(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタを嵌合する第一のブロック内に、該コネクタの端子に一端部を接触させる進退自在な導通検査ピンと、該端子を係止する該コネクタの可撓係止ランスの撓み空間内に一端部を進入可能な絶縁性の挿入検査ピンとをオフセットして備え、
該第一のブロックと第二のブロックとの間に回路基板が挟まれて配置され、該第二のブロック内に導電性の可動ピンが該端子方向に弾性付勢されて設けられ、該回路基板に該導通検査ピンと該可動ピンとの間でオフセット方向に回路導体が設けられ、該導通検査ピンの他端部が該第一のブロック内で弾性部材を介して該回路導体の一端部に接触し、該回路導体の他端部が該可動ピンに接触し、該回路導体の他端部に沿って前記挿入検査ピンの他端部が該回路基板の挿通部を通過して該可動ピンに当接し、該可動ピンに外部から通電され、該挿入検査ピンの一端部が前記可撓係止ランスに当接した際に、該挿入検査ピンの他端部が該可動ピンを前記回路導体に対して接触解除方向に押圧することを特徴とするコネクタ導通検査具。
【請求項２】
前記挿通部内と前記回路基板の表裏面側とに前記回路導体が連続し、表面側の該回路導体に前記弾性部材が接触し、裏面側の該回路導体に前記可動ピンが接触することを特徴とする請求項１記載のコネクタ導通検査具。
【請求項３】
前記可動ピンが導電性の第二の弾性部材で付勢され、該第二の弾性部材が、外部回路を接続する導通ピンに接触したことを特徴とする請求項１又は２記載のコネクタ導通検査具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ワイヤハーネスのコネクタ内に挿入係止された端子の導通の有無を検知すると同時に、端子の係止状態を検知することのできるコネクタ導通検査具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図３は既存のコネクタ導通検査具の一例を示すものである。
コネクタ導通検査具５１は、コネクタ５２内に挿入係止された電線付きの端子（図示せず）の導通の有無を主に検査するためのものであり、フレーム５３に固定されたコネクタ保持部５４と、コネクタ保持部５４に対して進退自在に配置された検査部５５と、リンク５６を介して検査部５５を駆動する操作レバー５７とを備えたものである。
【０００３】
コネクタ保持部５４は、コネクタ５２を上方から挿入させる略門柱状のガイド部５８を有している。コネクタ保持部５４にコネクタ５２がセットされる。コネクタ５２は、合成樹脂製の雄型のコネクタハウジング５９の内部に電線付きの雌型の端子を挿入係止させて成るものである。
【０００４】
検査部５５は絶縁樹脂製のガイドブロック６０内にコネクタ嵌合室６１を有し、コネクタ嵌合室６１内に、コネクタ５２内の端子に対応した複数の導電性の導通検査ピン（プローブピン）を有している。導通検査ピン（図示せず）は電線（図示せず）に接続され、電線導出側がガイドブロック後方のカバー６２で覆われている。ガイドブロック６０は例えばフレーム５３内で水平方向の一対のガイド軸（図示せず）に沿って前後方向にスライド自在である。
【０００５】
コネクタ５２をコネクタ保持部５４にセットした状態で、操作レバー５７を矢印ロ方向に倒すことで、検査部６０がコネクタ５２に向けて前進し、コネクタ嵌合室６１にコネクタ５２の前半部側が挿入される。それと同時に、各導通検査ピンがコネクタ５２内の各端子に接触する。
【０００６】
コネクタ側の電線６３は、例えば電線６３の他方に接続された図示しないコネクタを介して導通検査装置（回路集約部）に接続され、導通検査ピン側の電線（図示せず）が同じく導通検査装置に接続される。これにより、コネクタ５２の端子と導通検査ピンとが閉回路を構成し、両者の導通があった場合に導通検査装置が「正常」のランプ表示を行い、導通がなかった場合にブザーや点滅等で「異常」の表示を行う。
【０００７】
一方、上記のようなコネクタ導通検査具にコネクタ内の端子の挿入状態をも検知させる機能を具備させたものとして、例えば特開平７−１１３８３６号には、図４に示すようなコネクタ導通検査具が提案されている。
