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LGA 実装マニュアル

本資料に記載の全ての情報は本資料発行時点のものであり、ルネサス エレクトロニクスは、予告なしに、本資料に記載した製品または仕様を変更することがあります。
ルネサス エレクトロニクスのホームページなどにより公開される最新情報をご確認ください。

www.renesas.com

Rev.1.00 2014.03

ご注意書き１． 本資料に記載された回路、ソフトウェアおよびこれらに関連する情報は、半導体製品の動作例、応用例を説明するものです。お客様の機器・システムの設計において、回路、ソフトウェアおよびこれらに関連する情報を使用する場合には、お客様の責任において行ってください。これらの使用に起因して、お客様または第三者に生じた損害に関し、当社は、一切その責任を負いません。
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４． 当社製品を改造、改変、複製等しないでください。かかる改造、改変、複製等により生じた損害に関し、当社は、一切その責任を負いません。
５． 当社は、当社製品の品質水準を「標準水準」および「高品質水準」に分類しており、各品質水準は、以下に示す用途に製品が使用されることを意図しております。
標準水準：
コンピュータ、OA 機器、通信機器、計測機器、AV 機器、家電、工作機械、パーソナル機器、産業用ロボット等
高品質水準：
輸送機器（自動車、電車、船舶等）、交通用信号機器、防災・防犯装置、各種安全装置等
当社製品は、直接生命・身体に危害を及ぼす可能性のある機器・システム（生命維持装置、人体に埋め込み使用するもの等） 、もしくは多大な物的損害を発生させるおそれのある機器・システム（原子力制御システム、軍事機器等）に使用されることを意図しておらず、使用することはできません。 たとえ、意図しない用途に当社製品を使用したことによりお客様または第三者に損害が生じても、当社は一切その責任を負いません。 なお、ご不明点がある場合は、当社営業にお問い合わせください。
６． 当社製品をご使用の際は、当社が指定する最大定格、動作電源電圧範囲、放熱特性、実装条件その他の保証範囲内でご使用ください。当社保証範囲を超えて当社製品をご使用された場合の故障および事故につきましては、当社は、一切その責任を負いません。
７． 当社は、当社製品の品質および信頼性の向上に努めていますが、半導体製品はある確率で故障が発生したり、使用条件によっては誤動作したりする場合があります。また、当社製品は耐放射線設計については行っておりません。当社製品の故障または誤動作が生じた場合も、人身事故、火災事故、社会的損害等を生じさせないよう、お客様の責任において、冗長設計、延焼対策設計、誤動作防止設計等の安全設計およびエージング処理等、お客様の機器・システムとしての出荷保証を行ってください。特に、マイコンソフトウェアは、単独での検証は困難なため、お客様の機器・システムとしての安全検証をお客様の責任で行ってください。
８． 当社製品の環境適合性等の詳細につきましては、製品個別に必ず当社営業窓口までお問合せく
ださい。ご使用に際しては、特定の物質の含有・使用を規制する RoHS 指令等、適用される環境関連法令を十分調査のうえ、かかる法令に適合するようご使用ください。お客様がかかる法令を遵守しないことにより生じた損害に関して、当社は、一切その責任を負いません。
９． 本資料に記載されている当社製品および技術を国内外の法令および規則により製造・使用・販売を禁止されている機器・システムに使用することはできません。また、当社製品および技術を大量破壊兵器の開発等の目的、軍事利用の目的その他軍事用途に使用しないでください。当社製品または技術を輸出する場合は、「外国為替及び外国貿易法」その他輸出関連法令を遵守し、かかる法令の定めるところにより必要な手続を行ってください。
10． お客様の転売等により、本ご注意書き記載の諸条件に抵触して当社製品が使用され、その使用から損害が生じた場合、当社は何らの責任も負わず、お客様にてご負担して頂きますのでご了承ください。
11． 本資料の全部または一部を当社の文書による事前の承諾を得ることなく転載または複製することを禁じます。
注 1. 本資料において使用されている「当社」とは、ルネサス エレクトロニクス株式会社およびルネサス エレクトロニクス株式会社がその総株主の議決権の過半数を直接または間接に保有する会社をいいます。
注 2. 本資料において使用されている「当社製品」とは、注１において定義された当社の開発、製造製品をいいます。

(2012.4)

目次
1.

