November 29 - 30, 2016

26th RCJ Reliability Symposium

第２６回 ＲＣＪ信頼性シンポジウム（EOS/ESD/EMCシンポジム、電子デバイスの信頼性シンポジウム）

発表論文投稿のお勧め
期日： 平成２８年１１月２９日（火）～１１月３０日（水）会場： 大田区産業プラザ（東京 蒲田）
主催： 一般財団法人 日本電子部品信頼性センター

発表論文投稿のお勧め
RCJ信頼性シンポジウムは、平成３年から開催し、微細化・高機能化が急進展している電子デバ
イス・電子部品の信頼性技術、静電気放電（ESD）対策技術を中心に発表・討論する場を、企業、大学、研究所の研究者・技術者の方々に提供すべき企画されました。厳しいESD・信頼性対策が要求されている微細化半導体デバイス、GMRヘッド、液晶デバイス、及び最新ナノテクノロジーデバ
イスに焦点を当てています。
本年もさらに内容を充実すべく、各種企画を進めています。つきましては、皆様方に試験・研究成果の論文発表をして頂き、本シンポジウムの発展にご協力下さいますようお願い申し上げます。
添付の発表論文募集の用紙（EOS/ESD/EMCシンポジウム、電子デバイスの信頼性シンポジウム）により、E-mail、FAX等で申込して下さるようお願い申し上げます。

シンポジウム内容
・第２６回 ＥＯＳ/ＥＳＤ/ＥＭＣシンポジウム
・第２６回 電子デバイスの信頼性シンポジウム

・展示会： 同会場の２階小展示ホールで、電子デバイス・装置の静電気対策・信頼性に焦点を当てた「信頼性・ESD 対策技術展示会」の同時開催を予定しています。

問い合わせ先一般財団法人 日本電子部品信頼性センター RCJ信頼性シンポジウム事務局 （塩野、桝永）〒111-0043 東京都台東区駒形 2-5-6 カミナガビル 3 階
TEL：03-5830-7601、FAX:03-5830-7602
E-Mail: shiono@rcj.or.jp HP: http://www.rcj.or.jp

信頼性・ESD 対策技術展示会概要
本展示会では、電子部品、電子機器、電子装置及びシステムなどの信頼性技術者、生産技術者、品質保証技術者を対象に、より進歩した信頼性評価技術、故障解析技術、信頼性向上対策の紹介を目的としております。
展示会と同時に、静電気、信頼性に関する展示製品を中心とした技術セミナーを開催し、出展社と来場者とのより一層の意見、情報交換の場となることを企画しております。
・期日：平成２８年１１月２９日（火）～１１月３０日（水）（ＲＣＪ信頼性シンポジウムと同期日）
・場所：大田区産業プラザ ２階小展示ホール
同時開催（出展委員会主催）
・展示製品に関連した信頼性・ESD 対策技ワークショップ（予定）問い合わせ先：（一財）日本電子部品信頼性センター RCJ 信頼性シンポジウム事務局

ESD 対策モデルルーム展示（展示会の様子）

協 賛 （予定）
一般社団法人 電子情報技術産業協会
一般社団法人 日本電機工業会
一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 日本電子回路工業会
一般財団法人 日本科学技術連盟
日本信頼性学会
ＳＰＥ日本支部
社団法人 日本磁気学会

