(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極パターンに対向する側面に、その一部が開放された円筒状の長溝が形成された本体と、
前記長溝の開放部位から突出するように複数の凸部と凹部が前記開口部位に沿って半径方向に形成され、その外周面と前記本体の長溝の内側面とが接触するように前記円筒状の長溝に埋設されたスプリングワイヤーと、
前記開口部位に沿って前記スプリングワイヤーの半径方向に形成された複数の凸部と凹部とにそれぞれ間隔を介して対向する複数の凸部と凹部とが前記開口部位に沿って半径方向に形成されているとともに、前記本体の長溝の内部において前記スプリングワイヤーの内側面と接触するチューブと、
からなることを特徴とするパネルの電極パターンテスト用ショートバー。
【請求項２】
前記スプリングワイヤーの断面は、軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状であることを特徴とする請求項１に記載のパネルの電極パターンテスト用ショートバー。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明はパネルの電極パターンテスト用ショートバーに関するもので、より詳しくは、パネル上に電極パターンを形成した後、電極パターンの良、不良を判定するために全てのセルに電圧を印加する際、スプリングワイヤーが上下板ガラスの電極パターンにより水平方向に押圧されることなく、垂直方向に変形しつつ上下板ガラスの平面の均一性と電極パターンの高さの差に関係なく均一に接触できるようにするためのパネルの電極パターンテスト用ショートバーに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、電子表示装置としては、多くの形式のものがあるが、この一つにプラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰと記す）を用いたものがある。このＰＤＰは、上板ガラスと下板ガラスとこの上下板ガラス間に形成した隔壁とにより密封される領域（セル）を形成し、この領域に、Ｎｅ＋Ａｒ、Ｎｅ＋Ｘｅなどのガスを注入して多数のセルを形成する。次いで、このセルの上下板ガラス間に電圧を印加することにより、各セル毎にネオン光を発光させて、表示光として利用している。
【０００３】
従って、プラズマディスプレーは、対向する上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成されている縦電極パターンと横電極パターンとの間に形成される交点を放電セルとするとともに、この放電セルにおける放電をオンオフすることによって、各種の文字やパターンを表示するように構成されている。
【０００４】
ＰＤＰは、発光型で鮮明な大型表示が可能であるために、ＦＡ(工場自動化)機器の分野で多く使われてきたが、現在は表示装置の小型軽量化及び高性能化と共にコンピューター等のＯＡ(事務自動化)機器等の分野で広く利用されている。更には、表示装置の大形化に伴い、大型パネルとして表示品質の高さ、応答速度の速さのために、壁掛け用ＴＶにおける大形パネルとして採用されるにつれ、その需要が急増している。
【０００５】
このように、ＰＤＰにおける上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成された電極パターンの交点でプラズマ放電させて発光するように構成しているので、上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成された電極パターンの電気的な特性によって完成品の歩留まりが決定される。
【０００６】
図１ａ〜図１ｂは、従来の一般的なＰＤＰの上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成された電極パターンを示す図で、図１ａは上板ガラスに形成された電極パターンを示し、図１ｂは下板ガラスに形成された電極パターンを示す。
【０００７】
図１ａ、図１ｂに示すように、上板ガラス１０と下板ガラス１１とに、それぞれ電極パターン１０ａ、１０ｂと電極パターン１１ａ、１１ｂとを形成した後、上板ガラス１０の電極パターン１０ａ、１０ｂが形成されている面とは、反対側の面にバス電極となる誘電体層とＭｇＯ層とを形成している。次いで、下板ガラス１１に隔壁を形成して蛍光体及びシール材を塗布する。このようにしてＰＤＰの上板ガラスと下板ガラスとを形成した後、上下板ガラスのそれぞれ電極パターン１０ａ、１０ｂ、１１ａ、１１ｂが互いに垂直方向において交わるように重ね合わせてセルを形成した後、排気及びガスの注入が行われる。
