(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法において、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定過程と、
設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行う測定過程と、
を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
【請求項２】
請求項１記載のスペクトラム測定方法において、
前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の周期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴とするスペクトラム測定方法。
Ｔ＝Ｋ×Ｍ            （Ｋは２以上の整数）        ……（１）
Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ                                ……（２）
【請求項３】
所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法において、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定過程と、
測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定過程と、
設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペクトラム測定を行う測定過程と、
を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
【請求項４】
請求項３記載のスペクトラム測定方法において、
前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴とするスペクトラム測定方法。
Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ                                  ……（３）
ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
【請求項５】
請求項４記載のスペクトラム測定方法において、
前記繰り返し回数設定過程は、（４）式あるいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出することを特徴とするスペクトラム測定方法。
0003765389.tif 000006
ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの商を表す。
【請求項６】
所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにおいて、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定部と、
設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、
を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
【請求項７】
請求項６記載のスペクトラムアナライザにおいて、
前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴とするスペクトラムアナライザ。
Ｔ＝Ｋ×Ｍ            （Ｋは２以上の整数）        ……（１）
Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ                                ……（２）
【請求項８】
所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにおいて、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定部と、
測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定部と、
設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、
を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
【請求項９】
請求項８記載のスペクトラムアナライザにおいて、
前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴とするスペクトラムアナライザ。
Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ                                  ……（３）
ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
【請求項１０】
請求項９記載のスペクトラムアナライザにおいて、
前記繰り返し回数設定部は、（４）式あるいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出することを特徴とするスペクトラムアナライザ。
0003765389.tif 000007
ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの商を表す。
【請求項１１】
所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定をスペクトラムアナライザを用いて行うスペクトラム測定システムにおいて、
前記被測定装置の間欠動作の周期および前記間欠動作の動作時間を設定する外部制御装置と、
前記外部制御装置により設定された間欠動作の周期および間欠動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを前記スペクトラムアナライザに対して設定する制御指示装置と、
を備えたことを特徴とするスペクトラム測定システム。
【請求項１２】
請求項１１記載のスペクトラム測定システムにおいて、
前記制御指示装置は、  測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを前記スペクトラムアナライザに対して設定することを特徴とするスペクトラム測定システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スペクトラム測定方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定システムに係り、特に間欠動作している被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、被測定装置の電磁スペクトラムを測定するに際しては、スペクトラムアナライザ（spectrum analyser）が用いられている。
