(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、
前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、
該読み取った読み取り信号から所定長のピットに対する複数の読み取り信号を抽出し、
該抽出した読み取り信号に基づき前記所定長のピットの信号長をそれぞれ測定し、
該計測した複数の信号長の正しい信号長に対するそれぞれのずれ量の分布を求め、
該求めた分布が双峰性を有する場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定する
ことを特徴とする光ディスクにおける記録状態判定方法。
【請求項２】
所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、
前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、
該読み取った読み取り信号から再生信号のアイパターンを作成し、
該作成した再生信号のアイパターンから前記レーザビームのスポット径よりも短い所定長のピットに対する前記アイパターンのピーク部におけるぶれ幅を検出し、
該検出したぶれ幅が所定の値を越えている場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定する
ことを特徴とする光ディスクにおける記録状態判定方法。
【請求項３】
所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、
前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、
該読み取った読み取り信号から前記レーザビームのスポット径よりも長い所定長のピットに対する読み取り信号を抽出し、
該抽出した前記読み取り信号の先端部若しくは後端部に異常振幅があるかを検出し、
該検出により前記読み取り信号の先端部若しくは後端部に異常振幅があると検出された場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定する
ことを特徴とする光ディスクにおける記録状態判定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、書込み可能な光ディスクにおける記録状態判定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、ＣＤ−Ｒ(Compact Disc Recordable)等の光ディスクにおいては、透明基板上に有機色素膜からなる記録層を設け、さらにその上に反射層を設けた基本構造を有する。
【０００３】
そして、この種の光ディスクは線速度一定で回転し、レーザビームを透明基板側から記録層に形成されたスパイラル状の記録トラックに沿って照射して所望の記録情報に対応した一連のピット列を記録トラックに形成することで情報記録が行われる。
【０００４】
情報記録時におけるレーザビームは、記録情報に基づいた記録パルスに対応して照射され、例えば、記録パルスがハイレベルであるときは高強度で照射して光ディスクの記録層を変質させて記録トラック上にピットを形成し、記録パルスがローレベルであるときには低強度で照射して光ディスクの記録層を変質させずに記録トラックのトラッキングだけを行う。
【０００５】
しかし、記録パルスのハイレベル期、即ちピット形成期間に高強度のレーザビームを一様に照射したのでは、ピットの形成に供されなかった熱が余剰熱として記録層に蓄積され、この余剰熱の影響によって、形成ピットに形の歪みおよびエッジの位置ずれを生じ、その結果、ＲＦ信号が劣化する。
【０００６】
そこで、公知のパルストレイン法、パワード法、矩形法等を用いて記録パルスを適切に補正してやることにより、レーザビームが光ディスクに供するエネルギー量を調整し、余剰熱の発生を抑える手法が一般的に用いられている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、光ディスクの回転速度を増加しこれに対応させて記録情報に基づく基準記録パルスの周期を早めることによって、光ディスクへの高速記録を可能にする技術が提案されている。
【０００８】
また、最近の光ディスクにおいては、さらなる記憶容量の増大が要求され、これに伴って高密度化した光ディスクの検討が行われている。
【０００９】
