(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出力する複数の光源と、
前記複数の光源からの光ビームを所定方向に沿って偏向し、前記所定方向に直交する方向に所定速度で移動する被走査面に、前記偏向した複数の光ビームを異なる入射角度で照射することにより該複数の光ビームで前記被走査面上の１本の主走査ラインを分割して走査する走査手段と、
前記被走査面の前記主走査ラインにおける法線方向に沿った基準位置からの前記被走査面の位置ずれ量を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された位置ずれ量に応じた各光ビームの走査位置のずれ量及び前記所定速度に基づいて、前記所定方向に直交する方向の前記走査位置のずれ量を解消するように、前記複数の光源からの光ビームの照射タイミングを制御する制御手段と、
を有する光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光走査装置に係り、より詳しくは、複数の光源からの光ビームを所定方向に沿って偏向し、偏向した複数の光ビームを被走査面に異なる入射角度で照射することにより該複数の光ビームで被走査面を走査する光走査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、コンピュータの普及、高性能化が進み、その出力装置であるレーザプリンタにおいても高速且つ高解像度の印字が求められている。このレーザプリンタにおいて、印字の高速化、高解像度化を実現するための一つの手段として、複数の光源を使用し複数の光ビームで同時に走査することにより単位時間当たりの被走査面積を増加させる技術が考えられている。
【０００３】
複数の光源を備えた光走査装置としては、特開昭６３−２６６４１８号公報や特開平５−１８３６９８号公報には複数の光源からの光ビームで同時に被走査面を走査する光走査装置が開示されており、特開平５−２６４９１５号公報には一つの走査線を複数に分割し、分割された各走査線分に対応して割り当てられた光源を複数個用いて、該複数個の光源からの光ビームで被走査面を同時に走査する光走査装置が開示されている。
【０００４】
このように複数の走査線または分割された走査線を用いた光走査装置によって露光を行う場合、各光源からの光ビームによる被走査部同士の位置関係を所望の位置関係に保つ必要がある。
【０００５】
このため、特開平１−１８３６７６号公報には、複数の走査線の各々により形成されたトナー像をＣＣＤにより読み取り、該読取で得られたトナー像の位置ずれ量を求め、求めた位置ずれ量を補正するべく各走査線の書込み開始時間を制御する技術が開示されている。
【０００６】
ところで、走査線の像面である感光体円筒面の位置変動は、印字画像の品質に影響を与えるため、感光体の取り付けには高い精度が要求される。その一方で、感光体は印字に伴い劣化するために、容易に交換する必要があることや印字中の紙詰まり等の障害からの復帰が容易に行えることが望ましいため、感光体は画像形成装置の本体に移動可能に取り付けられている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、複数の光源を使用し、各光源からの走査線が異なる角度で感光体に入射する光走査装置の場合、感光体上の被走査部の相対位置関係を保つことが高品質の印字画像を得るために重要となるが、前述した感光体のわずかな位置変動により、走査線の感光体上の走査位置がずれ、印字画像品質の劣化が生じてしまう。
【０００８】
ここで、感光体の位置変動により生じる走査線の位置ずれについて図２、図３に従って説明する。図２、図３はオーバーフィルド方式の分割光走査装置の概略図であり、このオーバーフィルド方式による光走査装置は、従来の光走査装置が行っていた回転多面鏡に対し、収束光を入射する方式と異なり、回転多面鏡に対して回転多面鏡の分割面より広い光束を入射する。図４にオーバーフィルド方式の光走査装置の回転多面鏡に光源からの光が入射する様子を示す。この図４より明らかなように、回転多面鏡１１０に入射される入射光束１１４の幅Ｒが回転多面鏡１１０の分割面の幅Ｗより広いために回転多面鏡１１０により反射された光は、主光線１１５及び主光線１１５を反射している分割面の隣の分割面で反射された隣面光１１６（すなわち不要光）を形成する。
