(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクの内周側に設けられている試し書き領域に光学式ピックアップのレーザー出力を変更しながらテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号を再生することによってディスクの記録特性に適したレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域にテスト信号を記録するときディスクのウォブル位置情報を用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録開始位置よりテスト信号の記録動作を行うようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法。
【請求項２】
ディスクの内周側に設けられている試し書き領域に光学式ピックアップのレーザー出力を変更しながらテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号を再生することによってディスクの記録特性に適したレーザー出力を設定するように構成された光ディスク記録再生装置において、試し書き領域に記録されたテスト信号を再生するとき記録動作によって記録されたテスト信号の記録位置を示す位置情報データを用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の再生動作を行うようにしたことを特徴とする光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学式ピックアップより照射される光ビームによりディスクに信号を記録するとともに該ディスクに形成されているプリグルーブに記録されたウォブル信号を用いて再生又は記録動作を行うように構成された光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学式ピックアップから照射される光ビームを用いて光ディスクに信号を記録するように構成された光ディスク記録再生装置が商品化されている。斯かる光ディスク記録再生装置に使用される光ディスクには、ウォブル信号成分が含まれたプリグルーブと呼ばれる溝が形成されており、斯かるプリグルーブを用いて記録時における光ビームのトラッキング制御を行うとともにディスクの回転制御動作を行うように構成されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
光ディスク記録再生装置は、ディスクに信号を記録するレーザー出力をディスクの記録特性に合致するように設定する必要があるため、ディスクの内周側に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録再生することによってレーザー出力の設定動作を行うように構成されている。斯かるレーザー出力の設定動作は、周知のようにディスクの内周側に設けられている試し書き領域にレーザー出力を変化させながらテスト信号を記録し、その記録されたテスト信号の記録特性を検出することによって行うように構成されている。
【０００４】
テスト信号の記録動作は、光学式ピックアップより照射される光ビームを試し書き領域内の所望のトラックに追従させる制御動作、即ちトラッキング制御動作を行うことによって行うように構成されている。斯かるトラッキング制御動作は、光検出器より得られるトラッキングエラー信号に基づいて対物レンズの位置をトラッキング方向に変位させることによって行われるが、ディスクが偏心していた場合には、トラックがディスクの径方向に大きく変動するので、その変動の大きさに対応して対物レンズの位置も大きく変動することになる。
【０００５】
斯かる状態にてテスト信号を記録した場合、同一のレーザー出力にて信号を記録してもその記録される信号の特性は同一ではなく相違することになる。また、このようにして記録されたテスト信号を再生し、その記録特性の良否を判断する方法としてβ値、即ち記録された信号の正側のレベルと負側のレベルとから演算して得られる値を利用する方法があるが、このβ値も同一信号を再生しているにも係わらず対物レンズの変動によって相違することになる。
【０００６】
従って、対物レンズが変動した状態にてディスクに記録されたテスト信号の再生動作を行っても正確な記録特性を検出することが出来ないので、最適なレーザー出力を設定することは出来ない。
【０００７】
また、ディスクの回転特性が非常に悪い場合には、試し書き領域において設定されるレーザー出力は、ディスクに信号を正確に記録することが出来ない出力となり、記録動作が異常な状態にて行われるという問題がある。
【０００８】
本発明は、斯かる問題を解決した光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法を提供しようとするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係る発明は、試し書き領域にテスト信号を記録するときディスクのウォブル位置情報を用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録開始位置よりテスト信号の記録動作を行うようにしている。
