(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得し、前記テスト記録領域の再生信号から、記録レーザパワー値と所定のβ値との関係を示す記録パワー−β値特性を導出し、該記録パワー−β値特性から記録パワーを決定する光ディスク装置における光ディスク記録レーザパワー決定方法であって、
前記記録パワー−β値特性から所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量と、記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−Δβ記録特性を求める記録パワー−Δβ特性導出ステップと、
予め記憶されている良好な記録を行うための前記所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量が取りうる値を示すβ変化量好適値情報と、前記記録パワー−Δβ記録特性とに基づいて、記録レーザパワー値の取り得る範囲である記録パワー範囲を決定する記録パワー範囲決定ステップと、
前記記録パワー−β値特性と前記記録パワー範囲とから記録レーザパワー値を決定する記録パワー決定ステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録レーザパワー決定方法。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録レーザパワー決定方法において、さらに、
前記テスト領域の再生信号から、フレーム同期信号の検出回数、Ｃ１エラー、ジッター、デビエーション、変調度、反射率および再生信号の振幅といった記録品位に関するパラメータのうち少なくとも１つと、記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−パラメータ記録特性を求める記録パワー−パラメータ特性導出ステップを有し、
前記記録パワー決定ステップにおいて、さらに前記記録パワー−パラメータ記録特性に基づいて、記録レーザパワー値を決定する
ことを特徴とする光ディスク記録レーザパワー決定方法。
【請求項３】
請求項１または２記載の光ディスク記録レーザパワー決定方法において、
前記記録パワー決定ステップは、
前記記録パワー範囲決定ステップで決定された記録パワー範囲のうち、低いほうのパワー範囲から記録パワーを決定する
ことを特徴とする光ディスク記録レーザパワー決定方法。
【請求項４】
前記記録パワー−パラメータ特性導出ステップでは、前記テスト記録における記録速度よりも低い速度で前記テスト記録された領域を再生する
ことを特徴とする請求項２または３記載の光ディスク記録レーザパワー決定方法。
【請求項５】
前記記録パワー−パラメータ特性導出ステップでは、前記テスト記録された領域を複数回再生して複数の再生信号を取得する
ことを特徴とする請求項２または３記載の光ディスク記録レーザパワー決定方法。
【請求項６】
光ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であって、
光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生手段と、
前記テスト記録領域の再生信号から、記録レーザパワー値と所定のβ値との関係を示す記録レーザーパワー−β値特性を導出する記録レーザパワー−β値特性導出手段と、
前記記録レーザパワー−β値特性から、所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量と、記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−Δβ記録特性を求める記録パワー−Δβ特性導出手段と、
良好な記録を行うための前記所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量が取りうる値を示すβ変化量好適値情報を記憶するβ好適値情報記憶手段と、
前記β好適値情報記憶手段に記憶されているβ変化量好適値情報と、前記記録パワー−Δβ記録特性とに基づいて、記録レーザパワー値の取り得る範囲である記録パワー範囲を決定する記録パワー範囲決定手段と、
前記記録レーザパワー−β値特性と前記記録パワー範囲とから、前記光ディスクに照射するレーザ光の記録レーザパワー値を決定する記録パワー決定手段と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項６記載の光ディスク記録装置において、さらに、
前記テスト領域の再生信号から、フレーム同期信号の検出回数、Ｃ１エラー、ジッター、デビエーション、変調度、反射率および再生信号の振幅といった記録品位に関するパラメータのうち少なくとも１つと記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−パラメータ記録特性を求める記録パワー−パラメータ特性導出手段を有し、
前記記録パワー決定手段は、さらに前記記録パワー−パラメータ記録特性に基づいて、記録レーザパワー値を決定する
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）やＣＤ−ＲＷ（Compact Disc-ReWritable）などの光ディスクに情報を記録する際に良好な記録が行える記録レーザパワー値を決定する光ディスク記録レーザパワー決定方法および光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc-Recordable）等の光ディスクに対する記録方法として、標準の線速度（１倍速）よりも高い線速度（例えば、２倍速、４倍速、……等）で記録する高速記録が行われている。
【０００３】
従来は、上記のような記録速度倍率に応じて記録レーザパワーや照射時間、照射開始タイミング等を調整するいわゆるストラテジーの変更により、各倍速の記録速度において読取エラーの少ない記録を行うようにしていた。
【０００４】
記録速度倍率に応じて記録レーザパワーを最適に制御する手法として、本番の記録に先立ち、光ディスクにおける所定の領域に、複数の記録レーザパワー値でテスト記録を行い、そのテスト記録領域の再生結果から最適な記録を行える記録レーザパワー値を求めるＯＰＣ（Optimum Power Control：記録レーザ光の最適記録パワー調整）を実施する方法が提案されている。
【０００５】
従来のＯＰＣでは、テスト記録された領域の再生信号から、記録レーザパワー値とβ値との関係を示す記録レーザパワー値−β特性を求め、当該記録レーザパワー値−β特性を参照し、予め設定されている最適なβ値に対応する記録レーザパワー値を最適な記録レーザパワー値として採用している。なお、β値は再生信号品位に関するパラメータであり、光ピックアップの戻り光受光信号であるＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベル（符号は−）をｂとすると、（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）で求まる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した従来のＯＰＣでは、予め設定された最適なβ値に対応する記録レーザパワー値を決定するようにしている、すなわちβ値のみを考慮して記録レーザパワー値を決定している。しかしながら、光ディスクの製品による特性が異なっている場合などには、単純にβ値のみを考慮して決定した記録レーザパワー値で記録を行うと、記録状態の品位が悪化してしまうこともある。例えば、通常ほぼ線形となる記録レーザパワー値とβ値との対応関係が、光ディスクのひずみや色素むら等に起因し、図３３に示すような対応関係となる場合がある。同図に示すように、この光ディスクは、β値と記録レーザパワー値との対応関係が一部分（図示の例ではβ値が１０近傍、記録レーザパワー値が１６ｍＷ近傍）を除いてほぼ線形の特性を有している。このような特性を有する光ディスクに対して記録を行う際に、β値が特異に変化するβ値特異点ＢＴに対応する記録レーザパワー値（例えば、１６ｍＷ）で当該特性を有する光ディスクに記録を行うと、良好な記録状態品位が得られない場合がある。
【０００７】
本発明は、上記の事情を考慮してなされたものであり、記録する光ディスクの製品による個体差等に関わらず、記録エラーの発生を低減することが可能な記録レーザパワー値を求める光ディスク記録レーザパワー決定方法、および光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク記録レーザパワー決定方法は、光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行い、前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得し、前記テスト記録領域の再生信号から、記録レーザパワー値と所定のβ値との関係を示す記録パワー−β値特性を導出し、該記録パワー−β値特性から記録パワーを決定する光ディスク装置における光ディスク記録レーザパワー決定方法であって、前記記録パワー−β値特性から所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量と、記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−Δβ記録特性を求める記録パワー−Δβ特性導出ステップと、予め記憶されている良好な記録を行うための前記所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量が取りうる値を示すβ変化量好適値情報と、前記記録パワー−Δβ記録特性とに基づいて、記録レーザパワー値の取り得る範囲である記録パワー範囲を決定する記録パワー範囲決定ステップと、前記記録パワー−β値特性と前記記録パワー範囲とから記録レーザパワー値を決定する記録パワー決定ステップとを具備することを特徴とする。
