(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体からの再生信号の振幅値を用いて再生信号の増幅回路のゲインを制御するゲイン制御手段と、前記振幅値を用いて光ビームの再生パワーを制御するパワー制御手段と、を備える光再生装置であって、少なくとも前記パワー制御手段により前記再生パワーを制御している際において、前記ゲインが設定される時間間隔は、前記再生パワーが設定される時間間隔よりも長いことを特徴とする光再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光再生装置において、前記パワー制御手段による再生パワーの制御を停止しているときに、前記ゲイン制御手段の応答速度を、高速に切り替える切替手段を備えたことを特徴とする光再生装置。
【請求項３】
光記録媒体からの再生信号の振幅値を用いて再生信号の増幅回路のゲインを制御するゲイン制御手段と、前記振幅値を用いて光ビームの再生パワーを制御するパワー制御手段と、を備える光再生装置であって、前記パワー制御手段は第１の記録単位毎に再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は、少なくとも前記パワー制御手段により前記再生パワーを制御している際において、第１の記録単位よりも大きい記録単位である第２の記録単位毎にゲインの制御を行うことを特徴とする光再生装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光再生装置において、前記パワー制御手段による再生パワーの制御を停止しているときに、前記ゲイン制御手段によるゲインの制御を、第２の記録単位よりも小さい記録単位毎に行うように切り替える切替手段を備えたことを特徴とする光再生装置。
【請求項５】
請求項３または４に記載の光再生装置において、前記パワー制御手段は第１の記録単位に含まれる特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いて再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は第２の記録単位に含まれる特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いてゲインの制御を行うことを特徴とする光再生装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光再生装置において、前記光記録媒体は、光ビームのスポット径よりも小さなアパーチャを再生層に発生させることにより記録層からの記録情報を再生する超解像光記録媒体であり、前記パワー制御手段は、長マークパターンと短マークパターンからなる２種類の特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いて再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は、前記長マークパターンからの再生信号から検出された振幅値の平均を用いてゲインの制御を行うことを特徴とする光再生装置。
【請求項７】
請求項５または６に記載の光再生装置において、前記ゲイン制御手段は、前記再生信号の振幅値のうちの正常な振幅値ではないものを平均化する対象から除外する判別手段を備えていることを特徴とする光再生装置。
【請求項８】
請求項３から７のうち何れか一項に記載の光再生装置において、第１の記録単位は、１又は複数のセクタからなり、第２の記録単位は、複数のセクタから構成され記録再生時における最小の記録単位であるクラスタからなることを特徴とする光再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光記録媒体を再生する光再生装置に関し、特に、再生信号の増幅回路のゲインを制御するいわゆるＡＧＣ（オートゲインコントロール）を行うと同時に、光ビームの再生パワーを制御する光再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクの再生装置において、光ピックアップで検出した再生信号は波形処理回路により増幅、波形等化等の処理が行われた後、２値化回路やＰＲＭＬ処理回路に入力されてディジタル信号に変換される。この波形処理回路においては、記録膜の反射率の変化等に起因して再生信号の振幅が変動するため、これを安定した所定の振幅に増幅する、いわゆるＡＧＣ（オートゲインコントロール）が一般的に行われており、例えば、特開昭５８−７３０２２号公報等で開示されている。
