(57)【要約】【課題】サーボパターンの記録の精度向上させることができるサーボライトヘッド等の技術を提供すること。【解決手段】本技術に係るサーボライトヘッドは、記録面を具備する。この記録面は、幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する。【選択図】図１１
2020110702.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する記録面
を具備するサーボライトヘッド。
【請求項２】
請求項１に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域は、前記記録面が前記幅方向で所定形状に切り欠かれるようにして形成される
サーボライトヘッド。
【請求項３】
請求項２に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、円弧である
サーボライトヘッド。
【請求項４】
請求項３に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．８倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項５】
請求項４に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．６倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項６】
請求項５に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．４倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項７】
請求項６に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．３倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項８】
請求項２に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の４．１倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項９】
請求項８に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．２倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項１０】
請求項９に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．１倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項１１】
請求項１０に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の１．５倍以下である
サーボライトヘッド。
【請求項１２】
請求項２に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、前記長さ方向に連続する円弧である
サーボライトヘッド。
【請求項１３】
請求項２に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、矩形である
サーボライトヘッド。
【請求項１４】
請求項１に記載のサーボライトヘッドであって、
前記磁気テープは、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上する
サーボライトヘッド。
【請求項１５】
請求項１４に記載のサーボライトヘッドであって、
前記磁気テープは、前記第１の領域に対して接触しつつ、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上する
サーボライトヘッド。
【請求項１６】
幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより前記磁気テープにサーボパターンを記録する記録面を有するサーボライトヘッド
を具備するサーボパターン記録装置。
【請求項１７】
幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する
磁気テープの製造方法。
【請求項１８】
幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップによりサーボパターンが記録された
磁気テープ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、磁気テープにサーボパターンを記録するサーボライトヘッド等の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子データのバックアップなどの用途で磁気テープが広く普及している。磁気テープは、容量が多く長期保存が可能なことから、ビッグデータ等の蓄積媒体としてますます注目が集まっている。【０００３】
磁気テープには、複数の記録トラックを含む複数のデータバンドと、ストライプ状の複数のサーボパターンを含む複数のサーボバンドが設けられている。磁気テープにおいては、まず、サーボパターン記録装置のサーボライトヘッドにより、サーボバンドに対してサーボパターンが記録される（例えば、特許文献１参照）。【０００４】
その後、データ記録／再生装置のヘッドユニットにより、サーボバンド内のサーボパターンが読み取られて、データバンド内の記録トラックに対する位置合わせが行われ、記録トラックに対してデータが記録される。【０００５】
近年においては、磁気テープに対する高密度記録化の要請から、記録トラック数が大幅に増加する傾向にある。例えば、ＬＴＯ（Linear Tape Open）規格の磁気テープの記録トラック数は、初代のＬＴＯ−１が３８４本であったのが、ＬＴＯ−２〜ＬＴＯ８ではそれぞれ、５１２本、７０４本、８９６本、１２８０本、２１７６本、３５８４本、６６５６本となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１４−１９９７０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
記録トラックに対する位置合わせは、サーボパターンに基づいて行われるので、記録トラック数が増加すると、これに伴ってサーボパターンの記録の精度を向上させる必要がある。一方、サーボライトヘッドと磁気テープとの間の摩擦が原因でサーボパターンの記録の精度が低くなってしまう場合がある。【０００８】
以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、サーボパターンの記録の精度向上させることができるサーボライトヘッド等の技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本技術に係るサーボライトヘッドは、記録面を具備する。この記録面は、幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する。【００１０】
この技術では、記録面における第２の幅が記録面における第１の幅よりも狭く構成されているので、サーボライトヘッドの記録面と磁気テープとの間の摩擦を減らすことができる。これにより、記録面に対する磁気テープの流れをスムーズにすることができるので、サーボパターンの記録の精度を向上させることができる。【００１１】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記第２の領域は、前記記録面が前記幅方向で所定形状に切り欠かれるようにして形成されていてもよい。【００１２】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記所定形状は、円弧であってもよい。【００１３】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．８倍以下であってもよい。【００１４】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．６倍以下であってもよい。【００１５】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．４倍以下であってもよい。【００１６】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．３倍以下であってもよい。【００１７】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の４．１倍以下であってもよい。【００１８】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．２倍以下であってもよい。【００１９】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．１倍以下であってもよい。【００２０】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の１．５倍以下であってもよい。【００２１】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記所定形状は、前記長さ方向に連続する円弧であってもよい。【００２２】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記所定形状は、矩形であってもよい。【００２３】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記磁気テープは、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上してもよい。【００２４】
