(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的欠陥を検査する被検査フィルムのフィルム面の両側に被検査フィルムと平行に配置する一対の偏光子と、
この一対の偏光子間の外側に配置し、この一対の偏光子の一方の偏光子を介して被検査フィルムを投光する照明手段と、
前記一対の偏光子間の外側の、前記照明手段の配置位置の反対側に配置し、前記照明手段によって投光されて被検査フィルムから透過した透過光を他方の偏光子を介して受光する受光手段と、
２枚の電極基板間に棒状型液晶化合物であるネマティック液晶を挟持した液晶セルからなる液晶フィルターであり、被検査フィルムと前記一対の偏光子の一方の間に被検査フィルムに平行に配置する光学補償フィルターと、
前記一対の偏光子、前記光学補償フィルター及び前記被検査フィルムを平行に保持した状態で、前記照明手段が前記被検査フィルムに対して傾斜した角度で投光するように前記一対の偏光子、前記光学補償フィルター及び前記被検査フィルムを一体として自在に傾斜させる回転ステージと、を備え、
前記回転ステージを用いて投光の傾斜角度を変えることにより、前記受光手段により前記被検査フィルムから透過した被検査フィルムの欠陥部分を含む透過光の輝度信号値の傾斜角度依存性のデータを得ることを特徴とする被検査フィルムの欠陥検査装置。
【請求項２】
前記光学補償フィルターは、複屈折率による見かけ光軸の方向が、複屈折率を持つ被検査フィルムの見かけ光軸の方向と略一致し、
さらに、前記光学補償フィルターは、前記光学補償フィルターの見かけ光軸方向のリターデーション値と被検査フィルムの前記見かけ光軸方向のリターデーション値との合計値を実質的にゼロとすることによって、被検査フィルムの複屈折率による光学異方性を打ち消す複屈折率及び前記液晶セルの厚みを有する請求項１に記載の欠陥検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検査フィルムの光学的欠陥検査を行い、欠陥部分に起因する視角に対する輝度値のみの変化を正確に定量化することのできる欠陥検査装置、特に、液晶表示装置等に用いる視野角改善フィルムの欠陥部分に起因する視角に対する輝度値のみの変化を正確に測定することのできる視野角拡大フィルム欠陥検査装置の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
今日、液晶表示装置として、ＴＦＴ液晶表示装置やＤＳＴＮ液晶表示装置が広く利用されている。しかし、これらの液晶表示装置は、視認可能な領域に視角依存性があるため、視認可能な領域からはずれると表示画面を見ることが困難になる。たとえば、視角を上方向に傾けた場合、全体に表示画面の色が薄くなってコントラストが低下する。また、視角を下方向に傾けた場合、黒表示部分での階調反転が生じ、視認が困難となる。また、大型の液晶表示装置の画面では表示画面の拡大に伴い視角が広がるため、上記コントラストの低下や階調反転が生じ易い。そのため、広い視認可能な領域を持つ液晶表示装置が望まれている。
【０００３】
このような状況下、液晶表示装置の視野角を改善するために、液晶表示装置の液晶の配向分割方法や負の複屈折率を持つ光学補償膜を用いた位相差膜の方法等が種々検討されている。
例えば、本出願人により開示された特開平６−２１１４１１６号公報では、光学異方素子及びその製造方法が提案されている。それによると、液晶表示装置の液晶セルの液晶分子は、電圧印加時、液晶表示装置の基板の法線方向から若干傾くので、液晶表示装置はこの法線方向から若干傾いた方向に光軸を持つ正の一軸性光学異方素子とみなすことができる。そのため、この傾きに合わせて負の一軸光学異方素子の光学軸を若干傾け、液晶セルによる位相差を光学異方素子の位相差で補償することによって、視角依存性のない良好な液晶表示装置を得ることができる。そして、本出願人により液晶用視野角改善フィルムが市販されている。
【０００４】
このような位相差膜を備える液晶表示装置の視角特性は、市販される視野角測定装置（例えば、長瀬産業社製EZContrastやミノルタ社製CV-1000 等）を用い、例えば、液晶画面全体あるいは液晶画面のうち０．２ｍｍ四方の正方形領域について、視角を種々変化させて液晶表示画面の明度（輝度）を測り、視角依存性のデータを得ている。
【０００５】