【０００９】
従って、図３に示すように、回転多面鏡１１０により偏向された光を、折返しミラー１０５、１０６によりそれぞれ感光体１０７へ反射させるが、隣面光１１６の入射を防ぐために折り返しミラー１０５、１０６を直線上に配置することができず、折り返しミラ−１０５、１０６は走査ビ−ム１１２、１１３が異なる角度で感光体１０７へ入射するように設置する必要がある。
【００１０】
２つの走査線が異なる角度で入射している感光体の位置変動による被走査部の位置ずれについて、図５（Ａ）〜（Ｆ）を用いて説明する。図５（Ｃ）、（Ｄ）には感光体１０７が理想の位置にある場合の走査ビ一ム１１２、１１３および被走査部１１７、１１８を示す。走査ビ−ム１１２、走査ビ−ム１１３により走査される被走査部１１７、１１８は、感光体１０７上で１本の線分とみなせる理想走査線１２７を形成するように副走査方向の位置が調整されている。
【００１１】
この状態から、感光体交換などにより感光体１０７に位置ずれが生じた状態が図５（Ａ）、（Ｂ）、（Ｅ）、（Ｆ）に示されている。このうち図５（Ａ）、（Ｂ）には感光体１０７の位置変動により走査走査ビーム１１２、１１３の光路が長くなった場合の様子を示す。光路が長くなったことで被走査部１１７、１１８は、副走査方向の位置がずれ、主走査方向に伸びる。一方、図５（Ｅ）、（Ｆ）には感光体１０７の位置変動により走査走査ビーム１１２、１１３の光路が短くなった場合の様子を示す。光路が短くなったことで被走査部１１７、１１８は、副走査方向の位置がずれ、主走査方向に縮む。
【００１２】
被走査部の副走査方向のずれ量Ｙについて図６を用いて説明する。図６に示すように、折返しミラー１０５、１０６により反射された走査ビ−ム１１２、１１３は、理想の感光体位置１１９で副走査方向位置が一致するように調整されている。
【００１３】
ところが、感光体に位置変動が生じ感光体１０７の位置に移動した場合、走査ビーム１１２、１１３による感光体１０７上の被走査部１１７、１１８の副走査方向の位置がずれる。この被走査部の副走査方向のずれ量Ｙは、折返しミラーと感光体との距離をＬ、折返しミラー間の距離をＤ、感光体の位置変動量をＸとした場合、以下の式（１）で求められる。
【００１４】
Ｙ＝Ｄ×Ｘ／Ｌ  ・・・（１）
なお、感光体表面の微小領域のみを考慮しているので、感光体の曲率による影響については無視できる。
【００１５】
図７のグラフには、式（１）に従い感光体位置変動量Ｘが１mm（実機の公差の範囲）とした場合の被走査部の位置ずれ量Ｙの特性が示されている（但し、Ｌ＝１２０mm、Ｄ＝５、１０、１５mm）。この図７より明らかなように、被走査部位置ずれ量Ｙは、感光体位置変動値Ｘが１mmであっても、数ドット程度生じる（なお、６００ｄｐｉにおいて１ドット＝４２μｍ）。そして、この被走査部の位置ずれによって走査線ずれが生じ、印字画像品質の低下の原因になる。
【００１６】
前述した特開昭６３−２６６４１８号公報、特開平５−１８３６９８号公報、特開平５−２６４９１５号公報の技術では、この感光体の位置変動による走査線ずれについては考慮されていない。また、特開平１−１８３６７６６号公報の技術では、被走査部の位置ずれを補正できるが、補正を行うに先立ち、位置ずれ量検出用のトナ−像を形成する必要があるので、補正完了後に印字を開始するまでに時間がかかるという問題がある。
【００１７】
本発明は、上記問題点を解消するために成されたものであり、被走査部の位置ずれ補正時間の短縮化を図りつつ、高速且つ高精度の光走査を行うことができる光走査装置を提供することを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の光走査装置は、光ビームを出力する複数の光源と、前記複数の光源からの光ビームを所定方向に沿って偏向し、前記所定方向に直交する方向に所定速度で移動する被走査面に、前記偏向した複数の光ビームを異なる入射角度で照射することにより該複数の光ビームで前記被走査面上の１本の主走査ラインを分割して走査する走査手段と、前記被走査面の前記主走査ラインにおける法線方向に沿った基準位置からの前記被走査面の位置ずれ量を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された位置ずれ量に応じた各光ビームの走査位置のずれ量及び前記所定速度に基づいて、前記所定方向に直交する方向の前記走査位置のずれ量を解消するように、前記複数の光源からの光ビームの照射タイミングを制御する制御手段と、を有することを特徴とする。
