(57)【要約】磁気ディスク５０１は、磁気ヘッド１７１の位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、割り込み周期Ｔ２は、通常サーボ領域のみの場合の周期Ｔ１の１／２倍とされている。サーボ割り込み周期毎に、サンプル点の位置信号レベルが検出され、隣接する２つのサンプル点同士の位置信号レベルの差が、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算される。高周波振動観測部６０は、この加算結果に基づいて、通常サーボ領域のみの場合のサーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する。この構成により、磁気ヘッドの揺れにおいて、周期Ｔ１の高周波振動成分を観測することができる。
2002091381.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、
前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、
前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段と、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、
前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する３つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、
前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段と、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】
磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、
前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも５つのサンプル点同士を結ぶ線が山または谷の連続である場合に限り、位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、
前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段と、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記観測手段の観測結果に基づいて、前記磁気ヘッドの位置補正を行う位置補正手段を備えたことを特徴とする請求の範囲第１項〜第３項のいずれか一つに記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを有する磁気ディスク装置に適用される高周波振動観測方法であって、
前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算工程と、
前記演算工程の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測工程と、
を含むことを特徴とする高周波振動観測方法。
【請求項６】
磁気ディスクに記録された、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンから得られる位置信号に対して、前記磁気ヘッドの感度特性値を用いて補正を掛ける補正手段と、
前記補正手段の補正結果に基づいて、前記磁気ヘッドのサーボ制御を実行するサーボ制御手段と、
を備えたことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記感度特性値は、比例的に変化するように設定されることを特徴とする請求の範囲第６項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記感度特性値は、多値変化するように設定されることを特徴とする請求の範囲第６項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記補正手段は、前記位置信号に含まれる所定の信号の振幅比および前記感度特性値を用いて前記位置信号を補正することを特徴とする請求の範囲第６項〜第８項のいずれか一つに記載の磁気ディスク装置。
【請求項１０】
前記補正手段は、ゼロクロス周波数で微小振幅外乱を加えた場合のオープンループゲインと、大振幅外乱を加えた場合のオープンループゲインとのゲイン比および前記感度特性値を用いて前記位置信号を補正することを特徴とする請求の範囲第６項〜第８項のいずれか一つに記載の磁気ディスク装置。
【請求項１１】
前記補正手段は、前記磁気ディスクのシリンダ毎に別々に設定された複数の感度特性値を用いてシリンダ単位で前記位置信号を補正することを特徴とする請求の範囲第６項〜第１０項のいずれか一つに記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、コンピュータの外部記憶装置として用いられる磁気ディスク装置および高周波振動観測方法に関するものであり、特に、磁気ヘッドの振動周波数に高周波成分が含まれる場合であっても高周波振動を観測することができる磁気ディスク装置および高周波振動観測方法に関するものである。
コンピュータの外部記憶装置としては、円板上の磁気ディスクを記録媒体とする磁気ディスク装置が使用されている。この記憶装置において、リード／ライトを行う場合には、磁気ディスク上の所定のトラックへ磁気ヘッドを移動させ、オントラック状態とするシーク動作が必要になる。
ここで、オントラックの際、磁気ディスクに異常があり、サーボ割り込み周波数の１／２以上の高周波振動成分が磁気ヘッドの振動周波数に含まれている場合には、当該高周波振動成分を観測することができないという問題があった。従来より、このような問題を効果的に解決することができる手段、方法が切望されていた。
背景技術
