(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
前記不正開蓋検出スイッチは、固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
【請求項２】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
前記不正開蓋検出スイッチは、一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
【請求項３】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置であって、
前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成され、
前記不正開蓋検出スイッチは、前記上ケースを前記下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチであることを特徴とする電子機器の不正開蓋防止装置。
【請求項４】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵ等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
前記不正開蓋防止装置が、
固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
【請求項５】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵ等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
前記不正開蓋防止装置が、
一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
【請求項６】
不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵ等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器であって、
前記電子機器の改造の防止や前記電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止するための不正開蓋防止装置を有し、
前記不正開蓋防止装置が、
前記上ケースを前記下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチからなり、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、
前記トリガー信号の入力を受けて前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、
前記不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とから構成される不正開蓋防止装置であることを特徴とする、電子機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ケースに収納され且つ蓋をされた電子機器の改造を防止したり、又は電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止する不正開蓋防止装置に関し、特に、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置にする。
【０００２】
【従来の技術】
ケースに収納され且つ蓋をされた電子機器の改造を防止したり、又は電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスを防止する不正開蓋防止装置としては、例えば特開平６−２９８６９号公報に開示された電子機器の改造防止構造がある。これを図１１の回路図、及び図１２並びに図１３の不正開蓋検出スイッチを参照して説明すれば次の通りである。
【０００３】
電子機器の改造防止構造が適用された電子機器は、具体的には無線通信機であって、無線通信機に内蔵されたＣＰＵ１１とメモリ１２及び入出力インターフェイスＩ／Ｏ１３、これらの機能部品等に電力を供給するメイン電源Ｅ１、メイン電源Ｅ１の一方の端子とＣＰＵ１１のＶｃｃ端子との間に挿入されたメインスイッチＳＷ１及び逆流防止用ダイオードＤ１を含んで構成されている。不正開蓋検出回路は、抵抗Ｒ１とＲ２とからなる分圧回路、この分圧回路に電力を供給する補助電源Ｅ２、前記分圧回路の一端と補助電源Ｅ２との一方の端子との間に挿入された不正開蓋検出スイッチＳＷ２、及びＣＰＵ１１のＶｃｃ端子との間に挿入された逆流防止用ダイオードＤ２を含んで構成されている。上ケースと下ケースからなるケース内には、ＣＰＵ１１、メモリ１２、Ｉ／Ｏ１３、その他の機能部品、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が収納されている。そして、上ケースで蓋をしたとき、不正開蓋検出スイッチＳＷ２はその操作部が上ケースによって押圧され、オフ状態に保持されている。
