(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のインタフェースを有するフロッピーディスク駆動装置と、
ホスト装置に接続される第２のインタフェースと、
前記第２のインタフェースと前記第１のインタフェ−スとの間に接続され且つ前記ホスト装置から供給されたコマンドに従って前記フロッピーディスク駆動装置を制御するための制御手段と、
外部装置に接続するためのコネクタを有する第３のインタフェースと、
前記第３のインタフェースを前記第１のインタフェースに選択的に接続するために前記第３のインタフェースと前記第１のインタフェースとの間に接続されたスイッチ手段と、
前記第３のインタフェースの前記コネクタに前記外部装置が接続されたか否かを認識し、接続が認識された時に前記第３のインタフェースを前記第１のインタフェースに接続するように前記スイッチ手段を制御するスイッチ制御手段と
から成るフロッピーディスクの記憶装置。
【請求項２】
前記外部装置は、前記フロッピーディスクの駆動装置を検査するための検査装置であることを特徴とする請求項１記載のフロッピーディスク記憶装置。
【請求項３】
前記第１及び第３のインタフェースは、前記フロッピーディスクの駆動装置に含まれている磁気ヘッドの再生信号を出力するための端子をそれぞれ有していることを特徴とする請求項１又は２記載のフロッピーディスク記憶装置。
【請求項４】
フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タと、フロッピ−ディスクにデ−タを書き込むための信号変換磁気ヘッドと、前記ヘッドを前記ディスクの半径方向に送るためのステッピングモ−タと、前記ディスクに書き込むためのライトデ−タを受け入れるためのライトデ−タ入力端子と、前記ディスクに対するデ−タの書き込みを許可するためのライトゲ−ト信号を受け入れるためのライトゲ−ト信号入力端子と、前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ヘッドとに接続され、前記ライトゲ−ト信号入力端子のライトゲ−ト信号によって書き込みが許可されている時に前記ライトデ−タ入力端子から供給されたライトデ−タに対応した記録信号を前記ヘッドに供給するライト回路と、前記ステッピングモ−タを駆動するためのステップパルスを受け入れるステップパルス入力端子と、前記ステップパルス入力端子と前記ステッピングモ−タとの間に接続され、前記ステップパルスに対応するように前記ステッピングモ−タを制御するためのステッピングモ−タ制御回路とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、
前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ステップパルス入力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記ライトデ−タ入力端子に供給するためのライトデ−タと前記ライトゲ−ト信号入力端子に供給するためのライトゲ−ト信号と前記ステップパルス入力端子に供給するためのステップパルスとを発生するインタフェ−ス手段と、
フロッピ−ディスク駆動装置を検査する時に使用するための検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとの混合信号を受け入れるための検査用混合信号入力端子と、
前記検査用混合信号入力端子に入力した前記混合信号から検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとを抽出し、抽出された検査用ライトデ−タを前記ライトデ−タ入力端子に供給し、抽出された検査用ステップパルスを前記ステップパルス入力端子に供給するための検査用信号供給手段と、
を有していることを特徴とするフロッピ−ディスク記憶装置。
【請求項５】
更に、前記検査用ライトデ−タに基づいて検査用ライトゲ−ト信号を作成して前記フロッピ−ディスク駆動装置のライトゲ−ト信号入力端子に供給する検査用ライトゲ−ト信号作成手段を有していることを特徴とする請求項４記載のフロッピ−ディスク記憶装置。
【請求項６】
前記混合信号は、複数の書き込みパルスの配列から成る検査用ライトデ−タと、前記書き込みパルスの配列におけるパルス相互間の最大時間隔よりも長い周期を有するステップパルス列から成る検査用ステップパルスとを混合したものであることを特徴とする請求項４又は５記載のフロッピ−ディスク記憶装置。
【請求項７】
フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タを含むディスク回転手段と、フロッピ−ディスクに対するデ−タの書き込み及び／又は読み出しを行うための信号変換磁気ヘッドと、前記ディスク回転手段に対するフロッピ−ディスクの装着を検出してディスク検出信号を出力するためのディスク検出手段と、前記ディスク回転モ−タを回転駆動することを指令するためのモ−タオン信号を受け入れるモ−タオン信号入力端子と、フロッピ−ディスク装置の駆動の選択を示すドライブセレクト信号を受け入れるドライブセレクト信号入力端子と、前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子と前記ディスク回転モ−タとに接続され、前記ドライブセレクト信号と前記モ−タオン信号とに基づいて前記ディスク回転モ−タを回転するためのモ−タ制御手段とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、
前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記モ−タオン信号入力端子に供給するモ−タオン信号と前記ドライブセレクト信号入力端子に供給するドライブセレクト信号とを発生するインタフェ−ス手段と、
フロッピ−ディスク駆動装置の検査を示す検査モ−ド信号を発生する検査モ−ド信号発生手段と、
前記ディスク検出手段と前記検査モ−ド信号発生手段と前記モータオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子とに接続され、前記検査モ−ド信号が検査モ−ドを示していることに応答して前記ディスク検出信号を検査用モ−タオン信号として前記モ−タオン信号入力端子に供給し且つ前記ディスク検出信号を検査用ドライブセレクト信号として前記ドライブセレクト信号入力端子に供給する検査用信号供給手段と
を有していることを特徴とするフロッピ−ディスク記憶装置。
【請求項８】
フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タを含むディスク回転手段と、フロッピ−ディスクに対するデ−タの書き込み及び／又は読み出しを行うための信号変換磁気ヘッドと、前記ヘッドを前記ディスクの半径方向に送るためのステッピングモ−タと、前記ディスクに書き込むためのライトデ−タを受け入れるためのライトデ−タ入力端子と、前記ディスクに対するデ−タの書き込みを許可するためのライトゲ−ト信号を受け入れるためのライトゲ−ト信号入力端子と、前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ヘッドとに接続され、前記ライトゲ−ト信号入力端子のライトゲ−ト信号によって書き込みが許可されている時に前記ライトデ−タ入力端子から供給されたライトデ−タに対応した記録信号を前記ヘッドに供給するライト回路と、前記ステッピングモ−タを駆動するためのステップパルスを受け入れるステップパルス入力端子と、前記ステップパルス入力端子と前記ステッピングモ−タとの間に接続され、前記ステップパルスに対応するように前記ステッピングモ−タを制御するためのステッピングモ−タ制御回路と、前記ディスク回転手段に対するフロッピ−ディスクの装着を検出してディスク検出信号を出力するためのディスク検出手段と、前記ディスク回転モ−タを回転駆動することを指令するためのモ−タオン信号を受け入れるモ−タオン信号入力端子と、フロッピ−ディスク装置の駆動の選択を示すドライブセレクト信号を受け入れるドライブセレクト信号入力端子と、前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子と前記ディスク回転モ−タとに接続され、前記ドライブセレクト信号と前記モ−タオン信号とに基づいて前記ディスク回転モ−タを回転するためのモ−タ制御手段とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、
前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ステップパルス入力端子と前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいてライトデ−タを前記ライトデ−タ入力端子に供給し、ライトゲ−ト信号を前記ライトゲ−ト信号入力端子に供給し、ステップパルスを前記ステップパルス入力端子に供給し、モ−タオン信号を前記モ−タオン信号入力端子に供給し、ドライブセレクト信号を前記ドライブセレクト信号入力端子に供給するインタフェ−ス手段と、
フロッピ−ディスク駆動装置の検査を示す検査モ−ド信号を発生する検査モ−ド信号発生手段と、