スペクトラムアナライザは、信号の周波数分析を行う測定装置であり、被計測信号を各周波数成分に分解し、振幅−周波数の関係として表示するものである。
図９にスペクトラムアナライザの測定概念の説明図を示す。
スペクトラムアナライザは、掃引型の測定装置であり、測定対象の周波数帯域８０を測定分解能周波数帯域８１毎に順次掃引し、測定分解能周波数帯域幅８１に対応する測定対象周波数信号８３の振幅の最大値あるいは最小値を検出する。このときの掃引時間は、図９中、符号Ｌに対応するものとして表される。
そして、測定周波数帯域８０に対応する振幅−周波数特性グラフ８４を、図１０に示すように、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）等の表示装置の表示画面上に表示する。
また、同一周波数帯域を繰り返し測定することができ、複数回測定した測定値の最大値あるいは最小値を更新する機能も有している。
ところで、間欠動作を行う被測定装置について電磁スペクトラムを測定する方法には以下のものがある。
【０００３】
［１］第１従来例
測定対象の周波数帯域８０に対して測定を繰り返し、複数回測定した測定値の最大値を更新する構成とし、長時間繰り返して測定を行う方法である。
［２］第２従来例
測定対象の周波数帯域８０を複数の周波数帯域に分割し、分割した各周波数帯域を間欠周期に相当する時間だけ測定する。
［３］第３従来例
上記第１従来例および第２従来例と比較して測定時間を短縮し、かつ、全測定周波数帯域において、被測定装置が動作していることを保証するために、被測定装置の間欠動作を止めて、連続動作モードに移行させ、連続動作状態でスペクトラムアナライザによりスペクトラムを測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記第１従来例によれば、全測定周波数帯域において、被測定装置が動作していることが保証される訳ではないので、目的とする測定結果が得られることが保証されないという問題点があった。
また、上記第２従来例によれば、測定対象の周波数帯域８０の全周波数帯域において、被測定装置が動作している期間が含まれることとなる。しかしながら、スペクトラムアナライザの掃引時間が長く設定されてしまうという問題点があった。
上記第３従来例によれば、測定時に被測定装置を連続動作させる必要があり、当該被測定装置が通常動作時に間欠動作しかしないような装置の場合には、測定のためだけに連続動作モードに移行するための機構を設ける必要があり、冗長な構成となってしまうという問題点があった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、間欠動作を行う被測定装置にスペクトル測定時に連続動作を行わせる必要なく、測定時間を短縮化し、確実に間欠動作時に測定を行うことが可能なスペクトラム測定方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定システムを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項１記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法において、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定過程と、設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行う測定過程と、を備えたことを特徴としている。
【０００７】
請求項２記載の構成は、請求項１記載の構成において、前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の周期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としている。
Ｔ＝Ｋ×Ｍ            （Ｋは２以上の整数）        ……（１）
Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ                                ……（２）
【０００８】
請求項３記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法において、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定過程と、測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定過程と、設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペクトラム測定を行う測定過程と、を備えたことを特徴としている。
【０００９】
請求項４記載の構成は、請求項３記載の構成において、前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としている。
Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ                                  ……（３）
ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
【００１０】
請求項５記載の構成は、請求項４記載の構成において、前記繰り返し回数設定過程は、（４）式あるいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出することを特徴としている。
0003765389.tif 000002
ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの商を表す。
【００１１】
請求項６記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定部と、設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、を備えたことを特徴としている。
【００１２】
請求項７記載の構成は、請求項６記載の構成において、前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としている。
Ｔ＝Ｋ×Ｍ            （Ｋは２以上の整数）        ……（１）
Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ                                ……（２）
【００１３】
請求項８記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定部と、測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定部と、設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、を備えたことを特徴としている。
【００１４】
