(57)【要約】  交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための方法であって、−交流電流網が、第一の，第二の及び第三の位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）を有し、及び各位相に、コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）が付設されていて；−これら各位相のための予設定された第一の時点（ｔ１）で・第一の参照電圧のために、相応する第一の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ１），Ｒｂ（ｔ１），Ｒｃ（ｔ１））が、算出され；・薄層電圧が検出され、及び相応する第一の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１））が、算出され；−第一の時点の後にある予設定され第二の時点（ｔ２）で、これら各位相のために、・第二の参照電圧のために、相応する第二の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ２），Ｒｂ（ｔ２），Ｒｃ（ｔ２））が、算出され；・薄層電圧が検出され、及び相応する第二の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２））が、算出され；−これら各コンデッサブッシングのために・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）が、各第一の及び第二の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータ及び其々に隣接されたコンデッサブッシングの第一の及び第二の参照電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータに依存して算定され；・誘電正接変化が、公差値（ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ）と比較され；−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成される。
2020509377.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
交流電流網のためにコンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）を監視するための方法であって、
−交流電流網が、第一の、第二の、及び第三の位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）を有し、及び
・第一の電流網配線（５ａ）を含み、この第一の電流網配線に第一の位相（Ａ）と第一のコンデッサブッシング（２ａ）が、付設されていて及び、第一の電流網電圧に当接し；
・第二の電流網配線（５ｂ）を含み、この第二の電流網配線に第二の位相（Ｂ）と第二のコンデッサブッシング（２ｂ）が、付設されていて及び、第二の電流網電圧に当接し；
・第三の電流網配線（５ｃ）を含み、この第三の電流網配線に第三の位相（Ｃ）と第三のコンデッサブッシング（２ｃ）が、付設されていて及び、第三の電流網電圧に当接し；
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）は以下の、
・付設された電流網配線（５ａ，５ｂ，５ｃ）に結合されている導体（４）；
・この導体（４）を含む導通する薄層（３）を含み；
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために予設定された第一の時点（ｔ１）で、
・第一の参照電圧のために、相応する第一の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ１），Ｒｂ（ｔ１），Ｒｃ（ｔ１））が算出され；
・薄層電圧が検出され、及び相応する第一の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１））が算出され、この薄層電圧は、其々の薄層（３）と共通電位（１３）の間に設けられ；
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、第一の時点（ｔ１）の後にある予設定され第二の時点（ｔ２）で、
・第二の参照電圧のために、相応する第二の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ２），Ｒｂ（ｔ２），Ｒｃ（ｔ２））が、算出され；
・薄層電圧が検出され、及び相応する第二の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２））が算出され；
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）のために、
・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）が、其々の第一の、及び第二の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータ、及び其々に隣接されたコンデッサブッシング（２ｂ，２ｃ，２ａ）の第一の及び第二の参照電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータに依存して算定され；
・誘電正接変化が、公差値（ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ）と比較され；
−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成されることを特徴とする方法。
【請求項２】
−各参照電圧が、其々の電流網電圧（Ｕａ（ｔ１），Ｕａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ１，）Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ２））であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
−第一の電流網配線（５ａ）に、第一の平行コンデッサブッシング（２ａ‘）が付設されていて；
−第二の電流網配線（５ｂ）に、第二の平行コンデッサブッシング（２ｂ‘）が付設されていて；
−第三の電流網配線（５ｃ）に、第三の平行コンデッサブッシング（２ｃ‘）が付設されていて；
−この各平行コンデッサブッシング（２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘）が以下の
・付設された電流網配線（５ａ，５ｂ，５ｃ）に結合された導体（４），
・この導体（４）を含む導通する薄層（３）を含み；
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために
・第一の、及び第二の参照電圧が、第一の、及び第二の薄層電圧（Ｖａ‘（ｔ１），Ｖｂ‘（ｔ１），Ｖｃ‘（ｔ１），Ｖａ‘（ｔ２），Ｖｂ‘（ｔ２），Ｖｃ‘（ｔ２））であり、この第一の、及び第二の薄層電圧は、其々に第一の時点において、及び第二の時点において、其々の平行コンデッサブッシングの薄層（３）と共通電位（１３）の間に設けられていることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために
・参照電圧が、定電圧であって、この定電圧のために、相応する定電圧インジケータが、予設定されることを特徴とする請求項１又は請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
−各定電圧インジケータの大きさが、交流電流網の名目電圧値に等しく；
−第一の位相（Ａ）のために、第一の、及び第二の定電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ１），Ｒａ（ｔ２））の位相角が、０°の値を有し；
−第二の位相（Ｂ）のために、第一の、及び第二の定電圧インジケータ（Ｒｂ（ｔ１），Ｒｂ（ｔ２））の位相角が、１２０°の値を有し；
−第三の位相（Ｃ）のために、第一の、及び第二の定電圧インジケータ（Ｒｃ（ｔ１），Ｒｃ（ｔ２））の位相角が、２４０°の値を有することを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法であって、
−下記の式にしたがう第一のコンデッサブッシング（２ａ）の誘電正接変化
【数１】
2020509377.tif 000026
算定され；及び／又は
−下記の式にしたがう第二のコンデッサブッシング（２ｂ）の誘電正接変化
【数２】
2020509377.tif 000027
算定され；及び／又は
−下記の式にしたがう第三のコンデッサブッシング（２ｃ）の誘電正接変化
【数３】
2020509377.tif 000028
算定され；
−Ｒａ（ｔ１），Ｒｂ（ｔ１），Ｒｃ（ｔ１）は、第一の第二の及び第三の位相の第一の参照電圧インジケータであり；
−Ｖａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）は、第一の、第二の、及び第三の位相の第一の薄層電圧インジケータであり；
−Ｒａ（ｔ２），Ｒｂ（ｔ２），Ｒｃ（ｔ２）は、第一の、第二の及び第三の位相の第二の電流網電圧インジケータであり；
−Ｖａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２）は、第一の、第二の、及び第三の位相の第二の薄層電圧インジケータであることを特徴とする方法。
【請求項７】
−公差値ＤＡ＞０，ＤＢ＞０，ＤＣ＞０が、誘電正接比較のために定められ；
−誘電正接比較が、次の
【数４】
2020509377.tif 000029
が該当すると結論付ける場合、
監視信号が、生成され、この監視信号は、コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）が、正常な状態にあることを表示することを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法であって、
−公差値ＤＡ＞０，ＤＢ＞０，ＤＣ＞０が、誘電正接比較のために定められ；
−誘電正接比較が、
【数５】
2020509377.tif 000030
を該当するとして結論付ける場合、
監視信号が生成され、この監視信号は、第二のコンデッサブッシング（２ｂ）が、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシング（２ａ，２ｃ）が、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有することを表示し；
−誘電正接比較が、
【数６】
