(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゲインを指示する設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する増幅手段と、設定値を前記増幅手段に付与し前記増幅手段を制御する制御手段とを有する信号増幅装置において、
前記制御手段は、互いに異なる複数の設定値を前記増幅手段に付与し、
前記複数の設定値に基づいて所定の入力信号が前記増幅手段により増幅された複数の出力信号を検出し、
前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定することを特徴とする信号増幅装置。
【請求項２】
前記複数の設定値は、所望のゲインを指示する設定値より大きい設定値と小さい設定値を含む少なくとも２つの設定値であることを特徴とする請求項１に記載の信号増幅装置。
【請求項３】
ゲインを指示する設定値を与え、該設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する信号増幅装置の設定値調整方法において、
互いに異なる複数の設定値を増幅手段に付与し、
前記複数の設定値に基づいて所定の入力信号が前記増幅手段により増幅された複数の出力信号を検出し、
前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定することを特徴とする信号増幅装置の設定値調整方法。
【請求項４】
前記複数の設定値は、所望のゲインを指示する設定値より大きい設定値と小さい設定値を含む少なくとも２つの設定値であることを特徴とする請求項３に記載の信号増幅装置の設定値調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の設定値を与え、該設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する信号増幅装置に関し、特に、与える設定値の調整に関する。さらに詳細には、信号増幅装置のゲインまたは／およびオフセットの設定値の調整に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ゲインを指示する設定値を与え、該設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する信号増幅装置では、機体個差・経時変化・状況変化などにより、ゲインを指示する設定値を与えたとしても設定値どおりに入力信号を増幅しないことが生じる。このため、所望のゲインどおりに入力信号を増幅し、安定した出力信号を得るように、設定値を調整する方法が種々提案されている。
【０００３】
その一つとして、特公平６−８５５６４号公報に記載された調整方法がある。特公平６−８５５６４号公報に記載された調整方法は、所定のゲインを指示する設定値で特定の入力信号を増幅し、得られた出力信号が許容範囲内に入るか否か比較し、許容範囲内に入らなければ設定値を更新し、再びこの設定値で特定の入力信号を増幅し、という調整を繰り返し、出力信号が許容範囲内に入るまで設定値を更新する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記公報に記載された調整方法では、出力信号が許容範囲内に入るまで設定値の更新を繰り返さなければならず、調整するために時間がかかるという欠点がある。
【０００５】
そこで、本発明では、設定値を調整するに際して、調整のための時間を短縮し、入力信号に対して安定した出力信号が得ることのできることを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題は、以下の構成により解決できる。
【０００７】
