(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光線路（６５）に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器（５０）と、複数の光線路（６５）に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチ（５５）とを備えた光線路監視システムであって、
前記光パルス試験器に接続される試験光線路（５２）を複数の光線路（５９、６０）に分岐する光合分波器（５８）と、該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞれ前記光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置（５３）とを試験光線路の途中に介在し、前記選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ（６１）を介在してなり、
選択装置にて、光合分波器によって分岐した複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記光スイッチに接続された試験光線路（５６）に対する接続を切り替えることにより、前記光パルス試験器での受光波長を選択できることを特徴とする光線路監視システム。
【請求項２】
光線路（６５）に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器（５０）と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチ（７２）とを備えた光線路監視システムであって、
前記光パルス試験器に接続した試験光線路（７３）を複数の光線路（７６、７７）に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置（７８）と、
該選択装置において試験光線路に対して接続される複数の光線路が一方の端部に接続され、他方の端部が前記光スイッチと接続される光合分波器（７５）とを備え、
前記選択装置と前記光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に前記光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタ（７７ａ）を介在してなり、
選択装置は、前記光合分波器の一方の端部に接続されている複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記試験光線路に対する接続を切り替えるようになっていることを特徴とする光線路監視システム。
【請求項３】
前記選択装置が１対２スイッチであることを特徴とする請求項２記載の光線路監視システム。
【請求項４】
前記光合分波器が、ＷＤＭ光カプラであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光線路監視システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路監視システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光線路の断線等を検出する周知の光パルス試験では、通信光線路の途中に光パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical  Time  Domain  Reflectometer）を接続して光線路監視システムを構成し、光パルス試験器から通信光へ入射した試験光の反射光や後方散乱光を光パルス試験器で観測することが一般的である。この光線路監視システムでは、通信光と異なる波長の試験光を使用することで、通信光（現用光）が存在する通信光線路の活線監視を実施することができる。
ところで、光パルス試験器にて試験光の反射光や後方散乱光のみならず通信光をも受光してしまうと、通信波長の受光データが反射光や後方散乱光の観測精度に影響を与えるため、通信波長と試験波長とを区別して受光することで試験光の反射光や後方散乱光の観測精度を向上することができる光線路監視システムの開発が要求されていた。
【０００３】
図４は、前記要求に鑑みて構成された光線路監視システムを示す。
図４中符号１は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、２１は選択装置、２は心線選択部、６は光スイッチ（心線選択装置）、７は光部品収納ケース、８は試験光線路、９は通信光線路である。
