【手続補正書】
【提出日】平成30年3月15日(2018.3.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
出力熱量を可変又は切り替えることが可能な熱源と、
温度監視領域の近くに位置し、第１の測定温度を出力する第１の温度センサと、
前記第１の温度センサとは異なる位置において、第２の測定温度を出力する第２の温度センサと、
各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する第１の差分値ΔＴＡと、前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との間の第２の差分値ΔＴＢとに基づいて前記熱源の出力熱量を制御する制御部と
を有する自動分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記第２の温度センサは、前記熱源と前記第１の温度センサとの中間に位置する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、ロジック回路である
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、
前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢを比較し、
前記第１の差分値ΔＴＡが前記第２の差分値ΔＴＢより大きいとき、前記熱源をオン制御し、
前記第１の差分値ΔＴＡが前記第２の差分値ΔＴＢより小さいとき、前記熱源をオフ制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
請求項１に記載の自動分析装置において、
冷却源を更に有し、
前記制御部は、
前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢを比較し、
前記第１の差分値ΔＴＡが前記第２の差分値ΔＴＢより大きいとき、前記熱源をオン制御すると共に、前記冷却源をオフ制御し、
前記第１の差分値ΔＴＡが前記第２の差分値ΔＴＢより小さいとき、前記冷却源をオン制御すると共に、前記熱源をオフ制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項６】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、
前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢとの偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）を計算し、
前記各処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）に比例係数を乗算して第１の値を計算し、
前記各処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）に積分係数を乗算した値を積分することにより第２の値を計算し、
前記第１の値と前記第２の値の加算値により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項７】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、
前記各処理時点に、前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢとの偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）を計算し、
前記各処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）に比例係数を乗算して第１の値を計算し、
前記各処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）に積分係数を乗算した値を積分することにより第２の値を計算し、
前回の前記処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）と現在の前記処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）との差分値に微分係数を乗算して第３の値を計算し、
前記第１の値、前記第２の値及び前記第３の値の加算値により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項８】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、
前記各処理時点に、前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢとの偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）を計算し、
前回の前記処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）と現在の前記処理時点における前記偏差（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）との差分値に微分係数を乗算した値により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項９】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記熱源と、前記第１の温度センサと、前記第２の温度センサで構成される組を複数有し、
前記制御部は、
第１の組について、各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する第１の差分値ΔＴＡと、前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との間の第２の差分値ΔＴＢとの差分（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）から計算される第１の出力熱量によって前記熱源を制御し、
前記第１の組とは異なる第２の組について、前記各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する前記第１の差分値ΔＴＡと、前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との間の第２の差分値ΔＴＢとの差分（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）から計算される第１の出力熱量を、前記第１の組における前記第１の測定温度と前記第２の組における前記第１の測定温度との差分から計算される第２の出力熱量によって補正し、補正後の出力熱量により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記熱源と、前記第１の温度センサと、前記第２の温度センサで構成される組を複数有し、
前記制御部は、
第１の組について、各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する第１の差分値ΔＴＡと、前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との間の第２の差分値ΔＴＢとの差分（＝ΔＴＡ−ΔＴＢ）から計算される第１の出力熱量によって前記熱源を制御し、
前記第１の組とは異なる第２の組について、前記各処理時点における前記第１の組に対応する前記第１の測定温度と前記第２の組に対応する前記第１の測定温度との差分値から計算される第２の出力熱量によって、前記第１の出力熱量を補正し、
補正後の出力熱量により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、
（ａ）現在の前記処理時点における前記第１の測定温度と前記目標温度との偏差量に、所定の勾配係数と制御周期間隔とを乗算して求められる値と、（ｂ）前回の前記処理時点における前記第１の測定温度と現在の前記処理時点における前記第１の測定温度との間の変化量と、から計算される第１の出力熱量を、
前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢに基づいて計算される第２の出力熱量で補正し、
補正後の出力熱量により前記熱源を制御する
ことを特徴とする自動分析装置。
【請求項１２】
検体と試薬を混合した反応液を収容する少なくとも１つの反応容器を保持する温調ブロックと、
前記温調ブロックに与える出力熱量を可変又は切り替えることが可能な熱源と、
温度監視領域の近くに位置し、第１の測定温度を出力する第１の温度センサと、
前記第１の温度センサとは異なる位置において、第２の測定温度を出力する第２の温度センサと、
各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する第１の差分値ΔＴＡと、前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との第２の差分値ΔＴＢとに基づいて前記熱源の出力熱量を制御する制御部と
を有する遺伝子検査装置。
【請求項１３】
出力熱量を可変又は切り替えることが可能な熱源と、温度監視領域の近くに位置し、第１の測定温度を出力する第１の温度センサと、前記第１の温度センサとは異なる位置において、第２の測定温度を出力する第２の温度センサと、前記熱源の出力熱量を制御する制御部とを有する自動分析装置における温度制御方法において、
前記制御部は、
各処理時点における前記第１の測定温度と目標温度との差分値に比例する第１の差分値ΔＴＡを計算し、
前記各処理時点における前記第１の測定温度と前記第２の測定温度との第２の差分値ΔＴＢを計算し、
前記第１の差分値ΔＴＡと前記第２の差分値ΔＴＢに基づいて前記熱源の出力熱量を制御する
ことを特徴とする温度制御方法。