(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物の撮像画像に基づいて異物検査を行う異物検査装置において、
異物検査装置の各構成部分の装置設定パラメータを変更するパラメータ変更手段と、
前記装置設定パラメータの変更履歴を記録する変更履歴記録手段と、
異物検査の検査数を記録する検査数記録手段を備え、
前記変更履歴記録手段は、前記パラメータ変更手段が各構成部分に対して行う変更指令に基づいて装置設定パラメータの変更履歴を経時的に記録し、
前記検査数記録手段は、装置設定パラメータの変更前後において、変更前の検査数に加算して記録する形態、変更前の検査数と変更後の検査数とを区別してそれぞれ記録する形態、あるいは変更前の検査数を破棄して変更後の検査数のみを記録する形態のうちから選択した記録形態で記録することを特徴とする異物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線検査装置等の異物検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線を検査対象物に照射し、透過した透過Ｘ線像を撮像して撮像画像を求め、この撮像画像を画像処理して得られる処理結果に基づいて、検査対象物内に混入している異物を検出する異物検査装置が知られている。また、この異物検査装置で異物検査された検査対象物は、検査結果に基づいて異物を含む検査対象物を排除したり、異物の有無に応じて検査対象物を振り分ける等の後処理を行う場合がある。
【０００３】
異物検査装置による検査においては、検査対象物の種類、異物検査装置の使用状態や設置環境等に応じて、異物検査装置の各構成部分を予め設定しておく必要がある。設定項目としては、例えば、発生するＸ線のＸ線条件、透過Ｘ線を検出するＸ線検出器の検出感度、検出対象物を順次搬送する搬送コンベアの速度、排除装置の動作時間、あるいはセンサの取り付け位置、検出対象物に対する撮像画像の拡大倍率、等がある。
【０００４】
このような異物検査装置では、上記設定項目を装置設定パラメータによって設定することによって種々の測定状態による異物検査を実現している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来、異物検査装置は、異物検査装置の動作中に装置設定パラメータを変更すると、得られる検査結果がどの装置設定パラメータで検査されたものであるかの識別が困難となるため、異物検査装置の動作中には装置設定パラメータの変更を行わないよう設計している。一部の異物検査装置では、検査対象物中の異物を的確に検出することが主たる目的であることを考慮して、検出感度に係わる感度しきい値のみについては異物検査装置の動作中においても変更可能とするものが知られている。
【０００６】
そのため、運転中に搬送コンベアの速度や振り分け装置に係わる装置設定パラメータなど、感度しきい値以外の装置設定パラメータを変更する場合には、異物検査装置を一度停止させた後に装置設定パラメータを変更し、変更後に異物検査装置を再始動させることによって、装置設定パラメータの変更前後と検査結果との関係を明確にさせている。
【０００７】
このように、装置設定パラメータを変更する度に装置の動作を停止させると、操作が煩雑になると共に、検査効率が低下するという問題がある。
また、検査対象物の計数においても異物検査装置を動作させた状態で計数を続行すると、得られる計数結果には異なる検査条件のものが混合することになるため、異物検査装置を一度停止させなければならず、前記と同様な問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は前記した従来の異物検査装置が備える課題を解決し、異物検査装置において、動作中においても装置設定パラメータの変更を可能とすることを目的とし、また、動作中に装置設定パラメータが変更された場合であっても正確に検査数を記録することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、検査対象物の撮像画像に基づいて異物検査を行う異物検査装置において、異物検査装置の各構成部分の装置設定パラメータを変更するパラメータ変更手段と、装置設定パラメータの変更履歴を記録する変更履歴記録手段とを備えた構成とし、変更履歴記録手段は、パラメータ変更手段が各構成部分に対して行う変更指令に基づいて装置設定パラメータの変更履歴を経時的に記録する。
【００１０】
