【手続補正書】
【提出日】平成29年12月26日(2017.12.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
インタフェース部を介して入力したデータを処理して出力する処理部と、
前記インタフェース部を介して入力した制御データに基づいて前記処理部を制御する制御部と、
前記処理部の動作中における前記インタフェース部及び前記制御部内の複数のステータス情報が並列的に転送される第１レジスタ部と、
テストイネーブル端子からテストイネーブルが指示されたとき、前記第１レジスタ部が保有する複数のステータス情報を直列的に選択しながら順次テスト出力端子から所定の出力フォーマットに則って出力する動作を繰り返し制御し、前記テストイネーブル端子からテストディスエーブルが指示されたとき、前記ステータス情報の直列的な選択を中断した状態で同じステータス情報を前記テスト出力端子から継続的に出力する制御を行うテスト制御部と、を有する半導体デバイス。
【請求項２】
請求項１において、前記テスト制御部は、シーケンサ、カウンタ及びセレクタを有し、
前記シーケンサは、前記テストイネーブルの指示に応答して前記カウンタにラップアラウンドで計数動作させ、前記テストディスエーブルの指示に応答して前記カウンタの計数動作を中断させ、
前記カウンタの計数値は、前記第１レジスタ部が保有する複数のステータス情報の記憶領域を指示し、
前記セレクタは前記計数値が指示する前記記憶領域を選択して前記第１レジスタ部から前記ステータス情報を読み出す、半導体デバイス。
【請求項３】
請求項２において、前記第１レジスタ部は前記インタフェース部及び前記制御部の内部レジスタが保有する前記ステータス情報を夫々専用の信号線を介して夫々に固有の前記記憶領域に入力する、半導体デバイス。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１項において、前記テスト制御部による前記所定の出力フォーマットは、前記第１レジスタ部から一巡して選択した複数のステータス情報毎にその先頭にヘッダ情報を付加し、末尾にフッタ情報を付加したフォーマットである、半導体デバイス。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項において、前記処理部は、前記インタフェース部から入力した画像データに基づいて液晶表示パネルに画像表示するための表示駆動信号を出力する、半導体デバイス。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項において、前記テスト制御部は、半導体デバイスの内部モードを指定するモード信号が所定の状態にされている場合に前記テストイネーブル端子からの指示を有効とする、半導体デバイス。
【請求項７】
インタフェース部を介して入力したデータを処理して出力する処理部と、
前記インタフェース部を介して入力した制御データに基づいて前記処理部を制御する制御部と、
前記処理部の動作中における前記インタフェース部及び前記制御部内の複数のステータス情報が並列的に転送される第１レジスタ部と、
半導体デバイスに固有の複数の個別情報が記憶される第２レジスタ部と、
テストイネーブル端子からテストイネーブルが指示されたとき、前記第１レジスタ部が保有する複数のステータス情報及び前記第２レジスタ部が保有する複数の前記個別情報を直列的に選択しながら順次テスト出力端子から所定の出力フォーマットに則って出力する動作を繰り返し、前記テストイネーブル端子からテストディスエーブルが指示されたとき、前記ステータス情報及び前記個別情報の直列的な選択を中断した状態で同じステータス情報又は個別情報を前記テスト出力端子から継続的に出力する制御を行うテスト制御部と、を有する半導体デバイス。
【請求項８】
請求項７において、前記テスト制御部は、シーケンサ、カウンタ及びセレクタを有し、
前記シーケンサは、前記テストイネーブルの指示に応答して前記カウンタにラップアラウンドで計数動作させ、前記テストディスエーブルの指示に応答して前記カウンタの計数動作を中断させ、
前記カウンタの計数値は、前記第１レジスタ部及び前記第２レジスタ部が保有する複数のステータス情報及び固有情報の記憶領域を指示し、
前記セレクタは前記計数値が指示する前記記憶領域を選択して前記第１レジスタ部から前記ステータス情報を読出し又は前記第２レジスタ部から前記固有情報を読み出す、半導体デバイス。
【請求項９】
請求項８において、前記第１レジスタ部は前記インタフェース部及び前記制御部の内部レジスタが保有する前記ステータス情報を夫々専用の信号線を介して夫々に固有の前記記憶領域に逐次入力する、半導体デバイス。
【請求項１０】
請求項７乃至９のいずれか１項において、前記第２レジスタ部は、前記半導体デバイスのパワーオンリセット処理により不揮発性記憶装置から前記個別情報が初期設定される、半導体デバイス。
【請求項１１】
請求項７乃至９のいずれか１項において、前記テスト制御部による前記所定の出力フォーマットは、前記第１レジスタ部及び第２レジスタ部から一巡して選択した複数のステータス情報及び個別情報毎に、その先頭にヘッダ情報を付加し、末尾にフッタ情報を付加したフォーマットである、半導体デバイス。
【請求項１２】
請求項７乃至９のいずれか１項において、前記処理部は、前記インタフェース部から入力した画像データに基づいて液晶表示パネルに画像表示するための表示駆動信号を出力する、半導体デバイス。
【請求項１３】
請求項７乃至９のいずれか１項において、前記テスト制御部は、半導体デバイスの内部モードを指定するモード信号が所定の状態にされている場合に前記テストイネーブル端子からの指示を有効とする、半導体デバイス。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
