(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
同軸ケーブルに接続された接栓と高周波部品の端子とを接触させて検査を行う高周波部品検査方法において、
前記接栓の同軸ケーブルの中心導体に接続された部分に穴部を設け、該穴部にプローブが挿入されており、前記接栓の同軸ケーブルの外側導体に接続された部分に高周波部品のアースグラウンドに接触し弾性体を備えた接触部材を設けており、この接栓を水平移動可能に設けるとともに、高周波部品を固定する押さえ板と高周波部品の端子を保持する保持板とを一体的に上下動可能に設けており、
前記プローブと接触する高周波部品の端子を、この端子を介して前記プローブの反対側で上下動可能な前記保持板を降下させることによって保持するとともに、前記押さえ板を降下させることによって前記高周波部品を固定した状態で、前記接栓を水平移動させて前記プローブと高周波部品の端子とを接触させて検査を行うことを特徴とする高周波部品検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＲＦ端子等を有する高周波部品全般の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の高周波部品の検査について、図３及び図４を用いて説明する。
図４に、アンテナ端子（ＡＴＮ端子）を有する高周波部品から成るチューナーを検査する従来技術の概略を示す。被検査品２４（チューナー）がアタッチメント２５に装着され図中矢印Ｘ方向に可動な押さえ板２６により固定された状態で、エアシリンダ２７の駆動用バルブスイッチ２９をＯＮすることにより、被検査品固定用エアシリンダ２７が動作して、被検査品２４を下降させる。すると、アタッチメント２５に、同軸ケーブルに接続されたアンテナ端子接続用接栓が固定されており、その接栓と被検査品のＡＴＮ端子及びアースグラウンド（ＧＮＤ）とが接触して、その検査調整が行われる。
【０００３】
このときの詳細について、図４の矢印Ｙ方向からの側面図である図５を用いて説明する。接栓２１の中心導体に接触した部分と外側導体に接触した部分とのいずれもが、プローブ２３に半田付けされ、それらプローブ２３が被検査品２４のＡＴＮ端子２４ａ又はＧＮＤと接触するというものであった。なお、図５においては、接栓が直接同軸ケーブルに接続されたものではなく、パッド（ＰＡＤ）を介して接続されたものである。なお、ＰＡＤとは、各測定器と製品（被検査品）等において、高周波信号のインピーダンスをマッチング整合されるためのものである。
【０００４】
すなわち、この技術は、接栓側を固定して被検査品を移動し、実際には接栓に半田付けされたプローブが被検査品のＡＴＮ端子又はＧＮＤと接触することにより、検査を行うといものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術において、被検査品の端子と接触するのはプローブでため検査結果がプローブの特性に大きく影響され、このような検査による結果と実使用条件である接栓を端子に直付けしたときとの間では相関差が発生した。このため、生産ラインでは、そのような相関差を考慮した見込み作業を行わざるを得ないのが実状であった。
【０００６】
すなわち、上記従来技術では、プローブの容量及びその他の特性により、被検査品との接続部でインピーダンスのミスマッチング及び伝送特性が高域にて悪化し、基本データに対して相関差が発生した。このようにして発生した相関差を吸収するために、実際の生産ラインでは見込み作業を行っており、そのような作業により、作業性が悪化し、ライン直行率の低下にもつながり、生産性を大幅に低下させる要因となっていた。
【０００７】
ここで、上記の相関差について、チューナー調整工程をその一例として説明する。
チューナ調整においては、調整チャンネルに同調を取り、そのときの波形を最大感度かつ、映像信号レベル（Ｐ），カラー信号レベル（Ｃ），音声信号レベル（Ｓ）のそれぞれのレベルが基準値になるように調整する。接栓により発生する相関差は、波形の形状劣化やＰ，Ｃ，Ｓレベルの低下をもたらす。
【０００８】
例えば、図６において、（ａ）は相関差が存在する場合に最適に調整したときの信号波形及びＰ，Ｃ，Ｓレベルを示したものであり、（ｂ）は基準波形のＳレベルが低下したもの、（ｃ）は基準波形のＳレベルが低下したものをそれぞれ示す。
【０００９】
このような要因により、生産ラインでは、上記のような調整を行うには、実際の基準波形の形やＰ，Ｃ，Ｓのレベルの差を把握した上で、基準ではこうなるといったような予想で調整（見込み）をせざるを得なかった。さらに、不良品を出荷しないように、スペックを厳しくする必要があり、大幅に生産性を低下させていた。
【００１０】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであって、高周波部品の端子に接触させるプローブの特性の影響を抑えて、接栓とプローブとの全体でのインピーダンスのマッチングを図って、検査作業の効率化を向上させる高周波部品検査方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明では、同軸ケーブルに接続された接栓と高周波部品の端子とを接触させて検査を行う高周波部品検査方法において、接栓の同軸ケーブルの中心導体に接続された部分に穴部を設け、その穴部にプローブを挿入しており、前記接栓の同軸ケーブルの外側導体に接続された部分に高周波部品のアースグラウンドに接触し弾性体を備えた接触部材を設けており、この接栓を水平移動可能に設けるとともに、高周波部品を固定する押さえ板と高周波部品の端子を保持する保持板とを一体的に上下動可能に設けており、前記プローブと接触する高周波部品の端子を、この端子を介して前記プローブの反対側で上下動可能な前記保持板を降下させることによって保持するとともに、前記押さえ板を降下させることによって前記高周波部品を固定した状態で、前記接栓を水平移動させて前記プローブと高周波部品の端子とを接触させて検査を行うことを特徴としている。
【００１２】