【００２０】
上記請求項１記載の光走査装置では、走査手段が、複数の光源からの光ビームを所定方向（主走査方向）に沿って偏向し、所定方向に直交する方向（副走査方向）に所定速度で移動する被走査面に、偏向した複数の光ビームを異なる入射角度で照射することにより該複数の光ビームで被走査面上の１本の主走査ラインを分割して走査する。
【００２１】
ここでは、走査手段として、例えば、請求項１に記載したように複数の光ビームで被走査面上の１本の走査ラインを分割して走査する分割走査方式の走査手段を採用しても良いし、複数の光ビームで被走査面上の複数の走査ラインを同時に走査する飛び越し走査方式の走査手段を採用しても良い。
【００２２】
このように、移動する被走査面に複数の光ビームを異なる入射角度で照射することにより該複数の光ビームで被走査面を走査する場合、前述したように被走査面の位置が主走査ラインの法線方向にずれると、例えば、分割走査方式では図５（Ｂ）、（Ｆ）に示すように１本の走査ラインにずれが生じてしまい、飛び越し走査方式では走査ラインの間隔にむらが生じてしまう。そこで、検出手段は、被走査面の法線方向に沿った基準位置からの被走査面の位置ずれ量を検出する。
【００２３】
前述したように被走査面の主走査ラインにおける法線方向に沿った基準位置からの位置ずれ量をＸとした場合、この位置ずれ量Ｘは、被走査面における副走査方向に沿ったずれ量Ｙと所定の関係を有する。例えば、図６のような構成では、被走査面としての感光体１０７の表面の基準位置と折返しミラー１０５、１０６との距離をＬ、該折返しミラー間の距離をＤとした場合、副走査方向のずれ量Ｙと法線方向の位置ずれ量Ｘとの関係は、以下の式（１）で表される。
【００２４】
Ｙ＝Ｄ×Ｘ／Ｌ ・・・（１）
即ち、被走査面の主走査ラインにおける法線方向の位置ずれ量より、走査位置の副走査方向のずれ量を求めることができる。
【００２５】
そこで、制御手段は、検出手段により検出された位置ずれ量に応じた各光ビームの走査位置のずれ（上記副走査方向のずれ量Ｙ）を解消するように、走査位置のずれ量及び所定速度（＝被走査面の移動速度）に基づいて、複数の光源からの光ビームの照射タイミングを制御する。
【００２６】
即ち、図５（Ａ）のように光ビームの光路長が長くなる側に被走査面の位置がずれた場合、図５（Ａ）で被走査面の移動方向（矢印方向）下流側に照射される光ビーム１１２の照射タイミングを、（走査位置のずれ量／所定速度）だけ遅らせるよう制御する。
【００２７】
一方、図５（Ｅ）のように光ビームの光路長が短くなる側に被走査面の位置がずれた場合、図５（Ｅ）で被走査面の移動方向（矢印方向）下流側に照射される光ビーム１１３の照射タイミングを、（走査位置のずれ量／所定速度）だけ遅らせるよう制御する。
【００２８】
これにより、被走査面の主走査ラインにおける法線方向の位置ずれに伴う各光ビームの走査位置のずれを補正することができる。しかも、請求項１記載の発明では、補正を行うに先立ち、位置ずれ量検出用のトナ−像を形成する必要がないので、短時間のうちに各光ビームの走査位置のずれを補正できる。即ち、走査位置ずれの補正時間の短縮化を図りつつ、高速且つ高精度の光走査を行うことができる。
【００２９】
ところで、図５（Ｂ）、（Ｆ）より明らかなように、走査手段として分割走査方式の走査手段を採用した場合、各光ビームの走査位置のずれにより１本の走査線に切れ目や段差が生じるため、光走査装置の走査性能は著しく低下してしまう。例えば、本発明に係る光走査装置を画像形成装置の露光に適用した場合には、形成される画像の画質を著しく低下させる。
【００３０】
よって、請求項１に記載した分割走査方式の走査手段を有する光走査装置については、上記のように被走査面の法線方向の位置ずれに伴う各光ビームの走査位置のずれを補正することの効果は大きい。光走査装置を画像形成装置の露光に適用した場合には、形成される画像の画質を良好に維持することができる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明に係る光走査装置の実施形態を説明する。なお、以下では、画像形成装置に内蔵された光走査装置に本発明を適用した例を説明する。
