(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定物を照らし、且つ測定物を透過した又は測定物から伝達された測定光を受けるための測定ユニット、測定物の測定の種類を選択し、パラメーターを導入し、且つ前記測定を開始するための入力ユニット、測定された値を表示するための表示ユニット、装置の測定ファンクションが記憶される第一不揮発性メモリー、装置の全工程を制御するための制御ユニット、及び前記測定ファンクションの各々に対して指定された開放コードを記憶するための第二不揮発性メモリーであって、前記開放コードは第一不揮発性メモリーの測定ファンクションを呼び出すために前記制御ユニットによって使用される第二不揮発性メモリー、からなる測定物の光学的透過性及び／又は伝達性を検出するためのコンピューター制御される装置。
【請求項２】
装置で実行可能な全ての測定ファンクションが第一不揮発性メモリーに記憶され、且つ第二不揮発性メモリーに開放コードが記憶され、それによって制御ユニットが第一不揮発性メモリーに記憶された全ての測定ファンクションのうちの選択された測定ファンクションを呼び出す請求項１記載のコンピューター制御される装置。
【請求項３】
第二不揮発性メモリーが、電気的に消去可能で書き込み可能な読み出し専用メモリー（ＥＥＰＲＯＭ）である請求項１記載のコンピューター制御される装置。
【請求項４】
第二不揮発性メモリーが、キーコードによってのみ呼び出され得る内容を有するロック可能なメモリーである請求項１記載のコンピューター制御される装置。
【請求項５】
第二不揮発性メモリーの内容が、各装置に固有のキーコードによってのみ呼び出され得る請求項４記載のコンピューター制御される装置。
【請求項６】
装置が初期化される場合に、第二不揮発性メモリーから、制御ユニットにより開放コードをロードする、バッテリーによって支援された揮発性メモリーを更に含む請求項１記載のコンピューター制御される装置。
【請求項７】
外部装置との接続のためのインターフェイスを更に含む請求項１記載のコンピューター制御される装置。
【請求項８】
a) 第一不揮発性メモリーに記憶された測定ファンクションを呼び出すために第二不揮発性メモリーに記憶された開放コードを使用する工程、
b) 測定の種類、測定のパラメーター、及び前記測定を開始するための信号を入力する工程、
c) 第一不揮発性メモリーに記憶された測定ファンクションを呼び出すことによって装置のシーケンスを制御する工程、
d) 測定物を照らし且つ測定物を透過した又は測定物から伝達された光を受ける工程、及び
e) 測定された値を表示する工程、
を順次行う、測定物の光学的透過性及び／又は伝達性を検出するためのコンピューター制御される装置の操作方法。
【請求項９】
第二不揮発性メモリーから開放コードを呼び出し、且つ前記コードを用いて、第一不揮発性メモリーに記憶された選択された測定ファンクションを呼び出す制御ユニットを付与する工程が、前記工程a)に先だって実行されることを更に含む請求項８記載の方法。
【請求項１０】
装置が起動される場合に、第二不揮発性メモリーに記憶された開放コードを用いて呼び出される全ての測定ファンクションが呼び出し可能であるかどうかを検査し、可能でない場合、そのための開放コードが第二不揮発性メモリーに記憶された全ての測定ファンクションが第一不揮発性メモリーから呼び出し可能であるように、制御ユニットを使用して第二不揮発性メモリーに記憶された開放コードを用いて呼び出す工程が、前記工程a)に先だって実行されることを更に含む請求項８記載の方法。
【請求項１１】
開放コードが第二不揮発性メモリーにロックされ、且つキーコードを用いてのみ呼び出され得る請求項８記載の方法。
【請求項１２】
第二不揮発性メモリーにロックされた開放コードが、各装置に固有のキーコードによってのみ呼び出され得る請求項１１記載の方法。
【請求項１３】
制御ユニット及び第二不揮発性メモリーに記憶された開放コードを介して、トライアルベースにおいて第一不揮発性メモリーに記憶された選択された測定ファンクションを呼び出す工程、選択された測定ファンクションの個々のトライアル呼び出しの各々を計数する工程、及び予め決定されたトライアル数が前記計数工程において呼び出された後、選択された測定ファンクションに対する使用者の呼び出しをブロックする工程、を更に含む請求項９記載の方法。
【請求項１４】
前記選択された測定ファンクションのうちの一つのトライアル呼び出しの前に毎回、前記選択された測定ファンクションのうちの前記一つが、前記予め決定された回数予め呼び出されたかどうかを検査し、呼び出された場合、前記選択された測定ファンクションのうちの前記一つが、再びトライアルベースにおいて前記制御ユニットを介して呼び出しされることからブロックする工程を更に含む請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
