(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁性体リードが封止ガラス内に封止されると共に前記封止ガラスに動作コイルを外嵌させた構造を有し、前記動作コイルに通電を行ってスイッチ動作をさせるリードスイッチにおいて、
前記動作コイルへの通電によって前記磁性体リードに磁歪が生じ且つ前記リードスイッチがスイッチオンを示す第１の電流値と、この第１の電流値より高く前記磁性体リードが十分な接触圧を得る第２の電流値とを有する波形を基本波形とし、前記リードスイッチが常にオン状態となるように前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する過程で接触抵抗を測定することを特徴とするリードスイッチの接触抵抗測定方法。
【請求項２】
前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電した後、前記動作コイルに通電する電流を前記第１の電流値のレベルから徐々に減少させ、その過程で開離不良の検出を行うことを特徴とする請求項１記載のリードスイッチの接触抵抗測定方法。
【請求項３】
前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する前に、前記動作コイルに通電する電流を徐々に増加させ、前記第１の電流値に到達した時点で感動値を測定することを特徴とする請求項１記載のリードスイッチの接触抵抗測定方法。
【請求項４】
請求項１記載のリードスイッチの接触抵抗測定方法に用いられるリードスイッチの接触抵抗測定装置であって、
リードスイッチの動作コイルに対して測定時に通電を行うコイル駆動手段と、前記リードスイッチの磁性体リードに対し測定時に通電を行う接点電流供給手段と、この接点電流供給手段による通電時に前記磁性体リード間の電圧又は抵抗値を検出する接触抵抗測定手段とを具備し、
前記コイル駆動手段は、前記コイル駆動手段による通電によって前記磁性体リードに磁歪が生じ且つ前記リードスイッチがスイッチオンを示す第１の電流値と、この第１の電流値より高く前記磁性体リードが十分な接触圧を得る第２の電流値とを有する波形を基本波形として、前記リードスイッチが常にオン状態となるように前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電することを特徴とするリードスイッチの接触抵抗測定装置。
【請求項５】
前記コイル駆動手段は、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電した後、前記動作コイルに通電する電流を前記第１の電流値から前記リードスイッチがスイッチオフ以下になるまで徐々に降下させることを特徴とする請求項４記載のリードスイッチの接触抵抗測定装置。
【請求項６】
前記接触抵抗測定手段は、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する過程で接触抵抗測定及び微粒子検出を行うと共に、前記動作コイルに通電する電流を前記徐々に降下させる過程で開離不良を測定することを特徴とする請求項５記載のリードスイッチの接触抵抗測定装置。
【請求項７】
前記コイル駆動手段は、安定動作電流値を矩形波で通電する第１の過程、この第１の過程の後、前記リードスイッチのスイッチオンまで徐々に電流値を増加し、ついで一気に安定動作電流値まで通電させた後スイッチオフまで徐々に電流を減少させる第２の過程、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する第３の過程、この第３の過程に続いて前記リードスイッチのスイッチオフまで徐々に電流値を減少させる第４の過程の各々を有することを特徴とする請求項４記載のリードスイッチの接触抵抗測定装置。
【請求項８】
