DPIイミュニティ
試験システムJEITA ED-5008
JASO D 019 対応
半導体イミュニティ新システム！

1w w w. n o i s e k e n . c o . j p

DPIイミュニティ試験
DPI（Direct RF Power Injectionの略）法は、IEC 62132-4規格で規定された、半導体製品（IC）にRF妨害電力を印加してノイズ耐性を評価する試験方法です。従来のEMC試験は完成品に対して実施することが一般的でしたが、DPI法による部品単体での評価が提起されています。
世界的に多くの業界で問題となっている「半導体不足」。半導体不足により、PCや家電、自動車などの生活で必要となる製品を作ることが出来ず、大きな社会問題となっています。使用している半導体製品（IC）の「生産中止」や「需要逼迫」、「お客さまの製品納期」などから、別の半導体製品（IC）へ変更する際の判定基準（クライテリア）を確立させるための半導体EMC性能等価性評価が今、注目されています。

【半導体EMC性能等価性評価について 】
半導体EMC性能等価性評価は機能が同一であり、端子構成及び端子位置に変更がなく、かつ、電気的特性に差異がない製品間に対して行います。評価法は電子情報技術産業協会よりJEITA ED-5008（半導体EMC性能等価性評価法）が2020年7月に、自動車技術会
からはJASO D 019（自動車用半導体EMC性能等価性試験法）が2021年3月に制定されました。
評価は伝導イミュニティ性能等価評価および伝導エミッション性能等価評価の２つがありますが、伝導イミュニティ性能等価評価はDPI法で行い、変更する半導体製品（IC）の等価性の証明ができれば、製品性能は同等と見なすことができます。
現在、一部業界や業種では半導体EMC性能等価性評価を行い、EMC試験の工数削減への取り組みが始まりました。

従来の EMC 試験の場合

EMC等価性評価試験の場合半導体変更

半導体変更

静電気試験

DPI 試験

EFT/B 試験
放射イミュニティ試験

高額な設備
施設の逼迫

低額な設備
施設の効率化

コスト増大

コスト削減

伝導イミュニティ試験○○○試験 etc...

複数回の試験

１回の試験

ＰＣＮ（製品変更通知）時における業務効率化

2w w w. n o i s e k e n . c o . j p

EMC T EST S EQUIPMENT C ATA LOGUEDPIイミュニティ試験【 製品開発プロセスにDPIイミュニティ試験を組み込む 】
製品は企画→開発設計→基板設計→実装→組立のプロセスを経て作られます。完成後、EMC試験を行い、合格後に量産化へと進みますが、EMC試験でNGが出た場合、ノイズ対策を実施し設計のフェーズに戻るため工数が発生します。製品開発プロセスにDPIイミュニティ試験をフロントローディングとして組み込むことにより、誤動作の主要因となりうる半導体製品（IC）を定量的に評価することができ、EMC対策の工数削減が見込めます。
■ 従来の製品開発プロセス

企画

開発設計

基板設計

部品実装

組立

EMC 試験

量産検査

PASS

FAIL
ノイズ対策

設計変更

基板再設計

部品再実装

再組立

EMC 試験

EMC 試験結果 NG による、PASS部品追加や設計変更などを経て再度 EMC 試験を実施（複数回の場合もアリ）

部品追加

コスト増大

FAIL（再度ノイズ対策を実施）■ DPI イミュニティ試験を組み込んだ場合

企画

開発設計

基板設計

部品実装

組立

EMC 試験量産検査

PASS

DPI 試験を実施
DPI 試験を実施し、ノイズ耐性に強いIC( 半導体 ) を選定

スムーズな製品開発

コスト削減

半導体デバイスのEMC試験規格（参考情報）
半導体デバイスのEMC試験規格には、IEC 62132シリーズとIEC 61967シリーズの試験があります。JEITAやJASO規格の半導体EMC性能等価性評価でDPI法が採用された背景には、IEC 62132シリーズの大半の試験方法が、IC全体に対してノイズを印加する方式に対して、DPI法は唯一、ICの個々のピンに対しノイズを注入する方式のため、詳細な差異確認ができるメリットがあるためです。
項目