上記サーボライトヘッドにおいて、前記磁気テープは、前記第１の領域に対して接触しつつ、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上してもよい。【００２５】
本技術に係るサーボパターン記録装置は、サーボライトヘッドを具備する。このサーボライトヘッドは、幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより前記磁気テープにサーボパターンを記録する記録面を有する。【００２６】
本技術に係る磁気テープの製造方法は、幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する。【００２７】
本技術に係る磁気テープは、幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップによりサーボパターンが記録される。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】磁気テープを側方から見た模式図である。
【図２】磁気テープを上方からみた模式図である。
【図３】サーボパターン記録装置を示す模式図である。
【図４】サーボライトヘッドを磁気テープ側から見た斜視図である。
【図５】サーボライトヘッドを磁気テープ側から見た平面図である。
【図６】図５に示すＡ−Ａ'間の断面図である。
【図７】サーボライトヘッドを磁気テープ側から見た部分拡大図である。
【図８】サーボライトヘッドの上部を側方から見た模式的な部分拡大図である。
【図９】サーボライトヘッドに設けられた磁気ギャップを示す模式図である。
【図１０】各種のダミーの記録面を示す模式図である。
【図１１】ダミーにおける長さ方向での一部を示す斜視図である。
【図１２】記録面と、走行する磁気テープとの間の接触状態を評価するための評価装置を示す模式図である。
【図１３】評価装置において、ダミーと、磁気テープとの関係を示す拡大図である。
【図１４】図１３に示されるＡ−Ａ'間の断面図である。
【図１５】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【図１６】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【図１７】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【図１８】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【図１９】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【図２０】評価装置の撮像部により撮像された画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００３０】
＜磁気テープ１＞
まず、本技術の一実施形態に係る磁気テープ１の基本的な構成について説明する。図１は、磁気テープ１を側方から見た模式図であり、図２は、磁気テープ１を上方からみた模式図である。なお、図面中においては、磁気テープ１を基準とした直交座標系をＸ'Ｙ'Ｚ'座標系により表すことする。
【００３１】
図１及び図２に示すように、磁気テープ１は、長さ方向（Ｘ'軸方向）に長く、幅方向（Ｙ'軸方向）に短く、厚さ方向（Ｚ'軸方向）に薄いテープ状に構成されている。
【００３２】
磁気テープ１は、長さ方向（Ｘ'軸方向）に長いテープ状の基材２と、基材２の一方の主面上に設けられた非磁性層３と、非磁性層３上に設けられた磁性層４と、基材２の他方の主面上に設けられたバック層５とを含む。なお、バック層５は、必要に応じて設けられればよく、このバック層５は省略されてもよい。
【００３３】
基材２は、非磁性層３および磁性層４を支持する非磁性支持体である。基材２は、例えば、ポリエステル類、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種を含む。
【００３４】
磁性層４は、データを記録するための記録層である。この磁性層４は、磁性粉、結着剤、導電性粒子等を含む。磁性層４は、必要に応じて、潤滑剤、研磨剤、防錆剤などの添加剤をさらに含んでいてもよい。
【００３５】
磁性層４は、垂直配向とされていてもよいし、長手配向とされていてもよい。磁性層４に含まれる磁性粉は、例えば、ε酸化鉄を含有するナノ粒子（ε酸化鉄粒子）、六方晶フェライトを含有するナノ粒子（六方晶フェライト粒子）、Ｃｏ含有スピネルフェライトを含有するナノ粒子（コバルトフェライト）等により構成される。
【００３６】
非磁性層３は、非磁性粉及び結着剤を含む。非磁性層３は、必要に応じて、電動性粒子、潤滑剤、硬化剤、防錆材などの添加剤を含んでいてもよい。
【００３７】
バック層５は、非磁性粉及び結着剤を含む。バック層５は、必要に応じて潤滑剤、硬化剤及び帯電防止剤などの添加剤を含んでいてもよい。
【００３８】
磁気テープ１の平均厚み（平均全厚）の上限値は、例えば、５．６μｍ以下、５．０μｍ以下、４．４μｍ以下などとされる。磁気テープ１の平均厚みが５．６μｍ以下であると、カートリッジ２１内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープ１よりも高めることができる。
【００３９】
図２に示すように、磁性層４は、データが書き込まれる長さ方向（Ｘ'軸方向）に長い複数のデータバンドｄ（データバンドｄ０〜ｄ３）と、サーボパターン７が書き込まれる長さ方向に長い複数のサーボバンドｓ（サーボバンドｓ０〜ｓ４）とを有している。サーボバンドｓは、幅方向（Ｙ'軸方向）で各データバンドｄを挟み込む位置に配置される。
【００４０】
図２に示す例では、データバンドｄの本数が４本とされ、サーボバンドｓの本数が５本とされた場合の一例が示されている。なお、データバンドｄの本数、サーボバンドｓの本数は、適宜変更することができる。
【００４１】
データバンドｄは、長さ方向に長く、幅方向に整列された複数の記録トラック６を含む。データは、この記録トラック６に沿って、記録トラック６内に記録される。データバンドｄに記録されるデータにおける長さ方向の１ビット長は、例えば、４８ｎｍ以下とされる。サーボバンドｓは、サーボパターン記録装置１００（図３参照）によって記録されるサーボパターン７を含む。
【００４２】
ここで、ＬＴＯ規格の磁気テープ１は、世代ごとに記録トラック数が増加して記録容量が飛躍的に向上している。一例を挙げると、初代のＬＴＯ−１が３８４本であった記録トラック数が、ＬＴＯ−２〜ＬＴＯ８ではそれぞれ、５１２本、７０４本、８９６本、１２８０本、２１７６本、３５８４本及び６６５６本となっている。データの記録容量についても同様に、ＬＴＯ−１では１００ＧＢ（ギガバイト）であったのが、ＬＴＯ−２〜ＬＴＯ−８ではそれぞれ、２００ＧＢ、４００ＧＢ、８００ＧＢ、１．５ＴＢ（テラバイト）、２．５ＴＢ、６．０ＴＢ及び１２ＴＢとなっている。
【００４３】
本実施形態では、記録トラック６の本数や記録容量は、特に限定されず、適宜変更可能である。但し、本技術は、例えば、記録トラック６の本数や記録容量が多く（例えば、６６５６本以上、１２ＴＢ以上：ＬＴＯ８以降）、厳密に正確にサーボパターン７を記録する必要がある磁気テープ１に適用されると有利である。
【００４４】
＜サーボパターン記録装置１００＞
次に、磁気テープ１のサーボバンドｓに対してサーボパターン７を記録するサーボパターン記録装置１００について説明する。図３は、サーボパターン記録装置１００を示す模式図である。
【００４５】
図３に示すように、サーボパターン記録装置１００は、磁気テープ１の搬送方向の上流側から順番に、送り出しローラ１１、消磁部１２、サーボライトヘッド１３、サーボリードヘッド１４及び巻き取りローラ１５を備えている。
【００４６】
送り出しローラ１１は、ロール状の磁気テープ１を回転可能に支持することが可能とされている。送り出しローラ１１は、モータなどの駆動源の駆動に応じて回転され、回転に応じて磁気テープ１を下流側に向けて送り出す。
【００４７】
巻き取りローラ１５は、ロール状の磁気テープ１を回転可能に支持することが可能とされている。巻き取りローラ１５は、モータなどの駆動源の駆動に応じて送り出しローラ１１と同調して回転し、磁気テープ１を回転に応じて巻き取っていく。
【００４８】
送り出しローラ１１及び巻き取りローラ１５は、搬送路内において磁気テープ１を一定の速度で移動させることが可能とされている。
【００４９】
サーボライトヘッド１３は、例えば、磁気テープ１の上方側（磁性層４側）に配置される。サーボライトヘッド１３は、矩形波のパルス信号に応じて所定のタイミングで磁界を発生し、磁気テープ１が有する磁性層４の一部に対して磁場を印加する。
【００５０】
これにより、サーボライトヘッド１３は、磁性層４の一部を磁化させて磁性層４にサーボパターン７を記録する。サーボライトヘッド１３は、サーボライトヘッド１３の下側を磁気テープ１が通過するときに、５つのサーボバンドｓ０〜ｓ４に対してそれぞれサーボパターン７を記録することが可能とされている。
【００５１】
消磁部１２は、例えば、サーボライトヘッド１３よりも上流側において、磁気テープ１の下側（基材２側）に配置される。消磁部１２は、永久磁石により構成される。永久磁石は、サーボライトヘッド１３によってサーボパターン７が記録される前に、直流磁界によって磁性層４の全体に対して磁場を印加して、磁性層４の全体を消磁する。
【００５２】
サーボリードヘッド１４は、サーボライトヘッド１３よりも下流側において、磁気テープ１の上側（磁性層４側）に配置される。サーボリードヘッド１４は、磁気テープ１に記録されたサーボパターン７から発生する磁界をＭＲ素子（ＭＲ：Magneto Resistive）、ＧＭＲ素子（ＧＭＲ：Giant Magneto Resistive）、ＴＭＲ素子（ＴＭＲ：Tunnel Magneto Resistive）、インダクティブヘッドなどにより読み取ることで、サーボ信号を再生可能に構成されている。サーボリードヘッド１４によって読み取られたサーボ信号の再生波形は、サーボパターン７が正確に記録されたかどうかの確認に用いられる。
