(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置における上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置において、
上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、
該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有し、
上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、
欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するようにする欠陥検出装置。
【請求項２】
請求項１記載の欠陥検出装置において、
上記欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方の表す状態が継続される時間を測定する状態継続時間測定手段を有し、
該状態継続時間測定手段にて測定された時間が所定時間に達したときに記録データの欠陥を判定するようにし欠陥検出装置。
【請求項３】
請求項２記載の欠陥検出装置において、
上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記ボトム値部分を表す状態が継続される時間を測定するようにした欠陥検出装置。
【請求項４】
記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置において、
再生信号の変動レベルに基づいて上記記録データを最尤復号アルゴリズムに従って復元するために必要な情報をその再生信号の変動に追従するように調整する追従調整手段と、
記録データの欠陥を検出する欠陥検出手段と、
該欠陥検出手段が記録データの欠陥を検出したときに、第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に固定する初期化手段を有し、
上記欠陥検出手段は、
上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、
該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有し、
上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、
欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するようにするデータ再生装置。
【請求項５】
請求項４記載のデータ再生装置において、
上記初期化手段により第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に固定した後に、上記追従調整手段は、当該情報を再生信号の変動に追従させるためのゲインを第二の所定時間だけ上記再生信号の変動に追従させる際のゲインより高くするようにしたデータ再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置、磁気ディスク装置等のデータ再生装置における欠陥検出装置に係り、詳しくは、記録媒体からの再生信号に基づいて記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置に関する。
【０００２】
また、本発明は、そのような欠陥検出装置が適用されるデータ再生装置に関する。
【０００３】
【従来の技術】
近年、記録媒体、例えば、光磁気ディスクは記録情報の高密度化が進み、その光磁気ディスクの再生系におけるデータの転送レートの向上も図られている。このように情報の高密度記録された光磁気ディスクから高速、かつ高精度に情報再生を行なう方法として、ＰＲＭＬの記録再生方法が提案されている。
【０００４】
このＰＲＭＬの記録再生方法では、記録すべきデータをパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形の信号にて光磁気ディスクに書込み、その光磁気ディスクからの再生信号を所定のクロックに同期してサンプルし、そのサンプリング値（量子化データ）から最尤（ＭＬ）復号アルゴリズム（例えば、ビタビ復号アルゴリズム）に従って最も確からしいデータの復元を行なう。
【０００５】
上記ＰＲＭＬの記録再生方法を前提としたデータ再生装置（例えば、光磁気ディスク装置）では、再生信号の直流レベル変動を検出し、その変動レベルを最尤復号に使用する期待値や、サンプリング値等のデータ復調に用いられる情報にフィードバックすることも提案されている。これにより、再生信号に直流レベル変動があってもその再生信号のサンプリング値から高精度なデータの復元が可能となる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記のようなデータ再生装置において、記録媒体の傷、ほこりの付着などの記録媒体の物理的な欠陥や、記録媒体へのデータ書込み時の動作不良などによる記録データの欠陥があると、その欠陥の影響を受けた再生信号のサンプリング値から適正なデータの復元ができない。そのため、そのような記録データの欠陥を検出することが重要である。
【０００７】
また、その再生信号の変動レベルをデータ復調に用いられる情報にフィードバックするようにしたデータ再生装置では、そのような欠陥が発生した部分とそうでない部分において、再生信号の変動レベルをデータ復調に用いられる情報にフィードバックする際の制御をいかに行なうかが問題となる。
【０００８】
そこで、本発明の第一の課題は、記録媒体のデータの記録欠陥を的確に検出できるようにした欠陥検出装置を提供することである。
【０００９】
また、本発明の第二の課題は、そのような欠陥検出装置が適用されるデータ再生装置を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記第一の課題を解決するため、本発明は、請求項１に記載されるように、記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置における上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置において、上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有し、上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するように構成される。
【００１１】
このような欠陥検出装置では、最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果は、再生信号のサンプリング値に基づいて得られるデータの取り得る状態遷移を表す。従って、この軟判定結果は、再生信号の波形の状態を反映する。また、記録データの欠陥は、再生信号の異常として現れることから、その軟判定結果に基づいて記録データの欠陥を判定することができる。
【００１２】
また、本発明は、上記欠陥検出装置において、上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいて再生信号のサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するように構成することができる。
【００１３】
容易に記録データの欠陥を判定できるという観点から、本発明は、請求項２に記載されるように、上記欠陥検出装置において、上記欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方の表す状態が継続される時間を測定する状態継続時間測定手段を有し、該状態継続時間測定手段にて測定された時間が所定時間に達したときに記録データの欠陥を判定するように構成することができる。
【００１４】
このような欠陥検出装置では、上記第一の情報または第二の情報が表す状態が継続される時間を測定し、その測定結果により記録データの欠陥を判定することができる。上記所定時間は、第一の情報または第二の情報が継続してその状態を通常表し続けないであろう時間や、経験的に記録データの欠陥として得られている時間に基づいて定められる。
【００１５】
