(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、
ＭＳ2分析を行うイオンを選択するために、質量範囲とＭＳ2分析すべき信号強度を指定する「信号強度閾値」とが設定された分析条件を設定するステップと、
イオン化された試料をＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いながらマススペクトルを得るステップと、
前記標準データベースから、前記分析条件で設定された条件に合う成分のＭＳ1及びＭＳ2データを抽出するステップと、
前記ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと前記抽出された成分のＭＳ2データとを比較するステップとを有することを特徴とする質量分析方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記分析条件では、更にＭＳ2分析すべきでないイオンを指定する「除外ピーク」が設定されることを特徴とする質量分析方法。
【請求項３】
請求項１において、
前記ＭＳ2分析は、前記分析条件で設定された条件に合うイオンに対して成されることを特徴とする質量分析方法。
【請求項４】
請求項１において、
前記比較は、前記ＭＳ2分析で得られた全てのマススペクトルに対して行われ、最も一致度の高いＭＳ2データを有する成分が、それぞれのマススペクトルの比較結果として出力されることを特徴とする質量分析方法。
【請求項５】
成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、
分析すべき質量対電荷比（ｍ／ｚ）を指定し、ＭＳ２分析すべき信号強度を指定する「信号強度閾値」を設定するステップと、
イオン化された試料をＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いながらマススペクトルを得るステップと、
前記ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと前記標準データベース内の前記指定された質量対電荷比のピークを有する成分のデータとを比較するステップとを有することを特徴とする質量分析方法。
【請求項６】
請求項５において、
前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムを得るステップを有することを、特徴とする質量分析方法。
【請求項７】
請求項６において、
前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムのピークを判定し、当該ピーク時にＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと、前記標準データベース内の前記指定された質量対電荷比のピークを有する成分のデータとを比較することを特徴とする質量分析方法。
【請求項８】
成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備え、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析計を用いた質量分析方法であって、
分析すべき質量対電荷比（ｍ／ｚ）を指定するステップと、
イオン化された試料をＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いながらマススペクトルを得るステップと、
前記ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと前記標準データベース内の前記指定された質量対電荷比のピークを有する成分のデータとを比較するステップとを有し、
前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムを得るステップを有し、
前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムのピークを判定し、当該ピーク時にＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと、前記標準データベース内の当該指定された質量対電荷比のピークを有する成分のデータとを比較するものであって、更に分析すべき質量対電荷比（ｍ／ｚ）と共に成分名も指定し、当該比較時には、前記指定された質量対電荷比（ｍ／ｚ）のマスクロマトグラムのピーク時のマススペクトルと、前記標準データベース内の当該指定された成分名のＭＳ2データとを比較することを特徴とする質量分析方法。
