(57)【要約】本発明によるライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置は、常温にて使用する電流と異なる電流での個々のヘッド特性を検出する機能と、検出したヘッド特性から、最適な低温でのライトプリコンペンセーション量を設定する機能とを備える。これにより、通常電流と異なる電流との特性から、ライトプリコンペンセーション量の補正を行い、ライトプリコンペンセーション量を決定することにより、従来に比べより精度の高いライトプリコンペンセーション量を決定することができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
常温にて使用する電流と異なる電流での個々のヘッド特性から、最適な低温でのライトプリコンペンセーション量を設定することを特徴とするライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項２】
前記異なる電流は、常温にて使用する電流よりも高い電流であることを特徴とする請求項１に記載のライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項３】
前記異なる電流は、常温にて使用する電流よりも低い電流であることを特徴とする請求項１に記載のライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項４】
常温にて使用する電流よりも低い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、前記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項５】
常温にて使用する電流よりも高い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、前記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項６】
前記ヘッド特性は、ノンリニアビットシフト（ＮＬＴＳ）特性であることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定方法。
【請求項７】
常温にて使用する電流と異なる電流での個々のヘッド特性を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出したヘッド特性から、最適な低温でのライトプリコンペンセーション量を設定する設定手段とを備えることを特徴とするライトプリコンペンセーション量設定装置。
【請求項８】
前記異なる電流は、常温にて使用する電流よりも高い電流であることを特徴とする請求項１に記載のライトプリコンペンセーション量設定装置。
【請求項９】
前記異なる電流は、常温にて使用する電流よりも低い電流であることを特徴とする請求項１に記載のライトプリコンペンセーション量設定装置。
【請求項１０】
常温にて使用する電流よりも低い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、前記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定装置。
【請求項１１】
常温にて使用する電流よりも高い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、前記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定装置。
【請求項１２】
前記ヘッド特性は、ノンリニアビットシフト（ＮＬＴＳ）特性であることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載のライトプリコンペンセーション量設定装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、磁気ディスク装置のライトプリコンペンセーション量を調整するライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置に関し、特に、磁気ディスク装置において問題となるコンペずれを軽減するためのライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置に関する。
背景技術
磁気記録されたディジタルデータを磁気ヘッドで再生すると、再生波形のピークシフトが生じる。このピークシフトは、ビット配列に対応した磁化領域を磁気ヘッドで読み取る時における隣接ビット（磁化領域）との相互干渉で生じる。ピークシフトが大きくなると、データウィンドウによって決められた位置にリードパルスを得ることができなくなり、リードエラーが生じる。この種のピークシフトは、記録密度が低い場合にはさほど問題にならないが、記録密度が高くなると問題になる。ピークシフトを補償する１つの方法として、ピークシフトが問題になる特定のビット配列のデータを記録する時に予め特定されたビットの位相を調整する方法、即ち書き込み補償方法（ライトプリコンペンセーション）が知られている。
従来、環境温度によるライトプリコンペンセーション量の設定は、ドライブパラメータとして、常温にて、ヘッドごとに決定され、さらに環境温度ごとに、一律に設定されるのが通常であった。
第１図は、従来のライトプリコンペンセーション量を設定するための処理の流れを示すフローチャートである。
