ISSN

1884－1627

機器センターたより No.11
No.11
自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター

【表紙の写真】
１：フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
２：質量分析計

3

３：SQUID 型磁化測定装置

2

1
4

5

４：電子スピン共鳴（ESR）装置
５：熱分析装置

目次

機器センターたより No.１１
No.８
分子科学研究所 機器センター
■目
■目 次
次
1
１．巻頭言
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ １
１．巻頭言・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
2
２．構成員
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ２２．構成員・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
4
３．所有設備一覧
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ４
３．所有設備一覧・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
6
４．施設マップ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ６
４．施設マップ・・
５．センターの利用方法
５．事業紹介設備利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
8
大学連携研究設備ネットワーク
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ８
大学連携研究設備ネットワーク利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 18
ナノテクノロジープラットフォーム
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
10
液体ヘリウム利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 22
６．センターの利用方法
液体窒素利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 24
設備利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
12
小型貸出機器利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
大学連携研究設備ネットワーク利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 26
21
サンプル準備室利用方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 28
液体ヘリウム利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
24
施設利用者控室・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
液体窒素利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 2926
小型貸出機器利用方法 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 28
６．所有設備紹介
電子スピン共鳴（ESR）装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 30
サンプル準備室利用方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
30
SQUID 型磁化測定装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 32
施設利用者控室
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
31
単結晶 X 線回折装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 34
７．所有設備紹介
電子スピン共鳴（ESR）装置
32
結晶スポンジ法 X 線回折装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 36
SQUID型磁化測定装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 38
34
粉末 X 線回折装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
単結晶
X 線回折装置 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 39
36
X 線溶液散乱測定装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
粉末
X 線回折装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 42
38
電子分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
Ｘ線溶液散乱装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 46
39
電子顕微鏡・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
電子分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 48
42
熱分析装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
電子顕微鏡
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
46
質量分析計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 50
熱分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
49
有機微量元素分析装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 52
マトリックス支援レーザー脱離イオン化- 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）・・ 53
51
蛍光 X 線分析装置・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
有機微量元素分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
52
核磁気共鳴（NMR）装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 54
蛍光X 線分析装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 57
53
ピコ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
核磁気共鳴（NMR）装置
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 5954
蛍光分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
ピコ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
58
円二色性分散計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 61
ナノ秒レーザー・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
60
紫外・可視・近赤外分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 62
蛍光分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
62
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 63
円二色性分散計・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
64
顕微ラマン分光装置・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 64
可視紫外分光光度計
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
65
超伝導磁石付希釈冷凍機・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 65
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 6666
低温冷媒の供給設備・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
顕微ラマン分光装置 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 67

目次

７．交流
超伝導磁石付希釈冷凍機 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 68
所外利用者アンケート報告・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 6968
低温冷媒の供給設備
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
所内利用者アンケート報告・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 74
８．交流
一般公開 2018・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
77
所外利用者アンケート報告
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 71
所内利用者アンケート報告 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 77
８．研究紹介
「1,2,3トリアゾール骨格を含むシッフ塩基多座配位子からなるスピンクロスオーバー錯体の開一般公開2015 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 80発」
・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 79
９．研究紹介岐阜大学 教育学部
准教授 萩原 宏明「銅水酸化物を舞台にした新規磁性物質の探索」・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
82「単分子膜モット FET名古屋市立大学大学院の開発」・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
システム自然科学研究科
教授 藤田 渉84
分子科学研究所 協奏分子システム研究センター
教授 山本 浩史
「硫化銅ナノ粒子の近赤外局在表面プラズモンの三次光学非線形性」
・・・・・・・・・・
87

９．共同利用採択課題一覧

名古屋工業大学大学院

物質工学専攻准教授

濱中泰

平成 30 年度分・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
88「オキソ架橋ルテニウム二核錯体における異なる
3 つの酸化状態の構造ならびに電子状態」
・・ 91

10．設備利用状況

生命・錯体分子科学研究領域

錯体物性研究部門

准教授

正岡

重行

平成 30 年度分・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 95
10．共同利用採択課題一覧
平成 27 年度分 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 95
11．研究報告一覧
平成 30 年度分・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 96
11．設備利用状況
平成 27 年度分
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 101
102
12．編集委員

12．研究報告一覧
平成 27 年度分 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 102

13．編集後記・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 108

１．巻頭言巻頭言横山利彦
機器センター長 解良聡「機器センターたより」第8号をお届けしま「機器センターたより」第11 号をお届けしま報と機器情報がシステム運用されることによはご不便をおかけしますが、改修後はよく整備す。本年4月よりセンター長を拝命いたしましす。
平成 30 年４月１日より、解良前機器センター

り、効率的な広報を通じた潜在ユーザーの発掘された新しい建物で現状よりはるかに便利にごた。組織運営に携わることが初めてでもあり、長の後任としてセンター長を拝命し２年目になが狙え、機器センターのみならず全国の共同利利用いただけると確信しますので、しばらくのまたセンター業務が後述のように多岐に渡ってりました。本年もよろしくお願いいたします。

用機関各所において、今後ますますの利用拡大
間ご容赦いただきたく思います。

おりますので、（執筆4月10日現在）自身の中機器センターは、i）所内研究者の研究遂行
ではまだまだ茫洋とした日々を過ごしておりま
上で不可欠な共通基盤的機器の整備、特色のあと大きな成果があがることを期待したいと思い
機器センターは主として共同利用を担う部署ます。
であり、外部の先生方を含めた運営委員会を設すが、微力ながらも機器センターの発展ならびる先端機器の高度化あるいは汎用化の推進、にコミュニティの拡大に尽力する所存ですのii）全国の共同利用研究推進のための各種共同

今年度の機器センターの運用ですが、皆様かけています。運営委員の先生方には機器センらアンケートで貴重なご意見をいただいている
ターの方向性についてのご意見をいただくこと

機器センターの目的は、「分子科学分野及び学省ナノテクノロジープラットフォームプログ
関連分野の研究に必要な汎用性の高い装置及びラムの分子・物質合成プラットフォームの代表
機器を集中的に管理するとともに、分子科学研期間並びに実施機関の分子研運営母体、大学連
究所内外の共同利用に供することを目的とす
携研究設備ネットワーク（設備 NW）事業の主る」とあります。この本務に加え、平成19年度
体機関・事務局ならびに自然科学研究機構大学から始まった全国の大学機器の相互利用を目的
間連携推進機構（NICA）の分子研対応部課ととする「大学連携研究設備ネットワーク」事業
しての機能を持ちながら業務を展開していまの幹事機関・事務局を務め、機器センターが実す。平成 30 年度の共同利用機器利用実績は、質的な運用を行っています。民間を含めた全国
所外 231 件 2812 日（民間等の利用も含む）、所の研究者が広く利用できる全国共用ネットワー
内 1026 日を数え、少なくとも量的には十分なクシステムの構築と整備を推進しております
業務が展開できたと考えています。
（詳しくはhttp://chem-eqnet.ims.ac.jp）。さ
平成 30 年度は、時間分解 ESR 測定用の波長らに平成24年度から始まった「文部科学省ナノ可変ナノ秒パルスレーザーの更新等を行い、まテクノロジープラットフォーム」事業においた、本年秋には、オペランド計測も可能な高性て、分子研は分子・物質合成プラットフォーム
能な粉末・薄膜 X 線回折装置が導入予定となの代表機関と実施機関を務めており、平成27年
りました。これらはアンケート等を通した皆様
度からは機器センターが統括して行っておりまからの貴重なご意見から判断して導入を決定しす（詳しくはhttp://mms-platform.com）。事たものであり、全部のご意見を反映させること
業融合のおかげで、より多くの先端機器が利用しい状況ではありますが、技術職員の専門性を
申請書の審査がかなり大量であり、大変なご尽生かしつつセンターの機能を拡張できる方策を力をお願いしています。運営委員の先生方には模索したいと思います。そんな中、昨年度発生
厚くお礼申し上げますとともに、今後ともよろした重篤な故障により透過型電子顕微鏡JEMしくお願い申し上げます。
3100FEFは利用停止が決定されました。今後
昨年度末から本年度にかけて、機器センター
は新分野拡張や技術職員の増員も視野に入れつの人員がかなり大きく変わりました。まず、チー
つ、迅速かつ戦略的に機能強化を目指して進めムリーダー（TL）として、中村敏和・分析 TLていきたいと思います。また利用者の皆様におと鈴木敏泰・合成 TL が加わり、単なる機器利
かれましては先のネットワーク情報をご活用い用に留まらない踏み込んだ研究支援を展開する
ただき、他機関の共有設備の利用も積極的にごことになりました。また、山手寒剤・合成機器
検討いただければと思います。
担当として売市幹大技術職員（配置換）、明大
機器センターの技術職員は主として汎用機器
寺寒剤・分析機器担当として浅田瑞枝技術職員を扱うため、他部署に比べて開発要素が少ない（採用）が加わり、人員不足問題が改善されまのは否めません。また潤沢な資金も伴わない状した。一方で、設備ネットのマネージャーを主況下では、前を見続けることが困難な状況に陥として担当していた東陽介特任研究員が転職しり、ともすると日々のルーチン作業に終始するました。
事態に至りかねないことは想像に難くありませナノプラットフォーム・設備 NW・NICA のん。今回このような職位について初めて考えさ
いずれも令和３年度に終了となり、次の展開をせられることがあり、私自身も日々勉強させて

令和元年度には、明大寺キャンパスの装置開いただき機器センターと密な連携関係を築いて発室棟・レーザー棟・極低温棟の改修されるこいきます。まだ煩雑さが解消されていない点が定した体制に移行しつつあるように感じます。
個々の職員が気持ちよく職務に専念できるよう
引き続き共同利用を通じて我が国の活性化に資
様々な働きかけを行いたいと思います。今後とで、今後ともご協力のほどよろしくお願いいた
利用事業の代表機関としての事業運営の２つのします。
大きなミッションを基軸とし、現在は、文部科はできそうもありませんが、今後とも活発なご可能となりました。前センター長（横山教授）
意見を賜りたくよろしくお願いいたします。
には引き続き上記業務に関しての指揮をとってように、老朽化した汎用機器の更新と既存機器が重要なところですが、現実的な業務として、の拡張が多数求められています。予算措置も厳
年間 200 件を優に超える機器センター共同利用検討する時期に入りました。文科省の共同利用・
いただいております。分子研設立時からの明確
共用事業も始動期が過ぎ、まとまりをもった安な「鼎」の理念を踏まえつつ、微力ながらもとになりました。そのため本年度から来年度前見受けられますが、我が国における資産の有効期にかけて、極低温機器や寒剤供給について一
活用と社会貢献を目的とした全国規模の共有設

すべく精進してまいりたいと思いますので、利もご指導ご鞭撻をよろしくお願いいたします。

時利用不可などの時期も生じ、利用者の皆様に備運用システムとして機能します。ユーザー情いただきたく、よろしくお願い致します。

用者の皆様にはご協力と質の高い成果を上げて機器センターたより

1２．構成員

構成員

令和元年 8 月 1 日現在

機器センター長（併任）横山利彦

物質分子科学研究領域

中村

敏和

鈴木

班長

教授

明大寺

研究棟

320

分析チーム（明大寺地区）

明大寺

研究棟

318

敏泰

合成チーム（山手地区）

山

4 号館

502

高山

敬史

寒剤（明大寺地区）、希釈冷凍機

明大寺

極低温棟 103

主任

水川

哲徳

寒剤（山手地区）、質量分析等

山

4 号館

主任

岡野

芳則

微小結晶用X線回折装置、大学連携研究設備ネットワーク

明大寺

南実験棟 111

主任

上田

正

レーザー、分光光度計、小型貸出機器等

明大寺

南実験棟 101

主任

藤原

基靖

ESR、SQUID、X線回折装置等

明大寺

南実験棟 101

主任

賣市

幹大

寒剤（山手地区）、分光光度計等

山

5 号館

係員

浅田

瑞枝

寒剤（明大寺地区）、ESR、SQUID

明大寺

極低温棟 103

大原三佳

ナノテクノロジープラットフォーム、大学連携研究設備ネットワーク

明大寺

研究棟

322

石山

修

大学連携研究設備ネットワーク、
ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺

研究棟

325

長谷川

久

大学連携研究設備ネットワーク

明大寺

研究棟

325

ESR、SQUID、ESCA

明大寺

南実験棟 101

チームリーダー

手

技術職員

手

手

204

1階

マネージャー

特任専門員
伊木志成子

2

機器センターたより

２．構成員
２．構成員

技術支援員
技術支援員
長尾 春代
春代
長尾

NMR、熱分析等
NMR、熱分析等

山 手
手
山

4 号館
号館
4

401
401

藤川 清江
清江
藤川

元素分析、質量分析等
元素分析、質量分析等

山 手
手
山

4 号館
号館
4

401
401

外山 亜矢
亜矢
外山

SEM
SEM

明大寺
明大寺

研究棟
研究棟

322
322

兵藤由美子
兵藤由美子

総務、施設利用対応等
総務、施設利用対応等

明大寺
明大寺

南実験棟
南実験棟 101
101

船木
船木 弓子
弓子

ナノテクノロジープラットフォーム
ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺
明大寺

研究棟
研究棟

312
312

遠山
遠山

遊
遊

ナノテクノロジープラットフォーム
ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺
明大寺

研究棟
研究棟

312
312

柴田 有香
有香
柴田

大学連携研究設備ネットワーク、
大学連携研究設備ネットワーク、
ナノテクノロジープラットフォーム
ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺
明大寺

研究棟
研究棟

312
312

石川あずさ
石川あずさ

大学連携研究設備ネットワーク、
大学連携研究設備ネットワーク、
ナノテクノロジープラットフォーム
ナノテクノロジープラットフォーム

明大寺
明大寺

研究棟
研究棟

312
312

事務支援員
事務支援員

機器センターたより
機器センターたより

33

３．所有設備一覧

所有設備一覧
所有設備一覧
所内 所内専用設備
所内 所内専用設備
分類名／型式
設置場所
担当者
分類名／型式
設置場所
担当者① 電子スピン共鳴（ESR）装置① 電子スピン共鳴（ESR）装置
Bruker002
藤原・伊木
Bruker EMX
EMX Plus
Plus
極低温棟 002 極低温棟
藤原・伊木・浅田・中村
Bruker E500
E500
極低温棟 001 極低温棟
藤原・伊木・浅田・中村
Bruker001
藤原・伊木
Bruker
E680
極低温棟
001
藤原・伊木・浅田・中村・上田
Bruker E680
極低温棟 001
藤原・伊木② SQUID 型磁化測定装置② SQUID 型磁化測定装置
Quantum Design MPMS-7
極低温棟 006
藤原・伊木・浅田・中村
極低温棟
006
藤原・伊木
Quantum Design MPMS-XL7
極低温棟 006
藤原・伊木・浅田・中村③ 単結晶 X 線回折装置
極低温棟 006
藤原・伊木
Rigaku MERCURY CCD-1･R-AXIS Ⅳ 南実験棟 B04
藤原③ 単結晶 X 線回折装置
南実験棟 B04
藤原
Rigaku MERCURY CCD-2
B04
藤原
微小結晶 /Rigaku HyPix-AFC
南実験棟 B04 南実験棟
岡野
南実験棟 B04
藤原④ 結晶スポンジ法 X 線回折装置
Rigaku XtaLAB P200
山手 3 号館 4 階 南実験棟
三橋
B04
岡野
Rigaku SuperNova
山手 3 号館 4 階 三橋
④ 粉末 X 線回折装置⑤ 粉末 X 線回折装置
3 号館 1 階 X 線回折測定室
藤原
Rigaku RINT-UltimaIII
山手 3 号館 1 階 山手藤原
X 線回折測定室⑤ X 線溶液散乱測定装置⑥ X 線溶液散乱測定装置
南実験棟 B14
秋山
Rigaku NANO-Viewer
南実験棟 B14秋山⑥ 電子分光装置⑦ 電子分光装置
機能性材料バンド構造顕微分析システム
実験棟
216
山根
機能性材料バンド構造顕微分析システム 実験棟 216
田中・解良
Omicron EA-125
実験棟 215
伊木 215実験棟
酒井⑧ 電子顕微鏡⑦ 電子顕微鏡
電界放出型走査電子顕微鏡（SEM）
山手 4 号館 103 石山・外山
山手 4 号館 103
中尾/JEOL JSM-6700F
低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）/Hitachi
SU6600
実験棟
B09
中尾・酒井
実験棟
B09
石山・上田・外山
低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）/Hitachi SU6600
山手 4 号館 103
中尾⑨ 熱分析装置⑧ 熱分析装置
MicroCal VP-DSC
山手 4 号館 101 水川・賣市・長尾
MicroCal
4 号館 101
牧田・長尾
山手 4 号館 101 山手
水川・賣市・長尾iTC200MicroCal VP-DSC
MicroCal
iTC200牧田・長尾
Rigaku DSC8231/TG-DTA8122
極低温棟 010 山手藤原4 号館 101⑩ 質量分析計
TA Instruments TGA2950/SDT2960/DSC2920
極低温棟 010
藤原
Bruker microflex LRF
山手 4 号館 403 水川・賣市・藤川⑨ マトリックス支援レーザー脱離イオン化 - 飛行時間型質量分析計（MALDI-TOF-MS）
所内 JEOL JMS777V
山手 4 号館 405 水川・賣市・藤川
山手 4 号館 403
牧田⑪ 有機微量元素分析装置
所内
J-SCIENCE LAB MICRO CORDER
山手 4 号館 404 水川・賣市・藤川⑩
有機微量元素分析装置
JM10
所内
山手 4 号館 404
牧田⑫ 蛍光 X 線分析装置⑪ 蛍光 X 線分析装置
JEOL JSX-3400RII
南実験棟 105上田
JEOL JSX-3400RII
南実験棟 105
上田

4

機器センターたより

３．所有設備一覧○○○○○⑬⑫ 核磁気共鳴（NMR）装置
核磁気共鳴（NMR）装置
Bruker AVANCE800
山手 4 号館 102 加藤
山手 5 号館
牧田・長尾
Bruker AVANCE600
実験棟 119
西村
Bruker
AVANCE800
4 号館 102谷中
山手 5 号館 予備測定室 山手
水川・賣市・長尾JEOL JNM-ECA600
AVANCE600
119
西村
所内 Bruker
JEOL JNM-ECS400
山手 4 号館 408 実験棟
水川・賣市・長尾⑭ ピコ秒レーザー山手 5 号館 予備測定室 牧田・長尾
Spectra-Physics, Quantronix
上田
実験棟 B08所内
山手 4 号館 408
牧田・長尾
Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS⑬ 蛍光分光光度計
ピコ秒レーザー⑮
HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
南実験棟 105
上田 B08実験棟
上田⑯
円二色性分散計⑭ ナノ秒レーザー山手 4 号館 101 水川・賣市・藤川
JASCO J-720WI
エキシマー励起色素レーザー/Coherent, Lambda Physik Compex Pro 110, LPD3002 レーザー棟 103
山中⑰ 紫外・可視・近赤外分光光度計
Nd:YAG
励起 OPO レーザー
/Spectra-Physics, Lambda Physik GCR-250,
Scanmate
OPPO レーザー棟102
山中
Shimadzu
UV-3600Plus
南実験棟
105
上田
⑱ フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
フッ素系エキシマーレーザー /Lambda Physik Compex 110F レーザー棟 105
山中
Bruker IFS 66v/S
南実験棟 105
賣市⑮ 蛍光分光光度計⑲ 顕微ラマン分光装置
南実験棟
105
上田
RENISHAW inVia Reflex
南実験棟 105
賣市⑯ 超伝導磁石付希釈冷凍機
円二色性分散計⑳
所内 Oxford Kelvinox 400㉑ 低温冷媒の供給設備⑰ 可視紫外分光光度計
所内 明大寺地区極低温施設
ヘリウム液化システム
液体ヘリウム自動供給装置⑱ フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
液体ヘリウム貯槽
BrukerIFS 66v/S
液体窒素自動供給装置⑲ 顕微ラマン分光装置
ヘリウム回収ライン
inVia Reﬂex
所内 RENISHAW
山手地区極低温施設

極低温棟 004

高山4 号館 101
山手

南実験棟
105
極低温棟 104
高山・浅田
極低温棟 105
高山・浅田
極低温棟 105
高山・浅田
南実験棟
105
化学試料棟前渡り廊下 高山・浅田
各実験室
高山・浅田
南実験棟 105

全自動ヘリウム液化機⑳ 超伝導磁石付希釈冷凍機
液体ヘリウム貯槽
所内 Oxford Kelvinox 400
液体窒素貯槽㉑ 低温冷媒の供給設備
液体窒素自動供給装置
所内 明大寺地区極低温施設
ヘリウム回収ライン

山手４号館
水川・賣市
山手４号館
水川・賣市
極低温棟 004
山手４号館
水川・賣市
山手４号館 209 水川・賣市
各実験室
水川・賣市

ヘリウム液化システム
極低温棟 104※設備のある場所については、次ページの施設マップをご参照ください。①～㉑が対応しています。
明大寺地区改修工事のため設置場所に関しては担当者にご確認ください。
液体ヘリウム自動供給装置
極低温棟 105

所内

牧田
上田
賣市
賣市
高山

高山
高山

液体ヘリウム貯槽

極低温棟 105高山

液体窒素自動供給装置

化学試料棟前渡り廊下

高山ヘリウム回収ライン

各実験室

高山

全自動ヘリウム液化機

山手４号館

水川

液体ヘリウム貯槽

山手４号館

水川

液体窒素貯槽

山手４号館

水川

液体窒素自動供給装置

山手４号館 209

水川

ヘリウム回収ライン

各実験室

水川

山手地区極低温施設※設備のある場所については、次ページの施設マップをご参照ください。 ①〜㉑が対応しています。
機器センターたより

5４．施設マップ
施設マップ【䛆䚷᫂኱ᑎᆅ༊䚷䛇
明大寺地区 】

設備のある建物タഛ䛾䛒䜛ᘓ≀
実験棟
ᐇ㦂Ჷ

渡り廊下
Ώ䜚ᗯୗ

研究棟
◊✲Ჷ

正面玄関
ṇ㠃⋞㛵

池
ụ

N㻺
守衛所
Ᏺ⾨ᡤ
（警備員室）
䠄㆙ഛဨᐊ䠅

正門
ṇ㛛

＜2
階＞
䠘㻞㻌㝵䠚
⑦電子分光装置
䚷䚷䐤㟁Ꮚศග⿦⨨
＜1
階＞
䠘㻝㻌㝵䠚
⑬核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨

食堂・生協
㣗ᇽ䞉⏕༠

＜地階＞
䠘ᆅ㝵䠚
⑧走査電子顕微鏡（SEM）
䚷䚷䐥㉮ᰝ㟁Ꮚ㢧ᚤ㙾䠄㻿㻱㻹䠅⑭ピコ秒レーザー䚷䚷䐫䝢䝁⛊䝺䞊䝄䞊

極低温棟

（図書館）
䠄ᅗ᭩㤋䠅

事務
஦ົ
センター棟
䝉䞁䝍䞊Ჷ
(計算科学研究㻔ィ⟬⛉Ꮫ◊✲
センター棟)
㻌㻌㻌㻌㻌㻌䝉䞁䝍䞊Ჷ㻕

池
ụ

研究棟
◊✲Ჷ

ᶵჾ䝉䞁䝍䞊᪋タ஦ົᐊ䠄㻟㝵㻟㻝㻞ᐊ䠅＜1 階＞⑫蛍光X線分析装置
䠘㻝㻌㝵䠚⑮蛍光分光光度計䚷䚷䐩⺯ග㼄⥺ศᯒ⿦⨨⑰紫外・可視・近赤外分光光度計
䚷䚷䐭⺯ගศගගᗘィ⑱フーリエ変換䚷䚷䐯ྍど⣸እศගගᗘィ
赤外（FTIR）分光光度計
䚷䚷䐰䝣䞊䝸䜶ኚ᥮⑲顕微ラマン分光装置
䚷䚷䚷㻌㉥እ䠄㻲㼀㻵㻾䠅ศගගᗘィ＜地階＞
䚷䚷䐱㢧ᚤ䝷䝬䞁ศග⿦⨨③単結晶X線回折装置
䠘ᆅ㝵䠚
⑥X線溶液散乱測定装置
䚷䚷䐡༢⤖ᬗ㼄⥺ᅇᢡ⿦⨨䚷䚷䐣㼄⥺⁐ᾮᩓ஘

ᐃ⿦⨨

実験棟

正面玄関
ṇ㠃⋞㛵

＜1
階＞
䠘㻝㻌㝵䠚
㉑液体ヘリウム、液体窒素
䚷䚷䞡ᾮయ䝦䝸䜴䝮䚸ᾮయ❅⣲
＜地階＞
䠘ᆅ㝵䠚
①電子スピン共鳴（ESR）装置
䚷䚷䐟㟁Ꮚ䝇䝢䞁ඹ㬆䠄㻱㻿㻾䠅⿦⨨②SQUID型磁化測定装置
䚷䚷䐠㻿㻽㼁㻵㻰ᆺ☢໬ᐃ⿦⨨⑨熱分析装置䚷䚷䐦⇕ศᯒ⿦⨨⑳超伝導磁石付希釈冷凍機
䚷䚷䚷䚷㻌㼀㻭㻌㻵㼚㼟㼠㼞㼡㼙㼑㼚㼠㼟䚷䚷䐲ᕼ㔘෭෾ᶵ

控室
᥍ᐊ
（2階202室）
䠄㻞㝵㻞㻜㻞ᐊ䠅

（装置
䠄⿦⨨
開発棟）
㻌㻌㛤ⓎᲷ䠅

レーザ
䝺䞊䝄
ー棟
㻌㻌㻌䞊Ჷ

南実験棟
南実験棟

機器センターᶵჾ䝉䞁䝍䞊
施設事務室
ᢏ⾡⫋ဨᐊ
技術職員室
䠄㻝㝵㻝㻜㻝ᐊ䠅
（1階101室）

化学試料棟前໬ᏛヨᩱᲷ๓
渡り廊下䚷䚷䚷㻌Ώ䜚ᗯୗ
＜2
階＞
䠘㻞㻌㝵䠚
㉑液体窒素
䚷䚷䞡ᾮయ❅⣲
䠘㻝㻌㝵䠚
（化学
䠄໬Ꮫ
試料棟） 䚷䚷䐬䝘䝜⛊䝺䞊䝄䞊㻌㻌ヨᩱᲷ䠅

（極端紫外光䠄ᴟ➃⣸እග
実験棟）
㻌㻌㻌㻌㻌㻌㻌㻌ᐇ㦂Ჷ䠅

東門
ᮾ㛛
控室
᥍ᐊ
（1階113室）
䠄㻝㝵㻝㻝㻟ᐊ䠅

明大寺地区改修工事のため設置場所に関しては各担当者にご確認ください。
6

機器センターたより

４．施設マップ【䛆䚷ᒣᡭᆅ༊䚷䛇
山手地区 】3号館
㻟ྕ㤋䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑬核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻥㻞㻜
JNM-ECA600
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻢㻜㻜

4号館
㻠ྕ㤋
5号館
㻡ྕ㤋

NIBB
センター

控室
（1階）

5号館
㻡ྕ㤋
4号館
㻠ྕ㤋

正門
ṇ㛛
3号館
㻟ྕ㤋
＜1
階＞
䠘㻝㻌㝵䠚
⑤粉末X線回折装置
䚷䚷䐢⢊ᮎ㼄⥺ᅇᢡ⿦⨨＜４階＞④結晶スポンジ法
X線回折装置＜4階＞
䠘㻠㻌㝵䠚
⑩質量分析計䚷䚷䐧㉁㔞ศᯒィ⑪元素分析装置
䚷䚷䐨ඖ⣲ศᯒ⿦⨨⑬核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨
JNM-ECA400
䚷䚷䚷䚷㻌㻶㻺㻹㻙㻱㻯㻭㻠㻜㻜
＜2
階＞
䠘㻞㻌㝵䠚
㉑液体ヘリウム、液体窒素
䚷䚷䞡ᾮయ䝦䝸䜴䝮䚸ᾮయ❅⣲
＜1
階＞
䠘㻝㻌㝵䠚
⑧走査電子顕微鏡（SEM）
䚷䚷䐥㉮ᰝ㟁Ꮚ㢧ᚤ㙾䠄㻿㻱㻹䠅⑨熱分析装置䚷䚷䐥㞟᮰䜲䜸䞁䝡䞊䝮ຍᕤᶵ䠄㻲㻵㻮䠅
MicroCal VP-DSC
䚷䚷䐦⇕ศᯒ⿦⨨MicroCal iTC200
䚷䚷䚷䚷㻌㻹㼕㼏㼞㼛㻯㼍㼘㻌㼂㻼㻙㻰㻿㻯⑬核磁気共鳴（NMR）装置
䚷䚷䚷䚷㻌㻹㼕㼏㼞㼛㻯㼍㼘㻌㼕㼀㻯㻞㻜㻜
AVANCE800
䚷䚷䐪᰾☢Ẽඹ㬆䠄㻺㻹㻾䠅⿦⨨⑯円二色性分散計䚷䚷䚷䚷㻌㻭㼂㻭㻺㻯㻱㻤㻜㻜䚷䚷䐮෇஧Ⰽᛶศᩓィ
玄関
⋞㛵

（2号館）
䠄㻞ྕ㤋䠅

2号館
㻞ྕ㤋

（1号館）
䠄㻝ྕ㤋䠅

東門
ᮾ㛛

玄関
⋞㛵

守衛所
Ᏺ⾨ᡤ

【䛆䚷᫂኱ᑎ䠉ᒣᡭ䝬䝑䝥䚷䛇
明大寺－山手マップ 】

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東ᮾ
岡ᒸ
崎ᓮ
駅㥐
ファミリー
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マート

三島ロッジ
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正門
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483
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岡崎コンファ
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レンスセンター䝺䞁䝇䝉䞁䝍䞊

明大寺地区
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東門
ᮾ㛛
明大寺ロッジ᫂኱ᑎ䝻䝑䝆

山手地区
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正門
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東門
ᮾ㛛

距離：約
800 m
㊥㞳䠖⣙㻌㻤㻜㻜㻌㼙

機器センターたより

7５．センターの利用方法

設備利用方法１.

