(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＡＴＭ回線に接続され、それぞれ装置全体の制御を行う装置制御部および物理レイヤを終端するＡＴＭインタフェース終端部を含み相互に対向している１対のＡＴＭ端末装置間の信号導通試験を行う信号導通試験方式において、
前記各ＡＴＭ端末装置は、通信装置等とのＳＴＭインタフェースの物理レイヤを終端するＳＴＭインタフェース終端部と、前記ＡＴＭ端末装置およびＳＴＭインタフェース終端部間に接続されＡＴＭセル組立分解処理を行うＣＬＡＤ処理部と、試験起動又は試験停止処理を行うＯＡＭ（Operation，Administration  and  Maintenance）セルの送受信を行うＯＡＭ生成／検出部および試験実行中の主信号データ処理を行う信号処理部を含む試験処理部とを備え、
前記１対のＡＴＭ端末装置間は、試験中状態であることを示すコンティニティチェックセルを所定間隔で通知しあい、試験中状態では、一方のＡＴＭ端末装置が前記コンティニティチェックセルを所定時間受信しなかったときに自局のコンティニティチェックセルの送信を停止し、試験停止要求セルを送出して試験異常終了状態とし、
試験停止確認待ち状態では、前記ＡＴＭ端末装置は、前記試験停止要求セルを受信すると、試験停止確認セルを送出して、通常状態に状態遷移し、所定時間前記試験停止確認セルを受信しないときには、試験停止要求セルを再通知し、再通知を所定回数行っても対向局殻前記試験停止確認セルを受信しないときには、通常状態に状態遷移することを特徴とする信号導通試験方式。
【請求項２】
前記信号処理部は、信号導通試験に使用する試験信号パタンを生成する試験パタン生成部、前記試験信号パタンと前記ＣＬＡＤ処理部からの出力信号を照合処理する試験パタン照合部および前記ＣＬＡＤ処理部からの出力信号を固定パタンに変換するクランプ処理部を含むことを特徴とする請求項１に記載の信号導通試験方式。
【請求項３】
前記試験パタン生成部および前記クランプ処理部に接続され、前記信号処理部の出力を前記ＣＬＡＤ処理部に入出力する選択回路を有することを特徴とする請求項２に記載の信号導通試験方式。
【請求項４】
前記ＡＴＭ回線に接続され対向している前記１対のＡＴＭ端末装置のうち一方のＡＴＭ端末装置から他方のＡＴＭ端末装置を遠隔から制御して、試験の起動および停止を行えるようにすることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の信号導通試験方式。
【請求項５】
前記ＡＴＭ回線には更に複数のＡＴＭインタフェースを束ねる又は複数のＡＴＭインタフェース間でＡＴＭセルの送受信を行うＡＴＭ多重化装置を備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の信号導通試験方式。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は信号導通試験方式、特にＡＴＭ回線に接続された端末装置間で回線試験の開始および終了の通知にＯＡＭセルを活用するＡＴＭ回線の信号導通試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、非同期転送モード（ＡＴＭ：Asynchronous  Transfer  Mode）で情報伝送を行う場合には、ＡＴＭ回線を介して接続されたＡＴＭ装置間でＡＴＭ回線の試験を行うために、ユーザデータのＡＴＭセルとは区別された試験用の専用ＡＴＭセルを定義して、この試験用の専用ＡＴＭセルをＡＴＭ回線に対して送信又は受信することによりＡＴＭ回線の試験を行う方法が一般的である。この試験用の専用ＡＴＭセルの例としては、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｉ．６１０で定義されているＯＡＭ（Operation,  Administration  and  Maintenance）セルのループバックセルやコンティニティチェックセル等が挙げられる。
【０００３】
斯かる技術分野の従来技術は、例えば特開平７−８７０８９号公報の「ＡＴＭ回線試験方法」、特開平８−８９１６号公報の「ＡＴＭスイッチ試験装置」および特開平５−２４４１９６号公報の「ＡＴＭシステムのＶＰ試験方法およびＶＰ試験装置」等に開示されている。信号導通試験方式の従来技術の１例を図５に示。この図５を参照して、２つのＡＴＭ交換機を接続するＡＴＭ回線を試験する場合の従来の信号導通試験方式を説明する。図５のシステムは、ＡＴＭ交換機１０、２０およびこれらＡＴＭ交換機１０、２０間を接続するＡＴＭ回線３０より構成される。各ＡＴＭ交換機１０、２０は、ＡＴＭ回線３０を物理レイヤにおいて終端する回線終端部１１、２１、ＡＴＭレイヤにおいてＡＴＭ回線３０上のＡＴＭセルを制御するＡＴＭアダプテーションレイヤ制御手段を有し、所定の試験用ＡＴＭセルの組立やＡＴＭセルの比較検査および受信した試験用ＡＴＭセルの折り返し送信等を行うＡＴＭ処理部１８、２８、入力されたＡＴＭセルに格納されているアドレス情報に基づいて所定の回線へＡＴＭセルを交換出力するＡＴＭスイッチ１９、２９およびＡＴＭスイッチ１９、２９およびＡＴＭ処理部１８、２８等のＡＴＭ交換機１０、２０全般を制御する装置制御部１５、２５を含んでいる。更に、ＡＴＭ交換機１０がＡＴＭ交換機２０に対して送信した試験用ＡＴＭセル６０およびＡＴＭ交換機２０がＡＴＭ回線３０から受信してＡＴＭ交換機１０に対して折り返し送信された試験用ＡＴＭセル６１を示す。
