２０１２ 第２２回 ＲＣＪ信頼性シンポジウム（EOS/ESD/EMCシンポジウム、電子デバイスの信頼性シンポジウム）
全体プログラム
日時： 2012年10月30日（火）～10月31日（水）
日時
項目
会場
午前

昼
午後
前半
午後
後半
展示会

10月30日（火）EOS/ESD/EMC
電子デバイスの信頼性シンポジウム
シンポジウム
優秀論文等表彰式
４階コンベンションホール
Ａ会場
Ｂ会場(10:00～12:00)
招待講演「世界のESD動向」（12:00～12:15）
優秀論文等表彰式（13:15～15:15）（13:15～14:45）
招待講演、「デバイス・実装基板の「ESD 保護回路の信頼性評価」
設計手法」（15:30～17:10）（15:00～16:00）「システムレベルの ESD 「信頼性設計及び実装現象と試験方法」
信頼性評価」（10:00～17:00）（2階小展示ホール）
展示会主催ワークショップ

開催場所：大田区産業プラザ
10月31日（水）EOS/ESD/EMC
シンポジウム

電子デバイスの信頼性シンポジウム

４階コンベンションホールＡ会場
Ｂ会場(10:00～12:00)（10:00～12:00）「特別講演」
信頼性セミナー（12:00～13:00）
休憩（13:00～14:40）「ESD コントロール・イミュニティ関連(1)」（12:00～13:00）
休憩（13:00～17:00）
信頼性セミナー「“信頼性確保とばらつき（15:00～16:20）
問題”を中心とした「ESD コントロール・最近の話題」
イミュニティ関連(2)」（10:00～17:00）（2階小展示ホール）
展示会主催ESD対策技術基礎セミナー

主
催 一般財団法人 日本電子部品信頼性センター
一般社団法人 日本電機工業会
協
賛 一般社団法人 電子情報技術産業協会
一般財団法人 日本規格協会( 順 不 同 ) 一般社団法人 日本電気計測器工業会
社団法人 日本電子回路工業会
一般財団法人 光産業技術振興協会
社団法人 日本磁気学会

一般社団法人 電子情報通信学会
一般社団法人 電気学会
一般財団法人 日本科学技術連盟 社団法人 静電気学会
日本信頼性学会
一般社団法人 情報通信ネットワーク産業協会
ＳＰＥ日本支部IDEMA JAPAN

参加のお勧めRCJ信頼性シンポジウムは、電子部品、電子デバイス、電子機器等の信頼性技術者・生産技術者を対象に、信頼性及びESDという共通のテーマで論文発表・討論しあい、より進歩した信頼性向上技術、ESD障害対策技術等の分野での発展に寄与することを狙いとしています。本シンポジウムは、電子デバイスの信頼性問題を中心に扱う電子デバイスの信頼性シンポジウム及び静電気関連問題を中心に扱うEOS/ESD/EMCシンポジウムからなっています。
今年で、22回目を迎えました。今年は、昨年好評を頂きました半導体デバイス及びシステムレベルのESD現象に関する海外招待者による特別講演及び招待講演を設けました。また装置のイミュニティ問題を含め、例年通りESD対策技術に関する多数の論文投稿を頂きました。また、電子デバイスの信頼性評価技術及び実装技術信頼性に関する発表等もあります。
さらに、同会場2階小展示場で、静電気（ESD）対策用資材、計測・評価試験装置及び故障解析技術サービス等をテーマとした“信頼性・ESD対策技術展示会”を同時開催いたします。今年も、昨年好評頂きました“ESD対策モデルルーム”の展示を行います。
日頃、この方面でご活躍の皆様の多数のご参加をお勧め致します。
（2012.10.4）

最新版プログラムは RCJ ホームページ（http://www.rcj.or.jp）をご覧下さい。

-1-第２２回 ＥＯＳ/ＥＳＤ/ＥＭＣシンポジウム プログラム
開催日： ２０１２年１０月３０日（火） １０：００～１７：１０
会 場： ４階コンベンションホール（Ａ会場）（10:00~10:05） 「開会の挨拶」（10:05~10:10）（一財）日本電子部品信頼性センター

はじめに

鈴木 輝夫

「今年度のＥＳＤ保護セッションについて」セッション名： 招待講演（世界のESD動向について）

司会：（富士通セミコンダクター (株））藤原 秀二 （三洋半導体（株））（10:10~11:00） 招 待 「ESD Electronic Design Automation Checks」
講 演Michael Khazhinsky（ESDA EDA working group）

