(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と記憶場所との間で光信号を伝播するシステムであって、該システムが、
レーザ光源と記憶場所との間に配置され、光信号を伝送する光ファイバと、
光ファイバに結合され、光信号を少なくとも一つのスプリアス反射から空間的に分離する屈折率マッチング手段と、
レーザ光源に結合され、光信号と少なくとも一つのスプリアス反射との間の干渉を減らすために、レーザ光源を特定の周波数でパルス化する制御器と、を有しており、
前記特定周波数が、式Ｆ＝ｃ（２ｉ＋１）／４Ｌｎによって決定されていて、ここに、ｃは真空中の光速であり、Ｌは光ファイバの長さであり、ｎは光ファイバの屈折率であり、ｉは少なくとも０の値を有する整数である、システム。
【請求項２】
請求項１のシステムにおいて、屈折率マッチング手段が、
レーザ光源と光ファイバの発射端との間に配置されたＧＲＩＮレンズであって、ＧＲＩＮレンズの内面と発射端との間にギャップを残すように光ファイバに結合されたＧＲＩＮレンズと、
前記ギャップ内に配置された屈折率マッチング材料であって、光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有している屈折率マッチング材料と、を有している、システム。
【請求項３】
請求項２のシステムにおいて、屈折率マッチング材料が、光学エポキシ、ゲル、及び流体からなる群から選択された材料である、システム。
【請求項４】
請求項１のシステムにおいて、屈折率マッチング手段が、
レーザ光源と光ファイバの発射端との間に配置されたＧＲＩＮレンズであって、ＧＲＩＮレンズの内面と発射端との間にギャップを残すように光ファイバに結合されたＧＲＩＮレンズと、
前記ギャップ内に配置されたカバースリップであって、前記発射端に結合され、光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有しているカバースリップと、を有している、システム。
【請求項５】
請求項４のシステムにおいて、前記カバースリップはガラスである、システム。
【請求項６】
請求項１のシステムにおいて、前記屈折率マッチング手段が、
光ファイバのヘッド端と記憶場所との間に配置されたガラス板であって、ガラス板とヘッド端との間にギャップを残すように配置されたガラス板と、
前記ギャップ内に配置され、光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有している屈折率マッチング材料と、を有している、システム。
【請求項７】
請求項１のシステムにおいて、レーザ光源が、ファブリーペローレーザ、安定単一周波数レーザ光源及び分布帰還型レーザからなる群から選択されている、システム。
【請求項８】
レーザ光源と記憶場所との間で光信号を伝播するシステムであって、該システムが、
レーザ光源と記憶場所との間に配置され、光信号を伝送する光ファイバと、
該光ファイバに結合され、光信号を少なくとも一つのスプリアス反射から空間的に分離する光ファイバスプライス手段と、
レーザ光源に結合され、光信号と少なくとも一つのスプリアス反射との間の干渉を減らすために、レーザ光源を特定の周波数でパルス化する制御器とを有しており、
前記特定周波数が、式Ｆ＝ｃ（２ｉ＋１）／４Ｌｎによって決定されていて、ここに、ｃは真空中の光速であり、Ｌは光ファイバの長さであり、ｎは光ファイバの屈折率であり、ｉは少なくとも０の値を有する整数である、システム。
【請求項９】
請求項８のシステムにおいて、前記光ファイバスプライス手段が光ファイバの直径とほぼ等しい直径を有したコアレス光ファイバ部分を有しておリ、該コアレス光ファイバ部分は光ファイバに結合され、光ファイバのヘッド端と記憶場所との間に配置されており、コアレス光ファイバ部分の長さはコアレス光ファイバ部分の外面を励起したときの光信号の半径がコアレス光ファイバ部分の直径より小さいような長さであり、コアレス光ファイバ部分が光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有している、システム。
【請求項１０】
請求項９のシステムにおいて、コアレス光ファイバ部分がラージコアマルチモード光ファイバと置きかえられている、システム。
【請求項１１】
請求項８のシステムにおいて、レーザ光源が、ファブリーペローレーザ、安定単一周波数レーザ光源及び分布帰還型レーザからなる群から選択されている、システム。
【請求項１２】
レーザ光源と記憶場所との間で光信号を伝播する方法であって、該方法が、
光信号を光ファイバを通して伝送し、
屈折率マッチングによって光ファイバからの少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離し、
光信号と少なくとも一つのスプリアス反射との間の干渉を減らすために、レーザ光を特定の周波数でパルス化することを有していて、
前記特定周波数が、式Ｆ＝ｃ（２ｉ＋１）／４Ｌｎによって決定されていて、ここに、ｃは真空中の光速であり、Ｌは光ファイバの長さであり、ｎは光ファイバの屈折率であり、ｉは少なくとも０の値を有する整数である、方法。
【請求項１３】
請求項１２の方法において、前記少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離する工程が、光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有した屈折率マッチング材料を通り、ＧＲＩＮレンズを経た光信号を光ファイバの発射端中に焦点合わせすることを有している、方法。
【請求項１４】
請求項１３の方法において、屈折率マッチング材料が、光学エポキシ、ゲル、及び流体からなる群から選択された材料である、方法。
【請求項１５】
請求項１２の方法において、前記少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離する工程が、光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有したカバースリップを通り、ＧＲＩＮレンズを経た光信号を光ファイバの発射端中に焦点合わせすることを有している、方法。
【請求項１６】
請求項１５の方法において、前記カバースリップがガラスである、方法。
【請求項１７】
請求項１２の方法において、前記少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離する工程が、光信号が光ファイバのヘッド端を出る時、光信号を光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有した屈折率マッチング材料を通過させることを有している、方法。
【請求項１８】
請求項１２の方法において、レーザ光源が、ファブリーペローレーザ、安定単一周波数レーザ光源及び分布帰還型レーザからなる群から選択されている、方法。
【請求項１９】
レーザ光源と記憶場所との間で光信号を伝播する方法であって、該方法が、
光信号を光ファイバを通して伝送し、
ファイバスプライスを経た光ファイバからの少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離し、
光信号と少なくとも一つのスプリアス反射との間の干渉を減らすために、レーザ光を特定の周波数でパルス化することを有しており、
前記特定周波数が、式Ｆ＝ｃ（２ｉ＋１）／４Ｌｎによって決定されていて、ここに、ｃは真空中の光速であり、Ｌは光ファイバの長さであり、ｎは光ファイバの屈折率であり、ｉは少なくとも０の値を有する整数である、方法。
【請求項２０】
請求項１９の方法において、前記少なくとも一つのスプリアス反射から光信号を空間的に分離する工程が、光ファイバの直径とほぼ等しい直径を有したコアレス光ファイバ部分を光ファイバに結合させることを有しておリ、該コアレス光ファイバ部分は光ファイバのヘッド端と記憶場所との間に配置されており、コアレス光ファイバ部分の長さは、光信号がコアレス光ファイバ部分の外面を出るときの光信号の半径がコアレス光ファイバ部分の直径より小さいような長さであり、コアレス光ファイバ部分が光ファイバの屈折率とほぼ等しい屈折率を有している、方法。
【請求項２１】
請求項２０の方法において、コアレス光ファイバ部分がラージコアマルチモード光ファイバと置きかえられている、方法。
【請求項２２】
請求項１９の方法において、レーザ光源が、ファブリーペローレーザ、安定単一周波数レーザ光源及び分布帰還型レーザからなる群から選択されている、方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
（関連特許出願）
本発明は１９９８年３月３０日出願された「低複屈折ファイバを利用した光学ドライブ」という名称の米国仮出願第６０／０８７９，９０３号、１９９８年６月５日出願された「光学ドライブにおけるレーザ位相雑音最小化」という名称の米国仮出願第６０／０８８、１９２号、１９９８年１１月１３日出願された「ファイバ端の逆反射を排除する光学ヘッド設計」という名称の米国仮出願第６０／１０８，３９８号、１９９８年１２月９日出願された「継ぎ合わせた偏光保持型ファイバを使用した光ファイバカップラ」に関連し、かつ優先権を主張しており、それらのすべての特許出願は参照によって本明細書に援用されている。本特許出願は参照によって本明細書に援用されている１９９８年７月２９日に出願された、「光学データ記憶システムにおいて使用する低複屈折光ファイバ」という名称の米国一部継続出願第０９／１２４、８１２号である。
【０００２】
（発明の背景）
（発明の分野）
本発明は概ねデータ記憶システムにおいて使用する光ファイバに関する。特に、本発明は光磁気データ記憶システムにおいて使用する低複屈折光ファイバに関する。
【０００３】
（背景技術）
光磁気データ記憶システムにおいて、回転ディスクに堆積された光磁気（ＭＯ）記録材料を使用して、情報は磁気領域の空間変形としてディスク上に記録される。読み出しの際、磁気領域パターンは光学偏光を変調し、検出システムはその結果の信号を光学フォーマットから電子フォーマットに変換する。
