(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ケーブルを介して駆動パルスを供給することにより固体撮像素子を駆動する駆動手段と、
前記駆動パルスに応じた前記固体撮像素子からの出力信号と予め設定された基準信号とを比較し、前記出力信号のうち前記基準信号を超えた範囲をリセットパルスとして抽出する比較手段と、
前記抽出されたリセットパルスを直流信号に変換する変換手段と、
その直流信号を所定の時間積分する積分手段と、
前記積分値を前記比較手段における基準信号として入力する入力手段と、を備えることを特徴とする電子内視鏡装置。
【請求項２】
前記リセットパルスに基づいてケーブルを伝搬する信号の伝搬遅延時間を補正する補正手段を備えることを特徴とする請求項１記載の電子内視鏡装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、内視鏡スコープ、ケーブルによって異なる撮像信号の伝搬遅延時間を補正する電子内視鏡装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、内視鏡スコープの被検体側先端部にＣＣＤ，ＣＭＯＳ等の固体撮像素子を備えた電子内視鏡装置が種々提案されている。このような電子内視鏡装置を図７に示す。
【０００３】
図７に示すように電子内視鏡装置１００は、被検体内に挿入される挿入部１０２と、この挿入部１０２の被検体側先端に設けられ、ＣＣＤ等の固体撮像素子を備えた撮像部１０３、及び挿入部１０２を操作する操作部１０４を有する内視鏡スコープ１０１と、撮像部１０３の動作を制御する制御ユニット１０５ａを内蔵した内視鏡装置本体１０５とから成る。
【０００４】
図７に示すような電子内視鏡装置１００では、撮像部１０３が制御ユニット１０５ａから分離され、挿入部１０２の先端に設けられている。このため、電子内視鏡装置１００では、内視鏡スコープ１０１の種類、ケーブル長を換える等により撮像部１０３から制御ユニット１０５ａまでの距離が変わので、ケーブルを伝搬する撮像信号の伝搬遅延時間が変化し、伝搬遅延時間の変化を補正しなければならない。
【０００５】
前記伝搬遅延時間を補正する第１の方法として、内視鏡スコープ１０１毎に伝搬遅延時間補正回路を設けてそれを調整するものがある。第２の方法として、制御ユニット１０５ａから撮像部１０３へ送られた撮像部用駆動パルスを、撮像部１０３から制御ユニット１０５ａへ送り返し、この送り返されたパルスを基準として前記固体撮像素子の出力信号を処理して補正するものがある。第３の方法として、前記固体撮像素子に含まれるリセットパルスをリセットパルス検出回路で抽出し、これを基準として出力信号処理回路の駆動パルスを発生させるようにしたものも提案されている（特開昭61-187470 号公報）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、第１の方法では、内視鏡スコープ１０１毎に補正回路が必要であるため、回路構成がその分増加する。また、内視鏡スコープ１０１組立て時に前記伝搬遅延時間補正回路の調整を行わなくてはならないため、内視鏡スコープ１０１の組立てに時間が掛かる。
【０００７】
第２の方法では、撮像部１０３の固体撮像素子から制御ユニット１０５ａにパルスを送り返すためのケーブルが必要であるため、内視鏡スコープ１０１の径が太くなり、臨床上の使い勝手が悪くなる。
【０００８】
第３の方法では、リセットパルス検出回路の具体的な検出方法が示されていない。また、この方式を電子内視鏡装置に適用した場合、次の問題点がある。一般に、医療用電子内視鏡装置では、被検体や診断部位が変わった場合、内視鏡スコープも交換するが、内視鏡スコープが変わると、使用しているＣＣＤも変わるため、基準となる映像信号の直流バイアス電圧が変化する。また、映像信号の大小（高輝度時と低輝度時）によっても直流バイアス電圧は変化する。したがって、内視鏡スコープを変えた場合や映像信号が高輝度と低輝度に変化する場合、基準となる映像信号の直流バイアス電圧が動くことになるので、リセットパルス検出回路は、この問題を解決したものでなくてはならない。