【０００４】
次に、図５に示すシステム全体の動作を簡単に説明する。ＡＴＭ交換機１０の装置制御部１５がＡＴＭ処理部１８に対して、回線試験開始のための指示を出す。これを受けたＡＴＭ処理部１８は、その内部に有するＡＴＭアダプテーションレイヤ制御手段において所定の試験用ＡＴＭセルを生成する。試験用ＡＴＭセルには、ユーザデータＡＴＭセルではないことを示す試験用ＡＴＭセル識別情報および試験用データユニット等が含まれている。試験用データユニットには、データユニットの送出順を示すシーケンス番号およびデータユニットが生成された時刻を示す時刻情報やデータユニットが対向側装置で折り返されたことを示すための折り返しチェック情報等で構成される。回線導通試験開始の指示で生成された試験用ＡＴＭセルは、ＡＴＭスイッチ１９からＡＴＭ回線３０に対して送出されるユーザデータＡＴＭセル流に対して、ＡＴＭ処理部１８内部で挿入される。これにより、ＡＴＭ回線３０に対して試験用ＡＴＭセル６０が送出される。
【０００５】
ＡＴＭ交換機２０では、ＡＴＭ回線３０よりＡＴＭセルを受信すると、ＡＴＭ処理部２８において受信したＡＴＭセルが試験用ＡＴＭセルであるか否かを試験用ＡＴＭセル識別情報により判別する。受信したＡＴＭセルが試験用ＡＴＭセル６０である場合には、ＡＴＭ回線３０に対して試験用ＡＴＭセル６１として折り返し送出する。このとき、ＡＴＭ処理部２８において折り返されたことを示すために、試験用データユニットに含まれる折り返しチェック情報がセットされる。
【０００６】
ＡＴＭ交換機１０でも、ＡＴＭ回線３０を介してＡＴＭセルを受信すると、ＡＴＭ処理部１８において受信したＡＴＭセルが試験用ＡＴＭセルであるか否かを試験用ＡＴＭセル識別情報により判別する。受信したＡＴＭセルが試験用ＡＴＭセル６１であることを試験用セル識別情報と試験用データユニットに含まれる折り返しチェック情報がセットされていることにより識別する。受信した試験用ＡＴＭセル６１の試験用データユニットと最初に試験用ＡＴＭセル６０として送出した時の元の試験用データユニット情報に基づいて比較検査を行う。即ち、試験用データユニット含まれるシーケンス番号に基づく試験用ＡＴＭセル受信順序の正常性および脱落の有無や、時刻情報に基づく伝送所要時間の異常等がチェックされる。
【０００７】
上述のように、対向する１対のＡＴＭ交換機１０、２０間のＡＴＭ回線３０のＡＴＭレイヤでの回線試験を実現している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した従来技術には、次の如き幾つかの課題を有する。第１に、ＡＴＭレイヤより上位のレイヤ障害を検出することができないことである。その理由は、ＡＴＭ回線を使用するユーザが、ＡＴＭ回線に対してＡＴＭ端末装置を接続する場合には、接続するＡＴＭ端末装置にＡＴＭレイヤより上位のＡＴＭアダプテーションレイヤ（AAL：ATM  Adaptation  Layer）機能を有する装置を接続し、非ＡＴＭ信号をＡＴＭ化して情報伝送を行う場合がある。この場合、上述した従来技術例の如きＡＴＭ回線試験方法では、試験専用のＡＴＭセルをユーザデータのＡＴＭセルとは別に生成して使用することでＡＴＭレイヤ以下のレイヤでの試験を実現するため、ユーザデータのＡＴＭセル化処理部分の動作を試験することができないためである。
【０００９】
第２に、ＡＴＭ回線を使用するユーザが、必要以上の帯域を用意する必要があり、余分な回線料金が発生することである。その理由は、通常ＡＴＭ回線を使用するユーザが、ＡＴＭ回線に対してＡＴＭ端末装置を接続する場合には、ユーザデータを送受するのに必要となる帯域分の使用帯域契約をＡＴＭ回線の提供業者との間で行う。上述した従来技術例のように試験専用のＡＴＭセルを定義して対向するＡＴＭ端末装置間で送受しようとした場合には、その分余計に使用帯域を契約することが必要となり、回線料金が余分に発生するためである。これは、ユーザデータがＣＢＲ（Constant  Bit  Rate）である場合に、特に顕著な問題として現れる。また、ＡＴＭ回線の試験精度を高くした場合には、試験用ＡＴＭセルの送出数を増加させる必要があるため、一層回線料金が高くなる要因となる。
【００１０】
【発明の目的】
本発明の目的は、非ＡＴＭ信号のユーザデータをＡＴＭ化する処理を含めたＡＴＭ端末装置の正常動作確認試験と、そのＡＴＭ端末装置を接続するＡＴＭ回線の回線品質の試験を、対向するＡＴＭ端末装置間においてＡＴＭ端末装置単体で簡略化して実施でき且つ高信頼性の信号導通試験方式を提供することである。
【００１１】
