(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体にピークレベル、バイアスレベルを有する記録パルスに相応するレーザー信号を照射することによりマーク／スペースを形成する方法において、
前記ピークレベル時に、前記ピークレベルより小さい振幅を有する微細調整パルスを重畳させた記録パルスを用いて前記光記録媒体にマーク／スペースを形成する段階を備え、
前記光記録媒体にマーク／スペースを形成する段階は、
メディアの種類に応じて前記微細調整パルスを適用する基準レベルを決定する第１過程と、
前記微細調整パルスを重畳させるレベル（重畳レベル）を決定する第２過程と、
前記微細調整パルスの波形及び振幅を決定する第３過程と、
前記第３過程で決定された波形及び振幅を有する前記微細調整パルスを前記第１過程で決定された基準レベル及び前記第２過程で決定された重畳レベルに応じて重畳した記録パルスを発生する第４過程と、
前記記録パルスにより光ディスク上にマーク／スペースを形成する第５過程と、を含むことを特徴とする記録方法。
【請求項２】
前記微細調整パルスの波形は光記録媒体の種類によって決定されることを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項３】
前記微細調整パルスの周期は光記録媒体の種類によって決定されることを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項４】
前記微細調整パルスは、記録パルスのオーバードライブ区間あるいは第１パルス区間は除いて重畳されることを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項５】
前記微細調整パルスを構成するパルスの数は、ピークレベルあるいはバイアスレベルが区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じか小さいことを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項６】
バイアスレベルにも前記微細調整パルスを重畳させることを特徴とする請求項１に記載の記録方法。
【請求項７】
光記録媒体にピークレベル、バイアスレベルを有する記録パルスに相応するレーザー信号を照射することによりマーク／スペースを形成する光記録装置において、
ピークレベル時及びバイアスレベル時に、前記ピークレベルより小さい振幅を有する微細調整パルスを重畳させた記録パルスを発生する記録パルス発生部であって、メディアの種類に応じて微細調整パルスを適用する基準レベルを決定し、前記微細調整パルスを重畳させるレベル（重畳レベル）を決定し、前記微細調整パルスの波形及び振幅を決定し、前記波形及び振幅を有する微細調整パルスを前記基準レベル及び前記重畳レベルに応じて重畳した記録パルスを発生する記録パルス発生部と、
前記記録パルス発生部から発生された記録パルスによって前記光ディスクに照射されるレーザー信号を発生するレーザーダイオードと、を含むことを特徴とする光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光記録媒体の記録方法及び装置に係り、光ディスクの高密度化及び記録速度の高速化に対応する改善された記録方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクにデータを記録するということは、光ディスクに形成されたトラックにマーク／スペースを形成することを意味する。ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどの読取専用ディスクの場合、マークはピットで形成される。ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／ＲＡＭなど記録可能ディスクの場合、マークは温度に応じて結晶質または非晶質に変化される相変化型記録膜または温度に応じて光透過率が変化される有機色素が塗布された記録膜にレーザー信号を照射することにより形成される。
【０００３】
