(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験片である細線を嵌め込むための第１の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第１のロッドと、この第１のロッドよりも太い筒状で且つ前記細線を嵌め込むための第２の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第２ロッドとを有し、前記第１のロッドの一部を前記第２のロッドに挿入して、ロッド全体を軸方向に伸縮自在とし、且つ、前記第１の嵌め込み溝の一部と前記第２の嵌め込み溝の一部とを重ね合わせて、これらの溝を一直線状にし、これらの溝の全長に渡って前記細線を嵌め込むように構成した細線取り付け具と、
前記細線を第１の標点位置において前記第１のロッドに固定する第１の細線固定手段と、
前記細線を第２の標点位置において前記第２のロッドに固定する第２の細線固定手段とを備えてなることを特徴とする細線伸び計。
【請求項２】
請求項１に記載する細線伸び計において、
前記第１及び第２の細線固定手段は、
前記第１のロッドに形成した第１の固定溝に嵌合する第１の爪を有し、この第１の爪によって前記細線を前記第１のロッドに押し付けるようにして固定する第１のクリップ治具と、
前記第２のロッドに形成した第２の固定溝に嵌合する第２の爪を有し、この第２の爪によって前記細線を前記第２のロッドに押し付けるようにして固定する第２のクリップ治具とであることを特徴とする細線伸び計。
【請求項３】
請求項１又は２に記載する細線伸び計において、
前記第１のロッドと第２のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、前記回転止めピンを前記回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、前記第１のロッドと前記第２のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したことを特徴とする細線伸び計。
【請求項４】
請求項１，２又は３に記載する細線伸び計において、
前記第１のロッドと第２のロッドの伸縮を阻止する固定ねじを設けたことを特徴とする細線伸び計。
【請求項５】
請求項１，２，３又は４に記載する細線伸び計と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第１のロッドの変位量を、非接触で測定する第１の非接触式変位測定手段と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第２のロッドの変位量を、非接触で測定する第２の非接触式変位測定手段とを備えたことを特徴とする細線伸び計測装置。
【請求項６】
請求項５に記載する細線伸び計測装置において、
前記第１及び第２の非接触式変位測定手段は、
前記第１のロッドの端部を間に挟んで第１のレーザ光源と第１のレーザ受光器とを対向配置して、前記第１のレーザ光源から前記第１のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第１のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第１のロッドの変位を測定する第１の非接触式変位測定装置と、
前記第２のロッドの端部を間に挟んで第２のレーザ光源と第２のレーザ受光器とを対向配置して、前記第２のレーザ光源から前記第２のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第２のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第２のロッドの変位を測定する第２の非接触式変位測定装置とであることを特徴とする細線伸び計測装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、細線の引張試験に用いる細線伸び計及びこれを用いた細線伸び計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般の材料の応力とひずみとの関係及びヤング率の計測は、引張試験機などの材料試験機を用いて行われる。引張試験では、試験片の断面に引張力を均一に作用させることや、破断にいたるまでの変形を十分に生じさせることが必要であるため、例えば金属材料の引張試験に用いられる試験片は、JIS Z 2201により規定されている。いずれの試験片を用いるかは、各材料規格の規定による。