2020509377.tif 000031
を該当するとして結論付ける場合、監視信号が生成され、
この監視信号は、第三のコンデッサブッシング（２ｃ）が、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシング（２ｂ，２ａ）が、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有することを表示し；
−誘電正接比較が、
【数７】
2020509377.tif 000032
を該当するとして結論付ける場合、監視信号が生成され、この監視信号は、第一のコンデッサブッシング（２ａ）が、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシング（２ｃ，２ｂ）が、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有すると表示することを特徴とする方法。
【請求項９】
−他の場合に、監視信号が生成され、この監視信号は、全３つのコンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）が、正常な状態にない、又は、２つのコンデッサブッシングが、正常な状態にない、及び同種のエラーを有さないことを表示することを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、第三の時点（ｔ３）の後にある予設定され第二の時点（ｔ２）で、
・参照電圧のために、相応する第三の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔ３），Ｒｂ（ｔ３），Ｒｃ（ｔ３））が算出され、
・薄層電圧が、捉えられ、及び相応する第三の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ３），Ｖｂ（ｔ３），Ｖｃ（ｔ３））が算出され、
・第二の参照電圧インジケータが、第三の参照電圧インジケータによって、及び第二の薄層電圧インジケータが、第三の薄層電圧インジケータによって置換され、
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）のために、
・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）の算定及び比較が繰り返され、
−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成されることを特徴とする請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
−第二の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータの各置換の前に、
・第一の参照電圧インジケータが、第二の参照電圧インジケータによって、及び第一の薄層電圧インジケータが、第二の薄層電圧インジケータによって置換されることを特徴とする請求項１〜１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１２】
−第二の時点（ｔ２）の後にある少なくとも１つの予設定されたより後の時点（ｔｎ）で、この参照電圧のための各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、
・相応するより後の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔｎ），Ｒｂ（ｔｎ），Ｒｃ（ｔｎ））が算出され、
・薄層電圧が捉えられ、及び相応するより後の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔｎ），Ｖｂ（ｔｎ），Ｖｃ（ｔｎ））が算出され、
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）のために、
・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）の算定が、追加的に、より後の各電流網電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータに依存することを特徴とする請求項１〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
−第二の時点（ｔ２）の後にある少なくとも１つの予設定されたより後の時点（ｔｎ）で、この参照電圧のための各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、
・より後の参照電圧インジケータ（Ｒａ（ｔｎ），Ｒｂ（ｔｎ），Ｒｃ（ｔｎ））が、算出され、
・薄層電圧が捉えられ、及び相応するより後の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔｎ），Ｖｂ（ｔｎ），Ｖｃ（ｔｎ））が算出され、
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）のために、
・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）は、各第一の、第二の、及び、より後の参照電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータ及び、其々に隣接されたコンデッサブッシング（２ｂ，２ｃ，２ａ）の第一の、第二の、及び、より後の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータに依存して算定され、
・誘電正接変化が、公差値（ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ）と比較され；
−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成されることを特徴とする請求項１〜１２のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１４】
請求項１２又は１３のいずれか一項に記載の方法であって、
−下記の式にしたがう第一のコンデッサブッシング（２ａ）の誘電正接変化
【数８】
2020509377.tif 000033
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第二のコンデッサブッシング（２ｂ）の誘電正接変化
【数９】
2020509377.tif 000034
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第三のコンデッサブッシング（２ｃ）の誘電正接変化
【数１０】
2020509377.tif 000035
算定され、
−ｎ＞２が、時点の総数であり、
−ｔ１，ｔ２第一の及び第二の時点及びｔ３，…，ｔｎが、より後の時点であり、
−ｇａｉ，ｇｂｉ，ｇｃｉは、第一の、第二の及び、第三のコンデッサブッシングのためのｉ−番目の重み係数であることを特徴とする方法。
【請求項１５】
−各重み係数が、各時点の順番にアンチトン（ａｎｔｉｔｏｎ）で依存し、及び／又は
−重み係数に、
ｇ（ａｉ−１）≦ｇａｉ及び／又はｇ（ｂｉ−１）≦ｇｂｉ及び／又はｇ（ｃｉ−１）≦ｇｃｉが、ｉ＝２，…，ｎ
を伴って該当することを特徴とする請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
−第一の参照電圧インジケータの算出と第一の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第一の参照電圧インジケータの大きさが、相互に比較され、
・第一の薄層電圧インジケータの算出は、これら大きさが、予設定され寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われ；
及び／又は
−第二の参照電圧インジケータの算出と第二の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第二の参照電圧インジケータの大きさが、相互において比較され、
・第二の薄層電圧インジケータの算出は、これら大きさが、予設定された寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われることを特徴とする請求項１〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１７】
−第一の参照電圧インジケータの算出と第一の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第一の参照電圧インジケータの位相角が、相互に比較され、
・第一の薄層電圧インジケータの算出は、これら角比較が、これら位相角が、予設定された寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われ、
−第二の参照電圧インジケータの算出と第二の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第二の参照電圧インジケータの位相角が、相互において比較され
・これら位相角が、予設定され寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に、第二の薄層電圧インジケータの算出が、行われることを特徴とする請求項１〜１６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
交流電流網のためにコンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）を監視するための装置（１）であって、
−交流電流網が、第一の、第二の、及び第三の位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）を有し、及び
・第一の電流網配線（５ａ）を含み、この第一の電流網配線に第一の位相（Ａ）と第一のコンデッサブッシング（２ａ）が、付設されていて及び、第一の電流網電圧に当接し、
・第二の電流網配線（５ｂ）を含み、この第二の電流網配線に第二の位相（Ｂ）と第二のコンデッサブッシング（２ｂ）が、付設されていて及び、第二の電流網電圧に当接し、
・第三の電流網配線（５ｃ）を含み、この第三の電流網配線に第三の位相（Ｃ）と第三のコンデッサブッシング（２ｃ）が、付設されていて及び、第二の電流網電圧に当接し；
−これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）は以下の、
・付設された電流網配線（５ａ，５ｂ，５ｃ）に結合されている導体（４）；
・この導体（４）を含む導通する薄層（３）を含み；
−この装置が以下の：
・第一の電流網配線（５ａ）に結合され得る第一の電圧コンバータ（９ａ）；