信号検出の観点で光ディスクのデータ記録方式は、マークエッジ記録方式及びマークポジション記録方式とに分けられる。マークポジション記録方式によれば検出されたＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号の極性がマークが記録された位置で反転され、マークエッジ記録方式によればマークの両端で反転される。したがって、マークのエッジを正確に記録するのは再生信号の品質を高めるのに重要な要素となる。
【０００４】
しかし、相変化膜が塗布されたディスクの場合、従来の記録方法によって記録されたマークの立下り区間（Ｔｒａｉｌｉｎｇ  Ｅｄｇｅ）を観察すれば、マーク長またはマーク間の間隔、すなわちスペースの長さに応じてその形が変わることが分かる。換言すれば、マークの立下り区間がマークの立上り区間（Ｌｅａｄｉｎｇ  Ｅｄｇｅ）に比べて大きく形成されて記録／再生特性を低下させている。記録マーク長が相対的に長い場合には熱蓄積によりさらに低下される。このような現象をティアドロップ（ｔｅａｒ  ｄｒｏｐ）と称し、記録信号のジッタ特性に相当な影響を与える。
【０００５】
このようなティアドロップ現象を防止するために、記録マークが複数のパルスで構成されるマルチパルスで記録する方法が、アメリカ特許第６，２３３，２１１号（２００１年５月１５日登録）、第６，２１２，１４２号（２００１年４月３日登録）に開示されている。しかし、記録速度が高速化し、記録密度も高密度化する傾向を考慮する際、一層効果的な記録方法が要求されている。
【０００６】
例えば、光ディスクへの記録において記録速度により影響を受ける。現在ＣＤ−Ｒ用の場合、２４倍速の記録を支援するものが販売されており、ＤＶＤ用の場合、４倍速の記録を支援するものがまもなく実用化されると予想されている。
記録速度が速いということは、同じ長さのマークを形成するのにかかる時間が記録速度に反比例して短くなるということを意味する。これにより、高出力のレーザーダイオードを用いるか、向上された記録パルスが必要である。
【０００７】
また、光ディスクへの記録において高密度により影響を受ける。ＨＤ−ＤＶＤの場合、現在４．７Ｇｂｙｔｅ（単面、単層時）が実用化され、２３Ｇｂｙｔｅ（単面、単層時）、５０Ｇｂｙｔｅなどが研究されている。記録密度が高まるということは、トラックピッチが狭くなるか、最小マーク長が短くなるということを意味する。これにより、クロスイレーズが誘発されるか、マーク間の干渉が増加するためにさらに精巧な記録制御が要求される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする技術的な課題は、記録マークの歪曲を抑制してジッタ特性を改善し、高倍速及び高密度化に適した記録波形でデータを記録する方法及びその装置を提供するところにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記技術的な課題を達成するために本発明に係る記録方法は、光記録媒体にピークレベル、バイアスレベルを有する記録パルスに相応するレーザー信号を照射することによりマーク／スペースを形成する方法において、前記ピークレベル時に、前記ピークレベルより小さい振幅を有する微細調整パルスを重畳させた記録パルスを用いて光記録媒体にマーク／スペースを形成することを特徴とする。
【００１０】
ここで、前記微細調整パルスの波形、振幅、周期は光記録媒体によって決定されることが望ましい。
また、微細調整パルスは、記録パルスのオーバードライブ区間あるいは第１パルス区間は除いて重畳されることが望ましい。
また、前記微細調整パルスを構成するパルスの数は、ピークレベルあるいはバイアスレベルが区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じか小さいことが望ましい。
【００１１】
前記技術的な課題を達成するために本発明に係る記録装置は、光記録媒体にピークレベル、バイアスレベルを有する記録パルスに相応するレーザー信号を照射することによりマーク／スペースを形成する光記録装置において、ピークレベル時及びバイアスレベル時に、前記ピークレベルより小さい振幅を有する微細調整パルスを重畳させた記録パルスを発生する記録パルス発生部と、前記記録パルス発生部から発生された記録パルスによって前記光ディスクに照射されるレーザー信号を発生するレーザーダイオードとを含むことを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき、本発明の構成及び動作を詳細に説明する。
