(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査される液晶パネルが略水平状態で配置される複数の検査領域と、液晶パネルに検査電流を通電するための通電手段とを有する装置本体と、
前記各検査領域にそれぞれ対応して装置本体に着脱自在に装着され、液晶パネルを各検査領域内で保持するとともに、保持した液晶パネルを装置本体の前記通電手段に電気的に接続する複数の接続保持手段と、
を備え、
前記各接続保持手段は、液晶パネルを略水平に保持する保持部材と、装置本体の前記通電手段に電気的に接続され且つ前記保持部材によって略水平に保持された液晶パネルの電極部と着脱自在に接続するコネクタとを有してなり、
前記各接続保持手段は、コネクタと液晶パネルの電極部とを差込挿入によって接続する第１の形態と、コネクタと液晶パネルの電極部とを圧接によって接続する第２の形態とを個別に成し、
さらに、前記各接続保持手段は、前記第１の形態と前記第２の形態とにおいて共通に使用され且つ前記保持部材を装置本体に固定するための固定手段を備えていることを特徴とする液晶パネル検査装置。
【請求項２】
前記コネクタと液晶パネルの電極部とが差込挿入によって電気的に接続されることを特徴とする請求項１に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項３】
前記コネクタと液晶パネルの電極部とが圧接によって電気的に接続されることを特徴とする請求項１に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項４】
前記固定手段は、前記第１の形態と前記第２の形態とで、装置本体に対する取付け状態が異なることを特徴とする請求項１に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項５】
前記装置本体は、液晶パネルの検査モードを選択するための操作手段を備えていることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項６】
前記液晶パネルが反射型であることを特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の液晶パネル検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶パネルの電気的な特性等を検査・評価するための液晶パネル検査装置に係わり、特に、反射型の液晶パネルに適した液晶パネル検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、電子機器の小型化に伴い、ディスプレイ装置として液晶表示パネル（ＬＣＤパネル）を用いることが行なわれているが、こうした液晶パネルは、その製造工程において或いは必要に応じて、電気的特性等が検査・評価される。
【０００３】
一般に、透過型の液晶パネルの検査・評価に使用される液晶パネル検査装置は、電気的な所定の検査・評価手段を有する通電ボードから成り、この通電ボード上に複数の液晶パネルを垂直に整列させた状態で保持するとともに、通電ボード上に設けられた電気的接続部であるコネクタ部に各液晶パネルの電極が接続されることにより、通電に基づく液晶パネルの検査・評価を行なうことができる。
【０００４】
また、通電ボードを用いた液晶パネルの検査・評価は、特定の環境下で行なわれる場合もある。例えば、液晶パネルを保持した通電ボードを処理槽内に導入するとともに、この処理槽内で液晶パネルを所定の温度・湿度下に一定時間晒した状態で、液晶パネルの電気的特性等を通電ボードを用いて検査・評価したり、液晶パネルの経時変化や特定の環境が液晶パネルの表示状態に及ぼす影響を調べたりする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、通電ボード上に複数の液晶パネルを垂直に整列させた状態で保持する理由は、液晶パネルが透過型であるため、液晶パネルの裏側からバックライトを供給する必要があるからである。
【０００６】