【０００３】
図８は、従来の光再生装置の概略を示す構成図である。以下、この図を用いて動作を説明する。光ディスク３０から光ヘッド３１によって読み出された再生信号はＡＧＣアンプ３２に入力され、増幅された後、振幅検出回路３３に入力される。この振幅検出回路３３から出力される再生信号の振幅値はゲイン制御回路３４に入力され、基準値と比較されて、再生信号の振幅値が基準値と等しくなるようなゲインが求められ、ＡＧＣアンプ３２に帰還される。このようにＡＧＣアンプ３２によって増幅された再生信号は安定した所定の振幅をもってデジタルデータ再生回路３５に入力されるので、読み取りエラーの少ない信頼性の高いデジタルデータ再生が実現される。このときのＡＧＣアンプ３２の応答速度は、再生信号の振幅の変動に迅速に追従できるよう通常は高く設定されている。
【０００４】
一方、磁気的超解像方式の書き換え型光磁気ディスク再生装置等において、異なる２種類の長さのマークを再生し、それらの再生信号の比が所定値に近づくように再生パワーを制御することによって、再生パワーを常に最適値に保持し、読み取りエラーを減少させる手法が特開平８−６３８１７号公報等で開示されている。
【０００５】
図９は、上記装置の概略を示す構成図である。また、図１０は、図９の光磁気ディスク３０の構造を模式的に示す図である。図１０において、セクタ５０は、再生パワー制御用マークとして短マークの繰り返しパターンが記録された短マーク記録領域５１と、長マークの繰り返しパターンが記録された長マーク記録領域５２と、デジタルデータを記録するデータ記録領域５３からなっている。
【０００６】
図９において、半導体レーザ３６からの出射光は光磁気ディスク３０上のセクタ５０に到達し、短マーク記録領域５１に照射されると、短マークの繰り返しパターンからの反射光がフォトダイオード３７によって再生信号に変換される。同様に長マーク記録領域５２において長マークの繰り返しパターンの再生信号が再生される。これらの再生信号は振幅比検出回路３８に入力され、検出された振幅比と目標振幅比が差動増幅器３９によって比較され、その差が小さくなる方向にフィードバックがかかるように、レーザパワー制御回路４０が半導体レーザ３６の駆動電流を制御する。このようにして、最適な再生パワーが与えられるようにレーザ光の駆動電流が制御された後、出射光はデータ記録領域５３に照射され、読み出された再生信号がデジタルデータ再生回路４１に入力されて、エラーレートの低いデジタルデータが再生される。そして、出射光が次のセクタに到達すると、同様の処理が繰り返されて、新たに最適な再生パワーに設定し直される。このように、再生パワー制御用マークの記録領域をセクタ毎に分散して設けて、セクタ毎に再生パワー制御のための再生信号量を検出することにより、短い時間間隔で再生パワー制御が応答し、最適再生パワーの短時間の変動に追従することが可能となっている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、再生パワー制御においては振幅比の検出過程で誤差が発生する。すなわち、同一の再生パワー制御用マークパターンを同一再生パワーかつ同一条件で再生した場合でも、再生信号に含まれるノイズによって検出される振幅比にバラツキが生じるため、目標振幅比と検出振幅比の差動信号に誤差が生まれ、結果、制御パワーにもこれに起因する誤差が発生する。すると、同一条件での再生であっても制御パワーが誤差によってバラツキを持つため、再生信号の振幅もバラツキを持つことになる。例えば図９の再生装置のようにセクタ単位で再生パワーを制御する場合、連続するセクタ間では再生条件にほとんど差がないはずであるが、上記理由によりセクタ毎に得られる再生信号の振幅値にはバラツキが存在する。しかしこのバラツキ量はそれほど大きくないため、デジタルデータ再生におけるエラーレートへの悪影響はほとんどない。
【０００８】
しかしながら、再生パワー制御と同時にＡＧＣを行う場合、ＡＧＣの応答速度が、ＡＧＣをセクタ単位で実行するくらいに高速であると、上記に述べたように再生パワーのバラツキによって変動する振幅値に基づいてＡＧＣのゲインを計算することになるため、振幅値のばらつきは更に大きなものになり、デジタルデータ再生に悪影響を及ぼすようになる。
【０００９】