【０００８】
このようにしてＰＤＰモジュールを完成した後、動作中に発生する可能性のある問題を除去するために、エイジング(aging)やバーンイン(burn-in)テストが行われる。
又、排気及びガスを注入した後、全てのセルに電圧を印加してプラズマを発生させると同時に、発生したガスを除去するために、ＰＤＰモジュールの上板ガラスと下板ガラスとの全ての電極パターンに電圧を印加して動作させる。この動作状態で電極パターンの異常の有無をテストするとともに、通常のＰＤＰモジュールの製造工程において封入されているゲッタによりプラズマの生成時に発生するガスを除去することができる。
【０００９】
ここで、前述したプラズマディスプレイパネルのように、上板及び下板ガラスに電極パターンを形成する素子としては、ＳＴＮ ＬＣＤ(Super Twisted Nematic Liquid Crystal Display)や ＥＬ（Electro Luminescense)等があるが、このような素子の電極パターンをテストするための装置及び方法と、プラズマディスプレイパネルの電極パターンテストするための装置及び方法とを比べると、両者は、アクティブ素子の代わりにパッシブパターンだけから構成されている点を除いては、素子の電極パターンとプラズマディスプレイパネルの電極パターンとをそれぞれテストするための装置及び方法は全て同一である。そこで、この出願では、プラズマディスプレイパネルについて説明する。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
図２はＰＤＰモジュールの動作テストをする場合のコネクター電極を示す図で、電極パターン２０には、均一な電圧を印加できるように、電極パターン２５の先端２５ａが互いに連結している。従って、電極パターン２５のどの位置から電圧を印加しても、全ての電極パターン２０には均一な電圧が印加されて全てのセルからプラズマが発生する。従って、セルの発光時に、発光していないセルの検出が可能であるとともに、発生するガスの制御も可能である。このようなテストを完了した後、互いに連結した電極パターン２５の先端２５ａを‘Ａ’線に沿ってレーザーで切断した後、基板を形成すれば製品が完成する。
【００１１】
このように電極パターンを互いに連結させて形成した後、テストの完了後に再び切断する方法は、全ての電極パターンに電源を印加できる反面、製造工程が複雑になるという問題点がある。
【００１２】
図３は従来技術によるショートバーを用いたＰＤＰモジュールの動作テストを説明するための図で、導電体のショートバー３０は、パネル３１上に形成した電極パターン３２に密着させて電圧を印加する。この時、図３に示すように、電極パターン３２の高さが一定の部分ａでは、電圧が均一に印加されるが、電極パターン３２の高さが相異する場合には、接触しない電極パターンの部分ｂが発生するだけでなく、熱工程によりパネルの平面図が変わる場合には、電極パターンの高さが同一であったとしても、接触しない部分ｂが発生して正確なテストが行われないという問題点がある。
【００１３】
又、電極パターン３２の高さが高い場合、ショートバー３０により電極パターンの先端が損傷を受ける部分ｃも発生するという問題点がある。
【００１４】
これらの問題点を解決するための一例として、本出願人が先に出願した大韓民国特許出願第２０００-２８０８３号(２０００．０５．２４)に開示された"プラズマディスプレイパネルテスト用ショートバー"がある。このショートバーはリング状に巻かれたスプリングワイヤーを介して電極パターンに接触させる場合、弱い力で押圧して接触させる場合には、良い効果を得ることができるが、強い力でショートバー３０を押圧して電極パターンに接触させる場合には、図４に示すようにスプリングワイヤー４６が水平方向（スプリングワイヤーの場合には軸方向）に広がることにより、パネル５０上には、スプリングワイヤー４６と接触しない電極パターン５２が生じるため、このパターン電極５２には電圧が印加されないという問題点があった。
【００１５】