【００５３】
なお、図示は省略しているが、サーボパターン記録装置１００は、サーボパターン記録装置１００の各部を統括的に制御する制御装置を備えている。
【００５４】
制御装置は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、サーボパターン記録装置１００の各部を統括的に制御する。
【００５５】
記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、例えば、サーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
【００５６】
［本技術の基本的な考え方］
ここで、本実施形態においては、特に、サーボライトヘッド１３に特徴を有している。このサーボライトヘッド１３の説明の前に、本技術の基本的な考え方について触れておく。
【００５７】
データバンドｄ内の記録トラック６に対する位置合わせは、サーボバンドｓ内のサーボパターン７に基づいて行われる。従って、記録トラック数が増加すると、これに伴ってサーボパターン７の記録の精度を向上させる必要がある。記録トラック数については、ＬＴＯ８では、６６５６本の記録トラック６を用意する必要があり、また、ＬＴＯ９以降においては、記録トラック数はさらに増加することが予想される。従って、このような場合、厳密に正確に（例えば、ナノオーダで）サーボパターン７を記録することが要求される。
【００５８】
一方、一般的なサーボライトヘッドの場合、サーボライトヘッドと磁気テープ１との間の摩擦が原因で、サーボパターン７の記録の精度が低くなってしまう場合がある。本発明者らが、一般的なサーボライトヘッドによって書き込まれたサーボパターン７の再生波形を実際に周波数解析したところ、特定の周波数領域において摩擦を原因とした誤差があることが確認された。
【００５９】
記録トラック数が多くなると、このような摩擦を原因とした誤差も排除する必要がある。このため、本実施形態では、サーボライトヘッド１３において磁気テープ１に対して摺動する箇所（後述の対向部２１、記録面２２）の形状などを工夫することによって、摩擦による影響を低減して、サーボパターン７の記録の精度を向上させることとしている。
【００６０】
なお、本技術は、記録トラック６の本数が多い（例えば、６６５６本以上：ＬＴＯ８以降）磁気テープ１に対するサーボパターン７の記録に適用されると有利であるが、記録トラック数が少ない（例えば、６６５６本未満）磁気テープ１に対するサーボパターン７の記録についても勿論適用可能である。
【００６１】
（サーボライトヘッド１３）
次に、サーボライトヘッド１３の具体的な構成について詳細に説明する。図４は、サーボライトヘッド１３を磁気テープ１側から見た斜視図である。図５は、サーボライトヘッド１３を磁気テープ１側から見た平面図である。
【００６２】
また、図６は、図５に示すＡ−Ａ'間の断面図である。図７は、サーボライトヘッド１３を磁気テープ１側から見た部分拡大図である。図８は、サーボライトヘッド１３の上部を側方から見た模式的な部分拡大図である。また、図９は、サーボライトヘッド１３に設けられた磁気ギャップ２６を示す模式図である。
【００６３】
なお、本明細書中において説明される各図においては、サーボライトヘッド１３（ヘッドブロック２０、ダミー７０）を基準とした直交座標系をＸＹＺ座標系により表すこととする。
【００６４】
サーボライトヘッド１３において、長さ方向（Ｙ軸方向）は、磁気テープ１の幅方向（Ｙ'軸方向）に対応し、幅方向（Ｘ軸方向）は、磁気テープ１の長さ方向（Ｘ'軸方向）及び磁気テープ１の走行方向に対応する。また、サーボライトヘッド１３において、高さ方向（Ｚ軸方向）は、磁気テープ１の厚さ方向（Ｚ'軸方向）に対応する。
【００６５】
これらの図に示すように、サーボライトヘッド１３は、ヘッドブロック２０と、シールドケース５０と、複数のコイル６０とを備えている。
【００６６】
シールドケース５０は、サーボライトヘッド１３が有するコイル６０から発生する磁界が外部の他の部品に悪影響を与えないように、コイル６０からの磁界をシールドする。また、シールドケース５０は、外部の他の部品から発生する磁界がコイル６０に悪影響を与えないように、外部からの磁界をシールドする。
【００６７】
シールドケース５０は、長さ方向（Ｙ軸方向）に長く、幅方向（Ｘ軸方向）に短く、高さ方向（Ｚ軸方向）に高い、内部が中空の直方体形状を有している（特に、図４、図５参照）。本実施形態では、シールドケース５０は、長さＬｓ（Ｙ軸方向）が、３８ｍｍとされ、幅Ｗｓ（Ｘ軸方向）が、６．４ｍｍとされ、高さＨｓ（Ｚ軸方向）が、３０ｍｍとされている。なお、本明細書において挙げられる、各部材の具体的な寸法や、部材の数などは、単なる一例に過ぎず、適宜変更することができる。
【００６８】
シールドケース５０の上部には、ヘッドブロック２０をシールドケース５０から露出させるための開口５１が設けられている。また、シールドケース５０の下部には、コイル６０と繋がる導線６１をシールドケース５０の外部に引き出すための開口が設けられている。
【００６９】
ヘッドブロック２０は、長さ方向（Ｙ軸方向）に長く形成されており、また、長さ方向から見て、上部（磁気テープ１側）が湾曲した逆Ｕ字状（部分的に筒状）に形成されている（特に、図５〜図７を参照）。本実施形態では、ヘッドブロック２０は、長さＬｈ（Ｙ軸方向）が、２４ｍｍとされ、幅Ｗｈ（Ｘ軸方向）が、３．２ｍｍとされ、高さＨｈ（Ｚ軸方向）が、３．８ｍｍとされている。
【００７０】
ヘッドブロック２０の上部において、幅方向（Ｘ軸方向）の中央近傍には、長さ方向（Ｙ軸方向）に沿って、磁気テープ１に対向する対向部２１が設けられている。この対向部２１は、ヘッドブロック２０の上部において他の部分よりも上方（磁気テープ１側）に一段高く突出するようにヘッドブロック２０に設けられている。
【００７１】
本実施形態では、対向部２１は、長さＬｃ（Ｙ軸方向）が、２４ｍｍとされ、幅Ｗｃ（Ｘ軸方向）が、１ｍｍとされ、高さＨｃ（Ｚ軸方向）が、０．１ｍｍとされている。
【００７２】
ヘッドブロック２０の上部において、幅方向で対向部２１を挟み込む位置には、水平面に対して相対する方向に傾斜する２つのテーパ面２５が設けられている。テーパ面２５が水平面に対して傾斜する角度φは、本実施形態では、２５°とされている。
【００７３】
対向部２１の表面は、平坦面されている。この対向部２１の表面を本明細書中において、記録面２２と呼ぶ。この記録面２２は、走行する磁気テープ１に対向して、記録面２２に設けられた磁気ギャップ２６により磁気テープ１に対してサーボパターン７を記録する。
【００７４】
本実施形態では、サーボライトヘッド１３と磁気テープ１との間の摩擦を低減させるために、記録面２２の形状（対向部２１の形状）を通常の形状とは異ならせている。本実施形態では、この記録面２２の形状（対向部２１の形状）により、記録面２２の一部（第１の領域２３）に対して磁気テープ１を接触させ、記録面２２の他の部分（第２の領域２４）について磁気テープ１を接触させないようにすることが可能とされている。
【００７５】
なお、記録面２２は、磁気テープ１に対して摺動する摺動面となるが、本実施形態では、記録面２２に対して磁気テープ１が部分的に離れるので、記録面２２の全てが摺動面となるわけではない。また、ヘッドブロック２０の上部において、記録面２２以外の部分、例えば、テーパ面２５等は、摩擦低減のため、磁気テープ１には接触しないように構成されている。
【００７６】
記録面２２には、長さ方向（Ｙ軸方向）に沿って、所定の間隔で複数組の磁気ギャップ２６が設けられている（特に、図９参照）。１組の磁気ギャップ２６は、所定のアジマス角ψを持って互いに相対する方向に傾斜するように配置された２つの磁気ギャップ２６（「／」及び（＼））によって構成されている。アジマス角ψは、例えば、１２°±３°とされる。また、磁気ギャップ２６の長さＰＬ（Ｙ軸方向）は、例えば、９６μｍ±３μｍとされ、磁気ギャップ２６自体の幅であるギャップ幅（Ｘ軸方向）は、例えば、０．９μｍとされる。
【００７７】
磁気ギャップ２６の組の数は、磁気テープ１におけるサーボバンドｓの数に対応しており、本実施形態では、磁気ギャップ２６の組の数は、５組とされている。また、この５組の磁気ギャップ２６において、互いに隣接する２組の磁気ギャップ２６の長さ方向（Ｙ軸方向）での間隔ＰＰは、互いに隣接する２本のサーボバンドｓの間隔に対応しており、この間隔ＰＰは、例えば、２８５８．８μｍ±４．６μｍとされる。
【００７８】
対向部２１の上部において、長さ方向で互いに隣接する磁気ギャップ２６の間の領域（４箇所）にはそれぞれ切欠き部３０が設けられている（特に、図７参照）。この４組の切欠き部３０は、それぞれ、第１の切欠き３１と、第２の切欠き３２との２つの切欠きを有している。
【００７９】
第１の切欠き３１は、対向部２１の上部において、幅方向（Ｘ軸方向）における一方の端部側が切欠かれるようにして形成される。また、第２の切欠き３２は、対向部２１の上部において、幅方向における他方の端部側が切欠かれるようにして形成される。第１の切欠き３１と、第２の切欠き３２とは、対向部２１（記録面２２）における幅方向での中央線を基準として線対称に形成されている。
【００８０】
本実施形態において、第１の切欠き３１及び第２の切欠き３２は、円弧状に形成されている。この円弧の曲率半径Ｒは、２．２ｍｍとされている。また、切欠き部３０の深さは、５μｍ〜７μｍとされている。
【００８１】
対向部２１の上部に切欠き部３０が形成されることによって、記録面２２に対して第１の領域２３と、第２の領域２４が形成される。第１の領域２３は、幅方向（Ｘ軸方向）に第１の幅Ｗ１で形成され、幅方向に直交する長さ方向（Ｙ軸方向）で磁気ギャップ２６が設けられる位置に対応する領域である。第２の領域２４は、第１の幅Ｗ１よりも狭い第２の幅Ｗ２で形成され、長さ方向で磁気ギャップ２６が設けられない位置に対応する領域である。第２の領域２４は、記録面２２が幅方向で所定形状に切り欠かれるようにして形成されている。
【００８２】
