(57)【要約】測定対象物の電気的特性を正確に測定可能な磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法および装置を提供する。  磁気共鳴撮像法により例えば９０度パルスを発生させて磁気共鳴の横磁化をつくりパルス電流無印加時の画像データを収集し（ステップ２２）、パルス電流無印加時の画像を得る（ステップ２３）。一方、９０度パルスを発生させて磁気共鳴の横磁化が存在する時間帯に測定対象物にパルス電流を印加し（ステップ２４）、これにより局所的不均一磁場を横磁化にエンコードし（ステップ２５）、パルス電流印加時の画像データを収集し（ステップ２６）、パルス電流印加時の画像を得る（ステップ２７）。このパルス電流印加時の画像とパルス電流無印加時の画像との差分を取り（ステップ２８）、これに基づいて測定対象物の電気的特性を計測する（ステップ２９）。
2005009235.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法であって、高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に測定対象物に生起される不均一磁場の影響が反映された信号に基づいて第１の画像データを収集し、および高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に得られる前記不均一磁場による影響を受けない信号に基づいて第２の画像データを収集し、前記第１および第２の画像データを用いて測定対象物の電気的特性を計測することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記不均一磁場が、前記測定対象物にパルス的に電流を流すことにより生起されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記不均一磁場が、前記測定対象物にパルス的に磁場を加えて渦電流を流すことにより生起されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記測定対象物の電気的特性の計測が、前記第１の画像データと第２の画像データの差分をとることにより行われることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の方法。
【請求項５】
前記測定対象物の電気的特性の計測が、前記第１の画像データと第２の画像データをそれぞれ処理して得られる第１の磁気共鳴画像と第２の磁気共鳴画像の差分をとることにより行われることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記第１および第２の画像データが、ぞれぞれ前記横磁化が存在する時間帯に得られる信号のエコー信号から得られることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の方法。
【請求項７】
磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測装置であって、測定対象物に磁気共鳴を起こさせるための高周波パルスを印加する高周波送信用コイルと、前記測定対象物から誘導される信号を受信する高周波受信用コイルと、前記測定対象物に電流を流して不均一磁場を生起させるための電流発生器とを備え、前記高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に前記測定対象物に生起される前記不均一磁場の影響が反映された第１の信号および前記高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に得られる前記不均一磁場による影響を受けない第２の信号に基づいて、前記測定対象物の電気的特性を計測することを特徴とする装置。
【請求項８】
前記電流発生器が、前記測定対象物にパルス的に電流を流すものであることを特徴とする請求項７記載の装置。
【請求項９】
前記電流発生器が、前記測定対象物にパルス的に磁場を加えて渦電流を流すものであることを特徴とする請求項７記載の装置。
【請求項１０】
