(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出し、前記複数の記録条件と、第１読み出し信号及び第２読み出し信号と、に基づき、第２トラックにおける最適記録条件を決定し、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする光記録方法。
【請求項２】
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接する第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出し、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とし、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする光記録方法。
【請求項３】
光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出し、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件である第１記録条件を求め、その第１記録条件に対して演算を加えることで、第１記録条件よりも小さな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とし、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする光記録方法。
【請求項４】
請求項１に記載の光記録方法において、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態に達しない場合には、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とすることを特徴とする光記録方法。
【請求項５】
光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出するとともに、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出する読み出し手段と、前記複数の記録条件と、第１読み出し信号及び第２読み出し信号と、に基づき、第２トラックにおける最適記録条件を決定する最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項６】
光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接する第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出する読み出し手段と、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とする最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光記録装置において、前記最適記録条件設定手段は、第２読み出し信号の振幅値から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる振幅値となる記録条件を第２記録条件とすることを特徴とする光記録装置。
【請求項８】
光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出する読み出し手段と、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件である第１記録条件を求め、その第１記録条件に対して演算を加えることで、第１記録条件よりも小さな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とする最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光記録装置において、前記最適記録条件設定手段は、第１読み出し信号の振幅値が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件を第１記録条件とすることを特徴とする光記録装置。
【請求項１０】
請求項５乃至請求項９のいずれかに記載の光記録装置において、前記読み出し手段が検出した読み出し信号からの検出量を正規化して、各トラック間の感度の相違を補正する正規化手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１１】
請求項７または請求項９に記載の光記録装置において、前記読み出し手段が検出した読み出し信号の信号量を、各読み出し信号の振幅の最大値で正規化する正規化手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１２】
請求項５乃至請求項１１のいずれかに記載の光記録装置において、周内方向の変動を補正すべく、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の検出量を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１３】
請求項７、９、１１のいずれかに記載の光記録装置において、前記記録手段が第１テストパターンを記録した後であって第２テストパターンを記録する前に、前記読み出し手段に第１トラックを再生させて周内変動正規化用信号を検出させ、該周内変動正規化用信号の信号振幅により、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の信号振幅を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１４】
請求項７、９、１１のいずれかに記載の光記録装置において、前記記録手段が第２テストパターンを記録する前に、前記記録手段に第２トラックに第１テストパターンと同一パターンである第３テストパターンを記録させるとともに、前記記録手段が第２テストパターンを記録する前に、前記読み出し手段に第１トラックと第２トラックの少なくとも一方を再生させて周内変動正規化用信号を検出させ、該周内変動正規化用信号の信号振幅により、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の信号振幅を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１５】
請求項５乃至請求項１４のいずれかに記載の光記録装置において、第１テストパターン及び第２テストパターンは２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）以上のマークとスペースとを組み合わせたパターンからなり、前記記録手段の記録する第１テストパターンと第２テストパターンが互いに対応するマーク及びスペースが隣接するように記録位置を補正する位置ずれ補正手段を具備することを特徴とする光記録装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の光記録装置において、前記記録手段は、第２テストパターンを記録する前に、第２トラックに第３テストパターンを記録し、前記位置ずれ補正手段は、第１テストパターンと第３テストパターンが互いに対応するマーク及びスペースが隣接するように記録位置を補正することを特徴とする光記録装置。
【請求項１７】
請求項５乃至請求項１６のいずれかに記載の光記録装置において、第１テストパターン及び第２テストパターンは、Ｔをチャネルビット長とし、Ｌを前記記録手段が第２テストパターンを記録する記録条件の範囲内で記録ビットの位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット数としたときに、（２＋Ｌ）・Ｔ以上のマークとスペースとを組み合わせたパターンからなることを特徴とする光記録装置。
【請求項１８】
請求項５乃至請求項１７に記載の光記録装置において、第１トラックはランドかグルーブのどちらか一方に形成されたトラックであり、第２トラックはその他方に形成されたトラックであることを特徴とする光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体に対して情報を記録する光記録方法及び光記録装置に関し、特に記録条件を安定に最適化することのできる光記録方法及び光記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクの高密度化の研究がますます盛んであるが、光ディスクに照射する光ビームの記録光量や、光磁気ディスクに印加する外部印加磁界の記録磁界強度などの記録条件が変化すると、記録マークの幅（トラックと直角な方向）が変動して一様な記録ができないため、高密度記録が困難であるという問題点があった。
【０００３】
この解決方法として、特開平１１−７３７００号公報に開示された記録光量および記録磁界強度の制御方法がある。この方法では、特定トラックに第１のテストパターンを記録した後、隣接するトラックに、第１のテストパターンを記録したときと同一の記録光量または記録磁界強度で第２のテストパターンを記録し、特定トラックを再生する。この再生信号の振幅レベルは、再生時におけるクロストークや、隣接するトラックからのクロスイレーズの影響を加味した振幅レベルとなるため、この再生信号の振幅レベルから最適な記録光量および記録磁界強度を設定できる。
【０００４】
また、特開平１０−６９６３９号公報にはランド・グルーブ記録を行う場合の記録方法について記載されている。ここでは、光記録媒体の所定トラック及びそれに隣接するトラックをまず消去する。次に、隣接トラックに記録パワーを変化させて所定の情報を記録する。続いて、上記所定トラックを再生して再生信号レベルを検出する。そしてその再生信号レベルと上記記録パワーとを関連付け、再生信号レベルが急激に増大する記録パワーを、上記所定トラックにおける最適な記録パワーに設定する。
【０００５】
なお、この特開平１０−６９６３９号公報の第５の実施の形態（００７１〜００７３段落）にはランド・グルーブの両方で最適記録パワーを求めることが記載されている。ここでは、例えばランドの記録パワーを求める際に、グルーブに対して信号を記録し、その後ランドを再生して再生信号レベルが急激に増大する記録パワーをランドの最適記録パワーとしている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記した特開平１１−７３７００号公報に記載の方法では、特定トラックへの最適な記録光量および記録磁界強度を設定するために、特定トラック（記録パワーの最適化を行うトラック）の再生時におけるクロストークを利用しているが、これは隣接するトラックでの記録動作により、特定トラックに与えられる影響を示しており、特定トラックでの記録動作が、隣接するトラックへ与える影響を示しているわけではない。
