(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物である書込み型光学ピックアップの検査のために、
該書込み型光学ピックアップのレーザを所望パターンの波形信号で制御し、
該所望パターンの波形信号で制御したときの該書込み型光学ピックアップからの出力光を高精度ホトダイオード，高速応答ホトダイオードのいずれかが選択するように装着された光検知器により検出し、
該検出出力を分析することにより前記書込み型光学ピックアップの検査結果を得る
書込み型光学ピックアップの検査方法。
【請求項２】
被測定物である書込み型光学ピックアップの検査のために、
必要な所望パターンの波形信号を発生するパターン発生器と、
該所望パターンの波形信号で前記書込み型光学ピックアップのレーザを制御するレーザ発光制御部と、
該所望のパターンで制御したときの該書込み型光学ピックアップからの出力光を検知するために高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとのいずれかが選択するように装着された光検知器と、
該光検知器からの検出出力を分析することにより前記書込み型光学ピックアップの検査結果を得るレーザ特性測定部と
を備えた書込み型光学ピックアップの検査装置。
【請求項３】
前記光検知器は、前記書込み型光学ピックアップのレーザからの発光に対する前記高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとの位置調整により前記選択を行なうように構成されたことを特徴とする請求項２に記載の書込み型光学ピックアップの検査装置。
【請求項４】
前記書込み型光学ピックアップは、前記検査のために、基盤上で一方向の装着方向に沿ってスライドする搭載台上に装着され、
前記光検知器の前記高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとは前記一方向と直交する駆動方向上でその駆動方向上で所要間隔をおいて該駆動方向に往復可動の可動台上に配置され、
該可動台を該駆動方向に往復駆動するとともに、前記書込み型光学ピックアップ上の前記レーザからの発光が前記高精度ホトダイオードまたは高速応答ホトダイオードのいずれかの先端部に投射される位置で前記可動台の前記往復駆動を停止させる駆動機構とを備えるように、
一体化構成されたモジュールを有することを特徴とする請求項２または請求項３に記載の書込み型光学ピックアップの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、書込み型光学ピックアップの検査方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の書込み型光学ピックアップの検査において、レーザ発光パルス特性を測定し評価する方法として、図８に示すように、測定系７からのレーザ発光パルスを光学ピックアップ４を利用して記録媒体８に記録し、そのデータを光学ピックアップ４により再生して、その測定結果によって評価をしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この方法では、実際の記録媒体８において「ばらつき」があり、均一な測定結果の評価を得ることが、困難であった。また、実際の記録媒体８に記録したデータを、光学ピックアップ４で再生し、レーザ特性測定部である測定系７で解析する作業が必要であった。さらに、ＣＤ−Ｒは、記録媒体として一度データを記録すると、その後は記録媒体として使用することは不可能であり、同じデータは得られないという欠点と、記録・再生に時間がかかるという欠点もあった。
【０００４】
本発明の目的は、実際の記録媒体を使用して、記録し再生して評価するという従来技術におけるこのような欠点を解消して、実際の記録媒体を使用せずに光学ピックアップの評価をすることができる書込み型光学ピックアップの検査方法及び装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するために、本発明による書込み型光学ピックアップの検査方法は、被測定物である書込み型光学ピックアップの検査のために、
該書込み型光学ピックアップのレーザを所望パターンの波形信号で制御し、
該所望パターンの波形信号で制御したときの該書込み型光学ピックアップからの出力光を高精度ホトダイオード，高速応答ホトダイオードのいずれかが選択するように装着された光検知器により検出し、
該検出出力を分析することにより前記書込み型光学ピックアップの検査結果を得るように構成されている。
【０００６】
