(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを記録する際の記録パワーを調整する光ディスク装置であって、
前記光ディスクの所定領域にテストデータを記録する記録手段と、
前記テストデータを再生する再生手段と、
再生ＲＦ信号を２値化する２値化手段と、
２値化信号のジッタを検出する検出手段と、
前記ジッタ値に基づき前記記録パワーを調整する制御手段と、
を有し、前記２値化手段は、
前記再生ＲＦ信号をしきい電圧で２値化する比較手段と、
前記比較手段からの正相出力と逆相出力から基準電圧を作成する基準電圧作成手段と、
前記基準電圧と前記逆相出力を比較するとともにその出力の一部を負帰還させて前記しきい電圧を生成するしきい電圧生成手段と、
を有し、前記制御手段は、前記しきい電圧手段での前記負帰還のゲインを変化させたときの前記検出手段でのジッタ変化に基づき前記記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記しきい電圧生成手段は、差動増幅器を含み、
前記差動増幅器の非反転入力端子に前記基準電圧が入力され、反転入力端子に前記逆相出力が入力され、前記負帰還の回路は抵抗及びコンデンサを並列接続してなる複数のゲイン調整回路が切替可能に接続して構成されることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記制御手段は、前記ジッタ変化が最小となるように前記記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記制御手段は、前記ゲインを変化させたときのジッタの総和が最小となるように前記記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に記録パワーの最適化に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等の記録可能光ディスクにデータを記録する際には、光ディスク毎の記録感度のバラツキを考慮し、光ディスクの所定領域に記録パワーを種々変化させてテストデータを記録し、該テストデータを再生してその再生品質を測定することで記録パワーを最適化している（ＯＰＣ）。再生信号品質としては、ジッタやβ値、あるいはアシンメトリが用いられる。例えば、ＤＶＤ−Ｒにおいては、アシンメトリは−５％〜１５％であることが規格で定められている。なお、アシンメトリとは、再生ＲＦ信号の１４Ｔ振幅中心に対して３Ｔ振幅中心がどの程度ずれているかを示すものである。
【０００３】
図９には、ＡＣ結合した再生ＲＦ信号波形が示されており、ＤＶＤ−Ｒでは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの信号が存在しているが１４Ｔと３Ｔの信号のみが示されている。１４Ｔの最大値Ｉ14Hと最小値Ｉ14L、３Ｔの最大値Ｉ3Hと最小値Ｉ3Lとすると、アシンメトリは以下の式で定義される。
【０００４】
【数１】
アシンメトリ＝｛（Ｉ14H＋Ｉ14L）／２−（Ｉ3H＋Ｉ3L）／２｝／Ｉ14
なお、Ｉ14は１４Ｔの振幅（Ｉ14H−Ｉ14L）である。３Ｔの振幅中心と１４Ｔの振幅中心がずれていない場合にはアシンメトリ＝０％となり、これは再生ＲＦ信号をＡＣ結合した中心レベルと基準電圧Ｒｅｆレベルとが一致することを意味する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ＯＰＣ（Optimum Power Control）においてアシンメトリあるいはβを用いて記録パワーを最適化する方法では、その記録パワーでジッタがどのようになっているか不明である（ジッタが最小とは限らない）問題がある。逆に、ジッタが最小となるように記録パワーを最適化する方法では、アシンメトリが目標値に達していない場合もあり得る。
【０００６】