【０００７】
よって、特定トラックと隣接するトラックに記録感度差が存在すると、記録光量および記録磁界強度を最適に設定することができないという問題があった。
【０００８】
また、特開平１０−６９６３９号公報に記載の方法も、同様であり、隣接するトラックでの記録動作により特定トラック（記録パワーの最適化を行うトラック）に与えられる影響を特定トラックを再生することで検出し、これにより特定トラックでの最適な記録パワーを求めており、特定トラックと隣接するトラックに記録感度差が存在すると、記録光量および記録磁界強度を最適に設定することができない。
【０００９】
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであって、隣接するトラック間に記録感度の相違が存在する場合にも、記録マークの幅を最適に制御し、信号再生時のトラック間のクロストークや、信号記録時のクロスイレーズを最小に抑え、トラックの高密度化を実現できる、光記録方法および光記録装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
第１の発明の光記録方法は、光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出し、前記複数の記録条件と、第１読み出し信号及び第２読み出し信号と、に基づき、第２トラックにおける最適記録条件を決定し、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする。
【００１１】
第２の発明の光記録方法は、光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接する第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出し、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とし、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする。
【００１２】
第３の発明の光記録方法は、光記録媒体に情報を記録する光記録方法において、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で、光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録し、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを、複数の記録条件で記録し、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出し、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件である第１記録条件を求め、その第１記録条件に対して演算を加えることで、第１記録条件よりも小さな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とし、該最適記録条件で、第２トラックに情報を記録することを特徴とする。
【００１３】
第４の光記録方法は、第１の発明の光記録方法において、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態に達しない場合には、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とすることを特徴とする。
【００１４】
第５の発明の光記録装置は、光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出するとともに、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出する読み出し手段と、前記複数の記録条件と、第１読み出し信号及び第２読み出し信号と、に基づき、第２トラックにおける最適記録条件を決定する最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする。
【００１５】
第６の発明の光記録装置は、光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接する第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第２トラックを再生して第２読み出し信号を検出する読み出し手段と、第２読み出し信号から、隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる記録条件である第２記録条件を求め、その第２記録条件に対して演算を加えることで、第２記録条件よりも大きな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とする最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする。
【００１６】
第７の発明の光記録装置は、第６の発明の光記録装置において、前記最適記録条件設定手段は、第２読み出し信号の振幅値から隣接トラックへ滲み出さない記録マークを形成できる振幅値となる記録条件を第２記録条件とすることを特徴とする。
【００１７】
第８の発明の光記録装置は、光記録媒体に、少なくとも光ビームを照射して、情報を記録する光記録装置において、第２トラックへの記録条件を設定する際に、大きな記録マークを形成できる予め決められた記録条件で光記録媒体の第１トラックに第１テストパターンを記録するとともに、第１テストパターンの記録後に、第１トラックと隣接し、該第１トラックと記録感度が異なる第２トラックにおける第１テストパターンの記録領域に隣接する領域に、第２テストパターンを複数の記録条件で記録する記録手段と、前記複数の記録条件それぞれに対応して、第１トラックを再生して第１読み出し信号を検出する読み出し手段と、第１読み出し信号が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件である第１記録条件を求め、その第１記録条件に対して演算を加えることで、第１記録条件よりも小さな記録マークが形成できる記録条件を求めて最適記録条件とする最適記録条件設定手段と、を具備することを特徴とする。
【００１８】
第９の発明の光記録装置は、第８の発明の光記録装置において、前記最適記録条件設定手段は、第１読み出し信号の振幅値が、第２トラックの記録マークの滲み出しの影響を受けている状態となる記録条件を第１記録条件とすることを特徴とする。
【００１９】
第１０の発明の光記録装置は、第５の発明乃至第９の発明のいずれかの光記録装置において、前記読み出し手段が検出した読み出し信号からの検出量を正規化して、各トラック間の感度の相違を補正する正規化手段を具備することを特徴とする。
【００２０】
第１１の発明の光記録装置は、第７の発明または第９の発明の光記録装置において、前記読み出し手段が検出した読み出し信号の信号量を、各読み出し信号の振幅の最大値で正規化する正規化手段を具備することを特徴とする。
【００２１】
第１２の発明の光記録装置は、第５の発明乃至第１１の発明のいずれかの光記録装置において、周内方向の変動を補正すべく、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の検出量を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする。
【００２２】
第１３の発明の光記録装置は、第７、９、１１の発明のいずれかの光記録装置において、前記記録手段が第１テストパターンを記録した後であって第２テストパターンを記録する前に、前記読み出し手段に第１トラックを再生させて周内変動正規化用信号を検出させ、該周内変動正規化用信号の信号振幅により、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の信号振幅を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする。
【００２３】
第１４の発明の光記録装置は、第７、９、１１の発明のいずれかの光記録装置において、前記記録手段が第２テストパターンを記録する前に、前記記録手段に第２トラックに第１テストパターンと同一パターンである第３テストパターンを記録させるとともに、前記記録手段が第２テストパターンを記録する前に、前記読み出し手段に第１トラックと第２トラックの少なくとも一方を再生させて周内変動正規化用信号を検出させ、該周内変動正規化用信号の信号振幅により、第１読み出し信号と第２読み出し信号の少なくとも一方の信号振幅を正規化する周内変動正規化手段を具備することを特徴とする。
【００２４】
第１５の発明の光記録装置は、第５の発明乃至第１４の発明のいずれかの光記録装置において、第１テストパターン及び第２テストパターンは２Ｔ（Ｔはチャネルビット長）以上のマークとスペースとを組み合わせたパターンからなり、
前記記録手段の記録する第１テストパターンと第２テストパターンが互いに対応するマーク及びスペースが隣接するように記録位置を補正する位置ずれ補正手段を具備することを特徴とする。
【００２５】
第１６の発明の光記録装置は、第１５の発明の光記録装置において、前記記録手段は、第２テストパターンを記録する前に、第２トラックに第３テストパターンを記録し、前記位置ずれ補正手段は、第１テストパターンと第３テストパターンが互いに対応するマーク及びスペースが隣接するように記録位置を補正することを特徴とする。
【００２６】
第１７の発明の光記録装置は、第５の発明乃至第１６の発明のいずれかに記載の光記録装置において、第１テストパターン及び第２テストパターンは、Ｔをチャネルビット長とし、Ｌを前記記録手段が第２テストパターンを記録する記録条件の範囲内で記録ビットの位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット数としたときに、（２＋Ｌ）・Ｔ以上のマークとスペースとを組み合わせたパターンからなることを特徴とする。
