(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
分光分析装置の分析処理制御と測定結果処理をコンピュータで実行し、前記分析処理および測定結果処理の処理手順のプログラムを前記コンピュータの画面操作によって作成するものであって、
前記コンピュータの画面には、前記処理手順で行いたい一処理を選択するためのツールバーと、前記処理手順の一処理を示す複数のコントロールが配置されるキャンバスと、前記コントロールにおける処理の詳細設定が一覧でき、前記コントロールに詳細処理を設定するための設定項目一覧と、前記分析処理と前記測定結果処理の結果を格納するための変数を定義するための変数一覧とが表示され、
前記ツールバーを操作して前記処理手順の一処理を前記コントロールに配置して処理内容を文字で表示すると共に前記コントロール間を処理順番毎に矢印で接続するようにしたことを特徴とする分光分析装置。
【請求項２】
請求項１において、前記コンピュータは前記キャンバス配置されたコントロールを編集するマウスを備えていることを特徴とする分光分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光度計を用いて化学分析を行う分光分析装置に関し、特に、特殊分野における化学分析に対応するための、分析手順の作成および結果処理を簡便に行なうことができ、またそれらの手順を容易に変更することができる分光分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来実用化されている、分光光度計を用いた分析装置では、研究所などにおける研究開発が主であり、多種多様の試料を分析することが多かった。しかし、近年、分光光度計自体が低価格化し、工業製品の品質検査などのようなルーチン分析などの分野においても需要が高まっている。このような目的では、特定の含有物同士の存在量の比を求めたい場合や、特定の分析方法を実現するために、分析結果を元に分析条件を変化させ、さらに再測定を行なうなど、非常に煩雑な操作となる分析を行ないたいことがあった。従来の手法では、これらはすべて分析者が行っていた。
【０００３】
光度計による光学フィルタの特性測定を例に挙げると、使用波長帯域全体を簡易に、かつ過渡帯域波長近傍の変化が急峻な部分を詳細に確認したい場合がある。このような場合には、まず始めに使用波長帯域全体でのプロファイルを低分解能で取得し、その後過渡帯域波長近傍の変化が急峻な部分を測定者自らが選択し、その波長付近を選択して再度高分解能で測定するという測定手順を行なっていた。これは、高分解能でのスキャンには時間がかかり、かつ情報量が膨大になるため、限定した範囲での測定が望まれるためである。
【０００４】
光学フィルタの個々の特性のバラつきにより、目的波長が上下する場合があるため、詳細スキャンの波長範囲を予め定めて高分解能で取得しようとしても、バラつきが取得範囲外に及んでいるときにはプロファイルが取得できなくなってしまう。このように的確に目的のプロファイルを観測することができなかったときは、さらにスキャン範囲を調整して測定を繰り返すという必要があった。
【０００５】
大量の試料を測定しなければならない場合には、測定者はこの手順全体を繰り返す必要があるため、非常に煩雑な操作を繰り返すことが要求されることとなる。このため、測定者のミスによる測定の失敗やデータの信頼性低下が問題となっていた。
【０００６】
このような煩雑な手順を繰り返していたのでは支障があるため、一部のユーザは、測定機器メーカに対して特別注文などの形態で、ユーザが行ないたい測定に特化したアプリケーションの開発を依頼していた。この場合、煩雑さの問題においては解消されるが、開発したアプリケーションはユーザサイドで変更することなどが困難であるため、同種の分析に転用したい場合であっても、僅かな適用条件の違いによりアプリケーションの開発し直しとなることがあった。
【０００７】
これらのことから、光度計を用いた分析アプリケーションにおいては、特定の測定手法を簡単に実現できる方法、またそれら作成した分析手順を同種のほかの分析に簡単に転用・再利用できる方法が望まれていた。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
従来、光度計を用いた一般的な汎用分析装置では、目的波長の光の強度を測定したり、または光特有の現象を利用し、ある成分を含んだ液体が特定波長の光の透過率に変化を及ぼす現象を利用したりすることにより、分析試料中の特定の物質の含有物の存在量を測定することなどを目的とすることが一般的であった。
【０００９】
このような分析装置において、ユーザが観測したい現象が特定波長の強度などのように直接観測できるものではなく、２波長間の光の強度の差や、波長別の透過特性などのように測定に工夫が必要なものである場合は、測定を繰り返したり、測定結果を用いてユーザが手計算を行なったりする必要が多くあった。
