(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
データが記録可能な光ディスクへの記録に先立って、記録する領域又はその近傍領域を未記録状態で予め再生する未記録状態再生ステップと、得られた再生信号から前記記録する領域の物理的状態を検出する状態検出ステップと、
前記記録する領域に対し前記検出された記録する領域の物理的状態に基づいて前記記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ（Optimum Power Control）記録を行うＯＰＣ記録ステップと、
ＯＰＣ記録された領域を再生して得られた再生信号から各記録パワー毎の再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を測定する測定ステップと、
前記測定された物理量に基づいて前記各記録パワー毎の再生信号の品位を算出する再生品位算出ステップと、
求められた各記録パワー毎の再生信号の品位に基づいて最適記録パワーを決定する最適記録パワー決定ステップと、
決定された最適記録パワーで前記光ディスクへの本記録を行う本記録ステップと
を備え、
前記ＯＰＣ記録ステップは、前記状態検出ステップで前記記録する領域の物理的状態として光ディスク記録面の傷及び指紋の少なくとも１つが検出された場合、それが検出された位置で、記録パワーの段階的な変化による記録パワーの振り分け方を変化させるステップである
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項２】
データが記録可能な光ディスクへの記録に先立って、記録する領域又はその近傍領域に対し、予め定められた固定パワーで少なくとも所定角度分の試し記録を行う試し記録ステップと、
前記試し記録された領域を再生する試し記録領域再生ステップと、得られた再生信号から前記試し記録された領域の各位置における再生信号の品位を測定し、この測定された再生信号の品位から前記記録する領域の物理的状態を検出する状態検出ステップと、
前記記録する領域に対し前記検出された記録する領域の物理的状態に基づいて記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ（Optimum Power Control）記録を行うＯＰＣ記録ステップと、
ＯＰＣ記録された領域を再生して得られた再生信号から各記録パワー毎の再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を測定する測定ステップと、
前記測定された物理量に基づいて前記各記録パワー毎の再生信号の品位を算出する再生品位算出ステップと、
求められた各記録パワー毎の再生信号の品位に基づいて最適記録パワーを決定する最適記録パワー決定ステップと、
決定された最適記録パワーで前記光ディスクへの本記録を行う本記録ステップと
を備え、
前記ＯＰＣ記録ステップは、前記状態検出ステップで前記記録する領域の物理的状態として光ディスク記録面の傷及び指紋の少なくとも１つが検出された場合、それが検出された位置で、記録パワーの段階的な変化による記録パワーの振り分け方を変化させるステップである
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項３】
前記状態検出ステップは、前記光ディスクの記録面の傷、指紋、反り、面振れ及び色素ムラの少なくとも１つを前記物理的状態として検出するステップであることを特徴とする請求項１又は２記載の光ディスク記録方法。
【請求項４】
前記状態検出ステップは、光ピックアップから出力されるＨＦ信号、平均反射率、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の少なくとも１つを再生信号とし、この再生信号に基づいて前記記録する領域の物理的状態を検出するステップであることを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録方法。
【請求項５】
前記状態検出ステップは、前記再生信号の平均レベル、ピークレベル、ボトムレベル及び振幅を測定し、その絶対値又は変化量から前記記録する領域の物理的状態を検出するステップであることを特徴とする請求項４記載の光ディスク記録方法。
【請求項６】