フロッピ−ディスク駆動装置を検査する時に使用するための検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとの混合信号を受け入れるための検査用混合信号入力端子と、
前記検査用混合信号入力端子に入力した前記混合信号から検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとを抽出し、抽出された検査用ライトデ−タを前記ライトデ−タ入力端子に供給し、抽出された検査用ステップパルスを前記ステップパルス入力端子に供給し、且つ前記検査用ライトデ−タに基づいて検査用ライトゲ−ト信号を作成して前記フロッピ−ディスク駆動装置のライトゲ−ト信号入力端子に供給する第１の検査用信号供給手段と、
前記ディスク検出手段と前記検査モ−ド信号発生手段とに接続され、前記検査モ−ド信号が検査モ−ドを示していることに応答して前記ディスク検出信号を検査用モ−タオン信号として前記モ−タオン信号入力端子に供給し且つ前記ディスク検出信号を検査用ドライブセレクト信号として前記ドライブセレクト信号入力端子に供給する第２の検査用信号供給手段と
を有していることを特徴とするフロッピ−ディスク記憶装置。
【請求項９】
フロッピ−ディスクを回転するためのデイスク回転モ−タと、フロッピ−ディスクに対するデ−タの書き込み及び／又は読み出しを行うための信号変換磁気ヘッドと、前記ヘッドを前記ディスクの半径方向に送るためのステッピングモ−タと、前記ヘッドで読み出された信号に対応するリ−ドデ−タを作成するリ−ド回路と、前記リ−ド回路で作成されたリ−ドデ−タを出力するためのリ−ドデ−タ出力端子と、前記ステッピングモ−タを駆動するためのステップパルスを受け入れるステップパルス入力端子と、前記ステッピングモ−タのステップ方向を示すステップ方向信号を受け入れるステップ方向信号入力端子と、前記ステップパルス入力端子と前記ステップ方向信号入力端子と前記ステッピングモ−タとの間に接続され、前記ステップパルスと前記ステップ方向信号とに基づいて前記ステッピングモ−タを制御するためのステッピングモ−タ制御手段と、前記ヘッドが前記ディスクの基準トラックにほぼ位置しているか否かを検知するための基準トラックセンサと、前記基準トラックセンサの出力と前記ステップ方向信号と前記ステッピングモ−タの特定相の励磁を示す信号とに基づいて前記ヘッドが前記基準トラックに位置していることを正確に示す基準トラック検出信号を得るための基準トラック検出手段と、前記基準トラック検出手段から得られた基準トラック検出信号を出力するための基準トラック検出信号出力端子とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、
前記リ−ドデ−タ入力端子と前記ステップパルス入力端子と前記ステップ方向信号入力端子と前記基準トラック検出信号出力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記ステップパルス入力端子にステップパルスを供給し、且つ前記ステップ方向信号入力端子にステップ方向信号を供給し、前記リ−ドデ−タ出力端子のリ−ドデ−タをホスト装置に転送するインタフェ−ス手段と、
から成るフロッピ−ディスク記憶装置を検査するための装置であって、
前記フロッピ−ディスク駆動装置を検査する時に使用する検査用ステップパルスを前記ステップパルス端子に供給するための検査用ステップパルス供給手段と、
検査用ステップ方向信号を前記ステップ方向信号入力端子に供給するための検査用ステップ方向信号供給手段と、
前記フロッピ−ディスク駆動装置の検査の時に、前記基準トラックセンサから得られたセンサ出力信号が基準トラックに位置していないことを示す状態から基準トラックにほぼ位置していることを示す状態へ転換した時点を所定時間遅延させて疑似的に基準トラック検出信号を形成するものであり、前記所定時間の遅延が前記ヘッドを前記基準トラックに対する位置決めする時に生じる前記基準トラックセンサの誤差に基づいて決定され、前記疑似的に形成された基準トラック検出信号を前記検査用ステップパルス供給手段に供給する疑似基準トラック検出信号作成手段と
を備えた検査装置。
【請求項１０】
前記検査用ステップパルス供給手段は、前記フロッピ−ディスク記憶装置側に設けられた検査用ステップパルスを入力させるためのステップパルス用入力端子（Ａ1）と、前記フロッピ−ディスク記憶装置の検査時に前記ステップパルス用入力端子（Ａ1）に接続するように前記フロッピ−ディスク記憶装置とは別の装置（３）に設けられた検査用ステップパルス発生回路（４１）とから成り、
前記検査用ステップ方向信号供給手段は、前記フロッピ−ディスク記憶装置側に設けられた検査用ステップ方向信号入力端子（Ａ2）と、検査時に前記検査用ステップ方向信号入力端子（Ａ2）に接続される検査用ステップ方向信号発生回路（４２）とから成ることを特徴とする請求項９記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＵＳＢインタ−フェ−ス等のインタ−フェ−スとフロッピ−ディスク駆動装置とから成るフロッピ−ディスク記憶装置及びその検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
フロッピ−ディスク駆動装置即ちＦＤＤを製造する際の検査工程では、完成した又はほぼ完成したＦＤＤのリ−ド及びライト検査、ヘッド位置の微調整、トラック零センサの位置調整、シ−クテスト、リ−ドテスト等が行われる。これらの検査を行う時には、検査装置をＦＤＤに接続し、検査用信号をＦＤＤに送り、またＦＤＤの各種の出力信号を検査装置に送る。従来の典型的なＦＤＤは例えば次のような検査用端子を有する。
（１）  ヘッド移動用ステップパルスを入力させるための検査用ステップパルス入力端子。
（２）  ステップ方向を示す信号を入力させるための検査用ステップ方向信号入力端子。
（３）  2つのヘッドの一方を選択するためのサイドセレクト信号を入力させるための検査用サイドセレクト信号入力端子。
（４）  デ−タの書き込みを許可するライトゲ−ト信号を入力させるための検査用ライトゲ−ト信号入力端子。
（５）  ライトデ−タを入力させるための検査用ライトデ−タ入力端子。
（６）  １．６ＭＢモ−ドと２．０ＭＢモ−ドとの切換信号即ちスピンドルモ−タの回転速度の切換信号を入力させるための検査用１．６／２．０ＭＢモ−ド識別信号入力端子。
（７）  スピンドルモ−タをオンにするためのモ−タオン信号を入力させるための検査用モ−タオン信号入力端子。
（８）  ＦＤＤの各信号線の有効・無効を選択するため、即ちＦＤＤの駆動を選択するためのドライブセレクト信号を入力させるための検査用ドライブセレクト信号入力端子。
（９）  パワ−セ−ブ信号を入力させるための検査用パワ−セ−ブ信号入力端子。
（１０）  リ−ドデ−タを出力するための検査用リ−ドデ−タ出力端子。
（１１）  トラックの基準を示すインデックス信号を出力するための検査用インデックス信号出力端子。
（１２）  トラックゼロ検出信号を出力するための検査用トラックゼロ検出信号出力端子。
（１３）  トラックゼロセンサの出力（ＴＰＴＯ）を送出するための検査用トラックゼロセンサ出力端子。
（１４）  ヘッドのプリアンプの出力をモニタするための検査用プリアンプモニタ端子。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ＵＳＢインタフェースとＦＤＤ制御装置(ＦＤＣ)とＦＤＤとを一体化した構成のＵＳＢ−ＦＤＤは、ＦＤＤ単独の場合に設けられていた検査用のインタフェース端子を有していないので、ＦＤＤの検査が面倒であった。即ち、ＵＳＢ―ＦＤＤを検査する場合には、ＵＳＢインタフェースに適合するような検査装置を作り、これをＵＳＢインタフェースに接続することが必要になり、検査装置がコスト高になり、且つ、新しい検査方法に関する知識が必要になった。また、ＵＳＢインタフェースを介すことによってＦＤＤの全ての特性を十分に検査することが不可能になった。例えば、磁気ヘッドの再生出力をＵＳＢインタフェースを介して取り出すことは不可能であり、磁気ヘッド及びその増幅器の特性の検査を十分に行うことができなかった。
今、ＵＳＢ―ＦＤＤについて述べたが、ＵＳＢ以外のインタフェースをＦＤＤに一体化する場合にも同様な問題が生じる。
【０００４】
そこで、本発明の第１の目的は、インタフェース及び制御手段を伴っているフロッピーディスク駆動装置の検査を容易に行うこと、又は第２の上位装置を選択的に接続することができる装置を提供することにある。
本発明の第２の目的は、検査用端子の数を低減することができるフロッピ−ディスク記憶装置及びその検査装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記第１の目的を達成するための本発明は、第１のインタフェースを有するフロッピーディスク駆動装置と、ホスト装置に接続される第２のインタフェースと、前記第２のインタフェースと前記第１のインタフェ−スとの間に接続され且つ前記ホスト装置から供給されたコマンドに従って前記フロッピーディスク駆動装置を制御するための制御手段と、外部装置に接続するためのコネクタを有する第３のインタフェースと、前記第３のインタフェースを前記第１のインタフェースに選択的に接続するために前記第３のインタフェースと前記第１のインタフェースとの間に接続されたのスイッチ手段と、前記第３のインタフェースの前記コネクタに前記外部装置が接続されたか否かを認識し、接続が認識された時に前記第３のインタフェースを前記第１のインタフェースに接続するように前記スイッチ手段を制御するスイッチ制御手段とから成るフロッピーディスク記憶装置に係わるものである。