光線路監視システムは、光パルス試験器１と、選択装置２１と、心線選択部２とを備えて構成される。光パルス試験器１と心線選択部２との間は、選択装置２１にて光パルス試験器１と接続された試験光配線８によって光接続される。
なお、試験光線路８や通信光線路９は、光ファイバ等から構成された光配線である。
【０００４】
心線選択部２は光スイッチ６と光部品収納ケース７とを備えている。
光スイッチ６は、１あるいは複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００本の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２本の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光ファイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に位置決めすることで、固定側の目的の光ファイバ１１、１１とそれぞれ接続する。なお、可動ヘッド１２、１２の制御は光スイッチ６内蔵のＣＰＵによりなされる。
光部品収納ケース７は、光スイッチ６から引き出された単心あるいは多心の光ファイバ１１ａと、この光ファイバ１１ａの途中に介在させた光合分波器１０（光カプラ）とを収納し、光ファイバ１１ａと通信光線路９とを光合分波器１０を介して接続する。また、光部品収納ケース７は、図示していない伝送装置側の光線路が接続されるコネクタ接続用ポート１４と、通信光線路９を接続するコネクタ接続用ポート１３とを有し、これらのコネクタ接続用ポート１３、１４を介して通信光線路９や光ファイバ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。また、光ファイバ１１ａはコネクタ接続用ポート６ａを介して光スイッチ６と接続される。
【０００５】
光パルス試験器１は、現用光確認や光線路監視システム自体の配線確認等に使用する受光部２２（ＰＤ：フォトダイオード）と、波長１．５５μｍ試験光用の光源２３（１．５５ＬＤ：波長１．５５μｍの試験光を出射する半導体レーザ。以下「１．５５光源」）と、波長１．３１μｍ試験光用の光源２４（１．３１ＬＤ：波長１．３１μｍの試験光を出射する半導体レーザ。以下「１．３１光源」）と、受光部２５（ＡＰＤ：アバランシェ  フォト  ダイオード）と、モニタ用受光部２６（ＰＤ：フォトダイオード）とを備えている。１．５５光源２３と１．３１光源２４にはこれらから入射される試験光を伝送する試験光線路２７、２８を接続している。これら試験光線路２７、２８は、ＷＤＭ光カプラ３１、３４を介して選択装置２１に導入され、この選択装置２１にてそれぞれ心線選択部２の目的の試験光配線８と選択的に接続される。
【０００６】
試験光線路２７に介在した光カプラ３１は該試験光線路２７から波長１．５５μｍ光を分波出射する出射ポートを複数有し、これら出射ポートには受光線路２９やモニタ用受光線路３２を接続している。受光線路２９は受光部２５と接続し、モニタ用受光線路３０はモニタ用受光部２６に接続している。
試験光線路２８に介在した光カプラ３４は該試験光線路２８から波長１．３１μｍ光を分波出射する出射ポートを複数有し、これら出射ポートには受光線路３５やモニタ用受光線路３０を接続している。
受光線路２９は受光部２５と接続され、試験光線路２７から分離された波長１．５５μｍ光を受光部２５に伝送する。また、この受光線路２９の途中には光カプラ３６を介して受光線路３５が接続され、該受光線路３５から伝送された１．３１μｍ光が受光部２５に入射されるようになっている。
モニタ用受光線路３２は、モニタ用受光線路３０に介在させたＷＤＭ光カプラ３３と接続され、試験光線路２７から分離した１．５５μｍ光をこの光カプラ３３を介してモニタ用受光線路３０に伝送することで、該モニタ用受光線路３０に接続したモニタ用受光部２６へ入射する。モニタ用受光線路３０は、この光カプラ３４によって試験光線路２８から分波された波長１．３１μｍ光をモニタ用受光部２６に伝送する。
【０００７】
この光線路監視システムでは、光スイッチ６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続し、さらに選択装置２１にて目的の試験光線路８を光パルス試験器１側の試験光線路２７あるいは２８のいずれかと接続することで、目的の通信光線路９と光パルス試験器１とが接続される。そして、光パルス試験器１から試験光配線８に入射した試験光を、光スイッチ６、光部品収納ケース７を介して通信光線路９へ入射し、この逆順で光パルス試験器１に帰還した反射光または後方散乱光を受光部２５で受光して観測することで、周知の光パルス試験を行う。試験波長としては、通信波長である１．３１μｍ、あるいは通信光とは異なる波長としては例えば１．５５μｍや１．６５μｍを用いることが一般的である。
