(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、該コネクタ保持部に保持された前記コネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されてなる検査部とを備え、
前記コネクタ保持部及び前記検査部の何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられ、
前記検査プローブは前方プローブと後方プローブとを有し、かつ常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくとも前記コネクタの方向に付勢され、検査時前記前方プローブが前記コネクタ内の電線端子に突き当たり前記付勢に抗して後退したとき前記後方プローブと接触するように構成され、
前記接触によって前記電線端子、前記前方プローブ及び前記後方プローブが電気的に導通し、前記複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと前記後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するためのコネクタ端子検査器において、
前記検査部は、前記前方プローブと前記後方プローブとが接触したとき、前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段を有し、
前記電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する前記後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査する
ことを特徴とするコネクタ端子検査器。
【請求項２】
前記支持手段は前記前方プローブを支持する前方ブロックと前記後方プローブを支持する後方ブロックとを有し、
前記出力手段は、前記前方ブロックの一部を形成し外側縁部が前記支持手段の側方に突出されたプリント基板によって形成され、
前記プリント基板は、前記前方プローブと常時電気接続され前記外側縁部まで引き出されている配線パターンを有する
ことを特徴とする請求項１記載のコネクタ端子検査器。
【請求項３】
前記前方プローブは、中間部に鍔を形成した前方導電ピンと、該前方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、
前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と前記プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔２３ａ４を有し、
前記前方導電ピンは、前記コイルスプリングによる付勢によってその先端部が前記コネクタの方向に突出するように前記前方プローブ収容孔内に保持され、
前記プリント基板は、前記付勢に抗する前記前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ前記後方プローブとの接触を許容する貫通孔を有する
ことを特徴とする請求項２記載のコネクタ端子検査器。
【請求項４】
前記後方プローブは、中間部に鍔を形成した後方導電ピンと、該後方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、
前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔との間に縮設し前方導電ピンをコイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を有し、
前記後方導電ピンは、その後端部が前記コネクタと反対方向に突出されるように前記後方プローブ収容孔内に保持されている
ことを特徴とする請求項３記載のコネクタ端子検査器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はコネクタ端子検査器に係り、特に、複数の電線を束ねて形成したワイヤハーネスの端部に取り付けられたコネクタにおいて、前記複数の電線の一端に固着され収容された電線端子の導通性や挿着姿勢を検査するのに使用するコネクタ端子検査器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の検査器として、例えば特開平６−１２３７５３号公報に記載された図５に示すような構成のものが知られている。
同図において、横断面Ｕ字状の溝形の台枠１には、その中間位置に検査部２が溝内にその方向に移動自在に設けられるとともに、その一端部に検査すべきコネクタＣを所定位置に保持するコネクタ保持部３が固定的に設けられている。コネクタ保持部３におけるコネクタＣの保持は、相手コネクタの装着されるコネクタＣのコネクタ装着面側が検査部２側に向くように行われる。検査部２はコネクタ保持部３に保持されたコネクタＣと対向する前面側に突設された検査プローブ２２を有する。
【０００３】
なお、詳細な説明は省略するが、コネクタ保持部３は、コネクタＣがコネクタ保持部３内に上方から装着収納されたとき、コネクタＣをがた付き無く正確に位置決めできるような形状、構造に形成されている。なお、コネクタ保持部３に装着収納されたコネクタＣ内には、電線端が電気機械的に接続された図示しない複数の電線端子が収容されており、コネクタ保持部３は各電線端子から延びる電線を束ねた電線束であるワイヤハーネスＷ／Ｈを外部に引き出せる形状、構造にもなっている。
