(57)【要約】  本発明は、表示パネルを検出するための方法、装置及びシステムを提供する。該表示パネルは、複数組の画素を含み、この方法は、複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ第ｉ組の画素が第１階調で表示する際に、複数組の画素のうち、第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御するステップと、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する過程において、表示パネルから出力される第１電流値を検出するステップと、第１電流値が第１電流範囲内でない場合、前記第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定するステップと、を含む。この検出方法は、表示パネルに対する検出の精度を高めることができる。
2020528157.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数組の画素を含む表示パネルを検出する方法であって、
前記複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御するステップと、
第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第１電流値を検出するステップと、
前記第１電流値が第１電流範囲内でない場合、前記第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定するステップと、を含み、
前記第ｉ組の画素は前記複数組の画素の何れか１組の画素であり、前記第１階調と前記第２階調は異なっており、ｉは正の整数である、方法。
【請求項２】
前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計するステップと、
前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定するステップと、
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記表示パネルから出力される第１電流値が検出された後に、
前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップをさらに含み、そのうち、前記第１電流範囲が前記第２電流範囲内にある、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップは、
前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集するステップと、
前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定するステップと、を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記複数組の画素での各組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御する前に、
前記表示パネルでの複数組の画素を前記第２階調で表示させるように制御するステップと、
前記表示パネルから出力される第２電流値を検出するステップと、
をさらに含む、請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記表示パネルでの複数組の画素を第１階調で表示させるように制御するステップと、
前記表示パネルから出力される第３電流値を検出するステップと、
をさらに含む、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定するステップをさらに含む、請求項５に記載の方法。
【請求項８】
前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定するステップは、
前記第２電流値Ｉ２と前記第３電流値Ｉ３に基づいて、電流式によって所定電流基準値Ｉを特定して、前記所定電流基準値によって前記第１電流範囲を特定するステップを含み、
前記電流式は、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、
そのうち、前記ｎは、前記表示パネルでの画素組の総組数である、
請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記第１電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ１＋Ｉ２であり、その下限値がＩ×ｋ２＋Ｉ２であり、そのうち、ｋ１とｋ２は所定の電流係数であり、且つｋ１はｋ２より大きく、ｋ２は０より大きい、
請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
複数組の画素を含む表示パネルを検出するための装置であって、前記複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御する制御回路と、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第１電流値を検出する検出回路と、
前記第１電流値が第１電流範囲内でない場合、前記第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する第１特定回路と、を含み、
前記第ｉ組の画素は前記複数組の画素の何れか１組の画素であり、前記第１階調と前記第２階調は異なっており、ｉは正の整数である、表示パネルを検出するための装置。
【請求項１１】
前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計する集計回路と、
前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定する第２特定回路と、
をさらに含む、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する第３特定回路をさらに含み、
そのうち、前記第１電流範囲が前記第２電流範囲内にある、請求項１０に記載の装置。
【請求項１３】
前記第３特定回路は、
前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集し、
及び、前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定する、請求項１２に記載の装置。
【請求項１４】
前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を前記第２階調で表示させるように制御し、
前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第２電流値を検出する、請求項１０〜１３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項１５】
前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を第１階調で表示させるように制御し、
前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第３電流値を検出する、請求項１４に記載の装置。
【請求項１６】
前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定する第４特定回路をさらに含む、請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記第４特定回路は、前記第２電流値Ｉ２と前記第３電流値Ｉ３に基づいて、電流式によって所定電流基準値を特定して、前記所定電流基準値によって前記第１電流範囲を特定し、