即ち、弱い力でショートバーを垂直方向（スプリングワイヤーの場合には半径方向）に押圧する場合、全ての押圧力がスプリングワイヤーの半径方向に加わるため、この押圧力はスプリングワイヤーのリング形状を歪める方向に作用してスプリングワイヤーのリング形状が歪むようになる。そのため、ショットバーは、電極パターンの高さや上下板ガラスの平面の均一性に関係なくスプリングワイヤーを介して均一に電極パターンと接触させることが出来る。
【００１６】
一方、強い力でショートバーを押圧する場合や電極パターンの高さに極端な差があり、又は上下板ガラスの平面の均一性が非常に悪い場合には、スプリングワイヤーのリング形状を歪める方向、即ち、半径方向の弾性係数がスプリングワイヤーを軸方向に押圧する方向に作用する。この際、押圧力は軸方向の弾性係数に比べて相対的に大きいため、軸方向に過度な変形が生じてスプリングワイヤーが軸方向に広がる。そのため、スプリングワイヤーが電極パターンと接触しない箇所が発生してしまい、正確にプラズマディスプレイパネルをテストできないという問題点が起こる。
【００１７】
従って、このような問題点を解決するための一例として、本出願人が出願した大韓民国特許出願第２０００-４２４９６号(２０００．０７．２４)に開示された“パネルの電極パターンテスト用ショートバー”がある。このショートバー４０は、図５に示すように、下方方向に延びる長溝４４が形成された本体４２と、軸方向の長さが半径方向の長さより長い矩形の断面を有する導電体が一定の間隔で配列されたスプリング又はリングワイヤー４６と、このスプリング又はリングワイヤー４６の内径より小さい直径の部材で形成され、スプリング又はリングワイヤー４６の内側で本体４２と固定させるチューブ４８とから構成されている。
【００１８】
このように、スプリング又はリングワイヤーの断面を軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状に形成してパネル５０の電極パターン５２に接触させることによって、スプリング又はリングワイヤーが上下板ガラスの電極パターンにより軸方向に押圧されることなく、半径方向のみに変形させて下板ガラスの平面と電極パターンの高さとの差に関係なく均一に接触できるようにしたものである。
【００１９】
しかし、このようにスプリング又はリングワイヤーの断面を軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状に形成した場合、スプリング又はリングワイヤーの内側でスプリング又はリングワイヤーを本体に固定させるチューブとの間隔が大き過ぎるので、過度な押圧力がスプリング又はリングワイヤーに加えられる場合、スプリング又はリングワイヤーの軸方向の移動の自由度が大きいために軸方向に広がるという問題点が相変らず存在する。その上、チューブを用いてスプリング又はリングワイヤーを本体に固定させる過程が非常に困難であるため、作業効率が低下して製造コストが高くなる原因ともなっている。
【００２０】
従って、このような問題点を解決するために、この発明では、パネル上に電極パターンを形成した後、電極パターンの良、不良を判定するためのテストでは、全てのセルに電圧を印加する際、スプリングワイヤーが上下板ガラスの電極パターンにより左右に押されることなく、半径方向に変形しつつ上下板ガラスの均一度と電極パターンの高さの差に関係なく均一に接触できるようにするパネルの電極パターンテスト用ショートバーを提供することにその目的がある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係わる発明の“パネルの電極パターンテスト用ショートバー”は、電極パターンに対向する側面に、その一部が開放された円筒状の長溝が形成された本体と、長溝の開放部位から突出するように複数の凸部と凹部が開口部位に沿って半径方向に形成され、その外周面と本体の長溝の内側面とが接触するように円筒状の長溝に埋設されたスプリングワイヤーと、開口部位に沿ってスプリングワイヤーの半径方向に形成された複数の凸部と凹部とにそれぞれ間隔を介して対向する複数の凸部と凹部とが開口部位に沿って半径方向に形成されているとともに、本体の長溝の内部においてスプリングワイヤーの内側面と接触するチューブとからなることを特徴とする。
【００２２】
請求項２に係わる発明は、スプリングワイヤーの断面は、軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状であることを特徴とする。
【００２３】
