(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
高温における経年損傷をうけた耐熱鋼の陽電子消滅寿命を測定し、陽電子消滅平均寿命と耐熱鋼の使用経過時間との関係曲線を作成して、耐熱鋼が遷移クリープ領域にあるか、加速クリープ領域に到達しているかを判定し、加速クリープ領域にある場合には、完全焼きなまし純鉄の陽電子消滅寿命値まで曲線を外挿することによって、耐熱鋼の損傷の程度、寿命消費率または余寿命を判定することを特徴とする耐熱鋼の余寿命診断方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、耐熱鋼の余寿命診断法に関し、特に高温構造機器に用いられた耐熱鋼の余寿命診断法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
発電用のボイラやタービン、原子力発電設備、化学工業装置などの装置は、高温、高圧下で長時間使用される。したがって、これらの装置に用いられる耐熱鋼は、高温における強度、耐食性、耐酸化性および常温における靱性などに優れていることが要求される。これらの用途には、従来、オーステナイト系ステンレス鋼（例えば、JIS-SUS321H鋼、同SUS347H鋼）、低合金鋼（例えば、JIS-STBA24鋼（2.25%Cr-1%Mo鋼））、さらには、9〜12%Cr系の高Crフェライト鋼（例えば、JIS-STBA26鋼（9%Cr-1%Mo鋼）、最近では同STBA-28鋼（改良9%Cr-1%Mo鋼））などが用いられてきた。
【０００３】
近年、火力発電プラントにおいては、地球温暖化防止の観点からCO２等の排出量削減を目的に熱効率の向上が必要となり、ボイラの蒸気条件を高温、高圧化（例えば600℃を超え、300気圧）した新型プラントが次々に建設されている。また、一方では、高度成長期に多数建設された既設プラントが順次計画寿命を迎え、熱効率の高い新型プラントへ更新するか、あるいは部分補修等により延命を図るかが、我が国のエネルギー政策とも関連して、大きな社会問題となりつつある。
【０００４】
高温、高圧化された新型プラントでは、従来よりも高強度、高耐食性の新しい開発材料が使用されているが、新しいが故に従来鋼のような実プラントでの長時間データベースは確立されておらず、今後経年変化の追跡調査が必要である。さらに、既設プラントにおいては、使用されている耐熱鋼の寿命消費率（計画寿命に対する割合）を精度良く評価して、余寿命を的確に診断する必要がある。
【０００５】
プラントに組み込まれた材料の経年劣化診断や余寿命評価を、できるだけ非破壊で実施する方法として、従来からも多くの研究がなされている。例えば、経年損傷材の硬さ変化を測定する方法（硬さ測定法）、同様にレプリカを採取してSEM（走査型電子顕微鏡）等によりクリープボイドの数、量（面積率など）を観察する方法（ボイド法）、あるいは同じくレプリカを採取してTEM-EDX（透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分析装置）などで炭化物の種類、大きさおよび量などを定量する方法（炭化物法）が提案されている。
【０００６】
これらの方法は、従来の低合金鋼では、ある程度の実績があるが、いずれの方法も測定精度の問題や実験上のばらつきが生じやすく、高精度での寿命診断法とはなり得ていない。
【０００７】
さらに、新型プラントで用いられるような新しい耐熱鋼、例えば焼き戻しマルテンサイト組織を有する高Crフェライト鋼（STBA28鋼）では、炭化物が安定であることや、クリープボイドが形成しにくいなどの理由により、従来の低合金鋼（STBA24鋼）で、ある程度有効であったボイド法や炭化物法が適用できないことが明らかとなっている。
【０００８】
そのような場合には、高温構造機器の一部から、部材をいわば破壊的に採取して、引張試験やクリープ試験などを実施し、使用前に損傷のない状態で評価された性質と比較して、どの程度劣化しているかを評価し、クリープ損傷をどの程度受けているかを推定する方法が、最も確かな方法として用いられている。
【０００９】
しかしながら、この方法で得られた機械的性質の劣化は、しばしば単純な加熱による軟化に起因した劣化と区別がつき難く、加熱軟化とクリープ変形による損傷が重畳した本来のクリープ損傷に対応する寿命消費率と余寿命を正確に推定することは不可能である。
【００１０】
ごく近年、焼き戻しマルテンサイト組織を有する耐熱鋼に対して、陽電子消滅法を応用して、クリープ歪みを推定できる新しい方法が提案された（特開2000-171418号公報、参照）。