しかし、記録速度が高速になればなるほど、また、光ディスクの記録密度が上がるほど、光ディスクに形成されるピットの形状に大きなばらつきを生じ易く、ＲＦ信号に劣化を生じ易くなるため、より高精度に記録パルスを補正する必要が生じてくる。
【００１０】
そこで、この発明は、記録パルスの補正をより高精度のものとするため、ＲＦ信号の劣化状況を容易に検出できる光ディスクにおける記録状態判定方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上述した目的を達成するため、請求項１の発明は、所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、該読み取った読み取り信号から所定長のピットに対する複数の読み取り信号を抽出し、該抽出した読み取り信号に基づき前記所定長のピットの信号長をそれぞれ測定し、該計測した複数の信号長の正しい信号長に対するそれぞれのずれ量の分布を求め、該求めた分布が双峰性を有する場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項２の発明は、所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、該読み取った読み取り信号から再生信号のアイパターンを作成し、該作成した再生信号のアイパターンから前記レーザビームのスポット径よりも短い所定長のピットに対する前記アイパターンのピーク部におけるぶれ幅を検出し、該検出したぶれ幅が所定の値を越えている場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定することを特徴とする。
【００１３】
また、請求項３の発明は、所望の情報に対応した記録パルスに基づき出力が制御されるレーザビームを光ディスク上に照射して該光ディスクの記録トラックに一連のピット列を形成する光ディスクにおける記録状態判定方法において、前記光ディスクに形成した一連のピット列を読み取り、該読み取った読み取り信号から前記レーザビームのスポット径よりも長い所定長のピットに対する読み取り信号を抽出し、該抽出した前記読み取り信号の先端部若しくは後端部に異常振幅があるかを検出し、該検出により前記読み取り信号の先端部若しくは後端部に異常振幅があると検出された場合は前記光ディスクに対する記録状態が適正でないと判定することを特徴とする。
【００１６】
以下、この発明に係わる光ディスクにおける記録状態判定方法の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【００１７】
図１は、この発明を適用して構成した光ディスク記録再生装置の構成の一部を示すブロック図である。
【００１８】
図１に示す光ディスク記録再生装置において、記録情報は、エンコーダ１１に入力されて符号化およびＥＦＭ（Eight  to  Fourteen  Modulation）信号等に変調され、パルス状の記録信号（記録パルス）として出力される。
【００１９】
ストラテジ記憶部２１は、予め実験等を行うことによって求められた光ディスクの種類、記録速度等に応じた最適な記録ストラテジを記憶しており、ストラテジ選択部２２は、使用する光ディスクの種類、記録速度等に応じて該当する記録ストラテジをストラテジ記憶部２１から読出し、読み出した記録ストラテジの情報を記録パルス補正部１２に出力する。
【００２０】
なお、記録ストラテジとは、記録パルスの補正形態を表すものであり、例えば、パルストレイン法におけるマルチパルスの設定等に必要な情報である。
【００２１】
エンコーダ１１から出力された記録パルスは、記録パルス補正部１２において使用する光ディスクの種類、線速度等に応じた補正を受けてレーザ制御回路１７に入力される。
【００２２】
この記録パルス補正部１２では、ストラテジ選択部２２およびストラテジ補正値算出部２３から入力される情報に基づいて、エンコーダ１１から入力された記録パルスを補正する。
【００２３】
レーザ制御回路１７は、記録パルス補正部１２で補正された記録パルスに応じてＬＤドライバ１８を制御し、ＬＤドライバ１８は、光ピックアップ１９が具備する図示しないレーザダイオードを駆動して補正記録パルスに対応したパルス状のレーザビームを光ディスク３０の記録面に照射し、ピットを形成して情報の記録を行なう。
【００２４】
さて、この発明の光ディスク記録再生装置では、ＲＦ信号の劣化状況に基づいて上記の記録ストラテジにさらなる補正を加えるために、後述するように情報の記録に先立って試し書きを行いＲＦ信号の劣化状況を検出する。
【００２５】
