(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得手段と、
前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出手段と、
前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測手段と
を有することを特徴とするブロックエラー検出装置。
【請求項２】
前記計測手段は、
複数の前記ブロックのうちの1ブロック内において、前記ブロックエラーが複数検出されても、該１ブロックを単位としてエラーを検出することによって、該エラーを含む１ブロックの数を計測すること
を特徴とする請求項１記載のブロックエラー検出装置。
【請求項３】
前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロック数をフィールド単位で計測すること
を特徴とする請求項１記載のブロックエラー検出装置。
【請求項４】
前記計測手段により計測されたブロックの数を、復号後の画像の品質に関する情報として外部に出力する出力手段を更に有する
ことを特徴とする請求項１に記載のブロックエラー検出装置。
【請求項５】
ブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得工程と、
前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出工程と、
前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測工程と
を有することを特徴とするブロックエラー検出方法。
【請求項６】
前記計測工程は、
複数の前記ブロックのうちの1ブロック内において、前記ブロックエラーが複数検出されても、該１ブロックを単位としてエラーを検出することによって、該エラーを含む１ブロックの数を計測すること
を特徴とする請求項５記載のブロックエラー検出方法。
【請求項７】
前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロック数をフィールド単位で計測すること
を特徴とする請求項５記載のブロックエラー検出方法。
【請求項８】
前記計測工程により計測されたブロックの数を、復号後の画像の品質に関する情報として外部に出力する出力工程を更に有する
ことを特徴とする請求項５に記載のブロックエラー検出方法。
【請求項９】
ブロック毎に供給される係数データにおいてエラーフラグの立った係数データに対応するアドレスを、前記係数データ毎に生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得手段と、
前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出手段と、
前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測手段と
を有することを特徴とするブロックエラー検出装置。
【請求項１０】
前記計測手段は、
複数の前記ブロックのうちの1ブロック内において、前記ブロックエラーが複数検出されても、該１ブロックを単位としてエラーを検出することによって、該エラーを含む１ブロックの数を計測すること
を特徴とする請求項９記載のブロックエラー検出装置。
【請求項１１】
前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロック数をフィールド単位で計測すること
を特徴とする請求項９記載のブロックエラー検出装置。
【請求項１２】
前記計測手段により計測されたブロックの数を、復号後の画像の品質に関する情報として外部に出力する出力手段を更に有する
ことを特徴とする請求項９に記載のブロックエラー検出装置。
【請求項１３】
ブロック毎に供給される係数データにおいてエラーフラグの立った係数データに対応するアドレスを前記係数データ単位で生成する生成工程と、
前記生成工程により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得工程と、
前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出工程と、
前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測工程と
を有することを特徴とするブロックエラー検出方法。
【請求項１４】
前記計測工程は、
複数の前記ブロックのうちの1ブロック内において、前記ブロックエラーが複数検出されても、該１ブロックを単位としてエラーを検出することによって、該エラーを含む１ブロックの数を計測すること
を特徴とする請求項１３記載のブロックエラー検出方法。
【請求項１５】
前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロック数をフィールド単位で計測すること
を特徴とする請求項１３記載のブロックエラー検出方法。
【請求項１６】
前記計測工程により計測されたブロックの数を、復号後の画像の品質に関する情報として外部に出力する出力工程を更に有する
ことを特徴とする請求項１３に記載のブロックエラー検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、例えばディジタルＶＴＲ等ディジタルデータを扱う各種電子機器に適用して好適なブロックエラー検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ディジタルデータを記録、再生するディジタルＶＴＲとしては例えば図９及び図１０に示すようなものがある。図９はディジタルＶＴＲの記録系の構成を、図１０はディジタルＶＴＲの再生系の構成を示し、以下図９及び図１０を参照してディジタルＶＴＲについて説明する。
【０００３】
図９において、１は記録すべきディジタル或いはアナログ映像信号が供給される入力端子で、この入力端子１を介して供給されるディジタル或いはアナログ映像信号は入力プロセス回路２で周知の処理、例えばブロック単位のシャッフリングやブロック形成等の処理が施された後に直交変換回路３に供給され、例えばブロック毎にＤＣＴ（離散コサイン変換）等の直交変換処理が施されて係数データに変換された後に量子化回路４に供給され、後述する記録評価回路６の制御の元に量子化され、この後、ＶＬＣ（可変長符号）エンコーダ５に供給されて例えばランレングスやハフマンの手法によって符号化される。