a)第二不揮発性メモリーを開くために、装置−固有初期化コードを入れる工程、
b)前記第二不揮発性メモリーに開放コードを記憶させる工程、及び
c)開放コードを使用して、装置の操作中に、制御ユニットによって、第一不揮発性メモリーに記憶された前記測定ファンクションを呼び出す工程、を順次行う、請求項１から７のいずれか1項に記載のコンピューター制御された装置の測定ファンクションの初期化方法。
【請求項１６】
初期化コードが入力ユニットを介してマニュアルで入力される請求項１５記載の方法。
【請求項１７】
初期化コードが外部装置との接続のためのインターフェイスを介して入力される請求項１５記載の方法。
【請求項１８】
第一コンピューターが第二コンピューターに認識された後に、所望の初期化コードを、第一コンピューター及びインターフェイスを介して、第二コンピューターの不揮発性メモリーからコンピューター制御される装置に伝達し、それにより、第二不揮発性メモリーを開く工程、及び前記コンピューター制御される装置による使用のための開放コードを与える工程、を更に含む、コンピューター制御される装置がインターフェイスを介して第一コンピューターに接続され、前記第一コンピューターは、個々の装置の各々に対する初期化コードが記憶された不揮発性メモリーを有する第二コンピューターに接続されている請求項１７記載の方法。
【請求項１９】
第二コンピューターから第一コンピューターへの初期化コードの伝達の前に、初期化コードをコード化する工程、及び伝達後、初期化コードがインターフェイスを介してコンピューター制御される装置に与えられる前に、初期化コードを解読する工程、を更に含む請求項１８記載の方法。
【請求項２０】
コンピューター制御される装置に、開放コードをコンピューター制御される装置の第二不揮発性メモリーに記憶させる初期化コードを与え、前記開放コードは、第一不揮発性メモリーに記憶された測定ファンクションを呼び出すために制御ユニットによって使用される工程を更に含む請求項１５記載の方法。
【請求項２１】
コンピューター制御される装置に、開放コードを第二不揮発性メモリーに記憶させる初期化コードを与え、前記開放コードは、トライアルベースにおいて第一不揮発性メモリーの選択された測定ファンクションを呼び出すために制御ユニットによって使用され、この間選択された測定ファンクションの個々のトライアル呼び出しの各々が計数され且つ予め決定されたトライアル数が呼び出された後に、前記選択された測定ファンクションが制御ユニットによって呼び出されることからブロックされる工程を更に含む請求項１５記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定物の光学的透過性及び／又は伝達性を検出するためのコンピューター制御された装置、該装置の操作方法及び該装置の測定ファンクションの初期化方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
測定物の光学的透過性及び／又は伝達性を検出するためのコンピューター制御された装置、例えばデンシトメーター又は分光光度計は広く知られている。それらは、圧力装置に固定されて取り付けられてもよいし又は移動手持ち装置として設計されてもよい。手持ちデンシトメーターの形態の前記手持ち装置は、ヨーロッパ特許ＥＰ−Ａ−０６０３４４８に記載されている。この手持ちデンシトメーターは、測定物（例えば、印刷シート）を透過した及び／又は測定物から伝達された光を受けるための測定ユニットを含む。更に、その中に記載された典型的な手持ち装置は、ハンドルとして設計された入力ユニットを有している。このハンドルの助けにより、例えば、測定の種類を入力することができ（密度測定、全体の値の決定等）、測定における特定のパラメーターを入力することができ、測定などを行うことができる。この種の他の手持ち装置の場合には、前記特徴を入力すること及び／又は手持ち装置に備えられたキーボードの助けを借りて測定を行うことも普通である。更に、前記手持ち装置は基本的に、測定された値及び、それ以前に、選択された測定の種類、パラメーターを表示するための表示ユニット（例えば、ＬＣＤディスプレイ）を含む。
【０００３】
内部に、前記装置は代表的には、該装置の個々の測定ファンクションが記憶される不揮発性メモリー（例えば、ＲＯＭ）も有している。不揮発性メモリーに記憶された前記測定ファンクションは、前記不揮発性メモリーに記憶された全ての測定ファンクションが使用者に利用可能であるように、前記装置の操作中に呼び出される。同時に、制御ユニット（制御コンピューター、マイクロコンピューター）は、前記装置における全てのシーケンスの配列を制御する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
