(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、前記テストピンを選択して前記実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具であって、
複数種類の前記テストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、
複数種類のうちの一種類の前記テストピンに対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成し、且つ前記テストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させるテストピン挿入補助板と、
一種類の前記テストピンを除く他の複数種類の前記テストピンにそれぞれ対応した補助板側ピン挿入孔と前記テストピン挿入板が担持した前記テストピンを逃がす逃げ孔とを所定の位置に形成し、且つ前記テストピン挿入板に重ねられた状態で前記光源からの前記照射光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させる複数の別のテストピン挿入補助板とを備えたことを特徴とする実装基板試験用治具。
【請求項２】
前記テストピン挿入板及び前記テストピン挿入補助板を出入れするための出入用口部と前記テストピンを挿入するためのテストピン挿入用口部とをそれぞれ有する筐体と、
前記筐体に設けられ且つ前記出入用口部から前記筐体に挿入された前記テストピン挿入板を着脱可能に保持するテストピン挿入板保持機構部と、
前記筐体に設けられ且つ前記出入用口部から前記筐体に挿入された前記テストピン挿入補助板を着脱可能に保持すると共に、前記テストピン挿入補助板を移動させて前記テストピン挿入補助板を前記テストピン挿入板に重ねるテストピン挿入補助板保持機構部とを備え、
且つ前記筐体に前記光源を収納したことを特徴とする請求項１に記載の実装基板試験用治具。
【請求項３】
テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、前記テストピンを選択して前記実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具のテストピン挿入方法であって、
複数種類の前記テストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、前記テストピンの種類に対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成した光不透過性の複数のテストピン挿入補助板とを用い、
前記テストピン挿入板に前記テストピン挿入補助板を重ねて、光源からの光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある前記挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した前記挿入板側ピン挿入孔に所定の前記テストピンを挿入するようにしたことを特微とする実装基板試験用治具のテストピン挿入方法。
【請求項４】
テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、前記テストピンを選択して前記実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具のテストピン挿入方法であって、
複数種類の前記テストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、
複数種類のうちの一種類の前記テストピンに対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成した光不透過性の最初のテストピン挿入補助板と、
一種類の前記テストピンを除く他の複数種類の前記テストピンにそれぞれ対応した補助板側ピン挿入孔と前記テストピン挿入板が担持した前記テストピンを逃がす逃げ孔とを所定の位置に形成した光不透過性の複数の別のテストピン挿入補助板と、
前記テストピン挿入補助板を照らす光源とを備え、
前記テストピン挿入板に最初の前記テストピン挿入補助板を密着させて、前記光源からの光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある前記挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した前記挿入板側ピン挿入孔に所定の前記テストピンを挿入し、