【００１１】
陽電子消滅法とは、陽電子（電子と同一質量で正の電荷をもった素粒子）を物質中に入射して電子と対消滅する時に、その消滅過程が物質中の格子欠陥（空孔や転位など）の状態に応じて変化することを利用して、物質中の格子欠陥を見いだす方法である。陽電子消滅法には、入射から消滅までの時間（消滅寿命）を測定する方法（寿命測定法という）、消滅時に放出されるガンマ線（511keV、180度方向に２本放出される）の運動エネルギー変化を測定する方法（ドップラー広がり法、角度相関法という）などがある。しかし、その測定が容易でないことと、解析の困難さから、結晶性の高い半導体材料や、純金属、あるいは単純な合金系での実験室規模での研究に止まっていた。
【００１２】
ところが、特開2000-171418号公報に記載された発明では、新しい耐熱鋼STBA-28鋼の経年損傷材について、陽電子消滅測定を実施し、ドップラー広がり法によってSパラメーター（後述する）を算出すると、予め求めておいた同一組成材料の既知のクリープ歪み量に対するＳパラメーターとの対応関係から、損傷材のクリープ歪み量を推定できると提案している。
【００１３】
ここでSパラメーターとは、陽電子消滅時に放出されるガンマ線のエネルギースペクトルの広がりの指標で、エネルギーピーク全体のカウント数に対するピーク中央部のカウント数の比として定義される。通常、欠陥のない状態では、このSパラメーターは小さくなるが、空孔等の点欠陥が導入されるに従い、Sパラメーターが大きくなり、ピークが尖鋭化することが知られていた。
【００１４】
さらに、特開2000-266699号公報では、上記同様にドップラー広がり法を用い、陽電子消滅時のガンマ線の計測を２つの検出器で同時計測することによって、主に原子炉材料の劣化計測として、より高精度に点欠陥や元素の集合体（母相と異なる組成を有する析出物）の状態を評価する方法および装置が提案されている。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
上記陽電子消滅法のドップラー広がり法では、点欠陥の集合体であるボイドの数量が多いものでは、Sパラメーターが尖鋭化することが知られている。しかし、点欠陥というのは、実用材料中では結晶粒界や転位、析出物などと相互作用を起こして、消滅したり、新たに生成したりする。このため、実用材料の損傷劣化の過程における組織や欠陥構造の変化が明らかでない場合には、測定されたSパラメーターが真のクリープ損傷と対応すると結論づけるのは難しい。
【００１６】
同時計測のドップラー広がり法によって、より精度の高い計測は可能であるが、やはりクリープ損傷過程の組織変化や欠陥構造の変化を捕らえるのは難しい。したがって、耐熱鋼のクリープ損傷による寿命消費率を測定し、余寿命を的確に診断する方法は得られていない。
【００１７】
本発明の目的は、従来の低合金鋼から高Crフェライト鋼、さらには新しい耐熱鋼までのあらゆる耐熱鋼について、高温におけるクリープ変形を主とする損傷劣化過程を測定し、寿命消費率および余寿命を的確に推定する方法を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
発明者らは、種々の耐熱鋼について、高温長時間クリープ変形特性と、材料の化学組成および金属組織（ミクロ組織）との関係について詳細に検討した。その結果、次に示す新しい知見を得た。
【００１９】
(1)どの様なミクロ組織であってもクリープ変形曲線の形は類似しており、初期にはクリープ速度が徐々に低下する遷移クリープ領域があり、その後、最小クリープ速度を示した後、逆にクリープ速度が時間と共に増加する加速クリープ領域があって、最終的には破断に至ること、
(2)遷移クリープ領域から加速クリープ領域へ移行する歪み量が数％から10％程度であっても、加速クリープ領域においてクリープ速度の増大が緩やかな材料、または、この歪み量が1％以下と極めて小さいにも関わらず、加速クリープ領域へ移行した後は急激にクリープ変形する材料もある。したがって、クリープ歪みの大小だけから、その材料の損傷の程度、言い換えれば寿命消費率を推定することは、困難な場合がある。
【００２０】
発明者らは、この様な状況に鑑み、種々の研究を重ねた結果、陽電子消滅寿命の変化がこの様に複雑な耐熱鋼のクリープ変形過程の表現に最も適することを見出し、本発明を完成するに至った。
【００２１】
