(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる視野から入射した複数の被写体像を検出し、上記複数の被写体像位置の相対的な差に基づいて上記被写体までの距離を測定する測距装置において、
交流点灯し、上記被写体を照明する人工光源からの光の変動を検出する検出手段と、
上記光の変動検出結果に応答して、上記被写体像信号の検出開始のタイミングを、上記人工光源による光の明るさが増加しつつあるとき、もしくは減少しつつあるときのいずれか一方の状態にあるときに制御する制御手段と、
を具備することを特徴とする測距装置。
【請求項２】
視差を有する２つの開口部を介して入射する対象物からの光束を光電変換素子アレイ上にそれぞれ結像させ、それにより得られる２像信号の相対間隔を検知して対象物までの距離を求める測距装置において、
上記光電変換素子アレイからの像信号が適正な蓄積レベルに達したときに出力信号を発生するモニタ手段と、
対象物を照明する交流電源により駆動される人工光源の存在、ならびに明るさの時間に対する変化率を検知する検知手段と、
上記人工光源の明るさの時間に対する変化率に応答して、像信号の蓄積動作を人工光源の半周期待つよう制御する制御手段と、
を具備することを特徴とする測距装置。
【請求項３】
異なる視野から入射した複数の被写体像を光電センサアレイからの被写体像信号によって検出し、上記複数の像位置の相対的な差に基づいて上記被写体までの距離を測定する測距装置において、
上記被写体像信号を繰り返し測定して、上記被写体を交流点灯して照明する人工光源による光の変動量とその増減方向を検出する検出手段と、
この人工光源による光の変動量とその増減方向から人工光源による変動分を算出して、測定された被写体像信号からこの変動分を補正する補正手段と、
を具備することを特徴とする測距装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被写体から入射する光の量を測定することにより、上記被写体までの距離を測定する測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、カメラなどの撮像装置に用いられる測距装置は、一般に被写体を照射する光が一定であることを仮定して設計されているが、人工照明の多くは、商用電源によって点灯されるため、被写体を照射する光は、脈流する場合が多い。
【０００３】
このような人工照明による交流光が測距装置に与える影響を軽減すべく、従来より、例えば特開昭６１−１４４５０４号公報や特開昭５６−１４９０６号公報等により種々の技術が提案されている。
【０００４】
即ち、この特開昭６１−１４４５０４号公報では、受光部からの信号中に外光の信号成分を含むことを検出する外光検出部と、この外光検出部により外光検出がなされた時には距離演算部の演算動作を中止する制御部とを有し、上記外光検出部により外光が検出された時は、距離検出を行わないようにすることで、測距動作に有害な外光による誤測距を防止する距離検出装置に関する技術が開示されている。
【０００５】
更に、特開昭６１−１４９０６号公報では、被測距体からの反射光に脈動波が含まれていても、脈動波の変化率が一番小さい区間を検出し、その区間において測距用の光ビームを発射すると共に反射光を受けて信号処理を行うように構成することで、誤信号の出力を防止し、正確な距離検出を実現する距離検出装置に関する技術が開示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開昭６１−１４４５０４号公報により開示された技術では、光の変動によって有害な光が入射した時には測距を中止するので、場合によっては、撮影を実行できなくなるといった問題が生じる。
【０００７】
また、上記特開昭５６−１４９０６号公報により開示された技術では、カメラ側から投射した測距用光を背景の光から分離する所謂アクティブＡＦための技術に限られ、パッシブＡＦには適用できなかった。
【０００８】
