(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録部材に格納された放射線画像の記録部材欠陥を補正する方法において、
−  該記録部材における各ピクセルに対して、ピクセルにおいて有効に獲得された値の偏差を表現する補正値と、該記録媒体が平坦場露光にさらされ、続いて、校正された読出しシステムによって読み出された時予期される値とを具備するキャリブレ−ションマトリックスを記録部材に対して生成することと、
−  校正された読出しシステムを用いて画像を読み取ることにより、放射線画像のディジタル信号表現を生成することと、
−  該キャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセルに適用することにより、該放射線画像の各ピクセルを補正することとを具備する方法。
【請求項２】
放射線画像を記録するために記録部材における局所欠陥を突きとめる方法において、
−  該記録部材を放射線の平坦場露光にさらす段階と、
−  該平坦場露光により、記録部材に格納された平坦場画像を読出す段階と、
−  なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）を生成する段階と、
−  なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）の対応する値を平坦場画像のピクセル値から控除することにより、残留画像ｒ（ｉ，ｊ）を生成する段階と、
−  誤差画像ｅ（ｉ，ｊ）を生成するために、雑音従属しきい値Ｔで該残留画像ｒ（ｉ，ｊ）の絶対値｜ｒ（ｉ，ｊ）｜をしきい化する段階とを具備し、
この場合、｜ｒ（ｉ，ｊ）｜＞Ｔならばｅ（ｉ，ｊ）＝１であり、そうでなければｅ（ｉ，ｊ）＝０であり、
Ｔ＝ασR、αは３〜５であり、σRは、該平坦場画像における雑音分布の分散である方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の分野】
本発明は、医学用画像形成の分野にある。発明は、さらに具体的には、放射線画像を格納するための記録部材における任意の形式及び大きさの欠陥の検出及び位置付けに関する。発明は、さらに、放射線画像におけるそのような欠陥の補正に関する。
【０００２】
【技術的現状の説明】
ディジタル医学用画像形成の分野において、医学用画像のディジタル表現を与える非常に多様な画像取得技術が、開発された。そのような技術の中で、コンピュータ連動断層撮影、核磁気共鳴、超音波、ＣＣＤセンサ又はビデオカメラを用いた放射線画像の検出、放射線フィルム走査、セレニウムを用いる技術、及び薄膜トランジスタ等の読出しシステムがある。
【０００３】
さらに別の技術において、（患者の身体の如く）露出物体によって透過されたＸ線は、光刺激性蛍光面において格納される。そのような光刺激性蛍光面は、例えば、ユーロピウム活性バリウムフルオロハライドと結合剤等の蛍光体を含む光刺激性発光材料の層を具備する。蛍光体は、Ｘ線によって励起状態に付勢され、第１波長範囲内の光により刺激され、基底状態に戻り、第２波長範囲内の光を放射するという特性を有する。刺戟放射線は、放射光線とは異なった波長を有するように配置される。放射線画像がユーロピウム活性バリウムフルオロハライド蛍光体を具備する画面において格納される特定例に関して、刺戟光は、６００〜７００ｎｍの範囲内に位置し、そして放射光線は、３５０〜４５０ｎｍの範囲内に．位置する。
【０００４】
露出面において格納された画像を読取るために、画像は、刺戟光で二次元的に走査する走査ステーションを通って搬送される。この目的のために、蛍光体の刺戟波長範囲内の波長の光ビ―ムは、第１方向（主走査方向と言う）において画面を走査するために偏向されるが、それは、主走査方向に垂直な第２方向において搬送される。
【０００５】
刺激により放射された光線は、光案内部材を通って光電子増倍管の如く光電気変換器へ案内され、放射光線を対応するアナログ電気信号へ変換する。このアナログ電気信号は、それから、Ａ／Ｄコンバ―タを用いてディジタル画像信号へ変換される。
【０００６】
中間記憶手段として光刺激性蛍光面の使用を通して取得されたディジタル画像表現、又は他の種類の検出器及び／又は画像取得システムによって取得されたディジタル画像表現は、常に、或る程度の雑音を含む。
【０００７】
特に、患者の身体から情報を抽出し、この情報を医師に提示し、診断を行うためのシステムが開発された、医学用画像形成の分野において、画像におけるすべての画像欠陥は、関連信号成分に干渉し、それ自体、診断に影響を及ぼすかもしてないために、検出及び通知されることは、極めて重要である。
【０００８】
本発明は、特に、医学用放射線画像のディジタル画像表現における欠陥の検出を取り扱う。さらに具体的には、本発明は、上記の読出しプロセスにより読み出される光刺激性蛍光面において格納された放射線画像における欠陥を取り扱う。刺激性蛍光体における欠陥は、幾つかの原因から起こる。本発明の文脈において、これらの欠陥は、３つのクラスに分類される。即ち、（１）蛍光面の成型プロセスにおける微粒不純物から、又は続く使用中のほこりから生ずる点欠陥。点欠陥の空間次元は、両主画像次元に関して小さく、それらのグレー値振幅は、症例による程度において結像鎖雑音振幅を超える。（２）生産工程中のよごれ又は使用中の機械的摩耗から生ずる線状又は曲線状欠陥。これら欠陥のクラスは、さらに、（ａ）限定的ではないが、機械的ローラによって生ずるような純粋な線欠陥、（ｂ）例えば、取り扱いと損傷によるひっかき、（ｃ）任意の種類の１次元ひずみプロセスによる曲線状欠陥、に細分される。線欠陥のこれらのサブクラスのすべては、横寸法に関する欠陥の軸に沿った長さの大きな比率を有する。振幅は、広く変化し、（例えば、よごれにより生ずる如く）最も弱い振幅は、許容されないと考えられる。（３）例えば、生産における成型プロセス又は使用中の湿気から発生する諸点の如く領域欠陥と大域不純物。この欠陥クラスは、主画像軸における次元を示す。欠陥源のさらに他の原因も考えられるが、合成欠陥の形状は、点、線又は領域欠陥として分類される。上記の欠陥クラスのすべてによって共有される共通な特性は、作製時においてすでに存在し、又は結像板の使用中に生ずることである。この事実は、板の寿命の規則正しい間隔において、（新しく）現われた欠陥の存在を検出するために、結像板の周期的点検を必要とする。
