【事件の表示】
　平成２年特許願第２１２１０号「光ディスクシステム」拒絶査定に対する審判事件［平成３年１０月４日出願公開、特開平３−２２５６５０号］についてした平成１２年１１月１３日付けの審決に対し、東京高等裁判所において審決取消の判決［平成１３（行ケ）第１２号、平成１５年１月３０日判決言渡］があったので、更に審理の結果、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯、本願発明
　本願は、平成２年１月３１日の出願であって、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成３年２月１５日付けの手続補正、平成１２年１月２８日付けの手続補正及び平成１５年５月２３日付けの手続補正で補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載される次のとおりのものと認める。　なお、コマ収差Ｗ３１の式は、分数表示を含む式を１行で表記する際の計算順序に誤解を生じないように、「ｔ／２」に（）を付し、「（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２」に［］を付して認定した。
　「記録及び／再生のためのレーザビームが照射される記録層と、この記録層を覆うように設けられているとともに上記レーザビームが透過する透光性カバーとを備えている光ディスクと、上記レーザビームを上記透光性カバーを介して上記記録層に集束する対物レンズとを具備する光ディスクシステムにおいて、上記対物レンズの開口数をＮＡ、上記透光性カバーの厚さをｔ、上記透光性カバーの屈折率をＮとしたときに、コマ収差Ｗ３１が、
　Ｗ３１＝（ｔ／２）・［（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２］・sin３α　　　　（θ：スキュー、sinα＝ＮＡ）
を満足するとともに、上記式にＮＡ＝０．５０及びｔ＝１．２ｍｍを代入して得た値よりも大きくならないように構成され、上記透光性カバーの厚さが０．６〜０．４４ｍｍであり、上記対物レンズの開口数が０．５５〜０．７０であることを特徴とする光ディスクシステム。」
　
ＩＩ．引用例
　これに対し、当審の拒絶の理由に引用された、本願出願の日前に頒布された特開昭５７−２７４５１号公報（以下、「刊行物１」という。）には、図面とともに次の記載がある。
　（i）「基板上に磁性薄膜及び透明な誘電体薄膜とをこの順に形成し、更に該誘電体薄膜上に紫外線硬化接着剤を介して円板を接着し、前記基板又は円板の何れか一方を透明材料にて構成したことを特徴とする磁気光学記憶素子。」（特許請求の範囲）、及び、
　（ii）「本発明は、光を用いて情報の記録、再生、消去を行ない得る磁気光学記憶素子に関する。　近年ＨｅＮｅレーザ、Ａｒレーザ、半導体レーザ等の光を用いて磁性薄膜上に、光学的に情報を記録、再生、消去する方式、即ち、磁気光学記録方式が注目され、産業界等において重点的に研究開発が推進されるに至った。」（第１頁左下欄下９行〜下３行参照）こと、
　（iii）「この方式においては、記録ヘッドであるレンズと記録媒体との間に約１ｍｍの間隙を設けることが可能である為、記録媒体とレンズとの間に透明な保護板を設けることにより、記録媒体に直接塵埃が付着することを確実に防止でき、従来の磁気ヘッドを用いた記録方式と比較して塵埃の影響を少なくすることができるという利点がある。」（第１頁左下欄下２行〜同頁右下欄５行参照）こと、
　（iv）「また、透明な保護板の厚みを適宜変化させることにより、レンズと記憶円板との接触を確実に防止でき、従来方式では除去し得なかったヘッドクラッシュを完全に防止できるという利点がある。　更には、この方式によれば記録ピット径を光波長程度（約１μｍ以下）に極小化し得ることとなる為、従来の磁気ヘッド方式と比較して非常に高密度化し得るという利点もある。」（第１頁右下欄６〜１３行参照）こと、
　（v）「第１図は本発明を磁気光学記憶円板に実施した側面図であり、・・・等のガラス円板、或はアクリル、ポリカーボネート等樹脂製の円板（１）の上面に、真空蒸着法、・・・等によりＧｄＴｂＦｅ・・・等のアモルファスフェリ磁性体薄膜（２）及びＳｉＯ２，ＳｉＯ等透明な誘電体薄膜（３）をこの順に形成し、該誘電体薄膜（３）の上面に・・・等紫外線硬化接着層（４）を介して前記ガラス円板或は樹脂製の円板（５）を固着して五層構造としている。　　第２図は、磁気光学記憶円板と記録ヘッドとの関係を示す側面略図であり、第１図の磁気光学記憶円板の円板（１）の上方に集光レンズ（６）及び記録、消去用磁場発生用のコイル（７）を有する記録ヘッド（８）を図示しないフォーカスサーボと連動させ、記録、再生、消去を行なう場合にアモルファスフェリ磁性体薄膜（２）との距離を一定に保持し得るようにしている。」（第２頁左上欄１５行〜同頁右上欄１５行参照）こと、