また、本発明は、請求項３に記載されるように、上記欠陥検出装置において、上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記ボトム値部分を表す状態が継続される時間を測定するように構成することができる。
【００１６】
上記第二の課題を解決するため、本発明は、請求項４に記載されるように、記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置において、再生信号の変動レベルに基づいて上記記録データを最尤復号アルゴリズムに従って復元するために必要な情報をその再生信号の変動に追従するように調整する追従調整手段と、記録データの欠陥を検出する欠陥検出手段と、該欠陥検出手段が記録データの欠陥を検出したときに、第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に固定する初期化手段を有し、上記欠陥検出手段は、上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有し、上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するように構成される。
【００１７】
このようなデータ再生装置では、記録データの欠陥が検出されたときに、第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報が初期値に固定される。このため、その記録データを復元するために必要な情報がその欠陥のある記録データに対応した再生信号の変動に追従することがない。
【００１８】
上記記録データを復元するために必要な情報は、上記最尤復号アルゴリズムに従った処理において、データの復元に用いられる情報であれば、特に限定されない。例えば、パーシャルレスポンス波形で決まる期待値、そのオフセット量あるいは、サンプリング値であってもよい。
【００１９】
記録データを復元するために必要な情報をできるだけ早く正常な再生信号の変動に追従できるようにするという観点から、本発明は、請求項５に記載されるように、上記データ再生装置において、上記初期化手段により第一の所定時間だけ上記データを復元するために必要な情報を初期値に固定した後に、上記追従調整手段は、当該情報を再生信号の変動に追従させるためのゲインを第二の所定時間だけ上記再生信号の変動に追従させる際のゲインより高くするように構成することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００２１】
本発明の実施の一形態に係るデータ再生装置は、例えば、図１に示すように構成される。このデータ再生装置は、光磁気ディスク（ＭＯ）を記録媒体とした光ディスク装置に設けられている。
【００２２】
図１において、このデータ再生装置は、光磁気ディスク１０から光学的にデータの読取りを行なって電気信号を出力する光学ヘッド１２及び光学ヘッド１２からの出力信号の増幅処理を行なうヘッドアンプ１４を有すると共に、アナログ・デジタル変換回路（以下、ＡＤＣという）１６、デジタル等化器（以下、ＤＥＱという）１８及び最尤検出器２０を有している。上記ヘッドアンプ１４からの出力信号が再生信号としてＡＤＣ１６に供給される。図示していないが、通常ヘッドアンプ１４とＤＡＣ１６との間にエイリアシングノイズを除去するためにローパスフィルタ（ＬＰＦ）が設けられる。そして、ＡＤＣ１６が所定のクロック（クロック生成回路は図示略）に同期して変換動作を行ない、その変換動作により得られた値をサンプリング値（量子化データ）として出力する。即ち、上記クロックに同期して再生信号がＡＤＣ１６にてサンプリングされる。ＤＥＱ１８は、ＡＤＣ１６からのサンプリング値に対してパーシャルレスポンス波形（例えば、ＰＲ（1,1）波形）の等化処理を施し、その波形等化されたサンプリング値Ｙtを出力する。
【００２３】
このデータ再生装置は、更に欠陥検出部３０及び調整器（期待値追従器またはオフセット追従器）４０を有する。欠陥検出部３０は、後述するように、最尤検出器２０からの軟判定出力に基づいて記録データの各種の欠陥を検出する。調整器４０は、再生信号の変動レベルを検出し、その変動レベルに基づいて最尤検出器２０でのデータ復調に用いられる情報、例えば、期待値が再生信号の変動に追従して変化するようにその期待値の制御を行う（期待値追従器）。または、調整器４０は、上記再生信号の変動レベルに基づいて、パーシャルレスポンス波形で決まる期待値に対するオフセット量がその再生信号の変動に追従するようにそのオフセット量の制御を行なう（オフセット追従器）。
【００２４】
なお、調整器４０は、その再生信号の変動レベルに基づいて最尤検出器２０でのデータ復調に用いられる他の情報、例えば、サンプリング値Ｙtが再生信号の変動に追従するように制御してもよい。
【００２５】
最尤検出器２０は、上記ＤＥＱ１８からのサンプリング値Ｙtから最尤復号アルゴリズム（例えば、ビタビ復号アルゴリズム）に従って記録データとして最も確からしいデータを復元する。この最尤検出器２０は、ブランチメトリック計算ユニット（以下、ＢＭ計算ユニットという）２１、加算・比較・選択ユニット（以下、ＡＣＳユニットという）２２、パスメトリックメモリ（ＰＭＭ）２３及びパスメモリ２４を有している。
【００２６】
（1,7）走長制限（ＲＬＬ）のＤ制約のある３値（例えば、０、１、２）４状態（例えば、Ｓ0（値「２」に対応）、Ｓ1（値「１」に対応）、Ｓ2（値「１」に対応）、Ｓ3（値「０」に対応））のＰＲ（1,1）波形の再生信号の場合を例に、更に、最尤検出器２０を具体的に説明する。
【００２７】
ＢＭ計算ユニット２１は、ＤＥＱ１８からのサンプリング値Ｙtに基づいてブランチメトリック値ＢＭ0、ＢＭ1、ＢＭ3、ＢＭ4、ＢＭ6、ＢＭ7のそれぞれを、そのＰＲ（1,1）で決まる期待値Ｐ0、Ｐ1、Ｐ3、Ｐ4、Ｐ6、Ｐ7を用いて以下のように算出する。
【００２８】
ＢＭ0＝（Ｙt−Ｐ0）2            …（１）
ＢＭ1＝（Ｙt−Ｐ1）2            …（２）
ＢＭ3＝（Ｙt−Ｐ3）2            …（３）
ＢＭ4＝（Ｙt−Ｐ4）2            …（４）
ＢＭ6＝（Ｙt−Ｐ6）2            …（５）
ＢＭ7＝（Ｙt−Ｐ7）2            …（６）
本来、ＢＭ1、ＢＭ5も演算されるべきものであるが、上記（1,7）走長制限（ＲＬＬ）のＤ制約により、ＲＺ信号の最密パターン１０１０１０１０…をＮＲＺ信号に直すと、１１００１１００１１…となって、０１０、１０１という状態がなくなるなめ、上記ＢＭ1、ＢＭ5は省かれる。
【００２９】
上記のように、ＢＭ計算ユニット２１は、サンプリング値Ｙtと各期待値との差に依存したブランチメトリック値を算出する。
【００３０】
ＡＣＳユニット２２は、上記ＢＭ値計算ユニット２１からのブランチメトリック値とパスメトリックメモリ２３に格納された１クロック前のパスメトリック値とを加算し（Add）、その加算後のパスメトリック値を２つずつ比較する（Compare）。そして、ＡＣＳユニット２２は、その比較の結果、小さい方のパスメトリック値を新たなパスメトリック値として選択し（Select）、そのパスメトリック値をパスメトリックメモリ２３に格納する。このような処理の結果、パスメトリック値は、上記ブランチメトリック値の積算値となる。
【００３１】
上記ＡＣＳユニット２２は、具体的には、上述したようにＤ制約がある場合、以下のようなパスメトリック値ＰＭ（t,0）、ＰＭ（t,1）、ＰＭ（t,2）、ＰM（t,3）を演算する。
【００３２】
ＰＭ（t,0）＝min｛ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0，ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1｝…（７）
ＰＭ（t,1）＝ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ3                              …（８）
ＰＭ（t,2）＝ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ4                              …（９）
