(57)【要約】放射線画像診断装置は、放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出器（２５）と、検出素子から出力される電気信号を処理するＡＳＩＣ（２６）と、ＡＳＩＣ（２６）に電力を供給する電源（３０，３１）と、電源からＡＳＩＣ（２６）への給電を監視するとともに、電気信号に異常を検知したとき、電源（３０，３１）からＡＳＩＣ（２６）への給電を停止する電源モニタ（２８）とを具備する。電気信号に異常を検知したとき、電源（３０，３１）からＡＳＩＣ（２６）への給電が停止されるので，ラッチアップによる破壊からＡＳＩＣ（２６）を保護することができる。また、ＡＳＩＣ（２６）への給電の停止時間の長さに基づいて、データを補正するので、給電停止による画質劣化を補償することができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記バイアス電源から前記検出素子への給電および前記電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視する監視手段と、
前記監視手段が異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路への給電を停止する制御手段と、
前記処理回路への給電の停止時間の長さに基づいて、前記検出手段で得られるデータを補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【請求項２】
前記処理回路は複数の処理回路ブロックから構成され、前記制御手段は、前記処理回路ブロックごとに前記給電を停止することを特徴とする請求項１記載の放射線画像診断装置。
【請求項３】
前記処理ブロックは、前記検出素子毎に設けられていることを特徴とする請求項２記載の放射線画像診断装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記処理回路への給電停止から所定時間経過後、前記処理回路への給電を再開することを特徴とする請求項１記載の放射線画像診断装置。
【請求項５】
給電を停止した状態に戻って、前記処理回路への給電を再開することを特徴とする請求項４記載の放射線画像診断装置。
【請求項６】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する複数の処理回路ブロックを有する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記バイアス電源から前記検出素子への給電および前記電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視する監視手段と、
前記監視手段が異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路の対応する処理ブロックへの給電を停止する制御手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記処理ブロックへの給電停止から所定時間経過後、前記処理ブロックへの給電を再開することを特徴とする請求項６記載の放射線画像診断装置。
【請求項８】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記バイアス電源から前記検出素子への給電および前記電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視する監視手段と、
前記監視手段が異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路への給電を停止し、前記給電停止から所定時間経過後、前記処理回路への給電を再開する制御手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【請求項９】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記バイアス電源から前記検出素子への給電および前記電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視する監視手段と、
前記監視手段が異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路への給電を停止する制御手段と、
前記処理回路への給電の停止したことを操作者に通知する通知手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【請求項１０】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記バイアス電源から前記検出素子への給電および前記電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視する監視手段と、