第１８図は、従来の磁気ディスク装置１０の外観構成を示す分解斜視図である。この図において、磁気ディスク装置１０は、筐体１１およびカバー１２からなる密閉容器内に磁気ディスク１５１〜１５ｎ、磁気ヘッド１７１等を封止組み込みしてなるＨＤＡ（ハードディスクアッセンブリ）１４と、各回路が実装されたプリント回路基板２２と、ＨＤＡ１４内の構成部品とプリント回路基板２２とを電気的に接続するためのコネクタ２３とから構成されている。
ＨＤＡ１４は、上面が開放されてなる略箱形状の筐体１１と、該筐体１１内に収容された複数枚の磁気ディスク１５１〜１５ｎと、スピンドルモータ１６、アーム２１、・・・の先端部にそれぞれ取り付けられた磁気ヘッド１７１、・・・、キャリッジ１８、ＦＰＣ（フレキシブルプリントサーキットシート）１９、ヘッドＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）２０と、パッキン１３を介して筐体１１の上面開口部を密封してなるカバー１２とが組み立てられて構成されている。
ＨＤＡ１４において、磁気ディスク１５１〜１５ｎは、磁気的にデータを記憶するｎ枚の円板上の記録媒体であり、軸方向に一定間隔をおいて積層状にそれぞれ配設されている。これらの磁気ディスク１５１〜１５ｎは、スピンドルモータ１６により高速回転駆動される。キャリッジ１８は、磁気ディスク１５１〜１５ｎの近傍に設けられており、アーム２１、・・・を介して磁気ヘッド１７１、・・・を支持する。
第１９図は、従来の磁気ディスク装置１０のサーボ回路部分の構成を示すブロック図である。この図において、第１８図の各部に対応する部分には同一の符号を付ける。磁気ディスク１５１には、半径方向にそれぞれ１０分割されたサーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０と、これらのサーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０にそれぞれ挟まれるようにデータ領域Ｄ１〜Ｄ１０とが形成されている。
サーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０には、磁気ディスク１５１上における磁気ヘッド１７１の位置を認識するためのサーボパターンが放射状にそれぞれ記録されている。一方、データ領域Ｄ１〜Ｄ１０には、リード／ライトされるデータが放射状に記録される。磁気ディスク１５１には、同心円状の複数のシリンダが存在している。
磁気ヘッド１７１は、極めて狭い幅のギャップを有するヘッドコアと、該ヘッドコアに巻回されたコイルとからなり、磁気ディスク１５１の表面近傍に配設されている。
この磁気ヘッド１７１は、ライト時に、上記コイルに供給される記録電流により発生する磁界により、磁気ディスク１５１のデータ領域Ｄ１〜Ｄ１０に対してデータをライトする。一方、磁気ヘッド１７１は、リード時に、磁気ディスク１５１のサーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０にそれぞれ記録されているサーボパータン、およびデータ領域Ｄ１〜Ｄ１０にそれぞれ記録されているデータを磁気的に再生電圧として検知する。
ヘッドＩＣ２０は、ライトアンプおよびプリアンプ（いずれも図示略）からなる。上記ライトアンプは、磁気ヘッド１７１へ供給すべき記録電流の極性を、ライトデータに従って切り替える機能を備えている。プリアンプは、磁気ヘッド１７１により検知された再生電圧（リード信号）を増幅する。
ＲＤＣ（リードチャネル）３０は、ライトデータを磁気ディスク１５１に書き込むための回路や、リードデータ、サーボパターンを磁気ディスク１５１から読み出すための回路を備えている。また、ＲＤＣ３０は、パラレルのライトデータをシリアルデータに変換するパラレル／シリアル変換回路や、水晶振動子等を用いた発振回路の周波数を逓倍することにより、装置各部のタイミング用のタイミング信号を発生させるシンセサイザ回路等を備えている。
デジタルサーボ制御部３１は、ＲＤＣ３０を介して入力されるサーボパターンをピークホールドや積分等により復調した後、復調されたサーボパターンに基づいて、ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）３２およびスピンドルモータ１６（第１８図参照）の各駆動電流を制御することにより、磁気ヘッド１７１の位置決め制御（サーボ制御）を行う。ＶＣＭ３２は、上記駆動電流に基づいてキャリッジ１８を駆動することにより、磁気ヘッド１７１を磁気ディスク１５１の半径方向に移動させ、所定のシリンダ上に位置させるというシーク動作の駆動源である。
上記構成において、第１９図に示した磁気ディスク１５１が回転駆動されている状態で、磁気ヘッド１７１がオントラックしている場合、磁気ヘッド１７１では、サーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０およびデータ領域Ｄ１〜Ｄ１０の配列に従って、データのリード／ライトと、サーボパターンのリードとが交互に繰り返される。
ここで、データのリード／ライトが中断され、サーボパータンをリードすることをサーボ割り込み、サーボ割り込みの間隔をサーボ割り込み周期、その周波数をサーボ割り込み周波数とそれぞれ称する。
第２０図は、サーボ割り込みを説明する図である。この図に示したのこぎり波形Ｗ１は、周波数ｆ１の波形である。同図丸印で示した時刻ｔ１、ｔ２、・・・のそれぞれでは、サーボ割り込み周期Ｔ１毎にサーボ割り込みが発生する。また、同図に示した縦軸は、磁気ヘッド１７１の位置を表している。すなわち、位置＝０の場合には、磁気ヘッド１７１は、目標のシリンダ上に位置している状態（オントラック状態）とされている。また、位置≠０の場合には、磁気ヘッド１７１は、目標とするシリンダに対して位置ずれを起こしている状態とされており、位置補正が必要である。
第１９図に示したデジタルサーボ制御部３１では、第２０図に示したサーボ割り込み周期Ｔ１毎に、磁気ヘッド１７１によりリードされＲＤＣ３０を経由して入力されるサーボパターンを復調し、磁気ヘッド１７１の位置を認識する。ここで、磁気ヘッド１７１の位置がずれている場合には、ＶＣＭ３２へ供給している駆動電流を変化させ、磁気ヘッド１７１をオントラックさせるためのサーボ制御を行う。