ところで、光学異方素子である低分子液晶から成る位相差膜は、最適化された液晶セルの補償状態を画面上で均一に維持するため、厳しい均質性が要求されているものの、たとえば上記液晶用視野角改善フィルムは、液晶の可撓性支持体上に液晶を塗布し乾燥し、さらに配向し、膜を硬化する各種複雑な工程を経て製造されるため、製造工程中に異物が混入したり付着による欠陥が生じたり、さらには所望の負の複屈折率を持たない欠陥部分が生じる場合がある。このような欠陥部分のうち、異物の混入による欠陥や付着による欠陥は、液晶画面上では、欠陥部分が輝点となるものの、視角を変化させても、視角依存性が小さく、欠陥の検出を容易に行うことができる。しかし、所望の負の複屈折率を持たない欠陥、すなわち、シュリーレン欠陥の欠陥部分は、液晶画面上では、例えば、０．１ｍｍ以下の輝点、場合によっては０．０５ｍｍ以下の輝点となって、上記異物混入による欠陥や付着による欠陥等と同様に、容易に視認されるものの、異物の混入による欠陥や付着による欠陥と異なり、視角によって欠陥部分の輝点の輝度値が大きく変化する。たとえば、液晶を塗布する際の前記可撓性支持体の搬送方向に直角な方向にかなり大きな視角依存性を有する。つまり、視角によっては輝点として光る場合や光らない場合があり、視角依存性が強い。しかも、この視角依存性の傾向もシュリーレン欠陥の内容によって異なる。
【０００６】
複雑な製造工程を経て得られる上記液晶用視野角改善の製造ラインにおいて、視角依存性が強く視角依存性の傾向も異なるシュリーレン欠陥の内容に応じて、特定の視角方向から輝度測定を行い、特定のシュリーレン欠陥を検査することが望ましいが、この検査を行うには、製造工程で生じるシュリーレン欠陥の内容とシュリーレン欠陥の欠陥部分に起因する輝点の輝度値の視角依存性を予め対応づけることが必要である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記液晶画面の視野角特性を測定する視野角測定装置では、液晶画面上の０．２ｍｍ以上の領域において、異物の混入による欠陥や付着による欠陥やシュリーレン欠陥の欠陥部分の輝点の存在を確認することができるだけであり、この欠陥部分の輝点の視角による輝度変化を測り、この輝度値の視角依存性と欠陥の内容とを対応させることはできない。
【０００８】
一方、液晶用視野角改善フィルムの両側に偏光子を挟み、その外側の一方から欠陥検査用投影光を入射し、反対側から透過される透過光をＣＣＤカメラ等で受光して欠陥部分の輝度信号を得、この輝度信号を用いて、欠陥検査部分の輝点の輝度値の視角依存性の測定を行うことができると考えられる。しかし、その際、検査対象の液晶用視野角改善フィルム自体が複屈折率を持つ負の一軸光学異方素子であるため、正常な部分の輝度値も視角により変化する。その結果、正常な部分の輝度変化の影響を受けて、欠陥部分の輝点の輝度値のみの変化を得ることができない。欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性から正常な部分の輝度値の視角依存性を差し引くことによって、真の欠陥部分の輝点の輝度値のみの視角依存性を推定することも考えられるが、正常な部分の輝度値の視角依存性が大きいために、シュリーレン欠陥の欠陥部分に起因する輝点の輝度値と正常な部分の輝度値との差を正確に測定することはできない。
このような問題は、液晶視野角改善フィルムのみならず、屈折率を利用する位相差膜全体に共通する問題である。
【０００９】
そこで、本発明は、上記問題点を解消し、光学的欠陥検査の対象となる被検査フィルムを透過した透過光の輝度値から被検査フィルムの光学的欠陥を検査する欠陥検査装置であって、視角によって変化する被検査フィルムの正常な部分の輝度を背景明度（輝度）として含むことなく、シュリーレン欠陥の欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に測定することのできる欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光学的欠陥を検査する被検査フィルムのフィルム面の両側に被検査フィルムと平行に配置する一対の偏光子と、この一対の偏光子間の外側に配置し、この一対の偏光子の一方の偏光子を介して被検査フィルムを投光する照明手段と、前記一対の偏光子間の外側の、前記照明手段の配置位置の反対側に配置し、前記照明手段によって投光されて被検査フィルムから透過した透過光を他方の偏光子を介して受光する受光手段と、２枚の電極基板間に棒状型液晶化合物であるネマティック液晶を挟持した液晶セルからなる液晶フィルターであり、被検査フィルムと前記一対の偏光子の一方の間に被検査フィルムに平行に配置する光学補償フィルターと、前記一対の偏光子、前記光学補償フィルター及び前記被検査フィルムを平行に保持した状態で、前記照明手段が前記被検査フィルムに対して傾斜した角度で投光するように前記一対の偏光子、前記光学補償フィルター及び前記被検査フィルムを一体として自在に傾斜させる回転ステージと、を備え、前記回転ステージを用いて投光の傾斜角度を変えることにより、前記受光手段により前記被検査フィルムから透過した被検査フィルムの欠陥部分を含む透過光の輝度信号値の傾斜角度依存性のデータを得ることを特徴とする被検査フィルムの欠陥検査装置を提供する。