また、本発明による書込み型光学ピックアップの検査装置は、
被測定物である書込み型光学ピックアップの検査のために、
必要な所望パターンの波形信号を発生するパターン発生器と、
該所望パターンの波形信号で前記書込み型光学ピックアップのレーザを制御するレーザ発光制御部と、
該所望のパターンで制御したときの該書込み型光学ピックアップからの出力光を検知するために高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとのいずれかが選択するように装着された光検知器と、
該光検知器からの検出出力を分析することにより前記書込み型光学ピックアップの検査結果を得るレーザ特性測定部と
を備えた構成を有している。
【０００７】
さらに、前記光検知器は、前記書込み型光学ピックアップのレーザからの発光に対する前記高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとの位置調整により前記選択を行なうように構成することができる。
【０００８】
さらに、前記書込み型光学ピックアップは、前記検査のために、基盤上で一方向の装着方向に沿ってスライドする搭載台上に装着され、
前記光検知器の前記高精度ホトダイオードと高速応答ホトダイオードとは前記一方向と直交する駆動方向上でその駆動方向上で所要間隔をおいて該駆動方向に往復可動の可動台上に配置され、
該可動台を該駆動方向に往復駆動するとともに、前記書込み型光学ピックアップ上の前記レーザからの発光が前記高精度ホトダイオードまたは高速応答ホトダイオードのいずれかの先端部に投射される位置で前記可動台の前記往復駆動を停止させる駆動機構とを備えるように、
一体化構成されたモジュールを有せしめることができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施例について説明する。
図１は本発明の実施例を示すブロック図であり、１はパソコン等よりなる測定コントローラ、２は測定に必要なパターンを発生するためのパターン発生器、４は本発明において被測定物となる書込み型光学ピックアップ、３は書込み型光学ピックアップ４のレーザの制御をするレーザ発光制御部、５は書込み型光学ピックアップ４からの光出力を検出するための光検出部、６は光検出部５からの検出データを分析するためのレーザ特性測定部である。
【００１０】
図１において、パターン発生器２から測定に必要なパターンが発生され、このパターンに基づきレーザ発光制御部３は書込み型光学ピックアップ４のレーザの制御をする。制御された書込み型光学ピックアップ４のレーザからの出力光は、光検出部５で検知される。この光検出部５は、高精度ホトダイオード，高速応答ホトダイオードが装着されており、測定項目に合わせて自動切替え，自動位置調整ができるように構成されている。光検出部５の出力は、レーザ特性測定部で分析される。
【００１１】
図２は、パターン発生器２から発生されるパターンの一例を示すパルス波形であり、Ｐ１はパルス発光のＬ（Ｌｏｗ）レベル、Ｐ２はパルス発光のＨ（Ｈｉｇｈ）レベル、Ｔｐｗはパルス発光幅である。このパルス周期は、測定コントローラ１で設定される。
【００１２】
レーザ特性測定部６では、次の事項を測定し、測定コントローラ１で判定される。
▲１▼  図２に示す如き波形のパルス発光に対応して、書込み型光学ピックアップ４のレーザの立ち上がり，立ち下がり，オーバーシュート，アンダーシュートが測定される。立ち上がりと立ち下がりの測定は、波形の１０％〜９０％の間を標準とし、その範囲で適宜設定可能である。オーバーシュートとアンダーシュートは、信号波形のＨレベル，Ｌレベルの振幅差の中央部を基準レベルとして定め、立ち上がり時にＬレベルからＨレベルへの瞬時レベル変化の過渡レスポンス部分がＨレベルを越えた振幅をオーバーシュートとし，立ち下がり時にＨレベルからＬレベルへの瞬時レベル変化の過渡レスポンス部分がＬレベルを下回った振幅をアンダーシュートとして、それらの振幅の前記基準に対する比率を絶対値で表現する。
▲２▼  高周波重畳特性は、書込み型光学ピックアップ４のレーザに高周波を重畳して発光させた場合とレーザに高周波を重畳しない場合の光出力の差である。
▲３▼  ＬＤパワー測定（ＬＤ出力線形性）は、図３に示すように、書込み型光学ピックアップ４のレーザ発光出力の出力レベル，出力直線性等を測定する。図３において、横軸は入力信号周波数Ｉｆ，縦軸は出力光レベルＰｏである。
【００１３】
以下書込み型光学ピックアップ４と光検出部５とを共に搭載した結合構造とその機能及び操作について、図４，図５，図６，図７を参照して、説明する。
【００１４】