司会：

鈴木 輝夫 （富士通セミコンダクター (株））（11:00~11:30） 招 待 「電子部品、モジュールの静電気不良現象と保護」
講 演

福田 保裕（サムソン電子）

司会： 若井 伸之 （(株）東芝セミコンダクター＆ストレージ社）（11:30~11:55） 招 待 「2011年米国EOS/ESDシンポジウム優秀論文（来日決定）」
講 演 「ESD Simulation with Wunsch-Bell based Behavior Modeling Methodology」
Yiqun Cao (1, 2), Ulrich Glaser (1), Joost Willemen (1), Filippo Magrini (1),Michael Mayerhofer (1), Stephan Frei (2), Matthias Stecher (1)（(1) Infineon Technologies, (2) Technische Universität Dortmund）
第21回ＲＣＪ信頼性シンポジウム優秀論文賞等表彰式 （12:00~12:15）
挨拶

木村 忠正 （電気通信大学名誉教授 ＲＣＪ信頼性シンポジウム運営委員長）

表彰式

木村 忠正 （ＲＣＪ信頼性シンポジウム運営委員長）＜優秀論文賞＞｢システム内部で起きる誘導ESDによる誤動作」
磯福 佐東至1、本田 昌實2、（1東京電子交易（株）、2（株）インパルス物理研究所）

セッション名： ESD保護回路と設計手法
司会： 澤田 真典（阪和電子工業（株））、鈴木 輝夫（富士通セミコンダクター (株））森下 泰之(ルネサスエレクトロニクス（株））（13:15~13:35） 22E-01 「ESD Characterization of High Mobility SiGe Quantum Well and Ge Devices forFuture CMOS Scaling」
Geert Hellings (1), Dimitri Linten, Steven Thijs, Shih-Hung Chen (1), LiesbethWitters, Jerome Mitard, Odysseas Zografos (2), Guido Groeseneken (1).
（IMEC、(1) K.U. Leuven、(2) Institute Polytechnique de Grenoble）（13:35~13:55） 22E-02 ｢シミュレーションを用いたESDロバスト設計手法」
大塚 容子、成田 幸輝、石塚 裕康（ルネサスエレクトロニクス（株））（13:55~14:15） 22E-03 「High performance SCR-based snapback ESD clamp with transient detectiondriver」

A.A. Shibkov (1) and V.A. Vashchenko (2)（(1) Angstrom Design Automation, (2) Maxim Integrated Products）-2-

（14:15~14:35） 22E-04 「高耐圧Dynamic ClampのESD特性への逆回復過程の影響」
藤原 秀二、赤井 一雅、平野 哲郎、渡辺 雄一（三洋半導体（株）（オン・セミコンダクター社グループメンバー））（14:35~14:55） 22E-05 「Unexpected failures due to dynamic avalanching caused by bipolar ESD stress」
Bart Sorgeloos, Ilse Backers, Benjamin Van Camp, Olivier Marichal,
Bart Keppens （Sofics BVBA）（14:55~15:15） 22E-06 「多ピン製品におけるESD耐量とESD素子面積に関する考察」
石塚 裕康 （ルネサスエレクトロニクス（株））

休憩（15:15~15:30）
セッション名： システムレベルESDと試験方法
司会：石塚 裕康 （ルネサスエレクトロニクス（株））、小山 明（ソニー（株）)（15:30~15:55） 招 待 「Mixed-mode simulations for power-on ESD analysis」
講 演

Mirko Scholz , Andrei Shibkov , Shih-Hung Chen, Dimitri Linten, Masanori
Sawada, Gerd Vandersteen, Guido Groeseneken（IMEC）（15:55~16:15） 22E-07 「高インピーダンス部品のESDテストに関する考察」
磯福 佐東至 （東京電子交易（株））（16:15~16:35） 22E-08 「Protection strategy for EOS (IEC 61000-4-5)」、
Bart Sorgeloos, Ilse Backers, Olivier Marichal, Bart Keppens （Sofics BVBA）（16:35~16:55） 22E-09 「Parasitic Capacitance Effects on HBM ESD Simulators and Device Testing」
Marcos Hernandez, Tom Meuse （Thermo Fisher Scientific）（16:55~17:10） 22E-10 「1GHzオシロスコープ機種間によるCDM波形の考察」
澤田 真典（阪和電子工業（株））

