(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理及び波形等化処理を施す際に、波形等化特性を調整することによって量子化データの分布特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、
量子化データの各レベルの出現回数を計測し、
計測された各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化特性を調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項２】
請求項１記載のデータ再生制御方法において、
上記量子化データの各レベルの出現回数の計測は、記録媒体からの信号再生期間において、所定のインターバルにて行うようにしたデータ再生制御方法。
【請求項３】
請求項１または２記載のデータ再生制御方法において、
記録媒体からの信号再生期間を所定回数設定し、
各信号再生期間において、上記量子化データの各レベルの出現回数の計測及び波形等化特性の調整を行うようにしたデータ再生制御方法。
【請求項４】
請求項３記載のデータ再生制御方法において、
各信号再生期間において、波形等化特性を所定量だけ調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項５】
請求項４記載のデータ再生制御方法において、
最初の所定回数の信号再生期間において、波形等化特性を第一の所定量だけ調整し、その後の信号再生期間において、波形等化特性を上記第一の所定量より少ない第二の所定量だけ調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項６】
請求項１記載のデータ再生制御方法において、
上記計測された各レベルの出現回数の分布における離散状態を判定し、その離散状態が上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布の離散状態に合致するように上記波形等化特性を調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項７】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化手段及び波形等化器での処理を施す際に、該波形等化器の波形等化特性を調整することによって量子化データの分布特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化器の波形等化特性を調整する等化特性調整手段とを備えたデータ再生制御装置。
【請求項８】
請求項７記載のデータ再生制御装置において、
記録媒体からの信号再生期間において、所定のインターバルにて上記計測手段での処理を実行させる計測制御手段を備えたデータ再生制御装置。
【請求項９】
請求項７記載のデータ再生制御装置において、
記録媒体からの信号再生期間を所定回数設定する回数設定手段と、
上記回数設定手段にて設定された所定回数の各信号再生期間において、上記計測手段及び等化特性調整手段での処理を実行させる制御手段とを備えたデータ再生制御装置。
【請求項１０】
請求項９記載のデータ再生制御装置において、
等化特性調整手段は、各信号再生期間において、等化特性を所定量だけ調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項１１】
請求項１０記載のデータ再生制御装置において、
波形等化器は、トランスバーサル型に構成され、
上記等化特性調整手段は、波形等化器のタップ係数を所定量だけ調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項１２】
請求項１０記載のデータ再生制御装置において、
波形等化特性の調整回数を設定する調整回数設定手段を有し、
上記等化特性調整手段は、調整回数設定手段に設定された最初の調整回数の信号再生期間において、波形等化特性を第一の所定量だけ調整する第一の調整手段と、
その後の信号再生期間において、波形等化特性を上記第一の所定量より少ない第二の所定量だけ調整する第二の調整手段とを有するデータ再生制御装置。
【請求項１３】
請求項１２記載のデータ再生制御装置において、
上記波形等化器は、トランスバーサル型に構成され、
上記第一の調整手段は、波形等化器のタップ係数を第一の所定値だけ調整するようにし、
上記第二の調整手段は、波形等化器のタップ係数を上記第一の所定値より小さい第二の所定値だけ調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項１４】
請求項７記載のデータ再生制御装置において、
上記波形等化特性調整手段は、上記計測された各レベルの出現回数の分布における離散状態を判定する離散状態判定手段を有し、
該離散状態判定手段にて判定された離散状態が上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布の離散状態に合致するように上記波形等化特性を調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項１５】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順にて再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、
その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手順での処理特性を調整し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出し、
該検出された再生信号の立ち下がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対する最尤検出手順での処理特性を調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項１６】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順にて再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、
上記最尤検出手順は、ビタビ復号アルゴリズムであり、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、
その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手順での処理特性を調整し、
上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ復号アルゴリズムにて用いられる期待値を設定し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出し、
該検出された再生信号の立ち下がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対してビタビ復号アルゴリズムにて用いられる期待値を設定するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項１７】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順にて再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、
その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手順での処理特性を調整し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出し、
該検出された再生信号の立ち上がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対する最尤検出手順での処理特性を調整するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項１８】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順にて再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、
上記最尤検出手順は、ビタビ復号アルゴリズムであり、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、
その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手順での処理特性を調整し、
上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ復号アルゴリズムにて用いられる期待値を設定し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出し、
該検出された再生信号の立ち上がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対してビタビ復号アルゴリズムにて用いられる期待値を設定するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項１９】
パーシャルレスポンスの規則にデータ記録のなされた記録媒体からの再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリングにて得られたサンプリング値に基づいて再生データを決定するようにしたデータ再生制御方法において、
上記サンプリング値の各レベルの出現回数を計測し、
該計測された各レベルの出現回数の分布と連続する複数時点におけるサンプリング値とに基づいて上記期待値を設定するようにしたデータ再生制御方法。
【請求項２０】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、
該立ち下がり検出手段が再生信号の立ち下がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２１】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記最尤検出手段は、ビタビ復号アルゴリズムに従って再生データを確定するビタビ検出手段であり、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、上記特性調整手段は、上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定する期待値設定手段を有し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、
該立ち下がり検出手段が再生信号の立ち下がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記期待値設定手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対してビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２２】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、
該立ち上がり検出手段が再生信号の立ち上がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２３】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記最尤検出手段は、ビタビ復号アルゴリズムに従って再生データを確定するビタビ検出手段であり、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、上記特性調整手段は、上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定する期待値設定手段を有し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、
該立ち上がり検出手段が再生信号の立ち上がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記期待値設定手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対してビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２４】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、
