(57)【要約】本発明の記録方法は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含する。【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、
（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、
（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ）は、
（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、
（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップと
を包含する記録方法。
【請求項２】
前記ステップ（ａ）は、
（ａ−１）初期条件を決定するステップと、
（ａ−２）前記初期条件に基づいて、少なくとも１つの記録条件を決定するステップと
を包含し、
前記複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも１つの記録条件とを含む、請求項１に記載の記録方法。
【請求項３】
前記ステップ（ｂ−１）は、
前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成するステップと、
前記複数のテスト信号と前記複数の２値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結果の信頼性を計算する計算ステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ−２）は、前記信頼性を示す複数の値に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項４】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項３に記載の記録方法。
【請求項５】
前記ステップ（ｂ−１）は、
前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号のそれぞれに基づいて、複数のパスを生成するステップと、
前記複数のテスト信号のそれぞれと前記複数のパスとに基づいて、前記複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する計算ステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の指標に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項６】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項５に記載の記録方法。
【請求項７】
前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されている、請求項１に記載の記録方法。
【請求項８】
前記ステップ（ｂ）は、
前記選択された１つの記録条件に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、
前記光を前記記録媒体に照射することによって、所定の長さを有する複数の記録マークを前記記録媒体に形成するステップと
を包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項９】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含む、請求項８に記載の記録方法。
【請求項１０】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長い記録マークを含む、請求項８に記載の記録方法。
【請求項１１】
前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されている、請求項２に記載の記録方法。
【請求項１２】
エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を決定するステップをさらに包含し、
前記所定の記録条件は、前記複数の記録条件に含まれる、請求項２に記載の記録方法。
【請求項１３】
前記ステップ（ａ−１）は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステップを包含する、請求項１２に記載の記録方法。
【請求項１４】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置であって、
前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録する第１記録手段と、
前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録する第２記録手段と
を備え、
前記第２記録手段は、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部と、
前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部と
を備えた、記録装置。
【請求項１５】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記記録処理は、
（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、
（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ）は、
（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、
（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップと
を包含する、プログラム。
【請求項１６】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するための記録制御装置であって、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するための算出部と、
前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するための選択部と
を備えた、記録制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射することによって光ディスクにデジタル情報を記録する。しかし、光ディスク装置および光ディスクは個体差を有するため、光ディスクに記録された信号の品質が低下する。個体差に起因する信号品質の低下を防ぐために、例えば、光ディスクを光ディスク装置に装着する時に信号をテスト記録し、例えば、照射パワーおよび光パルス形状を最適にする。【０００３】  図１０は、従来の光ディスク装置４００の構成を示す。【０００４】  光ディスク装置４００は、光ディスク４０１が装着可能なように構成されている。光ディスク装置４００は、光ヘッド４０２と、再生手段４０４と、復調・ＥＣＣ回路４０６と、記録条件決定手段４０８と、記録補償回路４０９と、レーザ駆動回路４１２と、記録パワー設定手段４１１とを備える。【０００５】  記録条件決定手段４０８は、記録パルス位置と記録パワーとを決定する。記録補償回路４０９は、記録条件決定手段４０８の決定に従って記録パルス位置を設定する。記録パワー設定手段４１１は、記録条件決定手段４０８の決定に従って記録パワーを設定する。レーザ駆動回路４１２は、光ヘッド４０２が光ディスク４０１に対して所定のテスト記録を行うように、光ヘッド４０２を制御する。【０００６】  テスト記録が終わると、レーザ駆動回路４１２は、光ヘッド４０２が光ディスク４０１に記録された信号を再生するように、光ヘッド４０２を制御する。再生信号４０３は再生手段４０４に入力される。【０００７】  図１１は、再生手段４０４の構成を示す。【０００８】  再生手段４０４は、プリアンプ５０１と、イコライザ５０２と、ローパスフィルタ５０３と、２値化回路５０５と、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）５０７と、エッジ間隔測定回路５０８と、ジッタ演算回路５１０とを備える。【０００９】  プリアンプ５０１は、再生信号４０３を増幅し、イコライザ５０２およびローパスフィルタ５０３は、増幅された再生信号４０３を波形等化することによって、信号５０４を生成する。２値化回路５０５は、信号５０４とスライスレベルとに基づいてパルス信号５０６を生成する。２値化回路５０５は、マークの積分値とスペースの積分値とが等しくなるように、スライスレベルを通常数１０ＫＨｚの帯域で動作する。パルス信号５０６はＰＬＬ５０７に入力される。【００１０】  図１２は、ＰＬＬ５０７の構成を示す。【００１１】  ＰＬＬ５０７は、位相比較器６０１と、ローパスフィルタ６０２と、ＶＣＯ６０３と、フリップフロップ６０５と、分周回路６０６と、ゲート回路６０７とを備える。【００１２】  位相比較器６０１は、パルス信号５０６の位相とゲート回路６０７から出力された信号６０８の位相との差を検出する。位相比較器６０１は、パルス信号５０６と信号６０８との位相差および周波数差を示す誤差信号を生成する。【００１３】  ローパスフィルタ６０２は、誤差信号の低周波成分のみを取り出し、ＶＣＯ６０３の制御電圧を示す制御信号を生成する。ＶＣＯ６０３は制御電圧に基づいてクロック信号６０４を生成する。分周回路６０６は、クロック信号６０４を分周する。ゲート回路６０７は分周されたクロック信号６０４に基づいて、信号６��８を生成する。ＶＣＯ６０３は、位相比較器６０２に入力される２つの信号（パルス信号５０６および信号６０８）の位相が等しくなるように制御される。このようにして、ＰＬＬ５０７は、パルス信号５０６に基づいて、信号４０５を生成する。【００１４】  ２値化回路５０５から出力されたパルス信号５０６と、フリップフロップ６０５から出力された信号４０５とがエッジ間隔測定回路５０８に入力されると、エッジ間隔測定回路５０８は、２つのパルスのエッジ間隔ｔ０、ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、ｔ６、ｔ７、ｔ８、ｔ９・・・を測定し、ジッタ演算回路５１０にエッジ間隔を示す信号５０９を出力する（図１３参照）。【００１５】  ジッタ演算回路５１０は、エッジ間隔を積分する。【００１６】  図１４は、エッジ間隔の分布を示す。ジッタ演算回路５１０は、例えば、エッジ間隔の分布に基づいて標準偏差を算出し、算出結果を示す信号４０７を記録条件決定手段４０８に出力する。記録条件決定手段４０８は、信号４０７に基づいて最適な記録条件を探索する。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】  しかし、記録データの最短マーク長が非常に短い場合には、例えば、符号間干渉に起因して、エッジ間隔の分布の一部がウインド幅を越えることがあった（図図１５参照）。この場合でも正規分布から外れる部分は全体の総数に対して非常に少なく、標準偏差は分布の中心部分が支配的であるため、ジッタの増加は小さい。しかし、実際にはウインド幅を越えてエラーとなっているので、エラー発生確率は増大していた。すなわちエラー発生確率が異なる場合でもジッタが同じになる場合がある。したがって、ジッタのみから正確なエラー発生確率を予測することが困難な場合があった。【００１８】  本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、最短マーク長が従来よりも短い場合でも正しい記録を行うための記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】  本発明の記録方法は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。【００２０】  前記ステップ（ａ）は、（ａ−１）初期条件を決定するステップと、（ａ−２）前記初期条件に基づいて、少なくとも１つの記録条件を決定するステップとを包含してもよい。前記複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも１つの記録条件とを含む。【００２１】  前記ステップ（ｂ−１）は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成するステップと、前記複数のテスト信号と前記複数の２値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結果の信頼性を計算する計算ステップとを包含し、前記ステップ（ｂ−２）は、前記信頼性を示す複数の値に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含してもよい。【００２２】  前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。【００２３】  前記ステップ（ｂ−１）は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれに基づいて、複数のパスを生成するステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれと前記複数のパスとに基づいて、前記複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する計算ステップとを包含し、前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の指標に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含してもよい。【００２４】  前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。【００２５】  前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されていてもよい。【００２６】  前記ステップ（ｂ）は、前記選択された１つの記録条件に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射することによって、所定の長さを有する複数の記録マークを前記記録媒体に形成するステップとを包含してもよい。【００２７】  前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含んでもよい。【００２８】  前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長い記録マークを含んでもよい。【００２９】  前記ステップ（ｂ）は、前記情報を前記��録媒体に記録するために前記記録媒体に形成される複数の記録マークの長さに応じて、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射することによって、前記情報を記録するステップとを包含してもよい。【００３０】  前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの長さに応じて、前記複数の光パルスの相対位置を決定してもよい。【００３１】  前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの次に長い記録マークの長さに応じて、前記複数の光パルスの相対位置を決定してもよい。【００３２】  前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されていてもよい。【００３３】  エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を決定するステップをさらに包含してもよい。なお、前記所定の記録条件は、前記複数の記録条件に含まれる。【００３４】  前記ステップ（ａ−１）は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステップを包含してもよい。【００３５】  本発明の記録装置は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置であって、前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録する第１記録手段と、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録する第２記録手段とを備え、前記第２記録手段は、前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部と、前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部とを備え、これにより、上記目的が達成される。【００３６】  本発明のプログラムは、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記記録処理は、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。【００３７】  本発明の記録制御装置は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するための記録制御装置であって、前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するための算出部と、前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するための選択部とを備え、これにより、上記目的が達成される。
【発明の効果】
【００３８】  本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を算出し、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する。したがって、１つの記録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から１つの記録条件を選択するだけで、所望信号の条件に近い条件で情報を記録媒体に記録することができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。【００３９】  さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。【００４０】  さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディスクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなく、データを正確に記録できる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図Ａである。
【図２】図２は、状態遷移図Ａを時間軸に沿って展開することによって得ることができるトレリス図である。
【図３】図３は、Ｐａ−Ｐｂの分布を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成を示す図である。
【図５】図５は、光ディスク１０１の構成を示す図である。
【図６】図６は、記録時に光ヘッド１０２が照射する光の波形を示す図である。
【図７】図７は、３Ｔマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテスト信号を示す図である。
【図８】図８は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するための図である。
【図９】図９は、再生手段１０４の構成を示す図である。