図１１は実際の光ディスク再生装置にて、一定条件下で同一セクタに対して再生パワーを制御した時の長マーク振幅値の変化の実測結果を示す。横軸が制御回数（時間経過に対応する）、縦軸が長マーク再生信号振幅を示し、（ａ）が再生パワー制御のみを行った場合の振幅値変化、（ｂ）がセクタ単位でのＡＧＣを同時に実行した場合の振幅変化、を示す。この図から分かるように、ＡＧＣを同時に行った場合には振幅値のバラツキが大きくなっており、振幅値の標準偏差（σ）で比べると、ＡＧＣを行わない場合の１３％に対し、ＡＧＣを行うと２２％に悪化している。
【００１０】
しかし、ＡＧＣを全く行わないと、記録膜の反射率変動等への振幅追従が行えなくなるので、デジタルデータ再生においてやはりエラーレートが悪化してしまうという問題が残る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
第１の発明の光再生装置は、光記録媒体からの再生信号の振幅値を用いて再生信号の増幅回路のゲインを制御するゲイン制御手段と、前記振幅値を用いて光ビームの再生パワーを制御するパワー制御手段と、を備える光再生装置であって、少なくとも前記パワー制御手段により前記再生パワーを制御している際において、前記ゲインが設定される時間間隔は、前記再生パワーが設定される時間間隔よりも長いことを特徴とする。
【００１２】
第２の発明の光再生装置は、第１の発明の光再生装置において、前記パワー制御手段による再生パワーの制御を停止しているときに、前記ゲイン制御手段の応答速度を、高速に切り替える切替手段を備えたことを特徴とする。
【００１３】
第３の発明の光再生装置は、光記録媒体からの再生信号の振幅値を用いて再生信号の増幅回路のゲインを制御するゲイン制御手段と、前記振幅値を用いて光ビームの再生パワーを制御するパワー制御手段と、を備える光再生装置であって、前記パワー制御手段は第１の記録単位毎に再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は、少なくとも前記パワー制御手段により前記再生パワーを制御している際において、第１の記録単位よりも大きい記録単位である第２の記録単位毎にゲインの制御を行うことを特徴とする。
【００１４】
第４の発明の光再生装置は、第３の発明の光再生装置において、前記パワー制御手段による再生パワーの制御を停止しているときに、前記ゲイン制御手段によるゲインの制御を、第２の記録単位よりも小さい記録単位毎に行うように切り替える切替手段を備えたことを特徴とする。
【００１５】
第５の発明の光再生装置は、第３の発明または第４の発明に記載の光再生装置において、前記パワー制御手段は第１の記録単位に含まれる特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いて再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は第２の記録単位に含まれる特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いてゲインの制御を行うことを特徴とする。
【００１６】
第６の発明の光再生装置は、第５の発明の光再生装置において、前記光記録媒体は、光ビームのスポット径よりも小さなアパーチャを再生層に発生させることにより記録層からの記録情報を再生する超解像光記録媒体であり、前記パワー制御手段は、長マークパターンと短マークパターンからなる２種類の特定のマークパターンからの再生信号の振幅値の平均を用いて再生パワーの制御を行い、前記ゲイン制御手段は、前記長マークパターンからの再生信号から検出された振幅値の平均を用いてゲインの制御を行うことを特徴とする。
【００１７】
第７の発明の光再生装置は、第５の発明または第６の発明の光再生装置において、前記ゲイン制御手段は、前記再生信号の振幅値のうちの正常な振幅値ではないものを平均化する対象から除外する判別手段を備えていることを特徴とする。
【００１８】
第８の発明の光再生装置は、第３から第７の発明のいずれかの光再生装置において、第１の記録単位は、１又は複数のセクタからなり、第２の記録単位は、複数のセクタから構成され記録再生時における最小の記録単位であるクラスタからなることを特徴とする。
【００１９】
【発明の実施の形態】
