無人移動体画像伝送システム 臨時試験方法
試験方法名称「自動的に若しくは遠隔操作により動作する移動体に開設された陸上移動局又は携帯局が主として画像伝送を行うための無線通信（当該移動体の制御を行うものを含む）を行うための無線局の無線設備の特性試験方法]

証明規則「証明規則第２条第１項第７２号に掲げる無線設備（設備規則第４９条の３３においてその無線設備の条件が定められている陸上移動局又は携帯局に使用するための無線設備）」

一 一般事項
１ 試験場所の環境（１）技術基準適合証明における特性試験の場合
室内の温湿度は、ＪＩＳ Ｚ８７０３による常温５～３５℃の範囲、常湿４５～８５％（相対湿度）の範囲内とする。
（２）認証における特性試験の場合
上記に加えて周波数の偏差の試験については温湿度試験及び振動試験を行う。
詳細は各試験項目を参照。
２ 電源電圧（１）技術基準適合証明における特性試験の場合
電源は、定格電圧を供給する。
（２）認証における特性試験の場合
電源は、定格電圧及び定格電圧±１０％を供給する。ただし次の場合を除く。
ア 外部電源から受験機器への入力電圧が±１０％変動したときにおける受験機器の無線部（電源は除く。）の回路への入力電圧の変動が±１％以下であることが確認できた場合。
この場合は定格電圧のみで試験を行う。
イ 電源電圧の変動幅が±１０％以内の特定の変動幅内でしか受験機器が動作しない設計となっており、その旨及び当該特定の変動幅の上限値と下限値が工事設計書に記載されている場合。この場合は定格電圧及び当該特定の変動幅の上限値及び下限値で試験を行う。
３ 試験周波数と試験項目（１）受験機器の発射可能な周波数が各周波数帯において３波以下の場合は、全波で全試験項目について試験を実施する。
（２）受験機器の発射可能な周波数が各周波数帯において４波以上の場合は、上中下の３波の周波数
で全試験項目について試験を実施する。
４ 予熱時間
工事設計書に予熱時間が必要である旨が明記されている場合は、記載された予熱時間経過後、測定する。その他の場合は予熱時間はとらない。
５ 測定器の精度と較正等（１）測定器は較正されたものを使用する。
（２）測定用スペクトルアナライザはデジタルストレージ型とする。
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６ 本試験方法の適用対象（１）本試験方法は、アンテナ端子（試験用端子等）のある無線設備に適用する。
（２）本試験方法は内蔵又は付加装置により次の機能が実現できる機器に適用する。
ア 通信の相手方がない状態で電波を送信する機能（注１）
イ 連続送信状態、又は一定周期かつ同一バースト長の継続的バースト状態で送信する機能
ウ 試験周波数に設定して送信する機能
エ 試験用の変調状態に設定できる機能及び変調停止できる機能を有することが望ましい。
オ 変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号（ＩＴＵ－Ｔ勧告
Ｏ．１５０による９段ＰＮ符号又は１５段ＰＮ符号）による変調機能を有することが望ましい。
注１ 外部から試験用の制御器等により試験信号の制御を行う場合は、試験用の制御器は申込者が準備すること。
注２ 上記機能が実現できない機器の試験方法については別途検討する。
７ その他の条件（１）受験機器の擬似負荷は、特性インピーダンスを５０Ωとする。
（２）１６９MHz帯において、無人移動体画像伝送システムが用いる周波数は下記の通りである。
１６９．０５００MHz ～ １６９．３９７５MHz__
１６９．８０７５MHz ～ １７０．００００MHz（３）２．４GHz帯及び５．７GHz帯において、無人移動体画像伝送システムの搬送波の中心周波数（チャネル配置例）は下記の通りである。
ア ２．４GHz帯（２，４８３．５MHz ～ ２，４９４．０MHz）
５MHzシステム ： ２，４８６．０MHz、２，４９１．０MHz（ ５MHz間隔 ２波）
１０MHzシステム： ２，４８９．０MHz
イ ５．７GHz帯（５，６５０．０MHz ～ ５，７５５．０MHz）
５MHzシステム ： ５，６５２．５MHz ～ ５，７５２．５MHz（ ５MHz間隔 ２１波）
１０MHzシステム： ５，６５５．０MHz ～ ５，７２５．０MHz（１０MHz間隔 ８波）
５，７４０．０MHz、５，７５０．０MHz
２０MHzシステム： ５，６６０．０MHz ～ ５，７２０．０MHz（２０MHz間隔 ４波）
５，７４５．０MHz
８ その他（１）本試験方法は標準的な方法を定めたものであるが、これに代わる他の試験方法について技術的に妥当であると証明された場合は、その方法で試験しても良い。
（２）結果の表示は、技術基準に定められている許容値を併記する。
（３）受験機器空中線の絶対利得が必要な場合は、提出された書面の値を用いる。

