(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に記録された情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワーを決定するテスト記録方法おいて、
前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録するステップと、
前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、複数の異なる消去パワーで消去するステップと、
前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検出するステップと、
前記複数の異なる消去パワーに対する前記再生信号の振幅変化に基づいて、最適な消去パワーを設定するステップとを備えることを特徴とするテスト記録方法。
【請求項２】
前記消去パワーは、前記再生信号の振幅が低下し始める直前のパワーに設定されることを特徴とする請求項１に記載のテスト記録方法。
【請求項３】
前記消去パワーは、前記消去パワーの増加に伴って変化する再生信号の振幅の変化率が所定値以上の領域で少なくとも２点の再生信号振幅を結んだ直線と、再生信号の振幅の最大値の直線との交点におけるパワーに設定されることを特徴とする請求項１に記載のテスト記録方法。
【請求項４】
記録媒体に記録された情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワーを決定するテスト記録を実行する光学的情報記録再生装置おいて、
前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録する手段と、
前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、複数の異なる消去パワーで消去する手段と、
前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検出する手段と、
前記複数の異なる消去パワーに対する前記再生信号と振幅変化に基づいて、最適な消去パワーを設定する手段とを備えることを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体に対し光源の最適パワーを決定するテスト記録方法及びそれを用いた光学的情報記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクの記録密度を向上する技術として、単一チャネル周波数のＣＡＶ方式から複数のチャネル周波数を持ったＣＡＶ（ＺＣＡＶ）方式に、マークポジション記録からマークエッジ記録へと移行してきている。また、レーザの短波長化や高能率符号化なども高密度化のための技術として研究がなされている。特に、最近においては、ディスク上にランドとグルーブを等間隔で形成し、その両方に記録を行い、隣接トラックからのクロストークはランドとグルーブのそれぞれに対する光路差によって生じる干渉を利用して抑圧するというランド・グルーブ記録が注目されている。ランド・グルーブ記録に関しては、例えば特開昭６３−５７８５９号公報、特開平５−２８２８０５号公報、特開平２−１７７０２７号公報などに開示されている。
【０００３】
一方、ディスクとドライブ装置の互換性をとり、情報を良好に記録するために種々のテスト記録方法も提案され、実用化に至っている。このようなテスト記録は、情報の記録前に、記録パワーを変化させながらディスクに試し記録を行い、その再生信号を評価して記録に最適な記録パワーを決定するというものである。最適パワーを決定する方法としては、例えばエラーレートが最小になる記録パワーを検出する方法、再生信号振幅が最大になる記録パワーを検出する方法、あるいは再生信号のアシンメトリーが０となる記録パワーを検出する方法などが知られている。また、記録を行ったトラックの隣接トラックのクロストーク量を検出し、検出されたクロストーク量が所定値以下になるように最適パワーを決定する方法も提案されている（特開平７−２２０２８０号公報）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来は最適な記録パワーの設定は行っていたが、最適な消去パワーの設定については、何等考慮されていなかった。因に、消去パワーの設定が不適切であると、隣接トラックの情報の破壊を引き起し、再生信号の劣化、データの損失を招いてしまうという問題があった。
【０００５】
そこで、本発明は、上記従来の事情に鑑み、ランド・グルーブ記録に適したテスト記録方法及びそれを用いた光学的情報記録再生装置を提供することを目的としたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は、記録媒体に記録された情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワーを決定するテスト記録方法おいて、前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録するステップと、前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、複数の異なる消去パワーで消去するステップと、前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検出するステップと、前記複数の異なる消去パワーに対する前記再生信号の振幅変化に基づいて、最適な消去パワーを設定するステップとを備えることにより達成される。
【０００７】
また、本発明の目的は、記録媒体に記録された情報を消去するにあたり、光源の光出力の最適パワーを決定するテスト記録を実行する光学的情報記録再生装置おいて、前記媒体の所定トラックに所定の信号を記録する手段と、前記信号が記録されたトラックに隣接するトラックを、複数の異なる消去パワーで消去する手段と、前記信号が記録されたトラックを再生して再生信号を検出する手段と、前記複数の異なる消去パワーに対する前記再生信号と振幅変化に基づいて、最適な消去パワーを設定する手段とを備えることにより達成される。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の光学的情報記録再生装置の一実施形態を示したブロック図である。図１において、１は情報記録媒体であるところの光ディスクであり、ランドとグルーブが等間隔に形成されたランド・グルーブ記録用のディスクである。光ディスク１はスピンドルモータ２の駆動によって所定の速度で回転する。光ディスク１の下部には、光ビームを照射してディスク１のランドとグルーブに情報を記録、再生する光学ユニット３が設けられている。光学ユニット３は光源の半導体レーザ、そのレーザビームを微小光スポットに絞り込む対物レンズ、ディスク１からの反射光を受光する光センサなど種々の光学素子から構成されている。光学ユニット３は光学ユニット駆動系４の駆動によりディスク１の半径方向に移動でき、ディスク１の所望のトラックにアクセスできるように構成されている。
【０００９】
レーザドライバー５はコントローラ１０の制御に基づいて光学ユニット３内の半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路である。情報の記録時は、レーザドライバー５は、半導体レーザの光出力を変調し、それをディスク１に照射することで情報の記録を行う。また、情報の再生時は、半導体レーザの光出力を一定の低いパワーに制御する。プリアンプ６は光学ユニット３の光センサの出力信号を電流−電圧変換して再生信号を出力するためのアンプである。光ディスク１のトラックは複数のセクタに分割され、各々のセクタはプリフォーマットされたＩＤ部とデータの記録を行うＭＯ部からなっているが、いずれも再生用ビームの反射光を受光する光学ユニット３内の光センサの出力信号をもとに再生される。光学ユニット３内の光センサで受光された反射光はプリアンプ６で電流−電圧変換され、再生信号としてデータ再生回路９に出力される。
【００１０】
データ再生回路９は再生信号を用いて所定の信号処理を行い、ディスク１上のデータをコントローラ１０が識別できる形に変換し、再生データを生成するための回路である。コントローラ１０は、そのうちＩＤ部の再生データから光学ユニット３の光スポットの位置情報を得て、レーザスポットがディスク１のどの位置を走査しているのかを認識することができる。また、コントローラ１０は得られた位置情報をもとに光学ユニット駆動系４を制御し、光学ユニット３をディスク１の目的の位置にアクセスする制御を行う。
【００１１】
