【事件の表示】
　平成　４年特許願第３４２２５５号「レーザー測距センサーの処理方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　６年　７月１５日出願公開、特開平　６−１９４１６０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成４年１２月２２日に出願されたものであって、本願の請求項１及び２に係る発明は、平成１３年１１月１２日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１及び２に記載されたとおりのものであって、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明１」という。）及び請求項２に係る発明（以下「本願発明２」という。）はそれぞれ次のとおりのものと認める。
・本願発明１「測距対象物体に一定の時間間隔をおき強弱をつけてレーザー光を投光し、測距対象物体での反射光を受光し、受光した反射光の重心位置を半導体位置検出素子で検出して投光量が多い場合の位置信号として高電位レベルの２種類の電流値及び投光量が少ない場合の位置信号として低電位レベルの２種類の電流値をアナログデータとして出力する光学ヘッドと、この光学ヘッドからの位置信号としての上記４つの電流値を電流／電圧変換し増幅した後、アナログデータをＡ／Ｄ変換してデジタルデータを出力するアナログ信号処理部と、このアナログ信号処理部からのデジタル化された上記４つの測距信号をもとに三角測距の原理を用いて測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用い算出するデジタル信号処理部と、このデジタル信号処理部の測距値演算装置に用いられるプログラムやデータを格納するメモリ装置と、デジタル信号処理部で計算される測距対象物体の変位量データを出力する測距値データ出力部とを備え、アナログ信号処理部では回路が飽和してもしなくても上記４つの測距信号をデジタル信号処理部に出力し、デジタル信号処理部では受け取った４つの測距信号のそれぞれについて測距信号値の絶対値が所定の閾値を越えているかどうか判断し、４つの測距信号値がひとつでも閾値を越えている場合はアナログ信号処理部の回路が飽和していると判定するようにしたことを特徴とするレーザー測距センサーの処理方法。」
・本願発明２「測距対象物体にレーザーを投光し、測距対象物体での反射光を受光し、受光した反射光の重心位置を半導体位置検出素子で検出して、検出された反射光の重心位置信号を電流量アナログデータとして出力する光学ヘッドと、この光学ヘッドからの位置信号を電流／電圧変換して測距信号増幅部により増幅した後、電圧値に変換された測距信号をＡ／Ｄ変換することによりデジタルデータを出力するアナログ信号処理部と、測距値を演算する測距値演算装置に必要な実行手順やデータを保存しているメモリ装置の実行手順に従って、アナログ信号処理部の測距値演算装置の増幅率を調整する増幅率調整信号をアナログ信号処理部に出力し、また、アナログ信号処理部からのデジタル化された測距信号をもとに三角測距の原理を用いて測距対象物体の変位量を算出するデジタル信号処理部と、デジタル信号処理部で計算される測距対象物体の変位量データや、アナログ信号処理部の回路が飽和状態であるブライト状態や、アナログ信号処理部で処理される測距信号が非常に小さく各種のノイズの影響を受けてデジタル信号処理部の測距値演算装置での測距値計算に支障をきたす状態であるダーク状態であることを示すデータを出力するデータ出力部とを備え、デジタル信号処理部の測距値演算装置の演算により上記ブライト状態の場合及びダーク状態の場合が一定期間内に一定以上の割合で起きた時、測距値演算装置がアナログ信号処理部の測距信号増幅部に増幅率調整信号を送り、アナログ信号処理部の測距信号増幅率を適正に変更する増幅率調整処理系を備えたことを特徴とするレーザー測距センサー装置。」
　
２．引用刊行物記載の発明
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平４−１９９０１３号公報（以下、「引用刊行物Ａ」という。）には、