なお、請求項２に示すように、検査装置を第２の上位装置とすることができる。
また、請求項３に示すように第３のインタフェースに磁気ヘッドの再生信号を出力する端子を設けることが望ましい。
【０００６】
上記第２の目的を達成するための本発明は、フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タと、フロッピ−ディスクにデ−タを書き込むための信号変換磁気ヘッドと、前記ヘッドを前記ディスクの半径方向に送るためのステッピングモ−タと、前記ディスクに書き込むためのライトデ−タを受け入れるためのライトデ−タ入力端子と、前記ディスクに対するデ−タの書き込みを許可するためのライトゲ−ト信号を受け入れるためのライトゲ−ト信号入力端子と、前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ヘッドとに接続され、前記ライトゲ−ト信号入力端子のライトゲ−ト信号によって書き込みが許可されている時に前記ライトデ−タ入力端子から供給されたライトデ−タに対応した記録信号を前記ヘッドに供給するライト回路と、前記ステッピングモ−タを駆動するためのステップパルスを受け入れるステップパルス入力端子と、前記ステップパルス入力端子と前記ステッピングモ−タとの間に接続され、前記ステップパルスに対応するように前記ステッピングモ−タを制御するためのステッピングモ−タ制御回路とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、前記ライトデ−タ入力端子と前記ライトゲ−ト信号入力端子と前記ステップパルス入力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記ライトデ−タ入力端子に供給するためのライトデ−タと前記ライトゲ−ト信号入力端子に供給するためのライトゲ−ト信号と前記ステップパルス入力端子に供給するためのステップパルスとを発生するインタフェ−ス手段と、フロッピ−ディスク駆動装置を検査する時に使用するための検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとの混合信号を受け入れるための検査用混合信号入力端子と、前記検査用混合信号入力端子に入力した前記混合信号から検査用ライトデ−タと検査用ステップパルスとを抽出し、抽出された検査用ライトデ−タを前記ライトデ−タ入力端子に供給し、抽出された検査用ステップパルスを前記ステップパルス入力端子に供給するための検査用信号供給手段（例えば，実施例の検査用信号作成回路６及び第１，第５の選択スイッチS1,S5）と、を有していることを特徴とするフロッピ−ディスク記憶装置に係わるものである。
なお、請求項５に示すように検査用ライトゲ−ト信号を検査用ライトデ−タに基づいて作成することが望ましい。
また、検査用ステップパルスの周期と検査用ライトデ−タの周期とを請求項６に示すように設定することが望ましい。
上記第２の目的を達成するための請求項７の発明は、フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タを含むディスク回転手段と、フロッピ−ディスクに対するデ−タの書き込み及び／又は読み出しを行うための信号変換磁気ヘッドと、前記ディスク回転手段に対するフロッピ−ディスクの装着を検出してディスク検出信号を出力するためのディスク検出手段と、前記ディスク回転モ−タを回転駆動することを指令するためのモ−タオン信号を受け入れるモ−タオン信号入力端子と、フロッピ−ディスク駆動装置の駆動の選択を示すドライブセレクト信号を受け入れるドライブセレクト信号入力端子と、前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子と前記ディスク回転モ−タとに接続され、前記ドライブセレクト信号と前記モ−タオン信号とに基づいて前記ディスク回転モ−タを回転するためのモ−タ制御手段とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、前記モ−タオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記モ−タオン信号入力端子に供給するモ−タオン信号と前記ドライブセレクト信号入力端子に供給するドライブセレクト信号とを発生するインタフェ−ス手段と、フロッピ−ディスク駆動装置の検査を示す検査モ−ド信号を発生する検査モ−ド信号発生手段と、前記ディスク検出手段と前記検査モ−ド信号発生手段と前記モータオン信号入力端子と前記ドライブセレクト信号入力端子とに接続され、前記検査モ−ド信号が検査モ−ドを示していることに応答して前記ディスク検出信号を検査用モ−タオン信号として前記モ−タオン信号入力端子に供給し且つ前記ディスク検出信号検査用ドライブセレクト信号として前記ドライブセレクト信号入力端子に供給する検査用信号供給手段（例えば、実施例の第７及び第８の選択用スイッチS7,S8）とを有していることを特徴とするフロッピ−ディスク記憶装置に係わるものである。
なお、請求項８に示すように構成することが望ましい．請求項８における第１の検査用信号供給手段は例えば実施例の検査用信号作成回路６と第１，第４及第５の選択用スイッチS1,S4,S5であり、第２の検査用信号供給手段は例えば実施例の第７及び第８の選択用スイッチＳ7,Ｓ8である。
【０００７】
上記第２の目的を達成するための請求項９の発明は、フロッピ−ディスクを回転するためのディスク回転モ−タと、フロッピ−ディスクに対するデ−タの書き込み及び／又は読み出しを行うための信号変換磁気ヘッドと、前記ヘッドを前記ディスクの半径方向に送るためのステッピングモ−タと、前記ヘッドで読み出された信号に対応するリ−ドデ−タを作成するリ−ド回路と、前記リ−ド回路で作成されたリ−ドデ−タを出力するためのリ−ドデ−タ出力端子と、前記ステッピングモ−タを駆動するためのステップパルスを受け入れるステップパルス入力端子と、前記ステッピングモ−タのステップ方向を示すステップ方向信号を受け入れるステップ方向信号入力端子と、前記ステップパルス入力端子と前記ステップ方向信号入力端子と前記ステッピングモ−タとの間に接続され、前記ステップパルスと前記ステップ方向信号とに基づいて前記ステッピングモ−タを制御するためのステッピングモ−タ制御手段と、前記ヘッドが前記ディスクの基準トラックにほぼ位置しているか否かを検知するための基準トラックセンサと、前記基準トラックセンサの出力と前記ステップ方向信号と前記ステッピングモ−タの特定の相の励磁を示す信号とに基づいて前記ヘッドが前記基準トラックに位置していることを正確に示す基準トラック検出信号を得るための基準トラック検出手段と、前記基準トラック検出手段から得られた基準トラック検出信号を出力するための基準トラック検出信号出力端子とを備えたフロッピ−ディスク駆動装置と、前記リ−ドデ−タ入力端子と前記ステップパルス入力端子と前記ステップ方向信号入力端子と前記基準トラック検出信号出力端子とに接続され、ホスト装置の指令に基づいて前記ステップパルス入力端子にステップパルスを供給し、且つ前記ステップ方向信号入力端子にステップ方向信号を供給し、前記リ−ドデ−タ出力端子のリ−ドデ−タをホスト装置に転送するインタフェ−ス手段と、から成るフロッピ−ディスク記憶装置を検査するための装置であって、前記フロッピ−ディスク駆動装置を検査する時に使用する検査用ステップパルスを前記ステップパルス端子に供給するための検査用ステップパルス供給手段と、検査用ステップ方向信号を前記ステップ方向信号入力端子に供給するための検査用ステップ方向信号供給手段と、前記フロッピ−ディスク駆動装置の検査の時に、前記基準トラックセンサから得られたセンサ出力信号が基準トラックに位置していないことを示す状態から基準トラックにほぼ位置していることを示す状態へ転換した時点を所定時間遅延させて疑似的に基準トラック検出信号を形成するものであり、前記所定時間の遅延が前記ヘッドを前記基準トラックに対する位置決めする時に生じる前記基準トラックセンサの誤差に基づいて決定され、前記疑似的に形成された基準トラック検出信号を前記検査用ステップパルス供給手段に供給する疑似基準トラック検出信号作成手段とを備えた検査装置に係わるものである。
なお、請求項１０に示すように検査用ステップパルス供給手段及び検査用ステップ方向信号供給手段を記憶装置側と外部の検査装置とに分けて配置することができる。
【０００８】
【発明の効果】
各請求項の発明によれば、ホスト装置に従うインタフェースに拘束されないで、フロッピーディスク駆動装置(ＦＤＤ)を検査装置又はこれに類似の外部装置に接続し、フロッピーディスク駆動装置の検査又は駆動を行うことが可能になる。従って,ＦＤＤの検査を低コスト且つ容易に達成することができる。
また、請求項１の発明によれば、ホスト装置以外の外部装置(例えば検査装置)のＦＤＤに対する接続が容易になる。
また、請求項１〜３の発明によれば、第３のインタフェースを不要時にスイッチで切り離すので、ＦＤＤに対する不要なノイズの侵入を防ぐことができる。