本発明の他の目的は、ＡＴＭ回線を介して接続されるＡＴＭ端末装置間の信号導通試験に際し、対向する端末装置の双方にオペレータを配することなく且つ試験用の測定器等を用意することなく実施でき、装置の保守性を向上するる信号導通試験方式を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ＡＴＭ回線に接続され、それぞれ装置全体の制御を行う装置制御装置および前記ＡＴＭ回線の物理レイヤを終端するＡＴＭインタフェース終端部を含み相互に対向している１対のＡＴＭ端末装置間の信号導通試験を行う信号導通試験方式である。その特徴とするところは、各ＡＴＭ端末装置が、通信装置等とのＳＴＭインタフェースの物理レイヤを終端するＳＴＭインタフェース終端部と、ＡＴＭ端末装置およびＳＴＭインタフェース終端部間に接続されＡＴＭセル組立分解処理を行うＣＬＡＤ処理部と、試験起動又は試験停止処理を行うＯＡＭセルの送受信を行うＯＡＭ生成／検出部および試験実行中の主審号データ処理を行う信号処理部を含む試験処理部とを備え、前記１対のＡＴＭ端末装置間は、試験中状態であることを示すコンティニティチェックセルを所定間隔で通知しあい、試験中状態では、一方のＡＴＭ端末装置が前記コンティニティチェックセルを所定時間受信しなかったときに自局のコンティニティチェックセルの送信を停止し、試験停止要求セルを送出して試験異常終了状態とし、試験停止確認待ち状態では、前記ＡＴＭ端末装置は、前記試験停止要求セルを受信すると、試験停止確認セルを送出して、通常状態に状態遷移し、所定時間前記試験停止確認セルを受信しないときには、試験停止要求セルを再通知し、再通知を所定回数行っても対向局殻前記試験停止確認セルを受信しないときには、通常状態に状態遷移する。
【００１３】
信号処理部は、信号導通試験に使用する試験信号パタンを生成する試験パタン生成部、試験信号パタンとＣＬＡＤ処理部の出力信号を照合する試験パタン照合部およびＣＬＡＤ処理部の出力信号を固定パタンに変換するクランプ処理部とを含んでいる。また、試験パタン生成部およびクランプ処理部に接続され、信号処理部の出力をＣＬＡＤ処理部に入出力する選択回路を有する。更に、ＡＴＭ回線に接続され対向する１対のＡＴＭ端末装置の内の一方のＡＴＭ端末装置から他方のＡＴＭ端末装置を遠隔から制御した試験の起動および停止を可能にする。更にまた、ＡＴＭ回線には、複数のＡＴＭインタフェースを束ね又は複数のＡＴＭインタフェース間でＡＴＭセルを送受信するＡＴＭ多重化装置を含んでいる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による信号導通試験方式の好適実施形態例を、添付図を参照して詳細に説明する。尚、説明の便宜上、上述した従来技術の構成要素と対応する構成要素には、同様の参照符号を使用することとする。
【００１５】
先ず、図１は、本発明による信号導通通試験方式を詳細に説明する。図１の信号導通試験方式は、ＡＴＭ回線３０を介して接続された対向する１対のＡＴＭ端末装置１０、２０より構成される。各ＡＴＭ端末装置１０、２０は、ＡＴＭインタフェース終端部１１、２１と、ＣＬＡＤ処理部１２、２２と、ＳＴＭ（同期転送モード：Synchronous  Transfer  Mode）インタフェース終端部１３、２３と、試験処理部１４、２４と、装置制御部１５、２５と、選択回路１６１、１６２、２６１、２６２と、挿入回路１６３、２６３とにより構成される。更に、試験処理部１４、２４は、信号処理部１４１、２４１およびＯＡＭセル生成／検出部１４２、２４２で構成される。更にまた、信号処理部１４１は、試験パタン生成部１４３と、試験パタン照合部１４４と、クランプ処理部１４５とにより構成される。一方、信号処理部２４１は、クランプ処理部２４５と、ループバック制御部２４６とにより構成される。尚、図１において、ＡＴＭ端末装置１０の信号処理部１４１には、ループバック制御部が構成要素としては存在するが、図示していない。また、ＡＴＭ端末装置２０の信号処理部２４１にも、試験パタン生成部と試験パタン照合部が構成要素としては存在するが、図示されていない。
【００１６】
ＡＴＭインタフェース終端部１１、２１は、ＡＴＭ回線３０と接続され、物理レイヤを終端する。ＳＴＭインタフェース終端部１３、２３は、ＳＴＭインタフェースを持つ通信装置等と接続され、ＳＴＭインタフェースの物理レイヤを終端する。ＣＬＡＤ処理部１２、２２は、ＳＴＭ信号をＡＴＭセル化、ＡＴＭセルをＳＴＭ信号化するというＡＴＭセル組立分解処理（ＡＡＬレイヤの処理）を行う部分である。ＡＴＭインタフェース終端部１１、２１とＣＬＡＤ処理部１２、２２との間は、ＡＴＭセル送受信を行うため信号バス（例えばＵＴＯＰＩＡバス）を介して接続されている。装置制御部１５、２５は、ＡＴＭ端末装置１０、２０全般の監視制御を行っている。
【００１７】
試験処理部１４、２４内のＯＡＭセル生成／検出部１４２、２４２は、試験起動又は試験停止の処理を行うためのＯＡＭセルを生成し、挿入回路１６３、２６３を介して対向するＡＴＭ端末装置２０又は１０に送信し、また対向するＡＴＭ端末装置からのＯＡＭセルを受信し内容を識別する処理を行うブロックである。挿入回路１６３、２６３は、通常はＣＬＡＤ処理部１２、２２から送信されるユーザデータのＡＴＭセルをＡＴＭインタフェース終端部１１、２１に対して送信している。しかし、ＯＡＭセル生成／検出部１４２、２４２からＯＡＭセルの送信要求がある場合には、ユーザデータのＡＴＭセルと次のユーザデータＡＴＭセルとの間にＯＡＭセルを挿入するように装置制御部１５、２５からの制御下で動作する。
