(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも、テスト装置（１）によって少なくとも２つのモジュール（３，４，５）間の接続路をテストするための測定装置であって、テスト装置はテスト装置出力側で送出されるテスト信号を生成しかつ１つのモジュール（３，４，５）から供給され、該テスト信号から形成されかつテスト装置入力側で受信される解析信号を評価する形式のものにおいて、
前記テスト装置（１）は、スイッチング制御信号を、モジュール（３，４，５）に含まれている制御装置（１０，１１，１２）に供給するようにも構成されており、
モジュール（３，４，５）は所属の制御装置（１０，１１，１２）によって制御されるスイッチング装置（７，８，９）を含んでおり、該スイッチング装置はテスト信号又はテスト信号から形成されている中間信号をモジュール−テスト入力側に送りかつモジュール−テスト出力側から少なくとも１つの別の中間信号を受信するように構成されており、かつ
前記スイッチング装置（７，８，９）は
第１のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト装置出力側に接続しかつモジュール−テスト出力側を補助接続路（ＢＲ）に接続するように構成されておりかつ
第２のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側を補助接続路（ＢＲ）に接続しかつモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側又は別の補助接続路（ＢＲ）に接続するように構成されている
ことを特徴とする測定装置。
【請求項２】
モジュール（３，４，５）上の少なくとも１つの回路装置をテストするために、前記スイッチング装置（７，８，９）は第３のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト装置出力側に接続しかつモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側に接続するように構成されている
請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
テストすべきでないモジュール（３，４，５）のスイッチング装置（７，８，９）は第４のスイッチング状態において、モジュール−テスト入力側とテスト装置出力側との間の接続およびモジュール−テスト出力側とテスト装置入力側との間の接続を行わないように構成されている
請求項１又は２記載の測定装置。
【請求項４】
テスト装置（１）はテスト信号およびテストクロック信号を生成するためにテストジェネレータを含んでおり、
テスト装置（１）はモジュール（３，４，５）に供給すべき、テスト過程を指示するテスト制御信号を生成しかつ解析信号を評価するために評価回路（２）を含んでおり、かつ
スイッチング制御信号に依存して制御される、モジュール（３，４，５）のスイッチング装置（７，８，９）は第１、第２および第３のスイッチング状態において前記テストクロック信号をモジュール（３，４，５）の回路装置に供給するように構成されている
請求項２項記載の測定装置。
【請求項５】
モジュール（３，４，５）上の制御装置（１０，１１，１２）は所属のスイッチング装置（７，８，９）を制御するためにだけ構成されているのではなくかつ
モジュール（３，４，５）の制御装置（１０，１１，１２）およびモジュール（３，４，５）に供給すべき、テスト過程を指示するテスト制御信号を生成しかつ解析信号を評価するために評価回路（２）は、スイッチング制御信号を伝送するためにだけ構成されているのではないバス線路（６）を介して相互に接続されている
請求項１から４までのいずれか１記載の測定装置。
【請求項６】
テスト信号、テストクロック信号、テスト制御信号および中間信号はそれぞれバスに類似して配設されている線路（６）を介して伝送される
請求項４記載の測定装置。
【請求項７】
テスト装置（１）からテスト装置出力側を介して供給すべきテスト信号又は別のモジュール（３，４，５）からの中間信号を受信しかつ別の中間信号を別のモジュール（３，４，５）に供給し又はテスト信号から形成されかつテスト装置入力側に供給されるべき解析信号を供給するように構成されているモジュール（３，４，５）において、
スイッチング制御信号をテスト装置（１）から受信するための制御装置（１０，１１，１２）が設けられており、
所属の制御装置（１０，１１，１２）によって制御されるスイッチング装置（７，８，９）が設けられており、該スイッチング装置はテスト信号又はテスト信号から形成されている中間信号をモジュール−テスト入力側に送りかつモジュール−テスト出力側から少なくとも１つの別の中間信号を受信するように構成されており、かつ