【０００９】
この方法によれば、テスト記録された領域の再生信号から、記録レーザパワー値とβ値の変化量であるΔβ値との関係を求め、当該Δβ値を考慮して記録レーザパワー値を決定するようにしている。したがって、ディスクの歪みや色素むら等といった製品の個体差等によって記録レーザパワー値に対してβ値が特異に変化する、いわゆるβ特異点を有する特性の光ディスクもあるが、このような特性を有する光ディスクに対しても良好な記録を行える記録レーザパワー値を決定することができる。
【００１４】
また、本発明に係る光ディスク記録装置は、光ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であって、光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録手段と、前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生手段と、前記テスト記録領域の再生信号から、記録レーザパワー値と所定のβ値との関係を示す記録レーザーパワー−β値特性を導出する記録レーザパワー−β値特性導出手段と、前記記録レーザパワー−β値特性から、所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量と、記録レーザパワー値との関係を示す記録パワー−Δβ記録特性を求める記録パワー−Δβ特性導出手段と、良好な記録を行うための前記所定の単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量が取りうる値を示すβ変化量好適値情報を記憶するβ好適値情報記憶手段と、前記β好適値情報記憶手段に記憶されているβ変化量好適値情報と、前記記録パワー−Δβ記録特性とに基づいて、記録レーザパワー値の取り得る範囲である記録パワー範囲を決定する記録パワー範囲決定手段と、前記記録レーザパワー−β値特性と前記記録パワー範囲とから、前記光ディスクに照射するレーザ光の記録レーザパワー値を決定する記録パワー決定手段とを具備することを特徴とする。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
Ａ．第１実施形態
Ａ−１．構成
まず、図１は本発明の第１実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。同図に示すように、この光ディスク記録再生装置は、光ピックアップ１０と、スピンドルモータ１１と、ＲＦアンプ１２と、サーボ回路１３と、アドレス検出回路１４と、デコーダ１５と、制御部１６と、エンコーダ１７と、ストラテジ回路１８と、レーザドライバ１９と、レーザパワー制御回路２０と、周波数発生器２１と、エンベロープ検出回路２２と、Ｃ１エラー検出回路２３と、β検出回路２４とを備えている。
【００１８】
スピンドルモータ１１は、データを記録する対象となる光ディスク（ここでは、ＣＤ−Ｒとする）Ｄを回転駆動するモータである。光ピックアップ１０は、レーザダイオード、レンズやミラー等の光学系、および戻り光受光素子を有しており、記録および再生時にはレーザ光を光ディスクＤに対して照射し、光ディスクＤからの戻り光を受光して受光信号であるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＲＦアンプ１２に出力する。また、光ピックアップ１０はモニタダイオードを有しており、光ディスクＤの戻り光によってモニタダイオードに電流が生じ、当該電流がレーザパワー制御回路２０に供給されるようになっている。
【００１９】
ＲＦアンプ１２は光ピックアップ１０から供給されたＥＦＭ変調されたＲＦ信号を増幅し、増幅後のＲＦ信号をサーボ回路１３、アドレス検出回路１４、エンベロープ検出回路２２、β検出回路２４およびデコーダ１５にＲＦ信号を出力する。デコーダ１５は、再生時にはＲＦアンプ１２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＥＦＭ復調して再生データを生成する。
【００２０】
一方、記録が行われる時には、デコーダ１５は、本番の記録に先立ち行われるテスト記録によって記録された領域を再生する際にＲＦアンプ１２から供給されたＲＦ信号をＥＦＭ復調し、復調した信号に基づいてＣ１エラー検出回路２３がＣ１エラーを検出し、制御部１６に出力する。Ｃ１エラー検出回路２３は、ＥＦＭ復調された信号に対してＣＩＲＣ（Cross Interleaved Read Solomon Code）と呼ばれる誤り訂正符号を用いたエラー訂正を行い、１サブコードフレーム（９８ＥＦＭフレーム）の中で１回目のエラー訂正ができないフレームの個数、すなわちＣ１エラーの回数を検出するのである。
【００２１】
本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、上述したように記録を行う際に、当該本番の記録に先立ち、ユーザによって設定された記録速度で光ディスクＤの内周側の所定の領域（図２参照）にテスト記録を行い、当該テスト記録した領域の再生結果に基づいて、当該光ディスクＤに対して良好な記録を行える記録速度を求めるように構成されている。この光ディスク記録再生装置における１回のテスト記録では、記録レーザパワー値を１５段階に変化させて行い、１つの記録レーザパワー値につき１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記録し、合計１５フレーム分のＥＦＭ信号が記録されるようになっている。
【００２２】
ここで、図２を参照しながら光ディスクＤ（ＣＤ−Ｒ）のテスト記録を行う領域について説明する。光ディスクＤの直径４６〜５０ｍｍの区間がリードイン領域１１４として用意され、その外周側にデータを記録するプログラム領域１１８および残余領域１２０が用意されている。一方、リードイン領域１１４よりも内周側には、内周側ＰＣＡ（Power Calibration Area）領域１１２が用意されている。内周側ＰＣＡ領域１１２には、テスト領域１１２ａと、カウント領域１１２ｂとが用意されており、このテスト領域１１２ａに、上述した記録処理の本番に先立つテスト記録が行われる。ここで、テスト領域１１２ａとしてはテスト記録を多数回行える領域が用意されており、カウント領域１１２ｂには、テスト記録終了時にテスト領域１１２ａのどの部分までに記録が終了しているかを示すＥＦＭ信号が記録される。したがって、次にこの光ディスクＤに対してテスト記録を行う際には、当該カウント領域１１２ｂのＥＦＭ信号を読み取ることによりテスト領域１１２ａのどの位置からテスト記録を行えばよいかが分かるようになっている。本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、本番の記録を行う前に上述したテスト領域１１２ａにテスト記録を行っているのである。
【００２３】
図１に戻り、アドレス検出回路１４は、ＲＦアンプ１２から供給されたＥＦＭ信号からウォブル信号成分を抽出し、このウォブル信号成分に含まれる各位置の時間情報（アドレス情報）、およびディスクを識別する識別情報（ディスクＩＤ）やディスクの色素等のディスクの種類を示す情報を復号し、制御部１６に出力する。
【００２４】
β検出回路２４は、上述したテスト記録領域を再生している際にＲＦアンプ１２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号から再生信号品位に関するパラメータとしてβ（アシンメトリ）値を算出し、算出結果を制御部１６に出力する。なお、β値は、ＥＦＭ変調された信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベル（符号は−）をｂとすると、（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）で求まる。
【００２５】
エンベロープ検出回路２２は、上述したテスト記録を行う前に、光ディスクＤの所定のテスト領域のどの部分からテスト記録を開始するかを検出するために、上述した光ディスクＤのカウント領域１１２ｂのＥＦＭ信号のエンベロープを検出する。
【００２６】
サーボ回路１３は、スピンドルモータ１１の回転制御および光ピックアップ１０のフォーカス制御、トラッキング制御、送り制御を行う。本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、ユーザによって設定された記録線速度で光ディスクＤを駆動する方式（ＣＬＶ：Constant Linear Velocity）で記録するようになっており、サーボ回路１３は、制御部１６から供給される設定速度を示す制御信号に応じて、設定された線速度でスピンドルモータ１１を駆動するＣＬＶ制御を行う。ここで、サーボ回路１３によるＣＬＶ制御では、ＲＦアンプ１２から供給されたＥＦＭ変調された信号のウォブル信号が設定された線速度倍率になるようにスピンドルモータ１１が制御される。
【００２７】