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二 振動試験
１ 測定系統図
受験機器

試験装置

２ 受験機器の状態（１）振動試験機で加振中は、受験機器を非動作状態（電源ＯＦＦ）とする。
（２）振動試験機で加振終了後、受験機器の動作確認を行う場合は、受験機器を試験周波数に設定して通常の使用状態で送信する。
３ 測定操作手順（１） 受験機器を取付治具（受験機器を通常の装着状態と等しくする器具）等により、振動試験機の振動板に固定する。
（２） 振動試験機により受験機器に振動を加える。ただし、受験機器に加える振動の振幅、振動数及び方向は、ア及びイの条件に従い、振動条件の設定順序は任意で良い。
ア 全振幅３ｍｍ、最低振動数から毎分５００回までの振動を上下、左右及び前後のそれぞれ
１５分間（振動数の掃引周期は１０分とし、振動数を掃引して最低振動数→毎分５００回→最低振動数の順序で振動数を変えるものとする。すなわち、１５分間で１.５周期の振動数の掃引を行う。）（注）最低振動数は振動試験機の設定可能な最低振動数（ただし毎分３００回以下）とする。
イ 全振幅１ｍｍ、振動数毎分５００回から１８００回までの振動を上下、左右及び前後のそれぞれ
１５分間（振動数の掃引周期は１０分とし、振動数を掃引して毎分５００回→毎分１８００回→
毎分５００回の順序で振動数を変えるものとする。すなわち、１５分間で１.５周期の振動数の掃引を行う。）（３） 上記（２）の振動を加えた後、規定の電源電圧（一般事項の２ 電源電圧（２）参照）を加えて受験機器を動作させる。
（４） 試験装置を用いて受験機器の周波数を測定する。
（周波数の具体的な測定方法は、「周波数の偏差」の項目を参照）
４ その他の条件
本試験項目は、認証における特性試験の場合のみ行う。

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三 温湿度試験
１ 測定系統図

受験機器

試験装置

温湿度試験槽（恒温槽）
２ 受験機器の状態（１）規定の温湿度状態に設定して、受験機器を温湿度試験槽内で放置しているときは、受験機器を非動作状態（電源ＯＦＦ）とする。
（２）規定の放置時間経過後（湿度試験にあっては常温常湿の状態に戻した後）、受験機器の動作確認を行う場合は、受験機器を試験周波数に設定して通常の使用状態で送信する。
３ 測定操作手順（１）低温試験
ア 受験機器を非動作状態として温湿度試験槽内に設置し、この状態で温湿度試験槽内の温度を低温（０℃、－１０℃、－２０℃のうち受験機器の仕様の範囲内で最低のもの）に設定する。
イ この状態で１時間放置する。
ウ 上記イの時間経過後、温湿度試験槽内で規定の電源電圧（一般事項の２ 電源電圧（２）参照）
を加えて受験機器を動作させる。
エ 試験装置を用いて受験機器の周波数を測定する。
（周波数の具体的な測定方法は、「周波数の偏差」の項目を参照）（２）高温試験
ア 受験機器を非動作状態として温湿度試験槽内に設置し、この状態で温湿度試験槽内の温度を高温（４０℃、５０℃、６０℃のうち受験機器の仕様の範囲内で最高のもの）、かつ常湿に設定する。
イ この状態で１時間放置する。
ウ 上記イの時間経過後、温湿度試験槽内で規定の電源電圧（一般事項の２ 電源電圧（２）参照）
を加えて受験機器を動作させる。
エ 試験装置を用いて受験機器の周波数を測定する。
（周波数の具体的な測定方法は、「周波数の偏差」の項目を参照）（３）湿度試験
ア 受験機器を非動作状態として温湿度試験槽内に設置し、この状態で温湿度試験槽内の温度を３５℃に、相対湿度９５％又は受験機器の仕様の最高湿度に設定する。
イ この状態で４時間放置する。
ウ 上記イの時間経過後、温湿度試験槽の設定を常温常湿の状態に戻し、結露していないことを確認した後、規定の電源電圧（一般事項の２ 電源電圧（２）参照）を加えて受験機器を動作させる。
エ 試験装置を用いて受験機器の周波数を測定する。
（周波数の具体的な測定方法は、「周波数の偏差」の項目を参照）

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４ その他の条件（１）本試験項目は認証の試験の場合のみに行う。
（２）常温（５℃～３５℃）、常湿（４５％～８５％（相対湿度））の範囲内の環境下でのみ使用される旨が工事設計書に記載されている場合には本試験項目は行わない。
（３）使用環境の温湿度範囲について、温度又は湿度のいずれか一方が常温又は常湿の範囲より狭く、かつ、他方が常温又は常湿の範囲より広い場合であって、その旨が工事設計書に記載されている場合には、当該狭い方の条件を保った状態で当該広い方の条件の試験を行う。
（４）常温、常湿の範囲を超える場合であっても、３（１）から（３）の範囲に該当しないものは温湿度試験を省略できる。