原則的に、前記装置には多数の測定ファンクション、例えば、密度測定、密度差の測定、密度増加の測定、圧力特性の決定、被覆面積の決定、コントラスト測定、色むら誤差の測定、及び更なる測定ファンクションを備えることができる。しかしながら、前記装置の種々の使用者は、前記測定ファンクションの全てを常に必要とするわけではない。それ故、このような装置を購入する場合、第一に、優れた装備の装置は通常より高いこと、及び第二に、そのような良い装備でない装置は、特定の測定ファンクションが全くオプションとして提供されず、且つそれ故、使用者を混乱させ得ないので、本質的に取り扱いが容易であること、の理由で、使用者は、不必要な測定ファンクションを有する前記装置に固執しない。例えば、代表的なプリンターは、密度、密度増加及び被覆面積の測定ファンクションを必要とする。高い品質が要求される印刷系は、例えば、密度、密度増加、被覆面積、圧力特性の測定ファンクションを必要とする。加工施設（例えば、写真フィルムの加工施設）は、他方、代表的には、例えば、密度及び密度増加の測定ファンクションを必要とする。しかしながら、他の使用者は、密度の測定ファンクションを必要とするのみである。更に他の取引先はまだ知らないけれども、このような装置を購入する場合、正に取引先が将来測定することを欲するであろうもの、又は操作の変更（例えば、印刷系の一層高品質の要求）に起因して、追加の値はこのような装置を用いて突然に測定されなければならない。
【０００５】
前記理由により、種々の測定ファンクションが備えられた異なる装置が入手され得る。この事は通常、何れかの与えられた時間において、装置が実行し得る全ての測定ファンクション（プログラム）は不揮発性メモリー（例えば、ＲＯＭ）に記憶されるというように認識される。装置が異なる測定ファンクションを実行し得る場合には、異なる測定ファンクション（プログラム）も何れかの与えられた時間にＲＯＭに記憶される。原則的に、この事は、どのようにして異なる測定ファンクションを有する装置が提供され、他方、望まない測定ファンクションが提供されず、そしてそれ故、使用者を混乱させ得ないかに対する解答である。しかしながら、この事は、前記装置のためのＲＯＭが各々の場合において、非常に特別な測定ファンクション（プログラム）のみがそれらに記憶されるように特別にプログラムされなければならないので、装置の製造において不都合である。結果として、取引先の希望に応じて及び／又は販売のために提供される装置の種類に応じて、特別なＲＯＭがプログラムされ且つ製造なければならず、そしてそれ故、種々の装置の製造は比較的高価である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明により示される技術的問題は、それ故、前記装置の製造を実質的に容易にすることである。更に、本発明は、前記装置が容易に品質を向上され得る（すなわち、使用者がそれを望む場合には、別の測定ファンクションが容易に備えられ得る）ように、且つこの目的のために新規装置を購入することのないように、前記装置及びそれらの操作手順を作ることに関連する。このことに関連して、前記装置の品質の向上は、例えば、前記装置を長期間にわたって工場に送り返すことなく、非常に容易に可能であることが特に望ましい。
【０００７】
本発明の装置の実施態様に関して、前記問題は、第二不揮発性メモリーに記憶されたものが個々の測定ファンクションに対して指定された開放コードであり、且つ前記コードの助けをかりて、制御ユニットは第一不揮発性メモリーの測定ファンクションを呼び出すことで解決された。このようにして、ただ一種の不揮発性メモリー（例えば、ＲＯＭ）が製造され、この中に、前記装置に全く適用可能な全ての測定ファンクション（プログラム）が記憶される装置が製造され得る。開放コードは第二不揮発性メモリーに記憶される。制御ユニットは第二不揮発性メモリーから前記開放コードを呼び出し、次いで前記開放コードの手段により、第一不揮発性メモリーから選択された測定ファンクションを呼び出すことができる。換言すれば、この事は、使用者が望む測定ファンクションのみが前記装置に存在した如く使用者に対して表示される。前記測定ファンクションのための開放コードがない場合には、測定ファンクションは全く呼び出され得ないので、他の測定ファンクションは前記装置のディスプレイに全く表示されない。呼び出され得ない測定ファンクションは、それ故、使用者を混乱させ得ない。実際、この事は、前記装置の製造のための経済的な単純さを生じさせる。
【０００８】
すなわち、全ての測定ファンクション（プログラム）が記憶されるＲＯＭを製造することのみが今後必要である。開放コード（これは、非常に短く且つ容易に記憶される）は、どの測定ファンクション（プログラム）が実際に呼び出され得るか（すなわち、実際に、どの測定ファンクションを、前記装置は使用者のために有しているか）を決定する。この事は、後で説明するように、前記装置を一層容易に製造することを可能にするが、しかし更に、新規装置を購入することなく又は前記装置を長期間にわたって工場に送ることなく、前記装置の品質を一層容易に向上させることも可能にする。
