(57)【要約】記録媒体にデータを書込み、また、記録媒体からデータを読み出す記録再生装置において、それぞれ互いに異なるマーク長とスペース長との複数の組を含むように規定される記録パターンに対応するデータが記録媒体に書き込まれ、その後、このデータを読み出すことでデータ信号が生成される。エッジシフト検出器は、データ信号を用いて、記録媒体上に形成されたマークのエッジシフト量を、マーク長とスペース長との組ごとに測定する。記録制御器は、測定されたエッジシフト量に基づいて、マーク長とスペース長との組ごとに記録パラメータを設定する。
2002084653.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に形成されるマークおよびスペースの組み合わせによって表現されるデータを前記記録媒体に書込むこと、および／または前記記録媒体から前記データを読み出すことを行なう装置であって、
それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定される記録パターンに対応する所定データを前記記録媒体に書き込む書き込み部と、
前記記録媒体から前記所定データを読み出し、前記所定データに対応するデータ信号を生成する読み出し部と、
前記データ信号を用いて、前記記録媒体上に形成された前記マークのエッジシフト量を、前記マーク長とスペース長との組ごとに測定するエッジシフト検出器と、
前記測定されたエッジシフト量に基づいて、前記マーク長とスペース長との組ごとに記録パラメータを設定する記録制御器と
を備える装置。
【請求項２】
前記記録媒体に記録されたデータを読み出すことで得られる再生信号に基づいてクロック信号を生成するクロック生成器をさらに有し、
前記エッジシフト量は、前記データ信号と前記クロック信号との間の位相誤差として検出される請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記クロック生成器は、前記再生信号と前記クロック信号との間の位相誤差が全体として０に近づくように前記クロック信号を制御する請求項２に記載の装置。
【請求項４】
最短マーク長および最短スペース長をｍＴ（ただし、ｍは１以上の所定の整数、Ｔはクロック信号の周期）として表現するとき、
前記マーク長とスペース長との複数の組は、ｍＴ〜（ｍ＋ａ）Ｔのマーク長と、ｍＴ〜（ｍ＋ｂ）Ｔのスペース長との組み合わせ（ただしａおよびｂは０以上の任意の整数）であり、前記記録パターンは前記組み合わせを連続して含むように規定されており、
前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記マークの始端におけるエッジシフト量と、前記マークの終端におけるエッジシフト量とを、それぞれ別個に測定する請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記記録パターンは、前記記録パラメータの設定を行なうべき所定の前記マーク長とスペース長との前記組を１回ずつ含むように規定された単位パターンを有する請求項４に記載の装置。
【請求項６】
前記エッジシフト検出器は、符号付のエッジシフト量を前記マーク長とスペース長との組ごとに累積する請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト量に対応する出力値を出力する請求項１に記載の装置。
【請求項８】
前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値が所定の範囲内にあるか否かを判断し、前記出力値が前記所定の範囲内にないと判断された前記マーク長とスペース長との組についてのみ前記記録パラメータを変更する請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値の絶対値が所定値未満であるか否かを判断する請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記マーク長とスペース長との複数の組のうちの所定の１組に関連づけられた前記エッジシフト検出器の前記出力値が基準値として用いられ、
前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値と前記基準値との差が所定の範囲内にあるか否かを判断し、前記差が前記所定の範囲内にないと判断された前記マーク長とスペース長との組についてのみ、前記記録パラメータを変更する請求項８に記載の装置。
【請求項１１】
前記記録制御器は、前記エッジシフト検出器の前記出力値の符号に基づいて、前記記録パラメータを増加させるか減少させるかを決定する請求項７に記載の装置。
【請求項１２】
前記記録制御器は、前記エッジシフト検出器の出力値の大きさに基づいて、前記記録パラメータの増減量を決定する請求項１１に記載の記録装置。
【請求項１３】
前記記録制御器は、前記記録パラメータの増減量を決定する際、前記マーク長とスペース長との組に応じて、前記出力値の大きさに対する前記増減量の重み付けを行なう請求項１２に記載の記録装置。
【請求項１４】
前記データ信号を２値化することによって２値化信号を生成する２値化回路を更に有し、
前記２値化信号に基づいて、前記データ信号における特定の前記マーク長とスペース長との組が識別される請求項１に記載の記録装置。
【請求項１５】
記録媒体に形成されるマークおよびスペースの組み合わせによって表現されるデータを前記記録媒体に書込むこと、および／または前記記録媒体から前記データを読み出すことを行なう装置であって、
それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定される所定の記録パターンに対応する所定データを前記記録媒体に書き込む書き込み部と、
前記記録媒体から読み出された前記所定データに基づいて、前記記録媒体上に記録された前記マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト検出器とを備え、
前記所定の記録パターンは、前記マーク長とスペース長との複数の組のそれぞれが同一頻度で出現し、かつ、ＤｉｇｉｔａｌＳａｍ  Ｖａｌｕｅが０となるように規定されている装置。
【請求項１６】
最短マーク長および最短スペース長をｍＴ（ただし、ｍは１以上の所定の整数、Ｔはクロック信号の周期）で表現するとき、
前記所定の記録パターンは、（ｍ＋ａ）Ｔのマーク長と、（ｍ＋ｂ）Ｔのスペース長と、前記マークの始端および終端のそれぞれに応じて決まる極性とのａ×ｂ×２通りの組み合わせ（ただしａおよびｂは０以上の任意の整数）が各１回ずつ出現するように規定された単位パターンを有する請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト量を測定する請求項１６に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光ディスクなどの記録媒体に情報を記録するおよび記録媒体から情報を再生する装置に関する。
背景技術
現在、光ディスクや光磁気ディスクなどの可搬記録媒体にデジタル情報（データ）を記録し、かつ、記録媒体からデジタル情報を再生する記録再生装置が広く用いられている。例えば、レーザ光を用いてＤＶＤ−ＲＡＭに情報を記録する記録再生装置では、記録されるデータに応じて、複数の長さの異なるマークおよびスペースが光ディスク上に形成される。光ディスク上に形成されたマークおよびスペースはレーザ光を用いて読み出され、これによってデータが再生される。
しかし、同じレーザパワーまたはパルス波形を持つレーザ光を用いて書込みを行なったときにも、装置や記録媒体の個体差によって、記録媒体上に形成されるマークの形状が異り得る。マークの形状が所望の形状からずれていると、読み出された再生信号の波形が本来の波形からずれ、これによって再生品質が低下する。このため、記録再生装置では、記録媒体上に記録したデータを再生したときの再生信号の品質が、装置または記録媒体ごとに大きく異なり得るという問題が生じる。
このような再生信号の信頼性の低下を防止するために、記録再生装置では、記録媒体の装填時などにおいてテスト記録が行われている。具体的には、所定のデータを記録媒体上の所定の領域に記録し、この記録されたデータを再生して信号品質を確認する。記録再生装置は、その結果に基づいて再生系の特性の最適化や記録に関するパラメータ（記録パラメータ）の最適化を行う。
なお、本明細書において、記録パラメータとは、記録媒体上に形成されるマークの形状を変化させ得るような、装置の記録動作を規定するパラメータを広く意味するものとする。典型的には、記録パラメータは、光ディスクなどにレーザ照射を行なう際に用いられる記録パルスの波形を規定するパラメータ（例えばパルス幅、パルスエッジ位置など）である。
特に、相変化媒体を利用する光ディスクのようにレーザ照射により熱が与えられることで情報が記録される記録媒体においては、熱干渉によって、媒体上に所望でない形状のマーク（すなわち、エッジ位置がシフトしたマーク）が形成されやすい。この熱干渉の程度は、記録媒体上に形成されるマークおよびスペースのパターンによっても異なる。従って、このような記録媒体を用いる場合、上記のパターンに応じて最適な記録パラメータを設定することが好ましい。
テスト記録において、再生信号の品質は、例えば、ジッタ（再生信号の時間軸方向の揺れ）によって判断される。図１は、再生信号のジッタが最小となるように再生系の特性あるいは記録パラメータの最適化を行なう従来の光ディスクドライブ９００を示す。
光ディスクドライブ９００は、光ディスク１に情報を書込むまたは光ディスク１から情報を読み取るための光学ヘッド２を有している。データを読み取るとき、光ディスク１に対して照射された光の反射（反射光）は、光学ヘッド２において、記録されたデータに対応する再生信号に変換される。
再生信号は、波形等化器３によって波形整形された後、コンパレータ４によって２値化される。このコンパレータ４のしきい値（スライスレベル）は、不図示の積分回路などによって、コンパレータ４からの２値化出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。これは、通常、再生信号を積分すると０になるような記録方式が採用されており、再生信号が理想的には直流成分を有さない（すなわちＤＣフリーである）ことを利用して、外的要因（例えば、記録媒体の反射率変動など）によって生じる再生信号の所望でない変動を抑制するためである。