第１の領域２３と、第２の領域２４とは、長さ方向（Ｙ軸方向）方向に沿って交互に配置されている。第１の領域２３の数は、磁気ギャップ２６の組数に対応しており、本実施形態では、５つとされている。また、第２の領域２４の数は、本実施形態では、４つとされている。なお、本実施形態では、第２の領域２４は、隣接する２組の磁気ギャップ２６の間の領域とされているが、第２の領域２４は、長さ方向（Ｙ軸方向）で最も端の磁気ギャップ２６のさらに外側の領域に設定されていてもよい。
【００８３】
記録面２２における第１の領域２３は、中央に１組の磁気ギャップ２６が設けられており、幅Ｗ１（第１の幅：Ｘ軸方向）が１ｍｍとされ、長さＬ１（Ｙ軸方向）が０．５ｍｍとされている。第１の領域２３の幅Ｗ１（第１の幅）は、対向部２１の幅Ｗｃと同じである。
【００８４】
第１の領域２３の長さＬ１ついては、磁気ギャップ２６の長さＰＬ（９６μｍ±３μｍ）に対して余白の長さ（＋α）が設定されて決定されている。この余白の長さは、例えば、磁気ギャップ２６の長さの２倍から１０倍程度とされる。なお、本実施形態では、この余白の長さは、磁気ギャップ２６の長さの約４倍とされている。
【００８５】
記録面２２における第２の領域２４は、切欠き部３０によって第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１）よりもその幅（第２の幅Ｗ２）が狭められておいる。第２の領域２４の幅（第２の幅Ｗ２）は、切欠き部３０の形状が円弧状である関係で、第２の領域２４の中央（長さ方向）に向けて徐々に細くなり、その中央で最も細くなっている。本実施形態では、第２の領域２４における長さ方向中央の最も細くなった箇所の幅Ｗ２ｍが、０．３ｍｍとされている。
【００８６】
本実施形態では、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅Ｗ２ｍ（０．３ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．３倍とされている。なお、円弧の曲率半径Ｒ（２．２ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の２．２倍とされている。
【００８７】
第２の領域２４の長さＬ２（Ｙ軸方向）は、１．９ｍｍとされている。第２の領域２４の長さＬ２については、例えば、第１の領域２３の長さＬ１の２倍から１０倍程度とされる。なお、本実施形態では、この第２の領域２４の長さＬ２は、第１の領域２３の長さＬ１の約４倍とされている。
【００８８】
ヘッドブロック２０は、ヘッドブロック２０の核となるコア部４０と、磁気ギャップ２６が形成されるベースとなるベース部４５と、対向部２１の表面を構成する薄膜部４６とを備えている（特に、図６、図８参照）。薄膜部４６は、対向部２１において第１の領域２３に対応する位置に設けられた金属磁性膜４７と、第２の領域２４に対応する位置に設けられた非磁性硬質膜とを含む。なお、上述の記録面２２は、実際には、金属磁性膜４７及び非磁性硬質膜の表面（薄膜部４６の表面）に対応する。
【００８９】
コア部４０は、長さ方向（Ｙ軸方向）に長く形成されており、また、長さ方向から見て、上部が湾曲した逆Ｕ字状（部分的に筒状：後述の第１のコア４１に対応する箇所）に形成されている。本実施形態では、コア部４０は、長さＬｈ（Ｙ軸方向）が、２４ｍｍとされ、幅Ｗｈ（Ｘ軸方向）が、３．２ｍｍとされ、高さＨｈ（Ｚ軸方向）が、３．８ｍｍとされている（上述のヘッドブロック２０の寸法と同じ）。
【００９０】
コア部４０の上部における幅方向（Ｘ軸方向）の中央近傍には、長さ方向（Ｙ軸方向）に沿って上下方向に貫通する開口４９が形成されている。ベース部４５は、コア部４０の上部に形成された開口４９を埋めるように、この開口４９に配置されている。
【００９１】
ベース部４５は、長さ方向（Ｙ軸方向）に長く、幅方向（Ｘ軸方向）及び厚さ方向（Ｚ軸方向）に短い形状を有している。本実施形態では、ベース部４５は、長さ（Ｙ軸方向）が、２４ｍｍとされ、幅Ｗｂ（Ｘ軸方向）が、０．３３ｍｍとされ、高さＨｂ（Ｚ軸方向）が、０．４ｍｍとされている。なお、ベース部４５の幅Ｗｂは、対向部２１の幅Ｗｃの約１／３である。
【００９２】
ベース部４５の材料としては、ヘッドブロック２０製造時において各種の接合のためや、金属磁性膜４７の磁気特性確保のために熱処理が施されることを考慮して、高融点である硬質の非磁性材料（各種ガラス材料、各種セラミック材料）が用いられる。
【００９３】
金属磁性膜４７は、対向部２１において第１の領域２３（全領域）に対応する領域に設けられている。金属磁性膜４７は、例えば、Ｆｅ系微結晶、ＮｉＦｅ、あるいは、これらに類似した高飽和磁束密度を有するその他の軟磁性合金によって構成されている。また、金属磁性膜４７の厚さは、数μｍとされている。
【００９４】
金属磁性膜４７には、磁気ギャップ２６に対応する位置に、磁気ギャップ２６に対応する形状の開口２７が設けられている。この開口２７は、金属磁性膜４７を上下方向に貫通するように金属磁性膜４７に設けられている。この開口２７には、非磁性材料が埋め込まれており、この非磁性材料の上面は、金属磁性膜４７の表面（記録面２２）と同じ高さとなっており、また、非磁性材料の下面は、ベース部４５の上面と接続されている。金属磁性膜４７に埋め込まれたこの非磁性材料により、磁気ギャップ２６が形成される。
【００９５】
コイル６０によりコア部４０（第１のコア４１）が励磁されると、金属磁性膜４７に埋め込まれた非磁性材料（磁気ギャップ２６）が、金属磁性膜４７を通過しようとする磁束を妨げることにより、磁気ギャップ２６の位置で漏れ磁界が発生する。この漏れ磁界によってサーボバンドｓに対してサーボパターン７を書き込むことが可能とされている。
【００９６】
非磁性硬質膜は、対向部２１において第２の領域２４（全領域）に対応する領域に設けられている。また、非磁性硬質膜は、対向部２１において、長さ方向（Ｙ軸方向）で最も端の第１の領域２３のさらに外側の領域にも設けられている。非磁性硬質膜は、例えば、ＳｉＯ２膜で構成されており、金属磁性膜４７と同じ厚みで形成されている。
【００９７】
なお、金属磁性膜４７の表面及び非磁性硬質膜の表面（つまり、記録面２２）の高さは同じとされており、これらの表面は平坦面とされている。
【００９８】
コア部４０は、第１の領域２３に対応する５つの第１のコア４１と、第２の領域２４に対応する４つの第２のコア４２と、長さ方向の両端側に位置する２つの端部コア４３とを含む（特に、図７参照）。互いに隣接する２つのコア４１、４２、４３の間には、接着層４４がそれぞれ介在されており、各コア４１、４２、４３は、接着層４４を介して相互に接続される。
【００９９】
第１のコア４１は、磁性体材料により構成されており、一方で、第２のコア４２及び端部コア４３は、非磁性体材料により構成されている。なお、第１のコア４１の間に、非磁性体材料により構成される第２のコア４２が介在されることで、個々の第１のコア４１を磁気的に分離することが可能とされている。
【０１００】
第１のコア４１を構成する磁性体材料としては、例えば、単結晶フェライトや多結晶フェライトなどの材料が用いられる。フェライト材料としては、例えば、Ｍｎ−Ｚｎ系フェライト等が挙げられる。
【０１０１】
第２のコア４２、端部コア４３を構成する非磁性体材料としては、各種の接合のためや、金属磁性膜４７の磁気特性確保のために熱処理が施されることを考慮して、熱膨張率が第１のコア４１及び金属磁性膜４７の熱膨張率と同等の材料が用いられる。例えば、非磁性体材料としては、ＢａＯ−ＴｉＯ２セラミックス、ＣａＯ−ＴｎＯ２セラミックス、熱膨張率がフェライト材料に近いガラスセラミックス等が用いられる。
【０１０２】
第２のコア４２及び端部コア４３は、長手方向から見て、下部が開放された逆Ｕ状に形成されている（特に、図６参照）。一方、第１のコア４１は、その上部は第２コア及び端部コア４３と同じ形状とされているものの、下部が開放されておらず、全体として筒状（Ｏ字状）に形成されている点で、第２のコア４２及び端部コア４３とは形状が異なっている。
【０１０３】
５つの第１のコア４１の下部には、それぞれ個別の導線６１がコイル状に巻回されてそれぞれ個別のコイル６０が形成されている。
【０１０４】
５つのコイル６０に対しては、それぞれ個別のパルス信号が供給可能とされており、５つの第１のコア４１を個別に励磁することが可能とされている。これにより、５つの第１のコア４１は、それぞれ、サーボバンドｓに対して異なるタイミングでサーボパターン７を書き込むことが可能とされている。
【０１０５】
なお、第１のコア４１において対向部２１の表面を構成する薄膜部４６は、金属磁性膜４７であり、一方で、第２のコア４２及び端部コア４３において対向部２１の表面を構成する薄膜部４６は、非磁性硬質膜である。
【０１０６】
サーボライトヘッド１３は、図示しないヘッド移動機構により、高さ方向（Ｚ軸方向）に移動可能とされていてもよい。この場合、ヘッドブロック２０の記録面２２を磁気テープ１側に突き出すことが可能とされ、磁気テープ１側への侵入距離Ｐ（後述）や、磁気テープ１に対するラップ角θ（後述）を調整することが可能となる。
【０１０７】
＜記録面２２と磁気テープ１との間の接触状態の評価＞
次に、記録面２２と、走行する磁気テープ１との間の接触状態の評価について説明する。この評価においては、まず、ヘッドブロック２０の上部を模した複数種類のダミー７０が用意され、次に、これらのダミー７０がそれぞれ評価装置２００にセットされて接触状態の評価が行われた。
【０１０８】
図１０は、各種のダミー７０の記録面２２（２２ａ〜２２ｆ）を示す模式図である。図１１は、ダミー７０における長さ方向での一部を示す斜視図である。
【０１０９】
ここで、ダミー７０の形状は、実際のヘッドブロック２０の上部の形状と同じであるが、ダミー７０は、全ての部分がガラス材料で構成されている点で実際のヘッドブロック２０の上部とは異なっている。
【０１１０】
ダミー７０の材料としてガラス材料が用いられているのは、光の干渉縞によって記録面２２と磁気テープ１との間の接触状態を評価するためである。なお、ダミー７０を含む各図においては、磁気ギャップ２６の位置を示すために磁気ギャップ２６が描かれているが、ダミー７０においては、実際には磁気ギャップ２６は設けられていない。