【０００４】
一方、台枠１の他端部には、検査部２を台枠１の溝内で移動させるための操作レバー４１が設けられており、操作レバー４１はその作用点に取付けたリンク４２を介して検査部２の後面と連結されており、操作レバー４１及びリンク４２によって操作部４を構成し、操作レバー４１の前倒、起立によって、検査部１に押し力、引き力を与え、検査部２を台枠１上で往復移動させることができるようになっている。
【０００５】
また、検査部２には、図６に示すように、その前面側にコネクタＣのコネクタ装着面側が僅かに嵌入する凹部２２があり、凹部２２の底壁部に検査部２の移動方向に伸びる貫通孔が穿設されて検査プローブ２２が挿入されており、貫通孔に挿入された検査プローブ２２の頭部は凹部２３内に突出されている。なお、検査プローブ２２はコネクタ保持部３に装着されたコネクタＣに収容されている複数の電線端子Ｃ１の位置に対応させて多数個配列してある。
【０００６】
そして検査プローブ２２は、図示を省略するが、コネクタ方向に付勢され、かつ中間部で一定間隔を介して前方プローブと後方プローブとに２分されており、検査時に前方プローブがコネクタＣ内の電線端子と接触して後退すると、２分されている前方プローブと後方プローブとが接触する。
【０００７】
したがって、コネクタＣの電線端子Ｃ１を、コネクタＣが一端に接続されているワイヤハーネスＷ／Ｈの他端に接続されているコネクタＣを介して検査回路部５に接続し、かつ後方プローブを直接に検査回路部に接続しておくことによって、上述したように前方プローブと後方プローブとが接触することで形成される閉回路が検査回路部に接続されるようになり、この閉回路を通じて流れる電流を検査回路部において検知することにより導通検査が行われる。そして、閉回路が形成されるべき電線端子について電流検知が行われないときには、電線端子Ｃ１が装着されていないこと、その装着姿勢が不適当のために電線端子Ｃ１と前方プローブとの接触が行われていないこと、又は当該電線端子に対応する電線に断線があることが予測されるようになる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、コネクタのなかには、収容した電線端子に接続されている電線としてオプション機器或いはオプション機能を働かせることが必要なときのみ使用されるオプション用電線が接続されるオプション用電線端子を有するものがある。このようなオプション用電線端子を有するものにおいては、これに接続された電線がワイヤハーネスＷ／Ｈの他端のコネクタまで至らず途中で切り放たれ、必要なときに引き出せるように、束ねられた他の電線の外周に巻き付けられた状態になっている。
【０００９】
このようにオプション用電線がオープン回路となっているため、上述したように、前方プローブと後方プローブとが接触することでワイヤハーネスＷ／Ｈの電線を介して閉回路が形成されたかどうかによっては、オプション用電線端子がコネクタＣに正しく装着収容されていることを検査することができなかった。
【００１０】
そこで、コネクタが装着される側と反対側の電線の引き出されている電線端子挿入口側から検査用電線の一端を差し込み、オプション用電線の接続されている電線端子に接触させ、検査用電線の他端を検査回路部に接続し、他の電線端子と同様に導通検査を行うことで、オプション用電線端子がコネクタに正しい姿勢にて挿着されているかどうかを検査することを可能にしている。
【００１１】
しかしながら、このような検査の場合、端子挿入口への検査用電線の挿入、及び電線端子に対する検査用電線の接触状態の保持のために、非常に面倒な作業を伴う他、防水コネクタのように端子挿入口が塞がれたものには適用できないという問題があった。
【００１２】
よって本発明は、上述した従来の問題点に鑑み、引き出された後切り放たれオープン回路となっているオプション用電線の接続された電線端子を有するコネクタにおいて、オプション用電線の接続された電線端子が正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査できるコネクタ端子検査器を提供することを課題としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するためなされた請求項１記載の発明は、複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、該コネクタ保持部に保持された前記コネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されてなる検査部とを備え、前記コネクタ保持部及び前記検査部の何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられ、前記検査プローブは前方プローブと後方プローブとを有し、かつ常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくとも前記コネクタの方向に付勢され、検査時前記前方プローブが前記コネクタ内の電線端子に突き当たり前記付勢に抗して後退したとき前記後方プローブと接