図１は、従来の記録方式による記録パルスを示す波形図であって、本出願人によって出願された２０００年１２月１５日に公開された日本国特開平１２−３４８３４９号に開示されている。
図１を参照すれば、６Ｔと８ＴのＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）データ（ａ）を記録するための多様な記録パルス（ｂ）〜（ｇ）が示されている。記録パルス（ｂ）は、ＣＤ−ＲＷ  Ｔｙｐｅ（相変化型ディスク）のためのものであり、記録パルス（ｃ）及び（ｄ）はＣＤ−ＲＷ  Ｔｙｐｅ１，２（有機色素ディスク）のためのものであり、記録パルス（ｅ）はＤＶＤ−ＲＡＭのためのものであり、記録パルス（ｆ）はＤＶＤ−Ｒのためのものであり、そして（ｇ）はＤＶＤ−Ｒで新たに議論されているものである。ここで、Ｔは基準クロックの周期を意味する。
【００１３】
図１の（ｄ）に示されたようにＣＤ−ＲＷ  Ｔｙｐｅ２は、ＣＤ−ＲＷ  Ｔｙｐｅ１に比べてオーバードライブ区間（Ｔｏｖｅｒｄｒｉｖｅ；Ｔｏｄ）を有することを特徴とする。オーバードライブ区間は、１．５Ｔ前後に可変され、そのレベルはピークレベルより約２０％程度前後に可変される。
図１の（ｇ）に示されたようにｎｅｗ  ｔｙｐｅは２つのオーバードライブ区間Ｔｏｄ１、Ｔｏｄ２を有することを特徴とする。
【００１４】
マークエッジ記録方式によれば、ＮＲＺＩデータのハイレバルはマークで記録され、ローレベルはスペースで形成される。
相変化型光ディスクにドメイン（マークに相応する概念として相変化型ディスク上で結晶質が形成される領域）を形成するために、図１（ｅ）の区間Ａに示されたようにマルチパルスを用いて、各パルスのパワーレベルをＰｐｅａｋ、Ｐｂ１、Ｐｂ２及びＰｂ３の４つのレベルに調節する。
【００１５】
このように相変化型光ディスクでマルチパルスを使用する理由は、熱集積によりドメインがディスクのラジアル方向あるいはディスクのタンゼンシャル方向への歪曲を防止するためのものである。
これに比べて有機色素光ディスクにドメインを形成するために図１（ｄ）の区間Ａに示されたように単一パルスを用いて、各パルスのパワーレベルをＰオーバードライブ、Ｐピーク、Ｐバイアスの３種レベルに調節する。有機色素光ディスクで単一パルスを使用する理由は相変化型光ディスクでより高い熱を必要とするからである。
【００１６】
しかし、記録速度が高まって記録マークを形成するための時間が短くなりつつ相変化型光ディスクでも有機色素光ディスクでのように単一パルスを使用する場合もある。
図２は、ＤＶＤ−ＲＡＭにおいてデータを記録するために使用する記録パルスを詳細に示す。２．６ＧＢ  ＤＶＤ−ＲＡＭ標準案によれば、マークを形成するための記録パルスは第１パルス、マルチパルス列、ラストパルス、そしてクーリングパルスよりなる。記録マーク長によって最初パルスと最後パルスとは変わらず、マルチパルス列のパルス数だけが変わる。マルチパルスのパワーレベルはＰｐｅａｋ（ｐｏｗｅｒ  ｏｆ  ｐｅａｋ）、Ｐｂ１（ｐｏｗｅｒ  ｏｆ  ｂｉａｓ１  ｏｒ  ｅｒａｓｅ）、Ｐｂ２（ｐｏｗｅｒ  ｏｆ  ｂｉａｓ２  ｏｒ  ｃｏｏｌｉｎｇ）及びＰｂ３（ｐｏｗｅｒ  ｏｆ  ｂｉａｓ３  ｏｒ  ｂｏｔｔｏｍ）の４つのレベルのうち１つとなる。
【００１７】
第１パルス（図２の区間Ａ）は記録マークの立上り区間を形成するためのものである。第１パルスは、ピークレベルＰｐｅａｋを有する。ここで、ピークレベルＰｐｅａｋは相変化型記録膜を液晶状態に作るのに適した温度を生じるためのレーザー信号のパワーに相当する。第１パルスが印加される区間をＴｔｏｐとも表記する。
【００１８】
マルチパルス列（図２の区間Ｂ）は第１パルスとラストパルス間に挿入されるものである。このマルチパルス列は、マークにおいて熱集積により生じる不均一性を減少させるためのものであって、複数のパルスより形成され、パルスの数はマーク長によって異なる。マルチパルス列は、ピークレベルＰｐｅａｋとバイアス３レベルＰｂ３（ボトムレベルとも称する）を有する。ここで、バイアス３レベルＰｂ３は相変化型記録膜を結晶状態にするのに適した温度を生じるためのレーザー信号のパワーを示し、通常のレーザー信号の再生パワー程度またはそれより低いレベルである。
【００１９】
