(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
特性測定された回路遮断器の各部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、最終の組み立て過程で完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
最初の組み付けに用いる部品要素の何れかの特性測定を測定した結果に付与するＩＤに対応付けて特性測定結果をデータベース登録するとともに、当該部品要素にバーコード付与手段により上記ＩＤをバーコードで付与し、
以後順次各部品要素を組み付けて行く組み立て過程を経る際に、上記部品要素のバーコードをバーコード読取手段で読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて組み付ける部品要素の特性測定結果を上記データベースに順次登録し、
特性調整過程においては、組み立て完成された回路遮断器における上記部品要素のバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の動作特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記ＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器の上記部品要素のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録することを特徴とする回路遮断器の製造方法。
【請求項２】
回路遮断器を構成する各部品要素の特性測定を測定する複数の特性測定過程と、特性測定された部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、組み立て完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の完成回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
各部品要素の特性測定過程に、夫々の部品要素にＩＤをバーコードで付与するバーコード付与手段を備え、データは夫々に付与したバーコードで示すＩＤに対応付けてデータベースに登録するとともに、順次組み立て過程を経る度に、各過程で得られた部品ブロック若しくは完成した回路遮断器に新たなＩＤを示すバーコードを付与して、夫々の過程で得られる部品ブロック若しくは完成された回路遮断器を構成する各部品要素の特定測定データを新たなＩＤに対応付けて付与し、
特性調整過程においては完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記回路遮断器に付与されたバーコードのＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録することを特徴とする回路遮断器の製造方法。
【請求項３】
上記回路遮断器の動作特性の調整目標値の演算を、動作特性に関連する部品要素の特性測定結果の値の関数で調整目標値を表す関係式を用いて行うことを特徴とする請求項１又は２記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項４】
上記特性検査過程の検査結果が不良と判断された際には、不良と判断された特性に対する先の特性調整過程での目標調整量のデータを、ＩＤによって対応付けられて上記データベースに登録された当該回路遮断器のデータから読み出し、この目標調整値と、当該特性検査過程の検査結果の、良品判断の値に対する偏差値とから、新たな目標調整量を上記目標値演算手段で演算させ、この演算された目標調整値に基づいて特性調整手段により当該回路遮断器の特性を再調整することを特徴とする請求項１又は２記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項５】
上記調整対象となる回路遮断器の動作特性が、過電流引き外し用のバイメタルの所定部位が初期位置から所定の電流を通電して所定時間経過後に変位する所定位置で示され、演算された目標調整値で調整した後の特性検査時のバイメタルの所定部位が上記所定位置に達する時間を、バイメタルの所定部位が所定時間で所定位置まで変位するための目標調整値を再演算する際の基準時間とすることを特徴とする請求項４記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項６】
特性検査過程では、回路遮断器の動作特性の測定結果を、特性検査過程の条件を加味して補正し、この補正結果に基づいて当該回路遮断器の良否を判定することを特徴とする請求項１乃至５の何れか記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項７】
上記特性調整過程においては、完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果又は上記特性検査手段による検査結果を切り替えて、何れか一方を調整目標値演算手段に与え、与えられた結果に基づいて調整目標値演算手段により回路遮断器の所定の特性の調整目標値を演算させることを特徴とする請求項１乃至６の何れか記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項８】
調整目標値演算手段によって、少なくとも一つの部品要素の特性測定結果から演算される調整目標値と、少なくとも一つの検査結果から演算される調整目標値を用いて最終的な調整目標値を算出することを特徴とする請求項１記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項９】
特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする請求項１乃至８の何れかの記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項１０】
特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする請求項１乃至８の何れか記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項１１】
特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録し、特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果及び調整用ステーションのＩＤを、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする請求項１乃至８の何れか記載の回路遮断器の製造方法。
【請求項１２】
組み立過程、特性調整過程、特性検査過程に対応して夫々データの授受を行うために設けられたネットワーク端末と、各のネットワーク端末との間でネットワークを通じて通信を行う管理用サーバーとを備え、