・第二の電流網配線（５ｂ）に結合され得る第二の電圧コンバータ（９ｂ）；
・第三の電流網配線（５ｃ）に結合され得る第三の電圧コンバータ（９ｃ）；
・第一のコンデッサブッシング（２ａ）の薄層（３）に結合され得る第一の測定アダプタ（６ａ）；
・第二のコンデッサブッシング（２ｂ）の薄層（３）に結合され得る第二の測定アダプタ（６ｂ）；
・第三のコンデッサブッシング（２ｃ）の薄層（３）に結合され得る第三の測定アダプタ（６ｃ）；
・測定アダプタ（６ａ，６ｂ，６ｃ）に連接されている測定装置（７）；
・電圧コンバータ（９ａ，９ｂ，９ｃ）と測定装置（７）に連接されている評価装置（８）を含み；
−其々の位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のためのこれら各電圧コンバータ（９ａ，９ｂ，９ｃ）が、電流網電圧を検出し得；
−これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のための測定装置（７）が、其々の測定アダプタ（６ａ，６ｂ，６ｃ）の補助によって、其々の薄層（３）と共通電位（１３）の間に設置されている薄層電圧を検出し得る。
−評価装置（８）は、予設定され第一の時点（ｔ１）で、これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、
・其々の電圧コンバータ（９ａ，９ｂ，９ｃ）の補助によって、電流網電圧を検出し、及び相応する第一の電流網電圧インジケータ（Ｕａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１））を算出し得るように形成されていて；
・測定装置（７）の補助で、薄層電圧を捉え得、及び相応する第一の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１））を算出し得；
−評価装置（８）は、第一の時点（ｔ１）の後にある予設定された第二の時点（ｔ２）で、これら各位相（Ａ，Ｂ，Ｃ）のために、
・其々の電圧コンバータ（９ａ，９ｂ，９ｃ）の補助によって、電流網電圧を検出し、及び相応する第二の電流網電圧インジケータ（Ｕａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２））を算出し得るように形成されていて；
・測定装置（７）の補助によって、薄層電圧を検出し得、及び相応する第二の薄層電圧インジケータ（Ｖａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２））を算出し得；
−評価装置（８）は、これら各コンデッサブッシング（２ａ，２ｂ，２ｃ）のために、
・誘電正接変化（ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ）が、其々の第一の及び第二の電流網電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータ、及び其々に隣接されたコンデッサブッシング（２ｂ，２ｃ，２ａ）の第一の及び第二の電流網電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータに依存して算定され得るように形成されていて；
・誘電正接変化が、公差値（ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ）と比較され得；
評価装置（８）は、監視信号を、これら誘電正接比較の結果に依存して生成し得るように形成されていることを特徴とする請求項１〜１７のいずれか一項に記載の装置（１）。
【請求項１９】
請求項１〜１８のいずれか一項にしたがう方法を実行するために形成されていて又は、請求項１〜１８のいずれか一項にしたがう方法を実施し、又は実施し得るように形成されていることを特徴とする請求項１〜１８のいずれか一項に記載の装置（１）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば電力変換装置とスロットバルブといった交流電流網のための電気機器は、通常、コンデッサブッシングの補助によって、交流電流網の電流網配線に接続されている。これらコンデッサブッシングの不全又は故障は、例えば電気機器の破損又は破壊及び、それにより発生するエネルギ供給の故障といった重大な結果に結びついていることがあり得るので、例えば稼働における容量及び誘電正接といった関係するコンデッサブッシングのパラメータを監視することが公知である。誘電正接監視のための公知の方法において、例えば稼働中におけるコンデッサブッシングに当接する高電圧、又は温度変動といった様々な影響要素は、捉えられる特性値に明らかに影響し得及び、そうして確実な監視を困難にし得る。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】独国特許出願公開第１０２００４０２７３４９号
【特許文献２】独国特許出願公開第１００３７４３２号
【０００４】
独国特許出願公開第１０２００４０２７３４９号は、高電圧ブッシングの絶縁の誘電正接を算出するための方法を解説する。高電圧ブッシングは、電場の減少制御のための中敷きを使って、外側端子が、第一の中敷きの電位において設けられていて、及び少なくとも１つの内側端子が設けられていて、この内側端子は、第一の中敷きに関して、その横断面において、さらに内側に配置された中敷きと結合されている。さらに、外側端子は、操作可能な参照コンデンサを介してアース電位に結合される。内側端子と外側端子の間で降下する試験電圧、参照コンデンサにおいて降下する設定電圧、及び試験電圧と設定電圧間の位相シフトが、算出される。位相シフトの考慮下で、試験電圧と設定電圧間で差異を形成することによって、生起する電圧が算定される。ここで、参照コンデンサは、生起する電圧と試験電圧の間における位相シフトが、又は生起する電圧と設定電圧の間における位相シフトが、ゼロに等しいように調節される。参照コンデンサの設定は、こうして、老朽化状態に関する指摘として評価され得、又は絶縁の質が評価され得る。
【０００５】
独国特許出願公開第１００３７４３２号は、電気稼働電圧によって衝撃を与えられたコンデッサブッシングの監視のための方法を解説し、このコンデッサブッシングにおいて、導通する中敷きと伴に、分圧器が形成されいて、この中敷きに結合された測定タップによって、及びアース電位によって、少なくとも１つの電気測定大きさの測定値が検出され、及び記憶される。少なくとも１つの測定値を検出した後、測定タップとアース電位の間のインピーダンスが変更され、及び測定タップとアース電位によって、その時、形成される測定信号の少なくとも１つの信号値が捉えられ、且つ記憶され、この１つの測定値の検出の時点と信号値の検出の時点の間の時間的間隔は、場合によって、両方の時点間で起こった稼働電圧の変化が、無視可能であるように測定されている。
【０００６】
これらを背景として、本発明は、独立請求項の対象を提案する。有利な発展形態は、従属請求項に解説されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、コンデッサブッシングのより良い監視を実現する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、第一の観点にしたがって、交流電流網のためのコンデッサブッシングの監視のための方法を提案し、この交流電流網は、第一の位相、第二の位相、及び第三の位相を有する。さらに交流電流網は、第一の位相、及び第一のコンデッサブッシングが付設されている第一の電流網配線を含み及び、この第一の電流網配線に第一の電流網電圧が当接し、さらに交流電流網は、第二の位相、及び第二のコンデッサブッシングが付設されている第二の電流網配線を含み及び、この二の電流網配線に第二の電流網電圧に当接し、さらに交流電流網は、第三の位相及び第三のコンデッサブッシングが付設されている第三の電流網配線を含み及び、この第三の電流網配線に第三の電流網電圧が当接する。これら各コンデッサブッシングが、付設された電流網配線に結合されている導体を含み、及び導通する薄層を含み、この薄層が、この導体を包囲する。
【０００９】
提案される方法の一環において、
−予設定された第一の時点で、これら各位相のために
・第一の参照電圧のために、相応する第一の参照電圧インジケータ、又は複雑な参照電圧値が、算出され、
・其々の薄層と共通電位の間に設けられた薄層電圧が、捉えられ、及び相応する第一の薄層電圧インジケータ又は複雑な薄層電圧値が算出される。
−第一の時点の後にある予設定され第二の時点で、これら各位相のために
・第二の参照電圧のために、相応する第二の参照電圧インジケータ、又は複雑な参照電圧値が、算出され、
・薄層電圧が捉えられ、且つ相応する第二の薄層電圧インジケータ、又は複雑な薄層電圧値が算出され、
−これら各コンデッサブッシングのために
・誘電正接変化が、其々の第一の及び第二の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータ及び、其々に隣接されたコンデッサブッシングの第一の、及び第二の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータに依存して算定され、
・誘電正接変化が、公差値と比較される。
−この誘電正接比較の結果に依存して、監視信号が生成される。
【００１０】
提案される方法は、同一の電力変換装置の隣接されたコンデッサブッシングのパラメータ及び測定量を本来の監視のために使用する。この際、例えば温度変化といった外部の影響は、コンデッサブッシングの誘電正接変化に均一化される。その上、自明にも付設された電流網配線に接続されているコンデッサブッシングの監視の際、電流網配線に当接する電流網電圧の変動は、其々の電流網配線に接続されたコンデッサブッシングを介して測定電圧に伝導されることが回避される。そうして、測定公差は、薄層電圧の検出に際し、少なくとも部分的に補償され得、及びコンデッサブッシングの状態について、より良い通報が行われ得る。
【００１１】
各コンデッサブッシングのための誘電正接は、例えば複雑なインジケータ大きさの無消失の虚数成分に対する、及び／又は複雑な大きさと、その虚数成分間の消失Δの正接に対する、消失を伴う実数成分の比率として、必要に応じて、任意の手段で導き出される。通常、コンデッサブッシングのための誘電正接は、高電圧領域にあり、この際、０，００５％と１％の間の領域にある。
各コンデッサブッシングは、必要に応じて、任意の手段で形成されていることが可能で、及び例えば上位容量及び下位容量を使用し得る。上位容量は、例えばコンデンサの容量として形成されていることが可能で、このコンデンサは、其々の薄層、及び其々の導体から形成される。上位容量のための普通の値は、２００と６００ｐＦの間の領域にある。
【００１２】