そこで、ＬＣＤドライバ２は、処理部１２の動作中におけるエラーレジスタ２２及びステータスレジスタ３０の複数のステータス情報が並列的に転送される第１レジスタ部１５を有する。第１レジスタ部１５は、エラーレジスタ２２が保有するステータス情報を記憶する固有の記憶領域６０と、ステータスレジスタ３０が保有するステータス情報を記憶する固有の記憶領域６１を持ち、相互に専用の信号線８０，８１によって接続され、逐次必要な情報が内部転送されるようになっている。例えば、処理部１２などの動作クロックに同期して転送元から専用信号線８０，８１を介して転送先にステータス情報が逐次転送される。記憶領域６０,６１は。例えば、夫々個別のサンプリングレジスタとして構成されている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
第１レジスタ部１５及び第２レジスタ部１４に対する読出し制御はテスト制御部１３が行う。テスト制御部１３は、テストイネーブル端子ＴＥＳＴＩＮからテストイネーブルが指示されたとき、前記第１レジスタ部１５が保有する複数のステータス情報及び前記第２レジスタ部１４が保有する複数の前記個別情報を直列的に選択しながら順次テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ［７：０］から所定の出力フォーマットに則って出力する動作を繰り返す制御を行う。また、テスト制御部１３は、前記テストイネーブル端子ＴＥＳＴＩＮからテストディスエーブルが指示されたとき、前記ステータス情報及び前記個別情報の直列的な選択を中断した状態で同じステータス情報又は個別情報を前記テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ［７：０］から継続的に出力する制御を行う。テスト制御部１３は、特に制限されないが、シーケンサ５０、カウンタ５１及びセレクタ５２を有する。シーケンサ５０は、テストイネーブルの指示に応答してカウンタ５１にラップアラウンドで計数動作させ、テストディスエーブルの指示に応答してカウンタ５１の計数動作を中断させる。例えばカウンタ５１の４ビットを管理して計数動作させる場合には、初期値０を基点に最終値１５まで計数すると、再度値０に戻って計数動作を繰り返す、という動作とされる。カウンタ５１の計数値は、第１レジスタ部１５及び前記第２レジスタ部１４が保有する複数のステータス情報及び固有情報の記憶領域を指示する。セレクタ５２はカウンタ５１による計数値が指示する記憶領域を選択して第１レジスタ部１５から前記ステータス情報を読み出し、又は前記第２レジスタ部１４から前記固有情報を読み出す。読み出された情報は順次テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ７−０から出力される。特に本実施の形態では、半導体デバイス１の内部モードを指定するモード信号ＩＭ１−０が所定のコードにされている場合にテストイネーブル端子ＴＥＳＴＩＮからの指示を有効とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
先ず、パワーオフ状態（Ｓ１）の半導体デバイス１に対してパワーオンの指示により（Ｔ１）、半導体デバイス１のパワーオンリセットが指示される（Ｔ２）。これにより不揮発性メモリ１６の記憶情報が第２レジスタ部１４の記憶領域７０，７１及び制御部１１内の制御レジスタに初期設定される（Ｓ２）、その後，ＬＣＤドライバ２はスリープ状態にされる（Ｓ３）。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
表示制御が開始されると、その動作に応じてエラーレジスタ２２及びステータスレジスタ３０に逐次ステータス情報が保持されていく。エラーレジスタ２２及びステータスレジスタ３０に保持されたステータス情報は動作クロックに同期して逐次第１レジスタ部１５の記憶領域６０,６１に格納される。テスト制御部１３はテスト出力動作を自動的に繰り返す（Ｓ６）。このテスト出力動作とは、ラップアラウンドで計数動作されるカウンタ５１の計数値をアドレスとしてセレクタ５２で第１レジスタ部１５及び第２レジスタ部１４の記憶領域をバイト単位で選択し、選択した情報を上記出力フォーマットに従って順次テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ［７：０］からバイト単位で直列的に出力する動作である。テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ［７：０］は図示を省略するテスタ又はデバッガなどに接続され、テスト出力端子ＤＡＴＡ＿Ｇ［７：０］からの出力がテスト又はデバッグに供される。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
ホスト装置４からスリープの指示があると（Ｔ８）、ＬＣＤドライバ２のスリープモードが設定され（Ｓ９）、内部の動作クロック信号が停止され（Ｓ１０）、これによってテスト制御部１３によるテスト出力動作が停止される（Ｓ１１）。ホスト装置４からパワーオフの指示があれば半導体デバイス１の電源が遮断される（Ｓ１２）。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
（４）出力フォーマットの先頭はヘッダＨＤで識別でき、その末尾はフッタＦＴで識別できるから、第１レジスタ部１５及び第２レジスタ部１４の出力が何回繰り返されても、個々のバイトデータの種別を見失うことはない。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
図５及び図６ではクロックＣＬＫのサイクルがカウンタ５１の計数サイクルと同じように図示されているが、それに限定されるものではない。カウンタ５１の計数用クロックは内部同期動作用のクロックＣＬＫを分周して得られるサイクルのクロック信号であってもよい。