【０００９】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、固体撮像素子から制御ユニットまでの距離に拘らず、撮像信号の伝搬遅延時間の補正を適切に行うことができる電子内視鏡装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため請求項１記載の発明は、ケーブルを介して駆動パルスを供給することにより固体撮像素子を駆動する駆動手段と、前記駆動パルスに応じた前記固体撮像素子からの出力信号と予め設定された基準信号とを比較し、前記出力信号のうち前記基準信号を超えた範囲をリセットパルスとして抽出する比較手段と、前記抽出されたリセットパルスを直流信号に変換する変換手段と、その直流信号を所定の時間積分する積分手段と、前記積分値を前記比較手段における基準信号として入力する入力手段と、を備えることを特徴とするものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る実施の形態を図面を参照して説明する。図１は本発明に係る電子内視鏡装置の第１実施形態の構成を示したブロック図である。尚、図７で示した従来の電子内視鏡装置１００と外観構成は同一であるため、図示及び説明は省略する。
【００１５】
第１実施形態の電子内視鏡装置１は、ＣＣＤ３駆動する駆動パルスのうちリセットパルスの反射波を抽出し、この反射波に基づいて撮像信号の伝搬遅延時間を補正するものである。
図１に示すように、電子内視鏡装置１は、内視鏡スコープ１０１内に設けられたＣＣＤ３とケーブル５と、制御ユニット１０５ａ内に設けられたＣＣＤ駆動パルス発生部７と反射波抽出部９とＰＬＬ（Phase Locked Loop ）回路１１とクロック発生部１３とを有している。
【００１６】
ＣＣＤ３は、図示しない照明手段によって照明された被写体を撮像する。
ケーブル５は、一端がＣＣＤ３に接続され、他端が終端抵抗５ａ、及び終端抵抗５ａと直列に接続されたＣＣＤ駆動パルス電流出力強化回路（例えばインバータ）５ｂとを介してＣＣＤ駆動パルス発生部７とに接続される。そしてケーブル５は、ＣＣＤ駆動パルス発生部７から発生されたＣＣＤ駆動パルスのうち、例えばリセットパルスをＣＣＤ３に伝搬するとともに、ＣＣＤ３からのリセットパルスの反射波を反射波抽出部９側に伝搬する。
【００１７】
ＣＣＤ駆動パルス発生部７は、ケーブル５を介してＣＣＤ３を駆動させるためのＣＣＤ駆動パルスをＣＣＤ３に供給する。
反射波抽出部９は、コンパレータ１５ａ，１５ｂと、ＡＮＤゲート１７とを有する。そして反射波抽出部９は、ＣＣＤ駆動パルス発生部７により発生されたリセットパルス、ケーブル５に伝搬されたリセットパルス、及びリセットパルスの反射波を検出し、その中からリセットパルスの反射波のみを抽出する。
【００１８】
また、コンパレータ１５ａの入力側「−」端子は、終端抵抗５ａのＣＣＤ駆動パルス電流出力強化回路５ｂ側に接続され、入力側「＋」端子は、リセットパルスのハイレベルをＶH としたとき、ＶH ／２の値が基準値Ｖth1 として入力される。また、コンパレータ１５ｂの入力側「−」端子は、ＶH ／４の値が基準値Ｖth2 として入力され、入力側「＋」端子は、終端抵抗５ａのＣＣＤ駆動パルス電流出力強化回路５ｂ側に接続される。尚、前記基準値はノイズマージンを最大にするためにＶth1 ＝ＶH ／２，Ｖth2 ＝ＶH ／４としているが、リセットパルスの反射波のみを抽出できればこの値に限られたものではない。
【００１９】
