電子情報技術産業協会規格
Standard of Japan Electronics and Information Technology Industries Association

JEITA ET-2201

マルチメディア機器の電磁両立性－イミュニティ要求事項－
Electromagnetic compatibility of multimedia equipment– Immunity requirements –2021 年 7 月制定

作

成

EMC 委員会

EMC Committee

EMC 共通技術専門委員会

Specialist Committee on EMC Common Technology

マルチメディア EMC 専門委員会
Specialist Committee on EMC Multimedia

発行

一般社団法人 電子情報技術産業協会
Japan Electronics and Information Technology Industries Association

JEITA ET-2201

目

次
ページ

ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1

はじめに
1

適用範囲及び適用時期

2

目的

3

引用規格

4

用語の定義と略語

5

イミュニティ試験要求事項

ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

1

6

文書 ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

7ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

8

解説

附属書 ZA

静電気放電試験（ESD） －EMC 共通技術専門委員会（WG3）－ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

12

附属書 ZB 連続性 RF 電磁界妨害波 －EMC 共通技術専門委員会（WG2）－ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

15ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

17ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

20

附属書 ZC

電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）－EMC 共通技術専門委員会（WG3）－

附属書 ZD

サージ－EMC 共通技術専門委員会（WG3）－

附属書 ZE 連続性誘導 RF 妨害波 －EMC 共通技術専門委員会（WG2）－
附属書 ZF 電源周波数磁界－EMC 共通技術専門委員会（WG1）－ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

29ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ

33

附属書 ZG 電圧低下及び短時間停電 －EMC 共通技術専門委員会（WG1）－ꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏꞏ35

1
JEITA ET-2201

電子情報技術産業協会規格

マルチメディア機器の電磁両立性-イミュニティ要求事項Electromagnetic compatibility of multimedia equipment- Immunity requirements はじめに
この度，平成 30 年 12 月 12 日付情報通信審議会一部答申（諮問第３号「国際無線障害特別委員会（CISPR）の諸規格について」のうち CISPR 35「マルチメディア機器の電磁両立性－イミュニティ要求事項－」）（以下，「CISPR 35 答申」という。）をもとに新しく JEITA 規格を発行することにした。
1

適用範囲及び適用時期
本規格は，(一社)電子情報技術産業協会の掌握する製品のうち, マルチメディア機器（略称：MME）に適用する。
本規格は，2023 年 2 月 1 日より初めて製造する MME から適用する。本規格適用開始までの期間は，JEITA
IT-3001A 規格を適用してもよいし，本規格を先行適用してもよい。
放送受信機能を持つ MME は，この規格の適用範囲である（CISPR 35 答申 付則 A 参照）。非放送の無線インタフェースを持つ MME も本書の適用範囲であるが，本規格の適合性においては，これらのインタ
フェースの性能評価を要求しない。
2

目的
本規格の目的は，MME がその使用環境において意図した動作ができるように，適切なイミュニティレ

ベルを備えるのに必要な要求事項を確立することにある。
3

引用規格
CISPR 35 答申 2 項

4

引用規格を参照すること。

用語の定義と略号
CISPR 35 答申 3 項 用語の定義と略号を参照すること。

5

イミュニティ試験要求事項
以下の CISPR 35 答申の項目，及び付則を参照すること：
4項

要求事項

CISPR 35 国内答申では，サージ試験に対する特別要求として試験手順は，IEC 61000-4-5:2005 又は JIS C 61000-4-5:2018 に従うこと。ただし，有線ネットワークポー
ト 8 線式のサージ試験のインピーダンスは JIS C 61000-4-5:2018 に従うこと。

2
JEITA ET-2201と記載している。これは，IEC 61000-4-5:2005 に従う場合でも，有線ネットワークポート 8 線式のサージ試験のインピーダンスは JIS C 61000-4-5:2018 に従うことを意味する。しかし，本規格ではこのような要求は行わない。IEC 61000-4-5:2005 に従う場合は，IEC 61000-4-5:2005 で定めた有線ネットワークポート 8
線式のサージ試験のインピーダンスに従う。詳細は附属書 ZD を参照すること。
5項

イミュニティ要求事項

7項

試験構成

8項

一般性能判定基準9項

本規格の適合性10 項

試験の不確かさ付則 A（規定）放送受信機能
付則 B（規定）印刷機能
付則 C（規定）スキャン機能
付則 D（規定）表示及び表示用出力機能
付則 E（規定）楽音発生機能
付則 F（規定）ネットワーク機能
付則 G（規定）オーディオ出力機能
付則 H（規定）電話機能
注

電話機能を適用する対象製品は JEITA 以外の工業会所掌製品となる場合がある。その場合，いずれの工業会規格を適用するかは製造者が選択できるものとする。

付則 I（情報）

800MHz 以上の周波数で動作する特定の無線技術に対する機器へのイミュニティ

付則 J（情報） 本規格の適用例
なお，要求事項（表 1 から表 4）のみ下記に掲載する：

3
JEITA ET-2201
表 1―きょう体ポートへのイミュニティ要求事項
表項
1.1

1.2

環境現象
電源周波数磁界

連続性 RF 電磁界
妨害波

試験仕様
周波数

50 又は 60

Hz

磁界強度

1

A/m

連続性 RF 電磁界
妨害波

a

ESD

JIS C 61000-4-8

注記
a

参照

性能判定
基準
A

変調の詳細はCISPR 35 答申
4.2.2.1 参照

A

変調の詳細はCISPR 35 答申
4.2.2.1 参照

A

5000

MHz JIS C 61000-4-3
又はJIS C 61000-4-20
又はIEC 61000-4-21

電界強度

3

V/m

接触放電
気中放電

4
8

kV

電界強度

3

周波数

1800，

（±1 %）

2600，

スポット周波数試
験

1.4

基本規格

MHz JIS C 61000-4-3
又はJIS C 61000-4-20
V/m 又は
IEC 61000-4-21

周波数範囲 80 から 1000

掃引試験

1.3

単位

3500，

JIS C 61000-4-2

B

磁界は，CRT モニタ，ホール素子，ダイナミック・マイクロホン，磁界センサ，オーディオ周波数トランスといった磁界の影響を受けやすい素子を内在した装置にのみ適用する。EUT が CRT 表示を含んでいる場合，試験レベルの定義は D.3.2 を参照する。

注

基本規格の適用バージョンは JIS C 61000-4-2:2012，JIS C 61000-4-3:2012，JIS C 61000-4-8:2016，JIS C
61000-4-20:2014，IEC 61000-4-21:2011 である。
2 章参照。

4
JEITA ET-2201
表 2―アナログ／デジタルデータポートへのイミュニティ要求事項
表項

環境現象

試験仕様

2.1

連続性誘導 RF 周波数範囲
妨害波
試験レベル
CISPR 35 答申
図 3 参照2.2

広帯域インパルス雑音妨害繰り返し

インパルスの
周波数
試験レベル

バースト長
バースト間隔

2.3

2.4

広帯域インパルス雑音妨害分離

サージ

インパルスの
周波数
試験レベル
バースト長

0.15 から 10
3
10 から 30
3 から 130 から 8010.15 から 0.5
107
0.5 から 10
107 から 36
10 から 3036 から 300.70
8.3（60Hz）10（50Hz）

0.15 から 30
110

2.5

電気的ファストトラン
ジェント/バー
スト

基本規格

注記

C

kV
μs

1 次保護：意図していない場合
試験レベル
1 b 参照kVT r /T hμs

10/700（5/320）

性能判定
基準

A
MHz JIS C 61000-4-6 変調の詳細は
CISPR 35 答申
V
4.2.2.1 参照
MHz
V
MHz
V
A
MHz CISPR 35 答申 CPE の xDSL
ポートのみ適 CISPR 35
dBμV 4.2.7
答申
用MHz
F.4.2.2
動作条件につdBμV
参照
いては CISPR
MHz
35 答申 F.4.1 参
dBμV
照
ms
ms
AC 電源周波数に基づくバーms
スト間隔を適用する
MHz CISPR 35 答申 CPE の xDSLB
CISPR 35
ポートのみ適
4.2.7
dBμV
答申
用
F.4.3.1
すべてのバーms参照
スト長を適用
ms

