(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段と、
前記反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段と、
前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段と、
前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化基準で二値化するコンパレータ手段とを備え、
前記第１のエンベロープ検波手段は、記録中において前記第１の時定数を再生中よりも大きくする
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項２】
請求項１記載のドロップアウト検出回路において、
再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、
前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項３】
請求項２記載のドロップアウト検出回路において、
前記第１のエンベロープ検波手段と第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記変化してから所定の時間に達するまで、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項４】
請求項１記載のドロップアウト検出回路において、
光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号を所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段をさらに備え、
前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記可変ゲイン手段によって可変された反射信号のエンベロープを検出する
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項５】
請求項４記載のドロップアウト検出回路において、
再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、
前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて前記所定のゲインの値を変える
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項６】
請求項４記載のドロップアウト検出回路において、
再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、
前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定の二値化基準の値を変える
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項７】
請求項４記載のドロップアウト検出回路において、
再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、
前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定のゲインの値を変え、
前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定の二値化基準の値を変える
ことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項８】
光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号の周波数帯域を、再生中と記録中とでは異なる所定の遮断周波数で切り替える低域通過フィルターと、
前記低域通過フィルターによって前記周波数帯域が切り替わった反射信号を、
前記再生中と前記記録中とでは異なる所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段と、
再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、第１の時間の間、第１のパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、
前記変化の際、第２の時間の間、第２のパルス信号を発生する第２のパルス発生手段と、  前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段と、
前記第１のエンベロープ検波手段に設けられ、前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープの電圧で充電される第１のコンデンサーと、
前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段と、
前記第２のエンベロープ検波手段に設けられ、前記第２のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープの電圧で充電される第２のコンデンサーと、
前記第１のエンベロープ検波手段から出力されるエンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段から出力されるエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段と、
前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化基準で二値化するコンパレータ手段と、
前記コンパレータ手段からの出力を遮断するゲート回路とを備え、
前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記第１のパルス信号を受けて、前記第１の時間の間、前記第１及び第２のコンデンサーに蓄積されている電荷を強制放電し、
前記ゲート回路は、前記第２のパルス信号を受けて、前記第２の時間、前記コンパレータ手段からの出力を遮断することを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項９】
請求項８記載のドロップアウト検出回路において、
前記第２の時間は、前記第１の時間よりも長いことを特徴とするドロップアウト検出回路。
【請求項１０】
請求項１から請求項９のいずれかに記載のドロップアウト検出回路を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ドロップアウト検出回路及びこれを備えた光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスク装置は、所定の回転数で回転している光ディスクに半導体レーザ等の光源から発生する光ビームを集束して照射し、光ディスク上に記録されている信号を再生する。かかる光ディスク装置においては、光ディスクに傷などが生じて良好に信号を再生できないような場合、すなわちドロップアウトが発生するような場合に対処するためにドロップアウト検出回路が備えられている。なお、ドロップアウト検出については種々の検出方法が考案されているが、基本的には再生されるＲＦ信号のエンベロープ変化を検出するものである。