また、請求項３の発明によれば、磁気ヘッドの検査を良好に行うことができる。
請求項４〜１０の発明によれば、検査用端子の数を減らしてフロッピ−ディスク記憶装置の小型化、低コスト化を図ることができる。
即ち、請求項４〜６の発明によれば、従来独立に設けられていた検査用ステップパルス入力端子と検査用ライトデ−タ入力端子から成る２つの検査端子の代わりに、混合信号を受け入れる１つの検査用端子を設けるので、検査用端子の数を減らすことができる。
また、請求項５の発明によれば、ライトゲ−ト信号入力端子を省くことができる。
また、請求項７の発明によれば、従来の独立に設けていた検査用モ−タオン信号入力端子と検査用ドライブセレクト信号入力端子が不要になるので、検査用端子の数を２つ減らすことができる。
また，請求項８の発明によれば検査用端子の数を更に減らすことができる。
また、請求項９、１０の発明によれば、従来の独立に設けられていた検査用トラックゼロセンサ端子と検査用トラックゼロ検出信号端子との２つの検査用端子の代わりに、１つの検査用基準トラックセンサ出力端子（例えば検査用トラックゼロセンサ出力端子）を設けるのみでよいから、検査用端子を１つ減らすことができる。
【０００９】
【実施形態】
次に、図１〜図１１を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００１０】
【第１の実施形態】
図１は本発明の第１の実施形態に従うホスト装置１とフロッピ−ディスク記憶装置２と検査装置３とを示す。図１ではホスト装置１が記憶装置２に接続されているが、記憶装置２の製造時にはホスト装置１は記憶装置２に接続されない。また、検査装置３は、記憶装置２の検査時にのみ記憶装置２に接続され、記憶装置２がホスト装置１の制御のもとにデ−タ変換している時には記憶装置２から分離される。
【００１１】
フロッピ−ディスク記憶装置２は、フロッピ−ディスク駆動装置（以下ＦＤＤと呼ぶ）４と周知のＵＳＢインタフェ−ス５と、検査用信号作成回路６と、検査モ−ド指令器７と、検査用混合信号入力端子Ａ1 と、検査用ステップ方向信号入力端子Ａ2 と、検査用サイドセレクト信号入力端子Ａ3 と、検査用１．６／２．０ＭＢモ−ド識別信号入力端子Ａ4 と、検査用パワ−セ−ブ信号入力端子Ａ5 と、検査用リ−ドデ−タ出力端子Ａ6 と、検査用インデックス信号出力端子Ａ7 と、検査用トラックゼロセンサ出力端子Ａ8 と、検査用前置増幅器出力モニタ端子Ａ9 と、第１〜第９の選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 とから成る。
【００１２】
ＦＤＤ４は、周知の３．５インチ型フロッピ−ディスク駆動装置であって、ＳＴＥＰで示すステップパルスが入力するステップパルス入力端子Ｔ1 と、ＤＩＲで示すステップ方向信号が入力するステップ方向信号入力端子Ｔ2 と、ＳＩＤＥで示すサイドセレクト信号が入力するサイドセレクト信号入力端子Ｔ3 と、ＷＧで示すライトゲ−ト（Ｗｒｉｔｅ  Ｇａｔｅ）信号が入力するライトゲ−ト信号入力端子Ｔ4 と、ＷＤで示すライトデ−タ（Ｗｒｉｔｅ  Ｄｅｔａ）が入力するライトデ−タ入力端子Ｔ5 と、１．６／２．０で示す１．６ＭＢ／２．０ＭＢモ−ド識別信号（モ−ド切換信号）が入力する入力端子Ｔ6 と、Ｍｏｎで示すモ−タオン（ＭＯＴＯＲ  ＯＮ）信号が入力するモ−タオン信号入力端子Ｔ7 と、ＤＳで示すドライブセレクト（ＤＲＩＶＥ  ＳＥＬＥＣＴ）信号が入力するドライブセレクト信号入力端子Ｔ8 と、ＰＳで示すパワ−セ−ブ信号が入力するパワ−セ−ブ信号入力端子Ｔ9 と、ＲＤで示すリ−ドデ−タが出力するリ−ドデ−タ出力端子Ｔ10と、ＩＤＸで示すインデックス信号が出力するインデックス信号出力端子Ｔ11と、基準トラック信号としてのＴＲ００で示すトラックゼロ検出信号を出力するトラックゼロ検出信号出力端子Ｔ12とを有する。なお、ＦＤＤ４の端子Ｔ1〜Ｔ12は第１のインタフェース又はＦＤＤインタフェースと呼ぶことができる部分である。
【００１３】
ホスト装置１とＦＤＤ４との間に接続されたＵＳＢインタフェ−ス５は周知のものであり、端子Ｆ1 からステップパルスを発生し、端子Ｆ2 からステップ方向信号を発生し、端子Ｆ3 からサイドセレクト信号を発生し、端子Ｆ4 からライトゲ−ト信号を発生し、端子Ｆ5 からライトデ−タを発生し、端子Ｆ6 から１．６ＭＢ／２．０ＭＢモ−ド識別信号を発生し、端子Ｆ7 からモ−タオン信号を発生し、端子Ｆ8 からドライブセレクト信号を発生し、端子Ｆ9 からパワ−セ−ブ信号を発生する。端子Ｆ10はリ−ドデ−タを受け入れ、端子Ｆ11はインデックス信号を受け入れ、端子Ｆ12はトラックゼロ検出信号を受け入れる。なお、ＵＳＢインタフェース５はホスト装置１に接続されるコネクタを含むＵＳＢインタフェース部とＦＤＤ制御部即ちＦＤＣとの組み合わせから成り、ホスト装置１から与えられたコマンドに従うようにＦＤＤ４制御するためにコマンドを解釈し、且つコマンドに従う制御を実行するものである。本発明では、ＵＳＢインタフェース部を第２のインタフェースと呼ぶこともある。
ＵＳＢインタフェース５は、ＦＤＤ４の端子Ｔ1〜Ｔ12、リード回路１０、ライト回路１８、制御回路２０等と共に同一の回路基板上に配置され、これ等と一体的に形成されている。
【００１４】
選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 はインタフェ−ス５からの信号と検査装置３からの信号とをＦＤＤ４の端子Ｔ1 〜Ｔ9 に選択的に送るものであり、等価的に第１及び第２の接点ａ，ｂと可動子ｃとで示されている。即ち、各選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 は、接点ａに対応する第１の半導体スイッチと接点ｂに対応する第２の半導体スイッチとから成り、互いに逆にオン・オフ動作するように構成されている。各選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 は検査モ−ド指令器７の出力によって制御され、検査モ−ドを示す信号が発生してる時に第２の接点ｂに可動子ｃが接触する。第１〜第９の選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 の第１の接点ａはインタフェ−ス５の第１〜第９の端子Ｆ1 〜Ｆ9 に接続されている。
【００１５】
第１の選択スイッチＳ1 の第２の接点ｂは検査用ステップパルス供給手段としての機能を有し、検査用信号作成回路６の検査用ステップパルス出力ライン６ａに接続されている。第２の選択スイッチＳ2 の第２の接点ｂは検査用ステップ方向信号入力端子Ａ2 に接続されている。第３の選択スイッチＳ3 の第２の接点ｂは検査用サイドセレクト信号入力端子Ａ3 に接続されている。第４の選択スイッチＳ4 の第２の接点ｂは検査用信号作成回路６の検査用ライトゲ−ト信号出力ライン６ｂに接続されている。第５の選択スイッチＳ5 の第２の接点ｂは検査用ライトデ−タ供給手段としての機能を有し、検査用信号作成回路６の検査用ライトデ−タ出力ライン６ｃに接続されている。第６の選択スイッチＳ6 の第２の接点ｂは１．６ＭＢ／２．０ＭＢモ−ド識別信号入力端子Ａ4 に接続されている。第７及び第８の選択スイッチＳ7 、Ｓ8 の第２の接点ｂは検査用モ−タオン信号供給手段及び検査用ドライブセレクト信号供給手段としての機能を有し、ＦＤＤ４のディスクセンサ８にそれぞれ接続されている。第９の選択スイッチＳ9 の第２の接点ｂは検査用パワーセーブ信号入力端子Ａ5 に接続されている。
なお、インターフェース５の出力信号と検査装置３及びディスクセンサ８に基づく信号との相互干渉の問題がない場合は、各選択スイッチＳ1 〜Ｓ9 を省き、ＦＤＤ４の第１〜第９の端子Ｔ1 〜Ｔ9 にインターフェース５の出力信号と検査用信号とを択一的に入力させることができる。
検査用リードデータ出力端子Ａ6 はＦＤＤ４のリードデータ出力端子Ｔ10に接続されている。検査用インデックス信号出力端子Ａ7 はＦＤＤ４のインデックス信号出力端子Ｔ11に接続されている。検査用混合信号入力端子Ａ1 は検査用ステップパルスと検査用ライトデータとの混合信号が入力する端子であり、検査用信号作成回路６に接続されている。この検査用信号作成回路６は混合信号から検査用ステップパルスと検査用ライトデータとを抽出即ち分別して出力ライン６ａ、６ｃに送り、且つ検査用ライトデータに基づいて検査用ライトゲート信号を作成して出力ライン６ｂに送る。検査用信号作成回路６は追って詳しく述べる。検査用トラックゼロセンサ出力端子Ａ8 はＦＤＤ４のトラックゼロセンサ９に接続されている。検査用前置増幅器モニター端子Ａ9 はＦＤＤ４のリード回路１０に接続されている。
【００１６】
Ａ1 〜Ａ9 で示す検査用信号入出力端子は検査手段の一部として機能し、検査モード時に検査装置３の検査用信号入出力端子Ｂ1 〜Ｂ9 に接続される。なお、端子Ａ1〜Ａ9は検査用インタフェース又は第３のインタフェースと呼ぶことができるものである。検査用信号入出力端子Ａ1 〜Ａ9 はインターフェース５等が搭載されている回路基板に設けられている。検査時には、検査用プローブ等を検査用信号入出力端子Ａ1 〜Ａ9 に接触させて検査装置３との間の電気的回路を成立させる。また、端子Ａ1〜Ａ9をまとめてコネクタ構成にし、ここに検査装置３を接続することができる。
【００１７】
