住基カードおよびリーダライタ
互換性検証試験
試験仕様書（第 1.1 版）

２００８年８月２２日
財団法人ニューメディア開発協会

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

目次
123目的・背景 .......................................................................................................................... 3
参照仕様書等 ..................................................................................................................... 3
試験対象............................................................................................................................ 4
3.1
ベンダー...................................................................................................................... 4
3.2
IC カード...................................................................................................................... 43.3
リーダライタ .................................................................................................................. 4
4 試験環境等 ........................................................................................................................ 54.1
試験用 PC.................................................................................................................... 54.2
被試験リーダライタ......................................................................................................... 54.3
その他......................................................................................................................... 5
5 独自の試験環境について ...................................................................................................... 56 試験仕様と要件 ................................................................................................................... 66.1
試験一覧 ..................................................................................................................... 66.2
組合せ ........................................................................................................................ 66.3
カード方向 ................................................................................................................... 66.4
試験共通事項............................................................................................................... 66.5
試験内容と合格判定基準................................................................................................ 6
6.6
C3 試験用コマンド ......................................................................................................... 76.7
被試験用ＩＣカードの貸与について.................................................................................... 76.8
被試験用リーダライタの貸与について ................................................................................ 86.9
不合格時の措置............................................................................................................ 87 試験ソフトウェア仕様............................................................................................................. 97.1
ソフトウェア構成............................................................................................................. 97.2
処理フロー(住基カード仕様(スロットイン型リーダライタ対応)の場合)....................................... 127.3
処理フロー(共通インタフェース仕様(オープン型リーダライタ対応)の場合)............................... 157.4
結果帳票フォーマット ................................................................................................... 18
8 試験ソフトウェア開発・使用条件 ............................................................................................ 198.1
ハードウェア ............................................................................................................... 198.2
ソフトウェア開発環境 .................................................................................................... 19
9 互換性機能試験作業.......................................................................................................... 199.1
試験作業手順............................................................................................................. 199.2
互換性試験作業場所等................................................................................................ 192

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試験仕様書 第 1.1 版

1 目的・背景・ 住民基本台帳ネットワークに提供する非接触 IC カード及びリーダライタにおいて、異なるベンダー間の互換性を検証するため、互換性試験の内容、方法、基準、試験環境及び試験手順を明確化する。
・ 互換性試験ソフトウェアによる試験結果に基づいて、IC カード及びリーダライタの互換性に関する報告書を作成する。

2 参照仕様書等
住基カード仕様書「住民基本台帳ネットワークシステム 住民基本台帳カード仕様書(TypeⅠ) 第 2.2版」 H15.1.20 LASDEC

リーダライタ仕様書「住民基本台帳ネットワークシステム ＩＣカードリーダライタ調達仕様書 1.0 版」
H13.8.1 LASDEC

NMDA 実装規約書「近接型通信インタフェース実装規約書 第 1.1 版」 H13.7 NMDA

共通インタフェース仕様書 「IT 装備都市研究事業 リーダライタ共通インタフェース仕様書 1.1 版」
H14.5.29 NMDA

3

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試験仕様書 第 1.1 版

3 試験対象
3.1 ベンダー・ 住民基本台帳ネットワークシステムに IC カード及びＲＷを提供予定の全ベンダーの内、本試験に参加を希望するベンダーを対象とする。

3.2 IC カード
・ 住基用カード(TypeⅠ又は TypeⅡ)を試験対象とする。
・ 各ＩＣカードベンダーは試験を希望する１種類又は複数種類の IC カードを準備する。
・ カードの特性等のばらつきを考慮し、１種類の IC カードに付き３枚(1 枚予備)を試験対象とする。

3.3 リーダライタ
・ 住基カード用リーダライタ及び操作者用リーダライタを試験対象とする。
・ リーダライタの形式はオープン型、スロットイン型を試験対象とする。またソフトウェアについては、図3-1のフローで該当するもので試験を行うこととする。
・ リーダライタのソフトウェア仕様は住基カード仕様、又は共通インタフェース仕様のどちらかとする。但し、準備が間に合わない等、やむをえない場合、独自ソフトウェアを用いたリーダライタによる試験を行うことを可能とする (4章)。
・ 各リーダライタベンダーは試験を希望する１種類又は複数種類のリーダライタを準備する。
・ リーダライタの特性等のばらつきを考慮し、１種類のリーダライタに付き２台を試験対象とする。
・ PC とのインタフェースは RS232C 又は USB とする。
・ RS232C 又は USB の２つのインタフェースを持つリーダライタの場合は、ベンダーが指定するどちらか一方のインタフェースを使用して試験を実施する。
・ リーダライタ仕様に関しては、2.参照仕様書等の仕様書を参照すること。
・ 試験対象のリーダライタ仕様に関しては、事前にニューメディア開発協会に提示すること。
・ 独自ソフトウェアで試験を行う場合には、事前にニューメディア開発協会に連絡すること。

