(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｊ個のセルを０からＪ−１のセルアドレスに０から順に書込みと読出しを行う先入れ先出しメモリと、
前記先入れ先出しメモリの書込みアドレスを生成する書込みアドレス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリのセル容量を監視するセル容量監視手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中セルのセル待機時間監視のための基準パルスｍを外部から受信、または基準パルスｍを生成する基準パルス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中のセルについて、基準パルスｍの時間単位でしてｍ×ｎ時間中のセル待機機能およびｍ×ｎの制限時間を超過したセルを検出する機能にアクセスセルのセル待機時間を監視するアクセスセル・セル待機時間監視手段と、
セル廃棄機能にセル廃棄数によるセル廃棄機能を有する廃棄セルアドレス生成手段を有する読出しアドレス生成手段で構成したことを特徴とする先入れ先出しメモリの読出し待機時間超過セルの廃棄回路。
【請求項２】
Ｊ個のセルを０からＪ−１のセルアドレスに０から順に書込みと読出しを行う先入れ先出しメモリと、
前記先入れ先出しメモリの書込みアドレスを生成する書込みアドレス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリのセル容量を監視するセル容量監視手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中セルのセル待機時間監視のための基準パルスｍを外部から受信、または基準パルスｍを生成する基準パルス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中のセルについて、基準パルスｍの時間単位でしてｍ×ｎ時間中のセル待機機能およびｍ×ｎの制限時間を超過したセルを検出する機能に格納セルのセル待機時間を監視する格納セル・セル待機時間監視手段と、
セル廃棄機能にセル廃棄数によるセル廃棄機能を有する廃棄セルアドレス生成手段を有する読出しアドレス生成手段で構成したことを特徴とする先入れ先出しメモリの読出し待機時間超過セルの廃棄回路。
【請求項３】
Ｊ個のセルを０からＪ−１のセルアドレスに０から順に書込みと読出しを行う先入れ先出しメモリと、
前記先入れ先出しメモリの書込みアドレスを生成する書込みアドレス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリのセル容量を監視するセル容量監視手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中セルのセル待機時間監視のための基準パルスｍを外部から受信、または基準パルスｍを生成する基準パルス生成手段と、
前記先入れ先出しメモリの読出し待機中のセルについて、基準パルスｍの時間単位でしてｍ×ｎ時間中のセル待機機能およびｍ×ｎの制限時間を超過したセルを検出する機能に書込みアドレスをを監視するアドレス・セル待機時間監視手段と、
セル廃棄機能にセル廃棄アドレスによるセル廃棄機能を有するセルアドレス生成手段を有する読出しアドレス生成手段で構成したことを特徴とする先入れ先出しメモリの読出し待機時間超過セルの廃棄回路。
【請求項４】
制限時間ｍ×ｎ中の書込みセル数Ｗ（ｍ×０）〜Ｗ（ｍ×ｎ）を計数し、
読出しセル数Ｒを計数し、
制限時間ｍ×ｎ中の書込みセル数Ｗ（ｍ×０）〜Ｗ（ｍ×ｎ）と読出しセル数Ｒの時間監視を行い、ｍ×ｎ時間経過した書込みセル数Ｗ（ｍ×ｎ）と読出しセル数Ｒからセル数廃棄数を抽出することを特徴とするセル廃棄方法。
（〔Ｗ（ｍ×０）＋Ｗ（ｍ×１）＋〜Ｗ（ｍ×ｎ）〕−Ｒ＝格納セルの合計値）
【請求項５】
制限時間ｍ×ｎ中の格納セル数Ｃ（ｍ×０）〜Ｃ（ｍ×ｎ）を計数し、
制限時間ｍ×ｎ中の書込みセル数Ｃ（ｍ×０）〜Ｃ（ｍ×ｎ）の時間監視を行い、セル廃棄数をｍ×ｎ時間経過した格納セル数Ｃから抽出することを特徴とするセル廃棄方法。
（Ｃ（ｍ×０）＋Ｃ（ｍ×１）＋〜Ｃ（ｍ×ｎ）＝格納セルの合計値）
【請求項６】
書込みセルアドレスと読出しセルアドレスのアクセスの位置関係を表すｍ×ｎ時間中の書込みセルアドレスＷＡ（ｍ×０）〜ＷＡ（ｍ×ｎ）を監視し、
制限時間ｍ×ｎ中のアクセス面情報Ａ（ｍ×０）〜Ａ（ｍ×ｎ）を監視し、
制限時間ｍ×ｎ中の監視情報のイネーブル情報ＡＥ（ｍ×０）〜ＡＥ（ｍ×ｎ）を監視し、
現在の読出しアドレスＲＡの時間監視を行い、
制限時間ｍ×ｎを超過した書込みセルアドレスＷＡ（ｍ×ｎ）と現在の読出しセルアドレスの位置関係からセル廃棄領域を抽出することを特徴とするセル廃棄方法。
【請求項７】
請求項５記載のセル廃棄方法において、
読出し完了を示すパルスを受信し、格納セルを１以上保有する読出し対象となる情報を検索して１減算する処理で、
それぞれの格納セル数の監視情報に読出し対象イネーブルＣＥｉを付与し、
検索の優先順序を設けて検索し、検出した情報から１減算することを特徴とするセル廃棄方法。
（ＣＥ（ｎ＋１）＝１かつＣｎ＞０のときＣｎを読出し対象とし、Ｃｎ←Ｃｎ−１、ＣＥｎ←０とし、ＣＥ（ｎ＋１）＝１かつＣｎ＝０のときＣｎを読出し対象とし、ＣＥｎ←１とする。）
