【事件の表示】
　平成４年特許願第１９４１９３号「高速分光測光装置」拒絶査定不服審判事件〔平成６年２月８日出願公開、特開平６−３４５２５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成４年７月２１日の出願であって、平成１４年６月１４日付けで拒絶の査定がなされ、これに対し、同年７月２４日に審判請求がなされるとともに、同年８月２０日付け手続補正書により、特許請求の範囲を含む明細書の補正がなされたものであるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は次のとおりのものである。
　
（本願発明）
「標本面上を分光測光する高速分光測光装置であって、
　前記標本面の一方の幅に亘る線状の測定領域を均一にライン照明するライン状光源と、
　前記測定領域からの光から一次元像を分離するスリットと、
　このスリットで分離された前記一次元像を分光する分光手段と、
　この分光手段で分光された前記一次元像の分光強度を検出する二次元フォトセンサーと、
　前記二次元フォトセンサーにより検出された分光データからの分光強度に基づいて、前記標本面上の膜厚や塵埃等の欠陥情報を測定する演算処理装置と、
　を備える高速分光測光装置。」
　
２．刊行物に記載された発明
　
（１）原査定の拒絶の理由で引用された特開平２−２２６０２８号公報（以下「刊行物１」という。）には、『分光演算装置』に関し、次の事項が記載・図示されている。
　
（記載事項ａ）
「〔従来の技術〕
　従来、被測定物の分光解析にはフィルタが用いられていた。・・・
　〔発明が解決しようとする課題〕
　しかしながら、従来技術によれば・・・フィルタを何回も交換して波長ごとの分光画像を得た後に、これらの演算をしなければならなかった。」（１頁右下欄下から２行〜２頁左上欄１２行）
　
（記載事項ｂ）
「〔実施例〕・・・
　第１図は本発明の第１実施例に係る分光演算装置の構成図である。図示の通り、被測定物１を照明する光源は・・・、被測定物１の表面側に配設される反射照明部２Ｂから構成され・・・ランプ、投光レンズなどを有している。被測定物１からの光は結像レンズ３に受光され・・・被測定物１の光学像が無収差分光器４の入射面４１に結像される。入射面４１にあらかじめ形成された入射スリット（後述）を透過した光はグレーディング４３で分光され、分光像が無収差分光器４の出射面４４に結像される。
　この分光像はＴＶカメラ５により撮像され、撮像データはコンピュータなどの処理部６に送られて後述の処理が施される。一方、被測定物１はＸ−Ｙステージ７によって移動自在になっており、このＸ−Ｙステージ７はステージ制御部８によって制御されている。従って、Ｘ−Ｙステージによる被測定物１の移動制御により、被測定物１の測定範囲を入射スリットで定まる一次元的な分光対象領域から二次元的な被測定対象領域に広げれば、二次元平面における分光画像を複数の波長ごとに得ることができる。ここで、例えば波長λｎとλｎ＋１の分光画像ＩλｎとＩλｎ＋１について・・・各種の画像演算を処理部６で計算してＣＲＴ９で表示することにより、被測定物１の分光方式による画像演算結果が観測できる。」（２頁左下欄下から３行〜３頁左上欄１１行）
　
（記載事項ｃ）
「次に、第１図の装置における分光光学系の要部を、第２図を参照して説明する。
　第２図は被測定物１，結像レンズ３および無収差分光器４の関係を模式的に示す斜視図である。図示の通り、Ｙ字状の光学模様を有する被測定物１の光学像は、無収差分光器４の入射面４１に逆向きに形成される。ここで、入射面４１には１本のライン状の入射スリット４２が形成されており・・・対応する被測定物１の上のラインｌが、選択的に分光像を形成すべき分光対象領域となる。入射スリット４２を通過した光は無収差分光器４内のグレーディング４３で反射されて分光され、これによって出射面４４に分光像が形成される。・・・被測定物１のラインｌの光学情報は、そのｙ軸方向の位置情報を保ったままで出射面４４に表示され、その波長ごとの光強度はｙ軸と直交する軸方向（λ軸方向）で得られる。・・・」（３頁左上欄１２行〜右上欄下から３行）
　
（記載事項ｄ）
