システム技術部の紹介
工業研究所は本年４月から、名古屋市産業振興評価技術。半導体素子・材料の製作と評価技術。

ビジョンに基づき、ものづくりを担う当地域の企電磁波・高周波特性評価技術。電磁ノイズ対策。

業の皆様への技術支援をより効果的に行うために電気・磁気的特性評価技術。画像応用システムの組織再編を行いました。主な変更点は、１）サイ開発支援など。中部エレクトロニクス振興会と共エンスパークでの共同研究やその成果の技術移転

同研究「低銀鉛フリーはんだの接合信頼性に関すを目指す「プロジェクト推進室」の設置、２）従来る研究」、２３年度から指定研究「広域周波数の電磁の機械金属部、材料化学部、電子情報部の３部体波に対応した材料特性及び製品評価技術の開発」

制から「システム技術部」、「材料技術部」の２部を実施しています。

体制への移行です。今号では、システム技術部の７４
計測技術研究室 （０５２）６５４−９８

各研究室の担当分野をご紹介します。

熱・温度に関する物性評価技術。製品の形状・８６１
製品技術研究室 （０５２）６５４−９表面粗さなどの精密測定。機器から発生する音工業製品・部材の強度や応力ひずみ評価技術。

響・振動の測定評価。モーダル解析による機械振耐候性・耐光性評価技術。製品の振動耐久性評価

動の可視化。緩衝材などの衝撃測定。繊維等の軟技術など。２
４年度からは重点研究「製品の評価技

質材料の物性評価。複合・積層材料の動的粘弾性術に関する研究開発」を実施しています。

測定など。２３年度から指定研究「熱物性評価技術

３８生産システム研究室 （０５２）
６５４−９９の向上に関する研究」を実施しています。

ＣＡＥを活用した製品開発・設計・評価技術。組工業研究所では、受託研究、依頼試験、技術相込みソフトウェアの開発や工業標準に基づいたソ談をはじめ人材育成などの業務を通じて、企業のフトウェア製品の評価。機械・設備の予防保全技

皆様の抱える技術的課題解決や新技術開発、新製術など。２
２年度から重点研究「ＣＡＥを活用した樹品開発のお手伝いをいたします。また、国が実施

脂部品の設計技術の開発」、２３年度から重点研究する戦略的基盤技術高度化支援事業などへの応募「電子制御機器の設計効率化の研究」を実施していに際しても積極的に協力いたします。お気軽にごます。

相談ください。

電子技術研究室 （０５２）
６５４−９９２６（システム技術部長

電子機器・部品の温湿度環境下における信頼性増尾嘉彦）

１ＴＥＬ （０５２）
６５４−９９４

設備紹介「電子制御機器の設計効率化の研究」関連の新規導入設備（平成２３年度（財）
ＪＫＡ設備拡充補助事業）
これらの測定方法に関する技術講演会を８月３１

１．はじめに日に開催する予定です。

近年の工業製品は大多数が電子制御化されており、電子機器には高い信頼性が要求されます。そして、小型・高速化のために、熱と電磁ノイズの問題が大きくなってきました。これらの対策は相反するため、両立した設計が困難です。これまでに熱設計に関する多数の技術相談を受けてきましたが、熱対策だけに偏ると電磁ノイズの問題が大きくなるという一面がありました。そこで、本事業では、この問題を解決するために最適な設計手法を確立することを目的とし、熱および電気特性過渡熱抵抗測定装置に関する物性測定、シミュレーション、試作品の（仕様）評価まで一貫して支援することを目指します。こメーカー：メンター ･グラフィックス･ジャパン㈱れにより、設計の短期化とコストダウンおよび信

形式：Ｔ３Ｓｔｅｒ

頼性の高い製品開発が可能になると考えます。以

設備仕様：Ｓｔａｔ
ｉｃ法、試料加熱用電源ブースター

下では、本事業で導入した装置を紹介します。こ

５０Ａ /３０、試料冷却用デュアルコールドプレート、れらの装置は（財）ＪＫＡの平成２３年度公設工業試サーキュレータ

験研究所の設備拡充補助事業で導入されたもので

測定温度範囲：５〜９０℃す。
３．デジタルマイクロスコープ
２．過渡熱抵抗測定装置

電子部品をカットした断面の詳細な観察、はんＰＮ接合に定電流を流すときの電圧に温度依存だ接合状態の観察などに使用できます。光学顕微性があることを利用して、電子部品およびそれに鏡ではほぼ最高の仕様を有しており、他の分野で接続しているデバイス等の熱抵抗を測定します。

も有効に活用できます。３Ｄ観察も可能です。

製品に組み込んだ状態での評価ができるため、様々な応用が可能です。以下に例を示します。
・放熱経路の確認
・ダイアタッチの評価
・積層ダイ・パッケージのテスト
・マテリアル特性の識別

