(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
カメラ用スタンドに載置され、当該カメラ用スタンドに備えられた電源供給手段により電源供給を受ける電子カメラであって、
カメラ本体と、
このカメラ本体に設けられたカメラ診断手段と、
前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことを検出する載置検出手段と、
この載置検出手段にて前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段を所定のタイミングで実行させる実行制御手段と、
を備えたことを特徴とする電子カメラ。
【請求項２】
前記カメラ診断手段は、撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段であることを特徴とする請求項１に記載の電子カメラ。
【請求項３】
前記カメラ本体は、更に温度測定手段を備え、前記欠陥画素検出手段は、上記温度測定手段で測定した温度に応じた欠陥画素検出を行なうものであることを特徴とする請求項２に記載の電子カメラ。
【請求項４】
前記カメラ本体は、前記カメラ用スタンドから供給された電力により内蔵二次電池を充電する充電手段を更に備え、
前記実行制御手段は、前記充電手段による充電を、前記欠陥画素検出手段による欠陥画素の検出後において開始させる手段を含んでいることを特徴とする請求項２又は３に記載の電子カメラ。
【請求項５】
前記カメラ本体は、前記カメラ用スタンドから供給された電力により内蔵二次電池を充電する充電手段を更に備え、
前記実行制御手段は、前記充電手段による充電が終了した後、前記欠陥画素検出手段を実行させる手段を含んでいることを特徴とする請求項３に記載の電子カメラ。
【請求項６】
電子カメラと、当該電子カメラを着脱自在に載置するカメラ用スタンドとからなる電子カメラシステムであって、
前記カメラ用スタンドは、載置された前記電子カメラの撮影系に対して光を照射する光照射手段を備え、
前記電子カメラは、前記光照射手段から光を照射されて撮像素子の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段を備えたことを特徴とする電子カメラシステム。
【請求項７】
前記カメラ用スタンドは、載置された電子カメラに電源を供給する電源供給手段を備え、
前記電子カメラは、前記カメラ用スタンドから供給された電力により内蔵二次電池を充電する充電手段を備えたことを特徴とする請求項６に記載の電子カメラシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子カメラおよび当該電子カメラとカメラ用スタンドとを含む電子カメラシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＣＤ撮像素子等の固体撮像素子には欠陥画素が存在する。欠陥画素には黒欠陥画素と白欠陥画素とがある。
【０００３】
黒欠陥画素は、主として製造時に発生するものであると言われている。この黒欠陥画素が存在すると、例えば明るい空を撮影したような場合に、欠陥個所が黒い点となって現れる。したがって明るい背景の被写体撮影等に悪影響を及ぼす。
【０００４】
白欠陥画素は、主として出荷後において宇宙線の被爆等により後発的に発生する欠陥画素と言われている。この白欠陥画素が存在すると、例えば夜間撮影時において、欠陥個所が白点となって現れる。したがって例えば星の撮影等において致命的なダメージを受けるおそれがある。
【０００５】
このような欠陥画素の存在は、撮影画像の品位を著しく損なうので、その改善が強く望まれる。製造時において発生する欠陥画素については、メーカ側で対策を講じ得る。しかるに出荷後において宇宙線等の影響で経時的に発生する後発的欠陥画素については、メーカ側での対策は困難である。
【０００６】
そこで、後発的欠陥画素検出用のプログラムを電子カメラの内部に備え、経時的に発生する後発的欠陥画素を適時検出し、且つその補正を行なう手段が提案されている。なお欠陥画素の補正の手法としては、検出された欠陥画素のアドレスをメモリー等に記憶させておき、画像データの記録時等において、上記記憶させておいたアドレスに対応する画素の出力データを、周囲に存在する欠陥なき画素の出力データに基づいて補間処理するのが一般的手法である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上記欠陥画素検出用プログラムを電子カメラの内部に備え、経時的に発生する後発的欠陥画素を、適時検出し且つ補正を行なう手段には以下のような問題がある。
