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【手続補正書】
【提出日】平成30年10月23日(2018.10.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が配置された表示領域を有する一対の基板と、
前記一対の基板の間に封入された液晶層と、
前記複数の画素のそれぞれに配置された画素電極と、
前記画素電極と対向し、前記画素電極との間で前記液晶層を駆動する電位差を発生させる共通電極と、
画像データに応じたデジタル信号が供給される信号線と、
前記信号線に前記デジタル信号を供給する第１駆動回路と、
前記共通電極に交流の共通信号を供給する第２駆動回路と、
前記表示領域において、前記複数の画素のそれぞれに配置されたメモリと、
画像の表示信号が供給される第１駆動線と、
画像の非表示信号が供給される第２駆動線と、
記憶期間において、前記信号線に供給された前記デジタル信号を前記メモリに記憶させる記憶制御回路と、
表示期間において、前記第１駆動線に供給される前記表示信号及び前記第２駆動線に供給される前記非表示信号のうち、前記メモリに記憶された前記デジタル信号に対応する一方を選択的に前記画素電極に供給する選択制御回路と、を備え、
前記表示期間において、前記第２駆動回路は、前記表示領域に配置された前記複数の画素の前記画素電極と前記共通電極の電位の極性を１フレーム期間毎に周期的に反転させ、
前記１フレーム期間の開始に同期して前記表示期間から前記記憶期間へ移行する際、前記第２駆動回路は、前記表示期間の前記共通信号の電位を前記記憶期間においても維持する、表示装置。
【請求項２】
複数の画素が配置された表示領域を有する一対の基板と、
前記一対の基板の間に封入された液晶層と、
前記複数の画素のそれぞれに配置された画素電極と、
前記画素電極と対向し、前記画素電極との間で前記液晶層を駆動する電位差を発生させる共通電極と、
画像データに応じたデジタル信号が供給される信号線と、
前記信号線に前記デジタル信号を供給する第１駆動回路と、
前記共通電極に交流の共通信号を供給する第２駆動回路と、
前記表示領域において、前記複数の画素のそれぞれに配置されたメモリと、
画像の表示信号が供給される第１駆動線と、
画像の非表示信号が供給される第２駆動線と、
記憶期間において、前記信号線に供給された前記デジタル信号を前記メモリに記憶させる記憶制御回路と、
表示期間において、前記第１駆動線に供給される表示信号及び前記第２駆動線に供給される非表示信号のうち、前記メモリに記憶された前記デジタル信号に対応する一方を選択的に前記画素電極に供給する選択制御回路と、
前記表示期間から前記記憶期間への移行の可否を判定する制御装置と、を備え、
前記表示信号は、第１電位と第２電位とを含み、
前記記憶期間において前記メモリに記憶される前記デジタル信号の電位が第３電位であり、
前記制御装置は、
前記第１電位と前記第２電位のうち前記第３電位との電位差が小さい方の電位が、前記記憶期間の開始直前の前記画素電極の電位である場合に、前記記憶期間において前記第３電位を前記メモリに記憶させる動作を行い、
前記第１電位と前記第２電位のうち前記第３電位との電位差が大きい方の電位が、前記記憶期間の開始直前の前記画素電極の電位である場合に、前記記憶期間において前記第３電位を前記メモリに記憶させる動作を行わず、前記表示期間を継続させる、表示装置。
【請求項３】
前記選択制御回路は、
前記第１駆動線及び前記第２駆動線のうち前記メモリに記憶された前記デジタル信号に対応する一方と接続される選択信号線と、
前記選択信号線と前記画素電極とを電気的に接続又は遮断するスイッチング素子と、
を備え、
前記記憶期間において、前記スイッチング素子は、前記選択信号線と前記画素電極とを電気的に遮断する、
請求項１又は２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記表示期間から前記記憶期間への移行の際、前記スイッチング素子が前記選択信号線と前記画素電極とを電気的に遮断する前に、前記第２駆動回路は、前記共通信号の電位を既定量だけ低下させる、請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記表示期間において、前記画素電極と前記共通電極との間の電位の極性が周期的に反転される、請求項１乃至４のうちいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
前記信号線は、隣り合う前記画素の間を通って延び、
前記一対の基板の少なくとも一方は、光を遮光する遮光層を備え、
前記遮光層は、前記表示領域において、隣り合う前記画素の間にある前記信号線と重畳しない、請求項１乃至５のうちいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項７】
前記一対の基板は、第１基板と、第２基板とを含み、
前記画素電極は、前記第１基板に配置され、
前記第１基板は、前記第２基板に入射して前記液晶層を通り前記第１基板に到達した光を前記第２基板の方向へ反射する反射層を備え、
前記反射層が反射した光により画像を表示する、請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項８】
デジタルモードとアナログモードとを有し、
前記第１駆動線と前記信号線とは同じ配線であり、
前記デジタルモードにおいては、前記記憶期間及び前記表示期間の動作が実行され、
前記アナログモードにおいては、前記第１駆動線に画像の階調に応じた信号が供給される、請求項１乃至７のうちいずれか１項に記載の表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
一実施形態に係る表示装置は、複数の画素が配置された表示領域を有する一対の基板と、上記一対の基板の間に封入された液晶層と、上記複数の画素のそれぞれに配置された画素電極と、上記画素電極と対向し、上記画素電極との間で上記液晶層を駆動する電位差を発生させる共通電極と、画像データに応じたデジタル信号が供給される信号線と、上記信号線に上記デジタル信号を供給する第１駆動回路と、上記共通電極に交流の共通信号を供給する第２駆動回路と、上記表示領域において上記複数の画素のそれぞれに配置されたメモリと、画像の表示信号が供給される第１駆動線と、画像の非表示信号が供給される第２駆動線と、記憶期間において上記信号線に供給された上記デジタル信号を上記メモリに記憶させる記憶制御回路と、表示期間において上記第１駆動線に供給される上記表示信号及び上記第２駆動線に供給される上記非表示信号のうち上記メモリに記憶された上記デジタル信号に対応する一方を選択的に上記画素電極に供給する選択制御回路と、を備える。この表示装置において、上記第２駆動回路は、上記表示期間において上記表示領域に配置された上記複数の画素の上記画素電極と上記共通電極の電位の極性を１フレーム期間毎に周期的に反転させ、上記１フレーム期間の開始に同期して上記表示期間から上記記憶期間へ移行する際、上記第２駆動回路は、上記表示期間の上記共通信号の電位を上記記憶期間においても維持する。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月25日(2018.10.