(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
筺体と、電子回路および第１のコネクタが配設された複数の第１の基板と、第２のコネクタが固定された複数の第２の基板、及びそれぞれの隣接する前記第２の基板間を接続するフレキシブル基板を有するバックプレーンと、前記第２コネクタに前記第１のコネクタが結合できるように前記第１の基板をガイドし、保持する保持機構と、前記保持機構を保持するとともに隣接する前記基板間に試験用のスペースを設けるよう、第１の基板の配列方向に前記保持機構をスライドさせるための手段を有し、前記筺体内に固定されたスライド機構を備えたことを特徴とする電子回路接続装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子回路と、規格化された電子回路の電気的および機構的インタフェースを有する構成要素（以下カードと呼ぶ）を、相互に複数接続することを目的とした電子回路接続装置（以下ラックと呼ぶ）に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１１は従来の電子回路接続装置を示すもので、１はカード、２はカードコネクタ、３は筺体、４ｂはカード保持機構、５ｂはバックプレーン保持部材、６ｂはバックプレーンリジッド基板、８はバックプレーンコネクタであり、バックプレーンコネクタ８、筺体３、カード保持機構４ｂ、バックプレーン保持部材５ｂおよびバックプレーンリジッド基板６ｂからなる電子回路接続装置がラック１１である。
【０００３】
カード１内の電子回路は、例えばＩＥＥＥ  Ｓｔｄ  １０１４（ＶＭＥｂｕｓ）やＩＥＥＥ  Ｓｔｄ  １４９６（ＳＢｕｓ）などの規格により定められた電気信号を他のカード１と送受信するため、カードコネクタ２およびバックプレーンコネクタ８を経由しバックプレーンリジッド基板６ｂに接続される。カードコネクタ２とバックプレーンコネクタ８は、カード１とバックプレーンリジッド基板６ｂの電気的接続を果たすとともに、挿抜が容易にできるような機構的接続を果たす。バックプレーンリジッド基板６ｂは、上記規格により定められた電気信号をラック１１内に固定された複数のカード１で共有することができるように電気的配線のなされた、ガラスエポキシや紙エポキシ、紙フェノールなど機械的強度が十分ある材料で製造された基板（以後リジッド基板と呼ぶ）により構成されたバックプレーンである。カード１は、上記規格に沿った空間的配置（例えばカード間隔）を維持でき、かつ挿抜が可能なようにカード保持機構４ｂにより筺体３に固定される。また、バックプレーンリジッド基板６ｂは、カード着脱時にかかる力に耐えうるよう、バックプレーン保持部材５ｂにより筺体３に固定される。
【０００４】
図１２は従来の電子回路接続装置の試験状態を示すもので、１はカード、１１はラック、１２は伸長用カード、１３は測定用治具、１４は治具接続装置、１５は測定器具である。
【０００５】
従来の装置のラック１１を用いてカード１の試験・測定を行う場合、カード１に測定用治具１３を取り付け、所望の電子回路の電圧、電流および電圧または電流の変化などの電気的状態を調べる。測定用治具１３は、通常電線などの手段により電気的状態を伝送する治具接続装置１４を経て、測定器具１５に接続される。また、測定用治具１３の着脱、治具接続装置１４の配置を容易にするため、ラック１１に伸長用カード１２を挿入し、伸長用カード１２にカード１を装着し試験・測定を行うこともある。伸長用カード１２は、上記規格により定められた電気信号線の延長を目的とした電気配線を具備し、カード１をラック１１の外部に引き出して固定するための接続装置を有する試験用カードである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ラック１１に固定されるカード１を新規に開発する過程において、所望の動作が正常に動作し得るかどうかを試験する場合、あるいは動作に不具合が発生し、カード１の修理あるいは改良を行い、正常に動作するかどうかを試験する場合、対象となるカード１をラック１１に固定した状態で試験を実施する。とくに、初期の電気的な機能を確認するための試験では、対象となるカード１を構成する電子回路の様々な個所において、カード１を構成するそれぞれの電子回路が正しく機能しているかどうかを測定し、確認する事が主目的となる。このとき、カード１上の様々な個所に電子回路の動作を試験するための測定用治具１３を固定し、測定器具１５を用いて試験を行う。このため、対象となるカード１上は、測定用治具１３と、前記測定用治具１３から測定器具１５へ接続するための電線あるいは他の手段による治具接続装置１４に配設され、込み入った状態になる。