（実施の形態１）本発明の実施の形態について図を用いて説明する。図１は、光ビームのスポット径よりも小さなアパーチャを再生層に発生させることにより記録層からの記録情報を再生する磁気的超解像光磁気ディスク再生装置に本発明を適用した場合の構成図であり、図２は光磁気ディスク１の構造を示す模式図である。図２に示されるように、光磁気ディスク１は記録再生時における最小の記録単位であるクラスタ１００、１０１、・・・からなっており、更にクラスタ１００は所定数のセクタ２００、セクタ２０１、・・・、セクタ２０２から構成されている。セクタ２００の先頭には、このセクタの属するクラスタ番号とクラスタ内セクタ番号が記録されたアドレス領域３００、これに続いて再生パワーを制御するための長マーク記録領域３０１と短マーク記録領域３０２、情報データを記録するためのデータ記録領域３０３が配置されている。長マーク記録領域３０１には、例えば８Ｔ（Ｔはチャネルビット長）のようにアパーチャ径より長いマークの繰り返しパターンがＮ１バイト記録されている。また短マーク記録領域３０２には、例えば２Ｔのようにアパーチャ径より短いマークの繰り返しパターンがＮ２バイト記録されている。
【００２０】
この装置の再生動作について説明する。図１R>１において、半導体レーザ２からの出射光が光磁気ディスク１上のセクタ２００のアドレス領域３００に到達すると、その反射光がフォトダイオード３によって電気信号に変換され、ＡＧＣアンプ４にて増幅されて再生信号として出力される。こうして得られたアドレス領域３００の再生信号からセクタアドレスが認識される。続いて出射光が長マーク記録領域３０１に照射されると、その領域に記録された長マークの繰り返しパターンからの反射光が同様に再生信号として出力され、長マーク振幅検出回路５に入力されて、長マーク振幅値が求められ出力される。続いて出射光が短マーク記録領域３０２に照射され、同様に短マーク検出回路６から短マーク振幅値が出力される。長マーク振幅値と短マーク振幅値は割算回路７に入力され、これらの比が計算されてセクタ２００からの検出振幅比としてパワー制御量演算回路８にて目標振幅比と比較され、その差からフィードバックすべきパワー制御量が求められる。
【００２１】
このようにして求められたパワー制御量に基づいて最適再生パワーが決定され、タイミング発生回路１３にて検出された次セクタ２０１の先頭への到達タイミングで、最適再生パワーになるように、レーザパワー制御回路９が半導体レーザ２の駆動電流を制御する。
【００２２】
そして、この最適な再生パワーによって、出射光はデータ記録領域３０３に照射され、読み出された再生信号がデジタルデータ再生回路１２に入力されて、エラーレートの低いデジタルデータが再生される。このように、再生パワーはセクタ単位で最適に設定されることになる。
【００２３】
一方、長マーク振幅検出回路５から出力された長マーク振幅値は、割算回路７に入力されて再生パワー制御に用いられると同時に、振幅値平均化回路１０にも入力される。
【００２４】
振幅値平均化回路１０は、クラスタ１００に含まれるセクタ２００〜２０２からそれぞれ検出された長マーク振幅値をすべて平均化してクラスタ１００の平均振幅値として出力する。ゲイン制御回路１１は入力されたクラスタ１００の平均振幅値が所定の振幅になるようにゲインを計算し、タイミング発生回路１３にて検出された次クラスタ１０１の先頭への到達タイミングでＡＧＣアンプ４のゲインを求めたゲインに再設定する。このようにクラスタ１００で検出された振幅値に基づいて計算された最適ゲインは、次クラスタ１０１の再生時に反映されることになる。
【００２５】
上記構成におけるタイミング発生回路１３の構成及び動作について、もう少し詳細に説明する。
【００２６】
図３は、上記再生装置におけるタイミング発生回路１３の構成図である。ＡＧＣアンプ４から入力されたセクタのアドレス領域からの再生信号に基づいて、セクタアドレス識別回路１４がセクタアドレスの識別を開始する。そして再生信号がアドレス領域３００の終端に到達した時点で、アドレス領域終端検出回路１５は長マーク振幅検出回路５へタイミング信号ａを出力する。長マーク振幅検出回路５はこのタイミングで長マークの繰り返しパターンの再生信号から長マーク振幅値を求める動作を開始し、Ｎ１バイト分の振幅値を計算する。また、タイミング信号ａは、Ｎ１バイトカウンタ１６と（Ｎ１＋Ｎ２）バイトカウンタ１７にもリセット信号として入力される。
【００２７】
長マーク記録領域３０１の再生が終わって短マーク記録領域３０２に到達し、Ｎ１バイトカウンタ１６から短マーク振幅検出回路６へタイミング信号ｂが出力されると、このタイミングで短マーク振幅検出回路６は短マーク振幅値を求める動作を開始し、Ｎ２バイト分の振幅値を計算する。