マイクロスコープおよび観察画像

・熱設計モデルの検証と妥当性確認（仕様）

・現場における非破壊的な故障解析

メーカー：ハイロックス

・パワー・サイクリング信頼性試験の評価

形式：ＫＨ−７７００

・実製品状態の環境における部品の熱評価

倍率：３５〜２５００倍    

主機能：静止画、動画、２Ｄ計測、３Ｄ観察（仕様）

アダプタ等：角度可変ロータリーヘッド、拡散照

メーカー：英弘精機㈱明、可変照明、片射、偏光、透過照明

７４/２００
形式：ＨＣ−０
測定方法：定常法−熱流計法

４．熱拡散率測定装置

測定温度：１０〜６５℃

主に放熱材料の熱拡散率を測定します。多層材

測定範囲：０．
００５〜０．
３５ Ｗ（ｍ/ ・Ｋ）

料、異方性材料の測定が可能になりました。

試験体形状：２００×２００㎜、厚さ５〜５０㎜

６．熱流体解析装置
電子機器内部や周囲の熱流体を計算し、流体の流れや温度上昇を予測します。試作費用の削減や開発期間短縮に貢献します。また、ファンなどの回転体の計算ができ、これまでより詳細な検討ができます。

熱拡散率測定装置（仕様）
メーカー：ＮＥＴＺＳＣＨ社
形式：ＬＦＡ４４７−ＮＳ２２ Ｎａｎｏ
ｆｌａｓｈ
測定温度：室温〜３００℃
試験体形状：直径１０㎜ 厚さ１〜２㎜ の円板

熱流体解析装置

５．熱伝導率測定装置（仕様）

断熱材等の熱伝導性が低い材料の熱伝導率をメーカー：㈱ソフトウェアクレイドル

Ｊ
ＩＳ１４１２−２に準拠して測定することができます。

形式：ＳＣＲＹＵ / Ｔｅｔｒａ、ＣＡＤＴｈｒｕ、熱設計ＰＡＣ
設備仕様：非構造格子、構造格子、多種流体・移
動変形メッシュ、解適合機能、熱変形など
ハードウェア：ＨＰＺ８００（Ｘｅｏｎ５６９０×２、メモリ４８ＧＢ）

７．電磁界解析装置
電子機器が発する電磁波（高周波領域）の大規模な解析が可能であり、電磁ノイズ対策の検討に熱伝導率測定装置利用できます。

    

高周波材料特性測定装置

電磁界解析装置（仕様）（仕様）

メーカー：Ｓｃｈｍｉ
ｄ＆Ｐａｒ
ｔｎｅｒ Ｅｎｇｉ
ｎｅｅｒｉｎｇ

メーカー：アジレント・テクノロジー（株）、

形式：ＳＥＭＣＡＤ Ｘ（株）関東電子応用開発

設備仕様：ＦＤＴＤ法、ＳＡＲ計算

形式：Ｅ５０７１Ｃ，
８
５０７０Ｅ，ＣＳＨ２−ＡＰＣ７，ＣＳＨ５−２０Ｄ

ハードウェア：ワークステーション

誘電率測定：
０．
２〜８．
５ＧＨｚ（固体、半固体、液体）、

ＧＬＸＳ２−ＳＥＭＸ（Ｘｅｏｎ５６９０×２、４８ＧＢ、ＴＥＳＬＡＣ

０．
１〜８．
５ＧＨｚ
（固体）、
２．
４５ＧＨｚ，５．
８ＧＨｚ（高精度）

２０７５×２）透磁率測定：０．
１〜８．
５ＧＨｚ
（固体）

８．高周波材料特性測定装置

９．おわりに電磁ノイズ対策のために、固体のみならずゲルこれらの装置を互いに組み合わせ利用すること状などの半固体や液体の複素誘電率を測定するこで熱と電磁ノイズの両立の問題を解決し、物性測とができます。特定の周波数のみではなく、目的定、シミュレーション、試作評価までを総合的にの周波数領域で掃引した特性の変化も測定するこ支援します。また、設計開発に役立つようにこれとができます。樹脂や塗膜などの材料の電気的特らの装置に関連した技術講演会も随時行いますの性の測定に活用できます。また、固体の複素透磁で是非ご参加ください。

率を測定できます。

問い合わせ先 （生産システム研究室梶田欣）

ＴＥＬ（０５２）
６５４−９９４０月刊

名工研・技術情報 ６・７月号
発行部数 １，５００部
無料 特定配布
編集担当 名古屋市工業研究所 支援総括室

平成２４年６月１日 発行
発行

№７２７

名古屋市工業研究所 名古屋市熱田区六番三丁目４番４１号
ＴＥＬ（０５２）
６６１−３１６１ ＦＡＸ（０５２）
６５４−６７８８ｈｔ
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ｎｍｉｒｉ．
ｃｉｔｙ．
ｎａｇｏｙａ．
ｊｐ／「この月刊名工研・技術情報は古紙パルプを含む再生紙を使用しています。」