(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報を記録するためのレーザ光を発生するレーザ発光部と、
前記レーザ発光部を駆動するレーザ駆動回路と、
前記レーザ発光部から発生されたレーザ光の強度を検知する光強度検知回路と、
複数のマーク区間及びスペース区間により構成される情報を入力し、前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、情報記録時において前記マーク区間毎に前記レーザ発光部が所定記録パワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する記録用ＡＰＣ回路と、
前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、情報再生時に前記レーザ発光部が所定の再生用パワーで発光し、情報記録時に前記スペース区間毎に前記レーザ発光部が前記再生用パワーより大きな所定のプリヒートパワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する再生用ＡＰＣ回路と、
前記マーク区間における前記所定記録パワーに対応する第１基準値が設定され、該第１基準値をＤＡ変換し前記記録用ＡＰＣ回路に提供する第１のＤＡＣ回路と、
前記マーク区間毎に前記光強度検知回路の検知出力をサンプルし、サンプルした検知出力を前記記録用ＡＰＣ回路に提供する第１のサンプルホールド回路と
前記スペース区間における前記所定プリヒートパワーに対応する第２基準値又は前記情報再生時の所定再生用パワーに対応する第３基準値が設定され、該第２又は第３基準値をＤＡ変換し前記再生用ＡＰＣ回路に提供する第２のＤＡＣ回路と、
前記スペース区間毎に前記光強度検知回路の検知出力をサンプルし、及び前記情報再生時の前記検知出力をサンプルし、サンプルした検知出力を前記再生用ＡＰＣ回路に提供する第２のサンプルホールド回路とを具備し、
前記記録用ＡＰＣ回路は、前記第１のＤＡＣ回路から提供される前記第１基準値と、前記第１のサンプルホールド回路から提供される前記検知出力とを比較し、該比較結果に基づいて前記レーザ駆動回路を制御し、
前記再生用ＡＰＣ回路は、前記第２のＤＡＣ回路から提供される前記第２又は第３基準値と、前記第２のサンプルホールド回路から提供される前記検知出力とを比較し、該比較結果に基づいて前記レーザ駆動回路を制御することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
前記レーザ駆動回路は前記記録用ＡＰＣ回路の出力信号と前記再生用ＡＰＣ回路の出力信号を加算する加算器を具備することを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
光ディスクに情報を記録するためのレーザ光を発生するレーザ発光部と、前記レーザ発光部を駆動するレーザ駆動回路と、前記レーザ発光部から発生されたレーザ光の強度を検知する光強度検知回路とを具備する光ディスク記録再生装置における前記レーザ発光部のレーザ発光パワーを制御する方法であって、
複数のマーク区間及びスペース区間により構成される情報を光ディスクに記録する情報記録時に、前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、前記マーク区間毎に前記レーザ発光部が所定の記録パワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する第１制御ステップと、
前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、情報再生時に前記レーザ発光部が所定の再生用パワーで発光し、前記情報記録時に前記スペース区間毎に前記レーザ発光部が前記再生用パワーより大きな所定のプリヒートパワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する第２制御ステップとを具備し、