【０００４】
光磁気データ記憶システムの一タイプにおいて、記録及び読み出しの際、ディスクの半径方向に沿ってヘッドを動かし、光学ヘッドをデータトラック上に位置させるリニアアクチュエータ上に、光磁気ヘッド組立体は位置決めされる。磁気コイルは光磁気ヘッド組立体の別の組立体上に位置され、ディスク面に対して垂直の方向に磁性成分を有している磁界を発生させる。ディスク媒体を包囲している磁性材料の極性とは反対の極性を有する垂直磁化が、先ずレーザ光線のビームを集光してディスク上に光学スポットを形成することにより、零あるいは１を指示するマークとして記録される。光学スポットは光磁気材料を（磁化が適用された磁界によって直ちに変化可能である温度である）キュリー点の近傍あるいはそれ以上の温度まで加熱するよう作用する。磁気コイルを通過する電流は自然の垂直磁化を上又は下に方向付ける。このような磁化マークの方向付けはレーザビームが除去された後も保存される。このマークは、磁気コイルが反対方向に磁界を形成する際にレーザビームによってキュリー点まで局部的に再加熱されると、消去あるいは重ね書きされる。
【０００５】
対象とするマークの磁化によって反射ビームに加えられる光学偏光のカー回転を検出するように磁気カー効果を利用することによって、ディスク上の対象とするマークから情報が読み取られる。カー回転の大きさは（カー係数によって表現される）当該材料の特性によって決まる。回転方向は設定された差動検出方法によって測定され、対象とするマークでの磁化方向に応じて時計方向あるいは反時計方向に向けられる。
【０００６】
従来の光磁気ヘッドは、現在のところ１ギガビット／平方インチ程度の面積密度で光磁気ディスクに対するアクセスを提供する一方、ヘッドの物理的寸法及び質量を可成り大きくする（典型的には寸法が３〜１５ミリ）比較的大きな光学組立体に基礎を置く傾向がある。その結果、従来の光磁気ヘッドが光磁気ディスク上の新規なデータトラックにアクセスするように機械的に運動する速度は遅い。更に、従来の光磁気ヘッドの物理的サイズは光磁気ディスク間の間隔を制限する。標準的な高さのディスクドライブにおいて利用可能な容積は制限されているので、光磁気ディスクドライブは高密度で、高性能の商品として利用されなかった。例えば、現在市販されている商業的な光磁気記憶装置は１３０ミリ両面２．６ＩＳＯギガバイト光磁気ディスクはその片面のみに４０ｍ／ｓのディスクアクセス時間及び４．６ＭＢ／ｓｅｃのデータ転送速度を提供している。
【０００７】
エヌ．ヤマダ（米国特許第５，２５５，２６０号）は複数の光ディスクの上面及び下面にアクセスする薄形の浮動光学ヘッドを開示している。ヤマダによって開示された浮動光学ヘッドは相変化光ディスクへ光線を送り、かつそこから光線を受取るために（アームに対して固定された）固定ミラーすなわちプリズムを装着している作動アームを説明している。ヤマダによって説明されている静的光学系は一定容量内に収容された複数の相変化光ディスクの両面へのアクセスを提供するが、ヤマダの発明は光学系のサイズと質量とに限度がある。その結果、所定の容量内で機能するように製造しうる光ディスクの性能と数量も制限される。
【０００８】
光源から記憶場所まで偏光された光線を送るために偏光保持型光ファイバとファブリーペロー（ＦＰ）レーザとを採用している用途においては、モード分配雑音が、得られる信号対雑音比（ＳＮ比）を制限する。ブロードバンド偏光変動の形態におけるモード分配雑音（ＭＰＮ）は、高複屈折ファイバがＦＰレーザの光路に位置される時判然とする、ＦＰレーザの本質的な特性である。偏光保持型光（ＰＭ）ファイバは意図的に極めて複屈折性であり、従って、ＰＭファイバがＦＰレーザと共に使用される時、ＭＰＮは除去が極めて難しい。
【０００９】
従って、必要とされるものは、光ファイバを利用して十分な信号対雑音比（ＳＮ比）でレーザ光源と光学ドライブの記憶場所との間で光線を送る光学レーザ記憶システムであって、従来の方法と比較して、所定の容積内で位置させうるディスクの数を増大しうる光学レーザ記憶システムである。改良された光学ヘッドは高度の開口数を提供し、ヘッドサイズと質量とを低減することが好ましい。更に、光学ヘッドは従来のディスク面に対するアクセス性、ディスクドライブアクセス時間、データ速度、光学的に誘発される雑音、整合及び製造の容易さを改良することが好ましい。
【００１０】
（発明の要約）
本発明は、光学記憶媒体へ及び光学記憶媒体から情報を転送するために低複屈折光ファイバを使用することによって、与えられた容積内に位置させうる記憶ディスクの数の増加を可能にする。薄形ヘッド上の高共鳴周波数トラッキングサーボ装置も、低複屈折光ファイバと共に、記憶媒体に対する改良されたアクセス性、改良されたディスクドライブアクセス時間、及び改良されたデータ転送速度を提供する。
【００１１】
本発明による光ディスクドライブは、例えば浮動ヘッド技術のような、ウインチェスタ磁気ディスク技術の種々の特徴を利用している。本発明の別の局面においては、レーザー光学装置組立体は光源からの光線を光スイッチまで導き、該光スイッチは、各々が浮動光学ヘッドを支持している１個以上の回転アームに結合された複数の低複屈折光ファイバの一本に光線を導く。光線は集光された光スポットと共に、それぞれの記憶媒体のデータを読み取り、書き込む目的でそれぞれの光学ヘッドまで光ファイバを介して送られる。記憶媒体からの反射光信号はその後処理するために光学ヘッドと光ファイバとを介して反結合される。一実施例において、光線の光源はファブリーペロー（ＦＰ）レーザからなる。別の実施例において、光線の光源は例えば分布帰還型（ＤＦＢ）レーザのような安定単一周波数レーザ光源からなる。
【００１２】
光ファイバによって送られた光線の光路は浮動ヘッドに装着された操舵可能なマイクロ・マシンド・ミラーによって変更される。トラックへの追従及び隣接トラックへの探索は回転軸の周りにミラーの中心部を回転させることによって実行される。操舵可能なマイクロ・マシンド・ミラーからの反射光線は例えばＧＲＩＮレンズあるいは成型レンズのような埋設したマイクロ対物レンズを介して導かれる。集光された光学スポットは記憶ディスクの半径方向に対して概ね平行である方向において前後に走査される。
【００１３】
別の実施例において、トラック追従及び隣接トラックへの探索は一組の操舵可能なマイクロ・マシンド・ミラーを相互に独立して作動させることにより１度に１個以上の記憶媒体面で実行可能である。この特定の実施例においては、複数のレーザ光学素子組立体が必要である。
【００１４】
本発明の別の局面において、光磁気記憶ディスクへ及び光磁気記憶ディスクから情報を転送するために低複屈折光ファイバが使用されている。光ファイバに加えられる不可避の応力のため、記憶媒体からの偏光情報のＳＮ比は、光ファイバによって運ばれる場合、劣化する可能性がある。本発明はＳＮ比を増大させるための装置と方法とを提供する。一実施例において、低複屈折光ファイバにおける平面内曲げによって誘発された複屈折はＳＮ比を増大するように補正される。別の実施例において、平面内曲げ及び平面外曲げによって誘発された複屈折がＳＮ比を増大するように補正される。平面外曲げによって誘発された複屈折は、回転可能な１／２波長板あるいは固定された１／４波長板と位相可変の波長板の組み合わせから構成可能な光学偏光回転素子を提供することによって補正されてもよい。平面内曲げは反射光線を光学的に位相を遅らせることによって補正されてもよい。位相遅れは液晶リターダ、固定された１／４波長板と回転可能な１／２波長板の組み合わせ、あるいは固定された１／４波長板及び回転可能な偏光ビームスプリッタによって提供されてもよい。別の実施例において、ＳＮ比は変調されたファブリーペローレーザあるいはＤＦＢレーザからなる光源を提供することによって増大されてもよい。
【００１５】
本発明の別の局面において、各種の雑音低減技術が光ファイバの端面におけるスプリアス反射（あるいはその影響）を顕著に低減あるいは除去することによって提供される。これらの雑音低減技術は、レーザ光源が例えばＦＰレーザあるいはＤＦＢレーザであるならば適用されてもよい。特に、スプリアス反射（あるいはその影響）はレーザ光源に近い光ファイバの前（発射）端面及び記憶媒体に近い光ファイバの後（ヘッド）端面において除去されてもよい。
【００１６】
前述と同様に、光ファイバの前端面、すなわち、発射端面からのスプリアス反射の影響を除去するために、レーザ光源は光ファイバの長さに依存する特定の周波数に変調されてもよい。その結果、光ファイバの発射端面からのスプリアス反射は記憶媒体から戻ってくる主信号から時間的に分離される。
【００１７】
本発明の別の実施例において、光ファイバの発射端面からのスプリアス反射は光ファイバの発射端面を該光ファイバのコアの屈折率と等しい屈折率を有する材料に結合することによって除去される。
【００１８】
本発明の別の実施例において、光ファイバの発射端面からのスプリアス反射は光ファイバの発射端面を光ファイバのコアの屈折率と等しい屈折率を有するカバースリップと結合することによって除去される。カバースリップは、例えばガラスあるいはその他の適当な材料から形成されてもよい。
【００１９】
本発明の別の実施例において、光ファイバの発射端面からのスプリアス反射の影響は光学伝播軸に対して特定の角度で光ファイバの発射端面を研磨することによって除去される、その結果、主信号搬送ビームはスプリアス反射から空間的に分離される。更に、ファイバの発射端面に結合されたＧＲＩＮレンズは最適の光ファイバ結合効率を提供するよう光学伝播軸に対して同様の角度に研磨されてもよい。
【００２０】
本発明の別の実施例において、光ファイバの後端面、すなわち、ヘッド端面からのスプリアス反射は光学伝播軸に対して特定の角度に光ファイバのヘッド端面を裂開することによって排除される。角度裂開の結果、スプリアス反射は光ファイバを通して効率的に反結合されず、従って、効果的に消滅される。
【００２１】
本発明の別の実施例において、光ファイバのヘッド端面からのスプリアス反射は光ファイバのコアの屈折率と等しい屈折率を有する流体あるいはエポキシに結合することによって除去される。