「・・・第２図に示す如く出射面４４に形成された分光像は、ＣＣＤカメラなどからなる第１図のＴＶカメラ５で撮像され、ビデオ信号はＡ／Ｄ変換されて処理部６におけるイメージメモリに記憶される。第３図（ａ）はＭ×Ｎ画素の二次元イメージメモリに記憶された分光像の一例を示し・・・Ｎ画素のλ軸は波長に対応し、Ｍ画素のｙ軸は被測定物１のラインｌにおけるｙ方向位置に対応している。このイメージメモリの光強度情報は、第３図（ｂ）に示すように、それぞれの中心波長λ１・・・λｎ、波長幅Δλ１・・・Δλｎで積分または平均化され・・・第３図（ｃ）に示す如く、ｙ軸方向における各波長ごとのイメージメモリＭ１・・・Ｍｎに記憶する。これにより、被測定物１におけるラインｌが設定されたｘ方向の位置ｘ０において、ｙ軸方向の光強度分布が、中心波長λ０・・・ごとにイメージメモリＭ１・・・Ｍｎに格納される。」（３頁右上欄下から２行〜左下欄最終行）
　
（記載事項ｅ）
「以上の処理が終了すると、一次元的な分光対象領域が二次元的な広がりを有する測定対象領域で移動させられる。すなわち、第１図の処理部６はステージ制御部８に指令を与え・・・Ｘ−Ｙステージ７を駆動する・・・。すると、第２図に示す入射スリット４２がｘ軸方向に移動するので・・・ｘ方向の位置ｘ０とは異なる位置ｘ１において、同様の分光分析がされ・・・第３図（ｄ）のイメージメモリ・・・には、次の位置ｘ１での分光強度分布が格納される。以下、同様の処理をｘ方向の全ての位置について実行すると、イメージメモリ・・・には、波長λ０・・・の分光強度分布が、ｘ−ｙの二次元平面において記憶され・・・第１図の処理部６において、各波長λ０・・・λｎごとの分光画像を相互間で演算すれば、演算結果を第１図のＣＲＴ９において、被測定物１と同一の二次元平面で表示できる・・・。」（３頁右下欄１〜１９行）
　
（記載事項ｆ）
「本発明の分光演算装置は、生物、物理、化学等の基礎研究をはじめ、工業製品の検査等の幅広い分野に応用できる。」（５頁右下欄８〜１０行）
　
（２）そうすると、刊行物１における上記記載事項及び図面の記載によれば、刊行物１には、次の発明が記載されていると認めることができる。
　
（刊行物１に記載された発明）　
　「被測定物１を照明する光源と、
　対応する被測定物１上の一次元的な分光対象領域であるラインからの光を透過させるライン状の入射スリット４２と、
　透過した光を分光するグレーディング４３と、
　この分光像を撮像するＣＣＤカメラなどからなるＴＶカメラ５と、
　撮像データを処理して各種の画像演算を行う処理部６と、
　を備える分光演算装置。」
　
３．対比
　
　刊行物１に記載された発明と本願発明とを対比すると、
（ａ）前者の「分光演算装置」は、「被測定物１」を従来のようにフィルタを交換することなく分光解析を行うものであり、従来のものより『高速』に分光解析を行い得るから、後者の『高速分光装置』に相当するところ、
（ｂ）前者における「被測定物１を照明する光源」は、被測定物１の一方の幅に亘る線状の分光領域を含む領域を照明するものであるから、後者における『標本面の一方の幅に亘る線状の測定領域を含む領域を照明する光源』に相当し、
（ｃ）前者における「グレーディング４３」「ＣＣＤカメラなどからなるＴＶカメラ５」「各種の画像演算を行う処理部６」が、それぞれ、後者における『分光手段』『二次元フォトセンサー』『演算処理装置』に相当し、
（ｄ）前者における「ライン状の入射スリット４２」は、対応する被測定物１上の一次元の分光対象領域からの光を透過させるものである以上、後者における『測定領域からの光から一次元像を分離するスリット』に相当する。
　
　なお、請求人は、審判請求書において、上記（ｄ）の認定に関連して『刊行物１には「被測定物１はＸ−Ｙステージ７によって移動自在」との記載があることから、同ステージを（Ｘ軸方向に加えて）Ｙ軸方向にも移動させることを想定しており、第２図のＰ０、Ｐ１、Ｐ２の情報を１点づつ検出するものと解釈でき、Ｘ０位置のラインｌを一括して取込むことは明確に示されていない』旨主張しているが、そもそも、本願発明は「Ｘ０位置のラインｌを
一括して