0.24
10
300
ms
ポートタイプ：非シールドの平衡線を接 IEC 61000-4-5 c 参照
又は続するポートJIS C 61000-4-5
適用：ラインと接地間
1 次保護：意図している場合
1 及び 4,
試験レベル
a, b
参照
T r /T h
10/700（5/320）

サージ

単位

ポートタイプ：同軸又はシールド線を接 IEC 61000-4-5 c 参照
又は続するポートの場合
JIS C 61000-4-5
適用：シールドと接地間
0.5
kV
試験レベル
T r /T h

1.2/50（8/20）

μs

試験レベル

0.5

kV

T r /T h

5/50ns繰返し周波数5kHz

JIS C 61000-4-4 CPE の xDSL
ポート
繰返し周波数は 100kHzB

B，xDSL機能CISPR 35
答申
F.4.3.2 参
照
B，他の機
能

5
JEITA ET-2201
製造業者の仕様書により長さが 3m を超えるケーブルをサポートするポートにのみ適用する。
サージは１次保 護を 取り付け て適 用する， 可能であれば，装置を設置するときに実際に使用する１次 保
護素子を使用する。
b
10/700（5/320）μs の波形のサージの結合が高速データポートの機能に影響を与える場合，試験は 1.2/50（8/20）μs の波形と適切な結合網を使って行うこと。
c
サージは以下の条件をすべて満足するポートに適用する。
 建造物から屋外へ出るケーブルに直接接続するかもしれないポート。
 定義されているアンテナポート（CISPR 35 答申 3.1.3），有線ネットワークポート（CISPR 35 答申
3.1.34），あるいは放送受信機チューナポート（CISPR 35 答申 3.1.8）。
典型なポートは xDSL，PSTN，CATV を含んだアンテナや類似のポートが該当する。
LAN や LAN に類似したポートは除外される。
注 基本規格の適用バージョンは JIS C 61000-4-4:2015，IEC 61000-4-5:2005 又は JIS C 61000-4-5:2018，
JIS C 61000-4-6:2017 である。2 章参照。
a

表 3―DC ネットワーク電源ポートへのイミュニティ要求事項
表項
3.1

環境現象

試験仕様

連続性誘導 RF 周波数範囲
妨害波
試験レベル

0.15 から 10
3

3.3

サージ

電気的ファストトラン
ジェント/バースト

基本規格

MHz JIS C 61000-4-6
V

CISPR 35 答申 10 から 30
図 3 参照3 から 1MHz30 から 80

MHz

1
3.2

単位

注記

性能判定
基準

変調の詳細はCISPR 35 答申
4.2.2.1 参照

A

製造業者の仕様書により屋外ケーブルに直接接続する
可能性のある
ポートにのみ
適用する

B

V

V

サージはそれぞれ個々の線と接地間に IEC 61000-4-5
適用
又は
試験レベル

0.5

kV

T r /T h

1.2/50（8/20）

μs

試験レベル

0.5

kV

T r /T h

5/50ns繰返し周波数5kHz

JIS C 61000-4-5

JIS C 61000-4-4

B

製造業者の仕様書によりケーブルの長さが 3m を超えるポートにのみ適用する。
注 基本規格の適用バージョンは JIS C 61000-4-4:2015，IEC 61000-4-5:2005 又は JIS C 61000-4-5:2018，
JIS C 61000-4-6:2017 である。2 章参照。

6
JEITA ET-2201
表 4―AC 電源ポートへのイミュニティ要求事項
表項
4.1

4.2

環境現象

試験仕様

連続性誘導 RF 周波数範囲
妨害波
試験レベル

電圧ディップ0.15 から 10
3

単位

基本規格

MHz JIS C 61000-4-6
V

10 から 30CISPR 35 答申
図 3 参照3 から 1MHz30 から 80MHz

注記
変調の詳細はCISPR 35 答
申 4.2.2.1 参照

性能判定
基準
A

V

1

V

残留電圧

<5

%

サイクル数

0.5

残留電圧

70

サイクル数

25 50Hz 時

JIS C 61000-4-11 a 参照
MME の 1 つの供給周波数のみを適用する%B

C

30 60Hz 時
4.3

短時間停電

残留電圧

<5

サイクル数

250

%

JIS C 61000-4-11 a 参照

C

MME の 1 つの供給周波数のみを適用する

50Hz 時300
60Hz 時4.4

サージ

IEC 61000-4-5

ラインとライン間に適用
試験レベル

1

T r /T h

1.2/50（8/20）

kV
μs

又は
JIS C 61000-4-5

ラインと接地（グランド）間に適用

4.5

電気的ファストトラン
ジェント/バー
スト

試験レベル

2

kV

T r /T h

1.2/50（8/20）

μs

試験レベル

1

kV

T r /T h

5/50ns繰返し周波数5kHz

JIS C 61000-4-4

b

参照

B

製造業者が保
護方法を定めている場合，
試験はそれら
保護方法で動作させることB，xDSL 機能。
CISPR 35
答申 F.4.3.2
参照
B，他の機能7
JEITA ET-2201
a

電圧波形の 0 度のクロス点から開始する。EUT が 0 度において適合性の確認ができないときは，試験は90 度と 270 度の両方で繰返し実施すること。これらの代替の要求事項を満足するならば，要求事項を満たす。試験報告書に記録すること。

b

パルスの印加回数は以下に従うこと。
・AC 電源ポートの 90 度位相でラインからニュートラルへ正極性パルス 5 回・AC 電源ポートの 270 度位相でラインからニュートラルへ負極性パルス 5 回
EUT に接地への接続が存在する場合や EUT が AE を介して接地されている場合には，以下の追加のパルスも必要である。
・AC 電源ポートの 90 度位相でラインから接地へ正極性パルス 5 回・AC 電源ポートの 270 度位相でラインから接地へ負極性パルス 5 回・AC 電源ポートの 90 度位相でニュートラルから接地へ負極性パルス 5 回・AC 電源ポートの 270 度位相でニュートラルから接地へ正極性パルス 5 回
ニ ュ ー トラ ルの 線 が 存在 する 多 相 電源 においては，他の位相が著しく異なった配列回路に接続されていない限り，（上記で定義した）単相の試験を適用する。
ニュートラル線が存在しない多相電源においては，基本規格で定められた試験を適用する。

注

基本規格の適用バージョンは JIS C 61000-4-4:2015，IEC 61000-4-5:2005 又は JIS C 61000-4-5:2018，
JIS C 61000-4-6:2017，JIS C 61000-4-11:2008 である。2 章参照。

6

文書
CISPR 35 答申 6 項

文書を参照すること。

8
JEITA ET-2201

マルチメディア機器の電磁両立性-イミュニティ要求事項解 説
この解説は，本体及び附属書に規定・記載した事柄，並びに関連した事柄を説明するもので，規格の一部ではない。
1

改正の趣旨
これまで，情報処理装置及びシステムのイミュニティ試験法と限度値に関しては，平成 16 年 4 月に発行した JEITA IT-3001「情報処理装置及びシステムのイミュニティ試験方法と限度値」を運用してきた。
JEITA IT-3001 は，CISPR 24 1997 年版を基本として，IEC 61000-4 シリーズの「試験法」と，その試験
応用例の解説を含めた情報処理装置及びそのシステムのイミュニティ規格として策定した。その後，関連する国際規格の改訂が進み，これに伴い関連する JIS 規格が改訂されたことを受けて，現行 JIS 規格を取り入れるとともに，中期的に改訂が計画されている IEC 規格を鑑みて，必要な項目については，それを取り込み，会員各社の商品開発等に寄与すべく，平成 22 年 3 月に JEITA IT-3001A 規格として改正，発行した。
この度，平成 30 年 12 月 12 日付情報通信審議会一部答申（諮問第３号「国際無線障害特別委員会（CISPR）の諸規格について」のうち CISPR 35「マルチメディア機器の電磁両立性－イミュニティ要求事項－」）（以下，「CISPR 35 答申」という。
），及び，平成 22 年 3 月以降に発行された IEC 61000-4 シリーズを基に作成された JIS 規格（JIS C 61000-4 シリーズ）を基に新しく JEITA 規格を発行することにした。
2