そのうち、前記電流式は、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、
そのうち、前記ｎは、前記表示パネルでの画素組の総組数である、
請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
前記第１電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ１＋Ｉ２であり、その下限値がＩ×ｋ２＋Ｉ２であり、ｋ１とｋ２は所定の電流係数であり、且つｋ１はｋ２より大きく、ｋ２は０より大きい、
請求項１７に記載の装置。
【請求項１９】
請求項１０〜１８のいずれか一項に記載の表示パネルを検出するための装置を含む表示パネルを検出するためのシステム。
【請求項２０】
信号発生部と、電流検出計と、設定回路と、データ比較回路と、画像採集装置と、メモリと、再検査回路と、補償回路と、
をさらに含む、請求項１９に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示の実施例は、表示パネルを検出するための方法、装置及びシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
表示パネルでは、表示輝度ムラが品質に影響するため、生産過程において表示パネルに対する輝度均一性の検出が必要とされる。
【０００３】
従来技術では、一般的に、画像処理の方法で表示パネルに対する輝度均一性の検出を行い、例えば、表示パネルにおける各画素を同一の所定電圧までに充電するように制御し、その後、表示パネルで表示される画像をカメラで採集し、画像における各画素の輝度値を所定輝度値と比べて、表示パネルの輝度の均一性を判断することができ、そのうち、該所定輝度値は、画素を該所定電圧までに充電した後に正常に表示する時の理想輝度値である。
【０００４】
カメラで採集された画像の解像度には制限があるため、従来技術の検出方法による検出精度も制限されてしまう。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
少なくともカメラで採集された画像の解像度に制限があるため、従来技術の検出方法による検出精度も制限されるという問題を解決するために、本開示の実施例は、表示パネルを検出するための方法、装置及びシステムを提供する。
【０００６】
本開示の一つの方面によれば、複数組の画素を含む表示パネルを検出するための方法を提供した。前記方法は、
前記複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御するステップと、
第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第１電流値を検出するステップと、
前記第１電流値が第１電流範囲内でない場合、前記第ｉ組の画素の表示に異常があると特定するステップと、
を含み、
前記第ｉ組の画素は前記複数組の画素の何れか１組の画素であり、前記第１階調と前記第２階調は異なっており、ｉは正の整数である。
【０００７】
例えば、前記方法は、前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計するステップと、前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定するステップと、をさらに含む。
【０００８】
例えば、前記表示パネルから出力される第１電流値が検出された後に、前記方法は、前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップをさらに含み、前記第１電流範囲は、前記第２電流範囲内にある。
【０００９】
例えば、前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップは、前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集するステップと、前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定するステップと、を含む。
【００１０】
例えば、前記複数組の画素での各組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御する前に、前記方法は、前記表示パネルでの複数組の画素を前記第２階調で表示させるように制御するステップと、前記表示パネルから出力される第２電流値を検出するステップと、をさらに含む。
【００１１】
例えば、前記方法は、前記表示パネルでの複数組の画素を第１階調で表示させるように制御するステップと、前記表示パネルから出力される第３電流値を検出するステップと、をさらに含む。
【００１２】
例えば、前記方法は、前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定するステップをさらに含む。
【００１３】
例えば、前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定するステップは、前記第２電流値Ｉ２と前記第３電流値Ｉ３に基づいて、電流式によって所定電流基準値Ｉを特定し、前記所定電流基準値によって前記第１電流範囲を特定するステップを含み、前記電流式は、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、そのうち、前記ｎは、前記表示パネルでの画素組の総組数である。
【００１４】
例えば、前記第１電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ１＋Ｉ２であり、その下限値がＩ×ｋ２＋Ｉ２であり、ｋ１とｋ２は所定の電流係数であり、且つｋ１はｋ２より大きく、ｋ２は０より大きい。
【００１５】
本開示の二つの方面によれば、複数組の画素を含む表示パネルを検出するための装置を提供した。前記装置は、
前記複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御する制御回路と、
第ｉ組の画素が前記第１階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第１電流値を検出する検出回路と、
前記第１電流値が第１電流範囲内でない場合、前記第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する第１特定回路と、を含み、
前記第ｉ組の画素は前記複数組の画素の何れか１組の画素であり、前記第１階調と前記第２階調は異なっており、ｉは正の整数である。
【００１６】
例えば、前記装置は、前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計する集計回路と、前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定する第２特定回路と、をさらに含む。
【００１７】
例えば、前記装置は、前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する第３特定回路をさらに含み、前記第１電流範囲は、前記第２電流範囲内にある。
【００１８】
例えば、前記第３特定回路は、前記第１電流値が第２電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集し、及び、前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定する。
【００１９】