触するように構成され、前記接触によって前記電線端子、前記前方プローブ及び前記後方プローブが電気的に導通し、前記複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと前記後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するためのコネクタ端子検査器において、前記検査部は、前記前方プローブと前記後方プローブとが接触したとき、前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段を有し、前記複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する前記後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、前記オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【００１４】
請求項１記載のコネクタ端子検査器においては、複数の電線の各々の一端に固着され収容された電線端子を有する検査すべきコネクタを保持するコネクタ保持部と、コネクタ保持部に保持されたコネクタの電線端子に電気接続されるように検査プローブが支持手段に支持されている検査部との何れか一方が他方に対して相対的に移動するように設けられている。検査プローブを形成している前方プローブと後方プローブとは、常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくともコネクタの方向に付勢され、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退したとき後方プローブと接触するように構成され、接触によって電線端子、前方プローブ及び後方プローブが電気的に導通し、複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するようになされている。そして、検査部の出力手段は、前方プローブと後方プローブとが接触したとき、前方プローブを介して後方プローブと電気接続され、複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている前記電線端子に対応する前記前方プローブを介して前記後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるか否かによって、オプション用電線の一端に固着された電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査するようになっている。
【００１５】
したがって、コネクタ内に電線端子が正常に存在するときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退して後方プローブと接触し、電線端子、前方プローブ及び後方プローブが電気的に導通し、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続がないときには、複数の電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるようになるのに対し、このような閉回路が形成されないときには、コネクタに収容された電線端子に接続されている電線の断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良があると判断される。
また、複数の電線のうち他端に電線端子が固着されていないオプション用電線の一端に固着されている電線端子がコネクタ内に正常に存在するときには、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されるようになり、当該電線端子に対応する前方プローブを介して後方プローブと電気接続される出力手段と該出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されるようになるのに対し、コネクタ内に電線端子が正常に存在しないときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退することがなく、後方プローブとも接触せず、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されることがないので、出力手段と後方プローブとの電気接続を確認することで、オプション用電線の一端に固着されている電線端子がコネクタ内に正常に存在するかどうかの検査も行うことできる。
【００１６】
請求項２記載の発明は、請求項１記載のコネクタ端子検査器において、前記支持手段は前記前方プローブを支持する前方ブロックと前記後方プローブを支持する後方ブロックとを有し、前記出力手段は、前記前方ブロックの一部を形成し外側縁部が前記支持手段の側方に突出されたプリント基板によって形成され、前記プリント基板は、前記前方プローブと常時電気接続され前記外側縁まで引き出されている配線パターンを有することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【００１７】
