(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定パラメータを表示する表示部とを有する分光蛍光光度計を用いて試料の測定を行い、試料を測定した結果として得られる励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定データから蛍光ピークを検出する蛍光ピーク検出方法において、
上記三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点とを比較して両方に共通するピーク候補点を三次元ピーク候補点として選出し、
上記三次元ピーク候補点について、蛍光によって得られたピークか否かを判定し、判定したピークを蛍光ピークとして決定することを特徴とする蛍光ピーク検出方法。
【請求項２】
請求項１記載の蛍光ピーク検出方法において、上記データ処理部には、励起光側分光器と蛍光側分光器の波長正確さを示すパラメータが記億され、上記三次元ピーク候補点の蛍光ピーク判定時に、Ｅｘは励起光波長、Ｅｍは蛍光波長、ｎは整数とすると、
|Ｅｘ−（Ｅｍ×ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）  （式１）
あるいは、
|Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）  （式２）
を満たすか否かが判定され、上記式１又は式２を満たす三次元ピーク候補点を、蛍光ピークとして認識することを特徴とする蛍光ピーク検出方法。
【請求項３】
請求項２記載の蛍光ピーク検出方法において、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリット開口幅とサンプリング間隔が記憶され、判定対象の上記三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たしていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータが「サンプリング間隔≧（励起光側スリット開口幅あるいは蛍光側スリット開口幅の大きい方の開口幅）」の関係を満たすとき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補点と同じ蛍光波長を中心とした任意の波長領域内に他のピーク点があれば、上記三次元ピーク候補点を蛍光ピークとして認識することを特徴とする蛍光ピーク検出方法。
【請求項４】
請求項２記載の蛍光ピーク検出方法において、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリット幅とサンブリング間隔が記憶され、判定対象の上記三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たしていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータが「サンプリング間隔＜（励起光側スリット開口幅あるいは蛍光側スリット開口幅の大きい方の開口幅）」の関係を満たすとき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補点と同じ蛍光波長に他のピーク点があれば上記三次元ピーク候補点を蛍光ピークとして認識することを特徴とする蛍光ピーク検出方法。
【請求項５】
光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測定して励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定データを得る分光蛍光光度計において、
上記データ処理部は、
上記三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点とを比較して両方に共通するピーク候補点を三次元ピーク候補点として選出し、
上記三次元ピーク候補点について、蛍光によって得られたピークか否かを判定し、判定したピークを蛍光ピークとして決定することを特徴とする分光蛍光光度計。
【請求項６】