レベル検出回路７は再生信号の振幅レベルを検出する回路であり、検出された振幅レベルはＡ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれる。レベル検出回路７はテスト記録時に用いられ、詳しく後述するように再生信号の振幅レベルをもとに半導体レーザの最適記録パワーが決められる。コントローラ１０は本実施形態の光学的情報記録再生装置の主制御回路であり、レーザドライバー５や光学ユニット駆動系４など各部を制御してディスク１に情報を記録したり、記録情報を再生する。また、コントローラ１０は詳しく後述するように各部を制御してディスク１にテスト記録を行い、最適記録パワー、最適消去パワーなどを決定する。
【００１２】
図２は図１の装置に使用されるテスト記録方法の第１の実施形態を示したフローチャートである。このテスト記録は、例えばディスク１が装置にセットされたときに行うものとする。なお、第１の実施形態では、光ディスク１は光磁気ディスク、記録方式は光変調方式、記録形態はマークポジション記録であるものとする。図２において、まず、ディスク１が装置にセットされると、コントローラ１０はディスク１のテスト記録領域のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１トラックを消去する（Ｓ１）。図３にこのテスト記録領域を示している。本実施形態では、図３のテスト記録領域のうちＮトラック（グルーブ）及びＮ＋１トラック（ランド）を用いるのであるが、Ｎ−１トラックからのクロストークの影響を除去するため、Ｎ−１トラックも消去する。
【００１３】
また、図３のテスト記録領域のトラックのうちＮ＋２トラックは直接テスト記録に使用しないが、テスト記録時に他の領域のデータが破壊される恐れがあるので、Ｎ＋１トラックの隣接トラックであるＮ＋２トラックを緩衝領域として確保している。Ｓ１の消去を行うには、図１のバイアスマグネット（図示せず）を駆動し、バイアスマグネットからディスク１に消去方向の磁界を印加する。この磁界を印加しながら光学ユニット３から記録パワーに準じる所定消去パワーの光ビームを照射し、ディスク１のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１トラックにトレースする。このときの消去パワーとしては、隣接トラックに対するクロスライトは問題にならないので、テスト記録領域のトラックを確実に消去できるように高めのパワーに設定するのが望ましい。
【００１４】
消去を終了すると、コントローラ１０は図３のテスト記録領域にテスト記録を開始する。具体的に説明すると、まず、コントローラ１０は記録パワーＰW の初期値をＰ0 に設定し、記録パワー及び記録するセクタを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ２）。次いで、コントローラ１０はＮ＋１トラックのＭ＋２・ｋセクタにＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰの記録パワーで所定の信号パターンを記録する（Ｓ３）。この場合、ｋ＝０であるので、Ｎ＋１トラックのＭセクタにＰW ＝Ｐ0 の記録パワーで記録する。Ｍセクタの記録を終了すると、コントローラ１０はｋに１を加算し、次に記録する記録パワーをＰW ＝Ｐ0 ＋ΔＰとする（Ｓ４）。次いでｋ＝１０であるかどうかを判定し（Ｓ５）、このときはｋ＝１であるので、再びＳ３に戻ってＭ＋２・ｋセクタにＰW ＝Ｐ0 ＋ΔＰの記録パワーで所定の信号パターンを記録する。この場合は、ｋ＝１であるので、Ｍ＋１セクタを飛ばしてＭ＋２セクタに記録を行う。
【００１５】
このようにＳ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、ＭセクタからＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに、かつセクタごとに記録パワーをΔＰづつ増加しながら記録を行う。図４（ａ）にこのときの記録パワー（レーザパワー）を示している。記録パワーは前述のようにΔＰづつ段階的に増加し、最後のセクタで最大となる。ここで、本実施形態では、Ｓ５でｋ＝１０になったところで記録を終了し、ｋの終値を９としているが、ｋ＝０の場合の記録パワーの最小値Ｐ0 はクロスライトを生じるパワーよりも十分に小さく、ｋ＝９の場合の記録パワーの最大値（Ｐ0 ＋９・ΔＰ0 ）は確実にクロスライトを生じるパワーに設定している。
【００１６】
また、記録を行う場合は、図１のバイアスマグネット（図示せず）からディスク１に消去方向とは逆方向の記録用磁界を印加しながら、光学ユニット３から前述のような記録パワーの光ビームを照射することで記録を行う。図４（ｂ）に以上のテスト記録によって記録されたＮ＋１トラック上のピットを示している。図４（ｂ）においては、記録パワーの増加に伴い、徐々にピットの形状が大きくなり、隣接トラックへのクロスライトを生じていることがわかる。なお、本実施形態では、１セクタおきにテスト記録を行うことで、半導体レーザのパワー変更に要する時間を確保している。
【００１７】
記録を終了すると、コントローラ１０は先に記録したＮ＋１トラックの隣のＮトラックに再生用ビームをトレースしてその再生信号レベルを検出する。具体的には、まずコントローラ１０はｋ＝０とする（Ｓ６）。次いで、ＮトラックのＭ＋２・ｋセクタを再生し、その再生レベルを検出する（Ｓ７）。この場合は、ｋ＝０であるので、ＮトラックのＭセクタが再生され、レベル検出回路７で再生レベルを検出してＡ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれる。コントローラ１０は，得られた再生レベルをセクタ番号と対応させて記憶しておく。但し、Ｎトラックには記録がなされているわけではないので，データとしては認識されない。ＮトラックのＭセクタは図３のようにＮ＋１トラックのＭセクタに隣接しているので、検出された再生レベルはＮ＋１トラックからのクロストーク成分を含んでいる。次いで、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１とした後（Ｓ８）、ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ９）、このときは、ｋ＝１であるので、Ｓ７に戻ってｋ＝１で指示されるＮトラックのＭ＋２セクタを再生する。ＮトラックのＭ＋２セクタは同様に先のＮ＋１トラックにテスト記録されたＭ＋２セクタに隣接している。再生されたレベルはレベル検出回路７で検出され、Ａ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれる。得られた再生レベルは同様にセクタ番号と対応させてメモリに記憶させておく。
【００１８】
コントローラ１０はＳ７〜Ｓ９を繰り返し行い、ＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに再生していく。即ち、Ｎ＋１トラックのテスト記録されたセクタに隣接するセクタを順次再生し、得られた再生レベルをセクタ番号と対応させてメモリに記憶していく。図４（ｄ）にＮトラックの再生信号を示している。再生信号の振幅レベルはＮ＋１トラックのピットの大きさ、即ちテスト記録時のレーザパワーの大きさに応じて高くなっている。また、図４（ｅ）はレベル検出回路７の出力信号を示している。レベル検出回路７はピークホールド特性を持っていて、図４（ｄ）の再生信号のピーク値をホールドし、図４（ｅ）のような信号を再生レベルとして検出する。本実施形態では、このようにピークホールド特性を持たせることにより、テスト記録時の変調パターンに依存することなく、高感度で再生信号のレベルを検出できるようにしている。但し、ノイズなどによる誤検知も考えられるので、例えば所定のセクタの再生期間内に再生信号の複数のレベルデータをサンプリングし、それらを平均化するなどノイズの影響を除去するのが望ましい。
【００１９】
仮に、レベル検出回路７を平均値検波器で構成した場合、その時定数を大きくすることでノイズの影響を低減できるが、感度は低下するので、感度を高めるためにはテスト記録時の変調信号のパターンは密度の高いパターンを用いるのが望ましい。ところで、テスト記録に用いる変調信号は、コントローラ１０内にテスト記録用の信号生成器を設けて生成してもよいが、通常の記録に用いる変調則で生成される信号パターンを用いてもよい。このようにすると、構成を簡単化することができるが、精度をよくするためには、信号パターンは単一周期信号であるのが望ましい。特に、レベル検出回路７を前述のように平均値検波器で構成した場合、その出力は信号パターンに直接依存するため、本来の隣接トラックのクロスライト量を検出するには、信号パターンは単一周期信号であるのが最も好ましい。また、通常のデータの記録時は、１セクタ分のデータの後部にエラー訂正用のＥＣＣが付加されるので、テスト記録時はこのＥＣＣ部を避けてレベルデータの取り込みを行うか、ＥＣＣを付加しない記録モードを用いるかといった工夫が必要である。
【００２０】