開催日： ２０１２年１０月３１日（水） １０：００～１６：２０
会場： ４階コンベンションホール（A会場）

セッション名： 特別講演
（10:00~11:00）

司会：伊賀 洋一 （ルネサスエレクトロニクス（株））

特 別 「Recent Development in Electrostatic Discharge (ESD) Protection of RF Integrated
講 演

Circuits」

Pegasus Distinguished Professor . Juin J. Liou
（University of Central Florida）

司会：（11:00~12:00）

磯福 佐東至（東京電子交易（株））

特 別 「White Paper : System Level ESD - part 2」
講 演

Charvaka Duvvury（TI、ESD Association）

セッション名： ESDコントロール・イミュニティ関連(1)

司会： 本田 昌實 （（株）インパルス物理研究所）（13:00~13:20） 22E-11 「Process ESD Compatibility Measurements」
Arnold Steinman （Electronics Workshop, Dangelmayer Associates）（13:20~13:40） 22E-12 「ESD対策にも記憶遺産を」
村崎 憲雄 （東京農工大学名誉教）（13:40~14:00） 22E-13 「電極加熱式無発塵イオナイザーの開発 その２」
鈴木 政典 （(株)テクノ菱和-3-技術開発研究所）

（14:00~14:20） 22E-14 「導電性ポリカーボネ―ト樹脂の放電特性と放射電磁波」
大津孝佳１、○堂山英之１、中西 俊介1、鷺坂功一2（鈴鹿工業高等専門学校 1, 油化電子㈱2）（14:20~14:40） 22E-15 「ハードディスクドライブのグランドからの静電気放電の影響」
大津孝佳１、○小林優作１, 堂山英之１,今井省吾１, 谷辻和幸2（鈴鹿工業高等専門学校 1, 岐阜大学2）
休憩（14:40~15:00）
セッション名： ESDコントロール・イミュニティ関連(2)司会： 大津 孝佳（鈴鹿工業高等専門学校）（15:00~15:20） 22E-16 「静電気放電発生箇所可視化技術の開発（その１）」
尾前 宏１，加藤 正明2, 仲 覚太郎2
（１鹿児島県工業技術センター、2(株)日本計器鹿児島製作所）（15:20~15:40） 22E-17 「小帯電板による絶縁板への誘導帯電を可視化する試み」
中家 利幸 1、松井 順 1、宮本 佳明 1、栗山 敏秀 2、前田 裕司 3、高辻 渉 3、上野 吉史 3、伊東 隆喜 3 （1 阪和電子工業（株）、2 近畿大学生物理工学部、3和歌山県工業技術センター）（15:40~16:00） 22E-18 「金属間の接触放電における接触抵抗の変化要因」
早田 裕 （東京大学工学系研究科）（16:00~16:20） 22E-19 「金属間ＥＳＤによる回路誤動作の支配要因について」
本田 昌實 （（株）インパルス物理研究所）

第２２回 電子デバイスの信頼性シンポジウム
開催日：

２０１２年１０月３０日(火) １３：１５～１６：００

会

４階コンベンションホール（B会場）

場：

セッション名： デバイス・実装基板の信頼性評価（13:15~13:45） 22S-01

司会： 穴山 汎 （ＲＣＪ）「システム検証用 Ultimate Functional BOST “REL-FDT” の高速 SDL(Soft DefectLocalization)解析への応用評価」
木村 雅芳、田中 浩幸、樋口 聡、福嶋 清、塩沢 健治（ルネサスエレクトロニクス（株））（13:45~14:15） 22S-02「信頼性設計におけるＨＡＬＴの活用事例」
小林吉一、井原惇行 （楠本化成（株）エタック事業部）（14:15~14:45） 22S-03「ステンレス鋼の鉛フリーはんだによる損傷加速評価の検討」
佐々木 喜七 （ＲＣＪ）

休憩（14:45~15:00）
セッション名： 信頼性設計及び実装信頼性評価（15:00~15:30） 22S-04

司会： 穴山 汎 （ＲＣＪ）「太陽電池モジュール面への周期的機械圧力印加による新規加速試験の検討」
鈴木 聡*、池田 一昭**、金 永模**、土井 卓也**（*エスペック（株）/ **独立法人 産業技術総合研究所）（15:30~16:00） 22S-05「高密度回路基板における HAST の影響と技術的課題」
中村 和裕（新光電気工業（株））-4-開催日： ２０１２年１０月３１日（水） １０：００～１７：００会場： ４階コンベンションホール（B会場）