これらの図４，図５，図６，図７において、１１は基盤、１１ａは基盤に直立するように固定されるかまたは基盤１１と一体に形成された直立部、１２は基盤１１上に滑動可能なるように配置されたＬ形搭載盤、１３は直立部１１ａに所定間隔ｄを以て基盤１１に平行に取り付けられた一対のガイドピン、１４はＬ形搭載盤１２上に固定されたレーザ、１５は直流電力，信号等を伝送するためのケーブル、１５ａはケーブル１５が接続されたケーブル側コンネクタ端子、１６は直立部１１ａの上端面上を矢視Ａ1 方向に沿って移動可能なるように配置された可動台、１７は信号等を伝送するためのケーブル、１８は高速応答ホトダイオード、１９は高精度ホトダイオード、２０は基盤１１に取り付けられたステッピングモータ、２１は可動台１６に取付けられたプリント基板、２２はギヤ部を備えた駆動機構である。プリント基板２１には、高速応答ホトダイオード１８と高精度ホトダイオード１９とが取付けられており、高速応答ホトダイオード１８と高精度ホトダイオード１９との各先端部は、可動台１６に分離して設けられたそれぞれの検知孔１８ａ，１９ａ内に配置されて、直下のレーザ１４からの発光を検知する。
【００１５】
図４に示すこの結合構造の組立において、先ず図５のように一対のガイドピン１３を所定間隔ｄで取り付けた直立部１１ａが基盤１１と一体に形成されるか基盤１１上に配置される。Ｌ形搭載盤１２には、一対のガイドピン１３にそれぞれ結合する一対の結合孔１３ｂを有する一対の結合部１３ａが図７に示すように両端部に設けられており、このＬ形搭載盤１２はその一対の結合孔１３ｂ（図７では２個のうち左側の１個のみが図示されている）に一対のガイドピン１３がそれぞれ挿入されるように基盤１１と結合され、Ｌ形搭載盤１２が基盤１１上で矢視Ａ1 方向に沿ってスライド可能なように図４の状態に配置される。このとき、レーザ１４は、Ｌ形搭載盤１２上に配置され、レーザ１４への配線はＬ形搭載盤１２の折り曲げ直立部１２ａに取り付けられた図示しないコンネクタ端子１５ｂに接続されており、このコンネクタ端子１５ｂとケーブル側コンネクタ端子１５ａとの接続により、レーザ１４への配線，コンネクタ端子１５ｂ，ケーブル側コンネクタ端子１５ａ及びケーブル１５を介して、レーザ１４にはレーザ発光制御部３から励起電力と励起信号が伝達可能となる。
【００１６】
可動台１６には、高速応答ホトダイオード１８，高精度ホトダイオード１９，プリント基板２１及び図示しないコンネクタ端子１７ｂが取付けられており、可動台１６は直立部１１ａの上端面上に例えば図示しないガイド機構により矢視Ａ2 方向に沿って移動可能なるように配置されている。高速応答ホトダイオード１８と高精度ホトダイオード１９からの検知信号は、プリント基板２１内の配線パターンを介して図示しないコンネクタ端子１７ｂ，ケーブル側コンネクタ端子１７ａ及びケーブル１７を介してレーザ特性測定部６に伝達される。ギヤ部を備えた駆動機構２２とステッピングモータ２０とは、基盤１１上に取付けられ、ステッピングモータ２０による回転駆動力は、例えば駆動機構２２内のネジ歯車の如きギヤ部から可動台１６側のラックによる回転駆動・直線駆動変換機構により矢視Ａ2 方向に沿う往復直線駆動力に変換される。このステッピングモータ２０は測定コントローラ１により制御される。
【００１７】
以上の構成により、Ｌ形搭載盤１２は基盤１１上で矢視Ａ1 方向に沿ってスライド可能なるように配置されており、一方可動台１６は直立部１１ａの上端面上に矢視Ａ2 方向に沿って往復移動可能なるように配置されている。この場合、Ａ1 方向とＡ2 方向とは直交関係になるように設定される。これにより、Ｌ形搭載盤１２上に配置されたレーザ１４からの発光を高速応答ホトダイオード１８または高精度ホトダイオード１９により効率良く検知させる選択切り換え機構が実現され、高速応答ホトダイオード１８と高精度ホトダイオード１９との位置制御は高い精度を以て微調整することができることになる。
【００１８】
ここで、図７に示すレーザ１４を搭載したＬ形搭載盤１２が、本発明における被測定物となる書込み型光学ピックアップ４である。図４は、この被測定物となる書込み型光学ピックアップ４と光検出部５とを一体化したモジュールである。この被測定物の測定を行なう際には、図７に示すようにＬ形搭載盤１２の両端に設けられた一対の結合孔１３ｂを直立部１１ａに取り付けられた一対のガイドピン１３に結合させ、Ｌ形搭載盤１２を基盤１１上で直立部１１ａに近づけるように矢視矢視Ａ1 方向に沿ってスライドさせることにより、Ｌ形搭載盤１２上のレーザ１４を、光検出部５側の高速応答ホトダイオード１８と高精度ホトダイオード１９を結ぶ直線の真下に位置せしめることができる。
