2012年度 卒業論文
μ粒子の寿命と電子エネルギースペクトラムの測定

奈良女子大学
理学部 物理科学科
小林 加奈
田中恵梨香

目次
第1章 はじめに1.1 実験目的 ……………………………………………………p.3
1.2 実験課題 ……………………………………………………p.3
1.3 本論文の構成 ………………………………………………p.3

第2章 宇宙線・μ粒子
2.1 宇宙線 ………………………………………………………p.4
2.2 μ粒子 ………………………………………………………p.5

第3章 放射線計測の原理
3.1 電離損失 ……………………………………………………p.6
3.2 制動放射 ……………………………………………………p.8
3.3 プラスチックシンチレーターのエネルギー損失 ………p.9
3.4 μ粒子の寿命算出 …………………………………………p.10
3.5 電子のエネルギー分布 ……………………………………p.12

第4章 測定方法
4.1 シンチレーションカウンター ……………………………p.14
4.1.1 プラスチックシンチレーター…………………………p.14
4.1.2 光電子増倍管……………………………………………p.15
4.2 測定原理 ……………………………………………………p.16
4.2.1 実験装置…………………………………………………p.16
4.2.2 観測される波形の違い…………………………………p.17

第5章 セットアップ
5.1 シンチレーションカウンターのセットアップ …………p.18
5.1.1 シンチレーションカウンターの配置………………p.18
5.3.3 トリガーカウンター…………………………………p.20
5.3.4 Vetoカウンター ……………………………………p.20
5.2 エレクトロニクスの設定 …………………………………p.21
5.3 エレクトロニクスのセットアップ ………………………p.22
5.4 モジュール …………………………………………………p.23
5.4.1 NIM（Nuclear Instrument Module） ……………p.23

1

5.4.2 CAMAC(Computer Aided Measurements And Control)p.24
5.5 各CAMACモジュールについてのセットアップ………………p.26

第6章 データ収集プログラム
6.1 データ収集プログラム…………………………………………p.29

第7章 データ解析
7.1μ粒子の寿命 ……………………………………………………p.32
7.1.1 イベントの選別 …………………………………………p.32
7.1.2 FITについて ……………………………………………p.33
7.1.3 実験結果 …………………………………………………p.34
7.1.4 TDCの1カウントあたりの時間測定 ……………………p.35
7.1.5 μ粒子の寿命の算出 ……………………………………p.35
7.2 電子のエネルギースペクトラムの測定………………………p.37
7.2.1 イベントの選別 …………………………………………p.37
7.2.2 条件③
ベトーカウンターがなっていないときの具体的な数値 p.38
7.2.3 FITについて ……………………………………………p.40
7.2.4 実験結果 …………………………………………………p.41
7.2.5 考察 ………………………………………………………p.42

第8章 まとめ
8.1 μ粒子の寿命測定……………………………………………p.43
8.2 電子のエネルギースペクトラム……………………………p.43
8.3 参考文献………………………………………………………p.43
8.4 謝辞……………………………………………………………p.43
8.5 付録……………………………………………………………p.44

2

第1章 はじめに
1.1 実験の目的
地上にはたくさんの原子核や素粒子が降り注いでおり、その粒子は宇宙線と呼ばれている。その宇宙線のほとんどはミュー粒子であり、μ粒子を含む素粒子は様々な寿命を持ことが分かっている。今回の実験ではプラスチックシンチレーターを用いて、地表にたどり着くμ粒子を測定する。またその結晶内で崩壊するμ粒子を使い、μ粒子の寿命の測定と崩壊後の電子のエネルギー測定を試みる。その過程において、素粒子物理学の実験的研究を行うと共に、高エネルギー物理学の基本的な実験技術を習得することを目的とする。

1.2 実験課題
今回の実験ではシンチレーションカウンターに入射したμ粒子が崩壊したときのエ
ネルギースペクトルを測定する。寿命の測定にあっては、プラスチックシンチレーターを用いて粒子の検出とエネルギー測定を行い、得られた信号を光電子増倍管を用いて増幅し、ADCやTDCを用いてデータ処理を行い、μ粒子の寿命を測定する。その過程において、寿命測定の解析プログラムを開発する。

1.3 本論文の構成
本論文ではまず宇宙線や放射線計測の原理について述べ、次にμ粒子の寿命測定の原理、装置やセットアップについて述べる。さらにデータ収集の方法、そのデータを使っての解析、プログラムの説明などを行い、最後に実験結果について報告する。

3

第2章 宇宙線・μ粒子
2.1 宇宙線
宇宙線とは、宇宙空間から地球に絶えず降り注ぐ高エネルギーの放射線（一次宇宙線）とそれが大気に入射して作る放射線（二次宇宙線）のことである。宇宙線は常に私たちの身の回りに降り注いでおり、高エネルギーで透過率が高いため建物や私たちの体を突き抜けていく。そのため、屋内での観測が可能である。
宇宙には、超新星の爆発や、太陽の表面で起こる爆発などで発生した高エネルギーの粒子が飛び交っている。それらの粒子には、陽子（水素の原子核）が約90％、α粒子（ヘリウムの原子核）が約8％、その他の粒子が約1％含まれ、これらの宇宙線を一次宇宙線と呼んでいる。
一次宇宙線が大気に入射すると、大気中に含まれる窒素や酸素などの原子核と衝突し、放射性同位元素やπ中間子などの粒子を生成する。これら二次的に生成された宇宙線を
二次宇宙線と呼ぶ。二次宇宙線は原子核と相互作用し、新たな二次粒子を生成する。
ちなみに、π中間子の寿命は（2.6030±0.0024）×10-8secである。二次宇宙線のうち、電子やγ線は大気中で吸収されるため、地上に来る大部分はμ粒子とニュートリノが占めている。

図 2.1 : 宇宙線シャワーの模式図

4

2.2 μ粒子
μ粒子は、地上に到達する二次宇宙線の荷電粒子の大部分（約3／4）を占めており、μ粒子はπ中間子が崩壊して生成される。π中間子は宇宙から降ってきた陽子が大気中の原子核と強い相互作用することによって生成される。π中間子には中性のπ0と荷電のπ±があり、荷電π中間子は100％、次のように崩壊する。

