(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの符号信号の符号長データにより、符号間干渉を解析する符号間干渉解析装置において、
前記符号長データを格納する符号長データ記憶部と、
この符号長データ記憶部の符号長データから、連続する２つの符号長データを、前データ、後データのセットとして抽出する抽出手段と、
この抽出手段により抽出されたデータを保持する抽出データ記憶部と、
前記抽出データ記憶部の前データ、後データを、符号長による分類ごとに平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算するデビエーション演算手段と、
このデビエーション演算手段の偏差を格納するデビエーション記憶部と、
このデビエーション記憶部の偏差ごとの偏差点を、前データ、後データごとに直線補間して表示する表示手段と
を設けたことを特徴とする符号間干渉解析装置。
【請求項２】
表示手段は、前データ、後データの理想符号長をライン表示すると共に、抽出データ記憶部のデータを、２次元的にプロット表示することを特徴とする請求項１記載の符号間干渉解析装置。
【請求項３】
光ディスクの符号信号の符号長データにより、符号間干渉を解析する符号間干渉解析プログラムを記録する記録媒体において、
前記符号長データから、連続する２つの符号長データを、前データ、後データのセットとして抽出し、
前データ、後データを、符号長による分類ごとに平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算し、
この偏差ごとの偏差点を、前データ、後データごとに直線補間して表示することを特徴とする符号間干渉解析プログラムを記録した記録媒体。
【請求項４】
前データ、後データの理想符号長をライン表示すると共に、抽出したデータを、２次元的にプロット表示することを特徴とする請求項３記載の符号間干渉解析プログラムを記録した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の符号信号の符号長データの符号間干渉を解析する符号間干渉解析装置及び符号間干渉解析プログラムを記録した記録媒体に関し、効率的に解析が行える符号間干渉解析装置及び符号間干渉解析プログラムを記録した記録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年のマルチメディアの発展により、画像、音声、動画等のデータが自由に扱えるようになった反面、ファイルサイズが増大し、これらのデータをより多く、より高速に保存、編集することが重要になってきている。これに伴い、データの書き換え可能な光ディスク、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の市場が拡大し、大容量、高速転送レートの書き込みドライブ、書き込み可能メディアの開発が急速に進んでいる。この開発において、書き込み符号長偏差の解析により、データの書き込み制御の最適化等が行われている。このような解析を行う装置を図９に示し説明する。
【０００３】
図において、符号長データ記憶部１１は、光ディスクの符号信号の符号長データを保持する。符号長データは、ＤＶＤの場合、１０種類のパルス幅変調（Eight-to-Fourteen Modulation）の符号長、つまり、３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ（Ｔ：サンプリングクロックの周期）のパルス幅の測定データである。
【０００４】
操作部１２は、例えば、スイッチ等からなる。抽出条件記憶部１３は、抽出条件を保持する。抽出条件設定手段１４は、操作部１２の入力により、符号長データ記憶部１１から抽出する抽出条件を抽出記憶部１３に設定する。
【０００５】
抽出手段１５は、操作部１２の指示により、符号長データ記憶部１１と抽出条件記憶部１３との内容から、該当データを抽出する。抽出データ記憶部１６は、抽出手段１５で抽出された抽出データを保持する。
【０００６】
統計演算手段１７は、符号長データ記憶部１１の符号長データまたは抽出データ記憶部１６の抽出データにより、統計値（平均値、ジッタ値等）の演算を行うと共に、符号長による分類ごとのヒストグラムを作成する。統計値記憶部１８は、統計演算手段１７の統計値を保持する。ヒストグラム記憶部１９は、統計演算手段１７のヒストグラムを保持する。
【０００７】
表示手段２０は、統計値記憶部１８の統計値、ヒストグラム記憶部１９のヒストグラムを、表示画面に表示する。また、表示手段２０は、操作部１２により入力される抽出条件を表示画面に表示する。表示部２１は、例えば、ＣＲＴ、液晶モニタ等で、表示画面を表示する。
【０００８】
