(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物の導電性を検査するために、給電可能なほぼ棒状に形成されているとともに、その一端を前記検査対象物に対して接触離反させる導電接触ピンにおいて、
所定の支持部材に支持される中空のピン本体と、導電性を有する有底筒状に形成され、その底部が前記ピン本体から突没するように前記ピン本体に対して摺動自在に挿入される接触部材と、筒状に形成され、その一端が前記接触部材の内部に収容された状態で前記ピン本体に固定されるエアノズルと、前記接触部材を前記ピン本体に対する所定の初期位置に保持するための付勢手段とを有し、前記接触部材には前記ピン本体の他端側から外部に突出する給電ケーブル接続用の突出片が一体成形されており、前記エアノズルを通じて前記接触部材の内部にエアを噴射することにより前記ピン本体から前記接触部材の底部が突出可能であることを特徴とする導電接触ピン。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は導電接触ピンに係り、さらに詳しく言えば、ピン本体を支持する支持部材の構造を簡略化できるとともに、検査対象物に対して所望の圧力で接触して導電性の検査を確実、かつ、効率的に行える導電接触ピンに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、回路基板における複数個所の導電性を一括して検査するために用いられる検査機器は、回路基板を保持するフィクスチャーと、回路基板に対して平行に配置されたピンボードとを有している。ピンボードにおける複数の所定位置には、棒状の導電接触ピンが厚み方向に貫通するように設けられている。導電接触ピンは、筒状のピン本体と、このピン本体に対してほぼ入れ子状に収容される接触部材とを含んで構成されている。接触部材は導電性を有し、ピン本体に内蔵された圧縮スプリング等によりピン本体に対して所定の初期位置に保持されているとともに、給電ケーブルが接続されている。
【０００３】
そして、検査機器は、回路基板に対してピンボードを降下させることにより、圧縮スプリングを圧縮させながら各導電接触ピンの接触部材をそれぞれ検査個所に対して所定の力で圧接させる。このような検査機器は、導電性の検査を確実に行うために、検査個所に各導電接触ピンを所定の圧力で圧接させる必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前述した導電接触ピンにおいて、検査個所に対する接触部材の圧接力を調整するためには、ピン本体に対して突出長さが異なる複数種類の接触部材や、付勢力が異なる複数種類の圧縮スプリングを選択的に採用したり、あるいはこれらを適宜組み合わせる必要があり、調整に手間が掛かるという問題がある。また、この種の導電接触ピンにおいては、圧縮スプリングの線径を太くするに従って検査個所に対する接触部材の圧接力を大きくできるが、その構造上、圧縮スプリングの線径に上限があるため、検査個所に対する接触部材の圧接力にも上限がある。特に、この種の導電接触ピンにおいて、圧縮スプリングを変更することなく、接触部材の圧接力を大きくするためには、あらかじめピン本体に対して突出長さが大きな接触部材を用い、回路基板に対してピンボードの昇降ストロークを大きく設定する必要があるが、ピンボードの昇降に時間が掛かり、検査効率を悪化させるという問題もある。さらに、従来の測定機器は、前述した導電接触ピンを回路基板に対して接触離反させるための複雑な昇降機構が必要であり、その製造コストが高くなるという問題もある。
【０００５】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたもので、その目的は、回路基板等の検査対象物における検査個所に対する圧接力を容易、かつ、検査効率を悪化させることなく調整できるとともに、検査機器の構造を簡略化できる導電接触ピンを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前述目的を達成するために、本発明は、検査対象物の導電性を検査するために、給電可能なほぼ棒状に形成されているとともに、その一端を前記検査対象物に対して接触離反させる導電接触ピンにおいて、所定の支持部材に支持される中空のピン本体と、導電性を有する有底筒状に形成され、その底部が前記ピン本体から突没するように前記ピン本体に対して摺動自在に挿入される接触部材と、筒状に形成され、その一端が前記接触部材の内部に収容された状態で前記ピン本体に固定されるエアノズルと、前記接触部材を前記ピン本体に対する所定の初期位置に保持するための付勢手段とを有し、前記接触部材には前記ピン本体の他端側から外部に突出する給電ケーブル接続用の突出片が一体成形されており、前記エアノズルを通じて前記接触部材の内部にエアを噴射することにより前記ピン本体から前記接触部材の底部が突出可能であることを特徴としている。