前記測定対象物の電気的特性の計測が、前記第１の信号と第２の信号の差分をとることにより行われることを特徴とする請求項７〜９のいずれかに記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、測定対象物の電気的特性を測定する磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】  磁気共鳴撮像法は非破壊的に測定対象物の内部構造を断層像あるいは立体像として確かな位置情報で可視化することができる優れた撮像法である。磁気共鳴撮像法を用いた測定対象物内の電気的特性を測定する方法としては、測定対象物の相対する両端に２個の電極を設置し、これらに電圧を印加して、測定対象物に電流を流した状態で磁気共鳴撮像を行う方法がある。
【非特許文献１】Ｇ．Ｃ．Ｓｃｏｔｔ，Ｍ．Ｌ．Ｇ．Ｊｏｙ，Ｒ．Ｌ．Ａｒｍｓｔｒｏｎｇ，ａｎｄ  Ｒ．Ｍ．Ｈｅｎｋｅｌｍａｎ，″Ｓｅｎｓｉｔｉｖｉｔｙ  ｏｆ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ−Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  Ｃｕｒｒｅｎｔ−Ｄｅｎｓｉｔｙ  Ｉｍａｇｉｎｇ，″Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  ９７，２３５−２５４（１９９２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  ところで、測定対象物が容器内の液体のように流動性を持つものの場合には、電圧印加によってイオンや荷電分子が移動し、液体の流れが生じる。そのため従来法では、得られた磁気共鳴画像に液体の流れの影響が直接現れ、電流分布に関する正しい情報が得られず、測定対象物の電気的特性を正しく測定することができないという問題がある。また、試料内の荷電粒子分布の変動、電極表面でのガスの発生、電極と試料との間の接触抵抗による発熱などの問題もある。【０００４】  従って本発明の目的は、従来の問題点を解決し、測定対象物の電気的特性を正確に測定可能な磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】  上記目的は、高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に測定対象物に生起される不均一磁場の影響が反映された信号に基づいて第１の画像データを収集し、および高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に得られる前記不均一磁場による影響を受けない信号に基づいて第２の画像データを収集し、前記第１および第２の画像データを用いて測定対象物の電気的特性を計測する磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法により、達成される。【０００６】  ここで、前記不均一磁場は、測定対象物にパルス的に電流を流すことにより生起することができ、または、測定対象物にパルス的に磁場を加えて渦電流を流すことにより生起することができる。また、前記測定対象物の電気的特性の計測は、前記第１の画像データと第２の画像データの差分をとることにより、または、前記第１の画像データと第２の画像データをそれぞれ処理して得られる第１の磁気共鳴画像と第２の磁気共鳴画像の差分をとることにより行うことができる。さらに、前記第１および第２の画像データは、ぞれぞれ前記横磁化が存在する時間帯に得られる信号のエコー信号から得ることができる。【０００７】  本発明に係る磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測装置は、測定対象物に磁気共鳴を起こさせるための高周波パルスを印加する高周波送信用コイルと、前記測定対象物から誘導される信号を受信する高周波受信用コイルと、前記測定対象物に電流を流して不均一磁場を生起させるための電流発生器とを備え、前記高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に前記測定対象物に生起される前記不均一磁場の影響が反映された第１の信号および前記高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯に得られる前記不均一磁場による影響を受けない第２の信号に基づいて、前記測定対象物の電気的特性を計測するものである。前記２つのコイルは１個のコイルで送信と受信を兼ねることもできる。