【請求項９】
請求項８において、
前記比較結果として、前記指定された成分名が検出された時間を表示することを特徴とする質量分析方法。
【請求項１０】
測定対象試料をイオン化するイオン源と、イオンを捕捉および開裂させ質量分析を行うイオントラップを備える質量分析部と、当該質量分析部から放出されたイオンを検出する検出部と、当該検出部によって得られたデータを処理するデータ処理部と、検出結果を表示する表示部と、操作者からの情報が入力される入力部とを備える質量分析装置において、
ＭＳ２分析を行うイオンを選択するために、質量範囲とＭＳ２分析すべき信号強度を指定する「信号強度閾値」を設定する分析条件設定手段を有し、
前記データ処理部は、成分毎に、ＭＳ1分析のマススペクトルデータ（ＭＳ1データ）とＭＳ2分析のマススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備え、
前記測定対象試料を質量分析する際に、ＭＳ1分析とＭＳ2分析を行いながらマススペクトルを得、ＭＳ2分析によって得られたマススペクトルと標準データベース内のＭＳ2データとを比較することを特徴とする質量分析装置。
【請求項１１】
請求項１０において、
前記設定画面に、更に、ＭＳ2分析すべきでないイオンを指定する「除外ピーク」を設定する領域を表示することを特徴とする質量分析装置。
【請求項１２】
請求項１０において、
前記表示部に、分析条件として、分析すべき成分名を指定する「成分名」と、当該成分名中の質量対電荷比（ｍ／ｚ）を指定する「重要ピーク」とを設定する設定画面を表示することを特徴とする質量分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、イオントラップを備えた質量分析装置および質量分析方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
質量分析計は、測定対象のサンプル分子に様々な方法で電荷を付与し、生成したイオンの質量対電荷比とイオン電流値をマススペクトルデータとして計測する分析装置である。物質はそれを構成する原子の種類や数から特徴的な分子量を持っているため、マススペクトルデータを得る事によって各々の物質を特定するための重要な情報を得る事ができる。また質量分析計は、ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフ、キャピラリ電気泳動といったクロマトグラフ装置とオンラインで直結する事ができ、クロマトグラフ装置の高感度かつ豊富な定性情報が得られる検出器として使用する事もできる。
【０００３】
近年、環境問題や健康に関する関心が高くなり、それによって上水、排水、食品等に含まれる有害有機化合物のチェック、新薬開発における安全性の確認など様々な分野で、クロマトグラフ直結形の質量分析計が使用されるようになってきている。ここで分析装置に要求される機能としては、
（１）高感度であり、定量分析ができること。
【０００４】
（２）物質を確実に特定できるだけの十分な定性情報が得られること。
【０００５】
（３）実試料を分析する際には、測定対象外の夾雑物を取り除くための試料調製が必要になるが、この調製の手間を少しでも軽減できる事。
【０００６】
（４）農薬の分析等では、測定対象物質が１０成分〜６０成分程度にも及ぶため、一回の試料注入で、できるだけ多くの物質について一斉分析ができる事。
等が挙げられる。この内、特に（２）については、予め目的の試料の標準物質のマススペクトルデータを測定−登録しておき、実試料で得られたクロマトグラム上で各ピークのマススペクトルを出力し、これらについて各々、標準試料との一致検索を行ない、実試料のマススペクトルが、標準試料と高い一致度を持つことをもって、実試料中に特定の試料が存在していることを判断している。
【０００７】
標準試料と実試料のマススペクトルを一致比較する場合、実試料のマススペクトルには標準試料のスペクトルにはない夾雑物由来のピークが混ざってしまうことが多くあり、これが、スペクトル比較による一致度判定の場合、判定結果の精度の面で問題になる。