2.

3.

LGA について ................................................................................................................................................1
1.1

LGAのご紹介 .................................................................................................................................................... 1

1.2

LGAの構造 ........................................................................................................................................................ 1

1.3

LGAラインアップ ............................................................................................................................................ 1

実装基板設計 .................................................................................................................................................2
2.1

マウントパッド構造 ........................................................................................................................................ 2

2.2

マウントパッド設計例 .................................................................................................................................... 2

実装プロセス .................................................................................................................................................4
3.1

LGA実装プロセス諸元 .................................................................................................................................... 4

3.2

はんだペースト印刷 ........................................................................................................................................ 5

3.2.1

はんだペーストについて ....................................................................................................................... 5

3.2.2

はんだ印刷マスク設計例 ....................................................................................................................... 7

3.2.3

はんだ印刷後の検査について................................................................................................................ 73.3

4.

3.3.1

画像認識について ................................................................................................................................... 83.3.2

搭載ノズルについて ............................................................................................................................... 83.3.3

実装位置ズレ許容値 ............................................................................................................................... 9

リフロー工程 ...............................................................................................................................................104.15.

搭載（マウント） ............................................................................................................................................ 8

パッケージの耐熱性 ...................................................................................................................................... 104.1.1

防湿包装開封後の保管条件.................................................................................................................. 114.1.2

ベーク条件 ............................................................................................................................................. 114.2

はんだ付け性 .................................................................................................................................................. 124.3

リフロー後のはんだ付け部検査................................................................................................................... 13

信頼性評価データ........................................................................................................................................145.1

衝撃耐性 .......................................................................................................................................................... 145.2

温度サイクル試験結果 .................................................................................................................................. 15

目次-1

LGA 実装マニュアル

1.

1.

LGA について

1.1

LGA のご紹介

LGA についてLand Grid Array は、LGA と呼称されています。外部端子は、樹脂モールドされたパッケージ基板の底面にマトリクス状に配置された Land 構造となり、リフロー実装対応のパッケージとなります。小型・薄型である
LGA は、主に民生分野の機器向けのマイコン製品等によく使用されています。

1.2

LGA の構造弊社 LGA パッケージの外観、構造を下記に示します。

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図1-1.

1.3

図1-2.

LGA外観࠳ࠗࠕ࠲࠶࠴

断面構造図

LGA ラインアップ

弊社の小型・薄型 LGA のラインアップを下記に示します。
表1-1.

LGA ラインアップ（本体寸法別の端子数）

Terminal
Pitch

Body Size (mm)3x3

4x40.65mm

5x5

5.5x5.549

6x6

6.5x6.564△817x78x89x985113

145

1000.50mm

2536
△4949

100113145

1776481【注】 表中の△印は計画中

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LGA 実装マニュアル

2.

2.

実装基板設計2.1

マウントパッド構造

実装基板設計マウントパッドにソルダレジストをかぶせる SMD (Solder Mask Define) とソルダレジストがパッドにかからない NSMD (Non Solder Mask Define) があります。NSMD 構造がマウンドパッドの一般的な設計となりますが、基板配線設計を考慮の上でマウントパッド構造の選定を行ってください。
LGA のランドタイプは、ランドにソルダレジストがかからない NSMD となっております。
実装基板のマウントパッド形状は、LGA と同様の寸法とし、ソルダレジストがパッドにかからない NSMD構造で設計することで、リフローはんだ付け後に上下バランスの良いはんだ接続形状となります。
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図2-1.

2.2

パッド構造図（NSMD 構造）

マウントパッド設計例

LGA 側のランドサイズに合わせた実装基板側マウントパッド設計例を下記に示します。
表2-1.

マウントパッド設計例（単位: mm）

LGA ランドサイズ

φ0.25

φ0.30

φ0.35

マウントパッド設計

φ0.25

φ0.30

φ0.35

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LGA 実装マニュアル■2.

