【手続補正書】
【提出日】平成29年5月9日(2017.5.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（ａ）電子イオン化（ＥＩ）源内で第１の電子エネルギーにおいて電子ビームを生成するステップと、
（ｂ）対象被分析物を含むサンプルを前記ＥＩ源に導入するステップと、
（ｃ）前記サンプルに前記第１の電子エネルギーにおいて前記電子ビームを照射するステップであって、前記対象被分析物から第１の被分析物イオンを生成する、照射するステップと、
（ｄ）前記第１の被分析物イオンを質量分析器に送り込むステップであって、前記第１の電子エネルギーに相関する第１の質量スペクトルを生成する、送り込むステップと、
（ｅ）前記電子エネルギーを前記第１の電子エネルギーとは異なる第２の電子エネルギーに調整するステップと、
（ｆ）前記サンプルに前記第２の電子エネルギーにおいて前記電子ビームを照射するステップであって、前記対象被分析物から第２の被分析物イオンを生成する、照射するステップと、
（ｇ）前記第２の被分析物イオンを前記質量分析器に送り込むステップであって、前記第２の電子エネルギーに相関する第２の質量スペクトルを生成する、送り込むステップと、
を含む、質量スペクトルデータを収集する方法。
【請求項２】
前記サンプルに前記第２の電子エネルギーにおいて照射するステップの後に、
前記電子ビームを前記第１の電子エネルギーと前記第２の電子エネルギーとの間で１回又は複数回循環させるステップであって、循環させるたびに、前記サンプルに照射する前記ステップ、及びイオンを前記質量分析器に送り込む前記ステップを繰り返す、循環させるステップと、
前記電子エネルギーを調整する前記ステップ、前記サンプルに照射する前記ステップ及びイオンを前記質量分析器に送り込む前記ステップを１回又は複数回繰り返すことによって、１つ又は複数の更なる電子エネルギーに基づいて１つ又は複数の更なる質量スペクトルを生成するステップと、
前記電子エネルギーを調整する前記ステップ、前記サンプルに照射する前記ステップ及びイオンを前記質量分析器に送り込む前記ステップを１回又は複数回繰り返すことによって、１つ又は複数の更なる電子エネルギーに基づいて１つ又は複数の更なる質量スペクトルを生成し、メモリ内に相関データを記憶することによってスペクトルライブラリを構築するステップであって、前記相関データは各質量スペクトルを、前記質量スペクトルを生成するのに利用された前記電子エネルギーと相関させる、ステップと、
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記方法は、
前記第１の質量スペクトル及び前記第２の質量スペクトルから、前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのいずれがターゲット電子エネルギーであるかを判断し、前記ターゲット電子エネルギーは、ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量をもたらすか、他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比をもたらすか、又は前記ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量及び前記他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比の両方をもたらし、前記ターゲット被分析物イオンは前記対象被分析物の特性を示すことがわかっているイオンである、ステップと、
前記第１の質量スペクトル及び前記第２の質量スペクトルから、前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのいずれがターゲット電子エネルギーであるかを判断し、前記ターゲット電子エネルギーは、ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量をもたらすか、他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比をもたらすか、又は前記ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量及び前記他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比の両方をもたらし、前記ターゲット被分析物イオンは前記対象被分析物の特性を示すことがわかっているイオンであり、メモリに相関データを記憶し、前記相関データは前記ターゲット被分析物イオンを前記ターゲット電子エネルギーと相関させる、ステップと、
前記第１の質量スペクトル及び前記第２の質量スペクトルから、前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのいずれがターゲット電子エネルギーであるかを判断し、前記ターゲット電子エネルギーは、ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量をもたらすか、他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比をもたらすか、又は前記ターゲット被分析物イオンの最も高い存在量及び前記他のフラグメントイオンに対するターゲット被分析物イオンの最も高い比の両方をもたらし、前記ターゲット被分析物イオンは前記対象被分析物の特性を示すことがわかっているイオンであり、前記電子ビームを前記ターゲット電子エネルギーに調整し、更なるサンプルを前記ＥＩ源に導入し、前記更なるサンプルを前記ターゲット電子エネルギーにおいてイオン化する、ステップと、
