【事件の表示】
　特許第５８０９７２８号発明「熱交換器用チューブ」の特許異議申立事件について，次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５８０９７２８号の請求項に係る特許を維持する。
【理　由】
［１］手続の経緯 
　特許第５８０９７２８号の請求項１ないし４に係る特許についての出願は，２０１１年１月１９日（パリ条約による優先権主張外国庁受理　２０１０年１月２０日　米国（ＵＳ））を国際出願日とする特願２０１１−５５０９２２号の一部を平成２６年４月１４日に新たな特許出願としたものであって，平成２７年９月１８日にその特許権の設定登録がされ，その後，その特許について，特許異議申立人　葛西文枝により特許異議の申立てがされたものである。
［２］本件発明
　本件請求項１ないし４に係る発明は，次のとおりである（以下，それぞれ，「本件発明１」ないし「本件発明４」ということがある。） 
「【請求項１】 
　Ａｌ合金押出管の外表面に，Ｓｉ粉末と，Ｚｎ含有フラックスおよびＺｎ非含有フラックスと，バインダとが含まれてなるフラックス層を形成させてなる熱交換器用チューブであって，
　前記Ａｌ合金押出管に対する前記Ｓｉ粉末の塗布量が１ｇ／ｍ２以上５ｇ／ｍ２以下の範囲であり，前記Ｚｎ含有フラックスの塗布量が３ｇ／ｍ２以上２０ｇ／ｍ２以下の範囲であり，
　前記Ｓｉ粉末は，９９％粒径（Ｄ９９）が５μｍ以上，２０μｍ以下であり，さらに粒径が（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量が１ｐｐｍ未満であり，前記Ｓｉ粉末の５０％粒径（Ｄ５０）が，（Ｄ９９）×０．０５以上，（Ｄ９９）×０．７以下となることを特徴とする熱交換器用チューブ。
　但し，（Ｄ９９）は，それ以下の粒径を有する粒子の累積体積が，全粒子の９９％となる粒径を示し，（Ｄ５０）は，それ以下の粒径を有する粒子の累積体積が，全粒子の５０％となる粒径を示す。
　【請求項２】
　請求項１に記載の熱交換器用チューブであって，前記Ｚｎ含有フラックスは，ＺｎＦ２，ＺｎＣｌ２，ＫＺｎＦ３のうち少なくとも１種以上のＺｎ化合物を含むものであることを特徴とする熱交換器用チューブ。
　【請求項３】
　請求項１または請求項２に記載の熱交換器用チューブであって，前記Ａｌ合金押出管はＳｉを０．０５質量％以上１．０質量％以下の範囲で含有し，Ｍｎを０．０５質量％以上１．２質量％以下の範囲で含有し，残部がＡｌ及び不可避的不純物であることを特徴とする熱交換器用チューブ。
　【請求項４】
　前記Ｚｎ非含有フラックスが，ＬｉＦ，ＫＦ，ＣａＦ２，ＡｌＦ３，ＳｉＦ４，Ｋ１−３ＡｌＦ４−６，Ｃｓ１−３ＡｌＦ４−６，Ｃｓ０．０２Ｋ１−２ＡｌＦ４−５，Ｋ２ＳｉＦ６から選択される１種または２種以上であることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の熱交換器用チューブ。」
［３］申立理由の概要
　特許異議申立人は，証拠として， 
　甲第１号証：特開２００４−３３０２３３号公報（以下「甲１」という。）， 甲第２号証：特開２００９−１０６９４７号公報（以下「甲２」という。），甲第３号証：米国特許出願公開第２０１０／０１１６４７２号明細書及び訳文（以下「甲３」という。）， 甲第４号証：特許第５７４４７６０号公報（以下「甲４」という。），甲第５号証：甲４の原審時に提出された意見書（以下「甲５」という。）， 甲第６号証：商品名「Ｅｌｋｅｍ　Ｂｒｅｍａｎｇｅｒ」のカタログデータ，Ｍａｌｖｅｒｍ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ社，２０．ａｕｇ．２００８（以下「甲６」という。），甲第７号証：甲４の原審時に通知した拒絶査定書（以下「甲７」という。）及び  甲第８号証：甲４の原審時に提出された審判請求書（以下「甲８」という。）を提出し，以下の理由で特許異議を申し立てている。
１．申立理由１ 
