【事件の表示】
　特許第５７２７９７６号「プリント基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法」の請求項１ないし９に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第５７２７９７６号の請求項１ないし９に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件特許第５７２７９７６号（以下「本件特許」という。）に係る出願は、平成２４年７月３１日に特許出願され、平成２７年４月１０日に特許の設定登録がされ、同年１１月２６日にその特許に対し、特許異議申立人宇佐美貴史により特許異議の申立てがなされたものである。
第２　本件特許発明
　本件特許の請求項１に係る発明（以下「本件特許発明」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される次のとおりのものである。
「プリント基板の回路パターン間に直流電圧を印加し、印加した電圧値と前記回路パターン間に流れる電流値とから算出される絶縁抵抗値に基づいて前記回路パターン間の絶縁状態の良否を判定するプリント基板の絶縁検査装置において、印加電圧を制御する印加電圧制御部と、電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内に、前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部と、該電流増加検出部により前記所定値以上の電流増加が検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定するスパーク判定部と、前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部とを有することを特徴とするプリント基板の絶縁検査装置。」
第３　申立理由の概要
　特許異議申立人は、主たる証拠として甲第１号証及び従たる証拠として甲第２号証〜甲第６号証を提出し、請求項１ないし９に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであり、また、主たる証拠として甲第２号証及び従たる証拠として甲第１号証、甲第３号証〜甲第６号証を提出し、請求項１ないし９に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであるため、請求項１ないし９に係る特許を取り消すべきものである旨主張している。
＜証拠方法＞
　甲第１号証：特許第４０５９２９１号公報
　甲第２号証：特許第３５４６０４６号公報
　甲第３号証：特開２０１０−１７５３３９号公報
　甲第４号証：特開２００８−１３９０３６号公報
　甲第５号証：特開２０１１−２４７７８８号公報
　甲第６号証：特開２０１０−６６０５０号公報
第４　甲第１号証〜甲第６号証の記載事項
　１　甲第１号証（特許第４０５９２９１号公報）には、以下のように記載されている。（下線は当審で付与した。）
「【０００１】
  本発明は、絶縁検査装置及び絶縁検査方法に関し、より詳しくは、
複数の配線パターンが形成されている回路基板の絶縁検査を
行う
絶縁検査装置
「【００３１】
  絶縁検査装置１の実行する検査の基本原理は、
回路基板１０のパターンＰを所定の規則に従って第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2として選出し、第二検査部Ｔ2に対し所定電圧を印加して第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定電位差を生じさせた状態で第一検査部Ｔ1に流れる電流を検出することにより、スパーク関連して
検査を実行
その都度
絶縁検査を行い
「【００３９】
  
電源手段３は、第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定の電位差を設定するために、第二検査部Ｔ2に各ＳＷ1を介して所定電圧を印加することができるよう接続されている。
【００４０】
  
この電源手段３は、
可変直流電源である
「【００４３】
  このため、第一電流検出手段４に於いて測定される電流値が、所定値以上の電流値又は所定値以上の電流値の変化を示した場合、第一検出部Ｔ1と第二検出部Ｔ2間にスパークが発生したことを示すことになる。つまり、この第一電流検出手段４が測定する電流値により、両検査部間のスパークを検出が可能となる。」
「【００４８】
  この第二電流検出手段５を有することによって、第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2間に流れる電流値を確実に測定することができるので、後述する電圧検出手段６を利用して第一検査部Ｔ1及び第二検査部Ｔ2間の抵抗値を算出することができる。」
「【００５２】
  判定手段７は、第一電流検出手段４及び第二電流検出手段５からの測定電流値、並びに電圧検出手段６からの測定電圧値を夫々受け取り、これらの測定値を基に当該回路基板が不良品であるか判定する。図３は判定手段７の機能を示す概略構成図である。判定手段７は、スパーク検出部７１と、電力算出部７３と、抵抗算出部７４と、絶縁判定部７５と、送信部７２とを有している。」
「【００６７】
  
また、この判定手段７は抵抗算出部７４を備え、第二電流検出手段５と電圧検出手段６より第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2と間の抵抗値を算出する
「【００７７】
  この状態で、第一検査部Ｔ1に接続されている第一電流検出手段４、第二電流検出手段５及び電圧検出手段６は、第一検査部Ｔ1の電流及び電圧を夫々測定する（Ｓ４）。これら第一電流検出手段４、第二電流検出手段５及び電圧検出手段６が測定する電流値及び電圧値は判定手段７へ送られる。
【００７８】
  
判定手段７のスパーク検出部７１は、第一電流検出手段３により測定される電流値と所定基準値とに基づき、その差分データを算出する
【００７９】
  
その差分データが許容範囲Ｃデータに存在しているか否が判定される
【００８０】
  
この差分データが許容範囲Ｃデータ内である場合、スパークなし（スパーク検出せず）として判定され（Ｓ７）、一方、差分データが許容範囲Ｃデータ外である場合、スパークが検出されたと判定され