【０００９】
これらの欠陥の初期の遮断とそれに続く修正処置は、少なくとも生産段階において指示され、特に、マモグラフィーの如く発症領域での使用中、動機付けられる。上記の欠陥の存在に関する結像板の全設置基体の規則正しい遮蔽は、不可欠である。この種類の品質管理は、一般に、外観検査として公知である。しかし、検査官は、主観的な知覚と査定におちいりやすい。その上、ほこり、小さなひっかきと大域不純物の如く、微細な異常の存在は、ほとんど検出可能ではなく、又は気付かれないままでいる。しかし、これらの欠陥は、ディジタル画像において明確に可視な印影を残し、放射線専門医による正しい診断を厳しくそこなう。ほこりとひっかきは、多分、デジタル化された又はディジタル乳房Ｘ線像における潜在的な微石灰化と混乱される。マモグラフィーは、利用可能な最高画像品質標準を必要とする典型的な応用領域である。コンピュータ化検査によるこれらの欠陥に対する自動検出方法の開発をめざす研究分野は、一般に、自動外観検査として公知である。
【００１０】
自動外観検査の結果は、（１）定量可能な尺度に応じた非許容欠陥による結像板の完全な拒否、（２）特別な注意を必要とする区域の通知及び指示による結像板の限界受入れ、又は（３）画像板の受入れ、のいずれかである。
【００１１】
自動外観検査は、Ｆ．ｖａｎ  ｄｅｒ  Ｈｅｉｊｄｅｎ、Ｉｍａｇｅ  ｂａｓｅｄ  ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  ｓｙｓｔｅｍｓ、Ｗｉｌｅｙ、１９９４、において提示された如く、ディジタル画像処理における十分に開発された分野である。しかし、フィルム検査と蛍光体結像板検査の高度に専門化された領域に適用できる方法については、文献においてほとんど言及されていない。Ｐ．Ｄｅｗａｅｌｅ  ｅｔ  ａｌ．、Ａｎ  ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｔｈｅ  Ｌｉｌｙｓｏｆｔｗａｒｅ  ｐａｃｋａｇｅ  ｔｏ  ｄｅｆｅｃｔ  ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ  ｉｎ  ｕｎｅｘｐｏｓｅｄ  ｒａｄｉｏｇｒａｐｈｉｃ  ｆｉｌｍ，Ｐｒｏｃ．ｏｆ  ｔｈｅ  ＳＰＩＥ，Ｔｈｅ  Ｓｉｘｔｈ  Ｍｅｅｔｉｎｇ  ｉｎ  Ｉｓｒａｅｌ  ｏｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，Ｖｏｌ．１０３８，Ｄｅｃ．１９８８において、縁及びレベル尺度に基づいた純粋な１次元技術が、放射線フィルムの高速オンライン検査に対して開発された。しかし、それらは、前進方向のみにおいて線欠陥を仮定する。蛍光板の自動検査は、ずっと多様な欠陥幾何学に対処しなければならず、２次元技術の使用を必要とする。現在、蛍光体結像板の検査は、生産バッチの代表標本において、手動で行われる。しかし、前記の恩恵を考えると、自動検査は、非常に望ましい。
【００１２】
【本発明の目的】
本発明の主な目的は、放射線画像が格納された記録部材の点、線及び領域欠陥を検出し、位置をつきとめ、重大度を評価し、欠陥の支持領域を画定し、これらの欠陥に対して実放射線画像を補正する方法を提供することである。
【００１３】
さらに他の目的は、特定の臨床医の注意を必要とする、記録部材における欠陥区域を示す付随オーバーレイ画像を提供し、ピクセル毎ベースにおいて登録された実画像を補正ための補正率を供給する２次元キャリブレ−ションマトリックスを提供することである。
【００１４】
さらに一層の目的は、以下の説明から明らかになるであろう。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は、記録部材において格納された放射線画像の記録部材欠陥を修正する方法において、
−  該記録部材における各ピクセルに対して、ピクセルにおいて有効に獲得された値の偏差を表現する補正値と、該記録媒体が平坦場露光にさらされ、続いて、校正された読出しシステムによって読み出された時予期される値とを具備するキャリブレ−ションマトリックスを記録部材に対して生成することと、
−  校正された読出しシステムを用いて画像を読み取ることにより、放射線画像のディジタル信号表現を生成することと、
−  該キャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセルに適用することにより、該放射線画像の各ピクセルを修正することとを具備する方法によって達成される。
【００１６】
キャリブレ−ションマトリックスは、次の如く生成される。
【００１７】
−  まず、記録部材が、放射線で平坦場露光される。
【００１８】
−  次に、平坦場露光された記録部材に格納された画像が、校正された読出しシステムで読出される（その結果、読出し部材における欠陥から生じない読出し信号における影響は、除去される。）
−  次に、平坦場画像のピクセル値が、平均化され、平均値μRを発生する。
【００１９】
−  それから、なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）が、下記の方法の一つによって計算される。
【００２０】
−  最後に、キャリブレ−ションマトリックスの値が、放射線画像のピクセル値がキャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセル値に加算することにより修正される加法の場合においてμR−ｇR（ｉ，ｊ）として、又は放射線画像のピクセル値がキャリブレ−ションマトリックスの対応する値を放射線画像のピクセル値に掛け算することにより修正される掛け算の場合においてμR／ｇR（ｉ，ｊ）として計算される。
【００２１】
キャリブレ−ションマトリックスの発生と、特に、背景画像の発生のための代替的方法は、より詳細に以下で説明される。
【００２２】
本発明の文脈において、用語「放射線」は、Ｘ線、γ線等の任意の種類の透過性放射線を言う。
【００２３】
本発明の文脈における記録部材は、放射線画像、例えば、Ｘ線像が一時的又は限定的に格納される部材である。種々の形式の記録媒体も使用される。再使用可能な記録部材の一つの例は、光刺激性蛍光面である。再使用不能な部材の例は、放射線フィルムである。種々の画面フィルム組合せの如く、さらに他のものも考えられる。
