(57)【要約】  本発明は特に光学表面測定装置(1)用の収容デバイス(2)に関する。これは少なくとも1つの基準測定面(4)を有し、この基準測定面(4)は、それが収容デバイス(2)の周囲に対して覆われている少なくとも1つの被覆状態、および、少なくとも1つの基準測定面(4)が収容デバイス(2)の周囲に対して覆われていない少なくとも1つの解放状態にすることができる。表面測定装置(1)が収容デバイス(2)に収容され、基準測定面(4)が解放状態にある場合、表面測定装置(1)は基準測定面(4)の基準測定を実行でき、基準測定を使用して表面測定装置(1)の較正を実行できる。基準測定面(4)が被覆状態にある場合、基準測定面(4)は収容デバイス(2)の周囲に露出されないため、例えば埃、光、湿気または機械的な影響に対して保護される。基準測定面(4)の被覆状態または解放状態は、好ましくは基準測定面(4)それ自体の移動によって、または基準測定面(4)用のカバーの移動によって達成される。
2020525778.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
特に光学表面測定装置(1)用の、少なくとも1つの基準測定面(4)を有する収容デバイス(2)であって、前記少なくとも1つの基準測定面(4)は、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆われている少なくとも1つの被覆状態、および、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆われていない少なくとも1つの解放状態にすることができ、したがって、前記表面測定装置(1)が前記収容デバイス(2)に収容され、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が前記少なくとも1つの解放状態にある場合、前記表面測定装置(1)は前記少なくとも1つの基準測定面(4)の基準測定を実行できる収容デバイス(2)。
【請求項２】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)が、前記収容デバイス(2)に対して、特に前記収容デバイス(2)のハウジング(8)によって、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆われている少なくとも1つの被覆位置に移動可能であり、これによって、前記少なくとも1つの基準測定面(4)を被覆状態にすることができ、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が、前記収容デバイス(2)に対して、前記少なくとも1つの基準測定面(4)が前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆われていない、前記少なくとも1つの被覆位置とは異なる少なくとも1つの解放位置に移動可能であり、これによって、前記少なくとも1つの基準測定面(4)を解放状態にできることを特徴とする、請求項1に記載の収容デバイス(2)。
【請求項３】
さらに少なくとも1つのクロージャ(9)を有し、前記クロージャ(9)が前記収容デバイス(2)に対して、前記クロージャ(9)が前記収容デバイス(2)の前記ハウジング(8)の開口部(6)を閉鎖する少なくとも1つの閉鎖位置、および、前記クロージャ(9)がこの開口部(6)を閉鎖しない少なくとも1つの開放位置に移動可能であり、前記少なくとも1つのクロージャ(9)の閉鎖位置が、前記少なくとも1つの基準測定面の解放位置に対応することを特徴とする、請求項2に記載の収容デバイス(2)。
【請求項４】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)の移動と、前記少なくとも1つのクロージャ(9)の移動とが、それぞれ旋回運動であり、2つの旋回運動が、特にレバー機構(11〜14)によって互いに機械的に連結されていることを特徴とする、請求項3に記載の収容デバイス(2)。
【請求項５】
複数の、特に2、3、4、5、6またはそれ以上の基準測定面(4)を有することを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の収容デバイス(2)。
【請求項６】
前記基準測定面(4)の位置が互いに対して変更できないことを特徴とする、請求項5に記載の収容デバイス(2)。
【請求項７】
各基準測定面(4)の可能な位置の数が、前記基準測定面(4)の数に等しく、これらの可能な位置のうち、それぞれ正確に1つの位置が解放位置であり、他の位置が被覆位置であることを特徴とする、請求項6に記載の収容デバイス(2)。
【請求項８】
可能な位置間の前記基準測定面(4)の移動が、共通軸の周りの回転運動であり、特に全ての基準測定面(4)が共通のタレット機構に配置されていることを特徴とする、請求項6または7に記載の収容デバイス(2)。
