows XP，制御ソ
Ar
イオンスパッタガン

制御系

フ ト : Omicron EIS。 デ ー
OS:・Windows・XP，制御ソフ
トタの持ち帰りは、テキスト:・ Omicron・ EIS。データのファイル形式など。
持ち帰りは、テキストファ
イル形式など。

特徴
特徴①水素、He 以外の全ての元素が検出できる①水素、He以外の全ての元素が検出できるメーカー：Omicron②化学状態に関する情報を得ることができる・②化学状態に関する情報を得ることができる

型

式：EA-125③極表面（数 nm 程度）の情報を得ることがで③極表面（数nm程度）の情報を得ることがで

導入年度：平成23 年度
導入年度：平成23年度

きる・ ④導体だけでなく、絶縁物も測定可能できる④導体だけでなく、絶縁物も測定可能で（主な仕様）

ある・ ⑤エッチング装置と併用することで深さある⑤エッチング装置と併用することで深さ

電子分光器
X 線源
X 線源

静電半球型
125mm、 電 子
静電半球型
125mm、電子レ方向分析が可能 が挙げられる。有機物などのが挙げられる。有機物などの方向分析が可能レンズ（静電+ 磁気レンズ）
ンズ（静電+ 磁気レンズ）

絶縁物の場合には徐々に正に帯電するチャージ
絶縁物の場合には徐々に正に帯電するチャージ
アップ現象が起きてしまうことがあるので、測アップ現象が起きてしまうことがあるので、測ツインアノード（Mg, Al），
分光器
ツ イ ン ア ノ ー ド（Mg,・ Al），
なし。出力 15kV, 20mA（Mg）
分 光 器 な し。 出 力 15kV,・
または 15kV, 34mA（Al）。
20mA・（Mg） ま た は 15kV,・

34mA・（Al）。
エ ネ ル ギ ー 分 Mg-Kα 線 を 用 い た 清 浄 化
解能と計数率エネルギー分
解能と計数率Entrance Slit
Entrance・Slit

真空度処理を行っていない銀板のMg-Kα線を用いた清浄化処
Ag3d5/2,Entrance Slit 6 ×
理を行っていない銀板の12mm, 半分値幅は，パスエ
Ag3d 5/2,Entrance・ Slit・ 6 ×
ネルギー 10eV で 0.9eV（ 計12mm,・ 半分値幅は，パスエ
数 率 5500cps），パスエネルネルギー 10eV で 0.9eV（計ギー 50eV で 1.4eV（計数率
数 率 5500cps）， パ ス エ ネ ル
60000cps）。 図 1（a）,（b）
ギー 50eV で 1.4eV（計数率参照。
60000cps）。 図 1（a）,（b）⑴ 6 × 12 mm参照。
⑵ φ6mm⑴・
× 12・mm⑶ 6φ2mm

どの材料に対して分析可能なことから、さまざの材料に対して分析可能なことから、さまざま
まな表面物性の関係する場面で使用され、主なな表面物性の関係する場面で使用され、主な用用途として、半導体や金属などの無機物から有途として、半導体や金属などの無機物から有機機物までほとんどの材料について、極表面の組物までほとんどの材料について、極表面の組成、化学状態解析、汚染解析などが行われてい成、化学状態解析、汚染解析などが行われている。また、表面改質や接着・剥離解析など表面る。また、表面改質や接着・剥離解析など表面が関与する数多くの物性や機能の評価にも用いが関与する数多くの物性や機能の評価にも用いられている。
られている。
測定例
測定例

⑵・
6mm
⑷ φ
φ1mm
⑶・
2mm
⑸ φ
1×
12 mm
⑷・
φ
1mm
4 × 10 Pa 程度（測定槽主⑸・
1 × 12・mm
排気はイオンポンプ、粗引

真空度

4 きはターボ分子ポンプ）
× 10-8Pa 程度・（測定槽主排装備機器

Ar イオンスパッタガン
気はイオンポンプ、粗引き
はターボ分子ポンプ）

4446

定試料の固定方法を工夫する必要がある。
定試料の固定方法を工夫する必要がある。
XPS は、絶縁物から導体まで幅広くほとん
XPSは、絶縁物から導体まで幅広くほとんど

機器センターたより

図 1・・Mg-Kαによる清浄化処理を行っていない銀板（a）パスエネルの Ag3d5/2 の光電子スペクトル。
図1 Mg Kαによる清浄化処理を行っていない銀板
ギー 50eV,（b）パスエネルギー 10eV・のAg3d5/2の光電子スペクトル。（a）パスエネル
ギー50eV,（b）パスエネルギー10eV

７．所有設備紹介
図
図11 に 清 浄 化 処 理 を 行 っ て い な
ない
い銀
銀板
板の
の
線源は
Ag3d
Ag3d5/2の光電子スペクトルを示す。X線源は5/2の光電子スペクトルを示す。X
Mg,・
線出力・15kV20mA（300W）,
15kV20mA（300W）,・ Entrance・
Mg, X
X線出力
Entrance
Slit・6× 12mm の条件下で（a）パスエネルギー
Slit 6×12mmの条件下で（a）パスエネルギー
50eV,（b）パスエネルギー
10eV で測定した。
50eV,（b）パスエネルギー10eVで測定した。
半分値幅はそれぞれ
1.4eV,0.9eV であった。
半分値幅はそれぞれ1.4eV,0.9eVであった。

図 2・・銅板および真鍮板の光電子スペクトル。
図2 銅板および真鍮板の光電子スペクトル。
（a）ピカール研磨された真鍮板 ,・（b）ピカール研⒜ ピカール研磨された真鍮板，⒝ ピカール研磨
磨された銅板 ,・（c）未研磨の銅板
された銅板，⒞ 未研磨の銅板

図 2 に銅板および真鍮板の光電子スペクトルを示す。
（c）の未研磨のものは、表面付着物によりCu 由来のピークが非常に小さい。
（b）は
図2に銅板および真鍮板の光電子スペクトル
表面研磨により表面付着物がある程度除去できを示す。（c）の未研磨のものは、表面付着物にたため
Cu 由来のピークがはっきり見えるよう
よりCu由来のピークが非常に小さい。
（b）は表
になった。
（a）でも研磨により表面付着物があ
面研磨により表面付着物がある程度除去できる程度除去できたため、真鍮の構成元素である・
たためCu由来のピークがはっきり見えるよう
Cu,・
Zn・ が観測されている。
（a）,（b）,（c）のになった。
（a）でも研磨により表面付着物があいずれにも・
C1s,・ O1s・ が観されているが、これる程度除去できたため、真鍮の構成元素であは大気中の・
O・さが表面に付着していることをる Cu, Zn がC,・
観測
れている。
（a）
（
, b）
（
, c）のい示している。これら大気由来の元素の除去は、ずれにも C1s, O1s が観されているが、これは真空中での・Ar・イオンスパッタリングが必要と大気中の C, O が表面に付着していることを示なる。
している。これら大気由来の元素の除去は、真空中での Ar イオンスパッタリングが必要となる。

機器センターたより

45
47

７．所有設備紹介

電子顕微鏡
概要
電子顕微鏡は、電子線を試料に当てて拡大像を観察する装置で、大きく分けて透過電子顕微鏡
電子顕微鏡は、電子線を試料に当てて拡大像を観察する装置で、大きく分けて透過電子顕微（TEM:・
Transmission・
Electron・
Microscope）
とと
走走
査査電電子
鏡（SEM:・Scanning
Scanning・Electron
Electron・鏡（TEM:
Transmission
Electron
Microscope）
子顕
顕 微 鏡（SEM:
種類がある。透過電子顕微鏡では試料を透過した電子をレンズ系で拡大し結像さMicroscope）の 2 種類がある。透過電子顕微鏡では試料を透過した電子をレンズ系で拡大し結像させて内部構造を観察し、走査電子顕微鏡では試料からの反射電子や二次電子を検出して表面構造を観せて内部構造を観察し、走査電子顕微鏡では試料からの反射電子や二次電子を検出して表面構造を観察する。また、電子線と試料との間の相互作用によって特性 X
X 線や非弾性散乱電子なども放出され線や非弾性散乱電子なども放出され察する。また、電子線と試料との間の相互作用によって特性ており、これらを分析することで化学組成など様々な情報を得ることができる。
ており、これらを分析することで化学組成など様々な情報を得ることができる。
集束イオンビーム（FIB:・ Focused・ Ion・ Beam）加工機は、細く絞ったイオンビームを当てて試料を集束イオンビーム加工機は、細く絞ったイオンビームを当てて試料を局所的に加工する装置で、電局所的に加工する装置で、電子顕微鏡観察用の試料作製等に用いられる。またイオンビームのエネル
子顕微鏡観察用の試料作製等に用いられる。またイオンビームのエネルギーを利用し、発生する二次ギーを利用し、発生する二次電子から試料の表面を観察したり、化学気相蒸着で表面に薄膜を作製し電子から試料の表面を観察したり、化学気相蒸着で表面に薄膜を作製したりすることができる。
たりすることができる。
設備紹介（電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）/ JSM-6700F（1））
担当）中尾 聡設備紹介（電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）/ JSM-6700F（1）） 担当）中尾 聡、松尾 友紀子
導電処理用装置 カ ー ボ ン コ ー タ ー（ サ ン
導電処理用装置 ユー電子製
カーボンコーター：
SC-701CT）
SC-701CT（サンユー電子）
オスミウムコーター：
特徴

NL-OPC80AS（ 日 本 レ ー
ザ電子）

子銃とセミインレンズ系対物レンズにより、特徴
低加速電圧での高分解能観察に対応。
• ・電子線のエネルギー幅の小さい電界放出形電子銃とセミインレンズ系対物レンズにより、
ただし高さは約10mm まで。
低加速電圧での高分解能観察に対応。

メーカー：JEOL
メーカー：JEOL
型
式：JSM-6700F（1）型
式：JSM-6700F（1）導入年度：平成14 年度
導入年度：平成 14 年度（主な仕様）（主な仕様）
電子銃
電子銃
加速電圧

加速電圧
照射電流
照射電流
倍率
倍率
像分解能
像分解能
試料サイズ
検出器
試料サイズ
検出器

冷陰極電界放出形
0.5冷陰極電界放出形〜 30 kV～〜
30・kV
0.10.5pA
2 nA
0.1・pA ～ 2・nA
25 〜 650000 倍
25 ～ 650000・倍
1.0nm（15kV）、2.2nm（1kV）
1.0nm（15kV）、2.2nm
最大直径 2 インチ（1kV）
二次電子検出器、反射電子
最大直径 2 インチ・検出器
二次電子検出器、反射電
子検出器

46
48

機器センターたより• 射電子像が観察可能。
・最 大で直径 2 インチまでの試料を観察可能。
ただし高さは約 10mm まで。
• ーターを提供。
・二次電子像の他、組成コントラストを持つ反射電子像が観察可能。
• ・絶縁性試料の導電処理用として、カーボンコ
ーターおよびオスミウムコーターを提供。

７．所有設備紹介
設備紹介（低真空分析走査電子顕微鏡（SEM-EDX）/
SU6600）担当）中尾 聡、松尾
友紀子、酒井雅弘担当）中尾聡、酒井雅弘
設備紹介（低真空分析走査電子顕微鏡（SEM-EDX）/
SU6600）（EDX 検出器：QUANTAX・XFlash・5060FQ）
検出器：QUANTAX XFlash 5060FQ）
検出器
検出器
検出面積
検出面積

検出元素範囲検出元素範囲
分解能
分解能

シリコンドリフト検出器
シリコンドリフト検出器
22（15・mm4）
6060・mmmm2（15mm2 ××
4）
Am
BB
〜～
Am
133・eV（Mn-Kα）以下
133
α）以下

検出器：QUANTAX・XFlash6（EDX 検出器：QUANTAXXFlash6￨¦10）
10）
検出器
検出器
検出面積
検出面積

メーカー：日立ハイテクノロジーズ、
メーカー：日立ハイテクノロジーズ、

検出元素範囲検出元素範囲
分解能
分解能

シリコンドリフト検出器
シリコンドリフト検出器
21010・mm
mm2

Am
BeBe
〜～
Am
121・eV（Mn-Kα）以下
α）以下
121

ブルカー・エイエックスエス
ブルカー・エイエックスエス
型
型

式：SU6600、
式：SU6600、
Q
UANTAX・XFlash・5060FQ+XFlash6
・QUANTAX
XFlash 5060FQ+XFlash6￨¦ 10
コンバインシステム
コンバインシステム

導入年度：平成
導入年度：平成 25
25 年度
年度

特徴
• ・低真空モードにより、高真空で脱ガスのある特徴
試料を観察したり、絶縁物を導電処理無しで観察したりすることが可能。
試料を観察したり、絶縁物を導電処理無しで• 観察したりすることが可能。
・対物レンズがアウトレンズ系のため、磁性材（主な仕様）（主な仕様）

料の観察も可能。

（SEM：SU6600）（SEM：SU6600）
電子銃
ZrO/Wシショットキーエミ
電子銃
ZrO/W
ョットキーエ
加速電圧
加速電圧
照射電流
照射電流
倍率
倍率
像分解能
像分解能

低真空範囲
低真空範囲
試料サイズ
試料サイズ
検出器
検出器

試料温度制御試料温度制御ッション形
ミッション形
0.50.5〜～3030・kV
kV

200・nA1 1・pApA 〜～200nA
10 ～ 600000・倍10 〜 600000 倍
1.2・nm（30・kV、高真空モ
1.2 nm（30 kV、
高真空モーード（<10-3・Pa））
ド（<10 Pa））
3.0・nm（30・kV、低真空モ
3.0 nm（30 kV、低真空モーード（60・Pa））
ド（60 Pa））
10 ～ 300・Pa
10 〜 300 Pa
最大直径 150mm（要相談）
最大直径 150mm（要相談）
二次電子検出器、低真空二次電子検出器、低真空用用二次電子検出器、反射
二次電子検出器、反射電子
電子検出器、透過電子検検出器、透過電子検出器
出器
オプションのMK3
形クーオプションのMK3
形クールステージ装着時のみ〜－20
50 ℃（要相談）～ 50・℃（要相談）• 料の観察も可能。
・最 大で直径 150mm までの試料を観察可能。
ただし直径によって、重量や高さ、使用可能
な機能に制約があるため要相談。
ただし直径によって、重量や高さ、使用可能な• 機能に制約があるため要相談。
・二次電子像の他、組成コントラストを持つ反射電子像、明視野透過電子像が観察可能。
• 射電子像、・エネルギー分散型
X 線（EDX）分析により、明視野透過電子像が観察可能。
含有元素の定性分析、おおよその定量分析、
元素マッピングが可能。
有元素の定性分析、
おおよその定量分析、元素• マッピングが可能。
・EDX 検出器として、検出面積 60mm2 で高感2度の検出器 XFlash5060FQ・ と、エネルギーで高感分解能の高い検出器
XFlash6¦ 10の 2 台を搭
度の検出器
XFlash5060FQと、
エネルギー分載。
解能の高い検出器
XFlash6｜10 の 2 台を搭載。
• ・オプションの MK3 形クールステージを装着した時は、ステージ温度を－20 ～ 50・℃に制℃に制御御することが可能。ただし、試料サイズは直することが可能。ただし、試料サイズが直径
径 10mmまでとなる。また、クールステー
10mmまでとなることや、ステージを着脱しジの着脱時や、使用中の試料交換の度に試料たり試料を交換したりする度に試料室の大気室の大気開放（ドローアウト）が必要となる
開放が必要となることなど、制約があるためなど、制約があるため要相談。
要相談。

機器センターたより

47
49

７．所有設備紹介
設備紹介（集束イオンビーム加工機（FIB）/ JEM-9310FIB（P）））担当）中尾 聡、松尾友紀子
設備紹介（集束イオンビーム加工機（FIB）/
JEM-9310FIB（P）
担当）中尾聡
TEM 用グリッドメッシュ上に搬送する、ピ装置外の光学顕微鏡視野下でピックアップしックアップシステム（下写真）を提供。プロ
TEM
用グリッドメッシュ上に搬送する、ピック

ーブはガラス管のみ常備。
アップシステム（下写真）を提供。

メーカー：JEOL型

式：JEM-9310FIB（P）
式：JEM-9310FIB（P）

導入年度：平成 14 年度（主な仕様）
イオン源
イオン源

加速電圧
加速電圧
イオン電流
イオン電流

加工形状
加工形状
デポジション
デポジション
試料サイズ
試料サイズ

Ga
Ga液体金属イオン源
液体金属イオン源
5 5～〜30・kV
30 kV

1・pA
段階切替）
1 pA～
〜10・nA（1010 nA（10 段階切替）
矩形、直線、点
矩形、直線、点カーボン化合物
カーボン化合物
最大 20mm 角
最大 20mm 角

特徴• ・Ga イオンビームを集束し、指定した微小領特徴
域（通常は数 µm ～数十 µm）を走査させる
ことによって、局所的なエッチング加工を行（通常は数
μm 〜数十 μm）を走査させることになうことが可能。
よって、局所的なエッチング加工を行なうこと• が可能。
・加工形状は、矩形、直線、点の３種類で、複雑な形状の加工には非対応。
• 形状の加工には非対応。
・特定の化合物ガスを試料表面に吹き付けながら走査すると、その領域に薄膜がデポジションされる。本装置ではフェナントレンガスから走査すると、その領域に薄膜がデポジション
らのカーボン化合物薄膜のみ対応。
される。本装置ではフェナントレンガスからの• カーボン化合物薄膜のみ対応。
・主 として、透過電子顕微鏡（TEM）観察用
薄膜試料、走査電子顕微鏡（SEM）観察用
断面試料の作製に用いる。
試料、
走査電子顕微鏡（SEM）観察用断面試料• の作製に用いる。
・FIB 装置内で加工し切り離した試料切片を、装置外の光学顕微鏡視野下でピックアップし48
50

機器センターたより

７．所有設備紹介

熱分析装置
概要
概要
熱分析装置では物質を温度制御しながら、その熱変化などを測定する。示差走査型カロリメーター
熱分析とは、物質の温度を一定のプログラムによって変化させながら、その物質のある物理的性質（DSC）による分子の構造変化時の熱変化を直接測定する方法や、等温滴定型カロリメーター（ITC）
を温度の関数として測定する分析法である。
による分子間の結合時の熱変化を直接測定する方法がある。
熱流差を検出する示差走査熱量測定（DSC）による融解・結晶化や比熱の測定、質量（重量変化）を検出する熱重量測定（TGA）による脱水・熱分解の測定などがある。
設備紹介（示差走査型カロリメーター /VP-DSC）担当）水川
設備紹介（VP DSC）

哲徳、長尾

春代

担当）牧田誠二・長尾春代（主な仕様）
温度範囲 1 ～ 130・℃
セル容量 500 μl
セル容量 500・µl
スキャン upscan mode : 0 〜 90 ℃/hr
ス キ ャ ン upscan・mode・:・0 ～ 90・℃ /hr℃/hr
速度downscan mode :速度
downscan・mode・:・0 ～－60・℃ /hr
付属品
ThermoVac
付属品
ThermoVac
システム OS：WindowsXP
特徴

Software：VPViewer 2000

DSC ver.1.04.0027、• ・温度を一定速度で変化させ、試料物質の転移
ORIGIN ver.7.10（analysis）

メーカー：MicroCal
メーカー：MicroCal
型

式：VP-DSC

もしくは変性に伴う熱変化を測定する。溶液

中の生体高分子に特化した仕様となってい特徴

導入年度：平成21 年度
導入年度：平成21年度

る。

（主な仕様）化を測定できる。

温度範囲 1 〜 130 ℃
設備紹介（等温滴定型カロリメーター/iTC200）
設備紹介（iTC200）

担当）水川

哲徳、長尾

春代

担当）牧田誠二・長尾春代（主な仕様）

温度範囲 2 ～ 80・℃
（主な仕様）
セル容量
温度範囲 200・µl
2 〜 80 ℃
滴定 シ リ 40・µl・
セル容量
200 μl
ンジ容量滴定シリ 40 μl
ンジ容量
システム
特徴

OS：WindowsXP

Software：iTC200 ver.1.24.0.2、• ・温度一定下の条件において、リガンド滴下に
ORIGIN ver.7.10（analysis）
より２種の分子が相互作用する時に生じる反メーカー：MicroCal
型
式：iTC200
メーカー：MicroCal

応熱を測定する。溶液中の生体高分子に特化した仕様となっている。
特徴

導入年度：平成型
式：iTC20021 年度
導入年度：平成 21 年度

相互作用の熱変化を測定できる。

機器センターたより

49
51

７．所有設備紹介
設備紹介（TGA2950、SDT2960、DSC2920）

担当）藤原 基靖

マトリックス支援レーザー脱離イオン化 - 飛行時間型質量分析計
（MALDI-TOF-MS）

型

概要

式：TGA2950

導入年度：平成7年度

イオン化部はマトリックス支援レーザー脱離イオン化（MALDI）（主な仕様） 、質量分離部が飛行時間型の質量
温度範囲
RT 〜 1000 ℃
分析計（TOF-MS）。MALDI はマトリックスと呼ばれるイオン化を促進する試薬を試料と共にサン
重量範囲
0.1 μg 〜 100 mg
プルプレート上に結晶化させ、そこにレーザー光を照射する。マトリックスはレーザー波長に対して
サンプルパン
100 μ（l プラチナ）
吸収を持っているので急速に加熱され試料と共に気化される。試料は気相反応（プロトン移動など）
昇温速度
0.1 〜 100 ℃ /min
によってイオン化し、TOF-MS と呼ばれるイオン源で発生したイオンがフライトチューブ内を飛行し検出器まで到達する時間によって質量を測定する装置により分離、検出される。MALDI によるイ
オン化は穏和で試料分子の分解が起こりにくく、TOF-MS
特徴 は分子量が数万～十数万のタンパク質のような高分子を測定することが可能であり、発生したイオンの大部分が検出器に到達するため感度も高い点が挙げられる。
メーカー：TA Instruments
設備紹介（Voyager DE-STR）

解能測定が可能。
型

式：SDT2960

担当）水川

哲徳

導入年度：平成7年度（主な仕様）
Linear・mode・ 0.05%
温度範囲
RT 〜 1500 ℃
Mass・accuracy（External・Calibration）
サンプルパン
昇温速度

90 μ（l アルミナ）
0.02%
0.1〜 100℃ /min（〜 1000℃）（Internal・Calibration）

0.1 〜 25 ℃ /min（〜 1500 ℃）
Reflector・mode・ 0.008%
Mass・accuracy （External・Calibration）
特徴

0.001%（Internal・Calibration）

メーカー：TA Instruments
特徴
メーカー：Applied・Biosystems

測定には感度、分解能が異なる Linear・ mode
（主な仕様）

型とReflector・mode −130〜600の 2 種類がある。
温度範囲℃

式：Voyager・DE-STR

導入年度：平成 11 年度

Linear・ mode による測定は一般的に高感度、サンプルパン
ノンハーメチック、ハーメ（主な仕様）

低 分 解 能 で あり、Reflector・
mode はフライト
チック（アルミニウム）

Mass・range≧ 300000Da

OS：WindowsXP
システム
チューブ内でイオンを反転させることによって、Linear・mode≧ 80（BSA）

Resolution≧ 1000（Myoglobin）

制御：Thermal Advantage（TGA、SDT、初期運動エネルギーの広がりを収束させる効果≧ 3000（Angiotensin・Ⅰ）≧ 3500（ACTH・18-39）
Reflector・mode ≧ 15000（bovine・insulin）
Resolution≧ 1200（E.coli・Thioredoxin）
メーカー：TA Instruments≧ 7000（Angiotensin・Ⅰ）
型
式：DSC2920≧ 10000（ACTH・Clips）
導入年度：平成7年度

解析：Universal Analysis
DSC 共通）と飛行距離を伸ばす効果により高分解能を実現している。しかし、感度の点においては Linear・mode より低 下 する。 測 定 の 際 には、 初 めに特徴
Linear・ mode で目的のピークの有無を確認した
後、分解能が不足している場合には更に分と非可逆成分の分離が可能。
Reflector・mode での測定をすることを薦めたい。
また、Reflector・
mode による mass・ range は約能。
10000Da 程度になるので注意が必要である。

50
52

機器センターたより

７．所有設備紹介

マトリックス支援レーザー脱離イオン化 飛行時間型質量分析計
有機微量元素分析装置（MALDI TOF MS）
概要
概要
試料を
Pregl-Dumas 法に基づいて熱分解し、有機物を構成する主要元素である水素、炭素、窒素
イオン化部はマトリックス支援レーザー脱離イオン化（MALDI）、質量分離部が飛行時間型の質量分を定量的に水、二酸化炭素、窒素に変換し、これらを熱伝導法によって検出する。実際の分析では水
素、炭素、窒素の含有率が既知の標準試料を分析し、その検出感度から未知試料の含有率を決定する。
レート上に結晶化させ、そこにレーザー光を照射する。マトリックスはレーザー波長に対して吸収を持っ・（品質管理分析）（石油、石炭、コークスなどの燃料分析）（土壌、ヘドロの分析）（水中の浮遊物質ているので急速に加熱され試料と共に気化される。試料は気相反応（プロトン移動など）によってイオンおよび底質の分析）（大気汚染など公害測定）（無機物の分析）等の用途が挙げられる。
る時間によって質量を測定する装置により分離、検出される。MALDI によるイオン化は穏和で試料分
所内専用設備紹介（MICRO CORDER JM10）担当）水川 哲徳とが可能であり、発生したイオンの大部分が検出器に到達するため感度も高い点が挙げられる。
試料量でも構いません。
設備紹介（Voyager DE-STR）担当）牧田 誠二（2）・サ・ ンプル管には試料名を明記して下さい。
素分析依頼書に必要事項を記入の上、（3）・
Linear・元mode
0.05%
メールに添付し元素分析担当者まで送Mass accuracy （External Calibration）
信して下さい。
0.02%（E-mail：ic-ea@ims.ac.jp）（Internal Calibration）（4）・
・測定日をメールにてお知らせしますのでReﬂectormode 0.008%
指定された日に試料を山手4 号館 4F404
Mass accuracy （External Calibration）
メーカー：J-SCIENCE・LAB
型

式：MICRO・CORDER・JM10

導入年度：平成 23 年度（主な仕様）
メーカー：Applied Biosystems
測定元素
水素、炭素、窒素型
式：Voyager

測定精度：平成 11絶対誤差± 0.3％以内
導入年度
年度
測定範囲
水素 0.5 ～ 400µg（主な仕様）
炭素 3 ～ 2600µg
Mass range≧ 300000Da
窒素 1 ～ 1000µg
Linear mode
≧ 80（BSA）

号室入口にある箱に入れて下さい。
0.001%（5）・・測定終了後にメールにてお知らせします（Internal Calibration）

ので測定結果、残余試料を回収して下さ特徴い。

測定には感度、分解能が異なる Linear mode
測定例とReﬂector mode の 2 種類がある。
未知試料の測定結果を図1 に記載する。
Linearmode による測定は一般的に高感度、低 分 解 能 で あり、Reﬂector mode はフライト
チューブ内でイオンを反転させることによって、初期運動エネルギーの広がりを収束させる

Resolution≧ 1000（Myoglobin）

効果と飛行距離を伸ばす効果により高分解能

特徴≧ 3000（Angiotensin Ⅰ）を実現している。しかし、感度の点においては≧ 3500（ACTH
依頼分析を以下のように行っている。

Linear mode より低下する。測定の際には、初Reﬂectormode ≧ 10mg
15000（bovine
insulin）
程度を採取しやすい（1）・１試料につきめに Linear mode で目的のピークの有無を確

Resolution≧ 1200（E.coli Thioredoxin）
サンプル管に入れて下さい。

認した後、分解能が不足している場合には更に≧7000（Angiotensin
Ⅰ）【補足】通常、1・回の測定につき2mg 程度使Reﬂector mode
図 1 での測定をすることを薦めたい。
未知試料の測定結果≧ 10000（ACTH Clips）
用します。試料によっては確認のため数回測

備考
また、Reﬂector
mode による mass range は約

定 す る 場 合 が あ る の で、 充 分 な 量 と し て

所外公開はせず、所内専用で運用している。
10000Da程度になるので注意が必要である。

10mg としてありますが、用意できる範囲の機器センターたより

51
53

７．所有設備紹介

有機微量元素分析装置
蛍光X 線分析装置概要
物質に X 線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー（波長）を持つ蛍光 X 線（特性X線）が発生する。この蛍光 X 線のエネルギーを測定することにより、測定物質を構成する元素のを定量的に水、二酸化炭素、窒素に変換し、これらを熱伝導法によって検出する。実際の分析では水分析（定性分析）
を行うことができ、またそのエネルギーのX 線強度から目的元素の濃度を求める（定素、炭素、窒素の含有率が既知の標準試料を分析し、その検出感度から未知試料の含有率を決定する。
量分析）ことができる。蛍光X 線分析装置とは、対象となる試料に
X 線を照射し、そこから発生す（品質管理分析）（石油、石炭、コークスなどの燃料分析）（土壌、ヘドロの分析）（水中の浮遊物質る蛍光X 線のエネルギーを測定することで、試料を構成する元素の種類や濃度を判断するために用および底質の分析）（大気汚染など公害測定）（無機物の分析）等の用途が挙げられる。
いる装置である。この装置の大きな特徴として、対象試料の範囲が広く、固体・液体・粉末など種々
設備紹介（MICRO CORDER JM10）担当）牧田 誠二
所内専用の形態で測定が可能であること、非破壊分析であること、測定作業が簡便で短時間で分析を行えることが挙げられる。
応用範囲は多岐にわたり、金属、鉱物の組成分析の他、食品分析や土壌分析、環境分析でも利用さ10mg としてありますが、用意できる範囲のれている。

試料量でも構いません。
⑵ サンプル管には試料名を明記して下さい。

設備紹介（JSX-3400R Ⅱ）

担当）上田 正⑶ 元素分析依頼書に必要事項を記入の上、メールに添付し元素分析担当者まで送信
特徴 して下さい。
CCD
カメラ（38 万画素、10.8・mm × 8.2・mm）（牧田：E-mail:makita@ims.ac.jp）
で観察しながら試料の分析位置を調整でき、そ⑷ 測定日をメールにてお知らせしますのでのデータは測定データと一緒に保存できる。
指定された日に試料を山手 4 号館 4F404
また、WEEE
指令、RoHS 指令、ELV 指令、号室入口にある箱に入れて下さい。