しかしながら、このように、通電ボード上に複数の液晶パネルを垂直に保持する構成では、液晶パネルを含む検査装置全体の高さ寸法が大きくなってしまい、例えば通電ボードに保持された液晶パネルを前記処理漕内で処理する場合に、限られた数の通電ボードしか処理槽内に導入できないといった問題が生じる。あるいは、所定数の通電ボードを処理槽内に導入するために、処理槽を大きく形成しなければならないといった問題が生じる。
【０００７】
こうした問題は、液晶パネルが透過型であるが故に生じる問題であって、液晶パネルが反射型である場合には、裏側からバックライドで光を照射しなくて済む（液晶パネルの表側から光を供給するだけで表示状態を確認できる）ため、すなわち、通電ボード上に液晶パネルを垂直に保持させる必要がないため、検査装置のコンパクト化を図って、前述した問題を回避できると考えられる。
【０００８】
本発明は前記事情に着目してなされたものであり、その目的とするところは、液晶パネルを保持した状態での全体寸法をコンパクトにできるとともに、反射型液晶パネルの検査・評価に適した液晶パネル検査装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶パネル検査装置は、検査される液晶パネルが略水平状態で配置される複数の検査領域と、液晶パネルに検査電流を通電するための通電手段とを有する装置本体と、前記各検査領域にそれぞれ対応して装置本体に着脱自在に装着され、液晶パネルを各検査領域内で保持するとともに、保持した液晶パネルを装置本体の前記通電手段に電気的に接続する複数の接続保持手段と、を備え、前記各接続保持手段は、液晶パネルを略水平に保持する保持部材と、装置本体の前記通電手段に電気的に接続され且つ前記保持部材によって略水平に保持された液晶パネルの電極部と着脱自在に接続するコネクタとを有してなり、前記各接続保持手段は、コネクタと液晶パネルの電極部とを差込挿入によって接続する第１の形態と、コネクタと液晶パネルの電極部とを圧接によって接続する第２の形態とを個別に成し、さらに、前記各接続保持手段は、前記第１の形態と前記第２の形態とにおいて共通に使用され且つ前記保持部材を装置本体に固定するための固定手段を備えていることを特徴とする。
【００１０】
この請求項１に記載された発明によれば、液晶パネルを含む検査装置全体の高さ寸法を小さく抑えることができる。したがって、液晶パネルを保持した複数の液晶パネル検査装置を他段に積み重ねた状態で例えば高温槽等の処理槽内に導入することができ、所望の数の液晶パネルを効率良く短時間で検査・評価することが可能となる。
【００１１】
また、請求項２に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記コネクタと液晶パネルの電極部とが差込挿入によって電気的に接続されることを特徴とする。
【００１２】
この請求項２に記載された発明によれば、請求項１と同様の作用効果を得ることができるとともに、差込挿入式の液晶パネルに適用可能となる。
【００１３】
また、請求項３に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記コネクタと液晶パネルの電極部とが圧接によって電気的に接続されることを特徴とする。
【００１４】
この請求項３に記載された発明によれば、請求項１と同様の作用効果を得ることができるとともに、圧接式の液晶パネルに適用可能となる。
【００１５】
また、請求項１に記載された発明において、前記各接続保持手段は、コネクタと液晶パネルの電極部とを差込挿入によって接続する第１の形態と、コネクタと液晶パネルの電極部とを圧接によって接続する第２の形態とを個別に成すことを特徴とする。
【００１６】
この請求項１と同様の作用効果を得ることができるとともに、それ１つで、液晶パネルの入出力部（電極部）の構造形態に合わせた検査・評価を簡単に行なうことができる。したがって、非常に経済的である。
【００１７】
また、請求項１に記載された発明において、前記各接続保持手段は、前記第１の形態と前記第２の形態とにおいて共通に使用され且つ前記保持部材を装置本体に固定するための固定手段を備えていることを特徴とする。
【００１８】
また、請求項４に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記固定手段は、前記第１の形態と前記第２の形態とで、装置本体に対する取付け状態が異なっていることを特徴とする。