次に、最初の前記テストピン挿入補助板を移動して前記テストピン挿入板より離して次の前記テストピン挿入補助板と入替え、このテストピン挿入補助板を前記テストピン挿入板に密着させ、前記テストピン挿入板が担持した前記テストピンを前記逃げ孔に挿入し、前記光源からの光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある前記挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した前記挿入板側ピン挿入孔に所定に前記テストピンを挿入し、
次に、前記テストピン挿入補助板を移動して前記テストピン挿入板より離して別の前記テストピン挿入補助板と入替え、このテストピン挿入補助板を前記テストピン挿入板に密着させ、前記テストピン挿入板が担持した前記テストピンを前記逃げ孔に挿入し、前記光源からの光を前記補助板側ピン挿入孔を介して前記挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある前記挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した前記テストピン挿入板側ピン挿入孔に所定の前記テストピンを挿入し、
次に、前記テストピン挿入板に残った前記挿入板ピン挿入孔に所定の前記テストピンを挿入して、前記テストピン挿入板にすべての前記テストピンを挿入するようにしたことを特微とする実装基板試験用治具のテストピン挿入方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の技術分野】
本発明は、テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと多品種の実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、これらのテストピンを選択して実装基板を機能試験する、ＰＣＢ試験機で使用する実装基板試験用治具と、この実装基板試験用治具のテストピン挿入方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＣＢ試験機で使用される実装基板試験用治具としては、特開平８−３２７６９７号公報に開示された技術がある。この開示技術は自動制御のテストピン挿抜機を用いた治具であり、この治具は、数種類のテストピンから適切なテストピンを選択してテストピン挿抜機に挿入するテストピン挿入部と、テストピン挿入板を支持すると共に、テストピンの挿入位置に合わせて移動させるテストピン挿入板保持部と、それらを制御する制御用コンピュータから構成されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来の実装基板試験用治具にあっては、テストピン挿抜機や制御用コンピュータを使用しているために、非常に高価なものとなってしまう上に、テストピン挿抜機そのものが大型化し設置場所についても広い場所が必要となるし、また、移動も大変であり、故障時の修理にも多くの費用がかかるという問題点があった。
【０００４】
また、従来の実装基板試験用治具としてテストピンを固定するものがあるが、これはテストピンを固定するために、テストピンの再利用が行えず高価になる。また、テストピンを挿入した状態では実装基板試験用治具を水平に保管する必要があり、広い設置スペースを必要としていた。
【０００５】
本発明は、上記した従来の問題点を解決するためになされたものであって、その第１の目的とするところは、高価な自動制御のテストピン挿抜機を使用せず、設置に大きなスペースを必要とすることなく、テストピン挿入板へのテストピンの挿入を誤り無く容易に行うことが可能な実装基板試験用治具を提供することである。
【０００６】
また、本発明の第２の目的とするところは、テストピンのテストピン挿入板への挿入を誤り無く容易に行うことができる実装基板試験用治具のテストピン挿入方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記した第１の目的を達成するために、本発明に係る実装基板試験用治具は、テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、テストピンを選択して実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具であって、複数種類のテストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、複数種類のうちの一種類のテストピンに対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成し、且つテストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させるテストピン挿入補助板と、一種類のテストピンを除く他の複数種類のテストピンにそれぞれ対応した補助板側ピン挿入孔とテストピン挿入板が担持したテストピンを逃がす逃げ孔とを所定の位置に形成し、且つテストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させる複数の別のテストピン挿入補助板とを備えたものである。
