(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の光源からの光ビームを、対物レンズを有するアクチュエータを少なくともフォーカス方向，トラッキング方向に可動させて集光し照射することにより、トラックからの情報の再生が行われる光ディスクのチルトを検出するために、該光ディスクへ光ビームを照射するための第２の光源と、
この第２の光源からの光ビームを、前記光ディスクに照射させるための光学手段と、
この光学手段により照射された光ビームの前記光ディスクからの反射光を検出するための光検出手段と
を備え、
前記第２の光源，前記光学手段，前記光検出手段を、前記アクチュエータ下部に設けるとともに、
前記光学手段は、前記第２の光源からの光ビームを前記光ディスクに照射するための反射手段を有し、
前記第２の光源からの光ビームの前記反射手段への入射角と、該反射手段による前記第２の光源からの光ビームの前記光ディスクへの入射角とを等しく設定したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光検出手段は、4分割検出器であることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームにより情報信号の書き込み/読み出しが行われる光ディスクの傾き(チルト)を検出し、それを補正するためのチルトセンサを備えた光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、例えば記録媒体として光ディスクを使用して記録または再生を行う分野において、高精細な静止画や動画等を扱うために小型で大容量化の光ディスク記録再生装置の要求が高まっている。この要求を満足するための技術的な手法として、例えば光学ピックアップ装置から出射されるレーザ光源の短波長化と対物レンズの高ＮＡ（ＮＡ:開口数）によるビームスポット径の縮小化が考えられる。しかし、波長を短くし高NAの対物レンズを使用してビームスポット径を小さくして、光ディスクのトラックピッチとピットピッチを狭めて記録密度を高めた場合、光ピックアップに対して光ディスクが傾くと、この時発生するコマ収差のために、対物レンズで集光されるビーム径が従来に比べ大きくなり、信号の正確な記録または再生が難しくなってくる。光ディスクの傾きによる発生するコマ収差ΔＷは、開口数ＮＡ、波長λおよびディスク厚さｔの関係は以下の式で表すことができる。    ΔＷ∝ｔ・（ＮＡ）3 /λ
つまり、NAが大きく波長が短くなるとコマ収差の影響がおおきくなることが分る。従って、より波長を短くし高NAの対物レンズを使用した場合、ディスクの傾きがあると対物レンズで集光される光ビームが歪んで大きくなり、本来信号と隣接するトラックからの信号との相互干渉すなわちクロストークや前後の符号間干渉が従来装置と比べて増大してしまい、正確な情報信号の記録/再生を行うことが難しくなる。したがってこのディスク傾きの補正手段が必要となる。つまり、正確なチルト検出およびその補正または低減技術が必須となる。
【０００３】
ディスクチルトの補正手段としては、例えば、特開平3-137831号公報，登録公報第2513589号，特開平2-68734号公報があるが、これはいずれもチルト検出器をアクチュエータ外に設ける(例えば、特開平3-137831号公報では、第1図のチルトエラー検出器36)ため、装置が大型化してしまうという問題点があった。
【０００４】
なお、特開平2-68734号公報では、発光素子と対物レンズとの間に回折素子を設け、この回折素子により副ビームを発生させ、これをチルト検出に利用している。
【０００５】
しかしながら、これでは、情報の記録/再生を行う発光素子を用い対物レンズを介しての反射光の一部から回折素子によりチルト検出用の副ビームを発生させているため、発光素子としてハイパワーな素子しか利用できないという問題点があった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来の光ディスク装置では、チルト検出機構を設けると装置が大型化してしまうという問題点があった。
【０００７】
また、一つの発光素子でチルト検出用のビームも得ようとすると、ハイパワーは発光素子が必要であり、使用できる発光素子が限られてしまうという問題点があった。
【０００８】
