(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
前記テスト記録データの変調度を算出する手段と、
前記変調度の前記記録パワーに対する変化の傾きに基づき前記最適記録パワーを決定する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、前記変調度の前記記録パワーに対する変化の傾きが相対的に急峻な領域に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記制御手段は、前記変調度の前記記録パワーに対する変化の変曲点に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の装置において、
前記制御手段は、前記変調度の前記記録パワーに対する変化の傾きが相対的に急峻で略直線的に変化する領域から変調度がゼロとなる記録パワーを算出し、この記録パワーに基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項２記載の装置において、
前記制御手段は、前記変曲点に対応する記録パワーに所定のパラメータを演算することで前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項３記載の装置において、
前記制御手段は、前記変調度がゼロとなる記録パワーに所定のパラメータを演算することで前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
前記テスト記録データのγ値を算出する手段と、
前記γ値の前記記録パワーに対する変化の傾きに基づき前記最適記録パワーを決定する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、前記γ値の前記記録パワーに対する変化の傾きが相対的に急峻で略直線的に変化する領域からγ値がゼロとなる記録パワーを算出し、この記録パワーに基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６記載の装置において、
前記制御手段は、前記γ値がゼロとなる記録パワーに所定のパラメータを演算することで前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に記録可能な光ディスクにデータを記録する際の記録パワーの最適化技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、光ディスクの所定領域、具体的には光ディスクの内周部分に形成されたＰＣＡ（Power Calibration Area）とよばれる領域に記録パワーを複数段に変化させてランダムＥＦＭデータをテスト記録し、記録パワーを最適化するＯＰＣ技術が公知である。具体的には、テスト記録データの再生ＲＦ信号からパワー関数（γ）を算出し、このγ値が所定の目標値となる記録パワー（ターゲット記録パワー）を算出し、このターゲット記録パワーに基づき最適記録パワーを決定する。なお、γ値は、再生ＲＦ信号の変調度ｍと記録パワーＰｗに基づき、
【数１】
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）／（ｍ／Ｐｗ）            ・・・（１）
により定義される。右辺の（ｄｍ／ｄＰｗ）は、変調度ｍの記録パワーＰｗによる微分値である。
【０００３】
実際には、光ディスクのリードインエリア内に目標γ値や、ターゲット記録パワーから最適記録パワーを算出するためのパラメータρ、消去／記録パワー比ε、低速記録用消去／記録パワー比補償係数κなどが記録され、これらを光ディスクからの読み出して最適記録パワーや最適消去パワーを決定する。
【０００４】
すなわち、目標γ値が得られるターゲット記録パワーをＰｗｔとすると、
【数２】
最適記録パワーＰｗｏ＝ρ・Ｐｗｔ              ・・・（２）
【数３】
最適消去パワー（２倍速、４倍速）Ｐｅｏ＝ε・Ｐｗｏ・・・（３）
【数４】
最適消去パワー（１倍速）Ｐｅｏ’＝κ・Ｐｅｏ・・・（４）