【００２２】
本発明の別の実施例において、光ファイバのヘッド端面からのスプリアス反射は光ファイバのコアの屈折率と等しい屈折率を有するコアレスファイバ部分、あるいはマルチモードファイバ部分に結合することによって除去される。光ファイバの結合は、例えば、溶融スプライスによって実行される。
【００２３】
（好適実施例の詳細説明）
本発明の同じ部材を同じ参照番号で識別している図面を以下詳細に参照すれば、図１Ａには全体的に斜視図で示す光磁気データ記憶及び検索システム１００が示されている。一実施例において、光磁気データ記憶及び検索システム１００は一組の両面第１面ＭＯディスク１０７と共に使用するようにされた一組のウインチェスタタイプの浮動ＭＯヘッド１０６を含む（各ＭＯディスク面に対して１個の浮動ヘッド）。一組の浮動ＭＯヘッド１０６（以下浮動ＭＯヘッドと称する）は一組のＭＯディスク１０７の表面に位置されるようそれぞれのサスペンション１３０及び作動アーム１０５によって回転アクチュエータ磁石及びコイル組立体１２０に結合されている。作動時、一組のＭＯディスク１０７は一組の浮動ＭＯヘッドと一組のＭＯディスク１０７との間の空気力学的揚力を発生させ、かつ浮動状態の一組の浮動ＭＯヘッド１０６を一組のＭＯディスク１０７の上面及び下面の上方約１５マイクロインチに保持するようスピンドルモータによって回転させられる。揚力は一組のサスペンション１３０によって加えられる均等で反対方向のばね力によって対抗される。非作動の間、一組の浮動ＭＯヘッド１０６は一組のＭＯディスク１０７の表面から離れた収納位置に静的に保持される。光磁気データ記憶及び検索システム１００はさらに、光学素子モジュール１０３と該モジュールに結合された（例えば一組の低複屈折光ファイバのような）一組の光学素子１０２とを含む。
【００２４】
図２Ａは光学素子モジュール１０３の一部として使用されるレーザー光学素子組立体１０１を示している。本発明において、図１Ａと図１Ｂとに示す光学素子モジュール１０３は、ファブリーペロー（ＦＰ）レーザのようなレーザ光源２３１又は分布帰還型（ＤＦＢ）レーザのような安定単一周波数レーザ光源を含むレーザー光学素子組立体１０１を含む。ＤＦＢレーザ光源はレーザキャビティ内で波長選択回折格子を使用しているため極めて安定した狭い帯域の単一周波数出力を発生する。一実施例において、レーザ光源２３１は可視光線スペクトルの赤領域内で約６６０ｎｍの波長において作動する。しかしながら、他の波長で作動するレーザ光源も本発明の範囲内である。ファブリーペローレーザダイオードは、当該技術分野においてモード分配雑音として知られているものをもたらす可能性のある、それらのスペクトル出力における高周波数変動を特徴とする。直線偏光された光線（双方の主軸上の光線と共に）が高複屈折素子、例えばシングルモード偏光保持型（ＰＭ）光ファイバ中へ発射されると、モード分配雑音は偏光雑音の形態で現れ、それは利用可能な信号対雑音比（ＳＮ比）を低減するよう作用する。ＭＯ記録において、ＭＯディスク１０７からの偏光情報は読み出したいので、偏光雑音は最小に抑えることが必要であるが、これは従来技術によるＦＰレーザ光源とシングルモード偏光保持型光ファイバを使用する場合達成が困難である。他方、低複屈折（ｌｏ−ｂｉ）光ファイバの使用はモード分配雑音に対してより敏感でない光学システムを構成可能にする。
【００２５】
以下説明するように、光ファイバ１０２の端面においてスプリアス反射（あるいはその影響）を顕著に低減あるいは除去するための雑音低減技術が提供される。これらの雑音低減技術は、レーザ光源が例えばＦＰレーザあるいはＤＦＢレーザである場合に、適用されてもよい。
【００２６】
レーザー光学素子組立体１０１は更に、コリメータ光学素子２３４、漏洩ビームスプリッタ２３２、及び結合レンズ２３３を含む。レーザー光学素子組立体１０１はレーザ光源２３１からのＰ偏光レーザビーム２９１を漏洩ビームスプリッタ２３２と結合レンズ２３３とを介して光スイッチ１０４（図３参照）へ向ける。レーザー光学素子組立体１０１はまた、特定のＭＯディスク１０７の表面からの反射レーザビーム２９２のＳ及びＰ偏光成分を受取る。反射レーザビーム２９２は結合レンズ２３３によって導かれ、漏洩ビームスプリッタ２３２によって、偏光ビームスプリッタ２３９、ミラー２３５及び一組の光ダイオード２３６からなる差動検出器２４０に向って通される。一組の光ダイオード２３６によって光信号から電気信号に変換された後、差異信号は差動増幅器２３７によって処理され、信号２９４として出力される。差動検出器２４０は反射レーザビーム２９２の直交Ｓ及びＰ偏光成分の光パワーを測定する。差異信号は特定のＭＯディスク１０７の表面におけるカー効果によって誘発される偏光回転の感知測定値であることが好ましい。以下説明されるように、本発明の特定の実施例において、レーザー光学素子組立体１０１は更に、レーザビーム２９１と２９２の光学位相遅れ及び／又は光学偏光回転を提供するようにＡＡ及びＢＢで示される位置において各種の光学素子を含んでもよい。
【００２７】
図３は光スイッチ１０４を含む光学素子モジュール１０３を示す。光スイッチ１０４は一組の光ファイバ１０２とレーザ光学素子組立体１０１との間に配置され、一組の光ファイバ１０２の中の１個と、一組の浮動ＭＯヘッド１０６の中の１個と、一組のＭＯディスク１０７の中の１個とを含む代表的な光路中に示されている。光スイッチ１０４は送出レーザビーム２９１を特定の光ファイバ１０２の発射端に向って導くに十分な選択度を提供する。送出レーザビーム２９１は光ファイバ１０２のヘッド端から出て、浮動ＭＯヘッド１０６を介してＭＯディスク１０７の面記録層３４９上に導かれる。
【００２８】
情報の書き込みの間、送出レーザビーム２９１は対象とする選定されたスポット３４０を面記録層３４９の概ねキュリー点まで加熱することによって面記録層３４９の保磁力を低下させる。送出レーザビーム２９１の光学的強度は一定に保たれ、一方ＭＯディスク１０７に対して垂直の「上向き」あるいは「下向き」の磁性領域のパターンを画成するために時間変動垂直バイアス磁界が使用される。この技術は磁界変調（ＭＦＭ）として知られている。あるいは、送出レーザビーム２９１は、磁壁位置をよりよく制御し、磁壁縁部ジッタを低減するために、スポット３４０における時間変動垂直バイアス磁界と同期的に変調されてもよい。その後、対象とする選定されたスポット３４０が面記録層３４９において冷却するにつれて、情報はそれぞれの旋回しているＭＯディスク１０７の面においてコード化される。
【００２９】
情報の読み出しの間、（書き込みと比較してより低いパワーで）送出レーザビーム２９１は、対象とするスポット３４０からの反射時、カー効果が反射レーザビーム２９２の偏光状態を（矢印３６３によって指示されるように）時計方向あるいは反時計方向に回転させるように、ＭＯディスク１０７に対して選択的に通される。前述の光路は本質的に双方向性である。従って、反射レーザビーム２９２は浮動ＭＯヘッド１０６を介して受取られ、光ファイバ１０２のヘッド端９００へ入る。反射レーザビーム２９２は光ファイバ１０２によって光スイッチ１０４に向って導かれ、その後光信号から電気信号への変換のために光スイッチ１０４によってレーザー光学素子組立体１０１に向かって選択的に通される。
【００３０】
図１Ａに戻れば、一実施例において、本発明の一組の光ファイバ１０２はシングルモード低複屈折光ファイバからなる。本発明は、低複屈折を有するように構成された光ファイバ、すなわち光ファイバ技術分野において低複屈折（すなわち、ｌｏ−ｂｉ）光ファイバとして知られる光ファイバを使用することより、モード分配雑音が許容される信号対雑音比（ＳＮ比）を達成するように低減可能であることを確認している。ｌｏ−ｂｉ光ファイバの低複屈折はＰＭ光ファイバとしても知られているシングルモード偏光保持型光ファイバの高複屈折と対照的である。ｌｏ−ｂｉ光ファイバはファイバの引延し工程の間の僅かに複屈折性のファイバのプリフォームから紡がれる「スパンファイバ」として提供される。冷却されると幾何学的捩じりが冷凍されてスパンファイバとなる。紡ぎ速度が十分であるならば、曲げ誘発の直線複屈折あるいは異方性熱応力による複屈折の影響は紡ぎによって導入される効果的な円形複屈折によって克服可能である。殆どのシングルモード光ファイバは局部的な内部応力によって起因するある程度の直線複屈折を示す。本発明は、（例えば、慎重に構成されたプリフォームや特殊な引延し技術のような）その他の技術を使用して製造されるｌｏ−ｂｉ光ファイバも当該技術分野において知られているので、紡がれたｌｏ−ｂｉ光ファイバに限定する必要はないことが理解される。本発明の一実施例において、一組のｌｏ−ｂｉ光ファイバは、１メートル当たり約１〜２度の位相遅れ、約６６０ｎｍの作動波長、約５８０〜６００ｎｍの遮断波長、約８０ミクロンのクラッデイング径、直径が約１６０〜１９０ミクロンの複式アクリレートジャケット、約０〜７０℃の作動温度範囲、約４．０ミクロンのモード磁界直径、及び約５％以下のモード磁界楕円性を有している。
【００３１】