【０００４】
上ケースが不正に開蓋されると、不正開蓋検出スイッチＳＷ２はその操作部が開放されてオン状態になる。すると、ＣＰＵ１１とメモリ１２及びＩ／Ｏ１３には、逆流防止ダイオードＤ２を介して補助電源Ｅ２から電力が供給され、これらは起動する。同時に、上記不正開蓋検出回路は不正開蓋信号Ｓを発生し、これをＩ／Ｏ１３を介してＣＰＵ１１に与える。起動したＣＰＵ１１は、不正開蓋信号Ｓを検出すると、メモリ１２に記憶されている改造防止プログラムに従って改造防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。この改造防止処理は、例えば、メモリ１２に記憶されている改造防止プログラム以外の各種プログラムの一部又は全部を書き換える処理である。
【０００５】
不正開蓋検出スイッチＳＷ２は、図１２及び図１３に示す如く、下ケース３１に収納されたプリント回路基板３５に固定された固定接点７６と、この固定接点７６に対向する可動端部を有し且つ他方の固定端部がプリント回路基板３５に固定された細長の板バネ状可動接点７７とからなる機械的スイッチである。上ケース３２で下ケース３１に蓋をし固定用ネジ３９で締め付けると、細長の板バネ状可動接点７７は固定用ネジ３９の端部で押圧されて固定接点７６から離れ、図１２に示す如く、不正開蓋検出スイッチＳＷ２はオフ状態に保持される。蓋が開かれると、固定用ネジ３９による細長の板バネ状可動接点７７への押圧力が開放されるから、細長の板バネ状可動接点７７はその弾性によって固定接点７６に接触し、図１３に示す如く、不正開蓋検出スイッチＳＷ２はオン状態になる。
【０００６】
このような構造であるから、不正開蓋が行われると、不正開蓋検出スイッチＳＷ２は直ちにオン状態となって、上述の如く、ＣＰＵ１１は不正開蓋信号Ｓを検出し、メモリ１２に記憶されている改造防止プログラムに従って改造防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。ところが、ケースの一部に穴を空け、そこから棒や特殊な治具を用いて検出スイッチＳＷ２の操作部を操作して不正開蓋検出スイッチＳＷ２がオンしないようにする事件が発生した。具体的には、細長の板バネ状可動接点７７とプリント回路基板３５との隙間Ｘに異物を差し込むことによって、上ケース３２が外されても不正開蓋検出スイッチＳＷ２がオンしないようにし、電子機器の不正改造を行った事件が発生した。これは、従来の不正開蓋防止装置においては、上ケースが外されても不正開蓋検出スイッチＳＷ２が作動せず、従って不正開蓋が検出されないという問題を有するからである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置に、上ケースが外されたら確実に作動して不正開蓋を検出する不正開蓋検出スイッチを備えさせることによって、電子機器の不正改造や電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスの防止を図ることである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置を、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、前記トリガー信号を入力して前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、この不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とで構成し、前記不正開蓋検出スイッチとして、その固定接点部が前記上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置されたスイッチを採用した。
【０００９】
即ち、前記不正開蓋検出スイッチとして、固定接点が設けられたメインスイッチ基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つコイルバネとコイルバネ保護用円筒状ガード部材が固着されたサブスイッチ基板からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【００１０】
また、前記不正開蓋検出スイッチとして、一対の固定用ネジ貫通孔の周囲に固定接点用ランドがそれぞれ形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔が夫々形成された細長の板バネ状可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【００１１】
更に、前記不正開蓋検出スイッチとして、固定用ネジ貫通孔の周囲に一対の略三日月型固定接点パターンが形成されたプリント回路基板からなる固定接点部が前記下ケース側に配置され、且つ前記一対の略三日月型固定接点パターンを接続又は開放するワッシャ型可動接点からなる可動接点部が前記上ケース側に配置され、前記上ケースで前記下ケースに蓋をし蓋固定用ネジで締め付けたときにオン状態となるスイッチを採用した。