【００１８】
信号導通試験を起動した側のＡＴＭ端末装置１０の、信号処理部１４１の試験パタン生成部１４３は、信号導通試験に使用する試験用の信号パタンを生成する。ここで生成される試験用の信号パタンは、選択回路１６１に対して出力される。選択回路１６１は、ＳＴＭインタフェース終端部１３から入力されるユーザデータ又は試験パタン生成部１４３が生成した試験用の信号パタンを選択してＣＬＡＤ処理部１２に対して出力する。試験パタン照合部１４４は、信号導通試験運用状態の際に、ＣＬＡＤ処理部１２が出力する信号が、試験パタン生成部１４３で生成した試験用の信号パタンと等しいか否かを照合する。クランプ処理部１４５では、ＣＬＡＤ処理部１２から出力される信号を固定パタン（全て”１”等）信号に変換して、選択回路１６２に出力する。選択回路１６２は、ＣＬＡＤ処理部１２から入力されるユーザデータ又はクランプ処理部１４５から入力される固定パタン信号を選択してＳＴＭインタフェース終端部１３に出力する。これは、信号導通試験に使用する試験用の信号パタンがＳＴＭインタフェース終端部１３に接続される外部ユーザデータ端末装置等に出力されるのを防ぐための機能である。
【００１９】
また、ＡＴＭ端末装置２０の信号処理部２４１のループバック制御部２４６は、ＣＬＡＤ処理部２２が出力する信号を、そのまま折り返してＣＬＡＤ処理部２２の入力とするために用意されている。折り返された信号は、選択回路２６１を介してＣＬＡＤ処理部２２の入力に接続されている。選択回路２６１は、ＳＴＭインタフェース終端部２３から入力されるユーザデータ又はループバック制御部２４６から入力される受信信号の折り返し信号を選択し、ＣＬＡＤ処理部２２に出力する。クランプ処理部２４５では、受信した信号を固定パタン（全て”１”等）に変換して選択回路２６２に出力する。選択回路２６２は、ＣＬＡＤ処理部２２から入力されるユーザデータ又はクランプ処理部２４５から入力される固定パタンを選択して、ＳＴＭインタフェース終端部２３に出力する。
【００２０】
次に、図１のシステムの動作を説明する。本発明の通信導通試験方式は、上述の如く図１に示すブロックで構成される。図１において、ＡＴＭ端末装置１０は、回線品質およびＡＴＭ端末装置の動作確認試験用の信号導通試験を起動する側のＡＴＭ端末装置である。一方、ＡＴＭ端末装置２０は、信号導通試験が遠隔から起動される側のＡＴＭ端末装置である。
【００２１】
次に、図２は、試験を起動する側のＡＴＭ端末装置１０における試験処理部１４の動作を示す状態遷移図である。また図３は、試験を遠隔から起動される側のＡＴＭ端末装置２０における試験処理部２４の動作を示す状態遷移図である。以下、これら図２および図３を参照して本発明の信号導通試験方法の動作を説明する。
【００２２】
先ず、信号導通試験を起動する側のＡＴＭ端末装置１０の動作について説明する。図２において、通常状態４０のとき、ＡＴＭ端末装置１０は、対向（相手側）のＡＴＭ端末装置２０との間でユーザデータＡＴＭセルの送受信を行い、ＳＴＭインタフェース部１３の外部に接続されるデータ端末装置等に通信サービスを提供している状態である。この通常状態４０では、装置制御部１５から試験開始指示又はＡＴＭ回線３０側から試験起動要求セルの受信のいづれかが発生しなければ通常状態４０を維持し続ける。ＡＴＭ回線３０側から試験起動要求セルを受信した場合には、信号導通試験を遠隔から起動される側の動作となり、その詳細は後述する。通常状態４０において試験開始指示が装置制御部１５から出されると、ＯＡＭセル生成／検出部１４２で、試験起動要求セルが生成される。このセルは、挿入回路１６３を介してＡＴＭ回線３０に送信され、試験起動確認待ち状態４１に状態遷移する。ここで、試験開始指示は、装置外部からオペレータ等が行う人為的な操作を装置制御部１５が検出して出すものである。この人為的な操作は、ＡＴＭ端末装置１０に試験起動用のスイッチを設けるか、ＡＴＭ端末装置制御用コンソール装置等を装置制御部１５に接続して外部から制御する等により実現すれば良い。
【００２３】
次に、試験起動確認待ち状態４１での動作を説明する。この試験起動確認待ち状態４１では、装置制御部１５から試験停止指示が出されるか、対向局側からの試験起動確認セルを受信するかを監視している。試験起動確認待ち状態４１において、装置制御部１５から試験停止の指示が出された場合には、試験停止確認待ち状態４３に状態遷移する。また、試験起動確認待ち状態４１で、試験起動確認セル受信を待っているとき、ある一定時間（例えば５秒）を経過しても試験起動確認セルを受信しない場合には、再度ＯＡＭセル生成／検出部１４２で試験起動要求セルを生成し、対向局に送信して信号導通試験の再起動を行う。しかし、この信号導通試験の再起動をある一定の回数（例えば３回）行っても対向局側から試験起動確認セルを受信しない場合には、ＡＴＭ回線３０の障害等で試験起動要求セルが対向局に届いていない等の状態であると判定し、試験起動失敗状態４４に状態遷移する。また、試験起動確認待ち状態４１で対向局側から試験起動拒否セルを受信した場合には、対向局側が信号導通試験の起動を受付られない状態であると判断し、この場合にも上述した試験起動失敗状態４４に状態遷移する。