そして、抽出条件設定手段１４、抽出手段１５、統計演算手段１７、表示手段２０は、制御部１００を構成する。
【０００９】
次に、表示部２１に表示される表示画面を図１０に示し説明する。
図において、表示画面３０は、抽出条件表示部３１、解析開始ボタン３２、統計表示部３３、抽出統計表示部３４、ヒストグラム表示部３５、抽出ヒストグラム表示部３６からなる。
【００１０】
このような装置の動作を、図１１，１２を用いて、以下に説明する。
図１１は図９に示す装置の動作を示したフローチャート、図１２は図９に示す装置の動作を説明する図である。
【００１１】
操作部１２の入力により、表示手段２０は、抽出条件表示部３１に抽出条件を表示する。同時に、抽出条件設定手段１４が抽出条件記憶部１３に抽出条件を格納する（Ｓ１）。ここで、抽出条件は、３Ｔのマーク（データが書き込まれていた部分）をトリガとし、ターゲット（解析対象）をトリガ符号長のあとのスペース（データが書き込まれていない部分）とする。
【００１２】
そして、操作部１２により、解析開始ボタン３２を押すと、抽出手段１５は、符号長データ記憶部１１と抽出条件記憶部１３との内容から該当データを抽出し、抽出データ記憶部１６に格納する（Ｓ２）。従って、３Ｔ符号長の後のデータなので、図１２に示すように、７Ｔ，６Ｔ，１０Ｔ，３Ｔ…を抽出データとして、抽出データ記憶部１６に格納する。
【００１３】
統計演算手段１７は、符号長データ記憶部１１の符号長データまたは抽出データ記憶部１６の抽出データを、符号長ごとに分類して、統計値（平均値、ジッタ値、該当データ数）を演算し、統計値記憶部１８に格納する。この結果、抽出データの統計値は、図１２に示す内容となる。また、統計演算手段１７は、符号長データ記憶部１１の符号長データまたは抽出データ記憶部１６の抽出データにより、符号長の分類ごとに、ヒストグラムを作成し、ヒストグラム記憶部１９に格納する（Ｓ３）。
【００１４】
そして、表示手段２０は、統計値記憶部１８の符号長データ記憶部１１による統計値を、統計表示部３３に表示し、統計値記憶部１８の抽出データ記憶部１６による統計値を、抽出統計表示部３４に表示する。また、表示手段２０は、ヒストグラム記憶部１９の符号長データ記憶部１１によるヒストグラムを、ヒストグラム表示部３５に表示し、ヒストグラム記憶部１９の抽出データ記憶部１６によるヒストグラムを抽出ヒストグラム表示部３６に表示する（Ｓ４）。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】
このような装置では、１つのトリガによる隣りの符号への干渉を解析することができる。しかし、あらゆる組み合わせの隣り合う符合間の干渉解析を行うために、何度も抽出条件を変更しなければならなかった。また、抽出条件を変更して、あらゆる組み合わせで干渉関係を解析しても、それぞれ独立した統計値結果、ヒストグラムになるため、全符号長データの干渉関係を視覚的、直感的に判断することができなかった。
【００１６】
そこで、本発明の目的は、干渉結果を視覚的、直感的に判断でき、効率的に解析を行うことができる符号間干渉解析装置及び符号間干渉解析プログラムを記録した記録媒体を実現することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
光ディスクの符号信号の符号長データにより、符号間干渉を解析する符号間干渉解析装置において、
前記符号長データを格納する符号長データ記憶部と、
この符号長データ記憶部の符号長データから、連続する２つの符号長データを、前データ、後データのセットとして抽出する抽出手段と、
この抽出手段により抽出されたデータを保持する抽出データ記憶部と、
前記抽出データ記憶部の前データ、後データを、符号長による分類ごとに平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算するデビエーション演算手段と、
このデビエーション演算手段の偏差を格納するデビエーション記憶部と、
このデビエーション記憶部の偏差ごとの偏差点を、前データ、後データごとに直線補間して表示する表示手段と
を設けたことを特徴とするものである。
【００１８】
また、
光ディスクの符号信号の符号長データにより、符号間干渉を解析する符号間干渉解析プログラムを記録する記録媒体において、
前記符号長データから、連続する２つの符号長データを、前データ、後データのセットとして抽出し、
前データ、後データを、符号長による分類ごとに平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算し、
この偏差ごとの偏差点を、前データ、後データごとに直線補間して表示することを特徴とするものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