【請求項９】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)を少なくとも1つの解放位置に少なくとも一時的に固定するための手段、特に磁気手段または係止手段を有することを特徴とする、請求項1から8のいずれか一項に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１０】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)が、前記収容デバイス(2)に対して移動できず、前記収容デバイス(2)がさらに少なくとも1つのカバーを有し、前記カバーは、前記カバーが前記少なくとも1つの基準測定面(4)を前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆う被覆位置に移動可能であり、これにより、前記少なくとも1つの基準測定面(4)を被覆状態にでき、前記カバーは、前記カバーが前記少なくとも1つの基準測定面(4)を前記収容デバイス(2)の周囲に対して覆わない解放位置に移動可能であり、これにより、前記少なくとも1つの基準測定面(4)を解放状態にできることを特徴とする、請求項1に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１１】
前記少なくとも1つの被覆位置から前記少なくとも1つの解放位置への前記少なくとも1つのカバーの移動が、前記表面測定装置(1)の前記収容デバイス(2)への導入によってトリガでき、および/または前記少なくとも1つの解放位置から前記少なくとも1つの被覆位置への前記少なくとも1つのカバーの移動が、前記表面測定装置(1)を前記収容デバイス(2)から取り外すことによってトリガできることを特徴とする、請求項10に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１２】
前記表面測定装置(1)によって作動させることができるレバー機構によって、前記カバーを前記少なくとも1つの解放位置と、前記少なくとも1つの被覆位置との間で移動できることを特徴とする、請求項11に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１３】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)が、基準測定を実行するために前記少なくとも1つの解放状態において位置合わせ可能であることを特徴とする、請求項1から12のいずれか一項に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１４】
基準測定を実行するための、前記少なくとも1つの基準測定面(4)の前記位置合わせが、前記表面測定装置(1)との接触によってトリガできることを特徴とする、請求項13に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１５】
前記少なくとも1つの基準測定面(4)が、弾性要素、特にエラストマ要素、または発泡体要素に支承されていることを特徴とする、請求項13または14に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１６】
前記表面測定装置(1)を前記収容デバイス(2)に少なくとも一時的に固定するための手段、特に磁気手段または係止手段を有することを特徴とする、請求項1から15のいずれか一項に記載の収容デバイス(2)。
【請求項１７】
a)請求項1から16のいずれか一項に記載の、収容デバイス(2)に前記表面測定装置(1)を導入するステップと、
b)少なくとも1つの基準測定面(4)を少なくとも1つの解放状態にするステップと、
c)前記表面測定装置(1)による前記少なくとも1つの基準測定面(4)の基準測定と、前記基準測定を使用した前記表面測定装置(1)の較正とを実行するステップと、
d)前記表面測定装置(1)を前記収容デバイス(2)から取り外すステップと、
e)前記少なくとも1つの基準測定面(4)を少なくとも1つの被覆状態にするステップと
を有する、前記表面測定装置(1)のための較正方法であって、
ステップb)が、ステップa)の前、間または後に、および/またはステップe)が、ステップd)の前、間または後に実行され、その他のステップが記載された順序で実行される較正方法。
【請求項１８】
ステップb)がステップa)によってトリガされ、および/またはステップe)がステップd)によってトリガされる、請求項17に記載の較正方法。
【請求項１９】
ステップb)がステップa)から独立して、および/またはステップe)がステップd)から独立して、前記表面測定装置(1)のユーザによってトリガされ、特に前記収容デバイス(2)および/または前記表面測定装置(1)上の少なくとも1つの操作要素によってトリガされる、請求項17に記載の較正方法。
【請求項２０】
-  前記表面測定装置(1)の温度、
-  周辺温度、
-  前回の較正以降に前記表面測定装置(1)によって実行された測定の回数、
-  前記表面測定装置(1)の前回の較正からの時間、
-  前記表面測定装置(1)、または前記表面測定装置(1)の個々のコンポーネント、特に前記表面測定装置(1)の光源の年数
