Oral

学術講演会発表（Oral sessions）

Mon. 25 May※座長は交渉中を含みます。
5 月 25 日（月） 第 1 日目

S-1.

日本−カナダ 二国間交流シンポジウム

S-1.

Japan–Canada Joint Symposium

5 月 25 日（月） 9:00 〜 12:00

A 会場 （Room A）

1amA_S1-4 10:30 〜 11:00
Atomic Resolution Dynamic Observations ofGrain Boundary and Surface
幾原 雄一 1,2,3（1University of Tokyo, 2NSRL, Japan Fine Ceramics Center, 3WPI-AIMR, Tohoku University）

座 長（Chairperson）

Yuichi Ikuhara1,2,3

森 茂生（大阪府立大学）（1University of Tokyo, 2NSRL, Japan Fine Ceramics Cen-

Shigeo Mori（Osaka Prefecture University）

Opening Session

ter, 3WPI-AIMR, Tohoku University）

9:00 〜 9:05

1amA_S1-5 11:00 〜 11:30
Charging of Thin Film Phase Plates in a TEM
Marek Malac1,2, M. Hayashida1, R.F. Egerton2, S. Het-

座 長（Chairperson）

tler3, M. Beleggia4

森 茂生（大阪府立大学）（1NRC-NANO, 2Dept. Physics, U of Alberta, 3INA, Uni-

Shigeo Mori（Osaka Prefecture University）

versity of Zaragoza, 4DTU）

Marco Beleggia（Thechnical Unversity ofDenmark）

1amA_S1-1 9:05 〜 9:35
Understanding Radiation Damage in
Beam-Sensitive TEM Samples
Ray Egerton1

1amA_S1-6 11:30 〜 12:00
Gas electron holography: realisation and implementationJes Ærøe Hyllested1, G. Prabhu Sai Balasubramanian1, E.
M. Fiordaliso1, Marco Beleggia1（1Technical University of Denmark）

1（ University of Alberta）

1amA_S1-2 9:35 〜 9:55
Capability of a low-kV TEM in the study of
beam sensitive materials

矢口 紀恵 1，長久保 康平 1，田村 圭司 1，野寺 康行 1，

五十嵐 啓介 1，和久井 亜希子 1（1 株式会社

S-1.

日本−カナダ 二国間交流シンポジウム

S-1.

Japan–Canada Joint Symposium

5 月 25 日（月） 13:15 〜 16:30
座 長（Chairperson）

日立ハイテク）

原田 研（理化学研究所）

Toshie Yaguchi1, Yasuhira Nagakubo1, Keiji Tamura1,

Ken Harada（RIKEN SPring-8 Center）

Yasuyuki Nodera1, Keisuke Igarashi1, Akiko Wakui1

Marek Malac（NRC-NANO）（1Hitachi High-Tech corporation）

1amA_S1-3 9:55 〜 10:20
Beam Damage and Sample Preparation in
Plasma Focused Ion Beam Microscopy

1pmA_S1-7 13:15 〜 13:45
Towards Atomic Resolution State Analysis
by STEM-EELS

Peng Dong1, Ali Allahverdi2, Sam Norris1, Hui Yuan1,

倉田 博基 1，治田 充貴 1

Nabil D. Bassim1（1 京都大学 化学研究所）

1

A 会場 （Room A）

2

Hiroki Kurata1, Mitsutaka Haruta1（ McMaster University, Iran University）（1Institute for Chemical Research, Kyoto University）

̶ 2 ̶

Raynald Gauvin1, Nicolas Brodusch1, Frédéric Voisard1

狩野 絵美 1，三石 和貴 1，色川 芳宏 1，生田目 俊秀 1，（1McGill University）

木本 浩司 1，加地 徹 2，小出 康夫 1
（1 物質・材料研究機構，2 名古屋大学）

1pmA_S1-9 14:05 〜 14:30
Fusion of Analytical TEM/STEM and in-situ
analysis
稲田 博実

Emi Kano 1, Kazutaka Mitsuishi 1, Yoshihiro Irokawa 1,
Toshihide Nabatame1, Koji Kimoto1, Tetsu Kachi2, Yasuo
Koide11（1 株式会社（1National Institute for Materials Science, 2Nagoya Univer日立ハイテク）

sity）

Hiromi Inada1（1Hitachi High-Tech Corp.）

1pmA_S1-10 14:30 〜 14:50
High-precision Phase Analysis of Automatically Collected Electron Holograms

1pmA_S1-14 16:05 〜 16:30
Higher-order structure of human chromosomes observed by electron tomography
and electron diﬀraction
Misa Hayashida1, Rinyaporn Phengchat2, Marek Malac1,

高橋 由夫 1，明石 哲也 1，佐藤 敦子 2，谷垣 俊明 1，品1

田 博之 ，村上 恭和（1 株式会社

Ken Harada3, Tetsuya Akashi4, Nobuko Ohmido2, Kiichi

2

Fukui5

日立製作所，2 九州大学）
1

1（1National Research Council Canada, 2Kobe University,
2

3

Yoshio Takahashi , Tetsuya Akashi , Atsuko Sato ,RIKEN, 4HITACHI, 5Osaka University）

Yoshiaki Tanigaki1, Hiroyuki Shinada1, Yasukazu Murakami2

M-8.

（1Hitachi, Ltd., 2Kyushu University）

その場観察・環境制御

M-8. In-situ Observation & Environmental Microscopy

1pmA_S1-11 15:00 〜 15:25
Combination of Fluctuation Electron Microscopy and Ptychography for Characterizationof Amorphous – Crystalline Mixtures

5 月 25 日（月） 9:15 〜 11:45

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）
吉田 秀人（大阪大学）

Arthur Blackburn1

Hidero Yoshida（Osaka University）（1University of Victoria）

川崎 忠寛（ファインセラミックスセンター）

1pmA_S1-12 15:25 〜 15:45
Thermal stability and microstructures of the
LiNi1/3Mn1/3Co1/3O2 positive electrode for sulﬁde-based all-solid-state lithium batteries
塚崎 裕文 1，乙山 美紗恵 1，森 茂生 1，林 晃敏 1，辰巳

砂 昌弘 1Tadahiro Kawasaki（Japan Fine Ceramics
Center）

1amB_M8-1 9:15 〜 9:30
ナノ材料解析における <in situ> TEM および関連技術の有効活用（1 大阪府立大学）

Effective use of <in situ> TEM and related techniques in1

1

1

Hirofumi Tsukasaki , Misae Otoyama , Shigeo Mori ,nanomaterials characterization

Akitoshi Hayashi1, Masahiro Tatsumisago1

上野 武夫 1

（1Osaka Prefecture University）（1 山梨大学 燃料電池ナノ材料研究センター）
Takeo Kamino1（1University of Yamanashi）

̶ 3 ̶Mon. 25 May

1pmA_S1-13 15:45 〜 16:05
Crystallization differences of Al2O3 on GaN
planesOral

1pmA_S1-8 13:45 〜 14:05
EDS and EELS of Lithium Materials from 0.5
to 30 keV

OralMon. 25 May

1amB_M8-2 9:30 〜 9:45
亜鉛電析その場 TEM 観察による電極形状依存性の評価

1amB_M8-7 11:00 〜 11:15
In-situ 加熱実験用の試料作製とアプリケーション

Evaluation of Electrode Shape Dependence by In situ Ob-

Sample Preparation and Application for In-situ Heating Ex-

servations of Zn Electrodeposition

periments

桑原 彰秀 1，幾原 雄一 1,2（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

佐々木 祐生 1，水島 彩子 2，三田 吉郎 2，川崎 忠寛 1，

宗兼 正直 1

1

（ 非営利・一般財団法人ファインセラミックスセン

Masanao Munekane1

ター，2 東京大学）（1Thermofisher Scientific）

1

2

2

Yuki Sasaki , Ayako Mizusima , Yoshio Mita , Tadahiro
Kawasaki1, Akihide Kuwabara1, Yuichi Ikuhara1,2（1Japan Fine Ceramics Center, 2The University of Tokyo）

1amB_M8-8 11:15 〜 11:30
μReactor を用いた in-situ SEM 加熱観察アプ
リケーション

1amB_M8-3 9:45 〜 10:00
磁気渦の電流駆動の直接観察

The application of micro Reactor for in-situ SEM heating
observation

小松 恵理 1，Novak Libor1，完山 正林 1，村田 薫 1

In-situ observations of current-driven magnetic skyrmions

于 秀珍 ，森川 大輔 ，中島 清美 ，柴田 基洋 ，金澤（1Thermo Fisher Scientific）

直也 2，有馬 孝尚 1,2，永長 直人 1,2，十倉 好紀 1,2

Eri Komatsu1, Libor Novak1, Shoji Sadayama1, Kaoru

1

1

1

1

1

2

Murata1（ 理化学研究所， 東京大学）
Xiuzhen Yu1, D. Morikawa1, K. Nakajima1, K. Shibata1,
2

1,2

1,2

（1Thermo Fisher Scientific）

1,2

N. Kanazawa , T-h. Arima , N. Nagaosa , Y. Tokura（1RIKEN, 2University of Tokyo）

1amB_M8-4 10:00 〜 10:15
A Home-Made Liquid Cell for In Situ Transmission Electron Microscopy
Xiaoguang Li1, Masaki Takeguchi1, Kazutaka Mitsuishi1

1amB_M8-9 11:30 〜 11:45
ZEISS SEM と完全にインテグレーションされた
in situ 材料評価ソリューション
Fully integrated in-situ materials testing solution in SEM
Zhou Fang1, Han Luyang1（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

1

Fang Zhou1, Luyang Han1

（ National Institute for Materials Science）（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

1amB_M8-5 10:30 〜 10:45
In-situ 加熱 TEM 観察によるガラス中金属コロイドの挙動解析

M-8.

その場観察・環境制御

In-situ heating TEM observation of the dynamic behavior

M-8. In-situ Observation & Environmental Microscopyof colloid in glass

5 月 25 日（月） 13:00 〜 15:15

中村 和人 1

（1 株式会社東ソー分析センター）

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）

Kazuto Nakamura1

松田 潤子（九州大学）（1Tosoh Analysis and Research Center）

Junko Matsuda（Kyushu University）
吉田 健太（東北大学）

1amB_M8-6 10:45 〜 11:00
MEMS ヒータを用いた in-situ TEM 加熱実験

Kenta Yoshida（Tohoku University）

In-situ Heating TEM Experiments Using MEMS Heater
中西 伸登 1，宗兼 正直 1，関口 浩美 1，Bright Alex1（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Nobuto Nakanishi1, Masanao Munekane1, Hiromi Seki-

1pmB_M8-10 13:00 〜 13:15
ETEM を用いた金属電極表面の原子スケール動的解析

guchi1, Alex Bright1

Atomic-scale dynamic analysis of metal electrode surfaces

1（ Thermo Fisher Scientific）

by ETEM

麻生 亮太郎 1,2，小川 洋平 1，玉岡 武泰 1,2，吉田 秀
人 1，竹田 精治 1,3（1 阪大産研，2 九大院工，3 阪大ナノ）
Ryotaro Aso1,2, Yohei Ogawa1, Takehiro Tamaoka1,2, Hideto Yoshida1, Seiji Takeda1,3（1ISIR, Osaka Univ., 2Kyushu Univ., 3INSD, Osaka Univ.）̶ 4 ̶

In situ Atomic-scale Observation of Lattice Defects Behav-

In situ TEM Observation of Redox Cycling of Ni-based Al-ior in Al Thin Film by Spherical Aberration-Correctedloy Catalysts in SOFC

松田 潤子 1，石橋 悠佑 2，松本 滉平 2，立川 雄也 2，

Transmission Electron Microscopy

チェン ジャオ 1，嶋田 雄介 1，吉田 健太 1，井上 耕
11

治 ，今野 豊彦 ，永井 康介

佐々木 一成 1,2,3

1（1 九州大学（1 東北大学）

水素エネルギー国際研究センター，2 九州大学大学院工学府，3 九州大学

1

1

1

次世代燃料電池産

Jiao Chen , Yusuke Shimada , Kenta Yoshida , Koji In-学連携研究センター）

oue 1, Toyohiko Konno1, Yasuyoshi Nagai 1

Junko Matsuda1, Yusuke Ishibashi2, Kohei Matsumoto2,

1

Yuya Tachikawa2, Kazunari Sasaki1,2,3（ Tohoku university）（1International Research Center for Hydrogen Energy, Ky-

1pmB_M8-12 13:30 〜 13:45
120 kV TEM を用いた Hollow-cone 暗視野像のその場観察手法

ushu University, 2Graduate School of Engineering, Kyushu
University, 3Next-Generation Fuel Cell Research Center,
Kyushu University）

In-situ Hollow-cone dark-field image observation method
using a 120 kV TEM

五十嵐 啓介 1，矢口 紀恵 1，塚崎 裕文 2，和久井 亜希
子 1，森 茂生 2

1pmB_M8-15 14:30 〜 14:45
SiO2 膜付け Fe2O3、CaO 重ね合わせ試料からの鉄生成その場観察（1 株式会社日立ハイテク，2 大阪府立大学）
1

In-situ analysis of Fe-formation from the stack of SiO2

1

2

coated Fe2O3 and CaO

Keisuke Igarashi , Toshie Yaguchi , Hirofumi Tsukasaki ,Akiko Wakui1, Shigeo Mori2

石川 信博 1，三井 正 1，竹口 雅樹 1，三石 和貴 1

（1Hitachi High-Tech Corporation, 2Osaka Prefecture Uni-

（1 物質・材料研究機構）

versity）

Nobuhiro Ishikawa1, Mitsui Tadashi1, Takeguchi Masaki1, Mitsuishi Kazutaka1

1pmB_M8-13 13:45 〜 14:00
中性子照射誘起転位ループの熱的安定性のその場 WB-STEM 計測
In-situ WB-STEM quantification of the neutron induced
dislocation loops during post-irradiation-annealing

吉田 健太 1，杜 玉峰 1，嶋田 雄介 1，鈴土 知明 2，荒河
3

1

1

（1National Institute for Materials Science）

1pmB_M8-16 14:45 〜 15:00
電圧印加 Pd ナノギャップにおける化学反応の原子スケール ETEM 観察

4

一渡 ，外山 健 ，井上 耕治 ，大貫 聡明 ，永井 康

an electrically-biased Pd nanogap

吉田 秀人 1，玉岡 武泰 1,2，麻生 亮太郎 1,2，竹田 精介1（1 金属材料研究所附属量子エネルギー材料科学国際研
2究センター／東北大学， 日本原子力研究開発機構，
3

Atomic-scale ETEM observation of chemical reactions in

島根大学総合理工学部，4 北京科学技術大学）
1

1

治 1,3
（1 阪大産研，2 九大院工，3 阪大ナノ）
Hideto Yoshida1, Takehiro Tamaoka1,2, Ryotaro Aso1,2,

1

Kenta Yoshida , Yufeng Du , Yusuke Shimada , Tomoaki

Seiji Takeda1,3

Suzudo2, Kazuto Arakawa3, Takeshi Toyama1, Koji Inoue1,（1ISIR, Osaka Univ., 2Kyushu Univ., 3INSD, Osaka Univ.）

Somei Ohnuki4, Nagai Yasuyoshi1（1Institute for Materials Research, Tohoku University, 2Japan Atomic Energy Agency, 3Department of Materials Science, Shimane University, 4University of Science and Technology Beijing）

̶ 5 ̶

Mon. 25 May

1pmB_M8-14 14:15 〜 14:30
ニッケル基合金触媒の酸化・還元反応その場
TEM 観察Oral

1pmB_M8-11 13:15 〜 13:30
その場収差補正透過電子顕微鏡法を用いたアル
ミニウム薄膜中の格子欠陥安定性評価

OralMon. 25 May

1pmB_M8-17 15:00 〜 15:15
気相オペランド TEM を用いた NOx 浄化触媒ナノ粒子の活性時表面挙動の観察

1amC_S2-2 10:00 〜 10:30
複合量子ビーム超高圧電子顕微鏡の現状と今後の新展開

Observations of surface behaviour of NOx purification cata-

Present status of Multi Quantum High Voltage Electron Mi-

lyst nanoparticles using operando TEM

croscope and novel development in near future

田中 展望 1，石川 裕之 1，前出 淳志 2，木下 洋平 1，荒井 重勇 3，樋口 哲夫 4，武藤 俊介 3
1

2

柴山 環樹 1，中川 祐貴 1，渡辺 精一 1
（1 北海道大学）

3（ トヨタ自動車（株）， 名古屋大学工学部， 名古屋大

Tamaki Shibayama1, Yuki Nakagawa1, Seiichi Wata-

学未来材料・システム研究所，4 日本電子
（株））

nabe1

1

1

Hiromochi Tanaka , Hiroyuki Ishikawa , Atsushi（1Hokkaido University）

Maede2, Youhei Kinoshita1, Shigeo Arai3, Tetsuo Higuchi4,
Shunsuke Muto3（1Toyota Motor Corporation, 2Gradiate School of Eng., Nagoya University, 3IMaSS, Nagoya University, 4JEOL Ltd.）

1amC_S2-3 10:30 〜 11:00
物質の光学特性に関する超高圧電子顕微鏡内その場観察
In-situ high voltage electron microscopy of optical properties and interactions of materials

ブルカージャパン株式会社

OT-9.
OT-9.

松村 晶 1，安田 和弘 1，山本 知一 1，前野 宏志 1，麻生Bruker Japan K.K.

5 月 25 日（月） 15:25 〜 15:55

浩平 1，重松 晃次 1，Seo Pooreun1，Bhuian AKM Islam

B 会場 （Room B）

電子顕微鏡との組み合わせで実現する
強度評価ソリューションの紹介

Saiful1（1 九州大学）
Syo Matsumura1, Kazuhiro Yasuda1, Tomokazu Yamamoto 1, Hiroshi Maeno 1, Kohei Aso 1, Koji Shigematsu 1,

in-situ

Pooreun Seo1, AKM Islam Saiful Bhuian1

Seeing is Believing in-situ quantitative nanomechanical（1Kyushu University）

testing inside your electron microscope
長谷川 勇人 1

ナノ表面計測事業部）

1amC_S2-4 11:15 〜 11:45
超高圧電子顕微鏡による金属中の格子欠陥のダ
イナミクスの研究（1 Bruker Japan K.K. Nano Surfaces and Metrology Divi-

Studies on dynamics of lattice defects in metals usingsion)high-voltage electron microscopy

1（ ブルカージャパン株式会社
Hayato Hasegawa1

荒河 一渡 1S-2.

超高圧電子顕微鏡法の新展開

S-2.

Recent progress in high-voltage electron mi-（1 島根大学）
Kazuto Arakawa1（1Shimane University）

croscopy
5 月 25 日（月） 9:30 〜 11:45

C 会場 （Room C）

座 長（Chairperson）
佐藤 和久（大阪大学）
Kazuhisa Sato（Osaka University）
山﨑 順（大阪大学）
Jun Yamasaki（Osaka University）

1amC_S2-1 9:30 〜 10:00
名古屋大学反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の新展開
Future prospects of Reaction Science HV-STEM in Nagoya
University

武藤 俊介 1
（1 名古屋大学

未来材料・システム研究所（IMaSS））

Shunsuke Muto1（1AMTC, IMaSS, Nagoya University）
̶ 6 ̶

S-2.

Recent progress in high-voltage electron mi-

1pmC_S2-8 14:45 〜 15:00
低次元磁性体におけるトポロジカル基底状態の観察
Observation of topological ground state in a
low-dimensional ferromagnetic material

croscopy
5 月 25 日（月） 13:00 〜 15:30

C 会場 （Room C）

戸 川 欣 彦 1， 葛 西 裕 人 2,3， 明 石 哲 也 2,3，Paterson

Gary4，高阪 勇輔 1，岸根 順一郎 5，品田 博之 2,3，秋光

座 長（Chairperson）

純6

山﨑 順（大阪大学）

2（1 大阪府立大学，（株）
日立製作所，3 アトミックス

Jun Yamasaki（Osaka University）

ケール電磁場解析プラットフォーム，4 グラスゴー大

谷垣 俊明（日立製作所）

学，5 放送大学，6 岡山大学）

Toshiaki Tanigaki（Hitachi, Ltd.）

Yoshihiko Togawa1, Hiroto Kasai2,3, Tetsuya Akashi2,3,
Gary Paterson4, Yusuke Kousaka1, Jun-ichiro, Kishine5, Hi-

1pmC_S2-5 13:00 〜 13:30
シナジェティック超高圧電子顕微鏡

royuki Shinada2,3, Jun Akimitsu6（1Osaka Prefecture University, 2Hitachi Ltd., 3Project for
promoting public utilization of advanced research infra-

Synagetic Ultra-High Voltage Electron Microscopy
保田 英洋 1，佐藤 和久 1structure grant from the Ministry of Education, Culture,（1 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター）
1

Sports, Science and Technology, 4University of Glasgow,

1

5

Hidehiro Yasuda , Kazuhisa Sato

The Open University of Japan, 6Okayama University）（1Research Center for Ultra-High Voltage Electron Micros-

1pmC_S2-9 15:00 〜 15:15
超高圧 STEM 像強度の厚さ依存性定量解析

copy, Osaka University）

1pmC_S2-6 13:30 〜 14:00
クライオ超高圧電子顕微鏡の生物試料への応用

Quantitative Analysis of Thickness Dependence ofHigh-Voltage STEM Intensity

山﨑 順 1,3，西久保 英郎 2，佐々木 宏和 2，荒井 重勇 3，

Applications of Cryo-HVEM to Biological samples
村田 和義 1

保田 英洋 1,4

（1 生理学研究所）（1 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター，2 古河電気工
1

Kazuyoshi Murata業株式会社，3 名古屋大学 未来材料・システム研究（1National Institute for Physiological Sciences）

所，4 大阪大学 工学研究科）
Jun Yamasaki1,3, Hideo Nishikubo2, Hirokazu Sasaki2,

1pmC_S2-7 14:00 〜 14:30
超高圧電子線ホログラフィーの進展と将来展望

Shigeo Arai3, Hidehiro Yasuda1,4（1Research Center for Ultra-High Voltage Electron Micros-Advances and Future Perspectives of High-Voltage Elec-

copy, Osaka University, 2Furukawa Electric Co., Ltd., 3In-

tron Holograpy

stitute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya

谷垣 俊明
1

1

（ 株式会社

University, 4Graduate School of Engineering, Osaka Uni日立製作所）

versity）

Toshiaki Tanigaki1（1Hitachi, Ltd., Research & Development Group）

1pmC_S2-10 15:15 〜 15:30
リラクサードメイン構造の電場印加その場超高圧電子顕微鏡観察
In-situ biasing and microsecond observation of domain
structures in a relaxor ferroelectric material by high-voltage
electron microscopy

佐藤 和久 1,2，朝倉 直哉 2，保田 英洋 1,2（1 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター，2 大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻）
Kazuhisa Sato1,2, Naoya Asakura2, Hidehiro Yasuda1,2（1Research Center for UHVEM, Osaka University, 2Div.
Mat. Mfg. Sci., Osaka University）

̶ 7 ̶

Mon. 25 May

超高圧電子顕微鏡法の新展開

Oral

S-2.