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】投影装置、及び投影装置の制御方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、画像を投影面に投影する投影手段を有する投影装置であって、第１の方向に対応する操作と、第２の方向に対応する操作とを受付ける受付手段と、前記投影装置と他の投影装置を含む複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記受付手段が前記第１の方向に対応する操作を受付けたことに応じてテスト画像を選択し、前記受付手段が前記第２の方向に対応する操作を受付けたことに応じて前記複数の投影装置のうちから対象投影装置を選択する選択手段と、前記他の投影装置と通信する通信手段と、を備え、前記選択手段によって前記対象投影装置として前記他の投影装置が選択された場合、前記通信手段は、前記他の投影装置が前記選択されたテスト画像の少なくとも一部を投影するための情報を出力し、前記選択手段によって前記対象投影装置として前記投影装置が選択された場合、前記投影手段は、前記選択されたテスト画像の少なくとも一部を投影することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を投影面に投影する投影手段を有する投影装置であって、
第１の方向に対応する操作と、第２の方向に対応する操作とを受付ける受付手段と、
前記投影装置と他の投影装置を含む複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記受付手段が前記第１の方向に対応する操作を受付けたことに応じてテスト画像を選択し、前記受付手段が前記第２の方向に対応する操作を受付けたことに応じて前記複数の投影装置のうちから対象投影装置を選択する選択手段と、
前記他の投影装置と通信する通信手段と、を備え、
前記選択手段によって前記対象投影装置として前記他の投影装置が選択された場合、前記通信手段は、前記他の投影装置が前記選択されたテスト画像の少なくとも一部を投影するための情報を出力し、
前記選択手段によって前記対象投影装置として前記投影装置が選択された場合、前記投影手段は、前記選択されたテスト画像の少なくとも一部を投影することを特徴とする投影装置。
【請求項２】
前記複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記選択手段は、前記テスト画像と前記対象投影装置を選択するための選択画像を投影するように前記投影手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の投影装置。
【請求項３】
前記複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記選択手段は、前記テスト画像のみを選択するための選択画像を投影するように前記投影手段を制御することを特徴とする請求項１または２に記載の投影装置。
【請求項４】
ユーザ操作に応じて前記投影装置が前記マルチ投影を行うか否かを設定する設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項５】
前記選択手段によって前記対象投影装置として前記複数の投影装置の全てが選択された場合、前記通信手段は、前記他の投影装置が前記テスト画像全体を投影するための前記情報を前記他の投影装置に出力し、且つ、前記投影手段が前記テスト画像全体を投影することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項６】
前記選択手段によって前記対象投影装置として前記複数の投影装置の全てが選択された場合、前記複数の投影装置で前記テスト画像を拡大した画像を投影するように、前記通信手段は、前記他の投影装置が投影する前記テスト画像の一部を示す情報を前記他の投影装置に出力し、且つ、前記投影手段が前記投影装置に対応する前記テスト画像の一部を投影することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項７】
前記選択手段が選択可能なテスト画像は、縞状のグラデーションパターンを含む画像を含むことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項８】
前記選択手段が選択可能なテスト画像は、格子パターンを含む画像を含むことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項９】
前記選択手段が選択可能なテスト画像は、市松模様を含む画像を含むことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項１０】
前記複数の投影装置がマルチ投影を行う場合における各投影装置の担当領域と、各投影装置の識別情報を含むマルチ投影情報とを保持する保持手段をさらに備え、
前記複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記通信手段は、前記マルチ投影情報に基づき、前記選択手段によって前記対象投影装置として選択された投影装置に対して前記選択されたテスト画像を出力するように前記情報を出力することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の投影装置。
【請求項１１】
前記マルチ投影情報には、マルチ投影面サイズ、及び前記マルチ投影面を構成する投影装置の数がさらに含まれることを特徴とする請求項１０に記載の投影装置。
【請求項１２】
画像を投影面に投影する投影手段を有する投影装置の制御方法であって、
第１の方向に対応する操作と、第２の方向に対応する操作を受付ける受付工程と、
前記投影装置と他の投影装置を含む複数の投影装置がマルチ投影を行う場合、前記受付工程において前記第１の方向に対応する操作が受付けられたことに応じてテスト画像を選択し、前記受付工程において前記第２の方向に対応する操作が受付けられたことに応じて前記複数の投影装置のうちから対象投影装置を選択する選択工程と、
前記投影手段を制御する制御工程と、
前記投影装置が前記他の投影装置と通信する通信工程と、を備え、
前記選択工程において前記対象投影装置として前記他の投影装置が選択された場合、前記通信工程では、前記他の投影装置が前記選択されたテスト画像の少なくとも一部を投影するための情報が出力され、
前記選択工程において前記対象投影装置として前記投影装置が選択された場合、前記制御工程では、前記選択されたテスト画像の少なくとも一部が投影されることを特徴とする投影装置の制御方法。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月19日(2018.10.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
重合性単量体の重合体である結着樹脂、着色剤、及び可塑剤を含有するトナー粒子を有するトナーの製造方法であって、該製造方法が、
懸濁重合法を用いてトナー粒子を得る工程を有し、
該可塑剤がテレフタル酸ジエステル構造を有し、
温度３５℃における該可塑剤の溶解度が、５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満であり、
該トナーが下記式（１）、（２）を満たすことを特徴とするトナーの製造方法。
式（１）Ｔ１−Ｔ２＞１０
式（２）Ｔ１−Ｔ３≧２０
