(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
光ディスクの種類と記録速度に応じて変調度が予め設定されたテーブルから前記光ディスクの種類と記録速度に応じた目標変調度を取得する目標変調度取得手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、各記録パワーと変調度に基づく変調度パラメータとの関係を求める変調度パラメータ算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び前記各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、前記光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求める目標変調度算出手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定する目標変調度推定手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
光ディスクの種類と記録速度に応じて変調度が予め設定されたテーブルから前記光ディスクの種類と記録速度に応じた目標変調度を取得する目標変調度取得手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、各記録パワーと変調度に基づく変調度パラメータとの関係を求める変調度パラメータ算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び前記各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、前記光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求める目標変調度算出手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定する目標変調度推定手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項４または５または６記載の光ディスク記録装置において、
前記上書き記録パワー設定手段は、前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに、前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて得られる最適記録パワーを設定することを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録装置に関し、特に、書き換え可能型光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録型光ディスクには、追記型（Ｗｒｉｔｅ  Ｏｎｃｅ）と書き換え可能型（Ｅｒａｓａｂｌｅ）とがある。このうち、書き換え可能型光ディスクの上書き記録（オーバーライト）には、レーザパワーが記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの２値で変化するレーザビームが使用される。この場合、記録パワーＰｗによって光ディスクの記録膜の状態が結晶状態からアモルファス状態に変化してピットが形成され、また、消去パワーＰｅによってアモルファス状態から結晶状態に変化して既記録ピットが消去される。
【０００３】
光ディスク記録時のレーザビームの最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏは、光ディスクの種類、記録装置、記録速度それぞれによって異なる。従って、実際に記録を行う際の光ディスクの種類、記録装置、記録速度の組み合わせで最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏを設定するために、情報の記録に先立ってＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる記録パワーキャリブレーション動作を行っている。
【０００４】
従来の書き換え可能型の光ディスク記録装置におけるＯＰＣ動作について説明する。光ディスクの記録面上には、図１１に示すように、各種データを記憶するためのデータエリア、レーザビームの最適記録パワーを設定するためのテスト記録領域であるＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）が設けられている。ＰＣＡはディスクの最内周に設けられており、テストエリアとカウントエリアとから成り、テストエリアは１００個のパーティションから構成されている。また、それぞれのパーティションは１５個のフレームで構成されている。１回のＯＰＣ動作ではパーティションの１つが使用され、パーティションを構成する１５個のフレームに対して１５段階のレーザパワーでテスト信号を記録する。このテスト信号は、基準時間幅Ｔ（Ｔは標準速度（１倍速）にて周波数４．３２ＭＨｚの１周期で約２３０ｎｓｅｃ）の３倍〜１１倍の時間幅を有するパルス列からなるＥＦＭ変調された信号であり、フレームには９通りの長さのピットが記録される。
【０００５】
これらフレームに対してレーザビームを照射し、光ディスクからの反射光を検出することにより、テスト信号を再生すると共に、それぞれの再生ＨＦ（高周波）信号の振幅の大きさを示す指標としての変調度ｍを測定する。