次に、位相比較器５において、コンパレータ４からの２値化出力と再生クロック信号との位相誤差が測定される。この再生クロック信号は、ＰＬＬ（ｐｈａｓｅ  ｌｏｃｋｅｄ  ｌｏｏｐ）回路によって、再生信号に含まれるクロック情報から抽出される。より具体的にいうと、位相比較器５において検出された位相誤差をＬＰＦ（ローパスフィルタ）６によって平均処理し、これをＶＣＯ（電圧制御発振器）７の制御電圧として用いる。このとき、ＶＣＯ７の発振周波数および出力されるクロック信号の位相は、位相比較器５から出力される位相誤差の累積が０になるようにフィードバック制御される。これによって、ＶＣＯ７からは、再生信号と同期が取られた再生クロック信号が出力される。
ただし、ＰＬＬ回路を用いて生成された再生クロック信号を用いる場合であっても、形成されたマークのエッジにおいて所望でないずれ（シフト）が生じており、マークの長さが理想的な長さと異なるときには、２値化信号と再生クロック信号との間に位相誤差が生じる。光ディスクドライブ９００では、この位相誤差に基づいて再生信号のジッタが測定される。以下、光ディスクドライブ９００における記録パラメータの校正動作についてより具体的に説明する。
まず、初期設定された記録パラメータおよびパターン発生回路８から出力される所定の記録パターンに従って、記録補償回路９は記録パルス信号を生成する。この記録パルス信号を用いて、レーザ駆動回路１０は、所定の記録パターンに応じたデータを光ディスク１に記録する。
次に、このデータが記録された光ディスク１上のトラックが読み出される。このとき誤差検出回路１１は、位相誤差比較器５から、コンパレータ４の出力（２値化信号）とＶＣＯ７の出力（再生クロック信号）との位相誤差を受け取り、この位相誤差の絶対値を積分する。このように、誤差検出回路１１は、位相誤差の絶対値を積分することによって、ジッタと相関をもつ値（ジッタ量）を測定し、これを出力する。
このように位相誤差の絶対値を積分している理由は、ジッタは、再生信号のずれの分散（ばらつき）の程度を表すものであるからである。このため、ジッタと相関をもつ値を得るためには、符号（極性）を無視して位相誤差を加算する必要がある。
このようにして得られたジッタ量に基づいて、光ディスクドライブ９００は、用いられた記録パラメータが適切であったか否かを判断することができる。検出されるジッタ量が大きいことは、記録パラメータが適切でないことを意味する。
また、光ディスクドライブ９００は、記録パラメータを最適化するために、その値を変化させながら上述の動作を繰り返す。これにより、記録パラメータ毎に、それぞれに対応するジッタ量が検出される。このうち、ジッタ量が最小となる記録パラメータを選択することで、記録パラメータの最適化が行われる。
以下、図２および図３を参照しながら、再生信号のジッタ測定に基づく記録パラメータの最適化の手順についてより詳細に説明する。以下には、６Ｔスペース、４Ｔマーク、６Ｔスペース、８Ｔマークの繰り返しで規定される記録パターンを用いてテスト記録を行なうことによって、４Ｔマークの後側のエッジ（以下、終端エッジという）の位置を規定する記録パラメータの最適化を図る場合を例示する。なお、本明細書では、記録媒体上に形成されたマークまたはスペースに対応する記録パターンの極性反転期間（パルス幅）がｍＴ（ｍは１以上の整数、Ｔはクロック周期）である場合に、そのマークまたはスペースをｍＴマークまたはｍＴスペースと呼ぶことがある。また、上記極性反転期間ｍＴは、マークまたはスペースの長さに対応するものであることから、本明細書では、マークの長さおよびスペースの長さをｍＴというように表現することがある。
光ディスク１では、６Ｔ以上の長いマークとスペースとが連続する場合には熱干渉によるマークエッジのシフトが生じにくく、６Ｔ以上の長いマークとスペースとの組み合わせに関しては、各組み合わせに共通の最適な記録パラメータが既に設定されているものとする。すなわち、この例においては、６Ｔスペースと８Ｔマークとにおけるマーク始端エッジ、または、８Ｔマークと６Ｔスペースとにおけるマーク終端エッジについては、最適な記録パラメータで記録されているものとする。
図２（ａ）のような周期的なＮＲＺＩ（ｎｏｎ−ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  ｚｅｒｏ  ｉｎｖｅｒｔｅｄ）信号（記録パターン）がパターン発生回路８から与えられ、また、所定の記録パラメータが光ディスクコントローラ１２から与えられると、記録補償回路９は、例えば、図２（ｂ）に示すようなレーザ駆動信号（記録パルス信号）を生成する。ここで、図２（ｂ）に示すＴｓｆｐはマークの前側のエッジ（以下、始端エッジという）の位置を決定する記録パラメータであり、Ｔｅｌｐはマーク終端エッジの位置を決定する記録パラメータである。これらの記録パラメータに基づいて記録パルス信号が生成される。
このようにして生成された記録パルス信号に従って光ディスク１上にレーザを照射することによって、光ディスク１上には、図２（ｃ）に示すように物理的にマークが形成される。記録層として相変化媒体層を用いる光ディスク１では、このマークは記録層におけるアモルファス領域として形成される。
ここで、４Ｔマークの終端エッジの位置を定める記録パラメータであるＴｅｌｐの値を、Ｔｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合のそれぞれについて考える。なお、Ｔｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３は、４Ｔマークを書込むためのマルチパルスのうちのラストパルスの幅に相当し、Ｔｅｌｐ１＜Ｔｅｌｐ２＜Ｔｅｌｐ３の関係を満たす。また、Ｔｅｌｐ２は、マークの形状が所望の形状となるような最適な記録パラメータであるものとする。このように記録パラメータＴｅｌｐを、Ｔｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合において、光ディスク上に形成される４Ｔマークの形状（マーク終端エッジの位置）は図２（ｃ）に示すように変化する。
記録パラメータＴｅｌｐを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図２（ｄ−１）の実線で示すような再生信号が得られる。なお、図２（ｄ−１）において、破線は、ＴｅｌｐをＴｅｌｐ１またはＴｅｌｐ３に設定した場合における再生信号を表す。
上述のように図２（ｄ−１）の実線で示すような再生信号が得られると、この再生信号に基づいて、コンパレータ４のしきい値Ｔｈ１は、その２値化出力の積分値が０となるように設定される。このようにして設定されたしきい値Ｔｈ１を用いて２値化が行なわれ、これにより２値化信号が得られる。さらに、位相比較器５において、コンパレータ４から出力される２値化信号と再生クロック信号との位相誤差が検出され、検出された位相誤差の積分値が０となるように再生クロック信号がフィードバック制御される。このようにして、図２（ｅ−１）に示すような再生クロック信号が生成される。
一方、記録パラメータＴｅｌｐを、最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値Ｔｅｌｐ１に設定した場合、図２（ｄ−２）の実線で示すような再生信号が得られる。この場合、４Ｔマーク終端エッジのエッジポジションが時間軸方向にシフトしているため、コンパレータ４のしきい値Ｔｈ２は、図２（ｄ−２）に示すように、図２（ｄ−１）に示すレベルＴｈ１よりも高くなる。これにより、コンパレータ４から出力される２値化信号も変化する。また、この２値化信号との位相誤差の積分値が０となるように生成された再生クロック信号は、図２（ｅ−２）に示すように、図２（ｅ−１）に示すクロック信号に比べて位相が進んだものとなる。
逆に、記録パラメータＴｅｌｐを、最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値Ｔｅｌｐ３に設定した場合、図２（ｄ−３）の実線で示すような再生信号が得られる。この場合、４Ｔマーク終端エッジのエッジポジションが時間軸方向にシフトしているため、コンパレータ４のしきい値Ｔｈ３は、図２（ｄ−３）に示すように、図２（ｄ−１）に示すレベルＴｈ１よりも低くなる。これにより、コンパレータ４から出力される２値化信号も変化する。また、この２値化信号との位相誤差の積分値が０となるように生成された再生クロック信号は、図２（ｅ−３）に示すように、図２（ｅ−１）に示すクロック信号に比べて位相が遅れたものとなる。
ここで、マーク終端エッジ（再生された２値化信号の立ち上がりエッジ）での、再生信号（ここではコンパレータから出力される２値化信号）と再生クロック信号との時間ずれまたは位相誤差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、記録パラメータＴｅｌｐをＴｅｌｐ１〜Ｔｅｌｐ３とした場合のそれぞれで図３（ｆ１）〜図３（ｆ３）に示すような分布が得られる。なお、図３（ｆ１）〜図３（ｆ３）のそれぞれには、４Ｔマーク終端エッジに関連する上記位相誤差の分布を示す曲線と、８Ｔマーク終端エッジに関連する上記位相誤差の分布を示す曲線とが示されている。また、４Ｔマーク終端エッジのばらつきと、８Ｔマーク終端エッジのばらつきとは、同じ分散値の正規分布を持つものと仮定している。
図３（ｆ−２）は、記録パラメータＴｅｌｐを適切な値Ｔｅｌｐ２に設定した場合を示す。この場合、４Ｔマーク終端エッジを表す再生信号の立ち上がりエッジと再生クロックとの間の位相誤差の分布は０を中心とする正規分布となり、この位相誤差の平均値は０となる。また、８Ｔマーク終端エッジを表す再生信号の立ち上がりエッジと再生クロックとの位相誤差の分布も０を中心とする正規分布となり、この位相誤差の平均値が０となる。すなわち、両者の分布曲線は略重なるように形成される。このように、４Ｔマークの終端エッジの位置を規定する記録パラメータが適切である場合には、再生信号のトータルのジッタは最小になる。
しかし、記録パラメータＴｅｌｐがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値）の場合は、図２（ｅ−２）に示すように再生クロック信号の位相が図２（ｅ−１）に示したものに比べてずれているため、図３（ｆ−１）に示すように、４Ｔマーク終端エッジに関連する位相誤差の平均値および８Ｔマーク終端エッジに関連する位相誤差の平均値のそれぞれは０とはならない。これらの位相誤差の分布は重ならず、０から同じ距離だけ離れたところに中心をもつ正規分布となる。すなわち、４Ｔマーク終端エッジのシフトによって再生クロックの位相が変化するので、４Ｔマークだけでなく、本来適切な記録パラメータで記録されていた８Ｔマークに対応する再生信号においても、その位相誤差の平均（分布曲線のピーク）が０にはならなくなる。この結果、図３（ｆ−２）の場合と比べて、再生信号とクロック信号とのずれ幅が全体として大きくなり、再生信号のジッタが増大する。
同様に、記録パラメータＴｅｌｐがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値）の場合は、図３（ｆ−３）に示すように、４Ｔマーク終端エッジに関連する位相誤差の平均値と８Ｔマーク終端エッジに関連する位相誤差の平均値とが０にならず、これらの位相誤差の分布は重ならず、０から同じ距離だけ離れたところに中心をもつ分布となる。なお、図３（ｆ−３）に示す２つの分布曲線と図３（ｆ−１）に示した２つの分布曲線とでは、４Ｔマーク終端エッジに関する分布と８Ｔマーク終端エッジに関する分布とが入れ替わっていることになる。この場合も、図３（ｆ−２）の場合と比べて、再生信号とクロック信号とのずれの分散が広がるため、再生信号の全体的なジッタが増大する。
このようなジッタの増大を抑制するために、図１に示す光ディスクドライブ９００は、再生信号とクロック信号との位相誤差の絶対値を累積することでジッタと相関のある値を求め、この値が最小となるように記録パラメータを選択している。図３（ｇ）は、設定された記録パラメータＴｅｌｐと、誤差検出回路１１から出力されるジッタ量（すなわち、位相誤差の絶対値の累積値）との関係を示すグラフである。このグラフからわかるように、記録パラメータＴｅｌｐがＴｅｌｐ２の時に、誤差検出回路１１から出力されるジッタ量が最小となる。光ディスクドライブ９００は、このような最適な記録パラメータＴｅｌｐ２を見つけるために、記録パラメータＴｅｌｐを変化させて所定のデータを書込む。
なお、上記の例では４Ｔマーク終端エッジの記録パラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、４Ｔマーク始端エッジを規定する記録パラメータＴｓｆｐについても、上記と同様の記録パターン（すなわち、６Ｔスペース、４Ｔマーク、６Ｔスペース、８Ｔマークの繰り返しパターン）を用いて最適な値を決定することができる。
さらに、その他の長さのマークについても、同様の手順によって、最適な記録パラメータを決定する。ただし、この場合、マーク長とスペース長との組み合わせのそれぞれに対応する特定の記録パターンを用いてテスト記録が行われる。例えば、６Ｔスペース、３Ｔマーク、６Ｔスペース、９Ｔマークの繰り返しからなる記録パターンを用いて、３Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせにおける３Ｔマーク終端エッジに係る記録パラメータと、６Ｔスペースと３Ｔマークとの組み合わせにおける３Ｔマーク始端エッジに係る記録パラメータとを最適化する。
以下、マーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定される記録パラメータについてより具体的に説明する。
光ディスク装置では、符号変調方式などに応じて、記録データ信号の極性反転期間が所定の期間に限定される。すなわち、記録媒体上に形成されるマークおよびスペースの長さは所定の範囲に限定されている。例えば、符号変調方式として８／１６変調を採用する場合、記録すべきデータは、クロック周期Ｔの整数倍である３Ｔ〜１１Ｔの反転期間を持つ記録パターンで表され、また、同期検出のために記録されるＳＹＮＣコードは１４Ｔの反転期間を持つ記録パターンで表される。このような記録パターンに基づいて、記録媒体上に、上記３Ｔ〜１１Ｔまたは１４Ｔの反転期間に対応する長さのマークまたはスペースが形成される。本明細書では、このことを、３Ｔ〜１１Ｔまたは１４Ｔの長さのマークまたはスペースが形成されるというように表現する。
ここで、記録データ信号の最小極性反転間隔をｍＴとし、最大極性反転間隔をｎＴとする（ただし、ｍ、ｎは１以上の整数）。この場合、形成されるマークおよびスペースの長さはｍＴ〜ｎＴで表される。なお、マークの場合とスペースの場合とで、ｍ（またはｎ）の値は互いに異なるものであっても良いが、ここでは同じとしている。
この場合において、記録媒体上に形成されるマークの始端エッジ位置は、マーク直前のスペースの長さとマーク自身の長さとに応じて変化し得る。従って、始端エッジ位置を規定する記録パラメータＴｓｆｐは、直前のスペースの長さｍＴ〜ｎＴとマーク自身の長さｍＴ〜ｎＴとの組み合わせ毎に設定される。また、マーク終端位置に関する記録パラメータＴｅｌｐは、自身のマークの長さｍＴ〜ｎＴと直後のスペースの長さｍＴ〜ｎＴとの組み合わせごとに設定される。
ただし、上述したように、比較的長いマークと比較的長いスペースとの組み合わせではマークのエッジシフトは生じにくい。このため、所定の長さ以上のマークとスペースとの組み合わせに対しては、各組み合わせ毎に記録パラメータを別個に規定する必要はない。このようなマークの所定の長さを（ｍ＋ａ）Ｔ、スペースの所定の長さを（ｍ＋ｂ）Ｔとする（ただし、ａ、ｂは、０以上ｎ未満の整数）。この場合、記録媒体上に形成されるマークの始端エッジの位置は、マーク直前のスペースの幅ｍＴ〜（ｍ＋ｂ）Ｔとマーク自身の長さｍＴ〜（ｍ＋ａ）Ｔとの組み合わせに依存して変化し得る。また、記録媒体上に形成されるマークの終端エッジの位置は、マーク自身の長さｍＴ〜（ｍ＋ａ）Ｔと直後のスペースの幅ｍＴ〜（ｍ＋ｂ）Ｔとの組み合わせに依存して変化し得る。
従って、記録パラメータは、好適には、ａ通りのマークの長さと、ｂ通りのスペースの長さと、マーク始端エッジまたはマーク終端エッジのいずれであるかとの組み合わせ（ａ×ｂ×２通りの組み合わせ）のそれぞれについて規定される。
例えば、ｍ＝３、ａ＝ｂ＝３とすると、以下、表１（マーク始端エッジを規定する記録パラメータＴｓｆｐ）および表２（マーク終端エッジを規定する記録パラメータＴｅｌｐ）に示すように３２通りの記録パラメータが規定される。これは、現在広く用いられている４．７ＧＢの記録容量を有するＤＶＤ−ＲＡＭディスクの規格に対応するものである。
2002084653.tif 000003
2002084653.tif 000004
なお、上記表１および表２には、例えば３Ｔのマークを「３Ｔｍ」というように記載し、例えば３Ｔのスペースを「３Ｔｓ」というように記載している。また、表内の数値は記録パラメータを例示したものである。光ディスクドライブ９００は、このように、マーク長とスペース長との組み合わせ毎に規定されたマーク始端エッジおよびマーク終端エッジに関する３２通りの記録パラメータのそれぞれについて最適化を行なう。
以下、図４のフローチャートを参照しながら、全ての記録パラメータを最適化する場合における光ディスクドライブ９００の動作を説明する。
まず、ステップＳ１に示すように、記録媒体のテスト記録領域に光ヘッド１を移動（ジャンプ）させる。光ディスクドライブ９００は、ここでテスト記録を行なうことによって、マーク長とスペース長との組み合わせ毎、およびマーク始端エッジまたはマーク終端エッジのいずれかによって別個に規定されている複数の記録パラメータのそれぞれについて最適化を行う。
次に、ステップＳ２に示すように、最適化されていない記録パラメータが存在するか否かが判断され、存在する場合には、その記録パラメータについての最適化が実行される。
この最適化のために、その記録パラメータに関連付けられた記録パターンを用いてテスト記録が行われる。テスト記録では、領域（例えばセクタ）毎に、記録パラメータの値を変化させながら、その記録パラメータに対応するものとして選択された所定の記録パターンに基づいて記録が行われる（ステップＳ３）。これにより、各領域には、記録パラメータの値に応じてエッジ位置が異なるマークが形成される。
次に、テスト記録領域に記録されたデータの再生が行われ、記録パラメータの値を変化させて記録が行なわれた領域毎に、誤差検出器５から出力されるジッタ量を測定する（ステップＳ４）。これにより、記録パラメータの値とジッタとの関係がわかるため、光ディスクドライブ９００は、ジッタが最小となる記録パラメータの値を最適値として選定することができる（ステップＳ５）。このようにして記録パラメータが最適化される。
その後、ステップＳ２において、さらに最適化すべき記録パラメータが存在する場合には、上記と同様にして、その記録パラメータについての最適化が行なわれる。この動作を繰り返すことによって、全ての記録パラメータを最適化することができる。
このように、従来の校正動作では、全ての記録パラメータについて、その最適化は、複数のパラメータ値の中からジッタが最小になるパラメータ値を選択することで実行される。しかしこの場合には、各記録パラメータについて最適化を行なうたびに、パラメータ値を異ならせたテスト記録を行なう必要がある。これは、ジッタが最小となるパラメータ値を決定するためには、図３（ｇ）に示すようなパラメータ値とジッタとの関係がわからなければならず、このためには、複数の記録パラメータ値を用いた場合のそれぞれにおいてジッタが測定される必要があるからである。しかし、このように、全ての記録パラメータについて複数のパラメータ値を用いたテスト記録を行なう場合には、校正動作に要する時間が長くなるという問題が生じる。
また、上述のようにジッタを測定する場合には、記録パラメータに応じて異なる記録パターンを用いてテスト記録が行なわれる。各記録パターンは、検出されるジッタから、所定の記録パラメータの適否を評価できるように構成される必要がある。このため、記録パターンとしては、多数の記録パラメータに対応しないように、例えば、６Ｔスペース、４Ｔマーク、６Ｔスペース、８Ｔマークの繰り返しというような比較的単純なパターンが用いられる。