図２に戻る。コントローラ１０はＳ９でｋ＝１０になると、Ｎトラックの再生を終了する。そして、それまでに得られたＮ＋１トラックのｋ個のセクタに対する記録パワーと、Ｎトラックを再生した場合のｋ個のセクタの再生レベルの関係に基づいて半導体レーザの最適記録パワーを決定する（Ｓ１０）。図５にＮ＋１トラックの記録パワーとＮトラックの再生信号レベルの関係を示している。図５においては、記録パワーがＰTHまでは再生信号レベルは徐々に増加している。これは、図４（ｂ）のようにＮ＋１トラック上のピットが徐々に大きくなり、それが再生時のクロストークによって検出されたものである。
【００２１】
一方、記録パワーがＰTHを超えると、再生信号レベルは急激に増加していることがわかる。これは、Ｎトラックに対するクロスライトが始まり、Ｎトラック上のクロスライト成分が再生レベルとして検出されたことを表わしている。コントローラ１０は図５の記録パワーと再生信号レベルの関係から算術演算によって変曲点の記録パワーＰTHを求め、得られた記録パワーを最適記録パワーとして決定する。コントローラ１０はレーザドライバー５を制御して半導体レーザの記録パワーを最適記録パワーに設定し、以後そのディスクに対しては得られた最適記録パワーでデータの記録を行う。以上で一連のテスト記録を終了する。
【００２２】
なお、最適記録パワーを決定する場合、変曲点の記録パワーＰTHにマージンを見込んで、定数倍した値を最適記録パワーとしてもよいし、所定の再生信号レベルとなるときの記録パワーを定数倍して最適記録パワーとしてもよい。また、ディスク１の半径位置に応じて線速が変化する方式の装置の場合は、記録位置によって線速が変わるので、当然記録半径位置に応じて最適記録パワーを変える必要がある。このような場合は、所定の半径位置で最適記録パワーを求め、それに基づいてディスク１の半径位置に対応する最適記録パワーを比例演算によって算出してもよい。また、ディスク１の各半径位置に応じたより正確な最適記録パワーを得るためには、ディスク１の複数の半径位置で前述のようなテスト記録を行って最適記録パワーを求め、得られた最適記録パワーを用いて補間処理を行うことで、ディスク１の半径位置とそれに応じた最適記録パワーをコントローラ１０内にデータテーブルとして設けるのが望ましい。
【００２３】
ところで、以上の説明は、前述のようにマークポジション記録の場合のテスト記録方法であるが、このようなマークポジション記録においてはクロスライトを考慮せずに最良の再生信号が得られるような記録を行うという条件で最適記録パワーを決定すると、最適記録パワーの選択の幅は比較的広いと考えてよい。これは、記録パワーを増減してもピットの大きさが円形に拡がるだけで、情報の存在するピットの中心と次のピットの中心との相対関係には大きな変化がないからである。記録パワーの増減によって生ずる再生信号レベルの増減は、Ｓ／Ｎとして再生信号の品位に影響を与えるが、一般に必要とされるエラーレートを確保するだけならパワーマージンは比較的広いのである。
【００２４】
そこで、これと図４（ａ）のように単パルス状の変調波形で円形のピットを形成し、隣接トラックのクロスライト成分からの最適記録パワーを決定する方法と比較すると、本実施形態のようにクロスライトを考慮して決定した最適記録パワーと前述のようなクロスライトを無視してＳ／Ｎを最良とすることを目的に決定した最適記録のパワーとは明らかに前者の方が最適記録パワーは低い値が得られる。つまり、本実施形態による方法で決定した最適記録パワーでデータを記録すると、従来の方式と比較してＳ／Ｎでは劣るが、前述のようにパワーマージンは広いため、必要なエラーレートを満足することは可能である。
【００２５】
ここで、もし変調波形の制約をなくして、円形ピットを形成することを条件とせずにクロスライトを防止しようとすると、図６に示すように最密パターンのデューティーが５０％となるピット形状がＳ／Ｎ的に最良である。このようなピットを形成するには、レーザの変調方法に何らかの工夫が必要となるが、図６のようなピットを形成してＳ／Ｎを最良とすることを目的に得られた最適記録パワーと本実施形態による方法で得られた最適記録パワーとは近い値をとる可能性がある。このような場合は、当然両者の結果のうち小さい記録パワーを採用することが望ましい。従って、このように最適記録パワーを異なる方法で求めた場合は、得られた最適記録パワーのうち小さい記録パワーを最適値と決定することで、より良好なテスト記録を実現することができる。
【００２６】
次に、通常の消去時のレーザパワーの決定方法について説明する。消去パワーを決定する方法としては、１つには前述の方法で得られた最適記録パワーに１以下の所定値を乗算して消去パワーとする方法がある。この所定値は媒体の熱特性や線速等によって決定される。しかし、最適記録パワーはパルス点灯時の最適値であり、また、パルス点灯波形（レーザ変調波形）には相当量の機体差があることを考えると、簡単であるという利点はあるものの、十分な精度が得られない可能性がある。但し、この方法が有効である理由の１つとして、消去時は半導体レーザを連続点灯しているので、クロスライトと同意のクロスイレースを生じた場合でも、信号帯域とは分離可能で、単にキャリアの低下を引き起こすだけであることが挙げられる。つまり、クロスライトに比べて被害が小さく、その分パワーマージンが見込めるのである。
【００２７】
次に、もう１つの消去パワーを決定する方法について説明する。これは、前述のような最適記録パワーを求める方法に対して、レーザの変調波形が異なるだけである。即ち、変調波形のパルス幅がディスク１上での熱の流入と放出が等しくなるように、即ち飽和状態に達する時間以上とするものである。この飽和状態においては、ピットの半径方向への拡がりは連続点灯時と等しくなっている。本願発明者らの光磁気ディスクを用いた実験によれば、この幅はレーザビームの半径（１／ｅ2 となる距離）の４倍以上とすれば、精度的に十分であることを確認できた。
【００２８】
具体的な方法としては、コントローラ１０は図２の処理を行い、記録パワーと再生信号レベルの結果に基づいて最適消去パワーを決定する。図７にこのときの各部の信号を示している。図７（ａ）はレーザパワーで、前述のように段階に大きくなっている。また、このときのレーザパワーのパルス幅は、前述の如くパルスの後端においてディスク１上での熱の流入と放出が等しくなるように設定されている。図７（ｂ）はこのようなレーザパワーで記録されたＮ＋１トラック上のピット、図７（ｃ）はそれに隣接するＮトラックの様子を示している。そして、図７（ｃ）のＮトラックを再生すると、図７（ｄ）のような再生信号が得られ、更にレベル検出回路７によって図７（ｅ）のような再生信号レベルが得られる。
【００２９】
コントローラ１０は、先の説明と全く同様に記録パワーと再生レベルに基づいて最適消去パワーを決定する。ここで、最適記録パワーと最適消去パワーを短時間で得るためには、次のような手順でテスト記録を行うのが好ましい。即ち、ディスク１に信号パターンを記録する場合、同一記録パワーで変調波形（パルス幅）が記録パワー評価用のものと消去パワー評価用のものとを記録する。図８（ａ）にこのときのレーザパワーのプロファイルを示している。各セクタの前半部に記録パワーを得るための信号パターン、後半部に消去パワーを得るための信号パターンを記録する。次に、Ｎトラックを再生する場合は、各セクタの再生レベルを２つの信号パターンに応じて独立して取り込み、メモリに記憶させておく。図８（ｂ）はレーザパワーに対するディスク位置の関係を示しており、Ｍセクタ、Ｍ＋２セクタ…、には前述のようにレーザパワーは同じで変調波形の異なる２つの信号パターンが記録される。このようにすると、最適記録パワーと最適消去パワーとを検出するテスト動作が並行して行なわれるため、パワーの切り替え動作や所望のセクタへのシーク動作が少なくなり、テスト動作にかかる時間を短くできる。
【００３０】
次に、以上の説明は、光磁気ディスクに光変調方式でランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法であるが、他の方式のテスト記録方法について説明する。まず、光磁気ディスクに磁界変調方式でランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法について説明する。この方式の装置においては、情報を記録する場合、図１のレーザドライバー５は半導体レーザを一定の記録パワーで連続点灯し、一定強度の光ビームをディスク１のトラックに走査する。また、磁気ヘッド（図示せず）から記録情報に応じて変調された磁界をディスク１に印加し、光ビームの照射と変調磁界の印加によってデータを記録する。このような記録方式では、記録と消去は同時に行われるので（これをオーバーライトという）、最適記録パワーと最適消去パワーの区別はない。また、この記録方式は、特にマークエッジ記録に好適であるが、マークポジション記録、マークエッジ記録などの記録方式の種類に拘わらず、単に半導体レーザの連続点灯時にその熱効果が隣接トラックに及ばない最大のパワーを検出することで、最適記録パワーを得ることができる。