【０００７】
従来の装置では、カード１は上記規格に準拠したラック１１に固定された状態で試験を実施する。このラック１１は上記規格によって規定された間隔でカード１を固定するため、ラック１１に固定した状態のままカード１に測定用治具１３を着脱するのは通常困難である。このため、対象となるカード１を抜き出し、測定用治具１３の着脱を行い、再びラック１１に固定するという手順を踏む。この場合、測定用治具１３を装着した状態でのカード１の着脱は煩雑となるばかりか、着脱時の振動で測定用治具１３が剥離したり、カード１上の近接する他の回路と短絡したり、あるいは隣接する別のカード１に接触してしまうなどの問題が発生する。
【０００８】
また、従来の装置では、本来対象となるカード１を固定する位置に、電気的な接続をラック１１外部に延長するための伸長用カード１２を固定し、前記伸長用カード１２に対象となるカード１を固定し、測定用治具１３の着脱を容易にするという手段を講じることもある。この場合、対象となるカード１を一度伸長用カード１２に装着すれば測定用治具１３の着脱は容易であるが、複数のカード１を同時に試験する場合には、やはり隣接するカード１同士の間隔が狭いため前述のような問題が発生する。加えて、測定対象となるカード１だけ伸長用カード１２を挿入することにより、伸長用カード１２に装着しない他のカード１よりもバックプレーンリジッド基板６ｂとの配線距離が長くなるため、測定前の電気的特性と異なる条件での測定となり、正確な測定を行うことはできない。
【０００９】
本発明は、従来の装置では面倒であった試験・測定時の測定治具の着脱を容易に行い、カードとバックプレーン間の配線距離を一定に保つ電子回路接続装置である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明による電子回路接続装置は、筺体と、電子回路および第１のコネクタが配設された複数の第１の基板と、第２のコネクタが固定された複数の第２の基板、及びそれぞれの隣接する前記第２の基板間を接続するフレキシブル基板を有するバックプレーンと、前記第２コネクタに前記第１のコネクタが結合できるように前記第１の基板をガイドし、保持する保持機構と、前記保持機構を保持するとともに隣接する前記基板間に試験用のスペースを設けるよう、第１の基板の配列方向に前記保持機構をスライドさせるための手段を有し、前記筺体内に固定されたスライド機構とを備えたものである。
【００１５】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１を示す図であり、図において１は第１の基板であるカード、２は第１のコネクタであるカードコネクタ、３は筺体、４はガイド部材を有するカード保持機構、５は回転軸を有するバックプレーン保持機構、６はバックプレーン保持機構５によって支持され、第２の基板であるリジッド基板、７はベース材料に薄い耐熱性プラスティックフィルムを使用した柔軟性に富んだ基板であるフレキシブル基板、８は第２のコネクタであるバックプレーンコネクタ、９はガイドレール、１０は固定ネジであり、隣接する各リジッド基板６間をフレキシブル基板７で接続することによってバックプレーンを構成する。
【００１６】
カード１は、上記ガイド部材にガイドされてカード保持機構４に装着され、カード１上に配設されたカードコネクタ２を介し、バックプレーン保持機構５に固定されたバックプレーンコネクタ８と電気的に接続する。バックプレーンコネクタ８はリジッド基板６に固定され、他のカード１と電気的な接続を保つ。バックプレーン保持機構５は自身を回転軸とし、ガイドレール９に沿って扇状に回転移動ができ、固定ネジ１０を締めることにより固定する。固定ネジ１０を緩め、バックプレーン保持機構５をガイドレール９に沿って移動させることにより、カード保持機構４がカード１を保持しながら扇状に移動する。このとき、フレキシブル基板７が屈曲することにより、バックプレーン保持機構５の回転移動を妨げず、また電気配線に負荷をかけない。上記機構により、カード１をラックに装着したままカード１の間隔を広げることができるため、試験・測定において測定用治具の取り外しが容易になる。また、バックプレーン保持機構５を移動させても、カード１間の配線距離は常に一定である。