前記監視手段が異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路への給電を停止する制御手段と、
前記処理回路への給電の停止したことを記憶する記憶手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【請求項１１】
放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出手段と、
前記検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、
前記処理回路に電力を供給する電力供給手段と、
前記複数の検出素子のうち少なくとも１つの検出素子から出力される電気信号の状態を監視する監視手段と、
前記監視手段が前記電気信号に異常を検知したとき、前記電力供給手段から前記処理回路への給電を一時的に停止する制御手段と、
を具備することを特徴とする放射線画像診断装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、半導体検出器を装備した放射線画像診断装置に関する。
背景技術
この種の放射線画像診断装置には、体内組織構造をＸ線吸収係数マップとして画像化するＸ線コンピュータ断層撮影装置や体内に投与した放射性同位元素（ＲＩ）の密度分布を画像化するガンマカメラ等がある。
図１はガンマカメラの外観を示している。この例はプレーナー撮影とＳＰＥＣＴの兼用機で、複数本の光電子増倍管を使ったアンガー型の検出器１がスタンド２に回転可能に支持されている。近年では、このアンガー型の検出器１に替わり、半導体検出素子（以下単に検出素子と呼ぶ）を２次元面状に多数並設した半導体検出器を装備したカメラヘッドによるガンマカメラが実用化される趨勢である。半導体検出器は、ガンマカメラ以外の使途もあるが、以下ではガンマカメラについて例示する。
図２には、カメラヘッドの断面構造を示している。カメラヘッド３には、コリメータ４と、その背面に配置される半導体検出器５とが収容される。半導体検出器５は、検出素子６を有する。検出素子６は、実際には図３に示すように２次元状に多数配列されている。この検出素子６の背面には、放射線入射に伴う検出素子６のレスポンスを処理するプリアンプや読み出し回路等を有するＡＳＩＣ７が配置される。
各検出素子６は、図４に示すように、ＣＺＴやＣｄＴｅなどの半導体素子８の両面に電極９，１０が形成されてなり、この電極９，１０の間に電源１２によりバイアス電圧が印加された状態で放射線入射を待機する。この状態で、放射線が半導体素子８に入射すると、電極９，１０間を電荷が移動し、これにより電極９，１０間に電流が流れる。この電流信号は電極（信号電極）１０からプリアンプ１１で増幅されそして電圧信号に変換され出力される。なお、現在の主流は図４に示した横型電極型の検出素子であるが、図５に示す縦型電極型のものもある。
このような検出素子６が多数並列されて図３の大視野検出器が形成される。この大視野検出器は、例えば図３に斜線で示す４×４素子で１つのモジュールを構成し、このモジュールを複数並べることで実現している。
図６にはこの１つの素子モジュールについての電源と信号配線を示している。他のモジュールにも電源線が延びる。プリアンプおよび読み出し回路は一素子毎に設けられるが、実装上は、複数の検出素子分の回路が１つのＡＳＩＣ７として構成される。この素子モジュールとＡＳＩＣ７との関係としては、１つの素子１モジュールに対して１つのＡＳＩＣ７が対応するのが一般的であるが、これに限定されず、１モジュールに対して複数のＡＳＩＣ７が対応するものや複数のモジュールに対して１つのＡＳＩＣ７が対応するもの等がある。なお、図６にはＡＳＩＣ７の電源１３を示したが、単一電圧とは限らず、複数電圧の場合が多いが、ここでは説明の便宜上、単一電源の例で説明する。また、図６では検出素子６が１個１個セパレートされているが、図７に示すように、平板状の半導体素子８を使い、バイアス印加用の電極９は共通電極として形成し、信号電極９だけを個別に形成したものもある。もちろん、縦型電極の場合は、図７に相当するようなモジュール形成は困難であるので、通常は、図８に示すように、分離した検出素子６が平板上に集成される。