のパラメータのうち少なくとも1つが指定され、指定の結果に依存して、ステップc)が、好ましくはステップb)が、および/またはステップe)が自動的にトリガされる、請求項17から19のいずれか一項に記載の較正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
ここで、優先権出願DE102017211067.8の全内容は、参照により全体として本出願に組み込まれる。
【０００２】
本発明は、表面測定装置の収容デバイスに関する。
【背景技術】
【０００３】
本発明は、以下に、光学表面特性を決定するための表面測定装置の例によって説明される。しかし、これは限定ではない。本発明は、例えば機械的、化学的、または物理的であるが光学的ではない表面特性を決定するための他の表面測定装置にも同様に適用できる。
【０００４】
決定される光学表面特性は、例えば、表面の光沢、色、「ヘイズ」(光沢の曇価)、像の鮮明度、「画像の明瞭さ(Distinctness of Image)」(輝度または画像の鮮明度)、または「オレンジピール(Orange Peel)」(リップルの尺度)である。この種の表面特性は、とりわけ、家具や自動車などの塗装などの光学表面の品質保証で測定および管理される。
【０００５】
光学表面測定装置は、光が表面測定装置のハウジングにおける開口部を通過して測定面に、すなわち測定する表面の部分領域に向けられ得る少なくとも1つの光源と、測定面から反射した光を受光する少なくとも1つの検出器とを有することが好ましい。光源は、好ましくは発光ダイオードである。好ましくはそれぞれが測定面に対して異なる角度で配置されている複数の光源および/または複数の検出器を設けてもよい。測定のために、表面測定装置は、好ましくは測定面に載置される。
【０００６】
次に、光源から放出された光を含む、検出器によって受光された光を評価することにより、それぞれの光学特性を決定できる。表面測定装置は、測定を実施および評価するために、対応する制御電子回路および評価電子回路を有する。
【０００７】
考察している種類の表面測定装置は、高い測定精度を確保するために、運転中および特定の時間間隔で較正する必要がある。較正は、例えば正確に定義された色などの、正確に定義された表面特性を有する試験標準である、いわゆる基準測定面を測定することにより適切に行われる。関連する国際規格に対応する検定された試験標準は、連邦材料試験研究所(BAM)または連邦物理工学研究所(PTB)などによって、いわゆるマスタ標準、またはマスタ標準に基づいて較正されたいわゆる仲介標準として提供される。仲介標準を介し、場合によっては複数回派生させることによって、表面測定装置のユーザには最終的に、このようにして対応する国際標準にまで戻ることができるいわゆる作業標準が提供される。この作業標準は、作業標準に属する基準測定面の基準測定を実行することにより、表面測定装置の耐用年数中に使用して、それを較正することができる。
【０００８】
考察している種類の表面測定装置は、「ドッキングステーション」とも呼ばれる付随する収容デバイスと共に出荷されることが多い。表面測定装置は、収容デバイスに導入または配置することができ、好ましくは電気接点を介して、または無線によっても、収容デバイスへの接続を確立する。一方で、収容デバイスは、送電網、および/またはコンピュータ、またはデータネットワークに接続されることが好ましい。
【０００９】
収容デバイスは、特定の機能を提供し、特に表面測定装置の電池の充電、好ましくは電気接点または誘導によるもの、表面測定装置の動作状態の検出、および/または表面測定装置および収容デバイス間のデータ送信、好ましくは表面測定装置から収容デバイスへの測定データの送信、および/または表面測定装置および収容デバイス間の制御コマンドの送信を提供する。データ送信は、同様に電気接点を介して、特にUSB接続を介して、さらに好ましくはWLANを介して無線で実行されることが好ましい。
【００１０】
さらに、基準測定面を有する試験標準を、そのような収容デバイスに組み込むことが知られている。表面測定装置が収容デバイスに導入されるとすぐに、基準測定面が表面測定装置の測定開口部の前にくる位置を自動的に取り、したがって、この位置で基準測定面の基準測定を実行できる。その後、基準測定を使用して、表面測定装置の較正を実行できる。
【００１１】
この際、特に表面測定装置が現在使用されており、したがって収容デバイスに収容されていない場合、収容デバイスの取扱い時、または輸送時に、試験標準の基準測定面が収容デバイスの周囲に、例えば埃、光、湿気または機械的な影響に露出されるという問題が生じる。これは、例えば埃の層、色あせ、曇り、または掻き傷によって、基準測定面に望ましくない変化をもたらす可能性があり、これにより、試験標準を有する基準測定の質が低減する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
したがって、本発明の課題は、表面測定装置、特に光学表面測定装置用の、基準測定面を有する収容デバイスをさらに改善すること、および基準測定面を使用してそのような表面測定装置の較正方法をさらに改善することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
