(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、
前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うレーザ発光手段と、
前記レーザ発光手段から照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することで前記記録面とレーザ光の光軸とのチルト角を補正するチルト補正手段と、
前記チルト補正手段がチルト補正を行うための電圧に応じた複数のレーザパワー補正およびマーク記録のタイミング補正のためのパラメータが設定されたテーブルと、
前記チルト補正手段が前記チルト補正を行うための基準のパラメータの値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記レーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する学習手段と、
前記光ディスクに対しレーザ光を照射する際に、前記テーブルを参照して、前記チルト補正手段が実際にチルト補正を行う電圧から決定したレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値のうち少なくとも一つのパラメータと、前記学習手段により学習されたデフォルト値とを用いて前記レーザ発光手段を制御する制御手段と
を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、
前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うレーザ発光手段と、
前記レーザ発光手段から発光されたレーザ光が前記記録面に反射されたときの反射光を受光する受光手段と、
前記レーザ発光手段から照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することで前記記録面とレーザ光の光軸とのチルト角を補正するチルト補正手段と、
前記チルト補正手段がチルト補正を行うための電圧に応じた複数のレーザパワー補正およびマーク記録のタイミング補正のためのパラメータが設定されたテーブルと、
前記チルト補正手段が前記チルト補正を行うための基準のパラメータの値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記受光手段により受光されたレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する学習手段と、
前記光ディスクに対するマーク記録あるいはマーク消去動作の際に、前記テーブルを参照して、前記チルト補正手段が実際にチルト補正を行う電圧から該当するレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値のパラメータを決定する手段と、
決定されたレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値の少なくとも一つのパラメータと、前記学習手段により学習されたデフォルト値とを用いて前記レーザ発光手段を制御する制御手段と
を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、
前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うと共に、前記レーザ光が前記記録面に反射されたときの反射光を受光する光ピックアップと、
前記光ピックアップに設けられ、前記光ディスクの記録面に対して照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することでチルト補正を行う液晶素子と、
前記液晶素子を駆動する駆動電圧を生成する液晶駆動手段と、
前記光ピックアップに設けられ、光ディスクの記録面に照射するレーザ光を発光するレーザ光源と、
前記レーザ光源に対して駆動電圧を供給し駆動するレーザ光源駆動手段と、
前記液晶素子の駆動電圧の変化に応じた複数のレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補正値の少なくとも一つが設定されたテーブルと、
前記液晶素子の駆動電圧の基準値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記光ピックアップにより受光されたレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償のためのデフォルト値とを学習する学習手段と、
前記光ディスクに対するマーク記録あるいはマーク消去動作の際に、前記液晶駆動手段が前記液晶素子に実際に供給する駆動電圧を基に前記テーブルを参照して前記レーザ光のパワー補正値と記録タイミング補償用の補正値とを決定する手段と、
決定された前記レーザ光のパワー補正値および記録タイミング補償用の補正値と、前記学習手段により学習されたそれぞれのデフォルト値とを基に前記レーザ光源駆動手段を制御する制御手段と
を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒドライブ、ＤＶＤ−ＲＷドライブなどの光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの光ディスクから信号を読み取り再生する光ディスク装置においては、セットされた光ディスクがチルト角（傾き）を持つ場合、その光ディスクから読み出して再生した再生信号は劣化する。
