(57)【要約】  抵抗測定装置１は、第一治具３Ｕと、複数の第一接触子と、第二治具３Ｄと、複数の第二接触子と、互いに対応する第一接触子と第二接触子との間に電流を供給し、第一接触子と第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部５と、第一接触子ごとに、抵抗測定部５と第一接触子とを接続する第一配線と、第二接触子ごとに、抵抗測定部と第二接触子とを、抵抗測定部５から第一治具３Ｕを経由して接続する第二配線とを備え、抵抗測定部５と第一治具３Ｕとの間において、互いに対応する第一接触子と第二接触子とにそれぞれ接続された第一配線と第二配線とが隣接して配置される。
2019181458.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、
前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、
前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、
前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される、抵抗測定装置。
【請求項２】
前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置される、請求項１に記載の抵抗測定装置。
【請求項３】
前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、
前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、請求項１又は請求項２に記載の抵抗測定装置。
【請求項４】
測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、
前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、
前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、
前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、
前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、
前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、抵抗測定装置。
【請求項５】
測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、
前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、
前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される、抵抗測定治具。
【請求項６】
前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置される、請求項５に記載の抵抗測定治具。
【請求項７】
前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、
前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置される、請求項５又は請求項６に記載の抵抗測定治具。
【請求項８】
測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、
前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、
前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、
前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、
前記第一接触子ごとに接される第一配線と、
前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、
前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、
前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、
前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される、抵抗測定治具。
【請求項９】
前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、
前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、
前記第二治具は、前記複数の第二接触子と前記第二配線とを接続する、第二接続部材を備え、
前記第二接続部材は、前記複数の第二接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第二配線と接続する第二配線パターンと、前記第三配線と接続する第三配線パターンと、を備え、
前記第二接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線パターンと前記第二配線パターンとが隣接して配置される、請求項８に記載の抵抗測定治具。
【請求項１０】
前記第一接続部材は、前記第二部分パターンから延出される第四配線パターンをさらに備え、
前記第一接続部材の前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第四配線パターンとが隣接して配置される、請求項８又は請求項９に記載の抵抗測定治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具に関し、詳細には、抵抗測定装置の測定精度を向上させる技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、測定対象物の一方の面と他方の面とに複数の接触子を当接させ、対応する接触子間に電流を供給するとともに接触子間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定装置が知られている（例えば、特許文献１を参照）。当該特許文献１に記載の技術によれば、対応する接触子にそれぞれ接続される配線を別々に配置する構成としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１１７９９１号公報
【発明の概要】
【０００４】
上記背景技術の如く、対応する接触子にそれぞれ接続される配線を別々に配置した場合は、外部から受ける電磁的な影響の度合いが配線ごとに異なる。このため、外部要因によってノイズが生じた場合、ノイズの大きさが配線ごとに異なるため測定精度が低下する要因となっていた。