【０００６】
ｍ＝Ｉ１１／Ｉｔｏｐ                                …（１）
ここで、図１２に示すように、Ｉ１１は１１Ｔのピット及びランド（ピットとピットの間の部分）による再生ＨＦ信号振幅、Ｉ３は３Ｔのピット及びランドによる再生ＨＦ信号振幅、Ｉｔｏｐはランド部分の光反射率である。変調度ｍは記録パワーＰｗに応じて変化する。
【０００７】
なお、図１３に示すように、記録パワーが低い時は、再生ＨＦ信号の振幅が小さいので変調度ｍは小さく、記録パワーＰｗが大きくなるにつれて、再生ＨＦ信号の振幅が大きくなるので変調度ｍは大きくなる。記録パワーＰｗがある程度大きくなると変調度ｍは飽和してくる。この飽和し始めたあたりの記録パワーＰｗで記録した時が最もジッタやエラーが少ないので、その時の記録パワー値を最適記録パワーＰｗｏと判定することができる。
【０００８】
変調度ｍにより最適記録パワーＰｗｏを決定する場合、変調度ｍの特性から求められる次のパラメータγを用いる方法もある。
【０００９】
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）×（Ｐｗ／ｍ）                  …（２）
すなわち、パラメータγは変調度ｍの特性を微分したものである。光ディスクにはＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  ＴｉｍｅＩｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報としてパラメータγの目標値γｔａｒｇｅｔが予め記録されている。そこで、図６に示すように、変調度ｍの特性から上式によりパラメータγの特性を求め、目標値γｔａｒｇｅｔが得られる記録パワー値Ｐｔａｒｇｅｔを求める。また、光ディスクにはＡＴＩＰ情報として、Ｐｔａｒｇｅｔから最適記録パワーＰｗｏを求める係数ρが予め記録されているので、この係数ρを用いて次式により最適記録パワーＰｗｏを求めることができる。
【００１０】
Ｐｗｏ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔ                          …（３）
そして、これを信号記録時の記録パワーとして設定し使用している。また、最適消去パワーＰｅｏについては、光ディスクにＡＴＩＰ情報として記録されている係数ε（消去／記録パワー比）及び係数κ（低速記録用消去／記録パワー比補償係数）を用いて、最適記録パワーＰｗｏから設定する。
【００１１】
Ｐｅｏ＝ε×Ｐｗｏ                                  …（４）
Ｐｅｏ＝κ×ε×Ｐｗｏ                              …（５）
【発明が解決しようとする課題】
書き換え可能型光ディスクの既にピットが形成された既記録領域に、上書き記録する場合も、未記録のテスト記録領域でＯＰＣ動作を行って設定したレーザビームの最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏを用いている。しかし、高い記録パワーで信号が記録された既記録領域は、ある程度高い消去パワーで消去しなければ完全に消去することはできない。
【００１２】
従来、上書き時の記録特性（ジッタやブロックエラーレート等）は、元のピットの記録状態（記録の深さ）、つまり変調度ｍにより大きく左右されることに関して全く考慮されていなために、元のピットの記録状態によっては上書き記録の記録特性が悪化する場合があるという問題があった。また、上書き記録時の記録特性を向上させようとして、上書き記録の記録パワー及び消去パワーを高めに設定すると、ピットの記録の深さが大きくなり、光ディスクの耐久性が悪化するという問題があった。
【００１３】
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、上書き記録の記録特性を向上するさせると共に、光ディスクの耐久性を向上できる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
光ディスクの種類と記録速度に応じて変調度が予め設定されたテーブルから前記光ディスクの種類と記録速度に応じた目標変調度を取得する目標変調度取得手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う。
【００１５】
このように、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００１６】
請求項２に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、各記録パワーと変調度に基づく変調度パラメータとの関係を求める変調度パラメータ算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び前記各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、前記光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求める目標変調度算出手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う。
【００１７】