この試し書きは、例えば、光ディスク３０の試し書き領域（ＰＣＡ：Power  Control  Area）で行なわれる。
【００２６】
まず、ＲＦ信号の劣化状況を評価するためのサンプル記録パルスを記録パルス補正部１２に入力し、記録パルス補正部１２では、光ディスク３０の種類、記録速度等に応じてストラテジ選択部２２がストラテジ記憶部２１から読み出してきた記録ストラテジに基づいてこのサンプル記録パルスを補正して出力する。
【００２７】
なお、このサンプル記録パルスは、３Ｔ〜１１Ｔの長さのピットが３Ｔ〜１１Ｔの間隔を空けて任意に並んだピット列を形成できる記録パルスである。
【００２８】
光ピックアップ１９は、光ディスク３０の試し書き領域の直下に移動して補正したサンプル記録パルスに対応したレーザビームを照射し、この試し書き領域にサンプル記録パルスに対応したピット列を形成する。
【００２９】
次に、光ピックアップ１９は、光ディスク３０の試し書き領域に形成したピット列に対して情報再生用のレーザビームを照射し、戻り光の光量を電気信号に変換してこの電気信号をＲＦ信号再生部１５に入力する。
【００３０】
ＲＦ信号再生部１５は、光ピックアップ１９から入力された電気信号に基づいて、光ディスク３０の試し書き領域に形成されたピット列に対応したＲＦ信号を再生し、再生したＲＦ信号をＲＦ信号評価部１６に入力する。
【００３１】
ＲＦ信号評価部１６では、後述するように、入力されたＲＦ信号を解析評価してその劣化状況を検出し、ストラテジ補正値算出部２３に入力する。
【００３２】
ストラテジ補正値算出部２３は、ＲＦ信号評価部１６から入力されたＲＦ信号の劣化状況に基づいて、ストラテジ選択部２２によって選択された記録ストラテジの補正値を算出し、記録パルス補正部１２に入力する。
【００３３】
記録パルス補正部１２では、ストラテジ補正値算出部２３から入力された補正値に基づいて、ストラテジ選択部２２から入力された記録ストラテジを補正し、この補正した記録ストラテジに基づいて、エンコーダ１１から入力される記録情報に対応した記録パルスを補正してレーザ制御回路１７に出力することにより、光ディスク３０への記録を行なう。
【００３４】
次に、ＲＦ信号評価部１６でのＲＦ信号の解析評価方法を以下に説明する。
【００３５】
（第１の評価方法）
図２は、ＲＦ信号評価部１６におけるＲＦ信号の解析評価方法の一例を示すフローチャートである。
【００３６】
この評価方法は、所定長のピットに対する複数のＲＦ信号の信号長を検出してその正しい信号長に対するずれ量（つまり、ジッタ）の分布状況を求め、求めた分布状況からＲＦ信号の歪みを検出するものである。
【００３７】
記録状態が良ければ、ずれ量の分布は狭い単峰性を示すはずであり、２つ以上のピークを有するようであれば、それだけ個々の信号の信号長にばらつきがあるということなので、記録状態は良くないと判断できる。
【００３８】
この評価方法において、ＲＦ信号評価部１６は、ＲＦ信号再生部１５において再生されたＲＦ信号から所定長のピットに対応する信号、例えば３Ｔピットに対応する信号を抽出し（ステップ２０１）、その信号長を測定する（ステップ２０２）。
【００３９】
ＲＦ信号評価部１６には、３Ｔピットに対するＲＦ信号の正しい信号長が記憶されており、正しい信号長に対する測定した信号長のずれ量を計測し（ステップ２０３）、この操作を、ＲＦ信号から抽出される全ての３Ｔピットに対応する信号について行なって（ステップ２０４）、ずれ量の分布状況を求める（ステップ２０５）。
【００４０】
このずれ量の分布状況が、図３（ａ）のような単峰性を示す場合（ステップ２０６でＹＥＳ）、記録状態は良好であると判断し（ステッ２０７）、図３（ｂ）のように２つのピークを有する場合（ステップ２０６でＮＯ）、記録状態が悪いと判断する。
【００４１】
なお、ずれ量の分布状況としては、双峰性に限らず幾つかのピークを有する多峰性を有する分布状況が得られる場合もあるので、図３（ｂ）に示すような双峰性の分布状況が得られた場合だけでなく、多峰性を有する分布が得られた場合にも記録状態が良くないと判断する。
【００４２】
また、この実施例では、所定長のピットに対応するＲＦ信号として３Ｔピットに対応するＲＦ信号を例に説明したが、もちろん他の種類のピットに対応するＲＦ信号を用いても良い。
【００４３】
（第２の評価方法）
図４は、ＲＦ信号評価部１６におけるＲＦ信号の解析評価方法の一例を示すフローチャートである。
【００４４】
