【事件の表示】
　平成９年特許願第５０７３９８号「複数の固定測定チャネルを有するＸ線分光計」拒絶査定不服審判事件〔平成９年２月１３日国際公開、ＷＯ９７／０５４７４、平成１０年７月２１日国内公表、特表平１０−５０７５３２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、１９９６年７月１７日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９５年７月２５日、オランダ国）を国際出願日とする出願であって、平成１４年１月３０日付けで拒絶査定がなされ、これに対して拒絶査定不服の審判を請求するとともに、同日付けで手続補正書を提出して特許請求の範囲の補正を行ったところ、前置審査において平成１４年７月５日付けで拒絶理由通知がなされ、これに対して指定期間内の平成１４年１０月１６日付けで意見書を提出するとともに手続補正書を提出して特許請求の範囲を補正したものである。
　
２．特許法第３６条違反について
２．１　前置審査において平成１４年７月５日付けで通知した拒絶理由の概要は以下のとおりである。
第１理由　特許法第３６条第４項違反の理由として以下の点が挙げられている。
　第２図に図示のものは、本願請求項１の発明の実施例なのかどうか、不明である。請求項１でいう、一つの固定された検出器のみに関連づけられた複数のアナライザクリスタルというのは、果たして実現されているのか、実現されているのなら、どのようにして実現されているのか。
第２理由　特許法第３６条第６項第２号違反の理由として以下の点が挙げられている。
　請求項１で、「アナライザクリスタルのうちの一つが……所望の形状を毎回実現するためのチェンジャー装置」とあるが、意味内容及び技術内容が不明瞭でありどのようなチェンジャーか不明確である。
　また、チェンジャー装置は、どのようなものであって、何をどのようにチェンジするのか、明確でもない。
　（以下　省略）
　
２．２　当審の判断
　請求人は、上記拒絶理由に対して、特許請求の範囲を補正するとともに意見書において、第１理由に対しては、「一つの固定された検出器のみに関連づけられた」の記載を「試料位置に関して一定の位置にある検出器に関連づけられた」と補正したことにより明確になった旨主張し、第２理由に対しては、「アナライザクリスタルのうちの一つが〜実現するためのチェンジャー装置」を「アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタル
についての
　
　ところが、「所望の形状を各波長について毎回実現するためのチェンジャー装置」とあるが、「所望の形状」とは何に関するいかなる形状を意味するのか明確ではなく、また、チェンジャー装置がどのように動くことで、「所望の形状」を毎回実現するのか、依然として明確ではない。
　
３．特許法第２９条違反について
３．１　本願発明
　本願請求項１ないし１１に係る発明は、平成１４年１０月１６日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１１に記載された事項により特定されるとおりのものであるところ、そのうち請求項１、２および６に係る発明は請求項１、２および６に記載された事項により特定される次のとおりのものである
「【請求項１】　検査される試料のための試料位置と、試料内にＸ線を発生させる手段と、試料から放射されるＸ線を検出する検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つのアナライザクリスタルとからなり、
　測定中、試料位置と検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、アナライザクリスタルは、試料位置及び検出器に関して一定の位置および方位を有する、Ｘ線分析用装置であって、
　試料位置に関して一定の位置にある検出器に関連づけられた複数のアナライザクリスタルと、アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の形状を各波長について毎回実現するためのチェンジャー装置とからなることを特徴とするＸ線分析用装置。
　【請求項２】　チェンジャー装置は、検出器に関して直線的に変位可能でありアナライザクリスタルが設けられているスライドからなる請求項１記載の装置。
　【請求項６】　アナライザクリスタルは、試料位置に関して一定の位置及び一定の方位を有するよう配置されていて、チェンジャー装置は、測定に関係するアナライザクリスタルを変化させるため、試料位置の円周に沿って検出器を動かすよう配置されている請求項１記載の装置。」