【００３１】
光磁気ディスク、磁界変調方式におけるテスト記録は、光変調方式の場合と同様に図２のフローチャートに従って行う。具体的に説明すると、まず、コントローラ１０は図２に示すようにＳ１でテスト記録領域の消去を行う。消去を行う場合は、磁気ヘッド（図示せず）に一定方向の電流を供給し（便宜的に消去方向の電流という）、ディスク１に消去方向の磁界を印加する。また、光学ユニット３内の半導体レーザを消去に充分なパワーで連続点灯し、その光ビームをディスク１のテスト記録領域のトラックに走査する。消去を終了すると、コントローラ１０はＳ２でＰW ＝Ｐ0 、ｋ＝０とした後、Ｓ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、先の説明と同様に１セクタおきに記録パワーを増加しながら所定の信号を記録していく。この信号は前述のように一定強度の光ビームの照射と変調磁界の印加によって記録する。また、このときの変調信号パターンは任意であるが、前述のように信号生成器を設けてテスト記録用の信号パターンを作成してもよいし、通常の記録に用いる変調則で生成される信号パターンを用いてもよい。また、レベル検出回路７を平均値検波器で構成した場合は、信号パターンは単一周期であるのが望ましい。
【００３２】
記録を終了すると、コントローラ１０はＳ６でｋ＝０とした後、Ｓ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックに隣接するＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに再生する。また、１つのセクタを再生するごとにレベル検出回路７で再生信号のレベルを検出し、再生信号レベルをＡ／Ｄコンバータ８で取り込んで、セクタ番号と対応させてメモリに記憶させておく。所定のセクタの再生を終了すると、コントローラ１０はＳ１０において、図５で説明したように記録パワーと再生信号レベルの関係に基づいて最適記録パワーを決定する。以上でテスト記録を終了する。なお、この場合は、前述のように最適記録パワーと最適消去パワーの区別はないので、最適消去パワーを求めるためのテスト記録は不要である。
【００３３】
次に、相変化タイプの光ディスクを用いた場合のテスト記録方法について説明する。相変化タイプの光ディスクの場合は、記録プロセスが光磁気ディスクの場合と異なっているので、テスト記録方法もこれまで説明した光磁気ディスクのテスト記録方法とは多少異なっている。相変化タイプによる記録は、オーバーライトが可能で、マークポジション記録方式であって、現在主流になってきている。図９に相変化タイプの光ディスクにデータを記録する場合のレーザ変調波形を示している。図９において、ＰB は既に書き込まれたデータを消去するためのバイアスパワー、ＰW は新たにデータを記録するための記録パワーである。バイアスパワーＰB は目的の領域を消去するという本来の目的のための条件を満足することはもちろんのこと、隣接トラックのデータを消去しないという条件を満足する必要がある。この条件を条件１という。
【００３４】
記録パワーＰW は同様にデータを記録するという条件に加えて、隣接トラックに不要な記録をしないという条件を満足する必要がある。この条件を条件２という。また、記録パワーＰW は隣接トラックを消去しないという条件を満足する必要がある。これを条件３という。通常の記録においては、条件２は条件３を満足すれば自動的に満足することになる。条件２に基づいた最適記録パワーＰW を得るためのテスト記録は第１の実施形態のテスト記録方法をそのまま適用することができる。条件１、条件３に基づいた最適バイアスパワーＰB 、最適記録パワーＰW を得るためのテスト記録については、第４の実施形態で詳しく後述する。条件２は条件３に比べて重要度が低く、またテスト記録に要する時間は短いことが望ましいことを考慮すると、相変化タイプの光ディスクのテスト記録は、後述する第４の実施形態のテスト記録方法を用いるのが望ましい。また、最近では、通常のランド記録ではあるが、相変化タイプの光ディスクのマークエッジ記録も実現しつつあるので、相変化光ディスクにマークポジション記録またはマークポジション記録でランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法については第４の実施形態で詳しく説明する。
【００３５】
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。第１の実施形態では、Ｎ−１トラックに信号を記録し、それに隣接するＮトラックを再生して再生レベルを検出したが、本実施形態は図３のテスト記録領域のＮ−１トラックに加えてＮ＋１トラックにも同じ信号を記録し、その間のＮトラックを再生して再生信号レベルを検出するという例である。図１０に本実施形態のテスト記録方法を示している。図１と併せて本実施形態のテスト記録方法を説明する。図１０において、まず、テスト記録に際し、コントローラ１０は各部を制御して光ディスク１のテスト記録領域の消去を行う（Ｓ１）。本実施形態では、前述のようにＮ＋１トラックにも記録するので、図３のテスト記録領域のＮ−１，Ｎ，Ｎ＋１の３本のトラックを消去する。例えば、ディスク１が光磁気ディスクで、光変調方式であれば前述のようにバイアスマグネットから消去方向の磁界を印加し、光学ユニット３から消去パワーの光ビームをトレースすることで消去を行う。
【００３６】
消去を終了すると、コントローラ１０は記録パワーＰW を初期値のＰ0 に設定し、記録パワーと記録するセクタを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ２）。次いで、コントローラ１０はＳ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックに信号を記録する。即ち、Ｎ＋１トラックのｋ＝０で指示されるＭ＋２・ｋセクタに記録パワーＰW で所定の信号を記録（Ｓ３）、ｋ＝ｋ＋１とし、記録パワーをＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰとして記録パワーをΔＰ0 だけ増加（Ｓ４）、ｋ＝１０であるか否かの判定（Ｓ５）を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックにＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに記録パワーＰW をΔＰ0 づつ増加しつつ所定の信号を記録していく。
【００３７】
Ｓ５でｋ＝１０になると、コントローラ１０は再びＰW ＝Ｐ0 ，ｋ＝０とした後（Ｓ６）、Ｓ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行い、Ｎ−１トラックにＮ＋１トラックと同様に信号を記録する。即ち、Ｎ−１トラックにＭセクタ、Ｎ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しながら信号を記録していく。これにより、Ｎ＋１とＮ−１トラックの両方のトラックに１セクタおきに、かつ相対向するセクタ同志に同じ記録パワーで同じ信号が記録された状態となる。
【００３８】
Ｓ９でｋ＝１０になると、コントローラ１０はｋ＝０とした後（Ｓ１０）、Ｓ１１〜Ｓ１３の処理を繰り返し行い、Ｎトラックを再生する。この場合、ＮトラックのＭトラック、Ｍ＋２トラック、Ｍ＋４トラック…というように１セクタおきに再生し、レベル検出回路７で各々のセクタのＮ−１，Ｎ＋１トラックからのクロスライト成分を含む再生信号レベルを検出する。得られた再生信号レベルはＡ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれ、セクタ番号と対応させてメモリに格納される。Ｓ１３でｋ＝１０になり、Ｎトラックの全てのセクタの再生を終了すると、コントローラ１０は記録パワーと再生信号レベルの関係から最適記録パワーを決定する（Ｓ１４）。最適記録パワーは、図５で説明したように変曲点の記録パワーＰTHを演算処理によって求め、得られた記録パワーを最適記録パワーとして決定する。
【００３９】
本実施形態では、Ｎ＋１トラックに加えてＮ−１トラックに対しても同じ信号を記録するので、Ｎ−１トラックに記録する分だけテスト記録に要する時間は増加するが、再生トラックであるＮトラックは内側と外側の両方の隣接トラックからのクロスライトの影響を受けるため、より実際の使用状態に近い形でテスト記録を行うことができ、第１の実施形態に比べてより最適な記録パワーを得ることができる。なお、第２の実施形態は、第１の実施形態と同様に、光磁気ディスクの光変調方式のランド・グルーブ記録、光磁気ディスクの磁界変調方式のランド・グルーブ記録などに使用することができる。
【００４０】