【０００３】
そして引張試験機は、試験片の標点距離を定める取り付け部に直接取り付けられた伸び計により、試験片に生じた伸びを測定するのが一般的であった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の伸び計を用いた技術を細線の伸び計測に応用すると種々の困難が生じる。
【０００５】
図８は従来の接触式伸び計測装置の例であり、この伸び計測装置は取り付け部１０５，１０６が試験片である細線１０１の標点Ｘ，Ｙの位置に直接取り付けられる。細線１０１の両端部には細線端固定具１０７，１０８を固定し、これらの細線端固定具１０７，１０８を図示しない引張試験機で引張って細線１０１に張力を与えることにより、細線１０１の引張試験を行う。このとき、自在関節１０２は、標点距離（Ｘ−Ｙ）が引張試験によって広がるのを妨げず、標点距離の変化は、例えば、電磁誘導による誘導電流の測定を利用した変位計測器１０３で行う。
【０００６】
そして、細線１０１など、伸び測定対象の剛性が小さい場合には、伸び計測装置を吊りひも１０４などの吊り具で吊るすなどして伸び計測装置の自重が細線１０１に与える影響を除去する必要があるが、吊り具によって標点Ｘ，Ｙに力がかからないように伸び計測装置を取り付けることは困難である。
【０００７】
更に、引張試験によって標点距離が広がると重心も変化するので、図９のように取り付け部１０５，１０６にはやがて不平衡な力Ｆ1 ，Ｆ2 が加わって細線１０１に曲げモーメントを発生し、このことによって、細線１０１に加わる張力が変化したり、場合によっては図１０のように細線１０１の固定部位１１０（図９に示す取り付け部１０７等）付近に剪断力Ｆ3 が生じて断線する。そのため、小さな負荷を与える細線１０１の引張試験は困難であった。また細線１０１は、細線１０１についた曲がり癖など細線自身のもつ剛性により、伸び計の取り付け、芯出し、伸び計の標点距離の保持、引張試験機への取り付け、及び伸び計測等が困難であった。
【０００８】
これらに対し、カメラにより試験片が伸びる様子を画像として取り込んで解析したり、レーザ光線の照射によって発生するスペクトルパターンを仮想的標点として追跡したりして、非接触で試験片の伸びを測定する方法があるが、極細の光ファイバーケーブルなどの細線は丸くて細いため、画像やスペクトルパターンを取りこむことが難しかった。
【０００９】
従って、本発明は上記の問題点に鑑み、細線に曲げモーメントのような外力が加わって引張試験の張力にくるいが生じたり、細線が切れたりすることがなく、しかも、細線に曲がり癖がついていても伸び計への取り付けなどが容易であり、また、細線の伸びを既存の非接触式変位測定方法でも確実に測定することができる細線伸び計及びこれを用いた細線伸び計測装置を提供することを課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する第１発明の細線伸び計は、試験片である細線を嵌め込むための第１の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第１のロッドと、この第１のロッドよりも太い筒状で且つ前記細線を嵌め込むための第２の嵌め込み溝を軸方向の全長に渡って形成した第２ロッドとを有し、前記第１のロッドの一部を前記第２のロッドに挿入して、ロッド全体を軸方向に伸縮自在とし、且つ、前記第１の嵌め込み溝の一部と前記第２の嵌め込み溝の一部とを重ね合わせて、これらの溝を一直線状にし、これらの溝の全長に渡って前記細線を嵌め込むように構成した細線取り付け具と、
前記細線を第１の標点位置において前記第１のロッドに固定する第１の細線固定手段と、
前記細線を第２の標点位置において前記第２のロッドに固定する第２の細線固定手段とを備えてなることを特徴とする。
【００１１】
また、第２発明の細線伸び計は、第１発明の細線伸び計において、
前記第１及び第２の細線固定手段は、
前記第１のロッドに形成した第１の固定溝に嵌合する第１の爪を有し、この第１の爪によって前記細線を前記第１のロッドに押し付けるようにして固定する第１のクリップ治具と、