実装基板設計補強ランド付 LGA のマウントパッド設計事例

LGA には、パッケージ 4 コーナーに補強ランドが設置されているパッケージ仕様があります。補強ランドは、はんだ接続部への機械的ストレス耐性向上となりますので 4 コーナーに補強ランドがある LGA 製品の場合は、補強ランドの仕様に合わせたマウントパッド設計をお願いします。
図 2-2に 5x5/64pinFLGAマウントパッド設計例を示します。
補強パッドは SMD 構造、それ以外のパッドは NSMD 構造となります。パッケージ側補強ランドは複雑な形状をしていますが、実装基板側の補強パッド形状は簡略化しています。また、補強パッドに対するはんだ印刷用メタルマスクの開口サイズは、SR 開口面積の約 80％に設定しています。補強パッド部のはんだ量が多すぎると、リフロー中に溶融したはんだの影響でパッケージが浮く現象が発生し、信号ピンのはんだ接続が不十分になる恐れがありますのでご注意願います。
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0.55

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図2-2.

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0.475

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0.745

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R0.12

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5x5/64pFLGA/0.5mm の設計例

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実装プロセス

3.

3.

実装プロセス

3.1

LGA 実装プロセス諸元

はんだペースト

鉛フリーはんだ■印刷マスク推奨設計値（クリームはんだ）

印刷ズレ許容値•

φ0.25mm〜φ0.35mm

0.5mmピッチLGA：±0.10mm以内•厚さ：0.10mm

0.65mmピッチLGA：±0.12mm以内■はんだ材料例•1

M705-235C-32-11 (* ) 他、相当品（M705：はんだ組成 Sn-3Ag-0.5Cu）搭載【精度（搭載ズレ許容値）】■認識機構付き搭載設備例

全ランド認識または外形認識による搭載ズレ許容値•KE-760（JUKI㈱）他、相当品

0.5mmピッチLGA：±0.10mm以内
0.65mmピッチLGA：±0.12mm以内【条件】
0.5mmピッチ（従来BGA品等と同様）
搭載荷重：180g以下

搭載速度：39.5mm/s〜275mm/s
搭載押込：0〜0.5mm0.65mmピッチ

搭載荷重：60g〜250g

搭載速度：39.5mm/s〜395mm/s
搭載押込：0〜2.0mm
リフロー耐熱条件

リフロー耐熱条件は納入仕様書に従ってください。

■リフロー設備•

大気リフロー設備または窒素リフロー設備（従来BGA品等と同様）

BGA と同様な条件にて実装可能であり、その他 QFP、SOP 等との同時実装が可能です。
【注】 *1

千住金属工業㈱製次頁以降に LGA 実装プロセスについてご説明いたします。

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3.

実装プロセス

はんだペースト印刷

3.2
3.2.1

はんだペーストについて

はんだペーストを構成する主材料は、はんだ粉末とフラックスになります。

(1)

はんだ粉末

• はんだ粉末は下図に示すような粉末粒度範囲を持ち、はんだペーストの印刷性などに影響します。
• 選定に当たっては表に示すランドピッチを参考にして下さい。なお、粒度の細かいはんだ粉末ペーストは、キャピラリボールの発生やはんだ濡れ性の低下等が懸念されますので十分なるご評価の上で材料選定のご判断をお願いします。
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Type 20.075mm㨪0.045mm

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Type 30.045mm㨪0.020mm

Type 40.038mm㨪0.020mm

Type 50.025mm㨪0.010mm

Sn-3Ag-0.5Cu
ߪࠎߛ☸ሶ

図3-1.
表3-1.

はんだペースト用はんだ粒子の電子顕微鏡写真

はんだペースト用はんだ粉末の粒度範囲と対応ピッチ
ランドピッチ (mm)

はんだ粉末粒度範囲
0.075〜0.045mm

1.271.000.80

○

○

○

0.045〜0.020mm○0.650.50○○

0.038〜0.020mm○○0.025〜0.010mm

(2)

0.40

○フラックス• フラックスの種類としては、大別して『ロジン系フラックス』『合成樹脂系フラックス』『水溶性フラックス』の 3 つがあります。
• 活性度の違いによりロジン系フラックスは「R（ロジンフラックス）」「RMA（弱活性フラックス）」「RA（活性化フラックス）」の 3 つのタイプに分類され、これら 3 つの特徴を下表に示します。
表3-2.

