(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光記録媒体に対して、該光記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の記録再生を行う記録再生装置において、
光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、
光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、
光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、
上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、
テスト信号を発生するテスト信号発生手段と、
記録条件を設定する記録条件設定手段と、
上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に外部磁界を印加する状態と印加しない状態との両方で再生できるよう、上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段とを備え、
上記制御手段は、上記記録条件設定手段を制御して記録条件を上記記録手段に設定させ、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に上記テスト信号発生手段が発生するテスト信号からテストパターンを記録させ、上記再生手段を制御して上記テストパターンを外部磁界を印加しない状態で再生させ、この再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求めることを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
上記テストパターンが、上記再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも大きい記録マークを形成するパターンであることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。
【請求項３】
記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光記録媒体に対して、該光記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の記録再生を行う記録再生装置において、
光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、
光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、
光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、
上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、
上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に外部磁界を印加する状態と印加しない状態との両方で再生できるよう、上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段と、
再生条件を設定する再生条件設定手段を備え、
上記制御手段は、上記再生条件設定手段を制御して再生条件を上記再生手段に設定させ、上記再生手段を制御して光記録媒体に記録されている情報を、外部磁界を印加する状態と、印加しない状態との両方で再生させ、これらの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行い、最適な再生条件を求めることを特徴とする記録再生装置。
【請求項４】
上記再生手段が、該再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生し、
上記制御手段は、この再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行うことを特徴とする請求項３記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体に外部磁界を加える事によって、該媒体上に光ビームのスポット面積よりも小さいアパーチャ（開口部）が生じる磁気的超解像を利用した光記録媒体に対して、最適な記録／再生条件を求めるためのテストライトまたはテストリードを行う記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、記録密度を向上させるために、記録層の上に再生層を設け、光ビームのスポット面積よりも小さい開口部（以下、アパーチャと称する）を再生層に発生させ、記録層のマークを高密度で読み出す光記録媒体の開発が行われている。例えば特開平３−９３０５６号公報に開示された光磁気記録媒体は、記録マークを記録するための記録層と、記録層との交換結合によって記録マークが転写される再生層と、記録層と再生層との交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有し、再生時は再生磁界を加えて光スポットの後方に発生した高温部分をマスクとして磁気的超解像を発生させることにより、高密度の記録マークを再生している。
【０００３】
この方式は、光スポットの前方にアパーチャが生じるので、一般にＦＡＤ（Front Aperture Detection) と呼ばれている。この他に、光スポットの中央にアパーチャが生じるＣＡＤ（Center Aperture Detection)、中央にアパーチャが生じるＲＡＤ（Rear Aperture Detection)などが知られている。
【０００４】
これらのディスクは、再生層における高温部分によって光スポットの一部をマスクすることにより、スポット面積よりも小さな部分、いわゆるアパーチャによって記録マークを読み出す。このとき、環境温度の変化やディスクの特性ばらつきによって高温部分の大きさが変動するため、これにつれてアパーチャの面積も変動する。このため、アパーチャの大きさを制御し、安定した再生を行う必要がある。
【０００５】
例えば、ＣＡＤ方式においてアパーチャの制御を行う方法として、特開平８−６３８１７号公報に開示されたテストリード方法では、短マークと長マークとを再生し、再生信号の振幅比が一定となるように再生光量を制御することによって、アパーチャの大きさを制御していた。この方法は、再生光量の制御によって、高温部分の大きさを制御するので、他のＦＡＤ方式にＲＡＤ方式においても使用可能と考えられる。
【０００６】
