(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ型電子部品を１個ずつ収納する切欠部を多数形成したインデックステーブルと、前記切欠部と連絡した吸引装置、及び放出装置とを具備し、吸引装置で電子部品を前記切欠部内に吸着・保持した状態でインデックステーブルを回転し、電子部品を搬送しながら同電子部品の良否を判別して不良品を切欠部から排出した後、良品が良品放出部に達すると、前記放出装置を作動させ、良品を放出してバルクケースに収納するようにしたチップ型電子部品のバルク包装装置において、
前記良品放出部の下手側に電子部品検出手段を配設し、
前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品の無い状態を検出した場合には、電子部品がバルクケース内に収納されたとしてカウントアップし、
前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品を検出した場合には、前記カウントアップを行わず、
このカウントアップを行わなかった状態が所定数連続した場合に前記バルク包装装置を停止させることを特徴とする電子部品のバルク包装における収納個数のカウント方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ型電子部品のバルク包装における収納個数のカウント方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
チップ型抵抗器のような小型の電子部品は、上下のテープで一個ずつ挟持するテープ包装や、バルクケースにばらで収納するバルク包装などにより、所定個数毎に包装されて製造工場から出荷されている。
【０００３】
バルク包装する場合のバルク包装装置としては、従来、チップ型電子部品（以下ワークという）を１個ずつ収納する切欠部を多数形成したインデックステーブルと、前記切欠部と連絡した吸引装置、及び放出装置とを具備し、吸引装置でワークを前記切欠部内に吸着・保持した状態でインデックステーブルを回転し、ワークを搬送しながら同ワークの良否を判別して不良品を切欠部から排出した後、良品が良品放出部に達すると、前記放出装置を作動させ、良品を放出してバルクケースに収納するようように構成したものがあった。
【０００４】
すなわち、吸引装置は、インデックステーブルの切欠部に臨ませたノズルユニットの挿入ノズルにバキュームホースを介してバキュームポンプを接続し、放出装置は、前記バキュームホースから分岐させた送気ホースに、電磁弁からなる開閉弁を介して送気ポンプを接続して構成しており、良品を放出する際には、図４に示すように、インデックステーブルを停止するとともに(100) 、前記挿入ノズルを下降し(200) 、開閉弁（電磁弁）をＯＮして開成し(300) 、バキュームポンプによる吸引力よりも大きな圧力で送気して良品を下方へ放出するようにしていた。
【０００５】
かかる構成のチップ型電子部品のバルク包装装置において、ワークをバルクケースに所定個数収納するためのカウント方法としては、図４に示すように、開閉弁（電磁弁）をＯＮして開成したとき(300) の開信号を検出し、信号検出毎に収納個数としてカウントアップする(400) という方法が採用されていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記した従来のカウント方法では、正確なカウントができずに、大幅な個数違いが発生することがあった。
【０００７】
すなわち、インデックステーブルの切欠部に収納された電子部品は、吸引装置のバキューム作用によって、常時吸着された状態にあり、バルクケースへの収納個数をカウントアップする場合は、インデックステーブルの停止後、前記したノズルユニットが下降して、放出装置の開閉弁の開信号を検出したときに行うというものなので、開閉弁を構成する電磁弁が劣化したりすると、開信号が出力しているにもかかわらず、開動作が行われなかったり、あるいは、動作遅れが生じて実際には電子部品が放出されなかったりすることが生じ、その場合、バルクケース内に収納された実際の個数とカウント数とが異なることになる。
【０００８】
バルクケース内の収納個数が目視的に明らかに異なる場合は出荷前の発見も可能であるが、通常はそのまま出荷されてしまうことになり、納入先において表示個数と実際の個数とが異なることが発見されると、製造側の信用にかかわる大きな問題となってしまう。
【０００９】
本発明は、上記課題を解決することのできるチップ型電子部品のバルク包装における収納個数カウント方法を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
