(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の再生を行う記録再生装置において、
光磁気記録媒体に対し情報の記録または再生を行う場合に、光磁気記録媒体に光ビームを照射する光ビーム照射手段と、
光磁気記録媒体に外部磁界を印加する外部磁界印加手段と、
上記光ビーム照射手段から上記光磁気記録媒体に照射される光ビームの反射光より得られる再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、
上記光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制御して光磁気記録媒体への情報の記録および再生を行うと共に、記録条件設定時に上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、光ビームの光量を、光磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げるように上記光ビーム照射手段を制御する制御手段と、
テストデータを発生するテストデータ発生手段と、
光磁気記録媒体に情報を記録する時の記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、
上記制御手段は、上記記録条件設定手段によって設定された記録条件に基づき、上記光ビーム照射手段と外部磁界印加手段とを制御して、上記光磁気記録媒体に、上記テストデータ発生手段が発生するテストデータを記録させ、再生信号検出手段によって上記テストデータの再生信号のレベルが検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求めることを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
上記テストデータが、該テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないような間隔をもって記録されるように設定されていることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項３】
上記テストデータが、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上となるように設定されていることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光磁気記録媒体に外部磁界を加える事によって、該媒体上に光ビームのスポット面積よりも小さいアパーチャ（開口部）が生じる磁気的超解像を利用した光磁気記録媒体に対して、最適な記録条件を求めるためのテストライトを行う記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば光ディスクに情報を記録する場合、再生時の読取誤差などを軽減するためには、安定した大きさの記録マークを記録する必要があるが、ディスクの特性ばらつきや環境温度の変化によって、該記録マークの大きさは変動する。そのため、例えば特開平７−２４９２２６号公報に開示されたテストライト方法では、あらかじめ光量や磁界強度などの記録条件を変化させながらテストデータを記録し、このテストデータを再生して、安定した記録マークを記録するための最適な記録条件を探す方法、いわゆるテストライトが行われていた。
【０００３】
また、最近では記録密度の向上のために、光ビームのスポット面積よりも小さいアパーチャ（開口部）が生じる光磁気記録媒体の開発が行われている。例えば、特開平３−９３０５６号公報に開示された光磁気記録媒体は、記録マークを記録するための記録層と、前記アパーチャを生じる再生層と、記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層による多層構造を有しており、通常は、記録層に磁気記録されている情報が、切断層を介した交換結合力によって再生層に転写されている。このような光磁気記録媒体を再生する再生装置は、該光磁気記録媒体に再生磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射してデータの再生を行う。
【０００４】
このとき、上記光磁気記録媒体に照射される光ビームのスポットは温度分布を有しており、ある所定温度以上の高温部分においては、上記切断層の磁界が消滅する。切断層の磁界が消滅すると、上記記録層と再生層の交換結合力による磁界の転写が無くなり、この時の再生層の磁界は上記再生磁界の向きに揃えられる。すなわち、光ビームの全スポット面のうち、ある所定温度以上の高温部分においては、記録層から再生層に転写されるべき情報がマスクされることになる。このため、上記光ビームの読み取り部は、光ビームのスポット面積よりも小さいアパーチャ（全スポット面積より上記高温部分を除いた開口部）となり、分解能が向上し、光ビームのスポット面積よりも小さい記録マークを再生することができる。尚、上記の現象を磁気的超解像と呼ぶ。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記の磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体に従来のテストライト方法を用いると、テストデータの再生時に一定の光量の再生ビームを照射したにもかかわらず、環境温度の変動や光ディスクのばらつきによってアパーチャの大きさが変化するため、再生信号のレベルが変動し、正確なテストライトが行えない。
