(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
データに応じて、異なる長さのマークを光学的記録媒体に記録する光学的記録装置において、
上記光学的記録媒体の温度を検出する温度検出手段と、
基準温度データを記憶する温度データ記憶手段と、
所定周期毎に、上記温度検出手段によつて温度を検出し、上記光学的記録媒体に対する記録動作の直前において上記温度検出手段によつて検出された温度と上記温度データ記憶手段に記憶されている上記基準温度データとの差が閾値以上であるか否かを検出し、該検出結果に基づいて、上記光学的記録媒体にレーザ光を出射するレーザ出射手段のレーザパワーの補正が必要か否かを判定する判定手段と、
上記温度検出手段で検出された温度に基づいて、記録時に設定される第１のレーザパワーを調整するための補正係数を記憶する補正係数記憶手段と、
上記第１のレーザパーワと該第１のレーザパワーとは異なるレベルの第２のレーザパワーとのレベル関係を示すレベル関係データを記憶するデータ記憶手段と、
上記判定手段の判定結果に基づいて、上記補正係数及び上記レベル関係データを用いて、上記第１及び第２のレーザパワーの値をそれぞれ調整するレーザパワー調整手段と
を備え、
所定長以上のマークを上記光学的記録媒体に記録する際に、上記レーザパワー調整手段で調整された上記第１及び第２のレーザパワーを上記マークの長さに基づいて決定される所定の順番で切り換える  
ことを特徴とする光学的記録装置。
【請求項２】
上記第１のレーザパワーは記録時におけるメインピーク値を示し、上記第２のレーザパワーは、上記メインピーク値よりもレベルが低く設定されたサブピーク値であるか記録に備えて予熱加熱するためのプリヒート値であることを特徴とする請求項１に記載の光学的記録装置。
【請求項３】
データに応じて、異なる長さのマークを光学的記録媒体に記録する光学的記録装置のレーザパワー設定方法において、
上記光学的記録媒体の温度を検出する温度検出をするステツプと、
所定周期毎に、上記光学的記録媒体の温度を検出し、上記光学的記録媒体に対する記録動作の直前において検出された温度と基準温度データとの差が閾値以上であるか否かを検出し、該検出結果に基づいて、上記光学的記録媒体にレーザ光を出射するレーザ出射手段のレーザパワーの補正が必要か否かを判定するステツプと、
上記判定手段の判定結果に基づいて、記録時に設定される第１のレーザパワーを調整するための補正係数と、上記第１のレーザパワーと該第１のレーザパワーとは異なるレベルの第２のレーザパワーとのレベル関係を示すレベル関係データとを用いて、上記第１及び第２のレーザパワーをそれぞれ調整するステツプと、
所定長以上のマークを上記光学的記録媒体に記録する際に、上記レーザパワー調整手段で調整された上記第１及び第２のレーザパワーを上記マークの長さに基づいて決定される所定の順番で切り換えるステツプと
を有することを特徴とする光学的記録装置のレーザパワー設定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【目次】
以下の順序で本発明を説明する。
発明の属する技術分野
従来の技術（図８及び図９）
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段
発明の実施の形態（図１〜図７）
発明の効果
【０００２】
【発明の属する技術分野】
本発明は光学的記録装置及びそのレーザパワー設定方法に関し、例えばレーザ光を用いて記録データを光磁気デイスクに記録する光磁気デイスク装置に適用して好適なものである。
【０００３】
【従来の技術】
従来、光磁気デイスク装置においては、磁界を印加すると共に、レーザ光を光磁気デイスクに照射して当該光磁気デイスクの磁性膜の温度をキユリー点以上に上昇させることにより記録データに応じた反転磁化領域（いわゆるマーク）を磁性膜に形成してデータ記録を行うようになされている。
このような光磁気デイスク装置は記録時の変調方式によつて２つの方式に分けられる。１つは記録データに応じてレーザ光を変化させる光変調方式であり、もう１つは記録データに応じて磁界を変化させる磁界変調方式である。
また光磁気デイスク装置は記録時のマーク形成方法によつても２つの方式に分けられる。１つは記録データに応じて異なる長さのマークを記録するマーク長記録方式（いわゆるマークエツジ記録方式）であり、もう１つは記録データに応じて記録するマークの位置を変えるマーク間記録方式である。因みに、再生時、マーク長記録方式の場合にはマークの両端部（すなわちエツジ）を検出してマークの長さを検出することによりデータ再生を行い、マーク間記録方式の場合にはマークの位置を検出することによりデータ再生を行うようになされている。