（ただし、Ｔ１は、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ２は、トナーを１８０℃まで加熱し溶融し放冷した後に、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ３は、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱し、１０分間１８０℃で保持させ、その後に降温速度１０℃／分で０℃まで冷却し、再度１０℃／分の昇温速度で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。）
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項６】
重合性単量体の重合体である結着樹脂、着色剤、及び可塑剤を含有するトナー粒子を有するトナーであって、
該可塑剤がテレフタル酸ジエステル構造を有し、
温度３５℃における該可塑剤の溶解度が、５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満であり、
該トナーが下記式（１）、（２）を満たすことを特徴とするトナー。
式（１）Ｔ１−Ｔ２＞１０
式（２）Ｔ１−Ｔ３≧２０
（ただし、Ｔ１は、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ２は、トナーを１８０℃まで加熱し溶融し放冷した後に、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ３は、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱し、１０分間１８０℃で保持させ、その後に降温速度１０℃／分で０℃まで冷却し、再度１０℃／分の昇温速度で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。）
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明によるトナーの製造方法は、
重合性単量体の重合体である結着樹脂、着色剤、及び可塑剤を含有するトナー粒子を有するトナーの製造方法であって、該製造方法が、
懸濁重合法を用いてトナー粒子を得る工程を有し、
該可塑剤がテレフタル酸ジエステル構造を有し、
温度３５℃における該可塑剤の溶解度が、５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満であり、
該トナーが下記式（１）、（２）を満たすことを特徴とする。
式（１）Ｔ１−Ｔ２＞１０
式（２）Ｔ１−Ｔ３≧２０
（ただし、Ｔ１は、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から
１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ２は、トナーを１８０
℃まで加熱し溶融し放冷した後に、示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃
／分で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を示す。Ｔ３は、
示差走査熱量分析において、トナーを昇温速度１０℃／分で０℃から１８０℃まで加熱し
、１０分間１８０℃で保持させ、その後に降温速度１０℃／分で０℃まで冷却し、再度１
０℃／分の昇温速度で０℃から１８０℃まで加熱して測定されるガラス転移温度（℃）を
示す。）
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
また、上記の可塑剤は、温度３５℃における該可塑剤の溶解度が、５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満である。すなわち、本発明で用いている可塑剤は、溶解度の低いものを使用している。溶解度の低さは、造粒時における可塑剤の分散性に影響がある。溶解度を高くすると、造粒時に油滴中において微分散し過ぎてしまう。この場合、相溶状態から相分離状態へと結晶状態を変化させるには、実用的ではない程の時間を要してしまう。したがって、溶解度の低いものを用いることにより、適度にトナー間で可塑剤が分散し、実用的な冷却工程において、結晶状態を変化させることが可能となる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
温度３５℃における可塑剤の重合性単量体１００ｇに対する溶解度は５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満である。より好ましくは、２（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）未満である。溶解度が５（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）以上である場合、高温状態において、可塑剤がトナー中で微分散し過ぎてしまい、冷却工程で相分離させるためには、実用的ではない時間が必要になってしまう。したがって、耐熱保存性に対しての効果が低下する。溶解度の制御は、高級アルコールの炭素数で行う方法が挙げられる。炭素数が減ると、溶解度も増加する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
（可塑剤の溶解度測定）
温度３５℃における前記可塑剤の重合性単量体に対する溶解度は、３５℃に保持した重
合性単量体１００ｇ中に溶解する可塑剤の量（ｇ／１００ｇの該重合性単量体）を測定した。
（融点の測定方法）
可塑剤の融点は、示差走査熱量分析装置「Ｑ２０００」（ＴＡ  Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ
ｓ社製）を用いてＡＳＴＭ  Ｄ３４１８−８２に準じて測定する。
装置検出部の温度補正はインジウムと亜鉛の融点を用い、熱量の補正についてはインジ
ウムの融解熱を用いる。
具体的には、可塑剤  １ｍｇを精し、アルミニウム製のパンの中に入れ、リファレン
スとして空のアルミニウム製のパンを用い、測定温度範囲３０〜２００℃の間で、昇温速
度１０℃／分で測定を行う。尚、測定においては、一度２００℃まで昇温させ、続いて３
０℃まで降温し、その後に再度昇温を行う。この２度目の昇温過程での温度３０〜２００
℃の範囲におけるＤＳＣ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｃａｌｏｒｉ
ｍｅｔｒｙ）曲線の最大の吸熱ピーク温度を、本発明の可塑剤の融点とする。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月2日(2018.10.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品の電気的特性を検査する電子部品検査部に前記電子部品を搬送する電子部品搬送装置であって、
前記電子部品を把持した把持状態で前記電子部品の姿勢を調整する把持部と、
前記把持状態の前記電子部品の前記姿勢を検出する検出部と、
前記姿勢が検出された前記電子部品を載置して移動する載置部と、
を備える電子部品搬送装置。
【請求項２】
前記把持部は、前記把持状態の前記電子部品を回転させて姿勢を調整する、請求項１に記載の電子部品搬送装置。
【請求項３】
第１電子部品および第２電子部品の電気的特性を検査する電子部品検査部に前記第１電子部品および前記第２電子部品を搬送する電子部品搬送装置であって、