請求項１に記載の発明によれば、接栓とプローブとの全体でインピーダンスのマッチングを図って、プローブが高周波部品の端子と接触するときに接触部材を高周波部品のアースグラウンド等に接触させることができ、さらにそのとき高周波部品の端子に対して水平方向からプローブが接触して過度の負荷がかかっても高周波部品の端子が保持板によって保持されているので破損することを防止することができる。したがって、従来技術よりも、性能面の相関性が確保でき、従来の実際の生産ラインで実施していた見込み作業を無くすことができ、スペックに対する判定がより正確に行うことができるようになり、製造工程の直行率を向上させ、大幅に生産性を改善することが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
本発明による高周波部品検査方法の実施形態について、図１から図３を用いて説明する。
【００２０】
図１は、本実施例で用いた接栓を示す図である。まず、図１（ａ）に示すように接栓１の同軸ケーブルの中心導体と接続される部分である中心軸近傍に穴加工を施して穴部２を形成する。そして、この接栓１を側面から見ると図１（ｂ）に示すようになり、穴部２にプローブ３を押し込むように挿入して固定する。このようにして、図１（ｃ）に示すような、穴部２にプローブ３が挿入された接栓１を構成することができる。
【００２１】
図２は、図１に示したような接栓を用いた本実施形態の高周波部品検査装置及び高周波部品検査方法の概略を示す斜視図である。なお、本実施形態でも、前述の従来技術と同様に、アンテナ端子（ＡＴＮ端子）を有する高周波部品から成るチューナーを検査するものについて説明するが、本発明がこれに限定されるものではない。
【００２２】
この高周波部品検査装置は、被検査品４が装着されるアタッチメント５と、被検査品を固定する押さえ板６（図中矢印Ａ方向に可動）と、押さえ板移動用のエアシリンダ７と、高周波部品の端子を保持する保持板８と、押さえ板移動用エアシリンダのＯＮ／ＯＦＦを操作するバルブスイッチ９と、接栓１を図中矢印Ｂ方向に移動可能とする接栓移動用エアシリンダ１０とを備えている。
【００２３】
この装置を用いて、まず、被検査品４（チューナー）をアタッチメント５に装着して、バルブスイッチ９をＯＮすると、押さえ板移動用エアシリンダ７が動作して、押さえ板６が移動して被検査品４を固定する。このとき、押さえ板６に取り付けられた端子保持板８も、押さえ板６と同時に下降し、被検査品４を構成する電子部品のＡＴＮ端子を保持する。この後、接栓移動用エアシリンダ１０が動作し、ＡＴＮ端子接触用接栓１が移動して、接栓１のプローブが被検査品４を構成する電子部品のＡＴＮ端子に接触することにより、検査が行われる。
【００２４】
その検査の詳細を、要部側面図である図３を用いて説明する。上記のようにして、接栓移動用エアシリンダ１０が動作すると、接栓１が移動してその穴部に挿入されたプローブ３が、被検査品４を構成するアンテナ端子４ａに接触する。このとき、端子４ａは端子保持板によって保持されているので、プローブ３が端子４ａに対して垂直方向に接触して過度の負荷がかかっても、端子４ａが破損することを防止することができる。
【００２５】
また、接栓１には、同軸ケーブルの外側導体と接続される部分にアースバネ１１が設けられている。このアースバネ１１とは、被検査品４のアースグラウンド（ＧＮＤ）と接触するものであり、弾性を有するものであり、プローブ３が端子４ａと接触するのときに、被検査品４のＧＮＤに接触する状態を保つことができるものである。
【００２６】
この後の検査／調整後の取り外しは、エアシリンダ７，１０を逆方向に動作させて、接栓１を外してから、押さえ板６を上昇させるようにするものである。
【００２７】
なお、エアシリンダ７，１０の動作については、シリンダのスピードを制御するスピードコントローラにより調整して、上記のようなプローブ３−端子４ａ等の接触のタイミングを図れば良い。
【００２８】
また、上記実施形態は、前述の従来技術と同様に、接栓が直接同軸ケーブルに接続されたものではなく、パッド（ＰＡＤ）を介して接続されたものである。
【００３２】
【発明の効果】
以上のように、請求項１に記載の発明によれば、接栓とプローブとの全体でインピーダンスのマッチングを図って、プローブが高周波部品の端子と接触するときに接触部材を高周波部品のアースグラウンド等に接触させることができ、さらにそのとき高周波部品の端子に対して水平方向からプローブが接触して過度の負荷がかかっても高周波部品の端子が保持板によって保持されているので破損することを防止することができる。したがって、従来技術よりも、性能面の相関性が確保でき、従来の実際の生産ラインで実施していた見込み作業を無くすことができ、スペックに対する判定がより正確に行うことができるようになり、製造工程の直行率を向上させ、大幅に生産性を改善することが可能となる。
【００３３】
さらに、前述の従来技術の場合、相関差のために良品をも不良品と判定するようなこともあり、本発明によればこのような誤判定を防止して、大幅に生産性を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による実施形態の接栓を示す図である。
【図２】実施形態の高周波部品検査装置及び高周波部品検査方法の概略を説明する斜視図である。
【図３】図２における接栓のプローブと端子との接触する様子を示す要部側面図である。
【図４】従来の高周波部品検査装置及び高周波部品検査方法の概略を説明する斜視図である。
【図５】図４における接栓のプローブと端子との接触する様子を示す要部側面図である。
【図６】相関差の一例としてチューナ調整時の波形形状及びＰ，Ｃ，Ｓレベルを示す図である。
【符号の説明】
１  接栓
２  穴部シリコン酸化膜
３  プローブ
４  被検査品
４ａ  端子
８  端子保持板
１１  アースバネ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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