【手続補正書】
【提出日】平成29年1月5日(2017.1.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
支持体、電荷発生層、および電荷輸送層を、この順に有する電子写真感光体において、
該電荷輸送層が、該電子写真感光体の表面層であり、
該電荷輸送層が、
式（２）で示される化合物および式（３）で示される化合物からなる群より選択される少なくとも１種の電荷輸送物質、および、
式（１Ａ）で示される構造単位を有するポリカーボネート樹脂および式（１Ｂ）で示される構造単位を有するポリエステル樹脂からなる群より選択される少なくとも１種の結着樹脂、
を含有し、
該電荷輸送層が式（４−２）〜（４−５）を満たすことを特徴とする電子写真感光体。
ＸP1＜ＸP2      式（４−２）
ＸP2＜ＸP3      式（４−３）
ＸP3＜ＸP4      式（４−４）
ＸP4＜ＸP5      式（４−５）
（式（４−２）〜（４−５）中、
ＸP1は、Ｐ１での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP2は、Ｐ２での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP3は、Ｐ３での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP4は、Ｐ４での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP5は、Ｐ５での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
Ｐ１は、該電荷輸送層の表面の位置であり、
Ｐ２は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面からＴ／５の距離にある位置であり、
Ｐ３は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から２Ｔ／５の距離にある位置であり、
Ｐ４は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から３Ｔ／５の距離にある位置であり、
Ｐ５は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から４Ｔ／５の距離にある位置である。）
【化１】
2014160239.tif 000001
（式（２）中、Ａｒ２１およびＡｒ２２は、それぞれ独立にフェニル基、またはメチル基で置換されたフェニル基を示す。
式（３）中、Ａｒ２３〜Ａｒ２８は、それぞれ独立にフェニル基、またはメチル基で置換されたフェニル基を示す。）
【化２】
2014160239.tif 000002
（式（１Ａ）中、Ｒ１〜Ｒ４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ１は、単結合、酸素原子、シクロヘキシリデン基、または式（Ａ）で示される２価の基を示す。
式（１Ｂ）中、Ｒ１１〜Ｒ１４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ２は、単結合、酸素原子、シクロヘキシリデン基、または式（Ａ）で示される２価の基を示す。また、Ｙ１はｍ−フェニレン基、ｐ−フェニレン基、シクロヘキシレン基、または式（Ｂ）で示される２価の基を示す。）
【化３】
2014160239.tif 000003
（式（Ａ）中、Ｒ２１およびＲ２２は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、エチル基またはフェニル基を示す。
式（Ｂ）中、Ｒ３１〜Ｒ３８は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ３は、単結合、酸素原子、硫黄原子またはメチレン基を示す。）
【請求項２】
前記電荷輸送層が、さらに、式（５）を満たす請求項１に記載の電子写真感光体。
０．０２０≦（ＸPm+1−ＸPm）／（ｍＴ／５−（ｍ−１）Ｔ／５）≦０．０６０  式（５）
（式（５）中、ｍは１から４の整数である。）
【請求項３】
前記電荷輸送物質が、前記式（３）で示される化合物である請求項１または２に記載の電子写真感光体。
【請求項４】
前記電荷輸送層の膜厚が、１０μｍ以上３５μｍ以下である請求項１から３のいずれか１項に記載の電子写真感光体。
【請求項５】
前記電荷輸送物質が式（ＣＴＭ−２）または（ＣＴＭ−３）で示される化合物である請求項１から４のいずれか１項に記載の電子写真感光体。
【化４】
2014160239.tif 000004
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の電子写真感光体と、帯電手段、現像手段、転写手段およびクリーニング手段からなる群より選択される少なくとも１つの手段とを一体に支持し、電子写真装置本体に着脱自在であることを特徴とするプロセスカートリッジ。
【請求項７】
請求項１から５のいずれか１項に記載の電子写真感光体、帯電手段、露光手段、現像手段および転写手段を有することを特徴とする電子写真装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明は、支持体、電荷発生層、および電荷輸送層を、この順に有する電子写真感光体において、
該電荷輸送層が、該電子写真感光体の表面層であり、
該電荷輸送層が、
式（２）で示される化合物および下記式（３）で示される化合物からなる群より選択される少なくとも１種の電荷輸送物質、および、
式（１Ａ）で示される構造単位を有するポリカーボネート樹脂および下記式（１Ｂ）で示される構造単位を有するポリエステル樹脂からなる群より選択される少なくとも１種の結着樹脂、
を含有し、
該電荷輸送層が下記式（４−２）〜（４−５）を満たすことを特徴とする電子写真感光体に関する。
ＸP1＜ＸP2      式（４−２）
ＸP2＜ＸP3      式（４−３）
ＸP3＜ＸP4      式（４−４）
ＸP4＜ＸP5      式（４−５）
（式（４−２）〜（４−５）中、
ＸP1は、Ｐ１での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP2は、Ｐ２での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP3は、Ｐ３での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP4は、Ｐ４での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
ＸP5は、Ｐ５での赤外分光法による測定に基づいて得られた該電荷輸送物質（Ｄ）と該結着樹脂（Ｂ）との質量比（Ｄ／Ｂ）を示す。
Ｐ１は、該電荷輸送層の表面の位置であり、
Ｐ２は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面からＴ／５の距離にある位置であり、
Ｐ３は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から２Ｔ／５の距離にある位置であり、
Ｐ４は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から３Ｔ／５の距離にある位置であり、
Ｐ５は、該電荷輸送層の膜厚をＴとしたとき、該電荷輸送層の表面から４Ｔ／５の距離にある位置である。）
【化１】
2014160239.tif 000005
（式（２）中、Ａｒ２１およびＡｒ２２は、それぞれ独立にフェニル基、またはメチル基で置換されたフェニル基を示す。
式（３）中、Ａｒ２３〜Ａｒ２８は、それぞれ独立にフェニル基、またはメチル基で置換されたフェニル基を示す。）
【化２】
2014160239.tif 000006
（式（１Ａ）中、Ｒ１〜Ｒ４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ１は、単結合、酸素原子、シクロヘキシリデン基、または式（Ａ）で示される２価の基を示す。
式（１Ｂ）中、Ｒ１１〜Ｒ１４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ２は、単結合、酸素原子、シクロヘキシリデン基、または式（Ａ）で示される２価の基を示す。また、Ｙ１はｍ−フェニレン基、ｐ−フェニレン基、シクロヘキシレン基、または下記式（Ｂ）で示される２価の基を示す。）
【化３】
2014160239.tif 000007
（式（Ａ）中、Ｒ２１およびＲ２２は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、エチル基またはフェニル基を示す。
式（Ｂ）中、Ｒ３１〜Ｒ３８は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。Ｘ３は、単結合、酸素原子、硫黄原子またはメチレン基を示す。）