請求項１に記載の発明は、ゲインを指示する設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する増幅手段と、設定値を前記増幅手段に付与し前記増幅手段を制御する制御手段とを有する信号増幅装置において、前記制御手段は、互いに異なる複数の設定値を前記増幅手段に付与し、前記複数の設定値に基づいて所定の入力信号が前記増幅手段により増幅された複数の出力信号を検出し、前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定することを特徴とする信号増幅装置である。
【０００８】
また、請求項３に記載の発明は、ゲインを指示する設定値を与え、該設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する信号増幅装置の設定値調整方法において、互いに異なる複数の設定値を増幅手段に付与し、前記複数の設定値に基づいて所定の入力信号が前記増幅手段により増幅された複数の出力信号を検出し、前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定することを特徴とする信号増幅装置の設定値調整方法である。
【０００９】
すなわち、請求項１に記載の装置または請求項３に記載の方法では、付与した設定値と該設定値で増幅した出力信号とを複数求め、前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定する。従来の技術では、単に許容範囲と出力信号とを比較しているだけであるので、設定値の調整は繰り返し行わなければならないところ、本発明では、所望の設定値にするには設定値をどの程度大きくすればよいのかあるいはどの程度小さくすればよいのかを求めることができ、所望のゲインが得られる設定値を短時間で決定することができ（通常は１回で決定できる）、安定した出力信号を得ることができる。
【００１３】
さらに、請求項２、又は４に記載の発明では、前記付与する複数の設定値は、前記所望のゲインを指示する設定値より大きい設定値と小さい設定値を含む少なくとも２つの設定値であるので、所望のゲインが得られる設定値を正確に決定できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。図１は、本発明を適用した増幅装置の機能ブロック図である。増幅装置１は、所定の設定値を与え、該設定値に基づいて入力信号を所定の出力信号に増幅する装置であり、増幅手段１０、制御手段２０を有しており、本実施の形態では、さらに基準信号発生手段３０を有している。この増幅装置１は、画像読取装置のイメージセンサからアナログ信号として得られた画像情報、特に、放射線画像読取装置の光電変換装置からアナログ信号として得られた放射線画像情報（入力信号Ｖｉ）を、ＣＲＴ表示やプリントアウトを行うためにデジタル変換された所定の出力信号Ｖｏを得るものである。
【００２０】
信号増幅手段１０は、後述する制御手段２０から付与される設定値に基づいて、入力信号Ｖｉを増幅し、出力信号Ｖｏを出力する手段であり、増幅部１１とＡ／Ｄ変換部１２とを有している。さらに詳細には、増幅部１１は、付与された設定値（本実施の形態ではゲインＧとオフセットＯ）に基づいて入力信号Ｖｉを増幅し増幅信号Ｖａを出力する。以下の説明において、特に断らない限り、このときの増幅は、Ｖａ＝Ｇ×（Ｖｉ＋Ｏ）に基づいて行われるものとする。そして、Ａ／Ｄ変換部１２は、増幅された増幅信号Ｖａ（アナログ信号）をデジタル信号へと変換して、出力信号Ｖｏとして後段の図示しないＣＲＴ、プリンタ、コンピュータなどに出力する。
【００２１】
なお、本実施の形態では、増幅をＶａ＝Ｇ×（Ｖｉ＋Ｏ）に基づいて増幅信号Ｖａを得るようにしたが、これに限られず、設定値としてゲインＧまたはオフセットＯのいずれか一つでもよく、また、入力信号Ｖｉおよび／または出力信号Ｖｏに対して対数あるいは指数をとってもよい。また、本実施の形態では、増幅部１１で増幅した後Ａ／Ｄ変換部１２でＡ／Ｄ変換するよう構成したが、これに限られず、Ａ／Ｄ変換せずに増幅信号Ｖａを出力するようにしてもよい。