π＋→μ＋＋νμ
π－→μ－＋νμ
一方中性π中間子は、電磁相互作用によって、ほぼ100％の確立でπ0→γγに崩壊する。
μ粒子は第2世代のレプトンで、質量105.7MeV/C2、電荷±1、スピン1/2の粒子である。
そして、μ粒子は弱い相互作用によって、次のように崩壊する。

μ-→e-＋νe＋νμ
また、μ粒子の寿命はほぼ2.2μsecである。今回の実験では、この寿命を測定する。
以下にこの崩壊のファインマン図を示す。

図 2.2 : μ－の崩壊のファインマン図5

第3章 放射線計測の原理
放射線は我々の五感では感じることができない。そのため荷電粒子の電離作用と発光現象を用いて放射線を検出する。荷電粒子が通過し、電離作用を起こすと発光する物質
をシンチレーターと呼ぶ。今回は、シンチレーターを用いて、その光を光電子増倍管で増幅させ、電気信号に変える方法で放射線を検出する。

3.1 電離損失
荷電粒子が物質中を通過すると、入射荷電粒子と物質を構成する原子との相互作用によって、原子が電子と陽イオンに分離される。これを、電離(Ionization)という。また、電離作用を起こさずに、原子や分子がエネルギーの高い状態になることもある。これを、励起(Excitation)、その状態を励起状態と呼ぶ。
入射荷電粒子が物質を通過する時、物質中の電子と衝突し、電離や励起を繰り返しながらエネルギーの一部を失う。これを電離損失(Ionization loss)という。電離損失に
よって荷電粒子が失うエネルギーはBethe‐Blochの式で表される。

dE
Z z 2   2m 2 v 2Wmax 
2
2
2
2


 4N a re me c 
ln

2


 ( Mev / g / cm )
2
2


dx
A   
I



(3.1)

ここで、Ｎ0はアボガドロ数、Ｉは電離ポテンシャル、Ｚは物質の原子番号、Ａは物
質の原子量、ｖは入射粒子の速度、ｚは入射粒子の電荷、ｅは電子の電荷、ｍは電子の質量である。
電離損失

dE
は入射荷電粒子の質量には依存しないが、速度v=βcには依存する。入dx

射荷電粒子のエネルギーが低く、βが小さい時、Bethe‐Blochの式は

dE
1
 2
dx 

(3.2)

となる。入射粒子の運動量が大きくなると、電離損失は1/β2に従って急激に減尐し、最小値に達する。この領域での電離をMinimum ionizationという。電荷が同じ粒子ならば、粒子の質量が3倍になるところで、最小値はほぼ同じ値をとる。
入射荷電粒子のエネルギーが高くなると、β2⋍1となり、(3.1)式のlogの中の項が効くのでエネルギー損失は、logγでエネルギーが増加するにつれて上昇する。

6

 2 dE
 log 2dx
1   

 



2

1  2

(3.3)



E
m

電離・励起状態にある原子・分子が基底状態に遷移する時、二つの状態のエネルギーの差を光として放出する。この発光をシンチレーション(Scintillation)という。今回の実験では、シンチレーション光を用いて、入射粒子の電離損失を測定する。

7

3.2 制動放射
電子は質量が小さいので、他の荷電粒子と衝突した際に、原子の励起やイオン化を行わない弾性衝突であっても、原子核の作る電場によって、速度の時間変化、方向の変化
をかなり受け、加速度運動する。古典電磁気によると、加速度の二乗に比例するエネル
ギーを電磁波として放出する。加速度の大きさは物質内の荷電粒子の電荷Zに比例し、入射電子の質量に反比例するので、放出するエネルギーは(Z/me)2に比例する。したがって、物質内でZの大きい原子核の存在が最も制動放射に効く。
また、制動放射によるエネルギー損失は入射電子のエネルギーに比例して増していく。
そのため、この損失は電子が高速になってから有効となる。この理論式は次式のようになる。

dE NEZ 2 re2 
183 2 
4 ln 1  dx
137 
9
z3



(3.4)

ここで、Nは物質の単位体積中の原子数 (N=N0ρ/A)、Eは入射電子のエネルギー、reは電子の古典半径 (re=e02/mec2=2.81×10-13)、Aは物質の原子量、N0はアボガドロ数(=6.02 1023)、ρは物質の密度である。
制動放射でエネルギーを失って、電子の始めのエネルギーの1/eになるまでに走る物
質層の長さを放射長(radiation length)という。(3.4)式よりとなるので、放射長Ｘ0を求めることができる。

8

3.3 プラスチックシンチレーターのエネルギー損失
プラスチックシンチレーターのエネルギー損失は

E( Mev) dE  ( g / cm3 )  t ( cm )dx ( Mev 2 )g / cmで求めることができる。
ここで  1.03g / cm3であり、プラスチックシンチレーターの1ｃｍあたりのエネルギー損失はE  1.6 1.03 1  1.68Mev

9

3.4 μ粒子の寿命算出
μ粒子の寿命測定を行うにあたって、放射性崩壊の指数関数法則を用いる。今回の実験で用いた指数関数法則は以下のように導かれる。
今、それぞれの粒子が単位時間に崩壊する確率をλとする、独立な粒子の集合を考える。時間dtの間に崩壊する数dN は次式で与えられる。

dN  N (t )dt(4.1)

ここで、N(t)はある時間tに存在する粒子の数である。(4.1)を積分する。Ｎ0を時間t0に存在する粒子数とする。
t
dN



N0 N
t0 dtln N NN0   t tt0
N

ln N  ln N 0   (t  t0 )
ln

(4.2)

N
  (t  t0 )N0

t0 =0の場合、（4.2）式は通常の放射性崩壊の指数関数法則である次式に書き換えられる。

N  N 0e t

10

(4.3)

時間 t と t＋dt との間の無限に小さい時間間隔 dt の間に崩壊する粒子の数は、平均として(4.1) である。 Ｎ0個すべての粒子の生存時間の和Ｌは tＮλdt の t＝0から t＝∞までの積分であり、(4.4)式で与えられる。
L   tN dt
0  tN 0 e t dt
0



1
 N 0  2   0
N
 0



(4.4)

以上より、平均生存時間 Ｌ／Ｎ0（平均寿命時間τ）は(4.5)式で与えられる。

L
11    
N0



(4.5)