【０００８】
かかる構成により、複数種類のテストピンをテストピン挿入板に装着（挿入）する際に、テストピン挿入補助板は、テストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させ、また、複数の別のテストピン挿入補助板は、それぞれにテストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させるために、これら判明したテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔にテストピンを挿入することでテストピンの挿入誤りを無くすことができる。
【０００９】
また、判明したテストピン挿入位置、すなわち指示されたテストピン挿入位置に同じテストピンを挿入すればよいので、人手での挿入速度が速くなり、自動挿入では無く手挿入の構造のためコンピュータを必要とせず、複雑な機構や装置を必要としないために、安価で小型に作成することが可能になり、設置に大きなスペースが不要になる。
【００１０】
また、本発明に係る実装基板試験用治具は、上記した本発明に係る実装基板試験用治具において、テストピン挿入板及びテストピン挿入補助板を出入れするための出入用口部とテストピンを挿入するためのテストピン挿入用口部とをそれぞれ有する筐体と、筐体に設けられ且つ出入用口部から筐体に挿入されたテストピン挿入板を着脱可能に保持するテストピン挿入板保持機構部と、筐体に設けられ且つ出入用口部から筐体に挿入されたテストピン挿入補助板を着脱可能に保持すると共に、テストピン挿入補助板を移動させてテストピン挿入補助板をテストピン挿入板に重ねるテストピン挿入補助板保持機構部とを備え、且つ筐体に光源を収納したものである。
【００１１】
かかる構成により、テストピン挿入板をテストピン挿入板保持機構部で着脱可能に保持し、テストピン挿入補助板をテストピン挿入補助板保持機構部で着脱可能に保持して、このテストピン挿入補助板保持機構部を作動して、テストピン挿入補助板を移動してテストピン挿入板に重ね、光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させることができる。
【００１２】
また、上記した第２の目的を達成するために、本発明に係る実装基板試験用治具のテストピン挿入方法は、テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、テストピンを選択して実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具のテストピン挿入方法であって、複数種類のテストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、テストピンの種類に対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成した光不透過性の複数のテストピン挿入補助板とを用い、テストピン挿入板にテストピン挿入補助板を重ねて、光源からの光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した挿入板側ピン挿入孔に所定のテストピンを挿入するようにしたものである。
【００１３】
したがって、複数種類のテストピンをテストピン挿入板に装着（挿入）する際に、テストピン挿入補助板は、テストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させために、これら判明したテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔にテストピンを挿入することで、テストピンの挿入誤りが無く、且つその挿入を簡単に行うことができる。
【００１４】
また、上記した第２の目的を達成するために、本発明に係る実装基板試験用治具のテストピン挿入方法は、テスタとの電気的接続を担うインターフェースボードと実装基板の部品端子とを接続する複数種類のテストピンを有し、テストピンを選択して実装基板の機能試験を行う実装基板試験用治具のテストピン挿入方法であって、複数種類のテストピンのそれぞれに対応した挿入板側ピン挿入孔を所定の位置に形成したテストピン挿入板と、複数種類のうちの一種類のテストピンに対応した補助板側ピン挿入孔を所定の位置に形成した光不透過性の最初のテストピン挿入補助板と、一種類のテストピンを除く他の複数種類のテストピンにそれぞれ対応した補助板側ピン挿入孔とテストピン挿入板が担持したテストピンを逃がす逃げ孔とを所定の位置に形成した光不透過性の複数の別のテストピン挿入補助板と、テストピン挿入補助板を照らす光源とを備え、テストピン挿入板に最初のテストピン挿入補助板を密着させて、光源からの光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した挿入板側ピン挿入孔に所定のテストピンを挿入し、次に、最初のテストピン挿入補助板を移動してテストピン挿入板より離して次のテストピン挿入補助板と入替え、このテストピン挿入補助板をテストピン挿入板に密着させ、テストピン挿入板が担持したテストピンを逃げ孔に挿入し、光源からの光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明した挿入板側ピン挿入孔に所定にテストピンを挿入し、次に、テストピン挿入補助板を移動してテストピン挿入板より離して別のテストピン挿入補助板と入替え、このテストピン挿入補助板をテストピン挿入板に密着させ、テストピン挿入板が担持したテストピンを逃げ孔に挿入し、光源からの光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔を判明させ、これらの判明したテストピン挿入板側ピン挿入孔に所定のテストピンを挿入し、次に、テストピン挿入板に残った挿入板ピン挿入孔に所定のテストピンを挿入して、テストピン挿入板にすべてのテストピンを挿入するようにしたものである。
【００１５】
したがって、複数種類のテストピンをテストピン挿入板に装着（挿入）する際に、テストピン挿入補助板は、テストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させ、また、複数の別のテストピン挿入補助板は、それぞれにテストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させ、更に、テストピン挿入板に空いている挿入板側ピン挿入孔はテストピン挿入位置を判明させるために、これら判明したテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔にテストピンを挿入することでテストピンを挿入誤り無く簡単にテストピンを挿入することができる。
【００１６】
なお、テストピン挿入補助板とテストピン挿入板の間に隙間があると光の拡散を招くために、両方は殆ど隙間がない状態で密着させることが好ましい。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１は本発明に係る実装基板試験用治具の一部破断した斜視図、図２は同実装基板試験用治具の正面図である。
【００１９】
実装基板試験用治具Ａは筐体であるユニット枠体１１を備えており、このユニット枠体１１は箱形状をしており、その前面部は、テストピン挿入板１及びテストピン挿入補助板２を出し入れするための出入用口部１１Ｆであり、上面部は、テストピン４を挿入するための挿入用口部１１Ｇとして開放してある。そして、ユニット枠体１１には、その底面部に、この底面部とほぼ同じ大きさの光源３が配置してある。なお、出入用口部１１Ｆには開閉自在な扉（図示せず）が設けられており，テストピン挿入時にはこの扉を閉じて、光源３からの光の漏れを防止する構成としている。
【００２０】
また、ユニット枠体１１には、筐体１１内でテストピン挿入板１を保持するテストピン挿入板保持機構部６と、筐体１１内でテストピン挿入補助板２を保持するテストピン挿入補助板保持機構部９とが設けてある。
【００２１】
テストピン挿入板保持機構部６は、図１及び図２に示すように、ユニット枠体１１の出入用口部１１Ｆの両側（左、右側）に配置した、すなわち、ユニット枠体１１の左、右側面部１１Ｌ、１１Ｒの内側に固設した上下一対のガイドレール６Ｌ、７Ｌ、６Ｒ、７Ｒを備えており、それぞれのガイドレール６Ｌ、７Ｌ、６Ｒ、７Ｒ間は保持用溝部８Ｌ、８Ｒにしてある。そして、左右の保持用溝部８Ｌ、８Ｒの奥にはストッパ−７ｂが配置してある。また、ガイドレール６Ｌ、７Ｌ、６Ｒ、７Ｒには、そのほぼ中央部に位置させてピン貫通孔６ａ、７ａが設けてある。
【００２２】
また、ガイドレール７Ｌ、７Ｒには切欠部７ｃがあり、後述するテストピン挿入補助板２の突出部２ｋが噛み合う構造にしてある。なお、ガイドレール７Ｌ、７Ｒとテストピン挿入補助板２の厚みは同じにしてある。
【００２３】
また、テストピン挿入補助板保持機構部９は左右のガイドレール９Ｌ、９Ｒを備えており、これらのガイドレール９Ｌ、９Ｒは、図示しない昇降シリンダなどの昇降機により同時に昇降が可能にしてある。そして、左右のガイドレール９Ｌ、９Ｒの奥にはストッパ−９ａが配置してある。また、ガイドレール９Ｌ、９Ｒには、そのほぼ中央部に位置させてピン貫通孔（図示せず）が設けてある。
【００２４】