図１Ａに示すように、一組のｌｏ−ｂｉ光ファイバ１０２が一組の浮動ＭＯヘッド１０６に対してヘッド端で結合され、一組のアクチュエータアーム１０５と一組のサスペンション１３０に沿って通され、光学素子モジュール１０３の周りを通され、かつ発射端において光学素子モジュール１０３に結合されている。光磁気データ記憶及び検索システム１００における限定された容積によって課せされる制限のため、一組の光ファイバ１０２は共直線及び／又は共平面の形態以外での経路を必要とする可能性があるが、これによって光ファイバ１０２に応力を課し、従って光ファイバ１０２に複屈折を誘発するかもしれない。光ファイバ１０２は図示した点Ａにおいて光学素子モジュール１０３を出て、一緒に纏められ、光学素子モジュール１０３の周りに巻かれる。余分の巻きは組立及び再作業をし易くするための余分のファイバ長さを提供する。光ファイバは大部分の静的曲げが単一の平面（以下平面内曲げと称する）で発生するような要領で通されることが好ましい。光ファイバ１０２の平面内曲げの一例が点Ｃにおいて示されている。ある点において、光ファイバ１０２は、例えば図示した点Ｂから始まってそれぞれのヘッドまで広がり、このように光ファイバ１０２の間で若干の平面外曲げがあり、それが複屈折の局部での方向性を変える可能性があるが、もしも曲げ半径が十分大きく保たれるとすれば、平面外の複屈折の大きさは比較的小さくなりうる。曲げによって誘発される複屈折は（１）（Ｒファイバ／Ｒ曲げ）２に比例する大きさ、但しＲファイバはファイバのクラッデイング半径であり、Ｒ曲げは曲げ半径である、（２）一方の軸が曲げ平面内にあり、他方の軸が平面に対して垂直であるような方向性とを特徴としうる。もしも一組の光ファイバ１０２の曲げが無いとすれば、送出レーザビーム２９１と反射レーザビーム２９２とは理論的には一組の自由空間光路と類似の低複屈折性の一組の光ファイバ１０２を経由する。しかしながら、一組の光ファイバ１０２によって運ばれる偏光回転情報は一組のｌｏ−ｂｉ光ファイバ１０２における前述の曲げによって誘発された複屈折によって劣化しうる。従って、本発明の一局面において、光位相遅れ及び／又は光偏光回転を提供するようにレーザビーム２９１及び／又は２９２の光路における光学素子を含む補正方法と装置とが提供される。
【００３２】
本発明によれば、反射レーザビーム２９２のＳ及びＰ偏光成分間の位相シフトは一組の光ファイバ１０２の曲げ誘発複屈折によってもたらされ、反射レーザビーム２９２の光路に光位相遅れ素子を位置させることによって位相シフトが補正可能であり、更に、反射レーザビーム２９２のカー回転を最大ＳＮ比で検出するために反射レーザビーム２９２のＰ及びＳ偏光成分間の位相シフトはπを法として０度に保持されるべきことが確認されている。一実施例において、光位相遅れ素子がカー信号及び位相における直交方向に偏光されたカー成分が欠如する中で反射レーザビーム２９２を持ってくることによってＭＯディスク１０７からのカー信号を最適化するために使用される。そうすることによってまた、雑音フリンジの底で作動させることにより一組の光ファイバ１０２によって誘発されたモード分配雑音を最小にする。光位相遅れは光波を２個の直交方向の直線偏光成分に分解し、それらの間で位相シフトを発生させる光位相遅れ素子によって提供されうる。理想的には、光位相遅れを発生させる光学素子は偏光せず、そこを通るレーザビームの強度変化をもたらさない。前記光学素子は単にレーザビームの偏光状態を変える。光位相遅れを提供する素子は変動が一定あるいは可変性でよく、典型的には２個の異なる屈折率を有する複屈折一軸材料として提供される。そのような材料は例えば、若干名前をあげるだけでも一軸結晶、クオーツ結晶、雲母結晶、ネマチック液晶、電気光学材料、ポリマから構成しうる。
【００３３】
本発明によれば、これらの条件を達成するために、一組の光ファイバ１０２の曲げ誘発軸は、送出レーザビーム２９１のＰ偏光が一組の光ファイバ１０２の平面内曲げ誘発軸に平行であるように、漏洩ビームスプリッタ２３２の軸と好ましくは整合しているべきであることが確認されている。
【００３４】
前述のように、一組の光ファイバ１０２は、例えば平面内曲げ及び／又は平面外曲げとの組み合わせの曲げを受けうる。図１Ｂに示す別の実施例において、光ファイバ１０２は、光ファイバ１０２が光学素子モジュール１０３から出て行くように通され、（Ｂの点で広がるのではなくむしろ）それが通されるそれぞれの浮動ＭＯヘッド１０６の間の空間と等しい平面空間を間に有する平行の平面に沿って保持されるならば、一組の光ファイバ１０２の最小の平面外曲げが発生するように通されるようにすることが可能である。本実施例において、例えば一組の光ファイバ１０２を光学素子モジュール１０３から浮動ＭＯヘッド１０６まで通常通り通している間、平面外曲げが無いとしても光ファイバの平面内曲げは依然として発生する。
【００３５】
光ファイバ１０２の最小の平面外曲げが発生する一実施例においては、曲げによって誘発された複屈折を補正するために光位相遅れが必要とされる。このような補正はコロラド州８０５３０、フレデリックのメドウラークオプチックス社によって製造されているＬＶＲ１００ＶＩＳのような可変液晶リターダからなる光位相リターダ２５５によって提供される。本実施例においては、光位相リターダ２５５は第１の１／２波長板２５３との組み合わせで使用されている（図２Ｂ）。両装置は漏洩ビームスプリッタ２３２と偏光ビームスプリッタ２３９（図２Ａ及び図２Ｂに示す）との間の光路における点ＢＢに配置されている。光位相リターダ２５５は漏洩ビームスプリッタ２３２の光軸に対して０度で整合しており、第１の１／２波長板２５３の光軸は偏光ビームスプリッタ２３９の軸に対して約２２．５度の角度で整合している。１／２波長板のこのようなセッテイングは、カー信号がないときは（すなわち、均衡された状態）光検出器に均等のパワーを発生させるように約４５度だけ偏光を回転させる。可変液晶リターダの一使用例においては、平面内誘発応力に対して十分な補正を行なうことが示された約０．１ボルトから約１０．０ボルトまでの範囲のピーク対ピーク入力電圧が供給される。一組の光ファイバ１０２の間の平面内曲げの僅かな変化は僅かに異なる電圧を必要とする。特定の光ファイバ１０２が利用されるときに付与すべき特定の電圧は較正局面の際に予め決定しておけばよい。電圧は光スイッチ１０４の切り替えの間に変更されてもよい。
【００３６】
光ファイバ１０２の最小の平面外曲げが発生する別の実施例においては、漏洩ビームスプリッタ２３２と偏光ビームスプリッタ２３９（図２Ａと図２Ｃとに示す）の間に配置された従来の変動性の１／４波長板２５４と動的に回転する１／２波長板２５７との組み合わせによって光位相遅れが提供されうる。本実施例において、１／４波長板２５４の光軸は漏洩ビームスプリッタ２３２の光軸に対して４５度の角度で整合しており、動的に回転している１／２波長板２５７の光軸は漏洩ビームスプリッタ２３２の軸に対して回転する。動的に回転している１／２波長板２５７は１／２波長板の所望の回転を可能とするように電気機械的アクチュエータあるいは電気マイクロ機械加工アクチュエータに結合された１／２波長板から構成してもよい。特定の光ファイバ１０２が使用される場合、１／２波長板２５７に付与されるべき特定の回転は較正局面の間に予め決定してもよい。回転は光スイッチ１０４の切り替えの間に実行してもよい。
【００３７】
更に別の実施例において、光学位相遅れは１／４波長板２５４によって提供される。１／４波長板２５４は漏洩ビームスプリッタ２３２と偏光ビームスプリッタ２３９との間に配置され、１／４波長板２５４の光軸は漏洩ビームスプリッタ２３９の光軸に対して４５度の角度で整合することが好ましい（図２Ａと図２Ｄとに示す）。この実施例において、偏光ビームスプリッタ２３９と関連の光検出器とは動的に回転する副組立体として設けられている。動的に回転する副組立体は偏光ビームスプリッタと該副組立体の所望の回転を可能にする電気機械アクチュエータあるいは電気マイクロ・マシンド・アクチュエータに結合された光検出器モジュールとから構成してもよい。特定の光ファイバ１０２が使用される場合、付与されるべき特定の回転は較正局面の間に予め決定し、光スイッチ１０４の切り替えの間に適用してもよい。
【００３８】
前述の実施例において、低複屈折光ファイバの静的な平面内曲げ誘発応力が補正されるが、一方、動的な平面内曲げ誘発応力は基本的に十分高速な補正により補正可能であるものの、典型的には極めて小さいものであるので無視することも可能である。
【００３９】
図１Ａに示す前述の実施例において、一組の光ファイバ１０２は各々光学素子モジュール１０３の周りをそれぞれの浮動ＭＯヘッド１０６まで通される。離隔された浮動ＭＯヘッド１０６までの光ファイバ１０２の経路は各光ファイバを僅かに異なる軌道を横切らせ、そのため出口点Ａに対する異なる平面外曲げを受ける。平面外曲げは各ｌｏ−ｂｉ光ファイバ１０２を相互に対して及び／又は漏洩ビームスプリッタ２３２に対して向きが僅かに変動する曲げ誘発軸を含むようにさせる。各光ファイバ１０２の平面外曲げ誘発軸の間の変動は光学偏光回転子２５６を使用することにより吸収可能である。光学偏光回転子２５６は、例えば第２の可変液晶リターダ（図２Ｅに示す）の軸に対して約４５度の角度で結合された従来の１／４波長板によって、送出レーザビーム２９１の直線偏光を回転させるように動的に調整することができる。偏光回転は可変液晶の遅れを電気的に制御することによって達成される。前述の可変光学偏光回転子はコロラド州８０５３０のフレデリック、メドウラークオプチックス社によって製造されているＬＰＲ１００６６０として市販されている。光学偏光回転子２５６はまた１／２波長板の電気機械的回転によって使用可能にされてもよい。各光ファイバ１０２の誘発された軸に対する整合に必要な偏光回転の量は、作動時、光ファイバ１０２間の切り替えが行われるとき、使用されている特定の光ファイバ１０２に対応する制御電圧がフィード・フォワードで光学偏光回転子２５６に対して供給され必要な偏光回転を提供するように、較正段階の間に決定可能である。
【００４０】
例えば、光ファイバ１０２が横切る光路が最小の曲げで保持されている実施例におけるような光ファイバ１０２の前述の平面内曲げがないとすれば、光学位相遅れは必ずしも必要ではない。単一のｌｏ−ｂｉ光ファイバ１０２のみが平坦な装着固定具に慎重に位置され、単一のＭＯディスク１０７に情報を運ぶために使用されるような実施例のように、光ファイバ１０２の前述の平面外曲げが無いとすれば、光学偏光回転は必ずしも必要ではない。平面内及び平面外の双方の曲げが介在しているその他の実施例において、光学位相遅れ及び光学偏光回転の双方は必要とされうる。従って、本発明は特許請求の範囲を除いては前述した実施例に限定されるべきでないことは明らかである。
【００４１】
光ファイバ端面反射