Oral
Mon. 25 May

1amD_S7-2 9:30 〜 10:00
電顕マップと分子シミュレーションで解き明かすトランスポーター基質輸送メカニズム

サーモフィッシャーサイエンティ

OT-3.

フィック
OT-3.

Mechanism of a membrane transporter revealed by electron

Thermo Fisher Scientificmicroscopic map and molecular simulation

C 会場 （Room C）

5 月 25 日（月） 15:40 〜 16:10

岡崎 圭一 1

サーモフィッシャーサイエンティフィックの最新複合装置 ― SEM・FIB・Laser 編 ―（1 分子科学研究所）
Kei-ichi Okazaki1（1Institute for Molecular Science）

The state of art DualBeam ™ technology from Thermo

1amD_S7-3 10:00 〜 10:30
二成分毒素-膜孔複合体の単粒子解析

Fisher Scientific ― SEM・FIB・Laser ―村田 薫 1（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

Single particle analysis of binary toxin complex

Kaoru Murata

津下 英明 1

（1 Thermo Fisher Scientific）（1 京都産業大学）

1

Hideaki Tsuge1

T-1.

（1Kyoto Sangyo University）

装置・材料系チュートリアル
C 会場 （Room C）

5 月 25 日（月） 18:00 〜 19:30

1amD_S7-4 10:45 〜 11:15
クライオ電顕による ATP 合成酵素の動的構造解析

テーマ：「TEM と STEM、どう使い分ける？」
講師：

Structural dymamics of ATP synthase revealed by cryoEM

佐藤 和久 1・橋本 隆仁 2

横山 謙 1（1 大阪大学・2 日立ハイテク）
1（1 京都産業大学）
2

Kazuhisa Sato , Takahito Hashimoto

Ken Yokoyama1（1Osaka University, 2Hitachi High-Tech Corporation）（1Kyoto Sangyo University, Department of Molecular Biosciences）

S-7.

単粒子クライオ電子顕微鏡法の応用展

1amD_S7-5 11:15 〜 11:45
Performance factors in cryo-EM studies ofmembrane proteins and new methods

開
5 月 25 日（月） 9:00 〜 11:45

D 会場 （Room D）

Radostin Danev1（1The University of Tokyo）

座 長（Chairperson）
光岡 薫（大阪大学）
Kaoru Mitsuoka（Osaka University）
安永 卓生（九州工業大学）
Takuo Yasunaga（Kyushu Institute of Technology）

1amD_S7-1 9:00 〜 9:30
クライオ電子顕微鏡での新しい計測・画像処理システムの現状と開発
Development of new EM and image analysis system forelectron cryo-microscopy

安永 卓生 1，馬水 信弥 1，髙﨑 寛子 1，田中 康太郎 1，
中村 友哉 1，五味渕 由貴 1，中野 佑亮 1，大門 拓己 1
（1 九州工業大学・大学院情報工学研究院）
Takuo Yasunaga1, Nobuya Mamizu1, Hiroko Takazaki1,
Kotaro Tanaka1, Yuya Nakamura1, Yuki Gomibuchi1, Yusuke Nakano1, Takumi Daimon1（1School of Computer Science and Systems Engineering,
Kyushu Institute of Technology）
̶ 8 ̶

1pmD_S12-4 14:45 〜 15:15
超解像蛍光ライブセルイメージングの限界

超解像蛍光イメージングを成功させ

5 月 25 日（月） 13:00 〜 16:15

Limitations of super-resolution live cell imaging

D 会場 （Room D）

岡田 康志 1,2,3（1 理化学研究所

生命機能科学研究センター，2 東京大学大学院理学系研究科物理学専攻・生物普遍性研究

座 長（Chairperson）

機構，3 東京大学ニューロインテリジェンス国際研究

玉田 洋介（宇都宮大学）

機構）

Yosuke Tamada（Utsunomiya University）

Yasushi Okada1,2,3

平岡 泰（大阪大学）（ 1RIKEN Center for Biosystems Dynamics Research

Yasushi Hiraoka（Osaka University）（BDR）, 2Department of Physics and Universal Biology Institute, the University of Tokyo, 3International Research

1pmD_S12-1 13:00 〜 13:30
超解像蛍光イメージングを台無しにするコツ

Center for Neurointelligence, the University of Tokyo）

Tips for Spoiling Super-resolution Fluorescence Microscopy

平岡 泰 1

1pmD_S12-5 15:15 〜 15:45
散乱組織中における in situ 波面歪み測定とその補償（1 大阪大学）

In situ wavefront measurement within scattering tissues andYasushi Hiraoka1

its correction

磯部 圭佑 1,2，緑川 克美 1

1（ Osaka University）（1 理化学研究所光量子工学研究センター，2 京都大学

1pmD_S12-2 13:30 〜 14:00
細胞内小器官の長時間ライブセル超解像イメー
ジング法の開発

大学院生命科学研究科）
Keisuke Isobe1,2, Midorikawa Katsumi1（ 1RIKEN Center for Advanced Photonics, 2Graduate
School of Biostudies, Kyoto University）

Development of long time-lapse super resolution imaging
of organelle in living cells
高倉 栄男 1

1pmD_S12-6 15:45 〜 16:15
生体深部の超解像観察へ：生細胞による光の乱れを補正する補償光学顕微鏡（1 北海道大学）
Hideo Takakura1（1Hokkaido University）

Towards Deep Super-Resolution Imaging: Adaptive Optics
for Live-Cell Imaging

玉田 洋介 1，三浦 則明 2，服部 雅之 3

1pmD_S12-3 14:00 〜 14:30
3 次元超解像顕微鏡における注意点と光学収差の高精度補正（1 宇都宮大学，2 北見工業大学，3 国立天文台）
Yosuke Tamada1, Noriaki Miura2, Masayuki Hattori3（1Utsunomiya University, 2Kitami Institute of Technology,

General Advices and High Accuracy Correction of Optical

3

Aberrations for Three-Dimensional Super-Resolution Mi-

National Astronomical Observatory of Japan）

croscopy

松田 厚志 1

T-2.

（1 情報通信研究機構）

医学・生物系チュートリアル

5 月 25 日（月） 18:00 〜 19:30

Atsushi Matsuda1

D 会場 （Room D）

1（ National Institute of Information and Communications
Technology）

テーマ：「 初心者でも安心！動画を活用した電顕試料作製・解析技術のご紹介」
オーガナイザー・講師：
澤口 朗 1・豊岡 公徳 2
（1 宮崎大学・2 理化学研究所）
Akira Sawaguchi1, Kiminori Toyooka2（1University of Miyazaki, 2RIKEN CSRS）

̶ 9 ̶

Mon. 25 May

るコツ

Oral

S-12.

Oral
Mon. 25 May

M-5.

ナノ材料

M-5.

Nanomaterials

5 月 25 日（月） 9:30 〜 11:45

1amE_M5-4 10:15 〜 10:30
グラフェンナノリボン電気伝導特性の構造依存性

E 会場 （Room E）

Structure dependent electrical properties of suspended
graphene nanoribbon in a transmission electron microscope
Liu Chunmeng1，Zhang Xiaobin2，張 カキ 1，Manoharan

座 長（Chairperson）

Muruganathan1，水田 博 1,3，大島 義文 1

倉田 博基（京都大学）（1 北陸先端科学技術大学院大学，2 芝浦工業大学，3 日

Hiroki Kurata（Kyoto University）

立ケンブリッジ研究所）

幾原 裕美（ファインセラミックスセンター）

Chunmeng Liu1, Xiaobin Zhang2, Jiaqi Zhang1, Murugana-Yumi Ikuhara（Japan Fine Ceramics Center）

than Manoharan1, Hiroshi Mizuta1,3, Yoshifumi Oshima1（1JAIST, 2Shibaura Institute of Technology, 3Hitachi Cam-

1amE_M5-1 9:30 〜 9:45
Au-Ag-Cu 三元系プラズモニックナノ粒子の光学特性と構造解析
Characterization of optical properties and structures of AuAg-Cu ternary alloy nanoparticles

安原 聡 1，久保 匡平 2，柳本 宗達 2，三宮 工 2bridge Laboratory）

1amE_M5-5 10:45 〜 11:00
カーボンナノチューブ内包分子の電子線エネル
ギーに依存した化学反応
Electron-Energy-Dependent Chemical Reactions of Mole-（1 日本電子株式会社，2 東京工業大学）
1

cules Encapsulated in Carbon Nanotubes

2

原野 幸治 1，劉 東欣 1，ルンゲリッヒ ドミニク 1，小2

Akira Yasuhara , Kyohei Kubo , Sotatsu Yanagimoto ,2

Takumi Sannomiya

鷲 智理 1，中室 貴幸 1，山内 薫 1，中村 栄一 1

（1JEOL Ltd., 2Tokyo institute of Technology）（1 東京大学）
Koji Harano1, Dongxin Liu1, Dominik Lungerich1, Satori

1amE_M5-2 9:45 〜 10:00
透過型電子顕微鏡を用いた FexTiS2 層状構造に
インタカレートした Fe 秩序の評価

Kowashi1, Takayuki Nakamuro1, Kaoru Yamanouchi1, Eiichi Nakamura1（1The University of Tokyo）

Clarification of Fe ordering in FexTiS 2 structure usingtransmission electron microscopy

Chiew Yi Ling1，宮田 全展 1，小矢野 幹夫 1，大島 義
文1

1amE_M5-6 11:00 〜 11:15
多層カーボンナノチューブの通電破断その場
TEM 観察（1 北陸先端科学技術大学院大学）

In-situ TEM of breaking of a suspended multiwall carbon

Yi Ling Chiew1, Masanobu Miyata1, Mikio Koyano1, Yo-nanotube induced by applying an excessive current
安坂 幸師 1，山内 健太郎 1，齋藤 弥八 2

1shifumi Oshima
1（1 名古屋大学，2 豊田理化学研究所）（ JAIST）

Koji Asaka1, Kentaro Yamauchi1, Yahachi Saito2

1amE_M5-3 10:00 〜 10:15
TEM 収差を応用したグラフェンリップル時空間
パターンの計測（1Nagoya University, 2Toyota Physical and Chemical Re-

Spatiotemporal pattern of graphene ripple structure mea-

1amE_M5-7 11:15 〜 11:30
STEM-CL によるナノ分相ガラスの局所応力分
布測定

sured using TEM-aberration

瀬川 裕大 1，山﨑 憲慈 1，山﨑 順 2，郷原 一寿 1

search Institute）（1 北海道大学工学院，2 大阪大学超高圧電子顕微鏡セ

Local stress distribution in phase-separated glass measured

ンター）

by STEM-CL
1

1

武藤 俊介 1，山田 泰希 2，大塚 真弘 1，高橋 可昌 3，吉2

Yuhiro Segawa , Kenji Yamazaki , Jun Yamasaki , Kazu1

toshi Gohara

野 晴彦 4，安間 伸一 4

（1Graduate School of Engineering, Hokkaido University,（1 名古屋大学

2

未来材料・システム研究所（IMaSS），

Research Center for Ultra-High Voltage Electron Micros-2

名古屋大学大学院工学研究科，3 関西大学，4AGC）

copy, Osaka University）

Shunsuke Muto1, Taiki Yamada2, Masahiro Ohtsuka1,
Yoshimasa Takahashi 3, Haruhiko Yoshino 4, Shin-ichi
Amma4（1AMTC, IMaSS, Nagoya University, 2Graduate School ofEng. Nagoya University, 3Kansai University, 4AGC Inc.）̶ 10 ̶

Local Atomic Ordering and Order-Disorder Transformation

Structural analysis of an AgX zeolite for the olefin separa-

Confined at the Interface of Co/Pd Nanoparticles

tion（1 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター，2 大阪大学大彦 2，佐々木 優吉 1

学院工学研究科マテリアル生産科学専攻）（1（一財）ファインセラミックスセンター・ナノ構造

佐藤 和久 1,2，山下 悠輝 2，保田 英洋 1,2

吉田 要 1，酒井 求 2，田中 秀樹 3，宮原 稔 4，松方 正

Kazuhisa Sato1,2, Yuki Yamashita2, Hidehiro Yasuda1,2
1

研究所，2 早稲田大学・先進理工学部，3 信州大学先鋭

2（ Research Center for UHVEM, Osaka University, Div.

材料研究所，4 京都大学大学院工学研究科）

Mat. Mfg. Sci., Osaka University）

Kaname Yoshida1, Motomu Sakai2, Hideki Tanaka3, Minoru Miyahara4, Masahiko Matsukata2, Yukichi Sasaki1

M-3.
M-3.

（1Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceram-

セラミックスics Center, 2School of Advance Science and Engineering,

Ceramics

5 月 25 日（月） 13:00 〜 16:15

Waseda University, 3Research Initiative for Supra-Materi-

E 会場 （Room E）

als, Shinshu University, 4Department of Chemical Engineering, Kyoto University）

座 長（Chairperson）
加藤 丈晴（ファインセラミックスセンター）
Takeharu Kato（Japan Fine Ceramics Center）
木口 賢紀（東北大学）

1pmE_M3-4 13:45 〜 14:00
熱処理によるアモルファス（Hf0.9Ce0.1）O2 薄膜の結晶相の変化Change of crystal phase of amorphous（Hf0.9Ce0.1）O2 thin

Takanori Kiguchi（Tohoku University）

film by heat treatment

白石 貴久 1，木口 賢紀 1，今野 豊彦 1

1pmE_M3-1 13:00 〜 13:15
宇宙風化の理解に向けた水素／ヘリウムイオン
照射アルミナの分析+（1 東北大学 金属材料研究所）
Takahisa Shiraishi1, Takanori Kiguchi1, Toyohiko Konno1+（1Institute for materials research, Tohoku university）

Electron nanoprobe analysis of H2 /He -irradiated alumina
to understand space weathering

伊神 洋平 1，武藤 俊介 1，大塚 真弘 1，瀧川 晶 2，三宅亮2
（1 名古屋大学，2 京都大学）

1pmE_M3-5 14:00 〜 14:15
化学溶液堆積法による PZT 薄膜エピタキシャル
成長における前駆状態の解析

Yohei Igami1, Shunsuke Muto1, Masahiro Ohtsuka1, Aki

Precursor state of epitaxial growth of PZT thin films by

Takigawa2, Akira Miyake2

chemical solution deposition

1

木口 賢紀 1，清水 匠 1，粟飯原 雅矢 1，白石 貴久 1，今2（ Nagoya University, Kyoto University）

野 豊彦 1

1pmE_M3-2 13:15 〜 13:30
局所ガス検出システムと FIB-SEM を用いたガス
分離ゼオライト解析（1 東北大学）
Takanori Kiguchi1, Takumi Shimizu1, Masaya Aihara1,
Takahisa Shiraishi1, Toyohiko J. Konno1（1Tohoku University）

Local defect analysis of Zeolite membrane using MS and
FIB-SEM

森 潔史 1，岡部 崇志 1，髙谷 公平 1，松本 創 1（1 三菱ケミカル株式会社）
Kiyofumi Mori1, Takashi Okabe1, Kouhei Takatani1, Ha-

1pmE_M3-6 14:15 〜 14:30
層状ペロブスカイト強誘電体 Sr2Nb2O7 の変調構造

jime Matsumoto1

Incommensurate structure of layered perovskite ferroelec-1（ Mitsubishi Chemical Corporation）

trics Sr2Nb2O7

漆原 大典 1，村山 萌珠 1，外山 望 1，浅香 透 1，福田 功
一朗 1（1 名古屋工業大学大学院）
Daisuke Urushihara 1, Moemi Murayama 1, Nozomu
Toyama1, Toru Asaka1, Koichiro Fukuda1（1Nagoya Institute of Techonology）

̶ 11 ̶

Mon. 25 May

1pmE_M3-3 13:30 〜 13:45
オレフィン分離性能を有する銀ゼオライトの構
造解析

Oral

1amE_M5-8 11:30 〜 11:45
Co/Pd ナノ粒子界面に形成される規則相と規則不規則変態

OralMon. 25 May

1pmE_M3-7 14:45 〜 15:00
フッ化物シャトル二次電池 MgF2 負極の電極反応解析

1pmE_M3-10 15:30 〜 15:45
超 電 導 接 合 層 に YBa2Cu3Oy を 用 い た 接 合 GdBa2Cu3Oy 接合線材の微細構造

Structural analysis of Fluoride shuttle battery anode materi-Nanostructures of jointed GdBa2Cu3Oy coated conductors
using YBa2Cu3Oy intermediate layer

al MgF2

小林 俊介 1，桑原 彰秀 1，横江 大作 1，右京 良雄 1，幾加藤 丈晴 1，吉田 竜視 1，横江 大作 1，大木 康太郎 2，

原 雄一 1,2

永石 竜起 2，柳澤 吉紀 3，平山 司 1，前田 秀明 3,4，幾1

2（ ファインセラミックスセンター， 東京大学）

原 雄一 1,5

Shunsuke Kobayashi1, Akihide Kuwabara1, Daisaku（1 ファインセラミックスセンター，2 住友電気工業，

1

1

1,2

3

Yokoe , Yoshio Ukyo , Yuichi Ikuhara（1Japan Fine Ceramics Center, 2The University of Tokyo）

理化学研究所，4 科学技術振興機構，5 東京大学）

Takeharu Kato1, Ryuji Yoshida1, Daisaku Yokoe1, Kotaro
Ohki2, Tatsuoki Nagaishi2, Yoshinori Yanagisawa3, Tsukasa

1pmE_M3-8 15:00 〜 15:15
ドメイン境界を有する Li 過剰系正極薄膜の格子構造と充放電特性

Hirayama1, Hideaki Maeda3,4, Yuichi Ikuhara1,5（1Japan Fine Ceramics Center, 2Sumitomo Electric Industries, Ltd., 3RIKEN Center for Life Science Technologies,

Lattice structure and charge-discharge property of lithi-

4um-excess cathode thin films with domain boundaries

Tokyo）

菅原 義弘 ，桑原 彰秀 ，右京 良雄 ，引間 和浩 ，平1

1

1

Japan Science and technology Agency, 5The University of2

山 雅章 3，菅野 了次 3，幾原 雄一 1,4（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター，2 豊
橋技術科学大学，3 東京工業大学，4 東京大学）

1pmE_M3-11 15:45 〜 16:00
ビームロッキング分析によるドーパント周りの局所格子歪みと酸素欠損サイトの評価

Yoshihiro Sugawara 1, Akihide Kuwabara 1, Yoshio

Beam-rocking TEM-EDS analysis of local lattice distor-

Ukyo1, Kazuhiro Hikima2, Masaaki Hirayama3, Ryoji Kan-

tions and oxygen vacancies around a dopant atom3

大塚 真弘 1，織田 健嗣 2，田中 誠 3，北岡 諭 3，武藤 俊

1,4

no , Yuichi Ikuhara
12（ Japan Fine Ceramics Center, Toyohashi University of介1Technology, 3Tokyo Institute of Technology, 4The Universi-（1 名古屋大学 未来材料・システム研究所，2 名古屋大

ty of Tokyo）

学 工学研究科，3 ファインセラミックスセンター）
Masahiro Ohtsuka1, Kenji Oda2, Makoto Tanaka3, Sa-

1pmE_M3-9 15:15 〜 15:30
リチウムイオン二次電池用正極膜のナノ構造解析toshi Kitaoka3, Shunsuke Muto1（1Institute of Materials & Systems for Sustainability, Nagoya University, 2Graduate School of Engineering, Nagoya
University, 3Japan Fine Ceramics Center）

Nanostructural observation of lithium ion battery cathodic
thin films

幾原 裕美 1，高 翔 1，フィッシャー クレイグ 1，桑原彰秀 1，森分 博紀 1，幾原 雄一 1,2（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター，2 東

1pmE_M3-12 16:00 〜 16:15
高分解能 X 線顕微鏡での in situ によるセラミッ
クス複合材料の破壊メカニズムの考察京大学）

Investigation of Complex Failure Mechanisms in Angle-In1

11

Yumi Ikuhara , Xiang Gao , Craig Fisher , Akihide Ku-

terlocked Ceramic Matrix Composite under in situ Loading

wabara1, Hiroki Moriwake1, Yuichi Ikuhara1,2

using high resolution X-ray Microscopy

12（ Japan Fine Ceramics Center, The University of Tokyo）

Badran Aly 2, Bale Hrishikesh1, Liu Nan1, Marshall David 2（1Carl Zeiss X-ray Microscopy, 2University of Colorado）
Aly Badran2, Hrishikesh Bale1, Nan Liu1, David Marshall2（1Carl Zeiss X-ray Microscopy, 2University of Colorado）

̶ 12 ̶

I-5.