　
３．２　引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された本願出願日前に刊行された実願昭５９−１６６３６１号（実開昭６１−８０４４７号）のマイクロフィルム（以下、「刊行物１」という。）、および特公昭３８−８５５０号公報（以下、「刊行物２」という。）、には、それぞれ以下の事項が記載されている。
(１）刊行物１
(１a）「分光結晶を波長走査のための結晶駆動部材に方向可変に枢着し、同部材と分光結晶との間に圧電素子よりなる分光結晶微調整用の回転駆動手段を結合し、上記圧電素子に分光結晶の方向調整用信号電圧を印加するようにした分光結晶の方向調整装置を備えたＸ線分光器。」（第１頁５−１０行）
(１b）「本考案はＸ線マイクロアナライザ等に使用される彎曲結晶Ｘ線分光器に関する。」（第１頁１３−１４行）
(１c）「第１図は本考案の一実施例の機構を示す。Ｅは電子ビーム、Ｓは試料、Ｃは分光結晶、ＤはＸ線検出器で、Ａはスリットである。この実施例のＸ線分光器は結晶直進型で、Ｔが結晶駆動用の送りねじであり、同ねじに螺合させたナットＮに結晶駆動腕１が枢着されている。結晶駆動腕１の他端にはリンクＬ，Ｌ’が連結され、リンクＬ’の先端はリンクＬ１に枢着されている。リンクＬ１にスリットＡ及びＸ線検出器Ｄが取付けられている。リンクＬ，Ｌ’，Ｌ１等よりなる機構によって試料Ｓ上の電子ビーム照射点及び分光結晶Ｃの中心及びスリットＡが一つのローランド円Ｒに配置されるように規制される。」（第３頁１１行−４頁３行）
(１d）「分光結晶Ｃは結晶ホルダ２にスライド式に２個交換可能に保持されており、ホルダ２は結晶駆動腕１に枢着されている。」（第４頁４−６行）
(１e）「結晶交換（イ）を終わると分光器を駆動して検出しようとする波長に波長設定し（ロ）、」（第５頁１０−１１行）
(１d）「従って圧電素子３に印加する電圧を一ステップずつ上げていくと分光結晶の向きは正しい方向に近づき、Ｘ線の検出出力が増加して行く。従って（ヘ）のステップがＹＥＳになった所が検出出力最大であり、そのときの分光結晶の方向が適正方向である。」（第６頁５−１０行）
が、それぞれ図面と共に記載されている。
　
(２）刊行物２
(２a）「従って物質が発生するＸ線をブラックの条件による干渉を利用して分光し、各元素の特性Ｘ線の波長並びに強度を検出することによって物質の成分およびその含有量を知ることができる。しかし従来のこのような蛍光Ｘ線分析装置は、格子面によってＸ線に干渉を生じさせるための結晶と・・Ｘ線検出器とを連動回転するものであるから構造がきわめて複雑で、高度の機械的制度を要求されるため制作が困難である。・・・。本発明は以下説明するように前述の欠点を除去し、所望の元素をきわめて能率よく迅速に検出し得るとともに比較的多数の各種の元素を分析し得る装置を提供するものである。」（第１頁左欄８−２３行）、
(２b）「図面に示すように、例えば試料保持板Ｈに浅い凹陥部を設けて粉末状に粉砕した試料Ｓを充填し、これを水平に設置してその上部に配置したＸ線管Ｘから点線のように一次Ｘ線ｘ１を照射する。また試料Ｓの側部にはこの試料を囲繞するように数個あるいは数十個の第１スリットＡ１，Ａ２……を環状に配列し、さらに試料Ｓと各スリットを通る直線の延長上に彎曲単結晶体Ｃ１，Ｃ２……を設ける。これらの結晶体の表面は何れもスリットＡ１，Ａ２等を通り、且つ試料の中心を通る垂直線１を含む平面内にある円周Ｃ１，Ｃ４等と一致する円筒面をなし、また各結晶の中心部からの距離がスリットＡ１，……Ａ４……と夫々等しい位置にある円周上の点Ｐ１，Ｐ４等は直線１上の点を中心とする。水平な円周Ｏ上に配列されている。Ｘ線管Ｘの上部には直線１と一致する垂直回転軸Ｇを設けて軸受けＢで保持し、その下端に固着した叉状腕Ｆの先端にガイガーミューラー計数管その他任意のＸ線検出器Ｄおよびその全面の第２スリットＡ０を取り付けた基台Ｅを軸支してある。すなわち基台Ｅは直線１を含む平面内において回動自在なように支持され、かつその支点は水平面Ｐ内にある前記円周Ｏの上にあり、またスリットＡ０はこの支点と一致している。」（第１頁左欄２４−右欄２行）
(２c）「そして検出しようとする特性Ｘ線の波長をλ１，λ２……とするとき、水晶あるいは・・の一種あるいは数種類の結晶体Ｃ１，Ｃ２……の格子面間隔ｄ１，ｄ２…および各結晶体の中心とスリットＡ１，Ａ２…等を結ぶ直線が結晶面となす角θ１，…θ４，…の間に・・・の関係を与えてある。」（第１頁右欄５−１６行）