リーダライタの形式は？

オープン型

スロットイン型

ニューメディア開発協会の環境で試験可能か？

ニューメディア開発協会の環境で試験可能か？

NoYes

NoYes
独自ソフトウェア

住基カード仕様ソフトウェア（7.1（1）章、7.2章）

共通インタフェース仕様ソフトウェア（7.1（2）章、7.3章）（5章、7.1（3）章）※リーダライタベンダが用意※事前にニューメディア開発協会に確認を行うこと

図 3-1 試験で使用するソフトウェアについて

4

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試験仕様書 第 1.1 版

4 試験環境等
原則として、ニューメディア開発協会が準備した環境(PC)で、以下(4.1～4.3)の環境で試験を行う。但し、リーダライタベンダーが試験用環境一式(PC)を持込み、試験管理者確認のもと、試験を行うことを可能とする。その場合は事前にニューメディア協会の担当者に確認することとする。(5章)

4.1 試験用 PC
・ ニューメディア開発協会が準備した Windows 機とする。
・ インタフェースは、RS232C(DSUB 9pin)及び USB(Ver2.0)とする。
・ 試験用 PC の OS は Windows XP とする。

4.2 被試験リーダライタ
・ １台の PC に２台以上のリーダライタを接続しない。
・ 試験終了したリーダライタのリーダライタドライバは、他機種のリーダライタを試験する場合でも特に削除は行わない。

4.3 その他
・ 周囲環境は、通常オフィス環境とする。

5 独自の試験環境について
試験用ソフトウェアはニューメディア開発協会が用意した環境のもとで試験を行うことを基本とするが、以下の条件を満たした場合、独自の試験環境でリーダライタの試験を行うことを可能とする。
・ 試験用 PC（4.1章）にインストール出来ること、もしくは独自の試験用環境一式(PC)を用意できること。
・ 本試験仕様と同様の試験が行うことが可能であり、試験結果(OK/NG)が明確に出来ること。
・ ソフトウェアの結果表示に関しては、試験管理者に公開可能であること。
・ 試験結果をログファイルとして保存できること。そのログファイルを基に試験の合否判定を行うこととする。
またログファイルはニューメディア開発協会、及び試験管理者に配布可能であること。

5

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試験仕様書 第 1.1 版

6 試験仕様と要件
6.1 試験一覧
本試験で実施する試験の一覧を以下に示す。
表 6-1 試験一覧
試験番号
C1

試験名

試験内容
IC カードをＲＷに挿入又はかざしリクエスト/アトリビュート試た後、アクティブ状態まで遷移出来験るか確認する。

C2

伝送プロトコル試験

C3

コマンド送受信試験

備考

C3 試験で行われるコ
ISO/IEC14443-4 の伝送プロトコル
マンド送受信試験の範が正しく動作するか確認する。
囲内で確認。
カードコマンドが正しく動作するか確認する。

6.2 組合せ・ リーダライタ全種類と IC カード全種類のクロステストを行う。
・ リーダライタ１台対し、IC カード 1 枚を使用して実施する。
・ 試験毎のリーダライタと IC カードの組合せは下表の通りとする。
表 6-2 組合せ方法
試験番号
C1
C2
C3

試験を実施するリーダライタとIC カードの組み合わせ
リクエスト/アトリビュート試 リーダライタ全数と IC カード全数の験組合せについて試験を実施する。
Ｃ１試験が合格した全ての組合せ伝送プロトコル試験について試験を実施する。
コマンド送受信試験
(同上)

備考

試験名

6.3 カード方向・ リーダライタベンダーが指定した 1 方向で試験を実施する。

6.4 試験共通事項
・ PC とリーダライタ間、及びリーダライタと IC カード間の通信特性に影響があるパラメータに関しては、試験対象リーダライタとそのドライバ(リーダライタドライバ)の組合せにおけるデフォルト値で使用することとし、試験中は特に変更を行わない。

6.5 試験内容と合格判定基準（1） Ｃ１試験
・ リーダライタドライバＡＰＩのリクエストＢ機能及びアトリビュート機能を使用して、ISO/IEC14443-3
Type-B に準拠した初期化処理、衝突防止処理及び ATR 受信を行う。
・ IC カード 1 枚に対し、計 10 回実施する。カードの向きに関しては、カードベンダーが指定すること。
・ 合格基準は、下表とする。
表 6-3 Ｃ１試験合格基準
判定合格
不合格