また、上述の環境温度の変化やディスクの特性ばらつきは再生時に限らず、記録時の記録マークの大きさも変動させる。磁気的超解像が生じない従来の光記録媒体に、一定の記録マークを記録する方法として特開平７−２４９２２６号公報に開示されたテストライト方法があった。この方法では、あらかじめ記録光量を変化させながらテストパターンを記録し、これを再生したテスト信号が最適な信号レベルとなるように記録光量を制御している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の構成では、磁気的超解像を生じる光記録媒体に上述のテストリードを行うと、記録マークがあらかじめ正確に記録されている場合は最適な再生光量に制御できるが、もし、上述の環境温度の変化などによって不正確な大きさの記録マークが記録されている場合には誤った再生光量に制御されるという問題が生じる。
【０００８】
このため、従来のテストライトによって磁気的超解像を生じる光記録媒体に対して、あらかじめ記録光量の制御を行う方法が考えられる。ところが、テストパターンを再生して記録状態を検出する場合に、上述の環境温度の変化などによってアパーチャの大きさが変動するため、誤った記録状態を検出するという問題が生じる。
【０００９】
つまり、上記超解像を生じる光記録媒体に対して従来のテストライトを行っても記録光量を最適に制御することができず、これにより正確な大きさの記録マークも記録できないため、テストリードを行っても再生光量も最適に制御できないという問題が生じる。
【００１０】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、環境温度の変動等の影響を受けることなく、テストライトおよびテストリードを行い、最適な記録条件および再生条件を求めることができる記録再生装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明の記録再生装置は、記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の記録再生を行うものであり、上記の課題を解決するために、光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に外部磁界を印加する状態と印加しない状態との両方で再生できるよう、上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段とを備えていることを特徴としている。
【００１２】
上記の構成によれば、制御手段は、記録手段を制御して、上記光記録媒体に情報を記録させ、再生手段によってこの情報を再生させる。情報の再生時において再生信号の信号レベルを検出したい時には、制御手段は磁界印加手段を制御することによって選択的に外部磁界を印加することができる。そして、上記再生信号検出手段が、再生によって得られた再生信号のレベルを検出する。
【００１３】
これにより、情報の読み出しを行う場合、すなわち通常の再生時において、外部磁界を印加することによって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じさせて高分解能の再生を行うことができると同時に、外部磁界を印加せずに情報の再生を行い、この再生信号のレベルを再生信号検出手段で検出することによって、アパーチャを生じさせずに再生を行うこともでき、この場合は、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに、光記録媒体上の記録マークの記録状態を検出できる。
【００１４】
また、例えば、外部磁界を印加しながら情報の再生を行った場合の再生信号のレベルと、外部磁界を印加せずに情報の再生を行った場合の再生信号のレベルとを検出し、これらを比較することによって、再生信号からの分解能の変化を正確に検出することができる。
【００１５】
本発明の記録再生装置は、さらに、テスト信号を発生するテスト信号発生手段と、記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段を制御して記録条件を上記記録手段に設定させ、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に上記テスト信号発生手段が発生するテスト信号からテストパターンを記録させ、上記再生手段を制御して上記テストパターンを外部磁界を印加しない状態で再生させ、この再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求めることを特徴としている。
【００１６】
上記の構成によれば、記録条件とは、例えば記録時に光記録媒体に照射される光ビームの光量や、光記録媒体に印加される磁界強度のことである。制御手段は、記録条件設定手段を制御して、上記記録手段に、例えばある適当な範囲内の、特定の記録条件を設定させる。そして、記録手段を制御して、上記光記録媒体にテストパターンを記録させ、再生手段によってこのテストパターンを再生させる。上記再生時には、磁界印加手段による外部磁界は印加されない。そして、上記再生信号検出手段が、この再生によって得られた再生信号のレベルを検出し、制御手段に伝達する。このように、制御手段は、上記範囲内における複数の記録条件に対応した再生信号のレベルを取得することができる。そして、制御手段は、これら取得した再生条件のレベルを比較して、最適な再生信号を記録した記録条件を、最適な記録条件として決定する。
【００１７】
これにより、光記録媒体の再生層にアパーチャを発生させて再生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。従って、この記録条件を用いて上記光記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を行うことが可能となる。このため、エラーの少ない情報の記録を行うことが可能である。
【００１８】
本発明の記録再生装置は、さらに、上記テストパターンが、上記再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも大きい記録マークを形成するパターンであることを特徴としている。
【００１９】
上記の構成により、大きい記録マークによって外部磁界が印加されない場合の分解能の低下を補うことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出できる。
【００２０】