上記立ち下がり検出手段及び立ち上がり検出手段のいずれかを選択する選択手段と、
該選択手段にて選択された立ち下がり検出手段及び立ち上がり検出手段のいずれかが、当該再生信号の立ち下がりまたは立ち上がりを検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分または立ち上がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２５】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、
上記最尤検出手段は、ビタビ復号アルゴリズムに従って再生データを確定するビタビ検出手段であり、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、上記特性調整手段は、上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定する期待値設定手段を有し、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、
上記立ち下がり検出手段及び立ち上がり検出手段のいずれかを選択する選択手段と、
該選択手段にて選択された立ち下がり検出手段及び立ち上がり検出手段のいずれかが、当該再生信号の立ち下がりまたは立ち上がりを検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記期待値設定手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分または立ち上がり部分に対してビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定するようにしたデータ再生制御装置。
【請求項２６】
パーシャルレスポンスの規則にデータ記録のなされた記録媒体からの再生信号を所定周期にてサンプリングし、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と当該サンプリングにて得られたサンプリング値に基づいて再生データを決定するようにしたデータ再生制御装置において、
上記サンプリング値の各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布と連続する複数時点におけるサンプリング値とに基づいて上記期待値を設定する期待設定手段とを備えたデータ再生制御装置。
【請求項２７】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた光ディスク媒体から再生された信号に対して量子化処理及び波形等化処理を施す処理手段と、該処理手段にて得られた波形等化された量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って再生データを確定する最尤検出手段とを有する再生系を備えた光ディスク装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化処理での波形等化特性を調整する等化特性調整手段とを備えた光ディスク装置。
【請求項２８】
パーシャルレスポンスの規則にデータ記録のなされた光ディスク媒体からの再生信号に対してサンプリング処理及び波形等化処理を施す処理手段と、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と上記処理手段にて得られた波形等化済のサンプリング値に基づいて再生データ
を決定するビタビ検出手段とを有する再生系を備えた光ディスク装置において、
上記サンプリング値の各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記パーシャルレスポンスの規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化処理での波形等化特性調整する等化特性調整手段とを備えた光ディスク装置。
【請求項２９】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた光ディスク媒体から再生された信号に対して量子化処理を施す量子化手段と、該量子化手段にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って再生データを確定する最尤検出手段とを有する再生系を有した光ディスク装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、
該立ち下がり検出手段が再生信号の立ち下がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するようにした光ディスク装置。
【請求項３０】
所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた光ディスク媒体から再生された信号に対して量子化処理を施す量子化手段と、該量子化手段にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って再生データを確定する最尤検出手段とを有する再生系を有した光ディスク装置において、
上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段と、
上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、
該立ち上がり検出手段が再生信号の立ち上がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを備え、
上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するようにした光ディスク装置。
【請求項３１】
パーシャルレスポンスの規則にデータ記録のなされた光ディスク媒体からの再生信号を所定周期でサンプリングするサンプリング手段と、ビタビ復号アルゴリズムに従って、上記パーシャルレスポンス波形にて定まる期待値と上記サンプリング手段にて得られたサンプリング値に基づいて再生データを決定するビタビ検出手段とを有する再生系を備えた光ディスク装置において、
上記サンプリング値の各レベルの出現回数を計測する計測手段と、
該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布と連続する複数時点におけるサンプリング値とに基づいて上記期待値を設定する期待設定手段とを備えた光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、記録媒体から再生された信号を量子化して得られる量子化データの分布特性に基づいてデータの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法及び装置に関する。
本発明は、また、そのようなデータ再生制御方法に従って動作する光ディスク装置に関する。
背景技術
近年、コンピュータの補助記憶装置として使用される光ディスク装置、光磁気ディスク装置、磁気ディスク装置等では、記録媒体に対する記録密度の増大の要請に伴って、より精度の高いデータの記録、再生の手法が望まれている。
このような光ディスク、光磁気ディスクや磁気ディスク等の記録媒体に対する精度の高いデータの記録、再生を行う手法として、ＰＲＭＬ（パーシャルレスポンス・最尤検出）手法が従来提案されている。このＰＲＭＬ手法では、記録データ信号を所謂パーシャルレスポンス（ＰＲ）波形に変調して記録媒体に記録する一方、その記録媒体からの再生信号を所定周期でサンプリング等して量子化すると共に、その量子化データがパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形に対応するように波形等化処理を行う。なお、再生信号をパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形に対応するように波形等化した後に、その信号を所定周期でサンプリング等して量子化してもよい。そして、その結果得られた量子化データから、所謂ビタビ検出等の最尤（ＭＬ）検出の手法に従って最も確からしいデータを確定している。
従来のＰＲＭＬ手法においては、サンプリング等によって得られた量子化データとパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形から本来得られるべき期待値との差を最小にするように波形等化の特性を制御する（適応等化）技術が採用されている。このように波形等化の特性を制御することにより、パーシャルレスポンス（ＰＲ）波形により近い信号波形に対応した量子化データを得ることができる。その結果、より高精度なデータ再生を行うことができるようになる。
しかし、上記のような波形等化の特性を制御する技術は、再生信号の局所的な状態に基づいて等化特性を制御するものであり、ノイズ等によって再生信号が局所的に変動するような場合には、安定的に、より適正なデータの再生ができない。
また、データの高密度記録を実現するために、例えば、磁気超解像効果を持つ媒体（ＭＳＲ(Magnetic Super Resolution)媒体）が実用化されようとしている。このＭＳＲ媒体では、光ビームの熱分布を利用したマスクを形成することにより超解像効果を作り出すため、媒体上を移動する光ビームの熱分布の偏りによって再生信号に非線形ずれ成分が発生し、この非線型ずれ成分のために再生波形が歪む。
この歪みは再生信号の立ち下がりまたは立ち上がりにて顕著に発生する肩下がり現象として現われる。またこの歪みはある所定の時点のみに発生するのではなく、定常的に発生する。
そこで、再生信号の立ち下がり及び立ち上がりに同期した２つのクロック信号を再生し（ＰＬＬ）、その２つのクロック信号を用いて再生信号をサンプリングする手法（DUAL PLL方式）が提案されている。
このような再生信号の立ち下がり及び立ち上がりのそれぞれに同期したクロック信号にて再生信号をサンプリングすれば、再生信号が立ち下がりや立ち上がりで歪んでも、その歪みに応じたタイミングによってサンプリングができるので、適正な出力データを得ることができる。
しかし、上記のようなDUAL PLL方式では、２つのクロック信号を用いて再生信号をサンプリングするため、回路構成が複雑になる。これに対して回路の簡略化が容易となるクロック信号を用いて再生信号をサンプリングする方法（SINGLE PLL方式）がある。しかし、SINGLE PLL方式では、上記のような肩下がり波形に対してサンプリングを行う場合、適正な出力データを得ることができない。
発明の開示
本発明は、上述したような問題を解決する、改良された有用なデータ再生制御方法及び装置及び光ディスク装置を提供することを総括的な目的とする。
本発明は、ノイズ等によって再生信号が局所的に変動する場合や、再生信号の立ち上がり、立ち下がりで定常的な歪みが生ずる場合など、再生信号に歪みが生じた場合であっても、できるだけ簡単な回路構成によって安定的により適正なデータの再生が可能となるようなデータ再生制御方法及び装置を提供することを目的とする。
本発明のより詳細な目的は、ノイズ等によって再生信号が局所的に変動するような場合であっても、安定的に、より適正なデータの再生が可能となるようなデータ再生制御方法及び装置を提供することである。
上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理及び波形等化処理を施す際に、波形等化特性を調整することによって量子化データの分布特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、量子化データの各レベルの出現回数を計測し、計測された各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化特性を調整するように構成される。
また、上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化手段及び波形等化器での処理を施す際に、該波形等化器の波形等化特性を調整することによって量子化データの分布特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化器の波形等化特性を調整する等化特性調整手段とを備えるように構成される。