請求項２に係る発明は、試し書き領域に記録されたテスト信号を再生するとき記録動作によって記録されたテスト信号の記録位置を示す位置情報データを用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の再生動作を行うようにしている。
【００１０】
【実施例】
図１は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図である。同図において、１は光学式ピックアップに組み込まれている光検出器より得られる信号に基づいてトラッキングエラー信号や再生信号を生成する信号検出回路であり、トラッキングエラー信号が出力されるトラッキングエラー信号出力端子２及び再生信号が出力される再生信号出力端子３が設けられている。
【００１１】
４は光学式ピックアップに組み込まれている対物レンズであり、図示しないフォーカシングコイルによってディスク面の方向に変位せしめられるとともにトラッキングコイル５によってディスクの径方向に変位せしめられるように構成されている。６はトラッキングサーボ回路等が組み込まれているトラッキング制御回路であり、前記信号検出回路１のトラッキングエラー信号出力端子２に出力されるトラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボ動作によって前記トラッキングコイル５にトラッキング制御信号を供給するように構成されている。７は前記トラッキング制御回路６からトラッキングコイル５に供給される駆動信号より対物レンズ４の変位量、即ち光学式ピックアップ本体の中立位置からの変位量を検出する対物レンズ変位量検出回路である。
【００１２】
８は光ディスク記録再生装置の各動作を制御するべく設けられている制御回路であり、前記トラッキング制御回路６の制御動作を行うとともに前記信号検出回路１の再生信号出力端子３に出力される再生信号に基づいてβ値を演算するように構成されている。
【００１３】
９は光学式ピックアップに組み込まれているレーザーダイオード、１０は前記レーザーダイオード９に駆動電流を供給するレーザー駆動回路、１１は前記制御回路８より出力される制御信号に基づいて前記レーザー駆動回路１０より出力される駆動電流の値を設定するレーザー出力設定回路である。
【００１４】
１２は前記制御回路８によってデータ信号の書き込み動作及び読み出し動作が制御されるメモリー回路であり、テスト信号の記録動作時試し書き領域のテスト信号が記録される位置を示す位置情報データ、レーザー出力値及び記録動作が行われたときの対物レンズ４の変位量を示すデータが書き込まれ、記録されたテスト信号の再生動作時テスト信号が記録されていた位置を示す位置情報データ、再生信号を演算して得られるβ値及び再生動作が行われたときの対物レンズ４の変位量を示すデータが書き込まれるように構成されている。
【００１５】
斯かる構成において、メモリー回路１２に記憶されているデータ、即ちレーザー出力と対物レンズ４の変位量に基づいてレーザー出力値を補正し、またβ値と対物レンズ４の変位量に基づいてβ値の補正動作を行うように構成されている。そして、斯かるレーザー出力値の補正動作とβ値の補正動作は、前もって設定されているデータに基づいて行うように構成されている。
【００１６】
また、試し書き領域の所望の位置よりテスト信号の記録動作は開始されるが、テスト信号の記録動作を行うために光学式ピックアップより照射される光ビームは、最初にテスト信号の記録開始位置より内周側へ移動せしめられ、該光ビームが記録開始位置に到達したときレーザー出力をテスト信号を記録するための出力に変更して記録動作を行うように構成されている。そして、光ビームを記録開始位置より内周側へ移動させた後、記録開始位置まで光ビームが到達する間トラッキング制御動作が行われるが、この間に対物レンズ４の変位量を検出する動作が行われ、その変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録動作を行うように構成されている。
【００１７】
また、試し書き領域に記録されているテスト信号の再生動作を行う場合、光ビームをテスト信号が記録されている位置よりも内周側へ一旦移動させた後テスト信号の再生動作を行うように構成されている。そして、光ビームをテスト信号の記録開始位置より内周側へ移動させた後、記録開始位置に光ビームが到達するまでの間トラッキング制御動作が行われるが、この間に対物レンズ４の変位量を検出する動作が行われ、その変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の再生動作を行うように構成されている。
【００１８】
以上の如く、本発明は構成されており、次に使用されるディスクの特性に適したレーザー出力の設定動作について説明する。ディスクをターンテーブル上に載置させた後レーザー出力の設定動作を行うための操作を行うと、トラッキング制御回路６によるトラッキング制御動作及びフォーカシング制御回路によるフォーカシング制御動作が行われ、ディスクのウォブル位置情報に基づいて試し書き領域の所望の位置、即ちテスト信号の記録動作を開始する位置よりも所定トラック数だけ内周側のトラックに光ビームを照射させるための動作が行われる。
