(57)【要約】  第１差分信号ａと、第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求める演算部と、第１差分信号ａ及び第２差分信号ｂが供給され、信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、位相補正部は、位相補正回路と、位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、フィルタ処理回路の出力を位相補正回路にフィードバックする経路とを備える再生装置である。  図７
2020071046.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号及び前記第３受光素子で得られる第３受光信号が供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
前記位相補正部は、
位相補正回路と、前記位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、前記位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、前記フィルタ処理回路の出力を前記位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置。
【請求項２】
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ１８０°の位相差を与えた第２の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組と、ほぼ２７０°の位相差を与えた第４の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第２の信号光と参照光の組を第２受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子、前記第４の信号光と参照光の組を第４受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号と前記第２受光素子で得られる第２受光信号の差分である第１差分信号ａと、前記第３受光素子で得られる第３受光信号と前記第４受光素子で得られる第４受光信号の差分であり、前記第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求める演算部と、
前記第１差分信号ａ及び前記第２差分信号ｂが供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
前記位相補正部は、
位相補正回路と、前記位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、前記位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、前記フィルタ処理回路の出力を前記位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置。
【請求項３】
前記位相補正回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正後の出力Ａ（ｎ）及びＢ（ｎ）を形成する請求項１又は請求項２に記載の再生装置。
Ａ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））−ｂ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））
Ｂ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））＋ｂ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））
【請求項４】
前記位相検出回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正残差θ（ｎ）を形成する請求項３に記載の再生装置。
θ（ｎ）＝０．５ａｔａｎ｛（Ａ（ｎ）2 −Ｂ（ｎ）2），Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）｝
【請求項５】
前記位相検出回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正残差θ（ｎ）を形成する請求項３に記載の再生装置。
θ（ｎ）＝Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）
【請求項６】
前記参照光は、前記光源より発せられた光をミラーにて反射させることによって生成される請求項１又は請求項２に記載の再生装置。
【請求項７】
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組をそれぞれ生成し、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子によってそれぞれ受光し、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号及び前記第３受光素子で得られる第３受光信号が供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを位相補正部によって補正し、
前記位相補正部は、