【００１１】
その際、前記光学補償フィルターは、複屈折率による見かけ光軸の方向が、複屈折率を持つ被検査フィルムの見かけ光軸の方向と略一致し、
さらに、前記光学補償フィルターは、前記光学補償フィルターの見かけ光軸方向のリターデーション値と被検査フィルムの前記見かけ光軸方向のリターデーション値との合計値を実質的にゼロとすることによって、被検査フィルムの複屈折率による光学異方性を打ち消す複屈折率及び前記液晶セルの厚みを有するのが好ましい。
また、被検査フィルムが円盤状化合物から成り、配向がチルト配向またはハイブリッド配向の場合、前記光学補償フィルターのネマティック液晶は、チルト配向またはハイブリッド配向されるのが好ましい。
さらに、被検査フィルムに入射する投影光の入射角を調整する入射角調整手段を備えるのが好ましい。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の欠陥検査装置について、添付の図面に示される好適実施例を基に詳細に説明する。なお、以降で用いる欠陥とは、上述したシュリーレン欠陥をいう。
【００１３】
図１（Ａ）および（Ｂ）は、本発明の欠陥検査装置の一例である液晶用視野角改善フィルムの欠陥検査を行う光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０の正面図および側面図をそれぞれ示す。図２は、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０の要部を示す説明図である。なお、本発明の欠陥検査装置の欠陥検査は、液晶用視野角改善フィルムの欠陥検査に限られず、複屈折率を利用する位相差膜の欠陥検査に適用することができる。
光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、欠陥検査を行う液晶用視野角改善フィルム（以降、被検査フィルムという）Ｆのフィルム面の両側に被検査フィルムＦのフィルム面に平行に配置する一対の偏光子１２ａおよび１２ｂと、偏光子１２ｂと被検査フィルムＦとの間に平行に配置する光学補償フィルター１４と、偏光子１２ｂの外側下方に配置し、偏光子１２ｂを介して被検査フィルムＦを投光する光源１６と、偏光子１２ａの外側上方に配置し、被検査フィルムＦから透過した透過光を偏光子１２ａを介して受光するＣＣＤカメラ１８と、偏光子１２ｂ、光学補償フィルター１４、被検査フィルターＦおよび偏光子１２ａに順次入射する光源１６からの投影光の入射角を調整し、被検査フィルムＦの欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性を測定するための入射角（視角）調整機構であるθ1 ステージ２８とを主に有して構成される。
【００１４】
光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、概説すると、図２に示されるように、光学的欠陥を検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し、さらに、偏光子１２ｂと被検査フィルムＦとの間に光学補償フィルター１４を被検査フィルムＦに平行に配置し、偏光子１２ｂの外側下方から、偏光子１２ｂを介して被検査フィルムＦに光源１６から投光して、所定の視角θ1 の入射角で入射光を入射させ、偏光子１２ａから出てくる被検査フィルムＦの透過光を、偏光子１２ａの外側上方に配置したＣＣＤカメラ１８で受光し、受光して得られた信号より、欠陥部分の輝度値を測定する装置である。
【００１５】
偏光子１２ａは、光源１６から照射される投影光を直線偏向あるいは、ほぼ直線偏向して、光学補償フィルター１４に入射させる部位であり、公知の偏向子が用いられる。
偏光子１２ｂは、偏光子１２ａと平行に配置され、光学補償フィルター１４および被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏向した透過光、あるいは楕円偏向した欠陥部分の透過光の一部分を透過させる部位であり、偏光子１２ａと同様の公知の偏光子が用いられる。なお、偏光子１２ａと１２ｂは、クロスニコル方式に偏向方向が配置され、偏光子１２ｂの偏向方向に透過光が偏向成分を持たない場合、偏光子１２ｂから透過光が透過することはない。
【００１６】
光源１６は、被検査フィルムＦの欠陥部分を投影する投影光を照射する光源で、可視域にスペクトルを有する投影光の光源であれば制限はなく、特に白色光源が好ましい。
