平成27年12月

第744号

IEC/TC107航空用電子部品のプロセスマネジメント国際会議（2015年10月於プラハ）に出席して～航空用電子機器の品質維持～
1．はじめにり、上記課題解決に関する議論を進め、規格IEC（International Electrotechnical Commission）化を行っていくものである。の専門委員会の一つであるIEC/TC107（航空特に近年では、航空機用電子機器・部品は用電子部品のプロセスマネジメント）年次総購入品がほとんどなので、安心・安全のため、会が10月6日〜8日の3日間にわたり、チェコ共購入品に関する選定・品質基準を定める必要

和国の首都プラハにある、チェコ規格計量試性は高い。

験協会（Czech Ofﬁce for Standards, Metrology,購入品の基準は次の3つの視点から定める。

and Testing）で開催された。日本からは伊部・SER/SEB（航空機高度での中性子・熱中性子ソフトエラー率、航空機高度でのパ委員（HIREC）が出席した。

ワーデバイス（IGBTなど）のSEB（Single
2．TC107沿革

Event Burnout、破壊現象））

航空用電子部品は今まで、MIL規格の下で管理されたものを調達することがベースとなっていた。しかし、技術の進歩、MIL規格・鉛 フ リ ー 半 導 体（RoHS：Restriction ofHazardous Substances対応）
・模造製品対応（Anti-Counterfeit）の民間規格制定団体への移管などに伴い、信頼性の高い部品の調達、管理が問題となって3．参加メンバ（表1参照）

いる。TC107は、IECの専門委員会の一つであ
表1

参加国（主要参加企業等）

参加国（Pメンバのみ、アルファベット順）

主要参加メンバー

BrasilEmbraer

China

Beijing San-talking Testing Engineering Academy, Co., Ltd.
（中国航空工業集団公司）

FranceAirbus

Japan

日本航空宇宙工業会

UK

GE Aviation

USABoeing、Honeywell

注）Pメンバは投票権をもつ6ヵ国。オブザーバ国（Oメンバ）はドイツ。イタリア、韓国、ロシア、スウェーデン、スイスなど16ヵ国。

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工業会活動図1

会場風景（新委員長Librantz氏就任あいさつ。右は前委員長Condra氏）

4．TC107の構成（表2参照）■昨年より、PT62396がWG（ワーキンググルー■Chair：Mr. Lloyd Condra（Boeing）

プ）4に昇格したため、WG1〜4、MT1〜2（メ→（今回委員会から）Mr Helio Librantz

ンテナンスチーム）の構成となっている。

（Embraer）

WG4の中には、Part1〜8までの規格検討がSecretary：Mr Philippe Pons（Airbus）

されているが、Part8「半導体構造微細化およTechnical Ofﬁcer：Mr Charles Jacquemart

びプロトン、パイオン、ミューオンによるシ（IECの指導員）

ングル・イベント効果への影響」は、日本か
表2

ID

TC107の構成

名称等Convenor
今回変更点
Working Groups（規格の新規提案）
WG1 Aerospace and defence electronic systems containing lead - free solder Mr. David Burdick−（鉛フリーはんだを含む電子システム）（US）
WG2 Aerospace qualiﬁed electronic component（AQEC）
Ms . Josephine−（航空宇宙用に特化された部品）
Vann（GB）
WG3 Counterfeit electronic parts; avoidance, detection, mitigation, andMs . Josephine
disposition in avionics applications（模造電子部品の航空宇宙電子 Vann（GB）−装置に対する忌避、検出、軽減、処置）
WG4 Accommodation of atmospheric radiation effects via single event
Mr. Robert H.
Convener交代：
effects within avionics electronic equipment（IEC62396）
Henry Edwards
Ms. Josephine（GB）
Vann（GB）
Maintenance Teams（発行済規格の修正）
MT1 Revision of IEC TS 62239 Ed. 1（Preparation of an electronic
Ms . Josephine
WG5に変更。
component management plan）（TC107 のスコープ見直し）
Vann（GB）
Covener Pons
MT2 Use of semiconductor devices outside manufacturers' speciﬁed
Mr. William（Bill）
temperature range, Revision of IEC 62240 TR
H Scoﬁeld（US）−（半導体部品の製造者が設定した温度範囲を超える使用）