【００１０】
また、このような分野向けに測定手順や計算処理をプログラミングすることが可能な分析装置がある。このような分析装置ではユーザが目的とする測定・計算が一括して処理できるものもある。しかし、このような装置ではコンピュータプログラミングに関する知識が要求されるものであり、一般の分析機器ユーザには難解なものであった。ユーザがプログラムを作成する技能を持たない場合、他の方法として専用アプリケーションの開発をメーカへ特別注文などの形で依頼する場合があるが、このようなアプリケーションは他の分析には転用できず、また開発費用がユーザの負担となるため非常にコストのかかるものとなっていた。
【００１１】
このことから、本発明の目的は、分光分析装置を用いたルーチン分析分野などにおいて、プログラミング言語を用いることなく分析手順や測定結果の加工プロセスを簡便に作成・実行できるようにし、さらにそれら分析手順の変更が従来に比べて容易にできるようにした分光分析装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を解決するために、本発明の分光分析装置は、分光分析装置の分析処理制御と測定結果処理をコンピュータで実行し、分析処理および測定結果処理の処理手順のプログラムをコンピュータの画面操作によって作成するものであって、コンピュータの画面には、処理手順で行いたい一処理を選択するためのツールバーと、処理手順の一処理を示す複数のコントロールが配置されるキャンバスと、コントロールにおける処理の詳細設定が一覧でき、コントロールに詳細処理を設定するための設定項目一覧と、分析処理と測定結果処理の結果を格納するための変数を定義するための変数一覧とが表示され、ツールバーを操作して処理手順の一処理をコントロールに配置して処理内容を文字で表示すると共にコントロール間を処理順番毎に矢印で接続するようにしたことを特徴とする。
【００１３】
また、分析手順を作成する際に必要な機能が個々に備わっており、これらを分析手順中に任意に選択及び配置可能な手段を有することを特徴とする。
【００１４】
本発明によれば、測定手順をグラフィカルに、かつ手軽に作成することができる入力手段を備えることにより、ユーザが目的とする測定手順や測定条件、計算処理を作成することができ、作成した手順・条件等をコンピュータ等へ自在に保存することができ、さらにその手順・条件等を簡単に実行させることができる。
【００１５】
また、作成した手順・条件等を容易に変更することができ、ユーザが目的とする分析を簡便に行なうことができる仕組みを提供する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を説明する。図２は本発明による分析処理に必要な装置の構成である。ここでは、光度計を用いた分析装置として、分光光度計への実装例を挙げる。
【００１７】
図２において、分光分析装置は光度計装置部207とコンピュータ部208から成っており、光度計装置部207では光源200から発せられた光を、回折格子203を内蔵した分光器201によって分光し、特定波長の光を試料室205に置かれた試料に通し、この透過光を検知器206にて測定し、その結果をデータ処理部206にてコンピュータで処理できる信号形式へ変換し、コンピュータ部208に伝達する。
【００１８】
光度計装置部207では、電源を投入したのち試料を投入するだけであり、測定操作などはコンピュータ部208から行なう。
【００１９】
コンピュータ部208は、光度計装置部207全体の制御を行なうと共に、光度計装置部207から伝達された結果を処理・観測することにより試料中の波長ごとの透過率などを分析することができる。また、測定波長を直接指定し、その波長の透過率や強度を連続的に観測することも可能である。コンピュータ部208では、測定するにあたりユーザが測定する条件および、測定した結果をどのように処理するのかを設定する。
【００２０】
図１は測定条件および測定した結果の処理を定義する画面を示す。この画面では、配置する処理を選択するツールバー100、アプリケーションの機能が選択できるメニュー101、測定・結果処理を視覚的に配置するキャンバス102、配置した処理に対する設定項目を表示する設定項目一覧103、設定項目一覧に表示されている項目の注釈を表示する注釈104、処理過程の値や結果を格納するための変数を定義・表示する変数一覧105などの画面からなる。
【００２１】
ツールバー100上部には、選択できる機能を種別ごとに分類する機能種別ボタン106があり、このボタンを選択することによって各々の分類項目に対応するボタンが表示される仕組みとなっている。そのため、ツールバー100は目的のボタンを素早く選択できるよう構成されている。