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＦＩＦＯ(First In First Out)メモリ（以下ＦＩＦＯと称する）に書き込まれた読出し待機中のセルの廃棄方式に関する。
【０００２】
ディジタル通信において、転送する情報を一定長のデータに分割し、一定長の長さに分割されたそれぞれのデータに、宛先、シーケンシャル番号、誤り制御情報を書き込んだヘッダを付加してセルを構成し、セルを転送の単位として通信を行う通信システム、例えば、ＡＴＭ通信システムが広く採用されてきている。
【０００３】
このような、セルによる通信においては、セルの転送装置は、セルのヘッダに書き込まれた宛先情報を解読して、指定された宛先にセルを転送する。このとき、セルの転送装置の中では、セルを受信した順序でメモリに書き込み、セルの送出はメモリに書き込まれた古いセルから順に送出している。かかる書き込み、読み出しを効率的に行うためのメモリとしてＦＩＦＯが使用されている。
【０００４】
かかるセルの転送装置内のＦＩＦＯに書き込まれた読出し待機中のセルの廃棄処理を効率的に行うことのできる読出し待機中のセルの廃棄方式が要求されている。
【０００５】
【従来の技術】
セルを使用する通信システムとして、ＡＴＭ通信システムがある。例えば、ＡＴＭ通信においては、ヘッダ部とデータ部から構成されるＡＴＭセルを使用して通信を行っている。
【０００６】
ＡＴＭ通信装置はＡＴＭセルを受信し、ＡＴＭセルのヘッダの内容を確認し、そこで指定された宛先にＡＴＭセルを転送する。
【０００７】
かかるＡＴＭセルを使用する通信システムにおいて、ＡＴＭセルの転送が正常に行われているか否かを確認するためにＯＡＭ(Operation Administration & Maintenance 、保守運用管理機能) が設けられている。ＯＡＭの代表的な機能としてループバック試験があり、ループバック試験はループバック試験用のＯＡＭセル（以下ループバックセルと称する）を、ループバックポイントを指定して送出し、ループバックポイントでは、ループバックセルを検出して、折り返し側の伝送路上の有効空きセルに挿入して返送する。ＯＡＭセルを送出したＡＴＭ通信装置は、送出したＯＡＭセルと受信したＯＡＭセルを比較することにより、ＡＴＭ通信装置および伝送路の正常性をチェックする。
【０００８】
図２２はＡＴＭ通信装置を説明する図を示す。図において、１０は受信インタフェース（以下インタフェースをＩＮＦと称する）と送信ＩＮＦからなるセル送受信ＩＮＦ部であり、受信ＩＮＦ、送信ＩＮＦは受信したセルがループバック（図中ＬＢと示す）セルであるか否かを監視するＬＢセル監視部１１と、ＬＢセル監視部１１で受信したセルがループバックセルであることを検出した場合、そのセルを分離するＬＢセル分岐部１２と、ＬＢセル分岐部１２で分離されたセルを一時的に書き込んでおくＦＩＦＯ１４と、対応する伝送路上にループバックセルを挿入するＬＢセル挿入部１３から構成されている。２０はセルのヘッダで指定される宛先に、そのセルを送出することによりクロスコネクトを行うクロスコネクト部である。
【０００９】
以下、本発明のセル廃棄方式を、ループバックセルの廃棄動作を例として、詳細に説明する。
【００１０】
図２３はループバックセル用のＦＩＦＯのアドレスマップを説明する図である。
【００１１】
ここでは、ＦＩＦＯの格納容量を６４セルとしており、１セルは２７ビットから構成されている。書込みはセルアドレス０から開始し、ループバックセルを受信するごとに現在のアドレスに「１」加算したアドレスを次のＬＢセルの書込みアドレスとして書込みを行い、セルアドレス６３になると、次はセルアドレス０に戻ることにより、ＦＩＦＯを循環的に使用する。
【００１２】
また、ＦＩＦＯに対する書き込み、読み出し位相は固定で、同一クロックにより読出し、書込みを行い、格納したセル数が６４セルでＦＩＦＯ  Ｆｕｌｌ、０セルでＦＩＦＯ  Ｅｍｐｔｙを出力する。
【００１３】
図２４はループバック動作のフローチャートである。以下、フローチャートのステップ（ＳＴＥＰ、図中Ｓと示す）にしたがって動作を説明する。
【００１４】
（Ａ）は書込みフローチャートであり、ＦＩＦＯへのセル書込み動作を説明する。セル書込みはセルを受信することによりスタートする。
【００１５】
Ｓ１０：受信したセルがループバックセルであるか否かを判定し、ループバックセルでない場合はＳ１５へ進む。
【００１６】
Ｓ１１：ループバックセルの場合は、セルを書き込むＦＩＦＯに空きがあるか否かを判定し、空きがない場合はＳ１４へ進む。
【００１７】
Ｓ１２：ＦＩＦＯに空きがある場合は、ＦＩＦＯに受信したセルを書き込む。
【００１８】
Ｓ１３：ＦＩＦＯが空きではない（セルが書き込まれている）ことを示す×ＦＩＦＯ  Ｅｐｙ（×は反転信号を示す）を出力する。
【００１９】
Ｓ１４：Ｓ１１でＦＩＦＯに空きがないと判定された場合、そのセルを廃棄する。
【００２０】
Ｓ１５：Ｓ１０で受信したセルがループバックセルでないと判定された場合、そのセルをそのまま通過させ、クロスコネクト部へ送出する。
【００２１】
（Ｂ）は読出しフローチャートであり、ＦＩＦＯからのセル読出し動作を説明する。読出しはＦＩＦＯ  ×Ｅｐｙを受信することによりスタートする。