例えば、前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を前記第２階調で表示させるように制御する。前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第２電流値を検出する。
【００２０】
例えば、前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を第１階調で表示させるように制御する。前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第３電流値を検出する。
【００２１】
例えば、前記装置は、前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、前記第１電流範囲を特定する第４特定回路をさらに含む。
【００２２】
例えば、前記第４特定回路は、前記第２電流値と前記第３電流値に基づいて、電流式によって所定電流基準値を特定して、前記所定電流基準値によって前記第１電流範囲を特定し、前記電流式は、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、そのうち、前記ｎは、前記表示パネルでの画素組の総組数である。
【００２３】
例えば、前記第１電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ１＋Ｉ２であり、その下限値がＩ×ｋ２＋Ｉ２であり、ｋ１とｋ２は所定の電流係数であり、且つｋ１はｋ２より大きく、ｋ２は０より大きい。
【００２４】
本開示の三つの方面によれば、表示パネルを検出するためのシステムを提供した。前記システムは、上記した表示パネルを検出するための装置を含む。
【００２５】
例えば、前記装置は、信号発生部と、電流検出計と、設定回路と、データ比較回路と、画像採集装置と、メモリと、再検査回路と、補償回路と、をさらに含む。
【００２６】
本開示の実施例の技術案をより明瞭に説明するために、以下、実施例の図面を簡単に説明するが、勿論、以下の説明における図面は本開示の一部の実施例に関するものに過ぎず、本開示を限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１−１】本開示の実施例による表示パネルの検出システムの構造模式図である。
【図１−２】本開示の実施例による表示パネルの検出方法のフローチャートである。
【図２】本開示の実施例による別の表示パネルの検出方法のフローチャートである。
【図３】本開示の実施例による第１電流範囲を特定する方法のフローチャートである。
【図４−１】本開示の実施例による表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−２】本開示の実施例による別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−３】本開示の実施例によるまた別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−４】本開示の実施例によるさらに別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−５】本開示の別の実施例による表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−６】本開示の別の実施例による別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−７】本開示の別の実施例によるまた別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図４−８】本開示の別の実施例によるさらに別の表示パネルの表示画像の模式図である。
【図５−１】本開示の実施例による複数列の画素での各列の画素の点灯電流値の模式図である。
【図５−２】本開示の実施例による一部列の画素での各列の画素の点灯電流値の模式図である。
【図６−１】本開示の実施例による表示パネルの検出装置の構造模式図である。
【図６−２】本開示の実施例による別の表示パネルの検出装置の構造模式図である。
【図６−３】本開示の実施例によるまた別の表示パネルの検出装置の構造模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本開示の実施形態の目的、技術案及び利点をさらに明確にするように、以下、本開示の実施形態の図面を参照しながら、本開示の実施形態の技術案を明瞭且つ完全に説明する。勿論、説明される実施形態は、本開示の実施形態の一部であり、全ての実施形態ではない。説明される本開示の実施形態に基づき、当業者が創造的な労働をしない前提で得られる全ての他の実施形態は、いずれも本開示の保護範囲に入る。
【００２９】
特別に定義しない限り、本開示に使われる技術用語または科学用語は本開示の所属分野における一般の従業者が理解できる通常の意味である。本開示に使われる「第１」、「第２」及び類似する用語は、異なる構成要素を区別するためのものに過ぎず、順番、数量または重要度を示すものではない。「含む」または「備える」等の類似する用語は、該用語の前に記載された素子または部品が該用語の後に挙げられる素子または部品及びそれらと同等のものをカバーするが、ほかの素子または物体を排除しないことを意味する。「接続」または「繋げる」等の類似する用語は、物理的または機械的な接続に制限されるものではなく、直接的に接続されるか間接的に接続されるかを問わず、電気的な接続を含むこともできる。「上」、「下」、「左」、「右」等は単に相対位置関係を意味するものであり、説明される対象の絶対位置関係が変わると、当該相対位置関係もそれにつれて変わる可能性がある。
【００３０】
表示パネルの製造工程において、エキシマレーザアニール（英語：Ｅｘｃｉｍｅｒ  Ｌａｓｅｒ  Ａｎｎｅａｌｉｎｇ、略称：ＥＬＡ）や現像等の設備によるプロセス特徴、及び表示パネルの回路駆動方式によって、表示パネルには、縦方向／横方向に延びるストライプ状の表示ムラ（英語：Ｍｕｒａ）や周期性のムラ等の表示異常（すなわち、Ｍｕｒａ類ＮＧ）が生じる可能性がある。これらの表示異常は、一般的には、表示の駆動回路の特性差異または駆動電流の微小な差異によるものである。このような表示異常は、表示パネルでの対応する面積が小さく、異常の発生が周期性を有し、且つ異常が生じない部分との差異が小さいであるため、画像処理の方法でそれを検出する場合において、画像を採集する環境には高い要求があり、検出アルゴリズムが複雑で、且つ、機能の高い画像プロセッサ及びサーバーが必要とされる。それにより、従来の検出方法は、占有された設備の資源が多く、効率が低く、且つ検出精度が解像度に制限される等の欠点を有する。人工の方法で表示異常を検出する場合、多く人力を尽くし、且つ基準の統一が難しくなり、表示パネルに対する品質の制御に寄与しない。
【００３１】