【０００８】
１．３１μｍ試験光で試験を実施する場合には、受光部２２を試験目的の通信光線路９と接続して現用光が無いことを確認してから試験光を入射する。これにより、この光学系では、１．３１μｍの試験を実施しても、受光部２５に現用光の影響を与える心配は無い。
１．３１光源２４からの光パルスは光カプラ３４を介して出力され、その反射光は、光カプラ３４から受光線路３５および光カプラ３６を介して受光部２５にのみ伝送される。
なお、受光部２２は、光スイッチ６に設置した試験ポート１５、１６およびループバック用光ファイバ１７によって構成されるループバック線路や、光部品収納ケース７内で光合分波器１０を介して接続された２本の光ファイバ１１ａ、１１ａによって構成されるループバック線路を利用して、ループバックした試験光を受光することで光線路監視システム自体の配線確認や損失試験等にも利用される。
【０００９】
ところで、前記光線路監視システムでは、通信光線路９で例えば１．３１μｍの通信を行っている最中に、通信光と異なる例えば波長１．５５μｍの試験光を用いた活線監視等の試験を実施する場合がある。
この試験では、試験光線路２７を心線選択部２および選択装置２１によって目的の通信光線路９と接続し、一方、試験光線路２８と通信光線路９との接続は解除しておき、この状態で１．５５光源から試験光を出力する。１．５５光源２３からの光パルスは光カプラ３１を介して出力され、その反射光は、光カプラ３１から受光線路２９を介して受光部２５にのみ伝送される。この時、ＷＤＭ光カプラ３１が波長１．５５μｍ光のみを受光線路２９に伝送し、１．５５μｍ以外の波長の光の伝送を遮断するので、受光部２５は１．５５μｍ光のみを受光する。
したがって、この光学系では、現用光の存在する状況下で１．５５μｍ波長を用いた試験を実施しても、受光部２５に現用光の影響を与える心配は無い。
【００１０】
また、この光線路監視システムでは、１．５５光源２３から出力した試験光を光カプラ３１からモニタ用受光線路３２、光カプラ３３を介してモニタ用受光部２６で受光することで、１．５５光源２３の発光状態を試験することができる。同様に、１．３１光源２４についても、出力した試験光を光カプラ３４からモニタ用受光線路３０を介してモニタ用受光部２６で受光することで、１．３１光源２４の発光状態を試験することができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記のような光線路監視システムの場合、１．３１μｍ光と１．５５μｍ光の入出力ポートが別であり、使用する光部品が多数であり、光パルス試験器１内の光線路も複雑になるので、光パルス試験器１が大型になって組み立てに手間がかかるとともに、コストが上昇するといった問題があった。
【００１２】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであって、以下の効果が得られる光線路監視システムを提供することを目的とする。
（１）簡便な構成により、光パルス試験器にて目的波長の光を選択に受光して観測することができ、光線路の試験精度が向上する。
（２）構成が単純であり、光回路を作成するコストを減らすことができ、しかもコンパクト化、低コスト化できる。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明では、光線路に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システムであって、前記光パルス試験器に接続される試験光線路を複数の光線路に分岐する光合分波器と、該光合分波器によって分岐した光線路をそれぞれ前記光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在し、前記選択装置と光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなり、選択装置にて、光合分波器によって分岐した複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記光スイッチに接続された試験光線路に対する接続を切り替えることにより、前記光パルス試験器での受光波長を選択できることを特徴とする光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【００１４】
この構成によれば、選択装置と光合分波器との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送する光線路（以下、「通信波長光線路」）として機能する。光スイッチとしては、例えば試験光線路側光ファイバと通信光線路側光ファイバとを、１対ｎあるいは２対ｎで選択的かつ切替可能に接続する心選択装置等を採用する。
