(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成方法であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行い、所定の操作に応答して、イメージ表示を合否判定ゾーンに変換することを特徴とする合否判定ゾーンの作成方法。
【請求項２】
測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成方法であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行い、所定の操作に応答して、イメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換することを特徴とする合否判定ゾーンの作成方法。
【請求項３】
測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成装置であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行う重ね書き表示手段と、所定の操作に応答して、イメージ表示を合否判定ゾーンに変換するゾーン判定部とを有することを特徴とする合否判定ゾーンの作成装置。
【請求項４】
測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成装置であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行う重ね書き表示手段と、所定の操作に応答して、イメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換するゾーン判定部とを有することを特徴とする合否判定ゾーンの作成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディジタルオシロスコープ等の波形測定観測装置（波形表示装置）により被測定波形の合否を判定する際に用いられる判定基準としての合否判定ゾーンを作成する方法及び装置に関わるものである。
【０００２】
【従来の技術】
図１５及び図１６に、従来の波形測定観測装置における表示部の画面に表示された被測定波形をそれぞれ示す。図１５に示す表示部は、画面１と、画面１の右側部に設けられた各種の操作釦２とを備え、図１６に示す表示部は、画面３と、画面３の右側部に設けられた各種の操作釦４とを備えている。
【０００３】
図１５の例では、表示される１つの被測定波形ｗを画面１内で上下、左右に平行移動させて編集しながら合否判定ゾーンを作成する。また図１６の例では、画面３上を自由に移動できるカーソルを用いて複数の判定ポイントを置き、各判定ポイントに基づいて形成される多角形ブロック状の合否判定ゾーン５を作成する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の合否判定ゾーンの作成方法では、被測定波形Ｗの各判定ポイントにおけるゾーン幅（判定の重み付け）が同一、又は単調であった。例えば、図１５の例で、振幅の振れ幅が増減して一定でない場合には、図１７に示すように、判定ポイントを何段階かに分けつつ合否判定ゾーンを部分的に編集しなければならず、作成工程が煩雑になる。また、図１６の例では、判定ポイントが２個所以上存在するので、図１７に示したような手法では対処できず、従って、多角形ボックス状の合否判定ゾーン５を、図１８に示すように複数作成しなければならない。
【０００５】
以上のように、従来の合否判定ゾーンの作成方法では、判定対象の波形の形状によっては工程数が増加する等、合否判定ゾーンの編集作業が煩雑になっており、また、判定すべき波形が複数ある場合には、合否判定ゾーンの編集作業が更に煩雑になっていた。
【０００６】
本発明は、上記したような従来の技術が有する問題点を解決するためになされたものであり、判定対象の波形の数や形状に拘わらず合否判定ゾーンの編集作業を極めて簡便にできる合否判定ゾーンの作成方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の合否判定ゾーンの作成方法（以下、第１発明と呼ぶ）は、測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成方法であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行い、所定の操作に応答して、イメージ表示を合否判定ゾーンに変換することを特徴とする合否判定ゾーンの作成方法を提供する。
【０００８】
また、上記目的を達成するために、本発明の合否判定ゾーンの作成方法（以下、第２発明と呼ぶ）は、測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成方法であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行い、所定の操作に応答して、イメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換することを特徴とする合否判定ゾーンの作成方法を提供する。