この課題は、請求項1に記載の収容デバイス、および請求項17に記載の較正方法によって解決される。本発明の有利な改善形態は、従属請求項に含まれている。
【００１４】
上述のように、本発明は、好ましくは試験標準の一部である少なくとも1つの基準測定面を有する、特に光学式の表面測定装置用の収容デバイスを前提とする。本発明によれば、基準測定面は、基準測定面が収容デバイスの周囲に対して覆われている少なくとも1つの被覆状態、および基準測定面が収容デバイスの周囲に対して覆われていない少なくとも1つの解放状態にできる。
【００１５】
ひいては、基準測定面は、被覆状態では収容デバイスの周囲に露出されないため、より良好に保護される。反対に、表面測定装置が収容デバイスに収容され、少なくとも1つの基準測定面が少なくとも1つの解放状態にある場合、表面測定装置は少なくとも1つの基準測定面の基準測定を実行できる。
【００１６】
本発明の特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの基準測定面は、収容デバイスに対して、特に収容デバイスのハウジングによって、基準測定面が収容デバイスの周囲に対して覆われている少なくとも1つの被覆位置に移動可能である。これによって、少なくとも1つの基準測定面を被覆状態にできる。また、少なくとも1つの基準測定面は、収容デバイスに対して、基準測定面が収容デバイスの周囲に対して覆われていない、少なくとも1つの被覆位置とは異なる少なくとも1つの解放位置に移動可能である。これによって、少なくとも1つの基準測定面を解放状態にできる。
【００１７】
この実施形態では、被覆状態および解放状態は、基準測定面自体の移動によって作用される。ここで、基準測定面は、好ましくは、収容デバイスのハウジング内で被覆状態にあり、ハウジングによって覆われている。解放状態では、基準測定面は好ましくは収容デバイスのハウジングで覆われておらず、好ましくはハウジングから突出しているか、または少なくともハウジングの開口部または切欠き部に位置しており、これを通じて外部からアクセス可能であり、特に見ることができる。表面測定装置が収容デバイスに収容されている場合、表面測定装置は、その測定開口部が基準測定面の上に位置するように置かれることが好ましく、これにより基準測定が可能になる。
【００１８】
また、この実施形態のさらに好ましい変形形態では、収容デバイスは少なくとも1つのクロージャを有し、クロージャは収容デバイスに対して、クロージャが収容デバイスのハウジングの開口部を閉鎖する少なくとも1つの閉鎖位置、および、クロージャがこの開口部を閉鎖しない少なくとも1つの開放位置に移動可能であり、少なくとも1つのクロージャの閉鎖位置は、少なくとも1つの基準測定面の解放位置に対応する。このようにして、収容デバイスのハウジングの開口部を、基準測定面の被覆位置においてクロージャで閉じることができるため、基準測定面は、被覆位置において、光、埃などの環境の影響から完全に保護されている。
【００１９】
ここで、少なくとも1つの基準測定面の移動と少なくとも1つのクロージャの移動とは、それぞれ旋回運動であることが好ましく、2つの旋回運動は、好ましくは、特にレバー機構によって互いに機械的に連結されていることが好ましい。
【００２０】
特に、この際2つの旋回運動の「位相シフト」連結により、基準測定面が被覆位置にある時にクロージャが閉鎖位置にあり、基準測定面が解放位置にある時にクロージャが閉鎖位置にないということが構造的に容易な方法で達成され得る。これにより、基準測定面の解放位置に対応するクロージャの閉鎖位置における、クロージャと基準測定面との衝突が回避される。
【００２１】
連結された2つの旋回運動のための共通の駆動装置として、好ましくは電気モータが、より好ましくはステッピングモータが使用される。
【００２２】
この実施形態のさらに好ましい変形形態では、収容デバイスは、複数の、特に2、3、4、5、6またはそれ以上の基準測定面を有する。そして、各基準測定面が解放位置に移動できるため、異なる基準測定面による基準測定が可能になり、ひいては異なる試験標準が可能になる。これにより、必要とされる複数の試験標準が既に全て収容デバイスにあるため、ユーザの労力を増やすことなく、表面測定装置の較正の精度をさらに高めることができる。
【００２３】
この実施形態の好ましい変形形態では、基準測定面の位置は互いに対して変更できない。基準測定面は、特に共通の固定構成要素上に配置でき、共に移動できる。
【００２４】
各基準測定面の可能な位置の数は、好ましくは基準測定面の数に等しく、これらの可能な位置のうち、それぞれ正確に1つの位置が解放位置であり、他の位置が被覆位置である。したがって、基準測定面は、共に移動する際にそれらの位置を交換し、単一の基準測定面は常に解放位置にあり、他の基準測定面はそれぞれ被覆位置にある。
【００２５】
これは、好ましい方法では、可能な位置間の基準測定面の移動が共通軸の周りの回転運動であることによって実現できる。具体的な実施形態としては、特に全ての基準測定面を共通のタレット機構に配置でき、すなわち、個々の基準測定面は、それぞれが基準測定面の角距離だけさらに回転できるホイール、ドラム、またはディスク形状の要素の周囲に沿って配置されている。この要素は、好ましくは、収容デバイスのハウジングの内部に配置され、これにより被覆位置が生じる。タレット機構の周囲に沿った箇所には、好ましくは、収容デバイスのハウジングにおける開口部があり、これにより解放位置が生じる。