（Ａ−１）「本発明は被写体に測距光を投光し、被写体からの反射光を受光して測距を行うアクティブタイプの測距方法に関するものである。・・・受光素子として、半導体位置検出器（ＰＳＤ・・・）が多く用いられてきている。」（第１頁右下欄第４〜１８行）こと、
（Ａ−２）「測距演算用の測定データを取り込む前に、・・・ゲインコントロールアンプの出力信号が飽和状態にあるときには、適切なゲイン決定が不可能であるから、被写体が極近距離にあると判断して距離信号は至近距離に対応した値に設定される。」（第２頁右下欄第２〜８行）こと、
（Ａ−３）「本発明の測距装置の構成を概略的に示した第１図において、投光部２は光源部３と投光レンズ４から構成され、・・・光源部３は、それぞれ近赤外光を発する３個のＬＥＤ・・・からなる。・・・受光部７は受光レンズ８とＰＳＤ９とから構成され・・・ＰＳＤ９は入射光の光量及び入射位置に応じた信号を各々の出力端子９ａ，９ｂから出力する。・・・出力端子９ａ，９ｂからの出力信号の比の和と差の比もとにして、入射光の光量に依存せずに、その入射位置に対応した信号を得ることができる。・・・ＬＥＤ３ａ〜３ｃはオートフォーカスＩＣ１２からの信号により、・・・発光制御される。・・・マイクロコンピュータ１４は、前述のようにして得られる第１，第２チャンネルの出力信号を基に演算を行い、被写体距離と相関をもった距離信号を算出する。そして、マイクロコンピュータ１４によって算出された距離信号に対応して撮影レンズ５のセット位置が決定される。」（第３頁左上欄第１行〜左下欄第１行）こと、
（Ａ−４）「オートフォーカスＩＣ１２は・・・ロジック回路１５、ゲインコントローラ１６の他、ＰＳＤ９の出力端子９ａ，９ｂから出力されてくる第１、第２チャンネルの信号電流を電圧に変換するプリアンプ１７ａ，１７ｂ、ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂ、サンプルホールド回路２０ａ，２０ｂ、バッファアンプ２１ａ，２１ｂ等からなっている。ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂは、・・・ＰＳＤ９に入射してくる反射光の光量が低下して出力端子９ａ，９ｂからの信号電流の絶対値が小さくなることを考慮して設けられたもので・・・マイクロコンピュータ１４は、ＣＰＵ２４，・・・Ａ／Ｄコンバータ２６の他、測距シーケンス実行用のプロクラムを格納したＲＯＭ２７及び測距シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを一時的に格納するＲＡＭ２８からなる。・・・Ａ／Ｄコンバータ２６は、オートフォーカスＩＣ１２から供給されてくるアナログ信号を、その信号電圧レベルに対応して８ビットのデジタル値・・・に変換する。」（第３頁左下欄第２０行〜第４頁右上欄第１行）こと、
（Ａ−５）「第４図は　基本的な測距シーケンスの手順を示すフローチャートで、・・・その信号レベルに応じてゲインコントロールアンプのゲインを最適値に決めるゲイン決定処理、こうして決められたゲインのもとで改めて測定データを取り込み、その測定データに基づいて測距演算を行う処理が順次に実行される。」（第４頁右上欄第１８行〜左下欄第７行）こと、
（Ａ−６）「第１図の状態ではＬＥＤ３ａからの測距光が主要被写体Ｓ１に照射され、その反射光が受光レンズ８を通ってＰＳＤ９に入射する。そしてこのときにＰＳＤ９の両端子９ａ，９ｂから出力される信号はＰＳＤ９に入射した光の強度及び入射位置の情報を含んでいる。・・・これらの信号が各々デジタル変換された後、測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２として取り込まれると、そのいずれかが１６進数で「Ｆ０」（十進数では「２４０」）に達しているか否かが判断される。そして、そのいずれかが「Ｆ０」以上である場合には、レベルが高すぎてほぼオーバーフロー（飽和）状態であると判定される。このように一方の測定データが飽和状態に達していることは、ＰＳＤへの入射光量が極めて大きく、測定データとしては信頼性に欠けることを意味している」（第５頁左下欄第２０行〜第５頁右下欄第１７行）こと、