不足容量は、例えば並列回路の容量として形成され得、測定装置とコンデンサを含み、この測定装置によって例えば薄層電圧が、捉えられ得、及び／又は測定され得る。上記のコンデンサは、この際、其々の最も外側の薄層及び共通電位又は其々の最も外側の薄層及び導通するフランジによって形成され、このフランジは、其々のコンデッサブッシングの外面に固定されていて、及び共通電位に当接している。通常、不足容量は、１と５μＦの間にあるが、この不足容量は、必要に応じて別の値も有し得、及び例えば０，１μＦと５０μＦの間、又は０，２μＦと２０μＦの間、又は０，５μＦと１０μＦの間にあり得る。
【００１３】
下記において、電流網電圧として、交流電流網の位相と共通電位間に設けられている電圧が記されている。電流網電圧の測定と電流網電圧インジケータの形成は、任意の手段で、例えば容量性分圧器によって行われ得る。
【００１４】
薄層電圧として、下記において、不足容量において、測定装置によって捉えられた電圧が記され、この電圧は、コンデッサブッシングの最も外側の薄層と共通電位の間に設けられている。薄層電圧インジケータ／複雑な薄層電圧値の算出は、電気工学の公知の方法によって行われる。
３つの位相の交流電流網において、≫隣接された≪という概念は、相応するインジケータシステムの予設定された回転方向（Ｄｒｅｈｓｉｎｎ）に関連して定義されていて、例えば第二の位相Ｂは、第一の位相Ａに隣接し、第三の位相Ｃは、第二の位相Ｂに、及び第一の位相Ａは、第三の位相Ｃに隣接するように定義されている。
【００１５】
公差値は、必要に応じて、任意の手段で形成されていることが可能で、及び例えばコンデッサブッシングのデータシートからの相応するパラメータの百分率による割合を示し、又は経験値に基づいて導き出される。公差値は、必要に応じて、全てのコンデッサブッシングのため一様に、又は個々に各コンデッサブッシングのために様々に選択され得る。
【００１６】
監視信号は、例えば聴覚的信号、及び／又は視覚的信号、及び／又は電気的信号として、必要に応じて、任意の手段で形成されていることが可能である。
【００１７】
各参照電圧は、随時の電流網電圧であるように設けられていることが可能である。
【００１８】
以下のように、
−第一の電流網配線に、第一の平行コンデッサブッシングが、付設されていて、
−第二の電流網配線に、第二の平行コンデッサブッシングが、付設されていて、
−第三の電流網配線に、第三の平行コンデッサブッシングが、付設されていて、
−この各平行コンデッサブッシングは、この際、導体を含み、この導体は、付設された電流網配線に結合されていて、及び、この導体の導通する薄層を包囲し、
−この各平行コンデッサブッシングは、この際、導体を含み、この導体は、付設された電流網配線に結合されていて、及び、この導体の導通する薄層を包囲するように設計されていることが、可能である。
【００１９】
この平行コンデッサブッシングは、例えば３つのコンデッサブッシングを介して、３つの位相に接続されている第一の電気機器に加えて、ここではパラレル機器としても記される第二の電気機器を、第一の機器に平行に、３つの位相に接続するためにある。パラレル薄層電圧値が、最初の参照電圧値を形成するので、電流網電圧を検出することが断念され得る。この事は、比較的少ない測定機器が、使用される必要があるので、監視方法の正確性に、マイナスの影響を与えることなく、費用の節約、及び簡易化された維持管理、及び保全に繋がる。
【００２０】
各位相のため、参照電圧は、定電圧であり、この電圧のために、相応する定電圧インジケータが予設定されているように設計されていることが可能である。
【００２１】
各定電圧インジケータの大きさは、交流電流網の名目電圧値に等しく、及び第一の位相のために、第一の、及び第二の定電圧インジケータの位相角が０°の値を有し、第二の位相のために、第一の、及び第二の定電圧インジケータの位相角が、１２０°の値を有し、及び第三の位相のために、第一の及び第二の定電圧インジケータの位相角が、２４０°の値を有することように設けられていることが可能である。
【００２２】
以下のように、
−下記の式にしたがう第一のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数１】
2020509377.tif 000003
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第二のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数２】
2020509377.tif 000004
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第三のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数３】
2020509377.tif 000005
算定され、
−Ｒａ（ｔ１），Ｒｂ（ｔ１），Ｒｃ（ｔ１）が、第一の参照電圧インジケータが、第一の、第二の、及び第三の位相であり、
−及びＶａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）が、第一の第二の及び第三の位相の第一の薄層電圧インジケータであり、
−及びＲａ（ｔ２），Ｒｂ（ｔ２），Ｒｃ（ｔ２）は、第一の、第二の、及び第三の位相の第二の参照電圧インジケータであり、
−及びＶａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２）は、第一の、第二の、及び第三の位相の第二の薄層電圧インジケータである。
【００２３】
公差値ＤＡ＞０，ＤＢ＞０，ＤＣ＞０は、誘電正接比較のために定められるよう設計されていることが可能であり、及び
【数４】
2020509377.tif 000006
が該当すると誘電正接比較が結論づけた場合、監視信号が生成され、この監視信号は、コンデッサブッシングが、正常な状態にあることを表示し及び、その他の場合、監視信号が生成され、この監視信号は、少なくとも１つのコンデッサブッシングが、正常な状態にないことを表示する。
【００２４】
公差値ＤＡ＞０，ＤＢ＞０，ＤＣ＞０は、誘電正接比較のために定められるように設けられ得、及び
−誘電正接比較が、
【数５】
2020509377.tif 000007
が該当すると結論付ける場合、
監視信号が生成され、この監視信号は、第二のコンデッサブッシングが、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシングが、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有することを表示し、
−誘電正接比較が、
【数６】
2020509377.tif 000008
が該当すると結論付ける場合、
監視信号が生成され、この監視信号は、第三のコンデッサブッシングが、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシングが、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有することを表示し、
−誘電正接比較が、
【数７】
2020509377.tif 000009
が該当すると結論付ける場合、
監視信号が生成され、この監視信号は、第一のコンデッサブッシングが、正常な状態になく、又は他の両コンデッサブッシングが、正常な状態になく、且つ同種のエラーを有することを表示する；
【００２５】
これら各公差値ＤＡ，ＤＢ，ＤＣは、必要に応じて、任意の手段において定められ得、及び例えば０，０００１，又は０，０００２，又は０，０００５，又は０，００１，又は０，００２，又は０，００５，又は０，０１又は０，０２又は０，０５の値に定められ得る。これら各公差値、及び他の公差値の少なくとも１つは、同等、又は不等であり得る。
【００２６】
他の場合に、監視信号が生成されるように設計されていることが可能で、この監視信号は、全３つのコンデッサブッシングが、正常な状態にない、又は、２つのコンデッサブッシングが、正常な状態にない、及び同種のエラーを有さないことを表示する。
【００２７】
各公差値が、随時のコンデッサブッシングの順番にアンチトン（ａｎｔｉｔｏｎ）で依存するように設けられていることが可能である。
【００２８】
第二の時点の後にある予設定された第三の時点で、この参照電圧のための各位相のために、
・及び相応する第三の参照電圧インジケータ、又は複雑な参照電圧値が算出されることは、さらに提案され得、
・薄層電圧が捉えられ、及び相応する第三の薄層電圧インジケータ、又は複雑な薄層電圧値が、算出され、
・第二の参照電圧インジケータが、第三の参照電圧インジケータによって、及び第二の薄層電圧インジケータが、第三の薄層電圧インジケータによって置換され、
−これら各コンデッサブッシングのために
・誘電正接変化の算定及び比較が、繰り返され、
−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成される。
第二の参照電圧インジケータの及び薄層電圧インジケータの各置換の前に、第一の参照電圧インジケータが、第二の参照電圧インジケータによって、及び第一の薄層電圧インジケータが、第二の薄層電圧インジケータによって置換されるようにさらに設計されていることが可能である。
第二の時点の後にある少なくとも１つの予設定された、より後の時点に、これら各位相のために、
・参照電圧のために、相応する、より後の参照電圧インジケータ、又は複雑な電流網電圧値が算出されるようにさらに設計されていることが可能であり、
・薄層電圧が、捉えられ、及び相応する、より後の薄層電圧インジケータ、又は複雑な薄層電圧値が算出され、
・これら各コンデッサブッシングのため、誘電正接変化の算定は、より後の其々の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータに依存する。
第二の時点の後にある少なくとも１つの予設定された、より後の時点で、これら各位相のために、
・参照電圧のために、相応するより後の参照電圧インジケータ又は複雑な参照電圧値が算出され、
・薄層電圧が、捉えられ、及び相応する、より後の薄層電圧インジケータ、又は複雑な薄層電圧値が算出され、
−これら各コンデッサブッシングのために
・誘電正接変化が、各第一の、第二の、及び、より後の参照電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータ及び、其々に隣接されたコンデッサブッシングの第一の、第二の及び、より後の参照電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータに依存して算定され、
・誘電正接変化が、公差値と比較され、
−監視信号が、これら誘電正接比較の結果に依存して生成される。
下記の式にしたがう第一のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数８】
2020509377.tif 000010
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第二のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数９】