【００３２】
［光走査装置を内蔵した画像形成装置の構成］
まず、本発明に係る光走査装置を内蔵した画像形成装置の構成を説明する。
【００３３】
図１に示すように光走査装置１５０を内蔵した画像形成装置１００には、光ビームを出力する２つのレーザダイオード（以下、ＬＤと称する）１０３Ａ、１０３Ｂが設けられており、これらＬＤ１０３Ａ、１０３Ｂからの光ビームで、矢印Ｊ方向に定速回転する感光体ドラム１０７の表面を分割走査する。
【００３４】
ＬＤ１０３Ａからの光ビームは、図示しないコリメータレンズ、シリンダレンズを透過した後、回転多面鏡１１０の反射面に入射し偏向される。図２、図３に示すように、偏向された光ビーム１１３はｆθレンズ１１１を透過した後、折り返しミラー１０６で反射され、感光体ドラム１０７の表面に照射される。この光ビーム１１３は回転多面鏡１１０の回転により、図２の矢印Ｈ方向に沿って感光体ドラム１０７の表面を走査することとなり、実際には光ビーム１１３が１本の走査ラインのうち走査中心Ｃから走査終了端までの被走査部Ｒ２を走査するよう設定されている。
【００３５】
また、ＬＤ１０３Ｂからの光ビームも同様に、図示しないコリメータレンズ、シリンダレンズを透過した後、回転多面鏡１１０の反射面に入射し偏向される。図２、図３に示すように、偏向された光ビーム１１２はｆθレンズ１１１を透過した後、折り返しミラー１０５で反射され、感光体ドラム１０７の表面に照射される。この光ビーム１１２は回転多面鏡１１０の回転により、図２の矢印Ｈ方向に沿って感光体ドラム１０７の表面を走査することとなり、実際には光ビーム１１２が１本の走査ラインのうち走査開始端から走査中心Ｃまでの被走査部Ｒ１を走査するよう設定されている。
【００３６】
光走査装置１５０はオーバーフィルド方式の構成であり、図４に示すように、回転多面鏡１１０には、回転多面鏡１１０の面幅Ｗよりも広い幅Ｒの光ビーム１１４が入射する。このため、正規の反射光１１５（図１〜図３の光ビーム１１２、１１３に相当）と共に不要光１１６も隣の面で反射される。
【００３７】
光走査装置１５０では、回転多面鏡１１０で反射された不要光が感光体ドラム１０７へ向けて反射されることを回避するために、折り返しミラー１０５、１０６は同一直線上に配置されておらず、このため光ビーム１１２、１１３は感光体ドラム１０７の表面に異なる入射角度で照射される。
【００３８】
図２に示すように、光走査装置１５０には、光ビーム１１２による走査開始タイミングを検出するための走査開始検出センサ（ＳＯＳセンサ）１０９が設けられており、走査開始位置の光ビーム１１２Ｓがミラー１３０で反射されてＳＯＳセンサ１０９に入射される。ＳＯＳセンサ１０９は光ビーム１１２Ｓを検出した場合、ＳＯＳ検知信号を後述する制御部１０２へ出力する。
【００３９】
図１に示すように、画像形成装置１００には、マイクロコンピュータにより構成され画像形成装置１００の各種構成部の動作を監視・制御する制御部１０２が設けられており、この制御部１０２は、ＬＤ１０３Ａを駆動するＬＤドライバ１０４Ａ及びＬＤ１０３Ｂを駆動するＬＤドライバ１０４Ｂを制御する。
【００４０】
また、制御部１０２には、処理状況やオペレータへのメッセージ等を表示するディスプレイ１３２と、オペレータが各種動作指示や設定情報を入力するための操作部１３４と、デジタル画像データ、後述する感光体ドラム１０７の位置ずれ量検出用のテーブル、各種制御情報等を記憶した記憶部１３６とが接続されている。
【００４１】
なお、画像形成装置１００には、図示されていない帯電、現像、転写、定着、クリーニング、除電装置など電子写真プロセスに必要な装置が設けられているものとする。
【００４２】
ところで、光走査装置１５０には、感光体ドラム１０７の矢印Ｐ方向に沿った位置を検出するための位置検出装置１０８が設けられている。この位置検出装置１０８は、一例として図１１に示すように、感光体ドラム１０７の矢印Ｐ方向に沿った位置に応じた電圧を電圧計１０８Ａで検出し、検出された電圧値に応じた信号を制御部１０２へ出力するポテンショメータにより構成されている。このポテンショメータでは抵抗Ｒ、印加電圧Ｖ0 は一定であり、感光体ドラム１０７の矢印Ｐ方向に沿った位置に応じて変動する固定接点Ｓ１と移動接点Ｓ２との電位差が電圧計１０８Ａで検出される。なお、図１１は、感光体ドラム１０７及び位置検出装置１０８を、図１の矢印Ｑと逆方向に投影した図である。