上記本願発明によれば、信号再生期間を比較的長くとることにより、より多くの量子化データに基づいてその量子化データの各レベルの出現回数が計測される。そして、そのように得られた量子化データの各レベルの出現回数の分布に基づいて波形等化特性が調整される。その結果、局所的に再生信号が変動しても、より適切な波形等化出力が得られるように波形等化特性を調整することができるようになる。
また、本願発明の他の形態では、上記量子化データの各レベルの出現回数の計測は、記録媒体からの信号再生期間において、所定のインターバルにて行うように構成することができる。
本願発明の更に他の形態では、記録媒体からの信号再生期間を所定回数設定し、各信号再生期間において、上記量子化データの各レベルの出現回数の計測及び波形等化特性の調整を行うように構成することができる。
本願発明の他の形態では、各信号再生期間において、波形等化特性を所定量だけ調整するように構成することができる。
また、本願発明の更に他の形態では、最初の所定回数の信号再生期間において、波形等化特性を第一の所定量だけ調整し、その後の信号再生期間において、波形等化特性を上記第一の所定量より少ない第二の所定量だけ調整するように構成することができる。
更にまた、本願発明の他の形態では、上記計測された各レベルの出現回数の分布における離散状態を判定し、その離散状態が上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布の離散状態に合致するように上記波形等化特性を調整するように構成することができる。
また、本発明の他の目的は、再生信号に定常的な歪みが生じる場合であっても、安定的に、より適正なデータの再生が可能となるようなデータ再生制御方法及び装置を提供することである。
上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順にて再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御方法において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手順での処理特性を調整するように構成される。
本願発明の他の形態では、上記再生制御方法において、上記最尤検出手順は、ビタビ復号アルゴリズムであり、上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ復号アルゴリズムにて用いられる期待値を設定するように構成することができる。
このようなデータ再生制御方法によれば、再生信号に定常的な歪みが含まれていても、その歪みに応じた処理特性にて最尤検出手順に従った処理が行なわれる。従って、再生信号に定常的な歪みが生じる場合であっても、安定的に、より適正なデータの再生が可能となる。
また、本願発明の他の形態では、上記データ再生制御方法において、上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出し、該検出された再生信号の立ち下がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対する最尤検出手順での処理特性を調整するように構成することができる。
更に、本願発明の他の形態では、上記データ再生制御方法において、上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出し、該検出された再生信号の立ち上がり部分において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測し、その計測された各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対する最尤検出手順での処理特性を調整するように構成することができる。
これらのデータ再生制御方法によれば、記録媒体の特性により特に再生信号の立ち下がり部分や立ち上がり部分にて歪みが生ずる場合に、それらの部分に対する最尤検出手順での処理特性を個別的に調整することができる。
また、上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた記録媒体から再生された信号に対して量子化処理を施し、量子化処理にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って最尤検出手段が再生データを確定する際に、データの再生特性を制御するようにしたデータ再生制御装置において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段とを備えるように構成される。
本願発明の他の形態では、上記データ再生制御装置において、上記最尤検出手段は、ビタビ復号アルゴリズムに従って再生データを確定するビタビ検出手段であり、上記特性調整手段は、上記計測された各レベルの出現回数の分布に基づいてビタビ検出手段にて用いられる期待値を設定する期待値設定手段を有するように構成することができる。
また、本願発明の他の形態では、上記データ再生制御装置において、上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する立ち下がり検出手段と、該立ち下がり検出手段が再生信号の立ち下がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを有し、上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち下がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するように構成することができる。
更に、本願発明の他の形態では、上記データ再生制御装置において、上記量子化データのレベル変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する立ち上がり検出手段と、該立ち上がり検出手段が再生信号の立ち上がり部分を検出しているときに上記計測手段を有効にする計測制御手段とを有し、上記特性調整手段は、有効となる計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて再生信号の立ち上がり部分に対する最尤検出手段での処理特性を調整するように構成することができる。
更に、本発明の他の目的は、上述したようなデータ再生制御方法に従って動作する光ディスク装置を提供することである。
上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた光ディスク媒体から再生された信号に対して量子化処理及び波形等化処理を施す処理手段と、該処理手段にて得られた波形等化された量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って再生データを確定する最尤検出手段とを有する再生系を備えた光ディスク装置において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、該計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布を上記所定の記録規則に基づいて得られるべき分布に近づけるように上記波形等化処理での波形等化特性を調整する等化特性調整手段とを備えるように構成される。
また、上記目的を達成するため、本発明は、所定の記録規則に従ってデータ記録のなされた光ディスク媒体から再生された信号に対して量子化処理を施す量子化手段と、該量子化手段にて得られた量子化データから上記記録規則に対応した最尤検出手順に従って再生データを確定する最尤検出手段とを有する再生系を有した光ディスク装置において、上記量子化データの各レベルの出現回数を計測する計測手段と、その計測手段にて得られた各レベルの出現回数の分布に基づいて上記最尤検出手段での処理特性を調整するようにした特性調整手段とを備えるように構成される。
【図面の簡単な説明】
本発明の他の目的、特徴及び利点は添付の図面を参照しながら以下の詳細な説明によってより一層明瞭になるであろう。
図１は、本発明の実施例に係る再生信号制御方法及び装置が適用される光磁気ディスクの構成を示すブロック図である。
図２は、リード系の構成例を示す図である。
図３は、デジタル等化器の構成例を示す図である。
図４は、図２に示す等化器制御ユニットの詳細な構成を示すブロック図である。
図５は、等化器制御ユニットにおけるデコード部の構成例を示す図である。
図６は、等化器制御ユニットの計測部における各カウンタの構成例を示す図である。
図７は、等化器制御ユニットにおけるヒストグラム動作許可部の詳細構成例を示すブロック図である。
図８は、等化器制御ユニットにおけるタイミング制御部の詳細構成例を示すブロック図である。
図９は、等化器制御ユニットのヒストグラム動作許可部及びタイミング制御部における各部の信号状態を示すタイミングチャートである。
図１０は、再生信号の例を示す図である。
図１１は、図１０に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図１２は、デジタル等化器のタップ係数を調整する処理の手順を示すフローチャートである。
図１３は、図１２に示す処理における係数再計算処理の詳細な手順を示すフローチャートである。
図１４は、再生信号の他の例を示す図である。
図１５は、図１４に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図１６は、リード系の構成例を示す図である。
図１７は、期待値設定ユニットの詳細な構成を示すブロック図である。
図１８は、デジタル等化器及び立ち下がり検出部の構成例を示す図である。
図１９は、波形の立ち下がり条件を示す図である。
図２０は、波形のピーク時の条件を示す図である。
図２１は、立ち下がり検出部実現の例と、イコライザ出力とのタイミングを示す図である。
図２２は、イコライザ出力波形と立ち下がり検出部の出力とのタイミングを示す図である。
図２３は、立ち上がり検出部の構成例を示す図である。
図２４は、波形の立ち上がり条件を示す図である。
図２５は、波形のボトム時の条件を示す図である。
図２６は、理想の再生信号の例を示す図である。
図２７は、図２６に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図２８は、再生信号の例を示す図である。
図２９は、図２８に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図３０は、肩下がりの再生信号を示す図である。
図３１は、図３０に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図３２は、肩下がりとオフセットの再生信号を示す図である。
図３３は、図３２に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図３４は、肩下がりの再生信号を示す図である、
図３５は、立ち下がり検出部を用いた場合における、図３３に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図３６は、肩下がりの再生信号を示す図である。
図３７は、立ち上がり検出部を用いた場合における、図３６に示す再生信号のサンプリング値のヒストグラムを示す図である。
図３８は、量子化データと期待値の波形の例を示す図である。
図３９は、期待値設定を示す図である。
図４０は、ビタビ検出器の構成例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
本発明の実施例に係る光ディスク装置は、例えば、図１に示すように構成される。この光ディスク装置は、記録媒体として光磁気ディスクを使用する光磁気ディスク装置である。
図１において、この光磁気ディスク装置は、記録媒体となる光磁気ディスク１０、光学ヘッド２０、アンプ２１、リード系ユニット２５、ライト系ユニット２６、電磁石２７、制御ユニット２８、サーボ系ユニット２９及びモータ３０を有している。光磁気ディスク１０には、所定の記録規則（例えば、拘束長２のパーシャルレスポンスＰＲ（１、１））に従ったデータの記録がなされ、また、この光磁気ディスク１０からデータの読み出しが行なわれる。