【０００６】
すなわち、上記テストライトは、光磁気記録媒体に対してテストデータを記録し、そのテストデータを再生することで、最適な記録条件を探すわけであるが、このとき、テストデータを再生するときの光ビームが一定の光量の再生ビームでなければならない。しかしながら、上記の磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体は、アパーチャによって再生が行われるものであり、該アパーチャは環境温度の変動や光ディスクのばらつきによってその大きさが変化する。したがって、上記の磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体では、テストライトが行えないという問題が生じる。
【０００７】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、磁気的超解像を生じる光磁気記録媒体に対して、環境温度の変動等の影響を受けることなく、最適記録条件を求めるテストライトを行うことができる記録再生装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明の記録再生装置は、記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の再生を行うものであり、上記の課題を解決するために、光磁気記録媒体に対し情報の記録または再生を行う場合に、光磁気記録媒体に光ビームを照射する光ビーム照射手段と、光磁気記録媒体に外部磁界を印加する外部磁界印加手段と、上記光ビーム照射手段から上記光磁気記録媒体に照射される光ビームの反射光より得られる再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制御して光磁気記録媒体への情報の記録および再生を行うと共に、記録条件設定時に上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、光ビームの光量を、光磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げるように上記光ビーム照射手段を制御する制御手段を備えていることを特徴としている。
【０００９】
上記の構成によれば、通常の情報再生時において、情報の読み出しを行う場合、すなわち通常の再生時において、外部磁界印加手段によって外部磁界を印加しながら光ビーム照射手段による光ビームを照射することによって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じさせて高分解能の再生を行うことができる。
【００１０】
同時に、上記光磁気記録媒体に記録されている情報を再生する場合の再生信号のレベルを検出したい場合には、光ビームの光量が、光磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げられるので、この場合は、再生層にアパーチャを発生させずに情報の再生を行い、この再生信号のレベルを再生信号検出手段で検出することによって、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに、光記録媒体上の記録マークの記録状態を安定して検出できる。
【００１１】
本発明の記録再生装置は、さらに、テストデータを発生するテストデータ発生手段と、光磁気記録媒体に情報を記録する時の記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段によって設定された記録条件に基づき、上記光ビーム照射手段と外部磁界印加手段とを制御して、上記光磁気記録媒体に、上記テストデータ発生手段が発生するテストデータを記録させ、再生信号検出手段によって上記テストデータの再生信号のレベルが検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求めることを特徴としている。
【００１２】
上記の構成によれば、テストライト時には、上記制御手段は、記録条件設定手段を制御して、上記光ビーム照射手段あるいは外部磁界印加手段に、例えばある適当な範囲内の特定の記録条件を設定させる。ここで、上記記録条件とは、例えば記録時に光磁気記録媒体に照射される光ビームの光量や、あるいは光磁気記録媒体に印加される磁界強度のことである。
【００１３】