【００２２】
ツールバーから選択できる機能としては、例として次のものが選択可能である。
測定関係  ：波長スキャン、波長モニタ
基本演算  ：四則演算、関数演算、判定
用途別演算：半値幅測定、干渉フィルタ測定、バンドギャップ測定、バックグラウンド補正、しきい値検出、比演算、純度計算、濃度計算、モル濃度計算、クロロフィル法計算、ロビボンド法計算
装置制御・手順制御など：波長移動、結果表示、メッセージ表示、時間待ち
ボタンに対応する機能については、アプリケーション標準で用意するもののほかに、必要であればオプションとして後から追加できるようになっている。
【００２３】
以下、実際に測定者が行なう操作手順の概略について図面を参照しながら順を追って説明する。図３は作成手順の概要を示す。測定手順や結果の処理を定義するには、まず開始コントロール301の配置を行なう。これは、図１に示すツールバー100から行ないたい処理を選択し、次にキャンバス102上の任意の点をクリックすることによって配置する。この配置する四角形を「コントロール」と呼び、クリックした任意の点に配置される。
【００２４】
次に、コントロールの接続を接続子303で行なう。これは、処理を行なう順番を定義するための矢印でコントロール同士を結合することである。このとき、この矢印の流れは必ず開始から始まり、処理を経由して終了へ接続していなければならない。この操作は、コンピュータに付属のマウスにて容易に行なうことが可能である。
【００２５】
次に、処理を行なう上で必要となる変数の宣言を行なう。これは、変数一覧画面105に任意の変数名を入力することにより定義する。さらに、キャンバス102上に配置した個々のコントロールについて、それらの各コントロールの詳細設定を行なう。これは、設定を行なうコントロールを選択し、設定項目一覧103に表示される項目一覧に従って設定する。
【００２６】
このようにして必要な処理および順番を定義した測定手順は、保存することができる。特に必要がない場合は、この手順は省略可能である。また、すでに保存してある操作手順を呼び出すことも可能であり、その場合は、操作手順の呼び出しを行った後、直ちに測定を行なうことができるため便利である。
【００２７】
操作手順の作成が完了すると、分析試料の投入等、分析装置の準備が整い次第、測定を実行することが可能である。測定では、前記測定手順をもって自動的に測定が行われるため、ユーザは特に必要がなければ何ら操作を行なわなくてよい。測定が完了すると、手順で設定した通りの結果表示が行われる。ここでユーザが目的とする分析結果が示されることとなる。
【００２８】
次に、実際の分析例として光学フィルタの特性測定を例にとり、実際に測定者が行なう操作手順を踏まえながら詳細に説明する。
【００２９】
光学フィルタとは、目的とする波長の光に対して、光を透過したり減衰したりする特性を有する素子である。一般的に光学素子として使用する場合には、使用する波長帯域に対してどれだけの透過率・減衰率を有するかが既知である必要がある。
【００３０】
このような光学フィルタの特性測定では、使用波長帯域全体での透過量のプロファイルを取得するが、透過量が変化する過渡帯域波長近傍では高分解能に詳細な特性を取得したい場合がある。このとき、全帯域で高分解能に測定をしていたのでは情報量が大きくなったり、また測定に時間がかかりすぎたりするため、変化が急峻な部分だけを高分解能で走査し、これ以外の部分については低分解能広範囲で取得する必要がある。
【００３１】
本例の測定では、長波長通過形の光学フィルタの特性を取得するために、まず始めに使用波長帯域全体を低分解能でスキャンを行い、次に過渡帯域波長付近の特性を高分解能でスキャンし観測する。また透過率50％の点における波長を数値として示し、分析結果とする。
【００３２】
まず、上記の目的に従った測定手順を作成する。アプリケーション起動時のキャンバス102の状態を図３に示す。アプリケーションを起動した状態では、開始コントロール301および終了コントロール305が配置されている。これらのコントロールのうち、起動直後の開始コントロール301には選択枠302と呼ばれる長方形の縁取りが現れる。これは、そのコントロールが後述の編集機能の対象を示すものであり、ほかのコントロールをクリックすることによりクリックしたコントロールに選択状態を変更したり、キーボード操作と組み合わせて複数のコントロールを選択状態としたりすることもできる。また、選択状態のコントロールには接続子303が表示され、この接続子をクリックしたまま他のコントロールへドラッグすることによって、測定の順番を定めるための矢印を設定することができる。
【００３３】