エンコーダ１７は、供給される記録データをＥＦＭ変調し、ストラテジ回路１８に出力する。ストラテジ回路１８は、エンコーダ１７から供給されたＥＦＭ信号に対して時間軸補正処理等を行い、レーザドライバ１９に出力する。レーザドライバ１９は、ストラテジ回路１８から供給される記録データに応じて変調された信号と、レーザパワー制御回路２０の制御にしたがって光ピックアップ１０のレーザダイオードを駆動する。
【００２８】
レーザパワー制御回路２０は、光ピックアップ１０のレーザダイオードから照射されるレーザパワーを制御するものである。具体的には、レーザパワー制御回路２０は、光ピックアップ１０のモニタダイオードから供給される電流値と、制御部１６から供給される最適なレーザパワーの目標値を示す情報とに基づいて、当該最適なレーザパワーのレーザ光が光ピックアップ１０から照射されるようにレーザドライバ１９を制御する。
【００２９】
制御部１６は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）等から構成されており、ＲＯＭに格納されたプログラムにしたがって当該光ディスク記録再生装置の装置各部を制御する。
【００３０】
まず、制御部１６は、上述したように本番の記録に先立ち、当該光ディスク記録再生装置にセットされた光ディスクＤの所定の領域に対し、上述したようなテスト記録を行うように装置各部を制御する。さらに、制御部１６は、上述したテスト記録された領域を再生している際に得られる信号からβ検出回路２４によって検出されたβ値およびＣ１エラー検出回路２３によって検出されたＣ１エラーの検出回数のカウント値（以下、Ｃ１エラー値という）等に基づいて、ユーザによって設定された記録速度で光ディスクＤに対して記録を行う際の最適な記録レーザパワー値を決定し、本番の記録時には決定した最適なレーザパワー値のレーザ光が光ピックアップ１０から照射されるようにレーザパワー制御回路２０を制御する。このように最適な記録レーザパワー値を求める処理を行う際の制御部１６の機能構成を図３に示す。
【００３１】
同図に示すように、制御部１６は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００と、β好適値情報記憶部２０１と、レーザパワー値特定部２０２と、レーザパワー範囲特定部２０３と、最適レーザパワー値決定部２０４とを有している。
【００３２】
レーザパワー値特定部２０２は、上述した本番の記録に先立つＯＰＣにより得られた結果（複数の記録レーザパワー値と各レーザパワー値に対応するβ値）から、記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示す記録パワー−β特性を求める。レーザパワー値特定部２０２は、この記録パワー−β特性と、β好適値情報記憶部２０１に記憶されているβ好適値情報と、アドレス検出回路１４から供給されるディスク種類情報とに基づいて、記録レーザパワー値を特定する。図４に示すように、β好適値情報記憶部２０１には、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素等）毎に、最適な記録を行うためのβ値を示すβ好適値情報が格納されており、図示の例では、Ａという種類のディスクに対してはβ値＝「０」がβ好適値情報として格納されている。ここで、β好適値情報記憶部２０１に記憶される情報は予め実験等により各ディスクの種類毎に求められた値である。なお、β好適値情報記憶部２０１には、ディスクの種類毎だけではなく、記録速度（１倍速、４倍速、８倍速……）毎に好適なβ値を格納するようにしてもよい。
【００３３】
例えば、図５に示すようなＯＰＣ結果（１５種類の記録レーザパワー値に対応するβ値とＣ１エラー値）が得られた場合には、レーザパワー値特定部２０２は、このＯＰＣ結果の記録レーザパワー値とβ値とから、図６に示すような記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示すパワー−β特性を求める。また、レーザパワー値特定部２０２は、β好適値情報記憶部２０１に記憶されている多数のディスク種類に対応したβ好適値情報の中から、アドレス検出回路１４から供給されるディスクの種類情報に対応したβ好適値情報を取得する。なお、β好適値情報記憶部２０１に記録速度（１倍速、４倍速、８倍速……）毎に好適なβ値が格納されている場合には、設定された記録速度に対応するβ好適値情報を取得すればよい。そして、レーザパワー値特定部２０２は、ＯＰＣ結果に基づいて求めたパワー−β特性（図６参照）を参照し、取得したβ好適値情報に示されるβ値に対応する記録レーザパワー値Ｐｔを特定する。
【００３４】
レーザパワー範囲特定部２０３は、上述した本番の記録に先立つＯＰＣにより得られた結果（複数の記録レーザパワー値と各レーザパワー値に対応するＣ１エラー値）から、記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係を示す記録パワー−Ｃ１エラー特性を求める。レーザパワー範囲特定部２０３は、この記録パワー−Ｃ１エラー特性と、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されているＣ１エラー好適値情報と、アドレス検出回路１４から供給されるディスク種類情報とに基づいて、記録レーザパワーの取りうる上限値および下限値、すなわち記録レーザパワーの取り得る値の範囲を特定する。図７に示すように、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００には、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素等）毎に、最適な記録を行うためのＣ１エラー値が取り得る範囲を示すＣ１エラー好適値情報が格納されており、図示の例では、Ａという種類のディスクに対しては、Ｃ１エラー値＝「０〜１０」がＣ１エラー好適値情報として格納されている。ここで、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶される情報は予め実験等により各ディスクの種類毎に求められた値である。なお、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００には、ディスクの種類毎だけではなく、記録速度（１倍速、４倍速、８倍速……）毎に好適なＣ１エラー値の取り得る範囲を示す情報を格納するようにしてもよい。
【００３５】
例えば、図５に示すＯＰＣ結果が得られた場合には、レーザパワー範囲特定部２０３は、このＯＰＣ結果の記録レーザパワー値とＣ１エラー値とから、図８に示すような記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係を示すパワー−Ｃ１エラー特性を求める。また、レーザパワー範囲特定部２０３は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されている多数のディスク種類に対応したＣ１エラー好適値情報の中から、アドレス検出回路１４から供給されるディスクの種類情報に対応したＣ１エラー好適値情報を取得する。なお、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記録速度（１倍速、４倍速、８倍速……）毎に好適なＣ１エラー値の範囲が格納されている場合には、設定された記録速度に対応するＣ１エラー好適値情報を取得すればよい。そして、レーザパワー範囲特定部２０３は、ＯＰＣ結果に基づいて求めたパワー−Ｃ１エラー特性（図８参照）を参照し、取得したＣ１エラー好適値情報に示されるＣ１エラー値の範囲内にＣ１エラー値を収めるための記録レーザパワーの上限値ＰＪ（図示の例では、１６ｍＷ）および下限値ＰＫ（図示の例では、１３ｍＷ）を求めて記録レーザパワーの取り得る範囲Ｐｍ（１３〜１６ｍＷ）を特定する。
【００３６】
最適レーザパワー値決定部２０４は、上述したようにレーザパワー値特定部２０２によって特定された記録レーザパワー値Ｐｔと、レーザパワー範囲特定部２０３によって特定された記録レーザパワーの取り得る範囲Ｐｍとに基づいて、最適な記録レーザパワー値を決定する。具体的には、最適レーザパワー値決定部２０４は、レーザパワー値特定部２０２によって特定された記録レーザパワー値Ｐｔが、レーザパワー範囲特定部２０３によって特定された記録レーザパワー値が取り得る範囲Ｐｍ内にあるか否かを判別し、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲Ｐｍ内にあると判別した場合には、その記録レーザパワー値Ｐｔを最適記録レーザパワー値として決定する。一方、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲Ｐｍ内にない場合には、再度ＯＰＣを行い、当該ＯＰＣの結果に基づいて上記と同様に最適記録レーザパワー値を決定するための処理を行うようにすればよい。また、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲Ｐｍ内にない場合の決定方法としては、記録レーザパワー値Ｐｔと、上限値ＰＪもしくは下限値ＰＫ（記録レーザパワー値Ｐｔに近い方の値）との平均値を最適記録レーザパワー値として決定すれば、β値だけではなくＣ１エラー値を考慮して最適記録レーザパワー値を決定することができる。
【００３７】
制御部１６は、上述したようにＯＰＣ結果から求めた最適記録レーザパワー値を示す制御信号を図１に示すレーザパワー制御回路２０に供給し、レーザパワー制御回路２０は、光ピックアップ１０から光ディスクＤに対して照射される記録レーザ光のパワー値が、この最適記録レーザパワー値と一致するようにレーザドライバ１９を制御する。
【００３８】
Ａ−２．動作