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。本実施形態は、Ｎ＋１トラックに信号を記録してＮトラックを再生する前にＮ＋１トラックを消去するという例である。この消去する点のみが第１の実施形態と異なっている。図１１に本実施形態のテスト記録方法を示している。図１と併せて説明する。図１１において、まず、コントローラ１０はテスト記録領域Ｎ−１，Ｎ，Ｎ＋１トラックの消去を行う（Ｓ１）。次いで、コントローラ１０は記録パワーＰW ＝Ｐ0 ，ｋ＝０に設定した後（Ｓ２）、Ｓ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックに所定の信号を記録する。Ｓ３〜Ｓ５の処理は図２、図１０と全く同じで、Ｎ＋１トラックにＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しつつ所定の信号を記録していく。
【００４１】
Ｓ５でｋ＝１０になると、コントローラ１０はｋ＝０とした後（Ｓ６）、Ｓ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行い、先に記録したＮ＋１トラックの消去を行う。即ちｋの値で指示されるＭ＋２・ｋセクタを消去パワーＰE で消去（Ｓ７）、ｋ＝ｋ＋１（Ｓ８）、ｋ＝１０であるかどうかの判定（Ｓ９）を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように順に消去していく。消去パワーＰE としては、クロスイレースを生じるパワーよりも十分に小さいパワーに設定するものとし、このとき当然Ｎ＋１トラックに消し残りが発生するが、Ｎ＋１トラックのクロストークを低減するには十分な効果が得られる。また、消去時においては、光変調方式、磁界変調方式などに応じてバイアスマグネットからディスク１に磁界を印加するものとする。
【００４２】
消去を終了すると、コントローラ１０はｋ＝０とした後（Ｓ１０）、Ｓ１１〜Ｓ１３の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックに隣接するＮトラックの再生を行う。即ち、ＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに再生し、各々のセクタごとにレベル検出回路７で再生信号レベルを検出する。そして、得られた再生信号レベルをＡ／Ｄコンバータ８から取り込み、メモリに記憶させておく。Ｓ１３でｋ＝１０になると、コントローラ１０は先の説明と同様に、記録パワーと再生信号レベルの関係から最適記録パワーを決定する（Ｓ１４）。
【００４３】
本実施形態では、Ｎトラックを再生する前に信号を記録したＮ＋１トラックを消去するので、Ｎトラックを再生するときにＮ＋１からのクロストーク成分を低減することができる。この結果、検出精度が高くなり、より最適な記録パワーを得ることができる。なお、第３の実施形態においても、第１の実施形態と同様に光磁気ディスクで光変調方式のランド・グルーブ記録、光磁気ディスクで磁界変調方式のランド・グルーブ記録などに使用することができる。また、光磁気ディスクで光変調方式の場合に最適消去パワーを得るためには前述のように最適記録パワーに１以下の所定値を乗算して求めてもよいし、信号の記録の際にレーザ変調波形を変えて同様の方法で決定してもよい。
【００４４】
次に、本発明の第４の実施形態について説明する。本実施形態は、相変化タイプの光ディスクにランド・グルーブ記録を行う場合のテスト記録方法、特にマークポジション記録の場合に好適に使用することができる。図１２は本実施形態のテスト記録方法の手順を示したフローチャートである。なお、本実施形態の相変化光ディスクを用いて情報の記録、再生を行う装置の構成は図１と同じであるものとする。但し、図１の光ディスク１は相変化タイプのディスク、コントローラ１０は相変化ディスクの記録原理に基づいた情報の記録及び記録情報の再生を行うものとする。図１２において、テスト記録に際し、まず、コントローラ１０は各部を制御してＮ−１，Ｎ＋１トラックを消去し、Ｎトラックに所定の記録条件で記録を行う（Ｓ１）。このときの記録は所定のマーク長の連続パターンを記録するものとし、またＮトラックに記録する際の記録パワーとしては、通常の記録の記録パワー乃至多少クロスライトの生じる可能性のある記録パワーまでの範囲内の記録パワーとする。
【００４５】
Ｎトラックの記録を終了すると、コントローラ１０はレーザドライバー５を制御してバイアスパワーＰB の初期値をＰ0 に設定し、バイアスパワー及び消去すべきセクタを指示するｋの値を０に設定する（Ｓ２）。次いで、コントローラ１０は前述のように予めＮトラックに所定の信号を記録した状態でそれに隣接するＮ＋１トラックの消去を行う。即ち、Ｎ＋１トラックのＭ＋２・ｋセクタをバイアスパワーＰB で消去する（Ｓ３）。この場合、ｋ＝０であるので、Ｎ＋１トラックのＭセクタをバイアスパワーの初期値Ｐ0 で消去する。次いで、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１，ＰB ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰ0 とし（Ｓ４），ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ５）。このときは、ｋ＝１であるので、再びＳ３に戻って同様の処理を行う。
【００４６】
即ち、コントローラ１０はＳ３〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックのＭセクタに続いて、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに消去し、かつセクタごとに消去パワーをΔＰ0 づつ増加していく。図１３（ａ）にこのときのレーザパワーＰB を示している。消去パワーＰB は前述のようにセクタごとにΔＰ0 づつ増加されるので、消去パワーの増加に伴い、図１３（ｂ）のようにＮ＋１トラック上の消去ビームの照射範囲は次第に隣接トラックにまで広がりをみせている。そのため、図１３（ｃ）のようにＮトラックに記録されたマークも消去パワーの増加に伴って一部が消去されており、クロスイレースが生じている。
【００４７】
Ｓ５でｋ＝１０になり、Ｎ＋１トラックの消去を終了すると、コントローラ１０はｋ＝０とした後（Ｓ６）、各部を制御してＮトラックのＭ＋２・ｋセクタを再生し、再生信号のレベルを検出する（Ｓ７）。このときはｋ＝０であるので、ＮトラックのＭセクタの再生レベルを検出する。再生信号レベルはレベル検出回路７で検出され、得られた再生レベルはＡ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれる。但し、本実施形態では、レベル検出回路７は再生信号振幅のＰ−Ｐ値を検出するものとする。コントローラ１０は再生レベルをセクタ番号と対応させてメモリに記憶させておく。次いで、コントローラ１０はｋ＝ｋ＋１とし（Ｓ８）、ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ９）。このときは、ｋ＝１であるので、Ｓ７から同様の処理を行う。即ち、コントローラ１０はＳ７〜Ｓ９の処理を繰り返し行い、ＮトラックのＭセクタに続いてＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というようにＮトラックを１セクタおきに再生し、セクタごとの再生レベルを検出していく。
【００４８】
図１３（ｄ）にＮトラックの再生信号、図１３（ｅ）にレベル検出回路７の検出レベルを示している。本実施形態では、前述のようにレベル検出回路７は再生信号の振幅（Ｐ−Ｐ値）を検出している。消去パワーを増加していくと、前述のようにクロスイレースが生じるのであるが、このクロスイレースの発生に伴い、図１３（ｄ），（ｃ）に示すように再生信号の振幅も低下し始めていることがわかる。Ｓ９でｋ＝１０となり、Ｎトラックの再生を終了すると、コントローラ１０は消去パワーとＮトラックの各セクタで得られた再生信号振幅に基づいて最適バイアスパワーＰB を決定する（Ｓ１０）。
【００４９】
図１４に消去レーザパワーとレベル検出回路７で得られた再生信号振幅の関係を示している。再生信号振幅は消去パワーが小さいときはほぼ一定であるが、所定の消去パワーになると、再生信号振幅は低下し始める。つまり、クロスイレースが発生すると、Ｎトラックのマークが消去されるので、クロスイレースが発生し始めた時点から再生信号振幅は低下する。コントローラ１０は図１４のように再生信号振幅が低下し始める直前のレーザパワーを最適バイアスパワーＰB として決定し、メモリに記憶させておく。
【００５０】
