(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
異物として検出される留め具（Ｓ）が設けられた被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記被検査物の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割し、該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する不良判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
【請求項２】
Ｘ線透過量に基づき前記被検査物の展開後の画像上で該被検査物の留め具の位置に設けられ異物検出の領域から外すためのマスク領域（Ｍ）を設定するマスク領域設定部（１７ａ）と、
前記被検査物上でマスク領域が設定された以外の領域における異物検出を行うために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検査物画像抽出部（１７ｂ）とを備え、  前記不良判断部（１７ｃ）は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物（Ｗ）内部における異物混入の有無を検出するものであり、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれかに基づき被検査物を不良品と判断する請求項１記載のＸ線異物検出装置。
【請求項３】
前記被検査物（Ｗ）は、内容物が包装体で包装され長さ方向の両端が留め具（Ｓ１，Ｓ２）で止められた形状の略棒状体を有し、
前記不良判断部（１７ｃ）は、該被検査物の形状に対応して長さ方向で２分割したエリア（Ｅ１，Ｅ２）を設定し、各エリアにおける留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する請求項１，２のいずれか一つに記載のＸ線異物検出装置。
【請求項４】
前記不良判断部（１７ｃ）は、前記各エリア（Ｅ１，Ｅ２）に隣接する外側の領域に補助エリア（Ｅ１１，Ｅ２１）を設定し、
前記留め具（Ｓ）の個数判断時に前記補助エリアにおける異物が検出された場合においても留め具の個数が異常と判断する請求項１〜３のいずれか一つに記載のＸ線異物検出装置。
【請求項５】
異物として検出される留め具（Ｓ）が設けられた被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出方法において、
前記被検査物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割する段階と、
該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較する段階と、
比較結果の一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常で被検査物が不良品と判断する段階とを有することを特徴とするＸ線異物検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置に関し、特に被検査物に付属する異物としての留め具の有無により不良品を正確に検出できるＸ線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
【０００３】
図９はこの種の従来のＸ線異物検出装置を示す斜視図である。図示のように  コンベア５０上を被検査物Ｗが搬送されて行く途中位置にＸ線発生器５１と、Ｘ線検出器５２が対向配置される。Ｘ線発生器５１は搬送中の被検査物ＷにＸ線を曝射し、Ｘ線検出器５２は被検査物Ｗを透過したＸ線の透過量に応じた電気信号（Ｘ線透過データ）を出力する。図示しない処理手段はこのＸ線の透過量に基づき、異物の混入の有無を判断する。
【０００４】
図１０は、被検査物Ｗを示す図である。図示の例では、被検査物Ｗがハム、ソーセージ等であり、両端には金属製クリップＳを有する状態が表示されている。通常、これらハム、ソーセージ等の被検査物Ｗでは、両端それぞれに（計２個）収容状態を保持するために止め用のクリップＳが設けられる。このような被検査物Ｗを単にＸ線検査するとクリップＳが異物として検出されてしまい装置を稼働できなくなる。
【０００５】