テストピン挿入板１は、図５に示すように長方形状の板本体１Ａを備えており、この板本体１Ａの左右にはガイド孔１ｆが設けてあり、板本体１Ａの面部には、実装基板の部品端子（いずれも図示せず）とインターフェースボード（図示せず）を接続する後述するテストピン（コンタクトピン）４を挿入するための第１〜第４の挿入板側ピン挿入孔１ｂ、１ｃ、１ｄ、１ｅがそれぞれ▲１▼、▲２▼、▲３▼、▲４▼に示すテストピン挿入位置に形成してある。
【００２５】
すなわち、テストピン４は、図６に示すように、第１のテストピン４Ａ、第２のテストピン４Ｂ、第３のテストピン４Ｃおよび第４のテストピン４Ｄの４種類があり、第１のテストピン４Ａを挿入するための挿入板側ピン挿入孔１ｂがテストピン挿入位置▲１▼に形成してあり、第２のテストピン４Ｂを挿入するための挿入板側ピン挿入孔１ｃがテストピン挿入位置▲２▼に形成してあり、第３のテストピン４Ｃを挿入するための挿入板側ピン挿入孔１ｃがテストピン挿入位置▲３▼に形成してあり、第４のテストピン４Ｄを挿入するための挿入板側ピン挿入孔１ｄがテストピン挿入位置▲４▼に形成してある。
【００２６】
テストピン挿入補助板２は、図７に示す最初のテストピン挿入補助板である第１のテストピン挿入補助板２Ａと、図８に示す他のテストピン挿入補助板である第２のテストピン挿入補助板２Ｂと、図９に示す他の別のテストピン挿入補助板である第３のテストピン挿入補助板２Ｃとの３種類がある。第１、第２、第３のテストピン挿入補助板２Ａ、２Ｂ、２Ｃはそれぞれ光を通さない材料（光不透過性材料）で製作されていて、形状はそれぞれに同じである。
【００２７】
すなわち、図７に示すように、第１のテストピン挿入補助板２Ａは長方形状の板本体２Ａ−１を備えており、この板本体２Ａ−１の左、右辺縁部の前、後端部には切欠部２ｊが形成してあって、これらの切欠部２ｊの形成により板本体２Ａ−１の左、右辺縁部は長方形状の突出部２ｋになっている。そして、左右の突出部２ｋにはガイド孔２ｆが設けてある。
【００２８】
そして、板本体２Ａ−１の面部には、第１のテストピン４Ａを挿入するための第１の補助板側ピン挿入孔２ｂが▲１▼に示すテストピン挿入位置に形成してある。
【００２９】
また、図８に示すように、第２のテストピン挿入補助板２Ｂは長方形状の板本体２Ｂ−１を備えており、この板本体２Ｂ−１の左、右辺縁部の前、後端部には切欠部２ｊが形成してあって、これらの切欠部２ｊの形成により板本体２Ｂ−１の左、右辺縁部は長方形状の突出部２ｋになっている。そして、左右の突出部２ｋにはガイド孔２ｆが設けてある。
【００３０】
そして、板本体２Ｂ−１の面部には、第１のテストピン４Ａを挿入するための第１の逃げ孔２ｂ−１が▲１▼に示すテストピン挿入位置に、また、第２のテストピン４Ｂを挿入するための第２の補助板側ピン挿入孔２ｃが▲２▼に示すテストピン挿入位置にそれぞれ形成してある。
【００３１】
また、図９に示すように、第３のテストピン挿入補助板２Ｃは長方形状の板本体２Ｃ−１を備えており、この板本体２Ｃ−１の左、右辺縁部の前、後端部には切欠部２ｊが形成してあって、これらの切欠部２ｊの形成により板本体２Ｃ−１の左、右辺縁部は長方形状の突出部２ｋになっている。そして、左右の突出部２ｋにはガイド孔２ｆが設けてある。
【００３２】
そして、板本体２Ｃ−１の面部には、第１のテストピン４Ａを挿入するための第１の逃げ孔２ｂ−１が▲１▼に示すテストピン挿入位置に、また、第２のテストピン４Ｂを挿入するための第２の逃げ孔２ｃ−１が▲１▼に示すテストピン挿入位置に、更に、第３のテストピン４Ｃを挿入するための第３の補助板側ピン挿入孔２ｄが▲３▼に示すテストピン挿入位置にそれぞれ形成してある。
【００３３】
第１のテストピン挿入補助板２Ａ、第２のテストピン挿入補助板２Ｂ、第３のテストピン挿入補助板２ＣはＣＡＤデータを用いて作成する。すなわち、図１０のＰＣＢ設計フロ−チャートに示すように、ＣＡＤデータは、ステップＳ１で回路図入力により接続データと部品データが作成される。そして、ステップＳ２でＰＣＢ設計にて実装部品の実装位置、実装部品の孔位置、実装部品のコンタクトピンの形状、スルーホール位置、テストパッドの形状と位置データを確定させる。そして、ステップＳ３のテスト設計が行われ、ステップＳ４でテスト治具としての実装基板試験用治具Ａが作成される。
【００３４】
ステップＳ３のテスト設計は、図１１に示すテスト設計フロ−チャートの手順で行われる。すなわち、テスト設計において、ステップＵ１でテストポイントとして使用可能な位置の選択を行い、ステップＵ２でテストポイントのＣＡＤデータを抽出する。
【００３５】
そして、ステップＵ３でＣＡＤデータからテストポイント端子情報（データ）の出力を行い、ステップＵ４でテストポイントに使用するテストピンの形状を決定する。
【００３６】
ステップＵ５でテストポイントとテストピン形状のデータにより、テストピン単位の座標データの出力が可能となる。次に、ステップＵ６でテストピン単位の座標データを出力し、ステップＵ７でテストピン挿入補助板単位のＮＣデータを出力して、これらのデータを組み合わせることにより、第１〜第３のテストピン挿入補助板２Ａ〜２Ｃの孔明けデータを作成して、この孔明けデータを元に第１〜第３の補助板側ピン挿入孔２ｂ〜２ｄ、第１、第２の逃げ孔２ｂ−１、２ｃ−１を所定位置に形成する。