【０００５】
本発明は以上の如き状況に鑑みてなされたものであり、本発明が解決しようとする課題は、外部要因によってノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる、抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具を提供することである。
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するために、以下に構成する抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具を提供する。
【０００７】
本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置されるものである。
【０００８】
また、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されるものである。
【０００９】
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される。
【００１０】
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第一実施形態に係る抵抗測定装置の構成を概略的に示す概念図。
【図２】抵抗測定装置の電気的構成を概略的に示すブロック図。
【図３】抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。
【図４】電圧とノイズの関係を示す図。
【図５】第二実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。
【図６】第三実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を概略的に示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の第一実施形態に係る抵抗測定装置１の構成を図１から図４に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。図１は、本発明の第一実施形態に係る抵抗測定装置１の構成を概略的に示す概念図である。図１に示す抵抗測定装置１は、測定対象物の一例である、リチウムイオン二次電池１００のタブ端子１０４，１１４の抵抗値を測定する装置である。本実施形態における「リチウムイオン二次電池」には、正極、セパレータ及び負極の積層体と電解質とを組合わせる前の仕掛品を含むものとする。なお、本実施形態に係る抵抗測定装置１で抵抗値を測定する測定対象物は限定されるものではなく、他のあらゆる導電体を測定対象物とすることが可能である。
【００１３】
図１に示すリチウムイオン二次電池１００は、複数の正極板１０１（電極板）と、複数の負極板１１１（電極板）とが、図略のセパレータを間に挟んで交互に積層されて構成されている。正極板１０１は、例えばアルミ箔等の金属箔からなる正極集電体１０２の表面に、図略の正極活物質が塗布されて構成されている。負極板１１１は、例えば銅箔等の金属箔からなる負極集電体１１２の表面に、図略の負極活物質が塗布されて構成されている。
【００１４】
リチウムイオン二次電池１００の一端側に、各正極集電体１０２の一部がそれぞれタブ部１０３（シート、電極板の一部）として引き出され、各負極集電体１１２の一部がそれぞれタブ部１１３（シート、電極板の一部）として引き出されている。各タブ部１０３は前記一端の片側に寄せて引き出され、各タブ部１１３はタブ部１０３とは反対側に片寄らせて引き出されている。これにより、タブ部１０３とタブ部１１３とが重ならないようにされている。
【００１５】
各タブ部１０３は積層、密着され、帯状の網がけで示す溶着領域１０５で互いに溶着されて、正極のタブ端子１０４とされている。各タブ部１１３は積層、密着され、帯状の網がけで示す溶着領域１１５で互いに溶着されて、負極のタブ端子１１４（シート部材、タブ端子）とされている。溶着領域１０５，１１５の溶着方法としては、種々の溶着方法が適用可能であるが、例えば超音波溶着が用いられている。図１では、各タブ部１０３，１１３が溶着される前の状態を示している。
【００１６】
図１に示す抵抗測定装置１は、検出部４Ｕ，４Ｄと、抵抗測定部５と、報知部６と、検査対象のリチウムイオン二次電池１００を検出部４Ｕ，４Ｄの間の所定位置に保持する図略の電池保持部とを備えている。検出部４Ｕ，４Ｄはそれぞれ、検出治具である第一・第二治具３Ｕ，３Ｄを備えている。検出部４Ｕ，４Ｄは、図略の駆動機構によって、第一・第二治具３Ｕ，３Ｄを、Ｚ軸方向（タブ端子１０４、１１４の主面に略垂直の方向）に移動可能にされている。検出部４Ｕ，４Ｄは、互いに直交するＸ，Ｙ，Ｚの三軸方向に移動可能にされても良く、さらに第一・第二治具３Ｕ，３Ｄを、Ｚ軸を中心に回動可能にされていても良い。
【００１７】
報知部６は、抵抗測定部５によって得られた情報を、可視的にユーザに報知する報知装置である。報知部６としては、例えば液晶表示装置等の表示装置やプリンタを用いることができる。
【００１８】
検出部４Ｕは、図略の電池保持部に固定されたリチウムイオン二次電池１００の上方に位置する。検出部４Ｕは、リチウムイオン二次電池１００のタブ端子１０４，１１４に順次プローブＰｕを接触させるための検出治具である第一治具３Ｕを着脱可能に構成されている。第一治具３Ｕはタブ端子１０４，１１４の上側（正のＺ軸方向側、以下同じ）の面に対向して設けられる。
【００１９】
検出部４Ｄは、図略の電池保持部に固定されたリチウムイオン二次電池１００の下方に位置する。検出部４Ｄは、リチウムイオン二次電池１００のタブ端子１０４，１１４に順次プローブＰｄを接触させるための検出治具である第二治具３Ｄを着脱可能に構成されている。第二治具３Ｄはタブ端子１０４，１１４の下側（負のＺ軸方向側、以下同じ）の面に対向して設けられる。第一・第二治具３Ｕ，３Ｄは、検出部４Ｕ，４Ｄへの取り付け方向が上下逆になる点を除き、互いに同様に構成されている。
【００２０】
なお、第一・第二治具３Ｕ，３Ｄは、タブ端子１０４，１１４を一括して二つのタブ端子１０４，１１４に同時にプローブＰｕ，Ｐｄを接触させる構成とすることもできる。本実施形態においては、上方に位置する第一治具３Ｕに取り付けられたプローブをプローブＰｕ、下方に位置する第二治具３Ｄに取り付けられたプローブをプローブＰｄと称する。以下、検出部４Ｕ，４Ｄを総称して検出部４と称し、プローブＰｕ，Ｐｄを総称してプローブＰと称する。
【００２１】