【００１９】
これら請求項１および請求項４に記載された発明によれば、固定手段を共用できるため、経済的である。
【００２０】
また,請求項５に記載された発明は、請求項１ないし請求項４のいずれか1項に記載された発明において、前記装置本体は、液晶パネルの検査モードを選択するための操作手段を備えていることを特徴とする。
【００２１】
この請求項５に記載された発明によれば、装置の操作性が良好となる。
【００２２】
また、請求項６に記載された発明は、液晶パネルが反射型であることを特徴とする。
【００２３】
この請求項６に記載された発明によれば、本装置を反射型の液晶パネルに適用でき、用途の幅が広がる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
【００２７】
図１は、本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置１の装置本体であるマザーボード１０の平面図である。図示のように、マザーボード１０上には、反射型の液晶パネルＰが略水平状態で配置される複数の検査領域Ｓが形成されている。図には、５つの検査領域Ｓを有する列が２つ、合計１０個の検査領域Ｓが示されている。なお、ここで、「反射型」とは、受けた光を反射することによって液晶表示を行なう形態を言うものとする。
【００２８】
各検査領域Ｓには、所定の検査・評価を行なう図示しない手段（例えば液晶パネルに検査電流を通電するための通電手段）に電気的に接続されたコネクタ１４（１４ａ，１４ｂ…図７参照）と、後述する保持ボード２０Ａ，２０Ｂを支持する一対の保持ボードガイド１６，１６とが設けられている。また、マザーボード１０の一側は、後述する各種の操作スイッチや接続端子が設けられた操作パネル１２として形成されている。
【００２９】
図２は、液晶パネル検査装置１の２つの使用形態を概略的に示した一検査領域Ｓの側面図である。図２の（ａ）は、マザーボード１０側と電気的に導通する表面実装された所定のコネクタ部２２に液晶パネルＰの電極部を差込み挿入によって接続して電気的特性を検査する第１の検査形態を示しており、図２の（ｂ）は、マザーボード１０側と電気的に導通する所定のコネクタ部４０を液晶パネルＰの電極部に上側から圧接接続して電気的特性を検査する第２の検査形態を示している。いずれの検査（使用）形態においても、マザーボード１０と、マザーボード１０側のコネクタ１４および保持ボードガイド１６は共用される。
【００３０】
具体的には、図２の（ａ）に示される第１の検査形態では、マザーボード１０側のコネクタ１４に保持ボード（保持部材）２０Ａの一端が接続されるとともに、保持ボード２０Ａ上に液晶パネルＰが載置され、コネクタ１４と電気的に接続されるコネクタ部２２に液晶パネルＰの電極部が差込み接続される。この場合、保持ボード２０Ａの他端は、マザーボード１０から立ち上がる保持ボードガイド１６にネジ部材（固定手段）１８を介して取り付けられる。 すなわち、保持ボード２０Ａはマザーボード１０の上側でこれと所定距離離間した状態で支持される。
【００３１】
一方、図２の（ｂ）に示される第２の検査形態では、マザーボード１０側のコネクタ１４にコンタクトプリント回路基板（以下、単にコンタクト基板という）４２が電気的に接続されるとともに、マザーボード１０上に載置された保持ボード（保持部材）２０Ｂ上に液晶パネルＰが載置され、コンタクト基板４２上に積層載置される支持板４４を止めネジ４６によって保持ボード２０Ｂに対して固定することにより、コンタクト基板４２のコネクタ部４０が液晶表示パネルＰの電極部に圧接される。この場合も、保持ボード２０Ｂはマザーボード１０から立ち上がる保持ボードガイド１６にネジ部材１８を介して取り付けられる。
【００３２】
ところで、図２に示されるように、２つの検査形態では、保持ボードガイド１６に取り付けられる保持ボード２０Ａ，２０Ｂの厚さおよび取付け高さが異なっている。すなわち、第１の検査形態における保持ボード２０Ａの取付け高さＨ１は、第２の検査形態における保持ボード２０Ｂの取付け高さＨ２よりも高くなっている。そのため、本実施形態では、２つの検査形態でマザーボード１０とコネクタ１４と保持ボードガイド１６とを共用できるように、２つの検査形態において共通に使用されるネジ部材１８に工夫が施されている。