前記第１制御ステップは、前記光強度検知回路の前記マーク区間毎の検知出力と、前記所定記録パワーに対応する第１基準値とを比較し、該比較結果に基づいて前記レーザ駆動回路を制御するステップを含み、
前記第２制御ステップは、前記光強度検知回路の前記スペ−ス区間毎の検知出力と、前記所定プリヒートパワーに対応する第２基準値とを比較し、該比較結果に基づいて前記レーザ駆動回路を制御するステップを含むことを特徴とするレーザ発光パワー制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスクに対して情報の記録再生をレーザ光を用いて行う光ディスク記録再生装置に関し、特に情報記録時のレーザパワー制御技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクに記録された情報を再生する際は、再生に適した比較的小さいパワーの光ビームが用いられる。この光ビームにより光ディスクを走査し、反射光の強度変化に基づいて、光ディスク上に形成されたマークあるいはピットを検出することにより、記録された情報が再生される。
【０００３】
光ディスクに情報を記録するには光ディスク上にスパイラル状に形成されたトラックに沿って、マークを光ビーム照射により形成する。このマークは書き込みレーザ照射により反射率等の光学的特性が変化した領域を示す。マークは再生時より大きなレーザパワーのビームを照射することにより記録される。
【０００４】
例えばＣＤ−Ｒの場合、再生時のレーザパワーは１ｍＷ程度、マーク記録時のレーザパワーは３０〜５０ｍＷである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来、例えばＣＤ−Ｒの８倍速記録までは、記録パワーはレーザの最大定格に対して余裕があったが、１２あるいは１６倍速の高倍速記録になるとレーザの最大定格付近まで記録パワーを必要とする場合がある。高温等の環境条件あるいは更なる高倍速記録では、記録パワーが不足する問題が生じる。このため高倍速記録を行なうためには、レーザの最大定格パワーを上げるか、又は記録に必要となる最大パワーを下げる必要がある。
【０００６】
従って本発明は、特別な回路を追加することなく装置の高倍速記録性能を向上することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク記録再生装置は、情報記録時に必要となるレーザ最大パワーを下げることで高倍速記録が可能となる。
【０００８】
すなわち本発明の一実施形態に係る光ディスク記録再生装置は、光ディスクに情報を記録するためのレーザ光を発生するレーザ発光部と、前記レーザ発光部を駆動するレーザ駆動回路と、前記レーザ発光部から発生されたレーザ光の強度を検知する光強度検知回路と、複数のマーク区間及びスペース区間により構成される情報を入力し、前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、前記マーク区間において前記レーザ発光部が所定の記録パワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する記録用ＡＰＣ回路と、
前記光強度検知回路により検知された前記レーザ光の強度に基づいて、情報再生時に前記レーザ発光部が所定の再生用パワーで発光し、情報記録時に前記スペース区間において前記レーザ発光部が前記再生用パワーより大きな所定のプリヒートパワーで発光するように、前記レーザ駆動回路を制御する再生用ＡＰＣ回路とを具備する。
【０００９】
スペース区間の温度を上昇させることによりマーク部分のライトパワーを低減することができ、特別な回路を追加することなく装置の情報記録能力を向上することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図面を参照しながら本発明の実施の形態について詳細に説明する。以下の説明はこの発明の実施の形態であって、この発明の装置及び方法を限定するものではない。
【００１１】