【００２４】
用語「平坦場露光」とは、最適に校正された読出しシステムを使用する時、理想的に、欠陥のない記録部材の各ピクセルにおいて、同一値が読み出される如く、透過性放射線への記録部材の一様な露光を意味する。
【００２５】
校正された読出しシステムは、システムの構成部分自体から起こる読出し信号における非一様性に対して補正されたシステムである。そのような非一様性の原因は、例えば、光電気変換器へ光を指向させるための手段に帰する。これらの現象は、適切な補正方法の例とともに、例えば、ＵＳ特許４、８８５、４６７と研究開示Ｎ３５２、ページ４８４〜４８５（１９９３）等の、技術文献において広範に記載された。
【００２６】
用語「対応する」は、後述される如くレジスターに入れられる実画像とキャリブレ−ションマトリックスにおける対応する要素を言う。
【００２７】
【実施例】
発明の特定の実施態様は、今、添付の図面を参照してより詳細に説明される。本発明の方法は、一般に、図２を参照して説明される。放射線画像のディジタル信号表現の取得に関する部分は、放射線画像が光刺激性蛍光面において格納された特定例に対して図１において例証される。
【００２８】
刺激性蛍光体シート１が、放射線画像を格納するために物体を通過するＸ線の如く放射線に露出された後、それは、図１に示された読出しステーションへ送られる。６３３ｎｍの波長を有するレーザー光線３は、ヘリウムネオンレーザー源２から放射され、検流計鏡８の方に指向される。駆動手段６は、検流計鏡を、三角波パターンにおいて往復運動させる。回転円板セグメント５を含むチョッパ４は、検流計帰線段階中、レーザービーム光路を円板セグメントで遮ることができるように位置付けられる。
【００２９】
技術において公知の不図示の多様なレーザー光線集束装置は、蛍光体シートにおけるビームの走査中一様なビーム径を保証し、そしてまた、往復する鏡８の一様な角速度８が、一様な直線速度において蛍光体シートを横断するレーザ点を生ずることを保証する。レーザー光線３は、検流計鏡８と平面反射鏡９によって蛍光体シート１の上に一次元的に偏向される。不図示の輸送手段は、矢印１１の方向においてシートを搬送するために設けられ、一様な方式で全シートを走査可能にする。
【００３０】
蛍光体シート１におけるレーザー光線３の走査線に接近して、その背後に、蛍光体シート１から放射された光を収容するが、レーザー光線３への直接の露出から遮蔽された光案内１２が、位置付けられる。光案内１２は、出力端において結束された個別オプチカルファイバ―から成る。光案内の出力端は、注がれる光度により電気信号を生成する光検出器１３に隣接して位置付けられる。
【００３１】
適切な電気結線は、光検出器１３からの出力信号を、チョッパ４と検流計鏡ドライブ６を制御するために役立つコンピュータ２０に通過させるために作成され、出力信号において本発明の方法並びに他の種類の画像処理技術を実施する。コンピュータの出力は、さらに、ＶＤＵスクリーンの如く、ディスプレー装置２１に結合される。代替的又は付加的に、コンピュータ２０の出力は、画像の永久レコードを生成するために使用される。出力はまた、オフライン処理のためのワークステーション及び／又はアーカイブステーション等（不図示）に送られる。
【００３２】
光検出器１３の出力において獲得された読出し信号は、平方根増幅器３０に送られ、増幅される。それから、それは、サンプル及びホ―ルド回路３１によって標本され、アナログ対ディジタルコンバータ３２を用いて、１２ビット信号へ変換される。
【００３３】
その後、シェ―ジング補正４０が、前もって決定された適切な補正値を各ピクセル値に掛け算することにより、読出し信号に適用される。
【００３４】
こうして獲得されたディジタル信号は、スイッチ３３を経由して、補正値が本発明の方法により計算される補正部３４、又は読出し信号がこれら補正値を用いて補正される雑音除去部３６のいずれかに送信された。
【００３５】
補正値を計算するための手順は、次の如くである。
【００３６】
実診断画像の読出しが行われる前に、であった(る 2)を行う、読出し装置において使用された各画面が、（患者又はＸ線変調物体の不在において）一様な平坦場露光を受けた。
【００３７】
一様に露出された画面は、同定と読出しのために読出し装置へ連続的に送られた。
【００３８】
同定は、光刺激性蛍光面を伝達するカセットにおいて設けた電子メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）において記憶された識別情報を読み取ることにより行われた。画像読出しは、上記の方法に続いて行われた。
【００３９】
読出し信号は、それから、平方根増幅され、標本され、上記の如くディジタル信号へ変換された。ディジタル信号は、それから、スイッチ３３を経由して、補正値計算回路３４へ適用され、ここで、画面の各個別ピクセルに対して、対応する補正値が、以下で広範に説明される如く、計算された。
【００４０】
それから、以下でキャリブレ−ションマトリックスと呼ばれる、画面における各ピクセルに対する補正値のマトリックスが、関連した識別項目と共に、メモリ３５において記憶された。典型的に、約３０の異なる光刺激性蛍光面が、単一の読出し装置において使用される。この手順は、読出し装置において使用されるあらゆる光刺激性蛍光面に対して実施された。
【００４１】
キャリブレ−ションマトリックスを記憶する代わりに、放射線画像への記録部材の各露光前に、キャリブレ−ションマトリックスを決定する手順を行うことができる。極めて正確であるが、この手順は、非常に時間を浪費する。
【００４２】
また、例えば、記録部材における欠陥と微石灰化の混乱が容易に発生するマモグラフィーの如く、特定の検査形式に対して使用されるこれらの光刺激性蛍光面にのみ、本発明による手順を実行することが可能である。これは、診断において有害な影響を有する。
【００４３】
画面の通常使用中、特定画面において格納された（患者又は物体の）放射線画像が、識別され、読み出され、そして放射線画像を表現するディジタル画像信号は、スイッチ３３を経由して、補正回路３６へ送られた。雑音除去回路は、それから、識別画面に属する補正値をメモリ３５から検索し、読出しピクセル値の対応する補正値による掛け算又は加算により、補正を実行する。
