TestStation LX™ インサーキット テストシステム
最高品質インサーキットテスト
主要機能■

テストピン数256ピン〜7680ピンまでの構成が可能■

大型、複雑かつ高度に統合されたPCBのテストが可能。

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SafeTest™ プロテクションテクノロジ
による、安全性、精度かつ信頼性の高い電気テスト■

パワフルなCAD プ
レパレーション
および自動プログラム開発ソフトウェア■

高度なデジタルサブシステムおよびアナログサブシステ
ムを使った総合的な障害検出■

抜群の診断精度■

高テストスループット

Teradyne のTestStation LX は、精度および信頼性、安全性の高い電気テストを提供します。

TestStation LX システムは、量産エレクトロニクス 精度、信頼性、安全性の高いテストメーカーに、最新のPCBテクノロジにおける、信 特許を取得した UltraPin™ ドライバ / センサー
頼性の高い高品質なテストを提供する、費用対効 テクノロジを装備した SafeTest プロテクションテ
果の高いインサーキットテスト ソリューション クノロジが、確実な電圧精度とバックドライブ電流です。256〜7680 テストピンまで構成可能で、市場 計 測 に よ り 、今 日 の 電 圧 に 敏 感 な 低 電 圧において最も処理能力の高いインサーキットテス テクノロジに、精度かつ信頼性の高い、安全なト ソリューションです。TestStation LX システムは、 電源使用テストを提供します。ロジックレベル
SafeTest プロテクションテクノロジとターンキーテスト およびバックドライブ電流、バックドライブ時間プログラミング環境を備え、すべての228X および しきい値は、すべてピンごとにプログラム可能
TestStation インサーキットテスタから、追加費 で、有害な電圧および電流がボードに（たとえ用または新たなプログラム開発を必要とせず、テ 欠陥があるボードであっても）流れることを確
ストプログラムおよびテストフィクスチャーを直 実に防ぎます。マルチレベルのデジタル絶縁接転送することが可能です。また、TestStation LH ソフトウェアが、操作しているネットに自動テストシステムおよびスタンダードサイズ テス 的にデバイス出力を分離し、バックドライブ状態
トシステム (3840 ピンレシーバー) フィクスチャーと を最小限化し、バックドライブした出力のロジックプログラムは、容易に TestStation LX プラット 状態が突然変わった場合に発生する有害な電圧フォームに転送することが可能で、時間短縮、コ スパイクを防ぎます。特殊デジタルコントローラ
スト削減を実現します。
はバックドライブ電流時間を最小限にとどめ、オンボードアクティビティから起こる電圧スパイク総合的な障害検出の発生を減らします。
TestStation LX システムで電源を使用しないテスト機能には、ショートおよびベクタレスオープンズ、 抜群の診断精度とテストスループットアナログ値の試験が含まれます。電源使用の クローズドループの低インピーダンスドライバ
テスト機能には、デジタルデバイスのベクトル は、障害が起きても精度を維持するため、他に試験、アクセス箇所を低減したバウンダリ・ス 類を見ない診断精度を実現します。また、プロキャンの試験、高速FLASHデバイスおよび高速ISP グラム可能な独自のバックドライブ計測機能とデバイスのプログラミング、周波数およびタイムイ コントロール機能が、他のインサーキットテスタベント計測、同期混合シグナルデバイスのテスト、 で検出されなかった欠陥の可能性があるピンおよ機能クラスタの試験が含まれます。テストは び周辺出力トランジスタを検出します。特許取
Teradyne社の D2B CAD プレパレーションソフトウェ 得 診 断 ア ル ゴ リ ズ ム SoftProbe™ お よ び
アを使って自動的に生成されるか、あるいはシン BusBust™、Adaptive Patterns は、不必要なボードプルかつパワフルなプログラミング言語を使って の修復を最小限にとどめ、障害リポートをなく手動で生成することができます。Teradyneの高品質 すように設計されています。
テストソフトウェアは、プログラムを分析し、テスト障害カバレッジを示し、追加デバッグが必要と考えられる信頼性の低いテストを識別します。