前記第１電子部品を把持した把持状態で、前記第１電子部品の姿勢を調整する第１姿勢調整部と、前記第２電子部品を把持した把持状態で、前記第２電子部品の姿勢を調整する第２姿勢調整部と、を有する把持部と、
前記把持状態の前記第１電子部品の前記姿勢と、前記把持状態の前記第２電子部品の前記姿勢と、を検出する検出部と、
前記姿勢が検出された前記第１電子部品と、前記姿勢が検出された前記第２電子部品と、を載置して移動する載置部と、
を備える電子部品搬送装置。
【請求項４】
前記第１姿勢調整部が前記第１電子部品を回転させる第１回転角度と、前記第２姿勢調整部が前記第２電子部品を回転させる第２回転角度とは異なる、
請求項３に記載の電子部品搬送装置。
【請求項５】
前記第１姿勢調整部と、前記第２姿勢調整部とを回動駆動させる回動駆動部を有する、
請求項４に記載の電子部品搬送装置。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月19日(2018.10.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分光する光の波長を変更可能な分光素子と、
前記分光素子により分光された光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含み、
前記分光する光の波長を変更しながら複数回の測定を実施し、前記複数回の測定の各々における前記複数の画素のうちの第一画素で受光される光の受光中心波長と、前記第一画素で受光される光に基づく光関連値と、に基づいて、前記第一画素が第一波長の光を受光した際の光関連値を推算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測定装置において、
前記複数回の測定の各々において得られた前記光関連値のうち、第一の受光中心波長に対応する第一の光関連値と、第二の受光中心波長に対応する第二の光関連値との間を補間することにより、前記第一画素が第一波長を受光した際の前記光関連値を推算する推算手段を備える
ことを特徴とする測定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の測定装置において、
前記推算手段は、線形補間により前記第一画素が前記第一波長を受光した際の前記光関連値を推算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項４】
請求項２に記載の測定装置において、
前記推算手段は、スプライン補間により前記第一画素が前記第一波長を受光した際の前記光関連値を推算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項５】
請求項２に記載の測定装置において、
前記推算手段は、区分的エルミート補間により前記第一画素が前記第一波長を受光した際の前記光関連値を推算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記分光素子により分光される前記第一波長の光の次数と、当該第一波長の光の前記光関連値を推算するために取得される前記受光中心波長の次数は同じ次数である
ことを特徴とする測定装置。
【請求項７】
請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記分光素子及び前記撮像素子を用いて複数の基準対象を撮像した際の各撮像結果に基づいて、所定の基準画素に入射された光の中心波長である基準波長と、前記第一画素に入射された光の中心波長との差である波長ずれ量を算出するずれ量算出手段を、さらに備える
ことを特徴とする測定装置。
【請求項８】
請求項７に記載の測定装置において、
前記基準対象は、既知の反射率を有する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項９】
請求項７または請求項８に記載の測定装置において、
前記ずれ量算出手段は、反射率が異なる複数の前記基準対象を撮像した際の各撮像結果に基づいて、前記波長ずれ量を算出する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の測定装置において、
前記ずれ量算出手段は、最小二乗法により前記波長ずれ量を算出する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１１】
請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記分光素子は、ファブリーペロー型エタロン素子である
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１２】
分光する波長を変更可能な分光素子と、
前記分光素子により分光された光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含み、
前記分光素子及び前記撮像素子を用いて複数の基準対象を撮像した際の各撮像結果に基づいて、所定の基準画素に入射された光の中心波長である基準波長と、前記複数の画素の各々に入射された光の中心波長との差である波長ずれ量を算出する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載の測定装置において、
前記基準対象は、既知の反射率を有する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１４】
請求項１２又は請求項１３に記載の測定装置において、
反射率が異なる複数の前記基準対象を撮像した際の各撮像結果に基づいて、前記波長ずれ量を算出する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１５】
請求項１２から請求項１４のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記波長ずれ量は、最小二乗法により算出される
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１６】
請求項１２から請求項１５のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記分光素子に測定光を入射させて、前記分光素子にて分光された第一波長の分光画像を前記撮像素子にて撮像する際に、前記複数の画素の各々における前記波長ずれ量に基づいて、前記分光画像を補正する補正手段をさらに備える
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１７】
請求項１２から請求項１６のいずれか１項に記載の測定装置において、
前記分光素子は、ファブリーペロー型エタロン素子である
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１８】
請求項１から請求項１７のいずれか１項の記載の測定装置を備えた
ことを特徴とする電子機器。
【請求項１９】
分光する光の波長を変更可能な分光素子と、前記分光素子により分光される光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含む測定装置の測定方法であって、
前記分光する光の波長を変更しながら複数回の測定を実施する工程と、
前記複数回の測定の各々における前記複数の画素のうちの第一画素で受光される光の受光中心波長と、前記第一画素で受光される光に基づく光関連値と、に基づいて、前記第一画素が第一波長の光を受光した際の前記光関連値を推算する工程と、を実施する