概要

機器センターは、磁気・物性、化学分析、分子分光の研究に必要な種々の設備を保守・管理し、ナノテクノロジープラットフォーム事業を通じて、それら設備をご利用いただける機会を提供しております（一部設備は除く）。所外利用者（大学および国・公立研究所等の研究者）の方には、設備の使用料は原則無料で公開しており、規定の範囲内ですが旅費も支給させていただきます。また、共同利
用研究者宿泊施設（有料）もご利用いただけます。
２.

申込資格・支援内容

以下に所属する研究者、および大学院博士課程後期在学中の者が、当センターの設備を利用することができます。
• 国立・公立・私立大学法人（高等専門学校を含む）• 国・公立研究所（独立行政法人を含む）等• 所長が上記研究者と同等の研究能力を有すると認めた者• 民間企業
設備の利用には、下記の 4 種類があります。ただし、利用できる内容は設備によって異なります。
• 協力研究（共同研究）
	‌データ解析や学術的議論を含めた設備の利用を所内研究者と共同で行う。
	‌利用者が設備を操作し、データ解析や学術的議論は利用者が独自に• 施設利用（機器利用）行う。
• 技術代行

実験・測定を研究所スタッフに依頼する。

• 技術相談研究所スタッフと実験・測定について検討する。

３.

初めて利用される方

当センターを初めて利用される方は、利用申請をする前に設備担当者宛に利用希望設備、実験内容、
利用希望日等をお問い合わせください。
≪各設備担当者への問い合わせ先≫「支援内容」のページ

http://nanoims.ims.ac.jp/service_h27_ic.html#sv（HOME > 支援内容 > 機器センター施設利用）から、設備名を選択し設備担当者等をご確認ください。
≪その他、技術的な問い合わせ先≫
TEL：0564-55-7470

E-mail：ic-pub@ims.ac.jp

上記メールアドレスは、当センター設備担当者全員に送られます。お問い合わせ内容に応じて、設備担当者等から回答させて頂きます。

8

機器センターたより５．センターの利用方法
４.

利用方法

まず、各設備担当者までお問い合わせください。所内の方のみの場合は、申請は必要ありません。
所外利用者は、ナノテクノロジープラットフォーム

分子・物質合成プラットフォーム HP（http://nanoims.ims.ac.jp/）を参照してください。以下に概要を示します。
４．１

大学・官公庁の方の利用方法

（◆：提出して頂く書類等）

（1）申請

→

採択

利用期間

申請の種類 申込時期※ 1

通年（4/1 ～翌 3/31）

通常申請

前期

通常申請

（4/1 ～ 9/30）

随時申請

後期

通常申請

（10/1 ～翌 3/31）

随時申請

申請書類

前年度

◆利用申請書：Web 申請

12 月締切共同利用申請システム※ 2

3 月下旬以降
当年度
6 月締切
9 月下旬以降採択通知メール※ 4
前年度 3 月下旬

https://imsapply.ims.ac.jp/apply/
◆承諾書：

郵送※ 3

申請から約 2 週間程
9 月下旬

書 式 http://nanoims.ims.ac.jp/
iutilization_01.html#ut01-2

申請から約 2 週間程※ 1 申込受付・締切日は HP にてお知らせします。
※ ‌2 申請書で放射線業務に従事するとした場合の ◆放射線業務従事承認書 は、事前（遅くとも来所
2 週間前まで）に郵送にて提出。
≪放射線業務従事承認書〒444-8585

送付先≫

岡崎市明大寺町字西郷中38

自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター（ナノプラット）事務室（TEL：0564-55-7337, E-mail：nano-office@ims.ac.jp）※ 3 ≪承諾書

送付先≫〒444-8585

岡崎市明大寺町字西郷中38

自然科学研究機構

岡崎統合事務センター

国際研究協力課共同利用係（TEL：0564-55-7133, E-mail：r7133@orion.ac.jp）※ 4 利用開始日は、採択通知メール後の「採択通知書」発行後（記載の承認日以降）になります。
＜補足＞• 申請 1 件で複数の設備を利用可能。
• 大学院学生、および学部学生は、（財）日本国際教育支援協会「学生教育研究災害損害保険」
および「学研災付帯賠償責任保険」または同等以上の保険加入のこと。
• 学部学生来所の場合は、指導教員の同行が必要。

機器センターたより

9５．センターの利用方法（2）来所計画
各設備担当者と打ち合わせの上、来所日程を決め、以下の連絡・手続き・書類の提出をお願いいたします。
①

設備の予約：各設備担当者までお問い合わせください。
一部の設備を除き「大学連携研究設備ネットワーク予約システム（http://chem-eqnet.ims.ac.jp）」

から予約をお願いします。
②

来所日程の連絡：メールにて、機器センター（ナノプラット）事務室：nano-office@ims.ac.jp

まで、指定の書式（１人１フォーム、HP 参照）にてご連絡ください。
③

共同利用研究者宿泊施設（三島ロッジ）を利用希望の方
ロッジ予約システム（http://www.occ.orion.ac.jp/lodge/）でアカウント取得後、予約してください。
注）利用登録の際、『関係研究室』は［機器センター施設利用（「施設利用申込書」申請者）］を選択してください。
ロッジの鍵・許可証の受け取りは、宿泊初日平日の 11：00 ～ 15：30 です。時間内に受け取り出来ない方は、事前に機器センター（ナノプラット）事務室へご相談ください。
（ロッジチェックイン 15：00、チェックアウト 9：30）④

旅費を支給させて頂く方
下記書類を、提出してください（書式は HP からダウンロード）。
◆銀行振込口座登録依頼書：メールにて（nano-office@ims.ac.jp）（口座登録の手続き約 1 週間、来所後の支払い手続き後、振込みまで約 1 ヶ月要する）◆学部学生派遣書：郵送◆出張報告書

来所ごと、２週間前までに※提出日の日付は、来所後の平日を記載のこと◆航空機利用の方－領収書（原本）と搭乗券の往路半券は来所時、復路分半は後日郵送※航空機金額確認のため、領収書または領収金額を、事前にご連絡ください。
※お二人以上で購入した場合、購入内容のわかるものを添付してください。
≪送付先≫〒444-8585

岡崎市明大寺町字西郷中38

自然科学研究機構

分子科学研究所

機器センター（ナノプラット）事務室

TEL：0564-55-7337, E-mail：nano-office@ims.ac.jp

10

機器センターたより５．センターの利用方法
支給額（上限）は、採択通知時に連絡します。
（目安）協力研究：1 件の申請につき、30 人日相当（ただし上限 40 万円）
施設利用：1 件の申請につき

2 泊 3 日 4 回分相当

戦略的機器利用（NMR、ESR E680）の場合は 2 泊 3 日 6 回分相当（ただし上限 40 万円）※半期申請については、上記の 2 分の 1 相当⑤

申請内容に変更がある場合
申請書に記載のない方が来所する場合は ◆共同研究者追加願

代表者の方に変更がある場合は ◆代表者所属変更届
共同研究者の方に変更がある場合は ◆共同研究者所属変更届
を機器センター（ナノプラット）事務室まで郵送してください。
※設備を追加で利用したい方
各設備担当者とご相談の上 ◆利用設備追加届（書式は HP からダウンロード）を
機器センター（ナノプラット）事務室へ提出してください。
利用形態・研究題目が異なる場合は、改めて申請を行ってください。
（3）来所• 来所当日、正門守衛所で身分証明書を提示後、ネームプレートの交付を受け着用してください。
• 施設利用者控室にて来所時、および退所時に記録簿に記入してください。
•‌‌ロッジを予約された方は、宿泊初日 11：00 ～ 15：30 までの間に、事務センター棟 3 階：国際研究協力課共同利用係に来訪し、ロッジの鍵の受け取りと宿泊料金の支払いを済ませてください。
• ロッジチェックアウト後、鍵は返却ボックスへお返しください。
•‌旅費申請に必要な書類の提出がある方は、機器センター（ナノプラット）事務室（南実験棟 1 階
S101 号室）までお越しください。
航空機ご利用の方は、往路半券もご提出をお願いいたします。
（復路分は郵送をお願いいたします。）•時間外（平日 8：30 ～ 17：30 以外）に山手地区を利用される方は、設備担当者または機器センター（ナノプラット）事務室に申し出てください。
•設備利用終了後は、各設備の置かれている使用ノート等に必要事項を記入の上、必ず設備担当者に測定が終了した旨を報告してください。
（4）成果報告等の提出（年度末）改めて、文部科学省提出の◆利用報告書と◆業績リスト（書式は HP からダウンロード）の作成、ご提出の連絡をさせて頂きます。
なお、成果公開を見合わせる必要がある場合は、成果の公開を猶予することが可能です。事前に公開猶予とする理由を、機器センター（ナノプラット）事務室へご連絡ください。公開猶予期間は最大2 年です。公開猶予終了後、提出頂いている成果報告書等は公開となります。

機器センターたより

11５．センターの利用方法
４．２

民間企業の方の利用方法

（◆：提出して頂く書類等）（1）申請の前に•ご利用申請は、随時受付しております。
•ご利用は【成果公開型】と【成果非公開型】の 2 種類があり、いずれも有償利用となります。
（ 利用料金：【成果公開型】＜【成果非公開型】）•「支援内容」のページ

http://nanoims.ims.ac.jp/service_h27_ic.html#sv

から、設備名を選択し仕様・利用料金・担当者等をご確認ください。
•各設備担当者に、実験内容・利用希望日（装置の利用予約）等をお問い合わせください。
•研究題目が同じであれば、１件の申請に複数の設備を利用いただけます。
•申請は利用期間（ご利用希望日程）ごとに必要となります。年度を越える分については改めて申請してください。
•申請から利用開始までの日数は、最短でも 2 週間を要します。
•利用可能日は「許可書」に記載の期間内となります。
•設備使用料は、後納でご利用いただけます。
•見積書の発行はありません。
（2）申請（郵送）◆利用申請書を http://nanoims.ims.ac.jp/utilization_02.html#ut01-2 よりダウンロードし、ご記入の上、郵送にてご提出ください。
放射線を発生する単結晶 X 線回折装置、粉末 X 線回折装置、X 線溶液散乱測定装置、蛍光 X 線分
析装置を利用する方は ◆放射線業務従事承認書 を来所 2 週間前までに郵送願います。
※‌申請から許可書発行まで、最短でも 2 週間かかります。利用開始日ご記入の際はご注意願います。
※‌申請内容に追加・変更等が生じた場合、代表者・共同研究者の方に変更がある場合は、改めて申請書の提出が必要となりますのでご留意ください。
≪利用申請書、放射線業務従事承認書〒444-8585

送付先≫愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38

自然科学研究機構

分子科学研究所（TEL：0564-55-7337

機器センター（ナノプラット）事務室

E-mail：nano-office@ims.ac.jp）（3）採択の決定採択となりましたら、｢許可書｣ を郵送いたします。
（「許可書」が発行されるまでは装置をご利用いただけません）（4）来所の前に
以下の連絡・手続き等をお願いします。
①設備の予約の確認：各設備担当者までお問い合わせください。
‌一部の設備を除き、「大学連携研究設備ネットワーク予約システム（http://chem-eqnet.ims.ac.jp）」

12

機器センターたより５．センターの利用方法
からご予約できます。
②‌来所日程の連絡：メールにて、機器センター（ナノプラット）事務室：nano-office@ims.ac.jp（1 人
1 フォーム）まで指定の書式（HP 参照）にてご連絡ください。
（5）来所•来所当日、正門守衛所で身分証明書を提示後、ネームプレートの交付を受け着用してください。
•施設利用者控室にて来所時、および退所時に記録簿に記入してください。
「非公開利用」については、記録簿の指示にしたがって必要情報のみの記載で結構です。
•時間外（平日 8：30 ～ 17：30 以外）に山手地区を利用される方は、設備担当者または機器センター（ナノプラット）事務室に申し出てください。
•‌設備利用終了後は、各設備の置かれている使用ノート等に必要事項を記入の上、必ず設備担当者に測定が終了した旨を報告してください。
（6）成果報告等の提出【成果公開型】【成果非公開型】

年度末が近づきましたら、改めて文部科学省提出の ◆利用報告書 と ◆業績リスト の作成、ごご利用の都度、１ヶ月以内に提出の連絡をさせて頂きます。
◆利用報告書（成果非公開用）をご提出ください。
（書式は HP からダウンロード）
なお、
成果公開を見合わせる必要がある場合は、成果公開を猶予することが可能です。公開猶予の理由を、事前に機器センター（ナノプラット）事
務室へご連絡ください。公開猶予期間は最大 2 年です。公開猶予終了後、提出頂いている成果報告
書等は公開となります。
≪利用報告書 送付先≫
≪利用報告書 と 業績リスト 送付先≫
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38※ Web アップロードによる提出
自然科学研究機構 岡崎統合事務センター
自然科学研究機構 分子科学研究所
国際研究協力課共同利用係
機器センター（ナノプラット）事務室（TEL：0564-55-7133 E-mail：r7133@orion.ac.jp）◆設備使用料の納付‌ 設備担当者が利用の実施を確認後、実際の利用状況をもとに金額が確定します。請求書を送付いたしますので、指定期日までに納付をお願いいたします。

機器センターたより

13

５．センターの利用方法
５.

お問い合わせ先•技術的なお問い合わせ⇒ 	 自然科学研究機構

分子科学研究所

		

機器センター		

TEL：0564-55-7470

		

E-mail：ic-pub@ims.ac.jp•申請・利用についてのお問い合わせ ⇒自然科学研究機構

分子科学研究所

		

機器センター（ナノプラット）事務室

		〒444-8585 岡崎市明大寺町字西郷中38

		

TEL：0564-55-7337

		E-mail：nano-office@ims.ac.jp•各種案内、書類ダウンロード⇒

FAX：0564-55-7448

ナノテクノロジープラットフォーム

		

分子・物質合成プラットフォームホームページ

		

http://nanoims.ims.ac.jp/

⇒
		

14

機器センターたより

機器センターホームページ
http://ic.ims.ac.jp

５．センターの利用方法

機器センターたより

15

５．センターの利用方法

16

機器センターたより５．センターの利用方法

機器センターたより

17５．センターの利用方法

大学連携研究設備ネットワーク利用方法
１.

概要

機器センターの設備は、大学連携研究設備ネットワーク（以下、設備ネットワーク）に登録されており、予約も設備ネットワークの予約システムを通じて行っていただいております。本システムは機器センターの設備のみならず、全国参画国立大学の登録共用設備を検索・予約する事もできます。
2019 年 4 月からは、従来の国立大学に加えて、公立大学・私立大学・高等専門学校等の参画機関も設備登録を可能とする事でネットワーク利用拡大を推進しております。また、2018 年 5 月に利用者増に伴う情報の大容量化への対応、セキュリティー強化、操作性向上を目的に、予約システムをリ
ニューアルしました。ここでは、機器センター内での設備利用に限定した利用方法について説明します。
（設備ネットワークの概要は、『事業紹介：大学連携研究設備ネットワーク』を参照。）
２.

利用方法

２．１

ホームページ

設備ネットワークのホームページ（図 1）は以下の通りです。ここから予約システムにログお問い合わせインします。
https://chem-eqnet.ims.ac.jp/

２．２

アカウント

予約システムを利用するためにはアカウントが必要です。所属機関でアカウントを作成していただく場合や機器センターでアカウントを発

図 1 設備ネットワークホームページ

行する場合などがございますので、アカウントをお持ちでない場合は、お問い合わせフォームより問い合わせ願います。
２．３

利用の流れ

（1）予約
※利用者自身のアカウントで予約を行ってください。ただし、施設利用の場合は申請代表者が予約を行ってください。協力研究の場合は受け入れ研究室側で対応をお願いします。（外部ユー
ザーを研究室メンバーとしてアカウントを発行するか、受け入れ研究室の対応者が予約を入れる。
）（a） 予約システムにログインし、利用する設備を［予約］（①）－［設備を検索］（②）から分子科学研究所の装置を検索し、設備名（③）をクリック（図 2）。
（b） 設備詳細画面の［相互利用予約］（④）をクリック（図 3）。
・予算区分（運営費交付金）（⑥）を選択し、［登録］（⑦）をクリック（図（c） 利用日時（⑤）4）。続いて確認画面の［OK］をクリック。

18

機器センターたより５．センターの利用方法

①

②

③

図 2 設備検索④

図 3 設備詳細画面

機器センターたより

19

５．センターの利用方法⑤⑥⑦

図 4 予約テーブル（2）予約の確認、修正、取消［予約状況］（⑧）で、予約状況の確認、（利用日時の変更等の）予約修正、予約の取消（⑨）が出来ます（図 5）。予約の修正では図 4 のような画面で日時の再設定ができます。
「承認待ち」 ：設備管理者が予約を確認中です。
「予約中」

20

：設備の利用が出来る状態です。

機器センターたより５．センターの利用方法⑧⑨

図 5 予約状況
２．４

参考（1）ＩＤ・パスワードの変更
ＩＤ、パスワードは、ログイン後、［マイページ］から、［パスワードの変更］で随時変更出来ます。

（2）ＩＤ・パスワードを忘れた方へ
ＩＤ・パスワードを忘れてしまった場合は、トップペー
ジログイン部分の直下にある「ID・パスワードを忘れた方」のリンクをクリックしてください（図 6）。設定ページでメー
ルアドレスと名前を入力するとシステムからメールが届きます。ID はメールに記載されています。パスワードは再設
定用ページの URL が記載されています。記載ページにてパスワードの再設定をしてください。

図 6 トップページのログイン部分※

予約システムの操作の詳細はマニュアルをご覧ください。
（マニュアル URL：http://chem-eqnet.ims.ac.jp/howto/manuals/）

機器センターたより21

５．センターの利用方法

液体ヘリウム利用方法
１.

概要

現在、明大寺地区および山手地区のヘリウム液化機は順調に稼働しています。液体ヘリウム供給方法については以下の通りご案内します。
従来の利用方法を踏襲して、予め液体ヘリウム充填済みのベッセルを何台か用意させて頂き、ベッセルの持ち出し及び返却で液体ヘリウムをご利用頂くシステムの変更はございません。ただし、研究室所有の専用容器への供給はセルフ方式となりますので、ご了承ください。
以下では、現在行われている利用方法を中心に記しておきます。その他、利用規程や液体ヘリウム
取り扱い上の注意等につきましては、機器センターホームページ内の液体ヘリウム利用者のためのマニュアル（http://ic.ims.ac.jp/kiki/teion/He_user_manual2008.pdf）に詳しく書かれておりますので、ご参照頂ければ幸いです。
山手地区での液体ヘリウムご利用方法については、以下の「山手地区液体ヘリウム利用方法」をご参照ください。
２.

液体ヘリウム利用の前に• 液体ヘリウム使用者は、「液体ヘリウム利用者講習会」を受講し、液体ヘリウム利用者として登録すること。（必要があれば「液体ヘリウム利用者講習会」は随時行う）• 実験室のヘリウム回収配管を利用する場合、早めに機器センターの寒剤担当者に連絡すること。
３.

明大寺地区液体ヘリウム利用方法

３．１

設置場所

• 極低温棟 1 階 105 室
３．２

ベッセル持ち出し手順（1）所定の場所にあるベッセルを手前から順に持ち出す。
（2）備え付けの「ベッセル持ち出し・返却入力用パソコン」の画面の「持出」にタッチする。
（3）スキャナーでユーザーコードを読み取り、次に容器コードを読み取り、「確認」にタッチする。
（4）ベッセルを持ち出す。
３．３

ベッセルの返却手順（1）ベッセルをロードセル中央に載せる。
（2）パソコンの画面の「返却」にタッチし、スキャナーで容器コードを読み取り、「計量」にタッチする。
（3）表示内容を確認の上、「確認」にタッチして、ベッセルを返却場所に置き、回収配管につなぐ。
（4）返却完了。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。

22

機器センターたより５．センターの利用方法
４.

山手地区液体ヘリウム利用方法

４．１

設置場所

• 山手 4 号館 207 号室
４．２

ベッセル持ち出し手順（1）所定の場所にあるベッセルを持ち出す。
（2）液体ヘリウム自動計量装置のコントローラー付属のスキャナーでユーザーコード及び容器コードを読み取る。
（3）ベッセルをロードセルに載せる。
（4）「持出」ボタンを押し、ベッセルを持ち出す。
４．３

ベッセルの返却手順（1）ベッセルをロードセル中央に載せる。
（2）スキャナーで、ユーザーコード及び容器コードを読み取る。
「返却」ランプが点滅するので、「現在量」の表示が安定したら「返却」ボタンを押す。
（3）（4）容器を返却場所に置き、回収配管につなぐ。
（5）返却完了。
ベッセルの持出・返却の際は、回収用のバルブ操作に十分注意してください。
５.

異常時

異常時は、直ちに機器センター寒剤担当者（明大寺地区：内線：7471 または 4553、携帯：0904082-6162、山手地区：内線：5516、携帯：090-9025-1928）に連絡すること。
６.

その他• 供給可能時間は、充填済みの持ち出すベッセルがある場合は終日可能である。
• 研究室で所有するベッセルも上記方法で利用可能である。
• 使用期間の長期化は、貸し出し容器の不足が発生し液体ヘリウムの供給に支障が出るため、容器はなるべく早めに返却すること。
• 液体ヘリウムは必ず 5 ℓ 以上残した状態で返却すること。
• ヘリウムの回収ロスが直接供給価格に反映されるため、蒸発ガスの回収 100％を心がけること。
• 回収ガスに、なるべく空気を混入させないように十分注意すること。
• ベッセルへの空気混入は絶対に避けること。
• 液体ヘリウム供給価格：平成 30 年度後期

1 ℓ 当たり 140 円。

機器センターたより23

５．センターの利用方法

液体窒素利用方法
１.

概要

液体窒素の汲み出しは、セルフサービス及び自動供給・自動計量です。液体窒素に関しては、大学で死亡事故もあり、ユーザーが液体窒素を安心して利用するためには、単に供給装置の利用講習だけ
でなく液体窒素自体の安全教育も重要です。
明大寺地区液体窒素利用者のためのマニュアルは、機器センターホームページ（http://ic.ims.
ac.jp/kiki/teion/N2_user_manual2011.pdf）にあります。当マニュアルには、分子研における液体窒
素汲み出しの手順だけでなく、液体窒素を取り扱う上での注意点や液体窒素容器の種類と使用方法についても詳細に書かれておりますので、是非ご参照ください。
なお、山手地区での汲み出し手順は明大寺地区と少し異なりますので、以下の「山手地区液体窒素
汲み出し手順」の項をご覧ください。
以下では、要点を抜粋し、簡単に記しておきます。
２.

特に注意すべき点• 凍傷を防ぐ：保護眼鏡、革手袋を使用すること。
• 酸欠を防ぐ：実験室内の換気に注意すること。
• 爆発を防ぐ：容器を密封しないこと。
３.

液体窒素容器について• 容器には開放型と密封型があり、密封型を使用するときは取扱説明書をよく読んでおくことが必要である。
• 容器を購入する場合、あらかじめ供給が可能な容器かどうかを寒剤担当者に確認すること。
• 容器は登録しなければ使用できない。登録した容器には容器バーコード（ベッセルバーコード）が発行される。
４.

液体窒素汲み出しの前に• 毎年年度初めに実施される「液体窒素利用者講習会」に参加申請し、受講する。この時受講できなかった人は後日、随時液体窒素利用者講習を実施するので寒剤担当者に連絡する。
• 受講修了者にはユーザーバーコードが発行される。
５.

明大寺地区液体窒素汲み出し手順

５．１

汲み出し場所• 化学試料棟 2 階入り口の渡り廊下• 極低温棟 105 室（大型容器充填専用）• UVSOR 棟地階（UVSOR 利用者専用）

24

機器センターたより５．センターの利用方法
５．２

手順（1）容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。（革手袋着用のこと）（2）ベッセルバーコードとユーザーバーコードをバーコードリーダーで読み取る。
（3）操作画面上の「READY」にタッチすると充填が開始する。満量充填でも必要量充填でも可能。
（4）充填終了時、電子ブザーが鳴る。
（5）容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
５．３

注意

異常時は緊急閉止弁を閉め、直ちに緊急時連絡先（内線：7471 または 4553、携帯：090-40826162）に連絡すること。
５．４

その他

• 汲み出しの時間は、原則平日午前 9 時～午後 5 時までである。
• 無登録の所外研究者（液体窒素利用者講習会未受講者）が液体窒素の汲み出しを行う場合は、「液
体窒素利用者講習会」受講修了者立ち会いのもとで行うこと。
• エレベーターに人と液体窒素容器とを同乗させてはいけない。
• 液体窒素供給価格：平成 30 年度後期
６.

1 ℓ 当たり 67 円（明大寺地区）。

山手地区液体窒素汲み出し手順

６．１

汲み出し場所• 山手 4 号館 2 階液体窒素供給室
６．２

手順（1）容器をロードセルに載せフレキシブルチューブを挿入する。（革手袋着用のこと）（2）容器バーコードとユーザーバーコードをコントローラー付属のバーコードリーダーで読み取る。
（3）コントローラーの「開始」ボタンが点滅する。
「開始」ボタンを押すと充填が開始する。
（4）（5）充填途中で止めたいときは「停止」ボタンを押す。
（6）充填終了時、電子ブザーが鳴る。
（7）容器をロードセルから降ろすと電子ブザーが止まる。
６．３

注意

異常時は直ちに緊急時連絡先（内線：5516、携帯：090-9025-1928）に連絡すること。
６．４

その他

• 汲み出しの時間は、原則午前 7 時～午後 7 時までである。
•「液体窒素取り扱い講習」を受けていない人は、汲み出すことはできない。
• エレベーターに人と液体窒素容器とを同乗させてはいけない。
• 液体窒素供給価格：平成 30 年度後期

1 ℓ 当たり 85 円（山手地区）。

機器センターたより25

５．センターの利用方法

小型貸出機器利用方法
１.

概要

共同利用機関であり流動性も高い分子科学研究所において、一時的に使用する機器を備え貸出できる環境を整えることは、無駄な投資を防ぐ意味でも有用です。そこで機器センターでは、各種実験に利用できる汎用性の高い機器を中心に、小型貸出機器として保有しています。例えば、電源・ボック
スカー・発振器・エレクトロメーターなどの共通性の高い汎用機器から、光スペクトラムアナライザー・
オシロスコープなどの比較的高価な機器も備えています。現在（令和元年度）は、80 台を保有しております。所内の方のみの貸出とさせて頂いておりますが、所外の方でも施設利用や協力研究等の実験の際には、所内の方を通じて利用して頂くことが可能です。
なお、令和元年度機器保管場所は、「南実験棟 3 階 S321」です。
（令和 2 年度は極低温棟 2 階へ移る予定）
２.