【００４３】
電圧計１０８Ａで検出された電圧値に応じた信号が制御部１０２に入力された場合、制御部１０２は、記憶部１３６に記憶された感光体ドラム１０７の位置ずれ量検出用のテーブルに基づいて、検出された電圧値に応じた感光体ドラム１０７の位置ずれ量Ｘを検出する。なお、上記位置ずれ量検出用のテーブルには、検出された電圧値と、該電圧値に応じた感光体ドラム１０７の位置についての本来あるべき位置からの位置ずれ量Ｘとの対応関係を表す情報が含まれている。
【００４４】
図６を用いて前述したように、感光体ドラム１０７の表面と折返しミラー１０５、１０６との正規の距離をＬ、折返しミラー１０５、１０６間の距離をＤとした場合、感光体ドラム１０７の表面での被走査部１１７、１１８の副走査方向のずれ量Ｙと上記位置ずれ量Ｘとは、以下の式（１）で求められる。
【００４５】
Ｙ＝Ｄ×Ｘ／Ｌ  ・・・（１）
そこで、制御部１０２は、検出された位置ずれ量Ｘに応じた各光ビームによる被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙを解消するように、（ずれ量Ｙ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）だけＬＤ１０３Ａ、１０３Ｂからの光ビーム照射タイミングを遅延させるようＬＤドライバ１０４Ａ、１０４Ｂへ入力する画像データ入力開始時間を制御する。
【００４６】
本実施形態では、図１０に示すように、位置ずれ量Ｘに関する６つの境界値Ｌ１〜Ｌ６（Ｌ６＜Ｌ５＜Ｌ４＜０＜Ｌ３＜Ｌ２＜Ｌ１）が予め定められており、位置ずれ量Ｘが６つの境界値Ｌ１〜Ｌ６間のどの範囲にあるかに応じて、それぞれの範囲に対し予め設定された光ビーム照射タイミングの調整処理を行う（詳細は後述する）。
【００４７】
なお、図１、図１１の矢印Ｐ方向へのずれを正方向とする。即ち、感光体ドラム１０７の位置が矢印Ｐ方向へずれた場合（図５（Ｅ）の場合）の位置ずれ量Ｘは正の値で表され、矢印Ｐと逆方向へずれた場合（図５（Ａ）の場合）の位置ずれ量Ｘは負の値で表される。
【００４８】
ところで、図１の矢印Ｑ方向に沿った感光体ドラム１０７の位置変動は、被走査部の位置ずれによる走査線ずれをほとんど生じさせない。例えば、図８には矢印Ｑ方向の位置変動が生じる場合の、感光体ドラム１０７の直径に対する折返しミラー〜感光体ドラム１０７間の距離Ｌの変位を示している（但し、折返しミラ−間の距離Ｄを１０ｍｍ、折返しミラー〜基準位置の感光体ドラム１０７間の距離Ｌを１２０ｍｍ、矢印Ｑ方向の感光体ドラム１０７の位置変動Ｘを１ｍｍとした）。この図８より明らかなように、感光体ドラム１０７の平均的な直径１２０ｍｍの場合でも、距離Ｌの変位は約１０μｍであり、この距離Ｌの変位により生じる被走査部の位置ずれ量は無視できる量となる。
【００４９】
また、図１の紙面垂直方向に沿った感光体ドラム１０７の位置変動も、被走査部の位置ずれによる走査線ずれをほとんど生じさせない。
【００５０】
よって、感光体ドラム１０７の位置を検出する検出手段として、感光体ドラム１０７の３次元位置を精度良く検出できるように多数配置してもよいが、上記のように感光体ドラム１０７の矢印Ｐ方向に沿った位置を検出するための位置検出装置１０８を設置すれば充分である。
【００５１】
［本実施形態の作用］
次に、本実施形態の作用として、制御部１０２によって実行される被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙの解消に係る制御ルーチンを説明する。
【００５２】
図９のステップ２０２では初期化処理として、ＬＤ１０３Ａの遅延量及びＬＤ１０３Ｂの遅延量をそれぞれ「０」に初期化する。次のステップ２０４では感光体ドラム１０７の表面位置に応じた物理量として、位置検出装置１０８の電圧計１０８Ａで検出された電圧値を取り込み、次のステップ２０６では記憶部１３６に記憶された感光体ドラム１０７の位置ずれ量検出用のテーブルに基づいて、検出された電圧値に応じた感光体ドラム１０７の位置ずれ量Ｘを検出する。
【００５３】
次のステップ２０８、２１０、２１２、２１４、２１６、２１８では、位置ずれ量Ｘが６つの境界値Ｌ１〜Ｌ６間のどの範囲（図１０参照）にあるかを判定する。