【００２２】
このような信号増幅装置１において、所望のゲインどうりに入力信号Ｖｉを増幅した出力信号Ｖｏを得るために、設定値を調整する必要がある。特に、放射線画像読取装置から得た画像情報をＣＲＴなどに出力する場合、撮影した部位（例えば、胸、腹など）あるいは診断部位（例えば、肺、骨など）により、得たい出力信号Ｖｏが異なる。すなわち、放射線画像読取装置では、例えば濃度０（零）から濃度４までの出力が可能であったとしても、部位により濃度１から濃度２の範囲をより細かく診断する必要がある場合があり、このとき、ゲインＧおよびオフセットＯの設定値に基づいて入力信号Ｖｉを増幅し、濃度１を出力信号Ｖｏ＝０とし濃度２を出力信号Ｖｏ＝４０９５のデジタル信号として出力する（Ａ／Ｄ変換は２１２ビットに変換する場合）ことにより、濃度１から濃度２をより細かく診断することが可能となる。このように、部位により出力信号Ｖｏを変える際には、所望のゲインどおりに入力信号Ｖｉを増幅し、安定した出力信号Ｖｏを得るために設定値の調整が必要となる。
【００２３】
また、放射線画像読取装置の個体差や環境変化などにより、放射線画像読取装置から出力される信号（本明細書でいう入力信号Ｖｉ）が種々変化するが、得る画像情報（本明細書でいう出力信号Ｖｏ）としては、装置個体差や環境差に因らない情報が必要となる。そのために、装置個体差や環境差などに因らず、安定した出力信号Ｖｏ（勿論、入力信号Ｖｉに応じて変化する）を得るために設定値の調整が必要となる。
【００２４】
本実施の形態では、この設定値を調整するために、制御手段２０と基準信号発生手段３０とを備えている。
【００２５】
基準信号発生手段３０は、基準となる既知の信号である基準信号Ｖｒを発生し、増幅手段１０の増幅部１１へ出力する手段である。この基準信号発生手段３０により発生された基準信号Ｖｒは、入力信号Ｖｉが増幅部１１へ入力する経路と同じ経路で増幅部１１へ出力される。また、基準信号発生手段３０により発生される基準信号Ｖｒは、ゲインＧの調整のときは互いに異なる複数（少なくとも２つ）の信号を制御手段２０により制御されて交互に発生し、オフセットＯの調整のときは少なくとも１つの信号を制御手段２０により制御されて発生する。また、基準信号発生手段３０から発生した基準信号Ｖｒは、後段において説明するように制御手段２０へも出力される。
【００２６】
なお、本実施の形態では、基準信号を発生させるために基準信号発生手段３０を設け、基準信号の出力を正確にさせているが、画像読取装置（放射線画像読取装置）などにより基準となる画像を読み取らせ、その信号を基準信号Ｖｒとしてもよい。
【００２７】
制御手段２０はＣＰＵなどで構成され、増幅手段１０や基準信号発生手段３０などを制御し、かつ、所望の設定値を調整する手段である。なお、図１において制御手段２０の内部を機能的なブロックに分けて示しているが、これをソフトで構成しても、ハードで構成してもよい。
【００２８】
制御手段２０の内部について説明をすると、制御手段２０は、付与部２１、検出部２２、第１演算部２３、第２演算部２４、決定部２５などから構成される。付与部２１は、増幅手段１０の増幅部に設定値を付与するものである。設定値の調整時には、この付与部２１により付与される設定値は互いに異なる複数（少なくとも２つ）の設定値を交互に付与する。特に、複数の設定値は、所望の設定値より大きい設定値と小さい設定値の少なくとも２つの設定値とすることにより、正確な調整を可能とする。すなわち、設定値としてゲインＧの調整の時には、所望のゲインより大きいゲインと小さいゲインを交互に付与する（このときオフセットＯは同じである）。同様に、設定値としてオフセットＯの調整の時には、所望のオフセットより大きいオフセットと小さいオフセットを交互に付与する（このときゲインＧは同じである）。
【００２９】