ここで、前記電流発生器は、前記測定対象物にパルス的に電流を流すもの、または前記測定対象物にパルス的に磁場を加えて渦電流を流すものとすることができる。また、前記測定対象物の電気的特性の計測は、前記第１の信号と第２の信号の差分をとることにより行うことができる。
【発明の効果】
【０００８】  本発明によれば、例えば数ｍｓ〜数１０ｍｓといったごく短時間だけ、パルス的に電流を流すことまたはパルス的に磁場を加えて渦電流を流すことにより、従来のように測定対象物に生ずる対流等の不都合な現象に起因する不要な情報が検出信号にもたらされないので、測定対象物について電気的特性を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明で用いられる磁気共鳴撮像（ＭＲＩ）装置の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る測定対象物の電気的特性計測方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明に係る測定対象物の電気的特性計測方法に用いるパルス系列の一例を示す図で、（ａ）は高周波パルスＲＦ、（ｂ）はパルス電流無印加時のＦＩＤ信号およびエコー信号Ｓ１、（ｃ）は位相エンコード勾配磁場Ｇｐ、（ｄ）は読み出し勾配磁場Ｇｒ、（ｅ）はパルス電流Ｐ、（ｆ）はパルス電流印加時のＦＩＤ信号およびエコー信号Ｓ２をそれぞれ示す。
【図４】（ａ）はパルス電流オフ時のプロトン画像、（ｂ）はパルス電流オン時のプロトン画像、（ｃ）はパルス電流オン時の画像（ｂ）とオフ時の画像（ａ）との差分画像を示す図である。
【符号の説明】
【００１０】  ３１  ９０度パルス
３２  パルス電流無印加時のＦＩＤ信号
３３  １８０度パルス
３４  パルス電流無印加時のエコー信号
３５  位相エンコード勾配磁場
３６  読み出し勾配磁場
３７  パルス電流
３８  パルス電流印加時のＦＩＤ信号
３９  パルス電流印加時のエコー信号
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】  本発明の実施例を説明する前に、まず本発明の原理を説明する。
測定対象物中の測定対象となるスピンの磁気共鳴を観測するため、測定対象物にα度（例えば９０度）高周波パルスを印加すると、これに伴って横磁化が作られ、自由誘導減衰（Ｆｒｅｅ  Ｉｎｄｕｃｔｉｏｎ  Ｄｅｃａｙ：ＦＩＤ）信号が観測される。この横磁化の存在中に測定対象物に対してパルス的に電流を流すと、電流の作る磁場によって局所的な磁場の不均一が生じる。局所的な不均一磁場によってＦＩＤ信号の見かけの横緩和時間Ｔ２＊が短縮する。このことに起因する信号強度、あるいは位相の変化を画像化することによって、測定対象物における電流経路、電流密度、電導度、インピーダンス等の電気的特性の時間分布および空間分布を可視化することができる。なお、上記のようにパルス的に電流を流す代わりに、測定対象物に渦電流が流れるようにパルス的に磁場を加え、渦電流によって発生する不均一磁場に起因する信号強度分布、あるいは位相分布の変化をみることもできる。本発明では、撮像にはスピンエコー法、勾配エコー法等殆どの撮像法を適用することができ、汎用性が非常に高い。本発明は、パルス電流またはパルス磁場に同期させた測定であるため、シングルショット測定はもちろんのこと、Ｓ／Ｎ改善のための積算測定が容易である。
本発明で測定可能な対象物は、例えば動物、植物等の生きた状態の生体、生体から摘出あるいは抽出した試料、電池、燃料電池及びその構成材料、高分子電解質、導電性樹脂、複合材料、鉱物試料等である。【００１２】  本発明の原理を更に詳しく述べると、例えば、ｔ＝０においてα度パルス（例えば９０度パルス）を印加すると、横磁化が発生し、自由誘導減衰（ＦＩＤ）信号が観測される。ＦＩＤ信号は見かけの横緩和時間Ｔ２＊で減衰する。Ｔ２＊は