請求項２記載のコネクタ端子検査器においては、支持手段を前方プローブを支持する前方ブロックと後方プローブを支持する後方ブロックとにより形成し、前方ブロックの一部を形成しているプリント基板の外側縁部を支持手段の側方に突出させて出力手段とし、プリント基板には、前方プローブと常時電気接続され外側縁まで引き出されている配線パターンを形成しているので、請求項１記載の発明の作用に加え、何ら別部材を設けなくても簡単に出力手段を構成できる。
【００１８】
請求項３記載の発明は、請求項２記載のコネクタ端子検査器において、前記前方プローブは、中間部に鍔を形成した前方導電ピンと、該前方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、前記前方ブロックは、前記前方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔と前記プリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔を有し、前記前方導電ピンは、前記コイルスプリングによる付勢によってその先端部が前記コネクタの方向に突出するように前記前方プローブ収容孔内に保持され、前記プリント基板は、前記付勢に抗する前記前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ前記後方プローブとの接触を許容する貫通孔を有することを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【００１９】
請求項３記載のコネクタ端子検査器においては、前方プローブを、中間部に鍔を形成した前方導電ピンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構成し、前方ブロックには、前方導電ピンを移動自在に収容するとともにコイルスプリングを鍔とプリント基板の配線パターンとの間に縮設して収容する前方プローブ収容孔を形成し、前方導電ピンをコイルスプリングによる付勢によってその先端部がコネクタの方向に突出するように前方プローブ収容孔内に保持し、プリント基板には、付勢に抗する前方導電ピンの後退時にその後端部を貫通させ後方プローブとの接触を許容する貫通孔を形成しているので、請求項２記載の作用に加え、出力手段を支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することができる。
【００２０】
請求項４記載の発明は、請求項３記載のコネクタ端子検査器において、前記後方プローブは、中間部に鍔を形成した後方導電ピンと、該後方導電ピンを前記コネクタの方向に付勢するコイルスプリングとを有し、前記後方ブロックは、前記後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、前記コイルスプリングを前記鍔との間に縮設し前記後方導電ピンをコイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を有し、前記後方導電ピンは、その後端部が前記コネクタと反対方向に突出されるように前記後方プローブ収容孔内に保持されていることを特徴とするコネクタ端子検査器に存する。
【００２１】
請求項４記載のコネクタ端子検査器においては、後方プローブを中間部に鍔を形成した後方導電ピンをコネクタの方向にコイルスプリングで付勢して構成し、後方ブロックには、後方導電ピンを移動自在に収容するとともに、コイルスプリングを鍔との間に縮設し後方導電ピンを前記コイルスプリングによってコネクタの方向に付勢して収容する後方プローブ収容孔を形成し、後方導電ピンをその後端部がコネクタと反対方向に突出されるように後方プローブ収容孔内に保持しているので、請求項３記載の発明の作用に加え、前方導電ピンの後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き当たったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸法のバラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線端子に対して最終的に及ぼす力を決定できる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明によるコネクタ端子検査器の一実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。
図１は本発明によるコネクタ端子検査器の要部である検査部の一実施の形態を示す断面図、図２は図１の検査部の分解斜視図であり、これらの図において、図５について上述した従来のものと同一あるいは対応する部分には同一の符号を付してある。
【００２３】
図１及び図２においては、電線が接続された電線端子を有する検査すべきコネクタＣ（図１）を保持するコネクタ保持部については図示を省略し、検査部２についてのみ示している。これらの図において、検査部２は、図示しないコネクタ保持部に保持されたコネクタＣの電線端子Ｃ１の位置に対応させて配され電線端子Ｃ１と接触して検査を行う検査プローブ２２と、この検査プローブ２２を支持する支持ブロック２３とを有する。
【００２４】