上記の課題に対して、本開示の実施例は表示パネルの検出システムを提供する。該システムは、表示パネルの生産工程において表示パネルの輝度均一性を検出する。図１−１に示されるように、該表示パネルの検出システムは、信号発生部ａと、高精度電流計ｂと、設定回路ｃと、データ比較回路ｄと、カメラｅと、メモリｆと、再検査回路ｇと、補償回路ｈと、表示パネルｉとを含む。信号発生部ａは、表示パネルに電源及び信号生成源を供給する。高精度電流計ｂは、別の電流検出計に代替することも可能であり、表示パネルでの各パターンに対応する電流値を記録して該電流値をデータ比較回路に入力する。設定回路ｃは、実用上な要求や表示パネルの製品特徴によって所定電流値範囲を特定することができる。データ比較回路ｄは、検出電流に対してデータ処理を行い、所定電流値範囲に応じて表示パネルの輝度を判断する。補償回路ｈは、表示パネルに表示異常が生じた場合、補償アルゴリズムを生成して表示パネルに書き込む。カメラｅは、別の画像採集装置に代替することも可能であり、再検査し確認するように、輝度異常の疑いがある表示パネルを撮影して、写真をメモリｆに送信する。メモリｆは、例えば写真メモリであり、写真を記憶する。再検査回路ｇは、ディスプレーによりユーザーに写真を提供し再検査する、または、写真処理システムにより輝度が均一であるかを判定し、その結果をユーザーにフィードバックする。表示パネルｉは、複数組の画素を含んでもよい。例えば、該複数組の画素での各組の画素は、一行の画素または一列の画素であってもよい。例えば、該表示パネルｉは、電流駆動式のものであり、電流の変化に敏感である。例えば、該表示パネルは、一定の電流で駆動する活性マトリクス有機発光ダイオード（英語：Ａｃｔｉｖｅ  ｍａｔｒｉｘ  ｏｒｇａｎｉｃ  ｌｉｇｈｔ  ｅｍｉｔｔｉｎｇ  ｄｉｏｄｅ、略称：ＡＭＯＬＥＤ）等の有機発光ダイオード（英語：Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｌｉｇｈｔ−Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ、略称：ＯＬＥＤ）であるものであってもよい。カメラｅは、電荷結合素子（英語：Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ、略称：ＣＣＤ）のものであってもよい。
【００３２】
図１−２は本開示の実施例による表示パネルの検出方法のフローチャートである。この方法は、図１−１に示される表示パネルの検出システムに適用することができる。図１−２に示されるように、この方法は以下のステップを含む。
【００３３】
ステップ１０１：複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ第ｉ組の画素が第１階調で表示する際に、複数組の画素のうち、第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御する。
【００３４】
そのうち、第ｉ組の画素は複数組の画素の何れか１組の画素であり、ｉは、正の整数であり、且つ、ｉは、表示パネルでの全ての画素組の総組数の以下である。例えば、表示パネルがＮ組の画素を含むと、ｉがＮ以下の正の整数である。該第１階調と第２階調は、異なっており、且つ、実際な要求や表示パネルの製品特徴に応じて特定することも可能であり、例えば、第１階調は１２８または２５５であってもよく、第２階調は０であってよい。
【００３５】
ステップ１０２：第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、表示パネルから出力される第１電流値を検出する。
【００３６】
ステップ１０３：第１電流値が第１電流範囲内でない場合、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。
【００３７】
以上のように、本開示の実施例による表示パネルの検出方法は、複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御し、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において表示パネルから出力される第１電流値を検出し、第１電流値が第１電流範囲内でない場合に第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。この方法は、表示パネルが電流に敏感であるという特性を利用して表示パネルにおける表示異常を検出し、この方法は、従来技術に比べて、画像の解像度に制限されないため、カメラで採集された画像の解像度に制限があることによって検出精度も制限される問題点を回避でき、表示パネルの検出方法の精度を高めることができる。
【００３８】
図２は本開示の実施例による別の表示パネルの検出方法のフローチャートである。図２に示されるように、この方法は以下のステップを含む。
【００３９】
ステップ２０１：表示パネルでの複数組の画素を第２階調で表示させるように制御する。
【００４０】
表示パネルを検出する時、まず、表示パネルを信号発生部ａ（ＰＧ）に接続し、その信号発生部が電源及び表示時の信号源を表示パネルに供給するようになり、そして、表示パネルでの全ての画素のいずれをも第２階調で表示させるように制御して、表示パネルから出力される電流の電流値を取得する。
【００４１】
例示的に、仮に第２階調が０であると、表示パネルでの複数組の画素のいずれをも第２階調０で表示させるように制御することができ、このとき、表示パネルは黒画面を表示する。
【００４２】
ステップ２０２：表示パネルから出力される電流の第２電流値を検出する。
【００４３】
信号発生部が表示パネルでの複数組の画素のいずれをも第２階調で表示させるように制御するとき、表示パネルから出力される電流の電流値が第２電流値となり、該第２電流値は、所定電流値の範囲を特定する時の参照電流値と使用されてもよい。例えば、高精度電流計ｂを用いて表示パネルから出力される電流の第２電流値を検出し、該電流値をメモリに記録して使用に備える。
【００４４】
例示的に、仮に表示パネルの複数組の画素のいずれをも第２階調０で表示させるように制御するとき、高精度電流計によって検出された、表示パネルから出力される電流の第２電流値は、１００マイクロアンペア（μＡ）である。
【００４５】
ステップ２０３：表示パネルでの複数組の画素を第１階調で表示させるように制御する。
【００４６】
表示パネルでの複数組の画素のいずれも第１階調で表示するとき、表示パネルから出力される電流の電流値は、所定電流値の範囲を特定するときの参照電流値と使用されてもよい。例示的に、仮に第１階調は２５５であると、表示パネルでの複数組の画素のいずれをも第１階調２５５で表示させるように制御することができ、このとき、表示パネルは白画面を表示する。
【００４７】
ステップ２０４：表示パネルから出力される第３電流値を検出する。
【００４８】
信号発生部が表示パネルでの複数組の画素のいずれをも第１階調で表示させるようにを制御するとき、表示パネルに出力される電流の電流値が第３電流値となり、該第３電流値は、所定電流値の範囲を特定するときの参照電流値と使用されてもよい。例示的に、仮に表示パネルでの複数組の画素のいずれをも第１階調２５５で表示させるように制御するとき、高精度電流計ｂによって検出された、表示パネルから出力される第３電流値は、５００マイクロアンペアである。
【００４９】
ステップ２０５：第２電流値と第３電流値に基づいて、所定電流値の範囲を特定する。
【００５０】
例えば、適用場面によっては、表示パネルの輝度均一性に対する要求が異なるため、設定回路ｃは、実際な要求や表示パネルの製品特徴に応じて該所定電流値の範囲を特定することができる。本開示の実施例において、該所定電流値の範囲は、表示において僅かな表示ムラのような表示異常が生じたことによって特定される第１電流値範囲と、表示パネルにおける表示モジュールに大きな表示ムラのような表示欠陥が生じたことによって特定される第２電流値範囲とを含んでもよく、該表示欠陥は、表示時の表示暗線または表示輝線が生じる（すなわち、Ｘ−Ｌｉｎｅが生じる）ように現れてもよく、このため、第１電流値範囲は第２電流値範囲内にあってもよい。
【００５１】
例えば、図３に示されるように、第２電流値と第３電流値に基づいて所定電流値の範囲を特定する過程は、以下のステップを含む。
【００５２】
ステップ２０５１：第２電流値Ｉ２と第３電流値Ｉ３に基づいて、電流式によって所定電流基準値Ｉを特定する。
【００５３】
そのうち、電流式はＩ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、ｎは表示パネルにおける全ての画素組の総組数である。