これを(4.3)式に代入すると、

1N  N 0e 

(4.6)

が得られる。
この式を用いてμ粒子の寿命を測定する。
μ粒子がシンチレーター内を通過すると光を出し、その信号は一つ山になる。一方、μ粒子がシンチレーター内で静止し、しばらくして崩壊すると、μ粒子のエネルギー損
失と電子のエネルギー損失でその信号は二つ山になる。
この実験では一つ山のピークが来てからと二つ山のピークが来るまでの時間差が(4.6)式のtであり、このtを測定することにより（4.6）式からμ粒子の寿命τを算出できる。

11

3.5 電子のエネルギー分布
μ粒子の寿命の測定とともに、μ粒子の崩壊によって生成される電子のエネルギー分布について調べる。μ粒子の崩壊のダイアグラムと崩壊式の対応は以下の通りとなる。

μ-(p1)→e-(p4)＋νe(p2)＋νμ(p3)今回の実験で用いた電子のエネルギー分布の式は以下のように導かれる。振幅は





g w2
M
u (3)  (1   5 )u (1) u (4)  (1   5 )v(2)28( M w c)（ M ：振幅 ，

：結合定数



）

このように表される。よって、

 

 M


2

4

 g 
 2 w  ( P1  P2 )( P3  P4 )
 M wc (4.7)

ここで、 P1  (m c,0) となり、P1  P2  m E2となる。また、 P1  P2  P3  P4 より、(4.8)( P3  P4 ) 2  m2 c 2  2P1  P2
よって、

P3  P4 (m2  me2 )c 2
2 m E2(4.9)(4.7) 式に(4.8)式と(4.9)式を代入すると、
4 g 
M   w  m2 E2 (m c 2  2 E2 )
 M wc 
一方、崩壊の割合は次の式で与えられる。

12(4.10)

  M2 cd 3 p4d dE2(4 ) 4 hm
E42(4.11)(4.13) 式に(4.12)式を代入して積分する。

 g w  m c  m c 2 2  3 d  
 2  3 E4  d p4
4

M
c
h
w 



4

2


 E  dE4
d 3 p4  4  4 
 c  c(4.14)

より、
42 2d  g w  m E
4E



(
1

)
dE  M wc  2h(4 )33m c 2(4.15)(4.15) 式が崩壊の時に生成される電子のエネルギー分布の式である。これを用いて電子のエネルギー分布を確かめる。
電子のエネルギーが最小となるのは、μ粒子の静止系で電子が静止してつくられる場
合で、最大となるのは2個のニュートリノの運動量がともに電子運動量の180°方向を向
き電子に最大の反跳を与えるときである。μ粒子の静止系では、電子の質量エネルギーを無視すると、以下の図のようになる。

0.625MeV/c

ご
と
の
イ
ベ
ン
ト
数

陽電子の運動量 [MeV/c]

図 4.2 : μ粒子崩壊時の電子のエネルギー分布(電子の質量エネルギーを無視した場合)

13

第4章 測定方法
4.1

シンチレーションカウンター

シンチレーションカウンターは放射線検出器の一種である。シンチレーターと光電子増倍管を組み合わせ、シンチレーターの光を光電子増倍管で電気信号に変換することによって、放射線検出器として働く。

4.1.1 プラスチックシンチレーター
シンチレーターとは荷電粒子が通過する時にその粒子が失うエネルギーを光エネルギーに変換する物質のことであり、シンチレーターに粒子が入射すると、決まった波長の光が放出される。シンチレーターには、有機シンチレーターと無機シンチレーターがあり、それぞれ発光機構に違いがある。今回は測定用の結晶、トリガーカウンター、Veto
カウンターのすべてで有機シンチレーターであるプラスチックシンチレーターを使用した。プラスチックシンチレーターにはポリエスチレン等プラスチック中に有機発光物
質が溶かし込まれている。そのため、形状の加工が簡単である。また、応答が数 nsecのオーダーであり、シグナルの立ち上がりと立ち下がりが非常に速い(時間分解能が高い)一方、光量が無機シンチレーターに比べると少なく、エネルギーの等しい粒子に対する発光量にばらつきがでる(エネルギー分解能が低い)。それぞれのカウンターの詳細については第 5 章で述べる。

14

4.1.2 光電子増倍管
光電効果を利用して光エネルギーを電気エネルギーに変換する光電管を基本とし、電流増幅、つまりは電子増幅機能をつけた高感度光検出器である。
光電面に光が入射すると光電効果によって電子が飛び出す。その電子は真空管の中で電極に高電圧をかけることで、加速される。加速した電子はダイノード(Dynode)に衝突し、ダイノードがまたいくつかの電子を放出する。この放出された電子が、次のダイノードとの間にかけられた電場によって加速され、次のダイノードに衝突し、より多くの電子が放出される。これを繰り返すことで電子を増幅する。この電子がアノード(Anode)に集まり、電気信号として出力される。

図 4.1 光電子増倍管模式図

15

4.2

測定原理

4.2.1 実験装置

μ粒子
光電効果

ADC

PC

シンチレーション光

光電子増倍管プラスチックシンチレーター
図 4.2 μ粒子測定の模式図

放射線を計測する際、放射線は五感では感じることができないため、粒子の動きを信号として計測できる形にしなければならない。そこで、荷電粒子が物質の中を通るとエネルギーを光として放出するという現象を利用して、その光を電気的信号に変換し計測を行った。
μ粒子がシンチレーター内を通ることにより光を放出する。その光は光電子増倍管の光電面に当たると、光電効果により電子を発生する。光電子増倍管でその電子を増幅させ、ADC(Analog Digital Converter)を用いてデジタル信号に変換し解析を行う。
セットアップの詳細やADCについては後で詳しく述べる。

16

4.2.2 観測される波形の違い
μ粒子のシンチレーター内での振る舞いによって信号の形に違いがある。

（1）μ 粒子が大きなシンチレーターを通過するとき
図のように μ 粒子が大きなシンチレーターを通過するときは、1 つ山の信号が現れる。これは、シンチレーター内で μ 粒子が走った信号である。

1 つ山

図 4.3 μ粒子通過時の装置図（左）、波形（右）（2）μ 粒子が大きなシンチレーター内で止まりその後崩壊するとき
図のように μ 粒子がシンチレーター内で崩壊をしたときは、2 つ山の信号が現れる。
これは、シンチレーター内で μ 粒子が走った信号が 1 つ目の山で、崩壊してできた電子が走った信号が 2 つ目の山となって後から出る。