【０００８】
このコネクタ導通検査具６５は、導電性の導通検査ピン６６の先端部に挿入検査ピン６７を一体的に設けて、挿入検査ピン６７の先端をコネクタ６８内で撓んだ可撓係止ランス６９の先端に当接可能としたものである。
【０００９】
挿入検査ピン６７は、コネクタ６８のセット状態（検査部７０のコネクタ嵌合室７１内にコネクタ６８が挿入されていない状態）で、可撓係止ランス６９の撓み空間７２の前方に対向して位置するように、導通検査ピン６６の中心から偏心して設けられている。挿入検査ピン６７は例えばその筒状の基部７３を導通検査ピン６６の先端部に圧入して固定されている。両検査ピン６６，６７はコイルばね７４でコネクタハウジング７５内の端子７６（７６1 ，７６2 ）に向けて付勢されている。挿入検査ピン６７の先端部は可撓係止ランス６９の撓み空間７２内に進入可能であり、その状態で端子７６の弾性接触片７７の先端と導通検査ピン６６の先端とが接触する。
【００１０】
雄型のコネクタハウジング７５と雌型の端子７６とで成る雄型のコネクタ６８は、前例（図３）の如くコネクタ保持部７８にセットされた状態で、検査部（ガイドブロック）７０のコネクタ嵌合室７１内に前半部を挿入されている。
【００１１】
ここで、図４の上側の端子７６1 のようにコネクタハウジング７５への端子７６1 の挿入が不完全である場合には、可撓係止ランス６９の突起が端子７６1 の基板部に押圧された状態であるから、可撓係止ランス６９が撓み空間７２内に撓んだままの状態となり、その結果、挿入検査ピン６７の先端が可撓係止ランス６９の先端に突き当たり、それ以上の導通検査ピン６６の進入が阻止され、導通検査ピン６６の先端と端子７６1 の弾性接触片７７の先端との接触が行われない。それにより、導通検査結果がＮＧ（不導通）となり、端子７６1 の挿入異常が検出される。
【００１２】
なお、端子７６の挿入が正常に行われた場合には、図４で下側の端子７６2 のように、可撓係止ランス６９の突起が端子７６2 の矩形筒状の電気接触部の基板部の孔部７９に係合し、それにより端子７６2 が係止されて、端子収容室８０から後抜けすることが防止される。挿入検査ピン６７の先端は撓み空間７２内に進入し、導通検査ピン６６の先端が端子７６2 に接触して、導通検査ＯＫとなる。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のコネクタ導通検査具６５にあっては、導通検査ピン６６に対する端子７６の接触点（図４の例以外では弾性接触片７７に限らない）の位置と可撓係止ランス６９の撓み空間７２の位置との間隔が大きく空いている場合には、導通検査ピン６６に対する挿入検査ピン６７のオフセット量が大きくなり、両検査ピン６６，６７及び検査ピン周りの構造が大型化・重量化・複雑化するという問題があった。
【００１４】
また、導通検査ピン６６に挿入検査ピン６７を圧入したり、挿入検査ピン６７を可撓係止ランス６９の撓み空間７２に向けて正確にオフセットさせて配置（位置決め）したりする作業に多くの工数を必要とするという問題があった。また、筒状の基部７３を有する挿入検査ピン６７を金属材から削り出しで形成したりするのに、多くのコストを必要とし、コスト高になるという問題があった。また、端子７６の完全挿入時において導通検査ピン６６がコイルばね７４の付勢のもとで端子７６に押接する関係で、例えば端子７６の挿入は完全であるが、可撓係止ランス６９の変形や引っ掛かり等により可撓係止ランス６９が撓んだままで復元しない場合には、挿入検査ピン６７の先端が可撓係止ランス６９の先端に突き当たっても、導通検査ピン６６が端子７６に接触して、導通検査ＯＫとなってしまう懸念があった。
【００１５】
