(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を備えた表示装置について、前記タイプごとの発光輝度の時間積分値が、前記タイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、前記タイプごとに画素の発光を制御することを特徴とする、表示装置のエージング方法。
【請求項２】
それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を備えた表示装置について、前記タイプごとの発光輝度の時間微分値が、前記タイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、前記タイプごとに画素の発光を制御することを特徴とする、表示装置のエージング方法。
【請求項３】
アセンブリ工程とエージング工程を含み、アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せしめ、
エージング工程では、前記タイプごとの発光輝度の時間積分値が、前記タイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、前記タイプごとに画素の発光を制御することを特徴とする、表示装置の製造方法。
【請求項４】
アセンブリ工程とエージング工程を含み、アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せしめ、
エージング工程では、前記タイプごとの発光輝度の時間微分値が、前記タイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、前記タイプごとに画素の発光を制御することを特徴とする、表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示装置のエージング技術に関する。本発明はとくに、発光素子を備えた表示パネルのエージング技術とその技術を用いた製造技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
製品の信頼性試験のひとつにエージング試験がある。この試験は、製品の品質管理を目的として所定の環境下で連続通電をする。表示パネルの場合は一般に、所定の周囲温度、試験電圧、試験画像において、各画素が所望の表示状態になることを確認する。
【０００３】
ここ数年、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネルの実用化が進み、液晶パネルはと異なる観点からのエージングの必要性が認識されはじめている。有機ＥＬ素子、すなわち有機発光ダイオードは、実装後、初期通電にてかなりの劣化をする性質があり、エージングは動作確認にとどまらず、この初期劣化を取り除く意味をあわせもつ。素子の劣化は輝度の低下の形をとる。初期劣化の除去が不十分なまま出荷されると、ユーザが特定の画面パターンをある程度長時間表示したときそのパターンに応じた劣化が進み、いわゆる焼き付きが生じる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者は有機発光ダイオードの劣化が発光色ごとに異なることから、従来の液晶パネル同様の画面パターンによる試験では、以下の課題が生じうることを認識した。
【０００５】
１．所定の色の素子について初期劣化が十分にとれない状態で出荷される。
２．１．の防止のために長時間エージングをすれば出荷タイミングが遅れ、製品の市場競争力を殺ぐ。
【０００６】
本発明はこの認識をもとになされ、その目的は、複数タイプの画素または表示素子を備えた表示装置向きのエージング方法とそれを用いた表示装置の製造方法の提供にある。別の目的は、表示装置のエージング時間の短縮にある。さらに別の目的は、エージング時間決定の根拠の客観化と、エージングの効率化にある。さらに別の目的は、表示装置の初期劣化の十分な除去にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明のある態様は表示装置のエージング方法に関する。この方法は、特性の異なる複数タイプの画素を備えた表示装置について、そのタイプごとに試験条件を変えて発光せしめる。以下、「画素」は画像の要素と、それを実現する素子の両義に用いる。
【０００８】
「タイプ」は色に限る必要はなく、同じ色でも素子の材質や構造が違う場合も含む。色や材質が同じであっても、素子の駆動方法、すなわち駆動回路、駆動タイミング、駆動電圧などが異なれば違うタイプと考えてもよい。
【０００９】
「試験条件」は試験時間または通電時間、試験電圧、設定するデータ、表示のオンオフのデューティなど種々の項目およびそれらの組合せが考えられる。いずれにせよ、タイプごとに条件を変えることにより、異なるタイプでも初期劣化の終了タイミングを合わせ込み、または試験条件に基づいてエージングによる初期劣化の除去をより確実たらしめることができる。
【００１０】
本発明の別の態様もエージング方法であり、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を備えた表示装置について、そのタイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御する。「発光目標値」は、例えば発光輝度の時間積分値であり、タイプごとに画素の初期劣化を終了させることを目的として設定されてもよい。「発光目標値」は発光輝度の時間変化率、すなわち時間微分値であってもよい。なお、「タイプごとに定めた」とは、すべてのタイプについて同じ設定値となることを妨げるものでない。
【００１１】
本発明のさらに別の態様は表示装置の製造方法であり、アセンブリ工程とエージング工程を含む。アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せしめ、エージング工程では、タイプごとに定めた発光目標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御する。「半完成」とは、エージングが有効な程度に組み上がった状態をいう。タイプごとの制御により、エージングの内容または時間を最適化することができ、製品の品質または製造効率の改善が実現する。