図１は本発明が適用される光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【００１２】
光ディスク６１の表面にはスパイラル状にランドトラック及びグルーブトラックが形成されており、このディスク６１はスピンドルモータ６３によって回転駆動される。
【００１３】
光ディスク６１に対する情報の記録、再生は、光ピックアップ６５によって行われる。光ピックアップ６５は、スレッドモータ６６とギアを介して連結されており、このスレッドモータ６６はスレッドモータ制御回路６８により制御される。
【００１４】
スレッドモータ制御回路６８に速度検出回路６９が接続され、この速度検出回路６９により検出される光ピックアップ６５の速度信号がスレッドモータ制御回路６８に送られる。スレッドモータ６６の固定部に、図示しない永久磁石が設けられており、駆動コイル６７がスレッドモータ制御回路６８によって励磁されることにより、光ピックアップ６５が光ディスク６１の半径方向に移動する。
【００１５】
光ピックアップ６５には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ７０が設けられる。対物レンズ７０は駆動コイル７２の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能で、又駆動コイル７１の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００１６】
変調回路７３は情報記録時にホスト装置９４からインターフェース回路９３を介して供給されるユーザデータを８−１４変調（ＥＦＭ）して、ＥＦＭデータを提供する。レーザ制御回路７５は情報記録時(マーク形成時）に、変調回路７３から供給されるＥＦＭデータに基づいて、書き込み用信号を半導体レーザダイオード７９に提供する。又、レーザ制御回路７５は情報読取り時に、前記書き込み信号より小さい読取り用信号を半導体レーザダイオード７９に提供する。
【００１７】
半導体レーザダイオード７９はレーザ制御回路７５から供給される信号に応じてレーザ光を発生する。半導体レーザダイオード７９から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ８０、ハーフプリズム８１、対物レンズ７０を介して光ディスク６１上に照射される。光ディスク６１からの反射光は、対物レンズ７０、ハーフプリズム８１、集光レンズ８２、およびシリンドリカルレンズ８３を介して、光検出器８４に導かれる。
【００１８】
光検出器８４は、４分割の光検出セル８４ａ〜８４ｄから成る。光検出セル８４ａ〜８４ｄの出力信号は、電流／電圧変換用のアンプ８５ａ〜８５ｄ、加算器８６ａ〜８６ｄを介して差動アンプＯＰ１、ＯＰ２に供給される。
【００１９】
差動アンプＯＰ２は、加算器８６ａ、８６ｂの両出力信号の差に応じた、フォーカスエラー信号ＦＥを出力する。この出力はフォーカシング制御回路８７に供給される。フォーカシング制御回路８７の出力信号は、フォーカシング駆動コイル７２に供給される。これにより、レーザ光が光ディスク６１の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなる制御がなされる。
【００２０】
差動アンプＯＰ１は、加算器８６ｃ、８６ｄの両出力信号の差に応じたトラッキングエラー信号ＴＥを出力する。この出力はトラッキング制御回路８８に供給される。トラッキング制御回路８８は、差動アンプＯＰ１からのトラッキングエラー信号に応じてトラック駆動信号を生成する。
【００２１】
トラッキング制御回路８８から出力されるトラック駆動信号は、トラッキング方向の駆動コイル７１に供給される。又、トラッキング制御回路８８で用いられるトラッキングエラー信号が、スレッドモータ制御回路６８に供給される。
【００２２】
