(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
供給リールに巻かれたＴＡＢを走行させ、このＴＡＢの試験を行い収容リールに巻き取るＴＡＢハンドラであって、
前記ＴＡＢの順位を先頭から計数するカウンタと、
前記ＴＡＢの不良品判定における順位を格納する第１のメモリと、
前記ＴＡＢの最終順位を記憶する第２のメモリを備え、
前記第１のメモリに格納された順位を検索して前記第２のメモリに記憶された順位との差に前記ＴＡＢの１サイズ長を乗算し、前記ＴＡＢを乗算距離分巻き戻し、不良品判定のＴＡＢを再試験することを特徴とするＴＡＢハンドラ。
【請求項２】
前記ＴＡＢの供給側において前記ＴＡＢを撮像し、前記ＩＣチップの有無でリーダテープか測定対象ＴＡＢかを判定し、前記ＴＡＢの先頭位置を確定する第１のカメラと、
前記ＴＡＢの収納側において前記ＴＡＢを撮像し、前記ＩＣチップの有無でリーダテープか測定対象ＴＡＢかを判定し、前記ＴＡＢの最終位置を確定する第２のカメラを備えることを特徴とする請求項１記載のＴＡＢハンドラ。
【請求項３】
収納側のスプロケットと前記第２のカメラとの間にリジェクト用のパンチを配置し、再選別で不良判定の前記ＴＡＢを打ち抜くことを特徴とする請求項１または２記載のＴＡＢハンドラ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＴＡＢに選別痕をつけないＴＡＢハンドラについてのものである。ＴＡＢハンドラは、ＴＡＢを自動搬送する。ＴＡＢハンドラはＩＣテスタと接続し、ＩＣテスタはＴＡＢ上のＩＣの電気的特性を測定する。ＴＡＢハンドラは、ＩＣテスタのテストヘッドと接続したプローブカード上にＴＡＢを位置決めし、ＩＣテスタの測定結果をもとにＴＡＢを選別する。ＴＡＢには、例えばＬＣＤ（液晶ディスプレイ）の駆動用ＩＣがある。
【０００２】
【従来の技術】
次に、ＴＡＢの一例を図４により説明する。図４はＴＡＢ１の部分拡大図である。ＴＡＢ１の中央部にはＩＣチップ１Ａが実装され、ＩＣチップ１Ａの両側には、ＩＣチップ１Ａをメッキパターン１Ｃで接続するテストパッド１Ｂが配置される。良品判定のＴＡＢ１の非実装部には、後述するマーク用パンチによるパンチ穴１Ｄがあけられる。ＴＡＢ１は図４で示したパターン図が等間隔で連続して、形成されている。この明細書では、前記パターン図の単位を１デバイスと呼ぶこととする。
【０００３】
次に、従来技術によるＴＡＢハンドラの構成を図５により説明する。図５において、供給リール２Ａに巻かれたＴＡＢ１を収容リール２Ｂは巻き取る。スプロケット７Ａとスプロケット７Ｂは回転してＴＡＢ１を走行させる。スプロケット７Ａとスプロケット７Ｂの間のＴＡＢ１が試験される。
【０００４】
スプロケット３Ａは、供給リール２Ａが送り出すＴＡＢ１をプッシャ９側に走行させる。スプロケット３Ｂは、収容リール２Ｂ側にＴＡＢ１を走行させる。プーリ４Ａは回転中心を固定し、スプロケット３Ａとスプロケット７Ａ間に介在して配置される。
【０００５】
テンションプーリ６Ａは、プーリ４Ａとスプロケット７Ａ間に配置され、ＴＡＢ１を上昇方向に押圧する。テンションプーリ６Ｂは、スプロケット７Ｂとプーリ４Ｂ間に配置され、ＴＡＢ１を上昇方向に押圧する。ガイド５Ａは回転中心を固定し、プーリ４Ａとテンションプーリ６Ａ間に配置され、ＴＡＢ１を案内する。ガイド５Ｂは回転中心を固定し、テンションプーリ６Ｂとプーリ４Ｂ間に配置され、ＴＡＢ１を案内する。
【０００６】
カメラ１５Ａはプーリ４Ａとガイド５Ａ間に配置され、供給リール２Ａから送り出されたＴＡＢ１を撮像する。カメラ１５Ａは画像処理装置１５と接続され、画像処理装置１５はＴＡＢ１上のＩＣチップ１Ａの有無やパンチ穴１Ｄの有無を認識する。
【０００７】
カメラ１５Ｂはリジェクト用のパンチ１１Ａとプーリ４Ｂ間に配置され、収容リール２Ｂに収納するＴＡＢ１の状態を取り込む。カメラ１５Ｂは画像処理装置１５と接続され、画像処理装置１５はＴＡＢ１上のデバイスの有無、良品マーク用のパンチ穴１Ｄの有無を認識する。