前記接触抵抗測定手段は、前記第２の過程の前記スイッチオン時点で感動値を測定すると共に前記安定動作電流値まで通電した後に接触抵抗を測定し、前記第３の過程で接触抵抗測定及び微粒子検出を行い、更に前記第４の過程で開離不良を測定する機能を有することを特徴とする請求項７記載のリードスイッチの接触抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は電子機器に用いられるリードスイッチ（Ｒｅａｄ  Ｓｗｉｔｃｈ）の接触抵抗の測定、特に、微粒子の介在に伴う接触不良を検出することのできるリードスイッチの接触抵抗測定方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ガラス管内に接触部としての先端部が平行するように磁性体リードを封入し、ガラス管の外壁に駆動用のコイルを巻回したリードスイッチは、通電状態に応じて前記磁性体リードの重なり部分が接触し、スイッチオンになる。このようなリードスイッチは構造が単純で故障が少なく、かつ高速動作が可能という特長を有している。この様なリードスイッチにあっては、接点の接触抵抗を測定することによって製品の状態を把握できるため、製造現場等で実施されている。
【０００３】
従来より知られているリードスイッチの接触抵抗の測定法の１つに、動作コイルに一定の電流（電流×コイル巻数＝アンペアターン）を印加し、ミリオームメータまたは電圧降下法を用いて行う方法がある。
【０００４】
図７はミリオームメータを用いた接触抵抗の測定のための測定回路を示す回路図である。リードスイッチ７１には動作コイル７２が外嵌されている。また、ミリオームメータ７３がリードスイッチ７１に接続され、更に、動作コイル７２に直流電源７４が接続される。このような構成において、規定のコイル電流ｉを動作コイル７２に印加すればリードスイッチ７１の接点が閉じる。そこで、この状態のまま、ミリオームメータ７３で接触抵抗を測定する。
【０００５】
図８は電圧降下法によって接触抵抗の測定を行う場合の回路図を示している。リードスイッチの構造は図７と同一であるので、その説明は省略する。定電流電源８１が磁性体リード間に接続され、また、電圧計８２も磁性体リード間に接続される。定電流電源８１によって規定測定電流Ｉ（１０ｍＡ）がリードスイッチ７１に通電され、このときに磁性体リード間に生じる差電圧を電圧計８２（例えば、デジタルボルトメータ等）によって測定する。
【０００６】
図９は従来の接触抵抗測定法における測定タイミングを示すタイミングチャートである。動作コイル７２に通電が開始されると、この通電と同時にリードスイッチ（Ｒ．ＳＷ）７１がスイッチオンになる。一方、動作コイル７２への通電が断たれるとスイッチオフになる。スイッチオンからスイッチオフまでの期間が接触抵抗の測定時間域となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記した従来技術にあっては、測定時における接触部には、リードスイッチの接点動作状態を維持するに十分な接触圧が付与されている。このため、図１０に示すように、接点１０１，１０２間の面接触状態の安定した接触部１０３の周辺に微粒子１０４が存在していたとした場合であっても、接触部１０３の接点間で接触があるため、微粒子１０４を含めた接触抵抗値の測定検出ができなかった。
【０００８】
また、使用中に微粒子が生じるようになったリードスイッチにおいては、図１１に示すように微粒子１０４が接点内に介在し、点接触になるため、接触抵抗の増大（数オーム）によって接触不良を発生させる確率が極めて高いため、機器組み込み前の初期段階で検出される必要がある。また、金（Ａｕ）のような極めて粘着性の高い微粒子が使用中に形成され、これが上記したように接点間に介在した場合には、接点が粘着（ソフトステッキング）するという問題もある。
【０００９】
図１２は接点開離モデルを示している。この（ａ）図に示すような接点の安定動作状態においては、安定接触部１０３の周辺に微粒子１０４が存在しているが、安定接触部１０３による十分な接触圧力によって接触抵抗は安定している。また、接点の開離直前の接触抵抗は、接点圧力が減少することにより、（ｂ）図に示すように、微粒子１０４は安定接触部１０３の周辺に存在する。微粒子１０４が安定接触部１０３の接触面に介在した場合には、安定接触部１０３の接触抵抗は非常に大きな値になる。しかし、導電性の微粒子（Ａｕ）が介在した場合には接触抵抗は極めて小さく、接触抵抗は正常状態が示される。なお、（ｃ）図は２つの接点が離れた状態（開離状態）を示している。