【０００８】
（１）欠陥画素の検出には比較的長い時間がかかる。したがって、できる限りカメラ使用に支障をきたさないタイミングを選んで欠陥画素検出を行なうことが要求される。特開平２００１−５７６５６号公報には、カメラの電池交換のタイミングで欠陥画素検出を実行する手段が開示されている。しかし上記手段では、電池を交換した後に、所定時間にわたり欠陥画素の検出が行なわれるので、電池交換後、直ちに撮影を行なうことはできない。結局、上記公報に示された手段もカメラ使用上、支障をきたす事を免れ得ない。
【０００９】
（２）欠陥画素の検出は撮像素子及びその周辺の温度の影響を受けやすいにもかかわらず、温度補償手段が格別には考慮されていない。そのため例えば電子カメラを長時間使用した直後において欠陥画素の検出動作を実行すると、撮像素子近傍が比較的高温になっているため、通常の温度では欠陥画素とはいえない画素まで欠陥画素として検出されてしまう。
【００１０】
なおＣＣＤ撮像素子の場合、温度が高くなるとＳｉ結晶の欠陥に基づく暗電流が増加するため、白欠陥画素が増える傾向を示す。例えば暗闇撮影した場合、低い温度では正常画素の平均出力に比べて＋２０ｄＢ程度である特定画素の出力が、高温時においては＋４０ｄＢに達することがある。したがって通常温度での実行を前提として上限閾値を仮に＋４０ｄＢに設定し、高温時において検出動作を行なうと、本来は正常画素として許容され得る前記特定画素が欠陥画素として検出されてしまう。このため当該撮像素子には多数の欠陥が有ると判断され、正確な欠陥画素検出が行なわれない。
【００１１】
本発明は、このような事情に基づいてなされたものであり、その目的は下記のような利点を有する電子カメラ及び電子カメラシステムを提供することにある。
【００１２】
（ａ）カメラ使用に支障をきたすことなくカメラの診断を行なえる。
【００１３】
（ｂ）温度の影響を受けずに欠陥画素の検出を正確に行なえる。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決し目的を達成するために、本発明の電子カメラ及び電子カメラシステムは下記のような特徴ある構成を有している。なお下記以外の特徴ある構成については実施形態の中で明らかにする。
【００１５】
（１）本発明の電子カメラは、
カメラ用スタンドに載置され、当該カメラ用スタンドに備えられた電源供給手段（ＡＣ／ＤＣコンバータ等）により電源供給を受ける電子カメラであって、カメラ本体と、このカメラ本体内に設けられたカメラ診断手段（ＣＰＵ，ＥＥＰＲＯＭ，欠陥画素検出・補正部等）と、前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことを検出する載置検出手段(スタンド載置検出回路等）と、この載置検出手段にて前記カメラ本体が前記カメラ用スタンドに載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段（ＣＰＵ，ＥＥＰＲＯＭ，欠陥画素検出・補正部等）を所定のタイミングで実行させる実行制御手段（ＣＰＵ，スタンド載置検出回路等）と、を備えたことを特徴としている。
【００１６】
上記電子カメラにおいては、カメラ非使用状態が確定している状況下において電子カメラの診断が自動的になされるので、所謂デッドタイムが有効利用され、実質的にカメラ使用の妨げにならない。また時間的に余裕をもって診断することが可能なので、診断精度も向上する。
【００１７】
（２）本発明の電子カメラシステムは、
電子カメラと、当該電子カメラを着脱自在に載置するカメラ用スタンドとからなる電子カメラシステムであって、前記カメラ用スタンドは、載置された前記電子カメラの撮影系に対して光を照射する光照射手段（光源、反射板、乳白板）を備え、前記電子カメラは、前記光照射手段から光を照射されて撮像素子の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段を備えたことを特徴としている。