コントロールは、キャンバス102上に点線で示されている枠線306の中に配置されるが、何れのコントロールも配置されていない場所には、新たに任意のコントロールを追加することができ、ここに、ユーザが行ないたい処理の単位であるコントロールを任意に追加していくことで手順を作成する。
【００３４】
キャンバス102にコントロールを配置するには、ツールバー100から配置したいコントロールを選択し、次にコントロールを配置したいキャンバス102の任意の位置をクリックすると、その位置にコントロールが配置される。また、配置したいコントロールを選択せずに、既に配置されているコントロールをクリックすると、そのコントロールは選択状態となり、位置の移動、設定項目の入力、コピー、削除をすることができる。
【００３５】
また、キャンバス102上で複数のコントロールを囲むようにドラッグすることにより、これらがすべて選択状態となり、一括して移動、コピー、削除することができる。一括してコピーした場合、矢印が接続されているコントロールにおいては接続された状態を保ったままコピーされる。これにより測定手順の一部分をそのままコピーすることなどが容易に行なえる。
【００３６】
この例で行ないたい処理は、波長スキャン、しきい値検出、判定のそれぞれのコントロールを用い、図４のように作成できる。
【００３７】
すべてのコントロールの配置が完了すると、次に測定手順通りに矢印を接続する。これは各コントロールを選択すると表示される接続子303と呼ばれる正方形の部分を、開始コントロール401を始めとして、次に行ないたい処理のコントロールまでドラッグすることにより矢印が接続される。この例では、測定手順を開始すると、開始コントロール401から続いた矢印が波長スキャン402に接続しており、まず始めに全体スキャンを実行するという意味を現している。同様に、全体スキャンが完了すると、しきい値検出403をおこなう。
【００３８】
この処理は、先ほどスキャンした結果からしきい値に合致する波長を検出し、その波長を次のコントロールの処理のために格納する。以降同様に矢印の方向に従って順に処理を行なう。四則演算404、波長スキャン405、しきい値検出406、判定407と処理が進む。ここで、判定407のコントロールから２つの矢印が出ているものは、分岐条件を持たせることにより２つの矢印のどちらかの方向に分岐することを示している。この分岐条件に合致した場合は、判定407から四則演算408へ進み、その後波長スキャン405へ戻ることを示している。分岐条件に合致しなかった場合は、結果表示409、終了410と進み、測定手順を終了する。
【００３９】
コントロールには、そのコントロールの種類と、後述の設定項目で設定する名前が表示されている。
【００４０】
次に、各コントロールの結果を以降の処理のために利用することが出来るよう、それらの結果を格納するための領域を「変数」として宣言する。変数の宣言は、図１に示す画面右下の変数一覧105に変数名およびコメントを追加することにより宣言する。変数一覧の設定例を図５に示す。
【００４１】
変数名501には、宣言する変数を識別するための変数名を入力する。この変数名501は重複する名前があってはならない。また、コメント502は変数に対する注釈を入力する。これは画面表示上の情報であり、実際の測定とは関係ない。これらの変数はユーザが自由に定義することができ、かつ各コントロールの設定項目として利用できるようになっており、設定値の代わりに使用したり、結果の格納先として用いることができる。
【００４２】
本手順では、全体スキャンおよび詳細スキャンのプロファイルを取得するため、これらの結果を格納する変数をそれぞれOutlinePrf 503、DetailPrf 504として宣言している。また、しきい値検出結果の格納用にWaveLength 505、詳細スキャンを行なう範囲の開始および終了の波長を格納するための変数ScanWL_Lower 506およびScanWL_Upper 507を宣言している。
【００４３】
次に、キャンパス102に配置した各々のコントロールに対して、設定項目を設定する。始めに項目を設定したいコントロールをマウスで選択する。これにより設定項目一覧にそのコントロールの設定項目が瞬時に表示され、またその値をユーザが自由に変更することができる。表示される設定項目は、選択したコントロールの種別により異なる。
【００４４】
図４において、作成した測定手順の波長スキャンコントロール402をマウスを用いて選択すると、画面右上の設定項目一覧にスキャン時の詳細な条件が表示される。このときの例を図6に示す。また注釈104に選択したコントロールの注釈が表示されるが、ここでは説明を省略する。
【００４５】