本発明の記録再生装置は、記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によって転写される再生層と、光ビームが照射されたときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加えながら、再生層に光ビームを照射して情報の記録再生を行うものであり、上記の課題を解決するために、光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に外部磁界を印加する状態と印加しない状態との両方で再生できるよう、上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段と、再生条件を設定する再生条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記再生条件設定手段を制御して再生条件を上記再生手段に設定させ、上記再生手段を制御して光記録媒体に記録されている情報を、外部磁界を印加する状態と、印加しない状態との両方で再生させ、これらの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行い、最適な再生条件を求めることを特徴としている。
【００２１】
上記の構成によれば、再生条件とは、例えば再生時に光記録媒体に照射される光ビームの光量や、光記録媒体に印加される磁界の強度のことである。制御手段は、再生条件設定手段を制御して、再生手段に、例えばある適当な範囲内の、特定の再生条件を設定させる。そして、この再生手段を制御して、外部磁界を印加する状態と、印加しない状態との両方の状態において、光記録媒体に記録された情報を再生させる。そして、これらの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、制御手段は、このレベルを解析し、得られた再生信号が最適な再生信号であるかどうか判断する。最適な再生信号でない場合には、再生条件を変えて、再度再生信号のレベルを取得し、解析する。そして、最適な再生信号であると判断した場合には、この再生における再生条件を、最適な再生条件として決定する。
【００２２】
これにより、光記録媒体に外部磁界を印加する場合、すなわち再生層に光ビームのスポット径より小さいアパーチャを発生させて再生を行う場合と、外部磁界を印加しない場合、すなわち再生層にアパーチャを発生させずに再生を行う場合との両方の状態において再生信号のレベルを検出しているので、これらのレベルを比較することによって、分解能の変化を知ることができ、その比較結果が所定の値となるように再生条件を最適化することができる。
【００２３】
本発明の記録再生装置は、さらに、上記再生手段が、該再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生し、上記制御手段は、この再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行うことを特徴としている。
【００２４】
上記の構成により、小さい記録マークによって外部磁界を印加する場合と印加しない場合との分解能を大きく変化させることができ、高いＳ／Ｎ比によって情報再生時の再生光量または再生磁界強度を制御することができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態について図１ないし図１３に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００２６】
図１は、本実施の形態にかかる記録再生装置（以下、本装置とする）の構成を示すブロック図である。図１に示すように、本装置は、光ピックアップ２と、送りモータ３と、レーザドライバ４と、磁気ヘッド５と、磁気ヘッドドライバ６と、再生信号検出手段としての再生信号検出回路７と、制御手段、再生条件設定手段および記録条件設定手段としての制御回路８と、テスト信号発生手段としてのテスト信号発生回路９とから構成されており、光記録媒体としての光磁気ディスク１に対して記録再生を行う。また、記録手段は、光ピックアップ２、レーザドライバ４、磁気ヘッド５および磁気ヘッドドライバ６から構成され、再生手段は、光ピックアップ２、レーザドライバ４から構成される。さらに、磁気ヘッド５は、磁界印加手段としても作用する。
【００２７】
光ピックアップ２は、光磁気ディスク１に光ビームｂを照射することによって、光磁気ディスク１に記録されている情報を読み取るためのものである。さらに光ピックアップ２は、読み取った情報を再生信号ｈとして再生信号検出回路７に送出する。
【００２８】
送りモータ３は、制御回路８の指示により、光ピックアップ２を移動させ、光磁気ディスク１の所定部分に光ビームｂが照射されるようにするためのものである。また、レーザドライバ４は、制御回路８の指示により、光ピックアップ２に光ピックアップ駆動信号ｅを伝達することによって、光ピックアップ２が照射する光ビームのパワーを制御するためのものである。
【００２９】
磁気ヘッド５は、情報を記録するために光磁気ディスク１に磁界を印加するためのものである。また、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示により、磁気ヘッド５に磁気ヘッド駆動信号ｄを伝達することによって、この磁気ヘッド５が印加する磁界の強度を制御するためのものである。
【００３０】
また、再生信号検出回路７は、光ピックアップ２によって読み出された再生信号のレベルを検出して、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達するためのものである。ここで、再生信号のレベルとは、再生信号の振幅の大きさのことである。
【００３１】
制御回路８は、送りモータ３に移動制御信号ａを伝達することによって、送りモータ３を制御するためのものである。また、制御回路８は、光量制御信号ｇをレーザドライバ４に伝達することによって、このレーザドライバ４を制御する。さらに、制御回路８は、磁気ヘッドドライバ６に磁界制御信号ｆを伝達することによって、この磁気ヘッドドライバ６を制御する。
【００３２】
テスト信号発生回路９は、後述する記録条件の制御のためのテスト信号を、テスト信号ｃとしてレーザドライバ４および磁気ヘッドドライバ６に伝達するためのものである。
【００３３】
本装置で用いられる光磁気ディスク１は、例えば、図２に示すように、その外周部に、テストライト時においてテストパターンを書き込むテストライト領域１１が形成されており、その内側に通常の記録情報を書き込む情報記録領域１２が形成されている。
【００３４】
図４は、上記の磁気ヘッドドライバ６およびレーザドライバ４における、制御回路８からの磁界制御信号ｆおよび光量制御信号ｇの処理のための構成を示すブロック図である。図４に示すように、磁気ヘッドドライバ６は、磁気ヘッド駆動回路２１と、Ｄ／Ａコンバータ２２とを備えており、レーザドライバ４は、光ピックアップ駆動回路２３とＤ／Ａコンバータ２４とを備えている。また、光ピックアップ２は、光ビームｂを発するための半導体レーザ２５を備えている。