第一・第二治具３Ｕ，３Ｄは、それぞれ、複数のプローブＰｕ，Ｐｄの先端をタブ端子１０４，１１４の溶着領域１０５，１１５へ向けて保持する支持部材３１と、ベースプレート３２１とを備えている。ベースプレート３２１には、各プローブＰｕ，Ｐｄの後端部と接触して導通する図略の電極が設けられている。検出部４Ｕ，４Ｄは、ベースプレート３２１の各電極と後述の接続回路４１とを介して、各プローブＰｕ，Ｐｄを抵抗測定部５の電源回路５１及び電圧回路５２と電気的に接続したり、その接続を切り替えたりする。
【００２２】
プローブＰｕ，Ｐｄは、全体として略棒状の形状を有している。支持部材３１には、プローブＰｕ，Ｐｄを支持する複数の貫通孔が形成されている。支持部材３１は、溶着領域１０５，１１５と対応する形状、大きさを有している。支持部材３１は、溶着領域１０５内、又は溶着領域１１５内の略全領域に対して、略均等な分布で複数のプローブＰｕ，Ｐｄを接触させるように、プローブＰｕ，Ｐｄを支持する。複数のプローブＰｕ，Ｐｄは、例えば格子の交点位置に対応するように配設されている。
【００２３】
図２は、図１に示す抵抗測定装置１の電気的構成を概念的に示すブロック図である。図２に示す抵抗測定装置１は、第一治具３Ｕに設けられるＭ本のプローブＰｕ１〜ＰｕＭ、第二治具３Ｄに設けられるＭ本のプローブＰｄ１〜ＰｄＭ、抵抗測定部５、基端側配線帯Ｃａ、及び、先端側配線帯Ｃｂを備えている。図２では、タブ端子１０４にプローブＰｕ１〜ＰｕＭ、Ｐｄ１〜ＰｄＭを接触させた状態を示している。
【００２４】
基端側配線帯Ｃａは、第一治具３Ｕと抵抗測定部５の接続回路４１とを接続する配線の集合体である（図３を参照）。先端側配線帯Ｃｂは第一治具３Ｕと第二治具３Ｄとを接続する配線の集合体である（図３を参照）。抵抗測定部５は図２に示す如く、接続回路４１、電源回路５１、電圧検出部５２、及び制御部５３等を備えている。
【００２５】
本実施形態においては、抵抗測定装置１から抵抗測定部５を除いた構成（第一治具３Ｕ、第二治具３Ｄ、基端側配線帯Ｃａ、及び、先端側配線帯Ｃｂ）を総称して「抵抗測定治具」と記載する。抵抗測定装置１においては、抵抗測定治具を取り外し、検査対象のリチウムイオン二次電池１００の種別に応じて、別の抵抗測定治具に交換することが可能に構成されている。
【００２６】
図２に示すタブ端子１０４は、図１に示すタブ端子１０４をＸ軸方向に沿って切断した断面で示している。プローブＰｕ１〜ＰｕＭ、Ｐｄ１〜ＰｄＭは、Ｘ軸方向に沿って並ぶ各一列のプローブＰｕ、Ｐｄに、プローブ番号を付したものである。プローブＰｕ、Ｐｄに付されたプローブ番号は、各プローブＰが接触する溶着領域１０５の位置を示すＸ軸方向のＸ座標に対応している。即ち、プローブ番号が同じプローブＰｕ、Ｐｄは同じ位置で対応して設けられている。
【００２７】
プローブＰｕ、Ｐｄは、図２に示すプローブＰの他、Ｙ軸方向に隣接して略平行に複数列設けられているが、図示を省略している。プローブＰの各列に番号を付与することで、当該列の番号は、各プローブＰが接触する溶着領域１０５の位置を示すＹ軸方向のＹ座標に対応する。なお、プローブＰの各列は、必ずしも一直線状の列である必要はなく、ジグザグであったり、曲がったり、ばらついたりしている列であってもよい。
【００２８】
各プローブＰは、四端子測定法用の接触子Ｔを備えている。具体的には図２に示す如く、第一治具３Ｕに設けられるプローブＰｕ１，Ｐｕ２，Ｐｕ３，Ｐｕ４・・・ＰｕＭには、タブ端子１０４，１１４の上側の面に当接可能とされる接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）が備えられる。ここで、ＮはＭの２倍にあたる数（偶数）である。また、第二治具３Ｄに設けられ、プローブＰｕ１，Ｐｕ２，Ｐｕ３，Ｐｕ４・・・ＰｕＭにそれぞれ対応するプローブＰｄ１，Ｐｄ２，Ｐｄ３，Ｐｄ４・・・ＰｄＭには、タブ端子１０４，１１４の下側の面に当接可能とされる接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮが備えられる。本実施形態において、第一治具３Ｕに備えられる接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）を総称して「第一接触子」と記載する。また、第二治具３Ｄに備えられるＴ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮを総称して「第二接触子」と記載する。
【００２９】
なお、各プローブを、電流供給用と電圧測定用との二本の接触子を備える構成としても差し支えない。例えば、特開２００６−３２９９９８号公報に記載されているような、二本のニードルピン（接触子）を一対にしたプローブや、例えば特開２０１２−１５４６７０号公報に記載されているような、筒形状の一の接触子と、一の接触子の内部に挿通された他の接触子とからなる同軸状のプローブを用いることができる。あるいは、格子状に配置された棒状のプローブのそれぞれを接触子とし、二本のプローブ（接触子）を一組にして一つのプローブとして用いてもよい。
【００３０】
第一治具３Ｕに備えられる第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）は、基端側配線帯Ｃａを介して抵抗測定部５の接続回路４１と接続される。具体的には図３に示す如く、基端側配線帯Ｃａは、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）のそれぞれと接続回路４１とを接続する第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）を備えている。以下、第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）を総称して、「第一配線群ＣＡ１」と記載する。
【００３１】
第二治具３Ｄに備えられる第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮは、基端側配線帯Ｃａ及び先端側配線帯Ｃｂを介して抵抗測定部５の接続回路４１と接続される。具体的には図３に示す如く、基端側配線帯Ｃａ及び先端側配線帯Ｃｂは、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮのそれぞれと接続回路４１とを接続する第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮを備えている。以下、第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮを総称して、「第二配線群ＣＡ２」と記載する。
【００３２】