【００２７】
第１８の発明の光記録装置は、第５の発明乃至第１７の発明に記載の光記録装置において、第１トラックはランドかグルーブのどちらか一方に形成されたトラックであり、第２トラックはその他方に形成されたトラックであることを特徴とする。
【００２８】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）
本発明の実施の一形態について、光磁気記録を例に挙げ、図１〜図３に基づいて説明する。尚、説明の便宜上、磁界変調記録における記録光量の最適化の場合について説明する。一方、記録磁界強度の最適化の方は、ほぼ同様に説明できるため最後に簡単に説明する。従って、以後は記録磁界強度を一定とし、記録光量を変化させながら最適な記録光量を求める場合を例にとって説明する。
【００２９】
本発明では、特定トラック上の記録マークの幅と、隣接トラックへ記録マークがどれだけ滲みだすかを読み出し信号量（再生信号量）で検出することにより、特定トラックでの記録マークの幅を最適化する。すなわち、最適な記録光量を求める。そして、その最適記録光量に基づき特定トラックに情報を記録する。ここで、記録光量の最適化は情報の記録動作を行うたびに実行することが望ましいが、これに限るものではなく、例えば、記録媒体を装置内に装填した際に実行しても良い。
【００３０】
なお、最適光量設定後の記録動作は一般に知られた動作と同様であるため、以下では本発明の特徴部分である最適光量の設定方法（装置）について説明する。
【００３１】
また、ここでは光磁気記録媒体の複数のトラックＴｒのうちのトラックＴｒ（ｎ）での最適な記録光量を求める場合について説明するが、勿論、他のトラックについても同様に求めることができる。記録光量の設定は各トラックにおいて少なくとも１回行うことが望ましいが、例えばランド，グルーブ記録の場合には、ランドとグルーブそれぞれにおいて少なくとも１回記録光量の設定を行えば、必ずしもすべてのトラックで行う必要はなく、複数トラック毎であっても良い。
【００３２】
まず、本実施の形態における特徴部分である記録光量の最適化の原理について一例に基づいて説明する。
【００３３】
（第１ステップ）
まず、図１（ａ）に示すように、光ビーム１で、隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）を消去する。光ビーム１は、それにより消去する消去領域２の幅がトラック幅よりも大きくなるような高めの光量に設定しておく。ここで、トラックＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋１）を消去するとは、隣接トラックＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋１）に、第１テストパターンとしての消去パターンを記録することと同義である。
【００３４】
なお、図１において、トラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）は、高密度トラックの方式として良く知られているランド／グルーブ記録においては例えばグルーブであり、トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）は例えばランドである。
【００３５】
（第２ステップ）
次に、同図（ｂ）に示すように、ある光量の光ビーム３（ここでは少ない光量）でＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に記録磁界を反転させながら、所定パターンの記録マーク４を形成する。
【００３６】
（第３ステップ）
次に、トラックＴｒ（ｎ）を読み出して読み出し信号（第２読み出し信号）５を検出する。図１（ｂ）では記録マーク４の幅は狭いため、上記読み出し信号５の振幅Ｖ１は小さくなる。
【００３７】
（第４ステップ）
続いて、トラックＴｒ（ｎ＋１）を読み出して読み出し信号（第１読み出し信号）６を検出する。図１（ｂ）では記録マーク４がトラック幅よりも広くなることはないため、記録マーク４の滲み出しはなく、読み出し信号６の振幅Ｖ２は０となる。
【００３８】
（第５ステップ）
上述の（第２ステップ）〜（第４ステップ）を、（第２ステップ）における記録光量を変化させて繰り返す。図１（ｃ）は、図１（ｂ）の場合よりも光量を増大させた光ビーム７により記録を行っており、記録マーク８の端部が略トラックの端部に接している。このとき、トラックＴｒ（ｎ）の読み出し信号９の振幅Ｖ３は大きくなるが、トラックＴｒ（ｎ＋１）への記録マーク８の滲みだしの影響がほとんど無いため、トラックＴｒ（ｎ＋１）の振幅Ｖ４は０のままである。図１（ｄ）はさらに光量を上げた場合（光ビーム１１）であり、トラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）の記録マーク１２の端部は隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）へ滲みだし、幅は広くなる。このため、トラックＴｒ（ｎ）より読み出された信号１３の振幅Ｖ５は大きく、トラックＴｒ（ｎ＋１）より読み出された信号１４の振幅Ｖ６も大きくなる。
【００３９】
（第６ステップ）
次に、上記したトラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号（具体的には振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１））と記録光量とを関連付ける。
【００４０】
図２は、図１（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）におけるトラックＴｒ（ｎ）・Ｔｒ（ｎ＋２）記録後の、トラックＴｒ（ｎ）の読み出し信号の振幅の変化Ｖ（ｎ）と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の読み出し信号の振幅の変化Ｖ（ｎ＋１）を、記録光量の増加に対してプロットしたものである。記録光量が低いとき（図１（ｂ））は信号振幅Ｖ（ｎ）、Ｖ（ｎ＋１）ともに小さい。ところが、記録光量の増加に伴って次第に記録マークの幅が広くなり、まずは信号振幅Ｖ（ｎ）が、そして次にＶ（ｎ＋１）が増加する。信号振幅Ｖ（ｎ）が大きいことはトラックＴｒ（ｎ）への記録マークの幅が広いことを意味しており、信号振幅Ｖ（ｎ＋１）が大きいことはトラックＴｒ（ｎ）への記録マークの幅が広くなりすぎ、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）への記録マークの滲み出しが大きいことを意味している。
【００４１】
したがって、信号振幅Ｖ（ｎ）が大きい条件（例えば、略最大値、最大値から所定割合以上、所定値以上などの条件）、及び、信号振幅Ｖ（ｎ＋１）が小さい条件（例えば略０、最大値から所定割合以下、所定値以下などの条件）を満たす記録光量を最適記録光量とすれば、適正な記録光量を得ることができる。
【００４２】
上記条件を満たす記録光量に範囲がある場合は、さまざまな誤差の影響に対して最も余裕をもつことができるよう、範囲の中心の記録光量を最適記録光量とすることが望ましい。
【００４３】
このように、本実施の形態によれば、記録光量を最適に制御することができる。また、磁界変調記録において記録光量が変化しても記録マークの長さは変化しないため、読み出し信号の変化を検出することにより記録マークの幅のみを最適化することができる。
【００４４】
図３は、図１に示した記録条件設定方法の具体的動作を説明するフローチャートである。これに基づき具体的処理を説明する。
【００４５】
まず、予め隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）とに、高い記録光量により消去パターンを記録する（Ｓ１）。この際の記録領域は、例えば予め決められた記録光量設定領域とする。記録光量を低い初期値にセットする（Ｓ２）。トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に、Ｓ２にてセットした記録光量でもってテストパターンを記録する（Ｓ３）。所定の再生光量にセットする（Ｓ４）。トラックＴｒ（ｎ）のテストパターンを読み出し、信号振幅を検出する（Ｓ５）。このときの記録光量と信号振幅を関連づけて記憶する（Ｓ６）。トラックＴｒ（ｎ＋１）を読み出し、信号振幅を検出する（Ｓ７）。このときの記録光量と信号振幅を関連づけて記憶する（Ｓ８）。記録光量を所定量だけ高くする（Ｓ９）。記録光量がテスト範囲を超えたか判断する（Ｓ１０）。Ｓ１０にて、記録光量がテスト範囲を越えていない場合は、Ｓ３に戻って、再びテストパターンを記録する。Ｓ９にて、記録光量がテスト範囲を越えた場合は、Ｓ６とＳ８で記憶した信号振幅の中から上述の条件を満たす記録光量の範囲を探す（Ｓ１１）。その範囲の中心の記録光量を最適記録光量に決定する（Ｓ１２）。
【００４６】
以上説明したように、本実施の形態ではトラックＴｒ（ｎ）の記録条件を設定するのに、振幅Ｖ（ｎ）を検知することでトラックＴｒ（ｎ）から充分な読み出し信号を得るための条件を得るとともに、振幅Ｖ（ｎ＋１）を検知することでトラックＴｒ（ｎ）から記録ビットが滲み出さない条件を得ているため、グルーブ／ランド記録のようなトラックＴｒ（ｎ）とトラックＴｒ（ｎ＋１）の記録感度が異なる場合にも正確に記録条件を得ることができる。
【００４７】
なお、本実施の形態の記録光量の最適化方法（制御方法）は、上記のものに限るものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記の（Ｓ１）の後、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）のそれぞれ異なる領域に複数の記録光量でテストパターンを記録し、その後、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋１）における上記複数のテストパターンのすべてを読み出して最適な記録条件を求めるようにしても良い。また、トラックＴｒ（ｎ）、トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号振幅の検出及びその振幅の記録光量との関連付けのステップは、当然ながら入れ替わっても構わない。
【００４８】