【０００８】
また、質量分析計のイオン源に大気圧イオン化法を使用する場合、得られるマススペクトルは、基本的に試料成分の分子量由来のピークを最大強度とする単純なスペクトルになることが多い。これは試料成分の分子量を確認するためには有効な情報となる反面、イオン源に電子衝撃法によるマススペクトルと比較して開裂イオンのピークが少ない場合が多く、スペクトルの一致比較により特定試料を検索する場合、試料成分を特定するための情報量が乏しいという欠点がある。一般的に、大気圧イオン化法は、液体クロマトグラフと接続された時、所謂ＬＣ／ＭＳで用いられ、電子衝撃法は、ガスクロマトグラフに接続された時、所謂ＧＣ／ＭＳで用いられるイオン源である。即ち、ＬＣ／ＭＳでは、一度所定範囲のマススペクトルを得ただけでは、試料成分の特定が非常に困難であり、定性を行いづらいという問題を有している。
【０００９】
上記のような問題を解決しようとした場合、従来は、試料成分毎の特徴的な質量数を特定し、その質量数のイオンについてＭＳn分析することで、情報量を増やし定性を行っている。
【００１０】
ＭＳn分析を示した例として、特開平10−142196号公報がある。
【００１１】
ＭＳn分析は、質量分析計に導入されたイオンの内、特定質量数のイオンを選択した後、そのイオンに中性分子との衝突などによりエネルギーを与えて壊し（開裂させ）、その開裂したイオンを質量数毎に順次検出器へ送り出してマススペクトルデータを得るものである。最初に生成したイオンをそのまま検出器に送り出してマススペクトルデータを得る通常の質量分析データをＭＳデータ、またはＭＳ1データとすると、この分析は、ＭＳ1データに更に１段階の反応を加えて得られたデータということでＭＳ2データとなる。また、この特定質量数イオンの選択と、開裂の操作を更に複数回繰り返してから、検出器へ最終的に生成したイオンを送り出してマススペクトルデータを得ることでｎ＝３、４、５といった分析も可能となる。試料成分の分子は、その構造によって開裂を起こし易い部分があり、分子量が同じ試料成分であっても、開裂を起こした後に生成したイオンのマススペクトルデータを比較する事で、構造の違う試料成分を区別する事が可能になる。これにより、通常のマススペクトルデータでは試料成分の特定に十分な情報を得られない場合でも、ＭＳn分析で得られたマススペクトルデータで特定する事ができる。また一度特定イオンを選択してから開裂反応を起こさせてスペクトルを得るため、得られたＭＳ2データでは、最初のデータにあった夾雑物由来のピークを排除することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
上記ＭＳn分析は、夾雑物の除去や定性精度の向上で大きなメリットを有するが、ＭＳn分析を行うためには、開裂させるターゲットとなるイオンの質量数を予め特定しておかねばならない。予め既知の成分を分析する場合は、ターゲットイオンの特定は容易であるが、未知試料を測定する場合は、どの質量数のイオンをＭＳn分析するか分からないため、一度所定の質量範囲に渡ってＭＳ1のスペクトルデータを得て、全体の情報を得た上で、その結果から測定者がＭＳn分析を行うべき質量数を判断して、ＭＳn分析を行わねばならない。
【００１３】
この様な分析では、測定者の負担が大きく、分析も時間が掛かる。特に、大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳでは、定性のためにＭＳn分析を行うことが重要であるため、よりスムーズなＭＳn分析が望まれる。
【００１４】
また更に、クロマトグラフ装置から質量分析計へ導入される試料は、時々刻々と成分が変化しており、一度所定範囲のマススペクトルを全て取得してからＭＳn分析を行うようなやり方では、ＭＳn分析を行う頃には試料成分が変化してしまい、正しい分析結果を得られない。つまり質量分析計での分析がクロマトグラフ装置から導入される試料成分の変化についていけないという状態が発生してしまう。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記問題点を解決するために成されたものであり、ＭＳ2分析で得られるマススペクトルデータを利用した、よりスムーズ且つ正確な目的試料成分の検索−特定を行なうものである。