【００１２】
また、上記課題を解決するために、不正開蓋防止処理プログラムが格納されたメモリと、不正開蓋信号を検出すると前記不正開蓋防止処理プログラムに従って電子機器の動作を不能にするＣＰＵと、その他の機能部品と、これら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等が下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされた電子機器の不正開蓋防止装置を、前記上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチと、前記トリガー信号を入力して前記不正開蓋信号を発生する不正開蓋検出回路と、この不正開蓋検出回路に電力を供給する電池電源とで構成し、前記不正開蓋検出スイッチとして前記上ケースを下ケースに固定する固定用ネジのネジキャップによってその操作端が押圧されるマイクロスイッチを採用した。
【００１３】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施例の回路図である図１において、電子機器の不正開蓋防止装置が適用された電子機器は、プログラムに従って各種の演算や制御を行うＣＰＵ１１と、各種のプログラムやデータが格納されたメモリ１２、図示しない入力機器や出力機器をＣＰＵ１１に接続する入出力インターフェイスＩ／Ｏ１３、これらの機能部品等に電力を供給するメイン電源Ｅ１、及びメイン電源Ｅ１の一方の端子とＣＰＵ１１のＶｃｃ端子との間に挿入されたメインスイッチＳＷ１を含んで構成されている。メモリ１２に格納されたプログラムの中には不正開蓋防止処理プログラムが含まれており、ＣＰＵ１１は不正開蓋信号Ｓを検出すると、このプログラムに従って電子機器の動作を不能にする。
【００１４】
ＣＰＵ１１、メモリ１２、Ｉ／Ｏ１３、その他の機能部品、及びこれら機能部品を接続するプリント回路基板や配線等は下ケースに収納され、且つ上ケースによって蓋をされている。上ケースは下ケースに固定用ネジによって固定されており、簡単には蓋が開けられないようになっている。
【００１５】
上記の電子機器に適用される不正開蓋防止装置は、上ケースが不正に開蓋された場合に作動してトリガー信号を発生する不正開蓋検出スイッチＳＷ２、前記トリガー信号を入力して不正開蓋信号Ｓを発生する不正開蓋検出回路１４、及びこの不正開蓋検出回路１４に電力を常時供給する電池電源Ｅ２とから構成されている。図１において、不正開蓋検出スイッチＳＷ２は上ケースで蓋をされているときは、オン状態に保持されている。
【００１６】
上ケースが不正に開蓋されると、不正開蓋検出スイッチＳＷ２はその操作部が開放されてオフ状態になり、不正開蓋検出回路１４にトリガー信号を与える。すると、不正開蓋検出回路１４は不正開蓋信号Ｓを発生し、図示しない内蔵メモリに格納する。メインスイッチＳＷ１が操作されると、ＣＰＵ１１、メモリ１２、及びＩ／Ｏ１３が起動する。ＣＰＵ１１は、不正開蓋信号Ｓを検出すると、メモリ１２に記憶されている不正開蓋防止プログラムに従って不正開蓋防止処理を行い、電子機器の動作を不能にする。この不正開蓋防止処理は、例えば、メモリ１２に記憶されている不正開蓋防止処理プログラム以外の各種プログラムの一部又は全部を書き換える処理である。
【００１７】
不正開蓋検出回路１４は、論理回路やメモリ回路で構成したデジタル型不正開蓋検出回路が用いられている。従って、不正開蓋検出スイッチＳＷ２が発生するトリガー信号はオフ信号でも、オン信号でも対応できる。勿論、図１１に示す如きアナログ回路でも構成することもできる。不正開蓋検出回路１４には電池電源Ｅ２から常時電力が供給されているが、その消費電力は僅かであるから電池電源Ｅ２の寿命は１０年程度と十分な長さが確保される。
【００１８】
本発明に係る不正開蓋検出スイッチＳＷ２を、第１実施例、第２実施例、第３実施例及び第４実施例について、以下に詳細に説明する。先ず、図２及び図３に示す第１実施例は、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチである。即ち、一対の固定接点３６が設けられたメインスイッチ基板３３からなる固定接点部が下ケース３１の側に配置され、且つ一対の導電性コイルバネ３７と夫々のコイルバネ保護用円筒状ガード部材３８が固着されたサブスイッチ基板３４からなる可動接点部が上ケース３２側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図３に示す如く、上ケース３２で下ケース３１に蓋をし一対の固定用ネジ３９で締め付けると、導電性コイルバネ３７の可動端が対向する固定接点３６に接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図２に示す如く、蓋である上ケース３２が下ケース３１から取り外されると、導電性コイルバネ３７の可動端は対向する固定接点３６から離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【００１９】
