【事件の表示】
　平成　５年特許願第　４０３１８号「磁気力顕微鏡用カンチレバー及び磁気力顕微鏡」拒絶査定不服審判事件〔平成　６年　９月　９日出願公開、特開平　６−２４９９３３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は、平成５年３月１日に出願されたものであって、平成１４年１月３０日付けで拒絶査定の謄本が発送され、平成１４年３月１日付けで拒絶査定不服審判の請求がされたものである。
　
２　本願発明
　本願の請求項１ないし４に係る発明（以下、それぞれ、「本願発明１」ないし「本願発明４」という。）は、平成１１年６月１６日付けの手続補正書、平成１３年６月４日付けの手続補正書及び平成１４年３月２６日付けの手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし４に記載された次のとおりのものと認める。
　
「【請求項１】試料表面の磁化の状態を測定するための磁気力顕微鏡用カンチレバーであって、探針先端の磁化方向が前記試料表面の磁力線の方向によらず一定でかつ前記試料表面に垂直になるように前記探針先端にスパッタリング法により硬磁性膜が形成された探針と、板バネとを有し、前記探針が前記板バネの端部に取り付けられており、前記探針に作用する前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化方向と一致する場合に引力、前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化と逆方向である場合に斥力となり、これにより生じる前記探針の上下動から前記試料表面の磁化状態を引力と斥力との力の差として測定できるようにしたことを特徴とする磁気力顕微鏡用カンチレバー。
【請求項２】　試料表面の磁化分布を測定するための磁気力顕微鏡において、探針先端の磁化方向が前記試料表面の磁力線の方向によらず一定でかつ前記試料表面に垂直になるように前記探針先端にスパッタリング法により硬磁性膜が形成された探針と、板バネとを有し、前記探針が前記板バネの端部に取り付けられており、前記探針に作用する前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化方向と一致する場合に引力、前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化と逆方向である場合に斥力となり、これにより生じる前記探針の上下動から前記試料表面の磁化状態を引力と斥力との力の差として測定できるようにしたことを特徴とする磁気力顕微鏡。
【請求項３】　前記探針がシリコンからなり、前記硬磁性薄膜が鉄／コバルト合金からなることを特徴とする請求項１記載の磁気力顕微鏡用カンチレバー。
【請求項４】　前記探針がシリコンからなり、前記硬磁性薄膜がコバルト／ニッケル合金からなることを特徴とする請求項２記載の磁気力顕微鏡。」
　
３　原査定の理由
　原査定の拒絶の理由の概要は次のとおりである。
　本願発明１ないし４は、本願の出願日前に頒布された次の刊行物に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　刊行物１：特開平４−２３３４０６号公報
　刊行物２：特開平３−９０８５３号公報
　
４　刊行物に記載された発明
（１）刊行物１に記載された発明
  原査定の拒絶の理由に引用された、刊行物１には図面とともに、次の事項が記載されている。
（１ａ）「【構成】真空雰囲気内に配置された基板上に、走査型磁力顕微鏡（ＭＦＭ）用の所定の磁気特性を有するニードル・プローブ・チップを作成する方法を説明する。正確に合焦した電子ビームによる揮発性有機金属化合物の選択的分解によって、実質的に剛性のナノメートル・スケールのニードル状構造体が作成される。ニードル構造体の末端部における硬磁気特性または軟磁気特性により、このようなニードル・プローブ構造体の所定の磁気特性を得る、特に単一磁区を作成する処理工程を説明する。」（第１頁(57)【要約】）
（１ｂ）「【０００１】【産業上の利用分野】本発明は原子間力顕微鏡に関し、詳細にいえば原子間力顕微鏡で使用するナノメートル・スケールのプローブに関する。・・・