以上説明したのが本発明の第１実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成であり、以下上記構成の光ディスク記録再生装置による記録時の動作について、図９に示す制御部１６がＲＯＭに記憶されたプログラムにしたがって実行する処理のフローチャートを参照しながら説明する。
【００３９】
まず、ユーザによって当該光ディスク記録再生装置に光ディスクＤがセットされ、ある記録速度での記録開始が指示されると、制御部１６は、ＯＰＣを実行するためにセットされた光ディスクＤのテスト領域１１２ａ（図２参照）にテスト記録を行うために装置各部を制御する（ステップＳａ１）。具体的にはエンコーダ１７にテスト記録用の信号を送出するとともに、レーザパワー制御回路２０を制御して記録レーザパワー値を１５段階に変化させる。このように装置各部を制御することにより、１つの記録レーザパワー値につき１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記録し、合計１５フレーム分のＥＦＭ信号を記録するテスト記録を実行させる。
【００４０】
テスト記録を実行するように装置各部を制御すると、制御部１６はテスト記録した領域の再生信号から取得されるＯＰＣ結果（図５参照）に基づいて、上述したように最適な記録レーザパワー値を決定する（ステップＳａ２）。この後、制御部１６は、ユーザに設定された記録速度、および上記のように決定した最適なレーザパワー値で記録が行われるようにレーザパワー制御回路２０やサーボ回路１３等を制御し、光ディスクＤに対する記録処理を実行する（ステップＳａ３）。
【００４１】
本実施形態では、本番の記録に先立ち、テスト記録を行い、当該テスト記録の再生信号から得られる記録状態の品位を示すβ値およびＣ１エラー値に基づいて、最適な記録レーザパワー値を決定し、決定した記録レーザパワー値で記録を行うことができる。すなわち、従来のＯＰＣでは、β値のみを考慮して最適な記録レーザパワー値を決定していたが、本実施形態によれば、β値に加え、Ｃ１エラー値を考慮して最適な記録レーザパー値を決定することができる。したがって、β値のみを考慮したパワー決定方法と比較し、光ディスクＤの製品の個体差（例えば、反り、歪み、色素むら等）等に起因して記録品位が悪化してしまうことを低減できる。例えば、β値が特異に変化するβ値特異点を有する特性の光ディスク（図３２参照）に対し、β特異点に対応する記録レーザパワー値で記録を行うと、良好な記録状態品位が得られない場合があるが、本実施形態では、β値だけではなく、他の記録品位に関するパラメータを考慮して最適記録レーザパワー値を決定しているので、β特異点に起因する記録品位の悪化を抑制することができる。
【００４２】
Ａ−３．変形例
なお、上述した第１実施形態においては、以下に例示するような種々の変形が可能である。
【００４３】
Ａ−３−１．変形例１
上述した第１実施形態では、テスト記録した領域の再生信号から複数の記録レーザパワー値に対応するβ値およびＣ１エラー値を測定し、これらのパラメータを用いて最適な記録レーザパワー値を決定するようにしていたが、上記テスト記録領域の再生信号から記録状態の品位に関する他の種類のパラメータを取得し、当該取得したパラメータを用いて最適な記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。
【００４４】
例えば、図１０に示すように、上記第１実施形態におけるＣ１エラー検出回路２３に代えて、フレーム同期信号検出回路１４０ａおよびカウンタ回路１４０ｂを設けるようにし、β値に加え、フレーム同期信号検出回路１４０ａおよびカウンタ回路１４０ｂが検出したフレーム同期信号検出回数を用いて最適な記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。ここで、フレーム同期信号検出回路１４０ａおよびカウンタ回路１４０ｂは、上述した第１実施形態と同様、テスト記録した領域の再生ＲＦ信号をＥＦＭ復調し、得られた信号からＥＦＭフレーム同期信号を検出し、検出した回数をカウントし、制御部１６に出力する。
【００４５】
Ｃ１エラー値に代えてフレーム同期信号の検出回数を用いる場合、すなわちβ値とフレーム同期信号の検出回数を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、まずフレーム同期信号検出１４０ａおよびカウンタ回路１４０ｂから供給されるフレーム同期信号の検出回数とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、上記第１実施形態と同様に記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示す記録パワー−β特性（図６参照）を求めるとともに、図１１に示すような記録レーザパワー値とフレーム同期信号検出回数との対応関係を示す記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性を求める。
【００４６】
そして、上述した第１実施形態と同様に予め記憶されているβ好適値情報に示されるβ値に対応する記録レーザパワー値Ｐｔ（図６参照）を特定するとともに、図１１に示す記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性を参照し、予め記憶されているフレーム同期信号検出回数好適値情報に示される範囲（図示の例では、フレーム同期信号検出回数が９０以上）内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＳＰＪ（図示の例では、１６．５ｍＷ）および下限値ＳＰＫ（図示の例では、１２．５ｍＷ）を求めて記録レーザパワーの取り得る範囲ＳＰｍを特定する。
【００４７】
このようにβ値から記録レーザパワー値Ｐｔを特定し、フレーム同期信号検出回数から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＳＰｍを特定し、上述した第１実施形態と同様に、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＳＰｍ内にある場合には、記録レーザパワー値Ｐｔを最適記録レーザパワー値として決定する。一方、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＳＰｍ内にない場合には、再度ＯＰＣを行い、当該ＯＰＣの結果に基づいて上記と同様に最適記録レーザパワー値を決定するための処理を行うようにすればよい。また、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＳＰｍ内にない場合の決定方法としては、記録レーザパワー値Ｐｔと、上限値ＳＰＪもしくは下限値ＳＰＫ（記録レーザパワー値Ｐｔに近い方の値）との平均値を最適記録レーザパワー値として決定すれば、β値だけではなくフレーム同期信号の検出回数を考慮して最適記録レーザパワー値を決定することができる。
【００４８】
また、図１２に示すように、Ｃ１エラー検出回路２３に代えて、ジッター検出回路１６０を設けるようにし、Ｃ１エラー値に代えてジッター検出回路１６０が検出したジッター値を用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。ここで、ジッター検出回路１６０は、イコライザと、スライサと、ＰＬＬ（phase-locked loop）回路と、ジッター測定器とを有している。ＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号はイコライザを通過し、イコライザを通過した信号がスライサで２値化される。そして、２値化されたＲＦ信号はＰＬＬ回路およびジッター測定器の両者に供給される。ＰＬＬ回路では、２値化されたＲＦ信号からクロックが生成され、生成されたクロックがジッター測定器へ送られる。ジッター測定器は、このクロックと２値化されたＲＦ信号とから、記録されたピットと基準長のずれの標準偏差であるジッターを測定する。
【００４９】
Ｃ１エラー値に代えてジッター値を用いる場合、すなわちβ値とジッター値を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、まずジッター検出回路１６０から供給されるジッター値とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、上記第１実施形態と同様に記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示す記録パワー−β特性（図６参照）を求めるとともに、図１３に示すような記録レーザパワー値とジッター値との対応関係を示す記録パワー−ジッター特性を求める。
【００５０】
そして、上述した第１実施形態と同様に予め記憶されているβ好適値情報に示されるβ値に対応する記録レーザパワー値Ｐｔ（図６参照）を特定するとともに、図１３に示す記録パワー−ジッター特性を参照し、予め記憶されているジッター好適値情報に示される範囲（図示の例では、ジッター値が３５以下）内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＪＰＪ（図示の例では、１６．９ｍＷ）および下限値ＪＰＫ（図示の例では、１２．１ｍＷ）を求めて記録レーザパワーの取り得る範囲ＪＰｍを特定する。
【００５１】