前記状態検出ステップは、前記再生信号のβ（アシンメトリ）、ジッター、Ｃ１エラー、ＳＹＮＣＥＱ、デビエーション、反射率、ＨＦ振幅の少なくとも１つを再生信号の品位として測定するステップであることを特徴とする請求項２記載の光ディスク記録方法。
【請求項７】
前記状態検出ステップは、前記再生信号の品位の絶対値又は変化量から前記記録領域の各位置における物理的状態を検出するステップであることを特徴とする請求項６記載の光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＷＯ、ＭＤ、ＤＶＤ等の光ディスクに対して情報を記録する光ディスク記録方法に関し、特に光ディスクの記録面の傷、指紋、反り、面振れ、色素ムラ等の物理的状態に応じて適切な記録を行うことを可能にした光ディスク記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等の媒体の普及と製造技術の向上とに伴って、これらのメディアも非常に安価になり、記録媒体の主流となりつつある。一方で、ＤＶＤの登場に見られるように、ピックアップに使用されるレーザやその他の記録／再生のための基盤技術の進展も著しく、低速度（×１）から高速度（×８，×１６等）までの記録再生が可能な光ディスク記録再生装置も登場している。
【０００３】
一方、光ディスク記録装置では、媒体の特性、レーザダイオード（ＬＤ）の特性、光パワーの変動等を補正して、最適な光パワーで記録を行うため、ＯＰＣ（Optimum Power Control）を実行し、予めその媒体の最適パワーを求めるようにしている。ＯＰＣは、光ディスクの最内周にあるＰＣＡ（Power Calibration Area）を使用して、所定の記録速度（線速度）でＬＤの記録パワーを段階的に変化させてテストデータの試し書きを行い、そのテストデータを再生したときの再生信号のβ（アシンメトリ）を評価し、最良のβが得られた記録パワーをその記録速度における最適記録パワーとして決定する記録パワー制御方式である。また、特開平１０−１０５９７２号及び特開平１１−２７３０７３号には、光ディスクの周方向の複数の領域に記録を行って、それぞれの領域で求められた最適記録パワーを平均化することにより、感度ムラによる影響を抑制するようにした光ディスク記録方法が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来のＯＰＣでは、媒体に傷、指紋、反り、面振れ、色素ムラ等の物理的な異常があると、βも異常な値となるため、最適記録パワーも異常値となり、記録信号品位の悪い記録媒体を作成してしまい、この結果、追記、再生ができなくなることがあった。また、傷、指紋等があると、記録中にサーボが外れてしまい、最悪の場合には、読み出し不可能なオーバーライトをしてしまうという問題があった。更に、光ディスクの周方向の複数の領域に記録を行って、それぞれの領域で求められた最適記録パワーを平均化する方法では、最適記録パワーの局所的な変動に対処することができず、結果的に記録信号品位が低下するという問題があった。
【０００５】
この発明は、このような点に鑑みなされたもので、光ディスクの傷、指紋等の物理的状態に拘わらず、常に最適な条件で記録を行うことができる光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る第１の光ディスク記録方法は、データが記録可能な光ディスクへの記録に先立って、記録する領域又はその近傍領域を未記録状態で予め再生する未記録状態再生ステップと、得られた再生信号から前記記録する領域の物理的状態（光ディスクの記録面の傷、指紋、反り、面振れ及び色素ムラの少なくとも１つ）を検出する状態検出ステップとを備えたことを特徴とする。
【０００７】
この発明によれば、光ディスクへの記録動作に先立ち、記録する領域又はその近傍領域を未記録状態で予め再生する未記録状態再生ステップを備えているので、記録する領域に傷、指紋などが存在すると、このステップで得られた再生信号の振幅が大きく変動し、この再生信号の振幅変動によって記録する領域の物理的状態を検出することができる。この場合、記録する領域そのものを再生する他、その領域の近傍領域（例えば隣接又は近傍トラック）を再生しても良い。一般に、傷や指紋は、トラックピッチ（約１．６μｍ）に比べて遙かに大きいため、近接領域を検出すれば記録する領域の状態を高い精度で推定することができる。