３１ａは下ケースに設けられた固定用ネジ貫通孔、３３ａはメインスイッチ基板３３に設けられた固定用ネジ貫通孔、３４ａはサブスイッチ基板３４に設けられた固定用ネジ貫通孔である。３２ｂは上ケース３２に立設された突起部、３２ｃは突起部３２ａに形成された固定用ネジ穴である。一対の導電性コイルバネ３７の固定端はサブスイッチ基板３４を貫通して半田付けされており、更に銅線またはプリント回路で接続されている。一対の固定接点３６は、金メッキ等の導電性材料で形成されている。なお、図２及び図３において、可動接点部の可動接点部材として一対の導電性コイルバネ３７を用いたが、１個の導電性コイルバネと図示しない導電性バーを用いても可動接点部を構成することができる。
【００２０】
また、図４及び図５に示す第２実施例も、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。即ち、一対の固定用ネジ貫通孔３１ａの周囲に固定接点用ランド４６がそれぞれ形成されたプリント回路基板３５からなる固定接点部が下ケース３１の側に配置され、且つ両端部に固定用ネジ貫通孔４７ａが夫々形成された導電性の細長の板バネ状可動接点４７からなる可動接点部が上ケース３２の側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図５に示す如く、上ケース３２で下ケース３１に蓋をし一対の固定用ネジ３９で締め付けると、細長の板バネ状可動接点４７の両端が一対の固定接点用ランド４６にそれぞれ接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図４に示す如く、蓋である上ケース３２が下ケース３１から取り外されると、細長の板バネ状可動接点４７の両端は一対の固定接点用ランド４６から離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【００２１】
更に、図６ないし図８に示す第３実施例も、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。即ち、固定用ネジ貫通孔５６ａの周囲に一対の略三日月型固定接点パターン５６ｂと５６ｃが形成されたプリント回路基板３５からなる固定接点部が下ケース３１の側に配置され、且つ一対の略三日月型固定接点パターン５６ｂと５６ｃを接続又は切断する導電性のワッシャ型可動接点５７からなる可動接点部が上ケース３２の側に配置されて構成された不正開蓋検出スイッチである。図８に示す如く、上ケース３２で下ケース３１に蓋をし一対の固定用ネジ３９で締め付けると、ワッシャ型可動接点５７が一対の略三日月型固定接点パターン５６ｂと５６ｃを接触し、この不正開蓋検出スイッチはオン状態となる。図６に示す如く、蓋である上ケース３２が下ケース３１から取り外されると、ワッシャ型可動接点５７は一対の略三日月型固定接点パターン５６ｂと５６ｃから離れ、この不正開蓋検出スイッチはオフ状態となる。
【００２２】
上述の如く、第１実施例、第２実施例及び第３実施例は、その固定接点部が上ケースと下ケースの一方の側に配置され且つその可動接点部が他方の側に配置その固定接点部が一方のケース側に配置され且つその可動接点部が他方のケース側に配置された不正開蓋検出スイッチある。このため、図１２及び図１３に示した従来の不正開蓋検出スイッチで発生した細長の板バネ状可動接点７７とプリント回路基板３５との隙間Ｘに異物を差し込むことによって、不正開蓋検出スイッチを作動させないようにするような細工は不可能である。従って、第１実施例、第２実施例及び第３実施例の不正開蓋検出スイッチを本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置も用いた場合、不正開蓋を確実に検出することができる。
【００２３】
更にまた、図９及び図１０に示す第４実施例は、上ケース３２を下ケース３１に固定する固定用ネジ３９のネジキャップ６１によってその操作端６０ａが押圧されるマイクロスイッチ６０で構成した不正開蓋検出スイッチである。ネジキャップ６１が押し込まれるネジキャップ収納穴３１ｅは、固定用ネジ貫通孔３１ａが端部に形成された円筒状突起部３１ｂの円筒穴である。円筒状突起部３１ｂは、下ケース３１に設けられている。マイクロスイッチ６０は、その操作端６０ａを円筒状突起部３１ｂの開口３１ｆに対向するようにして、プリント回路基板３５に取り付けられている。
【００２４】
ネジキャップ６１はゴム系材料で作られた部材であって、円柱本体部６１ａと円形頂部６１ｂ及び円柱本体部６１ａの下部に部分的に形成された突起部６１ｃとからなる略円柱体のネジキャップである。突起部６１ｃはマイクロスイッチ６０の操作端６０ａを押圧するためのものである。円柱本体部６１ａの下端から上方に向かって穿たれた中空部６１ｄは、ネジキャップ６１をネジキャップ収納穴３１ｅに押し込むことを可能にするために設けられたものである。円柱本体部６１ａと円形頂部６１ｂの間に形成された環状凹部６１ｅは、ネジキャップ収納穴３１ｅに押し込まれたネジキャップ６１を取り外すためのものである。
