(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの情報記録面で反射される光度を測定する光度検出手段と、予め複数の反射率の小さい第１種別の光ディスクの反射光度の最大値と反射率の大きい第２種別の光ディスクの反射光度の最小値とに基づいて算出された係数を記憶する記憶手段と、閾値登録処理において前記第１種別の基準ディスクの光度を前記光度検出手段に検出させ、該検出された光度に前記記憶手段に記憶された係数を乗じた値を閾値として算出し、ディスク判定処理において前記光度検出手段により測定された光度と前記閾値とを比較することにより前記第１種別のディスクと前記第２種別のディスクとを判別する制御手段と、を備えたことを特徴とする光ディスク判別装置。
【請求項２】
前記閾値は前記第１種別の光ディスクの反射光度の最大値と前記第２種別の光ディスクの反射光度の最小値との中間値を、前記第１種別の基準ディスクの反射光度で余算した値に設定されることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク判別装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、装着されたディスクの種類を判別する光ディスク判別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−ＲＷ（Rewritable）は、音楽ＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ（Write Once）より反射率が低い。そこで、反射率によってディスクを判別することが考えられた（特開２０００−３１１４２７号公報参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、反射率の測定値は同一ディスクであっても個々の装置間でばらつく。この大きな要因は受光素子（４分割センサ）の感度のばらつきであり、他の要因として光軸の傾角のばらつきや、ディスクの反射率のばらつき等がある。そこで、判別のための閾値が固定であると、判別の結果に誤りが生じるおそれがある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク判別装置はかかる点に鑑みなされたもので、光ディスクの情報記録面で反射される光度を測定する光度検出手段と、予め複数の反射率の小さい第１種別の光ディスクの反射光度の最大値と反射率の大きい第２種別の光ディスクの反射光度の最小値とに基づいて算出された係数を記憶する記憶手段と、閾値登録処理において前記第１種別の基準ディスクの光度を前記光度検出手段に検出させ、該検出された光度に前記記憶手段に記憶された係数を乗じた値を閾値として算出し、ディスク判定処理において前記光度検出手段により測定された光度と前記閾値とを比較することにより前記第１種別のディスクと前記第２種別のディスクとを判別する制御手段と、を備える。
【０００５】
また、前記閾値は前記第１種別の光ディスクの反射光度の最大値と前記第２種別の光ディスクの反射光度の最小値との中間値を、前記第１種別の基準ディスクの反射光度で余算した値に設定される。
【０００６】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例の形態を図に基づき説明する。実施例の光ディスク判別装置はＣＤ−ＲＷであるかＣＤ−Ｒであるかを判別する装置である。
【０００７】
図１は、本発明の実施例の要部を示すブロック図である。（１）はＣＤ−ＲＷあるいはＣＤ−Ｒのディスクである。（２）はターンテーブルであり、ディスク（１）を図示せぬクランプとで挟持する。（３）はターンテーブル（２）を回転させるモータである。
【０００８】
（４）はピックアップであり、レーザを放射するレーザダイオード（４１）、入射面に平行な光の成分を通過させ入射面に垂直な光の成分を反射させる偏ビームスプリッタ（４２）、光を平行にするコリメータレンズ（４３）、接眼レンズ（４４）、４つの領域の光の強弱を検出する４分割センサ（４５）、スピーカと同様の原理で接眼レンズをディスク（１）の面に遠ざけたり近づけたりするフォーカス用のアクチュエータ（４６）を有する。
【０００９】
レーザダイオード（４１）から放射されたレーザは、偏ビームスプリッタ（４２）によりディスク（１）方向に反射され、コリメータレンズ（４３）により平行となり、対物レンズ（４４）により集光されてディスク（１）に放射される。ディスク（１）で反射されたレーザは、対物レンズ（４４）と偏ビームスプリッタ（４２）を介して４分割センサ（４５）に照射され、４つの領域の光度が検出される。このように、ピックアップ（１）はディスク（１）に向けてレーザの焦点を放射し、ディスク（１）により反射されたレーザの光度を４つの領域に分けて検出する。そして、レーザの焦点はフォーカス方向に移動可能である。
【００１０】
（５）は合焦点検出回路であり、図２はその詳細構成を示し、ピックアップ（１）の４分割センサ（４５）から出力される４つの領域の光度検出信号の差から焦点があっているか否かを検出する。合焦点信号が＋であれば焦点は遠ざかった位置にあり、合焦点信号が０であれば焦点が合っており、合焦点信号が−であれば焦点は近づいた位置にある。
【００１１】
（６）は光度検出回路であり、図２はその詳細構成を示し、ピックアップ（１）の４分割センサ（４５）から出力される４つの領域の光度検出信号を合計し、増幅する。この合計された光度信号によりレーザの反射の光度を検出することができる。
【００１２】