となる。これら目標γ値やρ、εなどは光ディスク製造業者によりレーザ波長７８５ｎｍ、温度２５度、基準速度下で決定され、光ディスクに記録される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、γ値の算出に用いられる変調度ｍは、光ディスクの記録膜の面内感度バラツキなどにより誤差を含んでおり、この誤差に起因してγ値にも誤差が含まれることとなる。したがって、光ディスク製造業者により指定されていた目標γ値から一義的にターゲット記録パワーを決定することが困難で、このことに起因して最適記録パワーを精度良く決定することが困難となる問題があった。
【０００６】
図９には、テスト記録データの各記録パワーにおける変調度ｍ及びこの変調度ｍから（１）式に従い算出されたγ値の変化が示されている。図において、横軸はテスト記録時の記録パワーＰｗであり、左縦軸は変調度ｍ、右縦軸はγ値である。従来、目標γ値は例えば１．３に設定されており、この目標γ値近傍では図に示されるように変調度ｍの誤差に起因してγ値に大きな変動あるいはうねりが生じる場合があり、目標γ値が得られる記録パワーＰｗを一義的に決定することが困難となる。図９において、目標γ値（γｔａｒｇｅｔ）が得られる記録パワーの候補としてＰ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３が存在し、これらのいずれを選ぶかで最適記録パワーが大きく変化してしまい、本来の最適記録パワーを決定することが困難で、記録品質（波形ジッタ、エラーレート等）を維持できない問題があった。具体的には、本来の最適記録パワーより著しく低い記録パワーで記録した場合は、ジッタやエラーレートに悪影響を及ぼし、逆に本来の最適値より著しく高い記録パワーで記録した場合には繰り返し記録の耐久性に悪影響を及ぼすことになる。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、変調度ｍに誤差が含まれている場合でも精度よく最適記録パワーを決定し、これにより記録品質を確保することができる光ディスク装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録データの変調度を算出する手段と、前記変調度の前記記録パワーに対する変化の傾きに基づき前記最適記録パワーを決定する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記変調度の前記記録パワーに対する変化の傾きが相対的に急峻な領域に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録データのγ値を算出する手段と、前記γ値の前記記録パワーに対する変化の傾きに基づき前記最適記録パワーを決定する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記γ値の前記記録パワーに対する変化の傾きが相対的に急峻で略直線的に変化する領域からγ値がゼロとなる記録パワーを算出し、この記録パワーに基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする。
【００１６】
このように、本発明に係る光ディスク装置では、従来のようにγ値が目標値となる記録パワーをターゲット記録パワーとするのではなく、変調度の変化の傾き自体、あるいはγ値の変化の傾き（γ値自体ではなく）を用いてターゲット記録パワーを決定する。変調度に誤差が含まれている場合、γ値にも誤差が含まれることになるが、変調度の変化の傾向、すなわち変化の傾きあるいはγ値の傾きは誤差によらずにほぼ一定の値を示すことになる。そこで、この変化の傾きからターゲット記録パワーを精度よく決定し、ターゲット記録パワーから所定の関係を用いて最適記録パワーを決定することで、誤差によらず最適記録パワーを決定することができる。ターゲット記録パワーから最適記録パワーを決定するには、従来と同様に所定の係数をターゲット記録パワーに乗じればよいが、もちろんこれに限定されず、例えば所定のオフセット値をターゲット記録パワーに加算することで最適記録パワーを決定してもよい。ターゲット記録パワーをそのまま最適記録パワーとして用いることも可能である。演算方法は任意である。