ところで、このような半導体検出器には、ラッチアップの問題が常につきまとう。何らかの理由で素子側から異常出力（通常の放射線に対する応答よりも遥かに大きな出力）が一瞬発生することがある。真因は解明されていないが、数千〜数万の素子６を持つカメラヘッドでは時に起きることは避けられない現象である。ＡＳＩＣ７には複数の電源が接続されているのが普通であり、ＡＳＩＣ７の種類にもよるが、複数のＰＮ接合が直列につながった構造（サイリスタ構造）がどこかにある。このようなＡＳＩＣ７に異常に高い入力が入るとそれがちょうどサイリスタをトリガーすることになり、異常入力が途絶えてもＡＳＩＣ７内で電源間あるいは電源とグラウンドとの間に異常電流が流れ続け（これをラッチアップという）、ＡＳＩＣ７は熱的に破壊される。破壊は免れても異常電流が流れている間はＡＳＩＣ７は機能せず、これを気づかずに運用すると、当然にして、画像は異常となる。このような装置は実用に耐えない。
本発明の目的は、半導体検出器を装備した放射線画像診断装置において、ラッチアップによる破壊からＡＳＩＣを保護すると共に、画像異常を抑制することにある。
発明の開示
本発明による放射線画像診断装置は、放射線を電気信号に変換する検出素子を複数有する放射線検出器と、検出素子にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、検出素子から出力される電気信号を処理する処理回路と、処理回路に電力を供給する電源と、バイアス電源から検出素子への給電および電力供給手段から前記処理回路への給電のうち少なくとも一方の給電を監視するとともに、異常を検知したとき、電源から処理回路への給電を停止し、その給電停止から所定時間経過後に電源から前記処理回路への給電を再開する制御部と、処理回路への給電の停止時間の長さに基づいて、検出素子で得られるデータを補正する補正部とを具備する。
発明を実施するための最良の形態
以下、図面を参照して本発明による放射線画像診断装置を好ましい実施形態により説明する。なお、放射線画像診断装置としては、体内組織構造をＸ線吸収係数マップとして画像化するＸ線コンピュータ断層撮影装置、体内に投与した放射性同位元素（ＲＩ）の密度分布を画像化するガンマカメラ、その他様々な態様があるが、ここではガンマカメラを例に説明する。
本発明の骨子は、検出素子の素子バイアス電圧（又は電流）と、ＡＳＩＣの電源（通常複数種類有り、そのうちサイリスタ現象が起こる可能性の高いライン）の電圧（又は電流）との少なくとも一方を監視し、その監視している電圧がラッチアップを引き起こすような異常を示したとき、速やかに当該ＡＳＩＣへの電源供給を一旦停止するとともに、その停止から所定時間経過後にＡＳＩＣへの電源供給を自動的に再開することにある。このＡＳＩＣへの電源供給を再開した時点では、電圧異常は解消されていることが多い。さらに、この電源供給停止している期間のデータをその時間長に基づいて補正することで、電源停止に伴う画像異常を抑制することにある。以下に、詳細に説明する。
図９は、本実施形態に係るガンマカメラシステム全体の機能ブロック図である。対話型操作部２１は、操作者とシステムとのマンマシンインタフェースである。データ収集部２２は、カメラヘッド２３からの信号を、データ処理制御部２４に装備されている記憶部に蓄積するものである。データ収集部２２は、半導体検出器２５の出力を、増幅、電流／電圧変換、その他必要な前処理をする電子回路（ＡＳＩＣ）２６からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換して、入射する個々の放射線のエネルギー値のデジタル値を得、所定の条件（所定のエネルギーウインドウに入るものという条件など）により信号を選別したうえで記憶装置に蓄積する。データ処理制御部２４は、主に、蓄積された信号から画像を生成したり、データ収集をコントロールする部分である。この生成された画像は画像表示部３２に表示される。
カメラヘッド２３は、２次元に配列された半導体検出器２５とコリメータ２７と半導体検出器２５の出力を増幅その他必要な処理をするＡＳＩＣ２６とを有する。これらの部分は従来と同様であり、本発明ではこの構成に加えて、電源モニタ２８と配電スイッチ２９とを特徴的に備えている。なお、参照符号３０はバイアス用電源３０であり、また３１はＡＳＩＣ電源であり、これらの実装位置は特に限定されず、カメラヘッド２３の外部又は内部のいずれでもよい。
電源モニタ２８は、検出素子の素子バイアス電圧（又は電流）と、ＡＳＩＣの電源の電圧（又は電流）との少なくとも一方を検出するセンサであり、その出力波形に基づいてラッチアップを引き起こすような異常の発生をカメラヘッド制御部３３で監視するようになっている。配電スイッチ２９は、ＡＳＩＣ電源３１からＡＳＩＣ２６への供給ラインに設けられている開閉器である。カメラヘッド制御部３３は、電源モニタ２８の出力波形が異常を示したとき、それを検知し、配電スイッチ２９を制御して、ＡＳＩＣ電源３１からＡＳＩＣ２６への電源供給を遮断する。また、カメラヘッド制御部３３は、電源モニタ２８の出力波形が異常を検知して、ＡＳＩＣ２６への給電の停止したとき、その給電停止を操作者に通知する、具体的には給電停止を意味するメッセージを表示部３２に表示する、及び／又は給電停止を意味する警告音を発生するために、ＡＳＩＣ２６への給電停止を表す情報をデータ処理制御部２４に供給する。
