(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子ディスプレイ表示面を撮像し、得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法において、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検査することを特徴とする電子ディスプレイの検査方法。
【請求項２】
請求項１において、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディスプレイ表示面の撮像角度を調整することを特徴とする電子ディスプレイの検査方法。
【請求項３】
請求項１または２において、上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示パターンを表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出することを特徴とする電子ディスプレイ検査方法。
【請求項４】
電子ディスプレイ表示面を撮像し、得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置において、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レベルの画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディスプレイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段により得られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ表示面を検査する画像処理手段を有することを特徴とする電子ディスプレイの検査装置。
【請求項５】
請求項４において、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディスプレイ表示面に対する上記撮像手段の撮像角度を調整する手段を有することを特徴とする電子ディスプレイの検査装置。
【請求項６】
請求項４または５において、上記信号発生手段を、上記電子ディスプレイの検査領域の決定後、上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示パターン画像信号を出力するものとし、上記画像処理手段を、この時得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するものとしたことを特徴とする電子ディスプレイ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はプラズマディスプレイ等の電子ディスプレイの表示欠陥を、自動的に検査する電子ディスプレイ画質検査装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
まず、従来技術の一例として、ＣＣＤカメラを使用したプラズマディスプレイの画質検査装置について、図４のブロック構成図、図５，図６の検査領域検出の動作を説明するためのモニタ画面の模式図を用いて説明する。
１はプラズマディスプレイ等の電子ディスプレイ装置、２はＣＣＤカメラ等の撮像部、３’は電子ディスプレイ１に所定の画像を表示させる為の信号発生器、４’は検査領域検出及び画素欠陥を検出する画像処理部、５’は各種機器の制御及び検出した欠陥データを管理記憶するパーソナルコンピュータ、６’は検査結果を表示又は印字するカラーモニタ、プリンタ等の表示部、７’は本検査装置の操作部である。
従来方式では、まず、プラズマディスプレイ１の全表示面が白色で表示されるような表示パターン画像信号を信号発生器３’により出力し、その時のプラズマディスプレイ１の表示面を、ＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画像信号を画像処理部４’に送出する。
画像処理部４’では、図５に示すように、得られた白色の表示面画像の中央部(図の座標(x0,y0))から、上下左右の４方向に輝度レベルの低くなる座標位置を検出していく(ここでは、座標(xi,y0),(x0,yj),(-xi,y0),(x0,-yj))。
これにより、プラズマディスプレイ１の表示面の境界ライン(黒の太枠で表示)を検出し、その座標から検査領域を検出・決定し、当該検査領域内でのプラズマディスプレイ１の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づいて検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
この為に、図５に示すように、プラズマディスプレイ１に断線等のライン欠陥ｌDが生じ、表示面上に非点灯ラインが存在した場合は、このラインが低輝度となるため、このライン欠陥ｌD部分を、上記検査領域の境界ラインと誤認識し、検査領域を狭めてしまう。  そのため、このライン欠陥ｌD部分より下側の表示面部分(図の斜線部分)の欠陥検出を行わないという問題が有った。
さらに、図６に示すように、プラズマディスプレイ１に対しＣＣＤカメラ２が傾いていた場合に、上記の様にして検出・決定した検査領域から、実際の表示面部分がはみ出してしまい、欠陥検出を行わない非検査領域が出来てしまう問題が有り、これを補正する為には、複雑な補正処理が必要であった。
本発明はこれらの欠点を除去し、プラズマディスプレイの表示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状の表示欠陥を容易に検出し、プラズマディスプレイとＣＣＤカメラ間の傾きを容易に補正することのできる電子ディスプレイ画質検査装置の実現を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記の目的を達成するために、電子ディスプレイの表示面を撮像し、得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法において、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検査するようにしたものである。
また、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディスプレイ表示面の撮像角度を調整するようにしたものである。
さらに、上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示パターンを表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するようにしたものである。
【０００５】
また、電子ディスプレイ表示面を撮像し、得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置において、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レベルの画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディスプレイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段により得られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ表示面を検査する画像処理手段を有するものである。
また、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディスプレイ表示面に対する上記撮像手段の撮像角度を調整する手段を有するものである。