しかし、このような記録パターンを用いた場合、光ディスク上に形成されるマークおよびスペースのパターンはランダム性に乏しいものとなる。このような規則性のあるパターンが形成されていると、その後のテスト記録動作などで、同じ領域にマークおよびスペースを形成するときに、前に形成されていたパターンの影響を受けやすい。このため、上述のようなパターンが形成されている場合には、新たなデータの記録（上書き）を行なう前に、ランダムパターンを用いて下地記録動作を行なう必要が生じる。このことによっても、テスト記録動作に要する時間が長くなる。
このように、従来の校正方法では、各記録パラメータの最適化を行なうために比較的長い時間が必要となる。この校正動作は記録媒体の脱着時等に行なわれるが、所要時間が長いため、装置がスタンバイ状態となるまでにかなりの時間を必要とする。
本発明は、上記従来の問題を解決するためになされたものであり、記録パラメータの最適化をより短い時間で行うことができる記録再生装置を提供することをその目的とする。
発明の開示
本発明の装置は、記録媒体に形成されるマークおよびスペースの組み合わせによって表現されるデータを前記記録媒体に書込むこと、および／または、前記記録媒体から前記データを読み出すことを行なう装置であって、それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定される記録パターンに対応する所定データを前記記録媒体に書き込む書き込み部と、前記記録媒体から前記所定データを読み出し、前記所定データに対応するデータ信号を生成する読み出し部と、前記データ信号を用いて、前記記録媒体上に形成された前記マークのエッジシフト量を、前記マーク長とスペース長との組ごとに測定するエッジシフト検出器と、前記測定されたエッジシフト量に基づいて、前記マーク長とスペース長との組ごとに記録パラメータを設定する記録制御器とを備える。
ある好ましい実施形態において、前記記録媒体に記録されたデータを読み出すことで得られる再生信号に基づいてクロック信号を生成するクロック生成器をさらに有し、前記エッジシフト量は、前記データ信号と前記クロック信号との間の位相誤差として検出される。
ある好ましい実施形態において、前記クロック生成器は、前記再生信号と前記クロック信号との間の位相誤差が全体として０に近づくように前記クロック信号を制御する。
ある好ましい実施形態において、最短マーク長および最短スペース長をｍＴ（ただし、ｍは１以上の所定の整数、Ｔはクロック信号の周期）として表現するとき、前記マーク長とスペース長との複数の組は、ｍＴ〜（ｍ＋ａ）Ｔのマーク長と、ｍＴ〜（ｍ＋ｂ）Ｔのスペース長との組み合わせ（ただしａおよびｂは０以上の任意の整数）であり、前記記録パターンは前記組み合わせを連続して含むように規定されており、前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記マークの始端におけるエッジシフト量と、前記マークの終端におけるエッジシフト量とを、それぞれ別個に測定する。
ある好ましい実施形態において、前記記録パターンは、前記記録パラメータの設定を行なうべき所定の前記マーク長とスペース長との前記組を１回ずつ含むように規定された単位パターンを有する。
ある好ましい実施形態において、前記エッジシフト検出器は、符号付のエッジジフト量を前記マーク長とスペース長との組ごとに累積する。
ある好ましい実施形態において、前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト量に対応する出力値を出力する。
ある好ましい実施形態において、前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値が所定の範囲内にあるか否かを判断し、前記出力値が前記所定の範囲内にないと判断された前記マーク長とスペース長との組についてのみ前記記録パラメータを変更する。
ある好ましい実施形態において、前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値の絶対値が所定値未満であるか否かを判断する。
ある好ましい実施形態において、前記マーク長とスペース長との複数の組のうちの所定の１組に関連づけられた前記エッジシフト検出器の前記出力値が基準値として用いられ、前記記録制御部は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト検出器の前記出力値と前記基準値との差が所定の範囲内にあるか否かを判断し、前記差が前記所定の範囲内にないと判断された前記マーク長とスペース長との組についてのみ、前記記録パラメータを変更する。
ある好ましい実施形態において、前記記録制御器は、前記エッジシフト検出器の前記出力値の符号に基づいて、前記記録パラメータを増加させるか減少させるかを決定する。
ある好ましい実施形態において、前記記録制御器は、前記エッジシフト検出器の出力値の大きさに基づいて、前記記録パラメータの増減量を決定する。
ある好ましい実施形態において、前記記録制御器は、前記記録パラメータの増減量を決定する際、前記マーク長とスペース長との組に応じて、前記出力値の大きさに対する前記増減量の重み付けを行なう。
ある好ましい実施形態において、前記データ信号を２値化することによって２値化信号を生成する２値化回路を更に有し、前記２値化信号に基づいて、前記データ信号における特定の前記マーク長とスペース長との組が識別される。
あるいは、本発明の装置は、記録媒体に形成されるマークおよびスペースの組み合わせによって表現されるデータを前記記録媒体に書込むこと、および／または前記記録媒体から前記データを読み出すことを行なう装置であって、それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定された所定の記録パターンに対応する所定データを前記記録媒体に書き込む書き込み部と、前記記録媒体から読み出された前記所定データに基づいて、前記記録媒体上に記録された前記マークのエッジシフト量を測定するエッジシフト検出器とを備え、前記所定の記録パターンは、前記マーク長とスペース長との複数の組のそれぞれが同一頻度で出現し、かつ、ＤｉｇｉｔａｌＳａｍ  Ｖａｌｕｅが０となるように規定されている。
ある好ましい実施形態において、最短マーク長および最短スペース長をｍＴ（ただし、ｍは１以上の所定の整数、Ｔはクロック信号の周期）で表現するとき、前記所定の記録パターンは、（ｍ＋ａ）Ｔのマーク長と、（ｍ＋ｂ）Ｔのスペース長と、前記マークの始端および終端のそれぞれに応じて決まる極性とのａ×ｂ×２通りの組み合わせ（ただしａおよびｂは０以上の任意の整数）が各１回ずつ出現するように規定された単位パターンを有する。
ある好ましい実施形態において、前記エッジシフト検出器は、前記マーク長とスペース長との組ごとに、前記エッジシフト量を測定する。
発明を実施するための最良の形態
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る記録再生装置を説明する。
図５は、本実施形態の光ディスク装置１００を示す。光ディスク装置１００は、光ディスク１４が装填されたときなどにおいて、記録パラメータを最適化するための校正動作（テスト記録）を行なう。
テスト記録において、まず、パターン発生回路２６から入力された所定の記録パターンと、初期設定された記録パラメータとを用いて、記録補償回路２７によって記録パルス信号が生成される。なお、記録パラメータとしては、光ディスク１４に予め記録されていたパラメータを読み取ったものを用いても良い。
本実施形態で用いられるテスト記録用の記録パターンは、例えば、４Ｔマーク、３Ｔスペース、４Ｔマーク、４Ｔスペース、４Ｔマーク、５Ｔスペース…（以下、４ｍ３ｓ４ｍ４ｓ４ｍ５ｓ…というように示す場合もある）というように、それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定されている。より具体的には、記録パターンは、基準となる６Ｔ以上のマークと６Ｔ以上のスペースとの組み合わせ以外に少なくとも２つの組を含むように構成されている。上記例では、４ｍ３ｓの組、４ｍ４ｓの組、４ｍ５ｓの組などが含まれている。また、この記録パターンは、上記表１および表２に示したような、マーク長とスペース長との組ごとに設定される記録パラメータ（例えば３２通り）の全てを最適化できるように構成されている。さらに、この記録パターンは、ＤＳＶ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｕｍ  Ｖａｌｕｅ）が０となるように構成されている。なお、好適な記録パターンについてのより詳細な説明は後述する。
レーザ駆動回路２８は、このようにして生成されたレーザ発光制御パルス信号に応じて光ヘッド１３を駆動し、光ディスク１４に所定のデータを記録する。光ディスク装置１００では、いわゆるマークエッジ記録方式が採用されており、光ディスク１４には、所定のデータに対応する、長さの異なる複数のマークとスペースとが形成される。
次に、各記録パラメータを最適化するために、上記光ディスク１４に記録された所定のデータを再生し、得られた再生信号からパラメータの適否を判断する。
このために、まず、光ヘッド１３を用いて再生用レーザが光ディスク１４上に照射される。光ディスク１４上に記録された所定のデータからの反射光は、光ヘッド１３において再生信号に変換される。この再生信号は、増幅された後に波形等化器１５により波形整形される。
なお、本実施形態では、光ヘッド１３が、光ディスク１４上にデータを書込むとともに、光ディスク１４上に記録されたデータを読出すことができるが、データ書込み装置とデータ読出し装置とは本実施形態の光ヘッド１３のように一体的に設けられていても良いし、また、それぞれ別個に設けられていても良い。
波形整形された再生信号は、アナログ−デジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）１６によって標本化および量子化され、これにより、Ａ／Ｄ変換器１６からは、多値レベルを有するデータがデジタル信号として出力される。なお、Ａ／Ｄ変換器１６におけるサンプリング周波数は、後述するようにフィードバック制御されるＶＣＯ（電圧制御発振器）２１からの出力（再生クロック信号）に基づいて設定される。