選択装置としては、光スイッチ側の試験光線路を構成する光ファイバに対して、試験波長光線路や通信波長光線路を構成する光ファイバを、例えば２対ｎで選択的かつ切替可能に接続する装置や、１対２スイッチ等の採用が可能である。この選択装置の制御は自動、手動のいずれであっても良いが、ＣＰＵを搭載した制御装置による自動制御で、試験光線路に接続する試験波長光線路や通信波長光線路を切り替える構成であることが好ましい。また、目的の試験光線路に対して試験波長光線路と通信波長光線路のいずれか一方を選択的に接続する構成であるので、試験波長光線路と試験光線路とを接続した際に通信波長光線路と試験光線路とを接続しない。これにより、試験波長光の受光時には、通信波長光線路から光パルス試験器への通信光の入射が防止される。また、試験光線路に対して試験波長光線路や通信波長光線路を１対２で接続する１対２スイッチを採用した場合には、選択装置の構成が単純になり低コスト化できるとともに、試験光線路に試験波長光線路を接続した時、通信波長光線路と試験光線路との接続が自動的に解除され、光パルス試験器への通信光の入射が防止される。
【００１５】
光パルス試験器は、通信光と異なる波長の試験光の他に、通信光と波長の同じ試験光（例えば波長１．３１μｍ）をも試験光線路に入射可能な構成であってもよい。通信波長の試験光は通信光線路の損失測定試験等に使用される。通信波長の試験光を用いた試験は、通信光線路に通信光が存在しないことを確認した後、選択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して実施する。なお、通信光線路での通信光の有無を確認するには、選択装置で試験光線路に通信波長光線路を接続して光パルス試験器で受光した光を観測する。
光パルス試験器が試験光線路に入射する試験光は、通信光線路を試験する周知の光パルス試験や光線路監視システム自体の試験等に使用されるものであり、通信光と異なる波長としては１．５５μｍや１．６５μｍ等が採用される。
光合分波器は、通信波長の光と試験波長の光とを合波あるいは分波する光デバイスである。この光合分波器としては各種構成の採用が可能であるが、ＷＤＭ形光カプラ等の小型かつ安価に形成することができる光構成を採用することが好ましい。
【００１６】
請求項２記載の発明では、光線路に光パルスを入射し、該光パルスが光線路で反射した反射光を測定して光線路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の光線路に対して前記光パルス試験器を選択的かつ切替可能に接続する光スイッチとを備えた光線路監視システムであって、前記光パルス試験器に接続した試験光線路を複数の光線路に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置と、該選択装置において試験光線路に対して接続される複数の光線路が一方の端部に接続され、他方の端部が前記光スイッチと接続される光合分波器とを備え、前記選択装置と前記光合分波器との間を接続する光線路のいずれかの途中に前記光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなり、選択装置は、前記光合分波器の一方の端部に接続されている複数の光線路の内、前記光フィルタが設けられている光線路である試験波長光線路、及び、該試験波長光線路以外の光線路である通信波長光線路の、前記試験光線路に対する接続を切り替えるようになっていることを特徴とする光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【００１７】
この構成によれば、選択装置と光合分波器との間を接続する光線路の内、光フィルタを介在した光線路が試験波長光のみを伝送する試験波長光線路として機能し、その以外が試験波長光および通信波長光を伝送する光線路（以下、「通信波長光線路」）として機能する。
光スイッチや光合分波器、選択装置としては、請求項１記載の発明と同様に、各種構成の採用が可能である。
【００１８】
請求項３記載の発明では、前記選択装置が１対２スイッチであることを特徴とする請求項２記載の光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
請求項４記載の発明では、前記光合分波器が、ＷＤＭ光カプラであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光線路監視システムを前記課題の解決手段とした。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下本発明の第１実施形態の光線路監視システムを図１を参照して説明する。