また、第一治具３Ｕに備えられる第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）は、先端側配線帯Ｃｂを介して第二治具３Ｄと連結される。具体的には図３に示す如く、先端側配線帯Ｃｂは、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）のそれぞれと接続されるとともに第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）のそれぞれから分岐して延出された第三配線Ｃｂ１，Ｃｂ３，Ｃｂ５，Ｃｂ７・・・Ｃｂ（Ｎ−１）を備えている。第三配線Ｃｂ１，Ｃｂ３，Ｃｂ５，Ｃｂ７・・・Ｃｂ（Ｎ−１）のそれぞれは第二治具３Ｄにおいて電気的に接続されておらず、開放端とされている。以下、第三配線Ｃｂ１，Ｃｂ３，Ｃｂ５，Ｃｂ７・・・Ｃｂ（Ｎ−１）を総称して、「第三配線群ＣＢ１」と記載する。なお、図５中の第二実施形態に示す如く、第三配線群ＣＢ１の開放端は第二治具３Ｄに近接していれば第二治具３Ｄから離間していても差し支えない。
【００３３】
また、第二治具３Ｄに備えられる第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮのそれぞれは、図３に示す如く、第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具３Ｕに設けられた第四配線Ｃｂ２，Ｃｂ４，Ｃｂ６，Ｃｂ８・・・ＣｂＮに接続されている。第四配線Ｃｂ２，Ｃｂ４，Ｃｂ６，Ｃｂ８・・・ＣｂＮは第一治具３Ｕにおいて第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮのそれぞれから分岐して延出されている。第四配線Ｃｂ２，Ｃｂ４，Ｃｂ６，Ｃｂ８・・・ＣｂＮのそれぞれは第一治具３Ｕにおいて電気的に接続されておらず、開放端とされている。以下、第四配線Ｃｂ２，Ｃｂ４，Ｃｂ６，Ｃｂ８・・・ＣｂＮを総称して、「第四配線群ＣＢ２」と記載する。なお、図５中の第二実施形態に示す如く、第四配線群ＣＢ２の開放端は第一治具３Ｕに近接していれば第一治具３Ｕから離間していても差し支えない。
【００３４】
本実施形態において接続回路４１は、例えば複数のスイッチング素子を用いて構成されている。接続回路４１は、制御部５３からの制御信号に応じてタブ端子１０４を間に挟んで互いに対応する一対のプローブＰｕ，Ｐｄ（一のプローブＰｕ，Ｐｄ）を選択する。そして、選択された一のプローブＰｕの第一接触子Ｔに電源回路５１の正極を接続し、当該一のプローブＰｕに対応する一のプローブＰｄの第二接触子Ｔに電源回路５１の負極を接続する。例えば、一のプローブＰｕ，ＰｄとしてプローブＰｕ１・Ｐｄ１を選択した場合は、第一接触子Ｔ１と第二接触子Ｔ２とを電源回路５１に接続する。
【００３５】
また、接続回路４１は、制御部５３からの制御信号に応じてタブ端子１０４を間に挟んで互いに対応し、前記一のプローブＰｕ及び一のプローブＰｕに隣接する一対のプローブＰｕ，Ｐｄ（他のプローブＰｕ，Ｐｄ）を選択する。そして、選択された他のプローブＰｕの第一接触子Ｔに電圧回路５２の正極を接続し、当該他のプローブＰｕに対応するプローブＰｄの第二接触子Ｔに電圧回路５２の負極を接続する。例えば、一のプローブＰｕ，ＰｄとしてプローブＰｕ１・Ｐｄ１を選択した場合は、他のプローブＰｕ，ＰｄとしてプローブＰｕ２・Ｐｄ２を選択し、第一接触子Ｔ３と第二接触子Ｔ４とを電圧回路５２に接続することができる。
【００３６】
電源回路５１は、例えばスイッチング電源回路等の定電流電源回路である。電源回路５１は、制御部５３からの制御信号に応じて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとの間（例えば、プローブＰｕ１の接触子Ｔ１とプローブＰｄ１の接触子Ｔ２との間）に、予め設定された一定の直流電流Ｉを供給する。
【００３７】
電圧検出部５２は、例えば分圧抵抗やアナログデジタルコンバータ等を用いて構成された、電圧測定回路である。電圧検出部５２は、接続回路４１によって選択された、一対のプローブＰｕ，Ｐｄにおける、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとの間（例えば、プローブＰｕ２の接触子Ｔ３とプローブＰｄ２の接触子Ｔ４との間）の電圧Ｖを測定し、その測定値を制御部５３へ送信する。
【００３８】
制御部５３は、例えば所定の演算処理を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）、所定の制御プログラム等を記憶する記憶装置、及びこれらの周辺回路等を備えて構成された、いわゆるマイクロコンピュータである。そして、制御部５３は、例えば上述の制御プログラムを実行することによって、検出制御部５３１、測定部５３２、及び、出力部５３３として機能する。
【００３９】
検出制御部５３１は、図略の駆動機構を制御して検出部４Ｕ，４Ｄを移動、位置決めさせ、リチウムイオン二次電池１００の溶着領域１０５，１１５に順次、各プローブＰｕ，Ｐｄの先端を接触させる。なお、第一・第二治具３Ｕ，３Ｄが、溶着領域１０５，１１５に対して同時に接触可能な数のプローブＰｕ，Ｐｄを備え、溶着領域１０５，１１５に同時にプローブＰｕ，Ｐｄを接触させてもよい。この場合、各プローブＰが接触子Ｔを備え、電流供給と電圧測定とが別の接触子Ｔによって行われるため、四端子測定法による抵抗測定が可能となる。
【００４０】
測定部５３２は、電源回路５１が供給した電流値と、電圧検出部５２が検出した電圧値との関係に基づいて、互いに対応するプローブＰｕ，Ｐｄ（例えば、プローブＰｕ１，Ｐｄ１）間におけるタブ端子１０４，１１４の抵抗値を算出する。出力部５３３は、測定部５３２で算出した抵抗値を報知部６によって出力させる。
【００４１】
接続回路４１は、選択するプローブＰｕ，Ｐｄを変更して、対応するプローブＰｕ，Ｐｄごとに順に抵抗値を算出する。この際、一の検査ステップでは電流供給用として機能させたプローブＰｕ，Ｐｄを、次の検査ステップでは電圧測定用として機能させる。例えば、接続回路４１において、接触子Ｔ１を電源回路５１に電気的に接続した場合は、接触子Ｔ１は電流供給用として機能する（この際、第一配線Ｃ１は電流供給用配線として機能する）。一方、同じ接触子Ｔ１を電圧検出部５２に電気的に接続した場合は、接触子Ｔ１は電圧測定用として機能する（この際、第一配線Ｃ１は電圧測定用配線として機能する）のである。本構成によれば、第一治具３Ｕに備えられた接触子Ｔの本数Ｍと略等しい数の測定点数を得ることが可能となる。
【００４２】
また、同一列で隣接する接触子Ｔの２本を電流供給用と電圧測定用として機能させる組合せだけでなく、隣接する列同士で隣接する接触子Ｔの２本の組合せも可能である。これにより、第一治具３Ｕに備えられた接触子Ｔの本数を上回る測定点数を得ることができるため、被測定物の単位面積あたりの測定点数を大きくすることができる。即ち、リチウムイオン二次電池１００のタブ端子１０４，１１４において、溶着強度の局所的な不足に起因して高抵抗になっている部分を検出しやすくすることが可能となる。