図２Ｆに示す別の実施例において、一組の光ファイバ１０２の発射端６１５からのスプリアス反射はＳＮ比を劣化させる可能性があり、反射レーザビーム２９２は発射端６１５からの反射レーザビーム２９１と共に伝播し、その結果Ｅ（ｔ）＋Ｅ（ｔ＋τ）からなる反射レーザビーム２９３を発生させることが確認されている。該実施例では、例えば、ＦＰレーザがレーザ光源として使用される。本発明は、益々高い周波数（例えば、レーザの緩和振動周波数まで）にＦＰレーザをパルス化することは、光学システムにおけるモード分配雑音レベルを徐々に減少させることを確認している。又、（ＦＰタイプの）レーザのパルス化は、反射レーザビーム２９３のパルスを、主信号を搬送しているレーザビーム２９２から時間的に分離させ、それによって、２個のパルストレインの間の干渉を低減し、したがって、検出されたカー信号のＳＮ比を効果的に増大させる。２個のレーザビームが時間的に重なり、干渉する場合は、モード分配雑音とレーザ位相雑音とが発生しうる。
【００４２】
光ファイバ１０２の屈折率が約１．５であるような一実施例において、各光ファイバ１０２の長さは約３５０ＭＨｚの変調周波数に対して約７１．３５ミリであるように選定される。変調周波数（Ｆ）と光ファイバ１０２の長さ（Ｌ）との間の関係は等式Ｆ＝ｃ（２ｉ＋１）／４Ｌｎによって実施される。ここで、ｉ＝０，１，２，．．．、ｃ＝真空中の光線の速度、ｎ＝ファイバの屈折率である。一組の光ファイバ１０２の長さはパルストレインの適正な時間的分離を保証するよう選定される。他の実施例においては、光ファイバ１０２の長さはその他の屈折率及びその他のパルス化周波数に従って選定可能で、そのため本発明は特許請求の範囲によってのみ限定されるべきであることが理解される。本発明は低複屈折光ファイバの使用を説明しているが、前述したようにレーザのパルス化及び適当な光ファイバの長さの選定を使用して高複屈折光ファイバ（例えば、偏光保持型光ファイバ）を使用した実施例におけるＳＮ比を増大することが可能になることが理解される。
【００４３】
図４Ａから図４Ｇまでは本発明の実施例による光磁気ヘッドを種々の図面で示している。一組の浮動ヘッドは単一の代表的な浮動ＭＯヘッド１０６を参照して示す。単一の代表的な浮動ＭＯヘッド１０６は、図４Ｂにおいて一組の旋回ＭＯディスク１０７の中の１個の面記録層３４９の上方に位置したものとして示している。一実施例において、浮動ＭＯヘッド１０６は、本体４４４と、エアベアリング面４４７と、操舵可能なマイクロ加工したミラー組立体４００と、対物レンズ４４６と、磁気コイル４６０とを含む。一実施例において、磁気コイル４６０は、いずれかの極性で、約４ｎｓの時間で反転可能で、旋回ＭＯディスク１０７の平面に対して概ね垂直である約３００エールステッドの磁界を発生させるようにエアベアリング面４４７の近傍に位置したマイクロ多数巻きコイルである。適当な操舵可能マイクロ加工のミラー組立体４００の一例が全体的に参照によって本明細書に援用している米国特許出願第０８／８４４，２０７号に記載されている。磁気コイルは浮動ＭＯヘッドを通して旋回ＭＯディスク１０７まで、あるいはその逆に、通過する間送出レーザビーム２９１及び反射レーザビーム２９２と干渉しないことが好ましい。浮動ＭＯヘッド１０６を構成する前述の素子の機械的寸法及び／又は光学的特性によって決まるように、本体４４４の高さは約８８９ミクロンで、平坦なフットプリント面積は約２０３２ミクロン×１６００ミクロンに対応する。低複屈折光ファイバ１０２は浮動ＭＯヘッド１０６に結合され、Ｖ字形溝４４３あるいはその他の適当な寸法の整合用形成物によって本体４４４の軸に沿って保持されることが好ましい。光ファイバ１０２はＶ字形溝４４３内に位置して、送出レーザビーム２９１を最適に集光されたスポット３４０としてＭＯディスク１０７上に導かれることが好ましい。その後、光ファイバ１０２は紫外線で硬化するエポキシあるいは類似の接着剤を使用することによって固定しうる。Ｖ字形溝内での光ファイバ１０２の使用は送出レーザビーム２９１の小型のミラー組立体４００に対する正確な整合並びに送りを可能にする。操舵可能マイクロ加工のミラー組立体４００と対物レンズ４４６とは、本体４４４の長方形の外側寸法と近似の物理的容積内に適合し、しかもパワー喪失が最小で、送出レーザビーム２９１と反射レーザビーム２９２に顕著な歪みや収差が導入されないよう送出レーザビーム２９１と反射レーザビーム２９２の全断面を導くに十分大きいコンパクトで低質量のものであることが好ましい。浮動ＭＯヘッド１０６の大きさ、重量、及び設計は本発明の低複屈折光ファイバ１０２を使用することを通して更に簡素化される。それは、偏光保持型光ファイバを使用したときに必要とされる、浮動ＭＯヘッド１０６への付加的な光学素子である１／４波長板が必要でないからである。
【００４４】
操舵可能マイクロ加工したミラー組立体４００は対物レンズ４４６を介してＭＯディスク１０７に向って送出レーザビーム２９１を導き、かつＭＯディスク１０７からの反射レーザビーム２９２をレーザ光学素子組立体１０１まで導くために代表的な光路に整合されることが好ましい。一実施例において、対物レンズ４４６は開口数（ＮＡ）が約０．６〜約０．８５までの範囲のマイクロレンズでよい。エアベアリング面４４７の上方での浮動高さは合理的な一定の値に保たれるので、フォーカスサーボは必ずしも必要ではない。
【００４５】
光磁気データ記憶及び検索システム１００に使用される場合、微細なトラック追従及び近傍トラックへの短時間探索は、送出レーザビーム２９１の伝播角度が対物レンズ４４６まで伝送される前に変更されるように、一組のヒンジ４１０によって抑制される回転軸の周りに操舵可能マイクロ加工のミラー組立体４００の反射中央ミラー部分４２０を回転させることによって実行される。反射中央ミラー部分４２０は駆動電極に電圧差を加えることによってヒンジ４１０によって形成された軸の周りに回転する。電圧差は対象とする集光スポット３４０をＭＯディスク１０７上で半径方向４５０に運動させうるようにする静電気力を発生させる。一実施例において、中央ミラー部分４２０はＭＯディスク１０７の面における±４トラックと概ね等しい±２度で回転する。一実施例において、±４トラックの運動が示されているが、前述の操舵可能マイクロ加工ミラー４００の所望の性能特性に応じて、±４トラック以上あるいは以下のある範囲の運動も可能であると理解される。その結果、ＭＯディスク１０７に亘る対象とする集光スポット３４０の運動と反射レーザビーム２９２の検出とは情報の記憶と検索、トラック追従、一方のデータトラックから別のデータトラックへの探索に使用されてもよい。粗いトラック追従は回転式アクチュエータ磁石及びコイル組立体１２０（図１Ａ）への電流を調整することによって保持されてもよい。ＭＯディスク１０７の特定のトラック追従に使用されるトラック追従信号は従来から知られている粗いトラック追従及び微細なトラック追従サーボ技術の組み合わせを使用することにより発生させられてもよい。例えば、トラックを画定するためにサンプリングしたセクタサーボフォーマットが使用されてもよい。サーボフォーマットはＭＯディスク１０７にスタンプされたエンボスピットあるいはデータマークと同じように読み取られる磁気領域方向性を含んでも良い。エンボスピットが使用されるとすれば、差動増幅器２３７（図２）を補完するために加算器出力回路が使用されてもよい。従来の多数の磁気ディスクのウインチェスタ磁気ディスクドライブは一体の１個の装置としてタンデム状に運動する一組のサスペンションとアクチュエータアームとを使用している。従って、そのような一体の装置の各浮動ヘッドは別の浮動ヘッドに対して固定されているので、特定の磁気ディスク面のトラック追従の間、別の磁気ディスク面の同時のトラック追従は可能でない。対照的に、一組のアクチュエータアーム１０５と一組のサスペンション１３０の運動とは無関係に、一組の操舵可能マイクロ加工ミラー組立体４００が独立して作動するように使用されても良く、したがって、いずれの時間においても１個以上のＭＯディスク面を使用して情報を読み取り及び／又は書き込みを行なうように、トラック追従や探索を可能にする。一組の同時に作動する操舵可能マイクロ加工ミラー組立体４００を使用する独立したトラック追従及び探索は一組に分離したそれぞれの読み取りチャンネル及び微細なトラック電子装置並びにミラー駆動電子装置を必要とすることが好ましい。前述の実施例はまた個別のレーザー光学素子組立体１０１の使用を必要とすることが好ましいため、個別の光学軌道間の切���替えを行なう前述の光スイッチ１０４は必ずしも必要ではない。
【００４６】
図５Ａは光磁気ディスクドライブの一部として光磁気データ記憶及び検索システムを示している。一実施例において、光磁気データ記憶及び検索システム１００は当該産業での標準的な５．２５インチハーフハイトフォームファクタ（１．６２５インチ）と、少なくとも６個の両面ＭＯディスク１０７及び少なくとも１２個の浮動ＭＯヘッド１０６とを含むコンパクトで高速及び高容量のＭＯディスクドライブ５００から構成されている。前述のように、浮動ＭＯヘッド１０６は、ＭＯディスクドライブ５００内での極めて近接した間隔において多数のＭＯディスク１０７を使用可能にするように、極めて小質量、薄形、高ＮＡ光学システムの一部として、光ファイバ１０２を含むように製造可能であり、従って、従来の方法による均等容積で可能とされるもの以上の面積、容積及び記憶容量を含んでいる。一実施例において、各ＭＯディスク１０７の間の空間は約４．６２ミリ（０．１８２インチ）以下か、あるいは等しい。本発明によれば、偏光状態は偏光保持型光ファイバによって運ばれる場合よりも雑音を低減した状態で低複屈折光ファイバ１０２によって運びうることが確認されている。
【００４７】