検査プローブ２２は２分された前方プローブ２２ａと後方プローブ２２ｂとを有し、図１に示すように、検査部２とコネクタ保持部に保持したコネクタＣとが離されている常時は、前方プローブ２２ａと後方プローブ２２ｂとが間隙ｇを介して離間されて保持されている。前方プローブ２２ａは、中間部に鍔２２ａ１１を形成した前方導電ピン２２ａ１と、この前方導電ピン２２ａ１をコネクタＣの方向に付勢するコイルスプリング２２ａ１４とを有する。また、後方プローブ２２ｂは、中間部に鍔２２ｂ１１を形成した後方導電ピン２２ｂ１と、この後方導電ピン２２ｂ１をコネクタＣの方向に付勢するコイルスプリング２２ｂ１４とを有する。
【００２５】
支持ブロック２３は、図示のように、前方プローブ２２ａを支持する前方ブロック２３ａと後方プローブ２２ｂを支持する後方ブロック２３ｂとを有する。前方ブロック２３ａはピンブロック２３ａ１とこのピンブロック２３ａ１の前方（コネクタ側）に固着された前ピンストッパ板２３ａ２とピンブロック２３ａ１の後方（コネクタと反対側）に固着されたプリント基板２３ａ３とを有する。プリント基板２３ａ３はその上側縁部が支持ブロック２３の上方に突出する大きさに形成されている。また、後方ブロック２３ｂはピンブロック２３ｂ１とこのピンブロック２３ｂ１の後方（コネクタと反対側）に固着された後ピンストッパ板２３ｂ２とを有する。
【００２６】
前方ブロック２３ａにおいて、ピンブロック２３ａ１には前方導電ピン２２ａ１の鍔２２ａ１１が移動可能となる内径の貫通孔２３ａ１１が形成され、前ピンストッパ板２３ａ２には前方導電ピン２２ａ１の先端部２２ａ１２が移動可能であるが鍔２２ｂ１１を通さない内径の貫通孔２３ａ２１が形成され、プリント基板２３ａ３には前方導電ピン２２ａ１の後端部２２ａ１３が移動可能であるが鍔２２ａ１１を通さない内径の貫通孔２３ａ３１が形成されている。ピンブロック２３ａ１の貫通孔２３ａ１１と前ピンストッパ板２３ａ２の貫通孔２３ａ２１とプリント基板２３ａ３の貫通孔２３ａ３１とは、前方導電ピン２２ａ１が移動自在に収容されるとともに、コイルスプリング２２ａ１４が鍔２２ａ１１とプリント基板２３ａ３との間に縮設されて収容される前方プローブ収容孔２３ａ４を形成している。
【００２７】
前方プローブ収容孔２３ａ４に収容された前方導電ピン２２ａ１は、コイルスプリング２２ａ１４による付勢によってその先端部２２ａ１２が前ストッパ板２３ａ２の貫通孔２３ａ２１を通じてコネクタＣの方向に突出された状態に保持されている。プリント基板２３ａ３は、前方導電ピン２２ａ１の後端部が移動可能となった貫通孔２３ａ２１から上側縁部まで延びる配線パターン２３ａ３２を有する。前方導電ピン２２ａ１の鍔２２ａ１１とプリント基板２３ａ３との間に縮設されたコイルスプリング２２ａ１４はプリント基板２３ａ３の配線パターン２３ａ３２と常時接触しているので、前方導電ピン２２ａ１はこのコイルスプリング２２ａ１４を介してプリント基板２３ａ３の配線パターン２３ａ３２と常時電気接続されるようになる。プリント基板２３ａ３の上側縁部には、ここまで延びた配線パターン２３ａ３２と電気接続されるように半田付けされた出力ピン２３ａ３３が設けられている。
【００２８】
後方ブロック２３ｂにおいて、ピンブロック２３ｂ１には後方導電ピン２２ｂ１の鍔２２ｂ１１が移動可能となる大径部２３ｂ１１１と後方導電ピン２２ｂ１の先端部２２ｂ１２が移動可能であるが鍔２２ｂ１１を通さない小径部２３ｂ１１２とからなる貫通孔２３ｂ１１が形成され、後ピンストッパ板２３ｂ２には後方導電ピン２２ｂ１の後端部２２ｂ１３が移動可能であるが鍔２２ｂ１１を通さない内径の貫通孔２３ｂ２１が形成されている。ピンブロック２３ｂ１の貫通孔２３ｂ１１と後ピンストッパ板２３ｂ２の貫通孔２３ｂ２１とは、後方導電ピン２２ｂ１が移動自在に収容されるとともに、コイルスプリング２２ｂ１４が鍔２２ｂ１１とプリント基板２２ｂ１２との間に縮設されて収容される後方プローブ収容孔２３ｂ３を形成している。
【００２９】
後方プローブ収容孔２３ｂ３に収容された後方導電ピン２２ｂ１は、縮設されたコイルスプリング２２ｂ１４による付勢によってその先端部２２ｂ１２がピンブロック２３ｂ１の貫通孔２３ｂ１１に挿入され、鍔２２ｂ１１が大径部２３ｂ１１１と小径部２３ｂ１１２との間の段部に当接された状態に保持されている。この状態で、後方導電ピン２２ｂ１の後端部２２ｂ１３は後ピンストッパ板２３ｂ２の貫通孔２３ｂ２１を通じてコネクタＣと反対方向に突出されている。
【００３０】
コイルスプリング２２ａ１４により付勢された前方導電ピン２２ａ１はその先端部２２ａ１２が前ストッパ板２３ａ２の貫通孔２３ａ２１を通じてコネクタＣの方向に突出されて保持され、コイルスプリング２２ｂ１４により付勢された後方導電ピン２２ｂ１はその鍔２２ｂ１１が大径部２３ｂ１１１と小径部２３ｂ１１２との間の段部に当接されて保持されている状態において、前方導電ピン２２ａ１の後端と後方導電ピン２２ｂ１の先端との間には上述した間隙ｇが形成されるように各部の寸法が定められている。
【００３１】
なお、間隙の大きさとしては、例えば１〜２ｍｍ程度が適当である。また、前方導電ピン２２ａ１の後端が半球形状に、後方導電ピン２２ｂ１の先端が平坦形状にそれぞれされて、接触時の電気的導通の安定化が図られている。さらに、前方導電ピン２２ａ１の先端が平坦形状にされてコネクタＣの電線端子との当接接触面の確保が図られている。後方導電ピン２２ｂ１の後端が半球形状とされ、接触時の電気的導通の安定化が図られている。
