【手続補正書】
【提出日】平成30年10月29日(2018.10.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析データの自動化された分析のための方法であって、前記方法は、
（ａ）誘導結合プラズマ質量分析計（ＩＣＰ−ＭＳ）によって取得されたパルスカウント値のシーケンスにアクセスし、検体を含み、かつサンプル中に存在する、粒子に対応する少なくとも１つの所与のピークのそれぞれに対して、それぞれが閾値背景強度値を上回るパルスカウント値を生成することと、
（ｂ）前記パルスカウント値の第１のアレイから、ピーク信号に対応するパルスカウント値を識別するための閾値を判定し、一連の反復のそれぞれに続く残りのパルスカウント値に基づいて、前記閾値を調節することであって、所与の後続反復は、先行反復におけるピークに対応すると識別されたパルスカウント値を除外し、最終背景閾値が、容認可能公差内の前記閾値の収束に応じて、判定される、ことと、
（ｃ）前記パルスカウント値の第１のアレイから、平滑化されたデータアレイを構築し、後続値および先行値の両方より大きくかつ前記最終背景閾値より大きい前記平滑化されたデータアレイの値を、識別されたピークとして識別することと、
（ｄ）前記識別されたピークに基づいて、
（Ａ）前記サンプル中の粒子に対する粒子質量分布および／または粒子サイズ分布と、
（Ｂ）前記サンプル中の粒子に対する統計データと
のうちの少なくとも１つを判定することと
を含む、方法。
【請求項２】
前記サンプル中の粒子は、ナノ粒子である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記サンプル中の粒子は、ミクロ粒子またはセルである、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記パルスカウント値のシーケンスは、前記サンプル中のピークあたり、平均して、２以上のパルスカウント値を含有する、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
ステップ（ｂ）における少なくとも１回の反復に対する閾値は、前記アレイ内の残りの値の平均に標準偏差の倍数を加えたものに基づいて調節される、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記平滑化されたデータアレイは、ｘ−点平均化データアレイであり、ステップ（ｃ）はさらに、前記識別されたピークの位置をピーク位置アレイ内に記憶することと、１つ以上の付加的ｘ−値を用いて、ステップ（ｃ）を繰り返すことと、容認可能ｘ−値に収束させることとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記平滑化されたデータアレイは、ｘ−点平均化データアレイであり、ステップ（ｃ）は、
前記ｘ−点平均化データアレイを構築し、前記平滑化されたデータアレイを生成することを含み、ｘは、所定の整数であり、ステップ（ｃ）はさらに、
前記ｘ−点平均化データアレイを使用して、前記パルスカウント値の第１のアレイ内の識別されたピークあたりのパルスカウント値の平均数を識別することと、
次いで、前記パルスカウント値の第１のアレイから、ｘ’−点平均化データアレイを構築し、後続平均化値および先行平均化値の両方より大きくかつ前記最終背景閾値より大きい前記ｘ’−点平均化データアレイの値をピークとして識別することであって、ｘ’は、前記ｘ−点平均化データアレイを使用して識別されたピークあたりのパルスカウント値の平均数から判定される、ことと
を含み、
ステップ（ｄ）は、前記ｘ’−点平均化データアレイを使用して識別されたピークのそれぞれに対応するピーク面積強度を識別することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
ステップ（ｄ）は、
前記サンプルに対する輸送効率値が規定されたかどうか、および前記検体に対する溶解溶液較正値が存在するかどうかを自動的に判定することと、
前記サンプルに対する前記輸送効率値が規定されたこと、および前記検体に対する前記溶解溶液較正値が存在することの両方という判定に応じて、前記サンプルに対する前記輸送効率値、前記検体に対する前記溶解溶液較正値、ならびに前記ＩＣＰ−ＭＳ内の前記サンプルに対する滞留時間および流率を使用して、前記サンプルに対する質量流束較正値を構成することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
ステップ（ｄ）はさらに、
ステップ（ｃ）における前記識別されたピークのそれぞれに対して、ピーク面積強度を判定し、それによって、前記サンプルに対するピーク面積強度のヒストグラムを判定することと、
（ｉ）前記サンプルに対するピーク面積強度のヒストグラム、（ｉｉ）前記サンプルに対する質量流束較正値、（ｉｉｉ）前記検体である前記粒子の質量分率、（ｉｖ）イオン化効率、（ｖ）前記粒子の判定されたまたは既知の形状、および（ｖｉ）前記粒子の判定されたまたは既知の密度を使用して、前記サンプルに対する粒子質量ヒストグラムを算出することと
を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
各パルスカウント値に対する滞留時間は、１０ミリ秒以下である、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
各パルスカウント値に対する滞留時間は、１０マイクロ秒〜５００マイクロ秒である、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記サンプルに対する沈降時間は、２００マイクロ秒以下である、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記検体は、少なくとも１つの金属元素を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記検体は、Ｌｉ、Ｂｅ、Ｂ、Ｎａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｐ、Ｓ、Ｃｌ、Ａｒ、Ｋ、Ｃａ、Ｓｃ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｇｅ、Ａｓ、Ｓｅ、Ｂｒ、Ｋｒ、Ｒｂ、Ｓｒ、Ｙ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｍｏ、Ｔｃ、Ｒｕ、Ｒｈ、Ｐｄ、Ａｇ、Ｃｄ、Ｉｎ、Ｓｎ、Ｓｂ、Ｔｅ、Ｉ、Ｘｅ、Ｃｓ、Ｂａ、Ｌａ、Ｈｆ、Ｔａ、Ｗ、Ｒｅ、Ｏｓ、Ｉｒ、Ｐｔ、Ａｕ、Ｈｇ、Ｔｌ、Ｐｂ、Ｂｉ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕ、Ｔｈ、Ｐａ、およびＵから成る群から選択される、少なくとも１つの要素を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