【００４４】
次に、補正信号は、処理回路３７へ適用され、ここで、さらに、周波数及び階調処理等の各種の処理を受ける。これらの方法は、本出願の文脈外になる。
【００４５】
最後に、ハード又はソフトコピー画像は、出力装置３８（ハードコピー記録器、ディスプレー装置等）において生成される。
【００４６】
後述される如く、背景除去の後に検出された局所欠陥は、回路３４において浮動しきい値Ｔでしきい化される（図４と図５を参照）。このしきい化動作の結果は、メモリ３５において記憶され、識別された光刺激性蛍光面において記憶された実画像が補正される時点において検索されるディジタルオーバーレイ画像（ビットマップ画像）である。ディジタルオーバーレイ画像は、着色域又は輪郭として欠陥領域を表現するオーバーレイ画像の生産のために、ハードコピー記録器３８に適用される。オーバーレイ画像は、実Ｘ線画像のハードコピー又はソフトコピーにおいて放射線専門医によって重ね合わされ、その結果、専門医は、そのような局所欠陥の位置を通知され、診断に関して関連した要素とこれらの欠陥を混乱することはない。
【００４７】
ディジタルオーバーレイ画像は、さらに、特性付け及び分類回路３９に適用され、この場合、欠陥は、詳細に後述される如く、多数の特性に応じて分類される。このようにして、記録部材の品質報告が、創成され、出力される。この報告に基づいて、記録部材の承諾又は却下が、判定される。
【００４８】
一般的に記載された本発明の方法の段階は、より詳細に以下で説明される。まず、多数の手順が、キャリブレ−ションマトリックスを生成するために使用された背景画像ｇR（ｉ，ｊ）を計算するために説明される。
【００４９】
４．１．無欠陥記録部材のモデル化
記録部材が、平坦場露光にさらされた時、信号は、理想的に、雑音を重ね合わせた定数であることを予期される。雑音は、Ｘ線露光量によるポアソン分布量子雑音と、Ｘ線露光量から独立した一定の構造的雑音から成る。適度の露光量において、第１雑音源が支配し、それに続く平方根圧縮によって、予報可能な標準偏差を有する独立付加ガウス雑音としてモデル化される。信号は、こうして、理想的に、信号独立付加雑音を有する空間的に一定の平均値から成る。
【００５０】
上記で列挙された如く、理想モデルは、多様な欠陥源により歪められる。図３は、平坦場露光を受けた刺戟された蛍光体の典型的な走査線を描写する。定数とは対照的に、それは、雑音に浸されたゆっくり変化する背景を示す。無欠陥部材は、背景寛容度を表現する解析又は離散関数を導出することを特徴とする。
【００５１】
幾つかの方法が、背景をモデル化するために検査された。それらは、解析又は経験的な性質であるが、一般に、レベル基準方法であり、レベル基準欠陥検出を伴う。続篇は、これらの方法を簡単に記載する。
【００５２】
４．１．１．大域的１次元及び２次元回帰
回帰は、広く使用された技術であり、容易に使用される実現が、Ｐｒｅｓｓ．Ｗ．Ｈ．ｅｔ  ａｌ．、Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ｒｅｃｉｐｅｓ  ｉｎ  Ｃ、２ｎｄ  Ｅｄｉｔｉｏｎ、Ｃａｍｂｒｉｄｇｅ  Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ  Ｐｒｅｓｓ、１９９２、Ｃｈａｐｔｅｒ  １５：Ｍｏｄｅｌｉｎｇ  ｏｆ  Ｄａｔａにおいて提示された如く、利用可能である。回帰は、グレー値の２次元アレイの場合に、Ｎ＝Ｋ．Ｌデータ点が、Ｍ個の調整パラメータａj、ｊ＝１．．Ｍを有するモデルに当てはめられる方法である。修飾子「大域的」とは、データの空間範囲が、全画像を覆うことを意味する。即ち、ＫとＬは、画像次元を表記する。最小にされた誤差は、最小自乗誤差である。
【００５３】
【数１】
0003843169.tif 000002
【００５４】
ここで、ｚi，jは、実グレー値を表記し、ｚ（ｉ、ｊ；ａ1．．ａM）は、独立及び従属変数の間の関数関係を示し、そしてσi，jは、ｚi，jにおける測定誤差の標準偏差である。最小自乗当てはめは、σi，jが定数である時、当てはめパラメータの最尤推定である。この最尤推定は、σi，jが非一定であり、各グレー値に対して供給される時、カイ二乗当てはめに相当する。パラメータａkに関して導関数を取ることにより、カイ二乗最小において成り立たなければならない方程式が獲得される。
【００５５】
【数２】
0003843169.tif 000003
【００５６】
これは、一般に、Ｍ個の未知のａkに対するＭ個の非線形方程式のセットである。
【００５７】
方程式系の解は、モデルが、空間座標ｉ，ｊのＭ個の特定関数の一次結合である時、数学的により扱いやすくなる。この種類の回帰は、一般線形最小自乗と呼ばれ、次のモデル形式を有する。
【００５８】
【数３】
0003843169.tif 000004
【００５９】
ここで、基本関数Ｚ1（ｉ，ｊ）、．．、ＺM（ｉ，ｊ）は、任意の固定関数（多分、空間座標ｘ、ｙの非線形関数）である。計算は、さらに、ランダム数ジェネレータを使用して、もしくは、例えば、Ｈ．Ｐｒｅｓｓ  ｅｔ  ａｌ．、Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ｒｅｃｉｐｅｓ  ｉｎ  Ｃ、Ｃａｍｂｒｉｄｇｅ  Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ  Ｐｒｅｓｓ、１９９２、Ｃｈａｐｔｅｒ  ７：Ｒａｎｄｏｍ  Ｎｕｍｂｅｒｓにおいて導入されたＳｏｂｏｌのシ−ケンスの如く、準ランダム数ジェネレータによって、画像面におけるデータ点の総数の一部を無作為に標本することにより、かなり加速された。
【００６０】
特殊な場合が、基本関数として多項式を使用して、試験された。他の適切な基本関数が、最小自乗当てはめの一般的原理からはずれることなく、使用されることは、容易に考えられる。実施例として、限定されないが、指数４までの多項式は、次の形式を有する。
【００６１】
【数４】
0003843169.tif 000005
【００６２】
Ｍ＝９の場合を表現する。
【００６３】
精度を妥協することなく計算の速度を上げるための一層の洗練において、背景グレー値変動のモデルは、純粋な１次元の場合に簡易化され、これにより、各走査線は、次数Ｍ−１の多項式としてモデル化される。