図１中符号５０は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）であり、図示しない光源を内蔵している。この光パルス試験器５０には試験光線路５２を接続している。この光パルス試験器５０は、試験光線路５２に１．３１μｍあるいは波長１．５５μｍの２種類の試験光を入射することができる。
【００２０】
試験光線路５２の途中には通信波長の光と試験波長の光とを合波／分波する光合分波器５８（ＷＤＭ光カプラ）を介在している。この光合分波器５８は、通信波長の光を伝送する通信波長光線路５９と試験波長の光を伝送する試験波長光線路６０とに試験光線路５２を分離する。通信波長光線路５９と試験波長光線路６０とは、選択装置５３において、光スイッチ５５に接続された試験光線路５６に対して選択的かつ切替可能に接続される。
なお、試験波長光線路６０には、試験波長である１．５５μｍ光を透過し、通信波長である１．３１μｍ光を遮断する光フィルタ（図１中ＬＷＰ：Long  Wave
Pass）を介在させている。
【００２１】
選択装置５３は通信波長光線路５９と試験波長光線路６０を、心線選択部５４側の試験光線路５６に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置５３を有する。この心線選択装置５３としては、各種タイプの光路切替装置を採用することができる。
通信に用いられる１．３１μｍ光は、光合分波器５８により合分波されて、通信波長光線路５９と試験光線路５２とを伝搬し、１．５５μｍ光は、同様に、試験波長光線路６０と試験光線路５２とを伝搬する。
【００２２】
心線選択部５４は、前記光スイッチ５５と、光合分波器６２ａ等の光部品を収納した光部品収納ケース６２とを備え、光スイッチ５５にて、光パルス試験器５０側である試験光線路５６と加入者側である光ファイバ６６とを切替可能に接続する。
ここで用いられる光スイッチのタイプとしては、例えば、移動自在な少なくとも一本の可動側光ファイバと、複数本の固定側光ファイバとを切替可能に接続するファイバ移動型のメカニカル方式の光スイッチである。図１では、例えば、光スイッチ５５として１対１０００スイッチを用いる。ここで、１対１０００スイッチとは、一本の可動側光ファイバを１０００本の固定側光ファイバへ切り替え接続するスイッチを意味する。
固定側光ファイバ６６は、Ｖ溝が多数本設けられたＶ溝台（図示しない）に配列されており、これに対して移動自在な可動ヘッド５５ａが位置決め移動し、位置決め完了後において、Ｖ溝内において両光ファイバが精密に位置決め接続される。
【００２３】
光部品収納ケース６２は、図示しない伝送装置と加入者線路との間に配置される。光合分波器６２ａは通信光線路６５の途中に挿入され、光スイッチ５５への光ファイバ６６を分岐する。
なお、光部品収納ケース６２や光スイッチ５５と、これらの周辺の光ファイバとの接続は、光コネクタを介してなされる。
【００２４】
以下、この光線路監視システムの作用および効果を説明する。
この光線路監視システムによれば、通信光（現用光：例えば波長１．３１μｍ）確認と、波長１．３１μｍの試験光を用いての損失測定等の試験と、波長１．５５μｍの試験光を用いての活線監視等の試験を実施することができる。
通信光線路６５における現用光確認は、光スイッチ５５にて目的の通信光線路６５から分岐した光ファイバ６６と試験光線路５６とを接続し、選択装置５３にて光ファイバ６６と接続した試験光線路５６に通信波長光線路５９を接続し、光パルス試験器５０にて受光した光を観測して現用光の有無を確認する。
波長１．３１μｍの試験光を用いた試験は、前記現用光確認で現用光（１．３１μｍ光）が存在ししないことを確認してから、光線路の接続状態を維持したまま光パルス試験器５０から波長１．３１μｍの試験光を試験光線路５２、通信波長光線路５９を介して通信光線路６５に入射し、その反射光（後方散乱光等）を光パルス試験器５０で観測する。この時、通信光線路６５からの反射光は、通信波長光線路５９を介して試験光線路５２から光パルス試験器５０へ伝送される。
【００２５】
波長１．５５μｍの試験光を用いた試験は、光スイッチ５５にて試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ６６と試験光線路５６を接続し、光ファイバ６６と接続した試験光線路５６に選択装置５３にて試験波長光線路６０を接続した後、光パルス試験器５０から試験光線路５２、試験波長光線路６０を介して波長１．５５μｍの試験光を通信光線路６５へ入射し、その反射光（後方散乱光等）を光パルス試験器５０で観測する。一方、通信波長光線路５９は試験光線路５６と接続しない。