【００５４】
例示的に、仮に第２電流値はＩ２＝１００μＡで、第３電流値はＩ３＝５００μＡで、表示パネルに合計８００列の画素があり、つまり、表示パネルにおける全ての画素組の総組数はｎ＝８００である場合、所定電流基準値はＩ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎ=（５００μＡ−１００μＡ）／８００=０．５μＡである。
【００５５】
ステップ２０５２：所定電流基準値によって所定電流値範囲を特定する。
【００５６】
例えば、第１電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ１＋Ｉ２であってもよく、その下限値がＩ×ｋ２＋Ｉ２であってもよく、そのうち、ｋ１とｋ２は所定の電流係数であり、且つｋ１はｋ２より大きく、ｋ２は０より大きい。例えば、ｋ１は１．０３であってもよく、ｋ２は０．９７であってもよく、つまり、第１電流値範囲にとって、その上限値がＩ×１．０３＋Ｉ２であってもよく、その下限値がＩ×０．９７＋Ｉ２であってもよい。
【００５７】
第２電流値範囲は、その上限値がＩ×ｋ３＋Ｉ２であり、その下限値がＩ×ｋ４＋Ｉ２であり、そのうち、ｋ３とｋ４は所定の電流係数であり、且つｋ３はｋ１より大きく、ｋ２はｋ４より大きく、ｋ４は０より大きい。例えば、ｋ３は１．１であってもよく、ｋ４は０．９であってもよく、つまり、第２電流値範囲にとって、その上限値がＩ×１．１０＋Ｉ２であってもよく、その下限値がＩ×０．９＋Ｉ２であってもよい。
【００５８】
例示的に、仮に第２電流値がＩ２＝１００μＡであり、所定電流基準値がＩ＝０．５μＡであるとすると、設定回路ｃによって特定された第１電流値範囲は、その上限値がＩ×１．０３＋Ｉ２＝０．５１５μＡ＋１００μＡ＝１００．５１５μＡで、その下限値がＩ×０．９７＋Ｉ２＝０．４８５μＡ＋１００μＡ＝１００．４８５μＡであり、つまり、第１電流値範囲は[１００．４８５μＡ、１００．５１５μＡ]であり、第２電流値範囲は、その上限値がＩ×１．１０＋Ｉ２＝０．５５μＡ＋１００μＡ＝１００．５５μＡで、その下限値がＩ×０．９＋Ｉ２＝０．４５μＡ＋１００μＡ＝１００．４５μＡであり、つまり、第２電流値範囲は[１００．４５μＡ、１００．５５μＡ]である。
【００５９】
ステップ２０６：複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が第１階調で表示する際に、複数組の画素のうち、第ｉ組の画素以外の他組の画素を第２階調で表示させるように制御する。
【００６０】
複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御するとは、複数組の画素での各組の画素を順番に第１階調で表示させ、且つ、ある組の画素が第１階調で表示する際に、該組の画素での全ての画素のいずれをも第１階調で表示させ、同時に、複数組の画素のうち、該組の画素以外の他組の画素のいずれをも第２階調で表示させるように制御する。
【００６１】
例示的に、仮に、第１階調は２５５で、第２階調は０であるとすると、複数組の画素での各組の画素を順番に第１階調２５５で表示させ、且つ、ある組の画素が第１階調２５５で表示する際に、該組の画素での全ての画素のいずれをも第１階調２５５で表示させ、同時に、複数組の画素のうち、該組の画素以外の他組の画素のいずれをも第２階調０で表示させるように制御することができる。
【００６２】
図４−１、図４−２、図４−３、及び図４−４を参照すると、図４−１は第１０列の画素が第１階調２５５で表示する際に他列の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−２は第２０列の画素が第１階調２５５で表示する際に他列の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−３は第３０列の画素が第１階調２５５で表示する際に他列の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−４は第ｎ列の画素が第１階調２５５で表示する際に他列の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、そのうち、ＰＧは表示パネルへ信号を印加する信号発生部であり、Ａは表示パネルから出力される電流を検出する高精度電流計である。図４−１、図４−２、図４−３、及び図４−４から分かるように、第１階調２５５で表示する画素列に表示される画像は、表示パネルの表示画像において白色であり、第２階調０で表示する他画素列に表示される画像は、表示パネルの表示画像において黒色である。
【００６３】
図４−５、図４−６、図４−７、及び図４−８を参照すると、図４−５は第１０行の画素が第１階調２５５で表示する際に他行の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−６は第２０行の画素が第１階調２５５で表示する際に他行の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−７は第３０行の画素が第１階調２５５で表示する際に他行の画素が第２階調０で表示する表示画像であり、図４−４は第ｍ行の画素が第１階調２５５で表示する際に他行の画素が第２階調０で表示する表示画像である。
【００６４】
ステップ２０７：第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、表示パネルから出力される第１電流値を検出する。
【００６５】
表示パネルは、電流駆動式のものであり、電流に敏感であるため、第ｉ組の画素が第１階調で表示する時、高精度電流計ｂで表示パネルから出力される第１電流値を検出して、この第１電流値を所定電流範囲と比較することができ、これにより、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたか否か、または表示パネルに表示欠陥が生じたか否かを特定する。
【００６６】
なお、ステップ２０５はステップ２０７の後に実行されてもよく、このとき、所定電流基準値Ｉを特定する別の方式としては、第１電流値Ｉ１と第３電流値Ｉ３に基づき、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／（ｎ−１）によって実現できる。例示的に、仮に第１列の画素が第１階調で表示する時、検出された第１電流値がＩ１＝１０１μＡであり、第３電流値はＩ３＝５００μＡであり、表示パネルでの画素組の全ての総組数がｎ＝８００であるとすると、所定電流基準値はＩ＝（Ｉ３−Ｉ２）／（ｎ−１）＝Ｉ＝（５００μＡ−１０１μＡ）／（８００−１）＝０．４９９μＡである。
【００６７】
ステップ２０８：第１電流値が所定電流値範囲内にあるか否かを判断する。
【００６８】
第ｉ組の画素が第１階調で表示する時、他組の画素のいずれも第２階調で表示するため、該第ｉ組の画素の輝度値のみが変わり、且つ、該組の画素の表示が正常であれば、該第１電流値は第２電流値と第３電流値を基準とする所定電流値範囲内にあるべきであり、且つ、第１電流範囲は表示に表示異常が生じたことによって特定される電流値範囲であり、第２電流値範囲は表示パネルの表示モジュールに表示欠陥が生じたことによって特定される電流値範囲である。これにより、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたか否かを判断しようとすると、図１−１に示されるシステムのデータ比較回路ｄを用いて第１電流値と第１電流範囲を比較し、表示パネルに表示欠陥が生じたか否かを判断しようとすると、図１−１に示されるシステムのデータ比較回路ｄを用いて第１電流値と第２電流範囲を比較する。
【００６９】