利用方法

小型貸出機器については、機器センター HP（http://ic.ims.ac.jp/）から「所有設備一覧」を開いて頂き、下に送り「所内専用」のところの「小型機器→ 機器リスト・利用方法はこちら」をご参照ください。機器の利用状況表もご確認頂けます。
機器の利用の際は、メール、またはお電話にて以下の内容のご連絡をお願いいたします。

● 電子メール送り先：
Subject：

ueda@ims.ac.jp｢小型貸出機器の利用｣ とご記入ください。

--- ＜送信事項（記入例：コピー＆ペーストしてお使いください）＞ --機器名：5-101 ロックイン増幅器 SRS SR830
利用者氏名：機器 選多利用者所属：○× Ｇ
利用者メールアドレス：kiki@ims.ac.jp
利用開始日：平成 31 年 4 月 26 日
返却予定日：継続使用を希望----------------------------------------------● お電話の場合：担当

上田、内線 7226

までご連絡ください。

既に利用されている機器の場合であっても、ご連絡頂ければ出来る限り日程調整をさせて頂きます。
貸出期間については、原則 2 週間とさせて頂いていますので、返却予定日を設定される方は利用開始
日から 2 週間以内の日としてください。返却予定日が決まっていない場合は ｢継続使用を希望｣ として頂ければ、次の利用希望が入るまで継続してご利用頂けます。但し、利用期間が 2 週間以上経過している場合、次の利用希望が入った時点で出来る限り速やかに返却して頂くようお願いいたします。
返却の際も、メール、またはお電話にて以下の内容のご連絡をお願いいたします。

26

機器センターたより５．センターの利用方法● 電子メール送り先：
Subject：

ueda@ims.ac.jp｢小型貸出機器の返却｣ とご記入ください。

--- ＜送信事項（記入例：コピー＆ペーストしてお使いください）＞ --機器名：5-101 ロックイン増幅器 SRS SR830
利用者氏名：機器 選多利用者所属：○× Ｇ
利用者メールアドレス：kiki@ims.ac.jp
返却年月日：令和元年 5 月 10 日----------------------------------------------● お電話の場合：担当

上田、内線 7226

までご連絡ください。

なお、利用の際の機器の持ち出し、及び返却は、お手数ですが利用者ご自身でお願いします。参考
までに、小型貸出機器のリスト（機器名別）を表 1 に示します。
お気軽に、ご利用ください。
表1

機器名

小型貸出機器（80 台）機器名別リスト

台数

機器名

台数

ロックイン増幅器

5

水銀キセノンランプ

1

ボックスカー積分器

22

標準ハロゲンランプ

1

広帯域前置増幅器

4

パルスウェーブメーター

1

高速電流増幅器

1

光スペクトラムアナライザー

1

ユニバーサルカウンター1

デジタルオシロスコープ

7

ファンクションジェネレーター

1

オシロスコープ用高圧プローブ

1

ファンクションシンセサイザー

1

直流定電圧／定電流電源（ソースメータ）

6

シンセサイズドスイーパー

1

高圧安定化電源10

任意波形発生器

1

データロガー1

デジタルディレイジェネレーター

5

時間軸較正器1

デジタルマルチメーター

3

C.F. ディスクリミネーター

1

デジタルボルトメーター

1

フラックスゲート型磁力計

1

シングルモノクロメーター

1

マルチチャンネルアナライザ

1

機器センターたより27

５．センターの利用方法

サンプル準備室利用方法
１.

概要

機器センター設備の利用時、測定可能な状態での試料持ち込みを推奨しますが、来所後に試料調整や準備が必要な場合、サンプル準備室（明大寺地区・極低温棟 2 階 201 号室）をご利用いただけます。
（注１：改修工事中、場所変更や使用制限等の可能性があります。）
２.

利用方法

• 利用の都度、ノートに記入をお願いします。
• 予約制ではありませんが、利用予約が必要な場合は、担当者までご連絡ください。
• 長時間場所を離れる場合や、危険物等がある場合は、付箋等で分かるようにしてください。
• 整理整頓を心がけてください。
• 廃液処理は各自で行ってください。
２．１

設置設備

• 真空ライン（自作、［真空度］（RP）～ 3 Pa、（DP）～ 10−4 Pa、［接続 ]TS15/25、φ 6 mm 管）• 真空型グローブボックス（UNICO・UN-12L、ガス循環精製装置、自動内圧調整器）
寸法（mm）：メインボックス 1200 × 650 × 600、パスボックス 250 × 250 × 350
ガス循環精製装置運転時（アルゴン雰囲気）：酸素濃度 1ppm 以下、露点− 73 ～ 76℃• 上皿天秤（島津・UW620H）• 実体顕微鏡（ニコン・SMZ745T）• 超音波洗浄機（アズワ・US-1R）• ホットスターラー（IKA・C-MAG HS7 digital）• 定温恒温乾燥機（EYELA・NDO-400）• 電気炉（Yamato・FO510）• ドラフトチャンバー（Yamato・KFC2180）

ガス循環精製装置を設置しました。

真空ライン

28

機器センターたより

真空型グローブボックス

５．センターの利用方法

施設利用者控室
１.

概要

施設利用者の方にご利用いただけますよう、施設利用者控室を設置しております。明大寺地区では、
南実験棟 1 階 113 号室、および南実験棟 2 階 207 号室（改修工事のための仮控室、UVSOR 利用者と共用）にあります。令和 2 年度からはレーザーセンター棟 2 階に新設します。山手地区では、山手 5号館 1 階にあります。会議机やホワイトボード、個人用机もございますので、打ち合わせや測定の合間の休息にご利用ください。また共用パソコン、プリンターもご利用いただけます。パソコン持込みの場合、所内ネットワーク接続に必要なアカウントも発行可能です。ネットワーク利用上の注意に従ってご利用ください。
当センターの施設利用者の方であれば、どなたでもご利用いただけますが、利用の際は、設備担当
者、あるいは機器センター事務室までお知らせください。来所・退所記録簿へのご記入も控室にてお願いしております。
お気軽に、ご利用くださいませ。

明大寺 南実験棟 1 階 113 号室

山手 5 号館 1 階

機器センターたより29

６．所有設備紹介

電子スピン共鳴（ESR）装置
概要
電子スピン共鳴（ESR）装置は、不対電子（電子スピン）をプローブとした分光装置である。静磁場中に置かれた電子スピンのエネルギー準位は分裂し、一定のマイクロ波を加えながら静磁場を掃引すると、
このエネルギー差に相当する磁場で共鳴が起こる。この共鳴磁場や吸収強度などの観測から、
電子スピンを持つ原子や分子の量、構造、電子状態などに関する情報が得られる。ESR 装置は、有機ラジカルや遷移金属などを含む物質の物性研究の他にも、放射線や酸化などにより不対電子が生じた岩石や食品の評価、触媒や重合反応などのプロセス追跡にも利用される。

設備紹介（EMX Plus、E500）担当）藤原、伊木、浅田、中村

メーカー：Bruker

メーカー：Bruker

型

型

式：EMX Plus

式：E500

導入年度：平成 17 年度

導入年度：平成 10 年度（主な仕様）（主な仕様）

周波数

X-band（～ 9.4 GHz）

周波数

X-band（～ 9.4 GHz）

マグネット

−5 mT～1.45 T

共振器

二重矩形、光透過、ENDOR

共振器

高感度（Q ～ 9000）

温度可変（ESR900）3.8 ～ 300 K

温度可変

デュアルモード（ESR910）1.5 ～ 4 K

光透過（ER4131VT）
100 ～ 300 K［LN2］（ESR900）3.8 ～ 300 K

周波数

Q-band（～ 34 GHz）

（ER4131VT）
100 ～ 300 K
［LN2］

温度可変

5 ～ 300 K（CF935）

RT ～ 500 K［Air］
オプション

テスラメーター
ゴニオメーター
光照射30

機器センターたより

（共通部）
マグネット

−5 mT ～ 1.45 T

オプション

テスラメーター
ゴニオメーター、光照射６．所有設備紹介
特徴

測定方法• ‌EMX では、磁場・シグナル強度ともに 24bit• ‌粉末、液体の場合は、石英管（X-band：外径対応で高解像度測定が可能。

φ4 mm、長さ 250 mm、Q-band：外径φ2• ‌E500 で は、CW-ENDOR 測 定（LHe お よ び

mm、長さ 100 mm）に試料を封入。

LN2）が可能。また X-band に加え Q-band で• ‌単結晶の場合は、少量のアピエゾン Nグリーの高分解能測定も可能。

スで石英棒に固定。

• ‌X-band では、高感度、デュアルモード（許容・禁制遷移の観測）、二重矩形（定量・g 値較正）、
光透過の各種共振器を、測定に応じて選択でき、温度可変測定にも対応。

備考
毎月マシンタイム調整にて、翌月の予約を決定している。当月 1 日より、空いているマシン
タイムは随時予約解禁。

設備紹介（E680）
担当）浅田、藤原、伊木、中村

ナノ秒波長可変レーザーを更新

レーザー担当）上田

特徴
パルス測定が可能。時間平均を観測している
cw 測定に対して、パルス測定ではスピンダイ
ナミックスを直接観測できる。ENDOR 測定や
ELDOR 測定（X-、Q-band）にも対応しており、核スピンや電子スピンの緩和時間などのダイナ
ミクスの直接測定や、電子スピン間の相互作用の強さから距離情報も得られる。任意波形発生器（AWG）により、照射するマイクロ波の周
波数・振幅・位相を自由に制御でき、広帯域・メーカー：Bruker

選択的励起が可能。またナノ秒波長可変レー型

式：E680

ザーの更新により 50Hz、250 ～ 2000nm での導入年度：平成 10 年度

光誘起時間分解測定（X-、Q-band）も可能。

（主な仕様）
周波数

W-band（～ 94 GHz）

温度可変

3.8 ～ 300 K

マグネット

超伝導マグネット（6 T スプリット型）
掃引コイル（700 mT）

周波数

X-band（～ 9.4 GHz）
Q-band（～ 34 GHz）

温度可変

4 ～ 300 K（CF935）

マグネット−5 mT～1.45 T

オプション

AWG（任意波形発生器）
ゴニオメーターテスラメーター
ENDOR 用 RF アンプ
ナノ秒波長可変レーザー

測定方法
石英管（X-band：外径φ4 mm、Q-band：外径 φ1.6 mm、W-band： 外 径 φ0.9 mm、 長 さ
100 mm）に試料を封入。
備考
初めての利用の方は、お問合せ下さい。

機器センターたより

31

６．所有設備紹介

SQUID 型磁化測定装置
概要
磁場または温度を変えながら磁化測定を行い、物質の磁気特性を調べる装置である。微少な磁化変化を検出できるよう SQUID（超伝導量子干渉素子）を用いている。有機磁性体の研究、超伝導体の新素材研究や記録媒体の評価など、磁気物性や材料工学などの広い研究分野で利用されている。
設備紹介（MPMS-7、MPMS-XL7）

担当）藤原、伊木、浅田、中村

メーカー：Quantum Design

メーカー：Quantum Design

型

型

式：MPMS-7

式：MPMS-XL7

導入年度：平成 7 年度

導入年度：平成 14 年度（主な仕様）（主な仕様）

温度範囲

1.8 ～ 400 K
300 ～ 800 K（オーブン使用時）

超伝導磁石

7T
（液体窒素ジャケット付）

トランスポ

スタンダード、RSO

ート
サンプルスペースオーブン
マグネットリセット
垂直・水平サンプルローテータ
トランスバース検出（MPMS-7、-XL7 共用オプション）
共 用 オ プ シ 光照射用ロッド

32

1.8 ～ 400 K

超伝導磁石

7T

ト ラ ン ス ポ スタンダード
ート
オプション

AC 測定
（周波数：0.01 Hz ～ 1 kHz）
（交流磁場：～ 6 G）

オプション

ョン

温度範囲

圧力セル用ロッド

機器センターたより

超低磁場
マグネットリセット
電気抵抗測定用ロッド
外部機器制御ソフト（EDC）

６．所有設備紹介
特徴

備考• ‌	測定はシーケンス（測定プログラム）に従っ• マシンタイムの切り替えは、午前 10時。

て自動的に行われる。

• 毎月マシンタイム調整にて、翌月の予約を決• ‌	4.2 K以下において時間制限なく温度保持で定している。当月 1日より、空いているマシ

き、4.2 Kを挟んで滑らかな温度変化が可能。

ンタイムは随時予約解禁。

• ‌	光照射や圧力下における磁化測定が可能。
• ‌	MPMS-7では、オーブン使用時、800Kまでの高温測定が可能。トランスバース検出シス
テムにより、横磁化（磁場と直交した磁化）の測定が可能。
• ‌	MPMS-XL7では、AC測定により、緩和時間
等・スピンのダイナミックスを調べることが可能。また超低磁場オプションおよびマグネ
ットリセットにより、サンプル中心における残留磁場を 50 mG以下に抑えた低残留磁場中での測定が可能。（図 1、2参照）‌EDCにより、電流源とナノボルトメーターを用いた電気抵抗測定など、外部機器の制御・
データ取込が可能。
図1

測定

磁場勾配プロファイル• ‌ストロー（外径φ6 mm）の中央にサンプルを固定。サンプル形状等により、カプセルやラップ、アルミホイルなどを利用。上記以外に必要なものは、各自で用意すること。オー
ブン利用時は、ガラス管（外径φ3 mm以下）にサンプルを固定し、銅線でロッドに吊す。
• ‌	サンプル交換は、300 Kで行うこと。
• ‌	終了時に LHeトランスファーを行い、満タンにすること。（MPMS-7の週末利用者は、
LN2トランスファーも行うこと。）• ‌Heレベルは、超伝導磁石を冷却するために40 %以上に保持する必要がある。特に高磁場をかける場合は、Heレベルに注意すること。
He Level

使用可能な最大磁場50 ～ 100 %7T

40 ～ 50 %1T

40 % 以下

実験不可

図2

磁化の磁場依存性

機器センターたより33

６．所有設備紹介

単結晶 X 線回折装置
概要
単結晶試料に X 線を入射すると、結晶構造を反映した回折点が得られる。この回折点の位置および強度から、結晶構造解析が行われる。構造解析により、原子の三次元座標（立体構造）や原子間距
離・結合距離、三次元の電子密度などの情報が得られる。
数十～数百 µm サイズの単結晶試料が作成出来れば、数十分～数時間程度で測定～解析が行える。
設備紹介（MERCURY CCD-1・R-AXIS Ⅳ、MERCURY CCD-2）

担当）藤原※ ‌R-AXIS は故障中。現在のところ、修理・更新予定はありません。
測定方法• マウント0.1‌ ～ 0.5 mm 角の単結晶を、ビットに取り付けたガラス棒の先端、またはマグネット台座付サンプルループに、接着剤・ワセリン等で固定。
（ゴニオヘッドは、ビット用とマグネット用があり、CCD-1、-2、-3 で共用可能）
メーカー：Rigaku
型

式：MERCURY CCD-1・R-AXIS Ⅳ、
MERCURY CCD-2

導入年度：平成 8 年度
（主な仕様）
X 線源

回転対陰極型、Mo
50 kV・100 mA（5 kW）（CCD1、CCD-2 共通）
コリメータ

φ0.3、0.5、1.0 mm

カメラ長

35 mm、55 mm、75 mm

ゴニオメータAFC-7 型χサークル

検出器

Mercury CCD

温度可変

100 ～ 400 K

ソフトウェア

測定：Crystal Clear
データ処理：CrysAlis
解析：‌‌C rystal Structure、
Olex2• X 線の立上げ・停止‌手順書に沿って、使用の度に X 線の立上げ・停止を行うこと。
• 温度可変測定‌PSA を起動させ、1 時間程度おいてから、コンプレッサーを起動して冷却を始める。最低
温 100 K まで、約 2 時間かかる。CCD-1 は
ボ タ ン 一 つ で 自 動 停 止。CCD-2 は 冷 却 水、手動停止が必要。

34

機器センターたより

６．所有設備紹介
設備紹介（微小結晶 /HyPix-AFC） 担当）岡野• 低温測定ガス吹き付け型の冷却装置で、到達温度は、
N2 ガスモードで 100 K、He ガスモードで 24
K（ 実 測 ）。 到 達 時 間 は、N2 で 240 分、Heで 150 分かかる。運転モードの切り替えは、He か ら N2 に は 迅 速 に 切 り 替 え 可 能 だ が、N2 から He の場合は、冷凍機を一旦室温に戻す必要がある。
N2 ガスは PSA、He ガスはボンベからの供給で、He ボンベは稼働中でも交換可能。He

メーカー：Rigaku
型

ガス使用の場合、所内利用は実費が必要。

式：HyPix-AFC

導入年度：平成 29 年度

測定方法（主な仕様）• マウント

X 線源

回転対陰極型、Mo‌ 0.1 ～ 0.2 mm 角以下の単結晶を、マグネッ

50kV・16mA（0.8 kW）

ト台座付サンプルループに、ワセリン等で固コンフォーカルミラー使用

定する。

コリメータ

φ 0.3 mm

ゴニオメータAFC10 κ検出器

HyPix-6000HE

温度可変・100 K ～室温（N2 ガス：PSA より供給）
・24 ～ 100 K（He ガ ス ボ ン ベ：1 本 /8
時間）

ソフトウェア

測定：‌CrysAlis Pro , Crystal
Clear
解析：‌Olex2, Crystal
Structure特徴• 高輝度 X線
‌ 光学系にコンフォーカルミラーを用いており、CCD-1、-2 に比べ、約 10 倍の高輝度 X

その他
ケンブリッジ結晶構造データーベース（CSD）
が利用可能。ID・Password 等、詳細は担当者まで。

線ビームが得られ、測定が難しかった微小結晶でも測定が可能。ビーム径はφ0.1 ～ 0.2
mm で、コリメータはバックグラウンド低減のためビーム径よりやや大きめの 0.3 mm のものが取り付けてある。
機器センターたより35

６．所有設備紹介

結晶スポンジ法による分子構造解析
概要
単結晶 X 線構造解析は、分子の立体構造を決定する上で最も強力な分析手法である。しかしながら、この手法を用いるためには、構造を明らかにしたい試料の単結晶が不可欠であり、単結晶作製は時として大きな困難を伴う。
「結晶スポンジ法」は、細孔性錯体の結晶（結晶スポンジ）を目的試料の溶液に浸すことで試料分子を結晶スポンジの細孔内に導入し、単結晶 X 線構造解析により試料分子の立体構造を明らかにするという「結晶化不要の単結晶 X 線構造解析法」である 1。当センターでは、結晶スポンジ法を用いて、提供を受けた試料の立体構造を明らかにする。

設備紹介（XtaLAB P200, SuperNova）

担当）三橋

メーカー：Rigaku

メーカー：Rigaku

型

型

式：XtaLAB P200

式：SuperNova

導入年度：平成 25 年度

導入年度：平成 27 年度（主な仕様）（主な仕様）

X 線源

回転対陰極型、Mo/Cu デュ

X 線源

封入管型、Mo/Cu デュアル

アル線源

線源

Mo: 50 kV・24 mA（1.2 kW）

Mo: 50 kV・24 mA（1.2 kW）
Cu: 40 kV・30 mA（1.2 kW）

Cu: 40 kV・30 mA（1.2 kW）
コリメータ

φ 0.3、0.5 mm

コリメータ

カメラ長

110 mmカメラ長

101.2 mm

ゴニオメータ

1/4χゴニオメータ

ゴニオメータκゴニオメータ

検出器

PILATUS 200K

検出器

直接光子検出型半導体検出

温度可変

100 K 〜室温

ソフトウェア36

Pro

CrysAlis

機器センターたより

φ 0.3、0.5 mm器
温度可変

100 K 〜室温

ソフトウェアCrysAlisPro

６．所有設備紹介
特徴

媒が細孔内を満たしている。それらは結晶スポ• 結晶化不要

ンジの骨格と強く相互作用しており、そのまま‌

本手法では、予め合成した結晶スポンジにでは試料を導入することができない。そのため、単結晶性を保ちながら試料分子を包接させる

相互作用の弱い溶媒（ヘキサン等）で結晶ス

試料の結晶化が不要である。そのため、ため、ポンジ細孔内を置換する必要がある（１週間）。

結晶化が困難な試料や、原理的に結晶化でき• 包接（ソーキング）

ない油状の化合物の構造解析も可能である。

‌

測定したい試料の溶液を、溶媒置換後の結• 微量分析が可能

晶スポンジが入ったバイアルに滴下し、細孔‌（１日〜数週間）。
内に試料分子を取り込ませる

単結晶１個分に包接されるだけの試料量でも測定できるため、原理的には数十 ng の試• 測定料から構造決定が可能である。実際には、種々‌

ループ（図２）に試料包接後の結晶スポンの包接条件を検討するため、試料量は多いほジを載せ、単結晶 X 線回折装置で測定する

うが望ましい。

（数時間〜２日）。

• 絶対構造決定に有効‌

結晶スポンジの骨格には、ヨウ素や亜鉛と言った重原子が含まれている。キラルな試料の包接させた際に骨格がキラルな構造に変形することがあり、重原子由来の大きな異常分散が期待できる。この異常分散から、試料の絶対構造決定が可能である。
図２

測定例
‌

ループに載せた結晶スポンジ• 解析

下記のサントニンをはじめとして、約 300‌

必要に応じて他の分析手法で得られた情報

種以上の有機化合物の（絶対立体配置を含む）

も併せながら、試料分子の構造モデルを構築

立体構造を決定した。

。
し、構造精密化を行う（数日）
備考‌ ※予め「溶媒置換」の項目までは済ませておりますので、利用者からの試料提供を受けて「包接」以降を行います。
‌ ※結晶スポンジ法以外で本項の単結晶 X 線

図１

サントニンの結晶構造測定方法

回折装置（XtaLAB P200, SuperNova）の利用を希望される場合は担当者までご相談ください。

• 結晶スポンジ作製‌

既報 1–3 の手順に従い、有機三座配位子と金属塩の溶液から液―液拡散法により結晶ス
ポンジを作製する（３日〜１週間）。

• 溶媒置換‌

備考‌ 1. Y. Inokuma et al. Nature 2013, 495, 461.
2. Y. Inokuma et al. Nat. Protoc. 2014, 9, 246.
3. F. Sakurai et al. Chem. Eur. J. 2017, 23, 15結晶スポンジ作製後は、作成時に用いた溶機器センターたより37

６．所有設備紹介

粉末 X 線回折装置
概要
粉末試料に X 線を照射し、回折された X 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析（同定）である。既知試料の回折パターン（PDF：Powder Diffraction File）と照合することで測定試料の同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サ
イズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構
造解析も可能である。
設備紹介（RINT-Ultima Ⅲ）

担当）藤原

制御 PC

Windows7

ソフトウェアPDXL（ 基 本、 定 性、 リ ー
ト ベ ル ト、PDF-2）、NanoSolver特徴• ‌	CBO ユニットにより、集中法、平行ビーム法、
小角散乱光学系の切り替えが可能• ‌平 行ビーム法により、試料成形の難しい試料でも、容易に測定可能メーカー：Rigaku• ‌小 角散乱測定により、ナノ粒子の粒径分布

型を求めることが可能（1 ～ 50 nm）

式：RINT-Ultima Ⅲ

導入年度：平成 17 年度（主な仕様）
X 線源

測定方法
Cu 管球
40 kV・40 mA（2 kW）

光学系

集中法、平行ビーム法、小角散乱

ゴニオメータθs/θd 連動、
θs 単独、θd 単独−3 ～ +154 deg.（2θ）

検出器

シンチレーションカウンタ

オプション

モノクロメーター
高分解能 PSA
回転試料台
キャピラリ回転試料台
小角散乱試料台
低温試料台（40 ～ 300 K）

38

機器センターたより• 試料準備ガラス板やキャピラリ等に試料を充填

６．所有設備紹介

Ｘ線溶液散乱装置
概要
サブナノ～サブミクロンにわたる広い空間スケールを扱う本装置は、多階層からなる分子システム（生体高分子やソフトマター）の研究に貢献する。共同研究にとどまらず、Ｘ線溶液散乱実験に関心のある研究者・学生への指導、実験計画段階での相談、放射光ビームラインへの橋渡し、課題申請書の作成、などについて可能な限り支援をしている。
設備紹介（Rigaku NANO-Viewer）


担当）秋山

Ｘ線溶液散乱について
液液状の試料を光軸上に設置してＸ線を照射し、散乱されたＸ線の強度や角度分布を２次元検出器で記録する。均一なタンパク質溶液試料の場合、結晶性（配向性）試料とは違って散乱
像は等方的になる。したがって、散乱原点を中心に円環平均すると散乱角度（Q）に依存した散乱Ｘ線強度 I（Q）が得られる。タンパク質メーカー：Rigaku

溶液からの散乱強度、溶媒のみからの散乱強度、型

式：Nano-Viewer

これらを個別に記録して差分を取ると、溶質（タ導入年度：平成 25 年度

ンパク質分子）の散乱曲線が得られる。この散（主な仕様）

乱曲線には構造情報が含まれており、ギニエ解Ｘ線

1.5418 Å

検出器

PILATUS 200K

試料／検出器距離

100 ～ 1000 mm

Q レンジ（Å−1）

0.0063 ～ 1.703 Å

d（Å）

3.7 ～ 994 Å

試料体積

26 μL

試料温度

4 ～ 100℃

析による回転半径や原点散乱強度の評価、間接
フーリエ変換による動径分布距離解析、低分解
能像（分子形状）の推定、既知の結晶構造との比較、などを通してタンパク質分子の大きさや形状を見積もることができる。

機器センターたより

39

６．所有設備紹介

小角カメラ表ンを記録することもできる。各スリットのピン
ホール径、ビームストッパー径、試料と検出器の距離などを変化させて、試料に最適な小角カメラを選ぶ。上表のように、現状では A ～ K
で区別される 12 段階の小角カメラで運用している。それ以外の小角カメラ設定については管理者と要相談。

BSA 標準散乱
標準試料として用いられる牛血清アルブミン（BSA）の散乱パターンを A ～ K の小角カメ
検出器は DECTRIS 社の PILATUS 200K をラで記録した（上図）。3mg/ml の試料濃度で採用している。検出器を平行移動させることで、

30min 積算を基本とし、広角測定（A, B）と極モジュール間の継ぎ目のない散乱・回折パター

小角測定（K）では 10 mg/ml で 60 min の積40

機器センターたより

６．所有設備紹介
算としている。図中の散乱曲線は試料濃度と露

iMSaxs の周囲には生化学実験を行うための

光時間に対して規格化されているが、ビーム強機器類が整備されており、タンパク質をはじめ度に対しては規格化されていない。小角カメラとする生体高分子試料の調製や評価ができる。

設定が A から K となるにつれ、測定可能領域

主 な 機 器 と し て は、 微 量 分 光 光 度 計は広角（高分解能）側から小角（低分解能）側（NanoPhotometer P330, Implen）、電子天秤

へとシフトしていき、同時に入射ビーム強度が（CP3202S, CP224S, Sartorius）、pH 計（LAQUA

弱くなるために信号強度が弱くなっていく。

F-73, HORIBA）、高速液体クロマトグラフィー（AKTA － FPLC, GE）、動的光散乱（DynaPro

セルと試料ホルダ

Titan, Wyatt）、 卓 上 ク リ ー ン ベ ン チ（Clean
Booth BB-100, AS ONE）、 超 音 波 洗 浄 機（1510J-MT, BRANSON）、微量透析システム（Bio-Tech, COSMO BIO）などがある。
URL：

溶液試料には専用セルとセルホルダが準備さ

http://bms.ims.ac.jp/AkiyamaG/imsaxs.html

れている。標準セルの容量は 26 マイクロリットルである。試料体積のより小さいセルでも測定可能だが、その場合は管理者と事前に相談のこと。試料温度は 4 ～ 100℃の範囲で制御可能である。個体試料（フィルム、ファイバーなど）についても専用の試料ホルダを用いて測定できる（温調はなし）。
試料準備室