【０００８】
なお、ここで再生信号としては、光ピックアップから出力されるＨＦ信号、平均反射率、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の少なくとも１つを利用することができる。この場合、光ディスクの物理的状態は、再生信号の平均レベル、ピークレベル、ボトムレベル及び振幅を測定し、その絶対値又は変化量から求めることができる。
【０００９】
この発明に係る第２の光ディスク記録方法は、データが記録可能な光ディスクへの記録に先立って、記録する領域又はその近傍領域に対し、予め定められた固定パワーで少なくとも所定角度分の試し記録を行う試し記録ステップと、前記試し記録された領域を再生する試し記録領域再生ステップと、得られた再生信号から前記試し記録された領域の各位置における再生信号の品位を測定し、この測定された再生信号の品位から前記記録する領域の物理的状態を検出する状態検出ステップとを備えたことを特徴とする。
【００１０】
この発明によれば、光ディスクへの記録動作に先立ち、記録する領域又はその近傍領域に対し、予め定められた固定パワーで少なくとも所定角度分の試し記録を行い、その再生信号から試し記録された領域の各位置における再生信号の品位を測定し、この測定された再生信号の品位から記録する領域の物理的状態を検出するようにしているので、記録する領域に傷、指紋などが存在すると、得られた再生信号の品位が大きく変動し、この再生信号の品位の変動によって記録する領域の物理的状態を検出することができる。
【００１１】
なお、ここで再生信号の品位としては、β（アシンメトリ）、ジッター、Ｃ１エラー、ＳＹＮＣＥＱ、デビエーション、反射率、ＨＦ振幅の少なくとも１つを使用することができる。この場合、再生信号の品位の絶対値又は変化量から前記記録領域の各位置における物理的状態を検出することができる。
【００１２】
以上の記録方法でいうところの記録とは、最も典型的には、データ記録時の最適光パワーを決定するためのＰＣＡに対するＯＰＣ記録であるが、ＯＰＣ後の試し書き、ＣＡ（Count Area）の記録等、ＯＰＣ以外にも適用することは可能である。ＯＰＣ記録の場合、記録する領域の物理的状態に基づいて、次のようにＯＰＣ記録による最適記録パワーの決定を行うことが考えられる。
【００１３】
第１の方法は、記録する領域に対し記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ記録を行うＯＰＣ記録ステップと、ＯＰＣ記録された領域を再生して得られた再生信号から各記録パワー毎の再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を測定する測定ステップと、測定された物理量に基づいて前記各記録パワー毎の再生信号の品位を算出する再生品位算出ステップと、求められた各記録パワー毎の再生信号の品位と前記検出された記録する領域の物理的状態とに基づいて最適記録パワーを決定する最適記録パワー決定ステップと、決定された最適記録パワーで前記光ディスクへの本記録を行う本記録ステップとを更に備える。
【００１４】
この第１の方法によれば、記録する領域に対して記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ記録を行って最適記録パワーを決定する際に、各記録パワー毎の再生信号の品位と記録する領域の物理的状態とに基づいて最適記録パワーを決定するので、ＯＰＣにおいて物理的状態を考慮した最適記録パワーを求めることができる。
【００１５】
例えは、最適記録パワーの決定方法としては、状態検出ステップで前記記録する領域の物理的状態として光ディスク記録面の傷及び指紋の少なくとも１つが検出された場合、▲１▼それが検出された位置の再生信号の品位を評価の対象から除外する、▲２▼それが検出された位置の再生信号の品位をその前後の位置の再生信号の品位によって内挿又は外挿して求めた値に置き換える、等の方法が挙げられる。これにより、傷、指紋等の影響で最適記録パワーが異常値になるのを防止することができる。
【００１６】