制御ユニット２８は、コネクタ３２、インタフェース回路３１を介して供給される外部ユニットからのデータ再生命令及びデータ書込み命令に従って、リード系ユニット２５、ライト系ユニット２６及びサーボ系ユニット２９を制御する。データ再生命令が供給されたとき、光学ヘッド２０が光磁気ディスク１０を光学的に走査し、その際光学ヘッド２０から出力される再生信号がアンプ２１を介してリード系ユニット２５に供給される。このリード系ユニット２５は、供給される再生信号を量子化すると共に、その量子化データから最尤（ＬＭ）復号アルゴリズム（例えば、ビタビ復号アルゴリズム）に従って出力データを生成する。この出力データが、制御ユニット２８に供給され、更に、制御ユニット２８からインタフェース回路３１及びコネクタ３２を介して外部ユニットに出力される。
一方、制御ユニット２８は、外部ユニットから記録データと共に書込み命令を受信すると、この記録データを所定の記録規則（例えば、パーシャルレスポンスＰＲ（１、１））に従って変調し、その変調されたデータをライト系ユニット２６に供給する。ライト系ユニット２６は、供給されたデータに従って光学ヘッド２０の駆動制御を行い、更に、制御ユニット２８がその記録データの変調にて得られたデータに基づいて電磁石２７を制御する。その結果、光磁気ディスク１０に上記所定の記録規則に従ったデータが書き込まれる。
なお、制御ユニット２８にて制御されるサーボ系ユニット２９は、モータ３０を駆動させて光磁気ディスク１０を所定の速度で回転させると共に、光学ヘッド２０を光磁気ディスク１０の記録／再生位置に位置付ける。
上記リード系ユニット２５は、例えば、図２に示すように構成される。
図２において、リード系ユニット２５は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２３、デジタル等化器（ＥＱ）２４、ビタビ検出器１００及び等化器制御ユニット２００を有している。アンプ２１（図１参照）にて増幅された再生信号は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２によって波形成形される。そして、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２３がこの波形成形された再生信号を所定のクロック（図示せず）に同期してデジタル信号に変換する。即ち、上記再生信号がクロック信号に同期してサンプリングされることにより再生信号の量子化が行なわれる。
アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３からのサンプリング値がデジタル等化器（ＥＱ）２４によって波形等化処理され、等化出力データ（量子化データ）として出力される。このデジタル等化器（ＥＱ）２４からの等化出力データが上記クロック信号に同期してビタビ検出器１００に供給される。このビタビ検出器１００は、クロック信号に同期して順次供給される等化出力データからビタビ復号アルゴリズムに従って記録データを検出し、再生データとして出力する。
上記デジタル等化器２４の出力は、等化器制御ユニット２００に接続されている。この等化器制御ユニット２００は、例えば、調整モードでの光磁気ディスク２００からの信号再生時に、デジタル等化器２４から順次出力される上記等化出力データの状態に基づいてデジタル等化器２４の等化特性を制御する。
上記デジタル等化器２４は、例えば、図３に示すようなトランスバーサル型のフィルタにて構成されている。即ち、５段の遅延素子（レジスタ）Ｔを有し、各遅延素子の出力にタップ係数ｋ-1、ｋ-2、k0、ｋ+1、ｋ+2を乗じた値を加算（＋）する構成となっている。このデジタル等化器２４の等化特性は、各タップ係数ｋ-1、ｋ-2、k0、ｋ+1、ｋ+2を調整することによって制御することができる。
上記等化器制御ユニット２００は、例えば、図４に示すように構成される。
図４において、等化器制御ユニット２００は、デコード部２０２、計測部２０４、ヒストグラムメモリ２０６、ＭＰＵ２１０、ＲＯＭ２１２、不揮発性メモリ２１４（例えば、フラッシュＲＯＭ）、設定メモリ２１６、ヒストグラム動作許可部２１８及びタイミング制御部２２０を有している。上記ＭＰＵ２１０、ＲＯＭ２１２、不揮発性メモリ２１４、ヒストグラムメモリ２０６及び設定メモリ２１６は、バス２０８（データバス、アドレスバス、制御ラインを含む）によって接続されている。
ＭＰＵ２１０は、ＲＯＭ２１２に格納されたプログラムに従って、この等化器制御ユニット２００全体を制御すると共に、後述するようなデジタル等化器２４のタップ係数の決定処理を実行する。不揮発性メモリ２１４は、ＭＰＵ２１０によるタップ係数の決定処理により決定されたタップ係数ｋ-1、ｋ-2、k0、ｋ+1、ｋ+2の値を保存する。設定メモリ２１６は、ＭＰＵ２１０からの指令に基づいてタップ係数の決定処理において用いられる各種設定値及びデジタル等化器２４に供給すべきタップ係数を格納する。この設定メモリ２１６には、計測部２０４に対するリセット情報（reset）も格納される。
デコード部２０２は、デジタル等化器２４からの等化出力データをレベル別に分類する。この例の場合、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２３が６ビットの量子化データを出力し、デジタル等化器２４からの等化出力データもまた６ビット構成となる。このような等化出力データを入力するデコード部２０２は、例えば、図５に示すような６ビット入力、６４ビット出力のデコーダで構成される。即ち、デコード部２０２の各出力ビットは、６ビットで構成される等化出力データで表現される６４（０〜６３）のいずれかのレベルに対応している（６４分類）。
計測部２０４は、デコード部２０２の各出力ビットに接続された６４のカウンタ２０４（１）〜２０４（６４）を有している。各カウンタ２０４（ｉ）（ｉ＝１、２、…６４）は、例えば、図６に示すように構成される。即ち、各カウンタ２０４（ｉ）は、クロック端子（clk）、許可端子（en）及びクリア端子（clr）を有しており、許可端子（en）が許容状態（例えば、ハイレベル）のときにクロック端子（clk）に入力するクロックを計数する。
上記再生信号を量子化するアナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ)２３に供給される同期クロック信号が上記クロック端子（clk）に入力し、ヒストグラム動作許容部２１８から後述するように出力される許可信号（histo enable）にて許容状態となるアンドゲート素子２０５を介してデコード部２０２の対応する出力ビット信号が上記許可端子（en）に入力する。また、前述した設定メモリ２１６に格納されたリセット情報に基づいたリセット信号が上記クリア端子（clr）に入力している。
上記同期信号に同期してデジタル等化器２４から等化出力データがデコード部２０２に入力することから、上記のような構成により、各カウンタ２０４（ｉ）は、等化出力データの対応するレベルの出現回数をカウントすることになる。
この計測部２０４の各カウンタ２０４（ｉ）のカウント値がヒストグラムメモリ２０６に供給される。その結果、ヒストグラムメモリ２０６には、等化出力データの各レベル（０〜６３）の出現回数がヒストグラムとして格納される。
なお、各カウンタ２０４（ｉ）の出力ビット数Ｘにより分類される各レベルの出現回数の最大値が決定される。
ヒストグラム動作許可部２１８は、設定メモリ２１６に格納された各設定値及びタイミング制御部２２０からのタイミング信号（再スタートパルス（restart pulse））に基づいて計測部２０２でのカウント動作（ヒストグラム作成動作）を許容するための許可信号（histo enable）を生成する。このヒストグラム動作許可部２１８は、例えば、図７に示すように構成される。図７において、ヒストグラム動作許可部２１８は、上限値検出用の第一のカウンタ２１８ａ、オアゲート素子２１８ｂ、フリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２１８ｃ及び上限値検出用の第二のカウンタ２１８ｄを有している。また簡略のために、クロック端子は省略しているが、カウンタ、フリップフロップにはクロックが供給されている。
第一のカウンタ２１８ａは、上限値を設定するためのロード値端子（load）及び許可端子（en）を有している。ロード値端子（load）には、上述したヒストグラムの作成動作の開始時刻に対応した開始カウント値が入力する。この開始カウント値は、ＭＰＵ２１０での処理により設定メモリ２１６に格納されており、設定メモリ２１６から第一のカウンタ２１８ａに供給される。光磁気ディスク１０からのデータ読み出し時に有効となる読み出し許可信号（read gate）が上記許可端子（en）に入力している。そして、第一のカウンタ２１８ａは、データ読み出し開始時（読み出し許可信号の立ち上がり時）から所定のクロック信号（再生信号のサンプリングに使用されるクロック信号と共通でもよい）のカウント動作を開始し、そのカウント値が上記開始カウント値に達するとスタートパルス（start pulse）を出力する。
フリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２１８ｃは、Ｊ端子、Ｋ端子及びクリア端子（ＣＬ）を有する。上記第一のカウンタ２１８ｃからのスタートパルス（start pulse）がオアゲート素子２１８ｂを介して上記Ｊ端子に入力し、上記読み出し許可信号（read gate）が上記クリア端子（ＣＬ）に入力している。また、第二のカウンタ２１８ｂの出力となるストップパルス（stop pulse）がＫ端子に入力している。上記の構成により、読み出し許可信号（read gate）が有効となるとき（データ読み読み出し時）に、このフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２１８ｃからは、第一のカウンタ２１８ａからスタートパルスが出力されてから第二のカウンタ２１８ｄからストップパルスが出力されるまでの間有効となる許可信号（histo enable）が出力される。
上記第二のカウンタ２１８ｄもまた、上限値を設定するためのロード値端子（load）及び許可端子（en）を有している。ロード端子（load）には、上述したヒストグラムの作成動作の終了時刻に対応した終了カウント値が入力する。この終了カウント値もまた、ＭＰＵ２１０での処理により設定メモリ１６に格納されており、この設定メモリ１６から第二のカウンタ２１８ｄに供給される。上述したフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２１８ｃからの許可信号（histo enable）が上記許可端子（en）に入力している。そして、この第二のカウンタ２１８ｄは、計測部２０４でのカウント動作（ヒストグラム作成動作）を許容するための許可信号（histo enable）が有効となってから所定のクロック信号（再生信号のサンプリングに使用されるクロック信号と共通でもよい）のカウント動作を開始し、そのカウント値が上記終了カウント値に達すると上記ストップパルス（stop pulse）を出力する。
従って、上述した構成のヒストグラム動作許可部２１８は、上記開始カウント値に対応した開始時刻から終了カウント値に対応した終了時刻までの間有効となる許可信号（histo enable）を出力する。
このヒストグラム動作許可部２１８に対して上述した再スタートパルス（restart pulse）を供給する上記タイミング制御部２２０は、例えば、図８に示すように構成される。図８において、このタイミング制御部２２０は、動作間隔制御部２２０ａ、アンドゲート素子２２０ｂ、立ち上がり検出部２２０ｃ、上限検出用のカウンタ２２０ｄ、第一のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｅ及び第二のフリッププロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｆを有している。また、図７同様、図８も簡略のため、クロック端子を省略している。
第一のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｅは、Ｊ端子、Ｋ端子及びクリア端子（ＣＬ）を有している。Ｊ端子には、上述したヒストグラム許可部２１８からの許可信号（histo enable）が入力すると共に、Ｊ端子が常時ローレベル（「０」）に保持されている。また、読み出し許可信号（read gate）がクリア端子（ＣＬ）に入力している。このような構成により、第一のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｅは、最初の許可信号（histo enable）が有効となるときから、読み出し許可信号（read gate）が無効となるまでの間有効となる第一の制御信号を出力する。