位相補正の出力信号から位相補正残差を検出し、前記位相補正残差をフィルタ処理し、前記フィルタ処理出力を位相補正回路にフィードバックする処理を行う
再生方法。
【請求項８】
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ１８０°の位相差を与えた第２の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組と、ほぼ２７０°の位相差を与えた第４の信号光と参照光の組をそれぞれ生成し、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第２の信号光と参照光の組を第２受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子、前記第４の信号光と参照光の組を第４受光素子によってそれぞれ受光し、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号と前記第２受光素子で得られる第２受光信号の差分である第１差分信号ａと、前記第３受光素子で得られる第３受光信号と前記第４受光素子で得られる第４受光信号の差分であり、前記第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求め、
前記第１差分信号ａ及び前記第２差分信号ｂが供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを位相補正部によって補正し、
前記位相補正部は、
位相補正の出力信号から位相補正残差を検出し、前記位相補正残差をフィルタ処理し、前記フィルタ処理出力を前記位相補正回路にフィードバックする処理を行う
再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光ディスク等の光媒体を再生するのに適用される再生装置及び再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば多層光ディスクを再生する場合、信号光量の低下が生じ、信号の読み取りにエラーが発生する可能性が高くなる。この問題を解決するため、光の干渉を利用して検出信号を増幅するホモダイン検出法が知られている（特許文献１及び特許文献２参照）。【０００３】
特許文献１では、信号光と参照光とを干渉させた光を検波するホモダイン方式として、それぞれその位相差が９０度ずつ異なるようにされた４つの信号光・参照光の組について検波を行うようにされている。具体的には、位相差がそれぞれ０度、９０度、１８０度、２７０度とされた信号光・参照光の組について、それぞれ検波を行うものである。これらの各検波は、信号光と参照光とを干渉させた光についての光強度をそれぞれ検出することで行われる。さらに、光ディスクの面ブレによる光路長の変化を補正するサーボをかけるようになされている。特許文献２には、演算によって信号光と参照光の光路長差を求めることが記載されている。【０００４】
ホモダイン方式では、参照光の光強度に応じて増幅された信号光の成分を、再生信号として得ることができる。このように信号光が増幅されることで、再生信号のＳＮＲを改善することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−０４４８３２号公報
【特許文献２】特開２０１３−０５４８０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ホモダイン方式では信号光と参照光の光路長差（位相オフセット）θが存在すると、所期の効果が得られなくなる。θには、光ディスクの面振れによる比較的低域周波数の位相変動と、より高い周波数の位相変動とがある。高域の位相変動は例えばディスク表面の微小な凹凸（表面の粗さ）に起因して発生する。特許文献１に記載のサーボ制御の場合、位相変動がサーボ帯域より高く、高域の位相変動を除去しきれない。【０００７】
高域の位相変動は、光路長の長さをミラーの変位によって変化させる方式では除去できないので、信号処理によって位相変動を除去するようになされる。このために位相を補正する場合には、検出された位相差信号のノイズを除去するために、位相アンラッピング処理及びフィルタ処理が適用される。しかしながら、ノイズの影響により位相のアンラッピングが正しく行われず、フィルタ処理結果に大きな誤差を付加してしまう場合があった。【０００８】
したがって、本技術の目的は、ホモダイン検出方式を採用すると共に、位相のアンラッピングがノイズの影響を受けて正しく行われないことを防止できる再生装置及び再生方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本技術は、光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ光源より発せられた光から参照光を生成し、信号光と参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、第３の信号光と参照光の組を第３受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
第１受光素子で得られる第１受光信号及び第３受光素子で得られる第３受光信号が供給され、信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
位相補正部は、