ラストパルス（図２の区間Ｃ）は、記録マークの立下り区間を形成するためのものである。最後のパルスは、第１パルスのようにピークレベルＰｐｅａｋを有する。
そして、クーリングパルス（図２の区間Ｄ）は、ラストパルスの後に位置するパルスであって、マークが過度に長く形成されることを防止するためのものである。クーリングパルスは、バイアス２レベルＰｂ２（クーリングレベルとも称する）を有する。バイアス２レベルＰｂ２は、バイアス１レベルＰｂ１とバイアス３レベルＰｂ３との間に設定される。
【００２０】
イレーズパルス（図２の区間Ｅ）は、スペースを形成するためのパルスである。イレーズパルスは、バイアス１レベルＰｂ１を有する。ここで、バイアス１レベルＰｂ１は相変化型記録膜を非結晶状態にするのに適した温度を生じるためのレーザー信号のパワーに相当する。
図３は、ディスク上に形成されるドメインと記録パルスとの関係を図式的に示す図面である。図３を参照すれば、（ａ）はＮＲＺＩ信号であり、（ｂ）はディスクに形成されたドメインの形状を示すものであり、（ｃ）及び（ｄ）は記録パルスである。
【００２１】
相変化型光ディスクは、記録膜の結晶質／非晶質状態によりデジタル情報を記録する。熱を加えるための手段としてレーザーダイオードを用いて、記録膜は通常３００℃前後で非結晶状態（消去状態）となり、６００℃以上で溶融状態となる。
通常、記録膜の温度が３００℃前後になれば、以前に記録された情報が消去される消去状態となり、昇温し続けて６００℃以上になれば、完全な溶融状態となる。溶融状態で急冷させれば、記録膜は結晶状態となる。このように記録膜の結晶／非結晶状態により所望のデジタル情報を記録可能になる。
【００２２】
冷却はレーザービームのパワーを急に低めるか（４．７Ｇｂｙｔｅ  ＤＶＤ−ＲＡＭの場合）、オフさせる（２．６Ｇｂｙｔｅ  ＤＶＤ−ＲＡＭの場合）ことにより行われ、この時、記録膜は記録膜を支持する基板を通じて自然冷却される。
相変化型光ディスクには図３の（ｃ）に示されたように断続的な記録パルスを印加することにより、図３の（ｂ）に実線で示されたような滑らかな形状のドメインが得られる。すなわち、ドメインの胴体部分でピークレベルのレーザー信号を断続的に印加することによって熱集積を抑制してドメイン幅の広がりを防止する。
【００２３】
もし、相変化型光ディスクに図３の（ｄ）に示されたような記録パルスを印加すれば、熱集積現象により図３の（ｂ）に点線で表されたような歪曲された形状のドメインが得られる。図３の（ｂ）に点線で表されたようなドメインは隣接したトラック間にクロストークを生じるか、隣接したマーク間にジッタを生じる。
有機色素光ディスクは、相変化型ディスクより高い記録パワーが必要なので、図３の（ｄ）に示されたような記録パルスを使用する。
【００２４】
しかし、集積度の向上と記録速度の増加により従来の記録パルスでも満足できるほどの記録品質を達成しにくくなった。集積度が高まれば、最小記録長が短くなり、記録速度が速くなれば同じ長さのマークを形成するための時間が短縮される。すなわち、集積度が高まるか、記録速度が速くなれば、クロック周期が短くなって、クロック周期Ｔに対して関数関係を有するマルチパルスの長さ（時間的な概念での）が短くなって実質的に単一パルスを使用する結果となって、実際に図１の（ｆ）に示されたようにＤＶＤ−Ｒではマルチパルスの代りに単一パルスを使用する方案が議論されている。このような問題は単一パルスを使用する有機色素光ディスクにおいても同様である。
【００２５】
なぜなら、単一パルスを使用する場合、マルチパルスでのようにレーザー信号を断続的に印加できなくなるために、図３の（ｂ）のように点線で表されたようなドメインが形成される、いわゆるティアドロップ現象が生じるからである。
前記問題点を解決する本発明に係る記録方法は、ピークレベルあるいはバイアスレベルに微細調整パルスを適用した記録パルスを使用することを特徴とする。微細調整パルスのパルス数は記録しようとするマークの長さによって決定される。
【００２６】
ここで、微細調整パルスの波形、振幅、周期などはメディアの種類によって決定される。また、微細調整パルスが重畳されるレベル、すなわち微細調整パルスのトップレベル、センターレベル、ボトムレベルを基準レベルに比べて調整できる。ここで、基準レベルとは、ピークレベルあるいはバイアスレベルになりうる。また、バイアスレベルとは、バイアス１（イレーズ）、バイアス２（クーリング）、バイアス３（ボトム）のうち何れか１つである。