【００８１】
  ステップＳ８で、
スパーク有ると判定された場合、当該回路基板は不良品として判定される
【００８２】
  スパークが検出されない場合には、第二電流検出手段５と電圧検出手段６からの電流値と電圧値を利用して、判定手段７の抵抗算出部７４によって、第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2間の抵抗が算出される。尚、このフローチャートでは、
スパーク検査の終了毎に絶縁検査を行う
【００８３】
  
この抵抗算出部７４により算出された抵抗値データが絶縁判定部７５へ送られる。この絶縁判定部７５は、算出された抵抗値データと予め設定される基準抵抗値データの比較を行い、絶縁状態の判定を行う
算出された抵抗値データが基準抵抗値データ以上であれば絶縁状態であると判定し、当該回路基板は良品と判定され
算出された抵抗値データが基準抵抗値データ未満であれば絶縁状態でないと判定され
、当該回路基板を不良品として判定する
　上記の記載事項を総合すると、甲第１号証には、次の発明が記載されていると認められる（以下、「甲１発明」という。なお、参考までに括弧内に引用した段落番号を示す。）
「（【０００１】）複数の配線パターンが形成されている回路基板の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、
（【００３１】）回路基板１０のパターンＰを所定の規則に従って第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2として選出し、第二検査部Ｔ2に対し所定電圧を印加して第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定電位差を生じさせた状態で第一検査部Ｔ1に流れる電流を検出することにより、スパーク関連して検査を実行し、
（【００８３】）スパーク検査の終了毎に絶縁検査を行うものであり、
（【００３９】）電源手段３は、第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定の電位差を設定するために、第二検査部Ｔ2に各ＳＷ1を介して所定電圧を印加することができるよう接続され、
（【００４０】）この電源手段３は、可変直流電源であり、
（【００７８】−【００８１】）判定手段７のスパーク検出部７１は、第一電流検出手段３により測定される電流値と所定基準値とに基づき、その差分データを算出し、その差分データが許容範囲Ｃデータに存在しているか否を判定し、この差分データが許容範囲Ｃデータ内である場合、スパークなし（スパーク検出せず）として判定し、一方、差分データが許容範囲Ｃデータ外である場合、スパークが検出されたと判定し、スパーク有ると判定された場合、当該回路基板は不良品として判定し、
（【００６７】）また、この判定手段７は抵抗算出部７４を備え、第二電流検出手段５と電圧検出手段６より第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2と間の抵抗値を算出し、
（【００８３】）この抵抗算出部７４により算出された抵抗値データが絶縁判定部７５へ送られ、この絶縁判定部７５は、算出された抵抗値データと予め設定される基準抵抗値データの比較を行い、絶縁状態の判定を行い、算出された抵抗値データが基準抵抗値データ以上であれば絶縁状態であると判定し、当該回路基板は良品と判定され、算出された抵抗値データが基準抵抗値データ未満であれば絶縁状態でないと判定され、当該回路基板を不良品として判定する、
（【０００１】）絶縁検査装置。」
　２　甲第２号証（特許第３５４６０４６号公報）には、以下のように記載されている。
「【請求項１】
順次選択される一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、前記配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングで、その配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査装置において、
前記電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段と、
前記配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段と、
前記電圧降下検出手段により電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定する判定手段と
を備えることを特徴とする回路基板の絶縁検査装置。
「【０００６】
配線パターンＰ１，Ｐ２間に可変電圧源１０１の出力電圧を印加した後、直ちに絶縁状態の良否判定を行わないのは、図５に示すように、配線パターンＰ１，Ｐ２間に電圧Ｖが印加された直後は、配線パターン間の電圧が不安定である（図５（ａ）の電圧が上昇している区間）とともに、配線パターンＰ１，Ｐ２間に瞬間的に大きな過渡電流が流れるため、配線パターンＰ１，Ｐ２間の電圧が印加電圧Ｖに安定し、且つ、電流が安定する所定のタイミングｔ２で絶縁状態の良否判定を行うものである。」
「【００２９】
可変電圧源２は、検査対象の配線パターン間に、所定の電圧（以下、試験電圧という）を印加するためのもので、Ｄ／Ａ変換器８によりＤ／Ａ変換された制御部６の制御信号により、その出力電圧が制御される
「【００４８】
判定部６３は、カウンタ６３ａを有し、このカウンタ６３ａにより、試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０からの経過時間をカウントして、配線パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻ｔ２（図５参照）で算出された絶縁抵抗値Ｒと予め設定された閾値Ｒrefとの大小を比較することにより、絶縁状態の良否判定を行う
「【００５７】
すなわち、図３に示すように、上記実施形態のステップ♯１〜♯４の処理と略同様のステップ♯２１〜♯２４の処理後、スパークが発生したか否かを判定し（ステップ♯２５）、スパークが発生したとき（ステップ♯２５でＮＯ）には、当該回路基板が不良品であると判定する（ステップ♯３３）。
【００５８】