このようにβ値から記録レーザパワー値Ｐｔを特定し、ジッター値から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＪＰｍを特定し、上述した第１実施形態と同様に、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＪＰｍ内にある場合には、記録レーザパワー値Ｐｔを最適記録レーザパワー値として決定する。一方、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＪＰｍ内にない場合には、再度ＯＰＣを行い、当該ＯＰＣの結果に基づいて上記と同様に最適記録レーザパワー値を決定するための処理を行うようにすればよい。また、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＳＰｍ内にない場合の決定方法としては、記録レーザパワー値Ｐｔと、上限値ＪＰＪもしくは下限値ＪＰＫ（記録レーザパワー値Ｐｔに近い方の値）との平均値を最適記録レーザパワー値として決定すればよい。
【００５２】
また、図１４に示すように、Ｃ１エラー検出回路２３に代えて、デビエーション（Deviation）検出回路１８０を設けるようにし、デビエーション検出回路１８０が検出したデビエーション値を用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。ここで、デビエーション検出回路１８０は、上述したジッター検出回路１６０と同様のイコライザと、スライサと、ＰＬＬ回路とを有しており、さらにジッター測定器に代えてＰＬＬ回路から供給されるクロックと、スライサから供給される２値のＲＦ信号とからデビエーション（記録ピットと基準長のずれ）を検出するデビエーション測定器を有している。
【００５３】
Ｃ１エラー値に代えてデビエーション値を用いる場合、すなわちβ値とデビエーション値を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、まずデビエーション検出回路１８０から供給されるデビエーション値とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、上記第１実施形態と同様に記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示す記録パワー−β特性（図６参照）を求めるとともに、図１５に示すような記録レーザパワー値とデビエーション値との対応関係を示す記録パワー−デビエーション特性を求める。
【００５４】
そして、上述した第１実施形態と同様に予め記憶されているβ好適値情報に示されるβ値に対応する記録レーザパワー値Ｐｔ（図６参照）を特定するとともに、図１５に示す記録パワー−デビエーション特性を参照し、予め記憶されているデビエーション好適値情報に示される範囲（図示の例では、デビエーション値が−２０〜２０）内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＤＰＪ（図示の例では、１４．５ｍＷ）および下限値ＤＰＫ（図示の例では、１２ｍＷ）を求めて記録レーザパワーの取り得る範囲ＤＰｍを特定する。
【００５５】
このようにβ値から記録レーザパワー値Ｐｔを特定し、ジッター値から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＤＰｍを特定し、上述した第１実施形態と同様に、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＤＰｍ内にある場合には、記録レーザパワー値Ｐｔを最適記録レーザパワー値として決定する。一方、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＤＰｍ内にない場合には、再度ＯＰＣを行い、当該ＯＰＣの結果に基づいて上記と同様に最適記録レーザパワー値を決定するための処理を行うようにすればよい。また、記録レーザパワー値Ｐｔが範囲ＤＰｍ内にない場合の決定方法としては、記録レーザパワー値Ｐｔと、上限値ＤＰＪもしくは下限値ＤＰＫ（記録レーザパワー値Ｐｔに近い方の値）との平均値を最適記録レーザパワー値として決定すればよい。
【００５６】
また、Ｃ１エラー値に代えて、テスト記録領域の再生時にＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号の振幅、変調度、反射率といったパラメータを用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。ここで、記録レーザパワー値とＲＦ信号の振幅値との関係は、図１６に示すように記録レーザパワー値の上昇に伴って振幅値が上昇し、ある程度上昇すると振幅値が飽和するといった特性となる。ＲＦ信号の振幅を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、テスト記録領域の再生する際のＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号から上記のような記録パワー−振幅特性を求める。そして、求めた特性を参照し、予め記憶されているＲＦ信号の振幅の好適値情報に示される範囲内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＲＰＪおよび下限値ＲＰＫを求めて記録レーザパワー値の取り得る範囲ＲＰｍを特定する。そして、上述した第１実施形態と同様、当該範囲ＲＰｍとβ値から特定された記録レーザパワー値Ｐｔとに基づいて最適レーザパワー値を決定すればよい。
【００５７】
また、変調度と記録レーザパワー値との関係は、図１７に示すように上記ＲＦ信号の振幅と類似した特性となる。変調度を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、テスト記録領域の再生する際のＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号から上記のような記録パワー−変調度特性を求める。そして、求めた特性を参照し、予め記憶されている変調度の好適値情報に示される範囲内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＨＰＪおよび下限値ＨＰＫを求めて記録レーザパワー値の取り得る範囲ＨＰｍを特定する。そして、上述した第１実施形態と同様、当該範囲ＨＰｍとβ値から特定された記録レーザパワー値Ｐｔとに基づいて最適レーザパワー値を決定すればよい。なお、変調度は、ＲＦ信号の最大値をＩｍａｘとし、最小値をＩｍｉｎとした場合、変調度＝（Ｉｍａｘ−Ｉｍｉｎ）／Ｉｍａｘで求めることができる。
【００５８】
また、反射率と記録レーザパワー値との関係は、図１８に示すように記録レーザパワー値が大きくなる程、反射率が低下するほぼ一次関数のような特性となる。反射率を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合には、テスト記録領域の再生する際のＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号から上記のような記録パワー−反射率特性を求める。そして、求めた特性を参照し、予め記憶されている反射率の好適値情報に示される範囲内に収めるための記録レーザパワーの上限値ＨＳＰＪおよび下限値ＨＳＰＫを求めて記録レーザパワー値の取り得る範囲ＨＳＰｍを特定する。そして、上述した第１実施形態と同様、当該範囲ＨＳＰｍとβ値から特定された記録レーザパワー値Ｐｔとに基づいて最適レーザパワー値を決定すればよい。なお、反射率は、ＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号をローパスフィルタを通して平均化することにより求めることができる。
【００５９】
Ａ−３−２．変形例２
また、上述した第１実施形態および変形例においては、テスト記録の結果により得られたβ値から１点の記録レーザパワー値を特定し、他のパラメータ（Ｃ１エラー値、フレーム同期信号の検出回数、ジッター値、デビエーション値、ＲＦ信号の振幅、変調度、反射率）から記録レーザパワー値の取り得る範囲を求めるようにしていたが、他のパラメータを用いて１点の記録レーザパワー値を特定し、β値を用いて記録レーザパワーの取り得る範囲を特定するようにしてもよい。
【００６０】
また、β値を用いずに、上述したＣ１エラー値、フレーム同期信号の検出回数、ジッター値、デビエーション値、ＲＦ信号の振幅、変調度、および反射率といった記録状態の品位に関するパラメータの２つ以上を用い、最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。例えば、Ｃ１エラー値を用いて１点の記録レーザパワー値を特定するとともにし、フレーム同期信号の検出回数を用いて記録レーザパワー値が取り得る範囲を特定し、これらの特定された記録レーザパワー値および範囲に基づいて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。
【００６１】
また、上述した第１実施形態では、１つのあるパラメータ（第１実施形態ではβ値）から１点の記録レーザパワー値を特定し、他のパラメータ（第１実施形態ではＣ１エラー値）から記録レーザパワー値の取り得る範囲を特定し、あるパラメータから特定した一点の記録レーザパワー値が他のパラメータから特定した範囲内にあれば、一点の記録レーザパワー値を最適レーザパワー値として決定するようにしていたが、これ以外の手法で最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。例えば、β値から特定した１点の記録レーザパワー値と、Ｃ１エラー値から特定した１点の記録レーザパワー値との平均値を最適記録レーザパワー値として決定するようにしてもよい。