このように構成されているので、この発明は、本体の開放部位から突出したスプリングワイヤーの複数の凸部部分のみが電極パターンに接触するだけでなく、チューブによりスプリングワイヤーが本体に固定密着されるので、スプリングワイヤーの軸方向の移動の自由度が小さくなり強い圧力を加える場合にも軸方向に押圧されなくなる。又、チューブにスプリングワイヤーを巻いた状態でショートバーを形成する場合、製作の便利性及び効率性を高めることができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】
この発明の望ましい実施の形態を、図６ａ、図６ｂ、図７に基づいて説明する。
又、この発明ならびにそれ以外に関連する目的と特徴とは、添付図面に基づく下記の説明と特許請求の範囲中で指摘したその新規事項を読めば明確である。
なお、この実施の形態においては、従来の構成と同一部分は同一符号及び同一名称を使用する。
【００２５】
図６ａ、図６ｂは、この発明に係るパネルの電極パターンテスト用ショートバーを示す斜視図で、図６ａはショートバーの開放部位を下方に向けた状態を示す斜視図であり、図６ｂはショートバーの開放部位を上方に向けた状態を示す斜視図である。
【００２６】
ここで、図６ａ、図６ｂに示すように、この発明に係る電極パターンテスト用ショートバーは、本体４２とスプリングワイヤー４６とチューブ４８とにより構成されている。本体４２には、電極パターン５２に対向する側面の一部が開放されて開口部位となっている円筒状の長溝４４が形成されている。スプリングワイヤー４６は、本体４２の円筒状の長溝４４に埋設され、その外周面は本体４２の長溝４４の内側面に接触しているとともに、複数の凸部４６ａと凹部４６ｂとが長溝４４の開放部位から突出するように、この開放部位に沿ってスプリングワイヤー４６の半径方向に形成されている。チューブ４８には、開口部位に沿ってスプリングワイヤー４６の半径方向に形成されている複数の凸部４６ａと凹部４６ｂとにそれぞれ間隙を介して対向する複数の凸部４８ａと凹部４８ｂが、開口部位に沿ってチューブ４８の半径方向に形成されている。本体４２の長溝４４の内部では、チューブ４８がスプリングワイヤー４６の内側面に接触している。
【００２７】
ここで、スプリングワイヤー４６は、両端を自由端としてチューブ４８の外周面に一定の間隔で巻かれており、その断面は軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状を有している矩形や楕円形となる。
【００２８】
又、円筒状の長溝４４の開放部位に対向する反対側には、長溝４４と平行する長い凹部４５を形成し、本体４２の両側面から長い凹部４５に向けてボルト４３ａを挿通した後、ナット４３ｂで締めることによって、円筒状の長溝４４とチューブ４８を更に密着させてチューブ４８に巻かれているスプリングワイヤー４６の軸方向の移動の自由度を更に小さくできるように構成されている。
【００２９】
このように、長い凹部４５を形成する場合、最初に組み立てる時に、円筒状の長溝４４とチューブ４８との密着状態を緩和して組み立てた後、ボルト４３ａとナット４３ｂとを締めて密着させることによって、製作の効率性を向上させることができる。
【００３０】
図７はこの発明に係るパネルの電極パターンテスト用ショートバーの使用状態を示す側断面図で、スプリングワイヤー４６に押圧力が作用する場合、この押圧力がスプリングワイヤー４６の軸方向ではなく、半径方向のみに加わってリング形状が変形しつつ電極パターンと均一に当接させるために、軸方向の長さが半径方向の長さより長い形状の断面矩形状のスプリングワイヤー４６を用いた場合には、断面矩形の長い辺が軸方向になるように配列しなければならない。
【００３１】
又、ショートバー４０の本体４２の開放部位から突出せず、本体４２の内部に位置するスプリングワイヤー４６の部分は、チューブ４８により本体４２に密着しているので、電極パターン５２に強く接触しても軸方向への移動の自由度が小さくなり、一方、開放部位から突出しているスプリングワイヤー４６の部分は、軸方向には広がらず半径方向に移動してリング形状を歪めるように変形する。
【００３２】
従って、ショートバー４０をパネル５０の電極パターン５２上に載置すれば、ショートバー４０の本体４２の開放部位から突出しているスプリングワイヤー４６の複数の凸部４６ａの外周面と電極パターン５２の外周面とが接触した状態となる。この状態に位置決めされたスプリングワイヤー４６に電圧を印加すると、スプリングワイヤー４６に接触している全ての電極パターン５２に電圧が印加される。