本発明は、上記した点に鑑み、例えば導通検査ピンに対する端子の接触点の位置と可撓係止ランスの撓み空間の位置とが大きく離れている場合でも、構造を簡素化・小型化・軽量化でき、また、組立作業が容易で、組立工数及びコストを低減でき、しかも端子の完全挿入時においても確実に可撓係止ランスの撓み異常を検出することのできるコネクタ導通検査具を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、コネクタを嵌合する第一のブロック内に、該コネクタの端子に一端部を接触させる進退自在な導通検査ピンと、該端子を係止する該コネクタの可撓係止ランスの撓み空間内に一端部を進入可能な絶縁性の挿入検査ピンとをオフセットして備え、該第一のブロックと第二のブロックとの間に回路基板が挟まれて配置され、該第二のブロック内に導電性の可動ピンが該端子方向に弾性付勢されて設けられ、該回路基板に該導通検査ピンと該可動ピンとの間でオフセット方向に回路導体が設けられ、該導通検査ピンの他端部が該第一のブロック内で弾性部材を介して該回路導体の一端部に接触し、該回路導体の他端部が該可動ピンに接触し、該回路導体の他端部に沿って前記挿入検査ピンの他端部が該回路基板の挿通部を通過して該可動ピンに当接し、該可動ピンに外部から通電され、該挿入検査ピンの一端部が前記可撓係止ランスに当接した際に、該挿入検査ピンの他端部が該可動ピンを前記回路導体に対して接触解除方向に押圧することを特徴とする（請求項１）。
前記挿通部内と前記回路基板の表裏面側とに前記回路導体が連続し、表面側の該回路導体に前記弾性部材が接触し、裏面側の該回路導体に前記可動ピンが接触することも有効である（請求項２）。
また、前記可動ピンが導電性の第二の弾性部材で付勢され、該第二の弾性部材が、外部回路を接続する導通ピンに接触したことも有効である（請求項３）。
【００１７】
以下に上記構成に基づく作用を説明する。
コネクタ内に端子が完全に挿入され、可撓係止ランスが端子を係止している場合には、挿入検査ピンの一端部が撓み空間内に進入し、可動ピンが回路導体に接触した状態となっている。従って、導通検査ピンがコネクタの端子と、弾性部材及び回路導体を介して可動ピンとに接続される。可動ピンに続く外部回路と端子に続く電線とは導通検査装置に予め接続されており、端子と導通検査ピンと弾性部材と回路導体と可動ピンとが導通することで、閉回路が構成されて導通検査装置が検査結果ＯＫを表示する。
コネクタ内の端子の挿入が不完全で可撓係止ランスが撓んだ状態のままであったり、端子の挿入は完全でも可撓係止ランスが引っ掛かりや変形等を起こして撓んだ状態のまま復元しない場合には、挿入検査ピンの一端部が可撓係止ランスの先端に当接し、挿入検査ピンの他端部が可動ピンを弾性付勢に抗して後退させる。これにより、回路導体と可動ピンとの接触が解除され、導通検査装置が検査結果ＮＧ（不良）を表示する。
なお、端子の挿入がやや不完全であるにも係わらず、導通検査ピンの一端側が端子に接触している場合には、導通検査ピンと弾性部材と回路導体とは接触しているが、上記の如く挿入検査ピンが可動ピンを接触解除方向に押圧しているから、導通がとれず、検査結果ＮＧとなる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態の具体例を図面を用いて詳細に説明する。
図１は、本発明に係るコネクタ導通検査具の一実施形態を示す断面図、図２は同じくコネクタ導通検査具にコネクタをセットして導通検査をする状態を示す断面図である。図１，図２においては検査部１のみを示し、コネクタ保持部やフレームやレバー等は従来（図３）と基本的に同一であるので図示を省略している。コネクタ保持部等を廃止して検査部１内に手でコネクタ２（図２）を嵌合させることも可能である。
【００１９】
図１の如く、検査部１は、コネクタ嵌合室３とコネクタ嵌合室３内に突出した導電性の導通検査ピン４及び絶縁性の挿入検査ピン５とを有する絶縁樹脂製の前側のガイドブロック（第一のブロック）６と、挿入検査ピン５に対する進退可能な導電性の可動ピン（可動部材）７と、可動ピン７に接続する固定側の導通ピン８とを有する絶縁樹脂製のピンブロック（第二のブロック）９と、ガイドブロック６とピンブロック９との間に挟まれて配置され、導通検査ピン４と可動ピン７とを接続する回路基板１０とで構成されている。
【００２０】