【図１０】図１０は、従来の光ディスク装置４００の構成を示す図である。
【図１１】図１１は、再生手段４０４の構成を示す図である。
【図１２】図１２は、ＰＬＬ５０７の構成を示す図である。
【図１３】図１３は、再生手段４０４に含まれる複数の構成要素によって生成された信号を示す図である。
【図１４】図１４は、エッジ間隔の分布を示す図である。
【図１５】図１５は、エッジ間隔の分布を示す図である。
【符号の説明】
【００４２】１００  光ディスク装置
１０１  光ディスク
１０２  光ヘッド
１０４  再生手段
１０６  復調・ＥＣＣ回路
１０８  記録条件決定手段
１０９  記録補償回路
１１１  記録パワー設定手段
１１２  レーザ駆動回路
２０１  プリアンプ
２０２  ハイパスフィルタ
２０３  ＡＧＣ回路
２０４  波形等化器
２０５  Ａ／Ｄ変換器
２０６  整形部
２０７  最尤復号器
２０８  信頼性計算部
【発明を実施するための最良の形態】
【００４３】  以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。【００４４】  はじめに、本発明の実施の形態の光ディスク装置によって参照されるＰＲＭＬ誤差指標Ｍ（以下、「指標Ｍ」と記す）を説明し（「１．指標Ｍについて」を参照）、次に、本発明の実施の形態の光ディスク装置の詳細を説明する（「２．本発明の実施の形態の光ディスク装置」を参照）。【００４５】 １．指標Ｍについて
はじめに、最尤復号法に基づいた再生信号評価のための指標Ｍを説明する。最尤復号法とは、一般的に、再生信号の波形と予め推定された波形とを比較することによって、再生信号の波形のパターンを判定し、判定結果に基づいて、再生信号を復号する復号方法である。【００４６】  以下、記録符号の最小極性反転間隔が２であり、信号の波形は、信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化となるように整形されているとする。【００４７】  現時刻の記録符号をｂｋとし、１時刻前の記録符号をｂｋ−１とし、２時刻前の記録符号をｂｋ−２とし、３時刻前の記録符号をｂｋ−３とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌｖは（式１）で表される。【００４８】  （式１）
Ｌｅｖｅｌｖ＝ｂｋ−３＋２ｂｋ−２＋２ｂｋ−１＋ｂｋ
ここで、ｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。【００４９】  表１は、時刻ｋにおける状態をＳ（ｂｋ−２，ｂｋ−１，ｂｋ）で表した状態遷移表である。【００５０】
【表１】
2005043537.tif 000002
図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図Ａである。状態遷移図Ａは、表１を参照することによって得ることができる。【００５１】  Ｓ０ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，０）ｋを示し、Ｓ１ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，１）ｋを示し、Ｓ２ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，１，１）ｋを示し、Ｓ３ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，１，１）ｋを示し、Ｓ４ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，１，０）ｋを示し、Ｓ５ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，０，０）ｋを示す。【００５２】  図２は、状態遷移図Ａを時間軸に沿って展開することによって得ることができるトレリス図である。【００５３】  以下、図１と図２とを参照して、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移を説明する。【００５４】  時刻ｋにおける状態Ｓ０ｋと時刻ｋ−４における状態Ｓ２ｋ−４に注目する。図２は、状態Ｓ０ｋと状態Ｓ２ｋ−４との間でとりうる２つの状態遷移列（パスＡ、パスＢ）を示す。パスＡの遷移は状態Ｓ２ｋ−４、状態Ｓ４ｋ−３、状態Ｓ５ｋ−２、状態Ｓ０ｋ−１、状態Ｓ０ｋである。パスＢの遷移は状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ３ｋ−３、Ｓ４ｋ−２、Ｓ５ｋ−１、Ｓ０ｋである。【００５５】  （Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）が時刻ｋ−６から時刻ｋまでの最尤復号結果を示すとすると、（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）＝（０，１，１，ｘ，０，０，０）となる復号結果（ｘは０または１の値）が得られた場合には、パスＡおよびパスＢのうちの何れが最も確からしいか推定されたこととなる。パスＡおよびパスＢの両方とも、時刻ｋ−４における状態が状態Ｓ２ｋ−４であることの確からしさは同じであるから、時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３から時刻ｋにおける再生信号ｙｋまでの値と、パスＡおよびパスＢそれぞれの期待値との差を２乗した値の累積値を求めることよって、パスＡとパスＢとの何れが確からしいかが分かる。【００５６】  時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３と時刻ｋ−３におけるパスＡの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−２における再生信号ｙｋ−２と時刻ｋ−２におけるパスＡの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−１における再生信号ｙｋ−１と時刻ｋ−１におけるパスＡの期待値との差の２乗値および時刻ｋにおける再生信号ｙｋと時刻ｋにおけるパスＡの期待値との差の２乗値の累積値をＰａとするとＰａは（式１）で表される。【００５７】  （式１）
Ｐａ＝（ｙｋ−３−４）２＋（ｙｋ−２−３）２＋（ｙｋ−１−１）２＋（ｙｋ−０）２
時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３と時刻ｋ−３におけるパスＢの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−２における再生信号ｙｋ−２と時刻ｋ−２におけるパスＢの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−１における再生信号ｙｋ−１と時刻ｋ−１におけるパスＢの期待値との差の２乗値および時刻ｋにおける再生信号ｙｋと時刻ｋにおけるパスＢの期待値との差の２乗値の累積値をＰｂとするとＰｂは（式２）で表される。【００５８】  （式２）
Ｐｂ＝（ｙｋ−３−５）２＋（ｙｋ−２−５）２＋（ｙｋ−１−３）２＋（ｙｋ−１）２
したがって、Ｐａ−Ｐｂは、最尤復号結果の信頼性を示す。【００５９】  図３は、Ｐａ−Ｐｂの分布を示す。以下、差Ｐａ−Ｐｂの意味を説明する。Ｐａ＜＜Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＡを高い確率で選択し、Ｐａ＞＞Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＢを高い確率で選択する。またＰａ＝Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＡまたはパスＢを選択する可能性は５０パーセントであり、最尤復号部の復号結果が正しい可能性は５０パーセントである。このようにして所定の時間あるいは所定の回数、復号結果に基づいてＰａ−Ｐｂを算出することによってＰａ−Ｐｂの分布が得られる。【００６０】  図３（ａ）は、ノイズが重畳された再生信号に基づいて算出されたＰａ−Ｐｂの分布を示す。分布は２つのピークを有する。１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０となるときに頻度が極大となる。【００６１】  Ｐａ−Ｐｂの絶対値を計算し、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを求める。ここで、−Ｐｓｔｄは、Ｐａ−Ｐｂの値を示し（ただし、Ｐａ＝０）、Ｐｓｔｄは、Ｐａ−Ｐｂの値を示す（ただし、Ｐｂ＝０）。【００６２】  図３（ｂ）は｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。図３（ｂ）に示す分布の標準偏差σと平均値Ｐａｖｅを求める。図３（ｂ）に示す分布が正規分布であるとし、例えばσとＰａｖｅとに基づいて復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が−Ｐｓｔｄ以下となるときを誤りが発生した状態とすると、誤り確率Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）は（式３）のように表される。【００６３】  （式３）
Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｐａｖｅ）／σ）
Ｐａ−Ｐｂの分布から計算した平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとから最尤復号結果を示す２値化信号の誤り率を予想することができる。つまり平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとを再生信号品質の指標とすることができる。【００６４】  なお、上記の例では｜Ｐａ−Ｐｂ｜の分布が正規分布となることを仮定したが、分布が正規分布でない場合には、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの値が所定の基準値以下になる回数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。【００６５】  最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則の場合、状態が遷移するときに２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、時刻ｋ−４から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−５から時刻ｋの範囲では１６パターンである。【００６６】  ここで重要なのは、信頼性Ｐａ−Ｐｂを再生信号品質の指標とすることにより、すべてのパターンを検出しなくても、誤る可能性（誤り率）が大のパターンのみを検出すれば、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が大のパターンとは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンであり、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０となる８パターンである。この８パターンとＰａ−Ｐｂとについてまとめると（表２）のようになる。【００６７】
【表２】
2005043537.tif 000003
上記８通りの復号結果の信頼性Ｐａ−Ｐｂをまとめると（式４）が得られる。【００６８】
【数１】
2005043537.tif 000004
ここでＡｋ＝（ｙｋ−０）２，Ｂｋ＝（ｙｋ−１）２，Ｃｋ＝（ｙｋ−２）２，Ｄｋ＝（ｙｋ−３）２，Ｅｋ＝（ｙｋ−４）２，Ｆｋ＝（ｙｋ−５）２，Ｇｋ＝（ｙｋ−６）２とする。【００６９】  最尤復号結果ｃｋから（式５）を満たすＰａ−Ｐｂを求め、その分布から標準偏差σ１０と平均値Ｐａｖｅ１０とを算出する。正規分布であると仮定するとそれぞれ誤りを起こす確率Ｐ１０は（式５）となる。【００７０】  （式５）
Ｐ１０（σ１０，Ｐａｖｅ１０）＝ｅｒｆｃ（（１０＋Ｐａｖｅ１０）／σ１０）
上記８パターンは、１ビットシフトエラーを起こすパターンであり、他のパターンは、２ビット以上のシフトエラーを起こすパターンである。ＰＲＭＬ処理後のエラーパターンを分析すると、ほとんどが、１ビットシフトエラーであるため、（式６）を求めることで再生信号の誤り率が推定できる。このように、標準偏差σ１０および平均値Ｐａｖｅ１０を再生信号の品質を示す指標として用いることができる。例えば、上記の指標を指標Ｍとして、（式６）によって定義できる。【００７１】  （式６）
Ｍ＝σ１０／（２・ｄｍｉｎ２）［％］
但し、ｄｍｉｎ２は、ユークリッド距離の最小値の２乗です。例えば、最小極性反転間隔が２の変調符号とＰＲ（１，２，２，１）ＭＬ方式との組み合わせでは、ｄｍｉｎ２＝１０＝Ｐｓｔｄである。また、（式５）における平均値Ｐａｖｅ１０は、０と仮定し、（式６）の指標の計算では、考慮しない。【００７２】  以上、最尤復号法に基づいた再生信号評価のための指標（指標Ｍ）を説明した。【００７３】 ２．本発明の実施の形態の光ディスク装置
以下、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成および動作を説明する。【００７４】  図４は、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成を示す。光ディスク装置１００は、光ディスク１０１が装着可能なように構成されている。【００７５】  図５は、光ディスク１０１の構成を示す。光ディスク１０１には、グルーブトラック６０１が形成されている。グルーブトラック６０１の形状は、例えば、スパイラル状または同心円状である。グルーブトラック６０１は記録領域を含む。【００７６】  以下、図４を参照して、光ディスク装置１００の構成を説明する。光ディスク装置１００は、光ヘッド１０２と、再生手段１０４と、復調・ＥＣＣ回路１０６と、記録条件決定手段１０８と、記録補償回路１０９と、記録パワー設定手段１１１と、レーザ駆動回路１１２とを備える。【００７７】  図６は、記録時に光ヘッド１０２が照射する光の波形を示す。本実施の形態では、Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録するものとする。この場合、最短２Ｔから最長８Ｔまで７種類のマークおよびスペースが存在する（Ｔは、基準周期を示す）。なお記録方式はマークエッジ記録方式に限定されず、他の記録方式でも良い。【００７８】  光の波形のパラメータには、記録パワーを示すパラメータとパルス位置を示すパラメータとがある。記録パワーを示すパラメータは、ピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）を含む。パルス位置を示すパラメータは、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅを含む。ここで幅Ｔｍｐのパルスの立ち上がり位置、および先頭のパルスのｄＴｔｏｐの起点はオリジナル信号との相対関係を規定する基準位置である。【００７９】  光ディスク１０１に形成するマークの長さに応じて、パルスの数が調整される。２Ｔマークは１つのパルスで記録され、３Ｔマークは２つのパルスで記録される。光ディスク１０１に形成するマークが１Ｔ長くなるに応じてパルスの数が１つ増える。【００８０】  一般に、光の波形のパラメータの一部（例えば、ピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）、Ｔｍｐ）は、マークの長さに依存しないが、光の波形のパラメータの他の一部（例えば、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅ）はマークの長さに依存する。しかし、光の波形のパラメータをどのように設定するかは、任意である。【００８１】  以下、図４を参照して、光ディスク装置１００の動作を説明する。以下に説明するように、光ディスク装置１００は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を光ディスク１０１に記録する。例えば、複数の記録条件のそれぞれは、光の波形のパラメータを示す。【００８２】  光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装着され、光ディスク装置１００の所定動作（ディスクタイプの識別および回転制御等）終了後、光ディスク１０１に含まれるテスト領域に移動するように光ヘッド１０２が制御される。テスト領域には、最適記録パワーおよび最適パルス位置を設定するためのテスト情報がテスト記録される。テスト領域は、例えば、光ディスク１０１の最内周に設けられているが、ユーザがデータを記録するユーザ領��以外の記録領域であれば、光ディスク１０１の最内周に設けられることに限定されない。テスト領域は、例えば、光ディスク１０１の最外周に設けられていてもよい。【００８３】  テスト記録時には、記録パワー設定手段１１１は、記録パワーの初期値（ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの初期）をレーザ駆動回路１１２に設定する。記録パワーの初期値は、光ディスク１０１作製時に予め光ディスク１０１に記録されているが、光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装着された時に、テスト記録によって記録パワーの初期値を算出し、算出された初期値を光ディスク１０１に記録し得る。【００８４】  テスト記録によって算出された記録パワーの初期値をレーザ駆動回路１１２に設定する場合は、光ディスク１０１作製時に予め光ディスク１０１に記録されている記録パワーの初期値をレーザ駆動回路１１２に設定する場合と比較して、光ディスクの品質および光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づけば、Ｓ／Ｎ比の確保できた良好な記録を行うことができる。【００８５】  記録補償回路１０９は、信号１１０をレーザ駆動回路１１２に送る。【００８６】  レーザ駆動回路１１２は、信号１１０に基づいて、記録するマークの長さに応じて整形されたパルス列信号１１３を生成する。レーザ駆動回路１１２は、パルス列信号１１３を光ヘッド１０２に送り、光ヘッド１０２は、パルス列信号１１３に基づいて、光ディスク１０１にテスト信号をテスト記録する。光ヘッド１０２に備えられた半導体レーザの出力光は、光ディスク１０１上に光スポットとして集光され、半導体レーザは発光波形に応じた記録マークを光ディスク１０１に形成する。テスト信号の詳細は、後述される。【００８７】  なお、テスト記録の前に、テスト領域をバイアスパワーのみで記録し得る。バイアスパワーのみで記録することにより、テスト記録前にテスト領域に記録されていた信号がテスト領域から消去されるので、テスト記録前にテスト領域に記録されていた信号がテスト記録に与える影響を低減し得る。【００８８】  なお、光ヘッド１０２のレーザ光の波長は４０５ｎｍ程度であり、対物レンズのＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）は０．８５程度である。また最短マーク長は０．１６ミクロン程度である。【００８９】  図７は、３Ｔマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテスト信号を示す。テスト信号は、種々の条件を有し、グルーブトラックにテスト記録される。【００９０】  このグルーブトラックは、テスト領域に含まれている。このグルーブトラックには、テスト信号が複数の条件で記録されている。具体的には、このグルーブトラックには、条件Ａを有するテスト信号Ａと、条件Ｂを有するテスト信号Ｂと、条件Ｃを有するテスト信号Ｃと、条件Ｄを有するテスト信号Ｄとがこの順番に複数回記録されている。