Rev.20150902
2015年9月2日
更新箇所は青字記載してあります。2015年9月16日 更新
一般社団法人 日本非破壊検査協会
認証事業本部

JSNDI仕様デジタル超音波探傷器の基本操作仕様について―――Ｒタイプの一部仕様変更に伴う公表―――

JSNDI仕様デジタル超音波探傷器の基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）を公表致します。
2015年秋期試験よりＲタイプの画面表示の一部を変更します。Ｒタイプのゼロ点調整の表示は，2015年春期試験までは小数点以下第1位までの表示でしたが，2015年秋期試験より小数点以下第2位までの表示に変更します。なお，Ｇタイプのゼロ点調整の表示は，小数点以下第3位までの表示のままで変更はありません。あわせて，両タイプの基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）を一部修正しました。
①基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）は次の2機種です。
・ＪＳＮＤＩ Ｇタイプ（Rev.20150902G）本資料2～5ページ
・ＪＳＮＤＩ Ｒタイプ（Rev.20150902R）本資料6～9ページ
基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）は本資料の次ページ以降に掲載しています。
該当のページを印刷してご利用下さい。
②基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）は，ソフト改修等により内容が変わることがあります。利用する基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）が最新版であることを，協会ホームページで必ず確認して下さい。
③基本操作仕様（超音波探傷器調整手順）の旧版を利用したために不利益を被った場合，責任を負いかねますのでご注意下さい。
以上

基本操作仕様
更新日時（超音波探傷器調整手順）更新履歴
ＪＳＮＤＩ Ｇタイプ 2009年3月18日
2010年1月26日
2015年9月2日
ＪＳＮＤＩ Ｒタイプ 2009年3月18日
2010年1月26日
2015年9月2日

リビジョン

Rev.20090301G
Rev.20100126G
Rev.20150902G
Rev.20090301R
Rev.20100126R
Rev.20150902R

備考

最新版

最新版

Rev.20150902G

超音波探傷器調整手順（Ｇタイプ）

図１ 初期画面Ｇタイプの共通項目○初期画面は，図 1 に示すとおりで，画面上部にゲイン値と小さくゲインの変化量（ピッチ）が表示され，右側に測定範囲，音速，0 点調整，受信周波数が表示されている。初期化直後には，測定範囲は 100mm，音速は 3230m/s である。ゲート１の起点は 20mm で幅が 20mm，ゲート２は起点が 60mm で幅が 20mm，ゲート高さはいずれも 10% になっている。
○向かって右ダイヤルは右側の項目（測定範囲，音速，0 点調整など）を，左ダイヤルはゲインを変えるために使用する。
○表示器内の下や横の項目を調整するには，下の項目はを，右側の項目はキーを押し，右ダイヤルを回して数値を変更することができる。
キーをもう一度押すと“微”の文字が数値の前に表示されて，数値を細かく変更させる事ができる。
（例：図１の音速の 3230m/s の前にある文字）○ゲイン調整は，左ダイヤルを回すことで変更できる。ゲインの変化量(ピッチ)を変えるにはキーを一回押すごとに，０.５→０.１→０.０→１２→６→２→１→０.５のように変更できる。
○途中で操作が分からなくなった場合，キーを押すと図１の初期画面と同じ構成の表示になる。
１．垂直探傷試験(1)ゲートの調整①初期画面では，図１のように，ゲート１（赤色）とゲート２（緑色）が表示されている。
ゲート１とゲート２の切替えは表示器のゲート１，２の表示がある下のキーを押す。
図２
G1ゲートの調整

Rev.20150902G②図２に示す，起点１表示横のキーを押し，起点１を白抜きに反転させる。もう一度キーを押すと数値の前に“微”の文字が表示され，右ダイヤルを回して数値を細かく変化させることができる。
③ゲート高さや幅を変えるには，表示されている箇所のキーを押し，文字が白抜きに反転しているのを確かめてから，右ダイヤルを回して変更する。
(2)ゲインの調整
ゲインの調整は，左ダイヤルを回すことでいつでも可能である。ゲイン値は，図３のように，表示器上部に表示（34.5dB）され，その下に小さくゲインの変化量（ピッチ）が表示（0.5）される。ゲインの変化量は，キーを押して変えることができる。
エコーの読取りには，目的のエコーにゲートを掛ける。
表示器下部にビーム路程（W1：84.9mm）とエコー高さ（h1：80%）が表示される。ゲート２を掛けると，