【０００９】
前記装置の操作方法に関して、上記の技術的問題は、制御ユニットの手段により、誰でも第二不揮発性メモリーから開放コードを呼び出すことができ、該開放コードに助けられて、第一不揮発性メモリーに記録された測定ファンクションが、本装置の操作中に、制御ユニットの手段により呼び出される。この方法は、他方、測定装置の測定ファンクションを容易に初期化することを可能にするが、しかし更に、使用者に既に売られた手持ち装置の品質を実質的に向上させること（すなわち、前記目的のために、前記装置を長期間にわたって工場に送ることなく、それに別の又は他の測定ファンクションを備えること）も可能にする。すなわち、必要な初期化コードのみが前記装置に供給されること（すなわち、備えられること）が必要であり、その結果、第二不揮発性メモリーは、必要な開放コードを記憶するためにロック解除され得る。
【００１０】
【発明の実施の形態及び発明の効果】
装置の別の好適な態様並びに操作方法及び初期化方法の別の好適な変法は、好ましい態様に関する下記の詳細な記載及び添付図面から良く理解されるであろうが、ここで、
図１は、本発明装置の実施態様の図を示し（実施例の図１の態様は手持ち装置として説明されている）、
図２は、実施例の図１の装置の上面図を示し、
図３は、非常に詳細な実施例の図１の装置を示し、
図４は、実施例の図１の装置の第二不揮発性メモリーの実施態様を示し、
図５は、本装置を起動させるための実施例の方法を説明するための実施例のフローチャートを示し、
図６は、本装置を初期化するための実施例の方法のステップを説明するための実施例のフローチャートを示し、
図７は、測定ファンクションの試験初期化のための実施例の方法のステップを説明するための実施例のフローチャートを示し、
図８は、本装置のインターフェイスを介する測定ファンクションの初期化の実施態様を示す。
【００１１】
本発明の装置１の実施態様を、図１（側面図）及び図２（上面図）に示す手持ち装置１として説明する。測定ユニットは測定ヘッド１００の形態で認識され、測定ヘッド１００は、矢印１１０の方向に測定を行うために、装置１から延長可能であり且つ装置１内に再挿入可能である。延長された状態において、測定物（図示せず）、例えば印刷シートは、測定ヘッド１００に備えられた光源によって照射され、次いで印刷シートから伝達された光は測定ヘッド１００で受けられ、且つ続いて解析される。測定の種類（例えば、密度測定）、測定の個々のパラメーターの選択、及び／又は測定手順の実施（測定ヘッドの延長等）は、入力ユニットとしてのハンドル１２０の助けにより行うことができ、そして各々の場合において、ディスプレイユニット（例えばＬＣＤディスプレイ１３０）に表示され得る（図２）。他の公知装置を用いて、例えばキーボードの手段により、前記入力を行うこともできる。測定された値（例えば、密度）は、測定後にＬＣＤディスプレイ１３０に表示される。今までのところでは、本発明の手持ち装置は、例えば、最初に述べたＥＰ−Ａ−０６０３４４８に記載されているような従来技術の状態に相当する。
【００１２】
前記装置において、個々の測定ファンクションは代表的にはプログラムとして第一不揮発性メモリー１５に、例えば、図３のブロックダイヤグラム（これは、本発明の実施態様の図１の装置を一層詳細に示す）で説明されるように、ＲＯＭ（読み出し専用メモリー）に記憶される。実施例の方法において、制御コンピューター１４の形態の制御ユニットは本装置の全てのシーケンスを制御する。更に、前記装置は入力ユニット１２を含み、入力ユニット１２は、実施態様においては、図１及び図２に示されるハンドル１２０として備えられる。既に述べた如く、この入力ユニット１２は、何れかの他の種類の使用者に制御された装置、例えば、キーボードとしても供給され得る。更に、図３に示される如く、前記装置は測定系１１を含み、測定系１１は、従来技術の測定系の何れかの状態に相当し、そして、実施態様においては、測定ヘッド１００（図１，図２）として製造される。ＲＯＭ１５に加えて、前記装置は第二不揮発性メモリー１６〔例えばＥＥＰＲＯＭ（電気的に消去可能で書き込み可能なＲＯＭ）〕、バッテリー１７０の手段によって緩衝された揮発性メモリー１７（例えば、ランダムアクセスメモリー）、ディスプレイ１３（これは、図２のディスプレイ１３０に相当する）並びに外部装置と接続するためのインターフェイス１８も含む。
【００１３】
ＥＥＰＲＯＭ１６（第二不揮発性メモリー）の実施態様は、ブロックダイヤグラムとして図４に示される。ＥＥＰＲＯＭ１６は、ロック１６０と不揮発性で書き込み可能なメモリー１６１とからなる。実施態様においては、前記ロックは制御ユニット１４によるメモリー１６１へのアクセス（例えば、コードアクセス）を阻止するための何らかの手段であってよい。メモリー１６１へのアクセスを可能とするために、ロック１６０は、例えば、マッチングキー（例えば、マッチングコード）の手段によって、最初は毎回開かれていなければならない。このキーは、安全性の理由のために、個々の装置に対して固有である（すなわち、異なる）ことが好ましい。