第１電流値が第１電流範囲内でない場合、該第ｉ組の画素の表示が不正常であることを意味し、つまり、該第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定することができ、つまり、ステップ２０９を実行する。第１電流値が第１電流範囲内にある場合、該第ｉ組の画素の表示が正常であることを意味し、つまり、該第ｉ組の画素の表示に異常がないため、すると、次の組の画素の検出を継続する。
【００７０】
第１電流値が第２電流範囲内にある場合、表示パネルに表示欠陥がないことを意味する。第１電流値が第２電流範囲内でない場合、表示パネルに表示欠陥が生じる可能性があり、このとき、表示パネルに表示欠陥が生じたか否かをさらに特定するために、表示パネルに表示される画像を再検査する必要があり、つまり、ステップ２１２を実行する。
【００７１】
第１電流値が第２電流範囲内にあることについては、実用上、第１電流値が第１電流範囲内でない場合、第１電流値が第２電流範囲内にある可能性があるため、第１電流値が第１電流範囲内でないと特定された後に、さらに、第１電流値が第２電流範囲内にあるか否かを判断することで、表示パネルに表示欠陥が生じたかを判断してもよい。
【００７２】
ステップ２０９：第１電流値が第１電流範囲内でない場合、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。
【００７３】
第１電流値が第１電流範囲内でないとは、第１電流値が第２電流値と第３電流値を基準とする第１電流値範囲を超えたことを意味し、つまり、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたことを意味する。
【００７４】
例示的に、仮に第１電流範囲が[１００．４８５μＡ、１００．５１５μＡ]であり、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、検出された表示パネルから出力される第１電流値が１０１μＡであると、該第１電流値が第１電流範囲[１００．４８５μＡ、１００．５１５μＡ]内でないので、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定することができる。
【００７５】
ステップ２１０：表示パネルにおける表示に異常が生じた画素組の総組数を集計する。
【００７６】
第１電流範囲は、画素組に僅かな表示ムラのような表示異常が生じたことに対応する電流値範囲であるため、その個別画素組に表示異常が生じたとしても、表示パネルへの影響が小さく、つまり、該画素組に生じた表示異常による表示パネルの表示効果への影響が無視されてもよい。しかしながら、表示パネルに十分な画素組に表示異常が生じると、表示パネルの表示効果への影響が大きくなり、つまり、表示パネルに表示異常が生じる。そのため、表示パネルでの表示異常の生じた画素組の総組数を集計する必要があり、この総組数に基づいて表示パネルに表示異常が生じたか否かを特定する。
【００７７】
ステップ２１１：総組数が所定組数値より大きい場合、表示パネルに表示異常が生じたと特定する。
【００７８】
そのうち、所定組数値は、実際な要求や表示パネルの製品特徴によって特定された組数閾値であり、例えば、５であってもよい。
【００７９】
総組数が所定組数値より大きい場合、表示異常の生じた複数組の画素による、表示パネルの表示効果への影響は、無視されることができなくなり、その影響が大きくなり、このとき、表示パネルに表示異常が生じたと特定することができる。総組数が所定組数値の以下である場合、表示異常の生じた複数組の画素による、表示パネルの表示効果への影響は、無視されることができ、表示パネルに表示異常がないと特定することができ、そして、次の表示パネルに対する検出を継続する。
【００８０】
例示的に、仮に所定組数値が５であり、表示パネルに表示異常の生じた画素組の総組数が１０であると、表示パネルに表示異常が生じたと特定することができる。
【００８１】
ステップ２１２：第１電流値が第２電流範囲内でない場合、表示パネルの表示画像を採集する。
【００８２】
第１電流値が第２電流範囲内でない場合、表示パネルに表示欠陥が生じる可能性があるが、さらに、表示パネルに表示欠陥が生じたか否かを特定するために、表示パネルの表示画像を再検査する必要がある。例えば、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、カメラｅで表示パネルの表示画像を採集して、採集された表示画像をメモリｆに記録してもよく、その採集された表示画像は、図４−１、図４−２、図４−３及び図４−４を参照する。
【００８３】
実用上に、第１電流値を所定電流値範囲と比較する過程は、以下の通りであってもよい。第１電流値と第２電流値の差（この差は、一組の画素の点灯電流値も呼ばれる）を、対応する所定電流値範囲と比較する。対応する所定電流値範囲は、対応する第１電流範囲と、対応する第２電流範囲とを含んでもよく、対応する第１電流範囲は[Ｉ×０．９７、Ｉ×１．０３]であり、対応する第２電流範囲は[Ｉ×０．９、Ｉ×１．１]である。
【００８４】
一組の画素の点灯電流値が、対応する第１電流範囲内でない場合、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定し、一組の画素の点灯電流値が、対応する第１電流範囲内にある場合、第ｉ組の画素の表示に異常がないと特定する。
【００８５】
一組の画素の点灯電流値が、対応する第２電流範囲内でない場合、表示パネルに表示欠陥が生じたと特定し、一組の画素の点灯電流値が、対応する第２電流範囲内にある場合、表示パネルに表示欠陥がないと特定する。
【００８６】
例示的に、図５−１を参照すると、図５−１は、複数列の画素での各列の画素の点灯電流値の模式図であり、その横軸は画素の列数であり、縦軸は電流値であり、単位はμＡである。図５−１からわかるように、第２７０列の画素、第４７８列の画素、及び第５４８列の画素は、その電流値の変動が大きいので、その表示に異常が生じたと特定することができる。図５−２を参照すると、図５−２は、表示パネルにおける一部の列の画素での各列の画素の点灯電流値の模式図であり、その横軸は画素の列数であり、縦軸は電流値であり、単位はμＡである。図５−２における画素列の一列の画素の点灯電流値は、周期的に異常が生じるので、この表示パネルに周期性Muraがあると特定することができる。
【００８７】
ステップ２１３：表示画像に表示暗線または表示輝線が生じたか否かを判断する。
【００８８】
表示パネルの表示画像を再検査することについては、主に、再検査回路ｇによって表示画像に表示暗線または表示輝線が生じたか否かを検出する。その再検査の方式は、人の目で表示画像を観察して表示画像に表示暗線または表示輝線が生じたか否かを判断してもよく、または、画像処理の方法で再検査して、表示画像での画素点の画素値に顕著な異常が生じたか否かを検出してもよい。
【００８９】
具体的に、人の目で表示画像を観察することによって再検査する場合、人の目が表示画像において表示暗線または表示輝線を見えると、表示画像に表示暗線または表示輝線が生じたと特定し、このとき、ステップ２１４を実行する。画像処理の方法で再検査する場合、電気テスト（英語：Ｃｅｌｌ  Ｔｅｓｔ）の画像処理システムを用いて再検査しもよく、その方法は、表示画像における画素点の輝度値を取得し、画素点の輝度値を、表示暗線に対応する輝度閾値または表示輝線に対応する輝度閾値と比較して、ある行またはある列の画素点の輝度値のいずれも表示暗線に対応する輝度閾値より小さい場合、表示画像に表示暗線が生じたと特定し、このとき、ステップ２１４を実行する。ある行またはある列の画素点の輝度値のいずれも表示輝線に対応する輝度閾値より大きい場合、表示画像に表示輝線が生じたと特定し、このとき、ステップ２１４を実行する。
【００９０】