前記第２のロッドに形成した第２の固定溝に嵌合する第２の爪を有し、この第２の爪によって前記細線を前記第２のロッドに押し付けるようにして固定する第２のクリップ治具とであることを特徴とする。
【００１２】
また、第３発明の細線伸び計は、第１又は第２発明の細線伸び計において、
前記第１のロッドと第２のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、前記回転止めピンを前記回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、前記第１のロッドと前記第２のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したことを特徴とする。
【００１３】
また、第４発明の細線伸び計は、第１，第２又は第３発明の細線伸び計において、
前記第１のロッドと第２のロッドの伸縮を阻止する固定ねじを設けたことを特徴とする。
【００１４】
また、第５発明の細線伸び計測装置は、第１，第２，第３又は第４発明の細線伸び計と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第１のロッドの変位量を、非接触で測定する第１の非接触式変位測定手段と、
前記細線を軸方向に引張ったとき、前記細線の伸びとともに軸方向に変位する前記細線伸び計の第２のロッドの変位量を、非接触で測定する第２の非接触式変位測定手段とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
また、第６発明の細線伸び計測装置は、第５発明の細線伸び計測装置において、前記第１及び第２の非接触式変位測定手段は、
前記第１のロッドの端部を間に挟んで第１のレーザ光源と第１のレーザ受光器とを対向配置して、前記第１のレーザ光源から前記第１のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第１のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第１のロッドの変位を測定する第１の非接触式変位測定装置と、
前記第２のロッドの端部を間に挟んで第２のレーザ光源と第２のレーザ受光器とを対向配置して、前記第２のレーザ光源から前記第２のロッドの端部及びその近傍にレーザ光線を照射し、このレーザ光線を前記第２のレーザ受光器で受光してレーザ光線の幅を測定することより、前記第２のロッドの変位を測定する第２の非接触式変位測定装置とであることを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
【００１７】
図１は本発明の実施の形態に係る細線伸び計の構成を示す断面図、図２（ａ）は図１のＡ−Ａ線矢視断面、図２（ｂ）は図２（ａ）から第１のロッドを抽出して示す断面図、図２（ｃ）は図２（ａ）から第２のロッドを抽出して示す断面図、図３（ａ）は図１のＢ−Ｂ線矢視断面図、図３（ｂ）は図１のＣ−Ｃ線矢視断面図である。
【００１８】
また、図４（ａ）はクリップ治具の爪を第１のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、図４（ｂ）はクリップ治具の爪を第２のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、図５は細線の両端部を細線端固定具で固定した状態を示す説明図、図６は細線伸び計測装置の全体的な構成と前記細線伸び計による測定原理とを示す説明図、図７は細線の引張試験結果を示すグラフである。
【００１９】
図１及び図２に示すように、細線伸び計２０は、第１のロッド２１、第２のロッド２２、固定ねじ２３、回転止めピン２４、回転止め台２６及びクリップ治具３０を備えてなるものである。
【００２０】
ロッド２１は円筒状であり、その外周部には細線１を嵌め込むための嵌め込み溝２８ａが、軸方向（Ｘ軸方向）の全長に渡って形成されている。この嵌め込み溝２８ａは横断面がＶ字状であってロッド２１の軸心にまで達しており、前記軸心に向かうほど間隔が狭まっている。ロッド２２はロッド２１よりも太い円筒状であり、その外周部には細線１を嵌め込むための嵌め込み溝２８ｂが、Ｘ軸方向の全長に渡って形成されている。この嵌め込み溝２８ｂも横断面がＶ字状であってロッド２２の軸心にまで達しており、前記軸心に向かうほど間隔が狭まっている。