動作間隔制御部２２０ａはカウンタ機能を有し、そのカウント値が設定された上限値に達したときに、パルス信号を出力する。この動作間隔制御部２２０ａは、上限値を設定するためのロード値端子（load）及び許可端子（en）を有している。第一のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｅからの上記第一の制御信号及び第二のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｆから後述するように出力される第二の制御信号によって制御されるアンドゲート素子２２０ｂを介して上記ヒストグラム動作許可部２１８からの上記許可信号（histo enable）の反転信号が上記許可端子（en）に入力している。また、ヒストグラムの作成動作を停止する時刻（無効時刻）に対応した無効カウント値が上記ロード値端子（load）に入力する。この無効カウント値は、ＭＰＵ２１０での処理により設定メモリ２１６に格納されており、設定メモリ２１６から動作間隔制御部２２０ａに供給される。この動作間隔制御部２２０ａは、上記ヒストグラム動作許可部２１８からの許可信号（histo enable）が無効（反転信号が有効）となってから所定のクロック信号（再生信号のサンプリングに使用されるクロック信号と共通でもよい）のカウント動作を開始し、そのカウント値が上記無効カウント値に達すると上記パルス信号、即ち、再スタートパルス（restart pulse）を出力する。この再スタートパルス（restart pulse）がヒストグラム動作許可部２１８に供給される。
図７に戻って、ヒストグラム許可部２１８において、この再スタートパルス（restart pulse）は、オアゲート素子に１８ｂを介してフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２１８ｃのＪ端子に供給されており、この再スタートパルス（restart pulse）によって、上述したスタートパルス（start pulse）と同様に、許可信号（histo enable）が有効となる。
従って、上記のような構成により、スタートパレス（start pulse）によって有効とされた許可信号（histo enable）がストップ信号により無効とされた後、所定時間（無効カウント値に対応）経過後に、この許可信号（histo enable）が上記再スタートパルス（restart pulse）によって再度有効にされる。
また、図８に戻って、立ち上がり検出部２２０ｃは、上述したヒストグラム動作許可部２１８からの許可信号（histo enable）の立ち上がりを検出し、立ち上がり検出信号を出力する。カウンタ２２０ｄは、ロード値端子（load）及び許可端子(en)を有している。ロード値端子（load）には、ヒストグラム作成動作を行う回数が入力される。この回数は、ＭＰＵ２１０での処理により設定メモリ２１６に設定されており、この設定メモリ２１６から当該回数がカウンタ２２０ｄに供給される。そして、このカウンタ２２０ｄは、立ち上がり検出部２２０ｃから検出パルスをカウントし、そのカウント値が設定された回数に達すると、終了信号を出力する。
フリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｆは、Ｊ端子、Ｋ端子及びクリア端子（ＣＬ）を有している。Ｊ端子には、上記カウンタ２２０ｄかの終了信号が入力すると共に、Ｋ端子は、常時ローレベル（「０」）に保持されている。また、読み出し許可信号（read gate）がクリア端子（ＣＬ）に入力している。このような構成により、フリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｆは、上記読み出し許可信号（read gate）が有効となるときに動作可能となって、上記終了信号が入力されるときに有効（Low）になり、読み出し許可信号が無効となると無効（High）となる上記第二の制御信号を出力する（図中、ゲートに付く○印は論理反転を意味する）。この第二の制御信号は、前述したようにアンドゲート素子２２０ｂにゲート制御信号として供給される。
上述したヒストグラム動作許可部２１８及びタイミング制御部２２０における各部の信号は、図９に示すように変化する。図９において、光磁気ディスク１０の読み取り動作を行うために読み取り許可信号（read gate）が有効になると、ヒストグラム動作許可部２１８の第一のカウンタ２１８ａがカウント動作を開始する。そのカウント値が開始カウント値に達すると、スタートパルス（start pulse）が第一のカウンタ２１８ａから出力されて、許可信号（histo enable）が有効となる。この許可信号（histo enable）が有効になると、第二のカウンタ２１８ｄがカウント動作を開始する。そのカウント値が終了カウント値に達すると、ストップパルス（stop pulse）が第二のカウンタ２１８ｄから出力されて、許可信号（histo enable）が無効とされる。
その後、タイミング制御部２２０の動作間隔制御部２２０ａのカウンタがカウント動作を開始する。そのカウント値が無効カウント値に達すると、再スタートパルスが動作間隔制御部２２０ａから出力されて、ヒストグラム許可部２１８からの許可信号（histo enable）が有効となる。以後、同様に、許可信号（histo enable）が有効となるときからカウント動作を開始する上記第二のカウンタ２１８ｄのカウント値が終了カウント値に達すると、ストップパルス（stop pulse）によって許可信号（histo enable）が無効にされ、その無効にされたときからカウント動作を開始する動作間隔制御部２２０のカウンタのカウント値が無効カウント値に達すると、再スタートパルス（restart pulse）によって許可信号（hisuto enable）が再度有効にされる。このような動作を繰り返す過程で、上記許可信号（histo enable）が有効となる回数が設定回数に達すると、タイミング制御部２２０のフリップフロップ（ＪＫ−ＦＦ）２２０ｆから出力される第二の制御信号が有効（Low）となって動作間隔制御部２２０ａからの再スタートパルス（restart pulse）の出力が禁止される。
上記のような手順により、読み出し許可信号（read gate）が有効となる間に、設定された時間幅（開始カウント値と終了カウント値にて決定される）の許可信号（histo enable）が設定された回数だけ所定のインターバル（無効カウント値にて決定される）でヒストグラム動作許可部２１８から出力される。
光磁気ディスク１０からの信号再生時に、上記のように有効となる許可信号（hisot enable）が計測部２０４に供給される毎に、デジタル等化器２４から出力される等化出力データの各レベルの出現回数が計測部２０４の各カウンタ２０４（１）〜２０４（６４）によってカウントされる。そして、各カウンタ２０４（１）〜２０４（６４）のカウント値が各レベルの出現回数のヒストグラムとしてヒストグラムメモリ２０６に格納される。
この例では、光磁気ディスク１０に、拘束長２のＰＲ（１、１）波形に従ってデータ記録がなされているので、再生されるべきデータ（期待値）は、１、０、−１（０、１、２でもよい）の３値となる。そして、再生信号（図２におけるローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２の出力）が、例えば、図１０に示す曲線のように変化する場合、クロック周期（破線で示す）毎にアナログ・デジタル変換器２３にて量子化されるデータに対応したデジタル等化器２４からの等化出力データの各レベルの出現回数は、図１１に示すようになる。このような等化出力データの各レベルの出現回数がヒストグラムとしてヒストグラムメモリ２０６に格納される。この場合、本来３つの期待値に対応したレベルの等化出力データが検出されるべきところ、実際に検出される等化出力データの各レベルの出現回数が３つの離散分布（離散値が３）になっていない。従って、このような状態の等化出力データからビタビ検出回路１００によって記録データを再生しても、精度のよい再生データが得られない。
そこで、ＭＰＵ２１０は、例えば、図１２及び図１３に示す手順に従ってデジタル等化器２４のタップ係数の制御を行う。
この処理は、予め光磁気ディスク１０に記録したテストデータを読み出して行っても、また、必要なデータとして光磁気ディスク１０に記録したデータを読み出して行ってもよい。また、電源立ち上げ時、読み出しエラーが検出された場合、記録媒体（光磁気ディスク１０）を交換したとき、所定周期毎に当該処理を実行してもよい。
図１２において、まず、初期設定処理が行われる（Ｓ１）。この初期設定処理では、各カウンタに関する設定処理、離散値が適正か否かを判定するために用いる目標値に関する設定処理、繰り返し処理に関する設定処理、ディジタル等化器（波形等化器）２４に関する設定処理が、ユーザからの入力情報に基づいて行われる。なお、必要な項目についてデフォルト値として設定メモリ２１６に設定されている場合は、その設定値について変更する必要がなければ、その項目についての所期設定処理を行う必要はない。
各カウンタに関する設定処理では、ヒストグラム作成動作の開始時刻に対応した開始カウント値、ヒストグラム作成動作の終了時刻に対応した終了カウント値、ヒストグラム作成動作のインターバルに対応した無効カウント値及び回数値の設定が行われる。離散値が適正か否かを判定するために用いる目標値に関する設定処理では、判定の対象となるカウント値を得るための計測部２０４のカウンタを特定するカウンタ番号、判定の基準値（目標値）の設定が行われる。
繰り返し処理に関する設定処理では、ヒストグラムを作成し、そのヒストグラムに基づいてデジタル等化器２４のタップ係数を調整する回数の設定が行われる。また、デジタル等化器２４に関する設定処理では、タップ係数ｋ-2、ｋ-1、ｋ0、ｋ+1、ｋ+2の初期値の設定、タップ係数の荒い変化分ｄckm2、ｄckm1、ｄck0、ｄckp1、ｄckp2、タップ係数の細かい変化分ｄfkm2（＜ｄckm2）、ｄfkm1（＜ｄckm1）、ｄfk0（＜ｄck0）、ｄfkp1（＜ｄckp1）、ｄfkp2（＜ｄckp2）及びタップ係数の荒い調整回数が設定される。
上記のような初期設定処理（Ｓ１）が終了すると、内部カウンタをリセット（cnt＝０）した（Ｓ２）後、読み出し許可信号（read gate）が有効にされる（Ｓ３）。このように読み出し許可信号（read gate）が有効にされると、光磁気ディスク１０から信号の再生が行われる。そして、信号再生が行われている間、初期設定された各設定値（開始カウント値、終了カウント値、無効カウント値、回数値）に基づいて、上述したようにデジタル等化器２４からの等化出力データの各レベルの出現回数が所定インターバル毎に設定回数だけカウントされる。その結果がヒストグラムとしてヒストグラムメモリ２０６に格納される。
所定時間経過後、読み出し許可信号（read gate）が無効にされ（Ｓ４）、光磁気ディスク１０からの信号再生が終了される。
次いで、上記のように作成された等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムに基づいてその離散値が適正値であるか否かの判定処理（Ｓ５）が行われる。この判定処理では、ヒストグラムメモリ２０６から各レベルの出現回数のヒストグラムが読み出される。その各レベルの出現回数から、初期設定された対象となるカウンタにてカウントされた出現回数が選択され、それぞれの出現回数が初期設定された基準値（目標値）と比較される。
例えば、ＰＲ（１、１）波形の場合、再生波形の各ピーク値と中心値が取り得るべきデータ値となることから、本来、再生信号と各ピーク値（正、負）との間のレベルは取り得ない。従って、図１０、図１１に示すようにレベル０からレベル６４までのレベルを取り得る再生信号の中心レベル３２と再大レベル６３との間のレベル４０のカウント値（cntr４０）と、中心レベル３２と最小レベル０との間のレベル２４のカウント値（cntr２４）が判定の対象となる出現回数として所定のレジスタに設定される。そして、各カウント値（cntr４０）及び（cntr２４）が、例えば、基準値「１」と比較される。各カウント値（cntr４０）及び（cntr２４）が当該基準値より小さい場合は、適正な離散値（この場合、３）が得られているとして、ＯＫフラグが１（有効）にセットされる。一方、いずれかのカウント値（cntr４０）または（cntr２４）が当該基準値「１」より大きい場合は、適正な離散値が得られないとして、ＯＫフラグは０（無効）に保持される。