ことを特徴とする測定方法。
【請求項２０】
分光する光の波長を変更可能な分光素子と、前記分光素子により分光される光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含む測定装置の測定方法であって、
前記分光素子及び前記撮像素子を用いて複数の基準対象を撮像する工程と、
前記複数の基準対象に対する各撮像結果に基づいて、所定の基準画素に入射された光の中心波長である基準波長と、前記複数の画素の各々に入射された光の中心波長との差から、前記基準画素と前記複数の画素の各々との波長ずれ量を算出する工程と、を実施する
ことを特徴とする測定方法。
【請求項２１】
分光する光の波長を変更可能な分光素子と、
前記分光素子により分光された光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含み、
前記複数の画素のうちの第一画素で受光される光の第一受光中心波長と、前記第一受光中心波長の光に基づく第一光関連値と、前記第一画素で受光される光の第二受光中心波長と、前記第二受光中心波長の光に基づく第二光関連値と、に基づいて、前記第一画素が第一波長の光を受光した際の第三光関連値を推算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項２２】
分光する光の波長を変更可能な分光素子と、
前記分光素子により分光された光を受光する、複数の画素を有する撮像素子と、を含み、
第一の基準対象からの光を分光した第一の測定結果と、第二の基準対象からの光を分光した第二の測定結果と、に基づいて、前記複数の画素のうち基準画素に入射された光の中心波長である基準波長と、前記複数の画素のうちの第一画素に入射された光の中心波長と、の差である波長ずれ量を算出する
ことを特徴とする測定装置。
【手続補正書】
【提出日】平成30年8月24日(2018.8.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査線と、ドレイン線と、映像信号引き出し線とが形成されたＴＦＴ基板を有する表示装置であって、
前記ドレイン線と、映像信号引き出し線との間にセレクタが存在し、
前記走査線は、走査線号を供給する走査回路に接続されており、
前記走査線と前記映像信号引き出し線とが交差していることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記セレクタと前記走査回路との間にコモン配線が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記セレクタは、セレクタＴＦＴを有しており、
前記セレクタＴＦＴのゲートに接続されたセレクタ制御線は、前記ドレイン線と同じ層に形成されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記セレクタは、セレクタＴＦＴを有しており、
前記セレクタＴＦＴのゲートに接続された電圧を供給するセレクタ制御線は、前記映像信号引き出し線と、前記セレクタとの間に設けられていることを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置。
【請求項５】
前記セレクタ制御線は、ドレイン線と同じ層に形成されていることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
前記表示装置の表示領域は、矩形ではないことを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の表示装置。
【請求項７】
前記コモン配線と前記ＴＦＴ基板の端部との間には、前記走査回路が設けられていること特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の表示装置。
【請求項８】
前記セレクタ制御線と前記走査線とは、絶縁膜を介して交差し、
前記セレクタ制御線と前記映像信号引き出し線とは、前記絶縁膜を介して交差していることを特徴とする請求項１乃至７の何れかに記載の表示装置。
【請求項９】
前記映像信号引き出し線はドライバＩＣに接続されており、
前記ドライバＩＣは、前記表示領域の第１の辺に沿って形成され、前記走査回路は前記表示領域の前記第１の辺と隣接する第２の辺と、前記第２の辺と対向する第３の辺に沿って形成されていることを特徴とする請求項６に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記表示領域における、前記走査線の延在方向の画素の数は、前記ドレイン線の延在方向の画素の数と異なっており、前記ドレイン線の延在方向の画素の数が多い列に対応する前記セレクタＴＦＴのチャンネル幅は、前記ドレイン線の延在方向の画素の数が少ない列に対応する前記セレクタＴＦＴのチャンネル幅よりも大きいことを特徴とする請求項６に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記表示領域の外形は直線部分と曲線部分の組み合わせからなり、前記直線部分に対応して前記ドライバＩＣが配置していることを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記表示領域の外形は直線部分と曲線部分の組み合わせからなり、前記直線部分に対応して前記ドライバＩＣが配置しており、
前記直線部分に対応する前記セレクタＴＦＴのチャンネル幅は、前記曲線部分に対応する前記セレクタＴＦＴのチャンネル幅よりも大きいことを特徴とする請求項９に記載の表示装置。
【手続補正書】
【提出日】平成30年7月3日(2018.7.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示領域と、走査線駆動回路が存在する周辺領域とが配置した基板を有する表示装置であって、
前記走査線駆動回路は、クロック信号を供給するクロック配線群と電源を供給する第１の電源線を有する第１の配線群と、第２の電源線を有する第２の配線群と、各々が５個以上のトランジスタを有する複数の単位回路によって構成され、
前記複数の単位回路は、前記周辺領域において、平面で視て、前記第１の配線群と前記第２の配線群の間に存在し、
前記第２の配線群は、平面で視て、前記複数の単位回路と前記表示領域との間に存在し、
前記第１の電源線は、平面で視て、前記第１の配線群のうちで、前記複数の単位回路に最も近接し、
前記第２の電源線は、平面で視て、前記第２の配線群のうちで、前記複数の単位回路に最も近接し、
前記クロック配線群は、平面で視て、前記第１の電源線と前記基板の端部との間に存在し、
前記複数の単位回路は、お互いに隣り合う第１の単位回路と第２の単位回路を有し、
前記第１の単位回路と前記第２の単位回路は連結配線によって接続し、
前記連結配線は、平面で視て、前記第１の電源線と前記第２の電源線との間に存在し、
前記第１の単位回路と前記第２の単位回路とは、互いに第２の方向において隣接しており、前記第１の単位回路と前記第２の単位回路とは前記第２の方向と交差する方向である第１の方向に、互いにシフトしていることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
コモン配線は、前記第２の配線グループと前記表示領域との間に存在し、
前記第２の配線群は、リセット信号を前記複数の単位回路に供給するリセット線を有し、