【００２１】
そして、内筒であるロッド２１の一部を外筒であるロッド２２に挿入している。このことにより、ロッド２１，２２全体をＸ軸方向に伸縮自在とし、且つ、嵌め込み溝２８ａの一部と嵌め込み溝２８ｂの一部とを重ね合わせて、これらの溝２８ａ，２８ｂを一直線状とし、これらの溝２８ａ，２８ｂの全長に渡って細線１を嵌め込むように構成している。かくして、細線１を取り付けるための細線取り付け具が構成されている。なお、この細線取り付け具は軽量のものである、即ち、ロッド２１，２２などの構成部材が軽量の材料で構成されている。
【００２２】
また、ロッド２１の外周面にはＬ字状の回転止めピン２４を固定し、ロッド２２の外周面には回転止め台２６を固定している。そして、回転止めピン２４のＸ軸方向に沿う部分２４ａを、回転止め台２６にＸ軸方向に沿って形成した穴２６ａに挿入している。このことにより、回転止めピン２４と回転止め台２６はＸ軸方向には移動自在である一方、Ｘ軸方向と直交する方向への相対的な移動は阻止される。従って、回転止めピン２４と回転止め台２６は、ロッド２１，２２が、Ｘ軸方向に伸縮するのを妨げることなく、Ｘ軸回りに相対的に回転するを防止する。
【００２３】
固定ねじ２３は回転止め台２６に設けられており、回転止め台２６及びロッド２２にねじ込まれて、先端がロッド２２の外周面に当接することにより、ロッド２１，２２の伸縮を阻止するようになっている。
【００２４】
また、細線１は、クリップ治具３０により第１の標点位置においてロッド２１に固定され、且つ、他のクリップ治具３０により第２の標点位置においてロッド２２に固定されている。図３に示すように、これらのクリップ治具３０は同じ構成のものであり、軽量で弾性を有する薄い材料で製作されている。
【００２５】
具体的には、Ｕ字状のバネ３４の両端部にクリップつまみ３１ａとクリップつまみ３１ｂとがそれぞれ固定されており、バネ３４はクリップつまみ３１ａ，３１ｂをこれらの先端側が互いに近づく方向に付勢している。クリップつまみ３１ｂの先端部には楔状の爪３２を有している。また、クリップつまみ３１ａの先端側は、ロッド２１，２２の外周面に沿うように湾曲している。一方、ロッド２１の端部には側面視がＶ字状の固定溝３３ａが形成されており、ロッド２２の端部にも側面視がＶ字状の固定溝３３ｂが形成されている。これらの固定溝３３ａ，３３ｂはロッド２１，２２の軸心まで達している。
【００２６】
従って、クリップ治具３０は、図３（ａ）及び（ｂ）に一点鎖線で示すようにバネ３４のバネ力に抗してクリップつまみ３１ａ，３１ｂを広げてから、図３（ａ）及び（ｂ）に実線で示すようにロッド２１，２２の端部にそれぞれ装着する。このとき、クリップつまみ３１ａの先端側がロッド２１，２２の外周面に接触するとともに、クリップつまみ３１ｂの爪３２がロッド２１，２２の固定溝３３ａ，３３ｂに嵌合して細線１をロッド２１，２２に押し付ける。なお、爪３２を固定溝３３ａ，３３ｂに嵌合させるときの状態は図４に示す通りである。
【００２７】
かくして、細線１は標点位置においてロッド２１，２２にそれぞれ固定される。このとき、細線１の標点距離は固定溝３３ａと固定溝３３ｂとの間の距離Ｌであり、ロッド２１，２２の全長はロッド２１の端２７ａからロッド２２の端２７ｂまでの距離Ｌ1 である。
【００２８】
図５に示すように、細線１は両端を伸び計２０（ロッド２１，２２）の外まで延ばした状態で設置される。そして、細線１の両端は細線端固定具５０よってそれぞれ固定する。細線１の引張試験は、引張試験機で細線端固定具５０を引張ることにより行う。
【００２９】
図６に示すように、細線１を引張ることにより、細線１の標点間距離がΔＬだけ伸びてＬ＋ΔＬになると、この細線１の伸びに伴ってロッド２１，２２が伸長し、ロッド２１，２２の全長はＬ１＋ΔＬとなる。すなわち、細線１の伸びΔＬは、ロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂに生じた変位と同じである。従って、このロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂの変位ΔＬを計測することで、細線１の伸びΔＬを測定することができる。
【００３０】