上記のような判定処理が終了下後、ＯＫフラグが有効であるか否かの判定が行われる（Ｓ６）。そして、ＯＫフラグが有効でない場合、適正な離散値が得られていないとして、デジタル等化器２４の各タップ係数の再計算処理が行われる（Ｓ７）。このタップ係数の再計算処理の詳細は後述する。この再計算処理によって得られた各タップ係数の値にて設定メモリ２１６に格納された各タップ係数が更新される。タップ係数の再計算処理が終了すると、内部カウンタをインクリメントし（cnt=cnt+1）（Ｓ８）、この内部カウンタのカウント値（cnt）が初期設定された繰り返し回数に達したか否かの判定が行われる（Ｓ９）。
ここで、内部カウンタのカウント値（cnt）が当該繰り返し回数に達していない場合、再度読み出し許可信号（read gate）が有効される（Ｓ３）。そして、上記設定メモリ２１６に格納されたタップ係数の値にてデジタル等化器２４のタップ係数ｋ-2、ｋ-1、ｋ0、ｋ+1、ｋ+2の値が更新される。デジタル等化器２４のタップ係数が更新された状態で、光磁気ディスク１０からの信号再生が行われ、上述したのと同様に、デジタル等化器２４からの等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムが作成される。
上記タップ係数の再計算処理（Ｓ７）は、例えば、図１３に示す手順に従って実行される。
図１３において、内部カウンタのカウント値（cnt）が初期設定された荒い調整回数設定値以下であるか否かが判定される（Ｓ７１）。当該カウント値（cnt）が荒い調整回数設定値以下である場合、各タップ係数ｋ-2、ｋ-1、ｋ0、ｋ+1、ｋ+2の値が設定メモリ２１６から読み出される（Ｓ７２）。各値をｋm2、ｋm1、ｋ0、ｋp1、ｋp2とする。この各タップ係数の値を初期設定された荒い変化分ｄckm2、ｄckm1、ｄck0、ｄckp1、ｄckp2を用いて、以下の式に従って、各タップ係数の新たな値が演算される（Ｓ７３）。
ｋm2＝ｋm2＋ｄckm2
ｋm1＝ｋm1−ｄckm1
ｋ0 ＝ｋ0＋ｄck0
ｋp1＝ｋp1−ｄckp1
ｋp2＝ｋp2＋ｄckp2
このように演算された各タップ係数の新たな値が設定メモリ２０６に格納され、各タップ係数の更新が行われる。
上述したようにデジタル等化器２４のタップ係数の値を荒い変化分ずつ更新して、デジタル等化器２４からの等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムを作成し、そのヒストグラムから各レベルの離散値が適正であるか否かを判定する等の処理（Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ９）が繰り返し実行される。そして、その離散値が適正な値になる前に、タップ係数の再計算処理（Ｓ７）において、内部カウンタのカウント値（cnt）が荒い調整回数設定値に達したと判定されると（図１３のＳ７１でＮｏ）、設定メモリ２０６に格納されている各タップ係数ｋ-2、ｋ-1、ｋ0、ｋ+1、ｋ+2の値ｋm2、ｋm1、ｋ0、ｋp1、ｋp2が読み出される（Ｓ７４）。この各タップ係数の値を初期設定された細かい変化分ｄfkm2、ｄfkm1、ｄfk0、ｄfkp1、ｄfkp2を用いて、以下の式に従って、各タップ係数の新たな値が演算される（Ｓ７５）。
ｋm2＝ｋm2＋ｄfkm2
ｋm1＝ｋm1−ｄfkm1
ｋ0 ＝ｋ0＋ｄfk0
ｋp1＝ｋp1−ｄfkp1
ｋp2＝ｋp2＋ｄfkp2
このように演算された各タップ係数の新たな値が設定メモリ２０６に格納され、各タップ係数の更新が行われる。
上述したようにデジタル等化器２４のタップ係数の値を細かい変化分ずつ更新して、デジタル等化器２４からの等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムを作成し、そのヒストグラムから各レベルの離散値が適正であるか否かを判定する等の処理（Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ９）が再度繰り返し実行される。その過程で、その離散値が適正な値になると、ＯＫフラグが有効になり（Ｓ６でＹｅｓ）、光磁気ディスク１０の別のゾーンに読み取り領域が移動され（Ｓ１０）、上述したのと同様の処理（Ｓ２〜Ｓ９）が実行される。
予め決められた全てのゾーンにおいて、等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムにおける離散値が適正となると、所定の処理（Ｐ：装置個々で規定される）を実行した後に、デジタル等化器２４のタップ係数の値が各ゾーン毎に不揮発性メモリ２１４に格納される（Ｓ１１）。
この不揮発性メモリ２１４に格納された各タップ係数の値は、電源遮断がして次回の電源立ち上げ時に、この不揮発性メモリ２１４に格納されたタップ係数の値をデジタル等化器２４に設定することができる。
なお、上述した処理の過程で、内部カウンタのカウント値（cnt）が荒い調整回数設定値に達する前に、等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムにおける離散値が適正となった場合、細かい調整（図１３におけるステップＳ７４、７５）を行うことなく、その際演算されているタップ係数の値が不揮発性メモリ２１４に格納される。また、等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムにおける離散値が適正となる前に、内部カウンタのカウント値（cnt）が初期設定された繰り返し処理回数に達した場合は、その時点で得られているタップ係数の値が不揮発性メモリ２１４に格納される。その場合、不揮発性メモリ２１４に格納されたタップ係数の値を初期値にして再度の調整処理を行うことができる。
通常のデータ再生時には、デジタル等化器２４のタップ係数が上述のような処理によって調整された値に設定された状態で、通常のデータ再生が行われる。この場合、その等化出力データの各レベルが本来取り得るレベルにより近くなる。その結果、このような状態の等化出力データからビタビ検出回路１００によって記録データが再生されるので、より精度のよい再生データが得られる。
例えば、ＰＲ（１、１）波形の記録信号を再生して、図１０に示すように変動する等化出力データ（量子化データ）が、上述のようなデジタル等化器２４のタップ係数の調整により、図１４に示すような状態になる。この場合、等化出力データの各レベルの出現回数のヒストグラムは、図１５に示すようになる。この場合、図１２のステップＳ５の処理で説明したように、レベル４０のカウント値（cntr４０）及びレベル２４のカウント値（cntr２４）は共に基準値（目標値）「１」より小さくなる。従って、適正な離散値（３）が得られていると判定できる。
なお、この等化出力データの各レベルの出力回数のヒストグラムから適正な離散値が得られているいるか否かの判定は、そのヒストグラムに標準偏差が所定値以下となる分布領域がいくつ存在するかに基づいて行うこともできる。
また、上記例では、記録媒体にＰＲ（１、１）波形にて信号記録した場合を説明したが、本発明は、それに限定されない。例えば、拘束長３のＰＲ（１、２、１）波形にて信号記録した場合には、再生データとして取り得るレベルは、５つになり、その場合の適正な離散値を５として同様の処理が可能である。
更に、本発明は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）波形にて信号記録した場合に限定されるものではない。記録規則から再生データの取り得るレベルが定まるシステムであれば、本願発明は適用可能である。
また、更に、上記実施例では、トランスバーサル型のデジタル等化器のタップ係数を調整するようにしたが、本発明は、他のタイプの波形等化器を用い、その等化特性を調整することも可能である。波形等化器と同様な働きをする機能（例えば、再生パワー調整、記録パワー調整等）を調整させることで同様な効果を得ることができる。
また、得られたヒストグラムから、記録媒体の良、不良の判定ができ、不良なセクタは交替セクタを用いる等の対策により、データ保存の信頼性を高めることができる。
次に、他の実施例について説明する。
この実施例は、図１に示す光磁気ディスク装置のリード系ユニット２５において、上述した例と同様に作成されたヒストグラムの情報に基づいてビタビ検出器１００で用いる期待値を設定するようにしたものである。
この実施例では、リード系ユニット２５は、例えば、図１６に示すように構成される。
図１６において、このリード系ユニット２５は、前述した例（図２参照）と同様に、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２２、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２３、デジタル等化器２４、ビタビ検出器１００を有している。更に、このリード系ユニット２５は、立ち上がり検出回路３３及び立ち下がり検出回路３４を有すると共に、前記等化器制御ユニット２００に代えて期待値設定ユニット２０１を有している。
この期待値設定ユニット２０１は、例えば、図１７に示すように構成されている。図１７において、図４に示す等化器制御ユニット２００の構成部分と同様の部分には同一の参照番号が付されており、その詳述は省く。
図１７において、立ち上がり検出回路３３は、アナログデジタル変換器２３からの量子化データを順次入力し、その量子化データの変化に基づいて再生信号の立ち上がり部分を検出する。立ち下がり検出回路３４は、アナログデジタル変換器３４からの量子化データを順次入力し、その量子化データの変化に基づいて再生信号の立ち下がり部分を検出する。立ち上がり検出回路３３からの立ち上がり検出信号ONEDGE＿DET及び立ち下がり検出回路３４からの立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETが期待値設定ユニット２０１に供給されている。
期待値設定ユニット２０１は、上述した等化器制御ユニット２００と同様に、デコード部２０２、計測部２０４、ヒストグラムメモリ２０６、ＭＰＵ２１０、ＲＯＭ２１２、不揮発性メモリ２１４、設定メモリ２１６、ヒストグラム動作許可部２１８及びタイミング制御部２２０を有している。期待値設定ユニット２０１は、更に、セレクタ２２１及びＡＮＤ回路２２２を有している。
上記立ち上がり検出回路３３及び立ち下がり検出回路３４からの立ち上がり検出信号ONEDGE＿DET及び立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETは、セレクタ２２１に入力し、このセレクタ２２１が立ち上がり検出信号ONEDGE＿DET及び立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETのいずれかを選択する。セレクタ２２１にて選択された検出信号にてゲート制御されるＡＮＤ回路２２２を介してヒストグラム動作許可部２１８からの許可信号（histo enable）が計測部２０４に供給されるようになっている。
また、セレクタ２２１は、立ち上がり信号ONEDGE＿DETや立ち下がり信号OFFEDGE＿DETの状態にかかわらず、ＭＰＵ１０からの指令に基づいて常時ハイレベル（Ｈ）に固定され得る。この場合、セレクタ２２１からのハイレベルの信号により、ＡＮＤ回路２２２は常時許容状態となり、ＡＮＤ回路２２２を介して当該許可信号（histo enable）が常時計測部２０４に供給される。
即ち、セレクタ２２１がハイレベルに固定された場合、ヒストグラム動作許可部２１８からの許可信号（histo enable）が有効（例えば、ハイレベル）になると、計測部２０４における各カウンタ２０４（１）〜２０４（６４）でのカウント動作が行なわれる。また、セレクタ２２１がハイレベルに固定されない場合は、当該セレクタ２２１にて選択された立ち上がり検出信号ONEDGE＿DET及び立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETのいずれかの検出信号が有効（例えば、ハイレベル）となる状態で、ヒストグラム動作許可部218からの許可信号（histo enable）が有効となると、計測部２０４における各カウンタ２０４（１）〜２０４（６４）でのカウント動作が行なわれる。
上記立ち下がり検出回路３４及びデジタル等化器２４は、例えば、図１８に示すように構成される。
図１８において、デジタル等化器２４は、前述した実施例と同様に、トランスバーサル型のフィルタにて構成され、５段の遅延素子（レジスタ）Ｔ１〜Ｔ５を有し、各遅延素子に対するタップ係数k-1、k-1、k0、k+1、k+2が調整可能となっている。