【００１４】
実施態様の前記装置のファンクショニング(functioning) は下記の如くである。原則的に、全ての測定ファンクション（これは、前記装置を用いて基本的に実行され得る）は、プログラムの形態でＲＯＭ１５に記憶される。しかしながら、ＥＥＰＲＯＭ１６に、前記装置が実際に実行可能であるべき何れかの測定ファンクションに応じて、特定の開放コード（例えば、ＲＯＭ１５に記憶された一つ又はそれより多くの測定ファンクションへの呼び出しを制御ユニット１４に対して開放するコード）が記憶され、これは、ＲＯＭ１５の個々の測定ファンクションを呼び出し得ることが必要である。換言すれば、ＲＯＭ１５の測定ファンクションは、それらは相当する開放コードの手段によって呼び出されることのみが可能であるように管理される。原則的に、これらの開放コードは、実行すべき測定ファンクションを毎回呼び出すことができ、開放コードは制御コンピューター１４を介して、ＥＥＰＲＯＭ１６から呼び出される。しかしながら、開放コードは揮発性メモリー１７〔これは、バッテリー１７０の手段により、バッテリーバッファーされている(battery-buffered)〕へもコピーされ得る。開放コードはそれ故、ＲＡＭ１７に保護されて残り得る。この事は、前記装置が起動された場合に、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０が毎回開けられる（このようにすると、ロック１６０を開けるためのキーを見出すこと及び且つ許可なくＥＥＰＲＯＭ１６を読み出すこと及び／又はＥＥＰＲＯＭ１６をコピー又は変形することが次第に困難になる）ことがなくてよいという利点を有する。ＲＡＭ、例えばＲＡＭ１７は、非常な困難を伴って操作することのみが可能であり、この事が、実施態様のＲＡＭに対して特定の保護手段が全く与えられていない理由である。しかしながら、前記保護は必要な場合に与えられる。
【００１５】
図５により、装置が起動された場合に、どのようにして実施態様の手順が実行されるかを説明する。第一ステップ２０において、装置は起動される。次のステップ２１において、ＲＡＭ照合が起こる；すなわち、第一に、開放コードが既にＲＡＭ１７に記憶されたかどうかが決定され、次いで第二に、装置が停止される場合に計算され且つ記憶されるチェックサム(checksum)が正しいかどうかが決定される。開放コードがＲＡＭ１７に全く記憶されていない場合には、装置が初めて起動されるか又は開放コードがＲＡＭ１７から消去されたかの何れかである。この事は、例えば、ＥＥＰＲＯＭが取り替えられる場合に起こり得る。例えば、ＥＥＰＲＯＭ１６を取り替えるべき場合には、そのＥＥＰＲＯＭメモリー１６１（図４）は、例えばＲＯＭ１５に記憶されたキーの手段によって、ステップ２１２に従ってロック解除され得る。ＥＥＰＲＯＭ１６の内容、特に前記ＥＥＰＲＯＭのメモリー１６１に記憶された開放コードは、次いで、前記ＥＥＰＲＯＭが取り替えられた後に、ＲＡＭ１７にコピーされる。ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０は、次いで、再びロックされる。情報は次いで、開放コードが前記ＲＡＭにコピーされたことを示すためにＲＡＭ１７に記憶される。ここで装置は読み込みの状態にあるので、ここで続くステップ２２での別のプログラムが実行される。
【００１６】
実施態様において、装置が起動されることが最初でない場合でさえも、ＲＡＭ１７に記憶された開放コードに対してＲＡＭ１７に記憶されたチェックサムが正しいかどうかを検出するために、同一のシーケンスステップが生じる。正しくない場合には、これは、ＲＡＭ１７に生じた変化が操作又は他の事柄の何れかに対して影響を及ぼすということを意味する。幾つかの場合に、先のパラグラフに記載された如く、前記ＥＥＰＲＯＭの開放コードをＲＡＭ１７に記憶させるために、同一のシーケンスステップが生じる。前記の二つの場合は、図５のパス２１１及びパス２１２によって代表される。
【００１７】
開放コードがＲＡＭ１７に記憶され且つＲＡＭ１７に記憶されたチェックサムが正しい場合には、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０（例えば、コード化された呼び出し）はロック解除される必要はなく且つそのメモリー１６１の内容もＲＡＭ１７に記憶される必要はない。これは、図５にパス２１０によって示される通常の場合である。前記通常の場合において、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０を開けるためのキーも、それ故、ＲＯＭ１５から呼び出される必要はない。それ故、前記通常の場合において、呼び出しに必要とされたキーを決定することは非常に困難となる。従って、ＥＥＰＲＯＭ１６をコピー又は操作することも非常に困難である。しかしながら、誰かが又、許可なくＥＥＰＲＯＭ１６のためのキーを見出す場合でさえも、異なる固有のキーが各々の装置のＲＯＭ１５に記憶されることが好ましいので、前記キーは、実施態様においては、単一の装置のために使用されるのみである。