更に、上記信号発生手段は、上記電子ディスプレイの検査領域の決定後、上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示パターン画像信号を出力するものであり、上記画像処理手段は、この時得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するものである。
その結果、電子ディスプレイ表示面の検査領域を正確に検出することができ、電子ディスプレイに対する撮像手段の傾き補正も容易に行うことができる。
さらに、表示ラインの断線、短絡等によるライン状欠陥も容易に検出が可能となる。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の電子ディスプレイ検査装置の一実施例を、プラズマディスプレイの検査装置を例にして、図１により説明する。
１はプラズマディスプレイ等の電子ディスプレイ装置、２はＣＣＤカメラ等の撮像部、３はプラズマディスプレイに所定画像を表示させるための信号発生器、４は検査領域検出及び画素欠陥を検出する画像処理部、５は各種機器の制御及び検出した欠陥データを管理記憶するパーソナルコンピュータ、６は検査結果を表示又は印字するカラーモニタ、プリンタ等の表示部、７は本検査装置の操作部、８はプラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾きを補正する回転機構である。
以下、この動作について、図１〜図３を用いて詳細に説明する。
本方式では、まず、図２のモニタ画面の模式図に示す様に、例えば、プラズマディスプレイ表示面の一番外側の１画素ラインで囲まれた画枠部分のみが高輝度レベルとなる、例えば白色で表示されるような表示パターンの画像信号を、信号発生器３で発生し、プラズマディスプレイ１に出力する。
なお、図２では、図面表示を簡略化するため、白と黒を反転し、白色で表示される表示面の一番外側の１画素ラインで囲まれた画枠部分を黒の太枠で表示し、他の低輝度レベル部分を白色で表示しているが、実際は図の右側及び下側に表示の波形のように、画枠部分が高輝度レベルで、他の部分が低輝度レベルとなる。
【０００７】
次に、その時のプラズマディスプレイ１の表示面を、ＣＣＤカメラ２によって撮像し、得られた画像信号を画像処理部４に送出する。
画像処理部４では、図２のモニタ画面の右側及び下側に表示の波形の模式図に示すように、この画像信号を縦方向および横方向に積算し、該積算したそれぞれの信号波形から、上下左右の各最大レベル位置(Ｕmax,Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)を算出し、対応する４つの座標位置((xL,yU),(xL,yD),(xR,yU),(xR,yD))で囲まれた部分を検査領域として決定する。
次に、例えば、プラズマディスプレイ１の全表示面が白色で表示されるような表示パターン画像信号を信号発生器３により出力し、その時のプラズマディスプレイ１の表示面をＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画像信号を画像処理部４に送出する。
そして、画像処理部４では、検出した検査領域内における画像信号のレベルを検出して、表示面の欠陥検査(点灯画素、消灯画素等の検出)を行う。  例えば、画像信号の縦方向と横方向の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積算後、闘値と判定することにより、表示ラインの断線、短絡等によるライン状欠陥の検出を行う。  そして、該検査結果をパーソナルコンピュータ５へ送出する。
パーソナルコンピュータ５では、これらの欠陥データを記憶・管理し、表示部６へ送出する。  表示部６では、上記の検査結果を表示し、必要に応じてプリンタ等に印字を行う。  なお、操作部７は、上記した測定開始、停止等の制御及び検査手順の設定を行うものである。
以上の様にして、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検出後、表示面の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づいて検査することができる。
【０００８】
更に本発明では、回転機構８を有しており、プラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾きを、以下のようにして補正することができる。
即ち、前述の検査領域の検出、決定処理において、図３に示す様に、プラズマディスプレイ１に対してＣＣＤカメラ２が傾いていた場合は、このとき得られた画像信号を縦方向及び横方向に積算すると、当該積算したそれぞれの信号波形における上下左右の各最大レベル値(Ｕmax,Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)が、図２の場合に比べて低く、旦つ信号波形の山の幅が広がる。
そこで、このことを利用し、上記それぞれの最大レベルが最も大きくなるように、回転機構８を制御することにより、プラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾き補正を行うことができる。
そして、この傾き補正後、前述のようにして、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検出し、プラズマディスプレイ１の表示面の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づいて検査することができる。
これにより、プラズマディスプレイの表示面の検査領域を正確に検出することができ、プラズマディスプレイに対するＣＣＤカメラの傾き補正も、容易に行うことができる。  更に、表示ラインの断線、短絡等によるライン状欠陥も容易に検出が可能となる。
【０００９】
【発明の効果】
本発明によれば、電子ディスプレイの表示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥があった場合でも、正確に検査領域を検出することが可能となり、また、ライン状の表示欠陥も容易に検出できる。  また、電子ディスプレイに対するＣＣＤカメラ等の撮像部の傾きも容易に補正することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による電子ディスプレイ検査装置の構成の一実施例を示すブロック図
【図２】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説明する模式図
【図３】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説明する模式図
【図４】従来の電子ディスプレイ検査装置の構成を示すブロック図
【図５】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する模式図
【図６】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する模式図
【符号の説明】
１：プラズマディスプレイ、２：撮像部（ＣＣＤカメラ）、３：信号発生器、４：画像処理部、５：パーソナルコンピュータ、６：表示部、７：操作部、８：回転機構。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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