まず、調査用ドライブにおいて、常温および低温でのエラーレートを測定する（ステップＳ１）。例えば、常温（例えば、２５℃）でライト電流４０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、および低温（例えば、５℃）でライト電流５０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、１５乃至３０％の間を１％刻み（ステップ）で変化させた場合の各エラーレートを測定する。
次に、上記調査用ドライブにおいて、ステップＳ１で測定した各エラーレートのうち、最良（最小）のエラーレートのライトプリコンペンセーション量を、常温および低温での最適なライトプリコンペンセーション量として決定する（ステップＳ２）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量が２０％、上記低温５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量が２４％の場合、２５℃から５℃への悪化分を４％と決定する。
そして、大量生産時において、常温でのエラーレートを測定する（ステップＳ３）。例えば、常温２５℃でライト電流４０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、１５乃至３０％の間を１％刻みで変化させた場合の各エラーレートを測定する。
さらに、大量生産時において、ステップＳ３で測定した各エラーレートのうち、最良のエラーレートのライトプリコンペンセーション量を、常温での最適なライトプリコンペンセーション量として決定する（ステップＳ４）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量２０％を決定する。
最後に、大量生産時において、ステップＳ１，Ｓ２で決定した悪化分から、低温での最適なライトプリコンペンセーション量を設定する（ステップＳ５）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量２０％に、ステップＳ２で決定した２５℃から５℃への悪化分４％を加え、２４％として設定する。
しかしながら、磁気ヘッドの環境温度特性はヘッドによって異なるため、実際には、低温でのライト特性の劣化が大きなものは、大きなライトプリコンペンセーション量を必要とするため、コンペンセーション不足になり、低温でのライト特性が良いものは、オーバーコンペンセーションになる。つまり、平均的なヘッド特性からずれたものは、すべてエラーレート悪化の原因となる。今後の磁気ディスク装置の高性能化に向けて、このロスは無視できないものとなり、より精度の良いチューニング（調整）が必要となってきている。
本発明は斯かる点に鑑み、量産時における磁気ディスク装置のライトプリコンペンセーション量を最適にし、磁気ディスク装置において問題となるコンペずれを軽減することが可能なライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置を提供することを目的とする。
発明の開示
本発明によるライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置は、常温にて使用する電流と異なる電流での個々のヘッド特性を検出する機能と、検出したヘッド特性から、最適な低温でのライトプリコンペンセーション量を設定する機能とを備えたものである。
斯かる本発明によれば、通常電流と異なる電流との特性から、ライトプリコンペンセーション量の補正を行い、ライトプリコンペンセーション量を決定することにより、従来に比べより精度の高いライトプリコンペンセーション量を決定することができる。
この場合、異なる電流の一例は、常温にて使用する電流よりも高い電流である。
また、異なる電流の他の一例は、常温にて使用する電流よりも低い電流である。
また、常温にて使用する電流よりも低い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、上記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することもできる。
また、常温にて使用する電流よりも高い電流での個々のヘッドのプリコンペンセーション量を求め、上記プリコンペンセーション量から低温のライトプリコンペンセーション量を決定することもできる。
また、ヘッド特性の一例は、ＮＬＴＳ特性である。
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の実施の形態につき、第２図乃至第４図を参照して説明する。
磁気ヘッドの環境温度下の特性は、ヘッドのライト電流による特性変化と非常に密接な関係がある。
第２図は、一般的な通常ヘッドのＮＬＴＳ特性のライト電流依存を示す図である。
常温（例えば、２５℃）でライト電流ＷＮ１ｍＡでのライトプリコンペンセーション量ＣＮ１％に対し、低温でライト電流ＷＬ１ｍＡのライトプリコンペンセーション量ＣＬ１％（一律上乗せＣＬ１−ＣＮ１％）と決定される。低温では、特性劣化のため、ライトプリコンペンセーション量は必ず大きくなる。
これは、平均的なヘッドを用いた調査用ドライブでのマージン調査により決定されたライトプリコンペンセーション量であるため、平均的なヘッドに対しては最適である。
第３図は、低温特性の悪いヘッドのＮＬＴＳ特性のライト電流依存を示す図である。