ＣＣＤカメラ１８は、光源１６から、所定の角度で入射され、偏光子１２ｂ、光学補償フィルタ１４、被検査フィルムＦおよび偏光子１２ａを介して透過された透過光を受光し、透過光の輝度信号を得るもので、基台２０に対して高さ方向の位置を調整することのできるＺステージ２２上に配置される。なお、Ｚステージ２２の高さ調整は、手動つまみ２４で調整することができる。
また、透過光をＣＣＤカメラ１８で受光する際、ＣＣＤ素子の配列される受光面で透過光が適切に結像するように、ＣＣＤカメラ１８の下方には対物レンズ２６が配置され、調整される。
【００１７】
また、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、被検査フィルムＦと光学補償フィルター１４とその外側から被検査フィルムＦと光学補償フィルタ１４を挟持する偏光子１２ａおよび１２ｂからなる測定層Ｌを後述するθ2 ステージ３４の上に載置して一体に保持した後、被検査フィルムＦに入射する投影光の入射角（視角）θ1 を調整するために、図１（Ｂ）に二点鎖線で示されるように、測定層Ｌを所定の角度傾けることのできるθ1 ステージ２８を備える。このθ1 ステージ２８の角度調整は、手動つまみ３０で行われ、入射角（視角）θ1 を−６０度から＋６０度の範囲で調整することができる。手動つまみ３０で調整される入射角（視角）θ1 の読取は、θ1 ステージの回転軸に機械的に接続されるロータリーエンコーダ３２によって得られデータ処理部３８に送られたパルス信号から回転角度に変換されることによって行われる。
さらに、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、測定層Ｌを所定の方位方向（方位角θ2 ）に回転することのできるθ2 ステージ３４を備える。θ2 ステージ３４による方位角θ2 の回転調整は、手動つまみ３６で０〜３６０度の全範で調整することができる。θ2 ステージ３４を設け、この方位方向の調整を行うのは、欠陥部分の輝点の輝度値は、投影光の入射角（視角）θ1 によって大きく変化するほか、方位角θ2 によっても変化するからである。
【００１８】
光学補償フィルター１４は、図３に示すように、ネマティック液晶１４ａを有する。ネマティック液晶１４ａは、透明電極１４ｂ、１４ｂを有したラビング処理済み配向膜１４ｃ、１４ｃを備えたガラス基板１４ｄ、１４ｄ間に保持し、さらに、透明電極１４ｂ、１４ｂの間に、所定の電圧を印加して、ネマティック液晶１４ａの棒状型液晶化合物を、ガラス基板１４ｄ、１４ｄの基板面から所定の方向にチルト配向またはハイブリッド配向するように構成される。
【００１９】
光学補償フィルター１４の光学特性である複屈折率を規定する棒状型液晶化合物の配向方向およびリターデーション値は、以下のように定める。
被検査フィルムＦの光学屈折率特性を屈折率楕円体として近似的に扱い、その３軸屈折率を、ｎ1 、ｎ2 およびｎ3 とする。ここで、屈折率ｎ2 と屈折率ｎ3 はほぼ同等であり、屈折率ｎ1 を持つ方向が光学軸方向（見かけ光学軸方向）である。このとき、｛ｎ1 −（ｎ2 ＋ｎ3 ）／２｝×（被検査フィルムＦの厚み）を見かけ光軸方向のリターデーション値Ｒthと定義する。
また、光学補償フィルター１４の光学屈折率特性を、被検査フィルムＦと同様に、屈折率楕円体として近似的に扱い、その３軸屈折率をＮ1 、Ｎ2 およびＮ3 とし（屈折率Ｎ1 を持つ方向が見かけ光学軸方向である）、｛Ｎ1 −（Ｎ2 ＋Ｎ3 ）／２｝×（液晶フィルター１４の液晶セルの厚み）を見かけ光軸方向のリターデーション値ＲTHと定義する。
この時、被検査フィルムＦが屈折率ｎ1 を持つ見かけ光軸方向と光学補償フィルター１４が屈折率Ｎ1 を持つ見かけ光軸方向とが略一致し、リターデーション値Ｒthとの合計値が、実質的にゼロになるように、すなわち、合計値が０〜５０ｎｍとなるように調整する。好ましくは、合計値が０〜２０ｎｍとなるように調整する。
【００２０】
ここでリターデーション値とは、複屈折率を有する液晶内を光が進行する際、光の振動面の向きによって、たとえば進行方向に直交する２方向の向きによって屈折率が異なり進行速度が異なるため、液晶から透過した透過光はこの直交する２方向の向きによって位相差が生じるが、そのときの位相のズレに関する量である。
そのため、光が液晶を進行する距離、すなわち液晶の厚みに応じて位相のズレ量も変わる。従って、光学補償フィルター１４の液晶セルの厚みを調整して、位相のズレ量がなくなるように、リターデーション値を所望の値に設定することができる。
【００２１】