そして、上記制御手段は、光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制御して、上記光磁気記録媒体にテストデータを記録させ、記録されたテストデータを再生させ、再生信号のレベルを検出する。このとき、光磁気記録媒体に照射される光ビームの光量は、光磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げられている。上記再生信号検出手段が、この再生によって得られた再生信号のレベルを検出し、制御手段に伝達する。このように、制御手段は、上記範囲内における複数の記録条件に対応した再生信号のレベルを取得することができる。そして、制御手段は、これら取得した再生条件のレベルを比較して、最適な再生信号を記録した記録条件を、最適な記録条件として決定する。
【００１４】
これにより、光磁気記録媒体の再生層にアパーチャを発生させて再生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。従って、この記録条件を用いて上記光磁気記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を行うことが可能となる。このため、エラーの少ない情報の記録を行うことが可能である。
【００１５】
本発明の記録再生装置は、上記の課題を解決するために、さらに、上記テストデータが、該テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないような間隔をもって記録されるように設定されていることを特徴としている。
【００１６】
上記の構成により、上記テストデータは、テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないような間隔をもって記録されるので、該テストデータを再生する場合に、信号量を増加させることができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しながら、テストライトを行うことができる。
【００１７】
本発明の記録再生装置は、上記の課題を解決するために、さらにまた、上記テストデータが、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上となるように設定されていることを特徴としている。
【００１８】
上記の構成により、上記テストデータは、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上となるように記録されるので、該テストデータを再生する場合に、アパーチャを生じさせないことによる光量の低下を大きな信号量で補うことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しながら、テストライトを行うことができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態について図１ないし図１０に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００２０】
図１は、本実施の形態にかかる記録再生装置（以下、本装置とする）の構成を示すブロック図である。図１に示すように、本装置は、光ビーム照射手段としての光ピックアップ２と、送りモータ３と、レーザドライバ４と、外部磁界印加手段としての磁気ヘッド５と、磁気ヘッドドライバ６と、再生信号検出手段としての再生信号チェック回路７と、制御手段および記録条件設定手段としての制御回路８と、テストデータ発生手段としてのテストデータ発生回路９とから構成されており、光磁気記録媒体である光磁気ディスク１に対して記録再生を行うものである。
【００２１】
光ピックアップ２は、光磁気ディスク１に光ビームｂを照射することによって、光磁気ディスク１に記録されている情報を読み取るためのものである。さらに光ピックアップ２は、読み取った情報を再生信号ｈとして再生信号チェック回路７に送出する。
【００２２】
送りモータ３は、制御回路８の指示により、光ピックアップ２を移動させ、光磁気ディスク１の所定部分に光ビームｂが照射されるようにするためのものである。また、レーザドライバ４は、制御回路８の指示により、光ピックアップ２に光ピックアップ駆動信号ｅを伝達することによって、光ピックアップ２が照射する光ビームのパワーを制御するためのものである。
【００２３】
磁気ヘッド５は、情報を記録するために光磁気ディスク１に磁界を印加するためのものである。また、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示により、磁気ヘッド５に磁気ヘッド駆動信号ｄを伝達することによって、この磁気ヘッド５が印加する磁界の強度を制御するためのものである。
【００２４】
また、再生信号チェック回路７は、光ピックアップ２によって読み出された再生信号ｈのレベルを検出して、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達するためのものである。ここで、再生信号ｈのレベルとは、再生信号ｈの振幅の大きさのことである。
【００２５】
制御回路８は、送りモータ３に移動制御信号ａを伝達することによって、送りモータ３を制御するためのものである。また、制御回路８は、光量制御信号ｇをレーザドライバ４に伝達することによって、このレーザドライバ４を制御する。さらに、制御回路８は、磁気ヘッドドライバ６に外部磁界制御信号ｆを伝達することによって、この磁気ヘッドドライバ６を制御する。