本発明は、上述した問題点を解決し、装置が大型化することなく、使用できる発光素子が限定されることのない光ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスク装置では、
第１の光源からの光ビームを、対物レンズを有するアクチュエータを少なくともフォーカス方向，トラッキング方向に可動させて集光し照射することにより、トラックからの情報の再生が行われる光ディスクのチルトを検出するために、該光ディスクへ光ビームを照射するための第２の光源と、
この第２の光源からの光ビームを、前記光ディスクに照射させるための光学手段と、
この光学手段により照射された光ビームの前記光ディスクからの反射光を検出するための光検出手段と
を備え、
前記第２の光源，前記光学手段，前記光検出手段を、前記アクチュエータ下部に設けるとともに、
前記光学手段は、前記第２の光源からの光ビームを前記光ディスクに照射するための反射手段を有し、
前記第２の光源からの光ビームの前記反射手段への入射角と、該反射手段による前記第２の光源からの光ビームの前記光ディスクへの入射角とを等しく設定したことを特徴とする。
また、前記光検出手段は、4分割検出器であることを特徴とする。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の光ディスク装置の実施例を、図面を参照して説明する。
【００２２】
図1は本発明の第１の実施例に係わる光ディスク装置の概略構成を示し、光ヘッド2を光ディスク1側から見た図である。また、図2は、図1のY-Y'方向からの断面概略図である。
【００２３】
光ディスク１は、再生専用ディスク、相変化型ディスクまたは光磁気ディスクのような記録または再生用ディスクであり、図示しないベースに固定されたスピンドルモータ14のマグネットチャック等のチャッキング機構により保持され、記録または再生時にはスピンドルモータ14により回転駆動される。光ヘッド2は、光ディスク１に照射するための光ビームを生成する情報記録/再生用光源5，光検出器12などから構成されている。
【００２４】
光ヘッド2は図示したように、光ディスク1の半径方向に移動可能である。光ヘッド2には、対物レンズ9をフォーカス方向，トラッキング方向に移動させるためのアクチュエータ3を設けている。アクチュエータ3は、固定部36とこの固定部36に設けられた磁気回路35を備え、これらと、対物レンズ9が設けられた可動部13とはワイヤ31により接続されている。
【００２５】
また、光ディスク１への情報の再生若しくは記録を行うための情報記録/再生用光源5は、例えば405nmの波長を有する青紫色レーザであり、情報記録/再生用光源5から発射した光ビームは、コリメータレンズ6でコリメートされ、ビームスプリッタ7を経由して、立ち上げミラー8で９０度向きを変えて、対物レンズ9に入射する。この対物レンズ9により、光ディスク１上のトラックTに配置されたピット列/マーク列100に微小な光スポット50が形成される。なお、図1に、トラックT上の光スポット50と、後述するチルト検出用光源20による光スポット500との位置関係の一例を示す。光ディスク１からの反射光は、再び対物レンズ9を通過し、立ち上げミラー8を経てビームスプリッタ7で検出系へ導かれる。そしてビームスプリッタ7でミラー10方向に偏光し、検出レンズ11にて集光されて、光検出器12に入る。光検出器12は、検出領域が複数に分割された多分割検出器（例えば、４分割検出器）であり、各検出領域の出力信号を演算回路15で演算し、光ディスク１に記録されている情報に対応した再生情報信号とフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を得る。そしてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号は、位相補償回路16で位相補償を行って、アクチュエータ駆動回路18に送られ、光ヘッド2にトラッキング方向，フォーカス方向に可動可能に固定されたアクチュエータ3の対物レンズ9を光ディスク1のフォーカス方向ずれとトラッンキグ方向のずれを補償するように制御をかける。
【００２６】
そして、図1及び図2にされているように、チルト検出部4がアクチュエータ3の可動部13の下に配置されている。このように、チルト検出部4を可動部13のデッドスペースに配置することにより、より小型の光ヘッド2が実現できる。また、チルト検出部4をアクチュエータ3の可動部13の下に配置できたのは、回折型素子21及び反射面29を設けることにより可能となったものである。これにより、チルト検出部4を任意の位置に配置することができる。