このため、このような異物として判断されるクリップＳが取り付けられた特殊な品種の被検査物Ｗを検査するＸ線異物検出装置では、被検査物Ｗ内における異物の混入の有無を判定する処理時に被検査物Ｗの両端のクリップＳを除き、被検査物Ｗの内部のみの異物検出を行うようになっている。
【０００６】
この不良品判定は、画像処理により実行される。画像処理部には、図示のように、被検査物Ｗの両端位置を想定した座標軸位置に所定範囲のマスク領域Ｍを予め設定し、このマスク領域Ｍで検出されたクリップＳを異物として認識しないようにしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の不良品判定処理では、被検査物Ｗ内部の異物の有無を検出できるが、被検査物Ｗに対するクリップＳの付属の有無を検出することができなかった。被検査物ＷにクリップＳが付属していなければ、被検査物Ｗは不良品であることが明らかであるが、従来はこの不良品検出を行うことができなかった。
【０００８】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、異物として検出される留め具を備えた被検査物の留め具の個数の異常と被検査物内部の異物検出を検出でき不良品の検出精度を向上できるＸ線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法の提供を目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明のＸ線異物検出装置は、異物として検出される留め具（Ｓ）が設けられた被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記被検査物の展開後の画像上で、各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割し、該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する不良判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、Ｘ線透過量に基づき前記被検査物の展開後の画像上で該被検査物の留め具の位置に設けられ異物検出の領域から外すためのマスク領域（Ｍ）を設定するマスク領域設定部（１７ａ）と、
前記被検査物上でマスク領域が設定された以外の領域における異物検出を行うために被検査物のみを抽出画像として抽出する被検査物画像抽出部（１７ｂ）とを備え、
前記不良判断部（１７ｃ）は、前記留め具の個数判断と個別に被検査物（Ｗ）内部における異物混入の有無を検出するものであり、前記マスク領域を含まない抽出画像中に異物が検出された場合、あるいは前記留め具の個数異常時のいずれかに基づき被検査物を不良品と判断する構成としても良い。
【００１１】
また、前記被検査物（Ｗ）は、内容物が包装体で包装され長さ方向の両端が留め具（Ｓ１，Ｓ２）で止められた形状の略棒状体を有し、
前記不良判断部（１７ｃ）は、該被検査物の形状に対応して長さ方向で２分割したエリア（Ｅ１，Ｅ２）を設定し、各エリアにおける留め具の個数を予め設定した個数と比較して一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常と判断する構成にもできる。
【００１２】
また、前記不良判断部（１７ｃ）は、前記各エリア（Ｅ１，Ｅ２）に隣接する外側の領域に補助エリア（Ｅ１１，Ｅ２１）を設定し、
前記留め具（Ｓ）の個数判断時に前記補助エリアにおける異物が検出された場合においても留め具の個数が異常と判断する構成としても良い。
【００１３】
本発明のＸ線異物検出方法は、異物として検出される留め具（Ｓ）が設けられた被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出方法において、
前記被検査物の展開後の画像上で各エリアがそれぞれ該被検査物の留め具の位置を含む複数にエリア分割する段階と、
該分割された各エリアで異物として検出されるべき留め具の個数を予め設定した個数と比較する段階と、
比較結果の一致時にのみ被検査物が正常であり、不一致時には留め具の個数が異常で被検査物が不良品と判断する段階とを有することを特徴とする。
【００１４】