ここで、第１９図に示した磁気ディスク１５１のサーボ領域ＳＰ１〜ＳＰ１０にそれぞれ記録されているサーボパータンについて、第２１図を参照しつつ詳述する。同図に示したサーボパターン１００は、サーボプリアンブル１１０、サーボマーク１２０、グレイコード１３０およびバースト１４０から構成されている。サーボプリアンブル１１０は、サーボゲインの基準信号に対応している。
サーボマーク１２０は、サーボ割り込みを発生させるためのものである。グレイコード１３０およびバースト１４０は、磁気ディスク１５１のシリンダを表すものであり、整数部および小数部を構成する。すなわち、グレイコード１３０は、シリンダの整数部を表し、バースト１４０は、シリンダの小数部を表す。例えば、シリンダが１０００．０００１の場合、グレイコード１３０は、１０００（整数部）を表し、バースト１４０は、０．０００１（小数部）を表す。
第２２図は、上述したバースト１４０および各種信号を示す図である。この図に示した磁気ディスク１５１におけるシリンダｃｙ１．０００〜シリンダｃｙ１．０００４までの間には、複数パターンのバースト１４０が存在する。例えば、シリンダｃｙ１．０００のバースト１４０が磁気ヘッド１７１により読み取られると、三角波状の信号ＰｏｓＡ、信号ＰｏｓＢ、信号ＰｏｓＣおよび信号ＰｏｓＤという都合四種類の信号が得られる。信号ＰｏｓＡと信号ＰｏｓＢ、および信号ＰｏｓＣと信号ＰｏｓＤは、それぞれ逆位相の関係にある。また、信号ＰｏｓＡと信号ＰｏｓＣ、および信号ＰｏｓＢと信号ＰｏｓＤのそれぞれの位相差は、π／２である。
上記構成において、第２２図に示した磁気ヘッド１７１によりバースト１４０がリードされると、復調部（図示略）では、信号ＰｏｓＡ、信号ＰｏｓＢ、信号ＰｏｓＣおよびＰｏｓＤから第２３図に示した位置偏差信号Ａを生成する。この位置偏差信号Ａは、トラック中心からのオフセット量を表す信号であり、信号ＰｏｓＮ、信号ＰｏｓＱ、これらの反転信号から構成されている。
第２２図に示したように、信号ＰｏｓＮは、（信号ＰｏｓＡ）−（信号ＰｏｓＢ）から得られる。一方、信号ＰｏｓＱは、（信号ＰｏｓＣ）−（信号ＰｏｓＤ）から得られる。復調部（図示略）は、信号ＰｏｓＮ、信号ＰｏｓＱ、これらの反転信号を順次選択することにより、位置偏差信号Ａを生成する。ここで、従来では、復調部（図示略）は、第２３図に示したように、信号ＰｏｓＮと信号ＰｏｓＱの境目でバースト復調値が一致するように、バースト復調値に一定の補正値を乗算するという線形補正処理が行われる。
サーボ制御では、磁気ヘッド１７１が目標トラックに位置すると、位置偏差信号Ａに対応する電流指令値により、磁気ヘッド１７１が目標トラックの中心に位置するように制御される。
ところで、前述したように、従来の磁気ディスク装置においては、磁気ヘッド１７１がオントラック状態にある場合、当該磁気ヘッド１７１に対してさまざまな外乱が作用することにより、磁気ヘッド１７１が振動する。この外乱としては、磁気ディスク１５１の回転振動、風圧、バーストの揺れ、駆動電流のジッタや、磁気ヘッド１７１とアーム２１とのカシメ接合による共振等が挙げられる。
ここで問題となるのは、外乱による振動波形に、サーボ割り込み周波数（１／Ｔ１）の１／２を超えるような高周波振動成分が、サーボパターンから得られる位置信号に含まれている場合である。
すなわち、このような場合には、シャノンの定理より、サーボの割り込み周波数（サンプリング周波数）の１／２以上の高周波振動成分が含まれている場合には、これを観測することができず、磁気ヘッド１７１の位置決め精度に悪影響を与えるという問題があった。
例えば、第２０図に示したサーボ割り込み周波数が８．６４ｋＨｚであり、外乱としてのカシメ接合の共振周波数（高周波振動成分）が８．６ｋＨｚである場合には、シャノンの定理より、上記高周波振動成分を観測することができない。
また、従来では、サーボ制御で、第２３図に示したようにバースト復調値に対して一定の補正値を乗算するという線形補正処理を行っている旨を述べた。
しかしながら、第２２図に示した磁気ヘッド１７１のヘッド感度特性が非線形の場合には、第２３図に示した非線形の位置偏差信号Ｂが理想的であるが、位置偏差信号Ａにより磁気ヘッド１７１の位置決めが行われるため、位置偏差信号Ａと位置偏差信号Ｂの差だけ位置決め精度が低くなるという問題があった。
さらに、磁気ヘッド１７１のヘッド感度特性が非線形の場合には、設計上の０クロス周波数で微小振幅外乱を加えたときに、第２４図に特性線Ｄで示したようにオープンループゲインがトラック中心（＝０）で０ｄＢにならないという問題も発生する。同図に示した例では、トラック中心位置でオープンループゲインが高く、オフセット位置でオープンループゲインが低くなるという、オープンループゲインのばらつきが生じている。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができ、ヘッド感度特性が非線形であっても磁気ヘッドの位置決め精度を高くすることができ、さらにオープンループゲインのばらつきを防止することができる磁気ディスク装置および高周波振動観測方法を提供することを目的としている。
発明の開示
上記目的を達成するために、本発明は、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
また、本発明は、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する３つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも３つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
また、本発明は、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクと、前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも５つのサンプル点同士を結ぶ線が山または谷の連続である場合に限り、位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算手段と、前記演算手段の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測手段とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも５つのサンプル点同士を結ぶ線が山または谷の連続である場合に限り、位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