機器センターたより

41

６．所有設備紹介

電子分光装置
概要
機能性材料バンド構造分析システムは、角度分解紫外光電子分光法（ARUPS：Angle-Resolved
Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy）を用い、固体・薄膜試料の価電子バンド構造を決定することができる装置である。希ガス共鳴線による外部光電効果で機能性材料から放出された電子（光電子）のエネルギー分布と放出角度分布を計測することでバンド構造が得られ、これにより機能性材料の電子機能（例えば、最も基本的なイオン化エネルギーや仕事関数、伝導電荷の有効質量やスピン軌道相
互作用など）を調べることが出来る。
X 線光電子分光（XPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy）装置は、超高真空中で試料に X 線を照射し、放出される電子（光電子）を検出する装置である。放出される光電子は、対象となる原子の内殻電子に起因するものであり、そのエネルギーは元素ごとに定まることから、エネルギー値を知ることで定性分析を行うことができる。原子の置かれている環境（化学状態）によって電子状態が変わることからピーク位置が僅かにシフトすることを利用して、化学構造解析を行うことができることから ESCA（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）とも呼ばれる。
設備紹介（ARUPS）

担当）田中、解良エネルギー分 He Iα線を用いた金基板のフェ解能

ルミ端の半値幅は，9 meV 程度（温度：8.6 K、パスエネルギー：
2 eV、入射スリット：200 µm）

Entrance Slit （1） 0.1 mm（2） 0.2 mm（3） 0.3 mm（4） 0.5 mm（5） 0.8 mm
メーカー：VG Scienta（6） 1.5 mm

型（7） 2.5 mm

式：DA30

導入年度：平成 26 年度（主な仕様）
電子分光器
紫外光源

静電半球型 200 mm 電子レン

（8） 4.0 mm
真空度

6 × 10−9Pa 以下

装備機器

低速電子線回折（LEED）

ズ（ディフレクター搭載）

Ar イオンスパッタガン

マイクロ波放電方式

各種加熱機構（通電・電子衝

He I, He II 共鳴線単色化機構

撃・セラミックヒーター）

・He Iα= 21.218 eV
・He IIα= 40.814 eV

制御系

OS：Windows 8，実験データ
は、バイナリー形式やテキス
トファイル形式など。専用解42

機器センターたより

析ソフトを提供可能。

各種加熱機構（通電・電子衝
析ソフトを提供可能。

Wslit）200 m で行った。角度積分
スリット幅（と Wslit の組み合わせによって、より高分解能な撃・セラミックヒーター）

モードでは5 分程度の測定時間で十分な SN 比測定が可能である。

OS: Windows 8，実験データのデータが得られた。Fermi-Dirac 分布関数を用

は、バイナリー形式やテキス①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微いたフェルミエッジのフィッティング解析よりトファイル形式など。専用解小試料の二次元波数空間マッピングが可能②

エネルギー分解能は 9.4 meVと見積った。 E pass
６．所有設備紹介

析ソフトを提供可能。
広い温度領域（8-400ケルビン）における電子と Wslit の組み合わせによって、より高分解能な特徴
状態測定が可能③低速電子線回折法による二測定が可能である。
HOPG (T = 298 K)

制御系
特徴①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微特徴
次元結晶構造を決定することが可能④様々な小試料の二次元波数空間マッピングが可能・②①一般的な静電半球型電子分析器では困難な微試料形態の表面処理が可能な機器（Ar イオンス

kx

ky
kx

広い温度領域（8-400ケルビン）における電子
小試料の二次元波数空間マッピングが可能②
パッタ機構、
電子衝撃加熱機構、通電加熱機構）Eb = 0.5 eV

状態測定が可能・③低速電子線回折法による二広い温度領域（8-400ケルビン）における電子を搭載などが挙げられ、
様々な分野の機能性材
次元結晶構造を決定することが可能・④様々な状態測定が可能③低速電子線回折法による二料の電子状態評価に対応可能な実験装置となっ試料形態の表面処理が可能な機器（Arイオン次元結晶構造を決定することが可能
④様々な
ている。

試料形態の表面処理が可能な機器（Ar イオンススパッタ機構、電子衝撃加熱機構、通電加熱機
パッタ機構、
電子衝撃加熱機構、通電加熱機構）構）を搭載・ などが挙げられ、様々な分野の機
測定例を搭載
様々な分野の機能性材
能性材料の電子状態評価に対応可能な実験装置
HeI などが挙げられ、
ARPES: polycrystalline
Au @ T = 8.6 K
Intensity / arb. units

料の電子状態評価に対応可能な実験装置となっとなっている。
(a)ている。

Binding Energy(Eb / eV)kykx
kEy b = 1.0 eV
ky

kx
kx

図 2 He Iαによる HOPG のkyARUPS スペクトルkxx ～ 1.7 Å － 1）にイメージとディラック点近傍（k図2 He I による HOPG の ARUPS
スペクトル
おける等エネルギー面マッピング。
1ky(Eb / eV)

10

8

6

4

Binding Energy / eV

2

0
(a)

(b)
Experiment
Epass = 2 eV
Wslit = 200 m
8

0.05

Fermi-Dirac
distribution function
Etot = 9.4 meV

6

4Binding Energy / eV0

Binding Energy / eV

2

-0.05

0

(b)

HExperimente I による A u 板の AFermi-Dirac
R UPS スペクトル。
distribution function

Epass = 2 eV(a) 価電子帯全域，(b)フェルミ準位近傍
E = 9.4 meV
W= 200 mslit

kx
ザーのディフレクター機能を用いることで、

HeI ARPES: polycrystalline Au @ T = 8.6 K

Intensity/ arb. units
Intensity/ arb. units
Intensity / arb. unitskxky

おける等エネルギー面マッピング。
ky
Binding
Energy
本装置の大きな特徴として、DA30
アナライ

測定例

図1

HOPG (T = 298 K)

イメージとディラック点近傍（ kx ~ 1.7 Å ）に

測定例

10

Eb = 0 eV

tot

ARUPS スペクトルの 2 次元波数空間（kx, ky）
図 本装置の大きな特徴として、DA30
2 He I による HOPG の ARUPS スペクトル
アナライ
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げ1kx ~ 1.7）にイメージとディラック点近傍（
ザーのディフレクター機能を用いることで、k Åのみ）。
られる（※・一般的なアナライザーはx

おける等エネルギー面マッピング。
ARUPS
スペクトルの 2 次元波数空間（ kx, k y）
図 2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げの He・ Iα・ ARUPS イメージを示す。HOPG やられる（※ 一般的なアナライザーは kx の み）。
グラフェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディアナライ
図本装置の大きな特徴として、DA30
2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
ラックコーン）を示すことが知られている。本ザーのディフレクター機能を用いることで、の He I ARUPS イメージを示す。HOPG やグラ装置を用いることで、このような電子状態を高
ARUPSスペクトルの 2 次元波数空間（ k , k ）フェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディラ
精度かつ容易に得ることが可能である。x y
マッピングを容易に得ることが出来る点が挙げ
ックコーン）を示すことが知られている。本装られる（※
一般的なアナライザーは kx の み）。
置を用いることで、このような電子状態を高精

図 1 に Auの He I ARUPS
スペクトルを示す。
0.05
0
-0.05

図
2 に高配向性熱分解グラファイト（HOPG）
度かつ容易に得ることが可能である。

Energy / eV （ E ）2 eV,
測定は、温度 8.6BindingK, パスエネルギー
passの He I ARUPS イメージを示す。HOPG やグラIαによる板の ARUPS
図図1 1 HHee Iによる AAuu 板の
A R UPS スペクトル。
スペクトル。

フェンでは、π電子系が円錐状の分散（ディラ(a) 価電子帯全域，(b) フェルミ準位近傍（a）価電子帯全域，（b）フェルミ準位近傍

ックコーン）を示すことが知られている。本装

図 1 に Au の He・ Iα・ ARUPS ス ペ ク ト ル を
図1に
Au の温度He I8.6・K,・パスエネルギー
ARUPS スペクトルを示す。
示す。
測定は、
（E ）

置を用いることで、このような電子状態を高精度かつ容易に得ることが可能である。

pass

測定は、
温度 8.6 K, パスエネルギー
E pass）2 eV,）200 µm（で行った。
2・ eV,・ スリット幅（W
角度積分モードでは 5 分程度の測定時間で十分
な SN 比のデータが得られた。Fermi-Dirac 分
布関数を用いたフェルミエッジのフィッティン
グ解析よりエネルギー分解能は 9.4・ meV と見積った。Epass と Wslit の組み合わせによって、より高分解能な測定が可能である。

機器センターたより

43

６．所有設備紹介
設備紹介（EA-125）


担当）伊木
装備機器

Ar イオンスパッタガン

制御系

OS：Windows XP， 制 御 ソ
フト：Omicron EIS。データの持ち帰りは、テキストフ
ァイル形式など。

特徴①水素、He 以外の全ての元素が検出できる ②
メーカー：Omicron

化学状態に関する情報を得ることができる ③型

式：EA-125

極表面（数 nm 程度）の情報を得ることができ

導入年度：平成 23 年度

る ④導体だけでなく、絶縁物も測定可能であ（主な仕様）る ⑤エッチング装置と併用することで深さ方

電子分光器
X 線源

静電半球型 125mm、電子レ向分析が可能ンズ（静電 + 磁気レンズ）

縁物の場合には徐々に正に帯電するチャージア

ツ イ ン ア ノ ー ド（Mg, Al），
分 光 器 な し。 出 力 15kV,
20mA（Mg） ま た は 15kV,
34mA（Al）。

エネルギー分

Mg-Kα線を用いた清浄化処

解能と計数率理を行っていない銀板のAg3d 5/2,Entrance Slit 6 ×12mm, 半分値幅は，パスエ
ネルギー 10eV で 0.9eV（計数 率 5500cps）， パ ス エ ネ ル
ギー 50eV で 1.4eV（計数率60000cps）。 図 1（a）,（b）が挙げられる。有機物などの絶ップ現象が起きてしまうことがあるので、測定試料の固定方法を工夫する必要がある。
XPS は、絶縁物から導体まで幅広くほとん
どの材料に対して分析可能なことから、さまざ
まな表面物性の関係する場面で使用され、主な用途として、半導体や金属などの無機物から有機物までほとんどの材料について、極表面の組成、化学状態解析、汚染解析などが行われている。また、表面改質や接着・剥離解析など表面が関与する数多くの物性や機能の評価にも用いられている。
測定例参照。
Entrance Slit

真空度①

6 × 12 mm

②

φ 6mm

③

φ 2mm

④

φ 1mm

⑤

1 × 12 mm

4 × 10−8Pa 程 度（ 測 定 槽 主
排気はイオンポンプ、粗引きはターボ分子ポンプ）

44

機器センターたより

図 1 Mg-Kαによる清浄化処理を行っていない銀板（a）パスエネルの Ag3d5/2 の光電子スペクトル。
ギー 50eV,（b）パスエネルギー 10eV

６．所有設備紹介
図 1 に清浄化処理を行っていない銀板のAg3d5/2 の光電子スペクトルを示す。X 線源はMg, X 線出力 15kV20mA（300W）, Entrance
Slit 6 × 12mm の条件下で（a）パスエネルギー
50eV,（b）パスエネルギー 10eV で測定した。
半分値幅はそれぞれ 1.4eV,0.9eV であった。

図 2 銅板および真鍮板の光電子スペクトル。
（a）ピカール研磨された真鍮板 ,（b）ピカール研
磨された銅板 ,（c）未研磨の銅板

図 2 に銅板および真鍮板の光電子スペクトルを示す。
（c）の未研磨のものは、表面付着物により Cu 由来のピークが非常に小さい。
（b）は表面研磨により表面付着物がある程度除去できたため Cu 由来のピークがはっきり見えるようになった。
（a）でも研磨により表面付着物がある程度除去できたため、真鍮の構成元素である
Cu, Zn が観測されている。（a）,（b）,（c）のいずれにも C1s, O1s が観されているが、これは大気中の C, O が表面に付着していることを示している。これら大気由来の元素の除去は、真空中での Ar イオンスパッタリングが必要となる。

機器センターたより45

６．所有設備紹介

電子顕微鏡
概要
電子顕微鏡は、電子線を試料に当てて拡大像を観察する装置で、大きく分けて透過電子顕微鏡（TEM：Transmission Electron Microscope） と 走 査 電 子 顕 微 鏡（SEM：Scanning Electron
Microscope）の 2 種類がある。透過電子顕微鏡では試料を透過した電子をレンズ系で拡大し結像させて内部構造を観察し、走査電子顕微鏡では試料からの反射電子や二次電子を検出して表面構造を観察する。また、電子線と試料との間の相互作用によって特性 X 線や非弾性散乱電子なども放出されており、これらを分析することで化学組成など様々な情報を得ることができる。
設備紹介（電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）/ JSM-6700F（1））

担当）外山、石山特徴• ‌電子線のエネルギー幅の小さい電界放出形電子銃とセミインレンズ系対物レンズにより、低加速電圧での高分解能観察に対応。
• ‌最大で直径 2インチまでの試料を観察可能。
ただし高さは約 10mmまで。
• ‌二次電子像の他、組成コントラストを持つ反射電子像が観察可能。
• ‌絶縁性試料の導電処理用として、カーボンコ
ーターを提供。
メーカー：JEOL
型

式：JSM-6700F（1）導入年度：平成 14 年度（主な仕様）
電子銃

冷陰極電界放出形

加速電圧

0.5 ～ 30 kV

照射電流0.1 pA ～ 2 nA

倍率

25 ～ 650000 倍

像分解能

1.0nm（15kV）、2.2nm
（1kV）

試料サイズ

最大直径 2 インチ  

検出器

二次電子検出器、反射電
子検出器

導電処理用装置

カーボンコーター：
SC-701CT（サンユー電子）

46

機器センターたより

６．所有設備紹介
設備紹介（低真空分析走査電子顕微鏡（SEM-EDX）/ SU6600）

担当）外山、上田、石山（EDX 検出器：QUANTAX XFlash 5060FQ）
検出器

シリコンドリフト検出器

検出面積60 mm2（15 mm2 × 4）

検出元素範囲B ～ Am

分解能

133 eV（Mn-Kα）以下（ E D X 検 出 器： Q U A N T A X X F l a s h 6 ¦ 1 0 ）メーカー：日立ハイテクノロジーズ、

検出器

シリコンドリフト検出器

検出面積10 mm2

検出元素範囲Be ～ Am

分解能

121 eV（Mn-Kα）以下

ブルカー・エイエックスエス
型

式：SU6600、

特徴

QUANTAX XFlash 5060FQ+XFlash6｜10 コ• ‌低真空モードにより、高真空で脱ガスのある

ンバインシステム

試料を観察したり、絶縁物を導電処理無しで

導入年度：平成 25 年度

観察したりすることが可能。
• ‌	対物レンズがアウトレンズ系のため、磁性材（主な仕様）

料の観察も可能。

（SEM：SU6600）• ‌	最大で直径 150mmまでの試料を観察可能。

電子銃

ZrO/W ショットキーエミ

ただし直径によって、重量や高さ、使用可能

ッション形

な機能に制約があるため要相談。

加速電圧0.5 ～ 30 kV

照射電流

1 pA ～ 200 nA

倍率

10 ～ 600000 倍

像分解能

1.2 nm（30 kV、高真空モード（<10−3 Pa））
3.0 nm（30 kV、低真空モード（60 Pa））

低真空範囲

10 ～ 300 Pa

試料サイズ

最大直径 150mm（要相談）

検出器

二次電子検出器、低真空用二次電子検出器、反射

試料温度制御• ‌	二次電子像の他、組成コントラストを持つ反射電子像、明視野透過電子像が観察可能。
• ‌	エネルギー分散型 X線（EDX）分析により、含有元素の定性分析、おおよその定量分析、
元素マッピングが可能。
• ‌	EDX検出器として、検出面積 60mm2で高感度の検出器 XFlash5060FQ と、エネルギー分解能の高い検出器 XFlash6¦10の 2台を搭載。
• ‌	オプションの MK3形クールステージを装着

電子検出器、透過電子検した時は、ステージ温度を−20～ 50 ℃に制出器御することが可能。ただし、試料サイズは直オ プ シ ョ ン の MK3 形 ク

径 10mmまでとなる。また、クールステージ

ールステージ装着時のみの着脱時や、使用中の試料交換の度に試料室−20 ～ 50 ℃（要相談）の大気開放（ドローアウト）が必要となるな
ど、制約があるため要相談。

機器センターたより

47

６．所有設備紹介

熱分析装置
概要
熱分析装置では物質を温度制御しながら、その熱変化などを測定する。示差走査型カロリメーター（DSC）による分子の構造変化時の熱変化を直接測定する方法や、等温滴定型カロリメーター（ITC）
による分子間の結合時の熱変化を直接測定する方法などがある。
設備紹介（示差走査型カロリメーター（VP-DSC））
担当）水川、賣市、長尾（主な仕様）
温度範囲

1 ～ 130 ℃

セル容量

500 µlス キ ャ ン upscan mode ：0 ～ 90 ℃ /hr
速度

downscan mode ：0 ～−60 ℃ /hr

付属品

ThermoVac特徴• ‌温度を一定速度で変化させ、試料物質の転移メーカー：MicroCal

もしくは変性に伴う熱変化を測定する。溶液型

中の生体高分子に特化した仕様となってい

式：VP-DSC

導入年度：平成 21 年度

る。

設備紹介（等温滴定型カロリメーター（iTC200））

担当）水川、賣市、長尾（主な仕様）
温度範囲

2 ～ 80 ℃

セル容量

200 µl滴 定 シ リ 40 µl
ンジ容量特徴• ‌温度一定下の条件において、リガンド滴下にメーカー：MicroCalより 2種の分子が相互作用する時に生じる反型

応熱を測定する。溶液中の生体高分子に特化

式：iTC200

導入年度：平成 21 年度

48

機器センターたより

した仕様となっている。

６．所有設備紹介
設備紹介（DSC8231/TG-DTA8122）

担当）藤原
特徴
• ‌示差走査熱量計（DSC）は、液体窒素冷却ユ
ニットにより、広範囲の昇降温測定が可能。
• ‌差動型示差熱天秤（TG-DTA）は、リアルタ
イムで試料の形状や色彩変化、流動性等を観察でき、最短 1秒間隔でキャプチャ画像を保存できる。ソフトウェア上では、時間や温度等の数値読取りと連動した画像表示、寸法計測も可能。
• ‌一定温度ホールド測定を行う際、オーバーシ

メーカー：Rigaku

ュートやアンダーシュートをさせないように型

温度を制御することが可能です。

式：DSC8231/TG-DTA8122

導入年度：平成 29 年度• ‌	解析ソフトウェアは、自動ピークトップ解析（主な仕様 :DSC）やガラス転移温度解析、熱量計算解析機能、

温度範囲−130 ～ 500 ℃

複数測定データの多重表示や Excelへの解析

サンプルパンAl : φ5 mm × 2.5 mmh

データ書き出しも可能です。

（45 µl）
昇温速度

1 ℃ /h ～ 20 ℃ /min

降温速度

20 ℃ /min（70 ℃まで）
10 ℃ /min（−50 ℃まで）
5 ℃ /min（−100 ℃まで）

DSC スケール± 100 mW

オプション

液体窒素冷却ユニット（主な仕様 :TG-DTA）
温度範囲

RT ～ 1000 ℃

サンプルパン

アルミナ、Pt、Al:
φ5 mm×2.5 mmh（45 µl）

昇温速度

1 ℃ /h ～ 20 ℃ /min

降温速度

20 ℃ /min（300 ℃まで）
10 ℃ /min（200 ℃まで）
5 ℃ /min（150 ℃まで）
（空冷冷却ファン使用時、1000 から 50 ℃まで 20 分）

測定レンジ

TG  最大± 250 mg
DTA 最大± 1000 µV

オプション

試料観察アタッチメント
15fps（1280x1024 pixel）

図1

PET の TG-DTA（上）、DSC（下）測定機器センターたより49

６．所有設備紹介

質量分析計


概要
質量分析計は試料導入部・イオン化部・質量分離部から構成される。機器センター所有の装置はイ
オン化部として MALDI,FAB,EI,CI がある。サンプルの性質によって適切なものを選択すると、分子イオンから分子の質量、フラグメントイオンから分子の構造に関する情報が得られる。
設備紹介（microflex LRF）

担当）水川、賣市、藤川

リフレクター≤75 ppm

モード（External Calibration）

質量精度≤15 ppm（Internal Calibration）

特徴
測定には感度、分解能が異なる Linear modeと Reflector mode の 2 種類がある。
Linear mode による測定は一般的に高感度、低 分 解 能 で あり、Reflector mode はフライト
メーカー：Bruker Daltonics

チューブ内でイオンを反転させることによって、型

初期運動エネルギーの広がりを収束させる効果

式：microflex LRF

導入年度：2018 年度（主な仕様）イオン化法と飛行距離を伸ばす効果により高分解能を実現
MALDIしている。しかし、感度の点においては Linear

質量範囲m/z 1-300,000

mode より低 下 する。 測 定 の 際 には、 初 めに

リニアモード≥400（insulin）

分解能≥600（Myoglobin M 2+）

Linear mode で目的のピークの有無を確認した≥700（Cytochrome C）≥800（Myoglobin）
リフレクター>6,000（Angiotensin Ⅱ）

モード>9,000（Bombesin）

分解能>10,000（ACTH（1-17））>12,000（ACTH（18-39））

リニアモード≤200 ppm

質量精度（External Calibration）≤150 ppm（Internal Calibration）

50

機器センターたより

後、 分 解 能 が 不 足 し て い る 場 合 に は 更 に
Reflector mode での測定をすることを薦めたい。
また、Reflector mode による mass range は
約 24,000 Da 程度になるので注意が必要である。

６．所有設備紹介
設備紹介（JMS777V）
担当）水川、賣市、藤川所内専用

内で Xe+ イオンとなる。
（2）‌生成 Xe+ イオンが電場勾配をもったイオン銃の中を高速で通過後、Xe で充たされたガスチャンバー（-3KV）へ導入される。
そこで電荷交換（Charge exchange）されて 6keV の高速中性粒子 Xe＊が生じる。
（3）‌	この高速中性粒子はターゲット（試料表面）を約 20°の角度で衝撃し二次イオンを生成する。
＊依頼分析を以下のように行っている。
（1）‌1 試料につき数 mg 程度を採取しやすいメーカー：JEOL
型

サンプル管に入れて下さい。

式：JMS777V（2）‌サンプル管には試料名を明記して下さい。

導入年度：2008 年度（主な仕様）イオン化法
質量範囲
分解能

（3）‌依頼は大学連携研究設備ネットワークを

FAB,EI,CI

最大質量数 2,400 ダルトン

通して受け付けます。質量分析依頼書に（加速電圧 10kV）

必要事項を記入の上、PDF ファイルに

EI モード

変換し、アップロードしてください。

R ≧ 60,000（10% 谷）
感度

EI モード :4 × 10

−7

‌希望測定期限には１週間以上先の日付をクーロン /

μg 以上
M+=298 メチルステアレート

入力してください。
（4）‌測定日をメールにてお知らせしますので指定された日に試料を山手 4 号館 4F404（R=1,000）
CI モード :3 × 10 − 8 クーロン /μg 以上

号室入口にある箱に入れて下さい。
（5）‌測定終了後にメールにてお知らせします
ので測定結果、残余試料を回収して下さMH+=299 メチルステアレート

い。

（R=1,000）
FAB モード：8 × 10 − 11A 以上
MH+=369 グ リ セ ロ ー ル（R=1,000）

備考
所外公開はせず、所内専用で運用している。
相互利用で利用者自身での測定も可能。

特徴
高 速 原 子 衝 撃 イ オ ン 化 法（Fast Atom
Bombardment）。試料溶液、または試料をマトリックスに溶解した溶液を中性原子で衝撃しイオン化を行う。試料に対する高速原子衝撃は次の三つの過程を経て行われる。
（1）‌キ セ ノ ン ガ ス（Xe） が イ オ ン 銃（3KV）

機器センターたより

51

６．所有設備紹介

有機微量元素分析装置
概要
試料を Pregl-Dumas 法に基づいて熱分解し、有機物を構成する主要元素である水素、炭素、窒素を定量的に水、二酸化炭素、窒素に変換し、これらを熱伝導法によって検出する。実際の分析では水
素、炭素、窒素の含有率が既知の標準試料を分析し、その検出感度から未知試料の含有率を決定する。
設備紹介（MICRO CORDER JM10）
担当）水川、賣市、藤川

所内専用（2）‌サンプル管には試料名を明記して下さい。

（3）‌依頼は大学連携研究設備ネットワークを通して受け付けます。元素分析依頼書に必要事項を記入の上、PDF ファイルに変換し、アップロードしてください。
‌希望測定期限には１週間以上先の日付を入力してください。

（4）‌測定日をメールにてお知らせしますので指定された日に試料を山手 4 号館 4F404
メーカー：J-SCIENCE LAB
型

式：MICRO CORDER JM10号室入口にある箱に入れて下さい。

（5）‌測定終了後にメールにてお知らせしますの

導入年度：2011 年度

で測定結果、残余試料を回収して下さい。

（主な仕様）

注）‌吸湿性のある試料はユーザーにてカプセ

測定元素

水素、炭素、窒素

測定精度

絶対誤差

測定範囲

水素

0.5 ～ 400µg

炭素3 ～ 2600µg

窒素

1 ～ 1000µg

ルに封入していただきます。

± 0.3％以内
測定例

未知試料の測定結果を図 1 に記載する。

特徴
依頼分析を以下のように行っている。

（1）	‌1 試料につき 10mg 程度を採取しやすい
サンプル管に入れて下さい。
【補足】通常、1‌回の測定につき 2mg 程度使用します。試料によっては確認のため数回測
定 す る 場 合 が あ る の で、 充 分 な 量 と し て10mg としてありますが、用意できる範囲の試料量でも構いません。

52

機器センターたより

図1

未知試料の測定結果

備考
所外公開はせず、所内専用で運用している。

６．所有設備紹介

蛍光 X 線分析装置
概要
物質に X 線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー（波長）を持つ蛍光 X 線（特性X 線）が発生する。この蛍光 X 線のエネルギーを測定することにより、測定物質を構成する元素の分析（定性分析）を行うことができ、またそのエネルギーの X 線強度から目的元素の濃度を求める（定量分析）ことができる。蛍光 X 線分析装置とは、対象となる試料に X 線を照射し、そこから発生する蛍光 X 線のエネルギーを測定することで、試料を構成する元素の種類や濃度を判断するために用いる装置である。この装置の大きな特徴として、対象試料の範囲が広く、固体・液体・粉末など種々の形態で測定が可能であること、非破壊分析であること、測定作業が簡便で短時間で分析を行えることが挙げられる。
応用範囲は多岐にわたり、金属、鉱物の組成分析の他、食品分析や土壌分析、環境分析でも利用されている。
設備紹介（JSX-3400R Ⅱ）

担当）上田
特徴
CCD カメラ（38 万画素、10.8 mm × 8.2 mm）
で観察しながら試料の分析位置を調整でき、そのデータは測定データと一緒に保存できる。
また、WEEE 指令、RoHS 指令、ELV 指令、
日本の土壌汚染対策法などの有害物質規制に対応している。極微量の Cd、Pb、Hg、Cr などの有害元素の測定が簡単にでき、分析結果報告書作
成ソフトによって、報告書が容易に作成可能である。
測定方法

メーカー：JEOL
式：JSX-3400R Ⅱ

固体試料は X 線照射位置に載せるだけで分

導入年度：平成 20 年度

析可能。試料が粉末や液体の場合は専用のセル（主な仕様）に試料を満たすことで分析ができる。ただし、型検出元素範囲Na ‐ U

セル表面には高分子フィルムが貼られており、X 線発生装置

5 ‐ 50 kV, 1 mA, 50 W

ターゲット

Rh

軽元素の X 線が吸収されてしまうため、軽元フィルタ

4 種自動交換（オープン含む）

コリメータ

1 mmφ/ 3 mmφ/ 7 mmφ

検出器

Si（Li）半導体検出器

試料室サイズ

300 mm（φ）× 150 mm（H）

試料室雰囲気大気または真空

素の感度は低下する。粉末試料の場合は加圧整形器でペレットを作製してもよい。
備考
液体試料の測定をする際は、装置の故障、検出器の性能劣化の恐れがあるため、真空排気は行わないこと。
機器センターたより53