【００１０】
図１３は接点の粘着、ステッキングモデルを示す説明図である。
図中、（ａ）図は安定動作状態を示し、粘着性の高い微粒子１０４は安定接触部１０３の周辺に存在している。更に、（ｂ）図は微粒子介在状態を示し、微粒子１０４が安定接触部１０３に介在した直後である。また、（ｃ）図は粘着状態を示し、粘着性の高い微粒子（例えば、Ａｕ）で接触部が粘着しているため、接点の開離（接点の離脱）が不能になっている。
【００１１】
以上説明したように、従来においては、リードスイッチの接触部内に微粒子存在した場合、動作中に接触障害（接触抵抗の増大、粘着、ステッキング等）を発生する可能性があるにもかかわらず、初期状態において検出することができないという問題がある。
【００１２】
そこで本発明は、接点間に存在し、かつ動作中に接触障害を発生する恐れのある微粒子を初期状態において検出できるようにするリードスイッチの接触抵抗測定方法及び装置の提供を目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本発明のリードスイッチの接触抵抗測定方法では、磁性体リードが封止ガラス内に封止されると共に前記封止ガラスに動作コイルを外嵌させた構造を有し、前記動作コイルに通電を行ってスイッチ動作をさせるリードスイッチにおいて、前記動作コイルへの通電によって前記磁性体リードに磁歪が生じ且つ前記リードスイッチがスイッチオンを示す第１の電流値と、この第１の電流値より高く前記磁性体リードが十分な接触圧を得る第２の電流値とを有する波形を基本波形とし、前記リードスイッチが常にオン状態となるように前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する過程で接触抵抗を測定するようにしている。
【００１４】
この場合、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電した後、前記動作コイルに通電する電流を前記第１の電流値のレベルから徐々に減少させ、その過程で開離不良の検出を行うことができる。更に、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する前に、前記動作コイルに通電する電流を徐々に増加させ、前記第１の電流値に到達した時点で感動値を測定することができる。
【００１５】
また、本発明に係るリードスイッチの接触抵抗測定装置は、リードスイッチの動作コイルに対して測定時に通電を行うコイル駆動手段と、前記リードスイッチの磁性体リードに対し測定時に通電を行う接点電流供給手段と、この接点電流供給手段による通電時に前記磁性体リード間の電圧又は抵抗値を検出する接触抵抗測定手段とを具備し、前記コイル駆動手段は、前記コイル駆動手段による通電によって前記磁性体リードに磁歪が生じ且つ前記リードスイッチがスイッチオンを示す第１の電流値と、この第１の電流値より高く前記磁性体リードが十分な接触圧を得る第２の電流値ととを有する波形を基本波形として、前記リードスイッチが常にオン状態となるように前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電するものである。
【００１６】
また、前記コイル駆動手段は、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電した後、前記動作コイルに通電する電流を前記第１の電流値から前記リードスイッチがスイッチオフ以下になるまで徐々に降下させるものである。
【００１７】
また、前記接触抵抗測定手段は、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する過程で接触抵抗測定及び微粒子検出を行うと共に、前記動作コイルに通電する電流を前記徐々に降下させる過程で開離不良を測定するものである。