【０００８】
リジェクト用のパンチ１１Ａはスプロケット７Ｂとプーリ４Ｂ間に配置され、テストヘッド１４で測定された測定結果に基づきＩＣチップ１Ａを打ち抜く。マーク用のパンチ１１Ｂはスプロケット７Ｂとプーリ４Ｂ間に配置され、テストヘッド１４で測定された測定結果に基づきＩＣチップ１Ａやテストパッド１Ｂやメッキパターン１Ｃを傷つけない位置に良品マークのパンチ穴１Ｄを開ける。
【０００９】
カメラ１５Ｃはテストヘッド１４の下方に配置され、テストヘッド１４の中央の中空穴を通して、ＴＡＢ１を撮像する。カメラ１５Ｃは画像処理装置１５と接続され、画像処理装置１５はＴＡＢ１の接触位置を補正演算する。
なお、図５は特願平06−054581号明細書の図１と技術的に同じものである。
【００１０】
次に、図５のＴＡＢハンドラの動作を図６のフローチャートにより説明する。図６のステップ６０１では、カメラ１５ＡはＴＡＢ１を撮像する。ステップ６０２では、前記画像が画像処理装置１５に送出され、ＴＡＢ１上のＩＣチップ１Ａの有無が判定される。次に、前記画像のＴＡＢ１は測定部であるプローブカード１２上に搬送される。
【００１１】
ステップ６０２で、ＩＣチップ１Ａが有りと判定された場合は、ステップ６０３に進む。ステップ６０２で、ＩＣチップ１Ａが無しと判定された場合は、ステップ６０３を飛び越えて、ステップ６０４に進む。
【００１２】
ステップ６０３では、プッシャ９・１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカード１２と接触させ、テストヘッド１４により測定する。測定後のＴＡＢ１はマーク用のパンチ１１Ｂ上に搬送される。
【００１３】
ステップ６０４では、マーク用のパンチ１１Ｂの位置にあるＴＡＢ１の試験結果で、次のステップを分岐する。ステップ６０４で、ＴＡＢ１が良品と判定されたときは、ステップ６０５に進む。ステップ６０４で、ＴＡＢ１が不良品と判定されたときは、ステップ６０５を飛び越えて、ステップ６０６に進む。
【００１４】
ステップ６０５では、マーク用のパンチ１１ＢはＴＡＢ１に良品マーク用のパンチ穴１Ｄをあける。ステップ６０６では、収容方向にＴＡＢ１を１デバイス分搬送する。ステップ６０７では、供給リール２Ａ内の全てのＴＡＢ１に対して測定が完了したかを判断する。完了していない場合は、ステップ６０１の前段に戻る。完了したと判断した場合は、一連の動作を終了する。
【００１５】
図６で説明した動作は、通常の測定における工程を示している。しかしながら、１回目の測定結果で不良と判定されたＴＡＢ１の中に良品がないかを再試験する再選別の工程を選択する場合がある。
【００１６】
次に、前述の再選別の動作を図７のフローチャートにより説明する。図７のステップ７０１では、図６の工程により収容リール２Ｂに収容されたＴＡＢ１を、スプロケット３Ａ・３Ｂおよびスプロケット７Ａ・７Ｂを駆動して、供給リール２Ａに巻き戻す。すなわち、ステップ７０１では、図６の開始状態と同じになる。
【００１７】
次に、図７のステップ７０２では、カメラ１５ＡはＴＡＢ１を撮像する。ステップ７０３では、前記画像が画像処理装置１５に送出され、ＴＡＢ１上のＩＣチップ１Ａの有無と前工程であけた良品マーク用のパンチ穴１Ｄの有無が判定される。次に、前記画像のＴＡＢ１は測定部であるプローブカード１２上に搬送されている。
【００１８】
ステップ７０３で、ＩＣチップ１Ａが有り、かつ、良品マークのパンチ穴１Ｄ無しと判定された場合は、ステップ７０４に進む。ステップ７０３で、前述の場合以外は、ステップ７０４を飛び越えて、ステップ７０５に進む。
【００１９】
ステップ７０４では、プッシャ９・１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカード１２に接触させ、テストヘッド１４により測定する。すなわち、図６の工程で測定結果が不良となったＴＡＢ１のみを測定する。
【００２０】
