住基カードおよびリーダライタ
互換性検証試験
試験仕様書（第1.0版）

2003年6月16日
財団法人ニューメディア開発協会

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版

目次
123

目的・背景 .......................................................................... 3
参照仕様書等......................................................................... 3
試験対象 ............................................................................ 4
3.1
ベンダー ........................................................................ 4
3.2
ＩＣカード ...................................................................... 4
3.3
リーダライタ..................................................................... 44
試験環境等 .......................................................................... 44.1
試験用ＰＣ ...................................................................... 44.2
ＰＣ用ＯＳ ...................................................................... 44.3
被試験リーダライタ............................................................... 44.4
その他 .......................................................................... 45試験仕様と要件....................................................................... 55.1
試験一覧 ........................................................................ 55.2組み合わせ ...................................................................... 55.3
カード挿入方向................................................................... 55.4
試験共通事項..................................................................... 55.5
試験内容と合格判定基準 ........................................................... 65.6Ｃ３試験用コマンド............................................................... 75.7
被試験用ＩＣカードの貸与について ................................................. 75.8
被試験用リーダライタの貸与について ............................................... 75.9
不合格時の措置................................................................... 86試験ソフトウェア仕様................................................................. 96.1ソフトウェア構成................................................................. 96.2
処理フロー ..................................................................... 106.3
結果帳票フォーマット............................................................ 147試験ソフトウェア開発・使用条件 ...................................................... 157.1ハードウェア.................................................................... 157.2
ソフトウェア開発環境............................................................ 158
互換性機能試験作業.................................................................. 158.1
試験作業手順.................................................................... 158.2
互換性試験作業場所等............................................................ 152

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試験仕様書 第 1.0 版

1 目的・背景・ 住民基本台帳ネットワークに提供する非接触 IC カード及びリーダライタにおいて、異なるベンダー間の互換性を検証するため、互換性試験の内容、方法、基準、試験環境および試験手順を明確化する。
・ 互換性試験ソフトウェアによる試験結果に基づいて、IC カード及びリーダライタの互換性に関する報告書を作成する。

2 参照仕様書等
住基カード仕様書「住民基本台帳ネットワークシステム
第 2．2 版」 H15.1.20 LASDEC

住民基本台帳カード仕様書(TypeⅠ)

リーダライタ仕様書「住民基本台帳ネットワークシステム
１．０版」 H13.8.1 LASDEC

ＩＣカードリーダライタ調達仕様書

NMDA 実装規約書「近接型通信インタフェース実装規約書

第 1.1 版」

3

H13.7 ＮＭＤＡ

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試験仕様書 第 1.0 版

3 試験対象
3.1 ベンダー・ 住民基本台帳ネットワークシステムにＩＣカードおよびリーダライタを提供予定の全ベンダーの内、本試験に参加を希望するベンダーを対象とする。

3.2 ＩＣカード
・ 住基用カード（TypeⅠ）を試験対象とする。
・ 各ＩＣカードベンダーは試験を希望する１種類または複数種類のＩＣカードを準備する。
・ カードの特性等のばらつきを考慮し、１種類のＩＣカードに付き３枚を試験対象とする。

3.3 リーダライタ
・ 住基カード用リーダライタおよび操作者用リーダライタを試験対象とする。
・ 各リーダライタベンダーは試験を希望する１種類または複数種類のリーダライタを準備する。
・ リーダライタの特性等のばらつきを考慮し、１種類のリーダライタに付き２台を試験対象とする。
・ ＰＣとのインタフェースは RS232C またはＵＳＢとする。
・ RS232C またはＵＳＢの２つのインタフェースを持つリーダライタの場合は、ベンダーが指定するどちらか一方のインタフェースを使用して試験を実施する。

4 試験環境等
4.1 試験用ＰＣ
・ ニューメディア開発協会が準備した Windows 機とする。
・ インタフェースは、ＲＳ２３２Ｃ（DSUB 9pin）およびＵＳＢ（Ver2.0）を持つ。

4.2 ＰＣ用ＯＳ・ Windows 2000 SP3 とする。

4.3 被試験リーダライタ
・ １台のＰＣに２台以上のリーダライタを接続しない。
・ 試験終了したリーダライタのリーダライタドライバは、他機種のリーダライタを試験する場合でも特に削除は行わない。