【００２５】
上述の如く、第４実施例は上ケース３２を下ケース３１に固定する固定用ネジ３９のネジキャップ６１によってその操作端６０ａが押圧されるマイクロスイッチ６０で構成した不正開蓋検出スイッチであるから、図１２及び図１３に示した従来の不正開蓋検出スイッチで発生した細長の板バネ状可動接点７７とプリント回路基板３５との隙間Ｘに異物を差し込むことによって、不正開蓋検出スイッチを作動させないようにするような細工は不可能である。従って、第４実施例の不正開蓋検出スイッチを本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置も用いた場合も、不正開蓋を確実に検出することができる。
【００２６】
【発明の効果】
本発明に係る電子機器の不正開蓋防止装置においては、ケースに孔を開けたり、又はケースの一部を壊しても、不正開蓋検出スイッチを意図的に作動させたり又は作動させないようにすることは不可能である。従って、本発明に係る不正開蓋防止装置が適用された電子機器においては不正開蓋が検出されないという問題が無くなり、電子機器の改造の防止や電子機器が記憶しているデータやプログラムへの不正アクセスの防止が、従来装置に比較して遙かに強化された。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る不正開蓋防止装置の一実施形態の回路図である。
【図２】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第１実施例の断面図である。
【図３】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第１実施例の断面図である。
【図４】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第２実施例の断面図である。
【図５】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第２実施例の断面図である。
【図６】蓋が開けられた状態の不正開蓋検出スイッチの第３実施例の断面図である。
【図７】第３実施例に用いられている固定接点パターンの一例である。
【図８】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第３実施例の断面図である。
【図９】蓋が閉められた状態の不正開蓋検出スイッチの第４実施例の断面図である。
【図１０】第４実施例に用いられているネジキャップの一例である。
【図１１】従来の不正開蓋防止装置の一実施形態の回路図である。
【図１２】蓋が開けられた状態の従来の不正開蓋検出スイッチの断面図である。
【図１３】蓋が閉められた状態の従来の不正開蓋検出スイッチの断面図である。
【符号の説明】
１１    ＣＰＵ
１２    メモリ
１３    Ｉ／Ｏ
１４    不正開蓋検出回路
３１    下ケース
３１ａ    固定用ネジ貫通孔
３１ｂ    円筒状突起部
３１ｃ    固定用ネジ孔
３１ｄ    板バネ用貫通孔
３１ｅ    ネジキャップ収納穴
３１ｆ    開口
３２    上ケース
３２ａ    固定用ネジ貫通孔
３２ｂ    突起部
３２ｃ    固定用ネジ孔
３２ｄ    第２の突起部
３３    メインスイッチ基板
３３ａ    固定用ネジ貫通孔
３４    サブスイッチ基板
３５    プリント回路基板
３５ａ    固定用ネジ貫通孔
３６    固定接点
３７    導電性コイルバネ
３８    円筒状ガード
３９    固定用ネジ
４６    固定接点用ランド
４７    細長の板バネ状可動接点
４７ａ    固定用ネジ貫通孔
５６    固定接点
５６ｂ、５６ｃ    固定接点パターン
５７    ワッシャ型可動接点
６０    マイクロスイッチ
６０ａ    マイクロスイッチの操作端
６１    ネジキャップ
６１ａ    円柱本体部
６１ｂ    円形頂部
６１ｃ    突起部
６１ｄ    中空部
６１ｅ    環状凹部
７６    固定接点
７７    細長の板バネ状可動接点
【図１】
0003842505.tif 000002
【図２】
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【図３】
0003842505.tif 000004
【図４】
0003842505.tif 000005
【図５】
0003842505.tif 000006
【図６】
0003842505.tif 000007
【図７】
0003842505.tif 000008
【図８】
0003842505.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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