パラメータ変更手段は、操作パネルや外部制御装置から入力される装置設定パラメータの変更要求に基づいて、異物検査装置の各構成部分の装置設定パラメータを変更する。装置設定パラメータとしては、例えば、発生するＸ線のＸ線条件、透過Ｘ線を検出するＸ線検出器の検出感度、検出対象物を順次搬送する搬送コンベアの速度、排除装置の動作時間、センサの取り付け位置、検出対象物に対する撮像画像の拡大倍率等がある。
【００１１】
パラメータ変更手段は、装置設定パラメータの変更が要求されている構成部分に対してその装置設定パラメータ値を送って変更すると共に、当該装置設定パラメータの変更について構成部分及びパラメータ値を変更履歴記録手段に記録させる。変更履歴記録手段は、この装置設定パラメータの変更を経時的に記録する。これによって、異物検査装置が動作中であっても、どの構成部分の装置設定パラメータがどのように変更されたかについてその変更履歴を知ることができるため、異物検査装置を停止させることなく、パラメータ値を変更することができる。
【００１２】
また、本発明の異物検査装置は、異物検査の検査数を記録する検査数記録手段を備え、この検査数記録手段は、装置設定パラメータの変更後において、変更前の検査数に加算して記録する形態、変更前の検査数と変更後の検査数とを区別してそれぞれ記録する形態、あるいは変更前の検査数を破棄し変更後の検査数のみを記録する形態などの種々の記録形態から選択した形態によって、装置設定パラメータの変更前後の検査数を記録する。
【００１３】
これによって、異物検査装置の動作中に装置設定パラメータが変更されたとしても、変更の前後の検査数の記録形態を識別することができるため、正確に検査数を記録することができる。
また、本発明の他の態様によれば、パラメータ変更手段は変更要求された装置設定パラメータに応じて、変更順を定める変更シーケンスを形成し、この変更順に応じて構成部分に対して指令を発する。これによって、検査対象物の移動に伴う構成部分間の動作の干渉やタイミングのずれを防止することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、図を参照しながら詳細に説明する。
図１は本発明の異物検査装置の概要構成を説明するための概略構成図を示し、図２，３は本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の一態様の機能を説明するための概略機能図、及びフローチャートを示し、図４，５は本発明の異物検査装置の他のパラメータ変更手段の他の態様の機能を説明するための概略機能図、及びフローチャートを示している。
【００１５】
図１において、異物検査装置１は、装置設定パラメータ値に従って異物検査の各種処理を行う。以下、Ｘ線を検査対象物に照射し透過Ｘ線を検出することで検査対象物内に含まれる異物を検査するＸ線異物検査装置を例として説明する。
異物検査装置１は、筐体上部Ａに設けたＸ線発生手段２から、筐体Ｂ内に設けた搬送コンベア９上を移動する検査対象物ＳにＸ線を照射し、検査対象物Ｓを透過した透過Ｘ線を搬送コンベア９の下方に設けたＸ線ラインセンサ等のＸ線検出器１０によって撮像し、撮像画像を画像処理手段５で画像処理することによって、検査対象物内に存在する異物を検出する。
【００１６】
Ｘ線発生手段２は、Ｘ線を発生するＸ線発生ユニット２ａと、Ｘ線発生ユニット２ａに印加する電圧等を調整して発生するＸ線強度を制御するＸ線制御手段２ｂを備える。搬送コンベア９の上流側には光電センサ等の位置センサ１２が設けられ、図中の矢印方向に搬送される検査対象物がＸ線照射位置に到達したことを検出する。
異物検査装置１は制御手段３を備える。制御手段３は、Ｘ線発生手段２，Ｘ線検出器１０，搬送コンベア９，位置センサ１２などの電装部品を含む各構成部分や画像処理手段５を制御する他、操作パネル６の操作あるいは異物検査装置１を含む各種装置を全体的に制御する制御装置（図示していない）に基づいて各構成部分の装置設定パラメータを設定したり、設定した装置設定パラメータをパラメータ保存手段７に格納する機能を有したパラメータ変更手段４を備える。
【００１７】
また、本発明の異物検査装置１は、装置設定パラメータの変更に伴う変更履歴を記録する記録手段８を備える。パラメータ変更手段４は、操作パネル６や図示しない制御装置から装置設定パラメータを変更する変更要求を受けると、対応する各種構成部分に対して装置設定パラメータを送ってパラメータ値を変更させると共に、この変更に伴う変更履歴を記録手段８を記録させる。