図２はＦＤＤ４をより詳しく示す。ＦＤＤ４は図１に示したディスクセンサ８、基準トラックセンサとしてのトラックゼロセンサ９、及びリード回路１０を有する他に、ディスク回転モータ１１、この制御及び駆動回路１２、一対の信号変換磁気ヘッド１３ａ、１３ｂ、ヘッドキャリッジ１４、ステッピングモータ１５、回転運動を直線運動に変換する手段としてのリードスクリュー１６、ステッピングモータ制御及び駆動回路１７、ライト回路１８、トラックゼロ検出回路１９、及びＦＤＤ側インターフェース又は入出力回路とも呼ぶことができる制御回路２０も有する。
【００１８】
ディスク回転手段を構成するモータ１１はターンテーブル１１ａに対して着脱可能に装着された磁気ディスク２１を回転する。ディスク２１は周知の３．５インチ両面型フロッピーディスク即ち可撓性磁気ディスクであり、下面（サイド０）と上面（サイド１）との両方に同心円状に配置された基準トラックとしてのトラックゼロＴ00からトラックＴn までの多数のトラックを有する。なお、トラックゼロＴ00は周知のようにディスク２１の外周側に配置されている。概略的に示す一対の磁気ヘッド１３ａ、１３ｂはディスク２１の下面及び上面に接触してデータの記録及び再生を行うものであり、リード回路１０及びライト回路１８に接続されている。一対のヘッド１３ａ、１３ｂはこれ等を支持しているキャリッジ１４と共にステッピングモータ１５によってディスク２１の半径方向に移動される。
【００１９】
ディスク回転モータ制御及び駆動回路１２は第７の端子Ｔ7 のモータオン信号Ｍonに応答してモータ１１を回転駆動するものである。ステッピングモータ１５は、第１、第２、第３及び第４相巻線Ｗ1、Ｗ2、Ｗ3、Ｗ4を有し、例えば周知の２相励磁方式で駆動されるものである。ステッピングモータ制御及び駆動回路１７は第１の端子Ｔ1 に接続されているライン２２のステップパルスと第２の端子Ｔ2 に接続されているライン２３のステップ方向信号とに基づいてステッピングモータ１５を駆動するものである。なお、本実施例では、トラックゼロＴ00にヘッド１３ａ、１３ｂを位置決めした時には、ステッピングモータ１５の第１相巻線Ｗ1と第２相巻線Ｗ2とが同時に励磁されるように、ステッピングモータ１５とヘッド１３ａ、１３ｂとの位置関係が調整されている。ステッピングモータ制御及び駆動回路１７から導出されているライン２４には、ステッピングモータ１５の第１及び第２相巻線Ｗ1、Ｗ2の同時励磁を示す信号Ｗ12が出力される。
【００２０】
ライト回路１８は、第５の端子Ｔ5 のライトデータを、第４の端子Ｔ4 のライトゲート信号で許可されている時にデータ記録電流を一対のヘッド１３ａ、１３ｂのいずれか一方に送る。リード回路１０は一対のヘッド１３ａ、１３ｂのいずれか一方の再生出力を波形整形してリードデータを形成し、第１０の端子Ｔ10に出力する。
【００２１】
ディスクセンサ８は、ケースを伴ってディスク２１がターンテーブル１１ａ上に挿入された時に作動するマイクロスイッチ８ａを有する。このスイッチ８ａの一端はプルアップ抵抗８ｂを介して正の直流電源端子８ｃに接続され、他端はグランドに接続されている。従ってスイッチ８ａの上端から導出された出力ライン８ｄはディスク２１の挿入時に低レベル（グランド）となり、ディスク２１が非挿入の時に高レベルになる。ディスクセンサ８のスイッチ８ａには図２に示すように出力ライン８ｅも接続されており、検出結果を制御回路２０にも通知する。
【００２２】
トラックゼロセンサ９は、発光素子２５とこれに光結合された受光素子２６とを有し、キャリッジ１４に一体のフォトインタラプタ２７による両者間の遮光によってヘッド１３ａ、１３ｂがほぼトラックゼロＴ00に位置していることを検出するように構成されている。図１にはトラックゼロセンサ９の電気回路が詳しく示されている。ＬＥＤから成る発光素子２５はトランジスタ２８と抵抗２９とを介して直流電源端子３０とグランドとの間に接続されている。フォトトランジスタから成る受光素子２６の一端（コレクタ）は抵抗３１を介して電源端子３０に接続され、この他端（エミッタ）はグランドに接続されている。受光素子２６の一端から導出されたセンサ出力ライン３２は検査用トラックゼロセンサ出力端子Ａ8 に接続されていると共に、図２に示すトラックゼロ検出回路１９に接続されている。発光素子２５の電力消費を低減するために、タイマ３３とＯＲゲート３４とが設けられている。タイマ３３はステップパルスが入力する第１の端子Ｔ1 に接続され、ステップパルスに応答してトラックゼロ検出に必要な所定時間に対応して高レベル出力を発生する。ＯＲゲート３４の一方の入力端子はタイマ３３に接続され、他方の入力端子は検査モード指令器７に接続され、この出力端子はトランジスタ２８のベースに接続されている。従って、発光素子２５及びトランジスタ２８はタイマ３３の出力と検査モード指令信号との両方に応答してオンになる。これにより、検査モード時においては連続的にトラックゼロセンサ出力を得ることができ、検査システムの誤動作を防ぐことができる。
【００２３】
トラックゼロセンサ９は、検出誤差を有し、例えばヘッド１３ａ、１３ｂがトラック１に位置している時にトラックゼロを示す出力を発生する。この誤差を補正するために図２のトラックゼロ検出回路１９が設けられている。この実施例ではトラックゼロ検出回路１９は第１、第２及び第３の入力端子を有するＡＮＤゲート１９ａから成る。ＡＮＤゲート１９ａの第１の入力端子はトラックゼロセンサ９の出力ライン３２に接続され、第２の入力端子はステップ方向信号ライン２３に接続され、第３の入力端子は特定励磁相検出ライン２４に接続されている。
【００２４】
図６はトラックゼロ検出回路１９の動作を説明するためのタイミングチャートである。ヘッド１３ａ、１３ｂを内周側から外周側に向かうステップアウト動作させるために第１、第２、第３及び第４相巻線Ｗ1 、Ｗ2 、Ｗ3 、Ｗ4 を有する４相ステッピングモ−タをユニポ−ラ２相励磁方式で駆動する時には、図６（Ｂ）に示すように高レベル（Ｈ）のステップアウトを示すステップ方向信号ＤＩＲをライン２３に供給し、またステップパルスＳＴＥＰを図６（Ｃ）のｔ1 、ｔ2 、ｔ3 、ｔ4 、ｔ5 、ｔ7 に示すように一定周期Ｔs （例えば４ｍｓ又は３ｍｓ）で発生させる。これにより、ステッピングモ−タ１５の第１〜第４相巻線Ｗ1 〜Ｗ4 は図６（Ｄ）〜（Ｇ）に示すように励磁される。ステッピングモ−タ１５の駆動によってヘッド１３ａ、１３ｂとディスク２１のトラックとの関係は図６（Ｈ）に示すように変化し、ヘッド１３ａ、１３ｂはトラックゼロに徐々に近づく。また、この実施例ではヘッド１３ａ、１３ｂがトラック１のほぼ中間に位置するｔ6 時点でトラックゼロセンサ９の出力がほぼトラックゼロを示す高レベルに転換する。ｔ6 時点はステッピングモ−タ１５の第１及び第４相巻線Ｗ1、Ｗ4の励磁区間であるので、ライン２４の特定励磁相検出信号Ｗ12は図６（Ｉ）に示すように低レベルに保たれる。その後、ｔ7 時点で第１相及び第２相巻線Ｗ1 、Ｗ2 が同時に励磁されると、特定励磁相検出信号Ｗ12は図６（Ｉ）に示すように高レベルになり、ＡＮＤゲート１９ａの３入力の全部が高レベルになり、トラックゼロ検出信号ＴＲ00は図６（Ｊ）に示すように高レベルになる。このトラックゼロ検出信号ＴＲ00は制御回路２０に送られる。図６（Ｈ）では、説明を容易にするために巻線Ｗ1 〜Ｗ4 の励磁の切換えによってヘッド１３ａ、１３ｂが直ちに次のトラックに移動するように示されているが、実際には遅れを伴って次のトラックに移動する。
なお、特定励磁相検出信号Ｗ12は第１及び第２相巻線Ｗ1 、Ｗ2 の励磁信号のＡＮＤ出力によって形成されている。
【００２５】
制御回路２０はＦＤＤ４側のインターフェース又は入出力回路とも呼ぶことができるものであり、入力端子Ｔ1 、Ｔ2 、Ｔ3 、Ｔ6 、Ｔ7 、Ｔ8 、Ｔ9 及び出力端子Ｔ11、Ｔ12に接続されており、周知の制御を実行する。また、制御回路２０には周知のリキャリブレーション回路３３が内蔵されている。リキャリブレーション回路３３はＦＤＤ４の電源投入又はディスク２１の挿入に同期してヘッド１３ａ、１３ｂをディスク２１のトラックゼロＴ00に位置決めするための回路である。なお、制御回路２０には、端子Ｔ8からドライブセレクト信号ＤＳが入力し、自己のＦＤＤの駆動が選択されている時には各種の信号線が動作可能状態に設定される。
【００２６】
ＦＤＤ４のリード回路１０には、ヘッド１３ａ、１３ｂの再生出力を増幅するために図１に示すように前置増幅器３５が含まれている。検査用モニタ出力端子Ａ9 は前置増幅器３５に接続されている。
【００２７】
【検査装置】