【００２７】
図3は、アクチュエータ3とチルト検出部4との位置関係及びチルト検出部4の構成を示した図である。なお、説明に用いる素子のみを図示したため、例えば対物レンズ9等は図示しない。
【００２８】
図3を用いて、光ディスク1と、対物レンズ9等を保持するアクチュエータ3の可動部13との相対チルト量を検出するための構成を説明する。
【００２９】
図3において、チルト検出用光源20から出射された光ビームが、反射型の回折型素子21に入射する。なお、チルト検出用光源20としては、例えば波長650nmの赤色LED(Light-Emitting Diode)又は赤色LD(Laser Diode)を用いることができる。この回折型素子21は、光ビームをコリメートするとともに、進行方向を変える機能を持つものである。従って、コリメートされた光ビームが、アクチュエータ3の可動部13の反射部29に照射され、その反射光が光ディスク1に向かう。なお、アクチュエータ3の可動部13の反射部29については、反射ミラーを接着等で形成するか、またはコストが安くなる利点がある反射膜をコーティングするか、さらにコストがさがる方法として、光ビームが反射する材料で形成する等すればよく、光ビームが反射する機能が実現できれば良い。そして、光ディスク1で反射した光ビームが戻ってきて、再び回折型素子21へ入射する。その後、今度は、光ビームは、光検出器22に集光される。そして、図3に示すように、情報記録/再生用光源5による光スポット50と、チルト検出用光源20による光スポット500とのアクチュエータ3の可動部13と光ディス1上の対物レンズ9の焦点位置からタンジェンシャル方向(接線方向，トラックT方向)にずれた位置でそれぞれ１回ずつ反射して、回折型素子21で集光された光ビームは、光ディスク1とアクチュエータ3の可動部13の相対的な傾きに比例して光検出器22上を移動する。
【００３０】
なお、チルト検出用光源20として情報記録/再生用光源5より波長の長い赤色LEDを用いるため、チルト検出用光源20による光スポットは情報記録/再生用光源5による光スポットより大きく、２つの光スポットは光ディスク上のトラックT方向にずれた位置に形成される。
【００３１】
そして、波長が大きく異なるため、互いの光ビームが悪影響を及ぼすことはない。
【００３２】
チルト検出用光源20による光スポット500は、情報記録/再生用光源5による光スポット50と同じ位置でもよく、チルト検出用光源20による光スポット50が情報記録/再生用光源5による光スポット500の一部が重なる程度近傍にあってもよい。
【００３３】
そして、この移動量を光検出器22で検出することにより、アクチュエータ3の可動部13と光ディスク1の相対チルト量が検出できる。具体的に検出する方法としては、光検出器22の受光面を少なくとも2分割にし、それぞれの出力信号を演算することにより、光ディスク1とアクチュエータ3の可動部13の光ディスク1のラジアル方向(半径方向，トラックT方向とは直交する方向)またはタンジェンシャル方向の相対チルト量を検出する。この光検出器22の出力を、演算回路23に入力し、さらに位相補償回路16で位相を補償し、アクチュエータ駆動回路18に入力する。アクチュエータ駆動回路18で、光ディスク1のラジアル方向またはタンジェンシャル方向にアクチュエータ3を駆動し、対物レンズ9を光ディスク1のラジアル方向またはタンジェンシャル方向のチルト量に応じて、光ディスク1のラジアル方向またはタンジェンシャル方向に傾け、チルト制御を行う。
【００３４】
ここで、図3から本原理を説明するために必要な構成のみを図4に示す。また図4には、光ディスク1がラジアル方向に傾いた場合についても、同時に示している。なお、図4では、説明を簡単にするために回折型素子21の代わりに仮想凸レンズ210で説明しているが、回折型素子21は図3でも示したように、光ディスク1からの反射光の向きを変えるとともに、この光ビームを絞って光検出器22に導く機能を有するものであり、原理の説明には支障はない。
【００３５】
図4に示すように、光ディスク1がラジアル方向にθd傾くと反射ビームはθdの2倍の2θd傾く。従って、この傾きによる光検出器22上の光ビームのビーム移動量は、仮想凸レンズ210の焦点距離fと光ディスク1の傾き量θdであらわすことができ、f*tan(2θd)となる。