筐体下部Ｃには、電源装置１１が設けられ、Ｘ線発生手段２，搬送コンベア９、Ｘ線検出器１０の他、異物検査装置１が備える各構成部分に対する電力供給を行っている。
【００１８】
上記構成の異物検査装置によれば、パラメータ変更手段４及び記録手段８を備える構成とすることによって、異物検査装置が動作中であっても、どの構成部分の装置設定パラメータがどのように変更されたかについてその変更履歴を記録し知ることができるため、異物検査装置を停止させることなく、パラメータ値を変更することができる。
【００１９】
以下、図２，３を用いて本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の一態様を説明し、図４，５を用いて本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の他の態様を説明する。
はじめに、本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の一態様を説明する。図２に示す概略機能図において、制御手段３はパラメータ変更手段４を備える。パラメータ変更手段４は、操作パネル６、構成機器１５、パラメータ保存手段７、記録手段８と接続される。
【００２０】
パラメータ変更手段４は、操作パネル６あるいは図示しない制御装置から装置設定パラメータを変更する変更要求を受け、この変更要求に基づいて、異物検査装置１が備える搬送コンベア９等の各種構成部分や、異物検査装置１に隣接して配置される振り分け装置１４等の機器などの構成機器１５（図２において破線で囲む部分）に装置設定パラメータを送ってパラメータ変更を行わせる。
また、パラメータ変更手段４は、パラメータ保存手段７に保存されている装置設定パラメータに内で変更要求されたものについてそのパラメータ値を更新し、以後この装置設定パラメータ値を用いて異物の検査処理を行う。
【００２１】
さらに、パラメータ変更手段４は、本発明に特徴的な処理として記録手段８に装置設定パラメータの変更履歴、及び検査数を記録させる。図２に示す構成において、記録手段８は変更履歴記録手段８ａと検査数記録手段８ｂを備える。変更履歴記録手段８ａは、装置設定パラメータを変更する構成部分及びそのパラメータ値を変更毎に記録し変更履歴を形成する。この変更履歴を例えば操作パネルが備える表示手段に表示することによって、パラメータ値を変更した構成部分及びその変更したパラメータ値を知ることができる。
【００２２】
検査数記録手段８ｂは検査した検査対象物の検査数を記録する手段であり、異物検査装置が備えるセンサあるいは構成機器の出力を用いた計数手段１３によって検査した検査対象物を計数しこの計数値を記録する。検査数記録手段８ｂは、検査数の記録形態を装置設定パラメータの変更後において選択することができる。検査数の記録形態としては、例えば、装置設定パラメータの変更後において、変更前の検査数に加算して記録する形態、変更前の検査数と変更後の検査数とを区別してそれぞれ記録する形態、あるいは変更前の検査数を破棄し変更後の検査数のみを記録する形態などの種々の記録形態があり、装置設定パラメータの変更時に変更することができる。この選択は、装置設定パラメータの変更時において、パラメータ変更手段４から操作パネル６に対して選択を表示させる指令を出し、操作パネル６からの選択によって設定することができる。
【００２３】
検査数の記録形態の選択は、装置設定パラメータの変更に応じて行うことができるため、異物検査装置の動作中に装置設定パラメータが変更されたとしても、変更の前後の検査数の記録形態を識別することができる。
【００２４】
次に、図３のフローチャートを用いて、図２に示すパラメータ変更手段が行うパラメータ変更の手順を説明する。
パラメータ変更手段４は、操作パネルあるいは図示しない制御装置からパラメータ変更要求を入力すると（ステップＳ１）、変更要求を解析して変更対象の構成機器、及び変更する装置設定パラメータの値等の解析データを求める（ステップＳ２）。パラメータ変更手段４は、求めた解析データに基づいて、パラメータ値を変更する指令を形成し対応する構成機器に対して出力する。指令としては、例えば、パラメータ変更先に出力する指令であって、装置設定パラメータを変更パラメータ値に変更する変更指令、操作パネル６に出力する指令であって、検査数記録手段８ｂでの検査数の取り扱いを選択させる表示指令、変更履歴記録手段８ａに出力する指令であって、パラメータ変更先及び変更パラメータ値を記録させる記録指令等がある。
【００２５】