一方、スパークが発生しなかった場合（ステップ♯２５でＹＥＳ）、所定のカウント値がカウントされたとき（ステップ♯２６）に、電圧値Ｖ及び電流Ｉの測定を行い（ステップ♯２７）、この電圧値Ｖ及び電流Ｉとから抵抗値Ｒを算出する（ステップ♯２８）。そして、算出された抵抗値Ｒが閾値Ｒref以上であるかを判定し（ステップ♯２９）、上記抵抗値Ｒが閾値Ｒref以上のとき（ステップ♯２９でＹＥＳ）には、配線パターン間が絶縁良好であると判定し（ステップ♯３０）、すべての回について上記処理が終了する（ステップ♯３１でＹＥＳ）と、回路基板は良品であると判定し（ステップ♯３２）、絶縁検査を終了する。一方、閾値Ｒref未満のとき（ステップ♯２９でＮＯ）には、当該回路基板は不良品であると判定する（ステップ♯３３）。
【００５９】
ところで、スパークは、電圧印加直後の過渡期（電圧が上昇している区間）にのみ発生するものではなく、電圧が安定する安定期にも発生し得ることが確認されている。その場合に、上記タイミングｔ２までの安定期にスパークが発生した回路基板については、上述のように不良品と判定されることになるが、仮にタイミングｔ２以降も電圧の印加を継続した場合にタイミングｔ２以降でスパークが発生する回路基板については、上記判定タイミングｔ２での絶縁判定をパスすれば良品と判定されることになる。このように良品と判定された回路基板の中には、例えば当該回路基板の出荷先の検査者が、上記判定タイミングｔ２より遅いタイミングで再度基板の絶縁検査を行ったときに、不良品と判定されるものが含まれており、良品の数量に対してその不良品の数量の割合が大きいと、製品（回路基板）の信頼性を損ねることになる。そこで、当該絶縁検査装置の判定タイミングを遅らせれば、その遅らせた分だけスパークの有無をより長い期間監視することになるから、製品の信頼性を向上することができるが、この場合、１回あたりの絶縁検査に要する時間が増加するため、検査効率が低下することになる。
【００６０】
この相反する問題に鑑みて、上記実施形態の構成に加えて、図１の点線で示すように、検査者が判定タイミングを変更するための操作部１１と、制御部６内に、上記操作部１１の操作情報を取り込んで
上記判定タイミングを変更するタイミング設定部６４とを設け、
判定タイミングをタイミングｔ２から所定の単位時間ずつ早める又は遅らせるように構成
【００６１】
これによれば、図５に示すように、タイミングｔ２より所定時間遅らせたタイミングｔ３で判定するように設定した場合、上記実施形態では検出できなかった、タイミングｔ２からタイミングｔ３間にスパーク（点線Ｅで示す）が発生する回路基板を不良品と判定することができるから、上記のように回路基板の出荷先の検査者等が再度基板の絶縁検査を行ったときに不良品と判定されるものが低減され、製品の信頼性を向上することができる。」
　上記の記載事項を総合すると、甲第２号証には、次の発明が記載されていると認められる（以下、「甲２発明」という。なお、参考までに括弧内に引用した段落番号を示す。）。
「（【請求項１】）順次選択される一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、前記配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングで、その配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査装置において、
前記電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段と、
前記配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段と、
前記電圧降下検出手段により電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定する判定手段とを備え、
（【００２９】）可変電圧源２は、検査対象の配線パターン間に、所定の電圧（以下、試験電圧という）を印加するためのもので、Ｄ／Ａ変換器８によりＤ／Ａ変換された制御部６の制御信号により、その出力電圧が制御され、
（【００４８】）判定部６３は、カウンタ６３ａを有し、このカウンタ６３ａにより、試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０からの経過時間をカウントして、配線パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻ｔ２（図５参照）で算出された絶縁抵抗値Ｒと予め設定された閾値Ｒrefとの大小を比較することにより、絶縁状態の良否判定を行うものであり、
（【００６０】）上記判定タイミングを変更するタイミング設定部６４とを設け、判定タイミングをタイミングｔ２から所定の単位時間ずつ早める又は遅らせるように構成した、
（【請求項１】）回路基板の絶縁検査装置。」
　３　甲第３号証（特開２０１０−１７５３３９号公報）には、以下のように記載されている。
「【請求項１】
  
複数の導体配線パターンが形成された回路基板の配線パターン間の絶縁性を検査する装置であって、
  前記複数の導体配線パターンから選択された第１の配線パターンに電圧を印加する電圧印加手段、
  前記複数の導体配線パターンから選択された第２の配線パターンを流れる電流の高域成分を検出するピーク検出手段、および
  少なくとも前記ピーク検出手段の出力信号に従って前記回路基板が正常であるかを判定する判定手段を備える、絶縁検査装置
「【請求項３】
  
前記ピーク検出手段は、通過帯域が変更可能とされるフィルタを備える
「【０００５】
  この電圧印加時に、電圧が安定状態となる前の過渡時において、電圧および電流波形を検出して不良判定を行なう動的な絶縁検査法が、特許文献１（特許第３５４６０４６号公報）に示されている。この特許文献１に示される絶縁検査においては、配線パターン間に、たとえば２００Ｖの高電圧が印加され、この電圧の配線パターン印加シーケンスにおける過渡状態、定常状態および電圧印停止後の過渡状態それぞれにおいて電圧波形を検出する。配線間にスパークが発生した場合、電圧が大きく降下し、その電圧降下を検出してスパークを検出する。スパークが検出された回路基板は、回路基板に損傷が存在するため、不良品として処理される。
【０００６】
