【事件の表示】
　平成１０年特許願第１７９５４６号「金属物体の検出装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年１２月１０日出願公開、特開平１１−３３７６５８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明　
　本願は、平成１０年５月２２日の出願であって、その請求項１〜７に係る発明は、平成１２年９月７日付け及び平成１４年７月９日付け手続補正書で補正された明細書及び図面の記載によれば、その特許請求の範囲の請求項１〜７に記載された事項により特定されるものと認められるところ、請求項１に記載された事項は次のとおりである。（以下、請求項１に係る発明を「本願発明」という。）　
［請求項１］　被検査物に近接可能に配置されるコイルと、前記コイルに直列に結合された抵抗とから成るＲＬ直列回路と、　
　電源から前記ＲＬ直列回路への直流電圧の供給をオンにする回路と、　
　前記被検査物に金属が含まれているか否かを検出するために前記ＲＬ直列回路に直流電圧が供給されたときに前記ＲＬ直列回路に生じる過渡現象に基づいて、前記ＲＬ直列回路の時定数に対応した検出信号を出力する回路と、
　前記検出信号と、予め定めた前記ＲＬ直列回路の基準の時定数に対応した基準信号とを基にして、前記ＲＬ直列回路の時定数の変化を検出し、この変化に基づいて前記金属の有無を示す信号を発生する回路と　
　を備える金属物体の検出装置。　
　
２．引用刊行物記載の発明　
２−１．原査定の拒絶の理由に引用した、本願の出願日前に頒布された特開昭６１−２１７７５６号公報（以下、「引用刊行物１」という。）には、次の事項が記載されている。
ア．「微小の磁性体を挿入可能な空間を磁路中に有するインダクタンス素子と、抵抗との第１の直列接続体を検知部とし、他のインダクタンス素子と抵抗との第２の直列接続体を比較部として設け、これらに同時に電圧を印加して第１および第２の各直列接続体上に選定した比較点における上記印加された電圧を相互に比較し、かつ、その比較検出信号を前記、電圧印加から一定時間経過して保持させ、その保持した信号から、前記第１の直列接続体のインダクタンス素子の磁路中の空間に挿入した被検体の磁性体量を、上記第２の直列接続体上の比較点電圧に対応する磁性体量と比較して検出することを特徴とする微小磁性体量検知装置。」（特許請求の範囲）
イ．「本発明は、上記の構成によりインダクタンス素子と抵抗素子との直列接続体に電圧（パルス）を印加することによって、その直列接続体の任意の分割点における電圧は時定数、インダクタンス（L、ヘンリ）／抵抗（R、オーム）で変化し、またその分割割合によって前記電圧の初期値または終端値が異なるので、上記パルスの印加後適宜な時間経過した時点に、検知側の第１の直列接続体に設定した分割点の上記電圧と、比較用の第２の直列接続体に設定した分割点の電圧とを比較することにより、被検知側の磁性体量を、比較用の上記電圧で決まる既知の磁性体量に対して多いか少ないかとして検知でき、また分割点を増加することによって複数の検知、すなわち多段階の微少磁性体量の検知ができる。」（第２頁右上欄第９行から左下欄第３行）
ウ．「第１図は、本発明の一実施例による微小磁性体量検知装置の回路構成図であり、１は検知部のインダクタンス素子であり、少なくともその磁路中に被検知体である磁性体を挿入する空間が形成されている。２は、インダクタンス素子１と抵抗素子とでなる被検知側の第１の直列接続体、３は比較側のインダクタンス素子１’と抵抗素子の第２の直列接続体であり、これら第１、第２の直列接続体２，３はコンパレータ（以下、電圧比較器という）４を介して図示しない電源回路から電圧（パルス）が印加される。５ａ，５ｂもコンパレータ（電圧比較器）であり第１の検知側直列接続体の分割点Ｃと、比較側の第２の直列接続体３上の分割点Ｄ，Ｅにおける上記電圧比較器４からのパルスによる電圧を比較する。・・・６ａ，６ｂは信号保持回路、７はコンパレータ（電圧比較器）で前記信号保持回路６ａ，６ｂに後記の保持信号を与えて前記電圧の比較結果を保持させる。８はＲＣ回路でＡ点から印加される電圧（パルス）を適宜時間遅らせて電圧比較器７に送り込み、その出力が上記の保持信号として用いられる。」（第２頁左下欄第５行から右下欄第８行）
　また、第１図の（検知側）直列接続体２には、第２図に示される電圧（パルス）が印加されるのであるから、電源から（検知側）直列接続体２への直流電圧の供給をオンにする回路を備えることは、明らかである。　
　上記記載事項ア．〜ウ．及び図１，２によれば、引用刊行物１には、　