上記構成によれば、被検査物Ｗの展開後の画像を、被検査物Ｗの留め具Ｓの位置を含むように複数のエリアＥ１，Ｅ２を分割する。分割された各エリアＥ１，Ｅ２にはそれぞれ規定個数の留め具Ｓが設けられ、異物として検出される。そして、実際に異物として検出された留め具Ｓの個数を予めの設定個数と比較し、一致時にのみ被検査物が正常と判断する。検出された異物の個数が設定個数未満、あるいは越える個数等の不一致時には、留め具の個数が異常と判断する。
【００１５】
【発明の実施の形態】
図１はＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図である。
Ｘ線異物検出装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Ｗ中（表面も含む）に混入される異物の有無を検出する。このＸ線異物検出装置１は、搬送部３と異物検出部４とが装置本体１ａ内部に設けられ、表示器７が装置本体１ａの前面上部に設けられている。
【００１６】
搬送部３は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物Ｗを搬送するもので、この実施形態における被検査物Ｗは、ハム、ソーセージなどであり、包装体（ビニールシート）の端部を留め具（クリップ）Ｓで止めることによって内容物の包装状態が維持されるものを指す。以下、この実施形態では被検査物Ｗが棒状のソーセージであり、Ｘ線を透過しない金属製の留め具Ｓが両端部にそれぞれ１個ずつ（計２個）設けられたものを例に説明する。
このクリップＳは、金属やプラスチックからなり、通常のＸ線検出では異物として検出される材質からなる。
【００１７】
搬送部３は、装置本体１ａに対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部３は、駆動モータ６の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口３ａから搬入された被検査物Ｗを搬出口３ｂ側（図中搬送方向Ｘ）に向けて搬送させる。この際、被検査物Ｗは、長さ方向が搬送方向Ｘと一致するように搬送される。即ち、搬送方向の前後にクリップＳが位置するよう搬送される。
【００１８】
異物検出部４は、搬送される被検査物Ｗを搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部３の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器８と、搬送部３内にＸ線発生器８と対向して設けられるＸ線検出器９を備えて構成される。
【００１９】
Ｘ線発生器８は、金属製の箱体１１内部に設けられる円筒状のＸ線管１２を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交する方向（Ｙ方向）に設けられている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器９に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００２０】
Ｘ線検出器９は、被検査物Ｗに対してＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出し、この検出したＸ線の透過量に応じた電気信号を出力している。このＸ線検出器９は、搬送部３上を搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交するＹ方向に沿って設けられる。このＸ線検出器９には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００２１】
このような構成によるＸ線検出器９では、被検査物Ｗに対してＸ線発生器８からＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このＸ線検出器９は、受けたＸ線の強さに対応したレベルを有した電気信号を処理手段１３に出力する。
【００２２】
図２は、同装置の電気的構成を示すブロック図である。
処理手段１３は、ＣＰＵ等及びメモリ等で構成され、Ｘ線検出器９からＸ線透過のデータが入力される。このＸ線透過のデータは図示しないＡ／Ｄ変換部でＡ／Ｄ変換された後、データメモリ１４に格納される。