信頼性セミナー： 「信頼性確保とばらつき問題」を中心とした最近の話題
司会：木村 忠正 （電気通信大学）（10:00~11:00）「故障物理委員会活動状況と最近の半導体信頼性の話題」（11:00~12:00） 「ソフトエラーの歴史と現在（α線から中性子線へ）」（12:00~13:00）
司会：

塩野 登 （RCJ）

昼食休憩

大日方 浩二 （ソニー（株））
品質保証について（13:00~14:20）（半導体、リチウムイオン二次電池/バラツキの要因事例）（14:20~14:40）

和田 哲明（プライムーアースEVエナジー社）

休憩（14:40~15:50） 「LSIばらつきと信頼性」

堤 利幸（15:50~17:00） 「微細CMOSにおけるランダム・テレグラフ・ノイズ現象」（注：

木村 忠正（電気通信大学）（明治大学）

清水 立雄（ルネサスエレクトロニクス（株））

テーマ名等プログラムが変更される場合があります）＜要旨＞
現在 CMOS LSI の故障物理の分野でホットな話題は、“ばらつきと信頼性問題”と MOS デバイスの微細化により製品性能上の問題として顕在化してきた“ランダム・テレグラフ・シグナル（Random Telegraph Signal（RTS））
ノイズ”です。また、メモリでは中性子線によるソフトエラーが注目されています。RCJ 故障物理委員会では、このような問題を取り上げ、調査研究を継続しています。本セミナーは、これらの調査活動成果を中心に報告するものです。
今年は、特別講師として、和田 哲明 氏をお招きし、「信頼性保証（半導体、リチウムイオン二次電池/バラツキの要因事例）」と題した講演をして頂きます。最近話題となっていますリチウムイオン二次電池を含めた信頼性保証についてのご講演です。
本セミナーでは、現在LSI信頼性の分野で問題となっているホットな話題を取り上げています。半導体デバイス信頼性に携わっている方は勿論その他の分野に携わっている方々のご参加をお勧めします。

-5-

信頼性・ESD 対策技術展示会（無料）（静電気障害対策技術、信頼性評価技術及び故障解析技術を扱う専門の展示会）静電気の影響を受けやすい電子デバイス・部品、電子機器などを扱う信頼性技術者、生産技術者の方々を対象に、より進歩した静電気障害対策技術、信頼性評価技術、故障解析技術を扱う専門の展示会です。多くの専門メーカが展示しますので、最新の技術情報収集のためにも是非お役立て下さい。

期日： 平成 24 年 10 月 30 日（火）～10 月 31 日（水）： 10:00～17:00
会場： 大田区産業プラザ（東京 蒲田）、2 階小展示場
主催： NPO 法人 ESD 協会、（一財）日本電子部品信頼性センター
同時開催： ESD 対策技術セミナー（無料：資料代有料）、信頼性・ESD 対策技術ワークッショップ（無料）
同会場内特設会場にてESD対策技術基礎セミナー（参加費無料、資料代（4,000円））
・本セミナーは、静電気現象の実験を交えて説明すると共に各種測定機器のデモンストレーションを行い、より実務的な分かり易い内容のセミナーとなっています。

日付

時間
講師
10:30~11:20 鈴木 輝夫 （春日電機㈱）11:20~12:10 川村 智紀 （ミドリ安全㈱）（原田産業㈱）10 月 31 日 13:10~14:00 水谷 智（水）14:00~14:50 川崎 達也 （㈱クレファイン）
14:50~15:40 佐土原 秀樹 （東京電子交易㈱）15:40~16:30 高橋 忠
（トレック・ジャパン㈱）（注： ご自由にご参加下さい（事前申込みは不要です）。

セミナーテーマ： ESD対策技術基礎
静電気現象と静電気対策（実演つき説明）
人体接地関連用品他
ESD対策に使用される装置（イオナイザー）
ESD 対策材料に関する検討
デバイス試験（ESD、CDM規格）
計測と静電気対策（実演つき説明）
プログラムが変更される場合があります。）

信頼性・ESD対策技術ワークショッププログラム
出展社の新製品紹介や新技術紹介を主としたワークショップを行います。参加費は無料です。

日付

時間
13:30~13:55
10 月 30 日 14:00~14:25（火） 14:30~14:55
15:00~15:25

出展社
テク・トライアングル
村上商事㈱トレック･ジャパン㈱沖エンジニアリング㈱ワークショップテーマ（昨年のテーマ）
表面抵抗と電荷減衰率の材料評価-2
EPAでのESD対策資材のオーディット
トレック・ジャパン㈱新商品のご紹介
電子部品のESD障害と対策

