(57)【要約】光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー５、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー６及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサー７を有し、中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤であっても正確な光安定性試験を実施できる光安定性試験装置を提供する。
2003002982.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサーを有することを特徴とする光安定性試験装置。
【請求項２】
光源、当該光源から発せられた光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサーを有することを特徴とする光安定性試験装置。
【請求項３】
前記中間波長光線測定用センサーによる測定値を表示する測定値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第１項又は第２項記載の光安定性試験装置。
【請求項４】
前記測定値表示部は各時点における測定値を積算した積算値を表示するための積算値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第３項記載の光安定性試験装置。
【請求項５】
前記測定値表示部は各時点における測定値である瞬時値を表示するための瞬時値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第３項又は第４項記載の光安定性試験装置。
【請求項６】
前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光学系を制御する制御部を有することを特徴とする請求の範囲第１項、第３項、第４項又は第５項記載の光安定性試験装置。
【請求項７】
前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光源を制御する制御部を有することを特徴とする請求の範囲第２項、第３項、第４項，第５項又は第６項記載の光安定性試験装置。
【請求項８】
前記中間波長光線測定用センサーの感受性ピーク値は４００ｎｍから５００ｎｍまでの範囲にあることを特徴とする請求の範囲第１項，第２項，第３項，第４項、第５項、第６項又は第７項記載の光安定性試験装置。
【請求項９】
前記中間波長光線測定用センサーの感受性ピーク値は４５０ｎｍから４７０ｎｍまでの範囲にあることを特徴とする請求の範囲第１項，第２項，第３項，第４項、第５項、第６項、第７項又は第８項記載の光安定性試験装置。
【請求項１０】
前記紫外光線測定用センサーの感受性ピーク値は３５０ｎｍから３７０ｎｍまでの範囲にあることを特徴とする請求の範囲第１項，第２項，第３項，第４項、第５項、第６項、第７項、第８項又は第９項記載の光安定性試験装置。
【請求項１１】
前記可視光線測定用センサーの感受性ピーク値は５５０ｎｍから５６０ｎｍまでの範囲にあることを特徴とする請求の範囲第１項，第２項，第３項，第４項、第５項、第６項、第７項，第８項、第９項又は第１０項記載の光安定性試験装置。
【請求項１２】
光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４００ｎｍから５００ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることを特徴とする光安定性試験装置。
【請求項１３】
光源、当該光源から発せられた光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４００ｎｍから５００ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることを特徴とする光安定性試験装置。
【請求項１４】
前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４５０ｎｍから４７０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることを特徴とする請求の範囲第１２項又は第１３項記載の光安定性試験装置。
【請求項１５】
前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を紫外光線については３５０ｎｍから３７０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることを特徴とする請求の範囲第１２項、第１３項又は第１４項記載の光安定性試験装置。
【請求項１６】
前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を可視光線については５５０ｎｍから５６０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることを特徴とする請求の範囲第１２項、第１３項、第１４項又は第１５項記載の光安定性試験装置。