この例では、全体スキャンの処理において、コントロールの画面上の名前603を全体スキャンとし、スキャン開始604およびスキャン終了605をそれぞれ190、900nmに設定し、スキャン時の分解能606を0.60nmごととする設定となっている。この値は、ユーザが必要とするスキャン範囲を直接数値で入力する。またスキャンを行った結果格納先607はOutlinePrfという変数に格納することを示している。これらの設定項目601は、予めコントロールごとに必要な項目および標準的な設定項目が決まっており、ユーザが変更することはできない。また値602の各々の設定値はあらかじめ標準的な設定値が設定されており、それらをユーザが必要に応じて設定を変更すればよい。
【００４６】
しきい値検出コントロール403では、図７のような項目の設定が可能である。
【００４７】
この例では、コントロールの名前703を全体しきい値とし、しきい値を検出する検出データ704としてOutlinePrfを使用し、検出値705を500、検出する点が立ち上がりか立ち下がりかを指定するスロープ706を立ち上がりと設定する。また、検出した結果格納先707をWaveLengthとすることを示している。
【００４８】
四則演算コントロール404では、しきい値検出で求めた当該波長に対して加算・減算により詳細スキャンを行なう範囲を設定する機能を有する。これは数式を直接入力することができ、結果を任意の変数に格納することが可能である。この設定例を図８に示す。コントロールの名前803をスキャン範囲設定とし、計算結果を格納する変数を格納先1 804および格納先2 806にそれぞれScanWL_Lower、ScanWL_Upperを設定し、それらに結果を格納したい計算式を計算式1 805および計算式2 807にそれぞれWaveLength-10、WaveLength+10として設定する。
【００４９】
波長スキャンコントロール405での設定例を図９に示す。ここではコントロールの名前903を詳細スキャンとし、前のステップの四則演算コントロールで算出した詳細スキャン範囲でスキャンを行ないたいため、スキャン開始904およびスキャン終了905の設定項目には、先の四則演算でスキャン範囲を格納した変数ScanWL_LowerおよびScanWL_Upperを使用している。また分解能には、詳細に観測するに足りうるよう0.01nmとし、格納先にはDetailPrfを設定する。
【００５０】
次に、詳細スキャンのしきい値検出406を行う。これは全体しきい値のしきい値検出403と同等であり、図７で示された設定項目のうち検出データ704がDetailPrfとなるだけである。
【００５１】
判定コントロールの設定例を図１０に示す。このコントロールは、固定値または変数の２つの値を比較し、分岐をすることが出来るものである。比較の条件は「大きい」「小さい」「等しい」のうち1つを選択し、その条件に従って分岐先を判断する。この例では、コントロールの名前1003をしきい値判定とし、詳細しきい値のしきい値検出結果がWaveLengthに格納されているので、比較値１ 1004にはWaveLengthを、またしきい値が検出できなかったかどうかを判定したので、比較値２ 1005には-1をそれぞれ設定する。また、比較条件1006にはこれら２つの値を比較するときの条件として「等しい」を選択する。
【００５２】
結果表示コントロール409では、ユーザが指定した変数を画面上に表示する機能を有する。このコントロールでは、図１１のような項目の設定が可能である。
【００５３】
表示項目は1から10まで使用でき、それぞれに表示するデータおよび表示するときの名称を指定することができる。本例の図では、画面サイズが大きくなり過ぎるため、すべての項目を表示していないが、これはスクロールバー1111を操作することにより簡単に残りの項目を表示・編集することができる。
【００５４】
これらの項目は、必要がない場合は空欄でもかまわない。また波長スキャン結果などを指定した場合は、自動的にグラフ化されて表示される。この場合、名称には各軸の値に対応する名称を入力することにより、それぞれグラフのx軸およびy軸の値の名称として表示される。
【００５５】
ここでは、全体プロファイル、詳細プロファイル、しきい値検出波長を表示するために、表示項目1データ1104にOutlinePrf、そのグラフの各軸の表示名である表示項目1名称1105に波長(nm),強度を、表示項目2データ1106にDetailPrf、そのグラフの各軸の表示名である表示項目2名称1107に波長(nm),強度を、表示項目3データ1108にWaveLength、表示項目3名称1109にしきい値検出波長と設定している。
【００５６】
このようにして、すべてのコントロールについて設定項目を入力する。また、開始・終了コントロールは名前の設定項目のみであるため、本説明では省略する。また本例では、これ以上の各々の設定項目詳細は特に重要ではないので省略する。
【００５７】