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四 周波数の偏差
１ 測定系統図

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

周波数計

２ 測定器の条件等（１）周波数計としては、カウンタ、スペクトルアナライザ又は波形解析器を使用する。
（２）周波数計の測定確度は、規定の許容偏差の１／１０以下の確度とする。
（３）被測定波の振幅変動による影響を避けるため、減衰器の減衰量は周波数計へ十分な入力レベルを与える値とする。
（４） バースト波を測定する場合は、カウンタのパルス計測機能を使用して、ゲート開放時間をなるべくバースト区間の全体が測定可能な値にする。
（５）周波数計としてスペクトルアナライザを用いる場合は設定を次のようにする。
中心周波数
試験周波数
掃引周波数幅占有周波数帯幅の許容値の約２～３．５倍
分解能帯域幅占有周波数帯幅の許容値の１％程度
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
搬送波レベルがスペクトルアナライザ雑音より十分高いこと
掃引時間
測定精度が保証される最小時間（注１）
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
連続掃引
検波モード
ポジティブピーク表示モード
マックスホールド
注１ バースト波の場合は、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上としているが、バースト
送信時間が長い場合は、繰り返し掃引により１サンプル点にバースト送信時間が含まれれば掃引時間を短くしてもよい。
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態とする。
（２）変調は、原則として無変調とする。
（３）受験機器の変調状態が無変調に設定できない場合は、次の通り変調状態に設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で変調する。標準符号化試験信号で変調できない場合は、通常使用状態の変調符号で変調する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態の変調とする。
４ 測定操作手順（１）無変調波（連続又は継続的バースト）の場合は、周波数計で直接測定する。
（２）バースト波の場合は、十分な精度が得られる時間について測定し、その平均値を求め測定値とする。
（３）特徴的な周波数スペクトルを生じさせるような試験モードの場合は、スペクトルアナライザによりそのスペクトルの周波数を測定する。
(4)上記において、原理的に直接試験周波数に相当する周波数を測定していない場合は、必要な計算により結果を求める。
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５ 結果の表示（１） １６９MHz帯の場合は、測定値をMHz単位で表示するとともに、測定値の割当周波数に対する偏差を百万分率（１０－６）の単位で（＋）又は（－）の符号を付けて表示する。
（２）２．４GHz帯及び５．７GHz帯の場合は、測定値をMHz又はGHz単位で表示するとともに、測定値の割当周波数に対する偏差を百万分率（１０－６）の単位で（＋）又は（－）の符号を付けて表示する。
６ その他の条件
スペクトルアナライザによる周波数測定を行う場合は、被試験信号の中心周波数に、信号発生器の周波数を合わせる方法で周波数を測定しても良い。すなわち、信号発生器の信号を被試験信号と同時に（又は切り替えて）スペクトルアナライザで観測し、信号発生器の周波数を被試験信号のスペクトル
分布の中心周波数に合わせ、その時の信号発生器の周波数を測定値とする。

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五 占有周波数帯幅１ 測定系統図
変調信号
発生器

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

スペクトル
アナライザ

コンピュータ２ 測定器の条件等
スペクトルアナライザの設定を次のようにする。
中心周波数
試験周波数
掃引周波数幅 占有周波数帯幅の許容値の約２～３．５倍
分解能帯域幅 占有周波数帯幅の許容値の１％程度
ビデオ帯域幅 分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール １０dB/Div
入力レベル
搬送波レベルがスペクトルアナライザの雑音レベルより十分高いこと。
掃引時間
測定精度が保証される最小時間（注１）
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
連続掃引
検波モード
ポジティブピーク表示モード
マックスホールド
注１ バースト波の場合は、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上としているが、バースト送信
時間が長い場合は、繰り返し掃引により１サンプル点にバースト送信時間が含まれれば掃引時間を短くしてもよい。
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態とする。
（２）受験機器の変調状態は次の通り設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で占有周波数帯幅が最大となる変調状態とする。標準符号化試験信号で変調できない場合は、
通常使用状態において占有周波数帯幅が最大となる変調符号に設定する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態において占有周波数帯幅が最大となる変調とする。
４ 測定操作手順（１）スペクトルアナライザの設定を２とする。
（２）表示に変化が認められなくなるまで掃引を繰返した後、全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
（３）全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
（４）全データの電力総和を求め、「全電力」として記憶する。
（５）最低周波数のデータから順次上に電力の加算を行い、この値が「全電力」の０．５％になる限界データ点を求める。その限界点を周波数に変換して、「下限周波数」として記憶する。
（６）最高周波数のデータから順次下に電力の加算を行い、この値が「全電力」の０．５％になる限界データ点を求める。その限界点を周波数に変換して、「上限周波数」として記憶する。
（７）占有周波数帯幅は、（上限周波数－下限周波数）として求める。