図５Ｂに示す代替実施例においては、ハーフハイトフォームファクタＭＯディスクドライブ５００はリムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分５１０と２個の固定内部ＭＯディスク１０７を含みうる。リムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分５１０を設けることにより、固定内部ＭＯディスクとリムーバブルＭＯディスクカートリッジの組み合わせにより外部情報をＭＯディスクドライブ５００に効率的に運び、その後、内部ＭＯディスク１０７まで転送するようにしうる。その後、複製された情報はその他のコンピュータシステムに分配するようにリムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分５１０上に記録可能である。更に、リムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分５１０は内部ＭＯディスク１０７の極めて便利、かつ高速バックアップ記憶を可能にする。固定内部ディスクとリムーバブルディスクとの組み合わせはまた、リムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分５１０でのデータファイル及び内部ＭＯディスク１０７でのシステムファイル及びソフトウエアアプリケーションの記憶を可能にする。別の代替実施例（図示せず）においては、ＭＯディスクドライブ５００は、任意数の内部ＭＯディスク１０７及び／又は任意数のリムーバブルＭＯディスクカートリッジ部分内での（零を含む）任意数のＭＯディスク１０７を含みうる。
【００４８】
本発明によれば、回転アクチュエータアームの使用は必ずしも必要ではない。例えば、直線アクチュエータアームが使用されてもよい。本発明によって開示された薄形光路は、別々の対物光学装置を必要とすることなく（例えばテーパ付き光ファイバあるいはレンズを端部に形成した光ファイバを使用して）、記憶場所へ、かつそこから情報を運ぶことに使用されても良い。
【００４９】
前述と同様に、光学システムにおける共役点からのスプリアス反射が反射レーザビーム２９２（図３）と干渉すると望ましくないレーザ雑音が発生しうる。共役点は光ファイバ１０２の発射端面（発射端６１５）とヘッド端面（ヘッド端９００）とを含む。特に、望ましくない雑音は共役点からのスプリアス反射が信号搬送している反射レーザビーム２９２と共に差動検出器２４０（図２Ａ）へ伝播し、スプリアス反射と反射レーザビーム２９２が概ね同じ空間分布をとる場合に発生する。このように、スプリアス反射は一般に、ＭＯディスク１０７の面記録層３４９からの反射レーザビーム２９２と極めて近接して空間的に重なる反射波頭を発生させる。
【００５０】
光ファイバの発射端６１５での反射の影響を低減するためのＲＦ変調
前述のように、レーザ光源２３１は（光ファイバの発射端６１５）からのスプリアス反射Ｅ（ｔ）と（ＭＯディスク１０７からの）信号搬送反射レーザビーム２９２とを時間的に分離することによって光学システムでの雑音を低減するよう変調可能である。従って、２個の反射レーザビームの間の干渉は低減され、差動検出器２４０（図２Ａ）によって検出されたカー信号のＳＮ比を増大する。また前述のように、レーザ光源２３１は、例えばＦＰレーザあるいはＤＦＢレーザのような安定した単一周波数のレーザを含んでも良い。
【００５１】
本発明にしたがって、光ファイバ１０２の発射端６１５からのスプリアス反射の影響を低減する別の技術を以下説明する。これらの別の技術は屈折率マッチング、カバースリップ技術、及び角度研磨を含む。これらの別の技術は、例えばＦＰレーザあるいは例えばＤＦＢレーザのような安定した単一周波数のレーザでよいレーザ光源２３１を使用することによって実行されてもよい。
【００５２】
光ファイバの発射端６１５からの反射の影響を低減するための屈折率マッチング
また、光ファイバ１０２の発射端６１５からのスプリアス反射の影響を低減するために屈折率マッチング方法も使用されてよい。一実施例において、光ファイバ１０２（あるいはファイバの束）はＧＲＩＮレンズ６１０と結合して図６に示すようにコリメータ（容器）６００を形成する。屈折率マッチング材料６０５はＧＲＩＮレンズ６１０と光ファイバ１０２との間の空隙を埋める。毛細管６０２がコリメータ６００において光ファイバ１０２を支持する。ＧＲＩＮレンズ６１０は入射レーザビーム２９１を光ファイバ１０２の発射端６１５を介してファイバのコア中へ集光するために使用され、例えば、約０．２３のピッチを有してもよい。屈折率マッチング材料６０５は光ファイバ１０２のコアの屈折率と等しい、あるいは略等しい屈折率を有する（ＧＲＩＮレンズの屈折率が光ファイバ１０２の屈折率と概ね近似する程度まで）ことによって発射端６１５の面から、並びに内側のＧＲＩＮレンズ面６０９からのフレネル反射を除去あるいは顕著に低減する。屈折率マッチング材料６０５は例えば、光学エポキシ、ゲル、あるいは流体から構成されてもよい。光ファイバ１０２のコアの屈折率が屈折率マッチング材料６０５の屈折率と適合しない場合の光ファイバ１０２のコアと屈折率マッチング材料６０５との間の屈折率の差異Δｎ＝±０．０５は許容され、その結果、約０．０３％の最大境界反射率が発生する。屈折率マッチング材料６０５は収差あるいは拡散を阻止するための高度の光学的品質を有することが好ましい。更に、ＧＲＩＮレンズ６１０の空気入射面６０８は更に反射を最小化するよう抗反射（ＡＲ）コーテイングを塗布することが好ましい。ＡＲコーテイングは例えば、反射を低減するいずれかの適当な薄膜の誘電スタックである。
【００５３】
送出レーザビーム２９１からのある量の反射はたとえこの面がＡＲコーテイングされていたとしても依然として空気入射面６０８において発生しうる。送出レーザビーム２９１が完全に直角の入射角度で空気入射面６０８と衝突するならば、その面６０８で反射した送出レーザビーム２９１は反射信号搬送レーザビーム２９２と重なりうる。しかしながら、送出レーザビーム２９１が完全に直角入射で面６０８と衝突する確率は小さい。概ね、前述の各種の実施例において、送出レーザビーム２９１は下記の結果として、ある入射角で面６０８と衝突する。送出レーザビーム２９１を図６に示す光学システムのファイバの束における各光ファイバ１０２の各々の発射端６１５に向って適正に集光、すなわち導くために、送出レーザビーム２９１はある入射角で空気入射面６０８と衝突する。送出レーザビーム２９１は該送出レーザビーム２９１を受取る特定の発射端６１５の座標に応じて異なる入射角で空気入射面６０８と衝突する。
【００５４】
図６に示すように、屈折率マッチング材料６０５はスプリアス反射Ｅ（ｔ）がファイバの発射端６１５で発生しないようにする。その代わりに、スプリアス反射Ｅ（ｔ）は屈折率マッチング材料６０５とＧＲＩＮレンズ６１０との間の境界での共役面６０９において発生し、屈折率の差はこの面６０９で発生する。その結果、スプリアス反射Ｅ（ｔ）は送出レーザビーム２９１とは空間的に重ならず、また、ＭＯディスク１０７（図３）からの反射信号搬送レーザビーム２９２と空間的に重ならない。スプリアス反射Ｅ（ｔ）は反射信号搬送レーザビーム２９２から空間的に分離されているので、差動検出器２４０（図２Ａ）はスプリアス反射Ｅ（ｔ）と干渉することなく反射信号搬送レーザビーム２９２の成分を検出可能である。
【００５５】
対照的に、屈折率マッチング材料がファイバの発射端６１５に結合していないならば、屈折率の差はファイバの発射端６１５と隣接する空隙との間の境界に存在する。この屈折率の差の結果、光ファイバの発射端６１５で発生したスプリアス反射Ｅ（ｔ）は反射信号搬送レーザビーム２９２と空間的に重なる。このような望ましくないスプリアス反射Ｅ（ｔ）は次いで、反射信号搬送レーザビーム２９２と共に差動検出器２４０（図２Ａ）中へ伝送される。
【００５６】
光ファイバの発射端６１５からの反射の影響を低減するためのカバースリップ技術
図７は本発明の別の実施例による、光ファイバ１０２の発射端６１５でのスプリアス反射Ｅ（ｔ）の影響を低減する別の屈折率マッチング方法を示している。コリメータ７５０はＧＲＩＮレンズ７１５と、光ファイバ１０２及び／又は光ファイバ１０２を支持する毛細管７５５に結合されたカバースリップ７００とを含む。カバースリップ７００は、該カバースリップと概ね同じ屈折率を有する光学接着剤によって光ファイバ１０２（と支持毛細管７５５と）に概ね接着された裏面７６５を含む。カバースリップ７００は例えばガラスあるいはその他の適当な材料から形成されてもよい。
【００５７】
更に図７に示すように、カバースリップ７００はスプリアス反射Ｅ（ｔ）がファイバの発射端６１５で発生しないようにする。スプリアス反射Ｅ（ｔ）はその代わりにカバースリップ７００の面７６０（非共役点）において発生する。その結果、スプリアス反射Ｅ（ｔ）はＭＯディスク１０７（図３）から反射された信号搬送レーザビーム２９２と空間的に重ならない。スプリアス反射Ｅ（ｔ）が反射された信号搬送レーザビーム２９２から空間的に分離されているので、差動検出器２４０（図２ａ）はスプリアス反射Ｅ（ｔ）からの干渉無くして反射された信号搬送レーザビーム２９２の成分を検出することが出来る。
【００５８】
代替実施例において、カバースリップ７００の前面７６０はまた、該面７６０でのフレネル反射を低減するようＡＲコーテイングされてもよい。ＡＲコーテイングした前面７６０からの反射は、例えば約０．２５％程度である。
【００５９】
別の代案として、ＧＲＩＮレンズ７１５も図７に示す光学システムにおける反射を更に最小にするようＡＲコーテイングされてもよい。カバースリップ７００（及び対応する装着用接着剤）の屈折率は光ファイバ１０２のコアの屈折率と概ねマッチングするよう選定されるので、当該光学システムにおいて発生する唯一の反射はカバースリップ７００のＡＲコーテイングした前面７６０からの反射だけである。前面７６０は図７に示す光学システムにおいて共役点を包含していないので、前面７６０からのスプリアス反射Ｅ（ｔ）は前述のように、信号搬送レーザビーム２９２と干渉しない。
【００６０】
光ファイバの発射端６１５での反射の影響を低減するための角度研磨
本発明の別の実施例によれば、光ファイバ１０２の発射端６１５からのスプリアス反射Ｅ（ｔ）の影響を低減するために角度研磨方法が使用されてもよい。レーザ光源２３１が例えばＦＰレーザあるいはＤＦＢレーザであるならば、角度研磨方法が使用しうる。図８に示すように、ＧＲＩＮレンズ８００は、該ＧＲＩＮレンズの面８０５が光伝播軸８０７に対して鋭角の値８０度で配置されるように面８０５において角度研磨される。ＧＲＩＮレンズの面８０５は光伝播軸８０７に対して例えば約７度から約１５度の間の範囲の角度で配置されてよい。一実施例において、光ファイバの発射端６１５もまた、該発射端６１５が光伝播軸８０７に対して鋭角の値８１１で配置されるように角度研磨される。ＧＲＩＮレンズ８００と光ファイバ１０２との間の光線結合を最大化するために、ＧＲＩＮレンズの面８０５とファイバの発射端６１５との角度値は光伝播軸８０７に対して概ね等しい。