以上の操作で測定手順を作成することにより、簡単に測定手順を定義することができる。作成した手順はそのままファイルとして保存することができるため、あらかじめ必要な手順を作成しておきファイルとして保存しておくことにより、瞬時にして手順を呼び出すことも可能である。この操作はメニュー101やアイコン状に表示されたアイコンボタン107を操作することによって行なう。
【００５８】
次に、作成した手順を実行したときの動作を説明する。手順の実行は、アプリケーションのメニュー101より実行メニューを選択するか、アイコン状に表示されたアイコンボタン107より実行ボタンをクリックすることにより即時実行される。
【００５９】
測定手順の実行が始まると、図４で定めた手順に従い、まず波長スキャン402を行う。このスキャンでは特性を測定するフィルタの使用波長範囲全域をカバーするよう開始および終了波長を設定してある。本例ではスキャン開始波長604を190nmに、スキャン終了波長605を900nmに設定してあるが、必要であれば測定する光学フィルタの波長範囲に合わせて変更すれば良い。また測定結果のデータ量や測定時間があまり大きくならないよう分解能を適宜設定しておく。本例では分解能606を0.60nmとした。この設定は、前述の通り、コントロールごとの設定項目により設定しておくことが可能である。
【００６０】
全体スキャンが完了すると、その結果が結果格納先607の設定項目に従ってOutlinePrfに格納される。これにより、この手順の以降の処理でこの全体スキャンの結果を用いることができる。このとき、190nm〜900nmの範囲を0.60nmの間隔でスキャンするため、スキャン結果の測定点数は(900nm-190nm)/0.60nm=1200点となる。このような複数点のデータにおいても、ユーザが特に意識する必要なく簡単に扱えるようになっている。
【００６１】
スキャン結果の例を図１２に示す。この図は、実際には手順最後の結果表示で表示される。このスキャン結果を用いて、次のしきい値検出403を行なう。しきい値検出403では、スキャン結果データから特定の透過率の波長を検出する。これにより、光学フィルタの過渡帯域波長の実測値が概算できる。
【００６２】
しきい値の検出の演算例として、最大値から最小値までの50％である強度500の波長を求める。この値は、コントロールの設定一覧の検出値705で指定してある。また、検出結果を変数WaveLengthに代入するよう、結果格納先707で指定されている。また、コントロールの特例として、目的の強度が検出できない場合は波長の代わりに-1を結果として格納する。このような処理により、本例のスキャン結果では波長はおよそ550nmと算出される。
【００６３】
次の範囲設定処理では、詳細スキャンでスキャンする範囲を決定する。この後の処理である詳細スキャンでは、しきい値の検出結果によりスキャン波長の範囲を変更したいので、図９に示すスキャン開始904およびスキャン終了905の各々の波長は変数ScanWL_Lower、ScanWL_Upperの値を参照するよう設定しておく。このため、ここでは前ステップで検出したしきい値の波長に対して+10nmの波長をScanWL_Upperに、-10nmの波長をScanWL_Lowerにそれぞれ代入するよう設定しておく。
【００６４】
続いて、上記の検出波長を用い詳細スキャンを行う。ここでは、しきい値の検出結果によりスキャン波長を変更する必要があり、スキャン開始波長および終了波長は前記計算にて算出したScanWL_Lower、ScanWL_Upperにそれぞれ代入されているため、それらの値を使用する。変数に格納されている値を設定項目として使用したい場合は、各々の設定項目に変数名を記述することにより、自動的に変数の値を参照する仕組みになっているため、ScanWL_LowerおよびScanWL_Upperをスキャン開始904およびスキャン終了905にそれぞれ設定すればよい。さらに、詳細スキャンではプロファイルを高分解能で取得したいため、分解能906は0.01nmとしている。また、結果格納先907には、DetailPrfを指定する。このスキャン結果の例を図１３に示す。
【００６５】
このスキャン結果を用いて、次のステップのしきい値の検出を行なう。これは、詳細スキャンで取得したプロファイルの中に、目的とするしきい値が捉えられているかの確認である。ここでも前述のしきい値の検出と同じ処理を行う。これにより、およそ550.15nmと算出される。この結果をWaveLengthに格納するようコントロールの設定一覧で指定しておく。この格納により前回のしきい値の検出結果は上書きされるため失われるが、以前の検出結果は使用することはないので問題はない。特に必要であれば各々別の変数を用いて処理をすればよい。
【００６６】