請求項９記載の構成は、請求項８記載の構成において、前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としている。
Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ                                  ……（３）
ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
【００１５】
請求項１０記載の構成は、請求項９記載の構成において、前記繰り返し回数設定部は、（４）式あるいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出することを特徴としている。
0003765389.tif 000003
ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの商を表す。
【００１６】
請求項１１記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定をスペクトラムアナライザを用いて行うスペクトラム測定システムにおいて、前記被測定装置の間欠動作の周期および前記間欠動作の動作時間を設定する外部制御装置と、前記外部制御装置により設定された間欠動作の周期および間欠動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを前記スペクトラムアナライザに対して設定する制御指示装置と、を備えたことを特徴としている。
【００１７】
請求項１２記載の構成は、請求項１１記載の構成において、前記制御指示装置は、  測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを前記スペクトラムアナライザに対して設定することを特徴としている。
【００１８】
【発明の実施の形態】
次に本発明の好適な実施形態について図面を参照して説明する。
［１］第１実施形態
まず第１実施形態について説明する。
図１に測定時の概要構成ブロック図を示す。
スペクトラムアナライザ１０には、間欠動作を行う被測定装置２０が接続されている。
この場合において、スペクトラムアナライザ１０は、測定周波数帯域のスペクトラムの最大値を更新しつつ、繰り返し測定するものとする。
【００１９】
図２にスペクトラムアナライザの概要構成図を示す。
図２は、リアルタイム型スペクトラムアナライザの概要構成図である。
スペクトラムアナライザ１０は、入力端子１１と、複数のバンドパスフィルタ部１２-1〜１２-nと、複数のピーク検出器１３-1〜１３-nと、高速切替スイッチ１４と、掃引信号発生部１５と、表示部１６と、を備えて構成されている。
入力端子には、複数のバンドパスフィルタ部が並列に接続されている。
各バンドパスフィルタ部１２-1〜１２-nは、通過帯域幅が相互に重なり合うように設定されており、全バンドパスフィルタ部１２-1〜１２-nを合わせた通過帯域幅が測定対象の周波数帯域幅と等しくなるようになっている。
ピーク検出器１３-1〜１３-nは対応するバンドパスフィルタ部１２-1〜１２-nの出力信号のピーク値（最大値あるいは最小値）を検出し、更新しつつ保持する。
高速切替スイッチ１４は、掃引信号発生部１５の制御下で、ピーク検出器１３-1〜１３-nのうちいずれか一つのピーク検出器の出力信号を順次切り換えて表示部１６に出力する。
表示部１６は、高速切替スイッチ１４からの出力信号に基づいて入力信号（被計測信号）の振幅−周波数の関係を表示する。
次に動作を説明する。
【００２０】
図３に被測定装置の動作説明図を示す。
被測定装置２０は、間欠動作周期Ｔごとに動作し、その動作時間はＭとなっている。
これにより、間欠動作周期Ｔごとに動作時間Ｍの間だけ、スペクトラムが観測されることとなる。
この場合において、測定周波数帯域についての掃引時間をＬとし、
Ｔ＝Ｋ×Ｍ            （Ｋは２以上の整数）        ……（１）
Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ                                ……（２）
の関係を満たすことが可能であれば、効率よく測定が行える。
より具体的にＫ＝５の場合について図４を参照して説明する。
この場合、
0003765389.tif 000004
となる。
この場合、掃引時間Ｌは動作時間Ｍの４倍の期間であるので、測定周波数帯域を４つの周波数帯域（低域６、中低域７、中高域８、高域９）に分け、４回の測定で測定周波数帯域の測定を完了することとなる。なお、図４の例は、被測定装置の動作開始時刻と掃引開始時刻（時刻ｔ０）が一致する場合であるが、ずれている場合には、４＋１＝５回の測定で測定周波数帯域の測定を完了することとなる。同様に掃引時間Ｌが動作時間ＭのＸ倍の期間であれば、最大でＸ＋１回の測定で測定周波数帯域の測定を完了することとなる。
すなわち、第１回目の測定である第１回目の掃引動作時には、掃引開始時刻時刻ｔ０〜時刻ｔ１（＝ｔ０＋Ｍ）の期間中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開始時刻ｔ０〜時刻ｔ１の期間中に低域６の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことにより実際の測定結果は、図５（Ａ）に示すようなものとなる。
【００２１】
続いて、第２回目の測定である第２回目の掃引動作時には、時刻ｔ１〜時刻ｔ２（＝ｔ０＋２・Ｍ）の期間中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開始時刻時刻ｔ１〜時刻ｔ２の期間中に中低域７の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことにより、第２回目の測定完了時点における実際の測定結果は、図５（Ｂ）に示すようなものとなる。
次に第３回目の測定である第３回目の掃引動作時には、時刻ｔ２〜時刻ｔ３（＝ｔ０＋３・Ｍ）の期間中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開始時刻時刻ｔ２〜時刻ｔ３の期間中に中高域８の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことにより、第３回目の測定完了時点における実際の測定結果は、図５（Ｃ）に示すようなものとなる。
続いて第４回目の測定である第４回目の掃引動作時には、時刻ｔ３〜時刻ｔ４（＝ｔ０＋４・Ｍ）の期間中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開始時刻時刻ｔ３〜時刻ｔ４の期間中に高域９の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことにより、第４回目の測定完了時点における実際の測定結果は、図５（Ｄ）に示すようなものとなり、測定周波数帯域全域にわたって測定が完了することとなる。
【００２２】
［２］第２実施形態
次に図６を参照して第２実施形態について説明する。