前記スイッチング装置（７，８，９）は第１のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト装置出力側に接続しかつモジュール−テスト出力側を補助接続路（ＢＲ）に接続するように構成されておりかつ第２のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側を補助接続路（ＢＲ）に接続しかつモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側又は別の補助接続路（ＢＲ）に接続するように構成されている
ことを特徴とするモジュール。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、少なくとも、テスト装置によって少なくとも２つのモジュール間の接続路をテストするための測定装置であって、テスト装置はテスト装置出力側で送出されるテスト信号を生成しかつ１つのモジュールから供給され、該テスト信号から形成されかつテスト装置入力側で受信される解析信号を評価する形式のものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
この種測定装置は例えば米国特許第５０２９１６６号明細書から公知であり、テスト信号（ＴＤＩ）、テストクロック信号（ＴＣＫ）、テスト制御信号（ＴＭＳ）の生成のため、及び解析信号（ＴＤＯ）の受信ためテスト装置を有する。上記測定装置を用いてバウンダリースキャンテスト（Ｂｏｕｎｄａｒｙ−Ｓｃａｎ−Ｔｅｓｔ）が実施される。ここにおいて例えばテストすべき回路装置の入力側の前にバウンダリースキャンセルが配置されており、これらのセルは直接的又は導出されたテスト信号を受信する。バウンダリースキャンセルにおいてテスト信号及び入力信号の結合を行うことができる。バウンダリースキャンセルは直列に接続されておりかつ最後のバウンダリースキャンセルは中間信号又は解析信号を送出する。解析信号は直接的にテスト装置へ供給される。中間信号は次のバウンダリースキャンセル装置に供給される。上記測定装置によって、個々の回路装置又は回路装置又はモジュール間の接続もテストされる。
【０００３】
個々のモジュールがテスト又は測定のためリング状に相互接続されている場合、モジュールの接続がテストされ得る。ここにおいて、１つのモジュール−テスト入力側はテスト装置の出力側か別のモジュール−テスト出力側に接続される。１つのシステムにおけるモジュールの相互接続がテストされるべき場合、当該システムのすべてのモジュールは存在しかつ機能し得るものでなければならない。この種リングコンフィギレーションはシステムの構築の際又はモジュラーシステムの場合（例えば通信技術にて）補助手段なしでは使用され得ない。
【０００４】
システムのモジュールのテストのために星形構造を使用することもできる。しかしそれぞれのモジュールに対して、各モジュールに配属されているテスト制御信号に対する固有の制御接続路が必要とされる。
【０００５】
【発明の目的】
本発明の目的ないし課題とするところはモジュラーシステムにて大したコストなしでシステムのモジュール間の接続路のテストを可能にする測定装置及び当該モジユールを提供することにある。
【０００６】
【発明の構成】
上記課題の解決のために本発明によれば冒頭に述べた形式の測定装置において、テスト装置は、スイッチング制御信号を、モジュールに含まれている制御装置に供給するようにも構成されており、かつモジュールは所属の制御装置によって制御されるスイッチング装置を含んでおり、該スイッチング装置はテスト信号又はテスト信号から形成されている中間信号をモジュール−テスト入力側に送りかつモジュール−テスト出力側から少なくとも１つの別の中間信号を受信するように構成されており、かつスイッチング装置は第１のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト装置出力側に接続しかつモジュール−テスト出力側を補助接続路に接続するように構成されておりかつ第２のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側を補助接続路に接続しかつモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側又は別の補助接続路に接続するように構成されていることによって解決される。
【０００７】
テストすべき又は測定すべきモジュールは付加的にスイッチング装置を有し、該スイッチング装置はテスト装置への接続路のほかに、少なくとも１つの他のモジュールへの補助接続路を有する。当該スイッチング装置は制御装置により制御され、該制御装置は例えば通信において使用されるような複雑なモジュールにおいて既に存在しているものでる。当該制御はスイッチング制御信号に依存して実施される。１つのスイッチング装置は第１のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト信号を送出するテスト装置出力側と結合しかつ所属のモジュール−テスト出力側を補助接続路と結合する。第１のモジュールのスイッチング装置が第１スイッチ状態におかれている場合、第２モジュールのスイッチング装置は第２のスイッチング状態をとる。ここにおいて第２モジュールのスイッチング装置はこのモジュール−テスト入力側を補助接続路又は中間介挿された第３のモジュールも測定しようとする場合には更なる補助接続路に結合し、そして、このモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側と結合する。第３モジュールのスイッチング装置は一方では第１の補助接続路と所属のモジュール−テスト入力側との間の結合を形成し、他方では第２補助接続路とモジュール−テスト出力側との間の結合を形成する。モジュールの更なる挿入も可能である。その場合には更なる補助接続路が実現されなければならない。