LAB
型

式：MICRO CORDER JM10

日本の土壌汚染対策法などの有害物質規制に対応⑸ 測定終了後にメールにてお知らせしますしている。極微量の
Cd、Pb、Hg、Cr などの有害ので測定結果、残余試料を回収して下さ

導入年度：平成 23 年度

元素の測定が簡単にでき、分析結果報告書作成ソい。

（主な仕様）

フトによって、報告書が容易に作成可能である。

測定元素

水素、炭素、窒素メーカー：JEOL
測定精度
絶対誤差

± 0.3％以内

測定例
測定方法
未知試料の測定結果を図 1 に記載する。

型測定範囲
式：JSX-3400R
水素 Ⅱ0.5 〜 400μg

固体試料は X 線照射位置に載せるだけで分

導入年度：平成 20
年度 3 〜 2600μg
炭素析可能。試料が粉末や液体の場合は専用のセル（主な仕様）に試料を満たすことで分析ができる。ただし、検出元素範囲窒素

1 〜 1000μg

Na ‐ U

X 線発生装置
5 ‐ 50・kV,・1・mA,・50・W
特徴
ターゲット
Rh
依頼分析を以下のように行っている。
フィルタ
4 種自動交換（オープン含む）⑴ 1 試料につき 10mg 程度を採取しやすい
コリメータ
1・mmφ/・3・mmφ/・7・mmφ
サンプル管に入れて下さい。
検出器
Si（Li）半導体検出器【補足】通常、1回の測定につき2mg 程度使
試料室サイズ
300・mm（φ）・×・150・mm（H）用します。試料によっては確認のため数回
試料室雰囲気大気または真空測定する場合があるので、充分な量としてセル表面には高分子フィルムが貼られており、軽元素の X 線が吸収されてしまうため、軽元素の感度は低下する。粉末試料の場合は加圧整形器でペレットを作製してもよい。
備考

図1

液体試料の測定をする際は、装置の故障、検備考
出器の性能劣化の恐れがあるため、真空排気は
所外公開はせず、所内専用で運用している。
行わないこと。

52
54

機器センターたより

未知試料の測定結果

７．所有設備紹介

蛍光X線分析装置
核磁気共鳴（NMR）装置
概要
概要
核磁気共鳴（NMR）とは磁気モ－メントをもつ原子核を含む物質を磁場の中におき、これに共鳴物質に X 線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー（波長）を持つ蛍光 X 線（特性 X 線）
条件を満足する周波数の電磁波を加えたときにおこる共鳴現象である。核磁気共鳴装置はこの共鳴現が発生する。この蛍光 X 線のエネルギーを測定することにより、測定物質を構成する元素の分析（定性分
象を観測することによって、原子の化学的環境を反映した原子個々の情報（どの原子とどの原子が隣析）を行うことができ、またそのエネルギーの X 線強度から目的元素の濃度を求める（定量分析）ことがり合っているか、原子間の距離がどの程度かなど）が得られるので、化合物の分子構造や組成、物理できる。蛍光 X 線分析装置とは、対象となる試料に X 線を照射し、そこから発生する蛍光 X 線のエネル
化学的性質を分析する方法として様々な分野で日常的に用いられる。
ギーを測定することで、試料を構成する元素の種類や濃度を判断するために用いる装置である。この装置の大きな特徴として、対象試料の範囲が広く、固体・液体・粉末など種々の形態で測定が可能であること、
設備紹介（AVANCE800）担当）加藤 晃一
非破壊分析であること、測定作業が簡便で短時間で分析を行えることが挙げられる。
応用範囲は多岐にわたり、金属、鉱物の組成分析の他、食品分析や土壌分析、環境分析でも利用され（主な仕様）ている。
設備紹介（JSX 3400RⅡ）

磁場18.79・T

感度（S/N）

1

プローブ

H ＝ 8800、13C担当）上田＝ 1900正
H-C-N 三重共鳴 TCI 型クライ

オプローブ・
特徴
システム
OS：CentOS・5
CCD カメラ（38 万画素、10.8 mm × 8.2 mm）
Software：TopSpin2.1
で観察しながら試料の分析位置を調整でき、そのデータは測定データと一緒に保存できる。
特徴
また、WEEE 指 令、RoHS 指 令、ELV 指 令、• 溶液の HCN 三重共鳴測定が可能
日本の土壌汚染対策法などの有害物質規制に対• 極低温プローブによる超高感度計測に対応応している。極微量のCd、Pb、Hg、Cr などの有害元素の測定が簡単にでき、分析結果報告書作
成ソフ
備考 トによって、報告書が容易に作成可能である。
TCI 型クライオプローブは低温下に保たれメーカー：JEOL

1
H および 13C プリアンプを搭載し、1H、13C
た
測定方法

メーカー：Brukerの高感度測定に最適化されている。
固体試料は X 線照射位置に載せるだけで分析

型
式：AVANCE800
導入年度：平成20年度可能。試料が粉末や液体の場合は専用のセルに

導入年度：平成 25 年度（主な仕様）

試料を満たすことで分析ができる。ただし、セル

検出元素範囲NaU

X 線発生装置

5

ターゲット

Rh

低下する。粉末試料の場合は加圧整形器でペレフィルタ

4 種自動交換（オープン含む）

ットを作製してもよい。

コリメータ

1 mmφ / 3 mmφ / 7 mmφ

検出器

S（
i Li）
半導体検出器

試料室サイズ

300 mm（φ）× 150 mm（H）

試料室雰囲気大気または真空50 kV, 1 mA, 50 W

表面には高分子フィルムが貼られており、軽元素の X 線が吸収されてしまうため、軽元素の感度は

備考
液体試料の測定をする際は、装置の故障、検出器の性能劣化の恐れがあるため、真空排気は行わないこと。

機器センターたより

53
55

７．所有設備紹介
設備紹介（AVANCE600）

核磁気共鳴（NMR）装置
概要

担当）西村

勝之

（主な仕様）
磁場

14.1T

感度（S/N）

Liquid：1H ≧ 1028

核磁気共鳴（NMR）とは磁気モ−メントをもつ原子核を含む物質を磁場の中におき、これに共鳴
プローブ
Liquid：5・mm・H-C-N 三重共鳴
TXI 型
条件を満足する周波数の電磁波を加えたときにおこる共鳴現象である。核磁気共鳴装置はこの共鳴現
Solid：2.5・mm・H-C-N 三重共鳴
象を観測することによって、原子の化学的環境を反映した原子個々の情報（どの原子とどの原子が隣CPMASり合っているか、原子間の距離がどの程度かなど）が得られるので、化合物の分子構造や組成、物理
システム
OS：CentOS・5
化学的性質を分析する方法として様々な分野で日常的に用いられる。
Software：TopSpin2.1
設備紹介（JNM ECA920）
メーカー：Bruker
型

式：AVANCE600

導入年度：平成 25 年度担当）牧田誠二・長尾春代
特徴（主な仕様）• ・溶液の HCN 三重共鳴測定が可能（核種固定）
磁場21.6 T• ・固体の HCN 三重共鳴測定が可能（核種固定）
感度（S/N） Liquid：1H ＝ 2500
• ・固体の試料体積 15・µl
Solid：13C ＝ 600• ・固体 MAS 最高回転周波数 35kHz
プローブ
Liquid：HCNFG3、CHFG3• ・長時間低温測定ユニットによる長時間低温測、定が可能 溶液：－50℃、固体：－30℃、

設備紹介（JNM-ECA600）

担当）水川

哲徳、長尾

システム

OS：Red Hat Linux7.3、

プローブ

Mac OS10.4
Royal、HCNFG3、T10L
Software：Delta4.3.4
OS：Windows7・、

システム

春代

Software：Delta5.0.4
特徴特徴• ・溶液の各種多核測定が可能（低周波数核種を含む）• 温測定が可能
・溶液の HCN 三重共鳴測定が可能• ・長時間低温測定ユニットによる長時間低温測メーカー：JEOL

定（－30℃まで）が可能
メーカー：・JEOL16 年度
導入年度：平成型

式：・JNM-ECA600

導入年度：・・・平成 21 年度（平成 22 年度システム・
ソフトウェア更新）（主な仕様）
磁場14.1・T

感度（S/N）

Liquid（Royal）：1H ≧ 850、
13

C ≧ 330

54
56

機器センターたより• ・液体窒素 30L 容器を用いた－100℃までの低温測定が可能• ・予約は 15 分単位で、長時間測定優先

７．所有設備紹介
設備紹介（JNM-ECS400）
設備紹介（AVANCE800）

担当）水川 担当）谷中哲徳、長尾 冴子春代

所内専用
（主な仕様）
磁場
磁場

9.4・T
18.79 T1
13
13 ≧ 190
感度（S/N）
感度（S/N） 1H
H≧＝280、8800、CC ＝ 1900
プローブ
TH5AT/FG・
プローブ
システム

システム

OS：Windows7・、
イオプローブSoftware：Delta5.0.4
OS：CentOS 5

特徴

Software：TopSpin2.1• 溶液の各種多核測定が可能• ・液体窒素 10L 容器を用いた－100℃までの低特徴
温測定が可能• 予約は 15 分単位

メーカー：JEOL型

式：JNM-ECS400
備考

導入年度：平成 23 年度

所外公開はしていません。
TCI
型クライオプローブは低温下に保たれメーカー：Bruker

た 1H および 13C プリアンプを搭載し、1H、13C型の高感度測定に最適化されている。

式：AVANCE800

導入年度：平成 25 年度
表1

所有プローブ一覧

装置
プローブ
設備紹介（AVANCE600）

観測核

照射核

温度範囲

AVANCE800

5・mm・H-C-N・TCI 型 cryo

1

H

13

＋5 ～＋75℃○

AVANCE600

5・mm・H-C-N・TXI 型

1

H

13 15
プローブ
C, N

Liquid：5mm－50 ～＋80℃○

2.5・mm・H-C-N・CPMAS

1－30 ～＋80℃

×5・mm・Royal・－100 ～＋150℃○－20 ～＋100℃5
OS：CentOS

×

ECA600ECS400

C,15N

H,13C,15N

Auto・Tune担当）西村勝之

共鳴 TXI 型

H,13C,15N

1

1

H・or・19F

155・mm・HCNFG3・

1

H

C, N
システム

10・mm・T10L

103

Rh ～ 15N

1

H

Software：TopSpin2.1－50 ～＋120℃
×5・mm・TH5AT/FG

15

N ～ 31P

1

H・or・19F－100 ～ +150℃

N ～ 31P

13

15

Solid：2.5 mm
共鳴 CPMAS○（装置やプローブの選択について、不明な点がありましたらご相談ください。）
特徴
メーカー：Bruker
型

式：AVANCE600μl

導入年度：平成 25 年度（主な仕様）
磁場

14.1T

感度（S/N）

Liquid：1H ≧ 1028

機器センターたより

55
57

７．所有設備紹介

ピコ秒レーザー概要
超短パルスレーザーでは、不確定性原理によってパルスの時間幅と波長幅（バンド幅）を同時に狭超短パルスレーザーでは、不確定性原理によってパルスの時間幅と波長幅（バンド幅）を同時に狭くすることは相反するが、ピコ秒のレーザーはその両者、つまり時間分解能とエネルギー分解能の両くすることは相反するが、ピコ秒のレーザーはその両者、つまり時間分解能とエネルギー分解能の両方において高い分解能が得られる。そのためピコ秒レーザーは、分光研究における超高速時間分解実方において高い分解能が得られるとされている。そのためピコ秒レーザーは、分光研究における超高験の分光用光源として用いられ、吸収、或いは蛍光スペクトルを高い分解能で観測するための重要な
速時間分解実験の分光用光源として用いられ、吸収、或いは蛍光スペクトルを高い分解能で観測するツールである。また、パルス幅が短くピークパワーが高いことから、熱影響の少ない精密微細加工をための重要なツールである。
実現できるツールとしても応用されている。
また、ピコ秒レーザーは、パルス幅が短くピークパワーが高いため、熱影響の少ない精密微細加工を実現できるツールとしても応用されている。
設備紹介（Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS）

担当）上田

正

設備紹介（Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS）

担当）上田

正

長を任意に出力できる。
（2）・・レーザー加工が可能。（要相談）
特徴
加工例：石英ガラス・SEM 像（写真 1）
本システムは、紫外光から赤外光の広範囲に（3）・・ポンプ・プローブ過渡吸収測定システム
渡って、波長を任意に出力できる。また、紫外を構築している。（要相談）
光と赤外光の2波長を同時に出力できるため、（蛍光寿命測定システムを立ち上げ中）
ポンプ・プローブ実験にも適用できる。
装置の構成
ブロック図を図 1 に示す。CW 半導体レー本システムは、図1に示すようにすべて固体
ザーを励起光源としたモードロック
レーザーで構成されている。CW半導体レーザ

メーカー：Spectra-Physics,Quantronix

Ti:Sapphire レーザーの出力光をシード光としーを励起光源としたモードロックTi:Sapphire

型て、ポンプ光には Q-Switch・ Nd:YLF レーザー
レーザーの出力光をシード光として、ポンプ光式：Millennia-Tsunami,TITAN-TOPAS

導入年度：平成 10 年度

を用い、チタンサファイア再生増幅器からピコにはQ-Switch
Nd:YLFレーザーを用い、チタン（平成 26 年度 Millennia のみ更新）
導入年度：平成10年度

秒赤外光（790・ nm）を発振させている。再生サファイア再生増幅器からピコ秒赤外光（790（主な仕様）（平成26年度Millenniaのみ更新）
波長490 ～ 800・nm・at・TOPAS・400

増幅器の出力を 2 つに分け、一方で 2 倍波（395・nm）を発振させている。この再生増幅器の出力（Main・Curve） 1180 ～ 1700・nm・at・TOPAS・800（主な仕様）
パルスエネル＞・60・mW・at・550・nm（S+I）
波長490〜 800 nm at TOPAS 400

ギー Curve） 1180
＞・700・mW・at・1300・nm
（S+I）
（Main
〜 1700 nm at TOPAS
800（RGA・1.3・W・at・790・nm）
パ ル ス エ ネ ＞ 60 mW at 550 nm（S+I）
ルギー
パルス幅
繰り返し

・12・W）＞ 700（Pump（YLF）
mW at 1300 nm（S+I）＜・5・ps（RGA 1.3 W at 790 nm）
1・kHz（Pump（YLF）12 W）

nm）を発振させ紫外光用（TOPAS・ 400:・
を2つに分け、一方（約0.83OPA・W）で2倍波（395Travelling‐wave・Optical・Parametric・Amplifier・nm）を発振させ紫外光用OPA（ TOPAS 400:
of・Superfluorescence・400）
・を励起し、残りのもOptical Parametric
Ampliﬁer
う一方で赤外光用
OPA・（TOPAS・
800）・を励起
ofSuperﬂuorescence400） を励起し、残りし、紫外から赤外のレーザー光を発振させていのもう一方（約0.43 W）で赤外光用OPA （る。
TOPAS800 ） を励起し、チューナブルな紫外（1）・・発 振波長：・ 原理的には、表 1 に示す波長
光、及び赤外光を発振させている。
が得られる。TOPAS・800・からシグナル光、

パルス幅＜ 5 psア イ ド ラ 光 が 得 ら れ、 外 付 け の BBO・

繰り返し
特徴

1 kHz

Crystal を取り替えることでそれぞれの⑴ 発振波長：原理的には、表 1 に示す波長が得2（1）・・紫外光から赤外光の広範囲に渡って、波58

機器センターたより

倍波発生（SHS,SHI）や、ポンプ光（790・られる。TOPAS
800 からシグナル光、ア７．所有設備紹介nm）とシグナル光、或いはアイドラ光とイドラ光が得られ、外付けの BBO Crystal⑶ パルス幅（時間分解能）： 図1に示すように、の和 周 波 発 生（SFS,SFI）、 シ グ ナ
ル 光、を取り替えることでそれぞれの
2 倍波発

オプティカルディレイステージを利用した

ア
イ ド ラ 光や、それぞプ
れ光の4 倍nm）
波発生（SHS,SHI）
ポン
（790
と生
シ

自己相関法で測定した。その結果、およそ（FHS,FHI）、さらにはシグナル光とアイド
グナル光、或いはアイドラ光との和周波発

2 ps（図 3）であった。

ラ光との差周
波 発 生（DFG）に よ っ て、生（SFS,SFI）、シグナル光、
アイドラ光そ表１

紫外光から赤外光のレーザー光を得ること
れぞれの 4 倍波発生（FHS,FHI）、さらにはができる。また、TOPAS・
400・ からも同様
シグナル光とアイドラ光との差周波発生にシグナル光、アイドラ光、それぞれの2（DFG）によって、紫外光から赤外光のレー倍波発生を得ることができる。波長帯によザー光を得ることができる。また、TOPASって光軸調整が必要となるが、PCに波長400 からも同様にシグナル光、アイドラ光、を入力すれば出力される。
それぞれの2倍波発生を得ることができる。
（2）・・出
力値：・図 2 に TOPAS・400,・800・のパワー
外付けの結晶を必要とする場合は、光軸のスペクトル（メインカーブのみ）を示す。
調整が必要となるが、パソコンに希望する（3）・・パルス幅（時間分解能）：・ オプティカルデ
波長を入力すれば、出力される。
⑵ ィレイステージを利用した自己相関法で出 力 値： 図 2 に、TOPAS 400 と TOPAS
LabView
による自動測定を行った。その800 のパワースペクトル（メインカーブの発振波長（nm）

TOPAS 800

TOPAS 400

Signal 1180 〜 1700

Signal 490 〜 800

Idler 2385 〜 1475

Idler 2030 〜 780

SHS

590 〜 850

SHS

300 〜 400

SHI

1180 〜写真
740
SHS
1 加工例

245 〜 355SFS

474 〜 538

510 〜 395

SFI

593 〜 515FHS

295 〜 425

FHI

500 〜 370

SHI

DFG 2400 〜 10500

結果、約2.7・ps（図 3）であった。
み）を示す。
表１

発振波長（nm）

TOPAS・800

TOPAS・400

Signal・ 1180・・～・・1700 Signal・

490・～・800

Idler・

2385・ ～・・1475 Idler・

2030・～・780

SHS・

590・・～・・ ・850 SHS・

300・～・400

SHI・

1180・・～・・ ・740 SHS・

245・～・355
510・～・395

SFS・

474・・～・・・ 538 SHI・

SFI・

593・・～・・・ 515

FHS・

295・・～・・・ 425

FHI・

500・・～・・・ 370

DFG・

2400・・～・10500
図１

ブロック図

図３

パルス幅の測定

TOPAS 400
Auto-correlation time
Signal : 600 nm

120

Signal + Idler Power (mw)

図２・パワースペクトル（メインカーブのみ）

100

Fitting function: Gaussian

TOPAS 800

80

TOPAS 400

2.0 ps

60
40
20
0
500

図２

700

900

1100

1300
1500
Wavelength (nm)

1700

-3.0

パワースペクトル（メインカーブのみ）

図１

-2.0

-1.0

図３

0.0

1.0

2.0
3.0
ps/time4.0

パルス幅の測定

ブロック図
機器センターたより

59

７．所有設備紹介

ナノ秒レーザー
概要

今年度をもって利用終了いたします。

ナノ秒レーザーとは、時間幅が数ナノ秒から数十ナノ秒の光パルスを発生させることができるレー
ナノ秒レーザーとは、時間幅が数ナノ秒から数十ナノ秒の光パルスを発生させることができるレーザー装置で、エキシマーレーザーやパルス
Nd:YAG レーザー及び、それらを励起レーザーとする波ザー装置で、エキシマーレーザーやパルスNd:YAGレーザー及び、それらを励起レーザーとする波長長可変レーザーの総称である。
可変レーザーの総称である。
エキシマーレーザーは、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガスと、フッ素、塩素などのハエキシマーレーザーは、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガスと、フッ素、塩素などのハ
ロゲンの混合ガスを用いてレーザー光を発生させる装置である。Nd:YAG
レーザーは、固体レーザー
ロゲンの混合ガスを用いてレーザー光を発生させる装置である。Nd:YAGレーザーは、固体レーザー装置で基本波（1064nm）の他、2倍波（532nm）、3 倍波（355nm）、4 倍波（266nm）も発生させる装置で基本波（1064nm）の他、2倍波（532nm）、3倍波（355nm）、4倍波（266nm）も発生させることができる。共に非常に強い紫外領域のレーザー光が得られる装置である。
ことができる。共に非常に強い紫外領域のレーザー光が得られる装置である。
色素レーザーは、蛍光を発する色素溶液をレーザー媒体とするレーザー装置で、色素溶液の種類を
色素レーザーは、蛍光を発する色素溶液をレーザー媒体とするレーザー装置で、色素溶液の種類を選択することによって紫外から近赤外の広い波長範囲にわたってレーザー光を発生させることができ
選択することによって紫外から近赤外の広い波長範囲にわたってレーザー光を発生させることができる。OPO（光パラメトリック発振：Optical・
Parametric・ Oscillator）レーザーは、光パラメトリック
る。OPO（光パラメトリック発振：Optical Parametric
Oscillator）レーザーは、光パラメトリック
増幅を応用したレーザーであり、Signal
光と Idler 光が得られる。
増幅を応用したレーザーであり、Signal光とIdler光が得られる。
分子科学の実験では、さまざまな分子の光吸収領域等に応じて、あらゆる光領域のレーザー光が求分子科学の実験では、さまざまな分子の光吸収領域等に応じて、あらゆる光領域のレーザー光が求められる。色素レーザー及びOPO レーザー共に、安定した光パルス特性、高い波長分解能及び広いめられる。色素レーザー及びOPOレーザー共に、安定した光パルス特性、高い波長分解能及び広い
波長可変性などの特性を利用して様々な分光実験や光化学反応などの励起光源として利用されている。
波長可変性などの特性を利用して様々な分光実験や光化学反応などの励起光源として利用されている。
設備紹介（エキシマー励起色素レーザー /Compex Pro 110, LPD3002）

担当）山中

孝弥

設備紹介（エキシマー励起色素レーザー /Compex Pro 110, LPD3002）

担当）山中

孝弥

（主な仕様）
波長範囲（主な仕様）
波長範囲
パルスエネルギー

基本波 320・–・970・nm
2 倍波・260・–・348・nm
基本波
320 970 nm
10mJ/pulse・at・580・nm
2 倍波 260 348 nm

パルス幅
波長分解能
発振繰り返しパルス幅

1mJ/pulse・at・290・nm
10mJ/pulse
at 580 nm
0.2・cm-1
1mJ/pulse at 290 nm～ 10・ns
0.2 cm
単発～ 50・Hz〜 10 ns

発振繰り返し単発〜 50 Hz

パルスエネルギー
波長分解能

測定例
メーカー：Coherent,・Lambda・Physik

超音速ジェット中における多環芳香族化合物
測定例

型
式：Compex・Pro・110,・LPD3002
メーカー：Coherent,
Lambda Physik
導入年度：平成
20 年度
4 年度
型
式：Compex
Pro ,・平成110, LPD3002などの高分解能分光や微弱光分光などの励起光
超音速ジェット中における多環芳香族化合物源に用いられている。
などの高分解能分光や微弱光分光などの励起光

導入年度：平成20年度, 平成4年度

源に用いられている。

60

機器センターたより

７．所有設備紹介
設備紹介（Nd:YAG 励起
励起 OPOOPO レーザー
レーザー /GCR-250,/GCR-250, Scanmate
Scanmate OPPO）
OPPO）
設備紹介（Nd:YAG担当）山中 孝弥

（主な仕様）
波長範囲
波長範囲

Signal426 710 nm
Signal・426・-・710・nm
Idler
710 2135 nm
Idler・・710・–・2135・nm

パルスエネルギー
パルスエネルギー

10mJ/pulse・at・580・nm
10mJ/pulse
at 580 nm

波長分解能
波長分解能
パルス幅
パルス幅

-1
0.15・cm
0.15
cm
～12
12・ns
〜
ns

発振繰り返し発振繰り返し

10・Hz
10
Hz

測定例
気相あるいは凝縮相などの過渡吸収、蛍光減メーカー：Spectra-Physics,・Lambda・Physik
Lambda Physik

衰曲線及び時間分解蛍光スペクトルなどの測定型における励起光源に用いられている。エキシマ

式：GCR-250,・Scanmate・OPPO
Scanmate OPPO

導入年度：平成
導入年度：平成 77 年度
年度

励起色素レーザーと組み合わせた同期励起が可能であり、2波長分光等にも応用されている。
能であり、2 波長分光等にも応用されている。

設備紹介（フッ素系エキシマーレーザー /Compex 110F）
設備紹介（フッ素系エキシマーレーザー /Compex 110F）担当）山中 孝弥
担当）山中 孝弥

（主な仕様）（主な仕様）
発振繰り返し単発〜 100Hz

発振繰り返し発振波長

193単発～
nm 100Hz

発振波長193・nm・（パルスエネルギー）（200mJ/pulse）（パルスエネルギー）248（200mJ/pulse）
nm
248・nm・（400mJ/pulse）（400mJ/pulse）
351
nm
351・nm・（150mJ/pulse）（150mJ/pulse）

測定例
メーカー：Lambda Physik

測定例
光化学反応や光イオン化などの励起光源に用メーカー：Lambda・Physik
型
式：Compex 110F

光化学反応や光イオン化などの励起光源に用いられている。

型
式：Compex・110F
導入年度：平成
7 年度

いられている。

導入年度：平成 7 年度

機器センターたより

61７．所有設備紹介

蛍光分光光度計
概要
放出される蛍光強度やスペクトルを測定して物質の定量、蛍光分光光度計は、励起光を試料に当て、放出される蛍光強度やスペクトルを測定して物質の定量、定性分析を行う装置で、吸光分析である分光光度計よりも非常に高い感度で測定が可能である。観測
定性分析を行う装置で、吸光分析である分光光度計よりも非常に高い感度で測定が可能である。観測側（蛍光側）の分光器の波長を蛍光波長に固定し、励起側の分光器の波長をスキャンすると励起スペ側（蛍光側）の分光器の波長を蛍光波長に固定し、励起側の分光器の波長をスキャンすると励起スペクトルが得られる。励起側の波長を固定（最も強い蛍光を生じる励起波長）し、観測側の分光器の波クトルが得られる。励起側の波長を固定（最も強い蛍光を生じる励起波長）し、観測側の分光器の波長をスキャンすると蛍光スペクトルが得られる。また、励起側分光器と観測側分光器の両方の波長を長をスキャンすると蛍光スペクトルが得られる。また、励起側分光器と観測側分光器の両方の波長をスキャンさせて測定できる装置もあり、簡単に蛍光励起スペクトルの測定が可能である。
スキャンさせて測定できる装置もあり、簡単に蛍光励起スペクトルの測定が可能である。
設備紹介（SPEX Fluorolog 3-21）

担当）上田 正担当）上田 正光源
スキャンスピード
スキャンスピード
その他
その他

450・W・・Xe
ランプ
最大 150 nm/sec
最大150・nm/sec
リファレンス検出器有リファレンス検出器有特徴
特徴• 励起側分光器、試料室、観測側分光器、光検・米国の SPEX 社製モジュール方式で、光源部、励起側分光器、試料室、観測側分光器、光検出部、制御部から構成されている。本装置の出部、制御部から構成されている。本装置の光学系概略図を図1 に示す。
光学系概略図を図 1 に示す。
メーカー：HORIBA
型

式：SPEX・Fluorolog・3-21
式：SPEX Fluorolog

導入年度：平成 8 年度
（平成
21 年度・更新、（平成21年度
更新、
平成
25 年度・ソフトウエア・Win・7
化）
平成25年度
ソフトウエア Win 7化）（主な仕様）
波長範囲
波長範囲

波長精度
波長精度
検出方式
検出方式
励起光分光器
信号対雑音比率
励起光分光器
光電子増倍管信号対雑音比率
光電子増倍管光源

62

Ex.・250・～・1000・nm
Ex. 250 〜 1000 nm
Em.
Em.
UV-VIS：290 〜 800 nm
UV-VIS：290・～・800・nm
IR：500 nm 〜 1.6 μm
IR：500・nm・～・1.6・µm・± 0.5 nm± 0.5・nmフォトンカウンティン
フォトンカウンティング
グ検出
検出
ダブルモノクロ分光器
4000：1
ダブルモノクロ分光器
4000：1
UV-VIS：R928（電子冷却）（液体窒素冷却）
IR：R5509-73
450 W Xe ランプ（液体窒素冷却）機器センターたより

図１

光学系概略図図1

光学系概略図７．所有設備紹介• ・フォトンカウンティング検出によって、超微弱蛍光測定が可能である。
弱蛍光測定が可能である。

グラフから、S/N・比8033:1・となった。
グラフから、S/N 比8033:1 となった。
512,690 㸫4010• ・近赤外（～ 1500・nm）の領域まで測定できるnm）の領域まで測定できる

4010

㸻
・

光電子増倍管も備えており、紫外可視用検出光電子増倍管も備えており、紫外可視用検出⑵ 近赤外 − 蛍光励起スペクトル器との切換機構は本装置独自のもので、ワン器との切換機構は本装置独自のもので、ワン（2）・近赤外・－・蛍光励起スペクトル（3D
マトリックススキャン）

タッチで切り換えることが可能である。
タッチで切り換えることが可能である。

（3D
マトリックススキャン）
レーザー媒質としてよく知られる
Nd:YAG• ・励起側はダブルグレーティング分光器となっレーザー媒質としてよく知られる
Nd:YAGの結晶（YNdxAl5O12）を用いて、3D
マト
3D
マトリッ
の結晶（Y
リックススキャン測定を行った。
この結晶は、
3-xNdxAl5O12）を用いて、ており低迷光を実現している。
ており低迷光を実現している。
• ・高速スキャンによって測定時間が短縮でき、

クススキャン測定を行った。この結晶は、730・730 nm と 800 nm 付近の光を吸収して基底時間とともに劣化する試料についても、より時間とともに劣化する試料についても、よりnm状態から高いエネルギー準位に遷移し、そのと 800・ nm 付近の光を吸収して基底状態か信頼性の高いデータが得られる。
信頼性の高いデータが得られる。