（Ａ−７）「以上の処理によって「ＧＡＩＮ」の値が決定されると・・・引続きＬＥＤ３ａによる測距処理が実行される。・・・この測距処理は、ＬＥＤ３ａを１ｍｓｅｃの時間間隔で１８回点灯させ、その都度、ＡＦＤ１，ＡＦＤ２を読み込む。そして毎回のＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読み込み時には、そのいずれかがオーバーフローしているか、もしくはその値が「１５」未満で測定データの絶対値としては不充分なものであるかが判定され、該当するときには不適切測距であることを表す「ＯＶＣＯＵＮＴ」を「１」ずつカウントアップしてゆく。「ＯＶＣＯＵＮＴ」が「３」に達したときには、ゲイン決定処理で決めたゲインの値が不適切であるものとして判定し、・・・「ＧＡＩＮ」を「１」低く再設定して最初から測距処理をやり直す。」（第７頁左下欄第６行〜右下欄第４行）こと、
（Ａ−８）「こうしてチャンネルごとに得られた平均値は、新たに平均後の測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２として更新され、第１０図の処理にしたがって、オフセット値の補正の後、加算測定データＡＤＡＤＤ，減算測定データＡＦＤＩＦに変換される。そして、これらの比の値に「１２８」を乗じて「ＡＦＲＥＳＵＬＴａ」を算出し、ＬＥＤ３ａを用いた測距処理が終了する。」（第８頁左上欄第１４行〜右上欄第１行）ことが記載されている。
     
　以上の記載のうち上記（Ａ−１）〜（Ａ−８）の記載を参照すると、上記引用刊行物Ａには、
「被写体にＬＥＤからの測距光を投光し、被写体での反射光を受光し、受光した反射光を受光レンズ８を介して受光素子としてＰＳＤ（＝半導体位置検出器）９で検出して、検出された反射光の入射位置に応じた信号としての２種類の信号電流として出力する受光部７と、この受光部７からの信号電流をプリメインアンプ１７Ａ，１７Ｂで電流／電圧変換してゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂにより増幅した後、電圧値に変換された信号をＡ／Ｄ変換することによりデジタル値を出力するＡ／Ｄコンバータ２６と、Ａ／Ｄコンバータ２６のデジタル化された２つの測定データＡＦＤ１，ＡＦＤ２をもとに測距演算するマイクロコンピュータ１４と、測距シーケンス実行用のプログラムを格納しているＲＯＭ２７や測距シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを一時的に保存するＲＡＭ２８とを備え、マイクロコンピュータ１４はＡ／Ｄコンバータ２６からの２つの測定データを受け取り、２つの測定データがそれぞれ所定値以上であるかを判断し、２つの測定データの何れかが所定値を越えている場合は飽和状態であると判定するようにしたことを特徴とするＬＥＤからなる測距装置の処理方法。」の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されている。
　さらに、上記（Ａ−１）〜（Ａ−８）を参照すると、上記引用刊行物Ａには「被写体にＬＥＤからの測距光である近赤外光を投光し、被写体での反射光を受光し、受光した反射光を受光レンズ８を介して受光素子としてＰＳＤ（＝半導体位置検出器）９で検出して、検出された反射光の信号電流のアナログ信号をデータとして出力する受光部７と、この受光部からのアナログ信号をプリアンプ１７Ａ，１７Ｂで電流／電圧変換してゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂにより増幅した後、電圧値に変換された信号をＡ／Ｄ変換することによりデジタル値を出力するＡ／Ｄコンバータ２６と、測距シーケンス実行用のプログラムを格納しているＲＯＭ２７や測距シーケンス実行に際して得られるデータや各種フラグを一時的に保存するＲＡＭ２８の測距シーケンスに従って、アナログ信号処理部のゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂの増幅率を調整する増幅率調整信号をロジック回路に出力し、また、アナログ信号からのデジタル化された測距信号をもとに被写体の距離を算出するマイクロコンピュータ１４