【００２４】
また、試験起動確認待ち状態４１で、対向局側から試験起動要求セルを受信した場合には、対向するＡＴＭ端末装置１０、２０の双方において、略同時にオペレータ等がＡＴＭ端末装置を操作し、信号導通試験の起動を行った場合に発生する可能性がある事象である。この場合にも、正常に信号導通試験を起動することが保証できない事象に陥る可能性があると判定し、試験起動失敗状態４４に状態遷移する。
【００２５】
また、試験起動確認待ち状態４１で、対向局側から試験起動確認セルを受信した場合には、コンティニティチェックセルの送信を開始して、試験中状態４２に状態遷移する。ここで、コンティニティチェックセルは、試験中状態４２であることを対向側のＡＴＭ端末装置２０に通知するために用いる。試験中状態４２であることをコンティニティチェックセルを用いて、ある一定間隔（例えば１秒）で定期的に対向するＡＴＭ端末装置１０、２０の間で通知しあっていれば、ＡＴＭ端末装置１０、２０のいずれかに予期せぬ装置障害が発生した場合や、ＡＴＭ回線３０に障害があり、ＡＴＭセルの送受信に異常が発生した場合等でも、双方のＡＴＭ端末装置１０、２０で試験中状態４２を維持し続ける状態を回避できる。
【００２６】
また、試験起動確認セルを受信した場合にも、試験中状態４２に状態遷移する。これは、対向局側が送信した試験起動確認セルがＡＴＭ回線３０で廃棄された場合を想定しての状態遷移である。また、試験起動確認待ち状態４１では、対向局側からの試験起動確認セル、試験起動拒否セル、試験起動要求セル、コンティニティチェックセルの受信を検出しているが、これらの検出はＯＡＭセル生成／検出部１４２で行っている。
【００２７】
次に、試験中状態４２での動作を説明する。試験起動確認待ち状態４１から試験中状態４２に状態遷移すると、試験処理部１４では信号処理部１４１の試験パタン生成部１４３で試験用の信号パタンが生成される。選択回路１６１は、試験パタン生成部１４３が出力した試験用の信号パタンをＣＬＡＤ処理部１２に出力するように装置制御部１５から制御される。尚、試験パタン生成部１４３で生成される試験用の信号パタンの信号速度は、通常状態４０のときにユーザに提供する通信サービスで使用するユーザデータの通信速度と同じ速度である。また、試験パタン照合部１４４では、受信する信号と試験生成部１４３で生成する試験用の信号パタンとの比較照合を開始する。ここで比較照合した結果は、試験中状態４２に状態遷移した直後には一致していないが、対向側のＡＴＭ端末装置２０の動作でループバック制御部２４６が折り返し制御される（詳細は後述）ので、ある程度の時間が経過すると、試験パタン生成部１４３が出力した試験用の信号パタンと受信した信号とが一致するようになる。その後は、ビットエラーの発生を検出する。装置制御部１５では、試験パタン照合部１４４での比較照合結果を監視しており、比較照合結果を外部に表示する機能も有している。オペレータは、その表示を見て、信号導通試験によるＡＴＭ装置１０、２０の動作正常性とＡＴＭ回線３０の回線品質を確認することが可能となる。
【００２８】
また、試験軌道確認待ち状態４１から試験中状態４２に状態遷移すると、クランプ処理部１４５では、受信した信号を全て“１”等の固定パタン信号に変換して、選択回路１６２に対して出力する。選択回路１６２は、クランプ処理部１４５が出力した固定パタン信号をＳＴＭインタフェース終端部１３に出力するように装置制御部１５から制御される。これは、信号導通試験に使用する試験用の信号パタンがＳＴＭインタフェース終端部１３に接続される外部ユーザデータ端末装置等に不要な試験用の信号パタンが出力されるのを防ぐための動作である。また、試験中状態４２では、装置制御部１５から試験停止指示が出されるのか、又は対向局側からのコンティニティチェックセルを定期的に受信しているかを監視している。
【００２９】
コンティニティチェックセルの受信監視は、ＯＡＭセル生成/検出部１４２で行われる。試験中状態４２で、装置制御部１５から試験停止指示が出されるか又は対向局側からのコンティニティチェックセルを定期的に受信しているかを監視している。コンティニティチェックセルの受信監視は、ＯＡＭセル生成／検出部１４２で行われる。試験中状態４２で、装置制御部１５から試験停止の指示が出された場合には、ＯＡＭセル生成／検出部１４２で試験停止要求セルを生成して対向局に対して送信する。更に、自局のコンティニティチェックセル送信を停止して、試験停止確認待ち状態４３に状態遷移する。また、試験中状態４２で、対向局側から受信するコンティニティチェックセルを、ある一定時間（例えば５秒）受信しない場合には、コンティニティチェックセル受信異常が発生したとして、自局のコンティニティチェックセル送信を停止して、試験異常終了状態４５に状態遷移する。
【００３０】