【０００３】ＳＴＭの発明は新しい走査型プローブ顕微鏡のファミリーの開発につながったが、そのうちの１つが原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）であり、これは導通試料を必要としないものである。その最初の実施形態において、ＡＦＭは試料内の表面原子の電子雲との先端の表面の電子雲のオーバラップによって発生する斥力に依存していた。先端は可撓性のビームに取り付けられ、このビームはこれが表面を横切って移動する場合に、先端の試料表面に対する一定の力による押圧を維持する。
【０００４】多数の方法を使用して、ＡＦＭのビーム／先端の移動を測定してきたが、最近では、これをレーザ光線で行っている。反射されたレーザが検出され、このレーザによってビームの運動をイメージ信号に変換できるようになる。
【０００５】最近開発されたＡＦＭは、振動プローブ／ビーム構成の力学系に対するその影響によって、表面とプローブの間の引力を検出することに基づくものである。このような構成においては一般に、テーパ付きタングステン・ワイヤをその基部に取り付けられた圧電変換器によって駆動し、ワイヤの共振周波数に近い周波数で振動するようにする。ワイヤの先端が表面を横切って移動すると、引力の結果として、振幅の変化が振動に生じる。振幅の変化は、干渉計レーザ構成によって検知される。
【０００６】　干渉計レーザ検出を使用したＡＦＭのブロック線図を、図１に示す。プローブ構成１０が試料１２の表面上方に配置されている。プローブ構成１０の振幅の変化はレーザ・ヘテロダイン干渉計１４によって検知され、この干渉計はフィードバック発生器１６に出力信号をもたらす。出力信号が印加基準信号に関して変化すると、フィードバック発生器１６は圧電位置制御装置１８に位置制御信号をもたらす。これらの制御信号は位置制御要素内の圧電装置１８に試料を移動させるので、振幅は安定し、したがって力の傾斜が安定する。フィードバック電位の変動は、調査対象の表面の断面に変換される。
【０００７】　本発明を使用できるＡＦＭの他の改変形は静電力顕微鏡であって、振動プローブに電荷がかけられ、その振幅が試料の電荷によって生じる静電力によってもたらされる。ＡＦＭの１形態が磁力顕微鏡（ＭＦＭ）である。ＭＦＭにおいて、磁化されたニッケルまたは鉄のプローブが、他のＡＦＭで使用されるタングステンまたはシリコンの針の代わりに使用される。振動プローブを磁性試料に近づけると、先端がプローブの共振周波数を変え、したがって振幅を変化させる磁力を感知する。ＭＦＭは試料から発生する磁場パターンを追跡する。
【０００８】ＭＦＭによって検知された磁力成分は、プローブの先端及び試料における総磁気双極モーメントの相互作用から生じる。これらの成分はさらに、試料の局所磁気モーメントにおける先端に関連した磁場の影響によって左右される。プローブの横方向分解能は、試料及びチップによる相互作用容積に大幅に左右される。平坦な磁気媒体の場合、相互作用容積は主として、プローブ・チップの形状及び磁気特性によって決定される。それ故、１０００オングストローム未満の横方向分解能を得るには、１０００オングストロームの範囲の現在の先端のサイズは大きすぎるものである。」
（１ｃ）「【００１４】【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の目的はアディティブ法を使用して、ＡＦＭプローブ・チップを作成することにある。
【００１５】本発明の他の目的は、精密なナノメートル・スケールの寸法特性の高縦横比のプローブ・チップを作成することである。
【００１６】本発明のさらに他の目的は、プローブ・チップを作成する電子ビーム及びめっき付着法を提供することである。」
（１ｄ）「【００１８】【実施例】図２を参照して、ＡＦＭナノメートル・スケール・ニードル・プローブの構造を、このようなプローブを作成する方法も含めて説明する。まず、基板２０が電子ビーム装置内の真空室中に配置される。この例において、基板２０はシリコンのコーンである。次いで、揮発性の有機金属化合物ガス流がサブチェンバ６４中へ導入されるとともに、電子ビーム２２がオンとされる。ビーム２２は基板２０の上面２４に衝突し、有機金属ガスの分解と、表面２４上への分解生成物の選択的蒸着を行う。このような蒸着は電子ビーム２２によって照射される領域内に生じ、また表面２４からの電子の散乱によって決定される半径方向距離だけ離れた前期領域外の部分にも生じる。電子ビーム２２の半径が６ナノメートル（６０オングストローム）であると想定すると、最初の蒸着物の直径は約１００ナノメートルとなる。工程が継続すると、有機金属ガスの蒸着分解された成分の付加的な層が堆積し、これによってニードル状の形状２６が作られる。