例えば、被検査フィルムＦが負の一軸光学異方素子の場合、光学補償フィルター１４を正の一軸光学異方素子とし、光学補償フィルター１４の見かけ光学軸を被検査フィルムＦの見かけ光学軸に略一致させ、さらに、光学補償フィルター１４の見かけ光学軸方向のリターデーション値と被検査フィルムＦの見かけ光学軸方向のリターデーション値との合計値が実質的にゼロとなるように設計する。すなわち、被検査フィルムＦと光学補償フィルター１４を重ねることによって、光学的に等方的屈折率を持つ光学素子となるように形成する。
【００２２】
図４は、被検査フィルタＦの光学異方素子が負の屈折率楕円体で、光学補償フィルター１４の液晶が正の屈折率楕円体で近似される場合の光学補償フィルター１４と被検査フィルムＦとこれらの光学素子を透過した透過光の状態を説明している。
図４に示されるように、図中下方から光源１６によって投影されて、偏向子１２ｂを介して一方向に偏向した投影光は、入射角（視角）θ1 の角度で光学補償フィルター１４に入射する。光学補償フィルター１４は、図中のような正の屈折率楕円体４０で表され、この複屈折率によって、予め位相差の付いた楕円偏向した透過光４２となり、この透過光４２が被検査フィルムＦに入射する。被検査フィルムＦは、負の屈折率楕円体４４で表され、しかも見かけ光軸の方向は光学補償フィルター１４と同じ方向であり、光学補償フィルタ１４により予め付けられた位相差を被検査フィルムＦが相殺するように、光学補償フィルター１４のリターデーション値が設定されているので、被検査フィルムＦの正常な部分を透過した透過光は、ほぼ直線偏向した光に戻り、偏向子１２ａの偏向方向に偏向した成分を持つ透過光、例えば被検査フィルムＦの欠陥部分を透過した透過光以外は透過せず、ＣＣＤカメラ１８に到達することはない。
同様に、被検査フィルムＦが正の一軸光学異方素子の場合、光学補償フィルター１４を負の一軸光学異方素子として、被検査フィルター１４の光学的異方性を補償することもできる。
【００２３】
本実施例の光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、図２に示すように、光学補償フィルター１４を被検査フィルムＦより光源１６側に配置して、光学補償フィルター１４で予め複屈折率によって投影光に位相差を付けた後、被検査フィルムＦに入射させているが、先に被検査フィルムＦに投影光を入射して、位相差の付いた透過光を光学補償フィルター１４によって補償するために、被検査フィルムＦを光学補償フィルター１４より光源１６側に配置してもよい。
【００２４】
このように、本発明では、見かけ光軸を被検査フィルムＦの見かけ光軸と合わせ、さらに被検査フィルムＦの見かけ光軸とそれに直交する方向の屈折率の差によって生じる透過光の振動面の向きによる位相のズレ量を光学補償フィルター１４で補償することによって、位相のズレがなく楕円偏向をしない透過光を得ることができ、被検査フィルムＦの正常部分の輝度値の視角依存性を抑制することができる。
【００２５】
このような光学的特性を備える光学補償フィルター１４のネマティック液晶１４ａは、以下のように構成される。
たとえば、被検査フィルムＦの材料が、トリフェニル誘導体から構成される円盤状化合物から成り、その配向角度が一定であるチルト配向、または配向角度が液晶の厚み方向で徐々に変化するハイブリッド配向の場合、光学補償フィルター１４は、棒状型化合物のネマティック液晶１４ａを、円盤状化合物の配向方向に対応させてチルト配向またはハイブリッド配向とすることが好ましい。
なお、ネマティック液晶１４ａは、公知のものであればいずれのものでもよく、例えば、以下に示すように、２つの1,4-フェニル基をコアとして直接接続し、末端基としてシアン基とアルキル基を上記２つのコアの両サイドに伸びるように配置する構造や、上記２つのコアの間に−ＣＯＯ−基を結合基として配置する構造を代表例として挙げることができる。
【化１】
0003803999.tif 000002
【化２】
0003803999.tif 000003
【００２６】
光学補償フィルター１４が備えられていない場合、視野角拡大のために複屈折率を持つ位相差膜は、偏光子と組み合わせると、視角によって透過光の光量に大きな変化が生じ、すなわち、正常な部分の輝点の輝度変化が大きく、これが欠陥部分の輝点の輝度変化に影響を与え、欠陥部分に起因する輝点の輝度変化のみを得ることができない。しかし、光学補償フィルター１４を備えることによって、正常部分からの透過光はＣＣＤカメラ１８に到達せず、輝度値が小さく、また視角によって変化しないため、欠陥部分の輝点の輝度値の変化を測るだけで、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみの変化を簡単に得ることができる。