規格番号

対象

IEC 62132-1

EMS

IEC 62132-2

放射ノイズ【TEM セル法】TEM cell and wideband TEM cell method

IEC 62132-3

伝導ノイズ【BCI 法】BCI（Bulk Current Injection）method

IEC 62132-4

伝導ノイズ【DPI 法】DPI（Direct RF power Injection）method

IEC 62132-5

伝導ノイズ【WBFC 法】WBFC（Workbench Faraday Cage）method

IEC 62132-8

放射ノイズ【IC ストリップライン法】IC stripline method

IEC 62132-9

放射ノイズ【表面走査法】Surface scan method【一般条件と定義】General conditions and definitions

IEC 61967-1

EMI

測定方法
【一般条件と定義】General conditions and definitions

IEC 61967-2

放射ノイズ【TEM セル法】TEM cell and wideband TEM cell method

IEC 61967-3

放射ノイズ【表面走査法】Surface scan method

IEC 61967-4

伝導ノイズ【1 Ω /150 Ω法】1 Ω /150 Ω direct coupling method

IEC 61967-5

伝導ノイズ【WBFC 法】WBFC（Workbench Faraday Cage）method

IEC 61967-6

伝導ノイズ【MP 法】Magnetic probe method

IEC 61967-8

放射ノイズ【IC ストリップライン法】IC stripline method

放射ノイズは空間を伝わるノイズの評価方法。伝導ノイズはケーブルなどに伝わるノイズの評価方法。各規格の詳細な測定方法等につきましては規格書の原文をご参照下さい。

w w w. n o i s e k e n . c o . j p3

DPIイミュニティ試験システム
DPIイミュニティ試験は、IEC規格で標準化されている半導体製品（IC）に対してのイミュニティ試験です。
評価する半導体製品（IC）をテストボード上に搭載し、RF妨害電力を直接注入し、イミュニティ耐性を評価します。試験は、試験周波数毎に試験レベル（電力）を段階的に上げていき、その都度、性能確認を実施する必要があります。
誤動作発生時にはその誤動作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かりますが、当社のDPIイミュニティ試験システムは試験の実施から誤動作判定までのプロセスを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力化できる画期的な試験システムです。
● IEC 62132-4（DPI法）に準拠した試験が行えます。
● IEC 62132-1のIC performance classesに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。
※Class B判定は行えません。
● 複数台の誤動作判定機器を使用し、任意に設定した誤動作判定項目を組み合わせて、誤動作判定が行えます。
● マルチスイープ機能により試験時間を大幅に短縮することができます。
● デジタルI/Oを使用することにより、外部入力による誤動作判定と、Class D1判定時のICリセット処理が行えます。