ＰＭ（t,3）＝min｛ＰＭ（t-1,2）＋ＢＭ6，ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7｝…（１０）
上記式（７）と（１０）がパスメトリック値の選択（Select）の処理に相当する。
【００３３】
上記式（７）、（１０）から、ＰＭ（t,0）とＰＭ（t,3）の要素の大小関係は、
ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0＜ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1              …（１１）
ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0≧ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1              …（１２）
ＰＭ（t-1,2）＋ＢＭ6＜ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7              …（１３）
ＰM（t-1,2）＋ＢＭ6≧ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7              …（１４）
の４つの条件で示される。
【００３４】
上記各条件の組合せにより、データを決めるための状態遷移のパターンは、図２に示すように４種類(１)、（２）、（３）、（４）に分類することができる。
【００３５】
図２において、パターン（１）は、上記式（１１）、（１３）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへの時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ2からＳ3への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態遷移、Ｓ0からＳ0への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。そのときＡＣＳユニット２２の出力（Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3）は、Ｄ0＝０、Ｄ1＝１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝０となる。
【００３６】
パターン（２）は、上記式（１１）、（１４）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへの時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ3からＳ3への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態遷移、Ｓ0からＳ0への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。このときＡＣＳユニット２２に出力は、Ｄ0＝０、Ｄ1＝１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝１となる。
【００３７】
パターン（３）は、上記式（１２）、（１３）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへの時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ2からＳ3への状態遷移、Ｓ1からＳ0への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。このときＡＳＣユニット２２の出力は、Ｄ0＝１、Ｄ1＝１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝０となる。
【００３８】
パターン（４）は、上記式（１２）、（１４）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへの時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ3からＳ3への状態遷移、Ｓ1からＳ0への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。このときＡＳＣユニット２２の出力は、Ｄ0＝１、Ｄ1＝１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝１となる。
【００３９】
上記のような条件に従って変化するＡＣＳユニット２２からの出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3は、発生し得る状態遷移を表すもので、その状態遷移で決まるデータの軟判定出力（軟判定結果）という。このデータの軟判定出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3の値（０または１）が順次パスメモリ２４に供給され、パスメモリ２４は、その値を順次シフトする過程で、状態遷移の連続性に基づいて選択されるべきでないとされた各パスに対応する値を順次淘汰していく。そして、パスメモリ２４は生き残ったパスに対応する値（０または１）を検出データとして出力する。
【００４０】
パスメモリ２４は、例えば、図４に示すように構成される。
【００４１】
これは、ＡＣＳユニット２２からの軟判定出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3の各系列毎に、レジスタ（SR）とセレクタ（Sel）とが交互に配列された構成となっており、それぞれ所定のクロックに同期して動作する。各セレクタ（Sel）によって各レジスタ（SR）にセットされる値が選択される。例えば、Ｄ3が「１」となるときは、図２に示すパターン（２）、（４）のように、Ｓ3からＳ3への状態遷移に対応したパスが確からしいとして、Ｄ3の系列における全てのレジスタ（SR）は、時刻ｔ−１の値が時刻ｔの値としてセットされる。また、Ｄ3が「０」となるときは、図２に示すパターン（１）、（３）のようにＳ2からＳ3への状態遷移に対応したパスが確からしいとして、Ｄ3の系列の全てのレジスタ（SR）には、時刻ｔ−１におけるＤ2の系列のレジスタ（SR）の値が時刻ｔの値としてセット（コピー）される。
【００４２】
上記のような動作が繰り返し行なわれることにより、各タイミングでより確からしいパス（状態遷移）に対応したデータ（０または１）がレジスタ（SR）に残るようになる。そして、いずれかのパスが確定する（パスマージが発生する）と、そのときまでの最も確からしいパスに対応したデータがレジスタ（SR）に残る。このとき、パスメモリ２４のメモリ長を十分長くしておけば、パスメモリ２４のある位置以降におけるＤ3〜Ｄ0に対応した各レジスタ（SR）には同じデータ（値）がセットされた状態になる。その結果、パスメモリ２４のＤ3〜Ｄ0の各系列の最終データ（値）のいずれかが復元されたデータ（復調データ）として出力される。
【００４３】
なお、上述した４つの状態遷移のパターン（図２参照）が少なくとも３つ以上連続したときに、上記パスマージ（パスの確定）が発生する。その３つのパターンの組合せは、例えば、図３に示す（ａ）から（ｈ）に示す８種類となる。図３において、●印は、パスが確定（パスマージ）されたことを示す。即ち、そのパスが確定したときに、●印に連なる過去のパスが確定される。
【００４４】
次に、図１に示す欠陥検出部３０は、例えば、図５に示すように構成される。
【００４５】
図５において、この欠陥検出部３０は、パスマージ絶対条件検出器３１、５つの欠陥検出器３３（１）、３３（２）、３３（３）、３３（４）、３３（５）、オア回路３５、復帰ゲート（Recover Gate）信号作成器３６及びラッチ回路３７を有している。パスマージ絶対条件検出器３１は、上記最尤検出器２０のＡＣＳユニット２２の軟判定出力に基づいて、最尤復号処理においてデータパスが確定する状態であるパスマージが確実に発生する条件を検出し、検出信号を出力する。そのパスマージによりデータ「１」が確定する状態をマージ１（merge1）、及びそのパスマージによりデータ「０」が確定する状態をマージ０（merge0）とする。すると、このマージ１の状態は、サンプリング値Ｙtのピーク値に対応し、マージ０の状態は、サンプリング値Ｙtのボトム値に対応する。従って、上記マージ１及びマージ０の組合せにより再生信号の波形の状態が推定できる。