上記フォーカシング制御およびトラッキング制御がなされることで、光検出器８４の各光検出セル８４ａ〜８４ｄの出力信号の和信号には、つまり加算器８６ｃ、８６ｄの両出力信号を加算する加算器８６ｅの出力信号には、記録情報に対応して光ディスク６１のトラック上に形成されたピットなどからの反射率の変化が反映される。この信号は、データ再生回路７８に供給される。データ再生回路７８は、ＰＬＬ回路７６からの再生用クロック信号に基づき、記録データを再生する。
【００２３】
上記トラッキング制御回路８８によって対物レンズ７０が制御されているとき、スレッドモータ制御回路６８により、対物レンズ７０が光ピックアップ５内の中心位置近傍に位置するようスレッドモータ６６つまり光ピックアップ６５が制御される。
【００２４】
モータ制御回路６４、スレッドモータ制御回路６８、変調回路７３、レーザ制御回路７５、ＰＬＬ回路７６、データ再生回路７８、フォーカシング制御回路８７、トラッキング制御回路８８等は、サーボ制御回路として１つのＬＳＩチップ内に構成することができ、又これら回路はバス８９を介してＣＰＵ９０によって制御される。ＣＰＵ９０はインターフェース回路９３を介してホスト装置９４から提供される動作コマンドに従って、この光ディスク記録再生装置を総合的に制御する。またＣＰＵ９０は、ＲＡＭ９１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ９２に記録された本発明を含むプログラムに従って所定の動作を行う。
【００２５】
次に、本発明によるレーザパワー制御について説明する。
【００２６】
図２はレーザ制御回路７５の構成を示すブロック図である。
【００２７】
リードＤＡＣ１５はリードＡＰＣ用基準データをＤＡ変換して、基準電圧ＶｒｒをリードＡＰＣ(auto-power controller)１４に出力する。リードＡＰＣ１４はサンプルホールド回路１６の出力電圧Ｖｒｓと基準電圧Ｖｒｒを比較し、該比較結果に基づいて出力電流Ｉｒａを発生する。尚、リードＡＰＣ１４の出力は電圧でもよいが、ここでは電流を出力するものとして説明する。この電流Ｉｒａは加算器１８によりライトＡＰＣ１２からの電流Ｉｗａと加算されレーザダイオード７９に供給される。レーザダイオード７９は供給された電流に対応する電力でレーザ光を発生する。
【００２８】
フォトダイオードにより構成されるフロントモニターＦＭはレーザダイオード７９が発生するレーザ光の光強度を検出し、検出信号をサンプルホールド回路１３、１６に供給する。サンプルホールド回路１６はフロントモニタＦＭからの信号を後述されるタイミングでサンプルし、サンプルした電圧をリードＡＰＣ１４に出力する。
【００２９】
ライトＤＡＣ１１はライトＡＰＣ用基準データをＤＡ変換して、ライト基準電圧ＶｗｒをライトＡＰＣ１２に出力する。ライトＡＰＣ１２はサンプルホールド回路１３の出力電圧Ｖｗｓとライト基準電圧Ｖｗｒを比較し、ライトゲート信号がＨレベル及びＥＦＭデータがＨレベルのとき、該比較結果に応じた出力電流Ｉｗａを発生する。
【００３０】
次に本発明に係る情報記録時のレーザ発光パワー制御について詳細に説明する。
【００３１】
光ディスク６１はＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＷ等の光ディスクであるが、本実施形態ではＤＶＤ−ＲあるいはＣＤ−Ｒような、書き込みレーザ照射部分の反射率が永久変化する色素を利用したＲ(recordable)ディスクとして本発明を説明する。
【００３２】
図３は情報記録時の総合的な動作を示すタイミングチャートである。
【００３３】
図３（ａ）に示すライトゲート信号がＨレベルの区間は、記録区間すなわち情報記録期間を示す。ライトゲート信号の立ち上がり時刻ｔ１は、ユーザ指示による光ディスク６１に対する情報記録の開始を示し、ライトゲート信号の立ち下がり時刻ｔ２は、光ディスク６１に対する情報記録の終了を示す。
【００３４】
図３（ｂ）はリードＡＰＣ１４の出力パワー（レーザパワー換算値）を示す。リードＡＰＣ１４は再生動作時あるいはシーク時等の記録区間以外では情報再生用の比較的小さいパワーＰｏ（例えば１ｍＷ）を出力する。記録区間においてリードＡＰＣ１４は再生用パワーＰｏより大きなパワーＰｐを出力する。このように情報記録時にパワーをＰｐに増やす制御をプリヒートと呼ぶ。以下、このパワーＰｐをプリヒートパワーという。
