【事件の表示】
　平成５年特許願第２１４８５７号「蛍光Ｘ線分析方法」拒絶査定不服審判事件〔平成７年２月２１日出願公開、特開平７−４９３１９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．経緯・本願発明
　本願は、平成５年８月５日の出願であって、平成１４年８月２７日に拒絶の査定がなされ、これに対し、同年９月２７日に不服の審判請求がなされたものであるところ、その請求項１ないし３に係る発明は、平成１４年５月２２日、同年１０月２５日の手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された次のとおりのものと認める（以下、それぞれ、「本願発明１」「本願発明２」「本願発明３」という。）。
　
「【請求項１】試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な計算条件とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の計算条件のなかから前記試料に最適の計算条件を自動的に設定し、この設定された計算条件を用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。
　【請求項２】試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な一点校正のデータとを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の一点校正のデータのなかから前記試料に最適の一点校正のデータを自動的に設定し、この設定された一点校正のデータを用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。
　【請求項３】試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な検量線とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の検量線のなかから前記試料に最適の検量線を自動的に設定し、この設定された検量線を用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。」
　
２．刊行物
　
２−１　刊行物１
　上記査定の拒絶の理由に引用された特公昭５９−３０２１３号公報（以下「刊行物１」という。）には、蛍光Ｘ線分析を含む分析方法に関し、次の事項が記載ないし図示されている。
　
（記載事項ａ）
「・・・蛍光Ｘ線分析等の機器分析方法は、単一の分析装置で、多種類の元素を定量分析できるため、広く用いられている。一般に機器分析は、分析試料の対象等により・・・検量線の選択を必要とする。
　又、このような分析装置は・・・第１図に示す如く、分析装置１０に計算機１２が接続されて用いられることが多い。・・・このような機器分析装置における分析手順は、第２図に示すごとくである。即ち、試料を・・・分析装置にセットする。又、試料種類に応じて、分析条件、検出系、データ処理条件等の最適設定を・・・行い、分析装置１０で機器分析を行う。分析装置１０から出力された生データは、計算機１２に送られ、ここで検量線等を用いてデータ処理され、必要に応じて・・・出力するようにされている。
　ところが・・・その分析対象が・・・多品種、多種別にわたるものにおいては、その各々について精度良く定量分析を行うためには、各種試料ごとに分析条件、検出系、検量線等を設定する必要がある。そのため、従来は、分析開始前に予め当該分析試料に合致した分析条件等を、オペレータが一々設定していたが・・・設定ミス或いは操作ミスが生じやすいという問題があった。・・・
　本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなされたもので・・・自動的に最適条件で分析或いはデータ処理が行われる機器分析方法を提供することを目的とする。」（１頁２欄２行〜２頁３欄１６行）
　
（記載事項ｂ）　
「・・・本実施例が適用される分析装置は、第３図に示すごとく、分析装置１０と・・・計算機１２とから構成される。
　以下前記分析装置を用いた分析方法の実施例を第４図を参照して詳細に説明する。試料採取から試料調製し、分析装置に試料をセットするまでは第２図の従来方法と同様である。なお前記試料調製に先立ち、予め必要な分析元素・・・について、その含有率を例えば４水準に分類し、第１表に示すごとく選択表を作成し、各試料毎に応じて試料の種類をコード番号化して、各種類に対応する・・・最適データ処理条件（例えば検量線）を計算機に記憶させておく。
　まず・・・予備分析を行って未知試料のコード番号を知る。・・・計算機においては、予備分析結果から得られた試料コードと予め記憶されている試料コードとを対照し、計算機に記憶されているコード中に未知試料コードと一致するものがあれば、これにより未知試料の種類を判定し、コード番号に応じて予め計算機に記憶されている・・・最適データ処理条件を自動的に再設定して、本分析を行う。・・・」（２頁３欄３９行〜４欄４欄２６行）
　
（記載事項ｃ）
「前記実施例においては、本分析の前に予備分析を行うようにしていたが、各試料間の共通性が高く、試料毎に分析条件及び検出系を変える必要がない場合には、必ずしも本分析を再び行う必要はなく、第５図に示すごとく、試料判別により検量線等のデータ処理条件のみを再設定し、データ処理精度を高めることも可能である。
　本実施例においては、分析が１回で良いため、分析所要時間が短くできる。」（３頁５欄１５〜２３行）
　
（記載事項ｄ）　