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明の合否判定ゾーンの作成装置（以下、第３発明と呼ぶ）は、測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成装置であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行う重ね書き表示手段と、所定の操作に応答して、イメージ表示を合否判定ゾーンに変換するゾーン判定部とを有することを特徴とする合否判定ゾーンの作成装置を提供する。
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明の合否判定ゾーンの作成装置（以下、第４発明と呼ぶ）は、測定チャネルに対応した波形を画面表示する波形表示装置で用いられる波形の合否判定ゾーンの作成装置であって、測定対象の合格品又は合格想定品に対する波形測定を複数回実行し、該波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせてイメージ表示し、イメージ表示した波形に塗りつぶされていない箇所があるときは、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算するフォーカス処理をして塗りつぶしを行う重ね書き表示手段と、所定の操作に応答して、イメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換するゾーン判定部とを有することを特徴とする合否判定ゾーンの作成装置を提供する。
【００１１】
上記第１乃至第４発明に係る合否判定ゾーンの作成方法及び装置では、合格品又は合格想定品とされた測定対象から得た複数の良好な測定波形を判定基準として活用し、そのイメージ表示を合否判定ゾーンに簡単に変換することができる。このため、判定すべき被測定波の数や形状に拘わらず、合否判定ゾーンの編集作業を、工数の少ない極めて簡単なものにすることができる。
【００１２】
また、本発明が適用される波形表示装置は、イメージ表示を合否判定ゾーンに即座に変換するための変換釦手段を備えることが望ましい。この変換釦手段によって、合否判定ゾーンへの変換操作が極めて容易になる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照し、本発明の一実施形態例に基づいて本発明を更に詳細に説明する。図１は、本実施形態例に係る合否判定ゾーンの作成方法を用いる波形測定観測装置（波形表示装置）の概略構成を示すブロック図である。
【００１４】
図１において、波形測定観測装置は、ＣＰＵ１１と、このＣＰＵ１１に接続されたモジュール(AD)１２、ゲートアレー(GA)１３、Acqメモリ１５、表示部１６、ゾーン判定部１７、及び変換釦２０を備えている。更に、ＣＰＵ１１にはヒストリーメモリＭが接続され、ゾーン判定部１７にはゾーンデータテーブル１９が接続されている。
【００１５】
ゲートアレー１３は、モジュール１２からの波形信号をAcqメモリ１５に送る。  Acqメモリ１５は、送られてきた波形信号を取り込み、記憶する。表示部１６は、被測定波形を表示する画面（図示せず）と、各種の操作を行う操作部（図示せず）とを有する。ＣＰＵ１１は、画面の同一プレーン上に同じ測定チャネルの波形（イメージ波形）を複数重ね合わせてイメージ表示する重ね書き表示機能を実現する重ね書き表示手段１１０を有する。
【００１６】
ここで、重ね書き表示機能とは、捕捉した複数の波形を重ね合わせて画面表示するヒストリーAll(オール)表示やアキュムレート表示等と呼ばれる機能であり、上述したように、画面の同一プレーン上に同じ測定チャネルの波形を複数重ね合わせてイメージ表示する機能である。
【００１７】
通常、測定時に表示波形は順次更新されるものであるが、ヒストリー表示機能を備えた本実施形態例の波形測定観測装置では、最新データから遡った過去何回かの波形の測定データがヒストリーメモリＭに定常的に保存され、ヒストリー表示機能の実行時に、ヒストリーメモリＭから過去の測定データが呼び出される。過去の測定データの呼び出し方には、１波形に対応するパターンと、複数波形に対応するパターンとがあり、複数波形に対応する場合に、スタート・エンドを指定した波形の重ね書きができる。
【００１８】
また、ゾーンデータテーブル１９は、被測定波形のための合否判定ゾーンを作成するために、ゾーン判定部１７を介してヒストリーメモリＭから取り込まれた波形データを格納する。
【００１９】
変換釦２０は、画面上の波形のイメージ表示を合否判定ゾーンとして変換するためのものであり、その存在により、イメージ表示の合否判定ゾーンへの変換が極めて容易になる。