例示的に、仮に表示画像でのある列の画素点の輝度値のいずれも２５５であり、表示輝線に対応する輝度閾値が１２８であるとすると、該列の画素点の輝度値のいずれも表示輝線に対応する輝度閾値より大きいため、表示画像に表示輝線が生じたと特定することができ、ステップ２１４を実行する。
【００９１】
ステップ２１４：表示画像に表示暗線または表示輝線が生じた場合、表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する。
【００９２】
第１電流値が第２電流範囲内でなく、且つ、再検査によって、表示パネルに表示される画像において表示暗線または表示輝線が生じたと特定する場合、表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する。このとき、表示パネルにおける表示モジュールを新たに作製する、または、該表示パネルを廃棄処理する。
【００９３】
上記の内容では、表示パネルの検出方法の具体的な実施過程について説明する際に、各組の画素が一列の画素であることを例にして説明するが、各組の画素が一行の画素である場合、その実施過程は、上記に記載されるものを参照すればよい。また、実用上には、表示パネルを検出するとき、各組の画素を一列の画素として表示パネルの全体の複数組の画素に対して一列ずつ検出を行ってもよく、または、各組の画素が一行の画素を単位とし、表示パネルの全体の複数組の画素に対して一行ずつ検出を行ってもよく、または、検出の精度をさらに高めるために、まず各組の画素が一列の画素を単位とし、表示パネルの全体の複数組の画素に対して一列ずつ検出を行い、その後に、各組の画素が一行の画素を単位とし、表示パネルの全体の複数組の画素に対して一行ずつ検出を行ってもよく、または、まず各組の画素が一行の画素を単位とし、表示パネルの全体の複数組の画素に対して一行ずつ検出を行い、その後に、各組の画素が一列の画素を単位とし、表示パネルの全体の複数組の画素に対して一列ずつ検出を行ってもよい。
【００９４】
なお、第１電流値が第１電流範囲内でなく、且つ第１電流値が第２電流範囲内にある場合、または、第１電流値が第２電流範囲内でなく、且つ再検査によって表示パネルに表示される画像において表示暗線または表示輝線がないと特定する場合、補償回路ｈは、画素組に表示異常が生じる具体状況によって、対応する画素組のために補償アルゴリズムを生成し、且つ、補償アルゴリズムを表示パネルに書き込み、生じた表示異常に対して補償を行うことで、該表示異常による表示への影響を排除または減少させる。また、補償後の表示パネルに表示異常や表示欠陥が再度生じないことを確保するために、上記検出方法で補償後の表示パネルを検出してもよい。
【００９５】
以上のように、本開示の実施例による表示パネルの検出方法は、複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御し、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において表示パネルから出力される第１電流値を検出し、第１電流値が第１電流範囲内でない場合に第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。この方法は、表示パネルが電流に敏感であるという特性を利用して表示パネルにおける表示異常を検出し、この方法は、従来技術に比べて、画像の解像度に制限されなく、カメラで採集された画像の解像度に制限があることによって検出精度も制限されるという問題点を回避でき、表示パネルの検出方法の精度を高めることができる。また、この検出方法は、容易に実現され、占有された設備の資源が少なく、表示パネルを検出するための検出コストを低減させると共に、表示パネルの表示モジュールにおける表示欠陥を検出することができるため、表示パネルの出荷前の最終的な検出ステップに適用することができ、これにより使用範囲が拡大される。
【００９６】
なお、本開示の実施例による表示パネルの検出方法は、各ステップの先後順番が適宜調整可能であり、状況に応じてステップを増減してもよい。当業者にとって本開示に開示された範囲を基づいて容易に得られる変更は、いずれも本開示の保護範囲に入り、ここで説明を省略する。
【００９７】
本開示の実施例は、表示パネルの検出装置を提供する。表示パネルは、複数組の画素を含み、そのうち、各組の画素は一列の画素または一行の画素である。図６−１に示されるように、この装置６００は、制御回路６０１と、検出回路６０２と、第１特定回路６０３とを含む。
【００９８】
制御回路６０１は、複数組の画素での各組の画素を逐次的に第１階調で表示させ、且つ、第ｉ組の画素が第１階調で表示する際に、複数組の画素のうち、第ｉ組の画素以外のその他組の画素を第２階調で表示させるように制御する。そのうち、第ｉ組の画素は複数組の画素の何れか１組の画素であり、第１階調と第２階調は異なり、ｉは正の整数である。例示的に、この制御回路は、図１−１に示される信号発生部ａであってもよい。
【００９９】
検出回路６０２は、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、表示パネルから出力される第１電流値を検出する。例示的に、この検出回路は、図１−１に示される高精度電流計ｂであってもよい。
【０１００】
第１特定回路６０３は、第１電流値が第１電流範囲内でない場合、第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。
【０１０１】
例えば、図６−２に示されるように、装置６００は、集計回路６０４と、第２特定回路６０５とをさらに含んでもよい。
【０１０２】
集計回路６０４は、表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計する。
【０１０３】
第２特定回路６０５は、総組数が所定組数値より大きい場合、表示パネルに表示異常が生じたと特定する。
【０１０４】
例えば、図６−３に示されるように、装置６００は、第３特定回路６０６をさらに含んでもよい。
【０１０５】
第３特定回路６０６は、第１電流値が第２電流範囲内でない場合、表示パネルに表示欠陥が生じたと特定し、そのうち、第１電流範囲が第２電流範囲内にある。例示的に、図１−１に示されるデータ比較回路ｄは、第１特定回路、集計回路及び第２特定回路の動作を実行することができる。また、データ比較回路ｄは、第３特定回路６０６によって表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する動作を実行することもできる。
【０１０６】
例えば、第３特定回路６０６は、具体的に、以下に用いられる。
【０１０７】
第１電流値が第２電流範囲内でない場合、表示パネルの表示画像を採集して、採集された画像をメモリの所定位置に記録して使用に備える。例示的に、図１−１に示されるカメラｅは、表示パネルの表示画像を採集する動作を実行することができる。
【０１０８】
表示画像に表示暗線または表示輝線が生じたか否かを検出し、表示画像に表示暗線または表示輝線が生じた場合、表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する。例示的に、図１−１に示される再検査回路ｇは、この動作を実行することができる。
【０１０９】
例えば、制御回路６０１は、さらに、表示パネルにおける複数組の画素を第２階調で表示させるように制御する。
【０１１０】
検出回路６０２は、さらに、表示パネルから出力される第２電流値を検出する。
【０１１１】
制御回路６０１は、さらに、表示パネルにおける複数組の画素を第１階調で表示させるように制御する。
【０１１２】
検出回路６０２は、さらに、表示パネルから出力される第３電流値を検出する。
【０１１３】