【００１８】
上記電子カメラシステムにおいては、カメラ用スタンドに備えられた光照射手段から、当該カメラ用スタンドに載置された電子カメラの撮影系に対し、均一な光が安定に照射され得るので、黒欠陥を正確に検出することが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
（第１実施形態）
図１は本発明の第１実施形態に係る電子カメラの概略的構成を示す図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は底面図、（ｄ）は側面図、（ｅ）は背面図である。
【００２０】
図１に示すように、この電子カメラ１０は、カメラ本体１１の前面に、撮影レンズ窓１２、ストロボ発光窓１３、リモコン用受光窓１４、等を有している。又、カメラ本体１１の上面にはレリーズボタン１５が設けられ、底面には三脚取付け孔１６，電池装填口１７等が設けられている。上記電池装填口１７からカメラ本体内の電池収納部に対し、充電可能な二次電池１８が着脱自在に装填され得るものとなっている。
【００２１】
カメラ本体１１を正面から見て左側の側面には、コネクタカバー１９が矢印で示すように、スライド可能に設けられている。このコネクタカバー１９の内側にはコネクタ２１が配置されている。このコネクタ２１は後述する充電回路２３を介して二次電池１８に接続されており、且つ後述するカメラ用スタンド３０のコネクタ３１と結合可能となっている。
【００２２】
カメラ本体１１の背面には、記録媒体等に記録されている画像等を再生して表示するための表示手段として、ＬＣＤ表示部２２が設けられている。またカメラ本体１１の背面の片隅には白欠陥画素検出指令または黒欠陥画素検出指令を与えるための欠陥画素検出指令ボタン２８が設けられている。
【００２３】
カメラ本体１１の内部には基板２０が設置されており、この基板２０上に前記充電回路２３，前記撮影レンズ窓１２を先端に有するレンズ鏡筒２４等が取付けられている。
【００２４】
図２は電子カメラ１０を、背面が表側になるようにしてカメラ用スタンド３０に載置した状態を示す図で、（ａ）は側面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は一部破断して示す要部の側面図である。図２に示すように、電子カメラ１０は、使用時の姿勢とは異なる姿勢すなわち縦長姿勢で、その一端がカメラ用スタンド３０のカメラ載置用凹部３２の中に挿入された状態で載置される。このような載置状態にあっては、カメラ本体１１の側面（本図ではカメラ本体１１を縦長な姿勢にしている関係で、図中下側に位置している）に配置されている前記コネクタ２１が、スタンド側の前記カメラ載置用凹部３２の底面上に配設されているコネクタ３１と結合する。
【００２５】
カメラ用スタンド３０は、例えば硬質樹脂で座椅子のような形状になされたものであり、その基台部３０ａの上面には前記カメラ載置用凹部３２が設けられている。そして直立状態となっている衝立部３０ｂの一側面は、カメラ本体１１の一側面を支えるための若干傾斜した背もたれ部３３となっている。このスタンド３０にはケーブル３４を介して差込みプラグ３５が接続されている。上記差込みプラグ３５を電源コンセント（不図示）に差し込んだ状態にすることで、スタンド３０は電源供給部等としての機能を発揮する。
【００２６】
図２の（ｃ）に示すように、カメラ用スタンド３０の内部には、当該スタンド３０に載置された電子カメラ１０の撮影系４０（撮影レンズ４１，撮像素子４３等）に対して光を照射するための光照射手段３０Ｌが設けられている。この光照射手段３０Ｌは、光源３７、反射板３８、乳白板３９からなり、光源３７から発した光を反射板３８で乱反射させ、これを乳白板３９を介して撮影系４０に均一な光を安定に照射し得るものとなっている。また電子カメラ１０の内部には、撮像素子４３の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段９０が備えられている。この欠陥画素検出手段９０は、後述する温度センサー９１や欠陥画素検出・補正部９２などを含んでおり、欠陥画素を正確に検出し、補正することが可能となっている。
【００２７】