一般社団法人 日本電気計測器工業会
一般社団法人 電子情報通信学会
一般社団法人 電気学会
一般財団法人 光産業技術振興協会
静電気学会
一般財団法人 情報通信ネットワーク産業協会
IDEMA JAPAN第26回 EOS/ESD/EMCシンポジウム発表論文募集（主テーマ） 半導体デバイス・液晶デバイス・GMRヘッド・電子装置等の過電圧（EOS）、静電気放電(ESD)、電磁環境両立性（EMC）試験方法、評価方法、誤動作対策事例及び対策用資材等
応募要領
１．論文の内容：上記の主テーマの他、半導体デバイス・ ６．会場： 東京都大田区産業プラザ
部品、電子機器のEOS/ESD/EMC耐性
交通アクセス
向上技術、故障解析事例など
京浜急行・空港線/京急蒲田駅より徒歩２分
JR京浜東北線/蒲田駅より徒歩１２分
２．応募資格 ：当センターの賛助会員会社の社員及び ７．申込：
協賛団体の会員、並びに運営委員会等
締切 平成２８年７月１日（金）のご推薦がある方
３．発表時間 ：原則として、討論を含めて１件２５分
８．発表： 平成２８年１０月２１日（金）以内
論文 発表論文申込書の選考の結果、発表をご依
原稿 頼することになった方には、７月下旬迄に原
４．開催期日 ：平成２８年１１月２９日（火）～３０日（水）締切 稿作成要領をお送りしますから期限内にご提出願います。
５．申込方法 ：下記の「発表論文申込書」の様式に所要 ９．参加 発表者からも参加費（5000円）を頂くことにし事項を記入の上、お早めにお申し込み費 ました。ご協力をお願いします。
下さい。

申込先及び問合わせ先
一般財団法人 電子部品信頼性センター RCJ信頼性シンポジウム事務局〒111-0043 東京都台東区駒形2-5-6 カミナガビル3階
TEL：03-5830-7601、FAX:03-5830-7602、URL: http://www.rcj.or.jp

宛先 RCJ信頼性シンポジウム事務局宛 FAX: 03-5830-7602, E-mail：shiono@rcj.or.jp

第26回 EOS/ESD/EMCシンポジウム発表論文申込書
論文題名

分 類（記入不要）

和文：
英文：

氏名
発企業名
所属
所在地

発
表
内容TELFAX

英文：

表者

和文：

〒E-mail第26回 電子部品・デバイスの信頼性シンポジウム発表論文募集（主テーマ） 先端部品・デバイスの故障物理、信頼性評価技術、故障解析技術、Pbフリーはんだ実装技術、KGD技術、マルチチップモジュール（MCM）の信頼性評価技術、等
応募要領
１．論文の内容：上記の主テーマの他、電子部品、半導体デバイス、及び電子機器の信頼性評
価技術、故障解析事例など

２．応募資格 ：当センターの賛助会員会社の社員及び協賛団体の会員、並びに運営委員会等のご推薦がある方
３．発表時間 ：原則として、討論を含めて１件３０分以内
４．開催期日 ：平成２８年１１月２９日（火）～３０日（水）５．申込方法 ：下記の「発表論文申込書」の様式に所要事項を記入の上、お早めにお申し込み下さい。

６．会場： 東京都大田区産業プラザ
交通アクセス
京浜急行・空港線/京急蒲田駅より徒歩２分
JR京浜東北線/蒲田駅より徒歩１２分
７．申込：
締切 平成２８年７月１日（金）８．発表： 平成２８年１０月２１日（金）論文 発表論文申込書の選考の結果、発表をご依原稿 頼することになった方には、７月下旬迄に原締切 稿作成要領をお送りしますから期限内にご提出願います。
９．参加 発表者からも参加費（5000円）を頂くことにしま費 した。ご協力をお願いします。

申込先及び問合わせ先
一般財団法人 電子部品信頼性センター RCJ信頼性シンポジウム事務局〒111-0043 東京都台東区駒形2-5-6 カミナガビル3階
TEL：03-5830-7601、FAX:03-5830-7602、URL: http://www.rcj.or.jp
宛先 RCJ信頼性シンポジウム事務局宛

FAX: 03-5830-7602,

E-mail： shiono@rcj.or.jp

第26回 電子部品・デバイスの信頼性シンポジウム発表論文申込書
論文題名

分 類（記入不要）

和文：
英文：

発

和文：者

FAX

氏名
英文：

表
企業名
所属
所在地
発表
内容TEL

〒E-mail