また、アクティブＡＦの場合には、その測距用光発光時間は、交流光源の変化の時間周期に比べて極めて短く、交流光源の変動少ない所で測距用光を投射すればよいが、パッシブＡＦの場合には、被写体輝度が低い場合等、長時間の積分が必要となり、交流変動の影響をさける事が困難であることも問題とされ、そのような問題を解決する事が嘱望されていた。
【０００９】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、被写体の像の情報を利用して測距を行う、所謂パッシブＡＦを用いたカメラにおいて、上記脈流光がＡＦ用センサに入射した場合でも迅速かつ正確な測距を行うための測距装置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の第１の態様による測距装置は、異なる視野から入射した複数の被写体像を検出し、上記複数の被写体像位置の相対的な差に基づいて上記被写体までの距離を測定する測距装置において、交流点灯し、上記被写体を照明する人工光源からの光の変動を検出する検出手段と、上記光の変動検出結果に応答して、上記被写体像信号の検出開始のタイミングを、上記人工光源による光の明るさが増加しつつあるとき、もしくは減少しつつあるときのいずれか一方の状態にあるときに制御する制御手段とを具備することを特徴とする。
【００１１】
第２の態様による測距装置は、視差を有する２つの開口部を介して入射する対象物からの光束を光電変換素子アレイ上にそれぞれ結像させ、それにより得られる２像信号の相対間隔を検知して対象物までの距離を求める測距装置において、上記光電変換素子アレイからの像信号が適正な蓄積レベルに達したときに出力信号を発生するモニタ手段と、対象物を照明する交流電源により駆動される人工光源の存在、ならびに明るさの時間に対する変化率を検知する検知手段と、上記人工光源の明るさの時間に対する変化率に応答して、像信号の蓄積動作を人工光源の半周期待つよう制御する制御手段とを具備することを特徴とする。
【００１２】
第３の態様による測距装置は、異なる視野から入射した複数の被写体像を光電センサアレイからの被写体像信号によって検出し、上記複数の像位置の相対的な差に基づいて上記被写体までの距離を測定する測距装置において、上記被写体像信号を繰り返し測定して、上記被写体を交流点灯して照明する人工光源による光の変動量とその増減方向を検出する検出手段と、この人工光源による光の変動量とその増減方向から人工光源による変動分を算出して、測定された被写体像信号からこの変動分を補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
尚、以下の説明においては、第１にＡＦセンサ出力は所定の判定レベルに達するまでの時間によりＡ／Ｄ変換されること、第２にＡＦセンサの蓄積レベルはピークレベルをモニタすること、第３に人工光は正弦波状に変化することを前提としている。
【００１７】
先ず図１には第１の実施の形態に係る測距装置の構成を示し説明する。
第１の実施の形態は、蓄積タイミング調整に係るものであり、外光式２像間隔検出ＡＦ装置に採用され、別途設けられた脈流光モニタ部７によりアクティブＡＦ受光回路を転用して脈流光の状態が検知される。そして、脈流光が増加傾向もしくは減少傾向のいずれか一方の状態にあるときは蓄積動作を行い、そうでないときは蓄積動作を半周期待つことを特徴とするものである。
【００１８】
同図に示されるように、被写体８の像を受光すべく受光レンズ１ａ，１ｂが配設されており、この受光レンズ１ａ，１ｂの被写体像が結像される位置に複数のフォトダイオードの列からなるセンサアレイ２ａ，２ｂが配置されている。さらに、このセンサアレイ２ａ，２ｂの出力はＡ／Ｄコンバータ３を介してＣＰＵ１０の入力に接続されており、このＣＰＵ１０の出力は積分制御部４を介して上記センサアレイ２ａ，２ｂの入力に接続されている。
【００１９】