【０００４】
ところでいずれの方式を採用したとしても光磁気デイスク装置においては、レーザ光を照射して磁性膜をキユリー点以上に上昇させてマークを形成することによりデータ記録を行つており、データ記録に際しては光磁気デイスクの温度が重要なフアクタとなつている。
例えばマーク長記録方式の光磁気デイスク装置の場合には、レーザ光を照射して所定長のマークを形成する際、照射開始の頃は周囲への熱拡散のために温度上昇が小さく、逆に、ある程度照射を続けた後はそれ以前の照射による熱伝導を受けて温度上昇が大きくなる傾向にあり、このため単純に記録を行うと、図８に示すように、マーク後方部分の幅が広がり、マークの形状が涙滴形状になつてしまう。このようにしてマークの形状が涙滴形状になると、正確なエツジ検出ができなくなつてデータ誤りが発生する。
【０００５】
このためこの種の光磁気デイスク装置では、マルチパルス記録法を採用してこの問題を解決するようになされている。このマルチパルス記録法は、図９に示すように、始めは一定時間連続でレーザ光を照射することにより素早く温度を上昇させ、その後はレーザ光をパルス状に断続的に照射することによりその温度を保持するようにしたものである。これによりこのマルチパルス記録法を用いれば、必要以上の温度上昇を抑えて図８に示したようなマークの涙滴形状化を防止することができる。
【０００６】
またこの他にも、始めはレーザ光の強度（以下、これをレーザパワーと呼ぶ）を比較的高めに設定して素早く温度を上昇させ、その後はレーザパワーを下げることにより必要以上に温度が上昇することを抑制し、これによつて涙滴形状化を防止するような方法も提案されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで光磁気デイスクの温度は照射するレーザ光だけによつて決まるものではなく、環境温度によつても左右されるものである。従つて上述のようにレーザ光を断続的に照射することによつて温度調整したり、或いはレーザパワーを変化させることによつて温度調整したとしても、環境温度が変化すればそれに応じて光磁気デイスクの温度が変化し、これによつて必要以上の温度上昇が発生したり、或いは必要な温度上昇が得られなくなり、マークを所望の形状に形成し得なくなるといつた問題が発生する。例えば装填直後の光磁気デイスクは比較的温度が低いので、レーザ光を照射しても磁性膜の温度が上昇し難く、その結果、マークの幅や長さが小さくなり易い。また長時間装填された光磁気デイスクは装置内の熱を受けて比較的温度が上昇しているので、レーザ光を照射したときに磁性膜の温度が上昇し易く、その結果、マークの幅や長さが大きくなり易い。
【０００８】
因みに、マークの長さを所望の長さに形成し得ないと、再生時にデータ誤りが発生する原因となる。またマークの幅が増大すると、隣接トラツクのマークを破壊して高密度記録できなくなるといつた問題が起きる。
なお、このような環境温度によつて光磁気デイスクの温度が変化することによりマークを所望の形状に形成し得なくなる問題は、マーク長記録方式だけに限つたことではなく、マーク間記録方式等においても発生する問題である。
【０００９】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光学的記録媒体の温度が変化した場合でも、データ記録部分であるマークの形状を所望の形状に形成し得る光学的記録装置を提案しようとするものである。
【００１０】
かかる課題を解決するため本発明においては、検出温度に対応する第１及び第２のレーザパワーをレーザ光のマークの長さに基づいて決まる順番で切り換えて光学的記録媒体に出射し、記録に先立つて、所定周期毎に検出温度と記憶温度データとの差が閾値以上であるか否かを判定し、閾値以上であるとき補正係数を用いて第１のレーザパワーを調整すると共に、第１のレーザパワーと第２のレーザパワーとのレベル関係を示すレーザパワー関係データを用いて第２のレーザパワーの値を調整する。
【００１１】
所定周期毎に検出温度と記録温度データとの差が閾値以上であるか否かを判定し、閾値以上であるとき、第１のレーザパワーの補正値と第１及び第２のレーザパワーのレベル関係データを用いて第１及び第２のレーザパワーを調整するようにしたことにより、光学的記録媒体の温度が変化しただけでは温度補正を行わないようにしたことによつて、温度補正にかかる手間を低減しながら、最適なレーザパワーでマークを記録してマークの形状を所望の形状に形成することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