【００１８】
図５のパス２１０を通った後及び／又はパス２１１を通り次いでステップ２１２を実行した後、別のプログラム実行２２が続けられ、次いで例えば、主なメニューが図３のディスプレイユニット１３に表示される。
【００１９】
原則的に、ＥＥＰＲＯＭ１６のメモリー１６１に、制御ユニット１４がＲＯＭ１５の全ての測定ファンクションを呼び出すことができる手段によって、開放コードを記憶させることが可能である。しかしながら、ＲＯＭ１５の測定ファンクションの個々の群又は個々の測定ファンクションのただ一つが呼び出され得る手段によって、コードを記憶させることも可能である。
【００２０】
図６のフローチャートを参照すると、各ステップは、原則的に、本発明の実施態様に基づいて装置の品質が向上された場合に、実施されることが非常に明確になる。先ず、第一ステップ３０で、入力ユニット１２の手段により（例えば、図１のハンドル１２０の手段により又はキーボードの手段により）、初期化コードが入力される。別の実施例としては、後述の如く、初期化コードは、図３のインターフェイス１８を介して外部コンピューターから与えられてもよい。この初期化コードは、次のステップ３１で、ファンクション数と各装置によって異なる装置コードとに分けられる。次のステップ３２で、ファンクション数は解読される；換言すれば、開放コード又が、個々の場合には、開放コード類が、何れのファンクションのための初期化コード内に存在するかが決定される。更に、相当する初期化コードは次いで、図３のＲＡＭ１７から読み出される。すなわち、前記装置で実行可能な全ての測定ファンクションのための初期化コードの内容も、緩衝されたＲＡＭ１７に記憶される。与えられた初期化コードは次いで、ＲＡＭ１７に記憶された初期化コードと比較される。
【００２１】
次いで、別のステップ３３で、与えられた初期化コードが図３のＲＡＭ１７に記憶された初期化コードと一致するかどうかが決定される。一致する場合には、パス３３２が取られる。次いで、別のステップ３３３で、制御ユニット１４を介してＲＯＭ１５の追加の望ましい測定ファンクションを呼び出すことを可能にする手段によって、開放コードはＲＡＭ１７に記憶されるので、それ故、追加の望ましい測定ファンクションは“明確に”される。次いで、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０がロック解除され、ここで、キー（“ロック解除コード”）がＲＯＭ１５からＥＥＰＲＯＭ１６の前記ロックに送られる。次いで、開放コードも、制御ユニット１４を介してＲＯＭ１５の追加の望ましい測定ファンクションを呼び出すことを可能にする手段によって、ＥＥＰＲＯＭ１６に記憶される；換言すれば、前記の望ましいファンクションを与えるために装置１が使用され得るように、追加の望ましい測定ファンクションが“明確に”されたことがＥＥＰＲＯＭ１６に記憶される。続いて、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０は再びロックされる。
【００２２】
二つの開始コードが一致しない場合、すなわち、ステップ３３の実行が否定的に答えられた場合には、パス３３０が取られる。別のステップ３３１において、追加の測定ファンクションの“明確化”が次いで否定されるか、又は恐らく、その代わりに、特定の追加の測定ファンクションが“明確に”される。前記“明確化”は次いで、先のパラグラフに記載された如く、パス３３２及びステップ３３３の手段によって起こる。
【００２３】
両方の場合、すなわち、特定の測定ファンクションの“明確化”が起こる場合並びに“明確化”が否定されるか又はトライアルベースにおいてのみ起こる場合に、使用者は、別のステップ３４において、品質の向上が成功したかどうか、又は特定の測定ファンクションがトライアルベースにおいて明確にされたかどうかを、ディスプレイユニット１３に示される。
【００２４】
前記実施例の手順は、装置を長期間工場に送ることなく容易に装置の品質を向上させることを可能にする。自分の装置の品質を向上させたい使用者は、正しい初期化コードが自分の装置に与えられたことを確認することが必要であるのみである。この事は又、使用者が初期化コードを直接工場に発注し、それによって、個々の使用者が登録され、次いで相当するインボイスが使用者に送付され得るようにする。使用者は、初期化コード無しでもよく、例えば、トライアルベースにおいて、予め決定された計数値に対して、追加の望ましい測定ファンクションを呼び出すことが可能である。この事は、図７のフローチャートを参照して以下で説明される場合に起こる。