【００２２】
Ｓ２０：受信したセルが有効空きセルであるか否かを判定し、有効空きでない場合は次のセルを待つ。
【００２３】
Ｓ２１：受信したセルが有効空きセルの場合、ＦＩＦＯからデータを読み出し、有効空きセルに書き込みループバックセルとして送出する。
【００２４】
かかる動作により、ループバックセルの折返しを行う。
【００２５】
図２５は従来技術の構成を説明する図である。１００はＦＩＦＯであり、図２４で説明したアドレス構成を持つものである。２１０は書込みビットアドレスを生成する書込みビットアドレス生成部であり、２２０は書込みセルアドレスを生成する書込みセルアドレス生成部であり、５１０は読出しビットアドレスを生成する読出しビットアドレス生成部であり、５２０は読出しセルアドレスを生成する読出しセルアドレス生成部であり、４０１は書込みアドレス、読出しアドレスを監視することにより、ＦＩＦＯ１００に書き込まれたセルの容量を監視し、ＦＩＦＯ１００がＦｕｌｌ状態でＦｕｌｌ信号（図中Ｆｕｌｌと示す）を、ＦＩＦＯ１００がＥｍｐｔｙ状態でＥｐｙ信号（図中Ｅｐｙと示す）を出力するセル容量監視部であり、Ａ１、Ａ２は２つの信号の論理積をとるＡＮＤ回路、ＩＮＶは信号の反転を行うインバータ、ＤＥＣは入力した読出しビットアドレス２６をデコードして出力するデコーダである。
【００２６】
図２６はループバックセルの書込み動作タイムチャートである。図において、ＤＴｉは入力セルであり、ＣＳＩは入力セルの先頭位置を示し、ＬＢは受信したセルがループバックセルであるか否かの判定結果を示す。ＣＳＩを受信すると書込みビットアドレス生成部２１０が起動され、書込みビットアドレス０から書込みを行い、ＡＮＤ回路Ａ１で受信したセルがループバックセルであり、かつ、ＦＩＦＯ１００が×Ｆｕｌｌのとき書込みセルアドレス生成部２２０が起動され、書込みセルアドレスをカウントアップすることによりＦＩＦＯ１００に１セルの書き込みを行う。このとき、セル容量監視部４０１は１セル書き込まれたことを検出して空き状態ではなくなるので、×Ｅｐｙがハイとなる。
【００２７】
次いで、ユーザセルが入力されたときは、セルアドレス１に書込みを行うが、ループバックセル判定が否であるので、次のループバックセルを受信したときにセルアドレス１にその上から上書きされ、ＦＩＦＯ１００には、ループバックセルのみが書き込まれていく。
【００２８】
図２７はループバックセルの読出し動作タイムチャートである。図において、セル容量監視部４０１から×Ｅｐｙが通知されると、有効空きセルの検出を開始し、有効空きセルを検出すると、読出しビットアドレス生成部５１０を起動し、読出しビットアドレス０から読出しを行い、出力セルＤＴｏとして出力する。ＡＮＤ回路Ａ２では、読出しビット２６で、×Ｅｐｙがハイのときに読出しセルアドレス生成部を起動して、読出しセルアドレスをカウントアップする。
【００２９】
【発明が解決しようとする課題】
図２２で説明したＡＴＭ通信装置を使用してセルのループバック試験を行うとき、ＡＴＭ通信装置でループバックセルを生成、送出してから受信するまでの時間に、制限時間を設け、この制限時間を超過して受信したループバックセルは無効セルと判定している。一方、折り返し側のＡＴＭ通信装置では、有効空きセルを検出して、ＦＩＦＯ１４に書き込まれたループバックセルを読み出して送出するので、制限時間を設けても、有効空きセルを検出するまでは、ループバックセルをＦＩＦＯ１４内に格納し続けてしまう。
【００３０】
このように、制限時間を超過した古いセルを格納していると、ループバック側のＡＴＭ通信装置で、新しいループバックセルを受信しても制限時間内に折り返しができなかったり、ＦＩＦＯ１４がＦｕｌｌ状態になっていた場合には、そのセルが廃棄されてしまう。
【００３１】
本発明は、ＦＩＦＯに書き込まれた読出し待機中のセルについて、制限時間を設けて、セルの時間監視を行い、制限時間を超過したセルの廃棄処理を行うことで、制限時間を超過した古いセルが蓄積されることを防止できる読出し待機中のセル廃棄方式を実現することを目的とする。
【００３２】
【課題を解決するための手段】
図１は本発明の第１の原理を説明する図である。図中の１００はＪ個のセルを０からＪ−１のセルアドレスに書込みと読出しを行うＦＩＦＯであり、２００は書込みアドレスを生成する書込みアドレス生成手段と、４００はＦＩＦＯのセル容量を監視するセル容量監視手段であり、５００はセル廃棄機能にセル廃棄数によるセル廃棄機能を有する廃棄セルアドレス生成手段（図中廃棄手段と示す）５０１を有する読出しアドレス生成手段であり、６００は読出し待機中セルのセル待機時間監視のための基準パルスｍを外部から受信または基準パルスｍを生成する基準パルス生成手段である。
【００３３】
また、３１０はＦＩＦＯ１００の読出し待機中のセルについて、基準パルスｍの時間単位でｍ×ｎ時間中のセル待機機能およびｍ×ｎの制限時間を超過したセルを検出する機能にアクセスセルのセル待機時間を監視するアクセスセル・セル待機時間監視手段である。
【００３４】