2 つ山

図 4.4

1 つ目

2 つ目

（入射）

（崩壊）

μ粒子崩壊時の装置図（左）、波形（右）17第5章 セットアップ
5.1

シンチレーションカウンターのセットアップ

5.1.1 シンチレーションカウンターの配置使用した実験器具をあげる。
プラスチックシンチレーター(580mm×250mm×260mm) 1 個
プラスチックシンチレーター(582mm×260mm×10mm) 2 個
プラスチックシンチレーター(250mm×131mm×10mm…直径 60mm の半円の穴がある) 4 個
プラスチックシンチレーター(280mm×261mm×10mm) 4 個
ライトガイド 10 個
光電子増倍管 12 個
これらを用いたシンチレーションカウンターの配置が次の図である。
今回は下図のように、シンチレーションカウンターを配置し、実験を行った。

V4

V５

T1

V3
V２

V６

V８

V７

V１
S1

S２

T２
図 5.1 全体のシンチレーションカウンターのセットアップ

18分解するとこの様な配置となっている。分かりやすいように S1、S2

以外はライト

ガイドと光電子増倍管を付けていない図となっている。また、中心となる黄色のシンチ
レーターはサイズが大きいため２つの光電子増倍管を付けた。両端にライトガイドは使わず直接、光電子増倍管を付けた。

582
260

10

T1

V

130

580

V3

V4

V５

V２

２
V６
S1

S２

V７

V１

V８

60

250

250

261

260

T２

10

10
280

図 5.2 図 5.1 の分解図

19

※単位はすべて mm

5.1.2 トリガーカウンター
宇宙線であるμ粒子は宇宙から絶え間なく

降り注いでいるため、シンチレーター

μ粒子にはあらゆる方向からμ粒子が入射してくV4V５る。しかし、シンチレーターはノイズや電子など他の粒子にも反応する可能性があり、

V3

T1

V２
V１

V６

S1

S２

μ粒子が入射したかどうか判断することが難しい。そこで、測定用のシンチレーター
T２の上にT1というカウンターを設置し、Hitの

図 5.3 トリガーカウンターの模式図

条件を与える。そうすることによって、余分なデータが削るこ

図中の T1, S1 が同時に信号を出したときのみとが可能となる。この作業をするのがトリ

μ粒子がきたとする。

ガーカウンターである。
今回の実験では、T1、S1をトリガーカウンターとして使用し、T1、S1のコインシデンスをONにして測定する。

5.1.3 Vetoカウンター
μ粒子の崩壊後、電子はシンチレーター結晶内をエネルギーを放出しながら通過する。その多くはエネルギーを持ったまま結晶から飛び出す。電子のエネルギー分布を計測するために必要なイベントは電子が結晶内で全エネルギーを放出したイベントのみである。
よって、結晶から飛び出してしまった電子をμ粒子

測定し、そのイベントについてはデータ処理の段階で取り除くことが必要である。この作業を

V4

V５

T1

V3

するのがVetoカウンターである。

V２

今回の実験では、T1, T2, V1～V8の10つのカ

V１

V６
S２

S1

電子

ウンターをVetoカウンターとし、そのADC2の値
によって電子が結晶外に飛び出したかを判断し、T2のADC1の値によってμ粒子が通過したかを判断した。

T２

図 5.4

Veto カウンターの模式図

図中の T1,T2, V1～V2 は電子がきたかどうかを測定する。

20

5.2

エレクトロニクスの設定

今回の実験では、上記のモジュールを用いて、各々のカウンターからの信号を測定した。この時のカウンターに用いた光電子増倍管の型番、ＨＶを以下のようにまとめる。
表5.1

各ＰＭＴの型番とＨＶ

カウンター

PMT 型番

HV(V)

S1

H1161

2250

S2

H1161

2010

T1

H1161

2000

T2

H7195

1740

V1

H1161

2050

V2

H7195UV

1750

V3

H1161

2390

V4

H1161

1800

V5

H1161

1750

V6

H1161

1890

V7

H1161

1640

V8

H7195

1880

21

5.3

エレクトロニクスのセットアップ

今回の実験では下図のような配線を組み、データを収集した。用いたモジュールそれぞれについて説明する。
funin/out

ADC
DELAY

S1

GATE

veto

Ch0
discri

DELAY

Ch1

DELAY

Ch2
Ch3
fun
in/out

DELAY

veto

DELAY

DELAY

S2
discridiscriG.G
veto

discri

DELAY

DELAY

TDC

DELAY

G.G
Ch0

T1

Ch1
Ch2
START

fun
in/out

T2

ADC
GATE

fun
in/out

Ch0
Ch1
Ch2
Ch3

V1

Ch4

V2

Ch5

V3

Ch6

V4

Ch7

V5

Ch8

V6

Ch9

V7

Ch10

V8

Ch11

図 5.5 全体のエレクトロニクスのセットアップ図

22

5.4

モジュール

5.4.1 NIM（Nuclear Instrument Module）「放射線測定モジュール標準規格TID-20893」に準拠した標準規格。信号レベル・コネクタ形状・電源・サイズなどについて規定するもので、米国原子力委員会(AEC)において1966年に制定された。この規格に準拠した回路はNIMモジュールと呼ばれ、高エネルギー加速器研究、宇宙線研究などの研究で広く活用されている。今回の実験でもいくつかのNIMモジュールを使用した。
以下では、使用したNIMモジュールについて概要を示す。

・ディスクリミネーター(Discriminator)
あらかじめ設定しておいたthreshold（しきい値）よりも大きなシグナルが入力された時、方形（パルス）波を出力するモジュール。放射線検出器からのシグナ
ルの波高分析やタイミングパルスの発生などに使用されるが、今回の実験ではthreshold以下のノイズを除去するために用いた。パルスは-0.7V、140nsecとNIM
規格で決められている。

・コインシデンス(Coincidence)
複数のパルスが同時に入力された時にパルスを出力するモジュール。

・ゲート・ジェネレーター(Gate and delay Generator)
波形を整形するモジュールの出力信号のパルス幅などを調節することができる
モジュール。Delay機能も付いていて最小で10nsから最大で4.0secまでの範囲で
delayさせることができる。