この評価方法は、ＲＦ信号のアイパターンを求めて、求めたアイパターンの所定長のピットに対応する部分のピークのぶれ幅を検出してＲＦ信号の劣化状況を評価するものであり、特に、レーザビームが光ディスク３０の記録面に形成するスポット径よりも短いピットに対応する部分のぶれ幅に基づいてＲＦ信号を評価するものである。
【００４５】
なお、ここでは、スポット径よりも短いピットとして３Ｔピットを例に説明する。
【００４６】
ＲＦ信号評価部１６は、ＲＦ信号再生部１５において再生されたＲＦ信号のアイパターンを求め（ステップ３０１）、求めたアイパターンから３Ｔピットに対応するパターンを検出し（ステップ３０２）、検出した３Ｔピットに対応するパターンのピーク部分のぶれ幅を検出する（ステップ３０３）。
【００４７】
図３（ａ）のように、ぶれ幅が所定の範囲内であれば（ステップ３０４でＹＥＳ）、記録状態は良好であると判断し（ステップ３０５）、図３（ｂ）のように、大きくぶれているようであれば（ステップ３０４でＮＯ）、記録状態が悪いと判断する（ステップ３０６）。
【００４８】
（第３の評価方法）
図６は、ＲＦ信号評価部１６におけるＲＦ信号の解析評価方法の一例を示すフローチャートである。
【００４９】
通常、スポット径よりも長いピットに対応するＲＦ信号の振幅のピーク部分は、図７（ａ）のように略平坦となるが、余剰熱の影響により、図７（ｂ）に示すように、振幅のピーク部分が略平坦にならずに一部に歪みを生じてしまうことがある。
【００５０】
そこで、この実施形態は、スポット径よりも長いピットに対応するＲＦ信号の振幅のピーク部分の歪み（以下、振幅異常という）を検出することによって、ＲＦ信号を評価するものである。
【００５１】
なお、ここでは、スポット径よりも長いピットとして１１Ｔピットを例に説明する。
【００５２】
ＲＦ信号評価部１６は、ＲＦ信号再生部１５において再生されたＲＦ信号から１１Ｔピットに対応する信号を抽出し（ステップ４０１）、抽出したＲＦ信号の振幅異常の有無を検査する（ステップ４０２）。
【００５３】
この検査を、ＲＦ信号から抽出される全ての１１Ｔピットに対応する信号に対して行ない（ステップ４０３）、抽出した全ての信号に対する振幅異常を有する信号の割合を求め（ステップ４０４）、この割合が所定値以下であれば（ステップ４０５でＹＥＳ）、記録状態は良好であると判断し（ステップ４０６）、所定値以上であれば（ステップ４０５でＮＯ）、記録状態が悪いと判断する（ステップ４０７）。
【００５４】
なお、図７（ｂ）には、１１Ｔピットに対応する信号の後端部に振幅異常がある場合のＲＦ信号波形の一例を示したが、もちろん、前端部に振幅異常が検出される場合もあり、上記の振幅異常の検出は、これら両方の異常を検出するものとする。
【００５５】
以上、３通りのＲＦ信号の解析評価方法を説明したが、ＲＦ信号解析評価部１６では、この３通りの方法のうち少なくとも１つの方法によってＲＦ信号を解析し、劣化状況を検出する。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、ＲＦ信号の劣化状況を容易に検出することができるので、ＲＦ信号の劣化状況に基づいて詳細に記録ストラテジの補正を行うことができ、記録パルスの補正が高精度のものとなるので、光ディスクの記録面に対して高精度のピットを形成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明に係る光ディスク記録再生装置の一部構成を示す該略ブロック図である。
【図２】ＲＦ信号評価部１６の一例を説明するフローチャートである。
【図３】所定長のＲＦ信号のジッタの分布を示す図である。
【図４】ＲＦ信号評価部１６の一例を説明するフローチャートである。
【図５】短いピットに対応するＲＦ信号の歪みの一例を示す図である。
【図６】ＲＦ信号評価部１６の一例を説明するフローチャートである。
【図７】長いピットに対応するＲＦ信号の歪みの一例を示す図である。
【符号の説明】
１１    エンコーダ
１２    記録パルス補正部
１５    ＲＦ信号再生部
１６    ＲＦ信号評価部
１７    レーザ制御回路
１８    ＬＤドライバ
１９    光ピックアップ
２１    ストラテジ記憶部
２２    ストラテジ選択部
２３    ストラテジ補正値算出部
３０    光ディスク
【図１】
0003800491.tif 000002
【図２】
0003800491.tif 000003
【図３】
0003800491.tif 000004
【図４】
0003800491.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
0003800491.tif 000008