前記リセット線は、平面で視て、前記第２の電源線と前記コモン配線との間に存在していることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記第１の電源線と前記第２の電源線との間に存在する前記第１の単位回路の前記第１の方向における第１の幅は、前記第１の電源線と、前記第２の電源線との間に存在する前記第２の単位回路の前記第１の方向における第２の幅と実質的に同一であることを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記複数の単位回路の各々は、前記第１の配線群または前記第２の配線群と接続する接続配線群を有していることを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記クロック配線群の各々は、前記第１の方向に延在するＸ部分と、前記第１の方向とは異なる第２の方向に延在するＹ部分を有し、
前記第１の単位回路と前記クロック配線群のうちの第１のクロック配線とを接続する、前記接続配線群のうちの第１の接続配線は、前記第１のクロック配線のうち、前記第２の方向に延在するＹ部分と接続し、
前記第２の単位回路と前記クロック配線群のうちの第２のクロック配線とを接続する、前記接続配線群のうちの第２の接続配線は、前記第２のクロック配線のうち、前記第１の方向に延在するＸ部分と接続していることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記クロック配線群のうちの第１のクロック配線は、前記第１の方向に延在するＸ部分を有し、かつ、前記第２の方向に延在するＹ部分を有し、
前記接続配線のうちの第１の接続配線は、前記第１の方向に延在するＸ部分を有し、かつ、前記第２の方向に延在するＹ部分を有し、
前記第１の接続配線のＹ部分は、前記第１のクロック配線のＹ部分と接続し、前記第１の接続配線のＸ部分は、前記第１の単位回路と接続し、
前記第１の単位回路のトランジスタは、平面で視て、前記第１の接続配線と、前記連結配線との間に存在していることを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項７】
前記第１の電源線の前記第１の方向の幅は、前記第２の電源線の前記第１の方向に幅よりも小さく、
前記コモン配線の前記第１の方向の幅は、前記第２の電源線の前記第１の方向の幅よりも大きいことを特徴とする請求項６に記載の表示装置。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月26日(2018.10.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録材を搬送する搬送手段と、
記録材の剛度に基づいて前記搬送手段の劣化度合いを取得する取得手段と、
を備え、
記録材の剛度が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
記録材の剛度を検出する検出手段を備え、
前記検出手段は、鉛直方向における記録材の先端のたわみ量を検出することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記取得手段は、前記搬送手段により記録材を搬送する際の１枚あたりの摩耗量及び前記搬送手段により記録材を搬送する際の１回転あたりの摩耗量の少なくともいずれか一方に、前記剛度に応じた係数を乗じて積算した摩耗量を、前記劣化度合いとして求めることを特徴とする請求項１または２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記取得手段は、前記剛度が小さいほど前記係数を小さい値に設定することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記取得手段は、記録材の剛度及び記録材に含まれる填料の配合量に基づいて前記搬送手段の劣化度合いを取得し、
記録材に含まれる填料の配合量が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項６】
記録材の剛度及び記録材に含まれる填料の配合量を入力する入力手段を備えることを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記取得手段は、前記搬送手段により記録材を搬送する際の１枚あたりの摩耗量及び前記搬送手段により記録材を搬送する際の１回転あたりの摩耗量の少なくともいずれか一方に、前記剛度及び前記填料の配合量に応じた係数を乗じて積算した摩耗量を、前記劣化度合いとして求めることを特徴とする請求項５または６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記取得手段は、前記剛度が小さいほど、且つ、前記填料の配合量が少ないほど、前記係数を小さい値に設定することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
記録材が載置される複数の載置部を備え、
前記取得手段は、前記複数の載置部の各々に載置された記録材についての剛度及び填料の配合量に基づいて前記載置部ごとに前記搬送手段の劣化度合いを求め、前記載置部ごとの劣化度合いを合算して、前記搬送手段の劣化度合いを取得することを特徴とする請求項５乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記填料とは、炭酸カルシウム、シリカ、酸化チタン、タルク、クレーの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項５乃至９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記搬送手段は、記録材に形成されたトナー像を記録材に定着する定着部であり、
前記定着部は、加熱フィルムと加圧ローラを含んでおり、前記加熱フィルムと前記加圧ローラによって形成される定着ニップ部において記録材を挟持しつつ搬送することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
複数の画像形成装置と、前記複数の画像形成装置とネットワーク回線を介して接続された管理装置と、を備える管理システムであって、
前記複数の画像形成装置はそれぞれ、
記録材が載置される複数の載置部と、
記録材を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段の劣化度合いを取得する取得手段と、
を有し、
前記管理装置は、
前記複数の画像形成装置の前記複数の載置部の各々に載置された記録材についての剛度を、前記複数の載置部の各々に対して一括して設定することが可能な設定手段を有し、
前記取得手段は、前記設定手段により設定された前記剛度に基づいて前記劣化度合いを取得し、前記剛度が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする管理システム。
【請求項１３】
前記取得手段は、前記搬送手段により記録材を搬送する際の１枚あたりの摩耗量及び前記搬送手段により記録材を搬送する際の１回転あたりの摩耗量の少なくともいずれか一方に、前記剛度に応じた係数を乗じて積算した摩耗量を、前記劣化度合いとして求めることを特徴とする請求項１２に記載の管理システム。
【請求項１４】
前記取得手段は、前記剛度が小さいほど前記係数を小さい値に設定することを特徴とする請求項１３に記載の管理システム。