【００２６】
テストデータ発生回路９は、後述する記録条件の制御のためのテストデータを、テストデータｃとしてレーザドライバ４および磁気ヘッドドライバ６に伝達するためのものである。
【００２７】
本装置で用いられる光磁気ディスク１は、例えば、図２に示すように、その外周部に、テストライト時においてテストデータを書き込むテストライト領域１１が形成されており、その内側に通常の記録情報を書き込む情報記録領域１２が形成されている。なお、上記光磁気ディスク１の構成は、これに限らず、図３に示すように、テストライト領域をディスクの周方向の周期的部分に設け、この領域にテストデータを記録再生することによりテストライトを行ってもよい。
【００２８】
図４は、上記の磁気ヘッドドライバ６およびレーザドライバ４における、制御回路８からの外部磁界制御信号ｆおよび光量制御信号ｇの処理のための構成を示すブロック図である。
【００２９】
図４（ａ）に示すように、磁気ヘッドドライバ６は、磁気ヘッド駆動回路２１と、Ｄ／Ａコンバータ２２とを備えている。制御回路８から送られてくる外部磁界制御信号ｆは、例えば８ビットのバイナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２２は、この外部磁界制御信号ｆを受け取り、アナログ信号に変換し、磁気ヘッド駆動回路２１に送る。磁気ヘッド駆動回路２１は、このアナログ信号に基づいた磁気ヘッド駆動信号ｄを磁気ヘッド５に送り、磁気ヘッド５の発生する磁界を制御する。このようにして、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示に基づいて、磁気ヘッド５の発生する外部磁界を正確に制御することができる。これにより、制御回路８の指示に基づいて外部磁界の強度を変化させながらテストライトを行うことができる。
【００３０】
また、図４（ｂ）に示すように、レーザドライバ４は、光ピックアップ駆動回路２３とＤ／Ａコンバータ２４とを備えている。また、光ピックアップ２は、光ビームｂを発するための半導体レーザ２５を備えている。制御回路８から送られてくる光量制御信号ｇは、外部磁界制御信号ｆと同様に、例えば８ビットのバイナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２４は、この光量制御信号ｇを受け取り、アナログ信号に変換して光ピックアップ駆動回路２３に送る。光ピックアップ駆動回路２３は、このアナログ信号に基づいた光ピックアップ駆動信号ｅを光ピックアップ２に備えられている半導体レーザ２５に送り、半導体レーザ２５の発生する光ビームｂの光量を制御する。このようにして、レーザドライバ４は、制御回路８の指示に基づいて、光ピックアップ２の発生する光ビームｂの光量を正確に制御することができる。
【００３１】
図５は、再生信号チェック回路７の構成を示すブロック図である。図５に示すように、再生信号チェック回路７は、アンプ３１と、ローパスフィルタ３２と、振幅検出回路３３と、Ａ／Ｄコンバータ３４とから構成されている。
【００３２】
光ピックアップ２から送られてくる再生信号ｈはアナログ信号であり、アンプ３１は、この再生信号ｈを受け取り、増幅してローパスフィルタ３２に送る。ローパスフィルタ３２は、この増幅された再生信号ｈのＳ／Ｎ比を向上させ、振幅検出回路３３に送る。振幅検出回路３３は、この増幅され、Ｓ／Ｎ比が向上された再生信号ｈの信号レベルを検出し、Ａ／Ｄコンバータ３４に送る。Ａ／Ｄコンバータ３４は、この信号レベルを、例えば８ビットのバイナリデータに変換し、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達する。このようにして、再生信号チェック回路７は、正確な再生信号ｈのレベルを制御回路８に伝達することができる。
【００３３】
上記構成の本装置によって、光磁気ディスク１上の記録情報を読み出す場合を図６を用いて以下に説明する。
【００３４】
先ず、通常の情報再生時における光量の光ビームｂによって、記録情報を読み出す場合を図６（ａ）に示す。上記光磁気ディスク１は、再生層４１、切断層４２、および記録層４３を有する多層構造となっており、記録層４３に磁気記録されたデータが交換結合によって切断層４２を介して再生層４１に転写されている。
【００３５】
上記光磁気ディスク１に記録された情報の読み出し時には、該光磁気ディスク１の再生層４１に光スポットｐが照射される。上記光スポットｐの前方、すなわち、記録媒体の移動方向（図６中のｘ方向）側には、高温部ｑ（図６中の斜線部）が発生する。高温部ｑの領域では、切断層４２の温度がキュリー温度以上に上昇し、切断層４２の磁界が消滅する。したがって、記録層４３と再生層４１との交換結合が切断される。尚、上記の説明は、ＦＡＤ方式の場合を例示している。
【００３６】