【００１９】ニードル２６の円錐形の先端形状及びその軸部の直径は、１次ビームの電圧ならびにビームのガウス断面を制御することによって形成される。一般に、ニードルの直径及びそれぞれの円錐頂角は、ビーム電圧を増加させると減少する（１０ｋＶの増加に対して−１０％）。このようなニードルの形状を図３に示す。適切な制御を行うことによって、ニードル２６の先端２８の見かけの直径を、約１０ナノメートルにできることも判明した。ニードル２６を磁気特性を発揮するように構成した場合、１０ナノメートルのチップ直径はこれにおける磁気作用を単一磁区に制限し、これによって長い磁場線の結合によって生じる上述の問題を回避する。
【００２０】ニードル・プローブ２６を基板に蒸着させるのに用いられた方法は、電子ビーム化学蒸着（ＣＶＤ）法である。このような方法はそれ自体公知である。たとえば、特開昭６２−２９５８８６号明細書参照。しかしながら、本出願人の知る限りでは、これまでこのような方法が高縦横比を有するナノメートル・スケールの針状構造体を作成するために用いられたことはない。電子ビームＣＶＤ法が長手方向に沿って相当程度の剛性を示すニードル・プローブをもたらすことが判明した。金属粒子が分散している炭素マトリックス構造を有するニードルをもたらすＣＶＤ法によって、この剛性がもたらされると考えられる。換言すれば、介在する炭素が構造体を強化し、これをＡＦＭプローブとして使用できるようにする。このような構造的な剛性がなければ、ニードル・プローブ２６はＡＦＭプローブとして使用できないものとなろう。
【００２１】金属カルボニルまたは金属アルキルをＣＶＤ法の有機金属源化合物として用いることはできるが、非加熱分解工程が電子ビームの照射のもとで生じるため、メタロセンを用いられることが好ましい。固有磁気特性を有するニードル・プローブを作成するには、コバルトセン、ニッケロセンもしくはフェロセンが好ましい。このような場合には、図３に示すようなニードル構造体が成長し、固有ではあるが、弱い磁気能力を示す。このようなニードル構造体は、場合によっては、ニッケル、コバルトまたは鉄が拡散された炭素マトリックスからなっている。
【００２２】ニードル・プローブにより強力な磁性チップを必要とする用途の場合には、シーディング・ステップ後に磁性体のめっきを行うという少なくとも２つの処理ステップを含んでいる、異なる成長条件を用いる必要がある。各種の代替方法のうち、２つの方法が好ましい。第１の方法においては、シーディング材料（たとえば、アリサイクロペンタジニールパラジウム）を使用して、ニードル２６を成長させる（図４参照）。これはパラジウム・シード粒子が分散された非磁性ニードル構造体をもたらす。ニードル２６の全表面は次いで、以降の無電解めっき工程において、磁性体層３０によってカバーされる。
【００２３】第２の方法においては（図５参照）、ニードル２６が介在金属成分なしに成長させられる。次いで、シーディング材料３２がニードル２６の頂点のみに蒸着される。これはシード材料を含有するガス状金属有機物を導入し、その後チップ領域を電子ビームで露光することによって達成される。したがって、磁性体３０の以降のめっき（たとえば、ガスまたは液体雰囲気中での選択的ＣＶＤ）は、頂点のシードされた領域に限定され、ニードル・プローブ２６に対して単一磁区磁気センサをもたらす。」
（１ｅ）「【００３６】上述の電子ビーム蒸着プロセスは３次元ニードル状構造体の蒸着に適用した場合、単一層膜厚制御、高分解能、及び高縦横比（すなわち、３１を超える）の構造体の製造を可能とするという独特な特性を有している。ほとんどの用途の場合、おそらくこれは細長い磁性チップ形状を作成するのに有利であって、チップがその長軸に沿って磁化させることを保証するものである。ナノメートル・スケールのチップ寸法を与えた場合、単一磁区プローブ・チップが達成され、サンプル表面の磁性構造の結像を原子レベルの分解能で可能とする。」
　
（ア）上記記載事項（１ｂ）及び図１からみて、刊行物１に記載された発明のニードルプローブは、磁力顕微鏡に適用されるものであり、当該磁力顕微鏡は、プローブの先端及び試料における総磁気双曲モーメントの相互作用から生じるプローブの振幅変動を検出するものであり、ニードルプローブは、カンチレバーの可撓性のビームの先端に取り付けられるものであると認めることができる。
　そして、ニードルプローブがその長軸を試料表面に対して垂直となるように配置されることは、当業者にとって自明の技術事項である。