　（vi）「集光レンズ（６）を選択することにより記録ヘッド（８）とアモルファスフェリ磁性体薄膜（２）との間隔を変化させることができる為、透明な円板（１）の厚みを例えば０．１ｍｍ乃至１ｍｍの範囲内で自由に選択できる。　例えば、集光レンズ（６）としてＮ．Ａ．０．６５の顕微鏡用対物レンズを用いた場合には、円板（１）の厚みを０．５ｍｍとしても何ら支障はなかった。」（第２頁右上欄１６行〜同頁左下欄３行参照）こと。
　
　これらの記載から、刊行物１には、磁気光学記憶を行なうための複数の要素が有機的に関係しあい全体としてまとまった機能を発揮している磁気光学記憶システムに関するもので、「ガラス円板、或はアクリル、ポリカーボネート等樹脂製の透明な円板（１）の片面に、アモルファスフェリ磁性体薄膜（２）を設け、更に誘電体薄膜（３）、紫外線硬化接着剤（４）、円板（５）を順に形成した磁気光学記憶素子と、前記円板（１）の他面側上方に顕微鏡用対物レンズを用いた集光レンズ（６）及び記録、消去用磁場発生用のコイル（７）を有する記録ヘッド（８）を配置し、フォーカスサーボと連動させ、記録、再生、消去を行ない、集光レンズ（６）としてＮ．Ａ．０．６５のものを用いた場合に円板（１）の厚みを０．５ｍｍとしても何ら支障がない磁気光学記憶システム。」の発明（以下「刊行物１記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。
　
ＩＩＩ．対比・判断
　そこで、本願発明と刊行物１記載の発明とを対比する。
　刊行物１記載の発明の「磁気光学記憶素子」、「磁気光学記憶システム」は、それぞれ本願発明の「光ディスク」、「光ディスクシステム」に相当する（なお、本願発明の光ディスクに関しては、主として光磁気記録で説明している点でその記録方式でも一致している。）。　そして、刊行物１記載の発明において、「透明な円板（１）」の上方に配置される記録ヘッドの「集光レンズ（６）」を通して集光されたレーザビームが、「透明な円板（１）」を透過し、「アモルファスフェリ磁性体薄膜（２）」に照射され記録、再生、消去を行うことが明らかであるから、刊行物１記載の発明の「ガラス円板、或はアクリル、ポリカーボネート等樹脂製の透明な円板（１）」と「アモルファスフェリ磁性体薄膜（２）」と「顕微鏡用対物レンズを用いた集光レンズ（６）」は、それぞれ本願発明の「記録層を覆うように設けられているとともに上記レーザビームが透過する透光性カバー」と「記録及び／再生のためのレーザビームが照射される記録層」と「上記透光性カバーを介して上記記録層に集束する対物レンズ」に相当する。　また、刊行物１記載の発明の「集光レンズ（６）としてＮ．Ａ．０．６５のものを用いた場合に円板（１）の厚みを０．５ｍｍとして」は、本願発明の「透光性カバーの厚さが０．６〜０．４４ｍｍであり、上記対物レンズの開口数が０．５５〜０．７０であること」に対応し、「透光性カバーの厚さが０．５ｍｍであり、上記対物レンズの開口数が０．６５である」点で一致している。
　してみると、両発明は、本願発明の用語を用いて表現すると、「記録及び／又は再生のためのレーザービームが照射される記録層と、この記録層を覆うように設けられているとともに上記レーザービームが透過する透光性カバーとを備えている光ディスクと、上記レーザービームを上記透光性カバーを介して上記記録層に集束する対物レンズとを具備する光ディスクシステムにおいて、上記透光性カバーの厚さが０．５ｍｍであり、上記対物レンズの開口数が０．６５であることを特徴とする光ディスクシステム。」で一致する。
　本願発明では、更に、「上記対物レンズの開口数をＮＡ、上記透光性カバーの厚さをｔ、上記透光性カバーの屈折率をＮとしたときに、コマ収差Ｗ３１が、
　Ｗ３１＝（ｔ／２）・［（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２］・sin３α　　　　（θ：スキュー、sinα＝ＮＡ）
を満足するとともに、上記式にＮＡ＝０．５０及びｔ＝１．２ｍｍを代入して得た値よりも大きくならないように構成され」と特定しているので、刊行物１記載の発明にその構成の開示があるか検討する。
　
　（イ）まず、コマ収差Ｗ３１の式について検討する。
　「上記対物レンズの開口数をＮＡ、上記透光性カバーの厚さをｔ、上記透光性カバーの屈折率をＮとしたときに、コマ収差Ｗ３１が、