このとき、上記光磁気ディスク１に、磁気ヘッド５によって外部磁界Ｈｅｘが加えられると、高温部ｑの再生層４１では該外部磁界Ｈｅｘの方向へ磁化がそろえられる。このため、高温部ｑでは記録層４３に記録された記録マークがマスクされることとなる。したがって、この場合には、光スポットｐから高温部ｑを除いた低温部分がアパーチャとなり、該アパーチャが読み出し領域（図６（ａ）中の横線部）となる。このように、光ビームｂが通常の情報再生時における光量を有する場合には、光スポットｐよりもアパーチャが小さくなるため、光磁気ディスク１に対して高密度に記録された情報を再生できる。
【００３７】
一方、テストデータの再生時における光量の光ビームｂによって、記録情報を読み出す場合を図６（ｂ）に示す。この場合、光磁気ディスク１の再生層４１に照射される光スポットｐの温度分布は、通常の情報再生時における光スポットｐの温度分布に比べて全体的に低く、最も高温となる領域においても切断層４２の温度はキュリー温度に達しない。このため、切断層４２の磁界は消滅せず、再生層４１には記録層４３の記録データが転写されたままとなる。したがって、通常の情報再生時のように、高温部ｑによるマスクは生じず、光スポットｐの照射領域のすべてがそのまま読み出し領域（図６（ｂ）中の横線部）となり、環境温度の変化等に関係なく記録マークを再生することができる。つまり、テストライト動作においてテストデータを再生する場合の光量を、通常再生時の光量よりも小さくすれば環境温度の変動などに影響されない安定した記録状態のチェックが可能となる。
【００３８】
ところで、図６（ｂ）に示すように、再生光量を下げてテストデータを再生する場合には、光スポットｐの照射領域のすべてがそのまま読み出し領域となるので、記録マークが高密度で、すなわち狭い間隔で記録されていれば、該光スポットｐの中に隣接する記録マークｍ３およびｍ４が入ってしまう。そのため、記録マークｍ３からの読み出し波形と記録マークｍ４からの読み出し波形とが干渉し、信号量の低下が生じてテストデータのＳ／Ｎ比が低下する。これを、解決するためには、図６（ｃ）に示すように、テストデータの記録時には、記録マークと記録マークとの間隔を広げて、干渉が生じないようにする。これによって、信号量が増加し、Ｓ／Ｎ比の高いテストデータのチェックを行うことができる。
【００３９】
また、再生光量を下げてテストデータを再生する場合には、再生光量の低下に伴って同じく記録マークからの読み出し信号量が低下する。これも同様に、テストデータのＳ／Ｎ比の低下を招く。これを、解決するためには、図６（ｄ）に示すように、記録マークの長さが光スポットｐの径以上となるようにテストデータを記録する。これによって、同様に信号量が増加し、Ｓ／Ｎ比の高いテストデータのチェックを行うことができる。
【００４０】
これより、本装置による光磁気ディスク１の記録再生動作を詳細に説明する。図７は、上記記録再生動作を示すフローチャートである。
【００４１】
まず、本装置が光磁気ディスク１への記録動作を行う前には、該光磁気ディスク１に照射する光ビームｂの光量を適切に調節するためにテストライトを行う。そのため、光ピックアップ２が光磁気ディスク１のテストライト領域１１へ移動させられ（Ｓ１）、記録光量や記録磁界強度等の記録条件を変化させながらテストライトを行う（Ｓ２）。上記テストライトが終了し、光ビームｂの光量が調節されると、光ピックアップ２が光磁気ディスク１の情報記録領域１２へ移動させられ（Ｓ３）、最適化された記録条件を使用しての情報の記録が行われる（Ｓ４）。上記記録動作に続き、再生エラーの少ない情報の再生が行われる（Ｓ５）。
【００４２】
図７におけるテストライトの動作を、以下に詳細に説明する。図１に示すように、まず、テストライトを行う時には、制御回路８から送りモータ３に移動制御信号ａが出力され、光ピックアップ２が、図２に示す光磁気ディスク１の例えば外周部に設けたテストライト領域１１へ移動させられる。
【００４３】
上記テストライトでは、光ビームｂの記録光量、もしくは外部磁界Ｈｅｘの磁界強度を最適化することができる。光ビームｂの記録光量を最適化する場合には、制御回路８から光量制御信号ｇが発せられ、レーザドライバ４に送出される。そして、テストデータ発生回路９からは、テストライト時に記録されるテストデータｃが発せられ、磁気ヘッドドライバ６へ送出される。
【００４４】
レーザドライバ４は、上記光量制御信号ｇに基づいて光ピックアップ駆動信号ｅを光ピックアップ２に送出し、該光ピックアップ２は光ピックアップ駆動信号ｅに基づいて一定光量の光ビームｂを光磁気ディスク１に照射する。同時に、磁気ヘッドドライバ６は、上記テストデータｃに基づいて磁気ヘッド駆動振動ｄを磁気ヘッド５に送出し、該磁気ヘッド５は磁気変調記録によって光磁気ディスク１にテストデータｃを記録する。また、上記テストデータｃを、磁気ヘッドドライバ６ではなくレーザドライバ４に与え、光変調記録によって光磁気ディスク１にテストデータｃを記録してもよい。
【００４５】
上述のように、ある一定光量の光ビームｂのもとで、テストデータｃが記録されると、レーザドライバ４から発せられる光ピックアップ駆動信号ｅに基づいて光ビームｂの記録光量を所定量だけ増加させられる。そして、増加した記録光量の光ビームｂのもとで、再びテストデータｃの記録が行われる。こうして、上記の動作を繰り返し行うことにより、光磁気ディスク１のテストライト領域１１に、記録光量の異なる複数のテストデータｃが記録される。