改正の経緯
平成 20 年度より，JEITA IT-3001 制定後に発行された JIS 規格及び JIS 規格に取り込まれていない新しい IEC 61000-4 シリーズ・イミュニティ基本規格と JEITA IT-3001 の再検証を開始した。
さらに，これまで試験再現性を向上させるために，マルチメディア EMC 専門委員会・EMC 共通技術専門委員会において，実験・検証を行い，国内関連委員会を通じて提案，あるいは改訂された規格を取り込むべく，現行 JIS 規格の引用と整合を踏まえて，EMC 委員会の傘下各専門委員会よりメンバを募り JEITA
IT-3001 改正 TG を構成し規格改正検討が行われ，平成 22 年 3 月に JEITA IT-3001A を発行することとなった。
この度，CISPR 35 答申，及び，平成 22 年 3 月以降に発行された IEC 61000-4 シリーズを基に作成された JIS 規格（JIS C 61000-4 シリーズ）を踏まえて，EMC 委員会の傘下各専門委員会よりメンバを募り CISPR
35 対応規格 WG を構成し規格改正検討を行い，令和 3 年 7 月に JEITA ET-2201 を発行することとなった。
3

主な改正点
JEITA ET-2201:2021「マルチメディア機器の電磁両立性－イミュニティ要求事項－」について，CISPR 35

答申，及び，答申の中で引用されている JIS 規格，IEC 基本規格を引用し，改正した。改正箇所，及び，各 JIS 規格，IEC 基本規格との差異を一覧表としてまとめ，各附属書に添付した。

9
JEITA ET-2201
4(1)

規定項目の内容
適用範囲
JEITA ET-2201 規格は，(一社)電子情報技術産業協会の掌握する製品のうち，MME に適用する。
したがって，協会が掌握する他の製品，又は MME であっても，協会が掌握しない製品については，本規格の適用範囲に含まれない。

(2)

各項目の説明JEITA ET-2201 規格は，JIS C 61000-4 基本規格に基づいて作成されている。しかし，基本規格には試験基準及び製品個別の判定基準は存在しないことから，これらについては CISPR 35 答申を参照して作成した。要求基準値は，CISPR 35 答申に整合している。

(3)

附属書の説明本規格において，試験方法は最も重要な要素であるが，要求される試験項目が多数にわたり，さらに，個別の規格ごとに規格を作成，発行することは利用者にとって現実的でないため，関連するすべての試験規格を附属書として規定した。JIS 規格あるいは IEC 規格との差異は，各附属書の解説において示される。

10
JEITA ET-2201
5

原案作成委員会の構成表
EMC 委員会
2019 年度
委員長

奈 良 智 巧㈱日立製作所副委員長

安 藤 雄 二

三菱電機㈱

副委員長

東

俊 之

アルプスアルパイン㈱

副委員長

林

潤

双信電機㈱

副委員長

植 田

修

アズビル㈱

副委員長

今 村 豊 和㈱UL Japan

監

下 田 康 平富士ゼロックス㈱委員長

安 藤 雄 二

三菱電機㈱

副委員長

須和田

富士通㈱

副委員長

坪 内 敏 郎㈱村田製作所副委員長

秋 元 宏 之浜松ホトニクス㈱副委員長

永 井 邦 彦パナソニック㈱副委員長

大 塩 修 二㈱リコー

監

鳩 野 尚 志日本光電工業㈱事2020 年度

事

誠

CISPR 35 対応規格 WG（2017 年度～2018 年度は CISPR 35 対応規格 PG）
2019 年度～2020 年度
和 行

ソニー㈱

主

査

堀

委

員

奈 良 智 巧㈱日立製作所安 藤 雄 二三菱電機㈱東アルプスアルパイン㈱

植 田

事務局

俊 之
修

アズビル㈱

小 沢 正 樹NEC プラットフォームズ㈱関 口 秀 夫

日本電気㈱牧 本 和 之(一財)日本品質保証機構

廣 瀬 一 郎

パナソニック㈱中 森 拓 也

パナソニック㈱千代島 敏 夫PFU テクノコンサル㈱長 倉 隆 志富士ゼロックス㈱宮 田 邦 行富士通㈱須 和 田 誠富士通㈱坪 内 敏 郎㈱村田製作所三 武 佳 生

JEITA

田 島 徹 也JEITA

11JEITA ET-2201
EMC 共通技術専門委員会
2019 年度～2020 年度
WG1（IEC SC77A 対応 WG）
委

員

可 児

稔

日立オムロンターミナルソリューションズ㈱須和田誠

富士通㈱ （2020 年度）

北 村 智 善富士通㈱ （2019 年度）

永 井 邦 彦パナソニック㈱矢 島 芳 昭菊水電子工業㈱北 山 洋 平(一財)日本品質保証機構

石 黒 信 一(一財)電気安全環境研究所

WG2（IEC SC77B/WG10 対応 WG）
委員

安 藤 雄 二三菱電機㈱小 沢 正 樹NEC プラットフォームズ㈱門 倉 正 史富士ゼロックス㈱河 内 毅 彦アンリツカスタマーサポート㈱四 方 俊 一㈱東陽テクニカ

佐 藤 克 幸㈱村田製作所

坪 内 敏 郎㈱村田製作所奈 良 智 巧㈱日立製作所 （2019 年度）

山 本 光 秋㈱日立製作所 （2020 年度）

鳩 野 尚 志日本光電工業㈱水 谷 元 春

東芝インフラシステムズ㈱溝 井 貢 一フクダ電子㈱森 田 健 作

GE ヘルスケア・ジャパン㈱（2019 年度）

WG3（IEC SC77B/MT12 対応 WG）
委員

藤 尾 昇 平日本アイ・ビー・エム㈱野々山 尚 希セイコーエプソン㈱寺 井 克 夫㈱日立情報通信エンジニアリング

間 瀬 勝 洋㈱東陽テクニカ

鈴 木㈱ノイズ研究所亮

長 瀬 健 二富士通アドバンストテクノロジ㈱

植 田

アズビル㈱

修

12
JEITA ET-2201

附属書 ZA
静電気放電試験（ESD）－EMC 共通技術専門委員会（WG3）－
1

一般
本附属書は，人体から直接の，又は人体から近接している物体への静電気放電に曝される電気・電子機器に対するイミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
静電気放電試験に対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である
JIS C 61000-4-2:2012 に準拠している。本附属書では，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異について解説する。
JEITA IT-3001A では，静電気放電イミュニティ試験方法を附属書 1 に定めており，JIS C 61000-4-2:1999
を基本に CISPR 24:1997 及び IEC 61000-4-2:2008（JIS C 61000-4-2:2012）を取り込んでいる。JEITA ET-2201
では，試験方法については JIS C 61000-4-2:2012 を引用しており，静電気放電回数も含め，JIS C
61000-4-2:2012 に準ずる。そのため，静電気放電回数に関して JEITA IT-3001A と JEITA ET-2201 の間に生じる差異について，第 2 項で解説する。また，国際規格 CISPR 35 及び CISPR 35 国内答申との差異を解説する。
各規格と，この規格の差異について表解 2 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「静電気放電イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内答申に合わせ「静電気放電試験（ESD）」に変更している。
2

印加回数
JEITA IT-3001A では静電気放電回数は CISPR 24:1997 4.2.1 項 a)，b)に基づいており，JEITA ET-2201

では JIS C 61000-4-2:2012 に従う。JEITA IT-3001A と JEITA ET-2201 の印加回数の違いを表解 1 に示す。
表解 1―放電試験の印加回数の比較
試験方法

JEITA IT-3001A

JEITA ET-2201

少なくとも 4 箇所（卓上型 EUT では 操作者が接触可能なすべての導体表接触放電による直接
少なくとも 3 箇所）の導電性表面に対 面に対して，少なくとも 10 回／1 箇
放電試験
して，50 回／1 箇所（±放電 25 回）所（敏感な極性）注 1
気中放電による直接 少なくとも 20 回／1 箇所（±放電 10 少なくとも 10 回／1 箇所（敏感な極
放電試験
回）
性）注 1
水平結合板を用いた EUT の前面の水平結合板の辺に，少な EUT の前面の水平結合板の辺に，少な
間接放電試験
くとも 50 回（±放電 25 回）
くとも 10 回／1 面（敏感な極性）注 1（卓上型 EUT）
EUT の周囲四つの面（前後左右）に設 EUT の周囲四つの面（前後左右）に設
垂直結合板を用いた
置した垂直結合板に，少なくとも 50 置した垂直結合板に，少なくとも 10間接放電試験
回／1 箇所（±放電 25 回）
回／1 面（敏感な極性）注 1
注１