位相補正回路と、位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、フィルタ処理回路の出力を位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置である。
本技術は、光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ光源より発せられた光から参照光を生成し、信号光と参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ１８０°の位相差を与えた第２の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組と、ほぼ２７０°の位相差を与えた第４の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、第２の信号光と参照光の組を第２受光素子、第３の信号光と参照光の組を第３受光素子、第４の信号光と参照光の組を第４受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
第１受光素子で得られる第１受光信号と第２受光素子で得られる第２受光信号の差分である第１差分信号ａと、第３受光素子で得られる第３受光信号と第４受光素子で得られる第４受光信号の差分であり、第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求める演算部と、
第１差分信号ａ及び第２差分信号ｂが供給され、信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
位相補正部は、
位相補正回路と、位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、フィルタ処理回路の出力を位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置である。
【発明の効果】
【００１０】
少なくとも一つの実施形態によれば、信号光及び参照光の位相差は逐次的に更新され、位相補正残差は概ね零度中心となるため位相アンラッピング不要で正しく補正位相を算出できランド／グルーブ記録方式の光記録媒体をホモダイン検出方法を使用して良好に再生することができる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本技術中に記載されたいずれかの効果又はそれらと異質な効果であっても良い。また、以下の説明における例示された効果により本技術の内容が限定して解釈されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、従来の再生装置の一例の構成を示す図である。
【図２】図２は、従来の再生装置の他の例の構成を示す図である。
【図３】図３は、従来の再生装置の他の例の位相検出部の構成を示すブロック図である。
【図４】図４Ａ及び図４Ｂは、位相アンラッピング処理の説明に用いる略線図である。
【図５】図５Ａ、図５Ｂ及び図５Ｃは、位相アンラッピング処理の問題点の説明に用いる略線図である。
【図６】図６は、本技術の第１の実施形態の構成を示す図である。
【図７】図７は、本技術の第１の実施形態の位相補正部の構成を示すブロック図である。
【図８】図８は、本技術の第２の実施形態の位相補正部の構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、従来の再生装置のさらに他の例の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に説明する実施の形態は、本技術の好適な具体例であり、技術的に好ましい種々の限定が付されている。しかしながら、本技術の範囲は、以下の説明において、特に本技術を限定する旨の記載がない限り、これらの実施の形態に限定されないものとする。
なお、本技術の説明は、下記の順序にしたがってなされる。
＜１．従来のホモダイン検出を使用した再生装置＞
＜２．第１の実施の形態＞
＜３．第２の実施の形態＞
＜４．変形例＞
【００１３】
＜１．従来のホモダイン検出を使用した再生装置＞
図１は、従来のホモダイン検出を使用した再生装置の一例の構成を示す。光記録媒体（以下、光ディスクと称する）１は、再生装置に装填されると、スピンドルモータによって回転駆動される。回転駆動される光ディスク１に対するレーザ光照射が行われて記録信号の再生が行われる。光ディスク１は、例えば記録マークの形成により情報が記録されたいわゆる追記型の光ディスクとされる。
【００１４】
光ディスク１には、上層側から順にカバー層、記録層（反射膜）、基板が形成されている。ここで、「上層側」とは、再生装置側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。つまりこの場合、光ディスク１に対しては、カバー層側からレーザ光が入射することになる。基板は、例えばポリカーボネートなどの樹脂で構成され、その上面側には凹凸の断面形状が与えられている。カバー層は、記録層の保護のために設けられている。再生対象とする光ディスク１には、マーク列が形成されている。
【００１５】
再生装置の光学系には、再生のためのレーザ光源となるレーザ（半導体レーザ）１０が設けられている。レーザ１０より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１１を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１２に入射される。