かかる構成により、受信したセルは、書込みアドレス生成手段２００の生成するＦＩＦＯ１００のアドレスに順次書き込み、アクセスセル・セル待機時間監視手段３１０で、基準パルス生成手段６００の生成する基準パルスｍを受信し、書込みセル数を単位時間ごとに時間監視し、所定の制限時間ｍ×ｎを超過した読出し待機中のセル中の廃棄対象となる廃棄セル情報を抽出し、読出しアドレス生成手段５００でアクセスセル・セル待機時間監視手段３１０が抽出した廃棄セル情報をもとに、廃棄セルアドレス生成手段５０１で廃棄セルアドレスを生成し、制限時間ｍ×ｎを超過したセルを廃棄する。（請求項１）
図２は第２発明の原理を説明する図である。図中のＦＩＦＯ１００、書込みアドレス生成手段２００、セル容量監視手段４００、読出しアドレス生成手段５００、および基準パルス生成手段６００は図１と同じ構成である。
【００３５】
また、３２０は基準パルス生成手段６００の生成する基準時間パルスｍを単位時間として受信し制限時間を単位時間の整数倍ｍ×ｎとし、書込みを行ったときは、格納セル数として計数しつつ、計数した格納セル数について、単位時間を経過時間の区切りとして経過時間ごとに制限時間ｍ×ｎ分の時間監視を行い、セルの読出しを行ったときは、格納セル数の監視情報の中から経過時間の最も古い格納セル数の監視情報を検索して減算を行い、制限情報ｍ×ｎを超過した格納セル数の監視情報を廃棄対象のセル数として抽出する格納セル・セル待機時間監視手段である。
【００３６】
かかる構成により、受信したセルは、書込みアドレス生成手段２００の生成するＦＩＦＯ１００のアドレスに順次書き込み、格納セル・セル待機時間監視手段３２０で、基準パルス生成手段６００の生成する基準パルスｍを受信し、格納セル数を単位時間ごとに時間監視し、所定の制限時間ｍ×ｎを超過した格納セル数を廃棄セル数として抽出し、読出しアドレス生成手段５００で格納セル・セル待機時間監視手段３２０が抽出した廃棄セル情報をもとに、制限時間ｍ×ｎを超過したセルを廃棄する。（請求項２）
図３は第３発明の原理を説明する図である。図中のＦＩＦＯ１００、書込みアドレス生成手段２００、セル容量監視手段４００、読出しアドレス生成手段５００、および基準パルス生成手段６００は図１と同じ構成である。
【００３７】
また、３３０は基準パルス生成手段６００の生成する基準時間パルスｍを単位時間として受信し制限時間を単位時間の整数倍ｍ×ｎとし、ＦＩＦＯ１００の書込みセルアドレスを監視する書込みセルアドレス監視手段（図中セルアドレス監視手段と示す）３５０と、ＦＩＦＯ１００の書込みアクセス面と読出しアクセス面の位置関係を示すアクセス面監視手段３４０について、単位時間を経過時間の区切りとして経過時間ごとに制限時間ｍ×ｎ分の時間監視を行い、さらに、各経過時間ごとの監視情報が有効であるか否かを示すイネーブル監視手段３６０から構成し、基準パルスを受信するごとに、制限時間ｍ×ｎを経過したイネーブル監視情報が有効である場合、制限時間を経過したセルアドレス情報と制限時間を経過したアクセス面監視情報と現在の読出しセルアドレスより、制限時間ｍ×ｎを超過した廃棄対象となる読出し待機中のセルアドレス領域を抽出するアドレス・セル待機時間監視手段である。
【００３８】
かかる構成において、受信したセルは、書込みアドレス生成手段２００の生成するＦＩＦＯ１００のアドレスに順次書き込み、アドレス・セル待機時間監視手段３３０で、基準パルス生成手段６００の生成する基準パルスｍを受信し、格納セル数を単位時間ごとに時間監視し、ＦＩＦＯ１００の書込み面と読出し面の変化情報と、書込みセルアドレスとイネーブル情報を単位時間ごとに監視し、制限時間ｍ×ｎを超過した廃棄対象となるアドレス領域を検出し、廃棄セルアドレスを抽出し、制限時間を超過したセルを廃棄する。（請求項３）
【００３９】
【発明の実施の形態】
図４は第１発明の実施の形態の構成を説明する図である。第１発明の実施の形態では、図２で説明した書込みアドレス生成手段２００を書込みビットアドレス生成部２１０と、書込みセルアドレス生成部２２０と、ＡＮＤ回路Ａ１から構成し、アクセスセル・セル待機時間監視手段３１０をアクセスセル・セル待機時間監視部３１１（詳細は図５で説明する）から構成し、セル容量監視手段４００を書込みアドレス、読出しアドレスを監視して、ＦＩＦＯ１００に書き込まれたセル数を監視し、ＦＩＦＯ１００がＦｕｌｌ状態でＦｕｌｌ信号を、ＦＩＦＯ１００がＥｍｐｔｙ状態でＥｐｙ信号を出力するセル容量監視部４０１で構成している。
【００４０】
また、読出しアドレス生成手段５００を読出しビットアドレス生成部５１０と、読出しアドレスをジャンプする加算器５２２を持つ読出しセルアドレス生成部５２０（図８で詳細を説明する）と、ＡＮＤ回路Ａ２と、デコーダＤＥＣから構成し、Ｅｐｙ信号を反転して×Ｅｐｙとして出力するインバータ（図中ＩＮＶと示す）から構成している。図中のＲＵＰは１セル読出し完了パルス、ＷＵＰは１セル書込み完了パルスを示す。
【００４１】
図５は第１発明の実施の形態のアクセスセル・セル待機時間監視部を説明する図である。図において、アクセスセル・セル待機時間監視部３１１は書込みセル数カウンタ３１１Ａ、シフトレジスタ３１１１〜３１１５、廃棄セル数判定部３１１Ｂ、、および、出力セル数カウンタ３１１Ｃから構成している。
【００４２】
第１発明の実施の形態の動作を図４、図５にしたがって説明する。実施の形態の説明においては、時間監視のための基準時間パルスは、ＦＩＦＯ１００の読出し位相と同位相の１秒パルス（図中ＦＰ１と示す）とし、１秒単位で経過時間をカウントする。また、読出し待機時間の制限時間は５秒とする。