【００４３】
本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては図３に示す如く、抵抗測定部５と第一治具３Ｕとの間を繋ぐ基端側配線帯Ｃａにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）のそれぞれに接続された第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）と、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮのそれぞれに接続された第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮとが、対応する位置に隣接して配置されている。
【００４４】
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては、抵抗測定部５と第一治具３Ｕとの間（第一治具３Ｕの基端側）において、互いに対応する第一接触子と第二接触子（例えば、第一接触子Ｔ１と第二接触子Ｔ２）にそれぞれ接続される第一配線と第二配線（例えば、第一配線Ｃ１と第二配線Ｃ２）とを隣接して配置している。このため、外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する配線で略同一の大きさで生じることになる。
【００４５】
具体的には図４に示す如く、第一接触子Ｔ１と第二接触子Ｔ２のそれぞれで測定する電位をｖ１、ｖ２としたとき、ノイズ成分Ｎｖによる変化がｖ１及びｖ２の双方に同様に表れる。このため、ノイズ成分Ｎｖの影響を受けた場合でも、電位差Ｖｎは通常時の電位差Ｖｃに対して大きく変化することがない。即ち、抵抗測定部５と第一治具３Ｕとの間で、外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置１における測定精度の低下を抑制することができるのである。
【００４６】
図２及び図３に示す如く、第二配線群ＣＡ２は、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮごとに、抵抗測定部５と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮとを、抵抗測定部５から第一治具３Ｕの近傍を経由して接続している。本実施形態においては図３に示す如く、第二配線群ＣＡ２は第一治具３Ｕにおいて第一配線群ＣＡ１から枝分かれする構成としている。但し、第二配線群ＣＡ２が第一配線群ＣＡ１から枝分かれする箇所は、第一治具３Ｕの近傍であれば第一治具３Ｕから離間していても差し支えない。換言すれば、本実施形態における「第一治具３Ｕの近傍」とは、「第一治具３Ｕ」と「第一治具３Ｕに近接して離間する箇所」との双方を指す意味で用いている。
【００４７】
また、本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては図３に示す如く、第一治具３Ｕと第二治具３Ｄとの間を繋ぐ先端側配線帯Ｃｂにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第三配線群ＣＢ１と第二配線群ＣＡ２が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）のそれぞれに接続された第三配線Ｃｂ１，Ｃｂ３，Ｃｂ５，Ｃｂ７・・・Ｃｂ（Ｎ−１）と、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮのそれぞれに接続された第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮとが、対応する位置に隣接して配置されている。
【００４８】
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては、第一治具３Ｕと第二治具３Ｄとの間において、互いに対応する第一接触子と第二接触子（例えば、第一接触子Ｔ１と第二接触子Ｔ２）にそれぞれ接続される第三配線と第二配線（例えば、第三配線Ｃｂ１と第二配線Ｃ２）とを隣接して配置している。このため、第二配線が外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する第三配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、第二配線に生じるノイズが第三配線にも同様に生じて第一配線に伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、第一治具３Ｕと第二治具３Ｄとの間で、外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置１における測定精度の低下を抑制することができるのである。
【００４９】
また、本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては図３に示す如く、第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具３Ｕにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線群ＣＡ１と第四配線群ＣＢ２が隣接して配置されている。具体的には、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）のそれぞれに接続された第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７，・・・Ｃ（Ｎ−１）と、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮのそれぞれに接続された第四配線Ｃｂ２，Ｃｂ４，Ｃｂ６，Ｃｂ８・・・ＣｂＮとが、対応する位置に隣接して配置されている。
【００５０】
このように、本実施形態に係る抵抗測定装置１、及び、抵抗測定装置１が備える抵抗測定治具においては、第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２とが枝分かれする箇所よりも先端側の第一治具３Ｕにおいて、互いに対応する第一接触子と第二接触子（例えば、第一接触子Ｔ１と第二接触子Ｔ２）にそれぞれ接続される第一配線と第四配線（例えば、第一配線Ｃ１と第四配線Ｃｂ２）とを隣接して配置している。このため、第一配線が外部から受ける電磁的な影響によるノイズが、隣接する第四配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、第一配線に生じるノイズが第四配線にも同様に生じて第二配線に伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置１における測定精度の低下を抑制することができるのである。