【００１８】
また、前記コイル駆動手段は、安定動作電流値を矩形波で通電する第１の過程、この第１の過程の後、前記リードスイッチのスイッチオンまで徐々に電流値を増加し、ついで一気に安定動作電流値まで通電させた後スイッチオフまで徐々に電流を減少させる第２の過程、前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する第３の過程、この第３の過程に続いて前記リードスイッチのスイッチオフまで徐々に電流値を減少させる第４の過程の各々を有するものである。
【００１９】
また、前記接触抵抗測定手段は、前記第２の過程の前記スイッチオン時点で感動値を測定すると共に前記安定動作電流値まで通電した後に接触抵抗を測定し、前記第３の過程で接触抵抗測定及び微粒子検出を行い、更に前記第４の過程で開離不良を測定する機能を有するものである。
【００２１】
【作用】
上記した手段によれば、第１の電流値によって磁歪効果が生じ、磁性体リードに伸びが生じ、接触部に微粒子が介在していれば、この微粒子を動かす力が形成され、これによって不導通微粒子や粘着微粒子の除去が可能になる。また、第１の電流値より大きな値の第２の電流値は、磁性体リードの接触部に十分な接触圧を付与する。したがって、接触抵抗の測定と共に微粒子の検出、粘着等の接触障害の検出が可能になる。
【００２２】
接触部に粘着があると、コイルへの通電が断たれた後も接点が閉じたままになり、接触部の開離不良となる。この開離不良の検出は、コイルへの通電の立ち上がり／立ち下がりを急激に行ったのでは発見し難い。そこで、コイルへの通電を断続的に行った後、電流を徐々に減少させていき、スイッチオフに伴う接触部の電気的な挙動から開離不良を測定する。このようにすれば、確実に開離不良の検出が可能になる。
【００２３】
一方、印加電流を徐々に増加させれば、リードスイッチのスイッチオンの時点の電流値が感動値になる。このように、印加電流を増加する制御とスイッチオンタイミングの把握とによって、簡単にリードスイッチの感動値を測定することができる。
【００２４】
また、上記したリードスイッチの接触抵抗測定装置によれば、コイル駆動手段によって任意の立ち上がり波形及び立ち下がり波形のコイルへの印加電流を形成でき、これによるコイルの駆動時に接点電流供給手段から磁性体リードに対して安定動作電流が通電され、その通電時に接触抵抗測定手段によって前記磁性体リード間の電圧又は抵抗値が検出され、測定データが得られる。これにより、接触抵抗の測定と共に微粒子の検出、粘着等の接触障害の検出が可能になる。
【００２５】
そして、コイル駆動手段によって生成された２種類の電流値は、次のように機能する。すなわち、第１の電流値によってスイッチオンになると共に磁性体リードに及ぼされた磁歪効果によって磁性体リードに伸びが生じ、接触部に微粒子が介在していれば、この微粒子を動かす力が形成され、不導通微粒子や粘着微粒子の除去が可能になる。更に、第２の電流値によって磁性体リードの接触部に十分な接触圧が付与される。したがって、接触抵抗の測定と共に微粒子の検出、粘着等の接触障害の検出が可能になる。
【００２６】
更に、前記コイル駆動手段において、前記第１の電流値と前記第２の電流値を繰り返し通電するようにし、この通電完了後に接触抵抗の測定を行えば、簡単な構成によって確実に接触抵抗の測定を行うことができる。また、前記第１の電流値から前記リードスイッチがスイッチオフ以下になるまで徐々に電流を降下させるようにし、その過程で接触抵抗測定手段を機能させれば、開離不良の測定が可能になる。
【００２７】
前記コイル駆動手段によってコイルを駆動するに際し、複数の通電パターン、すなわち、（１）安定動作電流値を矩形波で通電する過程、（２）この通電後、リードスイッチのスイッチオンまで徐々に電流値を増加し、ついで一気に安定動作電流値まで通電させた後スイッチオフまで徐々に電流を減少させる過程、（３）基本波形を動作コイルに繰り返し通電する過程、（４）この通電に続いて前記リードスイッチのスイッチオフまで徐々に電流値を減少させる過程、の４段階を連続に実行することにより、各過程において異なる内容の測定を連続して行うことができる。