請求項５記載の分光蛍光光度計において、上記表示部は、上記三次元測定データを励起光側波長と蛍光側波長を座標とした等高線図として二次元表示を行う第１の表示領域と、この第１の表示領域に表示された三次元測定データの蛍光ピークをリスト化して表示する第２の表示領域とを有し、上記第２の表示領域に表示された蛍光ピークの内、選択された蛍光ピークに対応する励起光側波長及び蛍光側波長を上記第１の表示領域の等高線図上にカーソルにて表示することを特徴とする分光蛍光光度計。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する分野】
本発明は、分光蛍光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】
分光蛍光光度計においては、光源から放射される光線が励起光側分光器にて波長設定され、その波長設定された単色光が試料セル内の測定試料を照射、励起し、試料から発光した蛍光を蛍光側分光器及び蛍光検知器を介して検出して、蛍光（励起・発光）スペクトルを測定する。
【０００３】
このような分光蛍光光度計では、励起波長方向（Ｅｘ）および蛍光波長方向（Ｅｍ）の２方向に波長スキャンを行う機能を持つものがある。このような２方向に波長スキャンを行う分光蛍光光度計により測定された蛍光データは、励起光波長Ｅｘ、蛍光波長Ｅｍ、および蛍光強度Ｉｘｍによって表される３次元データとなる。
【０００４】
このような３次元測定データから、蛍光強度のピークを与える励起光波長および蛍光波長を求めるには、計算機によるデータ解析が有効である。
【０００５】
しかし、分光蛍光光度計により測定される蛍光強度測定データには、励起光による散乱や、分光器内の分散素子として回折格子を用いることに起因した多次光による散乱の影響が現れる。このような散乱光や多次光は、データ上では見かけ上は蛍光強度ピークとして現れる。
【０００６】
ここで、図２に散乱ピークを含む測定結果の例を示す。
図２は、励起光波長（Ｅｘ）と蛍光波長（Ｅｍ）を各座標として等高線表示した３次元測定データの例を示す図である。図２では、ピーク２１、２２以外に、２本の帯状の線が斜めに表示されているが、これは非常に強度の強い２種類の散乱ピークが検出されていることを示している。
【０００７】
このような、散乱光や多次光による見かけの蛍光ピークと真の蛍光ピークとの判別は、従来では、例えば、特開平１−２１４７２３号公報や特開平４−１５７３５０号公報に開示された例のように、任意の波長における２次元のデータの基での自動判別が行われていた。
【０００８】
上記特開平１−２１４７２３号公報に開示された例は、任意の励起光波長における真の蛍光ピークを見分けるために、励起光波長をシフトさせて蛍光波長を測定し、蛍光波長の変動のなかったピークを真の蛍光ピークとするものである。
【０００９】
また、特開平４−１５７３５０号公報に開示された例は、蛍光スペクトルから、散乱光となる励起光λｏの前後（または、ｎλｏ、１／ｎλｏの前後）の極小値（即ち最も谷となる部分）を見つけ出してその間を散乱光のピークとし、除外するものである。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、３次元の測定データにおける散乱光や多次光による見かけの蛍光ピークと真の蛍光ピークとの判別は、２次元のデータにおける判別のときほど容易ではない。
【００１１】
例えば、上述した従来技術では、蛍光ピーク波長と散乱光波長とが接近している場合や、ある程度波長が離れていても、散乱光強度が非常に大きく、蛍光強度が散乱光ピークの裾野にかかってしまうような場合には、測定データから真の蛍光波長を残して散乱光や多次光の見かけの蛍光ピークを除外することことは難しくなる。
【００１２】
例えば、図２に示すような例の場合、蛍光ピーク２１のようなピークは、散乱光ピークに非常に近接しているため、特開平４−１５７３５０号公報に示されたような散乱光となる波長前後の極小値の間のデータを全て散乱光のピークと見なして機械的に削除してしまうと、検出されることはない。
【００１３】
また、蛍光分光光度計において検出される蛍光ピークは、分光器におけるスリットの大きさ（励起光側分光器と蛍光側分光器でそれぞれスリットを持つが、大きいほうのスリットが間題となる）と、波長方向のサンプリング間隔（取得するデータの波長間隔）の関係によって、その形状が大きく変化する。
【００１４】