【００５１】
また、図５に示す第二実施形態の如く、第一配線群ＣＡ１、第二配線群ＣＡ２、第三配線群ＣＢ１、及び、第四配線群ＣＢ２の全てを備える構成であれば、第二配線群ＣＡ２が第一配線群ＣＡ１から枝分かれする箇所は、第一治具３Ｕの近傍である必要はない。即ち、本実施形態においては、抵抗測定部５（図２を参照）と第一治具３Ｕとの間で、第一治具３Ｕからは離間した所定箇所（図５において第二配線群ＣＡ２が第一配線群ＣＡ１から枝分かれする箇所）まで、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線群ＣＡ１と第二配線群ＣＡ２とが隣接して配置されている。そして、所定箇所よりも先端側において、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第三配線群ＣＢ１と第二配線群ＣＡ２とが隣接して配置されている。さらに、所定箇所よりも先端側において、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線群ＣＡ１と第四配線群ＣＢ２とが隣接して配置されている。
【００５２】
この構成によれば、所定箇所までは第一配線と第二配線とを隣接して配置し、所定箇所よりも先端側では、第三配線と第二配線とを隣接して配置し、かつ、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、それぞれの配線において外部要因によるノイズが生じた場合でも、隣接する配線で略同一の大きさで生じることになる。即ち、一の配線に生じるノイズが、隣接する配線にも同様に生じて伝達することで、ノイズの影響を低減させることが可能となる。これにより、何れの配線において外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置１における測定精度の低下を抑制することができるのである。
【００５３】
なお、本構成において、第三配線群ＣＢ１の開放端が第二治具３Ｄに到達していても良い。たとえば、後述の第二接続部材のようなＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ）インターポーザにおいて、第二配線パターンと開放端を有する第三配線パターンとが隣接して配置されており、第二配線群ＣＡ２の先端側の一部が第二配線パターンで構成され、第三配線群ＣＢ１の先端側の一部が第三配線パターンで構成されることで、第二治具３Ｄにおいて外部要因によってノイズが生じた場合でも、抵抗測定装置１における測定精度の低下を抑制することができる。また、第四配線群ＣＢ２の開放端が第一治具３Ｕに到達していても良く、上記ＰＣＢインターポーザと同様に隣接する各配線パターンをそれぞれ第一配線群ＣＡ１、第四配線群ＣＢ２の先端側の一部として構成して良い。
【００５４】
次に、本発明の第三実施形態に係る抵抗測定装置における抵抗測定治具の電気的構成を、図６を用いて説明する。本実施形態における抵抗測定治具は、第一実施形態に係る抵抗測定治具の構成に対し、図６に示す如く第一治具３Ｕが第一接続部材３ｃＵを備え、第二治具３Ｄが第二接続部材３ｃＤを備える点が異なる。本実施形態において、前記第一実施形態と同様の構成については同符号を付して詳細な説明を省略する。なお、第一治具３Ｕのみが第一接続部材３ｃＵを備え、第二治具３Ｄは第二接続部材３ｃＤを備えない構成とすることも可能である。逆に、第二治具３Ｄのみが第二接続部材３ｃＤを備え、第一治具３Ｕは第一接続部材３ｃＵを備えない構成とすることも可能である。
【００５５】
第一接続部材３ｃＵ及び第二接続部材３ｃＤはＰＣＢインターポーザで構成されており、その内部には各種の配線パターン（詳細には後述する如く、第一〜第四配線パターンＰ１〜Ｐ４、及び、第二部分パターンＰｐ２）が形成されている。また、第一接続部材３ｃＵ及び第二接続部材３ｃＤは各コネクタＣＮ１〜ＣＮ３によって各種の配線群と接続されている。第一接続部材３ｃＵは、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）と第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）とを接続する。また、第二接続部材３ｃＤは、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮと第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮとを接続する。
【００５６】
具体的には図６に示す如く、第一接続部材３ｃＵは、第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７・・・Ｔ（Ｎ−１）が接触する複数の電極Ｅ１，Ｅ３，Ｅ５，Ｅ７・・・Ｅ（Ｎ−１）と、これらの電極Ｅ１，Ｅ３，Ｅ５，Ｅ７・・・Ｅ（Ｎ−１）に接続するとともに第一配線Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７・・・Ｃ（Ｎ−１）と接続する第一配線パターンＰ１と、第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮの一部を構成する第二部分パターンＰｐ２と、を備えている。また、第一接続部材３ｃＵは、第二部分パターンＰｐ２から延出される第四配線パターンＰ４をさらに備えている。
【００５７】
また、図６に示す如く、第二接続部材３ｃＤは、第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８・・・ＴＮが接触する複数の電極Ｅ２，Ｅ４，Ｅ６，Ｅ８・・・ＥＮと、これらの電極Ｅ２，Ｅ４，Ｅ６，Ｅ８・・・ＥＮに接続するとともに第二配線Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８・・・ＣＮと接続する第二配線パターンＰ２と、第三配線Ｃｂ１，Ｃｂ３，Ｃｂ５，Ｃｂ７・・・Ｃｂ（Ｎ−１）と接続する第三配線パターンＰ３と、を備えている。
【００５８】
そして、本実施形態によれば、第一接続部材３ｃＵにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線パターンＰ１と第二部分パターンＰｐ２とが隣接して配置される。このように、第一接続部材３ｃＵにおいて、第一配線パターンＰ１と第二部分パターンＰｐ２とを隣接して配置しているため、第一接続部材３ｃＵにおける基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００５９】