したがって、ＯＰＣを行う際にはアシンメトリ測定回路及びジッタ測定回路を設けてアシンメトリとジッタを共に測定し、両者が最良値となる記録パワーに設定することが好適であるが、両測定回路を設けると装置構成が複雑化し、コストも増加してしまう。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、簡易な構成でアシンメトリとジッタを共に満足できる記録パワーに調整することができる光ディスク装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ディスクにデータを記録する際の記録パワーを調整する光ディスク装置であって、前記光ディスクの所定領域にテストデータを記録する記録手段と、前記テストデータを再生する再生手段と、再生ＲＦ信号を２値化する２値化手段と、２値化信号のジッタを検出する検出手段と、前記ジッタ値に基づき前記記録パワーを調整する制御手段とを有し、前記２値化手段は、前記再生ＲＦ信号をしきい電圧で２値化する比較手段と、前記比較手段からの正相出力と逆相出力から基準電圧を作成する基準電圧作成手段と、前記基準電圧と前記逆相出力を比較するとともにその出力の一部を負帰還させて前記しきい電圧を生成するしきい電圧生成手段とを有し、前記制御手段は、前記しきい電圧手段での前記負帰還のゲインを変化させたときの前記検出手段でのジッタ変化に基づき前記記録パワーを調整することを特徴とする。
【０００９】
前記しきい電圧生成手段は、差動増幅器（コンパレータ）を含み、前記差動増幅器の非反転入力端子に前記基準電圧が入力され、反転入力端子に前記逆相出力が入力され、前記負帰還の回路は抵抗及びコンデンサを並列接続してなる複数のゲイン調整回路が切替可能に接続して構成されることが好適である。
【００１０】
前記制御手段は、前記ジッタ変化が最小となるように前記記録パワーを調整することが好適である。
【００１１】
また、前記制御手段は、前記ゲインを変化させたときのジッタの総和が最小となるように前記記録パワーを調整することもできる。
【００１２】
このように、本発明の光ディスク装置では、ジッタとアシンメトリを共に目標値に設定できる記録パワーを設定する際に、ジッタ測定手段とアシンメトリ測定手段を別個に設けるのではなく、ジッタ測定手段のみでジッタとアシンメトリを同時に評価する。すなわち、アシンメトリが０％の場合にはゲインを変化させても２値化のしきい電圧が変動せず２値化信号のデューティ比も変化しないためジッタも変化しないが、アシンメトリが０％以外の場合にはゲインを変化させると２値化のしきい電圧がゲインに応じて増減して２値化信号のデューティ比も変化する。したがって、アシンメトリが０％以外の場合にはゲインを変化させるとそれに応じてジッタも変化することとなるから、ジッタの絶対値のみならずジッタの変化を測定することで、ジッタとアシンメトリを共に評価することができる。
【００１３】
本発明の光ディスク装置は、ＣＤ−ＲドライブやＤＶＤ−Ｒドライブ、あるいはこれらを含むコンボドライブに適用できる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１５】
＜第１実施形態＞
＜全体構成＞
図１には、本実施形態に係る光ディスク装置の構成ブロック図が示されている。
【００１６】
ＤＶＤ−Ｒ等の光ディスク１０は、図示しないスピンドルモータにより回転駆動される。
【００１７】
ピックアップ（ＰＵ）１２は、光ディスク１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダイオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２により駆動され、データを記録する際には記録パワーのレーザ光、再生時には再生パワーのレーザ光をそれぞれ照射する。記録パワーは後述の如くデータ記録に先立つＯＰＣにより最適化される。また、ピックアップ１２は光ディスク１０から反射したレーザ光を電気信号に変換するフォトディテクタを有し、再生信号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。
【００１８】