【００３５】
制御回路８から送られてくる磁界制御信号ｆは、例えば８ビットのバイナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２２は、この磁界制御信号ｆを受け取り、アナログ信号に変換し、磁気ヘッド駆動回路２１に送る。磁気ヘッド駆動回路２１は、このアナログ信号に基づいた磁気ヘッド駆動信号ｄを磁気ヘッド５に送り、磁気ヘッド５の発生する磁界を制御する。このようにして、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示に基づいて、磁気ヘッド５の発生する外部磁界を正確に制御することができる。これにより、制御回路８の指示に基づいて外部磁界の強度をアパーチャが生じないレベルまで正確に減じたり、オフさせることができる。
【００３６】
また、制御回路８から送られてくる光量制御信号ｇは、磁界制御信号ｆと同様に、例えば８ビットのバイナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２４は、この光量制御信号ｇを受け取り、アナログ信号に変換して光ピックアップ駆動回路２３に送る。光ピックアップ駆動回路２３は、このアナログ信号に基づいた光ピックアップ駆動信号ｅを光ピックアップ２に備えられている半導体レーザ２５に送り、半導体レーザ２５の発生する光ビームｂの光量を制御する。このようにして、レーザドライバ４は、制御回路８の指示に基づいて、光ピックアップ２の発生する光ビームｂの光量を正確に制御することができる。
【００３７】
図５は、再生信号検出回路７の構成を示すブロック図である。図５に示すように、再生信号検出回路７は、アンプ３１と、ローパスフィルタ３２と、振幅検出回路３３と、Ａ／Ｄコンバータ３４とから構成されている。
【００３８】
光ピックアップ２から送られてくる再生信号ｈはアナログ信号であり、アンプ３１は、この再生信号ｈを受け取り、増幅してローパスフィルタ３２に送る。ローパスフィルタ３２は、この増幅された再生信号ｈのＳ／Ｎ比を向上させ、振幅検出回路３３に送る。振幅検出回路３３は、この増幅され、Ｓ／Ｎ比が向上された再生信号ｈの信号レベルを検出し、Ａ／Ｄコンバータ３４に送る。Ａ／Ｄコンバータ３４は、この信号レベルを、例えば８ビットのバイナリデータに変換し、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達する。このようにして、再生信号検出回路７は、正確な再生信号のレベルを制御回路８に伝達することができる。
【００３９】
上記構成の本装置によって、光磁気ディスク１上の記録情報を読み出す場合を図６を用いて以下に説明する。ただし、読み出し時において、外部磁界をオンにする場合と、外部磁界をオフにする場合とでは、読み出し特性は異なる。
【００４０】
先ず、上記外部磁界がオンにされた場合を、図６（ａ）に示す。上記光磁気ディスク１は、再生層４１、切断層４２、および記録層４３を有する多層構造となっており、記録層４３に磁気記録されたパターンが交換結合によって再生層４１に転写されている。
【００４１】
上記光磁気ディスク１に記録された情報の読み出し時には、該光磁気ディスク１の再生層４１に光スポットｐが照射される。上記光スポットｐの前方、すなわち、記録媒体の移動方向（図６中のｘ方向）側には、高温部ｑ（図６中の斜線部）が発生する。高温部ｑの領域では、切断層４２の温度がキュリー温度以上に上昇し、切断層４２の磁界が消滅する。したがって、記録層４３と再生層４１との交換結合が切断される。尚、上記の説明は、ＦＡＤ方式の場合を例示している。
【００４２】
このとき、上記光磁気ディスク１に、磁気ヘッド５によって外部磁界Ｈｅｘが加えられると、高温部ｑの再生層４１では該外部磁界Ｈｅｘの方向へ磁化がそろえられる。このため、高温部ｑでは記録層４３に記録された記録マークがマスクされることとなる。したがって、この場合には、光スポットｐから高温部ｑを除いた低温部分がアパーチャｒとなり、該アパーチャｒが読み出し領域（図６（ａ）中の横線部）となる。外部磁界がオンにされた場合には、このように光スポットｐよりもアパーチャｒが小さくなるため、光磁気ディスク１に対して高密度に記録された情報を再生できる。尚、本実施の形態では、上記外部磁界Ｈｅｘのみが、特許請求の範囲に記載の外部磁界に相当する。
【００４３】
一方、外部磁界がオフにされた場合は、図６（ｂ）に示すように、高温部ｑによって、切断層４２の磁界が消滅しても、外部磁界Ｈｅｘが与えられていないため、再生層４１には記録層４３からの漏洩磁界Ｈｌｋにより、記録層４３と同じパターンが転写される。したがって、外部磁界がオンにされた場合のように、高温部ｑによるマスクは生じず、光スポットｐの照射領域のすべてがそのまま読み出し領域（図６（ｂ）中の横線部）となり、環境温度の変化等に関係なく記録マークを再生することができる。
【００４４】
尚、図６（ｂ）において外部磁界Ｈｅｘをオフする以外に、その強度を減じることによって漏洩磁界Ｈｌｋよりも小さくすればマスクの効果は無くなって、実質上外部磁界Ｈｅｘがオフされた状態になり、記録マークの転写が行われることは言うまでもない。
【００４５】
これより、本装置による光磁気ディスク１の記録再生動作を詳細に説明する。図７は、上記記録再生動作を示すフローチャートである。尚、本装置では、光磁気ディスク１に対する記録動作と、該光磁気ディスク１に記録された情報の再生動作とは、別々に行うことができるが、以下の説明では、記録動作に続けて再生動作が行われるものとする。
【００４６】
まず、本装置が光磁気ディスク１への記録動作を行う前には、該光磁気ディスク１に照射する光ビームｂの光量を適切に調節するためにテストライトを行う。そのため、光ピックアップ２が光磁気ディスク１のテストライト領域１１へ移動させられ（Ｓ１）、記録光量や記録磁界強度等の記録条件を変化させながらテストライトを行う（Ｓ２）。上記テストライトが終了し、光ビームｂの光量が調節されると、光ピックアップ２が光磁気ディスク１の情報記録領域１２へ移動させられ（Ｓ３）、最適化された記録条件を使用しての情報の記録が行われる（Ｓ４）。
【００４７】
上記記録動作に続いて再生動作が行われるが、該再生動作の前においても、光ビームｂの光量を調節するために、再生光量や再生磁界強度などの再生条件を変化させながら、情報記録領域に記録された情報を再生してテストリードが行われる（Ｓ５）。テストリードが終了すると、最適化された再生条件に基づいて情報の再生が行われる（Ｓ６）。
【００４８】
図７におけるテストライトの動作を、以下に詳細に説明する。テストライトは光磁気ディスク１のテストライト領域１１にテストパターンを記録する工程と、これを再生して記録状態を検出する工程と、検出した記録状態に基づいて最適な記録光量や磁界強度を決定する工程に分けられる。