【００１７】
図２はこの発明の実施の形態１を示す図であり、図１に示した実施の形態１の上面視図である。カード保持機構４に固定されたカード１は図２のように移動させることにより、隣接するカード１同士を押し広げ、例えば規定された間隔ｄ1 よりも広いカード間隔ｄ2 にすることができるため、カードを装着した状態で試験用治具１３の着脱が可能となる。このとき、カード１間の接続はフレキシブル基板７により保たれ、カード１とバックプレーン間の配線距離も一定であるため、電気的特性を変化させずに試験・測定が可能である。
【００１８】
実施の形態２．
図３はこの発明の実施の形態２を示す図である。リジッド基板６はバックプレーンコネクタ８に接続され、隣接するリジッド基板６間をフレキシブル基板７が接続してバックプレーンを構成する。バックプレーンコネクタ８はカード保持機構４に固定され、カード１がカード保持機構４にガイドされてカード１上に配設されたカードコネクタ２とバックプレーンコネクタ８が結合され、バックプレーンと電気的・機構的に接続される。フレキシブル基板７が柔軟に屈曲することより、カード保持機構４は固定ネジ１０を緩めることによってカード１同士の電気的接続を維持しながら筺体３に貫設されたスライド機構であるガイドレール９に沿ってスライドすることができる。カード保持機構４の固定は固定ネジ１０を締めることにより可能であり、カード保持機構４に固定したまま、カード１全体を上記規格により規定されたカード間隔よりも広く配置することができる。
【００１９】
図４はこの発明の実施の形態２を示す図であり、図３に示した実施の形態２の上面視図である。カード保持機構４が図４に示すようにガイドレール９に沿って移動することにより、カード１間の電気的接続を維持したまま、カード間隔を規定された幅より広くできる。
【００２０】
実施の形態３．
図５はこの発明の実施の形態３を示す図である。ガイドレール９は筺体３に固定され、カード１の装着時にカード１をガイドし、保持するカード保持機構４はガイドレール９を把握したままスライドする。カード１はカード保持機構４により保持され、カードコネクタ２及びバックプレーンコネクタ８を介したまま、フレキシブルケーブル７ａが柔軟に屈曲することにより、バックプレーンであるリジッド基板６と電気的に接続された状態を保つ。リジッド基板６は、バックプレーン保持機構５により筺体３へ固定される。カード１はガイドレール９を把持したカード保持機構４により筺体３の外部へ露呈するため、カード１の裏表両方の試験・測定作業を容易に行える。
【００２１】
図６はこの発明の実施の形態３を示す図であり、図７に示した実施の形態３の上面視図である。カード保持機構４がガイドレール９を把持したままスライドすることにより、筺体３外へカード１全体を露呈させることができる。
【００２２】
実施の形態４．
図７はこの発明の実施の形態４を示す図である。カード１の装着時にカード１をガイドし、保持するカード保持機構４に固定されたバックプレーンコネクタ８は、フレキシブル基板７に電気的に接続される。筺体３にはカード１の挿抜方向に沿ってガイドレール９が貫設され、カード保持機構４は、カード１を保持したままガイドレール９に沿ってスライドする。リジッド基板６はバックプレーン保持機構５により筺体３に固定される。リジッド基板６とともにバックプレーンを構成するフレキシブル基板７が柔軟に屈曲することによりカード１、カード１に配設されたカードコネクタ２、カードコネクタ２と結合したバックプレーンコネクタ８、バックプレーンコネクタ８に接続したフレキシブル基板７とリジッド基板６間の電気的接続を保ったままカード１を筺体３外へ露呈させることができる。これにより、カード１に接合された様々な機器との接続ケーブルや治具を取り外すことなく、カード１を試験・測定することができる。
【００２３】
図８はこの発明の実施の形態４を示す図であり、図９に示した実施の形態４の上面視図である。カード保持機構４がガイドレールに沿ってスライドすることにより、カード１を筺体３から外へ移動させることができる。このときカード１はカードコネクタ２、バックプレーンコネクタ８、フレキシブル基板７、リジッド基板６によって、他のカード１との電気的接続が保たれる。
【００２４】
実施の形態５．