【００２６】
このような構造は特に省スペースであり、特に手持ち式表面測定装置、および対応する収容デバイスの寸法が比較的小さい場合に有利である。
【００２７】
本発明のさらに好ましい実施形態では、収容デバイスは、少なくとも1つの基準測定面を少なくとも1つの解放位置に少なくとも一時的に固定するための手段、特に磁気手段または係止手段を有する。これにより、解放位置での基準測定中に、基準測定面を可能な限り正確に位置づけることができる。
【００２８】
本発明のさらに特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの基準測定面は、基準測定面を被覆位置および解放位置に移動させることができる上述の実施形態とは反対に、収容デバイスに対して移動できない。代わりに、収容デバイスは少なくとも1つのカバーを有し、カバーは、カバーが少なくとも1つの基準測定面を収容デバイスの周囲に対して覆う被覆位置に移動可能である。これにより、少なくとも1つの基準測定面を被覆状態にできる。また、カバーは、カバーが少なくとも1つの基準測定面を収容デバイスの周囲に対して覆わない解放位置に移動可能である。これにより、少なくとも1つの基準測定面を解放状態にできる。したがって、この実施形態では、被覆状態または解放状態にされるために基準測定面それ自体が移動するのではなく、カバーの移動によって行われる。
【００２９】
本発明のこの実施形態は、収容デバイスに1つのみの基準測定面が設けられている場合に特に有用である。この場合、基準測定面自体を移動せず、基準測定面のカバーのみを移動する方が省スペースであり、構造的に単純であり、ひいては安価である。
【００３０】
特に、本発明のこの実施形態では、少なくとも1つの被覆位置から少なくとも1つの解放位置への少なくとも1つのカバーの移動は、表面測定装置の収容デバイスへの導入によってトリガでき、および/または少なくとも1つの解放位置から少なくとも1つの被覆位置へ少なくとも1つのカバーの移動は、表面測定装置を収容デバイスから取り外すことによってトリガできる。
【００３１】
このようにして、表面測定装置が収容デバイスに収容されている場合にのみ、基準測定面は(露出)解放状態にあり、ひいては基準測定を実行できるとされている。これに対し、表面測定装置が収容デバイスに収容されていない場合、基準測定のために基準測定面は必要とされず、したがってこの実施形態では被覆状態にある。さらに、この実施形態では、基準測定面の被覆状態と解放状態との間の移行は容易な方法で自動化されるため、ユーザは基準測定面の状態を心配する必要がない。
【００３２】
本発明のこの実施形態では、表面測定装置によって作動させることができるレバー機構によって、カバーを少なくとも1つの解放位置と少なくとも1つの被覆位置との間で移動できることが好ましい。
【００３３】
当然ながら、少なくとも1つの基準測定面を少なくとも1つの被覆位置および少なくとも1つの解放位置に移動できる最初に説明した実施形態でも、少なくとも1つの被覆位置から少なくとも1つの解放位置へのこの移動は、表面測定装置を収容デバイスに導入することによってトリガでき、および/または、少なくとも1つの解放位置から少なくとも1つの被覆位置へのこの移動は、表面測定装置を収容デバイスから取り外すことによりトリガできる。
【００３４】
可動カバーを使用する最後に説明した実施形態では、カバーは、好ましくは、基準測定面と収容デバイスのハウジングにおける開口部との間の被覆位置にある。表面測定装置が収容デバイスに導入される場合、表面測定装置の測定開口部は、好ましくはハウジングの外側に接触する。カバーが解放位置に移動すると、基準測定面と測定開口部との間に、ハウジング壁の厚さとカバーの厚さとの合計に対応する距離がある。
【００３５】
基準測定の際に、測定開口部を備えた表面測定装置が基準測定面に直接載置されていると想定される場合、この距離は基準測定にとって問題となり得る。
【００３６】
したがって、上述した実施形態の好ましい変化例では、表面測定装置が収容デバイスに導入された場合に、基準測定面と表面測定装置の測定開口部との間の距離を減らすために、少なくとも1つの基準測定面を収容デバイスに対してわずかに移動可能であることが企図されている。好ましくは、この距離はこれによりゼロにまで減らされ、すなわち、基準測定面は測定開口部に直接当接している。
【００３７】
この距離の減少は、好ましくは、基準測定面用の持ち上げ装置により達成される。上述のように、カバーがレバー機構によって少なくとも1つの解放位置と少なくとも1つの被覆位置との間で移動可能である場合、この持ち上げ装置はレバー機構に連結されることが好ましい。連結は、カバーが既に略解放位置にある場合、カバーの移動の終了時に、持ち上げ装置が作動し、基準測定面が表面測定装置の測定開口部の方向にハウジング開口部を通って移動するように展開することが好ましい。
【００３８】