データメモリ１４には、１ライン（Ｙ方向）あたり上記６４０個のＸ線透過のデータが、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘの長さ（前端Ｗａ〜後端Ｗｂまでの検出期間）に対応した所定ライン数（例えば４８０ライン）が格納される。処理手段１３は、このデータに基づき被検査物Ｗに対する異物混入を検査処理する。
【００２３】
搬送部３には被検査物Ｗを検出する投受光センサ等の位置検出器１０が設けられる。処理手段１３は、この位置検出器１０の出力を受けて被検査物Ｗの先端が投受光位置を遮蔽した時期の出力を開始トリガとして用い、遮蔽している期間が被検査物Ｗの長さ（検出期間）であると判断し、データメモリ１４に各被検査物Ｗ単位のＸ線透過のデータを取り込むようになっている。
【００２４】
検査処理内容としては、被検査物Ｗを透過したＸ線の透過レベルに応じた電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入されているか否かの判定を行う。基本原理としては、異物によりＸ線が透過しない状態が生じた場合、即ち、Ｘ線透過量の値が低い場合に異物混入と判定し選別信号等を外部出力する。また、入力データを直接画像展開した画像データを画像処理部１６を介して表示器７の表示部１５に出力する。
【００２５】
この処理手段１３は、上記異物混入による不良品判定処理時に、被検査物Ｗに取り付けられたクリップＳを異物として誤認識しないよう画像処理部１６の画像処理により判断するようになっている。
不良検出部１７は、クリップＳを異物として検出せず、且つ、被検査物ＷにクリップＳが規定個数取り付けられているか否かの不良品を判定する。
この不良検出部１７は、画像処理部１６における画像処理に関する１機能である。
【００２６】
この不良検出部１７は、マスク領域設定部１７ａ、被検査物抽出部１７ｂ、不良判断部１７ｃを有する。
マスク領域設定部１７ａには、被検査物ＷのＸ線透過画像上におけるクリップＳの座標軸位置に所定の範囲を有するマスク領域Ｍを設定する。
【００２７】
図３は、マスク領域Ｍを示す図である。
図示のように、マスク領域Ｍは、被検査物Ｗを基準としてこの被検査物Ｗの所定の座標軸位置上に所定の範囲を有して設定される。被検査物Ｗは、搬送部３の搬送時に先端が位置検出器１０を遮った開始トリガの信号入力時期を基準位置ＲＦとして画像展開される。
マスク領域Ｍについても、この被検査物ＷのＸ線透過画像の基準位置ＲＦを基準としており、開始トリガの信号入力に同期して設定された座標軸位置ｘ１、ｙ１位置と、ｘ２，ｙ２位置上にそれぞれ所定範囲ｘＬ，ｙＬを有して設定される。設定されたマスク領域Ｍは、所定画素数（ドット数）ｎを有する。
【００２８】
被検査物抽出部１７ｂは、被検査物Ｗ内部の異物判定用としてマスク領域Ｍを除く被検査物ＷのＸ線透過画像を抽出画像Ａとして抽出する。
異物であるクリップＳは、マスク領域Ｍに位置しており、この抽出画像ＡにクリップＳは含まれない。これにより抽出画像ＡにおけるＸ線透過量に基づく上記処理により、収容物であるソーセージ内部のみの異物検出を行える。なお、詳細には図示しないが、表示部１５等に表示される画像展開後のＸ線透過画像は、Ｘ線透過量に合わせて表示濃度が異なる。
また、後述するクリップＳの個数検出用にマスク処理前の元の展開画像を不良判断部１７ｃに出力する。
【００２９】
不良判断部１７ｃには、予めの設定値として、被検査物Ｗの長さＬと、予め定めたクリップＳの数ｎが設定記憶されている。そして、被検査物ＷのＸ線透過量に基づき、クリップＳの数ｎがこの規定個数有るか否かで不良品判別する。
【００３０】
図４は、クリップ検出時の処理内容を説明するための図である。
具体的には、図示のように、被検査物Ｗの長さＬを２等分した長さＬ／２を求め、被検査物Ｗの画像をこの２分割した中心からＬ／２をやや越える範囲（前方エリアＥ１、後方エリアＥ２）の画像上でのクリップＳの個数（即ち、異物に相当する低いＸ線透過量が得られた箇所の数）を走査しながらカウントする。前方エリアＥ１、後方エリアＥ２は、それぞれ被検査物Ｗの中心からＬ／２を越えた範囲が補助エリアＥ１１、Ｅ２１として設定されている。
【００３１】
カウントしたクリップ数が規定個数ｎ有れば正常、規定個数ｎに満たないかあるいは多い場合に不良と判断する。上記ソーセージの例では２分割状態の各画面上でクリップＳ１、Ｓ２が１個づつ検出されたときにのみ正常であると判断する。
【００３２】
次に、上記構成によるＸ線異物検出動作について説明する。