更に、交流光源９の脈流を検出すべく、所定位置に受光レンズ５が配置されており、この受光レンズ５の後方には脈流光を検出するためのセンサ６が配置されている。そして、このセンサ６の出力は、脈流光モニタ部７を介して、上記ＣＰＵ１０の入力に接続されている。
【００２０】
このような構成において、被写体８の像は、受光レンズ１ａ，１ｂにより、フォトダイオードの列からなるセンサアレイ２ａ，２ｂに導かれ、当該センサアレイ２ａ，２ｂにより受光され、光電変換される。このセンサアレイ２ａ，２ｂは、積分制御部４によって制御され、入射した光の強度に従って各々光電変換信号を出力する。この出力した光電変換信号は、Ａ／Ｄコンバータ３によりディジタル値に変換され、ワンチップマイコン等からなるＣＰＵ１０に入力される。
【００２１】
ここで、この光電変換信号出力及びＡ／Ｄ変換の方法としては、フォトダイオードの出力光電流をコンデンサに積分し、その積分結果が所定のレベルに達した時間をカウントする方式等を採用することができる。
【００２２】
即ち、図２（ａ）に示されるように、時間ｔに従って、積分電圧Ｖは増加する傾向にあるが、光量が多い、即ち被写体像が明るい程、所定レベルＶ１  に達する時間が速くなり、その結果として判定時間ｔ１  が短くなる。つまり、判定時間ｔ１  が短くなれば「明るい」と判定され、判定時間ｔ１  が長くなれば「暗い」という判定がなされることになる。
【００２３】
しかし、被写体８を脈流する人工照明９の光が照射されていると、この積分波形は、図２（ｂ）に示されるように乱れ、図２（ｃ），（ｄ）に示されるような脈流の状態、タイミングによって、同じ明るさでも、所定レベルＶ１  に達する時間がｔ２  になったりｔ３になったりして誤差を生じる。
【００２４】
そこで、この第１の実施の形態では、この誤差を回避すべく、受光レンズ５を介して、センサ６に被写体８からの光を受光し、この光が脈流しているか否かを脈流光モニタ部７により検出し、その結果をＣＰＵ１０に入力し、ＣＰＵ１０が後述する制御シーケンス（図３）で測距の積分動作を制御する。
【００２５】
以下、図３のフローチャートを参照して、上記ＣＰＵ１０の制御を説明する。ＣＰＵ１０は、先ず脈流光モニタ部７によって、被写体８から入射する光がどのように変動しているかを検出する（ステップＳ１）。ＣＰＵ１０は、この結果に基づいて、積分動作を開始するタイミングを決定する（ステップＳ２）。
【００２６】
具体的には、図２（ｃ）に示されるような脈流光の場合は、そのまま積分を行い、図２（ｄ）に示されるように照明が脈流している時には、その周期の半分ｔM のタイミングを待ってから積分を開始する（ステップＳ３，Ｓ４）。このような制御により、図２（ｂ）に示されるような積分結果は常にｔ1 に固定されるので、測距時のばらつきが抑えられる。
【００２７】
ここで、図４には上記脈流光モニタの詳細を示す。
即ち、ＣＰＵ１０は、脈流光モニタ部７によって脈流光の周期を判定し（ステップＳ１１）、積分を行い（ステップＳ１２）、脈流周期の半周期後のタイミングで再度積分を行い（ステップＳ１４）、上記ステップＳ１２，Ｓ１４の２回の積分の結果を加算し（ステップＳ１５）、図２（ｂ）のｔ1 とｔ2 を平均化したような形で積分結果を得る。よって、この場合でも、脈流光下においても安定した測距が可能となる。尚、商用電源の周期が決まっている時は、上記ステップＳ１１においては、脈流光下か否かの検出のみを行う。
【００２８】
次に図５には上記脈流光モニタ部７の具体的な構成例を示し説明する。
同図において、符号５は光電変換素子からなるセンサであり、符号１１はプリアンプ、符号１２は電流増幅用トランジスタである。これらの作用により、センサの出力光電流は、圧縮ダイオード１３にトランジスタ１２のコレクタ電流として増幅されて流される。しかし、この圧縮ダイオード１３のレベルが下がると、オペアンプ１７の一側入力が下がるため、トランジスタ１５のベースが上昇し、センサ出力は増幅されずに、トランジスタ１５のコレクタ電流として流れる。つまり、アンプ１７が作動している時には、センサの出力は殆ど増幅されず、アンプ１７が動作停止しても、その時のトランジスタ１５のベース電位はコンデンサ１６によって記憶される。符号１８，１９は、基準電圧Ｖref をアンプ１７の＋側端子に入力する為のダイオード及び定電流源である。符号１４は、圧縮ダイオードの電圧をモニタするためのバッファ回路である。