【００３６】
次にこの移動量の検出方法について、図5を用いて説明する。図5では、光検出器23として2分割光検出器を用いた例であり、光ディスク1が傾いていない時には実線のビームとなり、光ディスクが傾いている時は点線のようになる。この2分割の出力差を演算することにより、光ビームの移動量を検出することができる。つまり光ディスク1のチルト量を検出できる。この時のチルト量にしたがって変化する線形領域検出範囲は、光ビームが分割線220を越えるところとなる。通常、光検出器22上の光ビームは、数十μmであり、この光ビームの大きさで検出範囲が決まる。この検出範囲を広く取るためには、光検出器22として半導体位置検出素子225を用いることが望ましい。
【００３７】
図6に光検出器の1例として、半導体位置検出素子225を示す。半導体位置検出素子225は、検出器面上の光強度分布の重心位置を検出できる素子で、図6では、上下の電極227，228に流れる電流差で検出する。このために、2分割光検出器に存在した分割線220はなく、検出面内にあれば、光ビームの移動量が検出できる。これにより、広い検出範囲が得られる。
【００３８】
ところで、上記で説明したようなアクチュエータ3の可動部13で対物レンズ9を傾ける場合は、チルト制御がかかると、図3におけるアクチュエータ3の可動部13が傾き、これにより反射面29も傾くことになる。
【００３９】
図7は、反射面29が傾く状態を示す概略図である。なお、図7は、原理を分かりやすくするために、必要最小限の素子のみを図示している。
【００４０】
図7において、光ディスク1がθd傾いた場合（点線の状態）、反射面29が傾かない時には、反射面29で反射されたチルト検出用光源20からの光ビームは傾かないが、光ディスク1で反射した光ビームは2θd傾く。このため、これを打ち消すようにアクチュエータ3の可動部13がθd傾き、反射面29もθd傾いた時には反射面29の反射光ビームは、正規の状態に比較して2θd傾く。この2θd傾いた光ビームが、θd傾いた光ディスク1に入射し、この光ディスク1の入射でθd，反射でθdの計2θdの傾射した光ビームのチルト量に相当する量を減少し、光ディスク1の反射光ビームの傾きはゼロになり、光ビームが仮想凸レンズ210に対して入射位置がずれた作用のみになる。光検出器22は仮想凸レンズ210の集光位置にあるので、光ビームの入射位置がずれても、傾きがなければその光ビームは常に同じ位置に集光される。
【００４１】
したがって、光ディスク1のみが傾き、アクチュエータ3可動部13が傾かない状態と同じ角度となる。
【００４２】
このため、光検出器22上で常に同じ位置に光ビームが位置するように、制御をかければ、光ディスク1とアクチュエータ3の可動部13の傾きを同じにすることが可能となる。
【００４３】
なお、上記は、図7及び図3に示したように、光ディスク1からの反射光が反射面29に当たることなく回折型素子21に戻る構成としたことによるものであり、これにより、反射面29と光ディスク1とでの反射回数がともに1回(同数)となっている。
【００４４】
図8は、図1に示した光ディスク装置の変形例であり、図1と異なるのは、チルト検出部4を可動部13の下でかつこれと磁気回路35との間に設けた点である。
【００４５】
この配置にすると、チルト検出部4がワイヤ31に接触する恐れがなく、可動部13の可動範囲をより大きく取ることができ、光ディスク装置の設計の自由度を増すことができる。
【００４６】
次にタンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合について説明する。タンジェンシャル方向とラジアル方向の相対チルト量を検出するには、図4及び図7におけるアクチュエータ3の可動部13の反射面29に入る光ビームの入射角と光ディスク1に入る光ビームの入射角が等しい構造とする必要がある。
【００４７】
図9を用いて該構造について説明する。なお、図9では、説明に必要な構成のみを示す。
【００４８】
図9中のアクチュエータ3の可動部13に設けられた反射面29の入射角θ1と、光ディスク1への入射角θ2を等しくすることにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出することができる。このことを説明するために、光ディスク1の表面に入射した光ビームの反射光ビームが光ディスク1の傾きによってどの様に変化するかを計算する。