図３ エコー高さの調整と読取りW2，h2 に表示される。

(3)測定範囲を 125mm にする調整方法の一例①

キーか表示器の基本の下のキーを押し，基本表示にする。
（図４参照）②ＳＴＢ－Ａ１の 25mm 厚さの部分を用いて多重エコーを表示させる。
③音速の横のキーを押し，右ダイヤルで音速を5900m/s にする。
④測定範囲の横のキーを押し，右ダイヤルで，測定範囲を 125mm にする。次に，ゲート１をＢ１エコーに掛けるように，ゲート２をＢ２エコーに掛けるよ

図４ 測定範囲の調整

うに移動させる。
⑤Ｂ２エコーの高さを 80%として，音速の横のキーを２回押し，右ダイヤルで音速を微調整

し，Ｂ１，Ｂ2 のビーム路程差が 25.0mm になるように調整する。
（図４では，W1：25.8mm ， W2：50.8mm）⑥Ｂ１エコーの高さを 左ダイヤルで 80%として，０点調整の横のキーを押し，右ダイヤルで０点を微調整し，Ｂ１（W1）の値が 25.0mm になるように調整して完了する。

G2

Rev.20150902G

２．斜角探傷試験(1)測定範囲 125mm のエコー高さ区分線（ＤＡＣ）を作成する方法の一例①測定範囲を 250mm に設定する。
→ 右ダイヤルで 250mm）（測定範囲の右の②音速を 3230m/s に設定する。
→ 右ダイヤルで 3230m/s）（音速の右の③ＳＴＢ－Ａ１のＲ１００面の最大エコーを検出する。
④図５に示すように，ゲート１をＲ１００面のエコーに，ゲート２をＲ１００面の繰返しエコーに掛けるよう図５ 測定範囲２５０mmに設定する。
⑤Ｒ１００面の繰返しエコーの高さを 40% 程度にする。
音速の右のキーを押して“微”表示にし，右ダイヤルでＲ１００面 1 回目のエコーと 2 回目のエコーとのビーム路程差を 丁度 100.0mm にする。 次に，Ｒ１００面のコー高さを 80%として，０点調整の右のキーを押して“微”表示にし，右ダイヤルを使用して第１回目のエコーのビーム路程を 100.0mmに調整する。
⑥次に，

図６ ２５０mm でのＤＡＣ作成

キーを押してＤＡＣモードに入る。

ＤＡＣ初期画面では，ＤＡＣの下は“オフ”になっているので，ＤＡＣ表示の横のキーを押し，右ダイヤルを回して，表示を“作成”にする。
（図６参照）⑦ＳＴＢ－Ａ２ φ4×4 の０.５Ｓの最大エコーを検出し，エコー高さを 80%～100%に調整する。
⑧起点１の右横のキーを押し，０.５Ｓのエコーにゲート１を掛け，キーを押すと０.５Ｓまでの

図７ ２５０mm でのＤＡＣの完成区分線が描かれる。
（図６参照）このときのゲイン値が基準感度である。メモしておくこと。
⑨順次１.０Ｓ，１.５Ｓからの最大エコーを検出し，それぞれのエコーにゲート 1 を掛け，キーを押すと，順次，区分線が描かれる。
⑩１.５Ｓまで作成したらキーを押して，ＤＡＣ表示下の“作成”を右ダイヤルで“完了”に変えるとＤＡＣが確定する。
（図７参照）
図８ 測定範囲１２５mm のＤＡＣ作成例
G3

Rev.20150902G⑪測定範囲 250mm でＤＡＣが完成したら，キーを押して基本画面に戻り，測定範囲を125mm に変更すると測定範囲 125mm のＤＡＣ作成が完了する。
（図８参照）(2)区分線の修正と削除①起点１表示横の横のキーを押し，消したいポイントのところにゲートを合わせ，ポイント数のキーを押し，右ダイヤルを手前に回すと“選択ポイント削除？”のメッセージ（図９参照）が表示される。