コントローラ１０は、引き続いて最適記録パワーＰW を決定する処理を行う。まず、コントローラ１０は先の説明と同様にＮ−１，Ｎ＋１トラックを消去し、Ｎトラックに所定の記録条件で記録を行う（Ｓ１１）。Ｎトラックの記録条件としては、最適バイアスパワーのときの記録と同様に所定の連続パターンで、通常の記録の記録パワー乃至多少クロスライトを生じる可能性のある記録パワーまでの範囲内の記録パワーとする。次いで、コントローラ１０は記録パワーＰW の初期値をＰ0 、ｋの値を０とした後（Ｓ１２）、前述のように予めＮトラックに記録した状態で、それに隣接するＮ＋１トラックに所定の信号を記録する。即ち、Ｎ＋１トラックのＭ＋２・ｋセクタに記録パワーＰW （初期値Ｐ0 ）で記録を行う（Ｓ１３）。このとき、ｋ＝０であるのでＭセクタに記録を行う。また、Ｎ＋１トラックに信号を記録する場合は、Ｎトラックのマーク長よりも十分に長いマーク長の信号を記録するものとする。
【００５１】
本実施形態では、Ｎ＋１トラックにパルストレインと呼ばれる方法で記録を行い、ロングマークを形成している。即ち、図１５（ａ）に示すようにレーザパワーＰW を所定の間隔でオン、オフすることによって所定のマークを記録している。この場合は，相変化タイプの光ディスクのテスト記録であるので、図１５（ａ）に示すようなレーザ変調波形、即ち、バイアスパワーＰB に記録パワーＰW を重畳した記録波形で記録を行っている。バイアスパワーＰB は、Ｓ１０で得られた最適バイアスパワーに設定している。
【００５２】
図１２に戻る。コントローラ１０はＳ１３でＮ＋１トラックのＭセクタの記録を終了すると、Ｓ１４で記録パワーＰW ＝Ｐ0 ＋ｋ・ΔＰ0 ，ｋ＝ｋ＋１とし（Ｓ１４）、ｋ＝１０であるかどうかを判定する（Ｓ１５）。このときは、ｋ＝１であるのでＳ１３に戻って同様の処理を行う。即ち、コントローラ１０はＳ１３〜Ｓ１５の処理を繰り返し行い、Ｎ＋１トラックのＭセクタに続いてＭ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…というように１セクタおきに記録パワーをΔＰ0 づつ増加しながら所定のマークを記録していく。
【００５３】
図１５（ａ）にこのときの記録波形を示しており、バイアスパワーＰB は一定のままで記録パワーＰW をセクタごとに一定量増加しつつ記録を行う。図１５（ｂ）はこのようにして記録されたＮ＋１トラック上のマーク、図１５（ｃ）は予めＮトラックに記録されたマークを示している。記録パワーＰW の増加に伴い、図１５（ｂ），（ｃ）のようにＮ＋１トラック上のマークが大きくなってＮトラック上のマークを消去するクロスイレースが生じている。また、更に記録パワーＰW が増加すると、Ｎトラック上にマークが記録され、クロスライトを生じていることがわかる。
【００５４】
コントローラ１０は、Ｓ１５でｋ＝１０となってＮ＋１トラックの記録を終了すると、Ｓ１６でｋ＝０とした後、Ｓ１７〜Ｓ１９でＮトラックを再生する。即ち、Ｓ１７〜Ｓ１９の処理を繰り返し行い、ＮトラックをＭセクタ、Ｍ＋２セクタ、Ｍ＋４セクタ…の順に再生し、セクタごとにレベル検出回路７で再生信号振幅を検出する。検出された再生信号振幅はＡ／Ｄコンバータ８でコントローラ１０に取り込まれ、セクタ番号と対応させてメモリに格納される。図１５（ｄ）はＮトラックの再生信号、図１５（ｅ）はレベル検出回路７で検出された再生信号振幅を示している。Ｎトラックの再生信号は，図１５（ｄ）のようにクロスイレースによって振幅が小さくなり、クロスライトが生じると直流成分を含んで再生信号のＰ−Ｐ値は更に低下している。従って、レベル検出回路７による再生信号振幅の検出レベルも図１５（ｅ）のようにクロスイレースやクロスライトに応じて低下している。なお、クロスイレースが始まるパワーより低いパワーにおいてＰW の増加に伴い、クロストーク量は微増するが、これは直流的なもので、再生信号振幅には影響しない。
【００５５】
コントローラ１０は、Ｓ１９でｋ＝１０となり、Ｎトラックの再生信号振幅の検出を終了すると、Ｎ＋１トラックの記録パワーとＮトラックの再生信号振幅に基づいて最適記録パワーＰW を設定する（Ｓ２０）。図１４に以上のテスト動作によって得られた記録パワーと再生信号振幅を示している。再生信号振幅は図１４のように、ある記録パワーで低下し始めている。これは、クロスイレースが発生したことを示しており、コントローラ１０は再生信号振幅が低下し始める直前の記録パワーを最適記録パワーとして決定する。得られた最適記録パワーはメモリに記憶させておく。また、記録パワーが更に大きくなると、再生信号振幅は破線で示すように急激に低下しているが、これはクロスライトが生じたことを示している。コントローラ１０はレーザドライバー５を制御して図９の記録波形のバイアスパワーＰB 、記録パワーＰW をそれぞれテスト記録で得られた最適値に設定する。以上で相変化光ディスクのランド・グルーブ記録のテスト記録を終了する。
【００５６】
なお、図１４の再生信号振幅は、Ｎトラックを再生したときの再生信号振幅であるが、これは隣接トラック（Ｎ＋１トラック）にマークが記録されているときのレベル検出回路７の出力をサンプリングして示したものである。つまり、コントローラ１０は隣接トラックにマークが記録されているタイミングでレベル検出回路７の出力をサンプリングしている。この場合、記録マークを極めて長くすれば、サンプリングのタイミングの制御はバイアスパワーＰB のテスト記録と同様に容易である。通常、バイアスパワーＰB のテスト記録においては、ＰB が消去パワーを決定するパラメータであることから、本質的にはベタ点灯もしくは極めて長いテスト用マークを用い、テスト照射した部分の後端部をサンプリングすれば、再生信号レベルは十分に安定していて、その付近で多少サンプリングのタイミングがずれたとしても、精度の問題は生じることはなく、サンプリングのタイミングの制御は容易である。
【００５７】
一方、記録パワーＰW においては、ＰW がマークを形成するためのパラメータであることから、機能的には短いマークを形成することも可能であるが、例えばテストマーク長が８Ｔで、チャネルクロック（Ｔ）を２０ｎｓとすれば、少なくとも１６０ｎｓのサンプリングタイムの精度を要するため、結構実現が難しくなる。しかも、再生信号を取り込むためのＡ／Ｄコンバータも高速なものを必要とし、コスト面からも不利である。そこで、図１２における記録パワーＰW のテスト記録においては、前述のようにテストマークを極めて長いものを用いるようにすれば（例えば、１００Ｔ）、ＰB のテスト記録と同様にマークの後端部をサンプリングするだけで、精度の問題は生じず、サンプリングのタイミングの制御は容易である。
【００５８】
また、Ｎ＋１トラックへのロングマークの記録、非記録を適当なタイミングで交番させて行ない、マークが存在するときと存在しないときと、交互にレベル検出回路７の出力をサンプリングしてそれらの差分を評価に用いてもよい。即ち、最適記録（消去）パワーを再生信号レベルで評価する場合、先の説明のようにクロスイレースによって生じた再生信号振幅の低下量が所定値となるポイントを見つけ、そのポイントのパワーを最適値としている。つまり、ここで必要なのは、再生信号レベルの絶対値ではなく、初期状態からの低下量、即ち相対値である。そこで、前述のようにマークが存在するときと存在しないときで交互にサンプリングし、それを差分すると、評価に必要な再生信号レベルの相対値が得られる。この場合、基準となるレベル、即ちクロスイレースなどを生じていない部分（初期状態）のレベルの取り込みは、評価部分の取り込みと時間的にも位置的にも近接していた方が低下量、即ち、両者の差分の検出精度が向上することは明らかである。
【００５９】
逆に、基準レベルの取り込みと評価部分の取り込み位置が離れていると、例えばサーボのかかり具合の変化によって両者の間に本質的な差分以外にサーボのかかり具合の差が混入してしまい、精度の点から望ましくない。従って、テスト記録部分と非テスト記録部分を交番してサンプリングし、交番の度にその差分を取り込むようにすれば、両者の取り込みのタイミングは近接しているので、サーボの差の影響や回路の温度ドリフトの影響、あるいは低速ノイズなども除去することが可能である。また、バイアスパワーＰB のテスト記録においても、消去区間と非消去区間を交互に形成して同様の処理を行うようにすれば、高精度化は可能である。特に、第４の実施形態では、図５と図１４の比較で明らかなようにレーザパワーの最適値を検出する領域は再生レベルの変化率が小さく、精度を得にくいので、前述のような高精度化のための技術を用いるのが望ましい。
【００６０】
次に、以上の説明は、相変化タイプの光ディスクのマークポジション記録の場合に適用しうるテスト記録方法であるが、相変化光ディスクのマークエッジ記録の場合のテスト記録方法について説明する。マークエッジ記録においては、図１６に示すような記録波形を用いて記録する方法が提案されている。この記録方法では、ＰW の波形は先頭で１．５Ｔの点灯、それに続いて１Ｔの周期でオン、オフするパルス点灯になっていて、１Ｔ周期のパルス点灯の数をマークの長さに応じて変えることで、所望の長さのマークを記録するというものである。また、記録波形の各パルス幅を記録すべきマーク長に応じて調整することで、再生信号のジッターを低減するものも提案されている。