【００１９】
光ビームが試し書き領域の所望のトラックに移動すると、トラッキング制御動作が行われて光ビームをトラックに追従させる動作が行われるとともに対物レンズ変位量検出回路７による検出動作が行われる。斯かる検出動作によって検出される対物レンズ４の変位量が所定の範囲内にあると判断された場合にテスト信号の記録動作が行われる。斯かるテスト信号の記録動作は、光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達したときに開始されるが、斯かる動作を行うための制御動作は、制御回路８により行われる。前記制御回路８によるレーザー出力設定回路１１等に対する制御動作が行われるが、斯かる制御動作は、レーザー駆動回路１０よりレーザーダイオード９に対して供給される記録用のレーザー出力値を段階的に変化させながらテスト信号を試し書き領域のトラックに記録するように行われる。
【００２０】
テスト信号の試し書き領域への記録動作は、前述したようにレーザー出力を変更しながら行われるが、斯かる動作が行われているとき、フォーカシング制御回路によるフォーカシング制御動作及びトラッキング制御回路６によるトラッキング制御動作が行われた状態にある。レーザーダイオード９より照射される光ビームは、ディスク面より反射された後光検出器に照射され、該光検出器より得られる信号に基づいて信号検出回路１よりトラッキングエラー信号が生成される。前記信号検出回路１にて生成されたトラッキングエラー信号は、トラッキングエラー信号出力端子２より出力されて前記トラッキング制御回路６に入力される。斯かるトラッキングエラー信号がトラッキング制御回路６に入力されると、トラッキングエラー信号のレベルを小さくする方向へ対物レンズ４を変位させるための駆動信号が該トラッキング制御回路６からトラッキングコイル５に対して出力される。斯かる制御動作が行われる結果、レーザーダイオード９より照射される光ビームを所望のトラック上に追従照射させる動作、即ちトラッキング制御動作が行われることになる。
【００２１】
前述した制御動作が制御回路８により行われてディスクに設けられている試し書き領域にテスト信号が記録されるが、斯かる記録動作が行われているとき、トラッキング制御回路６よりトラッキングコイル５に供給される駆動信号に基づいて対物レンズ４の変位量を測定する動作が対物レンズ変位量検出回路７により行われた状態にある。
【００２２】
前述したようにテスト信号の記録制御動作は行われるが、斯かる記録動作が行われているとき、制御回路８による制御動作によってテスト信号の記録位置を示す位置情報データ、レーザー出力値及び対物レンズ４の変位量を示すデータがメモリー回路１２に書き込まれる。
【００２３】
以上に説明したようにテスト信号の記録動作は行われるが、次に記録されたテスト信号の再生動作について説明する。前述した記録動作によって記録されたテスト信号の記録位置は位置情報データによって認識することが出来るため、光学式ピックアップの光ビームをテスト信号の記録動作が開始された位置より内周側の所定の位置に移動させることが出来る。
【００２４】
光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置の内周側である所望のトラックに移動させると、トラッキング制御動作が行われて光ビームをトラックに追従させる動作が行われるとともに対物レンズ変位量検出回路７による検出動作が行われる。斯かる検出動作によって検出される対物レンズ４の変位量が所定の範囲内にあると判断された場合にテスト信号の再生動作が行われる。斯かるテスト信号の再生動作は、光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達したときに開始される。ディスクより再生されるテスト信号は、信号検出回路１の再生信号出力端子３より出力されて制御回路８に入力される。前記制御回路８に再生信号が入力されると、その再生信号の正側のレベルと負側のレベルとからβ値を演算する処理が行われる。
【００２５】
前述したようにディスクに記録されているテスト信号の再生動作及びβ値の演算処理動作は行われるが、斯かる動作が行われているとき、前記トラッキング制御回路６によるトラッキング制御動作及び対物レンズ変位量検出回路７による対物レンズ４の変位量検出動作が行われた状態にある。
【００２６】
前述したようにテスト信号の再生制御動作は行われるが、斯かる再生動作が行われているとき、制御回路８による制御動作によってテスト信号の記録位置を示す位置情報データ、β値及び対物レンズ４の変位量を示すデータがメモリー回路１２に書き込まれる。
【００２７】
以上に説明したようにテスト信号の記録動作時における各データ及びテスト信号の再生動作時における各データのメモリー回路１２への書き込み動作は行われるが、次にレーザー出力の設定動作について説明する。
【００２８】
メモリー回路１２に書き込まれているデータよりディスクの特性に適したβ値が得られたテスト信号を選択し、そのテスト信号を記録したレーザー出力を選択する。このようにしてディスクの特性に適したレーザー出力が設定されるが、このレーザー出力が最も適したレーザー出力とは言えない。即ち、選択されたテスト信号の記録動作を行ったときに対物レンズ４の位置が所定の位置、即ち中立位置よりずれていた場合には、そのズレによる影響を受けたレーザー出力にてテスト信号は記録されている。本発明では、選択されたテスト信号を記録したレーザー出力値に対応してメモリー回路１２に記憶されている対物レンズ４の変位量に基づいてレーザー出力の補正動作を行い、その補正されたレーザー出力をディスクの記録特性に最適なレーザー出力値として設定する。