既存のRFイミュニティ試験システムを流用することもできます。 ※要ご相談。お問合せ下さい。
項目
測定周波数範囲
試験レベル
変調方式

仕様（例）
150kHz 〜 1000MHz
10dBm 〜 37dBm
AM 1kHz・80%

規格で規定されているテストボードを制作して試験を実施します

RF 妨害電力をテストボードを介して、半導体（IC）にに直接注入します

パワーアンプ

テストボード

シグナルジェネレータ
方向性結合器RS

ROHDE&SCHWARZSMB 100A************************

お客さまご用意

誤動作判定
装置*********

誤動作判定信号アッテネータパワーメーター

オシロスコープで波形観測し誤動作判定を実施します

電源供給のためのDC 電源を制御します※複数台制御可能

誤動作判定機器は通信インターフェースがあり、正常値と異常値を数値として取得できる機器であれば OK ！

オシロスコープ

複数台設定可能最大 4chデジタルマルチメータ

リセット信号
変換 BOX

デジタル I/O

DC 電源
IC リセット信号

IC performace classes 判定時に制御する機器の例
パソコン

システム制御ソフトウェア

誤動作判定画面4w w w. n o i s e k e n . c o . j p

試験実行中画面

EMC T EST S EQUIPMENT C ATA LOGUE

Model : NETS-DPI

DPIイミュニティ試験ソフトウェア
DPIイミュニティ試験ソフトウェアNETS-DPIは、DPIイミュニティ試験システムを、より多彩に制御・補助するためのソフトウェアです。DPIイミュ
ニティ試験は手間暇がかかる試験ですが、NETS-DPIを使うことにより、IEC 62132-1のIC performance classes に準拠した判定（ClassA/C/D1/D2/E）が自動で行え、試験時間の短縮と試験実施者の手間を省力化できます。複数台の誤動作判定機器を制御し、任意の誤動作判定項目により誤動作判定を行うことができます。誤動作判定機器の様々なインターフェースに対応し、お客様の仕様に応じた試験システムを構築する事ができます。
● IEC 62132-1のIC performance classes に準拠した判定（ClassA/C/D1/D2/E）ができます。※Class B判定は行えません。
● マルチスイープ機能により試験時間の短縮ができます。

NETS-DPI で誤動作判定を自動化！
IC performance classes 判定DPIイミュニティ試験は試験周波数毎に試験レベル（電力）を段階的に上げていき、その都度、性能確認を実施し、誤動作発生時にはその誤動作状態を記録します。NETS-DPIは試験の開始から誤動作判定に至るまでの試験をサポートし、試験時間と試験実施者の手間暇を削減します。

NETS-DPI

試験開始

一般的な EMC ソフトウェア

試験開始

周波数＝開始周波数

試験レベル固定

試験レベル＝開始レベル

周波数＝開始周波数

試験レベルまで電力を増加
目標レベル保持周波数増加

誤動作判定を自動化

SG 出力 OFF 時間保持

ボード
正常復帰？

電力を増加、目標レベルを保持

IC 誤動作？

周波数増加

NONO

ClassC 判定【 IC リセット処理を実施 】

IEC 62132-1
perfomace ｃlass判定

ボード
正常復帰？

ClassD1判定

YES

誤動作判定後のNO 波形をオシロスコープに保存出来ます

誤動作判定

YESYESNO

試験終了レベル？

【 電源リセット処理を実施 】

YESNOClassA 判定

ボード
正常復帰？

試験終了周波数？

ClassE 判定

試験終了周波数？

ClassD2 判定

NONO

YES

YES

試験終了
YES

試験終了

試験終了

NETS-DPI で試験時間を短縮！

ステップ１

マルチスイープ機能

ステップ２(10dB 設定の場合 )NETS-DPIには試験時間を短縮するマルチスイープ機能がありま

誤動作確認ポイント

す。マルチスイープモードを3ステップにした場合、1つの周波数で最大3回繰り返して試験をします。

10 dBm40

但し、試験終了レベルまで誤動作しなかった場合は、繰り返さずに次の周波数に進みます。ステップ1（1ステップ目）で大きな刻み値、ステップ2（2ステップ目）で小さな刻み値、ステップ3（3ステップ目）でさらに小さな刻み値に設定することで、開始レベ(0.25dB 設定の場合 )20 dBm30 dBm30

30 dBm30 dBm ～ 37 dBmの間で NG が発生

NG

ステップ1で誤動作した場合、誤動作クラスの判定後、ステップ2へ移行します。ステップ2の開始レベルは、前回OK判定の試験レベルから実施し、ステップ2で誤動作した場合は、誤動作クラ誤動作判定