６．所有設備紹介

核磁気共鳴
（NMR）
装置
概要
核磁気共鳴（NMR）とは磁気モ－メントをもつ原子核を含む物質を磁場の中におき、これに共鳴条件を満足する周波数の電磁波を加えたときにおこる共鳴現象である。核磁気共鳴装置はこの共鳴現象を観測することによって、原子の化学的環境を反映した原子個々の情報（どの原子とどの原子が隣り合っているか、原子間の距離がどの程度かなど）が得られるので、化合物の分子構造や組成、物理
化学的性質を分析する方法として様々な分野で日常的に用いられる。
設備紹介（AVANCE800）

担当）加藤（主な仕様）
磁場18.79 T

感度（S/N）

1

プローブ

H-C-N 三重共鳴 TCI 型クライシステム

OS：CentOS 5

H ＝ 8800、13C ＝ 1900

オプローブ
Software：TopSpin2.1

特徴• 溶液の HCN三重共鳴測定が可能• 極低温プローブによる超高感度計測に対応

備考
TCI 型クライオプローブは低温下に保たれた 1H および 13C プリアンプを搭載し、1H、13C
メーカー：Bruker
型

式：AVANCE800

導入年度：平成 25 年度

54

機器センターたよりの高感度測定に最適化されている。

６．所有設備紹介
設備紹介（AVANCE600）

担当）西村（主な仕様）
磁場

14.1T

感度（S/N）

Liquid：1H ≧ 1028

プローブ

Liquid：5 mm H-C-N 三重共鳴
TXI 型
Solid：2.5 mm H-C-N 三重共鳴
CPMAS

システム

OS：CentOS 5
Software：TopSpin2.1

特徴
メーカー：Bruker
型

式：AVANCE600

導入年度：平成 25 年度• ‌溶液の HCN三重共鳴測定が可能（核種固定）• ‌固体の HCN三重共鳴測定が可能（核種固定）• ‌固体の試料体積 15µl
• ‌固体 MAS最高回転周波数 35kHz• ‌長時間低温測定ユニットによる長時間低温測定が可能

設備紹介（JNM-ECA600）

溶液：−50℃、固体：−30℃担当）水川、賣市、長尾
プローブ

Royal、HCNFG3、T10L

システム

OS：Windows7 、Software：Delta5.0.4

特徴• ‌溶液の各種多核測定が可能（低周波数核種を含む）• ‌溶液の HCN三重共鳴測定が可能• ‌長時間低温測定ユニットによる長時間低温測定（−30℃まで）が可能
メーカー：JEOL• ‌液体窒素 30L容器を用いた低温測定が可能

型（Royal：−100℃まで、T10L：−50℃まで）

式：JNM-ECA600

導入年度：‌平成 21 年度（平成 22 年度システム・• ‌予約は 15分単位で、長時間測定優先

ソフトウェア更新）（主な仕様）
磁場14.1 T

感度（S/N）

Liquid（Royal）：1H ≧ 850、
13

C ≧ 330

機器センターたより55

６．所有設備紹介
設備紹介（JNM-ECS400）

担当）水川、賣市、長尾所内専用（主な仕様）
磁場

9.4 T

感度（S/N）

1

プローブ

TH5AT/FG

システム

OS：Windows7 、H ≧ 280、13C ≧ 190

Software：Delta5.0.4
特徴• 溶液の各種多核測定が可能• ‌液体窒素 10L容器を用いた− 100℃までの低温測定が可能• 予約は 15分単位

メーカー：JEOL型

式：JNM-ECS400
備考

導入年度：平成 23 年度

所外公開はしていません。

表1

所有プローブ一覧

装置

プローブ

観測核

照射核

温度範囲

Auto Tune

AVANCE800

5 mm H-C-N TCI 型 cryo

1

H

13

+5～+75℃○

AVANCE600

5 mm H-C-N TXI 型

1

H

13

C,15N

−50～+80℃○

2.5 mm H-C-N CPMAS

1

H,13C,15N

1

H,13C,15N−30～+80℃

×5 mm Royal1

H or 19F

15−100～+150℃○

5 mm HCNFG3

1

H

13

C,15N

−20～+100℃

×10 mm T10L

103

Rh ～ 15N

1H−50～+120℃

×5 mm TH5AT/FG

15

N ～ 31P

1

H or 19F−100～+150℃○

ECA600ECS400C,15N

N ～ 31P（装置やプローブの選択について、不明な点がありましたらご相談ください。）

56

機器センターたより

６．所有設備紹介

ピコ秒レーザー概要
超短パルスレーザーでは、不確定性原理によってパルスの時間幅と波長幅（バンド幅）を同時に狭くすることは相反するが、ピコ秒のレーザーはその両者、つまり時間分解能とエネルギー分解能の両方において高い分解能が得られる。そのためピコ秒レーザーは、分光研究における超高速時間分解実
験の分光用光源として用いられ、吸収、或いは蛍光スペクトルを高い分解能で観測するための重要なツールである。また、パルス幅が短くピークパワーが高いことから、熱影響の少ない精密微細加工を実現できるツールとしても応用されている。
設備紹介（Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS）

担当）上田を任意に出力できる。
（2）‌レーザー加工が可能。（要相談）
加工例：石英ガラス SEM 像（写真 1）‌	蛍光寿命測定システムを構築。（要相談）（3）‌TCSPC モジュール（ソフトウェア含）、受光素子フォトマル（PicoQuant 社製）‌測定例：広帯域青緑色蛍光体 αサイアロン（NIMS 製）、蛍光寿命 46 ns（図 1）
装置の構成

メーカー：Spectra-Physics,Quantronix
型

式：Millennia-Tsunami,TITAN-TOPAS

導入年度：平成 10 年度

ザーを励起光源としたモードロック
Ti：Sapphire レーザーの出力光をシード光と（平成 26 年度 Millennia のみ更新）（主な仕様）
波長

ブロック図を図 2 に示す。CW 半導体レー

して、ポンプ光には Q-Switch Nd：YLF レー
ザーを用い、チタンサファイア再生増幅器から490 ～ 800 nm at TOPAS 400（Main Curve） 1180 ～ 1700 nm at TOPAS 800
パルスエネル

50 mW at 550 nm
（S+I）

ギー

60 mW at 1300 nm（S+I）（RGA 0.7 W at 790 nm）（Pump（YLF）9 W）

パルス幅＜ 5 ps

繰り返し

1 kHz

ピコ秒赤外光（790 nm）を発振させている。
その再生増幅器の出力を光学系の切り換えによ っ て、 赤 外 光 用 OPA（TOPAS 800：
Travelling ‐ wave Optical Parametric
Amplifier of Superfluorescence 800））、或いは2 倍波（395 nm）の後、紫外光用 OPA（TOPAS
400）を励起し、紫外から赤外のレーザー光を発振させることができる。
 ‌発振波長：原理的には、表 1 に示す波長が（1）特徴得られる。TOPAS 800 からシグナル光、（1）‌紫外光から赤外光の広範囲に渡って、波長

ア イ ド ラ 光 が 得 ら れ、 外 付 け の BBO

機器センターたより

57

６．所有設備紹介
Crystal を取り替えることでそれぞれの 2
倍 波 発 生（SHS,SHI） や、 ポ ン プ 光（790nm）とシグナル光、或いはアイドラ光との和周波発生（SFS,SFI）、シグナル光、アイ ド ラ 光 そ れ ぞ れ の4倍 波 発 生（FHS,FHI）、さらにはシグナル光とアイド
ラ光との差周波発生（DFG）によって、紫外光から赤外光のレーザー光を得ることが写真 1できる。また、TOPAS 400 からも同様に
104

シグナル光、アイドラ光、それぞれの 2 倍波発生を得ることができる。波長帯によっ入力することで希望の波長を出力できる。
（2）
 ‌パルス幅（時間分解能）：オプティカルディレイステージを利用した自己相関法で

102

101

100

R es ids .

LabView による自動測定を行った。その結果、約 2.7 ps（図 3）であった。

ȫ㸸QVȮ㸸

103

Intens ity [Counts ]て光軸調整が必要となるが、PC に波長を

3
0
-3
75

表１

発振波長（nm）

TOPAS 800

1180 ～ 1700 Signal

490 ～

800

Idler

2385 ～ 1475 Idler

2030 ～

780

SHS

590 ～

850 SHS

300 ～

400

SHI

1180 ～

740 SHS

245 ～

355

SFS

474 ～

538 SHI

510 ～

395

SFI

593 ～

515

FHS

295 ～

425

FHI

500 ～

370

DFG

2400 ～ 10500

図２
58

150

機器センターたより

ブロック図

225

300

time [ns]

375

450

図１

‌
広帯域青緑色蛍光体
αサイアロン（NIMS）

図３

パルス幅の測定

TOPAS 400

Signal加工例



６．所有設備紹介

蛍光分光光度計
概要
蛍光分光光度計は、励起光を試料に当て、放出される蛍光強度やスペクトルを測定して物質の定量、定性分析を行う装置で、吸光分析である分光光度計よりも非常に高い感度で測定が可能である。観測側（蛍光側）の分光器の波長を蛍光波長に固定し、励起側の分光器の波長をスキャンすると励起スペクトルが得られる。励起側の波長を固定（最も強い蛍光を生じる励起波長）し、観測側の分光器の波長をスキャンすると蛍光スペクトルが得られる。また、励起側分光器と観測側分光器の両方の波長をスキャンさせて測定できる装置もあり、簡単に蛍光励起スペクトルの測定が可能である。

設備紹介（SPEX Fluorolog 3-21）

担当）上田

光源

450 W  Xe ランプ

スキャンスピード

最大 150 nm/sec

その他

リファレンス検出器有特徴• ‌米国の SPEX社製モジュール方式で、光源部、励起側分光器、試料室、観測側分光器、光検出部、制御部から構成されている。本装置の光学系概略図を図 1に示す。
メーカー：HORIBA
型

式：SPEX Fluorolog 3-21

導入年度：平成 8 年度
（平成 21 年度 更新、
平成 25 年度 ソフトウエア Win 7 化）
（主な仕様）
波長範囲

Ex. 250 ～ 1000 nm
Em.
UV-VIS：290 ～ 800 nm
IR：500 nm ～ 1.6 µm

波長精度± 0.5 nm検出方式

フォトンカウンティング
検出

励起光分光器

ダブルモノクロ分光器

信号対雑音比率

4000：1

光電子増倍管UV-VIS：R928（電子冷却）
IR：R5509-73（液体窒素冷却）

図1

光学系概略図機器センターたより

59６．所有設備紹介• ‌フォトンカウンティング検出によって、超微グラフから、S/N 比 8452：1 となった。

弱蛍光測定が可能である。
• ‌	近赤外（～ 1600 nm）の領域まで測定できる
光電子増倍管も備えており、紫外可視用検出器との切換機構は本装置独自のもので、ワン（2）近赤外 － 蛍光励起スペクトル

タッチで切り換えることが可能である。

（3D マトリックススキャン）• ‌	励起側はダブルグレーティング分光器となっレーザー媒質としてよく知られる Nd：YAGており低迷光を実現している。

の結晶（Y3-xNdxAl5O12）を用いて、3D マトリッ• ‌	高速スキャンによって測定時間が短縮でき、

クススキャン測定を行った。この結晶は、730

時間とともに劣化する試料についても、より

nm と 800 nm 付近の光を吸収して基底状態か信頼性の高いデータが得られる。

ら高いエネルギー準位に遷移し、その後速い無• ‌	装置の制御やデータ収集は、科学分野で広く

放射遷移を経て 1064 nm でレーザー発振が起利用されている「Origin」ベースのソフトウ

こる。励起波長を 700 nm ～ 900 nm、蛍光波

ェア「FluorEssence」によって、操作が簡単

長を 1000 nm ～ 1100 nm として自動測定した

便利になっており、蛍光励起スペクトル測定

結果を図 3 に示す。3D 表示によって、励起波（3Dマトリックススキャン）も容易である。

長に対する蛍光のピーク波長が 1064 nm であることがよく分かる。なお、高速スキャン化に測定例

よ っ て、 測 定 時 間 は 約 70 分（Increment：1（1）
水のラマンスペクトルnm）であった。

蛍光分光光度計の感度の評価方法として、水のラマンスペクトルの S/N 比（信号対雑音比率）の値が用いられ、ピークシグナル値−バックグランド値
バックグランド値で定義されている。バックグランド値とはラマン光シグナルが現われない波長 450 nm の時の値である。測定結果を図 2 に示す。

図2

60

水のラマンスペクトル

機器センターたより

図3

蛍光励起スペクトル

６．所有設備紹介

円二色性分散計
概要
円二色性分散計は光学活性分子の立体構造（相対～絶対配置、立体配座、生体高分子の高次構造）を解析する手段として利用される。分光器から出た光は偏光子で直線偏光にされ、円偏光変調器で左右円偏光が交互に作られ試料を通過する。この時、試料が光学活性物質であると円偏光の不等吸収が起こり（この現象を円二色性または CD と呼ぶ）、その左右円偏光の差吸光度⊿A（通常は楕円率θで表される）が観測される。楕円率とは直線偏光を光学活性物質の吸収波長で通過させると楕円偏光になるが、その楕円の短軸長軸の正接角θをもって定義され、⊿A が小さいとθ=33 ×⊿A が成り立つ。CD 測定でのフルスケールはθ表示（単位 mdeg）である。
設備紹介（J-720WI）

担当）水川、賣市、藤川

レスポンス

0.5msec ～ 16sec

走査速度

1 ～ 5000nm/min

フルスケール± 200mdeg（感度 100mdeg の時）± 2000mdeg（感度 1000mdeg の時）

縦軸分解能

0.01mdeg（感度 100mdeg の時）
0.1mdeg（感度 1000mdeg の時）

RMS ノイズ

185nm   0.05mdeg
200nm   0.04mdeg

メーカー：JASCO
型

式：J-720WI

導入年度：1995 年度（主な仕様）
光源

450W Xe ランプ水冷方式

検出器

ヘッドオン型光電子増倍管

変調器

ピエゾエラスティックモデュ
レータ

測定波長範囲165 ～ 1100nm

波長正確さ

165 ～ 180nm  ± 0.2nm
180 ～ 250nm  ± 0.1nm
250 ～ 500nm  ± 0.3nm
500 ～ 800nm  ± 0.8nm

500nm   0.035mdeg
ベースライン

0.2mdeg/hr

安定性
UV 測定

シングルビーム測定
測光レンジ 0 ～ 5Abs
測光正確さ± 0.01Abs

特徴
以下の付属品を所有している。
• ペルチェ式恒温装置• 温度コントローラー• タンパク質二次構造解析プログラム• クライオスタット

800 ～ 1100nm ± 2.0nm
バンド幅0.1 ～ 10nm

スリット幅

1 ～ 3000µm

機器センターたより

61６．所有設備紹介

紫外・可視・近赤外分光光度計
概要
測定する物質がどの程度光を吸収するかを波長分布として測定する装置である。実際は、透過率を測定しソフトウエアで計算によって吸光度を求めており、物質の同定や性質、あるいは濃度（定量分析）を調べることができる。付属装置によって、半導体・薄膜・ガラスやフィルムなどの固体試料の反射率・透過率測定ができる。
設備紹介（UV-3600Plus）

担当）上田

付属品

フィルムフォルダ
粉末試料ホルダ
メッシュフィルター
ミクロ用マスク付セルホルダ
超ミクロセルホルダ
積分球付属装置（220 ～ 2600nm）
鏡面反射測定装置（入射角 5°相対反射）
電子冷熱式恒温セルホルダ

メーカー：Shimadzu
型（7 ～ 60℃）

式：UV-3600 Plus

導入年度：平成 29 年度

特徴（主な仕様）• 測定波長領域が広い。

波長範囲

185 nm ～ 3300 nm

分光器

グレーティング式ダブル
モノクロメータ

検出器

UV/VIS 領域：PMT
NIR 領域：冷却型 Pbs, InGaAs

波長正確さ

UV/VIS 領域：± 0.2 nm 以下
NIR 領域：± 0.8 nm 以下

分解能

0.1 nm min

ノイズ＜ 0.00003 Abs @1500 nm

ベースライン スリット 5 nm
平坦度3300～3000 nm：＜±0.005 Abs
3000 ～ 200 nm：＜± 0.001 Abs
200 ～ 185 nm：＜± 0.004 Abs

62

機器センターたより• 光源にヨウ素タングステンランプ（可視域）と重水素ランプ（紫外域）を使用し、測定波長に応じて自動切り換え。
• ３つの検出器を搭載し、測定波長全域で高感度化。
• 高性能ダブルモノクロメータにより、高分解能（0.1 nm）、超低迷光（＜ 0.00005 ％）。

６．所有設備紹介

フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
概要
分子や固体結晶を構成する原子は化学結合の状態を反映した振動数で振動している。その固有振動数は経験則や量子化学計算により体系的に理解されており、赤外領域に現れるこれらの共鳴吸収を調べることで物質の局所構造を詳しく解析することができる。主な用途として、単分子膜等における微弱な赤外信号の観測や、金属配位結合やイオン結合、分子全体の集団運動等の低波数振動、結晶の格子フォノン等の解析が挙げられる。

設備紹介（IFS 66v/S）

担当）賣市
特徴
本装置は検出感度と波長安定性に優れた研究
用フーリエ変換赤外分光器（FT-IR）であり、光学系全体を真空排気できる筐体の採用により、汎用装置では検出困難な遠赤外領域の信号を含めた広い波長領域のスペクトルを最高の精度で測定することが可能である。
測定方法
固 体 試 料 測 定 の た め KBr 錠 剤 形 成 装 置

メーカー：Bruker（φ5 mm ダ イ ス、 ハ ン ド プ レ ス。 波 長 範 囲

型

式：IFS 66v/S

300 cm−1 以上、CsI を用いた場合は 150 cm−1

導入年度：平成 16 年以上の測定に活用できる）、フィルム測定用ホ
ルダー、反射率測定用ホルダーを用意している。

（主な仕様）

測定は透過または反射配置。液体セル、ATR
波長領域（cm ）Far-IR Mylar

20 – 500

KBr

375 – 7000

CaF22800 – 12000

Quartz2800 – 12000

検出器

検出領域（cm−1）

Bolometer

>5

DTGS

10 – 4000

MCT

420 – 8000

光源

波長領域

Mercury

遠赤外Globar

中赤外

光学系等のメーカーオプションは使用者個人で準備が必要である。
参考データ
100

100

10-1
10

-2

10

-3

10-4
0
図

Globar Lamp
KBr Pellet
CsI Pellet
200
400
600
Wavenumber (cm-1)

Transmission

Beam Splitter

Intensity

−1

10-1
10-2
10-3

‌Globar 光源の放射強度と KBr,CsI ペレットの透過スペクトル
機器センターたより

63６．所有設備紹介

顕微ラマン分光装置
概要
ラマン分光は赤外分光と共に最も広く応用されている振動分光法である。２光子過程であるラマン散乱は１光子過程の赤外吸収と光学的な選択律が異なっており赤外吸収と相補的な情報を与えることから両者は併用されることも多い。ラマン信号は通常微弱だが励起光が中間状態と共鳴するときに顕著な増幅をしめす。この効果を利用することで混合物質中の目的物質を選択的にキャラクタリゼー
ションする等、赤外分光では不可能な高度な観測が可能である。

設備紹介（inVia Reflex）

担当）賣市

冷却器

冷却方式

ヘリウム連続フロー（試料室は真空）温度領域

4 ～ 350 K

特徴
本装置は近赤外から紫外に近い領域までの複数の励起レーザーを装備し、多数の励起光を駆使した共鳴ラマン測定が可能である。特に、最新のCCD カメラの採用により、近赤外励起光を利用する蛍光を回避しながらのラマン観測が効率化され、メーカー：RENISHAW

従来のラマン測定は難しいとされてきた発光性クロ型

式：inVia Reflex

モファーを含む多くのバイオ系試料なども取り扱う

導入年度：平成 21 年度

ことができる。ユニークな共焦点光学系により低背（主な仕様）

景雑音と高感度とが両立され、高い空間分解能をレーザー 波長

488, 532, 633, 785 nm

生かし２次元あるいは３次元マッピング測定も可能

分光器

シングルモノクロメータである。最大の特徴は波長校正、光路調整等の多分光器（f=250 mm）

検出器

分解能

1 cm−1

測定範囲

100 ～ 3200 cm−1

CCD

Back-illuminateddeep-depletion（578 × 386 Channel）

顕微鏡

顕微鏡

Leica 製（アダプター使用
によりMitutoyo 社製長作
動距離対物レンズ使用可）

対物レンズ 5, 10, 20, 50, 100
倍率
空間分解能 1 µm（lateral）, 2 µm（x100）（depth）
64

機器センターたより

くの作業がすべて自動化されたユーザーフレンド
リーな操作環境にあり、装置操作の習熟に時間を費やすことなく有効なデータを素早く収集可能である。
測定方法
信号検出は実体顕微鏡を通じた後方散乱配置で行う。顕微鏡観測できる物質は形態を問わず試料として用いることができるが、散乱光が拡散されにくい平坦な面を持つ試料が有利。低温測定に
は熱伝導型の光学クライオスタットを使用する。
試料空間を脱気するため揮発性試料の測定はキャピラリーに封じるなどの利用者による工夫が必要。

６．所有設備紹介

超伝導磁石付希釈冷凍機
概要
希釈冷凍機とは、3He と 4He を混合するときに生じる吸熱効果を利用して、絶対零度（−273 ℃）
近くまで温度を下げられる機器である。この希釈冷凍機を超伝導磁石に組み込み、有機導体、半導体、超伝導体の極低温下における電子物性研究に用いられる。
設備紹介（Kelvinox 400）

担当）高山

所内専用

メーカー：Oxford
型

式：Kelvinox 400

導入年度：平成 12 年度（主な仕様）
最低温度

21 mK

冷却能力

400 µW（100 mK）

最大磁場

15 T
（16 T：ラムダプレート使用時）特徴• ‌全自動ガスハンドリングシステム（Kelvinox
IGH）の採用により、冷却工程が自動化されている。
• ‌冷却には、液体ヘリウム 150 ℓと液体窒素
100 ℓ程度が必要。また 4、5日に一度、50 ℓ程度の液体ヘリウムが必要。
備考

利用は、「希釈冷凍機の使用経験があり、セルやプログラム等の必要な装置の組み込みが行えること」が条件。

機器センターたより65６．所有設備紹介

低温冷媒の供給施設概要
低温冷媒の供給施設は明大寺地区、山手地区それぞれにあり液体ヘリウム及び液体窒素を供給している。明大寺地区、山手地区のヘリウム液化機は順調に稼働しており、両地区における液体ヘリウムの供給体制は確立され、現在も安定した供給を維持している。
設備紹介（明大寺地区極低温施設）
担当）高山、浅田

所内専用（d）その他（主な仕様）
液体ヘリウム貯槽

4000 ℓ

回収圧縮機

40 Nm3/hr、50 Nm3/hr

ガスバッグ

40 m3

ガスホルダー

50 m3

長尺カードル60 m3 × 36 、75 m3 × 25

バッファータンク10 m3 × 2

（2）		液体窒素関係（1）液体ヘリウム関係

液体窒素自動供給装置× 4（a）液体ヘリウム自動供給装置× 2（うち 1 台は UVSOR 利用者専用）（うち 1 台はセルフ供給用）
特徴（b）ヘリウム液化機

ヘリウム液化機の心臓部である膨張タービン

メーカー：Lindeの効率が良くなり、液体窒素予冷が無くてもヘ型

式：L280リウムの液化ができる最新のシステム構成と導入年度：平成 23 年度

なっている。また、液化圧縮機の省エネ化が進（主な仕様）

み製造時におけるランニングコストも減少した。

液化率

187 ℓ /hr
（純ガス、液体窒素使用時）

消費電力

3 kW

（c）液化圧縮機
メーカー：Kaeser
型

式：DSDX302（主な仕様）
消費電力

66

160 kW

機器センターたより

現在は、液体窒素予冷無しの運転をメインに行っており、60ℓ/hr の液化率を維持している。

６．所有設備紹介
設備紹介（山手地区極低温施設）
担当）水川、賣市

所内専用（c）液化圧縮機
メーカー：Kaeser
型

式：OSD171

導入年度：平成 16 年度（主な仕様）
消費電力90 kW（d）その他（主な仕様）（1）液体ヘリウム関係（a）液体ヘリウム自動計量装置（b）ヘリウム液化機

液体ヘリウム貯槽

5000 ℓ

回収圧縮機

40 Nm3/hr × 2

ガスバッグ

35m3、28m3

長尺カードル75 m3 × 50

バッファータンク6 m3

メーカー：Linde型

式：TCF-20（2）液体窒素関係

導入年度：平成 16 年度

液体窒素自動供給装置× 2（主な仕様）
液化率42 ℓ/hr（純ガス、液体窒素使用時）

消費電力

1.5 kW

機器センターたより

67

７．交流
７．交流

所外利用者アンケート報告
平成 30 年度に施設利用申請を頂きました方を対象に、アンケートを実施いたしました。
お忙しい中ご協力頂き、ありがとうございました。
回答数 56 件、配布数 88 件（回収率 64％）
Q1．機器センターの施設利用（ナノプラットを含む）に申請したのは何度目ですか？

どこで知りましたか？

初めて
14％

• 分子科学研究所または機器センターのホームページをみて （1 件）• ナノプラットフォームのホームページをみて （1 件）

５回以上
42％

• 知人から聞いて （5 件）• その他 （1 件）

２〜４回
44％

中村先生から教えていただいた

Q2．当センターの施設利用を利用した理由を２つまで選んでください。
装置の性能がよい

26
2装置の調整がしっかりされている

2
25

所属機関から近い

927

使用料金が無料
115

旅費が支給される

18
1

測定のサポートが受けられる
その他• 所属機関に装置が無い• Q-band の時間分解が測定できる

3

0

5

10

15

20

25

30

35
【件】

• 液体ヘリウムが利用できる

Q3．申請・事務手続きは分かり易かったですか？
非常に分かり易い
分かり易い
ふつう
やや分かり難い
分かり難い

10 件
31 件
14 件
1件
1件

やや分かり難い2％• 「大学連携研究設備ネットワーク」の研究室登録の方法がやや分かり難かったです。
（特に、申請先の大学委員連絡先一覧に
メールアドレス等の連絡先がなかったため）• 当研究所は大学連携研究設備ネットワークに入っていなかった
ので、申請の際に大変お手数をおかけしました。岡崎 3 機関での機器利用に関しては改善の余地があると感じます。

68

機器センターたより

分かり難い
2％

ふつう
25％

非常に
分かり易い
18％

分かり易い
54％

７．交流

７．交流

Q4．予約システムは使い易かったですか？
8件
35 件
9件

使い難い
2％
やや使い難い
2％

ふつう
17％

1件

非常に
使い易い
15％

1件
3件

使い易い
65％

• ‌新しいシステムになってから、まだ慣れていないことと、前のシステムと比較すると「重い」です。
• ‌大学連携ネットワークでのマシンタイムの予約の入力が難しいです。予約画面や装置の画面にたどり着くのが一苦労という感じ。

Q5．寒剤（液体窒素・液体ヘリウム）の供給体制はどうでしたか？
どちらでもない
24 件

5％

13 件
2件

満足
33％

非常に
満足
62％

0件
0件
18 件

Q6．共同利用機器の利用に満足できましたか？
30 件

ふつう
2％

やや不満
2％

24 件
1件
1件
0件
1件

満足
43％

非常に
満足
54％

•【電子スピン共鳴装置】Bruker E680

おおむね非常に満足ですが以下、御願い点。Qband（マイクロ波 CW、時間分解用、光照射窓付き）の共振器を使いたいのですが、バックグランドが大きくて測定にならない新しく導入されたレーザーの安定性に期待。
•【核磁気共鳴装置】JEOL JNM-ECA600