【００５４】
位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ１以上の場合（ステップ２０８で肯定判定された場合）及び位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ６以下の場合（ステップ２１４で肯定判定された場合）は、位置ずれの調整困難なエラーが発生したとみなし、ステップ２３０へ進み、位置ずれの調整困難なエラーが発生した旨の警告メッセージをディスプレイ１３２に表示して、オペレータに警告する。そして、露光を行うことなく、処理を終了する。
【００５５】
また、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ１未満で境界値Ｌ２以上の場合（ステップ２１０で肯定判定された場合）、ステップ２２０へ進み、ＬＤ１０３Ａの遅延量を２Ｋにセットする。
【００５６】
なお、Ｋは、光ビーム照射タイミング調整のための予め定められた調整単位量を意味する。即ち、上記の遅延量２Ｋは、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ１未満で境界値Ｌ２以上の場合に、該位置ずれ量Ｘに応じた被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙを解消するためのＬＤ１０３Ａの遅延量（＝ずれ量Ｙ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）に相当する。
【００５７】
また、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ２未満で境界値Ｌ３以上の場合（ステップ２１２で肯定判定された場合）、ステップ２２２へ進み、ＬＤ１０３Ａの遅延量をＫにセットする。この遅延量Ｋは、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ２未満で境界値Ｌ３以上の場合に、該位置ずれ量Ｘに応じた被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙを解消するためのＬＤ１０３Ａの遅延量（＝ずれ量Ｙ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）に相当する。
【００５８】
また、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ６より大きく境界値Ｌ５以下の場合（ステップ２１６で肯定判定された場合）、ステップ２２４へ進み、ＬＤ１０３Ｂの遅延量を２Ｋにセットする。この遅延量２Ｋは、位置ずれ量Ｘが境界値より大きく境界値Ｌ５以下の場合に、該位置ずれ量Ｘに応じた被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙを解消するためのＬＤ１０３Ｂの遅延量（＝ずれ量Ｙ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）に相当する。
【００５９】
また、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ５より大きく境界値Ｌ４以下の場合（ステップ２１８で肯定判定された場合）、ステップ２２６へ進み、ＬＤ１０３Ｂの遅延量をＫにセットする。この遅延量Ｋは、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ５より大きく境界値Ｌ４以下の場合に、該位置ずれ量Ｘに応じた被走査部１１７、１１８のずれ量Ｙを解消するためのＬＤ１０３Ｂの遅延量（＝ずれ量Ｙ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）に相当する。
【００６０】
また、位置ずれ量Ｘが境界値Ｌ４より大きく境界値Ｌ３以下の場合（ステップ２１８で否定判定された場合）は、位置ずれを無視することができ、ＬＤ１０３Ａ、１０３Ｂからの光ビームの照射を遅延させる必要が無いとみなし、ＬＤ１０３Ａ、１０３Ｂの遅延量は初期設定値「０」のままとする。
【００６１】