「又、同じく機器分析方法において、予め、分析元素の含有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の種類毎にコード化して計算機で記憶しておき、分析を行って、まず、仮データ処理条件により、データ処理して未知試料のコードを知り、前記記憶コードと対照して未知試料の種類を計算機により判定し、次いで、該試料種類に応じて自動的に再選定された適切なデータ処理条件を用いて再データ処理し、元素を定量するようにしたので、オペレータの手を煩わせることなく各試料毎に最適データ処理条件を使用してデータ処理でき、データ処理が極めて容易となるだけでなく、オペレータの設定ミスによる誤処理も防止できるという優れた効果を有する。」（３頁６欄１４〜２７行）
　
２−２　刊行物２
　上記査定の拒絶の理由に引用された特開平４−３４３０５１号公報（以下「刊行物２」という。）には、未知試料の特性Ｘ線スペクトルの解析に関し、次の事項が記載ないし図示されている。
　
（記載事項ｅ）
「【００１９】ｄ．スペクトル比較法
　・・・未知試料特性Ｘ線スペクトルを・・・ディスプレイ２に通常画面で描画表示する。その後・・・比較モードに切り換えると共に・・・基礎材料スペクトルデータベース１０を選択し、スペクトルデータファイルを検索し・・・所望の比較基礎材料特性Ｘ線スペクトルに対応した・・・スペクトルデータファイルを・・・メモリ６へ読み込み、その後、比較Ｘ線スペクトル用メモリ６から読み出した比較基礎材料特性Ｘ線スペクトル及び前記未知試料特性Ｘ線スペクトルを・・・ディスプレイ２に第７図に示すように、上下２段に比較画面で描画表示し、スペクトルの比較及び元素同定を行う。しかし、前記比較基礎材料特性Ｘ線スペクトルは使用される可能性の高い限定された基礎材料を波長分散型電子線マイクロアナライザで実測した特性Ｘ線スペクトルであるため、スペクトルの比較及び元素同定を十分に行うことができない場合・・・には・・・標準試料スペクトルデータベース９を選択し・・・所望の比較標準試料特性Ｘ線スペクトルに対応した・・・データファイルを・・・メモリ６へ読み込み、その後・・・メモリ６から読み出した比較標準試料特性Ｘ線スペクトル及び前記未知試料特性Ｘ線スペクトルを・・・ディスプレイ２に、上下２段に比較画面で描画表示し、スペクトルの比較及び元素同定を行う。
　【００２０】尚、同一画面上に、未知試料特性Ｘ線スペクトルと比較基礎材料特性Ｘ線スペクトル、あるいは未知試料特性Ｘ線スペクトルと比較標準試料特性Ｘ線スペクトルを重ねて表示するようにしてもよい。」
　
（記載事項ｆ）
「【００２２】
　【発明の効果】・・・本発明によれば・・・未知試料特性Ｘ線スペクトルをディスプレイに表示すると共に所定の既知試料の特性Ｘ線スペクトル・・・既知試料データベースから検索してディスプレイに表示して未知試料の特性Ｘ線スペクトルを解析し元素同定・・・を行うことにより、特性Ｘ線スペクトルチャートからの元素同定・・・を短時間且つ正確に行うことができる。」　
　
２−３　刊行物３
　上記査定の拒絶の理由に引用された特開平３−７３８３３号公報（以下「刊行物３」という。）には、蛍光Ｘ線分析装置を含む自動定性分析装置に関し、次の事項が記載ないし図示されている。
　
（記載事項ｇ）　
「Ａ．産業上の利用分野
　この発明は、電子線マイクロアナライザ（ＥＰＭＡ）、蛍光Ｘ線分析装置・・・のような定性分析装置で採取されたスペクトルデータからピークデータを検出し、各々のピークデータに該当する物質名を自動的に判定する自動定性分析装置に関する。」（１頁右下欄１０〜１７行）
　
（記載事項ｈ）
「元素の存在の可能性を判定する知識としてのルールは・・・元素ごとに異なり、その数は数百に及ぶので、その一例を次に示す。
　例えば、Ｘ線分光結晶Ｃ１のデータ中に元素Ａｌのピークがでているかどうかを判断するためのプロダクションルールにおいて、
　１［審決注、丸付き］・・・元素Ａ１のピークが存在しないことがないこと、
　２［審決注、丸付き］・・・元素Ａｌの判定に最も適したピーク（メイン線）が検出されていること、
　３［審決注、丸付き］・・・メイン線に準ずるピーク（サブ線）が検出されていること、
　４［審決注、丸付き］半価幅、ピーク形状が元素Ａｌのそれと似ていること、
　などの条件を満たす場合に、元素Ａｌの存在の可能性があると推定され、元素Ａｌが候補元素として挙げられる。
　・・・多くの元素はピーク波長に注目すればその存在を推定することができるので、上記１［審決注、丸付き］ないし３［審決注、丸付き］の条件で十分である場合が多いが、ピーク波長のみによって判定することが困難な元素については上記４［審決注、丸付き］条件が付加される。」（５頁左上欄１２行〜左下欄７行）
　
３．対比・判断
　
３−１　本願発明１
　本願発明１と刊行物１に記載された発明（以下「刊行物１発明」という。）とを対比すると、刊行物１には、蛍光Ｘ線分析を含む分析方法について、分析装置に試料をセットして分析を行い、計算機に送られた出力データを検量線等を用いてデータ処理することが記載されているところ（記載事項ａ参照）、かかる記載から、当業者ならば、技術常識を加味して、本願発明１の『試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法』に相当する構成を把握し得ることは明らかであり、
　刊行物１発明において、予め、試料の種類毎に、分析元素の含有率に基づいて付与したコード番号と、該試料種類に対応する検量線等の最適データ処理条件を計算機に記憶させているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明１で『複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な計算条件とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録』するのに対応し、