【０００８】
本発明の測定装置によって、個々の信号に対する接続路がモジュール上のスイッチング装置により個別に形成されるという、モジュール間の接続路のテスト又は測定が可能になる。ここでは而してモジュラーシステムをも、テスト制御信号に対して更なる線路を必要とせずテストし得る。
【０００９】
モジュール上の回路装置をテストしようとする場合、スイッチング装置は第３スイッチング状態に切り換わる。ここでモジュール−テスト入力側はテスト装置出力側に結合され、モジュール−テスト出力側はテスト装置入力側と結合される。
【００１０】
テストすべきでないモジュールのスイッチング装置は第４のスイッチ状態に切り換わる。第４スイッチ状態ではモジュール−テスト入力側とテスト装置出力側との間及びモジュール−テスト出力側とテスト装置入力側との間で結合はなされない。
【００１１】
テスト装置はテスト信号及びテストクロック信号の生成のためテストジェネレータ及び更に評価回路を有する。評価回路はモジュールに供給すべき、テスト過程を指示するテスト制御信号を生成し、解析信号を評価する。テスト制御信号は例えば、どのような種類のテストが実施されるか、そしてどのように個別のスイッチング素子がモジュール上でテストの実施のため働くかを指示する。更にスイッチング制御信号に依存して制御される、モジュールのスイッチング装置は第１，第２，第３スイッチング状態にて当該モジュールの回路装置へのテストクロック信号の供給のために用いられる。
【００１２】
上述のように、モジュールの制御装置は通常作動中他の制御過程をも実施する。このような制御装置は概してバスシステムを介して相互に結合されているので、評価回路は簡単にそのようなバスと結合可能である。要するにバスはスイッチング制御信号の伝送のためのみに使用されるものではない。
【００１３】
新たなモジュールを次のようにすれば簡単にシステム中に挿入し得る、即ちテスト信号、テストクロック信号、テスト制御信号、中間信号をそれぞれバス類似に配置構成されている線路を介して伝送するものである。
【００１４】
更に本発明は、テスト装置からテスト装置出力側を介して供給すべきテスト信号又は別のモジュールからの中間信号を受信しかつ別の中間信号を別のモジュールに供給し又はテスト信号から形成されかつテスト装置入力側に供給されるべき解析信号を供給するように構成されているモジュールに関する。ここで、スイッチング制御信号をテスト装置から受信するための制御装置が設けられている。所属の制御装置によって制御されるスイッチング装置もモジュールに含まれており、該スイッチング装置はテスト信号又はテスト信号から形成される中間信号をモジュール−テスト入力側に送りかつモジュール−テスト出力側から少なくとも１つの別の中間信号を受信するように構成されている。スイッチング装置は第１のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側をテスト装置出力側に接続しかつモジュール−テスト出力側を補助接続路に接続するように構成されておりかつ第２のスイッチング状態においてモジュール−テスト入力側を補助接続路に接続しかつモジュール−テスト出力側をテスト装置入力側又は別の補助接続路に接続するように構成されている。
【００１５】
【実施例】
次に本発明の１実施例を図を用いて説明し、この図１には少なくとも２つのモジュール１８の接続路のテストのため及び１つのモジュール上の回路装置のテストのための測定装置を示す。
【００１６】
図１に示す測定装置は、例えばマルチプロセッサ又は信号プロセッサとして実現され得る評価装置２付きのテスト装置１と、詳細には説明していないクロツク発生器とを有する。テスト装置１を用いてはモジュール３，４，５のバウンダリースキャンテストを実施し得る。このためにモジュール３，４，５にはテストクロック信号ＴＣＫ，テスト制御信号ＴＭＳ，テスト信号ＴＤＩがテスト装置１から供給され得る。例えばテスト装置１にて生成されるテスト信号が１つ又は複数のモジュール３，４，５を通過すると、解析信号ＴＤＯが受信され、この解析信号は評価回路２により評価され、そして、システム又はモジュールが適正に動作しているか否かを表すものである。テスト信号ＴＤＩはテストシーケンスを送出し得、該テストシーケンスはモジュール３，４又は５、又はモジュール３，４又は５上の回路装置に供給され、又はモジュール３，４又は５上の変換回路にて変換される。テスト制御信号ＴＭＳは例えば、どのようなテストであるかを指示する。
【００１７】