フラックスのタイプとその特徴
フラックスのタイプ
R タイプ、ROL タイプ

特徴
非活性フラックス。非腐食性。

(Non-activated Rosin, Rosin Low activity levels )RMA タイプ、ROM タイプ(Rosin Mildly Activated, Rosin Moderate activity levels)
RA タイプ、ROH タイプ(Rosin Activated, Rosin High activity levels)

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弱活性フラックス。非腐食性。R タイプよりもはんだ付け性が優れている。
強活性フラックス。R, RMA タイプよりもはんだ付け性が優れているが、腐食性が強くなっている。

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(3)

3.

実装プロセス

はんだペーストに要求される特性【印刷】• はんだ粉末の粒径は、はんだ印刷時のはんだヌケ性を考慮するとメタルマスク厚の 1/4〜1/5 以下の粒径サイズで選定が一般的となります。
• 粘度は、高すぎると版抜け性が悪く印刷カスレが生じ、低すぎると印刷ニジミ、印刷ダレが生じます。印
刷用途としては、200Pa・s〜300Pa・s/25℃程度（マルコム粘度計）が一般的となります。
【リフロー前／後】• リフロー前— 製造時の経時変化が少なく、印刷性が良好なこと。
— 印刷後の経時変化が少ない（粘着性保持時間が長く、形崩れを発生させない）こと。
— フラックスとはんだ粉末が分離しないこと。
• リフロー後— はんだ付け性が良く、キャピラリボールが発生しないこと。
（はんだ粉末の酸化に注意を払い、粒度分布が狭いものを選択する。また、フラックス内の溶剤の沸点は低いものを選択し、ロジン分子量は高く、フラックス自体の含有量が少ないものを選択する）— フラックス残渣が信頼性に影響しないこと。
＊用途に合わせて、はんだペーストの選定をお願い致します。

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3.2.2

3.

実装プロセス

はんだ印刷マスク設計例

下記表は各ランドサイズに対してのはんだ印刷マスク設計例となります。リフロー実装後のオープン、ブリッジを考慮して開口寸法、マスク厚みを選定願います。
表3-3.

はんだ印刷マスク設計例
LGA ランドサイズ

φ0.25

φ0.30φ0.35

マウントパッド設計

φ0.25

φ0.30

φ0.35

開口径

φ0.25

φ0.30

φ0.35

厚さ0.1

0.10.1

はんだ印刷マスク

3.2.3

単位：mm

はんだ印刷後の検査についてはんだペースト量は接続品質に大きく影響します。はんだ印刷後の印刷品質は 2 次元検査だけではペースト量検査として不十分な場合があります。特に、高信頼性用途の機器を生産する場合には 3 次元検査の導入をお薦め致します。
下記にご紹介致します 3 次元検査装置の事例をご参照頂き、ご検討願います。

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図3-2.

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3 次元検査装置事例

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3.

実装プロセス搭載（マウント）

3.3
3.3.1画像認識についてランドを画像認識して搭載する場合は、ランド認識ソフトを装備した搭載機が必要です。特に補強ランド有り LGA をランド画像認識搭載を行う場合は、形状、サイズの違う補強ランドと信号ランド（端子）を区別可能な認識能力が必要となります。

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⹺⼂OK

図3-3.

3.3.2

補強ランド認識機能付き LGA 認識画像結果

搭載ノズルについて

LGA は樹脂モールドされた構造となりますが、マウントの際に負荷される衝撃荷重緩和のために、バネが内蔵されている吸着コレットのご使用をお薦め致します。

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図3-4.

搭載ノズル例• LGA のセルフアライメント量等を考慮した搭載ズレ許容値やズレやはんだペースト潰しの要因ともなる押込み量等も考慮に入れ、最適な搭載条件を決定してください。

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LGA 実装マニュアル3.

実装プロセス

実装位置ズレ許容値

3.3.30.5mm ピッチ LGA のセルフアライメント性評価結果事例を下記に示します。
はんだペースト印刷、搭載位置を其々逆方向のズレとして設定して評価を行い、その許容値を検討しました
結果が下図となりますのでご参照ください。
【実装条件】
1）はんだペースト：M705-235C-32-11 (Sn-3Ag-0.5Cu)2）メタルマスク：φ0.30 mm×0.10 mmt

3）リフロー条件：大気リフロー、予備加熱 150℃〜180℃ + 本加熱 250℃

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0.05

0.10

0.15

0.20

0.250.30

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㧦NG㧦OK-0.25

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図3-5.