【００１６】
偏光ビームスプリッタ１２は、例えばＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されている。偏光ビームスプリッタ１２を透過したレーザ光は、１／４波長板８及び２軸アクチュエータにより保持された対物レンズ１３を介して光ディスク１の記録層に集光するようにして照射される。光ディスク１の記録層で反射されたレーザ光が対物レンズ１３及び１／４波長板８を介して偏光ビームスプリッタ１２に入射される。１／４波長板８を２回通過することによって偏光面が９０度回転する。このため、ディスク１からの戻り光は偏光ビームスプリッタ１２で透過されずに反射されハーフビームスプリッタ１６へ向かう。図では、信号光の光路を破線で示している。
【００１７】
レーザ１０より出射され、偏光ビームスプリッタ１２で反射したレーザ光は、ホモダイン検出方式における参照光として機能する。偏光ビームスプリッタ１２で反射した参照光は、１／４波長板９及びレンズ１４を通ってミラー１５にて反射されて、再びレンズ１４及び１／４波長板９を通過して偏光ビームスプリッタ１２に入射される。レーザ１０から偏光ビームスプリッタ１２で反射されてミラー１５に向かう光は、偏光ビームスプリッタ１２とミラー１５との間の往復で１／４波長板９を２回通過することにより偏光面が９０度回転する。このため、ミラー１５からの反射光は偏光ビームスプリッタ１２で反射されずに透過されハーフビームスプリッタ１６へ向かう。図では、参照光の光路を実線で示している。ミラー１５は、矢印で示すように、参照光サーボによって変位され、これによって参照光の光路長を伸縮可能とされている。
【００１８】
偏光ビームスプリッタ１２に対して信号光及び参照光が入射され、信号光が偏光ビームスプリッタ１２によって反射され、参照光が偏光ビームスプリッタ１２を通過する。偏光ビームスプリッタ１２によって、これら信号光と参照光とが重ね合わされた状態で同方向に出射される。具体的にこの場合、信号光と参照光とはそれらの光軸が一致するように重ね合わされた状態で同方向に出射される。ここで、参照光は、いわゆるコヒーレント光である。
【００１９】
偏光ビームスプリッタ１２から出力された信号光と参照光の重ね合わせ光は、ハーフビームスプリッタ１６に入射される。ハーフビームスプリッタ１６は、入射光をほぼ１：１の割合で反射光と透過光とに分割する。
【００２０】
ハーフビームスプリッタ１６を透過した信号光と参照光の重ね合わせ光は、１／２波長板１７を介して偏光ビームスプリッタ１８に入射される。一方、ハーフビームスプリッタ１６で反射した信号光と参照光の重ね合わせ光は、１／４波長板１９を介して偏光ビームスプリッタ２０に入射される。
【００２１】
１／２波長板１７及び１／４波長板１９は、偏光面を回転させることが可能とされている。したがって、１／２波長板１７と偏光ビームスプリッタ１８とを組み合わせることによって、偏光ビームスプリッタ１８によって分岐される光量の比を調整することができる。同様に、１／４波長板１９によって、偏光ビームスプリッタ２０によって分岐される光量の比を調整することができる。
【００２２】
偏光ビームスプリッタ１８及び２０のそれぞれによって分岐される光の光量がほぼ１：１となるようにされる。偏光ビームスプリッタ１８によって反射された光が第１の受光素子としての光検出部２１（ＰＤ１）に入射され、偏光ビームスプリッタ１８を透過した光が第２の受光素子としての光検出部２２（ＰＤ２）に入射される。偏光ビームスプリッタ２０によって反射された光が第３の受光素子としての光検出部２３（ＰＤ３）に入射され、偏光ビームスプリッタ２０を透過した光が第４の受光素子としての光検出部２４（ＰＤ４）に入射される。
【００２３】
光検出部２１から出力され、コンデンサ２５を介された第１受光信号Ｉと、光検出部２２から出力され、コンデンサ２６を介された第２受光信号Ｊが減算器２７ａに供給される。また、光検出部２３から出力され、コンデンサ２８を介された第３受光信号Ｋと、光検出部２４から出力され、コンデンサ２９を介された第４受光信号Ｌが減算器２７ｂに供給される。コンデンサ２５〜２９は、交流結合でもって各受光信号を減算器２７ａ又は２７ｂに供給するために設けられている。減算器２７ａが（ａ＝Ｉ−Ｊ）の第１差分信号ａを発生し、減算器２７ｂが（ｂ＝Ｋ−Ｌ）の第２差分信号ｂを発生する。第１差分信号ａ及び第２差分信号ｂは、直交関係にあり、第１差分信号ａを０°位相側信号と称し、第２差分信号ｂを９０°位相側信号と称する。
【００２４】
減算器２７ａの出力信号（０°位相側）が復号処理部３０に供給され、復号処理部３０から再生信号が出力される。また、減算器２７ａの出力信号（０°位相側）と減算器２７ｂの出力信号（９０°位相側）が位相検出回路３１に供給される。位相検出回路３１からサーボエラー信号が出力される。サーボエラー信号がサーボフィルタ３２を介してミラー１５のサーボ機構（不図示）に供給される。ミラー１５がサーボエラー信号に応じて変位し、参照光の光路長を制御するようになされる。
【００２５】
上述したような参照光サーボ機構は、光ディスク１の面ブレのような比較的低い周波数の位相変動を補正することができるが、高い周波数の位相変動を除去できない問題がある。高域の位相変動は例えばディスク表面の微小な凹凸（表面の粗さ）に起因して発生する。
【００２６】
図２は、従来のホモダイン検出を使用した再生装置の他の例の構成を示す。減算器２７ａの出力に０°位相側信号ａ（＝Ｉ−Ｊ）を取り出し、減算器２７ｂの出力に９０°位相側信号ｂ（＝Ｋ−Ｌ）を取り出す構成は、図１と同様であるので、対応する構成要素に対して同一の参照符号を付してその説明を省略する。