【００１９】
次に、測定コントローラ１からステッピングモータ２０への駆動入力により駆動機構２２が駆動されて、その駆動による可動台１６の矢視Ａ2 方向に沿う往復直線移動によって、Ｌ形搭載盤１２上に配置されたレーザ１４からの発光の進行方向上に高速応答ホトダイオード１８または高精度ホトダイオード１９のいずれかを所望のように切り換え選択して配置させることができる。ここで、レーザ１４への配線，コンネクタ端子１５ｂ，ケーブル側コンネクタ端子１５ａ及びケーブル１５を介して、レーザ発光制御部３からレーザ１４に励起電力と励起信号を伝達することにより、レーザ１４からレーザ光パルスが発光される。このレーザ１４から発光されたレーザ光パルスがそのレーザ１４の発光の進行方向上に位置する高速応答ホトダイオード１８または高精度ホトダイオード１９により検知される。この時の高速応答ホトダイオード１８または高精度ホトダイオード１９の選択のための位置指定のための制御は、測定コントローラ１からステッピングモータ２０への駆動入力により駆動機構２２を駆動することにより、高精度に行なうことができる。
【００２０】
高速応答ホトダイオード１８または高精度ホトダイオード１９からの検知出力は、プリント基板２１内の配線パターンを介して図示しないコンネクタ端子１７ｂ，ケーブル側コンネクタ端子１７ａ及びケーブル１７を介してレーザ特性測定部６に伝達され、その被測定物に対する測定データを求めることができる。
【００２１】
測定コントレーラとしては、例えば、パソコンを用いることができ、パターン発生器２によるレーザ発光パルス波形の振幅，発光幅の制御、レーザ特性測定部６からの測定データの判定、及び、その測定データを用いてステッピングモータを制御する自動制御ループを利用して行う光検出部５の自動位置調整、等の制御を行い、ディスプレイに表示し、また、プリンタを接続して測定結果のプリントアウトをすることができる。
【００２２】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、書込型光学ピックアップの検査において、実際の記録媒体を使用しないため、記録媒体を使用しない記録．再生が不要であるが、記録媒体を使用した検査と同様な評価ができ、検査時間の大幅な短縮ができるため、作業効率の向上が可能である。
また、レーザパワー関係の測定は高精度ホトダイオードによって測定し、レーザパルスの形状の測定は高速応答ホトダイオードによって測定するが、その切り換えは測定コントローラによって、自動切り換え，自動位置調整が可能である。本発明は、ＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒ／−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＭＯ等の書込型光学ピックアップの検査装置として用いることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明に用いるレーザ光パルス波形例を示す波形図である。
【図３】本発明装置におけるレーザ発光出力例を示す特性図である。
【図４】本発明装置において被測定物となる書込み型光学ピックアップと光検出部とを一体化したモジュール構造を示す斜視図である。
【図５】本発明装置における基盤の構造例を示す斜視図である。
【図６】本発明装置における光検出部の構造を示す斜視図である。
【図７】本発明装置において被測定物となる書込み型光学ピックアップの構造例を示す斜視図である。
【図８】従来の書込型光学ピックアップの検査を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
１  測定コントローラ
２  パターン発生器
３  レーザ発光制御部
４  書込み型光学ピックアップ（被測定物）
５  光検出部
６  レーザ特性測定部
７  測定系
８  記録媒体
１１  基盤
１１a 直立部
１２  Ｌ形搭載盤
１２a 折り曲げ直立部
１３  ガイドピン
１３a 結合部
１３b 結合孔
１４  レーザ
１５  ケーブル
１５a ケーブル側コネクタ端子
１５b コネクタ端子
１６  可動台
１７  ケーブル
１７a ケーブル側コネクタ端子
１７b コネクタ端子
１８  高速応答ホトダイオード
１９  高精度ホトダイオード
２０  ステッピングモータ
２１  プリント基板
２２  駆動機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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