【０００３】
＜ドロップアウト検出＞
図１０は従来のドロップアウト検出回路の構成例を示すブロック図である。また、図１１は従来のドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【０００４】
光ディスクから再生されたＲＦ信号Ｓ１００は、まずＡＧＣ回路１４５に入る。このＡＧＣ回路１４５は、一般にディスク面の全体的な反射むら及び部分的な反射むらに対して振幅レベルを一定にする目的で設けられている。つまり、ＡＧＣ回路１４５がない場合は光ディスクの反射むらまでエンベロープ変化として検出することになる。そのため、ＲＦ信号Ｓ１００がＡＧＣ回路１４５に入力されることによって、図１１（ａ）に示す通り、ＡＧＣ回路１４５から出力される信号Ｓ１０１の波形の振幅レベルは一定になる。
【０００５】
次に、二種類の異なる時定数を持つエンベロープ検波回路があり、一方は他方よりも小さな時定数を持つ高速エンベロープ検波回路１４７、もう一方は高速エンベロープ検波回路１４７よりも大きな時定数を持つ低速エンベロープ検波回路１４６である。例えば、図１１（ａ）に示すように、ドロップアウトによってＲＦ信号Ｓ１００のエンベロープが急激に変化しているＲＦ信号Ｓ１００が到来してきた場合、小さな時定数を持つエンベロープ検波回路１４７の出力Ｓ１０２は、図１１（ｂ）に示すように、ＲＦ信号のエンベロープの急激な変化に追従した波形が出力される。一方、大きな時定数を持つエンベロープ検波回路１４６の出力は、ＲＦ信号Ｓ１００の急激なエンベロープの変化に追従できないため、ある一定の時定数で変化する波形を出力する。
【０００６】
そして、この大きな時定数を持つ低速エンベロープ検波回路１４６の出力を、図１１（ｂ）に示すように、レベルシフト回路１４８によって所望の電圧差を与えた信号Ｓ１０３とした後コンパレータ１４９に入力する。また、小さな時定数を持つ高速エンベロープ検波回路１４７の出力Ｓ１０２もコンパレータ１４９に入力される。ドロップアウト検出は、このように入力された信号Ｓ１０２及びＳ１０３をコンパレータ１４９において比較することによって、ＲＦ信号Ｓ１００のエンベロープの急激な落ち込み、すなわちドロップアウトを検出することができる。つまり、コンパレータ１４９は、図１１（ｃ）に示すようなドロップアウト検出信号Ｓ１０４を出力する。
【０００７】
ドロップアウト検出信号Ｓ１０４となるコンパレータ１４９の出力は、フォーカス制御用の位相補償回路及びトラッキング制御用の位相補償回路にそれぞれ入力される。各位相補償回路では、前段のＡ／Ｄ変換器からの信号を位相補償し制御誤差信号として次段に伝達することを通常行うが、ドロップアウト検出信号がＨレベルの間、それぞれドロップアウト検出信号がＬレベルからＨレベルに変化する時点よりの以前の制御誤差信号の保持を継続する。これによって、それぞれドロップアウト時に発生する擬似の制御誤差信号を次段に伝達することを防いで、擬似の制御誤差信号によるフォーカス制御はずれ及びトラッキング制御はずれを防止する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
上述の通り、ドロップアウト検出は再生されるＲＦ信号のエンベロープ変化を検出して行っている。したがって、再生されるメディアは少なくとも予め情報が記録されていなければならない。例えば、メディアＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ及びＤＶＤ−ＲＯＭといった再生専用メディアは予めピットの形で情報が記録されているため、再生中にドロップアウトを検出することは可能である。一方、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、及びＤＶＤ−ＲＡＭ等の記録メディアは、初期状態では情報が記録されていないために記録中にドロップアウトを検出することはできない。したがって、ＤＶ−ＲＡＭの場合では、トラックから外れ出すと一旦記録動作を中止して、別の管理領域に記憶するなどして対処していたが、ＤＶ−Ｒなどの連続して記録を行う必要があるメディアではそうすることも不可能である。
【０００９】
また近年、記録再生装置が多種商品化され、ドロップアウト検出については再生時のみならず記録時にも検出したいという要望が増えている。しかしながら、現状のドロップアウト検出では、再生から記録または記録から再生への状態が変化する場合に継続してドロップアウトを検出することができなかった。
【００１０】
そこで、本発明の目的は、再生中及び記録時に関わらず常に安定したドロップアウトを検出することができるドロップアウト検出回路を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路は、光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段と、前記反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段と、前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段と、前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化基準で二値化するコンパレータ手段とを備え、前記第１のエンベロープ検波手段は、記録中において前記第１の時定数を再生中よりも大きくするものである。
【００１２】
本発明に係る第１のドロップアウト検出回路によると、記録中の第１の時定数は再生中よりも大きいため、擬似のドロップアウトの検出を防いで、再生中及び記録中に関わらず安定したドロップアウト検出を可能とする。
【００１３】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にするものとする。
【００１４】
このようにすると、再生から記録または記録から再生への変化の際においても、擬似のドロップアウトの検出を防いで、安定したドロップアウト検出を可能とする。
【００１５】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、前記第１のエンベロープ検波手段と第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記変化してから所定の時間に達するまで、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする。
【００１６】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号を所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段をさらに備え、前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記可変ゲイン手段によって可変された反射信号のエンベロープを検出するものとする。
【００１７】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定のゲインの値を変えるものとする。
【００１８】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定の二値化基準の値を変えるものとする。