また、本実施形態によれば、第二接続部材３ｃＤにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第三配線パターンＰ３と第二配線パターンＰ２とが隣接して配置される。このように、第二接続部材３ｃＤにおいて、第三配線パターンＰ３と第二配線パターンＰ２とを隣接して配置しているため、第二接続部材３ｃＤで外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６０】
また、本実施形態によれば、第一接続部材３ｃＵにおいて、互いに対応する第一接触子Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５・・・Ｔ（Ｎ−１）と第二接触子Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６・・・ＴＮとにそれぞれ接続された第一配線パターンＰ１と第四配線パターンＰ４とが隣接して配置される。このように、第一接続部材３ｃＵにおいて、第一配線パターンＰ１と第四配線パターンＰ４とを隣接して配置しているため、第一配線パターンＰ１と第二部分パターンＰｐ２とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６１】
即ち、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを、前記抵抗測定部から前記第一治具の近傍を経由して接続する第二配線とを備え、前記抵抗測定部と前記第一治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置されるものである。
【００６２】
この構成によれば、第一配線と第二配線とを隣接して配置しているため、抵抗測定部と第一治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６３】
また、前記抵抗測定装置は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置されることが好ましい。
【００６４】
この構成によれば、第三配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具と第二治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６５】
また、前記抵抗測定装置は、前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されることが好ましい。
【００６６】
この構成によれば、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、第一配線と第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６７】
また、本発明の一例に係る抵抗測定装置は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、互いに対応する一の前記第一接触子と一の前記第二接触子との間に電流を供給し、互いに対応する前記一の第一接触子に隣接する他の第一接触子と前記一の第二接触子に隣接する他の第二接触子との間の電圧を検出し、供給した電流値と検出した電圧値との関係に基づいて前記測定対象物の抵抗値を算出する抵抗測定部と、前記第一接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第一接触子とを接続する第一配線と、前記第二接触子ごとに、前記抵抗測定部と前記第二接触子とを接続する第二配線と、を備え、前記抵抗測定部から、前記第一治具との間の所定箇所まで、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一接触子ごとに、前記第一配線における前記所定箇所から延出される第三配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二接触子ごとに、前記第二配線における前記所定箇所から延出される第四配線を備え、前記所定箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されるものである。
【００６８】
この構成によれば、所定箇所までは第一配線と第二配線とを隣接して配置し、所定箇所よりも先端側では、第三配線と第二配線とを隣接して配置し、かつ、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、それぞれの配線において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００６９】
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接続される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具の近傍を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置される。
【００７０】
この構成によれば、第一配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具の近傍よりも基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００７１】
また、前記抵抗測定治具は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置されることが好ましい。
【００７２】
この構成によれば、第三配線と第二配線とを隣接して配置しているため、第一治具と第二治具との間で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００７３】
また、前記抵抗測定治具は、前記第二接触子ごとに、前記第二配線から延出される第四配線をさらに備え、前記第一配線と前記第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第四配線とが隣接して配置されることが好ましい。
【００７４】
この構成によれば、第一配線と第四配線とを隣接して配置しているため、第一配線と第二配線とが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００７５】