敏感な極性（+又は－）が分からない場合は，少なくとも 20 回／1 箇所（±放電 10 回）実施する。

ターゲット（電流検出用変換器）を定義(4 (6))
直接放電，間接放電，接触放電，気中放電の関係を説明。
(4 注記)
放電リターンケーブルは，EUT の筐
体から 20 cm 以上離すこと。
(7.1)

床置型 EUT には，0.1 m の絶縁物を使用。
EUT にキャスターなどの絶縁足が取り付けられている場合には，絶縁物の挿入は必要とされない。
(7.1.2)取説等で指示する箇所を含め使用者が通常触れる箇所(8.3.1 (1))
通常使用中に触れない箇所は除外（バッテリ交換，メモリ増設等）(8.3.1 (2) 2))
コネクタピンへの印加は行わない。
(8.3.1 (2) 4))

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

用語の定義

試験時の配置

試験時の配置印加箇所

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ・ 金属シェルをもつ同軸／多ピンコネクタの接点は除外（シェルにのみ接触放電印加）(8.3.2 d))

使用者が修理（service）時のみ触れる点／表面は除外（バッテリ交換時のバッテリ接点，留守番電話機のカセット交換）(8.3.2 b))

通常使用にて使用者が触れる点／
表面（製品規格で規定する場合はこの限りではない）(8.3.2)

床置型 EUT には，0.05~0.15 m の絶縁物を使用。
（7.2.3）

ESD 発生器の放電リターンケーブ
ルは 2±0.05 m。余長は GRP から非誘導となるように置く。
他の導電部に 0.2 m 以内に近付けない。
(6.2)(7.2.1)

説明なし

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

ターゲットの定義なし

IEC 61000-4-2:2008
CISPR 35:2016 の要求を追加

CISPR 35:2016

CISPR 35 と同じ

JIS C 61000-4-2:2012（IEC 61000-4-2:2008）
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

JIS C 61000-4-2:1999 を基本に IEC
61000-4-2:2008 の内容を一部追記
CISPR 24:1997 A1:2001 A2:2002 の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

JEITA IT-3001A:2010

JIS C 61000-4-2:2012（IEC 61000-4-2:2008）
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

JEITA ET-2201:2021

引用規格

項目

表解 2―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

13
JEITA ET-2201

13
JEITA ET-2201

注記

本 JEITA 規格は国内答申で参照されている JIS 規格を参照することを基本としている。

JEITA IT-3001A:2010 は，参照していた JIS C 61000-4-2:1999 に，当時 JIS 化前であった IEC 61000-4-2:2008 の内容を先行して反映している。

表中の（数字）は各規格の項番を表す。

除電ブラシの図なし(7.1.3.1)

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 と同じ除電線の使用を優先とし，代替方法
として自然放電，炭素繊維ブラシを規定。
(7.2.4.1)

CISPR 35 と同じ

除電ブラシの使用を優先とし，代替方法として除電線，自然放電を規定。
(7.1.3.1)

CISPR 35 国内答申と同じ

非接地機器に対する除電
除電ブラシの図あり

・直接印加放電：最低 10 回／1 箇所（厳しい極性，接触／気中）・間接印加放電：最低 10 回／1 箇所（厳しい極性，水平／垂直結合板）(8.3.2)CISPR 35 と同じ・EUT 表面を導電性／非導電性に別け印加方法を明記
・直接放電：
接触放電：50 回／1 箇所（±放電
25 回）最低 4 箇所
（卓上型は最低 3 箇所）
気中放電：最低 20 回／1 箇所（±放電 10 回）・間接放電：HCP（卓上型のみ実施）：
前面に最低 50 回（±放電 25 回）
VCP：最低 50 回／1 箇所
EUT 周囲 4 面（±放電 25 回）(CISPR 24 4.2.1)

CISPR 35 国内答申と同じ

印加回数

CISPR 35:2016
コネクタ接点や他のアクセス可能な部分の接点で機能的な理由でESD に敏感であり，かつ，ESD 警告ラベルが付いている接点は除外。
（例：測定，受信又は他の通信機能からの入力点）(8.3.2 e))

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

機能的に静電気に強くできない部
CISPR 35 と同じ分は適用除外。（例：計測器の入力，受信又は通信の高周波入力端子）(8.3.1 (2) 5))

JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

印加箇所

項目

14
JEITA ET-2201
14
JEITA ET-2201

15
JEITA ET-2201

附属書 ZB
連続性 RF 電磁界妨害波－EMC 共通技術専門委員会（WG2）－
1

一般
本附属書は，無線（RF）通信機などが原因となり発生する電磁放射妨害に対する電気・電子機器のイミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
連続性 RF 電磁界妨害波に対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である JIS C 61000-4-3:2012 に準拠している。本附属書では，国際規格 CISPR 35 及び CISPR 35 国内答申との差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 3 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「放射電磁界イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内答申に合わせ「連続性 RF 電磁界妨害波」に変更している。

注記 表中の（数字）は各規格の項番を表す。

試験に先立って，格子点の 1 点に電 CISPR 35 と同じ界センサを設置して設定した電界の
強度を確認
(8)

CISPR 35 国内答申と同じ試験前の試験
設備の動作
確認

JIS C 61000-4-3:2012
JIS C 61000-4-20:2014
IEC 61000-4-21:2011
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

JIS C 61000-4-3:2005
IEC 61000-4-3:2008
CISPR 24:1997 の要求を追加

JEITA IT-3001A:2010

JIS C 61000-4-3:2012
JIS C 61000-4-20:2014
IEC 61000-4-21:2011
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

JEITA ET-2201:2021

表解 3―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

引用規格

項目

16
JEITA ET-2201

立証試験を実施することが望ましい

IEC 61000-4-3:2010
CISPR 35:2016 の要求を追加

CISPR 35:2016

16
JEITA ET-2201

17
JEITA ET-2201

附属書 ZC
電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）－EMC 共通技術専門委員会（WG3）－
1

一般
本附属書は，繰返し発生する電気的な高速過渡現象に対する電気・電子機器のイミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
電気的ファストトランジェント／バーストに対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である JIS C 61000-4-4:2015 に準拠している。本附属書では，国際規格 CISPR 35 及びCISPR 35 国内答申との差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 4 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「バースト イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内答申に合わせ「電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）」に変更している。

校正用終端インピーダンスの規定： CISPR 35 と同じ
50 ± 2 %1 000 ± 2 % //≦6 pF
抵抗は，直流測定値。
コンデンサは市販されている低周波の静電容量計による測定値。
(6.1)
100～1 000 pF

記載なし

同じ種類のポートが複数あるとき CISPR 35 と同じは，それぞれの種類ごとに一つのポートを試験する。
(7.1)
床置き型装置と同様に 0.1 ± 0.01 CISPR 35 と同じ
m の厚さの絶縁物により基準グラ
ウンド面から絶縁する。
(7.2)

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

ケーブルとクランプ間の結合容量情報クランプの校
正

EUT の
試験構成

卓上型装置の試験配置(6.4)

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

校正用終端
インピー
ダンス

(6.1)

5 kHz

CISPR 35 国内答申と同じ

繰返し周波数JIS C 61000-4-4:2015
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

JIS C 61000-4-4:2007
IEC 61000-4-4:2004 Corrigendum2:2007 Amendment 1:2010
CISPR 24:1997
IEC 61000-4-4:2012 の内容を一部取り込み

JEITA IT-3001A:2010

JIS C 61000-4-4:2015
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

JEITA ET-2201:2021

表解 4―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

引用規格

項目

18
JEITA ET-2201

0.1 ± 0.05 m の厚さの絶縁物により基準グラウンド面から絶縁する。
(7.3.1)

