【手続補正書】
【提出日】平成29年1月26日(2017.1.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１列の検出器セル列を有する計算機式断層写真法（ＣＴ）スキャナの幾何学的較正のための方法であって、前記少なくとも１列の検出器セル列の各々の列毎に、下記の各ステップすなわち
少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを含む前記ＣＴスキャナの完全な幾何学的記述を確定するステップと、
前記完全な幾何学的記述を用いて順投影関数の記述を確定するステップと、
現在の検出器セル列において、走査視野（ＳＦＯＶ）に配置された較正ファントムの、複数の角度に対応する実際の投影座標を取得するステップ（ここで、前記現在の検出器セル列はｎ×ｑ×ｒの構造を有し、ｎはモジュールの数を表わし、ｑは各モジュールにおけるパックの数を表わし、ｒは各パックにおける検出器セルの数を表わし、前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータは、隣り合ったモジュールの間の（ｎ−１）個の空隙のサイズと、ＩＳＯチャネル・オフセットとを含む）と、
前記順投影関数の前記記述を用いて、前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を取得するステップと、
非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを用いて、前記取得された実際の投影座標及び算出された投影座標に基づいて前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータについての較正後の値を取得するステップと
を実行することを備えた方法。
【請求項２】
前記順投影関数は次のように記述され、
ｘｐβ＝Ｐβ（ｘ，ｙ，Ｓ）
式中、ｘｐβは前記現在の検出器セル列において順投影角度βに対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を表わし、ｘ及びｙは前記較正ファントムの座標であり、Ｓは前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを含む集合であり、Ｐは前記順投影関数の記述である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記較正後の値を取得するステップは、前記非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを用いて前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより下記の目的関数を最小化するステップを含んでおり、
Ｆ＝Σｉ＝１ｍ（ｘ′ｐ（βｉ）−Ｐβｉ（ｘ，ｙ，Ｓ））２
式中、Ｆは前記目的関数を表わし、βｉは現在の走査角度を表わし、ｍは走査角度の個数を表わし、ｘ′ｐ（βｉ）は前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの実際の投影座標を表わし、Ｐβｉ（ｘ，ｙ，Ｓ）は前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を表わす、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの前記実際の投影座標は、前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの投影データのガウス中心である、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの前記実際の投影座標は、前記複数の角度についての前記較正ファントムのアキシャル・スキャンにより得られる、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムはPowell最適化アルゴリズムを含んでいる、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記較正ファントムは長さが１００ｍｍ及び径が２ｍｍのピンである、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータについての前記較正後の値は後の画像再構成に用いられる、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
少なくとも１列の検出器セル列を有する計算機式断層写真法（ＣＴ）スキャナの幾何学的較正のための装置であって、
少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを含む前記ＣＴスキャナの完全な幾何学的記述を確定する幾何学的記述確定手段と、
前記完全な幾何学的記述を用いて順投影関数の記述を確定する順投影関数確定手段と、
現在の検出器セル列において、走査視野（ＳＦＯＶ）に配置された較正ファントムの、複数の角度に対応する実際の投影座標を取得する実際投影座標取得手段であって、前記現在の検出器セル列はｎ×ｑ×ｒの構造を有し、式中、ｎはモジュールの数を表わし、ｑは各モジュールにおけるパックの数を表わし、ｒは各パックにおける検出器セルの数を表わし、前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータは、隣り合ったモジュールの間の（ｎ−１）個の空隙のサイズと、ＩＳＯチャネル・オフセットとを含む実際投影座標取得手段と、
前記順投影関数の前記記述を用いて、前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を取得する算出投影座標取得手段と、
非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを介して前記取得された実際の投影座標及び算出された投影座標に基づいて前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより、前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータについての較正後の値を取得する較正後値取得手段と
を備えた装置。
【請求項１０】
前記順投影関数は次のように記述され、
ｘｐβ＝Ｐβ（ｘ，ｙ，Ｓ）
式中、ｘｐβは前記現在の検出器セル列において順投影角度βに対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を表わし、ｘ及びｙは前記較正ファントムの座標であり、Ｓは前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを含む集合であり、Ｐは前記順投影関数の記述である、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
前記較正後値取得手段は、前記非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを介して前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより下記の目的関数を最小化する目的関数最小化手段を含んでおり、
Ｆ＝Σｉ＝１ｍ（ｘ′ｐ（βｉ）−Ｐβｉ（ｘ，ｙ，Ｓ））２
式中、Ｆは前記目的関数を表わし、βｉは現在の走査角度を表わし、ｍは走査角度の個数を表わし、ｘ′ｐ（βｉ）は前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの実際の投影座標を表わし、Ｐβｉ（ｘ，ｙ，Ｓ）は前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を表わす、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの前記実際の投影座標は、前記現在の検出器セル列において前記現在の走査角度に対応する前記較正ファントムの投影データのガウス中心である、請求項１１に記載の装置。
【請求項１３】
前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの前記実際の投影座標は、前記複数の角度についての前記較正ファントムのアキシャル・スキャンにより得られる、請求項９に記載の装置。
【請求項１４】
前記非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムはPowell最適化アルゴリズムを含んでいる、請求項９に記載の装置。
【請求項１５】
前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータについての前記較正後の値は、後の画像再構成に用いられる、請求項９に記載の装置。
【請求項１６】
少なくとも１列の検出器セル列を有するＣＴスキャナの幾何学的較正のための装置を有するＣＴ走査システムであって、
前記装置は、
少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを含む前記ＣＴスキャナの完全な幾何学的記述を確定する幾何学的記述確定手段と、
前記完全な幾何学的記述を用いて順投影関数の記述を確定する順投影関数確定手段と、
現在の検出器セル列において、走査視野（ＳＦＯＶ）に配置された較正ファントムの、複数の角度に対応する実際の投影座標を取得する実際投影座標取得手段であって、前記現在の検出器セル列はｎ×ｑ×ｒの構造を有し、式中、ｎはモジュールの数を表わし、ｑは各モジュールにおけるパックの数を表わし、ｒは各パックにおける検出器セルの数を表わし、前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータは、隣り合ったモジュールの間の（ｎ−１）個の空隙のサイズと、ＩＳＯチャネル・オフセットとを含む実際投影座標取得手段と、
前記順投影関数の前記記述を用いて、前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を取得する算出投影座標取得手段と、
非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを介して前記取得された実際の投影座標及び算出された投影座標に基づいて前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより、前記少なくとも１個の未知の幾何学的パラメータについての較正後の値を取得する較正後値取得手段と
を備えたＣＴ走査システム。