本発明の要旨は、「高温における経年損傷をうけた耐熱鋼の陽電子消滅寿命を測定し、陽電子消滅平均寿命と耐熱鋼の使用経過時間との関係曲線を作成して、耐熱鋼が遷移クリープ領域にあるか、加速クリープ領域に到達しているかを判定し、加速クリープ領域にある場合には、完全焼きなまし純鉄の陽電子消滅寿命値まで曲線を外挿することによって、耐熱鋼の損傷の程度、寿命消費率または余寿命を判定することを特徴とする耐熱鋼の余寿命診断方法。」にある。
【００２５】
【発明の実施の形態】
発明者らは、種々の耐熱鋼について、高温長時間クリープ変形特性と陽電子消滅寿命との関係について詳細に検討した。その結果、材料の化学組成および金属組織（ミクロ組織）によって複雑に変化するクリープ変形特性と陽電子消滅寿命との間に一定の関係があるという新しい知見を得た。
【００２６】
すなわち、新しい耐熱鋼では、高強度を得るためにマルテンサイト組織として過剰の転位を導入したり、微細な析出物を析出させたりしている。しかし、前述のとおり、どの様な組織であってもクリープ変形曲線の形は類似しており、初期にはクリープ速度が徐々に低下する遷移クリープ領域があり、その後最小クリープ速度を示した後、逆にクリープ速度が時間と共に増加する加速クリープ領域があって、最終的には破断に至る。
【００２７】
図１は、クリープ変形曲線を示す模式図である。
【００２８】
クリープ歪みは、時間と共に増大し、破断に至る。曲線の変曲点（クリープ歪みεｍｉｎの位置）を境にして、曲線の勾配が徐々に緩やかになる遷移クリープ領域と、逆に勾配が再び大きくなる加速クリープ領域とがある。
【００２９】
図２は、クリープ速度と時間との関係を示す模式図である。この図は、クリープ変形曲線からクリープ速度（クリープ歪みの時間変化率）を求め、時間に対してプロットした曲線である。図２から、クリープ変形曲線の変曲点でクリープ速度は最小となり、それを境にして遷移クリープ領域ではクリープ速度は徐々に低下し、加速クリープ領域ではクリープ速度が徐々に増大する。
【００３０】
耐熱鋼は、ミクロ組織や強度が異なってもクリープ速度と時間との関係曲線（図２）は、基本的には同様な形態を示す。ただし、曲線の傾きが変化したり、遷移クリープ領域から加速クリープ領域への移行が急激な場合、あるいは緩やかな場合、加速が二段階で現れる場合などがある。マルテンサイト組織の材料では、遷移クリープ領域ではマルテンサイト中の過剰転位が消失する。オーステナイト合金や焼きなまされたフェライト鋼では加工硬化により転位が導入されるが、遷移クリープ領域では転位の移動度が低下してクリープ速度が低下する。また、微細析出物は、いずれの場合にも転位の移動障壁となってクリープ抵抗を高める作用を有する。この強化作用は、時間の経過と共に次第に弱まり、固溶強化元素の枯渇、析出物の凝集粗大化による効果の減少、粒界近傍などの他に比べて強度の弱い部分に局所的な変形の進行などにより、加速クリープ領域へ移行し、クリープ速度は加速度的に増大する。
【００３１】
図３は、クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。この図は、クリープ速度をクリープ歪みに対してプロットしたものであり、材料によって極めて特徴的な曲線の形を示すことが明らかとなった。すなわち、ある材料では、遷移クリープ領域から加速クリープ領域へ移行する歪み量が数％から10％程度もあり、加速クリープ領域においてもクリープ速度の増大は緩やかであるのに対して、またある材料は、この歪み量が1％以下と極めて小さいにも関わらず、加速クリープ領域へ移行した後は急激にクリープ変形が進行する。したがって、クリープ歪みの大小だけから、その材料の損傷の程度、言い換えれば寿命消費率を推定することは、困難である。
【００３２】
発明者らは、この様な状況に鑑み、種々の研究を重ねた結果、陽電子消滅寿命の変化がこの様に複雑な耐熱鋼のクリープ変形過程の表現に最も適することを見出した。
【００３３】
複雑なクリープ変形をする耐熱鋼について、クリープ変形試験を破断まで実施した。
【００３４】
図４は、クリープ速度と試験時間との関係を示す図である。この図は、表１に示す供試鋼Aを用いて温度650℃、応力118MPaでクリープ試験を行い、クリープ速度を試験時間の経過に対応してプロットしたものである。
【００３５】
図５は、クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。この図は、供試鋼Aを用いて温度650℃、応力118MPaでクリープ試験を行って得たクリープ速度とクリープ歪みとを関連させてプロットしたものである。
【００３６】