例えば、図６−２または図６−３に示されるように、装置６００は、第４特定回路６０７をさらに含んでもよい。第４特定回路６０７は、第２電流値と第３電流値に基づいて第１電流範囲を特定する。例示的に、この第４特定回路は、図１−１に示される設定回路ｃであってもよい。
【０１１４】
例えば、第４特定回路６０７は、具体的に、以下に用いられる。
【０１１５】
第２電流値Ｉ２と第３電流値Ｉ３に基づいて、電流式によって所定電流基準値Ｉを特定する。
【０１１６】
電流式は、Ｉ＝（Ｉ３−Ｉ２）／ｎであり、そのうち、ｎは表示パネルにおける全ての画素組の総組数である。
【０１１７】
所定電流基準値によって第１電流値範囲を特定する。
【０１１８】
例えば、第１電流値範囲は、所定電流基準値の０．９７倍から１．０３倍までであってもよい。
【０１１９】
なお、この装置は、補償回路をさらに含んでもよい。補償回路は、第１電流値が第１電流範囲内でなく、且つ第２電流範囲内にある場合、または、第１電流値が第２電流範囲内でなく、且つ再検査によって表示パネルに表示される画像において表示暗線または表示輝線がないと特定する場合、画素組に表示異常が生じる具体状況によって、対応する画素組のために補償アルゴリズムを生成し、且つ、補償アルゴリズムを表示パネルに書き込み、これにより生じた表示異常に対して補償を行って、該表示異常による表示への影響を排除または減少させる。
【０１２０】
以上のように、本開示の実施例による表示パネルの検出装置は、制御回路によって複数組の画素を逐次的に第１階調で表示させるように制御し、第ｉ組の画素が第１階調で表示する過程において、検出回路によって表示パネルから出力される第１電流値を検出し、第１電流値が第１電流範囲内でない場合に、第１特定回路によって第ｉ組の画素の表示に異常が生じたと特定する。この方法は、表示パネルが電流に敏感であるという特性を利用して表示パネルにおける表示異常を検出し、この方法は、従来技術に比べて、画像の解像度に制限されなく、カメラで採集した画像の解像度に制限があることによって検出精度も制限されるという問題点を回避でき、表示パネルの検出方法の精度を高めることができる。
【０１２１】
説明便宜上、上記の装置及び回路の具体的な動作過程は、前記方法実施例の対応する過程を参照すればよい。これは、当業者にとって自明である。ここで説明を省略する。
【０１２２】
本開示の実施例は、表示パネルの検出システムを提供する。このシステムは、図６−１〜図６−３のいずれの１項に示される表示パネルの検出装置を含んでもよく、そのシステムの構造模式図は図１−１に示される表示パネルの検出システムを参照する。
【０１２３】
当業者にとって、本開示の実施例を、方法、システム、またはコンピュータプログラム製品として提供できることが理解すべきである。このため、本開示は、全体ハードウェア実施例、全体ソフトウェア実施例、またはソフトウェアとハードウェアとを組み合わせた実施例などの形態を採用してもよい。また、本開示は、１つまたは複数の、コンピュータ使用可能なプログラムコードが含まれたコンピュータ使用可能な記憶媒体（ディスクメモリ、ＣＤ−ＲＯＭ、光学メモリ等を含むがこれらに限定されない）上に実施されたコンピュータプログラム製品の形態を採用してもよい。
【０１２４】
本開示は、本開示の実施例による方法、設備（システム）、及びコンピュータプログラム製品のフローチャート及び／またはブロック図を参照して記述した。コンピュータプログラム指令によって、フローチャート及び／またはブロック図における各ステップ及び／またはブロック、及びフローチャート及び／またはブロック図におけるステップ及び／またはブロックとの組み合わせを実現することを理解すべきである。これらのコンピュータプログラム指令を、汎用コンピュータや専用コンピュータや埋め込み型プロセッサー、又は他のプログラマブルデータ処理設備のプロセッサーに提供して、一つの機器を生産することで、コンピュータ、或は他のプログラマブルデータ処理設備のプロセッサーが実行する指令によって、フローチャートの一つのステッブ或は複数のステップ、及び/又は、ブロック図の一つのブロック或は複数のブロックの中での所定の機能を実現するための設備を生産する。
【０１２５】
これらコンピュータプログラムの指令は、コンピュータ或は他のプログラマブルデータ処理設備が、特定の形式で動作するように導くことができるコンピュータ読み取り可能記憶装置内に記憶されてもよく、このコンピュータ読み取り可能記憶装置内に記憶されている指令によって、指令設備を備える製品が発生されることになって、この指令設備は、フローチャートの一つのステップ或は複数のステップ、及び/又は、ブロック図の一つのブロック或は複数のブロックでの所定の機能を実現する。
【０１２６】
これらコンピュータプログラムの指令は、コンピュータ或は他のプログラマブルデータ処理設備に記憶されてもよく、コンピュータ或は他のプログラマブルデータ処理設備で一連の操作ステップを実行して、コンピュータの実現する処理を発生するようにすることで、コンピュータ或は他のプログラマブルデータ処理設備で実行された指令は、フローチャートの一つのステップ或は複数のステップ、及び/又は、ブロック図の一つのブロック或は複数のブロックでの所定の機能を実現するためのステップを提供する。
【０１２７】
本開示において、次の点に注意する必要がある。
（１）本開示の実施例の図面中、本開示の実施例に関する構造だけが示され、ほかの構造については通常の設計を参照すればよい。
（２）説明の便宜上、本開示の実施例を説明する図面中、層または構造の厚さ及び寸法は拡大される。例えば、層、膜、領域または基板のような素子は別の素子の「上」または「下」に位置すると表現する際、該素子は、別の素子の「上」または「下」に「直接」位置してもよく、または中間素子が介してもよい、ことを理解すべきである。
（３）矛盾がない限り、本開示の同一実施例及び異なる実施例における特徴を互いに組み合わせることができる。
【０１２８】
以上は、本開示の実施形態の例示に過ぎず、本開示の保護範囲を限定するものではない。本開示の保護範囲は、特許請求の範囲によって決まる。
【０１２９】
［関連出願の相互参照］
本特許出願は、２０１７年７月２６日に提出した中国特許出願第２０１７１０６１９８２７．４号の優先権を主張し、ここで、上記中国特許出願に開示されている全内容を本開示の例示の一部として引用する。
【符号の説明】
【０１３０】
ａ  信号発生部
ｂ  高精度電流計
ｃ  設定回路
ｄ  データ比較回路
ｅ  カメラ
ｆ  メモリ
ｇ  再検査回路
ｈ  補償回路
ｉ  表示パネル
【図１−１】
2020528157.tif 000003
【図１−２】
2020528157.tif 000004
【図２】
2020528157.tif 000005
【図３】
2020528157.tif 000006
【図４−１】
2020528157.tif 000007
【図４−２】
2020528157.tif 000008
【図４−３】
2020528157.tif 000009
【図４−４】
2020528157.tif 000010
【図４−５】
2020528157.tif 000011
【図４−６】
2020528157.tif 000012
【図４−７】
2020528157.tif 000013
【図４−８】
2020528157.tif 000014
【図５−１】
2020528157.tif 000015
【図５−２】
2020528157.tif 000016
【図６−１】
2020528157.tif 000017
【図６−２】
2020528157.tif 000018
【図６−３】
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【国際調査報告】
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