(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
双方向に通信可能な外部通信手段と、
上記外部通信手段に接続されるマイクロコンピュータと、
上記マイクロコンピュータに接続される不揮発性メモリとを有する電子装置において、
アドレスによって規定されている仮想空間が内部に構築され、上記仮想空間上のデータとして上記マイクロコンピュータの内部状態を示すデータが配置されており、
上記マイクロコンピュータの制御によって、上記外部通信手段を介して受信されるデータには、電子装置の通常動作に関するデータと、内部処理を検査するための検査指示データと、電子装置をモニタするためのモニタ指示データとが含まれ、
上記検査指示データには、上記仮想空間上のデータ配置を示すデータと、該データ配置に書き込むべきデータとが含まれ、
上記モニタ指示データには、電子装置をモニタ状態に指定する第１のデータと、電子装置のモニタしたい内部状態を上記仮想空間上で指定する第２のデータとが含まれ、
上記マイクロコンピュータの制御によって、上記外部通信手段を介して送信されるデータには、上記第２のデータによって指定された内部状態を示すデータとが含まれ、
上記マイクロコンピュータは、
上記検査指示データが受信された場合に、上記検査指示データに含まれる上記仮想空間上のデータ配置を示すデータから上記不揮発性メモリへ書き込むべきデータか否かを判断して、書き込むべきデータと判断した場合に、上記検査指示データの一部を上記不揮発性メモリに書き込むとともに、電源投入後に上記不揮発性メモリに書き込まれた上記検査指示データの一部を読み出して内部処理を検査する処理を行い、
上記モニタ指示データが受信された場合に、上記第２のデータによって上記仮想空間上で指示された上記内部状態を示すデータを上記外部通信手段を介して送信する処理を行い、
電源投入直後に上記第１のデータによってモニタ状態に指定された場合には、上記内部処理を検査する処理を行わないようにした
ことを特徴とする電子装置。
【請求項２】
上記モニタ指示データは、上記マイクロコンピュータの制御によって上記外部通信手段を介して周期的に送信されることを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この発明は、その内部を検査し、あるいはモニタすることが可能とされたＶＴＲ等の電子装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の電子機器内部の検査として、ディジタルＩＣのシステムでは、バウンダリースキャン等の方法が知られている。また、インサーキットテスターというある部品の接続をチェックする方法もある。さらに、電子機器の内部状態をモニタする時には、ケースを開けてオシロスコープ等でチェックする必要があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
従来のバウンダリースキャンの手法を使う時には、ＩＣに専用の入出力が必要とされ、また、ディジタルＩＣ間の接続検査にしか使用できない問題が生じる。インサーキットテスターは、高密度実装の電子機器では、テストピンを当てることが難しく、最新の基板実装には不向きである。さらに、電子機器の内部状態をモニタする場合、内部を検査することが可能な状態に機器を分解する必要がある。然も、マイクロコンピュータが制御している内容をモニタすることが殆どできない問題がある。電子機器の多くの機能をマイクロコンピュータが受け持っている機器においては、不具合が発生した時に、その原因を調べることが困難であった。
【０００４】
従って、この発明の目的は、機器内部に直接的に接触することを最小限に抑えて、機器の検査、機器の内部状態のモニタが可能な電子装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、双方向に通信可能な外部通信手段と、
外部通信手段に接続されるマイクロコンピュータと、
マイクロコンピュータに接続される不揮発性メモリとを有する電子装置において、
アドレスによって規定されている仮想空間が内部に構築され、仮想空間上のデータとしてマイクロコンピュータの内部状態を示すデータが配置されており、
マイクロコンピュータの制御によって、外部通信手段を介して受信されるデータには、電子装置の通常動作に関するデータと、内部処理を検査するための検査指示データと、電子装置をモニタするためのモニタ指示データとが含まれ、
検査指示データには、仮想空間上のデータ配置を示すデータと、該データ配置に書き込むべきデータとが含まれ、
モニタ指示データには、電子装置をモニタ状態に指定する第１のデータと、電子装置のモニタしたい内部状態を仮想空間上で指定する第２のデータとが含まれ、
マイクロコンピュータの制御によって、外部通信手段を介して送信されるデータには、第２のデータによって指定された内部状態を示すデータとが含まれ、
マイクロコンピュータは、
検査指示データが受信された場合に、検査指示データに含まれる仮想空間上のデータ配置を示すデータから不揮発性メモリへ書き込むべきデータか否かを判断して、書き込むべきデータと判断した場合に、検査指示データの一部を不揮発性メモリに書き込むとともに、電源投入後に不揮発性メモリに書き込まれた検査指示データの一部を読み出して内部処理を検査する処理を行い、
