(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検測物の一側面に対向させて設けた可動基盤と、該可動基盤を被検測物の一側面に向けて進退させる駆動手段と、被検測物の一側面に開口した開口部に対応させて前記可動基盤に配設したマスキングユニットと、を具備し、前記駆動手段を駆動して前記可動基盤を前進させることにより、被検測物の一側面上の同一平面に開口した複数の穿孔の開口部又は当該一側面上の他面に開口した穿孔の開口部を、対応する前記マスキングユニットで閉塞させた漏れ試験装置において、
被検測物の上面に対向させて設けた昇降基盤と、該昇降基盤に対向させて設置した天板と、該天板に設置され、前記昇降基盤を昇降可能に支持した昇降手段と、被検測物の上部傾斜面に開口した開口部を囲繞可能なマスキング板と、前記昇降基盤に吊持され、前記マスキング板に係合可能な押圧補助板と、前記昇降基盤に配設され、前記マスキング板に係合した前記押圧補助板を押圧可能な押圧部材と、を具備したことを特徴とする漏れ試験装置。
【請求項２】
前記昇降手段は、前記天板に設置した昇降ジャッキであり、該昇降ジャッキの捩子軸で前記昇降基盤を連結支持したことを特徴とする請求項１に記載の漏れ試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、気密性が要求されるエンジンのシリンダーブロック等に穿設した穿孔の漏れ量を検測する漏れ試験装置の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、車両用エンジンのシリンダーブロックには、油孔、水孔等の穿孔が複数穿設されており、これら穿孔には、エンジンの作動時に高圧が負荷されることから高い気密性が要求されている。このように、穿設された穿孔の高い気密性が要求される部品においては、漏れ試験装置により、油孔、水孔等の穿孔の開口部を気密に閉塞し、これら穿孔の内部に圧縮ガスを封入して当該穿孔からの圧縮ガスの漏れ量をリークテスタで検測することが一般に行われている。
【０００３】
このような漏れ試験装置には、漏れ試験室の上部に、被検測物（シリンダーブロック）の上面及び両側面に開口した各々の穿孔に対応させて複数のマスキングユニットをそれぞれ進退可能に設けると共に、該漏れ試験室の下部に、被検測物の下面及び前後面に開口した各々の穿孔に対応させてマスキングユニットを配設し、各々のマスキングユニットで被検測物に開口した穿孔の全ての開口部を気密に閉塞して自動検測を行うものがある。このような漏れ試験装置として、図１２に示すように、マスキングシリンダ１を駆動して、被検測物Ｗの油孔、水孔等の開口部Ｗ１に対向させて配したマスキングユニット２を進退させることにより、当該マスキングユニット２の端部に設けたマスキングシール３で開口部Ｗ１を正面から閉塞させるようにしたものが従来から知られている。
【０００４】
しかしながら、上記従来の漏れ試験装置では、被検測物Ｗに開口した各々の穿孔の開口部に対応させてマスキングユニット２及びマスキングシリンダ１を配設したので、エンジンのシリンダーブロックのように多数の穿孔が開口した被検測物Ｗにおいては、設計が困難になると共に装置が非常に高価になり、また、構造が複雑となることでメンテナンス作業が煩雑化し、装置の維持費が大きな負担となっていた。さらに、従来の漏れ試験装置は、各々のマスキングユニット２をそれぞれのマスキングシリンダ１で駆動させているため装置が車種毎の専用設計となり、他車種に対応させたり、他車種に対応させるための転用改造が極めて困難であり、製造費（設計費を含む）を増大させることとなっていた。
【０００５】
また、上記穿孔が、同一平面、且つ同一方向に開口している場合は比較的容易にマスキングユニット２を配置することができるが、該穿孔が多平面に開口している場合にはマスキングユニット２及びマスキングシリンダ１の配置が困難となり、設計、製作等が非常に厳格なものになる。さらに、構造がより複雑となることでメンテナンス作業もより煩雑化し、装置の維持費を増大させる要因となっていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