・ファンイン/ファンアウト(Fan-in/Fan-out)
最大4つまでの入力信号についてアナログ和をとり、その結果として得られるパルスを最大4ｃｈまで複製して送り出すモジュール。今回はT1,T2,S1,S2それぞれからの信号を複製するためのみに使用した。

23

5.4.2 CAMAC(Computer Aided Measurements And Control)
モジュール化されたデータを処理するシステム。世界中のほとんどの素粒子・原子
核研究室やたくさんの工業現場で使用されている。これはU.SのNIMとヨーロッパのESONE委員会のジョイントで提供された。
CAMACは計算機周辺のデジタル化された情報の処理を機能ごとにモジュール化して行えるようにできている。すなわち、実験装置など外からの情報はプラグイン・ユニットまたはモジュールの画面パネルからコネクターを通して入り込む。この情報はプ
ラグインの中で処理されると、裏面のプリント基盤エッジを利用したコネクターでクレートと呼ばれるプラグインを収容する箱の裏側の配線（データウェイ）とつながれる。このデータウェイはクレートコントローラーが制御するが、たいていはクレート
コントローラー自身が計算機の指示に従って制御するようになっている。クレートコ
ントローラーはたいてい小型計算機とCAMACのインターフェースを兼ねる。プラグイ
ン・ユニットは回路配線に使われたプリント基盤自身のエッジが86ピンのコネクターとなって飛び出しており、クレートに挿し込むと自動的にクレート裏側のコネクター
を通してCAMACデータウェイと接続され、電源やデータの受け渡し、制御信号の受け渡しがされるようになっている。CAMACの規則は、アドレスの指令であり、C、N、A、Fの4つの数字で指定する。
C: crate controllerの数。今、crateは一つだけ使っているので、C=1とする。
N: station number
A: sub address（モジュール内のアドレス）
F: function
ADにおいては12個の信号を読める。ここでLAMとはLook At Meの略で、モジュール
からデータを読み出し可となったことをコンピューターに知らせる信号のことである。
代表的なFunctionを以下に示す。
F(0),F(2)；Read Data
F(8)；Test LAM
F(9)；Clear LAM
F(24)；Disable LAM
F(26)；Enable LAM
次頁では、使用したCAMACのモジュールについて概要を示す。

24

・ADC (Analog to Digital Converter)
アナログ電気信号をデジタル電気信号に変換する電子回路。今回はQモードを使用し、プラスチックシンチレーター内で崩壊したμ粒子と電子からの信号を数値化
して解析を行った。

Qモード(荷電積分型ADC)
Gateパルスが持続している間の信号を積分した値を測定するモードのこと。
測定される電荷の量はQ=∫Δt idtとなる。

Gate

図 5.2 : ADC のしくみ・TDC(Time to Digital Converter)
スタート信号の入力で内部のクロックをスタートさせ、ストップ信号の入力時のクロックの出力数をカウントする。下図のようにスタート信号からストップ信号までの時間を測定している。なお、今回実験で使用したTDC はREPIC 社のRpc-060 型(25psec/countselect) である。

図 5.3 : TDC のしくみ

25

5.5

各 CAMAC モジュールについてのセットアップ

全体のセットアップをより詳しくみていくことにする。
(1) μ粒子が入射したときの測定(2) μ粒子が崩壊したときの電子の測定(3) μ粒子が入射してから崩壊するまでの時間の測定
それぞれについてどのようなセットアップになっているかを以下で示す。

(1)μ粒子が入射したときの測定のセットアップ

T1、S1 が同時に信号を出したときにμ粒子が入射したとみなしたので、次のような配線を組んだ。

以下のように、T1 と S1 の coincidence で Gate をつくり、この Gat によりμ粒子の入射を測定した。

S1

40ns

20ns

T1

40ns

80ns

GATE

26

(2)

μ粒子が崩壊したときの電子の測定のセットアップ

T1、S1、S2 が同時に信号を出したときにμ粒子が入射し崩壊したとみなしたので、次のような配線を組んだ。
S1, S2 のコインシデンスを Gate とするが、μ粒子の信号を取り除くため、T1, S1 をμ粒子が通過した時、出すμ粒子の信号を 210ns の Veto とする。

G.G

ADC

DELAY

VETO

DELAY

GATE

G.G
DELAY
DiscriDiscri

DELAY

T1

S1

S2

DiscriT２

先のμ粒子が入射した際の信号を読み込まないように、以下のように、T1 と S1 のcoincidence と S1 と S2 の coincidence で Gate をつくり、μ粒子の崩壊を測定した。

40ns

40ns

S1 と S2

10μs

S１と T1
170ns

160ns

GATE

27

(3)

μ粒子の入射からμ粒子の崩壊までの時間測定のセットアップ(1)μ粒子が入射したときの測定のセットアップと(2)μ粒子が崩壊したときの電子の測定のセットアップを同時に用いた。

TDC

DELAY

SRART
TDC

G.G

STOP(２ch)

VETO

DELAY

G.G
DELAY
DiscriDiscri

DELAY

T1

S1

S2

DiscriT２

TDC はスタート信号からストップ信号までの時間を測定するので、（１）で作った Gate
をスタート信号に、（２）で作った Gate をストップ信号にして、μ粒子が入射してから崩壊するまでの間の時間、すなわち寿命を測定した。

Gate

μ粒子崩壊

μ粒子入射

（電子）

START

ｔｉｍｅ
STOP

28

第6章 データ収集プログラム
6.1 データ収集プログラム
今回の実験では、CAMACからのデータ収集プログラムの言語にC言語を用いる。C言語を用いて、収集するイベントの個数を指定し、データを収集した。
プログラムについては巻末の付録参照。
以下にプログラムのフローチャートを示す。

始め

・宣言文
・CNAの指定・初期値の代入
・File名を読み込む
・File を開く

CAMAC の初期化

LAMを起動（F=26）
LAM をクリアー（F=9）
i_evの初期化

i_ev = Total Event とし、
i_ev を Do ループで１つずつ増やしていく

ADC1のLAMのクリアー（F=9）
ADC2のLAMのクリアー（F=9）
TDCのLAMのクリアー（F=9）

29

q=0 の場合のみ

ＬＡＭ ＣＨＥＣＫ(Ｆ＝８)