【０００３】
特に、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷなどのように高密度記録を行う場合には、レーザビームのスポット径を小さくするために、レーザ光の波長を短くし、対物レンズの開口数ＮＡを大きくする必要があるため、チルト角に対するマージンが小さくなる。
【０００４】
すなわち、光ディスクが僅かに傾いていても再生品質の大きな劣化を招く。従って、光ディスク装置には、通常、チルト補正機構が設けられるのが一般的である。
【０００５】
このチルト補正機構は、ディスクのチルト量を測定し、測定したチルト量に応じて、光ディスクと光ピックアップの相対的チルト角を０とし、光ディスクからの再生信号特性劣化を防ぐものである。
【０００６】
チルト補正機構としては、例えば光ピックアップ自体を機械的に傾斜させる機構、光ピックアップに搭載された集光レンズを傾斜させる機能など、既にさまざまな機構が提案されているが、これらは、いずれも機械的な機構なため、最近では、光ピックアップ内に液晶素子を配置し、チルト発生時に透過するレーザ光のコマ収差を打ち消すことで、上記した光ピックアップを傾けるのと同等の効果を得る方式が提案されている（特願平第８−３４４５４０号）。
【０００７】
ところで、液晶素子は、素子自体の特性上、温度変化に対して特性が変化することが判ってきた。
【０００８】
そこで、液晶素子の置かれた環境にサーミスタを配置して温度を検出し、液晶素子の温度応答特性を考慮して液晶素子に与える駆動電圧を制御してチルト量を補正する技術が提案されている（特開２０００−２９８８６２号）。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記提案の場合、液晶素子の温度応答特性については考慮しているものの、それ以外に液晶素子を透過するときのレーザ光（透過光）の変化については対応していないことから、例えば透過光のパワー（レーザパワー）が変化したり、収束スポットサイズが変化するといった光学的な特性変化が生じた場合に、記録マージン内に収まるような適切なチルト補正ができず、特に高密度記録の記録メディアに対しては、信号の書き込みエラー、信号のイレースエラーあるいは信号の読み取りエラーなどを引き起こす要因の一つとなり得るという問題があった。
【００１０】
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、液晶素子を用いて記録マージン内に収まるような適切なチルト補正を行うことで、光ディスクに対する動作補償を行うことのできる光ディスク装置を提供することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明の光ディスク装置は、光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うレーザ発光手段と、前記レーザ発光手段から照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することで前記記録面とレーザ光の光軸とのチルト角を補正するチルト補正手段と、前記チルト補正手段がチルト補正を行うための電圧に応じた複数のレーザパワー補正およびマーク記録のタイミング補正のためのパラメータが設定されたテーブルと、前記チルト補正手段が前記チルト補正を行うための基準のパラメータの値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記レーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する学習手段と、前記光ディスクに対しレーザ光を照射する際に、前記テーブルを参照して、前記チルト補正手段が実際にチルト補正を行う電圧から決定したレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値のうち少なくとも一つのパラメータと、前記学習手段により学習されたデフォルト値とを用いて前記レーザ発光手段を制御する制御手段とを具備したことを特徴としている。
【００１２】
請求項２記載の発明の光ディスク装置は、光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うレーザ発光手段と、前記レーザ発光手段から発光されたレーザ光が前記記録面に反射されたときの反射光を受光する受光手段と、前記レーザ発光手段から照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することで前記記録面とレーザ光の光軸とのチルト角を補正するチルト補正手段と、前記チルト補正手段がチルト補正を行うための電圧に応じた複数のレーザパワー補正およびマーク記録のタイミング補正のためのパラメータが設定されたテーブルと、前記チルト補正手段が前記チルト補正を行うための基準のパラメータの値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記受光手段により受光されたレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する学習手段と、前記光ディスクに対するマーク記録あるいはマーク消去動作の際に、前記テーブルを参照して、前記チルト補正手段が実際にチルト補正を行う電圧から該当するレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値のパラメータを決定する手段と、決定されたレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値の少なくとも一つのパラメータと、前記学習手段により学習されたデフォルト値とを用いて前記レーザ発光手段を制御する制御手段とを具備したことを特徴としている。