「磁路中に被検知体である磁性体を挿入可能な空間を有するインダクタンス素子と前記インダクタンス素子に直列に結合された抵抗とから成る第１の直列接続体と、電源から前記第１の直列接続体への直流電圧の供給をオンにする回路と、前記第１の直列接続体に直流電圧が印加されたときに、その第１の直列接続体の分割点の電圧は時定数で変化し、上記直流電圧の印加から一定時間経過した時点において、前記第１の直列接続体の分割点の電圧と、比較用の第２の直列接続体の分割点の電圧とを比較することにより、磁性体量が既知の磁性体量に対して多いか少ないかを検知する回路とを備える微小磁性体量検知装置。」（引用刊行物１記載の発明）が記載されていると認められる。　
　
２−２．原査定の拒絶の理由に引用した、本願の出願日前に頒布された特開平５−２３２２４５号公報（以下、「引用刊行物２」という。）には、「金属探知方法及びその装置」に関する発明が記載されており、次の記載がある。　
エ．「請求項２項の発明は、金属が存在しない場合の反射波形が一定電圧に成るまでの時間を予め測定してこれを基準時間とし、実際測定した出力波形による反射波の一定電圧到達までの時間をこの基準時間と比較して長ければ金属が存在していることが分かり、そうでなければ金属は存在していないことが分かる。」（第２頁右欄第４２〜４７行）　
オ．「また磁性体を検出する場合は、その物体とコイルの間の距離及び物体の面積の減磁率との関数としてインピーダンス変化分が表われ、非磁性体を検出する場合は印加される電流の角速度が非常に大きな要素である事が考えられる。」（第３頁左欄第４〜８行）　
カ．「また磁性体によるインピーダンスの変化はそのまま波形の時定数の変化となって表われ、非磁性導体による逆起電力は波形の電圧成分の変化となって表われることから、パルス波を利用してスイッチング時間から一定電圧になるまでの時間測定を行うことによって磁性体、非磁性体の両方が検出できる事が理論的にも証明される。」（第３頁左欄第１３〜１９行）　
キ．「また請求項２項の方法は上記利点に加え、予め測定した、金属が存在しない場合の反射波が一定電圧になるまでの時間を基準時間とし、実際の測定反射波が一定電圧になるまでの時間を測定してこれを上記基準電圧と比較することにより、金属の有無を検出するもので、金属検知がより確実となる。これはセンサコイルにパルス状の電流を流してこれを切った際の反射波に対し、一定時間後の電圧の値の変化で検出する方法もあるが、この発明のように一定電圧になるまでの時間の変化で検出する方がＣＰＵ演算等において有利となる。」（第４頁左欄第７〜１６行）　
　
３．対比・判断　
　本願発明と引用刊行物１記載の発明とを対比する。　
　引用刊行物１記載の発明の「磁路中に被検知体である磁性体を挿入可能な空間を有するインダクタンス素子」、「前記インダクタンス素子に直列に結合された抵抗」及び「第１の直列接続体」が、それぞれ本願発明の「被検査物に近接可能に配置されるコイル」、「前記コイルに直列に結合された抵抗」及び「ＲＬ直列回路」に相当することは明らかである。
　そして、引用刊行物１記載の発明は、第１の直列接続体に直流電圧が印加されたときに、その分割点の電圧は時定数で変化するものであるから、この分割点の電圧を取り出す回路は「第１の直列接続体の時定数に対応した電圧を出力する回路」ということができ、本願発明の「ＲＬ直列回路の時定数に対応した検出信号を出力する回路」に相当するということができる。また、引用刊行物１記載の発明の「比較用の第２の直列接続体の分割点の電圧」は、予め定めた基準の時定数に対応した電圧ということができ、本願発明の「予め定めたＲＬ直列回路の基準の時定数に対応した基準信号」に相当するものであるから、引用刊行物１記載の発明の「直流電圧の印加から一定時間時間経過した時点において、第１の直列接続体の分割点の電圧と、比較用の第２の直列接続体の分割点の電圧とを比較する回路」は、本願発明の「検知信号と、予め定めたＲＬ直列回路の基準の時定数に対応した基準信号とを基にして、前記ＲＬ直列回路の時定数の変化を検出する回路」に該当する。
　さらに、引用刊行物１記載の発明は、磁性体量が既知の磁性体量に対して多いか少ないかを検知するものであるが、物体を検出するという意味で、本願発明の、金属の有無を検知するものに対応し、同様に、引用刊行物１記載の「微小磁性体量検知装置」は、本願発明の「金属物体の検出装置」に対応するものである。　