期間の途中から使用時間に関して、制限がかかり充分な測定ができなくなったから。

機器センターたより

69

７．交流

７．交流

Q7． 今後の機器センターに期待することを教えてください。具体的にあれば装置名なども記入
してください（複数回答可）。
•【電子スピン共鳴装置】Bruker E680 （3 件）•【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS IV （2 件）•【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-2 （2 件）•【電子顕微鏡】電界放出形走査電子顕微鏡（SEM）/JEOL JSM-6700F•【電子分光装置】Omicron EA-125•【電子スピン共鳴装置】Bruker E500•【電子スピン共鳴装置】Bruker EMX Plus （2 件）
ラピッドパッセージモード、矩形型 TE104 モードキャビティ•【電子スピン共鳴装置】Bruker E680 （2 件）
Q-band のマイクロ波増幅器およびパルス用共振器（3mm φ対応）、
‌Q-band 共振器（マイクロ波 CW、光照射窓付、時間分解仕様）、
磁場測定器•【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS （2 件）
イメージ・インテンシファイア CCD（ICCD）
当時は波長可変を使えなかった•【単結晶 X 線回折装置】Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
加熱ガス吹付式高温装置•【単結晶 X 線回折装置】微小結晶／ Rigaku Hypix-AFC
He 循環型冷凍機•【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog 3-21
低温で測定できるようなクライオスタットの導入•【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA Reflex
ノッチフィルター

現在所有する機器の更新

9

現在所有する機器のオプションの充実

11

新規機器の導入

12

技術職員によるサポートの充実

7

特になし

23
2

その他

4

0

5

10

15

20

25【件】

• ‌今回建物改修で装置移動があるとのことなので、その際装置感度の納入時との比較校正を行っていただきたい。
• ‌サポートしてくださった技術職員の方に何らかの業績として残るようにはできないでしょうか。
• ‌メーリングリスト等による申請時期や最新機器情報やご担当者のお知らせをいただきたい。
• ‌物理特性測定装置 Quantum Design 社製 PPMS （5 件）• ‌単結晶 X 線回折装置（Cu 線源）• ‌卓上粉末 X 線回折装置• ‌磁気特性測定装置 Quantum Design 社製 MPMS3• ‌二次イオン質量分析装置• ‌半導体励起ナノ秒 YAG レーザー／ナノ秒励起波長可変光源• ‌動的粘弾性試験装置• ‌フォトルミネッセンス測定装置• ‌メスバウアー分光装置 ( 高温、低温 )• ‌ナノインデンター• ‌動的粘弾性測定装置• ‌半導体微細加工設備（ドライエッチング装置、プラズマ CVD 装置など）

70

機器センターたより

７．交流

７．交流

Q8. その他ご要望やご意見がありましたら、自由にお書きください。
•‌
いつも技術職員の方々が親切に対応してくださり、感謝しております。

•‌磁気関係の測定をする（極低温棟）時に分光光度計を使用したいことがある。南実験棟に高精度の装置はあるが、何度も往復するのはたいへん不便である。簡易型の分光
光度計を極低温棟に設置してほしい。

••‌特にありませんが、利用させていただいていることに感謝しております。
‌皆様、丁寧に指導していただけますので大変助かっております。ありがとうございます。

•‌普段と違う設定、新しい実験を相談した時に、装置担当の皆様が非常に協力的で助かりました。（他所では嫌な顔をされることが多かったのですが。）これからも変わらず
共同利用を続けて頂けることを望んでいます。

•‌いつもお世話になっています。2019 年に共同で研究していたテーマで一つ論文を出すことができました。感謝申し上げます。私は総研大出身でもあり，分子研は懐かしい場所でも有ります。その場所でお世話になった先生と共同で仕事をさせて頂くのは，いつまでたっても一人前に成れていないと感じることも有ります。しかし，それ以上にこんな素晴らしい研究環境を活用でき，サポートも頂き，本来は未知な領域に対して専門家からサポートを頂けると言う，普通の研究者ではあり得ない，研究者とし得をしていると感じるようになりました。現勤務先の学生を連れてきて，異なる環境をみせる，世界でもトップクラスの研究環境を見せることは，学生にとっても良い経験になります。これからも分子研のような共同研究機関が国立機関として存在すること
は，科学技術の発展と次世代の科学技術を支える若い学生諸君の教育に貢献していると心から感じています。

•‌いつも大変お世話になっております。今後ともどうぞ宜しくお願い申し上げます。

•‌岡崎 3 機関での機器利用に関しては、改善の余地があると思います。ちなみに、基生研の機器を利用しておられる分子研の方もいらっしゃいますが、特に煩雑な手続きは必要ないそうです（基生研分析室談）。どうかよろしくお願いします。

•‌日本の電子スピン研究における、世界的に高いアクティビティーを維持していくために、全国で実質的に唯一稼働している高磁場 ESR 装置 Bruker E680 の更新が、重要な課題だと感じます。

•‌技術職員の方々にはいつも丁寧にサポートいただいており、とても感謝しております。
特に、SQUID にてレーザー光照射実験をできるようになったのは大変ありがたいです。今後も、機器センターの様々な設備を活用させていただき、新規化合物の光や温度への応答性を評価できればと思います。特に、最近研究室で合成している新しい化
合物には高温で構造転移を示すものが増えてきており、結晶構造を決める際に CCD-1の窒素吹付装置では到達できない温度領域のものがあります。加熱ガス吹付式高温装置の追加を（可能であれば検出器の更新も）ご検討いただけますと幸いです。また、
熱分析装置の近傍に粉末 X 線回折装置がありますと、熱測定前後のサンプルの構造変化を即座に評価できるため大変有り難いです。スペースやコストの問題もあります
ので、卓上型装置を設置いただけると助かります。分光装置の温調オプション等に関しましても、ぜひご検討いただければと思います。学内の共有設備の新規導入や更新も困難な状況にある中、研究の幅を広げ、さらに質を高めたいとの思いで様々な要望を記載させていただきました。どうぞよろしくお願いいたします。

機器センターたより

71

７．交流

７．交流

•

‌前期分の申し込みが、4 月にならないと WEB 上でできないようです。3 月に申し込•

時々、実験しに訪れる度に、変化（改善）に気づきことがあり、それを楽しみにして‌みができるようになれば便利です。
います。平成 31 年度前期共同利用研究（機器利用）の申請結果が、初めて「条件付採択」となったことについて、少しショックを受けました。装置管理者様とは良くコ
ミュニケーションをとっていますし、今回の申請内容も事前に読んでいただきました。
•‌きちんとメンテナンスされており、研究進展のため、大変助かっております。今後も、是非、このような提供を継続してほしいと思います。

•‌初めての申請をさせていただき、測定機器の情報をお教えいただき、誠にありがとうございました。今回は測定まで実施することができず、技術相談に終わってしま
いましたが、ぜひ次回は測定をさせていただきたいと存じます。メール等でやり取りをさせていただき、大変助かりました。ありがとうございました。

•‌今回、蛍光分光光度計 HORIBA SPEX Fluorolog 3-21 の使用に際し、研究室で所有している液体窒素用クライオスタットを持ち込んで測定を行いました。液体窒素温度に下げるだけでも、発光強度やスペクトル形状に違いが現れ、室温では得られないデータが得られることが分かりました。毎回大学から運搬するのは大変なので、低温で測定出来るようなクライオスタットを導入して頂けると大変有り難い。

•‌Bruker E680 オプション、時間分解 ESR 計測用ナノ秒ポンプレーザーを導入していただき、ありがとうございました。

•‌ESR 装置の充実度は国内随一である。しかし、近年の ESR 装置の進歩は目覚ましく、
私が一昨年までパーマネント教員として在籍したドイツと比べると、分子研の装置は一世代前になりつつあり、早急な更新あるいはオプションの増設が期待される。
特に E680 の Q-band パルス装置は、マイクロ波ブリッジおよびそのコントローラー
が Bruker の初期モデルであり、試料ごとの調整（チューニング）にはかなりの経験と専門的知識を要する。最新の Q-band パルスシステムでは、汎用の E500（X-band装置）のように、ESR を専門外とする者にもフレンドリーなシステムとなっており、実際にドイツでは新しく入った学生でも容易に使いこなせた。また、近年世界的にタンパク質など生体系の ESR による構造解析が盛んであるが、最新の Q-band パル
ス装置では数時間で終わる測定でも、一世代前のものでは半日から 1 日を要する。
ESR の需要は近年増しており、早急な対応を分子研に期待する。

•‌ピコ秒レーザーを用いた発光測定システムは、短寿命の発光の減衰を観測するには非常に有用である。しかし近年、有機 EL など発光材料に対して、ある特定の寿命だけでなく、時々刻々と変化する発光スペクトル（波長依存性）などを明らかにすることは非常に重要となってきている。現在の分子研が提供する発光測定システム
では、レーザー照射後の任意の時間でのスペクトルを観測するために、発光波長をスキャンすることが容易でない。イメージ・インテンシファイア CCD（ICCD）を用いればサブナノから数ナノ秒の時間分解能を持つ光吸収や発光スペクトルを容易に測定する事ができ（発光の波長依存性と時間依存性を瞬時に調べることができ）、
非常に充実した時間分解吸収・発光測定システムとなると期待できる。

•‌従 来 の 微 小 結 晶 用 の Rigaku Hypix-AFC も 良 い 装 置 で す が、 最 新 の XtaLAB
Synergy-R などの X 線構造解析装置はもっと強力で感度が良く、微小結晶でも短時間で測定出来るようなので、共同利用機関として、CCD-1、2 の更新の際に導入を検討して下さい。

72

機器センターたより

７．交流

•

７．交流

大変お世話になっております。サポートも厚く大変ありがたい限りです。いろいろ申‌
し上げるのは恐縮なのですが分子研でないと現在できない実験なのでぜひよろしくお願いいたします。要望のところに書かせていただきましたが、（1）レーザーの安定性の件、(2）Q-band 共振器の件、（3）磁場測定器の件、(4)E680 のデータ取り込みの件のうち、（2）について補足させていただきます。現在の共振器（マイクロ波 CW
モード；光照射窓付き時間分解 ESR 用）は励起波長が 450nm 以下ですと巨大なバックグラント信号のため標準サンプルさえも信号が取れない状況です。X-band と組合わせて測定することで非常に有用です。
（現在、金属錯体の励起状態の実験をさせていただいておりますが、ゼロ磁場分裂が大きいため、周波数の異なる装置の組み合わせが必須です）Q-band の時間分解のような実験は現在の日本ですと分子研でしかできないのでぜひご検討いただければありがたいです。
（4）については短期的には難し
いと思うのですが装置のメモリ（SpecJet）から PC への転送時間が長いために、実質の測定時間が長くなってしまっています（以前、首都大学東京の同様の装置では各段に早くなっていました）。更新と申し上げたのは、この部分だけ、遠い将来でも更新できたらありがたいかなと思ったことをそのまま申し上げました。勝手なことで申し訳ございません。
（2）については測定できるかできないかなのでぜひご検討よろし
くお願い申し上げます。長文失礼しました。よろしく御願い申し上げます。

•‌機器のメンテナンスもしっかりされており、技術職員の方の知識も豊富で、いつも有意義な議論をさせていただき大変助かっております。今後ともナノプラットフォームの事業が継続できることを強く望んでおります。

•‌事務手続きに関して、丁寧にご指導いただいたのでとてもわかりやすかったです。
また装置利用時には担当の方が一緒についていてくださったので、初めての利用でも有意義な測定が出来ました。ありがとうございました。

•‌
今後ともよろしくお願いいたします。

•

年度末の時期にご対応いただきどうもありがとうございました。
‌•‌Bruker EMX plus ESR 装置を使用して、これまで行われたことのない、電界印可ESR 実験を目的として施設利用させていただいた。機器センターに設置されていた
電界印可用のソースメータが使用でき、それを用いた測定系のセットアップについては、分子研の中村敏和、浅田瑞枝、藤原基靖の各氏のご協力をいただき測定が実現できた。また EMXplus の使用法については、藤原基靖、伊木志成子の両氏にご教示いただいている。これらのサポートに感謝します。

•

仮眠室もしくは仮眠スペースなどが施設内にもし在りましたら大変助かります。
‌•‌いつもたいへんお世話になっております。装置の整備や寒剤の供給体制がしっかりしており、安心して測定ができます。スタッフの皆様も親切で利用しやすいです。
今後も利用したいと思います。

機器センターたより

73

７．交流

７．交流

所内利用者アンケート報告
分子科学研究所の方を対象に、アンケートを実施いたしました。
お忙しい中、ご協力頂きありがとうございました。
回答数 14 件、配布数 29 件（回収率 48％）
非常に
使い易い
9％

Q1．予約システムは使い易かったですか？
1件
5件
5件
0件

ふつう
45％

0件

使い易い
45％

3件

Q2．寒剤（液体窒素・液体ヘリウム）の供給体制はどうでしたか？
非常に良い

5件

良い

5件

ふつう

1件

あまり良くない

0件

良くない

0件

使用しなかった

3件

ふつう
9％

良い
45％

非常に良い
45％

Q3．共同利用機器の利用に満足できましたか？

74

非常に満足

3件

満足

7件

ふつう

1件

やや不満

0件

不満

0件

利用しなかった

3件

機器センターたより

ふつう
9％
非常に満足
27％
満足
64％

７．交流

７．交流

Q4．今後の機器センターに期待することを教えてください。
具体的にあれば装置名なども記入してください（複数回答可）。

• 【円二色性分散計】JASCO J-720WI• 【電子スピン共鳴装置】Bruker‌E680
Q-band アンプ• 【核磁気共鳴装置】Bruker‌
AVANCE800
分光器の更新 AVANCE → AVANCEIII

現在所有する機器の更新

1

現在所有する機器のオプションの充実

2

新規機器の導入

4

技術職員によるサポートの充実

3

0

特になし

5

その他

1

0

5

•

新しく着任された方向けに予約システムに関する説明会を開催して欲しい•‌集束イオンビーム装置•

ESR イメージング装置•

大気中光電子分光装置 理研計器 AC-3

•

10
【件】

時間分解吸収分光解析システム（ピコ秒～ナノ秒の時間領域における過渡吸収スペクトルを測定）

機器センターたより

75

７．交流

７．交流

Q5. その他ご要望やご意見がありましたら、自由にお書きください。
•

各‌ G 所有で，かつその G が共用化に前向きの機器に関して所として運用することを（例えば今年度から共用化した魚住 G の TEM のように）積極的に進めてはどうでしょ
う？

•

現有の
‌
CD 分散計は古く性能的にも現在のものよりも劣るので，更新していただけたらと思う。その際、（他の共同利用機関にもないので）長波長に対応したもの（2.5μmくらいまでの近赤外まで対応したものが市販であります）いただけると研究対象が拡がります。また、現有の集束イオンビーム装置は用途が極めて限られるので、微細加工用に導入していただけたらと思います。

•‌装置を管理されている技術職員と各グループの研究者との連携が重要。各グループ
でどのような測定が行われているのかなどを技術職員が把握し、装置のアップデー
トやオプションの追加などについて分子研全体で考えていく体制が必要だと思います。個人的には、藤原さんと多目的 XRD の選定をしたことで非常に有意義な経験ができ、実際に他の研究機関には無い特別仕様の装置として導入できることになりました（9 月導入予定）。

•‌Q4 にも書きましたが、予約システムは慣れてしまえば問題ないのですが、着任したばかりの方にとってはややこしく感じてしまうようです。年度始めに説明会を開催
すれなどの配慮があるべきだと思います。

•‌研究室が 5 月末に本格的に立ち上がりますので、それ以降は積極的に活用させていただこうと思っています。液体窒素供給装置、元素分析、ESR、SQUID、FT-IR、MS、SEM などを利用させていただく予定です。上記で時間分解吸収分光解析システ
ムの導入希望を書いていますが、これは分子の励起状態ダイナミクスを調べるための有力な装置ですが、高価なので、機器センターで導入して共用機器としていただ
けると、（私を含めて）関連研究分野の研究者は喜ぶのではないかと考えました。

76

機器センターたより

７．交流

一般公開２０１８
10 月 20 日（土）分子科学研究所一般公開が

酸素、アルゴンガス等を風船に入れ、液体窒素

開催され、過去最高の 3800 名以上にご来場いで冷やすとどのように変化するのかを観測してただきました。機器センターでは、「低温の世もらいました。風船を液体窒素につけると萎ん

界へようこそ」、「電子顕微鏡で観る小さな世界」

でぺちゃんこに、取り出すと膨らんで元に戻るをテーマに実演、展示を行いました。

様子をみて、不思議そうな顔をしていました。
またドライアイスを水に入れモクモクする様子、液体酸素の色や磁石に引き寄せられる様子、アルゴンが液体から固体へと変わる様子なども見てもらいました「消えた文字が復活？」では、紙にフリクショ
ンペンで絵や文字を書いて、消してもらいまし「低温の世界へようこそ」

た。その紙を液体窒素につけてから取り出す

液体窒素を使って「磁気浮上実験」、「気体をと・・・。消したはずの絵や文字が、ふぅっと

冷やしてみよう」、「消えた文字が復活？」、身浮かび上がる様子は、見ていて楽しい不思議な

近では体験できない不思議な現象を体験しても現象だったと思います。また消す際にドライらいました。

ヤーを使い、熱で消えていく様子も見てもらい「磁気浮上実験」では、磁石のレールの上をました。

すぅーっと走る名鉄風バスを見ていただきましどのテーマも見て分かるもので、子供からた。レールなのになぜバス？はさておき、発砲

大人まで楽しんでいただけたと思います。ただスチロール製のバスに液体窒素を注ぎ入れる

狭い廊下スペースで 3 つの展示をしてしまったと、バスの底に取り付けられた高温超電導体により、磁石の上で浮上。ちょこんとお尻を押すと、すぅーとレールに沿って走ります。強く押しすぎて脱線することも数知れず。ツンツンして楽しむ子、じいーっと見ている子、面白かったからと閉会間際にもう一度見に来てくれた子も。テーブルの周りは常に人だかりでした。
「気体を冷やしてみよう」は、「磁気浮上実験」と交互に行う予定でしたが、「いつから？」「やらないの？」との声にフル稼働。二酸化炭素、・

図1

磁気浮上実験

図2

気体を冷やしてみよう

機器センターたより

77

７．交流
ため、大変混雑してしまいました。次回は配置等を考え、皆さんに気持ち良く見ていただけるよう検討したいと思います。

1 時間ずつ各 15 名にさせていだだきました。
光 学 顕 微 鏡 の コ ー ナ ー で は、 星 の 砂、
DVD-R ディスクの記録マーク、髪の毛を実際に観察してもらいました。光学顕微鏡では、星「電子顕微鏡で観る小さな世界」の砂は星の形、DVD-R ディスクは光っている

顕微鏡といえば、一般的には光学顕微鏡を思テープ、髪の毛は細い線にしか見えませんが、い浮かべる方がほとんどですが、研究の現場で電子顕微鏡では、星の砂は砂の表面のブツブツ、は電子顕微鏡や走査型プローブ顕微鏡などさま

DVD-R デ ィ ス ク は ピ ッ ト の 有 無、 髪 の 毛 はざまな種類があります。光を照射して見る光学

キューティクルの状態まで見ることが出来ま

顕微鏡は数千倍にものを拡大できるのに対しす。子供たちは、実際に自分で観た光学顕微鏡て、電子顕微鏡は電子でモノを見ることで数十の像と、パネルに示された電子顕微鏡の像との万倍にも拡大することができます。今回見てい違いを見て、驚いていました。

ただいた走査電子顕微鏡は、加速した電子を細髪の毛の対応に制限を設け、時間に余裕がでく絞って見たい表面をなぞり、表面の凹凸を観きた分、光学顕微鏡を自分で覗いてみてもらっ察します。最大倍率は 60 万倍です。

たり、パネルをじっくり見てもらったり、ゆっ

前回の 2015 年度と同じように、お越しいただいた方に髪の毛を一本提供していただき、その表面を走査電子顕微鏡により 500 ～ 1500 倍

くり過ごしてもらうことができました。
次回は、より多くの皆さまに楽しんでいただ
けるような企画を考えたいと思います。

で拡大観察し、写真サイズに印刷してお持ち帰
りいただきました。前回は、希望者多数のため十分な対応ができなかったため、今回は 10 時から 11 時、13 時から 14 時、15 時から 16 時の

図378

機器センターたより

電子顕微鏡で観る小さな世界

８．研究紹介

1,2,3-トリアゾール骨格を含むシッフ塩基多座配位子からなるスピンクロスオーバー錯体の開発
１．はじめに

岐阜大学

萩原

宏明

温度・圧力・光等の外部刺激に応答して 2 状2013 年 4 月、岐阜大学での研究室立ち上げにあ態間を変換する物質群は、スイッチング材料、たり、本稿に示す分子系の開発に着手した。

メモリーデバイス、センサー等への多様な応用研究室を立ち上げて 1 年が過ぎようというが期待される。外場により低スピン（LS）状態

頃、やっと結晶化にこぎつけた三脚型六座配位と高スピン（HS）状態を相互に変換可能なスピ

子鉄 (II) 錯体 [FeLPh](NTf2)2（1, 図 1 左上）が、ンクロスオーバー（SCO）錯体もそのような物

室温近傍で緩やかな一段階 SCO（スピン転移

質群の 1 つである。私の研究室では、室温近傍

温度 T1/2 = 280 K）を示すことを報告した［1］。

で巨大熱ヒステリシス（ΔT）を示す SCO 錯体

その後、図 1 に示すような三座から六座までのの合理的設計・創出を研究目標の中心に据え、一連の直鎖状シッフ塩基多座配位子からなる鉄独自の配位子系として 1-R-1H-1,2,3-ト リアゾー

(II)SCO 錯体の合成に成功し［2–7］、それらのル基を含む様々なシッフ塩基多座配位子を設計

結晶構造と物性の解明のため、分子科学研究所

し、日々新しい SCO 錯体の合成に取り組んで機器センターにお世話になることとなった。本いる（図 1）。1-R-1H-1,2,3-トリアゾール骨格は、

稿では、これまでの約 4 年半にわたる施設利用

容易な置換基 R の変換による分子構造や集積構を通じて得られたデータを中心に、これらの多造の設計性に加え、トリアゾール環の 2 位の窒

座配位子 SCO 錯体の研究について紹介する。

素を SCO 分子間の水素結合形成のための水素結合ドナーに利用できる可能性を有している。
しかしながら、その骨格を含む SCO 錯体は僅

２．‌三座配位子鉄 (II) 錯体 (単核錯体と二重らせん型二核錯体のつくり分け)

か数例しかなく、シッフ塩基配位子にその骨格

シッフ 塩 基 配 位 子 の 前 駆 体 で あ る 1-R-1H-を組み込んだものは皆無であったこともあり、

1,2,3-トリアゾール-4-カルバルデヒド（図 1 中央）
は、一般に知られる芳香族アミンやハロゲン化
アルキルのアジド化、続くアジドと 2-プロピン-1-オールとのクリック反応、MnO2 酸化という3 ステップの反応により比較的簡便に合成できる。ここで、R にメチル基（Me）のような小さな置換基を導入する場合は、L’abbé らの転移反応を利用した［8］。このようにして得られたアルデヒドを種々のアミンと反応させること
で、様々なシッフ塩基多座配位子が得られる。
実際に 1-メ チル-1H-1,2,3-ト リアゾール-4-カル
バルデヒドと 2-(2-アミノエチル)ピリジンを反応させることで、三座配位子 L1Me（図 1 左下）が得られた。さらに、L’abbé らの転移反応を

図1‌
1,2,3トリアゾール基を含むシッフ塩基多座
配位子鉄 (II)SCO 錯体の構造応用して L1Me の合成に用いたメチルアミンをエチレンジアミンに変えれば、L1Me の 1,2,3-ト

機器センターたより

79８．研究紹介
リアゾール基の 1 位がエチレン架橋された二量せん型二核錯体 [Fe2(L2C3)2](AsF6)4·3H2O·MeCN

体型配位子 L2C2（図 1 下 , R = -CH2CH2-）を合（4）が得られた（図 2a）［4］。磁化率測定の結果、

C2成できることに気づき、L2 も合成した。こ4 は 3 よりもさらに高温の 443 K を中心に幅広れらの配位子を用いて錯形成を試みたところ、

いΔT = 84 K を示し（図 2b）、既報の二核錯Me

単核鉄 (II) 錯体 [Fe(L1 )2](PF6)2（2）と、錯体体の最高ΔT = 22 K を大きく更新した。

2 が 2 つ架橋されたような二重らせん型の二核

このように本節では、1-R-1H-1,2,3-トリアゾー

錯 体 [Fe2(L2C2)2](PF6)4·5H2O·MeCN（3） を つ く

ル部位の置換基変換に関する L’
abbé らの反応

り分けることに成功した（図 2a）［3］。

を応用することで、三座配位子骨格を基盤とし磁化率測定の結果、単核錯体 2 は室温で LSた単核錯体と二重らせん型二核錯体のつくり分状態にあり、室温より高温側の 170 K 以上のけが可能であること、及び二重らせん二核錯体

温度範囲にわたり緩やかな HS 状態への SCO

において従来にない SCO 特性が発現することを示した（図 2b）。一方、二核錯体 3 は室温にを紹介した。

て LS–LS 状態にあり、300–432 K の範囲の緩
慢な一段階目のスピン転移と、続く 432 K を

３．‌四座配位子鉄 (II) 錯体 (CH···X 水素結合が中心としたΔT = 11 K の急激な二段階目の多点で働く超分子集積構造の構築と部分的

SCO を示した。以上のように 3 は、SCO 化合

な他の分子間相互作用の導入)物としては初めての二重らせん型二核構造を有シッフ塩基反応に 1,3- ジアミノプロパンを用し、世界で 6 例しか報告がなかったヒステリシ

いると四座配位子 LMe（図 1 右下 , R1 = H, R2 =スをもつ二核錯体に比べて、より高温にてヒス

H, R3 = Me）が得られる。この配位子と単座配

テリシスを発現した。

位子としてチオシアン酸イオン（NCS −）を組そこで次に、1 つ炭素の多いトリメチレン架C3み合わせることで、対アニオンを含まず、水素

橋配位子 L2 （図 1 下 , R = -CH2CH2CH2-）を結合ドナーとして炭素に結合した水素のみ、水合成し、錯形成を試みたところ、やはり二重ら

素結合アクセプターとしてアゾール窒素と硫黄のみを有する中性単核錯体 [FeLMe(NCS)2]（5）を合成した。興味深いことに、本錯体は全く色の異なる二種類の多形（橙色の 5A, 暗赤紫色の5B）に結晶化したため、顕微鏡下でそれらの結晶を選り分け、それぞれの磁化率を測定した［2］。その結果、驚くべきことに 5A は室温でHS 状態、5B は室温で LS 状態にあり、それぞれ 270 K, 370 K を中心にΔT = 6 K の急激なSCO を示した（図 3）。この構造的要因を明らかにするため、単結晶 X 線解析を行ったところ、5A は [FeLMe(NCS)2] 分 子（ 図 4a）間に 複 数 の
CH···S 水素結合が多点で働く三次元超分子構造を形成していた（図 4b）。一方 5B では、CH···S
水素結合に加え、トリアゾール環の 2 位の窒素が関与する CH···N 水素結合も含まれた三次元構

図 2 2, 3, 4 の構造 (a) と磁気挙動 (b)80

機器センターたより造を形成していた（図 4c）。以上のように、本８．研究紹介系の二つの多形 5A と 5B は全く同じ SCO 分子
のみから構成されているにも関わらず、多形間で CH···X 型の弱い水素結合が多点で働く集合様式が異なることで、スピン転移温度が室温を挟んで 100 K もシフトすることが明らかになった。
次に、5A の CH···S 水素結合網を基盤に、部
分的に分子間のπ–π相互作用を取り込む目的
で、5A のメチル基をフェニル基（Ph）に変えた錯体 [Fe(ptm2-dmpn)(NCS)2]（6）を合成した

図5‌[Fe(ptm2-dmpn)(NCS)2] 分 子 の 構 造 (a) と6 の 150 K (b) 及び 448 K (c) の集積構造［5］。
（図 1 右下 , R1 = Me, R2 = H, R3 = Ph）

転やトリメチレン部位の動きのような分子運動

磁化率測定の結果、6 は室温で LS 状態にあり、が SCO に連動した結果、ΔT の拡大につながっ

401 K を中心にΔT = 22 K の急激な SCO を示たと考えられる。そこで次に、6 のフェニル基した（図 3）。また、150 K での結晶構造解析にを p- トリル基に変えた錯体 [Fe(p-ttm2-dmpn)

より、LS 状態では [Fe(ptm2-dmpn)(NCS)2] 分子(NCS)2]（7, 図 1 右 下 , R1 = Me, R2 = H, R3 =（図 5a）間の三次元的な CH···S 水素結合網に加p-tolyl）を合成したところ、6 に比べてスピン