【０００７】
ここで、支持部材としては、先に述べたピンボードや筒状に形成されたスリーブ等を含むものであり、導電接触ピンのピン本体を支持可能であれば形態，寸法等は問わない。そして、ピン本体としては、所望の断面形状を有する筒状に形成しておけばよく、支持部材が確実に支持可能であれば形状，材質等は任意でよい。
【０００８】
また、接触部材としては、ピン本体に対してほぼ入れ子状に挿入配置可能な断面任意形状の有底筒状であればよく、導電性を有する金属等により適宜形成しておけばよい。さらに、この接触部材の底部は、円錐状や角錐状に形成しておいたり、ダイヤモンドカットを施しておいてもよく、あるいは軸線に対して直交または所定角度で交差する平坦面であってもよい。
【０００９】
さらに、エアノズルとしては、その一端が接触部材の内部に気密性を保って挿入配置できれば、他端がピン本体から外部に突出していてもよく、広く市販されているホースが接続可能な金属パイプや合成樹脂パイプ等を採用でき、ピン本体の内径部に係合可能な係合部を例えば周面に設けておけばよい。
【００１０】
また、前記付勢手段として、例えばピン本体に収容される接触部材の基部に鍔部を設けておくとともに、ピン本体と鍔部との間に圧縮スプリングを配置することにより、接触部材の内部にエアを噴射しないときに、ピン本体に対する接触部材の相対位置を所定位置に維持することができる。
【００１１】
本発明においては、エアノズルを通じて接触部材の内部にエアを噴射することによりピン本体から接触部材の底部を突出させ、これによりピンボード等の支持部材を検査対象物に対して昇降させることなく回路基板等の測定対象物に接触部材の底部を接触させることができる。
【００１２】
したがって、本発明によれば、接触部材の内部に噴射するエア圧を適宜設定するという極めて簡単な手段により、従来のように、複数種類の接触部材あるいは圧縮スプリングを選択的に採用するという煩雑な設定作業を行うことなく、検査対象物の検査個所に対する接触部材の圧接力を所望値に調整できることになる。
【００１３】
また、接触部材を検査個所に圧接させるために、支持部材を検査対象物に対して近接離反させる必要がないため、従来に比較して検査機器の製造コストを低くできることになり、これらにより前記目的が達成される。
【００１４】
さらに、前記接触部材には前記ピン本体の他端側から外部に突出する給電ケーブル接続用の突出片が一体成形されているため、ピン本体の材質を任意に選択でき、これにより部品コストを低減できることになる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。本発明に係る実施例が示されている図１によると、この導電接触ピン１０は、検査対象物である回路基板２０における所定個所の導電性を検査するための検査機器に用いられるものであり、回路基板２０に対して平行に配置されたピンボード２１を厚み方向に貫通するように設けられている。この導電接触ピン１０は、ピンボード２１に支持される中空のピン本体１１と、ピン本体１１の一端側に底部１２Ａが配置される有底筒状の接触部材１２と、ピン本体１１の他端側に配置されるとともに接触部材１２の内部に収容保持される筒状のエアノズル１３とを含んで構成されている。
【００１６】
図２にも示すように、ピン本体１１は、ピンボード２１に嵌入可能な円筒形状とされ、ピンボード２１の表側（図１中上方）に引き抜き不可能となるような大径の係止部１４が設けられている。このピン本体１１の内部には、第１内径部１１Ａと、第１内径部１１Ａよりも大径の第２内径部１１Ｂとが突当部１１Ｃを介して連続形成されている。
【００１７】
接触部材１２は、第１内径部１１Ａに沿って摺動可能な直径を有し、その底部１２Ａ（各図中下方）が略円錐状に形成されているとともに、開口部１２Ｂ（各図中上方）に沿って第２内径部１１Ｂよりも小径の鍔部１５が設けられている。この接触部材１２は、鍔部１５とピン本体１１の突当部１１Ｃとの間に配置された圧縮スプリング１６により底部１２Ａの稜線が第１内径部１１Ａの開口縁に対応する初期位置に維持されている。このような接触部材１２は、導電性を有する適宜な金属等により形成されていて、鍔部１５に給電ケーブル２２（図１参照）を接続可能な突出片１７が一体的に設けられている。この実施例において、突出片１７は、例えば接触部材１２の軸線を中心とする円弧面を有する平面略偏平蒲鉾形状とされ、接触部材１２がピン本体１１に対する初期位置にあるとき、額部１５の端面から接触部材１２の軸線に沿ってピン本体１１の外部に突出する長さに形成されている。
【００１８】