モニタ指示データが受信された場合に、第２のデータによって仮想空間上で指示された内部状態を示すデータを外部通信手段を介して送信する処理を行い、
電源投入直後に第１のデータによってモニタ状態に指定された場合には、内部処理を検査する処理を行わないようにした
ことを特徴とする電子装置である。
【０００６】
【作用】
電子装置の内部には、ページ、アドレスで階層構造化された仮想空間が構築され、各ページ、各アドレスに事前に規定されたマイクロコンピュータの内部状態のデータ等が配される。これによって、電子装置の個々の構成の相違にかかわらず、外部から検査、モニタを統一的に行うことができる。
【０００７】
【実施例】
以下、この発明について図面を参照して説明する。図１は、この発明の検査システム全体を概略的に示す。このシステムは、検査される電子機器１と検査治具１と両者間の外部バス３と最小限のチェックピン４とで構成されている。電子機器１および検査治具２には、外部通信制御回路５ａおよび５ｂがそれぞれ設けられる。外部通信制御回路５ｂは、電子機器１のマイコン６の一つの機能として実現される。マイコン６は、回路ブロック７を制御できる。外部バス３は、有線あるいは無線の何れでも良い。
【０００８】
マイコン６内部の検査処理の例を図２に示す。外部通信制御回路５ｂは、マイコン６のＩ／Ｏ回路２１と接続され、キー２２から入力されたデータを外部バス３に出力する。キー２２を押したり、離したりした時に、外部バス３に現れるマイコンのポート情報を検査することによって、キー２２とマイコン６との間の接続を検査できる。
【０００９】
また、Ｉ／Ｏ回路２１の出力がヒューマンインターフェース２３を介してメカ制御ブロック２４に供給される。ヒューマンインターフェース２３は、操作性を制御するための回路である。メカ制御ブロック２４の出力がスイッチ回路２５の端子ａおよびモータドライバ２６を介してモータ２７に加えられる。モータドライバ２６およびモータ２７間がチェックピン４を介して検査治具２と接続される。スイッチ回路２５の端子ｂには、外部通信制御回路５ｂの出力が供給される。スイッチ回路２５は、外部通信制御回路５ｂによって制御される。
【００１０】
スイッチ回路２５によって、モータドライバ２６に対する出力を外部通信制御回路５ｂの出力に切り換え、種々のデータを外部バス３を通じて与えることができる。この場合のモータドライバ２６のモータ２７への出力をチェックピン４を通じて検査治具２でモニタすることにより、モータドライバ２６の検査ができる。チェックピン４に代えてドライバ２６の出力をマイコン６のポートに入力して、外部通信でモニタすることもできる。
【００１１】
図３は、この発明によるモニタシステムの概略的に示す。このシステムは、モニタされる電子機器１と外部モニタ２´と両者間の外部バス３とで構成されている。電子機器１および外部モニタ２´には、外部通信制御回路５ａおよび５ｂがそれぞれ設けられる。外部通信制御回路５ｂは、電子機器１のマイコン６の一つの機能として実現される。
【００１２】
電子機器１のマイコン６と外部モニタ２´との間では、次のようなデータが送受信される。外部モニタ２´からは、モニタしたい機器内部データの指示が随時送出される。一方、電子機器１からは、指示された内容についての最新データが周期的に出力される。外部モニタ２´は、外部バス３を通じて伝送された機器の情報をディスプレー８に表示する等の方法により、常時出力している。
【００１３】
図３のモニタシステムによって、電子機器１内部のある内容が外部モニタ２´によってリアルタイムにモニタできる。図４は、上述の図３と同様のマイコン６の内部を示している。マイコン６は、ＲＡＭ２８を有しており、このＲＡＭ２８内にヒューマンインターフェース２３およびメカ制御ブロック２４のそれぞれに対する制御情報が格納されている。Ｉ／Ｏ回路２１内およびＲＡＭ２８内のデータを外部通信制御回路５ｂが取り込むことが可能とされている。従って、これらのデータの中で指示されたものが外部通信制御回路５ｂ、外部バス３を介して外部モニタ２´に送信される。
【００１４】
この発明の他の実施例について以下に説明する。図５は、他の実施例のシステムの全体を示す。電子機器としてのＶＴＲ１ａと周辺機器２ａとが規格化されている通信フォーマット３ａによって結合される。ＶＴＲ１ａは、電子機器１の一例であり、周辺機器２ａは、検査治具２あるいは外部モニタ２’の一例である。通信フォーマット３ａは、外部バス３の一例である。
【００１５】
通信フォーマット３ａは、双方向の周期的な通信フォーマットであり、周辺機器２ａから出力されるＶＴＲ１ａに対する制御データと、ＶＴＲ１ａから周辺機器２ａへ出力されるＶＴＲ１ａの内部状態を表すデータとからなる。
制御データとしては、ＶＴＲ１ａの通常動作に関するデータのほかに、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータと、ＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックを指定するデータと、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータが含まれる。
【００１６】
内部状態を表すデータとしては、ＶＴＲ１ａの通常動作に関するデータのほかに、制御データにより指定されたＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックのデータが含まれる。