【００４６】
一方、サンプリング値が再生信号のエッジ部分では、データの状態遷移が確定しないのに対して、サンプリング値がピーク値またはボトム値となる場合、データの遷移状態を確定し得る。即ち、上記軟判定出力のうち、D3＝１、Ｄ0＝１となる状態は、図２のパターン（４）に対応して、状態Ｓ3からＳ3への状態遷移のパスが確からしいパスとして選択される。このことから、Ｄ3＝１かつＤ0＝１のときに、上記マージ１の状態となる。また、上記軟判定出力のうち、Ｄ3＝０、Ｄ0＝０となる状態は、図２のパターン（１）に対応して、状態Ｓ0からＳ0への状態遷移のパスが確からしいパスとして選択される。このことから、Ｄ3＝０かつＤ0＝０のときに、上記マージ０の状態となる。
【００４７】
従って、上記パスマージ絶対条件検出器３１は、最尤検出器２０におけるＡＣＳユニット２２からの軟判定出力Ｄ3、Ｄ0に基づいて上記データ「１」が確定するマージ１とデータ「０」が確定するマージ０を検出する。このパスマージ絶対検出器３１は、例えば、図６に示すように構成される。
【００４８】
図６において、このパスマージ絶対検出器３１は、４つのアンド回路３１１、３１２、３２１及び３２２を有している。アンド回路３１１には上記Ｄ3及びＤ0が入力しており、その出力は、上記軟判定出力Ｄ3＝１かつＤ0＝１となるときに有効（例えば、ハイレベル）となる。このアンド回路３１１の出力は、後述するような第一のマスク信号によりゲート制御されるアンド回路３２１に入力し、このアンド回路３２１の出力が上記マージ１の状態を表すマージ１検出信号となる。
【００４９】
また、アンド回路３１２には上記Ｄ3及びＤ0の反転信号が入力しており、その出力は、上記軟判定出力Ｄ3＝０かつＤ0＝０となるときに有効（例えば、ハイレベル）となる。このアンド回路３１２の出力は、後述するような第二のマスク信号によりゲート制御されるアンド回路３２２に入力し、このアンド回路３２２の出力が上記マージ０の状態を表すマージ０検出信号となる。
【００５０】
上記Ｄ3及びＤ0は、排他的論理和回路（以下、Eor回路という）３１３に入力し、その判定出力がラッチ回路３１４に入力されている。このEor回路３１３の反転出力は、Ｄ3とＤ0が同じときに有効（例えば、ハイレベル）となる信号である。従って、Eor回路３１４の反転出力とラッチ回路３１４が共に有効であるときは、２クロック続けてＤ3とＤ0が同じとなる状態を表す。
【００５１】
上記Ｄ３はラッチ回路３１５に入力し、そのラッチ回路３１５にラッチされた信号及びそのＤ3がEor回路３１６に入力している。このEor回路３１６は、連続したＤ3の値が異なるとき、即ち、Ｄ3の変化点で有効（例えば、ハイレベル）となる信号を出力する。このEor回路３１６からの信号と、上記Eor回路３１３及びラッチ回路３１４からの各信号がアンド回路３１９に入力される。その結果、アンド回路３１９は、上記Ｄ3が０から１に変化し、かつＤ0が０から１に変化するとき有効（ローレベル）となる上記第一のマスク信号を出力する。
【００５２】
また、上記Ｄ0はラッチ回路３１７に入力し、そのラッチ回路３１７にラッチされた信号及びそのＤ0がEor回路３１８に入力している。このEor回路３１８は、連続したＤ0の値が異なるとき、即ち、Ｄ0の変化点で有効となる信号を出力する。このEor回路３１８からの信号と、上記Eor回路３１３及びラッチ回路３１４からの各信号がアンド回路３２０に入力される。その結果、アンド回路３２０は、上記Ｄ0が０から１に変化し、かつＤ3が０から１に変化するときに有効（ローレベル）となる上記第二のマスク信号を出力する。
【００５３】
上記のような構成のパスマージ絶対条件検出器３１により、例えば、図７に示すように、ＤＥＱ１８からのサンプリング値Ｙtが変化する場合、最尤検出器２０におけるＡＣＳユニット２２からの軟判定出力Ｄ3、Ｄ0、それらの論理積出力（アンド回路３１１の出力：Ｄ3＆Ｄ0）、それらの反転信号の論理積出力（アンド回路３１２の出力：〜Ｄ3＆〜Ｄ0）に基づいてマージ１検出信号とマージ０検出信号が生成される。そのマージ１検出信号は、サンプリング値Ｙtがピーク状態となるときに有効となり、マージ０検出信号は、サンプリング値Ｙtがボトム状態となるときに有効となる。
【００５４】
なお、上記軟判定出力Ｄ3、Ｄ0が同時に０から１に変化する場合、再生信号のエッジ部分である可能性がある。その場合、アンド回路３１９及び３２０からの第一及び第二のマスク信号が有効となり、マージ１検出信号及びマージ０検出信号は有効にならないようにマスクされる（図７に示す例では、マージ０検出信号がマスクされている。）
なお、サンプリング値Ｙtと、各信号（Ｄ3、Ｄ0、Ｄ3＆Ｄ0、〜Ｄ3＆〜Ｄ0、マージ１検出信号、マージ２検出信号）とは、処理遅延により、実際には図７に示すような関係にはならない。図７では、サンプリング値Ｙtはその処理遅延に見合ったシフトレジスタにて遅延させた状態にて表されている。
【００５５】
図５に戻って、各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）は、上述したようなパスマージ絶対条件検出器３１からのマージ１検出信号及びマージ０検出信号を入力すると共に、ＭＰＵ（制御ユニット：図示略）からカウント値選択回路５０を介して時間測定用のカウント値を入力する。各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）は、マージ１検出信号及びマージ０検出信号の状態の時間測定結果に基づいてそれぞれ欠陥検出信号を出力する。各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）からの欠陥検出信号はオア回路３５を介して復帰ゲート信号作成器３６に供給される。
【００５６】
復帰ゲート信号作成器３６は、上記欠陥検出器３３（１）〜３３（５）のいずれかから欠陥検出信号が入力されたときに、後述するように、復帰ゲート（Recover gate）信号及び初期化ゲート信号を生成して上記調整器４０（図１参照）に供給する。調整器４０は、この復帰ゲート信号及び初期化ゲート信号に基づいて、上述したように最尤検出器２０にフィードバックすべき期待値やその期待値に対する変動分の出力切換えを行なう。
【００５７】
また、上記各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）からの欠陥検出信号は、ラッチ回路３７にラッチされ、その欠陥検出信号がＭＰＵ等のバスに供給される。ＭＰＵは、その欠陥信号の状態に基づいてどのような種類の記録データの欠陥が発生しているかを認識することができる。
【００５８】
上記各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）は、次のように構成される。
【００５９】
まず、欠陥検出器３３（１）は、例えば、図８に示すように、カウンタ３３１、ビット反転回路３３２、及びアンド回路３３３を有する。上記カウント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値（１）がビット反転回路３３２を介してカウンタ３３１のロード値端子（Ld値）に入力する。即ち、カウント値（１）の補数値がロード値（Ld値）としてカウンタ３３１に供給される。
【００６０】
各セクタの所定のデータ部の開始タイミングで立ちあがるＤtrg信号がカウンタ３３１のクリア端子（Xclr）に入力し、そのＤtrg信号がハイレベル（有効）のときに、カウンタ３３１はその出力端子（Co）からローレベルを出力する。そして、カウンタ３３１がカウントアップして所定最大値（上記カウント値（１）と補数値の和）に達すると、カウンタ３３１は出力端子（Co）からハイレベルを出力する。
【００６１】
アンド回路３３３には、上記サンプリング値Ｙtのボトム状態に対応し、データ「０」が確定するための条件を表すマージ０検出信号と、上記カウンタ３３１の出力（Co）信号の反転信号がアンド回路３３３に入力し、そのアンド回路３３３の出力信号がカウンタ３３１のロード制御端子（Xld）に供給される。上記アンド回路３３３の出力がハイレベルに立ちあがるときに上記カウント値（１）の補数値がカウンタ３３１にロードされ、カウンタ３３１のカウント動作が行なわれる。なお、カウンタ３３１にはカウント動作のためのクロックが入力されているが、図８ではそれを省略している（図９乃至図１２及び図２０において同様）。