【００１９】
また、本発明に係る第１のドロップアウト検出回路において、再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、前記第１のエンベロープ検波手段と前記第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記再生から前記記録への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくする前の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にする一方、前記記録から前記再生への変化である場合、前記記録中において前記再生中よりも大きくした後の前記第１の時定数と前記第２の時定数を同一にし、前記可変ゲイン手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定のゲインの値を変え、前記コンパレータ手段は、前記記録中と前記再生中とにおいて、前記所定の二値化基準の値を変えるものとする。
【００２０】
このようにすると、時定数によって記録中のエンベロープのレベルが記録データの周波数分布の影響を受けて変化する場合でも、擬似のドロップアウトの検出を防いで、安定したドロップアウト検出を可能とする。
【００２１】
また、本発明に係る第２のドロップアウト検出回路は、光ディスクに収束照射された光ビームの反射信号の周波数帯域を、再生中と記録中とでは異なる所定の遮断周波数で切り替える低域通過フィルターと、前記低域通過フィルターによって前記周波数帯域が切り替わった反射信号を、前記再生中と前記記録中とでは異なる所定のゲインで所定の振幅に可変する可変ゲイン手段と、再生から記録または前記記録から前記再生へ変化する際、第１の時間の間、第１のパルス信号を発生する第１のパルス発生手段と、前記変化の際、第２の時間の間、第２のパルス信号を発生する第２のパルス発生手段と、前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを第１の時定数で検出する第１のエンベロープ検波手段と、前記第１のエンベロープ検波手段に接続され、前記第１のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープの電圧で充電される第１のコンデンサーと、前記所定の振幅に可変された反射信号のエンベロープを前記第１の時定数以上の第２の時定数で検出する第２のエンベロープ検波手段と、前記第２のエンベロープ検波手段に接続され、前記第２のエンベロープ検波手段によって検出されたエンベロープの電圧で充電される第２のコンデンサーと、前記第１のエンベロープ検波手段から出力されるエンベロープと前期第２のエンベロープ検波手段から出力されるエンベロープとの差を示す差信号を生成する差動手段と、前記差動手段によって生成された差信号を所定の二値化基準で二値化するコンパレータ手段と、前記コンパレータ手段からの出力を遮断するゲート回路とを備え、前記第１及び第２のエンベロープ検波手段の各々は、前記第１のパルス信号を受けて、前記第１の時間の間、前記第１及び第２のコンデンサーに蓄積されている電荷を強制放電し、前記ゲート回路は、前記第２のパルス信号を受けて、前記第２の時間の間、前記コンパレータ手段からの出力を遮断するものである。
【００２２】
本発明に係る第２のドロップアウト検出回路によると、記録中における変調信号の影響を受けずに、記録から再生または再生から記録へ変化する際において擬似のドロップアウトを検出することを防いで、安定したドロップアウト検出を可能とする。
【００２３】
また、本発明に係る第２のドロップアウト検出回路において、前記第２の時間は、前記第１の時間よりも長いものとする。
【００２４】
また、本発明に係る光ディスク装置は、上記した本発明に係る第１又は第２のドロップアウト検出回路を備える。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施形態について図面を参照しながら説明する。
【００２６】
なお、以下で参照する図面相互間において共通の構成要素には同一の符号を付しており、その説明は繰り返さない。
【００２７】
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態における光ディスク装置の構成例を示す図である。
【００２８】
光ディスク１００はモータ１０１の回転軸１０２に取り付けられ、所定の回転数で回転している。また、光ディスク１００は、記録ディスクの場合であればスパイラル状に凹凸で形成されたトラックを有しており、再生専用ディスクの場合であれば予めピットの形で情報が記録されている。移送台１１５は、レーザ１０９、カップリングレンズ１０８、偏光ビームスプリッタ１１０、１／４波長板１０７、全反射鏡１０５、光検出器１１３、及びアクチュエータ１０４を備えており、移送モータ１１４によって光ディスク１００の半径方向に移動するように構成されている。
【００２９】
中央演算処理回路１４０（以下「ＣＰＵ」と記す。）の指示によってレーザーパワー制御回路１３９（以下「ＬＰＣ」と記す。）が動作し、レーザ１０９が所定のパワーで発光する。移送台１１５に取り付けられたレーザ１０９によって発生した光ビーム１０６は、カップリングレンズ１０８で平行光にされた後、偏光ビームスプリッタ１１０、１／４波長板１０７を通過する。そして、全反射鏡１０５で反射され、集束レンズ１０３によって光ディスク１００の情報面上に集束して照射される。
【００３０】
光ディスク１００の情報面において反射された反射光は、集束レンズ１０３を通過して全反射鏡１０５で反射され、１／４波長板１０７、偏光ビームスプリッタ１１０、検出レンズ１１１、及び円筒レンズ１１２を通過して４個の受光部からなる光検出器１１３に入射する。集束レンズ１０３はアクチュエータ１０４の可動部に取り付けられている。アクチュエータ１０４はフォーカス用コイル、トラッキング用コイル、フォーカス用の永久磁石及びトラッキング用の永久磁石から構成されている。
【００３１】
アクチュエータ１０４のフォーカス用コイル（図示せず。）に電力増幅器１３０を用いて電圧を加えるとコイルに電流が流れ、コイルはフォーカス用の永久磁石（図示せず。）から磁気力を受けることによって、集束レンズ１０３は光ディスク１００の面と垂直な方向（図では上下方向）に移動する。集束レンズ１０３は光ビームの焦点とディスクの情報面とのずれを示すフォーカスエラー信号１０Ｓに基づいて光ビーム１０６の焦点が常に光ディスク１００の情報面に位置するように制御されている。また、トラッキング用コイル（図示せず。）に電力増幅器１３４を用いて電圧を加えるとコイルに電流が流れ、トラッキング用の永久磁石（図示せず。）から磁気力を受けることによって、集束レンズ１０３は光ディスク１００の半径方向、すなわち光ディスク１００のトラックを横切るように（図上では左右に）移動する。
【００３２】
光検出器１１３は４個の受光部より形成されている。光検出器１１３に入射される光ディスク１００からの反射光は、それぞれ電流に変換され、Ｉ／Ｖ変換器１１６、１１７、１１８、及び１１９へ送られる。Ｉ／Ｖ変換器１１６、１１７、１１８、及び１１９は、入力される電流をその電流レベルに応じた電圧に変換する。
【００３３】
加算器１２０、１２１、１２３、１２４及び１２６は、入力信号を加算して出力する。減算器１２２及び１２５（「差動回路」とも称する。）は入力信号を減算して出力する。