入射した波長１．５５μｍ試験光の反射光は、入射の場合と逆順で、試験波長光線路６０、光合分波器５８、試験光線路５２の順に伝送されて光パルス試験器５０に帰還する。この時、試験波長光線路６０では、波長１．３１μｍ光の伝送を遮断しているので、光パルス試験器５０へ現用光が伝送されることは無い。
この試験は現用光の有無にかかわらず実施することが可能であるが、試験波長光線路６０を通って帰還した反射光を光パルス試験器５０で受光するため、光フィルタ６１によって波長１．３１μｍ光が光パルス試験器５０に入射することが防止され、これにより、光パルス試験器５０への現用光の入射が防止され、光パルス試験器５０での反射光の観測に現用光が影響を与える心配が無い。しかも、光フィルタ６１によってノイズもカットされるので、試験精度を向上することができる。
また、光パルス試験器５０に設置する試験ポートが一つで済み、反射光受光用の受光部も一つで良いので、光パルス試験器５０の構成が簡略化して、図４記載の光線路監視システムと比較して小型化、低コスト化できるといった優れた効果を奏する。
【００２６】
以下、本発明の第２実施形態を図２を参照して説明する。
なお、図２中、図１と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化する。
図２中符号７０は心線選択部であり、選択装置７１と、光スイッチ７２と、光部品収納ケース６２とを備えている。この心線選択部７０は、例えば、選択装置７１、光スイッチ７２、光部品収納ケース６２を同一の架体フレームに搭載して構成される。
選択装置７１には、光パルス試験器５０と接続した試験光線路７３と、光スイッチ７２と接続した試験光線路７４とを引き込んでいる。試験光線路７４には光合分波器７５（光カプラ）を接続し、さらに、この光合分波器７５を介して通信波長光線路７６と試験波長光線路７７とを接続している。通信波長光線路７６は、光合分波器７５において試験光線路７４に対して合波／分波される波長１．３１μｍの光を伝送する。試験波長光線路７７は、光合分波器７５において試験光線路７４に対して合波／分波される波長１．５５μｍの光を伝送する。通信波長光線路７６および試験波長光線路７７は、試験光線路７３と接続された選択装置７８（１対２スイッチ）にて、試験光線路７３に対して選択的かつ切替可能に接続される。試験波長光線路７７には、波長１．３１μｍ光の光パルス試験器５０方向への入射を防止する光フィルタ７７ａ（ＬＷＰ：Long  Wave  Pass）を介在させている。
【００２７】
光スイッチ７２は、光パルス試験器５０と接続された試験光線路７３、試験波長光線路７７を、光部品収納ケース６２側の光ファイバ８０に対して選択的かつ切替可能に接続する装置である。なお、光スイッチ７２の構成は、図１記載の光スイッチ５５と同様であるので、説明を省略する。
【００２８】
以下、この光線路監視システムの作用および効果を説明する。
この光線路監視システムにて、現用光確認や波長１．３１μｍの試験光による試験を実施するには、選択装置７８にて試験光線路７３と通信波長光線路７６とを接続し、さらに光スイッチ７２にて試験光線路７４を試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ８０と接続する。そして、光パルス試験器５０にて受光した光を観測することで、目的の通信光線路６５の現用光の有無を確認する。目的の通信光線路６５に現用光が無いことが確認できたら、１．３１μｍ試験光を光パルス試験器５０から出射し、その反射光を観測する。１．３１μｍ試験光は、試験光線路７３から通信波長光線路７６および光合分波器７５を経由して通信光線路６５に入射され、その反射光は、入射時と逆の順で光パルス試験器５０に帰還する。
【００２９】
波長１．５５μｍの試験光による試験を実施するには、選択装置７８にて試験光線路７３と試験波長光線路７７とを接続するとともに、光スイッチ７２にて試験光線路７４を試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ８０と接続した後、１．５５μｍ試験光を光パルス試験器５０から通信光線路６５へ入射し、光パルス試験器５０にて反射光（後方散乱光等）を観測する。波長１．５５μｍの反射光は光合分波器７５から試験波長光線路７７を介して光パルス試験器５０に帰還する。この時、試験波長光線路７７では、光フィルタ７７ａにより波長１．３１μｍ光がカットされるので、光パルス試験器５０に１．３１μｍ光が入射することは無い。また、選択装置７８では試験光線路７３が試験波長光線路７７または通信波長光線路７６のいずれかに選択的に接続されるため、試験波長光線路７７と接続されている時には通信波長光線路７６との接続が解除されているので、１．５５μｍ試験光およびその反射光は試験波長光線路７７に伝送され、しかも光フィルタ７７ａにより波長１．３１μｍ光がカットされるので、これにより光パルス試験器５０に１．３１μｍ光が入射することは無く、光パルス試験器５０には波長１．５５μｍ光のみが入射する。したがって、光パルス試験器５０における１．５５μｍ反射光の観測に１．３１μｍ光が影響を与える心配が無くなり、試験精度が向上する。また、本実施形態においては光フィルタ７７ａは１．５５μｍ光を透過し、１．３１μｍ光を遮断する特性を有する、例えば、誘電多層膜フィルタである。