そこで本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、構造を簡略化すると共に多様な被検測物への転用を容易にして、製造費及び維持費を大幅に低減させることができる漏れ試験装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明のうち請求項１に記載の発明は、被検測物の一側面に対向させて設けた可動基盤と、該可動基盤を被検測物の一側面に向けて進退させる駆動手段と、被検測物の一側面に開口した開口部に対応させて可動基盤に配設したマスキングユニットと、を具備し、駆動手段を駆動して可動基盤を前進させることにより、被検測物の一側面上の同一平面に開口した複数の穿孔の開口部又は当該一側面上の他面に開口した穿孔の開口部を、対応するマスキングユニットで閉塞させた漏れ試験装置において、被検測物の上面に対向させて設けた昇降基盤と、該昇降基盤に対向させて設置した天板と、該天板に設置され、昇降基盤を昇降可能に支持した昇降手段と、被検測物の上部傾斜面に開口した開口部を囲繞可能なマスキング板と、昇降基盤に吊持され、マスキング板に係合可能な押圧補助板と、昇降基盤に配設され、マスキング板に係合した押圧補助板を押圧可能な押圧部材と、を具備したことを特徴とする。
【０００８】
本発明は、このように構成することで、駆動手段を駆動することにより、可動基盤に配設したマスキングユニットで、被検測物の一側面に開口した全ての開口部を閉塞させる漏れ試験装置において、昇降手段を駆動して昇降基盤を下降させることで、押圧補助板がマスキング板に係合し、さらに、該マスキング板に係合した押圧補助板が押圧部材で押圧されてマスキング板が押圧される。これにより、マスキング板で被検測物の上部傾斜面に開口した全ての開口部を囲繞して閉塞させることができる。
【０００９】
また、上記目的を達成するために、本発明のうち請求項２に記載の発明は、昇降手段は、天板に設置した昇降ジャッキであり、該昇降ジャッキの捩子軸で昇降基盤を連結支持したことを特徴とする。
【００１０】
本発明は、このように構成することで、昇降ジャッキの捩子軸を回転させることで昇降基盤を昇降させることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態の漏れ試験装置を図１ないし図１１に基づいて説明する。まず、本実施の形態の漏れ試験装置４の概略を説明する。本漏れ試験装置４は、マスキング装置５〜１０により被検測物Ｗに穿設した穿孔の開口部を気密に閉塞し、該穿孔に開口部から封入した圧縮ガスの漏れ量をリークテスタ１１（図５参照）で検測する漏れ試験装置４であって、図１及び図２に示すように、第１の可動基盤１６を被検測物Ｗの一側面に対向させて進退可能に設けると共に、該第１の可動基盤１６に、被検測物Ｗの一側面に開口した穿孔の開口部Ｗ１〜Ｗ４に対応させてマスキングユニット１２〜１５を配設しておいて、上記第１の可動基盤１６を前進させることにより、被検測物Ｗの一側面に開口した穿孔の開口部Ｗ１〜Ｗ４を対応するマスキングユニット１２〜１５で気密に閉塞させる構造になっている。
【００１２】
また、本漏れ試験装置４は、図３及び図４に示すように、第１の基盤１７に対向させて設置した天板１８と、被検測物Ｗの上面に対向させて設けた昇降基盤１９と、天板１８に設置され、昇降基盤１９を昇降可能に支持した昇降手段と、被検測物Ｗの上部傾斜面に開口した開口部を囲繞可能なマスキング板２０と、昇降基盤１９に吊持され、マスキング板２０に係合可能な押圧補助板２１と、昇降基盤１９に配設され、マスキング板２０に係合させた押圧補助板２１を押圧する押圧部材２２とを具備した。これにより、本漏れ試験装置４は、昇降手段を駆動して昇降基盤１９を下降させることにより、押圧補助板２１をマスキング板２０に係合させ、さらに、該押圧補助板２１を押圧部材２２で押圧させてマスキング板２０で被検測物Ｗの上部傾斜面に開口した全ての開口部を囲繞して閉塞させることができる構造になっている。
【００１３】
次に、本実施の形態の漏れ試験装置４の詳細を説明する。図５及び図６に示すように、本漏れ試験装置４は、被検測物Ｗの前面（図６における紙面下側の側面）を閉塞させる前マスキング装置５と、被検測物Ｗの上部傾斜面を閉塞させる上部マスキング装置６と、被検測物Ｗの上部平坦面を閉塞させる上面マスキング装置７と、被検測物Ｗの右側面（図６における紙面右側の側面）を閉塞させる右マスキング装置８と、被検測物Ｗの左側面（図６における紙面左側の側面）を閉塞させる左マスキング装置９と、被検測物Ｗの後面（図６における紙面上側の側面）を閉塞させる後マスキング装置１０と、被検測物Ｗの下面を閉塞させる下面マスキング装置（図示せず）と、を架台２３に敷設した第２の基盤２４で支持した構造になっている。