【００１２】
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を方法、装置、システム、コンピュータプログラムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１は画素の初期劣化を示す。横軸ｔは有機ＥＬ表示装置の画素の駆動時間、縦軸Ｙは画素の実際の輝度を示す。Ｒ、Ｇ、Ｂはそれぞれ赤、緑、青の画素に対応する。これらの初期輝度は正規化され、同じ値としてプロットされている。
【００１４】
前述のごとく、有機発光ダイオードは色ごとに初期劣化の特性が違い、ここでは青、緑、赤の順に劣化の総量が大きいとしているが、その総量とは関係なく、それぞれの色について初期劣化がとれるまでの駆動時間（以下単に必要時間という）が異なる。問題は必要時間の違いである。
【００１５】
図中ｔ０、ｔ１、ｔ２はそれぞれ、青、赤、緑の画素に関する必要時間である。初期劣化を早く終了させるべく、エージング試験ではいずれの画素についても最大輝度データを設定すると仮定する。
【００１６】
画素の色ごとの必要時間は、それぞれの画素について実験から求まる「発光目標値」から決まる。発光目標値は発光輝度の時間積分値である。発光輝度はそのときどきに実際に発光している輝度（以下、現在輝度という）と考えてもよいし、データとして設定しにいく理想的な輝度と考えてもよい。前者とすれば、現在輝度Ｙ（ｔ）の時間積分、すなわち、
∫Ｙ（ｔ）ｄｔ    （式１）
が色ごとに定まる所定値になるｔを実験から定めればよく、ここではそれがｔ０等となる。
【００１７】
図２は表示装置の製造方法を示す。種々の部品は製造工程へ投入され、アセンブリ工程（Ｓ１）で完成または半完成に至る。つづいて表示装置はエージング工程（Ｓ２）へ投入され、しかる後、製造工程が終わる。エージング工程では、表示装置をテストするためのホストコンピュータ（図示せず）にエージングを含む製品テストのためのプログラム（以下単にテストプログラムという）が実装される。表示装置がコンピュータ本体と一体化された製品、たとえばノート型パーソナルコンピュータのような製品の場合、ホストコンピュータは各製品が兼ねる。テストプログラムはその製品のメモリに実装される。
【００１８】
エージング工程では、色ごとに式１で定まる必要時間に至るまで最大輝度で連続駆動を行う。図１の場合、青の画素の必要時間が最短でｔ０であるため、ｔ＝ｔ０に至ったとき青の画素に設定する輝度データをゼロとし、以降、青の画素は発光させない。同様に、ｔ＝ｔ１に至ったとき赤の画素に設定する輝度データをゼロとし、以降、赤の画素は発光させない。最後に、ｔ＝ｔ２に至ったときエージング試験を終了する。
【００１９】
以上の結果、いずれの画素も初期劣化がほぼ終わり、以降ユーザの使用による画素の輝度低下が目立たなくなる。除去しきれなかった劣化による輝度低下は同程度になっているため、連続使用によってホワイトバランスが崩れる不具合が減る。なお、エージング試験が終わった時点でホワイトバランスがとれるよう表示制御系のパラメータを予め設定しておくことになる。これも実験から決まる。
【００２０】
図３はパネル型の表示装置１０とそれをテストするホストコンピュータ２０の構成を示す。ホストコンピュータ２０は表示装置１０に表示信号を送出する表示コントローラ２２と、それを含みホストコンピュータ２０全体を制御するＣＰＵ２４とメモリ２６を含む。このメモリ２６にテストプログラムがロードされ、エージングテストがなされる。
【００２１】
以上、実施の形態によれば、画素の色によらず、初期劣化がとれた状態で出荷できる。また、そのために必要なエージング時間を客観的に最適化できるため効率がよい。
【００２２】
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。そうした例を挙げる。
【００２３】
実施の形態ではすべての画素を最高輝度で試験したが、必要時間が揃うよう輝度データを調整してもよい。図１の場合、青と赤の画素はともに緑の画素より早く試練が終わるため、それらの輝度データを少し下げることにより、３色の画素ともほぼ同時にエージングを終了させることができる。
【００２４】
実施の形態では、時間に関する輝度の積分値を考えたが、時間に関する輝度の微分値を発光目標値にすることもできる。たとえば、青、赤、緑の画素の輝度をそれぞれ一定時間Δｔごとに測定し、
｛（前回の輝度）−（今回の輝度）｝／Δｔ
の絶対値（以下、劣化率ともよぶ）が所定値以下になった色の画素から順にエージングを終了してもよい。このことにより、劣化の時間変化がある程度フラットになったときエージングが終了でき、初期劣化を完了させる目的に沿う。なお、劣化率は画素タイプごとに定めてもよいし、すべてのタイプについて同一設定であってもよい。
【００２５】
この方法をとる場合、図３の構成に対して、図示しない輝度測定器が追加される。この輝度測定器は表示装置１０のパネル面に近接配置され、その輝度を所定時間毎に測定する。測定値はホストコンピュータ２０に送られ、劣化率と前述の所定値の比較が行われる。
【００２６】
実施の形態では有機発光ダイオードの表示装置を採り上げたが、これは当然別種の表示装置であってもよく、その場合、発光目標値は異なるパラメータをもとに定めてもよい。
【００２７】
エージング試験中は表示装置の発熱を抑えるために当該装置を冷却してもよい。別の観点として、初期劣化が早く終わるよう雰囲気条件の設定をしてもよい。
【００２８】
【発明の効果】
本発明によれば、効率的かつ効果的なエージング技術とそれを用いた表示装置の製造技術を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  有機発光ダイオードを用いた表示装置の初期劣化を示す図である。
【図２】  実施の形態に係る表示装置の製造工程を示す図である。
【図３】  表示装置とそれを試験するホストコンピュータの構成図である。
【符号の説明】
１０  表示装置、  ２０  ホストコンピュータ。
【図１】
0003813525.tif 000002
【図２】
0003813525.tif 000003
【図３】
0003813525.tif 000004