【００２７】
微細調整パルスがピークレベルに適用された場合、ドメインの胴体部でレーザー信号のパワーが微細調整パルスの振幅、波形、周期によって小幅に変動するので、熱集積が防止されてドメインが滑らかく形成される。その結果、隣接したトラック間の干渉が減る。
微細調整パルスがイレーズレベルが適用された場合、消去するドメインでレーザー信号のパワーが微細調整パルスの振幅、波形、周期によって小幅に変動するので、熱集積が防止されて消去されたドメイン領域で消去痕が残ることを抑制する。その結果、再起録しやすくなって記録品質が向上され、再起録可能回数も増える。
【００２８】
図４は、本発明に係る記録波形発生方法により生じる記録パルスの例を示す図面である。図４を参照すれば、ＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）データ（ａ）を記録するための多様な記録パルス（ｂ）〜（ｇ）が示されている。
図４の（ｂ）は、微細調整パルスをＣＤ−ＲＷ  ｔｙｐｅのイレーズレベルに適用したものであり、図４の（ｃ）はＣＤ−ＲＷ  ｔｙｐｅ１のピークレベルに適用したものであり、図４の（ｄ）はＣＤ−ＲＷ  ｔｙｐｅ２のピークレベル及びバイアスレベルに適用したものであり、図４の（ｅ）はＤＶＤ−ＲＡＭ  ｔｙｐｅのイレーズレベルに適用したものであり、図４の（ｆ）はＤＶＤ−Ｒ  ｔｙｐｅのバイアスレベルに適用したものであり、そして、図４の（ｇ）はｎｅｗ  ＤＶＤ−Ｒ  ｔｙｐｅのピークレベルに適用したものである。
【００２９】
図４の（ｂ）に示したのは図１の（ｂ）に示したものに比べてイレーズレベルＰｂ１に微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。また、微細調整パルスを構成するパルスの数はイレーズレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じである。
【００３０】
図４の（ｃ）に示したのは図１の（ｃ）に示されたものに比べてピークレベルＰｐｅａｋに微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。また、微細調整パルスを構成するパルスの数はピークレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じである。
【００３１】
図４の（ｄ）に示したのは図１の（ｄ）に示されたものに比べてピークレベルＰｐｅａｋ及びバイアスレベルＰｂに微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。また、ピークレベルに微細調整パルスが重畳されていても、その最大値はオーバードライブレベルＰｏｄより小さい。また、微細調整パルスはオーバードライブ区間Ｔｏｄを除いて適用される。また、微細調整パルスを構成するパルスの数はイレーズレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じである。バイアスレベルＰｂ２が印加される区間において微細調整パルスの上端部だけが示されたのは基準レベルであるバイアスレベルＰｂを微細調整パルスのセンターレベルとしたからである。図４の（ｄ）において、ピークレベルＰｐｅａｋに微細調整パルスを適用させつつオーバードライブ区間で微細調整パルスを除いて適用させるように、ＣＤ−ＲＷでピークレベルＰｐｅａｋに微細調整パルスを重畳させつつ、第１パルス区間では微細調整パルスを除いて適用させることが望ましい。
【００３２】
図４の（ｅ）によれば、図１の（ｅ）に比べてイレーズレベルＰｂ１に微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。また、微細調整パルスを構成するパルスの数はイレーズレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じである。
【００３３】
図４の（ｆ）によれば、図１の（ｆ）に比べてバイアスレベルＰｂに微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。微細調整パルスの上端部だけが示されたのは基準レベルであるバイアスレベルＰｂを微細調整パルスのセンターレベルとしたからである。また、微細調整パルスを構成するパルスの数はバイアスレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎと同じである。