組み立て過程で回路遮断器を構成する部品要素にバーコードで印されＩＤに対応付けて、組み立て過程、特性調整過程、特性検査過程で登録される部品要素の特性測定値、調整目標値、検査結果が夫々の過程に設けたネットワーク端末から授受して登録すると共に、特性調整値の演算や、再度の特性調整時に、特性調整値の演算に用いるデータとして登録されている調整目標値や、検査結果が各過程のネットワーク端末により読み出されるデータベースを管理用サーバーに設けたことを特徴とする回路遮断器の製造装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路遮断器の製造方法及び回路遮断器の製造装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、製品を検査する検査装置による検査工程と、検査結果に基づいて特性調整を調整装置で行う調整工程とを工程に組み込んである組立工程とする方法がある（特開平７−１３６０９号公報参照）。また製品系列の番号をバーコード化して、バーコード番号をキーとして、生産・品質の実績データを収集する製品の検査工程の管理にかかる方法もある（特開昭６３−２８５９９９号公報参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記の前者の従来例では、検査装置（後工程）より、特性調整工程（前工程）へフィードバックを行うため、無駄な時間が発生するという課題があった。つまり目標値の修正の結果ができるときには、既に多くのワークが後工程へ流れていると問題があった。
【０００４】
また後者の従来例では、品質の管理はできるが、品質の制御は不可能という問題があった。
【０００５】
本発明は、上述の点に鑑みて為されたもので、その目的とするところは、回路遮断器の品質安定が図れる回路遮断器の製造方法及び回路遮断器の製造装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するために、請求項１の発明では、特性測定された回路遮断器の各部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、最終の組み立て過程で完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
最初の組み付けに用いる部品要素の何れかの特性測定を測定した結果に付与するＩＤに対応付けて特性測定結果をデータベース登録するとともに、当該部品要素にバーコード付与手段により上記ＩＤをバーコードで付与し、
以後順次各部品要素を組み付けて行く組み立て過程を経る際に、前記部品要素のバーコードをバーコード読取手段で読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて組み付ける部品要素の特性測定結果を上記データベースに順次登録し、
特性調整過程においては、組み立て完成された回路遮断器における上記部品要素のバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の動作特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記ＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器の上記部品要素のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録することを特徴とする。
【０００７】
請求項２の発明では、回路遮断器を構成する各部品要素の特性測定を測定する複数の特性測定過程と、特性測定された部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、組み立て完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の完成回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
各部品要素の特性測定過程に、夫々の部品要素にＩＤをバーコードで付与するバーコード付与手段を備え、データは夫々に付与したバーコードで示すＩＤに対応付けてデータベースに登録するとともに、順次組み立て過程を経る度に、各過程で得られた部品ブロック若しくは完成した回路遮断器に新たなＩＤを示すバーコードを付与して、夫々の過程で得られる部品ブロック若しくは完成された回路遮断器を構成する各部品要素の特定測定データを新たなＩＤに対応付けて付与し、
特性調整過程においては完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記回路遮断器に付与されたバーコードのＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録することを特徴とする。
【０００８】
請求項３の発明では、請求項１又は２の発明において、上記回路遮断器の動作特性の調整目標値の演算を、動作特性に関連する部品要素の特性測定結果の値の関数で調整目標値を表す関係式を用いて行うことを特徴とする。
【００１２】
請求項４の発明では、請求項１又は２の発明において、上記特性検査過程の検査結果が不良と判断された際には、不良と判断された特性に対する先の特性調整過程での目標調整量のデータを、ＩＤによって対応付けられて上記データベースに登録された当該回路遮断器のデータから読み出し、この目標調整値と、当該特性検査過程の検査結果の、良品判断の値に対する偏差値とから、新たな目標調整量を上記目標値演算手段で演算させ、この演算された目標調整値に基づいて特性調整手段により当該回路遮断器の特性を再調整することを特徴とする。
【００１４】
請求項５の発明では、請求項４の発明において、上記調整対象となる回路遮断器の動作特性が、過電流引き外し用のバイメタルの所定部位が初期位置から所定の電流を通電して所定時間経過後に変位する所定位置で示され、演算された目標調整値で調整した後の特性検査時のバイメタルの所定部位が上記所定位置に達する時間を、バイメタルの所定部位が所定時間で所定位置まで変位するための目標調整値を再演算する際の基準時間とすることを特徴とする。
【００１５】
請求項６の発明では、請求項１乃至５の何れかの発明において、特性検査過程では、回路遮断器の動作特性の測定結果を、特性検査過程の条件を加味して補正し、この補正結果に基づいて当該回路遮断器の良否を判定することを特徴とする。
【００１６】
請求項７の発明では、請求項１乃至６の何れかの発明において、上記特性調整過程においては、完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果又は上記特性検査手段による検査結果を切り替えて、何れか一方を調整目標値演算手段に与え、与えられた結果に基づいて調整目標値演算手段により回路遮断器の所定の特性の調整目標値を演算させることを特徴とする。
【００１８】
請求項８の発明では、請求項１の発明において、調整目標値演算手段によって、少なくとも一つの部品要素の特性測定結果から演算される調整目標値と、少なくとも一つの検査結果から演算される調整目標値を用いて最終的な調整目標値を算出することを特徴とする。
【００２１】
請求項９の発明では、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする。
【００２３】
請求項１０の発明では、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする。
【００２５】
請求項１１の発明では、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録し、特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果及び調整用ステーションのＩＤを、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録することを特徴とする。
【００３２】