持ち上げ装置は、単に機械的に、好ましくはさらなるレバー機構によって、またはアクチュエータによって、特に電気アクチュエータによって、好ましくは電気モータまたは圧電アクチュエータによっても実現できる。
【００３９】
本発明のさらに好ましい実施形態では、少なくとも1つの基準測定面は、基準測定を実行するために少なくとも1つの解放状態において位置合わせ可能である。これにより、基準測定面を表面測定装置に対して正確に位置合わせし、特に、特に良好な平行度により、基準測定の精度をさらに高めることができる。
【００４０】
基準測定を実行するための少なくとも1つの基準測定面のこのような位置合わせは、好ましくは、表面測定装置との接触によってトリガできる。特に、面を表面測定装置の測定開口部の周囲で基準測定面と接触させることができ、これにより、基準測定面は測定開口部に対して自動的に位置合わせされる。
【００４１】
この目的のために、少なくとも1つの基準測定面は、弾性要素、特にエラストマ要素、または発泡体要素に支承されていることが好ましい。そして、弾性要素は表面測定装置との接触時に屈折し、そうして表面測定装置に対する基準測定面の位置合わせを可能にする。
【００４２】
本発明のさらに好ましい実施形態では、収容デバイスは、表面測定装置を収容デバイスに少なくとも一時的に固定するための手段、特に磁気手段または係止手段を有する。基準測定面を固定する上記の手段と同様に、これによって、基準測定中の表面測定装置の可能な限り正確な位置決め、ひいては基準測定面の可能な限り再現可能な配置構成を確保できる。
【００４３】
表面測定装置のための本発明にかかる較正方法は、以下のステップを有する。
a)先行する請求項の一項に記載の、収容デバイスに表面測定装置を導入するステップ。
b)少なくとも1つの基準測定面を少なくとも1つの解放状態にするステップ。
c)表面測定装置による少なくとも1つの基準測定面の基準測定と、基準測定を使用した表面測定装置の較正とを実行するステップ。
d)表面測定装置を収容デバイスから取り外すステップ。
e)少なくとも1つの基準測定面を少なくとも1つの被覆状態にするステップ。
【００４４】
ここで、ステップb)は、ステップa)の前、間または後に、および/またはステップe)は、ステップd)の前、間または後に実行でき、その他のステップは記載された順序で実行される。
【００４５】
しかし、この方法の好ましい実施形態では、ステップb)はステップa)によってトリガされ、および/またはステップe)はステップd)によってトリガされ、すなわち基準測定面は、表面測定装置を収容デバイスに導入することにより解放状態にされ、または基準測定面は、表面測定装置を収容デバイスから取り外すことにより被覆状態にされる。これにより、装置について既に上で説明した利点が生じる。
【００４６】
本方法のさらに好ましい実施形態では、ステップb)はステップa)から独立して、および/またはステップe)はステップd)から独立して、表面測定装置のユーザによってトリガされてもよく、すなわち基準測定面の状態変化は、収容デバイスへの表面測定装置の導入、または収容デバイスからの表面測定装置の取り外しから独立して、ユーザによって手動でもたらされる。
【００４７】
これは特に、収容デバイスおよび/または表面測定装置上の少なくとも1つの操作要素によって、好ましくは基準測定面を被覆状態から解放状態に、またはその逆にするためにユーザが操作するボタンまたはスイッチによって行うことができる。これは、構造的に特に容易な解決方法であり、ユーザが基準測定面の状態を最大限に制御できる。
【００４８】
特に、これにより、ユーザは、表面測定装置を収容デバイスから取り外す前に(ステップd)、基準測定面を被覆状態にできる(ステップe)。したがって、基準測定面が解放状態であっても収容デバイスに入れられた表面測定装置によって充分に保護されていると仮定すると、基準測定面が表面測定装置の周囲に対して、いかなる時点でも露出しないことが保証される。
【００４９】
操作要素は、表面測定装置に取り付けることができ、または、表面測定装置に既に存在する操作要素をこの目的に使用できる。しかしながら、操作要素は収容デバイスに取り付けられることが好ましく、これにより、表面測定装置から収容デバイスへの基準測定面の状態変化のためのトリガ信号の送信は必要とされない。
【００５０】
これまで説明した較正方法では、表面測定装置が収容デバイスに入れられるたびに、基準測定と表面測定装置の較正(ステップc)が実行される。
【００５１】
一方、本発明にかかる較正方法のさらに好ましい実施形態では、基準測定および較正は必ずしも毎回実行される必要はなく、特定のパラメータに依存してのみ実行され、これらのパラメータに基づいて、所定の時点で較正が必要かどうかを決定できる。
【００５２】
上記のパラメータは、限定されるものではないが、次のパラメータのいずれかであってよい。
-  表面測定装置の温度、
-  周辺温度、
-  前回の較正以降に表面測定装置によって実行された測定の回数、
-  表面測定装置の前回の較正からの時間、
-  表面測定装置または表面測定装置の個々のコンポーネント、特に表面測定装置の光源の年数。
【００５３】
既述の全てのパラメータは、表面測定装置の測定精度が前回の較正以降に低下しているため、新たな較正が必要である確率の尺度として理解できる。