このように、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求めるため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００１８】
請求項３に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定する目標変調度推定手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有する。
【００１９】
このように、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定するため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００２０】
請求項４に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
光ディスクの種類と記録速度に応じて変調度が予め設定されたテーブルから前記光ディスクの種類と記録速度に応じた目標変調度を取得する目標変調度取得手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う。
【００２１】
このように、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００２２】
請求項５に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、各記録パワーと変調度に基づく変調度パラメータとの関係を求める変調度パラメータ算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び前記各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、前記光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求める目標変調度算出手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う。
【００２３】
このように、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求めるため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００２４】
請求項６に記載の発明は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディスク記録装置において、
上書き記録時に、前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う部分を再生して既記録部変調度を測定する変調度測定手段と、
記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記所定のテストエリアの再生信号から得た各記録パワーの変調度を求めるＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づき、前記既記録部変調度に対応する既記録記録パワーを求める既記録記録パワー算出手段と、
前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定する目標変調度推定手段と、
前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを増大させた値を設定し、前記目標変調度が前記既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに前記既記録記録パワーを低下させた値を設定する上書き記録パワー設定手段とを有し、
前記上書き記録パワーで前記光ディスクの既記録領域の上書き記録を行う。
【００２５】
このように、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定するため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００２６】
請求項７に記載の発明では、請求項４または５または６記載の光ディスク記録装置において、
前記上書き記録パワー設定手段は、前記目標変調度が前記既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに、前記ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて得られる最適記録パワーを設定する。
【００２７】
このように、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに、最適記録パワーを設定するため、高い記録精度を確保することができ、ＯＰＣ動作で測定された最適記録パワーＰｗｏは記録しようとする光ディスク及び記録装置のその時点の組み合わせで最適と判断された記録パワーであるので、耐久性も充分確保できる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図を示す。同図中、光ディスク２０はスピンドルモータにより駆動され軸２２を中心として回転する。ＣＰＵ２４は上位装置から供給される書き込み／読み出し命令に基づいてサーボ回路２６に命令を供給する。サーボ回路２６は上記スピンドルモータのＣＬＶ（線速度一定）サーボを行うと共に、光ピックアップ２８のスレッドモータの回転制御を行って光ディスク２０の所望のブロックに移動させ、かつ、光ピックアップ２８のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行う。