次に、上記の結果が正常に検出されたかどうかを判定する処理が行われる。先に、しきい値の検出について、目的のしきい値が検出されなければ特例として結果が−１となるとしたが、ここでは結果が−１かどうかの判定を行ない、もし−１であったならばキャンバス上での右方向へ分岐し、範囲修正の処理へと移行する。−１でなければ、下方向へ分岐し、結果表示処理へと移行する。
【００６７】
しきい値の検出ができない例を図１４に示す。この場合は、過渡帯域が長波長側へずれており、強度500にあたる波長は検出できないため、しきい値検出406の結果が−１となる。これにより、この次のしきい値の判断を行なう判定407の処理で、しきい値検出結果が−１と等しいため範囲修正処理である四則演算408へと進む。
【００６８】
この範囲修正処理の四則演算408では、詳細スキャンで得たプロファイルを用いて、スキャン範囲を上側または下側へ移動する処理を行なう。本発明において、処理アルゴリズムの内容は特に重要ではないので説明は省略するが、これによりScanWL_Lower、ScanWL_Upperをそれぞれ長波長側へ移動し、プロファイルが適切に観測できるよう修正される。また、このスキャン結果とは逆にすべてのスキャン範囲で強度500以上となっていた場合は、ScanWL_Lower、ScanWL_Upperをそれぞれ短波長側に移動し、同じくプロファイルが適切に観測できるよう修正される。
【００６９】
この後、再度波長スキャン405にて詳細スキャンを行い、修正した波長範囲でプロファイルの取得を行なう。さらに取得したプロファイルを用いてしきい値検出406を行い、しきい値が検出されなければ同様の処理を行なう。このようにして、しきい値が検出される正常なプロファイルができるまで、プロファイルの取得が繰り返される。
【００７０】
次に、結果表示409にて結果の表示を行なう。いままでの測定手順で、OutlinePrf、DetailPrf、WaveLengthにそれぞれ全体スキャン結果、詳細スキャン結果、詳細スキャン時のしきい値検出波長が格納されているので、それらを表示する。結果表示例を図１５に示す。
【００７１】
以上の手順において、測定結果を確認しながら条件を調整し、再度測定し直すなどの複雑な手順を必要とする測定を簡単に定義し、さらに少ない操作で実行することが可能である。ただし、本手順例では省略したが、上記手順以外にも全体スキャンでしきい値が検出されない場合や、詳細スキャンで繰り返し測定を行なってもしきい値が検出できない場合の例外処理などが必要となる場合もある。
【００７２】
上記作成した分析手順例を転用し、異なる特性を持つ光学フィルタの測定を行なう場合について述べる。
【００７３】
本発明は、従来の特別注文などにより特化して作成されたアプリケーションに対して、作成した測定手順を容易に変更し、目的にあわせて適宜修正できる特徴を備えている。このため、専用アプリケーションを始めから構築するのに比べて、遥かに簡単に新たな目的のアプリケーションへ変更することが可能である。
【００７４】
特定の波長領域のみを通過する特性を有するフィルタについて説明する。本フィルタは、通過領域の長波長側過渡帯域および短波長側過渡帯域の２つについて、前出の例のように詳細スキャンを行ない、詳細スキャン結果および詳細スキャン時のしきい値検出波長を測定する。また、各スキャン時の設定項目やしきい値検出条件について、特に変更が必要ないものについては前例と同一とする。この光学フィルタの特性例を図１６に示す。
【００７５】
この例では詳細スキャンを行なう帯域が２ヶ所となるため、全体スキャン後のしきい値検出から、詳細スキャン、しきい値判定およびしきい値が検出できなかった際の再測定処理などを長波長側過渡帯域でも行なう必要がある。このため、前例で作成した手順の一部をコピーし、詳細スキャン処理を２箇所の波長で行なえるように変更する。手順の複製操作は、キャンバス上でのマウス操作で行う。この瞬間の表示状態を図１７に示す。
【００７６】
手順をコピーするには、まずコピーしたい手順全体を囲む選択線1701と呼ばれる方形の左上の点をマウスカーソル1702で示し、左マウスボタンを押す。次に左マウスボタンを押したままコピーしたい手順全体を囲む方形の右下へ移動する。
【００７７】
この状態でマウスの左ボタンを離すことにより、方形に含まれるコントロールすべてが選択される。この状態を図１８に示す。図１７で長方形に含まれるコントロールが選択状態となっているのがわかる。
【００７８】
ここで、アプリケーションのメニュー101より「コピー」を選択し、次にマウスでコピー先の場所を任意に選択することにより、手順をコピーすることができる。先に選択したコントロールを右隣にコピーした状態の例を図１９に示す。
【００７９】
コピーしたコントロールには、コピー元と同じ設定値が設定されているため、特に必要がなければこれらの設定値を変更する必要はない。
【００８０】
