(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接続端子ブロック（１）が設けられており、該接続端子ブロックに電気的かつ機械的に電子モジュール（７）が差込み接続可能であり、該電子モジュール（７）に配置された遮断装置（９）が、接続端子ブロック（１）と電子モジュール（７）との電気的な接続部に設けられている形式のものにおいて、
遮断装置が、接続端子ブロック（１）に電気的に接続するための、電子モジュール（７）の電気的な差込みコネクタ（１０）と、試験プラグ接続部（１１）とを有する遮断部材（９）であり、
該遮断部材（９）のケーシング（１３）が、電子モジュール（７）のケーシング（８）の外壁の下縁部に被さるように、電子モジュールのケーシング（８）に対して内側に位置する区分（１４）と、外側に位置する、該外壁の高さ方向に延びる区分（１５）とを有しており、これらの区分（１４，１５）の間に、電子モジュール（７）のケーシング（８）の前記外壁の領域のためのガイドギャップ（２１）が形成されており、
該外側に位置する区分（１５）の下側の領域に、電気的な差込みコネクタ（１０）が位置しており、該差込みコネクタのために、接続端子ブロック（１）の適当な対向個所に差込み接続部（６）が設けられており、該遮断部材（９）が、電子モジュール（７）の差込み接続ゾーンでこの電子モジュールに、接続端子ブロック（１）と電子モジュール（７）とを電気的に接続する閉鎖位置と、接続端子ブロック（１）と電子モジュール（７）との電気的な接続を遮断する遮断位置との間で変位可能に保持されており、
遮断部材（９）に設けられた差込みコネクタ（１０）が、下方に向かって接続端子ブロック（１）の差込み接続部（６）に向いた差込みラグ（１６）を有しており、該差込みラグが導体レール部材（１７）に設けられており、これらの導体レール部材から上方に向かって試験プラグ接続部のためのコンタクトラグ（１８）が分岐していて、これらの導体レール部材から下方に向かって別の導体レール部材（１９）が分岐しており、該導体レール部材（１９）が、遮断部材（９）の前記電子モジュールのケーシング（８）に対して内壁側に位置する区分（１４）にまで延びていて、この場所で電子モジュール（７）の電子装置に対するコンタクトとして形成されていることを特徴とする、電子モジュールを備えた接続端子ブロック。
【請求項２】
遮断部材（９）と電子モジュール（７）のケーシング（８）との間で作用するロック装置（２６，２７）が設けられており、該ロック装置が、遮断部材（９）の遮断位置で試験プラグ（１２）を差込むことによって作動可能である、請求項１記載の接続端子ブロック。
【請求項３】
遮断部材（９）のケーシング（１３）の、前記外側に位置する区分（１５）の上端部域に試験プラグ接続部（１１）が設けられている、請求項１記載の接続端子ブロック。
【請求項４】
電子モジュール（７）のケーシング（８）の前記遮断部材（９）と協働する壁領域に、高さ方向に所定の間隔を置いて互いに上下に係止切欠き（２２，２３）が設けられており、該係止切欠きのために、電子モジュール（７）に遮断部材（９）を保持しかつケーシング（１３）における遮断部材（９）の閉鎖位置と遮断位置とを規定する目的で、係止フック（２４，２５）が互いに適当な間隔を置いて設けられている、請求項１記載の接続端子ブロック。
【請求項５】
ロック装置が、遮断部材（９）に設けられたばね部材（２６）から形成されており、該ばね部材が、静止位置では遮断部材（９）の試験プラグ接続部（１１）に突入していて、電子モジュール（７）のケーシング（８）の壁の方向にばね弾性的に変位可能であり、該壁の対応位置にこれらのばね部材をロックして収容する切欠き（２７）が設けられている、請求項２記載の接続端子ブロック。
【請求項６】
個々の接続プレート（２）から構成された接続端子ブロック（１）が、接続プレート（２）に、遮断部材（９）に空間的に隣合って、各接続プレート（２）に電位の、前記高さ方向に直交する横方向の分配を行うコーム形横方向コネクタ（２８）のための差込み収容部を有している、請求項１記載の接続端子ブロック。
【請求項７】
遮断部材（９）のケーシング（１３）の前記電子モジュール（７）に対して外壁側に位置する区分（１５）が、該区分に隣合って、閉鎖位置においてもコーム形横方向コネクタ（２８）のための空間が残るような高さで高さ方向に案内されている、請求項６記載の接続端子ブロック。
【請求項８】
遮断部材（９）の遮断位置に差込まれた試験プラグ（１２）が、接続端子ブロック（１）の側方外側で隣合った試験接続部（３０）に差込まれた試験プラグ（３１）に対して、高さをずらした状態で上方に設けられるように、遮断部材（９）の、閉鎖位置と遮断位置との間の高さ変位可能性と試験プラグ接続部（１１）の高さ位置とが設定されている、請求項１から７までのいずれか１項記載の接続端子ブロック。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、接続端子ブロックが設けられており、該接続端子ブロックに電気的かつ機械的に電子モジュールが差込み接続可能であり、該電子モジュールに配置された遮断装置が、接続端子ブロックと電子モジュールとの電気的な接続部に設けられている形式のものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