【００１４】
また、上記第２の基盤２４には、図６に示すように、当該第２の基盤２４を横断した搬送コンベア２５と、該搬送コンベア２５の略中間位置と直交し、且つ第２の基盤２４を縦断した一対のガイドレール２６と、当該第２の基盤２４に設置したシリンダ２７の駆動により上記一対のガイドレール２６で案内されて待機位置（搬送コンベア２５とガイドレール２６とが交差する位置）と検測位置との間をスライド移動する第２の可動基盤２８と、が設けられている。また、該第２の可動基盤２８には第１の基盤１７が着脱可能に敷設されており、該第１の基盤１７上には前マスキング装置５、上部マスキング装置６及び下面マスキング装置（図示せず）が各々所定位置に配設されている。
【００１５】
また、本漏れ試験装置４は、搬送コンベア２５を用いて被検測物Ｗを待機位置まで搬送し、該被検測物Ｗを第１の基盤１７に位置決めさせた後、上部マスキング装置６及び下面マスキング装置（図示せず）により被検測物Ｗの上部及び下部に開口した穿孔の開口部を閉塞させると共に前マスキング装置５により被検測物Ｗの前面に開口した穿孔の開口部Ｗ１〜Ｗ４を閉塞させる構造になっている。そして、本漏れ試験装置４は、シリンダ２７を駆動して第２の可動基盤２８を待機位置から検測位置に移動させて被検測物Ｗを検測位置に位置決めさせた後、右マスキング装置８及び左マスキング装置９により被検測物Ｗの両側面に開口した穿孔の開口部を閉塞させると共に後マスキング装置１０により被検測物Ｗの後面に開口した穿孔の開口部を閉塞させて被検測物Ｗに開口した全ての穿孔の開口部を気密に閉塞するように構成されている。
【００１６】
次に、上記前マスキング装置５の詳細を説明する。前マスキング装置５は、図１及び図２に示すように、上記第１の基盤１７上にマウントベース２９が設置されており、該マウントベース２９には、被検測物Ｗの前面に対向させて第１の可動基盤１６が設置されている。そして、第１の可動基盤１６には、被検測物Ｗの前面に開口した穿孔の開口部Ｗ１〜Ｗ４に対応させてマスキングユニット１２〜１５が各々配設されており、起動ボタン（図示せず）を押圧し、第１の駆動手段を駆動して第１の可動基盤１６を前進させることにより、当該被検測物Ｗの前面に開口した穿孔の開口部Ｗ１〜Ｗ４が対応するマスキングユニット１２〜１５で閉塞される構造になっている。
【００１７】
また、図７及び図９に示すように、上記第１の可動基盤１６には、一対のガイドシャフト３０が立設されており、前マスキング装置５は、該一対のガイドシャフト３０を、マウントベース２９に配設した一対のガイドホルダ３１で摺動可能に支持することで、第１の可動基盤１６が被検測物Ｗの前面に対して進退方向に案内されている。さらに、上記マウントベース２９にはナット部材３３が固着されており、該ナット部材３３には、一端を上記第１の可動基盤１６に回転可能に連結させた捩子軸３２が螺合されている。そして、上記第１の駆動手段は、捩子軸３２を所要方向に回転させて当該捩子軸３２をナット部材３３に対して軸線方向に移動させることにより、第１の可動基盤１６を被検測物Ｗの前面に対して前進及び後退させることができる構造になっている。なお、図７及び図９に示すように、上記マウントベース２９には、第１の可動基盤１６を貫通させた一対の支持アーム３４が立設されており、上記第１の駆動手段は、該一対の支持アーム３４に架設した係止部材３５で第１の可動基盤１６に配設した一対の被係止部材３６を係止して、第１の可動基盤１６の前進移動を規制した構造になっている。
【００１８】
また、第１の可動基盤１６には、図１、図２及び図７に示すように、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して垂直な面に開口した開口部Ｗ２を閉塞させるマスキングユニット１３と、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して傾斜した面に開口した開口部Ｗ３を閉塞させるマスキングユニット１４と、第１の基盤１７に対して傾斜し、且つ上記開口部Ｗ３が開口した面よりも奥まった面に開口した開口部Ｗ４を閉塞させるマスキングユニット１５と、第１の可動基盤１６に設置したトグルクランプ３７（図８参照）を駆動することで進退し、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して傾斜した面に開口した開口部Ｗ１を閉塞させるマスキングユニット１２と、が配設されている。