コネクタ嵌合室３はガイドブロック６の前半部に位置している。コネクタ嵌合室３の底面１１からガイドブロック６の後端面１２にかけて導通検査ピン４と挿入検査ピン５とを挿通させる孔部１３，１４がそれぞれ貫通して設けられている。本実施形態で両検査ピン４，５はコネクタ２（図２）の上下二段の端子１５（１５1 ，１５2 ）に対応してそれぞれ二列に配置されている。端子１５（図２）及び両検査ピン４，５の数は二の倍数である。
【００２１】
導通検査ピン４を配置する孔部１３は中間に段部１６を有して、段部１６の前方が小径に、後方が大径にそれぞれ形成されている。導通検査ピン４は孔部１３内に設けられた導電金属製の圧縮コイルばね（第一の弾性部材）１７で前方（端子方向）に付勢され、その状態で段部１６に導通検査ピン４の大径部４ａが当接して、導通検査ピン４の先端の位置が規定されている。挿入検査ピン５の先端の位置も同様な構成ないしストッパ等（図示せず）を設けた構成によって規定される。
【００２２】
導通検査ピン４は、孔部１３からコネクタ嵌合室３内に突出した小径部４ｂと、小径部４ｂの後方に短く続く前記大径部４ａとで構成され、大径部４ａの後端と前記回路基板１０の前面との間にコイルばね１７が弾設されている。導通検査ピン４は導電金属を材料にして例えば小径部４ｂと大径部４ａを一体に削り出しで形成可能である。
【００２３】
挿入検査ピン５は導通検査ピン４よりもかなり長く且つ細く形成され、挿入検査ピン５の先端は導通検査ピン４の先端よりも前方に突出して位置し、挿入検査ピン５の後端は回路基板１０の挿通孔（挿通部）１８を通って後方のピンブロック９側の可動ピン７の前端に当接している。
【００２４】
回路基板１０には、挿入検査ピン５を貫通させる挿通孔１８の内面と、内面から回路基板１０の前面（表面）及び後面（裏面）にかけて回路導体１９が回路基板１０を貫通して形成され、前面側の回路導体１９ａは、導通検査ピン４を挿入したガイドブロック６の孔部１３の後部開口まで延長されて、孔部１３の後部開口内で導電性のコイルばね１７の後端に接触している。回路導体１９は例えばハンダやプリント回路や銅箔やバスバーといった導電金属で構成されている。回路基板１０の後面（裏面）側の回路導体１９ｂは挿通孔１８の周縁に環状に形成されている。回路基板１０は絶縁基板２０と上記回路導体１９とで構成されている。上下二段の端子１５（図２）に対応して回路基板１０には上下に回路導体１９がそれぞれ分離して設けられている。
【００２５】
回路基板１０の表面側の回路導体１９ａは、導通検査ピン４と挿入検査ピン５との間隔が大きく開いている場合でも印刷等の手段で容易に且つ所望の長さ・形状に形成することができる。形成された回路導体１９は例えば電線（図示せず）に較べてコンパクトであり、場所をとらず、検査部１の小型化に寄与すると共に、電線のように外部と干渉する心配もない。
【００２６】
挿入検査ピン５を挿入した回路基板１０の挿通孔１８はピンブロック９の孔部２１と同心に連通している。ピンブロック９の孔部２１は回路基板１０の挿通孔１８よりも大径に形成され、ガイドブロック６側の導通検査ピン挿入用の孔部１３と同程度の内径を有している。回路基板１０の後面側の環状の回路導体１９ｂはピンブロック９の孔部２１の前部開口に対面して位置している。
【００２７】
孔部２１は中間に段部２２を有して、段部２２の前方が大径に、後方が小径にそれぞれ形成されている。孔部２１の大径部内に導電金属製の円柱状の可動ピン７が短い距離で前後（長手）方向スライド自在に設けられ、孔部２１の小径部の後半に導通ピン８の大径部が固定され、導通ピン８と可動ピン７との間に導電金属製の圧縮コイルばね（第二の弾性部材）２３が弾設されている。コイルばね２３の前端は可動ピン７の後端に弾性的に接触し、コイルばね２３の後端は導通ピン８の前端に弾性的に接触している。可動ピン７の前端はコイルばね２３の付勢のもとで回路基板１０の後面側の回路導体１９ｂに接触している。導通ピン８は後方に延長された細いリード端子２４を有し、リード端子２４が、孔部２１に続く細孔２５からピンブロック９の外部に導出され、リード端子２４に外部回路（電線）２６が接続されている。