【００１７】
本発明は、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の記録可能な光ディスクに適用することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１９】
＜第１実施形態＞
図１には、本実施形態に係る光ディスク装置の要部構成ブロック図が示されている。
【００２０】
光ディスク１０はスピンドルモータ１２によりＣＬＶ制御あるいはＣＡＶ制御される。光ディスク１０に対向して光ピックアップ部１４が設けられ、レーザダイオード（ＬＤ）から記録パワーのレーザ光を射出することにより光ディスク１０にデータを記録し、ＬＤから再生パワーのレーザ光を射出することにより記録データを読みとる。さらに、光ディスク１０が書き換え可能な光ディスクである場合には、ＬＤから消去パワー（再生パワー＜消去パワー＜記録パワー）のレーザ光を射出して記録データを消去する。記録データは、記録パワーのレーザ光により光ディスク１０の記録膜を溶融昇華してピットを形成する場合と結晶状態にある記録膜を加熱急冷してアモルファス状態に変化させることでデータを記録する場合がある。本実施形態においては、いずれの記録方法も用いることが可能である。消去は、消去パワーを照射してアモルファス状態を結晶状態に戻すことで行う。
【００２１】
データを記録する場合、記録データはエンコーダ１８にてエンコードされ、ＬＤ駆動部１６に供給される。ＬＤ駆動部１６は、エンコードされた記録データに基づき駆動信号を生成し、光ピックアップ部１４内のＬＤに供給してデータを記録する。ＬＤ駆動部１６における記録パワー値は制御部２４からの制御信号により決定される。具体的には、データを記録するに先立ち、光ディスク１０のＰＣＡエリアにおいて記録パワーを種々変化させてテストデータを記録し、該テストデータの信号品質に基づき最適記録パワーが決定される（ＯＰＣ）。
【００２２】
一方、データ再生時には、光ピックアップ部１４から出力された再生ＲＦ信号はＲＦ信号処理部２０に供給される。ＲＦ信号処理部２０は、ＲＦアンプやイコライザ、二値化部、ＰＬＬ部などを有し、ＲＦ信号をこれらで処理してデコーダ２２に供給する。デコーダ２２では、二値化されたＲＦ信号とＰＬＬ部にて生成された同期クロックに基づき信号をデコードし、再生データとして出力する。また、ＲＦ信号処理部２０からの再生ＲＦ信号は増幅された後、信号品質評価用に制御部２４にも供給される。なお、データ再生時には、この他にトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を生成してフォーカスサーボあるいはトラッキングサーボを制御する回路、光ディスク１０に形成されたウォブル信号を再生してアドレス復調あるいは回転数制御に用いる回路もあるが、これらについては従来技術と同様であるのでその説明は省略する。
【００２３】
制御部２４は、テストデータの再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する。すなわち、ＲＦ信号処理部２０からの再生ＲＦ信号の変調度ｍを算出し、従来技術のようにγ値を算出するのではなく、変調度ｍの記録パワーに対する変化の傾き自体に基づき最適記録パワーを決定してＬＤ駆動部１６に供給する。
【００２４】
図２には、図１における制御部２４の構成ブロック図が示されている。制御部２４は、具体的にはマイコンで構成され、その機能ブロックとしては変調度算出部、ＯＰＣ実行部、パワー決定部、記憶部及びパラメータ記録部を有して構成される。変調度算出部、ＯＰＣ実行部及びパワー決定部は具体的には単一のＣＰＵで構成することができ、記憶部、パラメータ記録部はＲＡＭで構成することができる。
【００２５】
制御部２４には、図示しないインターフェースを介してＲＦ信号処理部２０からの再生ＲＦ信号が供給され変調度算出部に入力される。変調度算出部は、ＲＦ信号から所定周波数の信号、例えば３Ｔ〜１１Ｔの信号のうちの１１Ｔの信号の変調度ｍを算出する。算出された変調度ｍはＯＰＣにおける各記録パワーＰｗに対応づけて記憶部に記憶される。パワー決定部は、記憶されたこれらの変調度ｍの変化に基づきターゲット記録パワーを決定し、このターゲット記録パワーに基づきパラメータ記録部に記憶されたパラメータを用いて最適記録パワーを決定する。