【００３４】
図４の（ｇ）に示したのは、図１の（ｇ）に示したものに比べてピークレベルＰｐｅａｋ及びバイアスレベルＰｂに微細調整パルスが重畳されていることが分かる。ここで、微細調整パルスの振幅はピークレベルＰｐｅａｋより小さく、周期は１Ｔである。また、ピークレベルが印加される区間において微細調整パルスが重畳されていても、その最大値はオーバードライブレベルＰｏｄより小さい。また、微細調整パルスはオーバードライブ区間Ｔｏｄ１、Ｔｏｄ２を除いて適用される。また、微細調整パルスを構成するパルスの数は、ピークレベルが印加される区間の長さをｎＴ（ここで、ｎは１以上の整数）とする時、ｎより小さい。
【００３５】
図５は、本発明に係る微細調整パルスの波形の例を示す。図５を参照すれば、微細調整パルスはｏｎ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅ、ｏｆｆ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅ、１．５Ｔｗ  ｔｙｐｅなどがある。ｏｎ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅは正のパルスに先導される２値パルスであり、ｏｆｆ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅは負のパルスにより先導される２値パルスであり、そして１．５Ｔｗは１．５Ｔを周期とする３値パルスである。ｏｎ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅは立上り区間でｐｅａｋ  ｌｅｖｅｌが適用されるべきメディアに適用でき、ｏｆｆ−ｓｔａｒｔ  ｔｙｐｅは立上り区間で一定時間後にｐｅａｋ  ｌｅｖｅｌが適用されるメディアに適用されうる。したがって、微細調整パルスの波形はメディアの種類によって決定される。
【００３６】
図６は本発明に係る微細調整パルスと基準レベルとの関係を示す図面である。図６に示された例は、基準レベルとしてピークレベルを適用したものであり、図６の（ａ）は重畳レベルをセンターとして適用したことを示し、（ｂ）は重畳レベルをボトムとして適用したことを示し、そして（ｃ）は重畳レベルをトップとして適用したことを示す。
【００３７】
ここで、重畳レベルは微細調整パルスを重畳させるレベルを意味するものであって、調整パルスのセンター、トップ、ボトムのうち何れか１つである。例えば、重畳レベルがセンターであれば、微細調整パルスのセンターレベルと基準レベルとが一致する。
図７は、本発明に係る記録方法を示すフローチャートである。
【００３８】
まず、微細調整パルスを使用するか否かを決定する（ｓ７００）。
微細調整パルスを使用するならば、メディアの種類（Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ／Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）によって微細調整パルスを適用する基準レベルを決定する（Ｓ７０２）。基準レベルはピークレベルあるいはバイアスレベルである。バイアスレベルのうち、イレーズレベル及びボトムレベルに適用することが望ましい。
【００３９】
次いで、微細調整パルスを重畳させるレベル（重畳レベル）を決定する。すなわち、図６に示されたように基準レベルを微細調整パルスのトップ、センター、ボトムレベルのうち何れに適用するかを決定する（Ｓ７０４）。
次いで微細調整パルスの波形を決定する（Ｓ７０６）。また、微細調整パルスの振幅及び周期をも共に決定する。
【００４０】
最後にＳ７０２−Ｓ７０６過程で決定された適用するパワーレベル、重畳レベル、波形などを参照して記録パルスを生じる（Ｓ７０８）。
微細調整パルスが含まれた記録パルスによりマーク／スペースを形成する（Ｓ７１０）。
【００４１】
図８は本発明に係る記録装置の構成を示すブロック図である。