図３は欠陥画素検出・補正機能を有する電子カメラ１０およびカメラ用スタンド３０を含む電子カメラシステム全体の制御系の構成を示すブロック図である。図中上方の二点鎖線で囲んだ部分が電子カメラ１０の部分であり、図中下方の二点鎖線で囲んだ部分がカメラ用スタンド３０の部分である。
【００２８】
まずカメラ用スタンド３０の部分から説明する。上記スタンド３０は、商用交流電源（ＡＣ１００ボルト）を低圧の整流電源に変換するためのＡＣ／ＤＣコンバータ３６及び光照射手段３０Ｌの構成要素の一つである前記光源３７を備えている。またビデオ出力端子（ジャック）ＶＩＤと、信号通信用端子としてのシリアルバス用接続端子（ジャック）ＵＳＢとを備えている。そして、上記ＡＣ／ＤＣコンバータ３６、ビデオ出力端子（ジャック）ＶＩＤ、信号通信用端子としてのシリアルバス用接続端子（ジャック）ＵＳＢ等は、以下説明するように、スタンド側のコネクタ３１，電子カメラ側のコネクタ２１を介してカメラ本体内の各部と電気的に接続される。
【００２９】
電子カメラ側のコネクタ２１とスタンド側のコネクタ３１とは、いずれか一方がプラグで他方がジャックとなっており、着脱自在に結合し得るものとなっている。コネクタ２１とコネクタ３１とが結合された状態においては、図中点線で示すように、対応するコネクタ端子を介して電子カメラ側の各部とスタンド側の各部とが互いに接続される。
【００３０】
すなわちコネクタ端子ａを介してスタンド側の接地部Ｅ１と電子カメラ側の接地部Ｅ１とが接続される。またコネクタ端子ｂを介してスタンド側のＡＣ／ＤＣコンバータ３６と電子カメラ側の電源部７０における切替回路７１とが接続される。さらにコネクタ端子ｃを介してスタンド側のＡＣ／ＤＣコンバータ３６の制御端と電子カメラ側のＣＰＵ５４の一つのポートとが接続される。またコネクタ端子ｄを介してスタンド側の接地部Ｅ２と電子カメラ側のスタンド載置検出回路６０における電位制御端Ｐとが接続される。またコネクタ端子ｅを介してスタンド側のシリアルバス用接続端子（ジャック）ＵＳＢと電子カメラ側のシリアルバス用接続端子（ジャック）ＵＳＢとが接続される。同様に、コネクタ端子ｆを介してスタンド側のビデオ出力端子（ジャック）ＶＩＤと電子カメラ側のビデオ出力端子（ジャック）ＶＩＤとが接続される。
【００３１】
次に電子カメラ１０の部分につき説明する。電子カメラ１０は、カメラ本体１１の内部に、撮影レンズ４１，メカニカル・シャッター４２，撮像素子（例えばＣＣＤ撮像素子）４３を含む撮影系４０を備えている。この撮影系４０で捉えられた被写体像に対応する電気信号は、撮像回路４４で画像データに変換される。この画像データはデータバス５０を介してＤＲＡＭ等からなる一時記憶メモリー５１へ一時的に記憶される。この一時記憶された画像データは、画像処理装置５２で圧縮処理された後、フラッシュメモリー等からなる画像記録媒体５３に格納される。
【００３２】
上記画像記録媒体５３に格納された画像データは、再生時において上記記録媒体５３から読み出され、前記画像処理装置５２により伸張処理された後、前記一時記憶メモリー５１に一時的に記憶される。そして、上記一時記憶された再生画像データは、ＬＣＤドライバー５５を介してＬＣＤ表示部２２へ供給され、画像表示され得るものとなっている。なお上記再生画像データは、ビデオドライバー５６を介してビデオ出力端子ＶＩＤから外部の表示装置（不図示）へも出力可能となっており、適時、外部モニターすることを可能ならしめている。
【００３３】
図３において、符号５７は検出された欠陥画素のアドレス等を格納しておくためのフラッシュメモリー等からなるＥＥＰＲＯＭ、符号５８はＣＰＵ５４に所定の動作を行なわせる為の動作プログラム部、符号５９はシリアルバス用接続端子（ジャック）ＵＳＢを介して信号をやりとりする為のインターフェイスである。
【００３４】
ところで、上記電子カメラ１０には、カメラ本体１１が前記スタンド３０に載置されたか否かを検出するための載置検出手段としてスタンド載置検出回路６０が設けられている。このスタンド載置検出回路６０は、ＣＰＵ５４の一つのポートに対し、端子６１に印加される＋Ｖなる電位を抵抗素子６２を介して与えておき、カメラ本体１１がスタンド３０へ載置されることにより前記コネクタ２１と３１とが結合されたとき、前記抵抗素子６２の一端すなわちＣＰＵ５４に接続されている電位制御端Ｐを接地電位に落とすことにより、カメラ本体１１がスタンド３０に載置されたことを示すスタンド載置情報ＳＡをＣＰＵ５４に与えるものとなっている。本実施形態ではＣＰＵ５４がスタンド載置情報ＳＡを与えられることにより、前述した欠陥画素検出指令ボタン２８による欠陥画素検出機能及び補正機能が有効に働くようになっている。