【００３４】
＜フォーカス制御＞
減算器１２２の出力が光ディスク１００へ照射される光ビームの焦点と光ディスク１００の情報面とのずれを示すフォーカスエラー信号１０Ｓである。フォーカスエラー信号１０Ｓは、アナログ・ディジタル変換器（以下「Ａ／Ｄ変換器」と記す。）１２７、位相補償回路１２８、ディジタル・アナログ変換器（以下「Ｄ／Ａ変換器」と記す。）１２９及び電力増幅器１３０へ送られる。電力増幅器１３０によってアクチュエータ１０４のフォーカス用コイルに電流が流れる。
【００３５】
Ａ／Ｄ変換器１２７はアナログ信号をディジタル信号に変換する。また、Ｄ／Ａ変換器はディジタル信号をアナログ信号に変換する。
【００３６】
位相補償回路１２８はディジタルフィルタであり、フォーカス制御系の位相補償を行って制御ループの安定化を図る。また、外部からのドロップアウト検出信号１１Ｓによってフォーカスエラー信号１０Ｓにおける制御誤差信号を保持することができる。このようにフォーカスエラー信号１０Ｓに応じて集束レンズ１０３が駆動されるので光ビームの焦点が常に情報面上に位置する。
【００３７】
＜トラッキング制御＞
次に、減算器１２５の出力が光ディスク１００に照射される光ビームのスポットと光ディスク１００のトラックとのずれを示すトラッキングエラー信号１２Ｓとなる。トラッキングエラー信号１２ＳはＡ／Ｄ変換器１３１、位相補償回路１３２、Ｄ／Ａ変換器１３３、及び電力増幅器１３４へ送られる。電力増幅器１３４によってアクチュエータ１０４のトラッキング用コイルに電流が流れる。
【００３８】
位相補償回路１３２はディジタルフィルタであり、トラッキング制御系の位相補償を行って制御ループの安定化を図る。また、外部からのドロップアウト検出信号１１Ｓによってトラッキングエラー信号１２Ｓにおける制御誤差信号を保持することができる。このように、トラッキングエラー信号１２Ｓに応じて集束レンズ１０３が駆動されるので光ビームのスポットが常にトラックを追従する。
【００３９】
また、トラッキングエラー信号１２Ｓはローパスフィルタ１３５、Ｄ／Ａ変換器１３６、及び加算器１３７を介して電力増幅器１３８に送られることによって、移送モータ１１４はトラッキングエラー信号１２Ｓの低周波成分に応じて制御される。すなわち、トラッキング制御系においては、高い周波数成分の応答に対してはアクチュエータ１０４で追従し、低い周波数成分の応答に対しては移送モータ１１４で追従する構成になっている。また、加算器１３７にＣＰＵ１４０からの制御信号１３Ｓが入力されており、ＣＰＵ１４０の指示によって移送台１１５を光ディスク１００の半径方向に移動させる。
【００４０】
なお、加算器１２６は加算器１２３と加算器１２４との出力を加算する。すなわち、加算器１２６の出力は光検出器１１３の全受光量となる。また、以下では、加算器１２６の出力信号を「全反射信号１４Ｓ」と記す。加算器１２６から出力される全反射信号１４Ｓは信号処理回路１４３に送られる。信号処理回路１４３は、光ディスク１００に記録されている情報を安定に読み取るための処理を行い、全反射信号１４Ｓを光ディスクコントローラ１４４（以下「ＯＤＣ」と記す。）に送る。ＯＤＣ１４４は読み取られた情報をもとにエラー訂正等の処理を行い、光ディスク装置と接続されているコンピュータ等にデータを送る。
【００４１】
＜記録制御＞
光ディスク１００は、記録用のものであればスパイラル状に凹凸で形成されたトラックを予め有し、そのトラックに情報を記録していくものであり、その記録においては記録する情報信号と記録される光ディスク１００の回転速度が同期していなければならない。この記録する情報信号と記録される光ディスク１００の回転速度とを同期させるためには、スパイラル状に凹凸で形成されたトラックを若干変調する方式がとられている。これがウォブルと言われ、トラッキングエラー信号１２Ｓと同様に、ウォブル信号１５Ｓは減算器１２５から出力される。
【００４２】
ウォブル信号１５Ｓは振幅的にはトラッキングエラー信号１２Ｓに対して約１／１０から１／２０であるので、ウォブル信号１５ＳをＳ／Ｎ良く抜き取るためにウォブル用ＢＰＦ（帯域通過フィルター）１４１が設けられている。ウォブル用ＢＰＦ１４１はウォブル信号周波数（例えば、ＤＶＤ−Ｒディスクの場合は１４１ＫＨｚ）を帯域通過させ、Ｓ／Ｎ良く抜き取られたウォブル信号１５Ｓはウォブル用ＰＬＬ回路１４２において記録するための同期信号と位相比較制御され、ウォブル信号１５Ｓと位相同期した同期信号１６ＳをＯＤＣ１４４に入力する。
【００４３】
また、ウォブル用ＰＬＬ回路１４２は外部から入力されるドロップアウト検出信号１１Ｓによって位相比較制御ループを前置保持する機能を持っている。
【００４４】
装置としての記録は、まずＣＰＵ１４０からの記録命令１７ＳによってＯＤＣ１４４に対して記録シーケンスを起動させ、指示された目標アドレスから記録を開始する。そして記録動作は、ＯＤＣ１４４から記録ゲート信号ＷＴＧＴ及びＯＤＣ１４４に入力された同期信号１６Ｓを基に記録データＷＴＤＴを出力する。記録ゲート信号ＷＴＧＴはＣＰＵ１４０を介してＬＰＣ（Laser Power Control）回路１３９を記録モードに切り替え、ＬＰＣ回路１３９によって、記録データＷＴＤＴに応じて記録パワーを制御して光ディスク１００に情報を記録する。
【００４５】
＜本実施形態におけるドロップアウト検出＞
図２は、図１に示したドロップアウト検出回路１０Ａの内部構成例を示すブロック図である。また、図３は、図２に示したドロップアウト検出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００４６】
図２に示すドロップアウト検出回路１０Ａは、後記する高速エンベロープ検波回路１４７の時定数（第１の時定数）よりも大きな時定数（第２の時定数）を持つ低速エンベロープ検波回路１４６、上記低速エンベロープ検波回路１４６の時定数（第２の時定数）よりも小さな時定数（第１の時定数）を持つ高速エンベロープ検波回路１４７、差動回路（差動手段）１５０、コンパレータ（コンパレータ手段）１４９の二値化レベルを決定するＤ／Ａ変換器１５１、記録ゲート信号ＷＴＧＴの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを検出するエッジ検出回路１５２、及び立ち上がりエッジと立ち下がりエッジに同期して所定の時間パルス信号を発生するモノマルチ１５３を備えている。
【００４７】
まず、全反射信号１４Ｓは低速エンベロープ検波回路（第２のエンベロープ検波手段）１４６と高速エンベロープ検波回路（第１のエンベロープ検波手段）１４７に入力される。低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７は、図２に示すように一般的な検波回路であり、入力信号に応じて充電する電流源と放電する電流源とを有する構成である。また、この充電及び放電電流源は記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じて電流値を切り替えることができる。例えば、図３（ａ）のように、記録ゲート信号ＷＴＧＴのＨｉは記録状態を示しＬｏｗでは再生状態を示すものとすると、記録ゲート信号ＷＴＧＴがＨｉの場合は電流源の電流値をＬｏｗの時より少なくする。
【００４８】