検査装置３は図３に等価的及び概略的に示すように、検査用ステップパルス発生回路４１、検査用ステップ方向信号発生回路４２、検査用サイドセレクト信号発生回路４３、検査用ライトデータ発生回路４４、検査用１．６ＭＢ／２．０ＭＢモード識別信号発生回路４５、検査用パワーセーブ信号発生回路４６、混合回路４７、制御及び検査回路４８、及び疑似トラックゼロ検出信号作成回路４９を有する。検査装置３の検査用ステップパルス発生回路４１は図７（Ａ）に示すように検査用ステップパルスを比較的長い周期Ｔs （例えば４ｍｓ）で発生する。これに対して検査用ライトデータ発生回路４４は図７（Ｂ）に示すようにステップパルスの周期Ｔs よりも十分に短い周期Ｔw （２〜８μｓ）で検査用ライトデータを発生する。混合回路４７は図７（Ａ）の検査用ステップパルスと図７（Ｂ）の検査用ライトデータとを混合して図７（Ｃ）に示す検査用混合信号ＳＴＥＰ＋ＷＤを出力端子Ｂ1 に送出する。検査時には図１及び図３の出力端子Ｂ1 が図１の検査用混合信号入力端子Ａ1 に接続される。図１の検査用信号作成回路６は、入力端子Ａ1 に供給される図７（Ｃ）の混合信号ＳＴＥＰ＋ＷＤから図７（Ｄ）（Ｅ）に示すように検査用ステップパルスと検査用ライトデータとを抽出即ち分別してライン６ａ、６ｃに送る。ライトゲート信号は検査装置３からＦＤＤ４に送られない。そこで、本実施例では、検査用信号作成回路６において、図７（Ｅ）のライトデータＷＤに基づいて図７（Ｆ）の検査用ライトゲート信号ＷＧを作成し、ライン６ｂに送出する。図７（Ｆ）の検査用ライトゲート信号はライトゲート信号が所定時間間隔（例えば１１．５μｓ）よりも短い間隔で繰返して発生しているか否かの識別によって容易に形成し得る。
【００２８】
図４は図１の第１の検査用信号供給手段として機能する検査用信号作成回路６を詳しく示す。この検査用信号作成回路６は大別してステップパルス分別回路７１と、ライトデータ分別ゲート回路５２と、ライトゲート信号作成回路５３と、リセット回路５４とから成る。
【００２９】
ステップパルス分別回路７１は、ＡＮＤゲート５５、カウンタ５６、フリップフロップ５７、ＯＲゲート５８、ライトデータ除去用フリップフロップ５９とから成る。ＡＮＤゲート５５の一方の入力端子は検査用混合信号入力端子Ａ1 に接続され、この他方の入力端子はライトデータ除去用フリップフロップ５９に接続され、この出力端子はカウンタ５６のリセット端子Ｒに接続されている。ＡＮＤゲート５５の出力は図８（Ａ）に示すように、入力端子Ａ1 からステップパルスが負論理（負パルス）で入力している時には、図８（Ｂ）に示すように入力パルスの後縁時点ｔ2 から一定時間（１２．５μｓ）だけ連続的に高レベルになる。これに対して図９（Ａ）に示すように入力端子Ａ1 からライトデータが負論理（負パルス）でＡＮＤゲート５５に入力している時には、図９（Ｂ）に示すようにライトデータパルス毎にＡＮＤゲート５５の出力は低レベルになる。
【００３０】
カウンタ５６は、ライトデータＷＤの周期Ｔw よりも十分短い周期で繰返して供給されるクロックライン６０のクロックを計数し、第１、第２及び第３の所定時間Ｔｃ1 、Ｔｃ2 、Ｔｃ3 を計測し、これ等の計測終了時に第１、第２及び第３の出力端子ａ1 、ａ2 、ａ3 から０．５μｓ幅の出力パルスを図８（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）に示すように出力する。また、検査用ライトデータＷＤが入力端子Ａ1 に供給されている時には、ライトデータブロックのライトデータのパルス毎にカウンタ５６がリセットされるために、カウンタ５６の出力端子ａ1 、ａ2 、ａ3 からは図９（Ｃ）（Ｄ）（Ｅ）に示すように出力パルスが発生しない。しかし、ライトデータブロックの最後のデータパルスの終了時点ｔ6 から第１、第２及び第３の所定時間Ｔｃ1 （１０．５μｓ）、Ｔｃ2 （１１．５μｓ）、Ｔｃ3 （１２．５μｓ）が経過した時点ｔ7 、ｔ8 、ｔ9 で第１、第２及び第３の出力端子ａ1 、ａ2 、ａ3 からパルスが発生する。従って、ＡＮＤゲート５５とカウンタ５６とフリップフロップ５９とは、再トリガ可能なモノマルチバイブレータと同様又は類似な動作をしている。
【００３１】
パルス生成用フリップフロップ５７は対のＮＡＮＤゲート５７ａ、５７ｂから成り、図８（Ｃ）に示すカウンタ５６の第１の出力端子ａ1 の負出力パルスの前縁でセットされ、図８（Ｄ）の第２の出力端子ａ2 の負出力パルスの前縁でリセットされて図８（Ｆ）に示す１μｓ幅の負パルスを発生する。図９の検査用ステパルスが入力しない場合においても最後のライトデータパルスの後に図９（Ｆ）に示すようにフリップフロップ５７からパルスが発生する。しかし、このパルスは次段のＯＲゲート５８で除去される。
【００３２】
ＯＲゲート５８の一方の入力端子はフリップフロップ５７に接続され、他方の入力端子はライトゲート信号作成回路５３に接続されている。図８の検査用ステップパルスの発生時点近傍では、検査用ライトデータは発生しないので、図８（Ｈ）に示すように検査用ライトゲート信号は低レベル状態に保たれている。従って、ＯＲゲート５８の出力は図８（Ｆ）に示すように図８（Ｆ）のフリップフロップ５７の出力と同一になり、ｔ3 〜ｔ4 区間にステップパルスが得られる。他方、図９の検査用ライトデータが発生している時には、前述したように最後のデータパルスの後のｔ7 〜ｔ8 期間にフリップフロップ５７から負パルス（低レベルパルス）が得られるが、図９（Ｈ）に示すように検査用ライトゲート信号が高レベルであるので、これによって図９（Ｆ）のフリップフロップ５７の出力パルスがマスクされ、ＯＲゲート５８からパルスが出力されない。
【００３３】
ライトデータ除去用フリップフロップ５９は、一対のＮＡＮＤゲート５９ａ、５９ｂから成り、セット端子Ｓが検査用混合信号入力端子Ａ1 に接続され、第１のリセット端子Ｒ1 がリセット回路５４に接続され、第２のリセット端子Ｒ2 がカウンタ５６の第３の出力端子ａ3 に接続されている。従って、図８の検査用ステップパルスの発生時には、図８（Ｇ）に示すように図８（Ａ）のステップパルスの後縁（立上り）時点ｔ2 でセットされ、図８（Ｅ）に示すカウンタ５６の第３の出力端子ａ3 の出力パルスの前縁（立下り）でリセットされ、１２．５μｓ幅の高レベルパルスを発生する。また、図９の検査用ライトデータ発生時には、フリップフロップ５９はデータブロックの最初のデータパルスの後縁（立上り）時点ｔ2 でセットされ、最後のデータパルスの終了時点ｔ6 から１２．５μｓ後のｔ9 時点でリセットされ、図９（Ｇ）に示すｔ2 〜ｔ9 の高レベルパルスを発生する。フリップフロップ５９から高レベル出力が発生している期間ｔ2 〜ｔ9 においてはＡＮＤゲート５５は入力端子Ａ1 の検査用ライトデータに応答して図９（Ｂ）に示す負パルスを検査用ライトデータ毎に出力する。これにより、カウンタ５６が図９のｔ3 、ｔ4 、ｔ5 でリセットされ、カウンタ５６による検査用ライトデータの除去が達成される。
【００３４】
検査用ライトゲート信号作成回路５３は第１及び第２のＤタイプフリップフロップ５３ａ、５３ｂとリセット用ＡＮＤゲート５３ｃとから成る。第１及び第２のフリップフロップ５３ａ、５３ｂのデータ入力端子Ｄは直流電源端子６１にそれぞれ接続され、それぞれのトリガ入力端子ＴはＮＯＴ回路７２を介して検査用混合入力端子Ａ1 に接続されている。リセット用ＡＮＤゲート５３ｃの一方の入力端子はカウンタ５６の第２の出力端子ａ2 に接続され、この他方の入力端子はリセット回路５４に接続され、この出力端子は第１のフリップフロップ５３ａのリセット端子Ｒに接続されている。第１のフリップフロップ５３ａの正相出力端子Ｑは第２のフリップフロップ５３ｂのリセット端子Ｒに接続されている。第２のフリップフロップ５３ｂの正相出力端子Ｑは検査用ライトゲート信号出力端子６ｂ、検査用ステップパルス出力用ＯＲゲート５８、及び検査用ライトデータ分別ゲート回路５２に接続されている。
【００３５】
図８に示す検査用ステップパルスの発生時には、例えばｔ1 よりも前のｔ0 でリセット回路５４から負のリセットパルスが図８（Ｌ）に示すように発生し、これがＡＮＤゲート５３ｃに入力するか、又は図９（Ｅ）に示すカウンタ５６の第３の出力端子ａ3 の出力がリセット信号としてＡＮＤゲート５３ｃに入力すると、第１のフリップフロップ５３ａがリセットされ、初期状態になる。しかる後、図８のｔ1 で検査用ステップパルスが発生すると、第１のフリップフロップ５３ａはセット状態となり、出力端子Ｑが高レベルになり、第２のフリップフロップ５３ｂのリセットが解除され、第２のフリップフロップ５３ｂはトリガ信号に応答可能な状態になる。しかし、ｔ4時点よりも前にトリガ入力が無いので第２のフリップフロップ５３ｂのリセット状態は保持される。このため、第２のフリップフロップ５３ｂは図８（Ａ）の検査用ステップパルスでセットされずにリセット状態に保たれ、図８（Ｈ）に示すように検査用ライトゲートＷＧは低レベル（０）に保たれる。この結果、検査用ステップパルス発生時にはＯＲゲート５８からは図８（Ｉ）に示すように負のステップパルスが発生するが、検査用データパルスの発生時には図９（Ｉ）に示すようにステップパルスがＯＲゲート５８から発生しない。
【００３６】
第１のフリップフロップ５３ａがＡＮＤゲート５３ｃの出力に基づいてリセットされ且つ第１のフリップフロップ５３ａの出力で第２のフリップフロップ５３ｂがリセット制御されている状態において、図９（Ａ）に示すように検査用ライトデータが発生すると、ｔ1 〜ｔ2 の最初のライトデータパルスに応答して第１のフリップフロップ５３ａがセットされ、第２のフリップフロップ５３ｂのリセットが解除される。次に、ｔ3 で２番目のライトデータパルスが入力すると、これが、第１及び第２のフリップフロップ５３ａ、５３ｂのトリガ端子Ｔに供給され、第１及び第２のフリップフロップ５３ａ、５３ｂはデータ入力端子Ｄの高レベルを読み込む。このため、第２のフリップフロップ５３ｂの出力ライン６ｂのライトゲート信号ＷＧは図９（Ｈ）に示すようにｔ3 時点から高レベルになる。ライトゲート信号ＷＧの高レベル状態は、カウンタ５６の第２の出力端子ａ2 の出力に基づいてＡＮＤゲート５３ｃからリセットパルスが発生するｔ8 時点まで保持される。ライトゲート信号ＷＧがｔ3 〜ｔ8 区間に発生するので、図９（Ｆ）に示すステップパルス形成用フリップフロップ５７の出力パルスがＯＲゲート５８で阻止される。従って誤ったステップ動作が発生しない。