【００２９】
このような構成において、オペアンプ１７が作動している時点では、圧縮ダイオード１３のレベルつまりバッファ１４の出力は一定している。しかし、オペアンプ１７がタイミング信号発生手段２０によって作動を停止すると、オペアンプ１７作動時にセンサ５から出力されていた光電流からの変動分がバッファ１４に出力されることになる。
【００３０】
これを図６のタイミングチャートを参照して説明する。
いま、図６（ａ）に示されるような脈流光がセンサ６に入射している時、図６（ｂ）のＨのタイミングでオペアンプ１７の動作を停止させると、バッファ１４の出力は図６（ｃ）に示されるようになる。つまり、動作時の最後のタイミングでコンデンサ１６に保持された電圧によって、トランジスタ１５のベース電位が制御されているので、脈流光の変動分がＶp として出力される。
【００３１】
上記ＣＰＵ１０は、コンパレータ１４ｂで、このレベルがＶref より大きいか小さいかを判定する。この作用により、Ｖp が基準電圧Ｖref に対し、大きくなるか小さくなるかによって、脈流光が大きくなる方向に変化しているか、小さくなる方向に変化しているかが、ＣＰＵ１０によって判定可能となる。
【００３２】
以下、図７のフローチャートを参照して、上記脈流光モニタ部７を用いた本発明の第１の実施の形態の応用例の動作を説明する。
この応用例では、先ず、ＣＰＵ１０は、所定の時間を空けたタイミングで上記Ｖp の大小関係を検出し（ステップＳ２１，Ｓ２２）、これらがＶp1＞Ｖp2の関係を満たす時だけ測距する（ステップＳ２３，Ｓ２４）。これにより、先に示した図２（ｃ），（ｄ）のいずれかの場合にのみ測距がなされることとなり、積分が図２（ｂ）に示すＶ1 に達するまでの時間がｔ1 ，ｔ2 にばらつくことはなく、測距の精度を向上させることができる。
【００３３】
このように、第１の実施の形態に係る測距装置では、被写体を照明する光が交流的に変動する光であっても、安定した測距特性を得ることができカメラに応用した場合、高精度のピント合せを可能とすることができる。
【００３４】
また、先に示した図５の脈流モニタ部７の回路構成は、アクティブＡＦの受光回路と同様の構成なので、センサをアクティブＡＦ用のセンサとし、測距用光を投射する手段を設けて、暗い時やコントラストのない被写体などに対して、不図示の投光手段より光を投射してアクティブ式のＡＦを併用して、より確度の高い測距を可能にするという応用も期待できる。
【００３５】
次に第２の実施の形態に係る測距装置を説明する。
第２の実施の形態は、蓄積タイミング調整に係るものであり、ＡＦセンサの蓄積レベルを繰り返しモニタして、モニタ信号が出力されるまでの時間の変化状態により脈流光の状態を検知する。そして、脈流光が減少傾向、もしくは増加傾向のいずれか一方の状態にあるとき蓄積動作を行い、そうでないときは蓄積動作を半周期待つことを特徴とするものである。
【００３６】
図８（ａ）は、第２の実施の形態に係る測距装置の構成を示す図である。
同図に示されるように、この第２の実施の形態では、受光レンズ１ａ，１ｂ、センサアレイ２ａ，２ｂ、Ａ／Ｄコンバータ３等からなる図１と同様のパッシブ測距装置の構成に対し、センサアレイ２ａ，２ｂの出力光電流の積分レベルをモニタする積分モニタ部４を設け、ＣＰＵ１０が回路の電源電圧等によって規定される信号レベルのダイナミックレンジ内に積分レベルを押さえる制御を行うことができるようにしている。このような工夫をすることは、パッシブＡＦの技術では一般的なものであるが、この第２の実施の形態では、このモニタ部４の出力を利用して前述の脈流光検知を行っている。
【００３７】
ここで、図８（ｂ）には、上記積分モニタ部４の一例を示し説明する。