高域通過フィルタ１７は、Ａ／Ｄ変換器１６から出力された信号に含まれ得る不要な低周波数成分を除去する。高域通過フィルタ１からの出力は、ＰＬＬ回路４０の一部を構成する位相比較器１８および記録パラメータ設定ブロック５０へと入力される。
位相比較器１８は、入力されたデジタル信号に基づいて、再生信号とクロック信号（すなわちＶＣＯ２１の出力）との間の位相誤差を検出する。この位相誤差の検出方法については後述する。ＬＰＦ（ローパスフィルタ）１９は、検出された位相誤差からＶＣＯ２１が追従すべき周波数を決定する。ＬＰＦ１９から出力された信号は、デジタル−アナログ変換器（Ｄ／Ａ変換器）２０でアナログ信号に変換される。このアナログ信号によりＶＣＯ２１が制御され、再生クロックを生成する。
このように本実施形態では、位相比較器１８、ＬＰＦ１９、ＶＣＯ２１などによってＰＬＬ回路４０が構成されている。ＰＬＬ回路４０において、ＶＣＯ２１から出力される再生クロック信号は、再生信号との位相誤差が全体として０に近づくように（すなわち、再生信号における各極性反転部分で測定される位相誤差の累積値または平均値が０に近づくように）フィードバック制御される。このようにして、再生信号に基づいて、再生信号と同期が取られたクロック信号が生成される。
ただし、上述のように再生信号とクロック信号との全体的な位相誤差を抑制した場合にも、再生信号の各極性反転部分においてクロック信号との位相誤差が生じ得る。この位相誤差は、記録パラメータが適切でないことなどによって、マークのエッジが適切な位置からシフトしていることによって生じる。従って、それぞれの極性反転部分での位相誤差を検出すれば、対応するそれぞれのマークのエッジシフトを検出することができる。また、マークのエッジシフトの程度および方向は、位相誤差の大きさおよびその符号（極性）によって示され得る。従って、位相誤差を測定すれば、対応するマークのエッジの位置が、理想的なマークのエッジ位置に対して、いずれの方向にどの程度ずれているかを示し得る値（以下、エッジシフト量という）を得ることができる。
このように、本実施形態では、マークのエッジシフト量を、記録媒体上のデータを再生した信号とクロック信号との位相誤差として検出する。なお、本明細書において、位相誤差とは、再生信号の極性反転部分における、再生クロック信号の立ち上がりエッジ（Ａ／Ｄ変換器１６におけるサンプリングのタイミングに対応）との時間軸上のずれを意味するものとする。
次に、エッジシフト量を求めることによって記録パラメータを最適化する記録パラメータ設定ブロック５０について説明する。
記録パラメータ設定ブロック５０において、２値化回路２２は、高域通過フィルタ１７から入力されるデジタル再生信号を２値化することによって、記録パターンに対応する２値化データを再生する。このようにして得られた２値化データに基づいて、パターン検出回路２３は所定のマーク長とスペース長との組み合わせに対応する信号パターンを識別することができる。
また、エッジシフト検出回路２４は、パターン検出回路２３で識別された所定のマーク長とスペース長との組み合わせに毎に上述の位相誤差を累積加算する。これによって、記録媒体上に形成されたマークのエッジシフト量を、マーク長とスペース長との組ごとに測定することができる。
光ディスクコントローラ２５は、マーク長とスペース長との組み合わせ、および、マーク始端エッジまたはマーク終端エッジのいずれであるかの組み合わせ（すなわち、記録パラメータのそれぞれに対応する組み合わせ）毎に、エッジシフト量が所定の範囲内にあるか否かを判断する。所定の範囲内にある場合、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは適切であると判断して更新しない。一方、所定の範囲内にない場合、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは変更が必要であると判断される。光ディスクコントローラ２５は、変更が必要と判断された記録パラメータのみを更新するように動作する。
光ディスクコントローラ２５は、測定されたエッジジフト量に基づいて、マーク長とスペース長との組ごとに記録パラメータを設定することができる。光ディスクコントローラ２５は、必要に応じて更新された記録パラメータを記録補償回路２７へと出力する。
記録補償回路２７は、光ディスクコントローラ２５から得られる記録パラメータに基づいて、記録パルス信号を生成する。このようにして生成された記録パルス信号を用いて、さらにテスト記録が続けられる。その後、上述と同様の動作によって記録パラメータの適否が判断され、そこで更新すべきパラメータがある場合にはさらにテスト記録を行なう。このようにして、全ての記録パラメータの最適化が行なわれる。
以上に説明したように、本実施形態の光ディスク装置１００では、記録パラメータ毎に異なる記録パターンを用いるのではなく、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定された所定の記録パターンを用いてテスト記録が行なわれる。このとき、マーク長とスペース長との組み合わせ毎にエッジシフト量を検出することによって、いずれの組み合わせでのマークのエッジがどちらの方向にどの程度シフトしているかを検出することができる。これによって、複数の記録パラメータのうちの補正すべき記録パラメータを選別することができる。従って、全ての記録パラメータに対して同様のテスト記録を繰り返す従来の校正動作に比べて、所要時間を大幅に短縮することが可能である。
以下、位相誤差の検出方法またはエッジシフト量の検出方法などについてより詳細に説明する。
まず、図６および図７を参照しながら、ＰＬＬ回路４０を構成する位相比較器１８の具体的構成およびその動作について説明する。位相比較器１８は、高域通過フィルタ１７から入力されるデジタル信号（量子化された再生信号）に基づいて、再生信号と再生クロック信号との位相誤差を検出する。
例えば、図７（ａ）に示すような再生信号がＡ／Ｄ変換器１６に入力された場合、図７（ｂ）に示すような再生クロック信号に基づいてサンプリングが行なわれる。従って、高域通過フィルタ１７から位相比較器１８へは、図７（ｃ）に示すようなデジタル信号（サンプルデータ）が入力される。なお、ここではＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍｏｓｔ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）復号技術が採用されており、入力されるデジタル信号は、理想的には  “０”，“ｂ”，“ａ＋ｂ”，“−ｂ”，“−ａ−ｂ”の５つの値のいずれかをとるものとする。
図６は、位相比較器１８の回路構成を示す。この位相比較器１８は、ｎビット構成の遅延型のフリップフロップ回路ＤＦＦ１〜ＤＥＦ４、加算回路ＡＤＤ、セレクタＳＥＬ１、排他的論理和回路ＥＯＲなどを備えている。
ＤＦＦ１に対して図７（ｃ）に示すような信号が入力されると、ＤＦＦ１は、１クロック分だけ遅延された図７（ｄ）に示すような信号を出力する。この遅延された信号（図７（ｄ））と、遅延されていない信号（図７（ｃ））とは、加算回路ＡＤＤに入力される。加算回路ＡＤＤは両者の加算を行い、その加算結果におけるＭＳＢ（Ｍｏｓｔ  Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ  Ｂｉｔ；最上位ビット）を出力するようになっている。
この加算回路ＡＤＤにおける加算によって、隣合うサンプルデータの平均値に対応する加算データが得られる。この加算データのＭＳＢは、隣合うサンプルデータの平均値が基準値（この例では“０”）以上であるか基準値未満であるかを表す。このため、再生信号が基準レベル（ここでは０のレベル）を横切るとき、加算データのＭＳＢが変化する。
出力されたＭＳＢに基づいて、図７（ｅ）に示すようなサンプルデータの極性を示す極性情報ＰＯＬが得られる。この極性情報ＰＯＬは、記録されたデータを表し得る。なお、加算データのＭＳＢを用いて極性情報ＰＯＬを生成している理由は、理想的には０の値をとるべきサンプルデータが、ジッタなどの影響で実際には−１または１などの僅かにずれた値を有していた場合であっても、加算データ（隣合うデータの平均値に対応する値）を用いることで、ジッタなどの影響に左右されずに、記録されたデジタルデータに対応する、より正確な極性情報ＰＯＬを得ることができるからである。
加算回路ＡＤＤによる加算結果のＭＳＢが変化することは、再生信号が０のレベルを横切ることを意味する。この再生信号における０のレベルを横切る点（ゼロクロスポイント）を検出するために、排他的論理和回路ＥＯＲにおいて、ＭＳＢと、そのＭＳＢをフリップフロップＤＥＦ３で１クロック遅延させたものとの排他的論理和がとられる。これにより、排他的論理和回路ＥＯＲからは、図７（ｆ）に示すようなゼロクロスポイント検出信号ＣＲＯＳＳが出力される。このゼロクロスポイント検出信号ＣＲＯＳＳは、図５に示すＬＰＦ１９のゲートに出力される。
次に、位相誤差の検出方法を説明する。位相誤差を検出するために設けられたセレクタＳＥＬには、ｎビットパラレルフリップフロップ回路ＤＦＦ１から出力されたｎビットのサンプルデータＡと、そのサンプルデータＡが反転回路Ｉｎｖで反転されたサンプルデータＢとが入力される。セレクタＳＥＬは、加算回路ＡＤＤの出力であるＭＳＢをセレクト信号として、そのＭＳＢの値に基づいてサンプルデータＡとサンプルデータＢとを切り換えて選択するようになっている。その結果として、セレクタＳＥＬからは図７（ｇ）に示すような位相誤差が出力される。ただし、タイミング調整のためにＬＰＦ１９に対しては遅延要素として設けられたｎビットパラレルフリップフロップ回路ＤＦＦ２を介して出力するようになっている。