このようにカメラヘッド制御部３３は、電源モニタ２８の出力波形が異常を検知して、ＡＳＩＣ２６への給電の停止することにより、ＡＳＩＣ２６のラッチアップを未然に防止することができる。
さらに、カメラヘッド制御部３３は、撮影（データ収集）を継続させるために、ＡＳＩＣ電源３１からＡＳＩＣ２６への電源供給を遮断して時点から、所定時間（例えば数十ミリ秒乃至数百ミリ秒という短時間）経過した時点で、配電スイッチ２９を制御して、ＡＳＩＣ電源３１からＡＳＩＣ２６への電源供給を再開させる。ＡＳＩＣ電源３１からＡＳＩＣ２６への電源供給を遮断する期間を、数十ミリ秒乃至数百ミリ秒に設定したのは、それが給電ラインの平滑コンデンサの放電に要する時間であることをその理由とする。例えば、電源供給を遮断する期間を、数ミリ秒程度に設定した場合、給電ラインの平滑コンデンサの放電が不十分になってしまう。
なお、これら電源モニタ２８、配電スイッチ２９、カメラヘッド制御部３３の実装位置は特に限定されず、カメラヘッド２３の外部又は内部のいずれでもよい。
図１０に電源モニタ２８、配電スイッチ２９の具体例を示している。ここでは、既に述べた検出素子をモジュール化し、１つのモジュールを１ブロックとし、その１ブロックに対応するＡＳＩＣ２６をＡＳＩＣブロックと称する。また、ＡＳＩＣ電源３１はサイリスタ現象の顕著な一ラインだけを示し、以下他の電源ラインについては図示しない。
次に本実施形態の動作について説明する。
（ケース１）
素子バイアスの電源モニタ２８の回路実態は、例えば図１１Ａに示すように構成される。通常、素子３４に流れる電流は微小であり、保護抵抗を兼ねた高抵抗３７経由でバイアス電源３０から給電するようになっている。この電流をキャパシタ３８を介して電圧信号として取り出す。このバイアス電源供給線は素子ブロック３４ごとに配線されており、その素子ブロック３４各々の電源供給を監視するために、電源供給線毎にキャパシタ３８が取り付けられる。ある素子ブロック３４で一瞬過大電流が流れれたとき、そのブロック３４に対応するキャパシタ３５から図１１Ａに示すようにパルス電圧が発生する。このパルス電圧をカメラヘッド制御部３３で検知することで、ラッチアップを起こす可能性のある事態を把握することができる。バイアス電源供給線と同様に、ＡＳＩＣブロック２６への電源供給線もＡＳＩＣブロック２６ごとに配線されており、カメラヘッド制御部３３でパルス電圧を検知したとき、その素子ブロック３４に対応するＡＳＩＣブロック２６への電源供給を一旦遮断するために、そのＡＳＩＣブロック２６への電源供給線に設けられた配電スイッチ素子３８を開放（オフ）する。この開放時間は通常は一瞬でよい。
（ケース２）
上記素子バイアスのモニタ３５とともに、またはそれの代わりに、図１０に示すように、ＡＳＩＣ電源モニタ３６がＡＳＩＣ電源供給線ごとに設けられる。ＡＳＩＣ電源モニタ３６の実態は、図１１Ｂに示すように微小抵抗３９での電圧ドロップモニタであり、カメラヘッド制御部３３はこのレベル出力を監視し、異常検知すれば当該ＡＳＩＣブロック２６への電源供給を一旦遮断するために、異常を示したＡＳＩＣブロック２６の電源供給線に設けられた配電スイッチ素子３８を開放する。この開放時間は通常は短時間でよい。
このように本実施形態では、素子バイアス電源供給とＡＳＩＣ電源供給との少なくとも一方をブロック単位で監視し、一方でも異常波形を示したとき、そのＡＳＩＣブロックへの電源供給を停止する。これによりラッチアップを未然に防止することができる。さらに、その停止から短時間経過後に電源供給を再開するが、この時点では殆どの場合、波形異常は収まっていて、そのままデータ収集を継続することができる。
なお、上記電源モニタと配電スイッチとその制御部は、ＡＳＩＣそれ自身の中に組み込むようにしてもよい。適切なＡＳＩＣ設計で、素子出力処理部分がラッチアップを起こしても、この保護機能部分がラッチアップ現象の被害を被らないようにすることは可能である。
次に本実施形態の変形例について説明する。この例は電源モニタ３５からカメラヘッド制御部３３への距離が物理的に遠く、電源モニタ３５からカメラヘッド制御部３３へ配線が実装上困難である場合に効果的な構成例を示している。