これは、図３（ｂ）に示すように、記録時では記録データＷＴＤＴによって記録の最大パワー（例えば１５ｍｗ）から最小パワー（例えば０．５ｍｗ）まで変調された全反射信号１４Ｓとなって加算器１２６より出力される。この場合にドロップアウト検出を行うと、記録時において擬似のドロップアウト検出信号が検出されることになる。そこで、電流源の電流値を少なくすることによって結果的に検波時定数を大きく、図３（ｄ）に示すように全反射信号を平均化するのである。なお、検波時定数を大きくするには、電流値を少なくする方法や電流値は一定としたまま充放電用コンデンサーＣ１０及びＣ１１の容量値を切り替える方法も考えられる。
【００４９】
このように、記録時において高速エンベロープ検波回路１４７の時定数を再生時よりも大きくすると、高速エンベロープ検波出力２１Ｓｂは図３（ｄ）に示す出力となる。したがって、この場合にドロップアウト検出を行うと記録時における擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの検出を防ぐことができる。
【００５０】
しかしながら、図３（ｂ）に示すように、記録から再生、再生から記録の切り替わり点においては、再生時の全反射信号レベルと記録時の全反射信号平均レベルとに大きなレベル差が発生する。この場合にドロップアウト検出を行うと、このレベル差が発生する記録から再生、再生から記録の切り替わり点において、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することになる。そこで、この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防ぐ目的で、記録ゲート信号ＷＴＧＴの切り替わり点に同期して低速エンベロープ検波回路１４６と高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を同一にするために各電流源を制御する。
【００５１】
また、記録ゲート信号ＷＴＧＴの切り替わり点の検出は、記録ゲート信号ＷＴＧＴの両エッジを検出するエッジ検出回路１５２によって行い、さらに検出されたエッジに同期してモノマルチ１５３から図３（ｆ）に示すように所定の時間パルス信号２３Ｓを出力することによって、各電流源を制御する。
【００５２】
その結果、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において、図３（ｇ）に示すように高速エンベロープ検波出力２１Ｓｃ及び低速エンベロープ検波出力２２Ｓｂの検波時定数が同一となるため、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の差信号を出力する差動回路１５０の出力２４Ｓは、図３（ｈ）に示すようにレベル変化はほとんどない。そのため、記録から再生、再生から記録の切り替わり点においてはコンパレータ１４９の出力には擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓは発生しない。
【００５３】
通常、ドロップアウト検出はドロップアウトによって全反射信号１４Ｓが暗い側にレベルが低下する。そして、高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓａは、図３（ｃ）に示すようにそのドロップアウトによるレベル低下とほぼ同じエンベロープを追従し出力する。一方、低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓａは高速エンベロープ検波回路１４７の時定数に比べて大きいため、図３（ｅ）に示すようにドロップアウトによってレベル低下するエンベロープを追従することができず、ドロップアウト期間中はほとんどレベルが変化しない状態になる。したがって、従来例のドロップアウト検出と同様にして、この低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓａと高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓａとを差動回路１５０において差をとることによって、図３（ｉ）に示すように再生時における差動回路１５０の出力２４Ｓがドロップアウト箇所で大きくレベル変化し、次段のコンパレータ１４９でドロップアウト期間にＨｉとなるドロップアウト検出信号１１Ｓを出力する。なお、ドロップアウト検出信号１１Ｓの検出レベルとなるコンパレータ１４９の二値化レベルは、Ｄ／Ａ変換器１５１において任意の値に設定することによって全反射光量に対するその二値化レベルを自由に決めることができる。
【００５４】
このように、本実施形態におけるドロップアウト検出回路１０Ａによると、高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数の値を記録状態において再生状態よりも大きくする。このため、記録時の変調信号の影響を受けることなくドロップアウトを検出することができる。さらに、記録から再生、再生から記録の切り替わり点で低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数の値を同一にする。このため、記録から再生、再生から記録の切り替わり点においても擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出が可能になる。
【００５５】
（第２の実施形態）
第２の実施形態における光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出回路１０Ａに代えて図４に示すドロップアウト検出回路１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディスク装置と同様である。
【００５６】
また、図５は図４に示すドロップアウト検出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００５７】
図４に示すドロップアウト検出回路１０Ａは、上記図２で示した構成例に加え、可変ゲインアンプ（可変ゲイン手段）１５４を備えている。
【００５８】
加算器１２６からの全反射信号１４Ｓは可変ゲインアンプ１５４に入力される。そして、可変ゲインアンプ１５４は記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じてゲインを切り替える。これは、第１の実施形態でも説明した通り、図５（ｂ）に示すように、記録時においては記録データＷＴＤＴによって記録の最大パワー（例えば１５ｍｗ）から最小パワー（例えば０．５ｍｗ）まで変調された全反射信号１４Ｓとなり、再生時の全反射信号レベルと記録時の全反射信号平均レベルとに大きなレベル差が生じる。そのため、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが発生しないように、可変ゲインアンプ１５４はそれぞれのレベルをほぼ同レベルにするために設けられている。
【００５９】