【００２９】
光ピックアップ２８から照射されたレーザビームは、光ディスク２０の記録面上で反射され、反射ビームが光ピックアップ２８で検出される。光ピックアップ２８で得られた再生ＨＦ信号は再生回路３０に供給され、ここで増幅された再生ＨＦ信号はサーボ回路２６に供給されると共に、再生回路３０内でＥＦＭ復調を受けた後、ＡＴＩＰ信号が分離されてＡＴＩＰデコーダ３２に供給される。また、同期が取られた復調信号は、デコーダ３４に供給されてＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）デコード、エラー訂正の後、再生データとして出力される。ＡＴＩＰデコーダ３２はＩＤナンバや各種パラメータ等のＡＴＩＰ情報をデコードしてＣＰＵ２４及びサーボ回路２６に供給する。
【００３０】
また、再生回路３０の出力する再生信号は変調度測定回路３８に供給される。変調度測定回路３８は再生ＨＦ信号の変調度ｍを測定する。この変調度ｍはＡ／Ｄコンバータ４０でディジタル化されてＣＰＵ２４に供給される。
【００３１】
ＣＰＵ２４は上記変調度ｍに基づいて記録パワー制御信号を生成し、この記録パワー制御信号はＤ／Ａコンバータ４２でアナログ化されて記録パワー制御電圧として記録回路４４に供給する。エンコーダ４６はＣＰＵ２４の制御に基づいて、入力される記録信号をＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）エンコードを行って記録回路４４に供給する。
【００３２】
記録回路４４は、記録時にエンコーダ４６から供給される信号をＥＦＭ変調し、この変調信号を記録パワー制御電圧に応じた記録パワーに制御して光ピックアップ２８内のレーザダイオード（ＬＤ）に供給して駆動する。これによりレーザビームが光ディスク２０に照射されて信号記録が行われる。
【００３３】
なお、ＣＰＵ２４の内蔵メモリ（ＲＡＭ）には過去ＯＰＣ（記録パワーキャリブレーション）の履歴、つまり、過去に測定された最適記録パワーが記憶されている。このＯＰＣ履歴はある一定時間保持される。
【００３４】
更にＣＰＵ２４の内蔵メモリ（ＲＯＭ）には、光ディスクの種類（ＩＤナンバ）と、記録速度（１，２，４，１０倍速）に応じたｍ値（目標変調度ｍｗｏ）のテーブルが設定されると共に、光ディスクの種類に応じてＯＰＣのスタートパワーとステップパワーが設定されたテーブルと、光ディスクの種類に応じてパラメータγ等が設定されている。また、動作モード指示部５０からの指示入力はＣＰＵ２４に供給される。
【００３５】
図２及び図３は、ＣＰＵ２４が実行する上書き時のＯＰＣ動作の第１実施例のフローチャートを示す。この実施例はＣＰＵ２４の内蔵メモリ（ＲＯＭ）に装着された光ディスクのＩＤナンバに対応する目標変調度ｍｗｏが記憶されている場合のＯＰＣ動作である。
【００３６】
図２において、ステップＳ１０で動作モード指示部５０から上書き記録を指示すると、ＣＰＵ２４はステップＳ１２で既にピットが記録された既記録領域の上書き記録を開始する位置から一定長のブロックを再生する。次に、ステップＳ１４で再生部分の変調度ｍｉｎｉを測定する。
【００３７】
次に、ステップＳ１６で記録速度を記録コマンドの指定する値に設定し、ステップＳ１８で光ディスク２０からＡＴＩＰ情報として記録されているＩＤナンバを取得し、光ディスクの種類（メディアの種類）を判別する。次に、ステップＳ２０でメディアの種類と記録速度に応じてｍ値（目標変調度ｍｗｏ）が予め設定されたＣＰＵ２４の内蔵メモリのテーブルをメディアの種類と記録速度とで参照して目標変調度ｍｗｏを読み込む。そして、ステップＳ２２で記録速度に応じてＣＰＵ２４の内蔵メモリのテーブルを選択し、ステップＳ２４で記録パワーＰｗを、上記選択したテーブルに設定されているスタートパワーからステップパワー単位で１５段階変化させて光ディスク２０のテスト記録領域にテスト信号を記録する。
【００３８】
次に、ステップＳ２６で上記のテスト記録部分を再生し、ステップＳ２８で１５段階の記録パワーＰｗ毎に変調度ｍを測定して図６に実線で示す特性を得る。そして、ステップＳ３０で１５段階の記録パワーＰｗ毎の変調度ｍの関係（図６に実線で示す特性）から、変調度ｍｉｎｉ（ステップＳ１４で得た値）に対応する記録パワーＰｉｎｉを求める。次に、ステップＳ３２で目標変調度ｍｗｏに対応する最適記録パワーＰｗｏを図６に実線で示す特性から求める。
【００３９】
次に、図３のステップＳ３４に進み、変調度ｍｉｎｉと目標変調度ｍｗｏとを比較してステップＳ３６で両者の大小関係を判別する。ここで、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの場合はステップＳ３８で記録パワーＰをＰｉｎｉに設定してステップＳ４２に進む。一方、ｍｗｏ＜ｍｉｎｉの場合はステップＳ４０で記録パワーＰをＰｉｎｉ・Ｘに設定してステップＳ４２に進む。なお、ＸはＣＰＵ２４に予め設定されている１未満の値（例えば０．９５）である。
【００４０】
つまり、ステップＳ４０では前回の記録時の変調度ｍｉｎｉ（図１に示す装置以外の記録装置で記録された場合もあり得る）が、図１に示す装置の目標変調度ｍｗｏより大きい場合に、今回の記録パワーＰを前回の記録時の記録パワーＰｉｎｉより一定割合だけ低下させている。