【００３０】
また、選択装置７８として１対２スイッチを採用したことにより、光線路監視システムのさらに一層のコンパクト化や低コスト化を可能にする。
また、光パルス試験器５０に設置する試験ポートが一つで済み、反射光受光用の受光部も一つで良いので、光パルス試験器５０の構成が簡略化して、図４記載の光線路監視システムと比較して小型化、低コスト化できるといった優れた効果を奏する。
【００３１】
以下、本発明の第３実施形態の光線路監視システムを、図３を参照して説明する。
なお、図３中、図２と同一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化する。
図３中符号９０は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）である。この光パルス試験器９０は、波長１．３１μｍの光を受光する通信波長受光部９１（ＡＰＤ：アバランシェ  フォト  ダイオード）と、波長１．５５μｍの光を受光する試験波長受光部９２（ＡＰＤ：アバランシェ  フォト  ダイオード）と、図示しない光源とを内蔵している。通信波長受光部９１や試験波長受光部９２における受光観測データは、図示しないモニタにてそれぞれ個別に表示される。
図中９４は、光パルス試験器９０から試験光が入射される試験光線路であり、共に、心線選択部９５に搭載した光スイッチ７２に引き込まれ、この光スイッチ７２にて光ファイバ８０と選択的かつ切替可能に接続されることで目的の通信光線路６５と接続される。
【００３２】
試験光線路９４の光パルス試験器９０内に引き込んだ部分には、光合分波器９６（ＷＤＭ光カプラ）を介して試験光入射線路９７と受光線路９８とを接続している。試験光入射線路１００は、図示しない光源から入射された試験光を光合分波器９６を介して試験光線路９４へ伝送する。前記光源は、１．３１μｍと１．５５μｍの異なる２波長の試験光を出射可能である。受光線路１０１には、試験光線路９４から光パルス試験器９０への入射光が光合分波器９６を介して伝送される。受光線路９８には、該受光線路９８の伝送光を１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の波長の光に分波する光合分波器９９（光カプラ）を接続している。この光合分波器９９には、試験光線路９４から分波した波長１．３１μｍの光を伝送する通信波長光線路１００と、同じく分波した波長１．５５μｍの光を伝送する試験波長光線路１０１とを接続している。通信波長光線路１００は通信波長受光部９１と接続し、試験波長光線路１０１は試験波長受光部９２と接続しているので、試験光線路９４から光パルス試験器９０へ入射される光は光合分波器９９にて波長別に通信波長光線路１００と試験波長光線路１０１とに振り分けられた後、通信波長受光部９１と試験波長受光部９２とでそれぞれ受光される。
心線選択部９５は、光スイッチ７２と、光部品収納ケース６２とを備えて構成される。
【００３３】
この光線路監視システムでは、光スイッチ７２にて試験対象の通信光線路６５に係る光ファイバ８０に試験光線路９４を接続し、通信波長受光部９１で受光した光を観測することで、現用光確認や波長１．３１μｍの試験光を使用した試験を実施する。
波長１．５５μｍの試験光を用いた試験は、光スイッチ７２にて目的の通信光線路６５に係る光ファイバ８０に試験光線路９４を接続した後、光パルス試験器９０から試験光線路９４を介して通信光線路６５へ試験光を入射し、入射した試験光の反射光を試験波長受光部９２で受光して観測する。この時、波長１．３１μｍの光は光合分波器９９から通信波長光線路１００を介して通信波長受光部９１へ入射され、波長１．５５μｍの反射光は光合分波器９９から試験波長光線路１０１を介して試験波長受光部９２に入射されるので、通信光線路６５に現用光が存在する時（活線状態）に試験を実施しても試験波長受光部９２で波長１．３１μｍの光を受光する心配が無く、試験波長受光部９２で受光した波長１．５５μｍの観測精度が向上し、試験自体の精度を向上することができる。
また、図１や図２に示した光線路監視システムと比べて選択装置等が不要であり、部品点数が減少するので、コンパクト化や組み立て性の向上が可能である。