【００２５】
この目的のために、第一ステップ４０で、初期化コードが装置に与えられる。与えられた初期化コードは、ＲＡＭ１７に記憶されている相当する初期化コードと比較される。更に、所望の測定ファンクションがトライアルベースで既に明確にされたかどうかがＲＡＭ１７から読み出される。
【００２６】
ステップ４１において両方の質問が肯定的に答えられた場合（すなわち、初期化コードが一致する）、及び追加の測定ファンクションが先のトライアルベースで既に“明確に”されなかった場合には、パス４１１が取られる。続くステップ４１２において、次いで、追加の測定ファンクションが“明確に”されることがＲＡＭ１７に記憶される。更に、追加の測定ファンクションがトライアルベースで“明確に”されること（すなわち、相当する開放コードの手段により、ＲＯＭ１５に記憶された測定ファンクションはトライアルベースにおいて呼び出され得ること）がＲＡＭ１７に記憶される。加えて、前記測定ファンクションのためのカウンターは“０”に設定される。このカウンターは、前記追加のファンクションが呼び出される毎に増加される。更に、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０は次いでロック解除され、ここで、キーがＲＯＭ１５からＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０に送られる。ＥＥＰＲＯＭ１６のメモリー１６１に、次いで、追加のファンクションはトライアルベースにおいて既に先に“明確に”されたことが記憶される。最後に、ＥＥＰＲＯＭ１６のロック１６０が再びロックされる。
【００２７】
ステップ４１において質問のうちの一つのみが否定的に答えられた場合（すなわち、初期化コードが一致しないか又はトライアルベースにおいて追加で所望された測定ファンクションは先にトライアルベースにおいて既に“明確に”されたかの何れか）には、パス４１０が取られ、そしてトライアルベースにおいて追加で所望された測定ファンクションは“明確に”されない。
【００２８】
両方の場合（すなわち、トライアルベースにおける成功した“明確化”の場合並びに不成功の試みの場合）において、結果は、ステップ４２でディスプレイユニット１３に表示され得る。
【００２９】
今までのところで、装置の製造工場から使用者が自分で開始コードを入手する及び／又は前記製造工場に開始コードを発注し次いで自分で装置に（例えば、ハンドル１２０により又はキーボードを介して）開始コードを与えるという実施例の変法が論じられた。しかし、装置の品質向上は、使用者が自分の装置を相対的に代表的で且つ装置の品質向上がここで起こる状態にするような場合でも起こり得る。更に、装置の品質向上は、図８を参照して説明される如く起こり得る。
【００３０】
図８の態様において、使用者は自分の装置を所在に関して代表例にし、且つ使用者が自分の装置で実行したいと思う代表的な何らかの追加の測定ファンクションを与える。前記の所在代表例は、装置を、図３のインターフェイス１８を介して、図８に示される第一コンピューター５０に接続する。第一コンピューター５０は、モデム５１を介して及び他のモデム６１を介して、第二コンピューター６０に接続される。この第二コンピューター６０は、製造工場に設置された装置である。製造された各々の個々の装置１のための全ての初期化コード、開放コード、装置コード等は、この第二コンピューター６０のメモリーに記憶される。第一コンピューター５０−そしてそれによって代表例−が自分を認識し且つ装置番号を第二コンピューター６０に連絡し、そしてどのような追加の測定ファンクションが接続された装置１で実行すべきかを説明した後に、相当する初期化コードが第二コンピューター６０のメモリーから呼び出され、次いでモデム６１を介し、コネクション（例えば、電話線）及びモデム５１を介して、第一コンピューター５０に伝達される。ここから、それらは、インターフェイス１８を介して、装置１に与えられ、次いで、測定ファンクションは既に説明された方法で初期化される。
【００３１】
第一コンピューター５０は、相当する初期化コードが第二コンピューター６０のメモリーから呼び出され次いで第一コンピューター５０に伝達される前に、第二コンピューター６０を用いて自己認識しなけらばならないという事実に起因して、代表例の第一コンピューター５０は、その認識後に、製造工場に設置された第二コンピューター６０に知られており、且つ装置製造者はそれ故、誰にインボイスを送らなければならないかを知っているので、自動的にインボイスを代表例に送ることも可能である。その場所で、代表例は次いで、自分の装置が品質向上された各々の使用者に関する口座を設定する。
【００３２】