実装位置ズレ評価

図3-6.

実装位置ズレ評価結果

評価結果より、0.5mm ピッチ LGA 実装位置ズレ許容値は以下となります。
• はんだペースト印刷位置ズレ：±0.10 mm• LGA の搭載位置ズレ

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Rev.1.00：±0.10 mm

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LGA 実装マニュアル4.

リフロー工程リフロー工程4.

リフロー温度プロファイルは、実装部品の耐熱性とはんだ付け性を考慮して決定する必要があります。

パッケージの耐熱性

4.1

防湿包装開封後は再吸湿を避けるため、防湿包装開封後の保管条件以内に、下記条件にてリフローはんだ付けを行ってください。
また、それ以上経過した場合はベーク条件で示すベーク処理を行ってください。
表4-1.

部品耐熱性

※耐熱温度：260℃

最高リフロー温度（パッケージ表面温度）

260℃以下255℃以上の時間

30s以下

217℃以上の時間

60〜150s

プリヒート温度150℃〜200℃の時間

60〜120s260͠max. Max.

255͠ࡄ࠶ࠤ࡯ࠫ⴫㕙᷷ᐲ㧔͠㧕の場合

217͠
200͠
150͠
30s max.
60㨪120s60㨪150s

ᤨ㑆㧔S㧕
図4-1.

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リフロー耐熱温度プロファイル•

昇温勾配は1〜3℃/秒になるようご検討ください。

•

冷却勾配は回路基板の反り等も考慮して設定してください。

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LGA 実装マニュアル

リフロー工程

防湿包装開封後の保管条件

4.1.1
表4-2.

4.

保管条件表
項目

条件

温度

5℃〜30℃

湿度70％RH 以下

時間 ※168 時間4.1.2

備考※開封後〜最終リフローはんだ付け完了までの時間

ベーク条件

防湿包装開封後に規定した時間を経過した場合は温度：125℃で、時間：10 時間を目安にベークを実施してください。
繰返しベーク時間は累計で 96 時間以内としてください。
なお、防湿包装開封時に、インジケーターカードの 30%スポットがピンク色に変色している場合にもベークを実施してください。
※ベーク時間は製品により規定がございます。詳細は納入仕様書を参照願います。

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4.24.

リフロー工程はんだ付け性• リフロー温度
プロファイルは、実装部品の耐熱保証温度以下で且つ、はんだ接合部の温度がご使用になられているはんだペーストのメーカー推奨条件下限温度以上になるよう設定することが重要です。
この範囲を超えると、はんだショートや製品の信頼性劣化、また下回るとはんだ未溶融やはんだ付け強度不足等の品質低下を招く場合があります。
• 雰囲気
はんだ濡れ性に優れる窒素（N2）雰囲気での実装はんだ付けをお薦め致します。

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図4-2.

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はんだ付け温度

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LGA 実装マニュアル4.

リフロー工程リフロー後のはんだ付け部検査

4.3

LGA はんだ付け部はパッケージ底面となり一般的な外観検査ができないので、X 線による検査方法が有効となります。X 線によるはんだ付け部の観察事例を下記に示します。
外観検査では判らないオープン、はんだショートが X 線検査で確認できます。
品質項目別の検査結果を印刷マスク設計や印刷ズレ許容範囲、搭載位置許容範囲などの工程管理条件などにフィードバックしてください。
表4-3.

実装条件
パッケージ外形

LFLGA336-14x14-0.65
LFLGA304-13x13-0.5【注】 *1

表4-4.