2020509377.tif 000011
算定され、及び／又は
−下記の式にしたがう第三のコンデッサブッシングの誘電正接変化
【数１０】
2020509377.tif 000012
算定され、
−ｎ＞２が、時点の総数であり、
−ｔ１，ｔ２第一の及び第二の時点及びｔ３，…，ｔｎが、より後の時点であり、
−ｇａｉ，ｇｂｉ，ｇｃｉは、第一の、第二の及び、第三のコンデッサブッシングのためのｉ−番目の重み係数である。
【００２９】
各重み係数は、其々の時点の順番にアンチトン（ａｎｔｉｔｏｎ）に依存するようにさらに設計されていて、及び／又は重み係数に
ｇ（ａｉ−１）≦ｇａｉ及び／又はｇ（ｂｉ−１）≦ｇｂｉ及び／又はｇ（ｃｉ−１）≦ｇｃｉ次を伴うｉ＝２，…，ｎ
が当てはまる。
【００３０】
さらに設計されていることが、可能である。
−第一の参照電圧インジケータの算出と第一の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第一の参照電圧インジケータの大きさが、相互に比較され、
・第一の薄層電圧インジケータの算出は、これら大きさが、予設定され寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われる。
及び／又は
−第二の参照電圧インジケータの算出と第二の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第二の参照電圧インジケータの大きさが、相互において比較され、
・第二の薄層電圧インジケータの算出は、これら大きさが、予設定され寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われる。
【００３１】
この参照電圧インジケータの大きさの比較は、１つの時点が定められ、この時点において本来の監視、つまりコンデッサブッシングの誘電正接変化の比較、及び監視信号の生成、特に有利で、又は好適であり、何故なら、この監視は、予設定された寸法を越えて、相互に偏倚する参照電圧によって困難にされず、阻止され又は不可能にさえされることを実現するからである。交流電流網における電圧の変動から独立して、及び薄層電圧の検出に際する測定公差から独立して、コンデッサブッシングの状態についてのより良い通報がなされ得ることが、実現される。
【００３２】
交流電流網における電圧の変動から独立して、及び薄層電圧の検出に際する測定公差から独立して、コンデッサブッシングの状態についてのより良い通報がなされ得ることが、実現される。こうして、コンデッサブッシングの確実な監視が、交流電流網における偏倚と電圧の支障の考慮及び評価の下で保証される。
【００３３】
参照電圧インジケータの大きさの比較のために、必要に応じて、参照電圧インジケータの額及び／又は効果値及び／又は波高値及び／又は振幅が、使用され得る。
さらに設計されていることが、可能である。
−各大きさ比較は、次の
・公差値ＲＡＢ＞０，ＲＢＣ＞０，ＲＣＡ＞０が、随時の寸法として定められ、
【数１１】
2020509377.tif 000013
が該当するかどうか試験され、
−Ｒａｅは、第一の位相の随時の参照電圧インジケータの額、又は効果値であり、
−Ｒｂｅは、第二の位相の随時の参照電圧インジケータの額、又は効果値であり、
−Ｒｃｅは、第三の位相の随時の参照電圧インジケータの額、又は効果値である。
これら各公差値ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡは、必要に応じて、任意の手段において定められ得、及び例えば或る値に定められ、この値は随時の参照電圧Ｒａｅ，Ｒｂｅ，Ｒｃｅの額面の０，１％又は０，２％又は０，５％又は１％又は２％又は３％又は４％又は５％又は７％又は１０％又は１５％又は２０％又は２５％又は３０％又は４０％又は５０％に相応するように行われる。これら各公差値ＤＡ，ＤＢ，ＤＣは、必要に応じて、任意の手段において定められ得、及び例えば０，０００１，又は０，０００２，又は０，０００５，又は０，００１，又は０，００２，又は０，００５，又は０，０１又は０，０２，又は０，０５の値に定められ得る。
【００３４】
さらに設計されていることが、可能である。
−第一の参照電圧インジケータの算出と第一の薄層電圧インジケータの算出の間で
・第一の参照電圧インジケータの位相角が、相互に比較され、
・第一の薄層電圧インジケータの算出は、これら角比較が、これら位相角が、予設定された寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われ、
−第二の参照電圧インジケータの算出と第二の薄層電圧インジケータの算出の間で、
・第二の参照電圧インジケータの位相角が、相互において比較され
・第二の薄層電圧インジケータの算出は、これら位相角が、予設定され寸法より大きく相互に偏倚することを結論付ける場合に行われる。
【００３５】
この参照電圧インジケータの位相角の大きさの比較は、１つの時点が定められ、この時点において本来の監視、つまりコンデッサブッシングの誘電正接変化の比較、及び監視信号の生成、特に有利で、又は好適であり、何故なら、この監視は、予設定された寸法を越えて、相互に偏倚する位相位置によって困難にされず、阻止され又は不可能にさえされることを実現するからである。これによって、交流電流網の電圧の位相位置の変動から独立して、及び薄層電圧を検出する際における測定公差から独立して、コンデッサブッシングの状態についてより良い通報がなされ得ることが、実現される。
【００３６】
さらに設計されていることが、可能である。
−各角比較は、
・公差値ＰＡＢ＞０，ＰＢＣ＞０，ＰＣＡ＞０が、随時の寸法として定められるように行われ、
【数１２】
2020509377.tif 000014
が該当するかどうか試験され、
−φａが、第一の位相の随時の参照電圧インジケータの位相角であり、
−φｂは、第二の位相の其々の参照電圧インジケータの位相角であり、
−φｃは、第三の位相の其々の参照電圧インジケータの位相角である。
【００３７】
これら各公差値ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡは、必要に応じて、任意の手段で定められ得、及び例えば１つの値に定められ得、この値は、其々の位相オフセットの基準値の０，１％又は０，２％又は０，５％又は１％又は２％又は３％又は４％又は５％は７％又は１０％又は１５％又は２０％に相応する。これら各公差値ＤＡ，ＤＢ，ＤＣは、必要に応じて、任意の手段において定められ得、及び例えば０，０００１，又は０，０００２，又は０，０００５，又は０，００１，又は０，００２，又は０，００５，又は０，０１又は０，０２，又は０，０５の値に定められ得る。
【００３８】
さらに、各薄層電圧インジケータは、其々の薄層電圧が少なくとも２回捉えられ且つ、この捉えられた薄層電圧が、平均化され、及び／又は濾過されることによって、算出されるように設計され得る。
【００３９】
さらに平均化のためにスライドする平均値が形成され、及び／又は平均化のために、重み付けがされた平均値が形成され、特に各測定値のために、重み係数が定められ、この重み係数は、この測定値の順番にアンチトン（ａｎｔｉｔｏｎ）で依存するように設計されていることが可能である。
【００４０】
本発明は、第二の観点にしたがって、交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための装置を提案し、交流電流網が、第一の、第二の及び第三の位相を有し、及び第一の電流網配線を含み、この第一の電流網配線に、第一の位相及び第一のコンデッサブッシングが付設されていて及び、この第一の電流網配線に、第一の電流網電圧が設けられていて、第二の電流網配線を含み、この第二の電流網配線に、第二の位相及び第二のコンデッサブッシングが付設されていて、及びこの第二の電流網配線に第二の電流網電圧が設けられていて、及び第三の電流網配線を含み、この第三の電流網配線に第三の位相及び第三のコンデッサブッシングが付設されていて、及びこの第三の電流網配線に第三の電流網電圧が設けられている。これら各コンデッサブッシングが、付設された電流網配線に結合されている導体を含み、及び導通する薄層を含み、この薄層が、この導体を包囲する。この装置は以下を含む：
・第一の電流網配線に結合され得る第一の電圧コンバータ、
・第二の電流網配線に結合され得る第二の電圧コンバータ、
・第三の電流網配線に結合され得る第三の電圧コンバータ、
・第一のコンデッサブッシングの薄層に結合され得る第一の測定アダプタ、
・第二のコンデッサブッシングの薄層に結合され得る第二の測定アダプタ、
・第三のコンデッサブッシングの薄層に結合され得る第三の測定アダプタ、
・測定アダプタに連接している測定装置、
・電圧コンバータと測定装置に連接している評価装置
【００４１】
其々の位相のためのこれら各電圧コンバータが、電流網電圧を検出し得、
−これら各位相のための測定装置が、其々の測定アダプタの補助によって、其々の薄層と共通電位の間に設置されている薄層電圧を検出し得る。
−評価装置は、予設定され第一の時点で、これら各位相のために、
・其々の電圧コンバータの補助で、電流網電圧を、検出し得、及び相応する第一の電流網電圧インジケータを算出し得、
・測定装置の補助で、薄層電圧を検出し得、及び相応する第一の薄層電圧インジケータを算出し得、
−評価装置は、第一の時点の後にある予設定され第二の時点で、これら各位相のために
・其々の電圧コンバータの補助で、電流網電圧を検出し得、及び相応する第二の電流網電圧インジケータを算出し得るように形成されていて、
・測定装置の助力で、薄層電圧を検出し得、及び相応する第二の薄層電圧インジケータを算出し得、
−評価装置は、これら各コンデッサブッシングために、
・誘電正接変化が、其々の第一の及び第二の電流網電圧インジケータ及び薄層電圧インジケータ、及び其々に隣接されたコンデッサブッシングの第一の及び第二の電流網電圧インジケータ、及び薄層電圧インジケータに依存して算定され得るように形成されていて、
・誘電正接変化を公差値と比較し得る、
−評価装置は、監視信号を、この誘電正接比較の結果に依存して生成し得るように形成されている。
【００４２】
さらに、この電圧コンバータは、容量性電圧コンバータ又は誘導電圧コンバータ又は抵抗電圧コンバータとして、形成されているように設計されていることが可能である。
さらに、測定装置は、少なくとも１つの測定コンデンサ又は測定シャントを含むように設計されていることが可能である。
【００４３】
本発明の観点の１つに関する実施及び説明は、この観点の特に個々の特徴に関して、本発明の別の観点に相応して、相似しても該当する。
【００４４】