また、立ち下がり検出回路３４は、４段の遅延素子（レジスタ）Ｔ６〜Ｔ９、第一の比較器３４０、第二の比較器３４１、第三の比較器３４２、ＯＲゲート素子３４３及びＡＮＤゲート素子３４４を有している。アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２３からの量子化データが初段の遅延素子Ｔ６に入力し、この遅延素子Ｔ６に入力された量子化データがクロック信号に同期して遅延素子Ｔ７、Ｔ８、Ｔ９内を順次シフトされる。
第一の比較器３４０は、４段目の遅延素子Ｔ９にセットされる時刻ｔ−２での量子化データ（Ａ）と３段目の遅延素子Ｔ８にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ｂ）とを比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）より大きい場合（Ａ＞Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ１を出力する。第二の比較器３４１は、４段目の遅延素子Ｔ９にセットされる時刻ｔ−２での量子化データ（Ａ）と３段目の遅延素子Ｔ８にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ｂ）とを比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）以下の場合（Ａ≦Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ２を出力する。第三の比較器３４２は、３段目の遅延素子Ｔ８にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ａ）と２段目の遅延素子Ｔ７にセットされる時刻ｔでの量子化データ（Ｂ）を比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）より大きい場合（Ａ＞Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ３を出力する。
第二の比較器３４１からの検出信号ＣＭＰ２及び第三の比較器３４２からの検出信号ＣＭＰ３との論理積信号ＡＮＤ１がＡＮＤゲート素子３４４にて生成される。また、上記第一の比較器３４０からの検出信号ＣＭＰ１とＡＮＤゲート素子３４４からの論理積信号ＡＮＤ１との論理和信号がＯＲゲート素子３４３にて生成され、ＯＲゲート素子３４３からの論理和信号が当該立ち下がり検出回路３４の立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETとして出力される。
上記のような構成となる立ち下がり検出回路３４では、同期用のクロック信号にて規定される連続する３時点（ｔ−２、ｔ−２、ｔ）での量子化データの比較結果に基づいて再生信号の立ち下がりが検出される。
即ち、連続する３つの量子化データのうち遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ９（ｔ−２）にセットされる前の量子化データより小さい（第一の比較器３４０からの検出信号ＣＭＰ１が有効となる）場合、再生信号の立ち下がりと判定され、立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETが有効となる。この場合、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ７（ｔ）にセットされる次の量子化データより大きいかあるいは小さいかは問わない。図１９に示すように、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ７（ｔ）にセットされる次の量子化データより小さければ（破線参照）、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データはボトム値となる。また、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ７（ｔ）にセットされる次の量子化データより大きければ（実線参照）、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データは、再生信号の立ち下がり過程での値になる。
また、連続する３つの量子化データのうち遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ９（ｔ−２）にセットされる前の量子化データ以上であり（第二の比較器３４１からの検出信号ＣＭＰ２が有効となる）、かつ、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ７（ｔ）にセットされる次の量子化データより小さい（第三の比較器３４２からの検出信号ＣＭＰ３が有効となる）場合、図２０に示すように、遅延素子Ｔ８（ｔ−１）にセットされる量子化データはピーク値となる。この場合も、再生信号の立ち下がりであると判定され、立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETが有効となる。
上述したようなデジタル等化器２４からの出力と立ち上がり検出回路３４からの立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETとの関係は、例えば、図２１に示すようになっている。なお、図２１において、縦の点線は、クロック信号の立ち上がりタイミングを表しており、このクロック信号に同期して各回路での処理が行なわれる。
図２１に示す例では、デジタル等化器２４の各タップ係数は、k-2＝０、k-1＝０、k0＝１、k+1＝０、k+2＝０のように設定されている。従って、３段目の遅延素子Ｔ３からの出力データがそのままデジタル等化器２４の出力データとなる。また、立ち下がり検出回路３４における３段目の遅延素子Ｔ８では、デジタル等化器２３の３段目の遅延素子Ｔ３と同じ遅延量となることから、立ち下がり検出回路３４における遅延素子Ｔ８からの出力データは、各タイミングにおいて、デジタル等化器２４からの出力データと同じになる。
図２１において、立ち下がり検出回路３４における各遅延素子Ｔ９、Ｔ８、Ｔ７の出力データが例えば（２、２、１）となるときに（図２０に示す状態）、第三の比較器３４２からの検出信号ＣＭＰ３が立ち上がる。また、各遅延素子Ｔ９、Ｔ８、Ｔ７の出力データが例えば（２、１、０）となるときに（図１９に示す状態）、第一の比較器３４０からの検出信号ＣＭＰ１が立ち上がると共に第二の比較器３４１からの検出信号ＣＭＰ２が立ち下がる。その結果、各遅延素子Ｔ９、Ｔ８、Ｔ７の出力データが（２、２、１）→（２、１、０）→（１、０、０）と推移する間有効（ハイレベル）となる立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETが立ち下がり検出回路３４から出力される。以下、同様に、この立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETは、各遅延素子Ｔ９、Ｔ８、Ｔ７の出力データが図１９及び図２０に示す状態となる間有効（ハイレベル）となる。
上述した図２１に示す場合におけるデジタル等化器２４からの出力と立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETとの関係は、図２２に示すようになる。即ち、再生信号（デジタル等化器２４からの出力に対応）の立ち下がり部分において、立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETが有効となる。
また、立ち上がり検出回路３３は、例えば、図２３に示すように構成される。
図２３において、立ち上がり検出回路３３は、４段の遅延素子（レジスタ）Ｔ１０〜Ｔ１３、第一の比較器３３０、第二の比較器３３１、第三の比較器３３２、ＯＲゲート素子３３３及びＡＮＤゲート素子３３４を有している。アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２３からの量子化データが初段の遅延素子Ｔ１０に入力し、この遅延素子Ｔ１０に入力された量子化データがクロック信号に同期して遅延素子Ｔ１１、Ｔ１２、Ｔ１３内を順次シフトされる。
第一の比較器３３０は、４段目の遅延素子Ｔ１３にセットされる時刻ｔ−２での量子化データ（Ａ）と３段目の遅延素子Ｔ１２にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ｂ）とを比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）より小さい場合（Ａ＜Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ４を出力する。第二の比較器３３１は、４段目の遅延素子Ｔ１３にセットされる時刻ｔ−２での量子化データ（Ａ）と３段目の遅延素子Ｔ１２にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ｂ）とを比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）以上の場合（Ａ≧Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ５を出力する。第三の比較器３３２は、３段目の遅延素子Ｔ１２にセットされる時刻ｔ−１での量子化データ（Ａ）と２段目の遅延素子Ｔ１１にセットされる時刻ｔでの量子化データ（Ｂ）を比較し、量子化データ（Ａ）が量子化データ（Ｂ）より小さい場合（Ａ＜Ｂ）に有効となる検出信号ＣＭＰ６を出力する。
第二の比較器３３１からの検出信号ＣＭＰ５及び第三の比較器３３２からの検出信号ＣＭＰ６との論理積信号ＡＮＤ１がＡＮＤゲート素子３３４にて生成される。また、上記第一の比較器３３０からの検出信号ＣＭＰ１とＡＮＤゲート素子３３４からの論理積信号ＡＮＤ１との論理和信号がＯＲゲート素子３３３にて生成され、ＯＲゲート素子３３４からの論理和信号が当該立ち上がり検出回路３３の立ち上がり検出信号ONEDGE＿DETとして出力される。
上記のような構成となる立ち上がり検出回路３３のいても、上述した立ち下がり検出回路３４と同様に、同期用のクロック信号にて規定される連続する３時点（ｔ−２、ｔ−１、ｔ）での量子化データの比較結果に基づいて再生信号の立ち上がりが検出される。
即ち、連続する３つの量子化データのうち遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１３（ｔ−２）にセットされる前の量子化データより大きい（第一の比較器３３０からの検出信号ＣＭＰ４が有効となる）場合、再生信号の立ち上がりと判定され、立ち上がり検出信号ONEDGE＿DETが有効となる。この場合、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１１（ｔ）にセットされる次の量子化データより大きいかあるいは小さいかは問わない。図２４に示すように、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１１（ｔ）にセットされる次の量子化データより小さければ（実線参照）、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データは再生信号の立ち上がり過程での値となる。また、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１１（ｔ）にセットされる次の量子化データより大きければ（破線参照）、遅延素いＴ１２（ｔ−１）にセットされるデータはピーク値となる。
また、連続する３つの量子化データのうち遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１３（ｔ−２）にセットされる前の量子化データ以下であり（第二の比較器３３１からの検出信号ＣＭＰ５が有効）、かつ、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データが遅延素子Ｔ１１（ｔ）にセットされる次の量子化データより小さい場合、図２５に示すように、遅延素子Ｔ１２（ｔ−１）にセットされる量子化データはボトム値となる。この場合も、再生信号の立ち上がりであると判定され、立ち上がり検出信号ONEDGE＿DETが有効となる。
上記のような構成の立ち上がり検出回路３３は、再生信号の立ち上がり部分（図２４、図２５参照）において有効（ハイレベル）となる立ち上がり検出信号ONEDGE＿DETを出力する。
上述したような期待値設定ユニット２０１では、ＭＰＵ２１０の制御のもとにビタビ検出器１００にて用いられる期待値を決定するための処理が実行される。