また、本実施の形態ではＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しているが、必ずしも必要ではない。但し、Ｔｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しておけば、読み出し信号振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）を増大させることができる。
【００４９】
また、ここでは記録光量の最適化（設定）について述べたが、記録磁界強度を最適化するときは、まず記録光量を一定にしておき、記録磁界強度を徐々に増加しながら、上記の動作を行うことにより、読み出し信号の振幅の変化によって、記録マークの幅を最適に制御することができる。
【００５０】
（実施の形態２）
本発明の他の実施の形態について、図４および図５に基づいて説明する。但し、実施の形態１と同様の部分については説明を省略または簡略化する。
【００５１】
実施の形態１で述べた方法は、トラックＴｒ（ｎ）の信号振幅の変化と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅の変化を検出し、それらに基づいて最適な光量を求めたが、この実施の形態１の方法では最適光量の設定が不可能になる場合がある。
【００５２】
図４は、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に記録マークを記録後の、トラックＴｒ（ｎ）の読み出し信号の振幅の変化Ｖ（ｎ）と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の読み出し信号の振幅の変化Ｖ（ｎ＋１）を、記録光量の増加に対してプロットしたものである。トラックＴｒ（ｎ）への記録光量が大きくなると、記録マークの幅が大きくなるため、まずは信号振幅Ｖ（ｎ）が増加していき、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）も、記録マークの滲みだしの影響を受けて増加していく。
【００５３】
しかしながら、記録マークの滲み出しの影響を受けていることを判定するための閾値として、所定の信号振幅Ａ０を設けているとき、レーザの記録光量の最大値に制限がある場合や、光記録媒体の記録感度にばらつきがある場合には、記録光量を最大としても、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅が信号振幅Ａ０まで増加しないことがある。実施の形態１では、このような場合に不具合が生じてしまう。
【００５４】
そこで、本実施の形態では、上述のような場合に、トラックＴｒ（ｎ）の信号振幅の変化Ｖ（ｎ）のみを用いて最適な光量を求める。以下に説明する。
【００５５】
図４を参照して、信号振幅の変化Ｖ（ｎ）で信号振幅が最大となる記録光量では、トラックＴｒ（ｎ）の幅よりも大きなマークを記録する可能性があるため、ここでは、信号振幅の最大値よりも少し小さい信号振幅Ａ１を与える記録光量Ｐｘを検出する。そして、その記録光量Ｐｘに記録マークが隣接トラックへ滲み出さない程度の所定の記録光量Ｐｙを加算することにより、トラックＴｒ（ｎ）への最適記録光量Ｐｚ（＝Ｐｘ＋Ｐｙ）を求める。
【００５６】
なお、ここではＰｘに所定値（Ｐｙ）を加算することにより最適な記録光量を求めたが、例えば所定係数を乗算する等の他の所定の演算を行うことによりも求めても良い。
【００５７】
図５は、上記した記録条件設定方法の動作を説明するフローチャートである。以下にこの動作を説明する。但し、ここでは、実施の形態１の図３のフローチャートのＳ１からＳ１０までは同様であるため省略している。
【００５８】
実施の形態のＳ１０に続いて、Ｓ８にて記憶された、テスト範囲内での最大記録光量における信号振幅が所定の信号振幅Ａ０より大きいかどうか判断する（Ｓ２０）。Ｓ２０にて、所定の信号振幅Ａ０を越えていない場合は、Ｓ６にて記憶された記録光量と信号振幅の中から、信号振幅Ａ１を与える記録光量を検出する（Ｓ２１）。Ｓ２１にて検出された記録光量に所定の記録光量を加算し、最適記録光量を決定する（Ｓ２２）。Ｓ２０にて、記所定の信号振幅Ａ０を越えている場合は、図３のＳ１１と同様、Ｓ６とＳ８で記憶した信号振幅の中から所定条件を満たす記録光量の範囲を探す（Ｓ２３）。その範囲の中心の記録光量を最適記録光量に決定する（Ｓ２４）。
【００５９】
以上説明したように、本実施の形態の記録条件設定方法によれば、レーザの記録光量の最大値に制限がある場合や、光記録媒体の記録感度にばらつきがある場合にも最適な記録条件を求めることができる。
【００６０】
なお、本実施の形態では、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）から記録光量の上限が求まらないときにトラックＴｒ（ｎ）の信号振幅Ｖ（ｎ）のみから最適記録光量を求めたが、はじめからトラックＴｒ（ｎ）の信号振幅Ｖ（ｎ）が所定値となったときの記録光量に対して所定の演算を加えることで最適な記録光量を求めても良い。この場合、記録条件の設定時間を短縮できる。
【００６１】
また、記録条件の設定時間を短縮するという観点からすれば、トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）が所定値となったときの記録光量に対して所定の演算（所定値の減算、所定係数の乗算など）を加えることで最適な記録光量を求めることも可能である。
【００６２】
なお、記録磁界強度を最適化するときは、まず記録光量を一定にしておき、記録磁界強度を徐々に増加しながら、上記の動作を行うことにより、読み出し信号の振幅の変化によって、記録マークの幅を最適に制御することができる。
【００６３】
（実施の形態３）
本発明の他の実施の形態について、図２、図６〜１３に基づいて説明する。但し、上述した各実施の形態と同様部分については説明を省略または簡略化する。
【００６４】
実施の形態１および２で述べた方法は、特定トラックの信号振幅の変化と、隣接トラックへの滲みだしを読み出した信号振幅の変化によって、簡便に記録マークの幅を制御する方法である。しかしながら、図２に示したトラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）の変化が小さいため、検出感度が低い。
【００６５】
そこで、本実施形態では、この信号振幅を大きく変化させ、高感度に最適記録光量を検出する方法について説明する。
【００６６】
図６（ａ）において、予め両隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）に高い記録光量の光ビーム２０により大きい（幅の広い）記録マーク２１（トラック幅よりも広い記録マーク）を記録する。このとき、後述する外部クロック方式の記録クロックに基づいて記録が行われる。この記録マーク２１の記録パターンは後述するトラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）に記録するパターンを反転したものである。以後、このトラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）に記録するパターンを反転パターン（第１テストパターン）、トラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）に記録するパターンを正転パターン（第２テストパターン）と呼ぶ。
【００６７】
次に、図６（ｂ）において、低い記録光量の光ビーム２２をトラックＴｒ（ｎ）に照射しながら、記録磁界を反転させ、正転パターンの記録マーク２３を記録する。このとき、後述する外部クロック方式の記録クロックに基づいて正転パターンが記録されるため、隣接トラックの反転パターンに同期して記録が行われる。隣接トラックの記録マーク２１の幅が広いときは、記録マーク２３の記録時にその端部が削られる。記録マーク２３の幅は狭いため、トラックＴｒ（ｎ）の読み出し信号２４の振幅Ｖ１０は小さい。さらに隣接トラックには反転パターンの記録マーク２１が記録されているため、再生時のクロストークにより、記録マーク２３の信号成分が打ち消され、信号振幅Ｖ１０はいっそう小さくなる。それに対し、記録マーク２１の幅が大きいため、トラックＴｒ（ｎ＋１）の読み出し信号２５の振幅Ｖ１１は大きい。
【００６８】
さて、徐々に記録光量を上げながら上記の動作を繰り返すと、記録マーク２３の幅は徐々に広がる。同図（ｃ）において、光ビーム２２よりも高い記録光量の光ビーム２６により、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に記録マーク２６が記録され、これを読み出すと振幅Ｖ１２の読み出し信号２８が、また隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）を読み出すと振幅Ｖ１３の読み出し信号２９が得られる。
【００６９】
記録光量を上げると、次第に記録マーク２１の端部は消去され、その幅は次第に狭くなる。さらに、隣接トラックの記録マークの幅が広くなり、クロストークが増大する。同図（ｄ）において、光ビーム２６よりも高い記録光量の光ビーム３０をトラックＴｒ（ｎ）・Ｔｒ（ｎ＋２）に照射しながら正転パターン記録すると、トラック幅よりも広い記録マーク３１が記録される。この読み出し信号３２の振幅Ｖ１４は大きくなる。このとき、記録マーク２１の端部は磁界変調記録によって消去され、その中央部分だけが残った記録マーク３２となる。記録マーク３２の幅は狭いため、読み出された信号３３の振幅Ｖ１５は低下する。さらに、隣接トラックの記録マーク３１からのクロストークにより、記録マーク３２の信号成分が打ち消され、信号振幅はいっそう小さくなる。つまり、高い記録光量のクロスイレーズによる信号振幅の減少は、隣接トラックの反転パターンのクロストークによってよりいっそう増幅される。
【００７０】
図６（ｂ），（ｃ），（ｄ）に示した読み出し信号の振幅を図７のＶ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）に示す。記録光量が低いときの信号振幅Ｖ（ｎ）をａ１、実施の形態１および２における信号振幅Ｖ（ｎ）をａ２とすると、ａ１はａ２よりもはるかに小さい。これは、正転パターンの記録マークの成分が隣接トラックの反転パターンからのクロストークによって打ち消されたためである。このとき、隣接トラックの反転パターンの信号振幅Ｖ（ｎ＋１）は大きい。そして、記録光量を上げるに従って記録マークの幅が広くなり、さらにクロストークも減少する。これにより、信号振幅 Ｖ（ｎ）は次第に増加する。さらに記録光量を上げると、次第に反転パターンの記録マークの端部が削られ、信号振幅Ｖ（ｎ＋１）は大きく減少する。