4.4 その他
・ 周囲環境は、通常オフィス環境とする。

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試験仕様書 第 1.0 版

5 試験仕様と要件
5.1 試験一覧
本試験で実施する試験の一覧を以下に示す。
表 5 -1
試験番号C1C2

C3C4試験一覧

試験名

試験内容備考IC カードをリーダライタに挿入
リクエスト／アトリビュ
後、アクティブ状態まで遷移出ート試験来るか確認する。
ISO/IEC14443-4 の伝送プロトコ Ｃ３試験で行われる伝送プロトコル試験
ル が 正 し く 動 作 す る か 確 認 す コマンド送受信試験
る。の範囲内で確認。
コマンド送受信試験

カードコマンドが正しく動作するか確認する。

チップ温度確認試験

IC カードをリーダライタ内に一定時間放置した後のＩＣチップ付近の表面温度を測定する。

5.2 組み合わせ・ リーダライタ全種類とＩＣカード全種類のクロステストを行う。
・ リーダライタ１台対し、ＩＣカード１枚を挿入して実施する。
・ 試験毎のリーダライタとＩＣカードの組み合わせは下表の通りとする。
表 5 -2
試験番号

C1

C2

C3

C4

試験名

組み合わせ方法

試験を実施するリーダライタとＩＣカードの組み合わせ

備考

リーダライタ全数とＩＣカードリクエスト／アトリビュ全数の組み合わせについて試験
ート試験を実施する。
Ｃ１試験が合格した全ての組み伝送プロトコル試験
合わせについて試験を実施する。
コマンド送受信試験（同上）

チップ温度確認試験

個々の特性に大きくリーダライタ１台とＩＣカード影響しないと考えら１枚のみを選び試験を実施すれるため、無作為にる。
選び出す。

5.3 カード挿入方向
・ リーダライタに対して４つの挿入方向で試験を実施する。
４つの挿入方向 ： 表面が上向きでの挿入方向が２方向と、裏面にした時の挿入方向が２方向。

5.4 試験共通事項
・ 試験を行う場合は、リーダライタの電源投入から３０分経過後に開始する。
（目的：リーダライタの電源投入直後の不安定動作を避けるため）
5

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試験仕様書 第 1.0 版

・ 試験が失敗となった場合、原因解析に役立てるためにできるだけその時のカード状態を検出し記録する。
・ ＰＣとリーダライタ間、およびリーダライタとＩＣカード間の通信特性に影響があるパラメー
タに関しては、試験対象リーダライタとそのドライバ（リーダライタドライバ）の組み合わせにおけるデフォルト値で使用することとし、試験中は特に変更を行わない。

5.5 試験内容と合格判定基準（1） Ｃ１試験
・ リーダライタドライバＡＰＩのリクエストＢ機能およびアトリビュート機能を使用して、ISO/IEC14443-3 Type-B に準拠した初期化処理、衝突防止処理および ATT 受信を行う。
・ ＩＣカード１枚に対し、１挿入方向に対し１０回、４挿入方向で合計４０回実施する。
・ 合格基準は、下表とする。
表 5 -3 Ｃ １ 試 験 合 格 基 準判定
合格
不合格基準

備考

全組み合わせが９回以上の成功をしている場合
上記以外の場合（2） Ｃ２/Ｃ３試験
・ ISO/IEC14443-4 伝送プロトコル試験（Ｃ２試験）、およびコマンド送受信試験（Ｃ３試験）を行う。
・ ＩＣカード１枚に対し、１挿入方向に対し１０回、４挿入方向で合計４０回実施する。
・ Ｃ２試験は単独では実施せず、Ｃ３試験の実施結果に基づいて判定を行う。
・ Ｃ２試験の合格基準は、Ｃ３試験（コマンド送受信試験）結果に基づいて下表とする。
表 5 -4 Ｃ ２ 試 験 合 格 基 準判定
合格

不合格

基準

備考

少なくとも１つのコマンドについて、全組み合わせが９回以上の成功をしている場合
上記以外の場合・ Ｃ３試験の合格基準は、「5.6 Ｃ３試験用コマンド」のコマンド送受信実行結果に基づいて下表とする。
表 5 -5 Ｃ ３ 試 験 合 格 基 準判定
合格