１／Ｔ２＊＝（１／Ｔ２）＋（γ△Ｂ０／２）
で表される。ここで、Ｔ２は横緩和時間（スピン−スピン緩和時間ともいう）、γは磁気回転比で核種に固有の定数、△Ｂ０は静磁場の不均一性である。ＦＩＤ信号が存在している時間帯のｔ＝ｔ１に、ごく短い時間τの間、何らかの方法で測定対象物に電流を流すと、電流路の周囲にはごく短い時間τの間磁場が発生し、局所的に静磁場の均一度が時間τの間低下する。静磁場の均一度が低下した部位のＦＩＤ信号の見かけの横緩和時間Ｔ２＊が短縮する。流した電流に起因する局所的な磁場の不均一性△Ｂｃ（ｒ，ｔ）によって、見かけの横緩和時間Ｔ２＊（ｒ，ｔ）は
１／Ｔ２＊（ｒ，ｔ）＝（１／Ｔ２）＋（γ△Ｂ０／２）＋（γ△Ｂｃ（ｒ，ｔ）／２）
となる。【００１３】  例えば、長さ２Ｌの直線導体上を電流Ｉが流れているとき、２Ｌの中心Ｏから垂直方向に距離ｒの点における磁束密度Ｂｃ（ｒ，ｔ）は
Ｂｃ（ｒ，ｔ）＝μ０ＩＬ／２πｒ（ｒ２＋Ｌ２）１／２
で与えられる。ここで、μ０は真空中の透磁率である。【００１４】  ｔ＝ＴＥ／２に例えば１８０度パルスを印加すると、ｔ＝ＴＥ（エコー時間）にエコー信号が現れる。△Ｂ０のように撮像時間内一定の値で存在し続ける静的な不均一磁場による横磁化の減衰はスピンエコーによって回復するが、流した電流により生起される局所的な不均一磁場△Ｂｃ（ｒ，ｔ）に起因する横磁化の減衰はエコー信号発生時に既に△Ｂｃ（ｒ，ｔ）が存在しないため、スピンエコーによって回復することはなく、エコー信号の強度が減少する。従って、電流を流したときの磁気共鳴画像では電流によって発生した局所的不均一磁場の部位の信号強度は電流が存在しないときの信号強度に比べ低下する。電流印加画像と電流を流さないときの画像との差分画像を得ることによって、電流に起因する信号強度あるいは位相変化のみを求めることができる。電流路の位置、形状、寸法等の幾何学的情報、および各電流路を流れる電流量は差分画像から直接的に知ることができる。予め印加電圧Ｖを求めておけば、ＭＲ画像から得られた各電流路の断面積Ｓｉ、長さＬｉ、電流Ｉｉを用いて、各電流路のインピーダンス（Ｖ／Ｉｉ）、電気伝導率（ＬｉＩｉ／ＳｉＶ）等を求めることができる。【００１５】  電流による局所磁場の乱れをエンコードする信号はＦＩＤ信号に限定されるものではない。スピンエコー信号、勾配エコー信号など磁気共鳴信号であれば如何なる信号でもかまわない。α度パルス印加後、約５Ｔ２よりも短い時間内に電流パルスを印加すればよいが、大きな信号強度変化を得るためには、α度パルス印加後、直ちに電流パルスを印加するのがよい。また、電流情報がエンコードされた信号またはこれを基にして発生される信号を用いて画像を構成する撮像法であれば、如何なる撮像法でも用いることができる。測定対象物に複数個の電極を配置し、これら電極間にパルス的に電圧を印加したり、パルス的に磁場を加え、測定対象物に渦電流を発生させることなどによって、測定対象物に電流を流すことができる。【００１６】  従来法では、測定中電流を流していたので、電流により発生する磁場によって、共鳴周波数にずれが生じ、磁場の不均一性とともに信号強度に影響を与え、このため信号強度分布は複雑となり、解析が困難となるという問題がある。しかしながら本発明では、画像作成に用いる信号発生時には電流による磁場が存在しないので、共鳴周波数のずれによる信号強度変化は観測されず、局所的な磁場の不均一性による信号変化のみが観測されるという利点がある。
【実施例】
【００１７】  以下、本発明に係る磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法および装置の一実施例について説明する。