図において、符号長データ記憶部４１は、光ディスクの符号信号の符号長データを格納する。操作部４２は、例えば、スイッチ等からなる。抽出条件記憶部４３は、抽出条件を保持する。抽出条件設定手段４４は、操作部４２の入力により、符号長データ記憶部４１から抽出する抽出条件を抽出記憶部４３に設定する。
【００２０】
抽出手段４５は、操作部４２の指示により、符号長データ記憶部４１と抽出条件記憶部４３との内容から、連続する２つの符号長データを、前データ、後データの２次元配列のセットとし、符号長により分類して抽出する。抽出データ記憶部４６は、抽出手段４５で抽出されたデータを、マトリクス状に保持する。
【００２１】
デビエーション演算手段４７は、抽出データ記憶部４６の前データ、後データの分類ごとに、平均値を求め、デビエーションを算出する。デビエーション（偏差）は、理想値からのずれ、つまり、（理想値）−（平均値）で表わされる。デビエーション記憶部４８は、デビエーション演算手段４７のデビエーションをマトリクス状に保持する。
【００２２】
表示手段４９は、前データ、後データの理想符号長を、破線ライン表示すると共に、抽出データ記憶部４６のデータを、２次元的に表示画面にプロット表示する。また、表示手段４９は、デビエーション記憶部４８のデビエーションを表示画面にプロット表示または直線補間表示する。そして、表示手段４９は、操作部４２により入力される抽出条件を表示画面に表示する。表示部５０は、ＣＲＴや液晶ディスプレイ等で、表示画面を表示する。
【００２３】
そして、抽出条件設定手段４４、抽出手段４５、デビエーション演算手段４７、表示手段４９は、制御部２００を構成する。また、抽出条件設定手段４４、抽出手段４５、デビエーション演算手段４７、表示手段４９は、一般的にプログラムで作成され、このプログラムが、ＦＤ、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録される。そして、記録媒体からコンピュータにプログラムがインストールされ、符号間干渉解析装置を構成する。
【００２４】
次に、表示部５０に表示される表示画面を図２に示し説明する。
図において、表示画面６０は、抽出条件表示部６１、解析開始ボタン６２、マトリクス表示部６３からなる。
【００２５】
このような装置の動作を、図３〜８を用いて、以下で説明する。
図３は図１に示す装置の動作を示したフローチャート、図４，５は図１に示す装置の動作を説明する図、図６〜８は図１に示す装置の表示画面例である。
【００２６】
操作部４２の入力により、表示手段４９は、抽出条件表示部６１に抽出条件を表示する。同時に、抽出条件設定手段４４が抽出条件記憶部４３に抽出条件を格納する（Ｓ１）。ここで、抽出条件は、すべての符号長をトリガとし、ターゲットをトリガ符号長の後の符号長データとする。
【００２７】
そして、操作部４２の入力により、解析開始ボタン６２を押すと、抽出手段４５は、符号長データ記憶部４１と抽出条件記憶部４３との内容から該当データを抽出し、抽出データ記憶部４６に格納する（Ｓ２）。従って、すべての符号長の後のデータなので、図４に示すように、（３Ｔ，７Ｔ），（１１Ｔ，４Ｔ），（３Ｔ，６Ｔ）…を抽出する。なお、データは、マーク、スペース、マーク…のように交互に並んでいるので、マークをトリガとすると、（スペース，マーク）の組、スペースをトリガとすると、（マーク、スペース）の組で抽出される。このときのマトリクスのセルには、全該当データの前データ、後データの値、セルの全データ数、同一セットの頻度情報が格納される。そして、前データをＹ軸、後データをＸ軸として、符号長ごとに配列してグループ分けする。
【００２８】
そして、デビエーション演算手段４７は、抽出データ記憶部４６の前データ、後データの分類ごとの平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からのデビエーション値（偏差）を演算し、デビエーション記憶部４８に、図５に示すようにマトリクス状に格納する（Ｓ４）。
【００２９】
表示手段４９は、理想符号長を破線ライン表示すると共に、抽出データ記憶部４６のデータを読み出して、マトリクス表示部６３に、前データをＹ軸、後データをＸ軸として、プロットし、図２，６に示すように表示する（Ｓ５）。ここで、図６は図２に示すマトリクス表示部６３内の一部を拡大表示したものである。符号長は、各Ｘ−Ｙ符号長の交点にくるのが理想であるが、隣り合う符合間で干渉があり、例えば、前データが３Ｔ、後データが６Ｔの時は特に符号長のずれが大きいことが、視覚的、直感的にわかる。
【００３０】