また、コンパレータ１５ａ，１５ｂの出力側は、ＡＮＤゲート１７の入力側と接続されている。また、ＡＮＤゲート１７の出力側は、ＰＬＬ回路１１に接続されている。尚、ＣＣＤ駆動パルスは水平駆動パルスと垂直駆動パルスから成るが、反射波抽出部９は、このうち水平駆動パルスのリセットパルスの反射波を抽出する。
【００２０】
ＰＬＬ回路１１は、図２に示すようにＡＮＤゲート１７から供給されるリセットパルスの反射波の位相と後記する分周器から供給されるパルスとを比較してその位相差に応じたパルス列を出力する位相比較器１９と、位相比較器１９から出力されるパルス列をＤＣ電位に変換するローパスフィルタ２１と、ローパスフィルタ２１により変換されたＤＣ電位に応じた周波数でパルス信号を発生する発振器２３と、発振器２３により発振されたパルス信号をリセットパルスの反射波の周波数と一致する周波数に分周する分周器２５とから成り、反射波抽出部９により抽出されたリセットパルスの反射波と位相を一致させたパルス信号をクロック発生部１３に出力する。
【００２１】
クロック発生部１３は、ＰＬＬ回路１１からのパルス信号を基に、ＣＤＳ（相関二重サンプリング）用のサンプルホールドパルス（Ｓ／Ｈパルス）、アナログ／ディジタル変換のクロック（Ａ／Ｄ変換用クロック）等を発生させる。
【００２２】
次に、第１実施形態の電子内視鏡装置１の動作を説明する。
まず、電子内視鏡装置１の電源が投入されると、ＣＣＤ駆動パルス発生部７は、ＣＣＤ３を駆動させるためのＣＣＤ駆動パルスを発生し、ケーブル５を介してＣＣＤ３に前記ＣＣＤ駆動パルスを供給する。
【００２３】
ここで、前記ＣＣＤ駆動パルスのうち、リセットパルスを直列終端によりケーブル伝送する場合（但し、終端抵抗５ａの抵抗値はケーブル５の特性インピーダンスＺ0 に等しい）、ＣＣＤ３のリセットパルス端子は等価的にコンデンサであるが、容量が小さい（５〜８pF）ので殆ど開放と等価となる。このため、反射係数１で電圧反射が起きることとなる。
【００２４】
したがって、図１に示す点Ａ（終端抵抗５ａのＣＣＤ駆動パルス電流出力強化回路５ｂ側の点）で図３（ａ）に示すようなリセットパルスが得られたとすると、点Ｂ（終端抵抗５ａのケーブル５側の点）では、図３（ｂ）に示すように進行波とその反射波が得られる（リセットパルスのデューティー比は通常２５％）。
【００２５】
このとき、反射波抽出部９のコンパレータ１５ａの入力側「−」端子から図３（ａ）に示すリセットパルスが入力されるとともに、入力側「＋」端子から図３（ａ）に示すリセットパルスのハイレベルをＶH としたとき、ＶH ／２の値が基準値Ｖth1 として入力され、また、コンパレータ１５ｂの入力側「−」端子から、図３（ｂ）に示すＶH ／４の値が基準値Ｖth2 として入力され、入力側「＋」端子から図３（ｂ）に示す進行波と反射波が入力されたとする。
【００２６】
ここで、コンパレータ１５ａの出力は、時刻ｔ1 から時刻ｔ2 までがローレベル、時刻ｔ2 から時刻ｔ5 までがハイレベル、時刻ｔ5 から時刻ｔ6 までがローレベルとなる（以後同様に継続される）。
【００２７】
また、コンパレータ１５ｂの出力は、時刻ｔ1 から時刻ｔ2 までがハイレベル、時刻ｔ2 から時刻ｔ3 までがローレベル、時刻ｔ3 から時刻ｔ4 までがハイレベル、時刻ｔ4 から時刻ｔ5 までがローレベル、時刻ｔ5 から時刻ｔ6 までがハイレベル、時刻ｔ6 から時刻ｔ7 までがローレベル、時刻ｔ7 から時刻ｔ8 までがハイレベルとなる（以後同様に継続される）。
【００２８】
また、ＡＮＤゲート１７の出力は、コンパレータ１５ａの出力がハイレベルかつコンパレータ１５ｂの出力がハイレベルのときのみハイレベルとなる。したがって、ＡＮＤゲート１７の出力は、リセットパルスの反射波の部分のみハイレベルとなってＰＬＬ回路１１の位相比較器１９に出力される。これにより、リセットパルスの反射波のみが抽出されたこととなる。
【００２９】