  また、この絶縁検査時、配線パターンを流れる電流の変化を検知する構成が特許文献２（特許第４０５９２９１号公報）に示されている。特許文献２に示される構成においては、配線パターンに電圧を印加し、電圧が印加された配線パターンと組をなす配線パターンを流れる電流を検出し、検出電流値が基準値よりも大きくなると、回路基板は不良であると判定する。この特許文献２においては、配線間にスパークが発生すると大きな電流が流れるため、この電流変化を検出して、スパーク発生の有無を検出する。スパーク発生回路基板は、不良であると判定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特許第３５４６０４６号公報
【特許文献２】特許第４０５９２９１号公報」
　上記の記載事項を総合すると、甲第３号証には、次の発明が記載されていると認められる。
「 複数の導体配線パターンが形成された回路基板の配線パターン間の絶縁性を検査する装置であって、
  前記複数の導体配線パターンから選択された第１の配線パターンに電圧を印加する電圧印加手段、
  前記複数の導体配線パターンから選択された第２の配線パターンを流れる電流の高域成分を検出するピーク検出手段、および
  少なくとも前記ピーク検出手段の出力信号に従って前記回路基板が正常であるかを判定する判定手段を備え、
　前記ピーク検出手段は、通過帯域が変更可能とされるフィルタを備える、
　絶縁検査装置。」
　４　甲第４号証（特開２００８−１３９０３６号公報）には、以下のように記載されている。
「【０００１】
  本発明は、
被検査基板上の検査点間に電位差を生じさせ、前記検査点から検査用の信号を取り出すことにより前記検査点間の配線パターンの電気的特性を検査する基板検査装置
「【００３２】
  本願発明者らが配線パターン１３の絶縁不良の原因について調査、検討を行った結果、
絶縁不良の原因には、
微細短絡部２１と、
疑似短絡部２２と
パターン接近部２３とが含まれ
【００３３】
  ここで、図３（ａ）及び図３（ｂ）に示す微細短絡部２１とは、隣接する配線パターン１３ａ,１３ｂ間を橋渡すように連続的に形成された微細な短絡部のことである。このような微細短絡部２１は、例えば、配線パターン１３ａ,１３ｂのエッチング処理の際に、除去されるべき不要な配線材料が完全に除去されずに残ったエッチング残等によって生じる。このような微細短絡部２１は、例えばミクロンオーダー等の微細な太さであるため、短絡検査の際に配線パターン１３に大きな電位をかけると、微細短絡部２１を流れる電流により焼損してしまうことがある。このような微細短絡部２１の抵抗値は、約１００Ω程度以下である場合が多い。
【００３４】
  また、図４に示す疑似短絡部２２とは、隣接する配線パターン１３ａ,１３ｂを疑似的に短絡させて絶縁不良を引き起こすものであり、隣接する配線パターン１３ａ,１３ｂ間に橋渡されるように断続的に形成され、その疑似短絡部２２にかかる電圧の増大に伴って非導通状態から導通状態に変化するようになっている。このような疑似短絡部２２は、例えば、隣接する配線パターン１３ａ,１３ｂ間に橋渡されるように断続的に連なって形成された一又は複数の微細導体粒又は微細導体片（例えば、配線パターン１３ａ,１３ｂの材料からなる微細導体粉又は微細導体片）からなっている。そして、このような疑似短絡部２２の場合も、短絡検査の際に配線パターン１３に大きな電位をかけると、疑似短絡部２２を流れる電流により焼損してしまうことがある。このような疑似短絡部２２の抵抗値は約１０ＭΩ〜約１００ＭΩ程度である場合が多い。
【００３５】
  また、図５に示す
パターン接近部２３とは、
スパークによる絶縁不良を引き起こす
【００３６】
  そして、本願発明者らによるさらなる調査、検討の結果、これらの絶縁不良原因（２１〜２３）に対しては、その
絶縁不良原因の種別に応じた検査電圧を配線パターン１３に付与して短絡検査を行う必要がある
【００３７】
  図６は、各種別の絶縁不良原因とその絶縁不良が発見可能な検査電圧レンジとの関係を
示す図である。図６中の
レンジＲ１は微細短絡部２１を発見するのに適したレンジであり、レンジＲ２は疑似短絡部２２を発見するのに適したレンジであり、レンジＲ３はパターン接近部２３を発見するのに適したレンジである
【００３８】
  図６に示すように、
レンジＲ１は、
０．１〜１．０Ｖ
【００３９】
  また、
レンジＲ２は、
１〜１０Ｖ
【００４０】
  また、
レンジＲ３は、
１００Ｖ以上
【００４１】
  このように、レンジＲ１とレンジＲ２とは、その一部が互いに重なり合う用にしてレンジ２の方がより高電圧の領域に分布している。また、レンジＲ２とレンジＲ３とは、その一部が互いに重なり合う用にしてレンジＲ３の方がより高電圧の領域に分布している。なお、図６中のグラフＬ１〜Ｌ３は、微細短絡部２１、疑似短絡部２２及びパターン接近部２３での抵抗値（縦軸の値が抵抗値に対応）の分布を示している。
【００４２】
  そこで、本実施形態では、このような
各種別の絶縁不良原因（２１〜２３）に対応して、短絡検査時の配線パターン１３への印加電圧を３段階に切り替える
　上記の記載事項を総合すると、甲第４号証には、次の発明が記載されていると認められる。
「被検査基板上の検査点間に電位差を生じさせ、前記検査点から検査用の信号を取り出すことにより前記検査点間の配線パターンの電気的特性を検査する基板検査装置において、
　絶縁不良の原因には、微細短絡部２１と、疑似短絡部２２と、スパークによる絶縁不良を引き起こすパターン接近部２３とが含まれ、
　絶縁不良原因の種別に応じた検査電圧を配線パターン１３に付与して短絡検査を行う必要があり、
　レンジＲ１（０．１〜１．０Ｖ）は微細短絡部２１を発見するのに適したレンジであり、レンジＲ２（１〜１０Ｖ）は疑似短絡部２２を発見するのに適したレンジであり、レンジＲ３（１００Ｖ以上）はパターン接近部２３を発見するのに適したレンジであり、
　各種別の絶縁不良原因（２１〜２３）に対応して、短絡検査時の配線パターン１３への印加電圧を３段階に切り替える
　基板検査装置。」
　５　甲第５号証（特開２０１１−２４７７８８号公報）には、以下のように記載されている。
「【請求項１】
  
回路基板における検査対象の導体パターン間に印加する検査用電圧を生成する電圧生成部と、
  前記検査用電圧の印加によって生じる前記導体パターン間の物理量に基づいて当該導体パターン間の絶縁状態を検査する検査処理を実行する処理部とを備えた回路基板検査装置であって、