（イ）さらに、上記記載事項（１ａ）において、ニードル２６に被覆されるニードルプローブの磁気特性として、軟磁気特性又は硬磁気特性を得ることが記載されていることから、刊行物１の図４又は図５に記載されている「ニードルプローブ」は、軟磁気特性又は硬磁気特性を持つものであって、当該磁気特性のうち、硬磁気特性を得る場合には、磁性体３０として硬磁気特性を持つものを用いることは明らかである。そして、硬磁気特性を示す磁性体３０が用いられている場合には、当該探針は、磁化方向が試料表面の磁力線の方向によらず一定となり、かつ、記載事項（１ｅ）からみて、その方向は、ニードルプローブの長軸方向となることから、試料表面に対して垂直になるものと認めることができる。
　
　したがって、上記（ア）（イ）を考慮すれば、記載事項（１ａ）乃至（１ｅ）からみて、刊行物１には、「試料から発生する磁場パターンを追跡するための磁力顕微鏡用のプローブ構成であって、ニードルプローブの磁化方向が前記試料の磁力線によらず一定でかつ試料表面に垂直になるようにニードルプローブの先端に無電解めっきにより硬磁性膜が形成されたニードルプローブと、可撓性ビームとを有し、前記ニードルプローブが前記可撓性ビームの先端に取り付けられており、前記ニードルプローブに作用する試料表面の磁力線と前記ニードルプローブの先端の磁化との相互作用から生じる力の差を振幅の変動として測定できるようにしたことを特徴とする磁力顕微鏡用のプローブ構成」の発明が記載されているものと認める。
　
（２）刊行物２に記載された発明
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物２には、図面とともに、次の事項が記載されている。
（２ａ）「［産業上の利用分野］本発明は探針と被測定試料、特に磁性探針と磁性試料とを接近させて、発生する磁気力およびその変位を検出して、試料の表面形態および磁気的性質についての情報を得るのに好適な走査型磁気力顕微鏡・・・に用いられる磁気検出素子に関する。」（第２頁左下欄第１６行目ないし右下欄第３行目）
（２ｂ）「［発明が解決しようとする課題］・・・従来の磁気力顕微鏡は、磁性試料表面の漏洩磁界と磁性探針の相互作用によって生ずる磁気力を検出する装置である。・・・また、従来の他の磁性プローブでは、平面状のカンチレバーの先端部に、その面に対して垂直方向に磁性針を形成した磁性プローブが用いられていたために、被測定試料表面の磁気力情報を高感度で検出するためには、試料面に対して磁性針を垂直、すなわち平面状のカンチレバーの面を試料面に平行に設置する必要があった。」（第３頁左上欄第８行目ないし右上欄第６行目）
（２ｃ）「本発明の磁気検出素子は、半導体リソグラフィ技術を用いて作製するものであって、磁気力を検出する手段は、可撓性を有するカンチレバーと、該カンチレバーの先端部に、該カンチレバー面とは異なる角度で形成した先端の尖ったチップを一体に構成し、該チップの先端部に金属探針もしくは磁性探針を設けて磁気力検出手段となし、該磁気力検出手段の後方に設ける上記磁気力の変位を検出する手段は、可撓性を有するカンチレバーと、該カンチレバーの先端部に、該カンチレバー面とは異なる角度で形成した先端の尖ったチップを一体に構成し、該チップの先端部に導電性の探針を設けて、上記磁気力検出手段のカンチレバーの撓みによる変位を、例えばトンネル電流の変化として検出する磁気力変位検出手段となし、」（明細書第３頁右下欄第４行目ないし第１８行目）
（２ｄ）「また、カンチレバーの先端部に角度θに傾斜したチップを設け、このチップの先端部分に磁性探針を設けているので、この磁性探針を試料面に垂直になるように構成することによって、磁性探針の磁化容易軸を試料面に垂直に設定することができ、高感度の磁気力の測定が可能となる。」（第４頁左下欄第８行目ないし第１３行目）
　
５　対比・判断
５−１　本願発明１について
（１）本願発明１と刊行物１に記載された発明との対比
　本願発明１と刊行物１に記載された発明とを対比すると、刊行物１に記載された発明の「試料から発生する磁場パターンを追跡する」、「磁力顕微鏡」、「プローブ構成」は、それぞれ、本願発明１の「試料表面の磁化の状態を測定する」、「磁気力顕微鏡」、「カンチレバー」に相当する。
　そして、刊行物１に記載された発明の「ニードルプローブ」は、本願発明１の「探針」に相当する。
　また、本願発明１の「板バネ」と刊行物１に記載された発明の「可撓性ビーム」は、ともに可撓性の部材である。