再生信号とクロック信号との間に位相誤差が生じている場合、ゼロクロスポイントに対応するサンプルデータは、位相誤差の大きさに応じて“０”以外の値を持つ。これは、サンプルデータがクロック信号に基づいて標本化されたものであるからである。ただし、再生信号とクロック信号との全体的な位相誤差を求めるためには、ゼロクロスポイントにおけるサンプルデータを、上述のように反転回路ＩＮＶを用いて極性を揃える必要がある。例えば、クロック信号が再生信号に対してわずかに進んでいる場合、ゼロクロスポイント検出信号ＣＲＯＳＳがｈｉｇｈとなるときのサンプルデータは、再生信号の立ち上がり時と立下り時とで負の値と正の値とを繰り返す。これに対して、上記反転回路ＩＮＶを用いて生成した位相誤差は常に負の値を示す。すなわち、上記反転回路ＩＮＶを用いた場合、ゼロクロスポイントでの全てのサンプルデータにおいて、その極性は、再生信号が遅れているのかまたは再生信号が進んでいるのかのいずれであるかを適切に示すことになる。
ＬＰＦ１９は、ゼロクロスポイント検出信号ＣＲＯＳＳがｈｉｇｈのときのフリップフロップ回路ＤＦＦ２からの出力信号（すなわち、ゼロクロスポイントでのデータ）を積分または平均化する。このＬＰＦ１９からの出力はＤ／Ａ変換器２０を介してＶＣＯ２１に入力される。ＶＣＯ２１は、ＬＰＦ１９からの出力に基づいて、その出力信号（再生クロック信号）の位相または周波数を、上述のＬＰＦ１９からの出力が０に近づくように制御する。このようにして、ＰＬＬ回路４０では、各再生信号のゼロクロスポイントでの位相誤差の合計が最小となるように（すなわち、各ポイントでの位相誤差の平均値が０に近づくように）クロック信号の位相が制御される。
以下、図８〜図１１を参照しながら、記録パラメータ設定ブロック５０についてより詳細に説明する。
まず、２値化回路２２について説明する。図８に示すように、２値化回路２２には、高域通過フィルタ１７から、位相比較器１８と同様に、ｎビットのデジタル再生信号が入力される。２値化回路２２の加算器２２ｂは、このデジタル再生信号と、ｎビットパラレルフリップフロップ回路２２ａを介して１クロック分だけ遅延されたデジタル再生信号とを加算し、加算結果のＭＳＢを２値化結果としてパターン検出回路２３に出力する。ただし、タイミング調整のためにフリップフロップ回路２２ｃを介して出力するようになっている。なお、このようにして記録されたデータに対応する２値化信号を生成する動作は、位相比較器１８において、極性情報ＰＯＬを得るための動作と同様である。従って、２値化回路２２は、位相比較器１８における極性情報ＰＯＬを得るための構成として設けられた形態であっても良い。
次に、図９を参照しながら、パターン検出回路２３とエッジシフト検出回路２４の動作について説明する。
図９（ａ）に示すように、例えば、後に６Ｔスペースが続く４Ｔマークの終端エッジ（４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせにおける終端エッジ）のエッジシフト量を検出する場合において、図示するような再生信号と再生クロックとによって、量子化された再生信号が得られたものとする。
パターン検出回路２３は、２値化回路２２からの出力信号に基づいて、楕円で囲まれたＡ点のデータが４Ｔマークと６Ｔスペースとにおける終端エッジ（再生信号における立ち上がりエッジ）に対応するデータであることを識別する。このＡ点のデータは、ゼロクロスポイントにおけるデータであり、再生信号と再生クロック信号との位相誤差に対応するものである。すなわち、このデータの値は、マークのエッジシフト量を示す。また、このデータの値は符号（極性）を有しており、この符号はエッジシフトの方向を示し得る。以下、図１０を参照しながら、この点についてより詳細に説明する。
図１０（ａ）に示すように４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせを含む記録パターンを用いてテスト記録を行なうとき、記録パラメータが過切でないことによって、図１０（ｂ）に示すように光ディスク上の形成されるマークのエッジが、実線で示す理想的な位置から、破線で示すように前後にずれることがある。このとき、図１０（ｃ）に示すように、得られる再生信号の波形も実線で示す理想的な波形から、破線で示すような波形にずれる。この再生信号のずれの程度および方向は、マークのエッジシフトの程度および方向に対応している。
このとき、図１０（ｄ）に示すようなクロック信号を用いて再生信号のサンプリングを行なった場合において、図１０（ｅ）において●で示すように、理想的にはゼロクロスポイントでのサンプル値は０になる。これに対し、マークのエッジシフトが生じている場合には、ゼロクロスポイントでのサンプル値は、△または×で示すように、エッジのシフト量およびシフト方向に対応する大きさおよび極性を持つ０以外の値をとることになる。すなわち、マークエッジのシフト量およびシフト方向は、ゼロクロスポイントでのサンプル値の大きさおよび符号（極性）に反映される。従って、ゼロクロスポイントのサンプルの値を検出すれば、エッジシフト量を測定することができる。
再び図９を参照する。次にＡ点のデータ（図では’０’）は、エッジシフト検出回路２４において、上記４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせに対応づけて設けられた加算回路とカウンタ回路とに入力される。なお、加算回路およびカウンタ回路は、マーク長とスペース長と終端エッジまたは始端エッジのいずれであるかとの組み合わせのそれぞれ毎に設けられている。このようにして、エッジシフト検出回路２４は、パターン検出回路２３からの出力に基づいて、ゼロクロスポイントでのデータの値を、各組み合わせ毎に、対応する加算回路に入力する。
加算回路に入力されたデータは、フリップフロップに保持されている現在までの累積結果に加算される。また、カウンタ回路は、パターン検出回路によって検出されたそのパターン（マーク長とスペース長との組み合わせ）の検出回数をカウントする。後述するように、この累積値をカウント数で除算することになどよって上記の各組み合わせでのエッジシフト量を求めることができ、エッジシフト検出回路２４は、組み合わせ毎のエッジシフト量を光ディスクコントローラ２５に出力する。
本実施形態では、位相誤差の平均的が０となるようにＶＣＯ２１が制御されているので、再生信号における全てのゼロクロス点での量子化データを加算すると０となる。ただし、記録パラメータが最適でないときには、マーク長とスペース長との組み合わせ（すなわち、再生信号中に出現する所定のパターン）ごとに、エッジのシフトの程度に応じて位相誤差が異なった値をとり得る。上述の加算結果が０でない値をとるときには、その大きさによって記録マークのエッジシフトの程度が分かり、かつ、その符号によって記録マークのエッジが時間方向にどちらにずれているかが分かる。例えば、上述の４Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせを例にとると、加算結果が正の値をとるときには４Ｔマークの終端位置が最適な位置よりも短く形成されていることになり、負の値をとるときには長く形成されていることになる。
このようにして、記録パターンに含まれる特定パターン（マーク長とスペース長との組み合わせ）毎にエッジシフト量を検出することができる。なお、パターン毎に検出数が異なる場合には、加算結果をカウント数で割ることで、そのパターンについての平均的なエッジシフト量を求めることができる。この平均的なエッジシフト量によって、記録パラメータのうちのいずれを変更すべきかを判断できる。
ただし、上述のようにして検出されたエッジシフト量は、上述のようにフィードバック制御された再生クロック信号との位相誤差として検出されたものであり、実際に光ディスクに形成されたマークのエッジシフトに完全に対応するものとは限らない。例えば、記録パラメータが適切であり、実際にはマークのエッジシフトが生じていないパターンであっても、他のパターンでのエッジシフトのためにクロック信号の位相が変化している場合には、そのパターンについて位相誤差が検出され得る。
しかしながら、クロック信号は再生信号全体での位相誤差を０とするように制御されていることから、各パターンで検出された位相誤差は、記録パターン全体におけるエッジシフト量の平均値に対する、相対的なマークのエッジシフト量を示すものとして考えることができる。この相対的なエッジシフト量を検出すれば、エッジシフトの程度が特に大きいパターンを特定することが可能である。また、符号付の位相誤差を検出することによって、そのパターンでのエッジシフトの大きさおよびシフトの方向を推定することもできる。このようにすれば、変更が必要な記録パラメータを選別することができるので、校正動作に要する時間を短縮できるとともに、記録パラメータとしても適切な値を選択することが可能である。
光ディスクコントローラ２５は、エッジシフト検出回路２４の出力に基づいて補正が必要と判断した記録パラメータについて補正を行なう。さらに全ての記録パラメータが適切であると判断されるまでテスト記録が繰り返される。記録パラメータが適切であるか否かは、例えば、位相誤差の加算結果をＳＵＭとし、カウント数をＣとしたときに、｜ＳＵＭ／Ｃ｜がＡ（Ａは任意の値）未満となるかどうか（すなわち、エッジシフト量が所定の範囲内にあるかどうか）によって判断することができる。エッジシフト量が所定の範囲内にない場合には、対応する記録パラメータが、そのエッジシフト量の大きさおよび符号に基づいて変更される。
以下、図１１および図１２を参照しながら、パターン検出回路２３およびエッジシフト検出回路２４の具体的な構成を説明する。図１１に示すように、パターン検出回路２３は、検出すべきパターンに応じて複数のシフトレジスタ２３ａを備える。ここでは、３Ｔ〜６Ｔのマークと３Ｔ〜６Ｔのスペースとの組み合わせを検出するものとして１４個のシフトレジスタ２３ａが設けられている。２値化回路２２からパターン検出回路２３に入力された２値化信号は、この１４個のシフトレジスタ２３ａのそれぞれに入力される。シフトレジスタ２３ａからの出力をそれぞれＳＥＬ０、ＳＥＬ１、…、ＳＥＬ１３とする。