記載なし

発生器出力 2 kV における，クランプの Vp（50 Ω），パルス幅，立ち上がり時間を規定。
(6.4)

記載なし

校正用終端インピーダンスの規定：
50 ± 1 Ω
1 000 ± 20 Ω
(6.2.3)5 kHz，ただし，xDSL は 100 kHz（CISPR 35 5）

IEC 61000-4-4:2012
CISPR 35:2016 の要求を追加

CISPR 35:2016

18
JEITA ET-2201

上位規格に指定のない限り，メーカーの規定限度内とする。
結露するくらい相対湿度が高い場合は試験をしない。
(8.2)

CISPR 35 と同じ
CISPR 35 と同じ

記載なし
記載なし

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

設置後試験

気象条件

(7.3)

AE，シールドルームの壁などの導電性の物質から 0.5m 以上離す
(7.3.1)

1:2010 の内容を先行して反映している。本 JEITA 規格は国内答申で参照されている JIS 規格を参照することを基本としている。

JEITA IT-3001A:2010 は，参照していた JIS C 61000-4-4:2007 に，当時 JIS 化前であった IEC 61000-4-4:2004 Corrigendum 2:2007 Amendment

注記 表中の（数字）は各規格の項番を表す。

記載あり

図でシールドルームの壁から 0.5m CISPR 35 と同じ以上離すことを図示

CISPR 35 国内答申と同じ

EUT 配置CDN と EUT 間の距離：0.9～1.1 m(7.3.1)

CDN と EUT 間の線の長さを 0.5 から CISPR 35 と同じ
3.0 m とし，できる限り短い長さとす
る。（0.5 ± 0.05 m を基本とし，ラックマウント装置等を考慮し最大 3.0
m までとする）(7.2)

CISPR 35 国内答申と同じ

CDN と EUT 間の距離：0.5～0.6 m(7.3.1)CISPR 35:2016

結合装置と床置き型 EUT間の信号線及び電力線の長さ（距離）CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

CDN と EUT 間の線の長さを 0.5 から CISPR 35 と同じ
3.0 m とし，できる限り短い長さとす
る。（0.5 ± 0.05 m を基本とし，ラックマウント装置等を考慮し最大 3.0
m までとする）(7.2)

JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

結合装置と卓上型 EUT 間の信号線及び
電力線の長さ（距離）項目

19
JEITA ET-2201

19
JEITA ET-2201

20
JEITA ET-2201

附属書 ZD
サージ－EMC 共通技術専門委員会（WG3）－
1

一般
本附属書は，電力系統における開閉及び雷の過渡現象による過電圧によって発生する単極性のサージに対する，イミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
サージに対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である JIS C
61000-4-5:2009 並びに JIS C 61000-4-5:2018 に準拠している。JIS C 61000-4-5:2009 と JIS C 61000-4-5:2018
は両方に準拠する必要は無く，どちらかに準拠していればよい。それに対して，国際規格 CISPR 35 では
IEC 61000-4-5:2005（対応する JIS は JIS C 61000-4-5:2009）のみを引用している。本附属書では，JEITA
ET-2201，CISPR 35 及び CISPR 35 国内答申との差異として，JIS C 61000-4-5:2009 及び JIS C 61000-4-5:2018の差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 5 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「サージ雑音イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内答申に合わせ「サージ」と変更している。
2

JIS C 61000-4-5:2009 及び JIS C 61000-4-5:2018 の差異

2-1

波形定義の改定

これまでサージ発生器の出力波形は，開放電圧（1, 2/50 µS）・短絡電流（8/20 µS）それぞれに 2 種類の波形定数が規定されていたが，JIS C 61000-4-5:2018 において，それぞれ以下の 1 種類となった。
開放電圧（1, 2/50 µS）・短絡電流（8/20 µS）の波形規定は以下のとおり。
開放電圧波形（1, 2/50 µS）：Tf = 1, 67 x T = 1,2 ± 30 %, Td=Tw=50 ± 20 %短絡電流波形（8/20 µS)：Tf=1, 25 x Tr = 8 ± 20 %,Td=1, 18 x Tw = 20 ± 20 %

これにより，JIS C 61000-4-5:2009 の規定を満たした試験器でも，JIS C 61000-4-5:2018 の規定を満たさない場合がある。
2-2

パルス出力の校正時 18 μF のコンデンサ追加

サージ発生器の波形校正は 18 μF のコンデンサを通じて測定する規定が追加された。
パルス出力部にコンデンサを持たないサージ発生器の場合，外部コンデンサの追加が必要となる。
ただし，18 μF コンデンサが内蔵されているサージ発生器もあるため，メーカーに確認が必要。
重畳出力部は結合コンデンサが挿入されているため，追加する必要はない。

21
JEITA ET-2201
2-3

通信の結合回路の波形定義要求追加の件

非シールド対称相互接続線用 CDN の結合抵抗値の条件が変更された。
JIS C 61000-4-5:2009 で規定されていた最大 250 Ω の表記は削除された。
JIS C 61000-4-5:2009

JIS C 61000-4-5:2018

2線

80 Ω

80 Ω

4線

160 Ω

160 Ω

6線

240 Ω

240 Ω

8線

250 Ω

320 Ω

CISPR 35 国内答申では 8 線の結合抵抗値は JIS C 61000-4-5:2018 に従うとしているが，本規格では特に指定しない。
2-4

相互接続線のための CDN 校正を規定

このプロセスは DN（デカップリングネットワーク）の減結合効果と CN（カップリングネットワーク）の結合効果を確認することにある。
CDN の AE 側入力は PE（設置端子）に短絡させ，EUT 側を開放にて電圧波形を測定し，EUT 側を短絡にて電流波形を測定する。
波形仕様は JIS C 61000-4-5:2018 の表 8-非対称相互接続線，
表 10-対称相互接続線に詳細が示されている。
2-5

シールド線への印加

シールド線に対するサージ印加の方法
a)

両端が接地されたシールド線
発生器の出力インピーダンス 2 Ω とし，18 μF のコンデンサを介し，シールドに対しサージを印加する。
18 μF が機器に内蔵されている場合もあるので注意が必要。

b)

一端が接地されたシールド線
両端が接地されておらず，一端のみが接地されているシールド線は非シールド線と同様の方法（IEC61000-4-5/2014 7.4，7.5 項参照）でサージ印加をする。

2-6

印加位相

CISPR 35 表 4－AC 主電源ポートのイミュニティ要求事項において，単相機器に印加するパルスの回数は以下のとおり規定している。
・位相角 90 度で，ライン‐中性線間に正パルス 5 回・位相角 270 度で，ライン‐中性線間に負パルス 5 回
CISPR 24 では 0°，90°，180°，270°の位相角でプラス・マイナスを要求していたので・位相角 0 度で，ライン‐中性線間に正負パルス 5 回・位相角 90 度で，ライン‐中性線間に正負パルス 5 回・位相角 180 度で，ライン‐中性線間に正負パルス 5 回・位相角 270 度で，ライン‐中性線間に正負パルス 5 回
1/4 の回数となった。
また，追加パルスとして EUT が接地接続している場合，及び EUT のいずれか AE を経由して接地して

22
JEITA ET-2201
いる場合は以下の位相も実施する。
・位相角 90 度で，ライン‐接地間に正パルス 5 回・位相角 270 度で，ライン‐接地間に負パルス 5 回・位相角 90 度で，中性線‐接地間に負パルス 5 回・位相角 270 度で，中性線‐接地間に正パルス 5 回
なお，CISPR 24 では，EUT が接地接続している場合は以下のとおり実施する。AE を経由して接地している場合については特に規定はしていない。
・位相角 0 度で，ライン‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 0 度で，中性線‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 90 度で，ライン‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 90 度で，中性線‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 180 度で，ライン‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 180 度で，中性線‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 270 度で，ライン‐接地間に正負パルス 5 回・位相角 270 度で，中性線‐接地間に正負パルス 5 回「AE 経由で接地される」とは例えば，下記のように接地線を持たない Note PC（EUT）がディスプレイ
ケーブルのグランドを経由してディスプレイが接地線を持つ場合が挙げられる。