と、マイクロコンピュータ１４で計算される被写体の距離信号や、Ａ／Ｄコンバータ２６からのデジタル値が飽和状態や、Ａ／Ｄコンバータ２６からのデジタル値が「１５」未満で測定データの絶対値として不十分なものである状態であることを示すデータを出力する判定部とを備え、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭの演算によりデジタル値が飽和状態や、Ａ／Ｄコンバータ２６からのデジタル値が「１５」未満で測定データの絶対値として不十分なものである状態が１８回の点灯期間内に３以上の割合で起きた時、マイクロコンピュータ１４がゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂに増幅率調整信号を送り、ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂの増幅率を「１」低く再設定する測距処理を備えたことを特徴とするＬＥＤからなる測距装置。」の発明（以下「引用発明２」という。）も記載されている。　
　また、同じく、原査定の拒絶の理由に引用された特開平１−２０２６１４号公報（以下、「引用刊行物Ｂ」という。）には、
（Ｂ−１）「本発明は、変調光を測距対象に投光しその反射光に基づいて測距を行うアクティブ測距装置に関する。」（第２頁左上欄第１４〜１６行）こと、
（Ｂ−２）「請求項１の測距装置においては、第１図（ａ）に示すとおり、信号処理回路１０３を、交番信号の高レベル信号値を検出する高レベル検出手段１０３Ａと、交番信号の低レベル信号値を検出する低レベル検出手段１０３Ｂと、両レベル信号値の差から距離データを演算する演算手段１０３Ｃとで構成して、上述の問題点を解決する。」（第２頁左下欄第７〜１３行）こと、
（Ｂ−３）「第２図において、１は赤外光を投射する赤外投光器であり、投光回路２によってその点滅が制御される。・・・３はＰＳＤであり、変調投射光による測距対象からの反射光を受光し、その受光位置に応じた光電流Ｉ１，Ｉ２を出力する。この光電流Ｉ１，Ｉ２は、変調光の周波数に等しい周波数の交番信号である。４は受光回路であり、光電流Ｉ１，Ｉ２を電圧信号Ｓ１，Ｓ２に変換する。５は切り換えスイッチであり、ＣＰＵ６からの指令に基づいて受光回路４からの一対の受光信号Ｓ１，Ｓ２のいずれかを選択する。増幅回路７はスイッチ５を介して入力される受光信号Ｓ１，Ｓ２を増幅する回路であり、そのゲインは、受光信号Ｓ１，Ｓ２の高レベル信号値と低レベル信号値との差に相応してＣＰＵ６により可変制御される。ＣＰＵは、後述する処理手順に従い各機器を制御し、測距データを得る。なお、このＣＰＵ６はＡ／Ｄ回路８を内蔵する。」（第３頁左上欄第１２行〜右上欄第１０行）こと、
（Ｂ−４）「次に、第３図および第４図に示す処理手順に従って測距データ演算手順について説明する。・・・まずステップＳ３００にて投光器１を数１０ｍｓ点滅させ、ステップＳ３０１においてデータ個数Ｎとしてｎを、データ値ＤＨして０を設定し、ステップＳ３０２で赤外投光器１を消灯する・・・。ステップＳ３０３で時間Ｔ１待機し・・・ステップＳ３０４において、受光信号Ｓ１の高レベル値ｄＨをサンプリングし・・・次いで、ステップＳ３０５で赤外投光器１を点灯し・・・ステップＳ３０６においてサンプルデータｄＨをＡ／Ｄ変換する・・・その後、ステップＳ３０７で時間Ｔ２待機し・・・ステップＳ３０８にて赤外投光器１を消灯する・・・ステップＳ３０９では、データ値ＤＨにＡ／Ｄ変換値ｄＨを加算し、ステップＳ３１０でデータ数Ｎから１を減算し・・・更にステップＳ３１１で次のＡ／Ｄ変換開始まで時間Ｔ３待機する・・・ステップＳ３１２ではデータ数Ｎが０か否かを判定し、肯定判定されるまで上記ステップＳ３０４〜Ｓ３１１を繰り返す。・・・ステップＳ３１４で赤外投光器１を点灯しステップＳ３１５で時間Ｔ１待機する。そして赤外投光器１の点灯時の受光信号Ｓ１、すなわち、第５図（ｂ）に示すように低レベル値ｄＬを上述と同様にしてサンプリングしてステップＳ３１６〜Ｓ３２４でデジタル化，ｎ回加算を行い、データ値ＤＬを得る。そしてステップＳ３２５において、ＤＨ−ＤＬから光電流Ｉ２に対応する演算値Ａを求める。」（第３頁右上欄第１１行〜右下欄第１２行）こと、