上記のように構成されるＸ線異物検出装置１では、被検査物Ｗが搬送部３の搬入口３ａより搬入されると、その搬送過程において被検査物ＷにＸ線発生器８からＸ線が曝射される。このＸ線の曝射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線はＸ線検出器９によって検出される。
【００３３】
そして、処理手段１３は、Ｘ線検出器９によって検出されたＸ線の透過量に応じた電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に異物が混入している否かを判定し、この判定結果から良品又は不良品を示す選別信号などを外部出力する。
具体的には、クリップＳが存在するマスク領域Ｍを除いた範囲における被検査物ＷのＸ線透過量が異物検出用として設定した閾値以下である場合に、異物混入であると判断する。
そして、上記検査を終えた被検査物Ｗは、処理手段１３から出力される選別信号に応じて良品と不良品とに選別される。
【００３４】
また、処理手段１３の画像処理部１６は、Ｘ線検出器９が出力したＸ線透過量を示す画像データを表示部１５に表示出力する。被検査物Ｗの平面で見た外形の状態と、この被検査物Ｗ内でのＸ線の透過具合を確認することができ、異物部分の表示濃度が他と異なり（濃く、あるいは周囲と他の色）で表示でき異物の混入位置を把握できるようになる。
また、「ＯＫ」，「ＮＧ」の良否判定結果や、総検査数、良品数、ＮＧ総数の検査結果を表示する。
【００３５】
ここで、処理手段１３は、このデータメモリ１４に格納したデータを基準値と比較し、基準値を超えたデータがいずれか１つのラインに含まれている場合にＮＧと判断する。厳密には、基準値よりＸ線透過量が低い場合（異物によりＸ線が透過しない場合）にＮＧであると判断し、基準値よりＸ線透過量が高い場合にＯＫであると判断して、「ＮＧ」、あるいは「ＯＫ」の表示を行う。
【００３６】
次に、上記構成における不良品検出動作（クリップの個数検出）について説明する。図５は、この不良品検出処理を示すフローチャートである。
上記異物混入の検出動作の前段階、あるいは異物検出動作と並行して不良判断部１７ｃは被検査物ＷにクリップＳが規定個数付属しているか否かの不良品検出を行う。処理手段１３は、被検査物Ｗ内部の異物混入の有無、及びこのクリップＳの規定個数の一致検出に基づき、最終的な不良品判断を行う。
【００３７】
不良判断部１７ｃには、上記の設定値として被検査物Ｗの長さＬ、クリップＳの数ｎが設定されている（Ｓ１）。ソーセージの場合ｎ＝１として設定される（前方及び後方に１個ずつの意）。
上記のように、画像処理部１６は、Ｘ線検出部９から出力されるＸ線透過データは被検査物のＸ線透過画像として画像展開しており、不良判断部１７ｃはこの画像を取り込む（Ｓ２）。そして、取り込んだ被検査物Ｗの展開画像に基づき、クリップ認識処理を行う（Ｓ３）。
【００３８】
先ず、展開された被検査物Ｗの画像を長さＬに基づき、画像領域を搬送方向に沿って前後に２分割する。この際、基準位置ＲＦを基準として搬送方向の前方Ｌ／２をやや越える範囲までを前方エリア、それ以降Ｌ／２をやや越える範囲までを後方エリアとして個別にクリップ認識する。なお、基準位置ＲＦは、前述した如く位置検出器１０が被検査物Ｗの先頭位置を検出した時期であり、Ｘ線透過画像における被検査物Ｗの先頭（一端）の位置に相当する。
【００３９】
次に、不良判断部１７ｃは、位置判定してこれら２つの前後エリアＥ１，Ｅ２におけるクリップＳの個数をそれぞれ検出する（Ｓ４）。
まず、前方エリアＥ１を指定して処理実行する（Ｓ４−前方エリア）。
この前方エリアＥ１の範囲内においてクリップＳのＸ線透過レベルに相当する箇所の個数をカウントする（Ｓ５）。ここでクリップＳは金属製であるため、異物検出に相当するレベルがクリップＳであるとして検出されることになる。
具体的には、展開画像を走査していき、異物検出レベルに相当する（Ｘ線透過量が少ない）１つのまとまった画素が、前方エリアＥ１における１個のクリップＳ１として判断しカウント数を１増加させる。
【００４０】
次に、この前方エリアＥ１でのカウント数がクリップ数ｎに一致しているか否かを判断する（Ｓ７）。フローチャート上では、Ｓ５終了後Ｓ２に移行して後方エリアで同様の処理を実行する構成として記載してある。位置判定（Ｓ４）では、前方エリアＥ１終了によって後方エリアＥ２（Ｓ４ー後方エリア）側に分岐し、前方エリアＥ１での検出処理終了によって（Ｓ６−Ｙｅｓ）、前方判定を行う（Ｓ７）。