【００１３】
図１において、１は全体として本発明を適用した光磁気デイスク装置を示し、システムコントローラ２によつて各部の動作を制御することにより、光磁気デイスク３に記録されているデータを再生したり、或いは光磁気デイスク３に対してデータを記録するようになされている。このシステムコントローラ２はインターフエイス回路（Ｉ／Ｆ）４を介して外部のコンピユータ装置（図示せず）から動作指示を受け、当該動作指示に基づいて各部の動作を制御する。
【００１４】
例えばコンピユータ装置から再生指示Ｓ１が送出されると、この再生指示Ｓ１はまずインターフエイス回路４に入力される。インターフエイス回路４はこの再生指示Ｓ１をシステムコントローラ２に与えて再生動作を開始させる。
これを受けたシステムコントローラ２はまず制御信号Ｓ２をスピンドルサーボ回路５に与えることによつてスピンドルモータ６を駆動して光磁気デイスク３を回転駆動する。また同時にシステムコントローラ２は制御信号Ｓ３をサーボ回路７に与えることによつてピツクアツプ８を駆動して光磁気デイスク３に記録されている記録データを読み取る。
【００１５】
ピツクアツプ８はレーザダイオードとフオトデイテクタからなり、レーザダイオードから出射されたレーザ光を光磁気デイスク３のトラツクに照射し、その反射光をフオトデイテクタによつて受光する。これによりピツクアツプ８は光磁気デイスク３に記録されている記録データを読み取つて当該記録データに応じた再生信号Ｓ４を生成する。この再生信号Ｓ４は続く復調回路９に供給される。
記録データは記録対象のデータに所定の変調（例えばＭＦＭ変調やＥＦＭ変調等）を施すことにより生成されたデータであるので、復調回路９は所定の復調処理を施すことによつて記録データを元のデータに再生する。このようにして再生された再生データＳ５はインターフエイス回路４を介してコンピユータ装置に送出される。
【００１６】
これに対してコンピユータ装置から記録指示Ｓ６が送出されると、インターフエイス回路４は当該記録指示Ｓ６を受信し、これをシステムコントローラ２に与えることによつて当該システムコントローラ２に記録動作を開始させる。
これを受けたシステムコントローラ２はまず記録指示Ｓ６に基づいて制御信号Ｓ２をスピンドルサーボ回路５に与えることによりスピンドルモータ６を駆動して光磁気デイスク３を回転駆動する。また同時にシステムコントローラ２は制御信号Ｓ３をサーボ回路７に与えることによつてピツクアツプ８を駆動する。さらにシステムコントローラ２は記録指示Ｓ６に続いて送られてくる記録対象のデータＳ７をインターフエイス回路４を介して受け、当該記録対象のデータＳ７に所定の変調（上述したようなＭＦＭ変調やＥＦＭ変調等）を施して記録データＳ８を生成し、これをレーザパワーコントローラ１０に与える。
【００１７】
レーザパワーコントローラ１０はピツクアツプ８内のレーザダイオードを駆動する駆動信号Ｓ９を生成する回路であり、記録データＳ８に応じた駆動信号Ｓ９を生成し、これをレーザダイオードに与える。レーザダイオードはこの駆動信号Ｓ９に基づいてレーザ光を出射し、当該レーザ光を磁界が印加された光磁気デイスク３の磁性膜に照射する。これにより記録データＳ８に応じたマークが磁性膜に形成され、当該記録データＳ８が光磁気デイスク３に記録される。
なお、このとき光磁気デイスク３からの反射光をピツクアツプ８内のフオトデイテクタで受光し、その受光結果Ｓ１０をレーザパワーコントローラ１０にフイードバツクするようになされており、レーザパワーコントローラ１０はその受光結果Ｓ１０に基づいてレーザパワーが目標値に対してずれているか否か調べ、目標値に対してずれていればそれを補正するようになされている。
【００１８】
ところでこの光磁気デイスク装置１においては、光磁気デイスク３の温度を検出するサーミスタ１１が当該光磁気デイスク３に近接して配されており、当該サーミスタ１１で検出した光磁気デイスク３の温度に基づいて記録時のレーザパワーを最適な値に制御するようになされている。
まずサーミスタ１１によつて測定された光磁気デイスク３の温度を示す検出信号Ｓ１１は増幅器１２を介して増幅された後、システムコントローラ２に供給される。
【００１９】
システムコントローラ２は例えばＲＯＭからなるプログラム記憶部１３に格納されている温度モニタプログラム１３Ａに基づいて動作し、所定周期で検出信号Ｓ１１を調べることにより光磁気デイスク３の温度を検出する。その結果、光磁気デイスク３の温度が変化したためレーザパワーを補正する必要がある場合には、例えばＲＡＭからなる作業データ記憶部１４の温度補正必要フラグ記憶部１４Ａに対して温度補正必要フラグをセツトする。