【００４３】
アクセスセル数による待機時間監視では、次の関係となっている。
【００４４】
0003812231.tif 000002
ここで、書込みが１セル完了すると処理01の左辺、右辺に「１」加算する。
【００４５】
0003812231.tif 000003
読出しが１セル完了すると処理01の読出しセル数に「１」加算し、右辺は「１」減算する。
【００４６】
0003812231.tif 000004
図５において、書込みセル数の１秒経過ごとの変更は、シフトレジスタ３１１１〜３１１５の内容をＦＰ１により１段ずつシフトすることにより行う。
【００４７】
図６は第１発明の実施の形態のアクセスセル・セル待機時間監視部の動作フローチャートを示す。フローチャート中、判定ＹｅｓをＹ、ＮｏをＮと示す。
【００４８】
Ｓ１０〜Ｓ１５でＲＵＰ＝１、かつＦＰ１＝１のときは、１秒経過し同時に１セルの読出しが行われたので、処理03より読出しセル数Ｒを「１」加算し、処理05より５秒経過したアクセスセル数Ｗ５が加算した読出しセル数Ｒ＋１以上のときは、廃棄セル数（図中ＮＣと示す）をＷ−（Ｒ＋１）とし、ロード値（図中ＬＤ値と示す）を「０」とし、そうでなければ、セル廃棄数を「０」とし、ロード値を（Ｒ＋１）−Ｗ５とし各Ｗｉの値をシフトレジスタによりシフトする。（処理05）  Ｓ２０〜Ｓ２２でＦＰ１＝１のときは、処理05より５秒経過したアクセスセル数Ｗ５がセル数Ｒ以上のときは、セル廃棄数をＷ５−Ｒとし、ロード値を「０」とし、そうでなければ、セル廃棄数を「０」とし、ロード値をＲ−Ｗ５とした上で（処理05）、Ｓ１５の処理により各Ｗｉの値をシフトレジスタ３１１１〜３１１５によりシフトする。（処理01）
Ｓ３０〜Ｓ３１で、ＲＵＰ＝１のときは、処理03より読出しセル数Ｒを「１」加算する。
【００４９】
Ｓ４０〜Ｓ４１で、ＷＵＰ＝１のときは、処理01より書込みセル数Ｗを「１」加算する。
【００５０】
廃棄セル数判定部３１１Ｂは出力セル数カウンタ３１１ＣとＷ５の値を比較し、処理05により廃棄セル数を決定する。
【００５１】
図７は第１発明の実施の形態のセル廃棄処理を説明する図である。ＦＩＦＯ１００にセルをアドレス０からアドレス６３に順に書き込み、アドレス６３の次はアドレス０に戻る。状態Ａはセル廃棄処理の対象となるセルアドレスの領域に６３から０に戻るポイントを含まない状態を示し、状態Ｂはセル廃棄処理の対象となるセルアドレスの領域に６３から０に戻るポイントを含む状態を示している。
【００５２】
図８は第１発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部を説明する図である。第１発明の実施の形態においては、読出しセルアドレスを生成するアドレス生成部５２１と、原理図で説明したセル廃棄手段５０１として廃棄セル数を加算することによりアドレスをジャンプする加算器５２２とフリップフロップ回路（図中ＦＦ回路と称する）５２３から構成している。
【００５３】
アドレスの生成は次による。
【００５４】
0003812231.tif 000005
図９は第１発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部の動作フローャートである。図は処理06、処理07をフローチャートとして表したものである。
【００５５】
Ｓ１０〜Ｓ１１で、ＲＵＰ＝１かつ、ＦＰ１＝１のときは、１セルの読出しと１秒経過が同時に生じたので、処理06よりＴＯＴＡＬをＲＣＥＬＬ（Ｐ）＋廃棄セル数＋１とする。
【００５６】
Ｓ２０〜２１では、ＦＰ１＝１のときは１秒経過したので、処理06よりＴＯＴＡＬをＲＣＥＬＬ（Ｐ）＋廃棄セル数とする。
【００５７】
Ｓ３０〜Ｓ３１では、ＲＵＰ＝１のときは１セルの読出しが行われたので、処理06よりＴＯＴＡＬをＲＣＥＬＬ（Ｐ）＋１とする。
【００５８】
Ｓ４０〜Ｓ４２で、処理07よりＴＯＴＡＬが６４以上であるか否かを判定し、６４以上のときは、ＲＣＥＬＬ（Ｇ）をＴＯＴＡＬ−６４（アドレスが６３から０に戻ったため）とし、６３以下のときは、ＲＣＥＬＬ（Ｇ）をＴＯＴＡＬとする。
【００５９】
かかる処理により、読出しセルアドレスを生成し、廃棄するセルのアドレスを読み飛ばすことによりセルの廃棄を行う。
【００６０】
図１０は第２発明の実施の形態の構成を説明する図である。第２発明の実施の形態において、書込みアドレス生成手段２００を書込みビットアドレス生成部２１０と、書込みセルアドレス生成部２２０と、ＡＮＤ回路Ａ１とから構成し、セル容量監視手段４００をセル容量監視部４０１で構成し、読出しアドレス生成手段５００を読出しビットアドレス生成部５１０と、読出しセルアドレス生成部５２０と、ＡＮＤ回路Ａ２と、デコーダＤＥＣと、インバータＩＮＶから構成していることは第１発明の実施の形態と同じである。
【００６１】
第２発明の実施の形態では格納セル・セル待機時間監視手段３２０を格納セル・セル待機時間監視部３２１（詳細は図１１で説明する）から構成している。
【００６２】
図１１は第２発明の実施の形態の格納セル・セル待機時間監視部を説明する図である。図において、格納セル・セル待機時間監視部３２１は格納セル数カウンタ３２１Ａ、シフトレジスタ３２１１〜３２１５から構成している。
【００６３】