【００６２】
欠陥検出器３３（１）は、上記のような構成により、Ｄtrg信号がハイレベルになった後、マージ０検出信号がハイレベル（有効）になると、アンド回路３３３の出力信号がハイレベルになって、上記カウント値（１）の補数値がカウンタ３３１にロードされる。そして、その補数値から上記所定の最大値までのカウント動作（上記カウント値（１）分のカウント動作）が終了すると、カウンタ３３１は、出力端子（Co）からハイレベルを出力する。
【００６３】
この出力（Co）のハイレベルによって、アンド回路３３３の出力がローレベルになると、カウンタ３３１のカウント動作が終了し、その直後に、出力（Co）がローレベルになる。すると、再度、上記カウント値（１）の補数値がカウンタ３３１にロードされると共に、カウント動作が再開される。
【００６４】
以後、マージ０検出信号がハイレベル（有効）を維持する状態において、上記動作が繰り返される。その結果、カウンタ３３１は、ロードされた補数値から所定最大値までのカウントを終了する毎に、即ち、上記カウント値（１）分のカウント動作を終了する毎に、出力端子（Co）からパルス信号を出力する。
【００６５】
一方、上記カウンタ３３１のカウント動作中に、マージ０検出信号がローレベルになると、アンド回路３３３の出力がローレベルになってカウンタ３３１はそのカウント動作を終了する。
【００６６】
従って、この欠陥検出器３３（１）は、上記カウント値（１）の計数時間より長い時間にわたってマージ０検出信号がハイレベル（有効）に維持されると、パルス状の欠陥検出信号１を出力する。このマージ０検出信号が長時間にわたってハイレベル（有効）なることは、図１３に示すように、再生信号が長時間にわたってローレベルになることを意味する。このことから、上記カウント値（１）は、再生信号が通常ローレベルに維持され得る最大限の時間に基づいて定めることができる。例えば、（1,7）走長制限（ＲＬＬ）の場合、６クロック周期を越えて連続してデータが「０」にはならないので、その６クロック周期に基づいて上記カウント値（１）を定めることができる。また、そのカウント値（１）は、経験的に記録データの欠陥として得られているデータ「０」が連続する長さ（０欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００６７】
即ち、欠陥検出器３３（１）は、再生信号がローレベルに張りついてしまう状態として現れる記録データの欠陥を検出する。
【００６８】
次に、欠陥検出器３３（２）は、例えば、図９に示すように構成される。
【００６９】
図９において、この欠陥検出器３３（２）は、カウンタ３３４、ビット反転回路３３５及びアンド回路３３６を有している。カウンタ３３４は、図８に示したカウンタ３３１と同様の機能を有し、ロード値端子（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xld）及び出力端子（Co）を備えている。
【００７０】
上記ロード値端子（Ld）には、上記カウント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値（２）がビット反転回路３３５を介して入力される（補数値の入力）。また、アンド回路３３６は、マージ０検出信号の代わりに上記サンプリング値Ｙtのピーク状態に対応し、データ「１」が確定するための条件を表すマージ１信号が入力される点を除いて図８に示すアンド回路３３３と同じである。
【００７１】
上記のような構成により、欠陥検出器３３（２）は、上記カウント値（２）の計数時間より長い時間にわたってマージ１検出信号がハイレベル（有効）に維持されるとパルス上の欠陥検出信号２を出力する。このマージ１検出信号が長時間にわたってハイレベル（有効）になることは、図１４に示すように、再生信号が長時間にわたってハイレベルになることを意味する。このことから、上記カウント値（１）は、再生信号がハイレベルに維持され得る最大限の時間に基づいて定めることができる。例えば、（1,7）走長制限（ＲＬＬ）の場合、６クロック周期を越えて連続してデータ「１」にはならないので、その６クロック周期に基づいて上記カウント値（２）を定めることができる。また、そのカウント値（２）は、経験的に記録データの欠陥として得られているデータ「１」が連続する長さ（１欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００７２】
即ち、欠陥検出器３３（２）は、再生信号がハイレベルに張りついてしまう状態として現れる記録データの欠陥を検出する。
【００７３】
更に、欠陥検出器３３（３）は、例えば、図１０に示すように構成される。
【００７４】
図１０において、この欠陥検出器３３（３）は、カウンタ３３７、ビット反転回路３３８、反転回路３３９及びアンド回路３４０を有している。カウンタ３３７は、図８及び図９に示したカウンタ３３１及び３３４と同様の機能を有し、ロード値端子（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xld）及び出力端子（Co）を備えている。
【００７５】
上記ロード値端子（Ld）には、上記カウント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値（３）がビット反転回路３３８を介して入力される（補数値の入力）。また、アンド回路３３６は、マージ０検出信号やマージ１検出信号の代わりに、マージ０検出信号が反転回路３３９を介して入力する点を除いて図８及び図９に示すアンド回路３３３及び３３６と同じである。
【００７６】
上記のような構成により、欠陥検出器３３（３）は、上記カウント値（３）の計数時間より長い時間にわてってマージ０検出信号がローレベルに維持されるとパルス状の欠陥検出信号３を出力する。マージ１検出信号がハイレベルになるとき、及び再生信号のエッジ部分でマージ０検出信号がローレベルになる（図７参照）。従って、このマージ０検出信号が長時間にわたってローレベルになることは、図１５に示すように、再生信号が長時間にわたって比較的高いレベルで変動する状態となることを意味する。このことから、上記カウント値（３）は、再生信号が通常比較的高いレベルで継続的に変動し得る最大限の時間に基づいて定めることができる。また、そのカウント値（３）は、経験的に記録データの欠陥として得られているデータが「１」及び「０」のいずれにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００７７】
即ち、欠陥検出器３３（３）は、再生信号がピーク値と中間値との間をふらついた状態として現れる記録データの欠陥を検出する。
【００７８】
また、更に、欠陥検出器３３（４）は、例えば、図１１に示すように構成される。
【００７９】
図１１において、この欠陥検出器３３（４）は、カウンタ３４１、ビット反転回３４２、反転回路３４３及びアンド回路３４４を有している。カウンタ３４１は、図８乃至図１０に示したカウンタ３３１、３３４及び３３７と同様の機能を有し、ロード値端子（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xld）及び出力端子（Co）を備えている。
【００８０】
上記ロード値端子（Ld値）には、上記カウント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値（４）がビット反転回路３４２を介して入力される（補数値の入力）。また、反転回路３４３は、マージ０検出信号の代わりに、マージ１検出信号が入力する点を除いて、図１０に示す反転回路３３９と同じである。また、アンド回路３４４は、マージ０検出信号やマージ１検出信号の代わりに、上記反転回路３４３の出力信号が入力する点を除いて、図８及び図９に示すアンド回路３３３及び３３６と同じである。
【００８１】