【０１１１】
図１０においては、３つのダミー７０（７０ａ〜７０ｃ）が示されている。この３つのダミー７０については、効率よく接触状態の評価を行うために、それぞれ、異なる２種類の記録面２２（２種類の切欠き部３０）が用意されている（実際のヘッドブロック２０では、１種類の記録面２２が選択される）。
【０１１２】
図１０における上側のダミー７０ａは、左側の領域に示される記録面２２ａと、右側の領域に示される記録面２２ｂとの２種類の記録面２２を有している。２種類の記録面２２ａ、２２ｂにおいては、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の形状がそれぞれ円弧状で共通とされているが（図１１の上側の図を参照）、円弧の曲率半径Ｒ等が異なっている。
【０１１３】
具体的には、左側の記録面２２ａにおける円弧状の切欠き部３０は、円弧の曲率半径Ｒが４．１ｍｍとされている（図１５参照）。また、左側の記録面２２ａでは、記録面２２ａの第２の領域２４において最も細くなっている箇所の幅Ｗ２ｍが０．８ｍｍとされている。
【０１１４】
なお、この例では、円弧の曲率半径Ｒ（４．１ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の４．１倍とされている。また、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅（第２の幅Ｗ２ｍ：０．８ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．８倍とされている。
【０１１５】
一方、右側の記録面２２ｂにおける円弧状の切欠き部３０は、円弧の曲率半径Ｒが２．１ｍｍとされている（図１６参照）。また、右側の記録面２２ｂでは、記録面２２ｂの第２の領域２４において最も細くなっている箇所の幅Ｗ２ｍが０．６ｍｍとされている。
【０１１６】
なお、この例では、円弧の曲率半径Ｒ（２．１ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の２．１倍とされている。また、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅（第２の幅Ｗ２ｍ：０．６ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．６倍とされている。
【０１１７】
図１０における中央のダミー７０ｂについても、左側の領域に示される記録面２２ｃと、右側の領域に示される記録面２２ｄとの２種類の記録面２２を有している。左側の記録面２２ｃにおいては、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の形状が円弧状とされているが（図１１の上側の図を参照）、右側の記録面２２ｄにおいては、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の形状が矩形とされている（図１１の中央の図を参照）。
【０１１８】
左側の記録面２２ｃにおける円弧状の切欠き部３０は、円弧の曲率半径Ｒが１．５ｍｍとされている（図１７参照）。また、左側の記録面２２ｃでは、記録面２２の第２の領域２４において最も細くなっている箇所の幅Ｗ２ｍが０．４ｍｍとされている。
【０１１９】
なお、この例では、円弧の曲率半径Ｒ（１．５ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の１．５倍とされている。また、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅（第２の幅Ｗ２ｍ：０．４ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．４倍とされている。
【０１２０】
一方、右側の記録面２２ｄにおける矩形の切欠き部３０は、矩形の幅が０．３ｍｍとされており、記録面２２ｄの第２の領域２４の幅Ｗ２が０．４ｍｍとされている（図１８参照）。なお、この例では、第２の領域２４における幅（第２の幅Ｗ２：０．４ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．４倍とされている。
【０１２１】
図１０における下側のダミー７０ｃについても、左側の領域に示される記録面２２ｅと、右側の領域に示される記録面２２ｆとの２種類の記録面２２を有している。２種類の記録面２２ｅ、２２ｆにおいては、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の形状が、それぞれ、長手方向に連続する円弧状で共通とされているが（図１１の下側の図を参照）、円弧の数や、曲率半径Ｒ等が異なっている。
【０１２２】
左側の記録面２２ｅにおける連続する円弧状の切欠き部３０は、連続する円弧の数が２つとされている（図１９参照）。この円弧の曲率半径Ｒは、０．９ｍｍとされている。また、隣接する２つの円弧が繋がる部分においては、記録面２２上の第２の領域２４側について円弧とは逆向きの円弧が形成されている。この逆向きの円弧の曲率半径Ｒは、０．９ｍｍとされている。また、左側の記録面２２ｅでは、記録面２２ｅの第２の領域２４において最も細くなっている箇所の幅Ｗ２ｍが０．７ｍｍとされている。
【０１２３】
なお、この例では、円弧の曲率半径Ｒ（０．９ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．９倍とされている。また、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅（第２の幅Ｗ２ｍ：０．７ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．７倍とされている。
【０１２４】
右側の記録面２２ｆにおける連続する円弧状の切欠き部３０は、連続する円弧の数が４つとされている（図２０参照）。この円弧の曲率半径Ｒは、０．２ｍｍとされている。また、隣接する２つの円弧が繋がる部分においては、記録面２２上の第２の領域２４側について円弧とは逆向きの円弧が形成されている。この逆向きの円弧の曲率半径Ｒは、０．２ｍｍとされている。また、右側の記録面２２ｆでは、記録面２２ｆの第２の領域２４において最も細くなっている箇所の幅Ｗ２ｍが０．７ｍｍとされている。
【０１２５】
なお、この例では、円弧の曲率半径Ｒ（０．２ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．２倍とされている。また、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する幅（第２の幅Ｗ２ｍ：０．７ｍｍ）は、第１の領域２３の幅（第１の幅Ｗ１：１ｍｍ）の０．７倍とされている。
【０１２６】
図１２は、記録面２２と、走行する磁気テープ１との間の接触状態を評価するための評価装置２００を示す模式図である。
【０１２７】
図１２に示すように、評価装置２００は、光源８１と、ビームスプリッタ８２と、撮像部８３と、増幅部８４と、制御装置８５と、表示部８６と、入力部８７とを備えている。
【０１２８】
光源８１は、特定の波長領域（例えば、赤）の単色光を出射可能に構成されている。ビームスプリッタ８２は、光源８１からの出射光を透過させつつ、ダミー７０及び磁気テープ１によって反射された反射光を撮像部８３側に導く。
【０１２９】
撮像部８３は、ダミー７０及び磁気テープ１の反射光による画像を撮像する。増幅部８４は、撮像部８３により撮像された画像の信号を増幅して制御装置８５へと出力する。
【０１３０】
制御装置８５は、例えば、制御部、記憶部、通信部などを含む。制御部は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成されており、記憶部に記憶されたプログラムに従い、評価装置２００の各部を統括的に制御する。
【０１３１】
記憶部は、各種のデータや各種のプログラムが記録される不揮発性のメモリと、制御部の作業領域として用いられる揮発性のメモリとを含む。上記各種のプログラムは、光ディスク、半導体メモリ等の可搬性の記録媒体から読み取られてもよいし、ネットワーク上のサーバ装置からダウンロードされてもよい。通信部は、例えば、サーバ装置等の他の装置との間で互いに通信可能に構成されている。
【０１３２】
表示部８６は、例えば、液晶ディスプレイや、ＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイ等により構成され、制御装置８５からの指示に応じて、撮像部８３により撮像された画像をディスプレイ上に表示させる。入力部８７は、例えば、キーボードや接触センサ等であり、ユーザからの各種の指示を入力して制御装置８７へと出力する。
【０１３３】
ここで、光の動きについて説明すると、まず、光源８１から出射された光は、ビームスプリッタ８２を通過して、ダミー７０の背面側（記録面２２とは反対側）からダミー７０内に入射される。ダミー７０内に入射された光は、一部が記録面２２により反射される。また、ダミー７０内に入射された光は、他の一部が記録面２２を透過して、磁気テープ１により反射される。記録面２２及び磁気テープ１により反射された光は、ビームスプリッタ８２により撮像部８３側に導かれ、撮像部８３により画像が撮像される。
【０１３４】
記録面２２と、磁気テープ１との間に距離があると、この距離に応じて記録面２２による反射光と磁気テープ１による反射光とが強めあったり弱め合ったりするので、撮像部８３により撮像される画像において干渉縞となって現れることになる。
【０１３５】
図１３は、評価装置２００において、ダミー７０と、磁気テープ１との関係を示す拡大図である。図１３の左側には、磁気テープ１側から評価装置２００を見たときの様子が示されている。また、図１３の右側には、ダミー７０及び磁気テープ１を撮像した画像の様子が示されている。図１４は、図１３に示されるＡ−Ａ'間の断面図である。
【０１３６】