次いで、位相比較器１９は、リセットパルスの反射波の位相と分周器２５から供給されるパルスとを比較してその位相差に応じたパルス列をローパスフィルタ２１に出力する。ローパスフィルタ２１は、位相比較器１９から出力されるパルス列をＤＣ電位に変換して発振器２３に供給する。発振器２３は、ローパスフィルタ２１により変換されたＤＣ電位に応じた周波数でパルス信号を発生する。このとき分周器２５は、発振器２３により発振されたパルス信号をリセットパルスの反射波の周波数と一致する周波数に分周して位相比較器１９に供給する。
【００３０】
ＰＬＬ回路１１は、この位相比較器１９からローパスフィルタ２１と発振器２３と分周器２５とを通って位相比較器１９に戻るループにより、反射波抽出部９により抽出されたリセットパルスの反射波と位相を一致させたパルス信号を発生する。
【００３１】
クロック発生部１３は、ＰＬＬ回路１１によりリセットパルスの反射波と位相を一致させたパルス信号が発生されると、このパルス信号を基に、ＣＤＳ（相関二重サンプリング）用のサンプルホールドパルス（Ｓ／Ｈパルス）、アナログ／ディジタル変換のクロック（Ａ／Ｄ変換用クロック）等を発生させる。これらＳ／Ｈパルス、Ａ／Ｄ変換用クロックを基に、制御ユニット１０９ａは撮像信号を処理して映像を得る。
【００３２】
このように、第１実施形態の電子内視鏡装置１は、ＣＣＤ駆動パルス発生部７から発生されるリセットパルスの反射波を反射波抽出部９により抽出し、この抽出された反射波と同期させ、ＣＤＳ用のサンプルホールドパルス（Ｓ／Ｈパルス）、アナログ／ディジタル変換のクロック（Ａ／Ｄ変換用クロック）等を発生させるようにしている。ここで、ＣＣＤ３から制御ユニット１０５ａまでの距離に因らず、ＣＣＤ３により撮像された撮像信号の伝搬時間と反射波とを同期しているので、制御ユニット１０９ａは、前記Ｓ／Ｈパルス、Ａ／Ｄ変換用クロック等を基に、撮像信号を処理することにより、ケーブル５を伝搬する撮像信号の伝搬遅延時間の補正を適切に行うことができる。さらに、撮像信号の伝搬遅延時間を補正するための調整動作を特に行う必要が無く、また、伝搬遅延時間補正用のケーブルを新たに設ける必要が無いので、内視鏡スコープ１０７の構成の簡略化、及び、組立て、調整時間の短縮が可能となる。
【００３３】
図４は本発明に係る電子内視鏡装置の第２実施形態の構成を示したブロック図である。尚、図１で示した第１実施形態の電子内視鏡装置１と同一のものは同一の記号を付して詳細な説明を省略する。また、図７で示した従来の電子内視鏡装置１００と外観構成は同一であるため、図示及び説明は省略する。
【００３４】
第２実施形態の電子内視鏡装置は、ＣＣＤ出力信号に含まれるリセットパルスを抽出し、これを基準としてＣＤＳ用のＳ／Ｈパルス、Ａ／Ｄ変換用クロック等を発生させることにより、ＣＣＤ出力信号に含まれるリセットパルスを抽出する際に、抽出するリセットパルスのパルス幅が、ＣＣＤ出力信号の直流バイアス電圧変化の影響を受けないようにしたものであり、具体的には、比較器３３にＣＣＤ出力信号を入力し、基準信号と比較することにより、リセットパルスを抽出するが、ＣＣＤ出力信号の直流バイアス電圧が変化しても抽出されるリセットパルスのパルス幅が変化しないように、抽出されるリセットパルスをローパスフィルタ３５に通し、直流電圧に変換し、その直流電圧の積分値を基準信号として比較器３３に入力するようにしている。
【００３５】
図４に示すように、第２実施形態の電子内視鏡装置３０は、内視鏡スコープ１０７内に設けられたＣＣＤ３とケーブル５と、制御ユニット１０９ａ内に設けられたＣＣＤ駆動パルス発生部７と、リセットパルス抽出部３１と、ＣＤＳ用サンプルホールドパルス発生部（ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部）５１と、ＣＤＳ５３と、バッファ５５とを有する。