No
ｑ≠０
Yes
データ読み込み

ADC1から4個
ADC2 から 12 個
TDC から 3 個
Noi_ev/100=0
Yes
データを表示Event=i_ev

ADC1の4個
ADC2 の 12 個
TDC の 3 個

データをファイルに書き込む
i_ev

ADC1の4個
ADC2 の 12 個
TDC の 3 個30

i_evを増やす
アドレスクリア(F=9)
LAMクリア(F=10)(i_ev≦ n_ev)

ADC1 disable LAM F=24
ADC1 F=26
ADC2 F=26
TDC F=26

ファイルを閉じる

終わり

31

第7章
7.1

データ解析

μ粒子の寿命7.1.1 イベントの選別
全データの中で、今回使用するイベントは、「μ粒子が崩壊したと考えられるイベント」である。μ粒子が崩壊したと考えられる条件は以下の通りである。
① μ粒子がシンチレーターに入射した
S1 と T1(ADC1)が同時になった時、すなわち、S１と T１の ADC1（μ粒子のエネ
ルギーを測定）のコインシデンスが ON であるということ。
②

カロリーメーター内で崩壊した
S1 と S2 と T１(ADC1)が同時になった時かつ T2(ADC1)がなっていない時、すな
わち、S1、S2、T1 の ADC2（電子のエネルギーを測定）のコインシデンスが ONであり T2(ADC1)が反応していないということ。

以下で各条件と、条件を満たすために与えた具体的な条件、そしてそれぞれの条件を満たすイベント数についてまとめておく。
表 7.1 各条件でのイベント数

条件

具体的な条件

イベント数

μ 粒子が大きなシンチレ S1 と T1(ADC1)が同時になった時

6000000

ーターに入射した
μ 粒子が大きなシンチ ・S1 と S2 と T１(ADC1)が同時になった時
レーター内で崩壊した

44728

・T2(ADC1)がなっていない時

この 2 つの条件を満たしているものを、μ粒子が崩壊したと考えられるイベントとし、この 2 つが作り出す GATE から TDC の値を測定し、寿命測定を行った。
また、TDC のカウント数の値が 0 のものを省くために、TDC の値の数が 0～50 カウン
トをカットした。
カットする前後での比較を行う。

32

図 7.1 カット前後での比較

カット前（左図）、カット後（右図）

カットを行う前後で、イベント数に変化は見られないので、解析に与える影響はないと考えられる。これより、これからは TDC の値の数の 0～40 カウントをカットしたもの
を解析に用いる。

7.1.2 FIT について
寿命τを算出するために、以下の式で FIT を行った。
𝑡𝑦(𝑡) = 𝑃1 exp (− ) + 𝑃3
𝑃2

(7.1)

μ粒子の崩壊の式(7.2)と比較すると、𝑃2 が寿命τに対応していることがわかる。
これより P2 に TDC の 1 カウントの時間をかけることで μ 粒子の寿命を算出すること
ができる。

33

7.1.3 実験結果
先の式を用いて、実験結果に FIT したものである。
右図は log スケールにしたものである。
結果を以下に示す。

図 7.2 TDC に Fit させた実験結果
linear スケール（右） log スケール（左）Fit を行った図より、以下の結果が得られた。

表 7.2 実験結果

値

誤差

P1

2206

21.24

P2

432.1

4.482

P3

0.78782.089

これより、P2 の値は 432.1±4.5 とわかる。
χ2/ndf は 122.7/94 であった。

34

7.1.4

TDC の 1 カウントあたりの時間測定

Clock Generator からの入力信号を start と stop に入れ、Stop へ入れる信号を delay
させることで、TDC のカウントを測定した。 用いたイベント数は 10000 イベントである。実験結果を以下に示す。

5045

y =( 5.048±0.048)x + (1.9±0.3）

delay [ns]

40
35
30

25
20
15
10
5
0
0

2
4
6
図7.3 TDC1カウントあたりの時間測定

式の傾きが、5.048±0.048

8

TDCのカウント数

なので TDC1[count]あたり 5.048±0.048 [ns]になることがわかる。

7.1.5 μ粒子の寿命の算出
これより、μ粒子の寿命の算出を行う。
（寿命 τ の値）= 𝑃2 ×（TDC の 1 カウントあたりの時間 : a）=

432.1×5.049[ns]×10−3=

2.1817=2.182（寿命 τ の誤差）=

10

[µs]
∆𝑃

2

∆𝑎 2

4.5

2

τ × √( 𝑃 2 ) + ( 𝑎 )20.048 2

= 2.182 × √(432.1) + (5.048)

35

= 2.182× √(0.010)2 ＋(0.0095)2= 0.0308= 0.031 [µs]これより、私たちの実験結果から得られたμ粒子の寿命は次のようになることが分かった。
実験から得られたμ粒子の寿命は2.182 ± 0.031 [µs] となる。

Particle Data Book に記載されているμ粒子の寿命は、2.197034 ± 0.000021
なので、今回の実験結果は良く一致していると言える。

36

[µs]

7.2 電子のエネルギースペクトラムの測定
7.2.1 イベントの選別
全データの中で、電子のエネルギースペクトラムを測定するために用いた条件を次に示す。
①

μ粒子が入射したS1 と T1(ADC1)が同時になった時、すなわち、S１と T１の ADC1（μ粒子のエ
ネルギーを測定）のコインシデンスが ON であるということ。

②

測定用シンチレーター内で崩壊した
S1 と S2 と T１(ADC1)が同時になった時かつ T2(ADC1)がなっていない時、すなわち、S1、S2、T1 の ADC2（電子のエネルギーを測定）のコインシデンスがON であり T2(ADC1)が反応していないということ。

③

電子が全エネルギーを結晶内で放出した全てのベトーカウンターが反応していないとき、すなわち veto カウンターがペデ
スタルの値であるということ。

以下で各条件と、条件を満たすために与えた具体的な条件、そしてそれぞれの条件を満たすイベント数についてまとめておく。
表 7.3

各条件でのイベント数

条件

具体的な条件①μ 粒子が大きなシンチレータ S1 と T1(ADC1)が同時になった時

イベント数
6000000

ーに入射した② μ 粒子が大きなシンチレー ・S1 と S2 と T１(ADC1)が同時になった時 44728
ター内で崩壊した・T2(ADC1)がなっていない時③ 電子が全エネルギーを大き 全てのベトーカウンターがなっていない