記録されたこれらの信号を再生することによって得ることができた再生信号に基づいて、光ディスク１０１の周方向のチルトばらつきやディスクに付いた傷、汚れの影響を低減できる。【００９１】  パルス位置を示す初期値は、例えば、条件Ａを示す。条件Ａを示す値が光ディスク１０１に予め記載されていても良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められていても良い。【００９２】  パルス位置の初期値が光ディスク１０１に予め記載されている例の１つは、同一条件で作成された複数の光ディスクに共通する値が光ディスク作成時に記載される場合である。例えば、グルーブをウォブルすることによって予め記録しえる。パルス位置の初期値をテスト記録の結果に基づいて予め求めている例の１つは、前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータをテスト領域に記録している場合である。光ディスク１０１作成時に記載された値および前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値の両方が光ディスク１０１に記録されている場合には、前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値を使用する方が望ましい。前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値は、光ディスクの品質および光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づけば、Ｓ／Ｎ比の確保できた良好な記録を行うことができる。【００９３】  なお、１周で４条件を記録する代わりに、１周で１条件の記録でも良く、また１回のテスト記録が１周以上でもよい。サンプル数を多くすることにより最適化の精度が向上する。【００９４】  図８は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するための図である。なお、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順は、記録条件決定手段１０８および記録補償回路１０９のうちの少なくとも一方によって実行される。【００９５】  以下、図８を参照して、パルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。【００９６】  図８（ａ）を参照して、３Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。【００９７】  パルス位置を示す初期値として、条件Ａを決定する。条件Ａを示す値は光ディスク１０１に予め記載されていても良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められても良い。光ディスク装置１００は、光ヘッド１０２を制御することによって、光ディスク１０１に記録されている初期値を読み取る。【００９８】  初期条件Ａに基づいて、条件Ｂ、条件Ｃおよび条件Ｄを決定する。例えば、条件ＡのＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ＡのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件Ｂを決定する。条件ＡのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ＡのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに条件ＡのｄＴｅを固定することによって、条件Ｃを決定する。条件ＡのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ＡのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに、条件ＡのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件Ｄを決定する。【００９９】  なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、ΔＴｔｏｐ、ΔｄＴｔｏｐ、ΔｄＴｅ）はウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。【０１００】  図８（ｂ）を参照して、２Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。【０１０１】  パルス位置を示す初期値として、条件ａを決定する。条件ａを示す値は光ディスク１０１に予め記載されてい���も良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められても良い。【０１０２】  条件ａのＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ大きくすることによって、条件ｂを決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに条件ａのｄＴｅを固定することによって、条件ｃを決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ大きくすることによって、条件ｄを決定する。【０１０３】  さらに、条件ａのＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件ｂ’を決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ小さくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ小さくし、さらに条件ａのｄＴｅを固定することによって、条件ｃ’を決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ小さくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ小さくし、さらに、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件ｄ’を決定する。【０１０４】  なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、ΔＴｔｏｐ、ΔｄＴｔｏｐ、ΔｄＴｅ）はウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。【０１０５】  ２Ｔのパルス位置を示すパラメータを条件ａ、条件ｂ、条件ｃおよび条件ｄ（図８（ｂ）参照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を記録再生することによって、指標Ｍが最も小さい条件を仮決定する。続いて、２Ｔのパルス位置を示すパラメータを条件ａ、条件ｂ’、条件ｃ’、条件ｄ’（図８（ｂ）参照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を記録再生することによって、指標Ｍが最も小さい条件を仮決定する。仮決定された２つの条件のうち、指標Ｍが小さい方を２Ｔのパルス位置を示す条件として決定する。【０１０６】  ３Ｔマークのパルス位置を変更するときは３Ｔマーク以外のマークのパルス位置を変更せず、同様に２Ｔマークのパルス位置を変更するときは２Ｔマーク以外のマークのパルス位置を変更しない。記録するデータはランダムパターンでも良いし、特定のパターンに固定しても良い。またパルス位置の変更ステップはウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。【０１０７】  指標Ｍを小さくするための方法の一つは２Ｔマークと３Ｔマークの識別を正しく行うことであり、本実施の形態のように２Ｔマーク、３Ｔマークのどちらか一方もしくは両方のパルス位置を最適化することにより、より正しく記録できる。【０１０８】  なお、本実施の形態では、４つの条件によってテスト記録再生することによって３Ｔマークの最適パルス位置を１回で決定し、７つの条件を２回に分けてテスト記録再生することによって２Ｔマークの最適パルス位置を決定するが、決定手順はこれに限らない。また本実施の形態ではＴｔｏｐとｄＴｔｏｐを同時に決定しているが、決定手順はこれに限らない。【０１０９】  さらに、本実施の形態において、３Ｔマークを４つの条件に対応したパルス位置により記録しているが、初期条件を除く３つの条件はいずれも３Ｔマークが長く記録される条件である。出現頻度の高い２Ｔマークの識別をより確実に行うために、３Ｔマークが長くなる条件で最適条件が見つかる確率が高い。【０１１０】  さらに、本実施の形態において、２Ｔマークを７つの条件に対応したパルス位置により記録しているが、２Ｔ信号は光ディスクと光ディスク装置のばらつきによりＳ／Ｎ比が大きく変わるので、一定の方向のみの探索を行わない。なお図８（ｂ）において、右上の条件と、左下の条件は初期状態と比較してマーク長が大きく変わる危険性があるので、本実施の形態では探索を行っていない。【０１１１】  さらに、本実施の形態における２Ｔマークと３Ｔマークを記録する際のパルス決定条件は、初期条件が、本実施の形態と同様の手順で決定されているか、または従来例に記載した手順と同様にジッタが小さくなる手順で決定されている場合に有効であり、初期条件と最適条件が近いという根拠がない場合には、本実施の形態と異なるパルス決定条件にしても良い。【０１１２】  再び、図４を参照して、光ディスク装置１００の動作の説明を続ける。【０１１３】  ３Ｔマークのパルス位置を示すテスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄのテスト記録が終わると、レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１に記録されたテスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄを再生するように、光ヘッド１０２を制御する。テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄを再生することによって生成された再生信号１０３は、再生手段１０４に入力される。再生信号１０３は、光ディスク１０１に形成された記録マークの有無に応じて変化する。【０１１４】  図９は、再生手段１０４の構成を示す。再生手段１０４は、プリアンプ２０１と、ハイパスフィルタ２０２と、ＡＧＣ回路２０３と、波形等化器２０４と、Ａ／Ｄ変換器２０５と、整形部２０６と、最尤復号器２０７と、信頼性計算部２０８とを備える。【０１１５】  整形部２０６は例えばデジタルフィルタであり、Ａ／Ｄ変換器２０５が生成したデジタル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の波形を整形する。【０１１６】  最尤復号器２０７は例えばビタビ復号回路であり、整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する。【０１１７】  信頼性計算部２０８は例えば差分メトリック解析器であり、整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号とに基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。最尤復号の結果の信頼性は、整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号との乖離または整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号に基づいて生成された信号との乖離によって示される。【０１１８】  プリアンプ２０１は、信号１０３を増幅する。増幅された信号１０３は、ハイパスフィルタ２０２でＡＣカップリングされたのちＡＧＣ２０３に入力される。ＡＧＣ２０３は、波形等化器２０４の出力が一定振幅となるようゲインを調整する。ＡＧＣ２０３から出力された再生信号は波形等化器２０４によって波形整形される。波形整形された再生信号はＡ／Ｄ変換器２０５に入力される。Ａ／Ｄ変換器２０５はクロック２０９で再生信号をサンプリングする。クロック２０９はＰＬＬ（図示せず）によって再生信号に基づいて生成される。【０１１９】  Ａ／Ｄ変換器２０５のサンプリングにより生成された再生信号は整形部２０６に入力される。整形部２０６は、記録時および再生時の再生信号の周波数特性が最尤復号器２０７の想定する特性（本実施の形態ではＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるように再生信号の周波数を調整する（すなわち再生信号の波形を整形する）。【０１２０】  最尤復号器２０７は、整形部２０６から出力された波形整形された再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。信頼性計算部２０８は、整形部２０６から出力された波形整形された再生信号と、２値化信号とを受け取る。信頼性計算部２０８は、２値化信号から状態遷移を判別する。信頼性計算部２０８は、判別結果とデータ２１０とに基づいて復号結果の信頼性を示す指標Ｍ（（式６）参照）を算出する。信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号Ａに対応する再生信号に基づいて指標Ｍを算出し、さらに、算出された複数の指標Ｍの平均を算出する。さらに、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号Ｂ、複数のテスト信号Ｃおよび複数のテスト信号Ｄのそれぞれに対しても、複数のテスト信号Ａに対する場合と同様に、指標Ｍの平均を算出する。【０１２１】  出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。【０１２２】  記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を３Ｔマークのパルス位置条件として選択（決定）する。なお、複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順位に従って、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号Ｄに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ｃに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号Ｃに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ｂに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号Ｂに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。【０１２３】  なお、テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃおよびテスト信号Ｄがそれぞれ複数であることに限定されない。テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃおよびテスト信号Ｄがそれぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算出する必要はない。【０１２４】  なお、複数のテスト信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成し、信頼性計算部２０８によって複数のテスト信号と複数の２値化信号とに基づいて、復号の結果の信頼性を示す指標Ｍを計算する形態を説明したが、信頼性を示す指標の計算は、この形態に限定されない。例えば、テスト信号に基づいて最尤復号器２０７によって生成された複数のパスを示す信号が、信頼性計算部２０８に入力された場合には、信頼性計算部２０８はテスト信号と複数のパスとに基づいて、テスト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する。例えば、信頼性計算部２０８は、テスト信号とパスＡとの乖離およびテスト信号とパスＢとの乖離を計算する。信頼性計算部２０８は、これらの乖離を参照して、テスト信号の信頼性を示す指標を計算する。記録条件決定手段４０８は複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標に基づいて、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択しえる。【０１２５】  以上、３Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータに従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク１０１に照射することによって、最適な３Ｔマークを光ディスク１０１に形成することができる。【０１２６】  ２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータの最適化は、３Ｔマークのパルス位置を示すパラメータの最適化と同様に行われる。【０１２７】  以下、２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定する手順を説明する。【０１２８】  ２Ｔマークのパルス位置を示すテスト信号ａ、テスト信号ｂ、テスト信号ｃ、テスト信号ｄ、テスト信号ｂ’、テスト信号ｃ’、テスト信号ｄ’のテスト記録が終わると、レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１に記録されたこれらのテスト信号を再生するように、光ヘッド１０２を制御する。これらのテスト信号を再生することによって生成された再生信号１０３は、再生手段１０４に入力される。再生信号１０３は、光ディスク１０１に形成された記録マークの有無に応じて変化する。【０１２９】  信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ａに対応する再生信号に基づいて指標Ｍを算出し、さらに、算出された複数の指標Ｍの平均を算出する。さらに、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｃおよび複数のテスト信号ｄのそれぞれに対しても、複数のテスト信号ａに対する場合と同様に、指標Ｍの平均を算出する。【０１３０】  出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。【０１３１】  記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として１回目の仮決定を行う。【０１３２】  さらに、信頼性計算部２０８は、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｃ’および複数のテスト信号ｄ’のそれぞれに対して、指標Ｍの平均を算出する。【０１３３】  出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。【０１３４】  記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として２回目の仮決定を行う。【０１３５】  記録条件決定手段１０８は、１回目の仮決定で求められた条件と２回目の仮決定で求められた条件とのうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として決定する。