不合格

基準
全てのコマンドについて、全組み合わせが９回以上の成功をしている場
合
上記以外の場合6

備考

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試験仕様書 第 1.0 版（3） Ｃ４試験
・ ＩＣカードをリーダライタ内に一定時間放置した後のカード表面温度測定を行う。
・ ＩＣカードを挿入し、リーダライタＡＰＩのパワー供給制御機能にてＲＦをＯＮにして５分間放置後、ＩＣカードを排出して表面温度を測る。
・ 測定部位は、端子付きＩＣカードの場合は接触用端子とその裏面、端子無しＩＣカードの場合はＩＣチップ付近の表面と裏面とし、数点測定して最も温度が高かった温度を記録する。
・ 表面温度の測定は、リーダライタから排出後速やか（５〜１０秒間）に行う。
・ 任意のリーダライタ 1 台と任意のＩＣカード１枚の組み合わせにて本試験を実施する。
・ カード挿入方向は表面を上向きとし、接触用端子（端子無しの場合はＩＣチップ）が先に挿入される方向と、その反対方向の２方向とする。
・ 本試験による合格／不合格の判定は行わない。（表面温度を結果として残す）

5.6 Ｃ３試験用コマンド
・ ＩＣカードリーダライタドライバＡＰＩのＩＣカードコマンド送信(ICRW̲ICCmd)とＩＣカードレスポンス受信(ICRW̲ICResp)を使用して、ＩＣカードコマンドの送受信を行う。
・ 試験プログラムで自動判定させるため、各コマンド APDU に対するＩＣカードの正常レスポン
スは、SW1SW2=９０００h が返送されること。
・ 試験に使用するＩＣカードコマンドは以下とする。
表 5 -6 Ｃ ３ 試 験 用 コ マ ン ド
コマンド名
１２３４SELECT FILEGET DATAINTERNAL AUTHENTICATEハイパワーコマンド説明プラットフォームコマンド
（同上）
（同上）
最も消費電力が大きいコマンド

備考
住基カード仕様書参照
住基カード仕様書参照
住基カード仕様書参照
カードベンダーが申告

・ ＩＣカードリーダライタドライバ側に ISO/IEC14443-4 伝送プロトコルのシナリオが組み込まれていない場合、試験プログラム側に組み込まれた NMDA 実装規約書のリーダライタ側伝送制御マトリクスに基づいたシナリオを利用する。 その場合のリトライ回数は、N=3 とする。

5.7 被試験用ＩＣカードの貸与について・ ＩＣカードベンダーは、以下のものをニューメディア開発協会に提供すること。
① 試験が実施できる状態に発行済みの被試験ＩＣカード② コマンドＡＰＤＵと正常時のレスポンスＡＰＤＵが書かれた資料③ 端子無しＩＣカードの場合、Ｃ４測定ポイントであるＩＣチップの位置情報を提供すること。
・ その他① 検証結果に影響が予想される取り扱い上の注意事項は、試験作業の事前に情報を提供すること。

5.8 被試験用リーダライタの貸与について・ リーダライタベンダーは、以下のものをニューメディア開発協会に提供すること。
① 被試験リーダライタ （通信ケーブル、電源ケーブル、変換コネクタ等を含む）② 「4.2 ＰＣ用ＯＳ」で動作するリーダライタ仕様書に準拠したリーダライタドライバ
・ その他① リーダライタが USB と RS232C の両インタフェースを持つ場合、どちらを使用するかリーダライタベンダーが指定すること。
② 検証結果に影響が予想される取り扱い上の注意事項は、試験作業の事前に情報を提供すること。
7

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試験仕様書 第 1.0 版

5.9 不合格時の措置
・ 不合格の組み合わせが発生した場合は、関係者（ＩＣカードベンダ、リーダライタベンダ、ＮＭＤＡ、検証作業者）で、状況確認→原因解析→合否判定会議→合否決定の流れで最終的な判定をする。

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試験仕様書 第 1.0 版

6 試験ソフトウェア仕様
6.1 ソフトウェア構成
準備分担

互換性検証作業者

試験プログラム

ドライバＡＰＩ

ＩＣカードリーダライタドライバ（リーダライタ仕様書準拠）

リーダライタUSB／RS232Cリーダライタ

ISO/IEC14443-2,3,4

ＩＣカード

住基カード

図 6 -1 ソ フ ト ウ ェ ア 構 成

9住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版

6.2 処理フロー（1） 基本試験フロー
以下にリーダライタ１台に対する試験基本フローを示す。
Ｃ４試験は、他の試験と独立して行う。

START
ポートオープン (ICRW̲Open)
リ ー ダ ラ イ タ リ セ ッ ト(ICRW̲Reset)