【００１９】
上記マスキングユニット１３は、図１、図２及び図７に示すように、Ｏリング３８を具備しており、該Ｏリング３８により、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して垂直な面に開口した開口部Ｗ２を囲繞して閉塞させる構造になっている。また、上記マスキングユニット１４は、小径基端部が、第１の可動基盤１６に固定したブラケット３９に摺動可能に支持されており、該ブラケット３９と大径部との間に介在させた圧縮コイルばね４０により、該大径部を被検測物Ｗに向けて常時弾発付勢させている。なお、本マスキングユニット１４には、そのマスキング面に、被検測物Ｗの開口部Ｗ３が開口した傾斜面に整合させて傾斜が形成されている。また、図７に示す符号４１は、ブラケット３９に設置したマスキングユニット１４の回転止めである。
【００２０】
また、図８に示すように、マスキングユニット１２は、基部が、第１の可動基盤１６に固定したトグルクランプ３７の駆動軸４２に連結されており、駆動レバー４３を下方に操作することにより、該駆動軸４２が突出方向に駆動され、これにより当該マスキングユニット１２が進出方向に移動して、開口部Ｗ１を閉塞した状態で保持する構造になっている。なお、図８に示す符号４４は、マウントブラケット４５に固定した当該マスキングユニット１２の回転止め用の部材であり、該部材４４でマスキングユニット１２に固着した案内ピン４６を摺動可能に支持した構造になっている。また、図１及び図２に示す符号４７は、上記被検測物Ｗの待機位置に設けた搬送装置であり、該搬送装置４７は、第１の基盤１７上に配設した一対の支持基台４８に、弾性部材４９（図４参照）を介して支持されている。
【００２１】
次に、上記上部マスキング装置６及び上面マスキング装置７の詳細を説明する。図４及び図５に示すように、第１の基盤１７上には、複数（本実施例では４本）の支柱５０が立設されており、これら支柱５０により天板１８が支持されている。また、該天板１８には、昇降可能な捩子軸５２を備えた昇降ジャッキ（昇降手段）５１が設置されており、該捩子軸５２の一端に上記昇降基盤１９を連結して、当該昇降基盤１９を昇降可能に支持した構造になっている。また、図４及び図５に示すように、昇降基盤１９には、一対のガイドシャフト５３が立設されており、該一対のガイドシャフト５３は天板１８に配設した一対のガイドホルダ５４で摺動可能に支持されている。また、上記昇降ジャッキ５１の捩子軸５２には、駆動軸５５に嵌着したウォームギア（図示せず）が係合されており、本漏れ試験装置４は、上記駆動軸５５を回転させることで昇降ジャッキ５１の捩子軸５２を昇降させ、これにより昇降基盤１９を昇降させる構造になっている。
【００２２】
なお、本実施例では、昇降手段として昇降ジャッキ５１を用いたが、該昇降手段はこれに限定されるものではなく、例えば、天板１８に油圧シリンダを設置すると共に該油圧シリンダのピストンロッドにより上記昇降基盤１９を連結支持しておいて、当該油圧シリンダを駆動させることで昇降基盤１９を昇降させるように構成してもよい。また、図４及び図５に示す符号５６は、上記一対のガイドシャフト５３の各々に固着した係止部材であり、昇降基盤１９は、該係止部材５６をガイドホルダ５４の端面に当接させることで下降移動が所定位置（高さ）で規制されている。また、符号５７は昇降ジャッキ５１の捩子軸５２の突出部を保護するケーシングで、符号５８は天板１８の剛性を向上させるためのリブである。
【００２３】