図５（ｃ）に示すように、全反射信号１４Ｓを入力した可変ゲインアンプ出力４１Ｓは、記録時と再生時のレベルがほぼ同一になる。そして、可変ゲインアンプ出力４１Ｓは低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７にそれぞれ入力され、第１の実施形態と同様に検波時定数を記録ゲート信号ＷＴＧＴによって切り替える。また、記録から再生、再生から記録の切り替わり点においても、第１の実施形態と同様に検波時定数を同一にする。図５（ｄ）に示す高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｃは、記録時においては時定数を切り替えて大きくし、かつ、再生から記録または記録から再生への状態が切り替わる点に同期して低速エンベロープ検波回路１４６の時定数と同一にした場合の出力結果である。また、図５（ｅ）に示す低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓｂは、再生から記録または記録から再生への状態が切り替わる点に同期して高速エンベロープ検波回路１４７の時定数と同一にした場合の出力結果である。この場合にドロップアウト検出を行うと、第１の実施形態と同様に、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓは検出されない。
【００６０】
しかしながら、高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数によっては、差動回路１５０の出力２４Ｓは、図５（ｆ）に示すように、記録時のエンベロープが記録データＷＴＤＴの周波数分布によって影響されレベル変化が発生する。そしてこのレベル変化は、ドロップアウト検出信号１１Ｓとして検出される再生時のコンパレータ１４９の二値化レベルを超える場合がある。つまりその場合は、記録時に擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが発生することになる。そこで、この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防ぐために、図４に示すように、コンパレータ１４９の二値化レベルを決定するＤ／Ａ変換器１５１に記録用ＤＡＣ１５１ａ及び再生用ＤＡＣ１５１ｂを設ける。これは、例えば図５（ｆ）に示すように、記録時と再生時とにおいてコンパレータ１４９の二値化レベルを切り替える構成にしたものである。そのため、図５（ｇ）に示すように、記録時の擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防いで真のドロップアウト検出信号１１Ｓを安定に検出することができる。
【００６１】
このように、本実施形態におけるドロップアウト検出回路１０Ａによると、可変ゲインアンプ１５４によって記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルとをほぼ同一レベルとし、さらに低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を記録時と再生時とで切り替える。このため、記録時の変調信号の影響を受けることなくドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することができる。また、コンパレータ１４９において、記録時と再生時のそれぞれにおいて独立したドロップアウト検出設定を可能にするために、記録時と再生時とにおいて二値化レベルを切り替える。このため、記録や再生の状態に応じた検出レベルを設定でき擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの検出を防ぐことが可能となる。そしてさらに、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を同一にする。このため、記録から再生、再生から記録への切り替わり点においても擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出が可能になる。
【００６２】
（第３の実施形態）
第３の実施形態における光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出回路１０Ａに代えて図６に示すドロップアウト検出回路１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディスク装置と同様である。
【００６３】
また、図７は図６示すドロップアウト検出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００６４】
図６において、全反射信号１４Ｓは可変ゲインアンプ１５４に入力され、可変ゲインアンプ１５４において記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じてゲインを切り替えることによって、記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルをほぼ同一にする。このため、可変ゲインアンプ１５４の出力４１Ｓは、記録時と再生時のレベルがほぼ同一になった全反射信号１４Ｓとなり、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７にそれぞれ入力される。
【００６５】
しかしながら、可変ゲインアンプ１５４の設定バラツキ等によって、記録時と再生時の可変ゲインアンプ出力４１Ｓは完全に同一レベルにはならず、記録時と再生時において、低速エンベロープ検波回路１４６の出力レベルと高速エンベロープ検波回路１４７の出力レベルとが逆転する可能性がある。そのため、少しでもレベル差が生じると、例えば図７（ｄ）に示すように、低速エンベロープ検波回路１４７の出力２２Ｓｄと高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｄとの出力レベルが逆転する。したがって、その場合の差動回路１５０の出力２４Ｓは図７（ｅ）に示すような波形になり、その結果、コンパレータ１４９の出力は図７（ｆ）に示すようになって擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが発生してしまう場合が生じる。
【００６６】
この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防ぐために、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７のそれぞれに対して、図６に示すように強制放電用のスイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１を設ける。強制放電用のスイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１を設けることによって、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において、充放電用のコンデンサーＣ１０及びコンデンサーＣ１１に蓄えられている電荷を図７（ｇ）に示す所定の時間強制放電させる。また、この強制放電用のスイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１の動作を決める時間は、記録ゲート信号ＷＴＧＴの両エッジに同期して作られるモノマルチ１５３から発生されるパルス信号によって決定される所定時間となる。
【００６７】