周辺機器２ａは、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータをＶＴＲ１ａに送信し続ければ、それ以前にＶＴＲ１ａに指定したデータがＶＴＲ１ａから受信し続けられる。（電源投入後、データの指定無くモニタ状態となったときは、システムで取り決めたデータが出力される。）
【００１７】
ＥＥＰＲＯＭ１３は、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータを保存しておくためのものである。通信フォーマット３ａにより入力した検査データは、その内で電源を切った後にも保存しておきたいデータのみがＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれる。その後、電源が切れ再び電源が入れられたときに、マイコン１２はＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データを読み出し、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査する。
【００１８】
以上により、ＶＴＲ１ａの内部処理の検査と、ＶＴＲ１ａの内部状態の確認ができる。
【００１９】
図５のＶＴＲ１ａ内には、通信フォーマット３ａに対応するマイコン１２、電源オフ後も、記憶しておきたいデータを格納するためのＥＥＰＲＯＭ１３、検査やモニタの対象となる回路１４が含まれる。マイコン１２には、ＥＥＰＲＯＭ１３を管理するマイコン、検査データに基づいて例えばＲＯＭを検査するためのマイコン、検査データの使用の可否を判断するマイコンが含まれる。周辺機器２ａは、検査やモニタ用の、また、仮想空間アクセス用のコマンドが出せる等の機能を有している。
【００２０】
この実施例では、電子機器であるＶＴＲ１ａの中身を気にせずに外部から検査を行えるようにするために、次のような仮想空間の概念が導入される。
周辺機器２ａは、通信フォーマット３ａでＶＴＲ１ａ本体内の仮想空間をアクセスする。
ＶＴＲ１ａ本体内の仮想空間には、検査用や内部モニタ用に定義されたデータが配置される。例えばカメラモードとＶＴＲモードの切り替えスイッチ等が配置される。
仮想空間上のデータの配置は、ページ、カテゴリー、アドレスという概念で定義される。例えばカメラモードとＶＴＲモードの切り替えスイッチは、ページ０／カテゴリー０／アドレス０で定義される。
仮想空間上の各アドレスは、８ビット分のデータで構成される。
【００２１】
ＶＴＲ１ａ内の仮想空間の配置は、ページ、カテゴリー、アドレスを用いて階層構造とされている。但し、カテゴリー構造をとらないページもある。図６は、構造化された仮想空間の一例を示すものである。なお、仮想空間は、全領域を使用する必要がなく、使用目的が定義されていないアドレスも存在する。ページ・カテゴリー・アドレスの各データは、周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力される制御データにより設定される。
【００２２】
通信フォーマット３ａを用いた検査やモニタのシステムは、仮想空間上に機能を定義し、通信フォーマット３ａを介してデータをモニタしたり、変更したりしながら、検査を行う。仮想空間上に配置されるデータとしては、マイコン１２が処理できるものが定義され、マイコン１２のマスクＲＯＭやＲＡＭやＩ／Ｏエリアや、マイコン１２が制御しているＥＥＰＲＯＭの内容である。
【００２３】
ＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータも、仮想空間上に配置される。ＶＴＲ１ａの内部処理の検査と、ＶＴＲ１ａの内部状態の確認をするための通信フォーマット３ａのデータ構成の一例はつぎのようなものになる。
【００２４】
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａの内部処理を検査するためのデータは、仮想空間上のデータ配置を示すデータや、そこに書き込むべきデータや、書き込みを指示するコマンドから構成される。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａのモニタしたい内部のブロックを指定するためのデータは、モニタしたい内部状態の仮想空間上のデータ配置を示すデータや、モニタ状態を指示するコマンドから構成される。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力されるＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定するデータは、モニタ状態を指示するコマンドから構成される。
ＶＴＲ１ａから周辺機器２ａに出力されるＶＴＲ１ａの内部モニタデータは、現在モニタしているＶＴＲ１ａの機能の仮想空間上のデータ配置を示すデータや、その機能の現在データとから構成される。
【００２５】
通信フォーマット３ａに対応するマイコン１２の処理としては、例えば次のようなことが行われる。