　してみると、両者は、「被検査物に近接可能に配置されるコイルと、前記コイルに直列に結合された抵抗とから成るＲＬ直列回路と、電源から前記ＲＬ直列回路への直流電圧の供給をオンにする回路と、物体を検出するために前記ＲＬ直列回路に直流電圧が供給されたときに前記ＲＬ直列回路に生じる過渡現象に基づいて、前記ＲＬ直列回路の時定数に対応した検出信号を出力する回路と、前記検出信号と、予め定めた前記ＲＬ直列回路の基準の時定数に対応した基準信号とを基にして、前記ＲＬ直列回路の時定数の変化を検出し、この変化に基づいて物体を検出する信号を発生する回路とを備える物体の検出装置。」である点で一致し、次の点で相違すると認められる。　
（相違点）　
　検出する対象が、引用刊行物１記載の発明では「磁性体量が既知の磁性体量に対して多いか少ないか」であるのに対して、本願発明では「金属の有無」である点。　
　
　上記相違点について、判断する。　
　先ず、引用刊行物１記載の発明は、磁性体量が既知の磁性体量に対して多いか少ないかを検出するものであるが、既知の量を零とすれば磁性体の有無を検出できることは明らかであるから、引用刊行物１記載の発明を物体の有無の検出に用いることは当業者が適宜なし得る事項である。
　次に、検出する物体が磁性体であるか金属であるかという点について、磁性体と同様に、コイルに金属を近接して配置するとコイルのインピーダンスが変化することは周知の事項（特開平４−２７８９１号公報参照）であって、コイルのインピーダンスが変化すればコイルと抵抗との直列回路の時定数が変化することは明らかである。また、コイルに金属や磁性体を近接して配置するとパルスを印加した際の過渡現象の状態が変化することも、上記摘記事項エ．〜カ．にみられるように引用刊行物２に記載されている。してみれば、引用刊行物１記載の発明において、検出する対象を金属とし、金属の有無の検出装置とすることは当業者ならば容易に想到し得たものと認められる。
　
　そして、本願発明の、回路の構成が簡素になり、部品点数を少なくできる、という作用効果も、引用刊行物１、引用刊行物２及び上記周知技術から当業者が予測できる範囲のものである。　
　
（審判請求人の主張について）　
　審判請求人は、平成１５年２月１７日付けの審判請求書の手続補正書において、「引用例３の発明では、磁性体の量によってＲＬ回路の過渡現象における電圧の変化が異なるという原理に基づき、磁性体の量を検出する。即ち、引用例３の発明は、金属を検出するために、過渡現象中の或る時点の電圧と基準電圧とを比較するものである。　それに対して、本願発明は、ＲＬ直列回路の過渡現象における電圧が所定電圧（時定数に対応する電圧）になるまでの時間、即ち、コイルの近傍に金属物体が有る場合のＲＬ直列回路の時定数と、コイルの近傍に金属物体が無い場合のＲＬ直列回路の時定数とを比較することにより、金属の有無を検出す。　即ち、本願発明の原理（電圧を供給中にＲＬ直列回路自体で生じる過渡現象の特性（ＲＬ直列回路の時定数）を利用する）と、引用例３の発明の原理（過渡現象中の或る時点の電圧が基準電圧を超えるか否かにより金属の有無を検出する）とは、全く異なる。」（第９頁第９〜２０行）と主張している。　
　本願発明（請求項１に係る発明）と引用刊行物１（審判請求書にいう引用例３）記載の発明とを比較すると、時定数の変化を検出する構成に関して、上記対比に記載したように、「第１の直列接続体の分割点の電圧」は「ＲＬ直列回路の時定数に対応した検出信号」に該当するので差違はないのであるが、本願の実施例としては、ＲＬ直列回路の過渡現象における電圧が所定電圧になるまでの時間と、基準となる時間とを比較するものが記載されているので、実施例のものが引用刊行物１から容易であるかどうかを検討する。　
　ＲＬ直列回路の時定数の変化を検出する構成に関して、本願の実施例のものが、ＲＬ直列回路の過渡現象における電圧が所定電圧になるまでの時間と基準となる時間とを比較するのに対して、引用刊行物１記載のものが、ＲＬ直列回路の過渡現象中のある時点の電圧と基準電圧とを比較する点で相違する。しかし、過渡現象における時定数の変化を検出する際に、一定電圧になるまでの時間と基準となる時間とを比較することも、また、一定時間後の電圧を基準電圧と比較することも共に周知である（上記引用刊行物２の摘記事項エ．及びキ．参照）から、本願の実施例のように、ＲＬ直列回路の過渡現象における電圧が所定電圧になるまでの時間と基準となる時間とを比較するように構成することも当業者ならば容易に想到し得たものである。　
　
４．むすび　
　以上のとおり、本願発明は引用刊行物１記載の発明、引用刊行物２記載の発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。　
　よって、結論のとおり審決する。