また、本発明は、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンがそれぞれ記録された通常サーボ領域およびダブルサーボ領域を有し、通常サーボ領域を有する場合に比して、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを有する磁気ディスク装置に適用される高周波振動観測方法であって、前記サーボパータンから得られる位置信号において前記サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、前記サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算する演算工程と、前記演算工程の演算結果に基づいて、前記サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測する観測工程とを含むことを特徴とする。
本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
また、本発明は、磁気ディスクに記録された、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンから得られる位置信号に対して、前記磁気ヘッドの感度特性値を用いて補正を掛ける補正手段と、前記補正手段の補正結果に基づいて、前記磁気ヘッドのサーボ制御を実行するサーボ制御手段とを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンから得られる位置信号に対して、磁気ヘッドの感度特性値を用いて補正を掛けるようにしたので、ヘッド感度特性が非線形であっても磁気ヘッドの位置決め精度を高くすることができる。
発明を実施するための最良の形態
（実施の形態１）
以下、図面を参照して本発明にかかる実施の形態１について詳細に説明する。第１図は、本発明にかかる実施の形態１による磁気ディスク装置４０のサーボ回路部分の構成を示すブロック図である。この図において、第１９図の各部に対応する部分には同一の符号を付ける。第１図においては、第１９図に示した磁気ディスク１５１に代えてダブルサーボ方式の磁気ディスク５０１が設けられているとともに、高周波振動観測部６０が新たに設けられている。
磁気ディスク５０１には、半径方向にそれぞれ１０分割されたダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０と、これらのダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０にそれぞれ挟まれるように１０分割形成された通常サーボ領域ＳＢ１〜ＳＢ１０と、これらのダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０および通常サーボ領域ＳＢ１〜ＳＢ１０にそれぞれ挟まれるように２０分割形成されたデータ領域Ｄ１〜Ｄ２０とが形成されている。
ダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０および通常サーボ領域ＳＢ１〜ＳＢ１０には、磁気ディスク５０１上における磁気ヘッド１７１の位置を認識するためのサーボパターンが放射状にそれぞれ記録されている。一方、データ領域Ｄ１〜Ｄ２０には、リード／ライトされるデータが放射状に記録される。磁気ディスク５０１には、同心円状の複数のシリンダが存在している。
磁気ヘッド１７１は、磁気ディスク５０１のデータ領域Ｄ１〜Ｄ２０に対してデータをライトする。一方、磁気ヘッド１７１は、リード時に、磁気ディスク５０１のダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０および通常サーボ領域ＳＢ１〜ＳＢ１０にそれぞれ記録されているサーボパータン、およびデータ領域Ｄ１〜Ｄ２０にそれぞれ記録されているデータを磁気的に再生電圧として検知する。
高周波振動観測部６０は、前述したサーボの割り込み周波数（サンプリング周波数）の１／２以上の高周波振動成分が、サーボパターンから得られる位置信号に含まれている場合であっても、これを正確に観測する機能を備えている。
ここで、第２図、第３図（ａ）および第３図（ｄ）に示したように磁気ディスク５０１においては、サーボ割り込み周期Ｔ２が、従来のサーボ割り込み周期Ｔ１の１／２とされている。これは、前述したサーボの割り込み周波数（サンプリング周波数）の１／２以上の高周波振動成分が、サーボパターンから得られる位置信号に含まれている場合であっても、これを正確に観測するためである。
第４図は、実施の形態１におけるサーボ割り込み周期Ｔ２を説明する図である。この図に示したのこぎり波形Ｗ１は、周波数ｆ１の波形である。同図丸印で示した時刻ｔ１、ｔ２、・・・のそれぞれでは、サーボ割り込み周期Ｔ２（Ｔ１／２）毎にサーボ割り込みが発生する。
第５図は、サーボパターンから得られる位置信号の概略波形を示す図である。この図に示したように、実施の形態１では、サーボ割り込み周期Ｔ２毎に位置信号レベルＰ（ｎ）、Ｐ（ｎ−１）、Ｐ（ｎ−２）、・・・がサンプリングされる。
上記構成において、第１図に示した磁気ディスク５０１が回転駆動されている状態で、磁気ヘッド１７１がオントラックしている場合、磁気ヘッド１７１では、ダブルサーボ領域ＳＡ１〜ＳＡ１０、通常サーボ領域ＳＢ１〜ＳＢ１０、データ領域Ｄ１〜Ｄ２０の配列に従って、データのリード／ライトと、サーボパターンのリードとが交互に繰り返される。
この場合、デジタルサーボ制御部３１では、第３図（ｃ）に示したサーボ処理（倍サンプルモード時）がサーボ割り込み周期Ｔ２毎に実行される。このサーボ処理では、制御電流出力および位置信号生成と、位置信号生成とが交互に繰り返される。なお、従来では、第３図（ｂ）に示したように、サーボ処理（通常サンプルモード時）、すなわち、制御電流出力および位置信号生成がサーボ割り込み周期Ｔ１毎に実行される。