  前記処理部は、前記電圧生成部を制御して予め決められた高電圧を前記検査用電圧として前記検査対象の前記導体パターン間に印加させたときの当該導体パターン間の前記物理量に基づいて当該導体パターン間の絶縁状態を検査する高圧検査処理
前記電圧生成部を制御して前記高電圧よりも低い低電圧を前記検査用電圧として印加させたときの当該導体パターン間の前記物理量に基づいて前記絶縁状態を検査する低圧検査処理を実行する絶縁検査装置
「【００１１】
  請求項１記載の絶縁検査装置および請求項３記載の絶縁検査方法では、検査対象の導体パターン間に対して、
高圧検査処理および低圧検査処理をこの順序で実行する
　上記の記載事項を総合すると、甲第５号証には、次の発明が記載されていると認められる。
「回路基板における検査対象の導体パターン間に印加する検査用電圧を生成する電圧生成部と、
  前記検査用電圧の印加によって生じる前記導体パターン間の物理量に基づいて当該導体パターン間の絶縁状態を検査する検査処理を実行する処理部とを備えた回路基板検査装置であって、
  前記処理部は、
　前記電圧生成部を制御して予め決められた高電圧を前記検査用電圧として前記検査対象の前記導体パターン間に印加させたときの当該導体パターン間の前記物理量に基づいて当該導体パターン間の絶縁状態を検査する高圧検査処理と、
　前記電圧生成部を制御して前記高電圧よりも低い低電圧を前記検査用電圧として印加させたときの当該導体パターン間の前記物理量に基づいて前記絶縁状態を検査する低圧検査処理を実行するものであり、
　高圧検査処理および低圧検査処理をこの順序で実行する、
　絶縁検査装置。」
　６　甲第６号証（特開２０１０−６６０５０号公報）には、以下のように記載されている。
「【００３４】
  なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、本発明における複数の抵抗体の一例として抵抗体Ｒ１，Ｒ２の２つを備えて電圧供給部３を構成した絶縁検査装置１およ
びその絶縁検査方法について説明したが、本発明に係る絶縁検査装置の構成および本発明に係る絶縁検査方法はこれに限定されない。具体定には、抵抗値がそれぞれ相違する３つ以上の複数の抵抗体（図示せず）を定電圧源１１と出力部３ａとの間に切替えスイッチ１２ａによって切替え接続する構成および方法を採用することができる。このような構成および方法を採用することにより、
検査環境（ノイズの発生の有無や、ノイズレベル）に応じて所望の抵抗体を接続することで、スパークの発生を確実に検出可能としつつ、検査用電圧Ｖの供給を開始してから検査処理に適した電圧値Ｖ１に達するまでに要する時間を十分に短縮することができる。
絶縁検査装置
　上記の記載事項を総合すると、甲第６号証には、次の発明が記載されていると認められる。
「検査環境（ノイズの発生の有無や、ノイズレベル）に応じて所望の抵抗体を接続することで、スパークの発生を確実に検出可能としつつ、検査用電圧Ｖの供給を開始してから検査処理に適した電圧値Ｖ１に達するまでに要する時間を十分に短縮することができる、つまり、所望の抵抗体を接続することで、検査用電圧Ｖの供給を開始してから検査処理に適した電圧値Ｖ１に達するまでに要する時間を設定することができる、
　絶縁検査装置。」
第５　当審の判断
　１　対比
（１）　まず、本件特許発明と甲１発明を対比する。
ア
　甲１発明の「複数の配線パターンが形成されている回路基板」は、本件特許発明の「プリント基板」に相当する。
イ
　甲１発明において、「所定電圧を印加することができるよう接続され」る「電源手段３は、可変直流電源であ」るから、甲１発明の「回路基板１０のパターンＰを所定の規則に従って第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2として選出し、第二検査部Ｔ2に対し所定電圧を印加して第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定電位差を生じさせ」ることは、本件特許発明の「プリント基板の回路パターン間に直流電圧を印加」することに相当する。
ウ
　甲１発明の「第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定電位差を生じさせた状態で第一検査部Ｔ1に流れる電流を検出することにより、スパーク関連して検査を実行し、スパーク検査の終了毎に絶縁検査を行う」「複数の配線パターンが形成されている回路基板の絶縁検査を行う絶縁検査装置」は、「第二電流検出手段５と電圧検出手段６より第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2と間の抵抗値を算出し、」「算出された抵抗値データと予め設定される基準抵抗値データの比較を行い、絶縁状態の判定を行い、算出された抵抗値データが基準抵抗値データ以上であれば絶縁状態であると判定し、当該回路基板は良品と判定され、算出された抵抗値データが基準抵抗値データ未満であれば絶縁状態でないと判定され、当該回路基板を不良品として判定する」ものであるから、本件特許発明の「印加した電圧値と前記回路パターン間に流れる電流値とから算出される絶縁抵抗値に基づいて前記回路パターン間の絶縁状態の良否を判定するプリント基板の絶縁検査装置」に相当する。
エ
　甲１発明において、「電源手段３は、第一検査部Ｔ1と第二検査部Ｔ2との間に所定の電位差を設定するために、第二検査部Ｔ2に各ＳＷ1を介して所定電圧を印加することができるよう接続され、この電源手段３は、可変直流電源であ」り、ここで可変直流電源である「電源手段３」を制御する制御部を備えることは常套手段であるから、甲１発明の「絶縁検査装置」は、本件特許発明の「印加電圧を制御する印加電圧制御部」を含むものである。
オ
　甲１発明における「判定手段７のスパーク検出部７１は、第一電流検出手段３により測定される電流値と所定基準値とに基づき、その差分データを算出し、その差分データが許容範囲Ｃデータに存在しているか否を判定」することは、本件特許発明の「前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部」を有していることに相当する。