【００１３】
請求項３記載の発明の光ディスク装置は、光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、前記ディスク駆動手段により回転駆動される光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射してマークの記録、あるいはマークの消去を行うと共に、前記レーザ光が前記記録面に反射されたときの反射光を受光する光ピックアップと、前記光ピックアップに設けられ、前記光ディスクの記録面に対して照射されるレーザ光を透過させてその位相を調整することでチルト補正を行う液晶素子と、前記液晶素子を駆動する駆動電圧を生成する液晶駆動手段と、前記光ピックアップに設けられ、光ディスクの記録面に照射するレーザ光を発光するレーザ光源と、前記レーザ光源に対して駆動電圧を供給し駆動するレーザ光源駆動手段と、前記液晶素子の駆動電圧の変化に応じた複数のレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補正値の少なくとも一つが設定されたテーブルと、前記液晶素子の駆動電圧の基準値を設定した上で前記光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時に前記光ピックアップにより受光されたレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償のためのデフォルト値とを学習する学習手段と、前記光ディスクに対するマーク記録あるいはマーク消去動作の際に、前記液晶駆動手段が前記液晶素子に実際に供給する駆動電圧を基に前記テーブルを参照して前記レーザ光のパワー補正値と記録タイミング補償用の補正値とを決定する手段と、決定された前記レーザ光のパワー補正値および記録タイミング補償用の補正値と、前記学習手段により学習されたそれぞれのデフォルト値とを基に前記レーザ光源駆動手段を制御する制御手段とを具備したことを特徴としている。
【００１４】
この発明では、チルト補正手段の一つである液晶素子を用いてチルト補正を行う場合に液晶素子の光学的変化、例えばレーザパワーの変化や収束スポットサイズの変化などに対して液晶駆動電圧にそれぞれ対応させた複数のパラメータを第１および第２の変換テーブルを設定しておく。
【００１５】
そして、まず、液晶素子の駆動電圧の基準値を設定した上で光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、光ピックアップにより受光されたレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する。
【００１６】
学習後、実際に光ディスクへ信号の記録、つまりマークの記録、あるいはマークをイレースするときに、制御手段は、液晶素子の駆動電圧から第１および第２の変換テーブルを参照して該当パラメータを決定し、事前に学習しておいたデフォルト値に加算してレーザ光源の駆動電圧を制御するので、液晶素子の特性変化を考慮し、記録マージン内に収まるような適切なチルト補正を行うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明に係る一つの実施の形態の光ディスク装置の構成を示す図である。
【００１８】
図１に示すように、この光ディスク装置は、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷなどの光ディスク１を回転駆動するディスク駆動部３、光ディスク１に対してレーザ光（レーザビーム）を照射して信号を書き込み、あるいはイレースし、また、光ディスク１に対して照射したレーザ光の反射光を受光して信号を読み取る光ピックアップ５、この光ピックアップ５内の液晶素子２４に供給する駆動電圧を可変して液晶の位相を制御することで光ディスク１を再生中に生じたチルト角によるコマ収差をキャンセルするように液晶素子２４を駆動する液晶駆動回路７、光ピックアップ５内のレーザ光源を駆動してレーザ光を発光させるレーザ駆動回路９（以下ＬＤ駆動回路９と称す）、制御手段としてのコントローラ１０を有している。
【００１９】
光ピックアップ５は、レーザ光源としてのレーザダイオード素子２１（以下ＬＤ２１と称す）、コリメートレンズ２２、プリズム２３、液晶素子２４、集光レンズ２５、集光レンズ２６、受光素子２７（以下ＰＤ２７と称す）などを有している。
【００２０】
光ピックアップ５内のレーザ光源（図示しない）から照射された光ビームは、光ディスク１の記録面により反射され、反射された反射光は、プリズム２３で分光されて集光レンズ２６にてＰＤ２７に集光されてＲＦ信号が検出される。ＰＤ２７によって検出されたＲＦ信号は、コントローラ１０に出力される。光ピックアップ５には、レーザ光（レーザビーム）の光軸上に液晶素子２４が配置され、この液晶素子２４への駆動電圧を可変することで光学系の収差を補正することができる。
【００２１】
コントローラ１０は、チルトエラーを補正するためのデータ制御信号、すなわちチルト制御信号及びバイアス制御信号を液晶駆動回路７に送出すると共に、ＬＤ駆動回路９に対して駆動信号を送出する。