また、第２の方法は、記録する領域に対し前記検出された記録する領域の物理的状態に基づいて記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ記録を行うＯＰＣ記録ステップと、ＯＰＣ記録された領域を再生して得られた再生信号から各記録パワー毎の再生信号の品位を算出するのに必要な物理量を測定する測定ステップと、前記測定された物理量に基づいて前記各記録パワー毎の再生信号の品位を算出する再生品位算出ステップと、求められた各記録パワー毎の再生信号の品位に基づいて最適記録パワーを決定する最適記録パワー決定ステップと、決定された最適記録パワーで前記光ディスクへの本記録を行う本記録ステップとを更に備える。
【００１７】
この第２の方法によれば、記録する領域に対して、検出された物理的状態に基づいて記録パワーを段階的に変化させてＯＰＣ記録を行い、各記録パワー毎の再生信号の品位に基づいて最適記録パワーを決定するので、ＯＰＣにおいて物理的状態を考慮した最適記録パワーを求めることができる。
【００１８】
例えば、前記ＯＰＣ記録ステップは、前記状態検出ステップで前記記録する領域の物理的状態として光ディスク記録面の傷及び指紋の少なくとも１つが検出された場合、▲１▼それが検出された位置で、記録パワーの段階的な変化による記録パワーの振り分け方を変化させる、▲２▼それが検出された位置を避けてＯＰＣ記録を行う、等の方法を採用することができる。
【００１９】
なお、以上はＯＰＣ記録の例であるが、本発明の記録方法は、より好ましくは、検出された記録する領域の物理的状態に基づいて記録する領域に対する記録を行う記録ステップを更に備える。ここで記録ステップとは、例えばＰＡ（Program Area），ＬＩ（Lead In），ＬＯ（Lead Out），ＣＡ（Count Area），ＰＭＡ（Program Memory Area）に対する記録ステップである。物理的状態に基づいて記録するとは、例えば、前記物理的状態として光ディスク記録面の傷及び指紋の少なくとも１つが検出された場合、それが検出された位置で記録パワーを変化させる等の方法を指している。この場合、傷や指紋等が検出された位置でサーボが外れるのを防止するため、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボをホールド状態にすることがより好ましい。
【００２０】
また、状態検出ステップが、例えば光ディスクの各回転角度における反り量、面振れ量及び色素ムラ量の少なくとも１つを検出するステップである場合、前記記録ステップは、検出された各回転角度における反り量、面振れ量及び色素ムラ量の少なくとも１つに応じて記録パワーを変化させるステップであれば良い。光ディスクの各回転角度における反り量、面振れ量及び色素ムラ量の少なくとも１つは、例えば再生信号から求められたβ（アシンメトリ）の光ディスクの回転方向の変動量から検出することができる。なお、前記記録ステップは、記録する光ディスク、記録速度及び周囲雰囲気の少なくとも１つによって、記録パワーの変化量を変化させるようにしても良い。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の好ましい実施の形態について説明する。
図１は、この発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置の要部の構成を示すブロック図である。
【００２２】
光ディスク１は、記録領域の最内周から最外周まで一筆書きの螺旋状のトラックを有し、そのトラックに沿って一定の線密度でデータの記録線密度を規定するための記録線密度制御信号が重畳されている。この記録線密度制御信号は、この例では絶対時間情報であるＡＴＩＰ（Absolute Time In Pregroove）タイムコードを含むウォブル（Wobble）である。光ディスク１は、スピンドルモータ（ＳＰＭ）２によって回転駆動される。その回転軸にはホール素子等からなる周波数発生器（ＦＧ）３が接続されており、この周波数発生器３から出力されるＦＧパルスがサーボ回路４に入力されている。
【００２３】
サーボ回路４は、光ディスク１をＣＡＶ制御する場合には、ＦＧパルスと基準クロックとが同期するようにスピンドルモータ２を回転制御する。これにより光ディスク１は回転速度一定で回転制御される。サーボ回路４は、また、光ディスク１をＣＬＶ制御する場合には、光ディスク１から光ピックアップ５を介して読み出され、ＲＦアンプ６によって増幅されたウォブル信号が基準クロックと同期するようにスピンドルモータ２を回転制御する。これにより光ディスク１は線速度一定で回転制御される。
【００２４】