【００２０】
ゾーン判定部１７は、ヒストリーメモリＭに記憶された測定波形データから所要のデータを抜き出してゾーンデータテーブル１９に格納する機能と、ユーザによる変換釦２０の操作に応答し、ＣＰＵ１１の制御下において画面上の重ね書き表示機能によるイメージ表示を合否判定ゾーンに変換する機能を有する。更に、ゾーン判定部１７は、変換釦２０の操作に応答し、重ね書き表示機能によるイメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換する機能を有する。
【００２１】
次に、図２及び図３を参照し、ヒストリーメモリＭに関して更に詳細に説明する。図２に示すように、ヒストリーメモリＭには、所定の条件下で発せられるトリガーを基点として、実波形データＷｄが順次記憶される。この際、表示部１６は、ヒストリーメモリＭへの実波形データＷｄの取り込み中には最新の波形データを、取り込み後にはユーザ指定の波形を択一的に画面表示する。この際、表示部１６の画面には、トリガー点を中心とした表示がなされる。
【００２２】
また、図３(a)に示すように、ヒストリーメモリＭには、トリガー点を中心とした実波形データＷｄが連続して記憶されるので、ヒストリーメモリＭ内の測定データのイメージは図示のようになる。制御系では、Acqメモリ１５を含むACQ部１５Ａが、処理▲１▼で、サンプリングクロックをトリガーとして実波形データＷｄ（図２）を取り込み、その後、処理▲２▼で、画面に択一的に表示し、これらの処理▲１▼と▲２▼とを繰り返し実行する。
【００２３】
図３(b)は、メモリバス、サンプルクロック(SAMP_CLK)、トリガー(TRIG)の各タイミングを示すタイミングチャートである。同図から、図３(a)に示した取り込み時の処理▲１▼と表示転送時の処理▲２▼とが繰り返し実行される様子が分かる。図３(b)において、１波形まるごと取り込むことはロール表示と異なる。また、表示転送中は、波形の取り込み(ACQ)は停止している。
【００２４】
次に、図４及び図５を参照して、本発明の合否判定ゾーンの作成方法による合否判定ゾーンの変換処理を説明する。両図に示した表示部１６はそれぞれ、画面１６ａと、画面１６ａの右側に設けられた操作部２１とを有しており、各操作部２１における所定の位置には変換釦２０が配設されている。
【００２５】
図４は、画面の同一プレーン上に同じ測定チャネルの波形を複数重ね合わせて表示したイメージ表示から合否判定ゾーンを作成する第１の作成方法に対応している。この作成方法では、合格品又は合格想定品とされた測定波形をモジュール１２に入力し、モジュール１２は入力された測定波形をアナログデジタル変換（Ａ／Ｄ変換）する。モジュール１２は合格品又は合格想定品とされた測定波形のＡ／Ｄ変換を複数回（少なくとも２回）実行し、この波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせて図４のＷのようにイメージ表示し、更に、ユーザによる変換釦２０の操作に応答して、イメージ表示を合否判定ゾーンとして変換処理する。この場合、図４のＡ部のように波形が塗りつぶされていない箇所は、例えば、フォーカス機能を別に設定する等で塗りつぶすことも可能である。
【００２６】
また図５は、画面の同一プレーン上に同じ測定チャネルの波形を複数重ね合わせて表示した重ね書き表示機能のイメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で作成する第２の方法に対応している。この方法では、モジュール１２は、合格品又は合格想定品とされた測定波形のＡ／Ｄ変換を複数回（少なくとも２回）実行し、この波形測定による複数の波形を画面上に重ね合わせて図４のＷのようにイメージ表示し、更に、ユーザによる変換釦２０の操作に応答して、イメージ表示を、既に存在する合否判定ゾーンに付加した状態で合否判定ゾーンに変換する。この第２の作成方法では、イメージ表示の波形Ｗは振幅の振れ幅が増減して一定でないが、従来の作成方法のように合否判定ゾーンを何段階かに分けて編集するような煩雑な操作は必要ない。
【００２７】
図６は、ヒストリー表示機能を利用した合否判定ゾーンの作成に関わるフローチャートである。この作成処理は、測定が終了してヒストリーAll表示機能が開始されると、ヒストリーデータと合否判定ゾーンとの比較を開始する。
【００２８】
まず、ステップＳ１において、ヒストリーメモリＭから１番目のヒストリーデータを抜き出し、表示データ列に変換する。更に、ステップＳ２で、表示データ列への変換が初回か否かを判定し、初回であればステップＳ４に進んでゾーンデータテーブル１９（図１）をクリアしてから、ステップＳ３で、ステップＳ１で抜き出した１番目のヒストリーデータをゾーンデータテーブル１９に加算する。一方、ステップＳ２で、初回でないと判定されたときは、そのままステップＳ３に進んで、ゾーンデータテーブル１９に１番目のヒストリーデータを加算する。