キーを押すとそのポイントが削除される。次に，修正したいポイン

トの最大エコーを検出して，そのエコーにゲートを掛けてキーを押せば目的のポイントに修正される。
②全ポイントを削除するには，ポイント数の横のキーを押し，右ダイヤルを向こうに回すと“全ポイント削除？”のメッセージ（図１０参照）が表示され，キーを押すとすべての線が消去される。
③間違えた場合は，ＤＡＣ横のキーを押して，次に，ポイント数の横のとで最初の消去のところに戻る。又は，キーを押すこキーを押すと元に戻る。

図９ ＤＡＣの修正

図１０ ＤＡＣの削除(3)斜角探傷作業準備①図１１に示すように，斜角の表示のある下のキーを押すと，板厚，屈折角の入力を行うことができる。
②屈折角，入射点，板厚は，その表示されている右横のキーを押し，右ダイヤルで変更ができる。
③屈折角を入力すると，探触子きず距離ｙ，きずの深さｄが表示される。
ただし，ゲート 1 の値しか表示されないので注意する
図１１ 斜角探傷条件の入力こと。

G4

Rev.20150902R

超音波探傷器調整手順（Ｒタイプ）

図 1 初期画面
Ｒタイプの共通項目○初期画面は，図 1 に示すとおりで，画面下部にゲイン，測定範囲，音速，ゼロ点調整，受信周波数が表示されている。初期化直後には，測定範囲は 100mm，音速は 3230m/s である。ゲート１の起点は 20mm で幅が 20mm，ゲート２の起点は 60mm で幅が 20mm，ゲート高さはいずれも10%になっている。
○キーパッドに表示されている測定範囲，音速，ゼロ点調整，ゲイン，ゲートなどはその下のキーを押せばそれぞれのモードになり，次項以下のようにして設定値を変更できる。
○設定値を変化させるときにはキーを使用する。上下の矢印は大きく変化させるとき，左右の矢印は小さく変化させるときに使用する。ただし，ゲインだけは上下・左右の矢印とも同じステップである。
○数値で直接入力する場合は，それぞれのキーを２回押すと数値の部分が白く反転し，入力可能となる。間違った場合は，○キーを押すとクリアーされるので，もう一度数値入力すれば良い。

キーは現在の動作を終了し，設定値を確定する。

キーは一つ前の状況に戻すことができる。
○～

は表示器右側に表示された項目を操作又は指定するときに使用する。

○エコー高さ区分線（ＤＡＣ）作成時，左右の矢印はＤＡＣポイント(×マーク)の横方向の移動に，上下の矢印は上下方向の移動に使用する。
○途中で操作が分からなくなった場合，基本と表示している下のキーを押すと初期画面（立上り画面）と同じ構成になる。ただし，設定値を確定した項目は設定したとおりで，初期値に戻るわけではない。
R1

Rev.20150902R

１．垂直探傷試験(1) ゲートの調整①初期画面は，ゲート１（黄色）とゲート２（紫）が表示されており，キーを押すとゲート１が，キーを押すとゲート２を調整することができる。
②ゲートの高さや位置を変えるには，例えば，キーを押すとゲート１の調整項目が右側に表示される。ゲート１の起点はを，幅はさはキーで変更することがを押してを，高図２ ゲートの調整できる。
（図２参照）(2) ゲインの調整
ゲインの調整は，キーを押し，次にキーを押すことで調整ができる。
エコーの読取りは，目的のエコーにゲートを掛けると，表示器上部にエコー高さとビーム路程が表示され，下部にはゲイン値が表示される。

図３ ゲインとビーム路程の読取り

図３では，ゲート１とゲート２の値が表示されている。
（ Ｇ１：＞100% 25.0mm， Ｇ２： 83% 50.0mm ）表示器下部にはそのときのゲイン値が表示されている。
（ゲイン： 37.5dB）(3) 測定範囲を 125mm に調整する方法の一例①

キーを押すと図４が表示される。

キーを押して測定範囲を 125mm にする。
②

キーを押すとＦキーの表示が図５の右側のようになる。

キーを押して音速を 5900m/s にする。

③ＳＴＢ－Ａ１の 25mm 厚さの部分を用いて多重エコー

図４ 測定範囲の画面を図５のように表示させる。
④次に，ゲート１をＢ１エコーに，ゲート２をＢ２エコーに掛けるように移動させる。
⑤Ｂ２エコー高さを 80%として，キーを押し，次にキーを使って，Ｂ１とＢ２のビーム路程差が丁度25.0mm になるように調整する。
（図５参照）（Ｂ１：25.4mm⑥Ｂ２：50.4mm）