ら高いエネルギー準位に遷移し、その後速い無後速い無放射遷移を経て 1064 nm でレーザー• ・装置の制御やデータ収集は、科学分野で広く

放射遷移を経て1064・ nm でレーザー発振が起
発振が起こる。励起波長を700 nm 〜 900

利用されている「Origin」ベースのソフトウ利用されている「Origin」ベースのソフトウェ

こる。励起波長を
nm・
～・〜
900・
nm、蛍光波nm、蛍光波長を700・
1000
nm
1100
nm とし

ェ
ア「FluorEssence」て、
ア「FluorEssence」
にに
よよ
っっ
て、
操操
作作
がが
簡簡
単

長を
1000・nm・～・1100・nm として自動測定したて自動測定した結果を図3 に示す。3D 表示

単便利になっており、蛍光励起スペクトル測便利になっており、蛍光励起スペクトル測定

結果を図3 に示す。3D 表示によって、励起波によって、励起波長に対する蛍光のピーク波

定（3D
マトリックススキャン）も容易である。
（3D
マトリックススキャン）も容易である。

長に対する蛍光のピーク波長が1064・ nm であ長が 1064 nm であることがよく分かる。な
ることがよく分かる。なお、高速スキャン化に
お、高速スキャン化によって、測定時間は約

測定例
測定例

よ70
っ 分（Increment:て、 測 定 時 間 1はnm）であった。
約 70 分（Increment:・ 1・（1）のラマンスペクトル⑴・水水のラマンスペクトルnm）であった。

蛍光分光光度計の感度の評価方法として、水
蛍光分光光度計の感度の評価方法として、のラマンスペクトルのS/N比（信号対雑音
水のラマンスペクトルのS/N比（信号対雑比率）の値が用いられ、音比率）の値が用いられ、

で定義されている。バックグランド値とはラで定義されている。バックグランド値とはラマン光シグナルが現われない波長
マン光シグナルが現われない波長 450・
450 nmnm ののIntensity(counts/s)

時の値である。測定結果を図時の値である。測定結果を図 22 に示す。に示す。

Water Raman signal: 397 nm= 512,690 counts/s

500000400000

Right Angle View
Em 365-450 nm, Slits 5nm
Ex 350nm, Slits 5nm
Inc 1.0nm, Int 0.5sec
HV 950V

300000200000Background signal= 4,010 counts/s

100000
0
380

400

420

440

Wavelength(nm)

図２
図 2 水のラマンスペクトル
水のラマンスペクトル図３
蛍光励起スペクトル
図
3 蛍光励起スペクトル

機器センターたより

63７．所有設備紹介

円二色性分散計
概要
円二色性分散計は光学活性分子の立体構造（相対～絶対配置、立体配座、生体高分子の高次構造）
円二色性分散計は光学活性分子の立体構造（相対〜絶対配置、立体配座、生体高分子の高次構造）を解析する手段として利用される。分光器から出た光は偏光子で直線偏光にされ、円偏光変調器で左を解析する手段として利用される。分光器から出た光は偏光子で直線偏光にされ、円偏光変調器で左右円偏光が交互に作られ試料を通過する。この時、試料が光学活性物質であると円偏光の不等吸収が
右円偏光が交互に作られ試料を通過する。この時、試料が光学活性物質であると円偏光の不等吸収が起こり（この現象を円二色性または CD と呼ぶ）、その左右円偏光の差吸光度⊿ A（通常は楕円率θ
起こり（この現象を円二色性またはCDと呼ぶ）、その左右円偏光の差吸光度⊿A（通常は楕円率θでで表される）が観測される。楕円率とは直線偏光を光学活性物質の吸収波長で通過させると楕円偏光表される）が観測される。楕円率とは直線偏光を光学活性物質の吸収波長で通過させると楕円偏光にになるが、その楕円の短軸長軸の正接角θをもって定義され、⊿ A が小さいとθ =33 ×⊿ A が成りなるが、その楕円の短軸長軸の正接角θをもって定義され、⊿Aが小さいとθ=33×⊿Aが成り立つ。
立つ。CD 測定でのフルスケールはθ表示（単位 mdeg）である。
CD測定でのフルスケールはθ表示（単位mdeg）である。
設備紹介（J-720WI）
設備紹介（J 720WI）担当）水川 哲徳担当）牧田 誠二
レスポンス
レスポンス
走査速度
走査速度

フルスケール
フルスケール

縦軸分解能
縦軸分解能

メーカー：JASCO
メーカー：JASCO
型
式：J-720WI
導入年度：平成7年度
導入年度：平成 7 年度
（主な仕様）（主な仕様）
光源

450W Xe ランプ水冷方式

光源
検出器
検出器
変調器

450W・Xe
ランプ水冷方式
ヘッドオン型光電子増倍管
ヘッドオン型光電子増倍管
ピエゾエラスティックモデュ

変調器

ピエゾエラスティックモデュ
レータ
レータ
測定波長範囲 165 〜 1100nm
測定波長範囲 165 ～ 1100nm
波長正確さ
165 〜 180nm ± 0.2nm
波長正確さ
165 ～ 180nm・・± 0.2nm
180 〜 250nm ± 0.1nm
180 ～ 250nm・・± 0.1nm
250 〜 500nm ± 0.3nm
250 ～ 500nm・・± 0.3nm
500 〜 800nm ± 0.8nm
500 ～ 800nm・・± 0.8nm
800 〜 1100nm ± 2.0nm
800 ～ 1100nm・± 2.0nm
バンド幅
0.1 〜 10nm
バンド幅
0.1 ～ 10nm
スリット幅
1 〜 3000μm
スリット幅
1 ～ 3000µm

64

機器センターたより

0.5msec
0.5msec ～〜 16sec
16sec
11 ～〜 5000nm/min
5000nm/min±± 200mdeg
200mdeg（感度
100mdegの時）の時）（感度 100mdeg±± 2000mdeg
2000mdeg（感度1000mdegの時）の時）（感度 1000mdeg

0.01mdeg（感度 100mdeg の時）
0.01mde（g 感度 100mdeg の時）
0.1mdeg（感度 1000mdeg の時）
0.1mde（g 感度 1000mdeg の時）
RMS ノイズ
185nm・・・0.05mdeg
RMS ノイズ
185nm 0.05mdeg
200nm・・・0.04mdeg
200nm 0.04mdeg
500nm・・・0.035mdeg
500nm 0.035mdeg
ベースライン 0.2mdeg/hr
ベースライン
0.2mdeg/hr
安定性
安定性
UV 測定
シングルビーム測定
シングルビーム測定
UV 測定
測光レンジ 0 ～ 5Abs
測光レンジ 0 〜 5Abs
測光正確さ± 0.01Abs
測光正確さ± 0.01Abs
特徴
特徴
以下の付属品を所有している。
以下の付属品を所有している。
• ペルチェ式恒温装置• 温度コントローラー• タンパク質二次構造解析プログラム• クライオスタット• MCD

７．所有設備紹介

可視紫外分光光度計
概要
概要
可視紫外分光光度計は、測定する物質が可視紫外領域の光に対してどの程度その光を吸収するかを
可視紫外分光光度計は、測定する物質が可視紫外領域の光に対してどの程度その光を吸収するかを波長分布として測定する装置である。実際は、透過率を測定しソフトウエアで計算によって吸光度を波長分布として測定する装置である。実際は、透過率を測定しソフトウエアで計算によって吸光度を求めており、物質の同定や性質、あるいは濃度（定量分析）を調べることができる。付属装置によっ求めており、物質の同定や性質、あるいは濃度（定量分析）を調べることができる。付属装置によって、半導体・薄膜・ガラスやフィルムなどの固体試料の反射率・透過率測定ができる装置もある。
て、半導体・薄膜・ガラスやフィルムなどの固体試料の反射率・透過率測定ができる装置もある。
設備紹介（U-3500）
設備紹介（U-3500）

担当）上田 正担当）上田 正ベースライン
ベースライン ＜±＜±0.002・Abs:240
0.002 Abs:240～〜850nm
850nm
平坦度
平坦度

（スリット 6nm）＜±＜±0.004・Abs:850
0.004 Abs:850～〜2200nm
2200nm（スリット自動）（スリット自動）＜±＜±0.008・Abs:220
0.008 Abs:220～〜2600nm
2600nm]（スリット自動）（スリット自動）特徴• 測定波長領域が広い。
特徴• 光源にヨウ素タングステンランプ（可視域）
メーカー：Hitachi
メーカー：Hitachiと重水素ランプ（紫外域）を使用し、測定波型型

式：U-3500
式：U-3500

長に応じて自動切り換え。
と重水素ランプ（紫外域）を使用し、測定波

導入年度：平成8 年度
導入年度：平成8年度• 長に応じて自動切り換え。
分光器をシリーズに結合したダブルモノクロ（平成 18 年ソフトウエア更新）（平成18年ソフトウエア更新）

メータとなっているため、超低迷光で高い吸光度まで測定が可能。
メータとなっているため、超低迷光で高い吸（主な仕様）（主な仕様）
波長範囲
波長範囲
分光器
分光器
検出器
検出器

波長設定
波長設定
繰返し精度
繰返し精度
測定モード
測定モード

• 光度まで測定が可能。
分光された単色光は、回転ミラーによって対200・nm・～・3200・nm
200 nm 〜 3200 nm
プリズム・回折格子型ダブル
プリズム・回折格子型ダブ
モノクロメータ
ルモノクロメータ
光電子増倍管 R-928（紫外可視域）（紫外可視域）
冷却型 Pbs（近赤外域）
冷却型 Pbs（近赤外域）± 0.1・nm（紫外可視域）± 0.1 nm（紫外可視域）± 0.5・nm（近赤外域）± 0.5 nm（近赤外域）
吸光度、透過率、反射率、吸光度、透過率、反射率、リファレンス側エネルギー、
リファレンス側エネルギー、
サンプル側エネルギー
サンプル側エネルギー

照側と試料側とに分岐して試料室に導かれる
ダブルビーム方式となっているため、高精度
照側と試料側とに分岐して試料室に導かれる測定を迅速に行うことが可能で、経時変化やダブルビーム方式となっているため、高精度
温度変化に伴う吸光度変化を測定する場合に測定を迅速に行うことが可能で、経時変化やも有用。
温度変化に伴う吸光度変化を測定する場合に• も有用。
冷 却型の近赤外検知器の採用によって、測定感度が良好。
• 感度が良好。
付属装置として、固体試料（ガラスフィルタ
ーやフィルム）測定用ホルダー、5 度正反射率測定用ホルダー等も装備。
やフィルム）測定用ホルダー、5 度正反射率
測定用ホルダー等も装備。

機器センターたより65

７．所有設備紹介

フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
概要
分子や固体結晶を構成する原子は化学結合の状態を反映した振動数で振動している。その固有振動
分子や固体結晶を構成する原子は化学結合の状態を反映した振動数で振動している。その固有振動数は経験則や量子化学計算により体系的に理解されており、赤外領域に現れるこれらの共鳴吸収を調数は経験則や量子化学計算により体系的に理解されており、赤外領域に現れるこれらの共鳴吸収を調べることで物質の局所構造を詳しく解析することができる。主な用途として、単分子膜等における微べることで物質の局所構造を詳しく解析することができる。主な用途として、単分子膜等における微弱な赤外信号の観測や、金属配位結合やイオン結合、分子全体の集団運動等の低波数振動、結晶の格
弱な赤外信号の観測や、金属配位結合やイオン結合、分子全体の集団運動等の低波数振動、結晶の格子フォノン等の解析が挙げられる。
設備紹介（IFS 66v/S）
設備紹介（IFS 66v/S）

担当）賣市 幹大担当）賣市 幹大特徴
特徴
本装置は検出感度と波長安定性に優れた研究
本装置は検出感度と波長安定性に優れた研究
用フーリエ変換赤外分光器（FT-IR）であり、光学系全体を真空排気できる筐体の採用によ光学系全体を真空排気できる筐体の採用により、汎用装置では検出困難な遠赤外領域の信号
り、汎用装置では検出困難な遠赤外領域の信号を含めた広い波長領域のスペクトルを最高の精を含めた広い波長領域のスペクトルを最高の精度で測定することが可能である。
度で測定することが可能である。
測定方法
測定方法
固体試料測定のため KBr 錠剤形成装置（真固体試料測定のためKBr錠剤形成装置（真空メーカー：Bruker
メーカー：Bruker
型
式：IFS 66v/S

空排気ペレットダイス、φ13・ mm ダイス、真排気ペレットダイス、φ13mmダイス、真空ポン
空ポンプ、10・ton
油圧プレス、またはφ
5・mm
プ、10
ton油圧プレス、またはφ5mmダイス、

型
式：IFS・66v/S
導入年度：平成16年
導入年度：平成 16 年

ダイス、ハンドプレス）を用意している。波長
ハンドプレス）を用意している。波長範囲300
範囲以上の測定に活用できる。測定は透過配置300・ cm-1 以上の測定に活用できる。測定cm

Bolometer
Bolometer
DTGS
DTGS

>>5・cm5 cm-110- 4000 cm -1
10－4000・cm

MCT
MCT

420
- 8000 cm
420－8000・cm

-1

（光源）
（光源）
Mercury
Mercury
GlobarGlobar

遠赤外
遠赤外
中赤外
中赤外

必要である。
参考データ
参考データ
㻝㻜㻜

機器センターたより

㻝㻜

㻙㻞

㻝㻜㻙㻠
㻜

図

㻝㻜㻜
㻝㻜㻙㻝

㻝㻜㻙㻟

図

66

㻝㻜

㻙㻝

㻌㻳㼘㼛㼎㼍㼞㻌㻸㼍㼙㼜㻌㻷㻮㼞㻌㻼㼑㼘㼘㼑㼠㻝㻜㻙㻞㼀㼞㼍㼚㼟㼙㼕㼟㼟㼕㼛㼚

500 cmFar-IR・Mylar・ 20－500・cm-1
KBr
375 7000 cm
KBr
375－7000・cm-1
CaF2
2800 12000 cm -1
CaF2
2800－12000・cm
Quartz2800 12000 cm -1
Quartz2800－12000・cm
（検出器）
（検出器）

は透過配置のみで、液体セル、ATR 光学系等
のみで、液体セル、ATR光学系等のメーカーオのメーカーオプションは、使用者個人で準備がプションは、使用者個人で準備が必要である。

㻵㼚㼠㼑㼚㼟㼕㼠㼥（主な仕様）（主な仕様）（Beam Splitter）（Beam・Splitter）
Far-IR Mylar 20

㻝㻜㻙㻟

㻞㻜㻜
㻠㻜㻜
㻢㻜㻜
㼃㼍㼢㼑㼚㼡㼙㼎㼑㼞㻌㻔㼏㼙㻙㻝㻕

Globar光源の放射強度とKBrペレットの透過スペクトル・Globar 光源の放射強度と KBr ペレットの透過スペクトル

７．所有設備紹介

顕微ラマン分光装置
概要
概要
ラマン分光は赤外分光と共に最も広く応用されている振動分光法である。２光子過程であるラマン
ラマン分光は赤外分光と共に最も広く応用されている振動分光法である。２光子過程であるラマン散乱は１光子過程の赤外吸収と光学的な選択律が異なっており赤外吸収と相補的な情報を与えること
散乱は１光子過程の赤外吸収と光学的な選択律が異なっており赤外吸収と相補的な情報を与えることから両者は併用されることも多い。ラマン信号は通常微弱だが励起光が中間状態と共鳴するときに顕から両者は併用されることも多い。ラマン信号は通常微弱だが励起光が中間状態と共鳴するときに顕著な増幅をしめす。この効果を利用することで混合物質中の目的物質を選択的にキャラクタリゼー
著な増幅をしめす。この効果を利用することで混合物質中の目的物質を選択的にキャラクタリゼーシ
ションする等、赤外分光では不可能な高度な観測が可能である。
ョンする等、赤外分光では不可能な高度な観測が可能である。
設備紹介（inVia Reflex）
設備紹介（inVia Reﬂex）

担当）賣市 幹大担当）賣市 幹大
特徴
冷却器
冷却方式
ヘリウム連続フロー
本装置は近赤外から紫外に近い領域までの複（試料室は真空）数の励起レーザーを装備し、多数の励起光を駆
温度領域
4・～・350・K
使した共鳴ラマン測定が可能である。特に、最特徴
新のCCDカメラの採用により、近赤外励起光を
本装置は近赤外から紫外に近い領域までの複数利用する蛍光を回避しながらのラマン観測が効の励起レーザーを装備し、多数の励起光を駆使し率化され、従来のラマン測定は難しいとされてた共鳴ラマン測定が可能である。特に、最新のきた発光性クロモファーを含む多くのバイオ系メーカー：RENISHAW

CCD
カメラの採用により、近赤外励起光を利用す試料なども取り扱うことができる。ユニークな型

式：inVia Reﬂex

る蛍光を回避しながらのラマン観測が効率化され、共焦点光学系により低背景雑音と高感度とが両メーカー：RENISHAW
導入年度：平成21年度

従来のラマン測定は難しいとされてきた発光性クロ立され、高い空間分解能を生かし2次元あるい型
式：inVia・Reflex（主な仕様）

モファーを含む多くのバイオ系試料なども取り扱う
は3次元マッピング測定も可能である。最大のレーザー
波長
導入年度：平成
21 年度 488、532、633、785 nm
分光器
シングルモノクロメータ
分光器（f=250 mm）（主な仕様） 分解能
1 cm
レーザー 波長
測定範囲 488,・532,・633,・785・nm
100 〜 3200 cm
分光器
分光器
シングルモノクロメータ
検出器
CCD
Back-illuminateddeep-depletion（f=250・mm）（578×386
Channel）
分解能
1・cm-1
顕微鏡
顕微鏡
Leica 製（アダプター
測定範囲100・～・3200・cm-1
使 用によりMitutoyo
検出器
CCD
B 社製長作動距離対物
a c k - i l l u m i n a t e d・レンズ使用可）
deep-depletion

ことができる。ユニークな共焦点光学系により低背特徴は波長校正、光路調整等の多くの作業がす

顕微鏡
冷却器

対物レンズ
5、10、20、50、100（578
× 386・Channel）
倍率
顕微鏡
ダプタ
ー使用
空間分解能 Leica・製（ア1 μm（lateral）、
2 μm（depth）（×100）によりMitutoyo社製長作
冷却方式 動距離対物
ヘリウム連続フロー
レンズ使用可）（試料室は真空）対物レンズ 5,・10,・20,・50,・100
温度領域
4 〜 350 K
倍率
空間分解能 1・µm・（lateral）,・ 2・µm・（depth）（×・
100）

景雑音と高感度とが両立され、高い空間分解能をべて自動化されたユーザーフレンドリーな操作
生かし２次元あるいは３次元マッピング測定も可能環境にあり、装置操作の習熟に時間を費やすこである。最大の特徴は波長校正、光路調整等の多となく有効なデータを素早く収集可能である。
くの作業がすべて自動化されたユーザーフレンド
リーな操作環境にあり、装置操作の習熟に時間を費
測定方法
やすことなく有効なデータを素早く収集可能である。
信号検出は実体顕微鏡を通じた後方散乱配置で行う。顕微鏡観測できる物質は形態を問わず
測定方法
試料として用いることができるが、散乱光が拡信号検出は実体顕微鏡を通じた後方散乱配置
散されにくい平坦な面を持つ試料が有利。低温で行う。顕微鏡観測できる物質は形態を問わず試測定には熱伝導型の光学クライオスタットを使料として用いることができるが、散乱光が拡散さ用する。試料空間を脱気するため揮発性試料のれにくい平坦な面を持つ試料が有利。低温測定に測定はキャピラリーに封じるなどの利用者によは熱伝導型の光学クライオスタットを使用する。
る工夫が必要。
試料空間を脱気するため揮発性試料の測定はキャピラリーに封じるなどの利用者による工夫が必要。
機器センターたより

67７．所有設備紹介

超伝導磁石付希釈冷凍機
概要
3
4
希釈冷凍機とは、希釈冷凍機とは、3He
Heとと 4He を混合するときに生じる吸熱効果を利用して、絶対零度（-273・℃）近℃）

くまで温度を下げられる機器である。この希釈冷凍機を超伝導磁石に組み込み、有機導体、半導体、近くまで温度を下げられる機器である。この希釈冷凍機を超伝導磁石に組み込み、有機導体、半導体、超伝導体の極低温における電子物性研究に用いられる。
設備紹介（Kelvinox 400）
設備紹介（Kelvinox 400）

担当）高山 敬史
担当）高山 敬史

所内専用
所内専用
メーカー：Oxford
メーカー：Oxford
型
型

式：Kelvinox・400
式：Kelvinox400

導入年度：平成 1212 年度
年度
導入年度：平成（主な仕様）（主な仕様）
最低温度
最低温度
冷却能力
冷却能力
最大磁場
最大磁場

21・mK
21 mK
400・µW（100・mK）
400 μW（100 mK）

15・T
15 T
（16・T:（16 Tラムダプレート使用時）：ラムダプレート使用時）

特徴
特徴• ・全自動ガスハンドリングシステム（Kelvinox・IGH）の採用により、冷却工程が自動化されIGH）の採用により、冷却工程が自動化され
ている。
ている。
• ・冷 却には、液体ヘリウム 100・ ℓと液体窒素ℓと液体窒素30・ℓ程度が必要。また
30ℓ程度が必要。また 4、5 日に一度、40・ℓ
日に一度、40ℓ程度の液体ヘリウムが必要。
程度の液体ヘリウムが必要。
備考
備考
利用は、
「希釈冷凍機の使用経験があり、セ利用は、「希釈冷凍機の使用経験があり、セルやプログラム等の必要な装置の組み込みが行
ルやプログラム等の必要な装置の組み込みが行えること」が条件。
えること」が条件。

68

機器センターたより

７．所有設備紹介

低温冷媒の供給施設概要
概要
低温冷媒の供給施設は明大寺地区、山手地区それぞれにあり液体ヘリウム及び液体窒素を供給して低温冷媒の供給施設は明大寺地区、山手地区それぞれにあり液体ヘリウム及び液体窒素を供給している。明大寺地区、山手地区のヘリウム液化機は順調に稼働しており、両地区における液体ヘリウムいる。明大寺地区、山手地区のヘリウム液化機は順調に稼働しており、両地区における液体ヘリウムの供給体制は確立され、現在も安定した供給を維持している。
の供給体制は確立され、現在も安定した供給を維持している。
設備紹介（明大寺地区極低温施設）
設備紹介（明大寺地区極低温施設）

担当）高山 敬史
担当）高山 敬史

所内専用
所内専用

（d）
⒟ その他
（主な仕様）
液体ヘリウム貯槽ℓ
液体ヘリウム貯槽 4000 4000・ℓ
3
3
回収圧縮機
40・Nm
/hr、50・Nm
回収圧縮機
40 Nm3/hr、50
Nm3/hr /hr

3
3
ガスバッグ
ガスバッグ
40 m40・m
ガスホルダー50・m3
ガスホルダー
50 m3
3
長尺カードル60・m3 × 36・、75・m
× 25
長尺カードル 60 m3 × 36
、75 m3 × 25
3
バッファータンク 10・m
×2
バッファータンク 10 m3 × 2（2）⑵ ・液体窒素関係
液体窒素関係体ヘリウム関係（1）⑴ ・液液体ヘリウム関係
液体ヘリウム自動供給装置×（a）⒜ 液体ヘリウム自動供給装置×22

液体窒素自動供給装置×
液体窒素自動供給装置× 44（うち 1 台は UVSOR 利用者専用）（うち（うち 11 台はセルフ供給用）
台はセルフ供給用）
特徴
液化圧縮機
（b）
⒝ ヘリウム液化機

ヘリウム液化機の心臓部である膨張タービン

メーカー：Kaeser
メーカー：Kaeserの効率が良くなり、液体窒素予冷が無くてもヘ型
型

リウムの液化ができる最新のシステム構成とリウムの液化ができる最新のシステム構成とな

式：DSDX302
式：DSDX302

導入年度：平成
導入年度：平成 23
23 年度
年度

なっている。また、液化圧縮機の省エネ化が進っている。また、液化圧縮機の省エネ化が進み（主な仕様）（主な仕様）
消費電力
液化率

み製造時におけるランニングコストも減少した。
製造時におけるランニングコストも減少した。
160・kW
187 ℓ/hr（純ガス、液体窒素使用時）

現在は、液体窒素予冷無しの運転をメインに行っており、60ℓ/hr の液化率を維持している。
行っており、60ℓ/hr

ヘリウム液化機
（c）
消費電力
3 kW
メーカー：Linde型⒞ 液化圧縮機
式：L280（主な仕様）
メーカー：Linde
液化率式：L280型（主な仕様）
消費電力
消費電力

187・ℓ /hr
（純ガス、液体窒素使用時）
3・kW
160 kW

機器センターたより

69７．所有設備紹介
設備紹介（山手地区極低温施設）担当）水川担当）水川 哲徳
哲徳

所内専用
所内専用
⒞
液化圧縮機
（c）
・液化圧縮機メーカー：Kaeser
メーカー：Kaeser
型
式：OSD171型
式：OSD171
導入年度：平成
導入年度：平成 16
16 年度
年度（主な仕様）（主な仕様）
消費電力
消費電力

90 kW
90・kW

⒟
その他
（d）
・その他
（主な仕様）（主な仕様）
液体ヘリウム貯槽 5000 5000・ℓℓ
液体ヘリウム貯槽⑴ 液体ヘリウム関係（1）⒜
液体ヘリウム自動計量装置（a）・液体ヘリウム自動計量装置⒝
ヘリウム液化機（b）
・ヘリウム液化機

回収圧縮機
回収圧縮機

3
3
40 Nm
/hr ×
2 ×2
40・Nm
/hr

ガスバッグ
ガスバッグ
長尺カードル
長尺カードル3
35m 、28m
35m3、28m3
75 m375・m
× 50 × 50

33
バッファータンクバッファータンク 6 m3 6・m

メーカー：Linde型

式：TCF-20

導入年度：平成 16 年度（主な仕様）
液化率
液化率

42 ℓ/hr
42・ℓ /hr（純ガス、液体窒素使用時）（純ガス、液体窒素使用時）

消費電力
消費電力

70

1.5・kW
1.5 kW

機器センターたより⑵ 液体窒素関係
液体窒素関係（2）液体窒素自動供給装置×
液体窒素自動供給装置× 22

3

８．交流

所外利用者アンケート報告
所外利用者アンケート報告
平成
平成 27、28
26、27 年度に施設利用申請を頂きました方を対象に、アンケートを実施いたしました。
年度に施設利用申請を頂きました方を対象に、アンケートを実施いたしました。お忙

お忙しい中ご協力頂き、ありがとうございました。
しい中ご協力頂き、ありがとうございました。
回答数 62 件、配布数 111 件（回収率 56％）
回答数・69 件、配布数・120 件（回収率・58％）
Q1．機器センターの施設利用（ナノプラットを含む）に申請したのは何度目ですか？

５回以上
30％

どこで知りましたか？

初めて
13％

•・分子科学研究所または機器センターのホームページをみて （2 件）•・ナノプラットフォームのホームページをみて （0 件）•・大学連携研究設備ネットワークのホームページをみて （1 件）•・知人から聞いて （5 件）

２〜４回
57％

•・機器センターたよりをみて （0 件）•・以前分子科学研究所に所属していたので知っていた （0 件）•・その他 （1 件）・ • ・MIMS ナノプラットフォームの担当者からの紹介

Q2．当センターの施設利用を利用した理由を２つまで選んでください。
装置の性能がよい

29

装置の調整がしっかりされている

24

所属機関から近い

1027

使用料金が無料
24

旅費が支給される
12

測定のサポートが受けられる
その他

2

0

5

10

15

20

25

30

35
【件】

• 所属機関に装置が無い

機器センターたより

71

８．交流

Q3．予約システムは使い易かったですか？
18 件

やや使い難い
1％

ふつう
20％

非常に
使い易い
28％

33 件
13 件
1件

使い易い
51％

0件
4件

Q4．寒剤
（液体窒素・液体ヘリウム）の供給体制はどうでしたか？
34 件

やや不満
2％
満足
19％

8件
0件
1件
0件
26 件

非常に
満足
79％

Q5．共同利用機器の利用に満足できましたか？
45 件
20 件
3件
1件
0件
0件
•【熱分析装置】 MicroCal・iTC200・期待される結果が得られなかった

ふつう
4％

やや不満
2％

満足
29％
非常に
満足
65％

72

機器センターたより

不満
0％

使い難い
0％

８．交流

Q6．今後の機器センターに期待することを教えてください。具体的にあれば装置名なども記入
してください（複数回答可）。
•【単結晶 X 線回折装置】微小結晶／ Rigaku・MERCURY・CCD-3 （4 件）•【単結晶 X 線回折装置】Rigaku・MERCURY・CCD-2 （4 件）•【電子顕微鏡】高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）/JEOL・JEM-3100FEF （3 件）•【電子スピン共鳴装置】Bruker・E680 （3 件）•【熱分析装置】TA・Instruments・TGA2950/・DSC2920/・SDT2960 （3 件）•【電子顕微鏡】電界放出形走査電子顕微鏡（SEM）/JEOL・JSM-6700F•【電子顕微鏡】集束イオンビーム加工機（FIB）/JEM-9310FIB•【粉末 X 線回折装置】Rigaku・RINT-UltimaIII•【電子分光装置】Omicron・EA-125•【顕微ラマン分光装置】RENISHAW・inVIA・Reflex•【SQUID 型磁化測定装置】Quantum・Design・MPMS-XL7
iQuantum・（0.5・K まで測定可能になるオプション）
交流磁化率が測定できるように•【電子スピン共鳴装置】Bruker・E680
W-band・用 高出力アンプ•【粉末 X 線回折装置】Rigaku・RINT-UltimaIII
低温実験可能なオプションを常に使用できることを希望•【単結晶 X 線回折装置】Rigaku・MERCURY・CCD-2
吹き付け低温装置 GN2 の導入•【電子顕微鏡】集束イオンビーム加工機（FIB）/JEM-9310FIB