【００６４】
【数５】
0003843169.tif 000006
【００６５】
ここで再び、基本関数は、位置ドメイン座標の線形又は非線形関数である。
【００６６】
４．１．２．局所１次元及び２次元スプライン当てはめ
この画像は、第３座標として輝度値を使用することにより、表面として考えられる。表面は、非常に複雑であり、大域的回帰によって計算される如く、画像のドメインについて単一の方程式によって記述できず、このため、区分的近似の必要が生じる。そのような区分的表現は、Ｔ．Ｐａｖｌｉｄｉｓ、Ａｌｇｏｒｉｔｈｍｓ  ｆｏｒ  ｇｒａｐｈｉｃｓ  ａｎｄ  ｉｍａｇｅ  ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ、Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｓｃｉｅｎｃｅ  Ｐｒｅｓｓ、１９８２、Ｃｈａｐｔｅｒ  １１  Ｃｕｒｖｅ  ｆｉｔｔｉｎｇ  ｗｉｔｈ  ｓｐｌｉｎｅｓ、Ｃｈａｐｔｅｒ  １２  Ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｃｕｒｖｅｓ  ａｎｄ  Ｃｈａｐｔｅｒ  １３  Ｓｕｒｆａｃｅ  ｆｉｔｔｉｎｇにおいて提示された如く、スプラインによって提供される。表現の性質により、スプラインは、固定ノット又は可変ノットを有する補間又は近似に細分される。等サイズ（２００×２００ピクセル）のタイルへ画像を細分すると、当てはめ問題は、固定ノットを有する近似スプラインのクラスに属する。高局所変動の領域におけるノット数の増大は、欠陥を表現するかもしれないために、望ましくないことから、ノット（又は制御点）は、ここでは固定して保持される。以後使用された個々の方法と対照的に、解析表現は、次の定義されるキャリブレ−ションマトリックスのずっと小形の記憶を可能にする。各ピクセルに対する個別加算又は掛け算補正係数を記憶する代わりに、近似スプラインの係数が、記憶される。実背景値は、画像を処理する時点において再構成される。必要な記憶容量とスプライン当てはめのために要求された計算時間は、大域回帰方法のそれらより大きいが、スプラインによって提供された恩恵は、それらが背景変動を正確にモデル化することである。計算は、連続する１次元走査線プロフィルに対して近似スプラインを計算することにより、代案実現において加速された。
【００６７】
４．１．３．平滑化による背景決定
前の方法は、解析的である。即ち、それらは、解析関数の一次結合として背景を表示する。個別表現は、背景変動の性質に関する先行の知識は、必要とされず、そのため、それらは、ずっと複雑な変動を取り扱うという利点を提示する。これに反して、各キャリブレ−ションマトリックスに対して必要とされた記憶容量は、ピクセル数に比例する。グレー値表面の局所離散的近似は、適切な大きさの平滑核で平滑化することにより獲得される。平滑核の係数値は、公開文献において文書化され、一般に、一定の係数を有するボックスフィルター、もしくは、Ｗ．Ｋ．Ｐｒａｔｔ、Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｅ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ、２ｎｄ  ｅｄ．、Ｗｉｌｅｙ  Ｉｎｔｅｒｓｃｉｅｎｃｅのガウス分布から導出された係数を有するフィルターを表現する。これらの核は、分離可能であり、連続水平及び垂直重畳によって獲得される。ボックスフィルターは、前平滑値と方向及びピクセル当り一つの加算と一つの引算を用いて再帰的な方法で実現されるという付加特性を有する。平滑フィルターは、畳み込みであり、フーリエドメインにおける核の伝達関数との掛け算によって獲得される。
【００６８】
公式が与えられる。
【００６９】
−  奇数サイズ（２Ｍ＋１）×（２Ｎ＋１）核を有する２次元畳み込み
【００７０】
【数６】
0003843169.tif 000007
【００７１】
ここで、ボックスフィルターに対して、
【００７２】
【数７】
0003843169.tif 000008
【００７３】
そしてガウス形フィルターに対して、
【００７４】
【数８】
0003843169.tif 000009
【００７５】
−  行と列における分離可能な実現
【００７６】
【数９】
0003843169.tif 000010
【００７７】
ここで、
【００７８】
【数１０】
0003843169.tif 000011
【００７９】
ボックスフィルターに対して、
【００８０】
【数１１】
0003843169.tif 000012
【００８１】
ＡrとＡcを有するガウス形フィルターに対して、
【００８２】
【数１２】
0003843169.tif 000013
【００８３】
−  初期化後の再帰的及び分離可能ボックス平滑化実現
【００８４】
【化１３】
0003843169.tif 000014
【００８５】
４．１．４．階層的な分解と再構成による背景決定
離散格子における局所及び大域的ひずみモデル化に対する共通な枠組は、ＥＰ０  ５２７  ５２５において開示された如く、ピラミッド分解及び再構成によって獲得される。分解プロセスの好ましい実施態様が、図６において描写される。原画像ｚ（ｉ、ｊ）は、低域フィルター４１を用いて、濾過され、２の因子によって副標本され、各交互行の一つおきのピクセル位置において合成低解像度近似画像ｇ1を計算することにより実現される。最微細レベルにおける詳細画像ｒ0は、行及び列数の２倍化で低解像度近似ｇ1を補間し、原画像ｚから補間画像をピクセル毎に控除することにより獲得される。補間は、補間回路４２によって実施され、零値の列を一つおきに挿入し、零値の行を一つおきに挿入し、次に、低域フィルターと拡張画像を畳み込む。引算は、加算器４３によって行われる。同一プロセスは、原画像ｚの代わりに、低解像度近似ｇ1において反復され、さらに低い解像度ｇ2と詳細画像ｒ1の近似を生ずる。一連の詳細画像ｒi、ｉ＝０．．Ｌ−１と低解像度近似ｇLは、上記のプロセスＬ回繰り返すことにより獲得される。最微細な詳細画像ｒ0は、原画像と同一サイズを有する。次に粗い詳細画像ｒ1は、第１詳細画像ｒ0の半数の行及び列を有する。反復の各段階において、合成詳細画像の最大空間周波数は、前微細詳細画像の半分であり、そしてまた、行及び列数は、ナイキスト判別法に従い、半減される。最終反復後に、画像ｇLが残され、原画像の非常に低い解像度近似であると考えられる。極端な場合において、それは、原画像ｚの平均値を表現するただ一つのピクセルから成る。好ましい実施態様の低域フィルターのフィルター係数が、図７において提示される。それらは、５×５格子における２次元ガウス分布のサンプルにおおよそ一致する。同一フィルター係数は、全スケールにおける低域フィルター４１、４１’．．４１”’に対して使用される。すべての係数に４を掛け算した同一フィルター核はまた、補間回路４２、４２’．．４２’”内で使用される。因子４は、上記の如く、ゼロピクセル列及び行の挿入を補償する。