次に、試験停止確認待ち状態４３での動作を説明する。試験停止確認待ち状態４３では、ＯＡＭセル生成／検出部１４２で対向局側からの試験停止確認セルの受信を監視している。試験停止確認セルを受信すると、通常状態４０へ状態遷移して信号導通試験を終了する。また、試験停止確認待ち状態４３で、ある一定時間（例えば５秒）を経過しても試験停止確認セルを受信しない場合には、再度ＯＡＭセル生成／検出部１４２で試験停止要求セルを生成し、対向局に送信して信号導通試験停止の再通知を行う。しかし、この再通知をある一定の回数（例えば３回）行っても対向局側から試験停止確認セルを受信しない場合には、ＡＴＭ回線３０の障害等で試験停止要求セルが対向局に届いていない等の状態であると判定し、通常状態４０に状態遷移し信号導通試験を正常に終了して、ＡＴＭ端末装置１０は通常の通信サービスを提供している通常状態４０に戻る。ここで、対向局側からの試験停止確認ができず、通常状態４０に状態遷移し信号導通試験を終了しても、対向局側ではコンティニティチェックセルを受信しない状態を検出していると考えられ、信号導通試験を停止する処理を行っているはずであるので問題はない（詳細は後述する）。
【００３１】
次に、試験起動失敗状態４４での動作を説明する。試験起動確認待ち状態４１から試験起動失敗状態４４に状態遷移すると、試験処理部１４は装置制御部１５に信号導通試験の起動を失敗したことを通知し、装置制御部１５からの試験停止指示を待つ。このとき、装置制御部１５は装置外部に信号導通試験の起動が正常に行えなかったことを表示する。信号導通試験の起動を行ったオペレータは、その表示を見て信号導通試験の起動失敗を知ることができる。ここで、オペレータは、ＡＴＭ端末１０に対して試験を停止させる操作を行うことが必要である。装置制御部１５は、オペレータからの停止操作を検出すると、試験処理部１４に試験停止指示を出す。試験処理部１４は、この指示で試験起動失敗状態４４から通常状態４０に状態遷移して、ＡＴＭ端末装置１０は通常の通常の通信サービスを提供している状態に戻る。
【００３２】
次に、試験異常終了状態４５での動作を説明する。試験中状態４２から試験異常終了状態４５に状態遷移すると、試験処理部１４は装置制御部１５に信号導通試験の最中に異常処理で試験を終了したことを通知し、装置制御部１５からの試験停止指示を待つ。このとき、装置制御部１５は、装置外部に対して信号導通試験の異常終了を表示する。信号導通試験の起動を行ったオペレータは、その表示を見て信号導通試験が途中で異常終了したことを知ることができ、ＡＴＭ回線３０の回線品質に問題がある等の判断材料を提供したことにもなる。ここで、オペレータは、ＡＴＭ端末１０に試験を停止させる操作を行うことが必要である。装置制御部１５は、オペレータからの停止操作を検出すると、試験処理部１４に試験停止指示を出す。試験処理部１４は、この指示で試験異常終了状態４５から通常状態４０に状態遷移して、ＡＴＭ端末装置１０は通常の通信サービスを提供している状態に戻る。
【００３３】
以上の説明が、本発明における信号導通試験を起動する側のＡＴＭ端末装置１０の動作概要である。この説明中の試験起動要求セル、試験起動確認セル、試験起動拒否セル、試験停止要求セルおよび試験停止確認セルは、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｉ．６１０で定義されている起動・停止ＯＡＭセルを活用することが可能である。また、独自のＯＡＭセルを定義することも可能である。コンティニティチェックセルについても同様に、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｉ．６１０で定義されているコンティニティチェックセルを活用することが可能であり、独自のＯＡＭセルを定義することも可能である。但し、これらのセルは、ＡＴＭ回線３０を透過して伝送されＡＴＭ端末装置１０、２０間で送受信できるセルでなければならない。
【００３４】
次に、信号導通試験を遠隔から起動される側のＡＴＭ端末装置２０の動作を、図３の状態遷移図を参照して説明する。図３中の通常状態５０のとき、ＡＴＭ端末装置２０は、対向のＡＴＭ端末装置１０との間でユーザデータＡＴＭセルの送受信を行い、ＳＴＭインタフェース部２３の外部に接続されるデータ端末装置に通信サービスを提供している。この状態では、装置制御部２５からの試験開始指示又はＡＴＭ回線３０側から試験起動要求セルの受信のいづれかが発生しなければ通常状態５０を維持し続ける。装置制御部２５から試験開始指示が出された場合の動作は、試験を起動する側の動作となるため、上述したＡＴＭ端末装置１０の動作と同様である。通常状態５０では、ＯＡＭセル生成／検出部２４２でＡＴＭ回線３０側からの試験起動要求セル受信を検出すると、ＯＡＭセル生成／検出部２４２で試験起動確認セルを生成し、挿入回路２６３を介してＡＴＭ回線３０側に送信する。更に、コンティニティチェックセルを定期的に生成して送信する動作を開始して試験中状態５１に状態遷移する。但し、試験起動要求セルの受信と同時に装置外部から人為的に信号導通試験を開始する操作が行われたことを装置制御部２５が検出した場合には、ＯＡＭセル生成／検出部２４２は、試験起動拒否セルを生成するように装置制御部２５から制御され、試験起動拒否セルを生成して送信する。このとき、装置制御部２５は、装置外部からの信号導通試験の開始は受け付けなかったことを表示し、操作を行ったオペレータに通知する。この場合には、試験処理部２４では状態遷移を行わず通常状態５０を維持する。