下記において、本発明の実施形態は、例えば添付された図面によって、より詳細に解説される。但し、そこから生起する個々の特徴は、個々の実施形態に限定されず、さらに上で解説された個々の特徴と、及び／又は他の実施形態の個々の特徴と結合され及び／又は組み合わせられ得る。図面における細部は、解説的にのみに解釈されるべきで、限定的に解釈されるべきではない。請求項に含まれる参照符号は、本発明の保護領域を限定してはならず、単に図面に示された実施形態を指し示している。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】図１は、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための装置の実施形態である。
【図２】図２は、図１の装置の一部である。
【図３】図３は、下位電圧コンデンサと上位電圧コンデンサから成る等価回路；
【図４】図４は、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための方法の実施形態のフローチャートである。
【図５】図５は、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための装置の別の実施形態である。
【００４６】
下記の図１〜図４について解説された実施は、其々の参照電圧インジケータＲａ（ｔｊ），Ｒｂ（ｔｊ），Ｒｃ（ｔｊ）が、其々の電流網電圧Ｕａ（ｔｊ），Ｕｂ（ｔｊ），Ｕｃ（ｔｊ）にしたがって算出される実施形態に関連する。そうして、図１〜図４についての実施において、其々の電流網電圧インジケータＵａ（ｔｊ），Ｕｂ（ｔｊ），Ｕｃ（ｔｊ）が、参照電圧インジケータとして使用される。
【００４７】
さらに、下記の実施のための十分に小さな角は、誘電正接変化を算出するために、微小角近似（Ｋｌｅｉｎｗｉｎｋｅｌｎａｅｒｕｎｇ）が、採用され得ることから出発される。
【発明を実施するための形態】
【００４８】
図１において、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃの監視のための装置１の実施形態が、概略的に示されている。コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃは、この実施形態において、ここでは不図示の変圧器に属し、この変圧器は、ここでは例えば高電圧変圧器である。このようなコンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃは、例えば僅かな数ｋＶ〜数千ｋＶの領域における高電圧において使用される。交流電流網は、ここでは例えば高電圧電流網である。各コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃは、交流電流網の３つの位相のＡ，Ｂ，Ｃに付設されていて、及び導体４を有し、この導体は、交流電流網の其々の電流網配線５ａ，５ｂ，５ｃに結合されていて、及び数個の導通する薄層を有し、これら薄層は、数個の層又は膜における導体４を包囲し及び、それらの内の最も外の薄層３だけが表示されている。
【００４９】
装置１は、評価装置８、及び各位相Ａ，Ｂ，Ｃのために、測定装置７及び測定アダプタ６を有し、この測定アダプタは、其々の位相に属するコンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃの薄層３に結合されている。評価装置８は、位相Ａ，Ｂ，Ｃのための薄層電圧インジケータＶａ，Ｖｂ，Ｖｃを算出するために各測定装置７に結合されていて及び、そうして、全測定装置７のための共通の評価装置８を形成する。
【００５０】
薄層電圧インジケータＶａ，Ｖｂ，Ｖｃは、ここでは、電気電圧インジケータであり、この電気電圧インジケータは、其々に、さらに下で解説されていて、及び図３に示されている随時の位相Ａ，Ｂ，Ｃの下位電圧コンデンサＫＵ１，ＫＵ２，ＫＵ３において算出される。この実施形態において、装置１は、加えて各位相Ａ，Ｂ，Ｃのために、電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃを有し、この電圧コンバータは、其々の位相Ａ，Ｂ，Ｃのための第二の電気測定大きさを検出するために、其々の電流網配線５ａ，５ｂ，５ｃに結合されている。この第二の測定量は、ここでは、電気電圧インジケータであり、其々に随時の電流網配線５ａ，５ｂ，５ｃと共通電位１３の間で算出され、及びここでは、電流網電圧インジケータＵａ，Ｕｂ，Ｕｃとしても記される。評価装置８は、電流網電圧インジケータＵａ，Ｕｂ，Ｕｃを算出するために、各電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃと結合されていて、及びそうして全ての電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃのための共通の評価装置８を形成する。
【００５１】
評価装置８は、電流網電圧インジケータＵａ，Ｕｂ，Ｕｃを算出するために、各電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃと結合されていて、及びそうして全ての電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃのための共通の評価装置８を形成する。
【００５２】
図２において、装置１の第一の部分が、より詳細に示されていて、この部分は、第一の位相Ａに付設されている。この第一の部分に、第二の位相Ｂに付設された第二の及び第三の位相Ｃに付設された装置１の第三の部分が、相似して相応し、結果として、第一の部分に関する実施及び説明が、相応して、この両方の他の部分にも相似して該当する。
【００５３】
第一の位相Ａに付設された第一のコンデッサブッシング２ａは、絶縁体１１を有し、この絶縁体の内部を導体４が、貫通している。この導体が、上の端部において、コンデッサブッシング２ａに付設された電流網配線５ａに接触し、及び下の端部において、ここで不図示の高電圧変圧器の巻線に接触する。絶縁体１１に、導通する薄層が埋設されていて、これら薄層は、ここで最も外側の薄層３によってのみ素描されていて、及び電気的に見てコンデンサの直列回路を形成する。この直列回路は、コンデンサを示し、これらコンデンサは、其々に２つの隣接された薄層によって形成され、及びコンデンサを有し、このコンデンサは、ここでは不図示の最も内側の薄層と導体４によって形成される。最も外側の薄層３と導体４の間のコンデンサのこの直列回路は、各コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃのための等価回路として、相応する上位電圧コンデンサＫＯ１，ＫＯ２，ＫＯ３を形成する。
【００５４】
コンデッサブッシング２ａに、導通するフランジ１２が配置されていて、このフランジは、アース電位又は共通電位１３に当接する。このフランジ１２は、コンデッサブッシング２ａの固定及び／又は保持に役立つ。最も外側の薄層３が、各コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃのための等価回路としてのフランジ１２と共通電位１３によって相応する外側コンデンサＫＡ１，ＫＡ２，ＫＡ３を形成する。
【００５５】
測定アダプタ６が、絶縁体１１に貫入し、及び最も外側の薄層３への導通する接続を行う。この実施形態において、各測定装置７が、測定コンデンサＫＭ１，ＫＭ２，ＫＭ３を有し、この測定コンデンサは、共通電位１３で接続されている。各測定装置は、必要時に、加えて、不図示のスパークギャップを有し、このスパークギャップは、其々の測定コンデンサＫＭ１，ＫＭ２，ＫＭ３に平行して接続されていて、及び／又は過電圧保護７’を有し、この過電圧保護は、其々の測定コンデンサＫＭ１，ＫＭ２，ＫＭ３に平行に接続されている。
【００５６】
評価装置８は、電圧コンバータ９ａを介して、電流網配線５ａに導通して結合されている。この実施形態において、電圧コンバータ９ａは、容量性の電圧コンバータとして形成されていて、及び容量性分圧器を有し、この容量性分圧器は、２つの直列に接続されたコンデンサＫ１，Ｋ２を有し、及び２つのコイル又は巻線Ｗ１，Ｗ２を有し、これらコイル又は巻き線は、変圧器として、誘導ガルバニック分離（ｉｎｄｕｋｔｉｖｅ  ｇａｌｖａｎｉｓｃｈｅ  Ｔｒｅｎｎｕｎｇ）に接続されている。
【００５７】
図３において、第一の位相Ａのために、其々の下位電圧コンデンサＫＵ１と其々の上位電圧コンデンサＫＯ１から成る等価回路が、概略的に示されている。並列回路が、不足容量Ｃ１を有する下位電圧コンデンサＫＵ１を形成し、この並列回路は、其々の測定コンデンサＫＭ１と外側コンデンサＫＡ１を有する。この不足容量Ｃ１ａは、故に、コンデンサの直列回路のための既知の式によって、測定コンデンサＫＭ１の容量ＣＭ１と外側コンデンサＫＡ１の容量ＣＡ１から容易に算定され得る。必要時に、並列回路が、測定コンデンサＫＭ１の代わりに其々の全測定装置７、及び／又は追加的に、評価装置８を有し得、結果として、その時不足容量Ｃ１ａは、容量ＣＭ１に依存する測定装置７のインピーダンスから、容量ＣＡ１から、及び評価装置８のインピーダンスから算定されなくてはならない。
【００５８】
薄層電圧Ｖ１ａが、下位電圧コンデンサＫＵ１に設置されていて、及び下位電圧コンデンサＫＵ１と上位電圧コンデンサＫＯ１の間の接続導体又は継手において、出力され及び、共通電位１３に関連付けられる。電流網電圧Ｕａが、上位電圧コンデンサＫＯ１と下位電圧コンデンサＫＵ１から成る直列回路を経て低下する。
【００５９】
図４において、コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃの監視のための方法の実施形態のフローチャートが、３つの位相の交流電流網のために概略的に示されている。この方法は、例えば図１の装置１によって、及び／又は図１の装置１の補助で実行され得る。
この実施形態において、この方法は、以下のステップを有し、これらステップは、装置１、と図１〜図３との関係において説明される。
【００６０】
ステップ１０１：方法のスタート。
【００６１】
ステップ１０２：第一の電流網電圧Ｕａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の検出と各位相Ａ，Ｂ，Ｃのための時点ｔ１のための第一の薄層電圧Ｖａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）の検出。
【００６２】
ステップ１０３：捉えられた電流網電圧Ｕａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）したがう第一の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の算出、及び時点ｔ１における電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の相互の比較。
電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の相互の比較のために、この実施形態において、電流網電圧Ｕａｅ，Ｕｂｅ，Ｕｃｅの効果値が使用される。さらに電流網電圧インジケータの額及び／又は波高値及び／又は振幅も比較のために援用され得る。