AC Adapter

2-7

EUT

AE

Note PC

ディスプレイ

定格電流に見合う CDN

大電流用の CDN が定義された。
CDN の電流容量によって，波形の要求事項は異なる。EUT の仕様によって適切な CDN を選択しなければならない。
（例えば，5A 定格の EUT は，16A 定格の CDN 波形要求を満足した CDN を使用して試験する。）
ただし，CDN が低電流の波形要求を満足している場合は，高い電流定格の CDN を使用できる。
（例えば，64A の定格の CDN が 16A 定格の CDN の波形要求を満足する場合，5A 定格の EUT の試験に使用できる。
）
3

DC 入力機器への対応
DC 入力機器を試験する際に，機器の電源を CDN に接続すると，機器の電源が立ち上がらないという不具合が報告されている。2017 年に発行された IEC 61000-4-5 Ed3.0 Amd1 で，この不具合の原因は CDN に含まれる減結合回路にあるとしている。さらに，対処方法として，以下の方法が挙げられている。
 減結合回路内で直列に挿入されているインダクタの値を減らす。

23
JEITA ET-2201
インダクタの値を減らすことで，機器の電源立ち上がりが阻害されなくなる。ただし，試験波形に影響があるので，インダクタの値を減らした事実を試験報告書に記載しなければならない。
 DC 電源ラインに共振抑制用の抵抗を挿入する。電流をバイパスさせるためのダイオードを抵抗と並列に入れる。
減結合回路による共振で，過電圧が発生し，機器内部を破壊する現象が報告されており，抵抗を入れることで，これを抑制することができるとしている。ただし，抵抗の値やダイオードの条件については触れられていない。

JIS C 61000-4-5:2018
IEC 61000-4-5:2005
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申と同じ

1.2/50波形定義

JEITA ET-2201:2021

CISPR 35 と同じ

JIS C 61000-4-5:2018
IEC 61000-4-5:2005
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

又は CISPR 35 と同じ

波形パラメータ 1.2/50 μs の定義(表 6.1-1) IEC 61000-4-5:2014 固有の規定開放
電圧波形(1, 2/50 μs)：
Tf = 1, 67 x T(30%-90%) = 1, 2 μs ± 30 %,Td=Tw(50%-50%)=50 μs ± 20 %短絡電流波形(8/20 μs)：
Tf=1, 25 x Tr(10%-90%) = 8 μs ± 20 %Td=1, 18 x Tw(50%-50%) = 20 μs ± 20%(6.2.2)JIS C 1000-4-5:2009
IEC 61000-4-5:2005
CISPR 24:1997 の要求を追加

JEITA IT-3001A:2010

表解 5―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

引用規格

項目

24
JEITA ET-2201

波形パラメータ 1.2/50 μs の定義
IEC 60060-1 による規定
開放電圧波形(1, 2/50 μs)：
Tf = 1, 67 x T(30%-90%) = 1, 2 μs ± 30 %,Td=Tw(O1-50%)=50 μs ± 20 %短絡電流波形(8/20 μs)：
Tf=1, 25 x T(10%-90%) = 8 μs ± 20 %Td=Tw(O1-50%) = 20 μs ± 20 %又は IEC 60469-1 による規定
開放電圧波形(1/50 μs)：
Tf =T(10%-90%) = 1 μs ± 30 %,Td=Tw(50%-50%)=50μs ± 20 %短絡電流波形(6.4/16 μs)：
Tf=T(10%-90%) = 6.4 μs ± 20 %,Td=Tw(50%-50%) = 16 μs ± 20 %(6.1.1)

IEC 61000-4-5:2005
CISPR 35:2016 の要求を追加

CISPR 35:2016

24
JEITA ET-2201

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ試験器の校正CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

発生器の校正 開回路状態（10 kΩ(6.3) 以上）及び短絡状態で 18 uF のコン
デンサを通じて測定しなければならない。
位相シフト性能は一つの極性で 0,
90, 180, 270 の CDN 出力で満たさなければならない（1.2/50CWG） (6.2.3）
発生器の校正 開回路状態（10 kΩ 以上）及び短絡状態（0.1 Ω 以下）で測定しなければならない。（10/700CWG)（A.2.3）又は CISPR 35 と同じ又は CISPR 35 と同じ

波形パラメータ 10/700 μs の定義(表 6.2-1) IEC 61000-4-5 固有の規定
開放電圧波形(10/700 μs)：
Tf = 1,67 x T(30%-90%) = 10 μs ± 30%,
Td=Tw(50%-50%)=700 μs ± 20%短絡電流波形(5/320 μs)：
Tf=1,25 x Tr(10%-90%) = 5 μs ± 20 %,Td=Tw(50%-50%) = 320 μs ± 20 %(6.2.2)JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

10/700
波形定義

項目

発生器の校正 開回路状態（10 kΩ以上）及び短絡状態（0.1 Ω 以下）
で（0.1 Ω 以下）で測定しなければならない。
(6.1.2)

波形パラメータ 10/700 μs の定義
IEC 60060-1 による規定
開放電圧波形(10/700 μs)：
Tf = 1,67 x T(30%-90%) = 10 μs ± 30 %,Td=Tw(O1-50%)=700 μs ± 20 %短絡電流波形(5/320 μs)：
Tf=1,25 x T(10%-90%) = 5 μs ± 20 %,Td=Tw(O1-50%) = 320μs ± 20%
又は IEC 60469-1 による規定
開放電圧波形(6.5/700 μs)：
Tf =T(10%-90%) = 6.5 μs ± 30 %,Td=Tw(50%-50%)= 700 μs ± 20 %短絡電流波形(4/300 μs)：
Tf=T(10%-90%) = 4 μs ± 20 %,Td=Tw(50%-50%) = 300 μs ± 20 %(6.1.1)CISPR 35:2016

25
JEITA ET-2201

25
JEITA ET-2201

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

通信線
波形定義

1.2/50 μs 発生器を使用するとき
CDN 結合回路の抵抗は，並列抵抗が40 Ω/線となるように設定する。ただし，最大 250 Ω。
10/700 μs 発生器を使用するとき
CDN 結合回路の抵抗は，並列抵抗が25 Ω/線となるように設定する。ただし，最大 250 Ω。
(6.3 Figure 14)

3 m を超えるケーブルをサポートする下記の条件をすべて満足する
ポートにのみ適用・建造物から屋外へ出るケーブルに直接接続するかもしれないポー
ト・定義されているアンテナポート(3.1.3)，有線ネットワークポート(3.1.34)，あるいは放送受信機
チューナポート(3.1.8)
・LAN や LAN に類似したポートは除外される。
(CISPR 35 Table 2 Note c)

CISPR 35:2016

又は CISPR 35 と同じ

EUT ポートでの波形定義に従う。 （EUT ポートでの波形定義なし）(6.4.3.2 表 8)

（1.2/50 μs サージの）対称通信線へのCDN 結合回路の抵抗は，並列抵抗が40 Ω/線となるように選択する。
(6.3.3.3)（10/700 μs サージの）対称通信線への CDN 結合インピーダンスは，
Rc=25 Ω/線とする。
(A.3.1)CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ又は CISPR 35 と同じ

対称通信線
結合抵抗

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

製造業者の仕様書に従って屋外ケー CISPR 35 と同じ
ブルに直接接続される可能性のあるポートにのみ印加。
(本文 表 2 注記 1)

JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

サージを適用する通信線の定義

項目

26
JEITA ET-2201
26
JEITA ET-2201

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ1 相当たり200 A を超える電源用 CDNの選択

JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

シールド線にサージを印加するためのセットアップ項目
CISPR 35:2016

CDN 仕様の選択は EUT の電流定格に一致するように行う。
(6.3.2)又は CISPR 35 と同じ

CDN 仕様の選択についての記述無し遮蔽線に印加するための試験配置
遮蔽線に印加するための試験配置
・EUT を大地から絶縁し，サージを ・EUT を大地から絶縁し，サージを金属エンクロージャに印加する。
金属エンクロージャに印加する。
・EUT-AE 間のケーブル長 L=20 m は ・EUT-AE 間のケーブル長は仕様が優先的長さ。又は製造者の仕様の許容する最大長又は 20 m の短いケーブルがある場合，>10 m の最方でなければならない。
短長。仕様が ≦10 m の場合，試 ・ケーブル長が 1 m を超える場合,
験を要求しない。
ケーブルは無誘導に束ねなけれ・ケーブルは無誘導にまとめ，絶縁ばならない。
サポート上に置く。
・両端を接地したシールドは EUT・両端接地ケーブルは 18 uF を介しエンクロージャにサージを印加てシールドにサージを印加する。
する。
・片端接地ケーブルは非シールドと ・一端を接地したシールドは EUT
同様の印加を行う。シールドにはエンクロージャにサージを印加
印加しない。
する。AE 側にのみシールドが接地されている場合にも試験器は(7.6)
EUT 側に接続したままとする。
又は CISPR 35 と同じ・金属エンクロージャを持たない製品の場合，サージを直接シールドに印加する。
(7.6)