この前方判定においては、設定したクリップ数ｎ＝１であるから、前方エリアＥ１でのカウント数がこのｎ＝１に一致すれば前方エリアＥ２でのクリップＳの個数が規定個数であり正常と判断する。したがって、カウント数が０、あるいは２以上である場合には、クリップＳの個数が異常であると判断する。
【００４１】
この後、後方エリアＥ２においても前方エリアＥ１での処理と同様にクリップＳの個数をカウントし（Ｓ８）、位置判定で前後終了後に（Ｓ４−前後終了）、後方エリアＥ２でのカウント数がクリップ数ｎに一致しているか否かを判断し（Ｓ９）、終了する。
【００４２】
図６は、各種状態の被検査物Ｗを示す図である。図６（ａ）に示す如く、被検査物Ｗの前後のエリアＥ１，Ｅ２でそれぞれ１個ずつクリップＳが検出されれば、この被検査物Ｗにおけるクリップ数が正常であると判断する。即ち、Ｓ７，Ｓ９の各処理で正常判断され、クリップＳの個数に関する不良は無しとして処理手段１３に出力される。なお、処理手段１３は、上記マスク領域Ｍを用いた被検査物Ｗ内での異物混入の有無とこのクリップＳの数の結果を総合して不良品判別する。上記のようにクリップ数Ｓが正常である場合、異物混入がなければ正常品と判断出力する。
【００４３】
一方、図６（ｂ）〜（ｇ）はいずれも被検査物Ｗを不良品として判断する。
図６（ｂ）に示す状態では、前方エリアＥ１でのクリップＳの数が０であるため、設定値ｎ＝１と一致せず不良品と判断する。この場合、被検査物Ｗの前方のクリップＳが欠損していると判断出力することができる。ソーセージの場合、一方のクリップＳが欠損していれば不良品であることは明らかである。
【００４４】
図６（ｃ）に示す状態では、後方エリアＥ２でのクリップＳの数が０であるため、設定値ｎ＝１と一致せず不良品と判断する。この場合、被検査物Ｗの後方のクリップＳが欠損していると判断出力することができる。
【００４５】
図６（ｄ）に示す状態では、前方エリアＥ１でのクリップＳの数が１であり、設定値ｎ＝１と一致して前方エリアＥ１は正常と判断する。しかし、後方エリアＥ２でのクリップＳの数が２であるため、補助エリアＥ２１での検出状態を判断する。この補助エリアＥ２１でクリップＳ３が検出されたときには、不良品と判断する。この状態は、被検査物Ｗ自体には前後に１個ずつクリップＳ１，Ｓ２が取り付けられているものの、切断状態の部分的な他の不良被検査物ＷｎのクリップＳ３が補助エリアＥ２１で検出されたことに基づく。この不良被検査物Ｗｎは製造工程時の不良品として生じることがあり、この不良品を検出できるようになる。
【００４６】
図６（ｅ）に示す状態では、前方エリアＥ１でのクリップＳの数が１であり、設定値ｎ＝１と一致して前方エリアＥ１は正常と判断する。また、後方エリアＥ２でのクリップＳの数が１である。しかし、被検査物Ｗの長さに基づくＬ／２の範囲の中でのクリップＳ２が検出されず０である。また、補助エリアＥ２１においてクリップＳ３が１個検出されている。
この状態は、被検査物Ｗ自体には前方にのみ１個のクリップＳ１が取り付けられているが、後方のクリップＳ２がなく、さらに、切断状態の部分的な他の不良被検査物Ｗｎが同時検出された場合に起こり得る。
【００４７】
図６（ｆ）に示す状態では、前方エリアＥ１でのクリップＳの数が２であり、また、後方エリアＥ２におけるクリップＳ２が検出されず、いずれも設定値ｎ＝１と一致しない。前方エリアＥ１でクリップＳの個数が２であるため、補助エリアＥ１１での検出状態を判断する。この補助エリアＥ１１でクリップＳ０が検出されたときには、不良品と判断する。
【００４８】
図６（ｇ）に示す状態では、後方エリアＥ２におけるクリップＳ２の数が１であるが、前方エリアＥ１でのクリップＳの数が２であり、設定値ｎ＝１と一致しない。前方エリアＥ１でクリップＳの個数が２であるため、補助エリアＥ１１での検出状態を判断する。この補助エリアＥ１１でクリップＳ０が検出されたときには、不良品と判断する。
【００４９】
上記の各例の如く、単一個の被検査物ＷのクリップＳの個数に限らず、クリップＳの綴じ不良等に基づき、目標とする被検査物Ｗの至近で他のクリップＳ（Ｓ０，Ｓ３）を検出した場合にも製造工程等での何らかの不良と判断する。これにより、厳密な不良品検査が行え、正常品として判断された被検査物Ｗの信頼性を向上できるようになる。
【００５０】