【００４１】
次のステップＳ４２ではＯＰＣ動作を終了する。なお、このステップにおいて、光ディスク２０にＡＴＩＰ情報として記録されている係数ε及び係数κを用いて、（４），（５）式から最適消去パワーＰｅｏを設定している。この後、ステップＳ４４で上書き記録を開始する。
【００４２】
このようにして、上書き記録時の記録パワーを設定することで、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの状態では、常に記録パワーは変調度ｍｉｎｉとなる記録パワーＰｉｎｉで上書き記録されるため、ＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏよりも低い記録パワーが設定されることにより、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上する。ｍｗｏ＜ｍｉｎｉの状態では、前回の記録時の記録パワーＰｉｎｉより一定割合だけ低下させているため、この状態が繰り返されることで記録パワーがＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏに近づき、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００４３】
なお、記録精度の確保に重点を置く場合は、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの状態の時、記録パワーを最適記録パワーＰｗｏに設定しても良い。また、一連のＯＰＣ動作の内容（図６に示す特性）は、履歴としてある一定時間だけはＣＰＵ２４内のメモリ（ＲＡＭ）に保持される。そのため、連続して異なる領域に上書きする場合は、直前のＯＰＣの値（図６に示す特性）を利用でき、上書き記録を行う領域の変調度ｍｉｎｉの測定後、ステップＳ１６〜Ｓ３２をジャンプして、履歴のＯＰＣ値（図６に示す特性）と比較すればよい。
【００４４】
ところで、図３の変形例を図４に示す。図４では、ステップＳ３８の代わりに、ステップＳ５０が実行される。このステップＳ５０においては、記録パワーＰをＰｉｎｉ・Ｙに設定してステップＳ４２に進む。なお、ＹはＣＰＵ２４に予め設定されている１を超える値（例えば１．０５）である。
【００４５】
これは、記録パワーＰをＰｉｎｉに設定するよりは、既記録領域を再生して得た変調度ｍｉｎｉに対応する記録パワーであるＰｉｎｉより一定の割合（Ｙ）だけ記録パワーＰを高くすることにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００４６】
また、ステップＳ５０が繰り返し実行されることで、記録パワーがＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏに近付き、光ディスク及び記録装置などの耐久性を確保しつつ、記録精度を充分確保できる記録パワーに徐々に近付かせて行くことができる。
【００４７】
また、図３の他の変形例を図５に示す。図５では、ステップＳ３８の代わりに、ステップＳ５２が実行される。このステップＳ５２においては、記録パワーＰを最適記録パワーＰｗｏに設定してステップＳ４２に進む。この変形例は前述のように、記録精度の確保に重点を置く場合に適用されるが、もともとＯＰＣ動作で測定された最適記録パワーＰｗｏは記録しようとする光ディスク及び記録装置のその時点の組み合わせで最適と判断された記録パワーであるので、耐久性も充分確保できる。
【００４８】
図７及び図８は、ＣＰＵ２４が実行する上書き時のＯＰＣ動作の第２実施例のフローチャートを示す。この実施例はＣＰＵ２４の内蔵メモリ（ＲＯＭ）に装着された光ディスクのＩＤナンバに対応する目標変調度ｍｗｏが記憶されてない場合のＯＰＣ動作である。
【００４９】
図７において、ステップＳ１１０で動作モード指示部５０から上書き記録を指示すると、ＣＰＵ２４はステップＳ１１２で既にピットが記録された既記録領域の上書き記録を開始する位置から一定長のブロックを再生する。次に、ステップＳ１１４で再生部分の変調度ｍｉｎｉを測定する。
【００５０】
次に、ステップＳ１１６で記録速度を記録コマンドの指定する値に設定し、ステップＳ１１８で光ディスク２０からＡＴＩＰ情報として記録されているＩＤナンバを取得し、メディア（光ディスク）の種類を判別する。次に、ステップＳ１２２で記録速度に応じてＣＰＵ２４の内蔵メモリのテーブルを選択し、ステップＳ１２４で記録パワーＰｗを、上記選択したテーブルに設定されているスタートパワーからステップパワー単位で１５段階変化させて光ディスク２０のテスト記録領域にテスト信号を記録する。
【００５１】
次に、ステップＳ１２６で上記のテスト記録部分を再生し、ステップＳ１２８で１５段階の記録パワーＰｗ毎に変調度ｍを測定して図６に実線で示す特性を得る。そして、ステップＳ１３０で１５段階の記録パワーＰｗ毎の変調度ｍの関係（図６に実線で示す特性）から、（２）式を用いて１５段階の記録パワーＰｗ毎のパラメータγを求める。上記の変調度ｍに対するパラメータγを図６に一点鎖線で示す。
【００５２】
更に、ステップＳ１３１で光ディスクのＡＴＩＰ情報内の目標値γｔａｒｇｅｔに対応する記録パワーＰｔａｒｇｅｔを、図６に一点鎖線で示すパラメータγの特性から求める。次に、ステップＳ１３２で上記のＰｔａｒｇｅｔにＡＴＩＰ情報内の係数ρを乗算して最適記録パワーＰｗｏを求め、ステップＳ１３４で最適記録パワーＰｗｏに対応する変調度ｍｗｏを、図６に実線で示す変調度ｍの特性から求める。そして、ステップＳ１３６において、上記変調度ｍｗｏを目標変調度とする。