サーボ検出部１４は、ピックアップ１２からの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピックアップ１２を光ディスク１０のトラック方向に駆動してオントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。４分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割されたディテクタの差分からトラッキングエラー信号が生成され、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフォーカスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式も可能である。
【００１９】
ＲＦ検出部２０は、ピックアップ１２からの信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、フィルタリング、イコライジング（３Ｔ信号のブースト）して２値化部２２に出力する。２値化部２２では、入力信号をＡＣ結合した後にしきい電圧を用いて２値化し、２値化信号をデコーダ２４に出力する。また、ＯＰＣ実行時には２値化部２２は２値化信号をジッタ測定部２６に出力する。２値化部２２での２値化処理についてはさらに後述する。
【００２０】
デコーダ２４は、入力した２値化信号を復調してコントローラ３０に出力する。復調は、図示しないＰＬＬ回路で２値化信号から同期クロック信号を生成することで実行される。コントローラ３０に出力された復調データは図示しないコンピュータ等の上位装置に出力される。
【００２１】
ジッタ測定部２６は、ＯＰＣ実行時に入力される２値化信号のジッタを測定してコントローラ３０に出力する。ジッタは、２値化信号と同期クロック信号との位相差で測定される。
【００２２】
コントローラ３０は、サーボ検出部１４やＲＦ検出部２０、２値化部２２等の各部の動作を制御する。データ記録時には、上位装置から供給された記録データを符号化してＬＤＤ３２を駆動し、設定された記録ストラテジでパワー変調しデータを記録する。また、コントローラ３０は、データ記録に先立って光ディスク１０の所定領域（ＰＣＡエリア）にテストデータを記録し、該テストデータを再生してそのジッタをジッタ測定部２６から入力する。従来装置においては、単に記録パワーを種々変化させて得られた各記録パワー毎のジッタから最小ジッタが得られる記録パワーを最適記録パワーに設定しているが、本実施形態ではジッタとアシンメトリを両方満足すべく、コントローラ３０は２値化部２２でのしきい電圧ゲインを変化させ、ゲインを変化させたときのジッタ変化に基づいて最適記録パワーを設定する。本実施形態では、単にジッタ測定部２６が存在するのみであり、アシンメトリ測定部が別途設けられていない点に注意されたい。
【００２３】
＜２値化部の構成＞
図２には、図１における２値化部２２の構成ブロック図が示されている。２値化部２２は、入力ＲＦ信号を２値化するオペアンプ２２ａ、基準電圧Ｒｅｆを作成して出力する基準電圧作成部２２ｂ、及びオペアンプ２２ａで入力ＲＦ信号を２値化する際のしきい電圧を作成して出力するしきい電圧作成部を含んで構成される。
【００２４】
オペアンプ２２ａの非反転入力端子（＋）にはＡＣ結合されたＲＦ信号が入力される。ＲＦ信号の中心レベルは基準電圧Ｒｅｆである。一方、オペアンプ２２ａの反転入力端子（−）にはしきい電圧生成部で生成されたしきい電圧が入力される。オペアンプ２２ａは、しきい電圧を用いてＲＦ信号を２値化してその正相出力をデコーダ２４に出力するとともに、ＯＰＣ実行時にはジッタ測定部２６に出力する。また、オペアンプ２２ａは正相出力及び逆相出力を基準電圧作成部２２ｂに出力する。
【００２５】
基準電圧作成部２２ｂは、オペアンプ２２ａからの正相出力と逆相出力の中間レベルの信号を生成して基準電圧Ｒｅｆとして出力する。すなわち、基準電圧作成部２２ｂでは、正相出力と逆相出力を加算してその半分を基準電圧Ｒｅｆとする。基準電圧Ｒｅｆはしきい電圧作成部に供給される。