Ion beam, sample preparation

5 月 25 日（月） 9:30 〜 11:30

1amF_I5-4 10:15 〜 10:30
Li イオン電池正極の FIB-SEM による観察と三次
元 TOF-SIMS 分析

F 会場 （Room F）

Three-Dimensional Time-of-Flight SIMS and DualBeam
FIB/SEM Imaging
Dutka Mikhail1，村田 薫 1，Chengge Jiao1

座 長（Chairperson）（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

加藤 丈晴（ファインセラミックスセンター）

Mikahil Dutka1, Kaoru Murata1, Jiao Chengge1

Takeharu Kato（Nanostructures Research（1Thermo Fisher Scientific）

Center, JFCC）
完山 正林（サーモフィッシャーサイエンティ

1amF_I5-5 10:45 〜 11:00
FIB 法と TEM 法を組み合わせた粒界析出物の 2
次元解析

フィック）
Shoji Sadayama（Thermo Fisher Scientific）

Plan-view characterization of intergranular precipitates by

1amF_I5-1 9:30 〜 9:45
自立した MEMS デバイス部材の AFM によるラフネス評価試料作製への FIB の応用

combination of FIB milling and TEM analyses

金子 賢治 1，佐藤 弘成 2，河原 康仁 2，原 徹 3，多久島睦子 4，濱田 純一 4

Application of FIB to sampling of free-standing MEME ob-（1 九州大学大学院工学研究院，2 九州大学工学府，3 物

jects for surface-roughness evaluation by AFM

質・材料研究機構，4 日鉄ステンレス株式会社）

永富 隆清 1，中尾 辰也 1，藤本 洋子 1

Kenji Kaneko1, Kousei Sato2, Yasuhito Kawahara2, Toru

1

（ 旭化成株式会社）

Hara3, Chikako Takushima4, Jun-ichi Hamada4

Takaharu Nagatomi1, Tatsuya Nakao1, Yoko Fujimoto1（1Kyushu University, 2Kyushu University, 3NIMS, 4Nippon

1（ Asahi Kasei Corporation）

Steel Stainless Steel）

1amF_I5-2 9:45 〜 10:00
ZEISS Crossbeam-Laser バルク試料から原子分解能観察の TEM 試料への最短経路を提案

1amF_I5-6 11:00 〜 11:15
Python スクリプトを用いた SEM, FIB 自動加工の試み

New Large Volume Material Removal for Accessing Deep-

Python scripting to enhance in situ experimentation in SEM
河野 佳世子 1，Daniel Phifer1，村田 薫 1

ly Buried Structures with the new ZEISS Crossbeam Laser
1

Graham Shaun ，Hao Hanfang ，Liu Nan ， 安 達 隆（1Thermo Fisher Scientific）

博2

kayoko kawano1, Phifer Daniel1, Kaoru Murata1

1

1

1

2

（1Thermo Fisher Scientific）（ Carl Zeiss Pte. Ltd.， カールツァイス株式会社）
Shaun Graham1, Hanfang Hao1, Nan Liu1, Takahiro Ada-

1amF_I5-7 11:15 〜 11:30
電子線励起 Ar イオン照射を用いた TEM 試料内
Ga 低減手法

chi2（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss Co., Ltd）

1amF_I5-3 10:00 〜 10:15
FIB-SEM による TEM 試料作製の最新技術

Ga Reduction Technique in a TEM Lamella using Ar Ions
induced by SEM Beam

Latest Developments in FIB-SEM technology for TEM

完山 正林 1，Dutka Mikhail 1

sample preparation（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）

1

1

1

Shoji Sadayama1, Mikhail Dutka1

Dutka Mikhail ，村田 薫 ，Van Leer Brandon（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
1

1（1Thermo Fisher Scientific）
1

Mikhail Dutka , Kaoru Murata , Brandon Van Leer
（1Thermo Fisher Scientific）

̶ 13 ̶

Mon. 25 May

イオンビーム・試料作製法

Oral

I-5.

Oral
Mon. 25 May

I-6.

画像処理・画像解析

I-6.

Image Processings & Analyses

5 月 25 日（月） 13:00 〜 14:30

1pmF_I6-5 14:00 〜 14:15
データ収集の抜本的変革：実時間アップサンプ
リング・ノイズフィルター

F 会場 （Room F）

Paradigm shift for data acquisition: Realtime up-sampling
noise filter

石塚 顕在 1，木本 浩司 2，石塚 和夫 1

座 長（Chairperson）（1 有限会社エイチアールイーエム，2 物質・材料研究馬場 則男（工学院大学）

機構）

Norio Baba（Kogakuin University）

Akimitsu Ishizuka1, Koji Kimoto2, Kazuo Ishizuka1

齋藤 晃（名古屋大学）（1HREM Research.com, 2National Institute for Materials

Koh Saitoh（Nagoya University）

Science（NIMS））

1pmF_I6-1 13:00 〜 13:15
高分解能 STEM 像をもちいた原子位置精密計測のための辞書学習パラメータの最適化

1pmF_I6-6 14:15 〜 14:30
APEER: クラウドベースの画像解析支援機能
APEER: Cloud Based Image Analysis

Optimization of hyperparameters of dictionary learning for

Graham Shaun1

accurate measurement of atom positions using high-resolu-（1Carl Zeiss Microscopy GmbH）

tion STEM images

Shaun Graham1

齋藤 晃 ，服部 颯介 ，野村 優貴
1

1

2（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）（1 名古屋大学，2 パナソニック（株））
Koh Saitoh1, Sousuke Hattori1, Yuki Nomura2

OT-4.

（1Nagoya University, 2Panasonic Corp.）

OT-4.

1pmF_I6-2 13:15 〜 13:30
離散体のサイズ・形状に関する 2D-3D 変換法の実験検証
Experimental validation of a 2D-3D conversion method for

HREM
HREM Research Inc.

5 月 25 日（月） 14:40 〜 15:10

F 会場 （Room F）

座 長（Chairperson）
石塚 和夫（HREM）

estimation of size and shape characteristics of discrete ele-

Kazuo Ishizuka（HREM）

ments

上田 高生 1
（1 国立研究開発法人

HREM での最近の進展：Realtime upsampling,
STEM シミュレーション

産業技術総合研究所）

Takao Ueda1（1National Institute of Advanced Industrial Science andRecent developments at HREM: Realtime upsampling,

Technology）

STEM simulation
石塚 顕在 1

1pmF_I6-3 13:30 〜 13:45
X-ray Maps of Endogenous Elements andStains can Segment Biological Volume Electron Microscopy Data Using Semi-Automated Methods.
Louise Hughes1（1Oxford Instruments）

1pmF_I6-4 13:45 〜 14:00
Identiﬁcation of Phase Separated Nanostructures by Topological Method
Yu Wen1,2, Ayako Hashimoto1,2, Abdillah Sani Bin Mohd
Najib1,3, Akihiko Hirata4, Hideki Abe1,3（1National Institute for Materials Science, 2University ofTsukuba, 3Saitama University, 4Waseda University）

̶ 14 ̶

（1HREM）
Akimitsu Ishizuka1（1HREM）

5 月 25 日（月） 15:20 〜 15:50

F 会場 （Room F）

Development of a specimen preparation instrument formeasurement of size distribution on microscopy

赤井 諭 1，熊谷 和博 2，飯田 信雄 1，黒河 明 2，佐々木座 長（Chairperson）

義和 1，菊地 真樹 1，中野田 伸治 1，北村 真一 1，眞部

石浜 陽（カールツァイス株式会社）

弘宣 1

Yo Ishihama（Carl Zeiss Co., Ltd）

（1 日本電子株式会社，2 産業技術総合研究所）
Satoru Akai1, kazuhiro Kumagai2, Nobuo Handa1, Akira

機械学習によるセグメンテーションを可能にする ZEISS ZEN Intellesis

Kurokawa2, Yoshikazu Sasaki1, Naoki Kikuchi1, Shinji Na-

ZEN Intellesis: Machine Learning Based Image Segmenta-（1JEOL Ltd., 2National Institute of Advanced Industrial

tion

Science and Technology）

kanoda1, Shin-ichi Kitamura1, Hironobu Manabe1

末永 佳代子 1
Kayoko Suenaga1

1amG_S8-3 9:45 〜 10:15
FIB-SEM を用いた三次元構造解析（1Carl Zeiss Co., Ltd）

3D structural analysis using FIB-SEM（1 カールツァイス株式会社）S-8.

佐和 康二 1，加藤 光郎 1

（1 株式会社日東分析センター）

SEM 画像の定量化に向けた各種技術とKoji Sawa1, Mitsuro Kato1の融合
5 月 25 日（月） 9:00 〜 11:45（1Nitto Analytical Techno-center Co., Ltd）

G 会場 （Room G）

1amG_S8-4 10:15 〜 10:45
ステレオ像の新しい解釈による表面形状の 3 次
元復元

座 長（Chairperson）
多持 隆一郎（日立ハイテク）

3D reconstruction of a surface shape from stereo images

Ryuichiro Tamochi（Hitachi High-Tech corpora-

based on a new theorytion）

馬場 則男 1,2，藤田 直弘 2

村田 薫（サーモフィッシャーサイエンティ（1 工学院大学

フィック）

情報学部，2 工学院大学大学院

情報

学専攻）

Kaoru Murata（Thermo Fisher Scientific）

Norio Baba1,2, Naohiro Fujita2（1Faculty of Informatics, 2Major of Informatics, Graduate

1amG_S8-1 9:00 〜 9:15
概要説明：SEM 画像の定量化に向けた各種技術との融合
Intoroduction of theme outline : Integration with various
technologies for quantification of SEM images
多持 隆一郎 1

School, Kogakuin University）

1amG_S8-5 10:45 〜 11:15
SEM における像分解能評価〜国際標準化と標準物質開発
Evaluation of image resolution in SEM- international stan-1（ 株式会社 日立ハイテクフィールディング）

dardization and development of a reference material

Ryuichiro Tamochi1

熊谷 和博 1，黒河 明 1（1Hitachi High-Tech Fielding Corporation）（1 国立研究開発法人産業技術総合研究所）
Kazuhiro Kumagai1, Akira Kurokawa1（1National Institute of Advanced Industrial Science andTechnology）

̶ 15 ̶

Mon. 25 May

Carl Zeiss Co., Ltd

Oral

OT-6.

1amG_S8-2 9:15 〜 9:45
電子顕微鏡法でのナノ粒子粒径計測に適した試料調整装置の開発

カールツァイス株式会社

OT-6.

Oral
Mon. 25 May

1amG_S8-6 11:15 〜 11:45
組織構造の定量解析による材料プロセスイン
フォマティクスの取組み

座 長（Chairperson）
難波 啓一

Materials process informatics by quantitative characteriza-

16:00 〜 16:30
クライオ電子顕微鏡を用いた細胞間結合チャネ
ルの構造研究tion of microstructures

谷本 明佳 1，Krasienapibal Thantip1，稲田 直美 1
（1 株式会社

日立製作所

研究開発グループ）

Sayaka Tanimoto1, Thantip Krasienapibal1, Naomi Inada1

大嶋 篤典 1

（1Hitachi, Ltd., Research & Development Group）（1 名古屋大学

OT-1.

公益財団法人風戸研究奨励会

5 月 25 日（月） 13:30 〜 16:30

挨拶

G 会場 （Room G）

13:30 〜 13:40

廣川 信隆 1

（1 風戸研究奨励会 理事長）
座 長（Chairperson）
藤吉 好則

13:40 〜 14:30
我が国の研究力向上について（仮）村田 義則 1

（1 文部科学省

研究振興局

局長）

座 長（Chairperson）
高柳 邦夫

14:30 〜 15:20
電子顕微鏡が先導する材料科学・材料開発
阿部 英司 1

（1 東京大学大学院

工学系研究科教授）

座 長（Chairperson）
倉田 博基

15:30 〜 16:00

STEM 電子回折法を用いた非晶質物質の局所構造解析
平田 秋彦 1

（1 早稲田大学

理工学術院

教授）

̶ 16 ̶

細胞生理学研究センター教授）

学術講演会発表（Oral sessions）※座長は交渉中を含みます。
5 月 26 日（火） 第 2 日目

日本−カナダ 二国間交流シンポジウム

S-1.

Japan–Canada Joint Symposium

A 会場 （Room A）

市川 宗厳 1,2，Khalifa Ahmad1，久保 進太郎 3，Dai Dan-

iel1，Basu Kaustuv4，Maghrebi Amin1，Vargas Javier1，
Bui Khanh-Huy1

座 長（Chairperson）（1 マギル大学 Department of Anatomy and Cell Biology，

岡田 康志（理化学研究所）

2

Yasushi Okada（BDR, RIKEN）

奈良先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科 バ

イオサイエンス領域，3 京都大学 理学研究科 生物科学

Elitza Tocheva（UniversityofBritishColumbia）

専攻，4 マギル大学 Facility for Electron Microscopy Research）

2amA_S1-1 8:30 〜 9:00
Engineering genetically encoded biosensorsof neural activity and metabolism

Muneyoshi Ichikawa 1,2, Ahmad Khalifa 1, Shintaroh
Kubo3, Daniel Dai1, Kaustuv Basu4, Amin Maghrebi1, Javier Vargas1, Khanh-Huy Bui1

1,2

Robert Campbell（1Department of Anatomy and Cell Biology, McGill Uni-

（1The University of Alberta, 2The University of Tokyo）

versity, 2Department of Systems Biology, Graduate Schoolof Biological Sciences, Nara Institute of Science and Tech-

2amA_S1-2 9:00 〜 9:20
Correlative Light and Electron Microscopy（CLEM）for trace of climbing ﬁber
須賀 三雄 ，西岡 秀夫
1nology, 3Department of Biophysics, Graduate School of
Science, Kyoto University, 4Facility for Electron Microscopy Research, McGill University）

1

2amA_S1-6 10:30 〜 11:00
Development and Applications of a New CryoTEM, JEOL CRYO ARM（1 日本電子株式会社）
Mituo Suga1, Hideo Nishioka1（1JEOL Ltd.）

難波 啓一 1

2amA_S1-3 9:20 〜 9:40
Single-molecule nanoscopy by using cryogenic ﬂuorescence microscopy（1 大阪大学大学院生命機能研究科）
Namba Keiichi1（1Graduate School of Frontier Biosciences, Osaka Univer-

藤芳 暁 1sity）

1（ 東京工業大学）

2amA_S1-7 11:00 〜 11:30
Cryo-ED and EM for higher-resolution andhigher-precision structure analysis

Fujiyoshi Satoru1
1（ Tokyo Institute of Technology）

2amA_S1-4 9:40 〜 10:10
Correlation of cryo super-resolution andcryo-electron tomography in bacteria
11

米倉 功治 1，Maki Yonekura Saori 1，Hamaguchi Tasuku 1，
Naitow Hisashi 1，Takaba Kiyofumi 1（1 理化学研究所

放射光科学研究センター）

Danielle Sexton , Elitza Tocheva

Koji Yonekura1, Saori Maki Yonekura1, Tasuku Hamagu-（1University of British Columbia）

chi1, Hisashi Naitow1, Kiyofumi Takaba1（1RIKEN SPring-8 Center）

̶ 17 ̶

Tue. 26 May

5 月 26 日（火） 8:30 〜 11:30

2amA_S1-5 10:10 〜 10:30
Near-atomic resolution structures of the
doublet microtubules by cryo-EM

Oral

S-1.

SS1.
SS1.

論文賞授賞講演
2pmA_SS1-4 15:20 〜 15:40
畳み込みニューラルネットワークによる金微粒子触媒の双晶の結晶構造の識別

学会賞授賞講演
Lectures by JSM Award Winners

5 月 26 日（火） 13:30 〜 16:00

A 会場 （Room A）

Identification of catalytic gold nanoparticle twinned structure by convolutional neural network

座 長（Chairperson）

山本 悠太 1，大山 順也 2，薩摩 篤 1，田中 信夫 1，武藤

柴田 直哉（東京大学）
Oral

俊介 1

Naoya Shibata（The University of Tokyo）（1 名古屋大学，2 熊本大学）

Tue. 26 May

瀬藤賞授賞講演
2pmA_SS1-1 13:30 〜 14:10
透過型電子顕微鏡法による結晶材料 3 次元組織の再構築に関する研究
3D reconstruction of crystalline nanostructures using transmission electron microscopy
波多 聰 1

Yuta Yamamoto 1, Junya Ohyama 2, Atsushi Satsuma 1,
Nobuo Tanaka1, Shunsuke Muto1（1Nagoya University, 2Kumamoto University）

論文賞授賞講演
2pmA_SS1-5 15:40 〜 16:00
新規光スイッチング蛍光タンパク質を用いた超解像イメージング（1 九州大学）

Super-resolution imaging with novel photoswitchable fluo-

Satoshi Hata1

rescent proteins永井 健治 1，和沢 鉄一 1，宇土 周作 1，野間 涼平 1，杉1（ Kyushu University）

浦 一徳 1，篠田 肇 1，ルー カイ 1，新井 由之 1，松田 知
己1

座 長（Chairperson）（1 大阪大学

中村 桂一郎（久留米大学）

Takeharu Nagai 1, Tetsuichi Wazawa 1, Syusaku Uto 1,

Kei-ichiro Nakamura（Kurume University）

Ryohei Noma1, Kazunori Sugiura1, Hajime Shinoda1, Kai
Lu1, Yoshiyuki Arai1, Tomoki Matsuda1

瀬藤賞授賞講演
2pmA_SS1-2 14:10 〜 14:50
病原性ウイルスの増殖機構に関する研究（1SANKEN, Osaka University）

S-6.

Studies on human pathogenic virus replication（ 京都大学

Next generation of cryo-SEM

S-6：Next generation of cryo-SEM

野田 岳志 1
1

産業科学研究所）

5 月 26 日（火） 9:00 〜 11:35

ウイルス・再生医科学研究所）

Takeshi Noda1（1Institute for Frontier Life and Medical Science, Kyoto
University）

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）
西野 有里（兵庫県立大学）
Yuri Nishino（University of Hyogo）

座 長（Chairperson）

長澤忠弘（ライカマイクロシステムズ株式会社）

津田 健治（東北大学）

Tadahiro Nagasawa（Leica Microsystems

Kenji Tsuda（Tohoku University）

K.K.）

論文賞授賞講演
2pmA_SS1-3 15:00 〜 15:20
漏れ電場遮蔽 TEM 試料作製技術の開発

2amB_S6-1 9:00 〜 9:35
クライオ SEM システムの進化
Evolution of Cryo SEM system

Development of TEM sample preparation technique to

長澤 忠広 1shield leaking electric field（1 ライカマイクロシステムズ株式会社）野村 優貴 ，山本 和生 ，平山 司 ，齋藤 晃
1

2

2,3

3

Tadahiro Nagasawa1（1 パナソニック株式会社，2 一般財団法人ファインセ
3

ラミックスセンター， 名古屋大学）
Yuki Nomura1, Kazuo Yamamoto2, Tsukasa Hirayama2,3,
Koh Saitoh3（1Panasonic Corporation, 2Japan Fine Ceramics Center,3

Nagoya University）
̶ 18 ̶

（1Leica Microsystems K.K.）

2amB_S6-2 9:35 〜 10:10
クライオ SEM の特徴を生かした生物試料の観察

S-6.

Next generation of cryo-SEM

Observation of biological specimens by taking the advan-

S-6:

Next generation of cryo-SEM

tage of cryo-SEM

5 月 26 日（火） 14:15 〜 16:00

西野 有里 ，田村 佳穂 ，伊藤 喜子 ，宮澤 淳夫
1

1

1,2

1

（1 兵庫県立大学，2 ライカマイクロシステムズ）
Yuri Nishino1, Kaho Tamura1, Yoshiko Ito1,2, Atsuo Mi-

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）
西野 有里（兵庫県立大学）
Yuri Nishino（University of Hyogo）（1University of Hyogo, 2Leica Microsystems）

長澤忠弘（ライカマイクロシステムズ株式会社）
K.K.）

Capturing Plant Activity by Cryo-SEM
金子 康子 1

2pmB_S6-5 14:15 〜 14:50
潜熱蓄熱材のクライオ SEM 法によるモルフォロ
ジー観察（1 埼玉大学）
Yasuko Kaneko1（1Saitama University）

Morphological observation of latent heat storage material
by cryo-SEM method

丸山 秀夫 1，藤本 亜由美 1

2amB_S6-4 11:00 〜 11:35
クライオ FIB-SEM を用いたクライオ電子線トモ
グラフィー試料の作製（1 株式会社カネカテクノリサーチ）
Hideo Maruyama1, Ayumi Fujimoto1（1KANEKA TECHNO RESEARCH CORPORATION）

Sample preparation using cryo FIB-SEM for cryo electron
tomography

福田 善之 1，吉川 雅英 1
1

（ 東京大学大学院

2pmB_S6-6 14:50 〜 15:25
Cryo-SEM を活用した自動車用電池開発

医学系研究科）Yoshiyuki Fukuda1, Masahide Kikkawa1

Development of battery for automotive application using

1（ Graduate school of of Medicine, The University of To-

cryo-SEM

高橋 真一 1，大間 敦史 1，伊藤 喜子 2，西野 有里 3，宮kyo）

澤 淳夫 3

OT-8.
OT-8.

（1 日産自動車，2 ライカマイクロシステムズ，3 兵庫県

ライカマイクロシステムズ株式会社

立大学）

Leica Microsystems K.K.