第２発明の実施の形態においても、時間監視の基準パルスは、ＦＩＦＯ１００の読出し位相と同位相の１秒パルスＦＰ１とすることは、第１発明の実施の形態と同じである。
【００６４】
格納セル数による待機時間監視では、次の関係となっている。
【００６５】
0003812231.tif 000006
ここで、書込みが１セル完了すると格納セル数が「１」増加する。
【００６６】
0003812231.tif 000007
読出しが１セル完了すると格納セル数の合計から「１」減算するとともに、左辺の各格納セル数Ｃｉの中で格納セル数が「１」以上で、最も古い格納セル数Ｃｊから「１」減算する。
【００６７】
そこで、各格納セル数Ｃｉに読出しイネーブル信号（以下イネーブル信号と称する）ＣＥｉを付与する読出しイネーブル付与部（図示省略）を設けて、格納した情報に優先順位を持たせることにより古い格納セル情報を検出し、確定した最も古い格納セル数Ｃｊから「１」減算する。
【００６８】
0003812231.tif 000008
１秒パルスＦＰ１を受信したときは、▲４▼式の左辺において各格納セル数が１秒経過したので、それぞれ次のようにセル数を変更する。
【００６９】
0003812231.tif 000009
ここで、格納セル数Ｃ５は制限時間５秒を超過した廃棄セル数として左辺から減算され、右辺は格納セル数の合計から、廃棄セル数を減算する。
【００７０】
図１２、１３は第２発明の実施の形態の格納セル・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その１）、（その２）である。図１３は処理10をフローチャートとして表したものである。
【００７１】
Ｓ１０でＲＵＰ＝１かつＦＰ１＝１のときは、１セルの読出しと１秒経過が同時に生じたので、図１３の動作フローチャート（その２）を経由した後Ｓ１１で格納セル数Ｃｉをそれぞれ次の格納セル数としてシフトする。図１２のＡ、Ｂはそれぞれ図１３のＡ、Ｂへ処理が継続される。Ｓ２０では、ＦＰ１＝１で１秒経過したので、Ｓ１１の処理11を実行する。
【００７２】
Ｓ３０ではＲＵＰ＝１で１セルの読出しが行われたので、図１３の処理を実行する。
【００７３】
Ｓ４０、４１では、ＷＵＰ＝１で１セルの書込みが行われたので、格納セル数Ｃ０に「１」加算する。
【００７４】
図１３はＲＵＰ＝１、すなわち、１セルの読出しが行われたときに、セルが蓄積されている中の最も古いシフトレジスタ３２１ｊのセル数から「１」を減算する処理を示す。
【００７５】
Ｓ１０ではＣｉが１以上であることを判定し、判定がＹのとき、Ｓ１１でＣｉから「１」減算し、イネーブル信号ＣＥｉを０にセットする。判定がＮのとき、イネーブル信号ＣＥｉを１とし、次の監視情報Ｃｉ−１について同様の判定を行う。次いで、Ｓ２０〜Ｓ２２、Ｓ３０〜Ｓ３２、Ｓ４０〜Ｓ４２、Ｓ５０〜Ｓ５２、Ｓ６０〜Ｓ６２でＣｉの古い順に、イネーブルＣＥｉ＋１とセルの有無を確認して、最も古いＣｉから「１」を減算している。
【００７６】
かかる処理により最終段のシフトレジスタ３２１５から出力されるＣ５が制限時間を超過した廃棄セル数として出力される。
【００７７】
廃棄セル数を抽出した後の、読出しセルアドレス制御によるセルの廃棄処理は第１発明の実施の形態と同じである。
【００７８】
図１４は第３発明の実施の形態の構成を説明する図である。第３発明の実施の形態においても、書込みアドレス生成手段２００を書込みビットアドレス生成部２１０と、書込みセルアドレス生成部２２０と、ＡＮＤ回路Ａ１とから構成し、セル容量監視手段４００をセル容量監視部４０１で構成し、読出しアドレス生成手段５００を読出しビットアドレス生成部５１０と、読出しセルアドレス生成部５２０と、ＡＮＤ回路Ａ２と、インバータＩＮＶから構成していることは第１発明の実施の形態と同じである。
【００７９】
第３発明の実施の形態ではアドレス・セル待機時間監視手段３３０をアクセス面数監視部（図示省略）とセルアドレス監視部（図示省略、詳細は図１３で説明する）および、監視情報の有効、無効を監視するイネーブル監視部（図示省略）からなるアドレス・セル待機時間監視部３３１で構成している。
【００８０】
図１５は第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部を説明する図である。図において、図３で説明したアクセス面監視手段３４０をアクセス面変化検出部３４１Ａ、３４１Ｃ、アクセス面カウンタ３４１Ｂ、シフトレジスタ３４１１〜３４１５からなるアクセス面監視部で構成し、セルアドレス監視手段３５０をシフトレジスタ３５１１〜３５１５からなるセルアドレス監視部で構成するとともに、イネーブル監視手段３６０をイネーブル信号をシフトするシフトレジスタ３６１０〜３６１５と、廃棄セルアドレス抽出部３７１から構成している。
【００８１】
第３発明の実施の形態においても、時間監視の基準パルスは、ＦＩＦＯ１００の読出し位相と同位相の１秒パルスＦＰ１とすることは、第１発明の実施の形態と同じである。
【００８２】
図において、アクセス面と書込みアドレスの処理を行うとき、下記のデータの監視を行う。
【００８３】
（ＷＡ０，Ａ０，ＡＥ０）、（ＷＡ１，Ａ１，ＡＥ１）、（ＷＡ２，Ａ２，ＡＥ２）、（ＷＡ３，Ａ３，ＡＥ３）、（ＷＡ４，Ａ４，ＡＥ４）、（ＷＡ５，Ａ５，ＡＥ５）、（ＲＡ）
