OECD Activity on Patent Statistics
Economy Analysis and Statistics Division, Directorate for Science, Technology and Industry, OECD

● PROFILE

Hélène Dernis

Hélène Dernis is a statistician in the Directorate for Science, Technology and Industry at the OECD. She
has been responsible for the creation of a database on patents and contributed to methodological studies,
within the framework of the OECD Patent Project. She is now responsible for the development of a micro-data
infrastructure to which patent and trademark data are a central element.

Economy Analysis and Statistics Division, Directorate for Science, Technology and Industry, OECD

Ryo Funakoshi

Ryo Funakoshi is an administrator in the Directorate for Science, Technology and Industry at the OECD since2010. Before the OECD, he was a patent examiner in the Japan Patent Office and was also in charge ofresearch of technological trends in Patent Applications and planning policy for Industrial Property Digital Library(IPDL).

1OECD work
on Patent Statistics

2

Databasefor patent statistics

The Organisation for Economic Co-operation

In order to develop a common internationaland Development (OECD) launched a project

database for building patent statistics, the EPO,

on patent statistics in the late 1990s, aiming

one of the task force members, developed a newat developing a statistical infrastructure for

database suitable for statistical analysis, withpatents. The objectives of the project are 1)

the support of the OECD. The first edition of theto set up a database for patent statistics, 2)Worldwide Patent Statistical Database, also

to establish methodologies for building patent-

known as PATSTAT, was released in April 2006.

related statistics, and 3) to improve quality ofSince then, the OECD patent statistics mainlypatent statistics indicators.

rely on PATSTAT data. However, before 2006,
as there was no common patent databaseIn this framework, the OECD, in 2002,

for statistical analysis, the OECD had built its

established the Patent Statistics Task Forceown database which consisted of DOCDB andwhose members are European Commission

Epoline datasets distributed by the EPO.

(EC), European Patent Office (EPO), EUROSTAT,
Japan Patent Office (JPO), Korean Intellectual

The PATSTAT 2 database is released twice

Property Office (KIPO 1 ), National Sciencea year (in April and September) and includes

Foundation (NSF), United States Patent andbibliographic data on patent filed at more thanTrademark Office (USPTO) and World Intellectual

80 patent offices worldwide. The data includes

Property Organization (WIPO).

information concerning:- Application data

202

YEAR BOOK 2011

寄稿集4) HAN database- Citation data

The HAN database proposes a set of- Family data

harmonized patent applicant names, grouped- Applicant data

together according to a common identifier.

- Inventor data

Each of these databases can be linked to- Classification data

PATSTAT for more elaborate analysis.

As a complement to PATSTAT, the OECD has

3developed four additional databases for patentstatistics.

3

データによる分析と評価- Publication data

Methodology
for Patent Statistics

The OECD published a first manual “The1) Triadic Patent Families

Measurement of Scientific and TechnologicalA triadic patent family is defined as a set ofActivities: Using Patent Data as Science andpatents filed at the EPO and the JPO andTechnology Indicators”in 1994, in the context

granted by the USPTO, to protect a sameof using patent data as a complementary

invention.

science and technology indicators. Since32) REGPAT

the 1990s, the use of patent statistics forThe REGPAT database provides regional codes

analytical purposes has increased markedly notbased on the addresses of patent applicants

only within OECD member countries but also inand inventors.

academia.

43) Citations in EP & PCT patents

5The citations database provides consolidated

As patent statistics became more visible,

patent citations from the EPO and international

concerns were raised about the comparability(PCT) patents, in addition to citations to non-and the interpretation of patent statistics.

patent literature (NPL).

Patent statistics were compiled in different ways
by governments, IP offices and researchers,

Classes
Patents

Applicants

Inventors

Application

Priorities

INPADOC worldwide
legal status (*)

CitationsPublications

Fig1. Overview of PATSTAT data (Source: PATSTAT, April 2011)

YEAR BOOK 2O11203

according to their respective analytical needs

field, revised extensively the previous manual.

(e.g., counting patents to measure R&D outputs,

The“OECD Patent Statistics Manual”publishedinnovation, workload, etc.). The methodologies

in 2009 provides methodological guidelines

behind the construction of patent statistics

regarding what patent statistics can or cannotare essential to a better understanding of thebe used for, and how patents shall be counted

statistics and an improved quality of the data.

in order to maximize information on Science andHow to define patent families, how to count co-Technology activities while minimizing noise andinventions, how to count citations are examples

bias.

of issues that can be addressed.