図１３及び図１４に示すように、評価装置２００は、図１２に示す各部の他に、磁気テープ１をガイドするためのガイド８８を備えている。なお、図示は省略しているが、評価装置２００は、磁気テープ１を走行させるための駆動装置や、ダミー７０を磁気テープ１側に移動させるためのダミー移動機構なども備えている。
【０１３７】
２つのガイド８８は、ダミー７０の幅方向（Ｘ軸方向：磁気テープ１の走行方向）で、ダミー７０を挟み込む位置にダミー７０と所定の距離を開けて配置されている。ダミー７０とガイド８８との間の距離Ｄは、本実施形態では、１９．５ｍｍとされている。
【０１３８】
ダミー７０は、ダミー移動機構によりダミー７０の厚さ方向（Ｚ軸方向）へ移動可能とされており、磁気テープ１側に突き出すことが可能とされている。なお、ダミー７０が磁気テープ１側に突き出されて磁気テープ１側に侵入する距離を、以降では、侵入距離Ｐと呼ぶ。侵入距離Ｐは、磁気テープ１が平坦とされて、この平坦な磁気テープ１にダミー７０が接触しているときのダミー７０の位置が基準となる（侵入距離Ｐ＝０）。
【０１３９】
また、ダミー７０の長さ方向（Ｙ軸方向：磁気テープ１の幅方向）から見て、ダミー７０の記録面２２と、磁気テープ１との間の成す角を、以降では、ラップ角θと呼ぶ（磁気テープ１において記録面２２に対向する部分ではなく、磁気テープ１の走行方向で、記録面２２に対向する部分を挟み込む両側の部分）。なお、侵入距離Ｐが０の場合、ラップ角θは０°である。
【０１４０】
なお、磁気テープ１を走行させる速度Ｖは、本実施形態では、１０ｍ／ｓとされた。
【０１４１】
図１５〜図２０は、評価装置２００の撮像部８３により撮像された画像を示す図である。図１５〜図２０においては、上側のダミー７０において四角の破線で囲まれた領域が、下側の画像の領域に対応している。
【０１４２】
図１５には、記録面２２ａと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。なお、撮像された画像においては、磁気ギャップ２６の位置を示すために磁気ギャップ２６が描かれているが、画像においては、実際には磁気ギャップ２６は写ってはいない（図１６〜図２０も同様）。
【０１４３】
図１５には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。一方、右側の画像は、侵入距離Ｐが１００μｍに設定され、ラップ角θが０．３°に設定されて撮像された画像である。
【０１４４】
図１５の左側の画像（侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所は、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３の略全域において平坦に接触していることを表している。一方、左側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮いていることを示している。
【０１４５】
なお、干渉縞は、いわば等高線を示している。第２の領域２４における干渉縞について、具体的に説明すると、磁気テープ１は、第２の領域２４における長さ方向（Ｙ軸方向）の中心部分において記録面２２から最も離れており、第２の領域２４における長さ方向の両端側に近づくに従って徐々に記録面２２に近づいている。
【０１４６】
なお、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４に対して浮くのは、以下の理由に基づくと考えられる。まず、磁気テープ１が走行すると磁気テープ１に付着した空気層により走行方向に向けて微量な気流が発生する。対向部２１には、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０が設けられているが、この切欠き部３０のうちテープ走行方向の上流側に位置する切欠き３１（画像において左側）に対して、気流が流れ込む。
【０１４７】
テープ走行方向の上流側の切欠き３１に流れ込んだ気流は、記録面２２の第２の領域２４と磁気テープ１との間に入り込み、記録面２２の第２の領域２４から磁気テープ１を浮上させる。磁気テープ１を浮上させた後、この気流は、テープ走行方向の下流側の切欠き３２に流れ込んで、外部へと放出される。磁気テープ１が浮上するのは、このような理由からである。
【０１４８】
なお、切欠き部３０（特に、磁気テープ１走行方向の上流側の切欠き３１）の形状を円弧状とすることで、気流の進行方向に向けて徐々に気流の経路が細くなるので、記録面２２の第２の領域２４と磁気テープ１との間に気流が入り易くなると考えられる。
【０１４９】
図１５の左側の画像の例では、磁気テープ１は、記録面２２の第１の領域２３の略全域において平坦に接触しているため、磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録することができる。また、左側の画像の例では、磁気テープ１は、記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して浮いているので、磁気テープ１と、記録面２２との間の摩擦による影響を低減して、サーボパターン７の記録の精度向上させることができる。
【０１５０】
図１５の右側の画像（侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所、並びに、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所が、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３及び第２の領域２４の略全域において平坦に接触していることを表している。
【０１５１】
図１５の右側の画像の例の場合、侵入距離Ｐ、ラップ角θを増やした関係で、磁気テープ１は、記録面２２の第２の領域２４に対して浮上していない。このため、摩擦低減の効果は、図１５の左側の画像の例よりも小さくなる。しかしながら、図１５の右側の画像の例においても、記録面２２が第２の領域２４において幅が狭くなっている。このため、一般的な矩形の記録面２２に比べると磁気テープ１との間の摩擦が少なくなるので、磁気テープ１と記録面２２との間の摩擦による影響を低減して、サーボパターン７の記録の精度向上させることができる。
【０１５２】
なお、磁気テープ１の走行速度Ｖを１０ｍ／ｓよりも速くすれば、気流が強まるので、侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１５３】
図１６には、記録面２２ｂと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。図１６には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。また、右側の画像は、侵入距離Ｐが２００μｍに設定され、ラップ角θが０．６°に設定されて撮像された画像である。
【０１５４】
図１６の左側の画像（侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所において、縞の間隔は広めであるが干渉縞ができてしまっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３に対して、平坦に接触しておらず、部分的に浮いてしまっていることを表している。
【０１５５】
また、図１６の左側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１５６】
図１６の左側の画像の例の場合、磁気テープ１は、第２の領域２４に対して良く浮いているので、この点では、良好である。一方、磁気テープ１は、第１の領域２３に対して平坦に接触していないので、磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録できない可能性がある。
【０１５７】
磁気テープ１が第１の領域２３に対して部分的に浮上してしまうのは、磁気テープ１と第２の領域２４との間に入り込んだ気流が、第１の領域２３から磁気テープ１を浮上させてしまうためであると考えられる。なお、磁気テープ１の走行速度Ｖを１０ｍ／ｓよりも遅くすれば、気流が弱まるので、侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１５８】
図１６の右側の画像（侵入距離Ｐ２００μｍ、ラップ角θ０．６°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所は、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３の略全域において平坦に接触していることを表している。一方、右側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１５９】
図１６の右側の画像の例では、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮かせる（浮上距離も大きい）ことができる。
【０１６０】
図１７には、記録面２２ｃと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。図１７には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。また、右側の画像は、侵入距離Ｐが２００μｍに設定され、ラップ角θが０．６°に設定されて撮像された画像である。
【０１６１】
図１７における２枚の画像の例は、図１６における２枚の画像の例と類似しており、図１６における２枚の画像の例と基本的に同じである。従って、図１７の２枚の画像の説明では、図１６と異なる点を中心に説明する。
【０１６２】
ここで、図１７に示される記録面２２ｃは、図１６に示される記録面２２ｂよりも、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の曲率半径Ｒが小さく（記録面２２ｂ：２．１ｍｍ、記録面２２ｃ：１．５ｍｍ）、また、第２の領域２４のうち最も幅が狭い箇所の幅Ｗ２ｍが小さい（記録面２２ｂ：０．６ｍｍ、記録面２２ｃ：０．４ｍｍ）。