上記のような構成により、欠陥検出器３３（４）は、上記カウント値（４）の計数時間より長い時間にわたってマージ１検出信号がローレベルに維持されるとパルス状の欠陥検出信号４を出力する。マージ０検出信号がハイレベルになるとき、及び再生信号のエッジ部分でマージ１検出信号がハイレベルになる（図７参照）。従って、このマージ１検出信号が長時間にわたってローレベルになることは、図１６に示すように、再生信号が長時間にわたって比較的低いレベルで変動する状態となることを意味する。このことから、上記カウント値（４）は、再生信号が通常比較的低いレベルで継続的に変動し得る最大限の時間に基づいて定めることができる。また、そのカウント値（４）は、経験的に記録データの欠陥として得られているデータが「１」及び「０」のいずれにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００８２】
即ち、欠陥検出器３３（４）は、再生信号がボトム値と中間値との間をふらついた状態として現れる記録データの欠陥を検出する。
【００８３】
また、欠陥検出器３３（５）は、例えば、図１２に示すように構成される。
【００８４】
図１２において、この欠陥検出器３３（５）は、カウンタ３４５、ビット反転回路３４６、反転回路３４７及び３４８及びアンド回路３４９を有している。カウンタ３４５は、図８乃至図１１に示したカウンタ３３１、３３４、３３７及び３４１と同様の機能を有し、ロード値端子（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xld）及び出力端子（Co）を備えている。
【００８５】
上記ロード値端子（Ld値）には、上記カウント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値（５）がビット反転回路３４２を介して入力される（補数値の入力）。マージ０検出信号が反転回路３４７を介してアンド回路３４９に入力されると共にマージ１検出信号が反転回路３４８を介してアンド回路３４９に入力される。このアンド回路３４９には、更に、図８乃至図１１に示す各アンド回路３３３、３３６、３４０及び３４４と同様に、カウンタ３４５の出力（Co）信号の反転信号が入力されている。そして、このアンド回路３４９の出力信号がカウンタ３４５のロード制御端子（Xld）に入力される。
【００８６】
上記のような構成により、欠陥検出器３３（５）は、上記カウント値（５）の計数時間より長い時間にわたってマージ０検出信号及びマージ１検出信号の双方がローレベルに維持されるとパルス状の欠陥検出信号５を出力する。再生信号のエッジ部分においてマージ０検出信号とマージ１検出信号が同時にローレベルになる（図７参照）。従って、このマージ０検出信号及びマージ１検出信号が長時間にわたってローレベルになることは、図１７に示すように、再生信号が長時間にわたって再生信号のエッジ部分に対応したほぼ中間値に維持される状態となることを意味する。このことから、上記カウント値（５）は、再生信号が通常中間値程度に維持され得る最大限の時間に基づいて定めることができる。また、そのカウント値（５）は、経験的に記録データの欠陥として得られているデータが「１」及び「０」のいずれにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００８７】
即ち、欠陥検出器３３（５）は、再生信号が中間値のあたりをふらついた状態として現れる記録データの欠陥を検出する。
【００８８】
ところで、光磁気ディスク１０に記録される基本的なデータフォーマットは、例えば、図１８に示すようになっている。
【００８９】
図１８において、各セクタは、ＩＤ部とＭＯ部を有する。ＩＤ部は、ＩＤ情報が書込まれる領域であり、例えば、２つのID1、ID2と、ID1、ID2のそれぞれの前に配置されたVfoから構成される。ＭＯ部は、データが書込まれる領域であり、VfoとData部から構成される。
【００９０】
このようなフォーマットに従ってデータの記録がなされた光磁気ディスク１０からのデータ再生時に、ＭＰＵは、各部に対応したタイミングゲート信号を生成する。具体的には、ＩＤ部及びＭＯ部に対応したタイミングゲートを表すDtrg信号、ＩＤ部のVfoのタイミングゲートを表すIdvfogt信号、ＩＤ部の各ID1、ID2のタイミングゲートを表すIddtgt信号、ＭＯ部におけるVfoのタイミングゲートを表すMovfogt信号及びＭＯ部におけるData部のタイミングゲートを表すModtgt信号が生成される。
【００９１】
記録領域の各部（ＩＤ部におけるVfo、ID1、ID2、ＭＯ部におけるVfo、Data部など）毎に記録データの欠陥を検出するための計測時間、即ち、各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）に供給すべきカウント値（１）〜（５）を変えることができる。このようにすることにより、記録領域の各部毎に記録データの欠陥の検出能力を調整することができる。例えば、ＭＯ部におけるVfoは、最密パターンとなることから、欠陥を検出するための計測時間を短く（カウント値を少なく）することにより、Data部よりも欠陥の検出能力を上げることができる。
【００９２】
このような場合、ＭＰＵは、各部のタイミングゲートを有効にすると共に、そのタイミングゲートに対応した領域に割当てられるカウント値を出力する。この各部のタイミングゲートを表す信号と対応するカウント値は、カウント値選択回路５０（図５参照）に供給される。
【００９３】
このカウント値選択回路５０は、例えば、図１９に示すように構成される。
【００９４】
図１９において、カウント値選択回路５０は、データ入力端子Ａ１、Ｂ１、Ｃ１及びＤ１を有すると共に、選択制御端子Ａ２、Ｂ２、Ｃ２及びＤ２を有するマルチプレクサ（ＭＵＸ）にて構成される。データ入力端子Ａ１には、ＩＤ部のVfo用のカウント値が供給されると共に、このデータ入力端子Ａ１と対になる選択制御端子Ａ２には、そのVfoのタイミングゲートを表すIdvfogt信号が入力される。データ入力端子Ｂ１には、ＩＤ部の各ID1、ID2用のカウント値が供給されると共に、このデータ入力端子Ｂ１と対になる選択制御端子Ｂ２には、そのID1、ID2のタイミングゲートを表すIddtgt信号が入力される。また、データ入力端子Ｃ１には、ＭＯ部のVfo用のカウント値が供給されると共に、このデータ入力端子Ｃ１と対になる選択制御端子Ｃ２には、そのVfoのタイミングゲートを表すMovfogt信号が入力される。更に、データ入力端子Ｄ１には、ＭＯ部のData部用のカウント値が供給されると共に、そのデータ入力端子Ｄ１と対になる選択制御端子Ｄ２には、そのData部のタイミングゲートを表すModtgtが入力される。
【００９５】
上記のようなカウント値選択回路５０は、各選択制御端子Ａ２、Ｂ２、Ｃ２、Ｄ２に入力する信号が有効になるときに、それと対になるデータ入力端子に入力されるカウント値を選択して出力する。例えば、選択制御端子Ａ２に入力されるIdvfogt信号が有効になると、その選択制御端子Ａ２と対になるデータ入力端子Ａ１に供給されるＩＤ部のVfo用のカウント値が選択され、出力される。また、選択制御端子Ｂ２に入力されるIddtgt信号が有効になると、その選択制御端子Ｂ２と対になるデータ入力端子Ｂ２に供給されるＩＤ部のID1、DI2用カウント値が選択され、出力される。
【００９６】
上記のようなカウント値選択回路５０を介して記録領域の各部に固有なカウント値を上述した各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）に供給することにより、記録領域の各部毎に記録データの欠陥の検出能力を調整することができる。
【００９７】
なお、この場合、上記各部のタイミングゲートとなる各信号（Idvfogt、Iddtgt、Movfogt、Modtgt）は、例えば、オア回路を介して各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）におけるカウンタのクリア端子（Xclr）に入力される（図８乃至図１２参照）。
【００９８】
更に、前述した復帰ゲート信号作成器３６は、例えば、図２０に示すように構成される。
【００９９】