【００３７】
上記した第１のテストピン４Ａ、第２のテストピン４Ｂ、第３のテストピン４Ｃおよび第４のテストピン４Ｄは、図６の（１）〜（４）に示すように、それぞれに上、下側コンタクト部４ａ−１、４ａ−２，４ｂ−１、４ｂ−２，４ｃ−１、４ｃ−２，４ｄ−１、４ｄ−２と鍔部４ａ−３、４ｂ−３、４ｃ−３、４ｄ−３とを有している。
【００３８】
次に、上記のように構成された実装基板試験用治具Ａのテストピン挿入方法を説明する。
【００３９】
実装基板試験用治具Ａにおいて、テストピン挿入板１は、ユニット枠体１１の前面の出入用口部１１Ｆからテストピン挿入板保持機構部６を構成するガイドレール６Ｌ、７Ｌ、６Ｒ、７Ｒ間の保持用溝部８Ｌ、８Ｒに挿入されて、テストピン挿入板１はストッパ−７ｂに接触して位置決めされる。
【００４０】
また、第１のテストピン挿入補助板２Ａは、出入用口部１１Ｆからテストピン挿入補助板保持機構部９の左右のガイドレール９Ｌ、９Ｒ上に挿入されて、第１のテストピン挿入補助板２Ａの切欠部２ｊがストッパ−９ａに接触して位置決めされる。
【００４１】
そして、ガイドレール６Ｌ、６Ｒのピン貫通孔６ａ、テストピン挿入板１のガイド孔１ｆ、ガイドレール７Ｌ、７Ｒのピン貫通孔７ａ、テストピン挿入補助板２のピン貫通孔２ｆ及びガイドレール９Ｌ、９Ｒのピン貫通孔に貫通ピン５を貫通させて、テストピン挿入板１とテストピン挿入補助板２との位置がずれないようにする。
【００４２】
次に、図３、図４に示すように、昇降機を作動させてガイドレール９Ｌ、９Ｒを介して第１のテストピン挿入補助板２Ａを上昇させてテストピン挿入板１に密着させる。この密着状態では、テストピン挿入補助板２Ａに設けた第１の補助板側ピン挿入孔２ｂ（▲１▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）がテストピン挿入板１に設けた第１の挿入板側ピン挿入孔１ｂ（▲１▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）に重なり合う。テストピン挿入板１に設けた第２、第３、第４の挿入板側ピン挿入孔１ｃ、１ｄ、１ｅは第１のテストピン挿入補助板２Ａにより塞がれる。
【００４３】
この状態で光源３からの光を第１のテストピン挿入補助板２Ａに下から当てることにより、光は第１の挿入板側ピン挿入孔２ｂを介して第１の挿入板側ピン挿入孔１ｂからのみ漏れることになり、テストピン挿入位置▲１▼が判明する。
【００４４】
このようにして判明したテストピン挿入位置▲１▼の第１の挿入板側ピン挿入孔１ｂに第１のテストピン４Ａを手作業で全て挿入する。第１のテストピン４Ａは鍔部４ａ−３がストッパーに役目をして、テストピン挿入板１上に保持され、その下側コンタクト部４ａ−２が第１のテストピン補助板側ピン挿入孔２ｂを貫通するようになる。
【００４５】
このようにして、全ての第１のテストピン４Ａの挿入を終えたら、第１のテストピン挿入補助板２Ａを第１のテストピン４Ａの下側コンタクト部４ａ−２の下端部より低い位置までガイドレール９Ｌ、９Ｒと一緒に下降し、第１のテストピン挿入補助板２Ａを筐体１１の内部より引き出して、第２のテストピン挿入補助板２Ｂと入れ替える。
【００４６】
この入れ替えはガイドレール９Ｌ、９Ｒに沿って行い、第２のテストピン挿入補助板２Ｂはストッパ−９ａにより位置決めがされ、更に、貫通ピン５により位置補正される。
【００４７】
次に、第２のテストピン挿入補助板２Ｂを第１のテストピン挿入補助板２Ａの場合と同じ手順でテストピン挿入板１に密着させる。この密着状態では、既にテストピン挿入板１が担持した第１のテストピン４Ａの下側コンタクト部４ａ−２が、第２のテストピン挿入補助板２Ｂに設けた第１の逃げ孔２ｂ−１に挿入されると共に、第２の補助板側ピン挿入孔２ｃ（▲２▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）がテストピン挿入板１に設けた第２の挿入板側ピン挿入孔１ｃ（▲２▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）に重なり合う。そして、テストピン挿入板１に設けた第３、第４の挿入板側ピン挿入孔１ｄ、１ｅは第２のテストピン挿入補助板２Ｂにより塞がれる。
【００４８】
この状態で光源３からの光を第２のテストピン挿入補助板２Ｂに下から当てることにより、光は第２の挿入板側ピン挿入孔２ｃを介して第２の挿入板側ピン挿入孔１ｃからのみ漏れることになり、テストピン挿入位置▲２▼が判明する。
【００４９】