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

27
JEITA ET-2201

27
JEITA ET-2201

注記 表中の（数字）は各規格の項番を表す。

EUT 動作のすべてのクリティカル CISPR 35 と同じな点を見つけるために，正負とも十分な数の試験パルスを印加すること。劣化を考慮し，ストレスを加えていない機器を使用するか，一連の試験の前に保護素子を交換してもよ
い。
(8.4)

CISPR 35 国内答申と同じストレスを加えていないEUT の準備CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

交流電源ポートの場合，0°90°180°及 CISPR 35 と同じび 270°でそれぞれ 5 回の正及び 5 回の負のパルスを印加する。
(8.4)

JEITA IT-3001A:2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

AC 電源
ポートに
対する印加

項目

28
JEITA ET-2201

事前にサージストレスを受けていない EUT を試験に使用するという基本規格上の要求事項は適用されない。
製造業者の指定により，ストレスを受けた EUT を試験したり，試験前に保護デバイスを交換したりすることができる。
(4.2.5)・パルスの印加回数は 90 度位相でL-N 正極性 5 回
270 度位相で L-N 負極性 5 回・EUT に接地ポートが存在するかAE を介して接地される場合上記に追加して 90 度位相で L-PE へ正極性 5 回
270 度位相で L-PE へ負極性 5 回
90 度位相で N-PE へ負極性 5 回
270 度位相で N-PE へ正極性 5 回・多相電源の場合
ニュートラルの線が存在する多相電源においては，他の相が著しく異なった配列回路に接続されていない限り，単相の試験を適用する。
ニュートラル線が存在しない多相電源においては，基本規格で定められた試験を適用する。
(CISPR 35 Table 4)

CISPR 35:2016

28
JEITA ET-2201

29
JEITA ET-2201

附属書 ZE
連続性誘導 RF 妨害波－EMC 共通技術専門委員会（WG2）－
1

一般
本附属書は，無線（RF）通信機などが原因となり発生する伝導妨害に対する電気・電子機器のイミュニ

ティ試験についての要求事項を解説するものである。
連続性誘導 RF 妨害波に対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である JIS C 61000-4-6:2017 に準拠している。しかし，国際規格 CISPR 35 が参照しているのは IEC
61000-4-6:2008 であり，JIS C 61000-4-6:2017 と異なる箇所が存在する。そのため，本附属書では，CISPR 35
及び CISPR 35 国内答申との差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 6 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「無線周波連続伝導イミニュティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内
答申に合わせ「連続性誘導 RF 妨害波」に変更している。

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ
CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

試験信号発生器の特性

結合デバイスと減結合デバイスのコモンモー
ドインピーダンス

回線ごとの CDN の選
択方法

遮蔽ケーブル用の
CDN-Sx の紹介

減結合回路網のインダ
クタの周波数特性

結合・減結合デバイス
及び 150 Ω - 50 Ω 変換アダプタの基本特性の確認法

EUT ポートにおける
結合デバイスの出力レベル許容差規定なし

JIS C 61000-4-6:2006
IEC 61000-4-6:2008
CISPR 24:1997 の要求を追加

JEITA IT-3001A :2010

JIS C 61000-4-6:2017
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12月答申）の要求を追加

JEITA ET-2201:2021

CISPR 35:2016

遮蔽ケーブル用の CDN-Sx の紹介
なし.・リニア表示 U0/6+19%～U0/6-16% ・リニア表示 U0/6 ± 25 %・対数表示 U0 - 15.6 dB ± 1.5 dB・対数表示 U0 - 15.6 dB ± 2.0 dB（6.4.2）(6.4.1)・EUT ポート高さ:30 mm～100 mm
・EUT ポート高さ：30 mm
・インピーダンス基準面の大きさ
・インピーダンス基準面の大きさ
ｈ=30mm
100 mm × 100 mm
100 mm × 100 mm
その他
150 mm × 150 mm
(6.3)
(6.3)

0.15 MHz～26 MHz:260 Ω min
26 MHz～80 MHz:150 Ω min(6.2.5)(6.2.4)(6.2.2.5)
0.15 MHz～24 MHz:260 Ω min
24 MHz～80 MHz:150 Ω min

遮蔽ケーブル用の CDN
・CDN-Sx の紹介あり

回線ごとの CDN の選択方法の記載 回線ごとの CDN の選択方法のあり(6.2.2.1 表 4) 記載なし

・0.15 MHz～24 MHz:150 Ω ± 20 Ω
・0.15 MHz～26 MHz:150 Ω ± 20 Ω
・24 MHz～80 MHz:150 Ω
・26MHz～80MHz:150 Ω + 60/-45 Ω(6.2.1 表 3)
(6.2 Table 3)

・出力インピーダンス：50 Ω・出力インピーダンス：50 Ω
VSWR 1.5 未満・変調度 80 % ± 5 %・変調度 80 % + 5 %, 80 % - 20%(6.1 Table 2)(6.1 表 2)

IEC 61000-4-6:2008
JIS C 61000-4-6:2017
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月 CISPR 35:2016 の要求を追加答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

表解 6―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

参照規格

項目

30
JEITA ET-2201
30
JEITA ET-2201

CISPR 35 国内答申と同じ
CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

JIS C 61000-4-6:2006 と同等
CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ増幅器の飽和確認手順

試験セットアップ

EUT と AE を接続する
ケーブル長さに関する規定

擬似手の定数注入方法の選択のフローチャート50 Ω 終端する CDN の
優先順位

CDN を接続できない
ポートに接続されたAE が誤動作時すると
きの減結合

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

規定なし

JEITA IT-3001A :2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

電流クランプのレベル
設定

項目

電流クランプのレベル設定 50 Ωの試験環境で行う記載あり
・リニア表示U0/2 ± 25 %・対数表示
U0 - 6 dB ± 2.0 dB（6.4.1）
校正治具の挿入損失：規定なし

CISPR 35:2016

・試験中に AE が誤動作する場合， ・試験中に AE が誤動作する場合
減結合デバイス（できれば 50 Ωの減結合デバイス挿入の規定な終端した EM クランプ）の使用しが可能である。
(7.5)

(7.2)

① CDN-M1② CDN-Sn③ CDN-M2/M3/M4/M5
その他① CDN-M1② CDN-M3/M4/M5③ CDN-Sn④ CDN-M2
その他

(7.5)

・シールドケーブルについての選択肢なし（7.1.1）・シールドケーブルについての選択肢あり（7.4.2 図 12）

擬似手の定数 510 Ω/220 pF
・擬似手の定数 500 Ω/200 pF（図 11）(Figure 10)

・ EUT と AE と を 結 ぶ イ ン タ ー ・EUT と AE とを結ぶインター
フェースケーブルは，できる限り
フェースケーブルは，できる限短くすることが望ましい。 (7.2)
り短くすることの規定なし

絶縁支持台の高さ：0.1 m ± 0.05m
絶縁支持台の高さ：0.1 m
非導電性キャスター：0.1 m±0.05 m 非導電性キャスター：記述なし
も絶縁支持台として代用可
ケーブルの高さ：50mm＞h＞30mm
ケーブルの高さ：30 mm 以上
(7)
(7.1)

増幅器の飽和確認手順の記載あり
増幅器の飽和確認手順なし(6.4.2)電流クランプのレベル設定 50 Ω の試験環境での記載なし
校正治具の挿入損失規定あり
・電流クランプの装着で 1.6 dB を
超えてはならない（6.2.3.2）