周辺機器２ａからＶＴＲ１ａに出力された、仮想空間上のデータ配置を示すデータとそこに書き込むべきデータと書き込みを指示するコマンドをデコードすると、仮想空間上のデータ配置からＥＥＰＲＯＭ１３に書き込むべきデータであることを判断し、ＥＥＰＲＯＭ１３への書き込みを実行する。その後、電源が切れ再び電源が入れられたときに、マイコン１２はＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データを読み出し、ＶＴＲ１ａの内部処理を検査する。尚、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた時点では、まだ内部処理への検査は行われない。
【００２６】
ＶＴＲ１ａの内部処理の検査データのデータ構成の一例を表１に示す。
【表１】
0003735866.tif 000002
【００２７】
検査データの総容量を示すデータ、検査すべきブロックを制御しているマイコンを示すデータ、検査内容を示すデータ、エラーチェックデータが配置される。この実施例では、検査制御ブロックとしては、ＶＴＲ１ａ内に含まれる複数のマイコンの少なくとも１つを想定している。また、ＶＴＲ１ａが複数の検査を行うことも想定される。
【００２８】
エラーチェックデータによって、ＥＥＰＲＯＭ１３上に書き込んだ検査データが破壊されていないかがチェックされ、また、ＥＥＰＲＯＭ１３からそのデータを使用するマイコンまでの伝送路上で、検査データが破壊されなかったかがチェックされる。
【００２９】
ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれた検査データは、電源が切れ再び電源が入れられたときに、検査すべきブロックを制御しているマイコンに検査データの総容量を示すデータが伝送され、更に、データ破壊が無いと判断されたときに内部処理への検査が可能となる。尚、この実施例では検査データ作成時のミスによる問題を回避するために、マイコンが検査処理を行わないように制御することを可能としている。例えば、電源投入直後に通信フォーマット３ａにより、ＶＴＲ１ａをモニタ状態に指定された場合は、検査処理を行わないようにするなどである。
【００３０】
検査システムのより具体的な例は、システムコントローラのマイコンのＲＯＭに量産後に発見されたバグの検査である。かかるＲＯＭには、搭載される電子機器を制御するためのプログラムやデータ等の情報がファームウェアの形式で固定的に格納される。ファームウェアの品質については、プログラムの構造化や、種々のチェックにより量産後にバグが発生しないように努力される。しかしなから、若し、量産後にバグが発見されると、その検査のためには、多大な労力が必要である。上述のこの発明は、この場合に、検査データを一度与えるだけで、バグの検査が可能とできる。
【００３１】
ＲＯＭのバグの検査のためには、検査内容を示すデータとして、ＲＯＭにおける検査部分のアドレスまたはスタートアドレス（すなわち、検査アドレス）と、検査部分にパッチしたい内容や、パッチ後に復帰するＲＯＭ上のアドレス等（すなわち、検査内容）で構成される。この検査内容を示すデータがＥＥＰＲＯＭに書込まれる。検査アドレスや検査内容は電子機器の内部に検査処理が可能な状態で常駐する。そして、ＲＯＭの検査アドレスが検査内容に変更される。例えば検査レジスタに蓄えられている検査内容が検査アドレスに関して、ＲＯＭの出力の代わりにデータバスに出力される。
【００３２】
【発明の効果】
この発明によれば、双方向に通信可能な外部通信手段（通信フォーマット）が通常動作例えばリモートコントロール用のものと兼用されており、修正のために殊更に外部通信システムを設置する必要がない。さらに、マイクロコンピュータは受信した検査用データおよびモニタ用データを判別して、各々の処理を行うので、マイクロコンピュータの入力／出力を制御するための特別なハードウェアが不要であり、かつ、機器内部に直接触れることを最小限に抑えて機器の検査と機器の内部状態のモニタとの双方を行うことが可能である。従って、この発明は、インサーキットより低いコストで検査システムを構築できる。
【００３３】
また、この発明は、機器の製造後でも、マイクロコンピュータの内部状態を中心とした機器の内部状態が機器を開けることなく、リアルタイムにモニタできる。従って、出荷前の最終チェックや、サービスステーションにおける機器の検査、製造後に発生した不具合の検討等が、機器を分解せずに、通常動作状態で、マイクロコンピュータの内部制御状態までも含めて行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明による検査システムの概略的なブロック図である。
【図２】この発明の検査システムの一実施例のブロック図である。
【図３】この発明によるモニタシステムの概略的なブロック図である。
【図４】この発明のモニタシステムの一実施例のブロック図である。
【図５】この発明の他の実施例のブロック図である。
【図６】電子装置内部の仮想空間の説明のための略線図である。
【符号の説明】
１ａ  ＶＴＲ本体
２ａ  周辺機器
３ａ  通信フォーマット
１３  ＥＥＰＲＯＭ
【図１】
0003735866.tif 000003
【図２】
0003735866.tif 000004
【図３】
0003735866.tif 000005
【図４】
0003735866.tif 000006
【図５】
0003735866.tif 000007
【図６】
0003735866.tif 000008