【００４６】
尚、上述の説明では、レーザドライバ４から発せられる光ピックアップ駆動信号ｅに基づいて光ビームｂの記録光量を変化させながら、記録光量の異なる複数のテストデータｃが記録している。しかしながら、これ以外に、上記光量制御信号ｇに代わり、外部磁界制御信号ｆを磁気ヘッドドライバ６に与え、該磁気ヘッドドライバ６からの磁気ヘッド駆動信号ｄに基づいて外部磁界強度Ｈｅｘを変化させながら、外部磁界強度Ｈｅｘの異なる複数のテストデータｃが記録してもよい。ただし、この場合のテストライトでは、光ビームｂの記録光量ではなく、外部磁界強度Ｈｅｘが最適化される。
【００４７】
記録されたテストデータｃを読み出す場合は、光ビームの光量を情報再生時の光量よりも下げる。これにより超解像の発生が停止させられ、光スポットの全面積によりテストデータｃが再生されるため、環境温度の変動に影響されない記録状態のチェックが可能となる。このとき、光ピックアップ２にてテストデータｃが読み出され、再生されたテストデータ（すなわち、再生信号ｈ）が再生信号チェック回路７に送られる。再生信号チェック回路７では、再生信号ｈの信号レベルデータｉを検出して制御回路８へ送りながら、後述の最適記録条件の制御を行う。
【００４８】
最適記録条件の制御が終了すると、光ピックアップ２を図２における情報記録領域１２に戻し、情報の記録や再生が行われる。
【００４９】
情報の再生時は、制御回路８から光量制御信号ｇが発せられ、レーザドライバ４から発せられる光ピックアップ駆動信号ｅに基づいて光ビームｂの光量を通常の再生光量に戻される。これにより磁気的超解像が発生し、光スポットｐの面積よりも小さいアパーチャによって高密度の信号再生ができる。
【００５０】
上記テストライトの動作を、図８のフローチャートを用いてさらに詳しく説明する。ただし、以下の説明では、最適記録条件として光ビームｂの記録光量を最適化する場合を例示する。
【００５１】
テストライトの動作命令が出され、テストライトが開始されると、先ず、記録光量の初期値が設定される（Ｓ１１）。尚、記録磁界強度を最適化する場合は、これに代えて記録磁界強度の初期値が設定される。
【００５２】
次に、図９（ａ）に示すトラックＴ0 にテストデータｃを磁界変調記録する（Ｓ１２）。このとき、上記トラックＴ0 には、図９（ａ）に示すように、記録マークｍ１が記録される。続いて、光ビームｂの光量をテストライトにおける低い再生光量に設定して（Ｓ１３）、上記トラックＴ0 を再生する（Ｓ１４）。このとき、図９（ｄ）において実線で示される再生信号の振幅Ｖ0 が検出される（Ｓ１５）。
【００５３】
上記振幅Ｖ0 が検出されれば、光ビームｂの光量がＳ１１（２回目のルーチン以降はＳ２３）で設定された記録光量に戻される（Ｓ１６）。そして、上記記録光量を有する光ビームｂの光スポットｐにより、図９（ｂ）に示すように、隣接トラックＴ1 が消去され、続いて同様に反対側の隣接トラックＴ-1が消去される（Ｓ１７）。
【００５４】
再び、光ビームｂの光量がＳ１３で設定された低い再生光量に戻され（Ｓ１８）、図９（ｃ）に示すようにトラックＴ0 が再生され（Ｓ１９）。図９（ｄ）において破線で示される再生信号の振幅Ｖ1 が検出される（Ｓ２０）。ここで、記録光量が大きすぎると、図９（ｃ）に示すように、トラックＴ1 およびＴ-1が消去された後の記録マークｍ２は、消去前の記録マークｍ１に比べてマークの両脇が消去されて小さくなる。このため、記録マークｍ２の再生信号の振幅Ｖ1 は、記録マークｍ１の再生信号の振幅Ｖ0 に比べて小さくなる。逆に、記録光量が小さいと、記録マークｍ２の両脇は消去されないため、振幅Ｖ0 と振幅Ｖ1 は等しくなる。ここで、検出された２つの振幅Ｖ0 およびＶ1 より振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 を算出し、これを現在の記録光量と共にメモリに記憶する（Ｓ２１）。
【００５５】
つづいて、Ｓ１１（または、Ｓ２３）およびＳ１６で設定された記録光量が、あらかじめ決められた範囲の記録光量内で全て設定終了したかどうかが判断される（Ｓ２２）。終了していなければ記録光量を所定の変化分だけ変更し（Ｓ２３）、トラックＴ0 への記録動作（Ｓ１２）へ戻る。終了していれば、設定範囲の記録光量の中から、振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 ＜δＶであって、かつ最も高い記録光量を最適な記録光量Ｐw0として選択する（Ｓ２４）。ここで、上記δＶはノイズによる検出誤差である。
【００５６】
尚、最適な記録光量の選択方法としては、Ｓ２１において振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 の代わりに振幅Ｖ1 を記憶しておき、振幅Ｖ1 が最も高い記録光量を最適記録光量としてもよい。この場合は、Ｓ１３ないしＳ１６のステップを省略することができる。Ｓ２４における上記の選択方法で、最適な記録光量が選択される理由については後述する。
