公益社団法人日本顕微鏡学会
第 75 回学術講演会

JSM 2019
顕微鏡学のパラダイムシフト―構造解析から機能解析へ―■日程

2019 年 6 月 17 日
（月）
〜 19 日（水）■会場

名古屋国際会議場
愛知県名古屋市熱田区熱田西町 1 番 1 号
https://www.nagoya-congress-center.jp/■主催

公益社団法人日本顕微鏡学会
http://microscopy.or.jp/

The 75th Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy

市民公開講座

総会・学術講演会・公開講座など

6 月 16 日（日）
13:00 〜 14:30
名古屋国際会議場

定時総会

Ａ会場（4 号館 1 階

6 月18日（火）
12:00 〜 13:15（受付は11:30より）名古屋国際会議場
Ａ会場（4 号館 1 階

市民公開ワークショップ

白鳥ホール（北））6 月 16 日（日）
14:30 〜 16:30
名古屋国際会議場

日本顕微鏡学会創立 70 周年記念式典

Ａ会場（4 号館 1 階

6 月 18 日（火）13:30 〜 14:30
名古屋国際会議場
Ａ会場（4 号館 1 階

白鳥ホール
（北）
）

白鳥ホール
（北）
）

電子顕微鏡観察のための生物試料作製法の基礎と白鳥ホール（北））トラブルシューティング
6 月 17 日（月）
18:00 〜 19:45

学術講演発表名古屋国際会議場

名古屋国際会議場
・A 会場（4 号館 1 階

白鳥ホール（北））・B 会場（1 号館 3 階

会議室 131+132）

・C 会場（1 号館 3 階

会議室 133+134）

・D 会場（2 号館 3 階

会議室 231）

・E 会場（2 号館 3 階

会議室 232+233）

・F 会場（2 号館 3 階

会議室 234）

・G 会場（1 号館 4 階

レセプションホール

B 会場（1 号館 3 階

会議室 131+132）

先端バイオイメージング実験支援「ABiS」
共催

各種委員会など
常務理事会
6 月 16 日（日）
13:00 〜 14:00（西））・Ｈ会場（1 号館 4 階

名古屋国際会議場

レセプションホール

4 号館 3 階

会議室 436（東））学術運営合同会議
学術展示発表（ポスター発表）

6 月 16 日（日）
14:00 〜 16:00
名古屋国際会議場

名古屋国際会議場

4 号館 3 階

会議室 431

1 号館 1 階イベントホール
理事会
写真コンクール

6 月 16 日（日）
16:00 〜 17:30
名古屋国際会議場

名古屋国際会議場

4 号館 3 階

会議室 436

1 号館 1 階イベントホール
理事会
機器展示・書籍展示

6 月 19 日（水）
12:00 〜 13:00
名古屋国際会議場

名古屋国際会議場

4 号館 3 階

会議室 436

1 号館 1 階イベントホール
技術者認定委員会
懇親会

6 月 17 日（月）
12:00 〜 13:00
名古屋国際会議場

6 月 18 日（火）18:30 〜 20:00
Ａ会場（4 号館 1 階

4 号館 3 階

会議室 431

白鳥ホール）
Microscopy 編集委員会
6 月 19 日（水）
10:30 〜 11:30
名古屋国際会議場（ 2 ）4 号館 3 階

会議室 434

ご挨拶

日本顕微鏡学会第 75 回学術講演会の開催にあたって
公益社団法人日本顕微鏡学会会長 牛木 辰男
第 75 回学術講演会実行委員長 武藤 俊介
このたび、日本顕微鏡学会主催の第 75 回学術講演会を、2019 年 6 月 17 日（月）〜 19 日（水）の 3 日間、名古屋国際会議場（愛知県名古屋市）で開催することとなりました。

これまで様々な研究分野の横串としての顕微鏡学の有用性が強調されてきた本学術講演会においては、材料系と医・生物学系の交流、さらには産業界と学際の連携が積極的に推進され、また、ボーダレス時代における国内外他学会との連携も重視され大きな発展を遂げて参りました。今回、日本を取り巻く様々な環境が急激な変貌を遂げつつある中での本学会創立 70 周年の記念大会として、「顕微鏡学のパラダイムシフト―構造解析から機能解析へ―」というテーマを設定しました。本学術講演会が時代のうねりに身を任せるだけでは無く、新たなビジョンを共有し、未来に向けてさらなる進歩を目指して研究者ばかりでなくメーカーの皆さまも集い、情報交換の場となることを期待します。

本学術講演会では、これまでの学術講演会の様々なイベントに加え、学会創立 70 周年記念行事、国際セッションなどが企画されています。また懇親会では記念大会にふさわしいアトラクションも計画しております。多くの会員の皆様のご参加を期待しております。

（ 3 ）Welcome Message
On the Organization of The 75th Annual Meeting of The Japanese Societyof Microscopy
On behalf of the Japanese Society of Microscopy, it is our pleasure to invite you to the 75th Microscopy Annual
Meeting, to be held from June 17 (Monday) to 19 (Wednesday), 2019, at the Nagoya International Convention
Centre, right in the heart of Nagoya City.

Past meetings have emphasized the importance of microscopy as an indispensable common tool shared by awide range of scientiﬁc ﬁelds and encouraged not only mutual interaction between physical/materials sciences andmedical/biological sciences but also collaboration with industry and other domestic/overseas societies
continuously developing in recent borderless times.

This time, we addressed the thematic subject, Paradigm Shift in Microscopy – From Structural Analysis toFunction Investigation, to commemorate the 70th anniversary of the society. We expect to share new visions
among researchers and manufacturers in this field through the annual meeting; it is a great place to exchange
information for further development, rather than just following the current trends.

At this annual meeting, we are planning not only conventional events and sessions but also a ceremony andinternational sessions to commemorate the societyʼs 70th anniversary. In addition, we are also planning an
enchanting attraction ﬁt for this commemorative occasion. We cordially invite you to attend.

Tatsuo Ushiki, President of the Japanese Society of Microscopy
Shunsuke Muto, Chair of the 75th Annual Meeting（ 4 ）（ 5 ）

1号館 4F
レセプションホール(西)

1号館 4F
レセプションホール
(東)

F会場

G会場

H会場

写真コンクール

1号館 1階
イベントホール

2号館 3F
会議室234

E会場

ポスター会場

2号館 3F
会議室232+233

D会場



（バイオ・材料含む）
10:15～11:45

,画像処理・画像解析







～14:45

ローパー

27
日本



～15:2027
+5(0

最先端計測共用
ネットワークにおける利用者ニーズのパラダイムシフト6

サーモフィッシャーサイエンティフィック27

写真貼付
9:00～10:00

ポスター貼付
9:00～10:00

12:00～12:50

写真展示
10:00～18:00

ポスター展示10:00～16：30


～




ツァイス
～17:00

6
クライオ電顕トモグラフィーが拓く
未来生命科学
15:40～17:20



27
カール

生物試料作製法・観察法
15:30～17:00

%
細胞組織・医学生物学・

ポスター討論16:30～18:00

6
産業における電子顕微鏡解析の実際
14:40～17:50

6
加速するクライオ電子顕微鏡技術
13:00～15:30

6
最先端顕微鏡法に関する国際シンポジウム-2
13:00～17:30

日本電子

/6



0
磁性体・誘電体
15:00～16:30



27
公益財団法人風戸研究奨励会 受賞講演会
13:15～16:15

0
セラミックス
13:00～14:45

0
表面・界面
13:00～16:15

13:00～14:00

0
金属 -2

,
6(0
13:00～16:35



6
最先端顕微鏡法に関する国際シンポジウム -1
9:00～11:45

12:00～12:50

カールツァイス/6

12:00～12:50

日本ローパー/612:00～12:50

サーモフィッシャー
サイエンティフィック

/6

12:00～12:50

/6
堀場製作所12:00～12:50

日本マーテック

/612:00～12:50

日立ハイテクノロジーズ

/6



～



パラダイムシフト-1
9:00～11:30

6
最先端計測共用ネットワークにおける利用者ニーズの次元解析
バイオ・材料含む
～

,

基礎と生物試料への応用
9:00～11:15

6
走査電顕を用いた樹脂包埋切片観察法の

0
ナノ材料
9:00～11:30

2号館 3F
会議室231

C会場



%
微生物(真菌・細菌・ウイルス)10:00～11:30

1号館 3F
会議室133+134

B会場



0
金属 -1
9:00～11:40



1号館 3F
会議室131+132



6
顕微鏡学のパラダイムシフト
9:00～11:10



4号館 1F
白鳥ホール(北)



A会場

第1日目：6月17日(月)






ATUM-SEM法による大容量
電顕データセットと解析法
18:00～19:30

(6

電子顕微鏡解析の実際
18:00～19:30

(6企業における

18:00～19:30

クライオ電子顕微鏡：
気になっていること・困っていること

(6

電子顕微鏡観察のための生物試料作製法の基礎とトラブルシューティング
18:00～19:45






（ 6 ）






Ｉ-7
その他(装置・手法系) -1
9:00～11:30

0
半導体
9:00～11:30

1号館 3F
会議室133+134

2号館 3F
会議室231

C会場

D会場







写真コンクール

ポスター会場

1号館 1階
イベントホール

6
最先端顕微鏡法に関する国際シンポジウム-3
9:00～11:30

写真展示
9:00～18:00

1号館 4F
レセプションホール
(東)



6
学会各賞授賞講演14:45～17:30

～

各種位相法 位相回復・位相検出、
位相板、ホログラフィー・ローレンツ法等  

H会場

ホログラフィー・ローレンツ法等）-1
8:30～11:30,

1号館 4F
レセプションホール
(西)

G会場

,
各種位相法（位相回復・位相検出、位相板、

0
ソフトマテリアル
14:45～16:15

6
材料開発の未来を拓くSEMの最新技術と将来展望
8:30～11:30

解析
14:45～16:15



%
クライオ顕微鏡・タンパク構造

2号館 3F
会議室234



F会場

日本顕微鏡学会
創立70周年記念式典
13:30～14:30



14:45～16:40



,
分析電顕・状態分析等-2

ポスター展示9:00～16:45

総会
12:00～13:15



,
分析電顕・状態分析等-1
8:30～11:30



2号館 3F
会議室232+233

 &/(0
10:30～11:30

%
光電子相関観察



E会場

相関顕微鏡法)の研究開発と将来展望
8:30～10:10

6
CLEM-TEM(光学顕微鏡-TEM

B会場

6
ソフトマテリアルのスペクトロスコピー
9:00～11:15



1号館 3F
会議室131+132



4号館 1F
白鳥ホール(北)



A会場

第2日目：6月18日(火)ポスター討論
16:45～18:00






懇親会
18:30～20:00






（ 7 ）

1号館 4F
レセプションホール(西)

1号館 4F
レセプションホール
(東)

F会場

G会場

H会場

写真コンクール

1号館 1階
イベントホール

2号館 3F
会議室234

E会場

ポスター会場

2号館 3F
会議室232+233

0
その場観察・環境制御-1
9:00～11:45

10:15～11:45





TEM・STEM・収差補正法-2
13:45～15:30

,



写真撤去




写真展示
9:00～15:00

0
その場観察・環境制御-2
13:00～15:15～

メルビル

27


～

132法人
綜合画像
研究支援
（,,56）27～



ポスター撤去

12:00～12:50

日本電子/6

12:00～12:50

日立ハイテクノロジーズ



7LHW]9LGHR
DQG,PDJH
3URFHVVLQJ
6\VWHPV
*PE+

27



ポスター展示9:00～15:00

,
TEM・STEM・収差補正法-1

/6

各種位相法
位相回復・位相検
出、位相板、ホログラ
フィー・ローレンツ法等 ,～

日本ローパー/6

12:00～12:50

サーモフィッシャー
サイエンティフィック

/6

12:00～12:50

～($
)LVFKLRQH,QVWUXP
HQWV,QF

27

東陽テクニカ

12:00～12:50～原子から細胞まで階層をまたぐ構造・機能解析～
9:00～11:25

6
原子間力顕微鏡技術のパラダイムシフト

6
生物ボリュームデータのセグメンテーション技術
9:00～11:00

/6

12:00～12:50

/612:00～12:50

2号館 3F
会議室231オックスフォード・
インストゥルメンツ

/6



D会場



ライカマイクロ
システムズ



1号館 3F
会議室133+134



C会場



Ｉ-7
その他(装置・手法系) -2
9:00～11:45



1号館 3F
会議室131+132



B会場



4号館 1F
白鳥ホール(北)



A会場

第3日目：6月19日(水)













（ 8 ）

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP
'5RRP

%OGJ)5HFHSWLRQ+DOO
 ZHVW)5RRP*5RRP

3KRWRJUDSK\&RPSHWLWLRQ

3RVWHU6HVVLRQ+5RRP

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP
(5RRP

%OGJ)(YHQW+DOO

 HDVW

5HFHSWLRQ+DOO

%OGJ)%OGJ)&RQIHUHQFHURRP




&RQIHUHQFHURRP

%OGJ)

&RQIHUHQFHURRP

%OGJ)%OGJ)6KLURWRUL+DOO&5RRP%5RRP$5RRPThe First Day： 6.17 (Mon.)








%DFWHULD 9LUXV
10:00～11:30

$QDO\VHV %LRORJ\0DWHULDO6FLHQFHV
10:15～11:45

6HWXS
9:00～10:00

6HWXS
9:00～10:00

0LFURVFRS\
9:00～11:45
12:00～12:50

/6
-(2/

6
,QWHUQDWLRQDO6\PSRVLXPRQ$GYDQFHG

&DUO=HLVV


/6

12:00～12:50

1,3321
523(5

/6

12:00～12:50

7KHUPR)LVKHU
6FLHQWLILF

/6

12:00～12:50

+25,%$

/6

12:00～12:50

$QDO\VLV
7HFKQRORJ\

/6
0DWHULDOV

12:00～12:50

7HFKQRORJLHV

/6
+LWDFKL+LJK

12:00～12:50

DQDGYDQFHGFKDUDFWHUL]DWLRQVKDULQJ
QHWZRUN
9:00～11:30

6
Paradigm shift of user’s needs in'$QDO\VLV
%LRORJ\ 
0DWHULDO6FLHQFHV,～

,
,PDJH3URFHVVLQJVDQGLWVDSSOLFDWLRQIRUELRORJLFDOVSHFLPHQV
9:00～11:15

6
6HFWLRQVFDQQLQJHOHFWURQPLFURVFRS\

0
1DQRPDWHULDOV
9:00～11:30



%
0LFURRUJDQLVPV )XQJL0
0HWDOV DOOR\V
9:00～11:40

6
3DUDGLJP6KLIWLQ0LFURVFRS\
9:00～11:10






～14:45523(5



～15:2027
+5(0

9LHZLQJ
10:00～18:00

9LHZLQJ
10:00～16：30

13:00～17:30

～

7KHUPR)LVKHU
6FLHQWLILF

27




3RVWHU
6HVVLRQ 'LVFXVVLRQV
16:30～18:00

6
3UDFWLFDODQDO\WLFDOWHFKQLTXHE\HOHFWURQ
PLFURVFRS\LQFRPSDQLHV
14:40～17:50

E\FU\RHOHFWURQWRPRJUDSK\
15:40～17:20～17:00

=HLVV

27
&DUO

6
)XWXUHOLIHVFLHQFHVGHYHORSHG

6
,QWHUQDWLRQDO6\PSRVLXPRQ$GYDQFHG0LFURVFRS\～

3DUDGLJPVKLIWRI
user’s needs in an
DGYDQFHG
FKDUDFWHUL]DWLRQVKDULQJQHWZRUN

6

6
$FFHOHUDWLQJGHYHORSPHQWRIFU\R(0WHFKQRORJ\
13:00～15:30

～
&HOOV 7LVVXHV%LRORJLFDO 
0HGLFDO6FLHQFHV6DPSOH
3UHSDUDWLRQ 2EVHUYLQJ
0HWKRGVIRU%LRORJLFDO
6SHFLPHQV%)HUURHOHFWULF0DWHULDOV
15:00～16:30



0
0DJQHWLF0DWHULDOV



27
3UL]H:LQQHU/HFWXUH0HHWLQJRIWKH.$=$72
5HVHDUFK)RXQGDWLRQ
13:15～16:15

0
&HUDPLFV
13:00～14:45



27
1,3321

0
6XUIDFHV ,QWHUIDFHV
13:00～16:15

13:00～14:00

0
0HWDOV DOOR\V

,
6(0
13:00～16:35







～$ODUJHYROXPH(0GDWD
VHWREWDLQHG ZLWK
$7806(0(6～

3UDFWLFDODQDO\WLFDOWHFKQLTXH E\HOHFWURQPLFURVFRS\ LQFRPSDQLHV(6

IURP%HJLQQHUVLQFU\R(018:00～19:30

(64XHVWLRQVDQG'LIILFXOWLHV

%DVLFWHFKQRORJ\RIELRORJLFDOVDPSOHSUHSDUDWLRQIRU
HOHFWURQPLFURVFRS\DQG
WKHWURXEOHVKRRWLQJ
18:00～19:45





（ 9 ）






%

0
6HPLFRQGXFWRUV
9:00～11:30

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP











3KRWRJUDSK\&RPSHWLWLRQ

3RVWHU6HVVLRQ+5RRP

%OGJ)(YHQW+DOO

 HDVW

5HFHSWLRQ+DOO

6
,QWHUQDWLRQDO6\PSRVLXPRQ$GYDQFHG
0LFURVFRS\
9:00～11:30

～

,
3KDVH5HODWHG7RSLFV 3KDVH5HWULHYDO3KDVH
'HWHFWLRQ3KDVH3ODWH+RORJUDSK\/RUHQW]
0LFURVFRS\ 2WKHUV 

9LHZLQJ
9:00～18:00*5RRP

%OGJ)%OGJ)5HFHSWLRQ+DOO
 ZHVW



6
/HFWXUHVE\-60$ZDUG:LQQHUV
14:45～17:30

3RVWHU6HVVLRQ'LVFXVVLRQV
16:45～18:00, ～
3KDVH5HODWHG7RSLFV 3KDVH
5HWULHYDO3KDVH'HWHFWLRQ3KDVH
3ODWH+RORJUDSK\/RUHQW]
0LFURVFRS\ 2WKHUV 

0
6RIW0DWHULDOV
14:45～16:15

RIPDWHULDOGHYHORSPHQWDQGRXWORRN
8:30～11:30

6
SEM’s latest technology to open up the future

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP




)5RRP

14:45～16:40

%



&U\R(OHFWURQ0LFURVFRS\ 3URWHLQ&U\VWDOORJUDSK\
14:45～16:15



,
$QDO\WLFDO(OHFWURQ0LFURVFRS\

7KHWK$QQLYHUVDU\&HUHPRQ\RI7KH
-DSDQHVH6RFLHW\RI
0LFURVFRS\～



,
$QDO\WLFDO(OHFWURQ0LFURVFRS\8:30～11:30

9LHZLQJ
9:00～16:45

0HHWLQJV
12:00～13:15



%OGJ)&RQIHUHQFHURRP


(5RRP

%OGJ)'5RRP～&/(0
&RUUHODWLYH /LJKW
(OHFWURQ
0LFURVFRS\

Ｉ-7
2WKHUV ,QVWUXPHQWV 0HWKRGV 
9:00～11:30

5HVHDUFKDQG'HYHORSPHQW
RIWKH&RUUHODWLYH/LJKWDQG
(OHFWURQ 0LFURVFRS\ZLWK
7(0 &/(07(0～

6



6
6SHFWURVFRS\IRU6RIW0DWHULDOV
9:00～11:15

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&RQIHUHQFHURRP



&RQIHUHQFHURRP

%OGJ)%OGJ)6KLURWRUL+DOO

&5RRP%5RRP$5RRPThe Second Day： 6.18 (Tue.)




%DQTXHW
18:30～20:00







（ 10 ）








%OGJ)5HFHSWLRQ+DOO
 ZHVW)5RRP*5RRP

3KRWRJUDSK\&RPSHWLWLRQ

3RVWHU6HVVLRQ+5RRP

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP
(5RRP

%OGJ)(YHQW+DOO

 HDVW

5HFHSWLRQ+DOO

%OGJ)%OGJ)&RQIHUHQFHURRP




&RUUHFWHG0LFURVFRS\
10:15～11:45

0LFURVFRS\
9:00～11:45



5HPRYDO

9LHZLQJ
9:00～15:00

0LFURVFRS\
13:00～15:15

&RUUHFWHG0LFURVFRS\
13:45～15:30



,
TEM , STEM ＆ Aberration-



0
,QVLWX2EVHUYDWLRQ (QYLURQPHQWDO～

0HO%XLOG

27

～,QWHJUDWHG
,PDJLQJ
5HVHDUFK
6XSSRUW

27


～



5HPRYDO

12:00～12:50

-(2/

/6

12:00～12:50+LWDFKL+LJK
7HFKQRORJLHV/6

12:00～12:50

1,3321
523(5

/6

12:00～12:50



7LHW]9LGHR
DQG,PDJH
3URFHVVLQJ
6\VWHPV
*PE+

27



9LHZLQJ
9:00～15:00

,
TEM , STEM ＆ Aberration-

0,QVLWX2EVHUYDWLRQ (QYLURQPHQWDO

3KDVH5HODWHG7RSLFV
3KDVH5HWULHYDO
3KDVH'HWHFWLRQ
3KDVH3ODWH+RORJUDSK\/RUHQW]0LFURVFRS\ 
2WKHUV ,～

3DUDGLJPVKLIWRI$WRPLF)RUFH
Microscopy～Structural-functional analysis
9:00～11:25

6


～

7KHUPR)LVKHU
6FLHQWLILF/6

12:00～12:50

72<2

12:00～12:50

/6

/6

12:00～12:50

%OGJ)&RQIHUHQFHURRP


($
)LVFKLRQH,QVWUXPH
QWV,QF

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27

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0LFURV\VWHPV6
6HJPHQWDWLRQDSSURDFKIRUELRORJLFDOYROXPHLPDJH
9:00～11:00

Ｉ-7
2WKHUV ,QVWUXPHQWV 0HWKRGV 
9:00～11:45



&RQIHUHQFHURRP

%OGJ)

&RQIHUHQFHURRP

%OGJ)%OGJ)6KLURWRUL+DOO

&5RRP%5RRP$5RRPThe Third Day： 6.19 (Wed.)












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交通のご案内／Access【施設名】名古屋国際会議場【URL】http://www.nagoya-congress-center.jp/【所在地】〒 456-0036

名古屋市熱田区熱田西町 1 番 1 号

Tel. 052–683–7711（代表）名古屋から金山経由で名古屋から栄経由で名鉄線・JR 東海道本線・JR 中央線「金山駅」で地下鉄

地下鉄東山線「栄駅」で地下鉄名城線もしくは地下鉄名名城線もしくは地下鉄名港線に乗り換え、地下鉄名城線

港線に乗り換え、地下鉄名城線「西高蔵駅」（2 番出口）「西高蔵駅」（2 番出口）もしくは地下鉄名港線「日比野もしくは地下鉄名港線「日比野駅」（1 番出口）で下車、駅」（1 番出口）で下車、徒歩 5 分。

徒歩 5 分。

From Nagoya Station via Kanayama Station

From Nagoya Station via Sakae Station

At the Meitetsu Line, the JR Tokaido Line, or the JR Chuo

At the Higashiyama subway Line “Sakae Station”, change toLine “Kanayama Station”, change to the Meijo Subway Line

the Meijo Subway Line or the Meiko Subway Line, and getor the Meiko Subway Line, and get off at the Meijo Subway

off at the Meijo Subway Line “Nishi Takakura Station” (ExitLine “Nishi Takakura Station” (Exit 2) or the Meiko Subway

2) or the Meiko Subway Line “Hibino Station” (Exit 1), andLine “Hibino Station” (Exit 1), and walk about 5 minutes.

walk about 5 minutes.

（ 11 ）

会場のご案内（ 12 ）

参加者の皆様へ
1．受付について（1）受付
名古屋国際会議場 1 号館 1 階アトリウム（2 階正面玄関から入り、階段で降りた右手のスペース）にて受付を行います。
受付時間
6 月 17 日（月）8:30 〜 18:30
6 月 18 日（火）8:00 〜 19:00
6 月 19 日（水）8:30 〜 14:15（2）Web からの事前参加登録がお済みの方
事前参加登録受付にてお名前をお伝えください。学術講演会の参加証兼領収書をお渡しいたします。
また、発表要旨集を予約されている方には、発表要旨集をお渡しいたします。
（3）Web からの事前参加登録がお済みでない方
会期当日に受付にて当日参加申込書を記入の上、当日参加登録を行ってください。
（4）参加費等
1） 学術講演会参加費
区分

早期登録

通常登録
当日登録

日本顕微鏡学会正会員

10,000 円 1）

12,000 円 1）

連携学会員：

10,000 円

12,000 円

15,000 円

17,000 円

無料

無料

3,000 円 2）

3,000 円 2）

日本生物物理学会
協賛学会員：（交渉中含む）
医学生物学電子顕微鏡学会、応用物理学会、軽金属学会、日本バイオイメージング学会、
日本化学会、日本解剖学会、日本金属学会、
日本結晶学会、日本細胞生物学会、
日本材料科学会、日本組織細胞化学会、
日本鉄鋼協会、日本表面真空学会、日本病理学会、
日本物理学会、日本分析化学会、高分子学会、
日本臨床分子形態学会、日本セラミックス協会会員
一般非会員
学

生

日本顕微鏡学会学生会員
非会員（学部学生・大学院生）

1）日本顕微鏡学会会員の参加費は不課税です。
2）学生の方は、学生証（コピーでも可）を受付で提示してください。
※参加者には創立 70 周年記念品をお渡しいたします。

（ 13 ）

2） 懇親会費
区分

通常登録

早期登録

当日登録

日本顕微鏡学会正会員
協賛学会員・連携学会員

6,000 円

7,000 円

3,000 円 1）

4,000 円 1）

一般非会員
学

生

日本顕微鏡学会学生会員
非会員（学部学生・大学院生）

1）学生の方は、学生証（コピーでも可）を受付で提示してください。
3）発表要旨集費
通常登録

早期登録

当日登録

2,500 円

3,000 円

※発表要旨集を WEB 公開する予定です。参加者は Web 要旨集の閲覧が可能です。
冊子の発表要旨集をお求めの方は、上記金額にてお買い求めください。
予約申込分の発表要旨集も学術講演会会場にてお渡しいたします。

2．機器展示学術講演会の会期中、顕微鏡及び関連機器、その他の研究用機器が展示されます。是非、ご覧ください。
場所：1 号館 1 階イベントホール

3．書籍展示場所：1 号館 1 階イベントホール

4．冠ワークショップ
OT-1 株式会社日本ローパー
6 月 17 日（月） 14:15 〜 14:45

OT-5 E.A Fischione Instruments, Inc.
B 会場

OT-2 HREM
6 月 17 日（月） 14:50 〜 15:20

E 会場

Tietz Video and Image Processing Systems GmbH6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30 E 会場

D 会場

OT-7 NPO 法人綜合画像研究支援（IIRS）

OT-3 カールツァイス株式会社
6 月 17 日（月） 16:30 〜 17:00

6 月 19 日（水） 11:15 〜 11:45

OT-6

E 会場

OT-4 サーモフィッシャーサイエンティフィック
6 月 17 日（月） 14:00 〜 14:30 G 会場

6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30

F 会場

OT-8 株式会社メルビル
6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30

G 会場

OT-9 公益財団法人 風戸研究奨励会受賞講演会
6 月 17 日（月） 13:15 〜 16:15（ 14 ）

E 会場

5．ランチョンセミナー
下記のスケジュールで、ランチョンセミナーを行います。
整理券は発行いたしませんので、当日当該会場にお並びください。
6 月 17 日（月） 12:00 〜 12:50
LS-1

株式会社日立ハイテクノロジーズ（A 会場）「最新の前処理装置と SEM が提供する解析技術のご紹介」
座長：水野貴之（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

発表者：橋本LS-2

陽一郎（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

日本マーテック株式会社（B 会場）「Imaging techniques applied to advanced IC processings」
座長：林育峰（日本マーテック営業部）

発表者：Dr. Hsieh, Yong-Fen（台湾マーテック
LS-3

CEO）

株式会社堀場製作所（C 会場）「分光イメージングが拓く分析アプリケーション」
発表者：樋口LS-4

誠司（株式会社堀場製作所

科学・半導体開発部

Optical Analysis

マネージャー）

サーモフィッシャーサイエンティフィック（E 会場）「ハイエンド FIB-SEM シリーズ Helios Hydra のご紹介」
発表者：村田LS-5

薫（サーモフィッシャーサイエンティフィック）

株式会社日本ローパー（F 会場）「CMOS センサーを採用した Gatan の最新の Camera と EELS システムのご紹介」
座長：佐伯哲平（株式会社日本ローパー

発表者：高内LS-6

ガタン事業本部）

幸一（株式会社日本ローパー

ガタン事業本部）

カールツァイス株式会社（G 会場）「走査電子顕微鏡による熱弾性マルテンサイト変態の組織解析」
座長：原徹（物質・材料研究機構

発表者：西田藤谷
LS-7

構造材料研究拠点）稔（九州大学大学院総合理工学研究院物質科学部門）
洋（カールツァイス株式会社）

日本電子株式会社（H 会場）「超高感度 X 線検出システムを搭載した収差補正電子顕微鏡によるナノ材料分析／
FIB 自動 TEM 試料作製システムの開発」
座長：山崎良樹（日本電子株式会社

SI 営業本部

SI 販促）

発表者：大西市朗（日本電子株式会社

EM 事業

UEM アプリ）三平

智宏（日本電子株式会社

EP 事業

UEP アプリ）6 月 19 日（水） 12:00 〜 12:50
LS-8

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社（B 会場）「ウインドウレス EDS 検出器の特徴（応用例）」
座長：五十嵐誠（オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社）

発表者：三井千珠（オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社）

LS-9

ライカマイクロシステムズ株式会社（C 会場）「1. アレイトモグラフィのための新しい超薄切片作製法の紹介

ARTOS 3D と、その前処理装置を中心に／

2. 新型光学顕微鏡技術のご紹介

FALCON、THUNDER、LIBS、実体顕微鏡群など」

座長：長澤

細胞生物から材料解析まで

発表者：伊藤忠広（ライカマイクロシスムズ株式会社ナノテクノロジー事業部）
喜子（ライカマイクロシスムズ株式会社ナノテクノロジー事業部）（ 15 ）

田中
LS-10

晋太朗（ライカマイクロシスムズ株式会社ナノテクノロジー事業部）

株式会社東陽テクニカ（D 会場）「Advanced TESCAN FIB applications」
座長：鈴木直久（株式会社東陽テクニカ

ライフサイエンス＆マテリアルズ

セールスマネージャー）

発表者：Antonion Doupal（Asia-Paciﬁc Area Manager, TESCAN ORSAY HOLDING）
LS-11

サーモフィッシャーサイエンティフィック（E 会場）「生体試料立体構造解析のためのクライオトモグラフィーワークフローのご紹介」
座長：葦原

雅道（サーモフィッシャーサイエンティフィック）

発表者：甲斐
LS-12

翼（サーモフィッシャーサイエンティフィック）

株式会社日本ローパー（F 会場）「Gatan 社製

最新 SEM 用カソードルミネッセンスシステムと試料作成装置のご紹介」

座長：高内幸一（株式会社日本ローパー

発表者：佐伯
LS-13

ガタン事業本部）

哲平（株式会社日本ローパー

ガタン事業本部）

株式会社日立ハイテクノロジーズ（G 会場）「材料評価のためのその場観察法で拓く世界」
座長：稲田博実（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

発表者：白井LS-14

学（株式会社日立ハイテクノロジーズ）

日本電子株式会社（H 会場）「新開発クライオ電子顕微鏡

CRYOARM

による蛋白質の構造解析について／SEM で観る内部構造〜 Array Tomography の世界〜」
座長：山崎良樹（日本電子株式会社

SI 営業本部

SI 販促）

発表者：細木直樹（日本電子株式会社

EM 事業 UEM アプリ）山口祐樹（日本電子株式会社

EP 事業 U

EP アプリ）

6．イブニングセッション
6 月 17 日（月） イブニングセッション

18:00 〜 19:30

ES-1 「クライオ電子顕微鏡：気になっていること・困っていること」（F 会場）
ES-2 「企業における電子顕微鏡解析の実際」（G 会場）
ES-3 「ATUM-SEM 法による大容量電顕データセットと解析法」（H 会場）

7．懇親会
6 月 18 日（火） 18:30 〜

名古屋国際会議場

4 号館 1 階

A 会場（白鳥ホール）にて行います。

8．その他
・クロークは 1 号館 1 階アトリウムにございます。
・会場内での呼び出しはいたしません。受付付近の伝言・掲示板をご利用ください。
・専用の駐車場はございません。できる限り公共の交通機関・タクシーをご利用ください。
・学術講演会の会期中、日本顕微鏡学会事務局が受付業務（学会費納入、入会申込等）を行います。

（ 16 ）

学術講演会について
1．学術講演発表（口頭発表）（1）PC 受付にて、発表セッションの開始 30 分前までに試写をお済ませください。
不具合などは、PC 受付のスタッフにご相談ください。
場所：名古屋国際会議場

1 号館 1 階

イベントホール

時間：6 月 17 日
（月）
〜 19 日（水） 8:30 〜（2）発表時間プログラム演題番号の右に講演時間が記載されています。
（3）口頭発表形式
発表は PC プレゼンテーションのみです。
・PC 用プロジェクター 1 台（解像度 XGA;1024 × 768）をご用意いたします。
・事務局でご用意している PC のスペックは Windows10 です。
プレゼンテーションソフトは Microsoft Ofﬁce 2007／2010／2016 をご用意いたします。
・動画や音声をご使用の場合は Windows Media Player12 で再生可能な形式のデータをご用意ください。
・文字フォントは Windows OS の標準フォントをご使用ください。
〜ご自身の PC をご持参される方へ〜
・動画・音声をご使用の場合及び Mac ご使用の場合は、ご自身の PC のお持ち込みを推奨いたします。
・各会場に D-sub15 ピン（ミニ）のケーブルをご用意いたします。コネクターが必要な場合は、各自でご持参ください。
（一部 Windows PC、Mac を使用される方は必要となります）
・画像の解像度は XGA（1024 × 768）です。このサイズより大きい場合、スライドの周囲が切れますので予め PCの設定をお願いいたします。
・スクリーンセーバー、省電力設定、起動時のパスワード設定は、事前に解除してください。
・不測の事態に備えて、必ずバックアップデータもお持ちください。
・必ず AC アダプターをご持参ください。
・講演スライドはできるだけ英語を用い、日本語を母国語としない参加者が理解できるよう、ご配慮願います。
・PC 受付での試写終了後、ご発表の 15 分前までに会場前方左手のオペレーター席までご持参ください。
・講演終了後は、できるだけ速やかに会場内のオペレーター席にて、ご自身の PC をお引き取りください。
（4）その他

注意事項

・発表原稿が必要な方は予めプリントアウトしご持参ください。会場でのプリントアウトは対応しておりません。
・次演者は前演者の登壇と同時に次演者席にご着席ください。

（ 17 ）

2．学術展示発表（ポスター発表）（1）会場
名古屋国際会議場 1 号館 1 階

イベントホール（2）貼付及び撤去時間
ポスター貼付および撤去は下記のスケジュールにて行ってください。
貼付：6 月 17 日（月） 9:00 〜 10:00
撤去：6 月 19 日
（水） 15:00 〜 16:00
原則最終日までの貼付をお願い致します。
※最終日 16 時までに撤去されなかったポスターは実行委員会にて一時保管した後、処分いたしますのでご了承ください。
（3）討論
ポスター討論は下記のスケジュールにて行ってください。
名古屋国際会議場

1 号館 1 階

イベントホール

6 月 17 日（月） 16:30 〜 18:00（講演番号奇数番号）

6 月 18 日（火） 16:45 〜 18:00（講演番号偶数番号）（4）展示要領
1 演題につき、・パネル（縦 2100mm ×横 900mm）1 枚・ポスター番号（縦 200mm ×横 200mm）を準備いたします。
縦 200mm ×横 660mm のサイズに演題名、著者名、所属を記入したものを各自でご用意ください。
展示にご使用いただける掲示スペースは縦 1700mm ×横 860mm（最大）です。
（5）優秀ポスター賞について
会期中、ポスター選考委員会により優秀ポスター賞を選定いたします。
受賞者には懇親会（6 月 18 日
（火） 18:30 〜 20:00

A 会場（4 号館 1 階

授与いたします。

（ 18 ）

白鳥ホール））にて優秀ポスター賞を

3．写真コンクール（1）会場
名古屋国際会議場

1 号館 1 階

イベントホール（2）貼付および撤去時間
写真貼付および撤去は下記のスケジュールに行ってください。
貼付：6 月 17 日（月） 9:00 〜 10:00
撤去：6 月 19 日
（水） 15:00 〜 16:00
原則最終日までの貼付をお願い致します。
※最終日 16 時までに撤去されなかった写真は実行委員会にて一時保管した後、処分いたしますのでご了承ください。
（3）展示期間
6 月 17 日（月） 10:00〜

6 月 19 日（水） 15:00（4）展示要領
1 作品につき・パネル（縦 2100mm ×横 860mm）1 枚
・写真番号（縦 200mm ×横 200mm）を準備いたします。
縦 200mm ×横 660mm のサイズに演題名、著者名、所属を記入したものを各自でご用意ください。
縦 1700mm ×横 860mm（最大）のスペースに各自、原稿に使用したものと同じ写真とその説明を展示してください。
写真のサイズは 1000mm × 860mm（最大）です。
（5）投票・結果発表
学術講演会参加者に写真コンクールの投票用紙をお渡しいたします。
6 月 18 日（火）14:00 までに写真コンクール会場に設置された投票箱に投票用紙をお入れください。
最優秀作品は懇親会（6 月 18 日
（火） 18:30 〜 20:00

A 会場（4 号館 1 階（ 19 ）

白鳥ホール））にて表彰いたします。

市民公開講座
1．市民公開講座「顕微鏡でみるミクロの世界・ナノの世界」
顕微鏡でわたしたちのからだはどうみえるか？原子はみえるか？わたしたちの生活にどのように役に立っているのか？
顕微鏡を用いた研究をご専門とされている講師の方にわかりやすくお話いただきます。
日時：2019 年 6 月 16 日（日）
13:00 〜 14:30
場所：名古屋国際会議場

1階

白鳥ホール
（北）

講演プログラム・藤吉 好則（東京医科歯科大学

高等研究院

特別栄誉教授）「生体分子を観ると創薬に役立つ」
・田中 信夫（名古屋大学名誉教授）「電子顕微鏡で動く単原子が観える」
・坂田 明（サックス奏者／広島大学生物圏科学研究科客員教授）「顕微鏡で命が透けて見えるミジンコを観て思うこと」（※特別演奏予定）
定員：300 名
参加費：無料
参加方法：ウェブページ（http://jsm75-2019.com/koukai.html）をご覧ください。
後援：名古屋市教育委員会

2．市民公開顕微鏡体験ワークショップ「のぞいてみようミクロの世界」
市民のみなさまに走査型電子顕微鏡・光学顕微鏡を使ってミクロの世界を観察していただく機会を提供します。実際に顕微鏡を使って身近にある物を観察することができます。観察したい試料の持ち込みも歓迎いたします。
日時：2019 年 6 月 16 日（日）
14:30 〜 16:30
場所：名古屋国際会議場

1階

白鳥ホール
（北）

出展企業（五十音順）
・カールツァイス株式会社
・日本電子株式会社
・株式会社 日立ハイテクノロジーズ
・ライカマイクロシステムズ株式会社
定員：40 名
参加費：無料
参加方法：事前申込制。ウェブページ（http://jsm75-2019.com/workshop.html）からご登録ください。
後援：名古屋市教育委員会（ 20 ）