上記上部マスキング装置６は、図３及び図１０に示すように、被検測物Ｗの上部傾斜面に開口した開口部を閉塞させるマスキング板２０を具備し、該マスキング板２０のマスキング面には、被検測物Ｗの上部傾斜面に開口した全ての開口部を囲繞可能なマスキングシール（図示せず）が装着されている。なお、図３に示す符号５９はマスキング板２０に設けられたダミー用部材であり、該ダミー用部材５９は、被検測物Ｗの大容量穿孔内に挿入させて当該穿孔内の容積を低減させるためのものである。また、上記昇降基盤１９には、マスキング板２０に係合可能な押圧補助板２１が吊持されると共に、該押圧補助板２１の背面に設けた押圧ブロック６０を押圧可能な押圧用ローラ（押圧部材）２２が配設されており、上部マスキング装置６は、昇降基盤１９を下降させ、押圧用ローラ（押圧部材）２２で押圧ブロック６０を押圧させることにより、マスキング板２０のマスキングシールを被検測物Ｗの上部傾斜面に密着させて被検測物Ｗの上部傾斜面を閉塞させる構造になっている。
【００２４】
また、上記上面マスキング装置７は、図３及び図４に示すように、昇降基盤１９に固定したブラケット６２と、該ブラケット６２に固着したマスキングシール６３とを具備しており、該マスキングシール６３で被検測物Ｗの上部平坦面に開口した開口部を囲繞し閉塞させる構造になっている。なお、図１０に示す符号６４は、昇降基盤１９に配設したブラケット６５に取り付けられた被検測物Ｗの位置決め用の部材である。
【００２５】
次に、上記右マスキング装置８の詳細を説明する。右マスキング装置８は、図５及び図６に示すように、右マウントブラケット６６が、第２の基盤２４上の後部（検測位置側）右側に設置されており、該右マウントブラケット６６により被検測物Ｗの右側面に対向させて設けた第３の可動基盤６７が支持されている。また、該第３の可動基盤６７には、第３の基盤（マスキングユニット基盤）６８が着脱可能に設けられており、該第３の基盤６８には被検測物Ｗの右側面に開口した穿孔の開口部を閉塞させるマスキングユニット６９が固定されている。そして、上記第３の可動基盤６７には一対のガイドシャフト７０が立設されており、該一対のガイドシャフト７０は右マウントブラケット６６に配設した一対のガイドホルダ７１で摺動可能に支持されている。
【００２６】
また、上記右マスキング装置８は、第３の可動基盤６７に、右マウントブラケット６６に設置したシリンダ７２のピストンロッド７３が固着されており、該シリンダ７２を駆動して第３の可動基盤６７を前進させることにより、マスキングユニット６９で被検測物Ｗの右側面に開口した穿孔の開口部を閉塞させる構造になっている。なお、図６に示す符号７４は、第３の可動基盤６７に立設した回転止め用のピンであり、該ピン７４は、右マウントブラケット６６により摺動可能に支持されている。また、符号７５は、第３の可動基盤６７（マスキングユニット６９）の後退端位置を制御するためのストッパ部材である。
【００２７】
次に、上記左マスキング装置９の詳細を説明する。左マスキング装置９は、図５及び図６に示すように、左マウントブラケット７６が、第２の基盤２４上の後部（検測位置側）左側に設置されており、該左マウントブラケット７６により、被検測物Ｗの左側面に対向させた第４の可動基盤７７が支持されている。また、該第４の可動基盤７７には、第４の基盤（マスキングユニット基盤）７８が着脱可能に設けられており、該第４の基盤７８には、被検測物Ｗの左側面に開口した穿孔の各々の開口部に対応させたマスキングユニット７９〜８１が配設されている。また、上記第４の可動基盤７７には一対のガイドシャフト８２が立設されており、左マスキング装置９は、該一対のガイドシャフト８２が、左マウントブラケット７６に配設した一対のガイドホルダ８３により摺動可能に支持されている。
【００２８】
また、上記左マスキング装置９は、左マウントブラケット７６に設置したシリンダ８４のピストンロッド８５が第４の可動基盤７７に固着されており、該シリンダ８４を駆動して第４の可動基盤７７を前進させることにより、被検測物Ｗの左側面に開口した穿孔の全ての開口部をマスキングユニット７９〜８１で閉塞させる構造になっている。上記マスキングユニット８１は、第４の基盤７８に着脱可能に設けられており、端部に配したマスキング部には、対応する開口部を囲繞し閉塞させるための紐状シール（図示せず）が装備されている。なお、該紐状シールで囲繞させる開口部の数は、１つでも複数でもよい。また、図６に示す符号８６は、第４の可動基盤７７に立設した回り止め用のピンであり、該ピン８６は左マウントブラケット７６により摺動可能に支持されている。さらに、符号８７は、第４の可動基盤７７の後退端位置を制御するためのストッパ部材である。
【００２９】