現在所有する機器の更新

21

現在所有する機器のオプションの充実

7

新規機器の導入

161

技術職員によるサポートの充実

13

特になし

23

その他

4

0

• ・ナノテクノロジープラットフォー
ムと重複する利用申請、手続きの一元化。
• ・光 照 射 ESR 測 定 を 行 い ま し た。
ガラスフィルターの種類を増やして欲しい。
• ・結果に対する専門的なディスカッション。
• ・測定用に準備した試料を劣化させず維持できる設備がほしい。

5

10

12

20

25
【件】

• Quantum・Design 社製 PPMS+ 熱容量オプション （6 件）• 単結晶 X 線回折装置• Rigaku・R-AXIS・RAPID・II・（radiation・source:・Cu）• 電子スピン共鳴装置

Bruker・E780• VP-ITC の導入•・・熱電特性評価装置、昇華精製装置（トレインサブリメーション）• メスバウアー分光装置、DSC（－170℃まで測定可能なもの）• 遠心分離機• 最小表示が 0.001mg のミクロ天秤• 透過電子顕微鏡• フェムト秒レーザー

ポンププローブ式過渡吸収測定システム

機器センターたより

73

８．交流

Q7.・その他ご要望やご意見がありましたら、自由にお書きください。
•••

・熱分析装置が利用できなくなってしまったので、装置の更新もしくは新規装置の導入をしていただき、利用できるようになるとありがたいです。
今後ともよろしくお願いします。
・装置については大変使いやすく、いつも全く問題なく利用できました。種々の連絡事
項もメールあるいは掲示でわかりやすく知らせていただいていましたので助かりました。半期ごとに申請できるのは、研究の進捗に合わせやすくて助かります。今はこれまでにとったデータで複数の論文を作成しています。投稿がすんだら、またナノテク
プラットフォーム申請を行い、さらに研究を進めたいと考えています。よろしくお願
いいたします。

•
•

•
•

•
•

・分子科学研究所機器センターの TEM を復活させてほしい。
・毎回、大変、お世話になりましてありがとうございます。特に施設利用などにおいて対応して頂く担当者には、ご自身の研究や所内の仕事などでお忙しい中を、利用者の研究のために時間を割いて頂き、色々とご対応して頂けることに感謝しております。
勝手な申し出などもあるかとは思いますが、今後ともどうぞ、よろしくお願い致します。
・測定の知識も経験も乏しい私が ESR の測定ができるのは技術職員様のサポートのおかげです。いつもありがとうございます。
・大変ありがたく使用させていただいています。W-band は初期モデルであり、マイク
ロ波出力が弱く残念ながら主流のパルス技術は使えません。高出力アンプの導入をぜ
ひご検討ください。パルス EPR 装置は比較的壊れやすく、多くの異なる利用者が使
うこともあり不調の事もあります。特にパルス EPR の cavity（Q-,W-band）は、故障した場合修理に時間がかかるのでできればスペアがほしいと感じています。実際に
Q-band 用 cavity は ENDOR が故障しているのですが、修理にだしてしまうと多くの方の実験が停止してしまうため、修理に出すタイミングがなかなかありません。そのため ENDOR を使った研究は中断しているのが現状です。安定的な研究計画が組める
ように共同利用装置としてぜひ、（Q-,W-band・ cavity の）スペアを用意していただけ
れば安心です。よろしくご検討お願いいたします。
・また、利用させていただきたいと思います。
・地方大では、予算や規模の問題で、全くできない測定が、この事業を通して、測定できるのは、大変助かっています。旅費の支給や測定料金が無料なのは、もちろん地方
大所属にはありがたく、また装置そのものの状態もよく、ヘリウム温度での測定ができる、など、メリットだらけです。ぜひ、事業をこのまま継続あるいは、さらなるサポートの充実（測定頻度そのものは多くはないので、毎度、使用法を説明いただけると大変に助かります。）されることを願っております。

••

・大変満足して利用させて頂いております。今後とも、このような利用体制を継続して頂きたいと願っております。
・いつもサポートしてくださる所員の方には大変感謝しております。ただ担当者がすぐに対応できない場合もあり、所員の方のご負担の低減の観点からも、できるだけ使用
者が自分で操作できるような体制、メンテナンスフリー的な分析機器を導入いただけ
れば、時間の効率性からもありがたいです。たとえば Q5 のレーザーは調整に熟達していないと使えませんが、現在はオールインワンで PC 操作だけで安定したビームが得られる機種が出ています。

74

機器センターたより

８．交流

•

・極低温での ESR 測定に関して職員の方から技術的にサポートしていただき大変感謝
しております。

•

・大変お世話になり感謝しています。特に中尾聡研究員には装置のオペレーションをしていただき、きちんとしたデータを測定して取っていただき、感謝です。素晴ら
しいオペレーターがいらっしゃるので、装置のメインテナンス費用などの予算をきちんと確保されることが重要とおもいます。特に彼が管理しておられる FIB については、更新も必要な時期が来ているのではないかと思います。その場合は、もっと高性能の装置に更新されることが非常にのぞまれます。

•
•
•
•

•
•

•

・有機熱電材料開発のための装置類の充実を希望します。例えば、熱電特性評価装置、共昇華、精製のための昇華装置、可視から赤外領域の顕微反射分光装置などです。
可能であれば TEM 分析を復活してほしい。
旅費の予算をカットしすぎと感じています。
・毎 年度のことですが、装置メンテナンスや技術職員の方のサポートが丁寧であり、いつも感謝しながら利用させていただいております。装置に関することではありませんが、地下にある設備を利用することが多く、携帯電話がつながらない場合があり困ることがあったため、電波状況が改善されると大変有難いです（同行する学生と別々の部屋にある装置を操作している場合の連絡など）。
・機器のメンテナンスもしっかりされており、技術職員の方の知識も豊富で、いつも有意義な議論をさせていただき、大変助かっております。
・いつも大変お世話になっていて、感謝しております。本学のような私立大は，大型機器の保有には限度が有り、自然科学研究機構のような共同機器利用のシステムは国家として研究基盤整備としてありがたいの一言に尽きます。機器のメンテナンス
は最高な状態になっていますし、専門家からのアドバイスやディスカッションにも応じてくれますので、素晴らしいシステムであると感じてやみません。
・どの装置もメンテナンスがしっかりなされている上に、技術職員の知識と技術などのサポート体制がよい。近ければ（または旅費に余裕があれば）もっと頻繁に利用•したい。
・ESR 測定でトラブルが起こった時には、いつも技術職員が気軽く対応してください
まして、大変感謝しています。
・職員の皆さんが、お忙しい中を機器の調整や所外利用者へ対応して頂き、感謝して•おります。今後共、装置の調整・維持などに努めて頂けますようにお願い致します。
・利用システムには大変感謝しております。職員の方にも準備を手伝って頂き、感謝•しております。図々しいながら要望としまして、装置等の一部を運搬する必要があり、その運搬費用のシステムを設けて頂ければ助かります。予算面が問題ではなく、着払いを利用など、手続きが煩雑だからです。その煩わしさが何かとネックになりますので。
• 【単結晶・X 線回折装置】微小結晶／ Rigaku・ MERCURY・ CCD-3 でも満足できる性能
ではありますが、より高性能な機器（リガク HPC 検出器搭載単結晶Ｘ線構造解析
装置・XtaLAB・PRO・MM007 など）も使えると利用者が増えると思います。
••

・熊本の震災対応で大変お世話になりました。おかげさまで研究を中断することなく、実施できました。
・数回、利用させていただきましたが、いつも装置が良い状態に整備されていて予定通りに測定することができました。ありがとうございました。

機器センターたより

75

８．交流

•

・X 線回折測定装置の老朽化が著しく感じる。是非、薄膜材料などの精密構造解析を可能にする全自動 X 線回折測定装置（例えば Rigaku の SmartLab）の導入をお願いしたい。このような装置を利用した測定は、非常に多くの測定が可能になるため、数日の滞在が必要になる。そのため、旅費のサポートもあり、腰を据えた測定を可能にする貴機構のサポート体制とマッチした装置であると言える。

•••

・下記の機器の更新も希望します。
【単結晶 X 線回折装置】・微小結晶 /Rigaku・Mercury・CCD-3 よろしくお願いします。
・いつも問題なく使用させて頂いています。技術職員による手厚いサポートに大変助けられております。今後もよろしくお願い致します。
・貴研究所におけるナノプラットフォーム支援事業は、研究機器の管理も予約システ
ムも効率的に運用されており、ユーザーとしてたいへん助かっています。御関係の皆様には、厚くお礼申し上げます。

76

機器センターたより

８．交流

所内利用者アンケート報告
分子科学研究所の方を対象に、アンケートを実施いたしました。
分子科学研究所の方を対象に、アンケートを実施いたしました。お忙しい中ご協力頂き、ありがと
お忙しい中、ご協力頂きありがとうございました。
うございました。
回答数・17
回答数 15 件、配布数・40件、配布数 34 件（回収率・43％）
件（回収率 44％）
Q1．予約システムは使い易かったですか？

非常に
使いやすい
8％

1件
5件
7件
0件

ふつう
54％

使いやすい
38％

0件
4件

Q2．寒剤
（液体窒素・液体ヘリウム）の供給体制はどうでしたか？
非常に良い

5件

良い

7件

ふつう

1件

あまり良くない

0件

良くない

0件

使用しなかった

4件

ふつう
8％
非常に良い
38％
良い
54％

Q3．共同利用機器の利用に満足できましたか？
非常に満足

3件

満足

10 件

ふつう

4件

やや不満

0件

不満

0件

利用しなかった

0件

不満
0％
ふつう
24％

非常に満足
18％

やや不満
0％

満足
59％

機器センターたより

77

８．交流

Q4．今後の機器センターに期待することを教えてください。具体的にあれば装置名なども記入
してください（複数回答可）。

• 【電子顕微鏡】高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）/JEOL・JEM-3100FEF・• 【電子顕微鏡】集束イオンビーム加工機（FIB）/JEM-9310FIB・・• 【電子スピン共鳴装置】Bruker・E680・・• 【単結晶・X・線回折装置】Rigaku・MERCURY・CCD-1・R-AXIS・IV・・• 【粉末・X・線回折装置】Rigaku・RINT-UltimaIII・• 【X・線溶液散乱計測システム】Rigaku・NANO-Viewer・・• 【元素分析装置】J-SCIENCE・LAB・MICRO・CORDER・JM10・・• 【質量分析計】Applied・Biosystems・Voyager・DE-STR・・• 【核磁気共鳴装置】Bruker・AVANCE800
・• 【核磁気共鳴装置】Bruker・AVANCE600・・2.5・mm・または・4.0・mm1H-X・固体二重共鳴・MAS・プローブの導入• 【核磁気共鳴装置】Bruker・AVANCE800・・
15N・観測プローブ、無停電装置、分光器• 【電子顕微鏡】集束イオンビーム加工機（FIB）/JEM-9310FIB・• 【電子顕微鏡】低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）/Hitachi・SU6600・・
試料を不活性雰囲気のまま装置に充填するためのトランスファーベッセル・• 【X・線溶液散乱計測システム】Rigaku・NANO-Viewer・・• 【元素分析装置】J-SCIENCE・LAB・MICRO・CORDER・JM10・
硫黄の測定ができるとよい

現在所有する機器の更新

9

現在所有する機器のオプションの充実

6

新規機器の導入

7

技術職員によるサポートの充実

3

特になし

2

その他

0

0

78

2

4

6

•

・薄膜 X 線回折装置・（2 件）・•・薄膜・XRD（二次元検出器、温度可変、雰囲気制御などのオプション付き）・•

・Rigaku・全自動水平型多目的 X 線回折装置・SmartLab•

Bruker・E780・

•

・PPMS

機器センターたより

8

10
【件】

８．交流

Q5.・その他、ご要望やご意見がありましたら自由にお書きください。
•

・粉末 X 線回折装置、SQUID、SEM/EDX を利用させていただいています。
・担当の方からは、装置の取り扱い説明だけでなく、試料や目的に合わせた測定方法を教えていただいたり、測定データの考察など、親身に対応して下さり感謝しております。新規機器の導入として薄膜 X 線回折装置と記載させていただきましたが、これはスパッタ薄膜の結晶構造や膜厚の確認が目的のものです。宜しくお願い致し

•
•
•

•

ます。
・小型機器の写真もあると良いと思います。
・極低温棟の水道に鉄さびが混ざり実験や手洗いに使えないため、浄水器があるとう
れしいです。
・ハイブリッドピクセル検出器を搭載した高性能な単結晶Ｘ線構造解析装置（リガク
XtaLAB・ Synergy のような）の導入を希望します。また、MALDI-TOF マス装置の更新も必須であると考えます。
・昨今、どの大学でも XRD や NMR などの大型装置を保有している現状から、最新の装置や特殊測定のオプションを整えない限り共同利用研究機としての有意性を確保することが難しくなっていると思います。全てを最新機器にすることはできないと思いますが、各装置に関して、研究室単位でも保有することが可能な周辺設備（温調、雰囲気制御など）と研究機関がサポートしないと保有・維持管理ができない装置環
境を理解し、適切な設備投資をすることで分子研の共用機器の独自性と有意性が確保できるのではないかと思います。また、各装置のスペックが大幅に進化したタイ
ミングに購入をすることも重要になると思います。機器センターの技術職員と所内の教職員との間で「どのような装置が求められているか」、「どのようなオプションがあると他の機関ではできない測定ができるか」、「現有装置と最新機器のスペックの差、進化の具合はどうか」などについて意見交換する場をつくることが必要になると思います。また、必要に応じて、装置開発と連携して測定系や測定用のセルなどを改造して特殊測定に対応することも重要になると思います。・
・XRD に関して例を挙げると、検出器の進化がすさまじく、現有装置とは大きな差がついています。エネルギー分解能が高く、単結晶ミラーを用いずとも Cu・K β線で単色化できる検出器、バックグラウンドを極限まで下げられる検出器、Ag や Mo などの高エネルギー線源でもロスがなく強度が得られる検出器、小角、薄膜、粉末、0~2次元の測定全てに対応できる検出器などがあります。また、温度可変や雰囲気制御などのオプションは比較的購入しやすく、各大学でも備えていることが多いが、二次元検出器までを備えた装置環境を提供できる研究室は限られています。分子研と••しては二次元検出器を備えた XRD を保有することが重要になると思います。
・例えば下記のような、液体・溶液の巨視的物性を測定する装置類があれば是非利用したいです。動的光散乱光度計、ラングミュアトラフ、接触角計、表面張力計、粘度計、密度計、ζ電位計、etc.
・自由意見 １．1 サンプルの測定をカテゴリーの異なる複数の装置で測定する場合には、１人の方がサポートして下さるとよりよい。 ２．LHe 汲出し装置 2 号機用 PCの交換時期ではないでしょうか。 ３．機器更新では、汎用機器ではなく、そのとき最先端の装置を導入してほしい。 ４．熱分析、エックス線回折、ピコ秒レーザ
ーなど更新の時期かもしれません。 ５．TEM（イールス付き）を復活させてほしい。

機器センターたより

79９．研究紹介

新しい機能性を有するナノ磁性材料の探索
銅水酸化物を舞台にした新規磁性物質の探索
岐阜大学 藤田嶋 睦宏
名古屋市立大学大学院システム自然科学研究科
渉
マルチフェロイックに代表される複数の機能
１．はじめに

Sc
（NO3）
（NO3）
（NO3）
問が残ったままであった。
3･4H2O,・Yb
3･3H2O,・Y
3･6H2O）性を有する材料は、物性制御の自由度が増すこ
銅水酸化物Cu（OH）
x
y A•z H O（A =アニオン）

を濃度
0.32・ M に調整した溶液を目的組成と同
その後、博士号を取得してから、平成26年春とから、それらの基礎物性解明と応用は重要では、構成イオンの比率やアニオンAの種類によじ比率で混合し、アンモニア水を用いて pH・9.0に現所属に異動するまでは、主に有機ラジカルある。われわれはこれまで磁性材料を中心としり、多様な結晶構造を有する［1］。代表的な銅に保持しながら沈殿物を合成した。次に、このの磁性研究を行っていた。再び銅水酸化物に本て、それらのうち組成や構造制御により蛍光特水酸化物Azurite Cu（CO
（OH）
3
3）
2
2は深い青色沈殿物を 343・ K で 10 時間乾燥し、大気中で温格的に着手したのは、現所属に有機物の合成研性や触媒特性も併せ持つと期待される物質に着を呈し、顔料として用いられている。組成が少度 1473・ K で 6 時間アニールを行い、ガーネッ究を行うために必要な設備がなかったからであ目し、それらの物性解明に取り組んできた。本しだけ異なるMalachite Cu（CO
）OH）
2
3（
2も顔料

ト酸化物試料を得た。各試料の結晶構造を Xる。現所属でなければ、この物質群に対して本稿ではその一部を紹介する。
であるが、Azuriteとは構造が異なり、鮮やか

線回折法（XRD）、磁気特性を超伝導量子干渉
腰を入れて取り組むことはなかったと思う。現な緑色である。この物質群は身近に存在し、10素子（SQUID）磁束計および振動試料型磁力所属から分子研まで１時間で通えることも幸い

１．ガーネット磁性酸化物の蛍光特性
円玉や自由の女神の淡い緑色の錆にも含まれ計（VSM）、光学特性を蛍光分光光度計およびであった。また最近、磁性分野では、銅水酸化１．
１ 概要る。銅水酸化物部位とアニオンAとの組み合わ

紫外可視近赤外分光光度計で各々測定した。
物が示す物性現象に関する成果［5］に注目が集

ガーネット酸化物は構成元素の組み合わせにせは無数であることから、未知の構造を有するまっていたことも大きな動機となった。

より光学特性や磁気特性など多様な物性を示す
誘導体は多数あると考えている。

１．
３ 結果と考察
そして、ごく最近になって、様々な有機アニ

ことから、機能性材料として今後も光磁気デバ
銅水酸化物に関する、本研究のきっかけとな

１．
３．
１ Yb:YSAIG（Yb0.45Y2.55Sc2.0Al3.0-zFezO12）
オンを有する銅水酸化物を非常に簡単に調製でイスなどへの更なる応用が期待されている。
る１報の論文［2］を偶然見つけたのが、平成６

XRD による結晶構造測定の結果、全ての組きる方法を見つけた。本稿では、新規磁気機能

ガーネット結晶の構造は空間群 Ia3d に分類さ
年春、博士課程に進学したときで、もう20年以成の試料においてガーネット相に由来する回折発現の可能性を秘めている銅水酸化物の単結晶

れ、結晶中の金属イオンは十二面体（c）サイト、上前になる。銅水酸化物の銅イオンは+2価でピークが観測され、Fe3+ 組成 z の増加に伴い作成法を、研究背景と併せて紹介する。

八面体（a）サイトおよび四面体（d）サイト
あり、不対電子をひとつ持つことから磁性を示

ピークが低角度側にシフトすることを確認し3+を占める。Fe を含むガーネットの場合、Feすことが期待されるが、当時はまだ、この物質た。0・≤・z・≤・2.5 の組成域では単相であったのには主に a サイト及び d サイトを占める。これ群の系統的な磁性研究は十分に行われていな

対し、z・ =・ 3.0 ではガーネット相以外にペロブ

らは紫外から近赤外までの波長域で光を吸収すかった。この物質群の特性を引き出し、有用なスカイト相等に由来するピークも確認した。

3+

るため（a サイトで 1100・ nm 近傍、d サイトで性質を見つけるには、多様な構造を有する有機
800・nm 近傍）、可視光域での蛍光発現には不利アニオンを用いればよいと考えた。博士課程在である［1］。しかし、a サイトの Fe3+ を他の学中は、いろいろな種類がある銅水酸化物の金属イオンで置換することで近赤外域の蛍光をうち、層状構造を持つBotallackite
Cu（OH）
23Cl
発する磁性ガーネットが得られる可能性があ［3］に着目した。この物質の塩化物イオンを、る。そこで本研究では、近赤外域で蛍光を発す
様々な有機アニオンに置き換えた層間化合物をる Yb:YAG［2］と Yb:GAG の a サイトを占め合成し、それらの磁気的性質を調べた。その結3+の一部を磁性 Fe3+ および Sc3+ で置換しる Al
果、
有機アニオンの構造や配列様式に依存して、たガーネット酸化物を合成し、その結晶構造、
水酸化銅層の磁気的性質が劇的に変わることを

図１．１:・・・Yb0.45Y2.55Sc2.0Al5-zFezO12・ (z・ =・ 0 〜 2.5)
試料の PL スペクトル

光学特性および磁性を調べることを目的とした。
見いだした［4］。
物性研究に限ったことではないが、試料の構室 温 で 測 定 し た 940・ nm 励 起 で の 蛍 光 PL

１．
２ 実験方法造同定は必須である。当時、X線構造解析用の（Photo・ Luminescence）スペクトルを図１．１

ガーネット酸化物試料は、共沈法による合成
結晶作成に何度もトライしたが、失敗に終わり、に、吸収スペクトルを図１．2 に各々示した。

と熱処理により作製した。初めに各金属硝酸塩
構造を明らかにすることはできなかった。そのPL スペクトルから
Yb 特有の F5/2・ →・ F7/2 遷
図1
物質内部における磁気モーメント（↑）の

（NO3）
（NO3）
（Gd
（NO3）
3･5H2O,・Al
3･9H2O,・Fe
3･9H2O,・
ため、磁気測定に用いたサンプルの純度にも疑配列と磁気的状態.
移の蛍光を観測した。また、z・=・0.5～ 2.5 の試82
80

機器センターたより

3+

2

2

９．研究紹介
料では
Fe3+ 組成 z の増加に伴い蛍光強度の減
２．物質の磁気的性質

１．３．２ ・Y b:GSAIG・（ Yb 0.45Gd 2.55Sc 2.0Al 3.0・状態となる。反強磁性的相互作用が働く物質で

少が確認された。図１．２の吸収スペクトルか
まず、物質の磁気的性質について、簡単に触もある温度で相転移を起こし、常磁性状態からzFe z・O 12）3+

組成（z）が増加するにつれ
≤・ λ・
ら、Fe
れておく［6］。磁性と言えば、「磁石」850・を連想す

すべての組成域において XRD スペクトルで磁気モーメントが反平行に規則正しく並んだ反≤・1050（nm）、620・ nm のピーク及び測定端でる人が多いと思うが、図１に示すように、それガーネット相に由来する回折ピークが観測され強磁性秩序状態となる。

ある
500・ nm のピークの上昇が観測された。
以外にも磁性体内部に存在する磁気モーメント

た。また、Yb:YSAIG の場合と同様に z・ =・ 3.0

Yb:YIG（図１．２破線）と比較すると900・ nmの配列の仕方に応じて、様々な状態がある。磁の試料のみーネット相以外にペロブスカイト相
３．
三角格子と幾何学的フラストレーションにおける吸収はa サイトの Fe3+ による 6A1g・ →・
石はいくつかある状態のうちの１つの状態であ等に由来するピークが確認された。
層 状 構 造 を 有 す る 銅 水 酸 化 物Botallackite

4

T1g 遷移吸収であり［1］、吸収強度が増大してる。

940・ nmでのPL ス
Cu室温で測定した励起波長（OH）（a）に示す［3］。銅イオ
2
3Clの構造を図2

いることおよび蛍光強度が減少していることか
磁気モーメントの源は不対電子であり、通常ペクトルから Yb3+ 特有の蛍光を観測した。まンは酸化物イオンと塩化物イオンの作る八面体

らFe3+ が a サイトに置換していることが示唆の磁性体では遷移金属イオンがこれを担っていた、z・ =・ 0 ～ 2.5 の試料では Fe3+ 組成（z）のの中心に存在し、八面体同士が稜を共有して二された。また、620・
nm のピークから Fe3+ が dる。磁性物質の内部では、遷移金属イオンは配増加に伴い蛍光強度の減少が確認された。吸収次元のシートを形成する。銅イオン間には水酸

サイト中に存在していることが確認された。
位子または原子によって架橋されている。このスペクトルから、Fe3+ 組成（z）が増加するに
化物イオンまたは塩化物イオンを介して、磁気とき、配位結合を介して隣り合う遷移金属イオ

つれ、Yb:YSAIG と同様のピーク強度の増大
的相互作用が働き、図2（b）のような二次元三ン上の磁気モーメントの向きが平行に整列しよが確認された。波長 900・ nm における吸収が増角格子磁気ネットワークを形成する。銅イオン

うとする力か（強磁性的相互作用）、または、反加し、蛍光強度が減少していることがわかる。
間に反強磁性的相互作用が働く場合、図2（b）平行に揃おうとする力が働く（反強磁性的相互このことは Fe3+ の a サイト置換を示唆している。
右上に示すように、１つめと２つめの磁気モー作用）。フントの規則が強磁性的相互作用、パ

温度 5・ K において、最大磁場 40・ kOe の条件
メントを反並行に並べると、残りの１つを別のウリの原理が反強磁性的相互作用にそれぞれ対で試料の磁化を測定したところ、全組成域にお２つと同時に反並行に並べることができなくな応していると考えればよい。どちらの相互作用

いて磁化の飽和が観測されずフェリ磁性的なヒる。つまり、すべての磁気モーメントを反平行がどのくらいの強さで働くかは、遷移金属イオ

ステリシス曲線は得られなかった（図１．４参に並べることが不可能になる。その結果、反強

図１．２:・・・Yb0.45Y2.55Sc2.0Al5-zFezO12・(z・=・0 〜 2.5)ン間の配位子の種類、結合距離、結合角など、試料の吸収スペクトル照）。また Fe3+ 組成 z の増加に伴い、印加磁場磁性秩序が抑制される。これを幾何学的フラス構造によって決まる。つまり、磁性体の性質は

40・kOe での磁化の値が減少する傾向がみられトレーションという［7］。幾何学的フラストレー

SQUID 磁束計を用いた 5・ K での磁化測定の結晶構造に依存する。

た。常磁性では磁性イオンである
Fe3+,・ Gd3+,・ションを示す磁気ネットワークには、カゴメ格結果（図１．３）、いずれの Fe3+ 組成 z におい
磁性体の性質は温度にも依存する。磁気モー3+の磁気モーメントは磁場の印加により、
Yb子（図2（c））やダイヤモンド鎖格子（図2（d））なても試料は常磁性であった。これはSc3+ が a
メントの向きが、温度に比例したエネルギーを平行に配列すると考えられるが、今回、Fe3+
ども知られている。

サイトを優先的に占有していると仮定すると、持って、ランダムに運動しているためである。

組成
z の増加によって磁化が減少することから
このような構造的特徴を持つ磁性体は、低温3+d図１に示すように、高い温度、すなわち、熱運
サイトにのみ Fe が存在し、隣接する a サ

3+,・ Fe3+,・ Yb3+ の磁気モーメントが平行またGdで「量子スピン液体状態」という新規の磁気的

イトに
Fe3+ がないことから、これらの間で超動が磁気的相互作用よりも上回るときは、磁気は反平行になっていることが考えられる。［8］。
状態を取ることが古くから予測されている交換相互作用［3］による磁気秩序が発生しなモーメントはランダムな方向を向いた常磁性状

図１に示した物質の磁気的状態を物質の三態にいためであると考えられる。
態となる。温度が低くなり、磁気的相互作用が例えると、常磁性状態は気体状態に相当し、磁熱運動を上回ると、ある温度で相転移を起こし、気秩序状態は結晶状態に相当する。液体状態に

磁気モーメントの向きは規則正しく並ぶ。強磁相当する状態が磁気的状態にもあると考えられ性的相互作用が働く物質では磁気モーメントがている。遷移金属イオン間に強い磁気的相互作

すべて同じ方向に揃った強磁性秩序状態にな用が働いているにも関わらず、絶対零度でも磁る。このとき、磁性体内部には大きな磁化が生

気モーメントが整列できず、量子力学的に揺らじ、磁石の性質が現れる。逆に、磁石を転移温いでいる状態がそれに相当し、量子スピン液体度以上に加熱すれば、常磁性状態となり、磁石状態と呼ばれている。量子スピン液体状態は、
図１．４:・・・Yb0.45Gd2.55Sc2.0Al5-zFezO12・(z・=・0 〜 2.5)でなくなる。例えば、非常に強力なネオジム磁図１．３:・・Y・ b0.45Y2.55Sc2.0Al5-zFezO12・ (z・ =・ 0,・ 0.5,・
2.5)の 5.0・K での磁気ヒステリシス曲線
石は310 ℃以上で、鉄は1316℃以上で常磁性の 5.0・K での磁気ヒステリシス曲線
高温超伝導現象の発現機構に関与していると考えられている［9］。量子スピン液体状態を求め

機器センターたより

83
81

９．研究紹介
１．
３．
３ ・YIG/Eu:YGG 多 層 薄 膜 の 界 面 構 造て、多くの研究者によって物質探索が行われてグ、PLD、でそれぞれ作成したところ前者は二が、福井大学の菊池らによって報告されたことが磁性および蛍光特性に及ぼす影響
きたが、明確に量子スピン液体状態が発現した層構造が確認され、単層 YIG と比較して飽和を機に、この物質群にますます関心が高まってガーネット結晶はそれを構成する元素の組み例はまだ多くない。その理由は強磁性状態にお磁化や保磁力の減少、単層 Eu:YGG と比較しいる。

合わせにより多様な物性を示すことが知られてける自発磁化の出現や超伝導状態におけるマイて蛍光、励起スペクトル共に短波長側に 0.2、2・おり、YIGはフェリ磁性、Eu:YGG は蛍光を発スナー効果のように、この状態の挙動にはっき

nm のピークシフトが見られた。後者の多層薄
４．加水分解と銅水酸化物の単結晶育成する。これらを積層して多層薄膜を作りその界りした特徴がないためと思われる。また、技術

膜は蛍光は拡散した鉄イオンが励起エネルギー
銅水酸化物Cu（OH）
x
y A•z H2Oの結晶は水熱合面構造を制御すれば、層間の界面付近の電子構的に困難な極低温強磁場下の物性実験も必要とを吸収したため蛍光は観測されなかった。磁気成によって合成されるが、Aとして小さな無機

造が変調を受け、その結果として磁性や蛍光特なる。それに加えて、この状態の出現が特殊な特性は常磁性とフェリ磁性が共存しており常磁イオンを含む誘導体に限られていた。この物質