　本件発明１ないし４は，甲１に記載された発明に甲２及び甲６に記載された周知技術を適用することにより，当業者が容易に想到することができたものであるから，それらに係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであるから，請求項１ないし４に係る特許を取り消すべきものである。 
２．申立理由２
　本件特許請求の範囲の記載が，以下の（１）及び（２）の理由により，本件特許は特許法第３６条第６項第２号の規定に違反してなされたものであるから，請求項１ないし４に係る特許を取り消すべきものである。
（１）本件特許請求の範囲に記載された粗大粒の含有量を表す「ｐｐｍ」が，どの物理量の割合であるのか不明である。
（２）Ｓｉ粒子中の粗大粒の含有量の値は，その測定方法によって変化する量であるが，特許請求の範囲には測定方法が特定されていない。
［４］判断
１．申立理由１について
（１）甲各号証の記載
（１−１）甲１（特開２００４−３３０２３３号公報） 
（１ａ）「【特許請求の範囲】 
【請求項１】 
Ａｌ合金押出管の外表面に，Ｓｉ粉末とＺｎ含有フラックスとが含まれてなるフラックス層を形成させてなり， 
前記Ａｌ合金押出管に対する前記Ｓｉ粉末の塗布量が１ｇ／ｍ２以上５ｇ／ｍ２以下の範囲であり，前記Ｚｎ含有フラックスの塗布量が５ｇ／ｍ２以上２０ｇ／ｍ２以下の範囲であることを特徴とする熱交換器用チューブ。 
【請求項２】 
前記Ｚｎ含有フラックスは，ＺｎＦ２，ＺｎＣｌ２，ＫＺｎＦ３のうちの少なくとも１種以上のＺｎ化合物を含むものであることを特徴とする請求項１に記載の熱交換器用チューブ。 
【請求項３】 
前記Ｓｉ粉末の最大粒径が３０μｍ以下であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の熱交換器用チューブ。 
【請求項４】 
前記Ａｌ合金押出管はＳｉを０．５質量％以上１．０質量％以下の範囲で含有し，Ｍｎを０．０５質量％以上１．２質量％以下の範囲で含有し，残部がＡｌ及び不可避的不純物であることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の熱交換器用チューブ。」 
 　 
（１ｂ）「【００１２】 
また，前記Ｓｉ粉末の最大粒径は３０μｍ以下の範囲であることが好ましい。最大粒径が３０μｍを越えるとチューブのエロージョン深さが増加するので好ましくない。尚，Ｓｉ粉末の最大粒径が０．１μｍ未満だとＳｉ粉末同士が凝集し，やはりチューブのエロージョンの深さが増加するので，０．１μｍ以上が好ましい。」 
（１ｃ）「【００２０】
次にフラックス層には，Ｚｎ含有フラックスが少なくとも含まれる。尚，Ｚｎ含有フラックスの他に，Ｚｎを含まないＺｎ非含有フラックスが含まれていても良い。
Ｚｎ含有フラックスには，例えばＺｎＦ２，ＺｎＣｌ２，ＫＺｎＦ３等のＺｎ化合物が少なくとも１種以上含まれることが好ましい。また，Ｚｎ非含有フラックスには，例えば，ＬｉＦ，ＫＦ，ＣａＦ２，ＡｌＦ３，ＳｉＦ４などの弗化物や，前記弗化物の錯化合物であるＫＡｌＦ４，ＫＡｌＦ３などが少なくとも１種以上含まれることが好ましい。
熱交換器用チューブのフラックス層にＺｎ含有フラックスを含有させることで，ろう付け後のチューブ表面にＺｎ拡散層（ろう材層）が形成され，このＺｎ拡散層が犠牲陽極層として機能することによりチューブの防食効果を高めることができる。」
 　 
（１ｄ）「【表１】   　　　　　　　　　　　　　　  
 　　」 
 　 
 （１ｅ）「【００２７】 
表１に示すように，実施例１〜６のフィン付チューブでは，最大腐食深さがいずれも１００μｍ以下であり，チューブの腐食が抑制されていることが判る。実施例６は，Ｓｉ粉末の最大粒径が大きいので，エロージョンがやや深くなっている。 
一方，比較例１ではフラックスにＺｎが添加されず，また比較例２ではＺｎ含有フラックス（ＫＺｎＦ３）の添加量が２ｇ／ｍ２と少なく，更に比較例３及び４ではＳｉ粉末が添加されなかったためにＺｎ分布が不均一となり，腐食量が大きくなったものと考えられる。」 
 　 
 　 
（１−２）甲２（特開２００９−１０６９４７号公報） 
（２ａ）「【請求項１】 