基準
全組合せが９回以上の成功をしている場合
上記以外の場合6

備考住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版（2） C2/C3 試験・ ISO/IEC14443-4 伝送プロトコル試験(C2 試験)、及びコマンド送受信試験(C3 試験)を行う。
・ IC カード 1 枚に対し、計 10 回実施する
・ C2 試験は単独では実施せず、C3 試験の実施結果に基づいて判定を行う。
・ C2 試験の合格基準は、C3 試験(コマンド送受信試験)結果に基づいて下表とする。
表 6-4 C2 試験合格基準
判定
合格
不合格

基準
少なくとも１つのコマンドについて、全組合せが９回以上の成功をしている場合
上記以外の場合

備考

・ C3 試験の合格基準は、「6.6 C3 試験用コマンド」のコマンド送受信実行結果に基づいて下表とする。
表 6-5 C3 試験合格基準
判定
合格
不合格

基準
全てのコマンドについて、全組合せが９回以上の成功をしている場合
上記以外の場合

備考

6.6 C3 試験用コマンド
・ ＩＣカードリーダライタドライバＡＰＩのＩＣカードコマンド送信(ICRW_ICCmd)とＩＣカードレスポンス受信(ICRW_ICResp)を使用して、ＩＣカードコマンドの送受信を行う。(住基カード仕様ソフトウェアの場合)・ ISO/IEC14443-4 伝送プロトコル試験(C2 試験)、及び Active 状態以降後 3.2 記載のコマンド送受信試
験(C3 試験)をＩＣカードコマンド送信(RW_Transmit)を使用して、ＩＣカードコマンドの送受信を行う。(共通インタフェース仕様ソフトウェアの場合)
・ 試験プログラムで自動判定させるため、各コマンド APDU に対する IC カードの正常レスポンスは、SW1SW2=9000h が返送されること。
・ 試験に使用するＩＣカードコマンドは以下とする。
表 6-6 C3 試験用コマンド

１２３４

コマンド名
SELECT FILEGET DATAINTERNAL AUTHENTICATE
ハイパワーコマンド説 明
プラットフォームコマンド
(同上)
(同上)
最も消費電力が大きいコマンド

備考
住基カード仕様書参照
住基カード仕様書参照
住基カード仕様書参照
カードベンダーが申告

・ ＩＣカードリーダライタドライバ側に ISO/IEC14443-4 伝送プロトコルのシナリオが組み込まれていない
場合、試験プログラム側に組み込まれた NMDA 実装規約書のリーダライタ側伝送制御マトリクスに基づいたシナリオを利用する。 その場合のリトライ回数は、N=3 とする。(住基カード仕様ソフトウェアの場合)
・ 暗号使用コマンド（INTERNAL AUTHENTICATE 等）の暗号アルゴリズムに関しては、試験プログラム側では関与しない。（SW1SW2=9000h が返送されることのみ確認）

6.7 被試験用ＩＣカードの貸与について・ ＩＣカードベンダーは、以下のものをニューメディア開発協会に提供すること。
① 試験が実施できる状態に発行済みの被試験 IC カード② コマンド APDU と正常時のレスポンス APDU が書かれた資料
・ その他① 検証結果に影響が予想される取扱い上の注意事項は、試験作業の事前に情報を提供すること。
7

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

6.8 被試験用リーダライタの貸与について・ リーダライタベンダーは、以下のものをニューメディア開発協会に提供すること。
（ニューメディア開発協会が用意した試験用ソフトウェアを利用する場合）① 被試験リーダライタ (通信ケーブル、電源ケーブル、変換コネクタ等を含む)② リーダライタ仕様書に準拠したリーダライタドライバ
・ その他① リーダライタが USB と RS232C の両インタフェースを持つ場合、どちらを使用するかリーダライタベンダーが指定すること。
② 検証結果に影響が予想される取扱い上の注意事項は、試験作業の事前に情報を提供すること。

6.9 不合格時の措置
・ 不合格の組合せが発生した場合は、関係者(ＩＣカードベンダ、リーダライタベンダー、NMDA、検証作業者)で、状況確認→原因解析→合否判定会議→合否決定の流れで最終的な判定をする。