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

31
JEITA ET-2201

31
JEITA ET-2201

規定なし
規定なし
規定なし

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

試験電圧レベルの測定
不確かさ

AE のインピーダンスの測定

ポート間注入増幅器の圧縮及びノンリニアリティCISPR 35:2016

規定あり

規定あり

規定あり

規定あり

規定あり

規定なし

規定なし

規定なし

規定あり

規定あり

無遮蔽不平衡線路用
無遮蔽不平衡専用に AF8 が追加
記載なし
された。
無遮蔽平衡線路用
無遮蔽不平衡線路用
CDN-T8 回路
CDN-AF8 回路
C(typ.)=2.2 nF,Ｒ=800 Ω,C(typ.)=2.2 nF,Ｒ=800 Ω,L>>280 uH(150 kHz)
L>>280 uH(150 kHz)
(附属書 D 図 D.6)
(Annex D)
無遮蔽平衡線路用
CDN-T8C(typ.)=2.2 nF,Ｒ=800 Ω,
L1>>280 uH(150 kHz)
L2>>6 mH(150 kHz)
(附属書 D 図 D.7)・動作周波数範囲 0.15～80 MHｚ
EM クランプ動作周波数範囲：
校正治具の規定あり
0.15～230 MHｚ
・校正のための中心胴体は円筒
校正治具の規定なし
金属棒(Annex A A.2)
(附属書 A A.2)

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

表中の（数字）は各規格の項番を表す。
JEITA IT-3001A:2010 は，参照していた JIS C 61000-4-6:2006 に，当時 JIS 化前であった IEC 61000-4-6:2008 の内容を先行して反映している。本 JEITA 規格は国内答申で参照されている JIS 規格を参照することを基本としている。

規定なし

CISPR 35 国内答申と同じ

大型 EUT の試験セッ
トアップ

注記

規定なし

CISPR 35 国内答申と同じ

CDN に関する情報

EM クランプ動作周波数範囲：
0.15～230 MHｚ
校正治具の規定なし
EM クランプ動作周波数範囲：
0.15～230 MHｚ
校正治具の規定なし

JEITA IT-3001A :2010

CISPR 35 国内答申と同じ

JEITA ET-2201:2021

EM クランプ及び減結
合クランプ

項目

32
JEITA ET-2201
32
JEITA ET-2201

33
JEITA ET-2201

附属書 ZF
電源周波数磁界－EMC 共通技術専門委員会（WG1）－
1

一般
本附属書は，居住用及び商業用地域，工業用施設及び発電所，中圧及び高圧変電所の区域に設置する機器の動作状態における，50 Hz 及び 60 Hz の電源周波数磁界に対する電気・電子機器のイミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
電源周波数磁界に対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である
JIS C 61000-4-8:2016 に準拠している。本附属書では，国際規格 CISPR 35 及び CISPR 35 国内答申との差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 7 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「電力周波数磁界イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR 35 国内答申に合わせ「電源周波数磁界」に変更している。

基準グラウンド面は非磁性金属（銅又はア
ルミニウム）シート(7.1.1)

卓上型 EUT 用コイルの特性
基準グラウンド面をコイルの一部にすることができる。
(6.2(3)1))
標準コイルを適用できないような EUT
は，EUT が試験できるサイズのコイルを使用する。近接法は EUT の磁界に影響を受けやすい箇所の調査に使用することができる。
(6.2(3)2))

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

基準
グラウンドの厚さ

卓上型 EUT 用
コイル

近接法使用

表中の（数字）は各規格の項番を表す。

同一種類のターミナルが複数ある場合，そのうちの一つだけにケーブルを接続してもよい。
(7.2(1))CISPR 35 国内答申と同じ

EUT へのケーブル接続注記

浸せき法（没入法）のみ定義されている。 CISPR 35 と同じ

CISPR 35 国内答申と同じ

定義

CISPR 35 と同じ

CISPR 35 と同じ

標準コイルを適用できないような
EUT（EUT が 1 m×2.6 m の標準誘導コ
イルに適さない場合）は，例えば，1 m
コイルの近接法を利用可能(6.3.3 b))

卓上型 EUT：
基準グラウンド面をコイルの一部にしてはならない。
(6.3.3 a))

基準グラウンド面の材料の厚みについて「非磁性金属（銅又はアルミニウ
ム）シートで厚み 0.25 mm 以上とする。他の金属材料を使用する場合は，
厚みを 0.65 mm 以上とする。」(7.2)

CISPR 35 と同じ(6.3.3 b))
すべての接続ターミナルにケーブル
を接続する
(7.3)

浸せき法及び近接法が可能

IEC 61000-4-8:2009
CISPR 35:2016 の要求を追加

CISPR 35:2016

CISPR 35 と同じ

JIS C61000-4-8:2016
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月
答申）の要求を追加

JIS C61000-4-8:2003
IEC 61000-4-8:2009
CISPR 24:1997 の要求を追加

JIS C61000-4-8:2016
IEC 61000-4-8:2009
CISPR 35 の要求を追加

引用規格

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

JEITA ET-2201:2021

JEITA IT-3001A:2010

表解 7―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

項目

34
JEITA ET-2201
34
JEITA ET-2201

35
JEITA IT-3001A

附属書 ZG
電圧低下及び短時間停電－EMC 共通技術専門委員会（WG1）－
1

一般
本附属書は，電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対して，低圧電源に接続する電気・電子機器のイミュニティ試験についての要求事項を解説するものである。
電圧低下及び短時間停電に対する要求事項は，CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月答申）及び引用規格である JIS C 61000-4-11:2008 に準拠している。本附属書では，国際規格 CISPR 35 及び CISPR 35 国内答申との差異を解説する。また，参考に，旧 JEITA 規格である JEITA IT-3001A との差異も示した。
各規格と，この規格の差異について表解 8 に示す。
なお，JEITA IT-3001A では「電圧ディップ・短時間停電イミュニティ試験」としていた名称を，CISPR
35 国内答申に合わせ「電圧低下及び短時間停電」に変更している。

表中の（数字）は各規格の項番を表す。

0.5 サイクル時の変化は，電圧波形の90 度点において発生するようにする
こと。
(8.3.1)CISPR 35 国内答申と同じ

試験の実施

注記

JIS C 61000-4-11:2008
IEC 61000-4-11:2004
CISPR 24:1997 の要求を追加

JEITA IT-3001A:2010

JIS C 61000-4-11:2008
IEC 61000-4-11:2004
CISPR 35 の要求を追加

JEITA ET-2201:2021

引用規格

項目

CISPR 35 と同じ

JIS C 61000-4-11:2008
CISPR 35 国内答申（平成 30 年 12 月
答申）の要求を追加

CISPR 35 国内答申
（平成 30 年 12 月答申）

表解 8―旧版及び関連する国内規格・国際規格との主な相違点

機器の 1 つの供給周波数のみを適用する。
電圧波形の 0 度のクロス点から開始する。EUT が 0 度において適合性の確認ができないときは，試験は 90 度と 270 度の両方で繰返し実施すること。これらの代替の要求事項を満足するならば，要求事項を満たす。試
験報告書に記録すること。
(CISPR 35 5 Table 4 4.2 a, 4.3 a)

IEC 61000-4-11:2004
CISPR 35 の要求を追加

CISPR 35:2016

36
JEITA ET-2201

一般社団法人 電子情報技術産業協会が発行している規格類は，工業所有権（特許，実用新案など）に関する抵触の有無に関係なく制定されています。
一般社団法人 電子情報技術産業協会は，この規格類の内容に関する工業所有権に係る確認について，責任はもちません。

JEITA ET-2201
2021 年 7 月発行
発 行

一般社団法人 電子情報技術産業協会
事業推進戦略本部 事業推進部〒100-0004 東京都千代田区大手町 1-1-3
ＴＥＬ 03-5218-1050(代表)印 刷株式会社 オガタ印刷〒 102-0072 東京都千代田区飯田橋 1-5-6
ＴＥＬ 03-3264-3456

禁

無

断

転

載

この規格類の全部又は一部を転載しようとする場合
は，発行者の許可を得て下さい。