【００５３】
次に、図８のステップＳ１３８に進み、変調度ｍｉｎｉに対応する記録パワーＰｉｎｉを、図６に実線で示す変調度ｍの特性から求める。そして、ステップＳ１４０に進み、変調度ｍｉｎｉと目標変調度ｍｗｏとを比較してステップＳ１４２で両者の大小関係を判別する。ここで、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの場合はステップＳ１４４で記録パワーＰをＰｉｎｉに設定してステップＳ１４８に進む。一方、ｍｗｏ＜ｍｉｎｉの場合はステップＳ１４６で記録パワーＰをＰｉｎｉ・Ｘに設定してステップＳ１４８に進む。なお、ＸはＣＰＵ２４に予め設定されている１未満の値（例えば０．９５）である。
【００５４】
つまり、ステップＳ１４６では前回の記録時の変調度ｍｉｎｉ（図１に示す装置以外の記録装置で記録された場合もあり得る）が、図１に示す装置の目標変調度ｍｗｏより大きい場合に、今回の記録パワーＰを前回の記録時の記録パワーＰｉｎｉより一定割合だけ低下させている。
【００５５】
次のステップＳ１４８ではＯＰＣ動作を終了する。なお、このステップにおいて、光ディスク２０にＡＴＩＰ情報として記録されている係数ε及び係数κを用いて、（４），（５）式から最適消去パワーＰｅｏを設定している。この後、ステップＳ１５０で上書き記録を開始する。
【００５６】
この実施例においても、上書き記録時の記録パワーを設定することで、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの状態では、常に記録パワーは変調度ｍｉｎｉとなる記録パワーＰｉｎｉで上書き記録されるため、ＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏよりも低い記録パワーが設定されることにより、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上する。ｍｗｏ＜ｍｉｎｉの状態では、前回の記録時の記録パワーＰｉｎｉより一定割合だけ低下させているため、この状態が繰り返されることで記録パワーがＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏに近づき、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００５７】
なお、記録精度の確保に重点を置く場合は、ｍｗｏ≧ｍｉｎｉの状態の時、記録パワーを最適記録パワーＰｗｏに設定しても良い。また、一連のＯＰＣ動作の内容（図６に示す特性）は、履歴としてある一定時間だけはＣＰＵ２４内のメモリ（ＲＡＭ）に保持される。そのため、連続して異なる領域に上書きする場合は、直前のＯＰＣの値（図６に示す特性）を利用でき、上書き記録を行う領域の変調度ｍｉｎｉの測定後、ステップＳ１１６〜Ｓ１３８をジャンプして、履歴のＯＰＣ値（図６に示す特性）と比較すればよい。
【００５８】
ところで、図８の変形例を図９に示す。図９では、ステップＳ１４４の代わりに、ステップＳ１６０が実行される。このステップＳ１６０においては、記録パワーＰをＰｉｎｉ・Ｙに設定してステップＳ１４８に進む。なお、ＹはＣＰＵ２４に予め設定されている１を超える値（例えば１．０５）である。
【００５９】
これは、記録パワーＰをＰｉｎｉに設定するよりは、既記録領域を再生して得た変調度ｍｉｎｉに対応する記録パワーであるＰｉｎｉより一定の割合（Ｙ）だけ記録パワーＰを高くすることにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００６０】
また、ステップＳ１６０が繰り返し実行されることで、記録パワーがＯＰＣ動作で測定される最適記録パワーＰｗｏに近付き、光ディスク及び記録装置などの耐久性を確保しつつ、記録精度を充分確保できる記録パワーに徐々に近付かせて行くことができる。
【００６１】
また、図８の他の変形例を図１０に示す。図１０では、ステップＳ１４４の代わりに、ステップＳ１６２が実行される。このステップＳ１６２においては、記録パワーＰを最適記録パワーＰｗｏに設定してステップＳ１４８に進む。この変形例は前述のように、記録精度の確保に重点を置く場合に適用されるが、もともとＯＰＣ動作で測定された最適記録パワーＰｗｏは記録しようとする光ディスク及び記録装置のその時点の組み合わせで最適と判断された記録パワーであるので、耐久性も充分確保できる。
【００６２】
なお、図７のステップＳ１２８で求めた図１４に実線で示す特性を得たのち、ステップＳ１３０〜Ｓ１３４に代わる目標変調度推定手段としてのステップにおいて、図１４の特性から変調度ｍが最大となる変調度ｍｍａｘを求め、ＣＰＵ２４の内蔵メモリに予め記憶されている係数Ｋを上記最大変調度ｍｍａｘに乗算して目標変調度ｍｋ（＝ｍｗｏ）を求める。ここで、係数Ｋは１未満の実数であり、例えば０．８程度の値である。そして、図１４に実線で示す特性から目標変調度ｍｋに対応する最適記録パワーＰｗｏを求めても良い。
【００６３】
なお、ステップＳ１２，Ｓ１４，Ｓ１１２，Ｓ１１４が請求項記載の変調度測定手段に対応し、ステップＳ２４〜Ｓ３０，Ｓ１２４〜Ｓ１２８，Ｓ１３８が既記録記録パワー算出手段に対応し、ステップＳ１８，Ｓ２０が目標変調度取得手段に対応し、ステップＳ３４〜Ｓ４０，Ｓ１４０〜Ｓ１４６が上書き記録パワー設定手段に対応し、ステップＳ１３０が変調度パラメータ算出手段に対応し、ステップＳ１３１〜Ｓ１３６が目標変調度算出手段に対応する。