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家ではないが、TEM（透過型電子顕微鏡：

らの提案である。
本件は、放射線によるシングル・イベント

Transmission Electron Microscope）、や、X

効果（機器の誤動作、故障につながるデジタ

線を用いた検査から装置の欠陥を評価す

ル回路の異常動作）が、より集積度の上がっるようなチャレンジングな技術も議論のた 電 子 回 路 に お い て は 中 性 子 以 外（特 に中に入っている。

muon）の影響が懸念されていることを受けた③事前（9月30日）に開催した日本の委員もので、航空用電子部品の品質確保を行う上会の意見を伊部から報告した。製品のプで、今後非常に重要な課題になる可能性に備ログラムが検査などの段階で書き換えらえることを意図する。

れたり、ウイルスを埋め込まれたりなど、セキュリティも含まれると大事になること

5．報告事項が危惧されるが、この委員会での対策は（1）Chair交代

あくまでもハードであり、前記セキュリ

今回より、Lloyd Condra氏が15年の長きにティ問題は含まないとのこと。それで亘ったChairを辞し、今年よりPメンバとなっも、製品の健全性の確認のためには、第3たブラジルのHelio Librantz氏が新たにChairに者などに検査依頼すると、traceabilityが損就任した。

なわれることがないようにすることが必要という点が重要であることを述べた。

（2）模造品対策①偽物や欠陥品を購入しないための部品の選定基準を定めることが目的。

（3）WG4（航空用部品の放射線効果評価・対策：表3参照）②日本のnational committeeには専門家が現

今回、EdwardsがConvenerを辞したため、多く在不在で、日本から参加した委員も専門のプロジェクトでPL（Project Leader）が交代し

表3
LabelPart 1
Part 2
Part 3
Part 4
Part 5
Part 6
Part 7
Part 8
Part 9ワーキンググループ4の構成

名称等
Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within
avionics electronic equipment
Guidelines for single event effects testing for avionics systems
Optimising system design to accommodate
the single event effects（SEE）of atmospheric radiation
Guidelines for designing with high voltage aircraft electronics and potential
single event effects
Assessment of thermal neutron fluxes and single event effects in avionics
systems
Extreme space weather and potential impact on the avionics environment andelectronics
Incorporating Atmospheric Radiation Effects Analysis into the LRU/System
Design Process
Assessment of proton, electron, pion, muon ﬂuxes and single event effects inavionics systems
Calculation of system dependability（新規提案、仮題）

Project Leader（PL）
Ms. Josephine Vann（GB）に変更

Mr. Dave Burdick（Boeing）
PL空席
Ms. Josephine Vann（GB）に変更
Ms. L. Dominik（Honeywell）
伊部（HIREC）
Ms. Dongmei Chen（China）

49工業会活動

た。新ConvenerはJosefﬁne Vann（GE Aviation）。

Radiation Effects on ULSIs and Electronic
Systems がWileyから、2015年1月に出版され、（4）Part-4（SEB；Single Event Burnout）

中国語の翻訳版が2017年に発刊予定であるこPart4（シングルイベントバーンアウト、パと、および、Part 8の修正ポイントを報告。Part-

ワーデバイスの放射線による破壊現象）は発1、-2、-5との重複点が多いことが指摘事項に行済みなので、基本的に変更はできないが、日あったが、ミューオンや電子の影響は中性子本から試験法について、加筆、修正案が出るとの比較の中でしか見えてこない点や、文書可能性があると述べたところ、案を文章で提としての完結性が損なわれることなどを理由出し、コンタクト先を連絡すれば、来年のにあげて、重複部分は削除しない方針である

TC107委員会（10月頃、北京開催予定）で修正

こ と を 述 べ た。反 対 意 見 は 出 な か っ た が、するかどうかの決断が下される、とのこと。

IEC62396全体として重複を避けるため、全体見直しのタスクフォースを発足することに（5）Part-5（Thermal neutron）
発行済みであり、変更予定もないが、PLが空席になった。
特に立候補者もなく当面空席のまま。

なった。
また、ミューオンや電子のソフトエラーへの脅威を強調するものでなく、実際、現状では無視できるとの報告（Part 8に追記）もあるの で、「将 来、一 層 の 微 細 化 が 進 ん だ 場 合、（6）Part-7（Incorporating atmospheric radiation