検出部２２は、増幅手段１０により増幅・Ａ／Ｄ変換された出力信号Ｖｏを検出するものである。この検出部２２は、基準信号発生手段３０から基準信号Ｖｒが発生された後、すなわち、増幅手段１０に基準信号Ｖｒが入力されてから所定時間経過後に出力信号Ｖｏをサンプリングして検出するように構成することにより、出力信号Ｖｏが不安定な期間（基準信号Ｖｒが入力されてから所定時間経過するまでの期間（領域）であり、この所定時間は、入力信号Ｖｉの安定および／または増幅部１１の時間的な応答を勘案した時間である）を除き、安定した出力信号Ｖｏを得ることが可能となる。また、この検出部２２は、１回のサンプリングで出力信号Ｖｏを得てもよいが、複数回サンプリングで得られた出力信号Ｖｏに基づいて（例えば平均値）検出することによりノイズ等の影響に因らず正確にかつ精度よく検出することができる。
【００３０】
第１演算部２３は、増幅手段１０に入力した入力信号Ｖｉ（基準信号発生手段３０から発生された基準信号Ｖｒ）と検出部２２で検出された出力信号Ｖｏとに基づいて実際の設定値を演算する演算部である。すなわち、この第１演算部２３は、基準信号発生手段３０から発生された基準信号Ｖｒと、この基準信号Ｖｒを増幅部１１により付与部２１で付与された設定値（Ｇ、Ｏ）に基づいて増幅されＡ／Ｄ変換部１２でＡ／Ｄ変換された出力信号Ｖｏとに基づいて実際の設定値を演算する。
【００３１】
より詳細に述べると、ゲインＧの調整の際には、所定の設定値（Ｇ、Ｏ）の基で互いに異なる少なくとも２つの基準信号Ｖｒと、検出部２２で検出されたそれぞれの基準信号Ｖｒに対する出力信号Ｖｏとから実際のゲインＧ′を演算する。一方、オフセットＯの調整の際には、所定の設定値（Ｇ、Ｏ）の基で少なくとも１つの基準信号Ｖｒと、検出部２２で検出された基準信号Ｖｒに対する出力信号Ｖｏとから実際のオフセットＯ′を演算する。なお、この第１演算部２３では、ゲインＧを調整する際には互いに異なる２つの基準信号Ｖｒと出力信号Ｖｏ、オフセットＯを調整する際には１つの基準信号Ｖｒと出力信号Ｖｏ、で実際の設定値（ゲインまたはオフセット）を演算することができるが、それぞれそれ以上の数の基準信号Ｖｒと出力信号Ｖｏとから実際の設定値を演算してもよく、この場合、実際の設定値の演算をより精度よく行うことができる。
【００３２】
第２演算部２４は、付与部２１により互いに異なる複数の付与した設定値と第１演算部２３で演算された複数の実際の設定値とに基づいて、付与した設定値と実際の設定値との関係を演算する演算部である。すなわち、第２演算部２４は、付与部２１から増幅部１１へ付与した所定の設定値と、該設定値の基で第１演算部２３で演算された実際の設定値とを、互いに異なる少なくとも２つの所定の設定値で以て、付与した設定値と実際の設定値との関係を演算する。
【００３３】
決定部２５は、前記第２演算部２４で演算された付与した設定値と実際の設定値との関係に基づいて、所望の設定値に相当する設定値を決定する。この所望の設定値に相当する設定値とは、所定の入力信号に対して所定の出力値が得られる設定値であり、あるいは、装置個体差の調整の際には、入力に対して所望の出力値が得られる設定値である。
【００３４】
ここで、本実施の形態の動作について図２〜図５を参照しながら説明する。図２および図４は、入力信号と出力信号との関係を示す図であり、図３および図５は、付与した設定値と実際の設定値との関係を示す図である。また、図２、３はゲインの調整を説明する図であり、図４、５はオフセットの調整を説明する図である。なお、説明を簡略化するために、Ａ／Ｄ変換部１２によるＡ／Ｄ変換は省き出力信号Ｖｏ＝増幅信号Ｖａとする。
【００３５】
今、この増幅装置１で設定したい設定値（所望の設定値）を、所望のゲインＧｗ、所望のオフセットＯｗとなるように調整する場合について説明する。なお、増幅部１１による増幅は、Ｖｏ＝Ｇ×（Ｖｉ＋Ｏ）に基づくものとする。
【００３６】