　Ｗ３１＝（ｔ／２）・［（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２］・sin３α　　　（θ：スキュー、sinα＝ＮＡ）　を満足する」点に関しては、光ディスクを用いる記録、再生システムにおいて周知である。　一例として、当審の拒絶理由にも引用された「応用光エレクトロニクスハンドブック」同編集委員会編、株式会社昭晃堂１９８９年４月１０日初版発行、第４１９〜４４６頁（以下、「図書１」という。）を挙げることができ、その図書１の第４３９頁１行目の（６．２．４）式は、本願発明で特定するコマ収差Ｗ３１の式そのものであり、本願発明と同様に光ディスクの記録、再生システムに関する刊行物１記載の発明も、そのコマ収差の式を満足していることは当然である。
　
　（ロ）次に、コマ収差Ｗ３１が、上記式にＮＡ＝０．５０及びｔ＝１．２ｍｍを代入して得た値よりも大きくならないように構成されているかの点について検討する。
　（ｉ）本願発明おけるコマ収差の計算
　本願発明において、コマ収差Ｗ３１の式中の「θ：スキュー」と「Ｎ：透光性カバーの屈折率」は、どのような数値を用いるのかが特定されていないし、本願明細書を参酌しても具体的数値は何ら記載がなく不明で、コマ収差Ｗ３１をいかに計算できるのかとの疑義が生じるものの、この点を本願明細書の第１表に基づき検討すると、ここには、「コマ収差Ｗ３１が、従来のような対物レンズのＮＡ＝０．５０及び透光性基体（透光性カバー）の厚さｔ＝１．２ｍｍの場合に得られるコマ収差Ｗ３１の値と等価になるＮＡ及びｔを、４ケースについて求めた結果を下の第１表に示す。」（本願明細書第１２頁参照）と、続いて、「この第１表に示されるように、ＮＡを０．５５〜０．７０としても、上記ｔを０．６〜０．１ｍｍとすれば、コマ収差は従来と同じかそれ以下にできるから問題ないことがわかる。」との記載がされている。
　そして、「Ｗ３１＝（ｔ／２）・［（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２］・sin３α」は、式中で数値が特定されないＮとθを含む項「（Ｎ２−１）Ｎ２sinθcosθ／（Ｎ２−sin２θ）５／２」を１／ｋ、sinα＝ＮＡとして書き換えると、Ｗ３１＝（ｔ／２）・（１／ｋ）・ＮＡ３　即ち、２ｋ・Ｗ３１＝ｔ・ＮＡ３　となり、第１表の数値を用いて計算すると、ＮＡ＝０．５０且つｔ＝１．２ｍｍの２ｋ・Ｗ３１（＝ｔ・ＮＡ３）は０．１５となり、他の４つのケースであるＮＡ＝０．５５且つｔ＝０．９ｍｍ、ＮＡ＝０．６且つｔ＝０．６９ｍｍ、ＮＡ＝０．６５且つｔ＝０．５５ｍｍ、ＮＡ＝０．７０且つｔ＝０．４４ｍｍいずれの場合も０．１５となり、同一の値となる。　前記４つのケースについては「コマ収差Ｗ３１の値と等価になる」との記載を併せ勘案すれば、上記１／ｋは実質的に概ね定数であると解するのが相当といえる。　仮に、１／ｋの値が一定値でないとすれば、本願発明のコマ収差の式は定まらず意義を失う。
　
　また、前記疑義に関してスキューθや屈折率Ｎの特定がない点で記載不備があるとした当審の拒絶理由に応答する平成１５年５月２３日付け意見書（第７頁１〜１１行参照）において、審判請求人は、「
スキュー値（θ）と透光性カバーの屈折率（Ｎ）とは、従来の場合
と同様に、本願発明の場合にもそのまま踏襲することができる。
スキュー値（θ）に関しては、
出願当時と大きく変化することはない。
屈折率（Ｎ）は、樹脂材料を使って透光性カバーを作っている限りは、ほとんどの材料が１．５〜１．６の間に入ってしまう
　
　（ｉｉ）刊行物１記載の発明におけるコマ収差の計算
　刊行物１記載の発明において「何ら支障はなかった」とされ、本願発明と一致するとされたＮ．Ａ．０．６５（即ちＮＡ＝０．６５）且つ円板（１）の厚み０．５ｍｍ（即ちｔ＝０．５ｍｍ）の場合について、２ｋ・Ｗ３１（＝ｔ・ＮＡ３ ）を計算すると０．１３７となり、対比する場合であるＮＡ＝０．５０及びｔ＝１．２ｍｍを代入して計算される２ｋ・Ｗ３１（＝ｔ・ＮＡ３）の０．１５の数値よりも小さい。　そして、上記（ｉ）の判断を準拠すれば経時要素があるとしても（例えば刊行物１記載の発明の発明時点でも）、いずれの光ディスクシステムにおいても１／ｋは概ね定数と想定できる（大きく変化しない）ものであるから、即ちスキュー（θ）も透光性基体の屈折率（Ｎ）も大きく変化しないと理解するのが相当であることを勘案して、刊行物１記載の発明のコマ収差Ｗ３１ を算出すれば「式にＮＡ＝０．５０及びｔ＝１．２ｍｍを代入して得た値よりも大きくならないように構成され」ていると認められる。
　なお、１／ｋが刊行物１記載の発明と本願発明とで異なる場合であっても、少なくともそれぞれの発明の中で採用する１／ｋは同じであるのだから、このことでも、前記コマ収差Ｗ３１に関する上記判断は左右されない。
　
ＩＶ．むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、刊行物１記載の発明と認められるので、本願発明は、特許法第２９条第１項第３号の規定に該当し、特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。