ステップ７０５では、マーク用のパンチ１１Ｂの位置にあるＴＡＢ１の試験結果結果で、次のステップを分岐する。ステップ７０５で、ＴＡＢ１が良品と判定されたときは、ステップ７０６に進む。ステップ７０５で、ＴＡＢ１が不良品と判定されたときは、ステップ７０６を飛び越えて、ステップ７０７に進む。
【００２１】
ステップ７０６では、マーク用のパンチ１１ＢはＴＡＢ１に良品マーク用のパンチ穴１Ｄをあける。次に、前記ＴＡＢ１はリジェクト用のパンチ１１Ａ上に搬送される。ステップ７０７では、ステップ７０５での判定結果により、次のステップが分岐する。すなわち、ＩＣが不良品であるＴＡＢ１は、ステップ７０８で、リジェクト用のパンチ１１ＡでＩＣチップ１Ａが打ち抜かれる。
【００２２】
ステップ７０９では、収容方向にＴＡＢ１を１デバイス分搬送する。ステップ７１０では、供給リール２Ａ内の全てのＴＡＢ１に対して測定が完了したかを判断する。完了していない場合は、ステップ７０２の前段に戻る。完了したと判断された場合は、一連の動作を終了する。
【００２３】
このように、１回目の測定（以下、初選別という）のＴＡＢを再選別することにより、歩どまりが向上する場合がある。また、初選別で不良のＴＡＢのＩＣチップを打ち抜く工程を選択する場合もある。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
従来の装置では、再選別の工程で、初選別の測定結果を判別する方法として良品穴の有無により判断した。しかし、図４に示されるＴＡＢ１は過密実装の傾向にあり、ＩＣチップ１Ａ、テストパッド１Ｂ、メッキパターン１Ｃを傷付けない領域にパンチ穴１Ｄを確保することが困難となってきた。ＴＡＢに少なくとも、パンチ穴をあけることなく、初選別の試験結果を識別するＴＡＢハンドラが求められている。
【００２５】
この発明は、初選別の工程でＴＡＢの試験結果の順番を格納するメモリを備えることにより、初選別でＴＡＢに選別痕をつけないＴＡＢハンドラの提供を目的とする。
【００２６】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、この発明は、供給リールに巻かれたＴＡＢを走行させ、このＴＡＢの試験を行い収容リールに巻き取るＴＡＢハンドラであって、前記ＴＡＢの順位を先頭から計数するカウンタと、前記ＴＡＢの不良品判定における順位を格納する第１のメモリと、前記ＴＡＢの最終順位を記憶する第２のメモリを備え、前記第１のメモリに格納された順位を検索して前記第２のメモリに記憶された順位との差に前記ＴＡＢの１サイズ長を乗算し、前記ＴＡＢを乗算距離分巻き戻し、不良品判定のＴＡＢを再試験する。
【００２７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記ＴＡＢの供給側において前記ＴＡＢを撮像し、前記ＩＣチップの有無でリーダテープか測定対象ＴＡＢかを判定し、前記ＴＡＢの先頭位置を確定する第１のカメラと、前記ＴＡＢの収納側において前記ＴＡＢを撮像し、前記ＩＣチップの有無でリーダテープか測定対象ＴＡＢかを判定し、前記ＴＡＢの最終位置を確定する第２のカメラを備える。
【００２８】
請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の発明において、収納側のスプロケットと前記第２のカメラとの間にリジェクト用のパンチを配置し、再選別で不良判定の前記ＴＡＢを打ち抜くことを特徴とする。
【００３０】
【発明の実施の形態】
次に、この発明による一実施形態を図面を参照して説明する。図１はこの発明の一実施形態によるＴＡＢハンドラの構成を示している。図１のＴＡＢハンドラ１００は図５におけるＴＡＢハンドラの要部だけを抜粋おり、図５と共通する部分には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００３１】
図１の１６はＴＡＢハンドラ１００の動作を司る制御部であり、カウンタ１６Ａ、メモリ１６Ｂ、メモリ１６Ｃ、機構動作制御部１６Ｄ、ＣＰＵ１６Ｅで、少なくとも、構成されている。
【００３２】