このようにして判明したテストピン挿入位置▲２▼の第２の挿入板側ピン挿入孔１ｃに第２のテストピン４Ｂを手作業で全て挿入する。第２のテストピン４Ｂは鍔部４ｂ−３がストッパーに役目をして、テストピン挿入板１上に保持され、その下側コンタクト部４ｂ−２が第２の挿入板側ピン挿入孔２ｃを貫通するようになる。
【００５０】
このようにして、全ての第２のテストピン４Ｂの挿入を終えたら、第２のテストピン挿入補助板２Ｂを第２のテストピン４Ｂの下側コンタクト部４ｂ−２の下端部より低い位置までガイドレール９Ｌ、９Ｒと一緒に下降し、第２のテストピン挿入補助板２Ｂを筐体１１の内部より引き出して、第３のテストピン挿入補助板２Ｃと入れ替える。
【００５１】
この入れ替えはガイドレール９Ｌ、９Ｒに沿って行い、第３のテストピン挿入補助板２Ｃはストッパ−９ａにより位置決めがされ、更に、貫通ピン５により位置補正される。
【００５２】
次に、第３のテストピン挿入補助板２Ｃを第１のテストピン挿入補助板２Ａの場合と同じ手順でテストピン挿入板１に密着させる。この密着状態では、既にテストピン挿入板１が担持した第１、第２のテストピン４Ａ、４Ｂの下側コンタクト部４ａ−２、４ｂ−２が、第２のテストピン挿入補助板２Ｃに設けた第１、第２の逃げ孔２ｂ−１、２ｃ−１に挿入されると共に、第３の補助板側ピン挿入孔２ｄ（▲３▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）がテストピン挿入板１に設けた第３の挿入板側ピン挿入孔１ｄ（▲３▼に示すテストピン挿入位置に形成してある）に重なり合う。そして、テストピン挿入板１に設けた第４の挿入板側ピン挿入孔１ｅは第３のテストピン挿入補助板２Ｃにより塞がれる。
【００５３】
この状態で光源３からの光を第３のテストピン挿入補助板２Ｃに下から当てることにより、光は第３の挿入板側ピン挿入孔２ｄを介して第３の挿入板側ピン挿入孔１ｄからのみ漏れることになり、テストピン挿入位置▲３▼が判明する。
【００５４】
このようにして判明したテストピン挿入位置▲３▼の第３の挿入板側ピン挿入孔１ｄに第３のテストピン４Ｃを手作業で全て挿入する。第３のテストピン４Ｃは鍔部４ｃ−３がストッパーに役目をして、テストピン挿入板１上に保持され、その下側コンタクト部４ｃ−２が第３の挿入板側ピン挿入孔２ｄを貫通するようになる。
【００５５】
このようにして、全ての第３のテストピン４Ｃの挿入を終えた時点で、第３のテストピン挿入補助板２Ｃを第３のテストピン４Ｃの下側コンタクト部４ｃ−２の下端部より低い位置までガイドレール９Ｌ、９Ｒと一緒に下降し、第３のテストピン挿入補助板２Ｃを筐体１１の内部より引き出す。
【００５６】
テストピン挿入板１に空いている挿入板側ピン挿入孔は、テストピン挿入位置▲４▼に示される第４の挿入板側ピン挿入孔１ｅのみであるために、この残った第４の挿入板側ピン挿入孔１ｅに第４のテストピン４Ｄを挿入する。
【００５７】
このようにしてテストピン挿入位置▲４▼の第４の挿入板側ピン挿入孔１ｅに第４のテストピン４Ｄを手作業で全て挿入する。第４のテストピン４Ｄは鍔部４ｄ−３がストッパーに役目をして、テストピン挿入板１上に保持される。
【００５８】
上記のようにして第１〜第４のテストピン４Ａ〜４Ｄを挿入し終えた実装基板試験用治具Ａには、まず、インターフェースボードをセットし、その上に反り防止板（図示せず）を設置し、トッププレート（図示せず）、実装基板の順にセッティングし組み立てが完了となり、実装基板の機能試験が開始される。
【００５９】
上記した本発明に係る実装基板試験用治具の実施の形態によれば、第１〜第４のテストピン４Ａ〜４Ｄをテストピン挿入板１に装着（挿入）する際に、第１のテストピン挿入補助板２Ａは、テストピン挿入板１に下から密着させられた状態で光源３からの照射光を第１の補助板側ピン挿入孔２ｂを介して第１の挿入板側ピン挿入孔１ｂに到達させてテストピン挿入位置▲１▼を判明させ、また、第２、第３のテストピン挿入補助板２Ｂ、２Ｃは、それぞれにテストピン挿入板１に下から密着させられた状態で光源３からの照射光を第２、第３補助板側ピン挿入孔２ｃ、２ｄを介して第２、第３の挿入板側ピン挿入孔１ｃ、１ｄに到達させてテストピン挿入位置▲２▼、▲３▼を判明させ、更に、テストピン挿入板１に空いている挿入板側ピン挿入孔は、テストピン挿入位置▲４▼に示される第４の挿入板側ピン挿入孔１ｅのみとなってテストピン挿入位置▲４▼を判明させるために、これら判明したテストピン挿入位置▲１▼、▲２▼、▲３▼、▲４▼にある第１〜第４の挿入板側ピン挿入孔１ｂ〜１ｅに第１〜第４のテストピン４Ａ〜４Ｄを挿入することでテストピンの挿入誤りを無くすことができる。
【００６０】
また、判明したテストピン挿入位置▲１▼、▲２▼、▲３▼、▲４▼、すなわち指示されたテストピン挿入位置に同じテストピンを挿入すればよいので、人手での挿入速度が速くなり、自動挿入では無く手挿入の構造のためコンピュータを必要とせず、複雑な機構や装置が必要としないために、安価で小型に作成することができる。