同図において、符号２１ａ〜２１ｃは、センサアレイを構成する各フォトダイオードであり、符号２２ａ〜２２ｃは、これらの出力光電流を積分するための積分コンデンサである。符号２５ａ〜２５ｃは、これらのコンデンサをディスチャージして、積分電圧を初期化するリセットスイッチである。符号２３ａ〜２３ｃは、このリセットスイッチがＯＦＦした後、積分が開始された時、基準電圧Ｖref と積分電圧を比較するコンパレータである。
【００３８】
リセットＳｗは、積分制御部２６によって一斉に制御されるが、コンパレータ２３ａ〜２３ｃのうち、１つでも反転すると、ＯＲ回路２４によってＯＲ信号が出力されるようになっている。
【００３９】
尚、図８（ｂ）には明示されていないが、上述の積分コンデンサ２２ａ乃至２２ｃに蓄積された電圧は、センサ２１ａ乃至２１ｃの画素数に等しいビット数で構成された、電圧ホールド回路とマルチプレクサ回路との組み合わせ回路、もしくはアナログシフトレジスタ回路等で構成される公知の信号読み出し回路に並列入力されており、積分動作の打ち切り後に各ビットの電圧情報を順次直列に読み出すと共に、図８（ａ）のＡ／Ｄ変換部３によりＡ／Ｄ変換を行うようになっている。
【００４０】
図８（ｃ）は上記回路の動作を示すタイミングチャートである。
図８（ｃ）に示されるように、ＳＷのＯＦＦタイミングとＯＲ信号発生タイミングとの間の間隔をＴorとすると、これが各センサに入力されている光の量の最大値に依存した値であり、この信号の長さによって、積分判定レベルＶref を切り換えたり、コンデンサ２２ａ〜２２ｃの容量を切り換えることによって、感度切換が可能となり、被写体の明るさのレベルに関わらず、所定の時間内に所定のダイナミックレンジ内で積分制御を終了することが可能となる。
【００４１】
このＴor信号を応用して、脈流光検知を行おうとするのが第２の実施の形態の特徴であり、先に示した図１の場合のように、特別のセンサや回路を要しないので、廉価且つコンパクトに構成することができる。被写体が脈流光によって照明されている場合、積分を行う度に図２（ｂ）に示したような現象により、その時の脈流光の状態によってＴorの時間が異なってしまう。このような原理に従って、第２の実施の形態では脈流光を検出する。
【００４２】
以下、図９のフローチャートを参照して、上記動作を説明する。
図９に示すように、脈流光源の半周期相当の所定時間を介して２回Ｔorを検出すれば（ステップＳ３１乃至Ｓ３３）、一方のタイミングでは光が減少し、もう一方のタイミングでは光が増加するため、測距時の脈流光が図２（ｃ）（ｄ）に示されるいずれの状態になるかを予測することができる。
【００４３】
従って、ここでは、Ｔor2 よりＴor1 の方が大きくなる時のみに積分を開始させるようにして（ステップＳ３４）、積分開始時における脈流光の状態をそろえるようにした（ステップＳ３５）。このような制御によって、常に一定した条件下での積分がなされるため、測距する度に結果が変わってしまうようなことはなくなり精度が向上する。
【００４４】
次に、図１０には第３の実施の形態に係る測距装置の構成を示し説明する。
第３の実施の形態は、蓄積経過をサンプリングして蓄積の続行中止を決定するものであり、後述するようにピーク検知回路により蓄積レベルのピーク値を監視して、積分の継続、やり直しを決定することを特徴とするものである。
【００４５】
同図に於いて、センサアレイを構成する受光素子、センサ２１ａ〜２１ｃリセットスイッチ２５ａ（２５ｂ，２５ｃは煩雑になるため図示せず）積分コンデンサ２２ａ〜２２ｃについては既に説明したので説明を省略する。
【００４６】
符号３１は電流源、符号３０ａ〜３０ｃはモニタ用トランジスタであり、積分電圧をベースでモニタし、バッファ回路３２に２２ａ〜２２ｃのコンデンサの積分電圧中、最大のものを選択し、ベースエミッタ電圧分（ＶBE）だけ近い電圧として入力する（図１１（ａ）参照）。従って、Ａ／Ｄ変換部３３によって、このバッファ出力ＶM をモニタすると、ＣＰＵ１０がセンサ２１ａ〜２１ｃのうち最も大きな光量を受光し、最大の光電流を出力するものの、積分電圧ＶCMAXを判定することができる。