【００３３】
すなわち、図３に示されるように、ネジ部材１８は、断面が略凹状に形成されており、略平板状の基台部１８ａと、基台部１８ａから凹部を形作るように立ち上がる延出部１８ｂとを有している。そして、保持ボード２０Ａの取付け高さが高い第１の検査形態を実現する場合には、図３の（ａ）に示されるように、凹部が上側を向く状態でネジ部材１８を保持ボードガイド１６に螺合することにより、ネジ部材１８の基台部１８ａの底面を保持ボード２０Ａの上面に突き当て、保持ボードガイド１６の支持面１６ａによって下側から支持される保持ボード２０Ａをネジ部材１８によって保持ボードガイド１６に固定する。一方、保持ボード２０Ｂの取付け高さが低い第２の検査形態を実現する場合には、図３の（ｂ）に示されるように、凹部が下側を向く状態でネジ部材１８を保持ボードガイド１６に螺合することにより、ネジ部材１８の延出部１８ｂの端面を保持ボード２０Ｂの上面に突き当て、マザーボード１０によって下側から支持される保持ボード２０Ｂをネジ部材１８によって保持ボードガイド１６に固定する。
【００３４】
図４は、第２の検査形態を実現するために必要な構成要素を図１のマザーボード１０上の各検査領域Ｓにセットした状態の平面図であり、図５は図４のＡ方向から見た側面図、図６は図４のＢ方向から見た側面図である。また、図７は、マザーボード上の各検査領域Ｓにセットされる構成要素の分解斜視図である。
【００３５】
これらの図に示されるように、第２の検査形態を実現するため、マザーボード１０の各検査領域Ｓにはそれぞれ保持ボード２０Ｂが載置される。この場合、保持ボード２０Ｂは、図２の（ｂ）に示されるような形態で，ネジ部材１８によって保持ボードガイド１６に固定される。そのため、保持ボード２０Ｂには、保持ボードガイド１６が貫通する一対の貫通孔５８，５８が形成されている（図７参照）。
【００３６】
また、保持ボード２０Ｂ上には液晶パネルＰが載置される。この場合、液晶パネルＰは、一対のワークガイドピン５０，５０を介して、保持ボード２０Ｂ上に位置決め保持される。
【００３７】
液晶パネルＰ上にはコンタクト基板４２が載置される。この場合、コンタクト基板４２は、保持ボード２０Ｂから立ち上がるコンタクトガイドピン５２によって、保持ボード２０Ｂおよび液晶パネルＰに対する位置決めがなされる。また、この時、コンタクト基板４２の裏面に設けられた一対のコンタクト用コネクタ４０，４０が液晶パネルＰの一対の電極部６１，６１に電気的に接触されるとともに、コンタクト基板４２がマザーボード１０側のコネクタ１４（１４Ａ，１４Ｂ）に電気的に接続される。これにより、液晶パネルＰがマザーボード１０側に電気的に導通され、電気的な検査・評価が可能な状態となる。
【００３８】
なお、コンタクト基板４２には、コンタクトガイドピン５２，５２が貫通する一対の貫通孔４２ｂ，４２ｂが設けられ、また、保持ボード２０Ｂには、コンタクトガイドピン５２，５２が取り付けられる取付け孔５７，５７が設けられている。
【００３９】
また、コンタクト基板４２上には支持板４４が載置される。この支持板４４は、一対の固定ツマミ４６，４６によって保持ボード２０Ｂに取り付けられる。この取付け状態で、支持板４４は、コンタクト基板４２を液晶パネルＰおよび保持ボード２０Ｂに押し付けて、コンタクト基板４２のコネクタ４０を液晶パネルＰの電極部６１に圧接する作用を成す。なお、固定ツマミ４６，４６は、支持板４４の孔４４ａ，４４ａおよびコンタクト基板４２の孔４２ａ，４２ａを通じて、保持ボード２０Ｂのネジ穴５９，５９に捩じ込まれる。また、支持板４４には、コンタクトガイドピン５２，５２が貫通する一対の貫通孔４４ｂ，４４ｂが設けられている。
【００４０】
このように、保持ボード２０Ｂ、コンタクト基板４２、支持板４４、コネクタ４０等は、各検査領域Ｓにそれぞれ対応してマザーボード１０に着脱自在に装着され、液晶パネルＰを各検査領域Ｓ内で保持するとともに、保持した液晶パネルＰをマザーボード１０の前記通電手段等に電気的に接続する接続保持手段を構成する。無論、第１の検査形態においても、図２の（ａ）に示される保持ボード２０Ａ、コネクタ２２が接続保持手段を構成する。