【００２８】
具体的には、（２）の過程において感動値が測定でき、（３）の過程において接触抵抗が測定でき、（４）の過程において開離不良を測定することができる。
【００２９】
【実施例】
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。
図１は本発明によるリードスイッチの接触抵抗測定装置の一実施例を示す回路図である。
【００３０】
接触抵抗測定装置は、動作コイルに対する通電駆動を行うコイル駆動回路１（コイル駆動手段）、一対の磁性体リード間に抵抗測定に必要な電流を流すように制御する接点電流供給回路２（接点電流供給手段）、リードスイッチの一対の磁性体リード間の電圧を取り込んでＭＰＵ（マイクロ・プロセッサ・ユニット）４へデータを送るための接触抵抗測定回路３（接触抵抗測定手段）、及びＭＰＵ４により構成されている。
【００３１】
ＭＰＵ４は各回路に対してバス４ａ（コントロールバス及びデータバス）を介して接続され、コイル駆動回路１、接点電流供給回路２及び接触抵抗測定回路３を統括制御する。ここでは図示を省略しているが、ＭＰＵ４には接触抵抗測定等の処理を実行する為のプログラムを内蔵したＲＯＭや測定データを保存するためのＲＡＭなどのメモリ、更にはインターフェース回路等が付属している。
【００３２】
コイル駆動回路１には、リードスイッチ５に巻回状態で外嵌され、磁性体リードに磁界を付与するための動作コイル６が接続されている。また、リードスイッチ５の一対の磁性体リードには、接点電流供給回路２及び接触抵抗測定回路３が接続されている。コイル駆動回路１は、ＭＰＵ４に接続されるＤ／Ａコンバータ７、及びＤ／Ａコンバータ７に接続されるドライバ８から構成されている。また、接点電流供給回路２は、ＭＰＵ４に接続されるＤ／Ａコンバータ９、及びＤ／Ａコンバータ９に接続される定電流ドライバ１０から構成されている。
【００３３】
更に、接触抵抗測定回路３は、ＭＰＵ４に接続されるＡ／Ｄコンバータ１１、ＭＰＵ４に接続されるフリップフロップ回路（Ｆ／Ｆ）１２、Ａ／Ｄコンバータ１１の出力端に接続される増幅器１３、この増幅器１３の利得を調整するための抵抗１４，１５、これらの抵抗を切り換えるためのスイッチ１６の各々を備えて構成されている。スイッチ１６の切り換えにより、増幅器１３の利得を１倍（×１）または１００倍（×１００）に選択でき、接触抵抗値を正確に測定できるように配慮している。
【００３４】
図２は本発明による接触抵抗測定方法及び装置の測定時の基本動作波形の動作条件の説明のためのタイミングチャートである。
【００３５】
図中、（ａ）は動作コイル６の電流波形を示し、０〔ＡＴ〕（電流×コイル巻数＝アンペアターン）から（ｂ）のようにリードスイッチ５（図２においてはＲ．ＳＷで示す）の出力がオンになるレベルまでＡＴ値を上げる。その過程におけるＰｉ〔ＡＴ〕（これを感動値：Ｐｕｌｌ  Ｉｎ（プルイン）と言う）をリードスイッチ５のスイッチオンの時点としている。また、接点が十分に接触できる状態のレベル（動作コイル６に例えば１００〔ＡＴ〕が通電されるレベル）をＡＴ２としている。更に、このＡＴ２レベルから徐々に電流を下げる操作を行ってリードスイッチ５の出力がオフになった時点をＤｏ〔ＡＴ〕（これを開放値：Ｄｒｏｐ  Ｏｕｔ（ドロップアウト）と言う）としている。これらが、リードスイッチ５の基本特性の動作である。
【００３６】
なお、リードスイッチ５の出力がＤｏ値に開放しないように、ΔＤｏ〔ＡＴ〕をプラスした時点をＡＴ１としている。これを（ｃ）の基本コイル波形ＡＴ１，ＡＴ２のピーク・ツウ・ピーク（Ｐ．Ｐ）の波形に直すと、リードスイッチ５は常にオン状態になる。この時の条件をまとめると、基本動作波形の動作条件は次に示す２つになる。
▲１▼ＡＴ１：リードスイッチ５が開放（オフ）しないＡＴ値。
