第40回(2016年度)関東支部光顕・電顕試料作製・観察実技講習会
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微生物の走査電顕試料作製法
1) グルタルアルデヒド・オスミウム二重固定法 2) オスミウム蒸気固定法
3) 脱水法・臨界点乾燥法 4) 金属蒸着法（イオンスパッタ） 5) 走査電顕観察・撮影
2016年7月25日（月）～26日（火） 2日間
4名まで
正会員・学生非会員：4万円/1名 学生会員：3万円/1名 非会員：5万円/1名
千葉大学・真菌医学研究センター（千葉市）
千葉大学・真菌医学研究センター グランドフェロー 山口正視
電話・Fax番号 ：043－222-7171内線5964・043-226-2486
メ－ルアドレス ：yama@faculty.chiba-u.jp
微生物の急速凍結置換固定法
1) 試料、固定液、銅板、冷媒の準備 2) 試料の急速凍結実習
3) 包埋ブロックのトリミング 4) 超薄切片の作製 5) 電子染色、支持膜はりつけ6) 電子顕微鏡観察、撮影
2016年11月24日（木）～25日（金）2日間
4名まで
正会員・学生非会員：5万円/1名 学生会員：4万円/1名 非会員：6万円/1名
千葉大学・真菌医学研究センター（千葉市）
千葉大学・真菌医学研究センター グランドフェロー 山口正視
電話・Fax番号 ：043－222-7171内線5964・043-226-2486
メ－ルアドレス ：yama@faculty.chiba-u.jp
ネガティブ染色法
1) 支持膜の準備、親水化 2) ウイルスのネガティブ染色実習 3) 電子顕微鏡軸調整
4) 観察撮影2016年12月2日（金）1日間
4名まで
正会員・学生非会員：3万円/1名 学生会員：2万円/1名 非会員：4万円/1名
千葉大学・真菌医学研究センター（千葉市）
千葉大学・真菌医学研究センター グランドフェロー 山口正視
電話・Fax番号 ：043－222-7171内線5964・043-226-2486
メ－ルアドレス ：yama@faculty.chiba-u.jp
微生物の連続超薄切片法
1) 支持膜作製 2) 包埋ブロックのトリミング、面出し 3) 再トリミング、面合わせ
4) 連続超薄切片作製 5) 切片の拾い方 6) 電子染色 7) 観察撮影
2016年12月8日（木）～9日（金）2日間
2名まで
正会員・学生非会員：5万円/1名 学生会員：4万円/1名 非会員：6万円/1名
千葉大学・真菌医学研究センター（千葉市）
千葉大学・真菌医学研究センター グランドフェロー 山口正視
電話・Fax番号 ：043－222-7171内線5964・043-226-2486
メ－ルアドレス ：yama@faculty.chiba-u.jp
医学生物学・超薄切片法
1) 透過電子顕微鏡観察の試料作製 2) 免疫電顕法 3) 観察
2016年度（直接相談による） 3日間
2～3名まで正会員・学生非会員：2万円/1名 学生会員：1万円/1名 非会員：3万円/1名
埼玉医科大学（埼玉県入間郡毛呂山町38）
埼玉医科大学 医学部中央研究施設 教授 穐田真澄
電話・Fax番号 ：049-276-2490
メ－ルアドレス：makita@saitama-med.ac.jp

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医学生物学・走査電顕試料作製法
1) 走査電子顕微鏡観察の試料作成 2) 観察 3) 元素分析
2016年度（直接相談による） 3日間
2～3名まで正会員・学生非会員：3万円/1名 学生会員：2万円/1名 非会員：4万円/1名
埼玉医科大学（埼玉県入間郡毛呂山町38）
埼玉医科大学 医学部中央研究施設 教授 穐田真澄
電話・Fax番号 ：049-276-2490
メ－ルアドレス：makita@saitama-med.ac.jp
蛍光顕微鏡および共焦点レーザー顕微鏡観察法
１）細胞培養 ２）免疫染色 ３）観察2016年度（直接相談による） 3日間
2～3名まで正会員・学生非会員：3万円/1名 学生会員：2万円/1名 非会員：4万円/1名
埼玉医科大学（埼玉県入間郡毛呂山町38）
埼玉医科大学 医学部中央研究施設 教授 穐田真澄
電話・Fax番号 ：049-276-2490
メ－ルアドレス：makita@saitama-med.ac.jp
走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるナノ計測・加工走査型ヘリウムイオン顕微鏡の初歩（講義と実習）(1) イオン源先端の調製と評価、(2) 試料の準備、(3) 2 次電子像とイオン像、(4) 分解能評価、(5) 絶縁体の観察 、(6) ナノリソグラフィーとガスデポジション
2016年10月～2017年2月までの3日間
１～2名まで正会員・学生非会員：4万円/1名 学生会員：3万円/1名 非会員：5万円/1名
国立研究開発法人物質・材料研究機構（茨城県つくば市千現1-2-1）
国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点 研究員 大西桂子
電話・Fax番号：029-859-2741・029-859-2801
メ－ルアドレス：Onishi.keiko@nims.go.jp
走査型プローブ顕微鏡の原理とナノ物性測定
走査型プローブ顕微鏡の原理（主にカンチレバーの動作と変位検出方法）を理解した上で、ナノスケールでの材料物性測定に応用するための基礎実習を行います。
(1) カンチレバーの変位検出のメカニズムとばね定数の算出方法(2) 機械物性の測定方法、又は、KPFM（電位測定）の基礎実習（実習者が選択）(3) 環境雰囲気（溶液中、又は、真空中）での計測実習（実習者が選択）
2016年12月6日(火)～9日(金)までの4日間 （申込み期限：11月17日）
５名まで
正会員・学生非会員：2万円/1名 学生会員：1万円/1名 非会員：3万円/1名
国立研究開発法人 産業技術総合研究所(茨城県つくば市)
国立研究開発法人産業技術総合研究所 計測標準総合センター
分析計測標準研究部門 ナノ顕微計測研究グループ 主任研究員 井藤浩志
029-861-5752、（FAX 029-861-5301）◆申込み先： 日本顕微鏡学会関東支部のウエブサイトからお申し込みください。
http://www.microscopy.or.jp/shibu/kanto/koshukai.html※講習料は日本顕微鏡学会会員の場合です。受講者が学生の場合は、記載の金額から一律１万円割引します。
非会員の場合は、一律１万円割増します。受講日までに入会の場合は会員扱いとします。
◆問合せ先：関東支部実技講習会事務局〒162-0814 東京都新宿区新小川町4-21-401 光風ビル
TEL：03-6457-5156 FAX：03-6457-5176 メ－ルアドレス：jsm-kantojitsugi@microscopy.or.jp