そこで、ロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂの変位を変位測定装置によって計測するが、この場合、細線１に加える張力を精確に保つためには、細線１及び伸び計２０に非接触で変位測定を行うことが望ましい。このため、本実施の形態では、図６に示すようなレーザ光線を利用した非接触式変位測定装置よってロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂの変位測定を行う。
【００３１】
具体的には、図６に示すように、ロッド２１の端部を間に挟んでレーザ光源４１ａとレーザ受光器４２ａとを対向配置して、レーザ光源４１ａからロッド２１の端部及びその近傍にレーザ光線４３ａを照射し、このレーザ光線４３ａをレーザ受光器４２ａで受光する。このとき、レーザ光源４１ａから出射されるレーザ光線の幅はＬ2 であるが、その一部がロッド２１の端部に遮られることにより、レーザ受光器４２ａで受光されるレーザ光線の幅はＬ3 ( ＜Ｌ2 ）となる。そして、このレーザ光線の幅Ｌ3 がロッド２１の端２７ａの変位量に応じて変化する。従って、レーザ受光器４２ａでレーザ光線の幅Ｌ3 を測定することにより、ロッド２１の端２７ａの変位量を測定することができる。
【００３２】
同様に、ロッド２２の端部を間に挟んでレーザ光源４１ｂとレーザ受光器４２ｂとを対向配置して、レーザ光源４１ｂからロッド２２の端部及びその近傍にレーザ光線４３ｂを照射し、このレーザ光線４３ｂをレーザ受光器４２ｂで受光する。このとき、レーザ光源４１ｂから出射されるレーザ光線の幅はＬ2 であるが、その一部がロッド２２の端部に遮られることにより、レーザ受光器４２ｂで受光されるレーザ光線の幅はＬ3 ( ＜Ｌ2 ）となる。そして、このレーザ光線の幅Ｌ3 がロッド２２の端２７ｂの変位量に応じて変化する。従って、レーザ受光器４２ｂでレーザ光線の幅Ｌ3 を測定することにより、ロッド２２の端２７ｂの変位量を測定することができる。
【００３３】
次に、細線伸び計２０を用いた細線１の引張試験手順について説明する（図１〜図６参照）。
【００３４】
まず、ロッド２１，２２を適宜伸縮して固定溝３３ａ，３３ｂの間隔を所定の標点距離Ｌとし、この標点距離Ｌを保持した状態で固定ねじ２３によりロッド２１，２２を固定して、これらの伸縮を阻止する。
【００３５】
この状態で細線１をロッド２１，２２の嵌め込み溝２８ａ，２８ｂに嵌め込み、クリップ治具３０によって細線１を第１の標点位置（固定溝３３ａの位置）においてロッド２１に固定し、且つ、他のクリップ治具３０によって細線１を第２の標点位置（固定溝３３ｂの位置）においてロッド２２に固定する。このとき、ロッド２１，２２は固定ねじ２３により固定されているため伸縮しない。
【００３６】
続いて、細線１の両端部に細線端固定具５０を取り付ける。細線伸び計２０への細線１の取り付けと、細線１の端部への細線端固定具５０の取り付けとが完了したら、固定ねじ２３を緩めてロッド２１，２２を伸縮可能とし、細線１を図示しない引張試験機に取り付ける。この引張り前の細線１の標点距離Ｌはロッド２１，２２の固定溝３３ａ，３３ｂの間の距離Ｌである。
【００３７】
次に、引張試験機により細線端固定具５０をＸ軸方向に引張ることによって、細線１にＸ軸方向の張力を与える。その結果、細線１が伸び、この細線１の伸びとともにロッド２１，２２も伸長して、ロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ａがＸ軸方向に変位する。即ち、ロッド２１，２２は細線１に対してそれぞれ一点（固定溝３３ａ，３３ｂ部分）で固定され、且つ、相互にＸ軸方向に伸縮自在であるため、細線１の伸びはそのままロッド全体の伸びに反映される。また、このとき、回転止めピン２３と回転止め台２６の働きにより、ロッド２１，２２はＸ軸方向に案内され、ロッド２１，２２がＸ軸回りに相対的に回転することはない。
【００３８】
そして、ロッド２１の端２７ａの変位量をレーザ光源４１ａとレーザ受光器４２ａとを用いて測定し、ロッド２２の端２７ｂの変位量をレーザ光源４１ｂとレーザ受光器４２ｂとを用いて測定する。かくして、細線１の伸び量ΔＬを測定することができる。
【００３９】