そして、次のステップ２２８では、設定された遅延量に基づいて、ＬＤドライバ１０４Ａ、１０４Ｂによる各ＬＤの駆動タイミングを調整し、調整した駆動タイミングで各ＬＤから、デジタル画像データに基づいて変調された光ビームを出力させる。ここで遅延量は、例えば、ＳＯＳセンサ１０９からのＳＯＳ信号を基準とした信号を、カウントすることにより計数する。このようにしてデジタル画像データに基づく露光を行う。
【００６２】
以上説明した実施形態によれば、感光体ドラム表面の位置ずれ量を検出し該位置ずれ量に応じた各光ビームの走査位置のずれを解消するように、２つのＬＤからの光ビームの照射タイミングを、（走査位置のずれ量Ｌ／感光体ドラム１０７の表面の線速度Ｖ）だけ調整するので、各光ビームの走査位置のずれを精度良く補正することができる。また、従来のように位置ずれ量検出用のトナ−像の形成といった作業を行うことなく、短時間のうちに各光ビームの走査位置のずれを補正できるので、補正作業に要する時間を短縮することができる。
【００６３】
また、各光ビームの走査位置のずれを精度良く補正できるので、画像形成装置１００で形成される画像の画質を良好に維持することができる。
【００６４】
なお、上記実施形態では、分割走査方式の光走査装置に本発明を適用した例を取り上げたが、複数の光ビームで被走査面上の複数の走査ラインを同時に走査する飛び越し走査方式の光走査装置にも本発明は適用可能であり、同様の効果を得ることができる。
【００６５】
また、光走査装置により原稿面を走査して該原稿面からの反射光又は透過光に基づいて原稿を読み取る読取装置についても、本発明に係る光走査装置を適用することにより、光ビームの走査性能を安定させることができ、読取装置の読み取り性能を良好に維持することができる。
【００６６】
また、感光体ドラム１０７の位置検出装置１０８は、上記のようなポテンショメータに限定されず、例えば、感光体ドラム１０７の表面あるいは感光体ドラム１０７の表面に固着された別材質面までの距離に応じた信号を出力する装置を用いても良い。例えば、距離についての情報が電圧となって出力される渦電流式変位計を用いても良い。
【００６７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、被走査面の法線方向の位置ずれ量を検出し該位置ずれ量に応じた各光ビームの副走査方向の走査位置のずれを解消するように、複数の光源からの光ビームの照射タイミングを制御するので、位置ずれ量検出用のトナ−像の形成といった作業を省略して短時間のうちに各光ビームの走査位置のずれを補正できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】発明の実施形態に係る画像形成装置の概略構成図である。
【図２】光走査装置を副走査方向に沿って投影した図である。
【図３】光走査装置を主走査方向に沿って投影した図である。
【図４】回転多面鏡への入射光及び回転多面鏡からの出射光を示す図である。
【図５】（Ａ）は光路長が長くなる方向に感光体ドラムの位置がずれたケースを示す図であり、（Ｂ）は（Ａ）のケースでの各光ビームによる走査線を示す図であり、（Ｃ）は感光体ドラムの位置がずれていないケースを示す図であり、（Ｄ）は（Ｃ）のケースでの各光ビームによる走査線を示す図であり、（Ｅ）は光路長が短くなる方向に感光体ドラムの位置がずれたケースを示す図であり、（Ｆ）は（Ｅ）のケースでの各光ビームによる走査線を示す図である。
【図６】走査線ずれを説明するための図である。
【図７】折り返しミラー〜感光体ドラム間の距離Ｌに対する走査線ずれ量Ｙの変化を示すグラフである。
【図８】感光体ドラムの直径に対する折り返しミラー〜感光体ドラム間の距離Ｌの変化を示すグラフである。
【図９】制御部によって実行される制御ルーチンを示す流れ図である。
【図１０】感光体ドラムのずれ量Ｘに応じて設定するＬＤの遅延量を示す図である。
【図１１】位置検出装置の一構成例を示す図である。
【符号の説明】
１００  画像形成装置
１０２  制御部
１０３Ａ、１０３Ｂ  ＬＤ
１０４Ａ、１０４Ｂ  ＬＤドライバ
１０７  感光体ドラム
１０８  位置検出装置
１１０  回転多面鏡
１５０  光走査装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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