ここで、第１図に示した磁気ヘッド１７１により磁気ディスク５０１の通常サーボ領域からサーボパータンがリードされると、デジタルサーボ制御部３１は、第６図（ａ）に示したサーボ処理（タスク１）と、第６図（ｂ）に示したサーボ処理（タスク２）とを、サーボ割り込み周期Ｔ２毎に交互に実行する。
第６図（ａ）に示したステップＳＡ１では、デジタルサーボ制御部３１は、磁気ディスク５０１のサーボパータンを検出したか否かを判断し、この判断結果が「Ｎｏ」である場合、同判断を繰り返す。そして、磁気ディスク５０１のサーボパータンが検出されると、デジタルサーボ制御部３１は、ステップＳＡ１の判断結果を「Ｙｅｓ」とする。
ステップＳＡ２では、デジタルサーボ制御部３１は、当該サーボパータンがダブルサーボ領域のものであるか否かを判断し、この判断結果が「Ｎｏ」である場合、ステップＳＡ４の処理を実行する。一方、ステップＳＡ２の判断結果が「Ｙｅｓ」である場合、ステップＳＡ３では、デジタルサーボ制御部３１は、サンプリング周期を１１５．７μｓから５７．９μｓへ切り替える。
ステップＳＡ４では、デジタルサーボ制御部３１は、サーボパータンをリードし、該サーボパータンから位置信号（第５図参照）を生成する。ステップＳＡ５では、デジタルサーボ制御部３１は、磁気ヘッド１７１の位置ズレを補正（サーボ制御）するための制御電流値を計算した後、これをメモリ（図示略）に記憶させる。具体的には、デジタルサーボ制御部３１は、高周波振動観測部６０による高周波振動を観測するための手法１〜手法３のうちいずれか一つの手法に対応する観測結果に基づいて、制御電流値を計算する。
以下、これらの手法１〜手法３について詳述する。まず、手法１では、第７図に示した（１）式に基づいて、磁気ヘッド１７１のシーク動作が完了した後に、隣接する２つのサンプル点における位置信号レベルの差分の絶対値を所定回数（例えば、３２回）加算という加算処理が実行される。ここで、シーク動作が完了した後に上記加算処理を実行するのは、前述したカシメの共振周波数が、シーク動作が完了した直後から減衰する傾向があるからである。後述する手法２および手法３においても、加算処理を実行するのは、シーク動作が完了した直後からである。
第８図に示したステップＳＣ１では、高周波振動観測部６０は、初期設定としてｎ＝０とする。ステップＳＣ２では、高周波振動観測部６０は、第５図に示した位置信号におけるＰ（ｎ）を現在の位置信号レベルとする。
ステップＳＣ３では、高周波振動観測部６０は、前回の加算値ｆ１（ｎ−１）と、今回の加算値｜Ｐ（ｎ）−Ｐ（ｎ−１）｜とを加算し、加算値ｆ１（ｎ）を算出する。
ステップＳＣ４では、高周波振動観測部６０は、ｎを１インクリメントする。ステップＳＣ５では、高周波振動観測部６０は、ｎが３１を超えたか否かを判断し、この場合、判断結果を「Ｎｏ」としてステップＳＣ２以降の処理を実行する。これにより、第５図に示した隣接する２つのサンプリング点（丸印）の位置信号レベルの差分の絶対値が順次加算される。
そして、ステップＳＣ５の判断結果が「Ｙｅｓ」になると、すなわち、第７図に示した（１）式の算出結果が出ると、高周波振動観測部６０は、一連の加算処理を終了する。
つぎに、高周波振動観測部６０は、手法１による加算値ｆ１（ｎ）と、予め設定されたしきい値とを比較し、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であるか否かを判断する。具体的には、加算値ｆ１（ｎ）がしきい値以上である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であることを認識する。一方、加算値ｆ１（ｎ）がしきい値未満である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動が規定を満たしていることを認識する。
上述した手法１は、手法１〜手法３のなかで最も計算時間が短く、メモリの消費が少ないという特徴を有している。なお、手法１は、単純に位置誤差（差分）を加算しているため、低周波振動成分の振動も拾ってしまう可能性がある。
つぎに、高周波振動を観測するための手法２について第９図に示したフローチャートを参照しつつ説明する。この手法２では、第７図に示した（２）式に基づいて、磁気ヘッド１７１のシーク動作が完了した後に、隣接する３つのサンプル点における位置信号レベルの加算、減算および乗算の絶対値を所定回数（例えば、３２回）加算という加算処理が実行される。
第９図に示したステップＳＤ１では、高周波振動観測部６０は、初期設定としてｎ＝０とする。ステップＳＤ２では、高周波振動観測部６０は、第５図に示した位置信号におけるＰ（ｎ）を現在の位置信号レベルとする。
ステップＳＤ３では、高周波振動観測部６０は、前回の加算値ｆ２（ｎ−１）と、今回の加算値｜Ｐ（ｎ）−２Ｐ（ｎ−１）＋Ｐ（ｎ−２）｜とを加算し、加算値ｆ２（ｎ）を算出する。
ステップＳＤ４では、高周波振動観測部６０は、ｎを１インクリメントする。ステップＳＤ５では、高周波振動観測部６０は、ｎが３１を超えたか否かを判断し、この場合、判断結果を「Ｎｏ」としてステップＳＤ２以降の処理を実行する。これにより、第５図に示した隣接する３つのサンプリング点（丸印）の位置信号レベルの加算、減算および乗算の絶対値が順次加算される。
そして、ステップＳＤ５の判断結果が「Ｙｅｓ」になると、すなわち、第７図に示した（２）式の算出結果が出ると、高周波振動観測部６０は、一連の加算処理を終了する。つぎに、高周波振動観測部６０は、手法２による加算値ｆ２（ｎ）と、予め設定されたしきい値とを比較し、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であるか否かを判断する。具体的には、加算値ｆ２（ｎ）がしきい値以上である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であることを認識する。一方、加算値ｆ２（ｎ）がしきい値未満である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動が規定を満たしていることを認識する。