図１は、本発明で用いられる磁気共鳴撮像（ＭＲＩ）装置の一例を示すブロック図である。図示のように、ＭＲＩ装置１は、静磁場発生磁石３、高周波送信用コイル４、高周波受信用コイル５、勾配磁場コイル６を備える。ここでコイル４、５は１個のコイルで送信と受信を兼ねることもできる。一方、コンピュータ７には制御装置８が接続されている。制御装置８は、高周波発生装置９からの高周波信号を変調器１０にて所望の信号に変調するよう制御する。この変調信号は増幅器１１を介して高周波送信用コイル４に付与される。また、制御装置８は、勾配磁場発生装置１２を制御し、勾配磁場コイル６に所望の傾斜磁場を発生させる。測定時において、測定対象物１３には、核磁気共鳴を起こさせるために高周波送信用コイル４から高周波パルスが照射される。これにより、核磁気共鳴によって測定対象物１３から誘導されるエコー信号は、高周波受信用コイル５および増幅器１４を介して位相検波器１５で検波される。ＡＤ変換器１６は、このアナログ検波信号をディジタル信号に変換する。コンピュータ７は、記憶装置１７に格納したソフトウェアプログラムによる処理手順にしたがってこのディジタル信号を処理し、その処理結果を表示装置１８に画像として表示する。なお、パルス電流発生器１９は、測定対象物１３に対して複数の電極２０を介してパルス電流を与えるためのものである。その他の構成については通常のＭＲＩ装置と同様である。このＭＲＩ装置１は、本発明に係る磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測装置として用いることができる。【００１８】  図２は、本発明に係る測定対象物の電気的特性計測方法を示すフローチャートである。図示のように、測定が開始されると（ステップ２１）、まず、図１の測定対象物１３のパルス電流無印加時の画像データ（ｋ空間）を収集する（ステップ２２）。そのため、高周波送信用コイル４から例えば９０度パルスを発生させ、続いて１８０度パルスを発生させる。この場合はパルス電流発生器１９は用いない。そして、これによるエコー信号を高周波受信用コイル５を介して読み取って、パルス電流無印加時の画像データを収集する。この読み取られたエコー信号はディジタル変換され、コンピュータ７によりフーリエ変換等の処理を行ってパルス電流無印加時の画像を得る（ステップ２３）。このパルス電流無印加時の画像には、パルス電流の印加に起因する影響は反映されていない。【００１９】  次に、パルス電流印加時の画像データ（ｋ空間）を収集する。まず、高周波送信用コイル４から例えば９０度パルスを発生させ、これによる横磁化が存在する時間帯に、パルス電流発生器１９から電極２０を介して測定対象物１３にパルス電流を印加する（ステップ２４）。これにより局所的な磁場の不均一が横磁化にエンコードされる（ステップ２５）。この場合の見かけの横緩和時間Ｔ２＊はパルス電流無印加時に比べΔＴ２＊だけ短縮される。続いて１８０度パルスを発生させ、これによるエコー信号を読み取って、パルス電流印加時の画像データ（ｋ空間）を収集する（ステップ２６）。高周波受信用コイル５を介して読み取られたエコー信号はディジタル変換され、コンピュータ７によりフーリエ変換等の処理を行ってパルス電流印加時の画像を得る（ステップ２７）。このパルス電流印加時の画像には、パルス電流の印加に起因する影響が反映されている。【００２０】  このパルス電流印加時の画像とパルス電流無印加時の画像とを比較し演算処理を行う（ステップ２８）。例えばこの両者の差分を取ると、見かけの横緩和時間Ｔ２＊の短縮時間ΔＴ２＊に起因する信号だけが残る。この信号に基づいて電気的特性画像を得ることができる（ステップ２９）。なお、上記において、パルス電流無印加時の画像とパルス電流印加時の画像の取得順序は先後は問わず任意である。また、パルス電流無印加時の画像のデータ（ｋ空間）とパルス電流印加時の画像のデータ（ｋ空間）の差分をとり、これをフーリエ変換等の処理を行って画像化してもよい。また、電気的特性画像は、コンピュータ７により上記各ステップのソフトウェアプログラムを実行させることにより、表示装置１８に表示することができる。このソフトウェアプログラムは記憶装置１７またはＣＤ−ＲＯＭなどの各種記録媒体に格納しておくことができる。【００２１】  図３は、本発明に係る測定対象物の電気的特性計測方法に用いるパルス系列の一例を示す図で、（ａ）は高周波パルスＲＦ、（ｂ）はパルス電流無印加時のＦＩＤ信号およびエコー信号Ｓ１、（ｃ）は位相エンコード勾配磁場Ｇｐ、（ｄ）は読み出し勾配磁場Ｇｒ、（ｅ）はパルス電流Ｐ、（ｆ）はパルス電流印加時のＦＩＤ信号およびエコー信号Ｓ２をそれぞれ示す。