キーを押す。次に，キーを使って，Ｂ１の値が 25.0mm になるように調整して完了する。
R2

図５ 測定範囲の調整

Rev.20150902R

２．斜角探傷試験(1) 測定範囲 125mm のエコー高さ区分線（ＤＡＣ）を作成する方法の一例①まず，測定範囲を 250mm に設定する。
（→）②音速を 3230m/ s に設定する。
（→）③ＳＴＢ－Ａ１のＲ１００面からの最大エコーを検出する。
④ゲート１をＲ１００面のエコーに， ゲート２ をＲ１００面の繰返しエコーに掛るように設定する。
⑤Ｒ１００面の繰返しエコーの高さを 40% 程度にして，図６ 測定範囲調整画面
キーを使って１回目のエコーと２回目のエコーとのビーム路キーを押し，程差を丁度 100.0mm に調整する。
（図６参照）
次に，Ｒ１００面の第１回目のエコー高さを 80%として，キーを押し，キーを使ってビーム路程を 100.0mm に調整する。
（測定範囲 250mm の調整完了）⑥ＳＴＢ－Ａ２ φ4×4 の０.５Ｓの最大エコーを検出し，エコー高さを 80%～100%に調整する。
⑦

キーを押してＤＡＣモードに入ると，図７のように，作成，補正，削除が表示される。
⑧まず，(作成)キーを押して作成モードに入る。

作成モードでは，×マークが 0mm で 80%の位置に表示される。×マークの位置は，キーで上下・左右に移動させることができる。
⑨キーを使用して０.５Ｓエコーのピーク位置に×マークを合わせ，キーを押すと０.５Ｓま図７ ＤＡＣ作成画面での区分線が描かれる。
（図８参照）このときのゲイン値が基準感度である。メモしておくこと。
⑩同様に，１.０Ｓ，１.５Ｓの最大エコー高さを求め，（必要ならば，げた後，キーとを使ってゲインを上キーを押して作成に戻る）て×マークをエコーピークに合わせ，⑪間違えた場合は，を使っキーを押す。

キーを押すと一つ前のポイントに戻ることができる。

図８ ＤＡＣモードの画面⑫すべてのポイントを確定したら，ＤＡＣ作成中にゲインを変更したときはゲイン値を基準感度に戻してから，(終了)キーを押すとＤＡＣが確定する。
（図９参照）【ゲインを戻し忘れたときは，ＤＡＣ → 補正 → ゲイン で修正可能】
R3

Rev.20150902R⑬測定範囲 250mm でＤＡＣが完成したら，キーを押し，125mm の横のキーを押すと測定範囲が図１０のように，125mmになる。
（測定範囲 125mm のＤＡＣ作成完了）(2) ＤＡＣの修正と削除①作成終了後に，ポイントを修正する場合は，キーを押し，図９ ２５０ｍｍでのＤＡＣ作成結果（補正）キーを押す。

このとき，０目盛のＤＡＣポイントに×マークが表示されるので，修正するポイントに×マー
クが表示されるまで確定キーを押す。修正ポイ
ントのエコーを検出して×マークをエコーピークに合わせ，キーを押すとポイントが修正される。
②すべてのＤＡＣを消去するには，ＤＡＣ作成画面で，(削除)キーを押すと警告
DAC 線を削除してよろしいですか［確定］はい ［取消］いいえのメッセージが表示されるので，

図１０ 測定範囲１２５mm でのＤＡＣ作成例

キーを押すと消去できる。

（3）斜角探傷作業準備①

キーを押し，(斜角条件)キーを押すと，板厚，屈折角を入力できる。
②板厚の入力はキーを押し，き，又はキーを，屈折角の入力は，キーで行う。このとキーを 2 度押しすると，直接数値入力ができる。
（図１１参照）③

キーを押して斜角探傷モードに入る。

斜角探傷モードに入ると図１１のように表示器

図１１ 斜角探傷条件の入力

上部にエコー高さ，ビーム路程，探触子きず距離ｙ，きずの深さｄが表示される。
ただし，ゲート１の値しか表示されないので注意すること。
R4