【０１３６】  １回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍと２回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍとが異なるときには、それぞれの指標を正規化した上で最も小さい値に対応する条件をＴマークのパルス位置条件として決定する。例えば、１回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍに基づいて、複数のテスト信号ｂに基づく指標、複数のテスト信号ｃに基づく指標および複数のテスト信号ｄに基づく指標を正規化する。さらに、２回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍに基づいて、複数のテスト信号ｂ’に基づく指標、複数のテスト信号ｃ’基づく指標および複数のテスト信号ｄ’に基づく指標を正規化する。なお、２Ｔのパルス位置条件を決定するための記録を行う際には、直前の３Ｔのパルス位置決定条件が反映されているものとする。【０１３７】  なお、複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順位に従って、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号ｄに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｃに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｃに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｂに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｂに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。例えば、複数のテスト信号ｄ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｃ’に基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｃ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｂ’に基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｂ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。さらに、例えば、優先順位は、複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｄ’、複数のテスト信号ｃ’、複数のテスト信号ｄ、複数のテスト信号ｃまたは複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｄ、複数のテスト信号ｃ、複数のテスト信号ｄ’、複数のテスト信号ｃ’でありえる。【０１３８】  なお、テスト信号ａ、テスト信号ｂ、テスト信号ｃ、テスト信号ｄ、テスト信号ｂ’、テスト信号ｃ’、テスト信号ｄ’がそれぞれ複数であることに限定されない。これらのテスト信号がそれぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算出する必要はない。【０１３９】  以上、２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータに従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク１０１に照射することによって、最適な２Ｔマークを光ディスク１０１に形成することができる。【０１４０】  本実施の形態における光波形のパラメータのうち、一般にｄＴｅがＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐよりも、１ステップの変更に対する記録マーク形状の変動が小さい。初期条件を最優先し、続いて記録マーク形状の変動が小さい条件を優先させることにより、初期条件と本実施の形態のパルス位置変更条件とを両立する条件に決定できる。その結果、本実施の形態の様な回路構成を持たない再生装置における再生安定性を向上することができる。【０１４１】  例えば、初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本��施の形態の様な優先順位を設けることにより、ジッタと指標Ｍが共に良好になるようなパルス位置に決定することができる。前述のように、クロック２０９はＰＬＬから出力されており、ジッタはＰＬＬの安定動作の指標であることから、ジッタと指標Ｍが共に良好である条件を求めることにより、より正しい記録再生を行うことができる。また、初期条件が、図１１に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路１１０８の出力信号が小さくなるような条件に決定されていれば、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、エッジシフトが小さく、かつ指標Ｍが良好になるようにパルス位置を決定することができる。このように、本発明の実施の形態によれば、エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、初期条件を決定しえる。【０１４２】  以上の様に、本発明の実施の形態の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。【０１４３】  なお、２Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定および３Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定において、初期条件から１ステップ異なるパルス位置までしか探索せず、パルス位置の移動に制限を設けている。例えば、初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、ジッタ劣化が小さく、かつ指標Ｍが良好なパルス位置に決定することができる。さらに、探索のステップを繰り返し行うことにより２ステップ以上異なるパルス位置を探索しても良い。この場合には、あるステップで決定したパルス位置を次回のステップでの初期値としてもよい。【０１４４】  さらに、初期条件が、図１１に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路１１０８の出力信号が小さくなるような記録条件に決定されていれば、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、エッジシフトが小さく、かつ指標Ｍが良好なパルス位置に決定することができる。【０１４５】  さらに、記録パワー（ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワー等）を示すパラメータをテスト記録により決定しても良い。【０１４６】  さらに、本実施の形態によれば、指標Ｍの大きさ、すなわち８個のパターン（（式４）参照）から算出された標準偏差σ１０（（式５）参照）を基準にしてパルス位置条件を決定しているが、８個のパターンを４個づつに分け、各々の標準偏差からパルス位置最適条件を決定しても良い。すなわち、ｃの値（（式４）参照）が１のときをマークとすると、Ｐａｔｔｅｒｎ−１、Ｐａｔｔｅｒｎ−２、Ｐａｔｔｅｒｎ−３、Ｐａｔｔｅｒｎ−４はマーク終端エッジに関し、Ｐａｔｔｅｒｎ−５、Ｐａｔｔｅｒｎ−６、Ｐａｔｔｅｒｎ−７、Ｐａｔｔｅｒｎ−８はマーク始端エッジに関する。このように、始端エッジと終端エッジとを区別して、標準偏差が大きい方のエッジを優先的に最適化しても良い。更には８個のパターンの内で標準偏差が大きいパターンのエッジを優先的に最適化しても良い。【０１４７】  例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−３における標準偏差が所定値よりも大きいときには、２Ｔマーク、３Ｔスペースと続く場合と、３Ｔマーク、２Ｔスペースと続く場合の区別が明確でないことを示す。したがって、２Ｔマークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、または３Ｔマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによって再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。なお、マークとスペースの組み合わせでエッジ位置を決定できる場合には、２Ｔマーク、３Ｔスペースと続く組み合わせにおける２Ｔマークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、または３Ｔマーク、２Ｔスペースの組み合わせにおける３Ｔマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによって、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。その結果、より精度良くエッジ位置を最適化できる。【０１４８】  同様に、例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−５における標準偏差が所定値よりも大きいときには、３Ｔ以上のスペース、３Ｔマークと続く場合と、４Ｔ以上のスペース、２Ｔマークと続く場合の区別が明確でないことを示す。したがって、３Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を早くすることによって、または２Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くすることによって、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。このときも、マークとスペースの組み合わせでエッジ位置を決定できる場合には、３Ｔ以上のスペース、３Ｔマークの組み合わせにおける３Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を早くすることによって、または４Ｔ以上のスペース、２Ｔマークの組み合わせにおける２Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くすることによって、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。その結果、より精度良くエッジ位置を最適化できる。【０１４９】  さらに、本実施の形態では、３Ｔマーク、２Ｔマークについて最適なパルス位置を決定しているが、最適パルス位置の決定は２Ｔマークだけでも良い。２Ｔマークは出現頻度が最も高いので２Ｔマークのパルス位置を最適化することにより、従来よりも正しい記録が実現できるとともに、最適パルス位置の決定に要する時間を短縮できる。【０１５０】  さらに、本実施の形態では３Ｔマークおよび２Ｔマークの最適なパルス位置を決定しているが、４Ｔマークのパルス位置の最適化を行い得る。４Ｔマークの最適なパルス位置を決定することにより、より正しい記録を行うことができる。同様に最適パルス位置の決定に要する時間に余裕があるのであれば全てのマークの最適なパルス位置を決定し得る。【０１５１】  さらに、本実施の形態では、記録符号として最小極性反転間隔が２である符号を用いて、ＰＲ（１，２，２，１）等化を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、記録符号が（１，７）変調符号のような最小極性反転間隔が２の場合では上記実施例が適用でき、ＤＶＤに使用されている８−１６変調符号のような最小極性反転間隔が３である場合ではＰＲ（１，２，２，１）等化により時刻ｋにおいては６つの状態が存在し、時刻ｋ＋１の６つの状態へとり得る状態遷移を８通りに制限される状態遷移則を用いることにより本発明は実施可能である。したがって、最小極性反転間隔が３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を���いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。【０１５２】  以上、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成および動作を説明した。【０１５３】  図４および図９に示された例では、光ディスク装置１００が「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置」に対応し、光ヘッド１０２とレーザ駆動回路１１２とが「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録媒体に記録する第１記録手段」に対応し、光ヘッド１０２とレーザ駆動回路１１２と記録条件決定手段１０８と再生手段１０４とが「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録する第２記録手段」に対応し、信頼性計算部２０８が「記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部」に対応し、記録条件決定手段１０８が「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部」に対応する。【０１５４】  しかし、本発明の光ディスク装置１００が図４および図９に示されるものに限定されるわけではない。上述した各手段の機能が達成される限りは、任意の構成を有する装置が本発明の範囲内に含まれ得る。【０１５５】  例えば、光ディスク装置１００によって、記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望パターンを示す所望信号との乖離を参照することができる限りは、乖離が指標Ｍによって表されることに限定されない。テスト信号の波形と予め推定されたパターンとを比較することによって、テスト信号の波形のパターンと予め推定されたパターンとの差分を判定し、判定結果に基づいて、記録条件を選択しえる。【０１５６】  さらに、予め推定されたパターンは、２つのパターンに限らない。予め推定されたパターンの数が、少なくとも１つある場合には、少なくとも１つのパターンとテスト信号との乖離を算出することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択しえる。【０１５７】  さらに、予め推定されたパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースを示すパターンに限定されない。ｎＴマークまたはｎＴスペースを示すパターンでよい（ｎは、正の整数）。さらに、予め推定されたパターンは、複数のパターンの組み合わせでありえる。例えば、予め推定されたパターンは、２Ｔマークを示すパターン、２Ｔスペースを示すパターンおよび３Ｔマークを示すパターンの組み合わせでありえる。【０１５８】  さらに、予め推定されたパターンは、予め光ディスク装置に備えられた格納部に格納されていることに限定されない。予め推定されたパターンは、テスト信号が再生された後、光ディスク装置が生成し得る。光ディスク装置は、予め、理想形状を有するパターンがどのような形状を有しているか知っているからである。【０１５９】  さらに、図４および図９に示される実施の形態で説明した各手段は、ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソフトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現される場合でも、光ディスク装置によって、「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録媒体に記録するステップ」と、「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するステップ」と、「記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップ」と、「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップ」とを含む本発明の記録処理が実行され得る。本発明の記録処理は、上述した各ステップを実行し得る限り、任意の手順を有し得る。【０１６０】  例えば、本発明の光ディスク装置には、光ディスク装置の機能を実行させるための記録処理プログラムが格納されている。記録処理プログラムは、光ディスク装置の機能を実行させる。【０１６１】  記録処理プログラムは、コンピュータの出荷時に、光ディスク装置に含まれる格納手段に予め格納されていてもよい。あるいは、コンピュータの出荷後に、記録処理プログラムを格納手段に格納するようにしてもよい。例えば、ユーザがインターネット上の特定のウェブサイトから記録処理プログラムを有料または無料でダウンロードし、そのダウンロードされたプログラムをコンピュータにインストールするようにしてもよい。記録処理プログラムがフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されている場合には、入力装置（例えば、ディスクドライブ装置）を用いてアクセス処理をコンピュータにインストールするようにしてもよい。インストールされた記録処理プログラムは、格納手段に格納される。【０１６２】  さらに、記録制御装置（整形部２０６と最尤復号部２０７と信頼性算出部２０８と記録条件決定手段１０８）は、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部として製造され得る。記録制御装置が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、光ディスク装置の製造工程を容易にすることができる。【０１６３】  以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０１６４】  本発明の記録方法は、光ディスクへの高密度記録を行う際に有用である。【０１６５】  本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を算出し、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する。したがって、１つの記録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から１つの記録条件を選択するだけで、所望信号の条件に近い条件で情報を記録媒体に記録することができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。【０１６６】  さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。【０１６７】  さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディスクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなく、データを正確に記録できる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【手続補正書】
【提出日】平成18年4月27日(2006.4.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、
（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ）は、