図７には細線の引張試験の結果の一例を示す。同図において、横軸は細線に生じたひずみ（伸び）を表し、縦軸は応力を表す。引張試験は、細線（試験片）として全長１２０ｍｍの紫外線硬化型樹脂で被覆された光ファイバ（直径０．２５ｍｍ）を用い、この光ファイバに対して引張試験機により一定の速さで引張るようにして負荷（張力）を与えることにより、行った。また、このときの標点距離５０ｍｍである。
【００４０】
図７の応力ひずみ図は微小な荷重においても直線性を示し、この結果は、曲げやモーメントによる試験片への影響がほとんどなく、光ファイバ（試験片）の伸び計への取り付け、芯出し、伸び計の標点距離の保持がうまく行われていることを示している。
【００４１】
以上のように、本実施の形態によれば、細線１をロッド２１，２２の嵌め込み溝２８ａ，２８ｂに全長に渡って嵌め込んで固定するため、細線１に曲げモーメントが加わって引張試験の張力にくるいが生じたり、細線が切れたりする虞がない。しかも、細線１を細長い嵌め込み溝２８ａ，２８ｂに嵌め込んでから、クリップ治具３０でロッド２１，２２に固定することができるため、細線１に曲がり癖がついていても容易に細線１を細線伸び計２０に取り付けることができる。
【００４２】
更に、引張試験においては、細線そのものの伸びを直接測定するのではなく、ロッド２１，２２の変位を測定することよって細線１の伸びを測定するため、既存の非接触式変位測定装置によって容易に細線１の伸びを測定することができる。即ち、ロッド２１，２２は細線１に比べて十分太いため、その両端２７ａ，２７ｂの変位検出には既存の非接触で物体の変位を測定する方法を適用することができ、その結果、細線１の伸び測定を非接触で行うことが可能となる。
【００４３】
また、クリップ治具３０は固定溝３３ａ，３３ｂに嵌合する爪３２を有し、この爪３２によって細線１をロッド２１，２２に押し付ける構成であるため、構成が簡易であり、且つ、確実に細線１をロッド２１，２２に固定することができる。
【００４４】
また、ロッド２１に回転止めピン２４を固定し、ロッド２２に回転止め台２６を固定して、回転止めピン２４を回転止め台２６の穴２６ａに軸方向に移動自在に挿入することにより、ロッド２１，２２がＸ軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したため、引張試験においてロッド２１，２２が相対的にＸ軸回りに回転して引張試験の張力をくるわすことなどを確実に防止することができる。
【００４５】
また、細線１を取り付けるとき、固定ねじ２３によってロッド２１，２２の伸縮を阻止することができるため、容易に細線１をロッド２１，２２へ取り付けることができ、且つ、引張試験前に細線１に対してＸ軸方向の力を加えることなく取り付けることができる。
【００４６】
そして、上記のような細線伸び計２０を用いた細線伸び計測装置では、細線１に対して非接触式変位測定装置により精度のよい伸び測定を容易に行うことができる。
【００４７】
なお、上記では、非接触式変位測定装置として、レーザ光源４１ａ，４１ｂとレーザ受光器４２ａ，４２ｂとを備えた装置を用いたが、必ずしもこれに限定するものではなく、ロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂの変位を非接触で行う装置としては、例えば、光の他、音や電磁波等を利用した装置でもよく、また、ロッド２１，２２は細線１に比べて十分太いため、ロッド２１，２２の画像をカメラなどで取りこんで変位測定をしたり、レーザ光線の照射により発生するスペクトルパターンの移動を追跡する送り量測定装置よってロッド２１，２２の両端２７ａ，２７ｂの移動量（変位量）を検出するようにしてもよい。
【００４８】
また、上記のクリップ治具３０はバネ３４を用いたものであるが、必ずしもこれに限定するものではなく、例えばバネ３４に代わりに形状記憶合金を用いてクリップ治具を作製し、この形状記憶合金が所定の形状に戻ろうとする力によって細線１をロッド２１，２２に固定するようにしてもよい。
【００４９】
また、上記では、回転止めピン２４と回転止め台２６とによってロッド２１，２２がＸ軸回りに相対的に回転するのを防止しているが、必ずしもこれに限定するものではなく、例えばロッド２１の外径とロッド２２の内径が略等しくて両者の隙間が小さい場合には、ロッド２１，２２がＸ軸回りに相対的に回転しようとしても、これをロッド２１の嵌め込み溝２８ａとロッド２２の嵌め込み溝２８ｂとの重なり部分において規制することができる。
【００５０】