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５ 結果の表示
結果は、占有周波数帯幅をkHz又はMHzの単位で表示する。
６ その他の条件（１） ３（２）において、占有周波数帯幅が最大になる信号として、実運用状態において占有周波数帯幅が最大となる符号を用いても良い。
（２） 占有周波数帯幅が最大になる符号の設定が不可能で、バーストごとに変調符号が異なる場合には、スペクトルアナライザを２のマックスホールド状態の設定のまま１０回以上の掃引（波形が変動しなくなるまで）を行うことにより、占有周波数帯幅が最大になる符号に代えることができる。

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六 スプリアス発射又は不要発射の強度（１６９MHz帯）
１ 測定系統図

変調信号
発生器

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

スペクトル
アナライザ

搬送波
抑圧
フィルタ

コンピュータ２ 測定器の条件等（１） 搬送波抑圧フィルタは、必要に応じて使用する。
スプリアス領域における不要発射の強度（２）搬送波周波数近傍を除く不要発射探索時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
掃引周波数幅（注１）
分解能帯域幅（測定周波数）（分解能帯域幅）
９kHz超え １５０kHz以下：
１kHz
１５０kHz超え３０MHz以下 ：１０kHz
３０MHz超え １GHz以下：
１００kHz
１GHz超え：１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間（注２、注３）
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上掃引モード
単掃引（注３）
検波モード
ポジティブピーク
注１ 不要発射の探索は、９kHzから搬送波周波数の１０倍以上までの周波数とする。ただし、搬送波周波数近傍として、搬送波周波数±１０MHzを除く。
注２ バースト波の場合、掃引時間短縮のため「（掃引周波数幅（MHz）÷分解能帯域幅（MHz））×バースト周期（ｓ）」で求まる時間以上であれば掃引時間として設定しても良い。
注３ バースト周期や送信時間が長いバースト波の場合は、スペクトルアナライザの外部トリガにて、送信に同期させた掃引を行い、掃引モードを連続掃引、表示モードをマックスホールドとして繰り返し掃引を行っても良い。
（３）搬送波周波数近傍を除く不要発射振幅測定時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
中心周波数
不要発射周波数（探索された周波数）
掃引周波数幅０Hz
分解能帯域幅（測定周波数）（分解能帯域幅）
９kHz超え １５０kHz以下：
１kHz
１５０kHz超え３０MHz以下 ：１０kHz
３０MHz超え １GHz以下：
１００kHz
１GHz超え：１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
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入力レベル
掃引時間

最大のダイナミックレンジとなる値
測定精度が保証される最小時間
ただし、バースト波の場合、１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
サンプル
（４）搬送波周波数近傍の不要発射探索時のスぺクトルアナライザの設定は次のようにする。
掃引周波数幅（注４）
分解能帯域幅３kHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
注４ 搬送波周波数±１０MHz ただし、搬送波周波数±２．５×（占有周波数帯幅の許容値）
を除く。
（５）搬送波周波数近傍の不要発射振幅測定時のスぺクトルアナライザの設定は次のようにする。
中心周波数
不要発射周波数（探索された周波数）
掃引周波数幅
１００kHz
分解能帯域幅３kHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
帯域外領域におけるスプリアス発射の強度（６）スプリアス探索時のスぺクトルアナライザの設定は次のようにする。
掃引周波数幅（注５）
分解能帯域幅
３０Hz以上１kHz以下
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
注５ 掃引周波数幅は、搬送波周波数±２．５×（占有周波数帯幅の許容値）
ただし、搬送波周波数±（占有周波数帯幅の許容値／２）を除く。
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態と
する。
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（２）受験機器の変調状態は次の通り設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で変調する。標準符号化試験信号で変調できない場合は、通常使用状態の変調符号に設定する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態の変調とする。なお、変調度は通常使用状態と同等とする。
（３）帯域外領域のスプリアス測定時には、無変調とする。
４ 測定操作手順
スプリアス領域における不要発射の強度（１）スペクトルアナライザの設定を２（２）として掃引し、不要発射を探索する。
探索した不要発射の振幅値が許容値を満足する場合は、２（３）の測定は行わず、求めた振幅値を測定値とする。
（２） 探索した不要発射振幅値が、許容値を超えた場合、スペクトルアナライザの周波数の精度を高める
ため、掃引周波数幅を１００MHz、１０MHz、１MHzと順次狭くして、その不要発射の周波数を正確に求める。スペクトルアナライザの設定を２（３）とし、不要発射の振幅の平均値（バースト波の場合は、それぞれのバースト内の平均値とする。）を求め、この値を測定値とする。
（３）スペクトルアナライザの設定を２（４）として掃引し、搬送波周波数近傍の不要発射を探索する。
（４）搬送波周波数近傍の範囲で探索した不要発射の強度（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値（注６））が許容値以下の場合、（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値）を測定値とする。
注６ （分解能帯域幅換算値）＝１０log（参照帯域幅／測定時の分解能帯域幅）
分解能帯域幅換算値 ： １５．２dB（５） 搬送波周波数近傍の範囲で探索した不要発射の（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値）が許容値を超える場合、許容値を超える周波数において、次の（６）から（９）の手順で詳細測定を行う。
（６） スペクトルアナライザを２（５）のように設定する。スペクトルアナライザの中心周波数は、（５）において許容値を超える各周波数とする。
（７）スペクトルアナライザを掃引して、全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
（８）全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
（９）全データの電力総和を求め、これをＰsとする。（注７）
注７ 電力総和の計算は以下の式による。ただし、参照帯域幅内のＲＭＳ値が直接求められるスペクトルアナライザの場合は、その値を用いても良い。
ｈPs = ( Ε Ei ) ×
i=1