ＲＦアンプ６から出力されるウォブル信号は、アドレス検出回路７に供給され、ここで、ＡＴＩＰタイムコードとＡＴＩＰクロックとが抽出されて、光ディスク１のアドレスが検出される。検出されたアドレスは、システム制御部（ＣＰＵ）８に供給される。システム制御部８は、入力されたアドレスから光ディスク１の半径方向の記録位置を認識し、その記録位置に基づいて可変された基準クロックをサーボ回路４に出力する。
【００２５】
また、ＲＦアンプ６の出力、即ち再生信号は、デコーダ９に入力され、ここでＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）復調、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code）復号され、再生データとして出力されると共に、そのデコードによるＣＩエラー、ＳＹＮＣＥＱ（同期信号）が検出されてシステム制御部８に供給される。更に、ＲＦアンプ６から出力される再生信号は、ピーク・ボトム検出回路１０、エンベロープ検出回路１１及びジッター・デビエーション検出回路１２にそれぞれ供給されている。ピーク・ボトム検出回路１０では、再生信号のピーク値及びボトム値を検出し、これに基づいて、光ディスク１の反射率、ＨＦ振幅、変調度（Modulation）、β（アシンメトリ）等が検出される。エンベロープ検出回路１１では、再生信号のエンベロープ（包絡線）が検出される。ジッター・デビエーション検出回路１２では、再生信号からジッター及びデビエーションが検出される。これら、β、ＣＩエラー、ＳＹＮＣＥＱ、反射率、ＨＦ振幅、変調度、ジッター、デビエーション等は、再生信号の品位を示すパラメータであり、これらについては、後述する。
【００２６】
一方、記録データはエンコーダ１３に入力され、システム制御部８からのＥＦＭクロックに従って、記録データをＣＩＲＣ／ＥＦＭエンコードする。ライトストラテジ回路１４は、エンコードされた記録データから記録に適した記録パルスを生成する。この記録パルスがレーザドライバ１５に供給される。システム制御部８は、記録速度−最適パワー特性に基づき光パワー制御部１６を介してレーザドライバ１５を制御する。これにより、光ピックアップ５から最適化されたパワーのレーザ光が照射され、光ディスク１上にＥＦＭクロックに基づく線密度の記録ピットが形成される。
【００２７】
次に、このように構成された光ディスク記録装置の記録時の動作について説明する。
図２は、第１の実施形態に係る光ディスク記録装置の記録動作を示すフローチャートである。
まず、ＯＰＣ記録を行う領域、例えばＰＣＡ内の１５ＡＴＩＰフレーム分のデータが記録される領域、又はその近傍トラック等の近接領域を未記録状態で再生する（Ｓ１）。図３には、ＯＰＣ記録前に記録する領域を再生したときのＨＦ信号（ＡＣ結合後）のピークレベル及びボトムレベルを示している。傷、指紋等があると、その個所の再生信号のピークレベル及びへボトムレベルに変化があることが分かる。なお、ＨＦ信号以外でも、例えば平均反射率（ＨＦ信号をローパス処理した信号）、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号等も、傷、指紋などによりその振幅が大きく変動するので、これらを用いても良い。
【００２８】
続いて、得られた再生信号に基づいて記録する領域の物理的状態を検出する（Ｓ２）。ピーク・ボトム検出回路１０は、ＲＦアンプ６から出力されるＨＦ信号のピークレベル及びボトムレベルを検出し、システム制御部８は、そのレベルから傷、指紋等の存在を検出し、傷、指紋等が存在する光ディスク１の角度位置を記憶する。
【００２９】
また、図４には、各フレームのＨＦ信号振幅の変化を示している。これは各ＡＴＩＰフレームで複数回のサンプリングを行い、平均化することなどで得ることができる。例えば振幅の最小値の１．５倍をスライスレベルとして設定し、それを超えているフレームでは傷、指紋等があると判定することができる。この場合は、振幅の相対変化量から傷、指紋等の存在を検出したが、振幅の平均レベル、ピークレベル、ボトムレベル又は絶対値等の組合せからも同様の検出が可能である。また、スライスレベルの設定も任意の形態が可能であり、例えばスライスレベルを複数段階設定することにより、異なる振幅で現れる傷、指紋、黒点等をそれぞれ区別することも可能になる。また、光ディスク１のトラックピッチは、ディスク上の傷、指紋等に比べて極めて小さいことや、ＯＰＣでは通常１５ＡＴＩＰフレーム（内周ＰＣＡでは約１周半）記録することを考慮すれば、記録個所の手前を１周程度、再生・測定・検出することで、連続した動作が可能になり、所要時間を短縮することもできる。