　１〜６ｇ／ｍ２のＳｉ粉末，０．５〜２０ｇ／ｍ２のＳｉ含有フッ化物系フラックス，０．５〜２０ｇ／ｍ２のＺｎ含有フッ化物系フラックスおよびバインダを含む塗膜が表面に形成されていることを特徴とするアルミニウム合金チューブ。
【請求項２】 
　前記塗膜に，さらに，１〜６ｇ／ｍ２のＡｌ−Ｓｉ系合金粉末を含むことを特徴とする請求項１記載のアルミニウム合金チューブ。 
【請求項３】 
　前記粉末および前記フラックスは，それぞれ，平均粒径が０．１〜１０μｍで，かつ累積頻度９０％以上の粒径が３０μｍ以下であることを特徴とする請求項１または２記載のアルミニウム合金チューブ。」 
 　 
（２ｂ）「【０００２】 
　ろう付によって製造されるアルミニウム熱交換器では，これまでＡｌ−Ｓｉ合金ろう材をクラッドしたブレージングシートが広く使用されてきたが，これを用いなくともＡｌ−Ｓｉ合金粉未やＳｉ粉末をフラックスとバインダとの混合物の形で押出チューブ（以下チューブ）の表面に塗布したものを使用することによって安価に製品が製造できるようになっている。・・・」 
  
（２ｃ）「【００１２】 
Ｓｉ粉末粒径：平均０．１〜１０μｍ，累積頻度９０％以上の粒径が３０μｍ以下 
　Ｓｉ粉末の平均粒径が小さすぎると，凝集して不均一分布となりろう付性が低下し，一方，平均粒径が過大になると，著しいエロージョンが生じ，チューブの強度や耐食性が低下する問題がある。このため，Ｓｉ粉末の平均粒径は０．１〜１０μｍが望ましい。なお，同様の理由で，下限を１μｍ，上限を８μｍとするのが一層望ましい。 
　また，累積頻度９０％以上の粒径が過大になると，塗膜厚さが厚くなる。塗膜はろう付時に流動し実質的に消滅するため，塗膜厚さ分のろう付前後のチューブ高さ寸法変化が大きくなり，ろう付接合不良が発生する。このため，Ｓｉ粉末に関し累積頻度９０％以上の粒径を３０μｍ以下とするのが望ましい。」 
 　 
（２ｄ）「【００３８】 
　上記扁平多穴管１とフィン３とは，必要に応じて図示しないヘッダープレートなどとともに互いに組み付けられてろう付けに供される。ろう付けに際しては，不活性雰囲気などの適当な雰囲気で適温に加熱して，ろう付組成物を溶解させる。なお，バインダは通常はろう付加熱によって蒸散する。ろう付の際の加熱温度としては５８０〜６２０℃が例示される。また，加熱保持時間としては１〜１０分が挙げられる。・・・」 
 　 
（１−３）甲６（商品名「Ｅｌｋｅｍ　Ｂｒｅｍａｎｇｅｒ」のカタログデータ，Ｍａｌｖｅｒｍ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ社，２０．ａｕｇ．２００８） 
（３ａ）「 
  」
　上記グラフ及び表には，Ｓｉ粉末（商品名「Ｅｌｋｅｍ　Ｂｒｅｍａｎｇｅｒ」）の粒度分布が示されており，表中「Ｓｉｚｅ（μｍ）」，「Ｖｏｌ　Ｕｎｄｅｒ　％」の値を，それぞれＡ，Ｂとすると，Ｂ％粒径（ＤＢ）＝Ａ（μｍ）であることは明らかである。 
　そして，（Ｄ５０）は３．１〜３．６μｍの範囲にあり，（Ｄ９９）は８．９〜１０．０μｍの範囲にあることが看て取れる。 
（２）甲１記載の発明 
　上記記載事項（１ａ），（１ｂ）及び（１ｃ）によれば，甲１には，次の発明が記載されているものと認められる。 
　「Ａｌ合金押出管の外表面に，Ｓｉ粉末と，Ｚｎ含有フラックスおよびＺｎ非含有フラックスとが含まれてなるフラックス層を形成させてなる熱交換器用チューブであって，
　前記Ａｌ合金押出管に対する前記Ｓｉ粉末の塗布量が１ｇ／ｍ２以上５ｇ／ｍ２以下の範囲であり，前記Ｚｎ含有フラックスの塗布量が５ｇ／ｍ２以上２０ｇ／ｍ２以下の範囲であり，  
　前記Ｓｉ粉末の最大粒径は，０．１μｍ以上３０μｍ以下である熱交換器用チューブ。」（以下，「甲１発明」という。）  
 　  
（３）対比・判断 
（３−１）本件発明１について 
　本件発明１と甲１発明を対比すると，両者は以下の一致点，相違点を有する。  
（一致点） 
　Ａｌ合金押出管の外表面に，Ｓｉ粉末と，Ｚｎ含有フラックスおよびＺｎ非含有フラックスとが含まれてなるフラックス層を形成させてなる熱交換器用チューブであって，