【００３３】
この際、スプリングワイヤー４６と電極パターン５２とが当接する時、電極パターン５２の高さに対応して柔軟にスプリングワイヤー４６の突出した凸部４６ａ部分が歪むために、電極パターン５２の高さが相異する場合にも、図７に示すように、スプリングワイヤー４６が半径方向に圧縮して上昇し、又は、伸張して下降した状態で自然に両者が接触するので、電極パターン５２の高さが低い部分を基準としてショートバー４０を固定させても高い部分の電極パターンが損傷する事態は起こらない。
【００３４】
又、パネル５０の平面が不均一である場合にも、スプリングワイヤー４６が上記と同様に変形するので、パネル５０に形成されている電極パターンの高さにバラツキがある場合でもスプリングワイヤー４６は、全ての電極パターン５２と均一に接触することが可能である。
【００３５】
【発明の効果】
以上のように、請求項１に係わる発明は、電極パターンに対向する側面に、その一部が開放された円筒状の長溝が形成された本体と、長溝の開放部位から突出するように複数の凸部と凹部が開口部位に沿って半径方向に形成され、その外周面と本体の長溝の内側面とが接触するように円筒状の長溝に埋設されたスプリングワイヤーと、開口部位に沿ってスプリングワイヤーの半径方向に形成された複数の凸部と凹部とにそれぞれ間隔を介して対向する複数の凸部と凹部とが開口部位に沿って半径方向に形成されているとともに、本体の長溝の内部においてスプリングワイヤーの内側面と接触するチューブとを設けたので、パネル上に電極パターンを形成した後、電極パターンの良、不良を判定する場合には、全てのセルに電圧を印加する際、ショートバーの開放部位から突出している柔軟なスプリングワイヤーの凸部で電極パターンと接触させるから、ショートバーを通して上下板ガラスの電極パターンを強く押す場合にもスプリングワイヤーが軸方向に押圧されることなく、半径方向に変形しつつ接触し、上下板ガラスの平面の均一性と電極パターンの高さのバラツキとに関係なく、均一に接触して正確にテストを行うことができる。従って、完成品の歩留まり及び性能が向上する効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１ａ】従来例を示すもので、一般的なＰＤＰの上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成された電極パターンを示す図で、上板ガラスに形成された電極パターンを示す図である。
【図１ｂ】従来例を示すもので、一般的なＰＤＰの上板ガラスと下板ガラスとにそれぞれ形成された電極パターンを示す図で、下板ガラスに形成された電極パターンを示す図である。
【図２】従来例を示すもので、ＰＤＰモジュールの動作テストをする場合のコネクター電極を示す図である。
【図３】従来技術によるショートバーを用いたＰＤＰモジュールの動作テストを説明するための図である。
【図４】他の従来例を示すもので、非接触状態を説明するための断面図である。
【図５】さらに他の従来例を示すもので、パネルの電極パターンテスト用ショートバーを示す斜視図である。
【図６ａ】この発明の実施例で、パネルの電極パターンテスト用ショートバーを示すもので、ショートバーの開放部位を下方向に向けた状態を示す斜視図である。
【図６ｂ】この発明の実施例で、パネルの電極パターンテスト用ショートバーを示すもので、ショートバーの開放部位を上方向に向けた状態を示す斜視図である。
【図７】この発明の実施例で、パネルの電極パターンテスト用ショートバーの使用状態を示す断面図である。
【符号の説明】
１０ａ、１０ｂ、１１ａ、１１ｂ  電極パターン
２５、３２、５２  電極パターン
３０、４０  ショートバー
３１、５０  パネル
４２  本体
４４  長溝
４６  スプリングワイヤー
４８  チューブ
４６ａ、４８ａ  凸部
４６ｂ、４８ｂ  凹部
【図１ａ】
0003781113.tif 000002
【図１ｂ】
0003781113.tif 000003
【図２】
0003781113.tif 000004
【図３】
0003781113.tif 000005
【図４】
0003781113.tif 000006
【図５】
0003781113.tif 000007
【図６ａ】
0003781113.tif 000008
【図６ｂ】
0003781113.tif 000009
【図７】
0003781113.tif 000010