5 月 26 日（火） 13:30 〜 14:00

Shinichi Takahashi1, Atsushi Ohma1, Yoshiko Ito2, Yuri

B 会場 （Room B）

Nishino3, Atsuo Miyazawa3（1Nissan Motor, 2Leica Microsystems, 3University of Hyogo）

座 長（Chairperson）
伊藤 喜子（ライカマイクロシステムズ株式会社

2pmB_S6-7 15:25 〜 16:00
Cryo-FIB-SEM お よ び Cryo-TEM に よ る 機 能 性
材料の微細構造解析

ライフサイエンス・リサーチ事業部）
Yoshiko Ito（Leica Microsystems K.K., LSR
Division）

Microstructural analysis of Functional materials by Cryo-

高精度 CLEM に向けた新型クライオ光学顕微鏡
THNUDER Imager CryoCLEM ご紹介
THUNDER Imager CryoCLEM, a new cryo light micro-

FIB-SEM and Cryo-TEM method

島貫 純一 1，本田 善岳 1，齋藤 憲男 1，荒木 祥和 1，今井 英人 1
1（（株）日産アーク）

Junichi Shimanuki1, Yoshitake Honda1, Norio Saito1,

scope for high precision CLEM
石原 あゆみ 1

Sawa Araki1, Hideto Imai1

1（ ライカマイクロシステムズ株式会社ライフサイエン
ス・リサーチ事業部）
Ayumi Ishihara1（1Leica Microsystems K.K., LSR Division）

̶ 19 ̶

（1NISSAN ARC, LTD.）

Tue. 26 May

Tadahiro Nagasawa（Leica Microsystems

2amB_S6-3 10:25 〜 11:00
クライオ SEM で植物の活動を捉える

Oral

yazawa1

I-1.

TEM・STEM・収差補正法

I-1.

TEM, STEM ＆ Aberration-Corrected Microsco-

2amC_I1-4 9:50 〜 10:05
Stability of β-precipitates in Zr-1Nb alloy under the inﬂuence of Ne ion irradiation
Lokesh Goel1, Anamul H. Mir2, Naveen Kumar N.1, Jon-py
5 月 26 日（火） 9:00 〜 11:35

athan A. Hinks2, Stephen E. Donelly2, Raghvendra Tewari1

C 会場 （Room C）（1Homi Bhabha National Institute, INDIA, 2University of
Huddersfield, England, United Kingdom）

座 長（Chairperson）
Oral

石川 亮（東京大学）

Tue. 26 May

2amC_I1-5 10:20 〜 10:35
4D-STEM を用いた非晶質の組成・厚さ同時マッ
ピング

Ryo Ishikawa（Tokyo University）
河野 祐二（日本電子）
Yuji Kohno（JEOL Ltd.）

Simultaneous measurement of composition and thicknessof non-crystalline materials via 4D-STEM

奨励賞授賞講演
2amC_I1-1 9:00 〜 9:20
収差補正装置の開発と世界最高分解能の達成

中澤 克昭 1，和貴 三石 2，安間 伸一 3，柴田 基洋 1，溝口 照康 1（1 東京大学，2 物質・材料研究機構，3AGC 株式会社）

Development of Aberration Correctors and Achievement ofNakazawa Katsuaki1, Mitsuishi Kazutaka2, Shin-ichi

the Highest Spatial Resolution

Amma3, Kiyou Shibata1, Teruyasu Mizoguchi1

森下 茂幸

1

（1University of Tokyo, 2National Institute for Materials Sci-

（1 日本電子株式会社）

ence, 3AGC. Inc）

1

Shigeyuki Morishita

2amC_I1-6 10:35 〜 10:50
STEM-EDS を用いた YSZ 転位の高イオン伝導特性機構の解明（1JEOL Ltd.）

2amC_I1-2 9:20 〜 9:35
原子分解能磁場フリー STEM の開発（2）Revealing the structural origin of enhanced ionic conduc-

Development of magnetic field free atomic-resolution

tivity at YSZ dislocation using STEM-EDS

フウ ビン 1，石川 亮 1,2，柴田 直哉 1,3，幾原 雄一 1,3

STEM（2）

河野 祐二 ，関 岳人 ，中村 明穂 ，森下 茂幸 ，松元（1 東京大学，2 国立研究開発法人 科学技術振興機構，3

隆夫 2，柴田 直哉 2

ファインセラミックスセンター）（1 日本電子株式会社，2 東京大学）

Bin Feng1, Ryo Ishikawa1,2, Naoya Shibata1,3, Yuichi Iku-

1

2

1

1

Yuji Kohno1, Takehito Seki2, Akiho Nakamura1, Shigeyuki
122

hara1,3

Morishita , Takao Matsumoto , Naoya Shibata（1The University of Tokyo, 2Japan Science and Technology（1JEOL Ltd., 2The University of Tokyo）

Agency, 3JFCC）

2amC_I1-3 9:35 〜 9:50
Scanning Moire Pattern Analysis for Crystallographic Polarity of AlN

2amC_I1-7 10:50 〜 11:05
原子分解能表面高さイメージング
Atomic-resolution topographic imaging of crystal surfaces

石川 亮 1,2，田中 利空 1，川原 一晃 1，柴田 直哉 1,3，幾

桑 野 範 之 ，Siti Rahmah Aid ，Jesbains Kaur ， 波 多
12

3

聡 4,5，斉藤 光 4,5

原 雄一 1,3（1 九 州 大 学，2MJIIT，UTM，3MIMOS Semiconductor
4

Sdn Bhd， 九州大学

5

総理工， 九州大学（1 東京大学工学系研究科，2JST さきがけ，3 ファイン

超顕微解

セラミックセンター）
Ryo Ishikawa 1,2, Riku Tanaka 1, Kazuaki Kawahara 1,

析研究センター）
1

Noriyuki Kuwano , Aid Siti Rahmah , Kaur Jesbains ,Naoya Shibata1,3, Yuichi Ikuhara1,3

Satoshi Hata4,5, Hikari Saito4,5（1University of Tokyo, 2JST-PRESTO, 3JFCC）

1

2

2

3

3

（ Kyushu University, MJIIT, UTM, MIMOS Semiconductor Sdn Bhd, 4Faculty of Eng., Sci., Kyushu University,
5

URC, Kyushu University）

̶ 20 ̶

2amC_I1-8 11:05 〜 11:20
デコンボルーションによる 3D-HAADF の深度
分解能の改善2pmC_I1-11 14:00 〜 14:15
超高速電子顕微鏡による微細加工 Si 薄片中のコ
ヒーレント音響フォノン観測

Improving the depth resolution of HAADF sectioning by

Coherent acoustic phonons in nano-fabricated silicon thin

3D deconvolution

flake observed by ultrafast electron microscopy

石塚 顕在 1，石塚 和夫 1，石川 亮 2，柴田 直哉 2，幾原

中村 飛鳥 1，下志万 貴博 1，石坂 香子 1,2

雄一 2，橋口 祐樹 3，佐川 隆亮 3

（1 理化学研究所 CEMS，2 東京大学）

1

2

Asuka Nakamura1, Takahiro Shimojima1, Kyoko Ishiza-

究機構，3 日本電子株式会社）

ka1,2

1

1

2

Naoya Shibata2, Yuichi Ikuhara2, Hiroki Hashiguchi3, Ryusuke Sagawa3（1HREM Research Inc., 2Institute of Engineering Innovation, Univeisity of Tokyo, 3JEOL Ltd.）

2pmC_I1-12 14:15 〜 14:30
フェムト秒電子線パルスを用いた超高速電子回
折と電子顕微鏡の開発
Ultrafast electron diffraction and microscopy using femto-

2amC_I1-9 11:20 〜 11:35
タイコグラフィーを用いた位相像の深さ方向分
解能の制御

second electron pulses

楊 金峰 1，玄 一貴 1，保田 英洋 2，吉田 陽一 1
（1 大阪大学

産業科学研究所，2 大阪大学超高圧電子

Controlling Depth Resolution of Phase Images by Ptychog-

顕微鏡センター）

raphy

Jinfeng Yang1, Kazuki Gen1, Hidehiro Yasuda2, Yoichi

佐川 隆亮 ，橋口 裕樹 ，近藤 行人
1

1

1

Yoshida1（1 日本電子株式会社）（1ISIR, Osaka University, 2UHVEM, Osaka University）

1

1

1

Ryusuke Sagawa , Hiroki Hashiguchi , Yukihito Kondo

2pmC_I1-13 14:30 〜 14:45
SOI ピクセル検出器をもちいたサブマイクロ秒
シングルショットイメージング（1JEOL Ltd.）

I-1.

TEM・STEM・収差補正法

I-1.

TEM, STEM ＆ Aberration-Corrected Microsco-

Single-shot imaging using a sub-microsecond pulsed electron beam with an SOI pixel detector

石田 高史 1，篠崎 暉 1，桑原 真人 1，三好 敏喜 2，新井py
5 月 26 日（火） 13:45 〜 16:00

康夫 2，齋藤 晃 1

C 会場 （Room C）（1 名古屋大学，2KEK 素核研）
Takafumi Ishida1, Akira Shinozaki1, Makoto Kuwahara1,

座 長（Chairperson）

Toshinobu Miyoshi2, Yasuo Arai2, Koh Saitoh1

森下 茂幸（日本電子）（1Nagoya University, 2KEK IPNS）

Shigeyuki Morishita（JEOL Ltd.）楊 金峰（大阪大学）

2pmC_I1-14 15:00 〜 15:15
TEM 用高速静電シャッターの開発

Yang Jinfeng（Osaka University）

Development of Fast Electrostatic shutter

2pmC_I1-10 13:45 〜 14:00
超高速電子顕微鏡における 5 次元 STEM 法の開発

神保 雄 1，奥西 栄治 1，沢田 英敬 1，Bloom Ruth Shewmon 2，Reed Bryan2，Masiel Daniel 2（1 日本電子株式会社，2IDES）

Development of five-dimensional scanning transmission

Yu Jimbo 1, Eiji Okunishi 1, Hidetaka Sawada 1, Ruth

electron microscopy in ultrafast electron microscope

Shewmon Bloom2, Bryan Reed2, Daniel Masiel2

下志万 貴博 1，中村 飛鳥 1，石坂 香子 1,21（ 理化学研究所（1JEOL, 2IDES）

2

CEMS， 東京大学）

Takahiro Shimojima1, Asuka Nakamura1, Kyoko Ishizaka1,2（1RIKEN CEMS, 2Univ. of Tokyo）

̶ 21 ̶

Tue. 26 May（1RIKEN CEMS, 2Univ. of Tokyo）

Akimitsu Ishizuka , Kazuo Ishizuka , Ryou Ishikawa ,Oral（ 有限会社エイチアールイーエム， 東京大学総合研

2pmC_I1-15 15:15 〜 15:30
超高感度 STEM 実時間結像法の開発による電子線敏感材料の低ドーズ観察
Low-dose observation of beam-sensitive materials via ul-

I-4.

各種位相法

I-4.

Phase-Related Topics

5 月 26 日（火） 9:15 〜 11:30

D 会場 （Room D）

tra-sensitive real-time STEM imaging technique

大江 耕介 1，関 岳人 1，河野 祐二 2，幾原 雄一 1,3，柴
田 直哉 1,3

座 長（Chairperson）
佐々木 宏和（古河電工）

Oral（1 東京大学，2 日本電子株式会社，3 ファインセラミッ

Hirokazu Sasaki（Furukawa Electric）

クスセンター）

三石 和貴（物質・材料研究機構）

Tue. 26 May

Kousuke Ooe1, Takehito Seki1, Yuji Kohno2, Yuichi Iku-

Kazutaka Mitsuishi（National Institute forhara1,3, Naoya Shibata1,3Materials Science（NIMS））（1The University of Tokyo, 2JEOL Ltd., 3Japan Fine Ceramics Center）

2pmC_I1-16 15:30 〜 15:45
Spectra システムの最新技術による STEM 空間
分解能と低ドース観察の性能向上

2amD_I4-1 9:15 〜 9:30
テンソル分解を用いた高速電子線ホログラ
フィー計測の検討
A study on high-speed electron holography via tensor de-

Improved spatial resolution and low-dose imaging from acomposition

combination of HR-STEM developments on the Spectra

野村 優貴 1，山本 和生 2，穴田 智史 2，平山 司 2,3，井

platform

垣 恵美子 1，齋藤 晃 3

バンキャペレン エリック , ブライト アレクサンダー
11（1 パナソニック株式会社，2 一般社団法人ファインセ（1Thermo Fisher Scientific）

ラミックスセンター，3 名古屋大学）

1

1

Eric Van Cappellen , Alex Bright

Yuki Nomura1, Kazuo Yamamoto2, Satoshi Anada2, Tsu-

（1Thermo Fisher Scientific）

kasa Hirayama2,3, Emiko Igaki1, Koh Saitoh3（1Panasonic Corporation, 2Japan Fine Ceramics Center,

2pmC_I1-17 15:45 〜 16:00
超高真空低加速電圧 STEM を用いた二次元材料の原子分解能観察
Atomic-Resolution Imaging using an Ultrahigh-Vacuum
Low-Voltage STEM

森下 茂幸 1，河野 祐二 1，佐々木 健夫 1，向井 雅貴 1，

3

2amD_I4-2 9:30 〜 9:45
電子線ホログラムのノイズ低減におけるスパー
スコーディング適用範囲の拡張

沢田 英敬 1，林 永昌 2，千賀 亮典 2，末永 和知 2
1

穴田 智史 1，野村 優貴 2，平山 司 1，山本 和生 1

（ 日本電子株式会社， 産業技術総合研究所）
1

1

Shigeyuki Morishita , Yuji Kohno , Takeo Sasaki , Ma1

1

2

saki Mukai , Hidetaka Sawada , Yung-Chang Lin , Ryosuke
2

Broadening the Applicability of Sparse Coding for Electron
Hologram Denoising

2

1

Nagoya University）

2（1 一般財団法人
2

ファインセラミックスセンター，

パナソニック株式会社）

Senga , Kazutomo Suenaga

Satoshi Anada1, Yuki Nomura2, Tsukasa Hirayama1, Ka-（1JEOL Ltd., 2National Institute of Advanced Industrial

zuo Yamamoto1

Science and Technology（AIST））（1Japan Fine Ceramics Center, 2Panasonic Corporation）

̶ 22 ̶

2amD_I4-3 9:45 〜 10:00
超高圧電子顕微鏡で取得した Hologram のノイズ低減

2amD_I4-6 10:45 〜 11:00
電子線ホログラフィーと Shadow 法による pn 接合の精密定量解析

Noise reduction of hologram acquired by ultra-high voltage

Quantitative analysis of pn junction by using electron ho-

electron microscopelography and shadow method

仲野 靖孝 1,5，穴田 智史 1,5，野村 優貴 2，葛西 裕人 3,5，

佐々木 宏和 1，穴田 智史 2，山本 和生 2，平山 司 2，山明石 哲也 3,5，山田 寿一 4，山田 永 4，谷垣 俊明 3,5，山
1,5

1,5

（1 古河電工（株），2 一般財団法人 ファインセラミック（1 一般財団法人ファインセラミックスセンター，2 パ
3スセンター，3 大阪大学，4 株式会社 UACJ）

4

Hirokazu Sasaki1, Satoshi Anada2, Kazuo Yamamoto2,

究開発法人産業技術総合研究所，5 文部科学省 先端研

Tsukasa Hirayama2, Jun Yamasaki3, Katsuhiro Sasaki4

究基盤共用促進事業アトミックスケール電磁場解析プ（1Furukawa Electric, 2Japan Fine Ceramics Center, 3Osaka

ラットフォーム）

University, 4UACJ corporation）
1,5

1,5

2

Kiyotaka Nakano , Satoshi Anada , Yuki Nomura , Hiroto Kasai3,5, Tetsuya Akashi3,5, Toshikazu Yamada4, Hisashi
4

3,5

1,5

Yamada , Toshiaki Tanigaki , Kazuo Yamamoto , Tsukasa
Hirayama1,5, Hiroyuki Shinada3,5

2amD_I4-7 11:00 〜 11:15
2 次元検出器を利用した位相差 STEM イメージ
ングⅡ

（1Japan Fine Ceramics Center, 2Panasonic Corporation,

Phase plate STEM imaging using 2D electron detector 2

Hitachi, Ltd., 4National Institute of Advanced Industrial

坪内 美沙季 1，箕田 弘喜 1

Science and Technology, 5Project for promoting public uti-

（1 東京農工大学）

lization of advanced research infrastructure grant from the

M. Tsubouchi1, Hiroki Minoda1

Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Tech-（1Tokyo University of Agriculture and Technology）

3

nology）

2amD_I4-8 11:15 〜 11:30
FZP-STEM による位相と振幅の再構成

2amD_I4-4 10:00 〜 10:15
Ptychography による収差計測精度の評価

Reconstruction of Phase and Amplitude by FZP-STEM

永谷 幸則 1，富田 雅人 2，向中野 信一 2，村田 和義 2，

Accuracy of aberration measurement by Ptychography
三石 和貴 ，中澤 克昭 ，溝口 照康 ，山崎 裕一
1

2

2

1

百生 敦 3（1 物質・材料研究機構，2 東京大学 生産技術研究所）
1（1 高エネルギー加速器研究機構，2 自然科学研究機構

2

生理学研究所，3 東北大学

Kazutaka Mitsuishi , Katsuaki Nakazawa , Teruyasu
2

1

Yukinori Nagatani , Masato Tomita2, Shinichi Mukain-

Mizoguchi , Yuichi Yamasaki
1

多元物質科学研究所）

1

2（ National Institute for Materials Science, University ofakano2, Kazuyoshi Murata2, Atsushi Momose3

Tokyo）（1KEK, 2NIPS, 3Tohoku Univ. IMRAM）

2amD_I4-5 10:30 〜 10:45
影像歪法によるデバイス内界面電界二次元分布
評価の試み
2D evaluation of the potential difference in a device by

OT-7.
OT-7.

アメテック株式会社

ガタン事業部

AMETEK Co., Ltd. Gatan Business unit

5 月 26 日（火） 13:30 〜 14:00

D 会場 （Room D）

Shadow Image Distortion method
佐々木 勝寛 1，佐々木 宏和 2

（1 株式会社 UACJ，2 古河電気工業株式会社）

座 長（Chairperson）
高内 幸一（アメテック株式会社

Katsuhiro Sasaki1, Hirokazu Sasaki2

ガタン事業部）

Koichi Takauchi（AMETEK Co., Ltd. Gatan（1UACJ Corporation, 2Furukawa Electric Co. Ltd.）Business unit）

DigitalMicrograph ソフトウェアの歴史と進化
History of DigitalMicrograph and recent development
伊野家 浩司 1（1 アメテック株式会社

ガタン事業部）

Koji Inoke1（1AMETEK Co., Ltd. Gatan Business unit）

̶ 23 ̶

Tue. 26 May

ナソニック株式会社， 株式会社日立製作所， 国立研

Oral

本 和生 ，平山 司 ，品田 博之

﨑 順 3，佐々木 勝寛 4

3,5

I-4.

各種位相法

I-4.

Phase-Related Topics

D 会場 （Room D）

5 月 26 日（火） 14:20 〜 16:00

2pmD_I4-11 14:50 〜 15:05
STEM による Nd-Fe-B 磁石の磁区構造と微細構
造の観察
Observation of magnetic structure and microstructure in
Nd-Fe-B magnets by STEM

村上 善樹 1，関 岳人 1，木下 昭人 2，庄司 哲也 2，幾原

座 長（Chairperson）

雄一 1,3，柴田 直哉 1,3

箕田 弘喜（東京農工大学）（1 東京大学，2 トヨタ自動車東富士研究所先端材料技

Oral

Hiroki Minoda（Tokyo University of Agriculture

術部，3 ファインセラミックスセンターナノ構造研究

and Technology）

Tue. 26 May所）

関 岳人（東京大学）

Yoshiki O. Murakami1, Takehito Seki1, Akihito Kinoshi-

Takehito Seki（Tokyo University）

ta2, Tetsuya Shoji2, Yuichi Ikuhara1,3, Naoya Shibata1,3（1the University of Tokyo, 2Advanced Material Engineering

2pmD_I4-9 14:20 〜 14:35
明視野 STEM 法の線形結像理論

Division, Toyota Motor Corporation, Susono, Shizuoka, Japan, 3Nano Structures Research Laboratory, Japan Fine Ce-

Linear imaging theory of bright field STEM

ramics Center, Atsuta-ku, Nagoya, Japan）

関 岳人 1，幾原 雄一 1,2，柴田 直哉 1,2

Takehito Seki1, Yuichi Ikuhara1,2, Naoya Shibata1,22pmD_I4-12 15:15 〜 15:30
Measurement of Topological Magnetic Spin
Textures via Diﬀerential Phase Contrast（1University of Tokyo, 2Japan Fine Ceramics Center）

Fehmi Yasin 1, Licong Peng 1, Tae-Eon Park 2, Naoya（1 東京大学総合研究機構，2 ファインセラミックスセ
ンターナノ構造研究所）

Kanazawa3, Soenghong Woo4, Yoshinori Tokura1,3, Xiu-

2pmD_I4-10 14:35 〜 14:50
DPC STEM を用いた GaN 系半導体ヘテロ界面の電場直接観察zhen Yu1（1RIKEN, 2Korea Institute of Science and Technology, 3The
University of Tokyo, 4IBM）

Direct observation of electric field in GaN-based heterostructures by DPC STEM

遠山 慧子 1，関 岳人 1，蟹谷 裕也 2，工藤 喜弘 2，冨谷

2pmD_I4-13 15:30 〜 15:45
位相変調を伴う電子波二重スリット実験

茂隆 2，幾原 雄一 1,3，柴田 直哉 1,3

Double Slit Electron Wave Experiment with Phase Modula-（1 東京大学大学院工学系研究科総合研究機構，2 ソ

tion

ニー株式会社 R&D センター， ファインセラミックス

原田 研 1,2，高橋 由夫 3，明石 哲也 3，児玉 哲司 4，小センターナノ構造研究所）

野 義正 1，森 茂生 2

3

Satoko Toyama1, Takehito Seki1, Yuya Kanitani2, Yoshi2

2（1 理化学研究所

1,3

3

創発物性科学研究センター，2 大阪

hiro Kudo , Shigetaka Tomiya , Yuichi Ikuhara , Naoya

府立大学， 日立製作所

Shibata1,3

学）

1

2

研究開発グループ，4 名城大（ School of Engineering, The University of Tokyo, R&D

Ken Harada1,2, Yoshio Takahashi3, Tetsuya Akashi3, Tetsu-

Center, Sony Corporation, 3Japan Fine Ceramics Center）

ji Kodama4, Yoshimasa Ono1, Shigeo Mori2（1RIKEN CEMS, 2Osaka Prefecture Univ., 3Hitachi, Ltd.
R&D Group, 4Meijo Univ.）

2pmD_I4-14 15:45 〜 16:00
らせん波観察のためのレンズレス・フーリエ変換ホログラフィー
Lens-less Fourier Transform Holography for Vortex Beams
原田 研 1，小野 義正 1，高橋 由夫 2
（1 理化学研究所
製作所

創発物性科学研究センター，2 日立

研究開発グループ）Ken Harada1, Yoshimasa Ono1, Yoshio Takahashi2（1RIKEN CEMS, 2Hitachi, Ltd. R & D Group）

̶ 24 ̶

M-1.