第 75 回学術講演会実行委員会
実行委員長 武藤 俊介（名古屋大学）
プログラム委員長（医学・生物系） 深澤 有吾（福井大学）
プログラム委員長（装置・材料系） 山本 剛久（名古屋大学）【実行委員】
山本 和生（JFCC）：
プログラム副委員長（装置・材料系）兼務
成田 哲博（名古屋大学）：
プログラム副委員長（医学・生物系）兼務

加藤 丈晴（JFCC）
斎藤 晃（名古屋大学）
重松 秀樹（理化学研究所）
宮崎 直幸（大阪大学）

五十嵐 信行（名古屋大学）【プログラム委員】（五十音順）
浅香透（名古屋工業大学）

徳永

智春（名古屋大学）

穴田智史（JFCC）

長尾

全寛（名古屋大学）

石田

高史（名古屋大学）

仲野

靖孝（JFCC）

石原あゆみ（ライカマイクロシステムズ）

西野

有里（兵庫県立大学）

岩根敦子（理化学研究所）

野村

優貴（パナソニック）大嶋

篤典（名古屋大学）

平山司（JFCC）

菅野亮（沖縄科学技術大学院大学）

福田善之（東京大学）桒原真人（名古屋大学）

真柳浩太（九州大学）

小林俊介（JFCC）

村田

和義（生理学研究所）

齊藤成（藤田医科大学）

横江

大作（JFCC）

吉田

要（JFCC）

吉田

竜視（JFCC）

佐々木

祐生（JFCC）

菅原

義弘（JFCC）

田中

信夫（名古屋大学）（ 21 ）

Oral

学術講演会発表（Oral sessions）

Mon. 17 Jun※座長は交渉中を含みます。
6 月 17 日（月） 第 1 日目

S-1

顕微鏡学のパラダイムシフト

S-1

Paradigm Shift in Microscopy

6 月 17 日（月） 9:00 〜 11:10

座 長（Chairperson）
山本 剛久（名古屋大学）
Takahisa Yamamoto（Nagoya University）

A 会場 （Room A）

1amA_S1-3 10:30 〜 11:10
原子分解能磁場フリー電子顕微鏡（MARS）の開発と応用

座 長（Chairperson）
武藤 俊介（名古屋大学）
Shunsuke Muto（Nagoya University）

Development and application of magnetic ﬁeld free atomic-resolution STEM（MARS）
柴田 直哉 1,2

1amA_S1-1 9:00 〜 9:40
超高圧電子顕微鏡の役割（1 東京大学，2 ファインセラミックスセンターナノ構
造研究所）

Role of UHVEM
森 博太郎

1

Naoya Shibata1,2

1（ 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター）（1The University of Tokyo, 2Nanostructures Research Lab-

Hirotaro Mori1

oratory, JFCC）（1Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University）
座 長（Chairperson）
成田 哲博（名古屋大学）

I-2

SEM

I-2

SEM

6 月 17 日（月） 13:00 〜 16:35

A 会場 （Room A）

Akihiro Narita（Nagoya University）
座 長（Chairperson）
佐藤 馨（JFE テクノリサーチ）

1amA_S1-2 9:45 〜 10:25
クライオ電子顕微鏡によるパラダイムシフト

Kaoru Sato（JFE Techno-Research）
大塚 岳志（日本電子）

Paradigm shift by cryo-electron microscopy

Takeshi Otsuka（JEOL Ltd）

吉川 雅英 1

（1 東京大学）
Masahide Kikkawa1（1The Univ. of Tokyo）

1pmA_I2-1 13:00 〜 13:15
円環・円孔電極を用いた SEM 用収差補正器の開発Development of Aberration Corrector with Annular andCircular Electrodes for SEM

川﨑 忠寛 1，吉田 竜視 1，加藤 丈晴 1，野間口 恒典 2，
本村 俊一 2，西中 健一 2，揚村 寿英 2，生田 孝 3（1 ファインセラミックスセンター，2 日立ハイテクノ
ロジーズ，3 大阪電気通信大学）
Tadahiro Kawasaki1, Ryuji Yoshida1, Takeharu Kato1,
Tsunenori Nomaguchi 2, Shunichi Motomura 2, Kenichi
Nishinaka2, Toshihide Agemura2, Takashi Ikuta3（1Japan Fine Ceramics Center, 2Hitachi High-Technologies,3（ 22 ）

Osaka Electro-Communication University）

座 長（Chairperson）
多持 隆一郎（日立ハイテクノロジーズ）
Corporation）

conductor

橋本 哲 1，櫻田 委大 1，後藤 敬典 2，田沼 繁夫 2，永富隆晴 3
（1JFE テクノリサーチ株式会社，2 国立研究開発法人
物質・材料研究機構，3 旭化成株式会社）
Satoshi Hashimoto1, Tsuguo Sakurada1, Keisuke Goto2,

1pmA_I2-6 14:25 〜 14:40
Advanced SE and BSE Detections for Structural Analysis and Function Investigation in
SEM

Shigeo Tanuma2, Takaharu Nagatomi3

Advanced SE and BSE Detections for Structural Analysis（1JFE Techno-Research Corp., 2NIMS, 3Asahi Kasei Corp.）

and Function Investigation in SEM
Fang Zhou1

1pmA_I2-3 13:30 〜 13:45
ドットアレイ構造をもつ認証標準物質を利用した SEM 像の歪み評価
Evaluation of SEM image distortion by using a dot-array（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

1pmA_I2-7 14:40 〜 14:55
超低速 SEM による複相鋼組織の分離可視化

based certiﬁed reference material

Phase visualization of microstructure in multiphase steel by

熊谷 和博 1，黒河 明 1

super low energy SEM

青山 朋弘 1，Mikmekova Sarka2，日比野 浩樹 3

1

（ 国立研究開発法人産業技術総合研究所）
1

1

Kazuhiro Kumagai , Akira Kurokawa（1JFE スチール株式会社，2JFE スチール（株）
（現 ISI of（1National Institute of Advanced Industrial Science andthe CAS），3 関西学院大学）

Technology（AIST））

Tomohiro Aoyama1, Sarka Mikmekova2, Hiroki Hibino3（1JFE Steel Corporation, 2JFE Steel Corporation（Present

1pmA_I2-4 13:45 〜 14:00
Super-slow-electron beam attenuation bypassive film on stainless steel
Super-slow-electron beam attenuation by passive film on
stainless steel

Address: ISI of the CAS）, 3Kwansei Gakuin University）

1pmA_I2-8 14:55 〜 15:10
高輝度 NEA ホトカソード電子源による SEM の
低加速分解能向上

Sarka Mikmekova1, Tomohiro Aoyama2, Martin Oral1,

Resolution Improvement of SEM with Highly-bright Nega-

2

Kaneharu Okuda

tive Electron Afﬁnity（NEA）Photocathode Electron Gun（1ISI Brno, Czech Academy of Sciences, 2JFE Steel Cor-in Low Voltage Range

森下 英郎 1,2，大嶋 卓 1，桒原 真人 2，揚村 寿英 3，小poration）

瀬 洋一 3

1pmA_I2-5 14:00 〜 14:15
低真空 SEM の雰囲気依存性（1 株式会社 日立製作所，2 名古屋大学，3 株式会社日立
ハイテクノロジーズ）
Hideo Morishita1,2, Takashi Ohshima1, Makoto Kuwaha-

Atmosphere dependence of low vacuum SEM
関口 隆史 ，大南 祐介
12

ra2, Toshihide Agemura3, Yoichi Ose3

（1 筑波大学，2 日立ハイテクノロジーズ）（1Hitachi, Ltd., 2Nagoya University, 3Hitachi High-Tech-

Takashi Sekiguchi1, Yusuke Ominami2

nologies Corporation）（1University of Tsukuba, 2Hitachi High-Technologies）

1pmA_I2-9 15:10 〜 15:25
SEM 像観察最適条件下での EDX 分析の実現
Realization of EDX analysis at SEM imaging sweet-spots

佐藤 馨 1，中村 貴也 1，北原 保子 1，名越 正泰 1，森田博文 2，バージェス サイモン 2（1JFE テクノリサーチ（株），2 オックスフォード・イン
ストゥルメンツ）
Kaoru Sato1, Takaya Nakamura1, Yasuko Kitahara1, Masayasu Nagoshi1, Hirobumi Morita2, Simon Burgess2（1JFE Techno-Research, 2Oxford Instruments）（ 23 ）

Mon. 17 Jun

Ryuichiro Tamochi（Hitachi High-Technologies

Fine structure of spectrum of secondary electron, 4:semi-

Oral

1pmA_I2-2 13:15 〜 13:30
二次電子スペクトル微細構造の新解釈 その 4：
半導体

Oral

座 長（Chairperson）

Mon. 17 Jun

フィック）

村田 馨（サーモフィッシャーサイエンティ

M-1

金属

M-1

Metals & alloys

6 月 17 日（月） 9:00 〜 11:40

Kaoru Murata（Thermo Fisher Scientific）

1pmA_I2-10 15:35 〜 15:50
SEM-EDS 電圧コントラストイメージングにおける測定条件の検討

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）
荒川 一渡（島根大学）
Kazuto Arakawa（University of Shimane）
吉田 健太（東北大学）

Investigation of measurement conditions in SEM-EDS volt-

Kenta Yoshida（Tohoku University）

age contrast imaging

高橋 昭治 1，牧田 憲吾 1，田中 かをり 2

1amB_M1-1 9:00 〜 9:15
BCC-Fe デンドライト成長初期過程の電顕その場
観察

1
（（株）
リコー，2 カールツァイス株式会社）
1

1

2

Shoji Takahashi , Kengo Makita , Kawori Tanaka（1RICOH COMPANY, LTD., 2Carl Zeiss Co., Ltd.）In situ TEM observation of the initial stage of BCC-Fe den-

1pmA_I2-11 15:50 〜 16:05
検出特性を変化させたチャンバー ET-SE 検出器
による画像コントラストの考察

drite formation
永瀬 丈嗣 1

（1 大阪大学）

Consideration of Image Contrast by Chamber ET-SE De-

Takeshi Nagase1

tector with Detection Characteristics Changed（1Osaka University）

高橋 昭治 1，牧田 憲吾 1，田中 かをり 2

1amB_M1-2 9:15 〜 9:30
汎用ウィークビーム走査透過電子顕微鏡のための特殊絞りの設計開発

1（（株）
リコー，2 カールツァイス株式会社）

Shoji Takahashi1, Kengo Makita1, Kawori Tanaka2（1RICOH COMPANY, LTD., 2Carl Zeiss Co., Ltd.）

Deigns of CL/HC apertures for thermal LaB6 type Weak-

1pmA_I2-12 16:05 〜 16:20
SEM-ECCI を用いた鉄鋼材料中の転位組織観察

Beam STEM

吉田 健太 1，嶋田 雄介 1，荒川 一渡 2，山﨑 順 3，佐藤Observation of dislocation structure in steel using

和久 3，外山 健 1，井上 耕治 1，永井 康介 1

SEM-ECCI（1 東北大学 金属材料研究所，2 島根大学 総合理工学研

森 孝茂 1，網野 岳文 1，横山 千恵 1，丸山 直紀 1，谷口
1

俊介 ，谷山 明

究科，3 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター）

1

Kenta Yoshida1, Yusuke Shimada1, Kazuto Arakawa2, Jun（1 新日鐵住金株式会社）1

Yamasaki3, Kazuhisa Sato3, Takeshi Toyama1, Koji Inoue1,
11

Takashige Mori , Takafumi Amino , Chie Yokoyama ,Yasuyosi Nagai1

Naoki Maruyama1, Shunsuke Taniguchi1, Akira Taniyama1（1Institute for Materials Research, Tohoku University, 2De-

1

partment of Materials Science, Shimane University, 3Re-

（ Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation）

search Center for Ultra-High Voltage EM, Osaka Universi-

1pmA_I2-13 16:20 〜 16:35
EBSD および ACOM-TEM を用いた正方晶ジル
コニアの結晶方位解析
Crystal orientation Analysis of tetragonal ZrO2 using EBSD
and ACOM-TEM

安田 光伸 1，小山 司 1，西村 恵 1，林 香織 1，加藤 淳 1ty）

1amB_M1-3 9:30 〜 9:45
High Throughput Imaging and Analysis for
Metallic Nanostructure in 3D
High Throughput Imaging and Analysis for Metallic Nano-1（（株）
東レリサーチセンター）

structure in 3D

Mitsunobu Yasuda 1, Tsukasa Koyama 1, Megumi

Hanfang Hao 1, Vignesh Viswananthan 1, Fabian Pe-

Nishimura1, Kaori Hayashi1, Jun kato1

rez-Willard2

1（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss Microscopy GmbH）（ Toray Research Center）（ 24 ）

High voltage transmission electron microscopic observation

Aging precipitation structure observation of Mg-

of deformation bands developed during cyclic deformation

2.2mol%Zn alloy by TEM

前田 朋克 1，アルテニス ベンドー 1，土屋 大樹 2，李in [-111] oriented Cu single crystals

宮澤 知孝 1，木村 匠 1，藤居 俊之 1，荒井 重勇 2
1

昇原 2，池野 進 3，松田 健二 22

（ 東京工業大学， 名古屋大学）（1 富山大学（院生），2 富山大学院，3 富山大名誉教授）

Tomotaka Miyazawa1, Takumi Kimura1, Toshiyuki Fu-

Tomoyoshi Maeda1, Bendo Artenis1, Taiki Tsuchiya2,

12

jii , Shigeo Arai

Seungwon Lee2, Susumu Ikeno3, Kenji Matsuda2（1Tokyo Institute of Technology, 2Nagoya University）（1Graduate School of Science and Engineering for Education, University of Toyama, 2Graduate School of Science

1amB_M1-5 10:00 〜 10:15
鉄における水素誘起キャビティ挙動の TEM その
場観察

and Engineering for Research, University of Toyama, 3Pro-

In-situ TEM of the Behavior of Hydrogen-induced Cavities

1amB_M1-9 11:10 〜 11:25
時効温度 473K における Al-Zn-Mg-Cu 合金の微細組織の TEM 観察

in Iron

荒河 一渡 1，蔭山 彰良 2，小松 正雄 3

fessor emeritus University of Toyama）（1 島根大学，2 新日鐵住金，3 広島工業大学）
1

2

TEM observation of microstructure in Al-Zn-Mg-Cu alloys
3

aged at 473K

Kazuto Arakawa , Akira Kageyama , Masao Komatsu（1Shimane University, 2Nippon Steel & Sumitomo Metal

安元 透 1，土屋 大樹 2，李 昇源 2，松田 健二 2，西川 知Co., 3Hiroshima Institute of Technology）

志 3，柴田 果林 3，吉田 朋夫 3，村上 哲 3，池野 進 4（1 富山大（院生），2 富山大院，3 アイシン軽金属株式会社，4 富山大名誉教授）

座 長（Chairperson）

Toru Yasumoto1, Taiki Tsuchiya2, Seungwon Lee2, Kenji

永瀬 丈嗣（大阪大学）

Matsuda2, Satoshi Nishikawa3, Karin Shibata3, Tomoo

Takeshi Nagase（Osaka University）

Yoshiada3, Satoshi Murakami3, Susumu Ikeno4

岩本 知広（茨城大学）（1Graduate School of Science and Engineering for Educa-

Chihiro Iwamoto（Ibaraki University）

tion, University of Toyama, 2Graduate School of Scienceand Engineering for Research, University of Toyama, 3AI-

1amB_M1-6 10:25 〜 10:40
超高圧走査透過電子顕微鏡による Fe-Si 合金の繰り返し変形後の転位組織観察

SIN KEIKINZOKU Co., LTD, 4Professor emeritus, Uni-

Observation of dislocation structures after cyclic deforma-

1amB_M1-10 11:25 〜 11:40
過剰に Si を添加した Al-Mg2Si 鋳造合金の TEM
観察tion in an Fe-Si alloy by HV-STEM

首藤 洋志 1,2，宮澤 知孝 2，荒井 重勇 3，藤居 俊之 2

versity of Toyama）（1 日本製鉄株式会社，2 東京工業大学，3 名古屋大学）

TEM observation in Al-Mg2Si cast alloy added excess Si

Hiroshi Shuto , Tomotaka Miyazawa , Shigeo Arai ,土屋 大樹 1，牧田 悠暉 2 ，李 昇原 1，才川 清二 1 ，池Toshiyuki Fujii2

野 進 3 ，松田 健二 1

（1Nippon Steel Corporation, 2Tokyo Institute of Technolo-（1 富山大院，2 富山大（院生），3 富山大学名誉教授）

1,2

2

3

3

Taiki Tsuchiya 1 , Yuki Makita 2, Seungwon Lee 1, Seiji

gy, Nagoya University）

Saikawa1, Susumu Ikeno3, Kenji Matsuda1

1amB_M1-7 10:40 〜 10:55
Ti-15-3 合金高温・低温二段時効法における一段目時効の役割
Role of the ﬁrst-step aging of 2-step aging processing withhigh to low temperature sequence on Ti-15-3 alloy
助台 栄一 1

（1 岡山理科大学（元））Eiichi Sukedai1（1Okayama University of Science（previously））（ 25 ）（1University of Toyama, 2Graduate School of Science andEngineering for Education, University of Toyama, 3Professor emeritus, University of Toyama）

Mon. 17 Jun

1amB_M1-8 10:55 〜 11:10
TEM を用いた Mg-2.2mol%Zn 合金の時効析出
組織観察

Oral

1amB_M1-4 9:45 〜 10:00[-111] 銅単結晶の繰り返し変形によって形成された変形帯の超高圧電子顕微鏡観察

Oral
Mon. 17 Jun

M-1

金属

M-1

Metals & alloys

6 月 17 日（月） 13:00 〜 14:00

1pmB_M1-13 13:30 ～ 13:45
Ag-Cu-Pd 合金中の微細析出物界面の構造
Interface structure between the precipitations and the matrix

B 会場 （Room B）

in the Ag-Cu-Pd alloy岩本 知広 1，黒木 颯仁 1，齋藤 光浩 2，渡邊 文男 3，小板橋 理成 3座 長（Chairperson）（1 茨城大学，2 東京大学・日本電子産学連携室，3 株式

宮澤 知孝（東京工業大学）

会社ヨコオ）

Tomotaka Miyazawa（Tokyo Institute of Tech-

Chihiro Iwamoto1, Hayahito Kuroki1, Mitsuhiro Saito2,

nology）

Fumio Watanabe3, Risei Koitabashi3

1pmB_M1-11 13:00 〜 13:15
熱フェノール法を用いて抽出した Al-Si-Mg 合金の析出物の TEM 観察（1Ibaraki University, 2The University of Tokyo-JEOL Uni-

TEM observation in Al-Si-Mg alloy extracted by the ther-

1pmB_M1-14 13:45 ～ 14:00
急冷によるオーステナイト粒界の移動と元素分布mal phenol method

土屋 大樹 1，牧田 悠暉 2 ，李 昇原 1，才川 清二 1，池野

versity-Corporate Collaboration Ofﬁce, 3Yokowo, co., ltd）

進 3，松田 健二 1
1

Grain boundary migration of austenite grains by quenching2

網野 岳文 1，三木 順平 2，荒井 重勇 3，谷山 明 1，脇田

3

（ 富山大院， 富山大（院生）， 富山大学名誉教授）
1

2

1

Taiki Tsuchiya , Yuki Makita , Seungwon Lee , Seiji

昌幸 1,4，宇治 舜矢 1，西野宮 卓 1

Saikawa1, Susumu Ikeno3, Kenji Matsuda1（1 新日鐵住金株式会社，2 日鉄住金テクノロジー株式1（ Graduate School of Science and Engineering for Re-

会社，3 名古屋大学，4 日本鉄鋼協会）

search, University of Toyama, 2Graduate School of Science

Takahumi Amino1, Jyunpei Miki2, Shigeo Arai3, Akira

and Engineering for Education, University of Toyama,Taniyama1, Masayuki Wakita1,4, Shunya Uji1, Suguru Nishi-

3

nomiya1

Professor emeritus, University of Toyama）（1Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, 2Nippon

1pmB_M1-12 13:15 〜 13:30
753K で時効した Cu-Ni-Si（-Cr-Zr）合金の微細組
織観察
Microstructure observation in Cu-Ni-Si（-Cr-Zr）
alloy aged
at 753K

土屋 大樹 1，後藤 大範 2，李 昇原 1，松田 健二 1，木曽
3

3

3

夏輝 ，藤丸 陽一 ，本吉 文武 ，池野 進

Steel & Sumikin Technology Co., LTD, 3Nagoya University, 4The iron and steel institute of Japan）

OT-1 （冠） 日本ローパー
Nippon Roper K.K.
6 月 17 日（月） 14:15 〜 14:45

4（1 富山大院，2 富山大（院生），3 中越合金鋳工，4 富山大学名誉教授）Taiki Tsuchiya1, Hironori Goto2, Seungwon Lee1, Kenji
Matsuda1, Natsuki Kiso3, Yoichi Fujimaru3, Fumitake Mo-（Room B）
座 長（Chairperson）
高内 幸一（株式会社日本ローパー ガタン事業本

toyoshi3, Susumu Ikeno4部）（1Graduate School of Science and Engineering for Educa-

Koichi Takauchi（Nippon Roper KK, Gatantion, University of Toyama, 2Graduate School of Scienceand Engineering for Education, University of Toyama,
3

Chuetsu metal works co., LTD., 4Professor emeritus, Uni-

versity of Toyama）

B 会場

Division）

Gatan 社製エネルギー損失分光器における検出技術の進化
Development of Censor technology in Gatan EELS system
伊野家 浩司 1（1 株式会社日本ローパー ガタン事業本部）
Koji Inoke1（1Nippon Roper KK, Gatan Division）（ 26 ）

M-4

Magnetic Materials & Ferroelectric Materials

6 月 17 日（月） 15:00 〜 16:30

1pmB_M4-4 15:45 〜 16:00
PbTiO3 薄膜の界面急峻性に及ぼす導電性 SrTiO3
基板の影響

B 会場 （Room B）

Effect of Conducting SrTiO3 Substrates on Steepness of
PbTiO3/SrTiO3 epitaxial Interface

木口 賢紀 1，清水 匠 1，白石 貴久 1，今野 豊彦 1

座 長（Chairperson）（1 東北大学

今野 豊彦（東北大学）

金属材料研究所）

Takanori Kiguchi1, Takumi Shimizu1, Takahisa Shiraishi1,

Toyohiko Konno（Tohoku University）

Toyohiko Konno1

堀部 陽一（九州工業大学）（1Institute for Materials Research, Tohoku University）

Yoichi Horibe（Kyushu Institute of Technology）

1pmB_M4-1 15:00 〜 15:15
収差補正ローレンツ顕微鏡法を用いた磁場誘起磁気相分離の可視化

1pmB_M4-5 16:00 〜 16:15
STEM-EELS 法による HfO2 薄膜の結晶相・配向性の評価
STEM-EELS analysis of phase and orientation of HfO2 thinﬁlms

Visualization of Field-induced Magnetic Phase Separation

木口 賢紀 1，白石 貴久 1，三村 和仙 2，清水 荘雄 2，舟Using Aberration-corrected Lorentz Microscopy
長井 拓郎 1，木本 浩司 1，竹口 雅樹 1

窪 浩 2，今野 豊彦 1

1

（ 物質・材料研究機構）（1 東北大学

Takuro Nagai1, Koji Kimoto1, Masaki Takeguchi1

Takanori Kiguchi1, Takahisa Shiraishi1, Takanori Mimu-

1

金属材料研究所，2 東京工業大学）

ra2, Takao Shimizu2, Hiroshi Funakubo2, Toyohiko J. Kon-

（ National Institute for Materials Science）

no1

1pmB_M4-2 15:15 〜 15:30
ローレンツ電子顕微鏡法を用いたスキルミオン
配列の解析（1Institute for Materials Research, Tohoku University, 2To-

Analysis of skyrmion configurations using Lorentz trans-

1pmB_M4-6 16:15 〜 16:30
強誘電体 HfO2 基薄膜の結晶相形成に与える熱処
理温度の影響mission electron microscopy

長瀬 知輝 1，小松 正弥 2，肖 英紀 2，石田 高史 3，齋藤

kyo Institute of Technology）

晃 3，五十嵐 信行 3，桑原 真人 3，長尾 全寛 3

Inﬂuence of heat treatment temperature on crystallographic（1 名大工，2 秋田大院理工，3 名大未来研）
1

2

phase formation of ferroelectric HfO2-based thin ﬁlms

2

3

Tomoki Nagase , M. Komatsu , Y. G. So , T. Ishida , K.
3

3

3

Saitoh , N. Ikarashi , M. Kuwahara , M. Nagao

3

白石 貴久 1，Choi Sujin2，木口 賢紀 1，今野 豊彦 1

（1 東北大学金属材料研究所，2 東北大学工学研究科）（1School of Engineering, Nagoya Univ., 2Graduate School
3

Takahisa Shiraishi 1, Sujin Choi 2, Takanori Kiguchi 1,

of Engineering Science, Akita Univ., IMASS, Nagoya

Toyohiko Konno1

Univ.）（ 1Institute for materials research, Tohoku University,
2

School of engineering, Tohoku University）

1pmB_M4-3 15:30 〜 15:45
スピネル酸化物（Co, Fe, Mn）3O4 に お け る
チェッカーボード型ナノ組織変化
Change in checkerboard nano-structure in spinel oxides（Co, Fe, Mn）3O4

堀部 陽一 1，石松 雅史 1，森 茂生 2

（1 九州工業大学

大学院工学研究院，2 大阪府立大学

大学院工学研究科）
Yoichi Horibe1, Masashi Ishimatsu1, Shigeo Mori2（1Kyushu Institute of Technology, 2Osaka Prefecture University）（ 27 ）

Mon. 17 Jun

磁性体・誘電体

Oral

M-4

Oral
Mon. 17 Jun

B-7

微生物（真菌・細菌・ウイルス）

B-7

Microorganisms（Fungi, Bacteria & Virus）

6 月 17 日（月） 10:00 〜 11:30

1amC_B7-4 11:00 〜 11:15
アレナウイルスの細胞内増殖機構の解析
Analysis of Mammarenavirus replication in cultured cells

C 会場 （Room C）

平林 愛 1，梶川 純一 1，胡 上帆 1，中野 雅博 1，村本 裕
紀子 1，野田 岳志 1
（1 京都大学）

座 長（Chairperson）

Ai Hirabayashi1, Junichi Kajikawa1, Shuangfan Hu1, Ma-

野田 岳志（京都大学）

sahiro Nakano1, Yukiko Muramoto1, Takeshi Noda1

Takeshi Noda（Kyoto University）（1Kyouto University）

高橋 一郎（帝京大学）
Ichiro Takahashi（Teikyo University）

1amC_B7-1 10:00 〜 10:15
CryoTEM 観 察 に よ る Mycobacteriacea 科 の 5属を構成する種の基礎形態情報の比較検討

1amC_B7-5 11:15 〜 11:30
Antibacterial Activity of Virgin Coconut Oil
Based Soap Fermented by Lactobacillus
casei（InaCC B1045）
Antibacterial Activity of Virgin Coconut Oil Based Soap

Comparison of fundamental cell morphological properties

Fermented by Lactobacillus casei（InaCC B1045）

between species in 5 genera in family Mycobacteriacea ex-

Dimas Andrianto 1, Harun Al Rasyid 2, Resty Gessya

amined with whole-mount ice-embedded cryoTEM

Arianty3

山田 博之 ，近松 絹代 ，青野 昭男 ，村田 和義 ，宮
1

1

1

2

（1Department of Biochemistry, IPB University, Indonesia,

崎 直幸 2,3，香山 容子 4，藤原 永年 5，前田 伸司 6，御手洗 聡（1 公益財団法人
2

2

UKM Healthy Project, 3IPB University）

1,7

結核予防会結核研究所 抗酸菌部，生理学研究所，3 大阪大学蛋白質研究所，4 テラベー

ス，5 帝塚山大学，6 北海道薬科大学，7 長崎大学）
1

1

1

Hiroyuki Yamada , Kinuyo Chikamatsu , Akio Aono ,

M-7

表面・界面

M-7

Surfaces & Interfaces

6 月 17 日（月） 13:00 〜 16:15

Kazuyoshi Murata2, Naoyuki Miyazaki2,3, Yoko Kayama4,
Nagatoshi Fujiwara5, Shinji Maeda6, Satoshi Mitarai1,7（1Dept. Mycobacterium Ref. and Res., the Research Insti-

座 長（Chairperson）
橘田 晃宜（産業技術総合研究所）

tute of Tuberculosis, JATA., 2National Institute of Physio-

Mitsunori Kitta（AIST）

logical Science, 3Institute for Protein Research, Osaka Uni-

小林 俊介（ファインセラミックスセンター）

versity, 4Terabase, 5Tezukayama University, 6Hokkaido

Shunsuke Kobayashi（JFCC）

Pharmaceutical University, 7Nagasaki University）

1amC_B7-2 10:15 〜 10:30
T 細胞の脂質ラフト機能と HIV-1 の巧妙な戦略

1pmC_M7-1 13:00 〜 13:15
電子線ホログラフィーによる Pt-TiO2 界面の電位分布解析

Lipid raft function of T-cell and clever strategy of HIV-1
高橋 一郎 1，M-LADHOFF Axel2，高間 みちほ 2
1C 会場 （Room C）

Electron holography study of the electric potential in Pt-

2（ 帝京大学， Humboldt 大学）

TiO2 interface

Ichiro Takahashi1, Axel M-LADHOFF2, Michiho Takama2

中島 宏 1，山本 真人 2，田中 秀和 2，村上 恭和 1

（1Teikyo University, 2Humboldt-Univ）（1 九州大学大学院工学研究院，2 大阪大学産業科学研究所）

1amC_B7-3 10:30 〜 10:45
T. rubrum で作成した爪白癬モデルによる爪への感染プロセスの微細形態学的検討
Ultrastructural study of infection process of T. rubrum using in vitro tinea unguium model

西山 彌生 1，前田 眞理 1，山田 剛 1（1 帝京大学医真菌研究センター）
Yayoi Nishiyama1, Mari Maeda1, Tsuyoshi Yamada1（1Teikyo University Institute of Medical Mycology）（ 28 ）

Hiroshi Nakajima1, Mahito Yamamoto2, Hidekazu Tanaka2, Yasukazu Murakami1（1Kyushu University, 2Osaka University）

citation

Plan view STEM observation of Moire patterns between

佐藤 和久 ，保田 英洋 ，市川 修平 ，今村 真幸 ，
1,2

1,2

1,2

3

GaSe thin ﬁlm and Ge（111）substrate

高橋 和敏 3，波多 聰 4,6，松村 晶 5,6，穴田 智史 7，李 正

米澤 隆宏 1，東嶺 孝一 1，伊藤 真弓 1，村上 達也 1，大九 8，森 博太郎 1

島 義文 1，高村（山田）由起子 1

1

2（ 阪大超高圧電顕センター， 阪大工， 佐賀大シンク（1 北陸先端科学技術大学院大学）

ロトロン，4 九大総理工，5 九大工，6 九大超顕微解析

Takahiro Yonezawa1, Koichi Higashimine1, Mayumi

7

3

8

Ito1, Tatsuya Murakami1, Yoshifumi Oshima1, Yukiko Ya-

研究センター， JFCC， KIMS）
Kazuhisa Sato1,2, Hidehiro Yasuda1,2, Shuhei Ichikawa1,2,
3

3

mada-Takamura1

4,6（1Japan Advanced Institute of Science and Technology）

Masaki Imamura , Kazutoshi Takahashi , Satoshi Hata ,Syo Matsumura5,6, Satoshi Anada7, Jung-Goo Lee8, HirotaroMat. Mfg. Sci., Osaka Univ., 3Synchrotron Light Applica-

1pmC_M7-6 14:15 〜 14:30
Moire フリンジ法による InP/InGaAs 界面歪分布の計測

tion Center, Saga Univ., 4Dept. Adv. Mat. Sci. Eng., Ky-

Measurement of InP/InGaAs interfacial strain distribution

Mori1（1Research Center for UHVEM, Osaka University, 2Div.

5

by STEM Moire fringe method

ushu Univ., Dept. Appl. Quantum Phys. Nucl. Eng., Kyushu Univ., 6The Ultramicroscopy Research Center,陳 桐民 1，赤堀 誠志 1，大島 義文 1

Kyushu Univ., 7JFCC, 8KIMS）（1 北陸先端科学技術大学院大学）
Tongmin Chen1, Masashi Akabori1, Yoshifumi Oshima1

1pmC_M7-3 13:30 〜 13:45
原子分解能 EDX 分析による界面構造解析（1Japan Advanced Institute of Science and Technology）

Interface structure analysis by atomic resolution EDX

座 長（Chairperson）

倉持 幸治 1，土井 友博 1

近藤 行人（日本電子）（1 住友電気工業株式会社）

Yukihito Kondo（JEOL Ltd.）

Koji Kuramochi1, Tomohiro Doi1

田中 孝治（産業技術総合研究所）（1Sumitomo Electric Industries, Ltd.）

Koji Tanaka（AIST）

1pmC_M7-4 13:45 〜 14:00
収束イオン線を用いた半導体界面の解析におけるアーチファクト
Artifacts in the structural analysis of semiconductor inter-

1pmC_M7-7 14:45 〜 15:00
TEM-微小振幅 FM 力勾配測定法による Au ナノ
接点ヤング率の結晶方位依存性の計測

faces by using focused ion beam

大野 裕 ，清水 康雄 ，海老澤 直樹 ，永井 康介 ，吉Crystal orientation dependence of Youngʼs modulus of Au

1

1

1

1

nanowires evaluated by TEM-FM force gradient measure-

2

2

2

2

田 秀人 ，神内 直人 ，麻生 亮太郎 ，竹田 精治 ，梁ment at a small amplitude

剣波 3，重川 直輝 3

小堀 雄稀 1，石塚 慧介 1，見寺 悠伽 2，富取 正彦 1，新（ 東北大金研， 阪大産研， 大阪市大）井 豊子 2，大島 義文 1

Yutaka Ohno1, Y. Shimizu1, N. Ebisawa1, Y. Nagai1, H.

（1 北陸先端科学技術大学院大学，2 金沢大学

1

2

2

3

2

2

2

3

自然科

Yoshida , N. Kamiuchi , R. Aso , S. Takeda , J. Liang , N.