公知のこのような形式の接続端子ブロック（ドイツ連邦共和国特許第４１２１８３６号明細書）の場合、遮断装置がモジュールの上側領域に位置している。これによりこの遮断装置は、接続端子ブロックの配線平面の明らかに上方に見易く配置されてはいるものの、このためには電子モジュールにおける導体レール部材が大きく上方に向かって案内され、さらにその場所から再び下方に向かって案内されなければならない。さらに、専らこのような遮断機能のための極めて複雑な遮断個所を形成しなければならず、しかも、このような遮断個所の構造においては、試験プラグのための、遮断個所に通じる固有の差込み接続部を電子モジュールのケーシング内に形成しなければならない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、冒頭で述べた形式の接続端子ブロックを改良して、可能な限り僅かな構造上の手間と小さな所要スペースとで遮断・試験機能を可能にするような接続端子ブロックを提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために本発明の構成では、遮断装置(Trenneinrichtung)が、接続端子ブロックに電気的に接続するための、電子モジュールの電気的な差込みコネクタと、試験プラグ接続部とを有する遮断部材(Trennstueck)であり、該遮断部材が、電子モジュールの差込み接続ゾーンでこの電子モジュールに、閉鎖位置と遮断位置との間で変位可能に保持されているようにした。
【０００５】
【発明の効果】
本発明の場合、遮断装置が電子モジュールの差込み接続ゾーンに位置していることにより、遮断個所に通じる固有の導体レール等を設けなくても済む。このことは、このような遮断部材が電子モジュールに対して差込みコネクタ機能をも同時に有し、その他の点ではこの遮断部材自体が直接的にモジュールにおける電子装置の試験のための試験プラグの差込みを可能にしているだけに尚更である。従って電子モジュールが差込まれると、この遮断部材は閉鎖位置において電子モジュールと接続端子ブロックとの間の差込み個所における電気的な差込み接続を保証する。遮断位置においては、接続端子ブロックに対するこの差込み個所における電気的な接続が遮断されるので、遮断部材への試験プラグの差込みによりモジュールに設けられた電子装置の所望の試験を行うことができる。電子モジュールの取出し時には遮断部材は電子モジュールに付着したままである。それというのは遮断部材が電子モジュールに保持されているからである。
【０００６】
このような接続端子ブロックの特に有利な構成では、遮断部材と電子モジュールのケーシングとの間で作用するロック装置が設けられており、該ロック装置が、遮断部材の遮断位置で試験プラグを差込むことによって作動可能である。これにより試験を目的として試験プラグを差込むことによっては遮断部材が閉鎖位置に再び押戻されないことが確実に保証される。
【０００７】
本発明の別の有利な構成では、遮断部材の少なくとも一部が、電子モジュールの下側の外壁域でこの外壁の高さ方向に延びており、この遮断部材が、接続端子ブロックに向いた下側の端部域に電子モジュールの差込みコネクタを支持している。このために、接続端子ブロックに設けられた差込みコネクタも、これらの差込みコネクタが互いに協働することができるように電子モジュールに対して比較的大きく外方に向かって設けられている。さらに、接続端子ブロックに選択的に、分離装置を備えた電子モジュールを挿入することも、一層広幅の構造を備えた電子モジュールを分離装置なしで挿入することもできるという利点が得られる。
【０００８】
本発明のさらに別の有利な構成では、遮断装置の前記電子モジュールの下側の外壁域でこの外壁の高さ方向に延びる部分の上面に、試験プラグ接続部が位置している。このような上側の領域においては遮断部材はハンドルとして構成されていてもよい。これにより、接続端子ブロックの配線平面に対して十分な距離を得ることができるので、この遮断部材の見易さおよび操作し易さが維持される。さらに遮断部材への差込み時における試験プラグの操作も行い易い。この場合、この遮断部材は上側の遮断位置に位置しているので尚更である。
【０００９】
【発明の実施の形態】
次に本発明を、図面に示した実施の形態について説明する。
【００１０】