【００３５】
図３（ｃ）はライトＡＰＣ１２の出力パワー（レーザパワー換算値）を示し、斜線はＥＦＭデータ列を示す。記録区間においてライトＡＰＣ１２は記録用パワーＰｗ＊α−Ｐｐを出力し、記録区間以外で出力は０ｍＷである。記録用パワーＰｗ＊α−Ｐｐについては後述される。
【００３６】
図４はＣＰＵ９０のレーザパワー制御動作を示すフローチャートである。
【００３７】
ＣＰＵ９０はライトゲート信号が立ち上がると(ステップＳＴ１でＹＥＳの場合)、ステップＳＴ２のようにリードＤＡＣ１５にプリヒート基準データＤＰＰを設定する（このプリヒート基準データＤＰＰについては後述される）。リードＤＡＣ１５はプリヒート基準データＤＰＰをＤＡ変換して、プリヒート基準電圧ＶＰＰをリード基準電圧ＶｒｒとしてリードＡＰＣ１４に出力する。リードＡＰＣ１４はサンプルホールド回路１６の出力電圧Ｖｒｓ(初期状態では再生用パワーＰｏに対応する値）とプリヒート基準電圧ＶＰＰを比較し、該比較結果に応じて（電圧Ｖｒｓが結果的に電圧ＶＰＰに一致するように）出力電流Ｉｒａを発生する。この結果、図３（ｂ）の時刻ｔ１のようにリードＡＰＣ１４の出力は、再生用パワーＰｏからプリヒートパワーＰｐに変化する。
【００３８】
この電流Ｉｒａは加算器１８を介してレーザダイオード７９を駆動し、レーザ光が発生される。フロントモニターＦＭはレーザダイオード７９が発生するレーザ光の光強度を検出し、検出信号をサンプルホールド回路１３、１６に供給する。
【００３９】
図５は記録動作の詳細を示すタイミングチャートである。図５（ａ）に示すようにＥＦＭデータはマーク及びスペースから構成され、マークは例えば情報”１”に対応し、スペースは情報”０”に対応する。マーク期間中に記録用パワーでレーザダイオードが発光し、光ディスク６１上にスパイラル状に形成された情報トラックにマークが記録される。このマークは光ビーム照射により反射率が変化した領域を示す。
【００４０】
サンプルホールド回路１６は図５（ａ）の時刻ｔ３、ｔ５に示すように、ＥＦＭデータがスペースの期間中にフロントモニタＦＭからの信号をサンプルし、サンプルした電圧をリードＡＰＣ１４に供給する。
【００４１】
リードＡＰＣ１４は前述したように、サンプルホールド回路１６からの電圧ＶｒｓとリードＤＡＣ１５からの基準電圧ＶＰＰを比較し、例えば電圧Ｖｒｓの方が小さい場合、出力電流Ｉｒａを増加する。この結果リードＡＰＣ１４はライトゲートがＨレベルのとき(記録区間内）、図５（ｃ）のように常にプリヒートパワーＰｐを出力する。
【００４２】
ＣＰＵ９０はリードＤＡＣ１５に対するリード基準データＤＰＰの設定（ＳＴ２）に続いて、ステップＳＴ３のようにライトＤＡＣ１１にライトＡＰＣ用基準データＤＰαを設定する（このライトＡＰＣ用基準データＤＰαについては後述される）。ライトＤＡＣ１１はライトＡＰＣ用基準データＤＰαをＤＡ変換して、ライト基準電圧ＶＰαを基準電圧ＶｗｒとしてライトＡＰＣ１２に出力する。
【００４３】
図３（ａ）に示すようにライトゲート信号が立ち上がった後、図５（ａ）に示すＥＦＭデータがライトＡＰＣ１２に供給される。ライトＡＰＣ１２はサンプルホールド回路１３の出力電圧Ｖｗｓとライト基準電圧ＶＰαを比較し、ライトゲート信号がＨレベル及びＥＦＭデータがマーク（Ｈレベル）のとき、電圧Ｖｗｓが基準電圧ＶＰαとなるように出力電流Ｉｗａを発生する。この電流Ｉｗａは加算器１８によりリードＡＰＣからの電流Ｉｒａと加算されてレーザダイオード７９を駆動する。
【００４４】
この結果レーザダイオード７９は、電流ＩｗａとＩｒａを加算した電流に対応するパワーでレーザ光を発生する。フロントモニターＦＭはレーザダイオード７９が発生するレーザ光の光強度を検出し、検出信号をサンプルホールド回路１３、１６に供給する。サンプルホールド回路１３は図５（ａ）、５（ｂ）の時刻ｔ４に示すように、ＥＦＭデータがマークの期間中にフロントモニタＦＭからの信号をサンプルし、サンプルした電圧をライトＡＰＣ１２に供給する。