　刊行物１発明において、予備分析を行って未知試料のコード番号を知り、計算機で予備分析結果から得られた試料コードと予め記憶されている試料コードとを対照することにより、未知試料の種類を判定しているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明１で『試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定』するのに対応し、
　刊行物１発明において、該試料種類に応じて自動的に再選定された適切な検量線等のデータ処理条件を用いて再データ処理し、元素を定量しているのは（記載事項ｃ，ｄ参照）、本願発明１で『予め登録されている複数の計算条件のなかから前記試料に最適の計算条件を自動的に設定し、この設定された計算条件を用いて前記試料についての濃度計算を行う』のに対応しているから、
　
　結局、本願発明１と刊行物１発明とは、
　
（一致点）
「試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料に係るデータと前記既知試料にそれぞれ最適な条件とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるデータと前記予め登録されている複数のデータとを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の条件のなかから前記試料に最適の条件を自動的に設定し、この設定された条件を用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。」
　
　である点で一致し、次の点で一応相違している。
　
＜相違点１＞
　未知試料の種類を判定するために、本願発明１では、複数の既知試料の『横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータ』を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の『スペクトルデータの形状』を比較するようにしているのに対し、刊行物１発明では、「試料の種類毎に、分析元素の含有率に基づいて付与したコード番号」を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の「コード番号」を比較するようにしている点。
　
＜相違点２＞
　未知試料の種類が判定された後に複数の条件のなかから自動的に設定される前記試料に最適な条件が、本願発明１では『計算条件』であるのに対し、刊行物１発明では「検量線などのデータ処理条件」と記載してある点。
　
　上記相違点１について検討する。
　未知試料の特性Ｘ線スペクトルデータを複数の比較用既知試料の特性Ｘ線スペクトルデータと比較することにより、当該未知試料の元素の同定等を行うことは、引用例を示すまでもなく周知であるところ、横軸に特性Ｘ線の波長、縦軸にカウント数を表すようにした複数の既知試料の特性Ｘ線スペクトルデータを予めデータベース（データ収集装置）に格納（登録）しておき、未知試料のスペクトルデータと既知試料のスペクトルデータを上下２段に描画表示したり、重ねて表示してスペクトルの比較及び元素同定を行うことは、上記刊行物２で知られており、これも未知試料のスペクトルデータと既知試料のスペクトルデータの『形状』を比較しているとみることができるから、刊行物１発明において、複数の既知試料について、分析元素の含有率に基づくコード番号をデータ収集装置に予め登録しておき、未知試料のコード番号を既知試料のそれと比較するのに代えて、刊行物２に記載されるように、複数の既知試料の『横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータ』を予めデータ収集装置に登録しておき、未知試料と既知試料の『スペクトルデータの形状』を比較することにより未知試料の種類を判定することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　なお、仮に、スペクトルデータの『形状』を比較することまでは刊行物２に記載されていないとの主張がなされ、それが成立するとしても、未知試料と既知試料のスペクトルデータを比較する際、ピーク波長のみによっては元素の有無の判定が困難である場合に、ピークデータの半値幅やピーク形状をも考慮に入れて判定をすることが、上記刊行物３に明記されているから、刊行物１発明において、刊行物２に記載されるように、複数の既知試料の『横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータ』を予めデータ収集装置に登録しておき、刊行物３に明記されるように、未知試料と既知試料の『スペクトルデータの形状』を比較することにより未知試料の種類を判定することは、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　ところで、請求人は、審判請求書（補正書）において、刊行物１のものは「定量分析を行う」ものなのに対し、刊行物２及び３のものは「定性分析」を行うものであり、これらを互いに組み合わせる蓋然性がない旨主張しているが（上記補正書９頁下から６行〜１１頁１４行）、「定量分析」は特定の分析元素についてなされるのであるから、当該試料の成分構成が不明である場合には、「定量分析」に先立って「定性分析」により試料の成分構成を明らかにしておくことは、正確な定量分析を行う上での前提条件ともいうべきであり（例えば特開平４−２０４３６２号公報の２頁右上欄６〜７行や同頁左下欄４〜６行の記載を参照。）、請求人も「一般に・・・未知試料を定量分析するには、定性分析を行ってどのような物質（元素）が含まれているかの確認するだけでは濃度計算を行うことができず、その未知試料に適した最適の計算条件を設定する必要がある」（上記補正書８頁９〜１２行）と記載しているとおりであるから、請求人の上記主張を採用することはできない。