なお、パラメータ変更手段４が操作パネル６に対して検査数の記録形態を選択させる選択指令を出すと、操作パネル６は表示部分にこの選択指令を表示し、装置設定パラメータを変更した後にどのような記録形態で検査数を記録するかを選択させる（ステップＳ３）。
【００２６】
前記表示指令に応じて、操作パネルから検査数の記録態様が選択される（ステップＳ４）と、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対して選択された記録態様を指令する。検査数記録手段８ｂは、パラメータが変更された後に得られる検査数については、指令された記録態様に従って記録する。なお、この検査数の記録において、パラメータの変更時に如何なる記録態様で記録したかについて対応づけて記録することによって、検査数の記録内容とパラメータの記録態様との関係を確認することができる（ステップＳ５）。
ステップＳ４の工程において検査数の記録態様が選択されない場合には、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対して予め設定しておいた記録態様を指令して記録させる（ステップＳ６）。
【００２７】
次に、本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の他の態様を説明する。この態様は、変更要求された装置設定パラメータに応じて変更順を定める変更シーケンスを形成し、この変更順に応じて構成部分に対して指令を発し、これによって、装置設定パラメータの設定順による誤動作を防止するものである。ここで、図４に示す概略構成は前記図２に示す概略構成と共通する部分については説明を省略する。
【００２８】
制御手段３はパラメータ変更手段４を備え、図２に示す概略構成と同様に、操作パネル６、構成機器１５、パラメータ保存手段７、記録手段８と接続される。図４に示すパラメータ変更手段４は、操作パネル６や制御装置（図示していない）からの変更要求を解析する解析手段４ａ，解析結果に基づいて各種指令を出力する指令手段４ｂ、及び構成機器１５の動作状態信号を入力して動作を確認する動作確認手段４ｃを備える。
【００２９】
解析手段４ａは、変更要求を解析して変更対象の構成機器、及び変更する装置設定パラメータの値等の解析データを求める。指令手段４ｂは、解析データに基づいて変更シーケンスを作成する変更シーケンス作成手段４ｂ１と、作成した変更シーケンスに基づいてパラメータ保存手段７や変更履歴記録手段８ａや検査数記録手段８ｂや構成機器１５等の各部に対応する指令を出力する指令出力手段４ｂ２を備える。なお、指令出力手段４ｂ２が各部に出力する各指令は、前記態様においてパラメータ変更手段４と同様とすることができる。
【００３０】
変更シーケンスは、装置設定パラメータを変更する際に、関連する構成機器に対する指令の順序及びタイミングを定めるものであり、これによって、パラメータの設定順によって生じる誤動作を防止するものである。例えば、搬送コンベアの搬送速度を変更する場合、搬送速度をパラメータ値を変更した後、所定時間経過を有した変更シーケンスに従って振り分け装置の振り分け速度やタイミングの設定を変更する。所定時間は、例えば検査結果が得られてから振り分け装置に検査対象物が達するまでの時間とすることができ、このような所定時間を設けることによって、異なる検査対象物の検査結果による誤った振り分け動作を防止することができる。なお、変更シーケンスは、変更シーケンス形成用のプログラムを用意し、解析結果に基づいて形状することができる。
【００３１】
指令出力手段４ｂ２は、変更シーケンス作成手段４ｂ１で作成した変更シーケンスに従って各部に指令を出力する。このとき、変更シーケンスを構成機器１５の各部分の動作状態に応じて実行する場合には、動作確認手段４ｃからの確認信号に基づいて変更シーケンスを実行する。
【００３２】
次に、図５のフローチャートを用いて、図４に示すパラメータ変更手段が行うパラメータ変更の手順を説明する。
パラメータ変更手段４は、操作パネルあるいは図示しない制御装置からパラメータ変更要求を入力すると（ステップＳ１１）、解析手段４ａは変更要求を解析して変更対象の構成機器、及び変更する装置設定パラメータの値等の解析データを求める（ステップＳ１２）。変更シーケンス作成手段４ｂ１は、求めた解析データに基づいて、パラメータ値を変更する指令及びその手順を変更シーケンスとして作成する（ステップＳ１３）。
【００３３】