例えば、６Ｔマークと６Ｔスペースの立ち上がりエッジを検出するためには、ＳＥＬ０が’１’かつＳＥＬ１が’０’かつＳＥＬ２が’０’かつＳＥＬ３が’０’かつＳＥＬ４が’０’かつＳＥＬ５が’０’かつＳＥＬ６が’０’かつＳＥＬ７が’１’かつＳＥＬ８が’１’かつＳＥＬ９が’１’かつＳＥＬ１０が’１’かつＳＥＬ１１が’１’かつＳＥＬ１２が’１’かつＳＥＬ１３が’０’となるときに、６Ｔマークと６Ｔスペースとの組み合わせを検出したものとして’１’を出力し、それ以外は’０’を出力するような論理回路を利用すればよい。他のパターンについても同様の論理回路を用いて検出できる。図１１に示す回路構成では、３Ｔから６Ｔまでのマークと３Ｔから６Ｔまでのスペースの取り得る組み合わせ（立ち上がり、立ち下がりも含めて）の全て（３２通り）を検出することができる。検出結果はフリップフリップ回路ＦＦに入力された後、同期をとってエッジシフト検出回路２４へと出力される。
図１２に示すように、エッジシフト検出回路２４には、パターン検出回路２３からの出力（パターン検出結果）と、電子化された再生信号とが入力される。エッジシフト検出回路２４に設けられた加算器ＡＤＤには、パターン検出結果に対応するゼロクロス点の量子化データが入力される。また、セレクタＳＥＬには、パターン検出結果が入力される。なお、遅延素子としてのフリップフリップ回路などを利用してパターン検出結果の入力タイミングと量子化された再生信号の入力タイミングとを適切に調節することで、検出されたパターンにおけるゼロクロスポイントでのデータを加算器ＡＤＤに入力することが可能である。セレクタＳＥＬは、パターン検出結果に従って、そのパターンに対応する、これまでの累積加算結果を選択し、加算器ＡＤＤに入力する。加算器ＡＤＤは、累積結果と新しく入力された上記量子化データとを加算し出力する。また、パターン検出結果から特定のレジスタにイネーブル信号が出力され、そのレジスタに上述の加算結果を格納する。
ただし、データ記録形式に応じて上述の加算動作を制御する必要があることがある。例えば、セクタ構造をもつ記録媒体の場合、図１３（ａ）に示すような再生信号が得られる。記録媒体は、１セクタ毎に、アドレス情報を含むエンボス領域と書換え可能なデータ領域とを持つため、再生信号はこれらに対応した信号部分を持つ。このような場合において、ユーザ領域にテスト記録を行いエッジシフト量を求めるときには、加算区間を定める制御が必要となる。この制御について具体的に説明する。図１３（ｂ）に示すような加算区間ゲート信号が入力されると、図１２に示すように、この信号（ｂ）は、３段のフリップフロップ通過し、極性を反転した信号（ｃ）とされた後、フリップフロップＦＦ３１〜ＦＦ０に入力される。このとき、図１３（ｃ）に示すような加算器リセット信号を用いて、“Ｈｉｇｈ”の区間でフリップフロップをリセットし、Ｌｏｗの区間で加算結果を格納する。また加算区間ゲートから図１３（ｄ）に示すようなレジスタイネーブル信号が生成される。図１２に示すように、この信号（ｄ）は、加算区間ゲートの終端で加算結果をレジスタＲＥＧ３１〜ＲＥＧ０に格納するイネーブル信号として機能する。このようにして、セクタ毎にエッジシフト量がレジスタＲＥＧ３１〜ＲＥＧ０に格納される。このような回路構成を採用することで１つの加算器を用いて記録パラメータの最適化に必要な全てのエッジシフト量を求めることができる。
以下、テスト記録動作で好適に用いられる記録パターンについて説明する。
本実施形態で用いられる記録パターンは、所定長のマークとスペースとの複数の組み合わせ（より具体的には、基準となる６Ｔ以上のマークと６Ｔ以上のスペースとの組み合わせ以外に少なくとも２つの組み合わせ）を含むように構成されているが、好適には、これらの組み合わせの記録パターン中における発生頻度が同一になるように構成される。このように発生頻度を同一にした場合、上述のように、カウンタ回路を用いて位相誤差の加算結果をカウント数で除算せずとも、エッジシフトの大きい組み合わせを選定することが可能になる。
また、記録パターンは、そのＤＣ成分が０となる（すなわち、ＤＳＶ（ｄｉｇｉｔａｌ  ｓｕｍ  ｖａｌｕｅ）が０となる）ように構成されていることが望ましい。これは、上述のようなＤＳＶが０となる記録パターンを用いていれば、高域通過フィルタ１７において、サンプル値の合計が０となるような信号処理を行なうことにより、再生信号に含まれ得る所望でないＤＣ成分（低周波数成分）を適切に除去することが可能になるからである。このようにして再生信号のＤＣ成分を除去しておけば、後段の２値化回路２２などにおいて、適切な２値化信号を得ることが可能になる。なお、本実施形態とは異なりコンパレータなどを用いて再生信号を２値化する場合（図１参照）においても、ＤＳＶが０となる記録パターンを用いていれば、コンパレータからの出力（２値化出力）の積分値が０となるようにコンパレータのしきい値をフィードバック制御することにより適切な２値化出力を得ることができる。
さらに、単位長あたりにおける上記組み合わせの発生頻度がなるべく高くなるような記録パターンを採用することが望ましい。このような記録パターンを用いれば、各組み合わせにおけるエッジシフト量を短時間のうちに検出することができ、記録パラメータの最適化に要する時間を低減することができる。
このような記録パターンの例を図１４に示す。図１４には、５つの記録パターンが例示されている。いずれも、３Ｔマークから６Ｔマーク、３Ｔスペースから６Ｔスペースの組み合わせである３２通りのパターンが、１４４ビットの記録パターンに１回ずつ発生する。また、１４４ビットの記録パターンに含まれるシンボル’０’とシンボル’１’の数は同数の７２であり、記録パターンのＤＳＶは０となっている。
これらの記録パターンを用いた場合、エッジシフト検出回路２４において、出力される各パターンのシフト量は、同一回数だけ加算が行なわれたシフト量の加算結果となる。このような記録パターンを用いることで、全ての組み合わせにおけるマークのエッジシフト量を１回の記録と再生で求めることができる。
なお、図１４に示した記録パターンでは、６Ｔマークあるいは６Ｔスペース以上のマークについては同一の記録パラメータで記録できることを想定し、６Ｔマーク（またはスペース）を記録パターンに含むように記録パターンを構成している。ただし、図１５に示すように、６Ｔマーク（またはスペース）に代えて、８Ｔマーク（またはスペース）を記録パターンに含んだ場合でも、各パターンが同一頻度で発生し、なおかつＤＳＶが０となるような記録パターンを作成することが可能である。
以上に説明したような記録パラメータの最適化に適した記録パターンは、例えばパターン発生回路２６に設けられたメモリなどの記憶装置に予め格納しておくことができる。この場合、光ディスク装置は、記録パラメータの最適化を行なうにあたり、上記記憶装置から読み出した記録パターンを用いてテスト記録を行なう。
次に、上述の記録パターンを用いて、本発明の記録再生装置で記録補償学習を行う場合のシーケンス例について説明する。
図１６は、本発明の記録再生装置の記録パラメータの最適化を行うための第１のシーケンス例を示す。まず、まず、ステップＳ１０に示すように、記録媒体のテスト記録領域に光ヘッド１を移動（ジャンプ）させる。次に、ステップＳ１１に示すように、記録媒体のコントロールトラックを読み出した値、あるいは装置自身が予め保持する値を記録パラメータの初期値として設定しテスト記録を行なう。このとき、テスト領域毎に記録パターンを変化させながら記録を行うようにしてもよい。ここで、記録パターンを変化させながら記録するとは、例えば図１４に示した５つのパターンのうちからランダムに選択するなどして、複数の記録パターンを用いてテスト記録を行なうことを意味する。あるいは、同様の記録パターンを用いるが、その記録開始位置を変化させることを意味する。特に書き換え可能な記録媒体の場合は、上書きする際に既に書かれている記録パターンによって媒体上に形成される記録マークの形状が影響を受けるため、特定のパターンを繰り返し記録しないように工夫することが望ましい。このようにして、図１４に示したようなランダム性の高い記録パターンを用いれば、上書きが行なわれる際に影響を及ぼさないようなパターンで、記録媒体上にマークおよびスペースが形成される。これによって、従来のように単純なパターンで記録が行なわれていた場合とは異なり、上書き（次回のテスト記録）を行なう際に、下地記録動作を行なう必要がなくなる。従って、テスト記録に要する時間を短縮することができる。
次に、ステップＳ１２に示すように、記録領域の再生を行い、マーク長とスペース長との組み合わせ毎にエッジシフト量を取り込む。具体的には、図１２に示す、３２通りのエッジシフト検出結果Ｒ３３Ｔ、Ｒ４３Ｔ、…、Ｒ５６Ｌ、Ｒ６６Ｌを取り込む。なお、上述のようにテスト領域毎に異なる記録パターンでのテスト記録を行なった場合などにおいて、複数のエッジシフト量が得られた場合には、それらの平均値が算出され、この値がエッジシフト量として用いられる。
次に、ステップＳ１３に示すように、所定長のマークとスペースとの組み合わせ毎に測定されたエッジシフト量の絶対値の全てが基準値Ａ未満であれば、記録パラメータの更新を行わずパラメータの最適化を終了する。また、ステップＳ１４に示すように、エッジシフト量の絶対値が基準値Ａ以上のマークとスペースの組み合わせについては、記録パラメータの更新を行う。
このようにして選別された記録パラメータについて、その更新を行なう際、検出されたエッジシフト量の符号から記録パラメータの値を増加させるか減少させるかを決定することができる。さらに、検出されたエッジシフト量と基準値Ａとの差の大きさによって、記録パラメータの更新量を決定することができる。
その後、更新された記録パラメータを用いて、再びステップＳ１１〜１３に示すように、記録および再生を行い、検出されるエッジシフト量が基準値未満となるまでパラメータの更新と記録再生を行う。上述の基準値Ａとしては、例えば、エッジシフト量の絶対値がＡ未満となる場合には、必ず再生クロックとデータとのジッタが９％以下となるような基準値を用いることができる。
図１７は、本発明の記録再生装置の記録パラメータの最適化を行うための第２のシーケンス例を示す。図１６に示すシーケンス例に対して図１７に示すシーケンス例が異なる点は、マークのエッジシフトを表す指標として、上述のように位相誤差に基づいて測定されるエッジシフト量自体ではなく、エッジシフト量と基準シフト量との差を用いる点である。具体的には、ステップＳ１５において、所定長のマークとスペースの組み合わせ毎に、エッジシフト量と基準シフト量との差の絶対値が検出され、これらが基準値Ａ未満であるか否かに基づいて、対応する記録パラメータを更新する必要があるか否かが判断される。上記のマーク長とスペース長の組み合わせ毎に求められた差の絶対値が全て基準値Ａ未満である場合には、記録パラメータの更新を行わずパラメータの最適化を終了する。また、ステップＳ１６に示すように、エッジシフト量と基準シフト量との差の絶対値が基準値Ａ以上のマーク長とスペース長との組み合わせについては、記録パラメータの更新を行う。