図９はこの発明の実施の形態５を示す図である。カード１はカード保持機構４のガイド部材にガイドされて装着され、保持されて、カード１に配設されたカードコネクタ２を経由してバックプレーンコネクタ８に接続する。バックプレーンコネクタ８はカード保持機構４に固定される。リジッド基板６はバックプレーン保持機構５により筺体３に固定される。カード保持機構４は筺体３内に、自身を回転軸とした回転機構を備え、カード１を保持したまま、筺体３外へカード１を露呈し得るよう回転可能である。カード１はカードコネクタ２、バックプレーンコネクタ８、リジッド基板６とともにバックプレーンを構成するフレキシブル基板７を経由してリジッド基板６と接続されるため、カード保持機構４が回転しても他のカード１との電気的接続は維持される。カード保持機構４が回転するとき、フレキシブル基板７は、カード保持機構４の回転軸に支えられるため、フレキシブル基板７を損傷することなく効果的に屈曲することができる。
【００２５】
図１０はこの発明の実施の形態５を示す図であり、この発明の実施の形態５を示す図９の上面視図である。カード１を保持したまま、筺体３内をカード保持機構４が回転することにより、電気的接続を保ったままカード１を筺体３外に露呈させることができる。
【００２６】
【発明の効果】
本発明によれば、第１の基板を挿抜することなく隣接する第１の基板間の間隔を広げることができ、第１の基板奥（第１のコネクタ近傍）の間隔も広げられるため、第１の基板全体にわたって測定用治具の着脱が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態１を示す図である。
【図２】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態１の上面視図である。
【図３】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態２を示す図である。
【図４】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態２の上面視図である。
【図５】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態３を示す図である。
【図６】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態３の上面視図である。
【図７】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態４を示す図である。
【図８】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態４の上面視図である。
【図９】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態５を示す図である。
【図１０】  この発明による電子回路接続装置の実施の形態５の上面視図である。
【図１１】  従来の電子回路接続装置を示す図である。
【図１２】  従来の電子回路接続装置の試験状態を示す図である。
【符号の説明】
１  カード、２  カードコネクタ、３  筺体、４  カード保持機構、４ｂ  カード保持機構、５  バックプレーン保持機構、５ｂ  バックプレーン保持部材、６  リジッド基板、６ｂ  バックプレーンリジッド基板、７  フレキシブル基板、７ａ  フレキシブルケーブル、８  バックプレーンコネクタ、９  ガイドレール、１０  固定ネジ、１１  ラック、１２  伸長用カード、１３  測定用治具、１４  治具接続装置、１５  測定器具。
【図１】
0003829395.tif 000002
【図２】
0003829395.tif 000003
【図３】
0003829395.tif 000004
【図４】
0003829395.tif 000005
【図５】
0003829395.tif 000006
【図６】
0003829395.tif 000007
【図７】
0003829395.tif 000008
【図８】
0003829395.tif 000009
【図９】
0003829395.tif 000010
【図１０】
0003829395.tif 000011
【図１１】
0003829395.tif 000012
【図１２】
0003829395.tif 000013