  前記Ａｌ合金押出管に対する前記Ｓｉ粉末の塗布量が１ｇ／ｍ２以上５ｇ／ｍ２以下の範囲であり，前記Ｚｎ含有フラックスの塗布量が５ｇ／ｍ２以上２０ｇ／ｍ２以下の範囲である熱交換器用チューブ。 
 　 
（相違点１）  
　本件発明１では，フラックス層にバインダを含むのに対し，甲１発明では，フラックス層にバインダを含むのか明らかではない点。  
 　  
（相違点２）  
　本件発明１では，「Ｓｉ粉末は，９９％粒径（Ｄ９９）が５μｍ以上，２０μｍ以下であり，さらに粒径が（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量が１ｐｐｍ未満であり，前記Ｓｉ粉末の５０％粒径（Ｄ５０）が，（Ｄ９９）×０．０５以上，（Ｄ９９）×０．７以下とな」り，「但し，（Ｄ９９）は，それ以下の粒径を有する粒子の累積体積が，全粒子の９９％となる粒径を示し，（Ｄ５０）は，それ以下の粒径を有する粒子の累積体積が，全粒子の５０％となる粒径を示す」のに対し，甲１発明では，該事項を有するか明らかではない点。  
　上記相違点について検討する。  
（相違点１）について  
　甲２（上記記載事項（２ｂ））にも記載されるように，アルミニウム熱交換器用チューブ表面のＳｉ粉末とフラックスを含むフラックス層にバインダを含有させることは，通常行われていたことと認められるから，甲１発明に係る同様のフラックス層にバインダを含有させることは，当業者が適宜なし得ることである。  
 　 
（相違点２）について 
　甲１には，最大粒径に係る記載はあるものの粒度分布についての記載はない。
　甲６には，Ｓｉ粉末（商品名「Ｅｌｋｅｍ　Ｂｒｅｍａｎｇｅｒ」）の（Ｄ９９）は８．９〜１０．０μｍの範囲にあり，（Ｄ５０）は３．１〜３．６μｍの範囲にあることが看て取れる。 
　しかし，本件明細書の段落【００５６】に「Ｓｉ粉末は，以下に説明するレーザー回折式粒度分布測定装置にて粒度分布を測定する手段と篩い分けによる粒度選別手段を用いて粒径を調整し，表２に示す試料を調整した。＜Ｓｉ粉末粒度分布の規定方法＞（１）市販の粒度分布が分かっているあるグレードのＳｉ粉末を購入する。このままではレーザー回折式粒度分布測定装置を用いてもＳｉの粗大粒の分布は測定できない。市販Ｓｉ粉末には粒度分布データが付いているが，粒度分布に該当しないＳｉの粗大粒を実質的には相当数含んでいる。」と記載されているように，本件発明は，粒度分布のわかっている市販のＳｉ粉末であっても，粒度分布に該当しないＳｉ粗大粒が相当数含まれていることを前提として，熱交換器用チューブのフラックス層に含有させるＳｉ粉末として最適な粒度分布を定めたもの（具体的には，実施例のＢ１〜Ｂ３６に相当）と解されるから，当該相違点２における「Ｓｉ粉末は，９９％粒径（Ｄ９９）が５μｍ以上，２０μｍ以下であり，さらに粒径が（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量が１ｐｐｍ未満であり，前記Ｓｉ粉末の５０％粒径（Ｄ５０）が，（Ｄ９９）×０．０５以上，（Ｄ９９）×０．７以下であり」との事項が，単に周知技術を示したものであるとはいえない。
　特に，甲６には，Ｓｉ粉末の（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量を１ｐｐｍ未満とする技術的思想が開示されていない。
　そして，本件発明が上記粒度分布を備えることにより，本件明細書の段落【００１７】に記載の「本発明の熱交換器用チューブによれば，塗膜中のＳｉ粉末の凝集や造粒作用を引き起こすことなく，塗布面にＳｉ粉末を均一に分散させることができる。また，ろう付け時に塗布面にろうを均一に生成でき，局部的に深い腐食を生じることが無く，表面に犠牲陽極層を均一に生成することができる。」との効果を奏するものである。
　したがって，本件発明１が，甲１発明と甲２及び甲６に記載された周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 
　また，甲３〜５，７〜８においては，本件出願日前に頒布された発明または電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明ではない。