【００２９】
前述したレーザー出力の設定動作は、テスト信号の再生信号より得られるβ値を補正しないで行ったが、次にこのβ値を補正する場合について説明する。ディスクへのテスト信号の記録動作及び記録されたテスト信号の再生動作により各データはメモリー回路１２に書き込まれた状態にある。
【００３０】
記録されたテスト信号を再生することによって得られたβ値は、再生動作時における対物レンズ４の変位量による影響を受けている。従って、本発明では、このβ値の補正動作を対物レンズ４の変位量に対応して行う。即ち、斯かる補正動作は、対物レンズ４が所定位置である中立位置にある場合を想定して行われ、斯かる補正動作を行うことによって対物レンズ４の変位量に左右されないβ値を得ることが出来る。
【００３１】
このようにして対物レンズ４の変位量による影響を取り除いたβ値を得るようにしたので、最も記録特性の良いテスト信号を選定することが出来、その結果最適なレーザー出力を設定することが出来る。
【００３２】
前述したレーザー出力の設定動作は、レーザー出力値又はβ値の何れか一方を対物レンズ４の変位量に基づいて補正することによって行うようにしたが、レーザー出力値及びβ値の両方の補正動作を行うようにすると更に最適なレーザー出力の設定動作を行うことが出来ることになる。
【００３３】
以上に説明したようにテスト信号の記録動作及び再生動作を行う直前に行われる対物レンズ４の変位量検出動作によって対物レンズ４の変位量が所定の範囲内にあると認定された場合の動作は行われるが、対物レンズ４の変位量が所定の範囲内にない場合には、テスト信号の記録動作及びテスト信号の再生動作は行われないように構成されている。斯かる場合には、ディスクを取り出した後、再度ターンテーブル上に載置させてディスクの装着状況を変更させて再度レーザー出力の設定動作を行うことを指示するメッセージを例えばパーソナルコンピューターにて表示したり、ディスクの交換を指示するメッセージを表示させる制御動作が行われる。
【００３４】
尚、本実施例では、対物レンズ４の変位量の検出動作をトラッキングコイル５に供給される駆動信号より得るようにしたが、光学式ピックアップに組み込まれている光検出器より得られる信号に基づいて検出するように構成することも出来る。
【００３５】
【発明の効果】
請求項１に係る発明に依れば、試し書き領域にテスト信号を記録するときディスクのウォブル位置情報を用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録開始位置よりテスト信号の記録動作を行うようにしたので、レーザー出力の設定動作が対物レンズの変位量が所定範囲内にある適切なディスクの回転特性であるときに行われ、無駄なレーザー出力設定のための動作が行われることを防止することが出来、特に、テスト信号の記録動作を開始するまでの光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの準備段階で対物レンズの変位量の検出が行われ、対物レンズの変位量を検出するために光ビームを無駄に動かす必要がない。
【００３６】
また、請求項２に係る発明に依れば、試し書き領域に記録されたテスト信号を再生するとき記録動作によって記録されたテスト信号の記録位置を示す位置情報データを用いて光学式ピックアップより照射される光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させ、前記光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの間に行われるトラッキング制御動作に伴う対物レンズの変位量を検出し、検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の再生動作を行うようにしたので、レーザー出力の設定動作が対物レンズの変位量が所定範囲内にある適切なディスクの回転特性であるときに行われ、無駄なレーザー出力設定のための動作が行われることを防止することが出来、特に、テスト信号の再生動作を開始するまでの光ビームがテスト信号の記録開始位置に到達するまでの準備段階で対物レンズの変位量の検出が行われ、対物レンズの変位量を検出するために光ビームを無駄に動かす必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック回路図である。
【符号の説明】
１        信号検出回路
４        対物レンズ
５        トラッキングコイル
６        トラッキング制御回路
７        対物レンズ変位量検出回路
８        制御回路
９        レーザーダイオード
１１        レーザー出力設定回路
１２        メモリー回路
【図１】
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