【００２０】
またシステムコントローラ２はプログラム記憶部１３Ａに格納されている最適値設定プログラム１３Ｂに基づいて動作し、記録動作を行う時、それに先立つて記録時のレーザパワーを最適な値に設定する。この場合、システムコントローラ２はまず温度補正必要フラグ記憶部１４Ａにフラグがセツトされているか否か調べる。その結果、フラグがセツトされていれば、作業データ記憶部１４の係数記憶部１４Ｂに記憶されている補正係数等を用いて記録時のレーザパワーを最適な値に設定する。
なお、具体的には、レーザパワーの設定はシステムコントローラ２からレーザパワーの最適値（Ｓ１２）を記録動作に先立つてレーザパワーコントローラ１０に指示することにより行われる。これによりレーザパワーコントローラ１０がその指示に応じた駆動信号Ｓ９を出力すれば、最適なパワーのレーザ光がレーザダイオードから出射される。
【００２１】
因みに、システムコントローラ２は、記録動作を行つたときの温度データを作業データ記録部１４の補正温度記憶部１４Ｃに格納するようになされており、その温度データを基準に温度変化を調べて温度補正が必要か否かを判定するようになされている。
【００２２】
このようにしてこの光磁気デイスク装置１では、システムコントローラ２、プログラム記憶部１３及び作業データ記憶部１４によつてレーザパワー調整手段を構成し、サーミスタ１１で検出された光磁気デイスク３の温度に基づいてレーザパワーを調整し、その調整されたパワーのレーザ光をレーザ出射手段を構成するレーザダイオードから出射するようになされており、これにより光磁気デイスク３の温度が変化した場合でも、最適なレーザパワーで記録動作を行つてマークの形状を所望の形状に形成することができる。
【００２３】
ここで記録時のレザーパワー設定について、以下に具体的に説明する。
まず始めに図２（Ａ）〜図２（Ｃ）に示すように、この光磁気デイスク装置１では、マーク長記録によつてデータ記録を行うようになされている。例えば記録データが「０、１、０、０、０、０、０、１、０」であるとき、その記録データの論理「１」から次の論理「１」までの期間をマーク形成のタイミングとし、その期間に対応した長さのマークを形成する。
【００２４】
またマークを形成する際には、図２（Ｄ）に示すように、光磁気デイスク３に対して照射するレーザ光のパワーを記録するマークの長さに基づいて所定の順番で切り換えるマルチパルス記録法を用いて記録するようになされており、これにより必要以上の温度上昇を抑えて図８に示したようなマークの涙滴形状化を防止するようになされている。
なお、ここで使用するマルチパルス記録法は、レーザパワーとして３つの値を取り得る３値のマルチパルス記録法である。その３値のうち第１の値は、記録に備えて磁性膜を予備加熱するために最初に印加されるプリヒート値ＰPRE であり、第２の値はデータ記録の基本単位期間をＴとして最小期間２Ｔの長さを有するマークを記録するときにプリヒート値ＰPRE に続いて印加されるサブピーク値ＰSUB であり、第３の値は３Ｔ以上の長さを有するマークを記録するときにサブピーク値ＰSUB に続いて印加される最大パワーのメインピーク値ＰMAINである。
因みに、レーザパワーはいずれの長さのマークを記録するときにも、マーク終端部から 0.5Ｔだけ早いタイミングで読出時のパワーよりも低い値に落とされる。その際、マーク終端部は光磁気デイスク３に残つた熱によつて所定の長さに形成される。
なお、図２（Ｄ）に示すように、読出時にはプリヒート値ＰPRE よりもさらに低い値のレーザパワーが使用される。
【００２５】
ここでこの光磁気デイスク装置１の場合には、メインピーク値ＰMAINを記録時のレーザパワーの基準値として記憶しており、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB についてはメインピーク値ＰMAINを基準に所定のレベル関係式を使用して算出するようになされている。具体的には、プリヒート値ＰPRE については、係数α（０＜α）を使用して、次式
【数１】
0003783887.tif 000002
で算出される値をプリヒート値として設定し、サブピーク値ＰSUB については、係数β（α＜β＜１）を使用して、次式
【数２】
0003783887.tif 000003
で算出される値をサブピーク値として設定するようになされている。