【０００４】
ここで、直交変換回路３からの係数データは記録評価回路６にも供給される。記録評価回路６はＶＬＣエンコーダ５で符号化して得られた可変長符号データの情報量と直交変換回路３からの係数データの情報量に基いて量子化回路４における量子化レベルの制御を行う。
【０００５】
ＶＬＣエンコーダ５からの可変長符号データはＥＣＣ（エラー・コレクション・コード）エンコーダ７に供給され、ここで、インナーパリティが付加された内符号形式のデータにされると共に、アウターパリティが付加されて外符号形式のデータにされ、更にＩＤデータ及びシンクデータが付加されて積符号の形式にされた後にｃｈ（チャンネル）エンコーダ８に供給されて記録のためのチャンネル符号化処理が施された後に記録ヘッドを介して磁気テープ１０に傾斜トラックを形成するように記録される。
【０００６】
次に、図１０を参照して再生系について説明する。磁気テープ１０に記録されたディジタルデータはチャンネルデコーダ１２に供給されて復号化処理された後にＥＣＣデコーダ１３に供給され、インナーパリティによってエラー訂正が施され、更にこのときのエラーフラグ及びエラー訂正後のデータがアウターパリティによってエラー訂正された後にＶＬＣデコーダ１４に供給され、このＶＬＣデコーダ１４において復号化され、更に逆量子化回路１５に供給されて後述する再生評価回路１６からの制御の元に逆量子化処理される。
【０００７】
ここで、ＶＬＣデコーダ１４からの量子化係数データは再生評価回路１６にも供給される。再生評価回路１６はＶＬＣデコーダ１４からの量子化係数データから情報量を計算し、計算によって得られた情報量に基いて逆量子化回路１５を制御して直交変換で得られた係数データを得る。
【０００８】
逆量子化回路１５において逆量子化されて得られた係数データはＶＬＣデコーダ１４からの係数単位のエラーに特定されたエラーフラグと共に、逆直交変換回路１７に供給されて逆直交変換処理され、元のディジタルデータ（ブロック化され、ブロック毎にシャッフリングされたデータ）にされた後に出力プロセス回路１８においてデ・シャッフリング処理が施され、更にエラー修正回路１９に供給されて画像修正処理が施された後に出力端子２０を介して図示しないディジタルＶＴＲの他の回路、例えば出力回路等を介してテレビジョンモニタに供給され、その管面上に画像として映出される。
【０００９】
尚、エラーフラグによる修正は、エラーフラグが立っている（エラーフラグとして与えられているビットが“１”或いは“０”になる等の意味である）データ、即ち、量子化回路１５で量子化されて得られた係数データを“０”にし、これを逆直交変換回路１７において逆直交変換して出力する方法と、例えばＥＣＣデコーダ１３においてエラーフラグが立ったブロック全体をエラーとし、エラー修正回路１９において回りのブロックで置き換える方法がある。
【００１０】
ところで、業務用のＶＴＲ等のように厳しい放送規定をクリアしなければならないＶＴＲにおいては、画質の状態を何らかの方法で表示、或いは報知する必要が生じてくる場合がある。従来においては、この方法として、エラーフラグが係数データ各々がエラーとなったときに立つフラグであることから、エラーフラグを計数し、その計数値を画質の指標とするようにしていた。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述したようなディジタルデータを圧縮して記録するディジタルＶＴＲにおいては、説明したように、ディジタルデータをブロック毎に直交変換して係数データにし、更にこれを量子化し、インナー及びアウターパリティを付加して記録している。
【００１２】
ここで、直交変換、例えばＤＣＴについて説明すると、ＤＣＴはディジタル映像データをブロック毎に直流成分から高次交流成分の係数データに変換する変換方法であるから、あるブロックの係数データがエラーとなった場合（つまりエラーフラグが立つ）に、その係数データが直流成分の係数データか、交流成分の係数データかによって、或いは、交流成分の係数データであっても高次か低次かによってそのブロックに与える影響が大きく異なる。
【００１３】
周知のように、映像信号は直流成分、或いは低次の交流成分程画質に与える影響が大きく、高次の交流成分は直流成分、或いは低次の交流成分に比較して影響の度合いが小さい。従って、従来のように単にエラーフラグを計数しただけでは実際の画質と、これを示す指標としてのエラーフラグの計数値は一致しないことになる。
【００１４】
例えば、１画面が１００ブロックで構成されている場合を考えて見ると、ある時点での再生時において、その時点に再生された１画面の全ブロックの各係数データの内、直流成分の係数データだけにエラーフラグが立った場合、その１画面の画質の指標としてのエラーフラグの数は“１００”である。
【００１５】
同様に別のある時点での再生時において、その時点に再生された１画面の全ブロックの各係数データの内、高次交流成分の係数データだけにエラーフラグが立った場合、その１画面の画質の指標としてのエラーフラグの数は“１００”である。
【００１６】
前者及び後者の何れの場合においても画質の指標であるエラーフラグの数が夫々“１００”であるということは、前者及び後者の画質は同じということになる。しかしながら、前者は全ブロックの直流成分の係数データがエラーで、後者は全ブロックの高次交流成分の係数データがエラーであるので、当然、実際に再生した画像の画質は前者の画質が後者の画質に比べ著しく劣化するという結果になる。
【００１７】
つまり、単にエラーフラグを計数するだけでは、本当の画質を示す指標を得ることができないという不都合があった。
【００１８】
また、エラーフラグが立っているデータ、即ち、量子化回路１５で量子化されて得られた係数データを“０”にし、これを逆直交変換回路１７において逆直交変換して出力するようにする修正を行う場合、上述と同様の理由により、直流成分の係数データが修正された場合は画質の劣化が著しくなるという不都合があった。
【００１９】