【００６３】
さらに、公差値ＲＡＢ＞０，ＲＢＣ＞０，ＲＣＡ＞０は、比較のために定められるように設計されていて、及び、この比較は、｜Ｕａｅ−Ｕｂｅ｜≦ＲＡＢ及び｜Ｕｂｅ−Ｕｃｅ｜≦ＲＢＣ及び｜Ｕｃｅ−Ｕａｅ｜≦ＲＣＡが該当するかどうかが試験されるように行われる。
【００６４】
これが該当する場合、電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の相互の比較が、電流網電圧インジケータが、予設定された寸法ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡを上回っては相互に偏倚しないという結果を生むことを意味する。この場合において、ステップ１０５が、実施される。
【００６５】
該当しない場合、第一の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の相互の比較が、第一の電流網電圧インジケータが、予設定された寸法ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡを上回って偏倚するという結果を生むことを意味する。この場合において、ステップ１０４が、実施される。
【００６６】
ステップ１０４：警告信号が、生成され、この警告信号は、電流網内の短絡及び／又は、電流網電圧Ｕａ，Ｕｂ，Ｕｃの強すぎる、又は過剰な非対称性を表示する。引き続いて、ステップ１０２へのジャンプが行われる。
【００６７】
ステップ１０５：第一の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の位相角φａ，φｂ，φｃの時点ｔ１における算出であって、φａは、電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１）の位相角であり、φｂは、電流網電圧インジケータＵｂ（ｔ１）の位相角であり、及びφｃは、電流網電圧インジケータＵｃ（ｔ１）の位相角であることが該当する。
【００６８】
ステップ１０６：第一の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ１），Ｕｂ（ｔ１），Ｕｃ（ｔ１）の位相角φａ，φｂ，φｃの相互における比較。第一の電流網電圧インジケータの位相角の相互の比較のために、公差値ＰＡＢ＞０，ＰＢＣ＞０，ＰＣＡ＞０が、角比較のための寸法として定められるように設計されている。この時、大きさ比較は、｜φａ−φｂ｜≦ＰＡＢ及び｜φｂ−φｃ｜≦ＰＢＣ及び｜φｃ−φａ｜≦ＰＣＡが該当するかどうかが試験されるように行われる。
【００６９】
該当する場合、位相角比較は、第一の電流網電圧インジケータφａ，φｂ，φｃの位相角が、予設定された寸法ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡを上回っては相互に偏倚しないという結論を生むことを意味する。この場合において、ステップ１０７が、実施される。
【００７０】
該当しない場合、位相角比較は、第一の電流網電圧φａ，φｂ，φｃの位相角が、予設定された寸法ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡを上回って相互に偏倚するという結論を生むことを意味する。この場合において、ステップ１０４ａへのジャンプが行われる。
【００７１】
ステップ１０７：ステップ１０２中で測定された薄層電圧Ｖａ（ｔ１）Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）による時点ｔ１のための第一の薄層電圧インジケータＶａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）の算出であって、この第一の薄層電圧インジケータは、其々の薄層３と共通電位１３の間で、時点ｔ１に設けられている。
【００７２】
ステップ１０８：次の式にしたがって、薄層電圧インジケータＶａ（ｔ１），Ｖｂ（ｔ１），Ｖｃ（ｔ１）の間の位相オフセットθａｂ，θｂｃ，θａｃを算定し、及び保管する。
【数１３】
2020509377.tif 000015
この際、
−Ｕａ（ｔｊ），Ｕｂ（ｔｊ），Ｕｃ（ｔｊ）は、時点ｊにおける、第一の，第二の及び第三の位相の第一の電流網電圧インジケータであり、
−Ｖａ（ｔｊ），Ｖｂ（ｔｊ），Ｖｃ（ｔｊ）は、時点ｊにおける、第一の，第二の及び第三の位相の第一の薄層電圧インジケータである。
【００７３】
ステップ１０９：第二の電流網電圧Ｕａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）の検出、及び第二の薄層電圧Ｖａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２）の検出、及び各位相Ａ，Ｂ，Ｃのための時点ｔ２において捉えられた電流網電圧Ｕａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）にしたがう時点ｔ１の後にある時点ｔ２のための第二の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）の算出。
【００７４】
ステップ１１０：時点ｔ２における電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２）Ｕｃ（ｔ２）の相互の比較。
【００７５】
時点ｔ２における電流網電圧インジケータの比較は、ステップ１０３からの時点ｔ１において、第一の電流網電圧インジケータの比較に相似して行われる。電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）が、予設定された寸法ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡを上回って相互に偏倚する場合、ステップ１０４が、実施され、他の場合は、ステップ１１１で継続される。
【００７６】
ステップ１１１：第二の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）の位相角φａ，φｂ，φｃ時点ｔ２における算出であって、φａは、電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２）の位相角であり、φｂは、電流網電圧インジケータＵｂ（ｔ２）の位相角であり、及びφｃは、電流網電圧インジケータＵｃ（ｔ２）の位相角であることが該当する。
【００７７】
ステップ１１２：時点ｔ２における、第二の電流網電圧インジケータＵａ（ｔ２），Ｕｂ（ｔ２），Ｕｃ（ｔ２）の位相角φａ（ｔ２），φｂ（ｔ２），φｃ（ｔ２）の比較であって、ステップ１０６に相似する。
【００７８】
第二の電流網電圧インジケータの位相角が、予設定された寸法ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡを上回って相互に偏倚する場合、ステップ１０４ｂが、実施され、他の場合は、ステップ１１３によって継続される。
【００７９】
ステップ１０４ｂ：警告信号が、生成され、この警告信号は、電流網内の短絡及び／又は、電流網電圧Ｕａ，Ｕｂ，Ｕｃの強すぎる、又は過剰な非対称性を表示する。引き続いて、必要に応じて、ステップ１０９へのジャンプが行われる。
【００８０】
ステップ１１３：時点ｔ２ための第二の薄層電圧インジケータＶａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２）は、測定される薄層電圧にしたがって算出され、この薄層電圧は、其々の薄層３と共通電位１３の間で、時点ｔ２において設けられている。さらに時点ｔ２のために、其々の位相オフセットθａｂ（ｔ２），θｂｃ（ｔ２），θａｃ（ｔ２）が、薄層電圧インジケータＶａ（ｔ２），Ｖｂ（ｔ２），Ｖｃ（ｔ２）から成る隣接されたコンデッサブッシングの間で、次の式にしたがって算出され及び保管される。
【数１４】
2020509377.tif 000016
時点ｔ１と時点ｔ２の間で採取された可能な前の方法過程からの数個の測定値は、この実施形態において考慮されない。
【００８１】
ステップ１１４ａ：この実施形態において、各コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃのために、誘電正接変化ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃが、隣接されたコンデッサブッシングの間の事前に様々な時点で算出された位相オフセットθａｂ（ｔｊ），θｂｃ（ｔｊ），θａｃ（ｔｊ）に依存して、次の式にしたがって算定される。
【数１５】
2020509377.tif 000017
ΔＤａ（ｔ２）は、こうして、時点ｔ２におけるコンデッサブッシング２ａの誘電正接変化を、時点ｔ１との比較において解説する。ΔＤｂ（ｔ２）は、こうして、時点ｔ２におけるコンデッサブッシング２ｂの誘電正接変化を、時点ｔ１との比較において解説する。ΔＤｃ（ｔ２）は、こうして、時点ｔ２におけるコンデッサブッシング２ｃの誘電正接変化を、時点ｔ１との比較において解説する。
【００８２】
この実施形態にしたがって、コンデッサブッシングｅｎ２ａ，２ｂ，２ｃの誘電正接変化の算出は、第一の時点ｔ１との関連下において、時点ｔ２の後にある、より後の時点ｔ３，ｔ４，…ｔｎのために行われる。
【００８３】
ステップ１１５：各コンデッサブッシングのために、コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃのステップ１１４ａにおいて識別された誘電正接変化は比較される。この実施形態において、公差値ＤＡ＞０，ＤＢ＞０，ＤＣ＞０が、其々のコンデッサブッシングの誘電正接変化のために定められ、及び比較が、以下が該当するか試験されることが行われるように設計されている。
【数１６】
2020509377.tif 000018
が該当するかどうか。これが、該当する場合、ステップ１１６が実施される。これが、該当しない場合、ステップ１１７が実施される。
【００８４】
ステップ１１６：監視信号が、生成され、この監視信号は、コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃが、正常な状態にあることを表示する。引き続いて、ステップ１０９へのジャンプが行われる。
【００８５】
ステップ１１７：誘電正接比較は、その上、第一の場合において、
【数１７】
2020509377.tif 000019
が該当するかどうかが試験されるように行われ、
又は、第二の場合において、
【数１８】
2020509377.tif 000020
又は、第三の場合において、
【数１９】
2020509377.tif 000021
上記の３つの場合のうちの１つが、起こると、ステップ１１８へのジャンプが行われる。これが、該当する場合、ステップ１１９が実施される。