4 New patent indicators

In order to clarify these issues, the Patent
Statistics Task Force agreed to compile new
guidelines regarding the methodology for

The OECD has developed a variety ofbuilding and interpreting patent statistics. Theinternationally comparable indicators on patents

OECD, with the support of the Patent Statistics

using different approaches – e.g. assessing theTask Force and researchers interested in theinnovative performance of countries, of regions,Share of region in country's
biotechnology and nanotechnology patents (%)
100
Total patents by region

Hovedstaden (DNK)

1 000 patents

Capital Region(KOR)

Southern Kanto (JPN)

10 000 patents

West-Nederland (NLD)

50 000 patents
Chungcheong Region(KOR)

California(USA)

Nordrhein-Westfalen(DEU)

South East (GBR)
Tokai (JPN)

Massachusetts (USA)

Ontario(CAN)
Zuid-Nederland(NLD)
Bayern (DEU)Île de France (FRA)

Baden-Wuerttemberg(DEU)

10Maryland (USA)Pennsylvania (USA)New Jersey (USA)
North Carolina (USA)New York (USA)Texas (USA)Guangdong (CHN)

Washington (USA)
Illinois (USA)

Minnesota (USA)11

Axes in logarithmic scale

10100
Share of region in country's
ICT-related patents (%)

Fig2. Innovation hot spots in ICT, Biotechnologies and nanotechnologies, 2006-2008 (Source: OECD, STI Scoreboard 2011)204

YEAR BOOK 20115technology domains; the co-operation in S&T

hereafter.

Patent Statistics
Conference and Workshop

3

データによる分析と評価

activities, etc. Some examples are presented

寄稿集of firms; the innovative activity in selected

The OECD coordinates the organization ofpatent statistics conferences and workshops

%

EU27

United StatesJapan

BRIICS

Average co-inventions with BRIICS

432101991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009

Fig3. Co-inventions with BRICS countries, 1991-2009 (Source: OECD, STI Scoreboard 2011)
Trademarks abroad per capita
500
LUX

ISL

100

CAN
IRL

NZL
SVN

AUS
ITA

ESP

10PRT

SVK
CHLMEXGRC
ARGTURCHNDNKISR NLD
SWE
USA
DEU
AUT
NOR FRAOECD FIN
EU27 BEL
JPN
KOR
GBR

ESTCZE
HUNZAF
POLSAU

BRA

1CHE

RUS

BRIICSIDN

IND

00Axes in logarithmic scale

110500100

Triadic patent families per capita

Fig4. Patents and Trademarks per capita, 2007-2009 (Source: OECD, STI Scoreboard 2011)

YEAR BOOK 2O11205

all over the world with other members of the

3. See “Hélène Dernis and Mosahid Khan,

Task Force. The first event was held in Geneva

Triadic Patent Families Methodology, STIin 2003, with the support of the WIPO. FromWorking Paper 2004/2, Statistical Analysis

2005 to 2010, the EPO organised the annualof Science, Technology and Industry”

conference on patent statistics for decision
makers in Vienna and Venice (2007).

The

Colin Webb, Vincenzo Spiezia and Dominique

2011 event will be held in Alexandria (US)Guellec, THE OECD REGPAT DATABASE: Awith the support of the USPTO. The annual

Presentation, STI Working Paper 2008/2,

patent statistics conference aims to gather

Statistical Analysis of Science, Technology

researchers, industries and IP offices in orderand Industry”

to discuss patent related issues, new data and5. See “Webb.C, H.Dernis, D.Harhoff and L.Hoisl,

new methodology and relevant policy issues

Analysing European and International Patent

related to patents.

Citations: A set of EPO Patent DatabaseIn parallel, workshops have been organized

Building Blocks”, STI Working Paper 2005/9”

by the OECD to discuss specific issues suchas the typologies of patent families, theharmonization of patent applicant names, and,more recently, the development of trademarks
statistics.
Conferences and workshops on patentstatistics are typically the place where newmethodological development, new statistics andnew data emerge.

6 Contact
For further information on the OECD patentrelated analysis and access to the OECD patentstatistics, please refer to the OECD web site at :www.oecd.org/sti/ipr-statistics<Annotation>
1. KIPO joined in Patent Statistics Task Forcein 2010.
2. See EPO’s web site for details.
http://www.epo.org/searching/subscription/raw/product-14-24.html

206

4. See “Stéphane Maraut, Hélène Dernis,

YEAR BOOK 2011

寄稿集

ＯＥＣＤの特許統計に対する取り組み（和訳）
科学技術産業局経済分析統計課

3

Hélène Dernis

データによる分析と評価

経済協力開発機構

OECD 科学技術産業局の統計専門官。OECD 特許プロジェクトにおいて、特許に関するデータベースの構築および方法論の研究に従事している。現在は特許と商標を中心としたマイクロデータのインフラ開発に力を注いでいる。
経済協力開発機構