【００２６】
しきい電圧作成部は、オペアンプ２２ｃ及びオペアンプ２２ｃの負帰還回路を構成する３つのローパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３から構成される。３つのローパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３をそれぞれ構成するＲ及びＣの値は互いに異なっており、３つのローパスフィルタは切替スイッチＳＷで択一的に負帰還回路に接続される。切替スイッチＳＷはコントローラ３０からの制御信号で切替制御される。
【００２７】
オペアンプ２２ｃの非反転入力端子（＋）には基準電圧作成部２２ｂで作成された基準電圧Ｒｅｆが供給される。また、オペアンプ２２ｃの反転入力端子（−）にはオペアンプ２２ａからの逆相信号が入力される。さらに、オペアンプ２２ｃの出力の一部は３つのローパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３のいずれかを介して反転入力端子（−）に帰還される。ローパスフィルタで決定されるゲインによりしきい電圧が設定され、オペアンプ２２ａの反転入力端子（−）に供給される。
【００２８】
従来の光ディスク装置においても、再生ＲＦ信号を２値化してデコーダ２４あるいはジッタ測定部２６に出力する２値化部は設けられており、例えば図３に示されるような構成である。なお、従来の２値化部は本実施形態の２値化部２２とその構成が相違するが、説明の都合上同一の符号２２を付している。本実施形態の２値化部２２との相違は、しきい電圧生成部を構成するオペアンプ２２ｃの負帰還ループを構成するローパスフィルタが１つだけ設けられており、所定の（単一の）ゲインで負帰還される点である。このゲインは、通常、入力ＲＦ信号の振幅に対し２値化信号の振幅が等しくなるように設定される。本実施形態の２値化部２２は、図３に示された従来の２値化部に対し、しきい電圧生成部の負帰還ゲインを３段階に切り替え可能に構成されていると云うことができる。具体的には、ローパスフィルタ２２ｄ２で定まるゲインが通常のゲイン（０ｄＢ）であり、ローパスフィルタ２２ｄ１で定まるゲインは通常のゲインよりも大きなゲイン（４０ｄＢ）、ローパスフィルタ２２ｄ３で定まるゲインは通常のゲインよりも小さいゲイン（−４０ｄＢ）に設定される。
【００２９】
＜２値化動作＞
以下、図４及び図５のタイミングチャートを用いて本実施形態における２値化部２２の動作を説明する。
【００３０】
＜アシンメトリが０％の場合＞
図４には、アシンメトリ＝０％のＲＦ信号が入力された場合の２値化部２２におけるタイミングチャートが示されている。
【００３１】
図４（ａ）はオペアンプ２２ａの非反転入力端子（＋）に入力されるＲＦ信号であり、アシンメトリ＝０％であるから１４Ｔの振幅中心と３Ｔの振幅中心は一致して基準電圧Ｒｅｆのレベルに等しい。このときのＲＦ信号の振幅をｐとする。
【００３２】
図４（ｂ）はオペアンプ２２ａからの正相信号である。ＲＦ信号の１４Ｔの振幅中心と３Ｔの振幅中心は基準電圧Ｒｅｆに一致し、しきい電圧を基準電圧Ｒｅｆとすると、デューティ比５０％の正相信号が出力される。正相信号の振幅をｑとする。
【００３３】
図４（ｃ）はオペアンプ２２ａの逆相信号である。逆相信号も正相信号と同様にデューティ比５０％の信号である。図４（ｄ）は基準電圧生成部２２ｂでの処理を示したものであり、正相信号と逆相信号を加算した信号の半分のレベルを基準電圧Ｒｅｆとする。すなわち、基準電圧Ｒｅｆ＝ｑ／２である。通常のゲインでは、既述したようにｐ＝ｑとなるように調整されるから、基準電圧Ｒｅｆ＝ｑ／２＝ｐ／２である。この基準電圧Ｒｅｆがオペアンプ２２ｃの非反転入力端子（＋）に供給される。
【００３４】