また、本発明の一例に係る抵抗測定治具は、測定対象物の一方の面に対向する第一治具と、前記第一治具に備えられて前記一方の面に当接可能とされる複数の第一接触子と、前記測定対象物の他方の面に対向する第二治具と、前記第二治具において複数の前記第一接触子にそれぞれ対応して備えられて前記他方の面に当接可能とされる複数の第二接触子と、前記第一接触子ごとに接される第一配線と、前記第二接触子ごとに接続され、前記第一治具を経由する第二配線と、を備え、前記第一治具の近傍よりも基端側では、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第一治具は、前記複数の第一接触子と前記第一配線とを接続する、第一接続部材を備え、前記第一接続部材は、前記複数の第一接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第一配線と接続する第一配線パターンと、前記第二配線の一部を構成する第二部分パターンと、を備え、前記第一接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが隣接して配置される。
【００７６】
この構成によれば、第一接続部材において、第一配線パターンと第二部分パターンとを隣接して配置しているため、第一接続部材における基端側で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００７７】
また、前記抵抗測定治具は、前記第一接触子ごとに、前記第一配線から延出される第三配線をさらに備え、前記第一治具と前記第二治具との間において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線と前記第二配線とが隣接して配置され、前記第二治具は、前記複数の第二接触子と前記第二配線とを接続する、第二接続部材を備え、前記第二接続部材は、前記複数の第二接触子が接触する複数の電極と、該電極に接続するとともに前記第二配線と接続する第二配線パターンと、前記第三配線と接続する第三配線パターンと、を備え、前記第二接続部材において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第三配線パターンと前記第二配線パターンとが隣接して配置されることが好ましい。
【００７８】
この構成によれば、第二接続部材において、第三配線パターンと第二配線パターンとを隣接して配置しているため、第二接続部材で外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００７９】
また、前記抵抗測定治具において、前記第一接続部材は、前記第二部分パターンから延出される第四配線パターンをさらに備え、前記第一接続部材の前記第一配線パターンと前記第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において、互いに対応する前記第一接触子と前記第二接触子とにそれぞれ接続された前記第一配線パターンと前記第四配線パターンとが隣接して配置されることが好ましい。
【００８０】
この構成によれば、第一接続部材において、第一配線パターンと第四配線パターンとを隣接して配置しているため、第一接続部材で第一配線パターンと第二部分パターンとが枝分かれする箇所よりも先端側において外部要因によるノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００８１】
このような抵抗測定装置、及び、抵抗測定治具によれば、外部要因によってノイズが生じた場合でも測定精度の低下を抑制することができる。
【００８２】
この出願は、２０１８年３月２３日に出願された日本国特許出願特願２０１８−５６１０７を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。なお、発明を実施するための形態の項においてなされた具体的な実施態様又は実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、本発明は、そのような具体例のみに限定して狭義に解釈されるべきものではない。
【符号の説明】
【００８３】
１        抵抗測定装置             ３        検出治具           
３Ｄ      第二治具                 ３Ｕ      第一治具           
３ｃＤ    第二接続部材             ３ｃＵ    第一接続部材       
４        検出部                   ４Ｄ      検出部             
４Ｕ      検出部                   ５        抵抗測定部         
６        報知部                 ３１        支持部材           
４１        接続回路               ５１        電源回路           
５２        電圧検出部             ５３        制御部             
１００        リチウムイオン二次電池           
１０１        正極板               １０２        正極集電体         
１０３        タブ部               １０４        タブ端子           
１０５        溶着領域             １１１        負極板             
１１２        負極集電体           １１３        タブ部             
１１４        タブ端子             １１５        溶着領域           
３２１        ベースプレート       ５３１        検出制御部         
５３２        測定部               ５３３        出力部             
Ｃａ      基端側配線帯             Ｃｂ      先端側配線帯       
Ｃ１〜ＣＮ      配線             Ｃｂ１〜ＣｂＮ    配線
ＣＡ１      第一配線群             ＣＡ２      第二配線群         
ＣＢ１      第三配線群             ＣＢ２      第四配線群         
Ｉ        直流電流                 Ｎｖ      ノイズ成分         
Ｐ        プローブ                 Ｐ１〜Ｐ４      配線パターン
Ｐｐ２    部分パターン             Ｐｄ      プローブ           
Ｐｕ      プローブ                 Ｖ        電圧               
Ｖｃ      電位差                   Ｖｎ      電位差             
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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