【００４９】
まず、テストパターンの記録工程では、図１に示すように、制御回路８から送りモータ３に移動制御信号ａが出力され、光ピックアップ２が図２に示す光磁気ディスク１のテストライト領域１１へ移動される。テスト信号発生回路９からはテスト信号ｃが発せられ、レーザドライバ４に送られ、光ピックアップ駆動信号ｅが光ピックアップ２内の半導体レーザに送られる。さらに、制御回路８から磁界制御信号ｆが磁気ヘッドドライバ６に送られ、該磁気ヘッドドライバ６で上記磁界制御信号ｆが磁気ヘッド駆動信号ｄに変換されて磁気ヘッド５に送られる。そして、上記磁気ヘッド５は磁気ヘッド駆動信号ｄに基づいて光磁気ディスク１に外部磁界を印加する。また制御回路８からは光量制御信号ｇがレーザドライバ４に送られ、光ビームｂの記録光量を変化させながらテスト信号ｃを記録する。
【００５０】
次に、テスト信号ｃの再生工程では、まず磁界制御信号ｆにより外部磁界がオフされる。これにより、再生時の超解像の発生を一時的に停止させ、環境温度の変動などに影響されずに、記録されたテストパターンの再生を行うことができる。次に、光ピックアップ２によってテストパターンが読み出され、テストパターン信号ｈが再生信号検出回路７に送られる。再生信号検出回路７では、テストパターン信号ｈの信号レベルデータｉを検出して制御回路８へ送り、図示しないメモリに記憶しておく。
【００５１】
テストパターンの再生が終わると、再び磁界制御信号ｆにより外部磁界をオンし、記録光量を微増して、テスト信号ｃの記録へ戻る。このように記録光量を微増させながら、あらかじめ決められた光量範囲においてテスト信号ｃを記録し、そのときの記録状態を検出する。尚、上述の外部磁界のオフ動作には、実質上超解像が生じないレベルまで外部磁界を減じる場合も含む。
【００５２】
次に最適な記録光量を決定する工程では、メモリに記憶された記録状態の中から最適なものを探し、このときの記録光量を最適な記録光量と決定する。
【００５３】
テストライトが終了すると、光ピックアップ２を図２における情報記録領域１２に移動し、最適な記録光量に基づいて情報の記録を行うことができる。記録された情報は、テストリード時に読み出され、最適な再生光量の制御を行うことができる。上記テストリード動作については後述する。
【００５４】
上記の動作を主に図８のフローチャートを用いてさらに詳しく説明する。テストライトの動作命令によってテストライトが開始されると、本装置は、磁気ヘッド５による外部磁界をオンする（Ｓ１１）。次に、記録光量の初期値を設定し（Ｓ１２）、光磁気ディスク１のテストライト領域にテストパターンを磁界変調記録する（Ｓ１３）。この時、図９（ａ）に示すように、光磁気ディスク１のトラックＴ0 に記録マークｍ１が記録される。次に、外部磁界をオフし（Ｓ１４）、トラックＴ0 を再生する（Ｓ１５）。こうして、図９（ｄ）に実線で示される再生信号の振幅Ｖ0 が検出される（Ｓ１６）。
【００５５】
尚、上記Ｓ１１においてオンされる外部磁界は、光磁気ディスク１にテストパターンを書き込むために与えられるものである。つまり、上記外部磁界は、再生時において再生層４１上にアパーチャを生じさせるために与えられる外部磁界Ｈｅｘとは異なり、磁気ヘッド駆動回路２１から送られる磁気ヘッド駆動信号ｄにより制御される。
【００５６】
続いて、再び外部磁界をオンして（Ｓ１７）、図９（ｂ）に示すように隣接トラックＴ1 を消去し、続いて反対側の隣接トラックＴ-1を消去する（Ｓ１８）。そして、上記外部磁界をオフして（Ｓ１９）、図９（ｃ）に示すように、再びトラックＴ0 を再生する（Ｓ２０）。こうして、図９（ｄ）に破線で示される再生信号の振幅Ｖ1 が検出される（Ｓ２１）。尚、上記Ｓ１７においてオンされる外部磁界は、光磁気ディスク１のテストパターンを消去するために与えられるものであり、磁界の向きおよび大きさは一定であるが、再生層４１上にアパーチャを生じさせるために与えられる外部磁界Ｈｅｘとは異なる。
【００５７】
ここで、記録光量が大きすぎると、光スポットｐのスポット面積が大きくなり、図９（ｃ）に示すように、記録マークｍ２は消去前の記録マークｍ１に比べて、マークの両脇が消去されたものとなる。したがって、振幅Ｖ1 は振幅Ｖ0 に比べて小さくなる。逆に、記録光量が小さいと、記録マークｍ２の両脇は消去されないため、振幅Ｖ0 と振幅Ｖ1 とは等しくなる。
【００５８】
再生信号の振幅Ｖ1 が検出されると、再び外部磁界（Ｓ１１でオンされる外部磁界と同様）をオンに戻す（Ｓ２２）。次に、振幅減少率Ｖ0 −Ｖ1 を算出して、該振幅減少率Ｖ0 −Ｖ1 とこの時の記録光量とをメモリに記憶し（Ｓ２３）、上記記録光量が予め決められた光量範囲を越えているかを否かを判断する（Ｓ２４）。上記記録光量が予め決められた光量範囲を越えていなければ（Ｓ２４でＮＯ）、記録光量を所定の変化分だけ増加し（Ｓ２５）、トラックＴ0 への記録動作、すなわちＳ１３へ戻る。こうして、上記記録光量が予め決められた光量範囲を越えるまで（Ｓ２４でＹＥＳ）、Ｓ１３からＳ２５までのステップが繰り返し行われ、メモリには、各記録光量とこれに対応する振幅減少率Ｖ0 −Ｖ1 とが記憶される。設定されている記録光量が上記光量範囲を越えれば（Ｓ２４でＹＥＳ）、上記メモリに記憶された記録光量の中から最適な記録光量を選択し、（Ｓ２６）テストライトを終了する。
【００５９】
ここで、記録光量、振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 およびＳ／Ｎ比の関係を図１０を用いて説明する。記録光量が低い場合には、上述したように、トラックＴ0 上の記録マークの両脇が消去されないため、振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 はほぼゼロとなりノイズによる検出誤差δＶの範囲内に収まる。ところが、しだいに記録光量を上げて行くと、ある記録光量において記録マークの両脇が消去され始め、徐々に振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が増加し始める。
【００６０】
上記振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が増加を始める直前、すなわち振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が検出誤差δＶを超える直前の記録光量Ｐw0においては、光スポットｐのスポット径がトラック幅とほぼ等しくなるため、記録マークの両脇は消去されず、しかも最も大きな記録マークを記録できる。つまり、最適記録光量Ｐw0では、記録マークのＳ／Ｎ比を最も大きくすることができる。したがって、上記Ｓ２６では、振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 ＜δＶとなり、かつ最も高い記録光量が最適な記録光量として選択される。