▲２▼ＡＴ２：十分に磁歪が得られるＡＴ値（通常、磁気の飽和アンペアターンを用いる）。
【００３７】
図３は磁歪効果を示す説明図である。また、図４は微粒子検出時における接触抵抗測定装置の各部の動作を示すタイミングチャートであり、図５は開離不良検出時の各部の動作を示すタイミングチャートである。
【００３８】
図３に示す（ａ）〜（ｄ）は、図４の基本コイル波形ＡＴ１，ＡＴ２を入力とした時の接点の動作状態を示している。また、図３の（ｅ）は図５の（ａ）のΔＤｏ＝０ＡＴに相当し、粘着性微粒子（Ａｕ）が介在しているために開離不良を生じている状態である。
【００３９】
更に、個々のケースについて説明すれば、図３の（ａ）は接点が開離している状態を示し、図３の（ｂ）は基本コイル波形ＡＴ１の状態であり、磁歪効果によって接点がΔｌ（約１μｍ）だけずれている状態を示している。図３の（ｃ）はＡＴ２の状態であり、磁歪効果が小さくなり、微粒子は接点内へ移動している。この状態では、接点内への微粒子介在と接点圧が低い為に接触抵抗が高くなっており、接触抵抗の値によっては不良が検出できる。図３の（ｄ）は微粒子が接点に介在しているにもかかわらず（ｂ）の状態と同一動作を示し、結果として接点接触圧は高くなり、接触抵抗値は正常値を示している。しかし、場合によっては、（ｄ）状態で不良検出になることも考えられるが、検出に問題はない。
【００４０】
このように、基本波形のＡＴ１，ＡＴ２は、（ｂ），（ｃ）状態（磁歪効果を示す）の繰り返しになる。（ｅ）の状態は、（ｂ），（ｃ）状態の繰り返し開閉と、磁歪効果に加えて粘着性微粒子（Ａｕ）の介在により粘着が生じた状態を示している。
【００４１】
実際の測定に際しては、動作コイル６に流れる動作電流（例えば、１００ＡＴ）をコイル駆動回路１から印加する。この時の状態は図４に示す基本コイル波形の立ち上がりピークＡＴ２であり、その値は磁歪接点圧と共にハイレベルに達し、接触抵抗値は低レベルで安定する。次の立ち上がりピークＡＴ１では、磁歪接点圧、接点接触圧共にローレベルであり、接触抵抗値は正常品でΔＲＣになる。測定タイミングは、ＡＴ１，ＡＴ２の各々のピークであり、このタイミングでＡ／Ｄコンバータ１１からデータが読み取られる。この読み取りに際しては、測定電流（例えば、１０ｍＡ）をリードスイッチ５に通電し、増幅器１３の利得を×１００に設定し、Ａ／Ｄコンバータ１１から接触抵抗のデータをＭＰＵ４によってリード（Ｒｅａｄ）する。この時の分解能を１ｍΩとし、１２ビットのＡ／Ｄコンバータ１１を用いたとすると、４０９６ｍΩまでが測定可能にある。
【００４２】
不良（ＮＧ）の判定は、図４の接触抵抗値の「エラー」波形に示すようにＮＧレベルを越えるピーク波形であり、これによって測定した結果を不良判定することが可能になる。この微粒子検出の動作波形の波形サイクル（時間）は任意に変えることができる。また、基本動作波形の動作条件であれば、図５の（ｂ）に示すように、任意に波形を変えることも可能である。
【００４３】
図５は本発明における開離不良検出の動作タイミングを示している。基本コイル波形のＡＴ１，ＡＴ２は、微粒子検出の動作波形のＡＴ１，ＡＴ２と同じ動作状態であり（基本動作波形の動作条件）、波形サイクル（時間）は任意に変えることができる。実際の開離不良検出波形は、ＡＴ１，ＡＴ２の繰り返し動作の後、波形ＡＴ１から徐々にＡＴレベルを落とし、リードスイッチ（Ｒ．ＳＷ）の出力波形がオフになったレベルをＤｏ値の１サイクルとする。２サイクル以後の変動したＤｏをΔＤｏとすると、（ｉ）正常変動無し：Ｄｏ＝ΔＤｏ、（ｉｉ）ステッキング：Ｄｏ＞ΔＤｏ、（ｉｉｉ）粘着：０＝ΔＤｏ、となり、開離不良検出が可能になる。
【００４４】
図６はリードスイッチの基本特性及び不良の同時検出の動作波形を示すタイミングチャートである。
【００４５】
動作コイル６に安定動作電流（例えば、１００ＡＴ）をコイル駆動回路１から印加した時、リードスイッチ５には安定した接点接触状態が形成される。この時の状態が図６の６０であり、これがリードスイッチ５の基本特性である。次に、リードスイッチの基本特性である感動値Ｐｉ〔ＡＴ〕を測定するため、動作コイル６に動作電流を徐々に通電し、リードスイッチの出力がオンになった時点をＰｉ〔ＡＴ〕とし、この時のＰｉ〔ＡＴ〕を測定する。