性に変化をもたらす可能性がある。
結晶構造に限られ、物質のバリエーションが少性成分が支配的であった。これらの結果から拡群は多種類あるものの、単結晶育成に成功した

本研究では、YIG と Eu:YGG の界面をもつないことも一因である。

散により二相のガーネットが一相に変化したと報告例は非常に少なく、ほとんどが構造未知で多層薄膜を作製し、その物性を単層薄膜の場合推測される。
ある。銅水酸化物は常温では水に対して不溶でと比較することにより、界面構造が磁性や蛍光あり、水熱合成では、耐圧容器に試料を封入し、特性に及ぼす影響を調べることを目的とした。

２．・・
・Co-Ag 系グラニュラー薄膜の熱処理によ100℃以上の水に無理矢理溶解し、温度を下げ

YIG/Eu:YGG 多層薄膜試料は、共沈法およびる構造変化と GMR 効果
ることで結晶を育成する。博士課程在籍の頃、PLD 法により作製し、その結晶構造、磁気特近年ハードディスク装置の読み取りヘッドにAとして有機アニオンを含む銅水酸化物の結晶性および、蛍光特性を調べた。

はトンネル磁気抵抗（TMR）効果素子が使わ育成を水熱合成で試みた。実験スキルが十分でれてきた。読み取りヘッドの性能は一般に、そはなかったためか、有機イオンが分解したり、の電気抵抗値と磁気抵抗（MR）比で評価され酸化銅や金属銅が析出してしまい、結晶を得る
る。絶縁層を含む TMR 素子は巨大磁気抵抗
ことができなかった。分解を抑制するには結晶（GMR）効果素子よりもMR 比が大きい点で有成長を低温で行う必要がある。しかし、低温で利であるが、電気抵抗値が大きいことが難とさは銅水酸化物が溶解しないため、再結晶を行う
れ、近年 GMR 効果素子に注目が集まっている。
ことができないという問題点があった。
Co-Ag
系グラニュラー薄膜は GMR 効果を示し、博士号取得から10年以上後に、偶然、古いかつ作製が容易で工業的に優れている。更に論文［12］を見つけた。その論文には、ギ酸銅AgCu（は金属の中で最も電気伝導率が高く、高感
HCO2）2と水酸化銅Cu（OH）
2を煮沸すると、

図２ （a）Botallackite
Cu（OH）
二
図１．５・Eu:YGG
単層薄膜の励起スペクトル23Clの構造. （b）
次元三角格子. （c）カゴメ格子. （d）ダイヤ

度の読み取りヘッドとしての応用が今後期待さ
淡い青色の固体が生成した、という記述があっ

SEMモンド鎖格子.
で YIG 薄膜の膜厚を調べたところ、共れる。そこで本研究では、熱処理によりグラニュ
た。この論文の手法を少し変え、ギ酸銅四水和沈法による合成時に使用する前駆体溶液の滴下

ラー構造の最適化を図り、その構造と GMR
効物のみを蒸留水に溶かした水溶液を、60℃で加回数が多くなるにつれて膜厚が増加した。飽和
銅水酸化物は幾何学的フラストレーショ

果の相関を明らかにすることを目的とした。
温放置してみた。すると、わずか数時間で緑色

磁
化 は 10、30、50 回 の 滴 下 で そ れ ぞ れ 35、ンを内在しうる絶好の物質群と考えている。

Co-Ag 系合金薄膜は電子ビーム蒸着装置での板状晶の生成を確認した。ギ酸イオンを含む

3

37、46・
emu/cm ・ となった。Eu:YGG 薄膜も前Botallackiteが二次元三角格子構造を有するの作製し、熱処理により合金の相分離を促進する
銅水酸化物Cu（OH）［13］。図３
2
3HCO2であった

駆体溶液の滴下回数が多くなるにつれて膜厚がをはじめとして、最近では、二次元三角格子構ことでグラニュラー化を図った。Co15-Ag85、にその生成機構を示す。水中では、ギ酸銅はイ増加した。蛍光スペクトルは粉末と似た結果が造に似たカゴメ格子ネットワーク構造（図2（c））

Co22-Ag78、Co31-Ag69 の 3 つの異なる組成の試
オン解離する。ギ酸イオンは加水分解して、ギ得られたが、励起スペクトルはピークが短波長を有するZnCu（OH）
3
6Cl2が海外の研究グルー

料について熱処理温度を変化させ、最適条件を酸と水酸化物イオンが生成する。生じたギ酸は

側に
40・っ
nm
プ
によ
てシフトした。PLD
合 成 さ れ［10］、 スによる薄膜も励
ピン液体状態調べた。SPM により試料の表面観察を行い、水とともに揮発していき、反応系から除かれる

起スペクトルはピークが短波長側にSi 基板でが確 認 さ れ た。 ま た、 天 然 鉱 物 のAzurite

偏析したCo 粒子の粒径分布を求め、MR 比測
一方で、水酸化物イオンは銅イオンと反応する。

14・（CO
nm、GGG
基板で30・ nm シフトしていた。
Cu
（OH）
3
3）
2
2がダイヤモンド鎖ネットワー

定装置（自作）により MR 比を測定した。そ加水分解反応は適度な速度で進行すると銅水酸

薄膜状にしたことが原因と考えられる。そして
ク構造［11］（図2（d））を有し、低温で量子スピの結果、熱処理温度を 100℃から 600℃へ増加化物の結晶が得られる。いまのところ、適切なYIG/Eu:YGG の多層薄膜をスピンコーティン
ン液体状態に起因する磁場依存性を示すことさせた場合、粒径が 2 倍程増加し、MR 比は数％
濃度と温度を選択することで、1辺の長さが58482

機器センターたより

９．研究紹介
低下することがわかった。これは薄膜のAg 母mm以上のサイズの結晶をギ酸銅水溶液から得

NiPt 系合金微粒子をポリオール法により還ことにした。その結果、酢酸銅と適当な有機ス

相中に偏析する
Co 粒子の微構造が熱処理によることに成功している。この物質について、結元合成した。前駆体仕込み比50.0・mol% で合成
ルホン酸のナトリウム塩を蒸留水に溶かし、適り変化したためと推察される。また
Co22-Ag78
晶構造解析を行ったところ、Botallackite構造

した試料を、規則化に最適なアニール温度を決温で放置するだけで、有機スルホン酸イオンを試料について100℃の熱処理ではあまり粒径がに似た二次元三角格子構造であった［13］。

定し、NiPt
規則合金微粒子を得た。次にこの含む銅水酸化物の結晶を得ることができた。図変わらず、MR 比の増加がみられた。これは電微粒子をカーボンブラック（CB）表面に担持
４に1,5-ナフタレンスルホン酸イオンを含む結子ビーム蒸着で作製した薄膜がグラニュラー構

させた試料の構造と合金組成を
X 線回折装置、晶の写真を示す。放置して間もなく、淡い黄緑

造を形成しており、偏析 Co 粒子と Ag 母相のエネルギー分散型
X 線分析および透過型電子色の粉末が生じることがあったが、その場合は界面構造が低温熱処理により変化し、MR
図３ 銅水酸化物Cu（OH）
2
3HCO2の生成反応.測定

顕微鏡、磁性を振動試料型磁力計、電気化学的ロ過したのちに、再び適温でロ液を放置したらにおいて界面での伝導電子の散乱が変調を受け特性をサイクリックボルタンメトリー（CV）
結晶が生成した。現時点では、未発表のものをたためと考えられる。
他のカルボン酸銅で同様に試したところ、酢測定で各々測定した。熱処理温度○○～○○℃
含めると22種類の有機スルホン酸イオンを含む

酸、プロピオン酸でも相当する有機イオンをで
NiPt 系合金の L10 および L12 規則相の生成
銅水酸化物の結晶を得ることに成功している。

含む銅水酸化物の結晶を得ることに成功したを確認した。規則相の生成に依らず全ての試料
結晶構造解析を行ったところ、二次元三角格子［13］。X線構造解析の結果、いずれも二次元三は室温で強磁性を示し、その飽和磁化（Ms）
構造の他、ダイヤモンド鎖構造や銅イオンが数角格子構造であった。吉草酸銅や酪酸銅でも試は ○ ○ ～ ○ ○ emu/g で あ っ た。 図 １ に 示 す個からなるクラスター構造を有する結晶も得らしたが、現所属に着任した当初は、実験室にドCV 測定で得られたボルタモグラムより水素吸れた。また、Aとして無機アニオン（Br‒, NO2‒,

ラフトがなかったために、悪臭の発生を抑えら

‒
2‒
6‒
着電気量
を見積もり、触媒としての電気NO, Mo
3 , SO4QH
7O24 な ど ）を 試 し た と こ ろ、れず断念した。長いアルカンカルボン酸銅や芳

化学的有効表面積
AS を求めたところ、Pt@
それらを含む銅水酸化物の結晶育成にも適用可香族カルボン酸銅であれば、悪臭が出ないだろCB
や CoPt@CB、FePt@CB に比べ最も大きな能であった。以上のように、いままで、単結晶うと思ったが、今度はカルボン酸銅の水に対すAsが得られ、比較的高い触媒能を有すること育成が困難であった様々な銅水酸化物が、原料る溶解度が低くなり、加水分解を行うことがでがわかった。
の水溶液を加温するだけで簡単にできることがきなくなった。今後は、有機溶媒と水とを混合わかった。

図２．１・・・Co22Ag78 試料の熱処理による MR 比のするなどして、カルボン酸銅の溶解度を上げる
変化

参考文献
この加水分解法を銅以外の金属イオン（マグための工夫が必要である。

［1］・・・D.・ L.・ Wood・ and・ J.・ P.・ Remeika:・ J. Appl.
ネシウム、亜鉛、ニッケル、コバルト、イット

３．・・・NiPt 系合金微粒子の規則化が磁性及び電Phys.・38,・1038・（1967）.
リウムなど）
でも試しているが、ロ紙を通過す

気化学的特性に及ぼす影響
白金は高い触媒活性を有することから、近年［2］・・・G.・G.・Demirkhanyan,・Laser phys.・16, 1054るような微粉末しか得られず、今のところはう
1057・（2006）.
まく行っていない。

では燃料電池用の触媒としても注目されてお［3］・・・近 角聰信「強磁性体の物理（下）」第 7 章

り、今後さらに需要の増大が予想される。しか20. 動的・磁化過程（裳華房
５．最後に1984）.

し、その埋蔵量が少なく限りがあることから、紙面の都合上、今回結晶育成に成功したサ

効率的に利用することが重要である。そこで微謝辞
ンプルの結晶構造と、室温から2 Kまでの磁性粒子化して比表面積を増やし、さらにニッケル本研究実施にあたり支援いただいた分子科学
データについては、拙著をご参照いただければなどの強磁性元素と合金化し規則相とすること
銅水酸化物の単結晶.

研究所・機器センター
藤原基靖氏、上田正氏、幸いである［13］。現時点では、銅水酸化物ので、白金単体よりも高い触媒能が期待される。

伊木志成子氏、横山利彦氏、解良聡氏に感謝し単結晶を育成する方法を見つけたにすぎず、こさらにL10-NiPt 規則合金は結晶磁気異方性が次に有機スルホン酸イオンを試した。理由は

ます。 本 研 究の一部は科 研 費 基 盤（C）
・ No.・の物質群が、
宝の山か、
ただの錆か、
まだわかっ

大きく、使用後の磁気回収が容易になるため、
有機スルホン酸イオンの銅塩が、カルボン酸銅

26420679
により実施しました。
ていない。本研究の進展は、極低温強磁場下磁希少資源である白金の再利用にも繋がる。そこと比べて、水によく溶けるからである。しか

気測定、熱容量測定、磁気共鳴測定、中性子散で、本研究では
NiPt 系合金微粒子を作製し、し、有機スルホン酸イオンは加水分解しないた

乱実験の結果次第である。今後、さらなる条件

その構造が、磁性および電気化学的特性に及ぼめ、有機スルホン酸イオンと銅イオン、さらに検討により、様々な金属水酸化物の構造物性研

す影響を解明することを目的とした。
加水分解用の酢酸イオンを加えて、試してみる

究を展開し、いずれは量子スピン液体状態が絡

機器センターたより

8583

９．研究紹介実際），講談社（2016）.
んだ新規物性現象を示す物質の発見に繋げたい
円二色性顕微鏡による物質の局所的な光学活性の研究と考えている。

［7］ C. Lacroix, P. Mendels, F. Mila, eds.:

分子科学研究所

成島 哲也

分子研機器センターに初めて訪れ、実験をIntroduction to Frustrated Magnetism:

１．はじめに行ったのが、大学４年生の秋であった。今秋でExperiments,
Theory, Springer,
だかMaterials,
1/100 ～ 1/1,000程度の信号にしかならな

鏡像対称性を持たないキラル分子は，旋光性
ちょうど四半世紀になる。サンプルを手にし、2011.
い。そのため，市販のＣＤ分散計では，光弾性や円二色性（ＣＤ）といった光学活性を示す。
分子研の入り口の坂を早足で登りながら、早く変調器（ＰＥＭ）により，周期的に変調された［8］
P. W. Anderson, Mat. Res. Bull. 8（1973）

近年，このキラル分子によらない系において，測定したい、と思う気持ちは昔も今も変わらな

左・右の円偏光を発生させ，それをロックイン
153.

特異な光学活性の発現が報告されている。キラい。今後も、機器センターがますます発展され検出するという高感度な手法が通常用いられて［9］
P. W. Anderson. Science 235（1987）1196.

ルな形状をもつナノ微粒子では非常に大きな光ることを願っている。

いる［1］
［10］
M. 。我々の近接場ＣＤ顕微鏡においても，
P. Shores, E. A. Nytko, B. M. Bartlett,

学活性が観察されており，その特性や機構，応

基本的には同様の配置を踏襲し，近接場光ファ
D. G. Nocera, J. Am. Chem. Soc. 127（2005）

用に関する研究が盛んに行われている。
その他，
謝辞

イバープローブ先端の開口部分において，局所
13462.

アキラルな分子の集合体がキラルな構造を形成
本研究は公益財団法人豊秋奨学会と公益財団

光学応答の強度信号を検出することにより，近［11］
H. Kikuchi, Y. Fujii, M. Chiba, S. Mitsudo,

し，光学活性を発現する例も報告されている。
法人日立金属・材料科学財団の支援のもとに接場ＣＤイメージを構築している［2］。
T. Idehara, T. Tonegawa, K. Okamoto,T.

このような新しい光学活性物質に関する報告が行った。首都大学東京の菊地耕一教授には多く

当初，この近接場ＣＤイメージングでは，可Sakai, T. Kuwai, H. Ohta, Phys. Rev. Lett.

増えるにつれ，ＣＤの局所分布を可視化するこの激励をいただいた。福井大学の菊池彦光教授

視光領域の観察にしか対応していなかったた
94（2005）227201.

とに対する要求が増しているものの，従来の方と藤井裕准教授には磁気物性の解釈で、名古屋

め，観察できる試料が限定されていた。一般に［12］
G. Fowles, J. Chem. Soc. Trans. 107

法では，直線偏光に対する異方性の問題が懸念

キラルな分子は紫外光領域にＣＤ活性を示すた（1915）1281.

されるため，今なお種々の改良手法が提案され
藤寛泰博士には結晶構造解析でお世話になっめ，色素を導入した分子系における誘起ＣＤの［13］
W. Fujita, CrystEngComm 17（2015）ている。我々は，これらの分子集合体やナノ微た。文科省ナノテクノロジープラットフォーム観察なども試みたが，観察領域全体が同じ符号9193. S. Yoneyama, T. Kodama, K.

粒子等が，その内部に示すＣＤの空間分布の観事業により、磁気測定装置などの実験機器や電のＣＤを示すだけで，得られた近接場ＣＤイ
Kikuchi, Y. Fujii, H. Kikuchi, W. Fujita,

察を可能とする顕微測定の独自手法を開発し，
子ジャーナルを利用させていただいた。この場

メージの解釈が難しく，信頼できる測定を行う
CrystEngComm 16 （2014） 10385. W.

これらの新しい光学活性物質の特性と機構の解を借りて、お礼申し上げたい。

ことができるまでには，いろいろな試行錯誤がFujita, K. Kikuchi, Bull. Chem. Soc. Jpn. 86

明，そして，キラルな構造の分析を進めている。

あった。
（2013）921. W. Fujita, K. Kikuchi, W. Mori,

参考文献

そんな中，試料の位置が特定できて，かつ，
Chem. Asian J. 7（2012）2830.

２．近接場ＣＤイメージング［1］
http://www.mindat.orgの銅鉱物を参照.

可視光領域に光学活性を示しそうな試料とし我々は，上記のＣＤの可視化を実現するため［2］
S. Yamanaka, T. Sako, M. Hattori, Chem.

て，電子線描画で作製した金ナノ構造体試料のに，所属研究室で得意としている近接場光学顕Lett. 35（1989）1869.

測定を進めることにした。電子線描画法では，微鏡技術にＣＤの測定手法を組み合わせること［3］
R. H. Oswald, Y. Iitaka, S. Locchi, A. Ludi,

任意の形状を有する試料を作製することができにした。近接場光学顕微鏡とは，プローブ顕微
Helv. Chim. Acta 269（1961）2103.

る。そこで，明らかにキラルである“Ｓ字型”

鏡の一種であり，金属被覆光ファイバープロー［4］
W. Fujita, K. Awaga, T. Yokoyama, Appl.

のものを用いることにした・（図１）。

ブの先端に設けられた微小な開口部分や，先鋭Clay Sci. 15 （1999） 281. W. Fujita, K.
プローブの先端部分に発生させたナノスケール
Awaga, J. Am. Chem. Soc. 119 （1997）の狭い空間領域に局在した光の局在場（近接場
4563. W. Fujita, K. Awaga, Inorg. Chem.
光）を用いる。この近接場光が試料の表面構造
35, 1915-7（1996）.
と相互作用することにより，通常の光学顕微鏡［5］T.-H. Han, J. S. Helton, S. Chu, D. G.
よりも高い空間分解能での光学イメージングがNocera, J. A. Rodriguez-Rivera, C.
実現される。
Broholm, Y. S. Lee, Nature 492（2012）406.
左・右の円偏光に起因するＣＤは，直交する［6］
藤田 渉（米澤 徹，朝倉 清高，幾原 雄一
直線偏光に起因する異方性と比較すると，たか（編））：第20章 磁性測定（ナノ材料解析の86
84

機器センターたより

図１

電子線描画法で作製したＳ型ナノ構造体

９．研究紹介
図２に，“Ｓ字型”とその“鏡文字型”試料
造体配列試料を作製し，その影響を低減するよ
硫化銅ナノ粒子の近赤外局在表面プラズモンのにおける近接場ＣＤ顕微鏡による観察結果を示うにした（図３の左図）［3］。図３に，“Ｓ字型”
名古屋工業大学 濱中 泰
三次光学非線形性
す。以下，本研究紹介記事では，左・右円偏光とその“鏡文字型”，および，それらを混合しに対する吸光度（A）の差で定義される無次元
１．はじめにた“ラセミ体”に相当する配列試料を測定して( ) = −2

量・ΔA=A
金属の表面プラズモンを，さまざまな光デバ
LCP・－ ARCP・をＣＤの値として用いる。

得られたＣＤスペクトルを示す。
“Ｓ字型”とこのとき微粒子には大きな分極が誘起され，ΔA>0の場合，左円偏光に対する消光が右円イスに応用するプラズモニクスが注目を集めて

その“鏡文字型”のスペクトルでは試料間のキ微粒子の近傍に局在した強い近接場光が発生す

偏光に対する消光よりも優勢となる。Ｓと鏡文いる．表面プラズモンが励起されると，著しくラルな関係を反映した，ＣＤ＝０（ゼロ）の軸
る．

字は，２次元平面内においてそれぞれ異なる掌増強された電場がナノスケールの空間に局在しに対し対称なスペクトルが得られた。また，ラ性を有する。そのため，Ｓ字と鏡文字型のナノて発生する．この現象を利用した発光・受光デセミ体では，互いのＣＤの寄与が相殺し，巨視

構造体の一方が正，他方が負のＣＤ（ΔA）を
バイスの高効率化，顕微鏡，単一分子の検出，的にはＣＤを示さなかった。

示すものと予想していた。しかしながら，得ら
ナノ光回路，バイオセンサ，ナノ加工などの研れた近接場ＣＤイメージを見ると，正と負両方究が進んでいる１．金属を使う場合，表面プラのＣＤ信号が単一のナノ構造体の内部に共存しズモンの周波数は可視・紫外光の領域に限られていた。ナノ構造体の中心付近では，Ｓ字型でる．しかし，金属よりもキャリア密度が低く，は負，鏡文字型では正のＣＤとなっており，局
ドーピングによって制御できる半導体を用いれ

図1

所的な部位においては，その掌性から当初予想
ば，原理的にはマイクロ波〜近赤外の広範な周プラズモン増強電場の概念図したものと合致していた。中心部以外の周辺部
波数の表面プラズモンが実現できる２．

金属微粒子を誘電体に分散させた材料は，局では，互いのキラルな関係を反映するように，
近年，銅カルコゲナイド，酸化タングステン，

所電場増強効果の働きで，大きな非線形光学応

Ｓ字と鏡文字型試料の対応するそれぞれの場所
酸化亜鉛，酸化スズ等のナノ粒子に近赤外光領

答を示すことが知られている．このような材料において異なる符号のＣＤが観察された［3］。
域の表面プラズモンが観測された ．この領域の三次非線形感受率χ⑶は次のように表される4．

３

即ち，単体のナノ構造体全体が同一の符号のＣには，「生体の窓」といわれる生体の透過率の高

(3)

=

| |2

Ｄを示すわけではないが，構造の局所的なキラい波長帯や光通信波長帯があり，新しい応用の

2 (3)
⑶
m



は微粒子自身の三次

リティ，曲率などを反映してＣＤが分布するも広がりが期待できる．

非線形感受率である．この式は，局在表面プラのと理解される［4］。
表面プラズモンは，金属と誘電体の界面に発ズモンの周波数で強い局所電場が微粒子に印加生する伝搬型表面プラズモンと金属の微粒子にされ，実効的に大きな非線形光学応答が生じる

３．巨視的なＣＤと局所的なＣＤ発生する局在型表面プラズモンに大別される．

ことを意味している．

ナノ構造体の内部には，両方の掌性に対応すここでは局在型表面プラズモンに注目する．
る正と負のＣＤが分布していたが，この局所的図１に示すように，光の波長よりも十分小さい
なＣＤは，構造全体が示すＣＤとどのように対金属微粒子に光が照射されたとき，微粒子内部

一方，χ⑶は局所電場因子を強く反映するの⑶で，χ・Ｓを測定すれば局所電場や近接場に関す型とその鏡文字型ナノ構造体の近接場Ｃ

図２

る知見を得ることができる．そこで，筆者らは，Ｄイメージ：局所的なＣＤの空間分布応するのだろうか。巨視的なＣＤは，原理的にとなる ．

非線形光学の観点から，半導体ナノ粒子の局在は，ＣＤ分散計により計測することができる。

表面プラズモンの研究をおこなっている．

4

しかしながら，ＰＥＭにより発生させた円偏光

=

=



0
0
( )
変調光では，左と右周りの円偏光に切り替わる

２．実験

途上において直線偏光成分を含んでしまうた半導体である硫化銅のナノ粒子を，文献5にめ，試料内部に（秩序）構造をもつような試料
ε（ω）とεmは，金属微粒子と周囲の媒質の誘電したがって，酢酸銅を還元し硫黄を添加して合では，直線偏光成分に対する異方性が顕著に現成した．硫化銅ナノ粒子の表面にはドデカンチ

れてしまい，正しいＣＤ信号の評価を行うことによって決まり，次式を満たす周波数ωで大きオールまたはオレイルアミンが配位しており，ができない。我々は，この円偏光変調光を照射な値をとる．これが局在表面プラズモンの周波

そのアルキル基の性質によりナノ粒子は非極性
図３ 巨視的なＣＤスペクトルする領域内に複数の異なる配向を有するナノ構数である．

（機器センターのＣＤ分散計で測定）
溶媒によく分散する．

機器センターたより

8785

９．研究紹介
ここで得られた巨視的なＣＤスペクトルは共直面した［2］。そのため，直線偏光の影響を受

鳴波長である 800・ nm 付近においても最大でけにくい，伝搬光型（通常の光学顕微鏡方式）-3¦ΔA ¦ =3 × 10 程度であった。一方，図２の近接場ＣＤイメージで観察された局所ＣＤでは，-1のＣＤ顕微鏡の開発も併行して行っている。
前述したように，溶液中の分子（ランダムに¦ΔA ¦ =5 × 10 程度と局所的なＣＤ信号は巨視配向）の測定などを主たる目的とした従来のＣ的なものよりも遙かに大きい（100 倍程度）。

Ｄ計測法では，ＰＥＭによる円偏光変調光を用言い換えると，巨視的に観察されるＣＤは，非いているため，常に直線偏光成分を含んでしま

常に強い正・負の局所的なＣＤ信号の総和としうという本質的な問題があり，そのまま顕微測て現れているものとして，概ね理解することが定に適用することが難しい。近年，ＣＤ計測にできる。
機器センターのピコ秒レーザーを光源に用い

21
はＰＥＭが必須という固定観念を捨て，純粋なFが最も高く1.35×10
cm であった．

て，硫化銅ナノ粒子の三次非線形感受率を測定

円偏光のみを試料に照射してＣＤを評価するとAいう手法が，少数だが，試みられている。その

図2

三次非線形感受率の測定系の概略図

４．光学活性と構造のキラリティ
した．図2に光学系の概略図を示す．レーザーB
最初の試みでは，左と右の円偏光を独立に試料を調べるため，二つのアキラルな「Ｃ」型ナノズで集光し光路長1 mmの石英セルに入れたヘCに照射し，それぞれで得られた画像の差分を計

構造体を２次元平面内で接近させ，キラルな
キサン中の硫化銅ナノ粒子に照射する．試料を算し，ＣＤのイメージが構築された［6］D 。この手法では，左と右の円偏光に対する多数の画像「Ｓ」型ナノ構造体を形成するのに伴い変化す
透過した光は，フォトダイオードで受光する．
る局所的なＣＤ分布を調べた［5］。二つのＣ型
もう一方は参照光として用い，NDフィルター

Absorbance (arb. units)

構造のキラリティと発現する光学活性の相関
光をビームスプリッターで分割し，一方をレン

ナノ構造体の端点同士を接近させたところ，そで強度を調整してフォトダイオードで受光すを溜め込み，その情報を平均化処理することにE
より S/N 比を向上させている。

の接続領域においてＣＤ信号が増強した。このる．フォトダイオードの出力信号をデジタルオ

我々は，さらなる感度向上のため，純粋な円F

増強はＣ型構造同士が接触していない比較的遠シロスコープに入力し，割り算機能を使って透距離（端点間距離・≳・350・nm）から見られた。
過光信号と参照光信号の比を求め積算する．こ

偏光のみを離散的に繰り返し照射するという偏
500
1000
1500
2000
Wavelength (nm)光変調法を提案し，高感度なロックイン検出法

このことから，Ｃ型構造体間の伝導電子のやりのようにして得られる透過率から吸収係数を求に対応させた・［7,・8］。これにより，光学密度で取りで生じるのではなく，遠隔的な電磁相互作
める． NDフィルターを使って試料への入射光-4・ 程度（楕円率では 10・ mdeg 程度）という10以下では，比較的キャリア密度の値が近くプ

用により，系全体がキラリティを認識し，光学強度を変化させ，入射光強度と吸収係数との関高い検出限界と回折限界に相当する高い空間分
ラズモン共鳴の波長が近いE（1.23×1021 cm ）活性を発現するものと考えることができる。
係を得，非線形吸収係数を求めて，その値から解能（300 - 400nm）を両立したＣＤのイメーとFの三次非線形感受率の測定結果について

三次非線形感受率を見積もる．

ジング手法を構築できた。図５に示す風車型の述べる．この二つのナノ粒子は粒径が2倍程

図3

硫化銅ナノ粒子の吸収スペクトル

キラルなナノ構造体の配列構造試料を観察した
度異なっている．透過型電子顕微鏡（TEM）
結果では，透過光像（図５上図）では配列構造
写真と，それらを解析して作製した粒径のヒ３．結果と考察
硫化銅ナノ粒子の可視〜近赤外領域の吸収スに対応した格子状パターンが観察されるのに対ス
ト グ ラ ム を 図4，5に 示 す． ど ち ら の ナ ノ

ペクトルを図3に示す．ブロードな局在表面プ

し，ＣＤ像（図５下図）では単体のナノ構造体
粒子も形状は球形に近いことが確認できる．

ラズモンバンドが観測される．ナノ粒子の粒径の周辺の特定の位置（上下左右）にＣＤ信号の試
料Eの 平均 粒 径 は4.5 nm， 試 料Fの 平 均 粒

は，A〜Eが4〜5 nmで，Fは 約10 nmで あ る．

極大スポットが観察された。このことは，単体
径は9.9nmでサイズ分布が大きい．プラズモ

ピーク波長の差はキャリア密度が異なるためで
図４ アキラルな構造の会合による光学活性の発現のナノ構造体の内部においてＣＤが不均一に分あり，アクセプター性の格子欠陥である銅空孔布するとした，前述の近接場ＣＤの結果とも合５．・・最近の展開：直線偏光による異方性の影響．
の密度が試料により異なることを示している

致する。また，得られたＣＤイメージは等方的を受けにくいＣＤ顕微鏡の開発
局在表面プラズモンのスペクトル形状を解析しであり，直線偏光による異方性の影響は低減で以上の近接場ＣＤ顕微鏡による研究では，Ｐてキャリア密度を見積もることができる．キャきたと言えるだろう。しかし，本測定では，測ＥＭによる偏光変調法を用いていたため，直線リア密度は，いずれも10cm 程度であり，A

定領域内で単一の符号のＣＤ（この場合，正の21
偏光の異方性の影響を無視できない状況に度々のキャリア密度が最も低く0.95×10
cm で，ＣＤ）だけが観察されている。近接場光学顕微
図4 試料EとFのTEM写真

2

6

21

88
86

機器センターたより

９．研究紹介
鏡にこの離散的な円偏光変調方式を導入して観ンはキャリアの集団振動なので，キャリアの散に関する情報も相補的に利用することにより，非線形吸収係数と三次非線形感受率の虚部察を行ったところ，異なる符号のＣＤ（負のＣ
乱レートが大きいとスペクトルが広がる．F以⑶
究極的には，生体の機能発現に寄与する階層間Imχの間には，次式の関係がある．