パラメータ変更手段４（指令出力手段４ｂ２）が操作パネル６に対して検査数の記録形態を選択させる選択指令を出すと、操作パネル６は表示部分にこの選択指令を表示し、装置設定パラメータを変更した後にどのような記録形態で検査数を記録するかを選択させる。表示指令に応じて、操作パネルから検査数の記録態様が選択される（ステップＳ１４）と、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対して選択された記録態様を指令する。検査数記録手段８ｂは、パラメータが変更された後に得られる検査数については、指令された記録態様に従って記録する。なお、この検査数の記録において、パラメータの変更時に如何なる記録態様で記録したかについて対応づけて記録することによって、検査数の記録内容とパラメータの記録態様との関係を確認することができる（ステップＳ１５）。ステップＳ１４の工程において検査数の記録態様が選択されない場合には、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対して予め設定しておいた記録態様を指令して記録させる（ステップＳ１６）。
【００３４】
指令出力手段４ｂ２は、変更シーケンスが定める順序に従って対応する構成機器に対して指令を出力する。指令としては、前記の態様と同様に、パラメータ変更先に出力する指令であって、装置設定パラメータを変更パラメータ値に変更する変更指令、操作パネル６に出力する指令であって、検査数記録手段８ｂでの検査数の取り扱いを選択させる表示指令、変更履歴記録手段８ａに出力する指令であって、パラメータ変更先及び変更パラメータ値を記録させる記録指令等がある（ステップＳ１７）。
【００３５】
変更シーケンスが動作確認を要求する場合には、動作確認手段４ｃによって要求される部分の動作を確認した後（ステップＳ１８）、ステップＳ１７の工程で次の変更シーケンスに従って指令を出力する。変更シーケンスが設定する全指令が終了すると、設定された変更シーケンスによるパラメータ変更が完了し、この後は前記ステップＳ１４〜ステップＳ１６の工程で設定された記録態様で検査数の記録が行われる。
なお、ステップＳ１９の工程において、動作確認が得られない場合には、表示手段に表示する（ステップＳ２０）。
【００３６】
本発明の実施形態によれば、パラメータ変更手段は変更要求された装置設定パラメータに応じて、変更順を定める変更シーケンスを形成し、この変更順に応じて構成部分に対して指令を発する。これによって、検査対象物の移動に伴う構成部分間の動作の干渉やタイミングのずれを防止することができる。
【００３７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の異物検査装置によれば、動作中においても装置設定パラメータの変更を可能とすることができ、また、動作中に装置設定パラメータが変更された場合であっても正確に検査数を記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の異物検査装置の概要構成を説明するための概略構成図である。
【図２】本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の一態様の機能を説明するための概略機能図である。
【図３】本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の一態様の機能を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の異物検査装置の他のパラメータ変更手段の他の態様の機能を説明するための概略機能図である。
【図５】本発明の異物検査装置の他のパラメータ変更手段の他の態様の機能を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１…異物検査装置、２…Ｘ線発生手段、２ａ…Ｘ線発生ユニット、２ｂ…Ｘ線制御手段、３…制御手段、４…パラメータ変更手段、４ａ…解析手段、４ｂ…指令手段、４ｂ１…変更シーケンス作成手段、４ｂ２…指令出力手段、４ｃ…動作確認手段、５…画像処理手段、６…操作パネル、７…パラメータ保存手段、８…記録手段、８ａ…変更履歴記録手段、８ｂ…検査数記録手段、９…搬送コンベア、１０…Ｘ線検出器（Ｘ線ラインセンサ）、１１…電源装置、１２…センサ（光電センサ）、１３…計数手段、１４…振り分け装置、１５…構成機器、Ｓ…検査対象物。
【図１】
0003733586.tif 000002
【図２】
0003733586.tif 000003
【図３】
0003733586.tif 000004
【図４】
0003733586.tif 000005
【図５】
0003733586.tif 000006