【００４５】
ライトＡＰＣ１２はＥＦＭデータがマーク期間中に出力電流Ｉｗａを発生する。ライトＡＰＣ１２は前述したように、サンプルホールド回路１３からの電圧ＶｗｓとライトＤＡＣ１１からのライト基準電圧ＶＰαを比較し、例えば電圧Ｖｗｓの方が小さい場合、出力電流Ｉｗａを増加する。この結果ライトＡＰＣ１２はＥＦＭデータがマークのとき、ライトＤＡＣ１１に設定されたライト基準データＤＰαに対応するパワーでレーザダイオード７９が発光するように電流Ｉｗａを出力する。
【００４６】
図５（ｂ）はレーザダイオード７９のレーザパワーを示す。図中点線は従来の制御によるレーザパワーを示し、実線は本実施形態に係る制御によるレーザパワーを示す。図５（ｃ）及び図５（ｄ）は図５（ｂ）のレーザパワーを、リードＡＰＣ１４からのパワーとライトＡＰＣ１２からのパワーに分けて示した図である。
【００４７】
レーザダイオード７９は図５（ｃ）のようにライトゲートがＨの記録期間で常にプリヒートパワーＰｐで発光している。つまり記録期間中、光ディスク６１上のビームスポット領域はプリヒートパワーＰｐでレーザ光により加熱されている。
【００４８】
図５（ｂ）のＰｗは従来のマーク区間中のライトパワーを示し、Ｐｏは従来のスペース区間中のレーザパワーを示す。このように従来は、スペース区間のレーザパワーはデータ再生時のリードパワーＰｏと同一であるのに対し、本実施形態ではレーザパワーがプリヒートパワーＰｐ（Ｐｐ＞Ｐｏ）になるようにリードＡＰＣ１４をコントロールする。具体例としてＰｐはＰｗ＊０．２程度のパワーである。このように制御することでマーク部分のライトパワーを従来技術のＰｗに対してＰｗ＊α（α＜１．０）に低減することが可能となる。
低減可能な理由を以下に説明する。図６はプリヒート有り／無しでのマーク／スペースの温度変化を示した図である。図中実線はプリヒートをせずにデータを記録した場合の光ディスク６１の光ビームが照射された記録面の温度変化を示す。スペース、マーク、スペース区間で、レーザパワーはＰｏ、Ｐｗ、Ｐｏである。図中太い点線はプリヒートをしてデータを同一のライトパワーＰｗで記録した場合の光ディスク６１の記録面の温度変化を示す。スペース、マーク、スペース区間で、レーザパワーはＰｐ、Ｐｗ、Ｐｐである。プリヒート有りはスペース部分でレーザの出力がＰｐ＞Ｐｏなので温度を高く保つことが可能となる。
【００４９】
図７は光ディスク表面にプリヒートパワーＰｐの光ビームを照射して走査した場合の熱伝導の様子を示す。矢印は光ディスク上の光ビームの相対的な移動方向を示し、斜線部は温度が周辺より上昇した領域を示す。
【００５０】
このようにプリヒートパワーＰｐを照射した状態で、従来と同じレーザパワーＰｗを照射すれば、マーク区間の最高温度は図６のようにＴα上昇することになる。つまり、従来と同一の最高温度Ｔｍに光ディスク記録面の温度を上昇させる場合、本実施形態のようにプリヒートを行うと、Ｔα分のパワーだけレーザパワーＰｗを低減できることがわかる。
【００５１】
記録パワー低減係数をαとすれば、プリヒート有りの場合マーク部分のレーザパワーＰｗを図５（ｂ）のようにＰｗ＊αに低減可能となる。例えばＣＤ−Ｒの場合、一般的に３００（℃）  前後で化学反応が起こりマークの形成が始まる。この温度以下にＰｐを設定すればマークを形成することは無い。
【００５２】
このときライトＡＰＣ１２の出力電流Ｉｗａによるレーザパワーは、図５（ｄ）に示すように全レーザパワーＰｗ＊αからリードＡＰＣの出力電流ＩｒａによるレーザパワーＰｐを引いた値（Ｐｗ＊α−Ｐｐ）である。尚、ライトＤＡＣ１１に設定するライト基準値ＤＰαはレーザパワーＰｗ＊αに対応する値、リードＤＡＣ１５に設定するリード基準値ＤＰＰはレーザパワーＰｐに対応する値である。尚、ライトゲートがＨレベルとなった後、レーザパワーが所定時間内に連続的に増加してＰｐとなるようにリード基準値を設定してもよい。
【００５３】
