218S（放射光源、中性子源、ミュオン源、低速陽電子源）
加速器/ERLcERL インターロック用高速ロスモニタシステムの開発
Development of the high-speed loss monitor system
for interlocks at cERL
下ヶ橋秀典１、帯名崇 1, 多田野幹人 1
1 KEK-加速器第七研究系
高エネルギー加速器研究機構（KEK）では、次世代の放射光光源であるERL（Energy Recovery Linac）の研究を行っている。現在、KEK では ERL の技術検証のために建設されたコンパクト ERL（cERL）で、様々な研究および技術開発が行われている。その中で機器保護用インターロックの 1 つとして、インターロック用高速ロスモニタの開発を行っている。このロスモニタは高強度（高電流）ビーム運転下で、多量のビームロス発生時に高速でビームを停止させるためのものである。前回は、センサ、シンチレータを実際の cERL 加速器室内に入れてテストを行い、高速ロスモニタとしての実現性を検討した。この結果を踏まえ、1μs 程度の動作速度を目指して本システムの開発を行った。本システ
ムは、シンチレータと光電子増倍管(PMT)を遮光ケースに納めたセンサ部、センサ出力増幅用プリアンプ部、ロス信号処理部、各種設定モニタ用 PLC 部、高圧電源部で構成されている。なお、警報出力信号は既存の高速インターロックシステムを経由して各装置に配分される。また、PLC の OS には Linux が搭載されており、システムの各種設定モニタは EPICS・CSS により操作可能となっている。本発表ではシステムを構成する各要素の説明と試験運用の結果報告を行う。

システム図

計測ラック

219S
（放射光源、中性子源、ミュオン源、低速陽電子源）

 !!   
Generation of atto- and zepto-second X-ray pulses
from Infrared Free Electron Lasers ""  # GeV |\;F?Y X q\DF1(XFEL)<*?8zx X &AF1OZ ah&H "XFEL P:C3&(8zXv#()7( $#[1]Gev:C3DF1F&,3IP# sp#jmHigh Harmonics Generation; HHGVUV ! X X#v:C3spb w{'"(8z:C3pa]o#HHG Sntsp5F/68,3I
 #Q^DF1FmMu_&V%# `#mjc[ #$MudV # HHG vmTr#[2]MudVgLl# HHG v
mTrQ^DF1Fm 1.7 JkN# %
"m 12 µm c0).CDF1F]o$HHG
 " 10 keV x X spU"X :C34=8z
X#
fs10 keV  HHG &sp# FEL m 12 µm
:C3+9C-F 1mJ0).Cc 1.6 &]o#N&y$&]o#RWiaFEL P:C32>@DF2BE~h&}K#
[1] T. Tanaka, PRL 114, 044801 (2015)[2] T. Popmintchev et al., Science 336, 1287 (2012)[3] R. Hajima and R. Nagai, PRL 91, 024801 (2003)

220S（放射光源、中性子源、ミュオン源、低速陽電子源）

 "  )*(*$&'  #!  %
Narrow-band GeV photons generated
from an x-ray free electron laser oscillator
+  ++   

UV  T  M F  ! K _ Q S  p  V A D . D (FEL Oscillator;FELO)V7D= FEL 6@/#K_QLx ! AD.D,C:2CaE! MeV T(C<~7D=#qn!zR Duke UW1.2-GeV Vv?C+| "
UV-FELO  1-100 MeV (C<~#qn  (C<~7D=#NVejmYG !XJ}b0&%>C3-8$&%rI[]I[!t X ~Z O[l#u }bBraggmirrorK_Q#g^! t X ~TpVAD.D#q_ !%&1%`f "![1]
dqUV-FELO  MeV (C<~qnPhV7D= FEL 6@/,C:2CaEXFELO  GeV (C<~qn! #uXFELO  !,C:2CaEV
i{ !AD.DHV'4@)DVi !U ! aEHV'4@)DV'4@)Dy '4@)D/;*2@k\T~0.1% FWHM! (C<~7D=53BCjmswco:BD9![2]
[1] K-J. Kim et al. Phys. Rev. Lett. 100, 244802 (2008).
[2] R. Hajima and M. Fujiwara, Phys. Rev. Accel. Beams (accepted)

221S（放射光源、中性子源、ミュオン源、低速陽電子源）

!!!!!!!

$ +1-#%& !
Materials characterization at the AIST slow positron
beam facility)/1*! ,.('0" " "!

At AIST the high-intensity, slow-positron facility is an electron accelerator
based facility for measurement of positron lifetimes with intense,energy-variable, slow-positron beams. There are two main beamlines, each ofwhich has a capability to perform positron annihilation lifetime spectroscopy(PALS) with a standard large diameter (~ 10 mm) beam, or with a focusedmicrobeam. The microbeam device is called ‘positron probe micro-analyzer’(PPMA) and has a lateral resolution of around 50 µm. For both PALS andPPMA the energy of the positron beam can be varied from around 0.5 – 30 keV,corresponding to typical implantation depths of several nm to several µm.
Positrons injected into conducting materials such as metals and semiconductors
thermalize rapidly (~1ps) and then diffuse through the lattice before annihilatingwith an electron. If a positron finds a defect during this diffusion it may betrapped and the lifetime before annihilation is increased. In insulating materials
such as polymers, ortho-positronium (a bound electron–positron state with bothspins parallel) may be formed, which, if found in a free volume (inter-molecularspace) region, has a lifetime component which is related to the size of the freevolume. Therefore PALS is a sensitive measure of the lattice defects in metals
and semi-conductors and free volume in polymers.
At AIST we are using PALS with slow positron beams to characterize defects
and free volume in a range of functional and structural materials. The AIST
facility is open to external users through the “Nanotechnology Platform Japan”
program [1,2]. In the present contribution we will give an overview of the AIST
slow positron facility and give some examples of typical measurements.
[1] https://unit.aist.go.jp/rima/nanotech/[2] http://nanonet.mext.go.jp/!
!!!!!!!!