ここで、
ＷＡｉ：ｉ秒経過した書込みセルアドレス
Ａｉ：ｉ秒経過したアクセス面情報（０：書込み／読出しアクセス面が同面、１：読出しアクセス面が書込み面の１面後ろ）
ＡＥｉ：ｉ秒経過したイネーブル信号（０：無効、１：有効）
ＲＡ：現在の読出しセルアドレス
ここでＡｉは、ＦＩＦＯ１００の書込みセル数が６４セルであり、書込みと読出しでアクセス面が異なるのはＡ０〜Ａ５で１箇所のみである。
【００８４】
0003812231.tif 000010
１秒パルスＦＰ１を受信したときは、各監視情報が１秒経過したので、処理14にしたがって各情報を更新する。更新前の５秒経過した監視情報（ＷＡ５、Ａ５、ＡＥ５）と、現行の読出しアドレスＲＡの条件が処理15に該当するとき、図２１に示すように、現在の読出しアドレスＲＡから遡り、５秒経過した書込みセルアドレスＷＡ５までの領域が、制限時間を超過したセル廃棄の対象となる。このときの、５秒経過した書込みセルアドレスＷＡ５をセル廃棄の対象領域を示すセル廃棄アドレスとして抽出し、５秒経過したイネーブル信号ＡＥ５をセル廃棄イネーブル信号として抽出する。
0003812231.tif 000011
図２１は第３発明の実施の形態のセル廃棄処理を説明する図である。（Ａ）は、ＡＥ５＝１でＡ＝０、すなわち、ＷＡ５とＲＡのアクセス面が同じときのアドレス関係を示し、（Ｂ）はＡＥ５＝１でＡ＝１、すなわち、ＲＡがＷＡ５に対してとアクセス面が１面後ろのときのアドレス関係を示す。
【００８５】
図１６〜図１８は第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その１）〜（その３）である。
【００８６】
図１６のＳ１０〜Ｓ１２で１セル読出しと１秒経過が同時のときＲＡが「６３」から「０」に変化したか否かを判定し、変化したときは、Ａ０〜Ａ５の中のＡｉ＞０となるＡｊを抽出して、Ａｊ←０と設定し、変化していないときは、その状態で図１７のフローチャートにしたがって、イネーブル信号ＡＥｉ＝１となる監視情報を経過時間の古い順に検出し、アクセス面情報Ａｉが１のときは図１８の処理を進める。アクセス面情報Ａｉが０のときはＷＡｉと現在のＲＡを比較して一致していなかったときは、図１８の処理を行う。一致していないときは、ＡＥｉ＝１として図１８の処理を行う。図１８はセル廃棄アドレスを抽出する処理を示す。
【００８７】
図１６のＳ２０では、１秒経過したので処理14を実行する。
【００８８】
図１７では、Ｓ１０〜Ｓ１３により、ＡＥ５＝１のとき、読出しアクセス面が同じであれば、書込みアドレスＷＡ５と読出しアドレスＲＡのアドレス位置関係によりＡＥ５＝０に設定する。
【００８９】
以下同様に、Ｓ２０〜、Ｓ３０〜、Ｓ４０〜、Ｓ５０、Ｓ６０〜の処理を実行する。
【００９０】
図１８では、ＡＥ５＝１か否かを判定し、ＡＥ５＝１で、Ａ５＝０でＷＡ５≧ＲＡの位置関係ときは、ＷＡ５をセル廃棄アドレスに、ＡＥ５をセル廃棄イネーブルと設定する。同様に、Ａ５＝０でなく、ＷＡ５＜ＲＡの位置関係ときもＷＡ５をセル廃棄アドレスに、ＡＥ５をセル廃棄イネーブルとする。
【００９１】
図１９は第３発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部を説明する図である。図の５２４はロード機能付きカウンタで構成されるセルアドレス生成部であり、５２５はセルアドレス生成部５２４へのロードするロード値とロード動作を制御するロード制御部である。
【００９２】
通常、読出しセルアドレスＲＣＥＬＬはＲＵＰ＝１を受信すると１セルの読出しが行われたとして「１」インクリメントされ、セルアドレスが６３になると０に戻る動作を行う。１秒パルスＦＰ１を受信し、更新前の５秒経過した情報（ＷＡ５、Ａ５、ＡＥ５）の中のＡＥ５が有効であるとき、通常動作を無視してセル廃棄アドレスを読出しセルアドレスにロードすることによりセルの廃棄処理を行う。
【００９３】
このときの読出しセルアドレスＲＣＥＬＬ（Ｇ）の生成は次による。
【００９４】
0003812231.tif 000012
図２０は第３発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部の動作フローチャートである。Ｓ１０〜Ｓ１１は１秒経過しかつセル廃棄イネーブル＝１であるのてアドレス生成部５２４へ入力するロード信号＝１とロード値＝セル廃棄アドレスＷＡ５を生成することにより上述の（ａ）の処理を行い、Ｓ２０〜Ｓ２２は１セルの読出しを行いかつ読出しセルアドレスが６３であったのでロード信号＝１とロード値＝０を生成することにより（ｂ）の処理を行い、Ｓ２３は１セルの読出しを行ったのでロード信号＝０とロード値＝０を出力することにより上述の（ｃ）の処理を行う。
【００９５】
かかる処理により廃棄セルアドレスを決定し、読出しセルアドレス制御によるセルの廃棄処理を行う。
【００９６】
【発明の効果】
本発明により、ＦＩＦＯに書き込んだ読出し待機中のセルについて、読出しの制限時間を設け、制限時間を超過したセルを検出して廃棄することにより、セル転送装置を小規模で構成することが可能となり、装置の経済化を図ることががきる。
【００９７】
さらに、セル転送装置内で制限時間を超過したセルを廃棄できるので、不要のセルの転送を行わないことにより、伝送路の輻輳を防止することも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  第１発明の原理を説明する図