（Ｂ−５）「その後、ステップＳ５００でスイッチ５を受光信号Ｓ２側に切換えてステップＳ６００に進み、受光信号Ｓ２についても上述のステップＳ３０１〜Ｓ３２５と同様にしてレベルｄＨとｄＬとの差の加算値である演算値Ｂを演算する。次いでステップＳ７００において、次式に基づいて距離データＬを演算する。・・・最後にステップＳ８００においてその距離データＬを出力する。」（第４頁左上欄第３〜１３行）
（Ｂ−６）「以上の第１の実施例によれば、第６図に示すように、受光回路４から光電流Ｉ１に相応する交番受光信号Ｓ１とＳ２とを出力せしめ、信号Ｓ１、Ｓ２の高レベル値ｄＨをデジタル化して加算値ＤＨ・・・と、低レベル値ｄＬをデジタル化して加算値ＤＬ・・・とを求め、両信号のＤＨ−ＤＬを演算値ＡおよびＢとしてそれぞれ求め、第２式に基づいて距離データＬを求める。」（第４頁左上欄第１４行〜第４頁右上欄第１行）ことが記載されている。
３．対比・判断
（３ａ−１）まず初めに本願発明１と引用発明１とを対比する。
　引用発明１の「被写体」、「受光レンズ８、ＰＳＤ（＝半導体位置検出器）９からなる受光部７」、「プリアンプ１７Ａ，１７Ｂ、ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂ、サンプルホールド回路２０ａ，２０ｂ、バッファアンプ２１ａ，２１ｂ、Ａ／Ｄコンバータ２６」、「測定データ」「ＲＯＭ２７、ＲＡＭ２８」、「マイクロコンピュータ１４」、「測距装置」は、それぞれ本願発明１の「測距対象物体」、「光学ヘッド」、「アナログ信号処理部」、「測距信号」、「メモリ装置」、「デジタル信号処理部」、「測距センサー」に相当する。
　さらに、引用発明１のＰＳＤ（＝半導体位置検出器）も本願発明１の半導体位置検出素子と同様にＰＳＤの入射位置に応じて出力するそれぞれの出力電流値の「和と差の比」（上記引用刊行物Ａの上記（Ａ−６）参照）から測距しており、引用発明１においても受光した反射光の重心位置を半導体位置検出器で検出するものであるし、デジタル化された測距信号をもとに三角測距の原理を用いて被写体の変位量を算出しているものである。
　そして、引用発明１のマイクロコンピュータ１４は、プリアンプ１７Ａ，１７Ｂ、ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂ、サンプルホールド回路２０ａ，２０ｂ、バッファアンプ２１ａ，２１ｂからの信号が飽和しなくともＡ／Ｄコンバータ２６でデジタル化した出力を受け取り、その測定データ出力が所定の値（＝閾値）を越えている場合には飽和していると判定するものであるから、測定データが飽和することは「プリアンプ１７Ａ，１７Ｂ、ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂ、サンプルホールド回路２０ａ，２０ｂ、バッファアンプ２１ａ，２１ｂ、Ａ／Ｄコンバータ２６」からなるアナログ処理回路が飽和していることになる。
　また、引用発明１には測定データが所定値を越えている場合に、測定値の絶対値が所定値を越えているかを判断する記載がないが、上記引用刊行物Ａの上記（Ａ−７）には、「そして毎回のＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読み込み時には、そのいずれかがオーバーフローしているのか、もしくはその値が「１５」未満で測定データの絶対値としては不充分なものであるかが判定され、」と記載されており、さらに、測定データを所定値と比較して判定する際にオーバフロー（＝飽和）の値も「１５」未満の値も共に同じＡＦＤ１，ＡＦＤ２の読み込み時の値に基づいて判定するものであり、とくに、「１５」未満の値のときだけ測定データの絶対値として取り扱う特段の理由もないことから、「１５」未満を測定データの絶対値で比較して判定すると同様に、オーバーフローにおいても測定データの絶対値でオーバフロー値と比較して判定しているものと解される。
　そうすると、本願発明１と引用発明１とは、