【００１６】
本発明は、具体的には、クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置において、ＭＳ２分析を行うイオンを選択するために、質量範囲とＭＳ２分析すべき信号強度を指定する「信号強度閾値」を設定する分析条件設定手段を有し、成分毎のマススペクトルデータ（ＭＳ1データ）と当該マススペクトルデータ内の特徴ピークに対するＭＳ2分析に基づくマススペクトルデータ（ＭＳ2データ）を格納した標準データベースを備えたものであり、当該標準データベース中のＭＳ2データに対して、測定対象試料をＭＳ2分析して得られたマススペクトルとの比較を行うものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る一実施例を図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１は、本発明の実施例で用いる質量分析装置の装置構成を示す。
【００１９】
本実施例で用いる質量分析装置は、図１に示すように、試料の分離のためのクロマトグラフ装置１０と、分離後の試料をイオン化するためのイオン源１４と、イオン源１４から導かれたイオンを質量分析する質量分析部１５と、イオンを検出する検出部１６とを備える。クロマトグラフ装置１０は、試料の注入を受け付けるための試料導入部１１と、試料の成分を分離するための分析カラム１３と、試料を搬送するための溶媒を供給するためのポンプ（図示せず）とを備える。試料導入部１１と分析カラム１３との間、分析カラム１３とイオン源１４との間は、それぞれ、配管１２により連通されている。
【００２０】
さらに本実施例の質量分析装置は、制御部１７と、データ処理部１９とを備える。質量分析部１５とイオン源１４ならびに制御部１７との間、イオン強度を質量数ごとに検出する検出部１６とデータ処理部１９との間、および、制御部１７とデータ処理部１９との間は、それぞれ信号線１８により接続されている。
【００２１】
データ処理部１９は、検出部１６により検出されたマススペクトルデータを信号線１８を介して受け付け、このデータを処理して処理結果を表示画面２０に表示する。また、データ処理部１９は、予め定められた手順に従い、信号線１８を介して、制御部１７に制御信号を通知する。また更に、データ処理部１９には、操作者が各種設定情報を入力するためのキーボードや表示画面２０上のカーソルを移動させるためのポインティングデバイスを備えた入力部（図示せず）を具備している。
【００２２】
制御部１７は、データ処理部１９から通知された制御信号に応じて、質量分析部１５の印加電圧などを制御する。
【００２３】
本実施例の質量分析装置は、質量分析部１５にリング電極と一対のエンドキャップ電極からなるイオントラップを使用する。質量分析部１５は、リング電極に高周波電圧を印加することで、リング電極と一対のエンドキャップ電極に囲まれた空間に、三次元四重極電界を形成する。イオン源１４でイオン化された試料は、質量分析部１５に導かれると、前記空間内に導かれ、形成された三次元四重極電界に一度保持される。その後、ＭＳ1データを取得する場合には、印加された高周波電圧を走査することで、低い質量のイオンから順に、検出部１６に対して放出され、検出される。検出された信号は、データ処理部１９へ送られ、時間軸上でイオン信号強度の変移を表すトータルイオンクロマトグラム（ＴＩＣ）として、記録される。また同時に、各時間毎で質量対電荷比（ｍ／ｚ）を横軸としたマススペクトルデータも得られ、記録される。
【００２４】
また、ＭＳnデータを取得する場合には、特定質量数のイオンを質量分析部１５のイオントラップに残し、他のイオンを排除した状態（この状態は、エンドキャップ電極に排除したいイオンが共鳴状態となるような高周波電圧を印加することによって容易に作ることが出来る）で、このイオンの運動に共鳴する周波数の電圧（または異なる周波数の電圧）を加えることによって、このイオンにエネルギーを与えてＣＩＤ反応を起こさせ、その結果開裂したイオンを検出部１６に対して放出し、放出したイオンを検出することで、上記ＭＳ1データと同様に、マススペクトルデータが得られる。
【００２５】