【００６１】
また、上記した本発明に係る実装基板試験用治具のテストピン挿入方怯の実施の形態によれば、判明したテストピン挿入位置▲１▼、▲２▼、▲３▼、▲４▼にある第１〜第４の挿入板側ピン挿入孔１ｂ〜１ｅに第１〜第４のテストピン４Ａ〜４Ｄを挿入することで挿入誤り無く簡単に第１〜第４のテストピン４Ａ〜４Ｄをテストピン挿入板１に挿入することができる。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る実装基板試験用治具によれば、複数種類のテストピンをテストピン挿入板に装着（挿入）する際に、テストピン挿入補助板は、テストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させ、また、複数の別のテストピン挿入補助板は、それぞれにテストピン挿入板に重ねられた状態で光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させるために、これら判明したテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔にテストピンを挿入することでテストピンの挿入誤りを無くすことができる。
【００６３】
また、判明したテストピン挿入位置、すなわち指示されたテストピン挿入位置に同じテストピンを挿入すればよいので、人手での挿入速度が速くなり、自動挿入では無く手挿入の構造のためコンピュータを必要とせず、複雑な機構や装置が必要としないために、安価で小型に作成することが可能になる。
【００６４】
また、本発明に係る実装基板試験用治具によれば、テストピン挿入板をテストピン挿入板保持機構部で着脱可能に保持し、テストピン挿入補助板をテストピン挿入補助板保持機構部で着脱可能に保持して、このテストピン挿入補助板保持機構部を作動して、テストピン挿入補助板を移動してテストピン挿入板に重ね、光源からの照射光を補助板側ピン挿入孔を介して挿入板側ピン挿入孔に到達させてテストピン挿入位置を判明させることができる。
【００６５】
また、本発明に係る実装基板試験用治具のテストピン挿入方怯によれば、判明したテストピン挿入位置にある挿入板側ピン挿入孔にテストピンを挿入することで挿入誤り無く、簡単にテストピンをテストピン挿入板に挿入することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る実装基板試験用治具の一部破断した斜視図である。
【図２】同実装基板試験用治具の正面図である。
【図３】同実装基板試験用治具の作動状態を示す一部破断した斜視図である。
【図４】同実装基板試験用治具の作動状態を示す正面図である。
【図５】同実装基板試験用治具におけるテストピン挿入板の平面図である。
【図６】（１）乃至（４）は第１〜第４のテストピンの正面図である。
【図７】同実装基板試験用治具における第１のテストピン挿入補助板の平面図である。
【図８】同実装基板試験用治具における第２のテストピン挿入補助板の平面図である。
【図９】同実装基板試験用治具における第３のテストピン挿入補助板の平面図である。
【図１０】テスト治具作成時の設計フローチャートである。
【図１１】テスト設計フローチャートである。
【符号の説明】
Ａ      実装基板試験用治具
１      テストピン挿入板
１ｂ    第１の挿入板側ピン挿入孔
１ｃ    第２の挿入板側ピン挿入孔
１ｄ    第３の挿入板側ピン挿入孔
１ｅ    第４の挿入板側ピン挿入孔
２      テストピン挿入補助板
２Ａ    第１のテストピン挿入補助板（最初のテストピン挿入補助板）
２Ｂ    第２のテストピン挿入補助板（他のテストピン挿入補助板）
２Ｃ    第３のテストピン挿入補助板（他の別のテストピン挿入補助板）
２ｂ    第１の補助板側ピン挿入孔
２ｂ−１  第１の逃げ孔
２ｃ    第２の補助板側ピン挿入孔
２ｃ−１  第２の逃げ孔
２ｄ    第３の補助板側ピン挿入孔
３      光源
４      テストピン
４Ａ    第１のテストピン
４Ｂ    第２のテストピン
４Ｃ    第３のテストピン
４Ｄ    第４のテストピン
５      貫通ピン
６      テストピン挿入板保持機構部
６Ｌ    ガイドレール
６Ｒ    ガイドレール
７Ｌ    ガイドレール
７Ｒ    ガイドレール
８Ｌ    保持用溝部
８Ｒ    保持用溝部
９      テストピン挿入補助板保持機構部
１１    ユニット枠体（筐体）
１１Ｆ  出入用口部
１１Ｇ  テストピン挿入用口部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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