なお、上記設定では、１個の被検査物Ｗあたり両側部に１個ずつクリップＳが設けられた品種（ソーセージ）の例を用いて説明したが、１個の被検査物Ｗあたり両側部に２個以上のクリップＳが設けられた品種の場合であっても、被検査物Ｗの長さを考慮して判断する構成であるため、上記同様に各状態の不良品を正確に判別できる。
【００５１】
上記記実施形態では、被検査物Ｗの搬送方向の先端位置を位置検出器１０で検出して基準位置ＲＦを得る構成とした。これに限らず、画像処理部１６での画像処理の走査時にＸ線透過量の変化に基づき、被検査物Ｗの先端位置を検出して基準位置ＲＦを設定しても良い。この先端位置にはクリップＳが設けられており、前後のＸ線透過量と大幅に異なる為容易にこのクリップＳを検出できる。この場合、位置検出器１０は不要である。
【００５２】
次に、図７は、他の品種例を示す図である。
図示の被検査物Ｗは上記ソーセージが複数本（図示の例では４本）を単位としてさらに１つの包装体Ｔによって包装されたものである。
このような被検査物Ｗの場合には、異物検出用のマスク領域Ｍは包装体Ｔ内での各被検査物ＷのクリップＳの配置位置に対応して個別に複数のマスク領域Ｍを設定すればよく、上記同様に異物検出できるようになる。なお、包装体Ｔ内部において各被検査物Ｗが搬送方向前後に移動（位置ズレ）する余裕が有る場合には、予めこの余裕量に対応して搬送方向に沿ってマスク領域Ｍを増大させてもよい。
【００５３】
一方、クリップＳの個数検出についても同様であり、図示の如く、包装体Ｔの長さを基準としてこれを前後に２分割したエリアでそれぞれ不良品検出すればよい。図示の例ではクリップ数ｎ＝４であり、前方エリアＥ１、後方エリアＥ２でそれぞれ４個ずつクリップＳが検出されれば正常であり、いずれかでも４個未満、あるいは５個以上検出されたときに、この包装体Ｔの品（被検査物Ｗ）が不良品であると判断する。
【００５４】
また、図８は、上記説明した被検査物Ｗ（ソーセージ）の搬送方向が異なる状態を示す図である。図示のように、搬送方向Ｘに対して直交するよう被検査物Ｗが搬送される場合がある。
この場合、各被検査物Ｗの基準位置ＲＦは位置検出器１０で被検査物Ｗの側部を基準に検出する構成とする他、画像処理部１６で取り込んだ展開画像を元に上記同様に一方のクリップＳに基準位置ＲＦを設定し、異物検出用のマスク位置Ｍ、クリップ個数検出用の長さＬ及びエリアＥ１，Ｅ２を設定することもできる。便宜的に説明すれば、展開画像を９０度回転させ上記同様の処理を行うのと同等である。
【００５５】
【発明の効果】
本発明によれば、異物として検出される留め具を有する被検査物であっても、留め具の個数を正確に検出でき、被検査物の不良品検出の信頼性を向上できる。また、マスク領域を設定して被検査物の留め具以外の部分での異物検出が可能であり、この異物検出と、上記留め具個数の個数判断によって被検査物の不良品をより正確に検出できるようになる。
このような留め具を用いたハム、ソーセージ等の品種は、留め具の個数が異常であると包装状態が不良なことが明らかで不良品として出荷できないため、本発明により不良品検出精度の向上によって生産効率を向上できる効果が得られるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図。
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図。
【図３】マスク領域を示す図。
【図４】クリップ認識用のエリアを示す図。
【図５】不良品検出処理を示すフローチャート。
【図６】被検査物の各種状態を示す図。
【図７】被検査物の他の包装形態を示す図。
【図８】被検査物の他の検出状態を示す図。
【図９】Ｘ線異物検出装置の構成を示す斜視図。
【図１０】クリップが設けられた被検査物を示す図。
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置、３…搬送部、８…Ｘ線発生器、９…Ｘ線検出部、１３…処理手段、１６…画像処理部、１７…不良検出部、１７ａ…マスク領域設定部、１７ｂ…被検査物抽出部、１７ｃ…不良判断部、Ｅ１…前方エリア、Ｅ２…後方エリア、Ｅ１１、Ｅ２１…補助エリア、Ｍ…マスク領域、Ｗ…被検査物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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