【００２７】
また、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は、ＣＣＤカメラ１８で得られた輝度信号をデジタルデータとしてＡＤ変換して画像データとするコンピュータから成るデータ処理装置３８に接続される。データ処理装置３８は、得られた画像から、欠陥部分の輝点の最も高い１画素の位置または複数画素の範囲を指定して、所定の視角（入射角）θ1および所定の方位角θ2での輝度値を得ることができる。複数画素の範囲を指定する場合、輝度値の平均値を得る。また、上記方法によって指定された位置や指定された範囲の輝度信号値を得てもよい。
また、θ1ステージ２８を調整して視角（入射角）θ1を変化させて、欠陥部分の輝点の輝度値の変化を測定し、後述する図５（Ｂ）に示すような、欠陥部分の輝点の輝度値のみの視角依存性を得ることができる。
【００２８】
光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０は以上のように構成される。次に、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０を用いて被検査フィルムＦの欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性を得る方法を説明する。
【００２９】
まず、偏光子１２ａと光学補償フィルター１４の間に被検査フィルムＦを挿入し、偏光子１２ａ、被検査フィルムＦ、光学補償フィルター１４および偏光子１２ｂを平行に配置した測定層Ｌを形成し、θ2ステージ３４上に載置固定する。さらに偏光子１２ａの外側に直径１ｍｍの孔の開いた図示されない金属板を重ね、予め目視することによって注目する欠陥部分を上記直径１ｍｍの孔に合わせる。この配置関係を維持したまま、Ｚステージ２２により、基台２０に対する高さ方向の位置を調整して、ＣＣＤ素子の配列される受光面に適切に結像するように調整する。
さらに、θ2ステージ３４により、方位角θ2を所望の値に調整する。位相差膜、例えば液晶用視野角改善フィルムの場合、可撓性支持体上に液晶を塗布する際の液晶の塗布ムラや、ラビング処理を行う際の配向の乱れ等による欠陥は、方位角θ2によって視角依存性を適切に得ることができない場合があるからである。方位角θ2の調整方法は、ＣＣＤカメラ１８によって撮影された画像をデータ処理装置３８に付属する図示されない画像表示装置に撮影画像を表示させ、欠陥部分の輝点の輝度値の最も高くなる方位角θ2 を探し出す。
【００３０】
つぎに、定まった方位角θ2を維持したまま、視角（入射角）θ1を−６０度から＋６０度の範囲で、ロタリーエンコーダ３２から送られてくる回転角度のパルス信号を読み取って視角θ1を設定し、目視によって金属板の直径１ｍｍの孔に位置合わせして欠陥部分の輝点を含んだ像をＣＣＤカメラ１８によって撮影する。撮影した像の輝度信号はデータ処理装置３８に送られ、ＡＤ変換やＬＯＧ変換等を行って画像データとし、図示されない画像表示装置に表示する。オペレータは、表示された画像から欠陥部分の輝点を、マウスやキーボード等による入力系により画素単位あるいは複数の画素単位で指示し、欠陥部分の輝点の輝度値を測る。
【００３１】
光学補償フィルター１４は、上述したように、被検査フィルムＦの光学的異方性を補償するために、光学補償フィルター１４を設け、光学補償フィルター１４と重ねることによって光学的に等方性の屈折率を持つように構成されるので、被検査フィルムＦの正常な部分の輝度値は視角依存性がなく、視角θ1 によらない一定の輝度値を得ることができる。そのため、欠陥部分の輝点の輝度値は、正常な部分の輝度値の影響を受けることがない。その結果、θ1 ステージ２８を用いて視角θ1 を変化して、欠陥部分の輝点の輝度値を測定することによって、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみの変化を得ることができ、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみの視角依存性を得ることができる。
【００３２】
このような光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０を用いた実施例を示す。被検査フィルムＦは、液晶用視野角改善フィルムであり、ＴＦＴ液晶表示装置に用いられる富士写真フィルム株式会社製ＷＶフィルムとした。なお、このＷＶフィルムは、トリフェニルレン誘導体からなるディスコティック液晶を所定方向に配向した位相差膜である。なお、ディスコティック液晶とは、円盤状のコアを有し、そこから放射状に側鎖が伸びた構造を備える公知の構造の液晶である。