上述した手法２は、手法１に比べて、低周波振動成分が加算されにくいため、高周波振動成分を比較的正確に観測することができるという特徴を有している。なお、手法２は、三つのサンプリング点の加算、減算および乗算を行っているため、手法１に比べて計算時間がかかる。
つぎに、高周波振動を観測するための手法３について第１０図に示したフローチャートを参照しつつ説明する。この手法３では、第７図に示した（２）式に基づいて、磁気ヘッド１７１のシーク動作が完了した後に、隣接する３つのサンプル点における位置信号レベルの加算、減算および乗算の絶対値を所定回数（例えば、３２回）加算という加算処理が実行される。
第１０図に示したステップＳＥ１では、高周波振動観測部６０は、初期設定としてｎ＝０とする。ステップＳＥ２では、高周波振動観測部６０は、第５図に示した位置信号におけるＰ（ｎ）、Ｐ（ｎ−１）、Ｐ（ｎ−２）、Ｐ（ｎ−３）、Ｐ（ｎ−４）という５点を結ぶ線が山（グラフＡ参照）または谷（グラフＢ参照）の連続であるか否かを判断する。この判断結果が「Ｙｅｓ」である場合、高周波振動観測部６０は、ステップＳＥ３の処理を実行する。一方、ステップＳＥ２の判断結果が「Ｎｏ」である場合、高周波振動観測部６０は、ステップＳＥ６の判断を行う。
この場合、ステップＳＥ２の判断結果が「Ｙｅｓ」であるものとすると、ステップＳＥ３では、高周波振動観測部６０は、第５図に示した位置信号におけるＰ（ｎ）を現在の位置信号レベルとする。
ステップＳＥ４では、高周波振動観測部６０は、前回の加算値ｆ２（ｎ−１）と、今回の加算値｜Ｐ（ｎ）−２Ｐ（ｎ−１）＋Ｐ（ｎ−２）｜とを加算し、加算値ｆ２（ｎ）を算出する。
ステップＳＥ５では、高周波振動観測部６０は、ｎを１インクリメントする。ステップＳＥ６では、高周波振動観測部６０は、ｎが３１を超えたか否かを判断し、この場合、判断結果を「Ｎｏ」としてステップＳＥ２以降を実行する。これにより、第５図に示した隣接する３つのサンプリング点（丸印）の位置信号レベルの加算、減算および乗算の絶対値が順次加算される。
そして、ステップＳＥ６の判断結果が「Ｙｅｓ」になると、すなわち、第７図に示した（２）式の算出結果が出ると、高周波振動観測部６０は、一連の加算処理を終了する。つぎに、高周波振動観測部６０は、手法３による加算値ｆ２（ｎ）と、予め設定されたしきい値とを比較し、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であるか否かを判断する。具体的には、加算値ｆ２（ｎ）がしきい値以上である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動の振幅が規定以上であることを認識する。一方、加算値ｆ２（ｎ）がしきい値未満である場合、高周波振動観測部６０は、磁気ヘッド１７１の振動が規定を満たしていることを認識する。
上述した手法３は、手法２に比べて、サーボ割り込み周期（サンプリング周期）に近い、高周波振動のみを観測できるため、精度が高いという特徴を有している。
第１１図（ｂ）には、高周波振動成分を多く含む位置信号の波形が図示されている。第１１図（ａ）は、上記波形に対して、手法１〜手法３を適用した結果である。同図の「手法１」のカラムには、手法１における加算値ｆ１（ｎ）として、「９７５２」が図示されている。「手法２」のカラムには、手法２における加算値ｆ２（ｎ）として「９６０７」が図示されている。また、「手法３」のカラムには、手法３における加算値ｆ２（ｎ）として「４０４６」が図示されている。「Ｍａｘ手法１」、「Ｍａｘ手法２」および「Ｍａｘ手法３」は、手法１、手法２および手法３における｜Ｐ（ｎ）−Ｐ（ｎ−１）｜、｜Ｐ（ｎ）−２Ｐ（ｎ−１）＋Ｐ（ｎ−２）｜の最大値である。
第１２図（ｂ）には、高周波振動成分をさほど含まない位置信号の波形が図示されている。第１２図（ａ）は、上記波形に対して、手法１〜手法３を適用した結果である。同図の「手法１」のカラムには、手法１における加算値ｆ１（ｎ）として、「１４２９」が図示されている。「手法２」のカラムには、手法２における加算値ｆ２（ｎ）として「１３９２」が図示されている。また、「手法３」のカラムには、手法３における加算値ｆ２（ｎ）として「１６３８」が図示されている。「Ｍａｘ手法１」、「Ｍａｘ手法２」および「Ｍａｘ手法３」は、手法１、手法２および手法３における｜Ｐ（ｎ）−Ｐ（ｎ−１）｜、｜Ｐ（ｎ）−２Ｐ（ｎ−１）＋Ｐ（ｎ−２）｜の最大値である。
第６図（ａ）に戻り、ステップＳＡ６では、デジタルサーボ制御部３１は、外乱信号をリードする。ステップＳＡ７では、デジタルサーボ制御部３１は、ＤＡＣ（ディジタル／アナログ変換器）指示値として、制御電流値と外乱信号から得られる外乱値とを加算する。ステップＳＡ８では、デジタルサーボ制御部３１は、ＤＡＣ指示値を出力する。これにより、ＶＣＭ３２には、磁気ヘッド１７１の位置補正のための駆動電流が供給される。
つぎのサーボ割り込み周期Ｔ２において、第６図（ｂ）に示したステップＳＢ１では、デジタルサーボ制御部３１は、磁気ディスク５０１のサーボパータンを検出したか否かを判断し、この判断結果が「Ｎｏ」である場合、同判断を繰り返す。そして、磁気ディスク５０１のサーボパータンが検出されると、デジタルサーボ制御部３１は、ステップＳＢ１の判断結果を「Ｙｅｓ」とする。
ステップＳＢ２では、デジタルサーボ制御部３１は、サーボパータンをリードし、該サーボパータンから位置信号（第５図参照）を生成する。ステップＳＢ３では、デジタルサーボ制御部３１は、外乱信号をリードする。ステップＳＢ４では、デジタルサーボ制御部３１は、ステップＳＡ５で記憶された制御電流値と外乱信号から得られる外乱値とを加算し、ＤＡＣ指示値を算出する。ステップＳＢ５では、デジタルサーボ制御部３１は、ＤＡＣ指示値を出力する。これにより、ＶＣＭ３２には、磁気ヘッド１７１の位置補正のための駆動電流が供給される。以後、第６図（ａ）に示したサーボ処理と、第６図（ｂ）に示したサーボ処理とが交互に実行される。