また、ＭＳ1データやＭＳnデータを取得するための１回の質量分析は、１ｓ〜３ｓ／回程度で行うことが出来る。これに対して、クロマトグラフ装置１０からの試料の導入は、液体クロマトグラフでは数１０分位かけて行われるため、１回の質量分析時間に対して十分長い。また、クロマトグラフ装置１０から質量分析装置１５に導入される試料は、成分毎に分離されている。質量分析部１５で、一度ＭＳ1データを取得し、続けてＭＳ2データを取得した場合、これらの分析サイクルは、上記のようにクロマトグラフ装置１０からの導入ペースに比べて非常に早いので、クロマトグラフ装置１０から導入された分離された成分に対しても、１成分が導入される時間で充分にＭＳnデータを取得することが可能である。
【００２６】
本発明は、このような、電界制御によって開裂反応を起こすことができるというイオントラップの特徴を利用したものである。
【００２７】
次に、本発明の実施例１の処理の流れを図面を参照して説明する。
実施例１
本実施例は、未知試料の成分定性に有効な分析法を示すものである。図２に本実施例のフローチャートを示す。
【００２８】
まず、図５（ａ）に示す設定画面を表示画面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ１）。ここで設定される条件は、主に「質量範囲」「強度のＮｏ．」である。「除外ピーク」「信号強度閾値」は、精度を向上させるためには入力した方が良いが、入力しなくても良い。
【００２９】
「質量範囲」では、ＭＳ2分析の対象とすべきイオンの質量範囲が設定される。ここでは質量数２００−４００が対象として設定されている。「強度のＮｏ．」では、「質量範囲」で設定された領域中のピークで、どのピークをＭＳ2分析すべきかが設定される。ここで入力されている数値は、ピーク強度の高い順で付けられる数値であり、“＃１”は、最も強度が高いピークをターゲットイオンとしてＭＳ2分析する、という意味となる。「除外ピーク」では、ＭＳ2分析すべきでないピークが設定される。ここでは質量対電荷比（以下、ｍ／ｚとする）２５０のイオンが除外ピークと設定されているため、仮に、この質量数のピークが検出されてもＭＳ2分析の対象とはならない。テフロン（登録商標）等の配管１２の成分が試料に混在して“汚れ”として検出されるような場合があるが、除外ピークの設定は、この様な汚れを除去するのに有効である。「信号強度閾値」については、ＭＳ2分析の対象とすべき信号強度を設定するものであり、ここで値が設定されると、その値以上の信号強度を有するピークのみがＭＳ2分析の対象となる。この値を設定することで、ノイズとなるようなピークを除外することが出来、分析精度や速度を向上させることが可能となる。
【００３０】
次に、実際の試料の分析を開始する。図１の試料導入部１１から注入された試料は、分析カラム１３で単一成分に分離され、イオン源１４に送られる。イオン源１４でイオン化された試料は、質量分析部１５に送られ質量分析された後、検出部１６で検出される。本実施例では、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行いながら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終了するまで質量分析を行い、ＭＳ1およびＭＳ2分析のマススペクトルを得る（Ｓ２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記Ｓ１で設定された条件に当て嵌まるイオンについて行う。図６にこの時の状態を図示する。図６（ａ）は、ＭＳ1分析で得られるトータルイオンクロマトグラム（ＴＩＣ）を示したものである。実際には、▲１▼や▲２▼で示すように一定のサンプリング間隔（ここでは例として３Ｓ）でＭＳ1分析が行われる。図６（ｂ）（ｃ）に示すように、各サンプリング点では、ＭＳ1データが得られ、更に設定条件に合うイオンについてＭＳ2データを得る。ＭＳ2分析は、各サンプリング間隔の間に行われる。
【００３１】
得られたＭＳ1とＭＳ2のマススペクトルデータは、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶される。
【００３２】
次に、データ処理部１９内に記憶されたデータベース内のＭＳ1データを対象に、Ｓ１で設定した条件に合う成分データを検索し、ピックアップする（Ｓ３）。
【００３３】