学研究科）

Shigekawa3

Yuuki Kobori1, Keisuke Ishizuka1, Yuka Mitera2, Masahiko（1IMR, Tohoku Univ., 2ISIR, Osaka Univ., 3GSE, Osaka

Tomitori1, Toyoko Arai2, Yoshifumi Oshima1

City Univ.）（1Japan Advanced Institute of Science and Technology, 2Institute of Science and Engineering, Kanazawa University）（ 29 ）

Mon. 17 Jun

Pt/SiOx interfacial solid phase reaction induced by core ex-

1pmC_M7-5 14:00 〜 14:15
プランビュー STEM による GaSe 薄膜-Ge（111）
基板間のモアレパターン観察

Oral

1pmC_M7-2 13:15 〜 13:30
内殻電子励起による Pt/SiOx 界面固相反応

OralMon. 17 Jun

1pmC_M7-8 15:00 〜 15:15
SMART-EM 法によるシクロデキストリンの表面
吸着構造解析

1pmC_M7-12 16:00 〜 16:15
リチウムイオン電池用正極膜の充放電に伴う構造変化

Analysis of Adsorption Structure of Cyclodextrins byObservation of lithium ion battery cathodic thin films

SMART-EM

during electrochemical cycling

花山 博紀 1，原野 幸治 1，中村 栄一 1

幾原 裕美 1，高 翔 1，フィッシャー クレイグ 1，桑原

（1 東京大学）

彰秀 1，森分 博紀 1，幾原 雄一 1
1

1

1

Hiroki Hanayama , Koji Harano , Eiichi Nakamura（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター）（1The University of Tokyo）

Yumi Ikuhara1, Xiang Gao1, Craig Fisher1, Akihide Kuwabara1, Hiroki Moriwake1, Yuichi Ikuhara 1

1pmC_M7-9 15:15 〜 15:30
リチウム-空気二次電池における電解液皮膜の透過電子顕微鏡分析
Transmission electron microscopy study of the surface ﬁlm
for Li-O2 secondary batteries.
橘田 晃宜 1，佐野 光 1（1Japan Fine Ceramics Center）

M-5

ナノ材料

M-5

Nanomaterials

6 月 17 日（月） 9:00 〜 11:25（1 産業技術総合研究所）
Mitsunori Kitta1, Hikaru Sano1

D 会場 （Room D）

座 長（Chairperson）（1AIST）

上野 武夫（山梨大学）
Takeo Kamino（University of Yamanashi）

1pmC_M7-10 15:30 〜 15:45
Li 過剰系 Li2MnO3 における Li 脱離界面の局所構
造解析

平原 香織（大阪大学）
Kaori Hirahara（Osaka University）

Interfacial structure between Li-poor/Li-rich regions in
Li-excess Li2MnO3

仲山 啓 1，石川 亮 1,2，小林 俊介 3，柴田 直哉 1,3，幾原雄一 1,3

1amD_M5-1 9:00 〜 9:15
その場 TEM 観察のためのサスペンデッドグラ
フェンナノリボンの作製（1 東京大学，2JST-PRESTO，3 ファインセラミックス

Fabrication of Suspended Graphene Nanoribbon for In-situ

センター）

TEM

Kei Nakayama1, Ryo Ishikawa1,2, Shunsuke Kobayashi3,

劉 春 萌 1， 大 久 保 諒 1， 張 暁 賓 1，Schmidt Marek1，

Naoya Shibata1,3, Yuichi Ikuhara1,3

Muruganathan Manoharan1，水田 博 1，大島 義文 1

1

2

3

（ The University of Tokyo, PRESTO, Japan Fine Ceram-（1 北陸先端科学技術大学院大学）

ics Center）

Chunmeng Liu1, Ryo Okubo1, Xiaobin Zhang1, Marek
Schmidt1, Manoharan Muruganathan1, Hiroshi Mizuta1, Yo-

1pmC_M7-11 15:45 〜 16:00
優れた充放電容量を示す Li 過剰系正極薄膜の界面構造Interface structures of Li-excess cathode thin ﬁlms with superior charge-discharge capacity

菅原 義弘 1，桑原 彰秀 1，右京 良雄 1，引間 和浩 2，平shifumi Oshima1（1Japan Advanced Institute of Science and Technology）

1amD_M5-2 9:15 〜 9:30
電子回折によるグラフェン熱膨張測定への支持
膜の影響

山 雅章 2，菅野 了次 2，幾原 雄一 1,3

Support Film Effect on Electron Diffraction Measurement12（ （一財）ファインセラミックスセンター， 東京工
Yoshihiro Sugawara 1, Akihide Kuwabara 1, Yoshio
1of Graphene Thermal Expansion

狩野 絵美 1,2，Malac Marek1,2，林田 美咲 2

業大学，3 東京大学）
2（1 アルバータ大学，2NRC-NANO）

Ukyo , Kazuhiro Hikima , Masaaki Hirayama , Ryoji Kan-

Emi Kano1,2, Marek Malac1,2, Misa Hayashida2

no2, Yuichi Ikuhara1,3（1University of Alberta, 2NRC-NANO）

1

2

2

（ Japan Fine Ceramics Center, Tokyo Institute of Technology, 3The University of Tokyo）（ 30 ）

In-situ TEM of ﬁeld-emission-induced luminescence from

Local Atomic Ordering in Co/Pd Nanoparticles
佐藤 和久 1,2，山下 悠輝 2，保田 英洋 1,2

multiwall carbon nanotubes

安坂 幸師 ，油田 海維 ，齋藤 弥八
11

2（1 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター，2 大阪大学大（1 名古屋大学，2 豊田理化学研究所）

学院工学研究科マテリアル生産科学専攻）

Koji Asaka1, Kai Aburada1, Yahachi Saito2

Kazuhisa Sato1,2, Yuki Yamashita2, Hidehiro Yasuda1,2（1Nagoya University, 2Toyota Physical and Chemical Re-（1Research Center for UHVEM Osaka University, 2Div.

search Institute）

Mat. Mfg. Sci., Osaka Univ.）

1amD_M5-4 9:45 〜 10:00
ナノシートを用いる粒子配列制御と STEM 観察
Particle arrangement on inorganic nanosheets and their

1amD_M5-8 10:55 〜 11:10
STEM-VEELS による ZnO ナノロッドの光・電子
ホットスポットの評価

STEM observation

米澤 徹 ，秋田 郁美 ，石田 洋平
11（1 北海道大学

Measurement of Optoelectrical Hotspot in ZnO Nanorods
1

using STEM-VEELS

ジェーム メルバート 1,2，張 麗華 1，渡辺 精一 1,2

大学院工学研究院）

Tetsu Yonezawa1, Ikumi Akita1, Yohei Ishida1（1 北海道大学大学院工学研究院，2 北海道大学電子科

1

学研究所）

（ Hokkaido University）

Melbert Jeem1,2, Lihua Zhang1, Seiichi Watanabe1,2

1amD_M5-5 10:00 〜 10:15
SMART-EM 法 に よ る metal-organic framework 合成における反応中間体の解析（1Faculty of Engineering, Hokkaido University, 2Research

SMART-EM Imaging of Reaction Intermediates in Met-

1amD_M5-9 11:10 〜 11:25
固体高分子形燃料電池・膜電極複合体の電気化学測定と TEM 解析

al-Organic Framework Synthesis
Xing Junfei1, Schweighauser Luca1, 岡田 賢 1, 原野 幸治

Institute for Electronic Science, Hokkaido University）

1, 中村 栄一 1Electrochemical measurements aod TEM characterization（1 東京大学理学系研究科化学專攻）1

1

of PEFC-MEA
1

Junfei Xing , Luca Schweighauser , Satoshi Okada , Koji
11

上野 武夫 1，清水 貴弘 2

Harano , Eiichi Nakamura（1 山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター，2 日本自（1Department of Chemistry, Graduate School of Science,

動車研究所）The University of Tokyo）

Takeo Kamino1, Takahiro Shimizu2（1University of Yamanashi, 2Japan Automobile ResearchInstitute）

座 長（Chairperson）
米澤 徹（北海道大学）
Tetsu Yonezawa（Hokkaido University）

1amD_M5-6 10:25 〜 10:40
金ナノ粒子の形状に由来する正方晶化と局所格
子ひずみ
Lattice tetragonality and local strain in gold nanoparticles
depending on their shape麻生 浩平 1，Maebe Jens2，山本 知一 1，松村 晶 1,3（1 九州大学大学院 工学府，2 ヘント大学 理学府，3 九
州大学 超顕微解析研究センター）
Kohei Aso1, Jens Maebe2, Tomokazu Yamamoto1, Syo
Matsumura1,3（1Graduate School of Engineering, Kyushu University,
2

Faculty of Sciences, Ghent University, 3The Ultramicros-

copy Research Center, Kyushu University）（ 31 ）

Mon. 17 Jun

1amD_M5-7 10:40 〜 10:55
Co/Pd ナノ粒子における局所的な規則構造の形
成Oral

1amD_M5-3 9:30 〜 9:45
多層カーボンナノチューブの電界放出誘起発光
その場 TEM 観察OralMon. 17 Jun

M-3

セラミックス

M-3

Ceramics

1pmD_M3-4 13:45 〜 14:00
VO2/hBN 界面の高分解能電顕観察

6 月 17 日（月） 13:00 〜 14:45

Electron microscopy study of VO2/hBN interface

D 会場 （Room D）

重松 晃次 1，有冨 翔大 2，玄地 真悟 3，山本 真人 3，田中 秀和 3，村上 恭和 1,2（1 九州大学

座 長（Chairperson）

超顕微解析研究センター，2 九州大学大学院，3 大阪大学

木口 賢紀（東北大学）

産業科学研究所）

Koji Shigematsu1, Shodai Aritomi2, Shingo Genchi3, Ma-

Takanori Kiguchi（Tohoku University）

hito Yamamoto3, Hidekazu Tanaka3, Yasukazu Murakami1,2

菅原 義弘（ファインセラミックスセンター）（1Ultramicroscopy Research Center, Kyushu University,

Yoshihiro Sugawara（JFCC）

2

Kyushu University, 3Institute of Scientific and Industrial

Research, Osaka University）

1pmD_M3-1 13:00 〜 13:15
星間塵の変成を模擬した水素イオン照射アルミ
ナの組織観察・化学状態分析
Texture and chemical state analyses of H2+ irradiated alumi-

1pmD_M3-5 14:00 〜 14:15
ピクセル型 STEM 検出器を用いた STEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析

na simulating space weathering of interstellar dust

Local structural study of ferroelectrics using STEM-CBED

伊神 洋平 ，武藤 俊介 ，瀧川 晶 ，大塚 真弘 ，山
1

1

2,3

4

with a fast pixelated STEM detector

津田 健治 1，佐川 隆亮 2，橋口 裕樹 2，近藤 行人 2

本 悠太 1，三宅 亮 3（1 名古屋大学 未来材料・システム研究所，2 京都大学
3

（1 東北大学 学際科学フロンティア研究所，2 日本電子

4

白眉センター， 京都大学 理学研究科， 名古屋大学

株式会社）

工学研究科）

Kenji Tsuda 1, Ryusuke Sagawa 2, Hiroki Hashiguchi 2,

1

1

Yohei Igami , Shunsuke Muto , Aki Takigawa , Masahiro

Yukihito Kondo2

Ohtsuka4, Yuta Yamamoto1, Akira Miyake3（1Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences,

1

2,3

2

Tohoku University, 2JEOL Ltd.）（ IMaSS, Nagoya Univ., The Hakubi Center, Kyoto Univ,
3

Graduate School of Science, Kyoto Univ., 4Graduate

1pmD_M3-6 14:15 〜 14:30
硫化亜鉛における転位の構造とそのすべり挙動

School of Engineering, Nagoya Univ.）

1pmD_M3-2 13:15 〜 13:30
電子チャネリング効果を利用した梯子型超伝導物質 Sr14Cu24O41 におけるホール分布評価

Structure and motion of dislocations in ZnS crystals deformed for [001] under controlled light conditions

中村 篤智 1，大島 優 1，横井 達矢 1，松永 克志 1,2Hole Distribution Analysis of Spin-Ladder Superconduct-（1 名古屋大学，2 ファインセラミックスセンター）

ing Material Sr14Cu24O41 by using Electron Channelling Ef-

Atsutomo Nakamura 1, Yu Oshima 1, Tatsuya Yokoi 1,

fect

Katsuyuki Matsunaga1,2

大塚 真弘 1，武藤 俊介 2，Ognjen Milat3
1（1Nagoya University, 2Japan Fine Ceramics Center）

2（ 名古屋大学 工学研究科， 名古屋大学 未来材料・シ
ステム研究所，3 クロアチア物理学研究所）
1

2

3

Masahiro Ohtsuka , Shunsuke Muto , Milat Ognjen（1Graduate School of Engineering, Nagoya University,2

1pmD_M3-7 14:30 〜 14:45
イットリア安定化ジルコニアにおける正方晶-単斜晶相変態の TEM 内その場観察

IMaSS, Nagoya University, 3Institute of Physics）

In-situ TEM observation of tetragonal to monoclinic phasetransformation of yttria stabilized zirconia

1pmD_M3-3 13:30 〜 13:45
Ar+ ビーム照射により形成された LaCoO3 の超構造相とその結晶対称性

中 出 博 暁 1， 近 藤 隼 2， 栃 木 栄 太 1， 馮 斌 1，Nezu
Yukio3，太田 裕道 3，柴田 直哉 1,4，幾原 雄一 1,2,4（1 東京大学，2 京都大学，3 北海道大学，4 ファインセ+

Crystal symmetry of the superstructure in the Ar -irradiatedラミックスセンター）

LaCoO3

Hiroaki Nakade1, Shun Kondo2, Eita Tochigi1, Bin Feng1,

駒淵 舞 ，漆原 大典 ，浅香 透 ，福田 功一郎 ，阿部
1

1

1

1

Yukio Nezu3, Hiromichi Ohta3, Naoya Shibata1,4, Yuichi

伸行 2，有馬 孝尚 2
1

Ikuhara1,2,4
2（ 名古屋工業大学， 東京大学）（1University of Tokyo, 2Kyoto University, 3Hokkaido Uni-

Mai Komabuchi 1, Daisuke Urushihara1, Toru Asaka1,

versity, 4Japan Fine Ceramics Center）

Koichiro Fukuda1, Nobuyuki Abe2, Taka-hisa Arima2（1Nagoya Institute of Technology, 2The University of Tokyo）（ 32 ）

D 会場（Room D）

Three-dimensional analysis of spine necks in cryo-fixedand chemical-ﬁxed mouse cortex

座 長（Chairperson）

玉田 宏美 1,2，Carl CH Petersen2，Graham W Knott2

石塚 和夫（HREM）（1 名古屋大学，2 スイス連邦工科大学ローザンヌ校）

Kazuo Ishizuka（HREM）

Hiromi Tamada1,2, Petersen Carl CH2, Knott Graham W2（1Nagoya University, 2EPFL）

DPC による実時間位相計測

1pmD_B4-3 16:00 〜 16:15
ラット小腸における DPP-4 阻害薬アログリプチ
ンの免疫組織化学的局在研究

Real-time phase observation using DPC
石塚 顕在 1
（1HREM）
Akimitsu Ishizuka1

Immunocytochemical localization of DPP-4 inhibitor（1HREM）

alogliptin in rat small intestine.

B-4

進 正志 1，山本 祐太朗 1，齋田 哲也 1
（1 崇城大学）

細胞組織・医学生物学・生物試料作

Masashi Shin1, Yutaro Yamamoto1, Tetsuya Saita1

成・観察法（1Sojo University）

B-4 Sample Preparation & Observing Methods for
Biological Specimens
6 月 17 日（月） 15:30 〜 17:00

D 会場 （Room D）

1pmD_B4-4 16:15 〜 16:30
大気圧走査電子顕微鏡 ASEM による組織・細胞の免疫電顕法と cryo-TEM 観察
Observation of Tissues, cells and molecular complexes by
ASEM and cryo-TEM

座 長（Chairperson）

佐藤 主税 1，杉本 真也 2，Memtily Nassirhadjy1，山澤

佐藤 主税（産業技術総合研究所）

徳志子 3，佐藤 真理 1，坂井 詠子 4

Chikara Sato（AIST）（1 産業技術総合研究所，2 慈恵医大

岩根 敦子（理化学研究所）

大Atsuko Iwane（RIKEN）

分子生理学，4 長崎大

細菌学，3 慈恵医

歯科薬理学）

Chikara Sato1, Shinya Sugimoto2, Nassirhadjy Memtily1,
Toshiko Yamazawa3, Mari Sato1, Eiko Sakai4

1pmD_B4-1 15:30 〜 15:45
発生過程を先端顕微鏡解析から得られた 3D 構造
モデルから読み解く（1Natl. Inst. of Advanced Industrial Science and Technology（AIST）, 2Dept. Bacteriol., The Jikei Univ. Sch. Med,
3

Dept. Molecular Physiol., The Jikei Univ. Sch. Med,

4

Realization of development processes from the 3D structur-

Dental Pharmacology, Nagasaki Univ）

al model that is obtained from advanced microscope imag，一ノ瀬 孝子 ，黒田 純平 ，近藤 滋 ，

1pmD_B4-5 16:30 〜 16:45
Large-Volume en-bloc Staining and Targeted
Imaging for Electron Microscopy（1 理研・生命機能科学・細胞場，2 広大・院理学，3 阪

Large-Volume en-bloc Staining and Targeted Imaging for

大・院生命機能・特別推進，4 阪大・院生命機能・パElectron Microscopy

ターン形成）

Philipp Bastians1

es.
板橋 岳志

1,2,3

1

4

4

岩根 敦子 1,2,3

Takeshi Itabashi

1,2,3

1

4

, Takako Ichinose , Junpei Kuroda ,Shigeru Kondo4, ATSUKO IWANE1,2,3（1Riken, BDR, Cell Field Struc., 2Hiroshima Univ., Science, 3Osaka Univ., Front, Biosci., Spec. promot., 4Osaka
Univ., Front, Biosci., Pattern form.）（ 33 ）（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）Mon. 17 Jun

6 月 17 日（月） 14:50 〜 15:20

Oral

1pmD_B4-2 15:45 〜 16:00
Cryo 固定マウス大脳皮質スパインネックの三次元解析

OT-2 （冠） HREM

Oral
Mon. 17 Jun

1pmD_B4-6 16:45 〜 17:00
徳安法凍結切片の免疫フリーズーエッチングと免疫クライオ電顕への応用

1amE_S3-3 9:50 〜 10:15
切片 SEM 法の CLEM 法への応用
Correlative Light and Electron Microscopy by Section Face
Imaging

Application of Tokuyasu Method to Immuno-freeze-etching

久住 聡 1，甲賀 大輔 2，柴田 昌宏 1

and Cryo-electron Microscopy
臼倉 治郎

1

（1 鹿児島大学医歯学総合研究科 形態科学分野，2 旭川（1 名 古 屋 大 学

理学研究科

医科大学 解剖学講座 顕微解剖学分野）

構造生物学研究セン

ター）

SATOSHI KUSUMI1, DAISUKE KOGA2, MASAHIRO

Jiro Usukura1

SHIBATA1

1（1Kagoshima University Graduate School of Medical and（ Nagoya University）

Dental Sciences, 2Asahikawa Medical College）

走査電顕を用いた樹脂包埋切片観察法

S-3

1amE_S3-4 10:15 〜 10:40
走査型電子顕微鏡の広域撮像技術を用いた生体組織の網羅的解析の基礎と生物試料への応用
S-3

Section scanning electron microscopy and its

Comprehensive Analysis of Biological Tissues Using A

application for biological specimens
6 月 17 日（月） 9:00 〜 11:30

Large Imaging Technique of Scanning Electron Microscopy

E 会場 （Room E）

久米 慧嗣 1,2，村川 泰裕 3，田村 勝 4，小林 紀郎 2,4,5（1 理 化 学 研 究 所 生 命 機 能 科 学 研 究 セ ン タ ー，2 理
研-JEOL 連携センター，3 理化学研究所 生命医科学研

座 長（Chairperson）

究センター，4 理化学研究所 バイオリソース研究セン

甲賀 大輔（旭川医科大学）

ター，5 理化学研究所 情報システム本部）

Daisuke Koga（Asahikawa Medical University）

Satoshi Kume1,2, Yasuhiro Murakawa3, Masaru Tamura4,

豊岡 公徳（理化学研究所）

Norio Kobayashi2,4,5

Kiminori Toyooka（RIKEN）（ 1RIKEN BDR, 2RIKEN-JEOL Collaboration Center,3

1amE_S3-1 9:00 〜 9:25
SEM を用いた樹脂包埋切片観察法の基礎
Basic of resin embedding section observation method using
SEM

宮木 充史 1，橋本 陽一朗 1（1 株式会社

1amE_S3-5 10:40 〜 11:05
樹脂包埋試料の FIB-SEM tomography への応用と切片観察との違い
FIB-SEM 3D analysis for resin embedded specimen: Dif-

日立ハイテクノロジーズ）
1

RIKEN IMS, 4RIKEN BRC, 5RIKEN ISC）

ference between SEM imaging of resin embedded section

太田 啓介 1,2,3，都合 亜記暢 1，東 龍平 1，平嶋 伸悟 2，

1

Atsushi Miyaki , Yoichiro Hashimoto1

力丸 由起子 2，中村 桂一郎 1,2（ Hitachi High-Technologies Corporation）（1 久留米大学医学部 先端イメージング研究センター，

1amE_S3-2 9:25 〜 9:50
切片 SEM 観察法の植物試料への応用

2

久留米大学医学部解剖学講座，3 理研 BRD）

Keisuke Ohta1,2,3, Akinobu Togo1, Ryuhei Higashi1, Shin-

Application for plant tissues and cells using sectioning

go Hirashima2, Yukiko Rikimaru2, Kei-ichiro Nakamura1,2

SEM（1Advanced Imaging Research Center, Kurume Univ. Sch.

豊岡 公徳 1

Med., 2Dept. Anat, Kurume Univ. Sch. Med, 3Riken BDR）

1

（ 理研 CSRS）
Kiminori Toyooka1（1RIKEN CSRS）

1amE_S3-6 11:05 〜 11:30
切片 SEM 法
Section SEM

甲賀 大輔 1，久住 聡 2，渡部 剛 1（1 旭川医科大学，2 鹿児島大学大学院）
Daisuke Koga1, Satoshi Kusumi2, Tsuyoshi Watanabe1（1Asahikawa Medical University, 2Kagoshima University）（ 34 ）

E 会場

Carl Zeiss Co., Ltd

E 会場

6 月 17 日（月） 16:30 〜 17:00（Room E）

（Room E）

OT-9-1
挨拶

13:15 ～ 13:25

座 長（Chairperson）
藤谷 洋（カールツァイス株式会社）

高柳 邦夫 1Hiroshi Fujitani（Carl Zeiss Co., Ltd）

（1 風戸研究奨励会理事）
座 長（Chairperson）
幾原

高解像 X 線顕微鏡の最新技術〜マテリアルサイ
エンスからバイオサイエンスまで〜

雄一

Advanced technologies in high resolution X-ray microsco-

OT-9-2 13:25 ～ 14:15
我が国の研究力向上について
磯谷 桂介

py for materials science and bioscience
速水

1

信弘 1

1

（ カールツァイス株式会社）1

Nobuhiro Hayami1（ 文部科学省 研究振興局）（1Carl Zeiss Co., Ltd）
座 長（Chairperson）
高田邦昭

OT-9-3 14:15 〜 15:05
電子顕微鏡をはじめとする各種顕微鏡が切り拡
げた生殖神経内分泌学の軌跡
小澤 一史 1I-5

3 次元解析（バイオ・材料含む）

I-5

3D Analysis（Biology & Material Sciences）

6 月 17 日（月） 9:00 〜 10:00
座 長（Chairperson）
波多 聡（九州大学）（1 日本医科大学大学院）

Satoshi Hata（Kyushu University）
太田 啓介（久留米大学）

OT-9-4 15:15 〜 16:15
風戸賞受賞講演

Keisuke Ohta（Kurume University）

1amF_I5-1 9:00 〜 9:15
濃度量子を用いた非線形再構成法の応用と課題

座 長（Chairperson）
難波

F 会場 （Room F）

啓一

Applications and issues of a non-linear discrete reconstruction method based on a gray-level quantization unit
馬場 則男 1，前田 元 1，馬場 美鈴 2

OT-9-4-1
超微形態学を用いた新規オートファジーの発見（1 工学院大学大学院 情報学専攻，2 工学院大学 総合研

荒川 聡子 1

究所）

1

（ 東京医科歯科大学

Norio Baba1, Gen Maeda1, Misuzu Baba2

難治疾患研究所）（1Major of informatics, Graduate School, Kogakuin University, 2Research Institute for Science and Technology,

座 長（Chairperson）
森

Kogakuin University）

茂生

OT-9-4-2
原子間力顕微鏡（AFM）を用いた単原子分子の計測・制御技術の開発
杉本

宜昭 1

（1 東京大学大学院

新領域創成科学研究科）（ 35 ）

Mon. 17 Jun

6 月 17 日（月） 13:15 〜 16:15

OT-3 （冠） カールツァイス

Oral

OT-9 （冠） 公益財団法人風戸研究奨励会

OralMon. 17 Jun

1amF_I5-2 9:15 〜 9:30
超高立体角 EDS を用いた生物組織の高速三次元
元素マッピング

画像処理・画像解析（バイオ・材料含

I-6
む）Quick 3D Elemental Mapping of Biological Tissues using

I-6

Super High Solid Angle EDS

Material Sciences）

山口 祐樹 1，西岡 秀夫 1，森谷 ゆかり 1，中山 智香
子 1，春田 知洋 1，朝比奈 俊輔 1

Image Processings & Analyses（ Biology &6 月 17 日（月） 10:15 〜 11:45

F 会場 （Room F）（1 日本電子株式会社）
Yuuki Yamaguchi1, Hideo Nishioka1, Yukari Moriya1,
Chikako Nakayama1, Tomohiro Haruta1, Shunsuke Asahina1

座 長（Chairperson）
大野 伸彦（自治医科大学）（1JEOL Ltd.）

Nobuhiko Ohno（Jichi Medical University）
田中 信夫（名古屋大学）

1amF_I5-3 9:30 〜 9:45
Maps を用いた Array Tomography 用高精度三次元再構築
High accuracy 3D reconstruction for Array Tomography using Maps software

小松 恵理 1，Xi Jiang Pan1，Yang Yu1，村田 薫 1

Nobuo Tanaka（Nagoya University）

1amF_I6-1 10:15 〜 10:30
深層学習による材料・生体画像の三次元再構築と構造解析（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
1

1

1

3D Reconstruction and Structure Analysis of Material and1

Biomedical Images Using Deep Learning

Eri Komatsu , Jiang Pan Xi , Yu Yang , Kaoru Murata

伊藤 栄祐 1

（1Thermo Fisher Scientiﬁc）（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

1amF_I5-4 9:45 〜 10:00
TEM 収差を応用したグラフェンリップル時空間
パターンの計測
Spatiotemporal pattern of graphene ripple structure measured using TEM aberration

瀬川 裕大 1，山﨑 憲慈 1，郷原 一寿 1

Eisuke Ito1
（1Thermo Fisher Scientiﬁc）

1amF_I6-2 10:30 〜 10:45
A new Image Segmentation Solution powered by Machine Learning（1 北海道大学）

A new Image Segmentation Solution powered by Machine

Yuhiro Segawa1, Kenji Yamazaki1, Kazutoshi Gohara1

Learning

1

Tobias Volkenandt1, Stefanie Freitag1, Fang Zhou1（ Hokkaido University）（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

1amF_I6-3 10:45 〜 11:00
離散体の 2 次元観測情報から 3 次元形状・サイズの推定
Estimation of 3D Shape and Size of Discrete Elementsfrom 2D Measurement
上田 高生 1

（1 国立研究開発法人

産業技術総合研究所）

Takao Ueda1（1National Institute of Advanced Industrial Science andTechnology（AIST））

1amF_I6-4 11:00 〜 11:15
DCFI を用いた非晶質層の高コントラスト化手法
Contrast Enhancement of Amorphous Layers Using DCFITechnique中西 伸登 1，関口 浩美 1，完山 正林 1，Bright Alex1（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Nobuto Nakanishi1, Hiromi Sekiguchi1, Shoji Sadayama1, Alex Bright1（1Thermo Fisher Scientiﬁc）（ 36 ）

Image Super-Resolution and Deblurring for STEM and

Aiming for "Routinely Perfect" Single-particle Grids

SEM by Sparse Coding

Robert Glaeser1

野村 優貴 ，穴田 智史 ，山本 和生 ，服部 颯介 ，
1,2

3

3

2

（1University of California, Berkeley）

平山 司 3，川崎 忠寛 3，佐々木 祐生 3，井垣 恵美子 1，
齋藤 晃 2（1 パナソニック株式会社，2 名古屋大学，3 一般財団法

1pmF_S4-3 13:50 〜 14:15
Visualizing Integrin Dynamics

人ファインセラミックスセンター）
1,2

Visualizing Integrin Dynamics

3

3

Campbell Melody 1, Anthony Cormier 1, Saburo Ito 1,

Yuki Nomura , Satoshi Anada , Kazuo Yamamoto , So2

3suke Hattori , Tsukasa Hirayama , Tadahiro Kawasaki ,Shenping Wu1, Jianlong Lou1, James Marks1, Jody L. Bar-

Yuki Sasaki3, Emiko Igaki1, Koh Saitoh2

on1, Stephen L. Nishimura1, Yifan Cheng1

1

2

3

3

（1UCSF）（ Panasonic Corporation, Nagoya University, Japan Fine
Ceramics Center）

1amF_I6-6 11:30 〜 11:45
スパースコーディングを用いた電子線ホログラ
ムのノイズ除去

1pmF_S4-4 14:15 〜 14:40
Unexpected receptor functional mimicry elucidates activation of coronavirus fusion
Unexpected receptor functional mimicry elucidates activa-

Sparse Coding for Electron Hologram Denoisingtion of coronavirus fusion

穴田 智史 1，野村 優貴 2,3，平山 司 1，山本 和生 1
（1 一般財団法人
2

Alexandra C. Walls 1, David Veesler 1, Xiaoli Xiong 1,
Young-Jun Park1, M. Alejandra Tortorici1,2, Joost Snijder1,

ファインセラミックスセンター，
3

パナソニック株式会社， 名古屋大学）

Joel Quispe1, Elisabetta Cameroni3, Robin Gopal4, Mian

Satoshi Anada1, Yuki Nomura2,3, Tsukasa Hirayama1,

Dai 5, Antonio Lanzavecchia6, Maria Zambon4, Félix A.

1

Kazuo Yamamoto

Rey2, Davide Corti3（1Japan Fine Ceramics Center, 2Panasonic Corporation,（1University of Washington, 2Institute Pasteur, 3Humabs

3

Biomed, 4Public Health England, 5The Francis Crick Insti-

Nagoya University）

tute, 6Università della Svizzera italiana）

S-4

加速するクライオ電子顕微鏡技術

S-4 Accelerating development of cryo-EM technology
6 月 17 日（月） 13:00 〜 15:30

1pmF_S4-5 14:40 〜 15:05
黄色ブドウ球菌ファージ S13ʼ のクライオ電顕単粒子解析
Cryo-EM structure of the infectious Staphylococcus bacte-

F 会場 （Room F）

riophage S13ʼ at near-atomic resolution

宮﨑 直幸 1，内山 淳平 2，松崎 茂展 3，村田 和義 4，岩座 長（Chairperson）

崎 憲治 1,5

岩崎 憲治（筑波大学）（1 大阪大学・蛋白研，2 麻布大学，3 高知大学，4 生理

Kenji Iwasaki（University of Tsukuba）

研，5 筑波大学）

宮崎 直幸（大阪大学）

Naoyuki Miyazaki1, Jumpei Uchiyama2, Shigenobu Mat-

Naoyuki Miyazaki（Osaka University）

suzaki3, Kazuyoshi Murata4, Kenji Iwasaki1,5（1Osaka University, 2Azabu University, 3Kochi University,

1pmF_S4-1 13:00 〜 13:25
新型クライオ EM システムによる高分解能単粒子解析
Higher-resolution single particle analysis by a new cryoEM system

米倉 功治 1
（1 理化学研究所 放射光科学研究センター）
Koji Yonekura1（1RIKEN SPring-8 Center）（ 37 ）

4

National Institute for Physiological Sciences, 5Tsukuba

University）

Mon. 17 Jun

1pmF_S4-2 13:25 〜 13:50
Aiming for "Routinely Perfect" Single-particle
Grids

Oral

1amF_I6-5 11:15 〜 11:30
スパースコーディングによる STEM/SEM 画像の超解像と鮮鋭化OralMon. 17 Jun

1pmF_S4-6 15:05 〜 15:30
エボラウイルス・ヌクレオカプシドコアのクライオ電子顕微鏡構造

1pmF_S7-3 16:30 〜 16:55
クライオ電子線トモグラフィー法による糸状仮足中の F-アクチンとファシンの可視化

Cryo-EM structure of the Ebola virus nucleocapsid core

Visualization of F-Actin with Fascin in Filopodia by

杉田 征彦 ，松波 秀行 ，河岡 義裕 ，野田 岳志 ，
1,2

1

3,4

5

Cryo-Electron Tomography

光岡 薫 1，稲垣 翔太 2，梶村 直子 1，安永 卓生 3

ウォルフ マティアス 1（1 沖縄科学技術大学院大学，2 大阪大学蛋白質研究所，
3（1 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター，2 大阪大学大4東京大学医科学研究所， ウィスコンシン大学マディ

学院工学研究科，3 九州工業大学大学院情報工学研究ソン校，5 京都大学ウイルス・再生医科学研究所）

院）

Yukihiko Sugita 1,2, Hideyuki Matsunami 1, Yoshihiro

Kaoru Mitsuoka1, Shota Inagaki2, Naoko Kajimura1, Ta-

Kawaoka3,4, Takeshi Noda5, Matthias Wolf1

kuo Yasunaga3

1（ Okinawa Institute of Science and Technology Graduate（1Research Center for Ultra-High Voltage Electron Micros-

School, 2Institute for Protein Research, Osaka University,

copy, Osaka University, 2Graduate School of Engineering,3

Institute of Medical Science, University of Tokyo, Uni-

Osaka University, 3Graduate School of Computer Science

versity of Wisconsin-Madison, 5Institute for Frontier Lifeand Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology）

4

and Medical Sciences, Kyoto University）

1pmF_S7-4 16:55 〜 17:20
電子分光三次元結晶構造解析のための新型クライオ EM システム

クライオ電顕トモグラフィーが拓く未

S-7

来生命科学
S-7

A new cryo-EM system for electron energy ﬁltered diffraction（eEFD）of 3D crystals

Future life sciences developed by cryo-electron

米倉 功治 1，眞木 さおり 1

tomography
6 月 17 日（月） 15:40 〜 17:20（1 理化学研究所 放射光科学研究センター）

F 会場 （Room F）

Koji Yonekura1, Saori Maki-Yonekura1（1RIKEN SPring-8 Center）

座 長（Chairperson）

最先端計測共用ネットワークにおける村田 和義（生理学研究所）

S-10

Kazuyoshi Murata（NIPS）

利用者ニーズのパラダイムシフト

吉川 雅英（東京大学）

S-10

Masahide Kikkawa（The Univ. of Tokyo）

Paradigm shift of userʼs needs in an advanced

characterization sharing network
6 月 17 日（月） 9:00 〜 11:30

1pmF_S7-1 15:40 〜 16:05
クライオトモグラフィーで組織を見る
Application of cryo-electron tomography to histology

G 会場 （Room G）

座 長（Chairperson）

小田 賢幸 1，大野 伸一 1

松村 晶（九州大学）（1 山梨大学大学院総合研究部解剖学講座構造生物学教

Syo Matsumura（Kyushu University）

室）

柴山 環樹（北海道大学）

Toshiyuki Oda1, Shinichi Ohno1

Tamaki Shibayama（Hokkaido University）（1Department of Anatomy and Structural Biology, Graduate School of Medicine, University of Yamanashi）

1pmF_S7-2 16:05 〜 16:30
クライオ電子線トモグラフィー：未来の細胞生物学に向けて1amG_S10-1 9:00 〜 9:15
ガラスにおける相分離構造の高温その場観察
In situ high temperature observation of phase separation
phenomena in glass

中澤 克昭 1，安間 伸一 2，溝口 照康 1

Cryo Electron Tomography: for the Cell Biology in Future
福田 善之 ，高 碩航 ，吉川 雅英
11

1（1 東京大学（1 東京大学 大学院医学系研究科）

2

生産技術研究所

AGC 株式会社

物質・環境系部門，

商品開発研究所）

Yoshiyuki Fukuda1, Shuohang Gao1, Masahide Kikkawa1

Katsuaki Nakazawa1, Shin-ichi Amma2, Teruyasu Mizo-（1The University of Tokyo, Graduate School of Medicine）

guchi1（1Institute of Industrial Science, The University of Tokyo,
2（ 38 ）AGC Inc., New Product R&D Center）

座 長（Chairperson）
木本 浩司（物質・材料研究機構）
Koji Kimoto（NIMS）

坂口 紀史 1，國貞 雄治 1
（1 北海道大学）

1amG_S10-6 10:30 〜 10:45
超伝導蛍光 X 線検出器付走査型電子顕微鏡（SCSEM）による SEM-EDX の新しいパラダイム

Norihito Sakaguchi1, Yuji Kunisada1（1Faculty of Engineering, Hokkaido University）

1amG_S10-3 9:30 〜 9:45
歯科材料応用を目ざした自己酸化物被膜 Ti 合金の界面構造観察New paradigm of SEM-EDX based on SEM employing superconducting X-ray detector（SC-SEM）

浮辺 雅宏 1，藤井 剛 1，志岐 成友 1，大久保 雅隆 1

Interfacial microstructure observation of Ti oxide coating（1 産業技術総合研究所）

on Ti-alloy substratemasahiro ukibe1, Go Fujii1, Shigetomo Shiki1, Masataka

三浦 永理 ，原田 宏貴 ，内田 恭兵
1

1

1

Ohkubo1（1 兵庫県立大学）（1AIST）

Eri Miura-Fujiwara1, Kohki Harada1, Kyohei Uchida1（1University of Hyogo）

1amG_S10-4 9:45 〜 10:00
放射光その場 X 線回折を用いた IoT 関連半導体
材料の構造解析

1amG_S10-7 10:45 〜 11:00
透過型電子顕微鏡による液晶性を示す棒状ナノ粒子の構造解析
Structural analyses of liquid-crystalline nanorods usingtransmission electron microscopy

Structural analysis of IoT related semiconductor materials

梶山 智司 1，中山 真成 1，熊本 明仁 1，西村 達也 1，幾by in situ synchrotron X-ray diffraction

原 雄一 1，山登 正文 2，加藤 隆史 1

佐々木 拓生 1，高橋 正光 1

（1 東京大学，2 首都大学東京）

1（ 量子科学技術研究開発機構）

Satoshi Kajiyama1, Masanari Nakayama1, Akihito Ku-

TAKUO SASAKI1, MASAMITU TAKAHASI1

mamoto1, Tatsuya Nishimura1, Yuichi Ikuhara1, Masafumi（1National Institutes for Quantum and Radiological Science

Yamato2, Takashi Kato1

and Technology）（1The University of Tokyo, 2Tokyo Metropolitan University）

1amG_S10-5 10:00 〜 10:15
AlGaN/GaN HEMT のイオン照射効果の観察
Observation of irradiation effects of ions in AlGaN/GaN

1amG_S10-8 11:00 〜 11:15
次世代半導体用の配線接合材料の構造解析

HEMTs

Structural analysis of interconnection bonding materials for佐々木 肇 1，日坂 隆行 1，門岩 薫 1，石村 栄太郎 1，小2

2

3

next generation semiconductors

関根 重信 1，荒井 重勇 2，中尾 知代 2，榎本 早希子 2，3

野田 忍 ，大島 武 ，田口 栄次 ，保田 英洋 ，森 博太
郎3

中野 美恵子 2，山本 剛久 2

（1 三菱電機株式会社，2 量子科学技術研究開発機構，
3（1 有限会社ナプラ，2 名古屋大学）

大阪大学）

Shigenobu Sekine1, Shigeo Arai2, Tomoyo Nakao2, Saki-

Hajime Sasaki1, Takayuki Hisaka1, Kaoru Kadoiwa1, Eit-

ko Enomoto2, Mieko Nakano2, Takahisa Yamamoto2

aro Ishimura1, Shinobu Onoda2, Takeshi Ohshima2, Eiji

（11Napra Co. Ltd., 2Nagoya University）

3

3

3

Taguchi , Hidehiro Yasuda , Hirotarou Mori

（1Mitsubishi Electric Corporation, 2National Institutes for
Quantum and Radiological Science and Technology, 3Osaka
University）

1amG_S10-9 11:15 〜 11:30
緑色光合成細菌の光捕集アンテナ系を模倣した
クロロフィル集積体のナノ構造
Nanostructures of Chlorophyll Self-Assemblies Mimicking
Light-Harvesting Antenna Systems in Photosynthetic Green
Bacteria

庄司 淳 1，民秋 均 1（1 立命館大学大学院生命科学研究科）
Sunao Shoji1, Hitoshi Tamiaki1（1Graduate School of Life Sciences, Ritsumeikan University）（ 39 ）

Mon. 17 Jun

Improvement for measuring dielectric function by EELS

Oral

1amG_S10-2 9:15 〜 9:30
EELS による物質の誘電関数測定に向けた検討

Oral

最先端計測共用ネットワークにおける

S-10

OT-4 （冠） サーモフィッシャーサイエン

Mon. 17 Jun

利用者ニーズのパラダイムシフト

ティフィック

S-10

Thermo Fisher ScientificParadigm shift of userʼs needs in an advanced

6 月 17 日（月） 14:00 〜 14:30

characterization sharing network
6 月 17 日（月） 13:00 〜 13:45

G 会場 （Room G）

G 会場（Room G）

座 長（Chairperson）
中西 伸登 （サーモフィッシャーサイエンティ
フィック）

座 長（Chairperson）
今野 豊彦（東北大学）

Nobuto Nakanishi（Thermo Fisher Scientific）

Toyohiko Konno（Tohoku University）

1pmG_S10-10 13:00 〜 13:15
軟 X 線光電子顕微鏡による微粒子のナノスケー
ル化学状態分析

材 料 科 学 に お け る Themis Z お よ び Talos の S/
TEM イメージングと分析技術の最新動向
Recent advances in Themis Z and Talos S/TEM Imaging
and Analysis for Materials Science

Nanoscale chemical analysis of microparticles by soft

ブライト

X-ray photoemission electron microscopy（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

吉越 章隆

1

アレクサンダー 1

Alex Bright1（1 日本原子力研究開発機構 物質科学研究センター）（1Thermo Fisher Scientiﬁc）

1

Akitaka Yoshigoe（1Japan Acomic Energy Agency, Materials Sciences Research Center）

1pmG_S10-11 13:15 〜 13:30
シャペロニン複合体を利用した金属ナノ粒子の平面上への並置
The Juxtaposition of Metal Nanoparticles onto a Flat Plate
Using Chaperonin Complexes

S-5

産業における電子顕微鏡解析の実際

S-5

Practical analytical technique by electron mi-

croscopy in companies
6 月 17 日（月） 14:40 〜 17:50
座 長（Chairperson）
和田 充弘（三井金属鉱業）

依田 ひろみ 1，小池 あゆみ 1

Mitsuhiro Wada（MITSUI MINING & SMELT-（1 神奈川工科大学）

ING CO., LTD.）

Hiromi Yoda1, Ayumi Koike-Takeshita1

石丸 雅大（コベルコ科研）（1Kanagawa Institute of Technology）

Masahiro Ishimaru（KOBELCO RESEARCH

1pmG_S10-12 13:30 〜 13:45
新たな触媒機能開発を目指した先端電子顕微鏡
状態解析
Atomic resolution electron microscopy for advanced cata-

INSTITUTE, INC）

1pmG_S5-1 14:40 〜 15:05
歯–接着材界面のナノレベル微細構造解析

lyst developing

松村 晶 ，鳥山 誉亮 ，山本 知一
1

1

G 会場 （Room G）

Nano-level Structure Analysis of the Tooth-adhesive Inter1

face（1 九州大学）

峯 篤史 1

Syo Matsumura1, Takeaki Toriyama1, Tomokazu Yama-（1 大阪大学大学院歯学研究科）

1

moto

Atsushi Mine1（1Kyushu University）（1Osaka University Graduate School of Dentistry）（ 40 ）

座 長（Chairperson）
石本 竜二（トクヤマ）
和田 充弘（三井金属鉱業）

its application to our products.