【００４１】
また、図１に示されるように、操作パネル１２には、液晶パネルＰの検査モードを選択する操作手段としてのセレクトスイッチ７０が設けられている。このセレクトスイッチ７０は、ロータリースイッチとして形成さており、コネクタ７１を通じて図示しないパソコンから入力されてくる信号（液晶パネルＰの表示に関する各種のデータなど）を選択・修正して或いはこれらの信号とは別個にオペレータが自由に、液晶パネルＰを各列毎に或いは個別に検査（点灯表示検査等）・評価するために使用される。このセレクトスイッチ７０によれば、性能や特性が異なる液晶パネルの検査・評価を個別に或いは均等に行なうことができる。
【００４２】
また、操作パネル１２には、共通の例えば５Ｖ固定電源が接続される端子７３が設けられている。これは、性能や特性が異なる任意の液晶パネルＰに対してこの液晶パネル検査装置１を使用できるように、任意の液晶パネルＰに対して共通の電源を使用する単一電源化を図る目的で設けられている。そして、固定電圧を液晶パネルＰに対応した電圧に調整する電源ＩＣ（レギュレータＩＣ）を搭載した図示しないボードをＩＣコネクタ７２に差込式で接続できるようになっている。また、操作パネル１２には、バックライト搭載した液晶パネルＰのために、バックライト点灯用の電源を接続できる端子７４が設けられている。
【００４３】
以上説明したように、本実施形態の液晶パネル検査装置１は、各検査領域Ｓで液晶パネルＰを略水平状態で保持するため、液晶パネルＰを含む検査装置全体の高さ寸法を小さく抑えることができる。したがって、例えば図８に示されるように、液晶パネルを保持した複数の液晶パネル検査装置１を他段に積み重ねた状態で高温槽等の処理槽７０内に導入することができ、所望の数の液晶パネルを効率良く短時間で検査・評価することが可能となる。
【００４４】
また、本実施形態の液晶パネル検査装置１は、コネクタ２２と液晶パネルＰの電極部とを差込挿入によって接続する第１の検査形態と、コネクタ４０と液晶パネルＰの電極部６１とを圧接によって接続する第２の検査形態といった異なる形態をマザーボード１０を共有しつつ個別に成すことができるため、それ１つで、液晶パネルＰの入出力部（電極部）の構造形態に合わせた検査・評価を簡単に行なうことができる。したがって、非常に経済的である。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、液晶パネルを保持した状態での全体寸法をコンパクトにできるとともに、反射型液晶パネルの検査・評価に適した液晶パネル検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置のマザーボードの平面図である。
【図２】（ａ）は液晶パネル検査装置の第１の検査形態を概略的に示した一検査領域の側面図、（ｂ）は液晶パネル検査装置の第１の検査形態を概略的に示した一検査領域の側面図である。
【図３】（ａ）は第１の検査形態におけるネジ部材の使用形態を示す要部側面図、（ｂ）は第２の検査形態におけるネジ部材の使用形態を示す要部側面図である。
【図４】第２の検査形態を実現するために必要な構成要素を図１のマザーボード上の各検査領域にセットした状態の平面図である。
【図５】図４のＡ方向から見た側面図である。
【図６】図４のＢ方向から見た側面図である。
【図７】マザーボード上の各検査領域にセットされる構成要素の分解斜視図である。
【図８】本発明の一実施形態に係る液晶パネル検査装置を他段に重ねて処理槽内に導入した様子を示す概略図である。
【符号の説明】
１…液晶パネル検査装置
１０…マザーボード（装置本体）
１８…ネジ部材（固定手段）
２０Ａ，２０Ｂ…保持ボード（保持部材）
２２，４０…コンタクト
Ｐ…液晶パネル
Ｓ…検査領域
【図１】
0003858595.tif 000002
【図２】
0003858595.tif 000003
【図３】
0003858595.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
0003858595.tif 000007
【図７】
0003858595.tif 000008
【図８】
0003858595.tif 000009