【００２８】
短マーク記録領域３０２の再生が終わると同時に、（Ｎ１＋Ｎ２）バイトカウンタ１７からタイミング信号ｃが出力される。このタイミングでレーザパワー制御回路９は再生パワーを新たに求められた最適パワーに再設定し、同時にデジタルデータ再生回路１２はこのタイミングでデータ記録領域３０３のデジタルデータ再生を開始する。
【００２９】
このようにして各セクタ毎に上記のような動作が繰り返される。
【００３０】
一方、クラスタ始端検出回路１８は、セクタアドレス識別回路１４から入力されたアドレス情報に基づいて、クラスタの先頭セクタを検出してタイミング信号ｄを出力する。このタイミングで、ゲイン制御回路１１はＡＧＣアンプ４のゲインを新たに求められた最適ゲインに再設定し、同時に振幅値平均化回路１０はリセットされて、次のクラスタの平均振幅値を求めるべく、クラスタ内の各セクタの長マーク振幅値の平均化が開始される。
【００３１】
以上のように、本実施の形態の光再生装置では、セクタ（第１の記録単位）毎のタイミングで再生パワーが、それより遅いクラスタ（第２の記録単位）毎のタイミングでＡＧＣゲインが、それぞれ設定される（すなわち、ＡＧＣゲインの制御の応答性が再生パワー制御の応答性よりも低速に設定されている）ため、短い時間間隔で再生パワー制御が応答して最適再生パワーの短時間の変動に追従することが可能となると同時に、ＡＧＣゲインが再生パワーの制御誤差による振幅変動には追従せずに、記録条件の違い等で発生し得るクラスタ間の振幅変動に対しては追従する動作が実現可能となっている。
【００３２】
また、ＡＧＣアンプ４のゲインを求める元となる振幅値を、クラスタ内に分散配置されたセクタ毎に記録された長マークの再生信号振幅を平均化して求めるため、クラスタ内の局所的な振幅変動の影響を受けることなく安定したＡＧＣが実現される。
【００３３】
図４は、実際の光ディスク再生装置にて、一定条件下でセクタ毎に再生パワーを制御した時の長マーク振幅値の変化の実測結果を示す。横軸、縦軸の意味は図１１と同様である。（ａ）が再生パワー制御のみを行った場合の振幅値変化、（ｂ）がクラスタ単位でのＡＧＣを同時に実行した場合の振幅変化、を示す。この図から分かるように、ＡＧＣを同時に行った場合においても、振幅値のバラツキが増加することはなく、かつ時定数の大きな振幅変動に対してはＡＧＣの効果により変動がキャンセルされていることが分かる。
【００３４】
（実施の形態２）本発明の他の実施の形態を図５を用いて以下に説明する。なお、上述した実施の形態１と同様部分については説明を省略する。
【００３５】
本実施の形態では、図５に示すように、実施の形態１における振幅値平均化回路１０を、振幅値範囲判定回路１９、総和計算回路２０、カウンタ２１、割算回路２２で構成している。
【００３６】
上記構成に基づく長マーク振幅の平均化動作について以下に詳細に述べる。まず、タイミング発生回路１３から出力されるクラスタの先頭セクタへの到達タイミング信号ｄを受けて、総和計算回路２０とカウンタ２１がリセットされる。
【００３７】
続いて、クラスタ内の各セクタが順次再生される間に、各セクタの長マーク記録領域から長マーク振幅検出回路５によって検出された長マーク振幅値は、振幅値範囲判定回路１９にて正常な範囲（所定の範囲）内に入っているか否かが判定され、正常な範囲内にあった場合にのみ、総和計算回路２０に入力される。総和計算回路２０は、入力された振幅値を足し合わせていって振幅値の総和を出力する一方、振幅値が入力される毎にカウンタ２１にトリガ信号を出力するので、カウンタ２１からは、それまでに足し合わされた振幅値の個数が出力される。これら振幅値総和と振幅値個数が割算回路２２によって除算されることによって、平均振幅値としてゲイン制御回路１１に出力される。
【００３８】
こうしてクラスタ内のすべてのセクタの再生が終わった時点で、振幅値平均化回路１０からはクラスタ内の各セクタから得られた長マーク振幅値のうち、ディフェクト等により異常に検出された振幅値を除いた振幅値のみを用いて平均化を行った結果が出力されており、次のクラスタの先頭セクタへの到達タイミング信号ｄを受けたゲイン制御回路１１はその平均化振幅値に基づいてＡＧＣアンプ４のゲインを決定し設定する。それと当時に総和計算回路２０とカウンタ２１が再びリセットされて、新たなクラスタの振幅値平均化が開始される。
【００３９】