【００３０】
光ディスク１上の傷、指紋等の物理的状態を検出したら、次にＯＰＣが実行される（Ｓ３）。ＣＤ−ＲのＯＰＣでは、通常、光ディスク１の最内周エリアに形成されたＰＣＡにおいて、予め定めた記録速度にて、図５に示すように、光ピックアップ５の記録パワーを、１ＡＴＩＰフレーム単位で１５フレームにわたって段階的に変化させてテストパターンを試し書きする。そして、試し書きされた部分を再生する。図６の波形が、ある記録パワーで記録されたデータを再生したＡＣ結合後の再生信号（ＨＦ信号）である。ここでＲはＡＣのグランドレベルとなるＥＦＭ基準レベル（ＥＦＭ  Ｒｅｆ）である。また、ピーク値Ｐ、ボトム値Ｂ及びＥＦＭ基準レベルＲは、ＡＤＣの基準となるＡＤＣ基準レベル（ＡＤＣ  Ｒｅｆ）を基準としたレベルである。いま、ＥＦＭ基準レベルＲを基準としたピーク値Ｐ側の振幅をＡ１、ボトム値Ｂ側の振幅をＡ２とすると、βは次のような演算によって求められる。
【００３１】
【数１】
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【００３２】
図７は、図５の段階的な記録パワーにより記録された１５フレーム分の記録データを再生することにより、各フレーム毎に検出されるピーク値Ｐ及びボトム値Ｂを示す図である。各フレーム毎にβを求めると、図８に示すような記録パワー−β特性が求められる。この特性のうち、例えばβ＝０となる記録パワーＰｏをその光ディスク１における最適記録パワーとして決定する。
【００３３】
但し、ここでβの決定方法の中に、先に検出された光ディスク１の物理的状態を反映させる。その方法としては、▲１▼傷、指紋のあるフレームで得られた再生信号から求められたβは評価の対象から外す、▲２▼傷、指紋のあるフレームで得られた再生信号から求められたβは評価の対象から外し、前後のフレームから内挿又は外挿する、▲３▼傷、指紋のあるフレームではＯＰＣ記録のパワーの振り分け方を変える、▲４▼傷、指紋のあるフレームを避けてＯＰＣ記録を行う、等の方法が考えられる。
【００３４】
このようにして、光ディスク１の物理的状態に応じたＯＰＣを行って、光ディスクに傷、指紋等があった場合でも、最適記録パワーを求めることができ、この最適記録パワーによる本記録が実行される（Ｓ５）。具体的には、求められた最適記録パワーが光パワー制御回路１６に与えられ、レーザドライバ１５が最適記録パワーにより駆動される。
【００３５】
図９は、この発明の第２の実施形態に係る光ディスク記録装置の記録動作を示すフローチャートである。
まず、ＯＰＣ記録を行う領域、例えばＰＣＡ内の１５ＡＴＩＰフレーム分のデータが記録される領域、又はその近傍トラック等の近接領域を任意の記録パワーにて試し記録する（Ｓ１１）。図１０には、任意の固定パワーで、例えば光ディスク１周分記録したときのＳＹＮＣＥＱ，Ｃ１エラー、β、ジッター、デビエーション及び反射率の各一例を示している。これらは、次のように再生信号の品位（記録品位）を表している。
【００３６】
▲１▼ＣＩエラー：再生信号のエラーブロック数（ＢＬＥＲ）、
▲２▼ジッター：再生信号の各ピット、ランド長の標準偏差、
▲３▼デビエーション：再生信号の各ピット、ランド長と各基準長との差、
▲４▼ＳＹＮＣＥＱ：フレーム同期信号を検出できたかを示す信号。ここでは、所定時間（フレーム）で、この信号が何回検出できたか、つまり同期のとれた回数（シンクイコール回数）を測定し、判断材料に使用する。
▲５▼β（アシンメトリ）：記録の深さを示す指数。再生信号（ＡＣ結合後）の非対称性、
▲６▼反射率：全反射に対する再生信号の反射率。
【００３７】
なお、これらは、デコーダ９、ピーク・ボトム検出回路１０、エンベロープ検出回路１１及びジッター・デビエーション検出回路１２で得ることができる。図１０は、例えば各ＡＴＩＰフレーム単位での変化を示したものである。傷や指紋の存在する個所では、その値が特異的になっていることが分かる。このことから、試し記録された領域を再生してＨＦ信号を得（Ｓ１２）、得られたＨＦ信号から、前述のＨＦ振幅と同様に、相対値又は絶対値の任意のスライスレベルを設定すれば、傷・指紋などの物理的状態を検出することができる（Ｓ１３）。なお、必要に応じてウィンドウ的な設定とするようにしても良い。