【請求項１５】
前記設定手段は、前記複数の画像形成装置の前記複数の載置部の各々に載置された記録材に含まれる填料の配合量を、前記複数の載置部の各々に対して一括して設定することが可能であり、
前記取得手段は、前記設定手段により設定された前記剛度及び前記填料の配合量に基づいて前記劣化度合いを取得し、前記填料の配合量が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする請求項１２に記載の管理システム。
【請求項１６】
前記取得手段は、前記搬送手段により記録材を搬送する際の１枚あたりの摩耗量及び前記搬送手段により記録材を搬送する際の１回転あたりの摩耗量の少なくともいずれか一方に、前記剛度及び前記填料の配合量に応じた係数を乗じて積算した摩耗量を、前記劣化度合いとして求めることを特徴とする請求項１５に記載の管理システム。
【請求項１７】
前記取得手段は、前記剛度が小さいほど、且つ、前記填料の配合量が少ないほど、前記係数を小さい値に設定することを特徴とする請求項１６に記載の管理システム。
【請求項１８】
前記填料とは、炭酸カルシウム、シリカ、酸化チタン、タルク、クレーの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれか１項に記載の管理システム。
【請求項１９】
前記搬送手段は、記録材に形成されたトナー像を記録材に定着する定着部であり、
前記定着部は、加熱フィルムと加圧ローラを含んでおり、前記加熱フィルムと前記加圧ローラによって形成される定着ニップ部において記録材を挟持しつつ搬送することを特徴とする請求項１２乃至１８のいずれか１項に記載の管理システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
（１）記録材を搬送する搬送手段と、記録材の剛度に基づいて前記搬送手段の劣化度合いを取得する取得手段と、を備え、記録材の剛度が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする画像形成装置。
（２）複数の画像形成装置と、前記複数の画像形成装置とネットワーク回線を介して接続された管理装置と、を備える管理システムであって、前記複数の画像形成装置はそれぞれ、記録材が載置される複数の載置部と、記録材を搬送する搬送手段と、前記搬送手段の劣化度合いを取得する取得手段と、を有し、前記管理装置は、前記複数の画像形成装置の前記複数の載置部の各々に載置された記録材についての剛度を、前記複数の載置部の各々に対して一括して設定することが可能な設定手段を有し、前記取得手段は、前記設定手段により設定された前記剛度に基づいて前記劣化度合いを取得し、前記剛度が大きいほど、前記取得手段によって取得される前記搬送手段の劣化度合いは大きいことを特徴とする管理システム。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月3日(2018.10.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の導電層と、
第２の導電層と、
第３の導電層と、
前記第２の導電層に接続された第４の導電層と、前記第３の導電層と前記第４の導電層との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前記第３の導電層と前記第１の導電層とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記第２の導電層は、前記第３の導電層が形成される層よりも上層に形成される、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記第３の導電層は、前記トランジスターのソース電極が形成される層よりも上層に形成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記第２の導電層には、二以上の前記第３の導電層が、それぞれ前記第１容量を介して接続され、前記第３の導電層を介して同一の前記第２の導電層に接続された前記画素回路の集合を画素列とし、前記画素列に含まれる前記画素回路の個数よりも少ない個数の前記画素回路を一つのブロックとすると、前記第３の導電層は、各ブロックに対して設けられてなる、
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記第１容量の前記第４の導電層は、前記第２の導電層と異なる層に形成され、前記第１容量の第５の導電層は、前記第４の導電層と異なる層に形成される、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記画素回路は、
駆動トランジスターを含む複数のトランジスターと、
発光素子と、を備える、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記複数のトランジスターのうち、前記駆動トランジスターの電流端に接続される電源線は、前記第３の導電層よりも下層に形成される、
ことを特徴とする請求項５に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記駆動トランジスターのゲート電極は、前記電源線に覆われてなる、
ことを特徴とする請求項６に記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記第１容量は、前記第３の導電層ごとに設けられている、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項７のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項９】
走査線と、
第１データ転送線と、
第２データ転送線と、
前記第１データ転送線に接続された第１電極と、前記第２データ転送線と前記第１電極との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前記第２データ転送線と前記走査線とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記第１データ転送線は、前記第２データ転送線が形成される層よりも上層に形成される、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項１０】
請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の電気光学装置を備える、
ことを特徴とする電子機器。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月3日(2018.10.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の導電層と、
第２の導電層と、
第３の導電層と、
前記第２の導電層に接続された第４の導電層と、前記第３の導電層と前記第４の導電層との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前記第２の導電層と前記第３の導電層とを、導通状態又は非導通状態にする第１トランジスターと、
前記第３の導電層と前記第１の導電層とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記画素回路は、
駆動トランジスターと、
前記第３の導電層と、前記駆動トランジスターのゲートとの間に接続された第２トランジスターと、