そこで、請求項１記載の本発明では、チップ型電子部品を１個ずつ収納する切欠部を多数形成したインデックステーブルと、前記切欠部と連絡した吸引装置、及び放出装置とを具備し、吸引装置で電子部品を前記切欠部内に吸着・保持した状態でインデックステーブルを回転し、電子部品を搬送しながら同電子部品の良否を判別して不良品を切欠部から排出した後、良品が良品放出部に達すると、前記放出装置を作動させ、良品を放出してバルクケースに収納するようにしたチップ型電子部品のバルク包装装置において、前記良品放出部の下手側に電子部品検出手段を配設し、前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品の無い状態を検出した場合には、電子部品がバルクケース内に収納されたとしてカウントアップし、前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品を検出した場合には、前記カウントアップを行わず、このカウントアップを行わなかった状態が所定数連続した場合に前記バルク包装装置を停止させることとした。
【００１２】
【発明の実施の形態】
本発明は、チップ型電子部品を搬送経路の中途でその良否を判別し、不良品を系外へ排出した後に良品排出部において良品をバルクケースに放出する放出手段を作動させ、その作動信号を検出し、かつ、良品放出部の下手側に配設した電子部品検出手段が電子部品の無い状態を検出した場合に当該電子部品がバルクケース内に収納されたとしてカウントアップすることとしたものである。
【００１３】
本発明を実施するに際しては、チップ型電子部品を１個ずつ収納する切欠部を多数形成したインデックステーブルと、前記切欠部と連絡した吸引装置、及び放出装置とを具備し、吸引装置で電子部品を前記切欠部内に吸着・保持した状態でインデックステーブルを回転し、電子部品を搬送しながら同電子部品の良否を判別して不良品を切欠部から排出した後、良品が良品放出部に達すると、前記放出装置を作動させ、良品を放出してバルクケースに収納するようにしたチップ型電子部品のバルク包装装置を構成し、さらに、前記良品放出部の下手側に電子部品検出手段を配設しておくことができる。
【００１４】
かかる構成とすることにより、前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品の無い状態を検出した場合に電子部品がバルクケース内に収納されたとしてカウントアップすることができる。
【００１５】
すなわち、従来技術同様に、吸引装置はインデックステーブルの切欠部に臨ませたノズルユニットの挿入ノズルにバキュームホースを介してバキュームポンプを接続し、放出装置は、前記バキュームホースから分岐させた送気ホースに、電磁弁からなる開閉弁を介して送気ポンプを接続して構成しており、電子部品の良否を判別した後、良品と判別された電子部品が良品放出部まで回転搬送されると、インデックステーブルを停止して、インデックステーブルの上方に配置したノズルユニットを下降させ、電磁弁からなる開閉弁をＯＮして開弁し、バキュームポンプによる吸引力よりも大きな圧力でエアを送気して電子部品を下方へ放出する。なお、良品排出部の下部にはシャッターがスライド可能に設けられており、電磁弁が開くのと連動して開くようにしている。
【００１６】
そして、再度インデックステーブルが回転し、良品放出部で電子部品の放出がなされた切欠部が電子部品検出手段の配置された位置に達すると、同検出手段が切欠部内に電子部品の無いことを検出し、電子部品不在信号を出力してはじめて電子部品が１個バルクケースに収納されたものとしてカウントアップする。
【００１７】
一方、例えば放出装置の開閉弁をなす電磁弁が劣化して、電磁弁の開信号が出力されているにもかかわらず、その作動が遅れたり、作動がなされなかったりした場合は、電子部品は放出されずに切欠部内に止まることになる。
【００１８】
この未放出の電子部品が検出手段によって検出されて検出信号が出力されると異常として機台を停止させる。
【００１９】
あるいは、機台を停止するのではなく、単にカウントアップせずに、次の電子部品の放出がなされた場合にカウントアップするようにしてもよい。そして、カウントできない状態が所定数連続した場合に異常を報知して機台を停止させればよい。
【００２０】
また、従来のように、電磁弁の開信号によりカウントアップすることはそのまま採用し、検出手段によって電子部品を検出した場合は、カウントアップを減じるように制御することもできる。
【００２１】