請求項１２の発明では、組み立過程、特性調整過程、特性検査過程に対応して夫々データの授受を行うために設けられたネットワーク端末と、各のネットワーク端末との間でネットワークを通じて通信を行う管理用サーバーとを備え、
組み立て過程で回路遮断器を構成する部品要素にバーコードで印されＩＤに対応付けて、組み立て過程、特性調整過程、特性検査過程で登録される部品要素の特性測定値、調整目標値、検査結果が夫々の過程に設けたネットワーク端末から授受して登録すると共に、特性調整値の演算や、再度の特性調整時に、特性調整値の演算に用いるデータとして登録されている調整目標値や、検査結果が各過程のネットワーク端末により読み出されるデータベースを管理用サーバーに設けたことを特徴とする。
【００３３】
【発明の実施の形態】
以下本発明を実施形態により説明する。
（実施形態１）
本実施形態の図１は製造装置全体の概要図を示しており、図の最も下段のＩ〜Ｖは部品から最終完成品（完成された回路遮断器）までの工程を示しており、工程（過程）Ｉは、回路遮断器を組み立てる際の最の組み付けに用いる部品要素（以下部品と称する）ａが供される工程を示し、工程（過程）IIは他の部品ｂを部品ａに組み付けて半完成品Ａを得る工程を示し、工程（過程）IIIは半完成品Ａに別の部品ｃを組み付けて半完成品Ｂを得る工程を示す。ここで説明を簡単にするために半完成品を得る工程をII,IIIの２つの工程で示すが、本来的には製造しようとする回路遮断器の組み付ける部品点数に対応した工程が存在するものである。最終的に得られた半完成品Ｂは回路遮断器を構成するための全ての部品の組み付けを終了したものに対応する。さてこの最終的な半完成品Ｂを得た後の、工程（過程）IVは半完成品Ｂの特性調整を行って暫定的な完成品Ｃを得る工程を示し、工程（過程）Ｖは完成品Ｃの特性を検査して、最終完成品Ｄを得る工程を示す。
【００３４】
図２は図１の製造装置におけるデータの管理システムの概要を示しており、各工程においては、データ登録手段２ａ〜２ｅや、演算処理部５などを構成するクライアント用のコンピュータＰＣ１〜ＰＣ３が設けられ、このクライン後がネットワークＮＴを介して管理用サーバーＫＰに接続され、管理用サーバーＫＰ側に設けたデータベースＤＢに対するデータの登録や、読み出しがネットワークＮＴを介して行われるようになっている。尚以下の説明でデータベースＤＢに対するデータの登録や読み出しは管理用サーバーＫＰとの間でネットワークＮＴを介した通信により行われるものとし、この通信に関しての説明は省略する。
【００３５】
次に各工程Ｉ〜Ｖにおける処理を図１に基づいて説明する。
【００３６】
まず工程Ｉでは最初に組み付けられる部品ａの特性を測定する特性測定手段１ａが設けられ、この特性測定手段１ａにより部品ａ固有の特性を測定する。例えば回路遮断器のベースであればベースの大きさ等である。
【００３７】
この測定結果に対応付けて以後の工程II〜Ｖにおける工程管理のための属性ＩＤを生成するとともに、データベースＤＢに当該ＩＤに対応付けて部品ａの特性データを登録するデータ登録手段２ａと、データ登録手段２ａにより生成されたＩＤをバーコードとして部品ａに印刷、レーザー等による焼き付けなど適宜手段からなるバーコード付与手段３により印す。この印す位置は以後の工程II〜Ｖに設けられるバーコード読取手段４ａ〜４ｄが読み取り可能な位置に設定しているのは勿論である。この工程Ｉで特定測定結果のデータベースＤＢへの登録とＩＤを示すバーコードを付与した後は、部品ａは次の工程IIへ送られることになる。
【００３８】
工程IIへ部品ａが送られてくると、バーコード読取手段４ａにより部品ａに印されたバーコードを読み取って付与されているＩＤデータをデータ登録手段２ｂに渡す。一方この工程IIで部品ａに組み付ける部品ｂの特性を測定した特性測定手段１ｂはその特性測定結果をデータ登録手段２ｂに送る。これによりデータ登録手段２ｂは、部品ｂの特性測定結果を読み取ったＩＤに対応付けてデータベースＤＢに登録する。さてこの工程IIにおいて、部品ｂを部品ａに組み付けることで半完成品Ａが組み立てられ、この半完成品Ａは次の工程IIIへ送られることになる。
【００３９】
工程IIIへ半完成品Ａが送られてくると、バーコード読取手段４ｂにより部品ａに印されたバーコードを読み取って付与されているＩＤデータをデータ登録手段２ｃに渡す。一方この工程IIIで半完成品Ａに組み付ける部品ｃの特性を測定した特性測定手段１ｃはその特性測定結果をデータ登録手段２ｃに送る。これによりデータ登録手段２ｃは、部品ｃの特性測定結果を読み取ったＩＤに対応付けてデータベースＤＢに登録する。さてこの工程IIIで部品ｃを半完成品Ａに組み付けることで組み立て完成された回路遮断器が得られることになるが、この回路遮断器は、特性調整や検査が終了していないため半完成品Ｂと見なされ、この半完成品Ｂは次の工程IVへ送られることになる。
【００４０】
工程IVは特性調整工程（過程）を構成し、組み立て完成された回路遮断器における上記部品ａに印されたバーコードを読み取って付与されているＩＤデータを演算処理部５へ渡す。演算処理部５は照合機能５ａにおり当該ＩＤに対応してデータベースＤＢに登録している構成部品ａ〜ｃの特性測定結果をデータベースＤＢから読み出す（照合する）。そしてこの読み出して特性測定結果と、予め登録されている各構成部品ａ〜ｃに対応して設定される規格としての特性値とに基づいて特性調整目標値（特性調整量）を調整目標値演算機能５ｂによる演算し、その演算結果に基づいて特性調整手段７を制御して送られてきた半完成品Ｂの所定の所定の部品の特性を調整し、完成品Ｃを得る。そして上記ＩＤに対応付けて特性調整量をデータ登録手段２ｄによりデータベースＤＢに登録する。
【００４１】
そして調整済みの完成品Ｃは次の工程Ｖ、つまり特性検査工程（過程）へ送られる。この工程Ｖでは、まず部品ａに印されたバーコードを読み取って付与されているＩＤデータを読み取り、データ登録手段２ｅに渡す。そして特性検査手段７により回路遮断器として規格として設定されている特性値が得られるか否かを特性検査手段７により特性検査を行い、この検査において規格を満たす場合には良品として判断され、完成品Ｄとなる。一方規格を満たさない場合には、前の工程IVに戻されて、再度調整を行うために、工程IVに戻される処理が為される。
【００４２】
またデータ登録手段２ｅにより上記ＩＤに対応付けて検査結果（検査の判断結果及び特性検査結果値）をデータベースＤＢに登録される。
【００４３】
このようにして最初に供される部品ａに付したＩＤに基づいて組み付ける部品ｂ…の特性、特性調整を行った際の特性調整量、そして検査結果がデータベースＤＢに登録されることで、このＩＤに基づいて製造された回路遮断器の部品の特性測定結果、完成品の検査結果、また特性調整時の調整量を読み出すことができて製品の製造管理が行えることになる。
【００４４】
ところで、上記の特性調整の工程IVにおいて調整する特性は、具体的には回路遮断器としての特性検査に一番影響のあるもの、例えば図３に示すよう過電流検出と引き外しにバイメタル１０を用いる回路遮断器では、そのバイメタル１０の特性測定結果の値（板厚、幅、体積抵抗率）をデータベースＤＢから読み出し、このバイメタル１０が先端位置を調整して動作特性を調整する。
【００４５】