【００２２】  まず、パルス電流が印加されない場合、図３（ａ）に示すように、時刻ｔ＝０で高周波パルスとして例えば９０度パルス３１が印加されると、同図（ｂ）に示すように、ＦＩＤ信号３２が誘導される。時刻ＴＥ／２において１８０度パルス３３が印加されると、時刻ＴＥ（エコー時間）においてエコー信号３４が現れる。ここで、図３（ｃ）に示すように、勾配磁場発生装置１２から勾配磁場コイル６を介して位相エンコード勾配磁場３５をかけ、更に、図３（ｄ）に示すように読み出し勾配磁場３６をかけて、高周波受信用コイル５を介してエコー信号３４を受信し記録する。位相エンコード勾配磁場３５を系統的に変化させて、多数のエコー信号を記録する。このエコー信号３４を用いて画像を構成すると、パルス電流印加による不均一磁場が反映されない画像が得られる。【００２３】  次に、パルス電流が印加される場合、上述のように、時刻ｔ＝０で高周波パルスとして例えば９０度パルス３１が印加されたあと、同図（ｅ）に示すように、高周波パルスの印加による横磁化が存在する時間帯である時刻ｔ＝ｔ１でパルス電流３７が印加される。このパルス電流３７は、例えばτ＝数ｍｓ〜数１０ｍｓのパルス幅を有する。パルス電流３７が印加されると、測定対象物において局所的に磁場の均一度が低下する。このため、同図（ｆ）に示すように、磁場均一度低下部位におけるプロトンのＦＩＤ信号３８の見かけの横緩和時間Ｔ２＊がΔＴ２＊だけ短縮する。同図（ｆ）において破線はパルス電流無印加時のカーブである。このΔＴ２＊による信号減衰分は、画像化データ収集時にはこれをもたらした磁場が既に存在しないので、スピンエコー、勾配エコー等によって回復することはない。時刻ＴＥ／２において１８０度パルス３３が印加さ��ると、時刻ＴＥ（エコー時間）においてエコー信号３９が現れる。ここで勾配磁場発生装置１２から勾配磁場コイル６を介して位相エンコード勾配磁場３５をかけ、更に読み出し勾配磁場３６をかけて、高周波受信用コイル５を介してエコー信号３９を受信し記録する。位相エンコード勾配磁場３５を系統的に変化させて、多数のエコー信号を記録する。このエコー信号３９を用いて画像を構成すると、パルス電流印加による不均一磁場が反映された画像が得られる。【００２４】  そして、パルス電流印加による不均一磁場が反映された画像と反映されない画像とを比較する、例えば両者の差分を取ると、ΔＴ２＊に起因する信号だけが残り、測定対象物の電気的特性を描出することができる。例えば、図４に示すように、不均一系の中の高電導度領域のインピーダンスの計測が可能である。図４（ａ）はパルス電流オフ時の、（ｂ）はパルス電流オン時のプロトン画像である。図４（ａ）、（ｂ）の中央やや右部の黒色の直線は高電導度領域である。図４（ｃ）はパルス電流オン時の画像（ｂ）とオフ時の画像（ａ）との差分画像である。高電導度領域に接して左右に存在する黒色領域がパルス電流によってＴ２＊が短縮することによって生じた信号強度減少である。この強度変化量から流れた電流値を知ることができる。電流オフ時の三次元画像（図４（ａ）はその一部）から高電導度領域の幾何学的形状寸法を求め、高電導度領域の電流密度を得、これらから高電導度領域のインピーダンスを算出することができる。【００２５】  このように、本発明では、測定対象物に複数個の電極を配置し、これらを介して測定対象物に磁気共鳴の横磁化が存在する時間帯に、パルス的に電流を流したときに発生する不均一磁場に起因する信号強度分布変化を観測することによって、電流の経路、電流密度、電導度、インピーダンス等の電気的特性の空間分布および時間分布を可視化することができる。この場合、パルス的に電流を流す代わりに、測定対象物に渦電流が流れるようにパルス的に磁場を加え、渦電流によって発生する不均一磁場に起因する信号強度分布変化を観測することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００２６】  本発明は、測定対象物の電気的特性を測定する磁気共鳴撮像法を用いた電気的特性計測方法および装置に関するものであり、産業上の利用可能性がある。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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