【００３２】
なお、図１では図示を省略しているが、支持ブロック２３の前方ブロック２３ａを構成するピンブロック２３ａ１、前ピンストッパ板２３ａ２及びプリント基板２３ａ３と、後方ブロック２３ｂを構成するピンブロック２３ｂ１及び後ピンストッパ板２３ｂ２とは、図２に示す組立枠２４に横方向に順に重ねられて検査部２として組み立てられている。また、図１には破線によって示されているが、前方ブロック２３ａのコネクタ側には、コネクタＣのコネクタ装着面側が嵌入する凹部２５ａを有する案内部材２５が装着されており、検査時にこの凹部２５ａにコネクタＣのコネクタ装着面を嵌入させて検査部２に対してコネクタを案内し、両者の結合が安定的に行われるようにしている。
【００３３】
また、図１には点線で示すように、上述した検査部２に対して相対的に移動可能であるコネクタ保持部３が案内部材２５と対向して設けられており、図示しない手段によって、前方プローブの付勢方向に沿って移動するように案内され、非検査時には検査部２から離され、検査時に検査部２に接近される。
【００３４】
さらに、図１及び図２には、図示を簡単にして見易くするために、支持ブロック２３に支持された検査プローブ２２は１つしか示されていないが、実際には、コネクタの有する端子数に相当する数の検査プローブ２２が電線端子に対応して支持されるとともに、検査プローブ２２を収容するための前方プローブ収容孔２３ａ４及び後方プローブ収容孔２３ｂ３も電線端子に対応して前方ブロック２３ａ及び後方ブロック２３ｂにそれぞれ形成されている。
【００３５】
また、８つの電線端子を有するコネクタＣを検査する検査部２に使用するプリント基板２３ａ３としては、図３に示すように、前方導電ピン２２ａ１の後端部が移動可能となった８つの貫通孔２３ａ３１と、この貫通孔２３ａ３１の各々から側縁部まで延びる８つの配線パターン２３ａ３２とが予め形成されたものが使用される。このプリント基板２３ａ３の場合、貫通孔２３ａ２１と配線パターン２３ａ３２がコネクタＣの電線端子に対応する数だけ設けられているので、切り放たれた電線の接続されている電線端子に対応する配線パターン２３ａ３２に出力ピン（図１の２３ａ３３）を設けることで、一種類のプリント基板２３ａ３によりどの電線端子の電線が切り放たれていても対応することができるようになっている。なお、８つの配線パターン２３ａ３２は引き回しを考慮し基板両面を使用して形成されている。
【００３６】
上述した構成の端子検査器において、図１に示すように、コネクタ保持部３の上方からコネクタ（図示せず）を装着した後、図示しない操作手段を操作してコネクタ保持部３に力を付与して検査部２の方向に作動すると、図４に示すように、コネクタ保持部３に保持されたコネクタのコネクタ装着面側が検査部２の案内部材２５の凹部２５ａに嵌入させる。そして、コネクタＣに正常な挿着姿勢の電線端子Ｃ１があると、検査プローブ２２の前方導電ピン２２ａ１は、電線端子Ｃ１と干渉するため、コイルスプリング２２ａ１４の付勢に抗して後退し、その後端が後方導電ピン２２ｂ１の先端と接触する。この前方導電ピン２２ａ１と後方導電ピン２２ｂ１との接触により、電線端子Ｃ１、前方導電ピン２２ａ１及び後方導電ピン２２ｂ１の電気的導通が図られるとともに、出力ピン２３ａ３３、プリント基板２３ａ３の配線パターン２３ａ３２、コイルスプリング２２ａ１４、前方導電ピン２２ａ１及び後方導電ピン２２ｂ１の電気的導通も図られる。
【００３７】
よって、電線端子Ｃ１に接続された電線と後方導電ピン２２ｂ１に接続した電線とを接続すると、電線端子Ｃ１を経由する回路が形成されて電気的導通が図られ、その確認によって導通検査ができる。このとき、コネクタの電線端子Ｃ１に接続されている電線に断線或いは電線の未接続があると電気的導通が得られず、また電線端子Ｃ１の欠品または姿勢不良があると、検査プローブ２２の前方導電ピン２２ａ１は、電線端子Ｃ１と正常に干渉しないため、コイルスプリング２２ａ１４の付勢に抗して後退せず、その後端が後方導電ピン２２ｂ１の先端と接触することもないので、導通が不能となって不良品が確認される。したがって、上述したコネクタ端子検査器は、コネクタの電線端子の数に対応する数の検査プローブ２２をコネクタの電線端子の位置に対応させて支持ブロック２３に支持したものを使用することによって、電線端子に接続されている電線の導通検査も行うことができる。
【００３８】
これに対し、電線端子Ｃ１に接続された電線が切り放たれオープン回路となっているオプション用電線である場合には、電線端子Ｃ１を経由する回路が形成されて電気的導通が図られることがない。したがって、この種の電線端子Ｃ１について、その欠品または姿勢不良を検査するときには、出力ピン２３ａ３３に接続した電線と後方導電ピン２２ｂ１に接続した電線とを接続し、このとき出力ピン２３ａ３３、プリント基板２３ａ３の配線パターン２３ａ３２、コイルスプリング２２ａ１４を経由する回路が形成されて電気的導通が図られるかどうかの確認によって、オプション用電線の接続された電線端子Ｃ１の欠品または姿勢不良を検査できる。
【００３９】