図８の（Ａ）は、サンプリング間隔が例えば１０ｎｍで、スリットが４ｎｍの場合を示す。この場合、４００ｎｍの波長を測定しようとしても、スリット幅分（約±２ｎｍ）の波長の光が４００ｎｍの測定値として検出されてしまう。同様に、４１０ｎｍの位置でもスリット幅分の波長の影響が出る。しかしながら、各サンプリング間隔におけるデータにおいて、隣接するデータの相互干渉は生じていない。
【００１５】
これに対して、図８の（Ｂ）は、サンプリング間隔が同じく１０ｎｍで、スリットが２０ｎｍの場合を示す。この条件の場合、スリット幅が広いため、隣接するデータの相互千渉が生じてしまう。例えば、４００ｎｍおよび４１０ｎｍのデータには、それぞれ４００ｎｍ〜４１０ｎｍの同じ領域の波長の影響が重複していることになる。
【００１６】
一般的に、図８の（Ａ）のような条件の場合、蛍光ピークとしては、明確なピーク座標を持つピーク（鋭いピーク）が検出される。
【００１７】
逆に、図８の（Ｂ）のような条件の場合の蛍光ピークとしては、ピーク座標が分かりづらい、不明瞭なピーク（山なりのピーク）と成る場合が多い。図２の例で言えば、例えば、ピーク２２のような形状である。このような形状のピークは、励起光をずらした時に、同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在せず、多少ずれてしまっていることが多く、特開平１−２１４７２３号公報のような方法では、蛍光ピークとして認識されなくなってしまう可能性がある。
【００１８】
従って、３次元のデータを扱う従来の分光蛍光光度計では、図２に示すような３次元のデータを表示し、分析者が自らピークと思われる点を見つけ出していた。
【００１９】
しかし、蛍光ピークの点数が非常に多いような試料の分析では、人の手によって全てのピークを見つけ出すのは労力がかかりすぎる。
【００２０】
また、形状がはっきりしないピークの頂点を見つけ出すのは、人の感覚では難しく信頼性も低くなる。
【００２１】
本発明の目的は、上記のような場合であっても、分光蛍光光度計における３次元測定データから、蛍光強度ピークを効率よく抽出可能な分光蛍光光度計を実現することである。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は次のように構成される。
【００２３】
（１）光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定パラメータを表示する表示部とを有する分光蛍光光度計を用いて試料の測定を行い、試料を測定した結果として得られる励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定データから蛍光ピークを検出する蛍光ピーク検出方法において、上記三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点とを比較して両方に共通するピーク候補点を三次元ピーク候補点として選出し、上記三次元ピーク候補点について、蛍光によって得られたピークか否かを判定する。
【００２４】
（２）好ましくは、上記（１）において、上記データ処理部には、励起光側分光器と蛍光側分光器の波長正確さを示すパラメータが記億され、上記三次元ピーク候補点の蛍光ピーク判定時に、Ｅｘは励起光波長、Ｅｍは蛍光波長、ｎは整数とすると、|Ｅｘ−（Ｅｍ×ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）  （式１）あるいは、|Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）  （式２）を満たすか否かが判定され、上記式１又は式２を満たす三次元ピーク候補点を、蛍光ピークとして認識する。
【００２５】
（３）また、好ましくは、上記（２）において、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリット開口幅とサンプリング間隔が記憶され、判定対象の上記三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たしていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータが「サンプリング間隔≧（励起光側スリット開口幅あるいは蛍光側スリット開口幅の大きい方の開口幅）」の関係を満たすとき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補点と同じ蛍光波長を中心とした任意の波長領域内に他のピーク点があれば、上記三次元ピーク候補点を蛍光ピークとして認識する。