【００２７】
０°位相側信号ａ及び９０°位相側信号ｂが位相補正部３３に供給され、位相補正された信号が復号処理部３０に供給される。なお、上述した参照光サーボを併用するようにしてもよい。
【００２８】
図３に位相補正部３３の構成を示す。０°位相側信号ａ及び９０°位相側信号ｂが回転処理回路４１及び位相検出回路４２に供給される。回転処理回路４１から位相補正出力Ａが得られる。位相検出回路４２は、検出位相をθで表すと、下記の演算処理を行う。
【００２９】
ｓｉｎ（２θ）＝２ａｂ
ｃｏｓ（２θ）＝ａ2 −ｂ2 
【００３０】
これらの式を使用して検出位相θを求める。
θ＝０．５ａｔａｎ｛（ａ2 −ｂ2 ），ａｂ｝
【００３１】
求められた検出位相θが位相アンラッピング回路４３に供給される。位相アンラッピング回路４３は、位相が折り返された信号から元の信号を再現する回路である。位相アンラッピング回路４３の出力にアンラッピングされた位相θｕが得られる。
【００３２】
位相θｕがフィルタ処理回路４４に供給される。フィルタ処理回路４４は、ノイズ低減のために設けられており、例えばローパスフィルタである。フィルタ処理回路４４から取り出された補正位相θａが回転処理回路４１に供給される。回転処理回路４１において、下記の演算処理がなされ、位相変動が補正された位相補正出力Ａが得られる。
【００３３】
Ａ＝ａ・ｃｏｓ（θａ）＋ｂ・ｓｉｎ（θａ）
【００３４】
図４を参照して位相アンラッピング回路４３の処理について説明する。位相アンラッピング処理は、連続する２サンプルの間のレベル差を求め、求められたレベル差が所定の値より大きい場合には、位相が折り返されたと判定し、この折り返しを補正する処理である。例えば図４Ａに示すように、位相検出回路４２によって求められる検出位相θは、（＋１８０°〜−１８０°）の範囲の値しかとることができないので、例えば＋１８０°を超える値が−１８０°側に折り返されている。
【００３５】
位相アンラッピング回路４３では、一例として、＋１８０°付近のサンプルと−１８０°付近のサンプルの差が所定の値を超えるので、位相の折り返しが発生していると判定し、図４Ｂに示すように、折り返しを補正する位相アンラッピング処理を行う。なお、図４において、点線は、検出位相の平均値を表している。
【００３６】
上述した位相アンラッピング処理は、検出位相θが連続的に変化することを前提としているために、ノイズが存在すると位相アンラッピング処理が正しく行われない問題がある。例えば図５Ａに示すように、時間的に連続し、＋１８０°に近い値の２サンプル（Ｐｉ−１  及びＰｉ）がノイズの影響によって、＋１８０°より低い値と＋１８０°より高い値を持つ場合がありうる。
【００３７】
このようなデータの場合、＋１８０°でラッピングされたデータは、図５Ｂに示すように、サンプルＰｉ−１が元の値で、サンプルＰｉが−１８０°で折り返されたものとなる。連続する２つのサンプリングＰｉ−１及びＰｉの差が計算されるが、差が大きくならないために、折り返されたことが検出できず、図５Ｃに示すような位相アンラッピング処理後のデータが発生する。この図５Ｃのデータは、検出位相θの正しい値と異なったものである。
【００３８】
＜２．第１の実施の形態＞
本技術の第１の実施形態について説明する。本技術は、演算処理によって位相補正を行うもので、図６に示すようなシステムの構成を有する。図２に示す従来の再生装置と同様にホモダイン検出の構成を有する。重複した説明を避けるために、対応する構成要素に同一の参照符号を付してその説明を省略する。０°位相側信号ａ（＝Ｉ−Ｊ）及び９０°位相側信号ｂ（＝Ｋ−Ｌ）が本技術による位相補正部５０に供給され、位相補正出力が形成される。
【００３９】
図７を参照して位相補正部５０について説明する。０°位相側信号ａ（ｎ）及び９０°位相側信号ｂ（ｎ）が回転処理回路５１に供給される。なお、ｎは、離散時刻を表す。回転処理回路５１は、二つの入力信号の回転演算を行う。回転処理回路５１からは、次に示す位相補正後の出力（位相補正出力Ａ（ｎ）及びＢ（ｎ））が取り出される。ここで、θａ（ｎ）は、フィルタ処理回路５３からフィードバックされた補正位相である。
【００４０】
Ａ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））−ｂ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））
Ｂ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））＋ｂ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））
【００４１】
位相補正出力Ａ（ｎ）が出力として取り出されると共に、位相検出回路５２に供給される。位相検出回路５２に対して位相補正出力Ｂ（ｎ）も供給され、下記の演算によって検出位相θ（ｎ）が求められる。
【００４２】
ｓｉｎ（２θ（ｎ））＝２Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）
ｃｏｓ（２θ（ｎ））＝Ａ（ｎ）2 −Ｂ（ｎ）2 
これらの式から次のように検出位相θ（ｎ）が求まる。
【００４３】
θ（ｎ）＝０．５ａｔａｎ｛（Ａ（ｎ）2 −Ｂ（ｎ）2），Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）｝
【００４４】