　しかしながら、甲１発明が、「測定される電流値と所定基準値とに基づき、その差分データを算出し、その差分データが許容範囲Ｃデータに存在しているか否を判定」つまり、「電流値が所定値以上増加したか否か」の検出を、本件特許発明のように「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」で行うかは不明であり、また、甲１発明は、本件特許発明の「前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部」を有していない点で相違する。
カ
　甲１発明の「スパーク検出部７１は、第一電流検出手段３により測定される電流値と所定基準値とに基づき、その差分データを算出し、・・・差分データが許容範囲Ｃデータ外である場合、スパークが検出されたと判定し、スパーク有ると判定された場合、当該回路基板は不良品として判定し」ているから、甲１発明の「スパーク検出部７１」は、本件特許発明の「該電流増加検出部により前記所定値以上の電流増加が検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定するスパーク判定部」に相当する。
　以上より、本件特許発明と甲１発明とは、次の点で相違し、その余の点で一致するものと認める。
　［相違点１］
　「電流値が所定値以上増加したか否か」の検出を、本件特許発明は、「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」で行うのに対し、甲１発明は、どの様なタイミングで行うのか不明である点。
　［相違点２］
　本件特許発明は、「前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部」を有するのに対し、甲１発明は、そのようなスパーク検出時間設定部を有していない点。
（２）　次に、本件特許発明と甲２発明を対比する。
ア
　甲２発明の「配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、前記配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングで、その配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査装置」は、本件特許発明の「プリント基板の回路パターン間に直流電圧を印加し、印加した電圧値と前記回路パターン間に流れる電流値とから算出される絶縁抵抗値に基づいて前記回路パターン間の絶縁状態の良否を判定するプリント基板の絶縁検査装置」に相当する。
イ
　甲２発明において、「可変電圧源２は、検査対象の配線パターン間に、所定の電圧（以下、試験電圧という）を印加するためのもので、Ｄ／Ａ変換器８によりＤ／Ａ変換された制御部６の制御信号により、その出力電圧が制御され」るから、甲２発明の出力電圧を制御する「制御部６」は、本件特許発明の「印加電圧を制御する印加電圧制御部」に相当する。
ウ
　甲２発明は、「前記電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段」及び「前記配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段」とを備えており、電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間、電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出している。ここで、「前記所定のタイミング」とは、「配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミング」であり、「配線パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻ｔ２（図５参照）」のことである。そして、「時刻ｔ２」は、「カウンタ６３ａにより、試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０からの経過時間をカウントして」求められるから、「時刻ｔ２」の起点は、「試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０」である。
　よって、甲２発明における、スパーク検出の「電圧印加開始から前記（配線パターン間の電圧が安定する）所定のタイミングまでの間」とは、「電圧印加開始（試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０）から経過時間をカウントして求められる電圧が安定する所定のタイミング（時刻ｔ２）までの間」を意味するから、本件特許発明の「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」とは、共に「電圧印加開始から規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」で共通する。
　また、甲２発明の「上記判定タイミングを変更するタイミング設定部」と、本件特許発明の「
前記
　しかしながら、規定時間の起点が、本件特許発明では、「電圧上昇完了時」であるのに対し、甲２発明では、電圧印加開始時（試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０）である点で相違する。
エ
　甲２発明の「スパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段と、前記電圧降下検出手段により電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定する判定手段」と、本件特許発明の「前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部と、該電流増加検出部により前記所定値以上の電流増加が検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定するスパーク判定部」とは、共に、「前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間の電気的パラメータが所定値以上変化したか否かを検出する電気的パラメータ検出部と、該電気的パラメータ検出部により前記所定値以上の変化が検出された場合に前記プリント基板が不良品であると判定するスパーク判定部」である点で共通するが、スパーク検出における電気的パラメータ及び所定値以上の変化が、本件特許発明は、電流及び電流値増加であるのに対し、甲２発明は電圧及び電圧降下である点で相違する。