【００３６】
リセットパルス抽出部３１は、比較器３３と、ローパスフィルタ３５と、積分器３７と、基準信号設定用電圧印加部３９と、抵抗４１と、コンデンサ４３とを有し、ＣＣＤ出力信号に含まれるリセットパルスを抽出する。
【００３７】
比較器３３は、ＣＣＤ３から出力されるＣＣＤ出力信号と基準信号とを比較し、前記ＣＣＤ出力信号のうち、前記基準信号を越えた範囲をリセットパルスとして抽出する。この比較器３３は、ＣＣＤ出力信号と基準信号とを比較してリセットパルスを抽出する電圧比較器３３ａと、電圧比較器３３ａの「＋」側端子とＣＣＤ出力信号を伝搬する出力ケーブル５ｃの出力側端部との間にバッファ３３ｂを介して接続され、ＣＣＤ出力信号の直流バイアス電圧を除去するコンデンサ３３ｃとから成る。
【００３８】
ローパスフィルタ３５は、比較器３３により抽出されたリセットパルスを直流信号に変換する。このローパスフィルタ３５は、演算増幅器３５ａと、演算増幅器３５ａの入力側「−」端子と演算増幅器３５ａの出力側端子との間に並列接続されたコンデンサ３５ｂ及び抵抗３５ｃと、比較器３３の出力側と演算増幅器３５ａの入力側「−」端子との間に設けられた抵抗３５ｄとから成る。
【００３９】
積分器３７は、ローパスフィルタ３５により変換された直流信号を所定の時間積分する。この積分器３７は、演算増幅器３７ａと、演算増幅器３７ａの入力側「−」端子と演算増幅器３７ａの出力側端子との間に接続されたコンデンサ３７ｂと、ローパスフィルタ３５の出力側と演算増幅器３７ａの入力側「−」端子との間に設けられた抵抗３７ｃとから成る。また、積分器３７の入力側「＋」端子には、基準信号設定用電圧を印加する基準信号設定用電圧印加部３９が接続されている。
【００４０】
尚、ケーブル５ｃにより伝送されたＣＣＤ出力信号は、抵抗４１及びコンデンサ４３によりＡＣ終端されている。
【００４１】
ＰＬＬ回路１１は、電圧比較器３３ａにより抽出されたリセットパルスと位相を一致させたパルス信号を生成する。このＰＬＬ回路１１の入力側は、電圧比較器３３ａの出力側に接続され、ＰＬＬ回路１１の出力側は、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部５１に接続されている。
【００４２】
ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部５１は、ＰＬＬ回路１１により生成されたパルス信号を基に、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス（ＣＤＳ用サンプルホールドパルス）を生成する。
【００４３】
ＣＤＳ５３は、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部５１により生成されたパルス信号を基に、ＣＣＤ出力信号をサンプリングする。尚、ＣＤＳ５３の入力側には、ＣＤＳ５３の動作を安定させるためにバッファ５５が設けられているが、バッファ５５を設けなくてもＣＤＳ５３が安定動作する場合、バッファ５５は不要となる。
【００４４】
尚、ケーブル５は、図１に示した第１実施形態の電子内視鏡装置１のケーブル５と同一であが、図４には図１に示していないＣＣＤ出力信号伝搬用の出力ケーブル５ｃも示している。
【００４５】
次に、第２実施形態の電子内視鏡装置３０の動作を図４、図５及び図６を参照して説明する。
【００４６】
予め、リセットパルス抽出のための基準信号設定用電圧を基準信号設定用電圧印加部３９に設定しておく。この基準信号設定用電圧の設定は、例えば電圧設定つまみを回すことにより基準信号設定用電圧が基準信号設定用電圧印加部３９に設定ができるように予め構成しておく。
【００４７】
この状態で電子内視鏡装置３０の動作が開始されると、ＣＣＤ駆動パルス発生部７は、ＣＣＤ３を駆動させるためのＣＣＤ駆動パルスを発生し、ケーブル５を介してＣＣＤ３に前記ＣＣＤ駆動パルスを供給する。