ここで、データベースの概要を図４に示す。データベースは、標準試料を分析した結果に基づくデータを予め記憶したものであり、具体的には、成分毎のＭＳ1データと、ＭＳ1データ内の特徴的なピークに対してＭＳ2分析を行った結果であるＭＳ2データを関連付けて格納している。例えば、成分Ａで見ると、ＭＳ1データでは、▲１▼６５０ｍ/ｚと▲２▼２００ｍ／ｚの特徴ピークがあり、▲１▼と▲２▼の各ピークをＭＳ2分析した結果のＭＳ2データが格納されている。
【００３４】
Ｓ３のステップを、図５（ａ）の設定例で説明すると、質量範囲２００−４００ｍ／ｚ中で、１番強度の強いピーク（＃１）を対象としているので（但し、２５０ｍ／ｚは除外）、成分Ａでは▲２▼のピーク、成分Ｂでは▲１▼のピーク、成分Ｃでは▲３▼のピークが該当しており、これらの成分は皆ピックアップされることとなる。
【００３５】
次に、ピックアップした成分に関するＭＳ2データと、Ｓ２のＭＳ2分析で実際に得たマススペクトルの一致度を比較する（Ｓ４）。具体的には、データベース内のＭＳ2データに格納されている成分Ａの▲２▼、成分Ｂの▲１▼、成分Ｃの▲３▼と、実際に得られたＭＳ2分析のマススペクトルとを比較していく。実際に得られたマススペクトルは、ＴＩＣの保持時間全域に渡って複数存在しているため、これら全てのマススペクトルとデータベース内データの比較を行う。
【００３６】
そして、実際のマススペクトルに対して最も一致度の高いデータを有する成分をそのマススペクトルが得られた時間の検出成分として表示画面２０に出力する（Ｓ５）。この時の表示の一例を図７に示す。各時間におけるＭＳ2分析によるマススペクトルに対応する成分が特定できることから、各時間帯における検出成分を表示することが出来る。
【００３７】
本実施例においては、ＭＳ2データを用いて迅速に試料成分の特定ができる。したがって、大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのような、ＭＳ1分析でのマススペクトルが極めて単純なものしか得られない場合であっても、迅速且つ正確に成分の特定を行うことが可能となる。
【００３８】
また、最初のＭＳ1データをデータベース内の成分の絞り込みに使用することで、ＭＳ1データとＭＳ2データをそれぞれ単純に一致検索する場合に比べて、検索処理の効率化、高速化を図ることができる。
実施例２
次に、本発明の他の実施例を示す。本実施例は、予め分析したい目的試料成分が特定されている場合の例である。
【００３９】
図３に本実施例のフローチャートを示す。
【００４０】
まず、図５（ｂ）に示す設定画面を表示画面２０上に表示し、測定者が各条件を設定する（Ｓ１１）。ここで設定される条件は、主に「成分名」「重要ピーク」である。「信号強度閾値」は、精度を向上させるためには入力した方が良いが、入力しなくても良い。
【００４１】
「成分名」では、分析したい目的の成分名が設定される。ここでは成分Ｂが設定されている。「重要ピーク」では、目的の成分中に必ず現れるべきピークのｍ／ｚ（質量対電荷比）が設定される。ここではｍ／ｚ４００が設定されている。「信号強度閾値」については、実施例１の場合と同様である。ここでは２０％がその値として設定されている。
【００４２】
「成分名」と「重要ピーク」が入力されると、入力された成分に該当する情報がデータ処理部１９内に記憶されたデータベースから抽出され、「信号強度閾値」の下部の領域に表示される。ここでは成分Ｂと質量数４００が入力されたので、成分ＢのＭＳ1データと、その重要ピークのＭＳ2データが表示される。そして、この画面における入力が終了したら、測定者は、「登録」の領域にカーソルを合わせ、クリックする。これによって条件設定が終了する。
【００４３】
次に、実際の試料の分析を開始する。本実施例においても、ＭＳ1分析と、ＭＳ2分析を交互に行いながら、クロマトグラフ装置からの一連の試料導入が終了するまで質量分析を行い、ＭＳ1とＭＳ2のマススペクトルを得る（Ｓ１２）。ここで、ＭＳ2分析は、上記Ｓ１１で設定された「重要ピーク」に対して行われる。図５（ｂ）で設定された例で言えば、ｍ／ｚ４００のピークが検出された時にＭＳ2分析を行う。
【００４４】
得られたＭＳ1とＭＳ2のマススペクトルは、全てデータ処理部１９内のメモリに記憶される。
【００４５】
次に、Ｓ１１で設定された「重要ピーク」のマスクロマトグラムを出力する（Ｓ１３）。本実施例では、ｍ／ｚ４００について行われたＭＳ2分析のＴＩＣが相当する。また、ＭＳ1分析のｍ／ｚ４００の信号強度だけを抽出したマスクロマトグラムでもよい。
