イーグローバレッジ株式会社
http://www.e-globaledge.com

納入高実績を誇る
Teradyne（旧GenRad）社ボードテスタの代名詞

近年電子機器の小型化、多機能化、軽量化に伴って被試験基板の高密度化、低電圧化、省エネルギー化、LSIの多ピン化、デジタル・アナログ混在ICの搭載などテクノロジの革新が急速に進んでいます。
一方、検査現場では製品の立ち上げ早期化、低コスト化が求められています。
は、これらのテストニーズに対して様々なラインナップを構成しております。
特に、デバイスの動作電圧の低電圧化に対応し、さらに電圧精度を高め、機能を持ったULTRA II ピンボードを採用し、従来のマルチプレクス・システムの他、全ピン・リアルピンのシステムを新たにラインナップに加え、あらゆるお客様のテストニーズに対応したテスターをラインアップ致しております。の特徴
 コンフィグレーションとアップグレードの柔軟性で将来の技術変化に対応 多ネット基板、ハイエンド基板など様々な製品に対応テクノロジ 高度な不良検出力
 高スループット
 ISP、FLASH デバイスのオンボード・プログラミングをサポート

の低電圧化が下記理由で近年進んでいます。
 低消費電力
 バッテリーの長寿命化
 小型化
 熱消費の削減
 動作速度の高速化

低電圧化が、従来のインサーキットテスタにどのような影響を与えるのでしょうか？
従来のインサーキットテスタでは、精度、再現性、安全性において不充分
 誤報と誤診断の増加
 過電流・過電圧による部品へのストレス増加
 過大電流エラーにおいてバックドライブ電流のレポートができず、コントロールできないは高精度、信頼性、安全性をご提供致します。
 高精度な低電圧テスト （： 誤差 ±15mV 以下）
 リアルタイム・バックドライブ・モニタリング
 デバイスピン毎にロジックレベル、バックドライブ電流・印加時間をプログラマブル設定可能
 ドライバーの自動診断
 多機能なデジタルアイソレーション機能
のデジタルコントローラにより、高速でテストベクタを実行し、必要以上なバックドライブを最小限化 ・表示

によって不安定箇所、フォルトテストカバレッジの確認が可能 ドライブ、センス範囲-2.5V～+5.5V プログラマブル
 論理レベル
26 値（A レベル～ Z レベル）パーピン・プログラマブル
 電圧精度
誤差±15mV 以下 電圧分解能
2.3mV
 バックドライブ電流センシング 100mA～500mA
 ドライバ・スルーレート
プログラマブル 50～300V/uS
 直流出力抵抗＜0.6Ω 標準
 最大ドライブ電流600mA

Standard/Large Receiver (HardwareandLX)

TS121

TS124

TSLX 124L

Pin Board TypeULTRAII121ULTRAII124ULTRAII124L

Pin Board (max)

3030

30

Max Real Nails

3840

960

1920

Max Nails

3840

3840

7680

Mux RAtio

1:1

2:8

2:8

TSLH 121

TSLH 124

TSLH 124L

Pin Board TypeULTRAII121ULTRAII124ULTRAII124L

Pin Board (max)161616

Max Real Nails

2048

512

1024

Max Nails

2048

2048

4096

Mux Ratio

1:1

2: 8

2: 8

Large/Halfsize receiver (HardwareLH)

CAD ―間リンクソフトウェア。
回路網情報、ドリルデータを生成し、ＩＧＥエディタを使い部品検索やネット探索などの不良解析ツールとして利用することもできます。

基板の回路網情報により、テストプログラムを自動生成させます。また、豊富なライブラリや CAD とのリンクにより高品質なプログラムを短時間で生成します。

では、システムライブラリとして約６０，０００種類を取り揃えています。
ＬＩＢＴＯＯＬは、アナログ部品、デジタル部品、ハイブリッドＩＣ、バンダリ・スキャンＩＣのライブラリをタイプ別に管理します。

グラフィカル・デバッグモニタにより、ガーディングの追加やパラメータの変更が簡単にできます。

アナログのデバッグを自動で実行する機能です。
この機能により、テストプログラム生成時間を軽減できます。

ゲートアレイやＦＰＧA 等のテストライブラリ作成をスムーズに、且つ短時間で行う為の補助機能です。
これにより未テスト部品を少なくすることができます。

高速 CPU 搭載のパーソナルコンピュータをコントローラとして採用しています。これにより、スループット、テストプログラムジェネレーションの大幅な効率アップが図れます。

オペレーションシステムとして Windows-XP を採用しています。Windows ユーザインターフェースにより、マルチタスク作業を可能にします。
Windows® は米国 Microsoft Corporation の米国および、その他の国における登録商標です。
Windows の正式名称はMicrosoft Windows Operating System です。

各ＩＣのテストパターンの有効性を確認する為のツールです。
また、このツールでアナログ部品のテスト品質を診断することもできます。

アナログ部品の安定性をグラフィカル画面で確認する為のツールです。ネットワークプリンタをつなげることでカラー印刷が可能です。

350

ＩＣ、表面実装コネクタのピン浮き検出をベクターレスで実行できます。また、不良診断はピン毎に行うことができます。Ｏ
ＰＥＮＳより高出力を実現し、検査精度を向上いたします。

300
250

OpenXpress

200
FrameScan

150

FS w ith new
FSX probe

100

ＩＣ、表面実装コネクタのピン浮き検出をノンプログラミングで実行できます。また、不良診断はピン毎に行うことができます。

50026812 14 18 20

有極性コンデンサが正しい方向に挿入されているか（逆付けがないか）やピン浮きがないかを検出する機能です。

ＩＣパッケージのオリエンテーション（方向違い）を検出する機能です。

SignAlSource
3.5
KHz Vcc

ＩＣ内部の既成ダイオード特性を利用して、各テストピンに対するディテクタピンにより高周波電圧を測定することにより、ピン浮き不良を検出する機能です（ＢＧA，ＭＣＭデバイス） 。
不良診断はピン毎に行うことができます。

デジタルインサーキットテストにおいて、ＩＣの入力ピンのオープン不良特定を自動で診断する機能です。この機能により、不良解析の為の時間を大幅に削減します。

DUT

Gnd

SignAlDetector

VBIAS

テストプログラム生成ツール

各デバイスのBSDL（Boundary Scan Description Language）
データよりテストライブラリを自動生成します。

IEEE1149.1 で規格化されているバンダリスキャンテストに対応しています。

 HARDWARE テスト
 OPEN テスト
 INTERACTION テスト
 INTER CONNECTION テストSystemLogic

INSTRUCTION

プログラミングツール

ＩＳＰデバイスのシリアル・ベクタ・ディスクリプション・データよりプログラミングデータを自動生成するツールです。簡単なオペレーションでプログラム作成ができます。

ＦＬAＳＨメモリのプログラミングデータ生成補助ツールになります。簡単なオペレーションでデータ生成ができます。

New Tester Software
ＴＭ 使いやすいユーザ・インターフェース
 CAD リンクツールとの完全一体化でより多彩な機能を実現 BOUNDARY SCAN バーチャルピン対応
 未プローブネットに対するテスト最適化ツール… Access Adviser

 スループット向上の為のプログラム解析ツール… スループット・オプション

TDI
TM
S

TAP

TDOTCKイーグローバレッジ株式会社
東京本社

大阪支店

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