まず、ゲインＧの調整を行う。ゲインＧの調整は、付与部２１から増幅部１１へ所望のゲインＧｗより小さいゲインＧａと所定のオフセットＯａを付与する。この場合のオフセットＯａは任意の値でもよい。付与されると、制御手段２０の制御により基準信号発生手段３０から入力信号Ｖｉとして基準信号Ｖｒａを増幅手段１０に入力する。増幅手段１０では、上式に基づいて、基準信号を増幅して出力信号Ｖｏ１を出力する。この出力信号Ｖｏ１は、基準信号Ｖｒａが入力されてから所定時間経過後検出部２２によって検出される。また、基準信号発生手段３０は、制御手段２０の制御により、前記基準信号Ｖｒａとは異なる基準信号Ｖｒｂを増幅手段１０に入力し、同様に、検出部２２によって出力信号Ｖｏ２が検出される。
【００３７】
一方、付与部２１から増幅部１１へ所望のゲインＧｗより大きいゲインＧｂ（上記ゲインＧａとは異なる値）と所定のオフセットＯａを付与する。同様に、基準信号Ｖｒａを増幅手段１０に入力し、上式に基づいて増幅された出力信号Ｖｏ３を検出部２２によって検出する。また、基準信号Ｖｒｂを増幅手段１０に入力し、同様に、検出部２２によって出力信号Ｖｏ４が検出される。なお、検出部２２によって検出された出力信号Ｖｏ１〜Ｖｏ４は図示しないメモリなどの記憶手段に記憶させてもよい。
【００３８】
ここで、第１演算部２３は、基準信号ＶｒａとＶｒｂおよび出力信号Ｖｏ１とＶｏ２から実際のゲインＧａ′を演算する（図２参照）。これは、Ｇａ′＝（Ｖｏ２−Ｖｏ１）／（Ｖｒｂ−Ｖｒａ）に基づいて演算する。同様に基準信号ＶｒａとＶｒｂおよび出力信号Ｖｏ３とＶｏ４から実際のゲインＧｂ′を、Ｇｂ′＝（Ｖｏ４−Ｖ５１）／（Ｖｒｂ−Ｖｒａ）に基づいて演算する。
【００３９】
なお、本実施の形態では、この第１演算部２３には、基準信号発生手段３０から出力された基準信号ＶｒａとＶｒｂが入力されるようになっているが、予め基準信号ＶｒａとＶｒｂが分かっている（既知である）場合は、入力する必要はなく、図示しないメモリなどに記憶させて、その記憶された基準信号ＶｒａとＶｒｂを用いればよい。また、本実施の形態では、出力信号Ｖｏ１〜Ｖｏ４すべてを検出してから実際のゲインＧａ′とＧｂ′とを演算したが、これに限られず、出力信号Ｖｏ１とＶｏ２を検出した後実際のゲインＧａ′を演算し、その後、出力信号Ｖｏ３とＶｏ４を検出した後実際のゲインＧｂ′を演算してもよい。
【００４０】
次いで、付与した複数のゲインＧａ、Ｇｂと、増幅手段１０を介して第１演算部２３で求められた実際のゲインＧａ′、Ｇｂ′とから、付与したゲインと実際のゲインとの関係を、第２演算部２４で演算する。すなわち、図３に示すように、実線で示される付与したゲインと実際のゲインとの関係を求める。ここで、図３の一点鎖線は、付与したゲインと実際のゲインとが一致する場合を示している。本実施の形態においては、この演算は図３における関係式（１次関数）を求める。より具体的には、Ｇ（Ｇｗ）＝（Ｇｂ−Ｇａ）×（Ｇｗ−Ｇａ′）／（Ｇｂ′−Ｇａ′）＋Ｇａの関係式Ｇ（Ｇｗ）を求める。この関係式Ｇ（Ｇｗ）において、Ｇｗは所望のゲイン、Ｇ（Ｇｗ）は所望のゲインＧｗに相当するゲインであり、所望のゲインＧｗを得るために増幅手段１０に付与するゲインである。
【００４１】
なお、本実施の形態では、第２演算部２４で２つの付与したゲインＧａ、Ｇｂと、２つの実際のゲインＧａ′、Ｇｂ′とに基づいて、付与したゲインと実際のゲインとの関係を演算したが、これに限られず、それぞれ３つ以上の複数で演算してもよく、この場合、付与したゲインと実際のゲインとの関係がより正確に演算できる。
【００４２】
そして、第２演算部２４で演算された付与したゲインと実際のゲインとの関係に基づいて、所望のゲインに相当するゲインを決定する。これは、上述したように、所望のゲインを増幅手段１０に付与しても、実際のゲインは所望のゲインとは異なり、その所望のゲインどおりに増幅されない。そのために、実際のゲインが所望のゲインとなるように、すなわち、所望のゲインに相当するゲインを決定する。これは、上述した関係式Ｇ（Ｇｗ）に所望のゲインＧｗを代入することにより、所望のゲインに相当するゲインＧ（Ｇｗ）が決定される。