　「測距対象物体に光を投光し、測距対象物体での反射光を受光し、受光した反射光の重心位置を半導体位置検出素子で検出して投光量が多い場合の位置信号として電流値をアナログデータとして出力する光学ヘッドと、この光学ヘッドからの位置信号としての上記電流値を電流／電圧変換し増幅した後、アナログデータをＡ／Ｄ変換してデジタルデータを出力するアナログ信号処理部と、このアナログ信号処理部からのデジタル化された測距信号をもとに三角測距の原理を用いて測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用い算出するデジタル信号処理部と、このデジタル信号処理部の測距値演算装置に用いられるプログラムやデータを格納するメモリ装置と、デジタル信号処理部で計算される測距対象物体の変位量データを出力する測距値データ出力部とを備え、アナログ信号処理部では回路が飽和してもしなくても上記測距信号をデジタル信号処理部に出力し、デジタル信号処理部では受け取った測距信号のそれぞれについて測距信号値の所定の閾値を越えているかどうか判断し、測距信号値の絶対値がひとつでも閾値を越えている場合はアナログ信号処理部の回路が飽和していると判定するようにしたことを特徴とする測距センサーの処理方法。」である点で一致し、次の相違点（イ）で相違している。
・相違点（イ）
　本願発明１では、「一定の時間間隔をおき強弱をつけてレーザー光を投光し、半導体位置検出素子で検出して投光量が多い場合の位置信号として高電位レベルの２種類の電流値及び投光量が少ない場合の位置信号として低電位レベルの２種類の電流値をアナログデータとして出力し、４つの電流値をデジタル化した４つの測距信号をもとに測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用い算出し、アナログ信号処理部では回路が飽和してもしなくても上記４つの測距信号をデジタル信号処理部に出力し、デジタル信号処理部では受け取った４つの測距信号のそれぞれについて測距信号値の絶対値が所定の閾値を越えているかどうか判断し、４つの測距信号値がひとつでも閾値を越えている場合はアナログ信号処理部の回路が飽和していると判定する」のに対して、引用発明１では、「ＬＥＤ光を投光し、半導体位置検出素子で検出して位置信号として２種類の電流値をアナログデータとして出力し、２つの電流値をデジタル化した２つの測距信号をもとに測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用い算出し、アナログ信号処理部では回路が飽和してもしなくても上記２つの測距信号をデジタル信号処理部に出力し、デジタル信号処理部では受け取った２つの測距信号のそれぞれについて測距信号値の絶対値が所定の閾値を越えているかどうか判断し、２つの測距信号値がひとつでも閾値を越えている場合はアナログ信号処理部の回路が飽和していると判定する」点。
（３ａ−２）当審の判断
　そこで、上記相違点（イ）について判断する。
・相違点（イ）について
　測距する際に投光する光としてレーザー光を用いることは周知であり（例えば、特開昭５９−２０２０１２号公報（第２頁右上欄第１３〜１９行）、特開特開昭６０−２２７１１２号公報（第２頁左上欄第１０行〜右上欄第５行）、特開昭６３−２０００１１号公報（第２頁左上欄第８〜２０行）参照）であり、特に、測距の際にレーザー光を用いたことによる格別の効果も存在しないことから、引用発明１のＬＥＤ光の代わりに周知のレーザー光を選択する程度のことは当業者が選択しうる設計的事項にすぎないものである。
　また、引用発明１では、投光した光を半導体位置検出器（＝ＰＳＤ）で検出して位置信号として２種類の電流値をアナログデータとして出力し、２つの電流値をデジタル化した２つの測距信号をもとに測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用い算出しているが、投光した光をＰＳＤで検出し、位置信号としての電流値から測距する際に、光の強弱の１種である点滅する赤外光を投光し、ＰＳＤで高レベルの２種類の電流値と低レベルの２種類の電流値をアナログデータとして出力し、４つの電流値をそれぞれデジタル化した４つの測距信号をもとに測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用いて算出することが上記引用刊行物Ｂに記載されており（上記（Ｂ−１）〜（Ｂ−４）の記載参照）、引用発明１も引用刊行物Ｂに記載された発明も共にＰＳＤを用いて測距するものであるから、引用発明１においても引用刊行物Ｂのごとく光の強弱の１種である点滅する光を投光し、ＰＳＤで高レベルの２種類の電流値と低レベルの２種類の電流値をアナログデータとして出力し、４つの電流値をデジタル化した４つの測距信号をもとに測距対象物体の変位量を測距値演算装置を用いて算出することは当業者であれば容易になし得るものである。