ユーザデータに対応するＥＦＭデータの記録が終了し、図３（ａ）のようにライトゲートがＬに立ち下がると（図４のステップＳＴ４でＹＥＳの場合）、ＣＰＵ９０はリードＤＡＣ１５にリード時のレーザダイオードパワーＰｏに対応する基準値ＤＰｏを設定し（ＳＴ５）、ライトＤＡＣ１１に”０”を設定する。このレーザダイオードパワーＰｏにより、フォーカシング制御及びトラッキング制御又は再生動作が行われる。
【００５４】
本実施形態をＣＤ−Ｒの１６倍速記録に適用した場合の実験結果を図８に示す。図８は各ＡＰＣの基準値（ＤＡＣ１１、１５の設定値）及びＡＰＣ１２、１４の出力をレーザパワー換算値で示している。これら基準値及び出力値は、マーク記録時の光ディスク記録面の温度を、従来方式で４０ｍＷのレーザダイオード出力で到達する温度と同一温度に加熱するための値である。この実験においてマーク記録時のレーザダイオード出力は３６ｍＷとなった。すなわち、従来のスペース時レーザパワーＰｏ＝１ｍＷ、マーク時レーザパワーＰｗ＝４０ｍＷに対して、プリヒートパワーＰｐ＝１０ｍＷにてα＝０．９を得た。結論として１割のライトパワーを削減する効果を得た。
【００５５】
一般的なリードＡＰＣを記録区間でプリヒートＡＰＣとして機能させることで、回路構成を増やすことなく効果を得ることが出来た。このように回路構成を増加することなく性能を向上することができるので、ディスクドライブを薄く製作する必要がある場合、本実施形態は特に有効である。
【００５６】
次に他の実施形態を説明する。図９は本発明の第２の実施形態に係るレーザ制御回路７５の構成を示すブロック図、図１０は図９に示す回路の動作を示すタイムチャートである。
【００５７】
本実施形態の場合、プリヒート専用のプリヒートＡＰＣ２１、プリヒートＤＡＣ２２、サンプルホールド回路２３、及び加算器２４が追加されている。ライトゲートがＨに立ち上がると、プリヒートＡＰＣ２１はレーザダイオード７９がスペース期間中にプリヒートレーザパワーＰｐで発光するように、プリヒートレーザパワーＰｐ２に対応する電流Ｉｐａを出力する。リードＡＰＣ１４は従来と同様にデータリード時のレーザパワーＰｏに対応する電流を常に出力する。これによりレーザディスク６１の記録面のビームスポット周辺が図７のようにプリヒートされる。ライトＡＰＣ１２の動作は第１の実施形態と同様である。
【００５８】
図１１は各ＡＰＣ用ＤＡＣ１１、１５、２２の設定値及び各ＡＰＣ１２、１４、２１の出力をレーザパワー換算値で示している。これら設定値及び出力値は、マーク記録時の光ディスク記録面の温度を、従来方式で４０ｍＷのレーザダイオード出力で到達する温度と同一の温度に加熱するための値である。本実施形態においてもマーク記録時のレーザダイオード出力は、第１の実施形態と同様に３６ｍＷとなる。
【００５９】
以上、本発明をＣＤ−Ｒに適用した場合を説明したが、ＤＶＤ−Ｒ等もＣＤ−Ｒ同様に熱化学反応で記録するメディアであるので、高倍速記録時にレーザパワーを削減する技術として本発明は有効である。
【００６０】
【発明の効果】
本発明によれば、特別な回路を追加することなく装置の高倍速記録性能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】レーザ制御回路７５の構成を示すブロック図。
【図３】情報記録時の総合的な動作を示すタイミングチャート。
【図４】ＣＰＵ９０のレーザパワー制御動作を示すフローチャート。
【図５】記録動作の詳細を示すタイミングチャート。
【図６】本発明による記録時のプリヒートによる光ディスク記録面の温度変化を示す。
【図７】光ディスク表面に光ビームを照射して走査した場合の熱伝導の様子を示す。
【図８】本発明の実施形態をＣＤ−Ｒの１６倍速記録に適用した場合の実験結果を示す。
【図９】本発明の第２の実施形態に係るレーザ制御回路７５の構成を示すブロック図。
【図１０】図９に示す回路の動作を示すタイムチャート。
【図１１】第２の実施形態による各ＡＰＣ用ＤＡＣの設定値及び各ＡＰＣの出力を示す図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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