SwRBW×k×n

Ps：各周波数での参照帯域幅内の電力総和の測定値（W）
Ei：１サンプルの測定値（W）
Sw：掃引周波数幅（MHz）
ｎ：参照帯域幅内のサンプル点数
ｋ：等価雑音帯域幅の補正値
RBW：分解能帯域幅（MHz）
帯域外領域におけるスプリアス発射の強度（１０）受験機器の状態を３（３）とし、帯域外領域の測定を行う。スペクトルアナライザの設定は２（６）とし、探索したスプリアスの振幅測定値を測定値とする。

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５ 結果の表示
結果は、スプリアス発射又は不要発射の強度を電力の最大の一波を周波数とともに、μW単位で表示する。
６ その他の条件（１） 搬送波抑圧フィルタを使用する場合、フィルタの減衰領域及び減衰領域近傍の不要発射測定においては、フィルタによる減衰量を補正する。
（２） ２ 測定器の条件等の（６）帯域外領域におけるスプリアス発射の強度測定時におけるスペクトル
アナライザの分解能帯域幅は、３０Hz以上１kHz以下としているが、通常１００Hz程度にて測定することとし、スプリアス発射の許容値を超えた場合、掃引周波数幅をその周波数近傍として分解能帯域
幅を１０Hzまで狭くして測定することができる。
（３） 帯域外領域におけるスプリアス発射の強度測定において無変調状態に設定できない受験機器の場合は測定を省略し、隣接チャネル漏洩電力の測定結果を用いて判定を行っても良い。

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七 スプリアス発射又は不要発射の強度（２．４GHz帯／５．７GHz帯）
１ 測定系統図

変調信号
発生器

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

スペクトル
アナライザ

搬送波
抑圧
フィルタ

コンピュータ２ 測定器の条件等（１）搬送波抑圧フィルタは、必要に応じて使用する。
（２）不要発射探索時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
掃引周波数幅（注１）
分解能帯域幅１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間（注２、注３）
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上掃引モード
単掃引（注３）
検波モード
ポジティブピーク
注１ 不要発射の探索は、以下の周波数とする。
２．４GHz帯：３０MHzから搬送波周波数の５倍以上までの周波数
ただし、２，４７３．５MHzから２，５１０．０MHzを除く。
５．７GHz帯：３０MHzから２６GHzまでの周波数
ただし、５，５９０．０MHzから５，８１５．０MHzを除く。
注２ バースト波の場合、掃引時間短縮のため「（掃引周波数幅（MHz）÷分解能帯域幅（MHz））×バースト周期（ｓ）」で求まる時間以上であれば掃引時間として設定しても良い。
注３ バースト周期や送信時間が長いバースト波の場合は、スペクトルアナライザの外部トリガにて、送信に同期させた掃引を行い、掃引モードを連続掃引、表示モードをマックスホールドとして繰り返し掃引を行っても良い。
（３）搬送波周波数近傍を除く不要発射振幅測定時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
中心周波数
不要発射周波数（探索された周波数）
掃引周波数幅 ０Hz
分解能帯域幅 １MHz
ビデオ帯域幅 分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
ただし、バースト波の場合、１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
サンプル