【００３５】
次に、試験中状態５１での動作を説明する。通常状態５０から試験中状態５１に状態遷移すると、試験処理部２４では、信号処理部２４１のループバック制御部２４６でＣＬＡＤ処理部２２から受信した信号を折り返してＣＬＡＤ処理部２２に戻すために、受信した信号パタンを選択回路２６１に対して出力する。このとき、選択回路２６１は、ループバック制御部２４６が出力する信号をＣＬＡＤ処理部２２に出力するように装置制御部２５から制御される。また、クランプ処理部２４５では、ＣＬＡＤ処理部２２から受信した信号を全て”１”等の固定パタン信号に変換して、選択回路２６２に出力する。選択回路２６２は、クランプ処理部２４５が出力した固定パタン信号をＳＴＭインタフェース終端部２３に出力するように装置制御部１５から制御される。これらの動作により、ＡＴＭ端末２０では、ＡＴＭ回線３０から受信するユーザデータのＡＴＭセルが、一旦ＳＴＭ信号に変換された後、再度ＡＴＭセル化されて対向側のＡＴＭ端末装置１０に全て折り返されることになる。また、試験中状態５１では、ＯＡＭセル生成／検出部２４２において対向局側からコンティニティチェックセルを定期的に受信しているか又は停止要求セルを受信するかを監視している。
【００３６】
試験中状態５１で、試験停止要求を受信すると、ＯＡＭセル生成／検出部２４２で試験停止確認セルを生成して対向局に送信する。次に、試験中に定期的に送信していたコンティニティチェックの送信を停止し、通常状態５０に状態遷移してＡＴＭ端末装置２０は通常の通信サービスを提供する状態に戻る。また、試験中状態５１で、対向局側から受信するコンティニティチェックセルを、ある一定時間（例えば５秒）受信しない場合には、コンティニティチェックセル受信異常が発生したとして、自局のコンティニティチェックセル送信を停止し、通常状態５０に状態遷移して、ＡＴＭ端末装置２０は通常の通信サービスを提供する状態に戻る。以上の説明が、本発明における信号導通試験を遠隔から起動される側のＡＴＭ端末装置２０の動作概要である。説明中の試験起動要求セル、試験起動拒否セル、試験停止要求セルおよび試験停止確認セルは、ＩＴＵ―Ｔ勧告１．６１０で定義されている起動・停止ＯＡＭセルを活用することが可能であり、独自のＯＡＭセルを定義することも可能である。また、コンティニティチェックセルについても同様である。但し、ＡＴＭセルは、ＡＴＭ回線３０を透過して伝送されＡＴＭ端末装置１０、２０間で送受信できるＡＴＭセルでなければならない。
【００３７】
ＡＴＭ回線３０で接続された対向する各ＡＴＭ端末装置１０、２０が上述の如き動作を行うことにより、ＯＡＭセルを活用し遠隔装置間で信号導通試験の起動／停止が可能となる。
【００３８】
【発明の他の実施の形態】
次に、本発明による信号導通試験方式の第２実施形態例を、図４の構成図を参照して説明する。尚、図１の第１実施形態例に対応する構成要素には、便宜上同様の参照符号を使用するものとする。
【００３９】
図４に示すブロック図において、ＡＴＭ端末装置１０は、上述した第１実施形態例のＡＴＭ端末装置と全く同一構成である。また、ＡＴＭ端末装置６０もＡＴＭ端末装置１０と全く同じ構成である。図４の第２実施形態例では、ＡＴＭ回線３０を介してＡＴＭ端末１０、６０と１：２の関係で接続され対向しているＡＴＭ多重化装置７０を付加したことを特徴とする。このＡＴＭ多重化装置７０とＡＴＭ端末装置１０、６０との間の論理的な接続は、ＡＴＭセルのＶＰＩ（仮想バス識別子）又はＶＣＩ（仮想チャネル識別子）の値を変えて区別されており、ＡＴＭ回線３０とＡＴＭ多重化装置７０の間は物理的には１本で接続されている。
【００４０】
ＡＴＭ多重化装置７０は、複数ＡＴＭインタフェースを束ねる機能や、複数のＡＴＭインタフェース間でＡＴＭセルの送受信を行うためのＡＴＭスイッチの機能等を有する装置である。一般的なＡＴＭ交換機であってもよい。ＡＴＭ多重化装置７０は、ＡＴＭ回線３０と接続され物理レイヤの終端を行うためのＡＴＭインタフェース終端部７１と、ＡＴＭレイヤに配備されるＡＴＭレイヤ処理部７８と、複数の入出力を持ちＡＴＭセルのヘッダ情報を基にＡＴＭセルの交換処理を行うＡＴＭスイッチ７９と、ＡＴＭ多重化装置７０全体の監視制御を行う装置制御部７５で構成される。ＡＴＭレイヤ処理部７８は、ＯＡＭセルの生成発出や受信検出を行う機能およびＡＴＭ回線３０から受信したＡＴＭセルを任意のＶＰＩ／ＶＣＩ単位に折り返してＡＴＭ回線３０に送信する機能を有している。
【００４１】