顕在化する可能性があるので、それに備える

effects analysis into the system design process）ため基礎知識を整理して共有する」という趣

PLのMs. L. Dominik（Honeywell）不参加だっ旨をIntroductionで強調したことを報告した。

たため、議論の進展はなかったが、事前のPart-8はRequirementの内容がむしろguidance

Londonでの打ち合わせの結果、TS（表4参照）であるとの理由でTS（Technical Speciﬁcation）でから拘束力のないTRに変更、さらにDTR（DraftなくTRとする提案があり、了承。
CD（Committeefor Technical Report）提出予定も6ヵ月後ろ倒Draft）再 提 出 は 2016 年 4 月、DTR（Draft

しになった。

Technical Report）は2016年10月、発行2017年

日本の国内委員会から、デバイスに対策を6月予定。

強く求められるとコスト高になり、到底受け入れられないという懸念が表明されている（8）P a r t -9（仮 題；C a l c u l a t i o n o f s y s t e mが、現在までのところ、Part-7の内容はシス

dependability）

テム評価までの大まかなフローを示しただけ

中国から新規にPart-9の提案があった。内で あ り、か つ 拘 束 力 の な い TR（Technical容 の 詳 細 は 不 明 だ が、SEE（Single EventReport）に変更されたので、現状は様子見でEffect）によるdependabilityの評価手法にかか十分と考える。

わるもので、RAMS2016（The Annual Reliabilityand Maintainability Symposium 2016）のBest（7）Part-8（Assessment of proton, electron, pion,

Paper Award候補になっているとのこと（著作muon ﬂuxes and single event effects in avionics

権対応予定）。107/251/NP（New Proposal）とsystems）して提出予定。

日本から、Part-8の母体となった Terrestrial50

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6．その他

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（5）Liaison（他グループとの連携）（1）IEC CO（Central Office）から、今年新しく発行された文書として、IEC code of conduct

IEC62396関連では、TC47、JESD89Bなどの動向が紹介された。

for delegates and experts および、IEC TC107:
your strategic tool in process management foravionicsの紹介があった。

（6）次回開催
次回TC107は中国の招待により、北京開催の見込み。時期は未定である。

（2）Lead-Free：TS62647-4（BGAのre-balling）
7．感想・提言についてのみ議論した。

（1）中国からの参加人数が6名と特に多く、（3）MT-1（TS62239-1）PL：Pons COTS製品新しい提案など、積極性が目立った。の利用にかかわる技術仕様である。
SAE（Society of Automotive Engineers、陸（2）SEBの試験法の国際標準化については、海空宇宙のあらゆる動力で動く自力推進のサンプル準備、安全確保、測定系、測定手順、乗り物（automotive）の標準化を推進する団

報告書式などを細かく指定し、日本から提体）とのIECのharmonizationを進めようとし案予定である。ている。
（3）模造品対策については、国内の専門家の（4）MT-2（TR62246-1）通常範囲外の温度条件協力を模索する方向が望ましい。

特別にトピックなし。
表4

IEC国際標準発行までのステップ（ご参考）

段階
①提案段階
②作成段階

文書略称NP
WD③委員会段階

CD

④照会段階

CDV

⑤承認段階

FDIS
IS

⑥発行段階

TSPAS
TR

〔HIREC（株） 専門技師

伊部

文書正式名称
New work item Proposal
Working Draft（作業原案）
Committee Draft（委員会原案）Committee Draft for Vote
（投票用委員会原案）
Final Draft InternationalStandard（最終国際規格案）
International Standard（国際規格）
Technical Speciﬁcation（技術仕様書）Publicly Available
Speciﬁcation（公開仕様書）
Technical Report（技術報告書）メモ
標準化活動の起点。
省略できる場合がある。
省略できる場合がある。
起点から12ヵ月以内に回付。
起点から24ヵ月以内に回付。
省略できる場合がある。
起点から33ヵ月以内に回付。
5年以上経過した場合は取消。
起点から36ヵ月以内。

英史、（一社）日本航空宇宙工業会

技術部部長

藤貫泰成〕
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