許可なく初期化コードは呼び出され得ないので、第二コンピューター６０のメモリーに記憶された初期化コードは、コード化形態で伝達され得る。それ故、第一コンピューター５０が第二コンピューター６０に自分を認識させた後、初期化コードは先ず、前記第二コンピューターに接続されたコーデック６２の手段によってコード化され、次いでコード化形態で、モデム６１及びモデム５１を介して、第一コンピューター５０に伝達される。別の実施例としては、前記コンピューター６０の手段により、初期化コードが先にコード化されてもよい。コード化された初期化コードが第一コンピューター５０に伝達された後、コード化された初期化コードは、第一コンピューター５０に接続された他のコーデック５２の助けによって、再び解読され、次いで、インターフェイス１８を介して、装置１に、解読された形態で伝達される。
【００３３】
第二コンピューター６０から第一コンピューター５０への伝達路において、誰かが初期化コードをモニターすべき場合には、初期化コードを使用し得る者のみが、相当する装置１（初期化コードが、実施態様において、各々の装置に対して異なるということを取り消す）に加えて、更に、コード化された形態で伝達された初期化コードを解読するための相当するコーデック５２を有する何れかの者である。この事は、初期化コードの伝達の間の安全性を増加させる。
【００３４】
このようにして誰でも装置１の品質を向上させ得る変法は、代表例はこの場合コーデック５２及び相当するコンピューター５０を有しなければならないので、特に、代表例のような大きな取引先に送られ得る。しかしながら、原則的に、多くの個人取引先又は他の誰かのためにも、それは使用可能であろう。
【００３５】
製造者に備えられた装置における全ての初期化コード、全ての開放コード、装置コードの記憶も、例えば、図３のＥＥＰＲＯＭ１６が不完全で、古いＥＥＰＲＯＭ１６が再生産され得る場合に利点がある。サービス技術者がＥＥＰＲＯＭ１６を取り替える場合には、サービス技術者は、入力ユニット１２を介して、ＲＡＭ１７に全く開放コードが記憶されていないことを入力し得る。既に上述された手順からなる方法は、ここで、装置を作動させる場合に起こる。他方、制御コンピューター１４のみが不完全な場合は、別の高価な手段が前記方法に必要とされることなく、新しい制御コンピューターは簡単に起動され得る。同様にして、ＲＯＭ１５（ここに、基本的な全ての測定ファンクションが通常記憶される）は、全く問題なく取り替えられ得る。同様に将来のプログラムバージョンを使用し得るために、ＥＥＰＲＯＭ１６を備えたコミュニケーションプロトコル(communication protocol)のみが、何時でも正に同様に必要である。
【００３６】
特定の測定ファンクションのトライアルベースにおける“明確化”を考える際に、特定の測定ファンクションの限定的な“明確化”に対しても、これは同様に起こり得ることを又記憶すべきである。しかしながら、測定ファンクションのトライアルベースにおける“明確化”のための初期化コードもＲＯＭ１５に記憶することができ、そして、実施態様において、測定ファンクションのトライアルベースにおける“明確化”のための初期化コードの管理を簡単にするために、全ての装置用として同一である。
【００３７】
本発明は、本発明の思想又は本質的な特徴から離れることなく、他の特定の形態で実施され得ることは、当業者によって認識されるであろう。ここに記載された態様は、それ故、全ての点で説明のためのものであり、限定的なものではないと考えるべきである。本発明の範囲は、前述の記載よりもむしろ、添付の特許請求の範囲によって示され、そして本発明の意味及び範疇に入る全ての変化は添付の特許請求の範囲に示されていると考えるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明装置の一実施態様の側面図である。
【図２】図１の装置の上面図である。
【図３】本発明装置の一実施態様のブロックダイヤグラムである。
【図４】図１の装置の第二不揮発性メモリーの一実施態様を示す図である。
【図５】本発明装置を起動させるための一実施例の方法を説明するためのフローチャートである。
【図６】本発明装置を初期化するための一実施例の方法のステップを説明するためのフローチャートである。
【図７】図７は、測定ファンクションの試験初期化のための一実施例の方法のステップを説明するためのフローチャートである。
【図８】本発明装置のインターフェイスを介する測定ファンクションの初期化の一実施態様を示すブロックダイヤグラムである。
【符号の説明】
１１  測定系
１２  入力ユニット
１３  ディスプレイ
１４  制御ユニット
１５  第一不揮発性メモリー
１６  第二不揮発性メモリー
１７  揮発性メモリー
１８  インターフェイス
１７０  バッテリー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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