なお、メインピーク値ＰMAINとしては基準温度（例えば35℃）のときの値が設定されており、その値は係数記憶部１４Ｂのレーザパワー記憶領域に記憶されている。またプリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB についてのレベル関係を示すデータである係数α及びβは係数記憶部１４Ｂのレベル関係データ記憶領域に記憶されている。
【００２６】
またこの光磁気デイスク装置１では、上述したようにサーミスタ１１を用いて検出した光磁気デイスク３の検出温度に応じてレーザパワーを調整するようになされているが、その際には、まずメインピーク値ＰMAINの値を調整するようになされている。具体的には、検出温度ＴＰ及び補正係数γ（０＜γ）を使用して、次式
【数３】
0003783887.tif 000004
に示される演算を行つてメインピーク値ＰMAINを調整し、検出温度に応じてメインピーク値ＰMAINに最適な値を設定する。次にこの調整したメインピーク値ＰMAINを使用して上述の（１）及び（２）式を演算することにより、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB を求める。これによりプリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB も検出温度に応じてメインピーク値ＰMAINと同じ比率で調整され、最適な値が設定される。
因みに、メインピーク値ＰMAINを調整する際に使用される補正係数γのデータは係数記憶部１４Ｂの補正係数記憶領域に記憶されている。
【００２７】
このようにしてこの光磁気デイスク装置１では、光磁気デイスク３の検出温度に応じてメインピーク値ＰMAINを最適な値に調整すると共に、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB もそれに合わせて最適な値に調整することにより、光磁気デイスク３の温度が変化した場合でも、記録データに対応した所望の幅及び長さを有する最適形状のマークを形成することができる。
【００２８】
ここでこのレーザパワーの設定手順をフローチヤートを用いて以下に具体的に説明する。
この光磁気デイスク装置１においては、温度モニタプログラム１３Ａを起動して所定周期で光磁気デイスク３の温度を検出し、レーザパワーの温度補正が必要であるか否か調べる。そして記録動作を行う時、最適値設定プログラム１３Ｂを起動し、温度モニタプログラム１３Ａの判定結果に基づいてレーザパワーの温度補正を行う。これによりこの光磁気デイスク装置１では、上述したようなメインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB に対して最適な値を設定し、レーザパワーを光磁気デイスク３の温度に応じて最適な値に設定する。
【００２９】
まず光磁気デイスク装置１のシステムコントローラ２は、温度モニタプログラム１３Ａを起動して図３に示すにような処理を所定周期（例えば１秒）毎に実行する。すなわちシステムコントローラ２は、ステツプＳＰ０から入つたステツプＳＰ１において、サーミスタ１１によつて測定された光磁気デイスク３の温度を示す検出信号Ｓ１１を読み込み、当該検出信号Ｓ１１に基づいて光磁気デイスク３の温度を検出する。次のステツプＳＰ２においては、システムコントローラ２は後述するレーザパワー設定手順において設定される温度すなわち前回の記録時の温度ＴＰ1 を補正温度記憶部１４Ｃから読み出し、当該温度ＴＰ1 とステツプＳＰ１において検出した検出温度ＴＰ2 とを比較し、その温度差を算出する。なお、記録動作を一度も行わずにステツプＳＰ２を通過した際には、温度ＴＰ1 として基準温度である例えば35℃を使用する。
【００３０】
次のステツプＳＰ３において、システムコントローラ２はその温度差が所定の閾値以上あるか否か検出し、温度差が閾値以上あれば温度補正が必要であると判断してステツプＳＰ４に移行し、温度差が閾値未満であれば温度補正が不要であると判断してステツプＳＰ５に移行する。
ステツプＳＰ４では、システムコントローラ２は温度補正必要フラグを温度補正必要フラグ記憶部１４Ａにセツトする（例えば論理「１」をセツトする）と共に、検出温度ＴＰ2 のデータを温度補正必要フラグ記憶部１４Ａに格納する。
一方、ステツプＳＰ５では、システムコントローラ２は温度補正必要フラグをリセツトする（例えば論理「０」をセツトする）。なお、このときには検出温度ＴＰ2 のデータは温度補正必要フラグ記憶部１４Ａに格納されない。
ステツプＳＰ４又はステツプＳＰ５の処理が終了すると、システムコントローラ２は次のステツプＳＰ６に移つて処理を終了する。
【００３１】