　また、刊行物１に記載された発明が『被測定物１をＸ−Ｙ方向に移動可能なステージ』を備えてるとしても、上記記載事項及び第１〜３図に記載の実施例においては、同ステージをＹ軸方向に移動させることを想定していないことは、記載事項ｅ〔以上の処理が終了すると・・・ステージ制御部８はＸ−Ｙステージ７を駆動する・・・と、第２図に示す入射スリット４２がｘ軸方向に移動するので・・・ｘ０とは異なる位置ｘ１において、同様の分光分析がされる。・・・以下、同様の処理をｘ方向の全ての位置について実行する〕の記載から明らかであるから、請求人の主張には根拠がない。　
　
　したがって、本願発明と刊行物１に記載された発明とは、
　
（一致点）　
「標本面上を分光測光する高速分光測光装置であって、
　前記標本面の一方の幅に亘る線状の測定領域を含む領域を照明する光源と、
　前記測定領域からの光から一次元像を分離するスリットと、
　このスリットで分離された前記一次元像を分光する分光手段と、
　この分光手段で分光された前記一次元像の分光強度を検出する二次元フォトセンサーと、
　前記二次元フォトセンサーにより検出された分光データからの分光強度に基づいて、前記標本面上の光学特性を測定する演算処理装置と、
　を備える高速分光測光装置。」
　
　である点で一致し、次の点で相違する。
　
＜相違点１＞
　本願発明の「光源」が『標本面の一方の幅に亘る線状の測定領域を均一にライン照明するライン状光源』であるのに対し、刊行物１に記載された発明における「光源」は、線状の測定領域を含む二次元的な広がりを有する領域を照明するものである点。
　
＜相違点２＞
　「二次元フォトセンサーにより検出された分光データからの分光強度に基づいて、標本面上の光学特性を測定する演算処理装置」が、本願発明では『標本面上の膜厚や塵埃等の欠陥情報』を測定するものであるのに対し、刊行物１にはその旨明記されていない点。
　
４．判断
　
　上記相違点について検討する。
　
　まず、上記＜相違点１＞について、ライン状光源により被検体の幅方向に亘る線状の測定領域を均一に照明することは周知（例えば、実願平２−５９３３８号（実開平４−１８３５４号）のマイクロフィルム〔２頁７〜１２行、第５図〕、特開平４−１２８６３７号公報〔７頁左上欄８〜１５行〕、実願昭６１−１７２７０５号（実開昭６３−８１４５６号）のマイクロフィルム〔２頁１７行〜３頁最終行〕、実願昭５６−５４９３３号（実開昭５７−１６８００３号）のマイクロフィルム〔２頁１１〜１７行〕などを参照。）であるところ、刊行物１に記載された発明においては、スリットにて取り出す一次元像に対応する線状測定領域を照明できれば足りることは自明であるから、刊行物１に記載された発明における「光源」に代えて、上記周知の『被検体の幅方向に亘る線状測定領域を均一に照明するライン状光源』を採用することは当業者が容易に想到し得ることである。　
　
　次に、＜相違点２＞について、被検体からの反射光ないしは散乱光における光学的データから当該被検体の膜厚を得たり、塵埃の有無を評価することは周知（前者について、特開平２−２５１７１１号公報〔１頁右下欄６行〜２頁左上欄１行〕、特開昭６３−３２３０７号公報〔１頁右下欄１０行〜２頁左上欄４行〕など、後者について、特開昭６３−１０３９５１号公報、特開昭５８−９０５１号公報などを参照。）であるところ、刊行物１に記載された発明が工業製品等の検査に用いられ得ることは自明であるから（記載事項ｆを参照。）、刊行物１に記載された発明における「演算処理装置」により、検出により得た分光データを用いて『標本面上の膜厚や塵埃等の欠陥情報』を求めることは当業者が適宜になし得ることにすぎない。
　
　そして、本願発明による効果も、刊行物１に記載された事項と上記周知の技術的事項から、当業者が予測し得る範囲のものでしかない。
　
５．むすび
　以上のとおり、本願発明は、刊行物１に記載された発明及び本件出願前周知の技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができず、そうである以上、本願の他の請求項に係る発明についての判断を示すまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。