【発明の効果】
以上実施の形態とともに具体的に説明にたように、第１発明の細線伸び計によれば、細線を第１のロッドと第２のロッドの嵌め込み溝に全長に渡って嵌め込んで固定するため、細線に曲げモーメントが加わって引張試験の張力にくるいを生じせしめたり、細線が切れたりする虞がない。しかも、細線を嵌め込み溝に嵌め込んでから、第１の細線固定手段と第１の細線固定手段とで第１のロッドと第２のロッドとに固定することができるため、細線に曲がり癖がついていても容易に細線を細線伸び計に取り付けることができる。
【００５１】
更に、引張試験においては、細線そのものの伸びを直接測定するのではなく、第１のロッドと第２のロッドの変位を測定することよって細線の伸びを測定するため、既存の非接触式変位測定装置でも容易に細線の伸びを測定することができる。即ち、第１及び第２のロッドは細線に比べて十分太いため、その両端の変位検出には既存の非接触で物体の変位を測定する方法を適用することができ、その結果、細線の伸び測定を非接触で行うことが可能となる。
【００５２】
また、第２発明の細線伸び計によれば、第１及び第２のクリップ治具は固定溝に嵌合する爪を有し、この爪によって細線を第１のロッドと第２のロッドとに押し付ける構成であるため、構成が簡易であり、且つ、確実に細線を第１のロッドと第２のロッドとに固定することができる。
【００５３】
また、第３発明の細線伸び計によれば、第１のロッドと第２のロッドの何れか一方に回転止めピンを固定し、他方に回転止め台を固定して、回転止めピンを回転止め台の穴に軸方向に移動自在に挿入することにより、第１のロッドと第２のロッドとが軸回りに相対的に回転するのを防ぐように構成したため、引張試験において第１のロッドと第２のロッドとが軸回りに相対的に回転して引張試験の張力をくるわすことなどを確実に防止することができる。
【００５４】
また、第４発明の細線伸び計によれば、細線を取り付けるとき、固定ねじによって第１及び第２のロッドの伸縮を阻止することができるため、容易に細線を第１及び第２のロッドへ取り付けることができ、且つ、引張試験前に細線に対して軸方向の力を加えることなく取り付けることができる。
【００５５】
そして、第５又は第６発明の細線伸び計測装置では、上記のような第１，第２，第３又は第４発明の細線伸び計を用いるため、細線に対して非接触式変位測定装置により精度のよい伸び測定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る細線伸び計の構成を示す断面図である。
【図２】（ａ）は図１のＡ−Ａ線矢視断面、（ｂ）は（ａ）から第１のロッドを抽出して示す断面図、（ｃ）は（ａ）から第２のロッドを抽出して示す断面図である。
【図３】（ａ）は図１のＢ−Ｂ線矢視断面図、（ｂ）は図１のＣ−Ｃ線矢視断面図である。
【図４】（ａ）はクリップ治具の爪を第１のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図、（ｂ）はクリップ治具の爪を第２のロッドの固定溝に嵌合させるときの状態を示す説明図である。
【図５】細線の両端部を細線端固定具で固定した状態を示す説明図である。
【図６】細線伸び計測装置の全体的な構成と前記細線伸び計による測定原理とを示す説明図である。
【図７】細線の引張試験結果を示すグラフである。
【図８】従来の接触式伸び計測装置の例を示す構成図である。
【図９】前記接触式伸び計測装置による引張試験において発生する曲げモーメントの説明図である。
【図１０】前記接触式伸び計測装置による引張試験において発生する剪断力の説明図である。
【符号の説明】
１  細線（試験片）
２０  細線伸び計
２１  ロッド（内筒）
２２  ロッド（外筒）
２３  固定ねじ
２４  回転止めピン
２６  回転止め台
２６ａ  回転止め台の穴
２７ａ，２７ｂ  ロッドの端
２８ａ，２８ｂ  嵌め込み溝
３０  クリップ治具
３１ａ，３１ｂ  クリップつまみ
３２  爪
３３  固定溝（Ｖ型溝）
３４  バネ
４１ａ，４１ｂ  レーザ光源
４２ａ，４２ｂ  レーザ受光器
４３ａ，４３ｂ  レーザ光線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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