図４（ｅ）はしきい電圧生成部の信号ある。オペアンプ２２ｃの反転入力端子（−）にはオペアンプ２２ａからの逆相信号が入力される。オペアンプ２２ｃの出力であるしきい電圧は、Ｒｅｆとローパスでフィルタリングされ負帰還されるレベルｆとの差分をΔ（Δ＝ｆ−Ｒｅｆ）とすると、Ｒｅｆ＋｛Δ×（−ｋ）｝で与えられる。ｋはゲインである。この場合、逆相信号をローパスでフィルタリングした結果のＤＣレベルｆは逆相信号のデューティ比が５０％であることから基準電圧Ｒｅｆに等しく、したがって差分Δは０であってゲインｋがどのような値であってもオペアンプ２２ｃからは基準電圧Ｒｅｆがしきい電圧として出力される。
【００３５】
このように、ＲＦ信号のアシンメトリが０％である場合には、しきい電圧生成部で生成されてオペアンプ２２ａにフィードバックされるしきい電圧は基準電圧Ｒｅｆに常に一致し、ローパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３のいずれを用いてもしきい電圧は変化しない。したがって、しきい電圧生成部のゲインを大ゲイン、通常ゲイン、小ゲインと３段階に変化させても、オペアンプ２２ａからは常にデューティ比５０％の２値化信号がジッタ測定部２６に供給されることになり、ジッタ測定部２６で測定されるジッタには変化が生じない（あるいは変化が生じたとしても僅かな量にすぎない）。
【００３６】
＜アシンメトリが０％以外の場合＞
一方、図５にはアシンメトリが０％でない場合、例えばアシンメトリが０％より高い場合のタイミングチャートが示されている。記録パワーが適正パワーよりも過剰である場合、３Ｔデータは過剰記録となるため反射率が低下する。したがって、３Ｔの振幅中心のレベルは反射率の低い方にシフトする。
【００３７】
図５（ａ）はオペアンプ２２ａの非反転入力端子（＋）に入力されるＲＦ信号である。アシンメトリが０％より高い場合、上述したように１４Ｔの振幅中心よりも３Ｔの振幅中心が反射率の低い方にシフトするため両信号の振幅中心は一致しない。
【００３８】
図５（ｂ）はオペアンプ２２ａからの正相信号である。１４Ｔ振幅中心と３Ｔ振幅中心とが異なるため、基準電圧Ｒｅｆを用いてオペアンプ２２ａで２値化してもデューティ比は５０％とならず、具体的には３Ｔ側において＋側のパルス幅が小さくなりデューティ比が５０％より小さくなる。
【００３９】
図５（ｃ）はオペアンプ２２ａからの逆相信号である。逆相信号では、正相信号とは反転の関係にあるから３Ｔ側において＋側のパルス幅が大きくなりデューティ比は５０％より大きくなる。
【００４０】
図５（ｄ）は基準電圧作成部２２ｂでの処理であり、正相信号と逆相信号を加算してその半分のレベルを基準電圧Ｒｅｆとして出力する。
【００４１】
図５（ｅ）はしきい電圧生成部での処理である。逆相信号は、図５（ｃ）に示されるように３Ｔのデューティ比が５０％よりも大きくなっており、ローパスでフィルリングした後のＤＣレベルｆもＲｅｆよりΔだけ高くなる。オペアンプ２２ｃから出力されるしきい電圧は、Ｒｅｆ＋（Δ×（−ｋ））となり、ゲインｋに応じてしきい電圧が変動することとなる。すなわち、ゲインｋを十分低くするとしきい電圧はＲｅｆに等しくなり、オペアンプ２２ａからの２値化信号のデューティ比は５０％より小さいＤｓ％となる。ゲインｋを十分大きくすると、しきい電圧は低下し、オペアンプ２２ａからの２値化信号のデューティ比は５０％に近づいていく。但し、デューティが５０％となると差分Δが０となってフィードバックが働かずに安定しないので、結局、ゲインｋが十分大きい場合にはデューティ比が５０％より若干小さいＤｂ％のところに落ち着くことになる。ゲインｋを通常ゲインとすると、しきい電圧はゲインｋが十分低い場合のＲｅｆレベルと、ゲインが十分大きい場合のレベルの中間レベルとなり、２値化信号のデューティ比Ｄｍも両ゲインのデューティ比の間、すなわちＤｓ＜Ｄｍ＜Ｄｂ＜５０となる。
【００４２】
このように、ＲＦ信号のアシンメトリが０％でない場合には、ゲインｋを変化させるとしきい電圧が変化し、オペアンプ２２ａからの２値化信号のデューティ比が変化する。このことは、しきい電圧生成部のゲインを変化させた場合にジッタ測定部２６で測定されるジッタに変化がある場合には、ＲＦ信号のアシンメトリが０％以外であると判定できることを意味する。コントローラ３０は、このような原理に基づいてジッタ変化から間接的にＲＦ信号のアシンメトリを測定する。