【００３５】
電源部７０は、切替回路７１と、電源供給回路７２と、電池残量検出回路７３を備えた前記充電回路２３と、前記二次電池１８とからなっている。この電源部７０は、スタンド３０のＡＣ／ＤＣコンバータ３６から所定レベルの整流電源が入力しているときは、その整流電源が切替回路７１，電源供給回路７２を経由してカメラ本体内の各部へ供給される。またスタンド３０から前記整流電源が入力しないときは、二次電池１８からの直流電源が、電源供給回路７２を介してカメラ本体内の各部へ供給される。更に二次電池１８の電池残量が、限界レベルまで低下したことが電池残量検出回路７３により検出された時は、充電回路２３による二次電池１８の充電が行なわれる。
【００３６】
カメラ制御部８０は、入力指示部８１と、シャッター制御部８２と、シャッターモータ８３とを備えている。入力指示部８１は、前記レリーズボタン１５に応動するレリーズスイッチ、前記欠陥画素検出指令ボタン２８に応動するスイッチ、その他各種スイッチを含んでいる。
【００３７】
ＣＰＵ５４には、温度測定手段としての温度センサー９１が接続されている。また前記データバス５０には欠陥画素検出・補正部９２が接続されている。上記温度センサー９１、欠陥画素検出・補正部９２、及び前記欠陥画素のアドレスを格納するＥＥＰＲＯＭ５７、更には欠陥画素検出指令ボタン２８等は、ＣＰＵ５４と共に本発明の欠陥画素検出手段９０を構成している。上記欠陥画素検出手段９０は温度センサー９１で測定した温度に応じた欠陥画素検出を行ない、温度に依存する欠陥画素の検出出力レベルを温度補償しながら常に正確な欠陥画素検出を行ない得るものとなっている。
【００３８】
本実施形態においては、検出された欠陥画素のアドレスは、ＥＥＰＲＯＭ５７に記憶される。そして撮影時において、上記記憶されたアドレスの欠陥画素から出力されたデータについては、周囲の正常な画素の出力データによって補間処理が施される。そして上記補間処理が施された後の画像データは、圧縮処理等を行なわれた後、画像記録媒体５３に記録される。
【００３９】
以下、上記の如く構成された本実施形態における電子カメラシステムによる白欠陥検出動作及び黒欠陥検出動作につき、図４の（ａ）（ｂ）に示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。まず白欠陥検出動作につき、図４の（ａ）のフロー図を用いて説明する。
【００４０】
ステップＳＴ１１：電子カメラ１０がスタンド３０に載置されたことがスタンド載置検出回路６０により検出されると、スタンド載置情報ＳＡが得られる。
【００４１】
ステップＳＴ１２：スタンド載置情報ＳＡが得られたことを条件として、温度センサー９１からの信号に基づいた撮像素子４３周囲の温度測定が行なわれる。
【００４２】
ステップＳＴ１３：測定された温度が所定レベル以下であるか否かの判定が行なわれる。
【００４３】
ステップＳＴ１４：上記判定の結果、測定された温度が所定レベル例えば３０℃を越えている場合、欠陥画素の検出は行なわれず、検出動作は停止となる。
【００４４】
ステップＳＴ１５：上記判定の結果、測定された温度が所定レベル例えば３０℃以下である場合、測定温度レベル（範囲）に応じた欠陥判定閾値が設定される。例えば測定温度が２５〜３０℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して＋５０ｄＢに設定される。同じく２０〜２５℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して＋４０ｄＢに設定される。
【００４５】
ステップＳＴ１６：シャッター４２を閉じた状態で撮像素子４３が所定時間（数秒）露光制御される。
【００４６】
ステップＳＴ１７：出力レベルが測定温度レベル（範囲）に応じて設定された欠陥判定閾値を越えた画素が欠陥画素として検出される。
【００４７】
ステップＳＴ１８：検出された欠陥画素のアドレスがＥＥＰＲＯＭ５７へ記録される。
【００４８】
ステップＳＴ１９：一連の欠陥検出動作を終了する。
【００４９】