本実施形態では、基準シフト量として、３Ｔ〜６Ｔのマークと、３Ｔ〜６Ｔのスペースとの３２通りの組み合わせのうち６Ｔマーク６Ｔスペースの立ち上がりエッジ、または６Ｔスペース６Ｔマークの立ち下がりエッジでのシフト量を用いる。従って、所定のマーク長とスペース長との組み合わせにおける立ち上がりエッジのシフトを検出する場合には、検出されたエッジシフト量から同時に検出された６Ｔマーク６Ｔスペースの立ち上がりエッジシフト量を減算し、その絶対値が基準値Ａ以上であるか否かを判断する。また、所定のマーク長とスペース長との組み合わせにおける立ち下がりエッジのシフトを検出する場合には、検出されたエッジシフト量から同時に検出された６Ｔスペース６Ｔマークの立ち下がりエッジシフト量を減算し、その絶対値が基準値Ａ以上であるか否かを判定する。このようにして、更新が必要と判定された記録パラメータの更新を行う。
ここで、６Ｔスペースと６Ｔマークとの組み合わせにおけるエッジシフト量を基準シフト量として用いている理由は、６Ｔスペースと６Ｔマークとの組み合わせでは熱干渉によるエッジシフトはほとんど生じておらず、この組み合わせにおいて検出されるエッジシフト量は、エッジシフト以外の要因に基づいていると考えることができるからである。例えば、６Ｔスペースと６Ｔマークとの組み合わせ以外の組み合わせにおいてエッジシフトが発生している場合、再生クロック信号の位相が適切な位相から僅かにずれる場合がある。このとき、６Ｔスペースと６Ｔマークとの組み合わせでは、実際にはエッジシフトが生じていないにも拘わらず、エッジシフト量が検出されることになる。このようにして検出されるエッジシフト量は、本来検出されるべきエッジシフト量に付加された余分なエッジシフト量として考えることができる。従って、この６Ｔスペースと６Ｔマークとの組み合わせにおけるエッジシフト量を基準として、他のエッジシフト量を相対的な値として補正すれば（すなわち、これらの差を取れば）、実際のエッジシフトにより適切に対応した値を得ることができる。なお、以下では、この基準シフト量（すなわち、６Ｔマーク−６Ｔスペースの立ち上がりエッジシフト量、あるいは６Ｔスペース６Ｔマークの立ち下がりエッジシフト量）を引いたエッジシフト量を補正エッジシフト量と呼ぶ。
この補正エッジシフト量に基づいて記録パラメータを変更するとき、補正エッジシフト量の符号から記録パラメータの値を増加させるか減少させるかを決定し、補正エッジシフト量と基準値Ａとの差の大きさに応じて記録パラメータの更新量を決定する。このようにして更新された記録パラメータを用いて、再度、テスト記録および再生が行われる。このようにして、検出される補正エッジシフト量が基準値未満となるまでパラメータの更新と記録再生を行う。なお、基準値Ａとしては、例えば、補正エッジシフト量の絶対値がＡ未満となる場合には必ず再生クロックとデータとのジッタが９％以下となるような基準値を用いることができる。
このようにして、記録パラメータの更新量を検出されたエッジシフト量と基準値Ａとの差の大きさ、あるいは補正エッジシフト量と基準値Ａとの差の大きさによって記録パラメータの更新量を決定する。ただし、図１８に示すように、所定長のマークとスペースの組み合わせ毎に、記録パラメータの値の変化量と検出されるエッジシフト量との関係が異なる場合がある。これは、マーク長とスペース長との組み合わせによって、記録パラメータの変更量に対する記録媒体上に形成されるマークの形状の変化の割合が異なることを意味する。この場合には、この関係に応じて記録パラメータの更新量を変更する（すなわち、更新量の重みを変える）ことが望ましい。図１８に示すように、同一のエッジシフト量（あるいは補正エッジシフト量）であっても、４Ｔスペース３Ｔマークの始端エッジ（●で示すグラフ）は、６Ｔスペース５Ｔマークの始端エッジ（○で示すグラフ）よりも記録パラメータの変化に敏感な場合がある。このような場合、同じエッジシフト量の検出結果あるいは同じ補正エッジシフト量が得られたとしても、４Ｔスペース３Ｔマーク始端エッジに関する記録パラメータの更新量をより小さくすることが望ましい。このように所定長のマークとスペースの組み合わせ毎に媒体上に形成される記録マークの形状の違いを考慮することで、記録パラメータの最適化がより適切に行なわれるため、より少ないテスト記録回数で記録パラメータの最適化が図られる。
図１９は、このようにして校正動作を行なった場合における、テスト記録回数と、各組み合わせにおけるエッジシフト量との関係を示すグラフである。図から分かるように、１回目のテスト記録時において、全ての組み合わせについてのエッジシフト量（位相誤差）が求められるが、特定の組み合わせの場合にのみエッジシフト量が大きくなることが分かる。従って、記録再生装置は、この組み合わせに対応する記録パラメータのみを更新して２回目のテスト記録を行なう。この結果、全体的にエッジシフト量が減少する。このような動作を繰り返すことで、全ての記録パラメータの最適化が実行され、全ての組み合わせでのエッジシフト量を全体的に収束させていくことができる。このように各組み合わせに対して個別に最適化をするのではなく、エッジシフト量の大きいものだけを適性化することによって、効率的に記録パラメータの校正動作を行なうことが可能である。
なお、図５に示す上述の記録再生装置１００では、高域通過フィルタ１７の出力から２値化回路で２値化を行い、２値化結果からパターン検出を行う構成としたが、図２０に示すようにパターン比較回路２９が２値化結果とパターン発生回路から出力される記録パターンとの比較を行い、一致したパターンに含まれるゼロクロス点の情報を使ってエッジシフト量を求めるような構成としてもよい。この場合、２値化回路での誤判定の影響が及ばないので、より正確なエッジシフト量を求めることができる。
また、図２１に示すように、ＰＲＭＬ回路６０によってデータの復号（２値化）を行ない、この結果に基づいて、パターン検出を行なうようにしてもよい。具体的には、高域通過フィルタ１７の出力がＦＩＲフィルタ３０に入力され、ＦＩＲフィルタ３０の出力から等化誤差が検出される。この等化誤差に基づいて、ＦＩＲフィルタ３０のタップ係数を更新するＬＭＳブロック３１により適応等化が行われる。次に、ＦＩＲフィルタ３０の出力から、ビタビ復号回路３２確率的に最も確からしい状態遷移を推定することによって２値化結果（復号データ）を出力する。パターン検出回路２３は、ビタビ復号回路３２の２値化結果を用いてパターン検出を行い、パターン毎にエッジシフト量を求めることができる。このような場合にも、ＰＲＭＬ回路６０によって、符合間干渉等の影響が大きい場合などにおいて、より正確な２値化結果が得られるため、正確なエッジシフト量を求めることができる。
なお、以上に説明した実施形態では、予め設定された記録パターンを用いて記録パラメータの最適化を行なう形態を説明したが、光ディスク上に記録された任意のユーザデータを用いて記録パラメータの最適化を行うことも可能である。この場合にも、ユーザデータに含まれる複数のパターン（マーク長とスペース長との組み合わせ）ごとのエッジシフト量を検出することで、各記録パラメータを適切に設定することができる。
産業上の利用可能性
本発明によれば、マーク長とスペース長との複数の組を含むように規定される記録パターンで記録されたデータを再生し、この再生された信号から、マークのエッジシフト量をマーク長とスペース長との組ごとに測定する。これにより、変更が必要な記録パラメータを選択することができる。このようにして選択された記録パラメータのみを変更することによって、全ての記録パラメータの最適化をより短い時間で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図１は、従来の光ディスクドライブの構成図である。
図２は、従来の記録パラメータの校正動作を説明するための図である。
図３は、従来の記録パラメータの校正動作を説明するための別の図である。
図４は、従来の記録パラメータを求める動作のフローチャートである。
図５は、本発明の実施形態に係る記録再生装置を示す図である。
図６は、本発明の実施形態に係る記録再生装置の位相比較器の具体的回路構成図である。
図７は、本発明の実施形態に係る記録再生装置の位相比較器のタイミングチャートである。
図８は、本発明の実施形態に係る記録再生装置の２値化回路の構成図である。
図９は、本発明の実施形態に係る記録再生装置のパターン検出回路とエッジシフト検出回路の動作の概略図である。
図１０は、本発明の実施形態に係る記録再生装置においてエッジシフト量が位相誤差として検出されることを説明するための図である。
図１１は、本発明の実施形態に係る記録再生装置のパターン検出回路の詳細な構成図である。
図１２は、本発明の実施形態に係る記録再生装置のエッジシフト検出回路の詳細な構成図である。
図１３は、本発明の実施形態に係る記録再生装置のエッジシフト検出回路の動作を規定する信号を示す図である。
図１４は、本発明の記録再生装置で用いられる記録パターンを示す図である。
図１５は、本発明の記録再生装置で用いられる他の記録パターンを示す図である。
図１６は、本発明の実施形態に係る記録再生装置における記録パラメータの最適化を行うための第１のシーケンスを示す概略図である。
図１７は、本発明の実施形態に係る記録再生装置における記録パラメータの最適化を行うための第２のシーケンスを示す概略図である。
図１８は、マーク長とスペース長との組み合わせによって、記録パラメータと検出エッジシフト量との関係が異なる例を示す図である。
図１９は、テスト記録によってエッジシフト量が全体的に収束する様子を示すグラフである。
図２０は、本発明の記録再生装置の別の実施形態を示す図である。
図２１は、本発明の記録再生装置のさらに別の実施形態を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【国際調査報告】
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