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（４）搬送波周波数近傍の不要発射探索時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
掃引周波数幅（注４）
分解能帯域幅
３０kHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
注４ 搬送波周波数近傍の不要発射探索時の掃引周波数幅は以下の周波数とする。
２．４GHz帯：２，４７３．５０MHzから２，４８３．２５MHz 及び
２，４９３．７５MHzから２，５１０．００MHz
５．７GHz帯：５，５９０．００MHzから５，６４０．００MHz 及び
５，７６５．００MHzから５，８１５．００MHz（５）搬送波周波数近傍の不要発射振幅測定時のスぺクトルアナライザの設定は次のようにする。
中心周波数
不要発射周波数（探索された周波数）
掃引周波数幅１MHz
分解能帯域幅
３０kHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態とする。
（２）受験機器の変調状態は次の通り設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で変調する。標準符号化試験信号で変調できない場合は、通常使用状態の変調符号に設定する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態の変調とする。なお、変調度は通常使用状態と同等とする。
４ 測定操作手順（１） スペクトルアナライザの設定を２（２）として掃引し、不要発射を探索する。探索した不要発射の振幅値が許容値を満足する場合は、２（３）の測定は行わず、求めた振幅値を測定値とする。
（２） 探索した不要発射振幅値が、許容値を超えた場合、スペクトルアナライザの周波数の精度を高める
ため、掃引周波数幅を１００MHz、１０MHz、１MHzと順次狭くして、その不要発射の周波数を正確に求める。スペクトルアナライザの設定を２（３）とし、不要発射の振幅の平均値（バースト波の場合は、それぞれのバースト内の平均値とする。）を求めて測定値とする。
（３）スペクトルアナライザの設定を２（４）として掃引し、搬送波周波数近傍の不要発射を探索する。
（４）搬送波周波数近傍の範囲で探索した不要発射の（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値（注５））が許容値以下の場合、（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値）を測定値とする。
注５ （分解能帯域幅換算値）＝１０log（参照帯域幅／測定時の分解能帯域幅）
分解能帯域幅換算値 ： １５．２dB
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（５）搬送波周波数近傍の範囲で探索した不要発射の（振幅測定値＋分解能帯域幅換算値）が許容値を超える場合、許容値を超える周波数において、次の（６）から（９）の手順で詳細測定を行う。
（６）スペクトルアナライザを２（５）のように設定する。スペクトルアナライザの中心周波数は、（５）において許容値を超える各周波数とする。
（７）スペクトルアナライザを掃引して、全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
（８）全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
（９）全データの電力総和を求め、これをＰsとする。（注６）
注６ 電力総和の計算は以下の式による。ただし、参照帯域幅内のＲＭＳ値が直接求められるスペクトルアナライザの場合は、その値を用いても良い。
ｈPs = ( Ε Ei ) ×
i=1

SwRBW×k×n

Ps：各周波数での参照帯域幅内の電力総和の測定値（W）
Ei：１サンプルの測定値（W）
Sw：掃引周波数幅（MHz）
ｎ：参照帯域幅内のサンプル点数
ｋ：等価雑音帯域幅の補正値
RBW：分解能帯域幅（MHz）
５ 結果の表示
結果は、不要発射電力を許容値の周波数区分毎に最大の１波をmW/MHz又はμW/MHz単位で周波数とともに表示する。
６ その他の条件
搬送波抑圧フィルタを使用する場合、フィルタの減衰領域及び減衰領域近傍の不要発射測定においては、フィルタによる減衰量を補正する。

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八 空中線電力の偏差１ 測定系統図
変調信号
発生器

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

電力計

２ 測定器の条件等（１） 電力計として、平均電力で規定されている電波型式の測定は平均電力計、尖頭電力で規定されている電波型式の測定は尖頭電力計を用いる。
（２） 平均電力計は、通常、熱電対もしくはサーミスタ等による熱電変換型又はこれらと同等の性能を有するものとする。
（３） 尖頭電力計は、電力の尖頭値を測定できるものであること。尖頭電力の測定においては、スペクトル
アナライザを使用しても良い。
（４）減衰器の減衰量は、電力計に最適動作入力レベルを与えるものとする。
（５）尖頭電力の測定において、スペクトルアナライザを使用する場合は設定を次のようにする。
中心周波数
占有周波数帯幅測定時の電力最大になる周波数
掃引周波数幅占有周波数帯幅の許容値の約２～３．５倍
分解能帯域幅１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅の３倍以上
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上掃引モード
連続（波形が変動しなくなるまで）
検波モード
ポジティブピーク表示モード
マックスホールド
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態とする。
（２）受験機器の変調状態は次の通り設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で変調する。標準符号化試験信号に設定できない場合は、通常運用状態の変調符号で変調する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態の変調とする。なお、変調度は通常使用状態と同等とする。
（３）尖頭電力を測定する場合において、変調信号によって尖頭電力が変動する場合は最大の値になる
変調条件とする。
４ 測定操作手順（１）電力計の零調を行う。
（２）送信をする。
（３）平均電力を測定する場合は平均電力計の値を測定値とする。ただし、バースト波の場合はバースト
時間率を一定にして送信し、繰り返しバースト波電力（ＰＢ）を十分長い時間にわたり電力計で測定する。
１バースト区間の平均電力を次式により算出する。
Ｐ＝ＰB × （Ｔ／Ｂ）
ここで Ｔ；バースト周期
Ｂ；バースト長
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（４）尖頭電力を測定する場合は、尖頭電力計の値を測定値とする。
５ 結果の表示
結果は、空中線電力の絶対値をW単位で、定格（工事設計書に記載される）空中線電力に対する偏差を（％）単位で（＋）又は（－）の符号を付けて表示する。
６ その他の条件
２（５）において分解能帯域幅を１MHzとしているが、占有周波数帯幅の許容値が広く疑義がある場合
は、分解能帯域幅を広くして測定する。