上記第１実施形態は、間欠周期Ｔが動作時間Ｍの２以上の整数倍である場合について説明したが、実際の間欠周期Ｔは動作時間Ｍに対し、このような関係を満たすとは限らない。そこで、本第２実施形態は、より実際的な測定方法を提供するものである。
本第２実施形態において、装置構成は第１実施形態と同様であるので、図１ないし図３を参照して説明する。
図６に第２実施形態の動作説明図を示す。
被測定装置２０の間欠動作の周期をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とし、Δｔをパラメータとする。この場合においても、第１実施形態と同様に、周期Ｔごとに動作時間Ｍの間だけ、スペクトラムが観測されるものとする。
【００２３】
この場合において、測定周波数帯域についての掃引時間をＬとし、
Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ                                  ……（３）
０＜｜Δｔ｜≦Ｍ                                  ……（４）
の関係を満たすように掃引時間Ｌを設定する。
より具体的にＮ＝２、０＜Δｔ≦Ｍ５の場合について図６を参照して説明する。
この場合において、測定に最低限必要な測定繰り返し回数Ｙは、（５）式あるいは（６）式により表すことができる。
以下の説明において、Ｚは、分数式であり、ｆ（Ｚ）は、分数式の商を表すものとする。
0003765389.tif 000005
【００２４】
このように、測定繰り返し回数Ｙを設定することにより、測定周波数帯域の全域にわたって測定を完了することとなる。
従って、測定周波数帯域の測定を完了するための時間としては、
Ｙ×Ｌ
の時間が必要となる。この場合に、設定可能な時間Δｔをできる限り大きな値に設定すれば、測定繰り返し回数Ｙを小さくすることができ、測定周波数帯域の測定を完了するための時間（＝Ｙ×Ｌ）を短縮することができる。
上記構成に依れば、図６に示すように、掃引時間Ｌに対する被測定装置の動作時間の相対的な期間をΔｔだけずらしつつ、掃引時間Ｌの期間中に１回あるいは複数回測定することができ、図７（Ａ）〜図７（Ｄ）に示すように、順次測定周波数帯域内の測定を行え、最終的には測定周波数帯域の全域にわたって測定が完了することとなる。
【００２５】
［３］第３実施形態
上記各実施形態においては、被測定装置の間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍは固定となっていたが、本第３実施形態は、被測定装置の間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍを外部から設定可能な被測定装置の場合の実施形態である。
図８に第３実施形態のスペクトラム測定システムの概要構成ブロック図を示す。
スペクトラム測定システム５０は、被測定装置５１と、スペクトラムアナライザ５２と、外部制御装置５３と、制御指示装置５４と、を備えて構成されている。
被測定装置５１は、外部制御装置５３からの制御信号Ａに基づいて間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍを設定し、設定された間欠動作周期および動作時間Ｍに基づいて動作する。
制御指示装置５４は、受信部５５と、制御部５６と、計算部５７と、送信部５８と、を備えて構成されている。
【００２６】
受信部５５は、制御信号Ａを受信し、計算部５７に出力する。
制御部５６は、計算部５７を制御する。
計算部５７は、制御部５６の制御下で、制御信号Ａに対応する間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍに最適な掃引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙを計算し、送信部５８に出力する。
これにより送信部５８は、入力された掃引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙをスペクトラムアナライザ５２に設定するための制御信号Ｂを出力する。
スペクトラムアナライザ５２は、制御信号Ｂに対応する掃引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙに基づいて測定を行う。
具体的な測定については、第１実施形態あるいは第２実施形態と同様である。
【００２７】
［４］実施形態の効果
上記各実施形態によれば、被測定装置において、測定のためだけに連続動作モードを実装する必要がなく、回路構成あるいは装置構成を簡略化できるとともに、製造コストの低減も図ることができる。
また、測定時間の最適化がはかれ、実質的に測定時間を短縮化することができる。
さらに確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が含まれることとなり、所望の測定結果を確実に得ることができる。
【００２８】
【発明の効果】
本発明によれば、測定時間の最適化がはかれ、実質的に測定時間を短縮化することができる。また、確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が含まれることとなり、所望の測定結果を確実に得ることができる。
さらに被測定装置において、測定のためだけに連続動作モードを実装する必要がなく、回路構成あるいは装置構成を簡略化できるとともに、製造コストの低減も図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  第１実施形態における測定時の概要構成ブロック図である。
【図２】  スペクトラムアナライザの概要構成図である。
【図３】  被測定装置の動作説明図である。
【図４】  第１実施形態における具体的測定動作の説明図である。
【図５】  第１実施形態における具体的測定結果の説明図である。
【図６】  第２実施形態における具体的測定動作の説明図である。
【図７】  第２実施形態における具体的測定結果の説明図である。
【図８】  第３実施形態のスペクトル測定システムの概要構成ブロック図である。
【図９】  スペクトラムアナライザの測定概念の説明図である。
【図１０】  測定周波数帯域に対応する振幅−周波数特性グラフの表示例の説明図である。
【符号の説明】
１０、５２…スペクトラムアナライザ
２０、５１…被測定装置
１１…入力端子
１２-1〜１２-n…バンドパスフィルタ部
１３-1〜１３-n…ピーク検出部
１４…高速切換スイッチ
１５…掃引信号発生部
１６…表示部
５３…外部制御装置
５４…制御指示装置
５５…受信部
５６…制御部
５７…計算部
５８…送信部
【図１】
0003765389.tif 000008
【図２】
0003765389.tif 000009
【図３】
0003765389.tif 000010
【図４】
0003765389.tif 000011
【図５】
0003765389.tif 000012
【図６】
0003765389.tif 000013
【図７】
0003765389.tif 000014
【図８】
0003765389.tif 000015
【図９】
0003765389.tif 000016
【図１０】
0003765389.tif 000017