Ｄ）も観察された。即ち，光の波長よりも狭い
外の試料の局在表面プラズモンバンドがブロー2 2の連動機構を追求したい。
(3)

空間領域に異なる符号のＣＤが複雑に分布してドなのは，粒径が小さくキャリアがナノ粒子のIm= 240 2

６．おわりにて）観察されてしまったようである。単一のキられる．

近接場ＣＤイメージングにより観察された強上に示した非線形吸収係数を（5）式を使って換

ラル分子においても，入射する光の方位により

い局所ＣＤを示す領域では，光電場自体が通常算すると，Imχ⑶ =（esu）であった．

50
光学活性の符号が異なり得る［9］。今後，この
40
E:
4.5
0.7
nm
ようなナノ物質や分子のキラリティ，光学活性30の本質を明らかにするには，より高い空間分解
20
F: 9.9 2.5 nm
能で観察することが重要になっていくであろう。
100
2 4 6 8 10 12 14 16
Diameter (nm)の円偏光よりも強くねじれる場合があり，実際，χ⑶はナノ粒子の濃度（充填率）に比例するのCountsいるが，低い分解能ではぼやけて（平均化され表面によって散乱される頻度が高いためと考え

図5

試料EとFの粒径のヒストグラム

それを利用したと考えられる系では，検出感度で，他の試料と値を比較する場合には，同じ濃が6 桁も向上したという報告がある［10］。現在，度になるように値を補正しなければならない．
系統的にデザインされたナノ構造物質の光学活
そこで，ナノ粒子の濃度に比例する線形吸収係性分布の情報から，ねじれた光の局在場の起源
数で規格化する．このようにして得られた各波の理解，また，それを効率よく制御・抽出する長でのImχ⑶ の値を図7に示す．これらの値は，ノウハウの確立し，さらには，キラルな化学反局在表面プラズモンのピークでの吸収係数αpeak
応やスピンデバイスなどへ応用展開することをで規格化してある．実線は吸収スペクトルであ目指し，研究を進めている。 ⑶ の値が表面プる．試料Eのデータから，Imχ

と吸収係数の関係である．レーザーの波長は局キラリティの顕微分析の研究には，まだ常套
ラズモンに共鳴して増大することがわかる．こ在表面プラズモンピークの1200 nmである．入手段というものが存在しない。今後は，本分析
れは，共鳴波長でナノ粒子に大きな局所電場が

射光強度が増加すると，吸収係数は減少する．

手法をさらに高度化することにより，分子スケー作用するためである．このようなImχ⑶の特徴

このような負の非線形吸収は，貴金属ナノ粒子

ルからマイクロスケールまでの物質のキラリ
は，貴金属ナノ粒子と同様である．

にも共通する局在表面プラズモンの特徴であティ研究の常套手段として選択されるような，
0
マイルストーンとなり得る成果を出していきたい。

フィッティングした．線形吸収係数α0と非線形吸収係数βを可変パラメータとした．実線が図５ 巨視的なＣＤスペクトル
フィッティング結果を表す．

=



0 +

ここで紹介したＣＤ顕微鏡は，通常の（伝搬局在表面プラズモンピークでの非線形吸収係数
光による）光学顕微鏡方式に基づいたものであ（cm/GW）と求められた．
は，β =り，将来的には様々な階層における物質のキラ

Abs. Coefficient (cm -1)

ルな構造の観察に利用できるものと考える。生物細胞の内部には，ＤＮＡから染色体に至るま30
E: 1200 nm
でのそれぞれのスケールにおいて様々なキラル
20experimentな構造が階層的に存在し，互いに密接に連動しfitting=+ I

0
機能している。本ＣＤ顕微鏡により実際に植物
10-1
0 = 30.9 cm

細胞の内部を観察したところ，波長により染色= -0.197 cm/GW
0 5
体部位のＣＤの符号が反転する様子などが明ら
10 106 107 108 109 1010 1011
2
Intensity (W/cm )かになっており，生体試料においてもキラルな
図6 吸収係数と入射光強度の関係（試料E，局在構造の分析に利用できそうであることが分かり
表面プラズモンの吸収ピーク波長で測定）つつある。今後は，ラマン分光による化学結合2-1
E 4.5 nm
F
9.9
nm
参考文献
-2 Drake,・ J. Phys. E: Sci. Instrum.,・ 19,・
1.・・・A.F.・
1
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Chem. Phys.,・15,・13805・（2013）.
3.・・・T.・Narushima,・H.・Okamoto,・J. Phys. Chem.
-4
0
C, 117,・23964・（2013）.1500
500
1000
2000
Wavelength(nm) H.・ Okamoto,・
4.・・・T.・ Narushima,・
S.・ Hashiyada,・
Chirality・28,・540・（2016）.
図7 ドット：吸収係数で規格化した試料EとFの5.・・・T.・ Narushima,・ S.・ Hashiyada,・ H.・ Okamoto,・
三次非線形感受率の虚部の値，実線：吸収
ACS
photonics,・1,・732・（2014）.
6.・・・K . ・スペクトルC l a b o r n , ・ E . ・ P u k l i n - F a u c h e r , ・ M .・
Kurimoto,・ W.・ Kaminsky,・ B.・ Kahr,・ J. Am.
粒径4.5の試料EのプラズモンピークでのChem.nmSoc.,・125,・14825・（2003）.・⑶
7.・・・T .・ Narushima,・ H.・ Okamoto,・
三次非線形感受率は，Imχ/αpeak = Scientific
Reports,・6,・35731・（2016）.
（esu cm）であった．一方，粒径9.9 nmの試料F8.・・・成島哲也，岡本裕巳，特願 2015-257226 号「円⑶では，Imχ
/αpeak =（esu cm）で，偏光照射器，分析装置及び顕微鏡」
9.・・
S・.・Nichols,・O.・Arteaga,・A.・Martin,・B.・Kahr,・
試料Eよりも約1.7倍大きい．貴金属ナノ粒子のJOSA⑶A, 32,・2049・（2015）.
場合，χ
/αpeakの値は，粒径が増加するととも10.・・・E.・Hendry・et・al.,・Nat.
Nanotechnol., 5,・783・（2010）.
に増加する．試料E，Fと同程度の粒径の貴金
Absorbanceる．次式を使って最小自乗法で測定データを

Im (3)/ peak ( 10-14 esu cm)

図6は，試料Eについて得られた入射光強度

機器センターたより

89
87

10．共同利用採択課題一覧
課題
番号

申請

所
属
職 名 提案代表者
研究課題
区分
平成28年度共同利用採択課題一覧
1012 通年

岐阜大学
工学部

教授

施設利用
（独）産業技術総合研

究所
課題
所
属
番号
計測フロンティア研究
区分（S-15-MS-）部門
申請
1013 通年1001

通年1014 通年
1002

通年

1003

通年

嶋

利用研究設備Co2FeAl ナノ粒子 ,FeNi【SQUID 型磁化測定装置】
細線 , (Eu,In)-YAIG の磁【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog 3-21気的性質の解明

睦宏

主任
多層膜希薄磁性半導体【SQUID 型磁化測定装置】
安本 正人
職 名
提案代表者
利用研究設備研究員の磁化測定 研究課題

名古屋大学大学院工学研究科
大阪府立大学
化学・生物工学専攻

教授

日本大学生物資源科学部

准教授

高野

バクテリア光センサーのアン【熱分析装置】
体の低温磁気構造解明【熱分析装置】MicroCal iTC200
英晃
テナ分子に関する研究

自然科学研究機構
科学研究所

准教授

菱沼

良光

教授

大学院理学系研究科

核融合

忍久保

細越 裕子

ねじれたポルフィリン金属錯 【電子スピン共鳴装置】
洋【電子スピン共鳴装置】
多次元磁気格子を形成
体の磁気的相互作用の研究【SQUID 型磁化測定装置】

する有機ラジカル磁性 【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3低放射化 MgB2 超伝導線材【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】の超伝導特性におけるボロン【電子スピン共鳴装置】【熱分析装置】Bruker E680
同位体原料の調査【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3【単結晶
X 線回折装置】【電子分光】
機能性材料バンド構造顕微分析システム【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY【熱分析装置】
CCD-3
法政大学
新規ナノマテリアルの【MALDI-TOF 質量分析】Applied Biosystems Voyスピンクロスオーバー錯体の 【SQUID 型磁化測定装置】
広島大学大学院工学研究院
1015
教授准教授
緒方 姜
啓典舜徹
1004 通年
通年 生命科学部
ager DE-STR
構造および物性評価【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
室温領域での双安定性発現
化学工学専攻【蛍光Ｘ線分析装置】
JEOL JSX-3400RII
Reflex【 フ ー リ JEOLエ 変 換JNM-ECA920
赤 外 分 光 光 度 計 】Bruker【核磁気共鳴装置】
IFS66v HORIBA SPEX Fluorolog 3-21【蛍光分光光度計】【単結晶 X 線回折装置】【可視紫外分光光度計】
Hitachi U-3500【単結晶 X 線回折装置】
MERCURY【顕微ラマン分光装置】
RENISHAWRigaku
inVia Reﬂex
CCD-3型磁化測定装置】
Pd-Si-( 希土類 ) 系準結 【SQUID【粉末X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
名古屋市立大学大学院シス
有機分子による遷移金属錯体
北海道大学【電子スピン共鳴装置】
1016
通年【熱分析装置】
助教 教授柏本 藤田史郎 渉晶および近似結晶の磁1005
通年 大学院工学研究院
テム自然科学研究科生体情の構造制御と新規磁気物性探【SQUID型磁化測定装置】【熱分析装置】
MicroCal
VP-DSC,MicroCal iTC200
気秩序
報専攻
索
【熱分析装置】

1017 通年
1006

1018

1007

通年

兵庫県立大学
大学院物質理学研究科

岡山大学大学院医歯薬学総合研究科
前期 東京理科大学
後期 理学部
通年

1019 前期

客員
研究員

准教授

加来田

教授

丸山

准教授

名城大学理工学部

自然科学研究機構
核融合科学研究所

小林 本忠

准教授

根岸 雄一

菱沼

【電子スピン共鳴装置】【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
窒化硼素層間化合物の【SQUIDReflex型磁化測定装置】
物性【可視紫外分光光度計】
Hitachi【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW
inViaU-3500
Reﬂex
核内受容体と低分子の相互作【熱分析装置】MicroCal iTC200
博貴
金属ナノクラスターに用に関する研究おける構造変遷及び安 【電子顕微鏡】(TEM) JEOL JEM-3100FEF【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F
定化起源の解明【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB（SEM）HITACHI SU6600
Rh超伝導線材の超触媒を用いた単層カーボ 【電子顕微鏡】
MgB2
隆浩【SQUID【電子分光】
型磁化測定装置】
Omicron EA-125
ンナノチューブの低温成長
伝導特性におけるボロ【熱分析装置】
良光【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
ン同位体原料粒径の効
Reflex【熱分析装置】
MicroCal VP-DSC, iTC200

果【単結晶 X 線回折装置】【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
大気圧 CVD によるナノ1,2,3- ト リ ア ゾ ー ル 基 含 有 CCD-3
名城大学
ダイヤモンドの合成と1020 前期 岐阜大学教育学部理科教育【電子顕微鏡】(TEM)
JEOL JEM-3100FEF
准教授 小澤 理樹【SQUID 型磁化測定装置】
シッフ塩基配位子を用いた金電子顕微鏡によるキャ
助教
萩原 宏明
1008
通年 理工学部
属錯体の結晶構造と磁気的性 【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
講座（化学）
ラクタリゼーション
Reflex質の解明

前期 広島大学
1021
後期 大学院理学研究科
1009

1023
1011

井上 克也
教授

国立研究開発法人産業技術総合研究所 物質計測標準
研究部門

主任
研究員

高知大学教育研究部総合科
学系複合領域科学部門

准教授

1022 前期
1010

教授

岐阜大学工学部機能材料工
通年
学科
静岡大学

通年

教授

工学部

前期 岐阜大学
後期 教育学部通年

助教

嶋【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
新規ナノ磁性体および【電子スピン共鳴装置】【電子スピン共鳴装置】
マルチフェロイックス【SQUID型磁化測定装置】
型磁化測定装置】
BiFeO3 ナ ノ 粒 子 ,FeNi
細 【SQUID
の磁気物性

睦宏

小林健吉郎
松本

萩原 宏明
上田

線 ,Yb-YAIG の磁気的性質の 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog

BNC解明
薄膜のスピントロ【SQUID3-21型磁化測定装置】ニックス
キュリー・ワイスの法則に基【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
づくフリーラジカル定量分析
1,2,3トリアゾール含【電子スピン共鳴装置】
信洋
法の精確さ向上を目的とした型磁化測定装置】
型磁化測定装置】
有シッフ塩基配位子を 【SQUID【SQUID
高周波 ESR 測定

用いた金属錯体の結晶 【単結晶 X 線回折装置】
新規ポリオキソメタレート錯 【電子スピン共鳴装置】【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3構造と磁気的性質の解体の電気化学的酸化還元反応 【 核 磁 気 共 鳴 装 置 】（NMR）JEOL JNM明 メカニズムの解析
ECA600忠治

多周波 EPR 法を用いた光合
名古屋大学
神経細胞ネットワーク【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
名古屋大学理学研究科物質
客員准教授
三野 広幸
成酸素発生系高酸化状態の解1012 前期
通年 グリーンモビリティ連1024【電子顕微鏡】(FIB)
JEOL JEM-9310FIB
宇理須恒雄
ハイスループットスク【電子スピン共鳴装置】
理学教授
析
携研究センターリーニング装置の開発
1013

1025

1014

96
88

豊橋技術科学大学

通年 名古屋大学
前期
電子情報工学系
後期 大学院理学研究科
通年

福岡大学

理学部

機器センターたより

電気・

助教

後藤

太一

助教

武藤

梨沙

邨次

智

パルスレーザーデポジション【電子スピン共鳴装置】
JEOL JEM-3100FEF
酸素貯蔵- 放出能を持つ 【電子顕微鏡】(TEM)
法を用いた単結晶イットリウ【SQUID 型磁化測定装置】【電子顕微鏡】(SEM)
JEOL JSM-6700F
3d 金属酸化物担持触媒
ム鉄ガーネット膜の形成【電子顕微鏡】(SEM) Hitachi SU6600
の構造解析

助教

多周波 ESR 法による祖先型
光合成反応中心反応機構の解 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
析

10．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-15-MS-）

平成27年度共同利用採択課題一覧
1015

通年

所

属

職

城西大学理学部化学科

教授

施設利用
課題
番号
1016

申請
区分

所

属

名

職 名

提案代表者

見附

孝一郎

提案代表者

通年

静岡大学

工学部

教授

植田

一正

1017

通年

関西学院大学理工学部環境
応用化学科

教授

橋本

秀樹

1018

通年 名古屋市立大学
日本大学文理学部化学科准教授

周1001 通年 大学院システム
自然科学研究科
1019

教授

通年

名古屋工業大学先進セラ
ミックス研究センター

通年

岐阜大学工学部化学・生命
工学科

藤田

教授

研究課題

利用研究設備【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F
酸化チタンナノ粒子や酸化亜 【 ピ コ 秒 レ ー ザ ー】Millennia-Tsunami,
鉛ナノロッドからなるフレキ TITAN-TOPAS【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
シブル太陽電池
3-21【単結晶 X 線回折装置】
利用研究設備研究課題
π共役部位の空間配置制御に 【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
よる近赤外吸収材料開発とそ CCD-3【電子スピン共鳴装置】の構造解析【電子スピン共鳴装置】【SQUID型磁化測定装置】【SQUID型磁化測定装置】（SEM）HITACHI SU6600【単結晶【電子顕微鏡】
X 線回折装置】
金属ナノ粒子担持型グラフェ【 フ ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 光 度 計 】Bruker
ンオキサイドの化学状態分析【粉末 X IFS66v
線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII

フッ素を有する置換基を配位【熱分析装置】
彪 水素結合性磁性体の合子に導入した単一分子性伝導【SQUID 型磁化測定装置】【蛍光Ｘ線分析装置】
JEOL JSX-3400RII
渉 成、体の合成と物性研究
構造解析および磁【核磁気共鳴装置】Bruker AVANCE600【電子スピン共鳴装置】【核磁気共鳴装置】
JEOL JNM-ECA600【SQUID 型磁化測定装置】
有機金属分解法で作製した磁【蛍光分光光度計】
HORIBA SPEX

性研究

安達

信泰

性体薄膜の磁気的性質の研究 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500

1020

准教授

植村

一広

【単結晶 X 線回折装置】【フーリエ変換赤外分光光度計】
Bruker IFS 66v/S
常磁性異種金属多核錯体の磁 【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVia Reﬂex
CCD-3
気物性評価
【SQUID 型磁化測定装置】

新規ポリオキソメタ
高知大学【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
レート錯体の電気化学 【電子スピン共鳴装置】
1002 通年 教育研究部
准教授 上田 忠治
3-21
硫化物半導体ナノ粒子の光物
名古屋工業大学大学院物質【核磁気共鳴装置】JEOL JNM-ECA600
的酸化還元反応メカニ【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500
准教授
濱中 泰
1021
通年 総合科学系
性
工学専攻
ズムの解析
【 ピ コ 秒 レ ー ザ ー】Millennia-Tsunami,
1003 通年
1022

通年

愛媛大学
助教
大学院医学系研究科
愛媛大学大学院理工学研究

大嶋 佑介

准教授

白旗

TITAN-TOPAS
ラマン分光法による骨【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
粗鬆症モデルの解析
機能性有機結晶の構造と物性
CCD-3

崇

に関する研究多周波ＥＳＲ法による【SQUID 型磁化測定装置】
助教
武藤 梨沙 祖先型光合成反応中心 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
【単結晶 X 線回折装置】
シクロデキストリン類と薬物
愛知学院大学薬学部製剤学の反応解析【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
講師
小川 法子
通年
科

大阪大学
1004 通年
蛋白質研究所1023の包接複合体の構造解析

講座

CCD-3

【電子分光】Omicron EA-125
ドープ型 BiFeO3 ナノ粒子の【電子顕微鏡】(TEM) JEOL JEM-3100FEF
白金族触媒からの単層
有馬 ボシー
山形大学大学院理工学研究
合成及び磁化特性に関する研 【SQUID 型磁化測定装置】
助教
1024
通年
名城大学
【電子顕微鏡】(SEM) JEOL JSM-6700F
カーボンナノチューブ
ルアハンマド科電気電子工学分野
究
1005 通年
教授
丸山 隆浩
理工学部
作製と構造評価に関す 【電子顕微鏡】(SEM) Hitachi SU6600【単結晶 X 線回折装置】【電子顕微鏡】(FIB)
JEOL JEM-9310FIBる研究
X 線結晶構造解析による不斉
豊橋技術科学大学 環境・【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
助手
藤沢 郁英
1025
通年
合成化合物の絶対構造の決定
生命工学系【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex
CCD-3【電子スピン共鳴装置】
多周波 EPR 法を用いた
名古屋大学【SQUID 型磁化測定装置】
アルカリ土類金属窒化硼素層
兵庫県立大学大学院物質理
1006【電子スピン共鳴装置】
Bruker E680
准教授客員 三野 小林
広幸本忠
光合成酸素発生系高酸1026 通年
通年 理学研究科物質理学【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
間化合物の物性学研究科
研究員
化状態の解析

愛媛大学
1007 通年 大学院理工学研究科( 工学系 )
1008 通年

名古屋市立大学
大学院薬学研究科

1027

法政大学生命科学部

通年

1009 通年

山形大学
大学院理工学研究科

1010 通年

九州大学
先導物質化学研究所

Reflex講師

白旗崇

新規電子供与体を成分と【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB【SQUID型磁化測定装置】
する導電性有機材料の構
X 線回折装置】【単結晶【単結晶
X 線回折装置】
Rigaku MERCURY CCD-3
造と物性に関する研究【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
CCD-3

講師

矢木 宏和

【熱分析装置】
MicroCal iTC200【蛍光Ｘ線分析装置】
JEOL JSX-3400RII
NMR 装置を用いたタン【核磁気共鳴装置】
JEOL
JNM-ECA920【電子分光】
Omicron
EA-125
パク質複合体および複【電子スピン共鳴装置】
Bruker E680
【核磁気共鳴装置】
Bruker AVANCE800
合糖質の構造解析【電子スピン共鳴装置】【核磁気共鳴装置】
Bruker AVANCE600【SQUID 型磁化測定装置】
ボ 啓典
ド ー新規機能性材料の構造および
プ 型 BiFeO3 ナ ノ【熱分析装置】
教授 有馬緒方
物性評価【MALDI-TOF
質量分析】Applied Biosystems
型磁化測定装置】
助教
シールアハ 粒子の合成及び磁化特 【SQUID
Voyager DE-STR
ンマド
性に関する研究【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA【SQUIDReflex型磁化測定装置】ー リ エ 変 換 赤 外 分 光 光 度 計 】Bruker
線回折装置】
特任
金属錯体分子の相転移 【単結晶【Xフ姜 舜徹【単結晶 IFS66v
X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3
助教
挙動解析【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex
3-21【可視紫外分光光度計】
Hitachi U-3500【電子顕微鏡】(TEM)
JEOL JEM-3100FEF

グラフェン壁を有する【電子顕微鏡】（SEM）
JEOL JSM-6700F【電子顕微鏡】(SEM)
JEOL JSM-6700F
名城大学
才田 隆広 三次元構造体の触媒担【電子顕微鏡】（SEM）
HITACHI SU6600
酸化物ナノシート壁を有する
名城大学理工学部応用化学助教【電子顕微鏡】(SEM)
Hitachi SU6600
理工学部
助教
才田 隆広
通年
体への応用
【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
三次元構造体の物性評価科【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVIA Reﬂex

1011 通年
1028

Reflex1029

通年

大阪大学大学院工学研究科
応用化学専攻教授

櫻井英博

高分子保護金属クラスターの 【電子分光】Omicron EA-125
電子状態に関する測定【円二色性分散計】JASCO J-720WI

機器センターたより

95
89

10．共同利用採択課題一覧
課題
課題
番号
番号

申請
申請
区分
（S-15-MS-）区分

所 所 属属

職 名
提案代表者
職 名
提案代表者

1013

（独）産業技術総合研
固相相変態を用いたナノ磁性
横浜国立大学大学院工学研
粒子作製と組織および磁気特 【SQUID 型磁化測定装置】
通年 究所
主任准教授 竹田 真帆人
多層膜希薄磁性半導体
通年 究院【SQUID 型磁化測定装置】
安本 正人
性の関係
計測フロンティア研究 研究員の磁化測定部門
大阪市立大学大学院理学研

1032

通年

1033

通年 大阪府立大学
分子科学研究所1034

前期

埼玉大学大学院理工学研究
科生命科学部門分子生物学
領域

前期

千葉大学大学院融合科学研
究科

1014 通年1035

利用研究設備
利用研究設備【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
Co2FeAl
ナノ粒子 ,FeNi
有機ラジカル磁性体による多【SQUIDCCD-3型磁化測定装置】
細線 ,次元量子磁性体の低温磁気構(Eu,In)-YAIG の磁睦宏 裕子
細越【蛍光分光光度計】
HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
【電子スピン共鳴装置】
造の解明
気的性質の解明【熱分析装置】

岐阜大学
大阪府立大学大学院理学系
1012
教授 教授嶋1030 通年
通年
工学部
研究科

1031

研究課題
研究課題

究科

大学院理学系研究科

准教授

鐘本

勝一

名誉教授

西

信之

助教

藤城

貴史

教授

細越 裕子

准教授

城田

有機半導体素子の電子スピン【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
物性評価

【電子スピン共鳴装置】
多次元磁気格子を形成
固体 NMR を用いた多孔質炭【 核 磁 気 共 鳴 装 置 】（NMR）JEOL JNM素材料の解析
ECA600【単結晶 X
線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3する有機ラジカル磁性【熱分析装置】
体の低温磁気構造解明
EPR による鉄硫黄クラスター

秀明

生合成タンパク質群が構成す 【電子スピン共鳴装置】
る超分子複合体の解析【電子スピン共鳴装置】

イミダゾリウム系イオン液体【電子スピン共鳴装置】Bruker E680の分子科学的研究：分子間振【単結晶【熱分析装置】
X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3
動と粘度・ガラス転移温度の【電子分光】機能性材料バンド構造顕微分析システム
関係【熱分析装置】
配列データベースから設計し法政大学
新規ナノマテリアルの【MALDI-TOF 質量分析】Applied Biosystems Voy静岡県立大学食品栄養科学1015
教授 助教緒方 中野
啓典 祥吾 た人工 L- アミノ酸脱水素酵 【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200
1036 通年
前期
生命科学部
ager DE-STR
構造および物性評価部
素の機能解析
【蛍光Ｘ線分析装置】JEOL JSX-3400RII
人 工 設 計 し た モ ノ マ 【核磁気共鳴装置】
ー 型 LJEOL JNM-ECA920
静岡県立大学食品栄養科学助教
中野 祥吾
アミノ酸脱水素酵素の熱化学 【熱分析装置】MicroCal iTC200
1036b 後期部
【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog 3-21的解析
【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500【ナノ秒レーザー】エキシマー励起色素レー【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVia Reﬂex
1037
前期 京都大学大学院理学研究科教授
馬場 正昭
Yb2 分子のレーザー分光
ザー

Pd-Si-(
希土類
系準結多環
芳 香 族)炭化 水 素【SQUIDの レ ー 【型磁化測定装置】
ナ ノ 秒 レ ー ザ ー】Nd:YAG 励 起 OPO レ ー1038
前期 北海道大学
京都大学大学院理学研究科
1016
通年【熱分析装置】
助教 Ｄ 3柏本 国重
史郎 沙知
晶および近似結晶の磁ザー分光ザー
大学院工学研究院【熱分析装置】
MicroCal
iTC200気秩序
イオン液体中のポリヨウ素イ【核磁
気 共 鳴 VP-DSC,MicroCal
装 置 】（NMR）JEOLJNM防衛大学校 機能材料工学
1039

教授

前期

阿部

洋

オンの多形性とダイナミクス
ECA600科【電子スピン共鳴装置】
兵庫県立大学
客員窒化硼素層間化合物のカリウムドープ体の異常磁気【電子スピン共鳴装置】
広島大学大学院理学研究科
1017
通年【SQUID型磁化測定装置】
小林
本忠
井上 克也
1040
前期 大学院物質理学研究科 研究員教授
物性 の研究【SQUID 型磁化測定装置】
化学専攻【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVia Reﬂex
1041

1018

1041b

名古屋工業大学大学院工学後期

1019 前期
1042

前期

1020 前期
1043

ガラス基板上に成膜したサマ【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
金属ナノクラスターに
前期 東京理科大学
研究科未来材料創成工学専 准教授
宮崎 秀俊
リウム酸化物薄膜のバンド
前期【可視紫外分光光度計】
Hitachi U-3500【電子顕微鏡】(TEM)
JEOL JEM-3100FEF
准教授 根岸 雄一 おける構造変遷及び安攻ギャップ評価後期 理学部定化起源の解明前期
後期

名古屋工業大学大学院工学研究科物理工学専攻
自然科学研究機構

准教授

東京理科大学基礎工学部材
料工学科

助教

核融合科学研究所

名城大学
理工学部
名古屋工業大学

前期 広島大学
1021
後期 大学院理学研究科

准教授

准教授

菱沼

岩崎

ン同位体原料粒径の効【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200
果 長残光性 ZrO2 の発光機構解 【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII

謙一郎

小澤 理樹

准教授

教授

【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
新たなトポロジカル物質の探【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
MgB2
超伝導線材の超秀俊
索とその電子状態および結晶【SQUIDReflex型磁化測定装置】
伝導特性におけるボロ構造の評価【熱分析装置】
良光【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500

宮崎小野

明を目的とした準安定トラッ 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680

【電子スピン共鳴装置】
プ状態の観測・同定
大気圧
CVD によるナノ
ダイヤモンドの合成と【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F【電子顕微鏡】(TEM) JEOL
JEM-3100FEF【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
電子顕微鏡によるキャ【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
ラクタリゼーション
SrF2 薄膜を用いた真空紫外
3-21

晋吾

井上 克也

光センサ開発新規ナノ磁性体および【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500【電子スピン共鳴装置】【 ピ コ 秒 レ ー ザ ー】Millennia-Tsunami,
マルチフェロイックス【SQUIDTITAN-TOPAS
型磁化測定装置】の磁気物性

BNC神経細胞ネットワークハイス
薄膜のスピントロ
前期 静岡大学
名古屋大学未来社会創造機
客員教授
宇理須 恒雄 ループットスクリーニング装（FIB）JEOL JEM-9310FIB【SQUID【電子顕微鏡】
型磁化測定装置】
教授
小林健吉郎
後期 工学部
構
ニックス
置の開発

1044 前期
1022

1045

前期

奈良先端科学技術大学院大学 物 質 創 成 科 学 研 究 科 特任助教

前期 岐阜大学
超分子集合体科学研究室 助教1023
後期 教育学部1045b

後期

奈良先端科学技術大学院大学 物 質 創 成 科 学 研 究 科 特任助教
超分子集合体科学研究室

太神戸大学農学研究科

木村

名古屋大学
1046 前期
前期 グリーンモビリティ連
神戸大学農学研究科
1024
携研究センター
1046b

後期

萩原

1,2,3トリアゾール含
鉄硫黄クラスターの酸化還元
虎林有シッフ塩基配位子を状 態 に よ る [NiFe] ヒ【SQUID
ド ロ ゲ 【電子スピン共鳴装置】
型磁化測定装置】
ナーゼ活性制御【単結晶 X 線回折装置】
宏明 用いた金属錯体の結晶

太

EPR 分光法による [NiFe]
ヒ X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3【単結晶
構造と磁気的性質の解虎林明

ドロゲナーゼの鉄硫黄クラス 【電子スピン共鳴装置】
ターの酸化還元状態の評価

神経細胞ネットワーク
紅色光合成細菌の耐熱化に関
客員 助教【熱分析装置】
MicroCal
VP-DSC, iTC200
木村 行宏【電子顕微鏡】(FIB)JEOL
JEM-9310FIB
宇理須恒雄
ハイスループットスク
する研究教授
リーニング装置の開発
助教