【００５７】
また、図９（ｃ）では、トラックＴ1 とＴ-1の両方を消去したが、どちらか一方だけ消去しても同様な効果を得ることができる。しかし、トラックＴ1 とＴ-1の両方を消去した方が、図９（ｄ）に示した振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が大きくなり、検出感度を高くすることができる。
【００５８】
テストライトが終了して最適な記録光量が選択されれば、最適化された記録光量を使用して情報の記録動作が行われる。
【００５９】
図１０は上記テストライト時における、記録光量、振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 およびＳ／Ｎ比の関係を示す図である。記録光量を徐々に上げていった場合、最初のうちは記録マークの両脇が消去されないので、既に説明したように、振幅Ｖ0 と振幅Ｖ1 とは等しくなり、しばらく振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 は変化せずノイズによる検出誤差δＶの範囲内に収まっている。ところが、ある記録光量を越えると記録マークの両脇が消去され始め、徐々に振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が増加し始める。この増加を始める直前の記録光量Ｐw0においては、記録マークの両脇が消去されず、しかも最も大きな記録マークを記録できる。つまり、最適記録光量Ｐw0では、記録マークのＳ／Ｎ比を最も大きくすることができ、エラーの少ない高密度な記録再生を行うことが可能となる。
【００６０】
また、隣接するトラックを消去された後の記録マークｍ２を再生して得られる再生信号の振幅Ｖ1 のみに注目した場合、記録光量を徐々に上げていくと、最初のうちは記録マークの両脇が消去されないので、該振幅Ｖ1 は記録光量の増加に伴って上昇する。そして、ある記録光量を越えると記録マークの両脇が消去され始めるので、徐々に振幅Ｖ1 が減少し始める。ここで、上記振幅Ｖ1 が最大の値を示すときの記録光量Ｐw0においては、記録マークの両脇が消去されず、しかも最も大きな記録マークを記録できるので、記録マークのＳ／Ｎ比を最も大きくすることができ、エラーの少ない高密度な記録再生を行うことが可能となる。
【００６１】
さらに、上述のテストライトでは、テストデータ記録時の外部磁界強度を固定し、記録光量を最適化する例を示しているが、これ以外に、記録光量を固定とし、図８のＳ２３において、上記記録光量の代わりに外部磁界強度を増加させてもよい。これにより記録時の外部磁界強度を最適化することができる。すなわち、図９では、説明を簡単にするため、光スポットｐを完全な円で示し、該光スポットｐが照射された全領域で記録マークの転写が生じるようになっているが、実際には、上記光スポットは例えばガウス分布のような温度分布を有しており、記録マークの転写領域は上記光スポットの温度分布と外部磁界強度によって決定される。したがって、記録光量を固定とした場合でも外部磁界強度が変化すれば記録マークの大きさも変化し、外部磁界強度を増加させ続ければ振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が０から増加に転じるような外部磁界強度が発生する。このため、記録光量を最適化する場合と同様の方法で、記録時の外部磁界強度の最適値を求めることができる。
【００６２】
【発明の効果】
本発明の記録再生装置は、以上のように、光磁気記録媒体に対し情報の記録または再生を行う場合に、光磁気記録媒体に光ビームを照射する光ビーム照射手段と、光磁気記録媒体に外部磁界を印加する外部磁界印加手段と、上記光ビーム照射手段から上記光磁気記録媒体に照射される光ビームの反射光より得られる再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記光ビーム照射手段および外部磁界印加手段を制御して光磁気記録媒体への情報の記録および再生を行うと共に、記録条件設定時に上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、光ビームの光量を、光磁気記録媒体の切断層で記録層と再生層の交換結合力が切断される所定の温度以上となる領域が発生しないレベルまで下げるように上記光ビーム照射手段を制御する制御手段を備えている構成である。
【００６３】
それゆえ、再生層にアパーチャを発生させることのできる磁気的超解像の光磁気記録媒体に対し、通常の情報再生時における高分解能の再生を行うことができると同時に、上記光磁気記録媒体に記録されている情報を再生する場合の再生信号のレベルを検出したい場合には、光ビームの光量を下げることにより、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに、光記録媒体上の記録マークの記録状態を安定して検出することができるという効果を奏する。
【００６４】