次に黒欠陥検出動作につき、図４の（ｂ）のフロー図を用いて説明する。
【００５０】
ステップＳＴ２１：電子カメラ１０がスタンド３０に載置されたことがスタンド載置検出回路６０により検出されると、スタンド載置情報ＳＡが得られる。
【００５１】
ステップＳＴ２２：スタンド載置情報ＳＡが得られたことを条件として、温度センサー９１からの信号に基づいた撮像素子４３周囲の温度測定が行なわれる。
【００５２】
ステップＳＴ２３：測定された温度が所定レベル以下であるか否かの判定が行なわれる。
【００５３】
ステップＳＴ２４：上記判定の結果、測定された温度が所定レベル、例えば３５℃を越えている場合、欠陥画素の検出は行なわれず、検出動作は停止となる。
【００５４】
ステップＳＴ２５：上記判定の結果、測定された温度が所定レベル、例えば３５℃以下である場合、測定温度レベル（範囲）に応じた欠陥判定閾値が設定される。例えば測定温度が２５〜３０℃であるときの欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して−２０ｄＢに設定される。同じく２０〜２５℃である時の欠陥判定閾値は、正常画素の平均出力レベルに対して−３０ｄＢに設定される。
【００５５】
ステップＳＴ２６：ＣＰＵ５４から黒欠陥検出指令ＢＰに基づく光制御信号ＳＢが、コネクタ２１，３１を介してスタンド３０内のＡＣ／ＤＣコンバータ３６に与えられる。これによりＡＣ／ＤＣコンバータ３６から光照射手段３０Ｌの光源３７に対して点灯電力ＳＰが供給される。このため光照射手段３０Ｌからカメラ本体１１の撮影系４０に対し均一な光が安定的に照射される。
【００５６】
ステップＳＴ２７：シャッター４２を開いた状態で撮像素子４３が所定時間（一瞬）露光制御される。
【００５７】
ステップＳＴ２８：出力レベルが測定温度レベル（範囲）に応じて設定された欠陥判定閾値を下回った画素(明るくならない画素)が黒欠陥画素として検出される。
【００５８】
ステップＳＴ２９：検出された欠陥画素のアドレスがＥＥＰＲＯＭ５７へ記録される。
【００５９】
ステップＳＴ３０：一連の欠陥検出動作を終了する。
【００６０】
次に上記欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出と充電手段（充電回路２３等）による内蔵二次電池１８の充電とのタイミング制御動作について、図５の（ａ）（ｂ）に示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。まず欠陥検出動作後に充電する場合の制御動作につき、図５の（ａ）のフロー図を用いて説明する。
【００６１】
ステップＳＴ３１：電子カメラ１０がスタンド３０に載置されたことがスタンド載置検出回路６０により検出されると、スタンド載置情報ＳＡが得られる。
【００６２】
ステップＳＴ３２：スタンド載置情報ＳＡが得られたことを条件として、前述した欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出が行なわれる。
【００６３】
ステップＳＴ３３：電池残量が所定量以上あるか否か判定される。
【００６４】
ステップＳＴ３４：電池残量が所定量以上無いと判定された場合、充電回路２３による充電が行われ、ステップＳＴ３３へ戻る。
【００６５】
ステップＳＴ３５：ステップＳＴ３３において電池残量が所定量以上あると判定されたとき、一連の制御動作を終了する。
【００６６】
上記の如く制御されることにより、欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出動作が、充電による温度上昇の影響を受けないので、温度測定手段（ＣＰＵ５４，温度センサー９１等）を用いた温度補償を格別に行なわなくても検出精度を所定レベルに維持できる。なお温度測定手段を用いた温度補償を同時に行なってもよいのは勿論である。
【００６７】
次に充電後において欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出動作を行なうう場合の制御動作につき、図５の（ｂ）のフロー図を用いて説明する。
【００６８】
ステップＳＴ４１：電子カメラ１０がスタンド３０に載置されたことがスタンド載置検出回路６０により検出されると、スタンド載置情報ＳＡが得られる。