本発明はこのような点を考慮してなされたもので、画像データの変換形態に対応させて画質の状態を検出することで、画質の状態を正確に示すことができると共に、画像データの変換形態に対応した修正を行うことで、画質の劣化を防止することのできるブロックエラー検出装置を提案しようとするものである。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得手段と、前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出手段と、前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測手段とを有するものである。
【００２１】
また、本発明は、ブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得工程と、前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出工程と、前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測工程とを有するものである。
【００２３】
また、本発明は、ブロック毎に供給される係数データにおいてエラーフラグの立った係数データに対応するアドレスを、前記係数データ毎に生成する生成手段と、前記生成手段により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得手段と、前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出手段と、前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測手段とを有するものである。
【００２４】
また、本発明は、ブロック毎に供給される係数データに対応するアドレスを前記係数データ単位で生成する生成工程と、前記生成工程により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得する取得工程と、前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出する検出工程と、前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する計測工程とを有するものである。
【００２６】
【作用】
本発明によれば、取得手段によりブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得し、検出手段により前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出し、計測手段により前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する。
【００２７】
また、本発明によれば、取得工程によりブロック毎に供給される係数データのスキャン順序に応じて設定された重要度値を、エラーフラグの立った前記係数データとともに取得し、検出工程により前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出し、計測工程により前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する。
【００２９】
また、本発明によれば、生成手段によりブロック毎に供給される係数データにおいてエラーフラグの立った係数データに対応するアドレスを、前記係数データ毎に生成し、取得手段により前記生成手段により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得し、検出手段により前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得手段により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出し、計測手段により前記検出手段によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する。
【００３０】
また、本発明によれば、生成工程によりブロック毎に供給される係数データに対応するアドレスを前記係数データ単位で生成し、取得工程により前記生成工程により生成された前記アドレスに応じて設定された重要度値を、前記エラーフラグの立った前記係数データとともに取得し、検出工程により前記エラーフラグの立った係数データのうち、前記取得工程により取得された前記重要度値の示す重要度が重要度設定値の示す重要度以上である前記係数データに対応する前記ブロックを、ブロックエラーであると検出し、計測工程により前記検出工程によりブロックエラーであると検出されたブロックの数を重複することなく計測する。
【００３２】
【実施例】
以下に、図１を参照して本発明ブロックエラー検出装置の一実施例について詳細に説明する。
【００３３】
この図１において、３０は例えば図９及び図１０に示したディジタルＶＴＲのＶＬＣデコーダ１４、或いはコーデック等のＶＬＣデコーダ等からのエラーフラグ（係数データ単位）が供給される入力端子、３８は同様にディジタルＶＴＲやコーデック等の逆量子化回路からの逆量子化後のデータ、即ち係数データが供給される入力端子、３９ａは同期信号（例えば水平、垂直同期信号）が供給される入力端子である。
【００３４】
入力端子３０を介して供給されるエラーフラグは重要度特定回路３１に供給される。この重要度特定回路（例えばＲＯＭ）３１はエラーフラグが供給されると、同時に入力端子３８に供給される係数データに対応した係数番号を割り当て、この係数番号データを重要度比較回路３２に供給する。
【００３５】
重要度比較回路３２は内部に記憶されている重要度設定値、或いは図示しないディジタルＶＴＲ、或いはコーデック等の機器のディスプレイ上のメニュー、或いはスイッチで設定され、例えばＥＥＰＲＯＭ等のメモリに記憶された重要度設定値と、後述する内部或いは外部に設けたメモリに記憶されている重要度テーブルを参照して重要度特定回路３１からの係数番号データに与えた重要度を比較し、その結果に基いてブロックエラーか否かを示す比較結果（重要エラー検出信号）を出力する。
【００３６】