【００４６】
次に、この重要ピークマスクロマトグラムの各ピーク時のＭＳ2分析によるマススペクトルと、Ｓ１１で設定した成分名に対応するデータベース内のＭＳ2データの比較を行う（Ｓ１４）。本実施例においても、実施例１と同様に、図４で示すデータベースを使用する。
【００４７】
ここで図８に、重要ピークマスクロマトグラムと、各ピークのＭＳ2分析によるマススペクトルの例を示す。図８（ａ）は、ｍ／ｚ４００のマスクロマトグラムである。ここでは「信号強度閾値」で設定された２０％以上にａ，ｂ，ｃの３つのピークが得られた例を示す。図８（ｂ）は、ピークａで得られたマススペクトルを示す。同様に、図８（ｃ）はピークｂ、図８（ｄ）はピークｃで得られたマススペクトルを示す。Ｓ１４では、図８（ｂ）（ｃ）（ｄ）の各スペクトルと、データベース内の成分ＢのＭＳ2データ▲１▼とを比較することになる。
【００４８】
最後に、データベース内のデータと最も一致度の高いＭＳ2分析によるマススペクトルが得られた保持時間を特定し、当該保持時間に得られたＭＳ1分析によるマススペクトルとＭＳ2分析によるマススペクトルを表示画面２０に出力し（Ｓ１５）、処理を終了する。
【００４９】
図９に出力画面の一例を示す。このように、出力画面としては、Ｓ１１で設定した「成分名」と「重要ピーク」と共に、全質量数のＴＩＣと、重要ピークのマスクロマトグラム、そして、Ｓ１５で特定された保持時間に得られたＭＳ1分析によるマススペクトルとＭＳ2分析によるマススペクトルが表示される。全質量数のＴＩＣと重要ピークのマスクロマトグラム中に表示された矢印は、Ｓ１５で特定された保持時間を示している。
【００５０】
本実施例では、予め対象とした成分が決まっていることから、その成分内の重要ピークのみをＭＳ2分析し、データベース内のＭＳ2データと比較することで、迅速且つ正確に、目的成分の保持時間を確認することが可能となる。
【００５１】
上記二つの実施例では、ＭＳ2分析までのデータを対象としての定性分析の例を示したが、ＭＳ3分析やＭＳ4分析のように、ＭＳn分析を対象としても良い。ｎの数が増えるほど、予めデータベースに格納しておくデータ量が非常に多くなってしまい、データ処理部１９の記憶容量の増加とデータ処理速度の遅延を招く可能性があるが、分析精度はその分向上させることが出来る。
【００５２】
【発明の効果】
上記に示すように、本発明は予め備えたデータベースに、各成分の主要ピーク毎のＭＳ2データを備えた点に大きな特徴がある。ＭＳ2データを備え、上記各実施例に示すような分析を行うことにより、大気圧イオン化法を用いるＬＣ／ＭＳのようなＭＳ1分析のマススペクトルから得られる情報が少ない装置においても、正確且つ迅速に、成分の特定を行うことが可能となり、定性精度を向上させることが出来る。また、指定した目的成分が測定データに含まれているかどうかを検索する際にも、目的成分の有無の判定に有効な情報を得ることができる。
【００５３】
また、本発明では、一度の分析でＭＳ2データの蓄積を行うことから、クロマトグラフ装置から導入される試料の変化に容易に追従でき、リアルタイムの分析を行うことが可能となる。また、ＭＳ2分析のために再分析を行う必要も無くなることから、貴重な試料を分析する際に非常に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の装置構成を示す。
【図２】実施例１のフローチャートを示す。
【図３】実施例２のフローチャートを示す。
【図４】データベースの構成図を示す。
【図５】（ａ）実施例１の設定画面を示す。（ｂ）実施例２の設定画面を示す。
【図６】実施例１の分析動作を説明するための図である。
【図７】実施例１の出力画面の一例を示す。
【図８】実施例２の分析動作を説明するための図である。
【図９】実施例２の出力画面の一例を示す。
【符号の説明】
１０…装置、１１…入部、 １２…配管、１３…分析カラム、
１４…イオン源、１５…質量分析部、１６…検出器、１７…制御部、１８…信号線、
１９…データ処理部、２０…表示画面。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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