(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶表示パネルの検査装置であって、
前記液晶パネルは、
一方のパネル基板と他方のパネル基板間に液晶が封入され、
前記一方のパネル基板に形成された走査線と、前記他方のパネル基板に形成されたデータ線と、前記一方のパネル基板が前記他方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第１の端子部分と、前記他方のパネル基板が前記一方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第２の端子部分とを有し、
前記第１の端子部分において、前記他方のパネル基板の端部近傍に形成される前記走査線への走査線端子と、前記走査線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられ、
前記第２の端子部分において、前記一方のパネル基板の端部近傍に形成される前記データ線へのデータ線端子と、前記データ線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられたものであり、
当該検査装置は、
第１の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記他方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記一方のパネル基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる第１の接続手段と、
第２の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記一方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記他方のパネル基板に形成された前記データ線端子とを互いに接続させる第２の接続手段と、
前記第１の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記走査線を駆動するための信号を供給する第１の供給手段と、
前記第２の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信号を供給する第２の供給手段と
を具備することを特徴とする液晶表示パネルの検査装置。
【請求項２】
前記第１あるいは第２の接続手段は、前記一方あるいは他方のパネル基板に対して弾性体によって押圧するものであることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。
【請求項３】
液晶表示パネルの検査方法であって、
前記液晶パネルは、
一方のパネル基板と他方のパネル基板間に液晶が封入され、
前記一方のパネル基板に形成された走査線と、前記他方のパネル基板に形成されたデータ線と、前記一方のパネル基板が前記他方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第１の端子部分と、前記他方のパネル基板が前記一方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第２の端子部分とを有し、
前記第１の端子部分において、前記他方のパネル基板の端部近傍に形成される前記走査線への走査線端子と、前記走査線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられ、
前記第２の端子部分において、前記一方のパネル基板の端部近傍に形成される前記データ線へのデータ線端子と、前記データ線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられたものであり、
当該検査方法は、
第１の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記他方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記一方のパネル基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる一方、第２の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記一方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記他方のパネル基板に形成された前記データ線端子とを互いに接続させる過程と、
前記第１の可撓性基板に実装された第１の供給手段によって、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記走査線を駆動するための信号を供給する一方、前記第２の可撓性基板に実装された第２の供給手段によって、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信号を供給する過程と
を備えることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
【請求項４】
前記第１あるいは第２の可撓性基板の接続端子を接続させる過程は、前記一方あるいは他方のパネル基板に対して弾性体によって押圧するものであることを特徴とする請求項３記載の液晶表示パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、駆動信号を供給するベアチップ（集積回路）等を実装する前の表示検査に用いて好適な液晶表示パネルの検査用プローブ、ならびに、このプローブを用いた液晶表示パネルの検査装置および検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、液晶表示パネルにあっては、短絡や、断線、特性などの表示に関する検査を実行し、この検査にパスしたものに対して、実際に、駆動信号を供給する電子部品たるベアチップ等を実装するようになっている。ここで、従来、液晶表示パネルの検査にあっては、ベアチップ等が実装される各端子に対して、それぞれピンプローブを位置決めして接触させるとともに、それらのピンプローブを介して実際の駆動信号を供給して、その表示を確認する方法が採用されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このピンプローブは、内部に微細なスプリング等を有するので、機構的に非常に壊れやすい、という欠点があった。また、ベアチップの端子間隔は一般に狭いので、ピンプローブの配置間隔が非常に近接する。このため、検査装置の製作が困難であり、検査装置の製造コストも上昇するという問題があった。