【００８６】
背景ｇと残留成分ｒからなる原画像ｚの分解
【００８７】
【化１４】
0003843169.tif 000015
【００８８】
は、図６において描写される。ｇとｒの各々は、下記の如く、ピラミッドレベルの適切な下位集合を用いて、再構成によって獲得される。
【００８９】
背景画像ｇは、最低解像度レベルを用いて再構成によって獲得される。最も粗な解像度画像ｇLは、まず、その原サイズの２倍まで補間回路４４によって補間され、そして補間画像は、加算器４５を用いて、次に最も粗いレベルｒL-1の画像へピクセル毎に加算される。合成画像は、補間され、次に微細な詳細画像に加算される。このプロセスが、非修正解像度レベルｒL-1．．．ｒMを用いて、Ｌ−Ｍ回反復されるならば、低解像度背景画像ｇMが、生ずる。画像は、補間回路４６、４６’、４６”を用いて、原画像ｚのサイズまで引き伸ばされる。背景画像ｇを生ずる。Ｍ＝Ｌであり、詳細画像ｒL-1、．．．ｒMが、修正されていないならば、原画像ｚが、この再構成プロセスによって生ずる。
【００９０】
残留又は誤差画像は、最高解像度レベルを用いて、再構成によって獲得される。解像度レベルＭから始まり、詳細画像ｒM-1は、補間回路４７によってその原サイズの２倍に補間され、次に、補間画像は、加算器４８において、次に微細な詳細レベルｒM-2の画像にピクセル毎に加算される。合成画像は、補間され、次に微細な詳細画像に加算される。このプロセスが、非修正解像度レベルｒM-1、．．．、ｒ0を用いて、Ｍ回反復されるならば、全解像度残留又は誤差画像ｒが、獲得される。
【００９１】
明らかに、ｒとｇは、同時に計算される必要はない。ｇが計算され、そしてｒが、ｒ＝ｚ−ｇとして直接的に獲得されるか、もしくは、ｒが計算され、ｇは、画像控除により、ｇ＝ｚ−ｒとして獲得される。
【００９２】
４．２．欠陥のモデル化と検出
記録部材における欠陥を検出する目的のために、記録部材は、平坦場露光にさらされ、理想的に、背景画像と呼ばれる一定信号振幅を生ずる。欠陥は、雑音において浸された背景変動に重ね合わせたアーチファクト形信号としてモデル化される。点欠陥は、両方向における小支持のピ−クである。振幅は、雑音のピークピーク範囲を越える。ひっかきと痕跡から来る線欠陥は、他よりも実質的に大きな一寸法を有する。クロスプロフィルは、ピーク状形態を示す。領域欠陥は、一定信号から大域偏差を導入し、より広い範囲の変動を表現し、このため、大域補正を必要とする。
【００９３】
点及び線欠陥は、少なくとも一つの実質的に小さな寸法を有するために、背景画像は、欠陥の存在によって僅かに影響される。この特質は、計算背景近似を、欠陥によって現実に妨害されることなく、通過させ、このため、点及びレベル欠陥は、十分な残留レベル信号を生成する。他方、領域欠陥は、解析近似方法のパラメータに影響を与え、離散又は解析近似方法によって獲得された表面の形状を歪め、このため、導出されたキャリブレ−ションマトリックスは、実画像における欠陥を補正する。
【００９４】
４．２．１．局所欠陥検出
背景変動は一定ではないという事実を考慮して、大域的しきい化は、直接的に適用できない。しきい値は、背景変動の関数として浮動であり、又は代替的に、背景除去の後に達成される。前方法のいずれが背景を近似するために使用されるかに拘わらず、背景除去は、一般に、残留信号を生ずるために、次の方程式によって達成される。
【００９５】
【数１５】
0003843169.tif 000016
【００９６】
この場合、
【００９７】
【数１６】
0003843169.tif 000017
【００９８】
は、前記の方法によって獲得された背景当てはめ信号である。無欠陥誤差信号は、零平均値μrと既知雑音分散σrを有する。欠陥から生ずるピ−クは、重ね合わされ、雑音従属しきい値Ｔで絶対値｜ｒ（ｉ，ｊ）｜をしきい化することにより検出される。
【００９９】
【化１７】
0003843169.tif 000018
【０１００】
そしてαは、典型的に、範囲３．．５にある。ガウス分布雑音Ｎ（μ、σ）に対して、すべてのグレー値の９９．９％は、平均値μの周りの３−σ範囲にある。雑音従属しきい値よりも大きな偏差は、欠陥に帰せられる。
【０１０１】
４．２．２．大域的欠陥補正
解析モデル又は経験的に導出された背景表面の有用性は、大域ひずみを補正するために、２次元キャリブレ−ションマトリックスの確立を可能にする。大域ひずみとは、画像寸法に関して十分に大きな程度を有する記録手段における偏差を意味する。この程度は、経験的背景当てはめ法に対する平滑核のサイズと、解析近似方法に対する基本関数の形状に関する。補正は、加法又は乗法式に行われる。加法キャリブレ−ションマトリックスＣa（ｉ、ｊ）（図８参照）は、なめらかな背景画像ｇR（ｉ、ｊ）と、記録部材の平坦場露光によって獲得された参照画像の大域平均値μRの間のピクセル毎のオフセットを計算することにより、構成される。
【０１０２】
【化１８】
0003843169.tif 000019
【０１０３】
代替的に、乗法の補正マトリックスＣｍ（ｉ、ｊ）は、平均値μRのなめらかな背景変動ｇR（ｉ、ｊ）の比率として計算される（図８参照）。
【０１０４】
【数１９】
0003843169.tif 000020
【０１０５】
図９に示された如く、実露出へのキャリブレ−ションマトリックスの適用は、記録部材欠如による平均値に関する大域変動を取り消す。
【０１０６】