Mitsuhiro Wada（MITSUI MINING & SMELT-

千葉 一 1，寺崎 伸幸 1，秋山 和裕 1，長友 義幸 1，黒光ING CO., LTD.）祥郎 1，熊本 明仁 2，柴田 直哉 2，幾原 雄一 2（1 三菱マテリアル（株），2 東京大学）
Hajime Chiba1, Nobuyuki Terasaki1, Kazuhiro Akiyama1,
Yoshiyuki Nagatomo1, Yoshiro Kuromitsu1, Akihito Kumamoto2, Naoya Shibata2, Yuischi Ikuhara2（ 1MITSUBISHI MATERIALS CORPORATION, 2The

1pmG_S5-5 16:35 〜 17:00
走査型透過電子顕微鏡を用いた Li イオン二次電
池 LiFePO4 正極の構造解析
Structural analysis of Li-ion battery cathode material LiFe-

University of Tokyo）

PO4 using scanning transmission electron microscopy

小林 俊介 1，桑原 彰秀 1，フィッシャー クレイグ 1，

1pmG_S5-3 15:30 〜 15:55
FIB-SEM 断面形態から導いたナノオーダ粒子の付着力推定手法

右京 良雄 1，幾原 雄一 1,2（1 ファインセラミックスセンター，2 東京大学）
Shunsuke Kobayashi1, Akihide Kuwabara1, Graig Fish-

Adhesion estimation method of the nano order particle de-er1, Yoshio Ukyo1, Yuichi Ikuhara1,2

rived from the section form by FIB-SEM（1Japan Fine Ceramics Center, 2The University of Tokyo）（1 キヤノン株式会社，2 一般財団法人 工業所有権協力

1pmG_S5-6 17:00 〜 17:25
化粧品開発研究への電子顕微鏡の応用；ヒト皮膚シミ部メラノサイトの 3 次元構造解析

杉山 麻子 1，山本 晃介 1，井上 靖数 1，佐々木 豊成 2
センター）
Asako Sugiyama1, Kosuke Yamamoto1, Yasukazu Ikami1, Toyoshige Sasaki2
1

Application of Electron Microscope to cosmetic develop-2（ Canon Inc., Industrial Property Cooperation Center）

mental research;3D structural analysis of melanocyte in hyper pigmented lesion of human skin
山下 美香 1

1pmG_S5-4 15:55 〜 16:20
先端電子顕微鏡による工業製品の解析〜位相法
を中心に〜

1
（（株）
コーセー 研究所）

Mika Yamashita1（1KOSE Corporation）

Analysis of industrial products by using advanced electron
microscopy ~phase-related techniques~

佐々木 宏和 1，山本 和生 2，穴田 智史 2，平山 司 2，山崎 順 3，柴田 直哉 4，佐々木 勝寛 5
（1 古河電工（株），2 一般財団法人 ファインセラミック

1pmG_S5-7 17:25 〜 17:50
しなやかタフポリマー電子顕微鏡解析と材料設
計

スセンター，3 大阪大学，4 東京大学，5UACJ）

Super Tough Polymer with Supramolecular NANOALLOY

Hirokazu Sasaki , Kazuo Yamamoto , Satoshi Anada ,小林 定之 1

Tsukasa Hirayama2, Jun Yamasaki3, Naoya Shibata4, Kat-

（1 東レ株式会社）

1

2

2

5

suhiro Sasaki

Sadayuki Kobayashi1（1Furukawa Electric Co., Ltd., 2Japan Fine Ceramics Cen-

（1Toray Industies, Inc.）ter, 3Osaka University, 4The University of Tokyo, 5UACJ
corporation）（ 41 ）

Mon. 17 Jun

Ryuji Ishimoto（Tokuyama Corporation）

Atomic structures analysis of Al/AlN bonding interface andOral

1pmG_S5-2 15:05 〜 15:30
アルミニウムと窒化アルミニウム接合界面の解析と実製品への応用

Oral

S-2

最先端顕微鏡法に関する国際シンポジ

Chairperson

Mon. 17 Jun

ウム-1

Ute Kaiser
Kazutomo Suenaga

S-2 International Symposium on advanced electron

1pmH_S2-5 13:00 〜 13:30
Properties of Advanced Two-Dimensional
Materials from Low-Voltage Atomic Scale
TEM experiments

microscopy-1

H 会場（Room H）

6 月 17 日（月） 9:00 〜 17:30

Properties of Advanced Two-Dimensional Materials from

Chairperson

Low-Voltage Atomic Scale TEM experiments

Rafal E. Dunin-Borkowski

Ute Kaiser1

Tsukasa Hirayama（1Ulm University）

1amH_S2-1 9:05 〜 9:35
Minimum-Dose Phase-Contrast Tomography
by Successive Numerical Optical Sectioning
Employing the Aberration-Corrected STEM
and a Pixelated Detector

1pmH_S2-6 13:30 〜 14:00
Valence- and core-level EELS from low-dimensional materials
Valence- and core-level EELS from low-dimensional mate-

Minimum-Dose Phase-Contrast Tomography by Successive

rials

Numerical Optical Sectioning Employing the Aberra-

末 永 和 知 1，Yung-Chang Lin1，Pranjal Gogoi1，Junhao

tion-Corrected STEM and a Pixelated Detector

Lin1，千賀 亮介 1

1

Harald Rose

（1 産総研）（1Ulm University）

Kazutomo Suenaga1, Lin Yung-Chang1, Gogoi Pranjal1,
Lin Junhao1, Ryosuke Senga1

1amH_S2-2 9:35 〜 10:05
酸化物界面の機械的・化学的ダイナミックス（1AIST）

Mechanical and Chemical Dynamics of Oxide Interfaces
幾原 雄一

1,2

2
（1 東京大学，（財）
ファインセラミックスセンター，
3

1pmH_S2-7 14:00 〜 14:30
Opportunities of Correlative SEM and STEM
Imaging in a Scanning Electron Microscope東北大学）

Opportunities of Correlative SEM and STEM Imaging in a

Yuichi Ikuhara1,2
1

2

Scanning Electron Microscope
C. Sun1, M. Čalkovský1, E. Müller1, M. Hugenschmidt1, Y.

3（ University of Tokyo, JFCC, Tohoku University）

Li1, D Gerthsen1（1Karlsruhe Institute of Technology（KIT））

Chairperson
Yasukazu Murakami
Toshiaki Tanigaki

1amH_S2-3 10:30 〜 11:00
Holographic Vector Field Electron Tomography

1pmH_S2-8 14:30 〜 15:00
Towards Multiscale Operando Electron Microscopy for the Study of Heterogeneous
Catalysts under Working Conditions
Towards Multiscale Operando Electron Microscopy for theHolographic Vector Field Electron Tomography

Study of Heterogeneous Catalysts under Working Condi-

Daniel Wolf 2, Axel Lubk1,2, Hannes Lichte1

tions

1

2

Thomas Lunkenbein 1, Milivoj Plodinec 1, Liudmyla（ TU Dresden, IFW Dresden）

Masliuk1, Luis Sandoval-Diaz1, Robert Schlögl1,2

1amH_S2-4 11:00 〜 11:30
Advanced TEM-Methods for Structural Analysis of Nanophotonic Devices（1Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, 2Max

Advanced TEM-Methods for Structural Analysis of Nanophotonic Devices
Michael Lehmann1（1Technische Universität Berlin）（ 42 ）

Planck Institute for Chemical Energy Conversion）

ous-ﬂow Liquid-He Cryostat
Felix Börrnert1,2, Felix Kern2, Franziska Harder2, Thomas
Riedel3, Heiko Müller3, Bernd Büchner2, Axel Lubk2（ 1Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik, 2Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden e. V., 3CEOS GmbH）

Chairperson
Helmut Kohl
Hidetaka Sawada

1pmH_S2-10 16:00 〜 16:30
Simulation of Atomically Resolved Elemental
Maps with a Multislice Method for Relativistic Electrons
Simulation of Atomically Resolved Elemental Maps with a
Multislice Method for Relativistic Electrons
Stephan Majert1, Helmut Kohl1（1Westfälische Wilhelms-Universität Münster）

1pmH_S2-11 16:30 〜 17:00
超高感度 EDS による金の腐食生成物の解析
Ultra high sensitivity EDS analysis of Corrosion of Gold

沢田 英敬 1,2,3，奥西 栄治 1，大西 市朗 1，神保 雄 1，湯浅 修 一 1， 岩 澤 頼 信 1，Borisenko Konstantin2,3，Kirkland Angus2,3（1 日本電子（株），2 オックスフォード大学，3 ダイヤモ
ンド Light Source）
Hidetaka Sawada1,2,3, Eiji Okunishi1, Ichiro Ohnishi1, Yu
Jimbo1, Shuuichi Yuasa1, Yorinobu Iwasawa1, Konstantin
Borisenko2,3, Angus Kirkland2,3（1JEOL Ltd, EMBU, 2Department of Materials, Universityof Oxford, 3Electron Physical Sciences Imaging Centre（ePSIC）, Diamond Light Source Ltd）

1pmH_S2-12 17:00 〜 17:30
結晶構造解析を可能とする STEM イメージングの要素
Elements of ADF Imaging for Crystallography: Quantitative, Precise and Reproducible Methodology

木本 浩司 1，柳澤 圭一 1，長井 拓郎 1，吉川 純 1，コレツ オヴィヂュ 1（1 物質・材料研究機構）
Koji Kimoto1, Keiichi Yanagisawa1, Takuro Nagai1, Jun
Kikkawa1, Ovidiu Cretu1（1National Institute for Materials Science）（ 43 ）

Mon. 17 Jun

The Dresden in-situ（S）TEM Special with a Continu-

Oral

1pmH_S2-9 15:00 〜 15:30
The Dresden in-situ（S）TEM Special with aContinuous-flow Liquid-He Cryostat

学術講演会発表（Oral sessions）※座長は交渉中を含みます。
6 月 18 日（火） 第 2 日目

S-8
Oral

2amA_S8-4 10:45 〜 11:15
様々な分光アプローチのソフトマテリアル評価
への応用

ソフトマテリアルのスペクトロスコ

ピー
S-8

Tue. 18 Jun

Characterization for soft materials by several spectroscopic

Spectroscopy for Soft Materials

6 月 18 日（火） 9:00 〜 11:15

approaches

A 会場 （Room A）

大塚 祐二 1，稲元 伸 1，堤田 秋洋 1，瀬川 有香 1，原 和
佳子 1

座 長（Chairperson）

1（（株）
東レリサーチセンター）

陣内 浩司（東北大学）

Yuji Otsuka1, Shin Inamoto1, Akihiro Tsutsumida1, Yuka

Hiroshi Jinnai（Tohoku University）

Segawa1, Wakako Hara1

大塚 祐二（東レリサーチセンター）（1Toray Research Center Inc.）

Yuji Otsuka（Toray Research Center Inc.）

2amA_S8-1 9:00 〜 9:30
STEM-EELS ハイパースペクトル像解析による無染色ポリマーイメージング
Undyed polymer imaging by STEM-EELS hyperspectral
image analysis

CLEM-TEM（光学顕微鏡-TEM 相関顕S-6微鏡法）の研究開発と将来展望
S-6

Research and Development of the Correlative

Light and Electron Microscopy with TEM（CLEMTEM）

武藤 俊介 1

（1 名古屋大学

未来材料・システム研究所（IMaSS））

6 月 18 日（火） 8:30 〜 10:10

B 会場 （Room B）

Shunsuke Muto1（1IMASS, Nagoya Univ.）

座 長（Chairperson）
宮澤 淳夫（兵庫県立大学理学部構造生物学）

2amA_S8-2 9:30 〜 10:00
第一原理計算および機械学習を用いた ELNES/
XANES 解析

Atsuo Miyazawa（Department of Picobiology,
Graduate school of Life Science, University of
Hyogo）ELNES/XANES analysis using a ﬁrst principles simulationand machine learning

溝口 照康 1，清原 慎 1，宮田 智衆 21

2

（ 東京大学， 東北大学）
Teruyasu Mizoguchi1, Shin Kiyohara1, Tomohiro Miyata2

2amB_S6-1 8:30 〜 8:50
Cryo Electron Tomography Workflow for insitu Structural Analysis of Cell

（1University of Tokyo, 2Tohoku University）

Cryo Electron Tomography Workﬂow for in situ Structural
Analysis of Cell
青山 一弘 1

2amA_S8-3 10:15 〜 10:45
タイヤゴム中シリカ粒子の STEM-EELS 解析（1Thermo Fisher Scientiﬁc）

Electronic structure of silica particles in rubber studied by

Aoyama Kazuhiro1

STEM-EELS（1Thermo Fisher Scientiﬁc）（1 東北大学，2 住友ゴム工業株式会社）

2amB_S6-2 8:50 〜 9:10
TEM-CLEM におけるクライオワークフローの最新動向

佐藤 庸平 1，桒内 康文 2，三好 和加奈 2，陣内 浩司 1
Yohei Sato1, Yasufumi Kuwauchi2, Wakana Miyoshi2, Hiroshi Jinnai1（1IMRAM, Tohoku University, 2Sumitomo Rubber Indus-

Latest application of Cryo-workﬂow for TEM-CLEM
石原 あゆみ 1tries, Ltd.）（1 ライカマイクロシステムズ株式会社）
Ayumi Ishihara1（1Leica Microsystems K.K.）（ 44 ）

2amB_S6-3 9:10 〜 9:30
TEM による広視野観察とその CLEM への応用

B-3

光電子相関観察（CLEM）

Wide Field of View Observation with TEM and its Applica-

B-3 CLEM: Correlative Light & Electron Microscopytion to CLEM

6 月 18 日（火） 10:30 〜 11:30

濱元 千絵子 ，池田 悠太 ，小入羽 祐治 ，福田 知久
1

1

1

1

，春田 知洋 1，西岡 秀夫 1，鈴木 克之 1，武部 明 2，馬水 信弥 3，山本 智也 3

座 長（Chairperson）
原口 徳子（情報通信研究機構）
Tokuko Haraguchi（National Institute of Infor-

株式会社システムインフロンティア）

mation and Communications Technology）
伊藤 喜子（ライカマイクロシステムズ）

hisa Fukuda1, Tomohiro Haruta1, Hideo Nishioka1, Kat-

Yoshiko Ito（Leica Microsystems K.K.）

suyuki Suzuki1, Akira Takebe2, Nobuya Mamizu3, Tomoya
Yamamoto3（1JEOL Ltd., 2NIKON INSTECH CO., LTD., 3SYSTEMIN FRONTIER INC.）

2amB_B3-1 10:30 〜 10:45
SEM-ラマン複合システムによる高分子接着界面の解析

2amB_S6-4 9:30 〜 9:50
アセチルコリン受容体クラスター構成タンパク
質の分子動態解析

Characterization of Polymer Joint Interfaces by SEM-Raman Correlative Microscopy

堀内 伸 1，秋山 陽久 1，伊勢 翔吾 1，宮前 孝行 1

Molecular dynamics of nicotinic acetylcholine receptor（1 独立行政法人

cluster constituent proteins

Shin Horiuchi1, Haruhisa Akiyama1, Shogo Ise1, Takayuki

西野 有里 1，野間 有加里 1，村松 諒太 1，宮澤 淳夫 1

産業技術総合研究所）

Miyamae1

1（1AIST）（ 兵庫県立大学）
Yuri Nishino1, Yukari Noma1, Ryota Muramatsu1, Atsuo

2amB_B3-2 10:45 〜 11:00
生物試料用 CLEM マーカーとしての金ナノ粒子

Miyazawa1（1University of Hyogo）

Gold nano particles are useful as CLEM marker for biolog-

2amB_S6-5 9:50 〜 10:10
MirrorCLEM システムの開発と動植物試料への応用

ical samples

春田 知洋 1，蓮見-澤田 景子 1，池田 悠太 1，小入羽 祐
治 1，福田 知久 1，西岡 秀夫 1

Development of MirrorCLEM system and application for（1 日本電子株式会社）

animals and plants

Tomohiro Haruta1, Keiko Hasumi-Sawada1, Yuta Ikeda1,

豊岡 公徳 1，松井 毅 2，許斐 麻美 3，星野 吉延 3
1

2

Yuji Konyuba1, Tomohisa Fukuda1, Hideo Nishioka1

3（1JEOL Ltd.）（ 理研 CSRS， 理研 IMS， 日立ハイテク）
Kiminori Toyooka1, Takeshi Matsui2, Mami Konomi3,
Yoshinobu Hoshino3（1RIKEN CSRS, 2RIKEN IMS, 3Hitachi High-Technologies）

2amB_B3-3 11:00 〜 11:15
光–電子相関顕微鏡システム（MirrorCLEM）を用いた造岩鉱物の観察
Observation of a rock-mineral using a Correlative LM andSEM system（MirrorCLEM）

塩野 正道 1，坂上 万里 1，前田 躍 2（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ アプリケーショ
ン開発部，2 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子顕
微鏡ソリューションシステム設計部）
Masamichi Shiono1, Mari Sakaue1, Yaku Maeda2（1Hitachi High-Technologies Corporation Application Development Dept., 2Hitachi High-Technologies Corporation
Electron Microscope Solution Systems Design Dept.）（ 45 ）

Tue. 18 Jun

Chieko Hamamoto1, Yuta Ikeda1, Yuji Konyuba1, Tomo-Oral（1 日本電子株式会社，2 株式会社ニコンインステック，3

B 会場 （Room B）

2amB_B3-4 11:15 〜 11:30
Guided Cryo Electron Microscopy – Light to
FIB SEM to TEM

2pmB_B2-2 15:00 〜 15:15
対称性不一致な多剤排出ポンプ複合体 MexAB–
OprM の単粒子解析

Guided Cryo Electron Microscopy – Light to FIB SEM to

Single-particle analysis of symmetry-mismatched multidrug

TEM

efﬂux pump MexAB-OprM

Ruth Chalmers-Redman1

堤 研太 1，米原 涼 1，池田 悦子 1，宮崎 直幸 1，前田 晋（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

太朗 1,2，岩崎 憲治 1,3，中川 敦史 1，山下 栄樹 1Oral

（1 阪大・蛋白研，2 スクリプス研究所，3 筑波大・生存

Tue. 18 Jun

B-2

クライオ顕微鏡・タンパク構造解析

ダイナミクス研）

B-2

Cryo-Electron Microscopy & Protein Crystallog-

da1, Naoyuki Miyazaki1, Shintaro Maeda1,2, Iwasaki Ken-

Kenta Tsutsumi1, Ryo Yonehara1, Etsuko Ishizaka-Ikeji1,3, Atsushi Nakagawa1, Eiki Yamashita1

raphy（1IPR, Univ. of Osaka, 2TSRI, 3TARA）

B 会場 （Room B）

6 月 18 日（火） 14:45 〜 16:15

2pmB_B2-3 15:15 〜 15:30
クライオ EM データを活用した生体分子ハイブ
リッド構造モデリング座 長（Chairperson）
真柳 浩太（九州大学）
Kota Mayanagi（Kyushu University）

Hybrid Structure Modeling of Biomolecules from Cryo-EM

大嶋 篤典（名古屋大学）

Data

Atsunori Oshima（Nagoya University）

宮下 治 1（1 理化学研究所）

2pmB_B2-1 14:45 〜 15:00
珪 藻 の 光 化 学 系 II-集 光 性 タ ン パ ク 質 複 合 体
FCPII のクライオ電顕構造解析

Osamu Miyashita1（1RIKEN）

長尾 遼 1，秋田 総理 1,2，加藤 公児 1，鈴木 健裕 3，伊2pmB_B2-4 15:30 〜 15:45
クライオ電子顕微鏡により明らかになったノロ
ウイルスの動的構造変化

福 健太郎 4，内山 郁夫 5，菓子野 康浩 6，堂前 直 3，秋Dynamic Structural Change of Norovirus Revealed by

Cryo-EM structure of diatom photosystem II-FCPII supercomplex

78

本 誠志 ，宮崎 直幸 ，沈 建仁

1

Cryo-electron Microscopy（1 岡 山 大 学・ 異 分 野 基 礎，2JST・ さ き が け，3 理 研

宋 致弘 1，戸高 玲子 2，横山 勝 3，宮崎 直幸 4，岩崎 憲

CSRS・生命分子解析，4 京都大学・院生命科学，5 基

治 4,5，片山 和彦 2，村田 和義 1

6

7

生研・ゲノム情報， 兵庫県立大学・院生命理学， 神（1 生 理 学 研 究 所，2 北 里 大 学，3 国 立 感 染 症 研 究 所，戸大・院理，8 大阪大学・蛋白研）
1

4

1,2

大阪大学・蛋白質研究所，5 筑波大学）

Ryo Nagao , Fusamichi Akita , Koji Kato , Takehiro Su-

Chihong Song 1, Reiko Todaka 2, Masaru Yokoyama 3,

zuki3, Kentaro Ifuku4, Ikuo Uchiyama5, Yasuhiro Kashino6,

Naoyuki Miyazaki4, Kenji Iwasaki4,5, Kazuhiko Katayama2,

3

1

Naoshi Dohmae , Seiji Akimoto , Naoyuki Miyazaki , Ji-

Kazuyoshi Murata1

an-Ren Shen1（1National Institute for Physiological Sciences, 2Kitasato

1

7（ Okayama University, JST PRESTO, RIKEN, Kyoto

University, 3National Institute of Infectious Diseases, 4Osa-

University, 5NIBB, 6University of Hyogo, 7Kobe University,ka University, 5University of Tsukuba）

8

2

8

3

4

Osaka University）（ 46 ）

2pmB_B2-5 15:45 〜 16:00
クライオ電子線トモグラフィー法によるインフ
ルエンザウイルス粒子形成機構の解明
Revealing the mechanism of inﬂuenza virus formation by

I-7

その他（装置・手法系）

I-7

Others（ Instruments & Methods）

6 月 18 日（火） 9:00 〜 11:30

C 会場 （Room C）

cryo-electron tomography

藤田 陽子 1, 青山 一弘 2,3, 平林 愛 1, 光岡 薫 3, 野田 岳志 1
（1 京都大学ウイルス・再生医科学研究所，2 サーモ座 長（Chairperson）
桒原 真人（名古屋大学）
Makoto Kuwahara（Nagoya Univeristy）

圧電子顕微鏡センター）

津田 健治（東北大学）
Kenji Tsuda（Tohoku University）

Mitsuoka3, Takeshi Noda1（1Institute for Frontier Life and Medical Sciences, Kyoto
University, 2Thermo Fisher Scientiﬁc Ltd, 3Research Centerfor Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University）

2amC_I7-1 9:00 〜 9:15
透過電子顕微鏡におけるリファレンス試料を用いない像歪測定法と像歪補正の検討
Accurate measurement and correction of image distortion

2pmB_B2-6 16:00 〜 16:15
Cryo-STEM トモグラフィによるウイルスの 3 次
元構造解析（1 株式会社日立製作所 研究開発グループ，2 株式会社

Structure analysis of Virus particles by using cryo-STEM

日立ハイテクノロジーズ 科学・医用システム事業統

Tomography

括本部）in TEM without reference

玉置 央和 1，稲田 博実 2，平山 陽一 2

青山 一弘 ，藤田 陽子 ，平林 愛 ，野田 岳志 ，光
1,3

岡薫

2

2

2

Hirokazu Tamaki1, Hiromi Inada2, Yoichi Hirayama2

3（1Hitachi, Ltd. Research & Development Group, 2Hitachi（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック，2 京都

High-Technologies Corporation, Science & Medical Sys-

3

大学ウイルス再生医科学研究所， 大阪大学超高圧電tems Business Group）

子顕微鏡センター）（1Thermo Fisher Scientiﬁc, 2Institute for Frontier Life and

2amC_I7-2 9:15 〜 9:30
HOLZ 線を用いた格子定数決定へ CNN の応用を検討

Medical Sciences, Kyoto University, 3Research Center for

CNN application for the lattice parameter determination us-

Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka Universi-

ing HOLZ lines

Kazuhiro Aoyama 1,3, Yoko Fujita 2, Ai Hirabayashi 2,
Takeshi Noda2, Kaoru Mitsuoka3

上杉 文彦 1，三石 和貴 1，木本 浩司 1，石井 真史 1ty）

（1 国立研究開発法人物質・材料研究機構）
Fumihiko Uesugi1, Kazutaka Mitsuishi1, Koji Kimoto1,
Masashi Ishii1（1NIMS）

2amC_I7-3 9:30 〜 9:45
明視野 TEM 像を使った極薄膜試料の定量的評価の検討
Quantitation of Ultra Thin Samples by using Bright Field
TEM藤井 孝史 1，Marek Malac2，Misa Hayashida2，矢口 紀
恵 1，Ray F. Egerton3（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ，2NRC-NANO，
3

University of Alberta）

Takashi Fujii1, Marek Malac2, Misa Hayashida2, Toshie
Yaguchi1, Ray F. Egerton3（1Hitachi High-Technologies Corporation, 2NRC-NANO,
3（ 47 ）

University of Alberta）

Tue. 18 Jun

Yoko Fujita1, Kazuhiro Aoyama2,3, Ai Hirabayashi1, Kaoru

Oral

フィッシャーサイエンティフィック，3 大阪大学超高

2amC_I7-4 9:45 〜 10:00
超高速電子顕微鏡による光駆動スキルミオンダ
イナミクスの観測

2amC_I7-8 11:00 〜 11:15
ガス環境 TEM 内に発生するイオンとその除去方
法の検討

Photo-induced skyrmion dynamics observed by ultrafast

Investigation of Ion Environment Generated in Gas Envi-electron microscopyronment TEM and its Removal Method

口 康二郎 1，十倉 好紀 1,2，石坂 香子 1,2

剛久 1

下志万 貴博 1，中村 飛鳥 1，于 秀珍 1，軽部 皓介 1，田1

2

徳永 智春 1，樋口 公孝 1，山本 悠太 1，河上 匠 1，山本

Oral

（1 名古屋大学）（ 理研 CEMS， 東京大学）
Takahiro Shimojima1, Asuka Nakamura1, Xiuzhen Yu1,
1

Tomoharu Tokunaga1, Kimitaka Hoguchi1, Yuta Yama-

Tue. 18 Jun

Kosuke Karube , Yasujiro Taguchi , Yoshinori Tokura ,moto1, Takumi Kawakami1, Takahisa Yamamoto1

Kyoko Ishizaka1,2（1Nagoya University）

1

1

1,2

2

（ RIKEN CEMS, Univ. of Tokyo）

2amC_I7-5 10:00 〜 10:15
超高速電子顕微鏡による 1T ′′-VTe2 のコヒーレン
ト音響フォノンの観測

2amC_I7-9 11:15 〜 11:30
走査ミュオン顕微鏡
Scanning Muon Microscopy

永谷 幸則 1，Strasser Patric1，大石 裕 1，三宅 康博 1

Coherent acoustic phonons in 1T ′′-VTe2 observed by ultra-（1 高エネルギー加速器研究機構）

fast electron microscopy

Yukinori Nagatani1, Patric Strasser1, Yu Oishi1, Yasuhiro

中村 飛鳥 ，下志万 貴博 ，千足 勇介 ，上谷 学 ，酒Miyake1

井 英明 3，石渡 晋太郎 2，李 瀚 2，押山 淳 2，石坂 香子（1KEK）

1

1

2

1

1,2

（1 理化学研究所，2 東京大学，3 大阪大学）
Asuka Nakamura1, Takahiro Shimojima1, Yusuke Chiashi2, Manabu Kamitani1, Hideaki Sakai3, Shintaro Ishiwa2

2

2

半導体

M-2

M-2 Semiconductors
6 月 18 日（火） 9:00 〜 11:30

1,2

ta , Han Li , Atsushi Oshiyama , Kyoko Ishizaka（1RIKEN, 2Univ. of Tokyo, 3Osaka Univ.）

D 会場 （Room D）

座 長（Chairperson）
座 長（Chairperson）

朝山 匡一郎（日本電子）

村田 英一（名城大学）

Kyouichirou Asayama（JEOL

Hidekazu Murata（Meijo University）

杉江 隆一（東レリサーチセンター）.Ltd）

Ryuichi Sugie（Toray Reseach Center Inc.）

2amC_I7-6 10:30 〜 10:45
TEM の付属装置としての光電子顕微鏡 PEEM

2amD_M2-1 9:00 〜 9:15
EELS の多変量解析による Si 中ボロン濃度の解析Design of a PEEM as an attachment of a TEM
武藤 正雄 1，津野 勝重 1
（1 株式会社

北海光電子）

Determination of boron concentration in silicon by EELS

1

1

and multivariate analysis

Masao Muto , Tsuno Katsushige

朝山 匡一郎 1,3，河上 恵 2，佐藤 和久 3

（1Hokkai Photoelectron CO., Ltd.）

2（1 日本電子株式会社，（株）
ガレン，3 大阪大学超高圧

2amC_I7-7 10:45 〜 11:00
Live EDS Mapping in the TEM during In Situ
Heating
1

Kyoichiro Asayama1,3, Megumi Kawakami2, Kazuhisa
Sato3（1JEOL Ltd., 2Garen corp., 3Research Center for UHVEM

Live EDS Mapping in the TEM during In Situ Heating3

電子顕微鏡センター）

1

森田 博文 ，Marks Samuel ，Pinard Philippe ，Kota2

2

dia Hiren ，West Geoff ，三井 千珠

3（1Oxford Instruments Nanoanalysis，2WMG，Universityof Warwick，3 オックスフォード・インストゥルメン
ツ株式会社）
Hirobumi morita 3, Samuel Marks 1, Philippe Pinard 1,
Hiren Kotadia2, Geoff West2, Chizu Mitsui3（1Oxford Instruments Nanoanalysis, 2WMG, University of
Warwick, 3Oxford Instruments KK）（ 48 ）

Osaka University）

2amD_M2-2 9:15 〜 9:30
SiC ウ ェ ハ の 加 工 ダ メ ー ジ 層 評 価：
EBSD-Wilkinson 歪分布解析および TEM 観察

座 長（Chairperson）
佐藤 和久（大阪大学）
Kazuhisa Sato（Osaka University）

Characterization of grinding-induced elastic strain distribution and microstructure in 4H-SiC wafer by combining
EBSD-Wilkinson and TEM techniques

着本 享 1,2，升本 恵子 2，瀬川 悟志 2,3，先崎 純寿 2，加Polishing method modification and dislocation densities

合研究所，3 旭ダイヤモンド工業株式会社）

evaluation of Beta-Ga2O3 substrate fabricated by floating

1,2

2

zone method

Susumu Tsukimoto , Keiko Masumoto , Satoshi Segawa2,3, Junji Senzaki2, Tomohisa Kato2, Kazutoshi Kojima2,

田中 孝治 1，伊藤 利充 2

Hajime Okumura2（1 産業技術総合研究所 電池技術研究部門，2 産業技術

1

2

（ JFE Techno-Research Corporation, National Institute of

総合研究所 電子光技術研究部門）

Advanced Industrial Science and Technology, 3Asahi Dia-

Koji Tanaka1, Toshimitsu Ito2mond Industrial Co.Ltd.）（1Natl. Inst. of Adv. Ind. Sci. and Tech.（AIST）, Res. Inst.
of Electrochemical Energy , 2Natl. Inst. of Adv. Ind. Sci and

2amD_M2-3 9:30 〜 9:45
HAADF-STEM による p-GaN ピラミッド型反転
領域境界観察p-GaN pyramidal inversion domain boundary observation
by HAADF-STEM

岩田 研治 1，成田 哲生 2，長尾 全寛 1,3，冨田 一義 2，2

3

片岡 恵太 ，加地 徹 ，五十嵐 信行

Tech.（AIST）, Electronics and Photonics Res. Inst.）

2amD_M2-7 10:45 〜 11:00
STEM トモグラフィーによる 1X-MTJ 素子の三次元構造解析
Three-Dimensional Structural Analysis of 1X-MTJ by

1,3

STEM Tomography（ 名大院工， 豊田中研， 名大未来研）

木村 耕輔 1，丹羽 正昭 2，内城 貴則 1，大塚 祐二 1，遠Kenji Iwata1, Tetsuo Narita2, Masahiro Nagao1,3, Kazuy-

藤 哲郎 2,3,4,5

1

2

3

oshi Tomita 2, Keita Kataoka 2, Tetsu Kachi 3, Nobuyuki

1（（株）
東レリサーチセンター，2 東北大学 国際集積エ

1,3

Ikarashi

レクトロニクス研究開発センター，3 東北大学 大学院（1Nagoya Univ., 2TOYOTA Central R&D Labs., 3Nagoya

工学研究科，4 東北大学 省エネルギー・スピントロニ

Univ. IMaSS）

クス集積化システムセンター，5CSRN 東北大学スピ
ントロニクス学術連携研究教育センター）

2amD_M2-4 9:45 〜 10:00
STEM-CL ス ペ ク ト ル イ メ ー ジ ン グ に よ る InGaN/GaN 構造の環状欠陥評価（1Toray Research Center, Inc., 2Center for Innovative Inte-

Study of circle defects in InGaN/GaN SQW by STEM-CL

grated Electronic Systems（CIES）, Tohoku University,

spectral-imaging

3

Graduate School of Engineering, Tohoku University,

4

Center for Spintronics Integrated Systems（CSIS）, To-

Kosuke Kimura1, Masaaki Niwa2, Takanori Naijou1, Yuji
Otsuka1, Tetsuo Endoh2,3,4,5

丹下 貴志 1，三宮 工 1
1（ 東京工業大学）

hoku University, 5Center for Spintronics Integrated Systems

Takashi Tange1, Takumi Sannomiya1（CSIS）, Tohoku University）

1（ Tokyo Institute of Technology）

2amD_M2-5 10:00 〜 10:15
低加速カソードルミネッセンスによる GaN 層上酸化ガリウム薄膜評価

2amD_M2-8 11:00 〜 11:15
Precession NBD による半導体デバイスの歪み
解析技術

Cathodoluminescence from thin Ga2O3 films on GaN byvery-low-energy electron beams
杉江 隆一 ，内田 智之
1

1

NBD

中西 伸登 1，関口 浩美 1，宗兼 正直 1
（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）（1 株式会社東レリサーチセンター）
1

Strain analysis of semiconductor devices using precession

Nobuto Nakanishi 1, Hiromi Sekiguchi 1, Masanao

1

Ryuichi Sugie , Tomoyuki Uchida

Munekane1（1Toray Reseach Center Inc.）（1Thermo Fisher Scientiﬁc）（ 49 ）

Tue. 18 Jun（1JFE テクノリサーチ株式会社，2（国研）産業技術総Oral

藤 智久 2，児島 一聡 2，奥村 元 2

2amD_M2-6 10:30 〜 10:45
FZ 法にて作製されたβ-Ga2O3 基板の研磨法の改善と転位密度の評価

2amD_M2-9 11:15 〜 11:30
プラズマ FIB による半導体プロセス開発と先端パッケージ解析のための試料作製技術

2amE_I3-3 9:00 〜 9:15
結晶場多重項計算を用いた局所配位構造の導出
Extraction of local coordination structure using crystal ﬁeld
multiplet calculation

Sample preparation for Semiconductor Process Technology
development and Advanced Packaging analysis using Plas-

治田 充貴 1，新居 あおい 1，倉田 博基 1

ma FIB（1 京都大学
1

1

1

化学研究所）

Mitsutaka Haruta1, Aoi Nii1, Hiroki Kurata1

中村 美樹 ，Madala Surendra ，LeDoux Micah
1

Oral（1ICR, Kyoto University）（ サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Miki Nakamura1, Surendra Madala1, Micah LeDoux1

Tue. 18 Jun

2amE_I3-4 9:15 〜 9:30
層状酸化物の STEM-EELS 分析（1ThermoFIsherScientiﬁc）

I-3

分析電顕・状態分析など

STEM-EELS analysis of layered oxides

I-3

Analytical Electron Microscope（1 北海道大学）

6 月 18 日（火） 8:30 〜 11:30

坂口 紀史 1，齊藤 元貴 1，能村 貴宏 1，國貞 雄治 1

E 会場 （Room E）

Norihito Sakaguchi1, Genki Saito1, Takahiro Nomura1,
Yuji Kunisada1（1Faculty of Engineering, Hokkaido University）

座 長（Chairperson）
寺内 正巳（東北大学）

2amE_I3-5 9:30 〜 9:45
機械学習を用いた ELNES の予測と物性定量化

Masami Terauchi（Tohoku University）
志賀 元紀（岐阜大学）

Prediction of ELNES and quantiﬁcation of material proper-

Motoki Shiga（Gifu University）

ties via machine learning techniques
清原 慎 1，椿 真史 2，溝口 照康 1

2amE_I3-1 8:30 〜 8:45
qEELS を用いたシリコンクラスレート化合物のキャリア特性の研究（1 東京大学生産技術研究所，2 産業総合研究所人工知

qEELS study of carrier-electron property in Si-clathrate（1The University of Tokyo, 2Advanced Industrial Science

compounds

and Technology）

能研究センター）
Shin Kiyohara1, Masashi Tsubaki2, Teruyasu Mizoguchi1

佐藤 庸平 ，岩下 哲士 ，寺内 正己 ，森戸 春彦 ，山
1

1

1

2

根 久典 1（1 東北大学多元物質科学研究所，2 東北大学金属材料

2amE_I3-6 9:45 〜 10:00
Aloof ビームによる有機結晶の価電子励起 EELS

研究所）

Valence EELS of organic crystal using aloof beam
1

1

倉田 博基 1，白澤 由理 1，治田 充貴 1，根本 隆 1

1

Yohei Sato , Tetsushi Iwashita , Masami Terauchi , Ha2

1（1 京都大学

ruhiko Morito , Hisanori Yamane
12

化学研究所）

Hiroki Kurata 1, Yuri Shirasawa 1, Mitsutaka Haruta 1,（ IMRAM, Tohoku University, IMR, Tohoku University）

Takashi Nemoto1

2amE_I3-2 8:45 〜 9:00
CCD ノイズ低減による EELS スペクトルの SN
比の改善（1Institute for Chemical Research, Kyoto University）

Improvement of SNR of EELS spectrum by reduction of
CCD noise

治田 充貴 1，藤吉 好史 1，根本 隆 1，石塚 顕在 2，石塚
和夫 2，倉田 博基 1
（1 京都大学

化学研究所，2HREM）

Mitsutaka Haruta 1, Yoshifumi Fujiyoshi 1, Takashi
Nemoto1, Akimitsu Ishizuka2, Kazuo Ishizuka2, Hiroki Kurata1（1ICR, Kyoto University, 2HREM Research Inc）

（ 50 ）

2amE_I3-11 11:15 〜 11:30
Fe-K（705 eV）対応高回折効率・広帯域軟 X 線
ラミナー型多層膜回折格子の設計

座 長（Chairperson）
倉田 博基（京都大学）
Hiroki Kurata（Kyoto University）

Soft X-ray high diffraction efficiency and wide energy

治田 充貴（京都大学）

range laminar type multilayer diffraction gratings design

Mitsutaka Haruta（Kyoto University）

for Fe-K（705 eV）emission spectra

小池 雅人 1，羽多野 忠 2，Pirozhkov Alexander 1，寺内Band structure analysis of plasmonic crystal by STEM-

Masato Koike1, Tadashi Hatano2, Alexander Pirozhkov1,

EELS

Masami Terauchi2, Nobukazu Hayashi3, Hiroyuki Sasai3,学研究所，3 島津製作所デバイス部）

吉本 大地 1，斉藤 光 2，波多 聰 2，藤吉 好史 3，倉田 博
基Tetsuya Nagano3

3（1National Institutes for Quantum and Radiological Science（1 九州大学大学院総合理工学府，2 九州大学総合理工

and Technology, 2Institute of Multidisciplinary Research for

学研究院，3 京都大学 化学研究所）

Advanced Materials, Tohoku University, 3Devices Dept.,

1

2

2

Shimadzu Corp.）

Daichi Yoshimoto , Hikaru Saito , Satoshi Hata , Yo3

3

shifumi Fujiyoshi , Hiroki Kurata（1Interdisciplinary Graduate School of Engineering Scienc-

I-3

分析電顕・状態分析など

Kyushu University, Institute for Chemical Research, Kyo-

I-3

Analytical Electron Microscope

to University）

6 月 18 日（火） 14:45 〜 16:40

es, Kyushu University, 2Faculty of Engineering Sciences,3

2amE_I3-8 10:30 〜 10:45
SXES を用いた CaB6 バルク材料の評価

E 会場 （Room E）

座 長（Chairperson）
原 徹（物質・材料研究機構）

Soft X-ray emission spectroscopy study of CaB6 bulk spec-

Toru Hara（NIMS）

imens

寺内 正己 1，佐藤 庸平 1，武田 雅敏 2

2pmE_I3-12 14:45 〜 15:00
Si 薄片試料内に発生した光学的導波モードが作る定在波の STEM-CL 観察（1 東北大学，2 長岡技術科学大学）
Masami Terauchi1, Yohei Sato1, Masatoshi Takeda2（1Tohoku University, 2Nagaoka Univ. of Technology）