次に記録時の動作について説明する。システムコントローラ２は、インターフエイス回路４から記録指示Ｓ６を受けると、記録動作として図４に示すような処理を実行する。すなわちステツプＳＰ１０から入つたステツプＳＰ１１において、システムコントローラ２は記録動作に先立つて後述するようなレーザパワー設定処理を行うことにより最適なレーザパワーを設定し、続くステツプＳＰ１２においてその最適なレーザパワーを使用して記録動作を行う。そして記録動作終了後は続くステツプＳＰ１３においてベリフアイ処理を行つて正常に記録動作が行えたか否か検査し、正常であれば続くステツプＳＰ１４に移つて記録動作全体を終了する。
【００３２】
ここでこのステツプＳＰ１１に示したレーザパワーの設定処理を説明する。システムコントローラ２は最適値設定プログラム１３Ｂを起動して図５に示すような処理手順を実行してレーザパワーの設定を行う。すなわちステツプＳＰ２０から入つたステツプＳＰ２１において、システムコントローラ２は温度補正必要フラグ記憶部１４Ａを調べることにより温度補正必要フラグがセツトされているか否かを判断する。その結果、温度補正必要フラグがセツトされていれば温度補正が必要であると判断して続くステツプＳＰ２２に移行し、ここでメインピーク値ＰMAINに検出温度に応じたオフセツトを加える。すなわち係数記憶部１４Ｂから補正係数γを読み出すと共に、温度補正必要フラグ記憶部１４Ａからフラグをセツトした時の検出温度ＴＰ2 を読み出し、当該補正係数γと検出温度ＴＰ2 を使用して上述した（３）式に示す演算を行つてメインピーク値ＰMAINを最適な値に調整する。
【００３３】
なお、（３）式で使用されるメインピーク値ＰMAINは基準温度35℃の時の値であり、例えば 8.7[mW]程度に設定されている。またこの（３）式の演算を行うことにより、例えば45℃の時にはメインピーク値ＰMAINは８[mW]程度に調整され、例えば５℃の時にはメインピーク値ＰMAINは10[mW]程度に調整される。
【００３４】
次のステツプＳＰ２３では、システムコントローラ２は係数記憶部１４Ｂから係数αを読み出し、調整済みのメインピーク値ＰMAINを使用して上述した（１）式の演算を行うことにより検出温度に応じた最適なプリヒート値ＰPRE を算出する。
次のステツプＳＰ２４では、システムコントローラ２は係数記憶部１４Ｂから係数βを読み出し、調整済みのメインピーク値ＰMAINを使用して上述した（２）式の演算を行うことにより検出温度に応じた最適なサブピーク値ＰSUB を算出する。
因みに、このようにして算出されたメインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB はそれぞれレーザパワーコントローラ１０に指示される。これにより検出温度に応じた最適なレーザパワーが設定される。
【００３５】
次のステツプＳＰ２５では、システムコントローラ２は（３）式の演算に使用した温度データ（すなわち検出温度ＴＰ2 ）を記録時の温度ＴＰ1 として補正温度記憶部１４Ｃに格納する。次のステツプＳＰ２６では、システムコントローラ２は温度補正必要フラグをリセツトする。これが終わるとステツプＳＰ２７に移つて処理を終了する。
一方、ステツプＳＰ２１において温度補正必要フラグがセツトされていなければステツプＳＰ２７に移行して処理を終了する。なお、このときにはメインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB 、並びに記録時の温度ＴＰ1 は前回に設定した値が継続される。すなわち温度補正必要フラグがセツトされていなければ、温度補正が不要なため前回の記録に使用したメインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB がそのまま継続使用される。
【００３６】
このようにしてこの光磁気デイスク装置１では、記録指示Ｓ６があつた時点で温度補正必要フラグがセツトされていれば、検出された光磁気デイスク３の温度に基づいてメインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB を演算し、レーザパワーとして最適な値を設定するようになされている。
【００３７】
以上の構成において、光磁気デイスク３の温度が低下した場合及び上昇した場合について考える。まず基準温度におけるメインピーク値ＰMAINとしては、図６（Ａ）に示すように、記録時のレーザパワーに対するエラー率の特性曲線２０の中央にあるエラー率が最小となる値ＰM0が設定されているものとする。