【０１６３】
このため、図１７に示される記録面２２ｃでは、図１６に示される記録面２２ｂに比べて、気流が第２の領域２４と磁気テープ１との間の領域に入りやすくなっている。このため、図１７に示される記録面２２ｃでは、侵入距離Ｐ及びラップ角θが同じに設定された場合における、第２の領域２４に対する磁気テープ１の浮上領域が、図１６に示される記録面２２ｂに比べて少し大きくなる。
【０１６４】
例えば、図１７の右側の画像と、図１６の右側の画像とを比較すると、図１７の画像の第２の領域２４での干渉縞の領域が、図１６の画像の第２の領域２４での干渉縞の領域よりも少し大きくなっていることが分かる。
【０１６５】
図１８には、記録面２２ｄと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。図１８には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。また、右側の画像は、侵入距離Ｐが１００μｍに設定され、ラップ角θが０．３°に設定されて撮像された画像である。
【０１６６】
図１８の左側の画像（侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所において、縞の間隔は広めであるが干渉縞ができてしまっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３に対して、平坦に接触しておらず、部分的に浮いてしまっていることを表している。
【０１６７】
また、図１８の左側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１６８】
図１８の左側の画像の例の場合、磁気テープ１は、第２の領域２４に対して良く浮いているので、この点では、良好である。一方、磁気テープ１は、第１の領域２３に対して平坦に接触していないので、磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録できない可能性がある。
【０１６９】
なお、磁気テープ１の走行速度を１０ｍ／ｓよりも遅くすれば、気流が弱まるので、侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１７０】
図１８の右側の画像（侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所は、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３の略全域において平坦に接触していることを表している。一方、右側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１７１】
図１８の右側の画像の例では、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮かせる（浮上距離も大きい）ことができる。
【０１７２】
図１９には、記録面２２ｅと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。図１９には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。また、右側の画像は、侵入距離Ｐが１００μｍに設定され、ラップ角θが０．３°に設定されて撮像された画像である。
【０１７３】
図１９の左側の画像（侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所において、縞の間隔は広めであるが干渉縞ができてしまっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３に対して、平坦に接触しておらず、部分的に浮いてしまっていることを表している。
【０１７４】
また、図１９の左側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１７５】
図１９の左側の画像の例の場合、磁気テープ１は、第２の領域２４に対して浮いているので、この点では、良好である。一方、磁気テープ１は、第１の領域２３に対して平坦に接触していないので、磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録できない可能性がある。
【０１７６】
なお、磁気テープ１の走行速度を１０ｍ／ｓよりも遅くすれば、気流が弱まるので、侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１７７】
図１９の右側の画像（侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所、並びに、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３、並びに、記録面２２の第２の領域２４の略全域において平坦に接触していることを表している。
【０１７８】
図１９の右側の画像の例の場合、侵入距離Ｐ、ラップ角θを増やした関係で、磁気テープ１は、記録面２２の第２の領域２４に対しては浮いていない。しかしながら、図１９の右側の画像の例においても、記録面２２が第２の領域２４において幅が狭くなっている。このため、一般的な矩形の記録面２２に比べると磁気テープ１との間の摩擦が少なくなるので、磁気テープ１と記録面２２との間の摩擦による影響を低減して、サーボパターン７の記録の精度向上させることができる。
【０１７９】
なお、磁気テープ１の走行速度を１０ｍ／ｓよりも速くすれば、気流が強まるので、侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１８０】
図２０には、記録面２２ｆと、磁気テープ１とを撮像した画像が示されている。図２０には、２枚の画像が含まれている。２枚の画像のうち、左側の画像は、侵入距離Ｐが０に設定され、ラップ角θが０°に設定されて撮像された画像である。また、右側の画像は、侵入距離Ｐが１００μｍに設定され、ラップ角θが０．３°に設定されて撮像された画像である。
【０１８１】
図２０の左側の画像（侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所において、縞の間隔は広めであるが干渉縞ができてしまっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３に対して、平坦に接触しておらず、部分的に浮いてしまっていることを表している。
【０１８２】
また、図２０の左側の画像の例では、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所は、略全域において干渉縞となっている。これは、磁気テープ１が記録面２２の第２の領域２４の略全域に対して接触しておらず、磁気テープ１が浮上していることを示している。
【０１８３】
図２０の左側の画像の例の場合、磁気テープ１は、第２の領域２４に対して良く浮いているので、この点では、良好である。一方、磁気テープ１は、第１の領域２３に対して平坦に接触していないので、磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録できない可能性がある。
【０１８４】
なお、磁気テープ１の走行速度を１０ｍ／ｓよりも遅くすれば、気流が弱まるので、侵入距離Ｐ０、ラップ角θ０°の条件であっても、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から適切に浮上させることができると考えられる。
【０１８５】
図２０の右側の画像（侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°）の例では、記録面２２の第１の領域２３に対応する箇所は、略全域において黒となっている。これは、磁気テープ１が、記録面２２の第１の領域２３の略全域において平坦に接触していることを表している
【０１８６】
一方、右側の画像の例において、記録面２２の第２の領域２４に対応する箇所では、第２の領域２４の幅が広がっている箇所については、黒くなっており、第２の領域２４の幅が狭まっている箇所については、干渉縞ができている。これは、磁気テープ１が、第２の領域２４の幅が広がっている箇所に対して接触しているが、第２の領域２４の幅が狭まっている箇所に対して接触しておらず、浮上していることを示している。
【０１８７】
図２０の右側の画像の例の場合、磁気テープ１を第１の領域２３に適切に接触させつつ、磁気テープ１を第２の領域２４から部分的に浮かせることができる。
【０１８８】
ここで、図１９の右側の画像の例と、図２０の右側の画像の例とを比較すると、これらは、侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°の条件が同じである。図１９の画像の例では、侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°の条件で、磁気テープ１の第２の領域２４に対する浮上領域が消滅している。これに対して、図２０の右側の画像の例では、侵入距離Ｐ１００μｍ、ラップ角θ０．３°の条件で、磁気テープ１の第２の領域２４に対する浮上領域は消滅していない。
【０１８９】
これは、図２０に示される記録面２２ｆは、図１９に示される記録面２２ｅよりも、第２の領域２４を形成するための切欠き部３０の曲率半径Ｒが小さく（記録面２２ｅ：０．９ｍｍ、記録面２２ｆ：０．２ｍｍ）されており、図２０に示される記録面２２ｆでは、図１９に示される記録面２２ｅに比べて、気流が第２の領域２４と磁気テープ１との間の領域に部分的に入りやすくなっているためである。
【０１９０】
なお、接触状態の評価については、便宜的にヘッドブロック２０の上部の代わりにダミー７０が用いられているが、以上で説明されたダミー７０の形状等（つまり、材質以外）は、上述のヘッドブロック２０に全て適用することができる。
【０１９１】
＜作用等＞
