(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品と、
前記電子部品を取り付ける基礎部と、
前記電子部品から延出するフレキシブル基板と、
前記電子部品と、前記フレキシブル基板の、前記基礎部に対する相対位置変動を規制する規制手段とを備える電子部品ユニットであって、
前記フレキシブル基板は、穴を有し、
前記規制手段は、前記電子部品を固定支持するための突起であり、前記穴に差し込まれることで、前記フレキシブル基板の、前記基礎部に対する相対位置変動を規制し、
前記突起は、前記基礎部に対する前記電子部品の傾きを調整する調整機構の一部である電子部品ユニット。
【請求項２】
前記フレキシブル基板は、前記電子部品と前記基礎部の間で、弾性的に折り返されていることを特徴とする請求項１に記載の電子部品ユニット。
【請求項３】
前記フレキシブル基板は、前記調整機構が前記電子部品を付勢する方向と同一方向に前記電子部品を押す請求項２に記載の電子部品ユニット。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子ユニットに関する。特に本発明は、フレキシブル基板を備える電子ユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】
測距装置を備える撮像装置の実装構造が複数開示されている。特開平９−２１８３４３号は、カメラ底部に配置された自動焦点検出機構の結線に最適なカメラのフレキシブル基板の実装構造を開示している。また特開平１１−１５３４３７号は、光学的センサに不要な光が入ることのないように、被覆するシートを具備する光学的センサユニットを開示している。また特開２００１−１３５６６号は、カメラ全体を小型化できる測距装置及びカメラを開示している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の測距装置等の電子部品を備える電子ユニットは、電子部品から延出するフレキシブル基板の位置変動によって、電子部品に外力が加わるので、電子ユニットに不必要な力がかかる可能性があった。
【０００４】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる電子ユニットを提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
即ち、本発明の第１の形態によると、電子部品と、電子部品を取り付ける基礎部と、電子部品から延出するフレキシブル基板と、電子部品と、フレキシブル基板の、基礎部に対する相対位置変動を規制する規制手段とを備える。
【０００６】
フレキシブル基板は、穴を有し、規制手段は、電子部品を固定支持するための突起であり、穴に差し込まれることで、フレキシブル基板の、基礎部に対する相対位置変動を規制してもよい。フレキシブル基板は、電子部品と基礎部の間で、弾性的に折り返されていてもよい。
【０００７】
規制手段は、電子部品の傾きを調整する調整機構の少なくとも一部を内蔵してもよい。
【０００８】
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかかる発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。なお、発明の詳細な説明に記載の「測距装置」は、特許請求の範囲に記載の「電子部品」の一例である。また発明の詳細な説明に記載の「ボス」は、特許請求の範囲に記載の「突起」の一例である。
【００１０】
図１は、本実施の形態に係る電子部品ユニット１０の分解斜視図である。電子ユニット１０は、基礎部１００と、フレキシブル基板１０２と、測距装置２０と、ネジ１０６と、バネ１０８とを備える。測距装置２０は、測距ユニット１０４と、測距センサ１１０とを有する。
【００１１】
測距ユニット１０４は、レンズ１２４と、ピン１１６と、支持孔１２８と、筐体１０５とを有する。レンズ１２４は、筐体１０５の正面に取り付けられる。ピン１１６は、筐体１０５の側面の中央部に配置される。支持孔１２８は、筐体１０５の上面に配置される。
【００１２】
測距センサ１１０は、レンズ１２４を透過した被測定物からの光を用いて、被測定物までの距離を測定する。測距センサ１１０は、筐体１０５の背面に取り付けられる。また測距センサ１１０には、測距ユニット１０４と接する面の裏面に、フレキシブル基板１０２の半田付け部１１８が半田付けされる。
【００１３】
フレキシブル基板１０２は、穴１２６及び支持穴１２０を有する。支持穴１２０が、例えば撮像装置２００のピン１２２を差し込むことで、撮像装置２００に電子ユニット１０が取り付けられる。
【００１４】
基礎部１００は、突起の一例としてのボス１１２を表面に有する。
【００１５】
ボス１１２は、基礎部１００の表面に対して略上面方向に突起する。ボス１１２が、フレキシブル基板１０２の穴１２６に差し込まれることにより、基礎部１００に対するフレキシブル基板１０２の相対位置変動が規制される。
【００１６】
またボス１１２は、ネジ穴１３０を有する。また基礎部１００は、側面に支持孔１１４を有する。測距ユニット１０４のピン１１６は、支持孔１１４に差し込まれる。これにより、測距ユニット１０４は、基礎部１００に取り付けられる。バネ１０８は、つるまきバネであり、ネジ穴１３０の周囲と支持孔１２８の周囲とに挟まれる位置に配置される。
【００１７】
次に電子ユニット１０の組み立て方法について説明する。まず筐体１０５の上面から支持孔１２８にネジ１０６を差し込む。次にバネ１０８及びフレキシブル基板１０２の穴１２６にネジ１０６を通す。次に基礎部１００のネジ穴１３０にネジ１０６を差し込む。これにより、測距ユニット１０４と、測距センサ１１０と、フレキシブル基板１０２と、バネ１０８とが、基礎部１００に取り付けられる。