【０００４】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、液晶表示パネルの検査において、壊れにくく、かつ、製作コストが安価な液晶表示パネルの検査用プローブ、ならびに、この検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査装置および検査方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため本発明の参考例による液晶表示パネルの検査用プローブは、一対のパネル基板間に液晶が封入され、複数の走査線および複数のデータ線によって表示状態を制御し、前記複数の走査線への走査線端子および前記複数のデータ線へのデータ線端子が前記パネル基板に形成された液晶表示パネルの検査用プローブであって、可撓性基板に、前記走査線端子あるいは前記データ線端子に接続するための接続端子を含む導電パターンが形成されるとともに、前記接続端子に対し前記導電パターンを介して前記走査線あるいは前記データ線を駆動するための信号を供給する電子部品が実装されたことを特徴としている。
【０００６】
このような構成によれば、パネル基板に形成された走査線端子あるいはデータ線端子に対しては、可撓性基板に形成された導電パターンの一部である接続端子を介して駆動信号が供給される。このため、ピンプローブを用いることなく、液晶表示パネルの表示に関する検査が可能となる。
【０００７】
本発明は、液晶表示パネルの検査装置であって、前記液晶パネルは、一方のパネル基板と他方のパネル基板間に液晶が封入され、前記一方のパネル基板に形成された走査線と、前記他方のパネル基板に形成されたデータ線と、前記一方のパネル基板が前記他方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第１の端子部分と、前記他方のパネル基板が前記一方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第２の端子部分とを有し、前記第１の端子部分において、前記他方のパネル基板の端部近傍に形成される前記走査線への走査線端子と、前記走査線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられ、前記第２の端子部分において、前記一方のパネル基板の端部近傍に形成される前記データ線へのデータ線端子と、前記データ線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられたものであり、当該検査装置は、第１の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記他方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記一方のパネル基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる第１の接続手段と、第２の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記一方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記他方のパネル基板に形成された前記データ線端子とを互いに接続させる第２の接続手段と、前記第１の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記走査線を駆動するための信号を供給する第１の供給手段と、前記第２の可撓性基板に実装されるとともに、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信号を供給する第２の供給手段とを具備することを特徴とする。
【０００８】
また、前記第１あるいは第２の接続手段は、前記一方あるいは他方のパネル基板に対して弾性体によって押圧するものであることを特徴とする。
【０００９】
本発明は、液晶表示パネルの検査方法であって、前記液晶パネルは、一方のパネル基板と他方のパネル基板間に液晶が封入され、前記一方のパネル基板に形成された走査線と、前記他方のパネル基板に形成されたデータ線と、前記一方のパネル基板が前記他方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第１の端子部分と、前記他方のパネル基板が前記一方のパネル基板の端部より突出した領域に設けられた第２の端子部分とを有し、前記第１の端子部分において、前記他方のパネル基板の端部近傍に形成される前記走査線への走査線端子と、前記走査線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられ、前記第２の端子部分において、前記一方のパネル基板の端部近傍に形成される前記データ線へのデータ線端子と、前記データ線を駆動するための電子部品を実装する領域とが設けられたものであり、当該検査方法は、第１の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記他方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記一方のパネル基板に形成された前記走査線端子とを互いに接続させる一方、第２の可撓性基板の接続端子が形成された辺を前記一方のパネル基板の端部に沿って押圧し、当該接続端子と、前記他方のパネル基板に形成された前記データ線端子とを互いに接続させる過程と、前記第１の可撓性基板に実装された第１の供給手段によって、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記走査線を駆動するための信号を供給する一方、前記第２の可撓性基板に実装された第２の供給手段によって、当該接続端子に対し、導電パターンを介して前記データ線を駆動するための信号を供給する過程とを備えることを特徴とする。