ＣＰＵ１６Ｅは予め、プログラムされた指令によりＴＡＢハンドラ１００をシーケンシャルに制御する。また、ＣＰＵ１６Ｅは画像処理装置１５と接続し、カメラ１５Ａ・１５Ｂの撮像データの読み込み指令したり、画像処理装置１５の判定結果を受信する。さらに、カウンタ１６Ａと送受し、メモリ１６Ｂ・１６Ｃに書き込みあるいは読み込みを指令する。機構動作制御１６ＤにはＴＡＢハンドラ１００の機構動作を指令する。
【００３３】
カウンタ１６Ａは先頭のＴＡＢ１からの順位を計数し、メモリ１６ＢはＴＡＢ１の前記各順位の試験結果による特定順位を格納する。メモリ１６ＣはＴＡＢ１の最終順位を記憶する。
【００３４】
次に、図１の動作を説明する前に、ＴＡＢ１のリーダーテープについて図２により説明する。図２に示されるように、ＴＡＢテープは、ＩＣチップ１Ａが搭載されたＴＡＢ１が連なったＴＡＢテープ１Ｇ部分と、始端と終端でリールに巻き取り用のＩＣチップ１Ａが実装されないリーダテープ１Ｅ・１Ｆ部分で構成されている。
【００３５】
リーダテープ１Ｅは、先頭ＴＡＢ１がカメラ１５Ａの撮像位置にある時に、すくなくとも、収容リール２Ｂが余裕をもって巻き取れる長さがある。リーダテープ１Ｆは、最終ＴＡＢ１がカメラ１５Ｂの位置にある時に、すくなくとも、供給リール２Ａが余裕をもって巻き残せる長さがある。ここで、従来からあるリーダテープについて、あえて説明したのは、この発明による前段の動作ではＴＡＢの頭出しを自動で行うからである。
【００３６】
次に、この発明によるＴＡＢハンドラの動作を図３のフローチャートにより説明する。なお、図３のフローチャートの開始以前に、リーダテープ１Ｅは収容リール２Ｂに手動で巻き取られているものとする。
【００３７】
図３のステップ１０１では、カメラ１５ＡによりＴＡＢ１を撮像し、画像処理装置１５はリーダテープ１Ｅであるか、ＴＡＢテープ１Ｇであるかを判断する。ステップ１０１で、ＴＡＢ１がリーダテープ１Ｅでない場合は、ステップ１０２に進む。
【００３８】
ステップ１０２では、スプロケット３Ａ・３Ｂとスプロケット７Ａ・７Ｂを駆動し、ＴＡＢ１を１デバイス分、巻き戻し方向に搬送し、ステップ１０１の前段に戻る。ステップ１０１で、ＴＡＢ１がリーダテープ１Ｅの場合は、ステップ１０３に進む。
【００３９】
ステップ１０３では、スプロケット３Ａ・３Ｂとスプロケット７Ａ・７Ｂを駆動し、ＴＡＢ１を巻き取り方向に搬送する。
【００４０】
ステップ１０４では、カメラ１５ＡによりＴＡＢ１を撮像し、画像処理装置１５はリーダテープ１Ｅであるか、ＴＡＢテープ１Ｇであるかを判断する。ステップ１０４で、ＴＡＢ１がリーダテープ１Ｅの場合は、ステップ１０３の前段に戻る。ステップ１０４で、ＴＡＢ１がＴＡＢテープ１Ｇの場合は、ステップ１０５に進む。
【００４１】
ステップ１０５の段階で、ＴＡＢ１の頭出しが完了する。ステップ１０５では、ＣＰＵ１６Ｅはカウンタ１６Ａを「０」にクリアする。以下、カウンタ１６Ａは、ステップ１０５のＴＡＢ１の位置から巻き取り方向に搬送したデバイス数を計数する。
【００４２】
ステップ１０６では、カメラ１５ＡはＴＡＢ１を撮像し、前記画像が画像処理装置１５に送出され、ＴＡＢ１上のＩＣチップ１Ａの有無が判定される。次に、前記画像のＴＡＢ１は測定部であるプローブカード１２上に搬送される。
【００４３】
ステップ１０７で、ＩＣチップ１Ａが有りと判定された場合は、ステップ１０８に進む。ステップ１０７で、ＩＣチップ１Ａが無しと判定された場合は、ステップ１１１に進む。
【００４４】
ステップ１０８では、プッシャ９・１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカード１２と接触させ、テストヘッド１４により測定する。ステップ１０９では、前段でのＴＡＢ１の測定結果で次のステップが分岐する。ステップ１０９では、不良品判定の場合は、ステップ１１０に進む。ステップ１０９で、良品判定の場合はステップ１１１に進む。
【００４５】
ステップ１１０では、測定されたＴＡＢ１の順位をカウンタ１６Ａから読み取り、前記順位をメモリ１６Ｂに格納する。
【００４６】