　さらに、高レベルと低レベルの４つの電流値をデジタル化して４つの測距信号をもとに測距値を演算する場合も、２つの電流値をデジタル化して２つの測距信号をもとに測距値を演算する引用発明１の場合も共にＰＳＤからの電流値に基づきデジタル化するものであり、引用発明１で２つの測距信号の絶対値が１つでも所定の閾値を越えている場合にはアナログ処理部の回路が飽和している状態と判定することが記載されている以上、高レベルと低レベルの４つの電流値をデジタル化して４つの測距信号をもとに測距値を演算する場合においても、４つの測距信号の絶対値がひとつでも所定の閾値を越えている場合にはアナログ処理部の回路が飽和していると判定することは当然である。
　なお、上記引用刊行物Ｂの「ステップＳ３０１においてデータ個数Ｎとしてｎを、データ値ＤＨとして０を設定し、ステップＳ３０２で赤外投光器１を消灯する・・・。ステップＳ３０３で時間Ｔ１待機し・・・ステップＳ３０４において、受光信号Ｓ１の高レベル値ｄＨをサンプリングし・・・次いで、ステップＳ３０５で赤外投光器１を点灯し・・・ステップＳ３０６においてサンプルデータｄＨをＡ／Ｄ変換する・・・その後、ステップＳ３０７で時間Ｔ２待機し・・・ステップＳ３０８で赤外投光器１を消灯する・・・ステップＳ３０９ではデータ値ＤＨにＡ／Ｄ変換値ｄＨを加算し、ステップＳ３１０でデータ数Ｎから１を減算し・・・さらにステップＳ３１１で次のＡ／Ｄ変換開始まで時間Ｔ３待機する・・・ステップＳ３１２ではデータ数が０か否かを判定し、肯定判定されるまで　ステップＳ３０４〜Ｓ３１１を繰り返す。・・・ステップＳ３１４で赤外投光器１を点灯しステップＳ３１５で時間Ｔ１待機する。・・・赤外投光器の１の点灯時の受光信号Ｓ１、すなわち第５図（ｂ）に示すように低レベルｄＬを上述と同様にしてサンプリングしてステップＳ３１６〜Ｓ３２４でデジタル化，ｎ回加算を行い、データ値ＤＬを得る。」（上記（Ｂ−４）参照）の記載を参照すれば、消灯、点灯時のサンプリング、加算、減算に際して同じ待機時間Ｔ１〜Ｔ３を設けるとともに、ｎ回繰り返し行っていることからこの点滅は一定の時間間隔をおいて行っているものと解される。
　そして、本願発明１によってもたらされる効果は、上記引用発明１、引用刊行物Ｂに記載された発明及び周知の発明から予測される範囲内のものである。
　したがって、本願発明１は、引用発明１、引用刊行物Ｂに記載された発明及び周知の発明に基づき当業者が容易に発明をすることができたものである。
（３ｂ−１）　つぎに本願発明２と引用発明２とを対比する。
引用発明２の「被写体」、「受光レンズ８、ＰＳＤ（＝半導体位置検出器）９からなる受光部７」、「プリメインアンプ１７Ａ，１７Ｂ、ゲインコントロールアンプ１８ａ，１８ｂ、サンプルホールド回路２０ａ，２０ｂ、バッファアンプ２１ａ，２１ｂ、Ａ／Ｄコンバータ２６」、「測定データ」、「ＲＯＭ２７、ＲＡＭ２８」、「マイクロコンピュータ１４」、「測距装置」は、それぞれ本願発明２の「測距対象物体」、「光学ヘッド」、「アナログ信号処理部」、「測距信号」、「メモリ装置」、「デジタル信号処理部」、「測距センサー装置」に相当する。
　また、引用発明２の「デジタル値の飽和状態」は入射光量が極めて大きいことが上記（Ａ−４）に記載されているから、引用発明２の「デジタル値の飽和状態」は本願発明２の「ブライト状態」に相当する。
　さらに、「「１５」未満で測定データの絶対値として不充分なものである状態」は入射光量が極めて小さく測定データの絶対値が不充分である意味するものであり、本願発明２と同様にＡ／Ｄ変換することにより得られるデジタルデータからのデジタル値に基づき判断するものであるから、引用発明２の「「１５」未満で測定データの絶対値として不充分なものである状態」では本願発明２と同様に各種のノイズの影響を受けるものであると解されるし、引用発明２の「「１５」未満で測定データの絶対値として不充分なものである状態」は本願発明２の「ダーク状態」に相当する。