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九 隣接チャネル漏洩電力（１６９MHz帯／５．７GHz帯）
１ 測定系統図
変調信号
発生器

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

スペクトル
アナライザ

コンピュータ２ 測定器の条件等（１） 隣接チャネル漏洩電力測定時及び次隣接チャネル漏洩電力測定時のスペクトルアナライザの設定は次のようにする。
中心周波数
測定操作手順に示す周波数
掃引周波数幅（注１）
分解能帯域幅（注１）
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
入力レベル
最大のダイナミックレンジとなる値
掃引時間
測定精度が保証される最小の時間
ただし、バースト波の場合、１サンプル当たり１バーストの継続時間以上
データ点数
４００点以上
掃引モード
連続掃引
検波モード
サンプル
ただし、バースト波の場合、ポジティブピーク
振幅平均処理回数 スペクトラムの変動が無くなる程度の回数
注１（１６９MHz帯）
占有周波数帯幅１００kHz以下
掃引周波数幅：１００kHz 分解能帯域幅：１kHz
占有周波数帯幅１００kHzを超え２００kHz以下
掃引周波数幅：２００kHz 分解能帯域幅：３kHz
占有周波数帯幅２００kHzを超え３００kHz以下
掃引周波数幅：３００kHz 分解能帯域幅：３kHz（５．７GHz帯）
占有周波数帯幅４．５MHz以下
掃引周波数幅：４．５MHz 分解能帯域幅 ：１００kHz
占有周波数帯幅４．５MHzを超え９MHz以下
掃引周波数幅：９．０MHz 分解能帯域幅 ：１００kHz
占有周波数帯幅９MHzを超え１９．７MHz以下
掃引周波数幅：１９．０MHz 分解能帯域幅：３００kHz
３ 受験機器の状態（１） 試験周波数に設定し、連続送信状態又は継続的（一定周期、一定バースト長）バースト送信状態とする。
（２）受験機器の変調状態は次の通り設定する。
ア 受験機器の変調信号としてデジタル信号（データ）を用いる場合は、標準符号化試験信号で占有周波数帯幅が最大となる変調状態とする。標準符号化試験信号で変調できない場合は、
通常使用状態において占有周波数帯幅が最大となる変調符号に設定する。
イ 受験機器の変調信号としてアナログ信号（画像信号等）を用いる場合は、通常使用状態において占有周波数帯幅が最大となる変調とする。
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４ 測定操作手順
Ⅰ １６９MHz帯の隣接チャネル漏洩電力の測定（１）スペクトルアナライザを２（１）のように設定する。
（２）搬送波電力（ＰC）の測定
ア 搬送波周波数を中心周波数にして掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰC とする。
（２） 上側隣接チャネル漏洩電力（ＰU）の測定
ア 中心周波数を（搬送波周波数＋規定の離調周波数）（注２）の隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰUとする。
（４）下側隣接チャネル漏洩電力（ＰＬ）の測定
ア 中心周波数を（搬送波周波数－規定の離調周波数）（注２）の隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰＬとする。
（５）隣接チャネル漏洩電力は、下記式により計算する。
①上側隣接チャネル漏洩電力＝１０log（ＰU／ＰC）②下側隣接チャネル漏洩電力＝１０log（ＰＬ／ＰC）
注２ 規定の離調周波数（１６９MHz帯）
占有周波数帯幅１００kHz以下
離調周波数：搬送波周波数±１００kHz
占有周波数帯幅１００kHzを超え２００kHz以下
離調周波数：搬送波周波数±２００kHz
占有周波数帯幅２００kHzを超え３００kHz以下
離調周波数：搬送波周波数±３００kHz
Ⅱ ５．７GHz帯の隣接チャネル漏洩電力及び次隣接チャネル漏洩電力の測定（１）スペクトルアナライザを２（１）のように設定する。
（２）搬送波電力（ＰＣ）の測定
ア 搬送波周波数を中心周波数にして掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰＣとする。
（３）上側隣接チャネル漏洩電力及び次隣接チャネル漏洩電力（ＰＵ）の測定
ア 中心周波数を（搬送波周波数＋規定の離調周波数）（注３）の隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰＵとする。
オ 中心周波数を（搬送波周波数＋２×規定の離調周波数）（注３）の次隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
カ 掃引終了後、イからエの手順を繰り返す。
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（４）下側隣接チャネル漏洩電力及び次隣接チャネル漏洩電力（ＰＬ）の測定
ア 中心周波数を（搬送波周波数－規定の離調周波数）（注３）の隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
イ 全データ点の値をコンピュータの配列変数に取り込む。
ウ 全データについて、dB値を電力次元の真数に変換する。
エ 全データの電力総和を求め、これをＰＬとする。
オ 中心周波数を（搬送波周波数－２×規定の離調周波数）（注３）の次隣接チャネルの中心周波数に設定し、その周波数を中心周波数として掃引する。
カ 掃引終了後、イからエの手順を繰り返す。
（５）隣接チャネル漏洩電力及び次隣接チャネル漏洩電力は、下記式により計算する。
①上側隣接チャネル漏洩及び上側次隣接チャネル漏洩電力＝１０log（ＰＵ／ＰＣ）②下側隣接チャネル漏洩及び下側次隣接チャネル漏洩電力＝１０log（ＰＬ／ＰＣ）
注３ 規定の離調周波数（５．７GHz帯）
占有周波数帯幅４．５MHz以下
離調周波数：搬送波周波数±５MHz
占有周波数帯幅４．５MHz超え９MHz以下
離調周波数：搬送波周波数±１０MHz
占有周波数帯幅９MHz超え１９．７MHz以下
離調周波数：搬送波周波数±２０MHz
５ 結果の表示（１）結果は、隣接チャネル漏洩電力をdB単位で表示する。
（２）５．７GHz帯の場合は、併せて次隣接チャネル漏洩電力をdB単位で表示する。
６ その他の条件（１）４の搬送波周波数は、割当周波数とする。
（２）スペクトルアナライザのダイナミックレンジが不足する場合、搬送波と隣接チャネル漏洩電力及び次隣接チャネル漏洩電力の相対測定において基準レベルを変更して測定する方法も可能である。
ただしスペクトルアナライザに過大な信号が入力されないよう注意が必要である。