このようにすると、スイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１で強制放電をしない場合は、図７（ｆ）で示した通り、全反射信号１４Ｓが高いレベルから低いレベルに変化した時点で擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが発生する。しかしながら、スイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１で強制放電を行った場合は、低速エンベロープ検波回路１４６の出力２２Ｓｅと高速エンベロープ検波回路１４７の出力２１Ｓｅとは図７（ｇ）に示す波形となるため、差動回路１５０の出力２４Ｓは同（ｈ）に示す波形となる。したがって、図７（ｉ）のコンパレータ１４９の出力１１Ｓが示すように、全反射信号１４Ｓが記録から再生、再生から記録の切り替わる点においても、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を防ぐことができる。
【００６８】
ただしこの場合、スイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１を単純に動作をさせるだけでは問題となる。例えば、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７に設けてある強制放電用のスイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１の動作に時間差が発生すると、擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生原因になる。そのため、強制放電用のスイッチＳＷ１０及びスイッチＳＷ１１の動作を同時に開始する。また、ドロップアウトの検出動作は低速側と高速側のエンベロープの差を用いて検出することを考慮すると、強制放電を行う際、高速エンベロープ検出回路１４７側より低速エンベロープ検出回路１４６側を早く強制放電させる必要がある。
【００６９】
なお、本実施形態は、アナログ回路で実現したもであるがディジタル処理回路によっても実現することが可能である。例えば、強制放電の動作はＡ／Ｄ変換器によって得られたディジタル値を所定のクロックで減算することによって放電時定数を決定してその動作を行うことができ、またスイッチによる強制放電に対しては初期値にリセットすることで目的が達成する。
【００７０】
また、本実施形態は、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の内部に、それぞれスイッチＳＷ１０及びＳＷ１１を設けた構成で説明しているが、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の外部にスイッチＳＷ１０及びＳＷ１１を設ける構成にした場合であっても本実施形態は同様に実施可能である。
【００７１】
このように、本実施形態におけるドロップアウト検出回路１０Ａによると、可変ゲインアンプ１５４によって記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルをほぼ同一レベルにする。このため、記録時の変調信号の影響を受けることなくドロップアウトを検出することができる。また、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の充放電用コンデンサーに蓄えられている電荷を強制放電する。このため、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓを検出することなく信頼性の高い安定したドロップアウト検出が可能になる。
【００７２】
（第４の実施形態）
第４の実施形態における光ディスク装置は、図２に示したドロップアウト検出回路１０Ａに代えて図８に示すドロップアウト検出回路１０Ａを備える。その他の構成は、図１に示した光ディスク装置と同様である。
【００７３】
また、図９は図８に示すドロップアウト検出回路１０Ａの動作を説明するための図である。
【００７４】
図８では、図６で示した可変ゲインアンプ１５４の前段に、記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じて記録時においては全反射信号１４ＳがＬＰＦ（低域通過フィルター）１５５を通過し、また再生時においては全反射信号１４Ｓが直接可変ゲインアンプ１５４に入力されるように切り替わる回路が備わっている。記録時にＬＰＦ１５５を通過させるのは、記録時では全反射信号１４Ｓのレベルが記録データＷＴＤＴによって図９（ｂ）に示すように記録変調されるため、記録時にはＬＰＦ１５５を通過させることによって、可変ゲインアンプ１５４への入力８１Ｓのレベルを同（ｃ）に示すように平均化するためのものである。なお、ＬＰＦ１５５の帯域は記録データＷＴＤＴによって記録変調された全反射信号１４Ｓを十分平均化でき、かつ、ドロップアウト検出の応答性として問題のない周波数を設定した。本実施例では約１００ＫＨｚの周波数を想定している。また、記録時において全反射信号１４Ｓを十分平均化する他の実現の方法としては、ＬＰＦ１５５の通過帯域を記録時と再生時とで切り替える方法が考えられる。
【００７５】
次に、記録時にはＬＰＦ１５５を通過する信号８１Ｓは可変ゲインアンプ１５４に入力される。可変ゲインアンプ１５４では記録ゲート信号ＷＴＧＴによってゲインを切り替えることによって、可変ゲインアンプ１５４の出力４１Ｓは図９（ｄ）に示すように記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルがほぼ同一になる。可変ゲインアンプ１５４の出力４１は低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７にそれぞれ入力される。
【００７６】
そして、上記第３の実施形態と同様に、記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルは可変ゲインアンプ１５４の設定バラツキ等によって完全に同一レベルにはならない。そのため、少しでもレベル差が生じると擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生原因になる。そこで、この擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの検出を防ぐために記録から再生、再生から記録の切り替わり点において所定の時間強制放電を行う。本実施形態では、図８に示すように、トランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１を設け、充放電用コンデンサーＣ１０及びＣ１１に蓄えられている電荷を強制放電させる。
【００７７】
ここで、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の検波時定数を決めているのは充放電用コンデンサーの容量値と放電電流の値である。一般的に時定数差を設けるには、高速エンベロープ検波回路１４７と低速エンベロープ検波回路１４６共に放電電流の値は同一にし、充放電用コンデンサーの値で決めることが多い。したがって、充放電用コンデンサーの容量値は低速側を大きい値とし、高速側を小さい値とする。
【００７８】