【００６２】
また、上述した第１実施形態では、β値とＣ１エラー値といった２つの記録状態の品位に関するパラメータを用いて最適記録レーザパワー値を求めるようにしていたが、上述した様々なパラメータ（Ｃ１エラー値、フレーム同期信号の検出回数、ジッター値、デビエーション値、ＲＦ信号の振幅、変調度、反射率）のうち、３つ以上のパラメータを用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。例えば、β値、Ｃ１エラー値およびフレーム同期信号の検出回数値といった３つのパラメータを用いて最適記録レーザパワー値を求める場合には、上述した第１実施形態と同様に、記録パワー−β特性（図６参照）から記録レーザパワー値Ｐｔを特定すると共に、記録パワー−Ｃ１エラー特性および記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性から記録レーザパワー値の取り得る範囲を求めるようにすればよい。例えば、図１９に示すように、記録パワー−Ｃ１エラー特性から記録レーザパワー値が取り得る範囲Ｐｍが特定され、記録パワー−フレーム同期信号検出回数から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＳＰｍが特定された場合には、範囲Ｐｍと範囲ＳＰｍとが重なる部分の範囲ＫＰｍ（図示の例では、範囲ＫＰｍ＝範囲Ｐｍ）と、上記記録レーザパワー値Ｐｔとに基づいて最適記録レーザパワー値を特定するようにすればよい。
【００６３】
Ｂ．第２実施形態
次に、本発明の第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置について図２０および図２１を参照しながら説明する。図２０に示すように、第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置は、上述した第１実施形態におけるβ検出回路２４を有していない点で上記第１実施形態に係る光ディスク記録再生装置と相違している。Ｃ１エラー検出回路２３は、上記第１実施形態と同様に行われたテスト記録領域の再生時にＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号からＣ１エラーを測定し、その測定結果であるＣ１エラー値を制御部１６に出力する。
【００６４】
第２実施形態における制御部１６は、最適記録レーザパワー値の決定方法が上記第１実施形態における制御部１６と相違しており、第２実施形態における制御部１６による最適記録レーザパワー値を決定する処理に着目した制御部１６の機能構成を図２１に示す。同図に示すように、制御部１６は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０と、最適記録レーザパワー値決定部２２１とを有している。
【００６５】
最適記録レーザパワー値決定部２２１は、本番の記録に先立つＯＰＣにより得られた結果（複数の記録レーザパワー値とこれに対応するＣ１エラー値）から、図２２に示すような記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係を示す記録パワー−Ｃ１エラー特性を求める。最適記録レーザパワー値決定部２２１は、この記録パワー−Ｃ１エラー特性と、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０に記憶されているＣ１エラー好適値情報と、アドレス検出回路１４から供給されるディスク種類情報とに基づいて、記録レーザパワー値を特定する。Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０には、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素等）毎に、最適な記録を行うためのＣ１エラー値を示すジッター好適値情報が格納されており、ここで、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０に記憶される情報は予め実験等により各ディスクの種類毎に求められた値である。
【００６６】
図２２に示すような記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係を示すパワー−Ｃ１エラー特性を求められた場合には、最適記録レーザパワー値決定部２２１は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０に記憶されている多数のディスク種類に対応したＣ１エラー好適値情報の中から、アドレス検出回路１４から供給されるディスクの種類情報に対応したＣ１エラー好適値情報ＣＪＫ（＝０でもよい）を取得する。そして、最適記録レーザパワー値決定部２２１は、ＯＰＣ結果に基づいて求めたパワー−Ｃ１エラー特性を参照し、取得したＣ１エラー好適値情報に示されるＣ１エラー値に対応する記録レーザパワー値Ｐｔ’を決定する。そして、制御部１６は、決定した記録レーザパワー値Ｐｔ’のレーザ光が光ピックアップ１０から光ディスクＤに照射されるようにレーザパワー制御回路２０等の装置各部を制御する。
【００６７】
第２実施形態によれば、β値以外のパラメータであるＣ１エラー値を考慮して最適な記録レーザパワー値を決定することができる。例えば、β値が特異に変化するβ値特異点を有する特性の光ディスク（図３２参照）に対し、β特異点に対応する記録レーザパワー値で記録を行うと、良好な記録状態品位が得られない場合があるが、本実施形態では、β値ではなく、他の記録品位に関するパラメータを考慮して最適記録レーザパワー値を決定しているので、β特異点に起因する記録品位の悪化を抑制することができる。
【００６８】
なお、第２実施形態では、Ｃ１エラー検出回路２３を設けてテスト記録領域の再生信号からＣ１エラー値を検出し、当該Ｃ１エラー値が予め記憶された好適な値となる記録レーザパワー値を最適レーザパワー値として決定するようにしていたが、ジッター値、フレーム同期信号の検出回数、デビエーション値、ＲＦ信号の振幅といった記録状態の品位に関するパラメータを検出し、これらのパラメータのうちのいずれかを用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。
【００６９】
また、上述した第２実施形態では、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２２０に記憶されているＣ１エラー値の好適値ＣＪＫに対応する記録レーザパワー値Ｐｔ’を最適記録レーザパワー値として決定するようにしていたが、β値以外の上記パラメータから最適記録レーザパワー値を決定する場合には、次のような手法を用いるようにしてもよい。
【００７０】
例えば、テスト記録した領域のＲＦ信号からフレーム同期信号の検出回数を検出した場合に、図２３中実線で示す記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性が得られたとする。このような特性が得られた場合に、最適記録レーザパワー値を決定する方法としては、まず最小二乗法により、実線で示されるテスト記録の結果得られた記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性に近似する二次関数を求める（図中一点差線で示す）。例えば、この二次関数がフレーム同期信号検出回数（ＳＹＥＱ）＝ａｐ2＋ｂｐ＋ｃで表されたとすると（ｐは記録レーザパワー値を示す変数、ａ，ｂ，ｃは固定値）、当該二次関数を微分し、（単位記録レーザパワーあたりのフレーム同期信号検出回数の変化量（以下、ΔＮＳＹＥＱとする）＝ａｐ＋ｂを求める。このように求められたΔＮＳＹＥＱと記録レーザパワー値との対応関係が図２４に示すように一次関数で表されることになり、この図に示される記録パワー−ΔＮＳＹＥＱ特性を参照し、予め記憶されている好適なΔＮＳＹＥＱ値ＳＫに対応する記録レーザパワー値Ｐｔ”を最適記録レーザパワー値として決定する。
【００７１】
また、テスト記録した領域のＲＦ信号をＥＦＭ復調した信号からＣ１エラー値を検出して最適記録レーザパワー値を決定する場合にも、上記フレーム同期信号検出回数を用いて最適記録レーザパワー値を決定する場合と同様に、図２５中実線で示す記録パワー−Ｃ１エラー値の特性に近似する二次関数を最小二乗法により求める（図中一点鎖線で示す）。そして、上述したフレーム同期信号の検出回数を用いる場合と同様に、求めた二次関数を微分することにより、図２６に示す記録パワー−ΔＣ１エラー特性を求める。この図に示される記録パワー−ΔＣ１エラー特性を参照し、予め記憶されている好適なΔＣ１エラー値ＣＫに対応する記録レーザパワー値ＰＣｔを最適記録レーザパワー値として決定する。
【００７２】
また、上述した変形例では、記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性や記録パワー−Ｃ１エラー特性に近似する二次関数を最小二乗法により求め、当該二次関数を微分した一次関数によって表されるΔＮＳＹＥＱやΔＣ１エラー値が好適値となる記録レーザパワー値を最適値として決定するようにしていたが、上記と同様に記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性等に近似する二次関数を求め、図２７に示すように、求めた二次関数（一点鎖線）の曲線とフレーム同期信号検出回数＝０の直線とを覆う部分の面積をＳとした場合に、面積Ｓの４０％の面積となる記録レーザパワー値Ｐｓｔを最適値として決定するといった手法を用いるようにしてもよい。この場合、予め実験を行うことにより、どの程度の面積比率が好適な記録を行える記録レーザパワー値となりうるかを求めておき、当該実験結果により求められた面積比率を記憶しておくようにすればよい。