行宏

新規好熱性紅色光合成細菌の【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200

熱耐性獲得機構の解明
酸素貯蔵- 放出能を持つ 【電子顕微鏡】(TEM) JEOL JEM-3100FEF
前期 名古屋大学
1025【電子顕微鏡】(SEM) JEOL JSM-6700F
助教邨次
智 3d 金属酸化物担持触媒
ピリジン N オキシドを配位さ【電子スピン共鳴装置】
島根大学大学院総合理工学
後期 大学院理学研究科
准教授
池上 崇久
せた新規ポルフィリン鉄（Ⅲ）
1047
前期【電子顕微鏡】(SEM)
Hitachi SU6600の構造解析【SQUID 型磁化測定装置】
研究科
錯体の構造と磁気特性

9690

機器センターたより10．共同利用採択課題一覧
課題
課題
番号
番号

申請
申請
区分
（S-15-MS-）区分

所 所 属属

職 名提案代表者
提案代表者
職 名

1047b

後期

島根大学大学院総合理工学
研究科

准教授

池上

崇久

1048

前期

島根大学大学院総合理工学
研究科総合理工学専攻

Ｄ2

井手

雄紀

1026
1048b

1049

前期 名古屋工業大学
准教授
後期 大学院機能工学専攻
島根大学大学院総合理工学
後期

前期

新潟大学

研究推進機構

1050

前期

雄紀

准教授

古川

貢

教授

加藤 立久
助教

ポルフィリンπラジカルカチ【電子スピン共鳴装置】【電子顕微鏡】(TEM)
JEOL JEM-3100FEF
オンの物性評価【SQUID 型磁化測定装置】【電子顕微鏡】(SEM)
JEOL JSM-6700F

様 薄膜特性評価々な軸配位子を有す
る鉄【ナノ秒レーザー】
Nd:YAG 励起 OPO レーザー
CaF2
【単結晶 X 線回折装置】（Ⅲ）ポルフィリン二量体の【蛍光分光光度計】
HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
【SQUID 型磁化測定装置】
構造および磁気的性質【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500【単結晶 X 線回折装置】
Rigaku【フーリエ変換赤外分光光度計】
BrukerIFSMERCURY
66v/S
CCD-3
【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVia Reﬂex
光誘起磁性・伝導性の機能性

井手

学習院大学理学部

利用研究設備
利用研究設備様々な金属を有するピロコル【電子顕微鏡】(SEM) Hitachi SU6600【単結晶 X 線回折装置】
フィンの構造および磁気的性【ピコ秒レーザー】
Millennia-Tsunami, TITAN【SQUID 型磁化測定装置】
PLD質の研究
法により作製した TOPAS

Ｄ2

研究科総合理工学専攻

京都大学
1027 前期
国際高等教育院

小野 晋吾

研究課題
研究課題

【電子スピン共鳴装置】Bruker E680

メカニズム解明研究【電子スピン共鳴装置】【電子スピン共鳴装置】
超分子の示す磁性に関【SQUID 型磁化測定装置】【電子スピン共鳴装置】
Bruker E680
する研究
【SQUID 型磁化測定装置】
ドナーアクセプタ型電荷移動

開

康一

松井

公佑

江

東林

錯体の磁化測定【SQUID 型磁化測定装置】

MMX 型構造を有するベ島根大学【SQUID型磁化測定装置】
パルス ESR 法による光化学【電子スピン共鳴装置】
Bruker E680
名古屋大学大学院理学研究
ンズアミジナート架橋
准教授
三野 広幸
1051
前期
1028
前期
大学院総合理工学研究助教
片岡祐介
X 線回折装置】
系等の電子状態解明 【単結晶【電子スピン共鳴装置】
科物質理学
二核金属錯体の構造解
科【単結晶【電子顕微鏡】
X 線回折装置】
RigakuJEOL
MERCURY
CCD-3（SEM）
JSM-6700F
放射光ナノビームを用いた顕析と磁化率測定1052

1029

名古屋大学大学院理学研究

前期
前期
日本大学
科
後期 文理学部

助教

准教授

北陸先端科学技術大学院大（SEM）HITACHI SU6600
微 時 間 分 解 XAFS 法 に よ る 【電子顕微鏡】

単一分子性伝導体の開固体高分子形燃料電池触媒一 【電子分光】Omicron EA-125【SQUID 型磁化測定装置】【熱分析装置】
発 粒子の構造速度論解析

周 彪

共有結合性有機フレームワー 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
スパッタ法により形成さク化合物の電気伝導性起源解 【電子スピン共鳴装置】
れた単結晶イットリウム 【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】
明
鉄ガーネットのダンピン 【SQUID 型磁化測定装置】【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
グ定数に関する研究
分子性電気伝導体の電子状態

1053

学マテリアルサイエンス系
前期 豊橋技術科学大学
1031
助教
後期 電気・電子情報工学系

前期

教授

1054

前期

名城大学農学部

教授

齋藤

軍治

前期

愛媛大学大学院医学系研究

助教

大嶋

佑介

後藤 太一

解明

【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】
日本学
純 有 機 磁 性 金 属 κ - β ́ ́術振興
【熱分析装置】
MicroCal iTC200
前期 浜松医科大学
生体分子と薬剤の相互（BEDT-TTF）2（
PO大阪大学大学院理学研究科
1032
会特別【電子スピン共鳴装置】
准教授近藤 圷 豪
広樹作用評価1055 後期
前期 医学部【円二色性分散計】
JASCO J-720WICONHC2H4SO3） の
低温
化学専攻
研究員
ESR 測定 II
PD1056

赤外・ラマン分光法による骨 【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA

基質の分子組成の解析 【電子スピン共鳴装置】
Reflex
後期 科
ねじれたポルフィリン
前期 名古屋大学1033
教授
忍久保 洋 金属錯体の磁気的相互 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
東京理科大学薬学部生命創
准教授
横山 英志
キネシンと阻害剤の熱分析【熱分析装置】MicroCal iTC200
1057 後期
前期 大学院工学研究科【SQUID型磁化測定装置】
作用の研究
薬科学科

伝導性分子固体における分子 【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
愛媛大学大学院理工学研究准教授
山本 貴SU6600 と Bruker
間相互作用の研究
Reflex科
国立研究開発法人宇宙主任
QUANTAX
FlatQUAD
1034 前期 愛媛大学大学院理工学研究【電子顕微鏡】(SEM)
JEOL JSM-6700F
上椙 真之
分子性超伝導体における電子【
顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA
開発員
准教授
山本 貴EDS による炭素質隕石
1058b 後期 航空研究開発機構
相の不均一性Reflex
科
素片観察
1058

1059

1035
1060

前期

材料物性
日本ミシュランタイヤ株式エンジニ
前期 島根大学
前期 会社
ア

原野

岐阜大学生命科学総合研究 特別協力
支援センター
研究員

山家

後期

前期

大学院総合理工学研究
科

准教授

池上 崇久

ゴム組成物における加硫反応【電子スピン共鳴装置】
彩新規ポルフィリン、フタ 【電子スピン共鳴装置】の分析

ロシアニン鉄（III）およ【SQUID 型磁化測定装置】
びオキシドバナジウム
シリコンクラスレート中のナ【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3（IV）錯体の磁気的性質
トリウム原子およびガーネッ

光男

ト結晶中のセリウムイオンの【電子スピン共鳴装置】

混合原子価状態を有す
電子スピン共鳴島根大学
前期大学
るロジウムとルテニウ 【SQUID 型磁化測定装置】
新しい磁気光学材料に向けた1036
大学院総合理工学研究井手 雄紀
前期 静岡大学大学院総合科学技院生【単結晶 X 線回折装置】
後期
ムの二核錯体の構造お助教
中嶋 聖介
ナノ構造薄膜及びナノ磁性微 【SQUID 型磁化測定装置】
1061
後期 科術研究科
よび磁気的性質の研究
粒子分散ガラスの磁気的性質
前期 東京大学㈱鈴木化学工業所
1062
1037
前期
後期 開発 Gr

生産技術研究所

1063

1038
1064

【熱分析装置】
有機化合物の低温にお（SEM）HITACHI SU6600
射出成形製品に発生する黒点 【電子顕微鏡】
ける結晶構造と光物性【単結晶【X顕線回折装置】
RigakuCCD-3
務台 井下
俊樹邦之 異物の物質調査と原因究明
微ラマン分
光 装 置MERCURY】RENISHAW
inVIAとの関連性に関する研
Reflex
究管理課

助教

日本原子力研究開発機構
放射性物質回収用吸着剤の加前期 次世代高速炉サイクル研究 副主任
部位特異的変異を導入【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB
佐野 雄一
工
研究員
開発センター
後期 神戸大学
前期
した好熱性紅色細菌由【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200
助教
木村 行宏
再処理技術開発 Gr

後期 大学院農学研究科
前期
後期

名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻

来光捕集 1 複合体の熱助教

邨次

酸化物表面固定化ナノクラス 【電子分光】Omicron EA-125
智力学的解析
ター触媒の表面精密構造解析 【熱分析装置】【単結晶 X 線回折装置】
大阪大学
エ ピPd-Ge-（
タキシ希
ャ土
ル類グ）ラ
系近
似結
北海道大学大学院工学研究1039【顕微ラマン分光装置】
RENISHAW inVia Reﬂex
准教授助教田中慎一郎【SQUID 型磁化測定装置】
柏本 史郎
1065 後期
後期 産業科学研究所
フェンの評価晶の構造と低温物性院【熱分析装置】

プロジェ
小惑星イトカワの微粒子表面
金属ポルフィリノイド
宇宙科学研究所地球外物質
クト研究に存在するクレーター元素組【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
1066 前期
後期 大阪大学
1040【電子スピン共鳴装置】
助教
大洞 松本
光司 徹錯体を含む人工金属酵研究グループ
大学院工学研究科員
成分析

素の電子状態解析

機器センターたより

9791

10．共同利用採択課題一覧
課題
課題
番号
番号

申請
申請
区分
（S-15-MS-）区分

所 所 属属

職 名
提案代表者
職 名
提案代表者

研究課題
研究課題

利用研究設備
利用研究設備【単結晶 X 線回折装置】
ポリイミドフィルム上
金属間に結合を有する多核金【電子顕微鏡】(SEM)
JEOL JSM-6700F
名古屋大学【単結晶 X 線回折装置】
Rigaku MERCURY
島根大学総合理工学研究科
1041
研究員助教江口敬太郎に 堆属錯体の磁気的相互作用と単積 し た CoTTDPz
片岡 祐介
1067 前期
前期【電子顕微鏡】(SEM)
Hitachi SU6600
物質科学国際センター
CCD-3
物質化学領域
結晶Ｘ線構造解析
分子薄膜の構造制御【SQUID 型磁化測定装置】

ガーネットシンチレー【単結晶 X 線回折装置】
ベンズアミジナート架橋ルテ【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
島根大学総合理工学研究科
山形大学
ターのシンチレーション
助教北浦 片岡守 祐介
ニウム二核錯体の構造解析と1067b 前期
後期
1042
【電子スピン共鳴装置】
教授
CCD-3
物質化学領域
理学部
特性に及ぼす二価金属イ
磁化率測定【SQUID 型磁化測定装置】
オンドーピングの効果
1068

前期

1043 前期
1069

前期

静岡理工科大学理工学部物質生命科学科

Faculty of Science
教授
Kasetsart
Universit
大阪府立大学大学院理学系

多段階的に動的構造変化を示
核磁気共鳴法を活用し陽平
すブロック共重合体によるバ 【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200
Supa Han- た 酵 イオミメティック材料の開発
素 複 合 体 の 構 造・

講師

小土橋

nongbua

准教授

研究科

藤原

【核磁気共鳴装置】Bruker AVANCE800

ダ イ 新規な磁性伝導体の微小結晶
ナ ミ ク ス・ 相 互 作【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY
秀紀
用の解析
構造解析
CCD-3

【単結晶 X 線回折装置】
溶媒熱合成法を用いた新規な磁性伝導体の結晶構造
大阪府立大学大学院理学系【単結晶
X 線回折装置】Rigaku MERCURY教授秋田 藤原秀紀
1069b 後期
後期 城西大学
1044【SQUID型磁化測定装置】
教授
素子
金属ポルフィリン超分
解析
研究科
理学部
CCD-3
子の構造と磁性【電子スピン共鳴装置】【 顕 微 ラ マ ンHitachi
分光装置】RENISHAW inVIA【電子顕微鏡】(SEM)
SU6600Reflex Millennia-Tsunami, TITAN水熱合成法で作製した酸化ジ
前期 大阪大学大学院基礎工学研【ピコ秒レーザー】
助教
半澤 弘昌
1070
ルコニウムの発光機構の解明 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
後期 究科物質創成専攻
TOPAS
3-21
早稲田大学
貴金属薄膜のレーザー
1045 前期【ナノ秒レーザー】
Nd:YAG 励起 OPO レーザー教授
井村 考平
【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500
理工学術院
加工とその光特性評価【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500
pn 型分子多層膜の表面およ
前期 名古屋大学物質科学国際セ【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI
研究員
江口 敬太郎1071【フーリエ変換赤外分光光度計】
Bruker IFSSU6600
66v/S
び内部構造に関する研究
後期 ンター【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex1072

前期 宇宙科学研究所
京都大学国際高等教育院 プロジェ教授

加藤

炭素ケージ内包ガドリニウム【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
立久
金属イオンが示す高スピン状
小惑星イトカワの微粒【電子スピン共鳴装置】
態の決定

1046 後期 地球外物質研究グルー クト研究 松本
徹 子の微細表面観察と元 【電子顕微鏡】(SEM) Hitachi SU6600
フラーレンケージ内における 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
素分布分析
1072b 後期 プ京都大学国際高等教育院 員
教授
加藤 立久
反応性の ESR 観測

1073【電子スピン共鳴装置】

日本大学
光センサーとアンテナ【熱分析装置】MicroCal iTC200
助教
高野 英晃
熊本大学大学院先端科学研教授
高島 和希
マイクロ材料試験片加工【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB
前期 生物資源科学部
分子の相互作用解析

1047 通年究部

X 線回折装置】
豊橋技術科学大学
X 線結晶構造解析によ 【単結晶【単結晶X 線回折装置】
助教
藤沢 郁英
電場応答スピン転移錯体の開九州大学総合理工学府物質【単結晶【単結晶
X 線回折装置】
Rigaku MERCURY
CCD-3
X 線回折装置】
Rigaku MERCURY
Ｄ3
中西 匠る分子構造の決定
1074
前期 環境・生命工学系
発
理工学専攻
CCD-3
カルコゲナイド半導体【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
名古屋工業大学
Lindqvist 構造を基本骨格に1049 通年
准教授 濱中泰 ナノ粒子の発光特性に【核磁気共鳴装置】（NMR）JEOL JNM【可視紫外分光光度計】
Hitachi
U-35001075
前期 大学院物質工学専攻
中部大学工学部応用化学科
准教授
石川 英里
持つ
[VW5O19]3を触媒に関する研究
ECA6001048 通年

用いた酸化反応系の開発

硫化銅ナノ粒子の近赤【単結晶 XMillennia-Tsunami,
線回折装置】Rigaku
MERCURY【ピコ秒レーザー】
TITAN双安定性を示す分子性伝導体
前期 神戸大学大学院理学研究科
外局在プラズモン共鳴
CCD-3
准教授
高橋泰 一志1076 通年 名古屋工業大学
1050
TOPAS
准教授
濱中
の極低温構造解析
後期 化学専攻
大学院物質工学専攻
における光学非線形性【SQUID 型磁化測定装置】【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500の研究
小分子活性化錯体における電名古屋工業大学 エネル
1077

教授

前期

増田

【電子スピン共鳴装置】

秀樹

子状態の研究ギー変換触媒研究所
シクロデキストリン類【単結晶 X 線回折装置】
愛知学院大学
アミノ酸薄膜試料の円二色性
前期
1051
通年
助教
小川
法子
と薬物の包接複合体の
JASCO
J-720WI
大阪大学産業科学研究所
助教
入澤 明典
1078
【単結晶【円二色性分散計】
X 線回折装置】Rigaku
MERCURY
CCD-3
実験
後期 薬学部
構造解析
1079
1052

1080

芝浦工業大学 工学部
後期 静岡大学
通年
通学群化学科目
理学部

酸化物固体電解質の磁気的性
京都大学 先端イノベー
特定【SQUID 型磁化測定装置】
高見 剛自己凝集能を導入した 【電子スピン共鳴装置】
後期 静岡大学
質
ション拠点施設【単結晶 X 線回折装置】
教授准教授
植田 一正 有機半導体の光吸収と1053 通年1081

後期

1054 前期
1082

1055
1083

逆転写酵素のテンプレートと【単結晶 X 線回折装置】
なる長鎖散在性反復配列
キレートカルベン金属
教授
幡野明彦【単結晶【電子スピン共鳴装置】
X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3
助教
仁科 直子
RNA
の動的構造解析のため
錯体の合成と構造解析のスピンラベル測定 【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII

共

工学部

早稲田大学

城西大学
理学部化学科教授

教授

秋田

北海道大学大学院理学研究
後期 日本原子力研究開発機
院

講師

後期

愛知教育大学教育学部

准教授

後期

京都大学大学院工学研究科

前期
構 次世代高速炉サイ
後期
クル研究開発センター

研究
副主幹

（SEM）
SU6600【単結晶【電子顕微鏡】
X 線回折装置】
Rigaku HITACHIMERCURY
CCD-3
分子配列の解明
金属ナノ粒子のレーザー加工 【 ピ コ 秒 レ ー ザ ー】Millennia-Tsunami,
考平
メタ位にアミド基を有す
TITAN-TOPASとその形状評価
型磁化測定装置】
素子 る新規ニトロキシドラジ 【SQUID【可視紫外分光光度計】
Hitachi U-3500

井村

井原

佐野 雄一
日野

カルの合成、構造、磁性
pi-d 相互作用を有する有機超慶彦

伝導体におけるスピン状態の 【電子スピン共鳴装置】

和之のドミノ転移の分子ダイナミ

放射性物質回収用吸着
観測【電子顕微鏡】(FIB) JEOL JEM-9310FIB
剤の加工
ラマン分光法による有機結晶【 顕 微 ラ マ ン 分 光 装 置 】RENISHAW inVIA

Reflex
酸化劣化に伴うゴム構
クスの研究
横浜ゴム㈱
1056 通年 東京理科大学 理学部第二室長【核磁気共鳴装置】JEOL JNM-ECA920
八柳
史 造変化の解析法に関す
シッフ塩基金属錯体と種々の【円二色性分散計】JASCO J-720WI
教授
秋津 貴城
1084
後期 研究本部 分析開発室
る研究
複合系の光渦誘起分子配向
部
1085

新潟大学
1057
1086 前期
後期 愛知教育大学教育学部
研究推進機構98
92

機器センターたより

准教授
菅瀬 謙治
抗体抗原相互作用の解析【熱分析装置】MicroCal iTC200【電子スピン共鳴装置】
新規機能性物質の磁気【電子スピン共鳴装置】
Bruker E680
准教授
古川 日野貢 和之 新しいメソ多孔性炭素の開発
准教授【電子顕微鏡】（SEM）
JEOL JSM-6700F
機能解明研究【SQUID 型磁化測定装置】

10．共同利用採択課題一覧
課題
課題
番号
番号

申請
申請
区分
（S-15-MS-）区分

所 所 属属

職 名提案代表者
提案代表者
職 名

研究課題
研究課題

利用研究設備
利用研究設備【電子スピン共鳴装置】
Omicron EA-125
金属ナノ粒子担持型グ 【電子分光】
前期 関西学院大学【SQUID 型磁化測定装置】【電子顕微鏡】(SEM)
Hitachi SU6600
橋本 秀樹 ラフェンオキサイドの金属酵素モデル金属錯体の電
奈良女子大学研究院自然科教授【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500
教授
藤井 浩
1087 後期
後期 理工学部
子構造解析
学系【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex
化学状態分析

1058【 核 磁 気 共 鳴 装 置 】（NMR）JEOL JNM-

ECA600EPR による鉄硫黄クラ高結晶性逆ペロブスカイト型
静岡大学学術院工学領域電前期 埼玉大学
スター生合成タンパク【SQUID 型磁化測定装置】
1089
後期
1059
【電子スピン共鳴装置】
助教助教藤城 川口
貴史昂彦 窒化物磁性薄膜の成長と評価
子物質科学系列
後期 大学院理工学研究科
質郡が構成する超分子複合体の解析
【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F
1090

後期

東京農工大学准教授

1060 前期

京都大学
化学研究所

1091

静岡大学グリーン科学技術
教授
研究所
九州大学
大学

後期

1061 前期
1092

後期

大学院総合理工学府教授

院生

名古屋工業大学工学研究科
生命・応用化学専攻

梶共蒸発分子誘起結晶化法によ【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
寿彦
り作製した薄膜の構造・成分
有機ビラジカルドープ【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
分析
BrukerJEOL
E680JSX-3400RII
弘典 試料の ESR 緩和時間測 【電子スピン共鳴装置】【蛍光Ｘ線分析装置】

嘉治

定 Magnetic property

朴

中西

准教授

龍洙

匠
小野

a n a l y s i s f o r s e n s i n g 【SQUID 型磁化測定装置】

電場応答スピン転移錯
platform【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3体の開発【単結晶 X 線回折装置】克彦

ホウ素錯体をクロモフォアと【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY

する太陽電池色素の高性能化
超広帯域光電変換を実CCD-3【SQUID 型磁化測定装置】
前期 京都工芸繊維大学
現するIII 族窒化物薄膜
NMRを用いたアニオン交換
1062
准教授
園田
早紀
【核磁気共鳴装 置 】（NMR）
ダイハツ工業㈱技術開発セ
RENISHAW
inViaJEOL
ReﬂexJNMの電子- 格子相互作用の 【顕微ラマン分光装置】
副主任
阿部 寛樹
形燃料電池用アイオノマーの1093 後期
後期 大学院工芸科学研究科
ECA600ンター先端技術開発室
解明分子構造解析静岡県立大学1063
1095 後期
後期 関西学院大学理工学部
薬学部

非対称二座配位子を用いた遷
キネシン
Eg5 と阻害剤【熱分析装置】
MicroCal
iTC200
講師助教横山 三橋
英志了爾 移金属錯体における水素結合【SQUID型磁化測定装置】の熱分析
相互作用と磁気的性質

岡山大学
基礎生物学研究所 進化発【熱分析装置】
MicroCal
iTC200HITACHI SU6600
核内受容体と低分子の助教 加来田博貴
安藤 俊哉
昆虫クチクラの微細孔の解析【電子顕微鏡】（SEM）
1096 後期
後期 大学院医歯薬学総合研 准教授
1064
生研究部門
相互作用に関する研究 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
究科
BEDT-TTF 系 有 機 導 体 の 反

強磁性ー超伝導転移と電荷グ
埼玉大学大学院理工学研究
磁気光学薄膜および複【SQUID型磁化測定装置】
准教授
谷口 弘三
1097
後期 名古屋工業大学【SQUID型磁化測定装置】
ラス転移の精密交流磁化率測科1065 後期 先進セラミックス研究教授
安達 信泰 合体の磁気的性質の研【電子スピン共鳴装置】
定
センター
究
1098

1066

ピコ秒レーザーによる樹脂製産業技術総合研究所 集積【 ピ コ 秒 レ ー ザ ー】Millennia-Tsunami,
主任
神経細胞ネットワーク
銘苅 春隆
引張試験片の低損傷切り出し
後期 名古屋大学
マイクロシステム研究セン客員
TITAN-TOPAS
研究員
後期 グリーンモビリティ連【電子顕微鏡】(FIB)
JEOL JEM-9310FIB
宇理須恒雄 ハイスループットスク
加工実験
ター

教授

携研究センターリーニング装置の開発【機器の表記について】◎【SQUID 型磁化測定装置】 ： Quantum Design MPMS-7 または MPMS-XL7【SQUID 型磁化測定装置】
岐阜大学
常磁性異種金属一次元◎【電子スピン共鳴装置】： Bruker EMX Plus またはE500

1067 後期

工学部

准教授

植村 一広

鎖錯体の磁気物性評価【単結晶 X 線回折装置】【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3

京都大学
1068 後期 低温物質科学研究セン
ター

助教

中野 義明

含ヨウ素ドナー分子(EDO-TTF-I) を 用 い た【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3
陽イオンラジカル塩の【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex
結晶構造解析と振動分
光学的研究

1069 後期

茨木大学
理学部

教授

大友 征宇

光合成タンパク質間相【熱分析装置】MicroCal VP-DSC, iTC200
互作用の機構解明

1070 後期

広島大学
大学院理学研究科教授

安倍

曲面π分子上に発生さ【電子スピン共鳴装置】
せたカルベンの磁気的【SQUID 型磁化測定装置】
性質の解明

名古屋市立大学
1071 後期
大学院薬学研究科

1072 後期

東京理科大学
理学部第二部

京都大学
1073 後期 低温物質科学研究セン
ター
1074 後期

大阪大学
大学院工学研究科

学

講師

田上 辰秋

レーザー応答性薬物ナ【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami, TITANノキャリアを用いた新TOPAS規ドラッグデリバリー【可視紫外分光光度計】Hitachi U-3500
システムの開発

准教授

秋津 貴城

シッフ塩基金属錯体と種々の複合系の円偏光 【円二色性分散計】JASCO J-720WI
紫外光誘起分子配向

研究員

石川

教授

櫻井 英博

学

【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-3
オンラジカル塩のＸ線 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVia Reﬂex
構造解析とラマン分光
高分子保護金属クラス
ターの電子状態に関す 【電子分光】Omicron EA-125
る測定

機器センターたより

9993

11．設備利用状況

平成27年度設備利用状況
平成28年度設備利用状況（2015.4.1 〜 2016.3.31）

設備名

設備名

電子スピン共鳴（ESR）装置

所外利用

利用グループ数
利用グループ数
所外利用 所内利用
合計
所内利用

合計

電子スピン共鳴（ESR）装置
EMX Plus
72
EMXE500
Plus
10
161
411
E500
19
E680
51
120
E680
8
1
9
SQUID
型磁化測定装置
SQUID 型磁化測定装置
MPMS-720
2
MPMS-720
MPMS-XL7
221
421
22
3
25
単結晶MPMS-XL7
X 線回折装置
単結晶 X 線回折装置
MERCURY CCD-1
93
MERCURY
CCD-1
7
MERCURY
CCD-2
71
2 8
MERCURY
CCD-2
6
MERCURY
CCD-3
140
1 6
13
2
15
粉末 XMERCURY
線回折装置CCD-3
粉末 X 線回折装置
RINT-UltimaIII
1
6
RINT-UltimaIII257X 線溶液散乱測定装置
X 線溶液散乱測定装置
NANO-Viewer
25NANO-Viewer
314
電子分光装置
電子分光装置 機能性材料バンド構造顕微分析システム
7
1
機能性材料バンド構造顕微分析システム
4
Omicron EA-125
23
0 7
Omicron EA-125
2
1
3
電子顕微鏡
電子顕微鏡 SEM ／ JSM-6700F
4
4
SEMSEM／ JSM-6700F
5／ SU6600
111
6 6
SEMFIB／ SU6600
17／ JEM-9310FIB
26
223
FIB ／ JEM-9310FIB
3
1
4
熱分析装置
熱分析装置 VP-DSC
3
1
VP-DSC
4
iTC20071
1 5
iTC2008
TGA2950/SDT2960/DSC2920
22110
TGA2950/SDT2960/DSC2920 - 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）
6
1
7
マトリックス支援レーザー脱離イオン化
マトリックス支援レーザー脱離イオン化- 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）
Voyager DE-STR
1
7
Voyager DE-STR
077
有機微量元素分析装置
有機微量元素分析装置
所内
MICRO CORDER JM107所内
MICRO CORDER JM1044
蛍光Ｘ線分析装置
蛍光Ｘ線分析装置
JSX-3400RII
0
2
JSX-3400RII123
核磁気共鳴（NMR）装置
核磁気共鳴（NMR）装置
JNM-ECA920
5
1
JNM-ECA920
1
AVANCE800（溶液）80
5 1
AVANCE800（溶液）7AVANCE600（固体）32
1 9
AVANCE600（固体）3JNM-ECA600
32
8 5
5
5
所内JNM-ECA600
JNM-ECS400
1010
所内
JNM-ECS400
99ピコ秒レーザー
ピコ秒レーザー
Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
3
3
Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
51
6ナノ秒レーザー
ナノ秒レーザー
エキシマー励起色素レーザー
10
エキシマー励起色素レーザー
1
Nd:YAG 励起 OPO レーザー
30
0 1
Nd:YAG
励起 OPO レーザー
2
フッ素系エキシマーレーザー
10
1 2
フッ素系エキシマーレーザー
112
蛍光分光光度計
蛍光分光光度計SPEX Fluorolog 3-21
5
2
SPEX Fluorolog 3-21628
円二色性分散計
円二色性分散計
J-720WI
2
3
J-720WI2
35
可視紫外分光光度計
可視紫外分光光度計
U-350055U-35005611フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
IFS 66v/S
1
2
IFS 66v/S
1
2
3
顕微ラマン分光装置
顕微ラマン分光装置
RENISHAW inVIA Reﬂex
8
2
RENISHAW inVIA Reflex
9211
超伝導磁石付希釈冷凍機
超伝導磁石付希釈冷凍機
所内
Kelvinox 400
0
所内 Kelvinox 400
11

低温冷媒供給設備
低温冷媒供給設備
明大寺地区（2016.4.1 ～ 2017.3.31）

所外利用

利用日数
利用日数
所外利用 所内利用
所内利用

9
20 39
6 137
99

14
98
58

22
286
26 241 328
298

12
123
9 73 52
15 51 94
82

7
7

4
38

2
16

合計

25

40
119
138
60
103

39

35
40
112
133
59

6
14 15

292
255
343

258
234
297

8

137
81
56
51
109

90

133
80
54
50
103

407

409

237

10

14
8 4
0 15

18
4

51

96
11

8
17 30
4 97

63
47
10

44
1 33
23 8

4
8 12
3 45

13
30
6

3
6 13
13 3

18

13

8

0

2

7
2

39
2

34
0

3

4

777

219

161

75
2

0

3

2

6
220
5
0 82
13 116 166
88
4 189 173139
11 170 16 175275
40
10 30
2865
541

6

18

16

1
3 20
2 14

24
11
0

7

19

2

5
10
3
10

20
8
19
1
129

0

4
23
4
134

日数

1 21
1 2
4

8
2 49
14

実利用
日数
合計 実利用

13

34
0

0 0
0 31
30
2
9
21
9
13
19

3
16
24
6
2
0

308

22

67

13682.5

18862.2

271

85

22

66

42

42

130

130
88
11

88
11
16

107
31
80
120
18
21

16

16

97

31
76
115
18
21

16

18
43
58 9
17

18
43
57
8
17

779

274

219

161

75
5

2

225

116
248
277
312
345
291
70
2865
541

50

31

24

20
11
14
31
32

22

22

20

17

47

40

10

10

136

142
19

0

供給量
液体ヘリウム（L）
窒素ガス（m3）
供給量液体窒素（L）
44603.021778.2
液体ヘリウム（L）
液体窒素（L）
窒素ガス（m3）
13637.5
11386.5973.048638.022572.0

山手地区
明大寺地区
山手地区
※所内利用に協力研究等の所外研究者を含む場合もあり

103

170

90

61

2

5

225
108
214
277
312
345
168
68
320

251

50

31

24

20
11
14
31
32

22

22

19

17

43

38

10

10

128

135

0

16

3350.0※所内利用に協力研究等の所外研究者を含む場合もあり※利用日数：同日の重複利用も含む※利用日数：同日の重複利用も含む

94

機器センターたより

機器センターたより

10112．研究報告一覧
T. ZHU, T. YAMAGUCHI, T. SATOH and K. KATO, "A Hybrid Strategy for the Preparation of
13
C-labeled High-mannose-type Oligosaccharides with Terminal Glucosylation for NMR Study," Chem. Lett.
44, 1744-1746 (2015).