【００４８】
ＣＣＤ駆動パルスが供給されると、ＣＣＤ３は、この供給されたＣＣＤ駆動パルスに対応させてＣＣＤ出力信号を出力する。この出力されたＣＣＤ出力信号は、出力ケーブル５ｃを介して比較器３３に供給される。
【００４９】
ＣＣＤ出力信号が供給されると比較器３３は、この供給されたＣＣＤ出力信号と基準信号とを比較し、前記ＣＣＤ出力信号のうち、前記基準信号を越えた範囲をリセットパルスとして抽出する。
【００５０】
比較器３３によりリセットパルスが抽出されるとローパスフィルタ３５は、この抽出されたリセットパルスを直流信号に変換する。
【００５１】
ローパスフィルタ３５によりリセットパルスが直流信号に変換されると、積分器３７は、この変換された直流信号を所定の時間積分する。この積分値は、基準信号として比較器３３に入力される。以後、これらの動作を繰り返し、所定のパルス幅のリセットパルスを抽出する。
【００５２】
リセットパルスが抽出されると、ＰＬＬ回路１１は、この抽出されたリセットパルスと位相を一致させたパルス信号を生成し、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部５１は、ＰＬＬ回路１１により生成されたパルス信号を基に、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルスを生成する。そして、ＣＤＳ５３は、ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部５１により生成されたパルス信号を基に、ＣＣＤ出力信号をサンプリングする。
【００５３】
ここで例えば、図４に示す点ｄ（電圧比較器３３ａの「−」端子側の点）では図５に示す電圧比較器の基準信号（積分器出力信号）が得られ、図４に示す点ａ（電圧比較器３３ａの「＋」端子側の点）では図５に示すＣＣＤ出力信号が得られ、図４に示す点ｂ（電圧比較器３３ａの出力側の点）では図５に示す電圧比較器出力信号が得られるように、電子内視鏡３０を構成したとする。
【００５４】
この時、ＣＣＤ出力信号のレベルが図５に示すＣＣＤ出力信号のレベルより小さくなり（暗くなり）、図４に示す点ａでは図６に示すＣＣＤ出力信号が得られるようになった場合、図４に示す点ｂでは図６に示す電圧比較器出力信号が得られるようになる。この時、図６に示す場合の電圧比較器出力信号のパルス幅は、図５に示す場合の電圧比較器出力信号のパルス幅に比べ狭くなる。その結果、図４に示す点ｃで得られるローパスフィルタ出力信号（ＬＰＦ出力信号）は、図６に示すように、図５に示す場合のローパスフィルタ出力信号に比べて小さくなる。このため、図４に示す点ｄで得られる電圧比較器の基準信号（積分器出力信号）のレベルも図６の矢印で示すように、図５に示す場合の電圧比較器の基準信号（積分器出力信号）のレベルに比べ小さくなる方向へ動き、その結果、電圧比較器３３ａにより抽出されるリセットパルスのパルス幅は広くなり、図５に示す電圧比較器出力信号と同一となって安定する。
【００５５】
また、ＣＣＤ出力信号のレベルが大きくなった場合は、上記の場合と逆の動きをし、結果として図５に示す電圧比較器出力信号と同一となって安定する。
【００５６】
これらにより、ＣＣＤ出力信号の直流バイアス電圧が変化、即ち、内視鏡スコープを変えた場合や同一スコープでＣＣＤ出力信号のレベルが大小変化する場合でも、一定のパルス幅でリセットパルスを抽出することができる。
【００５７】