このように、本発明によれば、電子部品検出手段によって、放出されるべき電子部品が残っているかどうかを直接的に検出してカウントするようにしているので、バルクケース内の電子部品の収納個数のカウントが正確になり、数量補償の信頼性が向上する。
【００２２】
なお、電子部品検出手段としては、投光素子と受光素子とからなる光電センサを好適に用いることができ、かかるセンサをインデックステーブルの切欠部を挟んで対向状態に配設すれば、電子部品検出手段は電子部品とは離隔することになり、電子部品の放出や搬送に何ら悪影響を与えることがない。
【００２３】
【実施例】
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
【００２４】
図１はバルク包装装置を兼用するチップ型の電子部品の検査装置の説明図、図２は同装置に設けた電子部品の放出部の説明図である。
【００２５】
図１及び図２に示すように、バルク包装装置Ａは、外周縁にチップ型抵抗器等の電子部品（以下ワークＢとする）を１個ずつ収納する切欠部11を多数形成するとともに、間歇回転するインデックステーブル１を具備している。
【００２６】
インデックステーブル１には、図示しないパーツフィーダから搬送されるワークＢを前記切欠部11内に１個ずつ収納するための供給口12を設けており、同供給口12と前記パーツフィーダとを搬送路13を介して連絡している。
【００２７】
また、インデックステーブル１の回転により形成される回転搬送経路Ｒの中途には、インデックステーブル１の回転方向に沿って第１、第２電気的良否判別部14,15 を設けるとともに、その回転下手側には、第１不良品排出部16と、確認部17と、第２不良品排出部18と、良品放出部19とを順に設けている。このように、本実施例に係るバルク包装装置ＡはワークＢの検査装置を兼用した構成となっている。
【００２８】
すなわち、第１、第２電気的良否判別部14,15 判別した電気的不良品を第１不良品排出部16から排出し、さらに、確認部17で判別した電気的不良品を第２不良品排出部18から排出して、良品のみを良品放出部19に搬送し、かかる良品放出部19において、インデックステーブル１の下方にセットしたバルクケース２に良品を収納し、所定個数収納したらこれを出荷するようにしている。
【００２９】
図２に示すように、良品放出部19の上方位置に挿入ノズル30を具備するノズルユニット31を昇降自在に配設し、同ノズルユニット31とバキュームポンプ32とを連通ホース33を介して接続して吸引装置３を構成するとともに、連通ホース33の中途から送気ホース40を分岐させ、同送気ホース40の終端に電磁弁からなる開閉弁41を介して送気ポンプ42を連結ホース43により接続して放出装置４を構成している。図２中、５はインデックステーブル１の上方に配設したテーブルカバー、６は良品であるワークＢをバルクケース２に案内する収納用ホースであり、同ホース６はバルクケース２とインデックステーブル１との間に、挿入ノズル30と対向した状態で介設されている。
【００３０】
そして、通常は、吸引装置３を作動させて切欠部11内にワークＢを吸着保持した収納状態で回転搬送しているものを、良品であるワークＢを収納した切欠部11が良品放出部19に達すると、図３のフローチャートに示すように、インデックステーブル位置を停止し(a) 、前記ノズルユニット31により挿入ノズル30をインデックステーブル１の厚さの分だけ切欠部11内に下降させ(b) 、前記開閉弁41に開信号を出力して開成し(c) 、バキューム作動状態の吸引力よりも大きなブロー圧力で送気ポンプ42からエアを圧送して良品を下方へ放出してバルクケース２内に収納するようにしている。このとき、図示しないが、良品排出部19には、インデックステーブル１の切欠部11の下方にシャッターをスライド自在に配設し、挿入ノズル30の下降及び開閉弁41の開動作に連動して開くようにしている。
【００３１】
上記構成において、本発明の要旨となるのは、図２に示すように、良品放出部19の回転下手側に電子部品検出手段としての光電センサＳを配設し、良品であるワークＢのバルクケース２内への収納個数をカウントする場合に、図３に示すように、ワークＢをバルクケース２に放出する放出手段をなす放出装置４を作動させる作動信号、すなわち、前記電磁弁からなる開閉弁41の開信号を検出し(c) 、かつ、前記光電センサＳが、良品放出部19から回転進行してきた切欠部11内にワークＢの無い状態を検出した場合に(d) 当該ワークＢがバルクケース２内に収納されたとしてカウントアップする(e) ようにしたことにある。
【００３２】