【図２】  第２発明の原理を説明する図
【図３】  第３発明の原理を説明する図
【図４】  第１発明の実施の形態を説明する図
【図５】  第１発明の実施の形態のアクセスセル・セル待機時間監視部を説明する図
【図６】  第１発明の実施の形態のアクセスセル・セル待機時間監視部の動作フローチャート
【図７】  第１発明の実施の形態のセル廃棄処理を説明する図
【図８】  第１発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部を説明する図
【図９】  第１発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部の動作フローチャート
【図１０】  第２発明の実施の形態の構成を説明する図
【図１１】  第２発明の実施の形態の格納セル・セル待機時間監視部を説明する図
【図１２】  第２発明の実施の形態の格納セル・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その１）
【図１３】  第２発明の実施の形態の格納セル・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その２）
【図１４】  第３発明の実施の形態の構成を説明する図
【図１５】  第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部を説明する図
【図１６】  第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その１）
【図１７】  第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その２）
【図１８】  第３発明の実施の形態のアドレス・セル待機時間監視部の動作フローチャート（その３）
【図１９】  第３発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部を説明する図
【図２０】  第３発明の実施の形態の読出しセルアドレス生成部の動作フローチャート
【図２１】  第３発明の実施の形態のセル廃棄処理を説明する図
【図２２】  ＡＴＭ通信装置を説明する図
【図２３】  ループバックセル用のＦＩＦＯのアドレスマップを説明する図
【図２４】  ループバック動作のフローチャート
【図２５】  従来技術の構成を説明する図
【図２６】  ループバックセルの書込み動作タイムチャート
【図２７】  ループバックセルの読出し動作タイムチャート
【符号の説明】
１００、１４  ＦＩＦＯ
２００  書込みアドレス生成手段
２１０  書込みビットアドレス生成部
２２０  書込みセルアドレス生成部
３１０  アクセスセル・セル待機時間監視手段
３１１  アクセスセル・セル待機時間監視部
３２０  格納セル・セル待機時間監視手段
３２１  格納セル・セル待機時間監視部
３３０  アドレス・セル待機時間監視手段
３３１  アドレス・セル待機時間監視部
３４０  アクセス面監視手段
３５０  セルアドレス監視手段
３６０  イネーブル監視手段
４００  セル容量監視手段
４０１  セル容量監視部
５００  読出しアドレス生成手段
５０１  セル廃棄手段
５１０  読出しビットアドレス生成部
５２０  読出しセルアドレス生成部
６００  基準パルス生成手段
１０  セル送受信ＩＮＦ
１１  ＬＢセル監視部
１２  ＬＢセル分岐部
１３  ＬＢセル挿入部
２０  クロスコネクト部
【図１】
0003812231.tif 000013
【図２】
0003812231.tif 000014
【図３】
0003812231.tif 000015
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0003812231.tif 000019
【図８】
0003812231.tif 000020
【図９】
0003812231.tif 000021
【図１０】
0003812231.tif 000022
【図１１】
0003812231.tif 000023
【図１２】
0003812231.tif 000024
【図１３】
0003812231.tif 000025
【図１４】
0003812231.tif 000026
【図１５】
0003812231.tif 000027
【図１６】
0003812231.tif 000028
【図１７】
0003812231.tif 000029
【図１８】
0003812231.tif 000030
【図１９】
0003812231.tif 000031
【図２０】
0003812231.tif 000032
【図２１】
0003812231.tif 000033
【図２２】
0003812231.tif 000034
【図２３】
0003812231.tif 000035
【図２４】
0003812231.tif 000036
【図２５】
0003812231.tif 000037
【図２６】
0003812231.tif 000038
【図２７】
0003812231.tif 000039