本発明の記録再生装置は、上記構成に加えて、テストデータを発生するテストデータ発生手段と、光磁気記録媒体に情報を記録する時の記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段によって設定された記録条件に基づき、上記光ビーム照射手段と外部磁界印加手段とを制御して、上記光磁気記録媒体に、上記テストデータ発生手段が発生するテストデータを記録させ、再生信号検出手段によって上記テストデータの再生信号のレベルが検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求める構成である。
【００６５】
それゆえ、上記効果に加えて、光磁気記録媒体の再生層にアパーチャを発生させて再生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。従って、この記録条件を用いて上記光磁気記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を行うことができるという効果を奏する。
【００６６】
本発明の記録再生装置は、上記構成に加えて、さらに該テストデータを再生する時に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないような間隔をもって記録されるように設定されている構成である。
【００６７】
それゆえ、上記効果に加えて、上記テストデータを再生する場合に、隣あう２つの記録マークからの再生信号が波形干渉を生じないので、信号量を増加させることができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しながら、テストライトを行うことができるという効果を奏する。
【００６８】
本発明の記録再生装置は、上記構成に加えて、さらに上記テストデータが、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上となるように設定されている構成である。
【００６９】
それゆえ、上記効果に加えて、上記テストデータは、光磁気記録媒体に記録される記録マークの長さが前記光ビームのスポット径以上となるように記録されるので、該テストデータを再生する場合に、光量の低下を大きな信号量で補うことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出しながら、テストライトを行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態を示すものであり、記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の構成を示す斜視図である。
【図３】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の他の例を示す斜視図である。
【図４】上記記録再生装置における磁気ヘッドドライバおよびレーザドライバの構成の一部を示すブロック図である。
【図５】上記記録再生装置における再生信号チェック回路の構成を示すブロック図である。
【図６】上記記録再生装置において、図６（ａ）は、光ビームの光量を通常の再生時におけるレベルにした場合の再生動作を示す説明図であり、図６（ｂ）は、光ビームの光量を通常の再生時よりも下げ、アパーチャが生じないレベルにした場合の再生動作を示す説明図であり、図６（ｃ）は、光磁気ディスクの記録マークの間隔を広げた場合を示す説明図であり、図６（ｄ）は、光磁気ディスクの記録マークの大きさを大きくした場合を示す説明図である。
【図７】上記記録再生装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図８】上記記録再生装置の動作のうち、テストライトに関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図９】図９（ａ）は、図２に示した光記録媒体のトラックに記録マークが記録された様子を示す説明図であり、図９（ｂ）は、上記トラックに隣接したトラックが消去された様子を示す説明図であり、図９（ｃ）は、上記トラックに記録された記録マークが再生される様子を示す説明図であり、図９（ｄ）は、上記記録マークを再生して得られた信号レベルデータを示すグラフである。
【図１０】図１に示した記録再生装置による記録条件の制御によって得られた、光ビームの記録光量と振幅減少量およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。
【符号の説明】
１    光磁気ディスク（光磁気記録媒体）
２    光ピックアップ（光ビーム照射手段）
５    磁気ヘッド（外部磁界印加手段）
７    再生信号チェック回路（再生信号検出手段）
８  制御回路（制御手段・記録条件設定手段）
９  テストデータ発生回路（テストデータ発生手段）
４１  再生層
４２  切断層
４３  記録層
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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