8

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

7 試験ソフトウェア仕様
7.1 ソフトウェア構成
ソフトウェア構成は試験管理者作成のプログラム(住基カード仕様、共通インタフェース仕様)を使用する場
合、またリーダライタベンダー独自の試験プログラムを使用した場合の 2 通り(3 種類)がある。
また試験管理者作成のプログラムは、スロットイン型リーダライタは住基カード仕様、オープン型リーダライタは共通インタフェース仕様とである。
（1）

試験管理者作成の試験プログラムを使用した場合(住基カード仕様(スロットイン型リーダライタ対応)の場合)

準備分担

互換性検証
作業者

試験プログラム

ドライバＡＰＩ

ＩＣカードリーダライタドライバ（リーダライタ仕様書準拠）

リーダライタベンダ

USB／RS232C

リーダライタ（スロットイン型）
ISO/IEC14443-2,3,4

ＩＣカード
ベンダ

住基カード

図 7-1 ソフトウェア構成(住基カード仕様を使用した場合)

9住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版（2）

試験管理者作成の試験プログラムを使用した場合(共通インタフェース仕様(オープン型リーダライタ対応)の場合)
準備分担
試験プログラム

互換性検証
作業者

共通ｲﾝﾀｰﾌｪｰ
ｽ制御ﾓｼﾞｭｰﾙ
IC ｶｰﾄﾞＡ
APDU ｺｰﾄﾞｺﾏﾝﾄﾞﾚｽﾎﾟﾝｽ
通信ﾓｼﾞｭｰﾙIC ｶｰﾄﾞ B
APDU ｺｰﾄﾞ

共通インタフェースＡＰＩ(DLL)(共通インタフェース仕様書準拠)

リーダライタベンダ

USB／RS232Cリーダライタ（オープン型）
ISO/IEC14443-2,3,4

ＩＣカード
ベンダ

住基カード

図 7-2 ソフトウェア構成(共通インタフェース仕様を使用した場合)

10住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験（3）

試験仕様書 第 1.1 版

リーダライタベンダー独自の試験プログラムを使用した場合

ﾘｰﾀﾞﾗｲﾀﾍﾞﾝﾀﾞ

試験用ソフトウェア（試験プログラム及びリーダライタドライバ）

USB／RS232C

リーダライタIC ｶｰﾄﾞ
ﾍﾞﾝﾀﾞ

住基カード

図 7-3 ソフトウェア構成(リーダライタベンダー独自の試験プログラムを使用した場合)

11

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

7.2 処理フロー(住基カード仕様(スロットイン型リーダライタ対応)の場合)
1.

基本試験フロー以下にリーダライタ１台に対する試験基本フローを示す。
START
ポートオープン (ICRW_Open)
リーダライタリセット (ICRW_Reset)
カードイン (ICRW_CardIn)

開始処理
カードを挿入Ｃ１試験NO

合格
YES
Ｃ２／Ｃ３試験終了処理YES
有次のＩＣカード

無STOP

図 7-4 基本処理フロー(１/２)

12

ポートクローズ (ICRW_Close)住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

2.

試験仕様書 第 1.1 版

Ｃ１試験

BEGIN

ＲＦ ON(ICRW_PowerCtrl)

リクエストＢ(ICRW_ReqB)

NG

アトリビュート(ICRW_AttribB)

NG

C1 成功

ＲＦ OFF(ICRW_PowerCtrl)

カード取込(ICRW_CardIn)

カードアウト(ICRW_CardOut)

NO

１０回繰り返した？

YES
ＥＮＤ
図 7-5 Ｃ１試験処理フロー

13

C1 失敗

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

3.

試験仕様書 第 1.1 版

C2/C3 試験
BEGIN

カード取込 (ICRW_CardIn)
ＲＦ ON (ICRW_PowerCtrl)
リクエストＢ (ICRW_ReqB)
アトリビュート (ICRW_AttribB)

カードコマンド１実行SELECT FILE
カードコマンド２実行
GET DATA
カードコマンド３実行
INTERNAL AUTHENTICATE
カードコマンド４実行
ハイパワーコマンドNG

ＲＦ OFF (ICRW_PowerCtrl)
カードアウト (ICRW_CardOut)
NG
NG
NG
NG

カードコマンド n
失敗

ＲＦ OFF (ICRW_PowerCtrl)
カードアウト (ICRW_CardOut)

NO

１０回繰り返した？

YES
ＥＮＤ
図 7-6 C2/C3 試験処理フロー

14

１０回連続ＮＧ？

YES
Ｃ２／Ｃ３
失敗

NO

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

7.3 処理フロー(共通インタフェース仕様(オープン型リーダライタ対応)の場合)（1）

基本試験処理フロー(共通インタフェース仕様の場合)
START

Ｃ１試験
成功回数０≧１
C２/C３試験（SELECT FILE）
C２/C３試験（GET DATA）
C２/C３試験（INTERNAL AUTHENTICATE）
C２/C３試験(ハイパワーコマンド）