出展社名（株）いけうち（株）クレファイン
DESCO JAPAN株式会社
原田産業（株）ミドリ安全（株）

OKIエンジニアリング
シシド静電気（株）
東京電子交易株式会社
阪和電子工業（株）
村上商事（株）春日電機（株）
テク・トライアングル
トレック・ジャパン（株）
ヒューグルエレクトロニクス（株）★詳細は別途案内状をご覧下さい。（RCJ ホームページ（http://www.rcj.or.jp）にも掲載しています）。

-6-＜参加要領＞
参加区分（開催日）①10月30日､10月31日:（2日間）

参加費（消費税を含む）（円）
非会員
RCJ会員
協賛団体会員
大田区民

場所、
定員

テキスト

RCJ信頼性シンポジウム発表論文集（電子デバイスの信頼性シンポジウ
ム、EOS/ESD/EMCシンポジウム）

２３,０００３０,０００

１５,０００２０,０００１５,０００

２０,０００

４階
A、B会場②10月30日:（1日間）（注：電子デバイス、EOS/ESD/EMCシンポジウム両方の聴講可能）③10月31日:（1日間）

200名

申 込 先： 〒104-0041 東京都中央区新富1-9-1 新富191ビル3F TEL：03-6280-5601、FAX：03-6280-5602（一財）日本電子部品信頼性センター 総務部
E-mail： masunaga@rcj.or.jp
申込締切： 10月25日（木）申込方法：「参加申込書」を上記あて送付すると共に、「参加費」を現金書留又は銀行振込でご送金下さい。
銀行振込の手数料は、申込者負担です。銀行振込の場合は、振込内容（振込予定日（分かる場合：貴社の都合に合わせて結構です）、金額、振込人名義）を参加申込書に明記して下さい。
なお、請求書及び領収書の発行を致しますので、必要な場合はその旨申込書にご記入下さい。
参加申込者には、参加券を送付致します。シンポジウム発表論文集やセミナーテキストは当日配布します。
振込銀行 三菱東京UFJ銀行、日本橋中央支店、普通預金口座 0084373、
口 座 名 ： 名義：（一財）日本電子部品信頼性センター
きりとり線・FAXの場合は切り取らずこの用紙のままご送付下さい。

参加申込書
区分欄に上記表の①、②、③の参加区分を必ず記入して下さい。
会 社 名所 在 地
〒

*受理番号

区分

ＴＥＬ
氏 名

会員又は否に○印を付けて下さい
RCJ賛助会員
協賛団体会員
大田区民

否

所 属

ご記入して下さい。
●支払方法
現金書留／銀行振込●振込予定日
月日 ●振込金額●振込人名義円*受理番号欄には、記入しないで下さい-7-

備考（請求書、領収書の要否（該当箇所に○を付けて下さい））
請求書
要不要
領収書
要不要

◆会場ご案内
至品川

JR常磐線
日暮里

新宿

上野

東急蒲田

JR総武線

JR川崎
京浜急行

大田区産業プラザ行本環状八号線

羽田至横浜至横浜

会場案内図

会場： 大田区産業プラザ： ４階コンベンションホール、２階小展示場〒144-0035 東京都大田区南蒲田１－２０－２０
交通： 京浜急行線・空港線/京急蒲田駅より徒歩約２分(品川・横浜・羽田空港よりの所要時間各約１０数分)
ＪＲ京浜東北線/蒲田駅より徒歩約１２分◆宿泊施設のご案内
遠方からお越しの方で宿泊が必要な場合下記のホテルに直接連絡してご利用下さい。
（１） グランパークホテル パネックス東京
ＴＥＬ： ０３－５７０３－１１１１〒144-0052 東京都大田区蒲田5-9-19（２） 東横イン 蒲田東口
ＴＥＬ： ０３－３７３６－１０４５〒144-0052 東京都大田区蒲田5-18-4（３） 三井ガーデンホテル蒲田 ＴＥＬ： ０３－５７１０－１１３１〒144-0052 東京都大田区蒲田5-9-12
注）（１）、（２）、（３）ともＪＲ蒲田駅東口徒歩２～３分程度-8-至羽田一京浜京急蒲田

第JR蒲田
JR京浜東北線

浜急

品川

京東京線

ＪＲ
京浜
東北線

八王子

京急

JR中央線

東口
蒲田

田端

ＪＲ
蒲田

JR京浜東北線

至品川呑川

大田区産業プラザ