なお、上述した実施の形態では、前方プローブ２２ａと後方プローブ２２ｂとが接触したとき、前方プローブを介して後方プローブと電気接続される手段として、前方プローブを構成する前方導電ピンを付勢するコイルスプリングとこれが常時接触しているプリント基板の配線パターンとを使用しているが、これに制限されることなく他の構成も取りうる。例えば、前方プローブに常時接触するブラッシを引き出すようにしてもよい。しかし、前方導電ピンを付勢するコイルスプリングとこれが常時接触しているプリント基板の配線パターンとを使用する構成は、電線端子の配列が同じものについては、プリント基板の配線パターンを選択することで対応することを可能とするので、より多くのコネクタの検査に利用できる共用性が高い他、構成の単純化と高集積度を図る上で有効な構成となっている。
【００４０】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、コネクタ内に電線端子が正常に存在するときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退して後方プローブと接触し、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されるようになり、これに対し、コネクタ内に電線端子が正常に存在しないときには、検査時前方プローブがコネクタ内の電線端子に突き当たり付勢に抗して後退することがなく、後方プローブとも接触せず、検査部の出力手段が前方プローブを介して後方プローブと電気接続されることがないので、複数の電線のうち両端に電線端子が固着されコネクタに収容されているものについては、電線の他端に固着された電線端子を収容されたコネクタと後部プローブに接続されている電線とを通じて閉回路が形成されるか否かを確認することで、断線或いは未接続及び電線端子の欠落或いは姿勢不良を検査することができ、また、他端に電線端子が固着されていないオプション用電線については、このオプション用電線に固着されコネクタに収容されている電線端子に対応する前方プローブを介して後方プローブと電気接続される出力手段とこの出力手段に対応する後方プローブに接続された電線とを通じて閉回路が形成されているか否かを確認することで、コネクタ内に電線端子が正常に存在するかどうかの検査を行うことできる。特に、両端に電線端子を固着した複数の電線について検査を行うためのものと同一の前方プローブ及び後方プローブを使用して、両端に電線端子を固着した複数の電線と一端のみに電線端子を固着したオプション用電線との両方について、電線端子が正しく装着されて収容されているかどうかを簡単に検査できるコネクタ端子検査器が得られる。
【００４１】
請求項２記載の発明によれば、前方ブロックの一部をプリント基板で形成して何ら別部材を設けなくても簡単に出力手段を構成できるので、請求項１記載の発明の効果に加え、コンパクトで安価なコネクタ端子検査器が得られる。
【００４２】
請求項３記載の発明によれば、出力手段を支持ブロックの一部を形成するプリント基板と前方導電ピンを付勢するコイルスプリングにて形成することができるので、請求項２記載の発明の効果に加え、よりコンパクトで安価なコネクタ端子検査器が得られる。
【００４３】
請求項４記載の発明によれば、前方導電ピンの後退によってその後端が後方導電ピンの先端に突き当たったとき後方導電ピンが付勢に抗して後退でき、寸法のバラツキを許容するとともに、前方導電ピンが電線端子に対して最終的に及ぼす力を決定できるので、請求項３記載の発明の効果に加え、検査対象のコネクタの電線端子に無用の大きな余分の力を加え、電線端子を損なう心配のないコネクタ端子検査器が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を示す側断面図である。
【図２】本発明によるコネクタ端子検査器の要部を分解して示す分解斜視図である。
【図３】図１及び図２中のプリント基板の詳細な具体例を示す平面図である。
【図４】図１の側面図に対応する図であり、検査時の状態を示す側断面図である。
【図５】従来のコネクタ端子検査器の一例を示す斜視図である。
【図６】図５のコネクタ端子検査器の一部分を破断した側面図である。
【符号の説明】
Ｃ              コネクタ
Ｃ１            電線端子
２              検査部
２２            検査プローブ
２２ａ          前方プローブ
２２ａ１        前方導電ピン
２２ａ１１      鍔
２２ａ１４      コイルスプリング
２２ｂ          後方プローブ
２２ｂ１        後方導電ピン
２２ｂ１１      鍔
２２ｂ１３      コイルスプリング
２３            支持手段
２３ａ          前方ブロック
２３ａ３        出力手段
２３ａ３１      貫通孔
２３ａ３２      配線パターン
２３ａ４        前方プローブ収容孔
２３ｂ          後方ブロック
２３ｂ３        後方プローブ収容孔
３              コネクタ保持部
【図１】
0003814124.tif 000002
【図２】
0003814124.tif 000003
【図３】
0003814124.tif 000004
【図４】
0003814124.tif 000005
【図５】
0003814124.tif 000006
【図６】
0003814124.tif 000007