【００６１】
尚、上記図８のフローチャートにおいて、Ｓ２３のステップで振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 の代わりに振幅Ｖ1 を記憶し、Ｓ２６のステップで振幅Ｖ1 が最も大きい記録光量を最適記録光量として選択してもよい。
【００６２】
また、上記の説明では、トラックＴ1 とＴ-1の両方を消去しているが、どちらか一方だけ消去しても同様な効果を得ることができる。しかし、トラックＴ1 とＴ-1の両方を消去した方が、図９（ｄ）に示した振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が大きくなり、検出感度を高くすることができる。また、上述の例では磁界変調記録を示したが、これに限らず光変調記録の場合も同様の動作でテストライトが行える。
【００６３】
さらに、図９（ａ）および図９（ｃ）では、外部磁界Ｈｅｘをオフにした状態で、光スポットｐ全体で記録マークｍ１やｍ２を再生している。したがって、外部磁界Ｈｅｘをオンにし、超解像を発生させて情報再生する場合に比べて分解能が下がるが、環境温度の変動などに影響されない安定した記録状態の検出が可能となる。尚、分解能の低下に関しては、記録マークｍ１の大きさが光スポット径以上となるようにテストパターンを記録することにより、分解能の低下によるＳ／Ｎ比の低下を補うことができる。
【００６４】
尚、上述のテストライトでは、テストパターン記録時の外部磁界強度を固定し、記録光量を最適化する例を示しているが、これ以外に、記録光量を固定とし、図８のＳ２５において、上記記録光量の代わりに外部磁界強度を増加させてもよい。これにより記録時の外部磁界強度を最適化することができる。すなわち、図９では、説明を簡単にするため、光スポットｐを完全な円で示し、該光スポットｐが照射された領域で記録マークの転写が生じるようになっているが、実際には、上記光スポットは例えばガウス分布のような温度分布を有しており、記録マークの転写領域は上記光スポットの温度分布と外部磁界強度によって決定される。したがって、記録光量を固定とした場合でも外部磁界強度が変化すれば記録マークの大きさも変化し、外部磁界強度を増加させ続ければ振幅減少量Ｖ0 −Ｖ1 が０から増加に転じるような外部磁界強度が発生する。このため、記録時の外部磁界強度の最適値を求めることができる。
【００６５】
続いて、図７におけるテストリードの動作を、以下に詳細に説明する。テストリード時においては、まず制御回路８からの光量制御信号ｇに基づいて、光ビームｂの再生光量が設定する。次に外部磁界Ｈｅｘをオフして超解像が生じない時の記録マークからの再生信号レベルを検出する。次に外部磁界Ｈｅｘをオンして超解像を発生させ、再生信号レベルを検出する。外部磁界がオン状態とオフ状態での再生信号レベルを比較すると、光スポット面積に対するアパーチャの大きさを測定できるため、所定のアパーチャの大きさとなるように再生光量の制御を行うことができる。
【００６６】
上記テストリード動作を、主に図１１のフローチャートを用いてさらに詳しく説明する。テストリードの動作命令によってテストリードが開始されると、本装置は、まず再生光量の初期値を設定する（Ｓ３１）。次に、外部磁界Ｈｅｘをオフして（Ｓ３２）、記録マークから再生された信号の振幅Ｖ0 を検出する（Ｓ３３）。このとき、図１２（ａ）の左側の部分に示すように、光スポットｐのスポット全体によって記録マークが再生され、上記振幅Ｖ0 は、図１２（ｂ）の左側の部分に破線で示された再生信号より得られる。
【００６７】
次に、外部磁界Ｈｅｘをオンに戻し（Ｓ３４）、記録マークから再生された信号の振幅Ｖ1 を検出する（Ｓ３５）。このとき、図１２（ａ）の右側の部分に示すように、光磁気ディスク１上の記録マークは、破線で示されるアパーチャｒによって再生され、上記振幅Ｖ1 は、図１２（ｂ）の右側の部分に破線で示された再生信号より得られる。上記アパーチャｒの面積は光スポットｐのスポット面積よりも小さいため、外部磁界Ｈｅｘをオンにした場合は、オフにした場合に比べて分解能が上がる。このため、上記振幅Ｖ1 は、外部磁界Ｈｅｘをオフにした場合に得られる振幅Ｖ0 に比べ、わずかに大きくなる。
【００６８】
上述のように、振幅Ｖ0 およびＶ1 が検出されると、Ｖ1 ／Ｖ0 を算出し、該Ｖ1 ／Ｖ0 より現在の再生光量が適切であるか否かを判断する（Ｓ３６）。上記再生光量が適切でないと判断されれば（Ｓ３６でＮＯ）、再生光量を所定量だけ増加させて（Ｓ３７）、Ｓ３２へ戻る。こうして、上記再生光量が適切であると判断されるまで（Ｓ３６でＹＥＳ）、Ｓ３２〜Ｓ３７のステップを繰り返し行う。
【００６９】
ここで、上記Ｓ３６における再生光量の判断方法の一例を説明する。先ず、図１２を用いて、再生光量の増加に伴うＶ1 ／Ｖ0 の変化を説明する。光スポットｐの再生光量が上がると、外部磁界Ｈｅｘがオフされている場合は、図１２（ｂ）の左側部分における実線で示すように再生信号の振幅Ｖ0 が増加する。次に、外部磁界Ｈｅｘをオンにすると高温部のマスク領域が広がり、図１２（ａ）の右側部分において実線で示すように、読みだし部分であるアパーチャｒの面積が小さくなる。これにより分解能がさらに上がった分だけ、図１２（ｂ）の右側部分において実線で示すように、再生信号の振幅Ｖ1 が大きくなる。
【００７０】
上記振幅Ｖ1 の増加率は振幅Ｖ0 の増加率よりも大きいため、再生光量が増加するにつれて、Ｖ1 ／Ｖ0 も増加する。図１３は、光ビームｂの再生光量、Ｖ1 ／Ｖ0 、および再生信号のＳ／Ｎ比の関係を示す図である。上述のように、光ビームｂの再生光量が大きくなるにつれてＶ1 ／Ｖ0 はしだいに大きくなる。また、再生信号の振幅Ｖ1 も最初は増加するため、Ｓ／Ｎ比もこれにつれて増加するが、しだいに記録層の温度がキュリー点に近くなると逆に振幅Ｖ1 が小さくなり始め、Ｓ／Ｎ比が減少し始める。したがって、これらの兼ね合いによりＳ／Ｎ比が最大となる再生光量Ｐr0が存在する。このときのＶ1 ／Ｖ0 を基準値Ａとすると、この基準値Ａが得られるようにテストリードにおいて再生光量を制御すれば、再生エラーを最も低減することが可能となる。
【００７１】
すなわち、Ｓ３６のステップでは、Ｖ1 ／Ｖ0 が基準値Ａとほぼ等しい値となるときに、再生光量が適切であると判断するようにすればよい。具体的には、例えば、Ｖ1 ／Ｖ0 を予め設定された基準値Ａと比較し、該Ｖ1 ／Ｖ0 が最初に基準値Ａを越えたときの再生光量をもって適切な再生光量とするか、あるいは、上記基準値Ａを中心の値とする基準範囲を予め設定しておき、Ｖ1 ／Ｖ0 が上記基準範囲内の値となるときの再生光量をもって適切な再生光量とする等の方法が考えられる。