【００４７】
以下、このような構成の測距装置により、脈流光を検出する方法を、図１１（ｂ）、図１２を用いて説明する。
図１１（ａ）は被写体を直流的な光が照射している時の積分波形であるが、図１１（ｂ）は脈流光照射時の積分波形である。これらの図において、横軸は時間、縦軸には電圧を示し、図１１（ｂ）ではモニタ電圧が脈流光の影響を受けて、うねっている様子を示している。これらの図より、脈流光の具合によって、ｔ1 ，ｔ2 における積分の傾きが変化してしまうことが判る。
【００４８】
以下、図１２のフローチャートを参照して、この第３の実施の形態の動作を説明する。このシーケンスでは、時間ｔ1 、ｔ2 における積分電圧をモニタし、その時間変化の割合を比較して、脈流光の影響を抑えようとしている。
【００４９】
即ち、先ずＣＰＵ１０は、タイマの計時を開示した後（ステップＳ５１）、積分を開始し（ステップＳ５２）、ｔ1 とｔ2 のタイミングにおいて、積分電圧をモニタし、その結果をＶ1 ，Ｖ2 とする（ステップＳ５３乃至Ｓ５６）。
【００５０】
ここで、上記積分開始からｔ1 までの時間とｔ1 からｔ2 までの時間を等しくすると、脈流光がない場合は、変化率が等しい為、Ｖ1 とＶ2 −Ｖ1 が等しくなる。これに対して、脈流光がある場合は、先に図１１（ｂ）に示したように、ある時はＶ1 ＞Ｖ2 −Ｖ1 となる。
【００５１】
このような変動が測距結果の乱れに起因するので、この第３の実施の形態では、ステップＳ５７にてＶ1 ＞Ｖ2 −Ｖ1 の条件の時のみ、ステップＳ５８にて積分を継続するようにして、それ以外の条件では、ステップＳ６２にて積分電圧をリセットして再積分するようにしている。この時、積分開始タイミングを脈流光一周期の半周期分ずらすようにして、再度の積分時はＶ1 ＞Ｖ2 −Ｖ1 の条件を満たすようにしている。
【００５２】
このように、第３の実施の形態では、センサアレイに入力した最も強い光を受光するセンサの積分の様子をモニタして、脈流光判定を行う。従って、特別のセンサを必要としない。また、積分しながらのモニタとなるため、積分と同時に脈流光が検出され無駄な積分動作を行うことなく、タイムラグを小さくした高精度測距が可能となる。
【００５３】
次に、図１３、図１４を参照して、第４の実施の形態を説明する。
第４の実施の形態は、脈流の状態に応じてセンサ出力を補正するものであり、ＡＦセンサの蓄積レベルを繰り返しモニタして、ＡＦセンサ出力に基づいて脈流光の状態を検知すると共に、脈流光の変化状態に対応させてＡＦセンサ出力を補正し、適宜、蓄積結果を補正することを特徴とするものである。
【００５４】
以下、図１３のフローチャートを参照して、この実施の形態の動作を説明する。
この第４の実施の形態では、上述したような脈流光のタイミングに合せて積分を行うという脈流光対策ではなく、測距（ステップＳ４２）の前後に脈流光状態をモニタして（ステップＳ４１，４３）、この結果、Ｍ１，Ｍ２に基づいて大小判定を行い（ステップＳ４４）、測距結果を補正する（ステップＳ４５，４６）という対策によって脈流光下によるＡＦ精度の劣化を防止する。
【００５５】
例えば、図１４（ａ）に示されるように、脈流光照明下における積分波形は、その時の脈流光の状態によって誤差ΔＡＤが増加方向に影響したり下方向に影響したりする。従って、積分開始時（ステップＳ４１の時点）における脈流光Ｍ１が積分終了時（ステップＳ４３の時点）におけるレベルＭ２より大きい時は、図１４（ｂ）に示されるように、積分レベルが理想に対して減少していると考えられ、逆の場合は、積分レベルが増加していると考えられる。
【００５６】
以上のような考え方により、ステップＳ４４にて、Ｍ１がＭ２より大きい時は、図１４（ｂ）を想定して、ステップＳ４５にて＋方向の補正、逆にステップＳ４４をＮに分岐すると、ステップＳ４６にて−方向の補正を行う。
【００５７】
このように、第４の実施の形態によれば、先に示した第１の実施の形態のように、タイミングをずらしたり、何度も測距を繰り返すことなく、脈流光下でも迅速に安定した測距が可能となる。