【００２６】
（４）また、好ましくは、上記（２）において、上記データ処理部には、ピーク検出対象となる三次元測定データの励起光側分光器と蛍光側分光器のスリット幅とサンブリング間隔が記憶され、判定対象の上記三次元ピーク候補点が、上記式１あるいは式２を満たしていない場合であり、且つ、蛍光ピーク検出対象のデータが「サンプリング間隔＜（励起光側スリット開口幅あるいは蛍光側スリット開口幅の大きい方の開口幅）」の関係を満たすとき、判定を行っている三次元ピーク候補点の励起光方向の長波長側のデータ列を判断し、上記三次元ピーク候補点と同じ蛍光波長に他のピーク点があれば上記三次元ピーク候補点を蛍光ピークとして認識する。
【００２７】
（５）光源、励起光側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、これらの制御及び情報の収集を行うデータ処理部と、このデータ処理部から得られる情報や各種設定パラメータを表示する表示部とを有し、試料を測定して励起光側波長、蛍光側波長及び蛍光強度の三次元測定データを得る分光蛍光光度計において、上記データ処理部は、上記三次元測定データの励起光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点と、蛍光の波長スキャンを行って得られたピーク候補点とを比較して両方に共通するピーク候補点を三次元ピーク候補点として選出し、上記三次元ピーク候補点について、蛍光によって得られたピークか否かを判定し、判定したピークを蛍光ピークとして決定する。
【００２８】
（６）好ましくは、上記（５）において、上記表示部は、上記三次元測定データを励起光側波長と蛍光側波長を座標とした等高線図として二次元表示を行う第１の表示領域と、この第１の表示領域に表示された三次元測定データの蛍光ピークをリスト化して表示する第２の表示領域とを有し、上記第２の表示領域に表示された蛍光ピークの内、選択された蛍光ピークに対応する励起光側波長及び蛍光側波長を上記第１の表示領域の等高線図上にカーソルにて表示する。
【００２９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を添付図面を参照して説明する。
まず、図１を参照して、分光蛍光光度計について説明する。
図１において、光源１から放射される光線は、励起光側分光器２に入射する。励起光側分光器２の設定波長は、パルスモータ３によって制御される。パルスモータ３の動作は、データ処理装置（演算制御手段）４からインターフェース５を介してパルスモータ３に指示が出されることによって制御され、データ処理装置４からの指示は、データ処理装置４中のメモリに記憶されたプログラムによって出される。
【００３０】
励起光側分光器２によって取り出された単色光は、ビームスプリッタ１３を介して試料セル７内の測定試料８を照射し、測定試料８から放射された蛍光は蛍光側分光器９に入射する。
【００３１】
蛍光側分光器９は、パルスモータ１０によって駆動されるが、その動作はパルスモータ３と同様に、データ処理装置４により制御される。蛍光側分光器９により選択された波長の蛍光は、検知器１１に入射し、電気信号に変換される。
【００３２】
なお、励起光側分光器２及び蛍光側分光器９の動作の設定は、ＣＲＴや液晶等の表示装置をもつ操作パネル６を介して分析者によって設定される。また、励起光側分光器２及び蛍光側分光器９は、それぞれ光の入射位置及び出射位置にさまざまな幅を持つ複数のスリットを備えている（図示せず）。スリット幅は、測定に応じて任意に変更される。
【００３３】
検知器１１により変換されたその電気信号は、アナログ−デジタル変換器１２によってデジタル信号に変換される。
【００３４】
一方、励起光側分光器２から取り出された単色光の一部は、光源光量をモニタするため、ビームスプリッタ１３を介して、モニタ検知器１４に入射し、電気信号に変換される。モニタ検知器１４により変換された電気信号も、アナログ−デジタル変換器１２によってデジタル信号に変換される。
【００３５】