【００６９】
ステップＳＴ４２：スタンド載置情報ＳＡが得られたことを条件として、電池残量が所定量以上あるか否か判定される。
【００７０】
ステップＳＴ４３：電池残量が所定量以上無いと判定された場合、充電回路２３による充電が行われ、ステップＳＴ４２へ戻る。
【００７１】
ステップＳＴ４４：ステップＳＴ４２において電池残量が所定量以上あると判定されたとき、前述した欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出が行なわれる。
【００７２】
ステップＳＴ４５：一連の制御動作を終了する。
【００７３】
上記の如く制御されることにより、充電手段（充電回路２３等）による充電が十分行なわれた後、前記欠陥画素検出手段９０による欠陥画素検が行なわれる。したがって検出動作中に内蔵二次電池１８が消耗してまうことは殆ど無いので、上記欠陥画素検出動作が電池消耗によって中断するおそれがない。なおこの場合温度測定手段を用いた温度補償が行なわれることが必要である。
【００７４】
（実施形態における特徴点）
［１］実施形態に示された電子カメラ１０は、
カメラ用スタンド３０に載置され、当該カメラ用スタンド３０に備えられた電源供給手段（ＡＣ／ＤＣコンバータ３６等）により電源供給を受ける電子カメラ１０であって、
カメラ本体１１と、このカメラ本体１１に設けられたカメラ診断手段（ＣＰＵ５４，ＥＥＰＲＯＭ５７，欠陥画素検出・補正部９２等）と、前記カメラ本体１１が前記カメラ用スタンド３０に載置されたことを検出する載置検出手段(スタンド載置検出回路６０等）と、この載置検出手段(６０等）にて前記カメラ本体１１が前記カメラ用スタンド３０に載置されたことが検出されたとき、前記カメラ診断手段（ＣＰＵ５４，ＥＥＰＲＯＭ５７，欠陥画素検出・補正部９２）を所定のタイミングで実行させる実行制御手段と（ＣＰＵ５４，スタンド載置検出回路６０等）と、を備えたことを特徴としている。
【００７５】
上記電子カメラ１０においては、カメラ非使用状態が確定している状況下において電子カメラ１０の診断が自動的になされるので、所謂デッドタイムが有効利用され、実質的にカメラ使用の妨げにならない。また時間的に余裕をもって診断することが可能なので、診断精度も向上する。
【００７６】
［２］実施形態に示された電子カメラ１０は、前記［１］に記載の電子カメラ１０であって、
前記カメラ診断手段（ＣＰＵ５４，ＥＥＰＲＯＭ５７，欠陥画素検出・補正部９２）は、撮像素子４３の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段９０であることを特徴としている。
【００７７】
上記電子カメラ１０においては、欠陥画素検出が電子カメラ１０を使用しない状況下において自動的になされる。
【００７８】
［３］実施形態に示された電子カメラ１０は、前記［２］に記載の電子カメラ１０であって、
前記カメラ本体１１は、更に温度測定手段（ＣＰＵ５４，温度センサー９１等）を備え、前記欠陥画素検出手段９０は、上記温度測定手段（ＣＰＵ５４，温度センサー９１等）で測定した温度に応じた欠陥画素検出を行なうものであることを特徴としている。
【００７９】
上記電子カメラ１０においては、温度に依存する欠陥画素の検出出力レベルが温度補償されたものとなるので、誤った欠陥画素検出を防止できる。
【００８０】
［４］実施形態に示された電子カメラ１０は、前記［２］又は［３］に記載の電子カメラであって、
前記カメラ本体１１は、前記カメラ用スタンド３０から供給された電力により内蔵二次電池１８を充電する充電手段（充電回路２３等）を更に備え、
前記実行制御手段は、前記充電手段（充電回路２３等）による充電を、前記欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出後において開始させる手段を含んでいることを特徴としている。
【００８１】
上記電子カメラ１０においては、欠陥画素検出手段９０による欠陥画素の検出動作が、充電による温度上昇の影響を受けないので、温度測定手段（ＣＰＵ５４，温度センサー９１等）を用いた温度補償を格別に行なわなくても検出精度を所定レベルに維持できる。
【００８２】
［５］実施形態に示された電子カメラは、前記［３］に記載の電子カメラであって、