20306

いシンチレーター内で放出 時した
この 3 つの条件を満たしているイベントを選別して、電子のエネルギースペクトラムを測定した。

37

7.2.2 条件③
ベトーカウンターがなっていない時の具体的な数値
条件③「電子が全エネルギーを大きいシンチレーター内で放出した」ときの具体的な条件「全てのベトーカウンターがなっていない時」についてみていく。始めに、全てのベトーカウンターがなっていない時とはどのような状態のことのことかを決める。
そのために、μ粒子が崩壊したときの各カウンターの ADC 分布を確認した。
条件①と条件②を加えたときの分布を確認し、ベトーカウンターがなっていない具体的な数値を決めた。

図 7.4 条件①②のみを与えたグラフ

T1(左)

T2(右)

T1、T2 は ADC の値が 10 カウント以下のとき反応していないものとした。

38

V1

V2

V3

V4

V5

V6

V7

V8

図 7.5 条件①②のみを与えたグラフ

V1 から V8 は ADC の値が 5 カウント以下のとき反応していないものとした。

39

ここで、μ 粒子が大きなシンチレーターに入射したイベント（500000 イベント）に条件③を加える前と加えた後で比較を行う。
解析に使用した結果は ADC2 の ch1 と ch2の合計値である。

図 7.6 条件有無の比較 条件①②のみ(左) 条件①②③(右)イベント数を比較すると、
条件①と条件②のみを加えたイベント数は 3673 イベント、
条件①と条件②、条件③を加えたイベント数は 1995 イベントであり、ベトーカウンタ
ーがなっていないという条件を加えたことで、イベント数が減り、データの選別ができているとみなすことができる。

7.2.3 FIT について
電子のエネルギー分布の式は、
𝐸
𝑦 = 𝑏1 𝐸 (1 − ) + 𝑏3
𝑏2

(7.3)

2

という式で表せられる。求めたグラフに Fit させて、理論式から求められるグラフと比較を行った。

40

7.2.4 実験結果
実験結果から得られたグラフは以下の通りである。

図 7.7 エネルギースペクトラムの実験結果

これを理論式から予想されるグラフと比較をする。

図 7.8 エネルギースペクトラムの比較式から予想されるグラフ(左)これより、2 つのグラフには違いがみられた。

41

実験値から得られたグラフ(右)7.2.5 考察観測された結果と μ 粒子が静止し崩壊したときのエネルギー分布の計算値に違いがみられた。原因としては以下のことが考えられる。
(1)一部のベトーカウンターの ADC 分布がおかしいこと
条件②から条件③へのイベントの選別がうまくいかなかったと思われる。
(2)光の減衰の効果大きいシンチレーター内での減衰を考慮することでよりよい結果が得られると考えられる。
(3)電子の飛程（R）の影響
崩壊によって生成された電子はシンチレーター原子を励起しながらエネルギーを失い、ついには止まってしまう。電子が止まるまでに走る距離（飛程）は、物質の種類によっても異なるが、Feather の式より
R = 0.542E - 0.133 (但し E > 0.8MeV)と表される。ここで、電子のエネルギーE は(MeV)で、飛程 R は質量厚さ（g/cm2）である。プラスチックシンチレーターの密度＝1.03ｇ/㎤、ミューオン崩壊から放出される電子・陽電子の平均エネルギーは 37MeV であることから、
R = 0.542×37 - 0.133＝19.921g/cm2
19.921÷1.03＝19.34 ㎝
これより、平均飛程は 19.34 ㎝とわかった。
電子の飛程距離に関しては、ほぼ測定できていると考えられるが、大きなシンチレーターから逃げ出したものもあると考えられる。

42

第8章
8.1

まとめ

μ粒子の寿命測定

今回算出したμ粒子の寿命は、2.177 ± 0.030 [µs] であった。
Particle Data Book に記載されているμ粒子の寿命は、2.197034 ± 0.000021[µs]なので、今回の実験結果は良く一致していると言える。
FIT の範囲を変えることによって、P2 の値も変わってくる。この範囲を変えて寿命を測定することで、より精度の良い結果が得られると考えられる。

8.2

電子のエネルギースペクトラム

観測からエネルギースペクトラムの測定結果は得られた。しかし、実験値から得られたグラフと μ 粒子の計算値からのグラフには違いがみられた。原因としては、一部のベ
トーカウンターの動きがよくなかった可能性や光の減衰の効果が考えられる。

8.3

参考文献

・奈良女子大学理学部物理科学科 2009 年度卒業生

上田玲奈

岡本枝里香

貴志佳代

『2009 年度卒業論文 FADC を用いた_粒子の寿命測定』
・奈良女子大学理学部物理科学科『2010 年度卒業論文

2010 年度卒業生

近藤麻由 山西菜月

μ粒子の寿命測定』・奈良女子大学理学部物理科学科

2011 年度卒業生

中川真菜美 藤田朋美

『2011 年度卒業論文 μ粒子の寿命測定』

8.4

謝辞

私たちの卒業研究のためにこの一年間お忙しい中多くの時間を割いて熱心に指導してくださった林井先生をはじめ、ゼミなどで指導してくださった宮林先生、数々の相談にのっていただいた諸先輩方に心より感謝しています。この一年で学んだことを今後も活かしていきたいと思います。本当にありがとうございました。

43

8.5

付録

付録の内容をここに示す。
/***** ele.c ***** created 2012/Feb./1th****************** ****** Original version was written by S.Ono 2002/Jan./27th* This is simplified version having only CAMAC control/IO part.
* LAM clear was moved to outside of "if(q!=0)". 2003/Jul./9th***************************************************************//**** original title comment *****
Data taking test program
2000/ 1/27