【００３３】
このＷＶフィルムの光学特性である複屈折率をユニオプト社製自動複屈折率測定装置ＡＢＲ−１０Ａを用いて測定したところ、光学的に負の一軸特性を持つ屈折率楕円体で近似することができ、レターデーション値の最小値を有する視角方向、すなわち見かけ光軸方向が、ＷＶフィルム面の法線から２３度傾斜した方向であった。また、この見かけ光軸方向のリターデーション値Ｒthを求め、−１００ｎｍの値を得た。
【００３４】
そこで、上記ＷＶフィルムの負の一軸特性を有する複屈折率に対応して、これを補償する光学補償フィルターを作成した。ＷＶフィルムは、ＷＶフィルム面の法線から２３度傾斜した方向に見かけ光軸が存在するので、見かけ光軸がガラス基板１４ｄの基板面の法線方向から２３度の方向に見かけ光軸が向いた正の一軸特性を有する複屈折率の光学補償フィルター１４を作成した。
ネマティック液晶として、１５℃以上４０℃以内でネマティック相を形成するシクロヘキサン系液晶ブレンドを採用し、公知の方法によってラビング処理を行ったポリイミド系配向膜１４ｃ、１４ｃをガラス基板１４ｄ、１４ｄの上に配した透明電極層１４ｂ、１４ｂの上に配置し封入し、ネマティック液晶を一旦ホモジニアス配向とした後、見かけ光軸がガラス基板面の法線方向から２３度の方向を向くように、透明電極層１４ｂ、１４ｂに所定の電圧を印加した。その結果、ガラス基板１４ｄの基板面から液晶分子が６７度傾斜したチルト配向の液晶を得ることができた。
なお、ＷＶフィルターのリターデーション値を補償して、光学的等方的な屈折率を得るために、光学補償フィルター１４の見かけ光軸方向のリターデーション値ＲTHが＋１１０ｎｍとなるように、液晶の厚みを調整した。チルト配向後においても、光学補償フィルター１４の見かけ光軸方向のリターデーション値ＲTHは＋１１０ｎｍであった。
【００３５】
まず、ＷＶフィルムの正常な部分について、光学補償フィルター１４の有無によって透過率がどのように変化するか調べた。
最初、光学補償フィルター１４の無い場合として、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０から光学補償フィルター１４を抜き取り、偏光子およびＷＶフィルムからなる測定層に対して、視角（入射角）θ1 を−８０度から＋８０度の範囲で投影光に対する透過光の比率、すなわち透過率を測定し、図５（Ａ）に示す結果を得た。それによると、視角θ1 が０度すなわち、ＷＶフィルムのフィルム面の法線方向から入射した投影光は、透過率がゼロに近くほとんど透過しないが、視角θ1 が０度から離れ、＋−１５度を超えると透過率が大きくなり、光が透過し易くなることがわかった。
一方、光学補償フィルター１４の有る場合として、光学補償フィルター１４を備える光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０を用い、光学補償フィルター１４の無い場合と同様に透過率を測定した。その結果、図５（Ｂ）に示すように、透過率の視角依存性が極めて小さく、透過率はほぼゼロであることがわかった。このように、光学補償フィルター１４がない場合、欠陥部分の周りの正常な部分の輝度が急激に大きくなり、欠陥部分の輝点の輝度値の測定に影響を与え、欠陥部分に起因した正確な輝度値のみを得ることができない。
【００３６】
そこで、目視によってＷＶフィルムの欠陥部分を見出し、まず、光学補償フィルターの無い場合として、光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０から光学補償フィルター１４を抜き取り、偏光子およびＷＶフィルムからなる測定層を用いて、欠陥部分の輝点の輝度値の変化を測定した。測定は、入射角（視角）θ1 を−４５度〜＋５０度の範囲で振って行った。その結果、図６（Ａ）に示す欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性のグラフを得た。
また、同じ欠陥部分の輝点の輝度値の変化を、本発明の欠陥検査装置である光学補償フィルター付き欠陥検査装置１０を用いて−６０度〜＋６０度の範囲で測定した。その結果、図６（Ｂ）に示す欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性のグラフを得た。
図６（Ａ）および図６（Ｂ）を比較すると、光学補償フィルター１４を用いない場合は、視角θ1 が＋２０度より大きくなると、あるいは視角θ1 が−４０度より小さくなると輝点の輝度値が、図６（Ａ）で示される視角依存性に対応して、急激に上昇し、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に得ることができないが、光学補償フィルター１４を用いた場合、図６（Ｂ）に示すように、視角依存性が小さいため、図６（Ａ）と異なり、視角θ1 が＋２０度より大きい範囲や視角θ1 が−４０度より小さい範囲でも、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に得ることができた。