以上説明したように、実施の形態１によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスク１５１に比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスク５０１を用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つまたは３つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の（１）式または（２）式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッド１７１の揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
また、実施の形態１によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスク１５１に比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスク５０１を用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも５つのサンプル点同士を結ぶ線が山または谷の連続である場合に限り、位置信号レベルを（２）式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッド１７１の揺れにおいて高周波振動成分を観測することができる。
（実施の形態２）
つぎに本発明にかかる実施の形態２について説明する。第１３図は、本発明にかかる実施の形態２の磁気ディスク装置の制御回路の構成を示すブロック図である。この図において、第１９図の各部に対応する部分には同一の符号を付ける。同図に示したＲＤＣ２００において、ＡＧＣ（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路２０１は、磁気ヘッド１７１からの信号（サーボパターン信号、リード信号等）に対して自動的にゲイン調整を行う回路である。
Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ）変換器２０２は、ＡＧＣ回路２０１からのアナログの信号をディジタルの信号に変換する。リード回路２０３は、リード信号を処理する回路である。タイミング発生回路２０４は、ＭＰＵ３００の設定に基づいて、サーボ制御のタイミングを発生させる。レベルスライス回路２０５は、Ａ／Ｄ変換器２０２の出力信号（サーボマーク信号、グレイコード信号）を所定の閾値でスライスする回路である。
サーボマーク検出回路２０６は、レベルスライス回路２０５からのサーボマーク信号に基づいて、サーボマーク１２０（第２１図参照）を検出する回路である。グレイコード・シリンダ回路２０７は、タイミング発生回路２０４からのタイミングに従って、レベルスライス回路２０５からのグレイコード信号からシリンダの整数部を検出する回路である。
加算回路２０８は、Ａ／Ｄ変換器２０２からのバースト信号の情報を加算する回路である。レジスタ２０９には、第２２図に示した信号ＰｏｓＡ、信号ＰｏｓＢ、信号ＰｏｓＣおよび信号ＰｏｓＤのそれぞれの情報を格納する。ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）３００は、サーボ制御、タイミングの設定等を行う。このＭＰＵ３００の動作の詳細については後述する。
上記構成において、磁気ヘッド１７１によりバースト１４０（第２１図参照）がリードされると、ＡＧＣ回路２０１で自動ゲイン調整が行われた後、Ａ／Ｄ変換器２０２でアナログ／ディジタル変換が行われる。レベルスライス回路２０５は、Ａ／Ｄ変換器２０２の出力信号（サーボマーク信号、グレイコード信号）を所定の閾値でスライスする。ここでサーボマーク検出回路２０６によりサーボマーク１２０（第２１図参照）が検出されると、グレイコード・シリンダ回路２０７は、レベルスライス回路２０５からのグレイコード信号からシリンダの整数部を検出し、この検出結果をＭＰＵ３００へ出力する。
また、加算回路２０８では、Ａ／Ｄ変換器２０２からのバースト信号の情報が加算され、レジスタ２０９には、第２２図に示した信号ＰｏｓＡ、信号ＰｏｓＢ、信号ＰｏｓＣおよび信号ＰｏｓＤのそれぞれの情報が格納される。これにより、ＭＰＵ３００は、レジスタ２０９に格納された情報から前述した補正前の信号ＰｏｓＮおよびＰｏｓＱ（（第１４図参照）（バースト復調値）））を計算する。
つぎに、ＭＰＵ３００は、第１５図に示したように最小値Ｈ０から最大値Ｈ１まで比例的に変化するヘッド感度特性値を上記バースト復調値に乗算するという補正処理を実行する。
この場合に生成される位置偏差信号Ｆを第１４図に示す。この図からわかるように、位置偏差信号Ｆは、従来の位置偏差信号Ａに比べて、理想的な位置偏差信号Ｂにより近いものとなる。そして、磁気ヘッド１７１が目標トラックに位置すると、位置偏差信号Ｆに対応する電流指令値により、磁気ヘッド１７１が目標トラックの中心に位置するように制御される。
また、実施の形態２では、第１７図に示したようにバースト復調値のセンタ位置からＮｍａｘまでの間の中間値（Ｎｍａｘ／２）までの区間を最小値Ｈ０（ヘッド感度特性値）とし、中間値（Ｎｍａｘ／２）からＮｍａｘまでの区間を最大値Ｈ１（ヘッド感度特性値）として、これらの二値のヘッド感度特性値をバースト復調値に乗算するという二値の補正処理をＭＰＵ３００で実行するようにしてもよい。なお、実施の形態２では、三値以上の補正処理を行うようにしてもよい。
この場合に生成される位置偏差信号Ｉを第１６図に示す。この図からわかるように、位置偏差信号Ｉは、従来の位置偏差信号Ａと理想的な位置偏差信号Ｂとの中間的な連続的な信号となる。そして、磁気ヘッド１７１が目標トラックに位置すると、位置偏差信号Ｉに対応する電流指令値により、磁気ヘッド１７１が目標トラックの中心に位置するように制御される。
また、実施の形態２では、偶数シリンダ、奇数シリンダのそれぞれについて、別々のヘッド感度特性値を用いて、バースト復調値の補正処理をＭＰＵ３００で実行するようにしてよい。
また、実施の形態２では、サーボプリアンブル１１０（第２１図参照）に対応する信号の振幅比に対応する振幅比補正値を上述したヘッド感度特性値に乗算し、この乗算結果をバースト復調値に乗算することにより、補正処理を実行するようにしてもよい。