また、前記第１あるいは第２の可撓性基板の接続端子を接続させる過程は、前記一方あるいは他方のパネル基板に対して弾性体によって押圧するものであることを特徴とする。
【００１０】
このような方法によれば、上記第１の発明にかかる検査用プローブを用いた液晶表示パネルの検査が可能となる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１２】
まず、本実施形態にかかる検査装置において、検査対象となる液晶表示パネルの構成について説明する。図１（ａ）に示されるように、検査対象となる液晶表示パネル１００は、ガラス等からなる２枚の基板が互いに対向するように貼り合わせられ、その間隙に液晶が封入されたものである。ここで、一方の基板２００の貼り合わせ面には、複数の走査線が行方向に互いに平行となるように形成される一方、他方の基板３００の貼り合わせ面には、複数のデータ線が列方向に互いに平行となるように形成されている。そして、各基板２００、３００には、走査線とデータ線とを外部に引き出すため、走査線端子およびデータ線端子がそれぞれ設けられている。
【００１３】
なお、このような構造となる液晶表示パネル１００は、一般には、ＴＦＤ（Thin Film Diode）素子のような２端子形非線形素子を用いて画素電極を駆動するアクティブマトリクス方式のものや、非線形素子を用いなパッシブマトリクス方式のものが該当する。ただし、本発明は、これに限られず、一方の基板において走査線とデータ線とを外部に引き出すための端子が設けられた液晶表示パネル、たとえば、画素電極をスイッチングする素子としてＴＦＴ（Thin Film Transistor）素子のような３端子形非線形素子を用いたアクティブマトリクス方式の液晶表示パネルでも適用可能である。
【００１４】
次に、基板２００、３００の端子部分について説明する。図２は、基板３００の端子部分における要部を拡大した平面図である。なお、この図は、図１の裏面（下面）から見た場合に相当している。
【００１５】
この図において、データ線端子３１２ａは、基板３００に形成された複数のデータ線３１２の先端部分であり、素子基板２００の端部近傍において間隔を狭めて櫛状に形成されている。一方、これと対向するように、外部端子３７０から延長された制御端子３７０ａが形成されている。なお、走査線２１２は、基板２００においてデータ線３１２と直交する方向に延在して形成されている。
【００１６】
ここで、本実施形態にかかる検査装置により正常と判別された液晶表示パネル１００にあっては、各データ線を駆動するベアチップが、波線３５１に示される領域にＣＯＧ（Chip On Glass）等の技術により実装され、また、そのベアチップに制御信号を外部から供給するためのＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）が、波線３６１に示されるように外部端子３７０に接続されるようになっている。すなわち、図４に示されるように、基板２００の端子部分にあっては、ベアチップ２５０、２５０が実装されるとともに、ＦＰＣ２６０が接続される一方、基板３００の端子部分にあっては、ベアチップ３５０、３５０が実装されるとともに、ＦＰＣ３６０が接続されるようになっている。ただし、本実施形態にあっては、検査前の液晶表示パネル１００を対象とするので、ベアチップもＦＰＣもこの時点では実装・接続されていない。
【００１７】
なお、この実施形態にあっては、ベアチップ３５０が対向基板３００の端子部分に２個実装されるものとする。また、素子基板２００の端子部分についてもデータ線３１２が走査線２１２となる点以外同様である。
【００１８】
次に、本実施形態にかかる検査装置について説明する。図１（ａ）は、この検査装置における検査前の各部の位置関係を示す図である。この図に示されるように、液晶表示パネル１００の検査にあっては、まず、プローブユニット２８０、２８０の一辺が、基板２００の端子部分において、ゴムやウレタンなどの弾性体２９０により押圧される。一方、プローブユニット３８０、３８０の一辺が、基板３００の端子部分において同様な弾性体３９０により押圧される。なお、この場合、液晶表示パネル１００は、治具等に収容されて位置決めされた状態が望ましい。
【００１９】
ここで、プローブユニット２８０、３８０について説明する。図３は、プローブユニット３８０の構成を示す斜視図である。この図において、プローブユニット３８０は、ＰＩ（ポリイミド）やＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）などの可撓性を有する基板３８１に銅箔等の導電パターンがパターニングされたものであって、データ線３１２の各々を駆動するベアチップ３５０が異方性接着剤３８２によって実装されたものである。また、このプローブユニット３８０には、対向する２辺においてそれぞれ接続端子３８４および外部端子３８６が形成されている。このうち、前者の接続端子３８４は、検査対象となる液晶表示パネル１００の基板３００に形成されたデータ線端子３１２ａに接触するものであり、データ線端子３１２ａと同じ本数、ピッチで形成されている。一方、後者の外部端子３８６は、ベアチップ３５０に制御信号を供給する回路基板（図示省略）に接続される。
【００２０】