【００５４】
パラメータ「表面測定装置の温度」は、表面測定装置の光源が発光ダイオードである場合に特に重要であり、これは、発光ダイオードが温度依存のスペクトルシフトを受けるためである。
【００５５】
パラメータの評価および較正が必要かどうかの決定は、収容デバイスまたは表面測定装置内の制御ユニットで行われることが好ましい。
【００５６】
さらに、表面測定装置を使用して、(例えばPTBから派生する)追跡可能な標準を測定することにより、基準測定面の較正データをこの追跡可能な標準と比較できる。
【００５７】
これは、基準測定面を使用した表面測定装置の較正の高精度を確保するために、例えば年1回など、より大きな間隔で行うことができる。
【００５８】
このようにして、基準測定面のデータを正規まで追跡することができる。基準測定面のデータ、測色計の場合特にスペクトルデータは、表面測定装置または収容デバイス内に保存され、表面測定装置の以後の較正に使用できる。
【００５９】
本発明のさらなる有利な実施形態は、以下の説明に関連して添付図面に含まれている。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】表面測定装置が導入された本発明にかかる収容デバイスの側面図を示す。
【図２】収容デバイスの斜め上方からの斜視図を示す。
【図３】ハウジングが切り開かれた状態の、収容デバイスの正面からの図を示す。
【図４】ハウジングが切り開かれた状態の、収容デバイスの側面からの図を示す。
【発明を実施するための形態】
【００６１】
図1は、表面測定装置1、例えば測色計が導入される、本発明にかかる収容デバイス2(「ドッキングステーション」(Docking Station))を示す。表面測定装置1は、その下面に測定開口部(図示せず)を有し、その上面に測定データを表示するためのディスプレイ(部分的に図示)を有する。
【００６２】
図2からわかるように、収容デバイス2は、その上面に大きな、略階段状の窪み7を有し、窪みは表面測定装置1(図1参照)の同様に略階段状の下面に対して略相補的である。窪み7の上部には電気接点3が配置されており、電気接点を介して表面測定装置1の電池を充電することができる。接点3は、好ましくはピンとして、特にスプリングピンとして構成されており、対応するソケットまたは接触面が表面測定装置1に配置されている(またはその逆である)。接点3は、データ送信、特に測定データおよび/または制御コマンドの送信にも使用されることが好ましい。さらに、データ送信は、無線で、特にWLAN、Bluetooth(登録商標)または別の適切なプロトコルを介して行われることが好ましい。
【００６３】
あるいは、表面測定装置1の電池は誘導的に充電することもでき、その場合、一次コイルが収容デバイス2に配置され、二次コイルが表面測定装置1に配置されている。
【００６４】
収容デバイス2の前面には、収容デバイス2および/または表面測定装置1の状態を示すことができる3つのインジケータランプ5が配置されている。
【００６５】
収容デバイス2を制御するために、操作ボタン(図示せず)もその背面に配置されている。
【００６６】
下部領域において、窪み7は、収容デバイス2のハウジング8にハウジング開口部6を有する。ハウジング開口部6は、表面測定装置1が導入されると、その測定開口部が略ハウジング開口部6の中央に位置するように配置されている。ハウジング開口部6内へは、ハウジング8の内部から試験標準の基準測定面4またはクロージャ9を交互に旋回させることができる。基準測定面4とクロージャ9の両方は、それらがハウジング開口部6内へ旋回された時に、ハウジング開口部6をそれぞれ略完全に満たすような寸法にされている。
【００６７】
基準測定面4ではなくクロージャ9がハウジング開口部6内へ旋回される場合、基準測定面4は、クロージャ9によって閉じられるハウジング8の内部にある。したがって、基準測定面4は、収容デバイス2の周囲に対して覆われ、ひいては基準測定面4の品質を損ない得る環境の影響、特に光、埃、湿気、掻き傷またはユーザの指紋から保護される。
【００６８】
反対に、クロージャ9ではなく基準測定面4がハウジング開口部6内へ旋回される場合、基準測定面4は、収容デバイス2に導入された表面測定装置1の測定開口部のちょうど前に位置し、測定開口部に接触するため、表面測定装置1は基準測定を行うことができる。
【００６９】
ハウジング開口部6から外へのクロージャ9の旋回、および基準測定面4の内への旋回は、接点3または個々の接点と表面測定装置1との間の電気的接触の確立を検出することにより、表面測定装置1を窪み7に導入することによりトリガされることが好ましい。対応して、ハウジング開口部6から外への基準測定面4の旋回、およびクロージャ9の内への旋回は、接点3または個々の接点と表面測定装置1との間の電気的接触の遮断を検出することにより、窪み7からの表面測定装置1の取り外しによってトリガされることが好ましい。
【００７０】