　ところで、本願明細書の段落【０００７】には、「上記のように、探針先端に硬磁性薄膜を形成することにより、探針先端の磁化方向が試料表面の磁力線の方向によらず一定で、かつ試料表面に垂直となる。このため、探針に作用する磁気力としては、試料表面の磁力線の方向が探針磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針磁化と逆方向である場合に斥力が働く。したがって、例えば、垂直磁気記録媒体の未記録状態を斥力、記録状態を引力として検出するため、従来の技術では困難であった光磁気ディスク等の垂直磁気記録媒体の記録状態を測定することが可能となる。」と記載されている。この記載からみて、探針先端に硬磁性薄膜を形成した磁性探針が試料表面に垂直となっていれば、試料表面の磁力線の方向が探針磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針磁化と逆方向である場合に斥力が働くこととなると解される。そうすると、刊行物１に記載された発明においても、ニードルプローブの磁化方向が前記試料の磁力線の方向によらず一定でかつ試料表面に垂直になるようにニードルプローブの先端に硬磁性膜が形成されているのであるから、ニードルプローブに作用する試料表面の磁力線の方向が前記ニードルプローブの先端の磁化方向と一致する場合に引力、前記試料表面の磁力線の方向が前記ニードルプローブの先端の磁化と逆方向である場合に斥力が働くことは明らかである。
　したがって、本願発明１と刊行物１に記載された発明は、「試料表面の磁化の状態を測定するための磁気力顕微鏡用カンチレバーであって、探針先端の磁化方向が前記試料表面の磁力線の方向によらず一定でかつ前記試料表面に垂直になるように前記探針先端に硬磁性膜が形成された探針と、可撓性の部材とを有し、前記探針が可撓性の部材の端部に取り付けられており、前記探針に作用する前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化方向と一致する場合に引力、前記試料表面の磁力線の方向が前記探針先端の磁化と逆方向である場合に斥力となり、前記試料表面の磁化状態を引力と斥力との力の差として測定できるようにしたことを特徴とする磁気力顕微鏡用カンチレバー。」である点で一致し、つぎの相違点ＡないしＣで相違する。
　
相違点Ａ　探針先端の硬磁性膜の形成に関し、本願発明１が「スパッタリング法」により形成するものであるのに対して、刊行物１に記載された発明は「無電解めっき」により形成するものである点
　
相違点Ｂ　可撓性の部材に関し、本願発明１が「板バネ」であるのに対して、刊行物１に記載された発明は「可撓性のビーム」である点
　
相違点Ｃ　試料表面の磁化状態を引力と斥力との力の差として測定する点に関し、本願発明１は「探針の上下動により」測定するものであるのに対して、刊行物１に記載された発明は、「プローブの振幅変動により」測定するものである点
　
（２）相違点についての判断
　上記相違点Ａについて検討すると、スパッタリング法により硬磁性膜を形成することは、例えば、特開昭５５−４１７９１号公報に記載されているように周知の技術であり、刊行物１に記載された発明の無電解めっきに代えて従来周知のスパッタリング法により行うことは、当業者が容易になし得る程度の事項である。
　
　上記相違点Ｂについて検討する。
　刊行物２には、磁気力顕微鏡用のカンチレバーを可撓性を有する板バネ状に形成し、当該カンチレバーの先端に探針を取り付けたものが記載されており、刊行物１に記載された発明のプローブ構成に、刊行物２に記載された板バネを適用して本願発明１のようにする点に格別の困難性はない。
　
　上記相違点Ｃについて検討する。
　刊行物２には、カンチレバーの先端に磁性探針を設けて、試料の磁気力の変位をカンチレバーの撓みによる変位、すなわち磁性探針の上下動により検出する点が記載されており、刊行物１に記載された発明の振幅の変化によるものに代えて、刊行物２記載のニードルプローブの上下動によるものを適用して本願発明１のようにすることは、当業者が容易になし得る程度の事項である。
　
　また、本願発明１の奏する効果は、刊行物１及び２に記載された発明並びに上記周知技術が奏する効果を超えるものではないから、格別のものとも認めることができない。
　したがって、本願発明１は、刊行物１及び２に記載された発明並びに上記周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