本実施形態では、記録面２２の第２の領域２４における第２の幅Ｗ２が、記録面２２の第１の領域２３における第１の幅Ｗ１よりも狭く構成されているので、サーボライトヘッド１３の記録面２２と磁気テープ１との間の摩擦を減らすことができる。これにより、記録面２２に対する磁気テープ１の流れをスムーズにすることができるので、サーボパターン７の記録の精度を向上させることができる。
【０１９２】
また、磁気テープ１を、第２の領域２４に対して少なくとも部分的に浮上させるようにすることで、サーボライトヘッド１３の記録面２２と磁気テープ１との間の摩擦をさらに減らすことができる。これにより、記録面２２に対する磁気テープ１の流れをさらにスムーズにすることができるので、サーボパターン７の記録の精度をさらに向上させることができる。
【０１９３】
また、磁気テープ１を、第１の領域２３に対して接触させつつ、第２の領域２４に対して少なくとも部分的に浮上させることで、以下の（１）及び（２）を両立させることができる。（１）磁気ギャップ２６により適切にサーボパターン７を記録すること。（２）サーボライトヘッド１３の記録面２２と磁気テープ１との間の摩擦を低減して、サーボパターン７の記録の精度を向上させること。
【０１９４】
また、記録面２２における第２の領域２４は、記録面２２が幅方向で（幅方向の両端側で）切欠き部３０により所定形状に切り欠かれるようにして形成されている。この切欠き部３０の形状（所定形状）は、円弧、矩形、長手方向に連続する円弧等、各種の形状を用いることができる。
【０１９５】
特に、切欠き部３０の形状（所定形状）として、円弧が用いられた場合、気流の進行方向に向けて徐々に気流の経路が細くなるので、記録面２２の第２の領域２４と磁気テープ１との間に気流が入り易くなる。このため、第２の領域２４から磁気テープ１を浮上させる効果が大きくなる。
【０１９６】
また、切欠き部３０の形状（所定形状）として、円弧が用いられた場合、第２の領域２４において最も幅が狭い箇所に対応する第２の幅Ｗ２は、第１の領域２３における第１の幅Ｗ１の０．８倍以下、０．６倍以下、０．４倍以下、０．３倍以下などとされる。
【０１９７】
ここで、第１の幅Ｗ１に対する第２の幅Ｗ２（最も幅が狭い箇所）の比率が下がるほど、気流が第２の領域２４と磁気テープ１との間を通り抜けやすくなるため、磁気テープ１を第２の領域２４から浮上させ易くすることができる。また、第１の幅Ｗ１に対する第２の幅Ｗ２（最も幅が狭い箇所）の比率が下がるほど、第２の領域２４の面積が小さくなるので、仮に磁気テープ１が第２の領域２４に接触したとしても、摩擦による影響を低減することができる。
【０１９８】
切欠き部３０の形状（所定形状）として、円弧が用いられた場合、円弧の曲率半径Ｒは、第１の幅Ｗ１の４．１倍以下、２．２倍以下、第１の幅Ｗ１の２．１倍以下、第１の幅Ｗ１の１．５倍以下などとされる。
【０１９９】
第１の幅Ｗ１に対する、円弧の曲率半径Ｒの長さの比率が下がるほど、気流の経路が急激に細くなるので、磁気テープ１を第２の領域２４から浮上させ易くすることができる。なお、第１の幅Ｗ１に対する、円弧の曲率半径Ｒの長さの比率を、あまり下げ過ぎてしまうと、第２の領域２４の長さが短くなってしまうので、この比率は、この点を考慮して設定される。
【０２００】
なお、第１の幅Ｗ１に対する、円弧の曲率半径Ｒの長さの比率を小さくした場合（例えば、０．９倍以下）、例えば、上記所定形状として、長手方向に連続する円弧が用いられてもよい。
【０２０１】
＜各種変形例＞
以上の説明では、切欠き部３０の形状が、円弧、矩形、長手方向に連続する円弧である場合について説明した。一方、切欠き部３０の形状は、これに限られない。例えば、切欠き部３０の形は、楕円の円弧や、台形などであってもよいし、３角形、５角形などの多角形であってもよい。また、切欠き部３０の形状は、楕円の円弧、台形、多角形等が長手方向に連続して並べられた形状であってもよい。
【０２０２】
以上の説明では、切欠き部３０が、磁気テープ１の走行方向の上流側と、下流側との両方に設けられる場合について説明した。一方、切欠き部３０は、磁気テープ１の走行方向における上流側及び下流側のうち一方にのみ設けられていてもよい。なお、切欠き部３０が磁気テープ１の走行方向の上流側に設けられていれば、気流を第２の領域２４と磁気テープ１との間に適切に流れ込ませることができ、第２の領域２４から磁気テープ１を適切に浮上させることができる。
【０２０３】
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
（１）幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する記録面
を具備するサーボライトヘッド。
（２）  上記（１）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域は、前記記録面が前記幅方向で所定形状に切り欠かれるようにして形成される
サーボライトヘッド。
（３）  上記（２）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、円弧である
サーボライトヘッド。
（４）  上記（３）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．８倍以下である
サーボライトヘッド。
（５）  上記（４）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．６倍以下である
サーボライトヘッド。
（６）  上記（５）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．４倍以下である
サーボライトヘッド。
（７）  上記（６）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記第２の領域において最も幅が狭い箇所に対応する前記第２の幅は、前記第１の幅の０．３倍以下である
サーボライトヘッド。
（８）  上記（２）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の４．１倍以下である
サーボライトヘッド。
（９）  上記（８）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．２倍以下である
サーボライトヘッド。
（１０）  上記（９）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の２．１倍以下である
サーボライトヘッド。
（１１）  上記（１０）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記円弧の曲率半径は、前記第１の幅の１．５倍以下である
サーボライトヘッド。
（１２）  上記（２）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、前記長さ方向に連続する円弧である
サーボライトヘッド。
（１３）  上記（２）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記所定形状は、矩形である
サーボライトヘッド。
（１４）  上記（１）〜（１３）のうちいずれか１つに記載のサーボライトヘッドであって、
前記磁気テープは、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上する
サーボライトヘッド。
（１５）  上記（１４）に記載のサーボライトヘッドであって、
前記磁気テープは、前記第１の領域に対して接触しつつ、前記第２の領域に対して少なくとも部分的に浮上する
サーボライトヘッド。
（１６）  幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有し、前記磁気ギャップにより前記磁気テープにサーボパターンを記録する記録面を有するサーボライトヘッド
を具備するサーボパターン記録装置。
（１７）  幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップにより磁気テープにサーボパターンを記録する
磁気テープの製造方法。
（１８）  幅方向に第１の幅で形成され、前記幅方向に直交する長さ方向で磁気ギャップが設けられる位置に対応する第１の領域と、前記第１の幅よりも狭い第２の幅で形成され、前記長さ方向で前記磁気ギャップが設けられない位置に対応する第２の領域とを有するサーボライトヘッドの記録面における前記磁気ギャップによりサーボパターンが記録された
磁気テープ。
【符号の説明】
【０２０４】
１…磁気テープ
１３…サーボライトヘッド
２１…対向部
２２…記録面
２３…第１の領域
２４…第２の領域
２６…磁気ギャップ
３０…切欠き部
７０…ダミー
１００…サーボパターン記録装置
２００…評価装置
【図１】
2020110702.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2020110702.tif 000009
【図８】
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【図９】
2020110702.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2020110702.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
2020110702.tif 000017
【図１６】
2020110702.tif 000018
【図１７】
2020110702.tif 000019
【図１８】
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【図１９】
2020110702.tif 000021
【図２０】
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【国際調査報告】
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