　以上より、本件特許発明と甲２発明とは、次の点で相違し、その余の点で一致するものと認める。
　［相違点３］
　規定時間の起点が、本件特許発明では、「電圧上昇完了時」であるのに対し、甲２発明では、電圧印加開始時（試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０）である点。
　［相違点４］
　本件特許発明は、スパーク検出における電気的パラメータ及び所定値以上の変化が、本件特許発明は、電流及び電流値増加であるのに対し、甲２発明は電圧及び電圧降下である点。
　２　判断
（１）
　本件特許発明と甲１発明との相違点である相違点１について検討する。
　相違点１は、「電流値が所定値以上増加したか否か」の検出を、本件特許発明は、「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」で行うのに対し、甲１発明は、どの様なタイミングで行うのか不明である点である。
　ここで、「電流値が所定値以上増加したか否か」の検出とは、スパークの検出のことである。
　そして、甲１発明と同様に、回路基板の絶縁検査装置におけるスパーク検出に関する甲第２号証に、スパーク検出タイミングについて記載されており、甲１発明に甲第２号証に記載されたスパーク検出タイミングを適用することに困難性は見いだせない。
　しかしながら、甲第２号証に記載されたスパーク検出タイミングは、「電圧印加開始から前記（配線パターン間の電圧が安定する）所定のタイミングまでの間」であり、「電圧印加開始（試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０）から経過時間をカウントして求められる電圧が安定する所定のタイミング（時刻ｔ２）までの間」を意味するから、（上記１（２）ウ参照。）、甲１発明に甲第２号証に記載されたスパーク検出タイミングを適用しても、「電流値が所定値以上増加したか否か」の検出を、「電圧印加開始から規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」で行うことにとどまり、規定時間の起点が、本件特許発明の「電圧上昇完了時」とは異なるものになる。
　また、本件特許明細書には、以下の記載がある。
「【０００３】
  特許文献１には、回路パターンに電圧を印加し、電圧印加開始から所定のタイミングまでの間回路パターン間の電圧を検出し、その間にスパークにより発生する回路パターン間の電圧降下の有無を検出し、電圧降下が検出されると基板を不良品と判定することが開示されている。
  この場合、特許文献１の図２に示されるように、
試験電圧が回路パターン間に印加された時点からの経過時間をカウントして、回路パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻で絶縁抵抗値を算出するとともに、その時刻までに回路パターン間にスパークが発生したか否かを検出し、
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第３５４６０４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
  
しかしながら、スパーク発生の有無を検出するためのタイミングの設定が難しく、
「【００１８】
  本発明によれば、
電圧上昇時だけでなく、その後の電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができる
　上記記載によれば、上記【特許文献１】特許第３５４６０４６号公報、つまり甲第２号証に示されたスパーク発生の有無を検出するためのタイミングとして、試験電圧が回路パターン間に印加された時点からの経過時間をカウントして、回路パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻を設定することが難しいことに鑑み、本件特許発明は、「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」としたものであり、規定時間の起点を「電圧上昇完了時」とすることで、「電圧上昇時だけでなく、その後の電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができる」との効果を奏するものである。
　これに対して、特許異議申立人は、特許異議申立書における「（４）ウ（ア−２）」の欄において、「すなわち、甲第２号証には、「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内に、」直流電圧の印加により生じる配線パターン間の電圧を検出することが記載されている。ここで、甲第１号証における「回路パターン間に流れる電流値が所定値以上変化したか否かにより、回路基板の良否判定を行う」タイミングとして、甲第２号証に記載の「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」を適用して、本件構成要件（Ｃ１）「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内に、前記回路パターン間に発生するスパークに起因して前記回路パターン間に流れる電流値が所定値以上増加したか否かを検出する電流増加検出部」に到達することに、当業者にとって、何ら困難性はない。」と主張しているが、上記のとおり、甲第２号証には、スパーク検出のタイミングとして「このカウンタ６３ａにより、試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０からの経過時間をカウントして、配線パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻ｔ２（図５参照）」（上記第４　２参照。）が記載され、「電圧印加開始から電圧上昇完了時を起点として規定時間が経過するまでのスパーク検出時間内」が記載されているものではないから、特許異議申立人の上記主張は採用できない。
　また、
（２）
　次に、本件特許発明と甲１発明との相違点である相違点２について検討する。
　相違点２は、本件特許発明は、「前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部」を有するのに対し、甲１発明は、そのようなスパーク検出時間設定部を有していない点である。