この処理は、予め光磁気ディスク１０に記録したテストデータを読み出して行なっても、また、必要なデータとして光磁気ディスク１０に記録したデータを読み出して行なってもよい。また、電源立ち上げ時、読出エラーが検出された場合、記録媒体（光磁気ディスク１０）を交換したとき、所定周期毎に当該処理を実行してもよい。
セレクタ２２１の出力が有効（ハイレベル）となる間、前記実施例における等化器制御ユニット２００の場合と同様に、デジタル等化器２４から順次供給される等化出力データの各レベルの出現回数が計測部２０２にて計測される。そして、その計測結果が各レベルの出現回数の分布を表すヒストグラムとしてヒストグラムメモリ２０６に格納される。ＭＰＵ２１０は、ヒストグラムメモリ２０６から当該ヒストグラムの各データを読み出して、ヒストグラムにおける各山のレベル平均値を算出する。そして、その各山のレベル平均値をビタビ検出器１００にて用いるべき期待値として決定する。
以下、光磁気ディスク１０に拘束長２のＰＲ（１、１）にてデータ記録がなされている場合において決定される期待値の例について具体的に説明する。ＰＲ（１、１）の場合、再生信号のピーク値、中央値（立ち下がり時、立ち上がり時）、ボトム値に対応して３つの期待値が存在する。
ＭＰＵ１０からの指令に基づいてセレクタ２２１の出力がハイレベル（Ｈ）に固定された場合、再生信号全体における各レベルの出現回数の分布を表すヒストグラムが生成される。再生信号が、例えば、図２６に示すように、肩下がりやオフセットがない理想的な波形となる場合、図２７に示すような各レベルの出現回数のヒストグラムが生成される。この場合、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル４７、中央値（立ち上がり時、立ち下がり時）に対応した期待値がレベル３１、ボトム値に対応した期待値がレベル１５にそれぞれ決定される。
同様に、セレクタ２２１の出力をハイレベル（Ｈ）に固定して、例えば、図２８に示すような理想波形から多少崩れた波形の再生信号全体について各レベルの出現回数を表すヒストグラムを作成する場合、例えば、図２９に示すようなヒストグラムが得られる。この場合、ヒストグラムの各山ある幅を持つが、各山でのレベル平均値は、レベル４７、レベル３１、レベル１５となる。従って、理想的な波形となる再生信号の場合と同様、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル４７、中央値（立ち上がり時、立ち下がり時）に対応した期待値がレベル３１、ボトム値に対応した期待値がレベル１５にそれぞれ決定される。
また、セレクタ２２１の出力をハイレベル（Ｈ）に固定して、例えば、図３０に示すように肩下がりのある波形の再生信号全体について各レベルの出現回数を表すヒストグラムを作成する場合、例えば、図３１に示すようなヒストグラムが得られる。この場合、ヒストグラムにおける山は、レベル４０、レベル３１、レベル２５、レベル１５の４つに分離する。従って、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル４０、中央値（立ち上がり時）に対応した期待値がレベル３１、中央値（立ち下がり時）に対応した期待値がレベル２５、ボトム値に対応した期待値がレベル１５にそれぞれ決定される。
なお、図３０において、破線は、再生信号の理想波形を表す。
セレクタ２２１の出力をハイレベル（Ｈ）に固定して、例えば、図３２に示すように肩下がり及びオフセットがある波形の再生信号全体について各レベルの出現回数を表すヒストグラムを作成する場合、例えば、図３３に示すようなヒストグラムが得られる。この場合、ヒストグラムにおける山は、レベル５０、レベル４１、レベル３５、レベル２５の４つに分離する。従って、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル５０、中央値（立ち上がり時）に対応した期待値がレベル４１、中央値（立ち下がり時）に対応した期待値がレベル３５、ボトム値に対応した期待値がレベル２５にそれぞれ決定される。
更に、セレクタ２２１が立ち下がり検出回路３４からの立ち下がり検出信号OFFEDGE＿DETを選択して、例えば、図３４に示すように肩下がりのある波形（図３０に示す波形と同じ）の再生信号の立ち下がり部について各レベルの出現回数を表すヒストグラムを作成する場合、例えば、図３５に示すようなヒストグラムが得られる。この場合、ヒストグラムにおける山は、レベル４０、レベル２５、レベル１５の３つに分離する。従って、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル４０、中央値（立ち下がり時）に対応した期待値がレベル２５、ボトム値に対応した期待値がレベル１５にそれぞれ決定される。なお、この場合、再生信号の立ち上がり時における各レベルの出現回数を表すヒストグラムが作成されないので、再生信号の立ち上がり時における中央値に対応した期待値は決定されない。
また、セレクタ２２１が立ち上がり検出回路３３からの立ち上がり検出信号ONEDGE＿DETを選択して、例えば、図３６に示すように肩下がりのある波形（図３０に示す波形と同じ）の再生信号の立ち上がり部について各レベルの出現回数を表すヒストグラムを作成する場合、例えば、図３７に示すようなヒストグラムが得られる。この場合、ヒストグラムにおける山は、レベル４０、レベル３１、レベル１５の３つに分離する。従って、再生信号のピーク値に対応した期待値がレベル４０、中央値（立ち上がり時）に対応した期待値がレベル３１、ボトム値に対応した期待値が１５にそれぞれ決定される。なお、この場合、再生信号の立ち下がり時における各レベルの出現回数を表すヒストグラムが作成されないので、再生信号の立ち下がり時における中央値に対応した期待値は決定されない。
上記のように再生信号の立ち下がり部分に波形の歪み（肩下がり）が生じている場合、再生信号の立ち上がり部分のサンプリング値（等化出力データ）から決定される期待値は、理想的な波形の再生信号から決定される期待値（図２６、図２７参照）と同じになる。
上記のようにして再生信号の立ち下がり部分における各レベルの出現回数を表すヒストグラム及び再生信号の立ち上がり部分における各レベルの出現回数を表すヒストグラムの双方を考慮して再生信号の歪みに適合した期待値を決定することもできる。
上記のようにして決定された期待値は、ＭＰＵ２１０の制御に従って、ビタビ検出器１００に供給される。ビタビ検出器１００は、光磁気ディスク１０からのデータ再生時に、この提供された期待値とデジタル等化器２４からの等化出力データとの比較結果を用いるビタビ復号アルゴリズムに従って、最も確からしいデータを確定する。
上記実施例では、光磁気ディスク１０として例えばＲＡＤ媒体を用いる場合など、再生信号が定常的に歪んでも（肩下がり）、その歪んだ再生信号から単一のクロックに同期して得られる量子化データに基づいてビタビ検出器１００にて用いられる期待値が決定される。従って、光磁気ディスク１０からの再生信号が定常的に歪んだとしても、ビタビ検出器１００では、歪んだ波形を基準にして決定された期待値に基づいて、その量子化データ（等化出力データ）からデータの確定が行なわれるので、より正確なデータの再生ができるようになる。
また、上記のように決定した期待値を使用する記録媒体の種類毎に不揮発性メモリ２１４に格納しておくことができる。この場合、セットされる記録媒体の種類に応じた期待値が不揮発性メモリ２１４から読み出されてビタビ検出器１００に提供される。従って、セットされる記録媒体の種類が変更される毎に、上述したようなヒストグラムを作成する必要がなくなる。
上記実施例では、ＰＲ（１、１）に従って光磁気ディスク１０に記録されたデータの再生について説明したが、更に高次のＰＲに従って記録された場合であっても、本願発明の適用は可能である。
例えば、拘束長４のＰＲ（１１００）に従って記録されたデータの再生信号は、例えば、図３８に示すようになる。図３８において、細線（□点がサンプリング値）は再生信号の理想的な波形を示し、太線（〇点がサンプリング値）は再生信号の歪んだ波形を示す。
図３８において、時間軸ｔに示すように変化するデータを記録した場合、そのデータ（ｔ）と１クロック分遅延させたデータ（ｔ−１）との和（ｔ＋（ｔ−１））が再生信号を表す。また、拘束長４のＰＲ（１１００）の場合、図３９に示すように、連続する４時点（ｔ、ｔ−１、ｔ−２、ｔ−３）における量子化データにより１６通りの期待値Ｐｈ０〜Ｐｈ１５が与えられる。例えば、図３４及び図３５に示すように、再生信号のピーク値がレベル４０、立ち下がり時における中央値がレベル２５、ボトム値が１５のように得られると共に、図３６及び図３７に示すように再生信号の立ち上がり時における中央値がレベル３１のように得られた場合、期待値Ｐｈ０、Ｐｈ１、Ｐｈ３がボトム値（０）に対応したレベル１５、期待値Ｐｈ６、Ｐｈ７が立ち下がり時における中央値（１）に対応したレベル２５、期待値Ｐｈ８、Ｐｈ９が立ち上がり時における中央値（１）に対応したレベル３１、期待値Ｐｈ１２、Ｐｈ１４、Ｐｈ１５がピーク値（２）に対応したレベル４０に設定される。
なお、ＲＬＬコードを使用する場合、存在しないデータの組合せが発生し、設定する必要がない期待値が発生する。例えば、ＲＬＬ（１、７）の場合、期待値Ｐｈ２、Ｐｈ４、Ｐｈ５、Ｐｈ１０、Ｐｈ１１、Ｐｈ１３は、走長制限ＲＬＬ（１、７）によるＤ制約によって設定する必要がない。
上記のようにして設定された期待値Ｐｈ０〜Ｐｈ１５を用いたビタビ検出器１００による処理（ＭＬ）では、例えば、サンプリング値がレベル４０以上であっても、そのサンプリング値はレベル４０の期待値（Ｐｈ１２、Ｐｈ１４、Ｐｈ１５）に最も近いものとして処理される。
なお、上記のように決定された期待値を用いてビタビ復号アルゴリズムに従った処理を行なうビタビ検出器１００は、図４０に示すように構成される。
図４０において、ビタビ検出器１００は、パスメトリックメモリ１００（１）、ブランチメトリック計算ユニット１００（２）、ＡＣＳユニット１００（３）、パスメモリ１００（４）で構成されている。
ブランチメトリック計算ユニット１００（２）は、再生信号において本来取り得るべき値となる各期待値と再生信号のサンプリング値との差に対応したブランチメトリック値を演算する。ＡＣＳ１００（３）は、上記ブランチメトリック値とパスメトリックメモリ１００（１）に格納された１クロック前のパスメトリック値とを加算し、この加算後のパスメトリック値を２つずつ比較して、小さい方のパスメトリック値を選択する。この選択されたパスメトリック値が新たなパスメトリック値としてパスメトリックメモリ１００（４）に格納される。上記処理の結果、パスメトリック値は、ブランチメトリック値の積算値となる。
上記のように小さい方のパスメトリック値を選択するということは、ビタビ復号アルゴリズムにおける状態遷移のパスを選択することに相当する。即ち、ＡＣＳ１００（３）では、常にパスメトリック値が最小となるパスが選択される。
上記のようにして選択されたパスに相当するデータがＡＣＳ１００（３）からパスメモリ１００（４）に供給される。パスメモリ１００（４）では、選択された各パスに対応したデータが順次シフトされると共に、その過程で、選択されなかった各パスに対応するデータが順次淘汰されて生き残りパスに相当するデータがパスメモリ１００（４）から出力データとして出力される。このように、パーシャルレスポンス（ＰＲ）波形にてデータを記録すると共に、ビタビ検出器１００を用いて、最も確からしい（ＭＬ）データを検出することにより、高密度記録された光磁気ディスク１０から高精度のデータの再生が可能となる。
なお、上記各実施例では、等化器制御ユニット２００（図２及び図４参照）と期待値設定ユニット２０１（図１６、図１７参照）を個別に説明したが、各ユニットで同一となる部分を共通化して等化器制御の機能と期待値設定の機能とを単一のユニットで構成することもできる。
産業上の利用可能性
以上、説明したように、本発明に係るデータ再生制御方法及び装置及び光デイスク装置は、ノイズ等によって再生信号が局所的に変動する場合、または再生信号に定常的な歪みが生じた場合であっても、安定的により適正なデータの再生が可能となる。従って、本発明は、データが高密度記録された光ディスク、光磁気ディスク、磁気ディスク等の記録媒体から安定的にデータを再生することが望まれる装置への適用に適している。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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