前記サンプル中の粒子は全て、実質的に同一組成を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
前記ＩＣＰ−ＭＳを使用して、前記パルスカウント値のシーケンスを取得することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１７】
前記ＩＣＰ−ＭＳによって取得されたパルスカウント値は、ステップ（ｂ）において前記パルスカウント値の第１のアレイから前記閾値を判定する前に、フィルタ処理および／または正規化される、請求項１に記載の方法。
【請求項１８】
ステップ（ｄ）は、ステップ（ｃ）における前記識別されたピークのそれぞれに対して、プロセッサによって、前記識別されたピークに対応するピーク面積強度を判定することを含み、前記識別されたピークに対応するピーク面積強度を判定することは、
前記パルスカウント値の第１のアレイ内に、前記識別されたピークに対応するピーク点を判定することと、
最初に、前記ピーク点のパルスカウント値を総和変数に代入し、ステップ（ｂ）において判定された前記最終背景閾値を差し引くことと、
前記ピーク点の右側の各点に対して、点が、ステップ（ｂ）において判定された前記最終背景閾値に未満またはそれに等しくなると判定されるまで、前記ピーク点の右側の点のパルスカウント値を前記総和変数の値に反復的に加算し、ステップ（ｂ）において判定された前記最終背景閾値を差し引くことと、
前記ピーク点の左側の各点に対して、（ｉ）点が、ステップ（ｂ）において判定された前記最終背景閾値に未満またはそれに等しくなると判定され、（ｉｉ）前記パルスカウント値の第１のアレイの開始が到達されたと判定されるまで、前記ピーク点の左側の点のパルスカウント値を前記総和変数の値に反復的に加算し、ステップ（ｂ）において判定された前記最終背景閾値を差し引くことと
を含み、
前記方法は、ステップ（ｄ）において決定された前記ピーク面積強度を使用して（Ａ）および（Ｂ）のうちの少なくとも１つを判定することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
前記サンプル中の粒子に対する前記統計データは、以下：
（ｉ）前記サンプル中の粒子に対する粒子質量ヒストグラムと、
（ｉｉ）前記サンプル中の粒子に対する粒子サイズヒストグラムと、
（ｉｉｉ）前記サンプル中の粒子に対する平均粒子サイズと、
（ｉｖ）前記サンプル中の粒子に対する中央粒子サイズと、
（ｖ）前記サンプル中の粒子に対するモード粒子サイズと、
（ｖｉ）前記サンプル中の粒子に対する粒子サイズ分布の幅の測定値と
のような（ｉ）〜（ｖｉ）のうちの１つ以上を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２０】
ステップ（ｄ）は、前記識別されたピークに基づいて、
（ｖｉｉ）前記サンプルに対する粒子濃度と、
（ｖｉｉｉ）前記サンプルに対する溶解された検体濃度と
のうちの少なくとも１つを自動に判定することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２１】
前記識別されたピークに基づいて、前記サンプルに対して検出されるピークの数を判定することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２２】
質量分析データの自動化された分析のためのシステムであって、前記システムは、
プロセッサと、
メモリと
を備え、
前記メモリは、命令を備え、前記命令は、前記プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、
（ａ）誘導結合プラズマ質量分析計（ＩＣＰ−ＭＳ）によって取得されたパルスカウント値のシーケンスにアクセスし、検体を含み、かつサンプル中に存在する、粒子に対応する少なくとも１つの所与のピークのそれぞれに対して、それぞれが閾値背景強度値を上回るパルスカウント値を生成することと、
（ｂ）前記パルスカウント値の第１のアレイから、ピーク信号に対応するパルスカウント値を識別するための閾値を判定し、一連の反復のそれぞれに続く残りのパルスカウント値に基づいて、前記閾値を調節することであって、所与の後続反復は、先行反復におけるピークに対応すると識別されたパルスカウント値を除外し、最終背景閾値が、容認可能公差内の前記閾値の収束に応じて、判定される、ことと、
（ｃ）前記パルスカウント値の第１のアレイから、平滑化されたデータアレイを構築し、後続値および先行値の両方より大きくかつ前記最終背景閾値より大きい前記平滑化されたデータアレイの値を、識別されたピークとして識別することと、
（ｄ）前記識別されたピークに基づいて、
（Ａ）粒子質量分布および／または粒子サイズ分布と、
（Ｂ）前記サンプル中の粒子に対する統計データと
のうちの少なくとも１つを判定することと
を行わせる、システム。
【請求項２３】
前記パルスカウント値のシーケンスを取得するために前記ＩＣＰ−ＭＳをさらに備える、請求項２２に記載のシステム。
【請求項２４】
前記ＩＣＰ−ＭＳは、サンプル導入システムと、大気圧イオン源としての役割を果たす、アルゴンプラズマを発生させるためのＩＣＰトーチおよびＲＦコイルと、前記大気圧イオン源を高真空質量分析計に連結するインターフェースと、イオン光学、四重極、および検出器のための高真空を提供する、真空システムと、達成可能検出限界を低下させ得る干渉を除去するように構成される、衝突／反応セルとを備え、前記イオン光学は、中性種および光子が廃棄されることを保証しながら、所望のイオンを前記四重極の中に誘導し、前記ＩＰＣ−ＭＳは、イオンをその質量／電荷比（ｍ／ｚ）によって分類するように構成され、前記ＩＰＣ−ＭＳはさらに、前記四重極から退出する個々のイオンをカウントする、検出器と、機器制御の側面ならびに最終濃度結果を得る際に使用するためのデータ取得および処理を制御する、データ取扱およびシステムコントローラとを備え、前記プロセッサは、前記データ取扱およびシステムコントローラの一部である、請求項２３に記載のシステム。