図６は、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係を示す図である。この図は、供試鋼Aについて、上記のクリープ試験中に寿命消費率0％（試験前）から100％（破断）までの間で中断試験材を作成し、陽電子消滅寿命を測定し、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率とを対応させてプロットしたものである。
【００３７】
図７は、陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係を示す図である。この図は、供試鋼Aについて陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとを対応させてプロットしたものである。
【００３８】
図８は、クリープ速度と試験時間との関係を示す図である。この図は、表１に示す供試鋼Bを用いて温度650℃、応力118MPaでのクリープ試験におけるクリープ速度を試験時間の経過に対応してプロットしたものである。
【００３９】
図９は、クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。この図は、供試鋼Bを用いて温度650℃、応力118MPaでクリープ試験を行って得たクリープ速度とクリープ歪みとを関連させてプロットしたものである。
【００４０】
図10は、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係を示す図である。この図は、供試鋼Bについて、上記のクリープ試験中に寿命消費率0％（試験前）から100％（破断）までの間で中断試験材を作成し、陽電子消滅寿命を測定し、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率とを対応させてプロットしたものである。
【００４１】
図11は、陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係を示す図である。この図は、供試鋼Bについて陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとを対応させてプロットしたものである。
【００４２】
その結果、マルテンサイト鋼では、クリープ損傷の程度が大きくなるに従って陽電子消滅平均寿命は図10に示すように低下し、逆に加工硬化する材料（オーステナイト鋼やフェライト鋼）では初期に陽電子消滅平均寿命は図６に示すように大きくなる。いずれの場合も、遷移クリープ領域から加速クリープ領域へ移行する際に、陽電子消滅平均寿命が変曲点、あるいは最大点を示した後、緩やかに低下する安定期があり、再び急速に低下する。最終的には、完全焼きなまし純鉄の陽電子消滅寿命値（105〜110psec）に漸近する。得られた陽電子消滅寿命と材料寿命消費率との関係曲線（図６および図10）、陽電子消滅寿命とクリープ歪みとの関係曲線（図７および図11）は、クリープ速度と試験時間との関係曲線（図４および図８）、クリープ速度とクリープ歪みとの関係曲線（図５および図９）の変化と極めてよく対応し、陽電子消滅寿命が、クリープ変形過程を表現するのに極めて適していることが明らかとなった。
【００４３】
このことから、実プラントで使用されている耐熱鋼の経年損傷材についても、オンサイトで、あるいは詳細調査のために破壊的に試験材を採取して、陽電子消滅試験を実施すればその材料の余寿命予測を行うことができることがわかる。
【００４４】
この場合には、クリープ歪みに関するデータは入手できないこともあるが、オンサイトで、あるいは詳細調査のために破壊的に試験材を採取して、その使用経過時間に対する陽電子消滅平均寿命を、陽電子消滅平均寿命と材料の使用経過時間との関係曲線としてプロットすれば、その材料がまだ遷移クリープ領域にあるのか、あるいは既に加速クリープ領域に到達しているのかを容易に判断することができる。その上、加速クリープ領域に達しているものについては、完全焼きなし純鉄の陽電子消滅寿命値（105〜110psec）まで、曲線を外挿することによって、極めて精度高く材料の寿命消費率と余寿命を推定することができる。
【００４５】
以下、実施例によってさらに詳細に説明する。
【００４６】
【実施例】
表１に示す化学組成を有する代表的にミクロ組織の異なる二種類の耐熱鋼を試験材とした。
【００４７】
【表１】
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【００４８】