OKI E C 62132-1
パフォーマンス
クライテリア 判 定を実 施

30スを判定したのち、次の周波数へ切り替わります。

誤動作判定

誤動作判定

OK誤動作判定

OKNG

OKI E C 62132-1
パフォーマンス
クライテリア 判 定を実 施

OK

25

15

10

誤動作判定

35

誤動作判定

252035 dBm

誤動作判定

ルから終了レベルまで一定の刻み値で試験するよりも時間を短縮することができます。

32.5 dBm

40

35

ステップ１でのOK レベルは 30 dBm

誤動作確認ポイント

37 dBm

正確な誤動作判定レベルを確認するために、ステップ１でのOK レベルまで確認ポイントを戻して細かく調査します。

10dB 毎に試験を実施し大枠な NG ポイントを確認

20

15

10

32.5 dBm ～ 35 dBmの間で NG が発生
レベル記録（32.5 dBm）

0.25 dB 毎で試験を実施し NG ポイントの試験レベルを特定次の周波数へ

マルチスイープモードを2ステップ設定にした場合の動作イメージ（概略）w w w. n o i s e k e n . c o . j p

5Model : NETS-DPI

DPIイミュニティ試験ソフトウェア
誤動作判定を自動化！

簡単操作で誤動作判定をサポート
DPIイミュニティ試験では誤動作判定機器を使い試験を実施します。DPIイミュニティ試験ソフトウェアNETS-DPIは誤動作判定を実施する際に使用するオシロスコープなど、複数台の誤動作判定機器の設定が可能です。複数台の誤動作判定機器を使用し、任意に設定した誤動作判定項目と組み合わせて、誤動作判定が行えます。

自動判定の設定項目例（オシロスコープの仕様による）項目
判定
判定機器内容使用するか否かを選択します。
オシロスコープ（DSO9254A）

タイプ

自動測定判定（26 個［A ～ Z］）（p-p、最大、最小、振幅、周期、周波数、デューティーサイクル、立上り時間、立下り時間、位相など）
判定式
判定方法を選択します。
（a + b / - c、a + d% / - e%）
基準値 (a)
判定基準となる数値を入力します。
上限値 (b, d) 上限値を入力します。
下限値 (c, e) 下限値を入力します。

NETS-DPI は自由度の高い設定が可能！
簡単操作で DPI イミュニティ試験をサポート

DPIイミュニティ試験ソフトウェアNETS-DPIは現在の試験状態と進捗を確認しながら試験が行え、試験条件の保存機能により、必要なときに同一条件の試験を行うことが可能です。試験結果のグラフ色や、文字サイズ、表示項目の追加・削除など、自由度の高い設定が可能で、試験結果のグラフやデータをExcelにエクスポートできます。

試験結果データに表示できる項目は任意で設定が可能。
（周波数、試験レベル、進行波電力、反射波電力など）

Model : NETS-EMS

RFイミュニティ試験ソフトウェア
RFイミュニティ試験ソフトウェアNETS-EMSは、民生機器用の放射イミュニティ試験をはじめ、車載機器用のBCI試験など、複数の試験を１つのソフトウェアでカバーできるオールインワン・イミュニティ試験ソフトウェアです。
● RF系イミュニティ試験システムの制御が1つのソフトウェアで行えます。
● 計測器との通信方式としてGP-IB、RS-232C、LAN、USBTMCに対応。
● 簡単な操作で試験の実行・試験結果のレポート作成ができます。

BCI試験システム構築でDPIイミュニティ試験も出来るように対応可能です。
6w w w. n o i s e k e n . c o . j p

等価性評価サービス（パナソニック ホールディングス株式会社さまご紹介）
当社システムをご利用頂いているパナソニック ホールディングス株式会社様では、等価性評価サービスを提供しています。等価性評価用の専用プリント基板設計から最終評価まで対応が可能です。

等価性評価用のプリント基板

パナソニック ホールディングス株式会社
プロダクト解析センター
HP ：https://holdings.panasonic/jp/corporate/pac/emc
Mail：ic-emc@ml.jp.panasonic.com＜ MEMO ＞

7w w w. n o i s e k e n . c o . j p

東日本営業課

名古屋営業所大阪営業所【ご注意】● 本カタログの全部または一部を無断で複製・転載することは禁止されています。● 製品の仕様および外観などは予告なく変更する場合があります。● 諸事情により名称や価格の変更、また生産中止となる場合があります。● ご注文、ご契約の際の不明点等については弊社営業までご確認ください。また、ご確認のない場合に生じた責任、責務については負いかねることがあります。● カタログに記載されている会社名、ブランド名は商標または登録商標です。● カタログに記載されている弊社製品は、使用に当たっての十分な知識を持った監督者のもとでの使用を前提とした業務用機器・装置であり、一般家庭・消費者向けに設計、製造された製品ではありません。
● 印刷の都合上、カタログに記載されている写真と現品には色や質感等での差異がある場合があります。● カタログの内容について正確な情報を記載する努力はしておりますが、万一誤植や誤記等など、お気付きの点がございましたら、弊社営業所までご連絡ください。

20220411