【００７１】
信号振幅Ｖ（ｎ）が大きく、かつ信号振幅Ｖ（ｎ＋１）も大きくなる記録光量では、トラックＴｒ（ｎ）の記録マークの幅は広く、さらに隣接トラックからのクロストークも小さい。よって、この条件を満たす記録光量を最適記録光量とすれば良い。具体的には、信号振幅Ｖ（ｎ）が例えば略最大値、最大値から所定割合以上、所定値以上などの条件を満たし、且つ、信号振幅Ｖ（ｎ＋１）が例えば略最大値、最大値から所定割合以上、所定値以上などの条件を満たす記録光量を最適記録光量とすれば良い。ここで、上記条件を満たす記録光量の範囲の中心を最適記録光量とすれば、マージンを大きく取ることができ、望ましい。
【００７２】
以上のように、隣接トラックに反転パターンを記録することにより、実施の形態１および２に比べて信号振幅の変化量が大きくなり、高感度で検出することが可能となる。
【００７３】
なお、マークの滲み出しの影響を受けていることを判定するための閾値として、図８に示すように、所定の信号振幅Ａ２を設けているとき、レーザの記録光量の最大値に制限がある場合や、光記録媒体の記録感度にばらつきがある場合には、記録光量を最大としても、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅が信号振幅Ａ２まで減少しないことがある。そのときには、トラックＴｒ（ｎ）の信号振幅の変化Ｖ（ｎ）のみを用いる。
【００７４】
信号振幅の変化Ｖ（ｎ）で信号振幅が最大となる記録光量では、トラックＴｒ（ｎ）の幅よりも大きなマークを記録する可能性があるため、図８のように信号振幅の最大値よりも少し小さい信号振幅Ａ３を与える記録光量を検出し、その記録光量Ｐｘに記録マークが隣接トラックへ滲み出さない程度の所定の記録光量Ｐｙを加算する（または所定係数を乗算する等の所定の演算を行う）ことにより、トラックＴｒ（ｎ）への最適記録光量Ｐｚを決定することができる。
【００７５】
なお、ここでは、Ｖ（ｎ＋１）が所定値Ａ２まで減少しない場合にＶ（ｎ）から最適信号光量を求めたが、はじめからＶ（ｎ）のみから求めるようにしても良い。
【００７６】
以上説明した本実施の形態ではＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しているが、必ずしも必要ではない。但し、Ｔｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しておけば、読み出し信号振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）を増大させることができる。
【００７７】
次に、図６に示した記録条件制御方法を行うための装置について、図９に基づいて説明する。
【００７８】
テストパターン記録時は、ＣＰＵ４６（最適記録条件設定手段）から制御命令ｃ３が記録光量設定回路５０に送られ、記録光量制御信号ｐ２が出力される。この記録光量制御信号ｐ２は、ＣＰＵ４６からのスイッチ命令ｃ２に基づいてスイッチ回路４８を介して駆動回路４７に送られる。この駆動回路４７から出力される駆動電流ｆにより、半導体レーザー４１から強いレーザービームｂ１が光磁気ディスク４０に照射される。同時に、ＣＰＵ４６からは制御命令ｃ４がテストパターン発生回路５３に送られ、図４に示した正転パターンと反転パターンの記録信号ｇが発生される。この記録信号ｇが駆動回路５２に送られると、駆動電流ｈによって磁気ヘッド５１から記録磁界が発生され、光磁気ディスク４０に正転パターンと反転パターンとが記録される。なお、この装置においてＣＰＵ４６、記録光量設定回路５０、テストパターン発生回路５３、駆動回路４７，５２、半導体レーザ４１、磁気ヘッド５１は記録手段を構成している。
【００７９】
次に、読み出し信号の振幅検出について説明する。ＣＰＵ４６からのスイッチ命令ｃ２により再生光量設定回路４９からの再生光量制御信号ｐ１がスイッチ回路４８を介して駆動回路４７に送られ、駆動電流ｆにより半導体レーザー４１から弱いレーザビームｂ１が 光磁気ディスク４０に照射される。反射光ｂ２はフォトダイオード４２へ導かれる。光磁気ディスク４０から読み出された読み出し信号ｒ１は増幅器４３によって増幅され、読み出し信号ｒ２がＡ／Ｄ変換器４４とクロック抽出回路４５とに入力される。クロック抽出回路４５は、再生信号ｒ２から後述する外部クロックｃを生成し、テストパターン発生回路５３に送る。これにより、正転パターンと隣接トラックの反転パターンとが同期して記録される。また、外部クロックｃはＡ／Ｄ変換器４４にも送られ、Ａ／Ｄ変換器４４にて読み出し信号ｒ２がディジタル値ｄに変換される。このディジタル値ｄはＣＰＵ４６に送られ、ＣＰＵ４６にて読み出し信号ｒ２の振幅が検出される。なお、この装置においてＣＰＵ４６、フォトダイオード４２、増幅器４３、Ａ／Ｄ変換器４４は、読み出し手段を構成している。
【００８０】
フォトダイオード４２、半導体レーザー４１、および、磁気ヘッド５１は破線で囲まれたピックアップ５５に備えられている。ＣＰＵ４６から、制御命令ｃ１がピックアップ駆動装置５４に送られると、図６に示したトラックＴｒ（ｎ）・Ｔｒ（ｎ＋２）、隣接トラックＴｒ（ｎ−１）・Ｔｒ（ｎ＋１）に光ビームｂ１を移動させて照射できるように、ピックアップ５５を駆動する。
【００８１】
ＣＰＵ４６は、制御命令ｃ３によって記録光量を順次増加させ、制御命令ｃ１によって所定のトラックに光ビームを移動しながら、制御命令ｃ４によって正転パターンを記録させる。また、ＣＰＵ４６は、制御命令ｃ２によって光ビームｂ１を再生光量に設定し、入力されるディジタル値ｄに基づいて読み出し信号ｒ２の信号振幅を検出する。そして、ＣＰＵ４６は、記録光量毎の信号振幅を順次記憶し、所定条件を満たす記録光量を最適な記録光量に決定する。
【００８２】
図１０（ａ）は、図９におけるクロック抽出回路４５を説明する図である。光磁気ディスク４０からの反射光ｂ２は、２分割フォトディテクタ４２ａに入力される。２つの出力信号ｒ２ａ・ｒ２ｂを、クロック抽出回路４５における差動増幅器４５ａに入力することにより、良く知られているプッシュプル方式のトラックエラー信号ｊを得る。このトラックエラー信号ｊには後述する基準マーク５８からの読み出し信号が含まれている。この基準マーク５８を検出するために、ヒステリシスコンパレータ４５ｂは、トラックエラー信号ｊと接地レベルとを比較し、基準マーク検出信号ｋを生成する。ヒステリシスコンパレータ４５ｂが、得られた基準マーク検出信号ｋをＰＬＬ回路４５ｃに入力することにより、基準マーク５８に同期した外部クロックｃが、ＰＬＬ回路４５ｃから出力される。
【００８３】
図１０（ｂ）および（ｃ）は、同図（ａ）におけるクロック抽出回路４５の動作を説明する波形図である。図１０（ｂ）において正転パターン、反転パターンは、ランド５９、グルーブ６０のそれぞれのトラックに記録される。ここでは説明の便宜上、トラックＴｒ（ｎ）をグルーブ６０、トラックＴｒ（ｎ−１）をランド５９とし、トラックＴｒ（ｎ＋１）・Ｔｒ（ｎ＋２）は省略する。トラックに沿った方向には、基準マーク５８とテストパターン記録領域５７とが交互に繰り返し配置され、テストパターン記録領域５７には、正転パターンや反転パターンの記録マーク５６が記録される。ランド５９とグルーブ６０とに挟まれた側壁６２を周期的に蛇行させることにより、光磁気ディスクの物理的な基準位置を示すための消去不可能な基準マーク５８が刻設されている。ランド５９とグルーブ６０とに挟まれた側壁６２のみ蛇行させ、反対の側壁６３と６４とを蛇行させないことにより、トラックの直角方向に隣接する基準マーク（図示せず）とのクロストークが低減される。テストパターン記録領域５７は、この基準マーク５８によって区切られた領域を単位として設けられている。
【００８４】
例えばグルーブ６０を光スポット６１でトラッキングすると、同図（ｃ）においてトラックエラー信号ｊには基準マーク５８からの読み出し信号が含まれる。これを２値化すると、基準マーク検出信号ｋが得られる。この信号をＰＬＬ回路４５ｃに入力することにより、基準マーク５８に同期した外部クロックｃが得られる。
【００８５】
なお、ここで示した装置は、本発明におけるすべての実施の形態の記録条件設定方法において使用できる。また、ここでは外部クロックを用いた装置について説明したが、これに限るものではなく、他の手段により生成されたクロックを用いても同様に実施することが可能である。
【００８６】
次に、図１１のフローチャートに基づき、本実施の形態の具体的な記録条件設定方法について説明する。
【００８７】
まず、予め隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）とに、高い記録光量により、反転パターンを記録する（Ｓ３０）。記録光量を低い初期値にセットする（Ｓ３１）。トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に、Ｓ３１にてセットした記録光量でもって正転パターンを記録する（Ｓ３２）。所定の再生光量にセットする（Ｓ３３）。トラックＴｒ（ｎ）の正転パターンを読み出し、信号振幅を検出する（Ｓ３４）。このときの記録光量と信号振幅を関連づけて記憶する（Ｓ３５）。トラックＴｒ（ｎ＋１）の反転パターンを読み出し、信号振幅を検出する（Ｓ３６）。このときの記録光量と信号振幅を関連づけて記憶する（Ｓ３７）。記録光量を所定量だけ高くする（Ｓ３８）。記録光量がテスト範囲を超えたか判断する（Ｓ３９）。
【００８８】
Ｓ３９にて、記録光量がテスト範囲を越えていない場合は、Ｓ３２に戻って、再び正転パターンを記録する。Ｓ３９にて、記録光量がテスト範囲を越えた場合は、Ｓ３７にて記憶された、テスト範囲内での最大記録光量における信号振幅が所定の信号振幅Ａ２より小さいかどうか判断する（Ｓ４０）。
【００８９】
Ｓ４０にて、所定の信号振幅Ａ２より小さくない場合は、Ｓ３５にて記憶された記録光量と信号振幅の中から、信号振幅Ａ３を与える記録光量を検出する（Ｓ４１）。Ｓ４１にて検出された記録光量に所定の記録光量を加算し、最適記録光量を決定する（Ｓ４２）。Ｓ４０にて、所定の信号振幅Ａ２より小さい場合は、Ｓ３５とＳ３６で記憶した信号振幅の中から所定条件を満たす記録光量の範囲を探す（Ｓ４３）。その範囲の中心の記録光量を最適記録光量に決定する（Ｓ４４）。
【００９０】
次に、図１２および１３を用いて、上述した正転パターンと反転パターンに使用する２種類の長さのマークおよびスペースを例に挙げて、信号振幅の変化の測定データを説明する。