求められた検出位相θ（ｎ）は、回転処理回路５１による位相補正後に、位相を検出するものであり、求められた検出位相θ（ｎ）は、位相補正残差である。検出位相θ（ｎ）がフィルタ処理回路５３に供給される。フィルタ処理回路５３は、例えば次の式に示すような２回積分の演算を行って補正位相θａを形成するローパスフィルタである。フィルタ処理回路５３によって形成された補正位相θａが回転処理回路５１にフィードバックされる。θｔが１回目の積分の出力であり、θａが２回目の積分の出力である。式において、ｋ１  〜ｋ４  は、定数である。
【００４５】
θｔ（ｎ＋１）＝ｋ１θｔ（ｎ）＋ｋ２θ（ｎ）
θａ（ｎ＋１）＝ｋ３θａ（ｎ）＋ｋ４θｔ（ｎ＋１）
【００４６】
第１の実施形態では、フィードバック処理を繰り返すことによって、位相補正残差が概ね０°中心となるため、位相アンラッピング処理が不要となる。このように、位相補正部５０が位相アンラッピング処理を行わないので、上述したようなノイズによって位相アンラッピング処理が誤ることを防止することができる。また、位相補正のフィードバックループを繰り返すことによって、補正位相θａが正しい値に収束することになる。
【００４７】
＜３．第２の実施の形態＞
本技術の第２の実施形態について説明する。第１の実施形態と同様のシステムの構成（図６参照）を有する。また、第２の実施形態の位相補正部６０は、図８に示す構成を有する。第１の実施形態の位相補正部５０と同様に、フィルタ処理回路６３から回転処理回路６１に対するフィードバック経路が設けられている。
【００４８】
図８を参照して位相補正部６０について説明する。０°位相側信号ａ（ｎ）及び９０°位相側信号ｂ（ｎ）が回転処理回路６１に供給される。なお、ｎは、離散時刻を表す。回転処理回路６１は、二つの入力信号の回転演算を行う。回転処理回路６１からは、次に示す位相補正出力Ａ（ｎ）及びＢ（ｎ）が取り出される。ここで、θａ（ｎ）は、フィルタ処理回路６３からフィードバックされた補正位相である。
【００４９】
Ａ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））−ｂ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））
Ｂ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））＋ｂ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））
【００５０】
これらの位相補正出力Ａ（ｎ）及びＢ（ｎ）が位相検出回路６２に供給される。位相検出回路６２においては、次に示すように、位相関係が直交する二つの位相補正後の信号を乗算した値を用いて両者間の相関性を求め、これを検出位相θ（ｎ）（位相補正残差）として用いる。
【００５１】
θ（ｎ）＝Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）
【００５２】
位相検出回路６２によって求められた検出位相θ（ｎ）がフィルタ処理回路６３に供給される。フィルタ処理回路６３は、第１の実施形態と同様に２回積分を行う構成とされている。フィルタ処理回路６３によって形成された補正位相θａが回転処理回路６１にフィードバックされる。
【００５３】
かかる第２の実施形態では、位相アンラッピング処理を行わないので、上述したようなノイズによって位相アンラッピング処理が誤ることを防止することができる。また、位相補正のフィードバックループを繰り返すことによって、補正位相θａが正しい値に収束することになる。さらに、第１の実施形態のような三角関数の演算を行う必要がないので、位相検出回路６２の構成を簡略化することが可能となる。
【００５４】
＜５．変形例＞
以上、本技術の実施の形態について具体的に説明したが、上述の各実施の形態に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
【００５５】
また、上述の実施の形態の構成、方法、工程、形状、材料及び数値などは、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
【００５６】
例えば本発明は、図９に示すように、差動演算を行わない構成に対しても適用することができる。図２と対応する図９における構成要素には、同一の参照符号を付して示す。
【００５７】
なお、本技術は、以下のような構成も取ることができる。
（１）
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号及び前記第３受光素子で得られる第３受光信号が供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
前記位相補正部は、
位相補正回路と、前記位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、前記位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、前記フィルタ処理回路の出力を前記位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置。
（２）