Observation of the standing waves formed by optical wave-

2amE_I3-9 10:45 〜 11:00
3d 遷移金属元素の L 発光スペクトルに含まれる情報guided mode in Si slab using STEM-CL technique
川崎 直彦 1，大塚 祐二 1，吉川 正信 1
（1 株式会社東レリサーチセンター）

SXES study of L-emission spectra of 3d transition metal el-

Naohiko Kawasaki1, Yuji Otsuka1, Masanobu Yoshika-

ements

wa1

寺内 正己

1

（1Toray Research Center Inc.）（1 東北大学）

2pmE_I3-13 15:00 〜 15:15
走査型透過電子顕微鏡カソードルミネセンスによる磁気多極子モードマッピング

Masami Terauchi1（1Tohoku University）

2amE_I3-10 11:00 〜 11:15
SEM-軟 X 線分光法（SXES）による Si 結晶性評
価の検討
山本 康晶 ，村谷 直紀 ，村野 孝訓 ，高橋 秀之
11

1

松方 妙子 1,3，矢野 隆章 1，Matthaiakakis Nikolaos1，羽（1 東京工業大学，2 岡山大学，3 理研，4JST さきがけ）（1 日本電子株式会社）1

luminescence

田 真毅 2，田中 拓男 3，山本 直紀 1，三宮 工 1,4Characterization of Si surface crystallinity by SEM-SXES
1

Magnetic Multipole Modes Visualized by STEM-Cathodo-

Taeko Matsukata 1,3, Taka-aki Yano 1, Nikolaos Mat1

1

Yasuaki Yamamoto , Naoki Muraya , Takanori Murano ,thaiakakis1, Masaki Hada2, Takuo Tanaka3, Naoki Yamamo-

Hideyuki Takahashi1

to1, Takumi Sannomiya1,4（1JEOL Ltd.）（1Tokyo Institute of Technology, 2Okayama University,
3（ 51 ）RIKEN, 4JST PRESTO）

Tue. 18 Jun（1 量子科学技術研究開発機構，2 東北大学多元物質科

正己 2，林 信和 3，笹井 浩行 3，長野 哲也 3Oral

2amE_I3-7 10:15 〜 10:30
STEM-EELS によるプラズモニック結晶のバンド構造解析

2pmE_I3-14 15:15 〜 15:30
カソードルミネセンス走査型透過電子顕微鏡装
置への光導入2pmE_I3-17 16:10 〜 16:25
オングストロームビーム電子回折イメージングを用いた非晶質構造の網羅的解析

Introduction of Light in Cathodoluminescence Scanning

Data Analysis of Amorphous Structure with Angstrom

Transmission Electron Microscopy Instrument

Beam Electron Diffraction Imaging（1 東京工業大学

平 5,6

三宮 工 1,2，松方 妙子 1，小林 隼也 1，山本 直紀 1

志賀 元紀 1,2,3，平田 秋彦 4，小原 真司 2,5，小野寺 陽

物質理工学院，2JST さきがけ）
1,2

1

Oral

Takumi Sannomiya , Taeko Matsukata , Junya Ko-（1 岐 阜 大 学，2 科 学 技 術 振 興 機 構，3 理 化 学 研 究 所，

bayashi1, Naoki Yamamoto1

4

1

2

早稲田大学，5 物質・材料研究機構，6 京都大学）

Tue. 18 Jun

Motoki Shiga1,2,3, Akihiko Hirata4, Shinji Kohara2,5, Yohei（ Tokyo Institute of Technology, JST, PRESTO）

Onodera5,6

2pmE_I3-15 15:30 〜 15:45
超伝導蛍光 X 線検出器付 SEM（SC-SEM）を用いたリチウムの蛍光 X 線分析（2）（1Gifu University, 2JST, 3RIKEN, 4Waseda University, 5Na-

Fluorescence X-ray analysis of Lithium using Supercon-

2pmE_I3-18 16:25 〜 16:40
大角度ロッキング CBED 図形を用いた軌道整列
状態の静電ポテンシャル分布解析

ducting-Tunnel-Junction Array X-ray detector toward mapping analyses of precipitated metal lithium in sold浮辺 雅宏 1，藤井 剛 1，志岐 成友 1，大久保 雅隆 1

tional Institute for Materials Science, 6Kyoto University）

Accurate determination of electrostatic potential of orbit-（1 産業技術総合研究所）
1

al-ordered state using large angle rocking CBED pattern1

森川 大輔 1，津田 健治 1

1masahiro ukibe , Go Fujii , Shigetomo Shiki , Masataka
Ohkubo1（1 東北大学）（1AIST）

Daisuke Morikawa1, Kenji Tsuda1（1Tohoku University）

座 長（Chairperson）

材料開発の未来を拓く SEM の最新技術

浅香 透（名古屋工業大学）

S-9

Toru Asaka（Nagoya Institute of Technology）

と将来展望
S-9

2pmE_I3-16 15:55 〜 16:10
CFRP 接着界面の化学状態分析に向けた超伝導 X
線検出器付き低加速 SEM の開発

SEMʼs latest technology to open up the futureof material development and outlook for the future
6 月 18 日（火） 8:30 〜 11:30

F 会場 （Room F）

Development of low acceleration voltage SEM employing
superconducting X-ray detector toward chemical state analysis of CFRP/adhesive interface

座 長（Chairperson）
米光 恭子（東京工業大学）

藤井 剛 1，浮辺 雅宏 1，志岐 成友 1，大久保 雅隆 1

Kyoko Yonemitsu（Tokyo Institute of Techonol-（1 産業技術総合研究所）

ogy, ELSI）

Go Fujii1, Masahiro Ukibe1, Shigetomo Shiki1, Masataka

村田 薫（サーモフィッシャーサイエンティ

Ohkubo1

フィック）（1National Institute of Advanced Industrial Science andKaoru Murata（Thermo Fisher Scientific）

Technology）

2amF_S9-1 8:30 〜 9:00
走査電子顕微鏡（SEM）の進化と今後の展望
Evolution of Scanning Electron Microscope and Future
Prospect

多持 隆一郎 1，渡邉 俊也 1
1（（株）
日立ハイテクノロジーズ）

Ryuichiro Tamochi1, Syunya Watanabe1（1Hitachi High-Technologies Corporation）（ 52 ）

2amF_S9-2 9:00 〜 9:30
SEM に付帯する EDS/EBSD 分析の最新技術と将来展望

2amF_S9-6 11:00 〜 11:30
データ駆動型材料開発に向けた組織構造の定量
解析

EDS/EBSD analytical instruments technology with SEM to

Quantitative characterization of microstructures for da-open up the future of material development and outlook for

ta-driven material development

谷本 明佳 1，Krasienapibal Thantip1，稲田 直美 1，甕 久

the future

森田 博文 1，Burgess Simon2，Goulden Jenny2

実1

1

2

研究開発グループ）1

Sayaka Tanimoto , Thantip Krasienapibal1, Naomi Ina-

Oxford Instruments Analytical）
1

日立製作所

2

2

da1, Kumi Motai1（1Oxford Instruments KK, 2Oxford Instruments Analytical）（1Hitachi, Ltd. Research & Development Group）

2amF_S9-3 9:30 〜 10:00
FIB-SEM を用いた材料組織観察技術の動向と今後への期待
Trend and future expectation of microstructure evaluation

M-6

ソフトマテリアル

M-6

Soft Materials & Organic Materials

6 月 18 日（火） 14:45 〜 16:15

F 会場 （Room F）

technology using FIB-SEM
原 徹1（1 物質・材料研究機構

座 長（Chairperson）

構造材料研究拠点）

清水 貴弘（自動車研究所）

Toru Hara1

Takahiro Shimizu（JARI）（1National Institute for Materials Science）

吉田 要（ファインセラミックスセンター）

2amF_S9-4 10:00 〜 10:30
SEM 技術のロードマップ振り返りと将来展望（高分子材料編）
Roadmap of SEM technology review and future prospect（by polymer Materials）

梅本 大樹 1，乙部 博英 1

Kaname Yoshida（JFCC）

2pmF_M6-1 14:45 〜 15:00
蛍光電子顕微鏡を用いた海洋マイクロプラス
チックの珪藻による分解の可能性の研究
Study on The Possibility of Biodegradation of Pelagic Mi-

1

（ 旭化成
（株）
研究・開発本部

基盤技術研究所）

croplastic by Diatom using fluorescence electron micro-

Hiroki Umemoto1, Hirohide Otobe1

scope（ Platform Laboratory for Science & Technology Asahi

小池 紘民，磯辺 篤彦 1

Kasei Co.）

（1 九州大学

1

応用力学研究所）

Hirotami Koike, Isobe Atuhiko1

2amF_S9-5 10:30 〜 11:00
電子顕微鏡観察像のセグメンテーションへの深層学習の適用と将来展望
Segmentation method by Deeplearning for Images of（1RIAM Kyushu Univ. Kasuga, Fukuoka, Japan）

2pmF_M6-2 15:00 〜 15:15
軟 X 線分光法によるポリプロピレンの構造解析

SEM-Application and future prospects-

Structural analysis of Polypropylene by Soft X-ray Emis-

黒澤 貴子 1，梅谷 幸宏 1，中村 拓紀 2，松下 康之 2sion Spectroscopy（ パナソニック株式会社， 大阪大学大学院情報科学

齋藤 雅由 1，魚住 俊也 1，足立 倫明 1，菅野 利彦 1，作研究科）

田 裕介 2，小橋 貴樹 2，高橋 秀之 2

1

2

Takako Kurosawa1, Yukihiro Umetani1, Hiroki Nakamu2

2（1 東邦チタニウム株式会社，2 日本電子株式会社）ra , Yasuyuki Matsushita

Masayoshi Saito1，Toshiya Uozumi1，Michiaki Ada-

（1Panasonic Corporation, 2Guraduate School of Information

chi1，Toshihiko Sugano1，Yusuke Sakuda2，Takaki Ko-

Science and Technology, Osaka University）

bashi2，Hideyuki Takahashi2（1TOHO TITANIUM Co.LTD, 2JEOL Ltd.）（ 53 ）

Tue. 18 Jun

Hirobumi morita , Simon Burgess , Jenny Goulden

Oral（1 株式会社（ オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社，

2pmF_M6-3 15:15 〜 15:30
Phase Plate を用いたソフトマテリアルの高コ
ントラスト観察High contrast imaging for Soft Materials using Phase Plate
関口 浩美 ，葦原 雅道 ，Bright Alex ，青山 一弘
1

1

1

1,2

（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック，2 大阪
大学）
Oral

Hiromi Sekiguchi1, Masamichi Ashihara1, Alex Bright1,

I-4

各種位相法（位相回復・位相検出、位相板、ホログラフィー・ローレンツ法等）
I-4.

Phase-Related Topics（ Phase Retrieval, Phase

Detection, Phase Plate, Holography, Lorentz-Microscopy & Others）
6 月 18 日（火） 8:30 〜 11:30

G 会場 （Room G）

1,2

Kazuhiro Aoyama

Tue. 18 Jun（1Thermo Fisher Scientiﬁc, 2Osaka Uniersity）

座 長（Chairperson）
齋藤 晃（名古屋大学）

2pmF_M6-4 15:30 〜 15:45
原子分解能電子顕微鏡による高分子単一分子鎖の直接観察

Koh Saitoh（Nagoya University）
山崎 順（大阪大学）
Jun Yamasaki（Osaka University）

Direct observation of single polymer chains using atomic-resolution electron microscopy
宮田 智衆 1，陣内 浩司 1

2amG_I4-1 8:30 〜 8:45
バイプリズムを用いた伝播距離ゼロでの二重ス
リット電子波干渉実験（1 東北大学）
Tomohiro Miyata1, Hiroshi Jinnai1（1Tohoku University）

Double-slit electron interference experiment with zeropropagation distance using biprisum

原田 研 1,2，児玉 哲司 3，明石 哲也 4,5，高橋 由夫 4，嶌

2pmF_M6-5 15:45 〜 16:00
水/アルコール混合溶媒中の Nafion® 凝集体構造
観察

田 惠子 1，小野 義正 1，進藤 大輔 1,6，品田 博之 4，森茂生 2

Microstructural observation of Nafion aggregate in wa-（1 理化学研究所

創発物性科学研究センター，2 大阪

ter-alcohol solvent

府立大学，3 名城大学，4 日立製作所，5 九州大学，6 東

寺尾 剛 1，杉森 秀一 1，山口 真 1

北大学）（1 技術研究組合 FC-Cubic）

Ken Harada1,2, Tetsuji Kodama3, Tetsuya Akashi4,5, Yoshio

Takeshi Terao1, Hidekazu Sugimori1, Makoto Yamaguchi1

Takahashi 4, Keiko Shimada 1, Yoshimasa Ono 1, Daisuke

1

Shindo1,6, Hiroyuki Shinada4, Shigeo Mori2（ Technology Research Association FC-Cubic）（ 1RIKEN CEMS, 2Osaka prefecture University, 3Meijo

2pmF_M6-6 16:00 〜 16:15
Cryo-TEM による固体高分子形燃料電池用触媒
インクのナノ構造観察
Nanostructural observations of catalyst ink for polymer
electrolyte fuel cell via cryogenic transmission electron mi-

University, 4Hitachi, Ltd., 5Kyushu University, 6Tohoku
University）

2amG_I4-2 8:45 〜 9:00
電子線フラウンホーファーホログラフィー

croscopy

杉森 秀一 ，寺尾 剛 ，古賀 舞都 ，松本 英俊 ，植村
1

1

2

2

豪 2，笹部 崇 2，吉田 利彦 2，平井 秀一郎 2

茂生 2

Hidekazu Sugimori , Takeshi Terao , Maito Koga , Hi-（1 理化学研究所

detoshi Matsumoto2, Suguru Uemura2, Takashi Sasabe2,

府立大学，3 京都大学，4 名城大学，5 日立製作所，6 九2

1

原田 研 1,2，新津 甲大 3，嶌田 惠子 1，児玉 哲司 4，明石 哲也 5,6，小野 義正 1，進藤 大輔 1,7，品田 博之 5，森（1 技術研究組合 FC-Cubic，2 東京工業大学）
1

Electron Fraunhofer Holography22

創発物性科学研究センター，2 大阪

Toshihiko Yoshida , Shuichiro Hirai

州大学，7 東北大学）（1FC-Cubic TRA, 2Tokyo Institute of Technology）

Ken Harada1,2, Kodai Niitsu3, Keiko Shimada1, Tetsuji
Kodama 4, Tetsuya Akashi 5,6, Yoshimasa Ono 1, Daisuke
Shindo1,7, Hiroyuki Shinada5, Shigeo Mori2（ 1RIKEN CEMS, 2Osaka prefecture University, 3Kyoto
University, 4Meijo University, 5Hitachi Ltd, 6Kyushu University, 7Tohoku University）（ 54 ）

2amG_I4-3 9:00 〜 9:15
ホロコーン・フーコー法

座 長（Chairperson）
原田 研（理化学研究所）

Hollow-Cone Foucault Imaging

Ken Harada（RIKEN CEMS）

原田 研 1,2，川口 惇史 2，小谷 厚博 2，藤林 征宏 2，嶌

佐々木 勝寛（UACJ）

田 惠子 1，森 茂生 2
（1 理化学研究所

Katsuhiro Sasaki（UACJ Corporation）

創発物性科学研究センター，2 大阪

府立大学）
Yukihiro Fujibayashi2, Keiko Shimda1, Shigeo Mori22amG_I4-7 10:15 〜 10:30
FZP 位相差 STEM の画像処理
Image-Processing for FZP-PC-STEM

2amG_I4-4 9:15 〜 9:30
Structure Retrieval in the Presence of Multiple Electron Scattering via 4D-STEM（1 高エネルギー加速器研究機構，2 自然科学研究機構

永谷 幸則 1，富田 雅人 2，新井 善博 3，村田 和義 2
生理学研究所，3 テラベース株式会社）
Yukinori Nagatani1, Masato Tomita2, Yoshihiro Arai3,

Structure Retrieval in the Presence of Multiple Electron

Kazuyoshi Murata2

Scattering via 4D-STEM（1KEK, 2National Institute for Physiological Sciences, 3Ter-

1

1

1

Scott Findlay , Hamish Brown , Zhen Chen , Matthew
122Weyland , Colin Ophus , James Ciston , Leslie J Allenabase Inc.）

3（1Monash University, 2National Centre for Electron Microscopy, 3The University of Melbourne）

2amG_I4-8 10:30 〜 10:45
X 線格子干渉顕微鏡を用いた位相定量計測
Quantitative Phase Measurement Using X-Ray Grating In-

2amG_I4-5 9:30 〜 9:45
2 次元検出器を利用した位相差 STEM イメージ
ング

terferometric Microscope髙野 秀和 1，橋本 康 1，永谷 幸則 2，呉 彦霖 1，百生 敦
1（1 東北大学多元物質科学研究所，2 高エネルギー加速

Phase plate STEM imaging using 2D electron detector
坪内 美沙季 1，箕田 弘喜 1器研究機構）

1

Hidekazu Takano1, Koh Hashimoto1, Yukinori Nagatani2,（ 東京農工大学）
1

1

Misaki Tsubouchi , Hiroki Minoda

Yanlin Wu1, Atsushi Momose1（1Tokyo University of Agriculture and Technology）（1IMRAM, Tohoku University, 2KEK）

2amG_I4-6 9:45 〜 10:00
クラスタリングに基づくサポート構成を用いた
タイコグラフィ

2amG_I4-9 10:45 〜 11:00
DPC STEM による反復ポテンシャル再生法 II
Iterative potential retrieval method by DPC STEM II
関 岳人 1，幾原 雄一 1,2，柴田 直哉 1,2

Ptychography with clustering-based support construction

市橋 克哉 1，野川 翔太 1，小澤 怜 1，前原 洋祐 1，塩谷
1

2

浩之 ，山﨑 順 ，郷原 一寿（1 東京大学総合研究機構，2 ファインセラミックスセ

3

ンターナノ構造研究所）（1 室蘭工業大学 大学院工学研究科，2 大阪大学 超高圧
3電子顕微鏡センター， 北海道大学 大学院工学研究

Takehito Seki1, Yuichi Ikuhara1,2, Naoya Shibata1,2（1The University of Tokyo, 2Japan Fine Ceramics Center）

院）
Katsuya Ichihashi1, Shota Nogawa1, Ryo Ozawa1, Yosuke Maehara1, Hiroyuki Shioya1, Jun Yamasaki2, Kazutoshi Gohara3

2amG_I4-10 11:00 〜 11:15
電子線ホログラムからの微粒子画像の自動抽出
精度向上に関する手法の提案（1Graduate School of Engineering, Muroran Institute of2

Technology, Research Center for Ultra-High Voltage Elec-

Improvement of Particle Extraction Accuracy from Electron
Hologramtron Microscopy, Osaka University, 3Graduate School of

浅利 裕介 1，寺田 尚平 1，谷垣 俊明 1，高橋 由夫 1，品Engineering, Hokkaido University）

田 博之 1，中島 宏 2，佐藤 敦子 2，村上 恭和 2
（1 株式会社日立製作所，2 九州大学）
Yusuke Asari 1, Shohei Terada 1, Toshiaki Tanigaki 1,
Yoshio Takahashi1, Hiroyuki Shinada1, Hiroshi Nakajima2,
Atsuko Sato2, Yasukazu Murakami2（1Hitachi, Ltd., 2Kyushu University）（ 55 ）

Tue. 18 Jun（1RIKEN CEMS, 2Osaka prefecture University）

Oral

Ken Harada1,2, Atsushi Kawaguchi2, Atsuhiro Kotani2,2amG_I4-11 11:15 〜 11:30
隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去

2pmG_I4-13 15:00 〜 15:15
影像歪法による Al/Al3Fe 界面電位測定の試み
Measurement of potential difference on Al/Al3Fe interface
by SID method

Noise reduction from electron hologram by using hidden

佐々木 勝寛 1，佐々木 宏和 2，山本 雄太 1，仲田 都 1，

Markov model

玉岡 武泰 ，山本 和夫 ，御堂 義博 ，谷垣 俊明 ，中冨野 麻衣 1

村 優男 5，川崎 雅司 5，中前 幸司 3，村上 恭和 1

（1 株式会社 UACJ，2 古河電気工業株式会社）

1

2

1

3

4

2

Oral

（ 九州大学工学研究院， ファインセラミックスセン

Katsuhiro Sasaki1, Hirokazu Sasaki2, Yuta Yamamoto1,

ターナノ構造研究所，3 大阪大学情報科学研究科，4 日

Miyako Nakada1, Mai Tomino1

5

Tue. 18 Jun（1UACJ Corporation, 2Furukawa Electric Co. Ltd.）立製作所基礎研究センター， 理化学研究所創発物性科学研究センター）
Takehiro Tamaoka1, Takehiro Tamaoka2, Yoshihiro Midoh3, Toshiaki Tanigaki4, Masao Nakamura5, Masashi Kawasaki5, Koji Nakamae3, Yasukazu Murakami1

2pmG_I4-14 15:15 〜 15:30
DPC STEM を用いた GaN/AlGaN 界面電場直接
観察（ 1Graduate School of Engineering, Kyushu University,
2

Direct observation of electric field in GaN/AlGaN hetero

3interface by DPC STEM

Nanostructure Research Laboratory, JFCC, raduate Schoolof Information Science and Technology, Osaka University,

遠山 慧子 1，関 岳人 1，蟹谷 裕也 2，工藤 喜弘 2，冨谷

4

Center for Exploratory Research, Hitachi, Ltd., 5CEMS,

茂隆 2，幾原 雄一 1,3，柴田 直哉 1,3

RIKEN）（1 東京大学工学系研究科総合研究機構，2 ソニー株式
会社先端基盤技術研究開発第 2 部門，3 ファインセラ

I-4

ミックスセンターナノ構造研究所）

各種位相法（位相回復・位相検出、位相Satoko Toyama1, Takehito Seki1, Yuya Kanitani2, Yoshi-

板、ホログラフィー・ローレンツ法等）

hiro Kudo2, Shigetaka Tomiya2, Yuichi Ikuhara1,3, Naoya

I-4.

Shibata1,3Phase-Related Topics（ Phase Retrieval, Phase（1Institute of Engineering Innovation, School of Engineer-

Detection, Phase Plate, Holography, Lorentz-Mi-

ing, University of Tokyo, 2Fundamental Technology Re-

croscopy & Others）

search and Development Div. 2, Sony Corporation, 3JapanG 会場 （Room G）

6 月 18 日（火） 14:45 〜 16:55

Fine Ceramics Center）

2pmG_I4-15 15:30 〜 15:45
超高圧電子線ホログラフィーによる GaN 半導体のドーパント濃度分布の高感度観察座 長（Chairperson）
三石 和貴（物質・材料研究機構）
Kazutaka Mitsuishi（NIMS）

High sensitivity observation of dopant concentration in
GaN semiconductor by ultrahigh voltage electron hologra-

2pmG_I4-12 14:45 〜 15:00
電子線ホログラム自動収集システムphy

仲野 靖孝 1,4，葛西 裕人 2,4，明石 哲也 2,4，山田 寿一 3，
山田 永 3，谷垣 俊明 2,4，山本 和生 1,4，平山 司 1,4，品田Automatic Hologram Data Acquisition System

高橋 由夫 ，明石 哲也 ，佐藤 敦子 ，谷垣 俊明 ，

博之 2,4

品田 博之 1，村上 恭和 2

（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター，2 株

1

1,2

1
（（株）
日立製作所

2

1

研 究 開 発 グ ル ー プ，2 九 州 大 学

式会社日立製作所，3 国立研究開発法人産業技術総合研究所，4 文部科学省

超顕微解析研究センター）
1

1,2

2

先端研究基盤共用促進事業ア

Yoshio Takahashi , Tetsuya Akashi , Atsuko Sato ,トミックスケール電磁場解析プラットフォーム）

Toshiaki Tanigaki1, Hiroyuki Shinada1, Yasukazu Muraka-

Kiyotaka Nakano1,4, Hiroto Kasai2,4, Tetsuya Akashi2,4,

mi2

Toshikazu Yamada3, Hisashi Yamada3, Toshiaki Tanigaki2,4,

1

2（ R&D Group, Hitachi, Ltd., The Ultramicrocopy Re-

Kazuo Yamamoto1,4, Tsukasa Hirayama1,4, Hiroyuki Shina-

search Center）

da2,4（1Japan Fine Ceramics Center, 2Hitachi, Ltd., , 3National
Institute of Advanced Industrial Science and Technology,
4

Ministry of Education, Culture, Sports, Science andTechnology: Project to Promote the sharing of CuttingEdge Research Infrastructure Atomic Scale Electromagnetic
Field Analysis Platform）（ 56 ）

2pmG_I4-19 16:40 〜 16:55
微分位相コントラスト法による多結晶材料中の磁区直接観察手法の開発

座 長（Chairperson）
村上 恭和（九州大学）
Yasukazu Murakami（Kyushu University）

Development of Magnetic Structure Imaging Techniques in
Polycrystalline Materials by DPC STEM

村上 善樹 1，関 岳人 1，木下 昭人 2，庄司 哲也 2，幾原

2pmG_I4-16 15:55 〜 16:10
operando 位相シフト電子線ホログラフィーによる全固体電池の電位分布観察（1 東京大学大学院工学系研究科総合研究機構，2 トヨ

Observation of potential distribution in an all-solid-state

タ自動車東富士研究所先端材料技術部，3 ファインセ

battery by operando phase-shifting electron holography

ラミックスセンターナノ構造研究所）

1

1

1

Yoshiki Murakami1, Takehito Seki1, Akihito Kinoshita2,2（ （一財）ファインセラミックスセンター， パナソ

Tetsuya Shoji2, Yuichi Ikuhara1,3, Naoya Shibata1,3

ニック株式会社，3 名古屋大学）（1Institute of Engineering Innovation, The University of1

Kazuo Yamamoto , Yuki Nomura , Satoshi Anada ,Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo, Japan, , 2Advanced Material

Tsukasa Hirayama1

Engineering Division, Toyota Motor Corporation, Susono,

1

2,3

1

2

Shizuoka, Japan, 3Nano Structures Research Laboratory,（ Japan Fine Ceramics Center, Panasonic Corporation,
3

Japan Fine Ceramics Center, Atsuta-ku, Nagoya, Japan）

Nagoya University）

2pmG_I4-17 16:10 〜 16:25
電子線ホログラフィーによる固体電解質内の空間電荷層の可視化

S-2

最先端顕微鏡法に関する国際シンポジ

ウム-2

Visualization of a Space-Charge Layer in a Solid-Electro-

S-2

lyte by Electron Holography

microscopy-2

野村 優貴 1,2,3，山本 和生 3，平山 司 3，大内 暁 1，井垣恵美子 1，齋藤 晃 2

International Symposium on advanced electron

6 月 18 日（月） 9:00 〜 11:30

H 会場（Room H）（1 パナソニック株式会社，2 名古屋大学，3 一般財団法人ファインセラミックスセンター）
Yuki Nomura1,2,3, Kazuo Yamamoto3, Tsukasa Hirayama3,

Chairperson
Wolfgang Jäger

Satoru Ouchi1, Emiko Igaki1, Koh Saitoh2

Sho Matsumura（1Panasonic Corporation, 2Nagoya University, 3Japan Fine
Ceramics Center）

2pmG_I4-18 16:25 〜 16:40
位相差顕微鏡法による BaFe10.35Sc1.6Mg0.05
O19 の磁気テクスチャの解析

2amH_S2-13 9:00 〜 9:30
サブ原子分解能電子顕微鏡に向けて
Towards sub-atomic resolution electron microscopy
柴田 直哉 1,2

Magnetic textures in a hexaferrite thin film revealed by（1 東京大学，2 ファインセラミックスセンターナノ構

phase microscopy

造研究所）

小谷 厚博 ，原田 研 ，マラック マレック ，森 茂生
1

2

3

1

Naoya Shibata1,2（1 大阪府立大学，2 理化学研究所，3Nanotechnology Re-（1The University of Tokyo, 2Nanostructures Research Lab-

search Centre）

oratory, JFCC）

Atsuhiro Kotani1, Ken Harada2, Marek Malac3, Shigeo
Mori1（1Osaka Prefecture University, 2RIKEN, 3Nanotechnology
Research Centre）

2amH_S2-14 9:30 〜 10:00
High-Accuracy EELS for Plasmonics, Valenceand Structure Determination
High-Accuracy EELS for Plasmonics, Valence and Structure Determination
T. Gemming1, J. Krehl1, A. Lubk1（11Leibniz-IFW Dresden）（ 57 ）

Tue. 18 Jun

2,3

Oral

山本 和生 ，野村 優貴 ，穴田 智史 ，平山 司1

雄一 1,3，柴田 直哉 1,3

2amH_S2-15 10:00 〜 10:30
電子チャネリングを利用した元素／サイト選択的化学分析
Quantitative element/site-selective chemical analysis based

S13
S13

学会各賞受賞講演
Lectures by JSM Award Winners

6 月 18 日（火） 14:45 〜 17:30

H 会場 （Room H）

on electron channelling effects in crystalline materials
武藤 俊介 1，大塚 真弘 2
（1 名古屋大学
2

Oral

名古屋大学

未来材料・システム研究所（IMaSS），

座 長（Chairperson）奨励賞
中澤 英子（日立ハイテクノロジーズ）

大学院工学研究科）

Eiko Nakazawa（Hitachi HIgh-Technologies

Shunsuke Muto1, Masahiro Ohtsuka2

Corporation）

Tue. 18 Jun（1IMASS, Nagoya Univ., 2Graduate School of Engineering,
Nagoya Univ.）

2amH_S2-16 10:30 〜 11:00
STEM-XEDS による化合物中の添加元素サイトの決定

2pmH_S13-1 14:45 〜 15:05
クライオ位相差透過電子顕微鏡法を用いた細胞の超微細形態の研究
Ultrastructural studies of cells by cryo phase contrast trans-

Atom-location of dopant elements in intermetallic com-mission electron microscopy
福田 善之 1pounds by STEM-XEDS

松村 晶 1，杨 文慧 1，山本 知一 1，麻生 浩平 1，Flora2

Somidin ，野北 和宏（1 東京大学）

2

Yoshiyuki Fukuda1（1 九州大学，2 クイーンズランド大学）
1（1The University of Tokyo）

1

1

Syo Matsumura , Wenhui Yang , Tomokazu Yamamoto ,Kohei Aso1, Flora Somidin2, Kazuhiro Nogita2

座 長（Chairperson）奨励賞（1Kyushu University, 2The University of Queensland）

松村 晶（九州大学）

2amH_S2-17 11:00 〜 11:30
Advanced and In Situ TEM for the Development of High-Efficiency Solar Cells
Advanced and In Situ TEM for the Development ofHigh-Efﬁciency Solar Cells

Syo Matsumura（Kyushu University）

2pmH_S13-2 15:05 〜 15:25
有機分子および分子集合体の高分解能電顕観察手法の開発と機能性材料創製への応用

Andras Kovács 2, Felix Predan 3, Jens Ohlmann 3, David3

3

High-resolution electron microscopic imaging of organic

2

Lackner , Frank Dimroth , Rafal E. Dunin-Borkowski ,molecules and molecular assemblies, and its application

Wolfgang Jaeger1

for design of functional materials

1

原野 幸治 1

2

（ Christian-Albrechts-University, Ernst Ruska-Centre for3

Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Fraunhofer（1 東京大学大学院理学系研究科）

Institute for Solar Energy Systems）

Koji Harano1（1Department of Chemistry, The University of Tokyo）

2pmH_S13-3 15:25 〜 15:45
走査型透過電子顕微鏡を用いたリチウムイオン
二次電池正極単結晶の研究
Single crystals of Li-ion battery cathode materials characterized using scanning transmission electron microscopy
小林 俊介 1

（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター
構造研究所）
Shunsuke Kobayashi1（1Japan Fine Ceramics Center）（ 58 ）

ナノ2pmH_S13-4 16:00 〜 16:15
STEM 内微小熱電対を用いたナノスケール熱分析顕微鏡法の開発

2pmH_S13-7 16:45 〜 17:00
高速原子間力顕微鏡を用いた生細胞における皮層アクチンフィラメントの可視化解析

Development of STEM-based thermal analytical microsco-

In vivo dynamics of the cortical actin network revealed bypy

fast-scanning atomic force microscopy

張 雁書 1，吉田 藍子 1，酒井 信明 2，植草 義嗣 2，粂

川本 直幸 1
（1 物質・材料研究機構

田 昌宏 1，吉村 成弘 1

MANA）

1

（1 京都大学大学院，2 オリンパス株式会社）（1National Institute for Materials Science（NIMS））

Yanshu Zhang1, Aiko Yoshida1, Nobuaki Sakai2, Yoshit（1Graduate School of Biostudies, Kyoto University, 2R&D

座 長（Chairperson）論文賞

Group, Olympus Corp.）

岡部 繁男（東京大学）
Shigeo Okabe（The University of Tokyo）

2pmH_S13-8 17:00 〜 17:15
チップスキャン型原子間力顕微鏡による生体分子観察津田健治（東北大学）
Kenji Tsuda（Tohoku University）

Observation of biomolecules by tip-scan atomic force mi-

2pmH_S13-5 16:15 〜 16:30
境界条件を考慮した DPC 信号からのポテンシャ
ル分布の計測croscopy

成田 哲博 1，臼倉 英治 2，八木 明 2，館山 清彦 2，秋月将吾 1，菊本 真人 1，松本 友治 1，前田 雄一郎 1，伊東Boundary-artifact-free Determination of Potential Distribu-

修一 2，臼倉 治郎 1tion from Differential Phase Contrast（DPC）signals（1 名古屋大学，2 オリンパス）

石塚 顕在 ，岡 正昭 ，関 岳人 ，柴田 直哉 ，石塚 和
1

1

2

2

Akihiro Narita1, Eiji Usukura2, Akira Yagi2, Kiyohiko Tat-

夫1eyama2, Shogo Akizuki1, Mahito Kikumoto1, Tomoharu

12（ 有限会社エイチアールイーエム， 東京大学大学院）

Matsumoto1, Yuichiro Maeda1, Shuichi Ito2, Jiro Usukura1

Akimitsu Ishizuka1, Masaaki Oka1, Takehito Seki2, Naoya（1Nagoya Univ, 2Olympus Corporation）

Shibata2, Kazuo Ishizuka1（1HREM Research Inc., Tokyo, Japan, 2University of Tokyo, Tokyo, Japan）

2pmH_S13-9 17:15 〜 17:30
数学的手法による粒界原子構造解析
Mathematical analysis of grain-boundary atomic

2pmH_S13-6 16:30 〜 16:45
超薄連続切片ストラクトーム解析による大腸菌の細胞形態とリボソーム密度の解明

井上 和俊 1,2，斎藤 光浩 3，陳 春林 1，小谷 元子 1，幾原 雄一 1,3（1 東北大学 WPI-AIMR，2JST さきがけ，3 東京大学・

Structome analysis of Escherichia coli cells by serial ultra-

院工・総合研究機構）

thin sectioning reveals the precise cell proﬁles and the ribo-

Kazutoshi Inoue1,2, Mitsuhiro Saito 3, Chunlin Chen 1,

some density

Motoko Kotani1, Yuichi Ikuhara1,3

山田 博之 1，山口 正視 2，清水 公徳 2,3，村山 琮明 4，12

御手洗 聡 ，笹川 千尋 ，知花 博治（1 公益財団法人
2（1WPI-AIMR, Tohoku University, 2JST-PRESTO, 3Insti-

2

tute of Engineering Innovation, The University of Tokyo)

結核予防会結核研究所 抗酸菌部，

千葉大学真菌医学研究センター，3 東京理科大学基礎

工学部，4 日本大学薬学部）
Hiroyuki Yamada1, Masashi Yamaguchi2, Kiminori Shimizu2,3, Somay Murayama4, Satoshi Mitarai1, Chihiro Sasakawa2, Hiroji Chibana2（1Dept. Mycobacterium Ref. and Res., the Research Institute of Tuberculosis, JATA., 2Medical Mycology ResearchCenter, Chiba University, 3Graduate School of Industrial
Science and Technology, Department of Biological Scienceand Technology, Tokyo University of Science, 4Laboratoryof Medical Microbiology, Graduate School of Pharmacy,
Nihon University）（ 59 ）

Tue. 18 Jun

sugu Uekusa2, Masahiro Kumeta1, Shige H. Yoshimura1

Oral

Naoyuki Kawamoto

学術講演会発表（Oral sessions）※座長は交渉中を含みます。
6 月 19 日（水） 第 3 日目

3amB_I7-13 9:45 〜 10:00
多様な SEM 信号の品質を適切に評価するためのSN 比と eSN 比

I-7 その他（装置・手法系）
I-7 Others（ Instruments & Methods）
6 月 19 日（水） 9:00 〜 11:45

B 会場 （Room B）

SN ratio and eSN ratio for properly evaluating the qualityof various SEM signals

於保 英作 1，鈴木 一彦 2，山﨑 貞郎 1

座 長（Chairperson）（1 工学院大学，2 能美防災（株））

永谷 幸則（高エネルギー加速器研究機構）

Eisaku Oho1, Kazuhiko Suzuki2, Sadao Yamazaki1

Yukinori Nagatani（KEK）（1Kogakuin University, 2Nohmi Bosai Ltd.）Oral

板倉 賢（九州大学）
Masaru Itakura（Kyusyu University）

Wed. 19 Jun

3amB_I7-14 10:00 〜 10:15
畳み込みニューラルネットワークを用いた SEM
像のノイズ除去とその利点

3amB_I7-10 9:00 〜 9:15
シリコン貫通電極の三次元電流測定− 2

Noise removal for SEM images using a convolutional neu-

SELBIC measurements on silicon wafer with through sili-

ral network and its advantages

鈴木 一彦 1，於保 英作 2，山﨑 貞郎 2

con via（TSV）structure -2
高洲 信一 ，末吉 晴樹
1

2（1 能美防災株式会社，2 工学院大学）（1 福岡大学，2（公財）福岡県産業・科学技術振興財

Kazuhiko Suzuki1, Eisaku Oho2, Sadao Yamazaki2団 三次元半導体研究センター）（1NOHMI BOSAI LTD., 2Kogakuin University）

SHINICHI TAKASU1, Haruki Sueyoshi2（1Fukuoka University, 2Fukuoka Industry, Science & Tech-

座 長（Chairperson）
関口 隆史（筑波大学）

nology Foundation）

Takashi Sekiguchi（Tsukuba Univeristy）
桒原 真人（名古屋大学）

3amB_I7-11 9:15 〜 9:30
EBSD 検出器のパターン鮮明度の評価 ―MTF を用いて―CMOS: Image sharpness of EBSD detector by MTF
森田 博文 1，Goulden Jenny2，Bewick Angus2（1 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社，
2

Makoto Kuwahara（Nagoya Univeristy）

3amB_I7-15 10:30 〜 10:45
走査電子顕微鏡の合焦支援システムにおける活用を視野に入れた信号品質改善技術

Oxford Instruments Analytical）

Signal quality improvement technology utilized for a sup-Hirobumi morita1, Jenny Goulden2, Angus Bewick2

port system of ﬁne focusing in scanning electron microsco-

1

2（ Oxford Instruments KK, Oxford Instruments Analytical）

py

3amB_I7-12 9:30 〜 9:45
Confocal Raman Microscope integrated in
SEM for Advanced Correlative Microscopy（1 工学院大学，2 能美防災（株））

Confocal Raman Microscope integrated in SEM for Advanced Correlative Microscopy
Fang Zhou1, Ute Schmidt2（1Carl Zeiss Microscopy GmbH, 2WITec GmbH）（ 60 ）