【００３４】
【発明の効果】
請求項１記載の光線路監視システムによれば、光パルス試験器と接続されて試験光線路を通信波長の光を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送する試験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波長光線路と試験波長光線路とを光スイッチに対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在し、試験波長光線路の途中に光パルス試験器方向への通信波長の光の伝送を遮断しかつ試験波長の光を通過させる光フィルタを介在してなる構成であり、通信光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射する試験では選択装置にて試験波長光線路を選択することで光スイッチを介して試験対象の通信光線路と接続し、この試験波長光線路を介して通信光線路に入射した試験光の反射光を前記試験波長光線路の途中に介在した光フィルタを通過させた後に光パルス試験器で受光して観測するので、
（イ）光フィルタによって光パルス試験器への通信波長の光を遮断しつつ試験波長の光を光パルス試験器で受光するので、通信光線路に通信光が存在する時に試験を実施しても通信光の影響が作用すること無く反射光の観測を行うことができ、試験の精度を向上することができる、
（ロ）選択装置にて光スイッチに対する通信波長光線路と試験波長光線路の接続を切り替えることにより、光パルス試験器での受光波長を選択することができ、これにより、光パルス試験器に設置する試験ポートや受光部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡略化することができ、コンパクト化や低コスト化が可能である
といった優れた効果を奏する。
【００３５】
請求項２記載の光線路監視システムによれば、光スイッチと接続されて試験光線路を通信波長の光を伝送する通信波長光線路と試験波長の光を伝送する試験波長光線路とに分離する光合分波器と、通信波長光線路と試験波長光線路とを光パルス試験器に対して選択的かつ切替可能に接続する選択装置とを試験光線路の途中に介在してなる構成であり、通信光と異なる波長の試験光を通信光線路に入射する試験では、選択装置にて試験波長光線路を選択して光パルス試験器と接続することでこの試験波長光線路を介して試験対象の通信光線路と光パルス試験器とを接続し、通信光線路に入射した試験光の反射光を光合分波器から試験波長光線路を介して光パルス試験器で受光して観測するので、
（ハ）光合分波器によって試験波長の光のみが光パルス試験器に入射されることになり、これにより、反射光の観測に通信光が与える影響を防止でき、試験の精度を向上することができる、
（ニ）選択装置にて光パルス試験器に接続した試験光線路に対する通信波長光線路と試験波長光線路の接続を切り替えることにより、光パルス試験器での受光波長を選択することができ、これにより、光パルス試験器に設置する試験ポートや受光部が一つで済むので、光パルス試験器の構成を簡略化することができ、コンパクト化や低コスト化が可能であるといった優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図２】  本発明の第２実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図３】  本発明の第３実施形態の光線路監視システムを示す平面図である。
【図４】  従来例の光線路監視システムを示す平面図である。
【符号の説明】
５０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、５２…試験光線路、５３…選択装置、５５…光スイッチ（心線選択装置）、５８…光合分波器（光カプラ）、５９…通信波長光線路、６０…試験波長光線路、６１…光フィルタ、６５…通信光線路、７２…光スイッチ（心線選択装置）、７３…試験光線路、７４…試験光線路、７５…光合分波器（光カプラ）、７６…通信波長光線路、７７…試験波長光線路、７８…選択装置（１対２スイッチ）、９０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、９１…通信波長受光部（ＡＰＤ）、９２…試験波長受光部（ＡＰＤ）、９４…試験光線路、９９…光合分波器（光カプラ）、１００…通信波長光線路、１０１…試験波長光線路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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