S.Ono & A.Tango*********************************/#include <fcntl.h>#include <sys/time.h>#include <unistd.h>#include <sys/types.h>#include <stdio.h>#include <string.h>#include <stdlib.h>#include <math.h>#include <sys/errno.h>#include "camlib.h"#include <time.h>#include <netinet/in.h>
FILE *fp; /* The file to save the taken data.*/
int main(){
int i_ev, n_ev;
int q,x,data21,data22,data23,data24,data31,data32,data33;
int data1,data2,data3,data4,data5,data6,data7,data8,data9,data10,data11,data12;
int cadcqn1,cadcqn2,ctdcqn,cfadcn;
int ch1,ch2,ch3,ch4,ch5,ch6,ch7,ch8,ch9,ch10,ch11,ch12;
int Nrec,fadcdata[32100],j;
int chfadc;

44

int lamsrc;
int lamch;char fname[36];int qq;
int head;
const int Nmax=500;
int fadcbuf[Nmax];

cadcqn1=1; /* muon ADC-Qmode module number */cadcqn2=2; /* electron ADC-Qmode module number */ctdcqn=3; /* TDC

module number */cfadcn=5; /* FADC module addless */ch1=0;
ch2=1;
ch3=2;
ch4=3;
ch5=4;
ch6=5;
ch7=6;
ch8=7;
ch9=8;
ch10=9;ch11=10;ch12=11;/*=====* Ask the file name to save the taken data.
* Also open the data file.
*=====*/

printf("File name to save data?¥n");scanf("%s",fname);45

fp=fopen(fname, "w");/*=====* How many events do you take?
*====*/
printf("Number of events?¥n");scanf("%d",&n_ev);/*=====* Open CCP interface device file.
* If it fails, exit.
*=====*/
if(COPEN()){
printf("ccp open error¥n");exit(-1);}/*=====* Initialize CAMAC.
*=====*/CSETCR(0);CGENZ();CGENC();CREMI();
lamsrc=cadcqn1;
lamch=ch1;

printf("LAM source: %d, %d¥n",lamsrc, lamch);/*=====

46

* Enable LAM and Clear it.
*=====*/CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,26),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(lamsrc,lamch, 9),&data1,&q,&x); /* F=9 is clear. */CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,26),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,26),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,9),&data1,&q,&x); /* clear LAM. */CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,9),&data1,&q,&x); /* clear LAM *//*=====* Again send enable command to prepare the first event.
*=====*/CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,26),&data1,&q,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,26),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,26),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. *//*=====* send message to the user.
*=====*/
printf("CAMAC initilize done.¥n");printf("Number of event = %d¥n",n_ev);/*====* Event loop.
*====*/
i_ev = 1;
while( i_ev <= n_ev ){/*--* Address clear for FADC---*/
CAMAC(NAF(cadcqn1,ch1,9),&data1,&q,&x); /* F=9 LAM clear. */CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,9),&data1,&q,&x); /* F=9 LAM clear. */CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,9),&data1,&q,&x); /* F=9 LAM clear. */47

/*--------* Test LAM.
*---------*/do {CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,8),&data1,&q,&x); /* F=8 is test LAM.*/} while ( q==0);/*-----* If no event comes yet, q is set to be 0,* otherwise, the digitized event is there!
*-----*//*----* Read the digitized data from the register.
*----*/CAMAC(NAF(cadcqn1,ch1,2),&data21,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn1,ch2,2),&data22,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn1,ch3,2),&data23,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn1,ch4,2),&data24,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,2),&data1,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch2,2),&data2,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch3,2),&data3,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch4,2),&data4,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch5,2),&data5,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch6,2),&data6,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch7,2),&data7,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch8,2),&data8,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch9,2),&data9,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch10,2),&data10,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch11,2),&data11,&qq,&x);
CAMAC(NAF(cadcqn2,ch12,2),&data12,&qq,&x);
CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,2),&data31,&qq,&x);48

CAMAC(NAF(ctdcqn,ch2,2),&data32,&qq,&x);

CAMAC(NAF(ctdcqn,ch3,2),&data33,&qq,&x);/*----* Update the event counter(i_ev), and send mesage for* every 100 events.
*-----*/if( i_ev%100 == 0 ){printf("Event= %d¥n",i_ev);
printf("data21= %d¥n",data21);
printf("data22= %d¥n",data22);
printf("data23= %d¥n",data23);
printf("data24= %d¥n",data24);
printf("data1= %d¥n",data1);
printf("data2= %d¥n",data2);
printf("data3= %d¥n",data3);
printf("data4= %d¥n",data4);
printf("data5= %d¥n",data5);
printf("data6= %d¥n",data6);
printf("data7= %d¥n",data7);
printf("data8= %d¥n",data8);
printf("data9= %d¥n",data9);
printf("data10= %d¥n",data10);
printf("data11= %d¥n",data11);
printf("data12= %d¥n",data12);
printf("data31= %d¥n",data31);
printf("data32= %d¥n",data32);
printf("data33= %d¥n",data33);}

49

head=-1;
Nrec=0;/*----* The read data is written into the file.
*-----*/
fprintf(fp," %d",head);fprintf(fp," %d",i_ev);
fprintf(fp," %d",data21);
fprintf(fp," %d",data22);
fprintf(fp," %d",data23);
fprintf(fp," %d",data24);
fprintf(fp," %d",data1);
fprintf(fp," %d",data2);
fprintf(fp," %d",data3);
fprintf(fp," %d",data4);
fprintf(fp," %d",data5);
fprintf(fp," %d",data6);
fprintf(fp," %d",data7);
fprintf(fp," %d",data8);
fprintf(fp," %d",data9);
fprintf(fp," %d",data10);
fprintf(fp," %d",data11);
fprintf(fp," %d",data12);
fprintf(fp," %d",data31);
fprintf(fp," %d",data32);
fprintf(fp," %d¥n",data33);50

/*----* Clear LAM to wait for the next event.
*

fuc=9 ; LAM clear for usual module

*

FADC

*

fuc=9 ; address clear*=10 ; LAM clear*-----*/
i_ev++;CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,9),&data1,&q,&x);
CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,10),&data1,&q,&x);}// end of event loop/*=======
Instructions for termination.
*=====*/CAMAC(NAF(lamsrc,lamch,24),&data1,&q,&x); /* F=24 is desable lam.*/
CAMAC(NAF(cadcqn1,ch1,24),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(cadcqn2,ch1,24),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CAMAC(NAF(ctdcqn,ch1,24),&data1,&q,&x); /* F=26 is enable. */CCLOSE();
fclose(fp);/* CAMAC close. *//* Close data file.*/return 0;}51