有次のカード

無ＥＮＤ
図 7-7基本試験処理フロー

15

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験（2）

試験仕様書 第 1.1 版

Ｃ１試験処理フロー(共通インタフェース仕様の場合)
START
ﾘｰﾀﾞﾗｲﾀ初期化(RW_Open)
リーダライタ関数（共通インタフェース仕様）

IC カード挿入(RW_Insert)
IC カードをリーダライタにかざす
カード検知(RW_Sense)
N

OK?
Y
ＩＣカード活性化(RW_Activate)
N

OK?
Y

C1 成功

ＩＣカード非活性化(RW_Deactivate)

C1 失敗

IC カードをリーダライタから離す
ＩＣカード排出(RW_Eject)
N

ｎ＝10?
Y
リーダライタクローズ(RW_Close)

RETURN
図 7-8 Ｃ１試験処理フロー

16

ＩＣカード状態取得(RW_Sense)住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験（3）

試験仕様書 第 1.1 版

C2/C3 試験(共通インタフェースの場合)

・ 初期応答処理ルーチン
START
ﾘｰﾀﾞﾗｲﾀ初期化(RW_Open)

START

IC カード挿入(RW_Insert)

カード挿入
初期応答処理IC カードをリーダライタにかざす
RETURN
カード検知(RW_Sense)
N

OK?
Y

IC カードをリーダライタから離す
ＩＣカード活性化(RW_Activate)
ＩＣカード排出(RW_Eject)
RETURN

図 7-9 初期応答処理ルーチン(C2/C3 試験)17

住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

・ C2/C3 試験全体処理ルーチン
START

NG

カード挿入
初期応答処理NG

カードコマンド１実行
SELECT FILE

NG

カードコマンド２実行
GET DATA

NG
カードコマンド３実行
INTERNAL AUTHENTICATE
NG

カードコマンド４実行
ハイパワーコマンド

カードコマンド n
失敗

カード排出NO

１０回繰り返した？

YES
リーダライタクローズ(RW_Close)ＥＮＤ

7.4 結果帳票フォーマット
別に定める。

18住基カードおよびリーダライタ互換性検証試験

試験仕様書 第 1.1 版

8 試験ソフトウェア開発・使用条件
8.1 ハードウェア（1） RS232C 接続
・ Windows2000 又は WindowsXP 対応マシン
・ DSUB 9pin
（2） USB 接続
・ Windows2000 又は WindowsXP 対応マシン
・ USB1.1 コネクタ
・ PC 側供給電力： 最大 500mA (初期 100mA)

8.2 ソフトウェア開発環境
・ ＶＣ++ Ver.6.0

9 互換性機能試験作業
9.1 試験作業手順（1） 試験手順・ リーダライタベンダー各社は、事前にリーダライタ及びドライバソフトを試験作業場所へ搬入又は送付する。
・ ＩＣカードベンダー各社は、事前に IC カードを試験作業場所へ搬入又は送付する。
・ ドライバ等のインストールは、可能であれば試験実施作業者が行い、動作確認を行う。
・ 試験実施者は試験ソフトウェアを用いて、全リーダライタと全 IC ｶｰﾄﾞに対して試験を行う。
・ 試験ソフトウェアは試験実施者側で用意するが、ベンダー各社で独自の試験環境(PC とソフトウェア)を用意することも可能とする(5章)。その場合、7.2章処理フロー通りに試験が行うことが可能なソフトウェア構成であることを条件とする。また独自の試験環境で試験を行うには、事前にニューメディア開発協会に確認を行うこと。
・ ベンダー各社は、インストール等の準備作業及び試験中に発生した問題等の解決をサポートする。
（2） 互換性試験回数
・ 試験は 1 回実施する。
・ 試験結果に問題があるなど再試験が必要な場合、実施時期等について別途決定する。
（3） 試験時間
・ １日の試験時間は原則 10：00～17：00 とする。
・ 試験中に問題等が発生した場合、対処はその都度判断する。

9.2 互換性試験作業場所等（1） 場所・ 財団法人ニューメディア開発協会
・ 東京都文京区関口一丁目 43 番 5 号 新目白ビル６階
・ 環境：通常オフィス環境（2） 連絡先・ ニューメディア開発協会

ＴＥＬ：03-5287-5032 / ＦＡＸ：03-5287-5027

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