(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所要幅とした先端面の左右両サイドにテーパ面をそれぞれ形
成して、先端部側を鋭角となした絶縁材料製のプローブ本体を構成し、該プローブ本体の先端面に、背面をラバーで覆った柔軟性部材を左右方向へ延びるように取り付けると共に、該柔軟性部材の前面に、誘導ワイヤを左右方向に沿わせて貼り付け、且つ上記プローブ本体の先端部に、平行に配した一対の探触針を、上記ラバー、柔軟性部材、誘導ワイヤを貫通して前方へ突出付勢されるように組み付け、更に、上記プローブ本体の左右のテーパ面と上記ラバーの背面との間に、板ばねを取り付けた構成を有することを特徴とする集中誘導型交流電位差プローブ。
【請求項２】
柔軟性部材として、スポンジ、ゲル又は軟質ゴムを用いるよ
うにした請求項１記載の集中誘導型交流電位差プローブ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は構造物に存在する欠陥を集中誘導型交流電位差法により非破壊検査する際に用いる集中誘導型交流電位差プローブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
構造物に存在する表面、内部、裏面等の欠陥（疵）を非破壊的に検査する方法の一つとして、集中誘導型交流電位差法がある。
【０００３】
かかる集中誘導型交流電位差法は、原理的には、電磁誘導により渦電流を発生させて、該渦電流により生じた電位差を探触針で測定する方法で、渦流探触法と電位差法の混合型である。すなわち、図３に概要を示す如く、計測部材１上に誘導ワイヤ２を密着するように配置して交流電流を流すようにし、このときの電流の電磁誘導現象（ファラデー・ノイマンの電子誘導の法則）により計測部材１の欠陥１ａ領域のみに電流を集中的に誘導する現象を原理とし、一対の探触針３を誘導ワイヤ２に沿わせて順次移動させながら、探触針３間の電位差を計測するようにし、健全部と欠陥１ａの周辺部との電位差比から欠陥１ａの深さを評価するようにしたものである。
【０００４】
上記集中誘導型交流電位差法で用いられる探触針３は、通常、検査用のプローブの一部品として構成され、該プローブには、誘導ワイヤ２とは別体としたものと、誘導ワイヤ２と一体型としたものとがある。
【０００５】
上記誘導ワイヤ一体型のプローブは、図４（イ）（ロ）にその一例の概略を示す如く、絶縁材料製としたプローブ本体４の先端部側（下端部側）の中央部に、所要間隔をあけて平行に配した２本の探触針３を、圧縮ばね５により先端面４ａより前方（下方）へ突出付勢されるように組み付け、且つ上記プローブ本体４の先端面４ａに、上記探触針３を貫通させる孔６ａを設けた基板６を取り付けると共に、該基板６の前面に、同様に上記探触針３を貫通させる孔２ａを設けた誘導ワイヤ２を貼り付けた構成としてある。７は探触針３に接続した導線、８は誘導ワイヤ２に接続した導線を示す。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記図４（イ）（ロ）に示すプローブの場合、図３に示す如き平坦形状の計測部材１を対象としたものであるので、たとえば、Ｔ継手の如き曲り形状の計測部材へ採用することはできず、計測面部の形状に合わせた形のものをその都度作らなければならないという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、平坦形状の計測部材であっても、曲り形状の計測部材であっても適用することができるような集中誘導型交流電位差プローブを提供しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するために、所要幅とした先端面の左右両サイドにテーパ面をそれぞれ形成して、先端部側を鋭角となした絶縁材料製のプローブ本体を構成し、該プローブ本体の先端面に、背面をラバーで覆った柔軟性部材を左右方向へ延びるように取り付けると共に、該柔軟性部材の前面に、誘導ワイヤを左右方向に沿わせて貼り付け、且つ上記プローブ本体の先端部に、平行に配した一対の探触針を、上記ラバー、柔軟性部材、誘導ワイヤを貫通して前方へ突出付勢されるように組み付け、更に、上記プローブ本体の左右のテーパ面と上記ラバーの背面との間に、板ばねを取り付けた構成とする。
【０００９】
柔軟性部材の前面の誘導ワイヤを計測面に合わせて、プローブ本体の先端面部を計測面側へ押し付けると、板ばねが撓み、その反力で誘導ワイヤは計測面に押し付けられる。このとき、柔軟性部材は自在に変形するため、誘導ワイヤは計測面に密着させられる。したがって、計測部材は平坦形状であっても曲り形状であっても計測が可能となる。
【００１０】
上記柔軟性部材としては、スポンジ、ゲル、軟質ゴム等を用いることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１２】