図１２に示すように、本例は、電源モニタ３５，３６の構成は、図１１Ａ、図１１Ｂと共通であるが、電源モニタ３５，３６を全てのブロック３４で共用させる、または電源モニタ３５，３６を近隣の複数のブロック３４単位で共用させる点で上述の形態と大きく相違する。
上述したように、バイアス電源供給とＡＳＩＣ電源供給との少なくとも一方に異常が起きたととき、カメラヘッド制御部３３は、その複数のＡＳＩＣブロック２６への配電スイッチ３８を一斉に開放して、ラッチアップを未然に防止する。このようにモニタ３５，３６が共用されている複数のブロック単位でＡＳＩＣ電源供給を停止するようにしてもよいが、ここでは、上述の実施形態と同様に、各ブロック単位でＡＳＩＣ電源供給を停止することを実現している。
カメラヘッド制御部３３は、異常が起きたこと表す制御信号をデータ処理制御部２４に供給する。データ処理制御部２４は、データ収集部２２から記憶装置に蓄えられつつあるところのデータを、記憶装置にアクセスして調べる。ラッチアップを起こしているＡＳＩＣブロック２６からは、通常、信号がきていない（計数値が０ないし異常に低い）。データ処理制御部２４では、そのようなＡＳＩＣブロック２６を特定して、そのブロック２６を特定する情報をカメラヘッド制御部３３へ返送する。カメラヘッド制御部３３はこの情報に従って、該当するブロック２６への電源線の配電スイッチ３８を短時間だけ開放する。
この例によると、モニタ３５，３６の数を減少させること、及びモニタ３５，３６からカメラヘッド制御部３３への配線を簡素化することが可能となる。
次に、データ処理制御部２４による電源供給停止時のデータ補正について説明する。上述したように、カメラヘッド制御部３３は異常が起きた時点から、所定時間経過するまでの短期間だけＡＳＩＣ電源供給を停止する。カメラヘッド制御部３３は、内部メモリ又は外部メモリに、電源供給停止の時刻及びその時間長に関する情報を、記憶しておき、適時、停止時刻及び時間長Δｔに関する情報を、データ処理制御部２４へ送る。
通常、データ収集期間は、複数のセッションに分割されている。１つのセッション（時間Ｔ）の間の素子出力が積算され、その積算結果が１つの計測値として扱われる。電源供給停止時間Δｔは、セッション時間Ｔよりも短時間に設定されており、従って、ＡＳＩＣ出力は、電源供給停止時間Δｔに応じて真値からずれている（低下する）。このまま画像再構成（核医学装置の場合はプラナー・ＳＰＥＣＴ・ＰＥＴいずれでも）に供すると、画像劣化は不可避である。
セッション時間Ｔの経過後、あるいはそれに続く計測行為が全て完了したあと、データ処理制御部２４は記憶装置内のデータを次のように補正し、その結果をもって画像再構成計算（データ処理制御部２４がこれを行う）に供する。
プラナーとＳＰＥＣＴおよびコリメータ付きの非コインシデンスＰＥＴ・プラナーの場合は、１セッションとはデータ収集の開始から終了までである。これすなわちスキャン時間Ｔである。ＳＰＥＣＴや非コインシデンスＰＥＴの場合は、カメラヘッド２３がある回動角にある状態での所定時間Ｔでの計測がセッションであり、多数回動角位置において計測するから、たくさんのセッションで１スキャンが完了することになる。Ｔの途中までは当該ＡＳＩＣ出力がカバーする各素子の計測値は積算されており、それをＸとする。これを、
Ｘ´＝Ｘ・Ｔ／（Ｔ−Δｔ）
に従って補正する。つまり、図１３に示すように、実際に測定した計数値を、電源供給停止期間Δｔの分だけ、比例的にかさ上げするものである。図１３において、白丸印で実際の計数値Ｘを表し、黒丸印で補正値Ｘ´を表している。ここでは素子番号ｎからｎ＋７までの８素子からなる１ブロックで、一時的な電源供給停止に伴う計数値の低下が見られ、その計測値が補正されている。
ここで、コインシデンスＰＥＴでは、ある回動角における測定を一つのセッションとし、その時間がＴに相当する。同じタイミングで対向する複数の素子にて検出されたガンマ線は、検出した素子間を結ぶ仮想上の線ＬＯＲ（Ｌｉｎｅ　Ｏｆ　Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）が画像再構成計算の前段階で生成され（データ処理制御部２４がこれを行う）。これが画像再構成計算に投影データとして用いられる。期間Ｔの途中までのデータにより、当該ＡＳＩＣ２６のカバーする素子のデータは、やはり同様に他の素子との間にＬＯＲが生成される。図１４は、カメラヘッド２３が２つ対向しているシステムにおける例である。一次元しか書いてないが、実際には、２次元である。該当する素子が４つの場合。複数のＬＯＲが一本の線で示されている。実線のＬＯＲはその数をそのまま使うが、点線のＬＯＲは問題の素子とある素子との間に引かれたＬＯＲであり、これがＸ本であるならば、ＬＯＲの本数を、
Ｘ´＝Ｘ・Ｔ／（Ｔ−Δｔ）
として画像再構成に供する。
以上により停止時間Δｔの存在にも関わらず、良好な画像を生成することができる。