【００６１】
ＧＲＩＮレンズの面８０５及び／又は光ファイバの発射端６１５の形状を図８に示すように変更することによって、スプリアス反射Ｅ（ｔ）と（ＭＯディスク１０７からの）反射された信号搬送レーザビーム２９２との間の干渉は、双方の反射が空間的に分離されているので顕著に低減される。
【００６２】
（反射レーザビーム２９２からの）ビーム成分２９２′もまた偏光ビームスプリッタ２３９を通過した後（スプリアス反射Ｅ（ｔ）からの）雑音成分から空間的に分離されている。次いで、ビーム成分２９２′はＭＯ検出レンズ８１５及び光ダイオード２３６（図２Ａも参照）の１個によって受取られ、次いで差動検出器２４０（図２Ａ）によって処理される。同様に、（反射レーザビーム２９２からの）ビーム成分２９２″は偏光ビームスプリッタ２３９を通過した後（スプリアス反射Ｅ（ｔ）からの）雑音成分Ｅ″（ｔ）から空間的に分離される。次いで、ビーム成分２９２″はＭＯ検出レンズ８２０及び光ダイオードの１個（図２Ａも参照）によって受取られ、次いで差動検出器２４０（図２Ａ）によって処理される。
【００６３】
雑音成分Ｅ′（ｔ）は開口を含む不透明の遮光素子（図示せず）を使用することにより差動検出器２４０中へ伝送されないようにされる。このように、反射された信号搬送ビーム成分２９２′は開口を通して差動検出器２４０（図２Ａ）中へ伝播し、一方不透明の遮光素子は雑音成分Ｅ′（ｔ）を遮断する。同様に、別の不透明の遮光素子を使用して雑音成分Ｅ″（ｔ）を遮断する、一方、信号搬送ビーム成分２９２″が差動検出器２４０中へ伝播しうるようにする。
【００６４】
代替的に、不透明の遮光素子は光学システムにおいて使用されていない。スプリアス反射Ｅ（ｔ）と反射信号搬送レーザビーム２９２との間で小さい角度傾斜があるならば、２個の波は組み合わされて光検出平面において空間干渉を発生させる。パターンの間隔はブラッグの関係式、Ａｇ＝λ／（ｓｉｎθ）によって提供され、θはスプリアス反射Ｅ（ｔ）と反射信号搬送レーザビーム２９２との間の半角である。図８に示す実施例において、差動検出器２４０における偏光ビームスプリッタ２３９はＭＯ検出レンズ８１５と８２０の前に配置され、そのため何れかの光ダイオード２３６（図２Ａ）に落下する２個のビームは同じ極性を有し、強度干渉効果をもたらす。例えば、図８において、光ダイオード２３６における半角は約１０度であり、これは約１．９ミクロンの回折格子間隔に相応する。約３００〜約４００ミクロンの光ダイオードサイズに対して、平均の強度は典型的に光ダイオード２３６によって検出され、レーザ雑音の影響は最小にされる。
【００６５】
ＧＲＩＮレンズの面８０５及び／又は光ファイバの発射端６１５の角度研磨は例えばカリフォルニア州サンタアーナのウルトラテック社から市販されている各種の角度研磨機を使用することによって実行可能である。ＧＲＩＮレンズの面８０５及び／又は光ファイバの発射端６１５の形状を変えるためにその他の適当な研磨機が使用されてよい。
【００６６】
あるいは、光ファイバの発射端６１５は光伝播軸８０７に対して鋭角で配置されるように角度裂開されてよい。光ファイバの発射端６１５を裂開するための適当な器具の一例は英国のヨーク社によって製造され、カリフォルニア州アービンのニューポート社から市販されているＦＫ１２型角度裂開機である。
【００６７】
光ファイバヘッド端での反射（雑音）
光ファイバ１０２のヘッド端９００で発生するスプリアス反射ＥH（ｔ）を説明するために図９Ａを以下参照する。スプリアス反射ＥH（ｔ）は、ヘッド端での光ファイバの面９００からの送出レーザビーム２９１の反射あるいはヘッドのその他の光学素子のある面からの反射の結果として発生する。スプリアス反射ＥH（ｔ）は光スイッチ１０４に向って逆に伝播し、戻りの信号搬送レーザビーム２９２と相互作用して検出チャンネルにおいて余分の雑音を発生させうる。雑音の特性は使用されるレーザ光源のタイプによって変わる。ＦＰレーザが使用されるならば、モード分配雑音（ＭＰＮ）は雑音の支配的な発生源である。ＭＰＮが発生するのはスプリアス反射ＥH（ｔ）が検出モジュールにおける戻りの信号搬送レーザビーム２９２と組み合わされる前に異なる光路を走行するからである。ＤＦＢレーザが使用されるならば、ＭＰＮはもはや問題ではなくなるが、媒体の雑音はスプリアス反射が信号搬送光線と混合することによって増幅されうる。更に、ＤＦＢレーザ光源を使用する場合、小さい光路の差が余分のレーザ位相雑音をもたらしうる。従って、このような望ましくないスプリアス反射を排除（あるいは顕著に低減）する技術を実行することが重要である。
【００６８】
光ファイバ１０２のヘッド端９００におけるスプリアス反射ＥH（ｔ）の影響を除去する各種の技術を以下説明する。これらの技術は角度裂開あるいは角度研磨、屈折率マッチング、及びコアレス（あるいはマルチモード）光ファイバスプライスを含む。これらの技術は例えばＦＰレーザあるいはＤＦＢレーザのような各種のタイプのレーザ光源２３１が光ファイバ１０２を通して光線を伝送するために使用される場合適用可能である。
【００６９】
光ファイバのヘッド端９００での反射の影響を低減する角度裂開
本発明の別の実施例によれば、光ファイバ１０２のヘッド端９００からのスプリアス反射ＥH（ｔ）は光ファイバのヘッド端９００を角度裂開することによって除去される。光伝播軸９１０（図９Ｃ）に対して光ファイバのヘッド端９００に形成された裂開の角度量が光ファイバの発射端６１５に向って反結合されるスプリアス反射の量を決める。図９Ｂにおいて、グラフ９０２はヘッド端９００からの相対反射量対ヘッド端９００が光伝播軸９１０に対して裂開される角度を示す。例えば、光ファイバのヘッド端９００が角度裂開されていないならば、スプリアスフレネル反射ＥH（ｔ）の約１００％が光ファイバ１０２の発射端６１５に向って逆反射される。別の例として、光ファイバのヘッド端９００が光伝播軸９１０（図９Ｃ）に対して約２度の角度で角度裂開されているならば、スプリアス反射ＥH（ｔ）の約５５％が光ファイバ１０２の発射端６１５に向って逆反射される。光ファイバのヘッド端９００が光伝播軸９１０（図９Ｃ）に対して約４度の角度で角度開されているならば、スプリアス反射ＥH（ｔ）の約１０％以下が光ファイバ１０２の発射端６１５に向って逆反射される。光ファイバの発射端６１５に向かって伝播されるスプリアス反射ＥH（ｔ）が基本的に消滅するように光ファイバのヘッド端９００は光伝播軸９１０に対して約６度から約１５度までの範囲で裂開されることが好ましい。光ファイバのヘッド端９００におけるフレネル反射を更に低減するために光ファイバのヘッド端９００に抗反射（ＡＲ）コーテイングを付与してもよい。
【００７０】
図９Ｃは光伝播軸９１０に対して、例えば、約８度の角度で角度裂開したヘッド端９００を示す。角度裂開値９０３は送出レーザビーム２９１の中心の光線が光伝播軸９１０に対して鋭角の値（例えば、約４．０度）でヘッド端９００を出て行くようにさせる。次いで、送出レーザビーム２９１は操舵可能マイクロ加工ミラー組立体４００から反射レーザビーム２９１′として反射され、対物レンズ４４６を通して伝播し、ＭＯディスク１０７の面記録層３４９に導かれる。反射レーザビーム２９１′が図９Ｃに示すように概ね垂直の方向で面記録層３４９に向って導かれるようにするには、操舵可能マイクロ加工のミラー組立体４００は光伝播軸９１０に対して適当な角度９１５（例えば、約４３．０度）の角度で方向付けられる。一実施例においては、角度９１５の測定値は４５度以外の鋭角の値である。反射レーザビーム２９１′は光線が光ファイバ１０２とＭＯディスク１０７との間で効率的に結合されるように面記録層３４９に向って垂直に向けられる。更に、光ファイバ１０２の位置はファイバ結合を最大とするようＸ，Ｙ，及び／又はＺ方向に調整されてよい。
【００７１】
図９Ｃにおいて、ヘッド端９００の角度裂開は下向きであることに注目されたい。図９Ｄに示す別の実施例においては、光ファイバ１０２は角度裂開が上向きであるヘッド端９００′を有している。その結果、操舵可能マイクロ加工ミラー組立体４００の角度９１５は、反射レーザビーム２９１′がＭＯディスク１０７の面記録層３４９に向って垂直に向けられるように適当な値に設定される。
【００７２】
あるいは、光ファイバのヘッド端９００（図９Ｃ）及び／又は光ファイバのヘッド端９００′（図９Ｄ）は図８に関して説明したのと同様に角度研磨によって光伝播軸９１０に対して形状が変更されてよい。
【００７３】
対照的に、角度裂開（あるいは角度研磨）が光ファイバ１０２のヘッド端９００に対して実行されないならば、送出レーザビーム２９１は中心の光線を図９Ｅに示すように光伝播軸９１０にして概ね平行にしてヘッド端９００から出て行く。反射レーザビーム２９１′が概ね垂直で面記録層３４９に向って導かれるようにするには、角度９１５の値は光伝播軸９１０に対して典型的に約４５度である。図９Ｅで示す光学システムは、（１）ＤＦＢレーザが使用され、（２）媒体雑音とレーザ位相雑音とが無視しうる程度あるならば、特に有用である。
【００７４】
光ファイバのヘッド端９００での反射の影響を低減する屈折率マッチング
本発明の別の実施例においては、光ファイバ１０２のヘッド端９００からのスプリアス反射ＥH（ｔ）の影響は屈折率マッチング方法によって除去される。図１０Ａに示すように、光ファイバ１０２の一部は例えば接着剤１００５によってスライダ本体１０００に装着される。ガラスプレート１０１０は光ファイバ１０２に対して概ね垂直の方向においてスライダ本体１０００に位置されている。光ファイバのヘッド端９００とガラスプレート１０１０との間の空隙はエポキシ、流体あるいはゲル、あるいは光ファイバのコアの屈折率と概ね同じ屈折率を有するその他の適当な材料で充填される。光ファイバ１０２のコアの屈折率が屈折率マッチング材料１０１５の屈折率とマッチングしない範囲での屈折率の差Δｎ＝±０．０５は光ファイバ１０２と屈折率マッチング材料１０１５との間で許容され、その結果の最大の反射率は約０．０３％である。
【００７５】