【００４９】
チルトがない状態の光ディスク1をxy平面に平行とし、y軸方向をラジアル方向、x軸方向をタンジェンシャル方向とする。ラジアルチルトおよびタンジェンシャルチルトをθx,θyとする。また入射光はyz平面内でy軸に対してθiの角度を持って入射するものとする。
【００５０】
従って、反射光ビームは、それぞれxy平面内およびyz平面に投影した成分がy軸となす角度を φx , φy とすると式１，式２となる。
【００５１】
【式１】
0003810055.tif 000002
【００５２】
【式２】
0003810055.tif 000003
【００５３】
ここで、分かりやすくするために、タンジェンシャルチルトがなくラジアルチルトのみ存在する場合、すなわちθx=0 の場合を考えると、φy=θi-2θyとなり角度成分としてラジアルチルトが存在した場合にはその2倍の角度が検出される。
【００５４】
またラジアルチルトがなくタンジェンシャルチルトのみ存在する場合、すなわちθy = 0の場合は、tanφy = - cos 2θx*tanθiとなり、チルト量が微小のとき，つまりθx,φxが微小のときにはφx = - 2θx*tanθiとなる。この場合は、チルト角に対する感度がtanθi倍となることが分かる。
【００５５】
これらの結果より、光ディスク1のチルトに応じた光ディスク1の反射光ビームの出射角変動量が、光ディスク1に入射する光ビームの入射角に依存していることがわかる。従って、アクチュエータ3の可動部13と光ディスク1とのタンジェンシャル方向とラジアル方向の相対チルト量を検出するには、アクチュエータ3の可動部13の反射面29への光ビームの入射角と光ディスク1への入射角を等しくする必要がある。つまり、アクチュエータ3の可動部13が傾いた量に比例する反射面29の出射角の変化量が、光ディスク1で反射する場合にも同じ角度の変化量になる必要がある。
【００５６】
また、光検出器22としては、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合は、4分割検出器を使用すればよい。なお、2次元の半導体位置検出を用いる構成でも良い。
【００５７】
タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出するには、図3でも示したように、光検出器22の出力を演算回路23で演算し、さらに位相補償回路16で位相を補償し、アクチュエータ駆動回路18に入力する。アクチュエータ駆動回路18で、光ディスク1のラジアル方向のみまたはラジアル方向とタンジェンシャル方向にアクチュエータを駆動し、対物レンズ9を光ディスク1のラジアル方向とタンジェンシャル方向のチルト量に応じて、対物レンズ9を光ディスク1のラジアル方向とタンジェンシャル方向の傾け、チルト制御を行う。
【００５８】
なお、回折型素子21でのチルト検出用光源20からの光ビームの絞りを抑え、より太い光ビームを反射面29に入れてもよい。
【００５９】
これにより、アクチュエータ3の可動部13がフォーカス方向にずれても、光ビームの一部は反射面29で反射され、この光ビームによりチルト量の検出を行うことができる。
【００６０】
次に、図10は、本発明の第2の実施例に係わる光ディスク装置の概略構成図を示す図である。これは、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合の実施例を説明する。チルト検出部40のチルト検出用光源20から出射した光ビームは、反射型の回折型素子44で反射されるとともに、コリメートされる。このコリメートされた光ビームは、光ディスク1で反射した後、アクチュエータ3の可動部13 の反射面290で反射し、回折型素子44に入射する。なお、回折型素子44は反射されるともに、光検出器22に集光される構成となっている。回折型素子44については、図11に示すような、反射するとともに、集光作用がある回折パターン441，442が二つ形成された素子等で良い。回折パターンとしては、例えば、図11に示すように、回折パターン442の外周になるほどピッチがつめてある。これにより、集光時の焦点が短くなるようにパターンが形成してある。そして、光ディスク1での反射位置は、例えば、図10のように、対物レンズ9の焦点位置(光スポット50)よりタンジェンシャル方向にずれた位置(光スポット510)で反射する。また、アクチュエータの可動部13の反射部へ入射する光ビームの入射角と、光ディスク1 へ入射する光ビームの入射角は等しくしてある。これにより、アクチュエータの可動部13が傾いた量に比例する反射部の出射角の変化量が、光ディスク1で反射する場合にも同じ角度の変化量になる。従って、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出が可能となる。