（７）はフォーカスサーボ回路であり、フォーカス用のアクチュエータ（４６）を駆動する。（８）は制御回路であり、記憶手段（９）に記憶されるプログラムに従って、フォーカス制御、トラッキング制御やディスク判定を行う。記憶手段（９）は不揮発メモリと不揮発でないメモリからなり、不揮発メモリにはプログラムや初期情報等が記憶され、不揮発でないメモリには一時的な情報が記憶される。
【００１３】
次にディスク（１）の反射の光度とディスク（１）判定の閾値について説明する。ディスク（１）の表面から約１．２ｍｍの位置に情報が書き込まれており、図３に示す如く、ディスク（１）の表面にレーザの焦点を所定速度で近づけていくと、レーザの焦点がディスク（１）の表面に達したときに第１回目の反射があり、情報記録面に達したときに第２回目の反射がある。図３に示す如く、ＣＤ−ＲＷとＣＤ−Ｒの表面の反射率に差異はなく、情報記録面の反射率に差異がある。
【００１４】
図４はＣＤ−ＲＷとＣＤ−Ｒの反射率の差異を示す図である。この値は発明者が測定した光度検出値（反射を受光する４分割センサ（４５）の合計光量）である。ＣＤ−ＲＷとＣＤ−Ｒの判定の閾値は反射率の低いＣＤ−ＲＷの最大値と反射率の高いＣＤ−Ｒの最小値の中央を設定する。このために、ＣＤ−ＲＷは高い反射率の種類(ABEX製TCD-W08２H)が選ばれた。ところが、この高反射率のＣＤ−ＲＷは記録済みであるために反射光度のばらつきが大きく基準ディスクとしては適していない。そこで、基準ディスクとして情報がまだ書き込まれていないブランクのＣＤ−ＲＷが測定された。ＣＤ−Ｒは低い反射率のものとして、書き込み済みが選ばれた。
【００１５】
この光度の測定は４台の装置で行われ、各装置で複数回測定されて最小と最大が求められた。ＣＤ−ＲＷの最大値（図４のａ２とｂ２の大きい方）とＣＤ−Ｒの最小値の中間値（ｍ）をその装置の閾値とする。この閾値を反射光度のばらつきが小さいブランクのＣＤ−ＲＷの最大値（図４のａ２）で割った値を係数（図４のｋ）とする。本実施例では係数の平均は１．７９である。
【００１６】
次に閾値の登録について説明する。図５は制御回路（８）の閾値の登録動作を示す図である。この登録処理は装置が製造される工場で行われるモードである。基準ディスクとして使用されるディスクは前述の係数ｋの算出に使用されたブランクのＣＤ−ＲＷであり、反射率のばらつきが少ない。制御回路（８）は基準ディスクの光度（Ｖｒｗ）を測定する（Ｓ１）。これに係数ｋを掛けて第２の閾値Ｖｔ２とし（Ｓ２）、不揮発メモリである記憶手段（９）に書き込む（Ｓ３）。そして、工場から出荷される。
【００１７】
次にディスクの判別について説明する。図６は制御回路（８）のディスク判別動作を示す図である。ディスク（１）が装置にセットされると、制御回路（８）は対物レンズ（４４）を所定位置に移動させる（Ｓ１１）。この位置は、焦点がディスク（１）表面より遠ざかったところになる位置である。この位置から制御回路（８）は対物レンズ（４４）をディスク（１）に近づけさせていく（Ｓ１２）。
【００１８】
そして、制御回路（８）は光度検出回路（６）からの光度が第１の閾値Ｖｔ１を超えたか否かを監視する（Ｓ１３）。図３に示すごとく、第１の閾値Ｖｔ１は表面とＣＤ−ＲＷの光度の間に設定された値である。この第１の閾値Ｖｔ１を越えない状態で合焦点検出回路（５）により焦点が合ったことを検出すると、この位置は表面であると判定する（Ｓ１４）。
【００１９】
更に対物レンズ（４４）をディスク（１）に近づけさせていくと（Ｓ１２）、制御回路（８）は光度が第１の閾値Ｖｔ１を越えたことを検出する（Ｓ１３のＹ）。更に対物レンズ（４４）をディスク（１）に近づけさせていき（Ｓ１６）、光度が第２の閾値Ｖｔ２を超えたか否かを監視する（Ｓ１７）。光度が第２の閾値Ｖｔ２を超えないまま（Ｓ１７のＮ）焦点が合ったことを検出すれば（Ｓ１８のＹ）、ディスク（１）をＣＤ−ＲＷと判定する（Ｓ１９）。
【００２０】
光度が第２の閾値Ｖｔ２を超えれば（Ｓ１７のＹ）、制御回路（８）はその時点でディスク（１）をＣＤ−Ｒと判定し（Ｓ２０）、その後、焦点が合ったことを検出する（Ｓ２１）。これにより、ＣＤ−Ｒの場合は焦点が合う前にディスク（１）の判定を行うことができ、ディスクの判定時間を短縮することができる。
【００２１】
尚、上述の実施例ではＣＤ−ＲＷとＣＤ−Ｒの判定であったが、これに限定するものではなく、本発明は、反射率の異なるディスクの判別に適用することができる。
【００２２】
【発明の効果】
上述の如く、本発明は、装置毎に実測された基準ディスクの光度に基づいて計算された閾値によりディスクの判定が行われるために、精度が高いディスク判定を行うことができる。
【００２３】
また、その計算はばらつきが少ないディスクに基づいて行われるために、精度が高いディスク判定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の要部を示すブロック図である。
【図２】合焦点検出回路と光度検出回路の詳細な構成を示す図である。
【図３】ディスクの反射光度の波形を示す図である。
【図４】ＣＤ−ＲＷとＣＤ−Ｒの反射率の差異を示す図である。
【図５】閾値の登録動作を示すフローチャートである。
【図６】ディスク判定の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１  ディスク
４  ピックアップ
４１  レーザダイオード
４２  偏ビームスプリッタ
４３  コリメータレンズ
４４  接眼レンズ
４５  ４分割センサ
４６  アクチュエータ
５  合焦点検出回路
６  光度検出回路
８  制御回路
９  記憶手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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