(２d) 「従って、一次Ｘ線ｘ１に励起された試料Ｓから二次Ｘ線ｘ２が発生し、この二次Ｘ線の一部は破線のようにスリットＡ１，Ａ２等を通って結晶体Ｃ１，Ｃ２・・・の表面に投射されるがその入射角は夫々θ１，θ２……であるから波長λ１，λ２……の特性Ｘ線が各結晶面でブラッグの条件を満足して回折を生ずる。かつ彎曲結晶体Ｃ１，Ｃ２……の表面はスリットＡ１，Ａ２……を通る円周ｃ１，……ｃ４と一致しているから結晶体の全面で回折したＸ線が集中法条件によって前記各円周上の他の点、すなわち各結晶からスリットＡ１，Ａ２……と等距離にある点Ｐ１，……Ｐ４……に集束する。この各点は前述のように水平面ｐ内の円周Ｏの上に配列し、また軸Ｇを回転すればスリットＡ０が該円周上を移動すると共に、鍔Ｋの形状を適当に形成しておくことによって検出器Ｄの入射窓の中心とスリットＡ０を通る直線が常に各結晶体の中心を通過する。従って軸Ｇを駆動してスリットＡ０を各結晶に対応する位置まで間歇的に回動することによって、夫々各結晶体の表面で回折した波長λ１，λ２……の特性Ｘ線を順次検出測定し得られ、またスリットＡ０が各結晶体に対応する定位置まで回転したとき自動的に停止するように構成しておけばその位置調整操作に何らの困難を伴わないものである。」（第１頁右欄１７−３７行）
(２e）「Ｘ線を発生する試料を中心としてその周辺に複数個の彎曲結晶体をほぼ円環状に配列し、且試料から各結晶体に入射してその格子面で回折を生ずる各波長のＸ線が夫々集束する位置を前記結晶体を連ねると円とほぼ同軸的に配置された正確な一つの円周上に配列させて、その回折Ｘ線の検出器を前記円周の中心を通る軸によって回動可能に支承したことを特徴とする蛍光Ｘ線分析装置。」（第２頁左欄７行−右欄６行）
が、それぞれ図面と共に記載されている。
　そして、上記（２b）に記載された軸受Ｂ、垂直回転軸Ｇ、叉状腕Ｆおよび基台Ｅで検出器Ｄの移動手段が構成されていることが把握される。
　よって、これらの記載から刊行物２には
「検査される試料Ｓのための試料保持板Ｈ上の浅い凹陥部と、試料Ｓ内にＸ線を発生させるＸ線管Ｘと、試料から放射される二次Ｘ線ｘ２を検出するＸ線検出器Ｄと、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つの彎曲単結晶体とからなり、
　測定中、凹陥部とＸ線検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、彎曲単結晶体は、凹陥部及びＸ線検出器に関して一定の位置および方位を有する、螢光Ｘ線分析装置であって、
　凹陥部に関して一定の位置及び一定の方位を有するよう配置された複数の彎曲単結晶体（Ｃ１，Ｃ２……）と、測定に関係する彎曲単結晶体を変更させるため、凹陥部の円周Ｏに沿ってＸ線検出器を動かすよう配置されている検出器移動手段、とからなるＸ線分析用装置。」
が記載されているものと認められる。
　
３．３　請求項２について
（１）請求項２に係る発明
　請求項２に係る発明（以下、「本願発明２」という。）は、請求項１の記載を引用して、チェンジャー装置を「検出器に関して直線的に変位可能でありアナライザクリスタルが設けられているスライドからなるもの」に限定したものである。ここで、請求項１は、上述のとおり明確でない部分を含むものであるが、請求項２でチェンジャー装置がアナライザクリスタルを直線的にスライドして変位させるものであることが示されたことにより、「所望の形状」は、アナライザクリスタルが試料と検出器との間の一定の位置に移動配置された結果得られる試料と検出器とアナライザクリスタルとの配置形状を意味するものとして理解される。よって、請求項１の明確でない部分を請求項２の記載で補填することによって、本願発明２は、次のとおりのものとして把握される。
「【請求項２】　検査される試料のための試料位置と、試料内にＸ線を発生させる手段と、試料から放射されるＸ線を検出する検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つのアナライザクリスタルとからなり、
　測定中、試料位置と検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、アナライザクリスタルは、試料位置及び検出器に関して一定の位置および方位を有する、Ｘ線分析用装置であって、
　試料位置に関して一定の位置にある検出器に関連づけられた複数のアナライザクリスタルと、アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の配置形状を各波長について毎回実現するためのものであって、検出器に関して直線的に変位可能でありアナライザクリスタルが設けられているスライドからなるチェンジャー装置、とからなるＸ線分析用装置。」