図１（イ）（ロ）は本発明の実施の一形態を示すもので、所要幅の平坦面とした先端面９ａの左右両サイドにテーパ面９ｂをそれぞれ形成して、先端部側を、たとえば６０度の如き鋭角となした絶縁材料製のプローブ本体９を構成し、該プローブ本体９の先端面９ａに、背面をラバー１０で覆った柔軟性部材としてのスポンジ１１を左右方向へ延びるように取り付けると共に、該スポンジ１１の前面に、図示しない導線が両端に接続してある図４（ロ）に示したと同様な誘導ワイヤ２を左右方向に沿わせて貼り付け、又、上記プローブ本体９の先端部内に、所要間隔にて平行に配し且つ導線７に接続された一対の探触針３を、上記ラバー１０、スポンジ１１、誘導ワイヤ２に設けた孔２ａを貫通して出入できるように組み付けて、該探触針３が、図４（イ）に示したと同様にプローブ本体９内に組み入れた圧縮ばねの作用で常時先端面９ａから前方（下方）へ突出する突出力が付勢されるようにし、更に、上記プローブ本体９の左右のテーパ面９ｂとラバー１０の背面部所要位置との間に適数枚の板ばね１２を取り付けて、該板ばね１２の弾発力により、非計測時（放置時）に、ラバー１０、スポンジ１１、誘導ワイヤ２が図１（イ）の如く前方へ一体に湾曲させられた状態にあるように構成する。
【００１３】
なお、上記探触針３は、常時は圧縮ばねの作用によりプローブ本体９の先端面９ａから前方へ突出付勢されているが、図示しない抜け止めストッパにより抜け止め保持されている。又、誘導ワイヤ２の表面には、薄い絶縁材が施してある。
【００１４】
上記構成としてあるプローブを用いて、たとえば、図２（イ）に示す如きＴ継手を形成している計測部材１３の継手部１３ａの欠陥の深さを計測する場合には、スポンジ１０の前面に貼り付けてある誘導ワイヤ４を計測面となる継手部１３ａの表面に合わせて、プローブ本体９の先端面９ａ部を継手部１３ａへ向けて押し付けるようにする。なお、探触針３はプローブ本体９の押し付けにより、圧縮ばねに抗しプローブ本体９内に押し込まれ、先端だけが継手部１３ａの表面に接した状態となる。
【００１５】
上記のように、プローブ本体９の先端面９ａを継手部１３ａへ向けて押し付けると、ラバー１０、スポンジ１１、誘導ワイヤ２が計測部材１３の曲り形状に強制的に沿わされて後方へ変形させられるため、板ばね１２に撓みが与えられせることになり、この板ばね１２の撓み反力により誘導ワイヤ２が継手部１３ａに押し付けられることになる。この際、ラバー１０は、スポンジ１１を保持すると共に、板ばね１２の撓み反力をスポンジ１１全体に伝えるように作用すること、又、スポンジ１１は自在に変形することから、上記誘導ワイヤ４は継手部１３ａ付近の表面に確実に密着させられる。したがって、曲り形状の計測部材１３であっても、継手部１３ａの欠陥の深さを、集中誘導型交流電位差法によって計測することができる。
【００１６】
又、図３に示す如き平坦形状の計測部材１の欠陥の深さを計測する場合にも、図１（ロ）に示す如く、計測部材１の計側面上に検査プローブを押し当てることにより、同様に、誘導ワイヤ２を計測面に密着させることができる。この場合、図１（イ）の場合とは板ばね１２の撓み量が異なることになる。
【００１７】
なお、本発明は上記実施の形態にのみ限定されるものではなく、誘導ワイヤ２を貼り付ける部材としては、スポンジ１１に限らず、ゲル、軟質ゴム等の柔軟性部材を用いるようにしてもよく、又、板ばねの数、強さ等は任意に選定し得ること、その他本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【００１８】
【発明の効果】
以上述べた如く、本発明の集中誘導型交流電位差プローブによれば、所要幅とした先端面の左右両サイドにテーパ面をそれぞれ形成して、先端部側を鋭角となした絶縁材料製のプローブ本体を構成し、該プローブ本体の先端面に、背面をラバーで覆ったスポンジ、ゲル、軟質ゴムの如き柔軟性部材を左右方向へ延びるように取り付けると共に、該柔軟性部材の前面に、誘導ワイヤを左右方向に沿わせて貼り付け、且つ上記プローブ本体の先端部に、平行に配した一対の探触針を、上記ラバー、柔軟性部材、誘導ワイヤを貫通して前方へ突出付勢されるように組み付け、更に、上記プローブ本体の左右のテーパ面と上記ラバーの背面との間に、板ばねを取り付けた構成としてあるので、柔軟性部材の変形と板ばねの撓み反力によって誘導ワイヤを計測面の形状に沿わせて密着させることができ、これにより、計測部材が平坦形状であっても曲り形状であっても、集中誘導型交流電位差法による計測が可能となり、このことから、計測面の形状を考慮したプローブの製作が不要となり、いつでも計測が可能となることから、時間及びコストの削減を図ることができる、等の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の集中誘導型交流電位差プローブの実施の一形態を示すもので、（イ）は正面図、（ロ）は（イ）のＡ−Ａ方向矢視図である。
【図２】図１に示すプローブの使用例を示すもので、（イ）は曲り形状の計測部材に適用している状態の概略図、（ロ）は平坦形状の計測部材に適用している状態の概略図である。
【図３】集中誘導型交流電位差法の原理を示す概要図である。
【図４】従来のプローブの一例を示すもので、（イ）は正面図、（ロ）は（イ）のＢ−Ｂ方向矢視図である。
【符号の説明】
２  誘導ワイヤ
３  探触針
９  プローブ本体
９ａ  先端面
９ｂ  テーパ面
１０  ラバー
１１  スポンジ（柔軟性部材）
１２  板ばね
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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