ステップ１１１では、ＴＡＢ１を１デバイス分巻き取り方向に搬送する。ステップ１１２では、カウンタ１６Ａに「１」を加算する。ステップ１１３では、供給リール２Ａ内の全てのＴＡＢ１に対して測定が完了したかを判断する。完了していない場合は、ステップ１０６の前段に戻る。ステップ１１３では、供給リール２Ａ内のＴＡＢ１が全て測定終了した場合は、ステップ１１４に進む。
【００４７】
ステップ１１４では、最終のＴＡＢ１の順位をカウンタ１６Ａから読み取り、前記最終順位をメモリ１６Ｃに記憶する。以上の手順で、初選別の工程が終了し、以下のステップは再選別の工程になる。
【００４８】
ステップ１１５では、メモリ１６Ｃから最終のＴＡＢ１の順位を読み出し、前記順位にＴＡＢの１サイズ長を乗算し、前記乗算距離分、ＴＡＢ１を巻き戻す。ステップ１１６では、カウンタ１６Ａの値を「０」にクリアする。
【００４９】
ステップ１１７では、カウンタ１６Ａの値をＣＰＵ１６Ｅに送出し、メモリ１６Ｂ内の値と一致する値が存在するかを検索する。ステップ１１７で、一致する値が検索された場合は、ステップ１１８に進む。一致する値が検索されない場合は、ステップ１１８を飛び越えて、ステップ１１９に進む。
【００５０】
ステップ１１８では、プッシャ９・１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカード１２と接触させ、テストヘッド１４により測定する。次に、ＴＡＢ１はリジェクト用のパンチ１１Ａの位置に移動する。
【００５１】
ステップ１１９では、前段でのＴＡＢ１の測定結果で次のステップが分岐する。パンチ１１Ａの位置にあるＴＡＢ１が不良品判定の場合は、ステップ１２０に進む。良品判定の場合は、ステップ１２０を飛び越えて、ステップ１２１に進む。
【００５２】
ステップ１２０では、パンチ１１Ａを駆動し、対象ＴＡＢ１のＩＣチップ１Ａを打ち抜く。ステップ１２１では、ＴＡＢ１を１デバイス分巻き取り方向に搬送する。
【００５３】
ステップ１２２では、カウンタ１６Ａの値に「１」を加算する。ステップ１２３では、カウンタ１６Ａの値がメモリ１６Ｃの値と一致するか判定する。一致していない場合は、ステップ１１７の前段に戻り、一致した場合は、一連の処理を終了する。
【００５４】
【発明の効果】
この発明は、初選別時に不良品のＴＡＢ１の順番を記憶するので、初選別時にＴＡＢに選別痕をつけることなく、再選別できる。また、不良品判定とされたＴＡＢの再試験を、ＴＡＢテープを巻き戻しながら行うので、一度すべて巻き戻してから再試験を行うよりも効率よく、一回の巻き戻しで再試験を完了することができ、作業効率が良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施形態によるＴＡＢハンドラの構成図である。
【図２】ＴＡＢテープの構成図である。
【図３】この発明によるＴＡＢハンドラの動作を示すフローチャートである。
【図４】ＴＡＢ１の部分拡大図である。
【図５】従来技術によるＴＡＢハンドラの構成図である。
【図６】従来技術によるＴＡＢハンドラの初選別の動作を示すフローチャートである。
【図７】従来技術によるＴＡＢハンドラの再選別の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１  ＴＡＢ
１Ａ  ＩＣチップ
１Ｅ  リーダテープ
１Ｆ  リーダテープ
１Ｇ  ＴＡＢテープ
２Ａ  供給リール
２Ｂ  収容リール
３Ａ  スプロケット
３Ｂ  スプロケット
７Ａ  スプロケット
７Ｂ  スプロケット
１１Ａ  リジェクト用のパンチ
１１Ｂ  マーク用のパンチ
１５  画像処理装置
１５Ａ  カメラ
１５Ｂ  カメラ
１６  制御部
１６Ａ  カウンタ
１６Ｂ  メモリ
１６Ｃ  メモリ
１６Ｄ  機構動作制御部
１６Ｅ  ＣＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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