2amE_M1-3 9:35 〜 9:50
バルク金属材料における原子分解能その場加熱観察法の開発金属

M-1.

Metals & alloys

5 月 26 日（火） 9:00 〜 11:35

E 会場 （Room E）

Development of atomic-scale dynamical observation forbulk metal materials

嶋田 雄介 1，杜 玉峰 1，陳 嬌 1，原田 寛大 1，吉田 健

座 長（Chairperson）

太 1，井上 耕治 1，今野 豊彦 1，永井 康介 1，永沼 朋

杉山 昌章（大阪大学）（1 東北大学

荒河 一渡（島根大学）

金属材料研究所，2 日本電子株式会社）

Harada1, Kenta Yoshida1, Koji Inoue1, Toyohiko Konno1,
Yasuyoshi Nagai1, Tomoyuki Naganuma2, Kazuya Yamaza-

奨励賞授賞講演
2amE_M1-1 9:00 〜 9:20
透過電子顕微鏡による金属クラスターの定量解
析法の開発
Developments of quantitative transmission electron microscopy for metallic nanoclusters
吉田 健太 1

ki2, Isamu Ishikawa2（ 1Institute for Materials Research, Tohoku University,
2

JEOL Ltd.）

2amE_M1-4 9:50 〜 10:05
時効温度 473K における冷間圧延を施した Cu/
Mg の異なる Al-Cu-Mg 合金の TEM 観察（1 金属材料研究所附属量子エネルギー材料科学国際研

TEM observation of Al-Cu-Mg alloy with different Cu/Mg

究センター／東北大学）

ratio cold rolling aged at 473K

李 昇原 1，松本 真輝 1，土屋 大樹 1，池野 進 1，松田 健

1Kenta Yoshida1

二1（ Institute for Materials Research, Tohoku University）（1 富山大学）

2amE_M1-2 9:20 〜 9:35
金属材料中の析出物の TEM/STEM/EDS 自動取
得と解析

Seungwon Lee1, Masaki Matsumoto1, Taiki Tsuchiya1,
Susumu Ikeno1, Kenji Matsuda1（1University of Toyama）

Automated Metal Precipitate Imaging/Analysis in TEM/
STEM/EDS

関 口 浩 美 1，Maddalena Roger1，Phelippeau Harold1，
Hukeri Meghna1，Kocar Darius1，Lichau Daniel1，Kelley
Ron1，Bright Alex1，Wirix Maarten1，Freitag Bert1，Rik-

2amE_M1-5 10:05 〜 10:20
Atomic observations of Au sites with diﬀerent concentrations in η-Cu6Sn5
Atomic observations of Au sites with different concentra-

1

tions in eta-Cu6Sn5

ers Yuri楊 文慧 1，Quy Tran Xuan1，山本 知一 1，野北 和宏 2，（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Hiromi Sekiguchi1, Roger Maddalena1, Harold Phelip1

11

松村 晶 11peau , Meghna Hukeri , Darius Kocar , Daniel Lichau ,（1 九州大学，2 クイーンズランド大学）

Ron Kelley1, Alex Bright1, Maarten Wirix1, Bert Freitag1,

Wenhui Yang1, Xuan Quy Tran1, Tomokazu Yamamoto1,

1

Yuri Rikers

Kazuhiro Nogita2, Syo Matsumura1（1Thermo Fisher Scientific）（1Kyushu University, 2The University of Queensland）

2amE_M1-6 10:35 〜 10:50
鋼におけるオーステナイト成長挙動解析のための Mn トレース観察
Austenite growth behavior in steel studied by Mn trace imaging and analysis

亀井 大雅 1，斉藤 光 1，波多 聰 1（1 九州大学）
Taiga Kamei1, Hikaru Saito1, Satoshi Hata1（1Kyushu University）

̶ 25 ̶

Tue. 26 May

Yusuke Shimada1, Yufeng Du1, Jiao Chen1, Hiromasa

Kazuto Arakawa（Shimane University）

Oral

之 2，山崎 和也 2，石川 勇 2

Masaaki Sugiyama（Osaka University）

2amE_M1-7 10:50 〜 11:05
Ti-Ni-Fe 合金のマルテンサイト前駆段階にあらわれる微小ドメインの構造
Structure of microdomains in a pre-martensite state of Ti-

M-1.
M-1.

金属
Metals & alloys

5 月 26 日（火） 13:50 〜 14:50

E 会場 （Room E）

Ni-Fe alloys

木下 亮平 1，江草 大佑 1，村上 恭和 2，阿部 英司 1

座 長（Chairperson）（1 東京大学，2 九州大学）

松田 健二（富山大学）

Oral

Ryohei Kinoshita1, Daisuke Egusa1, Yasukazu Murakami2,

Kenji Matsuda（Toyama University）

Eiji Abe1

橋本 哲（JFE テクノリサーチ）

Tue. 26 May（1University of Tokyo, 2Kyusyu University）

2amE_M1-8

Satoshi Hashimoto（JFE Techno-Research
Corp.）

11:05 〜 11:20

Ti-5553 合金の時効析出α 相とα相の識別の試み
An attempt of distinction between α" and α phase precipitates of aged Ti-5553 alloys using TEM-method

助 台 栄 一 1， 田 邊 栄 司 2，Aeby-Gautier E.3，Dehmas
M.4

2pmE_M1-10 13:50 〜 14:05
Three-dimensional reconstruction of the interface of the 13th precipitate/matrix orientation relationship in Al-Zn-Mg based alloys（1 岡山理科大学，2 広島県立総合技術研究所，3Univ. deArtenis Bendo1, Seungwon Lee1, Taiki Tsuchiya1, Kenji

4

Lorraine， Univ. de Toulouse）

Matsuda1, Katsuhiko Nishimura1, Norio Nunomura1, Tomo-

Eiichi Sukedai1, E. Tanabe2, E. Aeby-Gautier3, M. Deh-hito Tsuru2, Masatake Yamaguchi2, Kazuyuki Shimizu3, Hi-4royuki Toda3mas（1Okayama University of Science, 2Hiroshima Pref. Tech3（1University of Toyama, 2Japan Atomic Energy Agency,

43

nology Research Inst., Univ. de Lorraine, Univ. de Tou-

Kyushu University）

louse）

2amE_M1-9 11:20 〜 11:35
肌焼鋼中の AlN-Nb（C, N）複合析出物の析出挙動

2pmE_M1-11 14:05 〜 14:25
SEM コントラストと機械学習を活用した鉄鋼材料の複合組織解析
Characterization of complex microstructure in steel using
SEM contrast and machine learning

Precipitation behaviour of AlN-Nb（C, N）composite par-井本 浩史 1，佐藤 馨 1，名越 正泰 1，北原 保子 1

ticles in case-hardening steels

齊藤 元貴 1，坂口 紀史 1，大野 宗一 1，松浦 清隆 1，竹2

2

2

内 正芳 ，佐野 太一 ，蓑口 光樹 ，山岡 拓也（1JFE テクノリサーチ 株式会社）

2

Hiroshi Imoto1, Kaoru Sato1, Nasayasu Nagoshi1, Yasuko（1 北海道大学，2 三菱製鋼
（株）
）
1

1

Kitahara1
1

Genki Saito , Norihito Sakaguchi , Munekazu Ohno , Ki-（1JFE Techno-Research Corporation）

yotaka Matsuura1, Masayoshi Takeuchi2, Taichi Sano2, Koki
Minoguchi2, Takuya Yamaoka2（1Hokkaido University, 2Mitsubishi Steel MFG. Co., Ltd.）

2pmE_M1-12 14:20 〜 14:35
超伝導蛍光 X 線検出器付 SEM（SC-SEM）を用いたボロンの蛍光 X 線分析（1）
Fluorescence X-ray analysis of Boron using Superconducting-Tunnel-Junction Array X-ray detector toward mapping
analyses of boron in heat resistance steels（1）.

浮辺 雅宏 1，藤井 剛 1，志岐 成友 1，大久保 雅隆 1
（1 産業技術総合研究所）
Masahiro Ukibe1, Go Fujii1, Shigetomo Shiki1, Masataka Ohkubo1（1AIST）

̶ 26 ̶

2pmE_M1-13 14:35 〜 14:50
ZEISS Crossbeam のフェムト秒レーザー加工による高速試料切削加工と研磨技術のご紹介

2pmE_M2-3 15:30 〜 15:45
高温アニール Mg イオン注入 GaN 結晶の欠陥解析Fast Sample Milling and Polishing using the ZEISS Cross-

Evolution of defect in Mg ions-implanted GaN upon hightemperture and ultrahigh N2 pressure annealing

beam Laser; Preparing surface for EBSD analysis in min-中島 拓也 1，櫻井 秀樹 1,2,3，荒井 重勇 2，岩田 研治 1，

utes
Barnett Roger3，Hao Hanfang1， 安 達 隆 博 2，Graham

成田 哲生 4，片岡 恵太 4，Bockowski Michal2,5，長尾 全1

寛 2，須田 淳 1，加地 徹 2，五十嵐 信行 2

（1Carl Zeiss Microscopy GmbH，2 カールツァイス株式（1 名 古 屋 大 学，2 名 大 未 来 研，3 ア ル バ ッ ク 半 電 研，

3

4Roger Barnett3, Hanfang Hao1, Takahiro Adachi2, Shaun

Takuya Nakashima1, Hideki Sakurai1,2,3, Sigeo Arai2,

1

豊田中研，5Unipress）

GrahamKenji Iwata1, Tetsuo Narita4, Keita Kataoka4, Michal Bock-（ 1Carl Zeiss Microscopy GmbH, 2Carl Zeiss Co., Ltd,owski 2,5, Masahiro Nagao 2, Jun Suda 1, Tetsu Kachi 2,

3

Nobuyuki Ikarashi2

ZEISS House）（ 1Nagoya Univ, 2Nagoya Univ. IMaSS, 3ULVAC ISET,

M-2.
M-2.

4

Toyota Central R&D Labs., Inc., 5Unipress）

半導体
Semiconductors

5 月 26 日（火） 15:00 〜 16:00

2pmE_M2-4 15:45 〜 16:00
イオン研磨により機械研磨損傷層を除去された
β-Ga2O3 基板の評価

E 会場 （Room E）

Characterization of beta-Ga 2O 3 Substrates with Polish-

座 長（Chairperson）

ing-induced Damage Layer Removed by Ion Milling五十嵐 信行（名古屋大学）

田中 孝治 1，大曲 新矢 1，高野 美和子 2，立木 実 2，渡Nobuyuki Igarashi（Nagoya University）

邊 幸志 3，梅沢 仁 1

村田 薫（サーモフィッシャーサイエンティ（1 産業技術総合研究所 関西センター，2 物質・材料研

フィック）

究機構，3 産業技術総合研究所 つくばセンター）

Kaoru Murata（Thermo Fisher Scientific）

Koji Tanaka1, Shinya Ohmagari1, Miwako Takano2, Minoru Tachiki2, Hideyuki Watanabe3, Hitoshi Umezawa1

2pmE_M2-1 15:00 〜 15:15
HfO2 薄膜のプリセッション電子回折を用いた結晶相評価（1National Institute of Advanced Industrial Science andTechnology（AIST）Kansai, 2National Institute for Materials Science（NIMS）, 3National Institute of Advanced In-

Crystal phase analysis in HfO2 thin film using precession

dustrial Science and Technology（AIST）Tsukuba）

electron diffraction

安田 光伸 1，久留島 康輔 1，岡田 一幸 1，棚橋 優策 1，
藤本 亮祐 1，橋本 秀樹 1，右田 真司 2
1

2

（ 東レリサーチセンター， 産総研）
1

1

Mitsunobu Yasuda , Kousuke Kurushima , Kazuyuki
11

1

Okada , Yusaku Tanahashi , Ryosuke Fujimoto , Hideki
Hashimoto1, Shinji Migita2（1Toray Research Centre, 2AIST）

B-4.

生物試料作成/観察法

B-4.

Sample Preparation & Observing Methods for

Biological Specimens
5 月 26 日（火） 9:00 〜 9:45

F 会場 （Room F）

座 長（Chairperson）
藤田 守（久留米大学）

2pmE_M2-2 15:15 〜 15:30
カソードルミネッセンスによる酸化ガリウム結晶へのイオン注入ダメージ評価

Mamoru Fujita（Kurume University）
甲賀 大輔（旭川医科大学）
Daisuke Koga（Asahikawa Medical University）

Evaluation of ion-implantation damage in Ga2O3 crystal via
cathodoluminescence

杉江 隆一 1，内田 智之 1，橋本 愛 1，赤堀 誠至 1，谷井義治 1，松村 浩司 1
（1 株式会社

東レリサーチセンター）

Ryuichi Sugie1, Tomoyuki Uchida1, Ai Hashimoto1, Sei-

2amF_B4-1 9:00 〜 9:15
Multi-Colour Electron Microscopy: Using Energy Dispersive X-ray Spectrometry to Image
and Analyse Biological Samples

shi Akahori1, Yoshiharu Tanii1, Koji Matsumura1

Louise Hughes1, Zhidao Xia2

1

（1Oxford Instruments, 2Swansea University）（ Toray Research Center Inc.）̶ 27 ̶

Tue. 26 May

会社， ZEISS House）

Oral

Shaun

2amF_B4-2 9:15 〜 9:30
電子顕微鏡と X 線顕微鏡のための大容量ブロック染色

2amF_B5-2 10:20 〜 10:35
深海の巻貝スケーリーフットが鱗の中に持つ硫化鉄ナノ粒子の形成過程

Large-Volume en-bloc Staining for Electron Microscopy

Formation mechanisms of iron sulfide nanoparticles within

and Targeted Imaging using X-Ray Microscopy

scales of deep-sea snail "scaly-foot gastropods"

Bastians Philipp1

岡田 賢 1，Chong Chen1，和辻 智郎 1，西澤 学 1，鈴木

（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）庸平 2，佐野 有司 2,3，Dass Bissessur4，出口 茂 1，高井

1

Oral

Philipp Bastians

研1（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）（1 国立研究開発法人海洋研究開発機構，2 東京大学，
3

Tue. 26 May

2amF_B4-3 9:30 〜 9:45
オスミウム浸軟処理の再検討

Satoshi Okada1, Chen Chong1, Tomo-o Watsuji1, Manabu
Nishizawa1, Yohey Suzuki2, Yuji Sano2,3, Bissessur Dass4,
Shigeru Deguchi1, Ken Takai1

Re-examination of the osmium maceration procedure
甲賀 大輔 ，渡部 剛
1

天津大学，4 モーリシャス・ロドリゲス防衛省）

1（1Japan Agency for Marine-Earth Science and Technology（1 旭川医科大学）（JAMSTEC）, 2The University of Tokyo, 3Tianjing Univer-

Daisuke Koga1, Tsuyoshi Watanabe1

sity, 4Ministry of Defence and Rodrigues, Mauritius）

1（ Asahikawa Medical University）

B-5.

細胞・組織

B-5.

Cells & Tissues

5 月 26 日（火） 10:00 〜 11:20

2amF_B5-3 10:35 〜 10:50
液中 AFM で明らかになった DN-と DE-cadherin
細胞外ドメインの構造多様性
Structural diversity of Drosophila N- and E-cadherin ecto-

F 会場 （Room F）

domains revealed by atomic force microscopy imaging insolution

西口 茂孝 1,2,3,4，小田 広樹 1,2

座 長（Chairperson）（1JT 生命誌研究館，2 大阪大学，3 オリンパス株式会

甲賀 大輔（旭川医科大学）

社，4 生命創成探究センター）

Daisuke Koga（Asahikawa Medical University）
藤田 守（久留米大学）

Shigetaka Nishiguchi1,2,3,4, Hiroki Oda1,2（1JT Biohistory Research Hall, 2Osaka University, 3Olym-

Mamoru Fujita（Kurume University）

pus Corporation, 4Exploratory Research Center on Life andLiving Systems）

奨励賞授賞講演
2amF_B5-1 10:00 〜 10:20
多彩な顕微鏡技術を用いた硬組織の解析
Analysis of hard tissue using various microscope tech-

2amF_B5-4 10:50 〜 11:05
乳飲期回腸吸収上皮細胞におけるエンドサイ
トーシスに関与する動的膜系の空間超微形態

niques長谷川 智香Study on the spatial ultrastructure of endocytic dynam1

ic-membrane in the ileal absorptive cells during the suck-（1 北海道大学大学院歯学研究院硬組織発生生物学教

ling period室）

藤田 守 1,3，都合 亜記暢 2，東 龍平 2，太田 啓介 1,2，中Tomoka Hasegawa1

村 桂一郎 1,2，國分 啓司 3，馬場 良子 3，森本 景之 3，（1Developmental Biology of Hard Tissue, Faculty of Dental

小路 武彦 4

Medicine, Hokkaido University）（1 久留米大学医学部解剖学講座

顕微解剖・生体形成

2部門， 先端イメージング研究センター，3 産業医大医
学部 第 2 解剖学，4 長崎大大学院 医歯薬学総合研究科
組織細胞生物分野）
Mamoru Fujita1,3, Akinobu Togo2, Ryuhei Higashi2, Keisuke Ohta1,2, Kei-ichiro Nakamura1,2, Keiji Kokubu3, Ryoko Baba3, Takayuki Morimoto3, Takehiko Koji4（1Kurume Univ. Sch. Med. Dept. Anat, 2Adv. Imaging Res.
Center, 3Univ. of Occupational and Environmental Health,4̶ 28 ̶

Nagasaki Univ. Graduate Sch. of Biomedical Sciences）

2amF_B5-5 11:05 〜 11:20
2 型糖尿病治療薬リナグリプチンのラット組織における免疫組織化学的局在研究

B-2.

クライオ顕微鏡・タンパク構造解析

B-2.

Cryo-Electron Microscopy & Protein Crystallog-

Immunohistochemical localization of Linagliptin, a drug

raphy

for type 2 diabetes, in rat tissues

5 月 26 日（火） 14:15 〜 15:00

進 正志 1，山本 祐太朗 1，齋田 哲也 1
（1 崇城大学）

F 会場 （Room F）

座 長（Chairperson）
山田 博之（結核予防会結核研究所）（1Sojo University）

Hiroyuki Yamada（Department of Mycobacte-

認定特定非営利活動法人 綜合画像研

OT-5.

Institute of Tuberculosis, JATA.）
田中 康太郎（九州工業大学）

究支援
OT-5.

Kotaro Tanaka（Kyushu Institute of Technolo-

Integrated Imaging Research Support

5 月 26 日（火） 13:30 〜 14:00

gy）

F 会場 （Room F）

2pmF_B2-1 14:15 〜 14:30
高精度 TEM シミュレーションによる cryo-EM
自動粒子 Picking 法の評価

座 長（Chairperson）
臼倉 治郎（名古屋大学）
Jiro Usukura（Nagoya University）

Evaluation of automatic particle picking for cryo-EM using
high precision TEM simulation

最小生命の運動超分子マシナリー

大橋 正隆 1，細川 史生 1，新川 隆郎 1，岩崎 憲治 2

Supramolecular motility machinery of the smallest organ-（1 株式会社バイオネット研究所，2 筑波大学）

isms

Masataka Ohashi1, Fumio Hosokawa1, Takao Shinka-

宮田 真人 ，豊永 拓真 ，笹島 雄也 ，木山 花 ，加藤

wa1, Kenji Iwasaki2

貴之 2，川本 晃大 2，宮田 知子 2，柿澤 茂行 2，難波 啓（1BioNet Lab. Inc., 2Tsukuba University）

1

1

1

1

一2
Masato Miyata, Takuma Toyonaga, Yuya Sasajima, Hana

2pmF_B2-2 14:30 〜 14:45
クライオ電顕データ測定のさらなる自動化

Kiyama, Takayuki Kato, Akihiro Kawamoto, Tomoko Mi-

Further automation of cryo-EM data collection（1 大阪市立大学、2 大阪大学）

yata, Shigeyuki Kakizawa, Keiichi Namba

江原 晴彦 1，白水 美香子 1，関根 俊一 1

（Osaka City University, Osaka University）（1 理化学研究所

生命機能科学研究センター）
1

Haruhiko Ehara , Mikako Shirouzu1, Shun-ichi Sekine1（1RIKEN BDR）

2pmF_B2-3 14:45 〜 15:00
単粒子のクラス分類の自動化へ向けた調査研究
Study towards automation of single particle classification
田中 康太郎 1，中村 友哉 1，安永 卓生 1
（1 九州工業大学 情報工学研究院）
Kotaro Tanaka1, Yuya Nakamura1, Takuo Yasunaga1（1Graduate School of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology）

̶ 29 ̶

Tue. 26 May

rium Reference and Research, The Research

Oral

Masashi Shin1, Yutaro Yamamoto1, Tetsuya Saita1

B-7.