【００２６】
以下、フローチャートを用いてより詳細に説明する。
【００２７】
図３には制御部２４の処理フローチャートが示されている。まず、ＯＰＣ実行部は、光ディスク１０のＰＣＡエリアに記録パワーＰｗを種々変化させてテスト記録する（Ｓ１０１）。記録パワーＰｗは、例えば１４段階に変化させることができ、ＰＣＡエリアの１セクタあたり一つの記録パワーを割り当ててテストデータを記録することができる。テスト記録を行った後、制御部２４の変調度算出部は再生ＲＦ信号の１１Ｔ信号から変調度ｍを算出する（Ｓ１０２）。具体的には、１１Ｔ信号のピークレベルとボトムレベルを算出し、その差により変調度ｍを算出する。
【００２８】
変調度ｍを算出した後、ＯＰＣの各記録パワーＰｗに対応づけて変調度ｍを記憶部に記憶する。記録パワーをＰｗ１、Ｐｗ２、・・・とし、それぞれのテスト記録データの変調度をｍ１、ｍ２、・・・とした場合、記憶部には（Ｐｗ１、ｍ１）、（Ｐｗ２、ｍ２）、・・・が記憶されることになる。
【００２９】
次に、パワー決定部は、記憶部に記憶された各記録パワーＰｗｉに対する変調度ｍｉの変化の傾きを算出し、この変化の傾きに基づきターゲット記録パワーＰｗｔを決定する（Ｓ１０４）。そして、ターゲット記録パワーＰｗｔとパラメータ記録部に記憶されたパラメータに基づいて最適記録パワーＰｗｏを決定する（Ｓ１０５）。本実施形態において、変化の傾きに応じてターゲットパワーＰｗｔを決定する方法として二つの方法がある。以下、これらの方法についてそれぞれ説明する。
【００３０】
＜傾きの変化点、すなわち変曲点を用いる方法＞
図４には、制御部２４の記憶部に記憶された各記憶パワーＰｗｉに対する変調度ｍｉの変化の様子が示されている。図において、横軸は記録パワーＰｗであり、縦軸は変調度ｍである。一般に、記録パワーＰｗが増大するほど変調度ｍは増大し、記録パワーＰｗが比較的低い領域においては変調度ｍの変化は相対的に急峻かつほぼ直線的となり（図中Ｐ領域）、記録パワーＰｗが高い領域においては変調度ｍの変化は相対的になだらかとなる（図中Ｑ領域）。このように、変調度ｍには記録パワーＰｗに対して急峻に増大する領域Ｐがあり、領域Ｐにおいては、言い換えれば変調度ｍの変動に対して記録パワーＰｗが小さく変動する領域があることを示す。パワー決定部ではこの事実に着目し、変調度ｍの変化の傾きが記録パワーＰｗに対して相対的に大きい、言い換えれば記録パワーＰｗが変調度ｍに対して急峻に変化しない領域を用いてターゲット記録パワーＰｗｔを決定することを基本とする。
【００３１】
図５には、具体的な決定方法が示されている。記録パワーＰｗに対する変調度ｍの変化の傾きは急峻な領域Ｐから比較的穏やかな領域Ｑに変化し、したがってその傾きの変化点、いわゆる変曲点が存在する。図５において、Ｒ点が変調度ｍの記録パワーＰｗに対する変曲点である。パワー決定部ではこの変曲点を抽出し、変曲点に対応する記録パワーをターゲット記録パワーＰｗｔとする。変化の傾きは、Δｍ／ΔＰｗで算出できるから、パワー決定部は変化の傾きを算出し、この変化の傾きが所定値以上変化した点を変曲点として抽出し、この変曲点に対応する記録パワーをターゲット記録パワーＰｗｔとする。変曲点が１５段階の離散的な記録パワーの間に位置する場合には、変曲点に最も近い記録パワーをターゲット記録パワーとしてもよく、線形補間により変曲点に正確に対応する記録パワーを演算で算出してターゲット記録パワーとしてもよい。
【００３２】
ターゲット記録パワーＰｗｔを決定した後、パワー決定部はパラメータ記録部に記憶されているパラメータｚ１を乗じることで最適記録パワーＰｗｏを決定する。すなわち、
【数５】
Ｐｗｏ＝ｚ１・Ｐｗｔ                            ・・・（５）
である。パラメータｚ１は光ディスク製造業者が予め決定してリードインエリアに記憶させておくことができ、光ピックアップ部１４がこれを読み取ってパラメータ記録部に記憶させればよい。なお、ドライブ生産工程時に予めドライブ（装置）のメモリ（パラメータ記録部）にパラメータを記憶させてもよい。