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記対象被分析物は第１の対象被分析物であり、
前記サンプルを導入するステップは、クロマトグラフィカラムから、前記第１の対象被分析物を含む第１のピークを含む、複数のピークを溶離するステップを含み、前記第１のピーク後の各ピークは前記第１の対象被分析物とは異なるそれぞれの対象分析物を含み、前記ピークは前記ＥＩ源に順次に入り、
ピークごとに、請求項１に記載のステップ（ｃ）〜（ｇ）を実行し、
ピークごとに、前記第１の電子エネルギーに基づいて第１の質量スペクトルが生成され、前記第２の電子エネルギーに基づいて第２の質量スペクトルが生成される、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記方法は、前記第１の質量スペクトルによって与えられたスペクトルデータに基づいて前記第２の電子エネルギーを選択するステップを含み、前記サンプルを導入するステップは、クロマトグラフィカラムから前記対象被分析物を含むピークを溶離するステップを含み、前記第２の電子エネルギーを選択するステップは、前記ピークを溶離中に実行される、請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記サンプルは少なくとも第１の対象被分析物及び第２の対象被分析物を含むことがわかっているか、又は含むと思われており、該方法は、前記第１の対象被分析物の特性を示すことがわかっている第１のターゲット被分析物イオンを優先的に生成するように前記第１の電子エネルギーを選択するステップと、前記第２の対象被分析物の特性を示すことがわかっている第２のターゲット被分析物イオンを優先的に生成するように前記第２の電子エネルギーを選択するステップとを更に含む、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記サンプルの属性に基づいて前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのうちの少なくとも一方を選択するステップと、
前記サンプルの属性に基づいて前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのうちの少なくとも一方を選択するステップであって、該選択するステップは、相関データが記憶されたメモリにアクセスするようにコントローラを動作させるステップを含み、該相関データは、異なる属性を前記ＥＩ源内で利用されることになるそれぞれの電子エネルギーと相関させる、ステップと、
前記サンプルの属性に基づいて前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのうちの少なくとも一方を選択し、前記属性は、
前記サンプル内に含まれることがわかっているか、又は含まれると思われる対象被分析物のタイプと、
前記サンプル内に含まれることがわかっているか、又は含まれると思われる対象被分析物を含む化合物の種類と、
前記サンプルとともに前記ＥＩ源に流し込まれるマトリックスと、
上記の属性のうちの２つ以上と、
からなる群から選択される、ステップと、
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
電子イオン化（ＥＩ）源内で第１の電子エネルギーにおいて電子ビームを生成するステップと、
前記ＥＩ源に第１のサンプルを導入するステップと、
前記第１のサンプルに前記第１の電子エネルギーにおいて前記電子ビームを照射するステップであって、第１の被分析物イオンを生成する、照射するステップと、
前記第１の被分析物イオンを質量分析器に送り込むステップであって、第１の質量スペクトルを生成する、送り込むステップと、
前記電子エネルギーを前記第１の電子エネルギーとは異なる第２の電子エネルギーに調整するステップと、
前記ＥＩ源に第２のサンプルを導入するステップと、
前記第２のサンプルに前記第２の電子エネルギーにおいて前記電子ビームを照射するステップであって、第２の被分析物イオンを生成する、照射するステップと、
前記第２の被分析物イオンを質量分析器に送り込むステップであって、第２の質量スペクトルを生成する、送り込むステップと、
を含む、質量スペクトルデータを収集する方法。
【請求項９】
前記方法は、
メモリに相関データを記憶することによってスペクトルライブラリを構築し、前記相関データは、サンプルごとに、各質量スペクトルを、該質量スペクトルを生成するために利用された前記電子エネルギーと相関させる、ステップと、
前記第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのうちの少なくとも一方を選択し、分子イオンを生成する、ステップと、
第１の電子エネルギー及び前記第２の電子エネルギーのうちの前記少なくとも一方は９ｅＶ〜２５ｅＶの範囲内にあることと、
前記第１の質量スペクトルによって与えられるスペクトルデータに基づいて前記第２の電子エネルギーを選択するステップと、
前記サンプルを導入するステップは、クロマトグラフィカラムから前記対象被分析物を含むピークを溶離するステップを含み、前記第２の電子エネルギーを選択するステップは、前記ピークを溶離中に実行されることと、
前記ＥＩ源は軸方向ＥＩ源であり、前記サンプルに照射するステップは、前記電子ビームと同軸のイオンビームを生成することと、
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１〜８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
電子イオン化（ＥＩ）源を備え、請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成される質量分析（ＭＳ）システム。