微生物

B-7.

Microorganisms

5 月 26 日（火） 15:15 〜 16:00

2pmF_B7-3 15:45 〜 16:00
CryoTEM 観察による Mycobacteriaceae 科 5 属
間の基礎形態情報の比較検討

F 会場 （Room F）

Comparison of fundamental cell morphology between 5
genera in family Mycobacteriaceae analyzed with wholemount ice-embedded cryoTEM examination

座 長（Chairperson）

山田 博之 1，近松 絹代 1，青野 昭男 1，村田 和義 2，宮田中 康太郎（九州工業大学）
Oral

崎 直 幸 2,4， 香 山 容 子 3， 藤 原 永 年 5， 前 田 伸 司 6，

Kotaro Tanaka（Kyushu Institute of Technolo-

五十嵐 ゆり子 1，森重 雄太 1，御手洗 聡 1,7gy）（1 公益財団法人

Tue. 26 May

山田 博之（結核予防会結核研究所）

結核予防会結核研究所，2 生理学研究所，3 テラベース株式会社，4 筑波大学，5 帝塚山大

Hiroyuki Yamada（Department of Mycobacte-学，6 北海道科学大学，7 長崎大学）

rium Reference and Research, The Research

Hiroyuki Yamada1, Kinuyo Chikamatsu1, Akio Aono1,

Institute of Tuberculosis, JATA.）

Kazuyoshi Murata2, Naoyuki Miyazaki2,4, Yoko Kayama3,
Nagatoshi Fujiwara5, Shinji Maeda6, Yuriko Igarashi1, Yuta

2pmF_B7-1 15:15 〜 15:30
皮膚常在菌観察手法の確立

Morishige1, Satoshi Mitarai1,7（1Department of Mycobacterium Reference and Research,

Establishment of the Observation Method for Resident Skin

The Research Institute of Tuberculosis, JATA., 2National

Microbiota

Institute for Physiological Science, 3Terabase Inc., 4Tsukuba

竹石 桜子 1，山下 美香 1，太田 聖子 1，鈴木 留佳 1，畑毅

University, 5Tezukayama University, 6Hokkaido University

1of Science, 7Nagasaki University）（1 株式会社コーセー）
sakurako takeishi1, Mika Yamashita1, Seiko Ota1, Ruka
Suzuki1, Tsuyoshi Hata1
1（ KOSE Corporation）

S-9.

顕微鏡を軸にした関連装置の融合化

S-9.

Synergetic microscopy by integration with theother equipment that gives other sample information

2pmF_B7-2 15:30 〜 15:45
大気圧走査電子顕微鏡 ASEM による免疫電顕法
による組織の細菌観察と cryo-TEM
Immuno-labeled Observation of Bacteria in Organs by

5 月 26 日（火） 8:45 〜 11:45

G 会場 （Room G）

座 長（Chairperson）
近藤 行人（日本電子）

ASEM and cryo-TEM

Yukihito Kondo（JEOL Ltd.）

佐藤 主税 1，坂井 詠子 2，笠畑 尚喜 1，佐藤 真理 1，杉村田 英一（名城大学）

本 真也 3

Hidekazu Murata（Meijo University）（1 産業技術総合研究所，2 長崎大 歯科薬理学，3 慈恵医大 細菌学）
Chikara Sato1, Eiko Sakai2, Naoki Kasahata1, Mari Sato1,
Shinya Sugimoto3

2amG_S9-1 8:45 〜 9:15
水素原子を見る: microED + solid-state NMR（1National Institute of Advanced Industrial Science andAccurate determination of hydrogen position in electron

Technology（AIST）, 2Dental Pharmacology, Nagasaki

and NMR crystallography

3

Univ., Dept. Bacteriol., Jikei Univ.）

西山 裕介 1,2,3（1JEOL RESONANCE 株式会社，2 理研 JEOL 連携セン
ター，3 理研放射光科学研究センター）
Yusuke Nishiyama1,2,3（1JEOL RESONANCE Inc., 2RIKEN-JEOL Collaboration
Center, 3RIKEN SPring-8 Center）

̶ 30 ̶

2amG_S9-2 9:15 〜 9:45
接着接合界面マルチスケール解析による接着メ
カニズムの解明
Multi-Scale Analysis of Adhesive Joint Interfaces for Adhe-

2amG_S9-6 11:30 〜 11:45
Take Your Multi-Modal Materials Characterization Further with the Latest FIB-SEM Innovations by TESCANJiří Dluhoš1, Tomáš Šamořil1, Naohisa Suzuki2sion Mechanism Study
堀内 伸

1（1TESCAN ORSAY HOLDING, 2TOYO Corporation）（1 独立行政法人

産業技術総合研究所）

S-10.

（1AIST）

顕微鏡法と機械学習の融合によるシ

ナジェティック・マイクロスコピー
S-10.

Nanoscale characterization by STEM and atom probe tomography

Synergetic microscopy：application of ma-chine learning to microscopy analysis
5 月 26 日（火） 13:30 〜 16:15

G 会場 （Room G）

大久保 忠勝 1（1 物質・材料研究機構）

座 長（Chairperson）

Tadakatsu Ohkubo1

村上 恭和（九州大学）（1National Institute for Materials Science）

Yasukazu Murakami（Kyushu University）
馬場 則男（工学院大学）

座 長（Chairperson）

Norio Baba（Kogakuin University）

谷口 佳史（日立ハイテク）
Yoshifumi Taniguchi（Hitachi High-Tech corporation）
大久保 忠勝（物質・材料研究機構）
Tadakatsu Ohkubo（National Institute for

2pmG_S10-1 13:30 〜 13:55
計測指向機械学習による超高速超解像イメージ
ング
Super-Fast and Super-Resolution Imaging Using Measure-

Materials Science（NIMS））

ment Oriented Machine Learning
鷲尾 隆 12amG_S9-4 10:30 〜 11:00
マルチエミッタ評価装置を用いた Field Emitter
Array の個々のチップの放出電流測定（1 大阪大学）
Takashi Washio1（1Osaka University）

Emission measurement from individual tips in field emitter
arrays

村田 英一 1，新谷 英世 1,2，六田 英治 1，下山 宏 1，長2pmG_S10-2 13:55 〜 14:20
実験データ解析に機械学習は本当に有効か？

尾 昌善 2，村上 勝久 2
1

Negative aspects of machine learning applications to exper-2（ 名城大学， 産業技術総合研究所）

imental data analysis
武藤 俊介 1

Hidekazu Murata1, Hidetoshi Shinya1,2, Eiji Rokuta1, Hi1

2roshi Shimoyama , Masayoshi Nagao , Katsuhisa Muraka-（1 名古屋大学

mi2

Shunsuke Muto1（1Meijo University, 2National Institute of Advanced Indus-（1AMTC, IMaSS, Nagoya University）

未来材料・システム研究所（IMaSS））

trial Science and Technology）

2pmG_S10-3 14:20 〜 14:35
物質/生物材料の電子顕微鏡画像に対するスパー
スコーディングの汎化性能

2amG_S9-5 11:00 〜 11:30
FIB-SEM の進展とこれから
Current technology and beyond in FIB-SEM analysis

Generalization performance of sparse-coding electron mi-

村田 薫 ，宗兼 正直 ，完山 正林 ，Bright Alex
1

1

1

1

croscopy for material/biological materials（ 日本エフイー・アイ（株））山本 和生 1，穴田 智史 1，野村 優貴 2

Kaoru Murata1, Masanao Munekane1, Shoji Sadayama1,（1（一財）ファインセラミックスセンター，2 パナソ

1

1

Alex Bright

ニック
（株））

（1FEI Japan）

Kazuo Yamamoto1, Satoshi Anada1, Yuki Nomura2（1Japan Fine Ceramics Center, 2Panasonic）

̶ 31 ̶

Tue. 26 May

2amG_S9-3 9:45 〜 10:15
STEM/アトムプローブによるナノ組織解析

Oral

Shin Horiuchi1

2pmG_S10-4 14:45 〜 15:10
定量コンピュータビジョンの材料学への適用
Quantitative computer vision applied to materials science
足立 吉隆 1，Ogawa Toshio 1，Wang Zhi-Lei 1（1 名古屋大学）
Yoshitaka Adachi1, Toshio Ogawa1, Zhi-Lei Wang1（1Nagoya University）
Oral
Tue. 26 May

2pmG_S10-5 15:10 〜 15:35
機械学習を用いた連続断層像上の輪郭線及び輪郭面抽出支援ソフトの開発
Development of a software to support contour and contour
surface extraction of specific objects from serial cross-section images with machine learning

前田 元 1，前納 優斗 1，馬場 美鈴 2，馬場 則男 1,2（1 工学院大学大学院

情報学専攻，2 工学院大学

総

合研究所）
Gen Maeda1, Yuto Maeno1, Misuzu Baba2, Norio Baba1,2（1Major of Informatics, Graduate School, Kogakuin University, 2Research Institute for Science and Technology,
Kogakuin University）

2pmG_S10-6 15:35 〜 16:00
画像パッチの統計的学習を用いた原子分解能顕微画像のノイズ低減
Denoising of atomic-resolution microscopy images by
patch-based statistical learning山本 知一 1，楊 文慧 2，麻生 浩平 2，Xuan Qui Tran2，
松村 晶 1,2（1 九州大学 超顕微解析研究センター，2 九州大学 工学研究院）
Tomokazu Yamamoto 1, Wenhui Yang 2, Kohei Aso 2,
Xuan Qui Tran2, Syo Matsumura1,2（ 1Ultramicroscopy research center, Kyushu University,
2

Graduate School and Faculty of Engineering, Kyushu Uni-

versity）

2pmG_S10-7 16:00 〜 16:15
深層学習を使用した画像のノイズ除去手法の概要と適用事例Image Denoising Based on Deep Learning: Review andApplications
伊藤 栄祐 1

（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック）
Eisuke Ito1
（1Thermo Fisher Scientific）

̶ 32 ̶

学術講演会発表（Oral sessions）※座長は交渉中を含みます。
5 月 27 日（水） 第 3 日目

S-3.

3amB_S3-4 10:45 〜 11:15
医薬品の研究開発、製造、および調剤現場におけるラマン顕微鏡の活用事例

ラマン散乱顕微鏡が拓く新しいイメー

ジング
S-3.

Applications of Raman microscopy in drug development,

Raman microscopy

5 月 27 日（水） 9:00 〜 11:45

manufacturing, and pharmacy

B 会場 （Room B）

森山 圭 1（1 就実大学）

座 長（Chairperson）

Kei Moriyama1

藤田 克昌（大阪大学）
原田 義規（京都府立医科大）of Medicine）

3amB_S3-5 11:15 〜 11:45
高速・高分解能ラマン顕微鏡の開発における最近の展開
Recent advance in the development of high-speed and

3amB_S3-1 9:00 〜 9:30
ラマン顕微鏡による細胞の分子分析イメージン
グhigh-resolution Raman microscopes
齋藤 広大 1，小林 実 1（1 ナノフォトン株式会社）

Raman microscopy for molecular imaging and analysis of

Kohta Saitoh1, Minoru Kobayashi1cells（1Nanophoton Corporation）

熊本 康昭 1
（1 大阪大学）

S-11.

Yasuaki Kumamoto1

S-11.

（1Osaka University）

シナジェティック SPM
Synergetic SPM

5 月 27 日（水） 13:00 〜 15:45

3amB_S3-2 9:30 〜 10:00
ラマン顕微鏡法による病理組織解析

B 会場 （Room B）

座 長（Chairperson）

Raman microscopy for histopathological analysis

富取 正彦（北陸先端大学）

原田 義規 1，田中 秀央 1

Masahiko Tomitori（Japan Advanced Institute（1 京都府立医科大学）

of Science and Technology（JAIST））

Yoshinori Harada1, Hideo Tanaka1

井藤 浩志（産業技術総合研究所）（1Kyoto Prefectural University of Medicine）

Hiroshi Itoh（National Institute of Advanced

3amB_S3-3 10:15 〜 10:45
誘導ラマン散乱による高速・多色生体イメージ
ング

Industrial Science and Technology（AIST））

Raman scattering

3pmB_S11-1 13:00 〜 13:30
走査型プローブエレクトロスプレーイオン化法の開発と生体組織の多次元化学情報計測（1 東京大学）（SPESI）and the measurement of multidimensional chemi-

Yasuyuki Ozeki1

cal information in biological tissue

High-speed multicolor biological imaging with stimulated
小関 泰之 1Development of Scanning Probe Electrospray Ionization

大塚 洋一 1，上堀内 武尉 1，竹内 彩 1，糸井 祐人 1，松1（ University of Tokyo）

本 卓也 1（1 大阪大学）
Yoichi Otsuka1, Bui Kamihoriuchi1, Aya Takeuchi1, Yuto
Itoi1, Takuya Matsumoto1（1Osaka University）

̶ 33 ̶

Wed. 27 May

Yoshinori Harada（Kyoto Prefectural University

Oral（1Shujitsu University）

Katsumasa Fujita（Osaka University）

3pmB_S11-2 13:30 〜 14:00
Raman と AFM 技術を組み合わせたナノスケー
ルでの材料評価

3pmB_S11-6 15:30 〜 15:45
水晶振動子力センサーを備えた透過型電子顕微
鏡ホルダーの開発

Nano-meter scale evaluation Raman Tip-Enhanced Raman

Development of transmission electron microscopy holder

Spectroscopy

with a quartz force sensor

磯 瑛司 1，相馬 結花 1，樋口 誠司 2，三浦 哲三郎 2

Zhang Jiaqi1，石塚 慧介 1，富取 正彦 1，新井 豊子 2，（1 株式会社堀場テクノサービス，2 株式会社堀場製作

大島 義文 1所）

（1 北陸先端科学技術大学院大学，2 金沢大院自然）Eishi Iso1, Yuka Soma1, Seiji Higuchi2, Tetsusaburo Miura2
1

Jiaqi Zhang1, Keisuke Ishizuka1, Masahiko Tomitori1,

2（ HORIBA TECHNO SERVICE CO., LTD., HORIBA,

Toyoko Arai2, Yoshifumi Oshima1

Ltd.）（1JAIST, 2Kanazawa University）

Oral

3pmB_S11-3 14:00 〜 14:30
ピークトラッキング走査型熱振動顕微鏡によるナノスケール粘弾性マッピング
Nanometer-Scale Viscoelasticity Imaging by Peak-Tracking

I-3.

分析電顕・状態分析など

I-3.

Analytical Electron Microscope

5 月 27 日（水） 8:45 〜 11:45

C 会場 （Room C）

Wed. 27 May

Scanning Thermal Noise Microscopy
小林 圭 1，山田 啓文 1

座 長（Chairperson）（1 京都大学）

治田 充貴（京都大学）

Kei Kobayashi1, Hirofumi Yamada1

Mitsutaka Haruta（Kyoto University）（1Kyoto University）

大西 市朗（日本電子）
Ichiro Ohnishi（JEOL Ltd.）

3pmB_S11-4 14:45 〜 15:15
SEM と SPM による相関解析の最新事例
ses

3amC_I3-1 8:45 〜 9:00
完全偏波 4 次元 STEM カソードルミネセンス法の開発と位相マッピング

武博 1

Development of Fully Polarimetric 4D STEM-cathodolu-

Latest applications of the SEM and AFM correlative analy相蘇 亨 1，長岡 豊 1，竹内 秀一 1，伊與木 誠人 1，山岡
1

（ 株式会社日立ハイテク）

minescence and Phase Mapping

Toru Aiso1, Yutaka Nagaoka1, Shuichi Takeuchi1, Masato

松方 妙子 1,2，三宮 工 1,3

Iyoki1, Takehiro Yamaoka1（1 東工大物質理工，2 理研，3JST さきがけ）

1

Taeko Matsukata1,2, Takumi Sannomiya1,3（ Hitachi High-Tech Corporation）（1Tokyo Tech., 2RIKEN, 3JST PRESTO）

3pmB_S11-5 15:15 〜 15:30
水晶振動子力学センサーを組み込んだ TEM ホルダーによる金ナノ接点のヤング率計測
Estimation of Young's modulus of Au nanocontact by TEM

3amC_I3-2 9:00 〜 9:15
遷移放射を参照波としたカソードルミネセンス
光位相マッピング

holder with quartz sensor

Cathodoluminescence Phase Mapping with Transition Ra-

石塚 慧介 1，富取 正彦 1，新井 豊子 2，大島 義文 1
1diation Used as Reference

三 宮 工 1,2，Konecna Andrea 3， 松 方 妙 子 1， ソ ー ラ

2（ 北陸先端科学技術大学院大学， 金沢大院自然）1Keisuke Ishizuka , Masahiko Tomitori , Toyoko Arai , Yo-

ザック 1，岡本 隆之 4，Garcia de Abajo F. Javier 3,5，山shifumi Oshima1

本 直紀 1

1

2（ JAIST, Kanazawa University）

1

2（1 東 京 工 業 大 学

物 質 理 工 学 院，2JST さ き が け，

3

ICFO，4 理研，5ICREA）

Takumi Sannomiya1,2, Andrea Konecna3, Taeko Matsukata1, Zac Thollar1, Takayuki Okamoto4, F. Javier Garcia
de Abajo3,5, Naoki Yamamoto1（1Tokyo Institute of Technology, 2JST PRESTO, 3ICFO,
4

RIKEN, 5ICREA）

̶ 34 ̶

3amC_I3-3 9:15 〜 9:30
プラズモン増強蛍光の STEM-CL マッピング

座 長（Chairperson）
佐藤 庸平（東北大学）

STEM-CL mapping of plasmon-enhanced luminescence

Yohei Sato（Tohoku University）

斉藤 光 1，松方 妙子 2，木村 勇一郎 1，松崎 健太郎 1，

木本 浩司（物質・材料研究機構）

渡邊 厚介 3，稲田 幹 1，三宮 工 2

Koji Kimoto（National Institute for Materials（1 九州大学，2 東京工業大学，3 名古屋工業大学）

Science（NIMS））

Hikaru Saito1, Taeko Matsukata2, Yuichiro Kimura1, Kentaro Matsuzaki1, Kosuke Watanabe3, Miki Inada1, Takumi
Sannomiya2（1Kyushu University, 2Tokyo Institute of Technology, 3Na-

3amC_I3-7 10:30 〜 10:45
誘電体/金属界面における表面プラズモンの解析

goya Institute of Technology）

Analysis of surface plasmon resonance on metal/insulator
interface

坂口 紀史 1，板谷 健太郎 1，國貞 雄治 1，松尾 保孝 2

3amC_I3-4 9:30 〜 9:45
トポロジカルプラズモンモードの電子線分光ナ
ノイメージング（1 北海道大学大学院工学院附属エネルギー・マテリア
所）

scopically visualized by electron beam

Norihito Sakaguchi1, Kentaro Itaya1, Yuji Kunisada1,

吉本 大地 1，森竹 勇斗 2，松方 妙子 2，三宮 工 2，斉藤

Yasutaka Matsuo2

光1（1Hokkaido University, 2Hokkaido University）（1 九州大学，2 東京工業大学）
Daichi Yoshimoto1, Yuto Moritake2, Taeko Matsukata2, Takumi Sannomiya2, Hikaru Saito1（1Kyushu University, 2Tokyo Institute of Technology）

3amC_I3-8 10:45 〜 11:00
STEM-EELS 法による ELNES の電子プローブ位
置変化の実験的検出
Experimental Detection of Probe Position-Dependent

3amC_I3-5 10:00 〜 10:15
散乱ベクトル依存 EELS による Bi2Se3 の誘電応
答計測

ELNES by STEM-EELS

岩清水 千咲 1，山口 睦 1，治田 充貴 1，倉田 博基 1
（1 京都大学 化学研究所）

Dielectric response of Bi 2Se 3 measured using scatter-

Chisaki Iwashimizu1, Atsushi Tamaguchi1, Mitsutaka

ing-vector dependent EELSHaruta1, Hiroki Kurata1

吉川 純 ，木本 浩司
1,2

1（1Institute for Chemical Research, Kyoto University, Uji,

（1 物質・材料研究機構，2 科学技術振興機構）

Kyoto, Japan）

Jun Kikkawa1,2, Koji Kimoto1

3amC_I3-9 11:00 〜 11:15
STEM-EELS によるアルミ接着界面の化学状態解析（1NIMS, 2JST）

3amC_I3-6 10:15 〜 10:30
q 分解 EELS による TiO2 の誘電特性解析

Chemical Analysis of Aluminum Surface and Interface by
STEM-EELS

Dielectric properties of TiO2 crystals studied by q-EELS

佐藤 庸平 ，山本 剛史 ，寺内 正己
11（1 東北大学

花田 剛 1，堀内 伸 1

1（1 独立行政法人

多元物質科学研究所）
1

1

1

産業技術総合研究所）
1

Takeshi Hanada , Shin Horiuchi1

Yohei Sato , Tsuyoshi Yamamoto , Masami Terauchi
1（1AIST）（ IMRAM, Tohoku University）

3amC_I3-10 11:15 〜 11:30
バッテリー材料研究（LIB）のための 20 nm 以
下の空間分解能 SIMS 分析ソリューション
Sub-20 nm Resolution SIMS Analytics for Energy Material
Research（LIB）
Hao Hanfang1, Guillermier Christelle2, Khanom Fouzia2,
Lewis Brett2（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss SMT, Inc.）
Hanfang Hao1, Christelle Guillermier2, Fouzia Khanom2,
Brett Lewis2（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss SMT, Inc.）̶ 35 ̶

Wed. 27 May

Topological plasmonic mode spectroscopically and nano-Oral

ル融合領域研究センター，2 北海道大学電子科学研究3amC_I3-11 11:30 〜 11:45
高感度分析性能を有した超高分解能ポールピー
スの開発

3pmC_I3-14 13:45 〜 14:00
軟 X 線分光器を用いたケイ酸塩鉱物中の鉄酸化数測定法の開発

Development of ultra high resolution objective lens with

Development of determination method of iron oxidationhigh analytical sensitivity

state in silicate minerals using soft X-ray emission spec-

神保 雄 1，大西 市朗 1，橋口 裕樹 1，岩澤 頼信 1，森下
1

1

1

茂幸 ，宮武 耕志 ，向井 雅貴 ，沢田 英敬

trometer

横山 隆臣 1，越谷 翔悟 1，堤 建一 1，江島 輝美 2，昆 慶

1

1

明3

（ 日本電子株式会社）
Yu Jimbo1, Ichiro Onishi1, HIroki Hashiguchi1, Yorinobu
1

1（1 日本電子株式会社，2 信州大学理学部，3 産業技術総

1

合研究所）

Iwasawa , Shigeyuki Morishita , Kousi Miyatake , Masaki
1

1

Takaomi Yokoyama D.1, S. Koshigaya1, Kenichi Tsutsu-

Mukai , Hidetaka Sawada
1

mi1, Terumi Ejima2, Yoshiaki Kon3

（ JEOL Ltd.）（1JEOL, 2Shinsyu University, 3Geological Survey of Japan,

Oral

I-3.