なお、以上ではラッチアップ現象を起こすＡＳＩＣを例にとって説明するが、本発明はＡＳＩＣに限らず、またラッチアップに限らず、理由の如何を問わず、素子出力を処理する回路に動作異常を来たし、異常は電源供給路をいったん遮断することで回復するような特性を持つ回路一般に適用するものである。
また、配電スイッチを一部のＡＳＩＣブロックだけ短時間オフしてデータ収集を続け、収集データを補正する例を書いた。配電スイッチをオフする必要が生じたら、一部または全部のＡＳＩＣブロックについて一時的にオフし、やりかけていたＴ期間のデータ収集を最初からやり直すのでもよい。
収集データの補正にあたり、電源供給停止時間をΔｔとして補正に供したが、実際にはＡＳＩＣが異常発熱状態から回復する時間等、電源供給が再開されてもすぐには正常動作をしない時間があり、システムはこの時間を見越してこの間のＡＳＩＣ出力をデータ収集の対象としないこともできる。このような場合は、異常検知からデータ収集再開までの時間をΔｔであるとして本特許を理解されたい。
また上述の説明では、ＡＳＩＣへの電源線のうち、異常をモニタする対象と、配電をオンオフする対象とは同一として書いた。回路設計によっては、異常の発生した線をオフするのではなく、別の電源線（この場合グラウンド接続も電源線の一つと見なせる）をオフすることでもＡＳＩＣを保護回復することは可能である。このような場合をも本発明は当然包含する。
さらに上述の説明では素子ブロックとＡＳＩＣブロックは１：１で対応しているものとして記述したが、ケース１に対応する場合は１：１が望ましいが、それ以外はＮ：１であってもよいし、１：Ｎであってもよいのは当然である。また素子ブロックとは、検出器並設の前にモジュールとして複数素子を束ねているのが普通であるとして、このモジュールを電源やバイアス供給および制御の一単位のブロックとしたが、複数のモジュールをもって一ブロックとしても良いのは当然である。
また、配電スイッチと電源モニタの数が１：１で書いたが、これもまた１：ＮでもＮ：１でも良い。また、ブロック毎にしたのは回路実装上の理由であるが、素子寸法が大きく素子個数が少ない場合など、一素子を一ブロックとして考えてもよいのは当然である。
また、２次元に放射線検出素子を並べた例を示したが、一次元でも三次元でもよいのは明らかである。
ガンマカメラを初めとするフォトンカウンティング方式による半導体検出器応用について例示したが、半導体検出器はＸ線ＣＴやレントゲン装置のごとく連続電流モードでも使用可能である。実施例の図も殆ど同様だし、説明も殆ど同様である。収集データが計数値ではなく所定時間内の電流量ないし蓄積電荷量のＡ／Ｄ値となるだけの違いであり、図１３の縦軸を計数値ではなく計測値と読み答えればよい。
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。
産業上の利用可能性
以上のように，本発明は、半導体検出器を装備した放射線画像診断装置を提供するのに適している。
【図面の簡単な説明】
図１は、放射線画像診断装置の一例としてのガンマカメラの外観を示す図。
図２は、図１のカメラヘッドの構造を示す断面図。
図３は、図２の検出素子配列を示す図。
図４は、図２の検出素子の詳細図。
図５は、図２の検出素子の他の例（縦型）を示す図。
図６は、図２の検出素子配列を構成する１つのモジュールの構成図。
図７は、図６のモジュールにおいて、バイアス電極を共通化した構成例を示す図。
図８は、図５の縦型検出素子の場合の１つのモジュールの構成図。
図９は、本発明の実施形態に係る放射線画像診断装置の機能ブロック図。
図１０は、本実施形態において、素子バイアス用電源とＡＳＩＣ用電源の異常を監視するための電源モニタと異常時にＡＳＩＣへの給電を一時的に遮断するための配電スイッチとを示す図。
図１１Ａは、図１０のバイアス用電源モニタの構成例と異常時の出力波形とを示す図。
図１１Ｂは、図１０のＡＳＩＣ用電源モニタの構成例と異常時の出力波形とを示す図。
図１２は、本実施形態において、素子バイアス用電源とＡＳＩＣ用電源の異常を監視するための電源モニタの他の例を示す図。
図１３は、本実施形態において、ＡＳＩＣへの給電が一時的に遮断されることに起因するＡＳＩＣ出力信号の低下を補正する手法の原理を示す図。
図１４は、本実施形態において、コインシデンスＰＥＴの場合に、ＡＳＩＣへの給電が一時的に遮断されることに起因する投影線の減少を補正する手法の原理を示す図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【国際調査報告】
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