【００７３】
また、上記のように面積Ｓの割合で最適な記録レーザパワー値を決定する以外にも、図２８に示すように、上記と同様に求めた二次関数の曲線と、予め設定されたフレーム同期検出回数の値（図示の例では、フレーム同期検出回数＝５０）の直線Ｆ５０との交点となる記録レーザパワー値ＰＳＫ、ＰＳＪを求め、これらの値から最適な記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。例えば、図示のように、最適レーザパワー値Ｐｓを、以下のような式により求めてもよい。
Ｐｓ＝（ＰＳＪ−ＰＳＫ）＊０．４＋ＰＳＫ
このような式を用いることにより、交点となる記録レーザパワー値ＰＳＫ、ＰＳＪとの間の値であり、かつ両交点間の距離のＰＳＫから４０％となる値（ＰＳＪから６０％の値）求め、これを最適記録レーザパワー値として決定するようにしてもよい。
【００７４】
また、上述したフレーム同期信号の検出回数やＣ１エラー値を用い、これらの特性を最小二乗法により二次関数で表し、該二次関数を微分もしくは二次関数曲線に囲まれる面積等を求めることにより、最適記録レーザパワー値を求める手法は、上記フレーム同期信号検出回数、Ｃ１エラーといったパラメータにも適用できるし、これら以外のジッター値等のパラメータにも適用することも可能である。
【００７５】
Ｃ．第３実施形態
次に、本発明の第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置について説明する。第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成は図１に示す第１実施形態に係る光ディスク記録再生装置とほぼ同様であり、制御部１６による最適記録レーザパワー値の決定方法が第１実施形態と相違している。したがって、以下においては、第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置の制御部１６による最適記録レーザパワー値の決定方法について、当該最適記録レーザパワー値を決定する処理に着目した制御部１６の機能構成を示す図２９を参照しながら説明する。
【００７６】
同図に示すように、第３実施形態における制御部１６は、Δβ値情報記憶部３００と、β特異点検出部３０１と、最適レーザパワー値決定部３０２とを有している。
【００７７】
β特異点検出部３０１は、本番の記録に先立つＯＰＣにより得られた結果（複数の記録レーザパワー値と各レーザパワー値に対応するβ値）から、図３０に示すような記録レーザパワー値とβ値との対応関係を示す記録パワー−β特性を求め、さらに図３１に示すような単位記録レーザパワー値あたりのβ値の変化量、すなわちβ値の微分値であるΔβ値と、記録レーザパワー値との対応関係を示す記録パワー−Δβ特性を求める。
【００７８】
β特異点検出部３０１は、この記録パワー−Δβ特性と、Δβ値情報記憶部３００に記憶されているΔβ値情報とに基づいて、β値と記録レーザパワー値との対応関係が他の部分と異なる部分、すなわちβ値が特異に変化するβ特異点を検出する。Δβ値情報記憶部３００には、予め実験により求められたβ特異点を検出するためのΔβ値の閾値ＢＴＳが格納されている。図３０に示すように、β特異点ＢＴは、他の部分と比較してΔβの値が小さくなる部分であるため、Δβ値情報記憶部３００に格納されているΔβ値の閾値ＢＴＳよりもΔβ値が小さくなる部分をβ特異点として検出することができる。図３０に示す例では、記録レーザパワー値が１５〜１６ｍＷ近傍の部分がβ特異点ＢＴとなっており、図３１に示すように、このβ値特異点ＢＴの部分（記録レーザパワー値が１５〜１６ｍＷ近傍）のΔβ値が他の部分より小さくなっているのが分かる。β特異点検出部３０１は、Δβ値情報記憶部３００に格納されているΔβ値の閾値ＢＴＳよりもΔβ値が小さい部分をβ値特異点ＢＴとして検出し、当該β値特異点ＢＴに対応する記録レーザパワー値（下限値ＰＢＫ〜上限値ＰＢＪ）を求める。
【００７９】
また、Δβ値情報記憶部３００には、上述したようなβ値特異点ＢＴを検出するためのΔβ値の閾値ＢＴＳに加え、記録レーザパワー値の取り得る範囲を特定するためのΔβ値の閾値ＢＣＳが格納されている。最適レーザパワー値決定部３０２は、図３１に示される記録パワー−Δβ特性を参照し、Δβ値情報記憶部３００に格納されている閾値ＢＣＳよりも大きいΔβ値となる記録レーザパワー値の範囲（ＰＢｍ１，ＰＢｍ２）を特定する。そして、最適レーザパワー値決定部３０２は、上述したようにβ特異点検出部３０１によって求められたβ値特異点ＢＴに対応する記録レーザパワー値ＰＢＫよりも小さいレーザパワー値であって、上記記録レーザパワー値の範囲ＰＢｍ１，ＰＢｍ２に属する記録レーザパワー値を最適記録レーザパワー値として決定する。
【００８０】
第３実施形態における制御部１６は、上記のように決定した最適記録レーザパワー値で記録が行われるように当該光ディスク記録再生装置の装置各部を制御する。β特異点を有する特性の光ディスクに対して記録を行う際に、β値が特異に変化するβ値特異点に対応する記録レーザパワー値（図３１に示す例では、１５．５ｍＷ等）で当該特性を有する光ディスクに記録を行うと、良好な記録状態品位が得られない場合があるが、本実施形態では、上記のようにΔβ値を求めてβ特異点を検出し、当該β特異点に対応する記録レーザパワー値よりも小さい記録レーザパワー値での記録を行うようにしているので、β特異点に起因する記録品位の悪化を抑制することができる。
【００８１】
なお、このようにΔβ値を求めて最適記録レーザパワー値の決定に用いる場合には、当該Δβ値に加え、上述した他のパラメータ（Ｃ１エラー値、フレーム同期信号検出回数、ジッター値、デビエーション値、ＲＦ信号の振幅、変調度、反射率）を用いて最適記録レーザパワー値を決定するようにしてもよい。例えば、Δβ値に加え、フレーム同期信号検出回数およびＣ１エラー値を用いる場合には、上述した第３実施形態と同様に記録パワー−Δβ特性から記録レーザパワー値の取り得る範囲を求めると共に、記録パワー−Ｃ１エラー特性および記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性から記録レーザパワー値の取り得る範囲を求めるようにすればよい。例えば、図３２に示すように、記録パワー−Ｃ１エラー特性から記録レーザパワー値が取り得る範囲Ｐｍが特定され、記録パワー−フレーム同期信号検出回数特性から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＳＰｍが特定され、さらに記録パワー−Δβ特性から記録レーザパワー値が取り得る範囲ＰＢｍが特定された場合には、範囲Ｐｍと範囲ＳＰｍと範囲ＰＢｍとが重なる部分の範囲ＫＰｍに収まるような記録レーザパワー値を最適記録レーザパワー値として決定するようにすればよい。
【００８２】
Ｄ．変形例
なお、本発明は、上述した様々な実施形態に限定されるわけではなく、以下に例示するような種々の変形が可能である。
【００８３】
上述した各実施形態では、スピンドルモータ１１が光ディスクＤを一定線速度で駆動するＣＬＶ方式で記録を行うようにしていたが、光ディスクＤを角速度一定で駆動する方式（ＣＡＶ：Constant Angular Velocity）で記録を行うようにしてもよい。ＣＡＶ方式で記録を行う場合には、記録位置が外周側になるにつれて記録線速度が大きくなるため、記録線速度の変化に応じて記録レーザパワー値を変更する必要がある。したがって、ＣＡＶ方式で記録を行う場合には、上述した様々な実施形態で説明した最適記録レーザパワー値の決定処理を複数の記録線速度に対して行い、複数の記録速度と、各記録速度に対応する最適記録レーザパワー値との対応関係を示す記録速度−最適パワー特性を求め、当該記録速度−最適パワー特性を参照し、記録線速度の変化に伴って最適記録レーザパワー値を変更するようにすればよい。
【００８４】
また、上述した第１および第２実施形態、ならびに各変形例では、β値とＣ１エラー値（第１実施形態）といったようにＯＰＣにおけるテスト記録した領域の再生信号から２つ以上のパラメータを取得し、取得したパラメータを用いて最適な記録レーザパワー値を決定するようにしていた。しかしながら、各パラメータを検出する回路の能力が乏しい場合等には、高速記録での最適記録レーザパワー値を求めるために、高速（例えば、１６倍速）でテスト記録した領域を記録速度と同じ高速で再生した場合には、複数のパラメータを同時に測定する処理が再生速度に追従できず、その再生信号から正確にβ値やＣ１エラー値といったパラメータを取得できなくなる虞がある。したがって、パラメータを取得するためのサンプリング周期を間引く（例えば、周期を２倍にする）といったことが考えられるが、Ｃ１エラー値を取得する場合には、最大のＣ１エラー数が４８（通常、９８）となり、正確性に問題のある値となってしまう。
【００８５】
このような高速記録のためのＯＰＣにより複数のパラメータを正確に取得することが困難である点に考慮し、ＯＰＣの記録速度は高速で行い、再生を該記録速度より小さい速度で行い、低い再生速度で得られた再生信号から複数のパラメータを測定することにより、より正確に複数のパラメータを取得できるようにしてもよい。
【００８６】