分析電顕・状態分析など

I-3.

Analytical Electron Microscope

Wed. 27 May

5 月 27 日（水） 13:15 〜 14:30

AIST）

3pmC_I3-15 14:00 〜 14:15
SEM-軟 X 線分光法（SXES）を用いた固体リチ
ウムイオン二次電池 Si 負極の化学状態分析

C 会場 （Room C）

Chemical state analysis of silicon anode on solid-state lithi-

座 長（Chairperson）

um-ion battery by SEM-SXES

坂口 紀史（北海道大学）

山本 康晶 1，長谷部 祐治 1，村野 孝訓 1，佐々木 義

Norihito Sakaguchi（Hokkaido University）

和 1，西岡 秀夫 1，松田 麗子 2，松田 厚範 2

大塚 祐二（東レリサーチセンター）（1 日本電子株式会社，2 豊橋技術科学大学）

Yuji Otsuka（Toray Research Center, Inc.）yasuaki Yamamoto1, Yuji Hasebe1, Takanori Murano1,
Yoshikazu Sasaki1, Hideo Nishioka1, Reiko Matsuda2, Atsu-

3pmC_I3-12 13:15 〜 13:30
CFRP 接着界面の化学状態分析に向けた超伝導 X
線検出器搭載低加速 SEM の開発（2）Development of low acceleration voltage SEM employing
superconducting X-ray detector toward chemical state analysis of CFRP/adhesive boundary（2）藤井 剛 1，彭 文琴 1，浮辺 雅宏 1，志岐 成友 1，山崎 紀
222

子 ，長谷川 剛一 ，高木 清嘉 ，大久保 雅隆

nori Matsuda2（1JEOL Ltd., 2Toyohashi University of Technology）

3pmC_I3-16 14:15 〜 14:30
EPMA-SXES によるポリマー材料の化学状態分析Chemical State Analysis of Polymers with EPMA-SXES

1

System（1 産業技術総合研究所，2 三菱重工業株式会社）

高倉 優 1，越谷 翔悟 1，村野 孝訓 1，高橋 秀之 1

Go Fujii1, Wenqin Peng1, Masahiro Ukibe1, Shigetomo（1 日本電子株式会社）

1

2

2

Shiki , Noriko Yamazaki , Koichi Hasegawa , Kiyoka Taka-

Masaru Takakura1, Shogo Koshiya1, Takanori Murano1,

gi2, Masataka Ohkubo1

Hideyuki Takahashi1

1（ National Institute of Advanced Industrial Science and（1JEOL Ltd.）Technology, 2Mitsubishi Heavy Industries, Ltd.）

3pmC_I3-13 13:30 〜 13:45
SXES 法を用いた窒化グラファイト薄膜の電子構造の研究
Electronic structure of N doped graphite studied by SXES

松浦 航人 1，佐藤 庸平 1，寺内 正己 1，橋本 晋 1，小川修一 1，高桑 雄二 1
（1 東北大学

多元物質科学研究所）

Kojin Matsuura1, Yohei Sato1, Masami Terauchi1, Susumu
Hashimoto1, Syuichi Ogawa1, Yuji Takakuwa1（1IMRAM, Tohoku University）

̶ 36 ̶

3amD_S4-3 9:50 〜 10:15
クライオ電子線トモグラフィー法による光感受ドメインを持つ新規ダイニン軽鎖局在決定

クライオ電子線トモグラフィーによる

S-4.

構造生物学と細胞生物学の融合
S-4.

In situ localization of a novel ciliary-dynein subunit having

Cryo electron tomography unites structurala light-sensing domain revealed by cryo-electron tomogra-

biology with cell biology
5 月 27 日（水） 9:00 〜 11:45

phy

D 会場 （Room D）

山本 遼介 1，中桐 侑平 1，久冨 理 2，今井 洋 1，Song
Chihong3，村田 和義 3，光岡 薫 4，若林 憲一 5，石川尚 6，稲葉 一男 7，昆 隆英 1

座 長（Chairperson）（1 大阪大学大学院・理学研究科，2 山梨大学，3 生理学

仁田 亮（神戸大学）

研究所，4 大阪大学・超高圧電子顕微鏡センター，5 東

Ryo Nitta（Kobe University）

京工業大学，6 ポール・シェラー研究所，7 筑波大学）

青山 一弘（サーモフィッシャーサイエンティ

Ryosuke Yamamoto1, Yuhei Nakagiri1, Osamu Kutomi2, Hi-フィック）

roshi Imai1, Chihong Song3, Kazuyoshi Murata3, Kaoru

Kazuhiro Aoyama（Thermo Fisher Scientific）

zuo Inaba7, Takahide Kon1
（1Graduate School of Science, Osaka University, 2Universi-

Revealing the mechanism of influenza virus formation by

Microscopy, Osaka University, 5Tokyo Institute of Technol-

cryo-electron tomographyogy, 6Paul Scherrer Institute, 7University of Tsukuba）

ty of Yamanashi, 3National Institute for Physiological Sciences, 4Research Center for Ultra-High Voltage Electron

藤田 陽子 1，青山 一弘 2,3，平林 愛 1，光岡 薫 3，野田
岳志 1
（1 京都大学ウイルス・再生医科学研究所，2 サーモ
フィッシャーサイエンティフィック，3 大阪大学超高

3amD_S4-4 10:30 〜 10:55
非中心体性微小管形成についての構造科学的研
究

圧電子顕微鏡センター）
1

Structural mechanism of non-centrosomal microtubule nu2,3

1

Yoko Fujita , Kazuhiro Aoyama , Ai Hirabayashi , Kao-cleation

今崎 剛 1，吉川 知志 1，西條 由見子 1，重松 秀樹 2，青ru Mitsuoka3, Takeshi Noda1（1Institute for Frontier Life and Medical Sciences, Kyoto
2

3

山 一弘 3,4，光岡 薫 4，竹市 雅俊 5，仁田 亮 1

University, Thermo Fisher Scientific Ltd, Research Center（1 神戸大学大学院医学研究科，2 理化学研究所放射光for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka Uni-

科学研究センター，3 サーモフィッシャーサイエン

versity）

ティフィック，4 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター，
5

理化学研究所生命機能科学研究センター）

3amD_S4-2 9:25 〜 9:50
単粒子クライオ電子線トモグラフィーによるグリッドの最適化

Hideki Shigematsu2, Kazuhiro Aoyama3,4, Kaoru Mitsuoka4,

Optimization of Cryo-specimen by single particle（1Kobe University Graduate School of Medicine, 2RIKEN

Cryo-electron tomography

SPring-8 Center, 3Thermo Fisher Scientific, 4Research Cen-

Tsuyoshi Imasaki1, Satoshi Kikkawa1, Yumiko Saijyo1,
Masatoshi Takeichi5, Ryo Nitta1

重松 秀樹 1

ter for Ultra-High Voltage Electron Microscopy Osaka Uni-

1

versity, 5RIKEN Center for Biosystems Dynamics Re-（ 理化学研究所 放射光科学研究センター）1

search）

Hideki Shigematsu
1（ RIKEN SPring-8 Center）

3amD_S4-5 10:55 〜 11:20
筋サルコメア Z 帯の三次元構造解析
Cryo-electron tomography of Cardiac Z-disc
小田 賢幸 1，柳澤 春明 2

（1 山梨大学，2 東京大学）
Toshiyuki Oda1, Haruaki Yanagisawa2（1University of Yamanashi, 2The University of Tokyo）

̶ 37 ̶

Wed. 27 May

3amD_S4-1 9:00 〜 9:25
クライオ電子線トモグラフィー法によるインフ
ルエンザウイルス粒子形成機構の解明

Oral

Mitsuoka4, Ken-ichi Wakabayashi5, Takashi Ishikawa6, Ka-

3amD_S4-6 11:20 〜 11:45
クライオ電子線トモグラフィー法による F-アクチンとファシンの細胞内構造可視化

3pmD_S5-3 13:50 〜 14:15
相関電子顕微鏡法を用いた放射光蛍光 X 線および二次イオン質量分析による菌根機能解析

Visualization of F-Actin with Fascin in Filopodia by elec-

Mycorrhizal functions analyzed by Synchrotron X-ray Flu-tron cryo-tomography

orescence and Secondary Ion Mass Spectrometry using

中西 温子 1，梶村 直子 1，安永 卓生 2，光岡 薫 1
1

Correlative Electron Microscopy
久我 ゆかり 1

2（ 大阪大学， 九州工業大学）
1

Atsuko Nakanishi , Naoko Kajimura , Takuo Yasunaga ,（1 広島大学）

Kaoru Mitsuoka1

Yukari Kuga1

1

1

2

2

（1Hiroshima University）（ Osaka University, Kyushu Institute of Technology）

S-5.

CLEM（相関顕微鏡法）開発の現状

S-5:

Current status and future view of CLEM

Oral

5 月 27 日（水） 13:00 〜 16:00

D 会場 （Room D）

3pmD_S5-4 14:25 〜 14:50
インフルエンザウイルスの感染を制御する液胞状オルガネラの発見
Discovery of the unique organelle that functions to defend
against influenza A virus infection

Wed. 27 May

近江 純平 1座 長（Chairperson）（1 東北大学大学院薬学研究科分子細胞生化学分野）

伊藤 喜子（ライカマイクロシステムズ）

Jumpei Omi1

Yoshiko Itoh（Leica microsystems K.K.）（1Tohoku University）

宮澤 淳夫（兵庫県立大学）
Atsuo Miyazawa（University of Hyogo）

3pmD_S5-5 14:50 〜 15:05
LCMV 持続感染機構解明のための CLEM 解析

3pmD_S5-1 13:00 〜 13:25
光電子相関顕微鏡法による蛍光 PAS の観察

Correlative light and electron microscopy to elucidate themechanism of LCMV persistent infection

bservation of fluorescent PAS by Correlative light-electron

平林 愛 1，梶川 純一 1，胡 上帆 1，中野 雅博 1，村本 由

microscopy

紀子 1，野田 岳志 1

高瀬 弘嗣 ，草野 創 ，稲垣 宏
1,2

3

2

（1 京都大学）（1 名古屋市立大学医学研究科共同研究教育センター，
2

Ai Hirabayashi1, Junichi Kajikawa1, Hu Shangfan1, Ma-

3

名古屋市立大学医学研究科臨床病態病理学， 株式会

sahiro Nakano1, Yukiko Muramoto1, Takeshi Noda1

社林原）（1Kyoto University）
1,2

3

2

Hiroshi Takase , Hajime Kusano , Hiroshi Inagaki

Molecular Diagnostics, Nagoya City University Graduate

3pmD_S5-6 15:05 〜 15:20
コレステロールの繊毛への輸送に関与する繊毛ペロキシソーム伝達機構の 3D 形態観察

School of Medical Sciences, 3 HAYASHIBARA CO., LTD）

3D ultrastructural model of the Cilia-peroxisome transmis-（ 1Core Laboratory, Nagoya City University Graduate
School of Medical Sciences, 2Department of Pathology andsion mechanism involved in the transport of cholesterol to

3pmD_S5-2 13:25 〜 13:50
動植物細胞を用いた CLEM 解析技術の開発〜光
顕観察の工夫〜（1 理研・生命機能科学・細胞場，2 広大・院統合生命

Development of CLEM application for animal and plant

科学，3 広大・原医研・放射線ゲノム疾患，4 広大・院

cells: Focus on light microscope observation

統合生命科学・分子遺伝）

the ciliary pocket.

板橋 岳志 1,2，宮本 達雄 3，細羽 康介 4，岩根 敦子 1,2

豊岡 公徳 1

（1 理化学研究所

Takeshi Itabashi1,2, Tatsuo Miyamoto3, Kosuke Hosoba4,
Atsuko Iwane1,2

環境資源科学研究センター）
1

Kiminori Toyooka（1Cell Field Struc., BDR, Riken, 2Biomed. Science, Integ.

（1RIKEN CSRS）

Sch. Life, Hiroshima Univ., 3Dept. Genet. and Cell Biol.,
RIRBM, Hiroshima Univ., 4Mol. Genetic., Biomed. Science, Integ. Sch. Life, Hiroshima Univ.）

̶ 38 ̶

3pmD_S5-7 15:20 〜 15:45
クライオ CLEM-TEM ワークフローと Computational clearing

3amE_M6-2 9:30 〜 9:45
CeO2 触媒ナノ粒子を架橋する単一有機分子鎖の可視化

Cryo CLEM workflow with computational clearing
石原 あゆみAtomic Resolution STEM Imaging of Organic Surfactant

1

Molecules on CeO2 Nanocrystals（1 ライカマイクロシステムズ株式会社）

斎藤 光浩 1，郝 暁東 2，陳 春林 2，尹 徳強 2，井上 和

Ayumi Ishihara1

俊 2，高見 誠一 3，阿尻 雅文 2，幾原 雄一 1,2,4

1（1 東京大学・日本電子産学連携室，2 東北大学，3 名古（ Leica microsystems K.K.）

屋大学，4 東京大学）

3pmD_S5-8 15:45 〜 16:00
細胞や組織中での in situ 構造解析を可能にする
最先端クライオ電子顕微鏡技術

qiang Yin2, Kazutoshi Inoue2, Seiichi Takami3, Tadafumi

Guided Cryo Electron Microscopy for in-situ Structural（1University of Tokyo - JEOL Corporate Collaboration Of-

Analysis of Cells and Tissues

fice, 2Tohoku University, 3Nagoya University, 4The Univer-

Bastians Philipp1

sity of Tokyo）

Mitsuhiro Saito1, Xiaodong Hao2, Chunlin Chen2, DeAdschiri2, Yuichi Ikuhara1,2,4（ Carl Zeiss Pte. Ltd.）（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）

M-6.
M-6.

SEM analysis of fragmentation factor of marine microplas-

ソフトマテリアルtic（MP）

Soft Materials & Organic Materials

5 月 27 日（水） 9:00 〜 10:30

塩野 正道 1，坂上 万里 1，平戸 達也 2

E 会場 （Room E）（1 株式会社 日立ハイテク 解析ソリューション開発部，
2

株式会社 日立ハイテク 制御システム設計部）

Masamichi Shiono1, Mari Sakaue1, Tatsuya Hirato2

座 長（Chairperson）（1Hitachi High-Tech Corporation Analysis Systems Solu-

陣内 浩司（東北大学）

tion Development Dept., 2Hitachi High-Tech Corporation

Hiroshi Jinnai（Tohoku University）

Control Systems Design Dept.）

吉田 要（ファインセラミックスセンター）
Kaname Yoshida（Nanostructures Research

3amE_M6-4 10:00 〜 10:15
ポリ-L-乳酸結晶の広域 TEM 観察

Laboratory, Japan Fine Ceramics Center）

Large area observation of poly-L-lactic acid in TEM

小入羽 祐治 1，丸林 弘典 2，春田 智洋 1，陣内 浩司 2

3amE_M6-1 9:00 〜 9:30
Hybrid Materials for Pesticide Detection（1 日本電子株式会社，2 東北大学 多元物質科学研究

Angkana Phongphut1, Seeroong Prichanont1, Bralee Cha2

1

所）

3

yasombat , Akawat Sirisuk , Anthony E.G. Cass , Chan-

Yuji Konyuba1, Hironori Marubayashi2, Tomohiro Haru-chana Thanachayanont2

ta1, Hiroshi Jinnai2

1（ Department of Chemical Engineering, Faculty of Engi-（1JEOL Ltd., 2Institute of Multidisciplinary Research forneering, Chulalongkorn University, 2National Metal andAdvanced Materials, Tohoku University）

3

Materials Technology Center, Thailand Science Park, Department of Chemistry, Imperial College）

3amE_M6-5 10:15 〜 10:30
無染色高分子試料の高コントラスト観察
High Contrast Imaging of Unstained Polymer Samples

関口 浩美 1，Wirix Maarten1，葦原 雅道 1，Bright Alex1，
青山 一弘 1,2
（1 サーモフィッシャーサイエンティフィック，2 大阪
大学）
Hiromi Sekiguchi1, Maarten Wirix1, Masamichi Ashihara1, Alex Bright1, Kazuhiro Aoyama1,2（1Thermo Fisher Scientific, 2Osaka University）

̶ 39 ̶

Wed. 27 May

3amE_M6-3 9:45 〜 10:00
SEM による海洋マイクロプラスチック（MP）の微細化要因の検証

Philipp Bastians1

Oral

1

OT-2.

株式会社メルビル

OT-2.

Mel-Build Corporation

5 月 27 日（水） 10:40 〜 11:10

3pmE_M4-3 13:30 〜 13:45
一定の昇温／冷却速度下での磁区構造発展のローレンツ顕微鏡法観察

E 会場 （Room E）

Lorentz microscopy of magnetic domain evolution underconstant heating/cooling rate

菅原 昭 1，明石 哲也 1，Kassem M.A. 2，和氣 剛 3，田座 長（Chairperson）

畑 吉計 3，中村 裕之 3

宮崎 裕也（株式会社メルビル）

1（（株）日立製作所，2Assiut University，3 京都大学工

Hiroya Miyazaki（Mel-Build Corporation）

学研究科）

メルビル製 冷却観察システムの進化 -TEM お
よび SEM における開発報告-

Akira Sugawara 1, Tetsuya Akashi 1, M.A. Kassem 2,
Takeshi Waki3, Yoshikazu Tabata3, Hiroyuki Nakamura3（1Hitachi Ltd., 2Assiut University, 3Kyoto University）

Advance of technology of Mel-Build Cooling System forelectron microscope -Report on progress for TEM and SEMOral

權堂 貴志 1

（1 株式会社メルビル）

3pmE_M4-4 13:45 〜 14:00
Determination of Neel-type domain wall in a
2D magnet with in-plane ﬁeld

Wed. 27 May

Takashi Gondo1

Licong Peng1, Fehmi S. Yasin1, Tae-Eon Park2, Nitish（1Mel-Build Corporation）

Mathur3, Takuro Nagai4, Koji Kimoto4, Song Jin3, Seonghoon Woo5, Xiuzhen Yu1

M-4.
M-4.

（1RIKEN Center for Emergent Matter Science, 2Center for

磁性体・誘電体

Spintronics, Korea Institute of Science and Technology,

Magnetic Materials & Ferroelectric Materials

5 月 27 日（水） 13:00 〜 15:45

3

E 会場 （Room E）

Department of Chemistry, University of Wisconsin-Madi-

son, 4National Institute for Materials Science, 5IBM T.J.
Watson Research Center）

座 長（Chairperson）
堀部 陽一（九州工業大学）
Yoichi Horibe（Kyushu Institute of Technology）
長井 拓郎（物質・材料研究機構）
Takuro Nagai（National Institute for Materials

3pmE_M4-5 14:00 〜 14:15
Magnetic flux density of grain boundary
phase in 0.1 at% Ga-doped Nd-Fe-B sinteredmagnetYoungji Cho1, Atsuko Sato1, Sasaki Taisuke2, Ohkubo Ta-

Science（NIMS））

dakatsu2, Hono Kazuhiro2, Harada Ken3, Shindo Daisuke3,
Tamaoka Takehiro1, Murakami Yasukazu1

3pmE_M4-1 13:00 〜 13:15
収差補正ローレンツ顕微鏡法を用いたナノス
ケール磁気相分離の可視化（1Kyushu University, 2National Institute for Materials Sci-

Visualization of Nanoscale Magnetic Phase Separation Us-

3pmE_M4-6 14:15 〜 14:30
ZEISS Gemini カラムによる強磁性サンプルイ
メージングのご紹介

ing Aberration-corrected Lorentz Microscopy
長井 拓郎 1，木本 浩司 1，竹口 雅樹 1

ence, 3RIKEN）（1 物質・材料研究機構）
1

Imaging Samples of High Magnetic Field Strength with
1

1

Takuro Nagai , Koji Kimoto , Masaki Takeguchi

Gemini Electron Column（1National Institute for Materials Science）

Hao Hanfang1，Han Luyang2，安達 隆博 3
（1Carl Zeiss Pte. Ltd.，2Carl Zeiss Microscopy GmbH，

3pmE_M4-2 13:15 〜 13:30
ロ ー レ ン ツ 電 子 顕 微 鏡 法 を 用 い た
Mn1.4Pt0.9Pd0.1Sn における磁気構造の安定性の解析
Lorentz Transmission Electron Microscopy Analysis of stability of magnetic structures in Mn1.4Pt0.9Pd0.1Sn

清水 大瑚 1，肖 英紀 2，五十嵐 信行 1，長尾 全寛 1

（1 名古屋大学，2 秋田大学大学院）
Daigo Shimizu1, Yeong-Gi So2, Nobuyuki Ikarashi1, Masahiro Nagao1（1Nagoya University, 2Akita University）
̶ 40 ̶

3

カールツァイス株式会社）

Hanfang Hao1, Luyang Han2, Takahiro Adachi3（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss Microscopy GmbH, 3Carl
Zeiss Co., Ltd）

3pmE_M4-7 14:45 〜 15:00
置換型ビスマスフェライト Bi1-xNdxFeO3 における構造相転移の特徴

3pmE_M4-10 15:30 〜 15:45
STEM-CBED 法による PMN リラクサーの局所
構造解析

Features of structural phase transition in doped Bi ferrite

Local structural study of PMN relaxor using STEM-CBED
津田 健治 1，森川 大輔 2，符 徳勝 3，伊藤 満 4

Bi1-xNdxFeO3

堀部 陽一 ，渡邉 謙 ，井上 靖秀 ，小山 泰正
1

1

2

2

（1 東北大学 学際科学フロンティア研究所，2 東北大学

（1 九州工業大学大学院工学研究院，2 早稲田大学）
1

1

多元物質科学研究所，3 静岡大学工学部電子物質科学

Yoichi Horibe , Ken Watanabe , Yasuhide Inoue , Yasu-

科，4 東京工業大学 フロンティア材料研究所）

masa Koyama2

Kenji Tsuda1, Daisuke Morikawa2, Desheng Fu3, Mitsuru

1

2

2

Itoh4

（ Kyushu Institute of Technology, Waseda University）（1Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences,

3pmE_M4-8 15:00 〜 15:15
SrTiO3 上に成膜した LaFeO3 薄膜内の電気分極

Tohoku University, 2Institute of Multidisciplinary Research
for Advanced Materials, 3Department of Electrinics andMaterials Science, Shizuoka University, 4Laboratory for

substrate

Materials and Structures, Tokyo Institute of Technology）

玉岡 武泰 ，濱野 勇真 ，山本 和生 ，中村 優男 ，川
1

2

3

4

I-2.