【００３３】
本方法において、変調度ｍに誤差が含まれており、変調度ｍの絶対値が変動したとしても、変化の傾きの変化点である変曲点は一義的に決定することができるので、ターゲット記録パワーＰｗｔも一義的に決定することができる。したがって、このターゲット記録パワーＰｗｔに基づいて（５）式に従い最適記録パワーを一義的に決定することができる。本方法では、従来の目標γ値が不要となり、ρの代わりにｚ１が用いられることになる。
【００３４】
＜変調度ｍの変化の傾きを外挿する方法＞
図６には、本方法による最適記録パワー決定方法が示されている。図において、図４と同様に記録パワーＰｗに対する変調度ｍの変化の様子が示されおり、本方法においては変化の傾きが大きい領域Ｐの中で略直線的に変化する任意の２点を抽出し、該抽出された２点を結ぶ直線Ｌを延長することにより変調度ｍが０となる記録パワーを求める。なお、領域Ｐを抽出するためには、変化の傾きΔｍ／ΔＰｗを算出し、その絶対値が所定値以上となる領域を選択すればよく、略直線的か否かは、隣接する２つの変化の傾きΔｍ／ΔＰｗの差の絶対値が所定の微小値より小さいか否かで判定できる。そして、変調度ｍが０となる記録パワーをターゲット記録パワーＰｗｔとし、このターゲット記録パワーＰｗｔにパラメータ記録部に記憶されたパラメータｚ２を乗じることで最適記録パワーＰｗｏを決定する。すなわち、
【数６】
Ｐｗｏ＝ｚ２・Ｐｗｔ                      ・・・（６）
である。
【００３５】
パラメータｚ２は光ディスク製造業者が予め決定してリードインエリアに記憶させておくことができ、光ピックアップ部１４がこれを読み取ってパラメータ記録部に記憶させればよい。
【００３６】
本方法において、変調度ｍに誤差が含まれており、変調度ｍの絶対値が変動したとしても、変化の傾きは一義的に決定することができるので、ターゲット記録パワーＰｗｔも一義的に決定することができる。したがって、このターゲット記録パワーＰｗｔに基づいて（６）式に従い最適記録パワーを一義的に決定することができる。本方法でも、従来の目標γ値が不要となり、ρの代わりにｚ２が用いられることになる。
【００３７】
なお、本方法においては、変調度ｍの変化の傾きが急峻で略直線的に変化する領域から任意の２点を抽出して直線を生成しているが、もちろんこれに限定されるものではなく、３点あるいはそれ以上の点を抽出して直線を生成し、変調度ｍが０となる記録パワーを算出することも可能である。
【００３８】
＜第２実施形態＞
上述した第１実施形態においては、テストデータの変調度ｍを算出し、この変調度の変化の傾き自体に基づいてターゲット記録パワー、さらには最適記録パワーを決定しているが、この変調度ｍからさらにγ値を算出し、このγ値の変化の傾きに基づき最適記録パワーを決定することも可能である。すなわち、従来技術においては、γ値の絶対値に基づきターゲット記録パワーを決定しているため（目標γ値が得られる記録パワーをターゲット記録パワーとして決定）、γ値自体が誤差によりゆらいだ場合にはターゲット記録パワーを一義的に決定することができず、最適記録パワーも精度よく決定することが困難であったが、γ値の変化の傾き自体に基づきターゲット記録パワーを決定することでこのような問題を解消することができる。
【００３９】
図７においては、本実施形態における制御部２４の処理フローチャートが示されている。上述した第１実施形態と異なる点は、パワー決定部が変調度ｍからγ値を算出し（Ｓ２０２）、記録パワーＰｗに対するγ値の変化の傾きに基づきターゲットパワーＰｗｔを決定する点である（Ｓ２０４）。
【００４０】
図８には、本実施形態における最適記録パワー決定方法が示されている。図において、横軸は記録パワーＰｗ、左縦軸は変調度ｍ、右縦軸はγ値である。従来技術における図９に対応する図である。
【００４１】
従来においては、γ値が目標値となる記録パワーをターゲット記録パワーとしているが、本実施形態においては、図に示されるようにγ値の変化の傾きが急峻となる領域Ｓに着目し、この領域Ｓ内で略直線的に変化する領域から任意の２点を抽出して直線を生成し、この直線に基づきγ値が０となる記録パワーＰｗを算出する。領域Ｓは、γ値の変化の傾きΔγ／ΔＰｗの絶対値が所定値以上となる領域を抽出すればよく、略直線的に変化するか否かは、隣接するγ値の変化の傾き Δγ／ΔＰｗの差の絶対値が所定の微小値より小さいか否かで判定すればよい。