平成28年度研究報告一覧

B. AHMMAD,
M. Z. ISLAM, A. BILLAH, M. A. BASITH, "Anomalous coercivity enhancement with
学術論文（95報）
temperature and tunable exchange bias in Gd and Ti co-doped BiFeO3 multiferroics," J. Phys. D: Appl. Phys.
49, FUJITA,
095001 (2016).
W.
A. TOKUMITU, Y. FUJII, H. KIKUCHI, "Crystal Growth, Structures and Magnetic
Properties of Copper Hydroxide Compounds with Diamond Chain Magnetic Networks," Cryst Eng Comm.
M. 8614-21
A. BASITH,
F. A. KHAN, B. AHMMAD, S. KUBOTA, F. HIROSE, D.-T. NGO, Q.-H. TRAN and K.
18,(2016).
MOLHAVE, "Tunable exchange bias effect in magnetic Bi0.9Gd0.1Fe0.9Ti0.1O3 nanoparticles at temperatures
upYONEYAMA,
to 250 K," J. Appl.
Phys. 118, 023901(2015). T. FUJISAWA, A. YAMAGUCHI, A. SUMIYAMA, Y.
S.
T. KODAMA,
K. KIKUCHI,SHUKU, S. AOYAGI, W. FUJITA, "Deuterium Substitution Effects on the Structural and Magnetic Phase
B. AHMMAD,
A. BASITH, K. Coordination
KOIKE, S. KUBOTA
F. HIROSE, "Synthesisof Metal
Doped
DaltonTrans.
Transitionsof a M.
Hydrogen-Bonded
Polymer, andBis(glycolato)copper(II),"45,
and their Dielectric and Magnetic Properties," Advanced Materials Research. 1101,
BiFeO3 Nanoparticles
16774-8(2016).
187-191 (2015).
M. BEN NASR, K. KAABI, M. ZELLER, W. FUJITA, P. S. PEREIRA SILVA, C. BEN NASR,
S. KANG, Y.
SHIOTA,
A. KARIYAZAKI,S. KANEGAWA,
K. YOSHIZAWA,"Synthesis,
crystalstructure,magnetic properties
and second harmonic
generationO.ofSATO,
a new
III
/K
Coordination
Polymerwitha
Wide
ThermalHysteretic
SpinTransitionat
Room"Heterometallic
Fenoncentrosymmetric coordination compound: Triaqua(4-amino-6-methoxypyrimidine) cuprate(II)sulfate,"
Temperature,"
Chem.
Eur. J. 22,
532-538 (2016).
Chin.
Chem. Let.
27, 896-900(2016).
T. KIRIBAYASHI,
SAIDA, T. KOGISO,
T. MARUYAMA,"Synthesis of T.
CarbonComposite"Effects
Spheresoffrom
H.
T. FUJII,
T. SAIDA, S. NARITSUKA,
MARUYAMA,
Al2OGraphene
3 Type on
Oxide," Chem.
Lett.
45, 330-332
Rh(2016).
Catalysts in Single-Walled Carbon Nanotubes Growth by CVD," MRS
Activityof Al2O
3-Supported
Advances , on line available.
H. YAMAGUCHI, T. OKUBO, S. KITTAKA, T. SAKAKIBARA, K. ARAKI, K. IWASE, N. AMAYA,
T. KIRIBAYASHI,
ONO, Y. HOSOKOSHI,
Realization
Quantum
Pentagonal Lattice,"
Sci. Rep. 5,
H.
T. FUJII, "Experimental
A. KOZAWA, S.
OGAWA,ofT. aSAIDA,
S. NARITSUKA,
T. MARUYAMA,
15327/1-6of(2015).
"Effects
fabrication method of Al 2O3 buffer layer on Rh-catalyzed growth of single-walled carbon
nanotubes by alcohol-gas-source chemical vapor deposition," J. Cryst. Growth. 468, 114-118 (2016).
H. YAMAGUCHI, Y. SHINPUKU, Y. KONO, S. KITTAKA, T. SAKAKIBARA, M. HAGIWARA, T.
M.
KUMAKURA,
KOZAWA,
T. SAIDA,NARITSUKA, "Unconventional
T. MARUYAMA,S"Spectroscopic
studyof
KAWAKAMI,K. A.
IWASE,
T. ONOand Y.S.HOSOKOSHI,= 2 alternating
chain
X-ray
absorption
near-edgehybrid-spin
structure ofapproach,"chemical states
Pt Bcatalyst
during growth
realizedby a metal-radical
Phys. ofRev.
93, 115145/1-7(2016).of single-walled carbon
nanotubes," J. Cryst. Growth. 468, 155-158 (2016).
S. JAZBEC, S. KASHIMOTO, P. KOŽELJ, S. VRTNIK, M. JAGODIČ, Z. JAGLIČIČ, J. DOLINŠEK,T.
MARUYAMA,
T.icosahedral
SAIDA, S. quasicrystal
TANAKA, S.
"Liquid-phasegrowthof"Schottky
effect inY.
theYAMASHITA,
i-Zn-Ag-Sc-Tm
andNARITSUKA,
its 1/1 Zn-Sc-Tm
approximant,"Phys.
few-layered
graphene on(2016).
sapphire substrates using SiC micropoweder source," J. Cryst. Growth. 468, 175Rev. B 93, 054208/1-14
178 (2016).
S. HEGURI, N. KAWADE, T. FUJISAWA, A. YAMAGUCHI, A. SUMIYAMA, K. TANIGAKI, M.
H.
NAVAS, M. "Superconductivity
PICHER, A. ANDRIEUX-LEDIER,
F. FOSSARD,
T. MICHEL,
A. KOZAWA,
T.
Rev. Lett. 114,
KOBAYASHI,
in the Graphite Intercalation
CompoundBaC 6," Phys.
MARUYAMA,
E. ANGLARET, A. LOISEAU, V. JOURDAIN, "Unveiling the Evolutions of Nanotube
247201/1-5 (2015).
Diameter Distribution during the Growth of Single-Walled Carbon Nanotubes," ACS Nano. 11, 3081-3088(2017).
S. HEGURI, M. KOBAYASHI, K. TANIGAKI, "Questioning the existence of superconducting potassium
doped phases for aromatic hydrocarbons," Phys. Rev. B 92, 014502/1-8 (2015).
T. MARUYAMA, A. KOZAWA, T. SAIDA, S. NARITSUKA, S. IIJIMA, "Low temperature growth of
single-walled
nanotubesW.
from
Rh catalysts," Carbon.
116, 128-132(2017).
Y. NIIHORI,carbon
C. UCHIDA,
KURRASHIGE,
Y. NEGISHI,"High-resolution
separation of thiolateprotected gold clusters by reversed-phase high-performance liquid chromatography," Phys. Chem. Chem.
H.
KIRIBAYASHI,
S. OGAWA, A. KOZAWA, T. SAIDA, S. NARITSUKA, T. MARUYAMA, "LowPhys.
18, 4251-4265 (2016).
temperature growth of single-walled carbon nanotubes using Al2O3/Pd/Al2O3 multilayer catalyst by alcohol
J. Appl. Phys. 55,
gassource method S.
at highvacuum,"(2016). K. NITTA, Y. NEGISHI, T.
S. YAMAZOE,
TAKANO,
W.Jpn.
KURASHIGE,
T. 06GF04
YOKOYAMA,TSUKUDA, "Hierarchy of bond stiffnesses within icosahedral-based gold clusters protected by thiolates,"H.
HAGIWARA,
T. TANAKA,
Nat.
Commun. 7, 10414(2016). S. HORA, "Synthesis, structure, and spin crossover above room temperatureof a mononuclear and related dinuclear double helicate iron(II) complexes," Dalton Transactions. 45, 1713217140(Inside front cover)(2016). Y. NEGISHI, R. L. WHETTEN, T. PRADEEP,G. NATARAJAN,
A. MATHEW,
for Understanding the Structure and Modifications of Atomically Precise Monolayer Protected Gold
Clusters," J. Phys. Chem. C. 119, 27768-27785 (2015).

機器センターたより

10395

12．研究報告一覧
J. Appl.
T.
AND
SHIMA,"Chemically
Co–Fe–Ga
alloy nanoparticles,"S. IMAI,DUTTA,C. M.
RAY,
S. MALLICK,
S. synthesized
SARKAR, magnetic
R. SAHOO,
Y. NEGISHI,
T. PAL, "AJap.
Gel-Based
Phys. 56(1S),(2017).
Approach
To 01AE04
Design HierarchicalCuS Decorated Reduced Graphene Oxide Nanosheets for Enhanced
Peroxidase-like Activity Leading to Colorimetric Detection of Dopamine," J. Phys. Chem. C. 119,
K. HAYASHI,(2015).
K. YAMADA, AND M. SHIMA, "Dependence of crystallographic orientation on amount of23790-23800
Bi(OH)3 precursor and annealing temperature in monoclinic (100) Bi2SiO5 films chemically grown on
Materials
200,M.
24-26(2017).
amorphous
SiO2 substrate,"Y.
NIIHORI,
Y. KIKUCHI,
A.Letters.
KATO,
MATSUZAKI,Y. NEGISHI, "Understanding
Ligand-Exchange Reactions on Thiolate-Protected Gold Cluster by Probing Isomer Distributions Using
松本 信洋 , " キュリー・ワイスの法則に基づく定量分析法
有効磁気モーメント," ぶんせき 63-67
Reversed-Phase
High-Performance Liquid Chromatography," ACS" Nano.
9, 9347-9356 (2015).
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C. MONDAL, A. SINGH, R. SAHOO, A. K. SASMAL, Y. NEGISHI, T. PAL, "Preformed ZnSJ. LI, C.L. BENTLEY,
A.M. BOND,
J. ZHANG,
UEDA, "Inﬂuence
1-butyl-3-methylimidazoliumonnanoflower
prompted evolutionof CuS/ZnS
p-nT.heterojunctions
for ofexceptional
visible-light driven
3-/4V/IV
4-/5VI/V
O
]
(V
)
and
[SVW
O
]
(W
)
processes
theelectrontransfer
kinetics
associated
with
the
[SVW
11
40
11
40
photocatalytic activity," New J. Chem. 39, 5628-5635 (2015).
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T. UEDA, T. OKUMURA,TANAKA,Nanocomposite
S. AKASE, forT. DyeSHIMAMURA,
UKEDA, "New
"Redox-MediatedSynthesis of a Y.
Fe3O4-MnO2
Adsorption andH.
Pseudocapacitance,"
Electrochemical
EvaluationoftheAntioxidant
CapacityofBeverages
with
Polyoxometalates
as Redox
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L.
LI, S. NISHIHAR,INOUE,
M. KURMOO,"Synthesis,
Structure,and501-511
Magnetic
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under Solvent-Free
Conditions," Synlett.
(5),of597-600
shift
100 K in(2017).
a hysteretic spin-crossover
H.
HAGIWARA,
S. OKADA,"A polymorphism-dependent
T 28
1/2

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104
96

機器センターたより

12．研究報告一覧
久米田, 川本 正 , 白旗T.崇SATOH, 御崎 洋二, 森KATO,
健彦 , "A"Metal–Insulator
Transition
the New OneT. ZHU,翔平
T. YAMAGUCHI,
and K.
Hybrid Strategy
for theofPreparationof13
J.
(X =Study,"
ClO4 and
BF4),"
Dimensional
Organic ConductorsOligosaccharides
with Complete Uniform
Stacks:Glucosylation(DMEDO-TTF)
C-labeled High-mannose-type
with Terminal
for2X
NMR
Chem.
Lett.
Phys.
Soc. Jpn.,(2015).
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44, 1744-1746
福岡
脩平，山下
秀紀，白旗
崇，高橋
かず子 ,enhancement"Thermodynamic
B. AHMMAD,
M.智史，中澤
Z. ISLAM, 康浩，山本A. BILLAH,貴，藤原
M. A. BASITH,"Anomalous
coercivity
with
FeX
(X
=
Br,
Cl),"
properties
ofantiferromagnetic
orderedstatesof
π-dinteracting
systemsofκ-(BETS)temperature and tunable exchange bias in Gd and Ti co-doped BiFeO3 multiferroics," J. Phys.
2
4D: Appl. Phys.
Phys.
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49, 095001
長谷川真士 , 中村健一, 徳永B.早貴, 馬場 優美, 芝 亮太 ,F.白旗
崇 , 真崎康博, 御崎洋二, "Synthesis,
M. A. BASITH,
F. A.
KHAN,
AHMMAD,
S. KUBOTA,
HIROSE,
D.-T.
NGO,
Q.-H.
TRAN
and K.
Structure,
Optical,Electrochemicalof0.9Gd
TripleandQuadruple-decker
Co-facialFeTiOnanoparticles
attemperatures
MOLHAVE,"Tunableandexchangebias effect inProperties
magnetic Bi
0.1
0.9 0.1 3
Eur. J. (2015).
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118, 023901
M.
HASAN, M.M.
A.A.
HAKIM,
M.K.A.KOIKE,BASITH,S. HOSSAIN,
B. AHMMAD,
M. A.
A.
B. AHMMAD,
BASITH,
S. M.
KUBOTAand F. HIROSE,"Synthesis
of ZUBAIR,
Metal Doped
HOSSAIN,
M.
F.
ISLAM,"Size
dependent
magnetic
andelectricalproperties
ofBa-doped
nanocrystalline
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B.
KANOMATA,
K. KOIKE, S. KUBOTA,
H. KATO, K.
F. HIROSE,
A. BILLAH,
M. A.
S. AHMMAD,
KANG, Y. K.
SHIOTA,
A. KARIYAZAKI,S. KANEGAWA,YOSHIZAWA,
O. SATO,
JALIL,M. A. BASITH,"Large difference
betweenmagnetic
propertiesof BaSpinand Transition
Ti co-dopedatBiFeO
Polymerwith thea WideThermalHysteretic
Room3"Heterometallic
FeIII/K Coordinationbulkmaterials andtheircorresponding
nanoparticles
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S. KITTAKA,SAKAKIBARA,
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機器センターたより

10397

12．研究報告一覧
S.
KUNISHIGE,
A. S.
KANAOKA,
M. BABA,T.T.PAL,
YAMANAKA,S.
S. DUTTA,
C. RAY,MALLICK,T.S.KATORI,SARKAR,M.
R.KAWABATA,SAHOO, Y. NEGISHI,"A Gel-Basedstatesof
HIGASHIBAYASHI,
AND H. SAKURAI,"Electronic
and vibrationalin the S0 andApproach
To Design HierarchicalCuS Decorated
ReducedGraphenestructures
Oxide Nanosheets
for SEnhanced
1
Phys. 146,
coronene" J. Chem.
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NIIHORI,
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KATO, M. MATSUZAKI, Y. NEGISHI, "Understanding
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MONDAL,
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K. SASMAL,NEGISHI,
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SHARMA,
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trimetallization
in
JPC
B,
Complexfrom
Thermophilic
Photosynthetic
Bacterium
Thermochromatium
tepidum,"
120(49),
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derivatives,"
46,
L.
LI, S. NISHIHAR,
K. INOUE,
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Crystal
Structure, andMagnetic
Properties
IIIII
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T. IKEUE,
STRUCTURE
AND
SPECTROSCOPIC
PROPERTIES
of 100
K in a hysteretic spin-crossover
H.
HAGIWARA,
S. OKADA,"A "MOLECULAR
polymorphism-dependent
T1/2 shiftOF[2,3,9,10,16,17,23,24-OCTAKIS(3-CARBOXYPHENOXY)PHTHALOCYANINATO-k4N]
complex related to differences in intermolecular weak CH···X hydrogen bonds (X = S vs. S and N)," Chem.
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T.
S. OOI,
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P.-Y. CHEN,
M.Ultraviolet
TAKAHASHI,
AND
A.
M.TANAKA,YANAGIHAR,
H. ISHIKAWA,
S. ONO,M.
H. SUZUKI,OHTAKA,P."Filterless
Vacuumdetectorbased
OSUKA,"Different
Antiferromagnetic
Coupling
between5,5’and10,10’-Linked
Iron(III)
Corroleon YF 3 thin films grown by Pulsed Laser Deposition," Testing and Measurement: Techniques andEuropean
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IDE, Y. YAMADA, S. MORI, AND T. IKEUE, "Crystal, Structureof Six-coordinated小野晋吾，種村眞幸，福田健太郎，須山敏尚，柳田健之，吉川彰" パルスレーザー堆積法による(2,3,7,8,12,13,17,18-Octaethylporphyrinato)iron(III)
ComplexwithTwo
4-methylpyridine
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MATSUI,
N. ISHIGURO,
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S. OGURA,
Q. Z. Liu,
H. KASAI, E.O.
NISHIBORI,
A. T.
KOBAYASHI,
Single-component
Zr
Ox
Catalyst
Particles
DuringOxygenStorageandRelease,"
OxygenDiffusioninIndividual
Platinum/Ce
2
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T. YOKOYAMA,
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and Mechanismof RedoxS.Processesof Pt/C
T. GOTO, N. KANAZAWA,
A. ANDBUYANDALAI,
H. TAKAGI,
Y. NAKAMURA,
OKAJIMA,T.
Co/C
CathodeElectrocatalysts
inaPolymer
Electrolyte
Fuel
Cell
duringanAccelerated
Durability
andPt
3
HASEGAWA,A. B. GRANOVSKY, K. SEKIGUCHI, C. A. Ross and M. INOUE, "Spin wave differential
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104
98

機器センターたより

12．研究報告一覧
H.
AKUTSU,
S. S. TURNER,
Y. NAKAZAWA, "New
Dmit-basedD.Organic
Magnetic(POY. IDA,
T. IKEUE,
Y. KATAOKA,
R. INOUE, M.
NAKAMURA,YOSHIOKA,
M.Conductors
MIKURIYA,
T.
H
N(CH
)
)
[M(dmit)
]
(M
=
Ni,
Pd)
includingan
Organic
CationderivedfromaCONH-CKAWAMOTO,M.
HANAD,"Preparation,
structure,anddynamic
andelectrochemical
behaviors
of
2 4
3 3
2 2
Magnetochemistry.
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"Anion polarity-induced
self-doping
in a"Analysis
purely organic
paramagnetic
conductor,α´-α´T. NAKAZAWA,
KATO, T. IKEUE,
Y. SUZUKI, M.
HANDA,of Disperse
Dyes
Using LiquidnSO3)·His bis(ethylenedithio)tetrathiafulvalene
and-(BEDT-TTF)) and
Database Construction," Anal. Sci.
Chromatography/Linear
Ion Trap
Spectrometry(LC/LIT-MS
2(PO-CONH-m-C
6H4Mass
2O where BEDT-TTF
PO
the radical
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M.TAKAHASHI,
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MIURA,of "Crystal
articular Structure
cartilage
M.OSHIMA,HANDA, K.
A. INOUE, T.H.
IKEUE,
D. "Label-free
YOSHIDA,characterization
M. MIKURIYA,
Proceedings of SPIE.of10054,
inmodel
mice by Raman
spectroscopy,"
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M. YAGI-UTSUMI,
T. YAMAGUCHI,
P. BOONSRI,SAPARPAKORN,NONOMURA,"
Electron-Spin
Resonance
of
Type
II
Si-Clathrate
Thin
Film
for
New
Solar
Cell
Material,"
CHOOWONGKOMON, S. TECHASAKUL, K. KATO and S. HANNONGBUA, "NMR characterizationin energybinding
International
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Energy RelatedMaterials
Springerof HIV-1Proceedings
reverse transcriptase
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non-nucleosidereverse andtranscriptase
inhibitors
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S. B.
SEETAHA,YAGI-UTSUMI,
T. YAMAGUCHI,
K. ISHII,K.
Heterogeneous
Catalysis:
N-Heterocyclic
Carbenesas
Ligandsfor
Supported
Heterogeneous
Ru/K-Al2O3
CHOOWONGKOMON and K. KATO,
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MIKAMI, H.K.
SAKIYAMA,
M. MITSUMI,
T. andKAWAMOTO,
M. HANDA,
neutralT. KATAOKA,UCHIDA, Y.S.ICHIKAWA,IMURA, "Opticalproperties
surface-enhanced
Raman "A
scattering
paddlewheel-type
diruthenium(III)withbenzamidinato
ligands:
Synthesis,
activity of hexagonallyarranged gold complex
nanoparticle
trimer,"Chem. Phys.
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H. FUJIWARA,
Ethylenedithio-TTF
Containing
a 2,2,5,5-Tetramethylpyrrolin-1Synthesis
with Phenols
at a Tertiary"New
Stereogenic
Carbon: Formal
Enantioselective
Phenoxylation of β-KetoyloxylRadicalThroughaVinylene
Spacerand
Its
FeCl4–
Salt
Synthesis,
Physical Properties and Crystal
Esters," Chem. Eur. J. 21, 14095-14098 (2015).
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thiolato
complex:induced"AbyNovelZnS symmetricshell formation,"Appl.
Phys.zinc
Express
8,
modification
AgInS 2 nanoparticles
DaltonTrans.
Synthesis,characterizationandcrystalstructure
analysis,"46,4912-4916(2017).
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H. TSENG, P.L.ROBASCHIK,
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S. JIN,
M. SUPUR,
M. ADDICOAT,
K. FURUKAWA,
CHEN, T. NAKAMURA,FUKUZUMI, S.
molecular
arrangements
andenhancedmagnetic
interactions
in
thin
films
of CoTTDPz using
PTCDA
IRLE and D. JIANG, "Creation of Superheterojunction Polymers via Direct Polycondensation:
SegregatedPhysical Chemistry Chemical Physics. 18, 17360-17365 (2016).
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機器センターたより

10599

12．研究報告一覧
M.
K. HOSSAIN,K.M.FURUKAWA,KITAJIMA, T.
K.TERAUCHIIMURA, H.and
OKAMOTO,"Interstitial
Dependent
Enhanced
T. NAKAMURA,
Y. KOBAYASHI,"Microscopic
evidenceof a
Photoluminescence:
Near-ﬁeld
Microscopyon Single
Spheroid
to Dimer, Tetramer
and Few Particles
Gold
metallic state in theAone-pot
organic
conductor
ammonium
tetrathiapentalenecarboxylate,"
Phys. Status
J. Phys.
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Solidi RRL 9, 480-484(2015).
H.
MIZOBATA,
K. UENO, H.
MISAWA,
H. OKAMOTO,
K. IMURA,"Near-field spectroscopic
P. PANDIT,
T. NAKAMURA
andS. HIGASHIBAYASHI,"Synthesis
and Acid-responsive
Electronproperties
ofcomplementary
gold
nanostructures:
applicabilityofBabinet’sprinciple
intheopticalregion,"transfer Disproportionation of Non- and Tetramesityl-substituted 1,1',9,9'-Bicarbazole," Chem. Lett.
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J.
"Static andT.dyanamic
interaction
p and d Y.
electronsin organic T.
superconductor
P. GOMES-GARCIA,PANDIT, K. YAMAMOTO,
NAKAMURA,
K. between
NISHIMURA,KURASHIGE,YANAI, G.
PhysicalReview
B. and[(HO)Fe(CO)]C
H
Br
studiedby
13C
NMR
spectroscopy,"
94 (16),b"-(BED-TTF)
4
3
2 4 3
6 5 K. FURUKAWA, Y. YAKIYAMA, M. KAWANO
NAKAMURA,S.
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T. ISHIZUKA,OISHI,activity
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andBioelectronics.
nanoparticle-carbon
nanotubehybrids
forinﬂuenza
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detection,"
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Y. INOKUCHI,
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IKEDA, T. HAINO,
T. KIMURA,
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Biosensors
andBioelectronics.
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nanobiosensorfor
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SRISA-ART
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Microfluidic
Devices
Biosensors
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106
100

機器センターたより

12．研究報告一覧
M.
YAGI-UTSUMI,
K.KATAOKA,
KATO, and K.
NISHIMURA,"Membrane-Induced
DichotomousofY. IDA,
T. IKEUE, Y.
R. INOUE,
M. NAKAMURA,
D. YOSHIOKA,
M. Conformation
MIKURIYA, T.
Amyloid
β with M.
the HANAD,
Disordered"Preparation,
N-Terminal Segmentby theStableC-Terminal β
Structure",
KAWAMOTO,
structure,Followed
and dynamic
andelectrochemical
behaviorsof
PlosONE,11, 0146405(1-10)(2016).
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a Helical
Poly
M. HANDA, K.
TAKAHASHI,
INOUE, T. IKEUE,
D. YOSHIDA,
M. MIKURIYA,"Crystal
Structure
Chem.with
Int. Ed.,(methylmethacrylate)
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機器センターたより

105
101

12．研究報告一覧
T.
SATOH, T. TOSHIMORI,
M. NODA,
S. UCHIYAMA
K. KATO, "Microscopic"Interaction ModebetweenT. NAKAMURA,
K. FURUKAWA,
T. TERAUCHI
and Y. and
KOBAYASHI,
evidenceof aCatalytic
and Regulatory
Subunitsin Glucosidase
II Involved tetrathiapentalene
in ER Glycoprotein
Quality Control,"metallic statein the one-pot
organic
conductor ammonium
carboxylate,"
Phys. Protein
StatusSci
25,RRL
2095-2101(2016).
Solidi9, 480-484(2015).
H.
YAGI, C. W.
KUO, T. OBAYASHI,
NINAGAWA, K. H. "Synthesis
KHOO andand
K. KATO,"Direct Mappingof
P. PANDIT,
T. NAKAMURA
and S. S.
HIGASHIBAYASHI,
Acid-responsive
ElectronAdditional
Modiﬁcationson
Phosphorylated
O-Glycansof
α-Dystroglycan
by
Mass
Spectrometry
Analysistransfer Disproportionation of Non- and Tetramesityl-substituted 1,1',9,9'-Bicarbazole," Chem. Lett. 44,
inConjunction
with Knocking out of Causative Genes for Dystroglycanopathy," Mol Cell Proteomics 15,
1336-1338(2015).
3424-3434 (2016).
K. YAMAMOTO, T. NAKAMURA and S. HIGASHIBAYASHI, "Acid-regulated Electron-transfer
T.
SUZUKI, M. KAJINO,
S. YANAKA,
T. ZHU, H. YAGI, T.
SATOH, T.
YAMAGUCHI
AND K.
Disproportionationof a NonSubstituted
Tetramethyl-biacridine
Derivative,"
Chem.
Lett. 44, 1229-1231
KATO,(2015). "Conformational analysis of a high-mannose-type oligosaccharide displaying glucosyl determinant
recognised by molecular chaperones using NMR-validated molecular dynamics simulation," Chem Bio Chem
18,396-410 (2017).
P. PANDIT,
K. YAMAMOTO, T. NAKAMURA, K. NISHIMURA, Y. KURASHIGE, T. YANAI, G.
NAKAMURA, S. MASAOKA, K. FURUKAWA, Y. YAKIYAMA, M. KAWANO and S.
HIGASHIBAYASHI, "Acid/base-regulated reversible electron transfer disproportionation of N-H linked
bicarbazole and biacridine derivatives," Chem. Sci. 6, 4160-4173 (2015).
M. SUDA, R. KATO and H. M. YAMAMOTO, "Light-induced superconductivity using a photoactive
electric double layer", Science, 347, 743-746 (2015).
A. INAGUMA, H. TSUKAMOTO, H. E. KATO, T. KIMURA, T. ISHIZUKA, S. OISHI, H. YAWO, O.
NUREKI and Y. FURUTANI, "Chimeras of Channelrhodopsin-1 and -2 from Chlamydomonas reinhardtii
Exhibit Distinctive Light-induced Structural Changes from Channelrhodopsin-2", J. Biol. Chem. 290, 1162311634 (2015).
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106
102

機器センターたより

機器センターたより

10313．編集委員

編集委員
編集担当

解良

聡

（委員長）

高山

敬史

（所有設備紹介担当）

岡野芳則（編集担当）

上田正（利用者アンケート報告担当）

藤原基靖（設備利用状況担当）

水川哲徳（研究紹介担当）牧田誠二（センターの利用方法担当）

兵藤由美子 （研究報告一覧・事務担当）

機器センターたより

No.9

発行日

平成 29 年９月 30 日（年 1 回発行）

発

大学共同利用機関法人

行

分子科学研究所

自然科学研究機構

機器センター〒 444-8585
愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38
編

印

集

刷

解良

聡

（センター長）岡野

芳則（編集長）高山敬史

株式会社エニウェイ
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機器センターたより
機器センターたより

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