【００６４】
【発明の効果】
上述の如く、請求項１に記載の発明は、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００６５】
請求項２に記載の発明は、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求めるため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００６６】
請求項３に記載の発明は、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定するため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを設定するため、ＯＰＣ動作で測定される記録パワーよりも低い記録パワーが設定され、ディスク及び記録装置などの耐久性が向上し、また、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができる。
【００６７】
請求項４に記載の発明は、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００６８】
請求項５に記載の発明は、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係及び各記録パワーと変調度パラメータとの関係に基づいて、光ディスクから読み出した目標変調度パラメータに対応する目標変調度を求めるため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００６９】
請求項６に記載の発明は、ＯＰＣ動作で得た各記録パワーと変調度との関係に基づいて、目標変調度を推定するため、光ディスクの種類と記録速度に応じた変調度がテーブルに設定されていない場合にも適用でき、目標変調度が既記録部変調度未満であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを低下させた値を設定するため、記録特性を良好な状態に維持しつつ、ディスク及び記録装置などの耐久性を確保できる記録パワーに徐々に低下させていくことができ、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに既記録記録パワーを増大させた値を設定することにより、より高い記録精度の確保が期待でき、かつ、光ディスク及び記録装置などの耐久性も保つことができる。
【００７０】
請求項７に記載の発明では、目標変調度が既記録部変調度以上であるとき上書き記録パワーに、最適記録パワーを設定するため、高い記録精度を確保することができ、ＯＰＣ動作で測定された最適記録パワーＰｗｏは記録しようとする光ディスク及び記録装置のその時点の組み合わせで最適と判断された記録パワーであるので、耐久性も充分確保できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図である。
【図２】上書き時のＯＰＣ動作の第１実施例のフローチャートである。
【図３】上書き時のＯＰＣ動作の第１実施例のフローチャートである。
【図４】上書き時のＯＰＣ動作の第１実施例の変形例のフローチャートである。
【図５】上書き時のＯＰＣ動作の第１実施例の他の変形例のフローチャートである。
【図６】テスト記録における記録パワーと変調度，γとの関係を示す図である。
【図７】上書き時のＯＰＣ動作の第２実施例のフローチャートである。
【図８】上書き時のＯＰＣ動作の第２実施例のフローチャートである。
【図９】上書き時のＯＰＣ動作の第２実施例の変形例のフローチャートである。
【図１０】上書き時のＯＰＣ動作の第２実施例の他の変形例のフローチャートである。
【図１１】光ディスクのテスト記録領域を説明するための図である。
【図１２】変調度ｍを説明するための図である。
【図１３】ＯＰＣにおける記録レーザパワーと変調度との関係を説明するための図である。
【図１４】テスト記録における記録パワーと変調度との関係を示す図である。
【符号の説明】
２０  光ディスク
２２  軸
２４  ＣＰＵ
２６  サーボ回路
２８  光ピックアップ
３０  再生回路
３２  ＡＴＩＰデコーダ
３４  デコーダ
３８  変調度測定回路
４０  Ａ／Ｄコンバータ
４２  Ｄ／Ａコンバータ
４４  記録回路
４６  エンコーダ
５０  動作モード指示部
【図１】
0003800022.tif 000002
【図２】
0003800022.tif 000003
【図３】
0003800022.tif 000004
【図４】
0003800022.tif 000005
【図５】
0003800022.tif 000006
【図６】
0003800022.tif 000007
【図７】
0003800022.tif 000008
【図８】
0003800022.tif 000009
【図９】
0003800022.tif 000010
【図１０】
0003800022.tif 000011
【図１１】
0003800022.tif 000012
【図１２】
0003800022.tif 000013
【図１３】
0003800022.tif 000014
【図１４】
0003800022.tif 000015