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十 副次的に発する電波等の限度
１ 測定系統図

受験機器

擬似負荷
（減衰器）

スペクトル
アナライザ

コンピュータ２ 測定器の条件等（１）測定対象が低レベルのため擬似負荷（減衰器）の減衰量はなるべく低い値とする。
（２）副次発射探索時のスペクトルアナライザは以下のように設定する。
掃引周波数幅（注１）
分解能帯域幅（測定周波数）（分解能帯域幅）
９kHz超え １５０kHz以下：
１kHz
１５０kHz超え３０MHz以下 ：１０kHz
３０MHz超え １GHz以下：
１００kHz
１GHz超え：１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
ポジティブピーク
注１ 副次発射の探索は以下の周波数とする。
１６９MHz帯：９kHzから搬送波周波数の１０倍以上までの周波数
２．４GHz帯：３０MHzから搬送波周波数の５倍以上までの周波数
５．７GHz帯：３０MHzから２６GHzまでの周波数（３）副次発射測定時のスペクトルアナライザは以下のように設定する。
中心周波数測定する副次発射周波数（探索された周波数）
掃引周波数幅０Hz
分解能帯域幅（測定周波数）（分解能帯域幅）
９kHz超え １５０kHz以下：
１kHz
１５０kHz超え３０MHz以下 ：１０kHz
３０MHz超え １GHz以下：
１００kHz
１GHz超え：１MHz
ビデオ帯域幅
分解能帯域幅と同程度
Ｙ軸スケール
１０dB/Div
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
データ点数
４００点以上
掃引モード
単掃引
検波モード
サンプル
３ 受験機器の状態
試験周波数を全時間にわたり連続受信できる状態に設定する。
４ 測定操作手順（１）スぺクトルアナライザの設定を２（２）とし、副次発射の振幅の最大値を探索する。
（２）探索した結果が許容値の１／１０以下の場合、探索値を測定値とする。
（３）探索した結果が許容値の１／１０を超えた場合スぺクトルアナライザの中心周波数の設定精度を高めるため周波数掃引幅を１００MHz、１０MHz及び１MHzのように分解能帯域幅の１０倍程度まで順次
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狭くして、副次発射の周波数を求める。次に、スぺクトルアナライザの設定を２（３）とし、平均化処理を行って平均電力を測定する。
５ 結果の表示（１）許容値の１／１０以下の場合は最大の１波を周波数とともにnW又はpW単位で表示する。
（２）許容値の１／１０を超える場合はすべての測定値を周波数とともにnW単位で表示し、かつ電力の合計値をnW単位で表示する。
６ その他の条件（１）スペクトルアナライザの感度が足りない場合は、低雑音増幅器等を使用する。
（２）受験機器の設定を連続受信状態にできないものについては、受験機器の間欠受信周期を最短に設定して、測定精度が保証されるようにスペクトルアナライザの掃引時間を、少なくとも１サンプル
当たり１周期以上とする。なお、２（２）において掃引モードを連続掃引、表示モードをマックスホールドとして波形が変動しなくなるまで測定する方法でも良い。
（３） 単向通信方式の無線設備等であって受信装置を有しない場合は、副次的に発する電波等の限度の測定は行わない。

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