(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることにより、ＲＧＢの電子ビーム位置を調整することを特徴とするＣＲＴコンバージェンス測定方法。
【請求項２】
カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を画面全面に映し出し、画面全面に映し出された上記所定のピッチを持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることにより、ＣＲＴ画面の任意の場所でＲＧＢの電子ビーム位置を調整することを特徴とする請求項１記載のＣＲＴコンバージェンス測定方法。
【請求項３】
カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることにより、ＲＧＢのシャドウマスクに係る電子ビームの位置ずれを補正して、ＲＧＢの電子ビーム位置を調整することを特徴とするＣＲＴコンバージェンス測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、カラーＣＲＴを用いたテレビ及びディスプレイモニタの生産工程において、カラーＣＲＴコンバージェンス調整時に、高精度且つ安定してＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し、調整するＣＲＴコンバージェンス測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図２は従来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明する図である。この測定方法の装置の構成は、図２(a)に示すようにカラーＣＲＴ１から発射されたＲＧＢ調整前の電子ビームの結像位置61をスタティックコンバージェンス用クローズアップカメラ(ＣＣＤカメラ)２と２台のダイナミックコンバージェンス用カメラ３にてセンシングするようになっている。
【０００３】
次に図２(a)に示す装置の測定動作を説明すると、図２(b)に示すようにカラーＣＲＴ１の画面８に映し出された、コンバージェンス測定上の中央テストパターン４をスタティックコンバージェンス用クローズアップカメラ(ＣＣＤカメラ)２にてセンシングし、測定用マスク５のエリアのＲＧＢテストパターンの輝度重心をＲとＢの重心のＧの重心に対する相対位置を図示せざる画像処理コンピュータで画像処理により計算し、スタティックコンバージェンスを測定する。
【０００４】
そして、図２(c)のように、ＲＧＢ調整前の電子ビームの結像位置61について、ＲＧＢをそれぞれ測定した後、ＲＧＢ調整後の電子ビームの結像位置(コンバージェンス後)62のようにＲＧＢを集中するように調整する。
【０００５】
次にカラーＣＲＴ１の画面８の周辺テストパターンを２台のダイナミックコンバージェンス用カメラ３でセンシングし、ダイナミックコンバージェンスをスタティック同様に画像処理コンピュータで測定調整する。このときのＲＧＢのシャドウマスク７に対するＲＧＢ調整後の電子ビームの結像位置(コンバージェンス後)62との位置関係は、図２(d)の左側に示すようになっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法においては、カラーＣＲＴ画面上のテストパターン１点をスタティックコンバージェンス用クローズアップカメラ(ＣＣＤカメラ)２にてセンシングするため、スタティックコンバージェンスの所定の精度を確保するにはズームカメラが必要となり、１台のカラーＣＲＴ１にスタティックコンバージェンス、ダイナミックコンバージェンスを測定するのに３台のカメラ(カメラ２と２台のカメラ３)が必要となる。
【０００７】
また、測定条件において、中央テストパターン４が測定マスク５上にない場合、測定エラーとなり、生産現場での位置決めや、カラーＣＲＴ１の少しの画像ひずみでも影響を受けやすく、不安定要素をもっている。
【０００８】
また、図２(d)左側図示の例ではＲＧＢの電子ビームの結像位置62は合っているにもかかわらず、図２(d)右側図示のようにＲＧＢのシャドウマスク７の位置が異なるため正確な輝度重心位置が求められないという問題を有していた。
【０００９】
本発明は上記のような課題を解決し、カラーＣＲＴコンバージェンス調整を、１台のカメラで高精度にＲＧＢの電子ビーム位置を測定し調整し得るとともに、画像処理によりＲＧＢのシャドウマスクに係る電子ビームの位置ずれを補正できるようにしたことを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記課題を解決し目的を達成するため、カラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を映し出し、この所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることにより、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を調整するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１記載の発明は、カラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を映し出し、所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を調整しようとしたものであり、所定のピッチを持った図形とＣＣＤ画素ピッチとの干渉波形の１周期の長さは、カラーＣＲＴに映し出したライン１ピッチ分に相当する。つまり、ＲＧＢ図形の１ラインを光学的干渉により拡大した情報をセンシングすることにより、直接ラインのずれを高輝度にセンシングできるという作用を有する。
【００１２】
また、本発明の請求項２記載の発明は、カラーＣＲＴに所定のピッチを持った図形を画面全面に映し出し、画面全面に映し出された所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、カラーＣＲＴ画面の任意の場所で安定的に、且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を調整しようとしたものであり、カラーＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、センシングパターンの位置などの影響を全く受けることなく、安定して且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を調整することができるという作用を有する。
【００１３】
また、本発明の請求項３記載の発明は、カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理により、ＲＧＢのシャドウマスクに係る電子ビームの位置ずれを補正することができ、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し調整することができるという作用を有する。
【００１４】
（実施の形態）
図１は本発明の実施の形態におけるカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明する図である。この測定方法の装置の構成は、図１(a)に示すように図示せざるカラーＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテストラインパターン11を１台のスタティック＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カメラ12(以下、単にカメラという)でセンシングし、画像処理コンピュータ13で測定処理するようになっている。