【００４３】
なお、記録パワーが適正パワーよりも過小でアシンメトリが０％よりも小さい場合も同様であり、ゲインを変化させると２値化信号のデューティ比が変化することになる。この場合、オペアンプ２２ａからの逆相信号のデューティ比は５０％より小さくなり、したがって逆相信号をローパスで積分して得られるＤＣレベルｆはＲｅｆよりも小さくなって差分Δが生じる。ゲインｋが十分小さいとしきい電圧はＲｅｆとなってオペアンプ２２ａからの２値化信号（正相信号）のデューティ比は５０％より大きいＤｓ’％となり、ゲインｋが十分大きいとしきい電圧は上昇しデューティ比が５０％より若干高いＤｂ’％となり、通常ゲインの場合には両者の中間のゲインＤｍ’となる。したがって、ゲインを変化させるとジッタが変化することになる。
【００４４】
＜全体処理＞
図６には、以上の動作原理に基づく本実施形態の全体処理フローチャートが示されている。まず、光ディスク１０をスピンドルモータに装着した後、光ディスク１０の所定領域（コントロールデータゾーン）に記録されているディスク情報（ディスクの種類やメーカ名）を取得する（Ｓ１０１）。次に、光ディスク１０のランドプリピット情報より基本ストラテジを取得する（Ｓ１０２）。ストラテジは、記録パルスの時間幅やパルス数を規定するものである。例えば、ＤＶＤ−Ｒの場合、３Ｔはモノパルスで記録し、４Ｔ以上はマルチパルスで記録するが、モノパルスやマルチパルスの時間幅を設定する。
【００４５】
ディスク情報及び基本ストラテジを取得した後、光ディスク１０のＰＣＡエリアに記録パワーを０．５ｍＷ毎に１６段階に変化させて１６フレームにテストデータを記録する（Ｓ１０３）。光ディスク１０に基準記録パワーが設定されている場合、この基準記録パワーを中心に前後に１６段階振ることも好適である。
【００４６】
１６フレームに渡ってテストデータを記録した後、該テストデータを再生して２値化部２２で２値化する。このとき、各フレーム毎（つまり記録パワー毎）に再生されたＲＦ信号に対し、それぞれしきい電圧生成部のゲインを４０ｄＢ、０ｄＢ、−４０ｄＢに順次変化させて２値化する。２値化信号はジッタ測定部２６に供給され、ジッタ測定部２６では、各ゲイン毎にジッタを測定してコントローラ３０に出力する（Ｓ１０４）。各フレーム毎（記録パワー毎）に３段階のゲインでジッタが測定されるから、コントローラ３０には各記録パワー毎に３つのジッタが入力されることになる。
【００４７】
コントローラ３０では、各記録パワー毎の３つのジッタをメモリに記憶し、各記録パワー毎に３つのジッタの平均値を算出する。そして、その平均値が最小となる記録パワーを選択する（Ｓ１０５）。アシンメトリが０％の場合にはゲインを変化させてもジッタに変化はなく、各ジッタが小さければその平均値も小さい。
【００４８】
アシンメトリが０％からずれた場合にはゲインを変化させるとジッタが変化し、あるゲインでジッタが小さくても他のゲインではジッタが増大してしまう。その変化はアシンメトリが０％からずれる程大きい。したがって、３つのジッタの平均値の最小値が得られる記録パワーを選択することで、ジッタも小さく、かつアシンメトリも０％（あるいは０％に近い）である最適記録パワーが得られる。このようにしてジッタ及びアシンメトリを考慮した最適記録パワーを設定した後、当該記録パワーでデータを記録する（Ｓ１０６）。
【００４９】
表１には、記録パワーを９．０ｍＷ、１０．０ｍＷ、１１．０ｍＷ及び１２．０ｍＷと変化させた場合の各ゲインにおけるジッタが示されている。
【００５０】
【表１】
0003760884.tif 000002
記録パワー９．０ｍＷの時のジッタ平均値は１２．７％、記録パワー１０．０ｍＷの時のジッタ平均値は１１．３％、記録パワー１１．０ｍＷの時のジッタ平均値は１１．８％、記録パワー１２．０ｍＷの時のジッタ平均値は１６．３％である。記録パワー１０．０ｍＷの時にジッタ平均値が最小となり、最適記録パワーは１０ｍＷであることがわかる。なお、表には各記録パワーにおいて別途測定したアシンメトリの値も併せて示されている。記録パワー９．０ｍＷの時は−２％、記録パワー１０．０ｍＷの時は０％、記録パワー１１．０ｍＷの時は４％、記録パワー１２．０ｍＷの時は１０％であり、確かに記録パワー１０．０ｍＷの時にアシンメトリが０％となっていることが確認できる。