【００３７】
検査用ライトデ−タ供給手段として機能する検査用ライトデータ分別用ゲート５２はＮＡＮＤゲートであり、一方の入力端子はライトゲート出力ライン６ｂに接続され、他方の入力端子は検査用混合信号入力端子Ａ1 にＮＯＴ回路７２を介して接続されている。従って、ライトゲート信号ＷＧが高レベルの時において他方の入力端子に低レベルの信号が入力した時にのみ低レベルの出力を発生する。図８（Ａ）の検査用ステップパルスがゲート５２に入力した時には、ライトゲート信号ＷＧが低レベルであるので、検査用ステップパルスはゲート５２で阻止される。また、図９（Ａ）のｔ1 〜ｔ2 に示されている検査用ライトデータの最初のパルスもゲート５２で阻止される。しかし、２番目よりも後のライトデータはゲート５２を通過し、出力ライン６ｃに図９（Ｊ）に示すライトデータが得られる。なお、検査モードにおいてライトデータブロックの最初のデータパルスが得られなくても問題が生じない。また、検査用ステップパルスが図８（Ａ）のｔ1 から図８（Ｆ）のｔ3 に遅延するが、問題が生じない。
【００３８】
図４のリセット回路５４はリセット用トランジスタ５４ａとプルアップ抵抗５４ｂとから成る。トランジスタ５４ａのコレクタは抵抗５４ｂを介して直流電源端子５４ｃに接続され、エミッタはグランドに接続されている。従って、ベースにリセット信号が入力した時にコレクタがグランド（低レベル）となり、低レベルのリセットパルスが得られる。
【００３９】
再び図３の検査装置３を説明する。検査用ステップ方向信号発生回路４２、検査用サイドセレクト信号発生回路４３、検査用１．６ＭＢ／２．０ＭＢモ−ド識別信号発生回路４５、検査用パワ−セ−ブ信号発生回路４６は、これ等の出力端子Ｂ2 、Ｂ3 、Ｂ4 、Ｂ5 にそれぞれ接続されている。検査装置３の端子Ｂ2 、Ｂ3 、Ｂ4 、Ｂ5 に出力される検査用信号は、図１のインタフェ−ス５の出力端子Ｆ2 、Ｆ3 、Ｆ6 、Ｆ9 から発生する信号と実質的に同一の機能を有する信号である。
制御及び検査回路４８は、リ−ドデ−タ入力端子Ｂ6 、インデックス信号入力端子Ｂ7 、トラックゼロセンサ信号入力端子Ｂ8 、モニタ−信号入力端子Ｂ9 に接続され、また疑似トラックゼロ検出信号作成回路４９にも接続され、これ等の入力信号に基づいてシ−ク検査、リ−ド検査、インデックスタイミング検査、トラックゼロタイミング検査等を実行する。
【００４０】
疑似トラックゼロ検出信号作成回路４９は、トラックゼロセンサ信号入力端子Ｂ8 に接続され、図１及び図２のトラックゼロセンサ９の出力に基づいて疑似的に検査用トラックゼロ検出信号を形成するものであり、バッファ増幅器５０と遅延用コンデンサ５１と抵抗５２とダイオ−ド５３と波形整形用増幅器５４とから成る。増幅器５０は入力端子Ｂ8 に接続されている。遅延用コンデンサ５１の一端は充電用抵抗５２を介して増幅器５０に接続され、この他端はグランドに接続されている。ダイオ−ド５３はコンデンサ５１の放電経路を形成するように抵抗５２に並列に接続されている。波形整形用増幅器５４はコンデンサ５１の一端に接続され、コンデンサ５１の電圧をこのしきい値によって波形整形し、これを疑似トラックゼロ検出信号としてライン５５に出力する。
【００４１】
図１０は疑似トラックゼロ検出信号作成回路４９の動作を説明するためのタイミングチャ−トである。この例では、図１０のｔ1 よりも前の時点におけるＦＤＤ４の電源の投入後におけるディスク２１の挿入によって図２に示すリキャリブレ−ション回路３３を動作させ、ヘッド１３ａ、１３ｂをトラックゼロに位置決めする。次に、ｔ1 〜ｔ6 区間でステップインを示す方向信号を図１０（Ａ）に示すように発生させ、且つステップパルスを図１０（Ｂ）に示すようにｔ1 、ｔ2 、ｔ4 、ｔ5 で発生させることによってヘッド１３ａ、１３ｂをトラック４まで移動させる。トラックゼロセンサ９はｔ1 〜ｔ3 の誤差を有してｔ3 時点でトラックゼロを示す高レベルから非トラックゼロを示す低レベレに転換する。このｔ3 時点の情報はＦＤＤ４の制御に利用されないのでｔ1 〜ｔ4 の長短は問題にならない。
しかる後、疑似トラックゼロ検出信号を得るために、図１０（Ａ）に示すようにｔ6 時点で方向信号をステップアウトに切換え、図１０（Ｂ）に示すようにｔ7 、ｔ8 、ｔ9 、ｔ11でステップパルスを発生させる。これにより、ヘッド１３ａ、１３ｂがトラック４からトラック０に向かって移動し、図１０（Ｄ）に示すトラックゼロセンサ９の出力がｔ10時点で高レベルに反転する。この結果、増幅器５０の出力も高レベルになり、コンデンサ５１が抵抗５２を介して徐々に充電される。コンデンサ５１の電圧波形は増幅器５４のしきい値によって方形波に波形整形され、図１０（Ｅ）に示すようにｔ11から高レベルの疑似トラックゼロ検出信号が得られる。この疑似トラックゼロ検出信号は図１０（Ｄ）のトラックゼロセンサ出力波形の立上りを時間Ｔd だけ遅延し、ｔ13における立下りはトラックゼロセンサ出力波形と同じにしたものである。なお、ｔ13時点で図１０（Ｄ）のトラックセンサ出力が低レベルになると、増幅器５０の出力も低レベルになり、コンデンサ５１の電荷がダイオード５３を介して急速に放出されるので、立下り時点の遅延は実質的に生じない。
この例では、ヘッド１３ａ、１３ｂがトラック１に位置している時にトラックゼロセンサ９の出力が高レベルに立上っている。図１０（Ｂ）に示す検査用ステップパルスは周期Ｔs （４ｍｓ）を有して順次発生し、トラックゼロセンサ出力はトラック１の中間で発生している。即ち、トラックゼロセンサ９はステップアウト送りにおいて約0.5トラック分の検出誤差を有する。なお、図１０（ｃ）では説明を簡略化するためにヘッド位置を示すトラック番号が図１０（Ｂ）のステップパルスの発生と同時に変化しているが、実際には、ステップパルスが発生して励磁状態が切換り、ヘッド１３ａ、１３ｂが次のトラックに移動するまでに遅れ時間（約２ｍｓ）がある。従って、真のトラックゼロは図１０のｔ11よりも少し後になる。
もし、図２のＦＤＤ４のトラックゼロ検出回路１９に図１０（Ａ）、（Ｄ）の信号及び特定励磁相検出信号Ｗ12を入力させたとすれば、トラックゼロ検出信号は図１０（Ｅ）のｔ11〜ｔ12区間で得られる。従って、図１０（Ｅ）の疑似トラックゼロ検出信号の立上り時点ｔ11は真のトラックゼロ検出信号に一致する。
【００４２】
疑似トラックゼロ検出信号の立下り時点ｔ13はステップ方向信号の立下りｔ12よりも遅れているが、トラックゼロ検出信号はトラックゼロになる時点の情報を提供するのみで十分であるからｔ12〜ｔ13の遅れは問題にならない。
【００４３】
図１０では疑似トラックゼロ検出信号の立上り時点ｔ11をステップパルスの発生に同期させているが、これよりも少し遅れた例えばｔ11´時点としてもよい。トラックゼロセンサ出力と疑似トラックゼロ検出信号との間の遅延時間Ｔd は、ステップアウト動作時におけるトラックゼロセンサ９のトラックゼロの検出誤差にほぼ一致するように設定されている。このＴd の設定は図３のコンデンサ５１の容量値、抵抗５２の値、増幅器５４のしきい値等の調整で行うことができる。この遅れ時間Ｔd はステッピングモータ１５の検査時のステップレートが４ｍｓの場合には、１〜２ｍｓ程度になる。
【００４４】
ｔ11時点で疑似トラックゼロ検出信号によるトラックゼロ検出を示す信号が得られたら、これを図３の制御及び検査回路４８に送り、例えばシーク検査の基準として使用し、図１０のｔ12時点以後においてステップインを示す方向信号とステップパルスを発生させ、ヘッド１３ａ、１３ｂを所定トラック数移動させる。
【００４５】
この実施例では節電を図るために、図１に示すようにトラックゼロセンサ９にタイマ３３が設けられ、ステップパルスが入力した時の所定時間のみで発光素子２８を発光させるように構成されている。検査モード時においてもこの節電を行うと、疑似トラック検出信号を正確に作成することが不可能になる恐れがある。そこで、検査モード時には、検査モード指令器７の出力に基づいて発光素子２５を連続的に点灯させる。これにより、図１０（Ｄ）に示すようにトラックゼロセンサ出力を図２のトラックゼロ検出回路１９から得られる信号に近似させることができ、図１０（Ｅ）の疑似トラックゼロ検出信号を真のトラックゼロ検出信号に近づけることができる。
【００４６】
【検査用モータオン信号及びドライブセレクト信号】
本実施例の検査装置３は検査用モータオン信号及び検査用ドライブセレクト信号の作成回路、及びこれ等の出力端子を有さない。また、フロッピーディスク記憶装置２は検査用モータオン信号入力端子及び検査用ドライブセレクト信号入力端子を有さない。この代りに、ディスクセンサ８の出力を疑似検査用モータオン信号及び疑似検査用ドライブセレクト信号として供給するための選択スイッチＳ7 、Ｓ8 が設けられている。図５は第２の検査用信号供給手段としての機能を有する図１の第７及び第８の選択スイッチＳ7 、Ｓ8 をより詳しく示すものであり、第７及び第８の選択スイッチＳ7 、Ｓ8 は図１の接点ａ、ｂに対応する電子スイッチから成る第１及び第２のスイッチＳ7a、Ｓ8a、Ｓ7b、Ｓ8bを有する。第７の選択スイッチＳ7 の第１のスイッチＳ7aはインターフェース５のモータオン信号入力端子Ｆ7 とＦＤＤ４の第７の端子Ｔ7 との間に接続され、検査モード指令器７の出力ライン７ａが非検査モードを示している時にオンになる。第７の選択スイッチＳ7 の第２のスイッチＳ7bは、ディスクセンサ８の出力ライン８ｄと第７の端子Ｔ7 との間に接続され、検査モード信号ライン７ａの信号をＮＯＴ回路６０で反転したもので制御され、検査モード時にオンになり、ライン８ｄのディスクセンサ出力信号を疑似検査用モータオン信号として端子Ｔ7 に供給する。
