【手続補正書】
【提出日】平成30年1月11日(2018.1.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力結果を所定の予測結果と比較し、比較結果に基づいて前記ＩＣチップの欠陥有無を検査するスキャンテストで、前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンの一部または全部で構成されるスキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するためのスキャンテストデータであって、
前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された複数のスキャンセクションを含む第１データと、
前記第１データ内のそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データと、
を含み、
前記第２データ内の使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置するスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
スキャンテストデータ。
【請求項２】
前記第１データは複数の対象スキャンセクションを含み、
前記第２データ内の前記複数の対象スキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
請求項１に記載のスキャンテストデータ。
【請求項３】
前記タイミング情報は、前記スキャン入力ポートにスキャンセクションをシフトするためのシフト周波数またはシフトクロックの周期に該当する第１情報及び前記スキャンセクションを識別するための第２情報のうち少なくとも一つを含む、
請求項１または２に記載のスキャンテストデータ。
【請求項４】
前記第１データは前記対象スキャンセクションを構成する第２スキャンパターンと前記第２スキャンパターンの直前に位置する第１スキャンパターンを含み、
前記第１スキャンパターンと前記第２スキャンパターンは前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された、
請求項１ないし３の何れか一つに記載のスキャンテストデータ。
【請求項５】
前記第１データは、
第１スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第１予測パターンと、
前記第２スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第２予測パターンと、
をさらに含む、
請求項４に記載のスキャンテストデータ。
【請求項６】
前記第１データは、前記スキャン入力ポートに最初に入力されるスキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する予測パターンとして、ドンケア（Ｄｏｎ’ｔ  Ｃａｒｅ）パターンをさらに含む、
請求項１ないし５の何れか一つに記載のスキャンテストデータ。
【請求項７】
前記第１データは前記第２スキャンパターンの直後に位置する第３スキャンパターンをさらに含み、
前記第２スキャンパターンと前記第３スキャンパターンは前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された、
請求項４又は５に記載のスキャンテストデータ。
【請求項８】
前記第１データは前記第３スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第３予測パターンをさらに含む、
請求項７に記載のスキャンテストデータ。
【請求項９】
前記対象スキャンセクションの使用可能なシフト周波数を検索するために用いられるスキャンパターンの数は、前記ＩＣチップをテストするための全スキャンパターンの数以下である、
請求項１ないし８の何れか一つに記載のスキャンテストデータ。
【請求項１０】
請求項１ないし９の何れか一つに記載のスキャンテストデータを格納する、コンピューターで読み取り可能な記録媒体。
【請求項１１】
コンピューターにより、スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力結果を所定の予測結果と比較し、比較結果に基づいて前記ＩＣチップの欠陥有無を検査するスキャンテストで、前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンの一部または全部で構成されるスキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するためのスキャンテストデータを作成するスキャンテストデータ作成方法であって、
前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された複数のスキャンセクションを含む第１データを格納する工程と、
前記第１データ内のそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データを格納する工程と、
を含み、
前記第２データ内の使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置するスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
スキャンテストデータ作成方法。
【請求項１２】
前記第１データは複数の対象スキャンセクションを含み、
前記第２データ内の前記複数の対象スキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
請求項１１に記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１３】
前記タイミング情報は、前記スキャン入力ポートにスキャンセクションをシフトするためのシフト周波数またはシフトクロックの周期に該当する第１情報及び前記スキャンセクションを識別するための第２情報のうち少なくとも一つを含む、
請求項１１または１２に記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１４】
前記第１データは前記対象スキャンセクションを構成する第２スキャンパターンと前記第２スキャンパターンの直前に位置する第１スキャンパターンを含み、
前記第１スキャンパターンと前記第２スキャンパターンは前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された、
請求項１１ないし１３の何れか一つに記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１５】
前記第１データは、
第１スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第１予測パターンと、
前記第２スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第２予測パターンと、
をさらに含む、
請求項１４に記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１６】
前記第１データは、前記スキャン入力ポートに最初に入力されるスキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する予測パターンとして、ドンケア（Ｄｏｎ’ｔ  Ｃａｒｅ）パターンをさらに含む、
請求項１１ないし１５の何れか一つに記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１７】
前記第１データは前記第２スキャンパターンの直後に位置する第３スキャンパターンをさらに含み、
前記第２スキャンパターンと前記第３スキャンパターンは前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された、
請求項１４又は１５に記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１８】
前記第１データは前記第３スキャンパターンを前記スキャン入力ポートに入力して前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する第３予測パターンをさらに含む、
請求項１７に記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項１９】
前記対象スキャンセクションの使用可能なシフト周波数を検索するために用いられるスキャンパターンの数を、前記ＩＣチップをテストするための全スキャンパターンの数以下に設定する工程をさらに含む、
請求項１１ないし１８の何れか一つに記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項２０】
少なくとも一つ以上のスキャンパターンから、スキャンセクションのビットの長さ、スキャンパターンをスキャンセクションに区画する数、スキャンパターンでビットの値が変わる境界ビット、または最適なシフト周波数の検索にかかる予想所要時間を基準にスキャンセクションを区画する工程をさらに含む、
請求項１１ないし１９の何れか一つに記載のスキャンテストデータ作成方法。
【請求項２１】
コンピューターに、請求項１１ないし２０の何れか一つに記載のスキャンテストデータ作成方法を実行させるためのプログラム。
【請求項２２】
請求項２１に記載のプログラムを格納する、コンピューターで読み取り可能な記録媒体。
【請求項２３】
スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力結果を所定の予測結果と比較し、比較結果に基づいて前記ＩＣチップの欠陥有無を検査するスキャンテスト装置であって、
前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンは、その一部または全部が少なくとも一つ以上のスキャンセクションを構成し、
前記少なくとも一つ以上のスキャンセクション対して使用可能なシフト周波数を検索するためのスキャンテストデータは、
前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された複数のスキャンセクションを含む第１データと、
前記第１データ内のそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データと、
を含み、
前記第２データ内の使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置するスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
スキャンテスト装置。
【請求項２４】
コンピューターにより、スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力結果を所定の予測結果と比較し、比較結果に基づいて前記ＩＣチップの欠陥有無を検査するスキャンテスト方法であって、
前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンは、その一部または全部が少なくとも一つ以上のスキャンセクションを構成し、
前記少なくとも一つ以上のスキャンセクション対して使用可能なシフト周波数を検索するためのスキャンテストデータは、
前記スキャン入力ポートに順次入力されるように構成された複数のスキャンセクションを含む第１データと、
前記第１データ内のそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データと、
を含み、
前記第２データ内の使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置するスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
スキャンテスト方法。
【請求項２５】
コンピューターに、請求項２４に記載のスキャンテスト方法を実行させるためのプログラム。
【請求項２６】
請求項２５に記載のプログラムを格納する、コンピューターで読み取り可能な記録媒体。