テスト装置１はバスシステム６を介してモジュール３，４，５に結合されている。各モジュール３，４，５は当該モジュールの所定の機能のため設けられた回路装置のほかに、付加的なスイッチング装置７，８，９を有する。上記スイッチング装置は制御装置１０，１１，１２により制御され、この制御装置は通常動作中モジュール３，４，５上にて他の機能を実施し、例えばマルチプロセッサ又は信号プロセッサとして実現されている。制御装置１０，１１，１２はバスシステム６の線路ＳＴを介して相互に、そして評価回路２に結合されている。バスシステム６の線路ＳＴを介しては制御装置１０，１１，１２にスイッチング制御信号が評価回路２から供給される。
【００１８】
更にバスシステム６は線路ＢＣＫを有し、このＢＣＫ上ではテストシーケンスＴＣＫが伝送される。テスト制御信号ＴＭＳはバスシステム６の線路ＢＭＳ上で伝送される。テスト信号ＴＤＩは線路ＢＤＩに供給され、解析信号ＴＤＯはバスシステム６の線路ＢＤＯに供給される。バスシステム６中には線路ＢＲが設けられており、このＢＲによって２つのモジュール間の補助接続が可能になる。
【００１９】
以下スイッチング装置７，８又は９の動作機能に就いて詳述する。スイッチング装置７は３つの個々のスイッチ１３〜１５を有しこれらスイッチはバスシステム６を介して供給される信号をモジュール３に転送する。スイッチング装置７における第１スイッチ１３はバス線路ＢＣＫとの接続を形成し得、又は休止位置をとり得る。スイッチング装置１３が休止位置にない場合テストクロック信号ＴＣＫをモジュール３の回路装置へ転送する。スイッチング装置７における第２スイッチ１４はバス線路ＢＤＩ又は補助接続路ＢＲ間の接続の形成に用いられる。このスイッチ１４もバスシステムとの接続が形成されない休止位置をとり得る。スイッチ１４は休止位置をとらない場合、モジュール３のモジュール−テスト入力側にテスト装置１のテスト装置出力側からのテスト信号ＴＤＩを送出するか、又はバスシステム６の補助接続路ＢＲを介して他のモジュール４又は５の導出されたテスト信号を受信する。スイッチ１５はバス線路ＢＤＯとの接続路及び補助接続路ＢＲとの接続を形成し得る。スイッチ１５も休止位置を有する。例えばモジュール３の回路装置を通過したテスト信号はスイッチ１５によりモジュール３のモジュール−テスト出力側を介してバスシステム６の補助接続路ＢＲへ導かれるか、又はバス線路ＢＤＯを介してテスト装置１のテスト装置入力側へ導かれる。
【００２０】
スイッチング装置８および９は同様にそれぞれ３つのスイッチ１６〜１８ないし１９〜２１を有する。これらスイッチ１６〜１８ないし１９〜２１はスイッチング装置７のスイッチ１３〜１５と同じように動作する。
【００２１】
モジュール３，４又は５における１つ又は複数の回路装置をテスト又は測定しようとする場合、スイッチ１３はクロック信号をモジュール３，４又は５の１つ又は複数の回路装置へ通過伝送する。スイッチ１４は例えばテスト信号ＴＤＩをバス線路ＢＤＩを介してモジュール３のモジュール−テスト入力側へ通過伝送する。モジュールを通過したテスト信号は解析信号としてスイッチング装置７のスイッチ１５を介してバス線路ＢＤＯへ導かれる。この場合、スイッチング装置は第３のスイッチ状態におかれる。スイッチング装置８および９の他のスイッチ１６〜１８ないし１９〜２１は休止位置におかれている（第４スイッチング状態）。
【００２２】
２つのモジュール間、例えばモジュール３と４間の接続のテスト又は測定の際例えばモジュール３はスイッチ１４を介してテスト信号ＴＤＩを受け取る。当該モジュールを通過するテスト信号は中間信号としてスイッチング装置７のスイッチ１５を介してバスシステム６の補助接続路ＢＲへ伝送される。この場合スイッチング装置７は第１スイッチ状態におかれている。スイッチング装置８（モジュール４）のスイッチ１７によりこの中間信号は補助接続路ＢＲからモジュール４のモジュール−テスト入力側へ導かれる。モジュール４の種々の回路装置を通過したこの中間信号は解析信号としてスイッチング装置のスイッチ１８を介してバス線路ＢＤＯへ供給され、そしてテスト装置（テストゼネレータ）１にて受信後評価される。ここにおいてスイッチング装置８は第２のスイッチ状態におかれている。他のスイッチング装置９のスイッチ１９〜２１は休止位置（第４のスイッチング状態）におかれている。
【００２３】
テストクロック信号ＴＣＫは第４スイッチ状態においてだけモジュール３〜５の回路装置へ導かれない。テスト制御信号ＴＭＳはモジュール３〜５の回路装置との直接的接続を有する。
【００２４】
【発明の効果】
本発明によれば、モジュラーシステムにて大してコストをかけずにシステムのモジュール間の接続のテストを可能にする測定装置を実現したという効果が奏される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施例の接続図である。
【符号の説明】
１    テスト装置
２    評価回路
３〜５    モジュール
６    バスシステム
７〜９    スイッチング装置
１０〜１２  制御装置
１３〜２１  スイッチ
【図１】
0003756209.tif 000002