【００４３】
このように決定された所望のゲインに相当するゲインＧ（Ｇｗ）は、図示しないメモリなどの記憶手段に記憶され、付与部２１によって増幅手段１０に付与される。
【００４４】
引き続き、オフセットＯの調整を行う。オフセットＯの調整は、上述したゲインＧの調整と同様に行う。すなわち、付与部２１から増幅部１１へ上記で決定した所望のゲインＧｗに相当するゲインＧ（Ｇｗ）と、所望のオフセットＯｗより小さいオフセットＯａを付与する。付与されると、制御手段２０の制御により基準信号発生手段３０から入力信号Ｖｉとして基準信号Ｖｒａを増幅手段１０に入力する。増幅手段１０では、上式に基づいて、基準信号を増幅して出力信号Ｖｏ５を出力する。この出力信号Ｖｏ５は、入力信号Ｖｒａが入力されてから所定時間経過後検出部２２によって検出される。付与部２１から増幅部１１へ所望のゲインＧｗに相当するゲインＧ（Ｇｗ）と所望のオフセットＯｗより大きいオフセットＯｂ（上記オフセットＯａとは異なる値）を付与する。同様に、基準信号Ｖｒａを増幅手段１０に入力し、上式に基づいて増幅された出力信号Ｖｏ６を検出部２２によって検出する。なお、検出部２２によって検出された出力信号Ｖｏ５、Ｖｏ６は図示しないメモリなどの記憶手段に記憶させてもよい。
【００４５】
ここで、第１演算部２３は、基準信号Ｖｒａおよび出力信号Ｖｏ５から実際のオフセットＯａ′を演算する。これは、Ｏａ′＝Ｖ５−Ｖｒａ×Ｇ（Ｇｗ）に基づいて演算する。同様に基準信号Ｖｒａおよび出力信号Ｖｏ６から実際のオフセットＯｂ′を、Ｏｂ′＝Ｖ６−Ｖｒａ×Ｇ（Ｇｗ）に基づいて演算する（図４参照）。
【００４６】
なお、本実施の形態では、出力信号Ｖｏ５、Ｖｏ６すべてを検出してから実際のオフセットＯａ′とＯｂ′とを演算したが、これに限られず、出力信号Ｖｏ５を検出した後実際のオフセットＯａ′を演算し、その後、出力信号Ｖｏ６を検出した後実際のオフセットＯｂ′を演算してもよい。
【００４７】
次いで、付与した複数のオフセットＯａ、Ｏｂと、増幅手段１０を介して第１演算部２３で求められた実際のオフセットＯａ′、Ｏｂ′とから、付与したオフセットと実際のオフセットとの関係を、第２演算部２４で演算する。本実施の形態においては、Ｏ（Ｏｗ）＝（Ｏｂ−Ｏａ）×（Ｏｗ−Ｏａ′）／（Ｏｂ′−Ｏａ′）＋Ｏａの関係式Ｏ（Ｏｗ）を求める（図５参照）。この関係式Ｏ（Ｏｗ）において、Ｏｗは所望のオフセット、Ｏ（Ｏｗ）は所望のオフセットＯｗに相当するオフセットであり、所望のオフセットＯｗを得るために増幅手段１０に付与するオフセットである。
【００４８】
なお、本実施の形態では、第２演算部２４で２つの付与したオフセットＯａ、Ｏｂと、２つの実際のオフセットＯａ′、Ｏｂ′とに基づいて、付与したオフセットと実際のオフセットとの関係を演算したが、これに限られず、それぞれ３つ以上の複数で演算してもよく、この場合、付与したオフセットと実際のオフセットとの関係がより正確に演算できる。
【００４９】
そして、第２演算部２４で演算された付与したオフセットと実際のオフセットとの関係に基づいて、所望のオフセットに相当するオフセットを決定する。これは、上述したように、所望のオフセットを増幅手段１０に付与しても、実際のオフセットは所望のオフセットとは異なり、その所望のオフセットどおりに増幅されない。そのために、実際のオフセットが所望のオフセットとなるように、すなわち、所望のオフセットに相当するオフセットを決定する。これは、上述した関係式Ｏ（Ｏｗ）に所望のオフセットをＯｗを代入することにより、所望のオフセットに相当するオフセットＯ（Ｏｗ）が決定される。
【００５０】
このように決定された所望のオフセットに相当するオフセットＯ（Ｏｗ）は、図示しないメモリなどの記憶手段に記憶され、付与部２１によって増幅手段１０に付与される。