エアノズル１３は、広く市販されているホースが接続可能であるとともに接触部材１２に対して摺動可能な直径を有し、外周面における長手方向略中央部に係合部１８が設けられている。係合部１８は、第２内径部１１Ｂよりも小径の平面略半円状とされている。このエアノズル１３は、係合部１８に取り付けられる固定部材１９を介してピン本体１１に固定されている。固定部材１９は、エアノズル１３および突出片１７に挿通されるとともに、係合部１８の軸方向端面１８Ａおよび径方向平坦面１８Ｂを覆う変形円盤形状とされている。この固定部材１９は、その周面がピン本体１１の第２内径部１１Ｂに螺合されている。したがって、接触部材１２は、ピン本体１１に固定されたエアノズル１３の係合部１８および固定部材１９により、ピン本体１１内に保持されている。
【００１９】
以上のような導電接触ピン１０は、ピン本体１１の第２内径部１１Ｂに圧縮スプリング１６を収容した後、この圧縮スプリング１６を挿通させながら、第２内径部１１Ｂ側から第１内径部１１Ａに接触部材１２を挿入し、次いで、係合部１８に固定部材１９を取り付けた状態でエアノズル１３の一端を接触部材１２に収容させるとともに突出片１７を挿通させた固定部材１９をピン本体１１に螺合固定することにより組み立てられる。この導電接触ピン１０は、ピンボード２１の支持孔にピン本体１１が嵌入されるとともに、突出片１７に給電ケーブル２２が接続される。
【００２０】
そして、回路基板２０の検査個所を検査するにあたっては、エアノズル１３を通じて接触部材１２の内部にエアを噴射することにより、圧縮スプリング１６を圧縮させながらピン本体１１に対して接触部材１２を軸線に沿って相対移動させ、その底部１２Ａをピン本体１１から突出させて検査個所に接触させることにより導電性の検査を行う。この際、導電接触ピン１０は、エアノズル１３から噴射するエアの圧力を適宜選択することにより、検査個所に接触する接触部材１２の圧接力を任意、かつ無段階に調節可能となっている。すなわち、この導電接触ピン１０は、エアノズル１３から噴射するエアの圧力を高くすれば、検査個所に接触する接触部材１２の圧接力を容易に高くできる。検査終了後、エアノズル１３からのエア噴射を中断あるいは終了すると、圧縮スプリング１６が伸長し、これによりピン本体１１に対する初期位置に接触部材１２が自動的に復帰する。
【００２１】
本実施例の導電接触ピン１０によれば、エアノズル１３から噴射するエアの圧力を高くすれば、検査箇所に接触する接触部材１２の圧接力を容易に高くできるため、検査箇所に接触部材１２が確実に接触し、これにより導電性の検査不良が生じ難い。特に、この導電接触ピン１０によれば、接触部材１２の内部に噴射するエアの圧力を選択するという究めて簡単な手段により、検査箇所に接触する接触部材１２の圧接力を任意、かつ無段階に調整できるため、例えば複数種類の接触部材あるいは圧縮スプリングを組み合わせるという煩雑な設定作業を行うことなく、回路基板２０の検査箇所に対する接触部材の圧接力を所望値に調整できる。
【００２２】
さらに、導電性の検査にあたって、回路基板２０に対してピンボード２１を近接離反させる必要がないため、従来に比較して検査機器の製造コストを低くできる。また、導電接触ピン１０は、接触部材１２の鍔部１５とピン本体１１の突当部１１Ｃとの間に圧縮スプリング１６が配置されているため、エアノズル１３からエアの噴射を中断あるいは終了すれば、自動的にピン本体１１に対する初期位置に接触部材１２が復帰する。そして、ピン本体１１の外部に突出する突出片１７が接触部材１２に一体成形されているため、ピン本体１１の材質を任意に選択でき、これにより部品コストを低減できる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、エア圧を調整することにより接触部材の圧接力を所望値に調整して検査不良の発生を少なくできるとともに、支持部材の昇降機構を不要として検査機器の製造コストを低くできる。また、エアノズルからエアの噴射を中断すれば、自動的にピン本体に対する初期位置に接触部材が復帰し、噴射制御を容易にできる。さらに、給電ケーブルが接続可能な突出片が接触部材に一体成形されているため、ピン本体の材質を任意に接託することにより部品コストを低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１実施例を示す断面図である。
【図２】  導電接触ピンの構造を示す分解斜視図である。
【符号の説明】
１０  導電接触ピン
１１  ピン本体
１２  接触部材
１２Ａ  底部
１３  エアノズル
１６  付勢手段である圧縮スプリング
１７  突出片
２０  検査対象物である回路基板
２１  支持部材であるピンボード
２２  給電ケーブル
【図１】
0003862801.tif 000002
【図２】
0003862801.tif 000003