【００６１】
そして、2つの回折パターン441，442を用いるため、それぞれに最適化でき、これにより、光ビームを効率的に利用でき、チルト検出用光源としてより小さいパワーで安価のものを用いることができる。
【００６２】
なお、チルト検出用光源20と光検出器22を入れ替えた構成でも、チルト検出は可能で、入れ替えた構成でもチルト検出には何ら支障がない。
【００６３】
図12は、本発明の第3の実施例に係わる光ディスク装置の概念構成図を示す図である。この場合も、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合である。従って、図12に示す通り、アクチュエータ3の可動部13の反射面293へ入射する光ビームの入射角と、光ディスク1へ入射する光ビームの入射角は等しくなるように設定してある。チルト検出部400のチルト検出用光源20から出射した光ビームは、反射型の回折型素子73で反射されるとともに、コリメートされる。このコリメートされた光ビームは、アクチュエータ3の可動部13の反射面293で反射し、光ディスク1で反射した後、回折型素子73に入射する。この回折型素子73で、反射されるともに、光検出器22に集光される構成である。光ディスク1での反射位置は、図12に示すように、対物レンズ9の焦点位置(光スポット50)よりタンジェンシャル方向にずれた位置(光スポット530)で反射する。また、チルト検出用光源20と光検出器22を入れ替えた構成でも、チルト検出は可能で、チルト検出には何ら支障がない。
【００６４】
そして、図12によれば、特に、図10に比べ、回折素子が1つで実現できるのでコストを下げることができる。
【００６５】
なお、チルト検出用光源20と光検出器22を入れ替えた構成でも、チルト検出は可能で、入れ替えた構成でもチルト検出には何ら支障がない。
【００６６】
図13は、本発明の第4の実施例に係わる光ディスク装置の概略構成図を示すものである。この場合も、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合である。従って、アクチュエータ3の可動部13の反射面294へ入射する光ビームの入射角と、光ディスク1 へ入射する光ビームの入射角は等しくしてある。チルト検出部400のチルト検出用光源20から出射した光ビームは、反射型の回折型素子82で反射されるとともに、コリメートされる。このコリメートされた光ビームは、アクチュエータ3の可動部13の反射面294で反射し、光ディスク1で反射した後、回折型素子82に入射する。この回折型素子82で、反射されるともに、光検出器22に集光される構成である。光ディスク1での反射位置は、図13に示すように、対物レンズの焦点位置(光スポット50)よりタンジェンシャル方向にずれた位置(光スポット540)で反射する。また、チルト検出用光源20と光検出器22を入れ替えた構成でも、チルト検出は可能で、チルト検出には何ら支障がない。
【００６７】
そして、図13によれば、特に、図12に比べ、チルト検出部の高さを低くすることができ、より薄型のチルト検出部が実現できる。
【００６８】
なお、チルト検出用光源20と光検出器22を入れ替えた構成でも、チルト検出は可能で、入れ替えた構成でもチルト検出には何ら支障がない。
【００６９】
図14は、本発明の第5の実施例に係わる光ディスク装置の概念構成図を示すものである。図14では、これまで別々だったチルト検出用光源20と光検出器22に代えて、チルト検出用光源，光検出器一体素子2022を用いた点が異なる。
【００７０】