供試鋼Ａは、加工硬化する鋼の一種で、使用前には焼き戻しマルテンサイト組織とδフェライト組織の二相混合組織である。供試鋼Ｂは、焼き戻しマルテンサイト単相組織である。供試鋼は、工業規模で製造されたチューブ材（外径が70mm、肉厚が10mm）を入手後、ラボにて通常の焼きならし（1050℃）、焼き戻し（780℃）処理を施した後、クリープ試験材を採取した。それぞれの鋼について、クリープ変形試験を破断まで実施し、クリープ速度と時間との関係曲線、クリープ速度とクリープ歪みとの関係曲線を得た（図４、５、８および９）。さらに、その材料について、寿命消費率0％（試験前）から100％（破断）までの間でクリープ中断試験材を作成し、陽電子消滅寿命を測定した。クリープ試験および陽電子消滅試験の結果から、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係曲線、陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係曲線を作成した（図６、７、10および11）。
【００４９】
ここで陽電子消滅寿命測定用には、各試験材から厚さ0.5mm、幅7mm、長さ10mmの板材を二枚ずつ採取し、片面を鏡面研磨して試験材とした。線源は密封２２Na線源（50マイクロキュリー、ポリイミド封入）を用い、二枚の試験材で線源を挟み込むサンドイッチ法を採用した。１測定の陽電子計測数は、約200万個、測定系の時間分解能は約230psecであった。なお、本測定系で完全焼きなまし純鉄試料の陽電子消滅寿命を求めたところ、110±0.5psecであった。寿命測定のスタート信号は、線源より放出される一次ガンマ線(1.28MeV)を用い、ストップ信号には、試験材で陽電子が消滅する際に放出される511KeVのガンマ線を用いた。
【００５０】
陽電子消滅寿命は、以下の方法によって算出した。
【００５１】
完全結晶においては陽電子消滅寿命スペクトルT(t)は、(1)式にて表される。
T(t)＝exp（−ｔ／τ１）  ・・・・・(1)
ここで、τ１が完全結晶の陽電子消滅寿命、ｔは時間である。
【００５２】
材料中に欠陥が導入されると、陽電子の一部は欠陥にトラップされるので、陽電子消滅寿命スペクトルは欠陥のない部分と欠陥部分の二成分（欠陥種が多数ある場合は多成分）で表記される。
T(t)＝（Ｉ０/τ０）exp（−ｔ／τ０）＋（Ｉｄ/τｄ）exp（−ｔ／τｄ）  ・・・(2)
ここで、τ０は母相（バルク）の陽電子消滅寿命、τｄは欠陥の陽電子消滅寿命で欠陥種に固有の値である。そのとき欠陥の相対強度Ｉｄは、欠陥の濃度に比例するトラッピング速度κを用いて、下記となる。
Ｉｄ＝κ／（(1／τ１)＋κ−(1／τｄ)）  ・・・・・(3)
また、τ０は同じくκを用いて、
τ０＝1／（(1／τ１)＋κ）  ・・・・・(4)
となり、完全結晶の場合よりも陽電子消滅寿命は短くなる。
【００５３】
本発明で対象とする陽電子消滅平均寿命τＭは、下記で表される。
τＭ＝Ｉ０τ０＋Ｉｄτｄ  ・・・・・(5)
測定では得られた陽電子寿命スペクトルを線源をシールドしているポリイミドの寿命成分を除去して一成分解析により、陽電子消滅平均寿命を求めた。
【００５４】
それぞれの鋼について得られた陽電子消滅平均寿命と材料寿命消費率との関係曲線（図６および図10）、陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係曲線（図７および11）をみると、クリープ速度と時間との関係曲線（図４および図８）、ならびにクリープ速度とクリープ歪みとの関係曲線（図５および図９）の変化を極めて良く再現しており、陽電子消滅平均寿命の測定によって、経年使用材の損傷が遷移クリープ領域にあるか、あるいは加速クリープ領域にまで到達しているかは容易に判断できる。
【００５５】
図12は、組織の異なる二つの鋼の陽電子消滅平均寿命と材料寿命消費率との関係曲線を示す図である。この図から明らかなように、供試鋼AおよびBでは、前述したように、遷移クリープ領域での挙動は、全く反対の傾向になるが、加速クリープ領域での挙動は極めて類似している。
【００５６】
図13は、陽電子消滅平均寿命と材料寿命消費率との関係曲線をマスターカーブとして材料の寿命予測を行う方法を説明するための図である。この図は、供試鋼Aを用いて温度700℃、応力50MPaでクリープ破断試験を行い、また、使用前の試験片、クリープ試験を100時間で中断した試験片、同じく300時間で中断した試験片および1982時間で破断した試験片について陽電子消滅試験を行い、それらの結果を、図６をマスターカーブとしてプロットした図である。