山﨑 貞郎 1，鈴木 一彦 2，於保 英作 1
Sadao Yamazaki1, Kazuhiko Suzuki2, Eisaku Oho1
（1Kogakuin University, 2Nohmi Bosai Ltd.）

3amB_I7-16 10:45 〜 11:00
SEM / TEM / STEM / EDS 相関像の高解像度・広視野自動取得

ション技術

Automated acquisition of large areas at high resolution with

S-11

SEM / TEM / STEM / EDS correlative imaging.

image

関 口 浩 美 1，Kocar Darius1，Lichau Daniel1，Kelley
Ron1，Bright Alex1，Freitag Bert1，Rikers Yuri1

生物ボリュームデータのセグメンテー

S-11

Segmentation approach for biological volume

6 月 19 日（水） 9:00 〜 11:00

E 会場 （Room E）（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Hiromi Sekiguchi1, Darius Kocar1, Daniel Lichau1, Ron
Kelley1, Alex Bright1, Bert Freitag1, Yuri Rikers1

座 長（Chairperson）
横田 秀夫（理化学研究所）（1Thermo Fisher Scientiﬁc）

Hideo Yokota（RIKEN）
太田 啓介（久留米大学）

3amB_I7-17 11:00 〜 11:15
FIB-SIMS の空間分解能評価とアプリケーション

Keisuke Ohta（Kurume University）

村田 薫 1，Chengge Jiao1（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Kaoru Murata1, Jiao Chengge1

Edge Extraction based on Narrowness Principle ―Koshi-

1（ Thermo Fisher Scientiﬁc）

mizu-Kashiwagi Method―

3amB_I7-18 11:15 〜 11:30
電子顕微鏡内全自動小型切削装置の基礎検討（1 合同会社 YYC ソリューション／中京大学）

輿水 大和 1

Hiroyasu Koshimizu1（1LLC YYC Solution / Chukyo University）

Fundamental Study of an Automatic Compact Cutting Machine in an Electron Microscope

中出 優志 1,2，山下 典理男 2，溝口 博 1，徐 世傑 3，横田 秀夫

2（1 東京理科大学，2 理化学研究所，3 メカノトランス

3amE_S11-2 9:20 〜 9:40
金属・無機・生体材料インフォマティクスのための定量組織解析
Quantitative microstructure analysis for metal, inorganic,フォーマ）
Yuji Nakade1,2, Norio Yamashita2, Hiroshi Mizoguchi1,
3

bio material informatics

足立 吉隆 1，小川 登志男 1，Zhi Lei Wang1

2

Chee Sze Keat , Hideo Yokota
12

3（ Tokyo University of Science, Riken, Mechano Trans-（1 名古屋大学）

former Corporation）

Yoshitaka Adachi1, Toshio Ogawa1, Wang Zhi Lei1
（1Nagoya University）

3amB_I7-19 11:30 〜 11:45
バルクサンプル中の微量分析に向けた SEM 搭載
型 Transition Edge Sensor（TES）
Transition edge Sensor（TES）for SEM to analyse the mi-

3amE_S11-3 9:50 〜 10:10
深層学習を用いた細胞 3 次元セグメンテーショ
ンの実用的な手法と適用例

nor elements in the bulk sample

田中 啓一 ，髙野 彬 ，永田 篤士 ，高橋 要 ，安島 雅
1

1

1

1

Learning and its Application

小西 功記 1，鈴木 友香 1，三村 正文 1，野中 崇雄 1，佐彦1（1 株式会社

Practical Method of Cell 3D Segmentation using Deep瀬 一郎 1，太田 啓介 2，西岡 秀夫 3，須賀 三雄 3

日立ハイテクノロジーズ）
1

1

1

Keiichi Tanaka , Akira Takano , Atsushi Nagata , Kaname（1 株式会社ニコン，2 久留米大学，3 日本電子株式会

Takahashi1, Masahiko Ajima1社）（1Hitachi High-Technologies Corp.）

Kohki Konishi1, Yuka Suzuki1, Masafumi Mimura1, Takao
Nonaka1, Ichiro Sase1, Keisuke Ohta2, Hideo Nishioka3,
Mitsuo Suga3（1Nikon Corporation, 2Kurume University, 3JEOL Ltd.）（ 61 ）

Wed. 19 Jun

3amE_S11-1 9:00 〜 9:20
Edge Extraction based on Narrowness Principle ―Koshimizu-Kashiwagi Method―

SIMS

Oral

Spatial Resolution and Light Element Detection by FIB-

3amE_S11-4 10:10 〜 10:30
VAST: A Tool for Efficient Generation ofTraining Data and Proofreading of Segmentations of Biological 3D Electron Microscopic
Data
VAST: A Tool for Efﬁcient Generation of Training Data andProofreading of Segmentations of Biological 3D Electron
Microscopic Data

OT-6 （冠） Tietz Video and Image Processing Systems GmbH（TVIPS GmbH）（Room E）
座 長（Chairperson）
荒牧 慎二 （TVIPS GmbH）

Daniel Berger1, Jeff Lichtman1

Shinji Aramaki（TVIPS GmbH）（1Harvard University）

3amE_S11-5 10:40 〜 11:00
生命構造の理解に向けた画像処理による情報抽出

高速・高感度・高ダイナミックレンジを実現するための CMOS カメラテクノロジとその利用
CMOS Camera Technology for Fast Acquisition, Single

Oral

Electron Sensitivity and High Dynamic Range

Understanding of life structure by image processing using

ハンス ティーツ 1

machine learning

Wed. 19 Jun

横田 秀夫

E 会場

6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30

1（1TVIPS GmbH）（1 理化学研究所）

Hans R. Tietz1

1（1TVIPS GmbH）

Hideo Yokota（1RIKEN Center for Advanced Photonics, Image Processing Research Team）

S-12

ト〜原子から細胞まで階層をまたぐ構造・機OT-5 （冠） E.A Fischione Instruments,

能解析〜

Inc.
6 月 19 日（水） 11:15 〜 11:45

原子間力顕微鏡技術のパラダイムシフ

S-12

E 会場

Paradigm shift of Atomic Force Microscopy〜 Structural-functional analysis across the hierarchy（Room E）

from atom to cell 〜
6 月 19 日（水） 9:00 〜 11:25

座 長（Chairperson）

F 会場 （Room F）

清水 貴志 （ニューメタルス エンド ケミカルス
コーポレーション）

座 長（Chairperson）

Takashi Shimizu（New Metals and Chemicals

内橋 貴之（名古屋大学）

Corporation）

Takayuki Uchihashi（Nagoya University）
岡嶋 孝治（北海道大学）

イ オ ン ミ リ ン グ 試 料 作 成 に よ る TEM ＆ SEM
データ改善

Takaharu Okajima（Hokkaido Uiversity）

TEM and SEM data improvement through ion polishing

3amF_S12-1 9:00 〜 9:25
溶液中高速原子間力顕微鏡による生体・人工分子のダイナミクス解析

sample preparation
マニエット
1（ イーエー

イヴ 1
フィション

インストルメンツ

Dynamic Analysis of Biological/Artiﬁcial Molecules withイン

high-speed AFM in liquids

ク）
Maniette Yves, Dr-Ing1

内橋 貴之 1,2

（1E.A. Fischione Instruments, Inc.）（1 名古屋大学，2 自然科学研究機構

生命創成探究センター）
Takayuki Uchihashi1,2（1Nagoya University, 2ExCELLS, National Institute of
Natural Science）（ 62 ）

3amF_S12-2 9:25 〜 9:50
AFM による 1 細胞・細胞集団のナノメカニクス
Nanomechanics of single cells and cell population by AFM
岡嶋 孝治

1

OT-7 （冠） NPO 法人綜合画像研究支援（IIRS）
Integrated Imaging Research Support

1（ 北海道大学）

F 会場（Room F）

6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30

Takaharu Okajima1（1Hokkaido University）

座 長（Chairperson）

3amF_S12-3 10:00 〜 10:25
原子間力顕微鏡を用いた原子レベルで行う単分子の構造解析
Structural analysis of single molecules at atomic-scale byatomic force microscopy
川井 茂樹 1

光岡 薫（大阪大学）
Kaoru Mitsuoka（Osaka University）

生体試料構造解析のためのクライオ電子顕微鏡
法の将来展望Future of Cryo-Electron Microscopy for Biological Specimen

1

宮澤 淳夫 1，安永 卓生 2，成田 哲博 3，福田 善之 4

Shigeki Kawai
1京大学）

3amF_S12-4 10:25 〜 10:50
高速イオン伝導顕微鏡による生細胞のナノ計測

Atsuo Miyazawa 1, Takuo Yasunaga 2, Akihiro Narita 3,
Yoshiyuki Fukuda4（1University of Hyogo, 2Kyushu Insitutute of Technology,

Nanoscale probing of living cell surface by high-speed ion

3

Nagoya University, 4University of Tokyo）

counductance microscopy
渡辺 信嗣

1

（1 金沢大学ナノ生命科学研究所）

I-4

Shinji Watanabe1

各種位相法（位相回復・位相検出、位相板、ホログラフィー・ローレンツ法等）（1WPI-Nano LSI, Kanazawa University）

I-4.

3amF_S12-5 11:00 〜 11:25
液中周波数変調原子間力顕微鏡による超分子集合体の構造・機能解析
Supramolecular assemblies investigated by frequency-mod-

Phase-Related Topics（Phase Retrieval, Phase

Detection, Phase Plate, Holography, Lorentz-Microscopy & Others）
6 月 19 日（水） 9:00 〜 10:00

G 会場 （Room G）

ulation AFM in liquid淺川 雅 1，高野 駿平 1，波多野 尋花 1
（1 金沢大学）

座 長（Chairperson）
森 茂生（大阪府立大学）

Hitoshi Asakawa1, Shunpei Takano1, Hiroka Hatano1

Shigeo Mori（Osaka Prefecture University）（1Kanazawa University）

3amG_I4-20 9:00 〜 9:15
In-situ L-TEM observation of antiskyrmion tochiral bubble transformation
In-situ L-TEM observation of antiskyrmion to chiral bubble
transformation
Licong Peng1, Rina Takagi1, Wataru Koshibae1, Kiyou
Shibata1, Takahisa Arima1,3, Naoto Nagaosa1,2, Yoshinori
Tokura1,2, Shinichiro Seki1, Xiuzhen Yu1（1RIKEN Center for Emergent Matter Science（CEMS）,
Wako, 351-0198, Japan, 2Department of Applied Physics,
University of Tokyo, Tokyo, 113-8656, Japan, 3Department of Advanced Materials Science, University of Tokyo,
Kashiwa, Chiba 277-8561, Japan）（ 63 ）

Wed. 19 Jun（1 兵庫県立大学，2 九州工業大学，3 名古屋大学，4 東（ National Institute for Materials Science）

Oral（1 物質・材料研究機構）

3amG_I4-21 9:15 〜 9:30
Suppressing geometric phase shift in darkfield electron holography

I-1

TEM・STEM・収差補正法

I-1

TEM , STEM ＆ Aberration-Corrected Microsco-

Suppressing geometric phase shift in dark-ﬁeld electron ho-pylography

6 月 19 日（水） 10:15 〜 11:45

Cho Youngji1，新津 甲大 2，御堂 義博 3，中前 幸治 3，
村上 恭和 1,4
（1 九州大学，2 京都大阪，3 大阪大阪，4 九州大学 超顕

座 長（Chairperson）
大島 義文（北陸先端科学技術大学院大学）

微解析研究センター）

Yoshifumi Oshima（JAIST）

Youngji Cho1, Kodai Niitsu2, Yoshihiro Midoh3, Koji Na-

坂口 紀史（北海道大学）

kamae3, Yasukazu Murakami1,4

Norihito Sakaguchi（Hokkaido University）（1Kyushu University, 2Kyoto University, 3Osaka University,
4

G 会場 （Room G）

Ultramicroscopy Research Center, Kyushu University）

Oral
Wed. 19 Jun

3amG_I4-22 9:30 〜 9:45
電子線ロッキングカーブの位相回復による転位
近傍の歪み場の決定

3amG_I1-1 10:15 〜 10:30
The latest HR-STEM Developments including
the New 5th Order Aberration Corrector
The latest HR-STEM Developments including the New 5th

Determination of displacement ﬁelds around dislocation by

Order Aberration Corrector

the phase retrieval of electron rocking curves

Maarten Bischoff1, Marcel Niestadt1, Veli Altin1, Alexander

石塚 宏幸 1，齋藤 晃 1，恩田 正一 1

Henstra1, Peter Tiemeijer1, Sorin Lazar1, Peter Hartel4, Alex1

（ 名古屋大学）

Bright2, Eric Van Cappellen3

Hiroyuki Ishizuka1, Koh Saitoh1, Shoichi Onda1（1Thermo Fisher Scientiﬁc, Acht, The Netherlands, 2Ther-

1

mo Fisher Scientiﬁc, Tokyo, Japan, 3Thermo Fisher Scien-（ Nagoya University）

tiﬁc, Hillsboro, USA, 4Corrected Electron Optical Systems

3amG_I4-23 9:45 〜 10:00
Applications of hole-free phase plate: imaging of block copolymers
Applications of hole-free phase plate: imaging of block copolymers

GmbH, Heldelberg, Germany）

3amG_I1-2 10:30 〜 10:45
相対論的フェムト秒電子線パルスを用いた超高速電子顕微鏡の開発

Marek Malac 1,2, S Motoki 3, Y Konyuba 3, Y Okura 3, I
3

3

3

1

Ultrafast Electron Microscopy using Relativistic Femtosec-

4

Ishikawa , H Iijima , N Hosogi , M Hayashida , H Jinnai

ond Electron Pulses（1NRC-NANO, Edmonton, Canada, 2Dept. of Physics, U of

楊 金峰 1，吉田 陽一 1，保田 英洋 2

Alberta, Edmonton, Canada, 3JEOL Ltd., Tokyo, Japan,（1 大阪大学産業科学研究所，2 大阪大学超高圧電子顕4微鏡センター）

Tohoku Univ., Japan）

Jinfeng Yang1, Yoichi Yoshida1, Hidehiro Yasuda2（1ISIR, Osaka Univ., 2UHVEM, Osaka Univ.）

3amG_I1-3 10:45 〜 11:00
低加速 SEM に向けた対称線電流補正器の色収差補正への拡張Expansion of Chromatic Aberration Correction of SYLCCorrector for Low Voltage SEM

西 竜治 1，ホック シャヘドゥル 1,2，伊藤 博之 1,3，鷹岡昭夫 1（1 大阪大学，2 日立ハイテクノロジーズアメリカ会社，
3（株）
日立ハイテクノロジーズ）

Ryuji Nishi 1, Shahedul Hoque 1,2, Hiroyuki Ito 1,3, Akio
Takaoka1（1Osaka University, 2Hitachi High Technologies America,
Inc., 3Hitachi High-Technologies Corp.）（ 64 ）

3amG_I1-4 11:00 〜 11:15
磁性材料解析に向けた無磁場高分解能対物レンズを備えた TEM の開発

OT-8 （冠） メルビル
Mel-Build Corporation

Development of a Transmission Electron Microscope for

6 月 19 日（水） 13:00 〜 13:30

Magnetic Materials equipped with a Magnetic Field Free

（Room G）

Objective Lens

河野 祐二 1，中村 明穂 1，森下 茂幸 1，柴田 直哉 2

座 長（Chairperson）（1 日本電子株式会社，2 東京大学）

宮崎 裕也（株式会社メルビル）

Yuji Kohno1, Akiho Nakamura1, Shigeyuki Morishita1,

Hiroya Miyazaki（Mel-Build Corporation）

Naoya Shibata2（1JEOL Ltd., 2The University of Tokyo）

メルビル製試料冷却観察システムの開発 ―TEM
および SEM における進捗報告―
Development of Mel-Build Cooling System for electron
microscope -Report on progress for TEM and SEM 權堂 貴志 1

MWCNTs as a mass-thickness calibration sample for TEM
1

3（1 株式会社メルビル）

Yaguchi3, R.F Egerton1,2

Takashi Gondo1
2（1Mel-Build Corporation）（ NRC-NANO, Edmonton, Alberta, Canada, Dept. ofPhysics, U of Alberta, Edmonton, Canada, 3Hitachi High.
Tech., Naka, Japan）

3amG_I1-6 11:30 〜 11:45
TEM 像強度減衰曲線の精密解析と多重散乱に基づく解釈
Precise analysis of TEM intensity attenuation curves caused
by multiple scattering

I-1

TEM・STEM・収差補正法

I-1

TEM, STEM ＆ Aberration-Corrected Microsco-py
6 月 19 日（水） 13:45 〜 15:30

G 会場 （Room G）

座 長（Chairperson）

山﨑 順 1,2，宇畑 雄哉 3，保田 英洋 1,3

高井 義造（大阪大学）（1 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター，2 名古屋大学

Yosihizo

未来材料・システム研究所，3 大阪大学大学院工学研

Takai（Osaka University）

三留 正則（物質・材料研究機構）

究科）

Masanori Mitome（NIMS）

Jun Yamasaki1,2, Yuya Ubata3, Hidehiro Yasuda1,3（1RC-UHVEM, Osaka University, 2IMaSS, Nagoya University, 3Grad. School of Eng., Osaka University）

3pmG_I1-7 13:45 〜 14:00
Cold-FEG を有した収差補正 TEM による Z 方向
分解能向上
Improvement of Spatial Resolution in Z Direction using
Aberration Corrector TEM with Cold-FEG

橋口 裕樹 1，佐川 隆介 1，遠藤 徳明 1，奥西 栄治 1，近藤 行人 1（1 日本電子株式会社）
Hiroki Hashiguchi1, Ryusuke Sagawa1, Noriaki Endo1,
Eiji Okunishi1, Yukihito Kondo1（1JEOL Ltd.）（ 65 ）

Wed. 19 Jun

Marek Malac , M Hayashida , D Homeniuk , T Fujii , T
1

1

Oral

3amG_I1-5 11:15 〜 11:30
MWCNTs as a mass-thickness calibration
sample for TEM
1,2

G 会場

3pmG_I1-8 14:00 〜 14:15
大収束角深さセクショニング法による点欠陥構
造解析

3pmG_I1-12

講演中止

15:00 〜 15:15

Point defect analysis by large-angle illumination STEM
石川 亮 1,2，柴田 直哉 1,3，谷口 尚 4，幾原 雄一 1,3（1 東京大学工学系研究科

総合研究機構，2JST さきがけ，3 ファインセラミックスセンター，4 物質・材料研
究機構）

3pmG_I1-13 15:15 〜 15:30
On the thermal stability of Ru-Ir-type nanoalloy catalysts for automotive emissions control

Ryo Ishikawa1,2, Naoya Shibata1,3, Takashi Taniguchi4,

On the thermal stability of Ru-Ir-type nanoalloy catalysts

Yuichi Ikuhara1,3

for automotive emissions control

1

2

3

4

Xuan Quy Tran1, Yoshiki Kono1, Tomokazu Yamamoto1,（ University of Tokyo, JST-PRESTO, JFCC, NIMS）

Syo Matsumura1

Oral

3pmG_I1-9 14:15 〜 14:30
電子ベッセルビームをもちいた ADF-STEM における像コントラストの定量評価
Evaluation of image contrasts in ADF-STEM using an elec-

Wed. 19 Juntron Bessel beam

（1Department of Applied Quantum Physics and Nuclear
Engineering, Kyushu University）

M-8

その場観察・環境制御

M-8 In-situ Observation & Environmental Microscopy

大脇 健史 1，石田 高史 1，桑原 真人 1，齋藤 晃 1

6 月 19 日（水） 9:00 〜 11:45

1（ 名古屋大学）
Takeshi Owaki1, Takafumi Ishida1, Makoto Kuwahara1,
Koh Saitoh1

H 会場 （Room H）

座 長（Chairperson）（1Nagoya University）

川崎 忠寛（ファインセラミックスセンター）
Tadahiro Kawasaki（JFCC）

3pmG_I1-10 14:30 〜 14:45
軽元素原子の低ドーズ実時間 STEM 観察法の開発

矢口 紀恵（日立ハイテクノロジーズ）
Toshie Yaguchi（Hitachi High-Technologies
Corporation）

Development of Real-Time Light-Element STEM Imaging
Technique at Low Dose Condition

大江 耕介 1，関 岳人 1，河野 祐二 2，幾原 雄一 1,3，柴
田 直哉 1,33amH_M8-1 9:00 〜 9:15
原子分解能その場 TEM 機械試験法の開発と検証（1 東京大学工学系研究科総合研究機構，2 日本電子株

Development and validation of experimental methods for

式会社，3 ファインセラミックスセンターナノ構造研

atomic-resolution in situ TEM mechanical test

栃木 栄太 1，佐藤 隆昭 2，柴田 直哉 1,3，藤田 博之 4，

究所）
1

1

2

Kousuke Ooe , Takehito Seki , Yuji Kohno , Yuichi Iku-

幾原 雄一 1,3,5

hara1,3, Naoya Shibata1,3（1 東 京 大 学 総 合 研 究 機 構，2 ペ ン シ ル バ ニ ア 大 学，

1

（ Institute of Engineering Innovation, School of Engineer-

3

ファインセラミックスセンター，4 東京都市大学 総ing, the University of Tokyo, 2JEOL Ltd., 3Nanostructure合研究所，5 京都大学 構造材料元素戦略研究拠点）

Research Laboratory, Japan Fine Ceramics Center）

Eita Tochigi1, Takaaki Sato2, Naoya Shibata1,3, Hiroyuki
Fujita4, Yuichi Ikuhara1,3,5

3pmG_I1-11 14:45 〜 15:00
DPC-STEM を用いたバルクヘテロ接合型有機薄膜太陽電池の位相イメージング（1Institute of Engineering Innovation, The University of

Phase Imaging of Bulk Hetero-junction Organic Photovol-

University, 5Elements Strategy Initiative for Structure Ma-

taics Using DPC-STEM

terials, Kyoto University）

稲元 伸 1，大塚 祐二 1

（1 株式会社東レリサーチセンター）
Shin Inamoto1, Yuji Otsuka1（1Toray Research Center, Inc.）（ 66 ）

Tokyo, 2University of Pennsylvania, 3Japan Fine Ceramics
Center, 4Advanced Research Laboratories, Tokyo City

3amH_M8-2 9:15 〜 9:30
SMART-EM を用いたミリ秒イメージングによる化学反応解析

3amH_M8-5 10:00 〜 10:15
高温メタン雰囲気での NiO および Ni 粒子の構造
変化その場 TEM 観察

Chemical reaction analysis by millisecond SMART-EM

In situ TEM Study on Microstructural Evolution of Ni（O）

Imaging

Catalysts in a Methane Atmosphere清水 俊樹 1，スタックナー ジョシュア 2，ルンゲリッ

松田 潤子 1，山本 知一 2，瓜田 幸幾 3，中越 修 3，高橋

ヒ ドミニク 1，村山 光宏 2，原野 幸治 1，中村 栄一 1
1

真司 4，松村 晶 22（1 九州大学 水素エネルギー国際研究センター，2 九州（ 東京大学， バージニア工科大学）
Toshiki Shimizu1, Joshua Stuckner2, Dominik Lungerich

大学大学院工学研究院，3 長崎大学大学院工学研究科，

1, Mitsuhiro Murayama , Koji Harano , Eiichi Nakamura

4

1（ The University of Tokyo, Virginia Polytechnic InstituteJunko Matsuda1, Tomokazu Yamamoto2, Kouki Urita3,and State University）

Osamu Nakagoe3, Shinji Takahashi4, Syo Matsumura2

2

1

1

2

戸田工業㈱）（1International Research Center for Hydrogen Energy, Ky-

3amH_M8-3 9:30 〜 9:45
気相オペランド TEM を用いた NOx 浄化触媒の動的観察

saki University, 4Toda Kogyo Corp.）
座 長（Chairperson）
栃木 栄太（東京大学）

田中 展望 1，菅沼 拓也 1，折田 浩二 2，井部 将也 1，岩Eita Tochigi（The University of Tokyo）

崎 正興 3，平田 裕人 1，荒井 重勇 2，武藤 俊介 2

橋本 綾子（物質・材料研究機構）（1 トヨタ自動車株式会社，2 名古屋大学，3 豊田中央研

Ayako Hashimoto（NIMS）

究所）
Hiromochi Tanaka1, Takuya Suganuma1, Kouji Orita2,
Masaya Ibe1, Masaoki Iwasaki3, Hirohito Hirata1, Shigeo
2

Arai , Shunsuke Muto

2

（1Toyota Motor Corporation, 2Nagoya University, 3Toyota

3amH_M8-6 10:30 〜 10:45
ヒーター式加熱炉型ホルダーを用いた新規高分
解能その場観察システムの開発

Central R&D Labs., Inc.）

Development of the advanced in-situ atomic resolution observation system using heater type heating holder

嶋田 雄介 1，吉田 健太 1，井上 耕治 1，今野 豊彦 1，永3amH_M8-4 9:45 〜 10:00
ガス雰囲気加熱試料ホルダーを用いた Ni 系触媒のその場観察井 康介 1（1 東北大学）

In-situ Observation of Ni-based Catalysts by a Gas Envi-

Yusuke Shimada1, Kenta Yoshida1, Kohji Inoue1, Toyo-ronmental Heating Specimen Holder

hiko Konno1, Yasuyoshi Nagai1

橋本 綾子

1,2,3

，Peng Xiaobo ，阿部 英樹（1 独立行政法人
3

1

1,3

（1Tohoku University）

物質・材料研究機構，2 筑波大学，

科学技術振興機構）

Ayako Hashimoto1,2,3, Xiaobo Peng1, Hideki Abe1,3（1National Institute for Materials Science, 2University of

3amH_M8-7 10:45 〜 11:00
ガス環境電子顕微鏡内でのスパッタリングダ
メージ低減

Tsukuba, 3Japan Science and Technology Agency）

Restoration for electron irradiation damage in a gas environment

吉田 要 1，荒井 重勇 1,2（1 財団法人ファインセラミックスセンター，2 名古屋大学）
Kaname Yoshida1, Shigeo Arai1,2（1Japan Fine Ceramics Center, 2Nagoya University）（ 67 ）

Wed. 19 Jun

operando TEM

ushu University, 3Graduate School of Engineering, Naga-

Oral

Dynamic observations of NOx purification catalysts using

ushu University , 2Graduate School of Engineering, Ky-

3amH_M8-8 11:00 〜 11:15
ACOM 法と in-situ 昇温手法を用いた LIB 正極材
料の TEM 観察およびガス発生との相関

3pmH_M8-12 13:15 〜 13:30
MEMS ヒータを用いた SEM In-Situ 観察手法
MEMS heater In-Situ Technique in SEM/SDB systems

Morphological analysis of LIB cathode material by ASTAR

宗兼 正直 1，完山 正林 1

and in-situ heating TEM（1 日本エフイー・アイ株式会社）

久留島 康輔 ，村上 慎一 ，小川 賢吾 ，大塚 祐二
1

1

1

1

Masanao Munekane1, Shoji Sadayama1（1 株式会社東レリサーチセンター）
1（1FEI Company Japan Ltd.）
1

Kosuke Kurushima , Shinichi Murakami , Kengo Oga-

3pmH_M8-13 13:30 〜 13:45
SEM における in-situ 観察のための機能開発

wa1, Yuji Otsuka1（1Toray Research Center, Inc.）

Development of in-situ imaging capabilities in SEM

橋本 陽一朗 1，重藤 訓志 1，伊藤 寛征 1，板橋 洋憲 1，

3amH_M8-9 11:15 〜 11:30
Imaging and Analysis of lithium-ion batteries

大野 正臣 1，齋藤 勉 1，立花 繁明 1

Oral

Imaging and Analysis of lithium-ion batteries（1 株式会社

Jaehan Lee1, Thomas Rodgers1, Kawori Tanaka2, Jae-

Yoichiro Hashimoto1, Kunji Shigeto1, Hiroyuki Ito1, Hi-

Hyun Shim3

ronori Itabashi1, Masaomi Ono1, Tsutomu Saito1, shigeaki

1

2

Wed. 19 Jun

Tachibana1（ Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss Co., Ltd,3

日立ハイテクノロジーズ）（1Hitachi High-Technologies Corporation）

DongShin University）

3amH_M8-10 11:30 〜 11:45
球面収差補正 STEM を用いた触媒のガス反応その場観察

3pmH_M8-14 13:45 〜 14:00
その場 ETEM/ナノインデント法を用いたマイク
ロ要素界面の剥離強度評価

In situ observation of gas reaction of catalysis using an ab-

Delamination Strength Evaluation of Micro-components byerration corrected STEM

In Situ ETEM/Nanoindentation Method

高橋 可昌 1,2，岸本 要 1，樋口 公孝 2，山本 悠太 2，荒白井 学 ，塙 暁成 ，菊池 秀樹 ，稲田 博実 ，松本 弘
1

1

1

1

昭2

井 重勇 2，武藤 俊介 2

（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ，2 日立ハイテク（1 関西大学，2 名古屋大学）

ノロジーズ上海会社）

Yoshimasa Takahashi1,2, Kaname Kishimoto1, Kimitaka

Manabu Shirai1, Akinari Hanawa1, Hideki Kikuchi1, Hi1

Higuchi2, Yuta Yamamoto2, Shigeo Arai2, Shunsuke Muto2

2（1Kansai University, 2Nagoya University）

romi Inada , Hiroaki Matsumoto（ 1Hitachi High-Technologies Corporation, 2Hitachi
High-Technologies（Shanghai）Co., Ltd.）座 長（Chairperson）
高橋 可昌（関西大学）

M-8

その場観察・環境制御

M-8

In-situ Observation & Environmental Microsco-

Yoshimasa Takahashi（Kansai University）

3pmH_M8-15 14:15 〜 14:30
材料解析のための 20-120 kV TEM 機能向上

py
6 月 19 日（水） 13:00 〜 15:15

H 会場（Room H）

Improvement of 20-120 kV TEM for materials characterization

座 長（Chairperson）

矢口 紀恵 1，長久保 康平 1，近藤 正樹 1，野寺 康行 1，

松田 潤子（九州大学）

五十嵐 啓介 1，和久井 亜希子 1Junko Matsuda（Kyushu University）

1（（株）
日立ハイテクノロジーズ）

Toshie Yaguchi1, Yasuhira Nagakubo1, Masaki Kondo1,

3pmH_M8-11 13:00 〜 13:15
MEMS ヒータを用いた in-situ FIB/SEM 観察ア
プリケーション
In-situ DB Applications using a MEMS heater stage
完山 正林 1，宗兼 正直 1

（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Shoji Sadayama1, Masanao Munekane1（1Thermo Fisher Scientiﬁc）（ 68 ）

Yasuyuki Nodera1, Keisuke Igarashi1, Akiko Wakui1（1Hitachi High-Technologies Corporation）

3pmH_M8-16 14:30 ～ 14:45
Fe2O3 と Si との反応によるシリサイドの生成過程のその場観察
In-situ observation of the formation of the silicide by Fe2o3
and Si

石川 信博 1，三井 正 1，竹口 雅樹 1，三石 和貴 1
（1 物質・材料研究機構）
Nobuhiro Ishikawa1, Tadasi Mitsui1, Masaki Takeguchi1,
Kazutaka Mitsuishi1（1National Institute for Materials Science）

3pmH_M8-17 14:45 〜 15:00
溶液透過型電子顕微鏡を用いた貧溶媒からの結晶化その場観察法の検討
Anti-Solvent by Liquid Cell Transmission Electron Micros山﨑 智也 1，木村 勇気 1
（1 北海道大学

低温科学研究所）

Tomoya Yamazaki1, Yuki Kimura1（1Institute of Low Temperature Science, Hokkaido University）

3pmH_M8-18 15:00 〜 15:15
EELS を使ったグラフェン・サンドウィッチ環境
セルの水の厚さの測定
Precise control of liquid layer thickness in graphene sandwiched holey silicon nitride grids measured by EELS
田村 豪主 1，陳 福榮 1
（1 香港城市大学）
Goshu Tamura1, Fu-Rong Chen1（1TRACE（Time-Resolved Aberration Corrected Environmental）TEM Centre, Department of Material Sciencesand Engineering, City of Hong Kong University）（ 69 ）

Wed. 19 Jun

copy

Oral

Investigation of in situ Observation of Crystallization from

ポスターセッション（学術展示発表）Poster sessions
イベントホール

P-B_04 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
腸球菌 V-ATPase の位相差クライオ電子顕微鏡
による単粒子構造解析

Event Hall

討論時間
講演番号末尾奇数

Single particle analysis of EhV-ATPase by Volta phase plate

6 月 17 日（月） 16:30 〜 18:00

cryo-EM角田 潤 1,2, ソン チホン 2，薬師寺 Lica Fabiana3，村田

講演番号末尾偶数

武士 3，上野 博史 4，宮崎 直幸 5，岩崎 憲治 5，高木 淳

6 月 18 日（火） 16:45 〜 18:00

一 5，山守 優 6，富井 健太郎 6，飯野 亮太 1,7，村田 和
義 1,2（1 総研大，2 生理研，3 千葉大・理，4 東大・院工，5 阪

P-B_01 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
走査型イオン伝導顕微鏡を用いた組織切片表面
微細構造解析

大・蛋白研，6 産総研，7 分子研）
Jun Tsunoda1,2, Chihong Song2, Fabiana Lica Yakushiji3,Takeshi Murata3, Hiroshi Ueno4, Naoyuki Miyazaki5, Kenji

Observation on the surface structure of tissue sections by

Iwasaki5, Junichi Takagi5, Yu Yamamori6, Kentaro Tomii6,

scanning ion conductance microscopy

Ryota Iino1,7, Kazuyoshi Murata1,2

水谷 祐輔 1，山川 明里 1，早津 学 1，牛木 辰男 1

（1SOKENDAI, 2NIPS, 3Dept.Chem., Chiba Univ., 4Dept.

1

Appl. Chem., Sch. Eng., Univ. Tokyo, 5IPR, Osaka Univ.,（ 新潟大学）
Yusuke Mizutani1, Akari Yamakawa1, Manabu Hayatsu1,

6

AIST, 7IMS）

1

Tatsuo Ushiki

P-B_05 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
緑藻 PSI 超分子複合体のクライオ電顕構造解析（1Niigata University）

P-B_02 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
クライオ電子顕微鏡を用いた PSI-IsiA 超複合体の構造解析

Cryo-EM structure of the green alga PSI supercomplex
with a decameric LHCI

宮﨑 直幸 1，菅 倫寛 2,3，小澤 真一郎 2，秋田 総理 2,3，

Structural analysis of PSI-IsiA supercomplex by Cryo-elec-

高橋 裕一郎 2tron microscopy（1 大 阪 大 学・ 蛋 白 研，2 岡 山 大 学・ 異 分 野 基 礎 研，

秋田 総理 1,2，長尾 遼 1，加藤 公児 1，中島 芳樹 1，秋3

1

本 誠志 ，沈 建仁 ，宮崎 直幸

3

4

JST・さきがけ）

Naoyuki Miyazaki1, Michihiro Suga2,3, Shin-Ichiro Oza-

（1 岡山大学・異分野，2JST さきがけ，3 神戸大学・院
4

wa2, Fusamichi Akita2,3, Yuichiro Takahashi2（1Osaka University, 2Okayama University, 3PRESTO）

理， 大阪大学・蛋白研）
Fusamichi Akita1,2, Ryo Nagao1, Koji Kato1, Yoshiki Nakajima1, Seiji Akimoto3, Jiang-Ren Shen1, Naoyuki Miyazaki4

P-B_06 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
α-マンノシダーゼの低温電子顕微鏡構造解析（1RIIS, Okayama University, 2PRESTO, JST, 3Kobe Uni-

Electron cryomicroscopy structure of alpha-Mannosidase桒原 隆亮 1，三﨑 亮 2，藤山 和仁 2，新竹 積 1

versity, 4IPR, Osaka University）（1 沖縄科学技術大学院大学，2 大阪大学）

P-B_03 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
アナベナ由来光化学系 I 四量体のボルタ位相差ク
ライオ電顕構造解析

Ryusuke Kuwahara1, Ryo Misaki2, Kazuhito Fujiyama2,
Tsumoru Shintake1（1Okinawa Institute of Science and Technology, 2Osaka

Volta phase-contrast cryo-EM structure of Anabaena PSI
tetramer

加藤 公児 1，長尾 遼 1，蔣 天翼 1，陳 兆傑 1，沈 建仁 1，
宮崎 直幸 2，秋田 総理 1,3（1 岡山大学

異分野基礎科学研究所，2 大阪大学

蛋3白質研究所， JST さきがけ）
Koji Kato1, Ryo Nagao1, Tian-Yi Jiang1, Siu Kit Chan1, Jian-Ren Shen1, Naoyuki Miyazaki2, Fusamichi Akita1,3（1Okayama University, 2Osaka University, 3PRESTO）（ 70 ）

University）

P-B_07 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
分布推定アルゴリズムによる単粒子解析投影パ
ラメーター決定

P-B_11 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
光-電子相関顕微鏡システムを用いた培養細胞の観察

Determination of projection parameters in single particle

Observation of Cultured Cells Using a Correlative Light

analysis using Estimation of Distribution Algorithms

and Electron Microscopic System（1 九州工業大学，2 株式会社システムインフロンティ

麻美 1，臼井 景子 2,3，葛野 菜々子 3,4，松井 毅 3，豊岡

ア）

公徳 5

馬水 信弥 1,2，安永 卓生 1

吉原 真衣 1，前田 躍 1，川元 寛章 1，坂上 万里 1，許斐Nobuya Mamizu1,2, Takuo Yasunaga1
1（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ，2 慶應義塾大学

2

衛生化学講座，3 理化学研究所 生命医科学研（ Kyushu Institute of Technology, SYSTEM IN FRON-

薬学部

TIER INC.）

究センター，4 慶應義塾大学医学部 コーセースキンケ
ア・アレルギー予防医学寄附講座 II，5 理化学研究所

P-B_08 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
サイドエントリーホルダによるクライオ電子顕
微鏡高分解能単粒子解析の試み

環境資源科学研究センター）
Mai Yoshihara1, Yaku Maeda1, Hiroki Kawamoto1, Mari
Sakaue1, Mami Konomi1, Keiko Usui2,3, Nanako Kadono3,4,

A trial of High-Resolution Single Particle Analysis by

Takeshi Matsui3, Kiminori Toyooka5

Cryo-electron Microscopy Using Side-entry Holder（1Hitachi High-Technologies Corporation, 2Department of

香山 容子 1，宋 致宖 1，加藤 貴之 2，村田 和義 1

Hygienic Chemistry, Keio University Faculty of Pharmacy,（1 生理学研究所，2 大阪大学）

3

RIKEN-IMS, 4KOSE Endowed Course for Skin Care &Yoko Kayama1, Chihong Song1, Takayuki Kato2, Kazuy-

Allergy Prevention II, Keio University School of Medicine,oshi Murata1

5

1

RIKEN-CSRS）

2（ National Institute for Physiological Sciences, Osaka University）

P-B_09 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
クライオ電子顕微鏡を用いたタンパク質構造解
析支援の取り組み

P-B_12 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
蛍光 PAS 染色を用いた組織の光学および電子顕
微鏡観察
Optical and electron microscopic observation of tissues
stained by ﬂuorescence PAS

Support of the protein structural analysis with cryo electron

高瀬 弘嗣 1,2，稲垣 宏 2，草野 創 3

microscopy（1 名古屋市立大学医学研究科共同研究教育センター，

菅野 亮 , Hall Malgorzata , Humbel Bruno
1

1（1 沖縄科学技術大学院大学

12

名古屋市立大学医学研究科臨床病態病理学，3 株式会社林原）

イメージングセクション）

Hiroshi Takase1,2, Hiroshi Inagaki2, Hajime Kusano3

Ryo Kanno1, Malgorzata Hall1, Bruno Humbel1（ 1Core Laboratory, Nagoya City University Graduate