図１において側面図で示された接続端子ブロック１は汎用のもののように、相並んで組立てられた多数の接続プレート２から形成されている。これらの接続プレートは、図１で見て奥に向かって互いに隣合っている。それぞれの接続プレート２は電気的に絶縁性のプラスチック製のケーシング３に、導電体を接続するための接続部４を支持している。この実施例においては、これらの接続部４は導体レール部材５を介して差込み接続部６に結合されている。さらには電子モジュール７が設けられている。この電子モジュールは、接続プレート２により形成された接続端子ブロック１に電気的かつ機械的に差込み接続可能である。機械的な接続は、汎用のものの形式で、電子モジュール７のケーシング８の適宜に形成されたケーシング部分を、接続端子ブロック１に設けられた適当な収容切欠きに差込むことにより行われる。この収容切欠きは、接続プレート２の、相並んだプラスチック製のケーシング３により形成されている。この差込み接続部は機械的に係止すると有利である。
【００１１】
さらに遮断装置が電子モジュール７と接続端子ブロック１との電気的な接続部に設けられている。この遮断装置は本発明では遮断部材９である。この遮断部材には、接続端子ブロック１の差込み接続部６に差込み、ひいては接続端子ブロック１と電子モジュール７とを電気的に接続するための差込みコネクタ１０と、試験プラグ１２を差込むための試験プラグ接続部１１とが設けられている。この遮断部材９は、閉鎖位置と遮断位置との間でシフト可能に、電子モジュール７に紛失不能に保持されている。これらの遮断部材９は、電子モジュール７の差込み接続ゾーンにおいて直接的にこの電子モジュールに設けられている。これらの遮断部材はケーシング１３を有している。このケーシングは電子モジュール７のケーシング８の下縁部を取囲むようにこの電子モジュールに係合しており、この下縁部を起点にして、電子モジュールケーシング８に対して内側の内壁区分１４と外側の外壁区分１５とを有している。この外壁区分は電子モジュール７の高さ方向に延びている。外壁区分１５の下端域は差込みコネクタ１０を有している。これらの差込みコネクタは、接続端子ブロック１の接続プレート２の対応する差込み接続部６と協働する。この外壁区分１５の上端域には、上方に向かって開いた状態で試験プラグ接続部１１が位置している。
【００１２】
このような構成により、接続端子ブロック１の差込み接続部６は、この電子モジュール７に対して外側に位置している。つまりこのような接続端子ブロック１に、必要な場合には、他の電子モジュールを遮断装置なしに設けることができる訳である。この場合この電子モジュールは、これらの差込み接続部または機能導体基板の適宜に構成された端部を直接的に差込み接続部６に差込むことができような幅を有している。さらに、遮断部材９を一方の側だけで支持する電子モジュールを使用することも可能である。これに対して、他方の側はこの実施例に対して相応に拡大されて、その場所に位置する差込み接続部６の直接の電気的な接触接続のために配置されている。
【００１３】
この実施例においては、遮断部材９に配置された差込みコネクタ１０は、差込み接続部６に向いた下向きの差込みラグ１６を有している。この差込みラグは導体レール部材１７に位置している。この導体レール部材から上方に向かっては、試験プラグ１２の端子との接触接続のためのコンタクトラグ１８が分岐しており、この導体レール部材から下方に向かっては、別の導体レール部材１９が延びている。この導体レール部材１９は、遮断部材９の前記電子モジュール７に対して内側の内壁部分１４にまで延びて、この実施例における電子モジュール内部において、対応して接触接続するように形成された、機能導体基板（または機能プリント配線板）２０の端部に直接的に接触接続することができる。遮断部材の変位可能性が要求される点から、閉鎖位置と遮断位置との間にはスライドコンタクト構造が設けられている。
【００１４】
この実施例においては、電子モジュール７のケーシング８の下側の外壁域に遮断部材９を紛失不能かつ変位可能に保持することは、遮断部材９のケーシング１３の内壁区分１４と外壁区分１５とがこれらの相互間でガイドギャップ２１を規定することにより達成される。このガイドギャップには、電子モジュール７のケーシング８の下側の外壁域が進入するので、この遮断部材９はケーシング８に沿って上下にシフト可能に案内することができる。この実施例では、電子モジュール７のケーシング８の当該外壁域には、高さ方向に互いに所定の間隔を置いて係止切欠き２２，２３が設けられている。
【００１５】
上側の係止切欠き２２と協働するために、遮断部材９のケーシング１３の内壁区分１４が係止フック２４を支持している。これに対して、下側の係止切欠き２３と協働するためには、遮断部材のケーシング１３の外壁区分１５が係止フック２５を有している。
【００１６】
図１および図２は、図１で見て右側の遮断部材９を遮断位置で示している。係止フック２４，２５は、係止切欠き２２，２３に位置している。電子モジュール７と接続端子ブロック１との電気的な接続は遮断されている。それというのは、遮断部材９の差込みラグ１６が差込み接続部６から上方に向かって引出されているからである。
【００１７】