【００２９】
引き続き、ステップＳ５において、加算されるヒストリーデータは最後のものか否かを判定し、最後でないと判定されたときはステップＳ１に戻って処理を繰り返し、最後であると判定されたときは処理を終了する。
【００３０】
図７は、表示データの作成処理を示すフローチャートである。表示データ作成処理が開始されると、まず、ステップＳ１０で、ヒストリーメモリＭからヒストリーデータを抜き出し、ステップＳ１１で、表示データ点数が１００２よりも大きいか否かを判定する。ここで、×５００ラスタの場合、実際には０〜５００ドットで５０１ラスタなので、５０１×２である１００２に対して表示データ点数を比較することになる。
【００３１】
従って、ステップＳ１１における判定の結果、表示データ点数が１００２以下であれば、ステップＳ１３に進んで補間データ処理を行って表示波形の相互間の隙間を埋めた後、ステップＳ１４で縦スケーリング換算処理を行って、処理を終了する。補間データ処理では、図４に示したＡ部のように波形相互間にある隙間を塗りつぶす。一方、ステップＳ１１において表示データ点数が１００２を超える場合には、ステップＳ１２に進んでＰＰ圧縮処理を行い、ステップＳ１４で縦スケーリング換算処理を行って、処理を終了する。
【００３２】
また、例えば１０ｋ長の測定データの表示データ（描画データ）は、Ｘ方向１ラスタ上に２０点存在するため、１／１０のＰＰ圧縮を行っている。このＰＰ圧縮とは、決められた範囲のデータの最大値と最小値とを抜き出すことであり、例えば、１／１０ＰＰ圧縮とは、２０点の中から、最大値と最小値の２点を引き出すことを意味する。
【００３３】
図８は表示データのテーブルを示す図であり、ラスタ０〜５００のそれぞれに対応して、ロー(Low)ではＬ０〜Ｌ５００が、ハイ(High)ではＨ０〜Ｈ５００がある。また、図９はＸ方向の各ドットでライン描画を行う際の模式図である。０〜５０１の「×５００ラスタ」において、各条件下で描かれるラインは図のようになる。
【００３４】
図１０は、ゾーンデータテーブルへの加算処理を示すフローチャートである。加算処理が開始されると、まず、ステップＳ２１で、対象となるゾーンデータテーブル１９と加算波形の表示データとを準備し、更にステップＳ２２で、表示データのフォーカス処理を実行する。このフォーカス処理は、合否判定ゾーンに厚みを持たせるため、表示データのハイ、ローに何ドットかを加算する処理である。その加算幅は、メニューで選択できるように設定することができる。
【００３５】
次いで、ステップＳ２３で各ラスタ毎にループし、ステップＳ２４で、各ラスタにおけるゾーンデータと表示データとの重なりを比較判定する。つまり、合否判定ゾーンに表示データが入っているか否かを判定する。
【００３６】
ここで、図１１(a)、(b)により、ラスタ毎の任意の位置▲１▼〜▲６▼における比較判定パターンについて説明する。図１１(a)において、合否判定ゾーンは、所定の値に設定されたハイ(High)であるＨｚと、ロー(Low)であるＬｚとによって所定の幅に区切られている。比較パターンとしては、▲１▼,▲２▼,▲３▼,▲４▼,▲５▼,▲６▼がある。ゾーンに対して波形を重ね合わせると、図１１(b)に示すようになる。▲１▼，▲６▼のパターンは、重ね合わせの結果が１つにならない（２つのゾーンからなる）ため、ゾーンのテーブルが１つ増える。
【００３７】
引き続き、ステップＳ２４以降の処理を、上記比較パターン▲１▼〜▲６▼を用いて説明する。ステップＳ２４の比較判定の結果で、合否判定ゾーン内に空きがある比較パターン▲１▼と▲６▼に対しては、ステップＳ２６で空きゾーンにコピーを行い、ステップＳ３０で複数ゾーンを降べきの順に並べ替え、ステップＳ３１で各ラスタ毎のループを終了する。
【００３８】
また、ステップＳ２４の比較判定の結果により、比較パターン▲２▼▲３▼▲４▼▲５▼に対しては、ステップＳ２７において、重なった合否判定ゾーンとの加算を行い、更に、ステップＳ３２において、合否判定ゾーンの正規化を行った後、ステップＳ３１で、各ラスタ毎のループを終了する。ステップＳ３２において、加算した合否判定ゾーンと他の合否判定ゾーンとの重なりをチェックし、重なりが存在する場合には再加算を行う。
【００３９】
更に、ステップＳ２４の比較判定の結果により、合否判定ゾーン内に空きが無い比較パターン▲１▼と▲６▼に対しては、ステップＳ２５においてエラー判定し、ステップＳ２８において、エラー表示後、処理を終了する。
【００４０】
図１２は合否判定ゾーンの構成と判定方法を、図１３はゾーンテーブルへの加算演算をそれぞれ示す図である。図１２に示すゾーンデータ(DispData)では、ラスタ０〜５００に対応して、ロー(Low)でＬ０〜Ｌ５００が、ハイ(High)でＨ０〜Ｈ５００が用意されている。
【００４１】