次に、上記後マスキング装置１０の詳細を説明する。後マスキング装置１０は、図４及び図６に示すように、後マウントブラケット８８が、第２の基盤２４上の後部（検測位置側）に設置されており、該後マウントブラケット８８の立面上部に固着したマスキングユニット支持ブラケット８９により、被検測物Ｗ後部の傾斜面に対向させたマスキングユニット９０を保持した構造になっている。また、図１１に示すように、マスキングユニット９０は、幅方向に一対のガイドシャフト９１を備えた第５の可動基盤９３により保持されており、該第５の可動基盤９３は、一対のガイドシャフト９１がマスキングユニット支持ブラケット８９に配した一対のガイドホルダ９２で摺動可能に支持されている。
【００３０】
また、図４に示すように、後マウントブラケット８８には、被検測物Ｗの後面に対向させた第６の可動基盤９４が上記マスキングユニット支持ブラケット８９の下方に設けられており、該第６の可動基盤９４は、幅方向に配した一対のガイドシャフト９５が、後マウントブラケット８８に配設した一対のガイドホルダ９６により摺動可能に支持されている。また、図４及び図６に示すように、第６の可動基盤９４には、上記後マウントブラケット８８に固着したシリンダ９７のピストンロッド（図示せず）が連結されており、該シリンダ９７を駆動させて第６の可動基盤９４を進退させる構造になっている。
【００３１】
さらに、図１１に示すように、第６の可動基盤９４には、第６の基盤９８が着脱可能に装着されており、該第６の基盤９８には、マスキングユニット支持ブラケット８９を貫通したマスキングユニット９０の基部９９を挟むようにして、一対の押圧用ブラケット１００が設けられいる。そして、マスキングユニット９０の基部９９の一端には、当該基部９９の軸線と直交する軸を有した一対の押圧用ローラ１０１が設けられており、該一対の押圧用ローラ１０１は、図４及び図１１に示すように、一対の押圧用ブラケット１００の各々に形成され、マスキングユニット９０の基部９９の軸線と所定角度を成すようにして延設させた押圧用溝１０２に係合されている。これにより、本後マスキング装置１０は、シリンダ９７を駆動して第６の可動基盤９４を前進させることにより、マスキングユニット９０の基部９９の一対の押圧用ローラ１０１が押圧用溝１０２の押圧面に押し上げられる。押圧用ローラ１０１が押圧用溝１０２の押圧面で押し上げられると、当該マスキングユニット９０は、被検測物Ｗ後部の開口部を有した傾斜面（図示せず）に向けて斜め上方に前進し、該傾斜面に開口した開口部にマスキングシール１０３を密着させて当該開口部を気密に閉塞させる構造になっている。
【００３２】
なお、図４及び図５に示す符号１０４は、第２の基盤２４に設置され、上記第２の可動基盤２８を待機位置に位置決めさせる第１のストッパブラケットであり、該第１のストッパブラケット１０４でシリンダ２７のピストンロッド１０５に固定したナックル部材１０６の移動を規制して当該第２の可動基盤２８を待機位置に位置決めさせる構造になっている。また、図４及び図６に示す符号１０７は、第２の基盤２４上にシリンダ２７を挟むように左右両側に設置され、上記第２の可動基盤２８を検測位置に位置決めさせる第２のストッパブラケットであり、該第２のストッパブラケット１０７で第２の可動基盤２８の移動を規制して当該第２の可動基盤２８を待機位置に位置決めさせる構造になっている。また、図４に示す符号１０８は、架台２３の所定位置に設置した旋回アーム１０９で吊持したインパクトレンチである。
【００３３】
このような構成において、本実施の形態の漏れ試験装置４の作用を説明する。まず、図４乃至図６に示す本漏れ試験装置４の初期状態、即ち第２の可動基盤２８が待機位置に位置され、且つ第１の可動基盤１６、昇降基盤１９、第３の可動基盤６７、第４の可動基盤７７及び第６の可動基盤９４（第５の可動基盤９３）がそれぞれ被検測物Ｗに対して離間した側に位置した状態で、被検測物Ｗを搬送コンベア２５上を走行させると共に搬送の過程で被検測物Ｗの上部傾斜面にマスキング板２０を装着し、当該被検測物Ｗを第１の基盤１７上の待機位置に位置させる。
【００３４】