尚本実施形態における製造対象の回路遮断器は閉極時には、トリップ機構Ｔにより回動自在に枢支されている可動接点板２１の一端がラッチ板２０の係止部２０ａに係止された状態で保持され、他端の可動接点２２を固定接点板２４の固定接点２３に接触された状態となっている。そして通電路に過大な電流が流れてバイメタル１０が自己発熱などより熱変形してその自由端である位置が変位することで、上記ラッチ板２０を押し駆動すると、ラッチ板２０の係止部２０ａが移動して可動接点板２１の一端との係止状態が外れ、これによりトリップ機構Ｔがトリップ動作し、これに伴い図において反時計方向に可動接触板２１が回動し、その先端の可動接点２２が固定接点板２３の固定接点２４から開離し、強制開極状態となるのである。尚２５は操作ハンドル、２６は通電用導電板、２７はハウジング、２８は通電路を形成する編素線である。
【００４６】
さて本実施形態において動作特性の調整は、バイメタル１０を支持している接続板（金属板）１１を図４に示すようにモータＭの先端に設けた冶具１２に係合させ、モータＭを回転させることで接続板１１をひねって変形させ、バイメタル１０の先端位置を変化させることで調整する。この場合リニアスケール１３を用いてバイメタル１０の変位を検出しながらモータＭの回転を制御するようになっている。つまりリニアスケール１３は変位量を電気量に変換し、その電気量信号はアンプ１４で増幅された後、比較手段１５に取り込まれ、比較手段１５はこの電気量信号で示される変位量と演算処理部６から与えられる調整目標値とを比較して調整目標値と変位量が一致するとモータ駆動手段１６に停止信号を出力してモータＭによる接続板１１に対するひねり動作を停止させる。ここでリニアスケール１３，アンプ１４、比較手段１５，駆動手段１６、モータＭ、冶具１２により特性調整手段６が構成される。
【００４７】
さて本実施形態の調整目標値演算は次のように部品特性測定値と特性調整目標値との間に、
Ｙ＝（Ｘ）  （但しＸ…バイメタル板厚  Ｙ…調整目標値）
という関係式を導入し，ｆ（Ｘ）＝５Ｘ−２として調整量を演算すると、
Ｙ＝５Ｘ−２
となる。この場合は関係式が１次式であるが、必ずしもそうなるとは限らない。例えばバイメタル１０の板厚が０．６ｍｍのとき、上記式により特性調整目標値は１ｍｍ（変位させる量）になる。
【００４８】
前記関係式をテーブルで表しても良い。つまり調整目標値とバイメタル１０の板厚の関係が複雑で式で表されにくい場合、テーブルで表現することで、バイメタル１０の板厚によって容易に調整目標値を変えることができる。表１はこのテーブルの例を示す。
【００４９】
【表１】
0003849569.tif 000002
【００５０】
ところで逆にバイメタル１０の板厚がテーブル内にない場合、例えばＸ＝０．６４ｍｍの場合、このテーブルを用いて以下の様に求めることができる。
１）０．６４ｍｍは０．６ｍｍと０．７ｍｍの間にあるので、どちらか一方を用いる。
１−１）テーブルで０．６４ｍｍに一番近い値を用いる。
１−２）下一桁を切り上げ・切り下げ・四捨五入する。
２）０．６４ｍｍは０．６ｍｍと０．７ｍｍの間にあるので、どちらか一方を用いる。（重み付けをする）
上記を纏めると次のようになる。
【００５１】
Ｘ＝０．６のときの、ＸをＸ0.6，ＹをＹ0.6
Ｘ＝０．７のときの、ＸをＸ0.7，ＹをＹ0.7
Ｘ＝０．６４のときの、ＸをＸ0.64，ＹをＹ0.64とすると、
0003849569.tif 000003
これにより、調整目標値の算出を容易に行うことができる。
【００５２】
上記例ではテーブル化を行っているが、上記の関係式を部品の特性測定値を予め数段階にラベル化しておき、そのラベルから調整目標値を算出するようにしても良い。表２はラベル化したテーブルの例を示す。
【００５３】
【表２】
0003849569.tif 000004
【００５４】
この場合Ｘの値を一つの値に限定するのではなく、範囲を定めることにより、単にテーブル化した場合に比べて特性調整量を簡単に求めることができる。
【００５５】
さて、上述の工程Ｖにおいて不良と判断された回路遮断器は工程IVへ戻されて再調整を行うのであるが、この場合再調整時の特性調整目標値の再演算を演算処理部５は行う。
【００５６】
この再調整時の特性調整目標値の演算の例を以下に説明する。
【００５７】
例えば部品ａに付与されたＩＤが＠００００１に属する回路遮断器が再調整対象となって、その特性検査後のデータ構造が、
＠００００１
＋０．７        …バイメタル１０の板厚
＋５．５        …バイメタル１０の板幅
＋１．０        …１回目の特性調整量
＋１６秒        …特性検査結果値（所定の電流を流したときのバイメタル１０の先端位置が所定の変位位置に達するまでの時間）
＋不良          …特性検査の判断
であって、特性検査の良品幅が２０±３秒と設定されている場合、当該回路遮断器は特性検査目標値の中央値から４秒外れていることになる。
【００５８】
そこで工程IVで再調整を行うにあって、演算処理部５の調整目標演算機能５ｂは、以下の関係式より再調整時の調整目標値を再度求める。
【００５９】
Ｙ(2回目)＝Ｙ(1回目)−△Ｙ
△Ｙ＝γ×特性検査結果の誤差（この場合は４秒）  （尚γは定数）
ここで仮にγ＝０．１とすると、△Ｙ＝０．４となる。
【００６０】
よって再調整時の調整目標値は０．６ｍｍとなる。
【００６１】
この調整目標値に基づいて１回目と同様に特性調整手段６によって特性調整が行われることになる。尚このときの再調整時の調整目標値とその後の検査結果は、バーコードにより示されるＩＤに基づいてデータベースＤＢにデータ登録手段２ｄ，２ｅにより夫々書き込まれる。
【００６２】
このようにして特性検査で不良と判断された回路遮断器も再調整を行うことで、良品の回路遮断器とすることができるのである。
【００６３】
上記の例では再調整に用いる特性検査結果値がトリップするまでの時間であったが、例えばバイメタル１０の変形量（変位量）を特性検査時に測定し、特性検査結果が不良と判断された場合には、特性検査で合格とされる変位量と、特性検査時の実際の変位量との差と、１回目の調整目標値から再調整時の調整目標値を算出するようにしても良い。
【００６４】
また再調整時の基準値を、調整後の初期位置（例えばバイメタル１０の先端位置）とし、再調整時に前記基準値から、再調整量を演算するようにしても良い。
【００６５】
例えば、特性調整後に特性検査を行い、変位量（この場合はバイメタル１０先端の変位）を測定すると、図５に示すよう実際の変位測定結果は▲２▼になり、一方予想された変位量▲１▼との間には誤差ΔＹを生じるので、特性検査結果にも誤差生じる。そこで再調整を行うのだが、再調整時の基準値を（Ａ）とし、調整後の初期位置を（Ｂ）として再調整時の目標値を△Ｙとして、再調整を行う。これにより、再調整後の特性検査における変位量が▲３▼になり、特性検査結果を目標に合わせることができる。
【００６６】
また再調整時の調整目標値の基準値を、１回目の特性調整時若しくは特性測定時の目標変位位置（バイメタル１０の先端位置）とし、前記基準値から、再調整量を算出するようにしても良い。つまり図６に示すように調整目標位置の基準値を１回目の特性調整時若しくは特性測定時の目標の変位位置（Ａ）とすれば、１回目の調整目標値Ｙ(1回目)と、再調整時の調整目標値Ｙ(2回目)の関係を把握し易い。尚図６中、▲１▼は予想される変位量、▲２▼は実際の特性測定時の位置、▲３▼は再調整後の変位量を夫々示す。
【００６７】
ところで特性検査の工程Ｖで検査時の条件（温度や回路遮断器に通電する電流値）が異なる場合がある。このような場合に対応して、演算処理部５の調整目標値演算機能５ｂは、例えばバイメタル１０の先端の変位量の特性検査の測定結果（図７の▲１▼）を補正し、補正後の変位量（図７の▲２▼）と目標の変位量との差と調整目標値から再調整時の調整目標値を算出する処理を行うようにして良い。