前記駆動トランジスターの電流端と、前記駆動トランジスターのゲートとを導通させるための第３トランジスターと、
前記駆動トランジスターを介して供給される電流の大きさに応じた輝度で発光する発光素子と、
前記駆動トランジスターの前記電流端と、前記発光素子との間に接続された第４トランジスターと、を含み、
前記第１トランジスターと前記第２の導電層との接続位置は、前記画素回路の平面視において、前記駆動トランジスターの前記電流端と前記第３トランジスターとの接続位置よりも、前記第４トランジスターと前記発光素子との接続位置に近い、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記接続位置のそれぞれは、一の前記画素回路における電源線と、当該一の画素回路の隣の行の前記画素回路における電源線との間に配置される、
ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記発光素子にリセット電位を供給するリセット電位供給線と、前記発光素子との間に接続された第５トランジスターとをさらに含み、
前記第１トランジスターと前記第２の導電層との接続位置は、前記第５トランジスターのゲートに接続される制御線と、前記第１トランジスターのゲートに接続される制御線との間に配置される、
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記発光素子にリセット電位を供給するリセット電位供給線と、前記発光素子との間に接続された第５トランジスターとをさらに含み、
前記第４トランジスターと前記発光素子との接続位置は、前記第５トランジスターのゲートに接続される制御線と、前記第４トランジスターのゲートに接続される制御線との間に配置される、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記第２の導電層には、二以上の前記第３の導電層が、それぞれ前記第１容量を介して接続され、前記第３の導電層を介して同一の前記第２の導電層に接続された前記画素回路の集合を画素列とし、前記画素列に含まれる前記画素回路の個数よりも少ない個数の前記画素回路を一つのブロックとすると、前記第３の導電層は、各ブロックに対して設けられてなる、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記第１容量は、前記第３の導電層ごとに設けられている、
ことを特徴とする請求項５に記載の電気光学装置。
【請求項７】
走査線と、
第１データ転送線と、
第２データ転送線と、
前記第１データ転送線に接続された第１電極と、前記第２データ転送線と前記第１電極との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前第１データ転送線と前記第２データ転送線とを、導通状態又は非導通状態にする第１トランジスターと、
前記第２データ転送線と前記走査線とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記画素回路は、
駆動トランジスターと、
前記第２データ転送線と、前記駆動トランジスターのゲートとの間に接続された第２トランジスターと、
前記駆動トランジスターの電流端と、前記駆動トランジスターのゲートとを導通させるための第３トランジスターと、
前記駆動トランジスターを介して供給される電流の大きさに応じた輝度で発光する発光素子と、
前記駆動トランジスターの前記電流端と、前記発光素子との間に接続された第４トランジスターと、を含み、
前記第１トランジスターと前記第１データ転送線との接続位置は、前記画素回路の平面視において、前記駆動トランジスターの前記電流端と前記第３トランジスターとの接続位置よりも、前記第４トランジスターと前記発光素子との接続位置に近い、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項８】
請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の電気光学装置を備える、
ことを特徴とする電子機器。
【手続補正書】
【提出日】平成30年10月3日(2018.10.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の導電層と、
第２の導電層と、
第３の導電層と、
前記第２の導電層に接続された第４の導電層と、前記第３の導電層に接続された第５の導電層と、第４の導電層と第５の導電層との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前記第２の導電層をシールドする第６の導電層と、
前記第２の導電層と前記第６の導電層との間に形成される第２容量と、
前記第３の導電層と前記第１の導電層とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記画素回路は、
駆動トランジスターを含む複数のトランジスターと、
発光素子と、を備え、
前記第２の導電層と前記第６の導電層とは同層に形成され、
前記第１容量の前記第４の導電層は、前記第２の導電層と異なる層に形成され、
前記第１容量の前記第５の導電層は、前記第４の導電層と異なる層に形成される、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記第１容量と前記第２容量は、前記画素回路の表示領域内に位置している、
ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記第２の導電層には、二以上の前記第３の導電層が、それぞれ前記第１容量を介して接続され、前記第３の導電層を介して同一の前記第２の導電層に接続された前記画素回路の集合を画素列とし、前記画素列に含まれる前記画素回路の個数よりも少ない個数の前記画素回路を一つのブロックとすると、前記第３の導電層は、各ブロックに対して設けられてなる
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記第１容量は、前記第３の導電層ごとに設けられている、
ことを特徴とする請求項３に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記第１容量は、前記トランジスターのソース電極が形成された層よりも上層に形成される、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項６】
走査線と、
第１データ転送線と、
第２データ転送線と、
前記第１データ転送線に接続された第１電極と、前記第２データ転送線に接続された第２電極と、前記第１電極と前記第２電極との間の誘電体膜とを有する第１容量と、
前記第１データ転送線をシールドするシールド線と、
前記第１データ転送線と前記シールド線との間に形成される第２容量と、
前記走査線と前記第２データ転送線とに対応して設けられた画素回路と、を有し、
前記画素回路は、
駆動トランジスターを含む複数のトランジスターと、
発光素子と、を備え、
前記第１データ転送線と前記シールド線とは同層に形成され、
前記第１容量の前記第１電極は、前記第１データ転送線と異なる層に形成され、
前記第１容量の前記第２電極は、前記第１電極と異なる層に形成される、
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の電気光学装置を備える、
ことを特徴とする電子機器。