【００６１】
相変化光ディスクのマークエッジ記録の場合の具体的なテスト記録方法としては、基本的にマークポジション記録の場合のテスト記録と同じである。即ち、図１２のフローチャートに従って最初に最適バイアスパワーＰB を求め、その後最適記録パワーＰW を決定する。最適バイアスパワーＰB のテスト記録においては図１３で説明したようにＮトラックに所定の信号を記録した状態でＮ＋１トラックをレーザパワーを変えながら消去を行う。そして、Ｎトラックを再生して再生信号レベルを検出し、図１４のように得られたレーザパワーと再生信号振幅から最適バイアスパワーＰB を決定する。従って、最適バイアスパワーのテスト記録はマークポジション記録の場合のテスト記録と全く同じである。
【００６２】
一方、最適記録パワーＰW のテスト記録においては、図１２のフローチャートに従い、Ｎトラックに所定の信号を記録した状態で、Ｎ＋１トラックに記録パワーを変えながら所定の長さのマークを記録する。このときの各部の信号を図１７に示している。Ｎ＋１トラックにマークを記録する場合、図１７（ａ）のようにマークエッジ記録の記録波形を用いて記録を行い、図１７（ｂ）のようなマークを記録する。この点のみがマークポジションのテスト記録と異なっている。つまり、マークポジション記録の場合、前述のとうりパワーマージンが広いため、ロングマークを形成するためのパルストレイン記録の方法にある程度の自由度が許容されるが、マークエッジ記録の場合、実動作に等しい記録波形を用いるということである。後はマークポジション記録の場合と同じで、図１７（ｄ）のようにＮトラックを再生し、図１７（ｅ）のレベル検出回路７の出力を取り込んで、記録パワーと再生信号振幅から最適記録パワーＰW を決定する。
【００６３】
なお、マークエッジ記録においては、マークのエッジ位置に情報を持つので、前述のテスト記録の終了後に、更に次のようなマークのトラック方向の長さの調整を行うのが望ましい。即ち、マークエッジ記録は図１６の記録波形を用いてマークを記録するのであるが、テスト記録終了後、図１６のＰB ，ＰW をテスト記録で得られた最適バイアスパワーＰB 、最適記録パワーＰW に設定する。次に、この記録波形を用いてディスク１に、例えば２Ｔや３Ｔマークを記録し、それを再生して、正確な２Ｔや３Ｔのマークの長さになるように図１６の記録波形のパルス幅を調整する。こうすることにより、隣接トラックへの不要な記録（消去）の発生を防止できるばかりでなく、マークエッジ位置の精度も確保でき、エラーレートの低い情報の記録を実現することができる。
【００６４】
次に、光磁気ディスクに光変調マークエッジ記録を行う場合の実施形態について説明する。図２３は記録時のレーザの変調波形の一例を示している。光変調エッジ記録には、記録の前に消去を必要とするタイプと直接上書きが可能なダイレクトオーバーライトタイプとがあるが、図中のＰ１からＰ３までの設定指針が異なるだけで、いずれも同様の変調波形が用いられる。
【００６５】
Ｐ１からＰ３までの各パワーレベルが持つ意味を簡単に説明すると、Ｐ１は事前消去を必要とするタイプにおいて、マークの先端と後端の形状を略対称にするため予熱を加えるものである。つまり、媒体への加熱開始時のパワー段差を加熱終了時のそれと比べて小さくすることにより、媒体上でのマークのエッジ部の温度プロファイルを揃えることができる。一方、ダイレクトオーバーライトタイプにおいてＰ１は媒体が持つ初期化磁界層の働きと共働して、記録データの消去を行わせしめるという意味を持つ。
【００６６】
Ｐ２とＰ３についてはそれぞれのタイプで異なることはなく、Ｐ２はマークを形成するのに必要なパワーであり、Ｐ３はマークの先端から後端にわたって熱平衡を保つべく、Ｐ２に対して微調整されたパワーである。この微調整によってディスク径方向への幅が均一なマークを形成することができる。通常、Ｐ０はリードパワー以下の値に設定される。
【００６７】
さて、事前消去を必要とするタイプにおいて、その最適消去パワーを求める方法は、相変化ディスクにおけるＰB を求める動作と同様で、図１２のフローチャートにそって行われる。もちろん、この時相変化ディスクとは異なり、消去磁界の印加を必要とする。最適記録パワーを求める動作は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の各パワーを所定の比率を保ったまま変化させることにより、相変化ディスクにおけるＰW を求める動作と同様に行われる。
【００６８】
ダイレクトオーバーライトタイプにおいて最適記録パワーを求める動作は次のようにして行われる。まずＰ１を、相変化ディスクにおけるＰB を求める動作と同様にして求める。この時のレーザパワーのプロファイルは図１３（ａ）と同じである。このようにして求められたＰ１は隣接トラックにクロスイレースを生じさせず、かつその条件において最大値であるから、目的トラックの消去には十分な値となっている。
【００６９】
次に、このようにして求めたＰ１は固定とし、Ｐ２、Ｐ３を所定の比率を保ったまま変化させ、相変化ディスクにおけるＰW を求める動作と同様に行われる。この時のレーザパワーの波形は図２３の通りであるが、プロファイルは図１７（ａ）に準じており、図中のＰB はＰ１であり、ＰW がＰ２、Ｐ３に相当するものとなる。
【００７０】
ところで、光磁気ディスクに対する光変調マークエッジ記録方式においては、記録密度が高いこと、光変調で良好なマークエッジを形成することは困難であることを理由に、十分な再生信号品質が得られる記録パワーの許容幅は狭い。従って、本実施形態によるテスト記録方法と再生信号品質に着目した他のテスト方法、例えばＳ／Ｎが最良になるように、または再生された信号のジッターを最小にするという指針で最適パワーを求めるようなテスト方法を組み合わせて用いることが望ましい。
【００７１】
次に、本発明の第５の実施形態について説明する。本実施形態は、光磁気ディスクや相変化光ディスクに前述のようなテスト記録を行う場合、ランドとグルーブの両方で再生信号を評価して最適記録パワーなどを得るという例である。即ち図３のテスト記録領域では、再生信号を評価するＮトラックはグルーブトラックであるが、このＮトラックがグルーブトラックの場合とランドトラックの場合の両方でテスト記録を行うというものである。図１８は本実施形態のテスト記録方法を示したフローチャートである。
【００７２】
図１８において、テスト記録に際し、まずコントローラ１０はランド部に対するテスト記録を行う（Ｓ１）。これは、以上説明した全ての実施形態のテスト記録が含まれ、例えば光磁気ディスクのテスト記録であれば図２、図１０あるいは図１１のフローチャート、相変化光ディスクであれば図１２のフローチャートのテスト記録を実行する。もちろん、この場合は、Ｎトラックをランド部としてテスト記録を行う。得られた最適記録パワー、最適消去パワーなどの結果をランドデータとしてメモリに記憶させておく。ランド部に対するテスト記録を終了すると、コントローラ１０はグルーブ部に対してテスト記録を行い、得られた結果をメモリに記憶させておく（Ｓ２）。
【００７３】
通常の記録動作においては、コントローラ１０は記録要求があると（Ｓ３）、ランド部に対する記録であるのかどうかを判断する（Ｓ４）。もし、ランド部に対する記録であれば、コントローラ１０はＳ１で得られたランドデータを用いて半導体レーザの光出力を設定し、ランド部に対して記録を行う（Ｓ５）。一方、グルーブ部に対する記録であった場合は、コントローラ１０はＳ２で得られたグルーブデータを用いて半導体レーザの光出力を設定し、グルーブ部に対して記録を行う（Ｓ６）。このように本実施形態では、ランド部とグルーブ部の両方に対してテスト記録を行い、ランド部とグルーブ部に記録する場合、各々対応したテスト記録結果を用いて記録するので、ディスクにランドとグルーブの溝形状にアンバランスがあっても、ランドとグルーブに各々最適パワーで情報を記録することができる。
【００７４】
次に、本発明の第６の実施形態について説明する。この実施形態は、テスト記録の結果から最適パワー決定する場合、最適パワーを精度よく検出する方法に関するものである。図５においては、最適記録パワーを決定する場合、前述のように変曲点を見つけたり、所定の再生レベルとの交点の記録パワーを最適記録パワーにすると説明したが、この方法ではクロストークが多い場合や再生系の利得が変化した場合などで十分な検出精度を得られない可能性がある。本実施形態は、この点を改良し、クロストークや再生系の利得の変化などによらず、最適パワーを高精度で決定するものである。
【００７５】