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ１８０°の位相差を与えた第２の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組と、ほぼ２７０°の位相差を与えた第４の信号光と参照光の組をそれぞれ生成する光学系と、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第２の信号光と参照光の組を第２受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子、前記第４の信号光と参照光の組を第４受光素子によってそれぞれ受光する受光部と、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号と前記第２受光素子で得られる第２受光信号の差分である第１差分信号ａと、前記第３受光素子で得られる第３受光信号と前記第４受光素子で得られる第４受光信号の差分であり、前記第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求める演算部と、
前記第１差分信号ａ及び前記第２差分信号ｂが供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを補正する位相補正部とを有し、
前記位相補正部は、
位相補正回路と、前記位相補正回路の出力信号から位相補正残差を検出する位相検出回路と、前記位相補正残差をフィルタ処理するフィルタ処理回路からなり、前記フィルタ処理回路の出力を前記位相補正回路にフィードバックする経路と
を備える再生装置。
（３）
前記位相補正回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正後の出力Ａ（ｎ）及びＢ（ｎ）を形成する（１）又は（２）に記載の再生装置。
Ａ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））−ｂ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））
Ｂ（ｎ）＝ａ（ｎ）ｓｉｎ（θａ（ｎ））＋ｂ（ｎ）ｃｏｓ（θａ（ｎ））
（４）
前記位相検出回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正残差θ（ｎ）を形成する（３）に記載の再生装置。
θ（ｎ）＝０．５ａｔａｎ｛（Ａ（ｎ）2 −Ｂ（ｎ）2），Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）｝
（５）
前記位相検出回路は、フィードバックされた補正位相をθａ、離散時刻をｎとする場合に次の演算によって位相補正残差θ（ｎ）を形成する（３）に記載の再生装置。
θ（ｎ）＝Ａ（ｎ）Ｂ（ｎ）
（６）
前記参照光は、前記光源より発せられた光をミラーにて反射させることによって生成される（１）から（５）のいずれかに記載の再生装置。
（７）
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組をそれぞれ生成し、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子によってそれぞれ受光し、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号及び前記第３受光素子で得られる第３受光信号が供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを位相補正部によって補正し、
前記位相補正部は、
位相補正の出力信号から位相補正残差を検出し、前記位相補正残差をフィルタ処理し、前記フィルタ処理出力を位相補正回路にフィードバックする処理を行う
再生方法。
（８）
光源より発せられた光を記録媒体に対して照射することによって信号光を得、且つ前記光源より発せられた光から参照光を生成し、前記信号光と前記参照光とを重ね合わせた重ね合わせ光に対し、ほぼ０°の位相差を与えた第１の信号光と参照光の組と、ほぼ１８０°の位相差を与えた第２の信号光と参照光の組と、ほぼ９０°の位相差を与えた第３の信号光と参照光の組と、ほぼ２７０°の位相差を与えた第４の信号光と参照光の組をそれぞれ生成し、
前記第１の信号光と参照光の組を第１受光素子、前記第２の信号光と参照光の組を第２受光素子、前記第３の信号光と参照光の組を第３受光素子、前記第４の信号光と参照光の組を第４受光素子によってそれぞれ受光し、
前記第１受光素子で得られる第１受光信号と前記第２受光素子で得られる第２受光信号の差分である第１差分信号ａと、前記第３受光素子で得られる第３受光信号と前記第４受光素子で得られる第４受光信号の差分であり、前記第１差分信号ａと位相関係が直交する第２差分信号ｂを求め、
前記第１差分信号ａ及び前記第２差分信号ｂが供給され、前記信号光と参照光の光路長差θを位相補正部によって補正し、
前記位相補正部は、
位相補正の出力信号から位相補正残差を検出し、前記位相補正残差をフィルタ処理し、前記フィルタ処理出力を前記位相補正回路にフィードバックする処理を行う
再生方法。
【符号の説明】
【００５８】
１・・・光ディスク、１２，２０・・・偏光ビームスプリッタ、１５・・・ミラー、
２１，２２，２３，２４・・・光検出部、２７ａ，２７ｂ・・・減算器、
３０・・・信号処理部、３３，５０，６０・・・位相検出部、
４１，５１，６１・・・回転処理回路、４３・・・位相アンラッピング回路、
４４，５３，６３・・・フィルタ処理回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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