【手続補正書】
【提出日】平成30年8月27日(2018.8.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
カラーフィルタに覆われた複数の画素を有する撮像素子に含まれる欠陥画素のうち、予め定められた条件を満たす欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、
前記撮像素子を露光して得られた画像の画素データのうち、前記記憶手段に記憶されたアドレスの画素データを補正する補正手段と、を有し、
前記欠陥画素は、周辺の画素の画素データに基づく値との差分が閾値よりも大きくなる画素データを有する画素であって、
前記予め定められた条件は、異なるカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、および、同じカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、の少なくともいずれかを含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記複数の画素のうちの注目画素の画素データと、該注目画素の周辺の画素の画素データを用いて求められた値との差分が、前記閾値よりも大きくなる画素データを有する場合に、前記注目画素を欠陥画素であると判定する第１の欠陥画素検出手段を有し、
前記記憶手段は、前記第１の欠陥画素検出手段によって判定された欠陥画素のうち、前記予め定められた条件を満たす欠陥画素のアドレスを記憶することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記記憶手段に記憶されていないアドレスの欠陥画素を判定する第２の欠陥画素検出手段を有し、
前記補正手段は、前記記憶手段に記憶されたアドレスの欠陥画素の画素データと、前記第２の欠陥画素検出手段によって判定された欠陥画素の画素データを補正することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記第２の欠陥画素検出手段は、前記閾値とは異なる第２の閾値を用いて欠陥画素を判定することを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記第１の欠陥画素検出手段は、前記撮像素子が遮光される環境下、あるいは、前記撮像素子に均一なレベルの光が照射される環境下で露光された画像の画素データに対して欠陥画素の判定を行い、
前記第２の欠陥画素検出手段は、被写体を撮像するために露光された画像の画素データに対して欠陥画素の判定を行うことを特徴とする請求項３または４に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記記憶手段は、前記撮像素子に含まれる欠陥画素のうち、前記予め定められた条件を満たさない欠陥画素のアドレスを記憶しないことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記予め定められた条件は、さらに、欠陥のレベルが予め定められた範囲に含まれる欠陥画素であることを含むことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
カラーフィルタに覆われた複数の画素を有する撮像素子と、
前記撮像素子に含まれる欠陥画素のうち、予め定められた条件を満たす欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、
前記撮像素子を露光して得られた画像の画素データのうち、前記記憶手段に記憶されたアドレスの画素データを補正する補正手段と、を有し、
前記欠陥画素は、周辺の画素の画素データに基づく値との差分が閾値よりも大きくなる画素データを有する画素であって、
前記予め定められた条件は、異なるカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、および、同じカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、の少なくともいずれかを含むことを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
カラーフィルタに覆われた複数の画素を有する撮像素子に含まれる欠陥画素のうち、予め定められた条件を満たす欠陥画素のアドレスを記憶手段に記憶する工程と、
前記撮像素子を露光して得られた画像の画素データのうち、前記記憶手段に記憶されたアドレスの画素データを補正する工程と、を有し、
前記欠陥画素は、周辺の画素の画素データに基づく値との差分が閾値よりも大きくなる画素データを有する画素であって、
前記予め定められた条件は、異なるカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、および、同じカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、の少なくともいずれかを含むことを特徴とする画像処理方法。
【請求項１０】
撮像装置が備えるコンピュータに、請求項９に記載の画像処理方法の各工程を実行させるためのプログラム。
【請求項１１】
請求項１０に記載のプログラムを記憶したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】画像処理装置及び方法、及び撮像装置
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の画像処理装置は、カラーフィルタに覆われた複数の画素を有する撮像素子に含まれる欠陥画素のうち、予め定められた条件を満たす欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、前記撮像素子を露光して得られた画像の画素データのうち、前記記憶手段に記憶されたアドレスの画素データを補正する補正手段と、を有し、前記欠陥画素は、周辺の画素の画素データに基づく値との差分が閾値よりも大きくなる画素データを有する画素であって、前記予め定められた条件は、異なるカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、および、同じカラーフィルタの画素において隣接する複数の欠陥画素のうちの１つであること、の少なくともいずれかを含む。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置の概略構成を示すブロック図。
【図２】実施形態に係る画素構成の一例を示す図。
【図３】第１の実施形態における第１の欠陥画素検出方法を説明するための図。
【図４】実施形態に係る欠陥画素データの一例を示す図。
【図５】実施形態に係るＲＡＭに記憶される欠陥画素データを説明するための図。
【図６】実施形態に係るＲＯＭに記憶される欠陥画素データを説明するための図。
【図７】実施形態に係る第２のＲＡＭ領域に記憶する欠陥画素データの一例を説明するための図。
【図８】第１の実施形態における第１の欠陥画素検出方法による欠陥画素検出処理のフローチャート。
【図９】第１の実施形態における欠陥画素の検出領域を説明する図。
【図１０】第１の実施形態における第２の欠陥画素検出方法を説明するための図。
【図１１】第２の実施形態における第３の欠陥画素検出方法による欠陥画素検出処理のフローチャート。
【図１２】第２の実施形態における欠陥画素の検出領域を説明する図。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
９０４は２回目に設定される検出領域を示しており、図８のＳ１０４で設定される。検出領域９０４は直前に設定した検出領域９０３と、左端の一部の画素が重複している。これはＳ１０７の処理において、周囲の画素が欠陥画素であるかどうかを判定するために必要となる。このように、検出領域を設定する際、直前の検出領域と一部画素を重複させるように次の検出領域を設定する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４４】
図１１は、第２の実施形態における第１の欠陥画素検出回路１０３により行われる第３の欠陥画素検出方法のフローチャートを示す。第３の欠陥画素検出方法は、第１の実施形態で上述した第１の欠陥画素検出方法の代わりに行われる。Ｓ２００ではまず、入力画像に対し、図１２に示す左上の領域１２０２を検出領域に設定する。次のＳ２０１において、第１の欠陥画素検出回路１０３は、第１の実施形態において図３を参照して説明した処理を、Ｓ２００で設定した検出領域１２０２の各画素について順次行うことで、欠陥画素を検出する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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