キャリブレ−ションマトリックスを用いる実画像のキャリブレ−ションは、両画像の登録を必要とする。異なる露出及び読出し時点において取られ、物理的に異なる物体を表現する２つの画像の登録は、露出中、境界標又は起点マ―カの使用を必要とする。Ｙ．Ｃｈｒｉｓｔｏｐｈｅ、Ｊ．Ｃｏｒｎｅｌｉｓ、Ｐ．ＤｅＭｕｙｎｃｋ、Ｓｕｂｐｉｘｅｌ  ｇｅｏｍｅｔｒｉｃ  ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  ｏｆ  ｄｉｇｉｔａｌ  ｉｍａｇｅｓ，Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  ＩＶ、Ｐｒｏｃ．ｏｆ  ＥＵＳＣＩＰＣＯ  １９８８、Ｖｏｌ．３、ｐｐ．１６０５〜１６０８において報告された如く、登録問題に対して先行技術を使用した。境界標の検出とサブピクセル精度への位置付けは、実画像と参照画像に対する座標系の確立を可能にする。アフィン変換マトリックスが、計算され、実画像の座標系を、参照又は校正画像の座標系に変換する。次に、校正画像と診断画像は、実画像ｚ（ｉ，ｊ）へアフィン変換を適用することにより、対応され、幾何学的に変換された画像ｚ’（ｉ、ｊ）を生ずる。非整数座標におけるピクセル値は、双一次補間によって獲得される。他の補間体系も考えられる。
【０１０７】
大域加法補正は、登録画像ｚ’（ｉ、ｊ）に補正マトリックスＣa（ｉ、ｊ）を加算するか、又は代替的に、ピクセル従属オフセットＣa（ｉ、ｊ）を画像ｚ’（ｉ、ｊ）に加算することにより実施される。Ｒが、参照又は校正画像を表記するならば、
【０１０８】
【数２０】
0003843169.tif 000021
【０１０９】
乗法補正は、ピクセル従属補正率Ｃm（ｉ、ｊ）を登録画像ｚ’（ｉ、ｊ）に掛け算することにより、行われる。
【０１１０】
【数２１】
0003843169.tif 000022
【０１１１】
４．３．後処理
残留又は誤差画像をしきい化することによる合成局所欠陥検出は、２進画像であり、この場合、１は、欠陥（前景）ピクセルを表記し、０は、背景ピクセルを表記する。小さなユーザー規定サイズを有するスプリアスフォールスアラームは、前景の連続する浸食によって取り除かれる。原画厚又は残欠陥は、等量の拡張によって復元される。使用された平面マスクの形状は、３×３平方マスクであった。  線の如く特定形状の欠陥を保存するために、Ａ．Ｋ．Ｊａｉｎ、Ｆｕｎｄａｍｅｎｔａｌｓ  ｏｆ  Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｅ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ、Ｐｒｅｎｔｉｃｅ  Ｈａｌｌ、１９８９、ｐ．３８４において提示された如く、他の形態学的な処理も考えられる。
【０１１２】
４．４．オーバーレイ構成
特別な注意を必要とする操作者に臨界領域を知らせる目的のために、前段階において検出された可能な欠陥域を表現するオーバーレイ画像（図８参照）が、構成される。オーバーレイ画像は、着色域又は輪郭として欠陥域を表現する。
【０１１３】
４．４．欠陥の特性付けと分類
不良ピクセルを表現するビットマップ画像の有用性は、点状、線状又は領域状の欠陥の特性付けと自動分類を可能にする。形状特性付けの目的のために、形状特徴は、（１）Ａ．Ｋ．Ｊａｉｎ、Ｆｕｎｄａｍｅｎｔａｌｓ  ｏｆ  ｉｍａｇｅ  ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ、Ｐｒｅｎｔｉｃｅ  Ｈａｌｌ、１９８９、ｐ．３９０、Ｓｈａｐｅ  ｆｅａｔｕｒｅｓ、（２）Ｗ．Ｋ．Ｐｒａｔｔ、Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｅ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ、２ｎｄ  ｅｄ．、Ｗｉｌｅｙ、ｐ．６２９、Ｓｈａｐｅ  ａｎａｌｙｉｓにおいて文書化された如く、計算された。連結された各構成部分の機能が、計算される。幾何学的特徴は、視野計、領域、最小及び最大半径、オイラー数、曲線状欠陥における隅部、コンパクト性、対称性である。モ−メントに基づく特徴は、質量中心、定位、境界矩形、最適合楕円及び偏心率である。輪郭のフーリエ記述子に基づいた特徴は、フーリエ係数の振幅と位相から導出される。他の記述子も、同様に考えられる。統計的又は神経分類器の如く、技術において非常に公知な分類技術は、点、線又は領域欠陥として欠陥領域を分類するために使用された。潜在的欠陥の厳しさは、さらに、局所背景グレー値に関する欠陥信号の振幅の比を調べることにより、評価される。欠陥の形状及び振幅に基づいて、最終的に、記録部材は、限定的に使用を受け入れられ、又は限界的に受け入れ又は拒絶される。
【０１１４】
本発明の主なる特徴及び態様は以下のとおりである。
【０１１５】
１．記録部材に格納された放射線画像の記録部材欠陥を補正する方法において、−  該記録部材における各ピクセルに対して、ピクセルにおいて有効に獲得された値の偏差を表現する補正値と、該記録媒体が平坦場露光にさらされ、続いて、校正された読出しシステムによって読み出された時予期される値とを具備するキャリブレ−ションマトリックスを記録部材に対して生成することと、
−  校正された読出しシステムを用いて画像を読み取ることにより、放射線画像のディジタル信号表現を生成することと、
−  該キャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセルに適用することにより、該放射線画像の各ピクセルを補正することとを具備する方法。
【０１１６】
２．（i）該キャリブレーションマトリックスが、
−  該記録部材を放射線の平坦場露光にさらし、
−  該平坦場露光にさらされた記録部材に格納された平坦場画像を読出し、
−  該平坦場画像のピクセル値を平均化することにより、大域平均値μRを計算し、
−  なめらかな背景画像ｇr（ｉ，ｊ）を生成し、
−  加法キャリブレ−ションマトリックスＣa（ｉ，ｊ）をμR−ｇR（ｉ，ｊ）として生成することにより獲得され、
（ii）該放射線画像の各ピクセルが、加法キャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセルに加算することにより補正される上記１に記載の方法。
【０１１７】
３．（i）該キャリブレーションマトリックスが、
−  該記録部材を放射線の平坦場露光にさらし、