Specifications:
Specifications
Base System– Synchronized Analog and Digital Subsystems– Standard (3840 pin) or Large (7680 pin) receiver– All pins have parallel drive and sense capability– Pentium-based PC system– Color LCD monitor on adjustable height platform– Premium software support– Measurement Matrix: 8 lines by n pins
– 2 Sources, configurable as current or voltage– DC Voltage Source: programmable, 16-bit, 0 to ±18 V
over 4 ranges, to ±500 mA, programmable current limiting– DC Current Source: programmable, 16-bit, 0 to ±500 mA
over 8 ranges, to ±18 V, programmable voltage limiting– DC Voltmeter: 0 to ±200 V over 9 ranges– DC Ammeter: 0 to ±160 mA over 7 ranges– Arbitrary Waveform Generator– Reactance Module• Programmable frequency from 15Hz to 100 kHz• Programmable AC level to 7 Vrms, 12-bit• Programmable DC offset, 16-bit
Common Driver Characteristics– Range: 26 programmable drive levels from + 5.5 V to – 2.5 V– Automatic drive verification at each pin:
Four voltages selectable for each pin– Output Current (with automatic compensation circuitry)>600 mA;– Programmable Slew Rates 50 – 300 V/µS
– Typical Output impedance: <2.0 ohm– Software Programmable Pull-up/Pull-down loads– Driver Memory: 64K behind each pin– True RMS-DC Detection– Differential Detector/DVM/Digitizer– Coherent Transfer Function Measurement– Component Measurement Capability• Resistive (R) Range: 0.1 to 30 Mohm
• Capacitive (C) Range: 1 pF to 10,000 µF• Inductive (L) Range: 10 µH to 1,000 H– External Instrument Matrix: 9 BNCs to 8 line to internal
instruments or n pins
– Traceable Calibration Daughterboard– High Voltage Source configurable as current or voltage,programmable voltage limit, ±120V, ±50mA– IEEE-488 Interface Controller
Common Sensor Characteristics– 26 programmable dual sense thresholds from + 5.5 V to – 2.5 V.
Sense thresholds independent of programmed drive level– Input impedance = 100 Kohm
– Bit by bit compare and CRC capture modes– Sensor Memory: 64K behind each pin
Clock Generation/Synchronization Characteristics– Clock Generation frequency programmable up to 20 MHz– Clock Synchronization frequency programmable up to 20 MHz

Hardware Options– Test Points expandable to 7,680– Dedicated Accessory Slot:• Deep Serial Memory Instrument• Analog Functional Test Module• Vehicle Control Interface• System Frequency Test Module• Custom Function Board• Multi Protocol Instrument– Flexible Power Supply Package - choose up to 14 power supplies fromthe following: 0-60 V @ 2.5 A, 0-20 V @ 8.0 A, 0-7 V @ 15 A

– Fixed Power Supplies: +5 V @ 6 A, ±15 V @ 1 A or +5 V @ 6 A,±12 V @ 1.3 A– Ethernet Networking Interface (Thickwire/AUI)– Automation Ready Option– Power Tilt
– Choice of multiplexed or non-multiplexed pin board options• TS121 (Non-Multiplexed - 3840 pins max, 3840 real pins)• TS124 (one-to-four multiplexing ratio - 3840 pins max, 960 real pins)• TS128 (one-to-eight multiplexing ratio - 3840 pins max, 480 real pins)• TS LX 128L (one-to-eight multiplexing ratio - 7680 pins max, 960 real pins)• TS LX 124L (one-to-four multiplexing ratio - 7680 pins max, 1920 real pins)

System Software– Windows XP Workstation– Test/Debug System Software License• Advanced AutoDebug• Program Xplorer Graphical Real-Time Debug Station• Automatic Fault Grading• Test Execution Software• Panel-Test Software• Memory Bank Test Software• Diagnostic Software tools• Guided Probe• SoftProbe for automatic diagnosis of open input andoutput pins on digital ICs• BusBust isolates and diagnoses failures of ICs driving a common bus– Program Preparation License• Navigate Program Prep Environment• D2B Alchemist CAD preparation software• Analog, Digital, Boundary Scan and Mixed-Signal Device Libraries• Hybrid Test Generator for mixed-signal applications• Panel-Test Development Software• Flash ISP Development Software• Xpress Model for automatic device models of non-standard components• Circuit Analyzer-Based Test Generator– Scan Pathfinder boundary scan test generation, execution, and diagnostics
for boards with a mix of boundary scan and conventional devices• Real-Time Data Collection• Flash ISP• Throughput Optimizer– SafeTest Technologies:• Low impedance pin driver enables testing of low voltage devices underbackdrive conditions• 45mV sensor accuracy• Real-time backdrive current measurement reports• Programmable backdrive current and duration thresholds• Automatic driver verification guarantees pin drivers reachprogrammed thresholds• Fast test vector execution• Multi-Level Digital Isolation (MLDI) software– BasicSCAN model generator for boundary scan devices– Graphical Repair Network– Junction Xpress vectorless test technique for detecting open
device pins and marginal solder connections– Opens Xpress Vectorless Test Technique for detecting:• Open device pins
• Open connector pins
• Polarized capacitor orientation• Correct device orientation– Powerful test program language for easy creation of custom tests– Optional Chinese Operator User Interface

Analog Hardware

Digital Hardware

Software Options– Ethernet Networking Interface (10BASE-T/Thinware)– Hardware Warranty– Automatic Vacuum Control for single and dual well fixtures– System Footprint 66” x 44.5”– Keyboard with integratede mouse

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