この場合も、タンジェンシャル方向とラジアル方向のチルト量を検出する場合である。従って、図14に示す通り、アクチュエータ3の可動部13の反射面295へ入射する光ビームの入射角と、光ディスク1 へ入射する光ビームの入射角は等しくなるように設定してある。チルト検出部450のチルト検出用光源，光検出器一体素子2022から出射した光ビームは、反射型の回折型素子735で反射されるとともに、コリメートされる。このコリメートされた光ビームは、アクチュエータ3の可動部13の反射面295で反射し、光ディスク1で反射した後、回折型素子735に入射する。この回折型素子735で反射されるともに、チルト検出用光源，光検出器一体素子2022に集光される構成である。光ディスク1での反射位置は、図14に示すように、対物レンズ9の焦点位置(光スポット50)よりタンジェンシャル方向にずれた位置(光スポット535)で反射する。また、チルト検出用光源，光検出器一体素子2022を上下逆に用いる構成でも、チルト検出は可能で、チルト検出には何ら支障がない。
【００７１】
そして、本発明によれば、よりシンプルで正確なチルトセンサで、光ディスクのチルト量を正確に検出し、光ディスクの傾きで発生するコマ収差の影響を低減できるので、光ディスクの傾きが発生しても、対物レンズで小さな光ビームを実現できる。従って、高ＮＡの対物レンズまたは光源の短波長化により高密度化された光ディスク装置においても、安定した記録または再生が可能となる。
【００７２】
なお、上述した実施例では、光ディスクのチルト量を補償する方法として、対物レンズを傾ける方式で説明したが、チルト補償の方法としては、必ずしも対物レンズを傾ける方法でなくても良く、例えば光ヘッド全体を傾ける方法，光ディスクを傾ける方法，液晶素子を使って、対物レンズへ入射する光ビームの位相を補償する方法等の方法でも良い。そして、この場合には、チルト量を検出した信号を基に、前記した各方法のチルト補償のために駆動する装置や素子を駆動すれば良い。
【００７３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光ディスク装置によれば、装置が大型化することなく、使用できる発光素子が限定されることがないいう効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施例を説明するための図で、光ディスク上面方向からの図。
【図２】本発明の第一の実施例を説明するための図で、図１のY-Y'方向からの断面概略図で、光ヘッド2の構成を示した図。
【図３】本発明の第一の実施例の光ディスク装置を説明するための図で、アクチュエータ3とチルト検出部4との位置関係及びチルト検出部4の構成を示した図。
【図４】本発明に係わるチルト検出方法を説明するための図。
【図５】本発明に係わる光検出器の検出器面を示す図。
【図６】本発明に係わる光検出器の検出器面を示す図。
【図７】本発明に係わるチルト制御を説明するための図。
【図８】本発明の第一の実施例の光ディスク装置で、チルト検出部4の配置を変形例を示した図。
【図９】本発明に係わるチルト制御を説明するための図。
【図１０】本発明の第二の実施例の光ディスク装置を説明するための図。
【図１１】本発明の第二の実施例の光ディスク装置で用いられる回折型素子の具体例を示した図。
【図１２】本発明の第三の実施例の光ディスク装置を説明するための図。
【図１３】本発明の第四の実施例の光ディスク装置を説明するための図。
【図１４】本発明の第五の実施例の光ディスク装置を説明するための図。
【符号の説明】
1  光ディスク
2  光ヘッド
3  アクチュエータ
4，40，400，450  チルト検出部
5  情報記録/再生用光源
6  コリメートレンズ
7  ビームスプリッタ
8  立ち上げミラー
9  対物レンズ
10  ミラー
11  検出レンズ
12  光検出器
13  可動部
14  スピンドルモータ
15  演算回路
16  位相補償回路
18  アクチュエータ駆動回路
20  チルト検出用光源
21，44，73，82，735  回折型素子
22  光検出器
23  演算回路
29，290，293，294，295  反射面
31  ワイヤ
35  磁気回路
36  固定部
50  光スポット(情報記録/再生用光源5による)
100  ピット列/マーク列
210  仮想凸レンズ
220  分割線
225  半導体位置検出素子
227，228  電極
441，442  回折パターン
500，510，530，540  光スポット(チルト検出用光源20による)
2022  チルト検出用光源，光検出器一体素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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