【００５７】
図13から明らかなように、試験材の陽電子消滅平均寿命を材料寿命消費率に対してプロットすると、マスターカーブとほぼ同様な曲線上に表される。このことから、経年使用材について、同様な測定を数点行い、マスターカーブと比較することによって、その材料の寿命消費率が推定できる。また、実際の経過時間から、その材料の余寿命を推定することが可能となる。
【００５８】
図14は、焼き戻しマルテンサイト組織を有する鋼について、経年使用材を模擬した試験を行い、材料の寿命予測する方法を説明するための図である。
【００５９】
焼き戻しマルテンサイト組織を有する供試鋼C（表１）について、経年使用材を模擬したクリープ中断試験材（675℃、88MPa）について、陽電子消滅平均寿命を加速クリープ領域まで測定（図では5点）した。得られたデータを曲線回帰して、純鉄の焼鈍材の陽電子消滅寿命値（110psec）となる時間を推定した。得られた材料の推定寿命は5780時間であったが、実際の破断時間は5222時間であり、その差は10％以内と極めて小さい。したがって、マスターカーブがない場合でも、加速クリープ領域まで陽電子消滅平均寿命を複数回測定すれば、寿命値を精度良く推定できる。また、材料の損傷の程度、寿命消費率または余寿命を的確に診断することが可能となる。
【００６０】
【発明の効果】
本発明の余寿命診断方法によれば、高温における経年損傷をうけた耐熱鋼の陽電子消滅寿命を測定し、陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係曲線を作成することによって、その材料の損傷が遷移クリープ領域にあるか、加速クリープ領域に到達しているかを診断することができる。また、予め得られている陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係曲線をマスターカーブと比較することによって、材料の損傷の程度、寿命消費率または余寿命を診断することができる。さらに、その材料が加速クリープ領域にある場合には、完全焼きなまし純鉄の陽電子消滅寿命値（105〜110psec）まで曲線を外挿することによって、材料の寿命値を推定して、損傷の程度、寿命消費率または余寿命を診断することができる。
【００６１】
本発明の方法を用いれば、発電用のボイラやタービン、原子力発電設備、化学工業装置などの高温構造機器に使用される耐熱鋼の主にクリープ変形による経年損傷を評価し、材料の余寿命を高精度で予測して、プラントの更新、または材料の取り替え時期などを的確に診断できる。これにより、安全性と経済性を両立させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】クリープ変形曲線を示す模式図である。
【図２】クリープ速度と時間との関係を示す模式図である。
【図３】クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。
【図４】クリープ速度と試験時間との関係を示す図である。
【図５】クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。
【図６】陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係を示す図である。
【図７】陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係を示す図である。
【図８】クリープ速度と試験時間との関係を示す図である。
【図９】クリープ速度とクリープ歪みとの関係を示す図である。
【図１０】陽電子消滅平均寿命と材料の寿命消費率との関係を示す図である。
【図１１】陽電子消滅平均寿命とクリープ歪みとの関係を示す図である。
【図１２】組織の異なる二つの鋼の陽電子消滅平均寿命と材料寿命消費率との関係曲線を示す図である。
【図１３】陽電子消滅平均寿命と材料寿命消費率との関係曲線をマスターカーブとして材料の寿命予測を行う方法を説明するための図である。
【図１４】焼き戻しマルテンサイト組織を有する鋼について、経年使用材を模擬した試験を行い、材料の寿命予測する方法を説明するための図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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