ここで、ベアチップ３５０は、検査後において対向基板３００の領域３５１に実装されるものと同じであるが、検査後に対向基板３００に実装される場合と比較すると、プローブユニット３８０においては裏返しの状態となっている。したがって、プローブユニットの３８０において接続端子３８４からベアチップ３５０までの導電パターンは、図２における領域３５１の実装位置ａ、ｂ、ｃ、ｄを用いると、図３で示されるような位置関係になる。なお、このような導電パターンは、基板３８１を多層にしてスルーホールを設けることや、導電パターンのピッチを狭めることなどで可能である。また、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）のようにインナーリードボンディングすれば、ベアチップ３５０を裏返し状態とせずに、実装することも可能となる。
【００２１】
一方、接続端子３８４、外部端子３８６およびベアチップ３５０の実装部分以外の領域、特に、接続端子３８４近傍にあって接続端子３８４以外の領域は、絶縁膜３８８で被覆されている。ここで、接続端子３８４が絶縁膜３８８から露出している長さは、対向基板３００のデータ線端子３１２ａが素子基板２００との端面から露出している長さと略同一となっている。
【００２２】
このようなプローブユニット２８０、３８０が、弾性体２９０、３９０により押圧されると、図１（ｂ）に示される状態となる。詳細には、プローブユニット３８０にあっては、接続端子３８４が形成された一辺が基板３００に対し、基板２００の端部に沿って、かつ、接続端子３８４とデータ線端子３１２ａとを位置合わせした状態で押圧されている。この結果、プローブユニット３８０の接続端子３８４が、押圧によって基板３００のデータ線端子３１２ａと接触して電気的な接続が図られることになる。同様に、プローブユニット２８０にあっては、その接続端子が形成された一辺が基板２００に対し、基板３００の端面に沿って、かつ、プローブユニットの接続端子と走査線端子とを位置合わせした状態で押圧されて、両者の電気的な接続が図られている。
【００２３】
そして、プローブユニット３８０の外部端子３８６には、ベアチップ３５０への制御信号が供給される一方、プローブユニット２８０の外部端子には、ベアチップ２５０への制御信号が供給される。
【００２４】
これによって、基板２００における複数の走査線２１２、および、基板３００における複数のデータ線３１２には、ベアチップ２５０、３５０が基板２００、３００の端子部分にＣＯＧ実装された場合と同じ駆動信号が供給される状態となる。したがって、この状態における液晶表示をＣＣＤ等による画像解析や目視等により判別すれば、画素欠陥等の表示検査を行うことが可能となる。
【００２５】
このような実施形態にかかる液晶表示パネルの検査によれば、基板２００、３００にベアチップ２５０、３５０を実装する前において、可撓性を有する基板３８１に接続端子３８４がパターニングされ、かつ、ベアチップ３５０が実装されたプローブユニット３８０によって、複数のデータ線３１２の各々に駆動信号が供給される一方、同様なプローブユニット２８０によって、複数の走査線２１２の各々に駆動信号が供給される。このため、高価で壊れやすいピンプローブ等を用いる必要がなくなるので、液晶表示パネル１００の表示に関する検査装置を安価で壊れにくくすることが可能となる。
【００２６】
この際、プローブユニット３８０が基板３００に対して接触する部分は、データ線端子３１２ａのみであり、他の部分は絶縁膜３８８により被覆されている。このため、基板３００においてプローブユニット３８０の接触とは無関係な外部端子３７０や制御端子３７０ａが、プローブユニット３８０の導電パターンと接触することによる回路の短絡が防止される。この点は、プローブユニット２８０についても同様である。
【００２７】
また、プローブユニット３８０の基板３８１は可撓性を有するため、単にプローブユニット３８０の接続端子３８４を基板３００のデータ線端子３１２ａに接触させただけでは、電気的に接続しない可能性もあるが、本実施形態のように弾性体３９０を介して押圧することにより、接続端子３８４に均等に応力が加わるので、電気的な接続の確実性が向上する。この点は、プローブユニット２８０についても同様である。
【００２８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、パネル基板に形成された走査線端子あるいはデータ線端子に対しては、可撓性基板に形成された導電パターンの一部である接続端子を介して、駆動信号が供給されるため、ピンプローブ等を用いることなく、液晶表示パネルの表示に関する検査が可能となる。このため、液晶表示パネルを検査するプローブを壊れにくく構成するとともに、その製作コストを大幅に削減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  （ａ）は、本発明の実施形態にかかる液晶表示パネルの各部の位置関係を示す斜視図であり、（ｂ）は、その検査時における構成を示す斜視図である。
【図２】  同検査装置において検査対象となる液晶表示パネルの端子部分の構成を示す図である。
【図３】  同検査装置におけるプローブユニットの構成を示す斜視図である。
【図４】  同検査装置の検査をパスした液晶表示パネルに対して行われる実装の様子を説明するための図である。
【符号の説明】
１００……液晶表示パネル
２００……基板（パネル基板）
２５０……ベアチップ（第１の供給手段）
２６０……ＦＰＣ
２１２……走査線
２９０……弾性体
３００……基板（パネル基板）
３１２……データ線
３１２ａ……データ線端子
３５０……ベアチップ（第２の供給手段）
３６０……ＦＰＣ
３８０……プローブユニット
３８１……基板（可撓性基板）
３８４……接続端子
３８８……絶縁膜
３９０……弾性体
【図１】
0003785821.tif 000002
【図２】
0003785821.tif 000003
【図３】
0003785821.tif 000004
【図４】
0003785821.tif 000005