上述の構成において、例えばＡＴＭ端末装置１０で信号導通試験の起動が行われたとき、ＡＴＭ多重化装置７０に試験起動要求セルが送信される。ＡＴＭ多重化装置７０のＡＴＭレイヤ処理部７８で試験起動要求セルを受信したことが検出されると、受信した試験起動要求セルのＶＰＩ又はＶＣＩの値により、試験の起動要求がＡＴＭ端末装置１０から受信したものであると判定される。これにより、試験起動確認セルをＡＴＭ端末装置１０に送信すると共にＡＴＭ回線３０から受信するＡＴＭセルのうちＡＴＭ端末装置１０から受信したものをＶＰＩ又はＶＣＩの値で判定し、ＡＴＭレイヤで折り返して送信する。このようにして、ＡＴＭ端末装置１０とＡＴＭ多重化装置７０との間では信号導通試験が起動された状態となる。このとき、ＡＴＭ多重化装置７０のＡＴＭレイヤ処理部７８は、ＡＴＭ端末装置６０とＡＴＭ多重化装置７０との間での通信には一切影響を与えることなく動作する。ＡＴＭ多重化装置７０側の状態遷移は、上述したＡＴＭ端末装置２０の状態遷移と同様である。試験の停止時も同様の動作が行われる。また、ＡＴＭ端末装置６０とＡＴＭ多重化装置７０の間でも同様にＯＡＭセルの送受信で信号導通試験を行うことができる。尚、ＡＴＭ多重化装置７０側からＡＴＭ端末装置１０、６０側に対して信号導通試験を行う機能は持たなくてもよく、また持ってもよい。装置のハードウエア規模等を考慮して実現すべきものである。
【００４２】
以上、本発明による信号導通試験方式の好適実施形態例を詳述した。しかし、これら実施形態例は、本発明の単なる例示に過ぎず何ら本発明を限定するものではないことに留意されたい。本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能であること、当業者には容易に理解できよう。例えば１：Ｎ（Ｎは２以上の整数）のネットワーク構成においてもＯＡＭセルを活用して信号導通試験を実施可能である。
【００４３】
【発明の効果】
上述の説明から明らかな如く、本発明の信号童通試験方式によると、次の如き種々の顕著な効果が得られる。第１に、ＡＴＭ端末装置のＡＡＬレイヤ処理機能を含めた信号導通試験が可能である。その理由は、ＯＡＭセルを活用して信号導通試験の起動／停止を行えるようにしたので、信号導通試験が起動している状態では、ユーザデータの通信をオフライン状態とし、オンライン時にユーザデータのＡＡＬレイヤ処理を行う処理ブロックに対して試験用の信号パタンを与えることでＡＴＭセルの組立分解を行い、送受信して信号導通の正常性を判別するためである。
【００４４】
第２に、信号導通試験のためにＡＴＭ回線を使用する帯域を余分に用意する必要がない。その理由は、ユーザデータの通信がオンライン中に試験専用セルを送受信して試験を行う構成ではなく、ユーザデータの通信をオフライン状態として、信号導通試験を行う構成としたため、試験専用セルを送受信するための帯域を確保する必要はないからである。試験のためにＯＡＭセルを活用しているが、送受信頻度を低く設定すれば、余分な帯域を確保する必要もない。また、試験に使用する試験用パタンをユーザデータの通信速度と同じ速度で生成しＡＴＭセルとして送受信して信号導通試験を行うため、ユーザが必要とするＡＴＭ回線の帯域全てを試験するため、ユーザデータの通信がオンライン中に試験精度を上げるために試験専用セル送受信量を増加する必要がない。
【００４５】
第３に、装置の保守性を向上させることができる。その理由は、対向するＡＴＭ端末装置間で遠隔から信号導通試験を起動／停止できるようにしているので、通信障害発生時等にＡＴＭ回線の片端のＡＴＭ端末装置側に保守員がいれば、信号導通試験が行えるためである。また、信号導通試験のための測定器が即時に用意できなくても信号導通試験が行えるようにしているためである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による信号導通試験方式の第１実施形態例のブロック図である。
【図２】図１の信号導通試験方式の試験を起動する側のＡＴＭ端末装置の動作を説明する状態遷移図である。
【図３】図１の信号導通試験方式の試験を遠隔から起動される側のＡＴＭ端末装置の動作を説明する状態遷移図である。
【図４】本発明による信号導通試験式方式の第２実施形態例のブロック図である。
【図５】従来技術のブロック図である。
【符号の説明】
１０、２０、６０    ＡＴＭ端末装置（交換機）
３０                ＡＴＭ回線
１１、２１、７１    ＡＴＭインタフェース終端部
１２、２２          ＣＬＡＤ処理部
１３、２３          ＳＴＭインタフェース終端部
１４、２４          試験処理部
１５、２５、７５    装置制御部
７０                ＡＴＭ多重化装置
１４１、２４１      信号処理部
１４２、２４２      ＯＡＭセル生成／検出部
１４３              試験パタン生成部
１４４              試験パタン照合部
１４５、２４５      クランプ処理部
１６１、１６２、２６１、２６２      選択回路
１６３、２６３      挿入回路
２４６              ループバック制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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