【００４２】
この記録パワーがターゲット記録パワーＰｗｔとなり、このターゲット記録パワーＰｗｔにあらかじめ記憶されたパラメータｚ３を乗じることで最適記録パワーＰｗｏが決定される。すなわち、
【数７】
Ｐｗｏ＝ｚ３・Ｐｗｔ                          ・・・（７）
である。パラメータｚ３も光ディスク製造業者が光ディスク１０のリードインエリアに予め記憶させておくことができ、光ピックアップ部１４でこれを読み取りパラメータ記録部に記憶する。
【００４３】
本実施形態においても、変調度ｍの誤差、すなわちγ値の誤差が生じてγ値が変動しても、その傾きからターゲット記録パワーＰｗｔを一義的に決定できる。したがって、最適記録パワーＰｗｏも精度よく決定することができる。
【００４４】
以上説明したように、本実施形態においてはγ値の絶対値に基づき最適記録パワーを決定するのではなく、変調度ｍの変化の傾き、あるいはγ値の変化の傾きに基づき最適記録パワーを決定するので、変調度ｍの誤差や絶対値の変動によらずに精度よく最適記録パワーを決定でき、記録品質を向上させることができる。
【００４５】
そして、記録パワーを最適化した後は、パラメータεを用いて（３）式、さらには（４）式を用いて最適消去パワーを決定することができる。
【００４６】
なお、上述した第１、第２実施形態では変化の傾きを用いて記録パワーを最適化する方法について説明したが、同様の方法で消去パワーを最適化することも可能である。例えば、
第１実施形態に示される方法でターゲット記録パワーを算出し、その後、パラメータｚ１ｅを用いて
【数８】
Ｐｅｏ＝ｚ１ｅ・Ｐｗｔ                  ・・・（８）
により最適消去パワーＰｅｏを決定する。ここで、ｚ１ｅはｚ１に対応するパラメータであり、一般にｚ１ｅ＜ｚ１である。もちろん、第１実施形態の他の方法（外挿方法）あるいは第２実施形態の方法を用いて最適消去パワーを決定することも可能である。
【００４７】
本発明の方法により最適消去パワーを決定し、この最適消去パワーにパラメータを乗じて最適記録パワーを求める技術も可能であるが、このようにして最適記録パワーを求める技術は本発明と均等である。最適記録パワーは最適消去パワーに依存し、最適消去パワーは本発明により決定される以上、最適記録パワーは実質的に本発明により決定されていると言うことができるからである。
【００４８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば精度よく記録パワーの最適化を図ることができ、ジッタやエラーレート、記録回数あるいは耐久性などの記録品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施形態にかかる光ディスク装置の構成図である。
【図２】  図１における制御部の構成ブロック図である。
【図３】  制御部の処理フローチャートである。
【図４】  記録パワーに対する変調度の変化の様子を示すグラフ図である。
【図５】  変調度の変化の傾きから最適記録パワーを決定する説明図である。
【図６】  変調度の変化の傾きから最適記録パワーを決定する他の説明図である。
【図７】  本発明の他の実施形態に係る制御部の処理フローチャートである。
【図８】  γ値の変化の傾きから最適記録パワーを決定する説明図である。
【図９】  記録パワーと変調度及びγ値の関係を示すグラフ図である。
【符号の説明】
１０  光ディスク、１２  スピンドルモータ、１４  光ピックアップ部、１６ＬＤ駆動部、１８  エンコーダ、２０  ＲＦ信号処理部、２２  デコーダ、２４  制御部。
【図１】
0003801000.tif 000002
【図２】
0003801000.tif 000003
【図３】
0003801000.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
0003801000.tif 000010