このように、第２実施形態の電子内視鏡装置３０では、ＣＣＤ出力信号から抽出されるリセットパルスをローパスフィルタ３５に通し、直流電圧に変換し、その直流電圧の積分値を基準信号として電圧比較器３３に入力するようにしているので、ＣＣＤ出力信号の直流バイアス電圧が変化しても抽出されるリセットパルスのパルス幅は変化しない。したがって、抽出されたリセットパルスを基準にしてＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルスを生成するようにすれば、ＣＣＤ３から内視鏡装置本体１０５までの距離に因らず、撮像信号の伝搬遅延時間の補正を適切に行うことができる。さらに、撮像信号の伝搬遅延時間を補正するための調整動作を特に行う必要が無く、また、伝搬遅延時間補正用のケーブルを新たに設ける必要が無いので、内視鏡スコープ１０７の構成の簡略化、及び、組立て、調整時間の短縮が可能となる。
【００５８】
さらに、ＣＣＤ出力信号から、ＣＣＤ出力信号を処理する基準となるリセットパルスを抽出し、このリセットパルスに基づいてＣＣＤ出力信号の伝搬遅延時間を補正することにより、遅延時間補正の精度が良くすることができ、ひいては、ＣＤＳ（相関２重サンプリング）を最適なパルスタイミングで行えるようになり、その結果、撮像信号のＳ／Ｎ比が向上し、ノイズの少ない鮮明な内視鏡画像を提供することができる。
【００５９】
尚、第１実施形態及び第２実施形態では、固体撮像素子としてＣＣＤ３に適用した場合を例にとって説明したが、本発明はこれに限定されること無く、例えばＭＯＳ（Metal Oxide Semiconductor ）形撮像デバイスに適用することができる。
【００６０】
また、第２実施形態では、ＣＣＤ出力信号からリセットパルスを抽出しているが、撮像信号の伝搬遅延時間の補正基準となるものであればリセットパルスに限られること無く、ＣＣＤ出力信号から抽出可能な他のパルス列を適用しても良い。
【００６１】
【発明の効果】
以上説明したように請求項１記載の発明によれば、固体撮像素子の出力信号からリセットパルスを抽出し、このリセットパルスに基づいて固体撮像素子の出力信号の伝搬遅延時間を補正することにより、遅延時間補正の精度を良くすることができ、ひいては、撮像信号のＳ／Ｎを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子内視鏡装置の第１実施形態のブロック図である。
【図２】ＰＬＬ回路の構成を示すブロック図である。
【図３】図１に示す点Ａでのリセットパルスの波形（ａ）と、点Ｂでのリセットパルスの進行波及び反射波の波形（ｂ）とを示した説明図である。
【図４】本発明に係る電子内視鏡装置の第２実施形態のブロック図である。
【図５】電圧比較器の基準信号及び電圧比較器の出力信号、ＬＰＦ出力信号を示す図である。
【図６】ＣＣＤ出力信号のレベルが小さくなったときの電圧比較器の基準信号及び出力信号、ＬＰＦ出力信号を示した図である。
【図７】従来の電子内視鏡装置の外観構成を示す概観図である。
【符号の説明】
１  電子内視鏡装置
３  ＣＣＤ
５  ケーブル
５ａ  終端抵抗
５ｂ  ＣＣＤ駆動パルス電流出力強化回路
７  ＣＣＤ駆動パルス発生部
９  反射波抽出部
１１  ＰＬＬ回路
１３  クロック発生部
１５ａ，１５ｂ  コンパレータ
１７  ＡＮＤゲート
１９  位相比較器
２１  ローパスフィルタ
２３  発振器
２５  分周器
３０  電子内視鏡装置
３１  リセットパルス抽出部
３３  比較器
３５  ローパスフィルタ
３７  積分器
３９  基準信号設定用電圧印加部
４１  抵抗
４３  コンデンサ
５１  ＣＤＳ用Ｓ／Ｈパルス発生部
５３  ＣＤＳ
５５  バッファ
１０１  内視鏡スコープ
１０５ａ  制御ユニット
【図１】
0003775758.tif 000002
【図２】
0003775758.tif 000003
【図３】
0003775758.tif 000004
【図４】
0003775758.tif 000005
【図５】
0003775758.tif 000006
【図６】
0003775758.tif 000007
【図７】
0003775758.tif 000008