遮断部材９がほぼ接続端子ブロック１に相当する深さを有しており、この遮断部材には、電子モジュール７と接続端子ブロック１との電気的な接触接続のために働く差込み接続部６と同じ数の電気的な差込みコネクタ１０が配置されているのは明らかである。
【００１８】
このように引上げられた遮断位置においては、遮断部材９の試験プラグ接続部１１に１つまたは複数の試験プラグ１２を差込むことによって、電子装置を試験することができる。遮断部材９が、試験プラグ１２が差込まれることによって係止するにもかかわらず、再び下方に向かって、つまり閉鎖位置に運動しないことを保証するために、付加的に固有のロック装置が設けられている。この実施例においてはこのようなロック装置は、主として遮断部材９のケーシング１３に一体成形されたアングル形のばね部材２６から成っている。これらのばね部材の下側の脚部は、電子モジュール７のケーシング８の対応壁部分にこのために設けられた別の切欠き２７に係止した状態で進入することができる。このような配置関係は、ばね部材２６の前記ケーシング８とは離反した面が静止位置においては試験プラグ接続部１１に突入して、試験プラグ１２の端子の差込み時にばね部材２６を自動的にロック位置に押圧するように形成されている。
【００１９】
図１で見て左側に示された遮断部材９の閉鎖位置においては、このような遮断部材が下方に向かって押圧されて、接続端子ブロック１と電子モジュール７との電気的な接続のために、遮断部材９の電気的な差込みコネクタ１０の差込みラグ１６が、差込み接続部６への差込みコンタクト位置に位置している。このような位置においては、遮断部材９のケーシング１３の内壁区分１４に設けられた係止フック２４が、電子モジュール７のケーシング８の壁に設けられた下側の係止切欠き２３に位置している。外壁区分１５の係止フック２５はケーシング８の下側の外方に位置している。
【００２０】
電子モジュール７の取出し時には、遮断部材９はこれらのその都度の位置に無関係に電子モジュールに残される。
【００２１】
図面から判るように、遮断部材９の閉鎖位置においてもその上端部がなおも見易く、かつ接続端子ブロック１の配線平面の上方で操作可能に位置し、しかも、スペース節約的にかつ遮断部材９（図１の左側参照）の空間的にすぐ近くにコーム形横方向コネクタ２８を設けることができるような長さで、遮断部材９のケーシング１３の外壁区分１５が上方に向かって延びていると有利である。このコーム形横方向コネクタは、接続端子ブロック１の接続プレート２に設けられた隣合う導体レール部材５の接触接続により、電位の横方向分配を可能にする。
【００２２】
遮断部材９のケーシング１３が上側にＵ字形部材またはフック部材２９を備えているとさらに有利である。このようなＵ字形部材またはフック部材は、例えばねじ回しによる遮断部材９の操作のために役立つ。ケーシング１３の高さは、この遮断部材の上端部の見易さおよび良好なアクセス性をも操作のために保証し、さらに遮断部材９の上側の遮断位置においては、接続端子ブロック１の配線平面の明らかに上方の、操作し易くかつ見易い位置で試験プラグ１２を差込むことをを保証する。このような差込み可能性は、有利には電子装置の試験の他にフィールド機器試験(Fieldgeraetepruefung)をも行い、このために電子装置試験のための試験プラグ１２の近くに、しかもこの試験プラグ１２に対して空間的に側方かつ外側下方に向かってずらされた状態で、接続端子ブロック１の接続プレート２の対応する差込み接続部３０に試験プラグ３１が差込まれる場合にも当嵌まる。
【図面の簡単な説明】
【図１】電子モジュールが差込まれた接続端子ブロックを、一方の遮断部材を遮断・試験位置において、かつ他方の遮断部材を閉鎖位置において、部分的に断面して示した図である。
【図２】図１の遮断部材を遮断・試験位置で示し、かつ電子モジュールおよび接続端子ブロックの隣接領域を拡大して示した部分的な図である。
【符号の説明】
１  接続端子ブロック、  ２  接続プレート、  ３  ケーシング、  ４  接続部、  ５  導体レール部材、  ６  差込み接続部、  ７  電子モジュール、  ８ケーシング、  ９  遮断部材、  １０  差込みコネクタ、  １１  試験プラグ接続部、  １２  試験プラグ、  １３  ケーシング、  １４  内壁区分、  １５外壁区分、  １６  差込みラグ、  １７  導体レール部材、  １８  コンタクトラグ、  １９  導体レール部材、  ２０  機能導体基板、  ２１  ガイドギャップ、  ２２，２３  係止切欠き、  ２４，２５  係止フック、  ２６  ばね部材、  ２７  切欠き、  ２８  コーム横方向コネクタ、  ２９  フック部材、  ３０  差込み接続部、  ３１  試験プラグ
【図１】
0003853408.tif 000002
【図２】
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