次に、昇降ジャッキ５１の駆動軸５５をインパクトレンチ１０８で駆動して、ガイドシャフト５３に固着した係止部材５６がガイドホルダ５４の端面に当接するまで、昇降基盤１９を下降させる。これにより、被検測物Ｗは、昇降基盤１９に配設した位置決め用部材６４に係合して所定位置に位置決めされ、また、被検測物Ｗの上部傾斜面に装着したマスキング板２０には、昇降基盤１９で吊持した押圧補助板２１が係合される。この際、押圧補助板２１を、昇降基盤１９で吊持したことで被検測物Ｗの上部傾斜面の傾斜角度に関わらず当該上部傾斜面に装着されたマスキング板２０に容易に係合させることができる。そして、上面マスキング装置７のマスキングシール６３が被検測物Ｗの上部平坦面に当接し、当該上部平坦面が上面マスキング装置７で押圧されると共に、押圧補助板２１の背面の押圧ブロック６０が一対の押圧用ローラ（押圧部材）２２で押圧されることより、被検測物Ｗは、上部平坦面に開口した開口部が上面マスキング装置７により閉塞されると共に上部傾斜面に開口した開口部が上部マスキング装置６により閉塞され、さらに、被検測物Ｗは搬送装置４７に介装した弾性部材４９を圧縮させながら下降して、下面に開口した開口部が下面マスキング装置（図示せず）により閉塞されることとなる。
【００３５】
次に、第１の駆動手段の捩子軸３２をインパクトレンチ１０８で駆動して第１の可動基盤１６を前進させる。これにより、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して垂直な面に開口した穿孔の開口部Ｗ２がマスキングユニット１３のＯリング３８で囲繞されて閉塞されると共に、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して傾斜した面に開口した穿孔の開口部Ｗ３がマスキングユニット１４により閉塞され、さらに、第１の基盤１７に対して傾斜し、且つ上記開口部Ｗ３が開口した面よりも奥まった面に開口した穿孔の開口部Ｗ４がマスキングユニット１５により閉塞される。そして、第１の可動基盤１６を前進させた後、第１の可動基盤１６に設置したトグルクランプ３７の駆動レバー４３を下降に操作してマスキングユニット１２を前進させることにより、被検測物Ｗの第１の基盤１７に対して傾斜した面に開口した穿孔の開口部Ｗ１をマスキングユニット１２で閉塞させる。
【００３６】
そして、被検測物Ｗの上部傾斜面、上部平坦面及び前面に開口した開口部の各々を、上部マスキング装置６、上面マスキング装置７及び前マスキング装置５により閉塞させた後、起動ボタン（図示せず）を押圧し、シリンダ２７を駆動させて第２の可動基盤２８を検測位置に位置決めさせる。本漏れ試験装置４は、第２の可動基盤２８、即ち被検測物Ｗを検測位置に位置決めさせると、右マスキング装置８のシリンダ７２を駆動して第３の可動基盤６７を前進させ、被検測物Ｗの右側面に開口した開口部をマスキングユニット６９により閉塞させると共に、左マスキング装置９のシリンダ８４を駆動して第４の可動基盤７７を前進させ、被検測物Ｗの左側面に開口した各々の開口部を対応するマスキングユニット７９〜８１により閉塞させる。
【００３７】
一方、本漏れ試験装置４は、被検測物Ｗが検測位置に位置決めされると、後マスキング装置１０のシリンダ９７を駆動して第６の可動基盤９４を前進させ、該第６の可動基盤９４の前進動作に連動させて第５の可動基盤９３を斜め上方に前進させる。これにより、被検測物Ｗの後部傾斜面に開口した開口部がマスキングユニット９０のマスキングシール１０３により閉塞され、被検測物Ｗに開口した全ての開口部が気密に閉塞されることとなる。そして、全ての開口部が閉塞されると、所定の開口部から穿孔内に圧縮ガスが封入され、該穿孔からの圧縮ガスの漏れがリークテスタ１１により検測される。
【００３８】
【発明の効果】
本漏れ試験装置では、被検測物の一側面に対向させて設けた可動基盤と、該可動基盤を被検測物の一側面に向けて進退させる駆動手段と、被検測物の一側面に開口した開口部に対応させて可動基盤に配設したマスキングユニットと、を具備し、駆動手段を駆動して可動基盤を前進させることにより、被検測物の一側面上の同一平面に開口した複数の穿孔の開口部又は当該一側面上の他面に開口した穿孔の開口部を、対応するマスキングユニットで閉塞したので、駆動手段を駆動して可動基盤を前進させることにより、被検測物の一側面に開口した全ての開口部を対応させたマスキングユニットで閉塞させることができ、その結果、漏れ試験装置の構造が極めて簡素となり、従来の漏れ試験装置と比較して製造コスト及び維持費を大幅に低減させることができる。