ここで、重要度の特定と、ブロックエラーの検出について図５を参照して説明する。図５Ａは例えばブロック内のアドレステーブル、つまり、図１に示した重要度特定回路３１で係数番号データを発生するためのテーブル、図５Ｂは図５Ａの各アドレスに対応する係数データに対して重要度を与えるためのテーブルである。また、図５Ｂに示す重要度テーブルの各数値は小さい数値の方が重要度が大きいものとする。
【００３７】
例えば、重要度特定回路３１において図５Ａに示すようなテーブルでエラーフラグが立った係数データに対応した係数番号データ“１２”を発生した場合、重要度比較回路３２は図５Ｂに示した重要度テーブルを参照し、係数番号データ“１２”の重要度値が“９”であることを検出する。ここでもし、予め設定されている重要度設定値が“１０”だった場合は、係数番号データ“１２”の重要度値“９”は予め設定された重要度設定値“１０”より小さいので、この場合、係数番号データ“１２”に対応する係数データはブロックエラーとされる。
【００３８】
さて、このような処理によって得られた重要エラー検出信号はエラー拡張回路３４に供給される。エラー拡張回路３４は、重要度比較回路３２からの比較結果、即ち、重要エラー検出信号を後述するフィールド検出回路３９からのブロック信号に基いて１ブロック単位にまとめる。つまり、１ブロック内においては、ブロックエラーをいくつ重要度比較回路３２が検出しても常にそのブロックにエラーがあったか否かだけの情報を出力する。例えばそのブロック内においてエラーが“１０”あっても、エラーが“１”あっても出力は“１”、なければ出力は“０”となる。
【００３９】
この出力、即ち、そのブロックがエラーを含むことを示す検出ブロックエラー信号はブロックエラーカウンタ３５に供給される。ブロックエラーカウンタ３５は後述するフィールド検出回路３９からのリセット信号によってリセットされた後、エラー拡張回路３４からの出力が、そのブロックにエラーを含むことを示す出力の場合に例えば“１”だけインクリメントする。つまり、エラーを含むブロック数を計数する。
【００４０】
一方、入力端子３８を介して供給される係数データは逆直交変換回路１７（図１０と同様の機能のものと仮定しているので同一符号を付す）及びフィールド検出回路３９に夫々供給される。逆直交変換回路１７は上述したように係数データを逆直交変換処理して元のデータにした後に出力端子４０を介して、図１０に示したディジタルＶＴＲにおいては出力プロセス回路１８に供給する。
【００４１】
フィールド検出回路３９は後述するが、係数データのＩＤと同期信号とに基いてフィールド検出を行い、フィールド周期のリセット信号、フィールド周期のデータホールド信号並びにブロック周期のブロック信号を得、上述したようにリセット信号をブロックエラーカウンタ３５に供給する。そして一方でデータホールド回路３６のデータホールド信号を供給し、ブロックエラーカウンタ３５からの計数データを保持（或いは類積）させる。また上述したエラー拡張回路３４にブロック周期のブロック信号を供給する。従って、ブロックエラーカウンタ３５はフィールド毎のエラーを含むブロックの数を計数し、データホールド回路３６はそのフィールドのエラーを含むブロック数の合計値を出力端子３７を介して出力する。
【００４２】
この出力は例えばディジタルＶＴＲ等の電子機器の表示器（ＬＣＤディスプレイ等）において数値、或いはグラフ形式等でそのフィールドでの画質を示す指標として使用されることになる。
【００４３】
次に図２〜図４のタイミングチャートを参照して図１に示したブロックエラー検出装置の動作について説明する。
【００４４】
先ず、フィールド検出回路３９が入力端子３８を介して供給される係数データ（図２Ｂ参照）、或いは水平同期信号等に基いて図２Ａに示すフィールド周期のリセット信号を得、このリセット信号をブロックエラーカウンタ３５に供給する。図２Ｂに示すように、入力端子３８を介して供給される係数データは、ブロックＢＫ１、ＢＫ２、ＢＫ３、ＢＫ４、ＢＫ５、・・・・のようにブロック毎に供給される。
【００４５】
フィールド検出回路３９は更に図２Ｃに示すようにブロック周期を示すブロック信号をエラー拡張回路３４に供給する。さて、上述したが、重要度特定回路３１では入力端子３０を介して図２Ｄに示すエラーフラグＥＦ２が供給されると入力係数データに応じた係数番号を与え、係数番号データを出力する。そしての係数番号データは重要度比較回路３２に供給され、その係数番号データに対応した重要度値が与えられる。ここで、エラーフラグにＥＦ２という符号を付しているのは、このエラーフラグＥＦ２が、図１０に示したＥＣＣデコーダ１３でインナーパリティを用いてエラー訂正を行ったときに生成されたエラーフラグ（ＥＣＣワード単位）と同じものではなく、ＶＬＣデコーダ１４において更に係数データ単位のエラーフラグとされたものであるので、区別をつけるためである。
【００４６】
図２Ｄに示すように、エラーフラグＥＦ２が重要度比較回路３２において重要度値が与えられたとすると、例えば最初のパルス（連続する係数データ２つ分なので他のパルスより幅が広くなっている）で示すブロックＢＫ１の係数データのエラーの重要度値は“９”及び“１０”、以降、ブロックＢＫ２の係数データのエラーの重要度値は“０”、ブロックＢＫ３の係数データのエラーの重要度値は“９”及び“２”、ブロックＢＫ４の係数データのエラーの重要度値は“１２”及び“３”、ブロックＢＫ６（図示せず）の係数データのエラーの重要度は“８”となる。
【００４７】
そしてこの場合、もし、設定されている重要度値が“１０”だった場合は、図Ｅに示すように、エラーとして認められるのはエラーの重要度値が“９”のブロックＢＫ１の係数データのエラー、エラーの重要値が“０”のブロックＢＫ２の係数データのエラー、エラーの重要度値が“９”及び“２”のブロックＢＫ３の係数データのエラー、エラーの重要度値が“３”のブロックＢＫ４の係数データのエラー、エラーの重要度値が“８”のブロックＢＫ６（図示せず）の係数データのエラーとなる。
【００４８】
従って、エラー拡張回路３４は図２Ｆに示すように、１つのブロック期間内で重要度比較回路３２からの重要エラー検出信号がエラーを示す場合にはそのパルスの次のタイミングで立ち上がり、以降、そのブロックの期間においてはハイレベル“１”となり、且つ、図２Ｃに示すブロック信号の立ち上がりでリセットされるエラーフラグＥＦ３を出力端子３４ａを介して図示しないエラー修正回路等に供給する。
【００４９】
