【手続補正書】
【提出日】平成29年12月26日(2017.12.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、
前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導く第１のダイクロイックミラーと、
前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーと、
前記測定光が照射された前記被検査物からの第１戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光する受光手段と、を有し、
前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第１のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記第１のダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散に対応していることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記第１のダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散と同様であることを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記第１のダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーのそれぞれは複数の層により構成されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記光源からの光とは異なる光に対する被検査物からの戻り光に基づき被検査物の所定の部位の画像を取得する撮像手段を更に備え、
前記撮像手段は、
前記光源の光の波長とは異なる第１の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光に基づき前記被検査物の第１の部位の画像を取得する第１の撮像手段と、
前記光源の光の波長および前記第１の波長とは異なる第２の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光に基づき前記第１の部位とは異なる前記被検査物の第２の部位の画像を取得する第２の撮像手段と、
を有し、
前記第１の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光は、前記第１のダイクロイックミラーを透過して前記第１の撮像手段に到達し、
前記第２の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光は、前記第１のダイクロイックミラーにより反射され、且つ、第２のダイクロイックミラーにより反射されて前記第２の撮像手段に到達し、
前記測定光は前記第２のダイクロイックミラーを透過することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記撮像手段で取得される画像と、前記受光手段の出力に基づいて取得される断層画像とを並べて表示する表示手段を更に備えることを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記光源からの光の中心波長は８５５ｎｍであって、
前記第１のダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーはそれぞれ波長が８５５ｎｍの光を反射し、波長が９７０ｎｍの光を透過する特性を有することを特徴する請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記被検査物は被検眼の眼底であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記被検査物は眼であり、前記第１の部位は前眼であり、前記第２の部位は眼底であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記第１戻り光は前記第１のダイクロイックミラーにより前記受光手段に向かって反射され、前記参照戻り光は前記参照ダイクロイックミラーにより前記受光手段に向かって反射されることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１１】
光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導く第１のダイクロイックミラーと、前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーと、を有し、前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第１のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有している、撮像装置の撮像方法であって、
前記測定光が照射された前記被検査物からの第１戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光処理する受光工程を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項１２】
光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、
前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられた前記測定光を透過することで前記測定光を被検査物へ導くダイクロイックミラーと、
前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に設けられた前記参照光を透過することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーと、
前記ダイクロイックミラーにより透過された、前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光と、前記参照ダイクロイックミラーにより透過された、前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光する受光手段とを有し、
前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記ダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項１３】
前記ダイクロイックミラーに対する前記測定光の入射角度と前記ダイクロイックミラーに対する前記参照光の入射角度とが同様になるように前記ダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーが配置されていることを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置。
【請求項１４】
前記ダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散に対応していることを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の撮像装置。
【請求項１５】
前記ダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散と同様であることを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の撮像装置。
【請求項１６】
光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられた前記測定光を透過することで前記測定光を被検査物へ導くダイクロイックミラーと、前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に設けられた前記参照光を透過することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーと、有し、前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記ダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を備える撮像装置の撮像方法であって、
前記ダイクロイックミラーにより透過された、前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光と、前記参照ダイクロイックミラーにより透過された、前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光処理する受光工程を有することを特徴とする撮像方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記の目的を達成する本発明の一つの側面にかかる撮像装置は、光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、
前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導く第１のダイクロイックミラーと、
前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーと、
前記測定光が照射された前記被検査物からの第１戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光する受光手段と、を有し、
前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第１のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有することを特徴とする。