【請求項１７】
前記スペクトロラジオメータによる中間波長光線の照射量の測定値を表示する測定値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第１２項、第１３項、第１４項、第１５項又は第１６項記載の光安定性試験装置。
【請求項１８】
前記測定値表示部は各時点における測定値を積算した積算値を表示するための積算値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第１７項記載の光安定性試験装置。
【請求項１９】
前記測定値表示部は各時点における測定値である瞬時値を表示するための瞬時値表示部を有することを特徴とする請求の範囲第１７項又は第１８項記載の光安定性試験装置。
【請求項２０】
前記スペクトロラジオメータによる中間波長光線の照射量の測定値の信号が伝達されることにより前記光学系を制御する制御部を有することを特徴とする請求の範囲第１２項，第１４項，第１５項，第１６項，第１８項又は第１９項記載の光安定性試験装置。
【請求項２１】
前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光源を制御する制御部を有することを特徴とする請求の範囲第１３項、第１４項、第１５項，第１６項、第１７項、第１８項、第１９項又は第２０項記載の光安定性試験装置。
【請求項２２】
前記試料台は回転可能にされていることを特徴とする請求の範囲第１項，第２項，第３項，第４項，第５項，第６項，第７項，第８項，第９項，第１０項，第１１項、第１２項、第１３項、第１４項，第１５項、第１６項、第１７項、第１８項、第１９項、第２０項又は第２１項記載の光安定性試験装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、例えば、薬品等の光安定性を試験するための光安定性試験装置に関する。
背景技術
従来の光安定性試験装置を第４図、第５図、第６図、第７図及び第８図を参照しつつ説明する。
第４図は、従来技術に係る光安定性試験装置を示す要部正面図である。この光安定性試験装置１は、光源２から発せられた光線を光学系３で調節して試料台４に載置された図示しない試料に照射し試料の光安定性を試験するものである。光学系３は、主に、第一反射鏡３１、光線調節手段３３、光束制御手段であるインテグレーテッドレンズ３５，第二反射鏡３７及び第三反射鏡３９から成っている。インテグレーテッドレンズ３５は、チョーク状の石英の棒が束にしてあり上部に球面ガラスが貼り付けてある。ここを光線が通ると石英柱一本一本が小さな光源のような挙動をする。これにより、例えば、所定の絞りを通った光束が長方形であっても円形の光束に変えることができる。
４は図示しない試料を載置するための試料台でこの試料台４に可視光線の照射量を測定するための可視光線測定用センサー５と紫外線の照射量を測定するための紫外線測定用センサー６が取り付けられている。尚、試料台４は駆動装置７の駆動力により回転軸７１を介して回転可能になっている。
この従来技術に係る光安定性試験装置１においては、大きくランプハウス８と試料室９に分けられており、上記構成のうち光源２及び光学系３のうちの第一反射鏡３１、光線調節手段３３、光束制御手段であるインテグレーテッドレンズ３５及び第二反射鏡３７がランプハウス８のなかに設置され、光学系３のうちの第三反射鏡３９及び試料台４が試料室９のなかに設置されている。
光学系３のなかの光線調節手段３３は、全光線調節手段である絞り及び紫外線調節手段である紫外線制限フィルターを有している。全光線調節手段である絞りは可視光線及び紫外線全ての光線量を一律に調節制御するものであり、紫外線調節手段である紫外線制限フィルターは光線のなかの紫外線のみ（特に、遠紫外線）を制御するものである。尚、光源２としてはキセノンランプを使用している。
上記構成を有する光安定性試験装置１では、まず、試料台４の上に図示しない試料が置かれる。その後、光源２のキセノンランプから光線が発せられる。この光線はまず、第一反射鏡３１により集光され、その後、光線調節手段３３の中の紫外線を制限するため紫外線調節手段である紫外線制限フィルターを通過する。その後、全体光量即ち可視光線及び紫外線全ての光線量を調節制限するため全光線調節手段である絞りを通過させる。その後、光束制御手段であるインテグレーテッドレンズ３５により光線の方向を整える。その後、第二反射鏡３７により光線の方向を略水平に変え試料室９に入り、更に第三反射鏡３９により下方に反射し試料台４に載置された図示しない試料に照射される。尚、長時間にわたって照射されるため、照射分布を良くするため、照射中、駆動装置７により回転軸７１を介して試料台４が回転され、試料の光安定性が試験されることになる。
尚、上記照射中、可視光線測定用センサー５又は紫外線測定用センサー６いずれか一方からの信号が図示しない制御部に伝達され、この制御部で演算して光線量及び時間を制御している。
照射中、可視光線測定用センサー５からの信号によって光源２の光量が調節される。また、紫外線測定用センサー６による測定値は積算され記録される。