また、実施の形態２では、前述したゼロクロス周波数で微小振幅外乱を加えた場合のオープンループゲインと、大振幅外乱（振幅＋３トラック分）を加えた場合のオープンループゲインとの比を上述したヘッド感度特性値に乗算し、この乗算結果をバースト復調値に乗算することにより、補正処理を実行するようにしてもよい。この場合には、第２４図に特性線Ｅで示したようにオープンループゲインのばらつきが是正される。
以上説明したように、本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも２つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができるという効果を奏する。
また、本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも３つのサンプル点同士の位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができるという効果を奏する。
また、本発明によれば、通常のサーボ領域のみを有する磁気ディスクに比べて、サーボ割り込み周期が少なくとも１／２倍の磁気ディスクを用い、サーボ割り込み周期毎にサンプル点の位置信号レベルをとり、隣接する少なくとも５つのサンプル点同士を結ぶ線が山または谷の連続である場合に限り、位置信号レベルを所定の評価式に代入し、サンプル点をずらしながら、所定回数分だけ加算し、サーボ割り込み周期と同周期の高周波振動成分を観測するようにしたので、磁気ヘッドの揺れにおいて高周波振動成分を観測することができるという効果を奏する。
また、本発明によれば、磁気ヘッドの位置決め制御用のサーボパータンから得られる位置信号に対して、磁気ヘッドの感度特性値を用いて補正を掛けるようにしたので、ヘッド感度特性が非線形であっても磁気ヘッドの位置決め精度を高くすることができるという効果が得られる。
産業上の利用可能性
以上のように、本発明にかかる磁気ディスク装置および高周波振動観測方法は、磁気ヘッドの位置信号に高周波振動成分が含まれる場合に対して有用である。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明にかかる実施の形態１による磁気ディスク装置４０のサーボ回路部分の構成を示すブロック図であり、第２図は、第１図に示した磁気ディスク５０１の一部拡大模式図であり、第３図は、同実施の形態１のサーボ処理を説明する図であり、第４図は、同実施の形態１におけるサーボ割り込み周期Ｔ２を説明する図であり、第５図は、第１図に示した磁気ディスク５０１のサーボパターンから得られる位置信号の概略波形を示す図であり、第６図は、同実施の形態１におけるサーボ処理を説明するフローチャートであり、第７図は、同実施の形態１における高周波振動観測方法で用いられる（１）式および（２）式を表す図であり、第８図は、同実施の形態１における高周波振動を観測する手法１を説明するフローチャートであり、第９図は、同実施の形態１における高周波振動を観測する手法２を説明するフローチャートであり、第１０図は、同実施の形態１における高周波振動を観測する手法３を説明するフローチャートであり、第１１図は、同実施の形態１における高周波振動を観測する手法１〜手法３を説明する図であり、第１２図は、同実施の形態１における高周波振動を観測する手法１〜３を説明する図であり、第１３図は、本発明にかかる実施の形態２による磁気ディスク装置の制御回路の構成を示すブロック図であり、第１４図は、同実施の形態２におけるトラックとバースト復調値との関係を表す図であり、第１５図は、同実施の形態２におけるバースト復調値とヘッド感度特性値との関係を表す図であり、第１６図は、同実施の形態２におけるトラックとバースト復調値との関係を表す図であり、第１７図は、同実施の形態におけるバースト復調値とヘッド感度特性値との関係を表す図であり、第１８図は、従来の磁気ディスク装置１０の外観構成を示す分解斜視図であり、第１９図は、第１８図に示した磁気ディスク装置１０のサーボ回路部分の構成を示すブロック図であり、第２０図は、第１８図に示した磁気ディスク装置１０におけるサーボ割り込み周期Ｔ１を説明する図であり、第２１図は、サーボパターン１００の構成を示す図であり、第２２図は、第２１図に示したバースト１４０および各種信号を示す図であり、第２３図は、線形補正処理を説明する図であり、第２４図は、設計上のゼロクロス周波数で微小外乱を加えた場合のオープンループゲイン特性を示す図である。
【図１】
2002091381.tif 000003
【図２】
2002091381.tif 000004
【図３】
2002091381.tif 000005
【図４】
2002091381.tif 000006
【図５】
2002091381.tif 000007
【図６】
2002091381.tif 000008
【図７】
2002091381.tif 000009
【図８】
2002091381.tif 000010
【図９】
2002091381.tif 000011
【図１０】
2002091381.tif 000012
【図１１】
2002091381.tif 000013
【図１２】
2002091381.tif 000014
【図１３】
2002091381.tif 000015
【図１４】
2002091381.tif 000016
【図１５】
2002091381.tif 000017
【図１６】
2002091381.tif 000018
【図１７】
2002091381.tif 000019
【図１８】
2002091381.tif 000020
【図１９】
2002091381.tif 000021
【図２０】
2002091381.tif 000022
【図２１】
2002091381.tif 000023
【図２２】
2002091381.tif 000024
【図２３】
2002091381.tif 000025
【図２４】
2002091381.tif 000026
【国際調査報告】
2002091381.tif 000027
2002091381.tif 000028
2002091381.tif 000029
2002091381.tif 000030
2002091381.tif 000031
2002091381.tif 000032