【００７２】
上記Ｓ３６のステップで、適切な再生光量が選択されれば、テストリードを終了し、上記再生光量の光ビームｂで、光磁気ディスク１に記録されている情報の読み出しがなされる。
【００７３】
尚、テストリードによって最適化されるのは、再生光量のみに限らず、再生磁界強度を最適化する場合には、再生光量を一定とし、再生磁界強度を変化させながら再生信号の振幅を検出する。すなわち、再生光量が一定であっても、再生磁界強度が増加すれば、光スポットｐの温度分布と再生磁界強度との影響により高温部のマスク領域が増加するため、アパーチャｒの面積が小さくなる。このため、外部磁界Ｈｅｘをオンにした場合の分解能が上がり、振幅Ｖ1 が増加するので、再生磁界強度の最適化が行える。
【００７４】
また、テストリードにおいて光スポットｐよりも小さいマークｍ３を再生することにより、外部磁界がオン／オフしたときの分解能の変化を検出することができる。尚、マークｍ３が光スポットｐよりも大きいと、分解能力の変化を検出することはできない。
【００７５】
以上のように、本実施の形態に係る記録再生装置は、テストライト時には、ある適当な範囲内の、特定の記録条件、例えば記録光量または記録磁界強度などを設定し、該記録条件の下で光磁気ディスク１にテストパターンを記録する。上記テストパターンを再生する場合には、外部磁界Ｈｅｘをオフにするため、環境温度の変動やディスクのばらつきの影響を受けることなく、この再生によって得られる再生信号のレベルを検出できる。上記再生信号のレベルは、制御回路８に伝達され、メモリに記憶される。
【００７６】
そして、上記記録条件を所定量ずつ変化させながら、複数の記録条件に対応した再生信号のレベルをメモリに記憶したのち、制御回路８は、これらの記憶した再生条件のレベルを比較して、最適な再生信号を記録した記録条件を、最適な記録条件として決定する。
【００７７】
これにより、本装置における最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。したがって、この記録条件を用いて上記光記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を行うことが可能となり、エラーの少ない情報の記録を行うことができる。
【００７８】
さらに、このとき上記テストパターンを、光ピックアップ２が光磁気ディスク１に対して照射する光ビームｂのスポット径よりも大きい記録マークを形成するパターンとすれば、大きい記録マークによって、外部磁界Ｈｅｘがオフにされる場合の分解能の低下を補うことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出できる。
【００７９】
また、本実施の形態に係る記録再生装置は、テストリード時には、例えばある適当な範囲内の、特定の再生条件、例えば再生光量または再生磁界強度などを設定し、この再生条件の下で、外部磁界Ｈｅｘを印加する状態と、印加しない状態との両方の状態において、光磁気ディスク１に記録された情報を再生させる。これらの再生によって得られた再生信号のレベルを比較することにより、外部磁界Ｈｅｘを印加することによる分解能の変化が検出できる。
【００８０】
そして、上記再生条件を所定量ずつ変化させながら、複数の再生条件に対応した再生信号のレベルの比較結果をメモリに記憶したのち、制御回路８は、これらの記憶した再生条件のレベルの比較結果から、最適な再生信号を得た再生条件を、最適な再生条件として決定する。
【００８１】
これにより、本装置における最適な再生条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。したがって、この再生条件を用いて上記光記録媒体の再生を行えば、最適な条件で再生を行うことが可能となり、エラーの少ない情報の再生を行うことができる。
【００８２】
さらに、上記再生時に、光ピックアップ２が光磁気ディスク１に対して照射する光ビームｂのスポット径よりも小さい記録マークを再生し、この再生信号のレベルに基づいて再生条件を求めるようにすれば、外部磁界を印加する場合と印加しない場合との分解能を大きく変化させることができ、高いＳ／Ｎ比によって情報再生時の再生光量または再生磁界強度を制御することができる。
【００８３】
尚、本装置で用いられる光磁気ディスク１は、図２に示したものに限らず、図３に示すように、テストライト領域１１をディスクの周方向の周期的部分に設け、この領域にテストライト専用のテストパターンを記録してもよい。また、テストリードにおいては、記録された情報における光スポットよりも小さいマークを再生したが、これに限らず上記図３に示した周期的部分をテストリード領域に置き換えて、この領域に光スポットよりも小さいマークを含んだテストリードパターンを記録してもよい。
【００８４】
【発明の効果】
本発明の記録再生装置は、以上のように、光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段とを備えている構成である。
【００８５】
それゆえ、情報の読み出しを行う場合、すなわち通常の再生時において、外部磁界を印加することによって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じさせて高分解能の再生を行うことができると同時に、外部磁界を印加せずに情報の再生を行い、この再生信号のレベルを再生信号検出手段で検出することによって、アパーチャを生じさせずに再生を行うこともできる。この場合は、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに、光記録媒体上の記録マークの記録状態を検出できるという効果を奏する。
【００８６】
また、外部磁界を印加しながら情報の再生を行った場合の再生信号のレベルと、外部磁界を印加せずに情報の再生を行った場合の再生信号のレベルとを検出し、これらを比較することによって、再生信号からの分解能の変化を正確に検出することができるという効果を奏する。
【００８７】
本発明の記録再生装置は、さらに、テスト信号を発生するテスト信号発生手段と、記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定手段を制御して記録条件を上記記録手段に設定させ、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に上記テスト信号発生手段が発生するテスト信号からテストパターンを記録させ、上記再生手段を制御して上記テストパターンを外部磁界を印加しない状態で再生させ、この再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求め構成である。