【００１５】
次にカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法について、図１を用いてその動作を説明する。まず、図１(a)において、カラーＣＲＴ全面に映し出された所定のピッチを持ったテストラインパターン11をカメラ12でセンシングし、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を測定する。このときの光学干渉正弦波形15は、図１(b)に示すように、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ画素14間にて発生する。テストラインパターン11のピッチＬは、カメラ12のＣＣＤ画素14のピッチＣとΔだけずれた関係とする(Δはズレ量)。
【００１６】
【数１】
Ｌ＝Ｃ±Δ
また、テストラインパターン11のピッチＬは、光学干渉正弦波形15の１周期Ｌ’と等価であり、且つ、また光学干渉正弦波形15の１周期Ｌ’は、テストラインパターン11のピッチＬとＣＣＤ画素14のピッチＣとの光学干渉に相当するため、ズームカメラを用いなくても、光学的にテストラインパターン11を拡大したことになる。
【００１７】
ここで、図１(c)は、Ｒ光学干渉正弦波形19とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学干渉正弦波形21に係るＲＧＢの電子ビーム調整前の状態を示し、図１(d)はＲ光学干渉正弦波形19とＧ光学干渉正弦波形20とＢ光学干渉正弦波形21に係るＲＧＢの電子ビーム調整後の状態を示している。このＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，21をカメラ12で取り込み、画像処理コンピュータ13の画像処理でＲＧＢそれぞれの位相を検出し、同一周期に合わせることにより、カラーＣＲＴコンバージェンス調整において、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し調整することができる。
【００１８】
次にＲＧＢのシャドウマスクに係る電子ビームの位置ずれを補正することについて説明すると、コンバージェンスの目的は、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢそれぞれの位置に、Ｒテストラインパターン16、Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパターン18を調整することであるから、ＲＧＢシャドウマスク７のＲＧＢ間の寸法を既知として、ＲＧＢ間の寸法に相当するＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，21の位相をずらして調整することが可能となり、高精度にスタティックコンバージェンスを調整することができる。
【００１９】
なお、図１(e)は、Ｒテストラインパターン16、Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパターン18のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整前の状態である。
【００２０】
図１(f)は、Ｒテストラインパターン16、Ｇテストラインパターン17、Ｂテストラインパターン18のシャドウマスクで見たＲＧＢ電子ビーム調整後の状態である。
【００２１】
以上のように本実施の形態によれば、カラーＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテストラインパターン11をスタティック＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カラーカメラ12でセンシングし、テストラインパターン11とカメラ12のＣＣＤ画素14間にて発生する光学干渉正弦波形15を用いることにより、光学的にテストラインパターン11を拡大したことになるＲＧＢ光学干渉正弦波形19，20，21をズームカメラを用いることなく高精度にスタティックコンバージェンスを測定することができる。
【００２２】
また、カラーＣＲＴ全面に映し出された所定のピッチを持ったテストラインパターン11を用いることにより、ＣＲＴ画面の周辺などの任意の場所で、従来のような測定用マスク５の位置などの影響を全く受けることなく、安定して且つ高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定することができ、且つ１台のカメラで且つ固定焦点でスタティックコンバージェンス、ダイナミックコンバージェンスを安定して且つ高精度に測定できる。
【００２３】
また、カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、上記図形をセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、画像処理により、ＲＧＢのシャドウマスクに係る電子ビームの位置ずれを補正することができ、高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定し調整することができる。
【００２４】
なお、以上の説明では、カラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を水平方向で構成した例で説明したが、その他垂直方向についても同様に実施可能である。
【００２５】
【発明の効果】
以上のように本発明は、カラーＣＲＴにＲＧＢそれぞれ所定のピッチを持った図形を映し出し、上記所定のピッチを持った図形と、それをセンシングするＣＣＤ撮像素子のＣＣＤ画素ピッチとの干渉を用いて、センシングすることにより、カラーＣＲＴコンバージェンス調整において高精度にＲＧＢ(赤，緑，青)の電子ビーム位置を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態におけるカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明する図である。
【図２】従来のカラーＣＲＴコンバージェンス測定方法を説明する図である。
【符号の説明】
１，８…ＣＲＴ、  ２…スタティックコンバージェンス用カメラ、  ３…ダイナミックコンバージェンス用カメラ、  ４…コンバージェンス測定上の中央テストパターン、  ５…測定マスク、  ７…ＲＧＢシャドウマスク、  11…ＣＲＴに映し出された所定のピッチを持ったテストラインパターン、  12…スタティック＆ダイナミックコンバージェンス測定兼用カメラ、  13…画像処理コンピュータ、  14…カメラ12のＣＣＤ画素、  15…光学干渉正弦波形、  16…Ｒテストラインパターン、  17…Ｇテストラインパターン、  18…Ｂテストラインパターン、  19…Ｒ光学干渉正弦波形、  20…Ｇ光学干渉正弦波形、  21…Ｂ光学干渉正弦波形、  61…ＲＧＢ調整前の電子ビームの結像位置、  62…ＲＧＢ調整後の電子ビームの結像位置(コンバージェンス後)。
【図１】
0003760217.tif 000002
【図２】
0003760217.tif 000003