図２に対して、図３は、低温特性劣化が大きいヘッドのライト電流特性であり、常温でライト電流ＷＮ１ｍＡでのライトプリコンペンセーション量ＣＮ２％に対し、低温でライト電流ＷＬ１ｍＡのライトプリコンペンセーション量は、従来の一律上乗せＣＬ２＝ＣＮ２＋（ＣＬ１−ＣＮ１）％と決定されるが、これは、最適なライトプリコンペンセーション量ではなく、最適値は、ＣＬ２’％である。
このようなヘッドは、常温通常電流の特性に対して、低電流（または高電流）の特性劣化が大きい。この場合では、例えばライト電流ＷＬＮ２（＜ＷＮ１）ｍＡ（常温）のＮＬＴＳ値は、通常のものより、Ｎ％ほど悪くなっている。
そこで、例えばこの値に係数を乗じたＫｅ×Ｎ％を上乗せすることにより、ライトプリコンペンセーション量ＣＬ２＋Ｋｅ×Ｎ％となり、コンペ精度を上げることが可能である。
第４図は、本発明のライトプリコンペンセーション量を設定するための処理の流れを示すフローチャートである。
まず、調査用ドライブにおいて、常温および低温でのエラーレートを測定する（ステップＳ１１）。例えば、常温（例えば、２５℃）でライト電流４０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、および低温（例えば、５℃）でライト電流５０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、１５乃至３０％の間を１％刻み（ステップ）で変化させた場合の各エラーレートを測定する。
次に、上記調査用ドライブにおいて、ステップＳ１１で測定した各エラーレートのうち、最良（最小）のエラーレートのライトプリコンペンセーション量を、常温および低温での最適なライトプリコンペンセーション量として決定する（ステップＳ１２）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量が２０％、上記低温５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量が２４％の場合、２５℃から５℃への悪化分を４％と決定する。
そして、大量生産時において、常温でのエラーレートを測定する（ステップＳ１３）。例えば、常温２５℃でライト電流４０ｍＡでのライトプリコンペンセーション量を、１５乃至３０％の間を１％刻みで変化させた場合の各エラーレートを測定する。
さらに、大量生産時において、ステップＳ１３で測定した各エラーレートのうち、最良のエラーレートのライトプリコンペンセーション量を、常温での最適なライトプリコンペンセーション量として決定する（ステップＳ１４）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量２２％を決定する。
また、大量生産時において、上記常温でのＮＬＴＳを測定し、補正値を決定する（ステップＳ１５）。例えば、常温２５℃でライト電流４０ｍＡ（通常使用する電流）でのＮＬＴＳ、および常温２５℃でライト電流２５ｍＡ（通常使用する電流より低い電流）でのＮＬＴＳを測定する。測定した結果がそれぞれ１４％、２５％であるとして、これらの値と係数Ｋｅ（＝２．４９）とを用い、（２５−１４）÷２．４９≒４．４を計算することにより補正値を求める。
最後に、大量生産時において、ステップＳ１２で決定した悪化分とステップＳ１５で求めた補正値とから、低温での最適なライトプリコンペンセーション量を設定する（ステップＳ１６）。例えば、上記常温２５℃での最良のエラーレートでのライトプリコンペンセーション量２２％に、ステップＳ１２で決定した２５℃から５℃への悪化分４％とステップＳ１５で求めた補正値４．４％とを加え、３０．４％として設定する。
なお、上記実施の形態の説明においては、ヘッド特性としてＮＬＴＳ特性を用いて説明してきたが、ヘッド特性は、ＸＴＡＬＫ（クロストーク）特性等の他の特性を用いてもよい。
また、通常使用する電流より低い電流の代わりに、通常使用する電流より高い電流を用いてもよい。
このように、本発明は上述の実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取り得る。
産業上の利用可能性
本発明のライトプリコンペンセーション量設定方法およびライトプリコンペンセーション量設定装置によれば、通常電流と低電流または高電流との特性から、ライトプリコンペンセーション量の補正を行い、ライトプリコンペンセーション量を決定することにより、従来に比べより精度の高いライトプリコンペンセーション量の決定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は、従来のライトプリコンペンセーション量を設定するための処理の流れを示すフローチャートである。
第２図は、一般的な通常ヘッドのノンリニアビットシフト（ＮＬＴＳ：Ｎｏｎ−Ｌｉｎｅａｒ  Ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ  Ｓｈｉｆｔ）特性のライト電流依存を示す図である。
第３図は、低温特性の悪いヘッドのＮＬＴＳ特性のライト電流依存を示す図である。
第４図は、本発明のライトプリコンペンセーション量を設定するための処理の流れを示すフローチャートである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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