一方、このエラー拡張回路３４は１つのブロックの期間において図２Ｅに示す重要エラー検出信号が１回でもハイレベル“１”となった場合（１パルス分でも２パルス分でも同様である）は、図２Ｇに示すように、そのブロックＢＫ１、ＢＫ２、ＢＫ３、ＢＫ４、ＢＫ６、・・・・に重要度の高いエラーが発生していることを示す検出ブロックエラー信号を出力する。検出ブロックエラー信号は図２Ｆ及びＧに“○”及び矢印で示すように、エラーフラグＥＦ３がハイレベル“１”のとき、且つ、図２Ｃ示したブロック信号がローレベル“０”のときにそのブロックに重要度の高いエラーが存在することを示すハイレベル“１”となる。
【００５０】
ところで、エラーフラグＥＦ２のブロックＢＫ２の期間における重要度“０”のエラー重要度値（図において破線で囲む）の供給される期間は、図２Ｄに示すように、ブロック信号がローレベル“０”の期間（図において“△”で示す）であるので、重要度比較回路３２においてこの期間の出力をリセットしないようにする。この例において、もしブロックＢＫ１の期間に重要度値“９”のエラーが存在せず、しかもブロック信号がローレベル“０”の期間にリセットされるようにしてしまうと、最も高い重要度“０”のエラーがブロックＢＫ１に存在しないことになってしまい、再生画像で著しい画質劣化を引き起こす原因となるからである。
【００５１】
さて、エラー拡張回路３４から出力される検出ブロックエラー信号はブロックエラーカウンタ３５に供給される。そしてエラーカウンタ３５は、フィールド検出回路３９からのフィールド周期のリセット信号（図２Ａ）によってリセットされた後に図２Ｇに示す検出ブロックエラー信号がハイレベル“１”となる毎に例えば“１”だけインクリメントする計数動作を行い、その計数値をデータホールド回路３６に供給する。データホールド回路３６はエラーカウンタ３５からの計数値をフィールド毎にホールドする。これによってフィールドブロックエラー、即ち、フィールド毎の画質の状態を示す指標を得ることができる。
【００５２】
次に、図３を参照して図１に示したエラー検出装置の動作を１同期期間及び１フィールド期間で説明する。
【００５３】
１同期期間を図３Ａに示す期間とし（説明の便宜上短くしている）、図３ＢをエラーフラグＥＦ２とし、図３Ｃをブロックスケールとし、図３Ｄを入力係数データ列とした場合、エラーフラグＥＦ３は上述したように、重要度比較回路３２及びエラー拡張回路３４によって処理されるので、１ブロック分だけ遅延することになり、図３Ｅに示すようになる。このとき、各ブロック毎の検出ブロックエラー信号は図３Ｆに示すようになる。
【００５４】
そして、図３Ｇに示すリセット信号によってブロックエラーカウンタ３５がリセットされた後、検出ブロックエラー信号は計数される。この計数値は図３Ｈに示すように順次“１”、“２”、“４”、“５”、“６”、“７”、・・・・“１０”のように計数される。
【００５５】
次に図３Ｉに示すように、１フィールドは図３Ａに示した同期信号、或はこれに対応する基準信号の周期を単位とする複数の周期で構成され（説明の便宜上短くしてある）（尚、参考までに入力係数データを図３Ｊに、エラーフラグＥＦ２を図３Ｋに、計数値を図３Ｌに示す）ている。フィールド信号は図３Ｍに示すように１フィールドの周期を持っているので、図３Ｏに示すように上述したフィールドブロックエラーは１フィールド分遅延することになる。
【００５６】
続いて、図４を参照してフィールドの検出及びフィールドブロックエラーのホールドの動作について説明する。
【００５７】
図１に示す入力端子３９ａを介して図４Ａに示すような基準信号（同期信号）が供給されると、フィールド検出回路３９は図４Ｃ及びＤに示すＩＤ検出信号を生成し、これらＩＤ検出信号によって図１に示した入力端子３８を介して供給される係数データから図４Ｅに示すようにＩＤデータを検出し、この検出に基いて図４Ｆに示すフィールドの終わりを示すフィールド信号及び図４Ｇに示すフィールド周期のリセット信号を得る。
【００５８】
このとき例えば図４Ｈに示すようにエラー拡張回路３４からの検出ブロックエラー信号がハイレベル“１”になる都度、ブロックエラーカウンタ３５から出力される計数値は図４Ｉに示すように“０”、“１”、・・・・のようにインクリメントされ、図４Ｊに示すようにデータホールド回路３６からはフィールドブロックエラーとして出力される。この出力値は上述したように例えばディジタルＶＴＲにおけるフィールド毎の画質の指標として使用される。
【００５９】
このように本例においては、重要度特定回路３１で入力係数データの番号をエラーフラグに与え、この係数番号データに基いて重要度比較回路３２で重要度テーブルに基いて重要度値を与え、予め設定されている重要度値と比較し、設定重要度値よりも重要度値が小さいエラーフラグに対応する係数データのエラーを重要なエラーとして認定すると共に、エラー拡張回路３４において、ブロック毎の認定エラーが１つでも複数でもそのブロックがエラーを含むか否かを示す出力、即ち、パルスとしては１パルスだけを出力し、これをブロックエラーカウンタ３５でフィールド毎に計数し、そのフィールドの期間での計数値を画質の指標として用いるようにしたので、指標と画質をマッチングさせることができ、これによって、変換形態（実施例においては直交変換）に基いて常に画質状態を示す指標を正確、且つ、最適なものとできる。
【００６０】
尚、図１において出力端子３４ａから出力するエラーフラグＥＦ３を例えば図１０において示したエラー修正回路１９で使用すれば、このエラーフラグＥＦ３がアクティブとなっている期間のデータについてブロック毎にエラー修正を画質劣化することなく行うことができる。
【００６１】
次に、図６〜図８を参照して本発明ブロックエラー検出装置の他の実施例について説明する。この図６において図１と対応する部分には同一符号を付し、その詳細説明を省略する。
【００６２】
この図６において、５０は図示しないディジタルＶＴＲ等の本体回路からの基準信号（同期信号等）が供給される入力端子、５８はエラーフラグＥＦ２が供給される入力端子、５９は係数データが供給される入力端子である。
【００６３】
５１はアドレスカウンタであり、このアドレスカウンタ５１は入力端子５０を介して供給される基準信号に基いて（例えば基準信号でリセットされ）図示しないディジタルＶＴＲ等の本体回路からのクロック信号（例えば１つの係数データの周期に対応する）を計数し、アドレス信号を得る。このアドレス信号は入力端子５９を介して供給される係数データに対応したアドレスとなる。