また、図１３に示すように、合否判定時の条件は、例えば▲１▼では、合否判定ゾーンに入っていることを見る場合にＮＧ(不可)となり、合否判定ゾーンから出ていることを見る場合にはＯＫ（可）となる。また、例えば▲３▼では、合否判定ゾーンに入っていることを見る場合も、出ていることを見る場合も共にＮＧ(不可)となる。これらの判定時のＯＫ判定は、Lz<Ld && Hz>Hd、Lz>Hd && Hz<Ldの条件に従って行われる。Lzは合否判定ゾーンの最小値、Hzは合否判定ゾーンの最大値、Ldは各比較パターン▲１▼〜▲６▼それぞれでの最小値、Hdは各比較パターン▲１▼〜▲６▼それぞれでの最大値である。
【００４２】
ゾーンの加算時に、比較パターン▲２▼〜▲５▼では、１つの判定ゾーンとして圧縮が可能なので以下の処理を行う。合否判定ゾーン(Zone)への加算処理は、例えば、  Zone11(Lz,Hz)＋Disp(Ld,Hd)、▲１▼、▲６▼ではZone12＝Disp、▲２▼ではZone11(Lz,Hz=Hd)、▲３▼ではZone11(Lz=Ld,Hz=Hd)、▲４▼ではZone11(Lz,Hz)、▲５▼ではZone11(Lz=Ld,Hz)と表される。
【００４３】
図１４はゾーンデータテーブルを示し、縦方向に複数の領域が設けられる。同図では、判定ゾーン１１〜１７を例として挙げている。図の縦方向に０〜５００ラスタが存在し、判定ゾーン１１〜１７のそれぞれが各ラスタに対応して、最小値及び最大値を有している。テーブルには、１ラスタあたり複数の判定領域を持たせている。合否判定ゾーンの作成前は、特殊コード（例えば８０００ｈ）で埋めて、ゾーンデータテーブルがクリアされる。
【００４４】
以上のように、本実施形態に係る合否判定ゾーンの作成方法及び装置によると、モジュール１２でＡ／Ｄ変換された複数の良好な測定波形を判定基準として活用し、そのイメージ表示を合否判定ゾーンに簡単に変換することができる。これにより、判定すべき被測定波の数や形状に拘わらず、合否判定ゾーンを少ない工程数で簡単に編集できる作成方法及び装置を実現できる。
【００４５】
以上、本発明をその好適な実施形態例に基づいて説明したが、本発明の合否判定ゾーンの作成方法及び装置は、上記実施形態例の構成にのみ限定されるものでなく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を施した合否判定ゾーンの作成方法及び装置も、本発明の範囲に含まれる。
【００４６】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、判定対象の波形の数や形状に拘わらず合否判定ゾーンの編集作業を極めて簡便に行うことができる合否判定ゾーンの作成方法及び装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態例に係る合否判定ゾーンの作成方法を用いる波形測定観測装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】ヒストリー表示機能に関して詳細に説明するための図である。
【図３】ヒストリー表示機能に関して詳細に説明するための図であり、(a)は主にヒストリーメモリ内の測定データのイメージを示し、(b)はメモリバス、サンプルクロック等の各タイミングを示す。
【図４】本発明による合否判定ゾーンの変換処理を説明するための図である。
【図５】本発明による合否判定ゾーンの変換処理を説明するための図である。
【図６】ヒストリー表示機能を利用した合否判定ゾーンの作成に関わるフローチャートである。
【図７】表示データの作成処理を示すフローチャートである。
【図８】表示データのテーブルを示す図である。
【図９】Ｘ方向の各ドットでライン描画を行う際の模式図である。
【図１０】ゾーンデータテーブルへの加算処理を示すフローチャートである。
【図１１】ラスタ毎の任意の位置における比較判定パターンを示す図である。
【図１２】合否判定ゾーンの構成と判定方法を説明するための図である。
【図１３】ゾーンテーブルへの加算演算を説明するための図である。
【図１４】ゾーンデータテーブルを示す図である。
【図１５】従来の波形測定観測装置で表示される被測定波形を示す図である。
【図１６】従来の波形測定観測装置で表示される被測定波形を示す図である。
【図１７】従来の合否判定ゾーンの作成方法を説明するための図である。
【図１８】従来の合否判定ゾーンの作成方法を説明するための図である。
【符号の説明】
１１  ＣＰＵ
１２  モジュール
１３  ゲートアレー
１５  Acqメモリ
１６  表示部
１６ａ  画面
１７  ゾーン判定部
１９  ゾーンデータテーブル
２０  変換釦
２１  操作部
１１０  重ね書き表示手段
Ｍ  ヒストリーメモリ
Ｗｄ  実波形データ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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