検知器１１からのデジタル信号（Ｓ）と、モニタ検知器１４からのデジタル信号（Ｍ）とは、データ処理装置４に送られ、お互いの比（Ｓ／Ｍ）が算出され、この比が各波長における蛍光強度として、データ処理装置４の内部メモリに記憶される。なお、モニタ検知器１４を省略し、励起光側分光器２から直接デジタル信号として光量のデータをデータ処理装置４に送ることも可能である。
【００３６】
次に、データ処理装置４における処理について説明する。
上記装置によって得られる測定データは、励起光波長、蛍光波長、蛍光強度の３パラメータから成る３次元のマトリクスデータである。測定時は、まず任意の励起光波長において、蛍光側分光器９を所定のサンプリング間隔で駆動することで蛍光波長を走査して蛍光強度を検出することで蛍光スペクトルを得る。そして、励起光側分光器２をサンプリング間隔分だけ駆動して次の波長に設定し、同様に、蛍光側分光器９を駆動することで蛍光スペクトルを得る。これを繰り返すことによって３次元の測定データを得ることが出来る。
【００３７】
データ処理装置４では、測定を繰り返すごとにその測定結果（３次元測定データ配列）及び測定条件（励起光側分光器、蛍光側分光器のそれぞれのスリット幅、サンプリング間隔等）を記憶し、分析者の要求によって出力されるようにしておく。
【００３８】
次に、３次元測定データのピーク検出の手順について示す。
ピーク検出に際しては、まず分析者が、ピーク検出対象となるデータ処理装置４に記憶された測定データを指定することから始まる。
【００３９】
測定データが指定され、ピーク検出を開始すると、図３に示す手順で判定を行う。
【００４０】
まず、手順１において、励起光波長（Ｅｘ）方向ヘスキャンする。そして、蛍光強度のピーク（極大値）検出を行い、ピークＭ１点〜ピークＭｎ点を得る。
【００４１】
次に、手順２において、蛍光波長（Ｅｍ）方向ヘスキャンする。手順１と同様に蛍光強度のピーク（極大値）検出を行い、ピークＮ１点〜ピークＮｎ点を得る。
【００４２】
手順３において、上記手順１及び２で取得した各ピーク点のデータの関連性を求める。ピーク点Ｍ１〜Ｍｍのそれぞれの蛍光波長を調べ、ピーク点Ｎ１〜Ｎｎの蛍光波長と一致するかどうかを調べる（逆に、ピーク点Ｎ１〜Ｎｍのそれぞれの励起光波長を調べ、ピーク点Ｍ１〜Ｍｎの励起光波長と一致するかどうかを調べても良い）。蛍光波長あるいは励起光波長が一致するものがあれば、それを正式な３次元ピークの頂点であると認識して、新たにピーク点Ｐ１〜Ｐｐとして、ナンバリングしていく。
【００４３】
手順４において、手順３で求めた各ピーク点Ｐに対して、正しい蛍光ピークであるかを判定する。ピーク判定としては、各ピークＰが以下の条件式を満たすかどうかで行われる。
【００４４】
|Ｅｘ−（Ｅｍ×ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）・・・条件▲１▼−１
あるいは、
|Ｅｘ−（Ｅｍ×１／ｎ）|  ＞（励起光側波長正確さ＋蛍光側波長正確さ）・・・条件▲１▼−２
ただし、ｎは整数である。
【００４５】
ここで、励起光側波長正確さ、蛍光側波長正確さとは、波長精度のことである。具体的には、装置の示す波長値が、実際の波長値とどの程度ずれる可能性があるかを規定する装置仕様値を示す。例えば、励起光が１００ｎｍの場合、散乱光のピークは１００ｎｍ、あるいはそのｎ倍や１／ｎ倍のところに現れるはずであるが、分光器の特性によって、実際にはこの波長からずれた波長のところにピークが現れてしまう。
【００４６】
したがって、条件▲１▼式の右辺は、このずれ量を吸収するために設定されるものである。
【００４７】
上式において、ピーク点Ｐが散乱光のピークであれば、上記式の左辺の解は「０」となる。ただし、励起光側波長正確さ、及び蛍光側波長正確さが、例えば、それぞれ「３ｎｍ」と設定されているときは、左辺の解が±６ｎｍ以下であれば、そのピークＰは散乱光であると見なされる。
【００４８】
この励起光側及び蛍光側波長正確さの設定値を大きくするか、小さくするかで、散乱光として削除する範囲が変わってくる。適切な設定値を選択することによって、図２の散乱光のピーク２１のようなピークに掛った、いわゆるショルダーピークのようなピークであっても、散乱光として機械的に削除してしまうことを防ぐことが出来る。
【００４９】
各ピークＰが上記条件▲１▼式を満たしている場合、蛍光ピークであると判断し、ピーク判定を完了する。
【００５０】