【００６８】
つまり、特性検査の工程Ｖでの変位量（例えばバイメタル１０の先端の変位）の測定結果▲１▼と目標の変位量より、差△Ｙは図７にように表せる。しかし、特性検査の工程Ｖの条件が変わってしまうと、バイメタル１０の変位量は変わってくるので、変位量を補正する必要がある。そこで本実施形態では、補正後の変位量により該変位量と目標の変位量との差はΔＹ’と表すことができる。従ってＩＤに基づいて登録されるデータとしては△Ｙの他に、特性検査の工程Ｖでの条件（上記の温度、電流値）が挙げられる。
【００６９】
図８は本実施形態の処理の流れを示しており、スタート後、工程Ｉ〜IIIからなる組立工程Ｓ１を終了後、工程IVではステップＳ２でバーコードを読み取り、次に部品特性測定値をデータベースＤＢからロードし（Ｓ３）、調整目標値を演算処理部５で演算する（Ｓ４）。この演算後、特性調整手段６で特性調整を行い（Ｓ５）、この特性調整後調整目標値をデータベースＤＢに登録する（Ｓ６）。そして次の工程Ｖに入ると、ステップＳ７でバーコードを読み取り、次に特性検査手段７で特性検査を行い（Ｓ８）、その検査結果をデータベースＤＢに登録する（Ｓ８）とともに、その検査結果値が規格した範囲内に有るか否かを判断し（Ｓ９）、範囲内に有れば良品とするが、範囲外であれば再調整のためにステップＳ２に戻る。
（実施形態２）
実施形態１では、調整目標値演算機能５ｂで演算する場合、上記例では当該ＩＤの属性データに含まれる部品（バイメタル１０）の特性測定値を一つ（例えば板厚）だけ用い、その演算結果によって特性調整を行っているが、本実施形態では図９（ａ）に示すように同一のＩＤ（図では＠を先頭に付した５桁の数字で示されている）に対応する属性データ中、例えば演算処理部５ではバイメタルの板厚に対応する特性測定値Ｘ1の他に、板幅の特性測定値Ｘ2を読み出し、図９（ｂ）に示すように調整目標値演算機能５ｂにより夫々特性測定値Ｘ1，Ｘ2について個々に調整目標値Ｙ1，Ｙ2を算出し、個々に算出された調整目標値Ｙ1，Ｙ2から最終的な目標値Ｙを算出するようにしている。
【００７０】
次に本実施形態の具体的な方法について説明する。
【００７１】
まず本実施形態での最終的な目標値Ｙを算出するでは、上述した特性調整目標値の演算に関係式を用いるが、その関係式が複数のパラメータ（属性データ）を持つ方法を採用する。
【００７２】
ここでバイメタルの板厚Ｘ1と調整目標値の関係式、バイメタルの幅Ｘ2とを調整、目標値の関係式を以下に示す。尚関係式が１次式でなくとも良い。
【００７３】
Ｙ1＝５Ｘ1＋２
Ｙ2＝０．６Ｘ2−１．５
の各々の関係式の傾きを用いて
Ｙ＝５Ｘ1＋０．６Ｘ2＋Ｃ（Ｃは定数）
あるＸ1，Ｘ2のときのＹの値を算出し、Ｃを求める。
【００７４】
例えばＸ1＝０．７、Ｘ2＝５、Ｙ＝１．５の場合、Ｃ＝一５となり、
最終的にＹ＝５Ｘ1＋０．６Ｘ2−５
となる。
【００７５】
さて、上述の複数の部品特性測定値を調整目標値の演算に用いる場合に、表３〜表５のように複数のパラメータを持つテーブルを使用しても良い。このテーブルは比較的容易にテーブルを作成できる。但し演算に用いる部品特性測定値（パラメータ）が増えるとテーブルの数が急激に増えることになる。
【００７６】
【表３】
0003849569.tif 000005
【００７７】
【表４】
0003849569.tif 000006
【００７８】
【表５】
0003849569.tif 000007
【００７９】
さて、上述のように複数の部品特性測定値を用いて、夫々の調整目標値を演算し、これらの調整目標値を用いて最終的な調整目標値を演算する場合において、夫々の調整目標値の関係式における係数（１次式の場合には比例定数）と予め設定している閾値とを比較し、係数が大きい関係式を採用するようにしても良い。
【００８０】
この５つの部品特性測定値を用いる例の場合について説明する。
【００８１】
この場合、夫々の部品特性測定値に対応する調整目標値Ｙ1〜Ｙ5は以下の様に表される。
【００８２】
Ｙ1＝α1Ｘ1＋β1
Ｙ2＝α2Ｘ2＋β2
Ｙ3＝α3Ｘ3＋β3
Ｙ4＝α4Ｘ4＋β4
Ｙ5＝α5Ｘ5＋β5
そしてこれらを纏めると、
Ｙ＝α1Ｘ1＋α2Ｘ2＋α3Ｘ3＋α4Ｘ4＋α5Ｘ5＋Ｃ
となる。尚Ｃは定数
さて上記のα1〜α5とＣの値は実験や過去のデータから求められるが、採用する部品特性測定値（パラメータ）が多くなると、Ｃの値が一意的には求められない場合が多い。そこでα1〜α5の値と、予め設定した閾値αを比較して、閾値αの方が大きい場合、用いる部品特性測定値の値が変わっても調整目標値の変化が少ないため、その部品特性測定値を無視する。
【００８３】
例えば、α＜α1、α4 、またα＞α2、α5の場合、調整目標値は部品特性測定値Ｘ1、Ｘ4のみを用いて、
Ｙ＝α1Ｘ1＋α4Ｘ4＋Ｃとすることで、パラメータ（部品特性測定値）を減らすことができ、演算を容易にすることができる。
（実施形態３）
上記実施形態２では、最終的な目標調整値を算出する方法として、複数の部品特性測定値（パラメータ）を用いて個々の目標調整値を演算し、その演算結果から最終的な目標値を算出しているが、本実施形態では、少なくとも一つの部品特性測定値から調整目標値を演算し、またデータベースＤＢに登録されている少なくとも一つの特性検査結果を用いて調整目標値とを演算し、これらの演算値から最終的な調整目標値を算出する処理を持つ点に特徴がある。
【００８４】
つまり、具体的には部品特性測定値から演算した調整目標値を用いて調整したサンプル製品の特性検査を行い、その特性検査結果が予め予測していた結果よりも異なる場合、実施形態１において説明した関係式を修正するのであるが、良、不良の判断が不良の場合には、データベースＤＢに登録した当該サンプル製品の１回目の調整目標値Ｙ(1回目)と、改めて読み出した少なくとも一つの特性検査結果とを用いて、個々の調整目標値の演算を行い、この演算結果を用いて最終的な調整目標値を算出する処理を行い、再調整を行うのである。
【００８５】
つまり関係式が
Ｙ＝ｆ（Ｘ）  （Ｘ…バイメタル１０の板厚、Ｙ…調整目標値）
Ｙ＝ｆ（Ｘ）＝５Ｘ−２（この場合は関係式が１次式であるが必ずしもそうなるとは限らない）
であるとし、これによりバイメタル１０の板厚が０．６ｍｍという部品特性測定値を用いて調整目標値を演算した結果が１ｍｍのときのバイメタル１０の変位量は▲１▼となり、そのときの特性検査結果が図１０に示すように２０秒と予想される。このとき設定される良品判断の範囲は２０±３秒とする。
【００８６】
しかし、実際にはバイメタル１０の板厚が０．６ｍｍでも、他のばらつき要因のため、例えば▲２▼で示す変位量となって特性検査結果が１秒になってしまう場合もある。
【００８７】
この場合サンプル製品は特性検査結果▲２▼が良品範囲に入っていないので、上記関係式の係数αの修正を行った上で、上述の方法により歳出的な調整目標値を算出し、この調整目標値で最調整を行うのである。
【００８８】
ここで係数の修正方法としては、次のような例がある。
【００８９】
１）特性検査結果が良品の上限を超えている不良品の場合には、係数を小さくする。（例えばＹ＝４．５Ｘ−２）
２）特性検査結果が良品の下限を超えている不良品の場合には、係数を大きくする。（例えばＹ＝５．５Ｘ−２）
そして実際の特性検査結果が良品範囲内であるが、予想と異なる場合には関係式の係数の修正のみを行う。
【００９０】
このようにしてサンプル製品の特性検査結果を用いて部品特性測定値から演算する調整目標値の関係式を修正することで、精度良い調整や再調整が行える。
【００９１】
（実施形態４）