図８を参照すれば、本発明に係る記録装置は制御部８０２、記録パルス発生部８０４、レーザーダイオード駆動部８０６、レーザーダイオード８０８を具備する。図８に示された装置において記録パルスと関係のない装置は説明の便宜上略した。このような装置には、トラックキング及びフォーカスを制御するサーボ制御部、レーザーダイオード８０８を搭載してサーボ制御部により駆動される光ピックアップなどがある。光ディスク記録動作においてこれら装置は当業者によく知られている。
【００４２】
多くのメディア製造会社があり、製造会社毎にメディアの記録膜特性及び熱伝逹特性が異なる。記録装置がメディアの特性を調べてこれに合わせて記録特性を制御することは事実上難しいので、各製造会社はメディア関連情報をディスクのリードイン領域及びリードアウト領域に記録しておく。
ディスクが光ディスク記録装置に積載されれば、光ディスク記録装置はディスクのリードイン領域あるいはリードアウト領域に記録されたメディア関連情報を読み取り、メディアの種類、メディアに適するパワーレベルを調べる。このようなメディア関連情報は制御部８０２に提供される。
【００４３】
制御部８０２は、図７に示されたフローチャートによって記録パルス発生部８０４での記録パルス発生動作を制御し、特に、微細調整パルスの波形、重畳レベル、適用する基準レベルなどを制御する制御命令を記録パルス発生部８０４に印加する。
具体的に、制御部８０２は記録装置を制御するマイクロプロセッサーからメディア関連情報を伝達され、メディアの種類（Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ／Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）によって微細調整パルスを適用する基準レベル、微細調整パルスを重畳させるレベル、微細調整パルスの波形、振幅、周期などを決定する。制御部８０２は決定された基準レベル、重畳レベル、波形、振幅、周期などを記録パルス発生部８０４に伝達するための制御命令を発生させる。
【００４４】
記録パルス発生部８０４は、ＮＲＺＩデータ及び制御部８０２の制御命令に基づいて図５に示されたように装着されたディスクに適した記録パルスを生じる。ここで、記録パルス発生部８０４に印加されるデータは記録装置が使用する変調方式によるものであって、ＮＲＺＩデータ以外にもＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）データなどがある。
【００４５】
記録パルス発生部８０４から生じた記録パルスは、レーザーダイオード駆動部８０６に提供される。レーザーダイオード駆動部８０６は記録パルスに相応するレーザー信号が出力されるようにレーザーダイオード８０８を制御する。レーザーダイオード８０８から生じるレーザー信号は光ディスク８１０に照射されてＮＲＺＩデータに相応するマーク及びスペースを形成する。
【００４６】
【発明の効果】
前述したように本発明の記録方法によれば、ピークレベルあるいはバイアスレベルに微細調整パルスを適用することによって、記録時に隣接マーク間の熱干渉及び熱蓄積によるマーク形状の歪曲を抑制しうる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  従来の記録方式による記録パルスを示す波形図である。
【図２】  ＤＶＤ−ＲＡＭでデータを記録するために使用する記録パルスを詳細に示す図面である。
【図３】  ディスク上に形成されるドメインと記録パルスとの関係を図式的に示す図面である。
【図４】  本発明に係る記録波形発生方法により生じる記録パルスの例を示す図面である。
【図５】  本発明に係る微細調整パルスの波形の例を示す図面である。
【図６】  本発明に係る微細調整パルスと基準レベルとの関係を示す図面である。
【図７】  本発明に係る記録方法を示すフローチャトである。
【図８】  本発明に係る記録装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
８０２…制御部
８０４…記録パルス制御部
８０６…レーザーダイオード駆動部
８０８…レーザーダイオード
８１０…光ディスク
【図１】
0003795461.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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