上記条件を満たしていない場合、散乱光、Ｎ次光、１／Ｎ次光の可能性ありと判定して、手順５の「散乱光チェック」へ進む。
【００５１】
手順５において、散乱光、Ｎ次光、１／Ｎ次光の可能性ありと判断されたピーク点Ｐを、測定条件（スリットの大きさ、サンプリング間隔）を基に２つの判定基準に分け、それぞれの条件式を満たすかどうかをチェックする。
【００５２】
判定基準（Ａ）：
蛍光スペクトルのサンプリング間隔＞＝「励起光側スリットあるいは蛍光側スリットの大きい方の大きさ」
この判定墓準（Ａ）を満たす測定条件で測定されたデータの場合、判定を行っているピーク点Ｐの励起光方向の長波長側のデータを判断し、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長に他のピーク点があれば（条件２−１）、蛍光ピークと確定する。
【００５３】
判定基準（Ｂ）：
蛍光スペクトルのサンプリング間隔＜「励起光側スリット開口幅あるいは蛍光側スリット開口幅の大きい方の開口幅」
この判定基準（Ｂ）を満たす測定条件で測定されたデータの場合、判定を行っているピーク点Ｐの励起光方向の長波長側のデータを判断し、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長とその前後何点かの蛍光波長のデータに他のピーク点があれば（条件２−２）、蛍光ピークと確定する。
【００５４】
上記判定における条件▲２▼を満たせないピーク点Ｐについては、散乱光であると判定して、蛍光ピークとしない。
【００５５】
ここで、判断基準（Ａ）、（Ｂ）を設けた理由を説明する。
発明が解決しようとする課題の欄で説明したように、実際の装置によって検出される蛍光ピークは、分光器におけるスリット開口幅の大きさ（励起光側分光器と蛍光側分光器でそれぞれスリットを持つが、大きいほうのスリット開口幅が間題となる）と、波長方向のサンプリング間隔（取得するデータの波長間隔）の大小関係によって、その形状が大きく変化する。
【００５６】
従って、本実施例においては、この大小関係を基に、上記の判断基準（Ａ）と（Ｂ）の条件を設けている。
【００５７】
判断基準（Ａ）に係る条件で測定した場合、蛍光ピークとしては、明確なピーク座標を持つ綺麗なピーク（鋭いピーク）が検出されるため、判定しているピーク点Ｐから励起光をずらしたスペクトルでも、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在することが多い。条件▲２▼−１は、この現象を利用したものである。
【００５８】
判断基準（Ｂ）に係る条件の場合の蛍光ピークとしては、ピーク座標が分かりづらい、不明瞭なピーク（山なりのピーク）と成る場合が多いため、判定しているピーク点Ｐから励起光をずらしたスペクトルでは、ピーク点Ｐと同じ蛍光波長の位置にピーク点が存在せず、多少ずれてしまっていることが多い。条件▲２▼−１は、このような状態でもピークを認識するために、同じ蛍光波長だけでなく、その前後ろの波長も判断対象とするものである。
【００５９】
そして、判断対象となった波長にもピークが存在すれば、ピーク点Ｐは蛍光ピークであるとして認識するものである。これにより、判断基準（Ｂ）の条件においても、漏れなく自動的に蛍光ピークを検出することが出来るものである。
【００６０】
上記の図３のフローチャートに示すように、これら一連の処理によって、蛍光ピークのみを効率よく検出することができる。
【００６１】
次に、本発明の蛍光分光光度計におけるＧＵＩ上の操作画面を説明する。
図４は、ピーク検出を実行する際に、操作パネル６上に表示される画面の概略図である。
図４において、表示画面は３分割されており、領域Ｉが３次元データの等高線表示画面、領域ＩＩが励起波長・蛍光波長それぞれについての２次元断面表示、領域ＩＩＩがピーク波長データ表示画面となる。
【００６２】
また、画面右にあるＰは、ピーク検出実行を指示するためのピーク検出実行アイコンである。ピーク検出を行う際には、検出対象となる三次元測定データをデータ処理装置４内のメモリから呼び出し、図４の領域Ｉに表示する。ピーク検出が実行される前の状態では、領域ＩＩＩは空白となっている。
【００６３】
ピーク検出アイコンＰをマウス等のポインティングディバイスによりクリックすることで、図５に示すように、ピーク検出のパラメータを設定するための画面が表示される。
【００６４】