え、芳香環を介した分子間π–π相互作用によ転移温度が大きく下がり、238 K を中心にΔTる二次元構造が形成されていることがわかった= 2 K の急激な SCO を示した（図 3）［5］。さ（図 5b）。さらに 448 K にて構造解析を行ったらに、7 を基盤に R1 のメチル基を除き、R2 にエ

ところ、HS 状態への転移により、c 軸方向にチル基（Et）を導入して配位子を非対称構造に重なっていたフェニル基の回転に伴うπ–π相した錯体 [Fe(p-ttm2-etpn)(NCS)2]（8）を合成し互作用の組み換えと CH···π相互作用の形成、たところ、溶媒条件に依存して二種類の溶媒多及び 2,2- ジメチルトリメチレン部位の配列変化

形8·0.5H2O（8a）と8·0.5MeCN·0.5MeOH·H2O（8b）が生じることがわかった（図 5c）。以上のよう（図 1 右下 , R1 = H, R2 = Et, R3 = p-tolyl）が得に 6 では、CH···S 水素結合網にπ–π相互作用られた［5］。磁化率測定の結果、8a は 336 Kが導入されるのみに留まらず、フェニル基の回を中心にΔT = 31 K、8b は 308 K を中心にΔ
T = 33 K の SCO を示した（図 3）。なお、紙面の都合上詳細は割愛するが、7, 8a, 8b も各々異なる CH···S 水素結合網と芳香環が関与するπ–π相互作用や CH···π相互作用を形成していた。
このように、本節で紹介した四座配位子を用いた中性単核分子系では、置換基、多形、溶媒多形等を巧みに制御することで、スピン転移温

図 3 5A, 5B, 6, 7, 8a, 8b の磁気挙動度やヒステリシス幅を非常に広い温度範囲にわたって制御可能であり、特に 8b において、室温を跨ぐ 33 K のヒステリシス発現に成功した。
４．五座配位子鉄 (II) 錯体（結晶→非晶質転移

図4

Me
‌
[FeL
(NCS)2] 分子の構造 (a) と、室温近傍における 5A (b) 及び 5B (c) の集積構造に連動したスピン転移）
原料に 3,3’-ジアミノ-N-メチルジプロピルアミ

機器センターたより

81８．研究紹介ンを用いると五座配位子 L3-Me-3Ph（図 1 右上）が得られる（図 7a）［6］。磁化率測定の結果、が得られる。この配位子と MeCN 単座配位子

10 は室温で LS 状態にあり、468 K を中心としPhを組み合わせて、錯体 [FeMeCN(L3-Me-3 )](BPh4)2た緩やかな一段階 SCO を示した（図 7b）。こ［7］。図
·MeCN·H2O（9）を合成した（図 6a）のように、10 は急激なスピン転移やヒステリ

6b に 9 の TG/DTA 曲線を示す。室温からのシスは示さないものの、これまでの節で紹介し昇温に伴い 408 K で MeCN の脱離に相当するてきた単核錯体に比べて高温でスピン転移して質量減少が見られた。このとき、サンプルの同おり、今後の誘導体合成によって、未だ知見の時観察画像から、400 K 付近でサンプルの収縮少ない SCO 錯体の高温物性や高温耐久性評価が始まり、その後 410 K 付近から融解するこの進展が期待できる。

とがわかった。そこで、本結果を考慮して 400
K までの温度範囲で磁化率を測定したところ、室温での LS 状態から 400 K 付近で 90% 程がHS 状態への不可逆なスピン転移を示した（図6c）。磁化率測定前後のサンプルの粉末 X 線回折（PXRD）パターンを比較した結果、測定後のサンプルは非晶質化しており（図 6d）、TG
測定時に観察された 400 K 付近のサンプル変化が非晶質化に対応していることが明らかに

図 7 10 の構造 (a) と磁気挙動 (b)６．三脚型六座配位子鉄 (II) 錯体の LIESSTなった。以上のように 9 は、結晶から非晶質へ

これまでの節では熱による SCO 挙動を示しの転移を伴って SCO する珍しい分子系であるてきたが、デバイス化を考える上では光によることがわかった。

スピン状態制御が重要となる。SCO 錯体が示
す 光 誘 起 ス ピ ン 転 移 現 象 は LIESST（lightinduced excited spin state trapping の 略 ） と呼ばれ、解決すべき課題として、低温下での光照射によりトラップされた準安定 HS 状態からの熱緩和の抑制が挙げられる。我々の分子系にも LIESST を示す錯体があり、その一例として 1 の LIESST 挙動を紹介する。1 を 10 K に
冷 却 し、532 nm 光 を 照 射 す る と、10 分 程 でLS から完全な HS への LIESST を示した（図 8）。
なお、光照射停止後の昇温時の熱緩和温度は図‌
6 9 の構造 (a)、TG/DTA 曲線と同時観察画像(b)、磁気挙動 (c) 及び PXRD パターン (d)５．六座配位子鉄 (II) 錯体（高温スピン転移）
原料に N,N’-ビス(2-アミノエチル)-1,3-プロパ
ンジアミンを用いることで、六座配位子 L2-3-2Ph（図 1 上）が配位した錯体 [Fe(L2-3-2Ph)](AsF6)（10）282

機器センターたより

図8

1 の LIESST

８．研究紹介68 K であり、室温近傍で熱的 SCO を示す錯体を活用させていただき、研究室から生み出されとしては比較的高い温度であった。今後も本稿た様々な錯体の構造と機能を解き明かしていきに示した分子系や新規錯体の光照射実験を継続たい。

し、熱緩和温度が高い分子の設計指針を見出していく予定である。

謝辞
本稿にて紹介した一連の研究は、文部科学省

７．おわりにナノテクノロジープラットフォーム事業をはじ

本稿では、我々がこれまでに合成してきた・め、科学研究費補助金（若手研究 No.18K14240）

1-R-1H-1,2,3-ト リアゾール基を含むシッフ塩基や小川科学技術財団、越山科学技術振興財団、

多座配位子からなる SCO 錯体について、その遠藤斉治朗記念科学技術振興財団の支援のもと分子設計の狙いや特徴的な構造とスピン転移特に実施しました。また、共同研究者の砂月幸成

性の一部を紹介した。これらの錯体の多くは、、宇田川太郎助教（岐阜大学）、助教（岡山大学）

日々の学生の実験努力の賜物として生み出され村井啓一郎准教授（徳島大学）をはじめ、多くたものであるが、分子科学研究所の施設利用制の方々の助けによりこの研究を進めることがで度がなければ、それらの構造や物性を解明し、きました。最後になりますが、施設利用にあた

世に送り出すことは不可能であった。また、原り、機器の維持管理に日々ご尽力いただくとと則無料でメンテナンスの行き届いた装置や寒剤

もに、高温測定や光照射実験等にも親身に対応を利用できる現行制度がなければ、新規化合物していただいた分子科学研究所機器センターのの測定に積極的に挑戦することも叶わなかった

技術職員の皆様に厚く御礼申し上げます。

ので、この制度はぜひ継続していただきたいと強く願っている。SQUID 型磁化測定装置や単結晶 X 線構造解析装置は我々の研究の生命線になっており、高温測定や光照射実験も行える
ようなオプション設備も充実した現環境は非常に有り難い。さらに、最近更新された熱分析装

参考文献[1] ‌H. Hagiwara, R. Minoura, S. Okada, Y.
Sunatsuki, Chem. Lett. 2014, 43, 950.
[2] ‌H. Hagiwara, S. Okada, Chem. Commun.
2016, 52, 815.

置の画像観察機能のおかげで、錯体 9 のような

[3] ‌H. Hagiwara, T. Tanaka, S. Hora, Dalton

結晶から非晶質への転移にも気づくことができTrans. 2016, 45, 17132 (inside front cover).

たので、今後とも継続的な機器更新や新規設備[4] ‌S. Hora, H. Hagiwara, Inorganics 2017, 5, 49.

導入、オプションの充実等をお願いしたい。

[5] ‌H. Hagiwara, T. Masuda, T. Ohno, M.

本稿で紹介することができなかった化合物の中には、多段階 SCO を示す鉄 (II) 錯体や中心Suzuki, T. Udagawa, K. Murai, Cryst.
Growth Des. 2017, 17, 6006.

金属に鉄 (III)、コバルト (II) を含む SCO 錯体[6] ‌H. Hagiwara, Magnetochemistry 2019, 5, 10.

もあり、1,2,3-トリアゾール系シッフ塩基配位子[7] ‌T. Matsuyama, K. Nakata, H. Hagiwara, T.

の非常に柔軟かつ多様な物性発現能力に驚いて

Udagawa, Crystals 2019, 9, 276.

いる。また、SCO 錯体の研究途上で偶然結晶[8] ‌G. L’abbé, M. Bruynseels, P. Delbeke, S.

として得られた平面型コバルト錯体が、加熱にToppet, J. Heterocycl. Chem. 1990, 27, 2021.

より飛び跳ねるジャンピングクリスタルであっ[9] ‌Y. Kamo, I. Nagaya, R. Sugino, H. Hagiwara,

たことから、SCO 錯体に留まらない新たな物

Chem. Lett. 2019 (in press).

質開拓も進んでいる［9］。今後も分子研の機器

機器センターたより

83８．研究紹介

単分子膜モット FET の開発
協奏分子システム研究センター
１．はじめに山本浩史

しているが、簡単のために本稿ではこのような有機電界効果トランジスタ（FET）は曲が表現を使用する）。デバイスの構造を図１b にるディスプレイなどのフレキシブルデバイスに示そう。分子末端に付いているホスホン酸は、適合性が高く、アモルファスシリコンより高い

基板表面のアルミナと反応性が良いことが知ら性能（電界効果移動度）が得られることから活れている。THF 中で分子と基板を反応させる発な開発が続いている。しかしながら材料コスと、約２時間で図１c の DFM 像にあるようなトの面では、分子合成にかかる手間を考えると平坦な膜が得られる（DFM = Dynamic force

必ずしも低コストとは言えず、なるべく少量のmicroscope）。

分子でデバイスを作る手法が模索されている。

薄膜の内部構造を知るためには X 線反射率

自己組織化単分子膜（SAM）や液晶性分子の測定を用いることができるため、機器センター

１～２層膜は、そのような状況下で大幅に分子の粉末用 X 線装置を使って測定を試みた。しの使用量を減らせる可能性があり、いくつかのかし、少し試したところ性能が十分でないこと

分子を使った研究がすでに展開されている。
筆者のグループでは、通常の有機 FET に使われる中性分子ではなく、イオン性分子からなる有機モット絶縁体を用いて、有機 FET の一種である「有機 Mott-FET」を開発してきた。
こ れ ら の ト ラ ン ジ ス タ に お い て は、 モ ッ ト
ギャップと呼ばれる電荷ギャップが比較的小さ
いため、基本的にその動作は低温に限られてきた。ギャップの小ささに加えて、用いている単結晶のバルク伝導が界面抵抗をシャントしてしまい、本来出せるはずの ON/OFF 比が電気回
路構成上の理由で失われてしまっているという事情もある。そこで我々は、最近開発の進んでいる単分子膜作製技術を利用して単分子膜からなる有機モット絶縁体を作り、室温動作可能な
低コスト有機 Mott-FET の開発を着想したので、以下にその結果を紹介する。
２. １

SAM Mott-FET

モット絶縁体の母物質である BEDT-TTF（=
bis(ethyelendithio)tetrathiafulvalene）にアルキ
ル基とホスホン酸を修飾することによって、SAM を使った Mott-FET を作製した ( 図１a；
正確には、BEDT-TTF の片側の 6 員環は開環

84

機器センターたより

図1‌(a)SAM
作 製 用 の ド ナ ー 分 子 (b)SAM FETの概念図。Al2O3/SiO2/Si 基板の上に金電極（黄色）をパターニングして、ドナー分子のリン酸部位を反応させるとこのような単分子膜デバイスが完成する。(c) デバイス表面の DFM 像。白い突起部分を除くと、表面の凹凸は 1 nm 程度であり、１分子の高さよ
りも小さな高低差しか観察されない。(d)X
線反射率測定の結果。黒線が実測で赤線がシミュレーション結果。この数値シミュレーションは表１に掲載の多層膜構造を用いたものである。

８．研究紹介が分かり、今回はナノプラットフォームを使って他大学の装置を使うこととなった。その結果得られたデータが図１d である。この振動パ
ターンをフィッティングすることにより、多重薄膜の内部構造を知ることが可能で、今回は表１に示すような均一な SAM ができていること

表1‌X 線 反 射 率 測 定 か ら 得 ら れ た 膜 厚 情 報。
Additional layer は密度も低く、反転したドナー分子のアルキル鎖部分が飛び出しているのではないかと推測される。

図2‌ 各ゲート電圧におけるソース電圧 (VD)(a)
ソース電流 (ID) 特性。凡例内の数字はゲー
ト電圧を表している。(b)FET のトランスフ
ァー曲線（左は線形、右は対数スケール）が明らかとなった。今年度、機器センターには新しい粉末・薄膜用の X 線装置が導入されるとのことなので、今後このような測定にはそちらの装置が使えるのではないかと期待している。
以上のようにして作製した膜は、図２に示すようなｐ型の FET 特性を示した。この FETの ON/OFF 比は 104 程度、モビリティは 10 －7
cm2 V-1 s-1 程度である。FET としてはそれほど性能の良いものではないが、今回はコンセプト実証が目的であるので、このままこの SAM を用いてさらに実験を続けた。モット絶縁体はBEDT-TTF を部分酸化することによって得られ る た め、 次 に 酸 化 剤 で あ る F4TCNQ（=
2,3,5,6-Tetrafluoro-7,7,8,8-tetracyanoquinodimethane)の塗布を行い、FET 動作の測定を行った。
その結果を図３に示そう。図から分かるように FET は両極性を示すようになり、スピンコー
トで塗布する F4TCNQ 溶液の濃度が増すたびにｎ型の領域が増えるといった挙動が見られた。このような挙動は、もし通常のｐ型 FETにドーピングを行っていると考えると、おかしなことになる。即ち、BEDT-TTF 層にホールが入っていくと、通常の FET ではｐ型の領域が拡大するはずであり、ｎ型領域はむしろ減る型領域ではゲート電圧をあげていった時に、一と推測される。一方、両極性動作は典型的な度活性化エネルギーが減少したあと、再び活性

Mott-FET の動作として知られており、ドーピ

化エネルギーが上昇するといった奇妙な挙動もングが進むにつれて中性 BEDT-TTF が示すｐ

見られており、このような結果も本 FET が単型の領域が減り、Mott-FET の領域が増えてい

純なバンド絶縁体による FET ではないことをくと考えると本 FET の挙動の説明がつく。

示唆している。

ON/OFF 比 は 期 待 し た ほ ど 大 き く な ら な
かったが、室温動作する Mott-FET ができた

２. ２

液晶性分子単分子膜ということは言ってよいのではないかと思って

モット絶縁体は BEDT-TTF のようなドナー

いる。FET 動作の温度変化を測定すると、ｎ分子を酸化するだけではなく、アクセプター分

機器センターたより

85

８．研究紹介
学計算と一致している。この分子をトルエンに溶解してスピンコートとアニールを行ったとこ
ろ、図５の DFM 像に示すような単分子膜を得ることができた。

図3‌(a)SAM
Mott-FET のトランスファー曲線。
それぞれの曲線の右にある濃度は、スピン
コ ー ト し た F4TCNQ 溶 液 の 濃 度 を 表 す。
(b) トランスファー曲線のうち OFF 電流を除いたもの。挿入図は対数スケール表示。

子を還元することによっても合成することができる。そこでアクセプター型の液晶性単分子膜を作製し、その単分子膜にドーピングを行う手法を試みた。図４に示す分子（DB-PTCDI-C13）を合成し、その液晶性を機器センターの DSC
装 置 に よ っ て 測 定 し た (DSC = Differential。その結果、本分子はScanning Calorimetry）
148℃で結晶から液晶へ相転移し、188℃で融解することが分かった。これを室温に冷却すると、すぐには結晶化せず、しばらくは液晶状態を保つようである。そこで、本デバイスでは、スピ
ンコート後およそ 160℃で 1 時間、アニールを行うこととした。
さらに機器センターの X 線回折装置を使って単結晶構造解析を行った（図４c）。分子は立体障害によって臭素原子が面外に飛び出した形となっており、この構造は DFT による量子化

86

機器センターたより

図4‌(a)DB-PTCDI-C13の 分 子 構 造。(b)DBPTCDI-C13 の 熱 測 定 結 果。(c)DBPTCDI-C13 の結晶構造と、(d) 結晶中の分子構造。簡単のため、末端アルキル鎖は省略してある。臭素はπ平面から飛び出した
Br1 と、π平面内に存在する Br2 が７：３の存在比で観測された。量子化学計算では、
Br1 の構造が正しいことが分かっているので、Br2 は熱振動による見かけの配置と思われる。

８．研究紹介
期待通り、この単分子膜はｎ型の FET 挙動を示し、その ON/OFF 比は 105 程度、モビリティ
は 10 －3 cm2 V-1 s-1 程度であった（図５c）。この膜を元に Mott-FET を作製するため、カリウ
ムの真空蒸着を行った。しかし蒸着後の膜をDFM 観察すると、残念ながら薄膜構造は保持されず、電荷移動錯体の微結晶が形成されていた。微結晶どうしは孤立しているため、電気伝導は得られなかった。

図6‌(a)DB-PTCDI-C13 の単分子膜にカリウムを蒸着した後の DFM 像。膜構造が壊れて結晶化が起きている。(b) 上記 DFM 像白線部分の段差プロファイル。

３．まとめ
本研究により、単分子膜 Mott-FET の概念
的検証は達成できたと思われるが、その性能向上や多様なプロセス開発はまだ途上である。分
子サイズの薄膜構造や電子構造を見るためには、様々な計測装置の活用が必要であり、今後も機器センターには既存装置のアップグレードと新規設備の導入をお願いできれば幸いである。最後に本稿の研究を実施するにあたっては、
研 究 室 の 須 田 助 教、 大 学 院 生 の 楊 君・
Chooppawa 君、売市技官ほか共同研究者の皆さま、そして機器センターの皆さまにお世話になりました。この場を借りてお礼を申し上げ、
本稿の結びといたします。
【参考文献】
1. ‌F. Yang, M. Suda and H. M. Yamamoto,
図5‌(a)DB-PTCDI-C13
単 分 子 膜 の DFM 像 (b)上記 DFM 像の白線部分における段差プロフ
ァイル。概ね 2 nm 程度の、分子長と同じ高さのステップ構造が確認できる。(c)DBPTCDI-C13 を用いたｎ型 FET のトランスファー曲線。

Bull. Chem. Soc. Jpn. 90, 1259 (2017).
2. ‌T. Chooppawa, M. Suda, M. Uruichi, M.
Kunaseth, S. Namuangruk, P. Rashatasakhon
and H. M. Yamamoto, Mol. Cryst. Liq.
Cryst. 669, 94 (2018).

機器センターたより

87９．共同利用採択課題一覧

平成30年度共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

職

名

提案代表者

研究課題

利用研究設備

1001

通年

名古屋工業大学

准教授

小野

晋吾

【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
CeF3 薄膜ショットキー型光 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21
センサ開発
【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus

1002

通年

名古屋大学理学研究科物質
理学

准教授

三野

広幸

【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
多周波 EPR 法を用いた光合【電子スピン共鳴装置】
成反応過程の解析【SQUID 型磁化測定装置】

1003

通年

日本大学文理学部化学科

准教授

周

彪

単一分子性伝導体 [M（dmdt）
2]（M = Ni、Pd、Pt、Au）【SQUID 型磁化測定装置】の合成および物性研究

1004

通年

日本大学生物資源科学部

准教授

髙野

英晃

光センサータンパク質のクロ【熱分析装置】MicroCal  iTC200
モフォアに関する研究

1005

通年

高知大学教育研究部総合科
学系複合領域科学部門

教授

上田

忠治

新規ポリオキソメタレート錯 【電子スピン共鳴装置】（NMR）JEOL JNM体の電気化学的酸化還元反応 【核磁気共鳴装置】
ECA600メカニズムの定量的解析

1006

通年

関西学院大学理工学部

助教

三橋

了爾

【単結晶Ｘ線回折装置】【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
非共有結合性相互作用を用い
HyPix-AFCた金属錯体の配位構造制御と【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
磁気的性質【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】

1007

通年

豊橋技術科学大学
生命工学系

助手

藤沢

郁英

【単結晶Ｘ線回折装置】
X 線結晶構造解析による不斉（微小結晶用）Rigaku【単結晶Ｘ線回折装置】
合成化合物の絶対構造の決定
HyPix-AFC浦田隆広【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
122 構造を有すマンガン化 【SQUID 型磁化測定装置】
合物群における新奇磁性半導 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex体物質の開拓【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
TITAN-TOPAS

松本信洋【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
有効磁気モーメント法による【電子スピン共鳴装置】
フリーラジカル数分析【SQUID 型磁化測定装置】

渉【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku【単結晶Ｘ線回折装置】
強電場下における水素結合性
HyPix-AFC磁性体の物性研究【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】

信昭【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21
重元素のレーザーによる新規 【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus
分離法【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
TITAN-TOPAS

環境・

1008

通年

名古屋大学大学院工学研究科物質科学専攻1009

通年

国立研究開発法人産業技術
主任研究
総合研究所 物質計測標準
員
研究部門

1010

通年

成蹊大学理工学部共通基礎

助教

教授

藤田

通年

大阪市立大学大学院理学研
特任教授
究科 物質分子研究系

1012

通年

浜松医科大学 総合人間科
学講座（化学）

准教授

黒野

暢仁

【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
酸素酸化反応による合成手法 【単結晶Ｘ線回折装置】の開発および DNA 付加体の HyPix-AFC【核磁気共鳴装置】（NMR）JEOL JNM合成研究
ECA6001013

通年

岐阜大学工学部機能材料工
学科

教授

嶋

睦宏

Ni/Cu 多 層 細 線 , NiMnGa【SQUID 型磁化測定装置】
ナノ粒子の磁気的性質の解明

1011

1014

88

通年

名古屋工業大学大学院物質工学専攻

機器センターたより

教授

中島

濱中

泰

【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
硫化物半導体ナノ粒子の光学 UV-3600Plus【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
特性の研究
TITAN-TOPAS【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex９．共同利用採択課題一覧

課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

職

名

提案代表者

研究課題

利用研究設備1015

通年

名城大学理工学部

教授

丸山

隆浩

【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB（SEM）HITACHI SU6600
Ir 触媒を用いた単層カーボン 【電子顕微鏡】【電子分光】Omicron EA-125
ナノチューブの作製【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex1016

通年

奈良女子大学研究院自然科
学系

教授

藤井

浩

【電子スピン共鳴装置】
金属酵素およびそのモデル錯【核磁気共鳴装置】（NMR）JEOL JNM体の電子構造の研究
ECA6001017

通年

神戸大学分子フォトサイエ
ンス研究センター

学術振興
会特別
研究員
（PD）

長嶋

宏樹

パルス EPR 法による一重項【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
開裂に伴う三重項励起子間相【電子スピン共鳴装置】
互作用の解明1018

通年

基礎生物学研究所・多様性
生物学教室

助教

鎌田

芳彰

酵母トア複合体 1 の活性制御【熱分析装置】MicroCal  iTC200
機構の解析

講師

小川

法子

【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku【単結晶Ｘ線回折装置】
シクロデキストリン類と薬物
HyPix-AFCの包接複合体の構造解析【MALDI-TOF 質量分析】Bruker microflex
LRF

准教授

梶田

裕二

常温常圧での人工窒素固定を 【SQUID 型磁化測定装置】
目指した新規窒素錯体の合成 【核磁気共鳴装置】（NMR）JEOL JNMECA600と電子的性質

准教授

植村

一広

【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
異種金属一次元鎖錯体中の第 【単結晶Ｘ線回折装置】
HyPix-AFC
一遷移金属の磁気物性【SQUID 型磁化測定装置】

東京工業大学生命理工学院

助教

門之園

哲哉

構造ゆらぎを抑制した抗体代
替分子と標的分子の熱力学的 【熱分析装置】MicroCal  iTC200
結合解析

通年

自然科学研究機構国立天文台先端技術センター

准教授

早野

裕

30m 望 遠 鏡 TMT の 第 1 期観測装置 IRIS のための駆動【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
機械系の耐久試験後の成分分
析

1024

通年

大阪府立大学大学院理学系
研究科

教授

藤原

秀紀

キ ノ ン 部 位 を 有 す る 新 規 な 【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
D-A 型分子を用いた機能性物 【単結晶Ｘ線回折装置】
HyPix-AFC質の結晶構造解析1025

通年

山形大学大学院理工学研究科電気電子工学分野

准教授

希土類金属ドープ型マンガン有馬 ボシー
酸化物ナノ粒子の磁性に関す 【SQUID 型磁化測定装置】
ルアハンマド
る研究

1019

通年

愛知学院大学 薬学部 製剤
学講座

1020

通年

愛知工業大学
用化学科

1021

通年

岐阜大学 工学部
生命工学科

1022

通年

1023

工学部

応

化学・

1026

通年

岐阜大学教育学部理科教育講座（化学）

助教

萩原宏明【単結晶Ｘ線回折装置】【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
HyPix-AFC
1,2,3- トリアゾール含有シッ【電子スピン共鳴装置】
フ塩基配位子を用いた金属錯【SQUID 型磁化測定装置】
体の結晶構造と磁気的性質の【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
解明
Reflex【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus

1027

通年

東京農工大学大学院工学府
生命工学専攻

教授

養王田

正文

熱量測定によるプレフォル
ディン – グループ 2 型シャ【熱分析装置】MicroCal  iTC200
ペロニンシステムのシャペロン機構の解明一正【単結晶Ｘ線回折装置】
広領域光吸収有機固体の実現【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigakuを目指したジチアシクロペン
HyPix-AFC
テンテトラマーの合成と固体【電子スピン共鳴装置】
状態の電子状態解明【SQUID 型磁化測定装置】

1028

通年

静岡大学

工学部

教授

植田

機器センターたより

89９．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

1029

1030

通年

所

属

職

法政大学生命科学部

名

教授

緒方

利用研究設備啓典【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
HyPix-AFC【蛍光Ｘ線分析装置】JEOL JSX-3400RII【電子分光】Omicron EA-125【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】【MALDI-TOF 質量分析】Bruker microflex
LRF
ナノマテリアルの構造および 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex
物性評価【フーリエ変換赤外分光光度計】Bruker
IFS66v【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
TITAN-TOPAS

舜徹【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
動的錯体分子の構造相転移解 【単結晶Ｘ線回折装置】
HyPix-AFC析【SQUID 型磁化測定装置】

広島大学大学院工学研究科

1031

前期

京都工芸繊維大学 大学院
工芸科学研究科 電気電子
工学系

准教授

今田

早紀

【SQUID 型磁化測定装置】
3d 遷移金属添加 AlN の微視 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
的結晶構造、光伝導とフォノ Reflex【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
ンの相関の解明
UV-3600Plus

1032

通年

名古屋工業大学大学院工学研究科物理工学専攻

准教授

宮崎

秀俊

【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
Fe2VAl 合金における 3d 重 【単結晶Ｘ線回折装置】
HyPix-AFC
い電子系の起源の解明【SQUID 型磁化測定装置】

1033

通年

大阪府立大学理学系研究科
物理科学専攻光物性研究グ
ループ

准教授

河相

武利

【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
3-21
希土類イオンを微量添加した【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
ホウ酸リチウム焼結体の発光
TITAN-TOPAS
特性の研究【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus

1034

通年

横浜国立大学大学院工学府

D2

坂倉

響

Cu-X（X=Ni,Co） 合 金 を 用いた析出組織と磁気物性の調 【SQUID 型磁化測定装置】
査

1035

通年

群馬大学大学院理工学府分
子科学部門

教授

浅野

素子

【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
（I）錯体の励起状態の時間
Cu【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
分解 ESR による解明
UV-3600Plus

1036

通年

北海道大学大学院工学研究
院

助教

柏本

史郎

【単結晶Ｘ線回折装置】
Zn-Ag-（ 希 土 類 ） 系 準 結 晶【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIIIの形成条件と磁気特性【SQUID 型磁化測定装置】