1（ Okinawa Institute of Science and Technology Graduate

School of Medical Sciences, 2Department of Pathology andUniversity）

Molecular Diagnostics, Nagoya City University Graduate
School of Medical Sciences, 3HAYASHIBARA CO., LTD）

P-B_10 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SPring-8 における共用を目指したクライオ電子
顕微鏡施設
Cryo-EM facility@SPring-8 for shared use
重松 秀樹 1

P-B_13 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Technical developments in cryo-stage devices: applications for studying molecular andcellular events（1 理化学研究所）

Technical developments in cryo-stage devices: applications

Hideki Shigematsu1

for studying molecular and cellular events

1

Anahita Vispi Bharda1, Sangmi Jun2, Hyun Suk Jung1（ RIKEN）（1Kangwon National University, 2Korea Basic Science Institute）（ 71 ）

P-B_14 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
動物組織のグルタルアルデヒド固定試料の凍結置換固定法 2Freeze substitution ﬁxation of glutaraldehyde ﬁxed animal
tissue sample 2

立花 利公 1，浅野 友希 1，菊地 恵美 1，斉藤 英希 1，馬目 佳信

P-B_18 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Analysis of the diversity of GABA-immunoreactivity in interneurons of mouse olfactory
bulb using correlative light and electron microscopy
Analysis of the diversity of GABA-immunoreactivity in in-

1terneurons of mouse olfactory bulb using correlative light（1 東京慈恵会医科大学

総合医科学研究センター）

1

1

and electron microscopy

佐藤 慧太 1，清蔭 恵美 2，井上 加奈子 3，樋田 一徳 1,3

1

Toshiaki Tachibana , Yuki Asano , Emi Kikuchi , Hideki
11

Saito , Yoshinobu Manome（1 川崎医科大学 医学部 解剖学，2 川崎医療福祉大学（1The Jikei University School of Medicine, Research Cen-

医療技術学部 臨床検査学科，3 大阪大学 超高圧電子顕

ter for Medical Science）

微鏡センター）
Keita Satoh1, Emi Kiyokage2, Kanako Inoue3, Kazunori

P-B_15 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
酸素ナノバブルによる化学固定効果の向上―ト
マト青枯れ病菌の細胞学的解析―（ 1Dept. Anat., Kawasaki Med. Sch., Kurashiki, Japan,

Improvement of chemical fixation effect by oxygen na-ki, Japan, 3Res. Center for ultra-high voltage EM, Osaka

nobubble -Cytological analysis of Ralstonia solanacearum-

Univ., Osaka, Japan）

Toida1,3
2

井上 加奈子 1，井渕 康史 1，朴 杓允 2，曳地 康史 3
（1 大阪大学，2 神戸大学，3 高知大学）

Kanako Inoue1, Yasufumi Ibuchi1, Pyoyun Park2, Yasufu-

Dept. Med. Tech., Kawasaki Univ. Med. Welfare, Kurashi-

P-B_19 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Wooden Breast 発現鶏のミトコンドリア性状

mi Hikichi3

Mitochondria characteristics of broiler affected with wood-（1Osaka University, 2Kobe University, 3Kochi University）

en breast

P-B_16 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
電解銅箔テープを使った ATUM-SEM 法での大規模神経組織電子顕微鏡撮影

田 未知 3，川崎 武志 4，岩崎 智仁 1
（1 酪農学園大学 食と健康，2 酪農学園大学 獣医，3 酪

An Electrodeposited Copper Tape for Serial-Section Elec-

Yasuhiro Hasegawa1, Yoshiki Numata1, Yusuke Mori1,

tron Microscopy of Neural Ultrastructure with ATUM-SEM

Hirofumi Watanabe2, Michi Yamada3, Takeshi Kawasaki4,

窪田 芳之 ，川口 泰雄
1,2（1 自然科学研究機構

長谷川 靖洋 1，沼田 佳樹 1，森 祐輔 1，渡邉 敬文 2，山農学園大学 循環農，4 人と鳥の健康研）

1,2

Tomohito Iwasaki1

生理学研究所，2 総合研究大学（1Department of Food Science and Human Wellness Rakuno Gakuen University, 2Department of Veterinary Medicine

院大学）
Yoshiyuki Kubota1,2, Yasuo Kawaguchi1,2
1

Rakuno Gakuen University, 3Department of Sustainable2（ National Institute for Physiological Sciences, SOKEND-

Agriculture Rakuno Gakuen University, 4Research OfficeAI）

Concerning The Health of Humans and Birds）

P-B_17 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
腱分岐部の微細構造の 3 次元化
Three-dimensional microstructure of tendon bifurcation

髙橋 直紀 1，亀谷 清和 2，大多 亮 3，植田 弘美 1，渡邉

P-B_20 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
気相−液層界面法を用いた膵癌細胞株 SUIT-2 の三次元培養と電顕観察
Three-dimensional culture of pancreatic cancer cell line,

敬文 1

S2-CP10, with air exposure and observation by electron12（ 酪農学園大学 獣医， 信州大学 基盤研究支援セン

microscopy

ター，3 北海道大学 大学院工学研究院）

髙橋 伸育 1，青山 典世 1，澤口 朗 1

Naoki Takahashi1, Kiyokazu Kametani2, Ryo Ota3, Hi-（1 宮崎大学医学部解剖学講座超微形態科学分野）

1

1

romi Ueda , Takafumi Watanabe

Nobuyasu Takahashi1, Fumiyo Aoyama1, Akira Sawa-（1School of Veterinary Medicine, Rakuno Gakuen Univer-guchi12

sity, Research Center for Supports to Advanced Sciense,（1Department of Anatomy, Ultrastructural Cell Biology,

Shinshu University, 3CAREM, Faculty of Engineering,

Faculty of Medicine, University of Miyazaki）

Hokkaido University）（ 72 ）

P-B_21 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
低真空 SEM による抗体関連型拒絶反応移植腎の形態観察

P-B_24 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
X 線 CT を用いたシロイヌナズナ根系形態解析―
SPring-8 における実験ハッチの検討―

Morphological analysis by low vacuum scanning electron

Morphological analysis of Arabidopsis root system archi-

microscopy of human renal transplant antibody-mediatedtecture using X-ray micro-CT at SPring-8: Examination us-

rejection

ing different experimental hutches

横山 浩己 ，稲賀 すみれ ，岡田 晋一 ，亀家 俊夫 ，
1

2

2

2

中根 裕信 ，海藤 俊行 ，神﨑 晋

1唐原 一郎 1，黒金 智文 1，玉置 大介 1，矢野 幸子 2，谷2

1

垣 文章 2，嶋津 徹 3，笠原 春夫 2，山内 大輔 4，上杉 健（1 鳥取大学医学部周産期・小児医学分野，2 鳥取大学

太朗 5，星野 真人 5，神阪 盛一郎 1，峰雪 芳宣 4

医学部解剖学講座）（1 富山大・院・理工，2 宇宙航空研究開発機構，3 日本

Hiroki Yokoyama 1, Sumire Inaga 2, Shinichi Okada 1,
2

2

宇宙フォーラム，4 兵県大・院・生命理学，5 高輝度光

2

科学研究センター）

Toshio Kameie , Hironobu Nakane , Toshiyuki Kaidoh ,1

Ichirou Karahara1, Tomofumi Kurogane1, Daisuke Tama-

Susumu Kanzaki
1（ Division of Pediatrics and Perinatology, Faculty of Medi-

oki1, Sachiko Yano2, Fumiaki Tanigaki2, Toru Shimazu3,

cine, Tottori University, 2Department of Anatomy, Faculty

Haruo Kasahara2, Daisuke Yamauchi4, Kentaro Uesugi5,of Medicine, Tottori University）

Makoto Hoshino 5, Seiichiro Kamisaka 1, Yoshinobu
Mineyuki4

P-B_22 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
マウス消化管における転写因子 Gli 発現細胞

（ 1University of Toyama, 2JAXA, 3Japan Space Forum,
4

University of Hyogo, 5JASRI）

Gli-expression cells in murine gastrointestinal tract
飯野 哲 1，橋本 隆 1，堀口 和秀 1，堀口 里美 1
（1 福井大学医学部

P-B_25 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
水生食虫植物ムジナモの受粉から種子発芽まで

解剖学）

Satoshi Iino1, Takashi Hashimoto1, Kazuhide Horiguchi1,

From pollination to seed germination of Aldrovanda vesicu-

1losa, an aquatic carnivorous plant

Satomi Horiguchi

金泉 大樹 1，厚沢 季美江 1，金子 康子 11（ University of Fukui School of Medical Sciences）（1 埼玉大学）

P-B_23 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
細胞運動時のアクチン繊維の動態の顕微鏡学的研究
Microscopic research of dynamics of actin ﬁlaments during
cell movement

中深迫 美穂 1，肥後 智也 1，森本 雄祐 1，安永 卓生 1

Daiki Kanaizumi1, Kimie Atsuzawa1, Yasuko Kaneko1（1Saitama University）

P-B_26 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
金属イオンがシアノバクテリアの細胞構造に及ぼす影響（1 九州工業大学）

Inﬂuence of metal ions on cyanobacterial cell structures

Miho Nakafukasako1, Tomoya Higo1, Yusuke Morimoto1,

林 真子 1, アベナヤカ ダミタ 1，厚沢 季美江 1，金子 康

Takuo Yasunaga1

子1

1（1 埼玉大学）（ Kyushu Institute of Technology）

Mako Hayashi1, Damitha Abeynayaka1, Kimie Atsuzawa1, Yasuko Kaneko1（1Saitama University）

P-B_27 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Visualization of Interaction between Newly
Synthesized DNA, Polyphosphate Bodies,
and Carboxysomes during the Cell Cycle ofSynechococcus elongatus PCC7942
Visualization of Interaction between Newly Synthesized
DNA, Polyphosphate Bodies, and Carboxysomes during
the Cell Cycle of Synechococcus elongatus PCC7942
Ilika Ghosh1, Damitha Abeynayaka1, Kimie Atsuzawa2,
Yasuko Kaneko1（1Graduate School of Science and Engineering, Saitama
University, Japan, 2Comprehensive Analysis Center for Science, Saitama University, Japan）（ 73 ）

P-B_28 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
サンドイッチ凍結法によるヒト組織と培養細胞の急速凍結・凍結置換法による観察

P-B_31 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
ヒト上皮細胞はニコチン摂取により空胞が変化する

Rapid Freeze-Freeze Substitution of Human Tissues andHuman Epithelial Cell is Altered in Vacuolization by In-

Cultured Cells by Sandwich-Freezing Method

gesting Nicotine

平尾 卓也 3,4，青木 重樹 3，山科 正平 5，山田 博之 6，（1 東京慈恵会医科大学・基盤研究施設（分子細胞生物

山口 正視 1，若林 正一郎 2，中村 悠美 2，松江 弘之 2，
77

馬水 信弥 ，古河 弘光 ，知花 博治

立花 利公 1，五十嵐（武内）寛子 1,2，沼部 幸博 2

1学）
，2 日本歯科大学生命歯学部

12

Toshiaki Tachibana , Hiroko Igarashi-Takeuchi1,2, Yuki-（ 千葉大学・真菌医学研究センター， 千葉大学・医3

歯周病学講座）1

4

学研究院， 千葉大学・薬学研究院， 国際医療福祉大

hiro Numabe2

学，5 北里大学・医学部，6 結核研究所，7 システムイ（1Core Research Facilities for Basic Science（Divirion of

ンフロンティア）Molecular Cell Biology）, The Jikei University School of1

2

Medicine, 2Department of Periodontlogy School of Life

Masashi Yamaguchi , Seiichiro Wakabayashi , Yuumi
2

2

3,4

Nakamura , Hiroyuki Matsue , Takuya Hirao , Shigeki

Dentistry at Tokyo, The Nippon Dental University）

Aoki3, Shohei Yamashina5, Hiroyuki Yamada6, Nobuya Ma-

Chiba University Graduate School of Medicine, 3Graduate

P-I_01 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
金ナノプレートの局在表面プラズモンをもちいたカップリング効果の研究

School of Pharmaceutical Sciences, Chiba Univ., 4Internat.

Coupling effect of localized surface plasmon on Au nano-mizu7, Hiromitsu Furukawa7, Hiroji Chibana1（1Medical Mycology Research Center, Chiba University,2

5

Univ. of Health and Welfare, Kitasato Univ. Sch. Med.,platesThe Research Institute of Tuberculosis, 7System in Fron-

水野 りら 1，石田 高史 2，桑原 彰太 3，桑原 真人 2，齋

tier）

藤 晃2

6

（1 名大院工応用物理学専攻，2 名大未来研，3 東邦大

P-B_29 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
超解像顕微鏡解析による大腸菌に対するハス
カップエキスの影響

理）
Lila Mizuno1, Takafumi Ishida2, Shota Kuwahara3, Makoto Kuwahara2, Koh Saitoh2

Effect of Haskap extract on Escherichia coli by super-reso-（1Dept. of Appl. Phys., Nagoya Univ., 2IMaSS, Nagoya

lution microscopic analysis

Univ., 3Dept. of Chem., Toho Univ.）

南 正明 1，高瀬 弘嗣 2

Graduate School of Medical Sciences, 2Core Laboratory,

P-I_02 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Cryo-EM Structure of the Largest PSII-LHCII
Supercomplex in Chlamydomonas reinhardtii
Using Non-Ionic Amphipols Reveals a New
Subunit

Nagoya City University Graduate School of Medical Sci-

Cryo-EM Structure of the Largest PSII-LHCII Supercom-

ences）

plex in Chlamydomonas reinhardtii Using Non-Ionic Am-（1 名古屋市立大学大学院医学研究科細菌学分野 , 2 名古屋市立大学大学院医学研究科共同研究教育センター）
Masaaki Minami1, Hiroshi Takase2（ 1Department of bacteriology, Nagoya City University,

phipols Reveals a New Subunit

P-B_30 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
細菌の免疫電子顕微鏡法に用いる酢酸ウラニル
代替法としての白金ブルー染色

Ray Burton Smith1, Akimasa Watanabe1, Ryutaro Tokutsu1, Chihong Song1, Kazuyoshi Murata1, Jun Minagawa1（1National Institute for Physiological Sciences）

Evaluation of Platinum Blue to Uranyl Acetate as Alternative Stain in Immunoelectron Microscopy of Bacteria

藤岡 良彦 1，呉 紅 1，鈴木 陽一 1，高田 由紀子 1，中野隆史 1

P-I_03 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Molecular interactions that block the enzymatic activities of myosin motors（1 大阪医科大学予防・社会医学講座 微生物学教室）
1

1

Molecular interactions that block the enzymatic activities of1

Yoshihiko Fujioka , Hong Wu , Youichi Suzuki , Yukiko
11

myosin motors

Takada , Takashi Nakano

Han-ul Kim1, Anahita Visphi Bharda1, Jeong Bin Yang1,（1Department of Microbiology and Infection Control, Osa-

Hyun Suk Jung1

ka Medical College）（1Kangwon National University）（ 74 ）

P-I_04 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Immuno-electron microscopic analysis ofsubcellular localization of GIGANTEA

P-I_08 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
球面収差補正 STEM を用いた 4D-STEM イメー
ジング

Immuno-electron microscopic analysis of subcellular local-

4D-STEM Imaging for Cs-corrected Scanning Transmis-

ization of GIGANTEA

sion Electron Microscope

Jooeun Lee1, Myeong Seon Jeong1,2, Hyun Suk Jung1

久保 雄大 1，白井 学 1，塙 暁成 1，菊池 秀樹 1，中村 邦（1Kangwon national university, 2Korea Basic Science Insti-

康 1，稲田 博美 1tute（KBSI））（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ）
Yudai Kubo1, Manabu Shirai1, Akinari Hanawa1, Hideki

P-I_05 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
SOI-CMOS イメージセンサを用いた単パルス電子線イメージングにおける高効率検出High efficiency electron detection in single-shot imaging
using a SOI-CMOS image sensor with a pulsed electron
beam

篠崎 暉 1，福和 果歩 1，石田 高史 1，桑原 真人 1，三好Kikuchi1, Kuniyasu Nakamura1, Hiromi Inada1（1Hitachi High-Technologies Corporation）

P-I_09 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Mn3AgxCu1-xN 単結晶薄膜の STEM 観察による構造評価
Structure evaluation of single crystal Mn3AgxCu1-xN thin

敏喜 2，新井 康夫 2，齋藤 晃 1

ﬁlms by STEM

鈴田 朋也 1，川崎 友暉 1，石田 高史 2，畑野 敬史 1，生（1 名古屋大学，2KEK 素核研）
1

1

1

Akira Shinozaki , Kaho Fukuwa , Takafumi Ishida , Ma-

田 博志 1，齋藤 晃 2koto Kuwahara1, Toshinobu Miyoshi2, Yasuo Arai2, Koh（1 名古屋大学大学院工学研究科，2 名古屋大学未来材

1料システム研究所）

Saitoh1

2

Tomoya Suzuta1, Yuuki Kawasaki1, Takafumi Ishida2,（ Nagoya University, KEK IPNS）

Takafumi Hatano1, Hiroshi Ikuta1, Koh Saitoh2

P-I_06 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Local structural analyses using STEM for
L10-ordered alloy epitaxial films
Local structural analyses using STEM for L10-ordered alloy
epitaxial ﬁlms

永沼 博 1, Wu Chien-Wei2, Hu Jung-Chih 2（1 東北大学，2MA-tek Japan）（1Graduate school of Eng., Nagoya University, 2IMaSS,
Nagoya University）

P-I_10 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Ultrathin Metal Coatings as a Solution for
Successful SEM Imaging of Nano-electrospinning Fibres

Hiroshi Naganuma1, Chien-Wei Wu2, Jung-Chih Hu2

Ultrathin Metal Coatings as a Solution for Successful SEM（1Tohoku University, 2MA-tek Japan）

Imaging of Nano-electrospinning Fibres
Anna Walkiewicz1

P-I_07 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
New BiFeO 3 phase under strong epitaxial
strains
New BiFeO3 phase under strong epitaxial strains
Bae In-Tae3, Kovacs András4, Zhao Hong Jian5, Iniguez
Jorge5，安井 伸太郎 6，一ノ瀬 智浩 1，永沼 博 1,2
1

2

3（1Quorum Technologies）

P-I_11 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
SEM-EDS 元素マッピングを用いた電圧コント
ラストイメージングの検討
Consideration of voltage contrast imaging using SEM-EDS

4（ 東 北 大 学， CNRS/Thales， Univ. NY， ER-C Peter
Grünberg Inst.，5Luxembourg Inst. Sci. Tech.，6 東 工 大，高橋 昭治 1，牧田 憲吾 1，田中 かをり 2
1（（株）
リコー，2 カールツァイス株式会社）

フロンティア材料研）
3

element mapping

4

5

In-Tae Bae , Andras Kovacs , Hong Jian Zhao , Jorge Ini-

Shoji Takahashi1, Kengo Makita1, Kawori Tanaka2

guez5, Shintaro Yasui6, Tomohiro Ichinose1, Hiroshi Na-（1RICOH COMPANY, LTD., 2Carl Zeiss Co., Ltd.）

1,2

ganuma（1Tohoku University, 2CNRS/Thales, 3Univ. NY, 4ER-C Peter Grunberg Inst., 5Luxembourg Inst. Sci. Tech., 6MSL,
TIT）（ 75 ）

P-I_12 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
高加速電圧かつ長作動距離条件におけるチャン
バー ET-SE 検出器画像の有効性検討

P-I_16 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
STEM-EELS による TmFe2O4 中の Fe の価数分布
評価：電場印加の影響

Investigation of validity of chamber ET-SE detector image

STEM-EELS study of valence distribution of Fe in Tm-

under high acceleration voltage and long working distance

Fe2O4:Effect of electric ﬁeld

大多 亮 1，小西 伸弥 2，田中 勝久 2

condition

高橋 昭治 1，牧田 憲吾 1，田中 かをり 2
1（1 北海道大学，2 京都大学）

2（（株）リコー， カールツァイス株式会社）

Ryo Ota1, Shinya Konishi2, Katsuhisa Tanaka2

Shoji Takahashi1, Kengo Makita1, Kawori Tanaka2（1Hokkaido University, 2Kyoto University）

1

2（ RICOH COMPANY, LTD., Carl Zeiss Co., Ltd.）

P-I_17 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
電子線チャネリング X 線分光装置の開発

P-I_13 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
フィルム基板上 ITO 薄膜の透過 EBSD 測定

Development of Analytical Electron Microscope designed
for ALCHEMI/HARECXS method

Transmission EBSD analysis of ITO thin ﬁlm on polymer

阿南 義弘 1，大塚 真弘 2，武藤 俊介 3

substrate

安田 光伸 1，加藤 淳 1，大塚 祐二 1

1
（（株）
日立製作所

1

工学研究科， 名古屋大学 未来材料・システム研究（（株）
東レリサーチセンター）
1

研究開発グループ，2 名古屋大学

3

1

1

Mitsunobu Yasuda , Jun Kato , yuji Otsuka

所）（1Toray Research Center）

Yoshihiro Anan1, Masahiro Ohtsuka2, Shunsuke Muto3（1Hitachi, Ltd. Research & Development Group, 2 Graduate

P-I_14 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
応力発光性 Al 基複合材料の CL-SEM による観察

School of Eng., Nagoya University, 3IMaSS, Nagoya University）

CL-SEM Observation of Al based Mechanoluminescent
太田 悠介 ，土屋 大樹 ，李 昇源 ，池野 進 , Sarka

P-I_18 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
プラズモン共振器による蛍光増強の STEM-CL
分析（1 富山大学，2 富山大院，3 富山大名誉教授，4 チェコ

STEM-CL analysis on luminescence enhancement of plas-

科学アカデミー）

monic resonatorscomposite
1

2

2

3

Mikmekova4, Ilona Mullerova4，松田 健二 2

1

2

松崎 健太郎 1，斉藤 光 1，波多 聰 1，三宮 工 2，渡邊 厚

2Yusuke Ota , Taiki Tsuchiya , Seungwon Lee , Susumu Ike3

4

no , Mikmekova Sarka , Mullerova Ilona , Kenji Matsu-

介 1，稲田 幹 1da2（1 九州大学，2 東京工業大学）

1

4

2

（ University of Toyama, Graduate School of Science andKentaro Matsuzaki1, Hikaru Saito1, Satoshi Hata1, taku-

Engineering for Research, University of Toyama, 3Professor

mi Sannomiya2, Kousuke Watanabe1, Miki Inada1

4

emeritus University of Toyama, Institute of Science Instru-（1Kyushu University, 2Tokyo Institute of Technology）

ments of the ASCR）

P-I_15 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
極低加速 SEM を用いたレジストパターンの帯電計測

P-I_19 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
実用的な分析条件下での WDS と EDS の検出限界
Lower detection limits of WDS and EDS under common
analysis conditions

Surface voltage measurement for resist pattern using ul-

上條 栞 1，藤井 敦大 1，森田 正樹 1，森 憲久 1

tralow voltage SEM

石坂 文哉 2，備前 大輔 1,2，榊原 慎 1，鈴木 誠 2，横須
1

2

賀 俊之 ，数見 秀之 ，川野 源（1 日本電子株式会社）2

Shiori Kamijyo1, Atsuhiro Fujii1, Masaki Morita1, Norihi-（1 日立製作所，2 日立ハイテクノロジーズ）
2

1,2

sa Mori1
1

Fumiya Ishizaka , Daisuke Bizen , Makoto Sakakibara ,（1JEOL Ltd.）

Makoto Suzuki2, Toshiyuki Yokosuka1, Hideyuki Kazumi2,
Hajime Kawano2（1Hitachi, Ltd., 2Hitachi High-Technologies Corp.）（ 76 ）

P-I_20 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価

P-I_24 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Angular Fourier 変換をもちいた位相特異点スペ
クトルのマッピング

Quantitative evaluation of sample damage layer using con-

Mapping of Phase-Singularity Spectrum Using Angularvergent-beam electron diffraction

Fourier Transform内 正己 1（1 大連工業大学，2 名古屋大学，3 埼玉工業大学）

李 偉 1,2，齋藤 晃 2，内田 正哉 3

上石 正樹 1，森川 大輔 1，佐藤 香織 1，津田 健治 1，寺1

Wei Li1,2, Koh Saitoh2, Masaya Uchida3（ 東北大学）
Masaki Ageishi1, Daisuke Morikawa1, Kaori Sato1, Kenji
1（ 1Dalian Polytechnic University, 2Nagoya University,

1

3

Tsuda , Masami Terauchi

Saitama Institute of Technology）

1（ Tohoku University）

P-I_21 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
電子回折位相イメージング法による無染色ポリ
マー材料の可視化

P-I_25 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
単離染色体の三次元観察
3D observation of chromosome scaffold structure

Rinyaporn Phengchat1，林田 美咲 2, Homeniuk Darren 2，

Visualization of Unstained Polymer Materials Using Elec-

近江戸 伸子 1，福井 希一 3

tron Diffractive Phase Imaging（1 神戸大学，2National Research Council Canada，3 大阪

稲元 伸 1，山﨑 順 2，大塚 祐二 1

大学）

（1 株式会社東レリサーチセンター，2 大阪大学）

Phengchat Rinyaporn1, Misa Hayashida2, Darren Home-

Shin Inamoto1, Jun Yamasaki2, Yuji Otsuka1

niuk 2, Nobuko Ohmido1, Kiichi Fukui3

1

2（1Kobe University, 2National Research Council Canada,（ Toray Research Center, Inc., Osaka University）

3

P-I_22 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
フレネルゾーンプレートを用いた位相コントラスト STEM の試み
Attempt of Phase-Contrast STEM using Fresnel Zone Plate
富田 雅人 1，永谷 幸則 1，村田 和義 1，新井 善博 2
（1 自然科学研究機構

Osaka University）

P-I_26 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SEM 連続試料傾斜像の逆結像方式による表面形態の 3 次元復元
3D reconstruction of surface structure from a SEM speci-

生理学研究所，2 テラベース株

men tilt image series with a reverse image projection meth-

式会社）

od

Masato Tomita1, Yukinori Nagatani1, Kazuyoshi Murata1,

藤田 直弘 1，馬場 則男 1

Yoshihiro Arai2（1 工学院大学大学院情報学専攻）

1

2（ National Institute for Physiological Sciences, Terabase

Naohiro Fujita1, Norio Baba1Inc.）（1Major of Informatics, Graduate School, Kogakuin University）

P-I_23 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
定点微分位相コントラスト法によるマイクロ秒
ダイナミクス観測の試み
Attempt of Fixed-point Differential Phase Contrast Method

P-I_27 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
細胞伸展刺激に起因する細胞核動態変化の微細構造解析

for Micro-Second Dynamics Observation
柴田 基洋 ，于 秀珍 ，有馬 孝尚
1

1

Ultrastructural analysis of stretch-induced changes in dy-

1,2

namics of the cell nucleus（1 理化学研究所 CEMS，2 東京大学新領域創成科学研

板橋 岳志 1,2,3，一ノ瀬 孝子 1，島田 文子 1，森 ひか究科）

り 1，平原 麻利子 1，山本 華代 1，岩根 敦子 1,2,3
1

1

1,2

（1 理化学研究所

Kiyou Shibata , Xiuzhen Yu , Taka-hisa Arima
1

2（ RIKEN CEMS, Dept. of Advanced Materials Science,2構造研究ユニット， 広島大学
3

the Univ. of Tokyo）

生命機能科学研究センター

大阪大学

細胞場

大学院理学研究科，

大学院生命機能研究科）

Takeshi Itabashi1,2,3, Takako Ichinose1, Fumiko Shimada1, Hikari Mori1, Mariko Hirahara1, Kayo Yamamoto1, Atsuko H. Iwane1,2,3（1Cell Field Struc., RIKEN BDR, 2Hiroshima Univ., Science, 3Osaka Univ., Front., Biosci.）（ 77 ）

P-I_28 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
電子線トモグラフィーの非線型透過率補正におけるノイズ問題の解決法

P-I_31 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
畳み込みニューラルネットワークを用いた Rh 触媒粒子の形態解析

Solution for the noise problem in the nonlinear transmission

Morphology analysis of Rh catalyst particles using convo-

correction in tomographylutional neural network

照屋 海登 1，山﨑 順 2,3，加藤 丈晴 4，藤田 直弘 5，馬小山 朗 1，浅利 裕介 2，中島 宏 3，佐藤 敦子 3，寺田 尚

場 則男 5

平 2，品田 博之 2，佐藤 勝俊 4，永岡 勝俊 4，村上 恭

12（ 大阪大学大学院工学研究科， 大阪大学超高圧電子和3

顕微鏡センター，3 名古屋大学未来材料・システム研（1 九州大学工学府，2 日立製作所研究開発グループ，

4

5

究所， ファインセラミックスセンター， 工学院大3学）

Akira Koyama1, Yusuke Asari2, Hiroshi Nakajima3, Atsu1

2,34

九州大学工学研究院，4 大分大学理工学部）

Kaito Teruya , Jun Yamasaki , Takeharu Kato , Naohiro

ko Sato3, Shohei Terada2, Hiroyuki Shinada2, Katsutoshi

Fujita5, Norio Baba5

Sato4, Katsutoshi Nagaoka4, Yasukazu Murakami3

1

2（ Graduate School of Engineering, Osaka University, Re-（1School of Engineering, Kyushu University, 2Research andsearch Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy,

Development Group, Hitachi, Ltd., 3Department of Applied

Osaka University, 3Institute of Materials and Systems for

Physics and Quantum Engineering, Kyushu University,

Sustainability, Nagoya University, 4Japan Fine Ceramics

45

Center, Kogakuin University）

Department of Integrated Science and Technology, Oita

University）

P-I_29 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
明視野法を用いた回折コントラスト電子線トモ
グラフィー

P-I_32 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
機械学習による電子顕微鏡像の物体輪郭線抽出を支援するソフトの開発

Diffraction contrast electron tomography using a bright-

Development of software to support contour extraction ofﬁeld method

speciﬁc objects from electron microscope images with ma-

坂井 裕貴 ，斉藤 光 ，波多 聡
111chine learning（1 九州大学）

前田 元 1，馬場 美鈴 2，馬場 則男 1,2

Hirotaka Sakai1, Hikaru Saito1, Satoshi Hata1（1 工学院大学大学院

1

情報学専攻，2 工学院大学

総

合研究所）

（ Kyushu University）

Gen Maeda1, Misuzu Baba2, Norio Baba1,2

P-I_30 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
シミュレーティッド・アニーリングを用いたナ
ノ粒子のトモグラフィー再構成（1Major of Informatics, Graduate School, Kogakuin University, 2Research Institute for Science and Technology,
Kogakuin University）

Electron tomography reconstruction of nanoparticles using
simulated annealing

山本 知一 1，松村 晶 1（1 九州大学）

P-I_33 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
機械学習とガボールウェーブレットによる輪郭抽出法の電子線トモグラフィへの応用

Tomokazu Yamamoto1, Syo Matsumura1

Application of a contour extraction method with machine1（ Kyushu University）

learning and Gabor wavelets to electron tomography

前納 優斗 1，前田 元 1，馬場 美鈴 2，馬場 則男 1,2（1 工学院大学大学院

情報学専攻 ，2 工学院大学

総

合研究所）
Yuto Maeno1, Gen Maeda1, Misuzu Baba2, Norio Baba1,2（1Major of Informatics, Graduate School, Kogakuin University, 2Research Institute for Science and Technology,
Kogakuin University）（ 78 ）

P-I_34 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
辞書学習による原子分解能 HAADF-STEM 像のノイズ除去およびその定量性の評価 2

P-I_38 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
冷却水温変動に周波数重みを加えた TEM/STEM
像質への影響量の見積もり方法

Noise reduction of atomic resolution HAADF-STEM imag-

Estimation method for the amount of inﬂuences on TEM/

es by dictionary learning and its quantitative evaluation 2

STEM images by adding frequency weighting on tempera-

服部 颯介 1，野村 優貴 2，齋藤 晃 1
1

ture ﬂuctuation of the cooling water.

羽持 満 1，沢田 英敬 1，石井 利哉 1，小峯 和城 1，奥西

2（ 名古屋大学， パナソニック株式会社）
1

2

1

Sosuke Hattori , Yuki Nomura , Koh Saitoh

栄治 1，岩槻 正志 1，涌井 伸二 2

（1Nagoya University, 2Panasonic Corporation）（1 日本電子株式会社，2 東京農工大学）
Mitsuru Hamochi1, Hidetaka Sawada1, Toshiya Ishii1,

P-I_35 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
電子回折解析のための GUI ソフトウェアの開発

Kazushiro Komine1, Eiji Okunishi1, Masashi Iwatsuki1,

Development of GUI-based Software for Electron Diffrac-（1JEOL ltd., 2Tokyo University of Agriculture and Technol-tion Analyses

ogy）

Shinji Wakui2

瀬戸 雄介 1，大塚 真弘 2，伊神 洋平 2，三宅 亮 3（1 神戸大学，2 名古屋大学，3 京都大学）
Yusuke Seto1, Masahiro Ohtsuka2, Yohei Igami2, Akira
Miyake3

P-I_39 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
SPM と FIB-SEM のリンケージシステムを用いた Al 合金腐食部の多角的解析（1Kobe University, 2Nagoya University, 3Kyoto University）

Correlated Analyses of Corroded Aluminum Alloy with a
New SPM and FIB-SEM Linkage System

森川 晃成 1，相蘇 亨 1，伊與木 誠人 1，山岡 武博 1，佐P-I_36 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
各種顕微鏡法の共通プラットフォームの提案と試み

藤 高広 1，鈴木 秀和 2，神谷 知里 1
（1 株式会社 日立ハイテクノロジーズ，2 株式会社 日立

Proposal and approach to common platform of various mi-

ハイテクサイエンス）

croscopy

Akinari Morikawa1, Toru Aiso1, Masato Iyoki1, Takehiro

安永 卓生 1，本多 康久 1，江副 里紗 1，五味渕 由貴 1

Yamaoka1, Takahiro Sato1, Hidekazu Suzuki2, Chisato Ka-（1 九州工大・情報工・生命情報工）

miya1

1

1

1

Takuo Yasunaga , Yasuhisa Honda , Risa Ezoe , Yuki

（1Hitachi High-Technologies Corporation, 2Hitachi High-Gomibuchi1

Tech Science Corporation）（1Dept of Biosci. BIoinfo, School of Comp. Sci. System
Eng., Kyushu Institute of Technology）

P-I_37 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
連続切片法による植物細胞の内部微細構造の三次元観察と 3D 模型による立体像把握

P-I_40 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
高密度パルス電子線発生を可能にする 120kV パ
ルス透過電子顕微鏡の開発
Development of 120kV pulse TEM toward a high-charge
bunched beam

3D Observation and Modelling of Plant Cell Ultrastructures

横井 里奈 1，永田 渉 1，水野 りら 1，石田 高史 2，桑原

based on Serial-sectioning

真人 2，齋藤 晃 2

大井 崇生 ，谷口 光隆 ，榎本 早希子 ，中尾 知代 ，

（1 名古屋大学大学院工学研究科，2 名古屋大学未来材

荒井 重勇 2，小田 昌宏 3，森 健策 3，山根 浩二 4

料・システム研究所）

1

1

2

1

2

2

（ 名古屋大学・院・生命農， 名古屋大学・超高圧電
34Rina Yokoi1, Wataru Nagata1, Lila Mizuno1, Takafumi

子顕微鏡施設， 名古屋大学・院・情報学， 近畿大Ishida2, Makoto Kuwahara2, Koh Saitoh2

学・院・農）（1Guraduate School of Engineering, Nagoya University,

1

1

2

Takao Oi , Mitsutaka Taniguchi , Sakiko Enomoto , To2

2

3

moyo Nakao , Shigeo Arai , Masahiro Oda , Kensaku
Mori3, Koji Yamane4（1Grad. Sch. Bioagr. Sci., Nagoya Univ., 2HVEM Lab., Nagoya Univ., 3Grad. Sch. Informatics, Nagoya Univ., 4Grad.
Sch. Agr., Kindai Univ.）（ 79 ）

2

IMaSS, Nagoya University）

P-I_41 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
エレクトロスプレー分子蒸着法による真空下での TEM 試料作製法についての検討

P-I_45 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
可変圧力 SEM の有効活用を目的とした入射電流と画質の測定Preliminary Study on in vacuo Preparation of TEM Speci-

Measurement of incident current and SN ratio to effectively

mens by Electrospray Molecular Deposition Systemutilize a variable pressure SEM

積1（1 工学院大学，2 能美防災株式会社）

山﨑 貞郎 1，鈴木 一彦 2，於保 英作 1

山下 真生 1，藤田 潤 1，青島 国広 2，田場 盛太 1，新竹
1

2

（ 沖縄科学技術大学院大学， ADCAP バキュームテク

Sadao Yamazaki1, Kazuhiko Suzuki2, Eisaku Oho1

ノロジー株式会社）（1Kogakuin University, 2NOHMI BOSAI LTD.）112

Masao Yamashita , jun Fujita , Kunihiro Aoshima ,Seita Taba1, Tsumoru Shintake1（1Okinawa Institute of Science and Technology Graduate
University, 2ADCAP vacuum technology corporation）

P-I_46 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
内部集光レーザダイシングとイオンスライサーによる試料作製の前処理省力法
Cutting out method of TEM sample for ion slicer using

P-I_42 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
電子デバイス評価のための in-situ TEM 試料の作製と評価

Stelth Dicing

岩田 博之 1，河口 大祐 2，坂 公恭 1
（1 愛知工業大学，2 浜松ホトニクス）

Sample Preparation and Evaluation for In-Situ TEM of

Hiroyuki Iwata1, Daisuke Kawaguchi2, Hiroyasu Saka1

Electronic Devices（1Aichi Institute of Technology, 2Hamamatsu Photonics）

庸夫 1，工藤 昌輝 2，松村 晶 2

P-I_47 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
静電同軸円筒型分析器の収差特性の解析

有馬 克紀 1，石川 竜介 1，福地 厚 1，有田 正志 1，高橋
（1 北海道大学情報科学，2 九州大学超顕微解析研究セAberration Analysis for a Cylindrical Deﬂector Analyzer

ンター）1

伊藤 寛爾 1，村田 英一 1，浅井 泰尊 1，六田 英治 1，下1

Katsunori Arima , Ryusuke Ishikawa , Atsushi Tsuruma1

1

1

ki-Fukuchi , Masashi Arita , Yasuo Takahashi , Masaki

山 宏1

Kudo2, Syo Matsumura2（1 名城大学）（ 1IST, Hokkaido University, 2The Ultramicroscopy Re-

Kanji Ito1, Hidekazu Murata1, Hiritaka Asai1, Eiji Rokuta1,

search Center, Kyushu University）

Hiroshi Shimoyama1（1Meijo University）

P-I_43 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
FIB 自動 TEM 試料作製システムの開発
Development of automated FIB-TEM sample preparation
system

三平 智宏 1，阿井 晴佳 1，松下 光英 1

P-I_48 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
ボルケーノ構造スピント型エミッタアレイの動
作率改善
Improvements of a number of active tips in volcano struc-1（ 日本電子株式会社）

tured Spindt-type ﬁeld emitter arrays

Tomohiro Mihira , Ai Haruka , Mitsuhide Matsushita

新谷 英世 1,2，村田 英一 1，六田 英治 1，下山 宏 1，長（1JEOL Ltd.）尾 昌善 2，村上 勝久 2

1

1

1

（1 名城大学，2 産業技術総合研究所）

P-I_446 月 18 日

16:45 〜 18:00

Hidetoshi Shinya1,2, Hidekazu Murata1, Eiji Rokuta1, Hi-

連続取得高速走査 SEM 像のための 位置合わせと適切

roshi Shimoyama1, Masayoshi Nagao2, Katsuhisa Muraka-

な積算回数の検出を伴う画像積算技術

mi2

Image integration technique with position alignment and（1Meijo University, 2National Institute of Advanced Indus-

detection of appropriate integration times for continuously

trial Science and Technology）

acquired fast scan SEM images

鈴木 一彦 1，山﨑 貞郎 2，於保 英作 2
（1 能美防災株式会社，2 工学院大学）
Kazuhiko Suzuki1, Sadao Yamazaki2, Eisaku Oho2