【００２８】
図２の如く、ガイドブロック６のコネクタ嵌合室３の前部開口からコネクタ２の前半部が図示しないレバー操作ないしは手挿入で挿入嵌合される。コネクタ２は雄型のコネクタハウジング２７の端子収容室２８内に雌型の端子１５を挿入係止させて成るものである。端子１５は、基板部２９の一方に略眼鏡状に湾曲した左右一対の弾性接触片３０を有する電気接触部３１、他方に電線圧着部３２をそれぞれ有している。相手コネクタ（図示せず）の雄端子は弾性接触片３０と基板部２９との間に挿入される。
【００２９】
端子収容室２８の上壁３４から斜め前方に可撓係止ランス３５が突出形成され、先端側の段部３６で弾性接触片３０の後端を係止する。段部３６の前方に先端部３７が突出している。コネクタハウジング２７の外面側には相手側の雌型のコネクタに対するロックアーム３９が設けられ、コネクタハウジング２７の後部には、ロックアーム３９の誤操作を防ぐ保護壁４０が立設されている。
【００３０】
端子１５を完全に挿入したコネクタ２において、端子１５の基板部２９の先端に導通検査ピン４の先端が当接する。導通検査ピン４は端子１５に押されてコイルばね１７の付勢に抗してスライド式に後退し、コイルばね１７の付勢力で端子１５の先端に弾性的に接触している。
【００３１】
上側の端子１５1 の如く完全挿入されてはいるが、可撓係止ランス３５が端子１５1 に引っ掛かって復元せず、撓んだままの状態となっている場合や、端子１５の挿入が不完全で従来例（図４）の如く可撓係止ランス３５が撓んだままの状態となっている場合には、挿入検査ピン５の先端が可撓係止ランス３５の先端に当接し、挿入検査ピン５が後退して可動ピン７を押して後退させる。
【００３２】
これにより、導電性の可動ピン７と回路基板１０の回路導体１９との接触が断たれ、端子１５1 側の電線４２と導通ピン８側の電線２６との通電がなくなり、すなわち、矢印イの如く導通検査装置（図示せず）から入力された電気信号が可動ピン７で接続を遮断され、両電線２６，４２に接続された導通検査装置が導通検査ＮＧを表示する。これにより、例え導通検査ピン４が端子１５1 に接触していても、可撓係止ランス３５の異常が確実に検出される。勿論、端子１５1 の挿入が浅く、導通検査ピン４が端子１５1 に接触していない場合は、導通ＮＧ（不良）が表示されることは言うまでもない。
【００３３】
図２の下側の端子１５2 のように端子収容室２８に完全に挿入され、且つ可撓係止ランス３５による端子１５2 の係止が確実に行われている場合には、端子１５2 と導通検査ピン４とコイルばね１７と回路導体１９と可動ピン７とコイルばね２３と導通ピン８とが共に接触しているので、端子１５2 側の電線４２と導通ピン８側の電線２６と導通検査装置との間で閉回路が形成され、導通ＯＫが表示される。
【００３４】
導通検査ピン４の先端を端子１５のやや奥まった位置の弾性接触片３０ではなく端子１５の最先端である基板部２９の先端２９ａに当接させることで、導通検査ピン４の挿入長さが短くて済み、導通検査ピン４の小型化と振れの防止が図られている。導通検査ピン４はコネクタハウジング前端の相手端子挿入孔４３の内面に沿って端子１５の先端に対して正確に位置決めされつつ挿入される。
【００３５】
また、挿入検査ピン５は可撓係止ランス３５に対するコネクタハウジング前端の係止解除孔４４から端子収容室２８の上壁３４に沿って挿入されることで、可撓係止ランス３５に対する位置決めが正確に行われる。挿入検査ピン５の長さは、可撓係止ランス３５の撓み空間４５に挿入検査ピン５の前端部が進入した時点で挿入検査ピン５の後端が可動ピン７の前端に弱く（可動ピン７を押さない程度の力で）接する長さに設定されている。
【００３６】
なお、上記実施形態において回路基板１０の前面側の回路導体１９ａに図示しないばね片等の弾性部材を一体に形成して、コイルばね１７を省略することも可能である。また、可動ピン７に代えてコイルばね２３の前端に図示しない導電性の可動プレート（可動部材）を一体に設けて、ピンブロック９を薄く構成することも可能である。また、可動ピン７に代えて、回路導体１９に接触する図示しない弾性接触片（可動部材）をピンブロック９内に固定して設けることも可能である。この場合、コイルばね２３は不要となる。