【００２２】
これにより、液晶素子２４は、自身を通過するレーザ光の位相差を可変し収差を補正し、また、ＬＤ２１もそのときの液晶素子２４の特性に適したレーザパワーおよび変調タイミングのレーザ光を発光する、いわゆるチルト補正手段として機能する。
【００２３】
メモリ８には、予め液晶素子２４の位相特性および応答特性などのデータと共に、液晶素子２４の特性変化に応じたレーザ光を出力させるためのレーザ光駆動量を決定するデータ（図２の第１変換テーブル６１、図３の第２変換テーブル６２）が記憶されている。
【００２４】
図２に示すように、第１変換テーブル６１には、複数の液晶駆動電圧（Ｖｃ）それぞれに対応させて最適な記録補償補正値（Ｔｃ）が設定されている。記録補償補正値（Ｔｃ）とは、光ディスク１にマークを書き込む際に変調をかけるレーザ光の位相を変えるタイミングの値（ΔＴｒ，ΔＴｆ）であり、具体的には、例えば液晶駆動電圧（Ｖｃ）が０．５ｖのときに変調信号の立ち上がり時間ＴｒをΔＴｒ＝０．３nsec(ナノ秒)とし、その時間だけ位相を進ませる、などの値が設定されている。
【００２５】
図３に示すように、第２変換テーブル６２には、複数の液晶駆動電圧（Ｖｃ）それぞれに対応させて最適なレーザパワー補正値（Ｐｃ）が設定されている。レーザパワー補正値（Ｐｃ）とは、光ディスク１にマークを書き込む、あるいはマークをイレースする際に出力するレーザ光の出力を可変するパラメータであり、具体的には、例えば液晶駆動電圧（Ｖｃ）が０．５ｖのときに通常よりも０．２ｍｗだけ増加させる、などの値が設定されている。
【００２６】
コントローラ１０は、光ディスク１を駆動するたびに、メモリ８のデータを参照し、液晶素子２４の特性に応じた液晶駆動量と、ＬＤ２１を駆動するためのレーザパワー（Ｐ）、記録補償値（Ｔ）を決定する。
【００２７】
そして、コントローラ１０は、その決定した液晶駆動量（チルト、バイアス）を表すＤ／ＡまたはＰＷＭ（Pulse Width Modulation）信号などの制御信号を液晶駆動回路７に供給すると共に、ＬＤ駆動回路９に対して同様な制御信号を供給する。
【００２８】
液晶駆動回路７は、コントローラ１０からの制御信号を基に液晶素子２４を駆動する。また、ＬＤ駆動回路９は、コントローラ１０からの制御信号を基にＬＤ２１を駆動する。
【００２９】
続いて、図４〜図７を参照して上記チルト補正制御の原理について詳細に説明する。
【００３０】
光ディスク１は、ディスク面が平面、つまり平らであることが理想的ではあるが、現実としては、図４に示すように、面方向を０°とした場合に＋α、あるいは−αといった角度で反りが生じる。
【００３１】
光ディスク１に反りが発生すると、光ピックアップ５から照射されたレーザ光（レーザビーム）の光軸と照射位置における光ディスク１の法線とにズレが生じる。このズレの角度がチルト角と呼ばれる。
【００３２】
このチルト角を打ち消すように液晶素子２４に対して供給する駆動電圧を可変制御することで、液晶素子２４を透過するレーザ光の位相が変化しチルト補正を行うことができる。
【００３３】
液晶素子２を駆動する駆動電圧と収差補正量との関係は、図５に示すような関係にあり、駆動電圧がデフォルトの値のときに収差補正量が０となるように設定され、液晶素子２４の特性に応じて駆動電圧を増減させればよい。
【００３４】
また、光ディスク１のチルト角と収差補正量との関係は、図６に示すような関係にあり、光ディスク１のチルト角がデフォルトの値（０）のときに収差補正量が０となるように設定され、光ディスク１のチルト方向（＋α、−α）に応じて収差補正量を＋の値あるいは−の値に増減させればよい。
【００３５】
この光ディスク装置にて、図７に示すようなマークを記録、マークをイレース、あるいはマークを読み取る上では、ＬＤ駆動回路９は、制御信号をＬＤ２１に供給してＬＤ２１から変調をかけたレーザ光を発光する。
【００３６】
例えばＤＶＤ−Ｒの場合、リードパワーとしては、ほぼ１ｍｗ、ライトパワーとしては、１２ｍｗ程度が出力される。例えばＤＶＤ−ＲＷの場合は、上記に加えて、さらにイレースパワーとしては、ほぼ６ｍｗ程度が出力される。
【００３７】
変調されたレーザ光立ち上がり時間ｔｒ、レーザ光立ち下がり時間ｔｆとすると、液晶素子２４にてチルト補正を行った場合の特性変化により、マークの書込開始位置とマークの書込終了位置とにそれぞれΔｔｒ，Δｔｆだけズレが生じる。
【００３８】
そこで、本発明では、予め複数の液晶駆動電圧に対応する記録補償値の増減値を設定した第１変換テーブル６１と、複数の液晶駆動電圧に対応するレーザパワーの増減値を設定した第２変換テーブル６２とをメモリ８に設定しておき、液晶駆動回路７から液晶素子２４に供給する液晶駆動電圧を０Ｖに設定した上で、事前の学習動作として、光ディスク１を回転駆動させて、そのときのレーザパワーと記録補償値とをメモリ８にデフォルト値として記憶しておく。
【００３９】
そして、実際に、マークを書き込むとき、あるいはマークをイレースするときに、各変換テーブル６１，６２を参照してそのときの液晶駆動電圧（Ｖｃ）に対応するレーザパワー補正値と記録補償値補正値とを決定し、学習しておいたデフォルト値に加算して、変調するレーザ光の出力と変調タイミングとを決定し、それを制御信号としてＬＤ駆動回路９に送出する。
【００４０】
これにより、液晶素子２４を用いる場合の弊害として発生する現象、例えばレーザビームの形状変化やレーザパワーの変化などに、それぞれ対策を講じることができ、チルト補正を確実に行うことができる。