【００１８】
従ってフレキシブル基板１０２の穴１２６に、基礎部１００のボス１１２が差し込まれることにより、フレキシブル基板１０２の位置は、基礎部１００に対して規制される。さらにフレキシブル基板１０２には、測距センサ１１０及び測距ユニット１０４が取り付けられているので、フレキシブル基板１０２の位置が基礎部１００に対して規制される。即ち本実施の形態に係る電子ユニット１０は、測距センサ１１０、フレキシブル基板１０２、及び測距ユニット１０４の位置を、基礎部１００に対して規制することができる。例えば、フレキシブル基板１０２が撮像装置２００に引っ張られた場合において、フレキシブル基板１０２と、測距センサ１１０と、測距ユニット１０４は、基礎部１００に対する相対位置の変動を抑制することができる。
【００１９】
これにより電子ユニット１０は、撮像装置２００から引っ張られる等の外力がフレキシブル基板１０２にかかった場合に、測距センサ１１０と半田付け部１１８の間の半田部等の破損を抑制することができる。
【００２０】
ここでフレキシブル基板１０２の変動範囲は、穴１２６の大きさに対するボス１１２の太さの比率によって異なる。ここでボス１１２の太さは、穴１２６に差し込める程度の太さ、即ち穴１２６の大きさより細い太さであればよい。また穴１２６の形状は、円形または楕円形に限定されない。
【００２１】
図２は、電子ユニット１０の概略断面図である。ここで測距ユニット１０４、測距センサ１１０、及びフレキシブル基板１０２は、基礎部１００に取り付けられている。図２に示すように、フレキシブル基板１０２は、基礎部１００と測距ユニット１０４の間で弾性変形の状態、即ち弾性的に折り返されている。フレキシブル基板１０２は、基礎部１００と、測距ユニット１０４の間で、基礎部１００を下方向に押すとともに、測距ユニット１０４を上方向に押す。
【００２２】
バネ１０８がネジ１０６を中に含み、測距ユニット１０４と、ボス１１２の間に弾性力を保持する状態で配置されている。ネジ１０６及びバネ１０８は、筐体１０５の電子ユニット１０に対する傾きを調整する調整機構の一例である。バネ１０８は、上方に伸びることで、筐体１０５を上方向に押す。ここで筐体１０５は、ピン１１６を軸に回動する。従って上方向に傾く。ここでネジ１０６がバネ１０８の伸び量を決定する。即ちネジ１０６の位置を調整することで、筐体１０５の傾きを調整することができる。
【００２３】
従って電子ユニット１０は、このようなバネ１０８の弾性力により、基礎部１００に対する測距ユニット１０４及び測距センサ１１０の上下方向の相対位置を規制することができる。
【００２４】
図３は、本実施の形態の変更例に係る電子ユニット１０の概略断面図である。測距ユニット１０４、測距センサ１１０、及びフレキシブル基板１０２は、基礎部１００に取り付けられている。
【００２５】
本実施の形態に係るフレキシブル基板１０２と同様に、変更例に係るフレキシブル基板１０２は、基礎部１００と測距ユニット１０４の間で折り返されているが、本実施の形態と比較して、折り返し部分が長い。即ち図１において、変更例に係るフレキシブル基板１０２の穴１２６の位置が、本実施の形態に係る穴１２６の位置より、半田付け部１１８から離れた位置にある。
【００２６】
これにより、変更例に係るフレキシブル基板１０２は、折り返し部３００を有することにより、フレキシブル基板１０２が撮像装置２００から強く引っ張られた場合にも、基礎部１００と、測距ユニット１０４の間で、基礎部１００を下方向に押す力と、測距ユニット１０４を上方向に押す力を、常に保持することができる。
【００２７】
またフレキシブル基板１０２の穴１２６に、基礎部１００のボス１１２が差し込まれることにより、フレキシブル基板１０２の位置は、基礎部１００に対して規制される。さらにフレキシブル基板１０２には、測距センサ１１０及び測距ユニット１０４が取り付けられているので、フレキシブル基板１０２の位置が基礎部１００に対して規制される。即ち本実施の形態に係る電子ユニット１０は、測距センサ１１０、フレキシブル基板１０２、及び測距ユニット１０４の位置を、基礎部１００に対して規制することができる。例えば、フレキシブル基板１０２が撮像装置２００に引っ張られた場合において、フレキシブル基板１０２と、測距センサ１１０と、測距ユニット１０４は、基礎部１００に対する相対位置の変動を抑制することができる。
【００２８】
これにより電子ユニット１０は、撮像装置２００から引っ張られる等の外力がフレキシブル基板１０２にかかった場合に、測距センサ１１０と半田付け部１１８の間の半田部等の破損を抑制することができる。
【００２９】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００３０】
【発明の効果】
上記説明から明らかなように、本発明によれば電子ユニットにかかる不必要な力を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態に係る電子部品ユニットの分解斜視図である。
【図２】電子ユニット１０の概略断面図である。
【図３】本実施の形態の変更例に係る電子ユニット１０の概略断面図である。
【符号の説明】
１０  電子ユニット
２０  測距装置
１００  基礎部
１０２  フレキシブル基板
１０４  測距ユニット
１０５  筐体
１０６  ネジ
１０８  バネ
１１０  測距センサ
１１２  ボス
１１４  支持孔
１１６  ピン
１１８  半田付け部
１２０  支持穴
１２２  ピン
１２４  レンズ
１２６  穴
１２８  支持孔
１３０  ネジ穴
２００  撮像装置
【図１】
0003853665.tif 000002
【図２】
0003853665.tif 000003
【図３】
0003853665.tif 000004