【００５１】
表において注目すべきは、ジッタの最小値が得られる記録パワーが必ずしも最適記録パワーではないことである。すなわち、表においてジッタの最小値は１０．５％であり、これは記録パワー１１．０ｍＷで得られている。しかしながら、記録パワー１１．０ｍＷにおけるアシンメトリは４％であり、アシンメトリの観点からは最適記録パワーではない。このように、単にジッタが最小値となる記録パワーを最適記録パワーとするのではなく、ゲインを変化させた時のジッタの平均値が最も小さい記録パワーを選択することで、ジッタのみならずアシンメトリにも優れた記録パワーを選択できる。
【００５２】
なお、ジッタの平均値が最小となる記録パワーを選択することで、ジッタも小さく、かつ、アシンメトリも０％に近い記録パワーを選択することが可能であるが、ジッタとアシンメトリのいずれを重視するかで記録パワーを選択する際のアルゴリズムを適宜変えることもできる。
【００５３】
例えば、ジッタとアシンメトリを共に改善したいが特にジッタを改善したい場合には、３つのジッタの総和を算出し、総和が最小となる記録パワーを選択すればよい。表２には、記録パワーを変化させたときの他のジッタ変化が示されている。
【００５４】
【表２】
0003760884.tif 000003
この表からわかるように、記録パワー１０．０ｍＷではジッタは全て１３％で変化がなく、アシンメトリの観点からは最適である。一方、記録パワー１１ｍＷではジッタに変化が生じているものの、それらの値は１０ｍＷの場合よりも小さい。ジッタの総和で比較すると、１０ｍＷの場合の３９％に対し、１１ｍＷでは３５％と最小である。したがって、ジッタを重視する観点からは、ジッタに変化がない１０ｍＷよりもジッタの絶対値が小さい１１ｍＷが最適記録パワーとなる。一方、ジッタ及びアシンメトリを共に改善したいが特にアシンメトリを重視したい場合には、総和では２番目に小さいもののジッタ変化がない１０ｍＷが最適記録パワーとなろう。
【００５５】
ゲインを変化させたときのジッタの平均値と変化量、あるいはジッタの総和と分散に基づき、記録パワーを最適化することも好適である。総和（あるいは平均値）と分散（あるいは変化量）に基づいて記録パワーを最適化する場合、総和と分散を重み付けして得られる評価関数を定義し、ジッタとアシンメトリの優先度に応じてそれぞれの重みを変化させて記録パワーを評価することも好適である。
【００５６】
ジッタの変化量あるいは分散は、アシンメトリが０％からずれる程大きくなるから、これを利用してアシンメトリを定量的に評価することも可能である。
【００５７】
図７には、ゲインを変化させた時のジッタ値の変化がアシンメトリをパラメータとして示されている。図において、横軸はゲインであるり、縦軸はジッタである。アシンメトリ０％、５％、１０％の場合が示されており、アシンメトリが０％から離れるほどゲイン変化に対するジッタ変化が増大し、特にゲインが小さい場合に顕著に増大する。これは、ゲインが小さいと２値化信号のデューティが５０％から大きくずれるからである。したがって、特にゲインが小さい場合のジッタの変化量を測定し、あらかじめジッタ変化量とアシンメトリとの関係を実験的に求めてメモリに記憶しておけば、ジッタの変化量からアシンメトリを測定することができる。定量的に求めたアシンメトリの値は、例えばジッタを重視する場合でもどの程度までアシンメトリのずれを許容するかの指標に利用できる。
【００５８】
なお、本実施形態においては、小ゲインとして−４０ｄＢ、通常ゲインとして０ｄＢ、大ゲインとして４０ｄＢを用いているが、ゲインの設定はしきい電圧が十分変化するレベルであれば任意の値に設定することが可能である。また、ゲイン小、通常ゲイン、ゲイン大の３段階に変化させるのではなく、２段階（例えば通常ゲインと小ゲイン）、あるいは４段階以上にゲインを変化させてもよい。