　なお，申立人は，甲１の実施例が甲４の実施例１に相当し，甲４の実施例１が審査過程において「Ｓｉ粉末粗大粒を含まない場合の理想的な粉末を用いたもの」である旨の説明をもって，甲１が相違点２に係る構成を含む旨を主張をしているが，甲１の実施例が甲４の実施例１に相当したとしても，甲１には，Ｓｉ粒子の粒径について相違点２に係る構成が開示されてないから，申立人の当該主張は採用できない。
（３−２）本件発明２〜４について 
　本件発明２〜４は，本件発明１における発明特定事項を全て含み，更に他の発明特定事項を含むものである。 
　そして，本件発明１が上記のとおり，甲１発明と甲２及び甲６に記載された周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえないから，本件発明２−４についても，甲１発明と甲２及び甲６に記載された周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 
２．申立理由２について
（１）本件請求項１には，「前記Ｓｉ粉末は，９９％粒径（Ｄ９９）が５μｍ以上，２０μｍ以下であり，さらに粒径が（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量が１ｐｐｍ未満であることを特徴とする熱交換器用チューブ」との記載に続いて，「但し，（Ｄ９９）は，それ以下の粒径を有する粒子の
累積体積
　よって，請求項１における「前記Ｓｉ粉末は，９９％粒径（Ｄ９９）が５μｍ以上，２０μｍ以下であり，さらに粒径が（Ｄ９９）の５倍以上となる粗大粒の含有量が１ｐｐｍ未満であることを特徴とする熱交換器用チューブ」との記載が不明確であるとはいえない。
（２）本件明細書の【００５６】〜【００５７】には，以下の記載がある（下線は，当審にて付した。）。
「【００５６】
　Ｓｉ粉末は，以下に説明するレーザー回折式粒度分布測定装置にて粒度分布を測定する手段と篩い分けによる粒度選別手段を用いて粒径を調整し，表２に示す試料を調整した。
＜Ｓｉ粉末粒度分布の規定方法＞
（１）市販の粒度分布が分かっているあるグレードのＳｉ粉末を購入する。このままではレーザー回折式粒度分布測定装置を用いてもＳｉの粗大粒の分布は測定できない。市販Ｓｉ粉末には粒度分布データが付いているが，粒度分布に該当しないＳｉの粗大粒を実質的には相当数含んでいる。
（２）（Ｄ９９）×５が目開きのサイズの篩を用いて，Ｓｉ粉末の「ふるい分け」を行う。
【００５７】
（３）ふるい分けによって粒度の層別を行う。
（４）
ふるい分け後，ふるいに残った粉は主に粗大粉であるため，レーザー回折式粒度分布測定装置にて粒度分布が測定できるようになる。
（５）ふるい分けにより一定粒度以下になった粉に上記Ｓｉの粗大粉を必要量添加することにより，所望の粗大粒含有量を有するＳｉ粉末を作成する。
（６）従って，Ｓｉ粉末に含まれるＳｉ粗大粒の含有量を計算で求めた数値に厳密に調整することができる。このように粒度分布を調整したＳｉ粉末を試験に使用した。」
　また，甲５の第３頁第３９〜４１行に「このように一般市販のＳｉ粒子に大量の粗大粒が含まれる理由は，工業的に生産される粉末は，大量生産のため，サイクロン造粒機が採用されており，サイクロン造粒機を用いる限り，相当量の粗大粒子が混入することは避けられない。」と，製造過程においてＳｉ粒子中の粗大粒の含有量の値が変化することが言及されている。
　そうしてみると，本件明細書には，Ｓｉ粒子の測定方法が記載されており，また，当該測定方法によってＳｉ粒子中の粗大粒の含有量の値が変化する根拠はないことから，請求項１〜４に係る発明は不明確とはいえない。
 ［５］むすび 
　したがって，上記申立理由１，２によっては，請求項１〜４に係る特許を取り消すことはできない。 
　また，他に請求項１〜４に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。 　よって，結論のとおり決定する。 
【異議決定日】
平成２８年７月７日（２０１６．７．７）