図２０において、この復帰ゲート信号作成器３６は、オア回路３６１、フリップフロップ３６２（JKFF1）、ビット反転回路３６３、カウンタ３６４、フリップフロップ３６５（JKFF2）、比較器３６６及びアンド回路３６７を有する。各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）からの欠陥検出信号１〜５がオア回路３６１を介してフリップフロップ３６２及び３６５のセット端子（J）に入力している。所定時間に対応したゲート用カウント値（GATE用Count値）がＭＰＵからビット反転回路３６３を介してカウンタ３６４のロード値端子（Ld値）に供給される（補数値の供給）。このゲート用カウント値に対応する所定時間は、記録データの欠陥が継続されることが予想される時間及びその記録データの欠陥に対する対処に要する時間に基づいて定められる。即ち、この所定時間に後述するような復帰処理（Recover処理）が行なわれる。
【０１００】
フリップフロップ３６２の出力信号がカウンタ３６４のロード制御端子（Xld）に供給されると共に、上記データ部（ＩＤ部、ＭＯ部）の開始タイミングで立ち上がるＤtrg信号（図１８参照）がカウンタ３６４のクリア端子（Xclr）及び各フリップフロップ３６２、３６５のクリア端子（XCLR）に入力される。上記カウンタ３６４は、上述したような各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）に設けられた各カウンタ（図８乃至図１２参照）と同様の機能を有し、Ｄtrg信号がハイレベルの状態で、フリップフロップ３６２の出力の立上がり時に上記ゲート用カウント値の補数値がロードされ、カウント動作を行なう。そして、そのゲート用カウント値分のカウント動作が終了すると、カウンタ３６４の出力端子（Co）からハイレベル信号が出力される。
【０１０１】
この出力端子（Co）からの信号がフリップフロップ３６２のリセット端子（Ｒ）にフィードバックされ、出力端子（Co）からの出力信号の立上がりにてフリップフロップ３６２がリセットされる。それに伴って、カウンタ３６４のロード制御端子（Xld）の入力信号が立ち下がると、当該カウンタ３６４の出力端子（Co）からの信号が立ち下がる。従って、カウンタ３６４は、ゲート用カウント値分のカウント動作が終了すると、出力端子（Co）からパルス状の信号を出力する。
【０１０２】
一方、カウンタ３６４でのカウント動作に対応したカウント値（CNT）と、ＭＰＵからの初期化ゲート比較用のカウント値とが比較器３６６にて比較される。この初期化ゲート比較用のカウント値は、記録データの欠陥が継続すると予想される時間に基づいて定められる。比較器３６６は、上記カウント値（CNT）が上記初期化ゲート比較用のカウント値に達すると有効（ハイレベル）になる比較結果信号を出力する。この比較結果信号は、フリップフロップ３６５のリセット端子（Ｋ）にフィードバックされ、比較結果信号の立上がりにてフリップフロップ３６５がリセットされる。
【０１０３】
このフリップフロップ３６５からの出力信号が初期化ゲート信号として当該復帰ゲート信号作成器３６から出力される。また、このフリップフロップ３６２からの出力信号と上記フリップフロップ３６５からの出力信号の反転信号がアンド回路３６７に入力し、フリップフロップ３６２からの出力信号が、上記フリップフロップ３６５からの出力信号によりマスクされ、復帰ゲート（Recover Gate）信号として当該復帰ゲート信号生成器３６から出力される。
【０１０４】
上記のような構成の復帰ゲート信号作成器３６は、例えば、図２１に示すタイミングチャートに従って動作する。
【０１０５】
図２１に示すように、Ｄtrg信号がハイレベルとなる状態において、例えば，欠陥検出器３３（１）から欠陥検出信号１が入力される毎に、フリップフロップ３２６及びフリップフロップ３６５からの出力信号が立ち上がる。そして、フリップフロップ３６５の出力信号が初期化ゲート信号として出力される。この初期化ゲート信号が立上がった状態では、アンド回路３６７がフリップフロップ３６２の出力信号をマスクする。
【０１０６】
そして、カウンタ３６４のカウント値（CNT）が初期化ゲート比較用のカウント値に達すると、比較器３６６からの比較結果信号の立ち上がりによりフリップフロップ３６５がリセットされる。すると、初期化ゲート信号が立ち下がると共に、フリップフロップ３６２の出力信号に対するマスクが解除され、当該フリップフロップ３６２の出力信号に対応した復帰ゲート（Recover Gate）信号が立ち上がる。
【０１０７】
その後、カウンタ３６４でのカウント動作によりそのカウント値（CNT）が順次増加する。そして、そのカウント値（CNT）がゲート用カウント値に達すると、カウンタ３６４の出力端子（Co）からの出力信号によりフリップフロップ３６２がリセットされる。その結果、復帰ゲート信号が立ち下げられる。
【０１０８】
上記のような手順で、復帰ゲート信号作成器３６は、欠陥検出器３３（１）〜３３３（５）のいずれかから欠陥検出信号が入力される毎に、その記録データの欠陥が継続すると予想される時間有効となる初期化ゲート信号を出力すると共に、その初期化ゲート信号の立下りのタイミングで立上がる復帰ゲート信号を出力する。この初期化ゲート信号が有効（ハイレベル）となる時間と復帰ゲート信号が有効（ハイレベル）となる時間との和が、上記ゲート用カウント値に対応した所定時間に等しくなる。
【０１０９】
上記のようにして復帰ゲート信号作成器３６から出力される初期化ゲート信号及び復帰ゲート信号は、調整器４０（図１参照）に供給される。この調整器４０は、前述したように、再生信号の変動レベルに基づいて、最尤検出器２０でのデータ復調に用いられる期待値がその再生信号の変動に追従するように制御している。そのような期待値の追従制御を行う際に、調整器４０は、入力される初期化ゲート信号が有効となる期間では、記録データの欠陥が継続して適正な再生信号が得られないと予想されるので、その再生信号の変動レベルに基づいた上記期待値の追従制御を中止し、例えば、その期待値を初期値に固定する。なお、所定の期待値に対するオフセット量を上記再生信号の変動に追従させるようなオフセット量の追従制御がなされる場合、上記初期化ゲート信号が有効になる期間では、そのオフセット量をゼロに固定する。
【０１１０】
そして、その初期化ゲート信号が立ち下がって復帰ゲート信号が有効となる期間では、その期待値が実際の再生信号に適する値により早く復帰できるように、その追従制御のゲインを上げる。その後、復帰ゲート信号が立ち下がると、調整器４０は、通常のゲインに戻して、期待値が再生信号の変動に追従するような制御（追従制御）を行う。
【０１１１】
このようにして、記録データの欠陥が検出された際に、初期化ゲート信号が有効となる期間、期待値（または、そのオフセット量）を初期値に固定し、その欠陥がなくなったであろうと予測される復帰ゲート信号の立ち上がりからは、追従制御のゲインを上げて期待値（または、そのオフセット量）の再生信号の変動に対する追従制御がなされるので、その記録データの欠陥に起因したデータの読取り性能の低下を最小限にすることができる。
【０１１２】
上記各例において、図５に示すパスマージ絶対条件検出器３１は、形状状態件検出手段に対応する。そして、マージ０検出信号及びマージ１検出信号が再生信号の波形の状態を表す情報に対応する。特に、マージ１検出信号は、サンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報に対応し、マージ０検出信号は、サンプリング値のボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報に対応する。
【０１１３】
各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）は、欠陥判定手段に対応し、特に、各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）に設けられたカウンタは、状態継続時間測定手段に対応する。
【０１１４】
調整器４０は、追従調整手段に対応し、欠陥検出部３０は、欠陥検出手段に対応する。また、復帰ゲート信号作成器３６からの初期化ゲート信号に基づく調整器４０の機能が初期化手段に対応する。その初期化ゲート信号が有効になる時間が第一の所定時間に対応し、復帰ゲート信号作成器３６からの復帰ゲート信号が有効になる時間が第二の所定時間に対応する。
【０１１５】
なお、本発明を以下の通り付記として記す。
【０１１６】
（付記１）記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置における上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置において、