【００５８】
尚、本発明の上記実施態様には以下の発明が含まれる。
（１）蓄積型光電センサを備え、装置から対象物までの距離を光学的に測定する測距手段と、
交流光源による明るさが周期的に変化する入射光の存在を検出する検出手段と、
上記交流光源が検出されたとき、上記交流光源による入射光の明るさが増加しつつあるとき、もしくは減少しつつあるときのいずれか一方の状態にあるとき蓄積動作を行うように上記測距手段の作動タイミングを制御する制御手段と、
を具備することを特徴とする測距装置。
（２）上記検出手段は、所定タイミングの光量を記憶する記憶手段と、その次のタイミングの光量を上記所定タイミングの光量との差分として検出する変動成分検出手段とを含むことを特徴とする（１）に記載の測距装置。
（３）上記検出手段は、所定タイミングで上記被写体像検出手段に入射した光量と、このタイミングとは異なるタイミングで上記蓄積型光電センサに入射した光量とから光変動を検出することを特徴とする（１）に記載の測距装置。
（４）視差を有する２つの開口部を介して入射する対象物からの光束を蓄積型光電変換素子アレイ上にそれぞれ結像させ、それにより得られる２つの像信号の相対間隔を検知して対象物までの距離を求める測距装置において、
上記光電変換素子アレイの蓄積レベルを初期化すると共に、蓄積動作を制御する制御手段と、
上記光電変換素子アレイからの像信号が適正な蓄積レベルに達したときに出力信号を発生するモニタ手段と、
を具備し、
上記光電変換素子アレイの蓄積開始から上記モニタ信号が発生するまでの時間を繰り返し測定し、この時間が前回の測定結果に対して所定の関係にあるとき、最新の蓄積結果を無効とすることを特徴とする測距装置。
【００５９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、、被写体の像の情報を利用して測距を行う、所謂パッシブＡＦを用いたカメラにおいて、上記脈流光がＡＦ用センサに入射した場合でも迅速かつ正確な測距を行うための測距装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る測距装置の構成を示す図である。
【図２】時間とセンサの積分時間の関係を示す図である。
【図３】ＣＰＵの制御を示すフローチャートである。
【図４】図３のステップＳ１の脈流光モニタの詳細を示すフローチャートである。
【図５】脈流光モニタ部７の詳細な回路構成を示す図である。
【図６】脈流光モニタ部７の動作を示すタイムチャートである。
【図７】脈流光モニタ部７を用いた本実施の形態の応用例の動作を示すフローチャートである。
【図８】第２の実施の形態に係る測距装置を説明するための図である。
【図９】第２の実施の形態に係る測距装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】第３の実施の形態に係る測距装置の構成を示す図である。
【図１１】第３の実施の形態において、脈流光を検出する方法を示す図である。
【図１２】第３の実施の形態に係る測距装置の動作を示すフローチャートである。
【図１３】第４の実施の形態による動作を示すフローチャートである。
【図１４】第４の実施の形態による動作を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
１  受光レンズ
２  センサアレイ
３  Ａ／Ｄコンバータ
４  積分制御部
５  受光レンズ
６  センサ
７  脈流光モニタ
８  被写体
９  交流光源
１０  ＣＰＵ
【図１】
0003806485.tif 000002
【図２】
0003806485.tif 000003
【図３】
0003806485.tif 000004
【図４】
0003806485.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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