ここで光磁気デイスク３の温度が基準温度に対して低下すると、図６（Ｂ）に示すように、レーザパワー対エラー率の特性曲線２０は全体として紙面に向かつて右側に変移する。すなわちエラー率が最小となるレーザパワーは値ＰM0よりも上昇し、値ＰM1に変移する。このときこの光磁気デイスク装置１では、上述の（３）式に基づいた補正を行うことによりメインピーク値ＰMAINの値を上昇させるようにオフセツトし、メインピーク値ＰMAINとして新しい最適値ＰM1を設定する。これにより温度が低下した場合にもメインピーク値ＰMAINとして最適な値を維持することができると共に、メインピーク値ＰMAINを基準に算出されるプリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB も最適な値を維持し得る。
【００３８】
一方、光磁気デイスク３の温度が基準温度に対して上昇すると、図６（Ｃ）に示すように、レーザパワー対エラー率の特性曲線２０は全体として紙面に向かつて左側に変移する。すなわちエラー率が最小となるレーザパワー値は値ＰM0よりも低下し、値ＰM2に変移する。このときにもこの光磁気デイスク装置１では、上述の（３）式に基づいた補正を行うことによりメインピーク値ＰMAINの値を低下させるようにオフセツトし、メインピーク値ＰMAINとして新しい最適値ＰM2を設定する。これにより温度が上昇した場合にもメインピーク値ＰMAINとして最適な値を維持することができると共に、メインピーク値ＰMAINを基準に算出されるプリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB も最適な値を維持し得る。
【００３９】
このようにしてこの光磁気デイスク装置１では、光磁気デイスク３の温度を検出し、その検出された温度に応じて記録時のメインピーク値ＰMAINを調整すると共に、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB もメインピーク値に比例して調整することにより、光磁気デイスク３の温度が変化した場合にも、記録時のマークを所望の形状に形成し得る。また記録時にマークを所望の形状に形成し得ることにより、再生時にはデータ誤りの発生を最小限に抑えることができる。
【００４０】
次に図７に示すような温度変動が光磁気デイスク３に生じた場合を考える。すなわち、ある時刻ｔ0 において温度Ａを検出してその温度Ａに対して記録時のレーザパワーを補正し、時刻ｔ1 で光磁気デイスク３の温度が温度Ｂに上昇し、時刻ｔ2 で再び温度Ａに戻つたとする。ここで時刻ｔ1 が記録直前であれば、既に温度補正必要フラグがセツトされているので、この温度Ｂに対してレーザパワーを補正し、補正されたレーザパワーで記録動作を行うことになる。
これに対して時刻ｔ1 が記録直前ではなく、時刻ｔ2 が記録直前であれば、温度補正必要フラグがリセツトされているので、このときには温度補正を行わず、前回設定した温度Ａに対するレーザパワーを使用して記録動作を行うことになる。すなわちこの光磁気デイスク装置１では、レーザパワーの温度補正を記録直前に行うようにしているので、単に光磁気デイスク３の温度変動が生じただけでは温度補正を行わない。このためこの光磁気デイスク装置１では、必要なときだけ温度補正を行つて温度補正にかかる手間を低減することができる。
【００４１】
以上の構成によれば、光磁気デイスク３の温度を検出し、検出した温度に応じて記録時のメインピーク値ＰMAINを最適な値に調整すると共に、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB もメインピーク値ＰMAINに比例して最適な値に調整することにより、光磁気デイスク３の温度が変化した場合にも最適なレーザパワーでマークを形成することができ、記録時のマークを所望の形状に形成し得る。
【００４２】
なお上述の実施例においては、サーミスタ１１を使用して光磁気デイスク３の温度を検出した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、温度ＩＣ等を用いて光磁気デイスク３の温度を検出するようにしても良く、要は所定の温度検出手段を用いて光磁気デイスクの温度を検出すれば上述の場合と同様の効果を得ることができる。
【００４３】
また上述の実施例においては、３値のマルチパルス記録法を用いて記録した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば２値や４値のマルチパルス記録法を用いて記録しても良い。要は、上述の実施例のように、記録時のレーザパワーを光磁気デイスクの温度に応じて調整すれば上述の場合と同様の効果を得ることができる。
【００４４】