そして、トランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１において強制放電を行うが、上述したように高速側と低速側のコンデンサーの容量値が異なるため、図９（ｇ）に示すように強制放電特性に差が生じる。その結果、図９（ｈ）に示すように、差動回路１５０の出力２４Ｓはドロップアウト検出方向にレベル変化が生じる。また強制放電は、図９（ｅ）に示すように、記録ゲート信号ＷＴＧＴの立ち上がり及び立ち下りの両エッジに同期してモノマルチ１５３（第１のパルス発生手段）によって決められる所定の時間ｔ１（第１の時間）の間に発生するパルス（第１のパルス信号）を受けて行われる。この所定の時間ｔ１は、高速エンベロープ検波回路１４７側と低速エンベロープ検波回路１４６側の充放電コンデンサーに蓄えられている電荷が等しくなるまでに必要な時間である。したがって、所定の時間ｔ１は、充放電用コンデンサーの容量値として高速側よりも大きい値を有する低速側の強制放電時定数によって決定されるのが支配的である。
【００７９】
次に、モノマルチ１５３で決められる所定の時間ｔ１の間強制放電を行うが、上述のようにドロップアウト検出方向にレベル変化が生じるため、図９（ｉ）に示すように擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが発生する場合がある。そこで、モノマルチ１５３で作られる時間ｔ１よりも長い時間の間パルスを発生させるために、図８に示すように、第２のモノマルチ１５７（第２のパルス発生手段）を設ける。第２のモノマルチ１５７は、図９（ｆ）に示すように時間ｔ２（第２の時間）の間パルス（第２のパルス信号）を発生する。第２のモノマルチ１５７から出力されるパルスによって、ゲート回路１５６はコンパレータ１４９からの出力１１Ｓをゲート処理する。つまり、ゲート回路１５６は、第２のモノマルチ１５７の出力８２ＳがＨｉの間は、コンパレータ１４９の出力１１Ｓに関わらずＬｏｗを出力する。このように、高速エンベロープ検波回路１４７側と低速エンベロープ検波回路１４６側の異なるコンデンサー容量を強制放電し、さらに上記ゲート処理を行うことによって、ゲート回路１５６の出力８３Ｓは、図９（ｊ）に示すようにコンパレータ１４９から出力される擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を遮断する。
【００８０】
なお、ゲート回路１５６でゲート処理するための時間ｔ２の作成方法は、モノマルチ１５３と第２のモノマルチ１５７で分割して作成する方法も考えられる。
【００８１】
また、本実施形態においても、強制放電の動作をディジタル処理回路によっても実現することが可能である。例えば、強制放電の動作はＡ／Ｄ変換器によって得られたディジタル値を所定のクロックで減算することによって放電時定数を決定してその動作を行うことができる。
【００８２】
また、本実施形態は、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の内部に、それぞれトランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１を設けた構成で説明しているが、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の外部にトランジスターＴＲ１０及びＴＲ１１を設ける構成にした場合であっても本実施形態は同様に実施可能である。
【００８３】
このように、本実施形態におけるドロップアウト検出回路１０Ａによると、全反射信号１４Ｓは記録時においてＬＰＦ１５５を通過し、さらに可変ゲインアンプ１５４によって記録時の全反射信号平均レベルと再生時の全反射信号レベルをほぼ同一レベルにする。また、低速エンベロープ検波回路１４６及び高速エンベロープ検波回路１４７の充放電用コンデンサーに蓄えられている電荷を記録から再生、再生から記録の切り替わり点で強制放電させ、かつ、ゲート回路１５６によって擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓの発生を遮断する。このため、記録時の変調信号の影響を受けずに、記録から再生、再生から記録の切り替わり点において擬似のドロップアウト検出信号１１Ｓが検出されることを防止する。その結果、記録時及び再生時を問わずに信頼性の高い安定したドロップアウト検出が可能になる。
【００８４】
【発明の効果】
上述したように、本発明に係るドロップアウト検出回路によると、高速側のエンベロープ検波回路は、記録時では再生時よりも大きい時定数でエンベロープを検出する。そのため、擬似のドロップアウトの検出を防いで、記録時または再生時に関わらず信頼性の高い安定したドロップアウトを検出できるドロップアウト検出回路を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１の実施形態における光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】  図１に示したドロップアウト検出回路の内部構成例を示すブロック図である。
【図３】  図２に示したドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【図４】  本発明の第２の実施形態における光ディスク装置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示す図である。
【図５】  図４に示したドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【図６】  本発明の第３の実施形態における光ディスク装置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示すブロック図である。
【図７】  図６に示したドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【図８】  本発明の第４の実施形態における光ディスク装置のドロップアウト検出回路の内部構成例を示すブロック図である。
【図９】  図８に示したドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【図１０】  従来例におけるドロップアウト検出回路のブロック図である。
【図１１】  図１０に示したドロップアウト検出回路の動作を説明するための図である。
【符号の説明】
１２０、１２１、１２３、１２４、１２６  加算器
１２２、１２５  減算器
１２７、１３１  Ａ／Ｄ変換器
１２９、１３３  Ｄ／Ａ変換器
１３９  ＬＰＣ
１４０  ＣＰＵ
１４１  ウォブル用ＢＰＦ
１４２  ウォブル用ＰＬＬ
１４３  信号処理回路
１４４  ＯＤＣ
１４６  低速エンベロープ回路（第２のエンベロープ検波手段）
１４７  高速エンベロープ回路（第１のエンベロープ検波手段）
１４９  コンパレータ（コンパレータ手段）
１５０  差動回路（差動手段）
１５３  モノマルチ（第１のパルス発生手段）
１５４  可変ゲインアンプ（可変ゲイン手段）
１５５  ＬＰＦ（低域通過フィルター）
１５７  第２のモノマルチ（第２のパルス発生手段）
１５６  ゲート回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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