【００９１】
図１２は、特開平１１−７３７００号公報に開示された記録光量および記録磁界強度の制御方法での記録光量に対する再生信号振幅の変化を示している。この方法では、まず、特定トラックの両隣接トラックに高い記録光量で反転パターンを記録したあと、特定トラックに所定の記録光量で正転パターンを記録し、さらに両隣接トラックに、特定トラックに記録したときと同一の記録光量で反転パターンを記録し、特定トラックを再生している。ここで、レーザー光源の波長は６３５ｎｍ、対物レンズの開口数は０．６、チャネルビット長（記録のための変調後のビット単位）Ｔは４７ｎｓである。マーク長およびスペース長が２Ｔ、４Ｔの場合に、記録光量に対する信号振幅の変化が検出できていることがわかる。つまり、マーク長およびスペース長が２Ｔ以上であれば、信号振幅の変化を検出することができる。
【００９２】
なお、信号振幅の変化を検出することができるマーク長、スペース長（＝２Ｔ）は、たとえばレーザ波長、対物レンズの開口数が変わった場合にも適用できる。即ち、２Ｔとなる。
【００９３】
図１３は、図１２と同じレーザー光源の波長、対物レンズの開口数、チャネルビット長にて測定した、記録光量の違いにより生じるトラック方向への記録マークの位置ずれを示している。これは、記録光量が大きくなるにつれて、光記録媒体上の温度が上昇する範囲が大きくなるため、マークが記録される位置は光スポットが進行する方向と逆の方向へずれることを示している。
【００９４】
したがって、図１３のように記録光量に対するトラック方向への記録マークの位置ずれのデータを記憶しておき、記録光量に対応して記録ビット位置ずれを補正する手段（位置ずれ補正手段）を設けることにより、反転パターンと正転パターンにおける対応する各マーク、スペースが略隣接するようにすることができ、マーク長およびスペース長が２Ｔ以上の長さであれば、信号振幅の変化に基づいて最適記録光量を検出することができる。この位置ずれを補正する手段としては、例えば図９においてクロック抽出回路４５からの外部クロックｃがテストパターン発生回路５３に入力する間に設けた、記録光量に応じて外部クロックｃの位相を変化させる手段が使用できる。なお、後述する実施の形態５における第３テストパターンについても、同様に位置ずれ補正手段を設けることで、トラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋１）等に記録する反転パターンの各マーク、スペースが略隣接するようにすることができる。
【００９５】
さらに、マーク長およびスペース長が、記録光量のテスト範囲内で記録ビット位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット長以上であれば、トラック方向への記録マーク長が大きいため、記録マークのほぼ中点では記録光量に対する記録位置のずれの影響がなく、記録マークのほぼ中点でサンプリングされる信号振幅を検出すれば、記録光量に対応して上記の記録ビット位置ずれを補正する手段を設けることなく、最適記録光量を検出することができる。
【００９６】
図１３において、トラックＴｒ（ｎ）がグルーブであり、記録光量８ｍＷから１３ｍＷがテスト範囲であり、最初に（第１ステップで）両隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）へ記録するための高い記録光量を１１ｍＷとすると、第１ステップでの隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）での記録位置は約４０ｎｓの位置であり、第３ステップでのトラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）の記録位置は記録光量８ｍＷで記録する際に約１３０ｎｓの位置となるため、約９０ｎｓの記録ビットの位置ずれが生じる。したがって、記録ビット位置ずれの影響を受けないためにはチャネルビット長２Ｔが必要である。また、記録光量１３ｍＷで記録する際にトラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋２）の記録位置は約３０ｎｓの位置となるため、記録光量８ｍＷとは反対側に約１０ｎｓの記録ビットの位置ずれが生じる。したがって、記録ビット位置ずれの影響を受けないためにはチャネルビット長１Ｔが必要である。
【００９７】
よって、全体としてチャネルビット長３Ｔが位置ずれの影響を受けないようにするのには必要である。
【００９８】
また、上述したように信号振幅の検出を行うのにはチャネルビット長２Ｔが必要であるから、図１３のような特性を有するときにトラックＴｒ（ｎ）がグルーブである場合、マーク長さ、スペース長さは２Ｔ＋３Ｔ＝５Ｔ以上であることが望ましい。
【００９９】
なお、ここではトラックＴｒ（ｎ）がグルーブである場合について述べたが、ランドである場合にも同様にして、マーク長、スペース長を位置ずれの影響のないように設定することが可能である。
【０１００】
また、グルーブとランドどちらの記録光量を設定する場合にも同じマーク長、スペース長を用いる場合には、光スポットが進行する方向及びその反対方向において最も大きな位置ずれ量をカバーできるようにマーク長、スペース長を設定することが望ましい。光磁気記録媒体が図１３のような特性を有し、記録光量８ｍＷから１３ｍＷがテスト範囲であり、最初に（第１ステップで）両隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）へ記録するための高い記録光量を１１ｍＷとすると、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）がランドのとき、グルーブ（トラックＴｒ（ｎ））への記録光量８ｍＷでの記録の際に約９０ｎｓの記録ビット位置ずれが生じ、記録ビット位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット長は２Ｔとなる。一方、隣接トラックをＴｒ（ｎ＋１）がグルーブのとき、ランド（トラックＴｒ（ｎ））への記録光量１３ｍＷでの記録の際に約５５ｎｓの記録ビット位置ずれが生じ、記録ビット位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット長は２Ｔとなる。よって、記録ビット位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット長は４Ｔ（＝２Ｔ＋２Ｔ）となる。したがって、マーク長およびスペース長は２Ｔ＋４Ｔ＝６Ｔ以上であることが望ましい。
【０１０１】
以上のように、正転パターンと反転パターンに使用する２種類の長さのマークおよびスペースが、記録条件の範囲内で記録ビットの位置ずれの影響を受けないために必要なチャネルビット長をＬ・Ｔとしたときに、（２＋Ｌ）・Ｔ以上であれば、記録光量に対応して記録ビット位置ずれを補正する手段を設けることなく、最適記録光量を検出することができる。
【０１０２】
なお、マーク長とスペース長とが異なる場合でも高い感度で最適値が得られるが、同じ長さの方が信号の直流成分をゼロとすることができ、信号振幅（交流成分）を検出する際に精度良く信号量を検出することができる。
【０１０３】
（実施の形態４）
本発明のさらに他の実施の形態について、図１４〜１６に基づいて説明する。但し、上述した各実施の形態と同様部分については説明を省略または簡略化する。
【０１０４】
実施の形態３で述べた方法は、隣接トラックに予め反転パターンを記録することにより、信号振幅の変化を高感度で検出する方法および装置であった。本実施形態例では、さらに感度を上げて信号振幅の変化を検出する方法について説明する。
【０１０５】
図１４（ａ）において、まず、事前にトラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に高い光量の光ビーム７０により、幅の広い（大きい）記録マーク７１を記録する。なお、このときの記録光量は、後述する消し残りが発生しさえすればよいので、過度に低い光量以外であればよいが、さらに望ましくは、通常よりも高めの光量を用いて、上述のように幅の広い記録マークを記録した方がよい。ただし、この記録マーク７１の記録パターンは、上述の反転パターン（第３テストパターン）である。
【０１０６】
図１４（ｂ）以降は、実施の形態３と同様である。つまり、図１４（ｂ）において、両隣接トラックＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋１）に高い記録光量の光ビーム２０により、幅の広い記録マーク２１（トラック幅よりも広い記録マーク）を記録する。この記録マーク２１の記録パターンは反転パターンである。これにより、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に予め記録されていた幅の広い記録マーク７１は、その端部が削られ、幅の狭い記録マーク７２となる。
【０１０７】
次に、図１４（ｃ）において、低い記録光量の光ビーム２２をトラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に照射しながら、正転パターンの記録マーク２３を記録する。このとき、トラックＴｒ（ｎ）に着目すると、図１４（ｂ）の反転パターン７２上に、正転パターン２３をオーバーライトしている。図１４（ｃ）において、記録光量が低い場合は、反転パターンの消し残りが発生しやすく、残った成分により正転パターンの信号振幅Ｖ（ｎ）は低下する。この低下量は、記録光量が低く、消し残りが大きいほど大きく、そして消し残りのパターンが反転パターンに近いほど大きくなる。
【０１０８】
ここで、図１５を用いて、正転パターンの信号振幅Ｖ（ｎ）の低下について説明する。トラックＴｒ（ｎ）に事前に反転パターンが記録されてない場合（実施の形態２）の信号振幅Ｖ（ｎ）は、実線ａ３で示すように、記録光量を上げるに従って次第に増加する。これに対して、トラックＴｒ（ｎ）に事前に反転パターンが記録されている場合には、記録光量が低いとき、同図中の破線ａ４で示すように、反転パターンの消し残りによって信号量がさらに減少する。これは、記録光量が低ければ低いほど、消し残りが大きくなり、信号振幅は大幅に減少することを示している。従って、本実施形態の方法では、トラックＴｒ（ｎ）に事前に反転パターンが記録されていない場合に比べて、信号振幅の変化量が大きくなり、さらに高い感度によって最適値を検出することができる。
【０１０９】