また上述の実施例においては、メインピーク値ＰMAINを記憶しておき、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB についてはレベル関係を示す係数α、βを使用して演算した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばサブピーク値ＰSUB を記憶しておき、レベル関係を示す係数を使用してプリヒート値ＰPRE 及びメインピーク値ＰMAINを演算するようにしても良い。
【００４５】
また上述の実施例においては、レベル関係を示す係数α、β及び補正係数γを一定にした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、デイスクベンダ等の情報を読み取つてデイスクの種類を判別し、そのデイスクの種類に応じてレベル関係を示す係数α、β及び補正係数γを変えるようにしても良い。このようにすれば、メインピーク値ＰMAIN、プリヒート値ＰPRE 及びサブピーク値ＰSUB に対して一段と最適な値を設定することができる。
【００４６】
また上述の実施例においては、記録時にレーザパワーを調整した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、データ消去時にもレーザパワーを調整するようにしても良い。なぜならデータ消去は、連続した「０」又は「１」を記録することにより磁化の向きを揃えることなので、記録動作とほぼ同じであるからである。
【００４７】
また上述の実施例においては、記録データに応じてマークの長さを変えるマーク長記録方式を用いて記録する光磁気デイスク装置１に本発明を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、記録データに応じてマークの位置を変えるマーク間記録方式を用いて記録する光磁気デイスク装置に本発明を適用して良い。
【００４８】
また上述の実施例においては、データ書換えが可能な光磁気デイスク３に対してデータを記録する光磁気デイスク装置１に本発明を適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、データ書換えが不可能なデイスク、いわゆるライトワンスデイスクにデータを記録する光デイスク装置に本発明を適用しても良い。要は、レーザ光を用いて光学的記録媒体に記録データを記録するような光学的記録装置であれば、本発明を広く適用することができる。
【００４９】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、所定周期毎に検出温度と記録温度データとの差が閾値以上であるか否かを判定し、閾値以上であるとき、第１のレーザパワーの補正値と第１及び第２のレーザパワーのレベル関係データを用いて、光学的記録媒体に対する記録動作の直前において、第１及び第２のレーザパワーを調整するようにしたとにより、光学的記録媒体の温度が変化しただけでは温度補正を行わず、必要なときだけ行うことによつて温度補正にかかる手間を低減しながら、最適なレーザパワーでマークを記録してマークの形状を所望の形状に形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例による光磁気デイスク装置の構成を示すブロツク図である。
【図２】マーク長記録方式及び３値のマルチパルス記録法の説明に供する略線図である。
【図３】光磁気デイスクの温度検出手順の説明に供するフローチヤートである。
【図４】記録動作の全体手順の説明に供するフローチヤートである。
【図５】レーザパワーの設定手順の説明に供するフローチヤートである。
【図６】記録時のレーザパワー対エラー率の特性を示す特性曲線図である。
【図７】温度変動に対するレーザパワー補正の説明に供する略線図である。
【図８】マークの涙滴形状化の説明に供する略線図である。
【図９】マルチパルス記録法の原理の説明に供する略線図である。
【符号の説明】
１……光磁気デイスク装置、２……システムコントローラ、３……光磁気デイスク、４……インターフエイス回路、５……スピンドルサーボ回路、６……スピンドルモータ、７……サーボ回路、８……ピツクアツプ、９……復調回路、１０……レーザパワーコントローラ、１１……サーミスタ、１２……増幅器。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図７】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図９】
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