1

搭載荷重

搭載押込み量*180g/ic

リフロー温度
250℃

0.20mm(Air Reflow)

搭載荷重は、搭載機の搭載ノズルのばね荷重を示します。

実装結果

メタルマスク厚：100μm
メタルマスク開口
φ0.20mm

φ0.25mm
1φ0.30mm

φ0.35mm

φ0.40mm

φ0.45mm
0/10

LFLGA336-14x14-0.65—2/10 *0/100/100/10

LFLGA304-13x13-0.5

6/8 *10/80/80/83/8 *【注】 *1

はんだオープン*2

はんだショート

LFLGA336-14x14-0.65 (0.65mmࡇ࠶࠴)φ0.25 mm

φ0.45 mm—

LFLGA304-13x13-0.5 (0.5mmࡇ࠶࠴)
φ0.20 mm

φ0.40 mmߪࠎߛශ೚࡝ࡈࡠ࡯ᓟX✢ߪࠎߛශ೚࠭࡟㧦0.15mmࡑࠬࠢ㐿ญ2ߪࠎߛ࡚ࠪ࡯࠻
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図4-3.

X 線における観察例

LGA（0.65mm ピッチ）は、はんだマスク開口φ0.30〜φ0.45mm でオープン、ショートは認められませんでした。
LGA（0.5mm ピッチ）は、はんだマスク開口φ0.25〜φ0.35mm でオープン、ショートは認められませんでした。

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LGA 実装マニュアル5.

5.

信頼性評価データ

5.1

衝撃耐性

信頼性評価データ

JEITA ED-4702B に準拠した実装基板面に高速の歪を印加する衝撃曲げ試験にて LGA 基板実装品の衝撃耐性を評価した結果をご紹介します。
補強ランドなしの LGA でも一般的な衝撃（1500με）耐性を有している結果となっています。
補強ランドがある LGA が衝撃耐性に相対的に優れている結果となっており、衝撃耐性強化が必要な機器への適用は補強ランドありの LGA が好適です。

表5-1.

衝撃曲げ試験結果

補強ランド○：Pass・はんだペースト：M705-235C-32-11 (Sn/Ag/Cu)●：Open・リフロー条件：予備加熱 150℃〜180℃×90sec＋本加熱 250℃
実装基板歪はんだマスク有り

無し

3000με5000με

φ0.25mm○○●

φ0.30mm○○●

φ0.35mm○○●

φ0.25mm○●●

φ0.30mm○●●

φ0.35mm

○

●

●

*1

⵬ᒝ࡜ࡦ࠼ήߒ

φ0.25 mm0.10 mmt

⵬ᒝ࡜ࡦ࠼᦭ࠅ2000με

⪭ਅࡠ࠶࠼

ታⵝၮ᧼

φ0.30 mm0.10 mmt

ࡄ࠶ࠤ࡯ࠫ࿕ቯ㑆ࠬࡄࡦ

φ0.35 mm0.10 mmt

ၮ᧼⊒↢ᱡߺ(ppm)ⴣ᠄ᦛߍ⹜㛎ᣇᴺ(JEITA ED-4702B)
ශടⴣ᠄

2000
1000
0-100000.0050.010
ᤨ㑆(s)

ၮ᧼ᱡߺᵄᒻ଀

‫ޣ‬ᵈ‫*ޤ‬1‫⵬ޓ‬ᒝ࡜ࡦ࠼ߪࠎߛࡑࠬࠢ㧦0.9mm‫غ‬0.10mmt

図5-1.
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衝撃曲げ試験観察結果及び試験方法
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5.25.

信頼性評価データ

温度サイクル試験結果

鉛フリーSAC305（Sn-3Ag-0.5Cu）はんだペーストで基板実装した各 LGA の温度サイクル試験結果の一例を以下に示します。
片面実装の場合が優位な結果となっていますが、高密度実装機器を想定した両面実装においても十分な耐温度サイクル性を有しています。
表5-2.

温度サイクル試験結果比較

外形
端子ピッチ
補強ランド有りサンプル 1

サンプル 2

サンプル 35 × 5 mm

5 × 5 mm5 × 5 mm

0.5 mm

0.5 mm0.65 mm○○○○

SAC305

SAC305

○無し
実装形態

片面○

両面
実装ペーストSAC305実装基板

FR4/4 層FR4/4 層FR4/4 層試験条件

-40℃〜125℃-25℃〜125℃-25℃〜125℃

1％TTF

3086 cyc

1870 cyc2111 cyc

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Colophon 2.0

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