【００３８】
記録する領域の物理的状態が検出されたら、その後、ＯＰＣ実行（Ｓ１４）、最適記録パワー決定（Ｓ１５）、及び本記録（Ｓ１６）を実行するが、これらは図２に示した先の記録動作と同様の処理であるため、その詳細については割愛する。
【００３９】
図１１は、光ディスク１に反り、面振れ、色素ムラなどの回転方向での記録品質のバラツキを発生させる要因が存在する場合のβの変動量を示す図である。光ディスク１の角度（位置）に応じて、βが変動している。ここで、傷、指紋等が存在すると、部分的に大きく変動するが、その場合には、大きく変動する個所を前後のデータで内挿又は外挿補間すれば良い。このような光ディスク１で実際にＯＰＣを実行した場合の記録位置（記録パワー）−β特性は、図１２のようになる。図１１に示すようなβ変動量を求め、図１２の特性を補正することにより、最適記録パワーを求めることができる。また、このようなβの変動に合わせて、記録パワーを変化させるようにしても良い。
【００４０】
具体的な記録領域としては、ＰＡ，ＬＩ，ＬＯ，ＣＡ，ＰＭＡ等が挙げられる。特に従来、記録中に戻り光のレベルをモニタし、その変化量から記録パワーを制御するＲＯＰＣ（ランニングＯＰＣ）では、記録すべき領域にある程度の長さがなければならず、ＯＰＣ回数を記録するＣＡ（Count Area）のように、極めて短い領域をＲＯＰＣ（ランニングＯＰＣ）制御することは困難であったが、この発明の記録方法により、ＣＡのような短い領域に対しても予め最適パワーを予測することができるため、品位の高い記録が可能になる。
【００４１】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明によれば、光ディスクへの記録動作に先立ち、記録する領域又はその近傍領域を未記録状態で予め再生して、この再生信号の振幅変動によって記録する領域の物理的状態を検出するか、予め定められた固定パワーで少なくとも所定角度分の試し記録を行い、その再生信号から試し記録された領域の各位置における再生信号の品位を測定し、この測定された再生信号の品位から記録する領域の物理的状態を検出するようにしているので、記録する領域の状態を高い精度で事前に推定して、光ディスクの状態に適した最適な記録をすることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の第１の実施形態に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図２】  同装置における第１の実施形態に係る光ディスク記録方法を示すフローチャートである。
【図３】  未記録領域に傷、指紋がある場合の再生信号のピークレベル及びボトムレベルを示す波形図である。
【図４】  未記録領域に傷、指紋がある場合の再生信号の振幅を示す波形図である。
【図５】  同装置におけるＯＰＣ時の記録領域における記録パワーと記録位置との関係を示すグラフである。
【図６】  同ＯＰＣ記録データの再生信号の一例を示す波形図である。
【図７】  同ＯＰＣにおける各記録位置と再生信号のピーク値及びボトム値とを示すグラフである。
【図８】  同ＯＰＣにおける記録パワーとβとの関係を示すグラフである。
【図９】  この発明の第２の実施形態に係る光ディスク記録方法を示すフローチャートである。
【図１０】  任意の固定パワーで記録された信号の品位を示すグラフである。
【図１１】  光ディスクに反り、面振れ、色素ムラ等がある場合のディスク回転方向のβ変動量を示すグラフである。
【図１２】  同β変動量が存在する場合のＯＰＣにおける記録パワー−β特性を示すグラフである。
【符号の説明】
１…光ディスク、２…スピンドルモータ、３…周波数発生器、４…サーボ回路、５…光ピックアップ、６…ＲＦアンプ、７…アドレス検出回路、８…システム制御部、９…デコーダ、１０…ピーク・ボトム検出回路、１１…エンベロープ検出回路、１２…ジッター・デビエーション検出回路、１３…エンコーダ、１４…ストラテジ回路、１５…レーザドライバ、１６…光パワー制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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