　そして、引用発明２の「デジタル値が飽和状態や、「１５」未満で測定データの絶対値として不十分なものである状態が１８回の点灯期間内に３以上の割合で起きた時」は、本願発明２の「ブライト状態の場合及びダーク状態の場合が一定期間内に一定以上の割合で起きた時」に相当し、上記引用刊行物Ｂの上記（Ｂ−４）には「「ＯＶＣＯＵＮＴ」が「３」に達したときには、ゲイン決定処理で決めたゲインの値が不適切であるものとして判定し、・・・「ＧＡＩＮ」を「１」低く再設定して最初から測距処理をやり直す。」ことが記載されているから、この「「ＧＡＩＮ」を「１」低く再設定」することは本願発明２と同様にゲインコントロールアンプの増幅率を適正に変更することを意味するものである。
　さらに、また、引用発明２のＰＳＤ（＝半導体位置検出器）も本願発明２の半導体位置検出素子と同様にＰＳＤ（＝半導体位置検出器）の入射位置に応じて出力するそれぞれの出力電流値の「和と差の比」（上記引用刊行物（Ａ−６）参照）から測距（＝変位量）していることから、引用発明２においても本願発明２と同様に受光した反射光の重心位置を半導体位置検出器で検出するものであると解されるし、測定原理もデジタル化された測距信号をもとにした三角測距の原理を用いて被写体の変位量を算出しているものであると解される。
　そうすると、本願発明２と引用発明２とは、
　「測距対象物体に投光し、測距対象物体での反射光を受光し、受光した反射光の重心位置を半導体位置検出素子で検出して、検出された反射光の重心位置信号を電流量アナログデータとして出力する光学ヘッドと、この光学ヘッドからの位置信号を電流／電圧変換して測距信号増幅部により増幅した後、電圧値に変換された測距信号をＡ／Ｄ変換することによりデジタルデータを出力するアナログ信号処理部と、測距値を演算する測距値演算装置に必要な実行手順やデータを保存しているメモリ装置の実行手順に従って、アナログ信号処理部の測距値演算装置の増幅率を調整する増幅率調整信号をアナログ信号処理部に出力し、また、アナログ信号処理部からのデジタル化された測距信号をもとに三角測距の原理を用いて測距対象物体の変位量を算出するデジタル信号処理部と、デジタル信号処理部で計算される測距対象物体の変位量データや、アナログ信号処理部の回路が飽和状態であるブライト状態や、アナログ信号処理部で処理される測距信号が非常に小さく各種のノイズの影響を受けてデジタル信号処理部の測距値演算装置での測距値計算に支障をきたす状態であるダーク状態であることを示すデータを出力するデータ出力部とを備え、デジタル信号処理部の測距値演算装置の演算により上記ブライト状態の場合及びダーク状態の場合が一定期間内に一定以上の割合で起きた時、測距値演算装置がアナログ信号処理部の測距信号増幅部に増幅率調整信号を送り、アナログ信号処理部の測距信号増幅率を適正に変更する増幅率調整処理系を備えたことを特徴とする測距センサー装置。」である点で一致し、次の相違点（ロ）で相違している。
・相違点（ロ）測距対象物体に投光する光として、本願発明２では、「レーザー光」を用いているのに対して、引用発明２では、「ＬＥＤ光」を用いている点。
（３ｂ−２）当審の判断
　そこで、上記相違点（ロ）について検討する。
相違点（ロ）について
　測距する際に投光する光としてレーザー光を用いることは、前述のように周知であり、特に、測距の際にレーザー光を用いたことによる格別の効果も存在しないことから、引用発明２のＬＥＤ光の代わりに周知のレーザー光を選択する程度のことは当業者が容易になし得るものである。
　そして、本願発明２によってもたらされる効果は、上記引用発明２及び周知の発明から予測される範囲内のものである。
　
　したがって、本願発明２は、引用発明２及び周知の発明に基づき当業者が容易に発明をすることができたものである。
４．むすび
　以上のとおりであるから、本願発明１及び２は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　よって、結論のとおり審決する。