しかし、上記従来技術に係る光安定性試験装置１においては次のような問題点があった。
第７図は、太陽光、キセノンランプ及びＤ６５ランプ（東芝製ＦＬＲ２０Ｓ・Ｄ−ＥＤＬ−Ｄ６５／Ｍ）のスペクトル分布を示す図である。横軸に波長を示し、縦軸に強度の相対値を示している。図８に示されるように、キセノンランプ及びＤ６５ランプという太陽光近似光源のスペクトル分布は、太陽光のスペクトル分布と比較して紫外線部分が過剰になっている。
一方、試料である医薬品等の光安定性試験における厚生省の基準は太陽光を基準に定めれられており、具体的には、積算照射量は、可視光線が１２００ｋＬｘｈｒ以上、紫外線が２００ｗｈｒ／ｍ２以上と規定されている。
従って、上記光安定性試験装置１においては、上述した二個の光センサー即ち可視光線測定用センサー５及び紫外線測定用センサー６のみが試料台６に取り付けられている。この可視光線測定用センサー５及び紫外線測定用センサー６の感度分布を第５図に示す。第５図中、ｂは可視光線測定用センサー５の感度即ち可視光に対する照度計の感度で、いわゆる比視感度に近似したものである。一方、ａは紫外線測定用センサー６の感度でブラックライトの光源分布に近似させたものである。尚、紫外線光の測定定義は「３５０ｎｍから３７０ｎｍ」と定義されており、ＦＤＡでは、明確に「ブラックライトのスペクトル分布」としている。
この第５図において明確なように、４００ｎｍから５００ｎｍの波長付近の感受性が殆ど存在しないのがわかる。太陽光のように、光源のスペクトルに一定の分布型が想定される場合、上記二個のセンサー即ち可視光線測定用センサー５及び紫外線測定用センサー６による測定で全体の強度を代表するのに十分である。
しかし、光源が変わり、種々のパターンのスペクトル分布が予想される場合、光線の照射効果即ち試験結果に差が出ることがある。例えば、第６図に示されるように、１つの薬剤であるメナトレン（ビタミンＢ１）は中間波長域に大きな劣化度を有する。第６図はメナトレン（ビタミンＢ１）のスペクトル毎の劣化度を示す図である。この劣化曲線をもつ薬剤メナトレン（ビタミンＢ１）に太陽光、キセノン光源及びＤ６５光源の積算照射量を各々、１２００ｋＬｘｈｒかけた場合、各劣化度は次のようになった。尚、紫外線の照射量は紫外線調節手段である紫外線フィルターを制御して、何れも２２０ｗｈｒ／ｍ２とした。第８図はこの際の紫外線フィルター透過率を示す図である。尚、劣化度は太陽光を１とした相対評価とする。
光源        可視光積算照射量    紫外光線積算照射量    劣化度
太陽光        １２００ｋＬｘｈｒ    ２２０ｗｈｒ／ｍ２    １．００
キセノン光源  １２００ｋＬｘｈｒ    ２２０ｗｈｒ／ｍ２    １．２１
Ｄ６５光源    １２００ｋＬｘｈｒ    ２２０ｗｈｒ／ｍ２    １．１６
上記の試験結果のように、この薬剤メナトレン（ビタミンＢ１）においては従来評価では同じ照射量になるように照射しても、使用する光源により劣化度に差が出ることになる。また、その他の一般的な薬剤であっても、同様な性質をもつものが多い。
このように、中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤では使用する光源により劣化度に差が出ることになり、正確な光安定性試験が困難であるという問題点があった。
そこで、本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤であっても正確な光安定性試験を実施しうる光安定性試験装置を提供することを目的とする。
発明の開示
上記目的を達成するために、本発明に係る光安定性試験装置は、光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサーを有するものである。ここで、「可視光線」、とは波長が主に、５００ｎｍから７８０ｎｍの光線をいい、「紫外線」とは波長が主に、２００ｎｍから４００ｎｍの光線をいい、「中間波長光線」とは波長が主に４００ｎｍから５００ｎｍの光線をいう。
また、光源、当該光源から発せられた光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサーを有するものである。
また、中間波長光線測定用センサーによる測定値を表示する測定値表示部を有することが好ましい。
また、前記測定値表示部は各時点における測定値を積算した積算値を表示するための積算値表示部を有することが好ましい。
また、前記測定値表示部は各時点における測定値である瞬時値を表示するための瞬時値表示部を有することが好ましい。
また、前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光学系を制御する制御部を有することが好ましい。
また、前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光源を制御する制御部を有することが好ましい。「光源を制御する」とは、例えば、光源から発せられる光線量を増減させたり、照射時間を長短させたりすることをいう。
また、前記中間波長光線測定用センサーの感受性ピーク値は４００ｎｍから５００ｎｍまでの範囲にあることが好ましい。