P-I_49 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
2 光子過程による光電子を用いた時間分解電子顕微鏡の開発（1NOHMI BOSAI LTD., 2Kogakuin University）

Development of a Time-resolved Electron Microscopy Using Two-photon Photoemission

畑中 修平 1，山﨑 順 1,2，保田 英洋 1
（1 大阪大学，2 名古屋大学）
Shuhei Hatanaka1, Jun Yamasaki1,2, Hidehiro Yasuda1（1Osaka University, 2Nagoya University）（ 80 ）

P-M_01 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
冷却 FIB による亜鉛系めっき鋼板の薄片化試料
作製

P-M_05 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
アルミニウム合金の摩擦攪拌点接合部の内部組
織評価

Ultrathin（Cross-Section）sample preparation of

Microstructural Evaluation of Friction Stir Spot Welds forZinc-Plating steel sheet by Cryo-Focused Ion Beam

Aluminum Alloy（1 日本パーカライジング株式会社）（1 あいち産業科学技術総合センター）

中島 圭一 1，田口 秀之 1
1

杉本 貴紀 1，徳田 宙瑛 1，清水 彰子 1

1

Keiichi Nakajima , hideyuki Taguchi

Takanori Sugimoto1, Hiroaki Tokuda1, Akiko Shimizu1（1NIHON PARKERIZING CO., LTD.）（1Aichi Center for Industry and Science Technology）

P-M_02 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
オーステナイト系耐熱鋳鋼のミクロ組織に及ぼす W の影響

P-M_06 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
523K で 時 効 し た Ag を 添 加 し た Al-1.0mass%
Mg2Ge 合金の TEM 観察

Effect of W on microstructure of austenitic heat resistant

Microstructure observation of Ag added Al-1.0mass%Mg2

cast steel

Ge alloy by TEM
1

2

Ngo Huynh Kinh Luan ，奥山 哲也 ，小泉 維昭
1

梅村 周佑 1，土屋 大樹 2，李 昇源 2，松田 健二 2，池田

1

2

（ 伊藤機工株式会社， 久留米工業高等専門学校）

賢一 3，本間 智之 4，池野 進 5

Kinh Luan Ngo Huynh1, Tetsuya Okuyama2, Koreaki（1 富山大学（院生），2 富山大院，3 北海道大院，4 長岡

1Koizumi

技術科学大院，5 富山大名誉教授）（1Itoh Kikoh Co., LTD., 2National Institute of Technology

Shu Umemura1, Taiki Tsuchiya2, Seungwon Lee2, Kenji

Kurume College）

Matsuda2, Ken-ichi Ikeda3, Tomoyuki Homma4, Susumu
Ikeno5

P-M_03 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
伸線加工された Ag-Cu-Pd 合金における棒状組
織の硬度への寄与（1Graduate School of Science and Engineering for Educa-

Contribution of Microstrucure of Rods to Hardness in Ag-

vision of Materials Science and Engineering for Education,

Cu-Pd Alloy Wire

Hokkaido University, 4Department of Mechanical Engi-

黒木 颯仁 ，岩本 知広 ，渡邊 文男 ，小板橋 理成
11

2

tion, University of Toyama, 2Graduate School of Scienceand Engineering for Research, University of Toyama, 3 Di-

2neering, Nagaoka University of Technology, 5Professor（1 茨城大学，2 株式会社ヨコオ）

emeritus University of Toyama）

Hayahito Kuroki1, Chihiro Iwamoto1, Fumio Watanabe2,

P-M_07 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
473K における Mg-Zn-Ag 合金の TEM 観察

Risei Koitabashi2（1Ibaraki University, 2Yokowo Co., Ltd）

TEM observation of Mg-Zn-Ag alloy aged at 473K

P-M_04 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
加熱 SEM-EBSD 法によるばね鋼の逆変態のその場観察

工藤 理恵 1，前田 朋克 1，平木 智也 1，土屋 大樹 2，李昇原 2，池野 進 3，松田 健二 2
（1 富山大学，2 富山大学院，3 富山大名誉教授）

In situ observations of reverse transformation of spring

Rie Kudo1, Tomoyoshi Maeda1, Tomoya Hiragi1, Taiki

steels using a heating SEM-EBSD

Tsuchiya2, Seungwom Lee2, Susumu Ikeno3, Kenji Matsu-

齊藤 元貴 1，中山 知哉 1，坂口 紀史 1，大野 宗一 1，松浦 清隆 1，竹内 正芳 2，佐野 太一 2，蓑口 光樹 2，山岡
拓也

2

da2
（1Graduate School of Science and Engineering for Education, University of Toyama, 2Graduate School of Science（1 北海道大学，2 三菱製鋼（株））1

and Engineering for Research, University of Toyama, 3Pro1

1

Genki Saito , Tomoya Nakayama , Norihito Sakaguchi ,11

Munekazu Ohno , Kiyotaka Matsuura , Masayoshi Takeuchi2, Taichi Sano2, Koki Minoguchi2, Takuya Yamaoka2（1Hokkaido University, 2Mitsubishi Steel MFG. Co., Ltd.）（ 81 ）

fessor emeritus University of Toyama）

P-M_08 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SEM-EDS を利用した有害金属を含有する溶接
ヒュームの個別測定に関する研究

P-M_12 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
120 kV TEM の半導体デバイスへの応用
Application to semiconductor device using the 120kV TEM

Study on measurement of individual welding fume particle

和久井 亜希子 1，五十嵐 啓介 1，金村 崇 1，矢口 紀恵 1

containing toxic metals by using SEM-EDS（1 株式会社

加藤 伸之 ，山田 丸 ，小嶋 純 ，鷹屋 光俊
1

1

1（1 労働者健康安全機構

1

Toshie Yaguchi1

労働安全衛生総合研究所）

1

1

日立ハイテクノロジーズ）

Akiko Wakui1, Keisuke Igarashi1, Takashi Kanemura1,
1

Nobuyuki Kato , Maromu Yamada , Jun Ojima , Mitsu-（1Hitachi High-Technologies Corporation）

toshi Takaya1（1National Institute of Occupational Safety and Health）

P-M_09 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
473K で焼鈍した Zr, Ni 添加 Cu-42mass%Zn 合
金のミクロ組織観察

P-M_13 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
水中結晶光合成法を用いた表面パターニングと
光・電子特性評価
Patterned surface fabricated by submerged photo-synthesisof crystallites and its opto-electrical property

Microstructure observation of Zr, Ni added Cu-42mass%Zn

水野 潤一 1，平岩 健聖 1，高橋 優樹 1, Jeem Melbert2，

alloys annealed at 473K

渡辺 精一 2

小鹿 佑樹 ，土屋 大樹 ，李 昇原 ，池野 進 ，松田 健（1 北海道大学 大学院工学院，2 北海道大学大学院

二

学研究院）

1

2

2

3

2

工

（1 富山大学（院生），2 富山大院，3 富山大名誉教授）

Junichi Mizuno1, Kento Hiraiwa1, Yuki Takahashi1, Mel-

Yuki Koshika1, Taiki Tsuchiya2, Seungwon Lee2, Susumu

bert Jeem2, Seiichi Watanabe2

32（1Graduate School of Engineering, Hokkaido University,

Ikeno , Kenji Matsuda（1Graduate School of Science and Engineering for Educa-

2

Faculty of Engineering, Hokkaido University）

2

tion, University of Toyama, Graduate School of Scienceand Engineering for Research, University of Toyama, 3Professor emeritus University of Toyama）

P-M_14 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Xe イオンミリングを用いた高スループット・低損傷薄膜試料作製

P-M_10 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
レーザ照射による Si 中のボイドの発生

High throughput and low damage lamella preparation using
Xe ion milling佐藤 高広 1，渡邉 慶太郎 1，相澤 由花 1，清原 正寛 2，Formation of voids in Si by laser injection
坂 公恭 ，岩田 博之 ，河口 大祐
11

2

神谷 知里 1

（1 愛知工業大学 , 2 浜松ホトニクス）
1（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ，2 株式会社日立

1

2

Hiroyasu Saka , Hiroyuki Iwata , Daisuke Kawaguchi
1

ハイテクサイエンス）

2（ Aichi Insitute of Technology, Hamamatsu Photonics

Takahiro Sato1, Keitaro Watanabe1, Yuka Aizawa1, Masa-

K.K.）

hiro Kiyohara2, Chisato Kamiya1（1Hitachi High-Technologies corporation, 2Hitachi High-P-M_11 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
直交型 FIB-SEM を用いた半導体パターンエッジ
ラフネスの高精度計測
High accuracy measurement of semiconductor pattern edge
roughness using an orthogonally arranged FIB-SEM

生頼 義久 1，川田 洋揮 1，佐藤 高広 1，満 欣 2，片根 純
一Tech Science corporation）

P-M_15 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
EF-STEM を 用 い た ポ リ Si 中 の 不 純 物 ク ラ ス
ターの評価
Imaging of clusters composed of impurities in poly-Si by

1

Energy-Filtered STEM

宍戸 将之 1，村上 武 1，田中 洋毅 1，藤島 達也 1，竹野

1
2
（（株）
日立ハイテクノロジーズ，（株）
日立ハイテク

史郎 1

サイエンス）
1

Yoshihisa Orai , Hiroki Kawada , Takahiro Sato , Xin（1 東芝メモリ株式会社）

Man2, Junichi Katane1

Masayuki Shishido1, Takeshi Murakami1, Hiroki Tana-

1

1

1

2

ka1, Tatsuya Fujishima1, Shiro Takeno1（ Hitachi High-Technologies, Hitachi High-Tech Science）（1Toshiba Memory Corporation）（ 82 ）

P-M_16 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
透過型電子顕微鏡を用いたスパッタ堆積 Fe 添加
AlN 薄膜の配向性変化の機構解明

P-M_20 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SiGe の STEM モアレ観察-収差補正有無での比較Investigation of Orientation-Change-Mechanism of Fe

STEM Moire Observation on SiGe with and without Using

doped AlN Films Deposited by RF Sputtering using TEM

Cs-corrector

尾 弘司 1，一色 俊之 1

有元 圭介 1，中川 清和 1，山中 淳二 1

西川 治希 1，立溝 信之 1，岡原 希沙 1，今田 早紀 1，西泉 大輔 1，波多 聰 2，白倉 麻衣 1，佐藤 圭 1，原 康祐 1，

1（1 山梨大学，2 九州大学）（ 京都工芸繊維大学）
Haruki Nishikawa1, Nobuyuki Tatemizo1, Kizuna Okah1

11

Daisuke Izumi1, Satoshi Hata2, mai Shirakura1, Kei Sato1,

1

ra , Saki Imada , Koji Nishio , Toshiyuki Isshiki

Kosuke Hara1, Keisuke Arimoto1, Kiyokazu Nakagawa1,（1Kyoto Institute of Technology）

Junji Yamanaka1（1University of Yamanashi, 2Kyushu University）

P-M_17 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
α-Al2O（0001）基板上にミスト化学気相成長し3たα-Ga2O3 薄膜の走査透過電子顕微鏡観察
Scanning Transmission Electron Microscope observations

P-M_21 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Atomic-Scale Investigation of GaON Nanophase as Optimized MISFET Channelof α-Ga2O3 thin ﬁlms on α-Al2O（0001）
substrates formed
3

Atomic-Scale Investigation of GaON Nanophase as Opti-

by the mist chemical vapor deposition

mized MISFET Channel

伊藤 真弓 1，山田 悟 2，仲林 祐司 1，東嶺 孝一 1

Xiangbin Cai1, Mengyuan Hua1, Zhaofu Zhang1, Song

（1 北陸先端科学技術大学院大学，2 石川工業高等専門

Yang 1, Zheyang Zheng 1, Yuan Cai 1, Kevin Chen 1, Ning

学校）

Wang1

Mayumi Ito1, Yamada Satoru2, Yuji Nakabayashi1, Koichi（1The Hong Kong University of Science and Technology）

1

Higashimine（1Japan Advanced Institute of Science and Technology,2

National Institute of Technology, Ishikawa College）

P-M_22 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
固体酸化物電解質表面と AD 法で作製した複合
電極界面の STEM-EELS 分析

P-M_18 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
結晶 Si 中ボロン不純物分布分析のための STEMEELS マッピング測定と解析手法の開発

Surface of Li-ion conductive solid electrolyte and interfaceof composite electrode of ASS-LIB fabricated by aerosol
deposition analysed by STEM-EELS

Development of STEM-EELS mapping measurements and山本 悠太 1，入山 恭寿 2，武藤 俊介 1

data analysis method for boron impurity distribution analy-（1 名古屋大学

sis in crystalline Si

大学大学院 材料デザイン工学専攻）

浅野 孝典 ，高石 理一郎 ，田中 洋毅 ，宮川 英典 ，
1

齋藤 真澄

1

1

1

未来材料・システム研究所，2 名古屋

Yuta Yamamoto1, Yasutoshi Iriyama2, Shunsuke Muto1

1（1Institute of Materials and Systems for Sustainability, Na-（1 東芝メモリ（株））

goya University, 2Department of Materials Design Innova-

1

1

1

Takanori Asano , Riichiro Takaishi , Hiroki Tanaka ,tion Engineering, Nagoya University）

Hidenori Miyagawa1, Masumi Saitoh1（1Toshiba Memory Corporation）

P-M_19 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
低ダメージ FIB 加工による酸化ガリウムの原子
分解能観察

P-M_23 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
AFM を用いた高 Li イオン伝導性無機-有機コン
ポジット固体電解質厚膜の評価
Analysis of high Li ion conductive solid electrolyte composite ﬁlm using AFM

Atomic Resolution imaging of Ga2O3 Fabricated by Low

坂元 尚紀 1,2，中田 大輔 2，星野 裕貴 2, ジーワンクマー

Damage FIB Technique

ル パダルティ 1，川口 昂彦 2，脇谷 尚樹 1,2，鈴木 久

亀田 結貴 ，土井 なお ，常石 英雅 ，石丸 雅大 ，山男 1,2

元 清史 1，小林 健二 2，宮田 充康 2，一色 俊之 3

（1 静岡大学

1

1

1

1

1

2

電子工学研究所，2 静岡大学

大学院総

（ 株式会社コベルコ科研， 株式会社日立ハイテクノ

合理工学研究科）

ロジーズ，3 京都工芸繊維大学）

Naonori Sakamoto1,2, Daisuke Nakata2, Yuki Hoshino2,

1

1

1

Yuka Kameda , Nao Doi , Hidemasa Tsuneishi , Masahi-

Padarti Jeevan Kumar1, Takahiko Kawaguchi2, Naoki Waki-ro Ishimaru1, Kiyoshi Yamamoto1, Kenji Kobayashi2, Mit-

ya1,2, Hisao Suzuki1,2

suyasu Miyata2, Toshiyuki Issiki3（1Research Institute of Electronics, Shizuoka University,

1

2（ Kobelco Reserch Institute, Inc, Hitachi High-Technolo3

2

Graduate School of Integrated Science and Technology,

Shizuoka University）

gies Corporation, Kyoto Institute of Technology）（ 83 ）

P-M_24 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
充填トリジマイト化合物 BaZnGeO4 における元
素置換効果

P-M_28 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
X 型六方晶フェライトにおける特異な結晶磁気異方性Elemental substitution effects in the stuffed-tridymite com-

Anomalous magnetocrystalline anisotropy of an X-type

pound BaZnGeO4

hexaferrite

駒淵 舞 1，木全 祐介 1，漆原 大典 1，浅香 透 1，福田 功

漆原 大典 1，浅香 透 1，福田 功一郎 1（1 名古屋工業大学）

一郎 1
1

1

1

Daisuke Urushihara , Toru Asaka , Koichiro Fukuda（1 名古屋工業大学）（1Nagoya Institute of Technology）

Mai Komabuchi1, Yusuke Kimata1, Daisuke Urushihara1,
Toru Asaka1, Koichiro Fukuda1

P-M_25 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
極薄塗布 TFA-MOD 法を用いた Y 系超電導線材
における焼成過程の微構造観察
Microstructural characterization during crystallization process of yttrium based coated conductors fabricated by TFA-

（1Nagoya Institute of Technology）

P-M_29 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
圧電応答顕微鏡によるマルチフェロイックエピ
タキシャル膜の観察

MOD method with UTOC techniqueObservation of multiferroic epitaxial ﬁlm by piezoelectric

吉田 竜視 1，中岡 晃一 2，加藤 丈晴 1，和泉 輝郎 2

response microscopy（ 一般財団法人ファインセラミックスセンター， 国

永沼 博 1，一ノ瀬 智浩 1

立研究開発法人産業技術総合研究所）（1 東北大学）

Ryuji Yoshida1, Koichi Nakaoka2, Takeharu Kato1, Teruo

Hiroshi Naganuma1, Tomohiro Ichinose1

1

2

2

（1Tohoku University）

Izumi（1Japan Fine Ceramics Center, 2National Institute of Ad-

P-M_30 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
Co-Zn-Fe 合金の電子顕微鏡学的評価

vanced Industrial Science and Technology）

P-M_26 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
二 重 ぺ ロ ブ ス カ イ ト 酸 化 物 TbBaCo2O5+δ
（δ ≤0.5）の構造相転移と電気・磁気物性

Electron microscopic evaluation of Co-Zn-Fe alloy

冨樫 将孝 1，石田 高史 2，小松 正弥 3，長尾 全寛 2，肖英紀 3，桒原 真人 2，齋藤 晃 2

Structural phase transitions and physical properties in the（1 名古屋大学大学院工学研究科，2 名古屋大学未来材

double perovskite Co oxides TbBaCo2O5+\delta（\delta \le 0.5）料・システム研究所，3 秋田大学大学院理工学研究科）

岩間 洋昂

1

Nobutaka Togashi1, Takafumi Ishida2, Masaya Komat-（1 名古屋工業大学大学院）

su3, Masahiro Nagao2, Yeong-Gi So3, Makoto Kuwahara2,

1

Hirotaka Iwama

Koh Saitoh2（1Nagoya Institute of Technology）（ 1Graduate School of Engineering, Nagoya University,2

P-M_27 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
不定比化合物 CrS（x~ 1.14）の電子回折を用いxた結晶構造の評価
Crystal structure analysis of non-stoichiometric compound
CrSx（x ~ 1.14）by electron diffraction

外山 望 1，漆原 大典 1，藤島 健竜 1，駒淵 舞 1，浅香ing Science, Akita University）

P-M_31 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
C-SiC ナノチューブのイオン照射による新奇ハ
イブリッドカーボンナノ材料の創製
Synthesis of novel hybrid carbon nanomaterials by ion irra-

透 1，福田 功一郎 1

diation of C-SiC nanotubes

田口 富嗣 1，山本 春也 1，大場 弘則 1

1（ 名古屋工業大学）
1

IMaSS, Nagoya University, 3Graduate School of Engineer-1

Nozomu Toyama , Daisuke Urushihara , Kenryu Fujishi-（1 量子科学技術研究開発機構）

ma1, Mai Komabuchi1, Toru Asaka1, Koichiro Fukuda1

Tomitsugu Taguchi 1, Shunya Yamamoto 1, Hironori

1

Ohba1

（ Nagoya Institute of Technology）（1National Institutes for Quantum and Radiological Scienceand Technology）（ 84 ）

P-M_32 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
単層粘土鉱物ナノシートの HAADF-STEM 観察
Direct imaging of monolayer clay nanosheets using aberra-

P-M_36 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
カーボンナノ四面体/リボン構造における物質充填とその操作

tion corrected HAADF-STEM

秋田 郁美 ，石田 洋平 ，米澤 徹
11

Encapsulating carbon nanotetrahedron/ribbon structures
1

with other materials and their operation（1 北大院工）

市木 康介 1，河野 日出夫 1

Ikumi Akita1, Yohei Ishida1, Tetsu Yonezawa1（1 高知工科大学）

1

Kousuke Ichigi1, Hideo Kohno1（ Grad. School of Eng., Hokkaido Univ.）（1Kochi University of Technology）

P-M_33 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
積層配列の類似性で探る SiC ナノワイヤ中の積層不整発生因子
Probing formation mechanism of stacking faults in SiC

P-M_37 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Y 字分岐カーボンマイクロチューブにおける内包物質の電圧印加による操作

nanowires with similarity analysis of stacking

Operation of encapsulated materials in Y-shaped carbon mi-

片岡 誉行 1，河野 日出夫 1

crotubes by applying voltage
岡田 雅生 1，河野 日出夫 11（ 高知工科大学環境理工学群）
1

1

Takayuki Kataoka , Hideo Kohno（1 高知工科大学）（1Kochi University of Technology）

Masaki Okada1, Hideo Kohno1（1Kochi University of Technology）

P-M_34 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
電子線照射を利用してパターニングした有機半導体ナノ粒子の電気特性
Patterning of organic semiconductor nanoparticles using

P-M_38 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
分岐・合流カーボンマイクロチューブの創製及び内包物質の電圧/電流印加による操作

electron beam irradiation and their electrical properties
高鹿 雄介 ，香取 友樹 ，岡野 瑛人 ，下条 雅幸
1

1

1

Fabrication of side-by-side type splitting-and-joining car-1

bon microtubes and operation of encapsulated materials by（1 芝浦工業大学）

applying voltage/electric current

1

1

佐々木 大也 1，河野 日出夫 1

1

Yusuke Kouroku , Yuki Katori , Hideto Okano , Masayu1

ki Shimojo（1 高知工科大学）（1Shibaura Institute of Technology）

Daiya Sasaki1, Hideo Kohno1（1Kochi University of Technology）

P-M_35 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
PEEM を用いた ZnO ナノロッドの電界集中特性
評価
Evaluation of field concentration on ZnO nanorods with

P-M_39 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
電子顕微鏡法によるナノ粒子粒径分布計測の高度化に向けた試料調製法開発

PEEM

河本 雅弥 ，工藤 雅嗣 ，水野 潤一 , Melbert Jeem ，
1

2

3

3

渡辺 精一 3，朝倉 清高 1

Novel specimen preparation towards more reliable
nanoparticle size distribution measurement by electron microscopies（ 北海道大学触媒科学研究所， 菅製作所， 北海道大

熊谷 和博 1，赤井 諭 2，飯田 信雄 2，佐々木 義和 2，菊学工学研究院）地 真樹 2，北村 真一 2，眞部 弘宣 2，黒河 明 1

1

2

3

Masaya Kawamoto1, Masashi Kudo2, Junichi Mizuno3,
3

3

1

株式会社）

Jeem Melbert , Seiichi Watanabe , Kiyotaka Asakura
1（1 国立研究開発法人産業技術総合研究所，2 日本電子

2

（ Institute for Catalysis, Hokkaido University, Suga Co.,
3

Kazuhiro Kumagai1, Satoru Akai2, Nobuo Handa2, Yoshi-

Ltd, Graduate School of Engineering and Hokkaido Uni-

kazu Sasaki2, Naoki Kikuchi2, Shin-ichi Kitamura2, Hirono-

versity）

bu Manabe2, Akira Kurokawa1（1National Institute of Advanced Industrial Science andTechnology（AIST）, 2JEOL Ltd.）（ 85 ）

P-M_40 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
ナノフーリエ赤外分光法を利用した複合材料界
面の解析

P-M_446 月 18 日

16:45 〜 18:00

SiO2/GaN 界面における O-K 端の EELS 測定 2
EELS Measurements of O-K edge at SiO2/GaN Interfaces 2

Nanoscale mapping of chemical state for composite materi-

東嶺 孝一 1，佐藤 拓 2，鈴木 寿一 1

als

（1 北陸先端科学技術大学院大学，2 アドバンテスト研
1

1

1

1

井藤 浩志 ，平本 寛子 ，石田 康二 ，本田 暁紀 ，山究所）

崎 紀子 ，高木 暁紀 ，長谷川 暁紀

Koichi Higashimine1, Taku Sato2, Toshi-kazu Suzuki1

2

2

1

（ 産業技術総合研究所

2
2（1Japan Advanced Institute of Science and Technology,

分析計測標準研究部門， 三2菱重工株式会社）
1

1

Advantest Laboratories Ltd.）1

HIROSHI ITO , Hiroko Hiramoto , Koji Ishida , Akinori
Honda1, Noriko Yamazaki2, Kiyoka Takagi2, Koichi Hasegawa2（1National Institute of Advanced Industrial Science andP-M_45 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
天然糖タンパクで安定化されたエマルションの
油水界面構造の観察法

Technology, 2Mitsubishi Heavy Industry）

A methodology to observe interface of emulsion stabilizedby natural glycoprotein

岡田 賢 1，佐川 直也 1，磯辺 紀之 1，出口 茂 1

P-M_41 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
STEM-EDX およびラマンイメージングによる高分子相互拡散現象の解析（1 国立研究開発法人海洋研究開発機構）
Satoshi Okada1, Naoya Sagawa1, Noriyuki Isobe1, Shige-

Study of Polymer Interdiffusion by STEM-EDX and Ra-

ru Deguchi1

man Imaging（1Japan Agency for Marine-Earth Science and Technology

山平 直廣 ，董 文勇 ，伊勢 翔吾 ，宮前 孝行 ，堀内
1

伸

1

1

1

（JAMSTEC））

1（1 独立行政法人

産業技術総合研究所）

Naohiro Yamahira 1, Wenyon Dong 1, Shogo Ise 1,
Takayuki Miyamae1, Shin Horiuchi1

P-M_46 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SMART-EM 法によるグラファイト曲面へのラジカル付加反応の解析（1AIST）

SMART-EM Study on the Radical Addition to the Curved
Graphitic Surface

亀井 恒 1，清水 俊樹 1，原野 幸治 1，中村 栄一 1

P-M_42 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
錯 体 水 素 化 物/窒 化 ホ ウ 素 複 合 物 質 の STEMEDS, EELS 解析（1 東京大学）
Ko Kamei1, Toshiki Shimizu1, Koji Harano1, Eiichi Na-

STEM-EDS, EELS analysis of complex hydride and boron

kamura1nitride composite（1The University of Tokyo）（1 北海道大学大学院 工学研究院）

P-M_47 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
A TED study of intercalated Fe atomic arrangement in TiS2 layers

中川 祐貴 1，礒部 繁人 1，柴山 環樹 1
Yuki Nakagawa1, Shigehito Isobe1, Tamaki Shibayama1（1Faculty of Engineering, Hokkaido University）

A TED study of intercalated Fe atomic arrangement in TiS2

P-M_43 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
凍結レプリカ法を用いた水溶媒中の複合エマル
ジョンの観察layersChiew Yi Ling1，阿部 聡 1，宮田 全展 1，小矢野 幹夫 1，

大島 義文 1Freeze-fracture replication of composite resin emulsion in（1 北陸先端科学技術大学院大学）

the water

Yi Ling Chiew1, Satoshi Abe1, Masanobu Miyata1, Mikio

村上 和歌子1

Koyano1, Yoshifumi Oshima1（1 株式会社リコー）（1Japan Advanced Institute of Science and Technology）
1

Wakako Murakami（1Ricoh Co Ltd.）（ 86 ）

P-M_48 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
TEM-微小振幅 FM 力勾配測定法による Pt ナノ接点の力学測定P-M_51 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Rh 系ナノ粒子モデル触媒による NO 還元に伴う構造変化のオペランド測定

Mechanical properties of Pt nano-contacts measured byOperando measurement of structural change associatedTEM-FM force gradient measurement at a small amplitudewith NO reduction by Rh-based nanoparticle model catalyst
折田 浩二 1，田中 展望 2，菅沼 拓也 2，井部 将也 2，岩Zhang Jiaqi1，小堀 雄稀 1，石塚 慧介 1，富取 正彦 1，新井 豊子 2，大島 義文 1

崎 正興 3，平田 裕人 2，荒井 重勇 1，樋口 哲夫 4，武藤

1

2

（ 北陸先端科学技術大学院大学， 金沢大学

俊介 1

自然科

（1 名古屋大学，2 トヨタ自動車，3 豊田中研，4 日本電

学研究科）
1

1

1

子）

Jiaqi Zhang , Yuuki Kobori , Keisuke Ishizuka , Masahiko
1

2

1

Koji Orita1, Hiromochi Tanaka2, Takuya Suganuma2, Mas-

Tomitori , Toyoko Arai , Yoshifumi Oshima
1

2（ Japan Advanced Institute of Science and Technology, In-

aya Ibe2, Masaoki Iwasaki3, Hirohito Hirata2, Shigeo Arai1,

stitute of Science and Engineering, Kanazawa University）

Tetsuo Higuchi4, Shunsuke Muto1（1Nagoya University, 2Toyota Motor Corporation, 3Toyota

P-M_49 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
a-C 膜の摩擦摩耗特性に及ぼす相手材の影響

Central R&D Labs., Inc., 4JEOL Inc.）haviour of a-C ﬁlm

P-M_52 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
ポリエチレン表面に発生するクレーズの SEM 内
その場観察

二 2，野瀬 正照 4

In-situ SEM observation of crazes generated in polyeth-（1 富山大学（院生），2 富山大院，3 富山大名誉教授，

ylene surface

Influence of sliding materials on friction and wear be櫻井 亨彦 1，土屋 大樹 2，李 昇原 2，池野 進 3，松田 健

4

下島 光貴 1，下条 雅幸 1

北陸能力開発大）1

2

2

Akihiko Sakurai , Taiki Tsuchiya , Seungwon Lee , Susu-（1 芝浦工業大学）

mu Ikeno3, Kenji Matsuda2, Masateru Nose4

Koki Shimojima1, Masayuki Shimojo1

1（1Shibaura Institute of Technology）（ Graduate School of Science and Engineering for Education, University of Toyama, 2Graduate School of Scienceand Engineering for Research, University of Toyama, 3Professor emeritus University of Toyama, 4Hokuriku Polytechnic College）

P-M_53 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
球面収差補正 STEM を用いた環境制御下 in-situ
観察In-situ observation under the environmental control using

P-M_50 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
高温加熱ホルダーを用いた火山ガラスからの晶
出その場観察Cs corrected STEM

佐藤 岳志 1，渡邉 慶太郎 1，白井 学 1，和久井 亜希
子 1，五十嵐 啓介 1，長久保 康平 1，鈴木 裕也 1，田中High temperature In-situ TEM observation of crystalliza-

弘之 1，矢口 紀恵 1，中村 邦康 1tion in volcanic glass（1 株式会社

三宅 亮 ，奥村 翔平
1

1

日立ハイテクノロジーズ）

Takeshi Sato1, Keitaro Watanabe1, Manabu Shirai1, Akiko（1 京都大学 大学院理学研究科

地球惑星科学専攻）

Wakui1, Keisuke Igarashi1, Yasuhira Nagakubo1, Yuya Su-

1

Akira Miyake , Shohei Okumura

zuki1, Hiroyuki Tanaka1, Toshie Yaguchi1, Kuniyasu Na-（1Kyoto Univ.）

kamura11（1Hitachi High-Technologies Corporation）

P-M_54 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
SMART-EM 法による加速電圧依存的な分子の化
学反応経路の解明
Unveiling Reaction Pathways of Molecules under Different
Acceleration Voltages by SMART-EM Imaging

劉 東欣 1，ルンゲリッヒ ドミニク 1，小鷲 智理 1，山内 薫 1，原野 幸治 1，中村 栄一 1
（1 東京大学）
Dongxin Liu1, Dominik Lungerich 1, Satori Kowashi 1,
Kaoru Yamanouchi1, Koji Harano1, Eiichi Nakamura1（1The University of Tokyo）（ 87 ）

P-M_55 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
その場収差補正透過電子顕微鏡法を用いたアル
ミニウム薄膜中の格子欠陥安定性評価

P-M_59 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
Cryo-TEM を用いた溶液中のアイオノマー凝集
状態解析

In situ AC-TEM study of annealing process of Al thin ﬁlms

Analysis of ionomer aggregation in solution by Cryo-TEM

prepared by Ar ion milling/electrochemical polishing tech-

櫻林 靖哲 1，宮澤 淳夫 2，西野 有里 2，伊藤 喜子 3，安niques

永 卓生 4陳 嬌 1，嶋田 雄介 2，吉田 健太 2, 井上 耕治 2，今野 豊
2彦 ，永井 康介
（1 東北大学（1 トヨタ自動車株式会社，2 公立大学法人兵庫県立大2学，3 ライカ

工学研究科，2 東北大学

マイクロシステムズ株式会社，4 国立大学法人九州工業大学）

金属材料研究Yasunori Sakurabayashi 1, Atsuo Miyazawa 2, Yuri所）
Jiao Chen1, Yusuke Shimada2, Kenta Yoshida2, Koji In2

2

2

Nishino2, Yoshiko Ito3, Takuo Yasunaga4

oue , Toyohiko Konno , Yasuyoshi Nagai（1TOYOTA MOTOR CORPORATION, 2University of Hy-（1Department of Engineering, Tohoku University, 2Instituteogo, 3Leica Microsystems K.K, 4Kyushu Institute of Tech-

for Materials Research, Tohoku University）

nology）

P-M_56 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
窒素雰囲気への電子線照射時に形成されるイオ
ン環境の解析

P-M_60 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
ルンゲ・クッタ・フェールベルグ 4 次法を用いた電子軌道計算の計算精度の検証

Analysis of ion environment formed in nitrogen atmosphere

Improvement of electron trajectory calculation using Run-

during electron beam irradiation

ge-Kutta-Fehlberg fourth order method

剛久 1（1 名城大学）

河上 匠 1，樋口 公孝 1，山本 悠太 1，徳永 智春 1，山本

池田 貴大 1，村田 英一 1，下山 宏 1

1

Takahiro Ikeda1, Hidekazu Murata1, Hiroshi Shimoyama1（ 名古屋大学）
Takumi Kawakami1, Kimitaka Higuchi1, Yuta Yamamo1

1

1

to , Tomoharu Tokunaga , Takehisa Yamamoto（1nagoya University）

P-M_57 6 月 17 日 16:30 〜 18:00
オープンウィンドウ式ガス導入機構を用いたガス雰囲気中での高分解能 STEM 観察の優位性
Examination of superiority of high resolution STEM observation under gas atmosphere with open window type gas
injection mechanism

塙 暁成 1，久保 雄大 1，菊池 秀樹 1，中村 邦康 1，白井
学 1，稲田 博実 1，松本 弘昭 2
（1 株式会社

日立ハイテクノロジーズ，2 株式会社

日立ハイテクノロジーズ上海）
Akinari Hanawa1, Yudai Kubo1, Hideki Kikuchi1, Kuniyasu Nakamura1, Manabu Shirai1, Hiromi Inada1, Hiroaki
Matsumoto2（ 1Hitachi High-Technologies Corporation, 2Hitachi
High-Technologies（Shanghai）Co., Ltd.）P-M_58 6 月 18 日 16:45 〜 18:00
天然ゴムの疲労き裂先端に発生するクレーズのSEM 内その場観察
In-situ SEM observation of crazes near fatigue crack tip innatural rubber

岡野 瑛人 1，下島 光貴 1，下条 雅幸 1
（1 芝浦工業大学）
Hideto Okano1, Koki Shimojima1, Masayuki Shimojo1（1Shibaura Institute of Technology)（ 88 ）（1Meijo University)

写真コンクール

Photography contest

Photo-01
染色体、空飛ぶ絨毯に乗ってトモグラフィーホ
ルダーへ

Photo-05
花上の氷華
Frost ﬂower on a ﬂower

A chromosome on a flying carbon carpet for electron to-

岡田 賢 1，山濵 由美 2，針山 孝彦 2，出口 茂 1

mography（1 国立研究開発法人海洋研究開発機構，2 浜松医科大

林田 美咲 ，Phengchat Rinyaporn ，Homeniuk Darren ，
1

2

2

近江戸 伸子 ，福井 希一

1

学）

3

Satoshi Okada1, Yumi Yamhama2, Takahiko Hariyama2,

1

2

3

（ National Research Council Canada， 神戸大学， 大阪

Shigeru Deguchi1

大学）（1Japan Agency for Marine-Earth Science and Technology
12Misa Hayashida , Rinyaporn Phengchat , Darren（JAMSTEC）, 2Hamamatsu University School of Medi-

Homeniuk 1, Nobuko Ohmido2, Kiichi Fukui3

cine）

1

2

（ National Research Council Canada, Kobe University,
3

Osaka University）

Photo-06
愛溢れる未来の心（Heart）
Full of LOVE

Photo-02
Spore trapped in spider silk, sample coatedwith 2 nm of gold.

櫻林 靖哲 1，宮澤 淳夫 2，西野 有里 2，伊藤 喜子 3
（1 トヨタ自動車株式会社，2 公立大学法人兵庫県立大Spore trapped in spider silk, sample coated with 2 nm of学，3 ライカ マイクロシステムズ株式会社）

gold.

Yasunori Sakurabayashi 1, Atsuo Miyazawa 2, Yuri

Anna Walkiewicz1

Nishino2, Yoshiko Ito3

1

（1TOYOTA MOTOR CORPORATION, 2University of Hy-（ Quorum Technologies）

ogo, 3Leica Microsystems K.K）

Photo-03
ミクロモンスター降り立つ！

Photo-07
空から見た名古屋

Micro monster get down!

塩野 正道 1，坂上 万里 1

Nagoya seen from the sky

1（ 株式会社日立ハイテクノロジーズ

高瀬 弘嗣 1，今安 正樹 2

アプリケーショ（1 名古屋市立大学医学研究科共同研究教育センター，ン開発部）
Masamichi Shiono1, Mari Sakaue1

2

1

株式会社メニコン）（ Hitachi High-Technologies Corporation Application De-

Hiroshi Takase1, Masaki Imayasu2

velopment Dept.）（ 1Core Laboratory, Nagoya City University Graduate
School of Medical Sciences, 2Menicon Co., Ltd.）

Photo-04
小さなしあわせ、み〜つけた！

Photo-08
美しい鶏名古屋コーチンの羽What a lovely little happiness!

椋 千晶 1，稲賀 すみれ 2，市川 薫 3，高木 幸太 3

Beautiful chicken Nagoya Cochinʼs feathers

3（1 出雲市立塩冶小学校，2 鳥取大学医学部，（株）
日立（1 日本電子株式会社）

ハイテクノロジーズ）
1

野村 朋子 1，中嶌 香織 1

CHIAKI MUKU , SUMIRE INAGA , KAORI ICHIKA-

Tomoko Nomura1, Kaori Nakjima1

WA3, KOTA TAKAGI3（1JEOL Ltd）

1

2

2

（ Izumo City Enya Primary School, Tottori University
Faculty of Medicine, 3 Hitachi High-technologies Corporation）（ 89 ）

Photo-09
有孔虫から発掘された魚のナノ化石
Nano-fossil of a ﬁsh excavated from the foraminifera

植松 勝之 1，長井 裕季子 2，豊福 高志 2，完山 正林 3
1（（株）
マリン・ワーク・ジャパン，2 国立研究開発法

人 海洋研究開発機構，3 サーモフィッシャーサイエ
ティフィック 日本エフイー・アイ株式会社）
Katsuyuki Uematsu1, Yukiko Nagai2, Takashi Toyofuku2, Shoji Sadayama3（1Marine Works Japan LTD., 2JAMSTEC, 3FEI company
Japan LTD.）

Photo-10
ナノ クリスタル
Nano Crystal

相澤 由花 1，佐藤 高広 1，上山 智 2（1 株式会社日立ハイテクノロジーズ，2 名城大学）
Yuka Aizawa1, Takahiro Sato1, Satoshi Kamiyama2（1Hitachi High-Technologies, 2Meijo University）

Photo-11
卓上 SEM による生物試料の観察
Observation of biologicai material with desktop SEM
永田 文男 1

（1 ソリューション・ナタ）
Fumio Nagata1（1Solution NATA）（ 90 ）