第８の選択スイッチＳ8 の第１のスイッチＳ8aはインターフェース５のドライブセレクト信号出力端子Ｆ8 とＦＤＤ４の第８の端子Ｔ8 との間に接続され、ライン７ａが非検査モードを示している時にオンになる。第８の選択スイッチＳ8 の第２のスイッチＳ8bは、ディスクセンサ出力ライン８ｄと第８の端子Ｔ8 との間に接続され、ライン７ａが検査モード時を示している時にＮＯＴ回路６１の出力に応答してオンになり、ディスクセンサ出力信号を疑似検査用ドライブセレクト信号として端子Ｔ7 に供給する。
【００４７】
ディスクセンサ出力とモータオン信号とドライブセレクト信号とはそれぞれ別の機能を有するものであるが、検査モードにおいては、何らかの方法によってディスク回転モータ１１を回転させ、且つ何らかの方法によってＦＤＤ４を動作可能状態（ドライブセレクト状態）にすれば、検査を実行することができる。そこで、本実施例ではディスクセンサ出力を検査用モータオン信号及び検査用ドライブセレクト信号に兼用し、これ等の検査用端子を省いている。
【００４８】
上述から明らかなように、本実施形態は次の効果を有する。
（１）検査用端子Ａ1〜Ａ9を有するので、ＵＳＢインタフェース５とＦＤＤ４が同一の回路基板を使用して一体的に形成されているにも拘らず、ＵＳＢインタフェース５を介さないでＦＤＤ５の検査を行うことができる。従って、検査が容易になる。
（２）  ＵＳＢインタフェース５を介して得ることができない磁気ヘッド13a、13bの前置増幅器３５の出力を端子Ａ9から得てヘッド13a、13bを検査することができる。
（３）  検査装置３から検査用ライトデータと検査用ステップパルスとの混合信号を記憶装置２側の検査用混合信号入力端子Ａ1 に供給する構成であるので、記憶装置２側に検査用ライトデータ入力端子と検査用ステップパルス入力端子とを独立に設けることが不要になり、検査用入力端子の数を低減し、記憶装置２の小型化を図ることができる。
（４）  検査用ライトゲート信号を検査装置３から供給しないで、検査用信号作成回路６においてライトデータに基づいて作成しているので、記憶装置２側に検査用ライトゲート信号入力端子を設けることが不要になり、記憶装置２の小型化を図ることができる。
（５）  検査用モータオン信号及び検査用ドライブセレクト信号を検査装置３からＦＤＤ４に供給しないで、ディスクセンサ８の出力に基づいて疑似検査用モータオン信号及び疑似検査用ドライブセレクト信号を作成しているので、検査用信号のための端子の数を低減し、記憶装置２の小型化を図ることができる。
（６）  ＦＤＤ４の端子Ｔ12のトラックゼロ検出信号ＴＲ00を検査装置３に供給するための端子を設けないで、検査装置３の中の疑似トラックゼロ検出信号作成回路４９によって疑似的にトラックゼロ検出信号を作成するので、検査用信号のための端子数を低減し、記憶装置の小型化を図ることができる。
【００４９】
【第２の実施形態】
次に、図１１を参照して第２の実施形態のフロッピーディスク記憶装置２aを説明する。但し、図１１において図１〜図10と共通する部分には同一の符号を付してその説明を省略する。また、第２の実施形態の説明において第１の実施形態と共通する部分は図１〜図10を参照する。
【００５０】
図11のフロッピーディスク記憶装置２aは、図1のフロッピーディスク記憶装置２における検査装置３への接続の形態を変えた他は、図１と同一に形成したものである。
図11のＦＤＤ４の端子Ｔ1〜Ｔ12及びＡ9は図１で同一の符号で示すものと同一のものであり、第１のインタフェース71を構成している。ＵＳＢインタフェース５は、ホスト装置１に接続されるコネクタ５aとＵＳＢ送受信回路を含むインタフェース部５bとＦＤＤ４の制御を司る制御部即ちＦＤＣ部５cとを有する。ＵＳＢコネクタ５aとＵＳＢインタフェース部５bは請求項２の発明の第２のインタフェースに相当している。ＦＤＣ部５cの端子Ｆ1〜Ｆ12は図１と同様にＦＤＤ４の端子Ｔ1〜Ｔ12に接続されている。
【００５１】
検査用端子ａ1〜ａ14を含むコネクタ72は、図示されていない検査装置に接続するものであり、請求項２の発明の第３のインタフェースを構成している。コネクタ72の端子ａ1〜ａ13はＦＦＤ４の端子Ｔ1〜Ｔ12及びＡ9にスイッチＳ1〜Ｓ13を介して選択的に接続される。端子ａ14は検査装置に接続された時にグランドに落とされるものであり、検査モード指定信号入力端子と呼ぶことができるものである。この端子ａ14に接続されたスイッチ制御手段73はスイッチ群74の各スイッチＳ1〜Ｓ13を検査時にオンに制御し、非検査時にオフに制御するものである。
【００５２】
図11の実施形態においても、図１と同様にＦＤＤ４のリード回路10、ライト回路18、制御回路20、ＵＳＢインタフェース５、スイッチ群74、検査用コネクタ72、スイッチ制御手段73が同一の回路基板上に一体的に形成されている。
【００５３】
図11では、図１の端子Ａ1の代りに３つの端子ａ1、ａ4、ａ5が設けられており、図示されていない検査装置からステップ信号ＳＴＥＰと、ライトゲート信号ＷＧと、ライトデータＷＤとが独立に送られている。しかし、この代わりに図１と同様に検査用信号作成回路６を設け、ここから信号ＳＴＥＰ、ＷＧ，ＷＤを得ることができる。
なお、図11のａ1、ａ4、ａ5は図１の6a、6b、6cに対応している。
また、図11では図１のライン８dの代りに独立にモータオン信号Ｍｏｎの入力端子ａ7とドライブセレクト信号ＤＳの入力端子ａ8とを有する。しかし、図11においても、モータオン信号Ｍｏｎとドライブセレクト信号ＤＳとを図１と同様にディスクセンサ８から入力させることができる。
図11の端子ａ9、ａ10、ａ11は、図１のＡ2、Ａ3、Ａ4、Ａ5、Ａ6、Ａ7、に相当している。
図11のａ12は図１では設けられていないトラック零信号ＴＲＯＯを検査用に出力するものである。また、ａ13は図１のＡ9に相当する。
【００５４】
第２の実施形態は第１の実施形態の(１)(２)と同様な効果を有する。また、第２の実施例によれば、検査装置をコネクタ72に接続すると、制御回路73が検査装置の接続を認識してスイッチ群74の各スイッチＳ1〜Ｓ13をオンにして検査装置をＦＤＤ４に接続する。従って、検査装置のＦＤＤ４に対する電気的接続及び切り離しを容易に達成することができる。
【００５５】
【変形例】
本発明は上述の実施例に限定されるものでなく、例えば次の変形が可能なものである。
（１）  検査モード指令器７を検査装置３側に設けることができる。
（２）  選択スイッチＳ1 、〜Ｓ6 、Ｓ9 をダイオードによるＯＲゲート回路とし、いずれか一方の入力のみを端子Ｔ1 、〜Ｔ6 、Ｔ9 に供給するように構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態のフロッピーディスク記憶装置及びこの検査装置を示すブロック図である。
【図２】図１のＦＤＤを詳しく示すブロック図である。
【図３】図１の検査装置を詳しく示すブロック図である。
【図４】図１の検査用信号作成回路を詳しく示す回路図である。
【図５】図１の第７及び第８の選択スイッチＳ7 、Ｓ8 を詳しく示す回路図である。
【図６】図２のトラックゼロ検出回路の動作を説明するための図２の各部の波形図である。
【図７】図３の混合回路の入出力及び図１の検査用信号作成回路の出力を示す波形図である。
【図８】検査用ステップパルスが入力した時の図４のＡ〜Ｌ点の状態を示す波形図である。
【図９】検査用ライトデータが入力した時の図４のＡ〜Ｌ点の状態を示す波形図である。
【図１０】検査モード時における図３の疑似トラックゼロ検出信号作成回路動作を説明するための波形図である。
【図１１】第２の実施形態のフロッピーディスク記憶装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
２  フロッピーディスク記憶装置
３  検査装置
４  ＦＤＤ
５  ＵＳＢインターフェース
６  検査用信号作成回路
７  検査モード指令器
８  ディスクセンサ
９  トラックゼロセンサ
２４  特定励磁相検出ライン
４９  疑似トラックゼロ検出信号作成回路
Ａ1 〜Ａ9   検査用端子
【図１】
0003743497.tif 000002
【図２】
0003743497.tif 000003
【図３】
0003743497.tif 000004
【図４】
0003743497.tif 000005
【図５】
0003743497.tif 000006
【図６】
0003743497.tif 000007
【図７】
0003743497.tif 000008
【図８】
0003743497.tif 000009
【図９】
0003743497.tif 000010
【図１０】
0003743497.tif 000011
【図１１】
0003743497.tif 000012