【００８８】
それゆえ、上記の効果に加えて、光記録媒体の再生層にアパーチャを発生させて再生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に求めることが可能となる。従って、この記録条件を用いて上記光記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を行うことができるという効果を奏する。
【００８９】
また本発明の記録再生装置は、以上のように、上記の構成に加えて、上記テストパターンが、上記再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも大きい記録マークを形成するパターンである構成である。
【００９０】
それゆえ、上記の効果に加えて、大きい記録マークによって外部磁界が印加されない場合の分解能の低下を補うことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出できるという効果を奏する。
【００９１】
本発明の記録再生装置は、以上のように、光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する再生信号検出手段と、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の再生時に外部磁界を印加する状態と印加しない状態との両方で再生できるよう、上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制御手段と、再生条件を設定する再生条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記再生条件設定手段を制御して再生条件を上記再生手段に設定させ、上記再生手段を制御して光記録媒体に記録されている情報を、外部磁界を印加する状態と、印加しない状態との両方で再生させ、これらの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行い、最適な再生条件を求める構成である。
【００９２】
それゆえ、上記の効果に加えて、光記録媒体に外部磁界を印加する場合、すなわち再生層に光ビームのスポット径より小さいアパーチャを発生させて再生を行う場合と、外部磁界を印加しない場合、すなわち再生層にアパーチャを発生させずに再生を行う場合との両方の状態において再生信号のレベルを検出しているので、これらのレベルを比較することによって、分解能の変化を知ることができ、その比較結果が所定の値となるように再生条件を最適化することができるという効果を奏する。
【００９３】
本発明の記録再生装置は、上記の構成に加えて、上記再生手段が、該再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも小さい記録マークを再生し、上記制御手段は、この再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を行う構成である。
【００９４】
それゆえ、上記の効果に加えて、小さい記録マークによって外部磁界を印加する場合と印加しない場合との分解能を大きく変化させることができ、高いＳ／Ｎ比によって情報再生時の再生光量または再生磁界強度を制御することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施形態を示すものであり、記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】  上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の構成を示す斜視図である。
【図３】  上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の他の例を示す斜視図である。
【図４】  上記記録再生装置における磁気ヘッドドライバおよびレーザドライバの構成の一部を示すブロック図である。
【図５】  上記記録再生装置における再生信号検出回路の構成を示すブロック図である。
【図６】  上記記録再生装置において、図６（ａ）は、外部磁界オンの場合の再生動作を示す説明図であり、図６（ｂ）は、外部磁界オフの場合の再生動作を示す説明図である。
【図７】  上記記録再生装置の動作の流れを示すフローチャートである。
【図８】  上記記録再生装置の動作のうち、テストライトに関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図９】  図９（ａ）は、図２に示した光記録媒体のトラックに記録マークが記録された様子を示す説明図であり、図９（ｂ）は、上記トラックに隣接したトラックが消去された様子を示す説明図であり、図９（ｃ）は、上記トラックに記録された記録マークが再生される様子を示す説明図であり、図９（ｄ）は、上記記録マークを再生して得られた信号レベルデータを示すグラフである。
【図１０】  図１に示した記録再生装置による記録条件の制御によって得られた、光ビームの記録光量と振幅減少量およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。
【図１１】  上記記録再生装置の動作のうち、テストリードに関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図１２】  図１２（ａ）は、図２に示した光記録媒体に記録されている情報を再生する様子を示す説明図であり、図１２（ｂ）は、上記の再生によって得られた信号レベルデータを示すグラフである。
【図１３】  図１に示した記録再生装置による再生条件の制御によって得られた、光ビームの再生光量とＶ1 ／Ｖ0 およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。
【符号の説明】
１    光磁気ディスク（光記録媒体）
２    光ピックアップ（記録手段・再生手段）
４    レーザドライバ（記録手段・再生手段）
５    磁気ヘッド（記録手段・磁界印加手段）
６    磁気ヘッドドライバ（記録手段）
７    再生信号検出回路（再生信号検出手段）
８  制御回路（制御手段・再生条件設定手段・記録条件設定手段）
９  テスト信号発生回路（テスト信号発生手段）
４１  再生層
４２  切断層
４３  記録層
【図１】
0003788664.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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