【００５９】
＜第２実施形態＞
上述した第１実施形態においてはジッタが小さく、かつアシンメトリも０％近傍となる記録パワーを最適記録パワーに設定しているが、ＤＶＤ−Ｒの規格においてはアシンメトリ値は−５％〜１５％と規定されている。アシンメトリ値としては０％が一般的には好ましいが、アシンメトリ値を規格の範囲内であって０％以外の所望の値に設定する必要がある場合もあり得る。このようにジッタを小さく抑えつつもアシンメトリを所望の値に設定したい場合にも、本発明は容易に対応できる。
【００６０】
図８には、本実施形態に係る２値化部２２の詳細構成ブロック図が示されている。図２と異なる点は、しきい電圧生成部からのしきい電圧がオペアンプ２２ａの反転入力端子（−）にフィードバックされると共に、オフセット信号生成部２２ｅからオフセット信号が供給される点である。すなわち、オフセット信号が加算されたしきい電圧でＲＦ信号が２値化される構成である。オフセット信号を加算することで２値化のしきい電圧を調整し、所望のアシンメトリ値において２値化信号のデューティ比が５０％となるようにする。この状態においてゲインを変化させても、デューティ比は変化せずジッタも変化しない。一方、アシンメトリ値が当該所望の値以外であると、２値化信号のデューティ比が５０％からずれ、ゲインに応じてしきい電圧が変動してジッタも変化する。
【００６１】
したがって、例えばアシンメトリ＝１０％となるように記録パワーを調整したい場合、オフセット信号生成部２２ｅからアシンメトリ値１０％に対応するレベルのオフセット信号を出力し、ゲインを変化させたときにジッタの変化が最も小さい記録パワーを選択すればよい。もちろん、ジッタの平均値が最小となる記録パワーを選択することで、ジッタが良く、かつアシンメトリが所望の１０％近傍の記録パワーが得られる。具体的には、入力ＲＦ信号の振幅をＡとすると、１４Ｔの振幅も同様にＡであり、しきい電圧にオフセットレベルを加えると、そのときフィードバックが安定している状態はオペアンプ２２ａに入力されるしきい電圧（オフセットレベルが印加された後のしきい電圧）がＲＦ信号の３Ｔ振幅中心にあるとき（デューティ比５０％）である。ＡＣ結合後のＲＦ信号の中心レベルＲｅｆは、実際には３Ｔ〜１４Ｔの信号の振幅中心レベルを加算し、その総和で割ったものに等しいから、Ｒｅｆは１４Ｔの振幅中心レベルと３Ｔ振幅中心レベルの中間にあるとして、オフセットレベル＝３Ｔの振幅中心レベル−Ｒｅｆとなる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によればジッタ測定手段とアシンメトリ測定手段を共に用いることなく、ジッタ測定手段のみでＲＦ信号のアシンメトリ値を評価することが可能となり、これにより簡易な構成でジッタ及びアシンメトリが共に良好な最適記録パワーに設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  実施形態の全体構成ブロック図である。
【図２】  ２値化部の構成ブロック図である。
【図３】  従来の２値化部の構成ブロック図である。
【図４】  アシンメトリ０％時のタイミングチャートである。
【図５】  アシンメトリが０％より高い場合のタイミングチャートである。
【図６】  実施形態の処理フローチャートである。
【図７】  ゲインとジッタとの関係を示すグラフ図である。
【図８】  他の実施形態の２値化部の構成ブロック図である。
【図９】  アシンメトリ説明図である。
【符号の説明】
１０  光ディスク、１２  ピックアップ（ＰＵ）、１４  サーボ検出部、１６トラッキング制御部、１８  フォーカス制御部、２０  ＲＦ検出部、２２  ２値化部、２４  デコーダ、２６  ジッタ測定部、３０  コントローラ、３２  レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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