　なお、請求人は、請求の理由において、「刊行物１には、ナノメートルスケールのプローブの製造方法についての記載があり、これは揮発性の有機金属化合物を電子ビームによって選択的に分解し、炭化マトリックス内に介在される金属付着物が磁性を示すというものである。また、この炭化マトリックスの探針上に磁性膜を蒸着するという記載、及び磁性膜をめっき付着法により形成する方法も記載されている。しかしながら、刊行物１には本願発明の課題、すなわち、従来の技術では困難であった光磁気ディスク等の垂直磁気記録媒体の記録状態を測定することを可能にすると言う技術的課題を何ら示唆、開示するものはない。そして、刊行物１中の要約書中には、磁性膜の磁気特性について、「・・・ニードル構造体の末端部における硬磁気特性または軟磁気特性により、・・・所定の磁気特性を得る」との記載があるが、これは単に磁気特性としては硬磁気特性と軟磁気特性とがあり、それぞれ特性に従った磁気特性があるとの一般的な磁気に関する記載にすぎない。
　よって、刊行物１に記載されているこれらの事項から、「探針先端に硬磁性膜を形成することにより、探針先端の磁化方向が試料表面の磁力線の影響を受けず一定の方向を向いており、かつ試料表面に垂直となるようにし、これにより、探針に、試料表面の磁力線の方向が探針磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針磁化と逆方向である場合に斥力が働くようにして、試料表面の磁気記録状態を測定することを可能とする」という本願発明の構想を当業者が容易に着想できたと言うことはできず、したがって、当業者が刊行物１の発明に基づいて本願発明を容易に発明することができたものと言うことはできない。」及び「以上のように、刊行物１には、探針上に磁性膜を蒸着するという記載があるが、従来の技術では困難であった光磁気ディスク等の垂直磁気記録媒体の記録状態を測定出来るようにするため、ａ）先端の磁化方向が試料表面の磁力線の方向によらず一定でかつ試料表面に垂直になるように探針先端にスパッタリング法により硬磁性膜を形成する点、及び、ｂ）探針に作用する試料表面の磁力線の方向が探針先端の磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針先端の磁化と逆方向である場合に斥力となり、これにより生じる探針の上下動から試料表面の磁化状態を引力と斥力との力の差として測定するようにした点については、何れの刊行物にも示唆、開示がない。よって、単に探針の先端に磁性膜を形成するという記載だけに基づいて刊行物１〜４をどの様に組み合わせてみても本願発明を当業者が容易に発明することは出来ないことは明らかである。」旨主張している。
　しかしながら、請求人の「探針先端に硬磁性膜を形成することにより、探針先端の磁化方向が試料表面の磁力線の影響を受けず一定の方向を向いており、かつ試料表面に垂直となるようにし、これにより、探針に、試料表面の磁力線の方向が探針磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針磁化と逆方向である場合に斥力が働くようにして、試料表面の磁気記録状態を測定することを可能とする」ことは容易に想到し得ないとの主張については、上記に説示したように、刊行物１に「探針先端に硬磁性膜」を形成する発明が開示されており、そのような探針は、磁化方向が試料表面の磁力線の影響を受けずに一定の方向を向くことは明らかであり、「探針に、試料表面の磁力線の方向が探針磁化方向と一致する場合に引力、試料表面の磁力線の方向が探針磁化と逆方向である場合に斥力が働くようにして、試料表面の磁気記録状態を測定すること」が可能であることも明らかである。　
　また、請求人の「刊行物１中の要約書中には、磁性膜の磁気特性について、「・・・ニードル構造体の末端部における硬磁気特性または軟磁気特性により、・・・所定の磁気特性を得る」との記載があるが、これは単に磁気特性としては硬磁気特性と軟磁気特性とがあり、それぞれ特性に従った磁気特性があるとの一般的な磁気に関する記載にすぎない。」との主張については、磁性膜の磁気特性が、「軟磁気特性」または「硬磁気特性」により得られるものであることを説示していることから、刊行物１は磁性膜として「硬磁気特性」を備える磁性体を用いることが開示されているというべきである。
　したがって、上記請求人の主張は採用することができない。　
　
６．むすび
　以上のとおりであるから、本願発明１は、刊行物１及び２に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そして、本願発明１が特許を受けることができないものであるから、本願発明２ないし本願発明４について審理するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。