すなわち、カウントアップする場合は、少なくとも、放出されるべきワークＢが切欠部11内から放出されていることを光電センサＳにより確認することを条件とするもので、単に開閉弁41の開信号を検出すればカウントアップする方法と異なり、正確なカウントが可能となって数量補償の信頼性が著しく向上する。
【００３３】
しかも、従来の設備等に光電センサＳを付加するだけでよいので、大きな設備費も不要である。
【００３４】
なお、光電センサＳが本来放出されるべきワークＢを検出した場合は、バルク包装装置Ａ自体を停止し、放出されなかった原因を調べて復旧すればよい。
【００３５】
ところで、光電センサＳは、投光素子S1と受光素子S2とを、インデックステーブル１の切欠部11を挟んで上下に配置したもので（図２）、いずれが上側であっても下側であっても構わない。
【００３６】
また、光電センサＳが本来放出されるべきワークＢを検出した場合、他の実施例として、バルク包装装置Ａを停止するのではなく、単にカウントアップすることをせずに（ノーカウント）、次のワークＢの放出がなされた場合にカウントアップするようにしてもよい。そして、カウントできない状態が所定数連続した場合に異常を報知してバルク包装装置Ａを停止させればよい。
【００３７】
さらに他の実施例として、従来のように開閉弁41の開信号を検出したらカウントアップし、その後、インデックステーブル１が所定ピッチで間歇回転し、光電センサＳが放出されたはずのワークＢを検出した場合は、累計からその分を減じるように制御することもできる。
【００３８】
また、本発明を実施するに際し、吸引装置３及び放出装置４の構成としては、図２に示したものに限定されるものではない。例えば、ノズルユニット31とバキュームポンプ32とを接続する連通ホース33と、放出装置４の送気ホース40との分岐部に流路切換弁を介設し、ワークＢを放出する際には、この流路切換弁を切換えて通常の吸引動作を排出動作に切り換えるようにしてもよい。
【００３９】
以上、実施例を通して説明してきたように、本発明によれば、バルクケース２への良品ワークＢの収納個数のカウント精度が向上するので、数量補償の信頼性を高めることができる。
【００４０】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したような形態で実施され、以下に記載されるような効果を奏する。
【００４２】
本発明では、チップ型電子部品を１個ずつ収納する切欠部を多数形成したインデックステーブルと、前記切欠部と連絡した吸引装置、及び放出装置とを具備し、吸引装置で電子部品を前記切欠部内に吸着・保持した状態でインデックステーブルを回転し、電子部品を搬送しながら同電子部品の良否を判別して不良品を切欠部から排出した後、良品が良品放出部に達すると、前記放出装置を作動させ、良品を放出してバルクケースに収納するようにしたチップ型電子部品のバルク包装装置において、前記良品放出部の下手側に電子部品検出センサを配設し、前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出センサが電子部品の無い状態を検出した場合には、電子部品がバルクケース内に収納されたとしてカウントアップし、前記放出装置の作動信号を検出し、かつ、前記電子部品検出手段が電子部品を検出した場合には、前記カウントアップを行わず、このカウントアップを行わなかった状態が所定数連続した場合に前記バルク包装装置を停止させることとしたので、従来の設備に電子部品検出センサを設けるだけで、正確なカウントが行え、数量補償の信頼性が著しく向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るチップ型電子部品のバルク包装における収納個数のカウント方法を実施するための電子部品の検査装置の説明図である。
【図２】同装置に設けた電子部品の放出部の説明図である。
【図３】本実施例に係るバルク包装における収納個数のカウント方法のフローチャートである。
【図４】従来の電子部品のバルク包装における収納個数のカウント方法のフローチャートである。
【符号の説明】
Ａ  バルク包装装置
Ｂ  チップ型電子部品（ワーク）
Ｒ  回転搬送経路（搬送経路）
Ｓ  光電センサ（電子部品検出手段）
１  インデックステーブル
２  バルクケース
３  吸引手段（吸引装置）
４  放出手段（放出装置）
11  切欠部
19  良品放出部
【図１】
0003839583.tif 000002
【図２】
0003839583.tif 000003
【図３】
0003839583.tif 000004
【図４】
0003839583.tif 000005