【００３７】
また、挿入検査ピン５は絶縁樹脂に限らず、端子１５と接触する心配がなければ導電金属で形成してもよく、導電金属の表面に絶縁皮膜を施したものであってもよい。また、回路基板１０を省略してピンブロック９の前端面に回路導体１９を形成すると共に、前端面から後方にかけて孔部２１を設け、孔部２１の入口側の内面に、可動ピン７と接触する回路導体１９ｂを形成することも可能である。
【００３８】
【発明の効果】
以上の如く、請求項１記載の発明によれば、端子と弾性的に接触する導通検査ピンと、挿入検査ピンに当接した可動ピンとが回路導体を介して接続されるから、例えばコネクタの種類によって導通検査ピンと挿入検査ピンとの間隔を大きく設定しなければならない場合でも、両者間に配置する回路導体は平面的なものでよく、場所（スペース）をとらないから、コネクタ導通検査具がコンパクト化・軽量化される。また、回路導体は所望の長さ及び形状に設定できるから、各種形態のコネクタに容易に対応することができる。また、回路導体を用いて導通検査ピンと挿入検査ピンとを分離したことで、従来（図４）に較べての導通検査ピン周りの構造が簡素化され、コネクタ導通検査具の組立が容易化し、組立工数や部品コストの低減が可能となった。また、端子の挿入は完全であるが、可撓係止ランスが変形や引っ掛かり等により撓んだままで復元しない場合でも、可撓係止ランスに当接した挿入検知ピンが回路導体と可動ピンとの接触を解除するから、確実に異常が検出される。
【００３９】
また、導通検査ピンと回路導体とが弾性部材を介して弾性的に接触するから、導通検査ピンのストローク量が変動しても、両者の電気的接続が確実に行われる。また、導通検査ピンのストロークの度に回路導体の表面が弾性部材で押圧され、回路導体の表面が酸化皮膜のない良好な状態に保たれる。また、両ブロックを分割したことで、導通検査ピンや挿通検査ピンや各弾性部材や可動ピンの組付が容易化し、両ブロックの間に回路基板を挟むように配設したことで、回路基板の組付が容易化した。また、回路基板を用いたことで、回路導体の形成が容易化すると共に、構造が簡素化され、組立が容易化した。
【００４０】
また、請求項２記載の発明によれば、挿入検査ピンを挿通させる回路基板の挿通部の内面に回路導体を設けたことで、回路基板を貫通する回路導体の形成が一層容易化した。
【００４１】
また、請求項３記載の発明によれば、可動ピンが第二の弾性部材の付勢力で回路導体に押し付けられるから、弾性部材と回路導体との接触が確実に行われる。また、係止ランスの撓み時（異常時）に第二の弾性部材の付勢力で挿入検査ピンが係止ランスに当接するから、当接が確実に行われる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るコネクタ導通検査具の一実施形態を示す断面図である。
【図２】同じくコネクタ導通検査具にコネクタを嵌合して導通検査を行う状態を示す断面図である。
【図３】従来のコネクタ導通検査具の一例を示す分解斜視図である。
【図４】従来のコネクタ導通検査具の他の例を示す断面図である。
【符号の説明】
２    コネクタ
４    導通検査ピン
５    挿入検査ピン
６    ガイドブロック（第一のブロック）
７    可動ピン（可動部材）
８    導通ピン
９    ピンブロック（第二のブロック）
１０  回路基板
１５  端子
１７  コイルばね（弾性部材）
１８  挿通孔（挿通部）
１９  回路導体
２３  コイルばね（第二の弾性部材）
２６  電線（外部回路）
３５  可撓係止ランス
４５  撓み空間
【図１】
0003794608.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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