【００４６】
次に、動作コイル６に安定動作電流（例えば、１００ＡＴ）を通電した段階で接触抵抗ＣＲを測定する。ついで、安定動作電流を徐々に下げ、リードスイッチの出力がオフになった時点をＤｏ〔ＡＴ〕とし、この時のＤｏ〔ＡＴ〕を接触抵抗測定回路３で測定する。この後に行われる微粒子検出及び開離検出波形については、前記した通りであるので説明を省略する。
【００４７】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によるリードスイッチの接触抵抗測定方法は、磁性体リードが封止ガラス内に封止されると共に前記封止ガラスに動作コイルを外嵌させた構造を有し、前記動作コイルに通電を行ってスイッチ動作をさせるリードスイッチにおいて、前記通電コイルへの通電によって前記磁性体リードに磁歪が生じ且つ前記リードスイッチがスイッチオンを示す第１の電流値と、この第１の電流値より高く前記磁性体リードが十分な接触圧を得る第２の電流値とを有する波形を基本波形とし、前記リードスイッチが常にオン状態となるように前記基本波形を前記動作コイルに繰り返し通電する過程で接触抵抗を測定するようにしたので、接触抵抗の測定と共に微粒子の検出、粘着等の接触障害の検出が可能になる。
【００４８】
また、本発明による接触抵抗測定装置は、リードスイッチの動作コイルに対して測定時に通電を行うコイル駆動手段と、前記リードスイッチの磁性体リードに対し測定時に通電を行う接点電流供給手段と、この接点電流供給手段による通電時に前記磁性体リード間の電圧又は抵抗値を検出する接触抵抗測定手段とを備えた構成により、同様に接触抵抗の測定とともに微粒子の検出、粘着等の接触障害の検出が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるリードスイッチの接触抵抗測定装置の一実施例を示す回路図である。
【図２】本発明による接触抵抗測定装置の測定時の基本動作波形の動作条件を示すタイミングチャートである。
【図３】本発明にかかる磁歪効果を示す説明図である。
【図４】微粒子検出時における接触抵抗測定装置の各部の動作を示すタイミングチャートである。
【図５】開離不良検出時の各部の動作を示すタイミングチャートである。
【図６】リードスイッチの基本特性及び不良の同時検出の動作波形を示すタイミングチャートである。
【図７】ミリオームメータを用いた測定回路を示す回路図である。
【図８】電圧降下法により接触抵抗の測定を行う場合の回路を示す回路図である。
【図９】従来の接触抵抗測定法における測定タイミングを示すタイミングチャートである。
【図１０】接点外に微粒子が存在している例を示す説明図である。
【図１１】接点内に微粒子が存在している例を示す説明図である。
【図１２】接点開離モデルを示す説明図である。
【図１３】接点の粘着及びステッキングモデルを示す説明図である。
【符号の説明】
１  コイル駆動回路
２  接点電流供給回路
３  接触抵抗測定回路
５  リードスイッチ
６  動作コイル
【図１】
0003798035.tif 000002
【図２】
0003798035.tif 000003
【図３】
0003798035.tif 000004
【図４】
0003798035.tif 000005
【図５】
0003798035.tif 000006
【図６】
0003798035.tif 000007
【図７】
0003798035.tif 000008
【図８】
0003798035.tif 000009
【図９】
0003798035.tif 000010
【図１０】
0003798035.tif 000011
【図１１】
0003798035.tif 000012
【図１２】
0003798035.tif 000013
【図１３】
0003798035.tif 000014