ここで、最も単純な場合、既述のトリガは、対応する電気アクチュエータが存在する回路を開閉することによって行われ、これにより、内への旋回運動、または外への旋回運動が開始または停止される。しかしながら、特に好ましくは、検出された電気接点は、収容デバイス2に組み込まれたデジタルのマイクロプロセッサ制御の制御電子回路23の信号として使用される。これにより、内への旋回運動、または外への旋回運動のために、アクチュエータに対応する制御コマンドが生成される。
【００７１】
好ましくは、他のデータ、特にエラー報告またはステータス報告も、接点3を介して一方向または双方向に送信される。特に、収容デバイス2から表面測定装置1に信号を送信することができ、これは、基準測定面4がハウジング開口部6内へ旋回され、ひいては基準測定を行えることを示す。
【００７２】
クロージャ9または基準測定面4の内および外への旋回は、同様に、好ましくは操作ボタンを押すことによりトリガできる。
【００７３】
図3および図4において、旋回機構は、収容デバイス2の内部に示されている。基準測定面4とクロージャ9の両方は、それぞれ、旋回可能なレバー11、12の端部に配置されている。レバー11、12は、それぞれの水平位置において、基準測定面4またはクロージャ9がハウジング開口部6に配置され、基準測定面4またはクロージャ9の表面がハウジング開口部6の表面と略1つの面に位置するように配置されている。
【００７４】
レバー11、12は、ハウジングに不動に固定された保持部14の左右の外側領域において、ピン19、20によって回転可能に支承され、この時、回転点は同じ高さにある。さらに、レバー11、12は、ピン21、22によってプッシュロッド13に接続されており、プッシュロッド13に対して回転可能に支承されている。ピン21、22はそれぞれ、レバー11、12本体の横方向の突出部上にあり、突出部は、直角に、けれども異なる方向に、それぞれのレバー11、12の長手方向の延長部から離れるように延びている。
【００７５】
保持部14内の基準測定面4でレバー11を支承するピン19は、保持部14の、レバー11とは反対側でモータ10のシャフトに接続されている。モータ10は、好ましくはステッピングモータである。
【００７６】
レバー11、12は、モータ10の回転が、レバー11、12の共通の、しかしながら約60°位相シフトされた同じ方向への旋回運動をもたらすように、プッシュロッド13によって連結されている。
【００７７】
この時、レバー11の旋回運動は、ピン21でレバー11の横方向突出部に取り付けられた当接面16の当接によって、および付随する当接面15の当接によって、保持部14において制限される。レバー11の当接位置では、レバー12は、レバー11、12の旋回運動の位相シフトにより水平位置を取り、これにより、クロージャ9は、ハウジング開口部6内へ旋回され、それを閉じる。
【００７８】
対応して、レバー12の旋回運動は、ピン22でレバー12の横方向突出部に取り付けられた当接面18の当接によって、および付随する当接面17の当接によって、保持部14において制限される。レバー12の当接位置では、レバー11は水平位置を取り、これにより、基準測定面4はハウジング開口部6内へ旋回される。レバー11、12のこの位置は、図3に示されている。
【００７９】
レバー11、12の旋回運動における位相シフトによって、同じ平面内で行われる旋回運動時に、それらが互いに衝突することが回避される。
【００８０】
このようにして、基準測定面4またはクロージャ9の内外への旋回は、モータ10の回転運動により駆動されて、単純な機械的連結により制御される。
【００８１】
当接面15、16および17、18の対は、特に、永久磁石の対、または永久磁石と軟鉄板の対の側面として構成されているため、レバー11、12は、それぞれの当接位置において、さらに磁力によってこの位置に保持される。これにより、旋回機構全体が、ハウジング開口部6内の基準測定面4の位置を変化させ、基準測定の質を低下させ得る意図しない移動から防止される。
【００８２】
レバー11の端部と基準測定面4との間に発泡層を取り付けることが好ましく、これにより、基準測定面4はレバー11に対して弾性的に支承される。このようにして、基準測定面4がハウジング開口部6内に配置されている場合、表面測定装置1が収容デバイス2に導入されると、表面測定装置1のハウジングの逆圧によって、基準測定面4を表面測定装置1のハウジング8に対して可能な限り正確に平行に位置合わせできる。
【００８３】
モータ10およびインジケータランプ5の制御、接点3および操作ボタンの監視、および収容デバイス2の機能の残りの制御は、収容デバイス2に組み込まれた制御電子回路23によって行われる。
【符号の説明】
【００８４】
1  表面測定装置
2  収容デバイス
3  接点
4  基準測定面
5  インジケータランプ
6  ハウジング開口部
7  窪み
8  ハウジング
9  クロージャ
10  モータ
11  基準測定面用レバー
12  クロージャ用レバー
13  プッシュロッド
14  保持部
15〜18  当接面
19〜22  ピン
23  制御電子回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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