このとき、表示手段４９が、抽出データ記憶部４６の頻度情報を用い、頻度で色分けして、グラデーション表示をすることもできる。これにより、２次元的な分布情報に３次元方向の情報が付加され、より解析を助けることができる。
【００３１】
また、表示手段４９は、デビエーション記憶部４８からデビエーション値を読み出して、マトリクス表示部６３に、前データのデビエーション値をＹ軸、後データのデビエーション値をＸ軸として、プロットし、図７に示すように表示する（Ｓ５）。この表示により、各符号長ごとのデビエーションを交点からの距離として視覚的、直感的にとらえることができる。なお、図７に示すデビエーションのプロットは、抽出した前データ、後データのプロットのほぼ中央あたりに位置する点である。
【００３２】
そして、表示手段４９は、デビエーション記憶部４８の２次元セルの各デビエーション値を、前データ、後データごとに直線補間し、図８に示すように、マトリクス表示部６３に表示する（Ｓ５）。この例では、Ｘ方向（後データ）のデビエーション値をＹ方向にプロットし、Ｙ方向（前データ）のデビエーションをＸ方向にプロットし、直線補間を行っている。このようにすることにより、ある符号長の全後データのデビエーションをＸ軸からの偏差とし、また、ある符号長の全前データのデビエーションをＹ軸からの偏差として捉えることができる。この解析においては、各符号長の軸線、マトリクス表示部６３の破線に一致することが理想であるが、格子の歪み具合で視覚的に定性的な良否判断をすることができる。
【００３３】
なお、この実施例において、抽出条件を全データとしたが、ある符号長の後、また、ある符号長の前の隣り合うデータの符号間干渉解析を行うことも可能である。
【００３４】
また、前データ、後データのＸ軸、Ｙ軸はどちらでもよいし、符号長の理想ラインは、破線でなく、実線等でもよい。
【００３５】
そして、抽出手段４５が、符号長による分類を行い、抽出データ記憶部４６に格納する構成を示したが、分類を行わずに抽出データ記憶部４６に格納してもよい。この場合、デビエーション演算手段４７が、符号長による分類により、抽出データ記憶部４６の抽出データを読み出し、平均値を求め、デビエーションを求める構成にする。
【００３６】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果がある。
【００３９】
請求項１，２によれば、デビエーション演算手段が、符号長データ記憶部の前データ、後データの分類ごとの平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算し、この偏差点を表示手段が直線補間して表示する。これにより、格子の歪み具合で視覚的に定性的な良否の判断をすることができる。
【００４３】
請求項３，４によれば、前データ、後データの分類ごとの平均値を求め、この平均値により、符号長データの理想値からの偏差を演算し、この偏差点を直線補間して表示する。これにより、格子の歪み具合で視覚的に定性的な良否の判断をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の表示画面を示した図である。
【図３】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図４】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図５】図１に示す装置の動作を説明する図である。
【図６】図１に示す装置の表示画面を示した図である。
【図７】図１に示す装置の表示画面を示した図である。
【図８】図１に示す装置の表示画面を示した図である。
【図９】従来の符号間干渉解析装置の構成を示した図である。
【図１０】図９に示す装置の表示画面を示した図である。
【図１１】図９に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図１２】図９に示す装置の動作を説明する図である。
【符号の説明】
４１  符号長データ記憶部
４５  抽出手段
４６  抽出データ記憶部
４７  デビエーション演算手段
４８  デビエーション記憶部
４９  表示手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
0003843668.tif 000006
【図６】
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【図７】
0003843668.tif 000008
【図８】
0003843668.tif 000009
【図９】
0003843668.tif 000010
【図１０】
0003843668.tif 000011
【図１１】
0003843668.tif 000012
【図１２】
0003843668.tif 000013