【００４１】
以下、この光ディスク装置の動作をより具体的に説明する。
【００４２】
この光ディスク装置の場合、コントローラ１０は、液晶駆動電圧をデフォルトの０Ｖに設定した上で、光ディスク１のテストゾーンに対する信号の予備的な書き込み動作を行い、このときの反射光からチルト角を測定すると共に、レーザ光のパワーの値（Ｐ０）とレーザ光に変調をかけたときのマークの記録タイミング、つまり記録補償値（Ｔ０）を学習し（ストラテジー）、これら学習した値を液晶駆動電圧０Ｖ時（デフォルト）時のデータとしてメモリ８の所定の領域に記憶しておく。
【００４３】
そして、実際に光ディスク１にマークを記録、マークをイレースする際に、コントローラ１０は、記録動作直前、あるいはイレース動作直前に液晶駆動回路７から出力された液晶駆動電圧（Ｖｃ）を読み込み、また、メモリ８に予め設定されてた第１変換テーブル６１と第２変換テーブル６２を参照してレーザパワー補正値（Ｐｃ）と記録補償補正値（Ｔｃ）とを決定する。
【００４４】
続いて、コントローラ１０は、それぞれのデフォルト値（Ｐ０，Ｔ０）に対して上記補正値（Ｐｃ，Ｔｃ）を加算し、記録レーザパワー（Ｐ）と記録補償値（Ｔ）を決定する。
【００４５】
この決定した記録レーザパワー（Ｐ）と記録補償値（Ｔ）をＬＤ駆動回路９へ送出する。
【００４６】
ＬＤ駆動回路９では、入力された記録レーザパワー（Ｐ）と記録補償値（Ｔ）を基に、ＬＤ駆動電圧をＬＤ２１に印加し、そのＬＤ駆動電圧に応じたレーザ光が発光され、光ディスク１の記録面にマークが記録される。
【００４７】
このようにこの実施形態の光ディスク装置によれば、光ディスク１のチルト量を測定し、液晶素子２４を用いて、光ディスク１のチルト発生（面振れや反りなど）を相殺（キャンセル）するようにチルト補正を行う上で、第１変換テーブル６１と第２変換テーブル６２とを参照することでレーザ光のパワーと変調タイミングを制御し、液晶素子２４の特性変化で、透過されるレーザ光に生じる変化をキャンセルするので、ＬＤ２１より照射されるレーザ光が、高密度記録であっても記録マージン内に収まるよう適正なものになり、光ディスク１への信号の書き込みエラー、あるいは信号のイレースエラー、さらには信号の読み取りエラーなどをなくすことができる。
【００４８】
なお、本発明は上記実施形態のみに限定されるものではない。
上記実施形態では、従来の技術で説明したような液晶素子２４に対する温度補償について具体的記述はしていないが、液晶素子２４の置かれた環境の位置にサーミスタを配置して温度補償を行うようにすることで、さらに良好な結果が得られることは言うまでもない。
【００４９】
本発明における光ディスクとしては、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷなどをいう。
【００５０】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、チルト補正手段がチルト補正を行うための電圧に応じた複数のレーザパワー補正およびマーク記録のタイミング補正のためのパラメータが設定されたテーブルを用意しておき、基準のパラメータ値を設定した上で光ディスクを回転駆動させて事前動作を行い、この事前動作時にレーザ光のパワーのデフォルト値と記録タイミング補償用のデフォルト値とを学習する。そして、光ディスクに対して実際にレーザ光を照射しマークを記録する際には、上記テーブルを参照して、チルト補正手段が実際にチルト補正を行う電圧から決定したレーザパワー補正値およびマーク記録のタイミング補償用の補正値のうち少なくとも一つのパラメータと、学習しておいたデフォルト値とを用いてレーザ発光手段を制御するので、チルト補正手段である液晶素子の特性に応じた適切な液晶駆動量で液晶素子を駆動できると共に、その液晶駆動量に最適なレーザパワー、記録補償値でレーザ光を照射できるようになり、液晶素子を用いて記録マージン内に収まるような適切なチルト補正が行え、光ディスクに対する動作補償を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る一つの実施の形態の光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】この光ディスク装置の第１変換テーブルを示す図である。
【図３】この光ディスク装置の第２変換テーブルを示す図である。
【図４】光ディスクに面が起きていないときを０°の線（水平）とし、この線からどちらの方向にチルトが生じるかを示す図である。
【図５】駆動電圧−収差補正量の関係を示す図である。
【図６】ディスクのチルト角−収差補正量の関係を示す図である。
【図７】光ディスク装置が、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷなどにマークを書き込む際の変調波形を示す図である。
【符号の説明】
１…光ディスク、３…ディスク駆動部、５…光ピックアップ、７…液晶駆動回路、８…メモリ、９…ＬＤ駆動回路、１０…コントローラ、２１…レーザダイオード素子（ＬＤ）、２２…コリメートレンズ、２３…プリズム、２４…液晶素子、２５，２６…集光レンズ、２７…受光素子（ＰＤ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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