本実施形態では、図１に示す特性調整を行う工程IVにおいて、図１１に示すように特性調整手段６を備えた複数の調整用ステーション３０Ａ…を設けるとともに、夫々に調整用ステーションを識別するＩＤを夫々に付与し、工程IIIからの半完成品Ｂが送られてきた場合には、それを何れかのステーションに入れて調整を行うようになっている。尚図示例では６つの調整用ステーション３０Ａ〜３０Ｅを設けているが、実際にはもっと多く設けられる。
【００９２】
而して本実施形態では、バーコードで示されるＩＤに対応付けて調整後にデータ登録手段２ｄによりデータベースＤＢに調整を行った調整用ステーション３０Ａ…のＩＤのデータを登録することで、バーコードで示されるＩＤ下のデータを調べることで、調整用ステーション３０Ａ…毎の検査歩留まりが判ることになる。
【００９３】
つまり次の特性検査を行う工程Ｖにおいて、特性検査が行われ、その検査結果がバーコードで示されるＩＤに対応付けてデータベースＤＢに登録するのであるが、この検査結果として登録する良、不良の判断結果は管理用サーバーＫＰにおいて、不良と判断された回路遮断器に対して特性調整を行った工程IVの調整用ステーション３０Ａ…のＩＤ毎の不良発生数の集計が図１２に示すように行われ、不良発生数が他の調整用ステーションよりも多い調整用ステーションが有る場合には、管理用サーバーＫＰは工程IVのクライアント用コンピュータＰＣ２へ通知を行う。これにより工程IV側で構成が必要な調整用ステーションが判ることになる。図１１の場合には調整用ステーション３０Ｂの不良発生数が他の調整用ステーション３０Ａ，３０Ｃ…に比べて１０倍以上あるため、通知対象となる。
【００９４】
尚本実施形態の検査終了時にデータベースＤＢに登録されるデータ構造は次のようになる。
【００９５】
＠バーコードＩＤ
＋＠調整用ステーションのＩＤ
＋特性検査の結果値
＋特性検査の判断（良、不良）
…
（実施形態５）
本実施形態では、図１に示す特性検査を行う工程Ｖにおいて、図１３に示すように特性検査手段７を設けた複数の検査用ステーション４０Ａ…を設けるとともに、夫々に調整用ステーションを識別するＩＤを夫々に付与し、工程IVからの完成品Ｃが送られてきた場合には、それを何れかのステーションに入れて調整を行うようになっている。尚図示例では６つの検査用ステーション４０Ａ〜４０Ｅを設けているが、実際にはもっと多く設けられる。
【００９６】
而して本実施形態では、バーコードで示されるＩＤに対応付けて調整後にデータ登録手段２ｅによりデータベースＤＢに特性検査を行った特性検査用ステーション４０Ａ…のＩＤのデータを登録することで、バーコードで示されるＩＤ下のデータを調べることで、検査用ステーション４０Ａ…毎の検査歩留まりが判ることになる。
【００９７】
つまり、特性検査を行われると、その検査結果がバーコードで示されるＩＤに対応付けてデータベースＤＢに登録されるであるが、この検査結果として登録する良、不良の判断結果は管理用サーバーＫＰにおいて、不良と判断された回路遮断器に対して特性検査を行った検査用ステーション４０Ａ…のＩＤ毎の不良発生数の集計が図１４に示すように行われ、不良発生数が他の検査用ステーションよりも多い検査用ステーションが有る場合には、管理用サーバーＫＰは工程Ｖのクライアント用コンピュータＰＣ３へ通知を行う。これにより工程Ｖ側で構成が必要な検査用ステーションが判ることになる。図１４の場合には検査用ステーション４０Ｃの不良発生数が他の検査用ステーション４０Ａ，２０Ｂ，４０Ｄ…に比べて１０倍以上あるため、通知対象となる。
【００９８】
尚本実施形態の検査終了時にデータベースＤＢに登録されるデータ構造は次のようになる。
【００９９】
＠バーコードＩＤ
＋＠検査用ステーションのＩＤ
＋特性検査の結果値
＋特性検査の判断（良、不良）
…
これにより管理用サーバーＫＰでは、調整用ステーションと検査用ステーションの組合せによる製品の歩留まりが判ることになる。
（実施形態６）
本実施形態は実施形態４，５の調整用ステーション３０Ａ…のＩＤ、検査用ステーションのＩＤの登録を併用するようにしたものである。
【０１００】
つまり本実施形態の検査終了時にデータベースＤＢに登録されるデータ構造は次のようになる。
【０１０１】
＠バーコードＩＤ
＋＠調整用ステーションのＩＤ
＋＠検査用ステーションのＩＤ
＋特性検査の結果値
＋特性検査の判断（良、不良）
…
而して本実施形態では、管理用サーバーＫＰにおいて、不良と判断された回路遮断器に対して特性調整を行った調整用ステーション３０Ａ…のＩＤと特性検査を行った検査用ステーション４０Ａ…のＩＤとの組合せ毎の不良発生数の集計が図１５に示すように行われ、不良発生数が他の組合せよりも多い組合せが有る場合には、管理用サーバーＫＰは工程IV及びＶのクライアント用コンピュータＰＣ２，ＰＣ３へ通知を行う。これにより工程IV，Ｖ側で構成が必要な夫々のステーションが判ることになる。図１５の場合には３０Ａと４０Ｂの組合せが、他の組合せに比べて３倍以上あるため、通知対象となる。
【０１０２】
（実施形態７）
本実施形態は、実施形態４或いは実施形態６のように検査終了後のデータベースＤＢへの登録に調整用ステーションのＩＤを登録する場合において、図１６に示すように工程IVにより再調整を行う必要があった場合、図１に示す工程IVのクライアントのコンピュータＰＣ２からなる演算処理部５でデータベースＤＢからデータを読み取ってそのデータに登録されている調整用ステーションのＩＤから再調整する調整用ステーションを決定するようにしたものである。
【０１０３】
これにより調整用ステーションによる調整ばらつきの影響を排除できることになる。
【０１０４】
（実施形態８）
本実施形態は、実施形態５或いは実施形態６のように検査終了後のデータベースＤＢへの登録に検査用ステーションのＩＤを登録する場合において、図１７に示すように工程IVにより再調整を行って再度検査を行う必要があった場合、図１に示す工程Ｖに設置されているクライアントのコンピュータＰＣ３でデータベースＤＢからデータを読み取ってそのデータに登録されている検査用ステーションのＩＤから再検査する検査用ステーションを決定するようにしたものである。
【０１０５】
これにより検査用ステーションによる調整ばらつきの影響を排除できることになる。
（実施形態９）
本実施形態は、再調整と特性検査が繰り返される場合、検査終了時にバーコードのＩＤに対応付けて調整回数をもデータベースＤＢに登録するようにし、管理用サーバーＰＣでその調整回数の値が上限値を超えた場合には、当該回路遮断器を不良品として製造工程から排除するように工程Ｖへ指示するようにしたものである。
【０１０６】
尚本実施形態での検査終了時にデータベースＤＢに登録するデータ構造は、次のようになる。
【０１０７】
＠バーコードＩＤ
＋＠調整回数
＋＠調整用ステーションのＩＤ
＋＠検査用ステーションのＩＤ
＋特性検査の結果値
＋特性検査の判断（良、不良）
…
（実施形態１１）
実施形態１では、演算処理部５の調整目標値演算機能５ｂが調整目標値を演算するのは、部品の特性測定値を用いて演算を行っているが、本実施形態では、例えば部品の特性測定値を用いて調整目標値を演算する場合と、既に製造された回路遮断器の特性検査工程Ｖにおける特性検査結果を用いて調整目標値を演算する場合とを任意に選択してデータベースＤＢから読み出すように切り替える手段（図示せず）を備えている点に特徴がある。
【０１０８】
次のこの切り替え手段を用いて調整目標値の演算の精度を上げる方法の例を説明する。
【０１０９】
