最先端の干渉計技術による光学部品製造プロセスの改善

波面及び透過波面計測Äpre Instruments / アプレ インスツルメンツ• ２０１３年創業– 創業者が発明したコアテクノロジ• 環境振動に強い• 非球面形状の測定• グラフィック形式のユーザーインターフェースソフトウエア••• 振動に強い位相シフトアルゴリズム• ノイズの多いデータからしっかりしたデータ取得• 波長をコントロールした干渉計測

アメリカ東、西海岸にオフィスを設置– 開発、製造、営業拠点／ Tucson,AZ– 管理、マーケティング拠点／ Middletown, CT
人員拡大中– 光学科学者 博士号取得者３名– 修士号取得エンジニア１名& 修士号取得オプトメカニカルエンジニア１名– 製造スタッフ、エンジニアリング・ロジスティクス ４名– マーケティングセールス ２名– 学生インターン ２名– 全世界的な営業、ディストリビューションチャンネル• 新拠点：5,200 ft2 (500 m2) ← 2016から２倍に拡張
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| CompanyConfidential |2Äpre Instruments: Who we are• 測定技術にフォーカス: 不計測のバラツキとトレーサビリティの追求• 顧客の必要性に柔軟な対応• 豊富な光学計測知識• 光学業界に特化“高品質と応答性の高いサポートによる革新である。
F. Tinker, President AOS“Apreには良い意味で非常に驚かされることばかりであり、今後とも長いお付き合いを望むところだ。"
Ted K., Blue Ridge Optics

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Apreの優れた技術から提供する製品とサービス
干渉縞取得とデータ解析ソフトウェア

ソフトウェアのOEM

アップグレード & 修理

干渉計測のエキスパート

フィゾー干渉計

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カスタム対応4

S-Series: ハイパフォーマンス干渉計

計測を進化させる
Apreの干渉縞解析システム– エキスパートによる設計– 独自の回折限界光学設計– 高解像度イメージングシステ
ム– 干渉計メーカが持つ問題を解消– 複数の波長と波長シフトオプション– SCI装備
アクセサリーパッケージ搭載モデル
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Sシリーズ高分解能 - 最高性能の干渉計

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Sシリーズ標準解像度 - 高性能干渉計

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REVEAL™OEMソフトウェア：干渉縞解析ソフト• OEM干渉計との接続が可能• 測定からカスタムレポートまで10秒で• Windows 10 64-bit OS （7は、オプション対応） • ウェブブラウザ調のインターフェイス画面• dat形式(Zygo)、hdf5形式(4D)ファイルに互換 • 解析ツリーで計測のトレーサビリティを確認可能
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REVEAL™OEMソフトウェア：干渉縞解析ソフト
機能、および性能
アプリケーション

フィルタ

解析結果

BASIC (標準)•Form
•Radius of Curvature
フューリエ (オプション)•MTF, PSF, PSD
ショップテスト（オプション）•Wedge•PHom•Prism•Corner Cube

• Masking• Auto Aperture• Reference subtract• Box• Erosion (inside/out)• Median• Individual Zernike• Spike• Affine Transforms• 測定モード• Vibration Tolerant PSI• Wavelength Shifting• Carrier Fringe• SCI• Zernike• 3D View• Sections• PVr• Islands• ISO10110-14• ISO & Seidel• PV, RMS
• PVr
• Tilt• Power• Astigmatism• Coma• SA3March 8, 2018

| CompanyConfidential |9理論的な性能限界へのアップグレード/修復

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1K x 1Kデジタル計測用カメラ
最新の電子機器と新しいデジタルアライメント用カメラ
振動に強い位相シフト縞画像取得
最新の64 Bit Windows® OS 搭載PCによる制御
REVEAL™ソフトウェア：10秒未満で測定からレポート表示
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| CompanyConfidential |10理論的な性能限界へのアップグレード/修復【干渉計アップグレードサービス】】
https://youtu.be/3YCtAGhMs9k

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Confidential |11お客様 (抜粋)

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SCI:

Spectrally ControlledInterferometry

波長コントロール干渉計測法

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The Problem:マルチサーフェス干渉••

多重反射での測定問題点• 正確で反復可能な測定を妨げる• プラスチック平行光学系• 薄いメニスカスレンズ
一般的な簡易解決方法• 青テープ• 屈折率のマッチしたジェル• ワセリン• 一時的なコーティング

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The Problem:マルチサーフェス干渉【波長コントロール干渉計測法（SCI）のご紹介】
https://youtu.be/ZjOC0reaS78

なぜ干渉縞はこんなにも複雑なんだろうかと感じませんか？

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3面空洞からのSCIデータ（TF - フロント - バック）

【波長コントロール干渉計測法（SCI）データ例】
https://youtu.be/CGCkAkcgpac

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SCI Attributes

FeatureSpecification

Interferometer Configuration Fizeau
Phase Shifting Method Electronic

Comment
Common Path
Not mechanical nor λ shifting

Interference Localization <50 µm

Isolates surface reflections

Localization Range Variable

0 mm (at reference) to 1m

Measure front/back one setup Yes

Up to 1m OPD

Wavelength – nominal 633 nm
Applications • Surface form & mid-spatial-frequencies• Transmitted wavefront• Homogeneity• Optical thickness• Parallelism• Total Thickness Variation*Multiple US & Global Patents

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SCI Thin Plate Measurement Results

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SCI のベネフィット（利点）• 多重反射を排除します。
• 簡単なアライメント
コヒーレント、インコヒーレント計測を切り替えられます。
• 測定ごとの位置再調整が必要ありません。
• レーザースキャニングも不要です。
• 計測された面のリアルタイム状態表示が可能です。
• メカニカルな駆動を必要としない位相シフト• フィゾーキャビティーに制限がありません。
• 縞の位置ズレは１カメラフレーム以内（要確認）• コモンパスなフィゾー式設計
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CONTACT株式会社 清原光学営業部 角田智彦
apre@koptic.co.jp
Office: 03-5918-8501
Apre社の動画 YouTubeアドレス

https://www.youtube.com/channel/UCk75a5L6mWxjSV7ldPUbCeA/videos
株式会社 清原光学〒174-0041 東京都板橋区舟渡3-28-10
TEL：03-5918-8501（代）FAX：03-5918-8502