【００５１】
以上のように決定された、所望のゲインに相当するゲインＧ（Ｇｗ）および所望のオフセットに相当するオフセットＯ（Ｏｗ）は、付与部２１によって増幅手段１０に付与されるようになり、ゲインおよびオフセットの調整が終了する。
【００５２】
本実施の形態では、設定値の調整（所望の設定値に相当する設定値の決定）を、実際の設定値を演算し、これと付与した設定値との関係を演算したが、これらを演算せずに設定値の調整（所望の設定値に相当する設定値を直接決定）を行ってもよい。この場合、複数の出力信号と複数の付与した設定値と入力信号（基準信号）とに基づいて所望の設定値に相当する設定値を直接決定する（調整する）。この場合、図１においては第１演算部２３および第２演算部２４がなく、決定部２５に基準信号および付与した設定値が入力されるようになる。
【００５３】
また、本実施の形態では、設定値の調整をゲインとオフセットについて行ったが、これに限られず、いずれか一方だけでもよい。また、設定値の調整をゲインとオフセットについて行う場合、本実施の形態のように、ゲインを調整（所望のゲインに相当するゲインの決定）してから、オフセットを調整（所望のオフセットに相当するオフセットの決定）することにより、調整を簡単に行うことができたが、これに限られず、オフセットを調整した後、ゲインを調整してもよい。
【００５４】
また、本実施の形態を放射線画像読取装置に用いた場合、放射線画像読取装置では、撮影部位や診断部位などにより、所望の設定値（所望のゲインおよび所望のオフセット）が異なる。このため、異なる所望の設定値毎に、上述した調整を行い、得られた所望の設定値に相当する設定値をメモリなどの記憶手段に記憶させるとよい。そして、ユーザーが放射線画像読取装置の操作パネルなどで行われる撮影部位や診断部位などの撮影メニューの選択に基づいて、記憶手段から読み出し、付与部２１がその読み出した設定値を増幅手段１０に付与するようにすればよい。
【００５５】
【発明の効果】
請求項１に記載の装置または請求項３に記載の方法では、付与した設定値と該設定値で増幅した出力信号とを複数求め、前記複数の設定値、前記所定の入力信号、および、前記複数の出力信号に基づいて、所望のゲインが得られる設定値を決定する。従来の技術では、単に許容範囲と出力信号とを比較しているだけであるので、設定値の調整は繰り返し行わなければならないところ、本発明では、所望の設定値にするには設定値をどの程度大きくすればよいのかあるいはどの程度小さくすればよいのかを求めることができ、所望のゲインが得られる設定値を短時間で決定することができ（通常は１回で決定できる）、安定した出力信号を得ることができる。
【００５７】
さらに、請求項２、又は４に記載の発明では、前記付与する複数の設定値は、前記所望の設定値より大きい設定値と小さい設定値の少なくとも２つの設定値であるので、所望の設定値に相当する設定値を正確に決定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した増幅装置の機能ブロック図である。
【図２】入力信号と出力信号との関係を示す図である。
【図３】付与した設定値（ゲイン）と実際の設定値との関係を示す図である。
【図４】入力信号と出力信号との関係を示す図である。
【図５】付与した設定値（オフセット）と実際の設定値との関係を示す図である。
【符号の説明】
１  信号増幅装置
１０  増幅手段
１１  増幅部
１２  Ａ／Ｄ変換部
２０  制御手段
２１  付与部
２２  検出部
２３  第１演算部
２４  第２演算部
２５  決定部
３０  基準信号発生手段
【図１】
0003829393.tif 000002
【図２】
0003829393.tif 000003
【図３】
0003829393.tif 000004
【図４】
0003829393.tif 000005
【図５】
0003829393.tif 000006