【００６４】
このアドレスカウンタ５１の計数値は重要度テーブル回路５２及びブロック先頭検出回路５３に夫々供給される。ここで、図８を参照してアドレスカウンタ５１で得られた計数値、即ち、入力される係数データに対応して発生されるアドレスと重要度について説明する。
【００６５】
例えば図９に示したディジタルＶＴＲの直交変換回路３から出力される係数データの並びは４×４のブロックの場合、０、１、２、・・・・１５（各数値をブロック内アドレスとする）となる。そして、図１０に示したディジタルＶＴＲの逆量子化回路１５の出力は０、２、８、１０、１、３、９、１１、４、１２、６、１４、５、１５、７、１３（各数値をブロック内アドレスとする）となる。
【００６６】
一方、本例においては、図８Ｃに示すように０のアドレスの係数データの重要度値を“０”、１のアドレスの係数データの重要度値を“１”、２のアドレスの係数データの重要度値を“５”、３のアドレスの係数データの重要度値を“６”、４のアドレスの係数データの重要度値を“２”、５のアドレスの係数データの重要度値を“４”、６のアドレスの係数データの重要度値を“７”、７のアドレスの係数データの重要度値を“１２”、８のアドレスの係数データの重要度値を“３”、９のアドレスの係数データの重要度値を“８”、１０のアドレスの係数データの重要度値を“１１”、１１のアドレスの係数データの重要度値を“１３”、１２のアドレスの係数データの重要度値を“９”、１３のアドレスの係数データの重要度値を“１０”、１４のアドレスの係数データの重要度値を“１４”、１５のアドレスの係数データの重要度値を“１５”としている。従って、図９に示したディジタルＶＴＲの直交変換回路３の出力に対応して係数データの重要度を示せば図８Ａに示すようになる。
【００６７】
ところで、実際に図１０に示した逆量子化回路１５の出力（図６でいえば入力端子５９に供給される係数データ）はジグザグにスキャンした並びであるので、それに対応させたテーブルを設けることが必要となる。つまり、これが図８Ｂに示す重要度テーブルである。
【００６８】
アドレスカウンタ５１からのアドレスは０から順に歩進するアドレスであるが、実際に入力端子５９を介して入力される係数データの入力順番は上述したように、ジグザグにスキャンした並びであるので、重要度テーブル回路５２の重要度テーブルの重要度値の配列は図８Ｂに示すように、アドレスカウンタ５１からのアドレスに応じて対応する重要度値を出力できるようになっている。
【００６９】
係数データは上述したように、本来のアドレスでいえば０、２、８、１０、１、３、９、１１、４、１２、６、１４、５、１５、７、１３の順に入力されるので、図８Ｂに示すように、これに対応してアドレスカウンタ５１からの０から順次歩進するアドレスで順次アクセスしたときに、“０”、“５”、“３”、“１１”、“１”、“６”、“８”、“１３”、“２”、“９”、“７”、“１４”、“４”、“１５”、“１２”、“１０”の順に重要度値が出力される。
【００７０】
ここで、上述の数値を最初から順番に照らし合わせて見ると、図８Ｃに示すように０のアドレスの係数データの重要度値は“０”、２のアドレスの係数データの重要度値は“５”、８のアドレスの係数データの重要度値は“３”、１０のアドレスの係数データの重要度値は“１１”、１のアドレスの係数データの重要度値は“１”、３のアドレスの係数データの重要度値は“６”、９のアドレスの係数データの重要度値は“８”、１１のアドレスの係数データの重要度値は“１３”、４のアドレスの係数データの重要度値は“２”、１２のアドレスの係数データの重要度値は“９”、６のアドレスの係数データの重要度値は“７”、１４のアドレスの係数データの重要度値は“１４”、５のアドレスの係数データの重要度値は“４”、１５のアドレスの係数データの重要度値は“１５”、７のアドレスの係数データの重要度値は“１２”、１３のアドレスの係数データの重要度値は“１０”となることが分かる。
【００７１】
この重要度テーブル５２で出力された重要度値はセレクタ５４に供給される。このセレクタ５４には入力端子５４ａを介して重要度最低値が供給される。セレクタ５４は重要度最低値及び重要度テーブル５２からの重要度値を入力端子５８を介してエラーフラグＥＦ２が供給された場合に重要度テーブル５２からの重要度値を出力し、エラーフラグＥＦ２が供給されない場合に重要度最低値を出力する。ここで重要度最低値としては例えば“１５”を選択している。この“１５”という数値はこの例における数値としては最大の値であるが、重要度の数値が低ければ低い程重要度が高いものとしている。従って、エラーフラグＥＦ２が供給されない場合においては、重要度比較回路５６においてはこの重要度最低値と設定されている重要度値が比較されるので、設定重要度値が例えば“１０”の場合、検出ブロックエラー信号はハイレベルとはならない。
【００７２】
セレクタ５４からの重要度最低値、或いは重要度テーブル５２からセレクタ５４を介して出力される重要度値は重要度比較回路５６に供給され、この重要度比較回路５６において、入力端子５５を介して供給される設定重要度値（図１を参照して説明した方法と同様にして設定される）と比較される。
【００７３】
この比較結果としての重要エラー検出信号はエラー拡張回路３４に供給される。エラー拡張回路３４は上述と同様に、後述するブロック先頭検出回路５３からのブロック信号に基いてそのブロックに存在するエラーが１つでも複数でも１つのブロックに対応して１つのパルスを発生して検出ブロックエラー信号を得、この検出ブロックエラー信号からエラーフラグＥＦ４を得、このエラーフラグＥＦ４を位相調整回路５７に供給する。
【００７４】
位相調整回路５７はエラー拡張回路３４からのエラーフラグＥＦ４を例えば遅延することによって、後述する本線の逆直交変換回路１７（但し図９及び図１０に示すようなディジタルＶＴＲに適用した場合であり、コーデックの場合はこの限りではない）との位相差を調整する。この位相調整回路５７で位相調整されたエラーフラグＥＦ４はコード置き換え回路６１に供給される。
【００７５】
次に、本線の説明を行う。６０はゼロ置き換え回路で、入力端子５０、５８及び５９を介して供給される基準信号、エラーフラグＥＦ２及び係数データに基いていわゆるゼロ置き換え処理を行う。これは既に説明しているが、エラーフラグＥＦ２が入力されたときに、対応する係数データを強制的に“０”にする回路である。