図１０Ｂに示すように、屈折率マッチング流体１０１５はスプリアス反射ＥH（ｔ）を光ファイバのヘッド端９００で発生させない。スプリアス反射ＥH（ｔ）は代わりにガラスプレート１０１０の面１０１２（すなわち、非共役面）で発生し、一方第２のスプリアス反射Ｅ′H（ｔ）が非共役面１０１３で発生する。その結果、スプリアス反射ＥH（ｔ）及びＥ′H（ｔ）は光ファイバ中へ反結合しない。スプリアス反射ＥH（ｔ）とＥ′H（ｔ）とは光学システムから効果的に消滅するので、差動検出器２４０（図２Ａ）はスプリアス反射ＥH（ｔ）とＥ′H（ｔ）からの干渉無く反射された信号搬送ビーム２９２の成分を検出することが出来る。
【００７６】
光ファイバのヘッド端９００での反射ＥH（ｔ）の影響を低減する光ファイバスプライス
本発明の別の実施例によれば、光ファイバ１０２のヘッド端９００からのスプリアス反射ＥH（ｔ）は図１１Ａと図１１Ｂとを参照して説明した別のタイプの屈折率マッチング方法によって除去される。図１１Ａを先ず参照すれば、コアレス光ファイバ部分１１００が光ファイバ１０２のヘッド端に継ぎ合わされる。コアレス光ファイバ部分１１００は、例えばシングルモードの光ファイバ１０２の直径（例えば８０ミクロン）と類似の直径を有し、例えば溶融スプライスによって光ファイバ１０２に結合される。次いで、コアレス光ファイバ部分１１００は線１１０５に沿って切断され、コアレス光ファイバ部分１１００の一部１１１０が一部１１１５から分離される。このような、前記一部１１１５は光ファイバ１０２に継ぎ合わされた状態に留まる。代替実施例において、コアレス光ファイバの代わりに大きなコアのマルチモード光ファイバ（図示せず）を使用してよい。継ぎ合わされた光ファイバ部分１１１５の長さは該部分１１１５の面１１２０で出力された送出ビーム２９１の半径が光ファイバ１０２の直径以下となるように選定されることが好ましい。前記部分１１１５は例えば約１００ミクロンの長さを有して良い。コアレス光ファイバ部分１１００（及び部分１１１５）の屈折率は光ファイバ１０２のコアの屈折率と概ねマッチングする。光ファイバ１０２のコアの屈折率が光ファイバ部分１１１５の屈折率とマッチングしない範囲の屈折率の差Δｎ＝±０．０５は光ファイバ１０２のコアと継ぎ合わされた部分１１１５との間で許容され、その結果、境界での最大反射率は約０．０３％となる。その結果、共役点（すなわち、ヘッド端９００）からの反射の影響は以下説明するように屈折率マッチングによって顕著に低減される。更に、送出レーザビーム２９１の光波空間分布は形状においては（例えば円形度）歪まない。更にＡＲコーテイングが継ぎ合わせた光ファイバ面１１２０に付与されると、面１１２０からのフレネル反射は約０．２５％まで抑制され、その結果、図１１Ａに示すより効率的（例えば損失がすくない）な光学システムが提供される。
【００７７】
継ぎあわせ工程の間に（光ファイバ１０２）のヘッド端９００におけるコアサイズはヘッド端９００に加えられる加熱によって変化するならば、光ファイバ１０２の有効モード磁界の直径が増大する。その結果、有効モード磁界の直径の増加を補正するために適正な対物レンズが導入されてよい。
【００７８】
図１１Ｂに示すように、継ぎ合わされた光ファイバ部分１１１５はスプリアス反射ＥH（ｔ）が光ファイバの端面（ヘッド端９００）で発生しないようにさせる。スプリアス反射ＥH（ｔ）はその代わり面１１２０と隣接する空間との間で発生する。その結果、スプリアス反射ＥH（ｔ）は効率的に光ファイバ１０２中へ逆反射せず、従って、効果的に消滅する。スプリアス反射ＥH（ｔ）は光学システムから概ね除去されるので、差動検出器２４０（図２Ａ）はスプリアス反射ＥH（ｔ）からの干渉なく反射されたレーザビーム２９２の成分を検出可能である。
【００７９】
図１１Ｃは光ファイバのヘッド端９００からの反射対継ぎ合わされた光ファイバ部分１１１５の長さを示すグラフ１１５０である。継ぎ合わされた光ファイバ部分１１１５が少なくとも約１００ミクロンの長さを有しているならば、光ファイバのヘッド端９００におけるスプリアス反射ＥH（ｔ）とレーザビーム２９２との間の干渉が顕著に低減されることが示されている。
【００８０】
本発明の別の実施例によれば、ヘッド端での反射を除去する前述の技術は、レーザ光源２３１がＤＦＢレーザによって実行され、かつ媒体雑音とレーザ位相雑音の双方が前述した光学システムにおいて十分低ければ、必要でない。
【００８１】
本発明を特定の実施例に関して説明してきたが、前記の開示において各種の修正、変更及び代替が考えられ、かつある場合には、本発明のある特徴は、本発明の範囲から逸脱することなく、その他の特徴を対応して使用することなく、採用されることが認められる。
【図面の簡単な説明】
【図１Ａ】  低複屈折光ファイバの平面内の曲げや平面外の曲げのある光磁気記憶及び検索システムの一実施例を示す図である。
【図１Ｂ】  低複屈折光ファイバの主として平面内曲げを備えた光磁気記憶及び検索システムを示す図である。
【図２Ａ】  本発明の実施例によるレーザー光学素子組立体を示す図である。
【図２Ｂ】  可変光学位相遅れを提供する一実施例を示す図である。
【図２Ｃ】  可変光学位相遅れを提供する別の実施例を示す図である。
【図２Ｄ】  可変光学位相遅れを提供する別の実施例を示す図である。
【図２Ｅ】  光学偏光回転子の実施例を示す図である。
【図２Ｆ】  レーザ光源がパルス化される実施例を示す図である。
【図３】  光スイッチを含む光学素子モジュールを示す図である。
【図４Ａ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｂ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｃ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｄ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｅ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｆ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図４Ｇ】  本発明の浮動ヘッドを示す図である。
【図５Ａ】  光磁気ディスクドライブの実施例を示す図である。
【図５Ｂ】  光磁気ディスクドライブの実施例を示す図である。
【図６】  本発明の別の実施例による、屈折率マッチング材料を備えたＧＲＩＮレンズに結合された光ファイバを示す図である。
【図７】  本発明の別の実施例による、カバースリップを光ファイバに接着した、ＧＲＩＮレンズに結合した光ファイバを示す図である。
【図８】  本発明の別の実施例による、ＧＲＩＮレンズと形状を変更した発射端面を有する光ファイバとを介して伝播する反射信号搬送ビームを示す図である。
【図９Ａ】  スプリアス反射が光ファイバのヘッド端で発生する、光ファイバの一部を示す図である。
【図９Ｂ】  光ファイバヘッド端からの光ファイバ端面反射に対する相対的な反結合効率対光ファイバのヘッド端が裂開される角度の量を示すグラフである。
【図９Ｃ】  本発明の別の実施例による、下向きの角度裂開を施した光ファイバを有する光学システムを示す図である。
【図９Ｄ】  本発明の別の実施例による、上向き角度裂開を施した光ファイバを有する光学システムを示す図である。
【図９Ｅ】  本発明の別の実施例による、角度裂開を施していない光ファイバを有する光学システムを示す図である。
【図１０Ａ】  本発明の別の実施例による、真直な裂開あるいは研磨を施したヘッド端面を含み、屈折率マッチング流体あるいはエポキシによってスライダに結合されている光ファイバを示す図である。
【図１０Ｂ】  図１０Ａに示す光学システムにおける信号搬送ビームの伝播とスプリアス反射とを示す図である。
【図１１Ａ】  本発明の別の実施例による、マルチモード光ファイバ部分に継ぎ合わされたヘッド端を備えた光ファイバを示す図である。
【図１１Ｂ】  図１１Ａに示す光学システムにおける信号搬送ビームの伝播とスプリアス反射とを示す図である。
【図１１Ｃ】  光ファイバヘッド端における反射対光ファイバに継ぎ合わされたマルチモード光ファイバ部分の長さを示すグラフである。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図２Ｃ】
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【図２Ｄ】
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【図２Ｅ】
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【図２Ｆ】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｄ】
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【図４Ｃ】
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【図４Ｇ】
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【図４Ｆ】
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【図４Ｅ】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図９Ｃ】
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【図９Ｄ】
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【図９Ｅ】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１１Ｃ】
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