　
　また、請求人は、上記審判請求書（補正書）において、刊行物１に関し、（１）本分析を行うに先立って、本分析と同様の手順によって予備分析を行って、未知試料の種類の判定を行うようにしている、（２）分析元素の含有率を元素ごとの水準に分類し、試料の種類ごとにコード化していることからも分かるように、どのような元素が含まれているかが予め分かっている試料に対して分析条件を設定している、（３）検出できる元素の情報のみを扱って条件設定を行っており、蛍光Ｘ線分析装置のような軽元素を検出できない装置において、試料が酸化物であるのか、水溶液であるのか、純粋な金属であるのかといった試料の種類を判断し、最適な計算条件を自動的に設定することは不可能、という旨も主張しているが（上記補正書８行目最終行〜９頁下から７行）、上記（１）〜（３）は、いずれも、本願発明の構成とは関係のないところで刊行物１に記載された技術内容を説明するにすぎず、上記容易想到性の判断に影響を及ぼすものではない。
　
　次に、上記相違点２について検討する。
　未知試料の種類が判定された後に複数の条件のなかから自動的に設定される前記試料に最適な条件が、刊行物１発明では「検量線などのデータ処理条件」であるところ、そもそも検量線とは、分析元素の含有率と蛍光Ｘ線強度との関係式であり、当該未知試料の分析元素の含有率は、当該未知試料について測定したＸ線強度を上記関係式を用いて計算等により得られるのであるから、本願発明１にいう『計算条件』に含まれると解され、上記相違点２は実質的な相違点ではない。なお、仮に、検量線自体は、本願発明１にいう『計算条件』には含まれないとの主張がなされ、それが成立するとしても、検量線法で分析元素の含有率を求める際、共存元素の影響（吸収・励起及びスペクトルの重なり）が無視できないときに、計算によりこれらの影響を補正することは技術常識に属する事項であり、この計算補正に用いる条件は、本願発明１にいう『計算条件』に相当するものといわざるを得ないから、刊行物１発明において、未知試料の種類の判定後に複数の条件のなかから自動的に設定される当該未知試料に最適な条件として、「共存元素の影響を補正するための『計算条件』」を採用することは、当業者が容易になし得ることである。
　
　そして、本願発明１によってもたらされる効果も、上記刊行物及び出願時に周知の技術等から、当業者が予測し得る範囲のものである。
　
　したがって、本願発明１は、刊行物１及び２、又は、刊行物１ないし３に記載された発明及び本件出願時に周知の技術等に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３−２　本願発明２
　本願発明２と刊行物１発明とを対比すると、上記「３−１」で示したのと同様にして、刊行物１の記載事項ａから、当業者ならば、本願発明２の『試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法』に相当する構成を把握し得ることは明らかであり、
　刊行物１発明において、予め、試料の種類毎に、分析元素の含有率に基づいて付与したコード番号と、該試料種類に対応する検量線を計算機に記憶させているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明２で『複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な一点校正のデータとを関連付けて前記データ収集装置に予め登録』するのに対応し、
　刊行物１発明において、予備分析を行って未知試料のコード番号を知り、計算機で予備分析結果から得られた試料コードと予め記憶されている試料コードとを対照することにより、未知試料の種類を判定しているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明２で『試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定』するのに対応し、
　刊行物１発明において、該試料種類に応じて自動的に再選定された適切な検量線を用いて再データ処理し、元素を定量しているのは（記載事項ｃ，ｄ参照）、本願発明２で『予め登録されている複数の一点校正のデータのなかから前記試料に最適の一点校正のデータを自動的に設定し、この設定された一点校正のデータを用いて前記試料についての濃度計算を行う』のに対応しているから、
　
　結局、本願発明２と刊行物１発明とは、
　
（一致点）
「試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料に係るデータと前記既知試料にそれぞれ最適な検量線とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるデータと前記予め登録されている複数のデータとを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の検量線のなかから前記試料に最適の検量線を自動的に設定し、この設定された検量線を用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。」
　
　である点で一致し、次の点で相違している。
　
＜相違点１’＞