　ところで、特許異議申立人は、特許異議申立書における「（４）ウ（ア−３）」の欄において、「甲第２号証の請求項３には、「回路基板の良否判定を行う前記所定のタイミングを変更するための操作手段を備えている」と記載されている。ここで、上述の通り、甲第２号証における「所定のタイミングｔ２は、電圧が一定になって安定してから所定時間経過した後のタイミング」のことであり、本件特許における「規定時間」とは電圧上昇完了時を起点とした時間のことであるから、甲第２号証において「所定のタイミングを変更」することは、本件特許において「規定時間」を設定することに他ならない。従って、甲第２号証の請求項３に記載の「回路基板の良否判定を行う前記所定のタイミングを変更するための操作手段」は、本件構成要件（Ｅ１）「前記規定時間を設定可能なスパーク検出時間設定部」に相当するから、甲第２号証には、相違点２係る本件構成要件（Ｅ１）が開示されている。」と主張しているが、上記のとおり、甲第２号証に記載されている、規定時間に対応する「所定のタイミングｔ２」は、「このカウンタ６３ａにより、試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０からの経過時間をカウントして、配線パターンの電圧が定常状態となる所定の時刻ｔ２（図５参照）」のことであり（上記第４　２参照。）、その起点は、「試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０」であって、本件特許発明のように「電圧上昇完了時を起点」とするものではないから、特許異議申立人の上記主張は採用できない。
　そして、「試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０」から規定時間を設定する場合と、「電圧上昇完了時を起点」から規定時間を設定する場合とでは、前者が、「電圧が一定になって安定してから所定時間経過した後のタイミング」を予測して設定するのに対し、後者は、「電圧上昇完了時を起点」としているから、電圧が定常状態となった以降のタイミングを確実に設定し得るという効果を奏するものである。
　よって、甲１発明に、甲第２号証の請求項３に記載されている「回路基板の良否判定を行う前記所定のタイミングを変更するための操作手段を備えている」との構成を適用しても、相違点２に係る構成を得ることはできない。
（３）小括
　上記（１）、（２）のとおり、甲１発明に甲第２号証に記載された発明を適用しても、相違点１及び相違点２に係る構成を得ることはできず、また、相違点１及び相違点２ついて、甲第３号証ないし甲第６号証に開示されてはいない。
　したがって、本件特許発明は、本件出願前に当業者が甲１発明、甲第２号証に記載された発明ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易に発明することができたものであるとはいえない。
　また、本件特許発明（請求項１に係る発明）を直接又は間接的に引用する請求項２ないし５に係る発明は、本件特許発明をさらに減縮したものであるから、本件出願前に当業者が甲１発明及び甲第２号証ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易になし得たものであるとすることはできない。
　また、請求項６ないし９に係る絶縁検査方法の発明についても、請求項１ないし４に係る絶縁検査装置にそれぞれ対応する発明であるから、請求項１ないし４に係る発明と同様に、本件出願前に当業者が甲１発明及び甲第２号証ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易になし得たものであるとすることはできない。
（４）
　次に、本件特許発明と甲２発明との相違点である相違点３について検討する。
　相違点３は、規定時間の起点が、本件特許発明では、「電圧上昇完了時」であるのに対し、甲２発明では、電圧印加開始時（試験電圧が配線パターン間に印加された時点ｔ０）である点である。
　この相違点３に係る構成について、甲第１号証、甲第３号証ないし甲第６号証には開示されていない。
　また、本件特許発明は、規定時間の起点を「電圧上昇完了時」とする相違点３に係る構成を有することで、上記（１）及び（２）で示したように、電圧が定常状態となった以降のタイミングを確実に設定し得、「電圧上昇時だけでなく、その後の電圧安定時でのスパーク発生も確実に検出することができる」との効果を奏するものである。
（５）小括
　したがって、甲２発明に、甲第１号証に記載された発明及び甲第３号証ないし甲第６号証に記載された発明を適用しても、本件特許発明の相違点３に係る構成に到達することは当業者が容易になし得たものであるとすることはできない。
　よって、相違点４について検討するまでもなく、本件特許発明は、本件出願前に当業者が甲２発明、甲第１号証に記載された発明及び甲第３号証ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易に発明することができたものであるとはいえない。
　また、本件特許発明（請求項１に係る発明）を直接又は間接的に引用する請求項２ないし５に係る発明は、本件特許発明をさらに減縮したものであるから、本件出願前に当業者が甲２発明、甲第１号証に記載された発明及び甲第３号証ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易になし得たものであるとすることはできない。
　また、請求項６ないし９に係る絶縁検査方法の発明についても、請求項１ないし４に係る絶縁検査装置にそれぞれ対応する発明であるから、請求項１ないし４に係る発明と同様に、本件出願前に当業者が甲２発明、甲第１号証に記載された発明及び甲第３号証ないし甲第６号証に記載された発明に基づいて容易になし得たものであるとすることはできない。
第６　むすび
　以上のことから、特許異議申立ての理由及び証拠方法によっては、請求項１ないし９に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に請求項１ないし９に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成２８年２月１６日（２０１６．２．１６）