また、別の手法として、ＯＰＣの記録速度は高速で行い、該記録領域の再生を複数回行い、複数回の再生により得られた複数の再生信号の各々から測定したパラメータを平均等することによりパラメータの測定精度を向上させるようにしてもよい。また１回目の再生信号はβ値のみを測定するために用い、２回目の再生信号はＣ１エラー値を求めるといったように複数得られた再生信号の各々を１種類のパラメータを測定するために用いるようにしてもよい。もちろん、これら複数回の再生を記録速度よりも小さい速度で行うようにしてもよい。
【００８７】
また、上述した様々な実施形態では、光ディスクＤとしてＣＤ−Ｒを用いた場合を例に挙げて説明したが、これ以外にもＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（DVD-Random Access Memory）、ＰＣ−ＲＷ（Phase Change-ReWritable）等に記録する際にも適用することができる。
【００８８】
なお、上述したような最適な記録レーザパワー値の決定処理を含む記録処理を実行する制御部１６は専用のハードウェア回路で構成するようにしてもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等から構成するようにし、ＲＯＭ（Read Only Memory）等の記憶手段に格納されたプログラムを実行することにより上記処理をソフトウェアで実現するようにしてもよい。このようにソフトウェアで上記処理を行う場合には、上記処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録したＣＤ−ＲＯＭやフロッピーディスク等の様々な記録媒体をユーザに提供するようにしてもよいし、インターネット等の伝送媒体を介してユーザに提供するようにしてもよい。
【００８９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、記録する光ディスクの製品の個体差に関わらず、記録エラーの発生を低減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】  光ディスクにおける前記光ディスク記録再生装置によるテスト記録が行われる領域を説明するための図である。
【図３】  前記光ディスク記録再生装置の構成要素である制御部の機能構成を示すブロック図である。
【図４】  前記制御部の構成要素であるβ好適値情報記憶部の記憶内容を説明するための図である。
【図５】  前記光ディスク記録再生装置によって行われたテスト記録によって得られる記録レーザパワー値毎のβ値とＣ１エラー値との一例を示す図である。
【図６】  記録レーザパワー値とβ値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図７】  前記制御部の構成要素であるＣ１エラー好適値情報記憶部の記憶内容を説明するための図である。
【図８】  記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図９】  前記光ディスク記録再生装置による記録時に前記制御部が実行する処理を示すフローチャートである。
【図１０】  前記光ディスク記録再生装置の変形例の構成を示すブロック図である。
【図１１】  前記光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とフレーム同期信号検出回数との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１２】  前記光ディスク記録再生装置の他の変形例の構成を示すブロック図である。
【図１３】  前記光ディスク記録再生装置の他の変形例において、記録レーザパワー値とジッター値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１４】  前記光ディスク記録再生装置のさらに他の変形例の構成を示すブロック図である。
【図１５】  前記光ディスク記録再生装置のさらに他の変形例において、記録レーザパワー値とデビエーション値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１６】  前記光ディスク記録再生装置において、記録レーザパワー値とＲＦ信号の振幅値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１７】  前記光ディスク記録再生装置において、記録レーザパワー値と変調度との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１８】  前記光ディスク記録再生装置において、記録レーザパワー値と反射率との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図１９】  前記光ディスク記録再生装置のさらにその他の変形例において、最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２０】  本発明の第２実施形態に係る前記光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２１】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成要素である制御部の機能構成を示すブロック図である。
【図２２】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置において、記録レーザパワー値とジッター値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２３】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とフレーム同期信号検出回数との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２４】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とΔフレーム同期信号検出回数値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２５】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とＣ１エラー値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２６】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とΔＣ１エラー値との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図２７】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とフレーム同期信号検出回数との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理の変形例を説明するための図である。
【図２８】  前記第２実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、記録レーザパワー値とフレーム同期信号検出回数との対応関係から最適記録レーザパワー値を決定する処理の他の変形例を説明するための図である。
【図２９】  本発明の第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成要素である制御部の機能構成を示すブロック図である。
【図３０】  前記第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置によって行われたテスト記録により得られた記録レーザパワー値とβ値との関係の一例を示す図である。
【図３１】  前記第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置において、記録レーザパワー値とΔβ値との対応関係から、最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図３２】  前記第３実施形態に係る光ディスク記録再生装置の変形例において、最適記録レーザパワー値を決定する処理を説明するための図である。
【図３３】  光ディスクＤにテスト記録を行った領域の再生信号から得られる記録レーザパワー値とβ値との関係の一例を示す図である。
【符号の説明】
１０……光ピックアップ、１１……スピンドルモータ、１２……ＲＦアンプ、１３……サーボ回路、１４……アドレス検出回路、１５……デコーダ、１６……制御部、２２……エンベロープ検出回路、２３……Ｃ１エラー検出回路、２４……β検出回路、１１２……内周側ＰＣＡ領域、１１２ａ……テスト領域、１４０ａ……フレーム同期信号検出回路、１４０ｂ……カウンタ回路、１６０……ジッター検出回路、１８０……デビエーション検出回路、２００……Ｃ１エラー好適値情報記憶部、２０１……β好適値情報記憶部、２０２……レーザパワー値特定部、２０３……レーザパワー範囲特定部、２０４……最適レーザパワー値決定部、２２０……Ｃ１エラー好適値情報記憶部、２２１……最適記録レーザパワー値決定部、３００……Δβ値情報記憶部、３０１……β特異点検出部、３０２……最適レーザパワー値決定部、Ｄ……光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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