また、前記中間波長光線測定用センサーの感受性ピーク値は４５０ｎｍから４７０ｎｍまでの範囲にあることが好ましい。
また、前記紫外光線測定用センサーの感受性ピーク値は３５０ｎｍから３７０ｎｍまでの範囲にあることが好ましい。
また、前記可視光線測定用センサーの感受性ピーク値は５５０ｎｍから５６０ｎｍまでの範囲にあることが好ましい。
また、光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４００ｎｍから５００ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とするものであってもよい。
また、光源、当該光源から発せられた光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４００ｎｍから５００ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とするものであってもよい。
また、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を中間波長光線については４５０ｎｍから４７０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることが好ましい。
また、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を紫外光線については３５０ｎｍから３７０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることが好ましい。
また、前記光センサーはスペクトロラジオメータであって、スペクトルの評価を可視光線については５５０ｎｍから５６０ｎｍのピーク値をもつスペクトル分布を加重評価係数とすることが好ましい。
また、前記スペクトロラジオメータによる中間波長光線の照射量の測定値を表示する測定値表示部を有することが好ましい。
また、前記測定値表示部は各時点における測定値を積算した積算値を表示するための積算値表示部を有することが好ましい。
また、前記測定値表示部は各時点における測定値である瞬時値を表示するための瞬時値表示部を有することが好ましい。
また、前記スペクトロラジオメータによる中間波長光線の照射量の測定値の信号が伝達されることにより前記光学系を制御する制御部を有することが好ましい。
また、前記中間波長光線測定用センサーからの信号が伝達されることにより前記光源を制御する制御部を有することが好ましい。
また、前記試料台は回転可能にされていることが好ましい。
発明を実施するための最良の形態
本発明をより詳細に添付の図面に従って説明する。
本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置を第１図及び第２図を参照しつつ説明する。第１図は、本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置を示す要部斜視図である。第２図は、本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置における中間波長光線測定用センサーの感度分布を示す図である。
４は試料台で駆動装置７２により回転軸７１を介して回転可能である。この試料台４の上に３個の光ンサーが取り付けられている。５は可視光線測定用センサー、６は紫外線測定用センサー及び７は中間波長光線測定用センサーである。可視光線測定用センサー５は、５５５ｎｍ付近に感受性ピーク値をもち、主に可視光領域の光線の照射量を測定するものである。紫外線測定用センサー６は、３６０ｎｍ付近に感受性ピーク値をもち、主に紫外光領域の光線の照射量を測定するものである。また、中間波長光線測定用センサー７は、４００ｎｍ付近に感受性ピーク値をもち、主に中間波長光領域の光線の照射量を測定するものである。
本実施例においては、中間波長光線測定用センサー７として、トプコン社製のＵＤ４０の受光部をもつ紫外線強度計である。第２図に示すように、この中間波長光線測定用センサー７は４００ｎｍ付近に感受性ピーク値をもつ。尚、第２図において、横軸は波長（単位：ｎｍ）、縦軸が各スペクトル強度の相対値を示す。
５，６及び７の各センサーに関し、各々、各センサーで測定した測定値及び積算値の図示しない記録部及び表示部を有している。
尚、光安定性試験装置における光学系等の他の機械的構成は従来と略同様である。
次に、上記構成を有する本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置の作用・効果を説明する。
まず、試料台４の上に図示しない試料が載置される。次に、図示しない光源から発せられた光線が図示しない光学系を介して図示しない試料に照射されることにより、試料の光安定性が試験されることになる。照射中は、照射分布を均一にするため、試料台４は駆動装置７２により回転軸７１を介して回転される。
この光安定性試験中、試料台４に取り付けられた３個のセンサー即ち可視光線測定用センサー５、紫外線測定用センサー６及び中間波長光線測定用センサー７によって光線中の可視光、紫外線及び中間波長光線の各照射量の瞬時値及び積算照射量が図示しない記録部に記録され及び図示しない表示部に各々表示されることになる。