【００７６】
このゼロ置き換え回路６０からのゼロ置き換えされた係数データをも含む係数データ列は逆直交変換回路１７に供給され、例えばＩＤＣＴ（逆離散コサイン変換）処理されて元のデータにされ、更にコード置き換え回路６１に供給される。このコード置き換え回路６１は逆直交変換回路１７からの変換後のブロックデータを位相調整回路５７からのエラーフラグＥＦ４に基いて、ブロックに対応するデータを禁止コードに置き換える。
【００７９】
このメモリ６２は図１０で言えば出力プロセス回路１８のデ・シャッフリング回路（図示せず）のメモリである。
【００８０】
さて、メモリ６２に一旦記憶された映像信号は例えばディジタルＶＴＲ等においては出力プロセス回路１８においてデ・シャッフリング処理が施された後にエラー修正回路１５（何れも図１０参照）に供給される。そしてこのエラー修正回路１５においては例えば禁止コード“０００”のブロックを回りのブロックで置き換える等の修正が施された後、図示しないテレビジョンモニタ等に供給され、その管面上に映像として映出される。
【００８１】
次に図７のタイミングチャートを参照して図６に示したブロックエラー検出装置の動作について説明する。
【００８２】
先ず、ブロック先頭検出回路５３がアドレスカウンタ５１からのアドレス、或いは入力端子５０を介して供給される基準信号（図７Ａ参照）に基いてフィールド周期の信号を得、フィールド周期の信号を位相調整回路５７に供給する。図７Ｂに示すように、入力端子３８を介して供給される係数データは、ブロックＢＫ１、ＢＫ２、ＢＫ３、ＢＫ４、ＢＫ５、・・・・のようにブロック毎に供給される。また、ブロック先頭検出回路５３は図７Ｃに示すブロック周期の信号を得るが、入力端子５０を介して供給される基準信号の立ち上がりで立ち下がるブロック信号（図７Ｄ参照）を得、このブロック信号をエラー拡張回路３４に供給する。
【００８３】
上述したが、アドレスカウンタ５１は入力端子５０を介して図２Ａに示す基準信号でリセットされた後に計数動作を開始し、ジグザグスキャンの配列で供給される係数データに対応して０から順次歩進するアドレスを出力する。そしてそのアドレスは重要度テーブル５２に供給され、この重要度テーブル５２によって入力係数データに重要度値が与えられる。そしてセレクタ５４においてエラーフラグが立ったときに出力され、重要度比較回路５６に供給される。
【００８４】
ここで、エラーフラグにＥＦ２という符号を付しているのは、このエラーフラグＥＦ２が、図１０に示したＥＣＣデコーダ１３でインナーパリティを用いてエラー訂正を行ったときに生成されたエラーフラグ（ＥＣＣワード単位）と同じものではなく、ＶＬＣデコーダ１４において更に係数データ単位のエラーフラグとされたものであるので、区別をつけるためである。
【００８５】
図７Ｅに示すように、エラーフラグＥＦ２に対応して、即ち、上述したようにエラーフラグが立ったときに重要度テーブル５２からの重要度値がセレクタ５４から出力される。従って、例えば最初のパルス（連続する係数データ２つ分なので他のパルスより幅が広くなっている）で示すブロックＢＫ１の係数データのエラーの重要度値は“９”及び“１０”、以降、ブロックＢＫ２の係数データのエラーの重要度値は“０”、ブロックＢＫ３の係数データのエラーの重要度値は“９”及び“２”、ブロックＢＫ４の係数データのエラーの重要度値は“１２”及び“３”、ブロックＢＫ６（図示せず）の係数データのエラーの重要度は“８”となる。
【００８６】
そしてこの場合、もし、設定されている重要度値が“１０”だった場合は、図７Ｆに示すように、エラーとして認められるのはエラーの重要度値が“９”のブロックＢＫ１の係数データのエラー、エラーの重要値が“０”のブロックＢＫ２の係数データのエラー、エラーの重要度値が“９”及び“２”のブロックＢＫ３の係数データのエラー、エラーの重要度値が“３”のブロックＢＫ４の係数データのエラー、エラーの重要度値が“８”のブロックＢＫ６（図示せず）の係数データのエラーとなる。
【００８７】
従って、エラー拡張回路３４は図７Ｇに示すように、１つのブロック期間内で重要度比較回路５６からの重要エラー検出信号がエラーを示す場合にはそのパルスの次のタイミングで立ち上がり、以降、そのブロックの期間においてはハイレベル“１”となり、且つ、図７Ｄに示すブロック信号の立ち上がりでリセットされるエラーフラグＥＦ３を得る。
【００８８】
一方、このエラー拡張回路３４は１つのブロックの期間において図７Ｆに示す重要エラー検出信号が１回でもハイレベル“１”となった場合（１パルス分でも２パルス分でも同様である）は、図７Ｈに示すように、そのブロックＢＫ１、ＢＫ２、ＢＫ３、ＢＫ４、ＢＫ６、・・・・に重要度の高いエラーが発生していることを示す検出ブロックエラー信号を出力する。検出ブロックエラー信号は図２Ｇ及びＨに“○”及び矢印で示すように、図７Ｇに示す信号がハイレベル“１”のとき、且つ、図７Ｄに示したブロック信号がローレベル“０”のときにそのブロックに重要度の高いエラーが存在することを示すハイレベル“１”となる。
【００８９】
ところで、エラーフラグＥＦ２のブロックＢＫ２の期間における重要度値“０”のエラー重要度値（図において破線で囲む）の供給される期間は、図７Ｅに示すように、ブロック信号がローレベル“０”の期間（図において“△”で示す）であるので、重要度比較回路３２においてこの期間の出力をリセットしないようにしている。この例において、もしブロックＢＫ１の期間に重要度値“９”のエラーが存在せず、しかもブロック信号がローレベル“０”の期間にリセットされるようにしてしまうと、最も高い重要度値“０”のエラーがブロックＢＫ１に存在しないことになってしまい、再生画像で著しい画質劣化を引き起こす原因となるからである。
【００９０】
さて、エラー拡張回路３４はブロックがエラーを含むか否かを示す検出ブロックエラー信号を得た後、図７Ｈに示す検出ブロックエラー信号のハイレベル“１”の情報をセットすることによって図７Ｉに示すエラーフラグＥＦ４を得、これを位相調整回路５７に供給することによっていわゆるブロックリプレース処理させ、上述したコード置き換え回路６１に供給する。尚、図７Ｉにおいて斜線で示す区間ではリセットによって“０”が確定する期間を示す。
【００９１】