SEM

研究院，3 ファインセラミックスセンターナノ構造研

I-2.

SEM

究所，4 理化学研究所創発物性科学研究センター，5 東

5 月 27 日（水） 9:00 〜 11:30（1 九州大学超顕微解析研究センター，2 九州大学工学

京大学大学院工学系研究科，6 日立製作所基礎研究センタ）
Takehiro Tamaoka1, Yuma Hamano2, Kazuo Yamamoto3,

座 長（Chairperson）
佐藤 馨（JFE テクノリサーチ）

Masao Nakamura4, Masashi Kawasaki4,5, Toshiaki Taniga-

Kaoru Sato（JFE Techno-Research Corp.）

ki6, Yasukazu Murakami1,2

名越 達郎（日本電子）（1The Ultramicroscopy research center, Kyushu University,
2

Graduate School of Engineering, Kyushu University,

3

Nanostructures Research Center, JFCC, 4Center for Emer-gent Matter Science, RIKEN, 5Faculty of Engineering, theUniversity of Tokyo, 6Center for Exploratory Research, Hitachi, Ltd.）F 会場 （Room F）

Tatsuro Nagoshi（JEOL Ltd.）

3amF_I2-1 9:00 〜 9:15
Secondary Electron Image Contrasts of Inversion Domains of AlN
桑野 範之 1

3pmE_M4-9 15:15 〜 15:30
STEM-CBED 法による CaTiO3 における極性ドメ
イン境界の観察（1 九州大学）
Noriyuki Kuwano1（1Kyushu University）

Observation of polar domain boundary of CaTiO3 using
STEM-CBED森川 大輔 ，津田 健治
1（1 東北大学

2

多元物質科学研究所，2 東北大学

学際

3amF_I2-2 9:15 〜 9:30
Quantitative analysis of electron channeling
contrast of dislocations and stacking faults
Ivan Gutierrez-Urrutia1

科学フロンティア研究所）
1

Daisuke Morikawa , Kenji Tsuda

2（1National Institute for Materials Science（NIMS））（1IMRAM, Tohoku University, 2FRIS, Tohoku University）

̶ 41 ̶

Wed. 27 May

﨑 雅司 4,5，谷垣 俊明 6，村上 恭和 1,2

Oral

Electric polarization in LaFeO3 thin film grown on SrTiO3

3amF_I2-3 9:30 〜 9:45
二次電子スペクトル微細構造の新解釈 その 6：
二次電子強度3amF_I2-7 10:45 〜 11:00
低真空 SEM 観察における雰囲気依存性の定量的評価

Fine structure of spectrum of secondary electron, 6:intensi-

Quantitative evaluation of atmosphere dependence in low

ty of secondary electron

vacuum SEM observation
田上 就也 1，関口 隆史 1

橋本 哲 1，櫻田 委大 1，後藤 敬典 2，田沼 繁夫 2，永富隆晴 3

（1 筑波大学）

1

2（ JFE テクノリサーチ株式会社， 国立研究開発法人

Shuya Tagami1, Takashi Sekiguchi1

物質・材料研究機構，3 旭化成株式会社）（1University of Tsukuba）

1

1

2

Satoshi Hashimoto , Tsuguo Sakurada , Keisuke Goto ,Shigeo Tanuma2, Takaharu Nagatomi3（1JFE Techno-Research corp., 2NIMS, 3Asahi Kasei Corp.）

3amF_I2-8 11:00 〜 11:15
巻線収差補正器による SEM 像における球面収差
補正の実証

Oral

3amF_I2-4 9:45 〜 10:00
二次電子スペクトル微細構造の新解釈 その 7：
運動エネルギー毎の二次電子強度

Demonstration of Aberration Correction by Wire Corrector
on SEM

中野 朝則 1，山澤 雄 2

Wed. 27 May

Fine structure of spectrum of secondary electron, 7:intensi-（1 株式会社日立製作所，2 株式会社日立ハイテク）

ty for kinetic energy of SE

Tomonori Nakano1, Yu Yamazawa2

橋本 哲 ，櫻田 委大 ，後藤 敬典 ，田沼 繁夫 ，永富
1

1

2

2

（1Hitachi Ltd., 2Hitachi High-Tech Corporation）

隆晴 3（1JFE テクノリサーチ株式会社，2 国立研究開発法人
物質・材料研究機構，3 旭化成株式会社）
Satoshi Hashimoto1, Tsuguo Sakurada1, Keisuke Goto2,

3amF_I2-9 11:15 〜 11:30
高輝度 NEA ホトカソードを用いた光励起パルス
電子銃の輝度評価

Shigeo Tanuma2, Takaharu Nagatomi312Brightness Evaluation of Pulsed Electron Gun Using
3（ JFE Techno-Research corp., NIMS, Asahi Kasei Corp.）

High-brightness Negative Electron Affinity（NEA）Photocathode森下 英郎 1,2，大嶋 卓 1，大津賀 一雄 1，桒原 真人 2，

3amF_I2-5 10:00 〜 10:15
二次電子像における多チャンネル信号弁別検出

揚村 寿英 3，小瀬 洋一 3

Secondary Electron Images Using a Multi-Channel Detectorテク）

白﨑 保宏 ，圓山 百代
1

1

1
（（株）
日立製作所，2 名古屋大学，3 株式会社日立ハイ（ 株式会社1

Hideo Morishita1,2, Takashi Ohshima1, Kazuo Otsuga1,
Makoto Kuwahara2, Toshihide Agemura3, Yoichi Ose3

日立製作所）

Yasuhiro Shirasaki1, Momoyo Enyama1（1Hitachi, Ltd., 2Nagoya University, 3Hitachi High-Tech

1（ Hitachi, Ltd.）

Corporation）

3amF_I2-6 10:30 〜 10:45
極 低 加 速 電 圧 SEM-EDX に よ る 単 層 酸 化 グ ラ
フェンの分析
Analysis of single-layer graphene oxide using ultra low accelerating volage SEM-EDX technique

中村 貴也 1，名越 正泰 1，北原 保子 1，佐藤 馨 1（1JFE テクノリサーチ株式会社）
Takaya Nakamura1, Masayasu Nagoshi1, Yasuko Kitahara1, Kaoru Sato1（1JFE Techno-Research Corporation）

̶ 42 ̶

I-7.

3 次元解析

I-7.

3D Analysis

5 月 27 日（水） 13:00 〜 14:30

3pmF_I7-3 13:30 〜 13:45
超 高 圧 STEM 像 強 度 解 析 を 活 用 し た Al 製 磁 気
ディスク基板中のめっき欠陥の立体解像

F 会場 （Room F）

3D visualization of plaiting defects in aluminium substratefor Magnetic Memory Disk based on analysis of High Voltage STEM intensity

座 長（Chairperson）

西久保 英郎 1，佐々木 宏和 1，村田 拓哉 2，米光 誠 2，波多 聰（九州大学）

兒島 洋一 2，荒井 重勇 3，山本 剛久 3，山﨑 順 4

Satoshi Hata（Kyushu University）（1 古河電気工業株式会社，2 株式会社 UACJ，3 名古屋

吉田 健太（東北大学）

大学，4 大阪大学）

Kenta Yoshida（Tohoku University）

Hideo Nishikubo1, Hirokazu Sasaki1, Takuya Murata2,
Makoto Yonemitsu2, Youichi Kojima2, Shigeo Arai3, Take-

3pmF_I7-1 13:00 〜 13:15
濃度量子を用いた非線形再構成法の実用化と応用

hisa Yamamoto3, Jun Yamasaki4（1Furukawa Electric CO., LTD., 2UACJ Corporation, 3Na-

Practical application of a non-linear discrete reconstruction
馬場 則男 1，前田 元 1，馬場 美鈴 2
（1 工学院大学大学院

情報学専攻，2 工学院大学 総合

3pmF_I7-4 13:45 〜 14:00
電子回折トモグラフィによる ScRh3B0.6 の三次
元構造解析

研究所）

Three-dimensional structure analysis of ScRh3B0.6 using

Norio Baba1, Gen Maeda1, Misuzu Baba2

Electron Diffraction Tomography

阿井 晴佳 1，三平 智宏 1，青山 佳敬 1，安原 聡 1，湯葢

1（ Major of Informatics, Graduate School, Kogakuin Uni2

versity, Research Institute for Science and Technology,

邦夫 2，野村 明子 2，宍戸 統悦 2，杉山 和正 2

Kogakuin University）（1 日本電子株式会社，2 東北大学）
Haruka Ai1, Tomohiro Mihira1, Yoshitaka Aoyama1, Akira

3pmF_I7-2 13:15 〜 13:30
全角傾斜トモグラフィーにおけるマーカーレス
アライメント手法の開発

Yasuhara1, Kunio Yubuta2, Akiko Nomura2, Toetsu Shishido2, Kazumasa Sugiyama2（1JEOL ltd, 2Tohoku University）

Markerless Alignment for Whole-Angle-Tilt Tomography

照屋 海登 1，山﨑 順 2,3，加藤 丈晴 4，畑中 修平 2，馬場 則男 5

3pmF_I7-5 14:00 〜 14:15
生物医学研究のための 3D 走査電子顕微鏡技術（1 大阪大学大学院，2 大阪大学超高圧電子顕微鏡セン
3

3D Scanning Electron Microscopy Techniques for

4

ター， 名古屋大学未来材料・システム研究所， ファ

Bio-medical Research

インセラミックスセンター，5 工学院大学）

Bastians Philipp1

Kaito Teruya1, Jun Yamasaki2,3, Takeharu Kato4, Shuhei（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）

2

5

Philipp Bastians1

Hatanaka , Norio Baba

（1Osaka University, 2Research Center for Ultra-High Volt-（1Carl Zeiss Pte. Ltd.）3

age Electron Microscopy, Osaka University, Institute ofMaterials and Systems for Sustainability, Nagoya Universi45ty, JFFC, Kogakuin University）

3pmF_I7-6 14:15 〜 14:30
非破壊高分解能 X 線顕微鏡によるバッテリーの
3D/4D マルチスケール解析
Multi-scale investigation of battery using non-destructive
X-Ray Microscopy in 3D and 4D
Liu Nan1，速水 信弘 2，Graham Shaun1，Kelly
Stephen 3（1Carl Zeiss Pte. Ltd.，2 カールツァイス株式会社，3Carl
Zeiss X-ray Microscopy）
Nan Liu1, Nobuhiro Hayami2, Shaun Graham1, Stephen
Kelly3（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss Co., Ltd, 3Carl Zeiss
X-ray Microscopy）

̶ 43 ̶

Wed. 27 May

method based on a gray-level quantization unitOralgoya University, 4Osaka University）

I-8.

その他

I-8.

Others3amG_I8-4 9:45 〜 10:00
ECP 法における球面収差の影響と動的補正
Influence of spherical aberration and dynamic correction in

G 会場 （Room G）

5 月 27 日（水） 9:00 〜 11:45

ECP method

山澤 雄 1，神波 弘樹 1，野口 敬員 1，揚村 寿英 1
（1 株式会社日立ハイテク）座 長（Chairperson）

Yu Yamazawa1, Hiroki Kannami1, Hirokazu Noguchi1,

三宮 工（東京工業大学）

Toshihide Agemura1

Takumi Sannomiya（Tokyo Institute of Technol-（1Hitachi High-Tech.）ogy）
永谷 幸則（高エネルギー加速器研究機構）

3amG_I8-5 10:00 〜 10:15
二次電子エネルギースペクトル計測と VC 観察への応用

Yukinori Nagatani（High Energy Accelerator
Research Organization（KEK））

Secondary electron energy spectrum measurement and its
Oral
Wed. 27 May

3amG_I8-1 9:00 〜 9:15
理論計算による EPMA/SEM-SXES 測定データの解釈

application to VC observation
山澤 雄 1，橋本 陽一朗 1（1 株式会社日立ハイテク）

Analysis of EPMA/SEM-SXES spectra using theoreticalYu Yamazawa1, Yoichiro Hachimoto1

calculations（1Hitachi High-Tech.）（1 日本電子株式会社）

3amG_I8-6 10:30 〜 10:45
SEM の焦点合わせと非点補正に用いる超低品質
信号改善技術の実用化

越谷 翔悟 1，村野 孝訓 1，髙倉 優 1，髙橋 秀之 1
Shogo Koshiya1, Takanori Murano1, Masaru Takakura1,
Hideyuki Takahashi1（1JEOL Ltd.）

Practical application of techniques for improving an extremely low-quality signal used for fine focusing and astig-

3amG_I8-2 9:15 〜 9:30
FIB-SEM をもちいた試料摘出から薄膜加工までの完全自動化matism correction in SEM

山崎 貞郎 1，鈴木 一彦 2，於保 英作 1
（1 工学院大学，2 能美防災（株））

Fully automated process from sample extraction to thinning

Sadao Yamazaki1, Kazuhiko Suzuki2, Eisaku Oho1

with an FIB-SEM system（1Kogakuin University, 2Nohmi Bosai Ltd.）

伊井 由花 1，佐藤 高広 1，鈴木 将人 2，清原 正寛 2，富日立ハイテ

3amG_I8-7 10:45 〜 11:00
SEM の標準取得モードとしてのデジタル画像処
理技術と組み合わせた高速走査法の提案

Yuka Ii1, Takahiro Sato1, Masato Suzuki2, Masahiro Kiyo-

Applying fast scanning method coupled with digital image

松 聡2（1 株式会社

日立ハイテク，2 株式会社

クサイエンス）22hara , Satoshi Tomimatsu

processing technology as standard acquisition mode for（1Hitachi High-Tech Corporation, 2Hitachi High-Tech Sci-

SEM

於保 英作 1，鈴木 一彦 2，山﨑 貞郎 1ence corporation）（1 工学院大学，2 能美防災（株））

3amG_I8-3 9:30 〜 9:45
シリンドリカルレンズ型モノクロメータ搭載
SEM の開発
Development of SEM with Cylindrial Lenses Type Monochromator

山澤 雄 1，小川 貴志 2，川井 聡 1，毛利 淳 1，片根 純

Eisaku Oho1, Kazuhiko Suzuki2, Sadao Yamazaki1（1Kogakuin University, 2Nohmi Bosai Ltd.）

3amG_I8-8 11:00 〜 11:15
畳み込みニューラルネットワークを用いた SEM
像のノイズ除去とその画質評価

一 1，揚村 寿英 1
1

（ 株式会社

Noise removal for SEM images using a convolutional neu2

日立ハイテク， 韓国標準科学研究院）

ral network and its image quality evaluation

Yu Yamazawa1, Takashi Ogawa2, Satoshi Kawai1, Atsushi
1

1

1

鈴木 一彦 1，山﨑 貞郎 2，於保 英作 2

Mouri , Junichi Katane , Toshihide Agemura（1 能美防災株式会社，2 工学院大学）（1Hitachi High-Tech., 2KRISS）

Kazuhiko Suzuki1, Sadao Yamazaki2, Eisaku Oho2
（1NOHMI BOSAI LTD., 2Kogakuin University）

̶ 44 ̶

3amG_I8-9 11:15 〜 11:30
EPMA-XRF インテグレーションシステムによる鉱物試料微細組織の迅速分析

3pmG_I8-12 13:15 〜 13:30
電子スピン共鳴融合型蛍光顕微鏡による線虫のin-vivo 温度計測

Rapid analysis of fine structure of minerals with EP-

ESR-integrated fluorescence microscopy for in-vivo ther-

MA-XRF integration system.

mometry in nematode worms

條 栞1

姿 1， 首 藤 健 1， 竹 澤 有 華 1， 押 味 佳 裕 1，Zhao Li3，

脇元 理恵 1，衣笠 元気 1，横山 隆臣 1，村谷 里香 1，上藤 原 正 澄 1，Sun Simo1，Dohms Alexander2， 西 村 勇

1Sadzak Nikola2，梅原 有美 1，手木 芳男 1，小松 直樹 4，（ 日本電子株式会社）
Rie Wakimoto1, Genki Kinugasa1, Takaomi Yokoyama1,
1

Rika Muraya , Shiori Kamijyo

Benson Oliver2，鹿野 豊 5，中台（鹿毛）枝里子 1

1（1 大阪市立大学，2 ベルリンフンボルト大，3 蘇州大（1JEOL）

学，4 京都大学，5 慶応大・チャップマン大）Masazumi Fujiwara1, Simo Sun1, Alexander Dohms2,

3amG_I8-10 11:30 〜 11:45
熱電子ビームの空間干渉性定量評価

Yushi Nishimura1, Ken Suto1, Yuka Takezawa1, Keisuke
Oshimi1, Li Zhao3, Nikola Sadzak2, Yumi Umehara1, Yoshio
Teki1, Naoki Komatsu4, Oliver Benson2, Yutaka Shikano5,

from a thermionic electron gun

Eriko Kage-Nakadai1

1,2

1（1Osaka City University, 2Humboldt University of Berlin,（1 大阪大学，2 名古屋大学）

3

1

1,2

1

Chapman University）

Shuhei Hatanaka , Jun Yamasaki , Hidehiro Yasuda
1

Soochow University, 4Kyoto University, 5Keio University,

2（ Osaka University, Nagoya University）
座 長（Chairperson）

I-8.

その他

I-8.

Others

5 月 27 日（水） 13:00 〜 14:00

中西 伸登（サーモフィッシャーサイエンティ
フィック）
Nobuto Nakanishi（Thermo Fisher Scientific）

G 会場 （Room G）

三宮 工（東京工業大学）
Takumi Sannomiya（Tokyo Institute of Technol-座 長（Chairperson）

ogy）

中西 伸登（サーモフィッシャーサイエンティ
フィック）
Nobuto Nakanishi（Thermo Fisher Scientific）
永谷 幸則（高エネルギー加速器研究機構）

3pmG_I8-13 13:30 〜 13:45
倒立型・正立型相関顕微鏡の開発と測定結果
Development and measurement results of inverted and up-

Yukinori Nagatani（High Energy Accelerator

right correlation microscopes

Research Organization（KEK））

高洲 信一 1，末吉 晴樹 2，礒部 信一郎 3（1 福岡大学，2 福岡県産業・科学技術振興財団，3 九州

3pmG_I8-11 13:00 〜 13:15
ミュオン顕微鏡

産業大学）
Shinichi Takasu1, Haruki Sueyoshi2, Shin-ichiro Isobe3（1Fukuoka University, 2Fukuoka Industry, Science & Tech-

Muon Microscopy

永 谷 幸 則 1，Strasser Patric1， 大 石 裕 1， 山 崎 高 幸 1，

nology Foundation, 3Kyushu Sangyo University）

足立 泰平 1，三宅 康博 1
（1 高エネルギー加速器研究機構）
Yukinori Nagatani1, Patric Strasser1, Yu Oishi1, Takayuki
Yamazaki1, Taihei Adachi1, Yasuhiro Miyake1

3pmG_I8-14 13:45 〜 14:00
ZEISS X 線顕微鏡 3D Diﬀraction Contrast による粒子形態と方位マッピング（1KEK）

Mapping Grain Morphology and Orientation by Laboratory
Diffraction Contrast Tomography in X-Ray Microscopy
Liu Nan1， 速 水 信 弘 2，Graham Shaun1，Bale Hrishikesh1，Lauridsen Erik3，Bachmann Florian3，Sun Jun3
（1Carl Zeiss Pte. Ltd.，2 カ ー ル ツ ァ イ ス 株 式 会 社，
3

Xnovo Technology ApS）

Nan Liu1, Nobuhiro Hayami2, Shaun Graham1, Hrishikesh
Bale1, Erik Lauridsen3, Florian Bachmann3, Jun Sun3
（1Carl Zeiss Pte. Ltd., 2Carl Zeiss Co., Ltd, 3Xnovo Technology ApS）
̶ 45 ̶

Wed. 27 May

畑中 修平 ，山﨑 順 ，保田 英洋
1

Oral

Quantitative evaluation of electron beam coherence emitted