上記光安定性試験装置において、光源を太陽光、キセノン光源及びＤ６５光源に関して次に示す実験結果が得られた。
光源  可視光積算値  紫外光積算値  中間波長積算値  積算比  劣化度
（ｋＬｘｈｒ）（ｗｈｒ／ｍ２）（ｗｈｒ／ｍ２）      （相対値）
太陽光        １２００      ２２０      ２９０７    １．００  １．００
キセノン光源  １２００      ２２０      ３４３９    １．２０  １．２７
Ｄ６５光源    １２００      ２２０      ２８５４    ０．９８  １．１１
上記の表において、可視光積算値、紫外光積算値及び中間波長積算値は各々、上述した可視光線測定用センサー５、紫外線測定用センサー６及び中間波長光線測定用センサー７で測定された各光線の照射量の積算値である。積算比は、太陽光の中間波長積算値を１．００とした場合の相対値である。劣化度は、太陽光を光源とした場合の劣化度を１．００とした場合の相対値である。
上記の表に示されるように、中間波長積算値と劣化度との間に大きな関係が認められる。このように、可視光線測定用センサー５及び紫外線測定用センサー６の測定値のみならず、中間波長光線測定用センサー７の測定値を表示することにより、試料の劣化度をより正確にかつ詳細に表示することができる。
尚、本実施例においては、中間波長光線測定用センサー７の測定値を表示したが、さらに、中間波長光線測定用センサー７からの信号を制御部に伝達し、光学系や光源の制御・調整をすることも可能である。
また、本件実施例における光センサーとは異なる実施例としては、スペクトロラジオメータを利用してもさらなる効果を上げることができる。スペクトロラジオメータはスペクトル全域を測光するもので、例えば、測定結果は太陽光、キセノンランプ及びＤ６５ランプのスペクトル分布を示す第７図のようになる。
本発明の第一実施例に係る安定性試験装置において使用したセンサーの感度係数（又は加重評価係数）を使って加重平均した指数を照射値として使用することができる。スペクトロラジオメータからの分光別のデータをマイコン等によって演算して、可視光積算値、紫外光積算値及び中間波長積算値を記録し、表示部に表示することができる。
具体的に、式において表すと次のようになる。
2003002982.tif 000003
ここで、Ｅ１（λ）、Ｅ２（λ）及びＥ３（λ）は各々、スペクトル毎の積算値である。Ｖ１λ、Ｖ２λ及びＶ３λは各波長における加重評価係数である。
このように、光センサーとして、スペクトロラジオメータを使用しても中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤であっても正確な光安定性試験を実施することができる。
以上のように、本発明に係る光安定性試験装置は、中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤であっても正確な光安定性試験を実施することができる。
産業上の可能性
以上のように、本発明に係る光安定性試験装置は、光源、当該光源から発せられた光線を調節する光学系、当該光学系を経た光線が照射される試料を載置するための試料台及び当該試料台に取り付けられた光線の照射量を測定するための光センサーを有する光安定性試験装置において、前記光センサーは可視光線の照射量を測定する可視光線測定用センサー、紫外線の照射量を測定する紫外線測定用センサー及び可視光線と紫外線間の中間波長光線の照射量を測定する中間波長光線測定用センサーを有するので、中間波長領域（４００ｎｍ〜５００ｎｍ）に大きな劣化度を有する薬剤であっても正確な光安定性試験を実施することができ、正確な光安定性試験の実施に有用である。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置を示す要部斜視図である。
第２図は、本発明の第一実施例に係る光安定性試験装置における中間波長光線測定用センサーの感度分布を示す図である。
第３図は、本発明の第二実施例に係る光安定性試験装置を示す要部斜視図である。
第４図は、従来技術に係る光安定性試験装置を示す要部正面図である。
第５図は、可視光線及び紫外線測定用センサーの感度分布を示す図である。
第６図は、メナトレンの劣化度を示す図である。
第７図は、太陽光、キセノンランプ及びＤ６５ランプのスペクトル分布を示す図である。
第８図は、紫外線フィルター透過率を示す図である。
【図１】
2003002982.tif 000004
【図２】
2003002982.tif 000005
【図３】
2003002982.tif 000006
【図４】
2003002982.tif 000007
【図５】
2003002982.tif 000008
【図６】
2003002982.tif 000009
【図７】
2003002982.tif 000010
【図８】
2003002982.tif 000011
【国際調査報告】
2003002982.tif 000012
2003002982.tif 000013