次に、本測定例の測定目的に沿った手順とするために、一度目の詳細スキャンの次に、二度目の詳細スキャンを行ない、その後に結果表示を行ない終了するよう、矢印を接続し直す。矢印の接続の方法は、新規に手順を作成する場合と同じである。
【００８１】
また、結果表示および終了は、手順の流れが見やすくなるように二度目の詳細スキャンの下へ移動すると良い。これらの操作を行い、最終的に作成された測定手順の例を図２０に示す。
【００８２】
以上の測定手順の変更により詳細スキャンを２度行なうように変更したが、このままでは前記のとおりコピーした部分の設定項目が同じであるため、これらを適切に変更する必要がある。この変更は次のように行なう。
【００８３】
詳細スキャンを通過領域の長波長側過渡帯域および短波長側過渡帯域の２つについて行なうよう変更したため、これらの結果を別々に格納するためには、詳細スキャンの格納領域がもう一つ必要である。このときの変数一覧の設定例を図２１に示す。この例のように、長波長側過渡帯域の詳細プロファイルの格納先として、DetailPrf2 2101を追加し、さらに長波長側過渡帯域のしきい値検出波長の格納先としてWaveLength2 2102を追加する。
【００８４】
次に変更が必要な各コントロールの設定項目を変更する。長波長側過渡帯域の全体スキャンのしきい値検出の設定項目の設定例を図２２に示す。ここでは、検出する際のスロープ2201を立ち下がりとすることで、長波長側の過渡帯域の傾斜に対して検出するよう指定する。また、結果格納先2202として、以前のままでは短波長側の検出結果が上書きされてしまうため、WaveLengh2を格納先とする。
【００８５】
以降同様に、コピーした各々のコントロールに対して、WaveLengthをWaveLength2に、またDetailPrfをDetailPrf2にそれぞれ置き換えればよい。それ以外の設定値は特に問題がなければ変更する必要はない。
【００８６】
最後に、結果表示コントロールに長波長側過渡帯域の詳細スキャン結果および短波長側しきい値検出結果を表示するよう追加し、それぞれ判別しやすいよう名称を変更する。この場合の設定例を図２３に示す。また、結果の表示例を図２４に示す。
【００８７】
以上のように、既存の測定条件を用いて新たな測定手順や結果計算処理を追加することが容易にできる。
【００８８】
【発明の効果】
本発明によれば、特殊分野における測定後の結果処理が容易に構築でき、かつ視覚的に作成・表示することができるため、今までユーザが行っていた測定結果処理を簡便容易に作成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る分光分析装置の分析手順を作成する画面の表示例を示す図である。
【図２】本発明による分析処理に必要な装置の構成図である。
【図３】本アプリケーション起動直後のキャンバスの状態を示す図である。
【図４】分析手順の作成例を示す図である。
【図５】分析手順の作成例での変数一覧の設定例を示す図である。
【図６】波長スキャンの設定例を示す図である。
【図７】しきい値検出の設定例を示す図である。
【図８】四則演算の設定例を示す図である。
【図９】波長スキャンの設定例を示す図である。
【図１０】判定の設定例を示す図である。
【図１１】結果表示の設定例を示す図である。
【図１２】全体スキャン時の結果例を示す図である。
【図１３】詳細スキャン時の結果例を示す図である。
【図１４】しきい値が判定できない詳細スキャン結果例を示す図である。
【図１５】結果表示例を示す図である。
【図１６】他の光学フィルタの特性例を示す図である。
【図１７】コントロール選択手順の例を示す図である。
【図１８】コントロール選択状態の例を示す図である。
【図１９】コントロールを複写した直後の例を示す図である。
【図２０】新たな測定手順の例を示す図である。
【図２１】新たな測定手順の変数一覧設定例を示す図である。
【図２２】新たな測定手順のしきい値検出の設定例を示す図である。
【図２３】新たな測定手順の結果表示の設定例を示す図である。
【図２４】新たな測定手順の結果表示例を示す図である。
【符号の説明】
100…ツールバー、101…メニュー、102…キャンバス、103…設定項目一覧、104…注釈、105…変数一覧、106…機能種別ボタン、107…アイコンボタン、200…光源、201…分光器、203…回折格子、205…試料室、206…データ処理部、207…光度計装置部、208…コンピュータ部、301…コントロールの配置、302…選択枠、303…コントロールの接続子。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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