本実施形態の具体的な最適パワーの決定方法を図１９に示している。図１９の最適パワーの決定方法は、以上の全ての実施形態の最適パワーの決定処理に適用することができる。即ち、図２のＳ１０の最適記録パワーの決定、図１０及び図１１のＳ１４の最適記録パワーの決定、図１２のＳ１０の最適バイアスパワーの決定、図１２のＳ２０の最適記録パワーの決定に、図１９のフローチャートの処理を実行することによって最適パワーを高精度で検出することが可能である。具体的な方法を図１、図１９を参照して説明する。図１９において、まず、コントローラ１０はｋの値を０とする（Ｓ１）。このｋは図２などで説明したものと同じである。
【００７６】
次いで、コントローラ１０はＭ＋２・ｋセクタの再生時のレベル検出回路７のレベル値と、Ｍ＋２（ｋ＋１）セクタの再生時のレベル値との差分ΔＬを算出する（Ｓ２）。例えば、図２のフローチャートのテスト記録を例にとると、Ｎ＋１トラックに記録パワーをセクタごとに所定量づつ増加しながら記録を行った後、Ｎトラックを再生して再生レベルを検出するのであるが、このときに再生されるＭセクタのレベル値とその次のＭ＋２セクタのレベル値との差分を算出する。続いて、得られた差分ΔＬと予め決められた所定値を比較し（Ｓ３）、ΔＬが所定値よりも小さければ（Ｓ３がＮｏ）、ｋ＝ｋ＋１とした後（Ｓ４）、ｋ＝１０かどうかの判定を行う（Ｓ５）。この場合は、ｋ＝１であるので、再びＳ２に戻って同様の処理を行う。即ち、Ｓ２〜Ｓ５の処理を繰り返し行い、ｋの値が１つづつ増加するごとにｋで指示されるセクタとその次のセクタの差分のレベル値を順次算出していく。
【００７７】
Ｓ３において、ΔＬが所定値よりも大きくなると（Ｓ３がＹ）、コントローラ１０は詳しく後述するようにその直後のｋの値で指示されるＭ＋２・（ｋ＋１）セクタの再生時のデータ（レベル値）とその次のＭ＋２・（ｋ＋２）セクタの再生時のレベル値を用いて最適値を算出する（Ｓ６）。図２０に記録パワーとレベル検出回路７によるレベル値の関係を示している。再生信号のレベル値は記録パワーの増加に伴って少しづつ増加し、記録パワーＰ1 を越えるとレベル値の傾きは急激に立ち上がっている。このＰ1 でΔＬが所定値よりも大きくなり、Ｓ６で最適パワーの算出処理を行う。Ｓ６においては、コントローラ１０はＰ1 を越えた直後のＡ，Ｂのレベル値を図２０のように補助線で示す直線で結び、その延長線とレベル値が０の直線との交点における記録パワーを求める演算処理を行い、得られた交点の記録パワーＰthを最適パワーとして決定する。以上で最適パワーの決定処理を終了する。
【００７８】
また、図１２のテスト記録においては、図１４で説明したように最適バイアスパワー、最適記録パワーのいずれも記録（消去）パワーの増加に伴って再生信号振幅は低下する。この場合の記録パワーと再生信号振幅の関係を図２１に示している。このときの最適パワーの決定に際しても、記録パワーＰ1 でΔＬが所定値よりも大きくなった直後においてＡ，Ｂを補助線で結び、その延長線と再生信号振幅の最大値の直線との交点における記録（消去）パワーＰthを求めることで、最適パワーを決定する。従って、この場合は、補助線の傾きの極性が異なるだけで、同様の方法で最適パワーを得ることができる。
【００７９】
本実施形態では、ΔＬが所定値を越えた後の領域において２点の再生レベル値を直線で結び、その延長線と再生信号のレベル値が０（または最大値）の直線との交点の記録パワーを最適パワーとして決定するので、ΔＬが所定値を越えた後の再生信号のレベル値の傾きが大きい領域ではクロスライトを生じており、クロストークよりも十分に大きなレベル値で評価するため、最適パワーの決定に際しクロストークの影響を小さくすることができる。また、再生系の利得が変動し、再生信号レベルが変化しても、前述のように再生信号レベルの相対値に基づいて最適パワーを検出するので、再生系の利得の変動の影響を受けることがなく、精度よく最適パワーを検出することができる。
【００８０】
なお、最適パワーの検出方法として、更に図２０、図２１の補助線とクロストークの増加を示す直線との交点におけるパワーを最適パワーとして決定してもよい。即ち、図２２に示すようにΔＬが所定値以下であって、Ｐthに近接した評価点を２点以上選択した後、それらの点を最小自乗法で直線近似し、得られた直線と前述の直線との交点における記録パワーＰthを最適値として決定する。こうすることにより、Ｐthに達するまでの区間でもクロストークの影響で再生レベルは緩やかに変化しているが、このようなクロストークの影響も除去できるため、更にクロストークの影響を低減して、より正確に変曲点（最適値）を検出することができる。
【００８１】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、次の効果がある。
（１）記録媒体の所定トラックに所定の信号を記録し、信号の記録されたトラックの隣接トラックを複数の異なる消去パワーで消去し、信号の記録されたトラックの再生信号と複数の異なる消去パワーに基づいて最適消去パワーを設定しているので、ランドとグルーブの両方に情報を記録するランド・グルーブ記録において隣接トラックを消去することがなく、正確に目的トラックのみを消去することができる。
（２）相変化記録媒体においても同様に最適パワーが得られ、ランド・グルーブ記録において好適なテスト記録方法を提供することができる。また、光磁気記録媒体へのダイレクトオーバーライト時の多値変調方式においても、それぞれの最適パワーが得られる。
（３）消去パワーを再生信号の振幅が低下し始める直前のパワーに設定することにより、隣接トラックに既に書き込まれている情報の劣化を生じることがなく、しかも、消去すべき情報を完全に消去しうる最大消去パワーに設定することができる。
（４）消去パワーを消去パワーの増加に伴って変化する再生信号の振幅の変化率が所定値以上の領域で少なくとも２点の再生信号振幅を結んだ直線と、再生信号の振幅の略最大値の直線との交点におけるパワーに設定することにより、再生信号の振幅を直接検出するのではなく、ある程度振幅が低下した状態での、再生信号振幅の相対値に基づいて最適消去パワーを検出するので、再生系の利得の変動や測定位置の違いなどによる振幅変動などの影響を受けることがなく、精度良く最適消去パワーを設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光学的情報記録再生装置の一実施形態を示したブロック図である。
【図２】本発明のテスト記録方法の第１の実施形態を示したフローチャートである。
【図３】ディスクのテスト記録領域を示した説明図である。
【図４】図２の実施形態のテスト記録の過程の各部の信号を示した図である。
【図５】図２の実施形態のテスト記録で得られた記録パワーとレベル検出回路出力の関係を示した図である。
【図６】Ｓ／Ｎが最良となるようにテスト記録を行う場合のデューティー５０％のピットを示した図である。
【図７】光磁気ディスクのテスト記録において最適消去パワーを得る場合の各部の信号を示した図である。
【図８】最適記録パワーと最適消去パワーのテスト記録を同時に行う場合のレーザパワーとディスクの記録位置を示した図である。
【図９】相変化光ディスクにマークポジション記録で記録する場合のレーザ変調波形を示した図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態のテスト記録方法を示したフローチャートである。
【図１１】本発明の第３の実施形態のテスト記録方法を示したフローチャートである。
【図１２】本発明の第４の実施形態のテスト記録方法を示したフローチャートである。
【図１３】図１２の実施形態で最適バイアスパワーを得る場合の各部の信号を示した図である。
【図１４】図１２の実施形態のテスト記録で最適バイアスパワーと最適記録パワーを得る場合のレーザパワーと再生信号振幅の関係を示した図である。
【図１５】図１２の実施形態において最適記録パワーを得る場合の各部の信号を示した図である。
【図１６】相変化光ディスクのマークエッジ記録に用いられるレーザ変調波形を示した図である。
【図１７】相変化光ディスクのマークエッジ記録のテスト記録において、最適記録パワーＰW を決定する場合の各部の信号を示した図である。
【図１８】本発明の第５の実施形態を示したフローチャートである。
【図１９】本発明の第６の実施形態を示したフローチャートである。
【図２０】図１９の実施形態の最適パワーを検出する動作を説明するための図である。
【図２１】図１９の実施形態の最適パワーを検出する動作を説明するための図である。
【図２２】他の最適パワーを検出する方法を説明するための図である。
【図２３】光磁気ディスクに対する光変調エッジ記録を行う場合のレーザ変調波形を示す図である。
【符号の説明】
１    光ディスク
２    スピンドルンモータ
３    光学ユニット
４    光学ユニット駆動系
５    レーザドライバー
６    プリアンプ
７    レベル検出回路
８    Ａ／Ｄコンバータ
９    データ再生回路
１０    コントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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