前記カメラ本体は、前記カメラ用スタンド３０から供給された電力により内蔵二次電池１８を充電する充電手段（充電回路２３等）を更に備え、
前記実行制御手段（ＣＰＵ５４，スタンド載置検出回路６０等）は、前記充電手段（充電回路２３等）による充電が終了した後、前記欠陥画素検出手段９０を実行させる手段を含んでいることを特徴としている。
【００８３】
上記電子カメラ１０においては、欠陥画素検出動作が、内蔵二次電池１８の電池消耗によって中断するおそれがない。
【００８４】
［６］実施形態に示された電子カメラシステムは、
電子カメラ１０と、当該電子カメラ１０を着脱自在に載置するカメラ用スタンド３０とからなる電子カメラシステムであって、
前記カメラ用スタンド３０は、載置された前記電子カメラ１０の撮影系４０に対して光を照射する光照射手段３０Ｌ（光源３７、反射板３８、乳白板３９）を備え、
前記電子カメラ１０は、前記光照射手段３０Ｌから光を照射されて撮像素子４３の黒欠陥画素を検出可能な欠陥画素検出手段９０を備えたことを特徴としている。
【００８５】
上記電子カメラシステムにおいては、カメラ用スタンド３０に備えられた光照射手段３０Ｌから、当該カメラ用スタンド３０に載置された電子カメラ１０の撮影系４０に対し、均一な光が安定に照射され得るので、黒欠陥を正確に検出することが可能となる。
【００８６】
［７］実施形態に示された電子カメラシステムは、前記［６］に記載の電子カメラシステムであって、
前記カメラ用スタンド３０は、載置された電子カメラ１０に電源を供給する電源供給手段（ＡＣ／ＤＣコンバータ３６等）を備え、
前記電子カメラ１０は、前記カメラ用スタンド３０から供給された電力により内蔵二次電池１８を充電する充電手段（充電回路２３等）を備えたことを特徴としている。
【００８７】
（変形例）
実施形態に示された電子カメラ及び電子カメラシステムは、下記の変形例を含んでいる。
【００８８】
・温度センサ９１を、スタンド側に設けたもの。
【００８９】
【発明の効果】
本発明によれば、下記のような作用効果を有する電子カメラ及び電子カメラシステムを提供できる。
【００９０】
（ａ）カメラ非使用状態が確定している状況下において、カメラ診断が実行されるので、カメラ使用に支障をきたすことなくカメラの診断を行なえる。
【００９１】
（ｂ）温度補償を行ないながら欠陥画素の検出が行なわれるので、温度の影響を受けずに欠陥画素の検出を正確に行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係る電子カメラの概略的構成を示す図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は底面図、（ｄ）は側面図、（ｅ）は背面図。
【図２】本発明の第１実施形態に係る電子カメラが充電可能なカメラ用スタンドに載置された状態を示す図で、（ａ）は側面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）は一部破断して示す要部側面図。
【図３】本発明の第１実施形態に係る電子カメラおよびスタンドを含むカメラシステム全体の制御系の構成を示すブロック図。
【図４】（ａ）及び（ｂ）は本発明の第１実施形態に係る電子カメラシステムによる白欠陥検出動作及び黒欠陥検出動作をそれぞれ示すフロー図。
【図５】（ａ）及び（ｂ）は本発明の第１実施形態に係る電子カメラシステムにおける欠陥画素検出と内蔵二次電池の充電とのタイミング制御動作についてに示す各フロー図を用いてそれぞれ説明する。
【符号の説明】
１０…電子カメラ
１１…カメラ本体
１９…コネクタカバー
２１…コネクタ
２２…ＬＣＤ表示部
２３…充電回路（充電手段の一部）
２８…欠陥画素検出指令ボタン
３０…カメラ用スタンド
３０Ｌ…光照射手段（３７，３８，３９）
３１…コネクタ
３２…カメラ載置用凹部
３６…ＡＣ／ＤＣコンバータ（電源供給手段の一部）
４０…撮影系（４１，４２，４３）
６０…スタンド載置検出回路（載置検出手段）
７０…電源部
８０…カメラ制御部
９０…欠陥画素検出手段
【図１】
0003847595.tif 000002
【図２】
0003847595.tif 000003
【図３】
0003847595.tif 000004
【図４】
0003847595.tif 000005
【図５】
0003847595.tif 000006