科学技術産業局経済分析統計課

船越亮

2001 年に特許庁入庁。情報分野の特許審査、特許出願動向調査の担当、IPDL（特許電子図書館）の企画担当、ケンブリッジ大学客員研究員などを経て、2010 年より OECD に出向。

1

OECD の特許統計に対する取り組み

OECD（経済協力開発機構）は、1990 年代後半に特許統計のインフラ発展を目指し、特許統計に関するプ主流である。しかしながら、2006 年以前は、共有の統計分析用の特許データベースは存在していなかった。
そのため、OECD は EPO が提供している DOCDB とEpoline のデータから成る自前のデータベースを構築し、それを利用していた。

ロジェクトを立ち上げた。そのプロジェクトの目的は、
1）特許統計用のデータベースを設けること、2）特許PATSTAT は年に２回（4 月と９月）リリースされ、統計の方法論を確立すること、3）特許統計の指標の質８０以上の特許庁の書誌情報を含んで成る。これらの書を向上させること、である。

誌情報は、－出願データこの枠組みの中で、OECD は 2002 年に、特許統計－公報データタスクフォースを設立した。タスクフォースメンバー－引用データは、欧州委員会（EC）、欧州特許庁（EPO）、欧州連合－ファミリーデータ

統計局（Eurostat）、日本特許庁（JPO）、韓国特許庁－出願人データ（KIPO ），米国国立科学財団（NSF）、米国特許商標庁－発明者データ（USPTO）、世界知的所有権機関（WIPO）である。

－分類データ1などから構成される。

2 特許統計用データベース
共有で且つ国際的な特許統計用のデータベースを開OECD では、PATSTAT を補足するものとして、4つの特許統計用の付加的データベースを開発している。
1）Triadic Patent Families2発するため、特許統計タスクフォースメンバーの一員でここでの三極ファミリーの定義は、同じ発明を保護ある EPO は OECD の協力のもと、統計分析に適するするために、EPO と JPO に出願されたものであって、新しいデータベースを開発した。そして PATSTAT とUSPTO で特許になった一連の特許出願と定義していして知られるワールドワイドな特許統計データベース

る。の第 1 版が 2006 年 4 月にリリースされた。それ以

2）REGPAT3

降、OECD の特許統計は PATSTAT を用いることがREGPAT は出願人の住所と発明者の住所の各々に地YEAR BOOK 2O11207

Classes

Applicants

Patents

Inventors

Application

Priorities

INPADOC worldwide
legal status (*)

CitationsPublications

図1

PATSTAT の概要（出典：PATSTAT April 2011）

域コードを付与したものである。

および解釈についての関心事が提起された。これは、特3）Citations in EP & PCT patents

4

許統計が、各政府、各特許庁、そして研究者の分析軸

このデータベースは、EPO 出願および国際的出願（R&D のアウトプットを測定するために特許をカウン（PCT）における引用文献を収集しており、特許文献だトするのか、イノベーションを測定する目的なのか、そけでなく非特許文献も含まれている。

れとも、ワークロードを測定する目的なのか、等々）に

4）HAN databaseより異なる手法で収集されたことによる。特許統計を解

HAN データベースは名寄せされた一連の特許出願人

釈する際の背景にある方法論には統計に対する理解と名であり、共通の識別子によりグループ化されている。

データの質向上が不可欠である。パテントファミリーをどのように定義するのか、共同発明者の場合は発明者をいずれのデータベースもより詳細な分析のために、PATSTAT とリンクを図ることが可能である。

どのようにカウントするのか、引用文献が複数ある場合は引用文献をどのようにカウントするのか、などは提起された例の一例である。

3 特許統計の方法論

これらの論点を明らかにするため、特許統計タス
クフォースは特許統計の構築と解釈に向けた方法論にOECD は 最 初 の マ ニ ュ ア ル“The Measurement

関する新しいガイドラインを編集することに同意しof Scientific and Technological Activities:

た。OECD は、 特 許 統 計 タ ス ク フ ォ ー ス 及 び そ の 分

Using Patent Data as Science and Technology

野の研究者の協力のもと、前述したマニュアルを大々Indicators”を 1994 年に発行した。このマニュアル的に改訂した。そして、2009 年に”OECD Patent

では、科学技術指標を補足するものとして、特許データ

Statistics Manual”が発行された。このマニュアルは、の利用が取りあげられていた。そして 1990 年代以降、何に対して特許統計を利用することが可能であり、何に分析を目的とした特許統計の利用は、OECD 加盟国だ対しては利用されないのか、そして、ノイズやバイアスけではなく、大学においても飛躍的に増加した。