　
（２）本願発明２と刊行物１に記載の発明との対比・判断
　刊行物１には、Ｘ線分光器であって、分光結晶を結晶ホルダ上をスライドして交換することによって検出しようとする波長を変更し、ホルダ上の分光結晶の位置を微調整することによって検出出力を最大とするものが記載されている。
　そして、刊行物１のものは、試料Ｓ、試料に照射されてＸ線を発生させる電子ビームＥ、Ｘ線を検出するＸ線検出器Ｄ、および分光結晶Ｃが結晶駆動腕１、リンクＬ，Ｌ’およびＬ１等によって一定の位置関係を保って配置されている（摘記事項（１ｃ））。
　以上のことから、刊行物１のものは、本願発明２の「検査される試料のための試料位置と、試料内にＸ線を発生させる手段と、試料から放射されるＸ線を検出する検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つのアナライザクリスタルとからなり、測定中、試料位置と検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、アナライザクリスタルは、試料位置及び検出器に関して一定の位置および方位を有する、Ｘ線分析用装置であって、」に相当する構成を有している。
　また、刊行物１のものが、結晶ホルダ上に直線的にスライド可能に配置された２つの分光結晶を有している（摘記事項（１ｄ））ことから、本願発明２の「試料位置に関して一定の位置にある検出器に関連づけられた複数のアナライザクリスタルと、・・、検出器に関して直線的に変位可能でありアナライザクリスタルが設けられているスライドからなるチェンジャー装置、」に相当する構成を有しており、
　さらに、刊行物１のものが、選択された分光結晶がホルダ上をスライドされて交換されローランド円上に配置されると分光器を駆動して検出しようとする波長に設定される（摘記事項（１ｅ）、第１図）ことから、本願発明２の「アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の配置形状を各波長について実現するためのものであって」に相当する構成を有する。
　
　以上のとおり、本願発明２はチェンジャー装置が「アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の配置形状を各波長について毎回実現するためのもの」であるのに対し、刊行物１に記載の発明は、上記機能を各波長について毎回実現することについては明記されていない点で相違するが、その他の点での相違点は認められない。
　
　そこで、上記相違点について検討すると、
刊行物１の結晶ホルダに設置された２つの分光結晶はホルダ上をスライドして互いに交換できるものである。したがって、ホルダ上で分光結晶を交互に移動させることを繰り返すことによって上記機能を各波長について毎回実現することは適宜なし得たことにすぎない。
　
３．４　請求項６について
（１）請求項６に係る発明
　請求項６に係る発明（以下、「本願発明６」という。）は、請求項１の記載を引用して、アナライザクリスタルが試料位置に関して一定の位置及び方位に配置されており、また、チェンジャー装置が測定に関係するアナライザクリスタルを変更するために試料位置の周囲の円周に沿って検出器を動かすものに限定されたものである。ここで、請求項１は、上述のとおり明確でない部分を含むものであるが、請求項６でアナライザクリスタルの配置およびチェンジャー装置の構成が示されたことによって、請求項１の明確でない部分を請求項６の記載で補填することにより、請求項１の「所望の形状」は、アナライザクリスタルを変更させるために検出器を動かした結果得られる試料と検出器とアナライザクリスタルとの所望の配置形状を意味するものとして理解され、その結果、本願発明６は、次のとおりのものとして把握される。
「【請求項６】　検査される試料のための試料位置と、試料内にＸ線を発生させる手段と、試料から放射されるＸ線を検出する検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つのアナライザクリスタルとからなり、
　測定中、試料位置と検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、アナライザクリスタルは、試料位置及び検出器に関して一定の位置および方位を有する、Ｘ線分析用装置であって、