（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、
（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップと
を包含する記録方法。
【請求項２】
前記ステップ（ａ）は、
（ａ−１）初期条件を決定するステップと、
（ａ−２）前記初期条件に基づいて、少なくとも１つの記録条件を決定するステップと
を包含し、
前記複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも１つの記録条件とを含む、請求項１に記載の記録方法。
【請求項３】
前記ステップ（ｂ−１）は、
前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成するステップと、
前記複数のテスト信号と前記複数の２値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結果の信頼性を計算する計算ステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ−２）は、前記信頼性を示す複数の値に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項４】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項３に記載の記録方法。
【請求項５】
前記ステップ（ｂ−１）は、
前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号のそれぞれに基づいて、複数のパスを生成するステップと、
前記複数のテスト信号のそれぞれと前記複数のパスとに基づいて、前記複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する計算ステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の指標に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項６】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項５に記載の記録方法。
【請求項７】
前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されている、請求項１に記載の記録方法。
【請求項８】
前記ステップ（ｂ）は、
前記選択された１つの記録条件に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、
前記光を前記記録媒体に照射することによって、所定の長さを有する複数の記録マークを前記記録媒体に形成するステップと
を包含する、請求項１に記載の記録方法。
【請求項９】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含む、請求項８に記載の記録方法。
【請求項１０】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長い記録マークを含む、請求項８に記載の記録方法。
【請求項１１】
前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されている、請求項２に記載の記録方法。
【請求項１２】
エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を決定するステップをさらに包含し、
前記所定の記録条件は、前記複数の記録条件に含まれる、請求項２に記載の記録方法。
【請求項１３】
前記ステップ（ａ−１）は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステップを包含する、請求項１２に記載の記録方法。
【請求項１４】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置であって、
前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録する第１記録手段と、
前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録する第２記録手段と
を備え、
前記第２記録手段は、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部と、
前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部と
を備えた、記録装置。
【請求項１５】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記記録処理は、
（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップと
を包含し、
前記ステップ（ｂ）は、
（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと
、
（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップと
を包含する、プログラム。
【請求項１６】
複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するための記録制御装置であって、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するための算出部と、
前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するための選択部と
を備えた、記録制御装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射することによって光ディスクにデジタル情報を記録する。しかし、光ディスク装置および光ディスクは個体差を有するため、光ディスクに記録された信号の品質が低下する。個体差に起因する信号品質の低下を防ぐために、例えば、光ディスクを光ディスク装置に装着する時に信号をテスト記録し、例えば、照射パワーおよび光パルス形状を最適にする。
【０００３】
図１０は、従来の光ディスク装置４００の構成を示す。
【０００４】
光ディスク装置４００は、光ディスク４０１が装着可能なように構成されている。光ディスク装置４００は、光ヘッド４０２と、再生手段４０４と、復調・ＥＣＣ回路４０６と、記録条件決定手段４０８と、記録補償回路４０９と、レーザ駆動回路４１２と、記録パワー設定手段４１１とを備える。
【０００５】
記録条件決定手段４０８は、記録パルス位置と記録パワーとを決定する。記録補償回路４０９は、記録条件決定手段４０８の決定に従って記録パルス位置を設定する。記録パワー設定手段４１１は、記録条件決定手段４０８の決定に従って記録パワーを設定する。レーザ駆動回路４１２は、光ヘッド４０２が光ディスク４０１に対して所定のテスト記録を行うように、光ヘッド４０２を制御する。
【０００６】
テスト記録が終わると、レーザ駆動回路４１２は、光ヘッド４０２が光ディスク４０１に記録された信号を再生するように、光ヘッド４０２を制御する。再生信号４０３は再生手段４０４に入力される。
【０００７】
図１１は、再生手段４０４の構成を示す。
【０００８】
再生手段４０４は、プリアンプ５０１と、イコライザ５０２と、ローパスフィルタ５０３と、２値化回路５０５と、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）５０７と、エッジ間隔測定回路５０８と、ジッタ演算回路５１０とを備える。
【０００９】
プリアンプ５０１は、再生信号４０３を増幅し、イコライザ５０２およびローパスフィルタ５０３は、増幅された再生信号４０３を波形等化することによって、信号５０４を生成する。２値化回路５０５は、信号５０４とスライスレベルとに基づいてパルス信号５０６を生成する。２値化回路５０５は、マークの積分値とスペースの積分値とが等しくなるように、スライスレベルを通常数１０ＫＨｚの帯域で動作する。パルス信号５０６はＰＬＬ５０７に入力される。
【００１０】
図１２は、ＰＬＬ５０７の構成を示す。
【００１１】
ＰＬＬ５０７は、位相比較器６０１と、ローパスフィルタ６０２と、ＶＣＯ６０３と、フリップフロップ６０５と、分周回路６０６と、ゲート回路６０７とを備える。
【００１２】
位相比較器６０１は、パルス信号５０６の位相とゲート回路６０７から出力された信号
６０８の位相との差を検出する。位相比較器６０１は、パルス信号５０６と信号６０８との位相差および周波数差を示す誤差信号を生成する。
【００１３】
ローパスフィルタ６０２は、誤差信号の低周波成分のみを取り出し、ＶＣＯ６０３の制御電圧を示す制御信号を生成する。ＶＣＯ６０３は制御電圧に基づいてクロック信号６０４を生成する。分周回路６０６は、クロック信号６０４を分周する。ゲート回路６０７は分周されたクロック信号６０４に基づいて、信号６０８を生成する。ＶＣＯ６０３は、位相比較器６０２に入力される２つの信号（パルス信号５０６および信号６０８）の位相が等しくなるように制御される。このようにして、ＰＬＬ５０７は、パルス信号５０６に基づいて、信号４０５を生成する。
【００１４】
２値化回路５０５から出力されたパルス信号５０６と、フリップフロップ６０５から出力された信号４０５とがエッジ間隔測定回路５０８に入力されると、エッジ間隔測定回路５０８は、２つのパルスのエッジ間隔ｔ０、ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、ｔ５、ｔ６、ｔ７、ｔ８、ｔ９・・・を測定し、ジッタ演算回路５１０にエッジ間隔を示す信号５０９を出力する（図１３参照）。
【００１５】
ジッタ演算回路５１０は、エッジ間隔を積分する。
【００１６】
図１４は、エッジ間隔の分布を示す。ジッタ演算回路５１０は、例えば、エッジ間隔の分布に基づいて標準偏差を算出し、算出結果を示す信号４０７を記録条件決定手段４０８に出力する。記録条件決定手段４０８は、信号４０７に基づいて最適な記録条件を探索する。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかし、記録データの最短マーク長が非常に短い場合には、例えば、符号間干渉に起因して、エッジ間隔の分布の一部がウインド幅を越えることがあった（図図１５参照）。この場合でも正規分布から外れる部分は全体の総数に対して非常に少なく、標準偏差は分布の中心部分が支配的であるため、ジッタの増加は小さい。しかし、実際にはウインド幅を越えてエラーとなっているので、エラー発生確率は増大していた。すなわちエラー発生確率が異なる場合でもジッタが同じになる場合がある。したがって、ジッタのみから正確なエラー発生確率を予測することが困難な場合があった。
【００１８】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、最短マーク長が従来よりも短い場合でも正しい記録を行うための記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の記録方法は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００２０】
前記ステップ（ａ）は、（ａ−１）初期条件を決定するステップと、（ａ−２）前記初
期条件に基づいて、少なくとも１つの記録条件を決定するステップとを包含してもよい。前記複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも１つの記録条件とを含む。
【００２１】
前記ステップ（ｂ−１）は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成するステップと、前記複数のテスト信号と前記複数の２値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結果の信頼性を計算する計算ステップとを包含し、前記ステップ（ｂ−２）は、前記信頼性を示す複数の値に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含してもよい。
【００２２】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。
【００２３】
前記ステップ（ｂ−１）は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれに基づいて、複数のパスを生成するステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれと前記複数のパスとに基づいて、前記複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する計算ステップとを包含し、前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の指標に基づいて、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップを包含してもよい。
【００２４】
前記ステップ（ｂ−２）は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。
【００２５】
前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されていてもよい。
【００２６】
前記ステップ（ｂ）は、前記選択された１つの記録条件に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射することによって、所定の長さを有する複数の記録マークを前記記録媒体に形成するステップとを包含してもよい。
【００２７】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含んでもよい。
【００２８】
前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長い記録マークを含んでもよい。
【００２９】
前記ステップ（ｂ）は、前記情報を前記記録媒体に記録するために前記記録媒体に形成される複数の記録マークの長さに応じて、光に含まれる複数の光パルスの相対位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射することによって、前記情報を記録するステップとを包含してもよい。
【００３０】
前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの長さに応じて、前記複数の光パルスの相対位置を決定してもよい。
【００３１】
前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの次に長い記録マークの長さに応じて、前記複数の光パルスの相対位置を決定してもよい。
【００３２】
前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されていてもよい。
【００３３】
エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を決
定するステップをさらに包含してもよい。なお、前記所定の記録条件は、前記複数の記録条件に含まれる。
【００３４】
前記ステップ（ａ−１）は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステップを包含してもよい。
【００３５】
本発明の記録装置は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置であって、前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録する第１記録手段と、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録する第２記録手段とを備え、前記第２記録手段は、前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部と、前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部とを備え、これにより、上記目的が達成される。
【００３６】
本発明のプログラムは、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記記録処理は、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００３７】
本発明の記録制御装置は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するための記録制御装置であって、前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するための算出部と、前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するための選択部とを備え、これにより、上記目的が達成される。
【発明の効果】
【００３８】
本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を算出し、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する。したがって、１つの記録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から１つの記録条件を選択するだけで、所望信号の条件に近い条件で情報を記録媒体に記録することができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。
【００３９】
さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。
【００４０】
さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディスクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなく、データを正確に記録できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００４２】
はじめに、本発明の実施の形態の光ディスク装置によって参照されるＰＲＭＬ誤差指標Ｍ（以下、「指標Ｍ」と記す）を説明し（「１．指標Ｍについて」を参照）、次に、本発明の実施の形態の光ディスク装置の詳細を説明する（「２．本発明の実施の形態の光ディスク装置」を参照）。
【００４３】
１．指標Ｍについて
はじめに、最尤復号法に基づいた再生信号評価のための指標Ｍを説明する。最尤復号法とは、一般的に、再生信号の波形と予め推定された波形とを比較することによって、再生信号の波形のパターンを判定し、判定結果に基づいて、再生信号を復号する復号方法である。
【００４４】
以下、記録符号の最小極性反転間隔が２であり、信号の波形は、信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化となるように整形されているとする。
【００４５】
現時刻の記録符号をｂｋとし、１時刻前の記録符号をｂｋ−１とし、２時刻前の記録符号をｂｋ−２とし、３時刻前の記録符号をｂｋ−３とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌｖは（式１）で表される。
【００４６】
（式１）
Ｌｅｖｅｌｖ＝ｂｋ−３＋２ｂｋ−２＋２ｂｋ−１＋ｂｋ
ここで、ｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。
【００４７】
表１は、時刻ｋにおける状態をＳ（ｂｋ−２，ｂｋ−１，ｂｋ）で表した状態遷移表である。