を最小限にする一方で、科学技術に関する情報を最大化するために、どのように特許をカウントするべきか等に特許統計が普及する一方で、特許統計データの比較性

208

YEAR BOOK 2011

ついて、方法論的な指針を示している。

特許統計カンファレンスとワークショップ

OECD は様々なアプローチに基づいて、国際的に比OECD はタスクフォースメンバーと共催で、世界中較可能な特許指標を幅広く創出している。たとえば、各で特許統計カンファレンスとワークショップを開催して国、各地域、各企業のイノベーティブなパフォーマンスいる。最初は WIPO の協力のもと、2003 年にジュネーを評価するための指標、特定の科学技術領域でのイノブで開催した。2005 年から 2010 年は毎年、EPO

ベーティブなパフォーマンスを評価するための指標、科がウィーンとベネチア（2007 年）において、政策立学技術領域における共同活動を評価するための指標、等案者を対象としたカンファレンスを開催した。2011である。以下にその例を示す。

年は USPTO の協力のもと、アレキサンドリア（米国）3

データによる分析と評価

5

寄稿集

4

特許に関する新しい指標で開催される予定である。特許統計カンファレンスの目
的は大学、産業界、各特許庁を一同に集め、特許に関連した問題、新しいデータや方法論、そして特許に関連した政策について議論をすることである。またカンファレンスと並行して行われる OECD 開催のワークショップ

Share of region in country's
biotechnology and nanotechnology patents (%)
100
Total patents by region

Hovedstaden (DNK)

1 000 patents

Capital Region(KOR)

Southern Kanto (JPN)

10 000 patents

West-Nederland (NLD)

50 000 patents
Chungcheong Region(KOR)

California(USA)

Nordrhein-Westfalen(DEU)

South East (GBR)
Tokai (JPN)

Massachusetts (USA)

Ontario(CAN)
Zuid-Nederland(NLD)
Bayern (DEU)Île de France (FRA)

Baden-Wuerttemberg(DEU)

10Maryland (USA)Pennsylvania (USA)New Jersey (USA)
North Carolina (USA)New York (USA)Texas (USA)Guangdong (CHN)

Washington (USA)
Illinois (USA)

Minnesota (USA)1110Axes in logarithmic scale

図2100
Share of region in country's
ICT-related patents (%)

ICT、バイオテクノロジー、ナノテクノロジー分野におけるイノベーションホットスポット、2006-2008（出典：OECD STI Scoreboard2011）

YEAR BOOK 2O11209

%

EU27

United StatesJapan

BRIICS

Average co-inventions with BRIICS

432

101991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009

図3

Brics との共同発明、1991-2009（出典：OECD STI Scoreboard2011）

Trademarks abroad per capita
500
LUX

ISL

100

CAN
IRL

NZL
SVN

AUS
ITA

ESP

10PRT

SVK
CHL
MEX

GRC
ARG
TURCHNDNKISR NLD
SWE
USA
DEU
AUT
NOR FRAOECD FIN
EU27 BEL
JPN
KOR
GBR

EST
CZE
HUN

ZAF
POL
SAU

BRA

1CHE

RUS

BRIICS

IDN

IND

00
Axes in logarithmic scale

図4210

110100500

Triadic patent families per capita

各国一人当たりの特許出願と商標出願、2007-2009（出典：OECD STI Scoreboard2011）

では、パテントファミリーの類型、出願人名の名寄せ、特許統計に関するカンファレンスとワークショップ

そして最近では商標統計の開発についての議論を行っては、新しい方法論の開発、新しい統計、新しいデータがいる。

創出される場所となっている。

YEAR BOOK 2011

寄稿集

6 連絡先

データによる分析と評価

3

OECD の特許分析についての詳細な情報、OECD の特許統計にアクセスするためには、OECD のウエブサ
イトを訪問してください。
www.oecd.org/sti/ipr-statistics＜注釈＞
1. 2010 年に KIPO が特許統計タスクフォースとして参加した。
2. 詳細は EPO のウエブサイトを参照。		 http://www.epo.org/searching/subscription/
raw/product-14-24.html
3. “Hélène Dernis and Mosahid Khan, Triadic
Patent Families Methodology, STI Working
Paper 2004/2, Statistical Analysis ofScience, Technology and Industry”を参照。
4. “Stéphane Maraut, Hélène Dernis, ColinWebb, Vincenzo Spiezia and DominiqueGuellec, THE OECD REGPAT DATABASE: A
Presentation, STI Working Paper 2008/2,
Statistical Analysis of Science, Technologyand Industry”を参照。
5. “Webb.C, H.Dernis, D.Harhoff and L.Hoisl,Analysing European and International Patent
Citations: A set of EPO Patent Database
Building Blocks”, STI Working Paper 2005/9”
を参照。

YEAR BOOK 2O11211