上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、
該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有する欠陥検出装置。
【０１１７】
（付記２）付記１記載の欠陥検出装置において、
上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成するようにし、
欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくと一方に基づいて記録データの欠陥を判定するようにした欠陥検出装置。
【０１１８】
（付記３）付記２記載の欠陥検出装置において、
上記欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方の表す状態が継続される時間を測定する状態継続時間測定手段を有し、
該状態継続時間測定手段にて測定された時間が所定時間に達したときに記録データの欠陥を判定するようにし欠陥検出装置。
【０１１９】
（付記４）付記３記載の欠陥検出装置において、
上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記ボトム値部分を表す状態が継続される時間を測定するようにした欠陥検出装置。
【０１２０】
（付記５）付記３記載の欠陥検出装置において、
上記状態継続検出手段は、第一の情報の上記ピーク値部分を表す状態が継続される時間を測定するようにした欠陥検出装置。
【０１２１】
（付記６）付記３記載の欠陥検出装置において、
上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記ボトム値部分でない部分を表す状態が継続される時間を測定するようにした欠陥検出装置。
【０１２２】
（付記７）付記３記載の欠陥検出装置にいおて、
上記継続時間測定手段は、第一の情報の上記ピーク値部分でない部分を表す状態及び第二の情報の上記ボトム値部分でない部分を表す状態が継続される時間を測定するようにした欠陥検出装置。
【０１２３】
（付記８）請求項３乃至７いずれか記載の欠陥検出装置において、
記録データの欠陥を判定するために用いられる上記所定時間を設定するための時間設定手段（ＭＰＵが対応）を有する欠陥検出装置。
【０１２４】
（付記９）請求項８記載の欠陥検出装置において、
上記時間設定手段は、記録媒体上の記録データのフォーマットに基づいた各部位毎に異なる時間の設定を行なう可変設定手段（カウント値選択回路５０が対応）を有する欠陥検出装置。
【０１２５】
（付記１０）記録媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装置において、
再生信号の変動レベルに基づいて上記記録データを最尤復号アルゴリズムに従って復元するために必要な情報をその再生信号の変動に追従するように調整する追従調整手段と、
記録データの欠陥を検出する欠陥検出手段と、
該欠陥検出手段が記録データの欠陥を検出したときに、第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に固定する初期化手段を有し、
上記欠陥検出手段は、
上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、
該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有するデータ再生装置。
【０１２６】
（付記１１）付記１０記載のデータ再生装置において、
上記初期化手段により第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に固定した後に、上記追従調整手段は、当該情報を再生信号の変動に追従させるためのゲインを第二の所定時間だけ上記再生信号の変動に追従させる際のゲインより高くするようにしたデータ再生装置。
【０１２７】
（付記１２）請求項１０記載のデータ再生装置において、
上記第一の時間を設定する手段（ＭＰＵが対応）を有するデータ再生装置。
【０１２８】
（付記１３）請求項１０乃至１２いずれか記載のデータ再生装置において、
上記第二の時間を設定する手段（ＭＰＵが対応）を有するデータ再生装置。
【０１２９】
【発明の効果】
以上、説明したように、請求項１乃至３記載の本願発明によれば、上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしい記録データを復元する過程で得られる軟判定結果は、再生信号の波形の状態を反映し、また、記録データの欠陥は、再生信号の異常として現れることから、その軟判定結果に基づいて記録データの欠陥を判定することができる。その結果、記録媒体のデータの記録欠陥を的確に検出できるようにした欠陥検出装置を実現することができるようになる。
【０１３０】
また、請求項４及び５記載の本願発明によれば、そのような欠陥検出装置が適用されるデータ再生装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態に係るデータ再生装置の構成例を示す図である。
【図２】最尤検出器において考慮される状態遷移パターンの類型の一例を示す図である。
【図３】パスマージが発生する場合の状態遷移のパターンの組合せ例の一例を示す図である。
【図４】最尤検出器におけるパスメモリの構成例を示す図である。
【図５】データ再生装置における欠陥検出部の構成例を示す図である。
【図６】欠陥検出部におけるパスマージ絶対条件検出器の構成例を示す図である。
【図７】パスマージ絶対検出器の動作例を示すタイミングチャートである。
【図８】欠陥検出器の構成例を示す図である（その１）。
【図９】欠陥検出器の構成例を示す図である（その２）。
【図１０】欠陥検出器の構成例を示す図である（その３）。
【図１１】欠陥検出器の構成例を示す図である（その４）。
【図１２】欠陥検出器の構成例を示す図である（その５）。
【図１３】図８に示す欠陥検出器にて検出される記録データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１４】図９に示す欠陥検出器にて検出される記録データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１５】図１０に示す欠陥検出器にて検出される記録データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１６】図１１に示す欠陥検出器にて検出される記録データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１７】図１２に示す欠陥検出器にて検出される記録データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１８】光磁気ディスク（記録媒体）におけるデータの記録フォーマットと、そのフォーマットに従った各部に対応するタイミングゲート信号を示す図である。
【図１９】カウント値選択回路の構成例を示す図である。
【図２０】復帰ゲート信号作成器の構成例を示す図である。
【図２１】復帰ゲート信号作成器の動作例を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
１０  光磁気ディスク（記録媒体）
１２  光学ヘッド
１４  ヘッドアンプ
１６  アナログ・デジタル変換回路（ＡＤＣ）
１６  デジタル等化器（ＤＥＱ）
２０  最尤検出器
２１  ブランチメトリック計算ユニット（ＢＭ計算ユニット）
２２  加算・比較・選択ユニット（ＡＣＳユニット）
２３  パスメトリックメモリ（ＰＭＭ）
２４  パスメモリ
３０  欠陥検出部
３１  パスマージ絶対条件検出器
３３（１）〜３３（５）  欠陥検出器
３５  オア回路
３６  復帰ゲート信号作成器
３７  ラッチ回路
４０  調整器（期待値追従器またはオフセット追従器）
５０  カウント値選択回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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