以上のように正常に検出された長マーク振幅値のみを用いて平均化された振幅値に基づいて求められたＡＧＣアンプ４のゲインは誤差が少ないため、精度の高いＡＧＣが実現できることになる。
【００４０】
尚、本実施の形態２においては、検出振幅値が正常であるか否かを判断を、各セクタから検出した長マーク振幅値が所定の範囲内にあるか否かにより行ったが、この他にも、例えば直前のセクタの振幅値と今回のセクタの振幅値を比較して、変化率が極端に大きければディフェクト等によって異常な振幅値が検出されたと判断する等の方法により行っても良く、この場合にも本実施の形態の効果が得られることはもちろんである。本実施の形態の主旨は、クラスタ内の各セクタの振幅値のうち異常と考えられるものを除いて平均化することによってＡＧＣ誤差を減少することにあるので、セクタ毎の振幅値が正常であるか否かを判断する手段については、特に限定するものではない。
【００４１】
（実施の形態３）本発明のさらに他の実施の形態を図６及び図７を用いて以下に説明する。なお、上述した実施の形態１または２と同様部分については説明を省略する。
【００４２】
図６は本実施の形態の光再生装置の概略を示す構成図であり、図７は本実施の形態の動作を説明するフロー図である。
【００４３】
本実施の形態は、実施の形態１の光磁気ディスク再生装置に加えて、再生パワー制御のオン・オフ制御とＡＧＣのタイミング制御を行うＣＰＵ２３、及びタイミング発生回路１３から出力されるタイミング信号ａとタイミング信号ｄを切り替えるスイッチ２４、とを備えている。ＣＰＵ２３は、レーザパワー制御回路９とスイッチ２３に対して制御信号を出力している。
【００４４】
以下、本実施の形態の光再生装置の動作を説明する。
【００４５】
本光再生装置は、連続して再生動作を行っている状態では、再生パワー制御がセクタ毎に行われており、図７におけるＳ３の状態になっている。Ｓ３では、光学ヘッドのシーク開始やトラック外れなどの原因により、再生パワー制御を一時的に停止する必要があるか否かを常に監視している。
【００４６】
この状態で、再生パワー制御を一時的に停止する必要が発生すると、Ｓ４に移って再生パワー制御をオフにして再生パワーを固定とし、続いてＳ５にてスイッチ２４の出力をタイミング信号ａに切り替える。すると振幅値平均化回路１０とゲイン制御回路１１のリセット間隔がセクタ毎に変わるので、ＡＧＣの応答時間は高速になって再生信号振幅の変動に迅速に追従できるようになる。そして、Ｓ６にて、今度は再生パワー制御の再開が可能となるのを待つ状態になる。
【００４７】
やがて、再生パワー制御が可能な状態に戻ったのを確認すると（例えば実施の形態２において正常な振幅値の割合が所定値以上になると）、Ｓ１に移って再生パワー制御をオンにし、続いてＳ２にてスイッチ２４の出力をタイミング信号ｄに切り替える。すると振幅値平均化回路１０とゲイン制御回路１１のリセット間隔はクラスタ毎に変わるので、ＡＧＣの応答時間が再生パワー制御の応答時間より低速に戻る。
【００４８】
このように、本実施の形態では、再生パワー制御が実行状態であるか停止状態であるかを監視し、再生パワー制御が実行状態の場合はＡＧＣの応答時間が低速とし、停止状態の場合は高速とする。そのため、再生パワー制御が実行状態である場合には振幅値のばらつきを抑制することができ、また、再生パワー制御が停止状態である場合には高速のＡＧＣ制御により正確に再生信号振幅を調整することで再生パワー制御なしでの記録データの再生を容易にすることができる。このため、例えば、再生パワー制御のための再生信号振幅の条件を厳しく設定した場合においても、その条件を満たす前に記録データを読み出せる可能性が高くなり、再生信号振幅が上記条件を満たすまでの待ち時間を短縮することが可能となる。
【００４９】
尚、本実施の形態３においては、ＣＰＵ２３を用いてＡＧＣの応答時間を切り替える制御を行ったが、再生パワー制御状態を監視する専用回路を付加し、これによってＡＧＣの応答時間を切り替える構成としても効果があることはもちろんである。
【００５０】
なお、上述した実施の形態１〜３においては、ＡＧＣアンプ４、ゲイン制御回路１１、振幅値平均化回路１０、タイミング発生回路１３、長マーク振幅検出回路によりゲイン制御手段を構成しており、長マーク振幅検出回路５、短マーク振幅検出回路６、タイミング発生回路１３、割算回路７、パワー制御量演算回路８によりパワー制御手段を構成している。また、ＣＰＵ２３、スイッチ２４により切替手段を構成している。さらに、振幅値範囲判定回路１９により判別手段を構成している。しかしながら、上述の各手段はこれに限るものではなく、本願発明の主旨の範囲内で様々な変形が可能である。また、実施の形態１〜３における図１，３，５，６，７で示した概略構成は、一例であり、これに限られるものでないことは言うまでもない。