この方法は切り替え手段を用いて、同一ロット内では最初のＮ個の製造に当たっては、データベースＤＢに登録されている前のロットの特性検査結果のデータを利用して調整目標値を演算し、不良発生時には、実施形態１において説明した再調整方法の何れかを用いて再調整を行う。
【０１１０】
そしてＮ個の回路遮断器の製造が終了するまでの間は、夫々回路遮断器における部品特性測定値、調整目標値、特性検査結果をデータベースＤＢに登録しておき、Ｎ＋１個目以後の製造時にはＮ個までに収集した部品特性測定値を用いて調整目標値を演算する。この場合、Ｎ個のデータに基づいて前のロットとの違いのある部品特性測定値の関係式の係数を修正し、調整目標値を算出する。このようにすることで調整目標値の演算の精度を上げることができるのである。
【０１１１】
尚上記のＮ個のＮの数を任意に設定するスイッチ手段（図示せず）を付加することでデータ収集の個数の設定を任意にすることができる。
【０１１２】
（実施形態１２）
上記実施形態１の図１に示す製造装置では、最初の部品ａに印したバーコードにより示されるＩＤ対応付けて夫々の工程Ｉ…でのデータ登録を行うようにしているが、本実施形態は図１８に示すように各工程Ｉ,II,IIIにおいてバーコード付与手段３ａ、３ｂ、３ｃを設けて、複数の部品の組み付けた際に新たにバーコードをその工程で付与するようにして次のようなデータ登録を行うようにしたものである。
【０１１３】
つまり工程Ｉでは、部品ａに対しては部品ａに対応して付与したＩＤを示すバーコードをバーコード付与手段３ａで印し、この付与したＩＤに対応付けて特性測定手段１ａによる部品ａの特性測定値をデータ登録手段２ａによりデータベースＤＢに、登録する。
【０１１４】
次の工程IIでは部品ａに対して部品ｂを組み付けて半完成品Ａを組み立てることになるが、この工程IIでは部品ｂに対応して付与したＩＤを示すバーコードをバーコード付与手段３ｂで印し、付与したＩＤに対応付けて特性測定手段１ｂによる部品ｂの特性測定値をデータ登録手段２ｂによりデータベースＤＢに、登録する。
【０１１５】
一方半完成品Ａに対してはバーコード付与手段３ｃにより半完成品Ａに付与したＩＤを示すバーコードを付す。そして部品ａに印したバーコード及び部品ｂに印したバーコードを夫々に対応して設けたバーコード読取手段４ａａ，４ｂｂによって読み取り、この読み取ったＩＤに対応する部品ａ，ｂの特性測定値を、半完成品ＡのＩＤに対応付けてデータ登録手段２によりデータベースＤＢに登録する。
【０１１６】
次の工程IIIでは半完成品Ａに印したバーコードをバーコード読取手段４ｂで読み取った後、半完成品Ａに部品ｃを組み付けて半完成品Ｂを組み立てる。
【０１１７】
そして部品ｃに対する特性測定手段１ｃによる特性測定値を半完成品ＡのＩＤに対応付けて登録する。
【０１１８】
以後の工程IV，Ｖでは半完成品Ａのバーコードを読み取ってそのＩＤに対応付けて特性調整良や検査結果をデータベースＤＢに登録処理を行う。
【０１１９】
つまり本実施形態では半完成品Ａに付与したＩＤに対応付けたデータを読み取ることで、当該回路遮断器の部品ａ…の特性測定値や、特性調整量、検査結果を管理することができることになる。
【０１２０】
尚図１と同じ構成には同じ符号を付して説明は省略する。また実施形態１〜１１における再調整方法等は本実施形態の製造装置においても適用できるのは言うまでもない。また図２に示すデータの管理システムも本実施形態に適用できる。
【０１２１】
上述の各実施形態において、特性検査の工程Ｖに、部品特性測定値から演算さた調整目標値を用いてサンプル製品を調整して、特性検査を行い、その特性検査結果が予想と著しく異なる場合、異常検知手段によって特性調整手段６或いは特性検査手段７に異常があることを報知するようにしても良い。またクライアントのコンピュータＰＣ３で管理用サーバーＫＰへ通知するようにしても良い。
【０１２２】
この通知例を以下に説明する。
【０１２３】
今関係式がＹ＝ｆ（Ｘ）
（Ｘ…バイメタル１０の板厚、Ｙ…調整目標値）
Ｙ＝ｆ（Ｘ）＝５Ｘ−２
（この場合は関係式が１次式であるが必ずしもそうなるとは限らない）
とし、調整対象のバイメタル１０の板厚が０．６ｍｍ、調整量が１ｍｍのとき、特性検査結果は２０秒と予想される。一方規格として設定された良品範囲を２０±３秒とするとする。
【０１２４】
この条件において異常検知手段は、特性検査結果が１０秒以下、又は３０秒以上の場合は、異常検知手段は検査結果値を異常判断し、上記のように通知するのである。
【０１２５】
【発明の効果】
請求項１の発明は、特性測定された回路遮断器の各部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、最終の組み立て過程で完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
最初の組み付けに用いる部品要素の何れかの特性測定を測定した結果に付与するＩＤに対応付けて特性測定結果をデータベース登録するとともに、当該部品要素にバーコード付与手段により上記ＩＤをバーコードで付与し、
以後順次各部品要素を組み付けて行く組み立て過程を経る際に、上記部品要素のバーコードをバーコード読取手段で読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて組み付ける部品要素の特性測定結果を上記データベースに順次登録し、
特性調整過程においては、組み立て完成された回路遮断器における上記部品要素のバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の動作特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記ＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器の上記部品要素のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録するので、また請求項２の発明は、回路遮断器を構成する各部品要素の特性測定を測定する複数の特性測定過程と、特性測定された部品要素を順次組み付けて行く複数の組み立て過程と、組み立て完成した回路遮断器の諸特性を特性調整手段で調整する特性調整過程と、該特性調整過程の調整後の完成回路遮断器の所定の特性を特性検査手段で検査する特性検査過程とから回路遮断器の製造方法において、
各部品要素の特性測定過程に、夫々の部品要素にＩＤをバーコードで付与するバーコード付与手段を備え、データは夫々に付与したバーコードで示すＩＤに対応付けてデータベースに登録するとともに、順次組み立て過程を経る度に、各過程で得られた部品ブロック若しくは完成した回路遮断器に新たなＩＤを示すバーコードを付与して、夫々の過程で得られる部品ブロック若しくは完成された回路遮断器を構成する各部品要素の特定測定データを新たなＩＤに対応付けて付与し、
特性調整過程においては完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果に基づいて回路遮断器の所定の特性の調整目標値を調整目標値演算手段で演算し、該調整目標値を上記回路遮断器に付与されたバーコードのＩＤに対応付けて上記データベースに登録するとともに、特性調整手段で調整目標値に基づいた特性調整を行い、
特性検査過程では、特性調整後の回路遮断器のバーコードを読み取って、該バーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性検査手段による検査結果を上記データベースに登録するので、回路遮断器を構成する部品要素の特性測定値を用いて調整目標値を演算することができ、そのため組み立てられた個々の回路遮断器に応じた特性調整が可能となり、完成した回路遮断器の品質の制御が容易になる。