このように、本発明の欠陥検査装置では、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に得られることは明らかである。
【００３７】
本発明によれば、このように欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に得られるので、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみの視角依存性を得、製造工程で生じるシュリーレン欠陥の内容とシュリーレン欠陥の欠陥部分の輝点の輝度値のみの視角依存性を予め対応づけることができ、特定のシュリーレン欠陥を検査するために特定方向からの視角による輝度測定を製造ライン上で行うことが可能となる。
さらに、本発明の光学補償フィルター付き欠陥検査被検査は、フィルムＦに投影光の入射する入射角を変化させて欠陥部分の輝点の輝度値の視角依存性を測定する場合に適用されるばかりでなく、位相差膜等を透過した透過光をＣＣＤカメラ等で受光して撮影する際に、カメラの視角の大きくなる撮影の両端部分のバックグラウンドの明度（輝度）を抑え、この両端部分の欠陥の検出を安定的に行うことができる。特に、視野範囲を広くして欠陥検査のために撮影する場合、撮影領域の両端部分のみならず、撮影領域の比較的中心部分の範囲についてもバックグラウンドの明度（輝度）を一定に抑えることができ、欠陥の検出を誤検出することなくより安定的に行うことができる。
【００３８】
以上、本発明の欠陥検査装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良および変更を行ってもよいのはもちろんである。
【００３９】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、被検査フィルムの光学的欠陥部分を検査する際に、被検査フィルムの複屈折率に応じて、光学補償フィルターを用いて被検査フィルムの複屈折率を補償することができるので、視角によって変化する被検査フィルムの正常な部分の輝度を背景明度（輝度）として含まず、欠陥部分に起因する輝点の輝度値のみを正確に測定することができる。
また、投影光の入射角を調整する入射角調整手段を備えるので、シュリーレン欠陥に起因する視角に対する輝度値のみの変化を正確に測定でき、シュリーレン欠陥の内容と欠陥の輝点の輝度値の視角依存性を予め対応づけることができる。さらに、位相差膜等を透過した透過光をＣＣＤカメラ等で受光して撮影する際に、カメラ視角の大きくなる撮影部分の両端のバックグラウンドの明度（輝度）を抑え、この両端部分の欠陥の検出を安定的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  （Ａ）は本発明の欠陥検査装置の一実施例を示す正面図であり、（Ｂ）は、図１（Ａ）に示される実施例の右側面図である。
【図２】  本発明の欠陥検査装置の一実施例の要部を概略説明する説明図である。
【図３】  本発明の欠陥検査装置の光学補償フィルターの一実施例を示す断面図である。
【図４】  本発明の欠陥検査装置の光学補償フィルターおよび被検査フィルムの作用を説明する説明図である。
【図５】  （Ａ）および（Ｂ）は、光学補償フィルターの有無による被検査フィルムの正常部分の透過率の視角依存性の差を説明する説明図である。
【図６】  （Ａ）および（Ｂ）は、光学補償フィルターの有無による被検査フィルムの欠陥部分の輝度値の視角依存性の差を説明する説明図である。
【符号の説明】
１０  光学補償フィルター付き欠陥検査装置
１２ａ、１２ｂ  偏光子
１４  光学補償フィルター
１６  光源
１８  ＣＣＤカメラ
２０  基台
２２  Ｚステージ
２４、３０、３６  手動つまみ
２６  対物レンズ
２８  θ1ステージ
３２  ロータリーエンコーダ
３４  θ2ステージ
３８  データ処理装置
４０、４４  屈折率楕円体
４２  透過光
【図１】
0003803999.tif 000004
【図２】
0003803999.tif 000005
【図３】
0003803999.tif 000006
【図４】
0003803999.tif 000007
【図５】
0003803999.tif 000008
【図６】
0003803999.tif 000009