　試料位置に関して一定の位置及び一定の方位を有するよう配置された複数のアナライザクリスタルと、アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の配置形状を各波長について毎回実現するよう、測定に関係するアナライザクリスタルを変化（変更）させるため、試料位置の円周に沿って検出器を動かすよう配置されているチェンジャー装置、とからなるＸ線分析用装置。」
　
（２）対比・判断
　本願発明６と刊行物２に記載の発明（以下、「引用発明２」という。）とを対比すると、引用発明２における「試料Ｓ」、「凹陥部」、「Ｘ線管Ｘ」、「二次Ｘ線」、「Ｘ線検出器Ｄ」、「彎曲単結晶体」、「螢光Ｘ線分析装置」、「彎曲結晶体Ｃ１，Ｃ２……」、「円周Ｏ」、および「検出器移動手段」が、それぞれ本願発明６における「試料」、「試料位置」、「Ｘ線を発生させる手段」、「Ｘ線」、「検出器」、「アナライザクリスタル」、「Ｘ線分析用装置」、「複数のアナライザクリスタル」、「試料位置の円周」、および「チャンジャー装置」に相当するから、両者は
〈一致点〉
「検査される試料のための試料位置と、試料内にＸ線を発生させる手段と、試料から放射されるＸ線を検出する検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置された少なくとも一つのアナライザクリスタルとからなり、
　測定中、試料位置と検出器は、該装置内で互いに一定の距離に配置され、アナライザクリスタルは、試料位置及び検出器に関して一定の位置および方位を有する、Ｘ線分析用装置であって、
　試料位置に関して一定の位置及び一定の方位を有するよう配置された複数のアナライザクリスタルと、測定に関係するアナライザクリスタルを変化（変更）させるため、試料位置の円周に沿って検出器を動かすよう配置されているチェンジャー装置、とからなるＸ線分析用装置。」
で一致し、以下の点で相違する。
〈相違点ａ〉
　本願発明６においては、アナライザクリスタルのうちの一つが測定中に試料と該検出器との間のビーム路の中で当該のアナライザクリスタルについてのローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけられる所望の配置形状を各波長について毎回実現するよう、チェンジャー装置によって検出器が動かされるのに対し、引用発明２においては、検出器は彎曲結晶体の一つが測定中に結晶体の全面で回折したＸ線が集中法条件によって集束する点Ｐ１，…Ｐ４…に位置するよう配置される点。
　
　そこで、上記相違点ａについて検討する。
　本願発明６において、試料と検出器とアナライザクリスタルについてローランド幾何学によって決定される一定の位置に位置づけることは、前記三者をそれぞれローランド円上に配置することによって周知のローランド式分光器を構成することを意味している。
　一方、引用発明２において、彎曲結晶体は特性Ｘ線の波長に応じて構成されており、各結晶体の中心とスリットとを結ぶ直線が結晶面となす角が所定の角度で設定されている（摘記事項（２c)）。そして、彎曲結晶体Ｃ１，Ｃ２…の表面はスリットＡ１、Ａ２…を通る円周ｃ１，……ｃ４と一致しており、結晶体の全面で回折したＸ線が集中法条件によって前記円周上の他の点、すなわち各結晶からスリットＡ１，Ａ２…と等距離にある点Ｐ１，…Ｐ４…に集束する（摘記事項（２d)）ことから、この分光器はローランド式の分光器を構成している。したがって、各結晶体は測定中に試料と検出器との間でローランド幾何学によって決定される位置に配置されなければならない。
　ここで、検出器は、移動手段によって前記集束点Ｐ１，…Ｐ４…に対応する位置に移動され、その位置に対応する結晶体の表面で回折した波長の特性Ｘ線を順次検出する（摘記事項（２d)）。このとき、結晶体がローランド幾何学によって決定される所望の配置形状となるように検出器を順次移動させて波長を選択し、そのことを繰り返し、各波長について毎回実現するようにして、相違点ａに係る本願発明６の構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
　
４．むすび
　以上のとおり、請求項１の記載は、特許を受けようとする発明が明確ではなく、特許法第３６条第６項第２号の規定を満たしていない。
　本願発明２は、刊行物１に記載された発明に基づいて、また、本願発明６は、刊行物２に記載の発明に基づいて、それぞれ当業者が容易に発明をすることができたものであるから、いずれも特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その他の請求項に係る発明についての判断を示すまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。