【００４８】
【表１】
2005043537.tif 000020
図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図Ａである。状態遷移図Ａは、表１を参照することによって得ることができる。
【００４９】
Ｓ０ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，０）ｋを示し、Ｓ１ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，０，１）ｋを示し、Ｓ２ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（０，１，１）ｋを示し、Ｓ３ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，１，１）ｋを示し、Ｓ４ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，１，０）ｋを示し、Ｓ５ｋは時刻ｋにおける状態Ｓ（１，０，０）ｋを示す。
【００５０】
図２は、状態遷移図Ａを時間軸に沿って展開することによって得ることができるトレリス図である。
【００５１】
以下、図１と図２とを参照して、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移を説明する。
【００５２】
時刻ｋにおける状態Ｓ０ｋと時刻ｋ−４における状態Ｓ２ｋ−４に注目する。図２は、状態Ｓ０ｋと状態Ｓ２ｋ−４との間でとりうる２つの状態遷移列（パスＡ、パスＢ）を示す。パスＡの遷移は状態Ｓ２ｋ−４、状態Ｓ４ｋ−３、状態Ｓ５ｋ−２、状態Ｓ０ｋ−１、状態Ｓ０ｋである。パスＢの遷移は状態Ｓ２ｋ−４、Ｓ３ｋ−３、Ｓ４ｋ−２、Ｓ５ｋ−１、Ｓ０ｋである。
【００５３】
（Ｃｋ−６，  Ｃｋ−５，  Ｃｋ−４，  Ｃｋ−３，  Ｃｋ−２，  Ｃｋ−１，  Ｃｋ）が時刻ｋ−６から時刻ｋまでの最尤復号結果を示すとすると、（Ｃｋ−６，  Ｃｋ−５，  Ｃｋ−４，  Ｃｋ−３，  Ｃｋ−２，  Ｃｋ−１，  Ｃｋ）＝（０，１，１，ｘ，０，０，０）となる復号結果（ｘは０または１の値）が得られた場合には、パスＡおよびパスＢのうちの何れが最も確からしいか推定されたこととなる。パスＡおよびパスＢの両方
とも、時刻ｋ−４における状態が状態Ｓ２ｋ−４であることの確からしさは同じであるから、時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３から時刻ｋにおける再生信号ｙｋまでの値と、パスＡおよびパスＢそれぞれの期待値との差を２乗した値の累積値を求めることよって、パスＡとパスＢとの何れが確からしいかが分かる。
【００５４】
時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３と時刻ｋ−３におけるパスＡの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−２における再生信号ｙｋ−２と時刻ｋ−２におけるパスＡの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−１における再生信号ｙｋ−１と時刻ｋ−１におけるパスＡの期待値との差の２乗値および時刻ｋにおける再生信号ｙｋと時刻ｋにおけるパスＡの期待値との差の２乗値の累積値をＰａとするとＰａは（式１）で表される。
【００５５】
（式１）
Ｐａ＝（ｙｋ−３−４）２＋（ｙｋ−２−３）２＋（ｙｋ−１−１）２＋（ｙｋ−０）２
時刻ｋ−３における再生信号ｙｋ−３と時刻ｋ−３におけるパスＢの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−２における再生信号ｙｋ−２と時刻ｋ−２におけるパスＢの期待値との差の２乗値、時刻ｋ−１における再生信号ｙｋ−１と時刻ｋ−１におけるパスＢの期待値との差の２乗値および時刻ｋにおける再生信号ｙｋと時刻ｋにおけるパスＢの期待値との差の２乗値の累積値をＰｂとするとＰｂは（式２）で表される。
【００５６】
（式２）
Ｐｂ＝（ｙｋ−３−５）２＋（ｙｋ−２−５）２＋（ｙｋ−１−３）２＋（ｙｋ−１）２
したがって、Ｐａ−Ｐｂは、最尤復号結果の信頼性を示す。
【００５７】
図３は、Ｐａ−Ｐｂの分布を示す。以下、差Ｐａ−Ｐｂの意味を説明する。Ｐａ＜＜Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＡを高い確率で選択し、Ｐａ＞＞Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＢを高い確率で選択する。またＰａ＝Ｐｂであれば、最尤復号部は、パスＡまたはパスＢを選択する可能性は５０パーセントであり、最尤復号部の復号結果が正しい可能性は５０パーセントである。このようにして所定の時間あるいは所定の回数、復号結果に基づいてＰａ−Ｐｂを算出することによってＰａ−Ｐｂの分布が得られる。
【００５８】
図３（ａ）は、ノイズが重畳された再生信号に基づいて算出されたＰａ−Ｐｂの分布を示す。分布は２つのピークを有する。１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０となるときに頻度が極大となる。
【００５９】
Ｐａ−Ｐｂの絶対値を計算し、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを求める。ここで、−Ｐｓｔｄは、Ｐａ−Ｐｂの値を示し（ただし、Ｐａ＝０）、Ｐｓｔｄは、Ｐａ−Ｐｂの値を示す（ただし、Ｐｂ＝０）。
【００６０】
図３（ｂ）は｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布を示す。図３（ｂ）に示す分布の標準偏差σと平均値Ｐａｖｅを求める。図３（ｂ）に示す分布が正規分布であるとし、例えばσとＰａｖｅとに基づいて復号結果の信頼性｜Ｐａ−Ｐｂ｜の値が−Ｐｓｔｄ以下となるときを誤りが発生した状態とすると、誤り確率Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）は（式３）のように表される。
【００６１】
（式３）
Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）＝ｅｒｆｃ（（Ｐｓｔｄ＋Ｐａｖｅ）／σ）
Ｐａ−Ｐｂの分布から計算した平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとから最尤復号結果を示す２値化信号の誤り率を予想することができる。つまり平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとを再生信号品質の指標とすることができる。
【００６２】
なお、上記の例では｜Ｐａ−Ｐｂ｜の分布が正規分布となることを仮定したが、分布が正規分布でない場合には、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの値が所定の基準値以下になる回数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。
【００６３】
最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則の場合、状態が遷移するときに２つの状態遷移列をとり得るような組み合わせは、時刻ｋ−４から時刻ｋの範囲では８パターンあり、時刻ｋ−５から時刻ｋの範囲では１６パターンである。
【００６４】
ここで重要なのは、信頼性Ｐａ−Ｐｂを再生信号品質の指標とすることにより、すべてのパターンを検出しなくても、誤る可能性（誤り率）が大のパターンのみを検出すれば、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が大のパターンとは、信頼性Ｐａ−Ｐｂの値が小となるパターンであり、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０となる８パターンである。この８パターンとＰａ−Ｐｂとについてまとめると（表２）のようになる。
【００６５】
【表２】
2005043537.tif 000021
上記８通りの復号結果の信頼性Ｐａ−Ｐｂをまとめると（式４）が得られる。
【００６６】
【数１】
2005043537.tif 000022
ここでＡｋ＝（ｙｋ−０）２，Ｂｋ＝（ｙｋ−１）２，Ｃｋ＝（ｙｋ−２）２，Ｄｋ＝（ｙｋ−３）２，Ｅｋ＝（ｙｋ−４）２，Ｆｋ＝（ｙｋ−５）２，Ｇｋ＝（ｙｋ−６）２とする。
【００６７】
最尤復号結果ｃｋから（式５）を満たすＰａ−Ｐｂを求め、その分布から標準偏差σ１０と平均値Ｐａｖｅ１０とを算出する。正規分布であると仮定するとそれぞれ誤りを起こす確率Ｐ１０は（式５）となる。
【００６８】
（式５）
Ｐ１０（σ１０，Ｐａｖｅ１０）＝ｅｒｆｃ（（１０＋Ｐａｖｅ１０）／σ１０）
上記８パターンは、１ビットシフトエラーを起こすパターンであり、他のパターンは、２ビット以上のシフトエラーを起こすパターンである。ＰＲＭＬ処理後のエラーパターンを分析すると、ほとんどが、１ビットシフトエラーであるため、（式６）を求めることで再生信号の誤り率が推定できる。このように、標準偏差σ１０および平均値Ｐａｖｅ１０を再生信号の品質を示す指標として用いることができる。例えば、上記の指標を指標Ｍとして、（式６）によって定義できる。
【００６９】
（式６）
Ｍ＝σ１０／（２・ｄｍｉｎ２）［％］
但し、ｄｍｉｎ２は、ユークリッド距離の最小値の２乗です。例えば、最小極性反転間隔が２の変調符号とＰＲ（１，２，２，１）ＭＬ方式との組み合わせでは、ｄｍｉｎ２＝１０＝Ｐｓｔｄである。また、（式５）における平均値Ｐａｖｅ１０は、０と仮定し、（式６）の指標の計算では、考慮しない。
【００７０】
以上、最尤復号法に基づいた再生信号評価のための指標（指標Ｍ）を説明した。
【００７１】
２．本発明の実施の形態の光ディスク装置
以下、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成および動作を説明する。
【００７２】
図４は、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成を示す。光ディスク装置１００は、光ディスク１０１が装着可能なように構成されている。
【００７３】
図５は、光ディスク１０１の構成を示す。光ディスク１０１には、グルーブトラック６０１が形成されている。グルーブトラック６０１の形状は、例えば、スパイラル状または同心円状である。グルーブトラック６０１は記録領域を含む。
【００７４】
以下、図４を参照して、光ディスク装置１００の構成を説明する。光ディスク装置１００は、光ヘッド１０２と、再生手段１０４と、復調・ＥＣＣ回路１０６と、記録条件決定手段１０８と、記録補償回路１０９と、記録パワー設定手段１１１と、レーザ駆動回路１１２とを備える。
【００７５】
図６は、記録時に光ヘッド１０２が照射する光の波形を示す。本実施の形態では、Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録するものとする。この場合、最短２Ｔから最長８Ｔまで７種類のマークおよびスペースが存在する（Ｔは、基準周期を示す）。なお記録方式はマークエッジ記録方式に限定されず、他の記録方式でも良い。
【００７６】
光の波形のパラメータには、記録パワーを示すパラメータとパルス位置を示すパラメータとがある。記録パワーを示すパラメータは、ピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）を含む。パルス位置を示すパラメータは、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅを含む。ここで幅Ｔｍｐのパルスの立ち上がり位置、および先
頭のパルスのｄＴｔｏｐの起点はオリジナル信号との相対関係を規定する基準位置である。
【００７７】
光ディスク１０１に形成するマークの長さに応じて、パルスの数が調整される。２Ｔマークは１つのパルスで記録され、３Ｔマークは２つのパルスで記録される。光ディスク１０１に形成するマークが１Ｔ長くなるに応じてパルスの数が１つ増える。
【００７８】
一般に、光の波形のパラメータの一部（例えば、ピークパワー（Ｐｗ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）、Ｔｍｐ）は、マークの長さに依存しないが、光の波形のパラメータの他の一部（例えば、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅ）はマークの長さに依存する。しかし、光の波形のパラメータをどのように設定するかは、任意である。
【００７９】
以下、図４を参照して、光ディスク装置１００の動作を説明する。以下に説明するように、光ディスク装置１００は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を光ディスク１０１に記録する。例えば、複数の記録条件のそれぞれは、光の波形のパラメータを示す。
【００８０】
光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装着され、光ディスク装置１００の所定動作（ディスクタイプの識別および回転制御等）終了後、光ディスク１０１に含まれるテスト領域に移動するように光ヘッド１０２が制御される。テスト領域には、最適記録パワーおよび最適パルス位置を設定するためのテスト情報がテスト記録される。テスト領域は、例えば、光ディスク１０１の最内周に設けられているが、ユーザがデータを記録するユーザ領域以外の記録領域であれば、光ディスク１０１の最内周に設けられることに限定されない。テスト領域は、例えば、光ディスク１０１の最外周に設けられていてもよい。
【００８１】
テスト記録時には、記録パワー設定手段１１１は、記録パワーの初期値（ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの初期）をレーザ駆動回路１１２に設定する。記録パワーの初期値は、光ディスク１０１作製時に予め光ディスク１０１に記録されているが、光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装着された時に、テスト記録によって記録パワーの初期値を算出し、算出された初期値を光ディスク１０１に記録し得る。
【００８２】
テスト記録によって算出された記録パワーの初期値をレーザ駆動回路１１２に設定する場合は、光ディスク１０１作製時に予め光ディスク１０１に記録されている記録パワーの初期値をレーザ駆動回路１１２に設定する場合と比較して、光ディスクの品質および光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づけば、Ｓ／Ｎ比の確保できた良好な記録を行うことができる。
【００８３】
記録補償回路１０９は、信号１１０をレーザ駆動回路１１２に送る。
【００８４】
レーザ駆動回路１１２は、信号１１０に基づいて、記録するマークの長さに応じて整形されたパルス列信号１１３を生成する。レーザ駆動回路１１２は、パルス列信号１１３を光ヘッド１０２に送り、光ヘッド１０２は、パルス列信号１１３に基づいて、光ディスク１０１にテスト信号をテスト記録する。光ヘッド１０２に備えられた半導体レーザの出力光は、光ディスク１０１上に光スポットとして集光され、半導体レーザは発光波形に応じた記録マークを光ディスク１０１に形成する。テスト信号の詳細は、後述される。
【００８５】
なお、テスト記録の前に、テスト領域をバイアスパワーのみで記録し得る。バイアスパワーのみで記録することにより、テスト記録前にテスト領域に記録されていた信号がテスト領域から消去されるので、テスト記録前にテスト領域に記録されていた信号がテスト記録に与える影響を低減し得る。
【００８６】
なお、光ヘッド１０２のレーザ光の波長は４０５ｎｍ程度であり、対物レンズのＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）は０．８５程度である。また最短マーク長は０．１６ミクロン程度である。
【００８７】
図７は、３Ｔマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテスト信号を示す。テスト信号は、種々の条件を有し、グルーブトラックにテスト記録される。
【００８８】
このグルーブトラックは、テスト領域に含まれている。このグルーブトラックには、テスト信号が複数の条件で記録されている。具体的には、このグルーブトラックには、条件Ａを有するテスト信号Ａと、条件Ｂを有するテスト信号Ｂと、条件Ｃを有するテスト信号Ｃと、条件Ｄを有するテスト信号Ｄとがこの順番に複数回記録されている。記録されたこれらの信号を再生することによって得ることができた再生信号に基づいて、光ディスク１０１の周方向のチルトばらつきやディスクに付いた傷、汚れの影響を低減できる。
【００８９】
パルス位置を示す初期値は、例えば、条件Ａを示す。条件Ａを示す値が光ディスク１０１に予め記載されていても良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められていても良い。
【００９０】
パルス位置の初期値が光ディスク１０１に予め記載されている例の１つは、同一条件で作成された複数の光ディスクに共通する値が光ディスク作成時に記載される場合である。例えば、グルーブをウォブルすることによって予め記録しえる。パルス位置の初期値をテスト記録の結果に基づいて予め求めている例の１つは、前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータをテスト領域に記録している場合である。光ディスク１０１作成時に記載された値および前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値の両方が光ディスク１０１に記録されている場合には、前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値を使用する方が望ましい。前回光ディスク１０１を対象として最適化した記録パラメータの値は、光ディスクの品質および光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づけば、Ｓ／Ｎ比の確保できた良好な記録を行うことができる。
【００９１】
なお、１周で４条件を記録する代わりに、１周で１条件の記録でも良く、また１回のテスト記録が１周以上でもよい。サンプル数を多くすることにより最適化の精度が向上する。
【００９２】
図８は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するための図である。なお、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順は、記録条件決定手段１０８および記録補償回路１０９のうちの少なくとも一方によって実行される。
【００９３】
以下、図８を参照して、パルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。
【００９４】
図８（ａ）を参照して、３Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。
【００９５】
パルス位置を示す初期値として、条件Ａを決定する。条件Ａを示す値は光ディスク１０１に予め記載されていても良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められても良い。光ディスク装置１００は、光ヘッド１０２を制御することによって、光ディスク１０１に記録されている初期値を読み取る。
【００９６】
初期条件Ａに基づいて、条件Ｂ、条件Ｃおよび条件Ｄを決定する。例えば、条件ＡのＴ
ｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ＡのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件Ｂを決定する。条件ＡのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ＡのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに条件ＡのｄＴｅを固定することによって、条件Ｃを決定する。条件ＡのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ＡのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに、条件ＡのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件Ｄを決定する。
【００９７】
なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、ΔＴｔｏｐ、ΔｄＴｔｏｐ、ΔｄＴｅ）はウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。
【００９８】
図８（ｂ）を参照して、２Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明する。
【００９９】
パルス位置を示す初期値として、条件ａを決定する。条件ａを示す値は光ディスク１０１に予め記載されていても良いし、テスト記録の結果に基づいて予め求められても良い。
【０１００】
条件ａのＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ大きくすることによって、条件ｂを決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに条件ａのｄＴｅを固定することによって、条件ｃを決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ大きくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ大きくし、さらに、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ大きくすることによって、条件ｄを決定する。
【０１０１】
さらに、条件ａのＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐを固定し、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件ｂ’を決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ小さくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ小さくし、さらに条件ａのｄＴｅを固定することによって、条件ｃ’を決定する。条件ａのＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔＴｔｏｐ）だけ小さくし、条件ａのｄＴｔｏｐを所定の大きさ（ΔｄＴｔｏｐ）だけ小さくし、さらに、条件ａのｄＴｅを所定の大きさ（ΔｄＴｅ）だけ小さくすることによって、条件ｄ’を決定する。
【０１０２】
なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、ΔＴｔｏｐ、ΔｄＴｔｏｐ、ΔｄＴｅ）はウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。
【０１０３】
２Ｔのパルス位置を示すパラメータを条件ａ、条件ｂ、条件ｃおよび条件ｄ（図８（ｂ）参照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を記録再生することによって、指標Ｍが最も小さい条件を仮決定する。続いて、２Ｔのパルス位置を示すパラメータを条件ａ、条件ｂ’、条件ｃ’、条件ｄ’（図８（ｂ）参照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を記録再生することによって、指標Ｍが最も小さい条件を仮決定する。仮決定された２つの条件のうち、指標Ｍが小さい方を２Ｔのパルス位置を示す条件として決定する。
【０１０４】
３Ｔマークのパルス位置を変更するときは３Ｔマーク以外のマークのパルス位置を変更せず、同様に２Ｔマークのパルス位置を変更するときは２Ｔマーク以外のマークのパルス位置を変更しない。記録するデータはランダムパターンでも良いし、特定のパターンに固定しても良い。またパルス位置の変更ステップはウインド幅の１％〜７％程度が望ましい。
【０１０５】
指標Ｍを小さくするための方法の一つは２Ｔマークと３Ｔマークの識別を正しく行うこ
とであり、本実施の形態のように２Ｔマーク、３Ｔマークのどちらか一方もしくは両方のパルス位置を最適化することにより、より正しく記録できる。
【０１０６】
なお、本実施の形態では、４つの条件によってテスト記録再生することによって３Ｔマークの最適パルス位置を１回で決定し、７つの条件を２回に分けてテスト記録再生することによって２Ｔマークの最適パルス位置を決定するが、決定手順はこれに限らない。また本実施の形態ではＴｔｏｐとｄＴｔｏｐを同時に決定しているが、決定手順はこれに限らない。
【０１０７】
さらに、本実施の形態において、３Ｔマークを４つの条件に対応したパルス位置により記録しているが、初期条件を除く３つの条件はいずれも３Ｔマークが長く記録される条件である。出現頻度の高い２Ｔマークの識別をより確実に行うために、３Ｔマークが長くなる条件で最適条件が見つかる確率が高い。
【０１０８】
さらに、本実施の形態において、２Ｔマークを７つの条件に対応したパルス位置により記録しているが、２Ｔ信号は光ディスクと光ディスク装置のばらつきによりＳ／Ｎ比が大きく変わるので、一定の方向のみの探索を行わない。なお図８（ｂ）において、右上の条件と、左下の条件は初期状態と比較してマーク長が大きく変わる危険性があるので、本実施の形態では探索を行っていない。
【０１０９】
さらに、本実施の形態における２Ｔマークと３Ｔマークを記録する際のパルス決定条件は、初期条件が、本実施の形態と同様の手順で決定されているか、または従来例に記載した手順と同様にジッタが小さくなる手順で決定されている場合に有効であり、初期条件と最適条件が近いという根拠がない場合には、本実施の形態と異なるパルス決定条件にしても良い。
【０１１０】
再び、図４を参照して、光ディスク装置１００の動作の説明を続ける。
【０１１１】
３Ｔマークのパルス位置を示すテスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄのテスト記録が終わると、レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１に記録されたテスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄを再生するように、光ヘッド１０２を制御する。テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃ、テスト信号Ｄを再生することによって生成された再生信号１０３は、再生手段１０４に入力される。再生信号１０３は、光ディスク１０１に形成された記録マークの有無に応じて変化する。
【０１１２】
図９は、再生手段１０４の構成を示す。再生手段１０４は、プリアンプ２０１と、ハイパスフィルタ２０２と、ＡＧＣ回路２０３と、波形等化器２０４と、Ａ／Ｄ変換器２０５と、整形部２０６と、最尤復号器２０７と、信頼性計算部２０８とを備える。
【０１１３】
整形部２０６は例えばデジタルフィルタであり、Ａ／Ｄ変換器２０５が生成したデジタル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の波形を整形する。
【０１１４】
最尤復号器２０７は例えばビタビ復号回路であり、整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する。
【０１１５】
信頼性計算部２０８は例えば差分メトリック解析器であり、整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号とに基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。最尤復号の結果の信頼性は、整形部２０６から
出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号との乖離または整形部２０６から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器２０７から出力された２値化信号に基づいて生成された信号との乖離によって示される。
【０１１６】
プリアンプ２０１は、信号１０３を増幅する。増幅された信号１０３は、ハイパスフィルタ２０２でＡＣカップリングされたのちＡＧＣ２０３に入力される。ＡＧＣ２０３は、波形等化器２０４の出力が一定振幅となるようゲインを調整する。ＡＧＣ２０３から出力された再生信号は波形等化器２０４によって波形整形される。波形整形された再生信号はＡ／Ｄ変換器２０５に入力される。Ａ／Ｄ変換器２０５はクロック２０９で再生信号をサンプリングする。クロック２０９はＰＬＬ（図示せず）によって再生信号に基づいて生成される。
【０１１７】
Ａ／Ｄ変換器２０５のサンプリングにより生成された再生信号は整形部２０６に入力される。整形部２０６は、記録時および再生時の再生信号の周波数特性が最尤復号器２０７の想定する特性（本実施の形態ではＰＲ（１，２，２，１）等化特性）となるように再生信号の周波数を調整する（すなわち再生信号の波形を整形する）。
【０１１８】
最尤復号器２０７は、整形部２０６から出力された波形整形された再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。信頼性計算部２０８は、整形部２０６から出力された波形整形された再生信号と、２値化信号とを受け取る。信頼性計算部２０８は、２値化信号から状態遷移を判別する。信頼性計算部２０８は、判別結果とデータ２１０とに基づいて復号結果の信頼性を示す指標Ｍ（（式６）参照）を算出する。信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号Ａに対応する再生信号に基づいて指標Ｍを算出し、さらに、算出された複数の指標Ｍの平均を算出する。さらに、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号Ｂ、複数のテスト信号Ｃおよび複数のテスト信号Ｄのそれぞれに対しても、複数のテスト信号Ａに対する場合と同様に、指標Ｍの平均を算出する。
【０１１９】
出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。
【０１２０】
記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を３Ｔマークのパルス位置条件として選択（決定）する。なお、複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順位に従って、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号Ｄに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ｃに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号Ｃに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ｂに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号Ｂに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号Ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。
【０１２１】
なお、テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃおよびテスト信号Ｄがそれぞれ複数であることに限定されない。テスト信号Ａ、テスト信号Ｂ、テスト信号Ｃおよびテスト信号Ｄがそれぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算出する必要はない。
【０１２２】
なお、複数のテスト信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す複数の２値化信号を生成し、信頼性計算部２０８によって複数のテスト信号と複数の２値化信号とに基づいて、復号の結果の信頼性を示す指標Ｍを計算する形態を説明したが、信頼性を示す指標の計算は、この形態に限定されない。例えば、テスト信号に基づいて最尤復号器２０７によって生成された複数のパスを示す信号が、信頼性計算部２０８に入力された場合には、信頼性計算部２０８はテスト信号と複数のパスとに基づいて、テスト信号の信頼性を示す複数の指
標を計算する。例えば、信頼性計算部２０８は、テスト信号とパスＡとの乖離およびテスト信号とパスＢとの乖離を計算する。信頼性計算部２０８は、これらの乖離を参照して、テスト信号の信頼性を示す指標を計算する。記録条件決定手段４０８は複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標に基づいて、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択しえる。
【０１２３】
以上、３Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータに従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク１０１に照射することによって、最適な３Ｔマークを光ディスク１０１に形成することができる。
【０１２４】
２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータの最適化は、３Ｔマークのパルス位置を示すパラメータの最適化と同様に行われる。
【０１２５】
以下、２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定する手順を説明する。
【０１２６】
２Ｔマークのパルス位置を示すテスト信号ａ、テスト信号ｂ、テスト信号ｃ、テスト信号ｄ、テスト信号ｂ’、テスト信号ｃ’、テスト信号ｄ’のテスト記録が終わると、レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１に記録されたこれらのテスト信号を再生するように、光ヘッド１０２を制御する。これらのテスト信号を再生することによって生成された再生信号１０３は、再生手段１０４に入力される。再生信号１０３は、光ディスク１０１に形成された記録マークの有無に応じて変化する。
【０１２７】
信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ａに対応する再生信号に基づいて指標Ｍを算出し、さらに、算出された複数の指標Ｍの平均を算出する。さらに、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｃおよび複数のテスト信号ｄのそれぞれに対しても、複数のテスト信号ａに対する場合と同様に、指標Ｍの平均を算出する。
【０１２８】
出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。
【０１２９】
記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として１回目の仮決定を行う。
【０１３０】
さらに、信頼性計算部２０８は、信頼性計算部２０８は、複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｃ’および複数のテスト信号ｄ’のそれぞれに対して、指標Ｍの平均を算出する。
【０１３１】
出力結果１０７が記録条件決定手段１０８に送られる。出力結果１０７には、これらの平均値が含まれる。
【０１３２】
記録条件決定手段１０８は、出力結果１０７に含まれた複数の平均値のうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として２回目の仮決定を行う。
【０１３３】
記録条件決定手段１０８は、１回目の仮決定で求められた条件と２回目の仮決定で求められた条件とのうち、最も小さい値に対応する条件を２Ｔマークのパルス位置条件として決定する。
【０１３４】
１回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍと２回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍとが異なるときには、それぞれの指標を正規化した上で最も小さい値に対応する条件をＴマークのパルス位置条件として決定する。例えば
、１回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍに基づいて、複数のテスト信号ｂに基づく指標、複数のテスト信号ｃに基づく指標および複数のテスト信号ｄに基づく指標を正規化する。さらに、２回目の仮決定のために算出したテスト信号ａに基づく指標Ｍに基づいて、複数のテスト信号ｂ’に基づく指標、複数のテスト信号ｃ’に基づく指標および複数のテスト信号ｄ’に基づく指標を正規化する。なお、２Ｔのパルス位置条件を決定するための記録を行う際には、直前の３Ｔのパルス位置決定条件が反映されているものとする。
【０１３５】
なお、複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順位に従って、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号ｄに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｃに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｃに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｂに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｂに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。例えば、複数のテスト信号ｄ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｃ’に基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｃ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ｂ’に基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号ｂ’に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号ａに基づく複数の指標の平均を優先し得る。さらに、例えば、優先順位は、複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｄ’、複数のテスト信号ｃ’、複数のテスト信号ｄ、複数のテスト信号ｃまたは複数のテスト信号ａ、複数のテスト信号ｂ、複数のテスト信号ｂ’、複数のテスト信号ｄ、複数のテスト信号ｃ、複数のテスト信号ｄ’、複数のテスト信号ｃ’でありえる。
【０１３６】