なお、隣接トラックＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋１）に反転パターンを記録せず、トラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）にのみ予め高い記録光量で反転パターンを記録しても、同じように信号振幅の変化量が大きくなるという効果が得られる。
【０１１０】
図１６は、図１４に示した記録条件制御の動作を説明するフローチャートである。まず、事前にトラックＴｒ（ｎ），Ｔｒ（ｎ＋２）に高い記録光量により、反転パターンを記録する（Ｓ５０）。以後は、図１１（実施の形態３）のフローチャートと全く同様であり、これによって、最適記録光量が決定される。
【０１１１】
なお、以上説明した本実施の形態ではＴｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しているが、必ずしも必要ではない。但し、Ｔｒ（ｎ−１），Ｔｒ（ｎ＋２）にテストパターン（消去パターンも含む）を記録しておけば、読み出し信号振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）を増大させることができる。
【０１１２】
（実施の形態５）
本発明のさらに他の実施の形態について、図１７に基づいて説明する。但し、上述した各実施の形態と同様部分については説明を省略または簡略化する。本実施の形態の方法では、トラックＴｒ（ｎ）の正転パターンと隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の反転パターンの信号振幅の最大値を求めて、それらを基準としてそれぞれの信号振幅の変化を正規化する（図９の装置ではＣＰＵ４６が正規化手段として正規化を行う）ことにより、同一の所定信号振幅をもとにして、所定条件を満たす記録光量の範囲を求めて、最適記録光量を決定する。
【０１１３】
トラックＴｒ（ｎ）と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）は、再生感度が異なることが十分考えられ、実施の形態３および４で述べられているそれぞれのトラックの信号振幅には信号レベルの違いが生じる。
【０１１４】
トラックＴｒ（ｎ）へ記録光量を増加させて記録していくと、記録光量が大きくなると記録マークの幅が大きくなり、信号振幅Ｖ（ｎ）はある程度の値に収束していく。これは、正転パターンの記録マークの幅が再生時の光スポットよりも大きくなったことを示している。一方、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）は、トラックＴｒ（ｎ）への記録光量が小さいときには、正転パターンの記録マークの幅が小さいため、マークの滲みだしの影響が生じない。そのため、信号振幅はある程度の値のままである。これも反転パターンの記録マークの幅が再生時の光スポットよりも大きいためである。
【０１１５】
これらの信号振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）の最大値は、感度の相違により信号レベルが異なるものの、光スポットのサイズと同じ大きさ、あるいはそれ以上の大きさの幅をもつ記録マークの信号振幅であるという意味で同一基準である。
【０１１６】
そのため、それぞれの信号振幅変化を、それぞれの最大信号振幅で正規化すれば、同一の所定信号振幅を判定基準として最適記録光量を検出することが可能となる。
【０１１７】
例えば、図１７のように、最大振幅値を１に正規化して、トラックＴｒ（ｎ）の信号振幅Ｖ（ｎ）がα１（０＜α１＜１）以上となる範囲の記録条件と、正規化された隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅Ｖ（ｎ＋１）がα１（０＜α１＜１）以上となる範囲の記録条件の、両方を満たす記録条件を選択することができる。ここで、記録光量のマージンを大きく取るには、その範囲の中心の記録光量を最適記録条件とすることが望ましい。
【０１１８】
（実施の形態６）
本発明のさらに他の実施の形態について、図１８に基づいて説明する。但し、上述した各実施の形態と同様部分については説明を省略または簡略化する。
【０１１９】
実施の形態３および４で述べた方法および装置は、トラックＴｒ（ｎ）の正転パターンの信号振幅と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の反転パターンの信号振幅の両方を検出するものであった。本実施形態では、処理の高速化のため、トラックＴｒ（ｎ）の記録条件を求めるのに隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅の変化のみを検出する方法について説明する。
【０１２０】
隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅の変化より、トラックＴｒ（ｎ）に記録された正転パターンのマークの滲みだしの影響を知ることができる。そのため、マークの滲みだしの影響が出てきた記録光量（例えば信号振幅Ｖ（ｎ＋１）が所定値Ａ４以下となった光量）を検出し、その記録光量Ｐｘに演算を加える（例えば、所定の記録光量Ｐｙを減算する（Ｐｘ−Ｐｙ）、所定係数を乗算するなど）により、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）にマークの滲み出しの影響を与えないトラックＴｒ（ｎ）への最適記録光量Ｐｚを決定することができる。
【０１２１】
なお、この方法では、トラックＴｒ（ｎ）に記録したパターンがそのトラックから滲みだすことの影響を、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）を読み出すことにより求め、その影響がない記録条件をトラックＴｒ（ｎ）の記録条件とするため、トラックＴｒ（ｎ）とＴｒ（ｎ＋１）とに記録感度の相違がある場合でも、トラックＴｒ（ｎ）の記録条件を正確に求めることができる。
【０１２２】
（実施の形態７）
本発明のさらに他の実施の形態について、図６，図１９に基づいて説明する。但し、上述した各実施の形態と同様部分については説明を省略または簡略化する。本実施の形態では、信号振幅に対するトラックの周内変動の影響を低減し、さらに感度を上げて信号振幅の変化を検出する方法について説明する。
【０１２３】
チルトや感度差等の影響を受け、トラックの同一周内でも信号振幅は同一であるとは限らない。例えば、図１９（ａ）のように、トラック周内でチルトが存在していると、トラックに同一の幅で記録されたマークを読み出しても、同図（ｂ）で示すように信号振幅に変動が生じる。本実施の形態は、この問題を解決するものである。実施の形態３（図６）に示した記録条件の設定方法を基にして説明する。
【０１２４】
ここでは、予め両隣接トラックＴｒ（ｎ−１）とＴｒ（ｎ＋１）に高い記録光量の光ビーム２０により幅の広い反転パターン２１を記録した後に、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を検出し、トラック位置に対応させて記憶する。そして、その後に、トラックＴｒ（ｎ）に所定の記録光量で正転パターンを記録し、トラックＴｒ（ｎ），隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を検出する。
【０１２５】
このように、トラックＴｒ（ｎ）に正転パターンを記録する前に隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を検出しておけば、その信号振幅を用いて、正転パターンを記録後のトラックＴｒ（ｎ），隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅をトラック位置に対応させて正規化（周方向位置の相違を補正するための正規化）することができる（図９の装置ではＣＰＵ４６が周内変動正規化手段として正規化する）。そして、記録条件を変える度に正規化を行うことで、信号振幅に対するトラックの周内変動の影響を低減し、さらに感度を上げて信号振幅の変化を検出することが可能となる。
【０１２６】
なお、上記正規化は、例えば、各記録光量設定領域毎の隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅の平均値によって行うことができる。すなわち、まず、予め記録光量設定領域内における反転パターン２１に対応する隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を求め、記録光量設定領域内での振幅値の平均値を求めておき、そして、その平均値により、トラックＴｒ（ｎ）に正転パターンを記録した後のトラックＴｒ（ｎ），隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を正規化する。
【０１２７】
なお、本実施の形態はチルト等に起因する周方向の振幅変動を抑制するものであり、上述のように、正転パターン記録前の隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）からの信号振幅を用いて、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅のみならず、トラックＴｒ（ｎ）の信号振幅の正規化をも行っても、チルト等に起因する周方向の振幅変動が隣接トラック間（例えばランド、グルーブ間）で略同様であるから、問題はない。
【０１２８】
本実施の形態の手法を実施の形態４に適用する場合には、トラックＴｒ（ｎ）に記録した反転パターン（第３テストパターン）からの読み出し信号の信号振幅を用いて、所定の記録条件で正転パターンを記録した後の、トラックＴｒ（ｎ）と隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅を正規化してもよいし、トラックＴｒ（ｎ）に記録した反転パターン（第３テストパターン）からの読み出し信号の信号振幅を用いて正転パターンを記録したあとのトラックＴｒ（ｎ）の信号振幅の正規化を行い、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）に記録した反転パターンからの読み出し信号の信号振幅を用いて正転パターンを記録したあとの隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）の信号振幅の正規化を行ってもよい。