【０１２６】
請求項３の発明では、請求項１又は２の発明において、上記回路遮断器の動作特性の調整目標値の演算を、動作特性に関連する部品要素の特性測定結果の値の関数で調整目標値を表す関係式を用いて行うので、調整目標値の演算を定量的に行え、そのため部品特性測定値が、どのくらい特性検査結果に効くかを予測することができる。
【０１３０】
請求項４の発明は、請求項１又は２において、上記特性検査過程の検査結果が不良と判断された際には、不良と判断された特性に対する先の特性調整過程での目標調整量のデータを、ＩＤによって対応付けられて上記データベースに登録された当該回路遮断器のデータから読み出し、この目標調整値と、当該特性検査過程の検査結果の、良品判断の値に対する偏差値とから、新たな目標調整量を上記目標値演算手段で演算させ、この演算された目標調整値に基づいて特性調整手段により当該回路遮断器の特性を再調整するので、良品となる可能性の高い再調整が行える。
【０１３２】
請求項５の発明は、請求項４の発明において、上記調整対象となる回路遮断器の動作特性が、過電流引き外し用のバイメタルの所定部位が初期位置から所定の電流を通電して所定時間経過後に変位する所定位置で示され、演算された目標調整値で調整した後の特性検査時のバイメタルの所定部位が上記所定位置に達する時間を、バイメタルの所定部位が所定時間で所定位置まで変位するための目標調整値を再演算する際の基準時間とするので、再調整を容易に行うことができる。
【０１３３】
請求項６の発明は、請求項１乃至５の何れかの発明において、特性検査過程では、回路遮断器の動作特性の測定結果を、特性検査過程の条件を加味して補正し、この補正結果に基づいて当該回路遮断器の良否を判定するので、特性検査における誤差を無くすことができる。
【０１３４】
請求項７の発明は、請求項１乃至６の何れかの発明において、上記特性調整過程においては、完成された回路遮断器に付与されているバーコードを読み取って、当該バーコードで示されるＩＤに対応付けて登録されている各部品要素の特性測定結果を上記データベースから読み出し、読み出した特性測定結果又は上記特性検査手段による検査結果を切り替えて、何れか一方を調整目標値演算手段に与え、与えられた結果に基づいて調整目標値演算手段により回路遮断器の所定の特性の調整目標値を演算させるので、調整目標値の演算に、特性検査結果か、部品要素の特性測定値の何れかを選択することができる。
【０１３６】
請求項８の発明は、請求項１の発明において、調整目標値演算手段によって、少なくとも一つの部品要素の特性測定結果から演算される調整目標値と、少なくとも一つの検査結果から演算される調整目標値を用いて最終的な調整目標値を算出するので、特性検査結果と部品要素の特性測定値とから演算される調整目標値の両方を用いて調整することができる。
【０１３９】
請求項９の発明は、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録するので、特性調整を行った調整用ステーション毎の歩留まりの把握が可能となる。
【０１４１】
請求項１０の発明は、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録するので、検査用ステーションの歩留まりの把握が可能となる。
【０１４３】
請求項１１の発明は、請求項１乃至８の何れかの発明において、特性調整過程では、同じ特性調整を行う特性調整手段を備えた調整用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性調整を何れかの調整用ステーションの特性調整手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値を、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、特性調整を行った調整用ステーションに付与されているＩＤを登録し、特性検査過程では、同じ特性検査を行う特性検査手段を備えた検査用ステーションを複数備えて、回路遮断器の特性検査を何れかの検査用ステーションの特性検査手段で行い、当該回路遮断器にかかる部品要素の特性測定結果、調整目標値、検査結果及び調整用ステーションのＩＤを、データベースに登録する際の関連付けに用いるバーコードで示されるＩＤに対応付けて、検査を行った検査用ステーションに付与されているＩＤを登録するので、調整用ステーションと検査用ステーションとの組み合わせによる歩留まりの把握ができる。
【０１４９】
請求項１２の発明は、組み立過程、特性調整過程、特性検査過程に対応して夫々データの授受を行うために設けられたネットワーク端末と、各のネットワーク端末との間でネットワークを通じて通信を行う管理用サーバーとを備え、
組み立て過程で回路遮断器を構成する部品要素にバーコードで印されＩＤに対応付けて、組み立て過程、特性調整過程、特性検査過程で登録される部品要素の特性測定値、調整目標値、検査結果が夫々の過程に設けたネットワーク端末から授受して登録すると共に、特性調整値の演算や、再度の特性調整時に、特性調整値の演算に用いるデータとして登録されている調整目標値や、検査結果が各過程のネットワーク端末により読み出されるデータベースを管理用サーバーに設けたので、管理用サーバーで各過程のデータの一元的な管理が行え、品質の安定した回路遮断器の製造が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態１の製造装置の概要構成図である。
【図２】同上の製造装置の管理システムの概要構成図である。
【図３】同上で製造される回路遮断器の概要構成説明図である。
【図４】同上のバイメタルの特性調整の説明図である。
【図５】同上の再調整時の調整基準値設定方法の説明図である。
【図６】同上の別の同上の再調整時の調整基準値設定方法の説明図である。
【図７】同上の特性検査の工程における誤差の補正方法の説明図である。
【図８】同上の動作説明用流れ図である。
【図９】本発明の実施形態２の複数の部品特性測定値を用いて目標調整値を求める場合の説明図である。
【図１０】本発明の実施形態３の説明図である。
【図１１】本発明の実施形態４の特性調整の工程における調整用ステーションの説明図である。
【図１２】同上における調整用ステーションの不良発生数の集計結果を示すグラフである。
【図１３】本発明の実施形態５の特性検査の工程の検査用ステーションの説明図である。
【図１４】同上における検査用ステーションの不良発生数の集計結果を示すグラフである。
【図１５】本発明の実施形態６の調整用ステーションと検査用ステーションとの組合せ毎の不良発生数の集計結果を示すグラフである。
【図１６】本発明の実施形態７の説明図である。
【図１７】本発明の実施形態８の説明図である。
【図１８】本発明の実施形態１２の製造装置の概要構成図である。
【符号の説明】
１ａ…  特性測定手段
２ａ…  データ登録手段
３  バーコード付与手段
４ａ…  バーコード読取手段
５  演算処理部
５ａ  照合機能
５ｂ  調整目標演算機能
６  特性調整手段
７  特性検査手段
Ｉ…  工程
ａ…  部品
Ａ，Ｂ  半完成品
Ｃ，Ｄ  完成品
ＤＢ  データベース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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