なお、テスト信号ａ、テスト信号ｂ、テスト信号ｃ、テスト信号ｄ、テスト信号ｂ’、テスト信号ｃ’、テスト信号ｄ’がそれぞれ複数であることに限定されない。これらのテスト信号がそれぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算出する必要はない。
【０１３７】
以上、２Ｔマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータに従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク１０１に照射することによって、最適な２Ｔマークを光ディスク１０１に形成することができる。
【０１３８】
本実施の形態における光波形のパラメータのうち、一般にｄＴｅがＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐよりも、１ステップの変更に対する記録マーク形状の変動が小さい。初期条件を最優先し、続いて記録マーク形状の変動が小さい条件を優先させることにより、初期条件と本実施の形態のパルス位置変更条件とを両立する条件に決定できる。その結果、本実施の形態の様な回路構成を持たない再生装置における再生安定性を向上することができる。
【０１３９】
例えば、初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、ジッタと指標Ｍが共に良好になるようなパルス位置に決定することができる。前述のように、クロック２０９はＰＬＬから出力されており、ジッタはＰＬＬの安定動作の指標であることから、ジッタと指標Ｍが共に良好である条件を求めることにより、より正しい記録再生を行うことができる。また、初期条件が、図１１に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路１１０８の出力信号が小さくなるような条件に決定されていれば、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、エッジシフトが小さく、かつ指標Ｍが良好になるようにパルス位置を決定することができる。このように、本発明の実施の形態によれば、エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、初期条件を決定しえる。
【０１４０】
以上の様に、本発明の実施の形態の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト
記録を行い、指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。
【０１４１】
なお、２Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定および３Ｔマークのパルス位置を最適化するための条件の決定において、初期条件から１ステップ異なるパルス位置までしか探索せず、パルス位置の移動に制限を設けている。例えば、初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、ジッタ劣化が小さく、かつ指標Ｍが良好なパルス位置に決定することができる。さらに、探索のステップを繰り返し行うことにより２ステップ以上異なるパルス位置を探索しても良い。この場合には、あるステップで決定したパルス位置を次回のステップでの初期値としてもよい。
【０１４２】
さらに、初期条件が、図１１に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路１１０８の出力信号が小さくなるような記録条件に決定されていれば、本実施の形態の様な優先順位を設けることにより、エッジシフトが小さく、かつ指標Ｍが良好なパルス位置に決定することができる。
【０１４３】
さらに、記録パワー（ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワー等）を示すパラメータをテスト記録により決定しても良い。
【０１４４】
さらに、本実施の形態によれば、指標Ｍの大きさ、すなわち８個のパターン（（式４）参照）から算出された標準偏差σ１０（（式５）参照）を基準にしてパルス位置条件を決定しているが、８個のパターンを４個づつに分け、各々の標準偏差からパルス位置最適条件を決定しても良い。すなわち、ｃの値（（式４）参照）が１のときをマークとすると、Ｐａｔｔｅｒｎ−１、Ｐａｔｔｅｒｎ−２、Ｐａｔｔｅｒｎ−３、Ｐａｔｔｅｒｎ−４はマーク終端エッジに関し、Ｐａｔｔｅｒｎ−５、Ｐａｔｔｅｒｎ−６、Ｐａｔｔｅｒｎ−７、Ｐａｔｔｅｒｎ−８はマーク始端エッジに関する。このように、始端エッジと終端エッジとを区別して、標準偏差が大きい方のエッジを優先的に最適化しても良い。更には８個のパターンの内で標準偏差が大きいパターンのエッジを優先的に最適化しても良い。
【０１４５】
例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−３における標準偏差が所定値よりも大きいときには、２Ｔマーク、３Ｔスペースと続く場合と、３Ｔマーク、２Ｔスペースと続く場合の区別が明確でないことを示す。したがって、２Ｔマークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、または３Ｔマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによって再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。なお、マークとスペースの組み合わせでエッジ位置を決定できる場合には、２Ｔマーク、３Ｔスペースと続く組み合わせにおける２Ｔマークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、または３Ｔマーク、２Ｔスペースの組み合わせにおける３Ｔマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによって、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。その結果、より精度良くエッジ位置を最適化できる。
【０１４６】
同様に、例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−５における標準偏差が所定値よりも大きいときには、３Ｔ以上のスペース、３Ｔマークと続く場合と、４Ｔ以上のスペース、２Ｔマークと続く場合の区別が明確でないことを示す。したがって、３Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を早くすることによって、または２Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くすることによって、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。このときも、マークとスペースの組み合わせでエッジ位置を決定できる場合には、３Ｔ以上のスペース、３Ｔマークの組み合わせにおける３Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を早くすることによって、または４Ｔ以上のスペース、２Ｔマークの組み合わせにおける２Ｔマークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くすることによって、標準偏差が小さい方に決定す
れば良い。その結果、より精度良くエッジ位置を最適化できる。
【０１４７】
さらに、本実施の形態では、３Ｔマーク、２Ｔマークについて最適なパルス位置を決定しているが、最適パルス位置の決定は２Ｔマークだけでも良い。２Ｔマークは出現頻度が最も高いので２Ｔマークのパルス位置を最適化することにより、従来よりも正しい記録が実現できるとともに、最適パルス位置の決定に要する時間を短縮できる。
【０１４８】
さらに、本実施の形態では３Ｔマークおよび２Ｔマークの最適なパルス位置を決定しているが、４Ｔマークのパルス位置の最適化を行い得る。４Ｔマークの最適なパルス位置を決定することにより、より正しい記録を行うことができる。同様に最適パルス位置の決定に要する時間に余裕があるのであれば全てのマークの最適なパルス位置を決定し得る。
【０１４９】
さらに、本実施の形態では、記録符号として最小極性反転間隔が２である符号を用いて、ＰＲ（１，２，２，１）等化を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、記録符号が（１，７）変調符号のような最小極性反転間隔が２の場合では上記実施例が適用でき、ＤＶＤに使用されている８−１６変調符号のような最小極性反転間隔が３である場合ではＰＲ（１，２，２，１）等化により時刻ｋにおいては６つの状態が存在し、時刻ｋ＋１の６つの状態へとり得る状態遷移を８通りに制限される状態遷移則を用いることにより本発明は実施可能である。したがって、最小極性反転間隔が３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が２または３である記録符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ１，Ｃ０）とから定まる状態遷移則を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。
【０１５０】
以上、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成および動作を説明した。
【０１５１】
図４および図９に示された例では、光ディスク装置１００が「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置」に対応し、光ヘッド１０２とレーザ駆動回路１１２とが「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録媒体に記録する第１記録手段」に対応し、光ヘッド１０２とレーザ駆動回路１１２と記録条件決定手段１０８と再生手段１０４とが「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録する第２記録手段」に対応し、信頼性計算部２０８が「記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出する算出部」に対応し、記録条件決定手段１０８が「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する選択部」に対応する。
【０１５２】
しかし、本発明の光ディスク装置１００が図４および図９に示されるものに限定されるわけではない。上述した各手段の機能が達成される限りは、任意の構成を有する装置が本発明の範囲内に含まれ得る。
【０１５３】
例えば、光ディスク装置１００によって、記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望パターンを示す所望信号との乖離を参照することができる限りは、乖離が指標Ｍによって表されることに限定されない。テスト信号の波形と予め推定されたパターンとを比較することによって、テスト信号の波形のパターンと予め推定されたパターンとの差分を判定し、判定結果に基づいて、記録条件を選択しえる。
【０１５４】
さらに、予め推定されたパターンは、２つのパターンに限らない。予め推定されたパタ
ーンの数が、少なくとも１つある場合には、少なくとも１つのパターンとテスト信号との乖離を算出することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択しえる。
【０１５５】
さらに、予め推定されたパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースを示すパターンに限定されない。ｎＴマークまたはｎＴスペースを示すパターンでよい（ｎは、正の整数）。さらに、予め推定されたパターンは、複数のパターンの組み合わせでありえる。例えば、予め推定されたパターンは、２Ｔマークを示すパターン、２Ｔスペースを示すパターンおよび３Ｔマークを示すパターンの組み合わせでありえる。
【０１５６】
さらに、予め推定されたパターンは、予め光ディスク装置に備えられた格納部に格納されていることに限定されない。予め推定されたパターンは、テスト信号が再生された後、光ディスク装置が生成し得る。光ディスク装置は、予め、理想形状を有するパターンがどのような形状を有しているか知っているからである。
【０１５７】
さらに、図４および図９に示される実施の形態で説明した各手段は、ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソフトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現される場合でも、光ディスク装置によって、「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録媒体に記録するステップ」と、「複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するステップ」と、「記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップ」と、「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップ」とを含む本発明の記録処理が実行され得る。本発明の記録処理は、上述した各ステップを実行し得る限り、任意の手順を有し得る。
【０１５８】
例えば、本発明の光ディスク装置には、光ディスク装置の機能を実行させるための記録処理プログラムが格納されている。記録処理プログラムは、光ディスク装置の機能を実行させる。
【０１５９】
記録処理プログラムは、コンピュータの出荷時に、光ディスク装置に含まれる格納手段に予め格納されていてもよい。あるいは、コンピュータの出荷後に、記録処理プログラムを格納手段に格納するようにしてもよい。例えば、ユーザがインターネット上の特定のウェブサイトから記録処理プログラムを有料または無料でダウンロードし、そのダウンロードされたプログラムをコンピュータにインストールするようにしてもよい。記録処理プログラムがフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されている場合には、入力装置(例えば、ディスクドライブ装置)を用いてアクセス処理をコンピュータにインストールするようにしてもよい。インストールされた記録処理プログラムは、格納手段に格納される。
【０１６０】
さらに、記録制御装置（整形部２０６と最尤復号部２０７と信頼性算出部２０８と記録条件決定手段１０８）は、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部として製造され得る。記録制御装置が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、光ディスク装置の製造工程を容易にすることができる。
【０１６１】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および
文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０１６２】
本発明の記録方法は、光ディスクへの高密度記録を行う際に有用である。
【０１６３】
本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を算出し、複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択する。したがって、１つの記録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から１つの記録条件を選択するだけで、所望信号の条件に近い条件で情報を記録媒体に記録することができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。
【０１６４】
さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長が短い場合でも正しい記録を行うことができる。
【０１６５】
さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、ＰＲＭＬ誤差指標Ｍが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディスクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなく、データを正確に記録できる。
【図面の簡単な説明】
【０１６６】
【図１】図１は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表す状態遷移図Ａである。
【図２】図２は、状態遷移図Ａを時間軸に沿って展開することによって得ることができるトレリス図である。
【図３】図３は、Ｐａ−Ｐｂの分布を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態の光ディスク装置１００の構成を示す図である。
【図５】図５は、光ディスク１０１の構成を示す図である。
【図６】図６は、記録時に光ヘッド１０２が照射する光の波形を示す図である。
【図７】図７は、３Ｔマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテスト信号を示す図である。
【図８】図８は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するための図である。
【図９】図９は、再生手段１０４の構成を示す図である。
【図１０】図１０は、従来の光ディスク装置４００の構成を示す図である。
【図１１】図１１は、再生手段４０４の構成を示す図である。
【図１２】図１２は、ＰＬＬ５０７の構成を示す図である。
【図１３】図１３は、再生手段４０４に含まれる複数の構成要素によって生成された信号を示す図である。
【図１４】図１４は、エッジ間隔の分布を示す図である。
【図１５】図１５は、エッジ間隔の分布を示す図である。
【符号の説明】
【０１６７】
１００  光ディスク装置
１０１  光ディスク
１０２  光ヘッド
１０４  再生手段
１０６  復調・ＥＣＣ回路
１０８  記録条件決定手段
１０９  記録補償回路
１１１  記録パワー設定手段
１１２  レーザ駆動回路
２０１  プリアンプ
２０２  ハイパスフィルタ
２０３  ＡＧＣ回路
２０４  波形等化器
２０５  Ａ／Ｄ変換器
２０６  整形部
２０７  最尤復号器
２０８  信頼性計算部
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2005043537.tif 000023
【図２】
2005043537.tif 000024
【図３】
2005043537.tif 000025
【図４】
2005043537.tif 000026
【図５】
2005043537.tif 000027
【図６】
2005043537.tif 000028
【図７】
2005043537.tif 000029
【図８】
2005043537.tif 000030
【図９】
2005043537.tif 000031
【図１０】
2005043537.tif 000032
【図１１】
2005043537.tif 000033
【図１２】
2005043537.tif 000034
【図１３】
2005043537.tif 000035
【図１４】
2005043537.tif 000036
【図１５】
2005043537.tif 000037
【国際調査報告】
2005043537.tif 000038
2005043537.tif 000039
2005043537.tif 000040
2005043537.tif 000041