【０１２９】
また、本実施の形態の手法は上述の実施の形態５にも適用できる。この場合、本実施の形態による周方向の振動振幅の変動を抑制するための正規化と、隣接トラック間の感度の相違を補正するための正規化の２種類の正規化が行われることになる。
【０１３０】
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこの実施形態に限定されるものではなく、例えば、記録磁界強度の最適化にも適用できる。また、磁界変調記録を例に挙げて説明したが、光変調記録においても同様に記録マークの幅の変化を信号振幅によって検出できるため、高感度で記録光量の最適値を求めることができる。
【０１３１】
また、セクタ毎に記録条件を変化させ、最適記録光量を求めることができる。
【０１３２】
また、１セクタ内に複数の記録条件を与えることにより、最適記録光量を求めることができる。
【０１３３】
なお、以上の実施の形態では、特定トラックＴｒ（ｎ）からの読み出し信号（第２読み出し信号）、隣接トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号（第１読み出し信号）の少なくとも一方の振幅値を求め、それに基づいて最適記録光量を求めたが、本発明は振幅値に限るものではなく、第２読み出し信号、第１読み出し信号が所定の状態となる条件（例えば、第２読み出し信号、第１読み出し信号のジッタやエラーレートが所定の状態となる条件）を求め、それに基づいて最適記録光量を求めても構わない。
【０１３４】
例えば、▲１▼図６や図１４に示したような第１テストパターン、第２テストパターンを記録し、第２読み出し信号のジッタが小さく（またはエラーレートが小さく）、且つ、第１読み出し信号のジッタが小さく（エラーレートが小さく）なる条件を最適記録条件とする方法、▲２▼図６や図１４に示したような第１テストパターン、第２テストパターンを記録し、第２読み出し信号のジッタが所望の値（例えば１０％〜２０％程度の値）となる（またはエラーレートが所望の値（例えば１０-4〜１０-3程度の値）となる）記録条件に対して所定の演算を行い、その記録条件よりも大きな記録マークを形成できる条件を最適記録条件とする方法、▲３▼図６や図１４に示したような第１テストパターン、第２テストパターンを記録し、第１読み出し信号のジッタが所定の値（例えば１０％〜２０％程度の値）となる（またはエラーレートが所定の値（例えば１０-4〜１０-3程度の値）となる）記録条件に対して所定の演算を行い、その記録条件よりも小さな記録マークを形成できる条件を最適記録条件とする方法、等により最適記録条件を求めることができる。また、図１に示したような第１テストパターン、第２テストパターンを記録した場合にも、同様に、第２読み出し信号、第１読み出し信号の少なくとも一方のジッタやエラーレートに基づき最適記録条件を求めることができる。
【０１３５】
また、上述の実施の形態では最適記録条件を求めるために読み出し信号の振幅を用いていたため、実施の形態５で述べた正規化や、実施の形態７で述べた周方向の正規化においても読み出し信号の振幅値によって正規化を実行していたが、本発明はこれに限るものではなく、ジッタやエラーレートなどのような読み出し信号からの検出量によっても正規化を実行することができる。
【０１３６】
また、ここでは、外部クロック抽出のための基準マークとして、ランドとグルーブとに挟まれた側壁を用いているが、基準マークとして事前に光記録媒体に記録された形態であればよい。
【０１３７】
なお、以上の実施の形態では、外部クロック抽出にプッシュプル信号を用いているが、タンジェンシャルプッシュプル信号やＲＦ和信号等、基準マークを検出できる信号であれば、いずれでもよい。
【０１３８】
また、上記実施の形態１，２では第１テストパターンとして消去パターンを使用したがこれに限るものではない。また、実施の形態３〜７では第１テストパターンとして反転パターンを、第２テストパターンとして正転パターンを、第３テストパターンとして反転パターンを用いたが、本発明はこれに限るものではなく、少なくとも第１テストパターンと第２テストパターンが異なっていれば良い。
【０１３９】
なお、以上のすべての実施の形態の説明は、光磁気記録を対象としていたが、これに限らず、相変化記録等の他の光記録媒体においても同様に実施することが可能である。
【０１４０】
【発明の効果】
本発明の光記録方法、光記録装置の一形態は、特定トラックにおける最適化記録条件を、その特定トラックに複数の記録条件でテストパターンを記録し、その特定トラックからの再生信号及び隣接記録トラックからの再生信号に基づいて設定する。ここでは、記録条件を設定したい特定トラックに実際に記録を行い、その特定トラックからの再生信号に基づき充分な再生信号が得られる条件を求めるとともに、さらに隣接トラックからの再生信号によりクロストークの生じない条件を求めるため、隣接するトラック間に記録感度の相違が生じていたとしても適切な記録条件を求めることが可能となる。その結果、信号再生時のトラック間のクロストークや、信号記録時の隣接トラックへのクロスイレーズを最小に抑えて、トラック密度の高密度化を実現することができる。
【０１４１】
本発明の光記録方法、光記録装置の他の一形態は、特定トラックにおける最適化記録条件を、その特定トラックに複数の記録条件でテストパターンを記録し、その特定トラックからの再生信号が所定の状態となる記録条件に演算を行うことで設定する。ここでは、記録条件を設定したい特定トラックに実際に記録を行い、その特定トラックからの再生信号に基づいて充分な再生信号が得られる条件を求めるため、隣接するトラック間に記録感度の相違が生じていたとしても適切な記録条件を求めることが可能となる。その結果、信号再生時のトラック間のクロストークや、信号記録時の隣接トラックへのクロスイレーズを最小に抑えて、トラック密度の高密度化を実現することができる。
【０１４２】
本発明の光記録方法、光記録装置の他の一形態は、特定トラックにおける最適化記録条件を、その特定トラックに複数の記録条件でテストパターンを記録し、隣接トラックからの再生信号が所定の状態となる記録条件に演算を行うことで設定する。ここでは、記録条件を設定したい特定トラックに実際に記録を行い、隣接トラックからの再生信号に基づいて充分な再生信号が得られる条件を求めるため、隣接するトラック間に記録感度の相違が生じていたとしても適切な記録条件を求めることが可能となる。その結果、信号再生時のトラック間のクロストークや、信号記録時の隣接トラックへのクロスイレーズを最小に抑えて、トラック密度の高密度化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施の形態１における記録条件を制御する方法を説明する図である。
【図２】実施の形態１におけるトラックＴｒ（ｎ）、トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号の信号振幅を示す図である。
【図３】実施の形態１における記録条件を制御する方法を説明するフロー図である。
【図４】実施の形態２におけるトラックＴｒ（ｎ）、トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号の信号振幅を説明する図である。
【図５】実施の形態２における記録条件を制御する方法を説明するフロー図である。
【図６】実施の形態３における記録条件を制御する方法を説明する図である。
【図７】実施の形態３におけるトラックＴｒ（ｎ）、トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号の信号振幅を示す図である。
【図８】実施の形態３におけるトラックＴｒ（ｎ）、トラックＴｒ（ｎ＋１）からの読み出し信号の信号振幅の他の例を示す図である。
【図９】本発明における記録条件を制御する装置の構成例を示す図である。
【図１０】図９におけるクロック抽出回路の動作を説明する図である。
【図１１】実施の形態３における記録条件を制御する方法を説明するフロー図である。
【図１２】記録光量に対する再生信号振幅の変化を説明する図である。
【図１３】隣接するトラック間での記録位置のずれを説明する図である。
【図１４】実施の形態４における記録条件を制御する方法を説明する図である。
【図１５】実施の形態４におけるトラックＴｒ（ｎ）の信号振幅Ｖ（ｎ）を説明する図である。
【図１６】実施の形態４における記録条件を制御する方法を説明するフロー図である。
【図１７】実施の形態５における正規化された信号振幅Ｖ（ｎ），Ｖ（ｎ＋１）を説明する図である。
【図１８】実施の形態６における記録条件を制御する方法を説明するための、信号振幅Ｖ（ｎ＋１）の記録光量依存性を示す図である。
【図１９】周内での信号振幅変動を説明する図である。
【符号の説明】
１、２０  隣接トラックに照射する光ビーム
２  消去パターンの記録マーク
２１  隣接トラックの反転パターンの記録マーク
３、２２  低い記録光量の光ビーム
４、８、１２  特定トラックの記録マーク
７、２６  適切な記録光量の光ビーム
１１、３０  高い記録光量の光ビーム
２３、２７、３１  正転パターンの記録マーク
４０  光磁気ディスク
４１  半導体レーザー
４２  フォトダイオード
４４  Ａ／Ｄ変換器
４５  クロック抽出回路
４６  ＣＰＵ
５０  記録光量設定回路
５１  磁気ヘッド
５３  テストパターン発生回路
５８  基準マーク
６１  光スポット
【図１】
0003836313.tif 000002
【図２】
0003836313.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
0003836313.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
0003836313.tif 000014
【図１４】
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【図１５】
0003836313.tif 000016
【図１６】
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【図１７】
0003836313.tif 000018
【図１８】
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【図１９】
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