【００８６】
ステップ１１８：ステップ１１７からの消失比較から独立して、監視信号が生成される。
【００８７】
ステップ１１７において、第一の場合が、発生した時、監視信号が、第二のコンデッサブッシング２ｂが、正常な状態にないこと、又は他の両コンデッサブッシング２ａ，２ｃが、正常な状態にないこと、及び同種のエラーを有することを示す。
【００８８】
第二の場合が、ステップ１１７中に発生した時、監視信号は、第三のコンデッサブッシング２ｃが、正常な状態にない、又は他の両コンデッサブッシング２ｂ，２ａが、正常な状態にない、及び同種のエラーを有する。
【００８９】
第三の場合が、ステップ１１７に発生した時、監視信号が、第一のコンデッサブッシング２ａが、正常な状態にない、又は他の両コンデッサブッシング２ｃ，２ｂが、正常な状態にない、及び同種のエラーを有する。
【００９０】
ステップ１１９：３つの上に言及された場合の１つも発生しない場合、監視信号が、生成され、全部で３つのコンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃが、正常な状態にない、又は、２つのコンデッサブッシングが、正常な状態ではなく、及び同種のエラーを有さないことを表示する。引き続いて、この方法は終了（ステップ１２０）され、又は必要に応じて、ステップ１０９へのジャンプが行われる。
【００９１】
下記に、ステップ１１４ａの代替的実施形態１１４ｂ，１１４ｃが、より詳細に説明される。
【００９２】
ステップ１１４ａにおける措置とは反対に、ステップ１１４ｂにおいて、随時のコンデッサブッシングの誘電正接変化の算出が、時点ｔ２の後にある時点ｔ３，ｔ４，…ｔｎにおける測定値のために、先行する測定値に関しても行われ得る。これは、例えば時点ｔ３のためであり、この時点ｔ３は、時点ｔ２の後にあって、次の式によって描写されている：
【数２０】
2020509377.tif 000022
別の代替的実施形態において、ステップ１１４ｃで、第一の点ｔ１とより後の時点ｔｎの間にある多数の測定値も随時のコンデッサブッシングの誘電正接変化の算出のために準用され得る。有利にも、各々の測定値ｔ１，…，ｔｎは、重み係数でも実装され得る。このステップ１１４ｃの実施形態は、例えば下記の式によって描写されている。
【００９３】
そうして、第一のコンデッサブッシング２ａの誘電正接変化を算出するために該当するのは、
【数２１】
2020509377.tif 000023
第二のコンデッサブッシング２ｂの誘電正接変化の算出に該当するのは、
【数２２】
2020509377.tif 000024
第三のコンデッサブッシング２ｃの誘電正接変化の算出に該当するのは、
【数２３】
2020509377.tif 000025
この際、
ｎ＞２が、時点の総数であり、
ｇａｉ，ｇｂｉ，ｇｃｉは、第一の、第二の及び、第三のコンデッサブッシングのためのｉ−番目の重み係数である。
【００９４】
重み係数は、この際、アンチトン（ａｎｔｉｔｏｎ）に、其々のコンデッサブッシングの順番、又は組み込み位置又は統計的又は確率的手段、又は別の経験値に依存し得る。
【００９５】
ステップ１０２，１０９は、例えば電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃ、測定アダプタ６、測定装置７及び評価装置８によって実施され得、この評価装置は、そうして手段を形成し、この手段は、様々な時点Ｕａ（ｔｊ），Ｕｂ（ｔｊ），Ｕｃ（ｔｊ），Ｖａ（ｔｊ），Ｖｂ（ｔｊ），Ｖｃ（ｔｊ）の電流網電圧と薄層電圧を検出するように形成されている。
【００９６】
ステップ１０３，１０５，１０６，１１０，１１１，１１２は、例えば電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃによって、及び評価装置８によって実施され得、これらは、そうして手段を形成し、これら手段は、様々な時点の電流網電圧インジケータを算出し、及び相互において比較するように形成されている。
【００９７】
ステップ１０３，１０５，１０６，１１０，１１１，１１２は、例えば電圧コンバータ９ａ，９ｂ，９ｃによって、及び評価装置８によって実施され得、これらは、そうして手段を形成し、これら手段は、様々な時点の電流網電圧インジケータを算出し、及び相互において比較するように形成されている。
【００９８】
ステップ１１５，１１７は、例えば評価装置８によって実施され得、この評価装置は、手段を形成し、これら手段は、其々のコンデッサブッシングの誘電正接の変化を相互において比較するように形成されている。
【００９９】
ステップ１１５，１１７は、例えば評価装置８によって実施され得、この評価装置は、手段を形成し、これら手段は、其々のコンデッサブッシングの誘電正接の変化を相互において比較するように形成されている。
【０１００】
有利にも、ステップ１０３／１０５及び／又はステップ１１０／１１２は、相互に平行して実行される。
【０１０１】
図５において、３つの位相の交流電流網のためのコンデッサブッシングを監視するための装置の別の実施形態が示されている。従来の実施におけるのと異なり、ここでは、参照電圧インジケータＲａ（ｔｊ），Ｒｂ（ｔｊ），Ｒｃ（ｔｊ）が、誘電正接変化の比較のために、其々の電流網配線５ａ，５ｂ，５ｃにおける分圧器９ａ，９ｂ，９ｃによって算出されず、平行に接続されたコンデッサブッシング２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘の組にしたがって、（不図示の）第二の高電圧変圧器において算出される。平行コンデッサブッシング２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘は、この際、同一の電流網配線５ａ，５ｂ，５ｃに、コンデッサブッシング２ａ，２ｂ，２ｃと同様に接続されている。
【０１０２】
図２の実施形態に相似して、各平行コンデッサブッシング２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘に、測定アダプタ６と測定装置７から成る測定装置が付設されている。評価装置８は、其々の測定装置７と其々の測定アダプタ６を介して、導通して平行コンデッサブッシング２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘と結合されている。この結合によって、平行コンデッサブッシングの薄層電圧インジケータＶａ‘，Ｖｂ‘，Ｖｃ‘が算出される。
【０１０３】
この方法の経過にとって、この代替的実施形態において、薄層電圧インジケータＶａ‘（ｔｊ），Ｖｂ‘（ｔｊ），Ｖｃ‘（ｔｊ）が、参照電圧インジケータＲａ（ｔｊ），Ｒｂ（ｔｊ），Ｒｃ（ｔｊ）として利用される。
【０１０４】
位相角φａ，φｂ，φｃが、図５において紹介された方法の経過の中で、薄層電圧インジケータＶａ‘，Ｖｂ‘Ｖｃ‘の位相角φａ‘，φｂ‘，φｃ‘によって置換される。
【０１０５】
これに相似して、位相比較ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡのための公差値も、及び電圧比較ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡのための公差値が、必要に応じて、薄層電圧インジケータＶａ‘，Ｖｂ‘，Ｖｃ‘の位相比較ＰＡＢ‘，ＰＢＣ‘，ＰＣＡ‘のための代替的な公差値によって、及び電圧比較のための代替的な公差値ＲＡＢ‘，ＲＢＣ‘，ＲＣＡ‘によって、平行な薄層電圧インジケータＶａ‘，Ｖｂ‘，Ｖｃ‘にしたがって置換される。
【０１０６】
別の実施形態において、参照電圧として定電圧も使用され得、これら定電圧のために相応する定電圧インジケータが予設定される。
【０１０７】
各定電圧インジケータの大きさが、この場合において、好適には交流電流網の名目電圧値に相応する。
【０１０８】
図５に関する実施における解説される方法の経過にしたがう位相角φａ，φｂ，φｃは、この実施形態において、不変に０°，１２０°，２４０°に固定される。
【符号の説明】
【０１０９】
１  装置
２ａ，２ｂ，２ｃ  コンデッサブッシング
２ａ‘，２ｂ‘，２ｃ‘  平行コンデッサブッシング
３  薄層
４  導体
５ａ，５ｂ，５ｃ  電流網配線
６  測定アダプタ
７  測定装置
７’  過電圧保護
８  評価装置
９ａ，９ｂ，９ｃ  電圧コンバータ
１１  絶縁体
１２  フランジ
１３  共通電位
Ｋ１，Ｋ２  コンデンサ
Ｗ１，Ｗ２  巻線
Ａ，Ｂ，Ｃ  第一の、第二の、第三の位相
Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｃ  参照電圧
Ｒａ（ｔｊ），Ｒｂ（ｔｊ），Ｒｃ（ｔｊ）  時点ｔｊにおける参照電圧インジケータ
Ｕａ，Ｕｂ，Ｕｃ  電流網電圧
Ｕａ（ｔｊ），Ｕｂ（ｔｊ），Ｕｃ（ｔｊ）  時点ｔｊにおける電流網電圧インジケータ
Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ  薄層電圧
Ｖａ（ｔｊ），Ｖｂ（ｔｊ），Ｖｃ（ｔｊ）  時点ｔｊにおける薄層電圧インジケータ
Ｖａ‘，Ｖｂ‘，Ｖｃ‘  平行コンデッサブッシングにおける薄層電圧
Ｖａ‘（ｔｊ），Ｖｂ‘（ｔｊ），Ｖｃ‘（ｔｊ）  平行コンデッサブッシングにおける薄層電圧インジケータ
Ｕａｅ，Ｕｂｅ，Ｕｃｅ  電流網電圧の効果値
ＫＯ１，ＫＯ２，ＫＯ３  第一の、第二の、第三の上位電圧コンデンサ
ＫＵ１，ＫＵ２，ＫＵ３  第一の、第二の、第三の下位電圧コンデンサ
ＫＡ１，ＫＡ２，ＫＡ３  第一の、第二の、第三の外側コンデンサ
ＫＭ１，ＫＭ２，ＫＭ３  第一の，第二の，第三の測定コンデンサ
Ｃ０ａ，Ｃ０ｂ，Ｃ０ｃ  ＫＯ１，ＫＯ２，ＫＯ３の上位容量
Ｃ１ａ，Ｃ１ｂ，Ｃ１ｃ  ＫＵ１，ＫＵ２，ＫＵ３の不足容量
ＣＡ１，ＣＡ２，ＣＡ３  ＫＡ１，ＫＡ２，ＫＡ３の容量
ＣＭ１，ＣＭ２，ＣＭ３  ＫＭ１，ＫＭ２，ＫＭ３の容量
θａｂ，θｂｃ，θａｃ  薄層電圧インジケータＶａ，Ｖｂ，Ｖｃ間における位相オフセット
ΔＤａ，ΔＤｂ，ΔＤｃ  コンデッサブッシングの誘電正接変化
ＤＡ，ＤＢ，ＤＣ  誘電正接変化のための公差値
ＰＡＢ，ＰＢＣ，ＰＣＡ  位相比較のための公差値
ＲＡＢ，ＲＢＣ，ＲＣＡ  電圧比較のための公差値
φａ，φｂ，φｃ  参照電圧インジケータの位相角
ｇａｉ，ｇｂｉ，ｇｃｉ  重み係数
【図１】
2020509377.tif 000036
【図２】
2020509377.tif 000037
【図３】
2020509377.tif 000038
【図４】
2020509377.tif 000039
【図５】
2020509377.tif 000040
【国際調査報告】
2020509377.tif 000041
2020509377.tif 000042
2020509377.tif 000043
2020509377.tif 000044
2020509377.tif 000045
2020509377.tif 000046