【００５１】
また、以上説明した上記各実施の形態１〜３においては、光磁気ディスク再生装置の例で説明したが、これに限らず例えば相変化方式の光ディスク等の再生装置に適用してもよい。また、再生する機能を有する装置であればよく、例えば記録及び再生を実行できる記録再生装置であっても良いことはいうまでもない。
【００５２】
また、実施の形態１〜３においては、再生パワーの制御タイミングがセクタ毎であり、ＡＧＣの制御タイミングがクラスタ毎である場合について説明したが、ＡＧＣの応答時間が再生パワー制御の応答時間より長ければ良く（すなわち、再生パワー制御が第１の記録単位毎であるときに、ＡＧＣの制御がそれよりも大きい第２の記録単位毎であれば良く）、これに限るものではない。例えばＡＧＣの制御タイミングをクラスタ単位とした場合には、再生パワーの制御タイミングは例えば２セクタ毎である等、クラスタを構成するセクタ数より少ない複数のセクタ毎であってもよい。
【００５３】
また、ここでは長マークパターンからの再生信号を用いてＡＧＣ制御を行ったが、これに限るものではなく、短マークパターン等の他の特定マークパターンからの再生信号を用いても良いし、不特定のマークからの再生信号（例えばセクタ全体からの再生信号）を用いても構わない。但し、特定のマークパターンからの再生信号を用いた方がＡＧＣ制御が容易であると共に正確に実行できる。また、長マークパターンを用いれば、大きな再生信号振幅が得られるため、精密なＡＧＣ制御の実行が可能となる。
【００５４】
【発明の効果】
本発明の光再生装置によれば、ＡＧＣゲインが再生パワーの制御誤差による振幅変動には追従せずに、記録条件の違い等で発生し得る時定数の大きな振幅変動に対してのみ追従することが可能となる。
【００５５】
また、ＡＧＣのゲインを求める元となる振幅値を平均化して使用することにより、局所的な振幅変動の影響を受けることなく安定したＡＧＣの実現が可能となる。
【００５６】
さらに、正常に検出された振幅値のみを平均化した平均振幅値に基づいて誤差の少ないゲインを求めるため、高精度のＡＧＣが実現できる。
【００５７】
また、再生パワー制御の実行状態を監視し、制御状態の場合はＡＧＣの応答時間を低速に切り替え、停止状態の場合は応答時間を高速に切り替えるので、それぞれの場合に適合した、より高精度のＡＧＣが実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施の形態１に係る光再生装置の構成図である。
【図２】  図１における光磁気ディスク１のクラスタ構造、セクタ構造を説明する模式図である。
【図３】  図１におけるタイミング発生回路１３の詳細な構成図である。
【図４】  本発明の実施の形態１に係る光再生装置での振幅値変動抑制の効果を示す図である。
【図５】  実施の形態２における振幅値平均化回路１０の構成図である。
【図６】  本発明の実施の形態３に係る光再生装置の構成図である。
【図７】  図６におけるＣＰＵ２３の動作を説明するフロー図である。
【図８】  従来のＡＧＣを行う光再生装置の構成図である。
【図９】  従来の再生パワー制御を行う光磁気ディスク再生装置の構成図である。
【図１０】  図９における光磁気ディスク３０のセクタ構造を説明する模式図である。
【図１１】  従来例の光磁気ディスク再生装置での振幅値変動を示す図である。
【符号の説明】
１ 光磁気ディスク
４ ＡＧＣアンプ
５ 長マーク振幅検出回路
６ 短マーク振幅検出回路
７ 割算回路
８ パワー制御量演算回路
９ レーザパワー制御回路
１０ 振幅値平均化回路
１１ ゲイン制御回路
１２ デジタルデータ再生回路
１３ タイミング発生回路
１４ セクタアドレス識別回路
１５ アドレス領域終端検出回路
１６ Ｎ１バイトカウンタ
１７ （Ｎ１＋Ｎ２）バイトカウンタ
１８ クラスタ始端検出回路
１９ 振幅値範囲判定回路
２０ 総和計算回路
２１ カウンタ
２３ ＣＰＵ
２４ スイッチ
【図１】
0003775564.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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