開始処理
カードを挿入

Ｃ１試験

NO

合格
YES
Ｃ２／Ｃ３試験

終了処理

NO

４挿入方
向YES
有次のＩＣカー

無STOP

図 6 -2 基 本 処 理 フ ロ ー （ １ ／ ２ ）10

ポートクローズ (ICRW̲Close)住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版

START

開始処理

ポートオープン (ICRW̲Open)
リ ー ダ ラ イ タ リ セ ッ ト(ICRW̲Reset)

カードを挿入Ｃ４試験終了処理

NO２挿入方向YESSTOP

図 6 -3 基 本 処 理 フ ロ ー （ ２ ／ ２ ）11

ポートクローズ (ICRW̲Close)住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版（2） Ｃ１試験処理フロー

BEGIN

ＲＦ ON
(ICRW̲PowerCtrl)

リクエストＢ(ICRW̲ReqB)

アトリビュート(ICRW̲AttribB)

C1 成功

ＲＦ OFF(ICRW̲PowerCtrl)

カード取込(ICRW̲CardIn)

カードアウト(ICRW̲CardOut)

NO

１０回繰
り返し

YES
ＥＮＤ

図 6 -4 Ｃ １ 試 験 処 理 フ ロ ー12NGNG

C1 失敗

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版（3） Ｃ２/Ｃ３試験

BEGIN

カード取込 (ICRW̲CardIn)
ＲＦ ON (ICRW̲PowerCtrl)
リクエストＢ (ICRW̲ReqB)
アトリビュート

カードコマンド１実行
SELECT FILE
カードコマンド２実行
GET DATA
カードコマンド３実行
INTERNAL AUTHENTICATE
カードコマンド４実行
ハイパワーコマンドNG

ＲＦ OFF (ICRW̲PowerCtrl)
カードアウト (ICRW̲CardOut)
NG

１０回連
続ＮＧ？

NG

YES

NG
Ｃ２／Ｃ３
失敗
NG

カードコマンド n
失敗

ＲＦ OFF (ICRW̲PowerCtrl)
カードアウト (ICRW̲CardOut)
NO

１０回繰
り返し

YES

ＥＮＤ
図 6 -5 Ｃ ２ ／ Ｃ ３ 試 験 処 理 フ ロ ー

13NO住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.0 版（4） Ｃ４試験処理フロー
BEGIN

ＲＦ ON(ICRW̲PowerCtrl)

NO

指定時間
経過しYES
ＲＦ OFF(ICRW̲PowerCtrl)
カードアウト(ICRW̲CardOut)
チップ付近表面温度測定・記録

ＥＮＤ

図 6 -6 Ｃ ４ 試 験 処 理 フ ロ ー

6.3 結果帳票フォーマット
別に定める。

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試験仕様書 第 1.0 版

7 試験ソフトウェア開発・使用条件
7.1 ハードウェア（1） RS232C 接続
・ Ｗｉｎｄｏｗｓ2000 対応 DOS マシン
・ DSUB 9pin
（2） USB 接続
・ Ｗｉｎｄｏｗｓ2000 対応 DOS マシン
・ USB１．１ コネクタ
・ ＰＣ側供給電力： 最大 500mA （初期 100mA）

7.2 ソフトウェア開発環境
・ ＶＣ++ Ver.6.0

8 互換性機能試験作業
8.1 試験作業手順（1） 試験手順・ リーダライタベンダー各社は、事前にリーダライタおよびドライバソフトを試験作業場所へ搬入または送付する。
・ ＩＣカードベンダー各社は、事前にＩＣカードを試験作業場所へ搬入または送付する。
・ ドライバ等のインストールは、可能であれば試験実施作業者が行い、動作確認を行う。
・ 試験実施者は試験ソフトウェアを用いて、全リーダライタと全 IC カードに対して試験を行う。
・ 試験作業にベンダーは立ち会わない。
・ ベンダー各社は、インストール等の準備作業および試験中に発生した問題等の解決をサポートする。
（2） 互換性試験回数
・ 試験は 1 回実施する。
・ 試験結果に問題があるなど再試験が必要な場合、実施時期等について別途決定する。
（3） 試験時間
・ １日の試験時間は原則 10：00〜18：00 とする。
・ 試験中に問題等が発生した場合、対処はその都度判断する。

8.2 互換性試験作業場所等（1） 場所・ 財団法人ニューメディア開発協会
東京都港区三田 1-4-28
・ 環境：通常オフィス環境（2） 連絡先・ ニューメディア開発協会

三田国際ビル２４Ｆ

ＴＥＬ：03-3457-0672（代）15

ＦＡＸ：03-3451-9604