1037

通年

大阪府立大学大学院理学系
研究科

教授

細越

裕子

【単結晶Ｘ線回折装置】【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
有機ラジカル結晶の低温構造
HyPix-AFCと量子磁気状態の解明【電子スピン共鳴装置】【SQUID 型磁化測定装置】

1038

通年

横浜国立大学大学院工学研
究院

准教授

竹田

真帆人

固相相変態を用いて金属母相
中に自己形成させたナノグラ【SQUID 型磁化測定装置】
ニュラー磁性体の組織及び磁気特性の検討1039

通年

関西学院大学 理工学部
環境・応用化学科

教授

橋本

秀樹

金属ナノ粒子担持型グラフェ【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
ンオキサイドの化学状態の研【電子分光】Omicron EA-125
究

1040

通年

名古屋工業大学 先進セラ
ミックス研究センター

教授

安達

信泰

フェライト磁性薄膜および複 【電子スピン共鳴装置】
合体のフェリ磁気特性の研究 【SQUID 型磁化測定装置】

1041

通年

自然科学研究機構
科学研究所

准教授

菱沼

良光

Nb3Sn 超伝導線材の高磁場特性改善に向けた添加元素効 【SQUID 型磁化測定装置】
果通年

島根大学大学院総合理工学
研究科

なつみ

【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
合成後修飾法による新規シク 【単結晶Ｘ線回折装置】
ロメタレート型イリジウム錯 HyPix-AFC【熱分析装置】Rigaku DSC8231/TG体の構造解析
DTA81221042

90

機器センターたより

D2

姜

研究課題

通年

核融合

准教授

提案代表者

矢野

９．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

職

名

提案代表者

研究課題

利用研究設備1043

通年

島根大学大学院総合理工学
研究科物質化学領域

助教

片岡

祐介

【単結晶Ｘ線回折装置】
アミジナート架橋ルテニウム【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku（II,III）二核錯体の構造解析とHyPix-AFC
電子状態に関する研究【SQUID 型磁化測定装置】

1044

通年

東京農工大学

准教授

嘉治

寿彦

【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F
共蒸発分子誘起結晶化法によ【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600り作製した薄膜の構造・成分【粉末 X 線回折装置】Rigaku RINT-UltimaIII
分析【蛍光Ｘ線分析装置】JEOL JSX-3400RII

1045

通年

静岡大学学術院工学領域電子物質科学系列

助教

川口

昂彦

高結晶性逆ペロブスカイト型【SQUID 型磁化測定装置】
窒化物磁性薄膜の磁性の評価

1046

前期

愛知教育大学教育学部

准教授

日野

和之

ラマン分光法による有機結晶【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIAのドミノ転移の分子ダイナミ
Reflex
クスの研究

1046ｂ

後期

愛知教育大学教育学部

准教授

日野

和之

ラマン分光法による有機結晶【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIAのドミノ転移の分子ダイナミ
Reflex
クスの研究

1047

前期

愛知教育大学教育学部

准教授

日野

和之

（SEM）JEOL JSM-6700F
新しいメソ多孔性炭素の開発 【電子顕微鏡】

1047ｂ

後期

愛知教育大学教育学部

准教授

日野

和之

新しいメソ多孔性炭素の開発 【電子顕微鏡】（SEM）JEOL JSM-6700F

1048

前期

京都大学 先端イノベー
ション拠点施設

特定
准教授

高見

剛

革新型蓄電池用電極材料の磁性（ 後 期：FeF3 電 極 材 料 の 【SQUID 型磁化測定装置】
磁性への化学修飾効果）

1048ｂ

後期

京都大学 先端イノベー
ション拠点施設

特定
准教授

高見

剛

FeF3 電極材料の磁性への化【SQUID 型磁化測定装置】
学修飾効果

1049

前期

京都大学 先端イノベー
ション拠点施設

特定
准教授

高見

剛

酸フッ化物の単結晶 X 線回折 【単結晶Ｘ線回折装置】

1050

前期

大阪市立大学理学部

特任
准教授

松岡

秀人

光エネルギー変換システムの【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
電子スピン共鳴研究

特任
准教授

松岡

秀人

【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
光応答性化合物の励起状態研
3-21究【ピコ秒レーザー】Millennia-Tsunami,
TITAN-TOPAS

1050ｂ

後期

大阪市立大学理学部

1051

前期

名古屋大学未来社会創造機
客員教授
構

宇理須

恒雄

神経細胞ネットワークハイス【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB
ループットスクリーニング装【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
置の開発

1051b

後期

名古屋大学未来社会創造機
客員教授
構

宇理須

恒雄

神経細胞ネットワークハイス【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIB
ループットスクリーニング装【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
置の開発

1052

前期

芝浦工業大学 工学部
通学群化学科目

幡野明彦

逆転写酵素のテンプレートとなる長鎖散在性反復配列【電子スピン共鳴装置】
RNA の動的構造解析のためのスピンラベル測定

1053

前期

信州大学先鋭領域融合研究特別特任
群 環境・エネルギー材料
教授
科学研究所

金子

克美

グラフェンのナノ窓における 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex窒素と酸素の補足状態解析

1054

前期

大分大学
構

助教

岡

芳美

フラビン - トリプトファン連
結分子を用いた光誘起ラジカ 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
ルペア・システムの構築

1055

前期

名古屋市立大学大学院薬学
科研究科

准教授

矢木 宏和

糖鎖脂質含有二重膜表面で誘（NMR）Bruker
起されるアミドイドβ会合状 【核磁気共鳴装置】
態の固体 NMR を用いた構造 AVANCE600
解析

1087

後期

名古屋市立大学大学院薬学
科研究科

講師

矢木 宏和

糖鎖脂質含有二重膜表面で誘（NMR）Bruker
起されるアミドイドβ会合状 【核磁気共鳴装置】
態の固体 NMR を用いた構造 AVANCE600
解析

1056

前期

島根大学大学院総合理工学
研究科

准教授

池上

MauG タンパク質のモデル錯 【電子スピン共鳴装置】
体の反応メカニズムの解明【SQUID 型磁化測定装置】

共全学研究推進機教授

崇久

機器センターたより91９．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

職

名

提案代表者

研究課題

利用研究設備1056ｂ

後期

島根大学大学院総合理工学
研究科

准教授

池上

崇久

新規ポルフィリン、コロール【電子スピン共鳴装置】
鉄（III）多核錯体の磁気的性【SQUID 型磁化測定装置】
質

1057

前期

愛媛大学理工学研究科

准教授

山本

貴

[Pt（dmit）−2]−2 塩の軌道準 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
位逆転効果の多様性
Reflex1057ｂ

後期

愛媛大学理工学研究科

准教授

山本

貴

[Pt（dmit）−2]−2 塩の軌道準 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
位逆転効果の多様性
Reflex1058

島根大学大学院 総合理工学
前期 研究科 総合理工学専攻 数理・物質創成科学コース

D3

藤城

零

フタロシアニン類縁体への光照射によって発生した活性酸 【電子スピン共鳴装置】
素種の特定

1058ｂ

島根大学大学院 総合理工学
後期 研究科 総合理工学専攻 数理・物質創成科学コース

D3

藤城

零

フタロシアニン類縁体への光照射によって発生した活性酸 【電子スピン共鳴装置】
素種の特定

1059

前期

愛媛大学大学院理工学研究科（工学系）

准教授

白旗崇【単結晶Ｘ線回折装置】
低対称性電子供与体を成分と 【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
する分子性導体の構造と物性 HyPix-AFC【SQUID 型磁化測定装置】

1059ｂ

後期

愛媛大学大学院理工学研究科（工学系）

准教授

白旗崇【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
拡張π電子系化合物の構造と 【単結晶Ｘ線回折装置】
HyPix-AFC
物性に関する研究【SQUID 型磁化測定装置】

1060

前期

島根大学大学院総合理工学
研究科

教授

半田

真

アセトアミド及びホルムアミ
ジナト架橋配位子のランタン【SQUID 型磁化測定装置】
型二核とシアニド金属塩からなる集積錯体の磁気特性

1060ｂ

後期

島根大学大学院総合理工学
研究科

教授

半田

真

ランタン型ルテニウム（II,III）二核錯体の磁気特性に及ぼす 【SQUID 型磁化測定装置】
軸配位子の影響1061

前期

北陸先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科

准教授

山口

拓実

配座設計に基づくタンパク質【熱分析装置】MicroCal  iTC200
高親和性糖鎖の創出

1061ｂ

後期

北陸先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科

准教授

山口

拓実

配座設計に基づくタンパク質【熱分析装置】MicroCal  iTC200
高親和性糖鎖の創出

1062

前期

神戸大学農学研究科

助教

木村

行宏

【熱分析装置】MicroCal VP-DSC【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
Reflex超低エネルギー吸収特性を示 【蛍光分光光度計】HORIBA SPEX Fluorolog
す紅色光合成細菌の特性解析 3-21
【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus【円二色性分散計】JASCO J-720WI

1062ｂ

後期

神戸大学農学研究科

准教授

木村

行宏

超低エネルギー応答性を示す【熱分析装置】MicroCal VP-DSC
紅色光合成細菌における Ca【熱分析装置】MicroCal  iTC200
イオンの役割1063

前期

京都大学生命科学研究科

准教授

酒巻

和弘

c-FLIP タ ン パ ク 質 の 新 規 機【電子スピン共鳴装置】
能獲得に関する検証

1063ｂ

後期

京都大学生命科学研究科

准教授

酒巻

和弘

c-FLIP タ ン パ ク 質 の 新 規 機【電子スピン共鳴装置】
能獲得に関する検証（第 2 期）

1064

前期

名古屋工業大学ナノ材料・ プロジェ
機能分子創製研究所
クト教授

増田

秀樹

一酸化窒素を選択的に捕捉す【電子スピン共鳴装置】
るコバルト（III）錯体の反応【SQUID 型磁化測定装置】
挙動

1064ｂ

後期

名古屋工業大学ナノ材料・ プロジェ
機能分子創製研究所
クト教授

増田

秀樹

一酸化窒素を選択的に捕捉す【電子スピン共鳴装置】
るコバルト（III）錯体の反応【SQUID 型磁化測定装置】
挙動

1065

前期

東京大学物性研究所

助教

上田

顕

高温 X 線回折実験による無水
有機プロトン伝導体中の分子 【単結晶Ｘ線回折装置】
ダイナミクスの調査

1065ｂ

後期

東京大学物性研究所

Ｄ2

砂入

允哉

高温 X 線回折実験による無水
有機プロトン伝導体中の分子 【単結晶Ｘ線回折装置】
ダイナミクスの研究

92

機器センターたより

９．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

職

前期

都城工業高等専門学校
質工学科

物

1066ｂ

後期

都城工業高等専門学校
質工学科

物

1067

前期

1068

1066

名

准教授

提案代表者

高橋

研究課題

利用研究設備利幸【熱分析装置】MicroCal VP-DSC【熱分析装置】Rigaku DSC8231/TG微細藻類バイオマス含有マイ
DTA8122
クロカプセルの化学特性分析【MALDI-TOF 質量分析】Bruker microflexと当該藻類増殖促進物質の構
LRF
造解析【核磁気共鳴装置】（NMR）JEOL JNMECA600

准教授

高橋

利幸

【熱分析装置】MicroCal VP-DSC
微細藻類バイオマス含有マイ【熱分析装置】Rigaku DSC8231/TGクロカプセルの化学特性分析
DTA8122と当該藻類増殖促進物質の構【MALDI-TOF 質量分析】Bruker microflex
造解析
LRF

静岡大学グリーン科学技術
研究所

教授

朴

龍洙

Magnetic property analysis【SQUID 型磁化測定装置】
of AgMNP-GRP

前期

広島大学大学院理学研究科
化学専攻

教授

安倍

学

アジド化合物の光照射により【電子スピン共鳴装置】
生成する中間体の観測

1069

前期

千葉大学グローバルプロミ
ネント研究基幹

特任
研究員

水津

理恵

強相関分子結晶が示す特異な【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
磁気相転移と構造に関する研
HyPix-AFC
究

1070

前期

名古屋工業大学大学院工学
修士課程
研究科
Ｍ2
（分子研 特別共同利用研
究員）

富田

紗穂子

光駆動 Na イオン輸送タンパ【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
ク質 NaR のレチナール発色
Reflex団のラマンスペクトル解析

1071

前期

東北大学大学院環境科学研
究科

Ｄ2

関

亜美

石炭フライアッシュ含有成分【電子顕微鏡】（FIB）JEOL JEM-9310FIBの可視分析による有害成分不【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
溶化メカニズムの解明

1071ｂ

後期

東北大学大学院環境科学研
究科

Ｄ2

関

亜美

石炭フライアッシュ含有成分【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
の可視分析

1072

前期

広島大学大学院理学研究科
化学専攻

教授

井上

克也

強弾性を有する有機 - 無機複【電子スピン共鳴装置】
合磁性体の合成とその物性測【SQUID 型磁化測定装置】
定

1072ｂ

後期

広島大学大学院理学研究科
化学専攻

教授

井上

克也

強弾性を有する有機 - 無機複【電子スピン共鳴装置】
合磁性体における磁気弾性効【SQUID 型磁化測定装置】
果の研究

1073

前期

島根大学総合理工学部

准教授

池上

崇久

重質油中のポルフィリン誘導【電子スピン共鳴装置】
体の物性評価1073ｂ

後期

島根大学総合理工学部

准教授

池上

崇久

重質油中のポルフィリン誘導 【電子スピン共鳴装置】
体の物性評価【SQUID 型磁化測定装置】

1074

後期

山梨大学大学院総合研究部
教育学域

准教授

森長

久豊

固体酸触媒によるポリマー合 【MALDI-TOF 質量分析】Bruker microflex
成
LRF

1075

前期

名古屋市立大学大学院薬学
研究科

教授

樋口

恒彦

カルコゲン型アニオン配位ヘ【電子スピン共鳴装置】
ムの磁気的特性に関する研究

1075ｂ

後期

名古屋市立大学大学院薬学
研究科

教授

樋口

恒彦

カルコゲン型アニオン配位ヘ【電子スピン共鳴装置】
ムの磁気的特性に関する研究

1076

後期

信州大学農学部

助教

梅澤

公二

【熱分析装置】MicroCal VP-DSC【熱分析装置】MicroCal  iTC200
タウタンパク質と予測結合物【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
質の熱量測定UV-3600Plus【円二色性分散計】JASCO J-720WI

1077

前期

新潟大学 研究推進機構

准教授

古川

貢

【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
ESR を利用した米糠による 【電子スピン共鳴装置】【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
環境計測の試みUV-3600Plus

1077ｂ

後期

新潟大学 研究推進機構

准教授

古川

貢

【蛍光Ｘ線分析装置】JEOL JSX-3400RII
ESR を利用した米糠による【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
環境計測の試み【電子スピン共鳴装置】

1078

前期

京都大学化学研究所

特定
研究員

井手

雄紀

スピン化学種を有するフラー【電子スピン共鳴装置】
レン誘導体の磁気的性質の検【SQUID 型磁化測定装置】
討

1079

前期

高エネルギー加速器研究機
構 加速器研究施設

助教

許斐

太郎

窒素中熱処理を行った多結晶【電子顕微鏡】（SEM）HITACHI SU6600
ニオブの表面観察

機器センターたより93９．共同利用採択課題一覧
課題
申請
番号
区分
（S-18-MS-）

所

属

後期

山梨大学大学院医工農学総合教育部博士課程工学専攻
エネルギー物質科学コース
物質化学分野

1081

後期

東京理科大学
部

1082

後期

1083

1080

職

名

D1

提案代表者

久保田

研究課題

利用研究設備恒喜

ESR 法を用いたアンモニウ
ム形 Y 型ゼオライトの酸素欠 【電子スピン共鳴装置】
損評価

教授

秋津

貴城

高分子膜中のアゾベンゼン含有錯体への偏光・光渦 UV 照
【円二色性分散計】JASCO J-720WI
射による波長選択的分子配向
誘導九州大学 先導物質化学研究
所

学術
研究員

中西

匠

SCO と連動した光誘起プロ【単結晶Ｘ線回折装置】（微小結晶用）Rigaku
トン移動を示す鉄二価錯体のHyPix-AFC
アニオン置換効果

後期

京都大学国際高等教育院

教授

加藤

立久

一酸化窒素ラジカルを内包するフラーレンのパルス電子ス 【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
ピン共鳴によるスピン緩和過 【電子スピン共鳴装置】
程の研究

1084

後期

大分大学医学部消化器小児
病院
外科
特任助教

小川

雄大

ラマン分光法を用いたヒル【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
シュスプルング病における無Reflex
神経節腸管の可視化

1085

後期

豊田理化学研究所

フェロー

黒田

新一

高移動度有機トランジスタ中のキャリアの電場誘起 ESR 【電子スピン共鳴装置】
による研究

1086

後期

大阪市立大学理学部理学科

准教授

鐘本

勝一

有機半導体の電子スピン緩和【電子スピン共鳴装置】Bruker E680
時間計測

1096

後期

京都工芸繊維大学 大学院
工芸科学研究科 電気電子
工学系

准教授

今田

早紀

（SEM）HITACHI SU6600
深紫外発光デバイスの高効率 【電子顕微鏡】
化のための a 軸配向 Fe 添加 【顕微ラマン分光装置】RENISHAW inVIA
ReflexAlN 薄膜の単結晶化研究

1097

後期

静岡大学 大学院総合科学
技術研究科 工学専攻 電子物質科学コース

助教

中嶋

聖介

新規ファラデー材料に向けた
ナノ構造薄膜及びナノ磁性微【SQUID 型磁化測定装置】
粒子分散キセロゲルの磁気的
性質

1098

後期

広島大学原爆放射線医科学
研究所

助教

廣田

誠子

生体物質の ESR 測定を用い【電子スピン共鳴装置】
た緊急被ばく時線量評価手法【SQUID 型磁化測定装置】
の開発

1099

後期

三重大学大学院地域イノ
ベーション学研究科

助教

林

侑介

窒化物半導体の光学特性評価

理学部第二【紫外・可視・近赤外分光光度計】Shimadzu
UV-3600Plus【機器の表記について】◎【SQUID 型磁化測定装置】 ： Quantum Design MPMS-7 または MPMS-XL7◎【電子スピン共鳴装置】 ： Bruker EMX Plus または E500◎【単結晶 X 線回折装置】 ： Rigaku MERCURY CCD-1・R-AXIS Ⅳ または Rigaku MERCURY CCD-2

94

機器センターたより

10．設備利用状況

平成30年度設備利用状況
設備名
電子スピン共鳴（ESR）装置
EMX Plus
E500
E680
SQUID 型磁化測定装置
MPMS-7
MPMS-XL7
単結晶 X 線回折装置
MERCURY CCD-1
MERCURY CCD-2
MERCURY CCD-3結晶スポンジ法 X 線回折装置
Rigaku XtaLAB P200
Rigaku SuperNova
粉末 X 線回折装置
RINT-UltimaIII
X 線溶液散乱測定装置
NANO-Viewer
電子分光装置
機能性材料バンド構造顕微分析システム
Omicron EA-125
電子顕微鏡
SEM ／ JSM-6700F
SEM ／ SU6600
熱分析装置
Rigaku DSC8231/TG-DTA8122
VP-DSC
iTC200質量分析計
Bruker microflex LRF
所内 JEOL JMS777V
有機微量元素分析装置
所内 MICRO CORDER JM10
蛍光Ｘ線分析装置
JSX-3400RII
核磁気共鳴（NMR）装置
AVANCE800（溶液）
AVANCE600（固体）JNM-ECA600
所内 JNM-ECS400
ピコ秒レーザー
Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
蛍光分光光度計SPEX Fluorolog 3-21
円二色性分散計
J-720WI
紫外・可視・近赤外分光光度計
UV-3600 Plus
フーリエ変換赤外（FTIR）分光光度計
IFS 66v/S
顕微ラマン分光装置
RENISHAW inVIA Reflex
超伝導磁石付希釈冷凍機
所内 Kelvinox 400
低温冷媒供給設備
明大寺地区
山手地区

（2018.4.1 ～ 2019.3.31）
利用日数
実利用

利用グループ数
所外利用

所内利用

合計

所外利用

所内利用

合計

日数

13
28
14

3
4
0

16
32
14

40
115
165

11
24
0

51
139
165

51
137
160

24
23

3
3

27
26

268
243

9
52

277
295

247
260

12
11
11

1
0
2

13
11
13

122
102
100

7
0
29

129
102
129

122
97
124

9
5

2
1

11
6

67
51

22
9

89
60

89
60

2

4

6

6

35

41

39

2

2

4

11

63

74

74

4
2

3
3

7
5

62
9

63
11

125
20

125
20

3
8

0
11

3
19

19
62

0
16

19
78

19
75

2
2
7

6
0
0

8
2
7

22
3
38

14
0
0

36
3
38

36
3
38

2

7
4

9
4

5

114
32

119
32

109
31

5

5

84

84

69

1

4

5

3

6

9

9

11
2
3

1
0
11
5

12
2
14
5

378
320
64

2
0
77
375

380
320
141
375

341
320
125
195

5

1

6

29

4

33

33

8

3

11

24

19

43

42

3

4

7

9

6

15

15

9

4

13

20

15

35

35

0

0

0

0

0

0

0

10

1

11

72

2

74

72

2

2

8

8

8

液体ヘリウム（L）
41,882.0
3,724.0

供給量
液体窒素（L）
20,929.0
17,839.0

窒素ガス（m3）
768.0※所内利用に協力研究等の所外研究者を含む場合もあり※利用日数：同日の重複利用も含む

機器センターたより9511．研究報告一覧

平成30年度研究報告一覧
学術論文（71 報）
H. S. A. MANDOUR, Y. NAKAGAWA, M. TONE, H. INOUE, N. OTOG, I. FUJISAWA, S.
CHANTHAMATH, S. IWASA, Reusable and highly enantioselective water-soluble Ru（II）-Amm-Pheox
catalyst for intramolecular cyclopropanation of diazo compounds, beilstein J. Org. Chem. 15, 357-363（2019）.
Y. NAKAGAWA, N. NAKAYAMA, H. GOTO , I. FUJISAWA, S. CHANTHAMATH, K. SHIBATOMI, S.
IWASA, Computational chemical analysis of Ru（II）-Pheox-catalyzed highly enantioselective intramolecular
cyclopropanation reactions, CHIRALITY 31,52-61（2019）.
Y. NAKAGAWA, Y. IMOKAWA, I. FUJISAWA, N. NAKAYAMA, H. GOTO, S. CHANTHAMATH, K.
SHIBATOMI , S. IWASA, Ligand Exchange Reaction on a Ru
（II）
-Pheox Complex as a Mechanistic Studyof Catalytic Reactions, ACS OMEGA 3 , 11286-11289（2018）.
M. TONE, Y. NAKAGAWA, S. CHANTHAMATH, I. FUJISAWA, N. NAKAYAMA, H. GOTO, K.
SHIBATOMI , S.IWASA, Highly stereoselective spirocyclopropanation of various diazooxindoles with
oleﬁns catalyzed using Ru（ii）-complex, RSC ADVANCES 8, 39865-39869（2018）.
I. FUJISAWA, Y. KITAMURA, Y. KATO, K. AOKI, Crystal structures of resorcin[4]arene andpyrogallol[4]arene complexes with proline: A model for proline recognition through C-H・・・π interaction, J.
Mol. Struct. 1163, 336-344（2018）.
H. HAGIWARA, High-temperature Spin Crossover of a Solvent-Free Iron
（II）Complex with the Linear
Ph
Ph
（AsF
]
= bis[N（1-Phenyl-1H-1,2,3-triazol-4-yl）
methylidene-2Hexadentate Ligand [Fe（L2-3-2 ）6）2（L 2-3-2aminoethyl]-1,3-propanediamine）, Magnetochemistry 5, 10（2019）.
H. YAMAGUCHI, D. YOSHIZAWA, T. KIDA, M. HAGIWARA, A. MATSUO, Y. KONO, T.
SAKAKIBARA, Y. TAMEKUNI, H. MIYAGAI AND Y. HOSOKOSHI, Magnetic-field-induced
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N. UEMOTO, Y. KONO, S. KITTAKA, T. SAKAKIBARA, T. YAJIMA, Y. IWASAKI, S. MIYAMOTO,
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96

機器センターたより

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98

機器センターたより

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S. KITOU, S. KOBAYASHI, T. KANEKO, N. KATAYAMA, S. YUNOKI, T. NAKAMURA and H.
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A. HATANO, N. TERADO, Y. KANNO and T. NAKAMURA, Synthesis of a protected ribonucleosidephosphoramidite-linked spin label via an alkynyl chain at the 5 position of uridine, Synthetic
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Electron Transfer via Dynamic Quenching, J. Phys. Chem. C 122, 11282-11287（2018）.[共]
Y. FURUKAWA, C. LIM, T. TOSHA, K. YOSHIDA, T. HAGAI, S. AKIYAMA, S. WATANABE, K.
NAKAGOME, Y. SHIRO, Identiﬁcation of a novel zinc-binding protein, C1orf123, as an interactor with aheavy metal-associated domain, PLoS One 13, e0204355; doi: 10.1371/journal.pone.0204355（2018）. [共]M. KIKUCHI, M. HIROTA, T. KUNAWONG, Y. SHINMURA, M. ABE, Y. SADAMITSU, A. M.
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S. PAN. S. YAN, T.OSAKO and Y. UOZUMI, Controlled Aerobic Oxidation of Primary Benzylic Alcohols
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G. SHEN, T. OSAKO, M. NAGAOSA and Y. UOZIMI, Aqueous Asymmetric 1,4-Addition of
Arylboronic Acids to Enones Catalyzed by an Amphiphilic Resin-Supported Chiral Diene Rhodium Complex
under Batch and Continuous-Flow Conditions, J. Org. Chem. 83, 7380-7387（2018）.
T. OSAKO, M. NAGAOSA, G. HAMASAKA and Y. UOZUMI, Asymmetric Copper-Catalyzed C（sp）–H
Bond Insertion of Carbenoids Derived from N-Tosylhydrazones, Synlett 29, 2251-2256（2018）.

100

機器センターたより

11．研究報告一覧
G. KAWAGUCHI, A. A. BARDIN, M. SUDA, M. URUICHI, AND H.M. YAMAMOTO, An Ambipolar
Superconducting Field-Effect Transistor Operating above Liquid Helium Temperature, Adv. Mater. 2018,
1805715（2019）.
H. OIKE, M. SUDA, M. KAMITANI, A. UEDA, H. MORI, Y. TOKURA, H. M. YAMAMOTO, AND F.
KAGAWA, Size effects on supercooling phenomena in strongly correlated electron systems: IrTe2 and θ−（SCN）（2018）.
（BEDT − TTF）
2RbZn
4, Phys. Rev. B, 97, 085102
Y. KAWAKAMI, T. AMANO, Y. YONEYAMA, Y. AKAMINE, H. ITOH, G. KAWAGUCHI, , H.
KISHIDA, K. ITOH, T. SASAKI, S. ISHIHARA, Y. TANAKA, K. YONEMITSU, AND S. IWAI, Nonlinear charge oscillation driven by single-cycle light-ﬁeld in an organic superconductor, Nature Photonics
12, 474（2018）. [共]機器センターたより

10112．編集委員

編集委員
編集担当

横山

利彦

（委員長）

高山

敬史

（編集担当）

水川

哲徳・賣市

岡野

芳則

浅田

瑞枝・上田

藤原

基靖

（利用者アンケート報告担当）

兵藤

由美子

（研究報告一覧・事務担当）

幹大（所有設備紹介担当）（研究紹介担当）
正（センターの利用方法担当）

機器センターたより

No.11

発行日

令和元 年９月 30 日（年 1 回発行）

発

大学共同利用機関法人

行

分子科学研究所

自然科学研究機構

機器センター〒444-8585
愛知県岡崎市明大寺町字西郷中 38
編
印

集
刷

横山

利彦 （センター長）

高山

敬史 （編集長）

株式会社エニウェイ
本誌記載記事の無断転載を禁じます

102

機器センターたより

Instrument Center
Nishigonaka 38, Myodaiji, Okazaki 444-8585 Aichi, JapanT E L : +81 -5 6 4 - 5 5 -7 4 7 0
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