　未知試料の種類を判定するために、本願発明２では、複数の既知試料の『横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータ』を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の『スペクトルデータの形状』を比較するようにしているのに対し、刊行物１発明では、「試料の種類毎に、分析元素毎の含有率に基づいて付与したコード番号」を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の「コード番号」を比較するようにしている点。
　
＜相違点３＞
　未知試料の種類が判定された後に複数の条件のなかから自動的に設定される前記試料に最適な検量線が、本願発明２では『一点校正のデータ』であるのに対し、刊行物１発明では「検量線」としか記載されていない点。
　
　上記相違点１’について検討するに、上記「３−１」において、相違点１についての判断で示したのと同様の理由により、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　上記相違点３について検討する。
　標準化試料一点のみによって検量線の校正を行う一点補正法は、検量線の両端の試料を標準化試料とする２点補正法と並んで周知の校正方法であるから、刊行物１発明において設定する検量線を、「一点校正」を行ったデータ（検量線）とすることは、より正確な定量分析を行う観点から、当業者が容易になし得ることである。
　
　したがって、本願発明２は、刊行物１及び２、又は、刊行物１ないし３に記載された発明及び本件出願時に周知の技術等に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
３−３　本願発明３
　本願発明３と刊行物１発明とを対比すると、上記「３−１」で示したのと同様にして、刊行物１の記載事項ａから、当業者ならば、本願発明３の『試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法』に相当する構成を把握し得ることは明らかであり、
　刊行物１発明において、予め、試料の種類毎に、分析元素の含有率に基づいて付与したコード番号と、該試料種類に対応する検量線を計算機に記憶させているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明３で『複数の既知試料の、横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータと前記既知試料にそれぞれ最適な検量線とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録』するのに相当し、
　刊行物１発明において、予備分析を行って未知試料のコード番号を知り、計算機で予備分析結果から得られた試料コードと予め記憶されている試料コードとを対照することにより、未知試料の種類を判定しているのは（記載事項ｂ参照）、本願発明３で『試料を測定したときに得られるスペクトルデータと前記予め登録されている複数のスペクトルデータの形状とを比較することにより前記測定された試料の種類を判定』するのに対応し、
　刊行物１発明において、該試料種類に応じて自動的に再選定された適切な検量線を用いて再データ処理し、元素を定量しているのは（記載事項ｃ，ｄ参照）、本願発明３で『予め登録されている複数の検量線のなかから前記試料に最適の検量線を自動的に設定し、この設定された検量線を用いて前記試料についての濃度計算を行う』のに対応しているから、
　
　結局、本願発明３と刊行物１発明とは、
　
（一致点）
「試料に対してＸ線を照射し、そのとき発生する蛍光Ｘ線を検出器で検出し、この検出器の出力をデータ収集装置で処理してスペクトルデータを得るようにした蛍光Ｘ線分析方法において、複数の既知試料に係るデータと前記既知試料にそれぞれ最適な検量線とを関連付けて前記データ収集装置に予め登録しておき、試料を測定したときに得られるデータと前記予め登録されている複数のデータとを比較することにより前記測定された試料の種類を判定し、その後、前記予め登録されている複数の検量線のなかから前記試料に最適の検量線を自動的に設定し、この設定された検量線を用いて前記試料についての濃度計算を行うことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。」
　
　である点で一致し、次の点で相違している。
　
＜相違点１”＞
　未知試料の種類を判定するために、本願発明３では、複数の既知試料の『横軸に蛍光Ｘ線のエネルギーを表し縦軸にカウント数を表したスペクトルデータ』を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の『スペクトルデータの形状』を比較するようにしているのに対し、刊行物１発明では、「試料の種類毎に、分析元素毎の含有率に基づいて付与したコード番号」を予めデータ収集装置に登録しておき、前記未知試料と前記複数の既知試料の「コード番号」を比較するようにしている点。
　
　上記相違点１”について検討するに、上記「３−１」において、相違点１についての判断で示したのと同様の理由により、当業者が容易に想到し得ることである。
　
　したがって、本願発明３は、刊行物１及び２、又は、刊行物１ないし３に記載された発明及び本件出願時に周知の技術等に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願発明１ないし３は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから、本願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。