ここで表示される設定項目としては、上記条件▲１▼の判断に用いる励起光及び蛍光の「波長正確さ」と、上記条件▲２▼−２で用いるピーク点Ｐの前後何点までのデータを判断範囲とするのかを示す「検出感度」と、ピークとして認識する蛍光強度レベルを設定する「検出感度」がある。これらの設定項目の値は、分析者により設定される。
【００６５】
パラメータ決定後、ピーク検出が実行され、本発明のピーク判定の結果、蛍光ピークとして判定されたピークが図４の領域ＩＩＩ上に、結果として表示される。このときの状態を図６に示す。図６の例は、図２で示した三次元測定データをピーク検出した結果である。
【００６６】
図７に、図６の領域ＩＩＩの結果表示の詳細を示す。
図７中、左より、ピークナンバー、ピーク波長Ｅｘ／Ｅｍ、ピーク値（高さ）を示す。図７のピークナンバー１は、図２のピーク２２に相当する。同じく、ピークナンバー２は、図２のピーク２１に相当する。
【００６７】
この領域ＩＩＩに示されたデータは、ピークナンバーごとにポインティングディバイスから選択することが出来、分析者が任意のピークナンバーを選択すると、領域Ｉの等高線表示画面において、選択したピークナンバーのピーク座標（蛍光波長／励起光波長）に相当する位置にカーソルが反映される。
【００６８】
図６は、ピークナンバー１を選択し、領域Ｉの対応する波長位置に十字カーソルが表示された例である。同時に、領域ＩＩにも対応する波長のスペクトルと、カーソルが表示される。
【００６９】
このように、それぞれの領域がリンクしており、分析者が数値として得られたピーク検出結果から、領域Ｉ、ＩＩを用いて、ピークの位置を視覚的にイメージし易くしている。
【００７０】
本発明の判定法を用いれば、図２のような測定結果が得られた場合であっても、図６に示すように、確実に蛍光ピークとして認識することが可能となる。
【００７１】
【発明の効果】
本発明によれば、３次元データを扱う蛍光光度計において、散乱光に非常に近いところに現れた蛍光ピークや、形状が分かりづらいピークであっても、精度よく認識することが出来る。
【００７２】
また、表示画面において、検出したピーク結果の数値データを、検出対象となった測定データの２次元及び３次元のスペクトル画面に容易に反映させることが出来るので、ユーザフレンドリーな測定環境を実現できる。
【００７３】
これにより、測定結果の解析時間短縮や、解析を行う分析者の能力に依存した解析結果の個人差を排除する、等の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用される分光蛍光光度計の概略構成図である。
【図２】分光光度計によって得られる測定データの例を示す図である。
【図３】本発明の判定におけるフローチャートである。
【図４】本発明の表示画面の一部を表した例を示す図である。
【図５】図４の画面の具体例を示す図である。
【図６】ピーク検出パラメータ設定ウィンドウの一例を示す図である。
【図７】領域ＩＩＩの具体例を示す図である。
【図８】スリット幅とサンプリング間隔を説明するための図である。
【符号の説明】
１                光源
２                励起光側分光器
３                励起光側パルスモータ
４                データ処理装置
５                インタフェース
６                操作パネル
７                試料セル
８                測定試料
９                蛍光側分光器
１０              蛍光側パルスモータ
１１              検知器
１２              Ａ／Ｄ変換器
１３              ビームスプリッタ
１４              モニタ検知器
Ｉ                ３次元データ等高線表示画面領域
ＩＩ              ２次元断面表示画面領域
ＩＩＩ            ピーク波長表示画面領域
Ｐ                ピーク検出実行アイコン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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