そしてこの後、コード置き換え回路６１においてこのエラーフラグＥＦ４に対応するブロックの映像信号が禁止コードに置き換えられ、デ・シャッフリング等の処理が施された後に回りのブロックで置き換えられ、映像信号として出力される。
【００９２】
このように、この例においては、アドレスカウンタ５１でアドレスを発生し、更に、ジグザグスキャンの並びで入力された係数データに対応するよう重要度テーブル５２で重要度値を与え、この重要度値をセレクタ５４に供給すると共に、セレクタ５４においてエラーを特定するためにエラーフラグが立った場合に重要度テーブル５２で発生させた重要度値を出力させ、これを予め設定されている重要度値と比較し、その設定値が示す重要度よりも重要度が高い（重要度値としては低い値であるが）場合には、重要度の高いエラーであると判定し、そのブロックに重要度の高いエラーが含まれることをエラーフラグＥＦ４として出力すると共に、ゼロ置き換え回路６０でエラーフラグが立った場合に対応する係数データを“０”に置き換え、更に、コード置き換え回路６１において位相調整回路５７からのエラーフラグＥＦ４に対応する逆直交変換後のオールゼロの映像信号を４：２：２のフォーマットにおける禁止コード“０００”で置き換え、これをデ・シャッフリング用のメモリ６２に記憶させ、デ・シャッフリング処理した後に、エラー修正回路においてその禁止コードの映像信号のブロックのみを回りのブロックで置き換えて出力するようにしたので、画像データの変換形態に対応した修正を行うことで、画質の劣化を大幅に防止することができると共に、ジグザグスキャンの並びで入力された係数データの重要度に対応して、その係数データに対応するエラーフラグに正確に重要度値を与えることができると共に、シャッフリングメモリの容量を最小限にできる。
【００９３】
尚、上述の実施例は本発明の一例であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取り得ることは勿論である。
【００９４】
【発明の効果】
上述せる本発明によれば、重要度特定手段により、入力されるディジタルデータに対し、そのエラー情報に基いて重要度を特定し、比較手段でこの重要度情報及び予め設定された重要度情報とを比較し、ブロックエラーか否かを示す比較結果を得、この比較結果を計数手段で計数するようにしたので、係数結果を画質の指標として用いる場合、常にその指標と画質の状態がマッチングした状態とでき、指標の精度を大幅に向上させることができる。
【００９５】
更に上述において本発明によれば、計数手段が比較手段からの出力をフィールド毎に計数するようにしたので、上述の効果に加え、フィールド毎の画質状態を知ることができ、より最適な指標を提供することができる。
【００９６】
更に上述において本発明によれば、計数手段が比較手段の比較結果によって１ブロック内において複数回ブロックエラーを示す出力が検出されてもその計数を１回とするようにしたので、上述の効果に加え、変換形態に最適な指標を出力することができる。
【００９７】
また上述せる本発明によれば、重要度特定手段により、入力されるディジタルデータに対し、そのエラー情報に基いて重要度を特定し、比較手段でこの重要度特定手段からの重要度情報及び予め設定された重要度情報とを比較し、ブロックエラーか否かを示す比較結果を得、１ブロック内において比較手段からの出力が１或いは複数回ブロックエラーを示す出力であった場合に該当ブロックにブロックエラーが存在することを示すと共に、該当ブロックの情報を回りのブロックの情報で置き換えるための情報をブロックエラー情報出力手段で出力するようにしたので、画像データの変換形態に対応した修正を行うことで、画質の劣化を大幅に防止することができる。
【００９８】
更に上述において本発明によれば、エラー情報が入力されたときには、制御手段によって対応するディジタルデータを強制的に“０”にするようにしたので、上述の効果に加え、後段における処理を簡単にすることができる。
【００９９】
更に上述において本発明によれば、禁止コード置き換え手段によって強制的に“０”にされたディジタルデータを搭載される機器のフォーマットでデータとして使用が禁止されているコードに置き換えるようにしたので、上述の効果に加え、例えばディジタルＶＴＲやコーデック等の各種機器において、この後段にメモリが配置されている場合はその容量を最小限にできると共に、伝送量を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明ブロックエラー検出装置の一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明ブロックエラー検出装置の一実施例の説明に供するタイミングチャートである。
【図３】本発明ブロックエラー検出装置の一実施例の説明に供するタイミングチャートである。
【図４】本発明ブロックエラー検出装置の一実施例の説明に供するタイミングチャートである。
【図５】本発明ブロックエラー検出装置の一実施例の説明に供する重要なエラーを判断するためのテーブルを示す説明図である。
【図６】本発明ブロックエラー検出装置の他の実施例を示す構成図である。
【図７】本発明ブロックエラー検出装置の他の実施例の説明に供するタイミングチャートである。
【図８】本発明ブロックエラー検出装置の説明に供するエラーの重要度を検出するためのテーブルを示す説明図である。
【図９】ディジタルＶＴＲの記録系を示す構成図である。
【図１０】ディジタルＶＴＲの再生系を示す構成図である。
【符号の説明】
３１  重要度特定回路
３２、５６  重要度比較回路
３４  エラー拡張回路
３５  ブロックエラーカウンタ
３９  フィールド検出回路
５１  アドレスカウンタ
５２  重要度テーブル
５３  ブロック先頭検出回路
５４  セレクタ
６０  ゼロ置き換え回路
６１  コード置き換え回路
【図１】
0003738453.tif 000002
【図２】
0003738453.tif 000003
【図３】
0003738453.tif 000004
【図４】
0003738453.tif 000005
【図５】
0003738453.tif 000006
【図６】
0003738453.tif 000007
【図７】
0003738453.tif 000008
【図８】
0003738453.tif 000009
【図９】
0003738453.tif 000010
【図１０】
0003738453.tif 000011