【００３９】
また、本漏れ試験装置では、マスキングユニットをマスキングユニット基盤に配設し、該マスキングユニット基盤を可動基盤に着脱可能に装着したので、マスキングユニットに不具合が生じた場合には、マスキングユニット基盤を可動基盤から取り外して処置を施すことができ、漏れ試験装置の停止時間を極力短時間に留めることが可能となる。また、装置を標準部品（共用部品）と専用部品とに分割することができ、当該装置を他仕様の被検測物に転用させる場合には、マスキングユニット基盤を交換することにより容易に対応させることができ、製造費を大幅に削減することが可能となる。
【００４０】
また、本漏れ試験装置では、基盤に対向させて設置した天板と、被検測物の上面に対向させて設けた昇降基盤と、天板に設置され、昇降基盤を昇降可能に支持した昇降手段と、被検測物の上部傾斜面に開口した開口部を囲繞可能なマスキング板と、昇降基盤に吊持され、マスキング板に係合可能な押圧補助板と、昇降基盤に配設され、マスキング板に係合した押圧補助板を押圧可能な押圧部材とを具備し、昇降手段を駆動して昇降基盤を下降させることにより、押圧補助板をマスキング板に係合させ、該マスキング板に係合した押圧補助板を押圧部材で押圧させたので、マスキング板で被検測物の上部傾斜面に開口した全ての開口部を囲繞し閉塞させることができ、漏れ試験装置の上部が極めて簡易に構成され、製造コスト及び維持費を大幅に低減させることができると共に、メンテナンス作業が極めて容易となる。
【００４１】
また、本漏れ試験装置では、昇降手段は、天板に設置した昇降ジャッキであり、該昇降ジャッキの捩子軸で昇降基盤を連結支持したので、昇降ジャッキの捩子軸を回転させることにより、昇降基盤を昇降させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、前マスキング装置の左側面図である。
【図２】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、前マスキング装置の右側面図である。
【図３】本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、上部マスキング装置及び上面マスキング装置の側面図である。
【図４】  本実施の形態の漏れ試験装置の右側面図である。
【図５】  本実施の形態の漏れ試験装置の正面図である。
【図６】  本実施の形態の漏れ試験装置の平面図である。
【図７】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、前マスキング装置の平面図である。
【図８】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、前マスキング装置における基部にトグルクランプを備えたマスキングユニットを示す図である。
【図９】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、前マスキング装置の正面図である。
【図１０】    本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、上部マスキング装置及び上面マスキング装置の正面図である。
【図１１】  本実施の形態の漏れ試験装置の説明図で、特に、後マスキング装置のマスキングユニット周辺構造を示す図である。
【図１２】  従来の漏れ試験装置の説明図である。
【符号の説明】
４  漏れ試験装置、１２〜１５  マスキングユニット、１６  第１の可動基盤（可動基盤）、１８  天板、１９昇降基盤、２０  マスキング板、２１  押圧補助板、２２  押圧用ローラ（押圧部材）、３２  捩子軸（駆動手段）、３３  ナット部材（駆動手段）、５１  昇降ジャッキ（昇降手段）、５２  捩子軸（昇降ジャッキ）、６７  第３の可動基盤（可動基盤）、６８  第３の基盤（マスキングユニット基盤）、６９  マスキングユニット、７７  第４の可動基盤（可動基盤）、７８  第４の基盤（マスキングユニット基盤）、７９〜８１  マスキングユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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