−  該平坦場露光により、記録部材に格納された平坦場画像を読出し、
−  該平坦場画像のピクセル値を平均化することにより、大域平均値μRを計算し、
−  なめらかな背景画像ｇr（ｉ，ｊ）を生成し、
−  乗法キャリブレ−ションマトリックスＣm（ｉ，ｊ）をμR／ｇR（ｉ，ｊ）として生成することにより獲得され、
（ii）該放射線画像の各ピクセルが、乗法キャリブレ−ションマトリックスの対応する値をピクセルに掛け算することにより補正される上記１に記載の方法。
【０１１８】
４．放射線画像を記録するために記録部材における局所欠陥を突きとめる方法において、
−  該記録部材を放射線の平坦場露光にさらす段階と、
−  該平坦場露光により、記録部材に格納された平坦場画像を読出す段階と、
−  なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）を生成する段階と、
−  なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）の対応する値を平坦場画像のピクセル値から控除することにより、残留画像ｒ（ｉ，ｊ）を生成する段階と、
−  誤差画像ｅ（ｉ，ｊ）を生成するために、雑音従属しきい値Ｔで該残留画像ｒ（ｉ，ｊ）の絶対値｜ｒ（ｉ，ｊ）｜をしきい化する段階とを具備し、
この場合、｜ｒ（ｉ，ｊ）｜＞Ｔならばｅ（ｉ，ｊ）＝１であり、そうでなければｅ（ｉ，ｊ）＝０であり、
Ｔ＝ασR、αは３〜５であり、σRは、該平坦場画像における雑音分布の分散である方法。
【０１１９】
５．該なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）が、該平坦場画像のピクセル値に回帰技術を適用することにより獲得される上記２〜４のいずれか一つに記載の方法。
【０１２０】
６．該なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）が、該平坦場画像のピクセル値にスプライン当てはめ技術を適用することにより獲得される上記２〜４のいずれか一つに記載の方法。
【０１２１】
７．該なめらかな背景画像ｇR（ｉ，ｊ）が、該平坦場画像のピクセル値を平滑化することにより獲得される上記２〜４のいずれか一つに記載の方法。
【０１２２】
８．原画像ｚの該ディジタル信号表現が、一連の詳細画像ｒ1、ｒ2．．．ｒL-1とさらに低い解像度レベルにおける残余画像ｇLに分解され、この場合、該残留画像ｒは、レベルＭ−１からレベル０までのＭ個の最微細解像度レベルにおける詳細画像の総和を取ることにより形成され、詳細画像の各々は、総和を取る前に、次に微細な解像度レベルにおける詳細画像の大きさに対して補間される上記２又は４に記載の方法。
【０１２３】
９．原画像ｚの該ディジタル信号表現が、一連の詳細画像ｒ1、ｒ2．．．ｒL-1とさらに低い解像度レベルにおける残余画像ｇLに分解され、この場合、該残留画像ｒは、
（i）残余画像ｇLと解像度レベルＬから解像度レベルＭまでのＬ−Ｍ個の最粗解像度レベルにおける詳細画像ｒiの総和を取り、詳細画像の各々は、縮小された背景画像ｇMを形成するために、総和を取られる次に微細な解像度レベルにおける詳細画像の大きさに対して補間されることと、
（ii）ｇMにおいてＭ個の連続する補間を行うことにより、全サイズ背景画像ｇを形成するために、背景画像ｇMを拡大することと、
（iii）原画像ｚのディジタル信号表現から拡大された背景画像ｇを控除することとにより形成される上記２又は４に記載の方法。
【０１２４】
１０．該キャリブレーションマトリックスが、前以て生成され、メモリにおいて記憶され、記録部材の識別により検索される上記１に記憶の方法。
【０１２５】
１１．該誤差画像ｅ（ｉ，ｊ）が、オーバーレイ画像を生成するために、はーどこぴー記録器に適用される上記４に記載の方法。
【０１２６】
１２．該誤差画像ｅ（ｉ，ｊ）が、欠陥の形状及び振幅を発生するために、特性付け及び分類処理される上記４に記載の方法。
【０１２７】
１３．（i）該記録部材が、光刺激性蛍光面であり、（ii）放射線画像が、刺激放射線を用いて該画面を走査し、刺激により放射された光を検出し、検出光を電気信号に変換し、該信号をディジタル化することにより読み出される上記１に記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】光刺激性蛍光面を読出すための装置を一般に図示する。
【図２】本発明の方法を概略的に示す。
【図３】平坦場露光された刺激性蛍光面の典型的な走査線を描写する。
【図４】背景除去された同一の走査線を示す。
【図５】図３ｂの走査線において行われた閾値動作の結果を示す。
【図６】階層的多解像度画像分解法の特定実施態様と分解画像から始まる背景画像の発生を描写する。
【図７】該分解方法において使用されるフィルターの例を示す。
【図８】キャリブレ−ションマトリックス計算と誤り検出を図解する。
【図９】実画像の補正を図解する。
【符号の説明】
１  蛍光シート
２  ヘリウムネオン光源
３  レーザービーム
４  チョッパ
５  回転円板セグメント
６  駆動手段
８  検流計鏡
９  平面反射鏡
１１  シート搬送方向を示す矢印
１２  光案内
１３  光検出器
２０  コンピュータ
２１  ディスプレイ装置
３０  平方根増幅器
３１  サンプル及びホールド回路
３２  アナログ対ディジタルコンバータ
３３  スイッチ
３４  補正値を計算する回路
３５  メモリ
３６  雑音低減部
３７  処理回路
３８  出力装置
３９  分類装置
４０  シェージング補正回路
４１  低域フィルターである。
４２  補間回路
４３   加算器
４４  補間回路
４５  補間回路
４６  補間回路
４８  加算器
４９  加算器
【図１】
0003843169.tif 000023
【図２】
0003843169.tif 000024
【図３】
0003843169.tif 000025
【図４】
0003843169.tif 000026
【図５】
0003843169.tif 000027
【図６】
0003843169.tif 000028
【図７】
0003843169.tif 000029
【図８】
0003843169.tif 000030
【図９】
0003843169.tif 000031